FR 2585129 A1 19870123 FR 8511274 A 19850719 La présente invention résulte de travaux de l'équipe de recherche du Laboratoire de Géomagnétisme et Paléomagnétisme de l'Institut de Physique du Globe de PARIS, équipe de recherche n 922 associée au C. N. R. S., effectués en collaboration avec le Labora- toire des Ponts et Chaussées du Centre d'Etudes Techniques de l'Equipement de LYON et concerne le domaine de la mesure de la déformation par contrainte, en traction, compression ou torsion, d'un matériau à partir du domaine élastique en passant par le domaine de fissuration stable pour lequel l'évolution des fissures s'arrête avec la stabili- sation de la contrainte, jusqu'au domaine de fissuration instable pour lequel les fissures continuent d'évoluer après la stabilisation de la contrainte et en incluant, au besoin, le terme ultime constitué par la ruine du matériau, c'est-à-dire la détermination du seuil de rupture. L'invention concerne ainsi les domaines pour lesquels la connaissance de l'évolution d'une charge permet de traduire la tendance à l'évolution de l'état imposé au matériau et s'applique, en particulier, au génie civil, à la géologie, à la construction mécanique, à la construction aéronautique. L'invention permet, également, à l'inverse, de calculer une charge imposée, à partir de l'observation de l'état du matériau. La mesure des déformations d'un matériau, en fonction des contraintes appliquées, est réalisée de façon classique à l'aide de jauges d'extensométrie, c'est-à-dire à l'aide de résistances électriques ancrées sur le matériau et dont on mesure la variation de la valeur de la résistance en fonction de l'allongement. On réalise, également, des mesures de déformation de matériaux à l'aide d'une couche photo-élastique rapportée sur la surface du matériau. Par projection d'une lumière polarisée sur la couche photo-élastique, on peut, en effet, observer, lors de la déformation de ladite couche, des variations de ses propriétés optiques. Un autre moyen de mesurer la déformation d'un matériau consiste à observer les altérations, par exemple en déphasage, d'une onde acoustique appliquée au matériau. Les diverses méthodes précédentes présentent toutes l'inconvénient de ne pouvoir fournir des informations que lorsque le milieu est continu, c'est-à-dire sans aucune fissure. Pour détecter l'apparition de fissures, on utilise cou- ramment des témoins composés de plâtre ou de vernis craquelant qui fournissent une information visuelle de l'apparition des fissures. Un tel moyen ne fournit aucune information avant l'apparition des fissures et, ensuite, ne permet pas de quantifier l'évolution des fissures. L'interprétation visuelle est, en outre, d'autant plus difficile à faire que le réseau de fissures est plus dense. Il est, par ailleurs, connu d'appliquer des vernis pela- ble sur le matériau à examiner devant subir des contraintes, de décoller ensuite ce vernis une fois les contraintes appliquées et d'examiner au microscope les modifications subies par la couche de vernis. Un tel procédé permet de réaliser une analyse quantitative, mais nécessite un examen long et minutieux et n'offre pas la possi- bilité de suivre une évolution en fonction des contraintes appli- quées au matériau. Ce procédé ne fournit ainsi que des résultats en différé d'un état à un instant donné, sans aucune appréciation possible en continu. La présente invention vise à remédier aux inconvénients précités et à assurer, pour un matériau soumis à des contraintes, une surveillance capable de s'étendre à tous les domaines de défor- mation du matériau, depuis le domaine élastique jusqu'aux domaines de fissuration stable et instable, voire jusqu'à la ruine du matériau. L'invention a encore pour objet de permettre d'assurer une surveillance superficielle, pouvant être tridimensionnelle, de l'apparition et de l'évolution de fissures sur une surface donnée du matériau. Ces buts sont atteints grâce à un procédé de détection d'apparition et de quantification d'évolution de fissures à la sur- face d'un matériau, caractérisé en ce que l'on dépose sur une sur- face du matériau à étudier une mince couche d'une matière réalisée à base de particules conductrices, en ce que l'on associe à ladite couche conductrice une série de contacts repartis en différents points de la surface de ladite couche et reliés chacun à un fil de raccordement, en ce que l'on relie les fils de raccordement de cer- tains desdits contacts à une source d'alimentation électrique basse tension pour former un ensemble de contacts d'injection de courant, en ce que l'on relie les fils de raccordement des autres contacts à un connecteur de mesure pour former un ensemble de contacts de me- sure, en ce que l'on réalise des séries successives de mesures de résistance apparente de la couche conductrice entre les différents contacts de mesure, par mesure de l'un des termes de la loi d'Ohm entre des couples de contacts, tandis que le matériau à surveiller est soumis à une contrainte variable induisant une déformation du matériau, et en ce que l'on compare lesdites séries successives de mesures de résistance apparente entre elles, pour établir des va- riations de résistance apparente entre les différents contacts de mesure qui sont fonction des déformations du matériau. Selon une première application possible, une série de mesures de résistance apparente est réalisée en l'absence de con- trainte mécanique extérieure, puis des séries successives de me- sures de résistance apparente sont réalisées tandis. que l'on appli- que au matériau une contrainte extérieure progressivement variable. Selon une seconde application possible, des séries successives de mesures de résistance apparente sont réalisées.en l'absence de contrainte mécanique extérieure, le matériau étant lui- même soumis à des contraintes internes, telles que des contraintes thermiques ou de fluage. Selon encore une troisième application possible, des séries successives de mesures de résistance apparente sont réalisées tandis que l'on soulage progressivement une contrainte de charge précédemment appliquée au matériau. La couche conductrice doit être très mince pour assurer un temps de réponse rapide et peut présenter une épaisseur comprise entre environ un micron et environ 5 mm. Pour former une barrière anti-humidité et/ou une couche isolante électriquement, pour le cas o le matériau à étudier est conducteur, on peut déposer d'abord sur le matériau à étudier une couche intermédiaire pouvant être un vernis craquelant et déposer, ensuite, la mince couche conductrice sur la couche intermédiaire. La couche conductrice peut être réalisée sur une surface quelconque du matériau à étudier, par exemple sur une surface plane ou une surface cylindrique. Selon un mode de réalisation particulier, on forme un trou cylindrique débouchant dans le matériau à étudier et l'on réa- lise au moins un capteur semi-cylindrique de détection de fissure par dépôt d'une couche conductrice sur la paroi interne du trou cylindrique et incorporation de contacts dans ladite couche conduc- trice. Selon une mise en oeuvre particulière du procédé selon l'invention, on réalise un premier capteur témoin de détection de fissure par dépôt d'une miince couche conductrice sur une surface d'un échantillon du matériau à étudier, adjonction à ladite couche conductrice d'une série de contacts de mesure de courant et d'une série de contacts d'injection de courant, ces derniers constituant une paire d'électrodes, on réalise une première série de référence de mesures de résistance apparente de la couche conductrice entre les différents contacts du premier capteur témoin dans des conditions de contrainte prédéterminées, on réalise un second capteur de détection de fissure identique au premier capteur témoin, mais réalisé in situ sur une surface du matériau à surveiller et on réalise des séries successives de mesures de résistance apparente de la couche conduc- trice entre les différents contacts du second capteur, on compare en permanence lesdites séries successives de mesures de résistance appa- rente à ladite première série de référence et on détecte les varia- tions de résistance apparente supérieures à un seuil prédéterminé. L'invention concerne, également, un dispositif de dé- tection de fissures à la surface d'un matériau, caractérisé en ce qu'il comprend un capteur de mesure constitué par une mince couche d'une matière réalisée à partir de particules conductrices et dé- posée sur une surface du matériau à surveiller, une série de con- tacts répartis en différents points de la surface de ladite couche et divisés en un premier ensemble de contacts d'injection de cou- rant reliés par des fils de raccordement à une source d'alimentation électrique basse tension et en un second ensemble de contacts de meusure reliés par des fils de raccordement à un connecteur de me- sure et des moyens de mesure de la résistance apparente entre les différentes combinaisons de paires de contacts de mesure et de com- paraison des valeurs mesurées avec des valeurs de référence ou des valeurs précédemment mesurées.- D'autres caractéristiques et avantages de l!invention ressortiront de la description suivante de modes particuliers de réalisation de l'invention, en référence aux dessins annexés sur lesquels: - la fig. 1 est une vue schématique montrant un dispositif de dé- tection d'apparition de fissure réalisé conformément à l'inven- tion, - la fig. 2 représente une vue schématique de face d'un exemple de capteur plan pouvant être utilisé pour la mise en oeuvre du procédé selon l'invention, - la fig. 3 est une vue partielle agrandie d'une partie du disposi- tif de la fig. I montrant une variante de réalisation d'un capteur, - la fig. 4 représente une vue en perspective d'un capteur cylin- drique pouvant être utilisé dans un dispositif selon l'invention, - les fig. 5 et 6 montrent, vus en perspective, deux autres modes particuliers de réalisation d'un dispositif selon l'invention, - les fig. 7A à 7D montrent quatre variantes de réalisation du cap- teur plan de la fig. 2, et, - la fig. 8 représente le schéma fonctionnel d'un exemple de sys- tème de traitement des informations fournies par un capteur de mesure selon l'invention. Le procédé selon l'invention permet l'étude, à la fois, de la répartition des déformations dans un matériau 10 (fig. I et 3), (fig. 5 et 6) ou 210 (fig. 4) et de l'évolution de la fissura- tion de la mise sous contrainte à la ruine de l'échantillon 10, 110, 210. On considérera dans la suite de la description, sauf indication contraire, le cas d'un échantillon de matériau 10, 110, 210 consti- tuant une éprouvette sur laquelle est effectuée la surveillance de l'apparition des fissures et, d'une manière générale, le contrôle de l'évolution des déformations, en fonction des contraintes exer- cées sur l'éprouvette. Toutefois, le procédé est également applica- ble à la réalisation de mesures sur des matériaux in situ au sein d'une structure soumise à des contraintes extérieures, ainsi qu'au cas d'un matériau soumis à des contraintes internes, telles que des contraintes thermiques ou de fluage, ainsi qu'au cas d'un matériau déjà soumis à une charge et que l'on soulage pendant la conduite des mesures. Selon l'invention, un capteur 20 (fig. 1) comprend, essentiellement, une mince couche conductrice 21 qui est déposée sur une surface de l'échantillon 10 et un dispositif 50, 200 est adjoint au capteur 20 pour suivre l'évolution de la résistance apparente de la mince couche conductrice 21 à travers des mesures de l'un des termes de la loi d'Ohm. La couche conductrice 21, qui peut présenter une épais- seur comprise entre environ un micron et cinq millimètres, est dé- posée directement sur le matériau de base 10 si celui-ci est iso- lant, par exemple, s'il s'agit d'une roche sèche. Ceci permet d'obtenir une adhérence optimale entre la couche conductrice 21 et le matériau support 10. Toutefois, dans le cas d'un matériau 10 con- ducteur ou humide, il convient d'intercaler une couche isolante intermédiaire 27 entre la mince couche conductrice 21 et le matériau (fig. 3). Cette couche isolante 27 peut être constituée, par exemple, par un vernis craquelant, en cas de matériau conducteur et par un film de matière isolante et élastique dans le cas d'un maté- riau humide. La mince couche conductrice 21 peut être réalisée à partir de particules conductrices déposées par pulvérisation sous vide. Toutefois, en pratique, la couche conductrice 21 comprend, de préférence, des particules conductrices associées à un solvant et à un liant et se trouve appliquée à la brosse ou par pulvérisation sous haute pression, pour les plus faibles épaisseurs, alors que, pour les autres épaisseurs supérieures à quelques centaines de microns, la couche conductrice 21 est constituée sous forme d'un produit élaboré en feuille. Les particules conductrices sont, avantageusement, de graphite, mais peuvent être en or, en argent, en cuivre ou en un autre matériau bon conducteur de l'électricité. Deux électrodes 22, 23 sont raccordées, par exemple par collage, àla mince couche conductrice 21, de part et d'autre de celle-ci, et sont raccordées par des fils 28, 29 à une source d'ali- mentation électrique basse tension 51. Le choix d'une basse tension permet d'éviter un échauffement exagéré de la couche conductrice 21, tout en garantissant une sécurité pour l'opérateur. Par ailleurs, la source 51 peut être une source de courant continu, comme repré- senté sur la fig. I ou, dans le cas o, par exemple, il est néces- saire d'éviter les risques de phénomènes d'électrolyse en présence d'eau, une source de courant alternatif. Des contacts indépendants 24, représentés symboliquement par des croix sur le dessin, sont implantés dans la couche conduc- trice 21 ou rapportés sur ou sous celle-ci et sont répartis en di- verses zones de la surface de la couche conductrice 21. Chaque contact 24 est raccordé par un fil de liaison 25 à un connecteur commun 30 sur lequel peut venir s'embrocher un connecteur 90 de liaison à un dispositif 200 de desure et d'exploitation des signaux disponibles entre les différents contacts 24 lorsque les électrodes 22, 23 sont raccordées à la source d'alimentation 51. Le dispositif 200 constitue, essentiellement, une chaîne de mesure, directe ou indirecte, de la résistance apparente de la couche conductrice 21 entre diverses combinaisons de couples de contacts 24. La chaîne de mesure 200 comprend, également, un dispositif de comparaison pour comparer diverses séries de mesures de l'un deà termes de la loi d'Ohm effectuées entre diverses combinaisons déterminées de couples de contacts 24 à des instants correspondant à l'application de con- traintes données sur l'échantillon de matériau 10 et une série de mesures constituant une matrice de référence, effectuées entre les- dites diverses combinaisons déterminées de couples de contacts à l'état initial de repos du matériau 10, c'est-à-dire en l'absence de toute contrainte extérieure. L'établissement de la matrice de référence, qui correspond à un état de référence du dispositif, peut être effectué sur un échantillon de référence tandis qu'un capteur 20 identique à celui utilisé pour l'étalonnage du disposi- tif peut ensuite être utilisé in situ pour étudier l'évolution de la résistance apparente de la couche conductrice 21 du capteur lorsque celui-ci est placé sur un matériau soumis à des contraintes. Dans certains cas, il est également possible de n'effectuer que des comparaisons entre elles des diverses séries de mesures de l'un des termes de la loi d'Ohm effectuées entre diverses combinaisons de couples de contacts 24, sans procéder à des comparaisons avec une matrice de référence. La fig. 2 montre un exemple de distribution de contacts 24 au sein d'une couche conductrice 21 d'un capteur plan 20. La fig. 2 montre un réseau régulier de contacts 24 répartis en rangées et colonnes pour former un ensemble relativement dense de contacts permettant d'observer, de façon très précise, l'apparition de fis- sures sur toute la surface de la couche 21 et de suivre, de façon très fine, l'évolution des fissures produites. Naturellement, le capteur 20 peut être adapté pour épouser une surface non plane et peut présenter une forme différente de celle d'un carré ou d'un rectangle. De même, la répartition des contacts 24 dans la couche conductrice 21 peut être adaptée au type de matériau support 10 à étudier. Sur la fig. 2, on voit que les contacts 24 sont, en fait, répartis en un premier ensemble 22, 23 de contacts 24' d'injection de courant, dont les fils de liaison 25' sont reliés à la source d'alimentation électrique 51 et en un second ensemble de contacts 24" de mesure, dont les fils de liaison 25" sont reliés à un con- necteur de mesure tel que le connecteur 30 de la fig. 1. Dans ce cas, le premier ensemble de contacts 24' d'in- jection de courant peut comporter deux rangées latérales de contacts 24 alignés et reliés ensemble par des liaisons 25' pour constituer l'équivalent des deux barrettes latérales constituant les électrodes 22, 23 de la fig. 1, raccordées à la source d'alimentation 51 par des fils de liaison 28, 29. Les autres contacts 24" de la matrice de contacts 24 sont reliés par des fils de liaison indépendants " au connecteur 30 de façon tout-à-fait analogue à l'ensemble des contacts 24 de la fig. 1. Le fait de réaliser l'injection de courant, à partir d'un ensemble de contacts 24' qui fait partie de la matrice ini- tiale de contacts indépendants 24, présente l'avantage de permettre de réaliser facilement des électrodes 22, 23 de forme et de loca- lisation différentes, sans changer la structure de base du capteur 20. Ainsi, on a représenté sur les fig. 7A à 7D des confi- gurations du capteur 20 qui constituent des variantes de réalisa- tion du capteur de la fig. 2. Sur ces fig. 7A à 7D, chaque sous- ensemble de contacts 24', relié à un p8le de la source d'alimentation électrique, est entouré de pointillés et identifié par la référence 22 ou 23 qui correspond à une électrode 22 ou 23 des fig. 1 et 2. Sur la fig. 7A, les électrodes 22, 23 sont constituées par deux rangées horizontales supérieure et inférieure de contacts 24'. Sur la fig. 7B, les électrodes 22, 23 sont constituées par des contacts 24' qui définissent deux alignements parallèles de contacts, constitués par des diagonales de la matrice de contacts. Sur la fig. 7C, les électrodes 22, 23 sont constituées par des contacts 24' répartis selon, sensiblement, deux demi-lunes. La fig. 7D montre, enfin, un exemple plus particulier d'électrodes 22, 23, de formes différentes et constituées de lignes brisées, pour une application à des cas spécifiques. D'autres variantes de réalisation d'électrodes 22, 23 peuvent, naturellement, être envisagées, à partir de la matrice de contacts 24, afin de rechercher et suivre au mieux toute direction de fissure. Des formes géométriques différentes d'électrodes 22, 23 peuvent facilement être réalisées par commutation entre les divers fils de liaison 25 des contacts 24 qui peuvent être reliés, soit à la source de courant 50, soit au dispositif de mesure 200. Les contacts 24 peuvent être constitués par de petits picots métalliques implantés individuellement dans la couche con- ductrice 21 ou plaqués sur celle-ci. Selon une variante de réalisa- tion, représentée sur la fig. 3, les contacts 24 peuvent être inté- grés dans une couche isolante 26 qui est rapportée sur la couche conductrice 21. La couche isolante 26, qui peut présenter la forme d'une grille ou d'un réseau maillé, permet d'isoler les contacts 24 entre eux tout en maintenant des positions respectives prédéter- minées entre les différents contacts 24. Lorsque la couche isolante 26 est rapportée sur la couche conductrice 21, les contacts 24, qui affleurent au verso de la couche isolante 26, peuvent être intégrés à la couche conductrice 21. Le procédé de mesure selon l'invention permet de réali- ser des mesures à un faible coût et, surtout, s'adapte à des sur- faces de dimensions et de formes très variées, dans la mesure o la couche conductrice 21 est déposée ou rapportée directement sur le matériau 10 à examiner. A titre de second exemple, on a montré sur la fig. 4 un capteur 40 dont la structure est semblable à celle du capteur plan 20 précédemment décrit, mais qui est adapté à la surface cy- lindrique d'un pilier 210. Le capteur 40 comporte une couche conductrice 41 rap- portée sur la face externe du pilier 210. La couche conductrice 41, qui peut être réalisée de la même façon que la couche conductrice 21, mais présente, de préférence, une structure élastique et une épaisseur comprise entre environ quelques centaines de microns et cinq millimètres. Le capteur 40 présente deux électrodes 42, 43 iso- lées l'une de l'autre et reliées chacune par un fil de liaison 48, 49 à une source d'alimentation basse tension 52 semblable à la source d'alimentation 51. Des contacts métalliques 44, correspondant aux contacts 24 du capteur 20, sont répartis sur la surface conductrice cylindrique 41. Des contacts 44" sont reliés par des fils de liaison, non représentés, analogues aux fils 25, à un con- necteur analogue au connecteur 30 sur lequel peut venir s'embrocher un connecteur tel que le connecteur 90 assurant une liaison avec un dispositif 200 de mesure et d'exploitation des signaux disponibles ertre les différents contacts 44" lorsque les électrodes 42, 43 sont raccordées à la source d'alimentation 52, les électrodes 42, 43 pou- vant être réalisées elles-mêmes à partir de sous-ensembles de con- tacts 44', comme pour un capteur plan. Les fig. 5 et 6 illustrent deux autres modes particuliers de réalisation de l'invention pour la détection d'apparition et la quantification d'évolution de fissures 112 au sein d'un.bloc de ma- tériau 110 au sein duquel on a réalisé un trou cylindrique 111 tra- versant l'échantillon de matériau 110 de part en part. L'échantillon 110 peut être, par exemple, un bloc parallélépipédique présentant quelques dizaines de millimètres dans chacune de ses dimensions, mais la taille de l'échantillon dépend, naturellement, de l'appli- cation envisagée et pourrait être beaucoup plus importante. L'inven- tion s'applique cependant bien à des échantillons 110 de relative- ment petite taille percés d'orifices 111 de section réduite. Par exemple, dans le cas d'un bloc 110 présentant un volume de l'ordre de 200 à 250 cm3, le trou central 111 peut présenter un diamètre de l'ordre de 20 mm. Des mesures de résistance apparente peuvent être effec- tuées à partir des capteurs 60, 70 ou 60, 80 placés sur l'échan- tillon 110, tandis que des contraintes uniaxiales (ou pluri-axiales) de valeurs prédéterminées sont appliquées sur les faces supérieure et inférieure 113, 114 de l'échantillon, selon la direction des flèches 115, ou sur d'autres faces opposées, perpendiculairement à ces faces. De la sorte, il est possible d'observer, de façon quali- tative et quantitative, l'évolution de l'état de fissuration en fonction du temps et de la contrainte appliquée. Sur le mode de réalisation de la fig. 5, au lieu d'un capteur cylindrique unique adapté à la surface cylindrique d'un trou, qui serait envisageable d'une façon analogue au capteur 40 adapté à un pilier, on utilise deux capteurs semi-cylindriques 60, déposés sur la paroi interne du trou 111 symétriquement par rapport à un plan diamétral perpendiculaire aux faces 113, 114 de l'échantillon parallélépipédique 110 et parallèle au sens d'applica- tion des contraintes exercées selon les flèches 115. Les capteurs semicylindriques 60, 70 présentent chacun une couche conductrice 61, 71, une paire d'électrodes 62, 63; 72, 73, une série de contacts de mesure 64, 74, une paire de fils de liaison 68, 69; 78, 79 reliant les électrodes à une source d'alimentation basse tension, et un ensemble de fils de connexion, non représentés, pour relier les contacts 64, 74 à un connecteur de liaison à un bloc de traitement électronique. La réalisation d'un ensemble de capteurs , 70, présentant des symétries, par exemple des symétries par rapport à deux plans perpendiculaires, permet d'augmenter la sensi- bilité des mesures. Sur la fig. 6 on a représenté un bloc de matériau 110 semblable à celui de la fig. 5 avec au moins un capteur semi-cylin- drique 60, tel que celui de la fig. 5, mais un capteur plan supplé- mentaire 80 est déposé sur au moins l'une des faces frontales 116, 117 du bloc 110. Le capteur 80, avec sa couche conductrice 81, ses électrodes 82, 83, reliées à des fils de connexion 88, 89, et son réseau de contacts de mesure 84, est semblable au capteur 20 de la fig. 1, mais est exécuté de manière à être réparti autour de l'ori- fice 111 réalisé dans le bloc 110 pour augmenter les symétries du dispositif de détection. Les différentes mises en oeuvre du procédé selon l'in- vention, qui consistent à suivre les variations de résistances entre différents couples de contacts répartis sur une couche conductrice déposée sur le matériau à tester, en fonction du temps et des con- traintes appliquées au matériau, ont permis de mettre en évidence des correspondances entre les variations de résistance détectées et les déformations mécaniques du matériau testé, dans plusieurs do- maines de mesure, en fonction de l'évolution de la fissuration. Le procédé selon l'invention, qui permet de suivre l'évolution des déformations dès la mise sous contrainte et de continuer celle-ci même lors de l'apparition de fissuration, peut ainsi s'appliquer à des domaines très divers qui impliquent, d'une manière générale, une étude de résistance des matériaux. On notera que, dans le suivi du phénomène de fissuration, compte tenu de l'existence, au sein des capteurs 20, 40, 60, 70, 80, d'un réseau maillé de contacts, il est possible de suivre le phéno- mène simultanément ou successivement entre des couples de contact de mailles différentes, pouvant, éventuellement, se recouvrir, et de faire évoluer la maille de mesure en fonction des mesures antérieures, à partir du bloc de traitement 200, selon un programme préétabli ou auto-adaptatif. Des dispositifs d'alarme peuvent, naturellement, être adjoints au bloc de traitement 200 pour délivrer un signal particu- lier lorsqu'un seuil donné de fissuration a été atteint au sein dumatériau testé. On décrira, maintenant, en référence à la fig. 8, la façon dont le procédé selon l'invention peut être mis en oeuvre par un opérateur ou à l'aide d'un programme de traitement. Comme cela a déjà été exposé plus haut, le dispositif de mesure proprement dit comprend un capteur 301 constitué par un revêtement conducteur équipé de contacts et de connexions, lequel capteur est placé sur un milieu support à examiner. Des circuits 304 de mesure sont associés au capteur 301, pour assurer, par des lignes 302, l'alimentation du capteur 301, la configuration à dis- tance du capteur 301, c'est-à-dire la sélection des contacts devant servir de contacts d'injection de courant et la sélection des con- tacts devant servir de contacts de mesure et l'interrogation du capteur 301 et, par les lignes 303, la réception et la mesure des grandeurs électriques fournies par le capteur 301 en réponse aux interrogations. Un système 305 d'acquisition de données complète le système de mesure pour assurer le pilotage du système de mesure et l'enregistrement des mesures, par exemple pour transmettre celles-ci à des fichiers informatiques 309. Un système de traitement, complétant le système de me- sure proprement dit, est constitué par un ensemble de programmes informatiques qui permettent un traitement rapide et efficace des informations fournies par le capteur. Le système de traitement comprend ainsi un ensemble de fichiers 309 permettant le stockage et la sauvegarde: - des données relatives aux séries de mesures succes- sives, - des résultats intermédiaires résultant du traitement des mesures, - des résultats finals du traitement des mesures. Ces fichiers comportent l'archivage de toutes les don- nées nécessaires pour permettre une réexploitation ultérieure des mesures. Le système de traitement contrôle le transfert des données du système d'acquisition 305 vers les fichiers informatiques 309. Le système de traitemnet met en oeuvre un programme de dépouillement 310. Ce programme assure la transformation des mesures élec- triques fournies par le système de mesure en une carte de résisti- vité image suivant un modèle de représentation du capteur. Ce pro- * gramme comporte deux étapes principales: - la formation du modèle numérique (étape 311) comportant l'intro- duction des données (313 et 322) relatives, respectivement, à la constitution du capteur (caractéristiques géométriques et élec- triques) et à sa configuration (contacts d'injection et de mesure), - le calcul de la carte de résistivité image (étape 312). Ce sous- programme calcule à partir d'une série de mesures électriques une distribution de résistivité équivalente dite carte de résistivité image, suivant le modèle maillé défini pour la représentation du capteur. Le programme de traitement fournit, à partir des mesures initiales 314 (date to) une carte de résistivité image initiale (316). Celle-ci est stockée dans les fichiers informatiques 309 et constitue l'état de référence du capteur. Il peut Utre établi plu- sieurs cartes de l'état initial correspondant à des configurations différentes du capteur (combinaisons différentes des contacts d'in- jection et de mesure). De même, à partir des séries de mesures suc- cessives 315 (date ti), le programme calcule les cartes 317 de ré- sistivité image correspondantes qui sont archivées dans les fichiers informatiques 309. Pour chaque date ti, il peut être calculé plusieurs cartes de résistivité image correspondant aux différentes configura- tions mesurées du capteur. Les cartes de résistivité image 317 constituent un ré- sultat intermédiaire qui peut être édité sur un traceur graphique ou visualisé sur un écran. A partir des cartes 316 de résistivité image initiales (to) et des cartes homologues 317 à la date ti, le programme permet de calculer les cartes 318 de variation de résistivité image (ti - to). Celles-ci constituent les résultats principaux du programme de dépouillement 310. Leur stockage et leur édition sont effectués dans les mêmes conditions que pour les cartes de résistivité image. Le système de traitement met ensuite en oeuvre un pro- gramme 320 de calcul des déformations. Ce programme 320 calcule, à partir des cartes 318 de variation de résistivité image (ti - to) des cartes 321 de déforma- tions équivalentes appelées cartes de déformation image suivant le modèle géométrique du capteur défini par le programme de dépouille- ment. Le calcul des cartes 321 de déformation image nécessite l'introduction de données 319 relatives aux caractéristiques élec- triques et mécaniques du revatement conducteur du capteur 301. Les résultats du programme de calcul 320 sont édités sous forme des cartes 321 de déformation image (ti - to) sur traceur graphique ou écran de visualisation et archivées dans les fichiers informatiques 309. Le système de traitement comprend, en outre, un programme 325 de détermination de la fissuration. Ce programme 325 permet de déterminer, à partir des cartes de déformation image 321, une carte 326 d'interprétation mécanique des données en terme de déformation continue et de fissu- ration. Cette interprétation est effectuée à partir de la carte de 258 5 129 déformation image 321 et en prenant en compte les données relatives a: la ou les configurations 322 du capteur 301, - les données et résultats 323 des mesures antérieures, - le critère 324 de fissuration du milieu support. Les résultats sont fournis sous forme d'une carte 326 d'interprétation des déformations continues et de la fissuration à la date ti. Comme pour les cartes précédentes, l'édition de la carte d'interprétation 326 est effectuée sur traceur graphique ou sur écran de visualisation et son stockage assuré dans les fichiers informatiques. Le système de traitement comporte une possibilité d'ex- ploitation interactive 308 permettant d'agir, éventuellement, sur le système de mesure 305 par une ligne 307 pour modifier la configu- ration du capteur 301 en cours d'expérience. REVENDICATIONS 1 - Procédé de détection d'apparition et de quantifica- tion d'évolution de fissures à la surface d'un matériau, caractérisé en ce que l'on dépose sur une surface du matériau à étudier (10) une mince couche (21) d'une matière réalisée à base de particules conductrices, en ce que l'on associe à ladite couche conductrice (21) une série de contacts (24) répartis en différents points de la surface de ladite couche (21) et reliés chacun à un fil de raccordement (25), en ce que l'on relie les fils de raccordement (25') de certains (24') desdits contacts (24) à une source d'alimentation électrique basse tension (51, 52) pour former un ensemble de contacts d'injection de courant (24'), en ce que l'on relie les fils de raccordement (25") des autres contacts (24") à un connecteur de mesure (30) pour. former un ensemble de contacts de me- sure (24"), en ce que l'on réalise des séries successives de mesures de résistance apparente de la couche conductrice (21) entre les différents contacts de mesure (24"), par mesure-de l'un des termes de la loi d'Ohm entre des couples de contacts (24"), tandis que le matériau à surveiller est soumis à une contrainte variable induisant une déformation du matériau, et en ee que l'on compare lesdites séries successives de:'mesures de résistance apparente entre elles pour établir des variations de résistance apparente èntre les dif- férents contacts de mesure (24") qui sont fonction des déformations du matériau. 2 - Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que la couche conductrice (21) présente une épaisseur comprise entre environ un micron et environ 5 millimètres. 3 - Procédé selon la revendication I ou 2, caractérisé en ce que la couche conductrice (21) est constituée de particules conductrices déposées par pulvérisation sur le matériau à surveiller. 4 - Procédé selon la revendication I ou 2, caractérisé en ce que la couche conductrice (21) comprend des particules conduc- trices incorporées à un solvant et à un liant. 5 - Procédé selon l'une quelconque des revendications I à 4, caractérisé en ce que l'on dépose d'abord sur le matériau à étudier (10) une couche intermédiaire formant une barrière anti- F humidité et en ce que l'on dépose ensuite la mince couche conduc- trice (21) sur ladite couche intermédiaire (27). 6 - Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, caractérisé en ce que l'on dépose d'abord sur le matériau à étudier (10) une couche de vernis craquelant (27) formant isolant électrique et en ce que l'on dépose ensuite sur ledit vernis cra- quelant (27) la mince couche conductrice (21). 7 - Proc,édé selon l'une quelconque des revendications I à 6, caractérisé en ce que l'on réalise un ensemble de contacts (24) portés par un réseau maillé isolant (26) et en ce que l'on in- tègre les contacts (24) à la couche conductrice (21) par superposi- tion du réseau maillé (26) à la couche conductrice (21). 8 - Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, caractérisé en ce que l'ensemble de contacts (24') d'injection de courant comprend des premier et second sous-ensembles de contacts dans lesquels les contacts (24') sont réunis entre eux et forment des barrettes servant d'électrodes (22, 23). 9 - Procédé selon l'une quelconque des revendications I à 8, caractérisé en ce que l'on forme un trou cylindrique débouchant (111) dans le matériau à étudier (110) et l'on réalise au moins un capteur semi-cylindrique (60) de détection de fissure par dépôt d'une couche conductrice (61) sur la paroi interne du trou cylin- drique (111) et incorporation de contacts (64) dans ladite couche conductrice (61). - Procédé selon la revendication 9, caractérisé en ce que l'on réalise deux capteurs semi-cylindriques (60, 70) de dé- tection de fissure, pour établir les variations de résistivité entre les différents contacts (64, 74) des capteurs semi-cylindriques (60, 70) et en ce que les deux capteurs semi-cylindriques (60, 70) sont symétriques par rapport à un plan selon lequel on exerce des contraintes mécaniques sur le matériau (110). Il - Procédé selon la revendication 9, caractérisé en ce que l'on réalise, en plus du capteur semi-cylindrique (60) de détection de fissure, un capteur plan (80) de détection de fissure par dépôt d'une couche conductrice (81) sur une face du matériau (110) perpendiculaire au trou cylindrique (111), symétriquement par rapport audit trou (111) et incorporation de contacts (84) répartis dans la couche conductrice plane (81). 12 - Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 11, caractérisé: - en ce que l'on réalise un premier capteur témoin (20) de détection de fissure par dépôt d'une mince couche (21) conductrice sur une surface d'un échantillon du matériau (10) à étudier, adjonction à ladite couche conductrice (21) d'une série de contacts (24") de mesure de courant et d'une série de contacts (24') d'injection de courant, ces der- niers constituant une paire d'électrodes (22, 23), - en ce que l'on réalise une-première série de ré- férence de mesures de résistance apparente de la couche conductrice (21) entre les différents con- tacts (24) du premier capteur témoin (20) dans des conditions de contrainte prédéterminées, - en ce que l'on réalise un second capteur (20') de détection de fissure identique au premier capteur témoin (20) mais réalisé in situ sur une surface du matériau (10) à surveiller et, en ce que l'on réalise des séries successives de mesures de résistance apparente de la couche con- ductrice (21) entre les différents contacts (24') du second capteur (20'), - en ce que l'on compare en permanence lesdites sé- ries successives de mesures de résistance appa- rente à ladite première série de référence et, - en ce que l'on détecte les variations de résis- tance apparente supérieures à un seuil prédéter- mine. 13 - Dispositif de détection de fissures au sein d'un 2585129 matériau pour la mise en oeuvre du procédé selon l'une quelconque des revendications I à 12, caractérisé en ce qu'il comprend un capteur de me- sure (20) constitué par une mince couche (21) d'une matière réalisée à partir de particules conductrices et déposée sur une surface du matériau à surveiller, une série de contacts (24) répartis à la sur- face de ladite couche (21) et divisés en un premier ensemble de con- tacts d'injection de courant (24') reliés par des fils de raccorde- ment (25') à une source d'alimentation électrique basse tension (51, 52) et en un second ensemble de contacts de mesure (24") reliés par des fils de raccordement (25") à un connecteur de mesure (30) et des moyens (90, 200) de mesure de la résistance apparente entre les différentes combinaisons de paires de contacts de mesure (24") et de comparaison des valeurs mesurées avec des valeurs de référence ou des valeurs précédemment mesurées.