FR 2518264 A1 19830617 FR 8220639 A 19821209 La présente invention se rapporte à un procédé et à un appareil pour détecter la présence ou l'absence d'un revêtement sur un substrat Plus particulièrement, la présente invention se rapporte à l'évaluation de l'effi- cacité de procédés d'enduction de matières en feuilles, telles que du papier, de l'étoffe, des pellicules ou ana- logues, effectuée en utilisant les principes de la réflexion interne totale de la lumière dite sujette à contrainte. Le phénomène de la réflexion interne totale de la lumière est connu depuis longtemps dans le domaine de l'optique D'une manière succincte, ce phénomène est l'ob- servation que, lorsqu'un faisceau de lumière est dirigé sur une première surface d'extrémité d'un milieu s'étendant longitudinalement ayant un indice de réfraction relative- ment élevé et entouré d'un second milieu ayant un indice de réfraction relativement faible, la lumière ne traverse pas l'interface longitudinale mais est au contraire réflé- chie en retour dans le premier milieu Finalement, après avoir effectué des réflexions internes totales successives, la lumière, ayant traversé le premier milieu dans le sens de la longueur de ce dernier, sort par l'extrémité opposée à la première extrémité En d'autres termes, la lumière est emprisonnée pratiquement complètement à l'intérieur du premier milieu et ne s'échappe pas du premier milieu le long de son interface longitudinale On sait également que, dans le processus de réflexion interne totale, une partie du champ électromagnétique associé s'échappe effectivement de l'interface sous la forme d'un champ évanescent perpen- diculaire à l'interface des milieux, qui ne se propage pas, et dont l'amplitude diminue rapidement dans le second milieu à un taux d'affaiblissement exponentiel en fonction de la distance de l'interface Ce principe est décrit et appliqué dans l'ouvrage "Internal Reflection Spectroscopy" (Spectros- copie à réflexion interne) de N J Harwick, Harwick Scien- tiric Corporation, Ossing, New-York, EUA ( 1979). 18264 Dans la publication ci-dessus mentionnée, l'emploi du principe de la réflexion interne totale sujette à contrainte a été suggéré pour diverses applications telles que, par exemple, dans un appareil pour prendre les emprein- tes digitales sans encre. On a maintenant découvert que le phénomène de la réflexion interne totale sujette à contrainte peut être utilisé pour déterminer et contrôler la présence ou l'ab- sence d'un mince revêtement sur une matière en feuille, telle que du papier, de la toile ou analogue On a découvert qu'on peut utiliser un tel procédé et un appareil pour la mise en oeuvre de ce procédé, essentiellement indépendam- ment des propriétés réfléchissantes du revêtement ou du substrat sur lequel le revêtement est appliqué. Conformément au procédé de la présente invention, la surface d'un substrat portant le revêtement à contrôler est placée en contact optique avec un guide de lumière. Dans le sens o elle est utilisée ici, l'expression "guide de lumière" signifie un milieu ayant la propriété de réfléchir intérieurement la lumière pratiquement totalement. En d'autres termes, un tel guide de lumière-comprend un milieu qui s'étend dans une direction longitudinale limitée par des première et seconde surfaces d'extrémité et par des interfaces longitudinales avec le milieu environnant. Lorsqu'un faisceau de lumière est dirigé sur la première surface d'extrémité d'un tel guide de lumière de telle sorte que le faisceau de lumière frappe l'interface longi- tudinale entre le guide de lumière et le milieu qui l'en- toure, obliquement, la lumière est alors réfléchie essen- tiellement totalement en retour dans le guide de lumière à unangle de réflexion essentiellement égal à l'angle d'inci- dence par rapport à l'interface longitudinale Conformément à la théorie admise, un certain champ électromagnétique s'échappe du guide de lumière au point d'incidence avec l'interface longitudinale Ce champ de fuite se présente i$af 4 sous forme d'urneondc 6 vanescente perpendiculaire à linter- rface des milieux, qui ne se propage pas, champ dont l'ampli- tude diminue rapidement suivant une fonction exponentielle de la distance de l'interfacez Le degré représentatif de l'importance de la réflexion die l' énergie l umineuse en retour dans le guide de lumière par rapport à une réflexion totale est, entre autres facteurs, une fonction de la valeur de l'indice de réfrac- tion du milieu du guide de lumière par rapport à celle de l'indice 0 de réfraction du milieu,i 9 ntcure l'interface longitudinale Par exemple, une tige de verre ayant un indice de réfraction élevé par rapport à celui de l'air qui l'entoure présente- ra un degré élevé de réflexion interne totale D'autre part, si l'on presse un milieu environnant tel que, par exemple, du papier revêtu ou enduit contre la tige de verre, la réflexion interne totale da la lumière est contrecarrée et la lumière peut fuir dans le milieu environnant o elle est diffusée, transmise ou absorbée Dans le sens o elle est utilisée ici, l'expression "contact optique" sert à désigner la mise en contact suffisamment intime d'un milieu ayant un indice de réfraction donné, tel que par exemple> la surface revêtue d'un subs Lrat,et d'unesurface d'"n guide de lumière, pour qu'il ait un effet mesurable sur le degré de réflexion interne totale du guide de lumière par opposi- tion au degré de réflexion interne totale présenté par le guide de lumiëre en contact avec un milieu ayant un plus faible indice de réfraction, par exempl e l'air dont l'indi- ce de réfraction est égal à un. Conformément au procédé de la présente invention on place une surface revêtue en contact optique avec un guide de lumière et on mesure la quantité de lumière qui fuit hors du guide de ilumiere et est di Ffusée dans le milieu en contact Touote soli Jtion de continui%é ou "vide" dans le revêtement sui Yani le sens de la longueur de l'interface entre le guide de lumière et la surface revêtue a pour résultat qu'une moindre quantité de lumière fuit hors du guide de lumière dans la région o se trouve la solution de continuité et, par conséquent, il est possible de détecter la solution de continuité. Il est également prévu un appareil pour la mise en oeuvre du procédé de la présente invention, cet appareil comprenant un guide de lumière ayant une interface longitu- dinale et des première et seconde surfaces d'extrémités. Il est prévu une source de lumière pour diriger un faisceau de lumière sur la première surface d'extrémité Des moyens sont prévus pour placer un substrat revêtu en contact optique avec l'interface longitudinale du guide de lumière et des moyens de détection de fuite de lumière sont prévus pour mesurer la lumière qui fuit hors de l'interface longi- tudinale jusqu'au substrat revêtu et est diffusée, transmise ou absorbée. Dans un mode de réalisation spécifique, plusieurs moyens de détection de fuite de lumière sont prévus le long de l'interface de telle sorte que les régions revêtues et non revêtues peuvent être contrôlées par les moyens de détection de fuite de lumière Plus précisément, les moyens de détection de la lumière peuvent etre constitués par des photodétecteurs, tels que des photodiodes, qui sont capa- bles d'engendrer un signal électrique proportionnel à l'intensité lumineuse détectée Un tel signal peut être amplifié et utilisé pour actionner un dispositif servant à signaler la présence ou l'absence d'une solution de continuité dans le revêtement. D'autres caractéristiques de l'invention apparaitront à la lecture de la description qui va suivre et à l'examen des dessins annexés dans lesquels la Figure 1 est une représentation schématique illus- trant le procédé de la présente invention pour détecter la présence ou l'absence d'un revêtement sur un substrat; la Figure 2 est une vue en coupe longitudinale d'un appareil pour mettre en oeuvre les enseignements de l'in- vention; la Figure 3 est une vue en coupe transversale de l'appareil de la Figure 2; et la Figure 4 est une schéma de circuit représentant un circuit électrique utilisé pour contrôler et signaler les solutions de continuité détectées par l'appareil de la Figure 2. Sur la Figure 1 des dessins à laquelle on se référe- ra maintenant, on a représenté une vue en coupe longitudi- nale fortement agrandie et extrêmement schématique d'un appareil conçu pour utiliser le procédé de la présente invention pour détecter les solutions de continuité ou vides dans le revêtement d'un substrat Le substrat 10 peut être, par exemple, une matière en feuille d'un type quelconque auquel un revêtement doit être appliqué soit dans des zones spécifiques, telles que des points, des lignes, des plaques ou analogues, s*oit même sur toute la largeur de la matière en feuille De tels substrats peuvent, par exemple, être notamment du papier, de la toile ou une pellicule, substrats sur lesquels des revêtements, tels que des vaporisations d'huile, des produits cohésifs, des produits adhésifs, des pellicules de ramification de divers types et des produits analogues sont appliqués Pour-plus de simplicité, le revêtement 12 représenté sur la Figure 1 a été choisi comme étant un revêtement qui est destiné à être appliqué uniformément sur la surface 14 du substrat mais on comprendra que les enseignements de la présente invention sont faciles à appliquer au contrôle de revête- ments destinés à être appliqués sous diverses configurations prédéterminées. Le but de l'appareil représenté sur la Figure 1 est de détecter la présence de solutions de continuité ou vides, tels que le vide 16, dans le revêtement 12 A cette fin, 18264 on place le substrat enduit ou revêtu 10 en contact avec un guide de lumière 18 Le guide de lumière 18 est un élément transmettant la lumière s'étendant longitudinale- ment qui peut être en verre, en quartz, en saphir ou autre matière appropriée et a une première surface d'extrémité , une seconde surface d'extrémité 22 et des interfaces longitudinales 24 et 26, c'est-à-dire les interfaces entre le guide de lumière et le milieu ou les milieux qui l'en- tourent On doit comprendre que, tandis qu'aux fins de l'explication, on a représenté le guide comme étant allongé dans une direction longitudinale, les enseignements de la présente invention ne sont pas limités à une configuration géométrique particulière et qu'au contraire une telle con- figuration est choisie pour répondre au mieux aux conditions de l'application particulière des procédés décrits ici On considère que la configuration représentée sur la Figure 1 convient dans le but de contrôler des revêtements s'étendant sur toute la largeur d'une bande ou feuille. Le guide de lumière 18 est choisi comme étant un élé- ment qui présente la propriété d'une réflexion interne pratiquement totale de la lumière lorsqu'un faisceau de lumière, tel que le faisceau 28, est dirigé sur la première face d'extrémité 20 de façon à frapper l'interface 24 au niveau d'un point 30 ' selon un angle g qui est supérieur à l'angle critique gc Dans ces circonstances, le faisceau de lumière est réfléchi d'une interface longitudinale à l'autre interface longitudinale dans un trajet en zig-zag et il sort finalement par la seconde surface d'extrémité opposée 22 La quasi-totalité de l'énergie lumineuse est transmise de cette manière On peut facilement déterminer l'angle critique pour un appareil donné, par étalonnage. La théorie admise par hypothèse comme régissant le phénomène de la réflexion interne de la lumière est décrite dans un article intitulé "Application of Internal Reflective úpetr:oopy the Study of Absorbed Layers at interfaces" srngle G erst êga 1 le fonction sin N 1 /n 2) dans laquel- cn 2 2 est 1 'indic, de réfraction du milieu du guide de lu- nibre et N 1 i est l'Jtie d ro-Facti'on du milieu situé à linterface ocluiee avuc le guide de lumière La thc Iiorie preser- u dtjelement que, pour qu'il y ait réfraction i.nterne, N 2 doit ttrt,: supérieur à N 1 i, Conf rmmert 3 ux enseignements de la présente invention, on place le revêtetmen L 12 du substzat 10 en contact optique avec l'interface lor-1itudi-nale 24 du guide optique 18 et on dirige un faisceau de lumière 28 sur la surface d'extré- mité 20. Four assurer le contact Ir-iu, lmilieu en contact doit zavc,ir -ue indice cie 2 dî consupé ' sur ê 1 'unic 6 et, de préf&érenctc egal à celui du guide de lumière qui est typiqvenen supérieur à > 2 et es-t par? exemple 1,5 En -Dsend lieu, le l en# contact doit conserver un cont-act intie urlorbe a a surface lo-ng-itud-inale du gui de de lumière dçe façre-m uw'e 7 distances entre les deux sur faces soit infrîz ô,; micromètre, c'est-û-oize approma tivement le etc de la longueur d'onde de la lumière. l n'existe çue deux -moyens de mai n-enir un tel contact intime avec i srfc dure È 11 Rui da de lumiẻe Un de ces moyens coii-t -:2 vire ce unq précision optique une 0 autre surface dure Le second consiste à établir un contact_ avec une matière qui présente une certaine "élasticité" due au fluage C'est ce dernier moyen que l'on utilise pour la détection des revêtements Par exemple, un papier non revêtu pressé contre le verre ne produit pas un contact optique quelque soit l'indice de réfraction-du papier, en ce sens que la surface du papier, à la micro-échelle des longueurs d'onde optiques, est rugueuse de sorte qu'il n'existe que des points de contact occasionnels avec un guide de lumière en verre Par contre, un papier muni d'un revêtement adhésif ou cohésif forme un contact optique du fait de l'effet combiné des forces de liaisons entre le revêtement et le verre et du fluage de la matière de revêtement qui aplanit la rugosité du papier On estime que l'on peut détecter un contraste mesurable dans la lumière qui fuit entre un papier revêtu et un papier non revêtu lorsque la surface revêtue établit un contact opti- que sur au moins 20 % de son interface longitudinale avec le guide de lumière, c'est-à-dire qu'au moins 4 % de la surface revêtue est à moins de 0,1 micromètre du guide de lumière. Il est, par conséquent, important d'être assuré que le substrat revêtu est en contact intime avec le guide de lumière On peut commander le degré de contact en appli- quant une pression de l'échantillon qui est contrôlé et on peut facilement déterminer par étalonnage le degré de pression requis En pratique, on a trouvé utile d'appliquer des pressions comprises entre environ 68 millibars et environ 1380 millibars pour un revêtement cohésif. Comme représenté sur la Figure 1 àlaquelle on se référera à nouveau, du fait du contact optique entre le revêtement et le guide de lumière, à un point d'incidence, par exemple, au point d'incidence 30, le phénomène de réflexion interne totale est détruit et une petite quantité d'énergie lumineuse fuit à travers l'interface Une telle lumière de fuite est absorbée, transmise ou diffusée par le revêtement ou par le substrat 10 à divers degrés selon les caractéristiques optiques du substrat revêtu. Des moyens sont prévus pour mesurer l'énergie lumineuse de fuite Il doit être bien compris que, dans le mode de réalisation de l'invention le plus simple, les moyens de détection de la fuite de lumière peuvent simplement compor- ter des moyens pour permettre l'observation visuelle, par un homme, de la lumière ayant fui Comme représenté sur la Figure 1, de tels moyens mesurent la partie de lumière de fuite qui est diffusée à partir de l'interface 24 ou du substrat 10 en retour à travers le guide de lumière 18 et. sort à travers de l'interface longitudinale opposée 26 Dans le mode de réalisation de la Figure 1, les moyens utilisés pour mesurer la lumière diffusée qui fuit à travers l'inter- face 26 comprennent une lentille 32 qui focalise cette lumière diffusée sur un dispositif photodétecteur, tel qu'une photodiode 34 La photodiode 34, à son tour, produit un signal électrique proportionnel à l'énergie lumineuse diffusée. Pour détecter des solutions de continuité ou vides dans le revêtement, une série de moyens de mesure de lumière de fuite, tels que la lentille 32 et la diode 34, sont dis- posés le long du trajet longitudinal du guide de lumière. Lorsqu'il existe une solution de continuité dans le revête- ment, le contact optique n'est pas établi et la composante 28 ', réfléchie intérieurement, du faisceau de lumière 28 ne fuit pratiquement pas hors de l'interface 24 au point d'incidence 30 ' avec l'interface mais est au contraire ro- fléchie pratiquement complètement en retour dans le guide de lumière à un angle essentiellement égal à son angle d'incidence avec l'interface 24 Par conséquent, les moyens de mesure de la lumière de fuite, à savoir la lentille 32 ' et la diode 34 ', ne détectent-pratiquement aucune lumière et n'engendrent aucun signal électrique notable. On peut utiliser le contraste entre la lumière détectée par les moyens de détection de fuite de lumière, constitués par la lentille 32 et la diode 34, et celle détectée par la lentille 32 ' et la diode 34 ' pour indiquer la présence d'une solution de continuité ou vide 16 Plus précisément, la différence entre les signaux électriques engendrés par les diodes respectives peut être utilisée en combinaison avec les circuits logiques pour signaler la présence et/ou la position de la solution de continuité 16. Comme il résultera clairement, pour les spécialistes de la technique, des enseignements donnés ici, la résolution de l'appareil, c'est-à-dire la largeur de la solution de continuité minimale détectable, est une fonction du nombre des moyens de détection de fuite de lumière et de leur espacement et on peut choisir de tels paramètres de concep- tion en tenant compte de facteurs, tels que la résolution requise pour une application particulière et le coût qu'entraîne l'emploi d'un nombre suffisant de moyens de détection de la lumière. Les circuits logiques associés à la sortie des moyens de détection peuvent varier selon l'application particulière en cause Par exemple, dans l'appareil simple représenté sur la Figure 1,le circuit peut être conçu pour indiquer ou signaler simplement l'existence d'une quelconque solution de continuité dans le revêtement dans les limites de la largeur mesurée du substrat Alternativement, le circuit peut être conçu non seulement pour indiquer ou signaler l'existence d'une solution de continuité mais également son emplacement spécifique En outre également, le circuit peut être conçu pour signaler une "erreur" dans le cas o des solutions de continuité se produisent dans certains empla- cements mais pour "accepter" la détection de solutions de continuité dans d'autres régions Un tel appareil est utilisable par exemple pour assurer la commande d'un proces- sus utilisé pour enduire un substrat suivant une configurp- tion prédéterminée Il apparaîtra clairement que les circuits logiques pos Fiibles ci-dessus mentionnés peuvent être uti 11 i S N c les comrbintaisons clhoisies dépendant de l'aoplication des procédés enseignés ici. On corrprerndra que le procé-dé; décrit ici peut être utilisé en nesuran: r lumière de fuite transmise, diffusée iul rm Arne abb crbée p 3 r lazubatr t re/êiu Pasr exemple, si le substrat revêtu est suffisamment transparent les moyens de de-tection, de fuite Je lumi 1 ère peuplent être prévue et Disposéa &e U-dessus dut substrat et lis peuvent alors mesurer la lumièrte trnnr 4 snis;, Alsniieet Sle revêtement est fluorescent, le emon de détlection de fuite de I Luïniêre peuvent s 1 piet Cf 11 PQ t I z do loye-ns,a détecter uïï changement de rouleur qui scra nis J d'Lune lumière absorbée Le pro- redd chois i dansl'iz fnl représenté su la igu a I c onsiste à meaurer la lumière fu:'ant des surfaces d'inter- face qui test sufflnawmment dfué a le substrat revêtu. Ce procédé présente certains av&rot Qoes particuliers Par exemple, si lalui: transmice da Ynu â Lre mesurée, le procédé ne serait;pnr Gppli-able à un substrat portant une- mprasîon SUú la surface Opposée é celle portant le revê- Leuient, èt G 7 t doréqu une alle impression pourrait, entraver-1- la t Cranlm-qissin de J- O ira N -âv Ye totalement ce pro- blême-Pr enmesurant uêediffusée. Sur les Figures 2 et 3 auxquelles on se référera maintenant, on a r t un appareil pour la mise en oeuvre du proeéch 4, 1 " I atet el que Tcepésentd schéma- tijquemenit lsuir I 3 F L feu rs Ls ub a tr r m-k De v t LL u non r ep rré-'s n r P nt re Jans J 'aprel par la feante d'introduction 42 P 714 ratr ries plaqueu; 1 de i;idage, d' rtad tî 4 et 46 et il quitte l'a'ppareil -par une, fente Je sortie 42 ' entre des plaques de quidnge de sate 44-' et 46 ' Au cours de son déplacement f raver-s l'nappareil 40 G, le substrat passe dans la région de pincement 48 entre un r-ouleau de pression 50 et un guide de lumière 52 Le rouleau de pression 50 peut être en une matière appropriée quelconque, et être, par exemple, un rouleau de caoutchouc, pour exercer une 'pres- sion sur le substrat et presser le revêtement en contact optique avec le guide de lumière 52 A cette fin, Con utili- se des moyens exerçant une pression, tels que dles ressorts 54 bandés de manière à presser le rouleau 50 contre le guide de lumière 52 De préférence, les ressorts sont réglables de façon que l'appareil puisse être étalonné de manière qu'une pression appropriée soit appliquée au substrat. Le guide de lumière 52 est réalisé sous la forme d'un cylindre creux à paroi relativement mince qui est, de préférence, fabriqué en une matière telle que du verre. La surface longitudinale sert d'interface longitudinale dans la région de pincement 48 et, par conséquent, le substrat doit être introduit dans l'appareil de façon que sa face revêtue soit en contact avec le guide de lumière à cette interface. De préférence, le guide de lumière et le rouleau sont SD tous deux montés à rotation libre autour de leurs axes respectifs pour éviter un frottement excessif entre le substrat revêtu et la surface des organes de l'appareil dans la région de pincement 48 et pour permettre au substrat de traverser continuellement et sans à-coup le dispositif. A cette fin, le rouleau 50 est porté par un arbre 51 de rouleau lequel est, à son tour, monté à rotation dans des roulements 53 de rouleau De la mime manière, le guide de lumière 52 est porté à rotation par des roulements 55 de guide de lumière On comprendra que, dans le cas du dispp- sitif-représenté sur les Figures 2 et 3, il est envisagé que le substrat soit tiré à travers l'appareil par des moyens disposés à l'extérieur de ce dernier Néanmoins, il est également possible de prévoir des moyens pour entraînera soit le rouleau, soit le guide de lumière et entraîner de cette manière le substrat à travers l'appareil. Les surfaces d'extrémité 56 du guide de lumière au voisinage de la région de pincement correspondent aux première et seconde surfaces d'extrémité 20, 22 représep- tées schématiquement sur la Figure 1 Par conséquent, des ampoules lumineuses 58 sont prévues pour diriger de la lumière sur la surface d'extrémité 56 De préférence, la lumière est masquée par un écran (non représenté) de sorte qu'il n'y a pratiquement que les surfaces d'extrémité 56 qui soient éclairées et que le reste de l'intérieur de l'appareil est obscur. Une série de détecteurs 60 de lumière de fuite longi- tudinalement espacés sont disposés directement au-dessous de la partie éclairée de la paroi de verre cylindrique du guide de lumière 52 et portés à l'intérieur du cylindre creux par un support fixe 62 De tels détecteurs de lumière de fuite comprennent, de préférence, une lentille pour focaliser la lumière de fuite sur un photodétecteur, tel qu'une photodiode, qui engendre un-signal électrique propor- tionnel à 1 'énergie lumineuse reçue par la diode La lentille assure que chaque photodétecteur n'observe qu'une région relativement petite de l'interface substrat-guide de lumière, assurant ainsi une résolution élevée et élimi- nant les interactions. Les bornes de sortie de signal électrique des photo- détecteurs sont électriquement connectées à une série d'amplificateurs électriques 64, portés par une plaquette de circuit imprimé fixe 66, par lesquels les signaux sont amplifiés et transmisà un circuit logique (non représenté) qui peut être conçu, par exemple, pour indiquer ou signaler la présence ou l'absence d'une solution de continuité dans le revêtement porté par le substrat. Le dispositif représenté sur les Figuré 2 et 3 a été employé, par exemple, pour détecter la présence d'une solution de continuité dans le revêtement porté par une bande continue de papier, destinée à être utilisée pour emballer certains produits médicaux La matière d'emballa- ge porte sur la face opposée à celle portant le revêtement des impressions telles que le nom de la firme productrice et autres informations Le revêtement est une matière co- hésive utilisée pour sceller l'emballage et est constitué par une formulation de latex naturel et de certains copo- lymères de styrène-butadiène La bande peut avoir diverses largeurs telles que 31,75 mm, 38,1 mm et 101, 6 mm et l'ap- pareil est muni de circuits qui peuvent être préréglés pour contrôler l'une quelconque de ces diverses largeurs Le papier a un poids de base de 34,18 g/o? et est enduit d'un poids d'adhésif compris entre 4,47 g/nd et 7,73 g/n? La bande se déplace à travers le dispositif à une vitesse maximale de 91,44 m/mn. L'appareil utilise une série de lampes de quartz à halogène comme source de lumière, chacune équipée d'une lentille de quartz, les ampoules étant fabriquées par la Société General Electric Corporation et vendues par elle sous la dénomination modèle G E N O 2604 X Le photodétecteur utilisé est fabriqué par la société General Senser Corpora- tion et vendu par elle sous la dénomination phototransis- tor GS 3020-3 Le phototransistor est équipé d'une petite lentille pour focaliser la lumière de fuite comme décrit ci-dessus L'appareil est muni au total de 32 détecteurs de lumière (combinaison d'une lentille et d'un photodétecteur) à une densité d'espacement de 8 détecteurs au pouce ( 2, 54 cm) (ou 3,15 détecteur au centimètre) On constate que l'appareil a une résolution de 3,175 mm et qu'en pratique il peut détecter de manière fiable des solutions de conti- nuité ayant une largeur de 6,35 mm ou davantage. La Figure 4 est un schéma simplifié du circuit utilisé dans l'appareil Le circuit comprend trente deux détecteurs de lumière, t 5 lt-, P; 10 L Otransist 60 La sortie de chaque phototrent:iîstor 60 connectée à l'entrés négative d'ur, O mp 1 ifie-,ateu opérationnel 61 t (AMPLI OP) ïotl L le gain est par une résistance de réaction 68 L'entrée positîvc de chaque amplificateur opérationnel 64 est connecté à IL Classe Les sorties de chacun des trente deux anipli-fiï-,-,teurs opérationnels sont égalisées par des potenti Lo 1- iêtres 70 dont unée borne est connectée à la sortie de chaque amplificateur opérationnel 64 pour per- mettre d'équilibrer le, circuit avant l'introduction d'un substrat Chaque 70 est également connecté à fine entrés d'une perte ET 72 à trente deux entrées qu'ils commandent En pratiquer la porte ET 72 à trente deux entrées roinposée Je quatre portes ET à -uit entrées, telles que -#c, modèlé NO CDZ,,011 fabriqué par la 50 ci,-,-té P 1-" ", (;i ont En cervelle, lumineuse de fui'-'-eestdétact( 38 par chacun de 3 lumineuse détec te provoq-,-e ,,n 1 uy de qui produit une di 770- rencn de tens-"on i-,5 ï N -D o e N t r 6 a m p 1 'i c a - teur opérati 6- corliei onn -Mon, Mormi-a afin, Onk, de 6 ner- gie luÈLne-U Se dàLec nain îhnqme 60, n e r 9 i e q ki i r t-, P r S E ra' N c d 1 u N, e y û % e m à N 'l-1 a S e traduit par 'la d'un p- remiee sign-7-1 de sortis de 1 1 a mp l c a t r D -,-:2 t î on N -: 1 6 4 co r -r a sp on -J agn t, 2 e q u es 1 a s à son t o u r, c o u p 1 6 A ii t e c C e S p o ii d a N d e 1 a p o r t e E T7 2 ii eLLi, j:-ï E -rO p:D r S5 LI; d 6 t ec 11e N t1 -0 s e N c e j i 1 r e v O; t -e iï, S 1 À L î N -U 7 2 - S c -s 'V' D e N t e d a u x s 2 lgnaux J 1 entr e Je Supe 1-r Mr S à la valeur de seuil de la porte, Chaque fois que l'un quelconque des phototrans-is= tors 60 aie cj,te pas a teantjté Llué iierciie linaineuse requise qui (-,orresp-nd à la pr,nc-nce d'un revêtement, le signal de sortes. de ce a pour efîat que l'amplificateur opâ- rationnel 64 qui lui correspond pro Juit un second signal de sortie qui représente l'absence d'un revêtement lequel, à son tour, a pour effet qu'un des signaux d'entrée appliqués à la porte ET est inférieur À sa valeur de seuil, ce qui par conséquent, inverse le signal de sortie de la porte ET 72 Ainsi, la détection de l'absence d'un revêtement par un phototransistor 60 quelconque provoque le changement du signal de sortie de la porte ET 72, ce qui signifie qu'il existe une condition de défaut. REVENDICATIONS 1 Un procédé pour déterminer la présence ou l'absence d'un revêtement ( 12) sur au moins une partie d'un substrat ( 10), ce procédé étant caractérisé en ce qu'il consiste: à utiliser un guide de lumière ( 18) ayant des surfa- ces d'extrémité ( 20, 22) et une surface longitudinale ( 24) entre elles; à placer le substrat sur le guide de lumière avec la surface revêtue du substrat en contact optique avec la surface longitudinale du guide de lumière; à diriger un faisceau de lumière ( 28) sur l'une au moins desdites extrémités du guide de lumière; et à contrôler la lumière qui fuit à travers l'interface du guide de lumière et du substrat. 2 Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le faisceau de lumière ( 28) est dirigé de façon qu'une ( 28 ') de ses composantes fasse un angle (@) avec la perpen- diculaire à la surface longitudinale du guide de lumière, cet angle étant suffisant pour produire un contraste mesu- rable entre la lumière qui fuit dans une région revêtue et la lumière qui fuit dans une région non revêtue. 3 Procédé selon la revendication 2, caractérisé en ce que l'angle précité (g) est sup 6 rieur à la fonction sin 1 (nl/nf), dans laquelle N 2 est l'indice de réfraction du guide de lumière ( 18) et N 1 est l'indice de réfraction d'une région non revêtue. 4 Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le revêtement ( 12) a un indice de réfraction supé- rieur à 1,0. Procédé selon la revendication 4, caractérisé en ce que le revêtement ( 12) a un indice de réfraction d'environ 1,5. 6 Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le revêtement ( 12) est en contact intime avec la sur- face longitudinale du guide de lumière ( 18). 7 Procédé selon la revendication 6, caractérisé en ce que la surface revêtue ( 10, 12) est à moins de 0,1 micro- mètre de ladite surface longitudinale du guide de lumière ( 18) sur au moins 20 A de la longueur des surfaces qui forment entre elles une interface. 8 Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'on contrôle la lumière de fuite transmise par le substrat ( 10). 9 Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'on contrôle la lumière de fuite absorbée par le sub- strat ( 10). Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'on contrôle la lumière de fuite diffusée par le sub- strat ( 10). 11 Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce qu'on contrôle la lumière de fuite provenant du substrat ( 10) diffusée et transmise à travers le guide de lumière ( 18). 12 Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'on contrôle visuellement la lumière de fuite. 13 Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'on mesure la lumière de fuite en dirigeant la lumière de fuite vers un photodétecteur ( 34, 34 ') qui engendre un signal électrique proportionnel à l'intensité de la lumière de fuite. 14 Procédé selon la revendication 13, caractérisé en ce que la lumière de fuite est dirigée sur le photodétecteur ( 34, 34 ') à travers une lentille ( 32, 32 '). 15 Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'on fait passer le substrat de manière continue sur le guide de lumière et en ce qu'on contrôle de manière continue la lumière de fuite. 16 Un appareil ( 40) pour détecter la présence ou un sur Brj Moins une partie d'tins -,,,jrface d u?-, sub-strr 1-,, apparleil étang,caractérisé en un guide ('Abc'-) ayanîLune surface longit 'u- Ct P 7 e 5 I _î-r L- ,tO O Ct)i-edi 3Ur'da CP-Sd'e-,,tréMito( 56) une source iumineu Ee ("ïi' pouà diriger un faisceau ezm i re suc Pace 9 J r oy_-nq Lintae'q 0, 54) pour p acer le sub- L-rat sur le de Je la sur î ace revêtus du ;-jbstrij', E-'11 3 vc clasurfacelongitudinale du guide de lumiè-ïie dcs moyens 4; O de de fuite de lumière "ur N 'I e î à artir de e S r r i N tc ii 'L j îj r,) ú 2 è, r e q u i Fu l'interface du -;jc t 1,a t c t du gu d' de 1 u mi û re 1 5 7 Apf, a r ei J Lin:îce v en du i ca ti on 1 6, car ac éri S 6 en ce que le cuid 1 de lurûl -n un indice de réfraction Supérieur à 1,2. 18 App-i-,-eil 2 a 17, caractérisé en cer i i ça a S b lv S r r O 19 Apparci ïa I _eevendl ca' on 16, caractérisé en ct que IIF c estunF;YI 3nd Eecr L-u, 16, en ce que lab moven-q nI- z' omprennent des moyens de nir Ss I IM-d Sur la substra' 21 A p îï,m -r Dz î 7 i z': -Ic aOn20, r c e q u e 1 e 17 v î e p f e S i ce N 5 3, 5 z O ri r 6 g 1 a b y a S d O 1 e Soril- _ -0;'u 7 e c Z S î O rè 9 m F -s, î r e Ficaut 'l Lre appliques CI C Ju M IErs C On t xi, a S t a N t e et non re,lêtu Bs. 22 2 û, caractérise -n ce qtjf-les de pression Uri rouleau ( 50 J en e a O u t cl V;J r e 'L L' N e S E o r 'L _, ê g 1 Li b 1 e î 5 Z,) bandé pour appl 1- ciuer une pression au stîbsta'I_. 23 A 13 pareill 1-i revendication 16, caractérisé- en Ce -,Le Iel M Oyen S I dêtr;-Cti 9 îI de la lumière cormpiennent au; a oins un photodétecteur ( 60) positionné de manière à intercepter la lumière de fuite, ledit photodétecteur étant capable d'engendrer un signal électrique proportionnel à la lumière de fuite interceptée. 24 Appareil selon la revendication 23, caractérisé en ce que le photodétecteur ( 60) est positionné pour détep- ter la lumière de fuite diffusée à partir de l'interface et transmise à travers le guide de lumière ( 52). Appareil selon la revendication 24, caractérisé en ce qu'une série de photodétecteurs ( 60) est prévue pour détecter la lumière de fuite, les photodétecteurs de ladite série étant espacés le long de l'interface du guide de lu- mière et du substrat.