FR 2564613 A1 19851122 FR 8407652 A 19840517 SYSTEME DE CHRONOMETRIE ELECTRONIQUE DE HAUTE RESOLUTION. La présente invention concerne un système de chronométrie électronique englobant le procédé de mesure de temps et l'appareil chronomètre correspondant. L'invention s'adresse, dans ce domaine technique, aux systèmes de mesure présentant une résolution impor- tante, meilleure que 100 picosecondes. Les chronomètres électroniques pour phénomènes non répéti- tifs, qui mesurent l'intervalle de temps entre une impulsion de départ et une impulsion d'arrêt, procèdent très souvent par comp- tage de périodes d'une horloge à fréquence bien connue. En général, ce circuit de base de temps est constitué à l'aide d'un osciilateur à quartz de haute stabilité compensé en température. Le temps T à mesurer est alors égal à N. T à + T /2 près,t étant la période d'hor- loge, N étant le nombre présent dans le compteur qui est déclenché par l'impulsion de départ et arrêté par l'impulsion d'arrêt. Lorsque l'on veut une résolution de mesure de l'ordre de quelques centaines de picosecondes, ou moins, la résolution tempo- relle des compteurs électroniques n'est plus suffisante, et l'on utilise généralement la technique de la conversion temps-amplitude. L'im- pulsion de départ provoque le démarrage d'une dent de scie ou rampe qui s'exprime par une tension de la forme V = kT o k est une constante. L'impulsion d'arrêt provoque le blocage de cette variation linéaire. La quantification du temps peut se faire de plusieurs manières possibles. L'une des plus usitées est la multiplication du temps t par un facteur K, le temps Kt étant mesuré par la méthode déjà évoquée du comptage d'horloge. Pour obtenir ce coefficient de multiplication, la rampe est réalisée par la charge d'une capacité C par un courant constant I (V = It/C, tension aux bornes de la capacité). Celle-ci est ensuite déchargée par un courant également constant et de valeur i bien déterminée donnée par i = I/(K-1) ce qui donne une durée globale Kt pour la charge plus la décharge. On produit ainsi une expansion par K du temps de charge pour la mesure, la résolution étant égale alors à T /K. Il -est certain que la précision relative du chronomètre à rampe, pour des temps importants, est inférieure à celle des chronomètres à comptage. Aussi, lorsque l'on doit mesurer des temps longs avec une quantification de l'ordre de quelques centaines de picosecondes ou moins, procède-t-on par association d'un comp- tage de périodes d'horloge, dit comptage principal, et de verniers à rampe. Cette technique est décrite notamment dans l'article de Ronald NUTT intitulé "Digital Time Intervalometer", paru dans The Review of Scientific Instruments volume 39, Number 9, de septem- bre 1968, pages 1342-1345. Le processus que l'on rappelle succincte- ment est le suivant: L'impulsion de départ provoque le démarrage d'une tension en forme de rampe V (t) qui est arrêtée, au bout d'un temps TI, par la première impulsion d'horloge qui suit. La phase entre l'impulsion de départ et l'horloge étant à priori quelconque, le temps T1 sera compris entre 0 et T. La tension V (T1) est ensuite convertie sous la forme d'un temps dilaté comme indiqué précédemment et est numérisée (expan- sion de temps et conversion analogique-numérique). L'impulsion d'arrêt provoque à son tour le démarrage d'une rampe; comme l'impulsion de départ, elle est arrêtée par la première impulsion d'horloge qui suit au bout d'un temps T2. L'impulsion d'arrêt ne bloque le compteur principal qu'après la prise en compte de cette même impulsion d'horloge. Le compteur indique N. Le temps mesuré est alors donné par: T = N.T +(Tl*- T2*) étant la période d'horloge, TI* et T2 *étant alors les valeurs quantifiées de TI et T2. Dans le cas du vernier à rampe avec expansion de temps et utilisation de l'horloge principale, le quantum est égal à T /K. Pour éviter des incertitudes résultant de coïncidences fortui- tes des instants départ et arrêt avec l'horloge, et éviter les cas d'ambiguîté correspondants, les arrêts de rampe sont produits sur la deuxième impulsion qui suit (ou sur le deuxième front de sens donné, dit front actif, par un signal d'horloge formé d'impulsions d'une certaine largeur. Les verniers travaillent ainsi dans un domaine de temps compris entre Tr et 2Tr. Le principe de la mesure demeure inchangé. Lorsque l'on veut obtenir des résolutions temporelles très fines, le caractère de linéarité de la dent de scie, et de la numérisation associée, prend une grande importance et il n'est guère possible de descendre au-dessous d'une centaine de picosecondes. Un but de l'invention est de s'affranchir de ces limitations en utilisant un procédé qui permet de compenser les défauts résultants de la nonlinéarité et, ce faisant, de corriger la mesure; la résolution atteinte est inférieure à 50 picosecondes. Suivant un objet de l'invention, ce but a pu être atteint en fondant le procédé sur les remarques suivantes: - l'erreur de mesure due à la nonlinéarité des rampes porte sur le terme (TI-T2) dans l'expression de T, corespondant à la mesure fine des verniers. Ce terme varie dans la page 0 à T d'une période d'horloge (au delà, il constitue un increment qui est pris en compte par le comptage gros) et représente la phase temporelle de la durée T par rapport à l'horloge. Pour une durée T donnée, la valeur de cette phase temporelle va varier en fonction de celle de l'instant de départ tl étant donné, a priori, que l'écart de rampe varie d'un point de fonctionnement à un autre; - en conséquence, si l'on fait varier durant un cycle d'étalon- nage l'instant de départ tIl dans sa plage de variation égale à la période T d'horloge, tout en gardant constant l'intervalle de temps entre cet instant et celui d'arrêt t2, on peut produire une série de mesures entachées chacune de l'erreur de mesure liée à la phase de départ tl (la précision de l'Pétalonnage est fonction du nombre de valeurs sélectionnées dans la plage considérée). On peut ainsi dresser un tableau donnant l'erreur de mesure en fonction du paramètre T1 mesuré par la rampe. Pour s'affranchir des variations liées au deuxième paramètre T2 dans l'expression (TI - T2), on effectuera de préférence plusieurs séries de mesures en faisant O10 varier la durée T en sorte que sa phase parcourt également la plage O - T. En relevant ensuite les résultats de mesure en fonction de TI et de (TI -T2) on peut ainsi dresser un tableau à deux entrées et corriger toute mesure de T du terme d'erreur qui lui correspond. Conformément à la présente invention, il est proposé de réaliser un système de chronomètrie électronique utilisant, pour mesurer une durée T entre un instant de départ tl et un instant d'arrêt t2, des moyens de comptage fin du type vernier à rampe avec expansion temporelle pour mesurer la durée TI entre l'instant tl et un front ultérieur d'un signal d'horloge et la durée T2 entre l'instant t2 et un front ultérieur d'horloge, et des moyens de comptage gros pour compter le nombre N de périodes d'horloge de durée - entre lesdits fronts. Le système est caractérisé en ce qu'il comporte, en outre, des moyens de compensation des erreurs de non-linéarité de rampe pour déterminer, en grandeur et en signe, quelle que soit la durée T à mesurer, le terme correctif à appliquer pour obtenir la mesure corrigée, ledit terme correctif étant déterminé au cours d'un cycle d'étalonnage en fonction des paramètres T1 et (TI - T2) mesurés. Les particularités et avantages de la présente invention appa- raîtront dans la description qui suit; des exemples de réalisations et d'applications sont donnés à l'aide des figures annexées qui représen- tent: - la figure 1, un diagramme général d'un système de chrono- métrie électronique conforme à l'invention; - la figure 2, des formes d'ondes relatives au fonctionnement du système selon la figure]; - les figures 3 à 8 des courbes de variation illustrant le procédé mis en oeuvre pour compenser les erreurs de mesure résultant de la non linéarité des circuits verniers à rampe; - la figure 9, les relevés d'talonnage effectués conformément à l'invention pour déterminer un tableau des valeurs de compensation et - la figure 10, un schéma d'un exemple de réalisation d'un système de chronométrie selon l'invention. Les moyens principaux constituant le système apparaissent sur le diagramme fonctionnel de la figure I. Ils comprennent déjà, selon la technique antérieure précitée, un circuit de base de temps dit horloge 1 pour produire un signal d'horloge SH, un circuit compteur principal 2 pour effectuer la mesure grossière, et des circuits verniers à rampe 3 et 4 pour effectuer la mesure fine. La figure 2 montre les signaux essentiels correspondants: un signal d'horloge SH de période stable déterminée T, les impulsions S1 et 52 qui représentent l'instant de départ et celui d'arrêt de la durée T à mesurer, et les rampes SRI et SR2 de durée TIl et T2 respectivement. La durée T est donnée par N T+ (TI-T2), N étant le comptage gros et TIl et T2 les valeurs fines obtenues avec expansion temporelle. Dans l'exemple représenté, le front descendant de l'horloge SH est le front actif. Conformément à l'invention, les valeurs N, TIl et T2 obtenues sont transmises sous forme numérique à un processeur de gestion et de calcul 5 qui peut consister en un microprocesseur avec des mémoires vives et mortes associées et des circuits d'interface. Le circuit 5 calcule la phase temporelle AT de la durée T par rapport au signal d'horloge, cette phase étant constituée par la valeur (TI - T2) représentant la mesure fine qui excède le nombre entier N de périodes d'horloge. Les autres circuits représentés sont constitués par un généra- teur de retard programmable 6 et un circuit de commutation 7 et sont utilisés pour faire l'étalonnage. A cet effet, le circuit processeur 5 commande le générateur 6 pour produire des signaux locaux SO10 et S20, et le commutateur 7 pour transmettre ces signaux vers les verniers 3 et 4 à la place des signaux SI et S2 de mesure proprement dits. La programmation du circuit 5 est faite pour commander au moins une série de mesures avec un retard (t2-tl) constant entre les signaux SIO et S20 et en faisant varier à chaque fois l'instant de départ, c'est à dire le phase temporelle de S10, par rapport à l'horloge SH. Le retard constant, avec une très grande précision, est produit par le circuit 6 au moyen, par exemple, d'un montage de lignes à retard compensées en température. Un cycle d'étalonnage complet comportera plusieurs séries de mesures de manière à parcourir également la plage de variation T du retard en modifiant sa valeur d'une série de mesures à la suivante. Le procédé de mesure mis en oeuvre par ce montage va maintenant être mis en évidence à l'aide des figures 3 à 9. Sur la figure 3 on a voulu représenter l'écart de rampe par rapport à une variation linéaire idéale. A l'instant tl + T1 ou cesse la charge dans le circuit du vernier départ, ici considéré, on s'écarte de la valeur VM qui serait obtenue pour une réponse linéaire, d'une quantité dV positive dans le cas considéré VB = VM + dV. La valeur dV varie généralement d'un point à un autre, elle peut être positive ou négative (par exemple en N), la variation est d'autant plus faible que les points sont voisins. La courbe de réponse représentée est donnée à titre d'exemple. La figure 4 est un diagramme corespondant au précédent mais transposé au temps T mesuré par le vernier en fonction du temps réel TR. L'écart de charge dV variable en fonction du point de fonctionnement et donc du paramètre TI qui correspond à la phase temporelle de l'instant tl, s'y trouve remplacé par l'écart temporel sur la mesure de TI, (et de T2 pour l'autre vernier). Le temps mesuré est de la forme Tm = TR + dt ou dt à un signe correspondant à celui de dV et une amplitude proportionnelle à celle de dV. L'allure de la variation de Tm est semblable à celle de la rampe. On note que T étant la plage de variation de TI (et de T2), l'écart dt s'annule pour TR = 0 et TR = T, points extrêmes ou Tm = TR. La courbe Tm se répète donc pour du temps à mesurer modulo T, c'est à dire de période T. Durant l'étalonnage on produit une série de mesures avec (t2 -t1) égal à une valeur constante de R et en faisant varier la phase t1 pour parcourir la plage 0 -T de manière uniforme. On peut pour cela considérer un nombre déterminé et suffisant d'échantillons de valeurs régulièrement réparties dans la plage 0 - T. De préfé- rence, on considère la plage 0 - t découpée en P tranches, de largeur T /P chacune et comportant chacune plusieurs échantillons comme représenté sur la figure 5 pour une tranche Trj d'ordre j quelconque. Le nombre d'échantillons par tranche est égal, ou sensiblement, et on détermine la valeur moyenne Tmj de ces échantillons qui caractérisera cette tranche. On obtient ainsi une répartition de P valeurs moyennes Tml à TmP pour les P tranches Trl à TrP comme représenté sur la figure 6, chacune d'elle distante de la valeur théo- rique de réponse linéaire d'une quantité dt1 à dtp correspondante égale à la valeur moyenne des écarts dt pour la tranche en question. Les valeurs moyennes Tml à Tmp précitées sont calculées pour le paramètre Tl mesuré. Parallèlement, pour chaque valeur Tlm donnée par le vernier départ, le vernier arrêt fournit une valeur T2 mesurée, appelée similairement T2m. La valeur de comptage fin (Ti lm - T2m) correspond donc à la valeur théorique (TIl - T2) entachée de l'erreur de mesure dm. En posant Tlm = T1 + dt et T2m = T2 + dt2, l'erreur de mesure dm est égale à dtl - dt2. Compte-tenu que la série de mesures d'étalonnage est faite à T = R constante, la relation: Tm = N T+ (T1 - T2) + dm = R + dm montre que: (TI - T2) est constant et égal à R-N T = A R (N étant le comptage gros pour la valeur R). Ainsi pour chaque mesure, le processeur 5 calcule la valeur (Tlm - T2m) =ARm =gR + dm et pour chaque tranche la valeur moyenne ARmj qui est égale à la valeur A R constante augmentée de la moyenne dmj de la tranche considérée (figure 7). Si l'on considère maintenant les P valeurs moyennes ARm calculées pour les P tranches, on peut considérer que la valeur moyenne Rm de celles-ci définie par: (, Rml +LI Rm2 I... ± Rmj +,, A.RmP) x li/P est égale, ou sensiblement, à la valeur réelle A R (figure 8), compte- tenu que les écarts dmj sont faibles, de signes les uns positifs, les autres négatifs, et d'amplitude variable de sorte que leur valeur moyenne est, sinon nulle, du moins très faible. La différence entre cette valeur moyenne globale A Rm calculée et chaque valeur moyenne A Rmj de tranche représente ainsi l'écart moyen dmj de la tranche considérée. On obtient donc, en examinant les résultats traduits par les figures 6 et 8 d'une part, P valeur moyenne Tmj du paramètre TI couvrant la plage 0 - T en P tranches d'amplitude T/P et d'autre part, P valeurs moyennes dmj donnant le terme correctif corres- pondant à appliquer à la mesure. En conséquence, pour une mesure d'un temps T la valeur Tml mesurée par le vernier départ, définit dans quelle tranche on se situe et un tableau mémorisé donnant dmj en fonction de Tmj permet d'extraire le terme correctif dmj à appliquer. On se rend bien compte que cette seule série de mesures s'applique bien si la durée T à mesurer est égale ou proche de la valeur R d'étalonnage. Plus l'écart entre T à mesurer et R croît et plus les valeurs d'écart dm calculées risquent de ne plus corres- pondre aux vraies valeurs d'écart à appliquer. Pour s'affranchir de ces limitations causées par la variation de t2-t1 et donc de la phase t T = Tl-T2 de T dans la plage 0 à T, on effectue plusieurs séries de mesures d'étalonnage identiques à celles précitées mais en chan- geant à chaque fois la valeur R pour couvrir la plage 0 - -r et avoir ainsi le terme correctif dm, à appliquer, quelle que soit AT et donc la durée T à mesurer. Soit L le nombre de séries de mesure; on désignera par RI, R2,...Rk,... RLles L valeurs de R utilisées. Pour avoir une répartition uniforme, on considérera la plage 0 - T divisée réguliè- rement en L tranches qu'on appelle "canaux" (pour les différencier des "tranches" relatives à TI, chacune de largeur T /L, chaque valeur Rk étant telle que A Rk est au milieu de la tranche correspondante allant de (k-l) T /L à k T /L, c'est à dire ARk = (k-l) T/L +T /2L sensiblement. Pour celà, le générateur de retard 6 peut être équipé de dispositifs de retard connecté en série pour donner les échelons T/L successifs. Le tableau figure 9 montre les valeurs finalement mémorisées dans les mémoires vives du processeur 5. On se rend bien compte que la valeur Tlm mesurée par le vernier départ 3 indique la tranche j à affecter, à laquelle corres- pond maintenant non plus I mais L valeurs dmlj à dmLj en fonction de la phase AT du temps T à mesurer. La valeur calculée Tlm-T2m correspondante définit le canal k à affecter et l'on peut dès lors extraire le terme correctif dmkj à appliquer pour la mesure et obtenir la grandeur corrigée qui correspond très sensiblement à la grandeur réelle de T. A titre d'exemple d'ordre pratique, avec une horloge de période T = 10 ns et des verniers de coefficient d'expansion K = 400, le quantum de mesure fine est donné par T /K = 25 ps, constituant le temps minimal envisageable entre les échantillons lors du cycle d'étalonnage. Dans ces mêmes conditions, la plage 0- T sera couverte par un maximum de 400 valeurs distinctes de TI et donc de la phase t1 variable. En considérant la plage 0- -r divisée en 20 tranches de 500 ps, soit 20 valeurs distinctes mesurables par tranche, on peut décider d'effectuer, par exemple, 800 mesures par canal (série de mesures à R constant) pour produire avec une répartition sensiblement uniforme 40 valeurs par tranche, soit une probabilité de 2/1 de produire les différentes valeurs mesurables. Avec 10 canaux espacés de Ins de l'un au suivant, le cycle complet d'étalonnage comrn portera 8 000 mesures pour le cas envisagé. Pour obtenir la répartition uniforme des échantillons dans les tranches, on procède, de préférence à un déclenchement aléatoire de ces mesures afin de couvrir régulièrement la plage de variation et relever un spectre quasi- continu de la variation de Tlm en fonction de TI. Naturellement, le nombre de tranches sera quantitativement déter- miné, selon que l'on est à même de procéder à un plus ou moins grand nombre de mesures et en fonction de la finesse de la correction à laquelle on veut aboutir. Le déclenchement aléatoire de la mesure peut être produit de diverses façons; l'une d'elles, consiste à produire au niveau du microprocesseur une deuxième horloge locale de fréquence différente de celle SH très stable délivrée par le circuit 1, les fréquences étant choisies dans un rapport irrationnel, de sorte que la phase présentée par le front actif de cette horloge locale vis à vis de celle SH de référence est quelconque, changeant pratiquement de valeur à chaque fois. Cette horloge locale donne ainsi des valeurs TI successives variant de façon aléatoire. On notera dans le cas d'un déclenchement aléatoire que le circuit processeur 5 devra stocker provisoirement les valeurs TI et T2 mesurées par les verniers avant de procéder à un classement par ordre croissant des valeurs Ti mesurées pour déterminer ensuiteles moyennes T1 mj tranche par tranche. Il y aura lieu de veiller à bien faire suivre les valeurs T1 et T2 d'une même mesure au cours de ces opérations de façon à trouver dans chaque tranche (figure 7) les valeurs (T1-T2), dites A Rm, mesurées et corespondant aux valeurs Tlm de cette tranche pour que la détermination d'écart moyen dmj conserve tout son sens. L'appareil de chronomètrie proposé met en pratique le procédé qui vient d'être décrit à l'aide du circuit processeur 5 programmé pour effectuer les différents calculs et pour commander lors de l'étalonnage le basculement des commutateurs 7 pour brancher les sorties S10 et S20 du générateur 6 sur les circuits verniers à la place des entrées SI et S2; il commande également le circuit générateur 6 pour produire la série de mesures désirée. Le circuit 6 produit une impulsion départ S10 et une impulsion arrêt S20 dont le retard, par Il rapport à l'impulsion départ, est à faible bruit (c'est à dire pratique- ment sans fluctuations) et est programmable sur un espace de temps sensiblement égal à T. En se reportant à la figure 10, apparait un schéma de réalisation du système qui montre plus en détail un circuit vernier à rampe et le processeur. Le circuit vernier 3 comporte un compa- rateur à seuil 31 qui produit une remise en forme de l'impulsion Sl ou S10 d'entrée; le circuit suivant 32 est une bascule bistable dont le changement d'état va commander à travers un circuit porte 33 et une diode 34 la charge linéaire du condensateur 35. Le signal d'horloge SH commande ensuite, via le circuit 36 constitué de circuits basculeurs et via le circuit porte 37 suivi de la diode 38, la décharge du condensateur 35. Les circuits 39 et 40 représentent des amplificateurs. Le début de la charge et la fin de la décharge sont repectivement déterminés pour obtenir le coefficient d'expansion désiré, par exemple 400 TI, grâce au comparateur à seuil 41 en sortie qui fait rebasculer le circuit 32 en position initiale. Le compteur 42 effectue la mesure de la durée totale de charge et de décharge et cette information, mesurée en nombre de périodes d'horloge SH est transférée au processeur 5 qui calcule la durée TI correspondante. Le vernier arrêt 4 est constitué de manière sembla- ble pour permettre de calculer T2. Le circuit processeur 5 est représenté selon une structure conventionnelle avec un microprocesseur 51, des circuits d'interface d'entrée 52 et de sortie 53, des mémoires mortes 54 et vives 55 et les bus de commande C, d'adressage A et de données D. Dans l'organisation des mémoires vives 55 on a considéré une organisation correspondant à celle de la figure 9 à L lignes d'adressage selon le canal et P colonnes d'adressage selon la tranche, pour stocker les différents écarts de mesure dmkj. La programmation du processeur 5 est faite pour accomplir les différentes phases successives du procédé qui a été précédemment décrit. Cette technique répond à des mesures connues, relativement simple ne nécessitant pas de rapporter ici plus en détail le logiciel. Le résultat de la mesure après correction est transmis vers une unité annexe 10 d'exploitation. REVENDICATIONS 1. Système de chronométrie électronique utilisant, pour mesu- rer une durée T entre un instant de départ t1 et un instant d'arrêt t2, des moyens de comptage fin du type vernier à rampe avec expansion temporelle pour mesurer la durée TI entre l'instant t1 et un front ultérieur d'un signal d'horloge et la durée T2 entre l'instant t2 et un front ultérieur d'horloge, et des moyens de comptage gros pour compter le nombre N de périodes d'horloge de durée T entre lesdits fronts, le système étant caractérisé en ce qu'iil comporte, en outre, des moyens de compensation des erreurs de non linéarité de rampe pour déterminer, en grandeur et en signe, quelle que soit la durée T à mesurer, le terme correctif (dm) à appliquer pour obtenir la valeur corrigée (N T+ TI - T2 + dm), ledit terme correctif étant déterminé au cours d'un cycle d'étalonnage en fonction des para- mètres TI et (TI - T2) mesurés. 2. Système selon la revendication 1, caractérisé en ce les- moyens de compensation comportent un circuit processeur de ges- tion et de calcul (5) et un circuit générateur de retard program- mable (6) pour produire des signaux locaux (S10 - S20) correspondant aux dits instants de départ et d'arrêt et pour faire varier les paramètres Tl et TI-T2 au cours de l'étalonnage de façon à calculer à chaque fois le terme correctif correspondant (dm). 3. Système selon la revendication 2, caractérisé en ce que les moyens de gestion et de calcul soient programmés de manière à commander le générateur de retard pour effectuer l'étalonnage selon au moins une série de mesures avec une durée (R) constante entre lesdits signaux locaux (SO10, S20) et en modifiant à chaque fois l'instant de départ (t1) pour parcourir la plage de variation du paramètre Tl selon une répartition régulière de valeurs distinctes. 4. Système selon la revendication 3, caractérisé en ce que la plage de variation de TI est découpée en P tranches de durée T /P, et pour chacune d'elles on calcule d'une part, la valeur moyenne (Tlmj) des valeurs TI mesurées tombant dans cette tranche et d'autre part, la valeur moyenne (A Rmj) des valeurs (Tl-T2) corres- pondantes, 1l calcul comportant ensuite celui de la valeur moyenne (fim) des P'valeurs moyennes(Rmr à A RmR) du paramètre(TI-T2) et de l'écart respectif correspondant (dmj = R mj - AR) corres- pondant au terme correctif à appliquer, tranche par tranche, en fonction de Tl. 5. Système selon la revendication 4, caractérisé en ce que l'étalonnage comporte plusieurs séries de mesures, en nombre L, pour déterminer L canaux couvrant régulièrement la plage T de variation du paramètre (TI-T2) en utilisant L valeurs successives de la durée T = R constante entre les dits signaux locaux, de manière à produire un incrément T/L à chaque fois et déterminer le terme correctif à appliquer (dmkj) en fonction à la fois de la valeur de TI et de (Tl -T2). 6. Système selon la revendication 5, caractérisé en ce que les moyens de gestion et de calcul (5) comportent des moyens de stockage (55) pour mémoriser les différentes valeurs du terme correctif à appliquer (dmkj) selon un tableau à double entrée, d'une part en fonction du paramètre TI distribué selon P tranches, d'autre part, en fonction du paramètre (TI-T2) distribué selon L canaux. 7. Système selon l'une quelconque des revendications 2 à 6 caractérisé en ce que les moyens de ccompensation comportent, en outre, des circuits de commutation (7) pour connecter les entrées des circuits verniers (3, 4) au générateur de retard (6) durant l'étalonnage, pour transmettre aux verniers les deux signaux locaux (S10, S20). 8. Système selon l'une quelconque des revendications précé- dentes caractérisé en ce que les moyens de compensationson sont déterminés pour modifier, pendant l'étalonnage, la phase (TI) de l'instant de départ de manière aléatoire vis-à-vis du signal horloge (SH) de référence.