FR 2593599 A1 19870731 FR 8601263 A 19860129 PROCEDE ET DISPOSITIF DE DETERMINATION SANS WNTACT DU RELIEF D'UNE SURFACE La présente invention concerne un procédé et un dispositif de détermination rapide et sans contact, du relief de la surface d'un objet ou d'une structure. A cet effet on utilise une méthode basée sur la détection et la mesure d'un rayonnement rétrodiffusé par la surface étudiée. On connaît des procédés utilisant des méthodes de ce type, dans lesquels on dirige un faisceau lumineux concentré sur la surface étudiée et on observe le faisceau réfléchi ou, plus précisément rétrodiffusé par la surface. En effet, selon le relief ou la rugosité de la surface, le faisceau réfléchi est plus ou moins divergent, et l'étude de cette divergence permet d'avoir une représentation du relief ou de l'état de surface. Selon un de ces procédés connu par le document SU-A-1 067 350, on éclaire la surface étudiée sous un certain angle et on mesure le rayonnement en divers points du faisceau réfléchi, dans un plan perpendiculaire à la direction de réflexion spéculaire. Cette mesure permet de déterminer la répartition énergétique du rayonnement réfléchi et ainsi d'obtenir des valeurs ou des courbes représentatives du rayonnement réfléchi qui, par comparaison avec les valeurs établies en d'autres points de la surfaces, ou d'une surface de référence, permettent d'établir des caractéristiques de relief ou de rugosité à l'endroit étudié de la surface. On remarque tout de suite qu'une mesure effectuée selon le procédé précédent est caractéristique d'un point de la surface étudiée, et que l'examen d'une surface complète nécessite d'effectuer des mesures répétitives en tous points de ladite surface, chaque mesure pouvant nécessiter plusieurs manipulations, ou alors on doit éclairer une certaine superficie de la surface, et dans ce cas la mesure effectuée est une mesure "moyenne" sur ladite superficie. De plus, la mesure du relief d'une surface par ce procédé est essentiellement comparative, et ne détermine donc pas précisément la forme ou le profil dudit relief. En outre le résultat de la mesure est sujet aux variations du rayonnement émis par la source, qui peuvent se produire pendant une mesure ou entre deux mesures consécutives. La présente invention a pour objet un procédé de détermination ou de mesure du relief d'une surface, qui permet de supprimer les inconvénients cités ci-dessus. Il est précisé que dans l'ensemble de la description, on appellera dispositif séparateur tout moyen permettant de déterminer au moins deux faisceaux représentatifs du faisceau d'entrée sans nécessité de séparation "physique" de ces deux faisceaux; de nmme on appellera diaphragme tout moyen permettant de n'appréhender qu'une partie d'un faisceau, dont la section est limitée par une surface donnée. Selon ledit procédé, on irradie la surface étudiée par un faisceau incident d'ondes électromagnétiques, étroit et de répartition énergétique connue et impérativement à symétrie de révolution; on focalise le faisceau rétrodiffusé par ladite surface, au moyen d'un objectif; on sépare le faisceau issu dudit objectif par un dispositif séparateur et on obtient deux faisceaux l'un, appelé faisceau de mesure, est limité par un diaphragme, et possède une énergie totale de valeur Wf après passage au travers dudit diaphragme; l'autre, appelé faisceau de référence, n'est pas diaphragmé et possède une énerge totale de valeur Wo; on déplace par rapport à la surface étudiée le faisceau incident et 1 'objectif, parallèlement et à une distance moyenne constante de ladite surface; on mesure en permanence lors de ce déplacement les énergies des faisceaux de mesure et de référence et on effectue, pour chaque point de mesure, le rapport des valeurs respectives Wf/Wo dont la variation lors du déplacement précédemment décrit est représentative du relief de la surface étudiée. En effet dans le procédé objet de l'invention, la surface étudiée, du fait de son relief, rétrodiffuse le faisceau incident. Le faisceau rétrodiffusé est focalisé par un objectif, et si la distance optique réelle entre l'objectif et le point de la surface irradié par le faisceau incident varie, la distance optique réelle entre l'objectif et 1 'image dudit point varie également, ainsi que l'angle au sommet du faisceau convergent issu de l'objectif. De ce fait, le diaphragme placé sur le faisceau de mesure, à une distance fixe de l'objectif et hors du plan image dudit faisceau, limite plus ou moins ledit faisceau en relation avec la variation de la distance optique réelle séparant l'objectif de la surface étudiée. En conséquence, l'énergie du faisceau de mesure est "modulée" par le diaphragme, alors que l'énergie du faisceau de référence, non limité par un diaphragme, est transmise intégralement. On voit dès lors un avantage intéressant du procédé objet de l'invention qui résulte du fait que le résultat de la mesure, qui est le rapport Wf/Wo des valeurs des énergies respectives des faisceaux de mesure et de référence, issus, par séparation d'un unique faisceau, est indépendant des éventuelles variations énergétiques dudit faisceau incident et donc d'éventuelles fluctuations de la source. Un autre avantage du procédé est que le faisceau incident est un faisceau étroit et concentré, mais qu'il n'a pas besoin d'être strictement ponctuel, ce qui facilite indéniablement la mise en oeuvre du procédé. Par ailleurs, on peut encore remarquer que, en restant dans des limites raisonnables imposées par la mise en oeuvre du procédé, celui-ci peut être appliqué à la mesure de reliefs dans un large champ de granulométrie, moyennant 1 'adaptation de certains paramètres déterminés par la mise en oeuvre du procédé. Enfin, le résultat de la mesure effectuée selon le procédé objet de l'invention est une valeur caractéristique de la distance optique réelle entre l'objectif et le point considéré de la surface étudiée, et n'est pas une valeur comparative à une surface de référence. Ceci est particulièrement intéressant car on peut alors représenter pratiquement directement le profil du relief de la surface étudiée. Une disposition avantageuse du procédé selon l'invention consiste en ce que l'on dirige le faisceau incident orthogonalement à la surface étudiée au travers d'un objectif permettant d'observer, également orthogonalement à ladite surface, le faisceau rétrodiffusé. Cette disposition présente le grand intérêt d'éviter le phénomène d'ombres projetées qui peut se produire lors d'une irradiation et d'une observation faite obliquement par rapport à la surface, et supprime de la sorte une part importante d'erreurs de mesure. La présente invention a également pour objet un dispositif de mesure du relief d'une surface d'un objet ou d'une structure, sans contact direct avec ladite surface, et selon le procédé précédemment décrit, comprenant: - une source émettant un faisceau d'ondes électro- magnétiques étroit et de répartition énergétique connue et à symétrie de révolution qui est dirigé sur la surface étudiée et rétrodiffusé par celle-ci; - un objectif qui focalise le faisceau rétrodiffusé; - un dispositif séparateur, placé en aval de l'objectif qui sépare le faisceau issu dudit objectif en deux faisceaux appelés l'un faisceau de mesure, l'autre faisceau de référence; - un diaphragme placé sur le faisceau de mesure sur ou en aval du dispositif séparateur et dans un plan qui doit être en permanence différent du plan image de la surface étudiée à travers l'objectif, de façon à limiter en permanence ledit faisceau de mesure; des moyens permettant de déplacer le faisceau incident et l 'objectif par rapport à la surface étudiée, parallèlement et à une distance moyenne constante de ladite surface; - des moyens de mesure placés sur les faisceaux de mesure et de référence, pour déterminer en permanence les valeurs respectives Wf et Wo des énergies desdits faisceaux de mesure et de référence lors du déplacement relatif du faisceau incident et de l'objectif par rapport à la surface étudiée; - des moyens de calcul du rapport Wf/Wo des valeurs respectives des énergies des faisceaux de mesure et de référence, pour chaque point de mesure. D'autres particularités et avantages seront décrits plus en détail en regard des schémas annexés dans lesquels: - la figure 1 est un schéma d'un dispositif conforme à l'invention; - la figure 2 est une représentation graphique de la variation du rapport Wf/Wo en fonction de la distance optique Z entre l'objectif et la surface étudiée; et ceci pour plusieurs distances diaphragme-objectif. - la figure 3 est un schéma d'une réalisation selon un cas particulier de l'invention. Dans la figure 1, la source de rayonnement 1 qui est ici un laser, mais pourrait être une source d 'un rayonnement électromagnétique visible ou non, émet un faisceau 10, qui peut, pour des raisons pratiques de réalisation du dispositif et d'encombrement, être rétrodiffusé à 90 par un miroir 16, ceci n'influant pas sur les caractéristiques de faisceau. Ledit faisceau incident 10 est dirigé sur la surface étudiée 2, réfléchi ou plutôt rétrodiffusé par celle-ci en un faisceau divergent 11, 12; ledit faisceau divergent 11, 12 est ensuite focalisé par un objectif 4 en un faisceau convergent 13. Dans le schéma de la figure 1, on a représenté un dispositif de renvoi 3 du faisceau rétrodiffusé 11, en un faisceau 12 faisant un certain angle avec le faisceau 11. En effet, bien que l'on puisse, selon l'invention, dirige le faisceau incident 10 et observer le faisceau rétrodiffusé suivant une direction oblique par rapport à la surface 2, un avantage indéniable réside dans le fait de pouvoir diriger le faisceau 10 et observer le faisceau rétrodiffusé 11 orthogonalement à la surface 2. Ceci est rendu possible par l'utilisation dudit dispositif 3, placé sur le trajet des faisceaux, orienté de préférence à 45 par rapport à la direction du faisceau incident 10, et constitué par une lame semi- transparente,un miroir percé d'un orifice par lequel peut passer le faisceau incident étroit 10, ou un dispositif similaire. Le faisceau convergent 13 issu de l'objectif est dirigé sur un dispositif séparateur qui est selon la figure 1 un cube séparateur 5. Dans ce dispositif séparateur, le faisceau 13 est séparé en deux faisceaux 14 et 15, de préférence orthogonaux. Le faisceau 15, appelé faisceau de référence, est dirigé sur le détecteur référencé 8 qui mesure l'énergie dudit faisceau 15. Le faisceau 14, appelé faisceau de mesure, passe au travers d'un diaphragme 6, avant d'être dirigé sur le détecteur mesure 7, qui mesure l'énergie dudit faisceau 14 diaphragmé. Les détecteurs 7 et 8 sont des dispositifs qui mesurent l'énergie des rayonnements qu'ils reçoivent et la transforment en un signal électrique proportionnel à l'énergie reçue. Les signaux émis par les détecteurs 7 et 8 sont ensuite traités dans une unité électronique de traitement de signal 9. Pour effectuer une mesure avec le dispositif schématisé figure 1, on déplace par rapport à la surface étudiée 2, l'ensemble du dispositif constitué par la source 1, le miroir 16, la lame semi-transparente 3, l'objectif 4, le cube séparateur 5, le diaphragme 6 et les détecteurs 7 et 8. Le déplacement est effectué parallèlement à la surface étudiée 2 et à distance moyenne constante, c'est-à-dire parallèlement à la surface enveloppe de ladite surface 2, les variations du relief de ladite surface étant négligeables par rapport aux dimensions de l'ensemble du dispositif. On a donc, lors de ce déplacement relatif du dispositif par rapport à la surface 2, des variations de la distance optique réelle Z séparant l'objectif 4 du point irradié de la surface étudiée 2. Lorsque la distance Z varie, la position des plans images P1 et P2 varie également, et donc le diamètre du faisceau 14, juste en amont des diaphragmes 6, varie également. Donc lorsque la distance Z va varier, l'énergie du faisceau de mesure 14 traversant le diaphragme 6 va aussi varier. Ainsi lorsque le faisceau incident 10 va irradier un point proéminent de la surface 2, la distance Z va diminuer, le plan image P1 va s'éloigner de l'objectif 4, le diamètre du faisceau en amont du diaphragme 6 va augmenter, et donc le diaphragme 6 laissera passer une plus faible quantité d'énergie. Cette énergie Wf est mesurée par le détecteur mesure 7. Alors que l'énergie Wo du faisceau référence 15, non diaphragmé, mesurée par le détecteur référence 8, sera exactement proportionnelle à l'énergie du faisceau rétrodiffusé 11, l'énergie mesurée par le détecteur 7 sera variable, "modulée" par le diaphragme 6. Pour assurer l'exactitude de la mesure, il est nécessaire que chaque détecteur 7, 8 présente une surface sensible suffisante pour intégrer la totalité du rayonnement qu'il reçoit, quelle que soit la position des plans images P1 et P2. Il est également nécessaire que le diaphragme 6 soit en permanence hos de la position du plan P1 et que son diamètre soit plus petit ou au plus égal au diamètre du faisceau 14 juste en amont dudit diaphragme 6. I1 va de soi que la réalisation de la figure 1 dans laquelle les plans images P1 et P2 se situent en aval du cube séparateur 5, est plus avantageuse au regard des nécessités énoncées ci-dessus, car permettant de maintenir la surface sensible des détecteurs dans des dimensions suffisamment réduites. Toutefois, il ne serait pas impossible de situer les plans images P1 et P2, qui seraient alors confondus, en amont du cube séparateur 5, ce qui entrainerait bien évidemment des faisceaux 14 et 15 divergents, et donc pourrait nécessiter d'accroître les dimensions des détecteurs. A la figure 3 on a représenté un schéma d'un dispositif selon le cas particulier de l'invention dans lequel le dispositif séparateur et le diaphragme sont confondus dans le même plan que la surface sensible du détecteur des moyens de mesure. Dans ce cas, on admet en fait que le faisceau de référence ' symbolisé en pointillés sur la figure 3, est constitué de l'intégralité du faisceau 13 issu de l'objectif et que le faisceau de mesure 14' est constitué d'une partie, également symbolisée en pointillés, du faisceau 13, limitée à une surface 17 circulaire coaxiale audit faisceau. La séparation du faisceau 13 issu de l'objectif est alors réalisée directement par le calculateur relié au détecteur 18. Celui-ci, au niveau de sa surface sensible 19, est constitué de façon à pouvoir délimiter avec précision des zones différentes, lors de la transformation du rayonnement en signal électrique. La séparatintes, lors de la transformation du rayonnement en signal électrique. La séparati, on comprend aisément que le faisceau de mesure n'est pas limité "matériellement" par un diaphragme, mais que cette limitation est aussi réalisée au niveau de la surface sensible, par le choix de l'aire de la surface 17 limitant le faisceau de mesure. Si les caractéristiques du détecteur 18 le permettent, on peut tout aussi bien choisir comme surface 17 limitant le faisceau de mesure, une surface circulaire ou une surface annulaire, à la seule condition que le faisceau 13 irradie au moins toute ladite surface 17, et que cette surface soit coaxiale audit faisceau 13 issu de l'objectif. La séparation et la limitation réalisées par la surface sensible du détecteur induisent donc deux valeurs d'énergie, l'une Wf correspondant au faisceau de mesure limité par la surface 17, l'autre Wo correspondant au faisceau de référence, donc à l'intégralité du faisceau 13 issu de l'objectif, et comprenant la somme de l'énergie Wf plus l'énergie du rayonnement capté par le détecteur hors de la surface 17. Les signaux électriques émis par les détecteurs sont injectés dans le dispositif de traitement de signal 9 qui en effectue en temps réel, pour tout point, le rapport par une division analogique. Le signal résultant est I(Z), fonction de la distance Z séparant l'objectif 4 de la surface étudiée 2, tel que I(Z) = Wf La théorie, confirmée par l'expérience montre que la Wf variation, en un point, du rapport W' = I(Z) en fonction de la distance surface-objectif Z, est représentée pr une courbe en "cloche" non symétrique (voir figure 2). Les deux branches de la courbe correspondent aux positions amont et aval du clan image Pi, par rapport au diaphragme, le maximum étant atteint à la coïncidence. On voit immédiatement que la zone utile de fonctionnement du dispositif se situe dans la partie quasiment linéaire de la courbe, correspondant à une variation maximale du rapport Wf/Wo, lorsque la distance optique réelle Z entre l'objectif 6 et la surface 2 varie. Cette zone utile de travail peut être adaptée à l'étendue de mesure et aux performances souhaitées, en modifiant un ou plusieurs des paramètres du dispositif. Lesdits paramètres sont les suivants: 1. diamètre de l'objectif 2. distance focale de l'objectif 3. diamètre du diaphragme de modulation 4. distance diaphragme-objectif 5. "distance moyenne" surfaceobjectif L'ensemble des courbes représentées à la figure 2 correspond à une variation du paramètre 4 (distance diaphragme- objectif), les paramètres 1, 2, 3 et 5 étant fixés. La non-linéarité de I(Z) en fonction de la distance Z, peut nécessiter d'effectuer des corrections dans le traitement du signal I(Z). Ces corrections sont effectuées par le dispositif de traitement de signal 9. Ledit dispositif 9 effectue ensuite la conversion du signal analogique I(Z) en signal numérique qui permet de déterminuer les caractéristiques du profil réel pour en déduire les paramètres de rugosité de surface. Par la possibilité de modifier les paramètres du dispositif, celui-ci peut être utilisé pour diverses applications. Un balayage dans deux directions orthogonales fournit une reconstitution en trois dimensions du relief de la surface. Il peut s'agir suivant la géométrie choisie, de la macrorugosité, de la microrugosité, du profil en long ou de la mesure d'altitude sans contact. Le procédé est utile pour la détermination de la rugosité ou du relief d'une chaussée, mais ses applications ne sont nullement limitatives. REVENDICATIONS 1. Procédé de détermination ou de mesure du relief d'une surface (2) d'un objet ou d'une structure, sans contact direct avec ladite surface par une méthode dans laquelle on irradie la surface étudiée (2) par un faisceau d'ondes électromagnétiques, on focalise au moyen d'un objectif (4) le faisceau rétrodiffusé (11, 12) par ladite surface (2), on détecte, mesure ou analyse le ou les faisceaux issus dudit objectif (4), caractérisé en ce qu'on utilise pour irradier la surface (2) un faisceau incident étroit (10) de répartition énergétique connue et à symétrie de révolution, ledit faisceau (10) étant rétrodiffusé vers l'objectif (4) par la surface (2), on sépare le faisceau (13) issu dudit objectif (4) par un dispositif séparateur, on obtient deux faisceaux, l'un appelé faisceau de mesure (14, 14') étant diaphragmé et possédant une énergie totale de valeur Wf après avoir été diaphragmé, l'autre appelé faisceau de référence (15, ') n'étant pas diaphragmé et possédant une énergie totale de valeur Wo; on déplace par rapport à la surface étudiée (2), le faisceau incident (10) et l'objectif (4) parallèlement et à une distance moyenne constante de ladite surface, on mesure en permanence lors de ce déplacement les énergies des faisceaux de mesure et de référence, et on effectue pour chaque point de mesure le rapport de leurs valeurs respectives Wf/Wo dont la variation, lors du déplacement précédemment décrit est représentative du relief de la surface étudiée. 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'on dirige le faisceau incident (10) orthogonalement à la surface étudiée (2) au travers d'un dispositif (3) permettant d'observer également orthogonalement à ladite surface, le faisceau rétrodiffusé. 3. Procédé selon l'une des revendications 1 ou 2, caractérisé en ce que l'on place l'objectif (4) à une distance optique moyenne de la surface étudiée (2) telle que la variation du rapport Wf/Wo soit maximale lorsque la distance optique réelle entre ledit objectif et ladite surface étudiée varie. 4. Procédé selon l'une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que l'on transforme les énergies des faisceaux de mesure et de référence en signaux électriques proportionnels auxdites énergies. 5. Procédé selon la revendication 4, caractérisé en ce que l'on effectue en temps réel une division analogique desdits signaux, et on obtient pour tout point de mesure un signal résultant I(Z) tel que I(Z) =. 6. Procédé selon la revendication 5, caractérisé en ce qu'on convertit le signal analogique résultant I(Z) en un signal numérique. 7. Procédé selon l'une des revendications 1 à 6, caractérisé en ce que le faisceau de référence est constitué de l'intégralité du faisceau (13) issu de l'objectif, et en ce que le faisceau de mesure est constitué d'une partie dudit faisceau (13) de l'objectif, dont la section est limitée à une surface circulaire (ou annulaire) coaxiale audit faisceau (13). 8. Dispositif pour la mise en oeuvre du procédé selon l'une des revendications 1 à 7, comportant une source (1) émettant un faisceau d'ondes électromagnétiques (10) qui est rétrodiffusé par la surface irradiée (2), et un objectif qui focalise le faisceau rétrodiffusé (11, 12) et des moyens de détection de mesure et d'analyse, caractérisé en ce que - la source émet un faisceau incident (10) étroit de répartition énergétique connue et à symétrie de révolution qui est rétrodiffusé par la surface (2) vers l'objectif (4), - il comprend un dispositif séparateur (5) placé en aval de l'objectif (4) qui sépare le faisceau (13) issu dudit objectif (4) en deux faisceaux, appelés l'un faisceau de mesure (14, 14'), l'autre faisceau de référence (15, 15'), - il comprend également un diaphragme (6) placé sur le faisceau de mesure (14, 14') sur ou en aval du séparateur (5), dans un plan qui doit être en permanence différent du plan P1 image de la surface (2) à travers l'objectif (4), et de façon à limiter en permanence ledit faisceau de mesure (14, 14'), - - il comprend aussi des moyens permettant de déplacer le faisceau incident (10), et l'objectif (4) par rapport à la surface étudiée (2) et parallèlement et à une distance moyenne constante de ladite surface, - il comprend aussi des moyens de mesure placés sur le faisceau de mesure (14, 14') et de référence (15, 15') pour déterminer en permanence les valeurs respectives Wf et Wo de l'énergie desdits faisceaux lors du déplacement relatif du faisceau incident (10) et de l'objectif (4) par rapport à la surface (2), - il comprend encore des moyens de calcul du rapport qWf/Wo des valeurs respectives des énergies des faisceaux de mesure et de référence, pour chaque point de mesure. 9. Dispositif selon la revendication 8, caractérisé en ce qu'il comprend un moyen permettant de diriger le faisceau incident (10) orthogonalement à la surface étudiée (2), et permettant d'observer également orthogonalement à ladite surface, le faisceau rétrodiffusé. 10. Dispositif selon la revendication 9, caractérisé en ce que ledit moyen est une lame semi-transparente orientée de préférence à 45 de la direction du faisceau incident. 11. Dispositif selon la revendication 9, caractérisé en ce que ledit moyen est un miroir percé orienté de préférence à de la direction du faisceau incident. 12. Dispositif selon l'une des revendications 7 à 11, caractérisé en ce que les moyens de mesure de l'énergie des faisceaux de mesure et de référence sont des détecteurs qui présentent une surface sensible au rayonnement convenable pour pouvoir intégrer la totalité de l'énergie des faisceaux qu'ils reçoivent, et qui transforment lesdites énergies en signaux électriques proportionnels auxdites énergies. 13. Dispositif selon la revendication 12, caractérisé en ce qu'il comporte des moyens de traitement desdits signaux. 14. Dispositif selon l'une des revendications 7 à 13, caractérisé en ce que la source (1) est un laser. 15. Dispositif selon l'une des revendications 8 à 14, caractérisé en ce que le dispositif séparateur (5) est un cube séparateur, qui sépare le faisceau (13) en deux faisceaux orthogonaux.