FR 2605447 A1 19880422 FR 8614523 A 19861020 ! MEMOIRE NON-VOLATILE PROGRAMMABLE ELECTRIQUEMENT La présente invention concerne les mémoires non-volatiles programmables électriquement. Elles concernent plus particulière- ment les mémoires non-volatiles programmables électriquement réalisant un appel de courant sur la tension de programmation telles que, par exemple, les mémoires EPROM ou EEPROM. En général, dans les mémoires du type EPROM ou EEPROM, chaque élément de stockage d'information ou cellule-mémoire est constitué par un transistor MOS à grille flottante. Un transistor MOS à grille flottante peut avoir deux états. Pour un transistor MOS 1c à canal N, dans un premier état aucune charge n'est piégée sur la grille flottante. Un canal de conduction peut exister entre source et drain. Le transistor conduit alors et se comporte comme un inter- rupteur fermé. Dans un deuxième état, les électrons ont été piégés sur la grille flottante. Ils empêchent la création d'un canal de conduction dans le substrat entre source et drain. Dans ce cas, le transistor est bloqué et se comporte comme un interrupteur ouvert. Pour programmer un transistor MOS à grille flottante tel que décrit cidessus, des tensions plus élevées que la tension de fonctionnement normale doivent être appliquées sur la grille de commande et l'une des électrodes de sorte que la grille flottante puisse absorber et garder une charge d'électrons. D'autre part, pour lire une mémoire ainsi programmée, une tension de lecture spécifique doit être appliquée sur la grille de commande, cette tension de lecture permettant de détecter l'état passant ou bloqué du transistor. Pour pouvoir appliquer les tensions nécessaires à la program- mation ou à la lecture d'une cellule-mémoire constituée par un transistor MOS à grille flottante, celui-ci est en général connecté de la manière représentée sur la figure 1. Ainsi, une des électrodes principales du transistor MOS I à grille flottante, à savoir la source 2 dans le mode de réalisation représenté, est reliée à la tension VSs représentant la masse tandis que l'autre électrode ou drain 3 est reliée par l'intermédiaire d'une ligne de bits non représentée et d'un transistor MOS formant interrupteur 8 à un décodeur d'adresses de colonnes 7. La grille de commande 5 du transistor MOS 1 est reliée par l'iniermédiaire d'une autre connexion dite ligne de mots, non représentée, à un décodeur d'adresses de lignes 6. Les lignes de bits et lignes de mots sont arrangées en lignes et en colonnes pour déterminer une matrice incluant la cellule- mémoire constituée par le transistor MOS I à grille flottante de manière connue de l'homme de l'art. En fait, le décodeur d'adresses de colonnes 7 est relié à la grille du transistor 8 dont la source est reliée au drain 3 du transistor 1 tandis que son drain est connecté respectivement au circuit d'écriture E et à un circuit de lecture symbolisé Dar le bloc L. Le circuit d'écriture E est réalisé de manière que la tension de programmation, à savoir la tension Vpp soit appliquée au niveau du noeud N lorsque la cellule-mémoire I doit être programmée, c'est-à- dire lorsqu'elle doit enregistrer une donnée correspondant a "1". Au contraire si la cellule-mémoire 1 ne doit pas être programmée, la tension au noeud N pendant l'écriture doit rester à "0". Comme représentée sur la figure 1, le circuit d'écriture est en général constitué par une ligne de charge comprenant un transistor MOS 11 déplété dont l'une des électrodes est reliée a la tension Vpp consti- tuant la tension de programmation et dont l'autre électrode est reliée à l'une des électrodes du transistor MOS 12 enrichi. L'autre électrode du transistor 12 est connectée au rnoeud N. Les deux grilles des transistors I 1 et 12 sont reliées en commun à un circuit de commande de programmation constitué par une porte NI 13 alimentée à la tension Vpp. Cette porte NI 13 reçoit respectivement sur ses deux entrées un signal D correspondant à la donnée à programmer inversée et un signal PGM correspondant au signal de commande de program- mation inversé. En conséquence, avec le circuit ci-dessus, lorsqu'on programme le transistor MOS 1 à grille flottante au niveau logique "1", on observe une variation de courant sur l'alimentation de la tension de programmation Vpp. Dans les applications dans lesquelles sont utilisées les mémoires nonvolatiles programmables électriquement du type de celles décrites cidessus, il est rare de programmer les cellules-mémoire une à une. En fait, elles sont le plus souvent programmées sous forme d'un mot, c'est-à-dire que huit cellules-mémoire par exemple sont programmées en parallèle pour un mot de 8 positions binaires ou bits. De ce fait, on observe sur l'alimentation de la tension de programmation Vpp un appel de courant qui correspond à huit cellules-mémoire. Or, l'appel de courant sur l'alimentation de la tension de programmation Vpp pour une cellule-mémoire est en général de l'ordre de I à 2 milliampères. De ce fait, lorsque les huit cellules-mémoire sont programmées à "1" par exemple, l'appel de courant sur l'alimentation de la tension de programmation Vpp peut monter jusqu'à une valeur comprise entre 8 milliampères et 16 milliampères. Or, lorsque l'on passe du mrode programmation ou écriture au mode lecture, on vient désactiver les circuits d'écriture sur les huit cellules-mémoire en même temps. Ceci provoque une chute brutale de consommation puisqu'alors le courant de program- mation Ipp passe de 16 milliampèrés à zéro milliampère. Cette variation du courant de programmation Ipp peut alors provoquer un pic de tension sur l'alimentation de la tension de programmation Vpp. Ce pic peut atteindre une valeur a Vpp de 7 volts. Or, ce pic est tres dangereux pour l'ensemble des circuits. En effet, les transistors inclus dans les circuits sont prévus pour tenir une tension maximale définie par la technologie utilisée qui est de 25 volts pour une technologie en 4 micromètres et 16 volts pour une technologie en 2 micromètres. Les variations sur la tension de programmation Vpp,qui est en fait la tension la plus élevée du circuit, risquent donc de détruire le circuit si on dépasse la garde prévue et en conséquence de le rendre inutilisable. La présente invention a donc pour but de remédier à ces inconvénients. En conséquence, la présente invention a pour objet une mémoire nonvolatile programmable électriquement comportant une matrice de cellulesmémoire accessible par des lignes et des colonnes, des circuits d'écriture et de lecture appliquant sur les lignes et les colonnes des potentiels représentatifs de la donnée programmée ou représentatifs de commande de lecture et des moyens gérant l'inter- connexion des circuits d'écriture et de lecture avec les cellules- mémoire, dans laquelle N cellules-mémoire sont programmées simul- tanément avec N supérieur à 1, chaque cellule-mémoire réalisant un appel de courant lors de sa programmation à "1", caractérisée en ce qu'elle comporte des premiers moyens pour désactiver un par un les circuits de lecture correspondant aux N cellules-mémoire lors du passsage d'un mode programmation dans un mode lecture et des deuxièmes moyens pour courtcircuiter les premiers moyens lors du passage en mode programmation. Selon un mode de réalisation préférentiel, les premiers moyens sont constitués par un registre à décalage à une entree recevant le signal de commande de lecture-écriture et à N-1 sorties, l'entrée et les N-I sorties étant envoyées respectivement sur les N circuits d'écriture, le registre à décalage étant commandé par des signaux horloge commutant les sorties une par une. D'autre part, les deu- xiemes moyens pour court-circuiter les premiers moyens lors du passage en mode programmation sont constitues par un circuit en logique combinatoire activée par le signal de commande de lecture- écriture et par le signal de commande de programmation généré en fin de lecture, le circuit en logique combinatoire étant connecté entre le registre à décalage et les circuits d'écriture. Le signal de commande de programmation est généré a partir du signal de commande de lecture-écriture par l'intermédiaire d'un circuit sépara- teur de signaux activés par le signal de commande du Nidme circuit d'écriture. De plus, Le registre à décalage reçoit un signal de remise à niveau lors de la mise sous tension. D'autres caractéristiques et avantages de la présente invention apparaîtront à la lecture de la description d'un mode de réalisation faite ci-après avec référence aux dessins ci-annexés dans lesquels: - la figure 1, déjà décrite, représente schématiquement une cellule-mémoire d'une rmémoire EPROM connectée à des circuits d'écriture et de lecture susceptibles de recevoir les circuits de la présente invention; - la figure 2 représente un mode de réalisation des circuits conformes à la présente invention, destinés à être connectés entre le registre d'entrée et les circuits d'écriture - la figure 3 représente un diagramme des temps des principaux signaux commandant ou sortant des circuits conformes à la présente invention, - la figure 4 représente les courbes pp et Vpp en fonction du temps dans le cas d'une mémoire de l'art antérieur et d'une mémoire munie de circuits conformes à la présente invention, et - la figure 5 représente un autre mode de réalisation d'un registre à décalage utilisable dans la présente invention. Pour simplifier la description, dans les dessins les mêmes éléments portent les mêmes références. D'autre part, la description a été faite en se référant à des circuits MOS réalisés en technologie N MOS ainsi qu'a une mémoire de type EPROM dont les cellules- mémoire sont constituées par des transistors.MOS à grille flottante de type SAMOS (pour Stacked Gate Avalanche Injection MOS). Toutefois, il est évident pour l'homme de l'art que la présente invention peut s'adapter à d'autres technologie ou à d'autres types de mémoires. Conformément à la présente invention, on prévoit entre le 2O registre d'entrée Ri permettant d'obtenir le signal de commande de programmation PGM et le signal de commande d'écriture et de lecture P2S et les N circuits d'écriture utilisés pour réaliser la programmation en parallèle de N cellules-mémoire, des moyens pour désactiver un par un les circuits de lecture correspondant aux N cellules-mémoire lors du passage d'un mode programmation dans un mode lecture et des deuxièmes moyens pour courtcircuiter les premiers moyens lors du passage en mode programmation. Comme représenté sur la figure 1, qui concerne la program- mation de huit cellules-mémoire en parallèle, les premiers moyens 3O pour désactiver un par un les circuits de lecture correspondant aux N cellulesmémoire lors du passage d'un mode programmation dans un mode lecture sont constitués essentiellement par un registre à décalage 20 et les deuxièmes moyens pour court-circuiter les pre- miers moyens lors du passage en mode programmation sont constitués essentiellement par un circuit en logique combinatoire 21 associé à un séparateur de signaux R2 mis en oeuvre par un interrupteur commandé par la Nieme sortie du circuit 21. De manière plus spécifique, le registre à décalage 20 est constitué de NI portes NON-ET, a savoir 7 portes NON-ET E1 à E7 dans le mode de réalisation représenté, connectées en serie par l'intermédiaire de 7 transistor MOS TI à T7 montés en interrupteur. Ainsi, une des électrodes principales des transistors MOS TI à T7 est connectée sur une des entrées des portes NON-ET E1 à E7 tandis que son autre électrode principale est connectée à la sortie de la porte NON-ET précédente, le premier transistor MOS TI recevant sur son autre électrode le signal de commande de lecture-écriture P2S issu du registre R1. D'autre part, les grilles des différents transistors T1 à T7 sont connectés à des signaux horloge 1 ou 3 commutant les sorties une par une. En fait, les signaux Q et 0 3 sont des signaux de séquencement obtenus à partir du signal horloge de la mémoire qui présentent la particularité d'avoir des impulsions décalées les unes par rapport aux autres de manière à ne jamais être au niveau logique "1" en même temps. Ainsi, comme représenté sur la figure 2, les grilles des transistors MOS interrupteurs impairs, à savoir des transistors T1, T3, T5 et T7, sont commandées par le signai 0 3 tandis que les grilles des transistors MOS interrupteurs pairs T2,T4 et 2G T6 sont commandées par le signal 0 ' D'autre part. l'autre entrée des portes NON-ET El a E7 reçoit un signal de remise a niveau, plus particulièrement un signal de remise a "1" référencé Reset sur la figure. Les sorties des portes NON-ET impaires EI, E3,E5 et E7 sont connectées a des inverseurs I1,12,I3 et I4. Les sorties du registre à décalage 20 sont donc réalisées par les sorties des inverseurs 11,I2,I3,I4 et les sorties des portes NON-ET E2,E4,E6, dans le mode de réalisation représenté. Conformément à la présente invention, ces sorties sont en- voyées en entrée du circuit en logique combinatoire 21 utilisé pour courtcircuiter le registre à décalage lors du passage en mode programmation. Ce circuit 21 est constitué essentiellement de portes OU Ol à 07 et de portes NON-ET E'1 à E'8 commandées respecti- vement par les sorties du registre à décalage 20, le signal de commande de lecture-écriture P2S et le signal de commande de programmation PGM. De manière plus spécifique, chaque sortie du registre à décalage 20 est envoyée sur une entrée d'une porte OU 01 à 07 dont l'autre entrée reçoit le signal de commande de lecture- écriture P2S. Les sorties des portes OU Ol à 07 sont envoyées respectivement sur une des entrées des portes NON-ET E'2 à E'8 respectives dont l'autre entrée reçoit le signal de commande de programmation PGM. D'autre part, la porte NON-ET E'l reçoit sur une de ses entrées le signal de commande de programmation P2S et sur son autre entrée le signal PGM. Les sorties des portes NON-ET E'l à E'8 donnent les huit signaux de commande de "bits" CO à C7 qui commandent chacun un des circuits d'écriture E en remplacement du signal PGM dans le mode de réalisation de la figure 1. Ainsi, comme représenté sur la figure 2, le signal CO est envoyé sur une entrée de a porte NI 13 alimentée par Vpp et qui reçoit sur son autre entrée la donnée a programmer sous forme inversée a savoir le signal D. La sortie de cette porte NI 13 est connectée aux deux grilles des transistors MOS 11 et 12 formant la ligne de charge d'une cellule- mémoire non représentée. Pour simplifier la description, on a repré- senté qu'un seul circuit d'écriture E relié a la commande CJ. Toutefois, il est évident pour l'homme de l'art que les commandes CI a C7 sont chacune reliées à un circuit d'écriture semblable a celui représenté sur la figure 2. D'autre part, comme représenté sur la figure 2, le signal P2S est obtenu en sortie du registre RI bien connu de l'homme de l'art qui reçoit en entree un ordre de lecture ou d'écriture représenté par le signal W. Le registre RI est, en général, constitué par un registre dynamique. De plus, le signal issu du registre RI est envoyé vers un circuit 22 générant le signal de programmation PGM par l'intermé- diaire d'un séparateur de signaux R2 mis en oeuvre par un inter- rupteur constitué par le transistor MOS T8 dont la grille est reliée au signal de commande de bits C7. Le séparateur de signaux R2 est constitué lui aussi par un registre dynamique de type connu, à savoir par deux inverseurs I5 et 16 normalement précédés par des capacités de stockage non représentées permettant de stocker l'information en entrée. La sortie de l'inverseur 16 est rebouclée sur l'entrée de l'inverseur 15 par l'intermédiaire d'un transistor MOS T9 dont la grille est connectée à l'une des horloges de la mémoire référencée CLK2. La sortie du circuit R2 est envoyée sur le circuit 22 générant le signal de programmation bien connu de l'homme de l'art et qui ne sera pas redécrit ici. En sortie du circuit 22 on obtient le signal de commande de programmation PGM qui permet notamment de com- muter sur la grille 5 du transistor MOS à grille flottante I constituant une cellule-mémoire soit la tension de programmation Vpp soit la tension d'alimentation Vcc suivant que l'ordre en entrée du registre RI est un ordre d'écriture ou un ordre de lecture. On décrira maintenant avec référence à la figure 3 le fonction- nement du circuit ci-dessus. Ainsi lorsque l'ordre d'écriture W passe au niveau "1" on obtient en sortie du registre R1 un signal de commande de lecture-écriture P2S qui passe lui aussi au niveau "1". Comme le signal de commande de bits C7 appliqué sur la grille du transistor T8 se trouve être au niveau logique "1", le transistor T8 formant interrupteur est passant. De ce fait le séparateur de signaux R2 est en fonctionnement. I1 commande donc le circuit 22 générant le signal de programmation et l'on obtient en sortie de ce circuit un signal PG.M qui s'établit au niveau "1" avec un certain retard. Lorsque le signal PGM passe au niveau "1", on établit ia tension de program- mation sVpp sur l'ensemble de la mémoire. Puisque les signaux de commande de programmation PGM et de commande de lecture- écriture P2S sont tous deux au niveau "1", les sorties CO à C7 des portes NON-ET E'I à E'8 passent au niveau logique "0", niveau pour lequel elles sont actives pour commander les différents circuits d'écriture E comme expliqué ci-dessus avec référence à la figure 1. En effet, le signal de commande de lecture-écriture P2S est appliqué sur les portes NON-ET El à E8 directement pour la porte NON-ET E'I ou par l'intermédiaire de portes OU Ol à 07 dont la sortie appliquée en entrée des portes NON-ET E'2 à E'8 se trouve au niveau logique "1" dès qu'une des entrées est au niveau logique "1". Dans ce cas, le fonctionnement du registre à décalage 20 est inactif sur les sorties CO à C7. Lorsque la commande C7 passe au niveau logique "0", le transistor T8 se bloque séparant le registre RI du registre R2. Toutefois, le registre R2 effectue un rafraichissement de la donnée en entrée ce qui permet de maintenir le signal de programmation PGM au niveau logique "1". Lorsque l'ordre d'écriture W passe au niveau logique "0", c'est- a-dire lors du passage d'un mode programmation dans un mode lecture, le signal en sortie du registre RI, à savoir le signal de commande lectureécriture P2S, passe au niveau logique "0". A ce moment la sortie CO de la porte NON-ET E'l passe au niveau logique "1" ce qui bloque le circuit d'écriture E et entraîne un appel de courant sur la tension d'alimentation Vpp correspondant à un circuit d'écriture. D'autre part, une des entrées des portes OU 01 à 07 se trouve donc au niveau zéro tandis que les autres entrées constituées par les entrées du registre 23 sont encore au niveau logique 1. En conséquence, les sorties des portes OU 01 à 07 se trouvent au niveau logique "1" et les sorties CI à C7 des portes NON-ET E'2 à E'8 restent au niveau logique "1" n'entraînant pas le blocage des circuits d'écriture correspondants. Lorsque 0 3 passe au niveau logique "1" c'est-à-dire lorsqu'une impulsion de 3 est présente sur la grille du transistor TI, ce dernier devient passant et met une des entrées de la porte NON-ET E1 au niveau logique "3". L'autre entrée de la porte NON-ET E1 se trouvant au niveau logique "1", la sortie de cette porte 2 NON-ET El passe au niveau logique "1"' ce qui entraîne en sortie de l'inverseur I1 un niveau logique "0". La porte OU Ol recevant en entrée deux niveaux logiques "3", sa sortie passe au niveau logique "0" et la sortie C1 de la porte NON-ET E'2 passe au niveau logique "1" entraînant le blocage du circuit d'écriture correspondant. De même, lorsque 0 I passe au niveau logique "1", le transistor T2 devient passant. L'entrée correspondante de la porte NON-ET E2 passe au niveau logique "1" et la sortie de cette porte NON-ET E2 passe au niveau logique "0". Ainsi, les deux entrées de la porte OU 02 étant au niveau logique "0", sa sortie passe au niveau logique "1" entraînant le passage au niveau logique "1" de la sortie C2 de la porte NON-ET E'3. Lorsque 0 3 passe au niveau logique "1", le transistor T3 devient passant entraînant le passage de l'information en sortie de la porte E2 sur l'entrée de la porte E3. Ceci provoque le passage de la commande C3 au niveau logique "1" de manière identique au passage de la commande CI. Lorsque 0 repasse au niveau logique "1", le transistor T4 se ferme et ainsi de suite pour les transistors T5 à T7 qui fonctionnent de manière identique aux transistors TIl à T4. -Avec le circuit décrit ci-dessus on obtient une diminution pas à pas du courant de programmation Ipp en fonction du temps t comme représenté par la courbe a sur la figure 4 à la place d'un passage instantané à zéro tel que représenté par la courbe a'. En conséquence, la tension Vpp décroît progressivement comme représenté par la courbe b de la figure 4 au lieu de montrer le pic de courant représenté sur la courbe b'. Ceci évite l'endommagement des circuits de la mémoire. Il est évident pour l'homme de l'art que d'autres types de registre à décalage 20 et de circuit en logique combinatoire 21 peuvent être utilisés dans la présente invention. Ainsi, comme représenté sur la figure 5, le registre à décalage 20 peut être réalisé à l'aide de bascules maître-esclave B1 à B7. De manière plus spécifique, la bascule BI comporte deux portes ET E"1 et E"2 connectées respectivement à deux portes NI O"1 et 0"2. Ainsi, la porte ET E"l reçoit en entrée respectivement le signal P2S et le signal q 3 tandis que la porte ET E"2 reçoit le signal P2S 2G inversé par l'inverseur I110 et le signal 0 3. Les sorties des portes ET E"l et E"2 sont envoyées respectivement sur une des entrées des portes NI O"i et 0"2. L'autre entrée de la porte NI O"1 est connectée à la sortie de la porte NI 0"2 tandis que l'autre entrée de la porte NI 0"2 est connectée à la sortie de la porte NI O"1. De plus, la porte NI 0"2 reçoit un signal de remise à zéro Reset. Les sorties des portes NI O"1 et 0"2 sont connectées aux entrées de la bascule B2, à savoir respectivement sur une des entrées des portes ET E"l et E"2 de cette bascule et la sortie de la porte NI 0"2 est envoyée une des entrées de la porte OU 01 du circuit en logique combinatoire 21. La structure de la bascule B2 est identique à celle de la bascule BI. Toutefois, les autres entrées des portes ET E"I et E"2 reçoivent le signal-horloge 1. D'autre part, le signal de remise à zéro Reset est envoyé sur la porte NI O"1 et la sortie de cette porte NI O"1 est connectée à une des entrées de la porte OU 02 du circuit 21. D'autre part, les bascules B3, B5 et B7 reçoivent les mêmes signaux que la bascule BI 1! tandis que les bascules B4 et B6 reçoivent les mêmes signaux que la bascule B2. En ce qui concerne le mode de fonctionnement de ce registre à décalage, il est identique à celui décrit pour le registre à décalage 20 de la figure 2. REVENDICATIONS 1. Mémoire non-volatile programmable électriquement compor- tant une matrice de cellules-mémoire accessibles par des lignes et des colonnes, des circuits d'écriture et de lecture appliquant sur les lignes et les colonnes des potentiels représentatifs de la donnée à programmer ou représentatifs de commande de lecture et des moyens gérant l'interconnexion des circuits d'écriture et de lecture avec les cellles-mémoire, dans laquelle N cellules-mémoire sont program- mées simultanément avec N supérieur à 1, chaque cellule-mémoire réalisant un appel de courant lors de sa programmation a "1", i ç, caractérisée en ce qu'elle comporte des premiers moyens (20) pour désactiver un par un les circuits de lecture correspondant aux N cellules-mémoire lors du passage d'un mode de programmation dans un mode lecture et des deuxièmes moyens (21, R2) pour court- circuiter les premiers moyens lors du passage en mode 1l programmation. 2. Mémoire non-volatile programmable électriquement selon la revendication 1, caractérisée en ce que les premiers moyens sont constitués par un registre à décalage à une entrée recevant le signal de commande de lecture-écriture (P2S) et à N-1 sorties, l'entrée et les N-I sorties étant connectées respectivement aux N circuits d'écriture (E), le registre à décalage étant commandé par des signaux-horloge (Pl, 03) commutant les sorties une par une. 3. Mémoire non-volatile programmable électriquement selon la revendication 2, caractérisée en ce que le registre à décalage reçoit un signal de remise à niveau (RESET, RESET) lors de la mise sous tension. 4. Mémoire non-volatile programmable électriquement selon l'une quelconque des revendications 2 et 3, caractérisée en ce que le registre à décalage est constitué par N-I portes NON-ET connectées en série par l'intermédiaire de transistors MOS (TI à T7) formant interrupteurs, les transistors MOS de rang pair (T2, T4, T6) étant commandés par un premier signal-horloge (01) et les transistors MOS de rang impairs (Ti, T3, T5, T7) étant commandés par un deuxième signal horloge (03) décalé par rapport au premier signal horloge, chaque porte NON-ET recevant sur une entrée la sortie de la porte NON-ET précédente et sur son autre entrée le signal de remise à niveau (RESET), les sorties des portes NON-ET de rang impair (El, E3, E5, E7) étant envoyées chacune sur un inverseur (11 à 14), les sorties des portes NON-ET de rang pair (E2, E4, E6) et les sorties des inverseurs (11 à 14) réalisant les N-I sorties du registre. l C 5. Mémoire non-volatile programmable électriquement selon l'une quelconque des revendications 2 et 3, caractérisée en ce que le registre à décalage est constitué par N-I bascules de type maître- esclave (BI à B7) connectees en série, les bascules de rang impair (B1, B3,B5, B7) étant commandées par un premier signal-horloge (03) et les bascules de rang pair (B2, B4, B6) par un deuxième signal- horloge ((1) décalé par rapport au premier signal-horloge, les sorties Q des bascules de rang pair et les sorties Q des bascules de rang impair réalisant les N-1 sorties du registre. 6. Mémoire non-volatile programmable électriquement selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, caractérisée en ce que les deuxièmes moyens pour court-circuiter les premiers moyens lors du passage en mode programmation sont constitués par un circuit en logique combinatoire (21) activé par le signal de commande lecture- écriture (P2S) et par le signal de commande de programmation (PGM) généré en fin de lecture, le circuit en logique combinatoire étant connecté entre le registre a décalage et les circuits d'écriture. 7. Mémoire non volatile programmable électriquement selon la revendication 5, caractérisée en ce que le signal de commande de programmation (PGM) est généré à partir du signal de commande de lecture- écriture (P2S) par l'intermédiaire d'un circuit séparateur de signaux (R2) activé par le signal de commande du Nième circuit d'écriture.