FR 2488395 A1 19820212 FR 8115458 A 19810810 Dans le domaine de la métrologie optique, et notam- ment dans le domaine de la photogrammétrie, l'utilité des dispositifs dépend de la précision avec laquelle une mesure peut être effectuée sur des positions relatives d'un sujet observé. Il est essentiel, par exemple, que des particulari- tés d'une photographie aérienne d'une grande surface du sol soient localisées avec précision par rapport à des points de repère établis afin que des paramètres fondamentaux d'orien- tation puissent être calculés dans le traitement pour la réalisation de stéréomodèles de terrains. L'utilité de dispositifs tels que des comparateurs simples et des comparateurs stéréoscopiques utilisés pour dimensionner des coordonnées de caractéristiques de référen- ces de terrains, et des compilateurs stéréoscopiques, qui donnent des vues stéréoscopiques du terrain à partir d'analy- ses de ces dimensions de coordonnées, repose sur la précision avec laquelle on peut mesurer des déplacements sur des photo- graphies de sujets. Ces instruments sont sensiblement analo- gues à ceux comprenant des moyens permettant la mise en place d'une diapositive pour permettre une vision avec des moyens optiques tout en effectuant des mou- vements relatifs entre l'optique de visée et la photographie, ainsi que des moyens de mesure de ces mouvements. Parmi ces éléments, les moyens de mesure sont toujours les plus criti- ques et ont soulevé les plus grandes difficultés pour l'ob- tention de la précision nécessaire. Sous leur forme la plus simple, ces dispositifs comprennent essentiellement une embase fixe sur laquelle est monté un premier plateau ou étage ne pouvant se déplacer que le long d'un premier axe horizontal et supportant un second étage ne pouvant se déplacer que suivant un axe hori- zontal orthogonal au précédent, ce second étage supportant lui même la photographie à examiner. Un microscope,fixé à l'embase et maintenu en position fixe au-dessus de la plaque photographique diapositive, comporte un réticule qui établit le repère de référence pendant que les particularités du terrain sur la photographie sont observées par transmission de la lumière à travers la plaque. Des marques d'indexage portées par l'embase et le premier étage sont utilisées avec des échelles graduées correspondantes, s'étendant le long des axes orthogonaux de déplacement sur les premier et second étages, pour établir les coordonnées des particularités du terrain et l'amplitude des mouvements de la photographie par rapport au réticule de référence. A partir de ces moyens simples de départ, la préci- sion de mesure des instruments photogrammétriques a été amé- liorée par l'introduction de vis-mères ou d'autres mécanismes précis de déplacement, ainsi que de dispositifs électro- mécaniques de mesure tels que des codeurs d'angle. De tels dispositifs sont suggérés, par exemple, dans le brevet des Etats-Unis d'Amérique N03 116 555. Cependant, les problèmes posés pour obtenir la précision demandée ont persisté par suite des tolérances mécaniques intervenant entre la photo- graphie et l'élément final de mesure. Chaque liaison ou transition d'un tel train mécani- que constituant une source d'erreurs de mesure, des efforts ont porté sur une association plus étroite entre le disposi- tif de mesure des déplacements et la photographie elle-même afin d'éliminer les différences inhérentes aux systèmes dis- ponibles. A cet effet, on a utilisé des montages te-s que celui décrit dans le brevet des Etats-Unis d'Amérique N0 3 330 964 comportant des échelles électro-optiques de mesure de coor- données qui font partie intégrante du support d'un étage unique au moyen duquel l'ensemble photographie/échelles peut être déplacé d'un seul bloc par rapport à l'ensemble fixe constitué par l'optique de visée et les détecteurs de lecture des échelles. Bien qu'un tel dispositif constitue un progrès important, il souffre du décalage excessif apparaissant en- tre la ligne de visée et les éléments de mesure et exigé par la nécessité de ne pas occulter le trajet de la lumière sur toute la surface de la diapositive. Le bras de moment allongé qui en résulte entre le point de référence de la photographie et le dispositif de mesure conduit à des erreurs de mesure par torsion qui ne peuvent être tolérées dans des opérations de photogranmIétrie précises. Le dispositif présente également l'inconvénient d'exiger une surface de travail suffisamment grande pour recevoir les éléments des échelles ainsi que la photographie du sujet. Des améliorations de la précision des mesures. et une réduction de la dimension des équipements ont été obte- nues avec des dispositifs tel que celui décrit dans le brevet des EtatsUnis d'Amérique N03 729 830, dans lequel la photo- graphie et une grille d'échelles bi-axiale sont disposées à peu près en alignement avec la ligne de visée. Cependant, le fait qu'il soit toujours nécessaire de ne pas occulter le trajet de la visée entraîne une séparation entre les échelles et la photographie. Ceci limite l'utilité d'un tel dispositif, car il est nécessaire de maintenir un parallélis- me critique entre la plaque photographique et la grille des échelles, sur des distances suffisantes pour permettre la mise en place d'éléments de l'optique de visée dans l'espace intermédiaire, et du fait qu'il est également nécessaire d'utiliser un mécanisme infaillible pour associer les déplacements de la photographie à ceux des capteurs à échelles. Pour optimiser ces dispositifs en ce qui concerne les dimensions et la stabilité, on a pensé à incorporer la grille d'échelles bi-axiale dans la plaque transparente de support de la photographie et à associer physiquement l'optique mobile de visée aux capteurs du dispositif de mesure. De cette manière, il suffit au dispositif de s'agran- dir autant que la photographie du sujet, car l'optique peut être déplacée vers toute particularité à examiner. En outre, les capteurs de déplacement peuvent être placés à proximité immédiate de la ligne de visée, ce qui élimine pratiquement les transitions mécaniques, produisant des discontinuités, des dispositifs antérieurs. Cependant, il subsiste un obstacle important à l'utilisation d'un tel dispositif, à savoir la présence d'une grille d'échelles sur le trajet de la lumière de l'image par suite du positionnement de l'ensemble capteur/optique à proximité de la surface de la grille de la plaque de support de la photo. Le problème que ceci pose provient du fait que toutes les structures de grilles à échelles utili- sables jusqu'à présent, soit du type à réseau de diffrac- tion d'amplitude ou de phase,inposent la présence d'un élé- ment diffringent dans la ligne de visée, ce qui dégrade notablement l'image des particularités photographiques examinées. Outre la diffraction, ces réseaux provoquent souvent une atténuation du faisceau lumineux de l'image ce qui rend le dispositif d'une utilisation peu pratique. L'invention résout ce problème au moyen d'une struc- ture de grille du type à réseau de phase, donnant une échel- le électro-optiquement sensible sans produire d'effet nuisi- ble de diffraction sur la lumière visible transmise. A la différence du réseau d'amplitude décrit dans le brevet des Etats-Unis d'Amérique N03 768 911 ou du réseau de phase décrit dans le brevet des Etats-Unis d'Amérique N03 482 107, le ré- seau selon l'invention ne présente aucune différence d'épais- seur optique par rapport à la lumière transmise et arrivant perpendiculairement et il ne provoque donc pas de diffraction de cette lumière de l'image. Par ailleurs, la lumière inci- dente d'un dispositif de détection tel que celui décrit dans le brevet N0 3 768 911 précité est suffisamment diffractéeà la réflexion pour produire le diagramme d'interférence for- mant la base pour ce dispositif de mesure électro-optique précise. Selon l'invention, un support transparent de photo- graphie présente un réseau comprenant des bandes ou lignes alternées de couches composites d'au moins deux matières ayant des indices de réfraction différents. Les deux matières choisies sont déposées sur une première face de la plaque de support, sur des épaisseurs optiques sensiblement égales à \/4, la séquence d'application des matières étant inversée dans les couches de bandes alternées. De cette manière, les épaisseurs optiques des couches de bandes composites sont sensiblement égales et on maintient une épaisseur physique uniforme sur toute la surface du réseau. Grâce à cette structure du réseau, il ne se produit pratiquement aucune diffraction de la lumière transmise et, par conséquent, une photographie montée sur la plaque peut être vue à travers le réseau sans perte de détail de l'image. Cependant, malgré la transparence de la plaque du réseau, la surface d'une couche individuelle, notamment celle consti- tuée de la matière ayant l'indice le plus élevé, est suffisam- ment réfléchissante envers la lumière incidente pour produire un faisceau réfléchi pouvant être capté par un détecteur pho- to-électrique. La séquence indiquée d'applications des matières des couches a pour effet d'établir les surfaces des couches réfléchissantes à des niveaux qui diffèrent de >/4 dans les deux groupes de bandes alternées, ce qui provoque un déphasa- ge de X/2 entre des parties de la lumière réfléchie par les bandes respectives vers les détecteurs avec, pour résultat, une interférence entre ces segments de faisceaux déphasés créant les franges d'interférence moirées typiques. Le réseau de phase ainsi déposé sur la plaque de support des photographies peut être utilisé en combinaison avec un réseau réticulé pour constituer un dispositif de mesure de déplacement tel que celui décrit dans le brevet N0 3 768 911 précité. Dans une telle application, le réticu- le, la source de lumière et les détecteurs du dispositif sont étroitement associés à l'optique de visée d'un compara- teur ou compilateur photogrammétriques et sont disposés afin de se déplacer avec lui à proximité du réseau de la plaque de support. On obtient ainsi, pratiquement, la sup- pression avantageuse du décalage entre les éléments de visée et de mesure sans que le réseau de support de la photographie qui ne réalise aucune transmission au moyen d'éléments diffrin- gents, ne dégrade l'image de la photographie vue à travers le support et ce réseau. Lors de l'utilisation, la lumière provenant de la source uniforme ou omnidirectionnelle est transmise à travers le réseau réticulé principal d'amplitude pour arri- ver au réseau de phase du support o elle est diffractée par réflexion, avec le déphasage indiqué précédemment et la formation de franges dans la lumière réfléchie qui est ensui- te transmise à travers le réseau réticulé restant pour at- teindre le détecteur photoélectrique. Tout mouvement relatif entre le réseau réticulé et le réseau du support de la pho- tographie provoque un déplacement du diagramme de franges d'interférence au niveau du réticule avec, pour résultat, une variation de l'intensité de la lumière transmise aux détecteurs. Un procédé d'application sous vide décrit ci-après est utilisé pour la réalisation du réseau de phase selon l'invention. Les deuxmatières diélectriques utilisées en couches minces pour former la couche composite fonctionnel- le du réseau sont choisies respectivement entre des composés avant un indice de réfraction supérieur (2,2 - 2,7) tels que l'oxyde de cérium, le dioxyde de titane, le dioxyde de thorium, le sulfure de zinc et le dioxyde de zirconium, et des matières ayant un indice de réfraction inférieur (1,3 - 1,5) telles que du fluorure de magnésium, du fluorure de calcium, de la cryolite, du fluorure de lithium et de la silice et ces matières sont déposées chacune sur une épais- seur de X/4, à environ 850 nanomètres, à savoir la longueur d'onde utile de fonctionnement de la source de lumière incan- descente utilisée dans une forme préférée de réalisation du dispositif de mesure. Etant donné que la matière de la couche ayant l'indice le plus élevé exerce apparemment l'ef- fet le plus important sur le déphasage par réflexion de la couche composite du réseau, il est particulièrement souhaita- ble que l'épaisseur \/4 de la couche formée de la matière ayant l'indice de réfraction inférieur soit maintenue à une valeur assurant un déphasage optimal X/2 dans le faisceau réfléchi. Le maintien de l'égalité, à au moins 15 % près, des épaisseurs respectives des pellicules de matières iden- tiques de la couche composite du réseau est également sou- haitable pour assurer une diffraction par transmission de la lumière de la photographie à un degré n'ayant pas de consé- quence. Un réseau de phase transparent pouvant être utilisé efficacement dans un comparateur ou compilateur photogram- métrique peut être obtenu avec une couche composite dont les matières diélectriques sont déposées en bandes ou lignes d'une largeur d'environ 20 gm chacune pour établir une période de réseau d'environ 40 pm. L'utilisation d'un réseau réticulé de périodicité analogue dans le dispositif réfléchis- sant décrit, qui double la sensibilité, permet d'obtenir aisément une précision de mesure d'environ 1m avec les dé- tecteurs et les circuits électroniques de résolution actuel- lement disponibles. Le réseau de phase selon l'invention a pour avantage supplémentaire que son degré élevé de trans- parence permet le dépôt de deux réseaux orthogonaux sur la plaque de support de la photographie pour former une grille de mesure biaxiale, sans atténuation, à un degré sensible, de l'éclairage de la photographie. Avec une telle grille biaxiale, une seconde tète de lecture, comprenant une source de lumière, un réticule et des détecteurs, associée à l'opti- que mobile de visée, constitue un moyen permettant d'établir directement les coordonnées de toute particularité de la photographie observée. L'invention sera décrite plus en détail en regard des dessins annexés à titre d'exemple nullement limitatif et sur lesquels: la figure 1 est une élévation, avec coupe partielle montrant schématiquement les éléments du dispositif de mesu- re selon l'invention; la figure 2 est une coupe partielle, suivant la ligne 2-2 de la figure 3, montrant un détail de la plaque de support de photographies de la figure 1, cette vue montrant notamment la structure de la couche composite du réseau de phase selon l'invention; la figure 3 est une vue en plan de la partie de la couche du réseau de phase montré sur la figure 2; et les figures 4a à 4h sont des coupes transversales d'une plaque de support de photographies, montrant les opérations effectuées pour préparer la structure préférée du réseau de phase selon l'invention. Une forme préférée de réalisation d'un dispositif de mesure utilisant un réseau de phase transparent selon l'invention est représentée schématiquement sur la figure 1. Comme montré, le dispositif comprend un-support de photo- graphie comportant une plaque transparente 22 en verre por- tant la couche 24 du réseau de phase décrite plus en détail ci-après. Une diapositive, généralement une vue aérienne montrant des particularités de terrain, comprenant une pla- que de verre 23 et une couche d'émulsion photographique développée 25, est supportée par la plaque 22 pendant l'exa- men. Une optique de visée, indiquée globalement en 10, est placée à proximité immédiate de la plaque 22 de support et est montée de manière à pouvoir se déplacer le long d'un premier axe de coordonnées, comme indiqué par la flèche double, dans une direction sensiblement perpendiculaire aux lignes de la couche 24 du réseau. Dans la forme de réalisation décrite, cette échelle du réseau comprend des lignes orthogo- nales, comme montré en partie sur la figure 3, et l'optique de visée est montéede manière à pouvoir se déplacer éga- lement le long de l'axe orthogonal de coordonnées, dans la direction perpendiculaire au plan de la figure 1. De cette manière, il est possible de déterminer les coordonnées car- tésiennes des particularités du terrain examiné. L'optique mobile de visée selon l'invention est re- présentée de façon simple sur la figure 1, sous la forme d'un corps 16 dans lequel sont montés un groupe 12 de lentil- les de collimation et un prisme à surface réfléchissante 14. La lumière destinée à éclairer l'image et provenant d'une source de lumière (non représentée) arrive par un faisceau 27 à une photographie 25 et est ensuite transmise par la plaque 22 de support et par le réseau réticulé 24 afin d'être collimatée par le groupe de lentilles 12 et réfléchie par la surface 14 pour former un faisceau 29 dirigé vers d'autres éléments de l'optique de formation d'images (non représentés) au moyen desquels l'image de la photographie est formée dans 1' oculaire du comparateur ou du compilateur. Une tête 11 de détection de déplacement est associée étroitement à l'optique de visée et comprend une source 13 de lumière et une plaque 17 à réticule à laquelle un détec- teur photoélectrique 15 est fixé. Dans le dispositif de me- sure décrit d'une façon générale ci-dessus et décrit plus en détail dans le brevet N0 3 768 911 précité, l'éclairage diffus provenant de la source 13 est transmis à travers le réseau 19 d'amplitude de la plaque 17 à réticule afin d'être réflé- chi par la couche 24 du réseau de phase de la plaque 22 de support et retransmis à travers le réseau complémentaire d'amplitude de la plaque 17 pour arriver au détecteur 15, l'intensité de cette lumière variant en fonction des déplace- ments de l'optique 10 et de la tête 11 de détection par rap- port au réseau 24 de phase. Le réseau réticulé 19 est dispo- sé à peu près parallèlement aux lignes déposées d'un axe de coordonnées du réseau 24 de phase. Il convient de noter qu'une seconde tête de détection, identique à celle repré- sentée en 11, est également portée par l'optique 10 de visée, bien que non représentée, le réticule de cette tête s'éten- dant dans la direction orthogonale afin d'être parallèle à l'axe supplémentaire du réseau de phase. La structure de la couche transparente 24 du réseau de phase selon l'invention est montrée plus en détail sur la figure 2 et comprend plusieurs pellicules minces interca- lées, réalisées en matière diélectrique appliquée sur la plaque 22 de support de la photographie. Dans cette forme de réalisation, les pellicules sont réalisées en oxyde de cérium pour les pellicules 26 et en fluorure de magnésium pour les pellicules 28. Chacune de ces matières est appliquée sur la plaque de support par la mise en oeuvre d'une technique classique de dépôt sous vide, selon un procédé décrit plus en détail ciaprès. Chaque segment de pellicule est déposé à une épaisseur d'environ X/4, mesurée à la longueur d'onde utile moyenne de la source 13 de lumière de la tête de détec- tion, par exemple 850 nanomètres pour la source à incandes- cence de la forme de réalisation décrite. Comme montré sur la figure 3, le réseau choisi de matières déposées apparaissant à la face de la plaque 22 comprend deux groupes de lignes 28 de fluorure de magnésium, se coupant perpendiculairement et alternant, dans chacune des directions de coordonnées, avec des carrés isolés 26 d'oxyde de cérium, de même dimen- sions. Pendant le fonctionnement, la lumière de la source 13 de la tête 11 de détection est transmise à travers le réseau 19, qui est placé à environ 3 mm de la surface du ré- seau 24 de phase, et elle est réfléchie par la première sur- face rencontrée de chacune des pellicules 26,26' d'oxyde de cérium, à indice de réfraction élevé, situées à des ni- veaux respectifs, dans la couche composite 24, qui diffèrent de l'épaisseur X/4 des pellicules 28 de fluorure de magné- sium. Les parties respectives de lumière réfléchie par ces groupes de surface sont ainsi déphasées, au total, de X/2, ce qui provoque une interférence entre elles avec formation du diagramme caractéristique de franges d'interférence. Ce diagramme arrive ensuite sur les parties restan- tes du réseau réticulé 19 qui arrête efficacement les franges pour établir la variation d'intensité distincte de la lumière arrivant au détecteur 15. Un diagramme analogue de franges d'interférence est formé dans les réseaux disposés orthogona- lement de la couche composite 14 et dans l'autre tête 11 de détection pour donner de la même manière une indication du déplacement de l'optique de visée ou de la photographie, le long de cet axe. Un procédé préféré pour former la couche composite du réseau de phase selon l'invention est montré schématique- ment sur les figures 4a à 4h. Sur la figure 4a, une plaque 41 de verre de 3 mm est revêtue, sur une épaisseur d'environ 1gm, d'une couche de réserve photochimique 42 à action posi- tive, par exemple un diazide de naphtoquinone commercialisé sous l'appellation Kodak Micro Positive Resist 809. Cette cou- che est préparée de la manière classique, comme indiqué par le fabricant, et, comme montré sur la figure 4b, est exposée par contact sous un original pendant environ 25 minutes, à la lumière d'une lampe survoltée de 125 watts, à une distance d'environ 1,5 mètre, et est développée dans une solution alcaline de développement du commerce afin que les zones de la couche exposées à la lumière soient éliminées et que l'on obtienne un dessin 43 de réserve reproduisant l'original. Au cours de cette opération, l'original utilisé comprend deux groupes de lignes opaques parallèles, disposées orthogonale- ment entre elles et ayant une largeur d'environ 20 am. Comme représenté sur la figure 4c, une couche 44 d'aluminium est déposée sous vide, selon des techniques classiques, à la température ambiante et sur une épaisseur d'environ 1 am, sur le dessin 43 de la réserve et sur les zones exposées de la surface de la plaque 41 de support. Le dessin formé par la réserve est ensuite éliminé par disso- lution dans l'acétone, avec élimination simultanée de la couche superficielle d'aluminium pour donner, comme montré sur la figure 4d, le dessin 44 constitué d'aluminium et correspondant aux zones exposées à la lumière de la réserve initiale. Une couche 45 d'oxyde de cérium est déposée à une épaisseur de >/4 (à 850 nanomètres) sur le dessin d'aluminium et la surface nue du verre, et une couche 46 de fluorure de magnésium est appliquée à une épaisseur de X/4 sur cette couche 45. Au cours de ces opérations de dépôt, on prend normalement soin de maintenir des températures d'applica- tion élevées et constantes pour assurer des indices de ré- fraction précis dans la couche composite finie. Après re- froidissement de la plaque 41 et des couches CeO2 et MgF2 déposées, une couche 47 de chrome est déposée sous vide, sur une épaisseur d'environ 1 Dam et à la température am- biante (figure 4e). La plaque revêtue est ensuite plongée dans un bain caustique d'environ 10 % de NaOH, dans lequel le dépôt d'a- luminium restant est dissous et éliminé de la plaque 41, de même que les couches déposées par la suite sur ce dépôt, pour donner le dessin des couches composites 45 de CeO2, 46 de MgF2 et 47 de Cr, comme indiqué sur la figure 4f. En utilisant les techniques précédentes de dépôt sous vide, des couches 48 et 49 de MgF2 et CeO2 sont déposées tour à tour, à des épaisseurs de X/4, sur le chrome et les surfaces du verre nu, comme indiqué sur la figure 4g. La plaque revêtue est ensuite immergée dans une so- lution d'attaque du chrome, par exemple une solution acide de nitrate cérique et de nitrate d'ammonium, pour que la couche de chrome soit dissoute et éliminée, de même que les couches de MgF2 et CeO2 qui la recouvrent. La plaque revêtue ainsi obtenue est ensuite lavée et séchée pour donner le support fini de photographie, montré sur la figure 4h, support sur lequel la couche composite formant le réseau de phase comprend des bandes ou lignes alternées de MgF2/Ceq2 46,45 et CeO2/MgF2.49,48. En légère variante du procédé montré sur les figures 4a à 4h, le dessin de la couche initiale 44 d'alu- minium indiquée sur la figure 4d peut être obtenu par dépôt d'abord d'une couche continue d'aluminium sur la plaque 41, puis par application d'une couche 42 de réserve, suivie d'une exposition et d'un développement, puis d'une attaque de l'aluminium et de l'élimination de la réserve restante. Le dessin formé par l'aluminium peut ensuite être utilisé au cours des opérations montrées sur les figures 4e à 4h, avec des résultats analogues. -Comme indiqué précédemment, d'autres matières dié- lectriques ayant des indices de réfraction élevés peuvent être utilisées à la place du CeO2, tandis que le MgF2, à indice de réfraction plus faible, peut être remplacé par des matières diélectriques ayant des indices de réfraction du même ordre. Une autre variante permettant d'améliorer la réponse aux signaux du dispositif de mesure consiste à appliquer initialement sur la plaque 41 une couche anti- réflexion, par exemple une couche de MgF2 sur une épaisseur \/4, (à 550 manomètres). Cette couche d'antiréflexion a pour fonction d'isoler la couche composite 24, formant le réseau de phase, du support 22 par rapport à la lumière visible et de réduire efficacement la diffraction par trans- mission ainsi que les réflexions sur la surface de la pla- que de support, ces diffractions et ces réflexions pouvant autrement nuire au diagramme de franges d'interférence de mesure et avoir-un effet destructif sur ce diagramme. Il va de soi que de nombreuses modifications peuvent être apportées au dispositif décrit et représenté sans sor- tir du cadre de l'invention. R E V E N D I C A T I O N S 1. Dispositif de mesure électro-optique comprenant une source (13) de lumière, plusieurs réseaux (19,24) placés dans la lumière provenant de la source et disposés de manière à pouvoir exécuter des mouvements relatifs pour générer ainsi un diagramme de franges d'interférence, et des moyens photo- électriques (15) qui produisent un signal électrique variant en fonction des fluctuations de l'intensité de la lumière du diagramme de franges, le dispositif étant caractérisé en ce qu'il comporte un réseau (24) de phase réfléchissant qui réfléchit, vers un second réseau, la lumière transmise par un premier réseau (19), et en ce que les moyens photo- électriques (15)-sont disposés dans la lumière transmise par le second réseau. 2. Dispositif de mesure selon la revendication 1, caractérisé en ce que le réseau de phase réfléchissant com- prend un support (22) à surfaces planes et un revêtement (24) déposé sur ce support et comprenant des bandes allongées, contiguës et alternées, sensiblement de même largeur et de même épaisseur optique, forméesde deux pellicules (26, 28) ayant des indices de réfraction notablement différents. 3-Dispositif de mesure selon la revendication 2, caractérisé en ce que le revêtement (24) comprend des pre- mière et seconde couches de bandes alternées, contiguës, sen- siblement de même largeur et de même épaisseur optique, formées par les deux pellicules, les matières à indice de réfraction inférieur (46) et à indice de réfraction supé- rieur (49) de la seconde couche étant déposées sur les matières à indice de réfraction supérieur (45) et à indice de réfraction inférieur (48) respectivement, de la première couche, sur toute l'étendue de ces matières, afin que la surface supérieure du réseau de phase soit sensiblement parallèle à la surface du support.