FR 2585127 A2 19870123 FR 8609121 A 19860624 La présente addition se rapporte à des améliorations aux transducteurs de pression décrits dans le brevet principal et concerne notamment un résonateur composé d'un cristal à taille AT, utilisé pour mesurer la pression de fluides. Comme expliqué dans le brevet principal, il est néces- saire ou souhaitable de mesurer la pression dans divers milieux. L'une des ambiances les plus corrosives dans lesquel- les il est nécessaire de mesurer la pression est celle des puits profonds de pétrole ou de gaz naturel. L'une des tech- niques utilisées actuellement pour mesurer la pression dans ces ambiances consiste à utiliser des transducteurs à cristal de quartz comportant un élément résonateur circulaire maintenu sur sa périphérie par une enveloppe cylindrique creuse qui en fait partie intégrante. Voir les brevets US-A-3 617 780 et US-A-3 561 832. Des signaux électriques oscillants appli- qués à des électrodes disposées sur l'élément résonateur de l'appareil font vibrer cet élément. La fréquence des vibra- tions dudit élément résonateur varie avec la variation des contraintes appliquées dans le sens radial à cet élément sous l'effet de la pression qui agit sur le boîtier ou enveloppe. Cette variation de la fréquence de vibration de l'élément résonateur permet donc de mesurer la pression à laquelle le bottier est soumis. L'une des difficultés rencontrées avec un appareil,tel que celui qui vient d'être décrit, est due à ce que l'on appelle le choc thermique. Cette difficulté se manifeste parce que la fréquence de sortie du résonateur change sous l'effet d'une variation de température, et plus particulièrement sous l'effet des variations très rapides de cette température, que l'on appelle des variations transitoires. Lorsque l'appa- reil est utilisé pour mesurer la pression dans un puits de pétrole ou de gaz naturel, il peut se manifester des varia- tions de température appréciables pendant que cet appareil est abaissé dans le puits ou en est retiré, ou pendant que le débit de pétrole ou de gaz varie, et, puisque la variation de la fréquence des vibrations sert à mesurer la pression, ces variations de température provoquent des erreurs. Les effets des variations transitoires de la température sur l'élément résonateur ont pour cause des gradients de tempéra- ture qui créent des contraintes orientées radialement. Ces gradients de température proviennent de la chaleur que les électrodes métalliques recouvrant la surface de l'élément résonateur et aussi le quartzdégagent dans le boitier (qui est relativement grand dans les appareils de l'art antérieur) et dans cet élément résonateur (qui est aussi relativement gros). Une autre difficulté rencontrée avec les transducteurs à résonateur à quartz utilisés actuellement réside dans le fait que le facteur d'échelle (pente de la courbe des pres- sions en fonction de la fréquence) dépend aussi de la tempé- rature pour presque toutes les orientations cristallographi- ques du quartz. Pour compenser les erreurs dues à la varia- tion de température, il est nécessaire de mesurer celle- ci et d'utiliser le résultat de cette mesure pour corriger la valeur de la fréquence de sortie. Mais ces mesures de la température doivent être faites à une certaine distance de l'emplacement du transducteur à résonateur à quartz et il est donc difficile de déterminer avec précision la tempé- rature à l'emplacement du transducteur lui-même. On a constaté qu'en orientant de manière appropriée les axes cristallographiques du quartz du transducteur, en donnant en particulier aux cristaux la taille SG, il est possible de rendre la fréquence de sortie du transducteur indépendante des variations transitoires de la température. En fait, cela rend la fréquence de vibration du résonateur à quartz indépendante et insensible aux contraintes radiales uniformes provoquées par les gradients de température. Mais, en supprimant dans les appareils connus les effets des varia- tions transitoires de la température, on supprime aussi la possibilité de mesurer les contraintes radiales uniformes que du fluide sous pression applique au boîtier. Il a été suggéré dans le brevet US-A-3 561 832 précité de ménager des rainures disposées de manière appropriée entre la périphérie de l'élément résonateur et son boîtier - en fait, de maintenir cet élément en place au moyen de pattes disposées entre ce dernier et ce boîtier. On constate, en utilisant deux éléments résonateurs desaxés maintenus en place de cette manière, que l'on.peut supprimer les proprié- tés dépendant de la température de ces éléments. Cependant, si l'on utilisait cette configuration pour mesurer des pres- sions élevées, cela provoquerait une forte concentration des contraintes dans les pattes et risquerait de les briser. Par ailleurs, cette conformation est plus compliquée et plus difficile à réaliser, ce qui serait susceptible d'en diminuer la fiabilité. Le brevet US-A-3 617 780 précité décrit un transduc- teur conformé de façon à supprimer certaines des difficultés provoquées par les pressions élevées avec la conformation du brevet US-A-3 561 832, mais il introduit d'autres incon- vénients tels que des erreurs créées par les variations de la température. La présente addition concerne un transducteur de pression à résonateur, capable de mesurer avec précision la pression dans des milieux corrosifs, pratiquement indé- pendant des effets de la température dans une large plage de températures, dont le facteur d'échelle soit relativement grand, c'est-à-dire dont la fréquence soit plus sensible aux variations de pression, dont la température à laquelle se forme le point d'inflexion (partie plate de la courbe de la variation de la fréquence en fonction de la température) augmente à mesure que la pression augmente (dans les puits de pétrole et de gaz naturel typiques, une pression élevée correspond à une température élevée), ce transducteur pouvant être petit, ayant une conformation simple et pouvant être fabriqué de manière relativement simple. Dans une fdrme de réalisation prise à titre d'exemple nullement limitatif, le transducteur comporte un élément résonateur ayant la forme générale d'un disque, composé d'un cristal de quartz à taille AT et relié par sa périphérie à un bottier entourant cet élément. Ce bottier comporte des parois latérales qui sont, de manière générale, perpendicu- 4 2585127 culaires au plan de l'élément résonateur et dont au moins une partie choisie est plus mince que les parties restantes, de façon que, lorsque ledit bottier est plongé dans un fluide, une contrainte radiale non uniforme soit créée dans l'élément. Cette contrainte provoque une modification de la fréquence de cet élément résonant. L'emplacement et la symétrie des parties minces déterminent le diagramme de la contrainte subie par ledit élément. Le fait d'utiliser un cristal à taille AT a pour résultat d'améliorer les caractéristiques de la courbe des fréquences en fonction de la température dans la plage de températures particulièrement intéressante, notamment les tempé- ratures au fond du puits de pétrole. En particulier, l'effet de la température sur la fréquence du cristal dans la plage de températures intéressantes est réduit à son minimum dans le cas d'un cristal à taille AT, si bien qu'il est possible d'obtenir une lecture plus précise de la pression. Il est possible, en disposant de manière appropriée les parties minces des parois, d'augmenter le facteur d'échelle et en même temps de le rendre moins dépendant de la température. Enfin, avec un cristal à taille AT, la température à laquelle se forme le point d'inflexion (partie plate de la courbe de la variation de fréquence en fonction de la température) remonte à mesure que la pression augmente. Par conséquent, pour la combinaison de fortes pressions et températures élevées rencontrée dans les puits de pétrole et de gaz naturel typiques, la variation de fréquence avec la variation de tem- pérature est minimisée de la manière voulue. Un circuit et destiné à faire vibrer lJélément réso- nateur, la fréquence des vibrations variant en même temps que l'effort appliqué sur les parois latérales du bottier. L'addition sera décrite de manière plus détaillée en regard des dessins annexés à titre d'exemples nullement limitatifs, sur lesquels: la figure 1 est une vue en perspectiveavec arrache- ment partield'un transduteur de pression à résonateur cons- titué d'un cristal à taille AT, réalisé conformément à la présente addition; - 5 2585127 la figure 2 est un schéma représentant les principales contraintes créées dans l'élément résonateur du transducteur de la figure I suivant les axes X et Z de cet élément; la figure 3 montre les courbes caractéristiques de la fréquence (en ordonnées) en fonction de la température (en abscisses) pour des cristaux à taille AT et à taille BT; la figure 4 montre des courbes représentant à 25-C et à 78 C, le coefficient Kp de glissement de fréquence d'un cristal à taille AT soumis à un couple d'efforts diamétrale- ment opposés (en ordonnées), en fonction de l'angle azimutal p (en degrés) compris entre ce couple et l'axe cristallogra- phique X (en abscisses) la figure 5 est une courbe indiquant, dans le cas d'un cristal à taille AT, le facteur d'échelle K de la struc- ture de la figure I (en ordonnées) en fonction du rapport des contraintes Tx et Tzz (en abscisses) xx zz la figure 6 est une courbe indiquant le coefficient Kp de glissement de fréquence d'un cristal à taille BT soumis à deux forces diamétralement opposées,(en ordonnées) en fonc- tion de l'angle azimutal, en degrés, compris entre ce couple de forces et l'axe cristallographique X (en abscisses); la figure 7 est une courbe représentant la variation du coefficient de glissement de fréquence de la figure 4 avec la température (en ordonnées) en fonction de l'angle azimutal p (en degrés, en abscisses); la figure B est une courbe indiquant comment la tempé- rature affecte le facteur d'échelle de la figure 5 en fonction du rapport des contraintes Txx/Tzz; et la figure 9 est un graphique représentant des courbes de la fréquence (en ordonnées) en fonction de la température (en abcisses) du transducteur à résonateur à taille AT de la figure 1, pour diverse valeurs de la pression. Le transducteur de pression à résonateur selon la présente addition comporte une enveloppe ou boîtier non uni- forme, de façon que, lorsqu'il est plongé dans un fluide, les contraintes créées dans l'élément résonateur ne soient pas uniformes. L'orientation cristallographique de cet élément 6 2585t27 résonateur est choisie de façon que les variations de fre- quence provoquées par des variations de la température soient sensiblement réduites. Puisque la pression qu'il s'agit de mesurer crée maintenant des contraintes non uniformes dans l'élément résonateur, provoquant une variation de la fréquen- ce de vibration de cet élément résonateur, il est possible, en modifiant sa fréquence de vibration. de mesurer cette pres- sion. La figure 1 est une vue en perspective, avec arrache- ment partiel, d'un boîtier 4 de forme générale cylindrique, présentant une cavité cylindrique 8. Un élément résonateur 12 en forme de disque, disposé dans cette cavité 8, fait partie intégrante à sa périphérie des parois latérales de ce bottier. Ces parois latérales entourent cet élément résonateur 12 et en partent de chaque côté, perpendiculairement à son plan. Le boîtier 4 et l'élément résonateur 12 constituent avantageuse- ment un ensemble monobloc formé d'un cristal de quartz à tail- le AT - auquel cas l'axe Y - perpendiculaire à cet élément résonateur est dans l'orientation cristallographique de la taille AT. La surface extérieure du boîtier 4 présente deux plats opposés 16 et 18, qui font que deux parties diamétralement opposées 22 et 24 sont plus minces que les autres parties de ces parois. Avec cette conformation lorsque le boîtier 4 est plongé dans un fluide, il est crée dans l'élé- ment résonateur 12 une contrainte radiale non uniformnne, parce que la pous- sée transmise par les parties minces 22 et 24 est plus grande que celle qui est transmise par les parties plus épaisses. Les axes de symétrie du boîtier 4 sont représentés sur la figure 1, l'axe X étant perpendiculai- re aux plats 16 et 18. Le circuit destiné à faire vibrer l'élément résonateur 12 comporte deux électrodes 28 et 32, appliquées (par exemple par dépôt sous vide) respectivement sur les faces opposées de cet élément, ainsi que le repré- sente la figure 1. Ces électrodes 28 et 32 sont connectées à un oscilla- teur 36, qui émet un signal oscillant destiné à leur être appliqué de manière à faire vibrer de manière connue l'élément résonateur 12. Un dis- positif d'affichage 40 est connecté à cet oscillateur, de façon à afficher la fréquence d'oscillation de ce dernier. Lorsque la poussée que la pression extérieure applique sur le boîtier 4, et donc sur l'élément 12, varie, la fréquence de vibration de cet élément chance et l'oscil- lateur 36 suit ce changement en oscillant à la même fréquence que ledit élément. Par conséquent, il est possible de déceler les modifications de la fréquence de vibration de l'élément résonant 12 et de les afficher, ce qui donne une mesure de la pression à laquelle le boîtier 4 est soumis. Des couvercles, tels que le couvercle 44, sont fixés aux deux extrémités du boîtier 4 de façon à isoler l'inté- rieur de celui-ci et à empêcher le fluide dont on mesure la pression d'y pénétrer. Dans la suite de la description, le terme "boîtier" désignera une enceinte fermée, telle que celle qui est représentée sur la figure 1, mais comportant deux couvercles capables d'isoler l'élément résonateur 12- de l'extérieur de ce bottier. Le fait d'utiliser un cristal à taille AT pour le bottier 4 et l'élément résonateur 12 (qui facilite l'exécu- tion d'un appareil relativement petit), le fait d'utiliser des contraintes non uniformes sur cet élément 12, grâce à la formation des plats 16 et 18, et le fait de choisir de manière appropriée l'alignement diamétral de ces plats 16 et 18 par rapport aux axes cristallographiques du cristal, contribuent tous à améliorer fortement les capacités de détection des pressions par l'appareil, notamment dans un milieu sous pression et température élevées, tel que le fond d'un puits de pétrole ou de gaz naturel. La figure 2 repré- sente graphiquement les contraintes de compression Tx sur xx l'axe X du boîtier 4 et Tzz sur l'axe Z de ce boîtier (cette contrainte de compression est supposée négative). Puisque l'axe X est perpendiculaire aux plats 16 et 18, la contrainte appliquée sur l'élément résonateur 12 le long de l'axe X par l'intermédiaire des parties minces 22 et 24 des parois est plus forte, et donc Txx/Tzz > I; Il est possible de faire varier la valeur de ce rapport Txx/Tzz en modifiant l'épaisseur des parties minces 22 et 24 des parois par rapport aux parties épaisses et aussi par B rapport à l'épaisseur de l'élément résonateur. Par exemple, pour une différence donnée des épaisseurs des parties minces et épaisses, un élément résonateur plus mince créera un rap- port Txx/Tzz plus grand. Les représentations Txx et Tz des contraintes seront encore utilisées plus loin. La figure 3 représente les caractéristiques fréquence (ordonnées)-température (abscisses) de résonateurs composés de cristaux de quartz à tailles AT et BT. La courbe BT du cristal à taille BT mAntre que la variation de la fréquence du cristal sous l'effet des variations de température dans une plage de températures comprise entre O C et environ "C est assez appréciable, tandis que, pour le cristal à taille AT, la variation de fréquence due aux variations de température est bien plus faible dans la même plage de températures (courbe AT). Cela signifie bien entendu que les erreurs provoquées par la température seront plus faibles avec le cristal à taille AT et qu'elles peuvent être compen- sées plus aisément. Un cristal à taille AT est de façon générale plus faci- le à fabriquer qu'un cristal à taille BT, parce qu'il est moins sensible aux variations dans les surfaces de contour de l'élément résonateur. Il est donc plus facile de fabriquer un petit cristal à taille AT, qui permet au transducteur d'arriver plus rapidement à l'équilibre thermique dans un milieu fonctionnel et permet cependant un fonctionnement satisfaisant dans un circuit oscillant. Il a été constaté qu'il était possible d'augmenter la sensibilité du facteur d'échelle K (fréquence en fonction de la pente des pressions) pour un résonateur en cristal à taille AT, en choisissant de manière appropriée l'aligne- ment diamétral des plats 16 et 18 par rapport aux axes cris- tallographiques de ce cristal. Pour expliquer cela, les écarts dTxx et dTzz des contraintes Txx et Tzz (qui se produi- raient avec un bottier non circulaire) seront considérés comme des perturbations dans un élément résonateur à bottier circulaire. Dans ce cas, Txx =dTxx et Too et (1) g T = dT + T(2) zz zz oo (2) o Txx = = T= Too (pour un boitier circulaire) (3) On sait par des principes généraux que Txx + Tzz = 2To (pour des bottiers circulaires et non circulaires), (4) ce qui donne dTzz -dT xx (5) Puisqu'un couple de poussées F diamétralemen opposées et orientées vers l'intérieur (on admet qu'une poussée orien- tée vers l'intérieur est positive) provoque au centre du disque des contraintes -6F/"td (dans le sens de l'applica- tion de la poussée) et 2F/Itd (perpendiculairement au sens de l'application de la poussée), on admettra que dTxx et dTzz sont convenablement représentés par deux couples de poussées diamétralement opposées agissant respectivement suivant l'axe X et l'axe Z - voir figure I (t est l'épaisseur de l'élément résonateur et d est son diamètre). Donc, Fx =-ttd (dTzz + 3 dTxx)/16 (6) F =-lçtd (dTxx + 3 dTzz)/16. (7) Des calculs d'éléments finis et des essais au moyen d'extensomètres sur des maquettes métalliques donnent Tx xx et T zz, mais pas dTx et dTzz, de sorte que les équations z x z 6 et 7 sont réécrites sous la forme R = Txx/Tzz (à l'aide de l'équation 4): dTxx = +(R-1) Too/(R+1) (8) dTzz = (R-1) Too/(R+1). (9) et Fx = -2rdtToo(R-1)/116(R+1)I (10) F = +27dtT(R-1) /116(R+1)1. (11) La figure 4 représente le coefficient Kp (facteur d'échelle) d'un cristal à taille AT (en ordonnées) lorsqu'un couple de poussées F opposées agit sous un angle p mesuré à partir de l'axe cristallographique X du quartz (angle azi- mutal p en degrés, en abscisses) (ce couple F agit dans le sens de l'axe X de l'élément résonateur). Ce coefficient est utilisé dans l'équation df/fo = KpN F (dt) (12) o N est la constante de fréquence pour la taille cristallo- graphique particulière du quartz (1660 m.Hz pour la taille AT). Comme indiqué précédemment, avec un bottier circulaire une contrainte Too agit sur le bord du disque. Il est possible de déduire un coefficient k pour le cas du bottier circu- oo laire en intégrant l'accroissement de poussée T trdp agissant OO sur un.segment marginal d'épaisseur t et de largeur rdp, r étant le rayon de l'élément résonateur et dp étant une varia- tion incrémentielle de l'angle p. l'intégration étant faite de p=O à p=180'. On remarquera que l'on utilisera les symboles k minuscules pour rapporter les variations de la fréquence à la contrainte, tandis que l'on utilisera les symboles K ma- juscules pour rapporter ces variations de la fréquence à la poussée, un facteur -1 reliant ces deux symboles en raison des définitions de la poussée par rapport à la contrainte. Le résultat est koo = - (No/2fWt Kpdp. (13) La variation de fréquence qui en résulte est df/f = k T.. (14) o ooo Pour la taille AT, k = -2,7 x 10 11m2/N. Donc, pour la combinaison de Too, dFx et dFz, on trouve par superposition que (dans le cas d'un bottier non circulaire) df/f = Too[koo - 2KNO (R-1) (Kp-Kp+gO9.)]/[16(R+1)].(15) o p est l'angle compris entre la direction x du bottier non circulaire et l'axe X du quartz. Il a été constaté que l'interaction de l'enveloppe et du disque du bottier 4 de la figure I provoque une augmen- tation de contrainte C telle que To =-CP (16) oo o P est la pression à l'extérieur de l'enveloppe. Il a été constaté que certaines données expérimentales conviennent mieux si C = 2,4, ce qui est proche du résultat théorique de 2,6 calculé en utilisant des techniques des éléments finis; c'est-à-dire que, pour le cas du bottier circulaire, df/f = 0,44x10 6 P = (2,7x10- 11) (6895 C P) (i7) o C = 2,4 et 6895 représente le facteur de la conversion d'unités de N/m2 en livres par pouce carré. On voit en revenant à la figure 4 que si l'angle p = O, c'est-à-dire si l'axe X du quartz est perpendiculaire aux plats, K et K90 se combinent en donnant une augmentation supérieure à koo. L'équation 15 est réécrite comme suit: Do df/fo =K CP (18) o le facteur d'échelle K est K = -[k0oo 21'N(R-1)(Kp-Kp+90)]/[16(R+1)1 (19) La figure 5 représente la variation de K en fonction de R pour p = O. (Coupe AT). Des essais et des calculs d'élé- ments finis montrent qu'il est possible d'obtenir R = 1,5 si l'épaisseur de la paroi mince est à peu près la moitié de celle des parois épaisses quand l'épaisseur de l'élément résonateur est inférieure à celle de cette paroi mince, si bien qu'il est possible d'obtenir l'augmentation de K repré- sentée sur cette figure 5. Par contre, la figure 6 représente les valeurs de Kp ( en 10-15 msec/N en ordonnées, angle azimutal p en degrés en abscisses) pour un cristal à taille BT. On remarquera que K est toujours négatif, si bien qu'une disposition choisie P des plats ne donnera pas naissance à une augmentation éven- tuelle appréciable du facteur d'échelle. En conclusion, il a été trouvé qu'en disposant de manière appropriée les parties minces des parois, il est possible d'obtenir une augmentation substantielle du facteur d'échelle K avec un cristal à taille AT. Le fait de disposer ces parties minces des parois sous un angle p compris entre environ -30 et +30' (équivalant à 150' à 210') - voir figure 4 - donne l'augmentation désirée du facteur d'échelle. Un autre facteur important quand un transducteur de pression est utilisé dans une large plage de températures est la sensibilité à la température de K. Un cristal à taille BT a un faible (1/K)(dK/dT) au voisinage de la température ambiante, T étant la température, mais il atteint -224 ppm/"C à 125C et augmente rapidement au-delà de 125"C. Par consé- quent, pour une utilisation sous température élevée, il devient plus difficile de compenser l'effet de la température avec un cristal à taille BT, à cause de l'augmentation de la sensibilité de K à la température. Cet effet va au-delà du problème de l'effet de la température représenté sur la figure 3 pour ce cristal à taille PT et se superpose à ce problème. La sensibilité à la température de K, pour un cris- tal à taille AT, est grande avec une forme circulaire ou symé- trique et est égale à -900 ppm/'C pour (1/K)(dK/dT), ou (1/koo) (dkoo/dT) selon la mesure expérimentale. Cependant, il est possible de réduire ce facteur (1/K) (dK/dT) avec un cristal à taille AT dans le cas de la forme non symétrique de la figure 1. On le fait comme suit: La figure 7 représente la courbe de dKp/dT (en 10 17 m seec/NC, en ordonnées, en fonction p de l'angle azimutal p en degrés, en abscisses) pour un cristal à taille AT comprimé par deux poussées diamétralement opposées. En prenant la valeur d/dT de l'équation 19 tout en supposant que R ne varie pas avec T, et en divisant par -koo, on obtient (1/K)(dK/dT) = [(1/k00oo)(dkoo00/dT) - 2 No (R-1) (dKp/dT-dKp+go./dT)J/[16k00oo(R+1)] (20) (1/koo) (dkoo/dT) est obtenu à partir de: dkoo/dT = (No/2) que, pour un cristal à taille AT, dKo/dT et dK90/dT se combi- nent en s'ajoutant positivement à (1/k00oo/dk00oo/dT) normalement négatif. Cela donne un avantage important à la structure de la figure I à cristal à taille AT. On remarquera en particu- lier sur la figure 7 que cet avantage se manifeste pour p compris entre 30 et +30', o encore p = 30' équivaut à p = 150 et p = +30' équivaut à p = 210'. Il est important de comprendre que le facteur d'échelle K a été augmenté, ce qui augmente la sensibilité de l'appareil, tandis que l'amplitude de (1/K)(dK/dT) est réduite avec le même jeu de parties minces 22 et 24 des parois latérales. La caractéristique de la fréquence en fonction de la température représentée sur la figure 3 montre une tempé- rature d'inflexion Tà laquelle la pente est nulle aussi bien pour un cristal à taille AT que pour la taille BT. A ce point d'inflexion, la courbure est tournée vers le haut (positive) pour le cristal à taille AT et est tournée vers le bas (néga- tive) pour le cristal à taille BT. Si l'effet de la sensibi- lité négative à la température du facteur d'échelle est super- posé à l'effet des courbes fréquence-température de la figure 3, il apparait une autre caractéristique importante des cris- taux à taille AT, à savoir que la température à laquelle se forme le point d'inflexion augmente avec la pression. Cela est représenté sur la figure 9, présentant sf/f (ppm) en ordonnées en fonction de la température (-C (en abscisses), pour 3 pressions: A = 0 kPa; B = 55,1 MPa; C = 110,3 MPa. La vitesse à laquelle le point d'inflexion remonte avec la pression dépend du choix de l'épaisseur des parties minces des parois par rapport à celle des parties épaisses et par rapport à l'épaisseur de l'élément résonateur, c'est-à-dire du (1/K)(dK/dT); si bien qu'il est possible d'utiliser la forme non symétrique de la figure I pour obtenir un effet maximum. Puisque de manière générale les fortes températures sont associées aux fortes pressions dans les puits de pétrole et de gaz naturel (les températures et les pressions des puits profonds sont plus élevées), un cristal à taille AT convient de manière idéale pour l'utilisation dans les puits de pétrole ou de gaz. Cela parce que le point de fonction- nement optimal pour que les effets de la température soient réduits à leur minimum est le point d'inflexion et la figure 9 montre qu'avec un cristal à taille AT ce point d'inflexion s'élève à mesure que la pression augmente. Il convient de remarquer qu'il est possible de modi- fier la courbe A de la figure 9 pour une pression nulle, en modifiant légèrement l'angle cristallographique de la taille AT. Il est ainsi possible d'obtenir diverses courbes sembla- bles à celles de cette figure 9. Contrairement au point d'inflexion d'un cristal à taille AT, celui d'un cristal à taille BT s'abaisse légèrement quand la pression augmente, ce qui rend l'appareil moins avan- tageux pour l'utilisation dans les puits de pétrole et de gaz naturel. On obtient de la manière décrite un transducteur de pression à résonateur simple et facile à réaliser. Ce trans- ducteur comporte un élément résonateur ayant la forme générale d'un disque, dont la périphérie est reliée à un bottier présen- tant des parois latérales orientées de façon générale normale- ment au plan de cet élément résonateur. Une ou plusieurs parties choisies de ces parois latérales sont rendues plus minces que les parties restantes desdites parois, si bien que des contraintes non uniformes (orientées de façon générale radialement) sont créées dans l'élément résonateur quand le bottier est plongé dans un fluide dont il s'agit de mesurer la pression. De façon particulièrement intéressante, l'épais- seur des parties minces (22,24) des parois est comprise entre les 3/4 et la moitié de celle des parties restantes, l'épais- seur de l'élément résonateur 12 étant inférieure à celle de ces parties minces. Le bottier a une forme générale cylin- drique, les parties dianétralement opposées de ses parois étant for- mées par des parties planes 18, 20, coupées par exemple selon une corde, de la surface extérieure de ces parois. L'élément résonateur 12 fait corps avec les parois latérales du boîtier 4. Il va de soi qu'il est possible, sans s'écarter du domaine de la présente invention, d'apporter diverses modifi- cations aux transducteurs de pression à résonateur représentés et décrits. REVENDICATIONS 1. Transducteur de pression à résonateur selon la revendication 1 du brevet principal, caractérisé plus parti- culièrement en ce qu'il comprend un élément résonateur (12) en forme de disque, compo- sé d'un cristal de quartz à taille AT; un boîtier (4) qui entoure cet élément résonateur et est relié à la périphérie de ce dernier, ce boîtier com- portant des parois latérales qui sont perpendiculaires au plan dudit élément et dont des parties choisies sont plus minces que les parties restantes, de façon que, lorsque ce boîtier est plongé dans un fluide, une contrainte non uniforme soit créée dans l'élément résonateur (12)'; et un dispositif (36) destiné à faire vibrer cet élément résonateur (12), la fréquence des vibrations variant quand la pression du fluide qui agit sur les parois latérales du boîtier varie. 2. Transducteur selon la revendication 1, caractérisé en ce que l'élément résonateur (12) fait corps avec les parois latérales du boîtier. 3. Transducteur selon la revendication 1, caractérisé en ce que les parties minces (22, 24) des parois latérales sont diamétralement opposées. 4. Transducteur selon la revendication 3, caractérisé en ce que l'alignement diamétral des parties minces (22, 24) fait un angle compris entre -30 et +30 avec l'axe cristallo- graphique X du quartz. 5. Transducteur selon la revendication 3, caractérisé en ce que l'épaisseur des parties minces (22, 24) des parois est comprise entre les trois-quarts et la moitié de celle des parties restantes, l'épaisseur de l'élément résonateur (12) étant inférieure à celle de ces parties minces. 6. Transducteur selon la revendication 3, caractérisé en ce que le boîtier (4) a une forme générale cylindrique, les parties diamétralement opposées de ces parois étant for- mées par des parties planes (18, 20) coupées par exemple selon une corde, de la surface extérieure de ces parois. 7. Appareil de détection de pression caractérisé en ce qu'il comprend un élément résonateur (12) en forme de disque, composé d'un cristal de quartz à taille AT, destiné à vibrer sous l'effet d'un signal oscillant, la fréquence des vibrations variant avec la poussée appliquée au périmètre de cet élément; un bottier (4), qui est relié au périmètre de cet élément résonateur en l'entourant et qui est prolongé dans les sens opposés perpendiculairement au plan dudit élément, des parties choisies (22, 24) de ses parois étant plus minces que les parties restantes; et un dispositif (36) destiné à appliquer un signal oscillant à cet élément résonateur (12) de manière à faire vibrer celui-ci. 8. Appareil selon la revendication 7, caractérisé en ce que les parties choisies sont deux parois latérales (22, 24) diamétralement opposées, dont l'alignement est décalé par rapport à l'axe cristallographique X du quartz d'un angle compris entre -30' et +30'. 9. Appareil selon la revendication 8, caractérisé en ce que les parties minces (22, 24) des parois du bottier (4) ont une épaisseur comprise entre environ les trois-quarts et la moitié de celle des parties restantes, l'épaisseur de l'élément résonateur (12) étant inférieure à celle de ces parties minces (22,24). 10. Appareil selon la revendication 7, caractérisé en ce que le bottier (4) a une forme générale cylindrique et comporte des parties plates (18, 20) opposées qui coinci- dent avec les parties minces (22, 24) de ses parois. 11. Appareil selon la revendication 7, caractérisé en ce que l'élément résonateur (12) fait corps avec les parois latérales du bottier (4).