FR 2585204 A1 19870123 FR 7503923 A 19750207 L'invention concerne un dispositif de balayage optique d'un champ de vision divisé en différentes zones et de visualisa- tion dudit champ. Elle concerne plus particulièrement un disposi- tif opérant un balayage du champ suivant deux directions selon des faisceaux issus desdites différentes zones et qui convergent sur un élément sensible au rayonnement contenu dans lesdits faisceaux, le dispositif de balayage étant conçu optiquement pour être utili- sé quelle que soit la longueur d'onde du rayonnement. Des dispositifs de ce type sont utilisés notamment dans les appareils de visualisation de paysage perçu selon un rayonne- ment infrarouge de longueur d'onde supérieure au micron (1 m). Un tel dispositif dans lequel l'objectif est constitué par un mi- roir sphérique et le balayage s'effectue uniquement au moyen de mi- roirs, a été décrit dans le brevet français N 1.494.805. Ce dis- positif connu présente l'intérêt d'être utilisable avec un champ de vision important qui, à la limite, pourrait être de 180 . Par contre, il n'est guère adapté à l'analyse d'un petit champ avec une haute résolution, ce qui se présente lorsqu'il s'agit-de dé- tecter et reconnaître des objets éloignés dans le champ de vision et vus sous un angle réduit. Il est alors nécessaire en effet de - capter en quantité suffisante du flux de rayonnement émis paT ces objets lointains. Ce flux est fonction de la surface de la pupille d'entrée du dispositif et en réalité, dans ce brevet, du rayon du cercle d'analyse et de l'ouverture numérique de l'optique dë' convergence du fait que la distance focale de l'objectif est, par principe, égale audit rayon d'analyse. ' Une possibilité pour augmenter la quantité de flur cap- té serait d 'augmenter l'ouverture de l'optique de convergent dès faisceaux sur le détecteur; mais comme celle-ci est répétée à plusieurs exemplaires disposés les uns à côté des autres autour de l'un des axes de rotation du système de balayage, le nombre des exemplaires serait plus faible ce qui conduirait à une aug- mentation de la vitesse de rotation de ladite optique de conver- gence pour une même cadence de balayage et poserait des problèmes de réalisation mécanique difficiles à résoudre. Une autre possibi- lité consisterait à augmenter selon une homothétie toutes les di- mensions du dispositif. L'encombrement risquerait alors d'être trop important de même que le moment d'inertie de la partie tour- nante. 2 2585204 Dans la demande de brevet français N 73 28 824, dé- posée le 7 Août 1973 au nom de la demanderesse, il est porté re- mède à certains des inconvénients précités. Pour faire en sorte que le diamètre de la pupille d'entrée du dispositif soit maxi- male et que le champ d'analyse soit petit, on réalise un système dans lequel la distance focale n'est pas liée au rayon du cercle d'analyse. Pour ce faire, on introduit dans le plan focal de l'ob- jectif un élément optique-lentille ou miroir, selon le cas,-qui conjugue optiquement le centre de la pupille de sortie de l'objec- tif et le détecteur placé au centre de rotation du système d'ana- lyse, ledit élément présentant l'avantage de corriger la courbure de champ de l'ensemble objectif-dispositif d'analyse. Dans le dispositif selon cette demande de brevet, le balayage du champ selon l'une des directions s'effectue par oscil- lation de l'objectif à miroir autour de l'un de ses diamètres. L'une des difficultés à résoudre lorsque cet objectif a un grand diamètre pour des questions d'ouverture, est de faire osciller un objectif pesant à une fréquence qui, pour des images de télévision, est de l'ordre de 20 périodes par seconde. Par ailleurs cet objec- tif à miroir même s'il est parabolique, a un champ limité, par les différentes aberrations, à quelques degrés. En outre le champ de vue du détecteur doit être suffi- samment large pour accepter le flux qui traverse les optiques tournantes pendant la rotation de celles-ci. De ce fait le détec- teur voit l'intérieur du dispositif d'analyse supportant les op- tiques lequel se trouve, la plupart du temps, par suite des frot- tements, à une température supérieure à celle du paysage analysé. Il s'ensuit, dans le cas d'une analyse en infrarouge, l'appari- tion d'une modulation parasite du flux tombant sur le détecteur en phase avec le balayage ligne. Par ailleurs, l'image du champ n'étant pas dans une position dégagée, la mise en place de détecteur et de diode élec- troluminescente dans le visible en vue d'une visualisation di- recte de l'image du champ, par utilisation en trajet inverse du système d'analyse, n'est guère possible. D'autre part dans cette demande de brevet les optiques n'étant pas constituées uniquement de miroirs, cette visualisa- tion n'est possible que si cette optique est transparente en lumière visible ce qui est difficilement réalisable lorsque l'ana- lyse s'effectue dans l'infrarouge lointain (lO pm). Le dispositif selon la présente invention ne présente pas les mêmes inconvénients. Pour des raisons d'utilisation pra- tique, il est structuré de telle sorte que, tout en présentant une grande compacité limitant son encombrement, l'objectif d'une part, le détecteur d'autre part, sont séparément accessibles en vue d'utilisations multiples ou encore en vue d'en changer leur nature au gré des applications tandis que le système d'analyse s'effectuant dans deux directions reste immuable, s'adapte à toutes sortes d'objectifs et détecteurs et peut ne comporter que des miroirs. La structure du dispositif selon l'invention permet ainsi la mise en place de détecteur et de diode électroluminescen- te pour une visualisation directe de l'image du champ. De ma- nière à éviter la modulation parasite due à des pièces tournantes autres que les optiques, l'optique de balayage ligne est réalisée en deux parties à savoir un tambour tournant comportant un grand nombre de surfaces planes réfléchissantes, ledit tambour étant en rotation autour d'un axe fixe, et une optique de convergence unique fixe assurant la concentration du flux sur le détecteur; ladite optique de convergence forme une image du détecteur sur l'axe de rotation du tambour lequel travaille en faisceau conver- gent. Pour faire en sorte d'avoir une focalisation exacte dans tout le champ dans le sens d'analyse ligne et par conséquent une résolution constante sur toute la ligne d'analyse, un miroir concave, dit de champ, conjugue optiquement la surface focale de l'objectif avec la surface ligne analysée. Selon l'invention cette conjugaison optique se trouve assurée par le fait que, d'une part, l'objectif présente une surface focale courbe dont le centre de courbure est situé au centre de la pupille de sortie de l'objec- tif et que, d'autre part, le miroir dit de champ a le sommet de sa surface placé à proximité du sommet de la surface focale de l'objectif ou plus précisément du symétrique dudit sommet par rap- port à l'axe de rotation du tambour et conjugue optiquement le centre de la pupille de sortie de l'objectif avec un point parti- culier de l'axe de rotation du tambour, les faisceaux se trouvant dirigés sur l'optique de convergence du balayage ligne après ré- flexion sur les faces dudit tambour. Lorsque l'on utilise des objectifs de grand diamètre, pour ne pas avoir à faire osciller selon une deuxième direction pour le balayage trame des masses très pesantes, le balayage se- lon cette deuxième direction s'effectue à l'aide d'un miroir plan mobile, dit miroir d'analyse trame, autour d'un axe perpendicu- laire à l'axe de rotation du tambour, ledit miroir étant généra- lement placé en faisceau convergent à proximité du foyer de l'ob- jectif entre ledit objectif et son foyer. L'oscillation du miroir d'analyse trame en faisceau convergent fait apparaître une courbure de champ supplémentaire dans le sens du balayage trame. Celle-ci, selon l'invention, est compensée par un petit mouvement de translation alternatif du mi- roir dit de champ, synchrone du mouvement du miroir d'analyse trame, ladite translation étant perpendiculaire à l'axe de rota- tion du tambour. Par ailleurs, pour compenser la déviation des fais- ceaux introduite dans le système d'analyse ligne par le miroir de balayage trame et assurer la fixité du conjugué, sur l'axe de ro- tation de balayage ligne, du centre de la pupille de-sortie de l'objectif par le miroir de champ, celui-ci est animé de plus d'un mouvement de rotation alternatif, synchrone du mouvement du miroir trame autour d'un axe parallèle à l'axe de rotation dudit miroir trame et tel que le rayon moyen de tout faisceau issu du champ garde une incidence constante sur l'axe de rotation du ba- layage ligne en fonction du balayage trame. Selon la présente invention il est mis au point un dis- positif de balayage optique d'un champ de vision divisé en diffé- rentes zones et de visualisation dudit champ, dispositif selon le- quel ledit balayage est effectué suivant deux directions perpen- diculaires à savoir, selon une direction x un balayage dénommé ligne et suivant une autre direction y un balayage dénommé ba- layage trame ou image, dispositif opérant lesdits balayages selon des faisceaux issus des différentes zones du champ et assurant la convergence desdits faisceaux sur un élément sensible au rayonne- ment contenu dans lesdits faisceaux, dispositif comportant géné- ralement dans l'ordre, suivant le sens du trajet du faisceau in- cident médian issu du champ de vision, un objectif, des moyens de balayage trame selon la direction y, un système de rabattement des faisceaux délimités par l'ouverture de l'objectif vers des moyens de balayage ligne du champ image de l'objectif selon la direction x et l'élément sensible, lesdits moyens de balayage ligne, l'élé- ment sensible, éventuellement d'autres éléments en rapport avec ceux précédemment cités servant à la visualisation directe de l'image du champ analysé, ledit dispositif étant caractérisé en ce que: - l'objectif a son axe optique compris dans un plan P contenant la direction y et perpendiculaire à x, en ce que ledit objectif est interchangeable et que sa surface focale est courbe et telle que son centre de courbure est situé au centre de la pu- pille de sortie de l'objectif, - les moyens de balayage trame sont constitués d'un mi- roir plan tournant d'un mouvement alternatif autour d'un axe parai- lèle à la direction x, placé en faisceau convergent derrière l'ob- jectif près de l'image du champ dans ledit objectif, - les moyens de balayage ligne sont constitués d'une part d'un tambour en rotation uniforme autour d'un axe fixe YY' contenu dans ledit plan P et portant un grand nombre de faces planes réfléchissantes régulièrement distribuées sur le pourtour dudit tambour, et d'autre part un système de transport d'image symétrique par rapport audit plan P, formant une image de l'élé- ment sensible en un point fixe A' de l'axe YY' de rotation du tambour, ledit tambour étant placé en faisceau convergent dans le trajet dudit système de transport du côté image de l'élément sen- sible, le symétrique dudit point A' par rapport à chaque face du tambour lorsque ladite face est perpendiculaire au plan P étant au voisinage du point D symétrique du foyer de l'objectif par rap- port au miroir de trame en position parallèle à l'axe YY', - le système optique de rabattement des faisceaux est constitué d'un miroir oCrave ditdechap admettant- plan. P; comme plan de symétrie et dont le sommet est placé au voisinage de D sur l'axe ZZ' passant par D et perpendiculaire à YY', ledit miroir étant déterminé de telle sorte qu'il conjugue le centre 0 de la pupille de sortie de l'objectif avec un point fixe 0' de l'axe YY.' ledit point 0' étant le symétrique par rapport à ZZ' du point d'intersection de l'axe optique de l'objectif avec l'axe YY', le- dit miroir de champ pour assurer éventuellement la nullité du temps mort de balayage entre deux lignes consécutives, ayant au plus une largeur dans le sens x légèrement inférieure à la lon- gueur de la ligne analysée elle-même égale à la distance entre les images du détecteur dans deux faces consécutives du tambour tour- nant, ledit miroir étant animé ou non d'un mouvement de petite amplitude en phase avec le mouvement des moyens de balayage trame, ledit petit mouvement comportant d'une part une translation al- ternative selon l'axe ZZ' au voisinage de D et une rotation alter- native autour d'un axe parallèle à la direction x symétrique par rapport à ZZ', l'amplitude de ladite translation étant telle qu'elle corrige la défocalisation introduite par les moyens de balayage, trame, l'amplitude de ladite rotation étant telle qu'elle assure la fixité en 0' du conjugué par le miroir de champ du centre 0 de la pupille de sortie de l'objectif lors de la rotation alternative des moyens de balayage trame. L'invention sera mieux comprise à l'aide de la descrip- tion suivante de quelques modes de réalisation de l'invention donnés à titre d'exemple, accompagnée de figures qui représentent: Fig. Fig. Fig. Fig. Fig. Fig. Fig. Fig. 1 - un premier mode de réalisation du dispositif selon l'invention. 2 - une vue du dispositif d'analyse ligne ne comportant que des miroirs, en coupe selon un plan passant par son axe de rotation. 3 - une vue du même dispositif d'analyse ligne en projec- tion sur un plan perpendiculaire audit axe. 4 - une vue du dispositif d'analyse ligne comportant des lentilles, en coupe selon son plan de symétrie. - une vue du même dispositif en projection sur un plan perpendiculaire à son plan de symétrie. 6 - une figure expliquant le rôle du miroir dit de champ. 7 - la projection de la figure 6 sur un plan perpendicu- laire à l'axe de rotation du dispositif d'analyse li- gne. 8 - une figure expliquant le mouvement du miroir d'ana- lyse trame (ou image). 9 - le mouvement du miroir de champ. Fi&. Fig. 10 - un second mode de réalisation du dispositif selon l'invention ne comportant que des miroirs. Fig. 11 - un troisième mode de réalisation du dispositif selon l'invention, en coupe suivant son plan de symétrie. Fig. 12 - une vue dudit troisième mode de réalisation en pro- jection sur un plan perpendiculaire à son plan de symétrie. Fig. 13 - un mode de réalisation avec un premier système de visualisation directe de l'image. Fig. 14 - un mode de réalisation avec un second système de vi- sualisation directe. Fig. 15 - un élément de l'invention permettant une vision bi- colore. Fig. 16 L une vue rabattue sur le plan de la feuille de l'élé- ment 151 de la figure précédente. Fig. 17 - un mode de réalisation de l'invention pour imagerie thermique avec pyrométrie. Fig. 18 - une disposition dite en parallèle des détecteurs du dispositif selon l'invention. Fig. 19 - une disposition dite en série des détecteurs du dis- positif selon l'invention. Fig. 20 - une disposition dite en série-parallèle des détec- teurs du dispositif selon l'invention. Sur la figure 1 on a représenté schématiquement l'in- vention selon un mode de réalisation en coupe suivant le plan P de symétrie du dispositif. Sous le numéro 11 est indiqué un objectif fixe dont l'axe optique est 12 et le foyer P. Cet axe optique coupe l'axe YY' au point E. L'axe YY' est l'axe de rotation d'un système comprenant un dispositif d'entraînement 13 et un tambour 13' portant latéralement un grand nombre de faces réfléchissantes. Comme il est indiqué par la suite.ce tambour peut avoir plusieurs formes. Pour simplifier on le suppose ici prismatique ses faces réfléchissantes étant régulièrement réparties autour de l'axe YY'. L'une de ses faces est représentée en 17 dans une position perpen- diculaire au plan P. Le miroir plan 14 est mobile autour d'un axe perpendiculaire à la feuille et passant par E. En fait, selon l'invention, cet axe ne passe pas obligatoirement par E. Cette disposition représentée sur la figure 1 est seulement préférentiel- dans le cas o le dispositif, comme indiqué plus loin, est muni de moyens supplémentaires pour obtenir la visualisation directe du champ à l'aide de diodes électroluminescentes. Ledit miroir 14 réfléchit tout faisceau issu d'une zone du champ et, passant à travers l'objectif 11, vers le miroir 16 o il forme dudit champ une image située sensiblement sur ce dernier miroir. Sur la fi- gure 1, le faisceau particulier 15 indiqué est celui qui a pour rayon moyen celui confondu avec l'axe optique 12, l'image venant se former au point D sur l'axe ZZ' perpendiculaire à YY', corres- pondant au centre du champ. Le miroir 14 assure le balayage du champ suivant la - direction y perpendiculaire à l'axe 12 et contenu dans le plan de la figure. Par la suite, il sera appelé miroir d'analyse image ou encore d'analyse y ou encore d'analyse trame. Le système comporte de plus un autre miroir concave fixe 18 dont la surface réfléchissante est de révolution autour de l'axe YY'. Ledit miroir forme du détecteur 19 placé au point A de l'axe YY' une image en A' située sur le même axe et symé- trique de D par rapport à la face 17. Le système constitué par le tambour tournant 13', le miroir 18 et le détecteur 19 permet au cours de la rotation dudit tambour l'analyse, ligne par ligne, suivant la direction x per- pendiculaire au plan de la feuille de l'image du champ donnée par l'objectif 11 et le miroir d'analyse image 14 au voisinage du point D. Ce système est appelé par la suite système d'analyse ligne ou analyse x. Le miroir 16 symétrique par rapport au plan (ZZ', YY') assure la conjugaison optique du centre de la pupille de sortie 0 de l'objectif Il avec le point 0' fixe de l'axe YY', symétrique de E par rapport à ZZ', de manière à assurer la convergence sur le détecteur de tout faisceau s'appuyant sur la pupille de sortie de l'objectif 11. Ce miroir 16 par le fait qu'il délimite le champ ana- lysé est appelé miroir de champ. L'objectif il est représenté sur cette figure comme réalisé à l'aide de lentilles. Selon l'invention, comme il est décrit plus loin, cet objectif peut tout aussi bien être réalisé à partir de miroirs. Auparavant, du fait que l'invention réside non seulement dans l'ensemble dont il vient d'être décrit un 9 2585204 exemple de réalisation, mais aussi et surtout dans le choix, l'a- ménagement et la combinaison des éléments qui le composent, ceux- ci font d'abord l'objet des descriptions détaillées qui suivent. 1 - Système d'analyse ligne (x) Un premier mode de réalisation de ce système est repré- senté schématiquement sur les figures 2 et 3 respectivement en projection dans le plan (ZZ', YY') et en projection sur un plan perpendiculaire à YY'. Il comprend le tambour 13' tournant autour de l'axe YY' et portant un grand nombre de faces planes réfléchis- santes et le miroir de transport d'images 18. Le miroir 18 assure le transport de l'image d'un détec- teur A placé sur l'axe de rotation YY' en un point A' également sur l'axe YY'. Les faces du tambour 13' sont placées en faisceau convergent dans le trajet de transport d'image du miroir 18. Les symétriques A", A "2... A"n de A' respective- ment par rapport à chacune des n faces du tambour décrivent alors des arcs de cercle centrés sur l'axe de rotation YY' et contenus dans des plans perpendiculaires à l'axe YY', lesdits arcs de cercle étant les supports des lignes balayées. Le tambour, selon l'invention, peut avoir plusieurs configurations. Il peut être prismatique ses faces étant toutes parallèles à l'axe YY' et à égale distance de celui-ci; les points A"1, A"2,..., A"n décrivent alors un même cercle passant par D. C'est le cas des figures 2 et 3 o A"1 et A"2 représentent le symétrique de A' par rapport à deux faces consécutives 21 et 22. Il en est de même s'il est pyramidal et si les faces réfléchissantes ont une égale inclinaison sur l'axe YY' comme in- diqué sur les figures 4 et 5. Mais les faces du tambour peuvent être d'inégales inclinaisons; les points A" 2..., A A"n dé- crivent alors des arcs de cercle distincts centrés sur l'axe YY' et contenus dans des plans parallèles entre eux et perpendicu- laires à YY'. Le système d'analyse ligne balaie alors d'une face à l'autre des lignes différentes passant au voisinage du point D. Le miroir 18 de transport d'image est par exemple to- rique d'axe YY'. La section du miroir est par exemple elliptique et appartient à une portion d'ellipsoide de révolution de foyers A et A'. Il n'est cependant pas obligatoire que le tore soit à section elliptique: la forme elliptique est seulement la meil- leure forme théorique. Dans certains cas, selon les applications, il est possible de confondre avec une bonne approximation la sec- tion elliptique avec une autre section qui s'en écarte peu et qui est plus facile à réaliser, par exemple une section circulaire. Selon une variante proche de ce mode de réalisation, le tore n'est pas uniquement à miroirs mais est catadioptrique. Le dispositif de balayage perd alors l'avantage de fonctionner à toutes les longueurs d'onde du fait qu'il n'est plus constitué uniquement de miroirs, mais offre alors l'avantage de - disposer de nouveaux paramètres pour la correction des aberrations Dans un second mode de rélalisation, le transport d'i- mage du détecteur sur l'axe est réalisé à l'aide d'un objectif à lentilles. Ce mode de réalisation est représenté sur les figures 4 et 5 en projection respectivement sur un plan contenant l'axe YY' et sur un plan perpendiculaire audit axe. Le détecteur se trouve en A en dehors de l'axe de rota- tion YY'. L'objectif 41 donne du détecteur une image située en A' sur l'axe de rotation YY'. Le tambour 13' peut être encore pris- matique ou pyramidal régulier ou irrégulier autour de YY'. Le sy- métrique A" de A' par rapport à l'une des faces 42 de ce tambour décrit encore un arc de cercle 43 centré sur l'axe YY' et passant par D ou à son voisinage, identique ou non à lui-même d'une face à l'autre selon le cas, comme déjà indiqué précédemment. Ce système présente l'inconvénient de ne pas être de révolution autour de l'axe YY', si bien que l'image A' ou A" n'est pas de qualité constante en fonction de la rotation du tambour. Par ailleurs, l'objectif 41 doit avoir une très grande ouverture qui est fonction de la longueur de la ligne analysée. Ce second mode de réalisation qui fait partie de l'in- vention peut être utile dans certaines applications. Mais il lui est préféré généralement le système à miroir torique pour les avantages qu'il présente, lesdits avantages étant les suivants: - utilisation à toutes les longueurs d'onde de la lu- mière. contrôles et réglages de mises au point possibles en lu- xitre visible du fait que le système est entièrement à miroirs. * Donc plus grande facilité de construction. 11 2585204 - image de qualité constante donnée par le tore quel que soit l'angle de rotation du tambour, du fait que l'axe YY' est un axe de symétrie du dispositif d'analyse ligne. Sur la projection horizontale du système de balayage ligne de la figure 3, 21 et 22 représentent deux faces réfléchis- santes consécutives du tambour 13'. 33 et 34 sont les normales à chacune de ces faces (ou les projections de ces deux normales sur un plan perpendiculaire à l'axe YY' lorsque le tambour est pyra- midal). Ces normales font un angle o. A"1 et A"2 sont les symétriques de l'image A' du détec- 1 2 teur A respectivement par rapport aux faces 21 et 22. L'angle d'o l'on voit de A' le miroir 21 ou 22 est aussi i. Cet angle o fixe la longueur maximale de la ligne analysée portée par l'arc de cercle A"1 A"2 au cours de la rotation du tambour 13' et l'ou- verture que doit présenter le miroir 18. En effet, le détecteur ne doit pas recevoir simultanément du flux provenant de deux points différents de la ligne. La ligne analysée ne doit pour ce- la contenir qu'une seule image du détecteur; en supposant que le tambour 13' tourne dans le sens de la flèche 35 et que le miroir 22 ait commencé le balayage de la ligne en A"'1, il doit nécessai- rement le terminer en A"2 au moment o le miroir 21 commence le balayage de la ligne suivante en A"1. L'ouverture du miroir to- rique doit être suffisante dans le plan perpendiculaire à YY' pour que les rayons issus de A"1 ou de A"2 se réfléchissent vers A. Il s'en déduit, comme d'ailleurs on le voit directement sur la fi- gure 3, que cette ouverture doit être supérieure ou égale à 2 o (. 2). Ainsi conçu, le temps mort entre les balayages de deux lignes consécutives est nul. La longueur de la ligne analysée est déterminée par le nombre de facettes du tambour tournant qui fixe l'angle(, donc la longueur A"1 A"2 de la figure 3. Par ailleurs le miroir 16 dit de champ de la figure 1 intervient pour éviter que le flux qui tombe sur le détecteur ne provienne de plusieurs points de la ligne A"1 A"2 de la figure 3 comme il est indiqué ci-après. 2 - Miroir de champ Les rôles et la configuration du miroir de champ (mi- roir 16 de la figure 1) sont explicités à l'aide des figures 6 et 7. Sur la figure 6, l'optique d'entrée est représentée en projection sur le plan de symétrie du dispositif passant par l'axe YY'. On a omis le miroir d'analyse image pour ne pas surcharger la figure, et, du fait de cette absence, l'objectif 11il est représen- té dans une position symétrique par rapport à l'axe YY' de sa vé- ritable position, ce qui ne restreint en rien ce qui est dit dans ce qui suit. O" est l'appellation du centre de la pupille de sor- tie de l'objectif placé dans ladite position symétrique. Sont représentées, par ailleurs, plusieurs sections droites de surface à savoir: sous le numéro 61 la section droite du miroir de champ, sous le numéro 62 la section droite de la sur- face focale de l'objectif 11l de centre O", sous le numéro 63 la section droite de la surface analysée de centre O' située sur l'axe YY' et intersection d'un rayon OG réfléchi en G sur la sec- tion droite 61 du miroir 16. Ces sections droites se coupent en un point D situé sur l'axe optique de l'objectif Il et correspondant au centre du champ. Ce miroir de champ 16 a plusieurs rôles. Il est conçu de manière à réfléchir tout rayon issu de O" tel que 0"G en un rayon tel que O'G passant par le point fixe O' de l'axe YY', ledit point O' étant lesymétrique de E intersection de l'axe optique avec YY'. Un premier rôle est ainsi de conjuguer le centre O" de la pupille de sortie de l'objectif 11, donc O en réalité, avec le point fixe O' de l'axe de rotation, condition pour que tout fais- ceau provenant de l'une des zones du champ associé a tout rayon passant par O et repris par les miroirs d'analyse ligne puisse converger sur le détecteur placé en A sur l'axe de rotation YY'. L'introduction d'un tel miroir présente a priori l'inconvénient d'introduire sa propre courbure de champ. En fait, il n'en est rien, et apparaît ainsi un deuxième rôle joué par le miroir de champ: selon l'invention, sa courbure est mise à profit pour cor- riger les effets d'aberrations dûs à la courbure de l'objectif 11 et celle du système d'analyse ligne. Il donne de la surface focale de l'objectif 11 (de section 62) une image coincidant avec la sur- face analysée (de section 63) centrée sur O', ce qui est obtenu du fait que la surface focale (de section 62) est centrée sur la pupille de sortie de l'objectif il et que le miroir de champ con- jugue optiquement 0" (donc 0) et 0'. Dans sa forme la plus théorique, ce miroir de champ est une portion d'ellipsoide de révolution de foyers 0" et 0' et con- tenant le point D et tout point tel que G. Dans la pratique et selon l'invention, on utilisera une forme proche de l'ellipsolde et plus facile à obtenir qui est une portion de sphère passant par D et ayant pour centre le point C situé à l'intersection de 0"0' avec l'axe ZZ', perpendiculaire à YY' et passant par D. Son rayon de courbure est tel, qu'enprojection sur le plan perpendiculaire à YY' en D, ledit miroir comme indiqué à la figure 7 conjugue H et H' projections respectivement de 0" et 0' sur ledit plan. La ligne analysée est l'arc de cercle 73 de centre H', intersection dudit plan avec la sphère de centre 0' et de rayon O'D, tandis que les sections droites de la surface focale de l'ob- jectif Il et dudit miroir sont les arcs de cercle respectivement 72 et 71. Selon l'invention le miroir de champ 16 peut être limi- té dans le plan perpendiculaire à YY' et contenant ZZ' à un arc de cercle infiniment petit dans le sens YY' de centre H', ledit cercle donnant d'un point B de 72 correspondant au rayon de pro- jection HB une image B' sur l'arc de cercle 73. Dans certain cas, l'arc de cercle est assimilable à la surface tangente. Selon l'invention, le miroir de champ 16 est alors en particulier un miroir cylindrique dont l'axe est paral- lèle à YY' et passe par C. Un troisième rôle joué par le miroir de champ est de fixer les dimensions du champ analysé notamment la longueur de la ligne dont la valeur maximale est déterminée, comme déjà vu, par le nombre de facettes du tambour tournant, et correspond à l'arc A" A"2 centré sur A', représenté à la figure 3, A"1 et A"2 étant les images du détecteur données par le système d'analyse ligne, à l'aide de deux faces consécutives du tambour 13'. Le miroir de champ 16 a une largeur inférieure à l'arc A"1 A"2 de façon que le flux qui tombe en A sur le détecteur ne provienne que d'un point et un seul de la ligne. L'un des bords du miroir pourra par exemple coïncider avec A"2 tandis qu'il sera légèrement en retrait par rapport à A" comme indiqué à la figure 3. Pour des raisons de constance de qualité d'image du champ en fonction de la direction du champ analysé dans la direc- tion y et également pour des questions d'encombrement du système d'analyse ligne, il est souhaitable que ce système d'analyse ligne soit traversé par les rayons avec une même incidence quelle que soit cette direction. L'invention assure cette condition en animant le mi- roir de champ d'un mouvement alternatif synchrone du mouvement du miroir d'analyse image. Ces mouvements sont décrits dans ce qui suit au cours de la description du système d'analyse image. 3 - Système d'analyse image. Ce système est représenté schématiquement à la figure 8 en coupe dans le plan ZZ', YY'. Le miroir d'analyse image 14 est animé d'un mouvement de rotation alternatif autour d'un axe per- pendiculaire au plan de la figure passant par le point E situé sur l'axe optique de l'objectif 11. E est représenté sur l'axe de ro- tation YY' du tambour d'analyse x. E peut en fait occuper une autre position. Afin de réduire les dimensions de ce miroir et per- mettre une fréquence élevée d'oscillation, il est placé géné- ralement très près de la surface focale de l'objectif 11 de section 62. Cette disposition présente par ailleurs l'avantage de per- mettre l'utilisation d'objectif de courte distance focale et de tirage optique réduit. Comme sur les figures 6 et 7, D représente l'image du détecteur A par le système d'analyse ligne pour le centre du champ. Le rayon OE confondu avec l'axe optique passe par D après réflexion par le miroir 14, lorsque celui-ci occupe la posi- tion d'analyse du centre du champ c'est-à-dire fait un angle c nul avec YY'. Au cours de la rotation du miroir 14, le symétrique de D par rapport à ce miroir décrit l'arc de cercle 81 de centre E et de rayon ED1, D1 étant le symétrique de D par rapport à YY'. Pour la direction 82 du champ faisant avec l'axe optique 12 l'angle ( mesure à partir du centre O de la pupille de sortie de l'objectif, 2585204 représentée sur la figure 8 comme étant confondue avec l'objectif 11, et correspondant à une position du plan du miroir 14 faisant l'angle c avec YY', l'image du détecteur est en D3 sur l'arc 81, tandis que l'image du champ dans la direction -3 est en D'3 sur la section 62 de la surface focale, ou encore, après reflexion sur le miroir 14, en D" symétrique de D' par rapport au plan du miroir 14. Il apparaît ainsi que si l'image du détecteur par le miroir 14 dans la position parallèle à YY' est bien sur la sur- face focale de l'objectif 11, ladite image s'en écarte en fonction de l'angle de champ P, une défocalisation apparaissant suivant le segment D3D'3, ou encore DD" de longueur 1. La théorie montre que DD" fait un angle avec ZZ' de va- leur =- 2 tandis que la valeur de 1 est donnée par la rela- tion: 1 = - LM + sin 2d, avec L r Sa sin M = cos ( + i - +) a = L2(M2 1) + R2 " = 2 ["+ arsin [( R _ 1) + sinpiM R= OD1 r= ED o i représente l'angle de ED avec ZZ'. Selon l'invention cette défocalisation est corrigée en imprimant au miroir de champ 16 les mouvements de petite amplitude convenables pour que la tangente au sommet dudit miroir soit à tout instant la médiatrice de DD". Ces mouvements se décomposent: pre- mièrement un mouvement de translation alternative d'amplitude I cos X dans la direction ZZ' de Z' vers Z, deuxièmement une ro- 2 c tation alternative d'amplitude autour d'un axe parallèle à x et symétrique par rapport à ZZ', lesdites translation et rotation étant en phase avec le mouvement du miroir trame 14. La position du miroir 16 est indiquée sur la figure 8 pour l'angle de champ À, au moyen de la tangente 83 audit miroir en son sommet, initialement perpendiculaire à ZZ' en D pour le centre du champ, c'est-àdire pour o et ( nuls. Cette tangente est - 1 distante de D de dans la direction de DD" tandis qu'elle fait un angle avec YY' égal O-- 2-, de telle sorte que le rayon OD'3 2 3 coupe l'axe ZZ' en D après réflexions successives sur le miroir 14 et le miroir 16, et passe par le point O' conjugué de O par le miroir 16 dans sa position initiale. Quel que soit ô, D est ainsi l'image de D" dans le miroir de champ et le rayon moyen du faisceau, après réflexion sur ledit miroir, présente une inclinaison constante i sur l'axe ZZ' de telle sorte que le centre O de la pupille de sortie soit cons- tamment conjugué avec le même point fixe 0' de YY'. Il s'ensuit que pour toute direction d'angle P du champ l'image focale de l'objectif Il dans le miroir de champ se trouve encore être confondue avec la surface analysée par le dis- positif d'analyse ligne. Le mouvement complexe du miroir de champ est obtenu, par exemple, comme indiqué sur la figure 9. Le miroir 16 est mon- té perpendiculairement à un support rectiligne AB tel que A se translate sur l'axe ZZ' tandis que B décrit l'arc de cercle 91 centré sur ZZ' et contenu dans le plan (ZZ', YY'). Sur la figure 9, M représente la position du miroir passant par D correspondant au centre de champ et M' la position du miroir pour la direction de champ d'angle (. Le support occupant alors la position A'B' a tourné de l'angle - + par rapport à AB dans le sens de la flèche 92. Une telle compensation de la défocalisation, amenée par le miroir d'analyse image 14, permet d'obtenir une limite de résolution aussi bonne dans la totalité du champ balayé-en x et y qu'au centre du champ. Par ailleurs la limite de résolution don- née par l'objectif n'est pas altérée par le système d'analyse en x et y. Font maintenant l'objet de description à titre d'exem- ple deux autres modes de réalisation du dispositif de balayage opticomecanique o rentrent en combinaison les éléments qui ont 17 2585204 été décrits en détail précédemment. L'une des réalisations est représentée à la figure 10 suivant le plan de symétrie du système. Il présente la particularité d'être réalisé complète- ment à partir de miroirs. L'objectif d'entrée est constitué du miroir de renvoi 101 percé d'un orifice 102 et d'un miroir, genre miroir de télescope 103 à section parabolique. L'axe optique de l'objectif est représenté sous le numéro 104. Le foyer est situé en F. Le faisceau provenant d'un point à l'infini après renvoi par le miroir fixe 101 et le miroir 103 passe par l'orifice 102., puis il est alors pris en charge par le système d'analyse proprement dit à savoir le miroir d'analyse image 14, le miroir de champ 16, le tambour tournant 13' et le miroir de transport d'image 18 pour venir converger sur le détecteur 19. Sur la figure 10 le faisceau 105 représenté est celui qui admet pour rayon moyen celui confondu avec l'axe optique 104. Compte tenu du miroir de télescope 103 utilisé, le champ est de l'ordre de 0,5 à 3 par exemple. L'autre mode de réalisation est représenté aux figures 11 et 12 respectivement en coupe dans le plan de symétrie du dis- positif et en projection sur un plan perpendiculaire à l'axe YY' de rotation du système d'analyse ligne. Ce mode de réalisation présente la particularité d'uti- liser le miroir d'analyse image 14 placé, en amont de l'objectif, en faisceau parallèle, ledit miroir étant mobile autour d'un axe perpendiculaire au plan de la figure Il et passant par le point E de l'axe YY' sur lequel est placé en A le détecteur. Le miroir 14 délimite le faisceau qui entre dans le système et peut être considéré comme la pupille d'entrée du sys- tème d'analyse qui présente une symétrie de révolution autour de l'axe YY' et, de ce fait, des propriétés optiques identiques dans toutes les directions du champ. L'objectif utilisé est un miroir torique 114 d'axe YY' et à section, par tout plan passant par YY', parabolique. Le foyer de la section par le plan de la feuille est au point D centre du champ sur l'axe ZZ' passant par A', image du détecteur par le miroir torique d'analyse ligne 18. La distance focale du miroir 114 est choisie pour être égale au rayon du cercle d'ana- lyse de telle sorte que A'D = DS, S étant le sommet de la section du tore, ledit sommet étant situé sur ZZ'. Le miroir torique 114 est limité à sa surface située au-dessus de l'axe ZZ'. Le lieu des foyers tel que D est un cercle 121 de rayon A'D dans le plan perpendiculaire à YY' passant par D. Ces foyers sont successivement confondus avec l'image, dans le système d'analyse ligne,du détecteur. L'arc décrit par cette image est limité aux points A" et A"2 correspondant aux images du détecteur respectivement dans deux faces successives du tambour tournant 13'. Dans ce système le rayon moyen du faisceau de rayons pa- rallèles analysé passe toujours, après réflexion sur les miroirs 14 et 114, par un point de l'arc de cercle A"1A"2 qui sont eux- mêmes les conjugués du détecteur A par le système d'analyse ligne. L'objectif 114 fait ainsi, en quelque sorte, office de miroir de champ en liaison avec le fait que l'axe YY' est un axe de symétrie pour tout le système optique. Pour que le détecteur ne reçoive pas de flux à la fois de deux points de l'espace, on limite le champ par un diaphragme 125 extérieur à A" 1A"2. Le champ analysé est alors égal à l'angle o d'o est vue de D une face du tambour (fig. 12), c'est-à-dire de l'ordre par exemple de 20 à 60 suivant le nombre de facettes du tambour. Le dispositif a été décrit selon quelques modes de réa- lisation particuliers, o le champ analysé se trouve à l'infini. Il va de soi que l'invention ne se limite pas à ces cas et que le champ peut très bien se trouver à distance finie. Les systèmes de balayage ligne et trame sont en effet compatibles avec l'em- ploi de toute sorte d'objectifs à petit ou grand champ visant à distance finie ou infinie tel que, par exemple, des objectifs de microscope ou des objectifs à focale variable (Zoom), la résolu- tion obtenue étant toujours très grande du fait de la parfaite fo- calisation de l'image du détecteur sur la surface image de l'ob- jectif. La résolution peut atteindre la limite due à la diffrac- tion dans la totalité du champ de l'appareil. On notera par ailleurs que l'invention conduit facile- ment à des ensembles compacts mais dont la compacité n'en conduit pas moins, grâce à l'obliquité des faisceaux sur le miroir de champ et sur les éléments de balayage ligne, à une structure o le détecteur se trouve dans une position située en dehors du sys- tème d'analyse optico-mécanique proprement dit. En complément du dispositif d'analyse optico-mécanique qui vient d'être décrit en détail, l'invention comporte des dispo- sitifs permettant la visualisation directe des objets analysés ou encore l'application de ce dispositif à l'imagerie infrarouge de certains objets ou dans d'autres domaines de longueur d'onde. Pour ladite visualisation directe, le signal vidéo is- su du détecteur est appliqué après amplification convenable à une diode électroluminescente dans le spectre visible dont la lumines- cence est proportionnelle au signal qu'elle reçoit. Le système d'analyse dans sa version ne comprenant que des miroirs, peut être utilisé indifféremment à toutes les lon- gueurs d'onde. La vision directe de l'objet analysé est ainsi rendue possible en utilisant le même système pour l'analyse et la restitution. Un premier mode de réalisation de l'invention concer- nant cette visualisation est représenté à titre d'exemple à la figure 13. Les faisceaux d'analyse et de visualisation respecti- vement 15 et 131 utilisent des trajets différents symétriques par rapport à un plan contenant YY'. Le dispositif d'analyse est celui décrit à la figure 1. Le dispositif de visualisation comporte un miroir de champ 132 symétrique par rapport à YY' du miroir 16. Le miroir 132 n'est pas nécessairement mobile du fait que le faisceau de visualisation peut avoir une ouverture plus faible qu'à l'analyse et que l'oeil peut facilement accommoder pour compenser une petite courbure de champ. Le miroir d'analyse image 14 est réfléchissant sur ses deux faces, l'une des faces servant à l'analyse, l'autre à la vi- sualisation. Le miroir 134 est disposé de telle façon que le sy- métrique de la diode électroluminescente 133 soit confondu avec le détecteur 19. La chaîne d'amplification 140 amplifie le signal vidéo en provenance du détecteur 19 et l'applique à la diode 133. L'image du champ analysé restitué par ladite diode électrolu- minescenteetle systme d'analyse est observée à l'aide de l'oeil 137 placé derrière la lunette grossissante représentée schémati- quement par les éléments optiques 135 et 136 ou encore directement derrière le collimateur 139. La lunette présente l'avantage de redresser l'image. On peut lui adjoindre un tube intensificateur 138 pour augmenter la luminance de l'image et apporter une constante de temps par la ré- manence de l'écran rendant la visualisation plus agréable. Un second mode de réalisation de l'invention pour cette visualisation est représenté à la figure 14. Dans ce mode de réalisation, particulièrement adapté à l'imagerie dans un domaine restreint du spectre, les faisceaux d'analyse et de visualisation, respectivement 15 et 141, utilisent en grande partie des trajets communs grâce aux miroirs dichrolques 142 et 143. Ces miroirs ont la propriété de se laisser traverser par la lumière du spectre d'analyse, tandis qu'ils réfléchissent tout le reste du spectre. Le miroir 142 est disposé de telle fa- çon que le symétrique de la diode électroluminescente 144 dans ce miroir soit confondu avec le détecteur 19. Le signal vidéo en pro- venance du détecteur 19 est amplifié par la chaîne d'amplification en direction de la diode 144. Les miroirs 142 et 143 réflé- chissent vers la lunette, d'éléments optiques 135 et 136, et l'oeil 137 la lumière émise par la diode électroluminescente 144 et non comprise dans le spectre d'analyse. Lorsque l'analyse s'effectue dans l'infrarouge les deux miroirs 142 et 143 sont avantageusement constitués chacun d'une lame de germanium laissant passer l'infrarouge et réfléchissant le faisceau visible issu de la diode électroluminescente 144. Un autre type de visualisation de l'image du champ est celui qui utilise un tube cathodique sur lequel on envoie le si- gnal vidéo fourni par le détecteur, les balayages ligne et trame dudit tube cathodique étant synchronisés avec les balayages ligne et trame du dispositif optico-mécanique. Lorsque l'objectif d'entrée (11 sur la figure 1) est un objectif à miroirs, le dispositif de l'invention ne comporte que des miroirs. Il est alors utilisable pour des imageries à toutes longueurs d'onde. Il peut permettre des imageries "bicolor" ou 'hulticolor" et être utilisé tant dans le spectre des ultravio- lets que dans le visible ou l'infrarouge. Selon l'invention l'analyse peut être simultanée sur 21 2585204 les différentes couleurs ou, s'effectuer par séquence sur chacune des couleurs. Pour l'analyse simultanée sur différentes couleurs, le dispositif comporte par exemple dans un même vase Dewar plusieurs détecteurs D1, D2,. , Dn en nombre n sensibles respectivement aux longueurs d'ondes 1'3' '2, Xn et disposés sur une seule rangée dans le sens de l'analyse ligne. Ces détecteurs fournissent la suite de signaux S1, S2,..., Sn déphasés les uns par rapport aux autres. Ces signaux sont remis en phase au moyen de lignes à retard. Les images aux longueurs d'onde i 2' ' ' ' An sont alors..DTD: exactement superposables. Par un traitement électronique appro- prié de l'art connu, il est alors possible de faire apparaître la différence entre des images à des longueurs d'onde différentes en faisant des sommes ou des différences de signaux, par exemple (S1 + S3) - (S2 + Sn). Dans un autre mode de réalisation d'analyse simultanée en plusieurs couleurs, les détecteurs peuvent apparte- nir à des vases Dewar différents. Par exemple pour une analyse en "bicolor" aux longueurs d'onde X1 et >2' les deux détecteurs D1 et D2 appartenant à deux vases Dewar différents peuvent être dis- posés symétriquement par rapport à un miroir dichroîque comme le sont le détecteur 19 et la diode 144 sur la figure 14 par rapport au miroir dichroique 142, ledit miroir dichroique laissant par exemple passer la longueur d'onde >1 et réfléchissant la longueur d'onde A2' Pour une analyse en couleur de type séquentiel, par exemple en deux couleurs, un mode de réalisation de l'invention est indiqué à la figure 15. Deux détecteurs D1 et D2 sensibles respectivement aux longueurs d'onde Xl et X2 sont symétriques par rapport au disque tournant 151 représenté avec son plan perpendi- culaire à la feuille et parallèle à l'axe de rotation YY'. Ce dis- * que tourne autour de l'axe 152. Les faces du disque sont réflé- chissantes et coupées de fentes. Sur la figure 16 on a représenté le disque dans son plan. La partie réfléchissante de la face ap- parente est hachurée tandis que les fentes sont indiquées en blanc sous les numéros 161 et 162. La rotation du dique est syn- chronisée en rotation avec le balayage image. Au cours de la rota- tion, D1 et D2 reçoivent alternativement le flux qui traverse le système d'imagerie permettant ainsi l'analyse en "bicolor". Dans 22 2585204 ce mode de réalisation le dispositif peut comporter en outre une source de rayonnement 153 placée de telle sorte que son rayon moyen d'émission ait une inclinaison sur le disque 151 symétrique du rayon moyen du faisceau d'analyse ligne issu du miroir 18 et passe par D1 ou D2. Cette source de flux est vue alternativement par D1 et D2 et sert de référence de flux pour le flux provenant de l'analyse. Le dispositif selon l'invention est particulièrement adapté à l'obtention d'une imagerie thermique avec mesure absolue des températures. Un exemple d'application, dans ce domaine, du dispositif selon l'invention est indiqué à la figure 17. Sur cette figure on a représenté en projection dans un plan perpendi- culaire à YY', le balayage suivant une ligne. Au cours de ce ba- layage, l'image du détecteur dans le système d'analyse décrit un arc de cercle 171 centré sur l'axe de rotation du tambour d'ana- lyse projeté en H' sur la figure 17. Les extrémités de cet arc sont A' et B' correspondant respectivement aux points A et B du champ image situé sur la section droite 173 de la surface focale de l'objectif. On rappelle que le miroir de champ de section 172 a en particulier pour r8le de conjuguer d'une part A et A', et, d'autre part B et B'. Tandis qu'en A' le détecteur reçoit le flux correspondant au point A du chami, on interrompt en B' le miroir de champ de façon que le détecteur ne reçoive plus de flux issu du point B, mais celui de la petite source 174 de référence situé à la place du miroir de champ. Comme on l'a vu précédemment la longueur totale du miroir de champ et de la source de référence doit être légèrement inférieure à la longueur de la ligne d'ana- lyse. On dispose ainsi au début ou à la fin de chaque ligne d'a- nalyse d'un signal de référence qui peut être étalonné en tempé- rature et auquel on peut comparer le signal donné par l'objectif. L'avantage de.ce système est que la source de réfé- rence est vue à chaque ligne de l'image. Le signal de référence n'a qu'une durée équivalente à quelques points d'analyse et ne perturbe pas l'analyse du champ. La source de référence est pe- tite. C'est par exemple un corps noir dont la surface d'émission peut être inférieure au millimètre carré. Il est possible d'en faire varier rapidement la température et de la contrôler à tout instant par des moyens de mesure habituels (thermocouple par ex- emple). Le dispositif de l'invention est compatible avec l'uti- lisation de détecteurs de toute nature, refroidis ou non refroidis. Le système de détection peut comprendre un détecteur unique, mais il peut aussi être constitué de détecteurs en nombre n, disposés parallèlement l'un à l'autre sur une colonne, (dispo- sition appelée en parallèle par la suite). Cette disposition est indiquée sur la figure 18, o les petits quadrilatères sont les détecteurs, et la flèche 181 donne la direction et le sens du ba- layage ligne qui s'effectue perpendiculairement à la colonne de détecteurs. L'image de ces détecteurs dans le système d'analyse ligne balaie n lignes à la fois du champ. Au balayage ligne sui- vant, le système d'analyse image décale le balayage ligne de n lignes ce qui permet d'abaisser la vitesse de rotation du tambour tournant. A nombre égal de lignes par seconde, la vitesse de rota- tion est n fois plus petite que pour un détecteur unique.Ce systme nécesiten Dies d'amplification du signal détecté, chacune des voies étant affectée à l'un des détecteurs. Le système de détection peut être aussi assuré par n détecteurs placés les uns à la suite des autres dans la direction du balayage ligne (disposition appe- lée série par la suite). Cette disposition est représentée sur la figure 19o laf chel9 indique la direction et le sens du balay- age. Chaque image d'un détecteur dans le système de balayage ligne balaie la même ligne et donne pour chaque point de la ligne un signal décalé dans le temps par rapport au signal donné, pour le même point, par les autres détecteurs. Ces signaux sont remis en phase au moyen de lignes à retard de manière à obtenir en défini- tive un même signal livré à une seule voie d'amplification. Tout se passe alors comme si l'on utilisait un détecteur unique de sen- sibilité améliorée dans un rapport égal à \. Il va sans dire que le système de détection peut encore être de type série parallèle, c'est-à-dire comprendre, comme indi- qué sur la figure 20, n1 colonnes de détecteurs places selon n2 lignes, le balayage ligne s'effectuant suivant la flèche 201. On peut ainsi de cette manière diviser par n2 la vitesse de rotation du tambour tournant (13' sur la figure) avec une sensibilité amé- liorée dans le rapport. Dans le cas de restitution de l'image par diodes élec- troluminescentes, on peut disposer d'un assemblage de n diodes identique à celui des n détecteurs. De même, on peut obtenir di- rectement une restitution en couleurs en appliquant à des diodes de différentes couleurs les signaux vidéo issus de détecteurs sen- sibles à différentes longueurs d'onde. Dans le cas d'analyse en multicolor une même disposi- tion en série, parallèle ou série parallèle, peut être adoptée pour les détecteurs sensibles aux différentes longueurs d'onde. Le dispositif de balayage selon l'invention, par son grand champ est compatible avec les standards de télévision habi- tuels de grande définition, par exemple celui dit à 625 lignes par image. Un tel standard correspond au balayage de 625 lignes 25 fois par seconde, donc en fait au balayage de 15.625 lignes par seconde. Le dispositif selon l'invention peut être alors constitué par exemple d'un tambour tournant à 12 faces et d'un détecteur à 5 éléments en parallèle. 60 lignes (5 x 12) sont analysées par tour de tambour. Une rotation du tambour à la vitesse de 15.625 tours par minute assure un balayage lignes de l'image à la même fréquence que celui de la télévision dans le standard 625 lignes considéré. REVENDICATIONS 1. Dispositif de balayage optique d'un champ de vision di- visé en différentes zones et de visualisation dudit champ, dispo- sitif selon lequel ledit balayage est effectué suivant deux direc- tions perpendiculaires à savoir, selon une direction x un balayage dénommé balayage ligne et suivant une autre direction y un ba- layage dénommé balayage trame ou image, dispositif opérant lesdits balayages selon des faisceaux issus des différentes zones du champ et assurant la convergence desdits faisceaux sur un élément.sen- sible au rayonnement contenu dans lesdits faisceaux, dispositif comportant généralement dans l'ordre, suivant le sens du trajet du faisceau incident médian issu du champ de vision, un objectif, des moyens de balayage trame selon la direction y, un système de rabattement des faisceaux délimités par l'ouverture de l'objectif vers des moyens de balayage ligne du champ image de l'objectif selon la direction x et l'élément sensible, lesdits moyens de ba- layage ligne, l'élément sensible, éventuellement d'autres élé- ments en rapport avec ceux précédemment cités servant à la-visua- lisation directe de l'image du champ analysé, ledit dispositif étant caractérisé en ce que: - l'objectif a son axe optique compris dans un plan P conte- nant la direction y et perpendiculaire à x, en ce que ledit ob- jectif est interchangeable et que sa surface focale est courbe et tel que son centre de courbure est situé au centre de la pupille de sortie de l'objectif, - les moyens de balayage trame sont constitués d'un miroir plan tournant d'un mouvement alternatif autour d'un axe parallèle à la direction x, placé en faisceau convergent derrière l'objec- tif près de l'image du champ dans ledit objectif, - les moyens de balayage ligne sont constitués d'une part d'un tambour en rotation uniforme autour d'un axe fixe YY' contenu dans ledit plan P et portant un grand nombre de faces planes ré- fléchissantes régulièrement distribuées sur le pourtour dudit tambour, et d'autre part un système de transport d'image symé- trique par rapport audit plan P formant une image de l'élément sensible en un point fixe A' de l'axe YY' de rotation du tambour, ledit tambour étant placé en faisceau convergent dans le trajet dudit système de transport du côté image de l'élément sensible. le symétrique dudit point A' par rapport à chaque face du tambour lorsque ladite face est perpendiculaire au plan P étant au voisi- nage du point D symétrique du foyer de l'objectif par rapport au miroir de trame en position parallèle à YY', - le système optique de rabattement des faisceaux est constitué d'un miroir concave dit de champ admettant le plan P comme plan de symétrie et dont le sommet est placé au voisinage de D sur l'axe ZZ' passant par D et perpendiculaire à YY', ledit miroir étant dé- terminé de telle sorte qu'il conjugue le centre 0 de la pupille de sortie de l'objectif avec un point fixe 0' de l'axe YY,' ledit point O' étant le symétrique par rapport à ZZ' du point d'inter- section de l'axe optique de l'objectif avec l'axe YY', ledit mi- roir de champ pour assurer éventuellement la nullité du temps mort de balayage entre deux lignes consécutives ayant au plus une lar- geur dans le sens x légèrement inférieure à la longueur de la ligne analysée elle-même égale à la distance entre les images du détecteur dans deux faces consécutives du tambour tournant, ledit miroir étant animé ou non d'un mouvement de petite amplitude en phase avec le mouvement des moyens de balayage trame, ledit petit mouvement comportant d'une part une translation alternative selon l'axe ZZ' au voisinage de D et une rotation alternative autour d'un axe parallèle à la direction x symétrique par rapport à ZZ', l'amplitude de ladite translation étant telle qu'elle corrige la défocalisation introduite par les moyens de balayage trame, l'am- plitude de ladite rotation étant telle qu'elle assure la fixité en O' du conjugué par le miroir de champ du centre O de la pupille de sortie de l'objectif lors de la rotation alternative des moyens de balayage trame. 2. Dispositif selon la revendication 1 caractérisé en ce que le tambour tournant est un prisme dont les faces sont réflé- chissantes et également distantes de l'axe YY' ou une pyramide dont les faces ont même inclinaison par rapport à YY' et en ce que A' et D sont strictement symétriques par rapport à chacune des faces successivement placées perpendiculairement au plan P. 3. Dispositif selon la revendication i caractérisé en ce que le tambour tournant est une pyramide dont les faces réfléchis- santes sont inégalement inclinées par rapport à YY'. 4. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 3 carac- térisé en ce que le système de transport d'image des moyens de ba- layage ligne est constitué d'un miroir concave torique d'axe YY', ledit miroir admettant comme plan de symétrie un plan perpendicu- laire à YY' l'élément sensible et son image A' dans ledit miroir étant situés sur YY'. 5. Dispositif selon la revendication 4 caractérisé en ce que la section du miroir torique par un plan contenant YY' est une ellipse dont l'axe principal est confondu avec YY' et dont l'un des foyers est occupé par l'élément sensible. 6. Dispositif selon la revendication 5 caractérisé en ce que ladite section est pratiquement un cercle. 7. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 3 carac- térisé en ce que le système de transport d'image des moyens de balayage ligne est un catadioptre de forme torique autour de l'axe YY', ledit catadioptre admettant comme plan de symétrie un plan perpendiculaire à YY' l'élément sensible et son image étant situés sur YY'. 8. Dispositif selon l'une des revendications i à 3 carac- térisé en ce que le système de transport d'image des moyens d'ana- lyse ligne est un objectif à lentilles,l'élément sensible se trou- vant en dehors de l'axe YY',la distance focale de l'objectif à lentilles étant déterminée pour qu'il forme l'image A' de l'élé- ment sensible sur l'axe YY' au point précédemment indiqué par rap- port à D. 9. Dispositif selon l'une des revendications i à 8 carac- térisé en ce que le miroir dit de champ est une portion d'ellip- solde de foyers 0' et 0", 0" étant le symétrique de 0 par rapport au miroir trame en position parallèle à YY', ledit ellipsolde pas- sant par D, ou au voisinage immédiat de D. 10. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 8, carac- térisé en ce que ledit miroir de champ est une portion de sphère ayant pour centre le point C intersection de la droite joignant les points 0'0" précités et ZZ', ladite sphère passant par D, ou au voisinage immédiat de D. 11. Dispositif selon l'une des revendications 9 et 10 ca- ractérisé en ce que ledit miroir de champ est assimilé à une sur- face cylindrique tangente aux surfaces précédemment indiquées. 12. Dispositif selon l'une des revendications 1 à Il carac- 28 2585204 térisé en ce que l'amplitude de la translation du miroir de champ sur l'axe ZZ' et celle de rotation autour de la direction x,éva- luées à partir de la position de référence correspondant au cas o ledit miroir a son sommet en D tandis que le miroir de trame est parallèle à YY' et que l'angle de champ est nul,sont respec- tivement 2 cos Y et g = - o représente l'angle du miroir 2 2 trame avec YY' et-3 l'angle sous lequel on voit le bord du champ depuis le centre de la pupille de sortie de l'objectif, l, z et P étant liés par les relations suivantes: 1 = - LM + sin 2o = L2 (M2 - 1) + R2 - 2[ [ô+ arc sin[( - 1) + sin]] R = OD r = ED D1 étant le symétrique de D par rapport à YY' E l'intersection de l'axe optique de l'objectif avec YY' i l'angle de ED avec ZZ' 13. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 3 carac- térisé en ce qu'il est réalisé conformément à l'ensemble des re- vendications constitué de l'une des revendications 4 à 6 et de l'une des revendications 9 à 12. 14. Dispositif selon la revendication 13 caractérisé en ce que l'objectif comporte des lentilles. 15. Dispositif selon la revendication 13 caractérisé en ce que l'objectif ne comporte que des miroirs. 16. Dispositif ne comportant que des miroirs analogue au dispositif selon la revendication 15 caractérisé en ce que le mi- roir de balayage trame est placé en faisceau parallèle devant 29 2585204 l'objectif, son axe de rotation étant perpendiculaire à l'axe YY' et coupant ledit axe, ledit objectif faisant également office de miroir de champ, étant constitué d'un miroir fixe concave de forme torique autour de YY', de section par tout plan passant par ledit axe, de type parabolique les foyers desdites sections étant les conjugués du détecteur par le système d'analyse ligne, ledit mi- roir fixe étant limité en dimension dans le sens trame à la partie située au-dessus du plan perpendiculaire à l'axe YY' et passant par la ligne desdits foyers, un diaphragme de champ placé sur la surface focale dudit miroir limitant la longueur de la ligne ana- lysée. 17. Dispositif selon l'une des revendications 13 à 16 ca- ractérisé en ce que le système de visualisation directe de l'image du champ comporte des éléments optiques symétriques par rapport à l'axe de rotation de balayage ligne de ceux faisant partie du sys- tème d'analyse et comporte de plus un miroir plan dans lequel une diode électroluminescente dans le domaine visible est symétrique du détecteur, et des moyens pour appliquer à ladite diode électro- luminescente le signal issu du détecteur, ladite image du champ étant observée à l'aide de l'oeil par l'intermédiaire ou non d'une lunette. 18. Dispositif selon l'une des revendications 13 à 16, ca- ractérisé en ce que les éléments optiques du système d'analyse de l'image sont communs avec les éléments optiques du système de vi- sualisation qui comporte, de plus, deux miroirs dichroiques plans, à savoir un premier miroir dichroique placé tel que la diode élec- troluminescente soit symétrique du détecteur et un second miroir dichroique placé en amont des systèmes d'analyse ligne et trame, lesdits miroirs dichroiques étant transparents à la lumière d'ana- lyse et réfléchissant la lumière d'électroluminescence, l'image étant observée à l'aide de l'oeil par l'intermédiaire ou non d'une lunette. 19. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 18, ca- ractérisé en ce que le détecteur comme la diode électrolumines- cente comporte n éléments, les éléments du détecteur étant sen- siblesà différentes longueurs d'onde, les éléments de la diode émettant suivant différentes couleurs, l'assemblage géométrique des éléments du détecteur étant identique à celui des éléments de la diode, lesdits assemblages étant symétriques l'un de l'autre par rapport au miroir plan indiqué à la revendication 17 ou 18, et en ce que ledit dispositif comporte des moyens pour appliquer le signal vidéo issu d'un élément du détecteur à un élément de la diode, et le cas échéant des éléments optiques jouant le rôle de filtre de lumière. 20. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 18, ca- ractérisé en ce qu'il comporte de plus une source de rayonnement de référence placée sur le trajet ligne de l'image du détecteur à l'extrémité d'une ligne d'analyse. 21. Dispositif selon la revendication 19 caractérisé en ce que le détecteur comprend deux éléments D1 et D2 sensibles chacun à un domaine de longueur d'onde centré respectivement sur la lon- gueur d'onde h1 et sur la longueur d'onde t2' l'élément D1 étant placé sur l'axe de rotation de balayage ligne, tandis que l'élé- ment D2 est placé symétriquement à D1 par rapport à un miroir dichroîque, le miroir dichroique étant transparent à la longueur d'onde X1 et réfléchissant la longueur d'onde k2. 22. Dispositif selon la revendication 19 caractérisé en ce que le détecteur comprend deux éléments D1 et D2 sensibles chacun à un domaine de longueur d'onde centré respectivement sur X1 et 2 et en ce que les deux détecteurs sont symétriques par rapport à un disque tournant, la surface du disque étant réfléchissante sur ses deux faces et entrecoupée de fentes, ledit dispositif comportant éventuellement de plus une source de rayonnement de ré- férence émettant dans une direction moyenne de même inclinaison sur le disque que le rayon moyen du faisceau d'analyse. 23. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 18 carac- térisé en ce que le détecteur comporte plusieurs éléments sen- sibles placés suivant une colonne perpendiculaire à la direction du balayage ligne. 24. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 18, ca- ractérisé en ce que le détecteur comporte plusieurs éléments sen- sibles placés les uns à la suite des autres suivant une rangée parallèle à la direction du balayage ligne. 25. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 18 carac- térisé en ce que le détecteur comporte plusieurs colonnes d'élé- ments sensibles placés suivant plusieurs rangées perpendiculaires 3O 31 2585204 auxdites colonnes qui sont dirigées perpendiculairement à la di- rection de balayage ligne. 26. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 20 com- portant des détecteurs sensibles chacun à un certain domaine de longueur d'onde, chacun de ces détecteurs ayant l'une des struc- tures indiquées aux revendications 23 à 25.