FR 2528266 A1 19831209 FR 8308504 A 19830524 La présente invention concerne un dispositif à rayons X comportant des moyens de correction pour corriger une irrégularité de l'intensité et de l'amplitude de rayons X, et en particulier pour corriger une irrégularité de lintensi- té et de l'amplitude des rayons X pendant qu'un obturateur est fermé. Dans un dispositif de type classique représenté sur la figure 1, la référence 1 désigne un tube à rayons X, la référence 2 désigne un détecteur de rayons X, la référence 3 désigne une partie ouverte du détecteur de rayons X,2, la référence 4 désigne un passage de guidage pour le détecteur de rayons X, 2, la référence 5 désigne un obturateur, la référence 6 désigne un échantillon de matière, la référence 7 désigne un discriminateur d'amplitude, la référence 8 dési- gne un temporisateur de cadrage et la référence 9 désigne des moyens de correction automatique de rayons X Des rayons X provenant du tube à rayons X, 1, sont guidés directement vers le détecteur de rayons X, 2, par le passage de guidage 4, grâce à quoi on corrige des valeurs d'intensité et d'amplitude des rayons X en détectant les rayons X qui proviennent du tube à rayons X, 1 Cependant, des rayons X de correction sont appliqués au détecteur de rayons X, 2, lorsque le fonc- tionnement se poursuit pendant l'ouverture de l'obturateur , ce qui fait qu'un spectre de rayons X est superposé à un spectre de l'échantillon. L'invention vise à éliminer la difficulté et le défaut précités, et le but de l'invention est de procurer des moyens pour guider des rayons X de fluorescence, de correc- tion, vers un détecteur de rayons X uniquement pendant une durée de non fonctionnement, c'est-à-dire lorsqu'un obtura- teur est fermé. L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui va suivre d'un mode de réalisation et en se référant aux dessins annexés sur lesquels: La figure 1 montre la structure classique d'un dis- positif automatique de correction de rayons X, La figure 2 est une coupe d'un dispositif automati- que de correction de rayons X qui correspond à l'in- vention. La figure 3 est une représentation correspondant à une rotation de 900 de la figure 2, et La figure 4 est un schéma synoptique du dispositif de l'invention. Sur les figures 2 et 3, la référence 21 désigne un tube à rayons X, la référence 22 désigne une plaque de réfé- rence de correction, la référence 23 désigne un second passa- ge de guidage destiné à guider des rayons X de fluorescence de la plaque de référence de correction 23 vers le détecteur de rayons X,24, la référence 25 désigne une partie ouverte du détecteur de rayons X, 24, la référence 26 désigne un pre- mier passage de guidage destiné à guider des rayons X prove- nant du tube à rayons X, 21, vers la plaque de référence de correction 22, la référence 27 désigne un troisième passage de guidage destiné à guider des rayons X provenant du tube à rayons X, 21, vers un échantillon de matière 28, la référence 29 désigne un obturateur et la référence 30 désigne un capteur de position pour l'obturateur 29. Dans ce mode de réalisation de l'invention, des rayons X provenant du tube à rayons X sont projetés vers la plaque de référence de correction 22 en passant par le passa- ge de guidage 26, pendant que l'obturateur 29 est fermé, la plaque de référence de correction 22 est déplacée en compa- gnie de l'obturateur 29 vers une autre position qui est éloi- gnée de l'axe des rayons X, puis le troisième passage de gui- dage 27 est déplacé et positionné sur l'échantillon de matiè- re 28, dans la position dans laquelle se trouve la plaque de référence de correction dans la description faite ci-dessus, lorsque l'obturateur 29 est fermé, grâce à quoi l'échantil- lon de matière 28 est irradié par des rayons X. La position de l'obturateur 29 est détectée par un capteur de position, et ce dispositif à rayons X n'est main- tenu dans un mode de correction que pendant que l'obturateur 29 est fermé Sur la figure 4, la référence 31 désigne un discriminateur d'amplitude, la référence 32 désigne un tempo- risateur de cadrage et la référence 33 désigne des moyens de correction automatiques. Des rayons X qui sont détectés par le détecteur de rayons X, 24, sont appliqués sous la forme d'un signal élec- trique au discriminateur d'amplitude 31, et le signal de sor- tie du discriminateur d'amplitude 31 est compté par le tem- porisateur de cadrage et est appliqué aux moyens de correc- tion automatiques 33, grâce à quoi une correction automatique des rayons X est effectuée. Conformément à l'invention, des rayons X de correc- tion ne sont appliqués à un détecteur de rayons X que pen- dant qu'un obturateur est fermé, grâce à quoi les rayons X de correction n'affectent pas une opération de mesure d'un échantillon de matière, et il est possible de corriger auto- matiquement l'intensité des rayons X et leur valeur d'ampli- tude. Il va de soi que de nombreuses modifications peuvent être apportées au dispositif décrit et représenté, sans sortir du cadre de l'invention. REVENDICATION Dispositif de correction automatique de rayons X, caractérisé en ce qu'il comprend, en combinaison: un tube à rayons X; un collimateur qui collimate un faisceau de rayons X provenant du tube à rayons X; un obturateur qui commande ce faisceau de rayons X; un détecteur de rayons X qui détecte des rayons X de fluorescence; un discriminateur d'amplitude; un temporisateur de cadrage; une plaque de référence de correction qui peut être placée dans l'-obtura- teur, contre le tube à rayons X, pour corriger automatique- ment une irrégularité de l'intensité et de l'amplitude des rayons X lorsque l'obturateur est fermé; un premier passage de guidage dans l'obturateur, qui rayonne les rayons X vers la plaque de correction; et un second passage de guidage qui est relié au premier passage de guidage pour guider des rayons X de fluorescence depuis la plaque de référence de correction vers le détecteur de rayons X, et qui est placé dans l'obturateur.