FR 2560377 A1 19850830 FR 8403168 A 19840229 1i 2560377 Dispositif optique de mesure de proximité de surface et son application au relevé du profil d'une surface. La présente invention concerne un dispositif optique destiné à mesurer la proximité d'une surface. L'invention concerne également l'application d'un tel dispositif au relevé du profil d'une surface. De tels dispositifs sont utilisés dans de nom- breux domaines et notamment pour la commande de robots chargés d'accomplir automatiquement certaines taches. Ils permettent de connaître instantanément la position relative d'un organe par rapport à une surface et, le cas échéant, le profil de cette dernière. Les déplace- ments du robot ainsi que la fonction même remplie par ce dernier peuvent donc être adaptés automatiquement à tout instant à des conditions de travail qui peuvent évoluer dans le temps. Lorsqu'ils sont utilisés pour relever le pro- fil d'une surface, de tels dispositifs optiques trouvent une application avantageuse dans les robots de soudage adaptatifs ainsi que dans le soudage assisté par ordina- teur. En effet, ces deux techniques nécessitent la con- naissance de la position spatiale et de certains paramè- tres géométriques du joint de soudure. Cette connaissan- ce s'obtient grâce à des dispositifs de mesure de proxi- mité et à des dispositifs de relevé de profil. Les dispositifs optiques de proximité de sur- face existant à ce jour sont de deux types. Une première famille de capteurs optiques con- nus utilise le principe dit "de la triangulation". Selon ce principe, on envoie un faisceau lumineux obliquement vers la surface à détecter, pour former une tache lumi- neuse sur celle-ci. On focalise le faisceau réfléchi et/ou diffusé par la surface, afin de former l'image de la tache sur un détecteur de localisation. Ce détecteur peut notamment être constitué par une caméra à disposi- tif à transfert de charge. Un tel capteur optique est 2 2560377 commercialisé par la firme suédoise SELCOM sous la déno- mination OPTOCATOR. Comme tous les dispositifs optiques, ce dispo- sitif ne nécessite aucun contact matériel avec la surfa- ce à détecter. De plus, sa distance de fonctionnement par rapport à la surface (appelée hauteur de vol") est satisfaisante. Enfin, ce capteur optique est immunisé vis-à-vis des parasites électriques, qui sont très per- turbants dans certaines applications et notamment dans le cas du soudage. Toutefois, les capteurs à triangulation pré- sentent aussi l'inconvénient d'utiliser un détecteur de localisation complexe et coûteux. De plus, leur bande passante est relativement limitée. Il existe aussi actuellement des capteurs op- tiques à infrarouge dans lesquels le rayonnement infra- rouge émis par une diode électroluminescente est renvoyé par la surface sur un détecteur tel qu'une photodiode ou un phototransistor. Le détecteur délivre un signal ana- logique représentatif du flux lumineux renvoyé par la cible et, en particulier, de la distance entre le cap- teur et la cible. Ces capteurs à infrarouge sont plus simples et moins coûteux que les capteurs à triangulation. De plus, leur bande passante est plus large. Toutefois, les réponses de ces capteurs va- rient avec le coefficient de réflexion de la surface et avec l'angle d'incidence du faisceau incident sur cette surface. Il en résulte qu'ils sont difficilement utili- sables lorsque l'état de surface de la pièce et/ou son orientation par rapport au capteur varient, ce qui est généralement le cas en robotique. La présente invention a précisément pour objet un dispositif optique de mesure de proximité de surface s'apparentant au second type de capteurs optiques exis- tants qui viennent d'être décrits, tout en permettant, contrairement à ces derniers, de réaliser une mesure de la distance séparant le capteur de la surface en vis-à- vis, indépendamment du coefficient de réflexion de cette surface et de l'angle d'incidence. Comme tous les cap- teurs opto-électroniques, le capteur selon l'invention présente de plus l'avantage, par rapport aux capteurs optiques à triangulation5 de remplacer un détecteur com- plexe et coûteux par un détecteur optique de bas de gam- me, et aussi de gagner en bande passante. A cet effet, et conformément à l'ine On, il est proposé un dispositif optique de mesure d! de surface, comprenant un Ametteur de rayonn-3.nt for- mant une tache lumineuse sur ladite surface et An récep- teur sensible au flux-lumineux renvoyé par cetU derniè- re, au travers de moyens de focalisation, caractérisé en ce que le récepteur comprend deux détecteurs associés à deux moyens de focalisation présentant des focales dif- férentes, et des moyens pour déterminer le..eur du rapport entre les flux lumineux mesurés par 'n des détecteurs, cette valeur étant représentative e îa dis- tance séparant le dispositif de la surface. On obtient ainsi, conformément à l1invention, un signal représentatif de la distance et qui est iidé- pendant à la fois du coefficient de réflexion de la sur- face et de l'angle d'incidence du faisceau émis par l'émetteur. Dans la définition de l'invention qui vient d'túe donnée comme dans la suite de la description, l'expression "flux lumineux renvoyé par la surface' dé- signe indifféremtent le faisceau réfléchi par la surface et/ou le faisceau diffusé par la surface. Selon un premier aspect de l'invention, le faisceau incident est un faisceau parallèle, de telle sorte que les dimensions de la tache sont indépendantes 4 2560377 de la distance séparant l'émetteur de la surface. Si l'on suppose en outre que les axes optiques du faisceau incident et du faisceau renvoyé sur le récepteur par la surface sont confondus, les variations du flux lumineux mesurées par les détecteurs découlent alors directement des variations de la distance séparant la surface des moyens de focalisation associés à ces derniers. Selon un deuxième aspect de l'invention, le faisceau incident est un faisceau convergent. Les dimen- sions de la tache sur la surface vont alors varier lors- que la distance séparant l'émetteur de la surface varie. Si l'on se place comme précédemment dans l'hypothèse o les axes optiques du faisceau incident et du faisceau renvoyé par la surface sont confondus, ce phénomène se cumule avec le précédent. Le flux lumineux mesuré par les détecteurs résulte alors de la variation simultanée des distances entre la surface et les moyens de focali- sation associés à l'émetteur, d'une part, au détecteur, d'autre part. Selon un troisième aspect de l'invention, qui se combine avec l'un ou l'autre des deux aspects évoqués précédemment, le faisceau émetteur est angulairement dé- calé par rapport au faisceau renvoyé par la surface. En plus des phénomènes évoqués précédemment, un accroisse- ment de la distance entre les détecteurs et la surface a alors pour effet un déplacement latéral du faisceau ren- voyé par cette dernière par rapport aux détecteurs, faisceau dont une partie variable est reçue sur ces détecteurs de surface limitée. Cet effet se cumule avec les autres phénomènes déjà mentionnés; la variation du flux lumineux reçu par les détecteurs résultant de la variation de la distance surface-détecteurs peut être encore plus rapide. De préférence, le dispositif de mesure selon l'invention comprend de plus des moyens d'asservissement de l'intensité du rayonnement émis par l'émetteur en 2560377 fonction du flux lumineux mesuré par l'un des détec- teurs, afin que ce flux reste constant. De plus, la dé- termination de la valeur du rapport entre les flux lumi- neux mesurés par chacun des détecteurs est facilitée. Le bruit résultant du rayonnement ambiant peut être éliminé en équipant le dispositif d'au moins un filtre associé aux détecteurs et centré sur la longueur d'onde d'émission. De plus, des moyens peuvent être pré- vus pour moduler à une fréquence donnée le rayonnement émis par l'émetteur et pour démoduler à ladite fréquence les signaux délivrés par chacun des détecteurs. Selon un premier mode de réalisation de l'in- vention, le dispositif comprend de plus une lame semi- transparente placée entre ladite surface et l'un des dé- tecteurs pour dévier une partie du flux lumineux vers l'autre détecteur. Selon un autre mode de réalisation de l'inven- tion, les deux détecteurs sont disposés de part et d'autre de l'émetteur, les axes optiques de l'émetteur et des détecteurs étant situés dans un même plan et la normale à la surface étant située dans un plan passant par l'axe optique de l'émetteur et perpendiculaire au plan défini par les axes optiques de l'émetteur et des détecteurs. Selon une application particulièrement inté- ressante de l'invention, le dispositif de mesure de proximité tel qu'il vient d'être défini peut être asso- cié à des moyens pour faire balayer le profil d'une sur- face par ce dispositif, de façon à réaliser un disposi- tif optique de relevé de ce profil. On décrira maintenant, à titre d'exemples non limitatifs, différents modes de réalisation de l'inven- tion en se référant aux dessins annexés, dans lesquels: - la figure 1 représente schématiquement un premier mode de réalisation du dispositif de mesure de distance selon l'invention, 6 2560377 - la figure 2 représente schématiquement sous forme de tableau la position du faisceau renvoyé par la surface par rapport à chacun des détecteurs du disposi- tif de la figure 1 lorsqu'on fait varier la distance entre ce dispositif et la surface, - la figure 3 représente la courbe de réponse de chacun des détecteurs du dispositif de la figure 1, en fonction de la distance d séparant ce dispositif de la surface, pour différentes valeurs de l'angle d'inci- dence 5 du faisceau incident par rapport à la surface, - la figure 4 représente les variations du quotient _ des signaux délivrés par chacun des détec- teurs, en fonction de la distance d entre le dispositif et la surface, la figure 5 représente de façon schématique un autre mode de réalisation du dispositif de mesure de proximité selon l'invention, dans lequel les deux détec- teurs sont placés de part et d'autre de l'émetteur, et - les figures 6a et 6b représentent de façon schématique, respectivement en vue de face et en vue de côté, l'application d'un tel dispositif de mesure de proximité au contrôle du profil des surfaces de deux pièces à souder, au cours du soudage automatique de ces pièces. Comme l'illustre la figure 1, le dispositif selon l'invention comprend un ensemble émetteur 10 et un ensemble récepteur 12, le tout positionné dans un boi- tier (non représenté). L'ensemble émetteur 10 comprend une diode électroluminescente LED ou une diode laser 14 et deux lentilles de focalisation 16 et 18. Ces deux lentilles permettent de focaliser le rayonnement émis par la diode laser à une distance D0 de la lentille 18. A titre d'il- lustration non limitative, on notera que le faisceau convergent focalisé par les lentilles 16 et 18 peut dé- 7 2560377 finir une distance de focalisation Do d'environ 150 mm pour un angle de convergence d'environ 10 . L'émetteur 14 est choisi selon l'application concernée. Il émet par exemple un rayonnement infrarou- ge compris entre 830 et 850 nm. Dans le mode de réalisation représenté sur la figure 1, l'ensemble récepteur 12 comprend une lentille , un filtre interférentiel 22, une lame semi-transpa- rente 24, deux lentilles 26 et 28 et deux détecteurs 30 et 32. Les détecteurs 30 et 32 sont des détecteurs pho- tovoltalques délivrant un signal de tension proportion- nel au flux lumineux qui les touche. Pour des raisons qui apparaîtront dans la suite de la description, les lentilles 26 et 28 asso- ciées respectivement aux détecteurs 30 et 32 ont des focales différentes. Au contraire, les focales des len- tilles 18 et 20 peuvent être identiques. Les axes optiques définis par l'ensemble émet- teur 10 et par l'ensemble récepteur 12 forment entre eux un angle a dont on verra ultérieurement l'influence sur la valeur du flux lumineux reçu par chacun des détec- teurs. Dans le mode de réalisation perfectionné re- présenté sur la figure 1, l'amplitude du faisceau lumi- neux délivré par l'émetteur 14 est modulé par un circuit 34 à une fréquence constante donnée, par exemple de 40 kHz. A l'inverse, les signaux électriques délivrés par chacun des détecteurs 30 et 32 sont démodulés dans des circuits appropriés désignés respectivement par les ré- férences 36 et 38. La fréquence de démodulation des si- gnaux délivrés par les détecteurs est la même que la fréquence de modulation du faisceau incident. Dans l'exemple chiffré donné précédemment, cette fréquence est de 40 kHz. Parallèlement, le filtre interférentiel 22 est centré sur la longueur d'onde du rayonnement émis par l'émetteur 14. 8 2560377 Ces deux caractéristiques combinées permet- tent de s'affranchir des bruits de fond résultant du rayonnement ambiant. Il est à noter que l'immunité du dispositif de mesure de proximité selon l'invention au rayonnement ambiant est particulièrement importante dans l'application d'un tel dispositif au relevé du pro- fil d'une surface dans un robot de soudage. Conformément à une caractéristique essentiel- le de l'invention, les signaux D1 et D2 délivrés par chacun des capteurs 30 et 32 et démodulés par les cir- cuits 36 et 38 sont injectés dans un circuit de traite- ment 40 qui détermine le rapport q entre ces signaux. Comme on le verra ultérieurement en analysant le fonc- tionnement du dispositif selon l'invention, ce rapport g est fonction uniquement de la distance d qui sépare un point de référence du dispositif, tel que la lentille 18, de la surface S de la pièce P. Afin de faciliter son exploitation ultérieu- re, le signal g est linéarisé dans un circuit de linéa- risation classique 42 délivrant un signal de sortie V tel que V = k.d, k étant une constante. Ce signal V, qui varie de façon linéaire avec la distance d, peut être utilisé directement ou servir à commander un asservisse- ment selon l'application envisagée. De préférence, et comme l'illustre également la figure 1, un circuit d'asservissement 44 est prévu entre l'émetteur 14 et l'un des détecteurs. Dans l'exem- ple représenté, ce détecteur est le détecteur 32. Le circuit 44 permet d'asservir l'amplitude du signal de commande de l'émetteur 14, de telle manière que le flux reçu par le détecteur 32 reste constant quelles que soient les conditions de fonctionnement. De plus, le circuit de traitement 40 peut être simplifié, puisque le diviseur de la division q = D1/D2 demeure constant. Tous les circuits électroniques 34 à 44 sont des circuits classiques, bien connus des spécialistes, de sorte qu'aucune description détaillée n'en sera fai- te. On expliquera maintenant le fonctionnement du dispositif de mesure de proximité de surface selon l'in- vention en se référant aux figures 1 à 4. L'orientation de la pièce P étant quelconque l'ensemble émetteur 10 projette une tache lumineuse sur la surface S de cette pièce. Le faisceau incident se réfléchit sur cette surface, sur laquelle il se produit généralement de plus une diffusion du rayonnement proje- té. Une partie du faisceau renvoyé par la surface S de la pièce P atteint les détecteurs 30 et 32 au tra- vers des différents composants optiques de l'ensemble récepteur 12. Etant donné que les focales des lentilles 26 et 28 sont différentes, les taches lumineuses dans le plan des détecteurs sont de diamètre différent, donc les détecteurs reçoivent des flux lumineux différents. Sur la figure 2, on a représenté sous forme de tableau les positions des surfaces des taches de lumière formées au niveau de chacun des détecteurs 30 et 32 par rapport à la surface sensible Sd de ces derniers, pour trois positions différentes de la surface S par rapport au dispositif. De façon plus précise, la surface sensible constante Sd de chacun des détecteurs 30 et 32 a été représentée par un petit cercle hachuré. Les surfaces des taches de lumière au niveau des détecteurs sont les surfaces délimitées par les grands cercles non hachurés. Sur la figure 2, les positions relatives de ces deux surfaces sont représentées, pour chacun des dé- tecteurs, dans les trois positions caractéristiques sui- vantes du dispositif de la figure 1: 2560377 - la distance d est égale à une distance minimum Dmin correspondant à la limite inférieure de portée du dis- positif, - la distance d est égale à la distance moyenne de réfé- rence Do pour laquelle le rayonnement émis par l'émet- teur 14 est focalisé sur la surface de la pièce P, et - la distance d est égale à une distance maximum Dmax correspondant à la limite maximum de portée du cap- teur. Comme l'illustre la figure 1, le domaine de mesure C est défini entre les valeurs Dmin et Dmax de la distance d. Si l'on étudie maintenant plus en détail la figure 2, on observe tout d'abord que, pour la distance de référence D0, les surfaces des taches de lumière au niveau des détecteurs 30 et 32 sont supérieures ou au moins égales aux surfaces sensibles des détecteurs. De plus, on observe que si l'on s'éloigne de cette distance Do dans l'un ou l'autre sens, deux phéno- mènes se superposent: - la variation de d par rapport à Do0 entra ne une défo- calisation et, par conséquent, une augmentation des surfaces des taches lumineuses au niveau des détec- teurs; si ce premier phénomène est considéré isolé- ment, il a donc pour conséquence que le flux lumineux reçu par chaque détecteur va en diminuant lorsque la distance d s'éloigne dans l'un ou l'autre sens de la distance de référence D0; - la variation dans l'un ou l'autre sens de la distance d entraîne un déplacement du centre des taches lumi- neuses formées au niveau des détecteurs par rapport à la surface sensible Sd de chacun d'entre eux; ce phé- nomène est dû au décalage angulaire a entre les axes optiques du faisceau incident et du faisceau renvoyé par la surface; s'il est considéré isolément, il en- il 2560377 traîne également une diminution du flux lumineux reçu par chaque détecteur lorsqu'on s'éloigne de la distan- ce de référence Do; toutefois, cette diminution n'est sensible au voisinage immédiat de la distance DO qu'à la condition que les surfaces des taches lumineuses soient pratiquement identiques à celles des surfaces sensibles des détecteurs lorsque la distance d est égale à Do0. Ces deux phénomènes se cumulent dans le mode de réalisation qui vient d'être décrit en se référant à la figure 1. Par conséquent, les réponses des deux dé- tecteurs 30 et 32 varient en fonction de la distance d. Toutefois, on conçoit aisément que l'inven- tion n'est pas limitée à l'exploitation simultanée de ces deux phénomènes dans un même dispositif et concerne également des dispositifs comparables ne mettant en oeu- vre que l'un de ces phénomènes. Ainsi, dans un mode de réalisation non repre- * senté, le dispositif selon l'invention peut être réalisé de telle sorte que le faisceau incident et le faisceau renvoyé par la surface présentent des axes optiques con- fondus. Ce résultat peut être obtenu par exemple, à l'aide de lames semi-réfléchissantes en mettant en oeu- vre les techniques bien connues des opticiens. Dans ce dispositif, seul le premier phénomène cité précédemment entre en jeu. Une analyse plus approfondie de ce premier phénomène fait apparaître qu'il se décompose lui-même en deux. En effet, dans l'ensemble optique décrit en se référant à la figure 1, toute variation dans l'un ou l'autre sens de la distance d par rapport à la distance Do a pour conséquence à la fois une défocalisation de la tache formée sur la surface par le faisceau incident et une défocalisation de l'image de cette tache par rapport aux détecteurs 30 et 32. Il est donc clair que l'effet 12 2560377 de défocalisation par rapport aux détecteurs subsiste lorsque les dimensions de la tache formée par le fais- ceau émetteur ne varient pas avec la distance d, c'est- à-dire lorsque le faisceau incident est un faisceau pa- rallèle. Dans un autre mode de réalisation non repré- senté, le dispositif selon l'invention comporte donc un ensemble émetteur émettant un faisceau incident parallè- le. Ce résultat peut être obtenu aisément par un opti- cien en utilisant une optique appropriée. Bien entendu, ce mode de réalisation comporte également deux variantes. Selon une première de ces va- riantes, les faisceaux incident et renvoyé présentent des axes optiques confondus. Au contraire, selon la deuxième variante, les axes optiques des deux faisceaux sont angulairement décalés. Sur la figure 3, on a représenté respective- ment en traits continus et en traits discontinus les réponses du capteur 30 et du capteur 32 en fonction de la distance d, lorsque l'angle d'incidence 0 du faisceau incident par rapport à la surface S est nul et lorsque cet angle est égal à 60 . Toutes ces courbes ont été établies pour une pièce P dont la surface présente un coefficient de réflexion P de 0,7. L'examen des courbes de la figure 3 fait appa- raitre que, si les réponses des capteurs sont bien fonc- tion de la distance d, comme l'analyse de la figure 2 l'avait montré, elles dépendent également de l'angle d'incidence D. De plus, si l'on trace les courbes de réponse des détecteurs pour différentes valeurs du coef- ficient de réflexion P, on observe que les réponses des détecteurs sont également fonction de ce coefficient de réflexion. Une observation plus approfondie de ces cour- bes montre qu'elles sont homothétiques par rapport à l'axe des abscisses quels que soient le coefficient de 13 2560377 réflexion 9 et l'angle d'incidence R. Par conséquent, la division des signaux D1 et D2 délivrés par les détecteurs 30 et 32 effectuée par le circuit de traitement électronique 40 fournit un signal q = D1/D2 qui est lié uniquement à la distance d, comme l'illustre la figure 4. La courbe q=f(d) étant une fonc- tion non linéaire, le signal g est linéarisé par le cir- cuit 42 pour fournir un signal linéaire V = k.d comme on l'a mentionné précédemment. Le dispositif selon l'invention permet donc de réaliser une mesure sans contact de la distance d. Bien entendu, bien que le filtre interféren- tiel 22 ainsi que les circuits de modulation 34 et de démodulation 36 et 38 permettent d'immuniser le disposi- tif au rayonnement ambiant, ils ne sont pas indispensa- bles à l'invention et peuvent être supprimés dans cer- taines applications particulières dans lesquelles ce rayonnement est négligeable. De même, le circuit d'asservissement 44 peut être supprimé dans un dispositif simplifié. Sur la figure 5, on a représenté un autre mode de réalisation du dispositif selon l'invention. Le mode de réalisation de la figure 5 se dis- tingue essentiellement du mode de réalisation de la fi- gure 1 par la disposition des détecteurs. Ainsi, dans le dispositif représenté sur la figure 5, les deux détec- teurs 130 et 132 sont disposés symétriquement par rap- port à l'axe optique du faisceau incident émis par l'émetteur 114. Pour simplifier, la partie électronique du dispositif, qui peut être identique à celle du mode de réalisation de la figure 1, n'a pas été représentée. Dans cette configuration, les signaux déli- vrés par les détecteurs sont comparables à ceux qui sont délivrés par les détecteurs 30 et 32 dans le mode de réalisation de la figure 1, à condition que la normale à 14 2560377 la surface S de la pièce P soit située dans un plan contenant l'axe optique de l'émetteur 114 et perpendicu- laire au plan défini par les axes optiques de l'émetteur et des détecteurs. Ce mode de réalisation présente l'avantage d'être sensible à l'état de surface de la pièce, au ni- veau de la tache lumineuse, et peut délivrer des infor- mations sur la rugosité ou le coefficient de réflexion locale. Bien entendu, à l'exception de la lame semi- réfléchissante 24, tous les éléments optiques et élec- troniques qui ont été décrits en se référant au mode de réalisation de la figure 1 s'appliquent également à ce mode de réalisation. Sur les figures 6a et 6b, on a représenté schématiquement et à titre d'exemple non limitatif une application particulièrement intéressante du dispositif selon l'invention au relevé du profil d'une surface, en association avec un robot de soudage. La référence 350 désigne la tête d'un robot de soudage supportant une torche de soudage 352. Dans cette application de l'invention, la tête 350 comporte un axe 354 positionné au-dessus de la sur- face des pièces P1 et P2 à souder, de façon à être sensi- blement parallèle à la ligne de joint L formée entre ces pièces, à la verticale de la torche de soudage 352. Comme l'illustrent les figures 6a et 6b, l'axe 354 supporte de façon pivotante le bottier 356 du dispo- sitif de mesure de proximité selon l'invention. Bien entendu, ce dispositif peut être réalisé conformément à l'un quelconque des modes de réalisation décrits précédemment. Sur les figures 6a et 6b on a re- présenté à titre d'exemple le cas o ce dispositif est celui qui a été décrit en se référant à la figure 1. On reconnaît en effet l'ensemble émetteur 10 et l'ensemble 2560377 récepteur 12. Le dispositif 356 est supporté par l'axe 354, de telle sorte que le faisceau incident vienne heurter les pièces P1 et P2 en avant de la torche de soudage 352, comme le montre la figure 6b. Des moyens (non représentés) tels qu'un moteur électrique, hydraulique,pneumatique, etc... font oscil- ler le dispositif 356 autour de l'axe 354, de telle sorte que les faisceaux incident et renvoyé balayent le profil de la zone de soudage légèrement en avant de la torche. Ce déplacement correspond à un angle 2e approxi- mativement centré par rapport au plan vertical passant par la ligne dejoint L. La tension V délivrée par le dispositif de mesure de proximité étant représentative de la distande d, son évolution au cours du déplacement selon l'angle 28 représente le profil des surfaces des pièces P1 et P2 de part et d'autre de la ligne L. Dans une variante non représentée du disposi- tif illustré par les figures 6a et 6b, le balayage de la surface à l'aide du dispositif de mesure de proximité est réalisé par des moyens différents. Ces moyens com- prennent des rails de guidage permettant un déplacement linéaire du boîtier transversalement au joint et des moyens tels qu'un moteur ou un vérin pour commander ce déplacement. On remplace ainsi un balayage angulaire par un balayage linéaire. On comprend que les informations délivrées par un tel dispositif permettent, à l'aide d'un traitement informatique approprié, de corriger la trajectoire de la torche de soudage en cours de soudage, d'asservir en cours de soudage les paramètres tels que la quantité de matière à apporter lors d'une passe, de relever -la sec- tion à remplir, ou encore de positionner les passes de soudage les unes par rapport aux autres lors d'un souda- ge multipasses. 16 2560377 Bien entendu, cette application n'est pas li- mitative. Ainsi, on peut aussi envisager d'utiliser le dispositif de mesure de proximité selon l'invention pour réaliser le contrôle dimensionnel d'une pièce en cours de fabrication. Dès que la distance sort d'un intervalle de tolérance défini à l'avance, le dispositif selon l'invention le détecte. Un rejet automatique des pièces défectueuses peut donc être effectué. 17 2560377 REVENDICATIONS 1. Dispositif optique de mesure de proximité de surface, comprenant un émetteur de rayonnement (14, 114) formant une tache lumineuse sur ladite surface (S) et un récepteur (12) sensible au flux lumineux renvoyé par cette dernière, au travers de moyens de focalisation (20, 22, 26, 28), caractérisé en ce que le récepteur (12) comprend deux détecteurs (30, 32, 130, 132) associé à deux moyens de focalisation (26, 28) présentant des focales différentes, et des moyens (40) pour déterminer la valeur du rapport (q) entre les flux lumineux (D1, D2) mesurés par chacun des récepteurs, cette valeur étant représentative de la distance (d) séparant le dis- positif de la surface. 2. Dispositif selon la revendication 1, ca- ractérisé en ce que la tache lumineuse est formée sur ladite surface (S) par un faisceau incident parallèle. 3. Dispositif selon la revendication 1, ca- ractérisé en ce que la tache lumineuse est formée sur ladite surface (S) par un faisceau incident convergent. 4. Dispositif selon l'une quelconque des re- vendications 1 à 3, caractérisé en ce que la tache lumi- neuse est formée sur ladite surface (S) par un faisceau incident angulairement décalé par rapport au faisceau renvoyé par ladite surface. 5. Dispositif selon l'une quelconque des re- vendications précédentes, caractérisé en ce qu'il com- prend de plus des moyens d'asservissement (44) de l'in- tensité du rayonnement émis par l'émetteur (14) en fonc- tion du flux lumineux mesuré par l'un (32) des détec- teurs, afin que ce flux reste constant. 6. Dispositif selon l'une quelconque des re- vendications précédentes, caractérisé en ce qu'il com- prend de plus au moins un filtre (22) associé aux détec- teurs (30, 32) et centré sur la longueur d'onde du 18 - 2560377 rayonnement émis par ledit émetteur (14, 114). 7. Dispositif selon l'une quelconque des re- vendications précédentes, caractérisé en ce qu'il com- prend de plus des moyens (34) pour moduler à une fré- quence donnée le rayonnement émis par l'émetteur (14) et des moyens (36, 38) pour démoduler à ladite fréquence des signaux délivrés par chacun des détecteurs (30, 32). 8. Dispositif, selon l'une quelconque des re- vendications précédentes, caractérisé en ce qu'il com- prend de plus une lame semi-transparente (24) placée entre ladite surface (S) et l'un (30) des détecteurs pour dévier une partie du flux lumineux vers l'autre détecteur (32). 9. Dispositif selon l'une quelconque des re- vendications 1 à 7, caractérisé en ce que les deux dé- tecteurs (130, 132) sont disposés symétriquement par rapport à l'axe optique de l'émetteur (114), la normale à la surface (S) étant située dans un plan passant par l'axe optique de l'émetteur et perpendiculaire au plan défini par les axes optiques de l'émetteur et des détec- teurs. 10. Dispositif optique de relevé du profil d'une surface, caractérisé en ce qu'il comprend un dis- positif de mesure de proximité selon l'une quelconque des revendications précédentes et des moyens (354) pour faire balayer le profil par ce dispositif de mesure de proximité.