FR 2526545 A1 19831110 FR 8307532 A 19830505 La présente invention concerne de façon générale l'analyse non destructive de matières et elle porte plus parti- culièrement sur un procédé et un appareil d'analyse qui utili- sent un rayonnement électromagnétique pour mesurer un ou plu- sieurs constituants d'un échantillon de matière, par exemple la teneur en graisse d'un échantillon de viande. Bien que le procédé et l'appareil de test non des- tructif de l'invention soient utiles pour déterminer la quanti- té de divers constituants de nombreuses matières, on considère- ra pour faciliter la description le problème qui consiste à dé- terminer le rapport entre la graisse et le maigre dans un pro- duit à base de viande. De nombreuses viandes et produits à base de viande sont généralement évalués au point de vue nutritif sur la base du rapport entre la viande maigre et la graisse dans le produit. De plus, les prix auxquels de tels produits sont vendus sont souvent basés au moins en partie sur ce rapport Une détermina- tion précise du pourcentage de graisse ou du pourcentage de maigre dans un produit à base de viande donné présente donc une certaine importance économique aussi bien pour lefabricant que pour le détaillant. Jusqu'à présent, le seul procédé fiable pour détermi- ner avec précision la teneur en graisse ou en maigre d'un échantillon a consisté en un test destructif Ainsi, on doit cuire complètement un échantillon du produit et mesurer le pro- duit gras obtenu pour déterminer son pourcentage en tant que constituant du produit Il est clair que ce procédé de test destructif ne convient pas pour des tests relativement fréquents portant sur des nombres relativement grands d'échantillons de produits à base de viande En remplacement, on a développé dans l'art antérieur un procédé et un appareil de test électromagné- tique pour accomplir une telle mesure de façon non destructive. Un appareil de ce genre est représenté par exemple dans le brevet US 3 735 247 Bien que le procédé et l'appareil décrits dans ce brevet se soient avérés utiles dans de nombreuses appli- cations, le champ reste ouvert à de nouveaux perfectionnements. Par exemple, certains problèmes sont apparus en ce qui concerne la préparation correcte des échantillons pour as- surer à la fois la précision et la reproductibilité des mesures obtenues par les dispositifs de l'art antérieur A cet égard, il est important de peser avec précision chaque échantillon et de positiormer avec précision l'échantillon pesé dans l'appa- reil de mesure de l'art antérieur. De plus, la technio;e de mesure fondamentale qui in- tervient dans l'appareil de l'art antérieur consiste à intro- duire un échantillon dans une bobine électromagnétique qui est blindée contre une influence parasite externe Cependant, le blindage doit être ouvert au moins à l'une de ses extrémités, pour permettre l'entrée et la sortie d'un échantillon Un tel blindage s'est avéré difficile à réaliser En outre, pour un fonctionnement précis, la bobine de mesure doit s'étendre très au-delà des extrémités de l'échantillon et le blindage doit s'étendre très au-delà des extrémités de la bobinez Bien que cette dernière exigence soit facile à satisfaire, il est quel- quefois difficile de garantir qu'un opérateur positionne cor- rectement un échantillon dans la bobine. Le procédé et l'appareil de test électromagnétique de l'art antérieur considéré ci-dessus est basé sur les pro- priétés électriques différentes des tissus animaux gras et maigres A cet égard, le rapport de conductivité relativement grand entre les tissus gras et maigres, qui peut varier entre et 100, présente un intérêt essentiel On a cependant trou- vé également un rapport compris entre 1,1 et 10 entre des constantes diélectriques caractéristiques pour le maigre et pour la graisse Il s'est avéré difficile jusqu'à présent de séparer les effets électriques sur la bobine de mesure prove- nant d'une part de la conductivité d'un échantillon et d'autre part de la constante diélectrique Du fait que les valeurs re- latives de ces deux propriétés électriques peuvent varier con- sidérablement dans un échantillon donné, il est important d'isoler de façon appropriée une seule de ces propriétés, dans un but de mesure Du fait que le rapport de conductivité entre la graisse et le maigre est de façon caractéristique notable- ment supérieur au rapport des constantes diéléctriques, il est préférable d'isoler la conductivité pour effectuer les mesures. Dans l'appareil de l'art antérieur, il s'est avéré difficile d'éliminer les effets de la constante diélectrique et de garan- tir la mesure quasi-exclusive de la conductivité d'un échantil- lon. le procédé et l'appareil de l'art antérieur sont éga- lement basés essentiellement sur des pertes d'énergie et des déphasages dans l'échantillon qui sont ramenés dans la source de champ, dans la bobine de mesure On sait que les pertes d'énergie sont liées à la conductivité, tandis que le déphasage est lié à la constante diélectrique Ainsi, pour mesurer la conductivité avec précision, on doit mesurer avec précision des pertes d'énergie incrémentielles relativement faibles Pour ga- rantir la précision de la mesure de pertes d'énergie, l'appa- reil de l'art antérieur nécessitait une puissance d'entrée considérable appliquée à la bobine de mesure, et donc des com- posants électriques et électroniques de forte puissance, rela- tivement volumineux et coûteux. Lorsqu'on utilise une bobine en tant qu'appareil de mesure principal, on rencontre des problèmes supplémentaires liés aux variations connues des composantes de champ magnétique et électrique produites par une bobine, sur le rayon ou le long de l'axe d'un échantillon de matière placé dans la bobine Par exemple, on sait que la composante magnétique transverse (TM) du champ électromagnétique est avantageuse dans la mesure o le champ électrique demeure constant lorsque le rayon varie. Cependant, dans l'appareil de l'art antérieur, on a constaté qu'aux fréquences exigées pour la mesure ( 100 k Hz à 10 M Hz), et avec les dimensions d'une bobine qui sont nécessaires pour re- cevoir un échantillon approprié, il est difficile ou impossible de générer un mode TM uniforme Par conséquent, l'appareil de l'art antérieur considéré ci-dessus utilise essentiellement le mode électrique transverse (TE) pour obtenir des mesures. Malheureusement, les lignes de champ du mode TE sont orientées parallèlement à l'axe de la bobine, et le champ varie donc considérablement sur le rayon d'un échantillon, à l'intérieur de la bobine Du fait qu'on peut également considérer raison- nablement que la teneur en graisse ou en maigre varie axiale- ment ou radialement à l'intérieur d'un échantillon donné, les facteurs précédents créent certaines difficultés pour obtenir des mesures précises et reproductibles. Un but général de l'invention est donc de procurer un procédé et un appareil pour déterminer de façon non destruc- tive la teneur en graisse d'un échantillon d'un produit à base de viande, en évitant pratiquement les problèmes de l'art an- térieur. Un but plus particulier est de procurer un procédé et un appareil pour mesurer la teneur en graisse dans des pro- duits à base de viande, en établissant un champ électromagné- tique et en mesurant la conductivité d'un échantillon d'un produit à base de viande qui est introduit dans le champ élec- tromagnétique. Un but connexe est de procurer un appareil de test conforme aux buts précédents, qui établisse un champ électro- magnétique pratiquement continu et uniforme dans la totalité d'un volume à l'intérieur duquel un échantillon est introduit. Un autre but est de procurer un appareil de test con- forme aux buts précédents qui ne réagisse pratiquement qu'aux pertes d'énergie active à l'intérieur du champ électromagnéti- que. Un autre but encore est de procurer un appareil de test conforme aux buts précédents, dans lequel le champ élec- tromagnétique ne comporte pratiquement pas de composantes axiales résultantes de champ électrique O Un but connexe est de procurer un appareil de test conforme aux buts précédents qui soit relativement simple et économique, tout en fonctionnant de façon très fiable. Un aspect de l'invention porte sur un appareil de test qui est destiné à mesurer la proportion d'au moins un constituant dans un échantillon de matière, ce constituant présentant une relation connue vis-à-vis de la conductivité électrique de l'échantillon L'appareil de test comprend un capteur qui comporte un réceptacle destiné à recevoir à l'in- térieur un échantillon de matière, et des moyens de génération de champ destinés à produire un champ électromagnétique à l'iiitérieur du réceptacle, à confiner pratiquement ce champ électromagnétique dans un volume fixe et prédéterminé à l'in- térieur du réceptacle, et à produire un champ électromagnéti- que d'intensité pratiquement constante dans la totalité de ce volume fixe et prédéterminé. Selon un autre aspect de l'invention, l'appareil de test précédent comporte en outre un circuit de contrôle qui est connecté au capteur et qui réagit à celui-ci en produisant un signal de sortie qui présente une relation prédéterminée avec l'impédance réelle du capteur, à la fois lorsqu'il est vide et lorsqu'il contient l'échantillon,ce signal de sortie présentant ainsi une relation prédéterminée avec la conducti- vité de l'échantillon, lorsqu'il est présent, et le circuit de contr 8 le étant en outre pratiquement insensible à la constante diélectrique du capteur ou de l'échantillon ou des deux. L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui va suivre d'un mode de réalisation et en se référant aux dessins annexés sur lesquels: La figure 1 est une représentation de coté en éléva- tion, partiellement arrachée et partiellement en coupe, d'un appareil de test conforme à l'invention; La figure 2 est une représentation en perspective, partiellement arrachée, de composants de l'appareil de test de la figure 1; La figure 3 est une représentation de côté en éléva- tion d'un composant générateur do champ de l'appareil de test de la figure 1; La figure 4 est une représentation par une extréèmité du composant générateur de champ de la figure 3; La figure 5 est une représentation de côté en éléva- tion d'un composant de co mmande de champ de l'appareil de la figure 1; Les figures 6 A et 6 B considérées ensemble, forment un schérma d'une partie d'un circuit de test utilisable avec l'appareil de test de la figure 1; Les figures 7 A et 7 B, considérées ensemble, forment un schéma d'une autre partie d'un circuit de test utilisable avec l'appareil de test de la figure 1; La figure 8 est un schéma d'une partie d'un circuit de test utilisable avec l'appareil de test de la figure 1; La figure 9 est un schéma des circuits d'un élément de référence utile dans la vérification du bon fonctionnement de l'appareil de test de l'invention; La figure 10 est un schéma d'un dispositif auxiliai- re utile pour produire des modifications de champ dans le fonc- tionnement de l'appareil de l'invention; et La figure 11 est un schéma d'un circuit d'alimenta- tion pour les circuits précédents. On va maintenant considérer les dessins, et tout d'abord la figure 1, qui montre une forme préférée d'un appa- reil de test conforme à l'invention, désigné globalement par la référence 10 L'appareil de test 10 comprend une enveloppe ou un boútier 12 qui loge commodément tous ses composants A cet égard, unçanneau d'affichage approprié 14 peut être monté commodément sur un c 8 té avant de l'enveloppe ou du boîtier 12. Conforrément aux principes de l'invention, un champ électromagnétique est généré dans un volume fixe et de préfé- rence cylindrique, à l'intérieur du bottier 12 Dans le mode de réalisation représenté, un composant générateur de champ, ou bobine, 16, est monté dans ce but à l'intérieur du boîtier 12 o Dans le mode de réalisation représenté, ce composant géné- rateur de champ, ou bobine, 16, est monté sur un cylindre 18, de préférence en une matière plastique non conductrice et transparente, qui comporte une extrémité extérieure ouverte 19 pour l'entrée et la sortie d'un échantillon de matière à placer dans le champ électromagnétique produit par la bobine, dans un but de test A cet égard, une boîte d'échantillon transparente et séparée, 20, est également de préférence en une matière plastique non conductrice, en forme de cylindre circulaire droit, et elle est de préférence amovible par rap- port à la bobine 16 Sur la figure 1, la boîte ou cylindre d'échantillon 20 est représenté complètement introduit à l'in- térieur de la bobine 16, et il prend alors une position ali- gnée de façon pratiquement concentrique ou coaxiale à l'inté- rieur de la bobine 16 Il existe également de préférence un couvercle amovible approprié 21 pour le cylindre d'échantillon. Dans le mode de réalisation représenté, une chambre ou réceptacle de réception d'échantillon est défini en position concentrique ou coaxiale à l'intérieur de la bobine 16, par un autre cylindre ou tube 22, qui est fixe et en une matière plas- 20.tique transparente et non conductrice, et qui reçoit de façon coulissante le cylindre d'échantillon 20 A cet égard, une pa- roi-d'extrémité 24 est définie à l'intérieur du réceptacle 22 pour venir en contact avec une paroi de fond 26 du cylindre d'échantillon 20, et pour définir ainsi une position d'intro- duction complète ou de test de ce cylindre à l'intérieur de l'appareil de test 10 Cette paroi d'extrémité 24 comporte de préférence un tube ou un conduit d'évacuation 25 pour faciliter le nettoyage de l'intérieur du cylindre ou tube fixe 22. Pour mieux définir le champ produit par la bobine 16, comme on l'expliquera ultérieurement de façon plus complète, un élément cylindrique supplémentaire 30 est monté en position concentrique ou coaxiale par rapport à la bobine Dans le mode de réalisation représenté, ce cylindre supplémentaire 30 est monté de façon coaxiale entre la bobine 16 et le réceptacle 22. Conformément à une caractéristique préférée de l'in- vention, le cylindre d'échantillon 20 contient également une sonde de température 32 qui fait saillie vers le haut à partir d'une enceinte 34 prévue pour cette sonde, qui est placée jus- te au-dessus de la paroi de fond 26 Un ensemble de composants de circuit électriques et électroniques, désignés globalement par la référence 36, sont montés à l'intérieur de cette encein- te 34 On peut dire brièvement que ces composants de circuit 36 effectuent la mesure de température de l'échantillon contenu dans le cylindre 20, sous la dépendance de la sonde de tempéra- ture 32, et fourrissent un signal de sortie au moyen de compo- sants d'accouplement 40. L'enceinte 34 et les parois 24 et 26 sont de préfé- rence en une matière transparente et non conductrice de l'élec- tricité, grâce à quoi des impulsions lumineuses comme des im- pulsions électromagnétiques peuvent facilement les traverser. Comme on le décrira ultérieurement de façon plus complète, la sonde de mesure de température 32 et les circuits associés 36 peuvent ainsi 4 tre isolés à l'intérieur du cylindre d'échantil- lon 20, sans aucun contact mécanique direct entre les compo- sants électriques d'accouplement 40 et des composants d'accou- plement associés, désignés globalement par la référence 38, qui sont situés à l'intérieur de l'appareil de test-10 Par conséquent, le dispositif de mesure de température qui comprend la sonde 32 et les circuits 36 est contenu complètement à l'in- térieur du cylindre d'échantillon 20 de façon à être en contact intime avec l'échantillon contenu dans celui-ci Cependant, l'énergie électrique appropriée pour les circuits 36 ainsi qu'une voie de signal pour les signaux de température générés par ces derniers, sont acheminées vers le circuit de contrôle qui est contenu à l'intérieur du bottier 10, au moyen des com- posants d'accouplement respectifs 38 et 40. De plus, un capteur comprenant une diode électrolu- minescente 39 et un phototransistor 41 est monté sur le tube 16, de part et d'autre du tube 22 Ce capteur a pour fonction de vérifier le bon montage du tube 20 contenant un échantillon de matière, comme on le décrira ultérieurement de façon plus complète. En relation avec la description précédente, on se reportera également à la figure 2 qui montre le montage con- centrique des cylindres 18, 22 et 30 et l'introduction coulis- sante du cylindre 20 à l'intérieur d'eux. Comme la figure 3 le montre le mieux, le composant générateur de champ, ou bobine, 16, consiste en un tube cylin- drique droit allongé, de préférence en une matière plastique transparente et non conductrice, qui porte un ensemble d'en- roulements de forme générale circulaire qui sont désignés glo- balement par la référence 4 C Conformément à une caractéristi- que de l'invention, ces enroulements 40 sont respectivement positionnés et interconnectés électriquement de façon à pro- duire un champ électromagnétique pratiquement uniforme et con- tinu dans un volume prédéterminé à l'intérieur de la bobine 16. A cet égard, la courbe 50 située sous la bobine 16 représente approximativement l'intensité du champ électrique sur la lon- gueur axiale de cette bobine. Pour maintenir ce champ 50, il existe une paire d'enroulement d'extrémité, relativement larges, ou de bobines de court-circuit, 42 et 44, et, comme on le verra ultérieure- ment, ces enroulements sont placés au potentiel de la masse de façon à établir des points de champ nul bien définis à chaque extrémité du champ 50 Entre ces deux enroulements d'extrémité 42 et 44, un ensemble d'enroulements intermédiaires ou de bobi- nes de champ 46 sont disposés de façon à produire le champ 50, pratiquement uniforme et continu Dans le mode de réalisation représenté, chacun de ces enroulements 46 consiste en une bande mince d'une matière conductrice de l'électricité, par exemple du cuivre, qui est bobinée de façon pratiquement concentrique autour du cylindre 18 Ces bandes de cuivre 46 sont espacées de façon pratiquement uniforme sur la longueur axiale de la bobine 16, entre les enroulements d'extrémité 42 et 44, ces derniers étant de préférence des bandes de cuivre notablement plus larges qui sont également bobinées de façon concentrique autour du cylindre 18 la mesure portant sur un échantillon est ainsi avantageusement limitée à un volume de mesure fixe, défini collectivement par les enroulements 46 et par le champ 50 qu'ils produisent. Dans le mode de réalisation considéré, les enroule- ments de champ 46 sont au nombre de douze et sont disposés en quatre groupes de trois, sur la longueur axiale du cylindre 18. Ces groupes de trois erroulemrents 46 sont avantageu- sement disposés de façon à faire circuler le courant dans des sens alternés, c'est-à-dire en sens d'horloge et en sens in- verse d'horloge, autour du cylindre 18 le sens d'horloge et le sens inverse d'horloge sont indiqués sur la représentation par une extrémité qui est faite sur la figure 4, à laquelle on est également invité à se reporter A cet égard, trois pre- miers enroulements 46-1, 46-2 et 46-3 font circuler le courant en sens d'horloge et l'enroulement 46-3 est connecté en série avec l'enroulement immédiatement suivant 46-4, de façon à in- verser la circulation du courant pour lui donner le sens in- verse d'horloge Par conséquent, les trois enroulements sui- vants 46-4, 46-5 et 46-6 font circuler le courant en sens in- verse d'horloge, après quoi l'enroulement 46-6 transmet le courant à l'enroulement suivant 46-7, de façon à le faire cir- culer en sens d'horloge vers l'enroulement 46-9 et dans ce dernier De façon similaire, la circulation du courant est à nouveau inversée dans les trois enroulements restants 46-10, 46-11 et 46-12 Par conséquent, on obtient une circulation de courant résultante pratiquement nulle sur la longueur axiale de la bobine 16. Les deux extrémités les plus extérieures, en direc- tion axiale, des premier et second enroulements 46-1 et 46-12, sont connectées à la masse du circuit De façon similaire, un point milieu des enroulements 46 correspondant aux extrémités les plus intérieures, en direction axiale, des enroulements 46-6 et 46-7, est également connecté à la masse du circuit A cet égard, on utilise une barrette de mise à la masse 52, d'un type approprié, pour relier ensemble ces trois points des enroulements 46 qui sont mis à la masse. Conformément à une caractéristique supplémentaire de l'invention, un courant alternatif approprié est appliqué à la bobine 16 à des points situés entre les points de masse décrits ci-dessus des enroulements 46 A cet égard, les extré- mités adjacentes respectives des enroulements 46-4 et 46-5 reçoivent un signal électrique alternatif et, de façon simi- laire, les extrémités adjacentes des enroulements 46-9 et 46-10 reçoivent le m 9 me signal électrique alternatif par une barrette de signal commune 54 On voit ainsi que le courant résultant dans l'ensemble des enroulements 46 est pratiquement égal à zéro Les interconnexions électriques précédentes sont également indiquées sous forme deschéma électrique sur la fi- gure 7, comme on le verra ci-après. Pour faire en sorte que la bobine 16 ne réagisse pratiquement qu'à la conductivité ou à la composante d'impé- dance réelle du volume de mesure qui est défini par les enrou- lements de champ 46, et donc de la partie d'un échantillon de matière qui est introduite dans ce volume de mesure, le champ électrique axial résultant est également maintenu à une valeur pratiquement égale à zéro En plus de la configuration de bo- bine décrite ci-dessus, le cylindre de commande de champ 22 contribue à obtenir cette réduction des composantes axiales du champ électrique A cet égard, le cylindre 22 est également de préférence en une matière plastique transparente non conductri- ce, et il porte un ensemble de bandes de court-circuit pour le champ, qui s'étendent axialement et qui sont espacées radiale- ment autour de la circonférence de ce cylindre, comme l'indique de façon générale la référence 56 Dans le mode de réalisation représenté, ces bandes de court-circuit 56 consistent en bandes allongées d'une matière conductrice de l'électricité, comme une feuille de cuivre, similaire à la matière utilisée pour former les enroulements de champ 46 de la bobine 16, comme décrit ci- dessus Dans le mode de réalisation représenté, ces bandes axiales 56 sont au nombre de seize et sont uniformément espa- cées à la circonférence du cylindre 22 En outre, la longueur axiale et la position axiale de chacune de ces bandes 56 sont telles que lorsque le cylindre 22 est monté de façon coaxiale à l'intérieur du cylindre de bobine 16, chacune des bandes axiales 56 s'étend au moins d'une bobine d'extrémité 42 jus- qu'à l'autre bobine d'extrémité 44, et donc sur la totalité du champ magnétique qui est prcduit dans le volume entouré par les enroulements de champ 46 Pour court-circuiter la quasi- totalité des composantes de champ électrique axial, ces bandes 56 s'étendent de préférence un peu à l'intérieur du volume qui est entouré par les enroulements de court-circuit d'extrémité respectifs, 42 et 44. Les composants précédents produisent avantageusement un champ électromagnétique bien défini qui ne contient prati- quement pas de composantes axiales de champ électrique Par conséquent, le conducteur ou la barrette de signal 54 présente une consommation d'énergie résultante qui ne varie pratique- ment qu'en fonction des pertes d'énergie active ou de la con- ductivité du volume défini à l'intérieur des enroulements de champ 46 On sait avantageusement que la conductivité de pro- duits à base de viande varie considérablement en fonction de leur teneur en graisse Par conséquent, la mesure de l'absorp- tion d'énergie active, qui est directement proportionnelle à la conductivité électrique, c'est-à-dire à la partie réelle de l'impédance, procure une bonne mesure de la teneur en graisse d'un échantillon d'un produit à base de viande A cet égard, on peut aisément placer un échantillon d'un produit à base de viande dans le volume de champ défini, par le moyen simple consistant à établir une marque ou une ligne de remplissage appropriée à l'extérieur du cylindre d'échantillon 20, comme l'indique la référence 60 sur la figure 2 Ainsi, du fait que * la paroi de fond du cylindre d'échantillon 20 pénètre quelque. peu dans la zone de la bobine de court-circuit d'extrémité 44, et du fait que la marque supérieure 60 pénètre quelque peu dans le volume situé à l'intérieur de la bobine de court-cir- cuit d'extrémité opposée, 42, le fait d'emplir le cylindre d'échantillon 20 depuis la paroi de fqod 34 jusqu'à la marque 60, au moins, garantit qu'une partie de l'échantillon se trou- ve à l'intérieur du champ 50 et emplit complètement ce champ, dans le volume qui est défini par les bobines ou enroulements de champ 46 A cet égard, il est préférable que l'échantillon du produit emplisse uniformément le cylindre d'échantillon 20. L'utilisation de produits à base de viande à l'état haché per- met de préparer le plus commodément des échantillons de ce ty- pe Du fait du champ uniforme qui est établi, comme décrit ci- dessus, ce champ ayant des composantes électriques axiales pratiquement nulles, le poids de l'échantillon introduit dans le cylindre d'échantillon 21 n'a avantageusement aucun effet sur la mesure de sa teneur en graisse Par conséquent, il n'est pas nécessaire de définir soigneusement le poids d'un échantillon, comme avec de nombreux dispositifs de mesure de l'art antérieur. On va maintenant considérer les figures 6 A et 6 B qui représentent sous forme de schéma une première partie d'un circuit de contrôle original destiné à 4 tre utilisé avec l'instrument de test de la figure 1. En considérant tout d'abord la figure 6 A, on note que dans le mode de réalisation représenté, le circuit de me- sure etd'affichage est basé sur un micro-ordinateur Il exis- te ainsi un micro-ordinateur 100, qui est de préférence du ty- pe désigné de façon générale par la référence MK 38 P 70/02 (MOSTEK). Ce micro-ordinateur 100 attaque le dispositif d'af- fichage 14 au moyen d'un circuit intégré d'attaque d'affichage 102, d'un type approprié Dans le mode de réalisation représen- té, le dispositif d'affichage 14 consiste en un panneau d'af- fichage à cristaux liquides qui comprend trois caractères al- phanumériques à sept segments, 104, 105 et 106, et un point décimal 1,-, pour afficher trois chiffres significatifs, ar- rondis au dixième le plus proche Il existe également un cer- ta-in nombre de caractères de message 109, pouvant être exci- tés sélectivement, pour indiquer diverses fonctions de test. Le circuit d'attaque d'affichage 102 consiste de préférence ern,m composant du type désigné de façon générale par la réfé- rence HWCD 438. Le mode de réalisation représenté comporte en outre trais interrupteurs 117 et trois éléments d'affichage corres- pondants à diodes électrolluminescentes, 121, qui sont destinés à sélectionner un produit ou une matière parmi trois produits ou matières différents, pour le test, et à indiquer la sélec- tion le micro-ordinateur 100 réagit à chaque interrupteur 117 en sélectionnant des données appropriées dans une mémoire 110, comne on le décrira sous peu, pour le test d'une matière ou d'un produit correspondant. Le micro-ordinateur 100 est programmé de façon à travailler sur des données reçues de la bobine de mesure 16 par l'intermédiaire de circuits associés qui sont représentés sur la figure 7, et également de façon à recevoir des données de température provenant de la sonde 32 et de circuits asso- ciés 56, 40 et 38. Un ensemble de constantes empiriques prédéterminées pour calculer le pourcentage de graisse ou de maigre contenu dans un échantillon d'une ou de plusieurs matières, est enre- gistré dans une unité de mémoire électronique 110 Dans le mo- de de réalisation représenté, cette unité de mémoire 110 con- siste en une mémoire vive non volatile Cette mémoire vive non volatile 110 consiste de préférence en une mémroire de 64 x 4 bits, du type désigné de façon génr érale par la référence XC 2210 (XICOR) Les données empiriques sont arrangées dans cet- te mémoire en 64 mots de 4 bits Par conséquent, un bus de transfert de données à 4 bits (DI, D 2, D 4, D 8) est connecté à des accès d'entrée 112 du micro-ordinateur 100, et un bus d'adresse à 6 bits, AO-L 5 est connecté à des accès de sortie 114 du micro-ordinateur 100 Une ligne de sélection de circuit OS et d'autres entrées de commande WE, AR et STO de la mémoire vive non volatile 110 sont connectées à des accès de sortie appropriés 116 du micro-ordinateur 100. On décrira brièvement le fonctionnement en notant tout d'abord que des données d'étalonnage et d'autres données empiriques destinées à être utilisées pour le test d'un cer-. tain nombre de produits différents, sont enregistrées dans la mémoire vive non volatile 110, dans laquelle ces données sont accessibles pour être modifiées si nécessaire sur les lieux d'utilisation Cette mémoire vive non volatile 110 fonctionne normalement de façon à transférer ces données de manière bidi- rectionnelle entre sa partie de mémoire vive et le micro-ordi- nateur 100 Cependant, la partie non volatile (consistant en une mémoire morte programmable effaçable électriquement) de la mémoire vive non volatile 110 est également mise en fonction automatiquement pour conserver sous forme non volatile les données provenant de la mémoire vive, lorsque l'alimentation de la mémoire vive non volatile 110 est coupée, volontairement ou accidentellement Au moment de la mise sous tension, les données sont ensuite renvoyées automatiquement vers la partie de mémoire vive Le micro-ordinateur 100 est programmé de fa- çon à accomplir ce transfert de données au moyen de ses con- nexions dirigées vers les bornes de commande Cs, WE, AR et STO de la mémoire vive non volatile 110 De plus, un disposi- tif de test en exploitation (DTE), qu'on décrira ultérieure- ment en relation avec la figure 10, peut être utilisé pour vé- rifieir ou changer les données contenues dans la mémoire vive non volatile 110 Lorsque ce DTE est branché en circuit avec le micro- ordinateur 100, il ferme le circuit allant de ce dernier vers l'entrée STO de la mémoire vive non volatile. Les données peuvent alors être transférées vers la partie de mémoire vive pour être vérifiées et/ou modifiées, puis re- transférées d'une manière similaire vers la partie de mémoire ' morte programmable, par le micro-ordinateur 100, sous l'effet d'un ordre provenant du DTE de la figure 100 On peut ainsi placer dans la mémoire vive non volatile 110 des données em- piriques appropriées pour tester n'importe quel produit désiré. Le micro-ordinateur sélectionne les données d'entrée provenant de la sonde de température 32 ou de la bobine de me- sure de champ 16, sous l'effet de la sélection par l'opérateur d'un interrupteur de commande "température/données", 119, qui attaque une entrée 120 du microordinateur 100 En réponse, le micro-ordinateur émet un signal de commande sur l'un de ses ac- cès, portant la référence 121 Ce signal de commande provenant de l'accès 121 attaque un réseau logique 122 qui reçoit les données de température sur une première entrée 124 et les don- nées de la bobine de mesure sur une seconde entrée 126 La sortie de ce réseau logique 122 attaque un accès d'interruption externe (INT EXT) du micro-ordinateur 100 Ainsi, les données qui entrent par l'accès d'interruption externe correspondent soit aux données de température, soit aux données de mesure de la bobine, conformément à la sélection effectuée par l'inter- rupteur 119. Des accès de commande supplémentaires du microproces- seur sélectionnent un élément de référence dans un but d'éta- lonnage (REFR) et effectuent un tarage automatique du zéro (ZERO) De plus, un accès de commande 128 du micro-ordinateur peut 9 tre laissé en circuit ouvert ou connecté à la masse par la manoeuvre d'un interrupteur 130 Lorsque l'accès 128 est laissé en circuit ouvert, le micro-ordinateur 100 calcule et affiche le pourcentage de graisse que contient l'échantillon. Inversement, lorsque l'interrupteur 130 est fermé, ce qui met à la masse l'accès 128, le micro-ordinateur 100 réagit en "inver- sant" la valeur indiquée, pour afficher la teneur en maigre de l'échantillon Les accès restants du micro-ordinateur 100 sont connectés au dispositif de test en exploitation (DTE) précité, qu'on décrira ultérieurement en relation avec la figure 10. Conformément à une forme préférée de l'invention, et en se référant également à la figure 6 B, on note que le circuit de mesure de température 36 qui est contenu dans l'enceinte amovible 34, est couplé au micro-ordinateur 100 par une con- figuration originale, sans contact Ainsi, l'énergie électri- que appropriée pour alimenter le circuit 36 est fournie par une liaison inductive comprenant une bobine 132 qui est ali- gnée avec une bobine secondaire complémentaire 134 qui fait partie du circuit 36 La première bobine 132 est attaquée par un signal oscillant fourni par un circuit diviseur 138 et transmis sélectivement sous l'action de la borne de commande 123 qui attaque une porte 142 Ce circuit diviseur 138 est décrit ultérieurement. Lorsqu'une mesure de température doit être effectuée, le signal présent sur l'accès 120 fait également en sorte que les données de températurelrovenant de la ligne 124 soient ap- pliquées à l'accès INT EXT du processeur, par l'intermédiaire du circuit logique de commutation 122 Un transistor d'attaque approprié 140 (par exemple du type Vn 88 AF) est utilisé pour attaquer la bobine 132 avec les signaux fournis par la porte 142 Il existe en outre à cet égard un circuit séparateur clas- sique 144 et une résistance de limitation de courant appropriée, 146, qui sont branchés en série entre la porte 142 et l'élec- trode de commande du transistor 140. Le circuit de température 36 est connecté électrique- ment à un élément de détection de température 150 contenu dans la sonde de température 32 Dans le mode de réalisation repré- senté, cet élément de détection de température 150 consiste en une source de courant réglable, sensible à la température, du type d ésigné de façon générale par la référence LX 334 Z Cet élément sensible à la température 150 est connecté à l'entrée d'un convertisseur tension-fréquence 152 qui, dans le mode de réalisation représenté, consiste en un convertisseur tension- fréquence en circuit intégré, du type désigné de façon généra- le par la référence l EM 331 AN la sortie de ce convertisseur tensionfréquence applique un signal de commande à fréquence variable, dépendant de la température, à une diode électrolu- -inescente 154 qui est connectée à une borne de sortie appro- rriée du convertisseur et qui comporte une résistance de li- mitation de courant appropriée, 156 Des composants RO passifs appropriés sont branchés à d'autres électrodes du convertis- seur tension-fréquence 152, d'tme manière classique, pour con- auire a l'excitation de la diode électroluminescente 154 à uner r-éence liée à la tenpérature que détecte l'élément de détection de température 150. De l'énergie à ceurant continu appropriée est appli- cuée au convertisseur tension-fréquence 152 par la bobine se- condaire 134, au moyen d'un régulateur de tension en circuit intégré, 158, de type classique, qui, dans le mode de réalisa- tion représenté, consiste en un régulateur de tension du type désigné de façon générale par la référence 7805 Une diode de redressement appropriée 160, une diode zener de référence 166 et des condensateurs de lissage 162, 164 sont branchés à l'en- trée du régulateur de tension 158 qui est connectée à la bobi- ne secondaire 154 La représentation analogique de la fréquen- ce-température que constitue l'illumination périodique de la diode électroluminescente 154 est détectée par un phototran- sistor 161 qui fait partie du circuit 38 monté sur la paroi 24 du cylindre 22, comme décrit ci-dessus en relation avec la fi- gure 1 Ce phototransistor 161 est branché en transistor de commutation et il reçoit sur son électrode de collecteur une tension de polarisation positive appropriée, par l'intermédiai- re d'une résistance de limitation de courant 163, tandis que son électrode d'émetteur est connectée à la masse L'électrode de collecteur constitue ainsi la sortie de signal et renvoie le signal de fréquence lié à la température vers l'entrée 124 du circuit logique de sélection de signal 122, par l'intermé- diaire d'un condensateur 165 et d'un circuit séparateur 167 appropriés, branchés en série. Conformément à une forme préférée de l'invention, le Micro-ordinateur 100 reçoit également un signal sur l'un de ses accès 129, qui indique si le cylindre d'échantillon 20 est correctement empli avec un échantillon de matière On uti- lise dans ce but un circuit approprié, qu'on décrira ultérieu- rement en relation avec la figure 8, pour contrôler l'état (correctement empli ou non) du cylindre 20, et pour appliquer un signal correspondant sur l'accès 129. On va maintenant considérer la figure 7 A qui repré- sente un circuit destiné à mesurer les pertes d'énergie acti- ve, et donc la conductivité d'un échantillon placé à l'inté- rieur du volume de mesure défini par la bobine de mesure 46. la bobine 16 qui produit le champ électromagnétique, et en particulier ses enroulements respectifs 42, 44 et 46 décrits ci-dessus en relation avec la figure 3, sont représentés ici sous la forme d'un schéma électrique Comme mentionné dans la description de ces éléments faite ci-dessus, les enroulements d'extrémité 42 et 44 sont connectés à la masse du circuit, de même que les extrémités les plus extérieures, en direction axiale, des enroulements 46 qui forment la bobine de mesure, et le point central de ces enroulements Les points de signal sont connectés à des points de la bobine 46 qui sont placés en position équidistante entre l'extrémité qui est mise à la masse et le point central Ces points de signal sont connectés à une entrée 171 d'un modulateur en circuit intégré 170. Dans le mode de réalisation représenté, le modula- teur en circuit intégré 170 consiste en un modulateur équili- bré du type désigné de façon générale par la référence MC 1496 (MOTOROLA) Cette même entrée reçoit également un signal al- ternatif approprié qui provient d'un enroulement secondaire 172 d'*un transformateur 174 dont l'enroulement primaire 176 reçoit un courant d'excitation approprié de haute fréquence provenant d'un circuit oscillateur à quartz classique, 178. Dans le mode de réalisation représenté, le circuit oscillateur 178 comprend un quartz à-10 M Iz connecté à un circuit intégré oscillateur du type désigné de façon générale par la référence SL 1680 C, connecté à des condensateurs appro- priés (non représentés), de façon à produire un signal à une fréquence de 10 M Hzo Ce signal à 10 M Hz est transmis par un circuit séparateur approprié qui comprend un transistor 180 branché en émetteur suiveur, et l'amplitude du signal résul- tant est réglée au moyen d'un potentiomètre approprié 182 Ce signal à 10 M Hz est transmis par un circuit de filtre accordé qui comprend une paire d'inductances fixes 184, 186, une paire de condensateurs fixe 188, 190 et un condensateur d'accord réglable 192 pour accorder le circuit de filtre Le signal provenant du circuit de filtre accordé attaque la bobine pri- maire 176 mentionnée ci-dessus. Le circuit précédent est attaqué par un signal à 488 Hz qui est appliqué à l'électrode de base d'un transistor 194 L'électrode de collecteur de ce transistor 194 est con- nectéeau circuit séparateur comprenant le transistor 180, pour "découper" le signal provenant de l'oscillateur 178 à une ca- dence de 488 Hz, sous l'effet du signal à 488 Hz présent sur l'électrode de base du transistor 194. Le signal à 488 Hz considéré ci-dessus est obtenu à partir du micro-ordinateur 100 de la figure 6 A par l'intermé- diaire du réseau diviseur 138 mentionné précédemment Succinc- tement, le réseau diviseur 138 comprend un premier diviseur et un second diviseur 197 connectés fondamentalement en circuit série Le premier diviseur 195 est un compteur/divi- seur fonctionnant en diviseur par quatre, du type désigné de façon générale par la référence 74 L 574, tandis que le second diviseur 197 est un compteur/diviseur binaire à 14 étages, du type désigné de façon générale par la référence CD 4020 A cet égard, le signal à 15,625 k Hz qui est appliqué-à la porte 142 de la figure 6 A provient de la sortie Q 6 du diviseur 197, tan- dis que le signal à 488 Hz provient de la sortie Qll de ce di- viseur Le réseau diviseur 138 reçoit un signal d'entrée isolé de façon appropriée,qui provient d'un quartz à 4 M Hz, 193, ce dernier fournissant également le signal d'entrée de quartz qui est appliqué au micro-ordinateur 100 pour produire une fréquen- ce appropriée d'oscillateur maître interne. Le modulateur 170 reçoit également le signal prove- nant du secondaire de transformateur 172, mais à partir de l'extrémité de ce dernier qui est opposée à sa connexion aux points de signal de la bobine de mesure 46 Une différence de phase fixe de 900 est introduite dans ce dernier signal appli- qué au modulateur 170, par l'incorporation de plusieurs con- densateurs fixes 196, branchés en parallèle La différence de phase est en outre réglée de façon à être pratiquement exac- tement égale à 900, pour compenser les erreurs éventuelles dues aux tolérances des circuits, au moyen d'un condensateur réglable 198 qui est également connecté en parallèle avec les condensateurs fixes 196 Les bornes restantes du circuit inté- gré modulateur 170 sont connectées à des composants passifs et reçoivent des niveaux de tension continue appropriés, pour produire entre les sorties 171 et 173 un signal de sortie mo- dulé qui est proportionnel à la quantité Zcos 0, dans laquelle Z est l'impédance réelle au niveau de la bobine d'échantillon 46 et 0 est la différence de phase de 900 qui est établie par les condensateurs 196 et 198. Ces sorties 171 et 173 sont couplées en'alternatif aux entrées respectives inverseuse et non inverseuse d'un am- plificateur différentiel fonctionnant en alternatif qui com- prend un amplificateur opérationnel 200 qui reçoit également sur son entrée inverseuse une tension de référence de décalage qui provient d'une résistance appropriée 202 La sortie de cet amplificateur opérationnel 200 attaque l'entrée inverseuse d'un autre amplificateur opérationnel, 204, dont l'entrée non in- verseu-se est reliée à la masse et dont la sortie 206 applique un signal amplifié de façon appropriée, n Zcos 0, à l'entrée portant la même référence, c'est-à-dire 206, de la partie du circuit qui est représentée sur la figure 7 B. En considérant maintenant la figure 7 B, on voit que l'entrée 206 attaque la borne ouverte au repos (NO) d'un in- terrupteur analogique double 208 Dans le mode de réalisation représenté, cet interrupteur analogique 208 est constitué par la moitié d'un interrupteur analogique du type désigné de fa- çon gérérale par la référence IF 13333 (National Semi-Conductor). Cet interrupteur analogique 208 comporte également une partie fermée au repos (NC) qui est attaquée directement par la sortie de l'amplificateur opérationnel 200 de la figure 7 A la partie fermée au repos et la partie ouverte au repos de l'interrupteur analogique 208 sont commandées en synchronisme par le signal à 488 Hz qui provient de la chaîne de diviseur 138 de la figure 6 A, considérée ci-dessus Ce signal est identique au signal à 488 Hz qui attaque l'entrée du transistor 194 pour découper le signal d'entrée appliqué au circuit modulateur équilibré de la figure 7 A Les signaux de sortie des contacts fermés au repos et ouverts au repos de l'interrupteur analogique 208 sont ap- pliqués en commun par l'intermédiaire d'une résistance appro- priée 210 à l'entrée inverseuse d'un amplificateur opérationnel 212 qui comporte un circuit de réaction approprié, constitué par un condensateur 209 et une résistance 211 L'entrée non in- verseuse de l'amplificateur opérationnel 212 est reliée à la masse du circuit Des composants supplémentaires appropriés sont représentés associés à l'amplificateur opérationnel 212, ce qui permet à ce circuit de fonctionner en filtre passe-bas. L'utilisation du m 6 me signal à 488 Hz synchronisé à l'entrée du circuit de la figure 7 A ainsi que pour attaquer l'interrupteur analogique 208 de la figure 7 B, permet avanta- geusement de faire fonctionner ce circuit d'une manière modulée synchrone Ainsi, l'interrupteur 208 est commandé à la manière d'un détecteur synchrone pour les signaux qui lui sont appli- qués à partir du circuit de la figure 7 A La technique de mo- dulation et de détection synchrones a l'avantage de supprimer pratiquement l'exigence d'une mattrise précise du gain et de l'erreur de décalage ainsi que d'un réglage, dans l'ensemble du circuit des figures 7 A et 7 B Par exemple, le modulateur équilibré 170 de la figure 7 A présente une tension de décalage continu importante, bien qu'habituellement stable Cependant, il n'est pas possible de prévoir le décalage continu d'un com- posant à un autre Cependant, ce problème est pratiquement ré- solu en modulant le signal avec l'effet de découpage à 488 Hz décrit ci-dessus, et en ne transmettant ainsi que les compo- santes alternatives des signaux de sortie du modulateur 170 aux circuits suivants De plus, en couplant le signal en al- ternatif et en éliminant ainsi les composantes continues, le signal de sortie du modulateur équilibré tend à suivre étroite- ment les signaux d'entrée, indépendamment des effets de dérive en température ou de la tension d'alimentation, ce qui améliore considérablement le rapport signal/bruit du signal aval De plus, l'utilisation du circuit de filtre passe-bas qui comprend l'amplificateur opérationnel 212 permet au circuit de fonction- ner essentiellement à la manière d'un filtre à Q élevé qui éli- mine pratiquement les erreurs continues et le bruit A cet égard, l'amplificateur opérationnel 212 et les circuits asso- ciés sont réglés de façon à avoir une bande passante d'environ 1 Hz centrée sur le signal à 488 Hz. Le fonctionnement du détecteur synchrone constitué par l'interrupteur analogique 208 peut 9 tre interdit sélective- ment conformément au programme du micro-ordinateur 100, par l'intermédiaire de la sortie ZERO de ce dernier Cette sortie ZERO attaque l'électrode de base d'un transistor de commutation approprié, 215, dont l'électrode d'émetteur est reliée à la masse et dont l'électrode de collecteur attaque la borne d'in- validation de l'interrupteur analogique 208. En retournant à la figure 7 A, on note que le signal de sortie de commande de référence REFR provenant du micro- ordinateur 100 est appliqué à un transistor de commutation 213 qui excite sélectivement un composant de commutation 215 pour commuter la résistance de référence 217 en parallèle sur la bobine 46, au niveau de l'entrée 171 du modulateur équilibré Conformément au fonctionnement de l'invention, le micro- ordinateur est programmé de façon à commuter cette résistance de référence en circuit pendant le cycle de mesure lorsque l'échantillon est absent du réceptacle 22 et à nouveau lorsque le cylindre d'échantillon empli 20 a été introduit dans le réceptacle d'échantillon 22 Ceci permet alors au micro-ordi- nateur 100 de fonctionner en effectuant des mesures de diffé- rence, c'est-à-dire en notant non seulement la différence en- tre les signaux "échantillon présent" et "échantillon absent" développés par le circuit de la figure 7 B, mais également la différence entre les valeurs obtenues avec un échantillon présent et un échantillon absent lorsque la résistance de ré- férence est commutée dans le circuit et hors du circuit Du fait que la valeur de cette résistance de référence 217 est choisie avec soin, connue et programmée dans le micro-ordina- teur 1 C 0, les mesures correspondant à l'état "échantillon pré- sent" et à l'état "échantillon absent" peuvent avantageusement être déterminées d'une manière encore plus précise en les cal- culant sous la forme d'une différence par rapport à la valeur connue de la résistance de référence, ainsi qu'en notant leurs valeurs absolues avec la résistance de référence hors du cir- cuit. L'utilisation de la modulation et de la détection synchrones élimine pratiquement la nécessité d'effectuer des réglages de gain dans les circuits des figures 7 A et 7 B Ceci est-vrai du fait que-le signal de sortie découpé représente fondamentalement un signal d'entrée découpé, c'est-à-dire que le signal de mesure alterne avec un rapport cylique pratique- ment égal à 50 % en l'absence de signal d'entrée En outre, du fait que l'élément de référence 217 est commuté en circuit à la fois lorsque la cellule d'échantillon est vide et lorsque la cellule d'échantillon est emplie de matière, une seconde valeur de différence est introduite dans la signal modulé, c'est-à-dire la différence de niveau de signal avec la résis- tance de référence en circuit et hors circuit Par conséquent, le signal de sortie modulé ou découpé du modulateur représente une "différence de différences", c'est-à-dire la différence en- tre l'absence de signal et le signal de mesure présent avec un rapport cycliquepratiquement égal à 50 %', et la différence su- perposée correspondant à la résistance de référence respecti- vement en circuit et hors circuit Ainsi, le détecteur syn- * chrone fournit continuellement un signal qui n'est en fait qu'une représentation analogique de la différence de gain en- tre ces niveaux, grâce à quoi toute dérive dans les valeurs absolues des gains résultant des divers composants des cir- cuits des figures 7 A et 7 B n'affecte pas la précision de la mesure. En considérant à nouveau la figure 7 B, on note que le signal de sortie du filtre passe-bas, à la sortie de l'am- plificateur opérationnel 212, attaque l'entrée d'un circuit convertisseur tension-fréquence (T-F), 214 Dans le mode de réalisation représenté, ce convertisseur T-F 214 consiste en un composant du type désigné de façon générale par la réfé- rence RC 4153 (RAYTHEON) Le convertisseur T-F 214 comporte de Q composants passifs appropriés, comme il est représenté, pour donner le rapport de conversion tension-fréquence désiré, comme il est connu dans la technique Le signal de fréquence résultant est appliqué par une sortie 216 à l'entrée portant la même référence dans le circuit de la figure 6 A En considé- rant brièvement à nouveau la figure 6 A, on voit que cette sor- tie 216 attaque une entrée restante du circuit logique de sé- lection 122, pour sa sélection en tant qu'entrée attaquant le microordinateur 100 Comme décrit précédemment, la sortie du convertisseur T-F correspond à l'entrée "données" qui est sé- lectionnée par la manipulation de l'interrupteur 119. On va maintenant considérer la figure 8 qui repré- sente un circuit de capteur associé à la diode électrolumines- cente et au phototransistor 39, 41 décrits ci-dessus en rela- tion avec la figure 1 On rappelle que la diode électrolumi- nescente 39 et la phototransistor 41 sont placés de part et d'autre du cylindre 20 de façon à détecter la présence d'un échantillon dans le cylindre d'échantillon 20, jusqu'à un ni- veau correct ou approprié pour permettre une mesure précise. Ceci constitue une vérification automatique du bon remplis- sage du tube d'échantillon par l'opérateur, en liaison avec la ligne de remplissage 60, comme il a également été mentionné précédemmento La diode électroluminescente 39 et le phototransis- tor 41 sont à rnouveau représentés sous forme de schéma élec- trique sur la figure 8 Le reste du circuit comprend une bou- cle à verrouillage de phase 400 qui reçoitle signal de sortie du phototransistor 41 par l'intermédiaire d'étages d'amplifi- cation intercalés oui comprennent des amplificateurs opération- nels 402 et 404 Dans le mode de réalisation représenté, la boucle à verrouillage de phase 400 consiste en un circuit inté- gré du type désigné de façon générale par la référence NE 567 (SIGNETICOS) Le phototransistor 41 est branché en émetteur sui- veur et il applique son signal de sortie à l'entrée inverseuse du premier amplificateur opérationnel 402 La sortie de l'am- plificateur opérationnel 402 est couplée en alternatif à l'en- trée inverseuse de l'amplificateur opérationnel 404 qui com- porte une réaction appropriée, établie par une résistance 406 et un condensateur 408 La sortie du second amplificateur opé- rationnel 404 est ensuite couplée en alternatif à l'entrée de la boucle à verrouillage de phase 400 L'électrode de collec- teur du transistor 41 ainsi que les entrées non inverseuses des amplificateurs opérationnels 402 et 404 sont polarisées à partir d'une source appropriée de potentiel continu. La sortie de l'amplificateur opérationnel 402 atta- que également l'électrode de base du transistor 41 par l'inter- médiaire de résistances appropriées 410 et 412, et le point de connexion entre ces deux résistances 410, 412 est relié à la masse par la combinaison en série d'une résistance supplémen- taire 414 et d'un condensateur 416 la sortie d'oscillateur de la boucle à verrouillage de phase 400 attaque la diode élec- troluminescente 39 par l'intermédiaire d'un transistor d'at- taque 418 qui, dans le mode de réalisation représenté, consis- te en une paire Darlington du type désigné de façon générale par la référence MPSA 18. Ce qui précède permet de voir que la boucle à ver- rouillage de phase 400 verrouille ainsi sa propre fréquence d'oscillatéur qui est utilisée pour attaquer la diode élec- troluminescente 39 Ainsi, le transistor photosensible 41 est excité sous l'effet de la fréquence de la diode électrolumines- cente 39 et le signal de sortie de ce phototransistor constitue le signal d'entrée de la boucle à verrouillage de phase 400. Par conséquent, le circuit de la figure 8 forme un circuit détecteur à diode électroluminescente, très sensible et très stable, destiné à détecter des interruptions du faisceau entre la diode électroluminescente 39 et le phototransistor 41 A ce titre, la sortie de la boucle à verrouillage de phase 400 at- taque une ligne 420 qui achemine le signal d'entrée dirigé vers l'accès 129 du micro-ordinateur 100 de la figure 6 A. On va maintenant considérer la figure 9 qui montre qu'il existe également un tube de référence, dont la configu- ration est pratiquement identique au tube d'échantillon 20 défini cidessus Cependant, les circuits associés à ce tube de référence produisent des signaux de sortie de température et de données (c'est-à-dire de données d'échantillon) de réfé- rence, au moyen des composants de circuit qui appartiennent à ce circuit et qui sont représentés sous forme de schéma élec- trique sur la figure 9. Le signal de sortie de température de référence est produit au moyen d'une diode électroluminescente 300 qui est branchée en série avec une résistance de limitation de courant appropriée, 302, et une diode 304, aux bornes d'une bobine se- condaire appropriée 306 Cette bobine secondaire est position- née dans le tube d'échantillon de façon à 9 tre en coïncidence avec la bobine primaire 132 décrite ci-dessus en relation avec la figure 6 B Par conséquent, ce circuit de température de ré- férence produit un signal de sortie prédéterminé au moyen du phototransistor 161, décrit ci-dessus en relation avec la fi- gure 6 B, avec lequel la diode électroluminescente 300 est ali- gnée. Le circuit de référence de données d'échantillon comprend la combinaison en parallèle d'une résistance fixe 308 de valeur connue et d'une bande de cuivre 310 de 6,3 mm de largeur, formant une seule spire, pour définir un élément de bobine de référence Cet élément de référence comprenant la résistance 308 et la bobine 310 est contenu dans le tube d'échantillon de façon à se trouver à l'intérieur du volume d'échantillon qui est défini par la bobine 16 décrite ci-des- sus Par conséquent, le tube de référence peut 9 tre introduit de la méme manière que le cylindre ou tube de réception d'échantillon, 20, pour transmettre une valeur de mesure au micro-ordinateur 100, par l'intermédiaire du circuit des figu- res 7 A et 7 B, de façon à vérifier le bon fonctionnement des circuits de l'invention. En considérant brièvement la figure 10, on note que le dispositif de test en exploitation (DTE) consiste en un dispositif séparé qui est représenté ici sous la forme d'un schéma électrique On peut dire brièvement que ce dispositif de test en exploitation peut etre branché au micro-ordinateur de la figure 6 A au moyen des bornes portant les m 9 mes ré- férences qui sont représentées sur la figure 10 et sur la fi- gure 6 A. Succinctement, le dispositif de test en exploitation permet d'examiner et de reprogrammer sélectivement, de la ma- nière désirée, le contenu de la mémoire vive non volatile 110 de la figure 6 A On rappelle que ce contenu consiste essen- tiellement en données empiriques que le micro-ordinateur 100 utilise pour calculer la teneur en graisse de chaque produit ou matière parmi un ensemble de produits ou matières diffé- rents. A cet égard, le DTE de la figure 10 comprend un clavier classique 400, de quatre sur quatre, qui est branché selon une configuration matricielle X-Y à un circuit intégré décodeur approprié 402 Dans le mode de réalisation représenté, ce circuit décodeur 402 consiste en un circuit intégré du type désigné par la référence 74 C 922 Des sorties de données et de commande appropriées du décodeur 402 sont connectées aux bor- nes portant les mômes référence du micro-ordinateur 100, comme il est indiqué sur la figure 10 et la figure 6 A De plus, un élément d'affichage à cristaux liquides 404, d'un type appro- prié, est attaqué par une paire de circuits d'attaque d'affi- chage à cristaux liquides 406 et 408, d'un type approprié, qui, dans le mode de réalisation représenté, consistent en compo- sants désignésde façon générale par la référence HLCD 438 A Dans le mode de réalisation représenté, l'élément d'affichage 404 consiste en un afficheur à huit chiffres avec points décimaux et virgules Les entrées de données et de commande des deux circuits d'attaque d'affichage 406 et 408 sont attaquées par les bornes portant les mêmes référencesdu microordinateur 100, comme il est indiqué sur la figure 10 et la figure 6 A. On va maintenant considérer brièvement la figure 11 qui représente un circuit d'alimentation en tension approprié, destiné à fournir des tensions continues régulées, aux niveaux désirés, aux divers composants de circuit décrits jusqu'à pré- sent On peut dire brièvement que l'alimentation comprend des régulateurs de tension variables 500, 502 et 504 Dans le mode de réalisation représenté, chaque régulateur 500 et 502 est du type désigné de façon générale par la référence 317 et il s'agit de régulateurs de tension de polarité positive fournis- sant respectivement des tensions de sortie continues régulées de + 5 et + 13,5 volts Le régulateur 504 est un régulateur de tension de polarité négative, du type désigné de façon généra- le par la référence 337, et il fournit une tension de sortie continue régulée de -13,5 volts De plus, les tensions de sor- tie régulées positives et négatives de 13,5 volts des compo- sants 502 et 504 sont appliquées à un régulateur de tension supplémentaire 506 Dans le mode de réalisation représenté, ce dernier régulateur 506 consiste en un circuit intégré du type désigné de façon générale parla référence MIC 1468 L et il fournit des tensions de sortie continues régules positives et négati- ves de 10 volts. Pendant le fonctionnement, le micro-ordinateur 100 est prog Tammé de façon à commander une séquence de fonctionne- ment prédéterminée, pour recevoir les divers signaux que pro- duit le circuit des figures 7 E et 7 B Initialement, lorsqu'un opérateur commence l'opération de test, il indique le prcduit à tester en sélectionnart l'un des interrupteurs "produit" 117, et cette sélection est indicquée par l'éclairage de la diode correspondante par:i les diodes électroluminescentes d'indicateur de sélection de produit, 119 Ensuite, le micro- ordinateur 100 reçoit le signal de sortie provenant du circuit des figures 7 A et 7 B avant qu'un échantillon de matière ait été introduit dans l'appareil Ce signal de sortie provenant du circuit des figures 7 A et 7 B est reçu à la fois avec la ré- sistance de référence 217 commutée dans le circuit et commutée hors du circuit, sous la commande du signal de sortie REFR du micro-ordinateur 100 A la suite de la réception de ces signaux, le micro-ordinateur 100 provoque l'affichage d'un message ap- proprié "introduisez l'échantillon" par les caractères 109 du panneau d'affichage 14. Ensuite, le cylindre d'échantillon 20, empli d'un échantillon de matière à tester, est introduit dans l'appareil de la manière décriteci-dessus Le circuit détecteur de la fi- gure 8 vérifie que la boîte ou cylindre d'échantillon est cor- rectement empli jusqu'au niveau désiré (jusqu'à la ligne 60 formée sur le cylindre, ou suffisamment près de cette ligne, comme décrit ci-dessus) Si le cylindre n'est pas correctement empli, un signal d'erreur approprié est présenté sur les carac- tères d'affichage 109 du panneau d'affichage 14 Lorsqu'un tube d'échantillon correctement empli a été introduit dans la machi- ne, la mesure de température est relevée initialement en ame- nant le commutateur "dot__es-tempurature" 119 sur la position température Ensuite, le micro-ordinateur 100 reçoit à nouveau les signaux qui sont fournis par la sortie du circuit des figu- res 7 A et 73, avec l'échantillon présent dans l'appareil Ces signaux sont à nouveau reçus à la fois avec la résistance de référence 217 commutée dans le circuit et commutée hors du circuit. Ce qui précède permet de voir que le micro-ordina- teur obtient des valeurs mesurées avec l'échantillon présent et absent, et avec la résistance ou l'élément de référence 217 en circuit et hors circuit Par conséquent, le micro- ordinateur est programmé de façon à calculer la teneur en graisse de l'échantillon sur la base de toutes les mesures, en calculant des valeurs de différence appropriées On notera que ce procédé élimine pratiquement de nombreuses sources d'erreurs, comme les erreurs de gain, les dérives, etc, dans l'ensemble des circuits décrits et représentés ci-dessus. Pour donner une description complète d'un mode de réalisation préféré de l'invention, on a incorporé en annexe un exemple de programme qu'on a effectivement écrit pour le micro-ordinateur 100, suivi de la traduction de commentaires utiles à la compréhension de ce programme. Il va de soi que de nombreuses modifications peuvent être apportées à l'appareil décrit et représenté, sans sortir du cadre de l'invention. nid GNV M ni ZS N Vf% 97, K- WV Il-lio 1 ro LIC 4) ro oiiii) 0-1 ?Iffl AISAO 19 iz, I cg) 8 .0 FI PY) 91 L CY) F z 1 CX) il If LY) oloz O 1 (ici grt)O OXY 10 OW(W 7 OEXIN) Id Id l"Efflticlo ' i 3 i)( zgoo 19 " ça 6 (N)C) Moo A 071 LOW 6 too 1 8 WÀ 'X) 81.00 0107, Mic) M riq elo(y) W)o OLOZ low stoo VI 6 U) lu NIWO aloi offl 6 MO MQ ?ZOO U.Do TN 801 Izoo lu C)rvw U 11,00 610 ( L Io iloo #100 1 91 AM EIO( zloo 1 ICX) VIT 03,H vú r, tai) I 531 AUWDIII ldq Il ALH 101,H IOLIH si si si SPPM 3 Z t ly i MI 'd X DI ll'Effr n> 14-U &M 3 'GPM NUI: Tl I-11 9111) '8-M 3 &MIC NU a 0 oe NM-C- ZMI(I/PW ZS HAV C-1 AZE -1 USIHDIJ IWS 3 WA 3, -1111 93-M SI HI Vd * 3 NII N 3 HI O = 1 ON 1 INY) St$ 9 zsz lw 1 C,3 D j -:Iill 'e 1 fi*** 1 *i-é-é ï - 1 fii*ii**i* 4 iii i-i i 4 fi fi i " i * fi if* '-i 444 1 **i 4; ff jei;iif 11 Il i 3 1 'li A 1 -flou re) 1 1 Di il LI - '-2 i 3 s 11:cjvljA ri 133 1 -igGt; l YMSC:', -'i M U I, v -> ai -M 11) 8 & 4 AH Ic Il WIL n 8- i 4 10 LIV VIS mi VII ul v -isil 9 flk 3 il U, Io lzia silo silo 9 1 11) 1 1 '1) lio T 10 - zila -exil fflo 4 * 4 *if -1 fflil) f Xg) f f ifflo CA l W nol) Zd Zl(X) ZOO Ct 1,1 XI 01 j > 1 O. 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R 64 Sauvegarde de la mesure pour la cellule vide 0250 R 41 " R 65 0260 Transfert: R 42 -p R 66 Sauvegarde de la référence pour la cellule vide 0261 R 43 -* R 67 0268 Mise à Jour de l'affichage 0269 Préparation pour les données de la cellule vide 0271 Retard de 0,5 seconde 0274 Recueil des données pour la cellule vide 0275 Contrôle de la plage des données pour la cellule vide 0278 BR si les données sont dans la plage 0282 Positionnement de l'erreur 4 0283 et passage au chauffage 0291 Comparaison des nouvelles données de cellule vide avec les anciennes 0292 Retour si l'écart entre les mesures ne dépasse pas 10 0294 Mise à jour de l'affichage 0296 Préparation pour la référence 0297 Retard d'une seconde 0298 Mise à jour de l'affichage 0301 Recueil des données de référence 0309 Comparaison de la nouvelle référence à l'ancienne 0310 Retour si l'écart par rapport à l'ancienne ne dépasse pas 10 0314 Positionnement de l'indicateur d'accomplissement des mesures à l'état vide 0316 Effacement de l'indicateur d'attente 0317 Positionnement de l'indicateur d'introduction 0324 Contrôle de la cellule pour l'introduction d'une cellu- le vide 0333 Sauvegarde de l'adresse des nouvelles données 0335 Soustraction des anciennes données par rapport aux nou- velles 0338 BR si un objet est dans la cellule 0341 BR si un objet est dans la cellule 0342 Dans le cas contraire, retour 0346 BR si les mesures à l'état vide sont accomplies 0347 Dans le cas contraire, répétition de la séquence corres- pondant à l'état vide 0349 Rétablissement des anciennes données pour les calculs 0379 Positionnement de l'indicateur d'attente 0383 Positionnement des indicateurs de cellule pleine 0386 Mise à jour de l'affichage 0390 Première température, temps = O 0393 temps = 1 0394 Préparation pour les données d'échantillon 0397 temps = 2 0399 Recueil des données d'échantillon 0401 temps = 3 0402 Préparation pour la référence avec la cellule pleine 0404 temps = 4 0406 Recueil des données de référence pour la cellule pleine 0408 temps = 5 0411 Contrôle de la dérive pour la référence 0438 Dérive = DELTR EC DELTR FC. 0444 BR si la dérive est excessive 0449 Chargement de l'erreur 6 ou 7 0450 Mise à jour de l'affichage 0453 Contrôle de l'état de la cellule 0454 Boucle jusqu'au changement d'état de la cellule 0456 Mise à jour de l'affichage 0459 Contrôle de l'état de la cellule 0460 Retard d'une seconde 0461 Retard d'une seconde 0462 Mise à jour de l'affichage 0463 Retard de 0,5 seconde 0467 Seconde température 0468 Réglage de la température 2 avec K 5 0470 temps = 8 0472 Chargement du compteur de retard 0474 Mise à jour de l'affichage 0477 Contrôle de l'état de la cellule 0478 Retard d'une seconde 0482 Boucle jusqu'à l'écoulement de 10 secondes 0484 Mise à jour de l'affichage 0488 Troisième température temps = 14 0489 Réglage de la température 3 avec K 5 0493 Initialisation de l'exposant -13,DIV. 0494 + 3,DPAD. 0530 Désignation du multiplicateur à 8 bits 0533 Initialisation de l'exposant + 16,MULT. -34 -6,DPADJ. 'I T 3-T 1 par un multiplicateur provenant de la table 0563 BR si la température diminue 0564 Dans le cas contraire, inversion de la correction de température 0573 Température 0575 BR pour contrôler le multiplet "BAS". 0581 BR en cas d'erreur 0583,lise à jour de l'affichage 0585 Calcul de EMME= et du pourcentage de maigre 0589 BR s'il n'y a pas d'erreur de contrôle provenant de "MIATH"II 0590 Passage à une boucle d'erreur 0594 Positionnement de l'indicateur d'accomplissement de la mesure sur l'échantillon 0596 Effacement des autres indicateurs d'affichage 0601 Chargement du compteur de retard 0603 Avance de l'affichage de SMT si l'interrupteur STEP est à l'état actif 0604 Mise à jour de l'affichage 0607 Contrôle de l'état de la cellule 0608 Retard de 0,5 seconde 0612 Boucle jusqu'à l'écoulement de 5 secondes 0614 Avance de l'affichage de SMT si l'interrupteur STEP est à l'état actif 0615 Mise à jour de l'affichage 0619 Recueil de la température 0620 Réglage de la température avec K 5 0623 Table de multiplicateurs: 0624 1 0 1 1 1 3 1 6 1 9 2 3 2 7 toujours 2 ** 6 0632 Contrôle de plage pour ETA -0633 RO= O signifie que les données sont correctes 0643 Chargement de 1, 8000 0649 Soustraction: 1,8000 données de cellule vide 0651 Contrôle pour déterminer si la différence est supérieure à 0,5000 0652 BR si les données sont hors plage 0653 BR si nécessaire pour contrôler le multiplet "BAS" 0654 Passage ici si la différence est supérieure à 0,5000 0658 Contrôle du multiplet "BAS" 0660 BR si les données sont correctes 0662 Passage ici si les données sont hors plage 0669 Test de l'affichage 0676 Diodes électroluminescentes éclairées 0677 Chargement du compteur de segments 0679 Tous les segments d'affichage sont éclairés 0689 Retard d'une seccnde 0691 Clignotement de l'affichage 0703 Extinction des dicdes électroluminescentes de produit 0004 Titre "EMME SMT FICHIER 2 REV 7 AVR 82 JAK/DICKEY-JOHN" 0019 Table: DCB à 7 segments pour le DTE 0024 Table: DCB à 7 segments pour SMT, A = ler chiffre, B = 2 ième, C = 3 ième 0034 Table: pour la conversion du numéro de clavier de DTE en numéro de fonction de DTE affecté (nombre décimal), avec codage à 7 segments pour le DTE 0046 Entrée de l'information de l'interrupteur de mode de SMT et fixation du mode 0051 BR si l'interrupteur n'est pas enfoncé 0053 Passage au mode suivant 0062 Effacement des compteurs d'événements 0072 Effacement des registres d'affichage de SMT 0082 ISAR reste dans le registre de message 0088 Effacement des registres d'affichage du DTE, à l'excep- tion des registres d'indicateur et de sélection Acheminement de l'affichage Contr 8 le du produit 0112 Effacement des registres d'affichage de SMT 0116 BR en cas d'erreur 0118 BR en cas d'attente BR en cas d'introduction 0123 Passage ici en cas d'attente 0126 Chargement du message d'attente 0129 BR en cas de chauffage 0132 L'indicateur de chargement clignote pour signaler "ATTENTE" en cas d'absence de chauffage 0139 BR si l'interrupteur EMME n'est pas enfoncé 0144 Dans le cas contraire, passage à l'affichage des données de cellule vide 0147 Passage ici en cas d'introduction 0151 Chargement du message d'introduction 0153 Passage ici pour contr 8 ler la présence et le mode du DTE 0157 Passage ici si des données doivent être affichées sur le SMT 0161 BR s'il ne s'agit pas d'un % 0164 BR s'il s'agit du pourcentage de maigre 0166 Chargement du message "% graisse" 0174 Chargement:100,0 -> R 75,76 0177 % graisse = 100,0 % maigre Sélection du facteur de conversion BTOD pour % 0184 Chargement du message "% maigre" BR s'il ne s'agit pas de EMME# 0193 Chargement du message de données 0196 Sélection du facteur de conversion BTOD pour EMME# BR s'il ne s'agit pas de degrés C 0202 Chargement du message de degrés C. 0204 Positionnement de l'indicateur d'affichage de tempéra- ture du SMT 0206 Passage au calcul des degrés C 0210 Chargement du message de degrés F 0217 Passage ici en cas d'erreur 0223 Indicateur de chargement de message d'erreur 0224 Suppression si l'indicateur est positionné 0229 Passage ici pour afficher le nombre d'erreurs 0234 Chargement de l'erreur ayant la priorité la plus élevée 0248 ISAR désigne les données 0249 Passage à la conversion du binaire au décimal 0250 Passage au codage du décimal en 7 segments 0252 Effacement des zéros de tête et fixation du point déci- mal pour le SMT 0257 BR dans le cas du mode EMME= 0263 BR si le chiffre de tête n'est pas zéro 0266 BR si le "DEMI-CHIFFRE" est égal à 1 0269 Dans le cas contraire, effacement du zéro de tête pour le mode % 0276 BR s'il ne s'agit pas d'un mode d'affichage de données 0279 Fixation de DP pour les modes % ou température 0282 BR s'il ne s'agit pas de degrés C négatifs 0286 BR s'il ne s'agit pas de degrés C 0290 Dans le cas contraire, fixation d'un signe négatif 0299 Fixation de DP pour le DTE 0308 Affichage de sortie 0309 Retour 0314 La mise à jour de l'affichage de sortie utilise RO, 1,2 0319 Chargement du compteur de segments 0321 Chargement des données présentes sur l'accès pour posi- tionner HORL à l'état haut, CHAR à l'état bas 0323 Affichage du DTE en premier 0328 BR dans le cas "DONNEES" 0330 HORL à l'état haut, DONNEES à l'état X, CHAR à l'état bas 0332 HORL à l'état bas, DONNEES à l'état X, CHAR à l'état bas 0333 Décrémienter le compteur de segments 0335 Est-ceque c'est le moment de changer les registres ? 0337 Non, effectuer seulement un décalage à gauche 0342 Décrémenter ISAR pour le registre suivant 0344 BR si l'affichage pour le DTE n'est pas terminé 0345 Dans le cas contraire, désigner les registres d'afficha- ge du SMT 0349 BR si le compteur de segments n'est pas à zéro 0351 HORL à 1 l'état bas, DONNEES à l'état bas, CHAR à l'état haut 0353 HORL à l'état bas, DONNEES à l'état bas, CHAR à l'état bas 0359 Décodage de la fonction du DTE 0363 Contrôle de la présence du DTE 0364 BR si le DTE est présent 0367 Effacement des registres d'affichage du DTE 0373 Lecture du clavier du DTE 0377 BR si ce n'est pas le mode d'enregistrement 0378 Le mode d'enregistrement est invalide ici 0383 BR s'il s'agit du chauffage 0385 BR si ce n'est pas le mode CAL 0389 BR si ce n'est pas le mode d'exécution 0396 BR si ce n'est pas le mode de préparation 0397 BR si ce n'est pas le mode d'affichage 0398 Eclairage de tous les affichages 0401 Attente ici jusqu'à ce qu'une autre touche soit sélec- tionnée 0409 Chargement du code d'affichage pour le numéro de DTE choisi 0413 Sauvegarde du chiffre dans le registre de chiffre 7 du DTE 0415 Le SMT est dans le mode de chauffage 0417 BR si le mode de préparation du DTE n'est pas sélection- né 0419 Dans le cas contraire, forçage du DTE au mode de prépa- ration d'affichage O 0421 Passage à la fin du mode chauffage 0430 Touche 9, décalage non valide, mode d'exécution 0435 Positionnement de l'indicateur de données 0438 BR s'il s'agit de la température 0442 Positionnement des indicateurs DP à la position 3 0446 BR s'il ne s'agit pas de données de cellule vide 0450 BR s'il ne s'agit pas de données de cellule vide + réfé- rence 0454 BR s'il ne s'agit pas de DELTR pour une cellule vide 0459 BR s'il ne s'agit pas de données d'échantillon 0463 BR s'il ne s'agit pas d'échantillon + référence 0467 BR s'il ne s'agit pas de DELTR d'échantillon 0472 Sélection du facteur de conversion pour BTOD 0474 Passage à la conversion du binaire en décimal 0475 Passage au codage du décimal en 7 segments 0480 BR s'il ne s'agit pas de DELTS 0483 La touche 8 est supposée être sélectionnée 0487 Passage ici s'il s'agit de la température 0489 Positionnement des indicateurs DP à la position 1 0493 Effacement de l'indicateur d'affichage de température du SMT 0494 Passage au calcul des degrés F 0501 Détermination de la différence entre deux mesures 0506 Codage de l'affichage pour le DTE 0542 Poursuite du codage de l'affichage du SMT 0549 Positionnement du "DEMI-CHIFFRE" seulement si le chiffre de plus fort poids = 1 0582 Un mode invalide a été sélectionné 0599 Degrés fahrenheit 0607 Charger 4597 0614 Passage à la détermination de la dernière température 0620 Degrés F = T 4597 0632 Degrés Celsius 0640 Charger 5/9 x 2 ** 16 pour la multiplication 0646 Charger 4917 pour la soustraction 0651 Passage à la détermination de la dernière température 0656 BR si la valeur de température = O 0660 Transférer le signe du résultat de BSUB 0661 Vers l'indicateur de signe pour les degrés C 0667 Sauvegarde du signe de la température 0669 Initialisation de l'exposant 0678 Température par 5/9 x 2 ** 16 0683 Retour 0686 Posizionnement de ISAR à la dernière température 0689 SMT affiche une température réglée 0690 BR si l'indicateur d'affichage de température du SMT est positionné 0697 BR si 56,57 ccntieent la dernière température 0701 BR si 54,55 contient la dernière température 0709 Lecture du clavier de sélection de produit du SMT 0714 La sélection de produit n'est pas autorisée 0715 Pendant qu'un échantillon est présent 0719 Validation du clavier du SMT 0720 Lecture du clavier du SMT 0727 Invalidation du clavier 0729 Contrôle de la validité de la sélection 0731 BR s'il s'agit du produit A 0733 BR s'il s'agit du produit B 0735 BR s'il ne s'agit pas du produit C 0740 Sauvegarde du nouveau produit sélectionné 0004 Titre "EMME SMT FICHIER 3 REV 23 MAR 82 JAK/DICKEY-JOHN" 0022 Mode de constante BR si le mode est valide 0031 FCNS 8 et 9 n'ont pas de mode de constante 0034 Effacement de l'indicateur de mesure accomplie à l'état vide Effacement de l'indicateur de mesure accomplie avec un échantillon 0039 Prélèvement de la constante sélectionnée dans la mémoire vive non volatile 0042 Sélection de la constante de conversion BTOD 0043 Passage à la conversion de binaire en décimal 0044 Passage au codage du décimal en 7 segments 0049 BR si le total de contr 8 le pour K est correct Chargement de "CONTROLE INCORRECT" et des indicateurs de constante 0053 Chargement de l'indicateur de constante uniquement Positionnement de DP pour le K sélectionné 0056 Effacement du SMT dans le mode d'étalonnage 0058 Affichage de sortie Lecture du clavier du DTE 0068 Affichage de zéros de partout sauf dans le chiffre de moindre poids du DTE 0073 Effacement de l'indicateur de données introduites Positionnement de DP pour le K sélectionné 0079 Affichage de sortie Lecture du clavier du DTE 0084 BR s'il ne s'agit pas de la fonction enregistrement 0089 Effacement de l'indicateur d'enregistrement, permettant d'enregistrer à nouveau 0092 BR s'il ne s'agit pas du mode d'exécution 0093 Sortie du mode d'étalonnage 0096 BR s'il s'agit du mode de préparation 0098 BR s'il s'agit du mode d'étalonnage BR s'il s'agit du mode d'affichage 0103 Positionnement de l'indicateur de données introduites 0109 Décalage d'un chiffre vers la gauche des chiffres d'affichage 1 à 5, le chiffre de plus fort poids sort 0113 Sauvegarde de DP 4 s'il est sélectionné Sauvegarde de DP 3 s'il est positionné 0127 Sauvegarde de DP 2 s'il est positionné 0134 Sauvegarde de DP 1 s'il est positionné 0139 Chargement du cade à 7 segments pour le chiffre le plus récent Dans le registre de chiffre de moindre poids, R 20 0144 Décalage dé même nombre, en décimal D'un chiffre vers la gauche 0157 Enregistrement de la constante dans la mémoire vive 0161 BR si l'enregistrement n'a pas été la dernière fonction accomplie 0166 BR si un nouvel étalonnage est introduit 0174 Affichage de "I " Conversion Chargement Chargement Chargement Chargement Chargement Adresse de en binaire de la valeur pour de la valeur pour de la valeur pour de la valeur pour l'additionneur l'additionneur l'additionneur 1 'additionneur de la valeur pour l'additionneur K à enregistrer 0220 Contrôle pour une constante à 2 fragments 0221 BR s'il ne s'agit pas de l'adresse du total de contrôle du produit 3 0223 Chargement d'un nombre de fragments égal à 2 0226 BR s'il s'agit de l'adresse du total de contrôle du produit 2 0228 BR s'il s'agit de l'adresse du total de contrôle du produit 1 0230 BR s'il s'agit de l'adresse de K 4 du produit 1 0232 BR s'il s'agit de l'adresse de K 4 du produit 2 0234 BR s'il s'agit de l'adresse de K 4 du produit 3 0237 Chargement d'un nombre de fragments égal à 4 0240 Reconfiguration des données pour la sortie vers la mémoire vive 0253 Sauvegarde des registres Q 0258 Positionnement de l'indicateur d'écriture dans la mémoire vive 0261 Fragment de données dans le registre de sortie de données 0263 Chargement de l'adresse du sous-programme dans la mémoire vive Désignation de l'adresse de retour Passage aux données de sortie L'adressé est décrémentée Le compteur de fragments est décrémenté BR s'il y a davantage de fragments BR s'il s'agit de K 5 à K 7 Restauration des registres K Retard de 0,5 seconde 0283 Positionnement de l'indicateur d'enregistrement 0284 Passage au rappel d'une nouvelle constante 0286 Calcul du total de contrôle sur K 5 à K 7 0290 Effacement de l'indicateur d'écriture de la mémoire vive 0292 Chargement de l'adresse 0294 Chargement du nombre de multiplets 0297 Effacement de l'accumulateur 0300 Chargement de l'adresse du sous-programme dans la mémoi- re vive 0301 Désignation de l'adresse de retour 0302 Passage à la lecture de la mémoire vive 0307 L'adresse est décrémentée 0310 Chargement de l'adresse du sous-programme dans la mémoire vive 0311 Désignation de l'adresse de retour 0312 Passage à la lecture de la mémoire vive 0317 Mise à jour de l'accumulateur 0319 L'adresse est décrémentée 0320 Le nombre de multiplets est décrémenté 0321 BR s'il y a davantage de multiplets à additionner 0327 Calcul du total de contrôle 0334 Chargement d'un nombre de fragments égal à 2 0336 Chargement de l'adresse du total de contrôle de K 5 à K 7 0340 Effacement de l'indication de K 5-K 7 0343 Positionnement du pointeur sur le total de contrôle 0347 Boucle de comptage de décimal en binaire 0349 RO chiffre entrant 0350 R 1,2 valeur pour l'additionneur 0351 R 3,4 sortie binaire 0364 Lecture du clavier du DTE 0369 Attente pour l'effacement du clavier 0371 BR si l'interrupteur EMME est enfoncé 0374 BR si une touche du DTE n'est pas enfoncée 0375 Introduction effectuée 0379 Saut pour l'enregistrement dans un tableau 0384 Entrée par le clavier du DTE 0390 Validation du clavier du DTE 0391 Entrée de la sélection faite par le clavier 0395 Sauvegarde du numéro de touche dans RO 0397 Invalidation du DTE 0403 Mode de préparation du SMT, lecture T-F sans modifica- tion 0410 BR s'il s'agit de la température 0412 BR s'il s'agit de données de cellule vide 0414 BR s'il s'agit de données de cellule vide + référence 0416 BR s'il s'agit de données de décalage 0418 Chargement des codes de préparation de cellule 0430 Emission du code de préparation 0434 Effacement de l'indicateur de type de données 0435 Effacement des registres d'affichage du SMT 0436 Effacement des compteurs d'événements 0437 Recueil des données PHID 0439 Passage à la conversion de binaire en décimal 0440 Passage au codage de décimal en 7 segments 0441 Affichage desortie 0442 Sortie du mode de préparation 0447 Prélèvement d'une seule constante dans la mémoire vive externe 0448 RO contient K à prélever; le résultat est dans R 4,5,6 (respectivement: total de contrôle, bits de fort poids, bits de faible poids) 0454 Contrôle du total de contrôle avant de prélever des constantes 0458 BR s'il s'agit de K 5 à K 7 0462 BR s'il ne s'agit pas du total de contrôle du produit C 0467 BR s'il ne s'agit pas du total de contrôle du produit B 0473 Chargement de l'adresse 0475 Chargement du nombre de multiplets Sauvegarde des registres Q Effacement de l'indicateur d'écriture de la mémoire vive Chargement de l'adresse du sous-programme dans la mémoire vive Désignation de l'adresse de retour Passage à la lecture d'un fragment L'adresse est décrémentée Chargement de l'adresse du sous-programme re vive dans la mémoi- Désignation de l'adresse de retour Passage à la lecture de la mémoire vive Sommation de multiplets de données L'adresse est décrémentée Le nombre de multiplets est décrémenté BR s'il y a davantage de fragments BR si les constantes sont correctes Positionnement de l'indicateur "ERREUR POUR K" Effacement de l'indicateur "ERREUR POUR K" Chargement de l'adresse pour K 5 K 7 BR s'il s'agit de K 5, K 6, K 7 BR s'il ne s'agit pas du produit C Table du produit C Chargement de l'adresse dans R 1 Sauvegarde de l'adresse de-la constante courante BR s'il ne s'agit pas du produit B Table du produit B Table du produit A Sauvegarde de K,#- BR s'il ne s'agit pas de KO Chargement de ISAR moins 2 pour KO BR s'il s'agit de K 4 Chargement de nombres de fragments Chargement de l'adresse du sous-programme dans la mémoire vive Désignation de l'adresse de retour Passage à la mémoire vive L'adresse est décrémentée Le nombre de fragments est décrémenté BR s'il y a davantage de fragments Incorporation de la constante dans un nombre à 16 bits Restauration des registres Q Adresse, fragments Sortie vers la mémoire vive non volatile ou entrée à partir de cette mémoire Adresse de sortie Sélection de circuit BR pour l'entrée de données Passage ici pour la sortie des données Sortie de données Validation d'écriture Invalidation d'écriture, invalidation de circuit Effacement des lignes d'adresse 0651 Effacement des lignes de données 0653 Chargement de l'adresse de retour 0654 Retour 0656 Entrée de données 0666 Copie externe de la mémoire vive vers la mémoire morte pour l'enregistrement permanent des constantes 0671 Affichage de zéros pour les chiffres 1 à 5 du DTE 0676 Affichage de sortie 0678 Contr 8 le de l'interrupteur STEP dans le SMT 0679 BR si l'interrupteur STEP est enfoncé 0680 Sortie si l'interrupteur STEP est relâché 0684 BR si aucune touche du DTE n'est enfoncée 0685 Lecture du clavier du DTE 0688 BR s'il n'y a aucun ordre d'enregistrement 0692 Dans le cas contraire, 0693 CHAR clignote pour l'affichage 0695 Mise à jour de l'affichage de sortie 0699 Enregistrement dans la mémoire non volatile 0702 Fin de l'impulsion d'enregistrement 0703 Retard de 250 ms 0706 Attente ici jusqu'à ce que la touche d'enregistrement ne soit plus enfoncée 0708 Restauration de l'indicateur K et effacement 0717 Restauration du nombre de constante 0718 Passage au rappel de la constante 0723 Retacrd de 250 millisecondes 0741 Fixation du point décimal pour la constante sélection- née 0749 BR s'il ne s'agit pas de DP 0751 BR s'il ne s'agit pas de K 4,K 5,K 6,K 7 0755 Fixation de DP X XXXX 0758 BR s'il ne s'agit pas de K 3 0762 Fixation de DP XX XXX 0765 Passage ici pour Kl ou K 2 0768 Fixation de DP XXX XX 0004 Titre "EMME SMT FICHIER 4 REV 13 AVR 82 JAK/DICKEYJOHN" 0023 Conversion de binaire en décimal 0024 Entrée IS, IS+ 1 Sortie, chiffre de plus fort poids 2,3,4,5,6 chiffre de moindre poids 0026 Additionneur, chiffre de moindre poids 71,72,73,74,75 chiffre de plus fort poids 0028 Additionneur = 0,00001526 pour EMM Ei' 0,1 pour % ou degrés 0,01 pour tous les autres-nombres RO = O pour tout sauf EMME#, puis= 4 0048 Transfert des données provenant des registres d'entrée 0049 Vers R 76,77 Effacement des registres de résultat 0056 Bit de fort poids du résultat 0058 Bit de moindre poids du résultat Addition de l'échelle au résultat 0118 Multiplication de l'additionneur par 2,-en décimal 0156 Décalage de 16 bits vers la droite 0171 Table: 2 constantes de conversion pour BTOD OI 80 Sous-programme de lecture de la fréquence du détecteur- de phase temps de recueil d'une seconde 0186 Chargement des compteurs à une seconde 0192 Initialisation du dernier état 0194 Passage aux nombres totalisés 0201 Positionnement de l'indicateur PHID 0202 (Indique que les données ont été recueillies) 0209 Sous-programme de vérification d'état de la cellule et d'erreur 0219 Retard de 0,5 seconde 0232 Sauvegarde de l'adresse pour la sortie de PHID 0237 Effacement de l'indicateur PHID 0239 Effaceiment de toutes les erreurs établies par ce sous- programme 0247 Entrée de l'état du capteur supérieur 0250 Entrée de l'état du capteur inférieur 0254 BR si les conditions d'état de la cellule ne sont pas remplies 0258 BR si les données ont déjà été recueillies 0262 BR pour recueillir les données 0263 Retour si le contrôle de l'état de la cellule vient d'être effectué 0268 BR s'il ne s'agit pas du recueil des données de tempé- rature 0271 BR si le mode du DTE n'est pas le mode température 0272 Dans le cas contraire, effacement de l'affichage du DTE pendant le comptage 0274 Recueil des données 0278 Transfert des données à l'adresse de retour 0294 BR si la cellule doit être pleine 0298 BR si le capzeur supérieur est à l'intérieur 0300 (erreur n O _ 3, état du capteur invalide) 0306 BR en cas de chauffage 0313 BR si les mesures à l'état vide n'ont pas été effectuées 0316 Effacement de l'indicateur d'accomplissement des mesu- res sur l'échantillon 0319 (Erreur N O 2, échantillon introduit prématurément) 0320 (Ou trop de temps pour retirer l'échantillon) 0325 La cellule doit être pleine 0328 BR si le capteur supérieur est à l'extérieur 0331 BR si la mesure portant sur l'échantillon n'a pas été effectuée 0334 (erreur N O 1, capteur inférieur à l'extérieur, capteur supérieur à l'intérieur) 0335 Echantillon retiré prématurément, refaire l'étalonnage 0339 Effacement de l'indicateur d'accomplissement de la mesure avec la cellule vide 0342 BR dans le cas du chauffage 0346 BR si le capteur inférieur est à l'intérieur 0352 Sous-programme de totalisation, compteur d'événements 0356 Entrée de nouveaux comptes 0357 Et sauvegarde 0360 Soustraction par rapport à l'ancien 0362 Sommation de la différence pour les accumulateurs 0367 Mise en place de nouveaux comptes dans le registre des comptes anciens 0374 Détermination de la priorité des erreurs 0378 Erreur 01 Echantillon retiré trop tôt 0379 Erreur 02 Échantillon introduit trop tôt 0380 Erreur 03 Etat invalide d'un capteur 0381 Erreur 04 Données de cellule vide hors plage 0382 Erreur 05 Température trop basse 0383 Erreur 06 Dérive DELTR excessive 0384 Erreur 07 Erreur sur le total de contrôle K 0390 Utilisation du numéro d'erreur pour désigner une rubri- que de la table d'erreur 0396 Positionnement des indicateurs appropriés 0399 Positionnement de l'indicateur d'erreur dans R 53 0400 Effacement des indicateurs d'accomplissement de la mesu- re sur l'ichantillon et d'accomplissement de la mesure à l'état vide 0407 2 multiplets par erreur le premier multiplet contient des indicateurs de message à positionner, le second mul- tiplet contient un indicateur d'erreur à positionner dans le registre d'erreur R 53 0414 Détection de la position inférieure lecture du cir- cuit de température pendant 500 microsecondes pour détecter l'état de la cellule 0422 Sauvegarde de la sélection du signal PHID 0425 Validation du circuit de température 0426 Retard de 10 millisecondes 0427 Retard de 10 millisecondes 0430 Effacement du compteur d'événements pour les deux capteurs 0432 Chargement du compteur de temporisation 0436 Initialisation du dernier état 0437 Passage à la totalisation des comptes 0439 BR si le comptage se poursuit 0445 BR en cas de présence de comptes > 2 0446 Dans le cas contraire 0447 Positionnement de l'indicateur de cellule vide pour la position inférieure 0450 Restauration de la sélection du signal PHID 0456 Effacement des erreurs de correspondance 0464 Utilisation du numéro d'erreur pour le pointeur de table d'erreur 0470 Le premier multiplet est ignoré 0471 Chargement de l'indicateur d'erreur à supprimer dans R 53 0474 Suppression de l'erreur émise, uniquement 0475 BR s'il y a encore une erreur positionnée 0478 Dans le cas contraire, suppression de l'indicateur d'erreur dans R 7 0484 Retard de 10 millisecondes, utilise 70,71 0505 Retard d'une demi-seconde, utilise 2, 3, 4 0526 Retard d'une seconde, utilise 0, 1, 2 000 ' TITRE "EMME SMT FICHIER 5 REV 17 MAR 82 JAK/DICKEY-JOHN" RO = ISAR au bit de moindre poids du diminuteur 0021 Ri = ISAR au bit de moindre poids de la différence 0022 ISAR au bit de meindre poids du diminuende 0023 Utilise RO,1,2,3,4,5 Seulement pour décrémenter ISAR 0074 Positionnement de l'indicateur NEG 0079 Effacement de l'indicateur NEG 0087 Sous-programme de logarithme 0089 Logarithme d'un nombre binaire à 16 bits dans R O (bits de fort poids) et R 1 (bits de moindre poids) Résultat retourné dans R 64-66 (bits de fort poids - bits de moindre poids) 0091 Plage d'entrée: de 0100 à FEFF 0093 Utilise R 0-6, 64-67 0096 Algorithme d'après KNUTH, Vol,l, P 26, EX 25 0118 Décalage du nombre vers la gauche jusqu'à la sortie d'un 1 0124 Un report signifie qu'un 1 est sorti Restauration du report précédent 0126 S'il n'y en a pas, nouveau décalage 0127 N est placé dans R 64-67 0129 Effacement des registres de résultat 0133 Chargement du chiffre de fort poids 0143 X était supérieur à 1 0144 D'o positionnement du bit de fort poids de Z Contrôle pour déterminer si X = O 0154 Soustraction binaire, 16 bits 0167 Est-ce-que T≥ 1 ?? 0168 Non, Z 4 =Z/2 0171 K est incrémenté 0172 Retour et répétition 0181 X> 1, d'o positionnement du bit de fort poids de Z 0183 Décalage de Z (K-1) fois de plus 0189 ' 3 multiplets par valeur 0191 Décrémenter 0194 ACC est égal à (K-1)* 3 Index désignant une valeur de table 0196 Additionner @DC à QISAR 0197 (Ceci uniquement pour effacer le report) 0206 Répétition du processus jusqu'à ce que X = O 0213 Effacement des registres de résultat si la valeur intro- duite était O - 0217 Décalage de 0,1 d'un bit vers la droite 0236 Table de valeurs complémentées 0241 (Inversion de l'ordre des multiplets) 0261 Normalisation de OP à IS, IS-1 0268 Contrôle pour déterminer si la valeur est égale à zéro 0269 Uniquement pour décrémenter ISAR 0270 Fin avec ISAR à IS-1 0274 Décalage 0283 Conservation du nombre de décalages 0286 Normalisation à 14 bits 0292 Décalage du résultat jusqu'à ce que 60 corresponde à zéro 0298 Zéro; retour 0302 Inférieur à zéro; décalage vers la droite 0319 > 0; décalage vers la gauche 0333 Soustraction de R 2 à partir de 60 0342 Addition de R 2 à 60 0346 Multiplication binaire, 16 x 16 0347 Résultat à 16 bits 0349 Arrondi du résultat à 16 bits 0353 Effacement du bas du multiplicande 0357 Est-ce-que le multiplicateur est déjà à zéro ? 0361 Non 0363 Décalage du multiplicande vers la droite 0377 Examen du bit de fort poids du multiplicateur 0381 Etait égal à 1 ? Addition du multiplicande au résultat 0389 Pas de changement en cas de présence de report 0390 Multiplet de résultat 0398 Multiplet haut du résultat 0400 Décalage du multiplicateur vers la gauche 0407 Suivant 0418 Division 0420 14 // 14 v résultat à 12 vits 0422 Effacement du résultat 0425 Si/0, le résultat est O 0431 R 2 est le compteur de bits 0432 Saut du décalage la première fois 0435 Décalage du numérateur vers la gauche 0441 Décalage du quotient vers la gauche 0449 Soustraction du diviseur par rapport au numérateur 0456 Multiplet bas du résultat 0467 Multiplet haut du résultat dans ACC 0470 Report en sortie l A conserver 0473 Addition de 1 au quotient 0481 BR si le compteur de bits n'est pas à zéro 0004 TITRE "EMME SMT FICHIER 6 REV 13 AVR 82 JAK/DICKEY-JOHN" 0019 Multiplication des données de température par K 5 0027 Initialisation de l'exposant 0031 Normalisation des valeurs de température Chargement de K 5 0038 BR s'il n'y a pas d'erreur de total de contr 8 ôle Dans le cas contraire, chargement de l'erreur 7 0041 Et retour à la boucle d'erreur 0043 Normalisation de K 5 Multiplication de la valeur de température par K 5 0046 Chargement de 0,001 x 2 ** 29 Multiplication par le facteur de correction K 5 0062 BR s'il s'agit de la première température 0069 BR s'il s'agit de la seconde température Dans le cas contraire, c'est la troisième température 0072 Sauvegarde de la température Calcul de EMME i, % graisse, % maigre et compensation de température 0091 Initialisation de l'exposant à 9 0104 DR est le diviseur DS est le dividende 0121 Chargement de 0,00000001 x 1 ** 42 Chargement de K 6 0152 Chargement de K 7 Transfert: R 70 R 65 Sauvegarde du résultat et de l'exposant R 71 - R 66 0174 Transfert: R 70 R 50 Enregistrement de EMME R 71 R 51 0183 Initialisation de l'exposant à 14 + 32,MULT. 0201 DT est le multiplicande 0206 Chargement de K 4 0209 BR en cas d'erreur pour le total de contrôle K 0215 (K 5 *T-4897) par K 4 0222 Par 0,00001 0228 Transfert: R 67 -y R 60 Restauration de l'exposant provenant de EMME# 0233 Addition de 1 à (KT x DT) 0237 Diviseur 0242 Transfert: R 70 R 72 1 +(KT*DT) vers le diviseur R 71 R 73 0252 Transfert: R 65 -9 R 70 EMM Ef vers le dividende R 66 R 71 0261 EX = (DS/DR) par ( 1 +KTDT) 0264 Transfert: R 70 R 65 Sauvegarde de EX et de l'expo- sant R 71 R 66 (EX est x 2 ** 15) 0273 Transfert: R 60 -i R 67 0279 Chargement de K 2 0289 Réglage de l'exposant + 32,MULT 0293 K 2 et EX 0300 K 2 (EX) par 0,1 0304 Transfert: R 75 R 62 Sauvegarde K 2 (EX)/10 R 76 R 63 0315 Transfert: R 67 -à R 60 Restauration de EX et de l'exposant 0316 L'exposant de EX est incrémenté pour le sous-programme de logarithme 0330 Transfert-: R 70 R 1 EX vers les registres de loga- rithme R 71 RO 0339 Initialisation de l'exposant à -6 + 32,MULT 0345 Transfert: R 65 R 70 Log(EX) vers le dividende 0359 Lcg(EX) par 0,693147 x 0,01 0363 Chargemenr de K 3 0379 Initialisation de l'exposant à -3 + 16,MULT 0386 Chargement de K 1 0398 K 1 par 0,1 0406 BR si T est négatif 0407 Inversion du signe de T *EMME SMT MATH 13 AVR 82 % MAIGRE = K 1 + K 2 (X) K 3 LN(X) X = EMME / ( 1 + K 4 *DT) EMME = DS/DR * K 6 * K 7 DT = K 5 *T 4897 DS = DE D DR =D R PNTR = (T 3-T 1) / (T 2-T 1) M = MULTIPLICATEUR PROVENANT DU REGISTRE A TTAB-8 +PNTR M(T 3-T 1) + T 1 = TEMPERATURE FINALE KO TOTAL DE CONTROLE SUR LES CONSTANTES - GENERE PAR L'UTILISATEUR O A 251 K 1 CONSTANTE POUR UNE EQUATION DECALAGE O A 65 ' K 2 CONSTANTE POUR UNE EQUATION CADRAGE DU TERME LINEAIRE O A 651 K 3 CONSTANTE POUR UNE EQUATION CADRAGE DU TERME LOGARITHMIQUE O A 65 K 4 COMPENSATION DE TEMPERATURE O A 0,( K 5 NORMALISATION DE LA SONDE DE TEMPERATURE O A 6,l K 6 NORMALISATION DU DIAMETRE DU TUBE O A 6,l K 7 NORMALISATION DE L'UNITE O A 6,l ,35 ,35 FACTEUR DE CORRECTION POUR LI PASSAGE DU BINAIRE AU DECIMAI DECIMAL K 1 0,1 MULTIPLICATION DE LA VALEUR INTRODUITE PAR K 2 0,1 K 3 0,1 x 0,693147 K 4 0,00001 K 5 0,0001 K 6,K 7 0,00000001 EQUIVALENT BINAIRE POUR MATH * 2 **-19 * 2 **-19 * 2 **-23 * 2 **-32 * 2 **-29 * 2 **-42 CCCC CCCC E 321 A 7 C 6 D 1 B 7 ABCC ERREUR ERREUR 03 ERREUR 04 ERREUR 05 ERREUR 06 ERREUR 07 CODES D'ERREUR EMME SMT ECHANTILLON RETIRE TROP CAPTEUR INVALIDE DONNEES DE CELLULE VIDE HORS PLAGE TEMPERATURE TROP BASSE DERIVE DELTR EXCESSIVE ERREUR SUR LE TOTAL DE CONTROLE POUR UNE CONST; 19 MAR 82 TOT (B=DEHORS,T=DEDANS) (B=DEDANS,T=DEHORS) ( 1,8 +/-0,5) (T (COMPTE > 10) K 6 K 6 K 6 K 6 K 7 K 7 K 7 K 7 TOTAL CONTROLE KI A K 7 TOUS PROD TOUS PROl KS K 5 TABLE DE LA MEMOIRE VIVE NON VOLATILE SMT EMME 4 MAR 82 1 ADRESSE il OOOOXX PROD A Ki ooolxx PROD A K 2 ooloxx PROD A K 3 oollxx PROD A K 4 oiooxx PROD B KI ololxx PROD B K 2 olloxx PROD B K 3 0111 xx PROD B K 4 loooxx PROD C Ki loolxx PROD C K 2 loloxx PROD C K 3 loilxx PROD C K 4 PROD A KI PROD A K 2 PROD A K 3 PROD A K 4 PROD B KI PROD B K 2 PROD B K 3 PROD B K 4 PROD C Ki PROD C K 2 PROD C K 3 PROD C K 4 PROD A PROD A TOTAL CONTROLE KI A K 4 PROD A PROD A KI KI PROD A PROD A K 2 K 2 PROD A PROD A K 3 K 3 PROD B PROD B TOTAL CONTROLE KI A K 4 PROD B PROD B KI Ki PROD B PROD B K 2 K 2 PROD B PROD B K 3 K 3 PROD C PROD C TOTAL CONTROLE KI A K 4 PROD C PROD C Ki Ki PROD C PROD C K 2 K 2 PROD C PROD C K 3 X 3 TOUS PROD TOUS PROD K 5 K 5 iiooxx liolxx iiioxx 111 lxx AFFECTATION DES ACCES D'E/S SMT EMME 4 MAR 82 CAPTEUR EXTERNE ACCES ACTIF AFFECTATION I O 0.0 SELECTION DE PRODUIT CLAVIER DU DTE - DONNEES DE MEMOIRE VIVE X X 0.1 f" " X X 0.2 " " X X 0.3 " " X X 0.4 HAUT CHARGEMENT AFFICHAGE X 0.5 BAS HORLOGE AFFICHAGE X 0.6 HAUT DONNEES AFFICHAGE X 0.7 HAUT CAPTEUR EN POSITION SUPERIEURE X (I) (O) 1.0 Q SELECTION D'EVENEMENT Q=HAUT=TEMP Q=BAS=DETECTEUR PHI X 1.1 Q AFFICHAGE DU RESULTAT Q=HAUT=%GRAISSE Q=BAS=%MAIGRE X 1.2 NU 1.3 HAUT TOUCHE DU DTE ENFONCEE X 1.4 HAUT SELECTION DU DETECTEUR DE PHI - DECALAGE X 1.5 BAS VALIDATION CLAVIER DE PRODUIT SMT X 1.6 BAS SELECTION DETECTEUR DE PHI REFERENCE X 1.7 BAS DTE PRESENT X (I) (O) 4.0 BAS ENREGISTREMENT EN MEMOIRE MORTE X 4.1 BAS RAPPEL RESEAU X 4.2 BAS VALIDATION ECRITURE X 4.3 BAS SELECTION DE CIRCUIT X 4.4 HAUT DEL PRODUIT A X 4.5 HAUT DEL PRODUIT B X 4.6 HAUT DEL PRODUIT C X 4.7 NU (I) (O) 5.0 HAUT ADRESSE DE MEMOIRE VIVE AO X 5.1 HAUT A 1 X 5.2 HAUT A 2 X 5.3 HAUT A 3 X 5.4 HAUT A 4 X 5.5 HAUT A 5 X 5.6 HAUT VALIDATION CLAVIER DU DTE X 5.7 HAUT INTERRUPTEUR STEP EMME X INTERRUPTION EXTERNE ENTREE DETECTEUR DE PHI OU DETECTEUR DE TEMPERATURE un 3 idwoo es a * Sw Ns 19 H 4 SKWS os H SC 9212 INNOCI L 17 u SC SSSNNOG 9 V U SC SSSNNOC Gt H SC SSSNNOC VP U sa SSSMNOC et a sa Sa SNNOG 17 H sa 99 SNNOOE IVH sa SRZNNOG op H SDNSUSJZU + somsuaisu + SDNUHSISU HDNSUSISU SNIS-1 d SNIS'Id SNIS'Id SNIS'Id + SCIA + SCIA SCIA SCII & zqnq-la D sqnqqso sqnqqs D zqnqqs D sqnqqso sqnqqz D gqnqqso sqnqqs D sanivuId Nsi SUSI Nsad LE H Sanivaadw Zi Susifflad 9 C a SUDIVN% se H SUIVU Od WEI g(IUVD 2 lAn VS IS SUDIVK% tú H SOEI Od MOI 99 SHIIIHO SOEI Od 919 IVJ SOE SUJJIHO n G saiod sq 9 ivi SG la ssuiviasi 4 asi Ni slig SOEI Od SIGIVâ SC MJJIHD 19 SHDVSSSW SSDVSSZN INS SDVHDIJJV CE H IWS SDVHDIJJV 2 C H INS RDVHDIJIV le a IWS SDVHDIJJV 00 H Ldcl SOEI Od IUOA Sa SHJàMHD 9 dcl 9 dci 17 CICI 0 ci(l ada 1 d(i 9 GI Od TMVZ,q OE SUJJIHO si G Z.Mi SIC SIG 211 C SIJICI SIG SIC ZO'VHO Id,4 V SD'VHO I J i V ZDVHOI 9 g V HDVHDIJJV SDVHOIJJV SlDVHDI,4- IV SDVHDIJJV SDVHDIJIV L el H 9 Z, a se u 112 'a E el H ie H 1 e 9 oe H lib flô lix fini IH Il n H 01 f' 6 D 2 l 11 Dsla OZU DSE DZU EOEH DSU swwlvuooud-snos sa Sqid Li u sa Sqid 91 a SKWVU Doud-snos EG Sqid 91 H swwlvu Doud-sflos SC 2111 id tl H S Un SIVOIGNI CI U S Hn Hl YDIGNI iIH SSUIVU Od NSI S Un SIVDIGNI / IVIS SCHVOS An VS il 9 Mn ZIVOIGNI 01 U g Ozu san SIVOIGNI L Ou DSIW 90 u OSIN no 9 OSIN Po H OSIN M u Osiw eo H OSI 14 10 il DSIN 00 u Sffla 11 q S q IVAVUI Sa SHIOWSW Vl SG 519 VI 9 zi FS EVN v ss 9 zsz R 53 ERREURS R 54 SECONDE TEMPERATURE R 55 SECONDE TEMPERATURE R 56 TROISIEME TEMPERATURE R 57 TROISIEME TEMPERATURE R 60 COMPTEUR D'EVENEMENTS R 61 COMPTEUR D'EVENEMENTS R 62 COMPTEUR D'EVENEMENTS R 63 COMPTEUR D'EVENEMENTS R 64 SAUVEGARDE R 65 SAUVEGARDE R 66 SAUVEGARDE R 67 SAUVEGARDE R 70 CALCULS R 71 CALCULS R 72 CALCULS R 73 CALCULS R 74 CALCULS R 75 CALCULS R 76 CALCULS R 77 CALCULS ET EXPOSANT DE MATH ET SAUVEGARDE DE MATH ET SAUVEGARDE DE MATH DE MATH DE MATH DE MATH DE MATH DE MATH DE MATH DE MATH DE MATH DE MATH DE MATH DE MATH DE MATH TABLE DES REGISTRES D'INDICATEURS SMT EMME REG 7 0 MODE D'AFFICHAGE DU SMT REG 7 1 MODE D'AFFICHAGE DU SMT ECRITURE EN MEMOIRE TEMPERATURE CHAUFFAGE ENLEVEMENT INTRODUCTION ATTENTE *ERREUR VIV; E OU = MODE % = MODE EMME = DEGRES C = DEGRES F RECUEIL DES VALEURS DE CHIFFRE 7 DU DTE CHIFFRE 7 DU DTE CHIFFRE 7 DU DTE CHIFFRE 7 DU DTE MESURE A L'ETAT VIDE EFFECTUEE MESURE SUR L'ECHANTILLON EFFECTUEE BAS DEHORS -HAUT DEHORS SECONDES ECOULEES / INVALIDATION DE L'ENREGISTRE- MENT SELECTION DE LA FORME DECIMALE POUR L'AFFICHAGE DU DTE 4 MAR 82 REG 7 2 REG 7 3 REG 7 4 REG 7 5 REG 7 6 REG 7 7 REG REG REG REG REG REG REG REG 8.0 8.1 8.2 8.3 8.4 8.5 8.6 8.7 REG 10 O REG 10 1 SELECTION DE LA FORME DECIM At&LE POUR L'AFFICHAGE DU DTE DEGRES C NEGATIFS PRODUIT A PRODUIT B PRODUIT C RESULTAT NEGATIF POUR LE SOUS-PROGRAMME DE SOUS- TRACTION AFFICHAGE DE TEMPERATURE DU SMT (ET NON AFFICHAGE DE TEMPERATURE DU DTE) ERREUR SUR LE ADRESSE DE LA ADRESSE DE LA ADRESSE DE LA ADRESSE DE LA ADRESSE DE LA ADRESSE DE LA TOTAL DE CONTROLE D'UNE CONSTANTE CONSTANTE CONSTANTE CONSTANTE CONSTANTE CONSTANTE CONSTANTE PRELEVEE PRELEVEE PRELEVEE PRELEVEE PRELEVEE PRELEVEE EN EN EN EN EN EN DERNIER DERNIER DERNIER DERNIER DERNIER DERNIER R 20 A 27 REG R O O REG R 1 REG R 2 REG REG REG REG REG REG REG REG REG REG REG REG REG REG REG REG REG REG REG REG REG REG REG REG R.3 R.4 R.5 R.6 R.7 30.0 30.1 30.2 30.3 30.4 30.5 30.6 30.7 31.0 31.1 31.2 31.3 31.4 31.5 31.6 31.7 32.0 32.1 32.2 REGISTRE D'AFFICHAGE DU FTU DP (NU POUR R 20) SEGMENT C SEGMENT D SEGMENT E SEGMENT B SEGMENT A SEGMENT F SEGMENT G %MAIGRE MESSAGE %GRAISSE MESSAGE ENLEVEMENT MESSAGE B 4 & C 4 SEGMENTS DU CHIFFRE DE FORT POIDS (DEMI-CHIFFRE) ATTENTE MESSAGE DEGRES F MESSAGE ERREUR MESSAGE DEGRES C MESSAGE DONNEES MESSAGE INTRODUCTION MESSAGE SEGMENT R 3 SEGMENT A 3 SEGMENT F 3 SEGMENT G 3 SEGMENT E 3 SEGMENT D 3 SEGMENT C 3 SEGMENT G 2 SEGMENT F 2 REG 10 2 REG REG REG REG REG 10.3 10.4 10.5 10.6 10.7 REG 11 0 REG REG REG REG REG REG REG 11 1 11.2 11.3 11.4 11.5 11; 6 11.7 SEGMENT E 2 SEGMENT D 2 SEGMENT A 2 SEGMENT C 2 SEGMENT B 2 POINT DECIMAL SEGMENT E 1 SEGMENT G 1 SEGMENT F 1 SEGMENT D 1 SEGMENT Cl SEGMENT Bl SEGMENT A 1 ERREUR 01 ERREUR 02 REG 53 2 ERREUR 03 ERREUR 04 ERREUR 05 ERREUR 06 ERREUR 07 ERREUR XX AFFICHAGE DU DTE EMME ECHANTILLON ENLEVE TROP TOT OU LE CAPTEUR DU BAS N'A RIEN DETECTE ECHANTILLON INTRODUIT TROP TOT, LA MESURE A L'ETAT VIDE N'EST PAS ENCORE TERMINEE ETAT DU CAPTEUR INVALIDE, C'EST-A-DIRE LE BAS DEDANS ET LE HAUT DEHORS DONNEES DE CELLULE VIDE HORS PLAGE TEMPERATURE TROP BASSE DERIVE DELTR EXCESSIVE ERREUR SUR LE TOTAL DE CONTROLE POUR UNE CONSTANTE NU 4 MAR 82 SEQUENCE DE CHIFFRES:8 7 6 5 4 3 2 1 A CARACTERE SEGMENTS G F A B E D C X 0 O 1 1 1 1 1 10 1 0 O O 1 O O 10 2 1 O 1 1 1 1 00 3 1 O 1 1 O 1 10 4 1 1 O 1 O O 10 1 1 1 O O 1 10 6 1 1 1 O 1 1 10 7 0 O 1 1 O O 10 8 1 1 1 1 1 1 10 9 1 1 1 1 O 1 10 REG REG REG REG REG 32.3 32.4 32.5 32.6 32.7 REG 33 O REG REG REG REG REG REG REG 33.1 33.2 33.3 33.4 33.5 33.6 33.7 REG 53 O REG 53 1 REG REG REG REG 53.3 53.4 53.5 53.6 REG 53 7 CODE BC B 6 D 2 E 6 EE FE F 6 AFFICHAGE DU SMT EMME SEQUENCE DE CHIFFRES: 4 3 2 1 SEGMENTS DU CODE SEGMENTS DU CODE CAR CHIFFRE 3 DENTBA CHIFFRE 2 DENTBB D E G F A B X X C B C A D E F G X O 11 O 1 1 1 O O 1 DC 01 1 1 1 1 1 1 O 0 FC 1 O O O 01100 0001001 04 O 110 00000 CO 2 1 1 i O 1 1 O O 1 EC 00 1 O 1 i 1 O 1 O BA- 3 1 O 1 O 1 1 O O 1 AC 01 1 1 1 1 O O 1 O F 2 4 O O 1 1 O 1 O 01 34 01 1 1 O O O 1 1 0 C 6 i O i 1 1 O O O 1 B 8 010 1 1O 1 1 0 76 6 1 1 1 1 1 O O O 1 F 8 01 O 1 1 1 11 1 0 7 E 7 0 O O O 1 1 O 01 OC 01 1 1 1 O O O O 0 EO 8 1 11 1 1 1 O 01 FC 01 11 1 1 1 1 O FE 9 1 O 1 1 1 1 O 01 BC 01 1 1 1 011016 SEGMENTS DU CODE CAR CHIFFRE 1 DENTBC AB CD F GE X O 1 1 1 1 1 O 1 0 FA 1 01100000 60 2 1 1 O 1 O 1 1 0 D 6 3 1 1 1 1 O 1 O 0 F 4 4 0 1 1 O 1 1 O 0 6 C 1 O 1 1 1 1 O 0 BC 6 1 O 1 1 1 1 1 0 BE 7 1 1 1 O O O O O EO 8 1 1 1 1 1 1 1 0 FE 9 1 1 1 1 1 1 O 0 FC SOUS-PROGRAMMES MATH DU SMT/DTE EMME 4 MAR 82 BSUB SOUSTRAIT LES DONNEES DESIGNEES PAR -RO DES DONNEES DESIGNEES PAR -ISAR ET LAISSE LE RESULTAT DANS -R 1- ISAR RETOURNE AU BIT DE FORT POIDS DE LA DIFFERENCE BSUB 3 INVERSE LE SIGNE DE LA VALEUR A 16 BITS DANS ISAR, ISAR+ 1 BTOD CONVERTIT EN DCB LE NOMBRE DESIGNE PAR -ISAR+ISAR+ 1- RO=POINTEUR DESIGNANT LE FACTEUR DE CONVERSION CORRECT (O=DONNEES 5 =EMME# 10 =% OU DEGRES) RESULTAT RETOURNE DANS "CHIFFRE DE FORT POIDS 2,3,4,5,6 CHIFFRE DE FAIBLE POIDS" NRMLZ CADRE A GAUCHE LA VALEUR A 16 BITS DANS ISAR, ISAR-1 LE NOMBRE ET LE SIGNE DES DECALAGES SONT ENREGISTRES DANS R 2 ADDEXP ADDITIONNE LES NOMBRES DANS R 2 AU REGISTRE D'EXPOSANT R 60 SUBEXP SOUSTRAIT LES NOMBRES DANS R 2 DU REGISTRE D'EXPOSANT R 60 SHRES DECALE LE RESULTAT DANS R 75,76 AVEC LE SIGNE ET LA VALEUR ABSOLUE DU REGISTRE D'EXPOSANT R 60 MULBIN MULTIPLIE 70,71 PAR 72,73 RESULTAT DANS 75,76 DIVBIN DIVISE 70,71 PAR 72,73 RESULTAT DANS 75,76 LOG PREND LE LOG EN BASE 2 DU NOMBRE DANS RO,R 1 RESULTAT DANS "CHIFFRE DE FAIBLE POIDS R 64-R 66 CHIFFRE DE FORT POIDS SEQUENCE DE MATH DU SMT EMME POUR % MAIGRE 1) INIT EXPOSANT = 9 + 16,DPADJ + 48,MULT -13,DIV -42,K 6,K 7 2) BSUB DR = D R 3) NRM 14 DIVISEUR DR 4) ADDEXP ) BSUB DS = DE D 6) NRM 14 DIVIDENDE DS 7) SUBEXP 8) DIVBIN DS / DR 9) LOAD O,OOO 00001 K 6,K 7, FACTEUR DE CORRECTION ) NRMLZ DS /DR 11) SUBEXP 12) MULBIN DS/DR PAR 0,00000001 13) LOAD K 6 14) NRMLZ K 6 ) SUBEXP 16) MULBIN (DS/DR X 0,00000001) PAR K 7 17) LOAD K 7 18) NRMLZ K 7 19) SUBEXP ) NULBIN K 6 (DS/DR X 0,00000001) PAR K 7 21) SAVE K 6 K 7 DS/DR (EMME 4) 22) SHRES 23) STORE EMME# POUR AFFICHAGE 24) INIT EXPOSANT = 3 + 32,MULT -29,K 5 -25) NRMLZ TEMPERATURE 26) SUBEXP 27) LOAD K 5 28) NRMLZ K 5 29) SUBEXP) MULBIN TEMPERATURE PAR K 5 31) LOAD 0,0001 K 5, FACTEUR DE CORRECTION 32) MULBIN K 5 T PAR 0,0001 *33) SHRES 34) INIT EXPOSANT = 14 + 32,MULT + 14,DPADJ -32,K 4 ) LOAD 36) BSUB 37) NRMLZ 38) SUBEXP 39) LOAD ) NRMLZ 41) SUBEXP 42) MULBIN 43) LOAD 44) MULBIN ) SHRES 46) RESTORE 47) ADD 48) NRMLZ 49) ADDEXP ) DIVBIN 51) SAVE 52) LOAD 53) NRMLZ 54) SUBEXP ) NRMLZ 56) SUBEXP 57) ADDEXP 58) MULBIN 59) LOAD ) MULBIN 61) SHRES 62) SAVE 63) RESTORE 64) DPADJ ) SHRES 66) LOG- 67) INIT 68) LOAD 69) MULBIN ) LOAD 71) MULBIN 72) SHRES 73) BSUB 74) INIT ) LOAD 76) NRMLZ 77) SUBEXP 78) LOAD 79) MULBIN ) SHRES 81) BSUB 3 82) BSUB 83) STORE K 5 K 5 K 4 K 4 (K O,1 K 4 EXl 1,' DI EX EX K 2 K 2 EX + 3; EX O, K 2: K 2 l EX INI LE T 4897 T-4897 T-4897) PAR K 4 00001 K 4 FACTEUR DE CORRECTION (K 5 T-4897) PAR 0,00001 POSANT VENANT DE EMME $ 0000 VERS K 4 (K 5 T-4897) VISEUR 1 +K 4 (K 5 T-4897) ( 21) = EMME# PAR 1 +K 4 (K 5 T-4897) ET EXPOSANT 2,MULT -19,K 2 PAR K 2 1 K 2, FACTEUR EX PAR 0,1 -15,DPADJ DE CORRECTION EX ET EXPOSANT CREMENTE DP POUR POSITIONNER SOUS-PROGRAMME LOG LES DONNEES POUR EX (LE RESULTAT LOGARITHMIQUE EST TOUJOURS POSI-. TIF) EXPOSANT = -3 + 32,MULT -12,LOG -23,K 3,LOG VERS LN 0,00693147 K 3 ET LOG( 2) VERS LOG(E), FACTEUR DE CONVERSION EX PAR 0,00693147 K 3 EX PAR K 3 - M = KZ(EX) K 3 (LN(EX)) (LN POSITIF) EXPOSANT = -3 + 16,MULT -19,Kl K 1 K 1 0,1 K 1, FACTEUR DE CORRECTION K 1 PAR 0,1 INVERSION DU SIGNE DE M SI M EST POSITIF K 1 (-M) % MAIGRE REVENDICATIONS 1 Appareil de test destiné à la mesure de la quan- tité d'au moins un constituant présent dans un échantillon de matière, dans lequel ce ou ces constituants présentent une relation connue par rapport à la conductivité électrique de l'échantillon, cet appareil comprenant un capteur qui comporte un réceptacle destiné à recevoir un échantillon de matière à l'intérieur et-définissant un axe, et un dispositif généra- teur de champ destiné à produire un champ électromagnétique à l'intérieur du réceptacle; caractérisé en ce que le dispo- sitif générateur de champ comprend une bobine de champ ( 16) comportant des enroulements d'extrémité ( 42, 44) reliés à la masse, pour confiner pratiquement le champ électromagnétique à un volume fixe et prédéterminé à l'intérieur du réceptacle et des enroulements intermédiaires ( 46) destinés à produire un champ électromagnétique d'intensité pratiquement constante dans la totalité du volume fixe et prédéterminé, et de maniè- re pratiquement coaxiale par rapport à ce volume. 2 Appareil selon la revendication 1, comprenant en outre un circuit de contrôle branché à la bobine de champ et réagissant à celle-ci en produisant un signal de sortie qui présente une relation prédéterminée par rapport à l'impédance réelle de la bobine de champ, aussi bien lorsqu'elle est vide que lorsque l'échantillon est logé à l'intérieur; caractérisé en ce que le circuit de contrôle comporte un modulateur équi- libré ( 170) qui est branché à la bobine de champ de façon à être pratiquement insensible à la constante diélectrique de la bobine de champ ou de l'échantillon ou des deux. 3 Appareil selon la revendication 1, caractérisé en ce que la bobine de champ est portée par un corps cylindrique ( 18) qui entoure le réceptacle de manière pratiquement coaxia- le. 4 Dispositif selon la revendication 3, caractérisé en ce qu'il comporte une boite d'échantillon ( 20) qu'on peut introduire dans le réceptacle et extraire de celui-ci et qui a des dimensions similaires à celles du réceptacle. Appareil selon la revendication 3, caractérisé en ce que les enroulements intermédiaires ( 46) comprennent un ensemble d'enroulements disposés d'une manière générale ccaxiale autour du corps cylindrique ( 18) et interconnectés électriquement de façon à produire un champ magnétique pra- tiquement continu et uniforme sur leur longueur axiale. 6 Appareil selon la revendication 1, caractérisé en ce que le dispositif générateur de champ comprend en outre un élément de commande de champ ( 30) destiné à éliminer pratiquement les composantes axiales de champ électrique dans le champ électromagnétique. 7 Appareil selon la revendication 6, caractérisé en ce que l'élément de commande de champ comprend un ensem- ble de bandes conductrices de l'électricité ( 56) s'étendant axialement et alignées de façon coaxiale par rapport à la bobine de champ ( 16). 8 Appareil selon la revendication 7, caractérisé en ce que les bandes conductrices de l'électricité ( 56) sont portées, de façon espacée radialement, sur un cylindre ( 30) qui est monté de façon coaxiale à l'intérieur de la bobine de champ ( 16). 9 Appareil selon la revendication 2, caractérisé en ce que les enroulements d'extrémité ( 42, 44) comprennent une paire d'enroulements respectifs extérieurs en direction axiale, reliés à un potentiel de masse, et en ce que les enroulements intermédiaires ( 46) comprennent un ensemble d'enroulements situés en position intermédiaire entre les enroulements extérieurs en direction axiale ( 42, 44), qui sont interconnectés électriquement de façon à diriger les courants électriques qui les traversent en sens d'horloge et en sens inverse d'horloge, selon une séquence prédéterminée, de façon à obtenir un courant résultant pratiquement égal à zéro dans la direction axiale. Appareil selon la revendication 9, caractérisé en ce que les enroulements intermédiaires ( 46) comprennent un ensemble de bandes de conducteurs pratiquement cylindri- ques et équidistantes ( 46-1, 46-2, etc), arrangées en un nombre pair de groupes, chaque groupe contenant un même nom- bre de conducteurs, et tous les conducteurs étant branchés en un circuit électrique série, tandis que les groupes successifs de conducteurs sont interconnectés de façon à faire circuler le courant alternativement en sens d'horloge et en sens inverse d'horloge de groupe en groupe. 11 Appareil selon la revendication 10, caractéri- sé en ce que les extrémités respectives les plus extérieures er direction axiale des enroulements intermédiaires ( 46) et un point central de ces enroulements sont reliés à un poten- tiel de masse, et en ce que le circuit de contrôle est bran- ché aux enroulements intermédiaires ( 46) à deux points prati- quement équidistants de leur point central et de chacune de leurs extrémités. 12 Appareil selon la revendication 2 ou la reven- dication 11, caractérisé en ce que le circuit modulateur équilibré ( 170) produit un signal de sortie modulé directe- ment proportionnel à la puissance active absorbée dans la bobine de champ ( 16) et présentant une relation prédéterminée par rapport à la conductivité du volume fixe et prédéterminé qui est défini par la bobine de champ, en présence ou en l'absence d'un échantillon. 13 Appareil selon la revendication 12, caractérisé en ce que le circuit de contrôle comprend un micro-ordinateur ( 100) qui réagit au signal de sortie modulé en calculant la quantité du ou des constituants présents dans l'échantillon et en produisant un signal de sortie correspondant de teneur en constituant. 14 Appareil selon la revendication 13, caractérisé en ce qu'il comprend un élément de référence ( 217) et un interrupteur ( 215) pour commuter cet élément de référence en circuit et hors circuit par rapport à la bobine de champ, lorsque l'échantillon est présent et lorsque l'échantillon est absent, ce qui définit une référence pour le signal de sortie modulé - Appareil selon la revendication 13, caractéri- sé en ce que le circuit de contrôle comprend au moins une mémoire vive non volatile ( 110) qui est reliée fonctionnelle- ment au micro-ordinateur ( 100) pour enregistrer un certain nombre de constantes empiriques destinées à être utilisées par le micro-ordinateur dans le calcul des teneurs de l'échan- tillon en constituants sélectionnés. 16 Appareil selon la revendication 13, caractéri- sé en ce qu'il comporte un capteur de température ( 150) disposé de façon à mesurer la température de l'échantillon et un circuit électro-optique ( 154, 161) qui relie fonctionnel- lement le capteur de température ( 150) au micro-ordinateur ( 100), et ce micro-ordinateur ( 100) réagit au capteur de tem- pérature ( 150) en calculant la teneur en constituant en con- formité avec la température de l'échantillon. 17 Appareil selon la revendication 13, caractéri- sé en-ce qu'il comprend un circuit oscillateur ( 178) destiné à fournir un signal sinusoïdal ayant une fréquence prédétermi- née, et un circuit de découpage ( 180, 184) destiné à découper le signal sinusoïdal à une seconde fréquence prédéterminée; et en ce que le modulateur équilibré ( 170) applique le signal de sortie modulé à un circuit détecteur synchrone ( 204) qui est modulé par le signal à la seconde fréquence prédéterminée, ce qui définit un circuit à modulation et démodulation syn- chrones. 18 Appareil selon la revendication 17, caractéri- sé en ce que le circuit de contrôle comprend en outre un ampli- ficateur alternatif différentiel ( 200) qui est branché entre le modulateur équilibré ( 170) et le circuit détecteur synchrone ( 204).