FR 2549251 A1 19850118 FR 8409920 A 19840622 La présente invention concerne des dispositifs et procédés de contrôle d'installations ou dl'appareils industriels, et une application de l'inven Lioin ast L la détection des conditions de panne dans les réacteurs nu5 cléaires. Le brevet britannique n 2 063 021 (correspondant au brevet des EtatsUnis d'Amérique n 4 422 140 et à la demande de brevet français n 80 19 664) décrit un dispositif de contrôle dans lequel des signaux de données 10 provenant de thermocouples parviennent successivement à un processeur de données par l'intermédiaire d'un multiplexeur Certaines des entrées du multiplexeur sont câblées à des sources de signaux de test et non de signaux de données afin qu'une protection contre la défaillance du multiplexeur soit obtenue; les signaux de test sont équivalents à des signaux de données inacceptables Les entrées auxquelles sont reliées les sources de test sont choisies afin qu'elles donnent un diagramme de signaux acceptables et non acceptables, ces diagrammes pouvant être reconnus. 20 Le diagramme doit être le même pour chaque scrutation de la totalité des signaux d'entrée, et il ne change que lorsqu'un signal de données atteint une valeur inacceptable. Comme les sources de signaux de test sont câblées de façon permanente aux entréesdu multiplexeur, ces entrées ne 25 peuvent pas être utilisées pour des signaux de données. En outre, un défaut de fonctionnement entre le thermocouple et l'entrée du multiplexeur peut ne pas être détecté. L'invention concerne un dispositif de contrôle de plusieurs signaux de données provenant d'une instal30 lation ou d'un appareil, chaque signal de données représentant un paramètre de l'installation ou de l'appareil, le dispositif comprenant un dispositif destiné à examiner périodiquement les signaux de données et à transmettre des signaux de sortie représentant le fait que chaque signal de données représente un état acceptable ou inacceptable du paramètre respectif, et un dispositif destiné à transmettre des signaux de test qui sont destinés à être superposés à des signaux choisis de données avant chaque examen périodique des signaux afin que des signaux combinés correspondants, équivalant à des signaux de données représentant l'état inacceptable, soient produits, la sélec5 tion des signaux de données auxquels les signaux de test sont superposés étant modifiée à chaque examen périodique des signaux de données, dans une séquence prédéterminée, afin que le dispositif d'examen forme un diagramme reconnaissable desdits signaux de sortie. Le dispositif destiné à transmettre des signaux de test peut comporter un générateur de signaux, et le générateur de signaux peut être relié au dispositif d'examen afin qu'il commande le générateur de signaux de test d'après le contenu d'une mémoire de signaux antérieurs de données. 15 Un dispositif de synchronisation peut commander le dispositif d'examen et/ou le dispositif de transmission de signaux de test, et le diagramme des signaux de sortie peut être comparé,dans un dispositif de reconnaissance de diagramme, à un diagramme de référence. Dans une première application de ce dispositif selon l'invention, un certain nombre de dispositifs de contrôle sont montés en parallèle et sont destines a contrôler le même nombre de signaux de données représentant chaque paramètre, si bien que chaque signal de données 25 est contrôlé par un dispositif respectif de contrôle, chaque dispositif de contrôle étant destiné à transmettre le diagramme de signaux de sortie qu'il forme à un dispositif de consultation, celui-ci étant destiné à transmettre un signal de sortie à un dispositif de reconnaissance 30 de diagramme. De préférence, plusieurs dispositifs de consultation sont disposés et chaque dispositif de contrôle est destiné à transmettre son diagramme de signaux de sortie à chacun des dispositifs de consultation. L'invention concerne aussi un procédé de contrôle de signaux de données provenant d'un appareil ou d'une installation, chaque signal de données représentant un paramètre de l'appareil ou de l'installation, le procédé comprenant l'examen périodique de chaque signal de données et la transmission d'un signal de sortie représentant le fait que le signal de données représente un état accep5 table ou non acceptable du paramètre respectif, et la superposition de signaux de test à des signaux choisis de données avant chaque examen périodique des signaux de données de sorte que des signaux combinés correspondants, équivalant à des signaux de données représentant l'état inacceptable, sont formés, la sélection des signaux de données auxquels les signaux de test sont superposés étant modifiée dans une séquence prédéterminée afin qu'un diagramme reconnaissable de signaux de sortie soit formé. Un avantage du dispositif de contrôle selon l'invention est qu'il assure un contrôle continu de son propre fonctionnement et peut transmettre un signal de commande indiquant une panne lorsque l'un des paramètres est en réalité à un état inacceptable ou lorsque le dispositif de contrôle est lui-même défectueux, puisque, dans 20 tous ces cas, le diagramme convenable n'est pas présent. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention ressortiront mieux de la description qui va suivre, faite en référence aux dessins annexés sur lesquels la figure 1 est un diagramme synoptique d'un 25 dispositif de contrôle selon l'invention; la figure 2 représente des signaux électriques en deux points du dispositif de contrôle de la figure 1; et la figure 3 est un diagramme synoptique d'une variante de dispositif de contrôle différant de celui de 30 la figure 1. La figure 1 représente un dispositif 10 de contrôle des températures à trente-deux emplacements du coeur d'un réacteur nucléaire (non représenté) qui comporte trente-deux bornes d'entrée 12 (quatre seulement sont représentées) auxquelles sont connectés des fils transmettant les signaux de données provenant de trente-deux capteurs de température (non représentés) Chaque borne d'en- trée 12 est reliée à une première entrée 14 d'un ensemble respectif amplificateur et additionneur de signaux 16 à deux entrées (quatre seulement sont représentés), l'autre entrée 18 de cet ensemble 16 étant reliée à un générateur 22 de signaux de test Le signal de sortie de chaque ensemble 16 parvient à une entrée respective d'un multiplexeur à trente-deux entrées dont la sortie est reliée, par l'intermédiaire d'un convertisseur analogique-numérique 24, à un analyseur 30 de signaux destiné à transmettre un signal d'entrée à un ensemble ou circuit 40 de reconnaissance de diagramme. Lors du fonctionnement du dispositif 10 de contrôle, le multiplexeur 20 analyse successivement les signaux qu'il reçoit et, en l'absence de signaux provenant du générateur 22 de signaux de test, ces signaux correspondent aux signaux de données représentant les températures des capteurs reliés aux bornes 12 d'entrée A la fin de chaque scrutation, la polarité du signal de sortie du multiplexeur est inversée, et l'analyseur 30 de signaux identifie 20 ce changement de polarité comme désignant le début d'une nouvelle scrutation Le signal reçu par l'analyseur 30 comprend donc une séquence de signaux sous forme numérique, chacun représentant la température de l'un des capteurs. L'analyseur 30 est un ordinateur qui, -à partir du signal 25 de chaque capteur, (a) calcule la température correspondante, (b) détermine si la température se trouve entre des limites acceptables prédéterminées, (c) calcule la vitesse de variation de la tempéra30 ture, à partir de la températurecalculée et d'une mémoire contenant la température calculée précédemment, (d) détermine si la vitesse de variation de température de ce capteur est comprise entre des limites acceptables prédéterminées, (e) remet à jour la mémoire de température de ce capteur lorsque la température et la vitesse de variation de température se trouvent entre les limites correspondantes, et (f) transmet un signal de sortie " 1 " lorsque la température et la vitesse de variation de température sont toutes deux acceptables, ou un signal " O " lorsque la température ou la vitesse de variation de température n'est pas acceptable. En conséquence, en l'absence de signaux du générateur 22 de signaux de test, lorsque le réacteur nucléaire fonctionne normalement, le signal prévu de sortie produit par l'analyseur 30 est une séquence 1, 1, 1, 1, 1 etc, et ce diagramme de chiffres est transmis à l'entrée de l'ensemble 40 de reconnaissance de diagramme Il faut noter que les limites acceptables pour la température et pour la vitesse de variation de la température peuvent différer pour les capteurs qui se trouvent à différents 15 emplacements dans le réacteur nucléaire En conséquence, l'analyseur 30 de signaux doit être programmé avec les limites acceptables pour chaque capteur. Le générateur 22 de signaux de test comprend un générateur 32 destiné à former une séquence de signaux sous forme numérique et relié par une liaison 42 de données à l'analyseur 30 afin qu'il reçoive les signaux de la mémoire des valeurs actuelles des températures des capteurs. Le générateur 32 est relié par un convertisseur numériqueanalogique 34 à l'entrée d'un démultiplexeur 36 à trente-deux 25 sorties qui sont reliées, par des amplificateurs respectifs d'échantillonnage et de maintien 38 (quatre seulement sont représentés), aux entrées 18 des circuits ou ensembles 16, chaque amplificateur 38 étant destiné à former un signal permanent correspondant au signal le plus récent 30 reçu à partir du démultiplexeur 36, jusqu'à la réception du signal suivant de ce démultiplexeur. Ainsi, lorsque l'ensemble générateur 22 de signaux de test est en cours de fonctionnement,les signaux formes par le générateur 32 se superposent, sous forme analogique, 35 aux signaux de données provenant des capteurs, grâce aux circuits 16 d'amplification et d'addition de signaux. Certains des signaux produits par le générateur 32 et appelés signaux de test, sont tels qu'ils provoquent la réception par le multiplexeur 20 et en conséquence par l'analyseur 30, d'un signal représentant une température qui se trouve en dehors des limites acceptables ou repre5 sentant une température correspondant à une vitesse inacceptable de variation de température, alors que d'autres signaux provenant du générateur 32 n'ont pas un tel effet sur les signaux respectifs de données Le générateur 32 de signaux de test est programmé afin qu'il calcule les 10 valeurs convenables des signaux de test, à l'aide le cas échéant des valeurs des températures provenant de l'analyseur 30 par l'intermédiaire de la liaison 42 de données, si bien qu'un diagramme voulu de test formé de signaux acceptables et non acceptables est formé, c'est-à-dire 15 qu'une séquence voulue de signaux de sortie " O " et " 1 " de l'analyseur 30 est formée La présence du diagramme voulu est alors détectée par le circuit 40 de reconnaissance de diagramme. Il est manifestement important que le générateur 20 32 et le démultiplexeur 36 fonctionnent en phase afin que les signaux de test parviennent aux amplificateurs convenables 38 d'échantillonnage et de maintien, et ceci est assuré par utilisation de signaux de synchronisation transmis par une minuterie 44 Les signaux de cette minu25 terie 44 commandent aussi le multiplexeur 20 afin que celui-ci effectue une scrutation des signaux d'entrée qu'il reçoit pour chaque scrutation du démultiplexeur 36. Le graphique de la figure 2, dans lequel la variation de polarité apparaissant au temps A désigne le début d'une scrutation par le multiplexeur 20 des signaux reçus à ses trente-deux entrées, représente un exemple de variation de tension au cours du temps à la sortie du multiplexeur 20 Au-dessous du graphique, des chiffres représentent les signaux correspondant de sortie de l'analy35 seur 30 Le graphique de la figure 2 et les chiffres correspondant sont formés lorsque les signaux de données provenant des capteurs ont en réalité tous des valeurs acceptables, chaque " 0 " désignant la présence d'un signal de test superposé au signal respectif de données (valeur inacceptable) et chaque " 1 " désignant un signal de données qui n'est pas affecté par un signal provenant de l'ensemble générateur 22 de signaux de test (valeur acceptable). 5 L'ensemble du diagramme des signaux de test est produit pendant quatre scrutations du multiplexeur 20, les signaux de test étant appliques aux entrées 18 d'une sélection différente de circuits 16 amplificateurset d'addition lors des scrutations successives du multiplexeur 20. 10 La séquence des signaux de sortie de l'analyseur est indiquée dans le tableau I. TABLEAU I 1 re scrutation 2 e scrutation 3 e scrutation 4 e scrutation 15 1 1 1 -1 1 0 1 0 0 1 0 1 1 0 1 0 1 1 1 1 0 1 0 1 1 0 1 O 0 1 0 1 0 1 1 O 1 1 0 1 1 0 1 O 0 1 1 1 1 0 0 1 1 1 -1 O 0 1 0 1 1 0 1 1 1 0 0 1 0 1 1 0 1 1 1 1 1 0 0 1 0 1 1 O 1 0 0 1 1 1 1 1 O 1 1 0 0 1 1 0 1 0 1 1 0 1 O 1 1 I 1 1 n 1 0 0 1 0 1 1 1 1 0 1 0 1 1 0 1 t Il faut noter que, avec ce diagramme de test, vingt signaux d'entrée sont testés deux fois, huit une fois et quatre ne sont pas du tout testés La structure du diagramme de test du tableau I est indiquée plus clai5 rement sur le tableau II dans lequel les groupes successifs de huit chiffres successifs sont placés horizontalement, en commençant par scrutation. les huit premiers chiffres de la première TABLEAU II 20 25 1 1 O 1 1 0 1 1 O 1 1 O 1 1 O 0 1 O 1 1 1 O 1 O 1 1 1 O 1 O 0 1 1 O 1 1 O 1 1 O 1 1 O 1 1 1 O 1 1 O 0 1 1 O 1 1 1 O 1 O 1 O 1 O 1 0 1 O 1 1 1 O 1 1 O 0 1 1 O 1 0 1 O 1 O 1 1 1 O 0 1 1 1 O 1 1 1 O 0 1 1 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 1 1 0 1 0 1 0 1 1 1 1 0 1 O 1 Le diagramme du tableau II peut être formé à partir des huit chiffres de la première rangée du tableau II, des groupes successifs de huit chiffres étant créés par décalage successif d'un emplacement à la fois de huit emplacements vers la droite et huit emplacements vers la gauche, le chiffre se trouvant à une première extrémité étant déplacé à l'autre extrémité du groupe à chaque décalage Il faut 35 aussi noter que le diagramme compris dans un groupe quelconque de huit chiffres successifs n'est pas symétrique et aussi le diagramme complet ne peut pas être reproduit par répétition d'une partie du diagramme complet Ces propriétés ne permettent la reproduction du diagramme que lorsque le multiplexeur 20 analyse toutes ses entrées avec la séquence convenable En conséquence, toute panne 5 du fonctionnement du multiplexeur 20 donne un diagramme différent. Il faut noter qu'il ne s'agit que de l'un de nombreux diagrammes possibles de test que le générateur 31 peut créer lorsqu'il est convenablement programmé et que le circuit 40 de reconnaissance de diagramme peut reconnaître. Lorsqu'il est avantageux que toutes les entrées soient testées, un autre diagramme de test peut être créé de la manière décrite précédemment, en commençant avec les huit chiffres 10110100. Le circuit 40 de reconnaissance de diagramme qui reçoit la séquence de chiffres indiquée dans le tableau I comporte un registre à décalage et un comparateur, le registre à décalage conservant un diagramme de référence formé initialement de la séquence de chiffres représentée 20 dans la première rangée du tableau II La séquence de chiffres reçue à partir de l'analyseur 30 est comparée au diagramme de référence présent dans le registre à décalage par huit chiffres à la fois Les huit chiffres suivants sont alors comparés au même diagramme de référence (qui 25 doit donner un désaccord), et le diagramme de référence est décalé d'un emplacement et la comparaison est répétée. Le signal de sortie du comparateur est " O " en cas de désaccord et " 1 " en cas d'accord, et il doit donc être formé d'une séquence alternée 1 O 1 O 1 O etc tant que le diagramme est tel que représenté dans le tableau I. Lorsqu'un accord n'est pas trouvé après décalage du diagramme de référence, le registre à décalage ne décale plus le diagramme de référence et le groupe suivant de huit chiffres n'est pas admis dansle comparateur si bien que 35 le signal de sortie ne présente plus l'alternance Le circuit 40 de reconnaissance de diagramme peut être réarmé par enfoncement manuel d'un bouton de réarmement (non représenté), des groupes suivants de huit chiffres étant alors admis dans le comparateur jusqu'à découverte d'un accord, et la séquence alternée de sortie reprend alors. Il faut noter qu'on peut aussi prévoir que le fonctionnement défectueux du circuit 40 de reconnaissance de diagramme donne un signal de sortie qui n'alterne pas. Le signal de sortie du circuit 40 de reconnaissance de diagramme peut être utilisé comme signal de commande du réacteur nucléaire, la séquence alternative 1, 0, 1, 0, etc signifiant la détection d'un nombre nul de pannes, et une séquence qui n'alterne pas signifiant: (a) une valeur inacceptable de la température ou de la vitesse de variation de température des capteurs, ou (b) une panne matérielle quelque part dans le 15 dispositif de contrôle 10, ou (c) une panne de logiciel dans le générateur 32 de signaux de test ou dans l'analyseur 30. Le dispositif 10 de contrôle vérifie ainsi constamment les valeurs de la température et de la vitesse 20 de variation de température dans le réacteur et vérifie constamment ses propres circuits et ses logiciels, et il peut être considéré comme parfaitement sûr en cas de panne S'il n'est pas nécessaire que les valeurs de la vitesse de variation de température mais seulement les valeurs de température soient vérifiées, l'analyseur 30 n'a pas à conserver en mémoire les valeurs des températures des capteurs, et la liaison 42 de données peut être supprimée. Lorsqu'il est important que le risque de déclen30 chement superflu d'une alarme soit minimal à la suite d'une panne de logiciel ou de matériel, provoquant la transmission de signaux de commande indiquant une valeur inacceptable de la température, un dispositif de contrôle analogue à celui de la figure 1 peut ctre r 6 alisé avec une reproduction (et en conséquence une redondance) de ses constituants. La figure 3 à laquelle on se réfère maintenant représente un dispositif 50 de contrôle destiné à un réacteur nucléaire (non représenté) et analogue à de nombreux égards au dispositif 10 de contrôle de la figure 1, les éléments identiques portant les mêmes références Le dispo5 sitif 50 de contrôle comporte quatre sous-ensembles indépendants et identiques 52 qui diffèrent du dispositif 10 de contrôle uniquement en ce qu'ils ne comportent pas de circuit 40 de reconnaissance de diagramme Ainsi, chaque sous-ensemble 52 a un élément générateur de signaux de test 22, un multiplexeur 20 et un analyseur 30 de signaux, et il a trente-deux bornes d'entrée 12 (deux seulement sont représentées pour chaque sous-ensemble 52) auxquelles sont raccordés les fils transmettant les' signaux de données provenant des capteurs (non représentés) qui mesurent divers paramètres physiques Chaque sous-ensemble 52 comporte une minuterie 44 (non représentée), les minuteries 44 étant indépendantes les unes des autres et n'étant pas synchronisées. Le signal de sortie de chaque analyseur 30 est 20 transmis à quatre entrées de quatre circuits identiques 54 de scrutation à quatre entrées si bien que chaque circuit 54 de scrutation reçoit un signal de chacun des analyseurs Chaque circuit 54 de scrutation ou de vote est un ordinateur programmé afin qu'il conserve la séquence de 25 chiffres reçue à chacune de ses entrées et qu'il vérifie initialement la première séquence de seize chiffres d'un diagramme prévu afin que les séquences de chiffres provenant des sous- ensembles 52 soient synchronisées Lorsque les séquences de chiffres sont synchronisées, chaque chiffre suivant subit une scrutation, le circuit 54 de vote transmettant un signal de sortie identique à la majorité des signaux reçus Les signaux de sortie des circuits 54 de scrutation parviennent aux circuits respectifs 40 de reconnaissance de diagramme dont les signaux de sortie parvien35 nent, par l'intermédiaire de convertisseurs impulsioncontinu 56,à un circuit commun 58 de scrutation ou de vote. Chaque paramètre physique dépendant du fonctionnment du réacteur nucléaire est mesuré par quatre capteurs identiques reliés chacun à une borne équivalente d'entrée 12 d'un des quatre sous-ensembles respectifs 52. Chaque sous-ensemble 52 a un fonctionnement identique à celui du dispositif 10 de contrôle de la figure 1, le générateur 32 créant un diagramme de signaux de test qui sont superposés aux signaux de données provenant des capteurs par les circuits 16 d'amplification et d'ad10 dition, les signaux résultant, par l'intermédiaire du multiplexeur 20, à l'analyseur 30 de signaux Ainsi, chaque analyseur 30 reçoit une séquence de signaux de test créée indépendamment et de signaux de données correspondant au même jeu de paramètres physiques. Chaque analyseur 30 de signaux conserve en mémoire les valeurs actuelles de chacun des paramètres physiques et cette information est transmise en série par la liaison 42 de données au générateur respectif 32 de signaux de test Après réception de chaque signal provenant du multi20 plexeur respectif 20, chaque analyseur est programmé afin qu'il exécute les opérations suivantes: 1 calculer la valeur du paramètre correspondant, 2 déterminer si la valeur se trouve entre des limites prédéterminées acceptables, 3 remettre à jour la mémoire de la valeur du paramètre lorsque la valeur est acceptable, et 4 donner un signal de sortie " 1 " lorsque la valeur est acceptable et un signal de sortie " O " lorsque la valeur n'est pas acceptable. Il faut noter que, dans le cas de certains paramètres tels que la pression, l'analyseur peut devoir utiliser la mémoire des valeurs de certains des autres parametres mesures tels que la température, pour la détermination du fait que la valeur du paramètre est acceptable. En l'absence de pannes dans le matériel ou le logiciel des sous-ensembles 52 et lorsque les capteurs fonctionnent convenablement, les séquences de signaux reçues par les analyseurs 30 et en conséquence le diagramme des signaux de sortie des quatre analyseurs 30 sont identiques Une variation de la valeur de l'un des paramètres physique d'une valeur acceptable à une valeur inacceptable donne des changements identiques du diagramme des signaux de sortie des quatre analyseurs 30 alors qu'une panne dans un capteur ou dans l'un des sous-ensembles 52 provoque une différence entre les diagrammes des signaux de sortie de l'analyseur correspondant 30 et des trois autres analy10 seurs 30. Les circuits 54 de scrutation sont programmés afin qu'ils donnent un signal de sortie qui soit identique à un signal quelconque reçu à trois ou plus des entrées, si bien que la séquence de signaux transmis à chaque cir15 cuit 40 de reconnaissance de diagramme n'est pas affectée par une panne dans l'un des capteurs ou l'un des sousensembles 52 Les ensembles 40 de reconnaissance de diagramme fonctionnent de manière analogue à celle qu'on a décrit en référence a la figure 1, avec formation d'un signal 20 alterné de sortie tant que le diagramme convenable de test est reçu, et avec un signal non alterné lorsqu'un changement du diagramme existe Une variation de diagramme a peu de chance d'être due à des pannes des capteurs ou des sous-ensembles 52, car les pannes risque peu d'affecter 25 deux capteurs identiques ou deux sous-ensembles 52 identiques simultanément, si bien qu'une variation de diagramme peut être interprétée comme désignant un écart de la valeur de l'un des paramètres par rapport à la gamme acceptée. Les convertisseurs impulsion-continu 56 trans30 forment le signal alterné de sortie des circuits respectifs 40 de reconnaissance de dessins en un courant continu, et le circuit 58 de scrutation donne un signal d'alarme lorsque deux quelconques des entrées ne reçoivent pas de courant Ainsi, un signal d'alarme est transmis lorsque deux quelconques des circuits 40 de reconnaissance de diagramme sont d'accord sur le fait que le diagramme a varié, indiquant que la valeur de l'un des paramètres n'est pas acceptable. Il faut noter que la présence multiple des circuits 54 de scrutation et des circuits 40 de reconnaissance de diagramme évite le risque d'une fausse alarme due à une panne dans l'un des circuits 40 de reconnaissance ou l'un des circuits 54 de scrutation, car il faut trois pannes en même temps pour la création d'une fausse alarme. Il faut aussi noter que le degré de redondance (quatre fois dans ce cas) des circuits 54 de scrutation et des circuits associés 40 de reconnaissance n'est pas obliga10 toirement identique au degré de redondance des sous-ensembles 52 (qui est aussi de quatre dans ce cas). Il faut noter que les dispositifs de contrôle selon l'invention peuvent être utilisés pour le contrôle de signaux de données provenant-d'un nombre de capteurs 15 différant du nombre indiqué précédemment Par exemple, dans une variante de dispositif de contrôle destiné à une installation chimique, la différence par rapport au dispositif de la figure 1 est qu'il comporte un démultiplexeur 36 à vingt-quatre sorties et un multiplexeur 20 à vingt-quatre entrées, des signaux de données étant transmis aux vingt-quatre circuits 16 amplificateurs et d'addition par vingt-quatre capteurs Le dispositif contrôle les valeurs de huit paramètres relatives au fonctionnement de l'installation, la valeur de chaque paramètre contrôlé 25 étant calculée à partir de signaux reçus à trois entrées adjacentes du multiplexeur 20, c'est-à-dire provenant de groupes de trois signaux successifs reçus par l'analyseur Un premier paramètre contrôlé, par exemple, peut être le volume d'un récipient rectangulaire calculé à partir 30 de signaux représentant les longueurs de ses côtés, et un autre paramètre contrôlé peut être la quantité de gaz présent dans un récipient, calculée à partir de signaux représentant la pression, la température et le volume du gaz. Lors du fonctionnement du dispositif de contrôle selon cette variante, a chaque scrutation du multiplexeur 20, l'analyseur 30 de signaux reçoit vingt-quatre signaux du multiplexeur 20 et il forme huit signaux de sortie indiquant si les paramètres contrôlés sont compris entre les limites d'acceptabilité ( 1) ou non ( 0) Le diagramme complet de test est créé en seize scrutationsdu multiplexeur 20 et il est représenté par le tableau III dans lequel chaque colonne de chiffres représente les états dans des scrutations consécutives de l'un des paramètres contrôlées A, B, C, etc, déterminés à partir des trois signaux correspondants a, b, c; d, e, f; g, h, j; etc, provenant des 10 circuits 16 d'amplification et d'addition. TABLEAU III 20 25 30 Scrutation Paramètres contrôlés n H G F E D C B A 1 O O 0 I 1 1 O 1 2 O O 1 1 O 1 0 3 01 1 1 1 O 1 O O 4 1 1 1 01 O O 1 1 O 1 O O O 1 6 1 O 1 O O O 1 1 7 O 1 O O O 1 1 1 8 1 O O O 1 1 O 9 O O O 1 1 1 O 1 1 O O O 1 O11 O 1 O O O 1 11 12 1 O 1 O O 0 1 1 13 1 1 O 1 O O O 1 14 1 1 1 O 1 O O O O 1 1 1 O 1 O O 16 O O 1 1 1 O 1 O Le générateur 32 de afin qu'il transmette des sign signaux de test est programme aux de test destinésà être superposés à une sélection différente de signaux de données 35 à chaque scrutation afin que le diagramme de test du tableau III soit formé Certains des signaux de test, appelés signaux de test plus, sont tels que le paramètre contrôlé (calculé à partir du signal combiné correspondant et de deux autres signaux du multiplexeur 20) dépasse la limite acceptable maximale, alors que d'autres signaux de test, appelés signaux de test moins, sont tels que le paramètre contrôlé (calculé à partir du signal combiné correspondant et de deux autres signaux du multiplexeur 20) est inférieur à la limite minimale d'acceptabilité, et alors que, lorsqu'un signal de test plus se superpose à un signal de données et un signal de test moins se superpose simul10 tanément à un autre signal de données du même groupe de trois signaux, tels que k, 1, m, le troisième signal n'étant pas testé, le paramètre contrôlé doit se trouver entre ses limites d'acceptabilité. La séquence complète de signaux de test destinée 15 à donner le diagramme de test du tableau III est représentée sur le tableau IV, les lettres a, b, c, etc representant les signaux reçus par l'analyseur 30, le symbole "+ " désignant la superposition d'un signal de test plus au signal correspondant de données, et le symbole "-" désignant 20 un signal de test moins. TABLEIAU lV 15 20 25 Paramètres Numéros de scrutation contrôlés 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 a a+ a a a+ a a+ a+ a a a a a a a aA b b b+ b b b+ b b+ b b b b b+ b b b c c c c+ c c c c+ c c c+ c+ c c c c d+ d d+ d d d+ d d+ d d d d d d d d B e+ e e e+ e e e+ e e e e e+ e e e e f+f f f f+ f f f f f+ f+ f f f f f g+ g+ g g+ g g g+g g g g g g g g gC h h+ h h h+ h h h+ h h h+ h h h h hj j+ j j j j+ j j j+ j+ j j j j J jk k+ k+ k k+ k k k+ k k k k k k k kD 1 + 1 1 + 1 1 1 + 1 1 1 1 + 1 1 1 1 1 1 m m m+ m m m m+ m m+ m m- m m m m m+ n+ N n+ n+ N n+ N N n N N n N n n n E p p+ p p+ p p p+ p p+ p p p p p p pq q q q+ q q q q+ q q q q q q q+ q+ r r+ r r+ r+ r r+ r r r r r r r r rF S s s+ S s+ S S s+ S s S S s S s s+ t+ t t t t+ t t t t t t t t t+ t+ t u u U+ u U+ U+ u U+ u u u u u u u u G v+ v v v+ V v+ v v v v v v v v v+ v w w+ W w w w+ W W W W W w+ + W -++ wx+ x x x+ x x+ x+ x x x x x x x x x H y y+ y y Y+ y Y+ y y y y y y Y+ y yz z z+ z z z z+ z z z z z+ z+ z z z Il faut noter que, dans chaque groupe de trois signaux, chaque combinaison possible comprenant un seul signal de test plus et un seul signal de test moins est appliquée une fois, des combinaisons impliquant deux signaux de test plus simultanés ou deux signaux de test moins simultanes n'étant pas appliquees, trois signaux plus ou moins simultanés étant utilisés une fois, et l'absence de signal de test étant utilisée deux fois, dans l'ensemble des signaux du groupe L'analyseur 30 est programmé dans ce cas afin qu'il détermine la valeur moyenne pendant les seize scrutations précédentes de chaque signal a, b, c, d,, et ces valeurs moyennes sont les valeurs transmises au générateur 32 de signaux de test par la liaison 42 de données Par ailleurs, ce dispositif de contrôle 15 a un fonctionnement analogue à celui qui est décrit en référence à la figure 1 Le diagramme de référence par rapport auquel la séquence de chiffres de l'analyseur 30 est comparée, est formé à partir des huit chiffres de la première rangée du tableau III, avec déplacements 20 successifs à raison d'un emplacement à la fois, de huit emplacements vers la gauche et de huit emplacements vers la droite Il faut noter que ce dispositif de contrôle peut avoir une redondance réalisée de la même manière que décrit précédemment en référence à la figure 3. Le diagramme de test peut avoir diverses formes dans la mesure o il peut être reconnu par le circuit 40 de reconnaissance de diagramme, indépendamment de l'ensemble 22 générateur de signaux de test, et une variante de diagramme de test peut être sous forme d'une séquence 30 binaire pseudo-aléatoire. Bien qu'on ait décrit l'invention en référence au contrôle de paramètres d'un réacteur ou d'une installation chimique, elle peut être mise en oeuvre pour le contrôle d'autres installations ou appareils. Les diagrammes de test décrits précédemment et représentés par les tableaux II et III comportent une séquence de huit chiffres binaires, mais il faut noter que l'utilisation de huit chiffres n'est pas primordiale, et qu'elle n'est choisie que pour la commodité qu'elle donne lors de la programmation des ordinateurs. REVENDICATIONS 1 Dispositif de contrôle de signaux de données provenant d'une installation ou d'un appareil, chaque signal de données représentant un paramètre de l'instal5 lation ou de l'appareil, le dispositif comprenant un dispositif ( 30) d'examen périodique des signaux de données, destiné à transmettre des signaux de sortie représentant le fait que chaque signal de données représ Unte un état acceptable ou non acceptable du paramètre respectif, et 10 un dispositif ( 22) destiné à transmettre des signaux de test, caractérisé en ce que les signaux de test sont destinés à être superposés à des signaux choisis de données avant chaque examen périodique de ceux-ci de manière que des signaux combinés correspondants équivalant à des signaux 15 de données représentant l'état inacceptable soient formes, et en ce que la sélection des signaux de données auxquels les signaux de test sont superposes est modifieée a chaque examen périodique des signaux de données dans une séquence prédéterminée afin que le dispositif d'examen forme un 20 diagramme reconnaissable desdits signaux de sortie. 2 Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que chaque signal de sortie représente le fait qu'une variable contrôlée déterminée à partir des valeurs d'un certain nombre de signaux de données se trouve entre 25 des limites acceptables ou non, le nombre étant au moins égal à deux. 3 Dispositif selon la revendication 2, caractérisé en ce que la sélection des signaux de données est telle que, pour un examen périodique au moins, des signaux 30 de test sont superposés à deux des signaux de données dudit nombre et est telle que la variable contrôlée doit se trouver entre les limites d'acceptabilité. 4 Dispositif selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce qu'il comprend en outre 35 une mémoire contenant les valeurs des signaux de données, et en ce que le dispositif ( 22) destiné à transmettre ces signaux de test comporte un générateur ( 32) de signaux destiné à créer les signaux de test d'apès la mémoire des valeurs des signaux de données. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que, après un nombrb entier d'examenspériodiquesdes signaux de données, le diagramme se répète. 6 Dispositif selon la revendication 5, caractérisé en ce qu'il assure la superposition d'au moins un signal de test à chaque signal de données pendant ledit 10 nombre d'examenspériodiquesdes signaux de donnees. 7 Dispositif selon l'une des revendications et 6, caractérisé en ce que les signaux de test superposés à l'un quelconque des signaux de données, pendant ledit nombre d'examens périodiques, sont tels que la valeur 15 moyenne des signaux combinés correspondants équivaut à la valeur dudit signal correspondant de données. 8 Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la sélection des signaux de données auxquels les signaux de test sont superposés est telle qu'il se forme un diagramme de signaux de sortie, représenté par une série de chiffres, qui a une forme qui peut être-créée à partir d'une séquence de N chiffres, des groupes successifs de N chiffres étant créés par décalages successifs d'un emplacement à la fois 25 suivant N emplacements vers la droite et N emplacements vers la gauche ensuite, le chiffre qui se trouve à l'extrémité étant déplacé à l'autre extrémité du groupe à chaque décalage. 9 Dispositif selon l'une quelconque des reven30 dications précédentes, caractérisé en ce qu'il comporte en outre un circuit ( 40) de reconnaissance de diagramme destiné à recevoir lesdits signaux de sortie et à comparer le diagramme à un diagramme de référence. Appareil de contrôle de paramètres d'une 35 installation ou d'un appareil, caractérisé en ce qu'il comprend un certain nombre de dispositifs de contrôle ( 52) selon l'une quelconque des revendications 1 à 8, chaque paramètre étant représenté par autant de signaux de données que de dispositifs de contrôle et chaque signal de données étant contrôlé par un dispositif respectif de contrôle ( 52), un dispositif de scrutation ( 54) destiné à recevoir les 5 signaux de sortie de chaque dispositif de contrôle ( 52) et à former un signal représentant la valeur de la majorité des signaux de sortie reçus, et un circuit ( 40) de reconnaissance de diagramme destiné à recevoir les signaux du dispositif de scrutation ( 54) et à comparer le diagramme 10 des signaux reçus à un diagramme de référence et à transmettre un signal indiquant si les diagrammessont identiques. 11 Appareil selon la revendication 10, caractérisé en ce qu'il comprend plusieurs dispositifs de scrutation ( 54), ceux-ci étant disposés afin qu'ils reçoivent 15 chacun les signaux de sortie de chacun des dispositifs de contrôle ( 52), plusieurs circuits ( 40) de reconnaissance de diagramme destinés chacun à recevoir les signaux d'un dispositif respectif de scrutation ( 54), et un dispositif final de scrutation ( 58) destiné à recevoir les signaux 20 de tous les circuits ( 40) de reconnaissance de diagramme. 12 Procédé de contrôle de signaux de données provenant d'une installation ou d'un appareil, chaque signal de données représentant un paramètre de l'instalation ou de l'appareil, ledit procédé comprenant l'examen 25 périodique de chaque signal de données et la transmission d'un signal de sortie indiquant si le signal de données représente un état acceptable ou non acceptable du paramètre respectif, caractérisé en ce qu'il comprend la superposition de signaux de test à des signaux choisis de données avant 30 chaque examen périodique de ceux-ci, de manière que des signaux combinés correspondants, équivalant à des signaux de données représentant l'état inacceptable, soient formés, la sélection des signaux de données auxquels les signaux de test sont superposés étant modifiée suivant une séquence 35 prédéterminée afin qu'un diagramme reconnaissable de signaux de sortie soit formé.