FR 2606144 A1 19880506 FR 8615320 A 19861104 La présente invention concerne de façon générale la thermométrie, et elle porte plus particulièrement sur des perfectionnements relatifs à un dispositif couramment appelé thermomètre à diode, et sur des circuits associés. Les composants de circuits électriques présentent de façon générale des caractéristiques électriques qui sont fonction de la température. Il est donc possible d'utiliser un composant de circuit électrique ou électronique en tant que capteur de température, et de réaliser une mesure de tem- pérature à partir du composant, en contrôlant la variation d'une caractéristique électrique, à condition de connaître la corrélation entre la caractéristique électrique et la tempé- rature. Un exemple d'un dispositif de ce type constitue ce qu'on appelle couramment un thermomètre à diode. Dans une diode à semiconducteurs, des matières se- miconductrices sont disposées de façon à procurer une carac- téristique électrique qui présente une conductivité très éle- vée en sens direct et une conductivité extrêmement faible en sens inverse. Dans le thermomètre à diode classique qui fonc- tionne à courant constant, la tension développée aux bornes de la diode est liée à la température. Les thermomètres à diode classiques ont plusieurs inconvénients: 1) la tension de la diode n'est pas liée de façon exactement linéaire à la température, même pour une diode parfaite; 2) au même courant et à la même température, des diodes différentes produisent des tensions différentes, au point que les diodes utilisées dans des thermomètres à diode classiques doivent être étalonnées individuellement, et des variations de + 50 sont courantes; et 3) les propriétés électriques et donc l'étalonnage de thermomètres à diode classiques changent au cours du temps et en fonction de l'historique thermique. Le brevet des E.U.A. n 3 430 077 décrit une struc- ture de transducteur de température connue qui résout un cer- tain nombre des problèmes de l'art antérieur. Ce document mon-. tre un dispositif à semiconducteurs comportant plus d'une jonction et qui est alimenté par un courant ayant une caracté- ristique alternative. De cette manière, les effets des cou- rants de fuite et des courants de recombinaison sont réduits. De plus, si on fait fonctionner la jonction en polarisation en sens direct, avec une tension directe supérieure à environ 0,1 volt, la variation de tension qui résulte des divers niveaux de courant est mathématiquement directement proportionnelle à la température absolue. Le brevet des E.U.A. n 4 165 642 décrit un circuit intégré CMOS monolithique qui fournit sur sa sortie un signal numérique sensible à la température. Cette structure de dé- tection de température connue est du type à référence de bande interdite bipolaire, dans la mesure o elle nécessite deux transistors bipolaires appariés. De tels transistors doivent être appariés en ce qui concerne les aires des jonctions, les densités de dopage, les profils de dopage, les effets de vieillissement et les températures des transistors. Des sys- tèmes disponibles dans le commerce qui utilisent ce principe connu produisent de façon caractéristique des variations d'une puce à une autre qui entraîntdes variations de + 5 C sur les mesures de température. Il est évidemment nécessaire de dispo- ser d'un système de mesure de température ayant une plus gran- de précision. Le brevet des E.U.A. n 4 370 070 décrit un système dans lequel un signal numérique est pondéré de façon à corres- pondre sélectivement à des valeurs Celsius et Fahrenheit. Con- formément à ce qu'indique ce brevet, la conversion de valeurs Fahrenheit en valeurs Celsius s'effectue en éliminant quatre signaux de comptage sur neuf dans les signaux appliqués à un compteur d'accumulation. Ceci revient à multiplier par 5/9. On obtient de tels signaux de comptage à partir d'un oscilla- teur de mesure de température qui génère un train d'impulsions à une fréquence qui est liée à la température détectée. Le système décrit dans ce document assure également la linéarité du signal de sortie d'une thermistance en fonction de la tem- pérature. L'invention a donc pour but de procurer un disposi- tif de mesure de température simple et économique. L'invention a également pour but d'améliorer la précision avec laquelle la température est mesurée. L'invention a également pour but de procurer un dispositif de mesure de température qu'on puisse fabriquer aisément sous la forme d'un circuit integré. L'invention a également pour but de procurer un système de détection de température qui ne nécessite pas d'ap- parier des dispositifs à semiconducteurs dans le capteur pour obtenir une précision élevée. L'invention a également pour but de procurer un sys- tème de détection de température à circuit intégré qui utilise des valeurs de courant différentielles pour effectuer des me- sures de température. L'invention a également pour but de procurer un sys- tème qui génère des courants différentiels extrêmement précis. L'invention a également pour but de procurer un dis- positif de mesure de température dans lequel les effets du bruit sont notablement réduits. L'invention a également pour but de procurer un cir- cuit intégré CMOS dans lequel le bruit en 1/f soit considéra- blement réduit. L'invention a également pour but de procurer un sys- tème de mesure de température qui utilise un intégrateur fonc- tionnant en sens décroissant et ayant une dynamique étendue. L'invention a également pour but de procurer un sys- tème de mesure de température permettant d'obtenir une préci- sion et une résolution élevées, sans qu'il soit nécessaire d'effectuer un étalonnage au moyen de bains d'eau. L'invention a également pour but de procurer un sys- tème de mesure de température de grande précision qui ne né- cessite pas un amplificateur ayant un gain prédéterminé de fa- çon précise. L'invention atteint les buts précédents, ainsi que d'autres, et elle procure un système de détection de tempéra- ture comportant un capteur de température à semiconducteurs qui comporte une jonction destinée à produire une tension de jonction à ses bornes. La tension de jonction est fonction d'un courant qui traverse le capteur, et elle dépend au moins partiellement de la température du capteur. Une source ou un générateur de courant génère le courant avec des premier et second niveaux de courant, de façon que la tension de jonction varie de manière correspondante. Un dispositif de mémorisation de valeurs de tension mémorise au moins deux valeurs de ten- sion de jonction, dans un mode de réalisation. Un dispositif de mesure reçoit de telles valeurs de tension de jonction mé- morisées, et il produit un signal qui est fonction des valeurs de tension de jonction et de la température du capteur. Dans un mode de réalisation de l'invention, les va- leurs de tension de jonction sont mémorisées dans des dispo- sitifs échantillonneurs-bloqueurs qui sont commandés par un système de commande qui peut être un système programmable, tel qu'un micro-ordinateur. Les valeurs mémorisées dans les dispo- sitifs échantillonneurs-bloqueurs sont converties en un signal de différence qui est ensuite intégré par un intégrateur. Dans un mode de réalisation préféré, l'intégrateur est du type qui intègre de façon bidirectionnelle. On mesure la durée de l'in- tégration dans un sens, soit à titre d'exemple l'intégration en sens décroissant. Ceci donne un signal de temps qui corres- pond de façon précise à la température du capteur de témpéra- ture à semiconducteurs. Un système de tarage ou de zéro automatique est connecté à l'intégrateur pour faciliter l'établissement d'une valeur de référence pour l'intégration. Ce système compense en outre toute tension de décalage des circuits. Ainsi, si la tension de différence de la jonction est égale à zéro, le cir- cuit de tarage automatique fait en sorte que le signal de sortie de l'intégrateur ne change pas au cours du temps. Selon un mode de réalisation supplémentaire de l'in- vention, on utilise un comparateur qui reçoit sur ses entrées respectives des signaux provenant de l'intégrateur et du sys- tème de tarage automatique. Le signal de sortie du comparateur est dirigé vers le système de commande pour indiquer à ce der- nier la durée de l'intervalle de temps mesuré. De plus, le système de commande comporte des moyens destinés à pondérer le nombre d'impulsions d'horloge qui sont accumulées dans un compteur, de façon à fournir des valeurs de comptage qui cor- respondent à des mesures de valeui Fahrenheit et Celsius. Dans des modes de réalisation très avantageux de l'invention, on améliore la précision des mesures de tempéra- ture en utilisant un dispositif de commutation dans lequel on réduit des erreurs d'appariement mineures dans un ensemble de sources de courant qui fournissent le courant à plusieurs ni- veaux, en faisant une moyenne entre ces sources. On réalise ceci en établissant n sources de courant de ce type, chacune d'elles comportant un élément de commutation associé qui peut être commandé par le système de commande. Lorsqu'on doit faire circuler un courant de niveau élevé, on ferme l'ensemble des n éléments de commutation. Lorsqu'on doit faire circuler un courant de niveau faible, on ferme un seul élément de commuta- tion, ce qui maintient un rapport de courant de n/1 entre les niveaux élevé et faible. Il est préférable de fermer séquen- tiellement divers éléments de commutation parmi les n, pendant la circulation d'un courant de niveau faible, pour faire en sorte que des discordances entre les valeurs des courants pro- duits par les diverses sources de courant s'éliminent par moyenne. Selon un aspect de l'invention portant sur un procé- dé, on effectue une mesure de température en faisant circuler alternativement un courant dans un capteur à semiconducteurs avec des premier et second niveaux de courant; en échantil- lonnant et en mémorisant des tensions produites de façon cor- respondante par le capteur à semiconducteurs; en produisant un signal qui correspond à la différence entre les tensions produites de façon correspondante; et en intégrant le signal de différence. Dans un mode de réalisation, on mesure au moins une partie de la durée pendant laquelle l'intégration a lieu, pour produire un signal de temps qui correspond à la température du capteur. Dans un exemple de réalisation spécifique de l'inven- tion, on effectue une telle mesure de temps en employant les opérations qui consistent à appliquer sélectivement un signal d'horloge à un compteur, afin de compter des impulsions d'hor- loge, et à pré-charger le compteur avec des valeurs qui dépen- dent de l'échelle; Fahrenheit ou Celsius, avec laquelle on dé- sire mesurer la température. Dans un mode de réalisation de l'invention se pre- sentant sous la forme d'un circuit integré, un système de me- sure de température capable d'effectuer un affichage par in- créments de 0,1 seulement nécessiterait un amplificateur opé- rationnel ayant un gain prédéterminé de façon précise. Confor- mément à l'invention, on peut atteindre une telle précision en commutant des résistances identiques, de façon que toutes ces résistances soient utilisées pour la boucle d'entrée et de réaction pendant chaque cycle de mesure. Selon une variante, on peut utiliser une telle commutation pour des condensateurs. Ainsi, les discordances éventuelles sont éliminées par moyen- ne, d'une manière similaire à celle décrite ci-dessus en ce qui concerne les sources de courant. Selon un aspect important de l'invention, on réduit notablement les effets défavorables de divers types de bruit. Il y a essentiellement trois types de bruit qui affectent la précision avec laquelle on peut mesurer la température. Il s'agit du bruit synchrone, du bruit blanc et du bruit en 1/f. Le bruit synchrone résulte de signaux parasites provenant de l'horloge et d'éléments de circuit quelconques qui sont dé- 7' clenches par celle-ci. Pour éliminer le bruit synchrone, il est essentiel que l'horloge et ses circuits synchrones asso- ciés passent par les divers états logiques aussi simultanément que possible. Par exemple, la phase de tarage automatique doit être identique à la phase de mesure. Ainsi, la sortie de l'am- plificateur différentiel qui combine de façon soustractive les signaux de sortie des dispositifs échantillonneurs-bloqueurs, annulera le bruit synchrone. On peut réduire le bruit blanc à un niveau relative- ment bas en échantillonnant la différence de tension pendant une durée suffisamment longue. On doit donc prendre en consi- dération ce type de bruit dans la détermination de la cadence maximale d'échantillonnage lorsqu'on met en oeuvre l'invention. Le troisième type de bruit, c'est-à-dire le bruit en l/f, est plus complexe que les deux autres, et il se mani- feste de façon particulièrement importante dans des modes de réalisation de l'invention utilisant des circuits intégrés CMOS. La contribution du bruit en 1/f ne dépend pas de la du- rée de l'intervalle de temps d'échantillonnage, mais de Q, c'est-à-dire le rapport entre l'intervalle de temps séparant la fin et le début de fenêtres temporelles d'échantillonnage- blocage consécutives, et l'intervalle de temps total qui com- mence au début d'une première fenêtre d'échantillonnage-blo- cage et se termine à la fin d'une seconde fenêtre de ce type. En d'autres termes, le bruit en 1/f dépend du rapport entre la durée séparant deux échantillons et la durée d'échantil- lonnage totale qui englobe la durée entre les deux échantil- lons. On suppose pour les besoins de cette description que la valeur de sortie du processus d'échantillornage-blocage est la valeur moyenne de la tension d'entrée pendant la fenêtre d'échantillonnage. On peut montrer que la quantité plus fon- damentale, c'est-à-dire le rapport signal à bruit, est propor- tionnelle au carré de la quantité 1-Q, pour des valeurs fai- bles de Q. Par conséquent, pour éviter que le rapport signal à bruit soit dégradé d'environ 50 %, il est nécessaire de maintenir Q à une valeur inférieure à 0,25. Il est donc né- cessaire que le circuit échantillonneur bloqueur soit conçu de façon que Q soit inférieur à 0,25, et de préférence aussi faible que possible, du fait de la contribution du bruit en 1/f à la tension échantillonnée de façon différentielle, qui donne la valeur de température mesurée, dépend de l'amplitude du bruit en 1/f et de Q. Il faut noter qu'on ne peut pas mal- triser aisément l'amplitude du bruit en 1/f dans la mise en oeuvre de l'invention. Cependant,pour une amplitude donnée de bruit en l/f, si le fait de réduire Q à une valeur voisine de zéro ne réduit pas le bruit dans la mesure de la température à une valeur suffisamment faible pour obtenir la précision de mesure désirée, il est néanmoins possible de réduire le bruit à un niveau acceptable en ajoutant les uns aux autres plu- sieurs échantillons différentiels de la température. Le bruit diminue comme l'inverse de la racine carrée du nombre d'échan- tillons de la température qui sont additionnés ensemble. Par exemple, le fait d'additionner 100 échantillons réduit le bruit en 1/f par un facteur de 10, par rapport à un seul échantillon différentiel. On peut aisément effectuer un tel calcul de moyenne pendant l'intégration en sens croissant dans un intégrateur à deux pentes. On peut également l'effectuer de façon numérique en calculant la moyenne entre les températures numérisées finales. Un tel calcul de moyenne réduira presque tous les types de bruit. Selon un aspect supplémentaire de l'invention, un troisième dispositif échantillonneur-bloqueur est connecté à la sortie de l'amplificateur différentiel pour mémoriser la tension de différence pendant que les premier et second dispo- sitifs échantillonneurs-bloqueurs mémorisent des valeurs pour la période d'échantillon suivante. L'efficacité du fonctionne- ment du système de mesure de température est ainsi accrue. Dans un cycle fonctionnel d'un exemple de réalisa- tion spécifique de l'invention, la première étape consiste à déterminer la valeur de tarage ou de zéro automatique du sys- tème, de façon à corriger des erreurs telles que les erreurs des amplificateurs opérationnels et les défauts de linéarité de divers composants de circuit qui font qu'une tension de signal égale à zéro conduit à une valeur différente de zéro pour la température. Un tel tarage automatique est effectué pendant une durée qui est une fraction notable d'un cycle de mesure complet, soit à titre d'exemple 1/3 à 1/2 du cycle complet. Avant que les premiers échantillons de la tension soient prélevés par les dispositifs échantillonneurs-bloqueurs, l'intégrateur doit être initialisé. Dans un but de simplicité, on considère que l'intégrateur est conçu de façon à n'accepter que des valeurs positives. Cette initialisation est nécessaire du fait que le signal de sortie de l'amplificateur de diffé- rence peut être positif ou négatif. On peut effectuer une tel- le initialisation en forçant l'intégrateur à intégrer en sens croissant sur une tension positive qui est supérieure à la to- talité de la charge susceptible d'être introduite par les ten- sions de décalage qui peuvent apparaître dans le système, et qui est stable pendant au moins un cycle de mesure. Apres l'initialisation précédente, le plus faible des deux niveaux de courant est établi dans le capteur et les premier et second dispositifs échantillonneurs-bloqueurs sont actionnés de leur manière normale de façon que Q soit infé- rieur à 0,25. Pendant le cycle de tarage automatique, le cou- rant du capteur n'est pas commuté. La valeur de différence résultante est ensuite chargée dans le troisième dispositif échantillonneur-bloqueur, qui est connecté à l'intégrateur, jusqu'à la phase de fonctionnement suivante des premier et second dispositifs échantillonneurs-bloqueurs. Le cycle se poursuit pendant le reste du cycle de tarage automatique. Pour un mode de réalisation à tarage analogique, on règle la ten- sion qui est appliquée à l'entrée positive de l'intégrateur jusqu'à ce que le signal de sortie de l'intégrateur ne varie pas au cours du temps, et on règle le comparateur de façon qu'il change d'état à cette tension. De plus, on maintient la même tension sur la borne positive de l'intégrateur ainsi que du comparateur pendant la période de mesure de température. Pour un circuit de tarage automatique numérique, l'étape fi- nale du cycle de tarage automatique consiste à effectuer une intégration en sens décroissant, sur la tension de référence, de la manière normale. On enregistre pour une utilisation ul- térieure le nombre d'impulsions d'horloge qui apparaissent pendant l'intégration en sens décroissant. L'étape suivante du cycle consiste à mesurer la température. On fait circuler dans le capteur le courant de niveau faible, et on actionne le premier dispositif échantil- lonneur-bloqueur. Ensuite, on fait circuler le courant de ni- veau élevé et on actionne le second dispositif échantillon- neur-bloqueur, après la disparition du transitoire de commu- tation. On charge ensuite l'achantillon différentiel dans le troisième dispositif échantillonneur-bloqueur et on le trans- met à l'intégrateur. On répète le cycle pendant la durée de l'intégration en sens croissant. Du fait que les premier et second dispositifs échantillonneurs-bloqueurs se chargent ra- pidement jusqu'à leurs états finals, en supposant que la tem- pérature ne change pas rapidement, le transitoire ne sera pas important et on peut prendre une valeur très courte pour la durée entre des échantillons successifs. Dans un mode de réalisation supplémentaire, on aug- mente la dynamique de l'intégrateur. La dynamique d'un inté- grateur à deux pentes est déterminée par le rapport entre la tension maximale à ses bornes et la valeur du bit de moindre poids. Dans l'art antérieur, on rencontre des difficultés pour réaliser un intégrateur ayant une dynamique supérieure à 1000, soit une résolution supérieureà 10 bits. Dans l'inven- tion, on augmente la dynamique de l'intégrateur en intégrant plusieurs fois en sens croissant et en sens décroissant au cours d'un même cycle, et en comptant séparément le nombre total d'impulsions d'horloge pour les intégrations en sens croissant et en sens décroissant. La dynamique est donc mul- ll tipliée par un facteur correspondant au nombre d'intégrations. Comme indiqué, l'invention porte sur un système de thermomètre à semiconducteurs nouveau et original dans lequel la mesure de la température détectée est effectuée d'une ma- nière qui est pratiquement exempte des propriétés défavorables qui affectent les systèmes connus. L'invention procure ainsi un signal de température qui indique la température vraie seu- le, et qui est pratiquement exempt d'autres influences qui af- fectent les caractéristiques électriques d'une diode, et en outre ce signal est une fonction linéaire de la température. Ceci présente des avantages importants non seulement pour le thermomètre à diode lui-même, mais également pour son procédé de fabrication. Du fait qu'un thermomètre à diode qui met en oeuvre les principes de l'invention élimine l'effet de ces autres influences, il n'est pas nécessaire d'adapter les dio- des au circuit associé, ni de prévoir un réglage dans le cir- cuit pour compenser la caractéristique particulière d'une diode qui est utilisée avec le circuit. De plus, le circuit destiné à corriger le défaut de linéarité d'un thermomètre à. diode classique est inutile. Par conséquent, la fiabilité, la précision et la simplification des procédures de fabrication constituent quelques- unes des caractéristiques importantes de l'invention. L'invention convient également bien pour la fabri- cation sous forme de circuit intégré, par l'utilisation de la technologie de fabrication des circuits intégrés. Ceci signi- fie qu'un mode de réalisation commercial de l'invention peut être présenté sous la forme d'une "puce" de circuit intégré, ce qui est une autre caractéristique très intéressante de l'invention. On peut cependant appliquer les principes de l'in- vention à des circuits qui sont réalisés sous une forme autre qu'un circuit intégré. L'invention perfectionne ainsi un thermomètre à diode sur un certain nombre de points importants concernant plus particulièrement la linéarité, la précision, 12. la fiabilité, la forme de présentation et la fabrication. L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description détaille qui va suivre de modes de réalisation * et en se référant aux dessins annexés sur lesquels: La figure 1 est une représentation schématique d'un dispositif de mesure de température réalisé conformément aux principes de l'invention; La figure 2 est une représentation schématique d'un autre mode de réalisation de l'invention; La figure 3 est une représentation schématique sim- plifiée d'une structure de circuit destinée à fournir des ni- veaux de courant-ayant un rapport d'amplitude prédéterminé de façon précise; La figure 4 est une représentation schématique sim- plifiée d'une autre structure de commutation de courants; et Les figures 5A, 5B et 5C sont des représentations graphiques utiles à la description de l'amélioration de la dynamique d'un intégrateur. La figure 1 représente un mode de réalisation pré- féré d'un thermomètre à diode 10 qui met en oeuvre les prin- cipes de l'invention. Le dispositif de détection de tempéra- ture préféré qui est utilisé dans le thermomètre 10 est un transistor 12. On sait que le transistor est constitué par des matières semiconductrices qui définissent une caractéris- tique de diode, ce qui fait que dans le cadre de l'invention, on considèrera en fait le transistor comme une diode. L'uti- lisation d'un transistor, au lieu d'une diode, est préférable du fait que le transistor présente une caractéristique qui est une meilleure approximation de celle d'une diode idéale, que la caractéristique d'une diode à semiconducteurs à deux bornes elle-même. Le thermomètre 10 comprend en outre un circuit d'entrée, désigné de façon générale par la référence 14, qui est associé fonctionnellement au transistor 12. Ce circuit d'entrée forme une source de courant pour le transistor 12 et, pendant le fonctionnement du thermomètre, cette source commute entre deux niveaux de courant, qui diffèrent de façon caractéristique d'un rapport de dix. Le circuit d'entrée 14 qui est représenté comprend une source de tension 16 et une résistance série 18 connec- tées fonctionnellement au transistor 12 de la manière repré- sentée schématiquement sur la figure. Un amplificateur opéra- tionnel 20 est également incorporé de façon à coopérer avec ces composants, de la manière représentée. La source de tension 16 coopère avec un circuit di- viseur de fréquence 22 et un circuit d'horloge 24. Le circuit diviseur de fréquence 22 produit un signal de sortie carré qui est représenté par un signal 26. Ce signal agit sur la source de tension 16 pour que cette dernière produise une tension qui est représentée par un signal 28. On notera à ti- tre explicatif que le signal 28 est un signal carré ayant la même fréquence que le signal 26, qui commute entre des ni- veaux de tension V' et V' L'application du signal de tension 28 dans le cir- cuit d'entrée 14 fait circuler un courant dans le circuit collecteurémetteur du transistor 12, qui commute entre des niveaux de courant 10 et Il. Le signal de courant, qui a donc la même fréquence que les signaux 26 et 28, est désigné par la référence 30. Du fait du fonctionnement du circuit d'entrée 14, un signal de tension qui apparaît au point de connexion entre la sortie de l'amplificateur opérationnel 20 et l'émetteur du transistor 12 se présente sous la forme d'un signal 32 qui commute entre des niveaux de tension V0 et V1. Du fait que c'est la différence de tension qui présente un intérêt pour obtenir lamesure de température, on désigne commodément ce paramètre par la référence A V. Le signal A V est proportionnel à la mesure de tem- pérature absolue et il représente donc cette mesure. Le reste du circuit est un convertisseur analogique-numérique (A-N) particulier qui est capable de présenter la mesure de tempéra- ture de manières particulières. Le signal àV 32 est appliqué au circuit convertis- seur A-N, désigné par la référence générale 34. Plus précisé- ment, le signal 32 est appliqué en tant que signal d'entrée à un circuit 36 qui est un double circuit échantillonneur-blo- queur, avec un amplificateur de différence. Les deux circuits échantillonneurs-bloqueurs sont désignés par les références 36a et 36b, tandis que l'amplificateur de différence est dé- signé par la référence 36c. Pendant le fonctionnement, un cir- cuit échantillonneur-bloquer mémorise V1 et l'autre mémorise V0. Le signal de sortie de l'amplificateur 36c est la diffé- rence Vl-V0. Un circuit intégrateur à deux pentes 38 est connec- té fonctionnellement au circuit 36 par l'intermédiaire d'un commutateur bipolaire 40. Lorsque le commutateur 40 est dans Jla position représentée sur la figure, le signal A V qui pro- vient du circuit 36 est appliqué au circuit intégrateur à deux pentes 38. Lorsque le commutateur 40 est amené dans la position représentée en pointillés, une référence de tension 42 est connectée au circuit intégrateur à deux pentes, à la place du signal provenant du circuit 36. La référence de ten- sion consiste en une tension de valeur constante Vref. Le commutateur 40 est commandé par un circuit logi- que de commande 44. Ainsi, le signal d'entrée du circuit in- tégrateur 38 à un instant donné quelconque est soit le signal de sortie A V du circuit 36, soit la tension Vref provenant de la référence de tension 42, selon la position à laquelle le circuit logique de commande 44 place le commutateur 40. On notera à cet égard que le commutateur 40 peut être constitué par n'importe quel dispositif approprié, - électromécanique ou électronique, ce dernier type étant préférable. Le circuit intégrateur 38 travaille sur les signaux d'entrée qui lui sont appliques, d'une manière qu'on décrira ultérieurement en détail. On décrira également un circuit de tarage automatique 46 qui est associé fonctionnellement au circuit intégrateur 38. Le signal de sortie du circuit intégrateur 38 est appliqué à une entrée d'un comparateur 48. Le signal de sortie du comparateur 48 est appliqué à son tour.au circuit logique de commande 44. Le circuit logique de commande 44 reçoit éga- lement le signal d'horloge qui provient du circuit d'horloge 24. Le circuit logique de commande 44 est connecté fonc- tionnellement au compteur 50. Des circuits de mémorisation et d'attaque d'afficheur à cristaux liquides, désignés de façon générale par la référence 52, sont associés fonctionnellement au compteur 50 et au circuit logique de commande 44, pour mé- moriser une mesure obtenue à partir du compteur 50. Le comp- teur 50 fournit la mesure de température. Dans le mode de réal' stion qui est représenté sur le dessin, on utilise le circuit de mémorisation et d'attaque d'afficheur à cristaux liquides 52 pour attaquer un afficheur (non représenté). On notera cependant que la mesure qui est représentative de la température détectée peut être utilisée dans un ou plusieurs buts particuliers désirés, comprenant des fonctions d'affi- chage et/ou de commande. En ayant à l'esprit cette description générale du thermomètre à diode 10, le lecteur peut maintenant diriger son attention vers des détails plus spécifiques. Le circuit 36 a pour but de fournir un signal de sortie AV. Le circuit de tarage automatique 46 est conçu de façon à effectuer un étalonnage pour compenser les caracté- ristiques imparfaites du dispositif électronique, et ce cir- cuit de tarage est actionné lorsque la tension de sortie A V du circuit 36 est égale à zéro et lorsque le commutateur 40 est dans la position qui connecte la sortie du circuit 36 au circuit intégrateur 38, pour faire en sorte que le signal de sortie du circuit intégrateur 38 soit constant. En d'autres termes, pour A V = 0 (Il = I2), le circuit de tarage automa- tique fait en sorte que le signal de sortie du circuit inté- grateur 38 ne varie pas. De cette manière, le courant I, correspondant au niveau de tension V1 du signal 32, constitue une référence. La commutation du courant du transistor de 12 à I0 provoque un changement du signal de tension de V1 à V0. Le circuit logique de commande 44 actionne les deux circuits échantillonneurs-bloqueurs 36a et 36b de -façon que lorsque le courant du transistor est égal à Il, la tension V soit échantillonnée par les deux circuits 36a et 36b. Par conséquent, le signal de sortie de l'amplificateur de diffé- rence 36c est égale à zéro. A ce moment, le circuit de tarage automatique 46 est actionné de la manière décrite ci-dessus. Ensuite, lorsque le signal de tension 32 commute de V1 à V0, le circuit échantillonneur-bloqueur 36b conserve le signakVl, tandis que le circuit échantillonneur-bloqueur 36a échantillonne et bloque le niveau V0. Dans ces conditions, le signal de sortie de l'amplificateur de différence 36c, c'est- à-dire aV, est égal à V1-V0. On peut employer des structures de circuit classiques pour donner lieu à ce mode de fonction- nement. On notera que ce qui précède décrit une procédure pour établir un point de référence, et qu'on peut employer d'autres procédures qu'on juge appropriées pour n'importe quelle forme de réalisation donnée. Le circuit convertisseur A-N 34 numérise le signal AV. Au moment ou le signal V1-V0 apparaît à la sortie du circuit 36, le circuit intégrateur 38 commence immédiate- ment à intégrer ce signal. On appelle commodément ceci l'in- tégration en sens croissant. La durée d'intégration est éta- blie par le circuit logique de commande 44 d'une manière qu'on expliquera ultérieurement de façon plus détaillée. L'intégration en sens croissant se poursuit pendant l'intervalle de temps qui est établi par le circuit logique de commande 44, et à l'achèvement de cet intervalle le cir- cuit logique de commande 44 actionne le commutateur 40 pour l'amener dans la position représentée en pointillés. Simulta- nément, le signal de sortie du circuit intégrateur 38 se trouve à un niveau haut qui est proportionnel à la valeur du signal Vl-V0 et qui est donc représentatif de la température détectée. En effectuant ensuite une intégration dans le sens opposé (intégration en sens descendant), et en mesurant l'in- tervalle de temps nécessaire pour retourner à la référence zéro, on obtient une mesure d'intervalle de temps qui repré- sente la température. Le circuit décrit procure un moyen commode pour ob- tenir la mesure de température avec une échelle de températu- re désirée, Celsius ou Fahrenheit. Du fait que la mesure de la température détectée que procure le signal 4V représente la température détectée exprimée en température absolue, c'est-n-dire en degrés Kelvin, la présentation de la tempéra- ture avec une échelle Celsius ou Fahrenheit exige au moins l'introduction d'un décalage de température. Dans le cas de l'échelle Fahrenheit, une conversion de facteur d'échelle est en outre nécessaire. Le circuit logique de commande 44 est associé à un commutateur de sélection 54 qu'on peut actionner pour sélec- tionner l'expression de la mesure avec l'échelle Fahrenheit ou Celsius. Le circuit logique de commande 44 mémorise les facteurs de décalage appropriés pour chacune de ces deux échelles. Le circuit logique de commande fonctionne de ma- nière à introduire le décalage dans le circuit compteur 50, sous la forme d'une valeur de prépositionnement, en prépara- tion à l'intégration en sens décroissant. La conversion A-N du signal de sortie de l'intégra- teur fait intervenir la transmission sélective par le circuit logique de commande 44 d'impulsions provenant de l'horloge 24 et appliquées au circuit compteur 50, pendant le déroulement de l'intégration en sens décroissant. Du fait que la durée de l'intégration en sens décroissant est représentative de la température détectée, le nombre d'impulsions d'horloge que compte le circuit compteur 50 pendant cet intervalle de temps est représentatif de la température. Pour donner une mesure par comptage telle que les impulsions comptées correspondent au facteur d'échelle cor- rect, le circuit logique de commande 44 commande la durée pendant laquelle l'intégration en sens croissant est effec- tuée. Plus précisément, dans le cas d'une mesure avec une échelle Fahrenheit, l'intégration en sens croissant est auto- risée à se poursuivre pendant une durée correspondant à un nombre donné d'impulsions d'horloge, soit par exemple N1, choisi de manière que pendant l'intégration en sens décrois- sant, le nombre réel d'impulsions d'horloge NF que compte le circuit additionneur 50, additionné au décalage pré-chargé pour cette échelle de température, soit tel que le compteur fournisse une mesure exprimée en degrés Fahrenheit. De façon similaire, dans le cas de l'échelle Celsius, on laisse l'intégration en sens croissant se pour- suivre pendant une durée correspondant à un nombre prédéter- miné d'impulsions d'horloge, soit par exemple N2, de façon que pendant l'intégration en sens décroissant, le nombre d'impulsions d'horloge Nc que compte le circuit compteur 50, additionné au décalage pré-chargé pour cette échelle, donne la température Celsius. On peut noter que du fait que les facteurs d'échel- le des échelles Celsius et Fahrenheit sont dans le rapport de cinq à neuf, le rapport des nombres respectifs N2 et N1 aura cette même valeur. Les intervalles de temps que le cir- cuit logique de commande 44 établit pour commander les durées respectives des intégrations en sens croissant peuvent être obtenus par le comptage d'impulsions d'horloge. La commande du commutateur 40 et du préchargement et de l'application sélective d'impulsions au circuit compteur 50 s'effectue éga- lement sous la dépendance de circuits classiques du circuit logique de commande. Le circuit de tarage automatique 46 est un circuit de conception classique qui est associé à l'amplificateur opérationnel du circuit intégrateur 38 pour éliminer prati- quement l'effet de décalages,aussi bien dans les circuits échantillonneurs-bloqueurs que dans l'intégrateur. Du fait que dans la condition de démarrage, c'est-à-dire lorsque &V=0, la sortie du circuit intégrateur 38 est au niveau de référence, et du fait que c'est également le retour à ce ni- veau qui est détecté pendant l'intégration en sens décrois- sant pour arrêter le compteur 50, le circuit de tarage auto- matique comporte une mémoire destinée à mémoriser cette ré- férence et à la maintenir à l'entrée de référence du compa- rateur 48. Le circuit intégrateur est également associé à un circuit de restauration 56 que le circuit logique de comman- de 44 actionne temporairement juste avant le commencement d'une opération de numérisation, pour que l'intégrateur soit effectivement restauré. Une fois que le compte correspondant à la mesure est mémorisé par le circuit 52, il est possible de répéter la mesure par la même procédure. Le circuit logique de com- mande peut déterminer la cadence à laquelle la mesure de température est mise à jour. Lorsque la température doit être mise à jour, le compteur est restauré et la procédure décrite ci-dessus est répétée. Le principe de fonctionnement suivant illustre comment l'invention élimine les effets de diverses influen- ces extérieures, autres que la température. Pour le niveau de courant I1, on a: n e(V1-V) Il = C T exp KT en désignant par K la constante de Boltzmann, par T la tempé- rature Kelvin, par e la valeur de la charge de l'électron, par C un facteur qui dépend des mobilités des porteurs, du dopage, etc, et des détails du semiconducteur particulier, et par V la tension de bande interdite. g Pour le niveau de courant I0, on a: I = C Tn exp ( 'g à la même tempé- 0 ep KT rature. V1 et V0 sont les tensions respectives aux bornes de la diode: V V0 = AV, e V I1/I0 = exp KT et A V = KT in (I/I) Toutes les particulités d'un dispositif spécifique (à l'exception de la résistance en volume du semiconducteur), comprenant de nombreux effets de vieillissement, s'annulent dans la division. Comme on peut le voir, la quantité mesurée à V est fonction du rapport I1/I0, et elle varie selon une fonction linéaire de la température absolue. De plus, les caractéris- tiques d'une diode ou d'un transistor particulier quelconque sont éliminées, ce qui permet de fabriquer des dispositifs en production industrielle, sans aucune procédure spéciale pour l'étalonnage des capteurs et des circuits. En fait, du fait que certains paramètres changent avec le vieillissement, l'in- vention élimine également de nombreux effets de vieillissement qui apparaîtraient par ailleurs. L'invention procure donc un perfectionnement significatif dans des thermomètres à diode. La figure 2 est une représentation schématique d'un mode de réalisation supplémentaire de l'invention, qui pré- sente une configuration d'éléments constitutifs différente de celle du mode de réalisation représenté sur la figure 1. Les éléments constitutifs analogues qui se correspondent dans les deux figures portent les mêmes désignations. La figure 2 montre un troisième dispositif échan- tillonneur-bloqueur 36d dont une entrée est connectée à la sortie de l'amplificateur différentiel 36c. Comme décrit pré- cédemment, pendant la mesure de la température, le courant de faible niveau circule dans le transistor 12, qui est le cap- teur de température. Dans ce mode de réalisation, le circuit échantillonneur-bloqueur 36b prélève un échantillon lorsque le niveau de courant élevé circule et le circuit échantillon- neur-bloqueur 36a prélève un échantillon lorsque le niveau de courant faible circule. L'amplificateur différentiel 36c est ensuite validé et le signal de sortie du circuit échantillon- neur-bloqueur 36d est alors appliqué à l'intégrateur à deux pentes 38. La caractéristique de charge rapide des circuits échantillonneurs-bloqueurs 36a et 36b supprime la nécessité de prolonger la durée entre échantillons. La figure 2 montre en outre que la référence de tension 42 peut être connectée sélectivement aux circuits échantillonneurs-bloqueurs 36a et 36b sous la commande du circuit logique de commande 44. Ainsi, l'initialisation de l'intégrateur à deux pentes est réalisée au moins partielle- ment par l'application de la tension de référence, en tant que tension échantillonnée par les circuits échantillonneurs- bloqueurs. La figure 3 est une représentation schématique sim- plifiée d'un mode de réalisation spécifique d'un aspect de l'invention portant sur la commutation de courant. Les élé- ments constitutifs qui correspondent-à ceux décrits précédem- ment sont désignés de façon similaire. Comme il est représen- té, une structure de commutation constituée essentiellement par dix résistances 60-69 et dix interrupteurs associés res- pectifs 70-79, est intercalée électriquement entre la source de tension 16 et la combinaison du transistor 12 et de l'am- plificateur opérationnel 20. Lorsqu'on désire faire circuler un courant de niveau élevé dans le transistor de détection de température 12, on ferme tous les interrupteurs 70-79. Ce- pendant, lorsqu'on désire faire circuler un courant de niveau faible, on ne ferme pas tous ces interrupteurs. Dans le mode de réalisation présent dans lequel on désire avoir un rapport de 10/1 entre les courants de niveau élevé et de niveau fai- ble, un seul de ces interrupteurs, soit à titre d'exemple l'interrupteur 70, est fermé pendant la circulation d'un cou- rant de niveau faible. Conformément à l'invention, on obtient un rapport de courant de 10:1 prédéterminé de façon précise, en fermant séquentiellement des interrupteurs distincts 70-79 pendant la circulation d'un courant de niveau faible. De cette manière, les écarts entre les divers interrupteurs 70-79 et les diver- ses résistances 60-69 sont éliminés par moyenne. On peut bien entendu utiliser n'importe quel autre rapport (N/1) dans la mise en oeuvre de l'invention. La figure 4 est une représentation schématique sim- plifiée d'un autre mode de réalisation de l'aspect de commu- tation de courant de l'invention. Sur cette figure, un ensem- ble de transistors 100-109 sont branchés en sources de courant et leurs collecteurs sont respectivement connectés à des in- terrupteurs associés parmi les interrupteurs 110-109. Chacun des interrupteurs est connecté à une diode 120 qui, dans ce mode de réalisation, remplit la fonction de capteur de tempé- rature. Il existe en outre un transistor 123 qui a pour but de minimiser la variation du courant traversant un transistor 122 qui détermine le courant de polarisation dans les tran- sistors 100-109, lorsque des nombres variables de ces tran- sistors sont commutés à l'état conducteur et à l'état bloqué. Une borne d'une résistance 124 est connectée à la borne de base du transistor 123 et à la borne de collecteur du tran- sistor 122, et l'autre borne de cette résistance est connectée à un potentiel de référence. Comme décrit ci-dessus en rela- tion avec la figure 3, les différents interrupteurs sont fer- més séquentiellement pendant la circulation d'un courant de niveau faible, pour éliminer par moyenne tous les écarts éventuels. On notera à cet égard que du fait que les tensions base-émetteur des transistors sont toutes identiques, les courants respectifs qui circulent dans ces transistors sont pratiquement égaux. Le principe qui est à la base des modes de réalisa- tion des figures 3 et 4 est le suivant. Même en effectuant des efforts raisonnables pour apparier les composants de cir- cuit, leurs caractéristiques s'écarteront cependant les unes des autres d'une faible quantité, qu'on désignera ici par +/- delta. Si on utilise chaque élément une seule fois dans un cycle constitué par dix sous-cycles, avec un élément de circuit commuté àl'état conducteur pendant chaque sous-cycle, et si on commute ensuite tous les éléments de commutation à l'état conducteur, pour faire circuler un courant dix fois plus élevé, dans les modes de réalisation décrits, la moyenne des dix sous-cycles ne s'écartera du rapport désiré de dix que par un facteur égal à delta au carré. Ainsi, si delta est égal à 2 % (0,02), ce qui est tout a fait compris dans la plage correspondant à l'état actuel de la technique pour des transistors ou des résistances appariés, le rapport désiré entre les amplitudes des courants sera obtenu avec une tolé- rance correspondant à un facteur de delta au carré, soit dans ce cas 0,04 %. Pour un rapport de courants égal à 10:1, ceci conduira à un pourcentage d'erreur pour la température de 0,04/2,3 (delta au carré/ln(10)). A une température de 23 C, qui correspond à 300 Kelvin, qui est l'échelle intrinsèque avec laquelle le thermomètre fonctionne, ceci conduirait à une erreur d'environ 0,05 C. Ainsi, à une température donnée, il est possible de prédéterminer la tension qu'on obtiendrait en commutant les courants. Inversement, en mesurant la ten- sion avec un intégrateur étalonné de façon précise, comme décrit cidessus, on peut déterminer la température de façon précise. Ainsi, dans l'état actuel de la technique des compo- sants de circuit, on peut réaliser un système de détection de température ayant une résolution d'au moins 1 Fahrenheit ou Celsius, sans qu'il soit nécessaire d'employer un bain d'eau de référence pour l'étalonnage. Les figures SA, 5B et 5C sont des représentations graphiques qui sont utiles pour décrire un système permettant d'augmenter la dynamique d'un intégrateur pour lui donner une valeur plusieurs fois supérieure. La figure SA représente la caractéristique normale d'un intégrateur et elle montre la tension de sortie de l'intégrateur en fonction du temps, ex- primé en cycles d'horloge. La figure 5B montre les intégra- * tions alternées en sens croissant et en sens décroissant, et la figure 5C montre la caractéristique de l'intégration à deux pentes unique équivalente de la figure 5B. Bien qu'il ne soit pas très grave, le principal problème que soulève une dynamique accrue consiste en ce que le temps que nécessite l'intégration est plus long, ce qui fait que des courants de fuite présents dans le condensateur d'intégration ont un plus grand effet. Il semblerait que la solution de ce problème réside dans l'utilisation d'un con- densateur plus grand et ayant une plus faible fuite. Il n'y a cependant en réalité aucun problème, du fait que l'intégra- tion à deux pentes alternées réduit les fuites. Ceci résulte du fait que la tension moyenne présente aux bornes du conden- sateur d'intégration est réduite. Outre le fait que la fuite interne est réduite, la linéarité de l'intégrateur est égale- ment améliorée. La seule chose nécessaire pour mettre en oeuvre la technique d'intégration alternée en sens croissant et en sens décroissant, consiste à sélectionner uneméthode pour commu- ter de l'intégration en sens croissant vers l'intégration en sens décroissant. Une première méthode possible utilise un comparateur qui commute lorsque la tension de sortie de l'in- tégrateur dépasse une valeur fixée à l'avance. Le bruit pré- sent sur le comparateur ne constitue pas un problème, du fait que si l'intégration en sens croissant est raccourcie d'une période d'horloge pendant une intégration en sens croissant, elle sera allongée d'une période au cours de l'intégration suivante. Une seconde méthode possible qu'on peut utiliser lorsqu'il est possible d'estimer la valeur approximative du signal (ou dans ce cas la plage de température), consiste à fixer à l'avance le nombre de cycles d'horloge utilisés pour chaque intégration en sens croissant, ainsi que le nombre total de cycles d'horloge utilisés pour l'intégration en sens décroissant. Dans les deux méthodes, on obtient des facteurs d'échelle corrects en fixant à l'avance le nombre total de périodes d'horloge. De plus, on réalise la conversion correc- te entre les échelles de mesure Fahrenheit et Celsius en fi- xant respectivement un rapport de 9/1 ou de 5/1 pour le nom- bre total de périodes d'horloge pour l'intégration en sens croissant. Comme décrit précédemment, les décalages entre les deux échelles de température sont fixes par des valeurs pré- chargées dans le compteur. Dans un exemple de réalisation spécifique de l'in- vention qui est utilisé en tant que thermomètre médical, on peut utiliser dans le système une tension de décalage qui soustrait en fait l'extrémité inférieure de la plage de tem- pérature, qui n'est pas réellement utilisée pour l'affichage. Ceci a également pour effet de réduire la dynamique de l'in- tégrateur. Plus précisément, si on utilise le thermomètre en instrument médical dans la plage de 32 C à 42 C, on peut soustraire la tension qui équivaut à 273 + 32 Kelvin, en tant que décalage d'amplificateur opérationnel. - Il va de soi que de nombreuses modifications peu- vent être apportées au dispositif et au procédé décrits et représentés, sans sortir du cadre de l'invention. REVENDICATIONS 1. Dispositif de détection de température, caracté- risé en ce qu'il comprend: des moyens de détection de tempé- rature à semiconducteurs (12), comportant au moins une jonc- tion qui fait apparaître à ses bornes une tension de jonction sous l'effet d'un courant traversant les moyens de détection de température à semiconducteurs (12), cette tension étant déterminée au moins partiellement par la température des moyens de détection de température à semiconducteurs (12); une source de courant (14) destinée à générer le courant qui circule dans les moyens de détection de température à semi- conducteurs (12), ce courant circulant avec des premier et second niveaux de courant; des premiers et seconds moyens de mémorisation de valeur de tension (36a, 36b) destinés à mémoriser des valeurs de la tension de jonction apparaissant respectivement sous l'effet des premier et second niveaux de courant; des moyens intégrateurs (38) destinés à recevoir un signal sous la dépendance des tensions de jonction qui sont mémorisées dans les premiers et seconds moyens de mémorisa- tion de valeur de tension (36a, 36b), et à intégrer ce signal dans un premier sens pour produire sur une sortie des moyens intégrateurs (38) un signal d'intégration proportionnel à la différence entre les tensions de jonction; et des moyens (48, 50, 52) qui réagissent au signal d'intégration en produi- sant un signal de température qui est représentatif de la température détectée par les moyens de détection de tempéra- ture (12). 2. Dispositif de détection de température selon la revendication 1, caractérisé en ce que les premiers et seconds moyens de mémorisation de valeur de tension sont respective- ment constitués par des premiers et seconds moyens échantil- lonneurs-bloqueurs (36a, 36b). 3. Dispositif de détection de température selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'il comprend en outre des moyens de commande (44) destinés à commander les moyens intégrateurs (38) et les premiers et seconds moyens échantil- lonneurs-bloqueurs (36a, 36b), de façon que les premiers moyens échantillonneurs-bloqueurs (36a) mémorisent la tension de jonction lorsque le courant circule à un premier niveau de courant, et les seconds moyens échantillonneurs-bloqueurs (36b) mémorisent la tension de jonction lorsque le courant circule avec le second niveau de courant. 4. Dispositif de détection de température selon la revendication 3, caractérisé en ce qu'il comprend en outre des moyens de référence de tension (42) destinés à produire une tension de référence par rapport à laquelle on mesure des variations de la tension de jonction. 5. Dispositif de détection de température selon la revendication 3, caractérisé en ce que les moyens intégra- teurs (38) sont conçus de façon à intégrer dans un second sens à partir du signal d'intégration, et en ce qu'il existe en outre des moyens (50) destinés à mesurer la durée d'inté- gration dans le second sens, ces moyens de mesure de durée fonctionnant sous la dépendance des moyens de commande (44). 6. Dispositif de détection de température selon la revendication 3, caractérisé en ce qu'il comprend en outre des moyens de tarage automatiques (46) qui sont connectés aux moyens intégrateurs (38) de façon à compenser des tensions de décalage. 7. Dispositif de détection de température selon la revendication 6, caractérisé en ce qu'il comprend en outre des moyens comparateurs (48) ayant une sortie destinée à transmettre un signal vers les moyens de commande (44), et ce signal varie sous la dépendance des moyens intégrateurs (38) et des moyens de tarage automatiques (46). 8. Dispositif de détection de température selon la revendication 3, caractérisé en ce qu'il comprend en outre des moyens de sélection incorporés dans les moyens de comman- de (44), pour sélectionner pour un signal correspondant à la température une pondération donnant soit une mesure avec 28 - l'échelle Fahrenheit, soit une mesure avec l'échelle Celsius. 9. Dispositif de détection de température du type utilisant une caractéristique thermique d'un élément à semi- conducteurs (12) pour mesurer la température, caractérisé en ce qu'il comprend: des moyens de commutation (70-79) desti- nés à commuter un courant circulant dans l'élément à semicon- ducteurs (12), d'un premier niveau de courant pour lequel une première tension apparaît aux bornes de l'élément à semicon- ducteurs, vers un second niveau de courant pour lequel une seconde tension apparaît aux bornes de l'élément à semicon- ducteurs (12); des moyens intégrateurs (38) destinés à ef- fectuer une intégration entre les première et seconde ten- sions aux bornes de l'élément à semiconducteurs (12); et des moyens de mesure de temps (50) destinés à mesurer la durée de l'intégration, cette durée d'intégration, qui dépend de la température mesurée, étant utilisée pour produire un signal correspondant à la Température détectée. 10. Dispositif selon la revendication 9, caractérisé en ce qu'il comprend en outre des moyens de commande de cou- rant (44) destinés à maintenir une relation prédéterminée en- tre les premier et second niveaux de courant (n/l). 11. Dispositif selon la revendication 10, caractéri- sé en ce que les moyens de commande de courant (44) sont con- çus de façon à maintenir un rapport de 10/1 entre les pre- mier et second niveaux de courant, et en ce qu'il comporte en outre un ensemble d'éléments de commutation (70-79) destinés à commuter des composantes respectives du courant qui circule dans l'élément à semiconducteurs (12). 12. Dispositif selon la revendication 11, caractéri- sé en ce que les moyens de commande de courant (44) compren- nent en outre des moyens séquenceurs sous l'action desquels les éléments de commutation (70-79) de l'ensemble d'éléments de commutation sont commandés-séquentiellement, de façon à réduire par moyenne des erreurs d'intensité sur les composan- tes des courants précités, de façon à obtenir une précision élevée pour le rapport de 10/1. 13. Dispositif selon la revendication 9, caractérisé en ce que les moyens d'intégrateurs (38) sont des moyens d'in- tégration bidirectionnels conçus pour intégrer dans des pre- mier et second sens, et les moyens de mesure de temps (50) me- surent la durée de l'intégration dans un sens prédéterminé parmi les premier et second sens. 14. Dispositif selon la revendication 9, caractérisé en ce qu'il comporte en outre des moyens amplificateurs (20) qui ont un gain prédéterminé et qui sont connectés à l'élément à semiconducteurs (12). 15. Dispositif selon la revendication 9, caractérisé en ce qu'il comprend en outre des premiers et seconds moyens de mémorisation (36a, 36b), destinés à mémoriser des tensions sélectionnées parmi les première et seconde tensions qui appa- raissent aux bornes de l'élément à semiconducteurs (12). 16. Dispositif selon la revendication 15, caractéri- sé en ce qu'il comprend en outre des troisièmes moyens de mé- morisation (36d) destinés à mémoriser une valeur de tension qui correspond à une différence entre les tensions mémorisées dans les premiers et seconds moyens de mémorisation (36a, 36b). 17. Dispositif selon la revendication 15, caractéri- sé en ce qu'il comprend en outre des moyens amplificateurs (36c) qui sont connectés aux premiers et seconds moyens de mé- morisation (36a, 36b), pour améliorer la résolution du dispo- sitif de détection de température. 18. Dispositif selon la revendication 17, caractéri- sé en ce qu'il comprend en outre des moyens de commutation destinés à commuter des éléments d'entrée et de réaction con- nectés aux moyens amplificateurs (36c). 19. Procédé de mesure de température, caractérisé en ce qu'il comprend les opérations suivantes: on fait circuler alternativement un courant à des premier et second niveaux de courant dans un capteur de température à semiconducteurs (12); on échantillonne et on mémorise une tension qui apparaît dans le capteur de température à semiconducteurs à des instants qui correspondent à la circulation du courant aux premier et second niveaux de courant; on produit un signal de mesure correspondant à une différence de ladite tension pendant la circulation du courant aux premier et second niveaux de cou- rant; on intègre ce signal de mesure sur un intervalle de temps prédéterminé; et on mesure la durée d'une partie au moins de cette intégration, pour produire un signal de temps qui correspond à une température détectée du capteur de tem- pérature à semiconducteurs. 20. Procédé selon la revendication 19, caractérisé en ce que l'opération de mesure de temps comprend les opéra- tions supplémentaires qui consistent à appliquer sélective- ment un signal d'horloge à un compteur (50); et à pré-char- ger une valeur dans ce compteur. 21. Procédé selon la revendication 19, caractérisé en ce que l'opération d'intégration comprend en outre les opérations suivantes: on intègre en sens croissant pendant une durée qui a été prédéterminée sous la dépendance d'une échelle de mesure de température sélectionnée; et on intègre en sens décroissant pendant un intervalle de temps de mesure qui se prolonge jusqu'à ce qu'une tension de référence d'in- tégration présélectionnée soit atteinte, cet intervalle de temps de mesure ayant une durée qui est fonction de la tempé- rature mesurée.