FR 2532056 A1 19840224 FR 8313582 A 19830823 "Procédé et dispositif d'auto-test pour appareil électronique". La présente invention concerne un procédé et un dispositif pour tester un système lorsque ledit système est alimenté par une gamme étendue de tensions d'alimentation en plus de la tension nominale. Un dispositif d'auto-test dans un appareil électronique est utilisé pour interroger les circuits dudit appareil pendant un mode opératoire d'auto-tes t lorsque l'appa- reil est alimenté par une tension nominale provenant d'une alimentation et pour analyser la réponse reçue desdits circuits à cette interrogation Une réponse incorrecte indique qu'une défaillance s'est produite à l'intérieur des circuits dudit appareil. Mais les unités d'auto-test de l'art connu interroge les circuits pendant le mode d'auto-test seule- ment lorsque les circuits sont alimentés par la tension nominale de l'unité d'alimentation Du fait que ces circuits ne sont pas interrogés pendant ce mode d'auto-test lorsqu'ils sont alimentés par d'autres tensions que la tension d'alimentation, tensions qui diffèrent en valeur de la tension nominale, certains des composants disposés à l'intérieur des circuits sont défaillants, lors d'un fonctionnement normal,lorsqu'ils sont alimentés par ces dites autres tensions. C'est donc un premier objet de la présente invention de fournir un dispositif d'auto-test pour un appareil électronique qui interroge le circuit disposé à l'intérieur dudit appareil pendant le mode d'auto-test lorsqu'ils sont alimentés par la tension nominale et par lesdits autres tensions qui sont comprises dans une gamme de valeurs délimitée par une valeur maximale nominale et un valeur minimale nominale. C'est encore un autre objet de la présente invention de fournir une première indication visuelle du fonc- tionnement dudit dispositif d'auto-test dans le mode d'auto- test, cette première indication visuelle indiquant que lesdits circuits de l'appareil sont interrogés lorsqu'ils sont alimen- 2 2 -2 2056 tés par une tension à la valeur maximale nominale. C'est encore un autre objet de la présente invention de fournir une seconde indication visuelle du fonc- tionnement dudit dispositif d'auto-test dans le mode d'auto- test, ladite seconde indication visuelle indiquant que lesdits circuits dudit appareil sont interrogés lorsqu'ils sont alimen- tés par une tension ayant la valeur minimale nominale. Ces objets, ainsi que d'a-utres objets de la présente invention, sont réalisés en concevant un dispositif d'auto-test qui comprend un microprocesseur pour réaliser l'interrogation des circuits et un nouveau programme d'auto-test pour diriger le fonctionnement dudit microprocesseur lors de la réalisation de l'interrogation d'auto-test Le programme dirige le micro-processeur pour réaliser l'interrogation d'auto- test lorsque les circuits sont alimentés par la tension nominale. Ensuite, le programme dirige le micro-processeur pour réaliser une interrogation d'auto-test lorsque les circuits sont alimen- tés et de manière séquentielle par une tension ayant ladite valeur maximale normale, et par une tension ayant ladite valeur minimale normale Lorsque le programme dirige un micro-proces- seur pour réaliser l'interrogation d'auto-test en utilisant la tension présentant la valeur maximale normale, un bit est écrit dans un registre Un signal de sortie provenant du registre est engendré en réponse à cette écriture, ce signal de sortie activant une alimentation Un régulateur de tension disposé dans l'alimentation engendre un signal de sortie qui est augmenté d'un niveau correspondant à la tension nominale à un niveau correspondant à la valeur maximale normale en ré- ponse au signal de sortie du registre A ce moment, le micro- processeur réalise l'interrogation du circuit dans ledit appa- reil lorsqu'il est alimenté par la tension maximale normale. De manière similaire, lorsque le programme dirige le micro- processeur pour réaliser les interrogations d'auto-test en uti- lisant la tension ayant la valeur minimale normale, on écrit un autre bit dans le registre Un autre signal de sortie est créé en réponse dans le registre et ce signal de sortie active l'alimentation Le régulateur de tension disposé dans ladite alimentation engendre un signal de sortie qui est diminué à partir de la valeur maximale normale, à un niveau correspondant à la valeur minimale normale en réponse audit autre signal de sortie provenant du registre A ce moment, le micro-processeur réalise l'interrogation du circuit lorsqu'il est alimenté par la tension à la valeur minimale normale Du fait que les compo- sants du circuit sont testés lorsqu'ils-sont alimentés par une gamme élevée de tensions d'alimentation, on détecte tous les composants qui sont potentiellement défectueux Leur remplace- ment assurera un fonctionnement plus fiable des circuits de l'appareil ' D'autres caractéristiques et avantages de l'invention ressortiront de la description qui suit, faite à titre illustratif et nullement limitatif, en me référant aux dessins ciannexés sur lesquels: la Figure 1 représente un schéma-bloc de base illustrant les principes de la présente invention. La Figure 2 représente un schéma-bloc plus détaillé montrant les principes de la présente invention. La Figure 3 représente un ordinogramme représentatif du programme d'autotest enregistré dans une mémoire mrvre (POM) qui constitue un des composants du dispo- sitif en cours de test qui est commandé par un micro-processeur et représenté sur les Figures 1 et 2. La Figure 4 représente un premier mode de réalisation d'un régulateur de tension, qui constitue un composant des schémas-blocs représentés aux figures 1 et 2, et La Figure 5 représente un autre mode de réalisation du régulateur dé tension qui constitue un compo- sant des schémas-blocs représentés aux figures I et 2. La Figure 1 représente un schéma-bloc de base de la présente invention Un dispositif 10 en cours de test et commandé par un micro-processeur comprend un dispo- 3 - 4 25552 056 sitif en cours de test, telle qu'une puce de circuit imprimé, et un microprocesseur qui lui est connecté Le dispositif 10 sous test commandé par un micro-processeur peut être, par exemple, un micro-ordinateur à une seule puce, tel qu'un INTEL 8748 Le micro-processeur réalise l'interrogation d'auto-test des composants du dispositif sous test Le micro-processeur interroge le dispositif sous test pendant le mode d'auto- test lorsque le dispositif est alimenté par la tension nominale à partir de l'alimentation On reçoit une réponte du dispositif à cette interrogation Cette réponse est analysée Si on reçoit une réponse incorrecte, associée avec un ou plusieurs des com- posants du dispositif sous test, les composants associés sont potentiellement défaillants Ceci représente une condition d'erreurs qui est indiquée en tant que telle. Mais, pendant le mode de fonctionnement normal, le dispositif peut être alimenté par l'alimentation avec des tensions différentes en valeur de la tension nominale. Par conséquent, les composants du dispositif sous test peuvent devenir défaillants lorsqu'ils sont alimentés par ces dites autres tensions Pour tester les composants du dispositif sous test pendant le mode d'auto-test, lorsqu'ils sont alimentés par lesdites autres tensions, le disposi- tif 10 sous test, qui est commandé par le micro-processeur, engendre un signal "augmenter au rmaximum" et un signal "dimi- nuer au minimum" Une unité d'alimentation 12 est reliée au dispositif sous test 10 et reçoit le signal "augmenter au maxi- mum" et le signal "diminuer au minimum" qu'il fournit par les lignes 21 et 22 respectivement De manière plus spécifique, c'est un régulateur de tension 12 a, qui est disposé dans l'unité d'alimentation 12, qui reçoit les signaux "augmenter au maximum" et " diminuer au minimum" Lorsque le régulateur de tension 12 a est activé par le signal "augmenter au maximum", il engendre en réponse sur une de ces bandes de sortie un signal de tension d'alimentation qui est représentatif de la tension maximale normale de l'unité d'alimentation 12 Lorsque 2532056 le régulateur de tension 12 a, qui est disposé dans l'unité d'alimentation 12, reçoit le signal "diminuer au minimum", il engendre en réponse sur ladite bande de sortie un autre signal de tension d'alimentation qui est représentative de la tension minimale normale de l'unité d'alimentation. La borne de sortie du régulateur de ten- sion 12 a est relié au dispositif sous test 10 commandé par le microprocesseur de manière à réaliser une réaction Lorsque le système sous test commandé par le micro-processeur reçoit le signal de tension d'alimentation représentatif de la ten- sion maximale normale de l'unité d'alimentation 12, ce dispo- sitif sous test 10, est de manière plus spécifique le micro- processeur, réalise l'interrogation d'auto-test du dispositif sous test, lorsqu'il est alimenté par le signal de tension d'alimentation représentatif de la tension maximale normale de l'unité d'alimentation En outre, le dispositif sous test réalise l'interrogation d'auto-test lorsqu'il est alimenté par le signal de tension d'alimentation représentatif de la tension minimale normale de l'unité d'alimentation. Lorsque le dispositif sous test 10 contrôlé par le micro-processeur n'engendre ni le signal "augmenter au maximum" ni le signal "diminuer au minimum", le régulateur de tension 12 a disposé dans l'unité d'alimentation 12 engendre un signal de tension d'alimentation qui est équivalent ê l tension nominale de l'unité d'alimentation Le dispositif sous test 10 effectue ensuite l'interrogation d'auto-test du dispo- sitif sous test lorsqu'il est alimenté par la tension nominale de l'unité d'alimentation Par conséquent, les composants du dispositif sous test sont testés lorsqu'ils sont alimentés par la tension d'alimentation nominale, la tension maximale nor- male d'alimentation et la tension minimale normale d'alimenta- tion De ce fait, on pourra identifier un nombre plus important des composants potentiellement défaillants du dispositif sous test Leur remplacement assurera que le système fonctionnera pendant le mode de fonctionnement normal de manière plus fiable 2 3 z 056 6 - qu'il n'aurait fonctionné autrement si on n'avait pas pratiqué une telle interrogation d'auto-test sur une gamme élargie de tensions. La Figure 2 représente un schéma-bloc plus détaillé d'un dispositif selon la présente invention Le dispo- sitif 10 sous test contr 8 lé par le micro-processeur comporte, en outre, un dispositif sous test 10 a Le dispositif sous test a est relié à un bus 10 b Une mémoire morte (ROM) 10 c est relié au bus 10 b Un microprocesseur 10 d est également relié au bus 10 b En ce qui concerne le micro-processeur 10 d, on peut utiliser un circuit intégré INTEL 8086 Un registre 10 e est relié au bus 10 b Une première borne de sortie 10 e 1 du registre 10 e est reliée au régulateur de-tension 12 a Une seconde borne de sortie 10 e 2 du registre 10 e est reliée au régulateur de tension 12 a Le régulateur de tension 12 a com- prend, en outre, un premier circuit inverseur 12 a 1 dont la borne de sortie est reliée à la première borne de sortie 10 e 1 du registre 10 e La sortie du circuit inverseur 12 a 1 est reliée à la base d'un transistor 12 a 2 L'émetteur du transis- tor est relié à une tension de masse Le connecteur du transis- tor 12 a 2 est relié à une première résistance R 126 Une seconde résistance R 121 est branchée en série avec la première résistance R 126 La sortie de la seconde résistance R 121 est reliée à la borne d'entée nigative d'un cormparateur 12 a 3. La borne d'entrée négative du comparateur 12 a 3 est également reliée à la borne de sortie d'une résistance R 127 La borne d'entrée de la résistance R 127 est mise à la masse En outre, la borne d'entrée négative du comparateur 12 a 3 est reliée à la borne d'entrée d'une autre résistance R 128, la sortie de cette autre résistance R 128 étant reliée à la borne de sortie du comparateur 12 a 3. Le régulateur de tension 12 a comprend, en outre, un deuxième circuit inverseur 12 a 5 dont la borne d'en- trée est branchée sur la deuxième borne de sortie 12 e 2 du registre 10 e La borne de sortie du circuit inverseur 12 a 5 7 2532056 est branchée sur la base d'un deuxième transistor 12 a 4 L'émet- teur de ce second transistor 12 a 4 est relié à une tension de masse Le collecteur du second transistor 12 a 4 est relié à la borne d'entrée d'une résistance R 141 La borne de sortie de la résistance R 141 est reliée à la borne d'entrée positive du comparateur 12 a 3 _ Cette borne d'entrée positive du comparateur 12 a 3 est également reliée à la borne de sortie d'une résistance R 137 La borne d'entrée de la résistance R 137 est reliée à une source de tensions de référence (Vref). La borne de sortie du comparateur 12 a 3 engendre le signal de tension d'alimentation qui provient du régulateur de tensions 12 a intégré dans l'unité d'alimentation 12 représentée à la Fïgure 1 Cette borne de sortie du compara- teur 12 a 3 est reliée en boucle de réaction au dispositif sous test 10 a qui est à l'intérieur du dispositif sous test contrôlé par le microprocesseur 10 La borne de sortie du comparateur 12 a 3 est également branchée sur la première borne de sortie e 1 du registre 10 e à travers une résistance R 1 et une pre- mière d'iode électro-luminescente (LED) 14 qui sont branchées en série En outre, la borne de sortie du comparateur 12 a 3 est reliée -à la seconde borne de sortie 10 e 2 du registre 10 e par l'intermédiaire d'une résistance R 2 et d'une deuxième d'iode électro-luminescente (LED) 16 qui sont branchées en série. La Figure 3 représente un ordinogqramme du programme d'auto-test contenu dans la mémoire morte (ROM) Oc du système sous test 10 contrôlé par micro-processeur. Au départ, le programme règle l'unité d'alimentation à sa valeur nominale, ce qui engendre la tension d'alimentation nonimale. Le micro-processeur 10 d réalise ensuite l'interrogation auto- test de dispositif sous-test 10 a lorsque ce dernier est alimenté par la tension d'alimentation nominale Si-l'on détecte une erreur, cette erreur est éditée comme telle. Le fonctionnement du circuit représentant la Figure 2 sera décrit ci-après. Le programme d'auto-test enregistré dans la mémoire morte (ROM) 10 c qui est intégrée dans le dispositif dudit sous-test contrôlé par le micro-processeur, dirige le micro-pro- cesseur 10 d pour alimenter le dispositif sous-test 10 a avec la tension d'alimentation nominale provenant de l'unité d'alimenta- tion 12 En réponse à cette instruction, le registre 10 e n'engen- dre pas de signal de sortie ni sur la première ni sur la seconde de ces bornes de sortie 1 Oel ou 10 e 2 Par suite, aucun des signaux "augmenter au maximum" et "diminuer au minimum" n'est engendré Il en résulte que l'unité d'alimentation 12 engendre la tension d'alimentation nominale pour alimenter le dispositif sous test A ce moment, le micro-processeur interroge les com- posants du système sous test en sollicitant les réponses et en les analysant pour déterminer si une réponse erronée a été reçue. Le programme d'auto-test enregistré dans la mémoire morte (ROM) 10 c envoie ensuite des instructions au micro- processeur 10 d pour engendrer un signal de sortie par l'inter- médiaire du bus 10 b en vue d'activer le registre 10 e Un bit de ce registre 10 e est changé de " 1 " en " O " Il en résulte que l'on engendre le signal "augmenter au maximum" à partir du re- gistre 10 e Ce signal "augmenter au maximum" est inversé par l'intermédiaire du circuit inverseur 12 al, de telle manière que l'on engendre à partir de ce dernier un signal de-sortie -a niveau haut Ce signal de s C Lrtie ràiveau haut prc vernant du premier circuit inverseur 12 a 1 entraîne la conduction du premier transistor 12 a 2 Lorsque le premier transistor 12 a 2 conduit, les résistance R 126 et R 121, qui sont branchées en série, sont reliées à la masse Ceci, à son tour, entraîne la mise en parallèle d'une part de la résistance 127 et, d'autre part, des résistances R 126 et R 121 branchées en série Il résulte de la mise en parallèle de la résistance R 127 et des résistances R 126 et R 121 que la résistance du bras inférieur de la boucle de réaction est réduite En conséquence de cela, la tension présente sur la borne d'entrée négative du compara-. teur 12 a 3 est réduite Il en résulte que le signal de sortie 8 - 9 2532056 présent sur la borne de sortie du comparateur 12 a 3 est augmenté en vue de compenser la réduction de la tension existant sur la borne d'entrée négative du comparateur 12 a 3 La borne de sortie du comparateur 12 a 3 est reliée au dispositif sous test Du fait que la tension de sortie du régulateur de tensions 12 a est aug- mentée en réponse à la création du signal "augmenter au maximum", une tension d'alimentation augmentée (la tension maximale normale de l'unité d'alimentation) alimente le dispositif sous test 10 a. Le signal "augmenter au maximum", qui est engendré à partir du registre 10 e, est un signal à niveau bas. Il en résulte que la première d'iode électro-luminescente 14 devient conductrice Le courant circule à travers la première dtiode électro-luminescente 14 par l'intermédiaire de la résis- tance RM, ce qui crée l'émission de lumière par ladite d'iode. Ceci constitue une indication visuelle de ce que l'unité d'auto- test fonctionne dans le mode d'auto-test et que les composants du dispositif sont alimentés par une tension présentant ladite valeur maximale normale. Pendant que le dispositif sous test 1 ia est alimenté par la tension d'alimentation augmentée provenant du régulateur de tension 12 a, le programme d'auto-test enregis- tré dans la mémoire morte (ROM) 10 c dirige le micro-processeur pour qu'il réalise l'interrogation d'auto-test au cours de la- quelle les différents composants du-dispositif sous test seront interrogés pour solliciter des réponses lorsqu'ils sont alimen- tés par la tension présentant ladite valeur maximale normale. Les réponses sont analysées pour déterminer si une réponse in- correcte a été engendrée par les différents composants du dis- positif sous test 10 a Si on a reçu une réponse incorrecte, le micro-processeur évite l'erreur Cette erreur indique que cer- tains des composants du dispositif sont potentiellement défec- tueux. A ce moment, le programme d'auto-test enre- gistré dans la mémoire morte 10 c envoie une instruction au microprocesseur 1 Od pour qu'il engendre un signal de sortie 2532056 par l'intermédiaire du bus b en vue de changer un bit dans le registre 10 e pour qu'il passe de la valeur " 1 " à la valeur " O " de telle manière que l'on engendre à partir de cela, le signal "diminuer au minimum" Ce signal "diminuer au minimum" est appliqué à l'entrée du deuxième circuit inverseur 12 a 5 qui in- verse le signal qui lui est appliqué Un signal de sortie à niveau haut est donc engendré et ce signal de sortie à niveau haut est appliqué à la base du second transistor 12 a 4 Il en résulte que le second transistor 12 a 4 devient conducteur Lors- que le transistor 12 a 4 conduit, la résistance R 141 est reliée à un potentiel de masse Ceci, en fait, crée un circuit divi- seur de tensions comprenant les résistances R 141 et R 137 Une tension de référence VREF est appliquée à une borne d'entrée de la résistance R 137 Il résulte de ce circuit diviseur de tensions que la tension appliquée à la borne d'entrée positive du comparateur 12 a 3 est réduite en passant de la valeur VREF à la valeur VREF R 141/(R 141 + R 137) Il résulte de cette ré- duction de l'amplitude de la tension appliquée à la borne d'entrée positive du comparateur 12 a 3 que la tension appliquée à la borne de sortie du comparateur 12 a 3 est également réduite en amplitude De nouveau, du fait que la sortie du comparateur 12 a 3 est branchée au dispositif sous testk une tension d'ali- mentation réduite (la tension minimale normale de l'unité d'alimentation) est appliquée a J dispos Lif sous test 1 oa. A ce moment, le micro-processeur 10 d, en accord avec les instructions du programme d'auto-test enregis- tré dans la mémoire morte 10 c, réalise, une fois encore, l'in- terrogation d'auto-test au cours de laquelle les composants individuels du dispositif sous test sont interrogés lorsqu'ils sont alimentés par la tension d'alimentation réduite La réponse reçue par le micro-processeur 10 Od comme résultat de cette interrogation est analysée pour déterminer si on a reçu une réponse correcte Si on a reçu une réponse incorrecte, le micro-processeur édite l'erreur. Lorsque le registre 10 e engendre le signal 11 - "diminuer au minimum", on engendre un signal à niveau bas Ce signal à niveau bas, entraîne la conduction de la deuxième d'iode électro-luminescente 16 Le courant circule alors à par- tir de la borne de sortie du comparateur 12 a 3 à travers la ré- sistance R 2, et à travers la diode électro-luminescente 16 en vue de créer une émission de lumière Ceci représente une indi- cation visuelle de ce que le dispositif d'auto-test fonctionne dans le mode d'auto-test et que les composants du dispositif sous-test sont alimentés par une tension présentant-ladite am- plitude minimale normale. La Figure 4 représente un mode de réalisa- tion possible du régulateur de tension i 2 a représenté aux Figures 1 et 2 Si le signal "augmenter au maximum" est reçu par le régulateur de tension 12 a représenté Figure 4, il y a quatre procédés différents pour augmenter la tension de sortie Vout en réponse à ce signal Sur la Figure 4, on a représenté 4 interrupteurs, à savoir les interrupteurs S Fl X, SF 2 X' SR 1 x et SR 2 X' Si les interrupteurs SF 1 X et SR 2 X sont nor- malement ouverts, en supposant que les autres interrupteurs restent dans leur position ouverte comme représenté Figure 4, la fermeture soit de l'interrupteur SF 1 X, soit de l'interrup- teur SR 2 va faire augmenter la tension de sortie Vut Si les R 2 X out nterrapteurs SF 2 x et SR 1 x sont normalement fermés, en sappo- sant que les autres interrupteurs restent dans leur position d'ouverture, comme représenté Figure 4, l'ouverture soit de l'interrupteur SF 2 X, soit de l'interrupteur S Rx entraînera l'augmentation de la tension de sortie Vout. De manière similaire, il y a quatre procé- dés différents pour diminuer la tension de sortie Vout du régu- lateur de tension 12 a représenté à la Figure 4 en réponse au signal "diminuer au minimum" que le régulateur-de tension 12 a reçoit Si les interrupteurs SF 2 x et SR 1 x sont normalement ouverts, en supposant que les autres interrupteurs restent dans leur position d'ouverture comme représenté Figure 4, la 12 25 i 32056 fermeture soit de l'interrupteur SF 2 X, soit de l'interrupteur SîX, va faire diminuer la tension de sortie V Out De manière similaire, il y a quatre procé- dés différents pour faire diminuer la tension de sortie du régulateur de tension 12 a représenté à la Figure 4 en réponse au signal "diminuer au minimum" que ce régulateur de tension reçoit Si les interrupteurs SF 2 x et S Rix sont normalement ou- verts, en supposant que les autres interrupteurs restent dans leur position d'ouverture comme représenté Fig Ure 4, la ferme- ture, soit de l'interrupteur SF 2 X, soit de l'interrupteur S Rl X va faire diminuer la tension de sortie Vout De manière simi- laire, si les interrupteurs SF 1 X et SR 2 x sont normalement fer- més, en supposant que les autres interrupteurs restent dans leur position d'ouverture comme représenté Figure 4, l'ouver- ture -soit de l'interrupteur SF 1 x soit de l'interrupteur SR 2 X va faire diminuer la tension de sortie Vout- Dans la description ci-dessus, on a suppo- ser que le signal "augmenter au maximum" doit fermer l'un des deux interrupteurs normalement ouverts S ou SR 2 X De manière alternative, le signal "augmenter au maximum" doit ouvrir l'un des deux interrupteurs normalement fermés SF 2 X ou S Rl X De ma- nière similaire, le signal "diminuer au minimum" doit fermer l'un des deux interrupteurs normalement fermés SF 2 X ou S Rix. De manière alternative, le signal "diminuer au minimum" doit ouvrir l'un des deux interrupteurs normalement fermés S Fl X ou SR 2 X* On a représenté sur la Figure 5 une autre possibilité de réalisation du régulateur de tension 12 a qui est représenté sur les Figures 1 et 2 Sur la Figure 5, on a représenté deux interrupteurs, à savoir les interrupteurs Svx et Slx Si le signal "augmenter au maximum" est reçu, et si on Ferme l'interrupteur SVX qui est normalement ouvert, en supposant que l'autre interrupteur reste dans sa position ou d'ouverture représentée à la Figure 5, 'La tension de sortie Vout est augmentée Si l'interrupteur Slx est normalement - 13 25 e 2056 -13 - fermé, et si on ouvre cet interrupteur, la tension de sortie VO Ut est augmentée Si le signal "diminuer au minimum" est reçu, et si l'interrupteur Six qui est normalement ouvert, est fermé, en supposant que l'autre interrupteur reste dans sa position ouverte comme représenté Figure 5, la tension de sortie Vout sera diminuée De manière similaire, si l'interrupteur SVX est normalement fermé, et si on ouvre cet interrupteur, en Vx supposant que l'autre interrupteur reste dans sa position d'ouverture comme représenté Figure 5, la tension de sortie Vout sera diminuée Dans la figure 5 on utilise un régulateur de tension 12 a 1 à trois bornes. La description ci-dessus n'a été fournie qu'à titre d'exemples illustratifs et nullement limitatifs, et il est évident que l'on peut y apporter des modifications ou variantes sans pour autant sortir du cadre de la présente invention. 14 2 % 32056 REVENDICATIONS 1 ) Procédé de test des composants d'un dispositif en cours de test, caractérisé en ce qu'il com- porte les étapes suivantes: alimentation des composants dudit dispositif en cours de test avec une tension nominale; interrogation desdits composants pendant qu'ils sont alimentés par ladite tension nominale et analyse de la réponse reçue comme résultat de l'interrogation; -10 alimentation desdits composants avec une tension maximale ayant une amplitude plus grande que l'amplitude de ladite tension nominale; répétition des étapes d'interro- gation et d'analyse pendant que lesdits composants sont ali- mentés par ladite tension maximale; alimentation desdits composants avec une tension minimale présentant une amplitude inférieure à l'amplitude de ladite tension nominale; et répétition des étapes d'interro- gation et d'analyse pendant que lesdits composants sont ali- mentés par ladite tension minimale. ) Un dispositif d'auto-test caractérisé en ce qu'il comprend: des premiers organes ide 'lb à 10 e) reliés à un dispositif sous test ( 1 Oa) et destinés à créer un premier signal de sortie et un deuxième signal de sortie; _ des seconds organes ( 12) reliés auxdits premiers organes ( 10 b, 10 e) et audit dispositif sous test 1 Oa et répondant auxdits premier et second signaux de sortie provenant desdits premiers organes en vue de créer un signal nominal lorsqu'ils ne sont pas activés par lesdits premier et second signaux de sortie, lesdits second* organes créant-un signal maximal présentant une amplitude plus grande que l'amplitude dudit signal nominal lorsqu'ils sont activés -2532056 par ledit premier signal de sortie, lesdits second organes créant un signal minimal ayant une amplitude plus faible que l'amplitude dudit signal nominal lorsqu'ils sont activés par ledit second signal de sortie, lesdits signaux nominal, maximal, et minimal, alimentant ledit dispositif sous test ( 10 a). Lesdits premiers organes interrogeant les composants dudit dispositif( 10 a) sous test pendant qu'il est alimenté par ledit signal nominal, lesdits premiers moyens interrogeant les composants dudit système( 10 a) sous test pen- dant qu'il est alimenté par ledit signal maximal, et Lesdits premiers organes interrogeant les composants-dudit système ( 10 a)sous test lorsqu'ils sont alimen- tés par ledit signal minimal. 3 ) Dispositif d'auto-test selon la reven- dication 2, caractérisé en ce qu'il comprend, en outre, des premiers organes d'indication pour fournir une première indi- cation de ce que ledit premier signal de sortie est créé par lesdits premiers organes. 4 ) Dispositif d'auto-test selon la reven- dication 2, caractérisé en ce qu'il comprend, en outre, des second moyens d'indication ( 16)pour fournir une seconde indi- cation de ce que ledit second signal de sortie est créé par lesdits premiers organes. O