FR 2495357 A1 19820604 FR 8122320 A 19811127 Circuit correcteur équipant un détecteur de surface proportion- nelle de points de simili. La présente invention concerne un circuit correcteur équipant un détecteur de surface proportionnelle de points de simili qui mesure la transparence d'un film tramé négatif ou positif, d'imprimés ou analogues ou la réflexion de la lumière par ceux-ci. D'une manière générale, les colorations et tonalités finales d' imprimés dé- pendent des surfaces proportionnelles de points de simili de films tramés négatifs ou positifs, appelés ci-après par abréviation films tramés, utili- sés dans un procédé de fabrication de plaques photographiques avant de pro- céder à l'impression. En conséquence, le contrôle de la surface proportion- nelle de points de simili du film tramé est très important. Dans la tech- nique antérieure ce contrôle est effectué au moyen d'un densitomètre. Or, en désignant la surface proportionnelle de points de simili et la trans- parence du film tramé respectivement par A et T, on obtient l'équation sui- vante A = 1 - T (1) Puis, si la densité du film tramé en un endroit o l'on mesure la transpa- rence est désignée par D, l'équation suivante est obtenue: D = -log T ou T = 10-D (2) A partir de ces équations (1) et (2) s'obtient l'équation suivante: D = log __ 2 3 D 1-A Par conséquent, lorsque la valeur de densité D du film tramé, laquelle est obtenue en retranchant une densité de base de sa densité mesurée, est égale à 0,6, alors la transparente T est calculpe conformément à l'équation (2) de façon à obtenir -0,6 =0,25 et la surface proportionnelle A de points de si- mili est calculée conforménent à l'équation (1) de façon à obtenir 1 - 0, 25 = 0,75. Cette valeur est considérée cxynde étant 75, de la surface proportionnelle de points de simili à l'endroit mesuré du film trank. Toutefois, le point de simili réel comporte généralement dans une certaine mesure des franges autour de sa périphé- rie. Notamment dans le cas du premier film tramé obtenu par photographie tramée les points de simili comportent à un degré considérable des franges, phénomène appelé "point mou", de sorte que dans ce cas la formule (1) n'est pas applicable. En outre, les franges des points de simili varient en fonc- tion d'une gamme de densité reproductible d'une trame de contact utilisée pour la photographie tramée, de la distan- ce des lignes de la trame, des caractéristiques de gamme d'un film lithographique dans des conditions de développe- ment, et analogues. Si, par contre, ces conditions ne changent pas, l'influence due aux franges est invariable. En conséquence, dans le pro- cédé traditionnel la valeur de densité détectée par le den- sitomètre est corrigée en retranchant de cette dernière un nombre fixe et la surface proportionnelle de points de si- mili est ensuite déterminée de manière que la valeur de densité corrigée réponde aux équations (1) à (3). Toutefois, en réalité, comme indiqué clairement sur la fi- gure 1 (qui, de même qu'un certain nombre d'autres figures énumérées plus loin, se rapporte à la technique antérieure) par deux courbes (a) et (b) obtenues respectivement par un calcul conforme à l'équation (3) et par un essai et qui re- présentent la surface proportionnelle de points de simili -3- (abscisse) en fonction de la densité (ordonnée) d'un film tramé négatif, cette valeur de densité étant obtenue en re- tranchant une densité de base de sa densité mesurée, il existe des écarts ou différences entre les deux courbes (a) et (b) au niveau des surfaces proportionnelles de points de simili voisines de 5,50 et 95 %. La méthode de correc- tion classique ne permet donc pas d'établir des valeurs correctes de surface proportionnelle de points de simili. Afin d'améliorer dans ce procédé la précision de mesure, il faut procéder à une opération de conversion très compliquée entre la densité mesurée du film négatif tramé et la sur- face proportionnelle de points de simili, ce qui constitue sur le plan pratique un gros inconvénient. Il a déjà été proposé un dispositif appelé détecteur de sur- face proportionnelle de points de simili. Il calcule la surface proportionnelle de points de simili essentiellement en conformité avec l'équation indiquée plus haut sous (1) et affiche cette valeur. C'est-à-dire qu'il mesure la trans- parence du film tramé et établit ensuite à partir de celle- ci la surface proportionnelle de points de simili. A cet égard l'influence des franges est examinée ci-dessous. En fait, dans un point de simili (point mort' présentant une surface proportionnelle de point de simili inférieure à la valeur minimale représentative de surface proportion- nelle de point de simili, la valeur représentative de sur- face proportionnelle de point de simili à 100 % étant obte- nue dans la photographie tramée, la lumière est absorbée par une image originale dans une certaine mesure en excès de celle correspondant à la densité de base, c'est-à-dire que la transparence est légèrement inférieure à celle cor- respondant à la densité de base. Toutefois, dans un tel détecteur de surface proportionnelle de points de simili la surface proportionnelle d'un point de simili (point mort) présentant une surface proportionnel- -4- le inférieure au minimum représentatif de surface propor- tionnelle de point de simili est exprimée comme étant éga- le à O % ou à une valeur n'excédant pas O %, comme évoqué plus haut, et seules les surfaces proportionnelles des points de simili présentant au moins le minimum représenta- tif de surface proportionnelle de point desimili obtenu dans la photographie tramée, sont indiquées. Par exemple, dans le cas d'un film tramé négatif présentant une densité de base de 0,05 (une transparence de 89 %), lorsque la transparence au niveau du minimum représentatif de surface proportionnelle de points de simili est de 85 % sous l'influence des franges, les surfaces proportionnelles des points de simili présentant une transparence supérieure à 85 % sont indiquées comme étant de O % et les surfaces proportionnelles des autres points de simili, présentant une transparence de 85 % au maximum, sont établies à partir d'une ligne d'approximation obtenue en reliant par une droi- te les deux endroits o les surfaces proportionnelles de points de simili sont respectivement de 100 % et de O % lorsque les valeurs de transparence sont respectivement de O % et de 85 %, comme indiqué par la ligne (a) de la fi- gure 2 qui montre des courbes représentant la transparence (%) d'un film tramé négatif (abscisse) en fonction de la surface proportionnelle (%) de points de simili (ordonnée). Par conséquent, dans ce détecteur traditionnel de surface proportionnelle de points de simili l'influence des franges n'est pas prise en considération dans le domaine des surfa- ces proportionnelles intermédiaires de points de simili de sorte que les valeurs effectives mesurées, représentées par une courbe (b) de la figure 2 ne coïncident pas avec celles représentées par la ligne (a) de la figure 2, une différen- ce de plusieurs pour cent par exemple se produisant au voi- sinage d'une transparence de 50 %. En particulier, lorsque la surface proportionnelle de points de simili est corrigée par morsure ou réduction de points, étant qu'elle est souvent évaluée à 1' oeil nu, au voisinage de la transparence de 50 % o elle peut être facilement observée à 1' oeil nu, il est indésirable de voir se pro- duire une différence entre la valeur effective et la valeur apparaissant sur l'échelle du détecteur de surface propor- tionnelle de points de simili. Une ligne en pointillé (c) de la figure 2 représente l'équation (1) (A = 1 - T). Sur la figure 3 sont montrées trois courbes (a), (b) et (c) qui représentent la transparence (%) d'un film tramé néga- tif (abscisse) en fonction de la surface proportionnelle (%) de points de simili (ordonnée) pour une densité de base de 0,05 (transparence de 89 %) du film lorsqu'on utilise respectivement des trames de contact présentant des gammes de densité reproductibles variées: dans le cas de la cour- be (a) une trame de contact présentant une gamme de densité reproductible relativement étroite et beaucoup de franges; dans le cas de la courbe (b) une trame de contact présentant une gamme de densité reproductible étendue et peu de fran- ges; et dans le cas de la courbe (c) le film tramé obtenu par photographie tramée est à plusieurs reprises imprimé en transparence par contact afin de réduire les franges. Les courbes (a), (b) et (c) de la figure 3 font clairement ressortir que de toute manière une erreur plus ou moins grande existe par rapport aux valeurs obtenues avec le dé- tecteur de surface proportionnelle de points de simili tra- ditionnel qui se traduisent par une ligne en pointillé (d) de la figure 3 et que l'erreur est la plus grande au voisi- nage de la transparence de 50 % du film tramé négatif. Pour remédier aux inconvénients décrits ci-dessus il a été proposé, dans la demande de brevet japonais mise à l'ins- pection publique no 55-27909, un procédé permettant d'éta- blir approximativement la relation existant entre la surfa- ce proportionnelle de points de simili et la transparence d'un film tramé négatif en utilisant une fonction de coupla- ge linéaire. Toutefois, ce procédé nécessite une machine -6- d'une construction compliquée et d'un coût élevé de sorte que la mise en oeuvre de ce procédé présente des difficul- tés. Cependant, compte tenu du fait que l'erreur est maximale au voisinage de la transparence de 50 % du film tramé néga- tif, comme décrit plus haut, il a également été mis au points, pour un détecteur de surface proportionnelle de points de simili classique, un procédé, décrit dans le bre- vet japonais n' 51-103091, capable d'établir approximative- ment la relation existant entre la surface proportionnelle de points de simili et la transparence du film tramé néga- tif en ayant recours à une courbe à changement de direction qui présente au moins un point de changement de direction et se compose de segments linéaires, procédé dans lequel la surface proportionnelle de points de simili par rapport à la transparence du film tramé est obtenue conformément à la courbe à changement de direction. Dans ce procédé les points minimum et maximum sont d'abord établis suivant l'état des points de simili à mesurer du film tramé, de l'imprimé ou analogue, comme représenté par une courbe à changement de direction (b) de la figure 4 re- présentant la transparence (%) d'un film négatif en fonc- tion de la surface proportionnelle (%) de points de simili, puis le point de la transparence de 50 % est ajusté, comme représenté par une courbe à changement de direction (a) de la figure 4. Toutefois, lorsque le point de la transparence de 50 % a été ajusté, le point maximum se trouve déplacé comme représenté sur la figure 4. La figure 5 montre une forme de réalisation d'un détecteur classique de surface proportionnelle de points de simili équipé d'un circuit correcteur de point de changement de di- rection, lequel circuit comprend un convertisseur photo- électrique 1, un circuit de maintien de valeur de référence 2 d'un type à inversion qui maintient la tension de réfé- rence correspondant au point minimum (surface proportion- -7 - nelle de points de simili de O %), un additionneur 3 qui reçoit les signaux de sortie du convertisseur photo-élec- trique 1 et du circuit de maintien de valeur de référence 2, un correcteur de point de changement de direction ou cir- cuit correcteur 4 qui reçoit le signal de sortie de l'addi- tionneur 3, et un dispositif d'affichage 5 qui reçoit le signal de sortie du circuit correcteur de point de change- ment de direction 4 et affiche la surface proportionnelle de points de simili. La figure 6 montre une forme de réalisation du circuit cor- recteur de point de changement de direction classique 4 comprenant un circuit amplificateur inverseur qui comporte un amplificateur opérationnel Q4, des potentiomètres R41 et R42, une résistance R43 et une diode Zener Dz. En admettant que la tension de la diode Zener Dz, qui correspond à la transparence de 50 %, soit Ez, comme le montre la figure 7 ou la tension d'entrée Ei4 du circuit correcteur 4 est re- présentée en abscisse et sa tension de sortie E4 en ordon- née, il faut, afin d'ajuster la surface proportionnelle de points de simili au niveau de la transparence de 50 %, chan- ger le gain G du circuit amplificateur inverseur comportait l'amplificateur opérationnel Q4 si la tension d'entrée Ei4 correspond à l'équation suivante 0 Ei4 = Ez. Le gain G4 s'exprime, si O - Ei4 R41 Si Ez = Ei4, alors le-gain G4 s'exprime par la formule sui- vante R43 (R41 +R42) G4 = R 41 42 A présent, afin d'ajuster la-surface proportionnelle de points de simili au niveau de la transparence de 50 %, on tourne le potentiomètre R41 de manière à changer le gain G4. Cependant, si O: Ei4 = Ez et Ez - Ei41 étant donné que le sens d'accroissement ou de décroissement du potentiomètre R41 est le même que celui du gain G4, la tension de sortie Eo4 par rapport à la tension d'entrée Ei4 = O se trouve également changée. En conséquence, l'endroit o se situe la surface proportionnelle de points de simili de 100 % se trouve lui aussi modifié. Or la présente invention a pour objet de créer un circuit correcteur qui, équipant un détecteur de surface proportion- nelle de points de simili, soit non seulement exempt des inconvénients mentionnés ci-dessus mais en outre précis, stable et fiable. Concrètement, l'invention propose un circuit correcteur équipant un détecteur de surface proportionnelle de points de simili dans lequel le rapport entre la surface propor- tionnelle de points de simili mesurée et la transparence d'un objet obtenu par une photographie tramée ou la réfle- xion de la lumière par ce dernier est exprimé approximati- vement par une courbe à changement de direction présentant au moins un point de changement de direction, laquelle cour- be comporte des segments linéaires, grâce à l'utilisation d'un circuit correcteur de point de changement de direction comprenant un circuit amplificateur inverseur, le perfec- tionnement apporté par la présente invention consistant en ce qu'il est prévu en outre (a) un circuit amplificateur inverseur additionnel monté en parallèle avec le circuit correcteur de point de changement de direction et (b) un potentiomètre qui relie entre elles les sorties des deux circuits et qui délivre un signal correspondant quantitati- vement à la correction à effectuer. L'invention est expliquée plus en détail ci-dessous à l'ai- de des dessins annexés qui illustrent, à la lumière de la technique antérieure, une forme de réalisation préférée de l'invention et sur lesquels: -9- - la figure 1 montre deux courbes qui représentent la sur- face proportionnelle de points de simili en fonction de la densité d'un film tramé négatif, cette valeur de densité étant obtenue en retranchant une densité de base de sa den- sité mesurée; - la figure 2 montre des courbes représentant de façon classique la transparence d'un film tramé négatif en fonc- tion de la surface proportionnelle de points de simili; - la figure 3 montre des courbes représentant la transpa- rence d'un film tramé négatif en fonction de la surface proportionnelle de points de simili lorsqu'on utilise res- pectivement, de manière classique, des trames de contact présentant des gammes de densité reproductibles variées; - la figure 4 montre une courbe représentant la transparen- ce d'un film tramé négatif en fonction de la surface pro- portionnelle de points de simili, la transparence de 50 % étant ajustée de manière classique par un détecteur de sur- face proportionnelle de points de simili comportant un cir- cuit correcteur de point de changement de direction classi- que; - la figure 5 représente, sous forme de schéma-blocs, un détecteur classique de surface proportionnelle de points de simili comportant un circuit correcteur de point de change- ment de direction; - ta figure 6 est une vue schématique d'une forme de réali- sation d'un circuit correcteur de point de changement de di- rection classique; - la figure 7 montre une courbe représentant les caractéris- tiques d'entrée et de sortie du circuit correcteur de point de changement de direction classique de la figure 6; - la figure 8 est une vue schématique d'une forme de réali- - 10 - sation d'un circuit correcteur suivant l'invention; et - Za figure 9 montre des courbes représentant les caracté- ristiques d'entrée et de sortie du circuit correcteur, sui- vant l'invention, représenté sur la figure 8. Sur la figure 8 est représenté un circuit correcteur d'un détecteur de surface proportionnelle de points de simili suivant l'invention qui comprend une combinaison du circuit correcteur de point de changement de direction 4 de la fi- gure 6, d'un circuit amplificateur inverseur comprenant un amplificateur opérationnel Q5 et des résistances R51 et R52 reliées à ce dernier, et d'un potentiomètre R qui relie entre elles les sorties des deux amplificateurs Q4 et Q5. En admettant que la tension de sortie de l'additionneur 3 au niveau de la transparence de 50 % soit Ez et les gains des circuits amplificateurs inverseurs comportant les ampli- ficateurs opérationnels Q4 et Q5 soient respectivement G4, G4' et G., si les conditions des formules suivantes o Eo5 représente la tension de sortie de l'amplificateur Q5 et Ei6 signifie la tension d'entrée du circuit sont remplies, alors un circuit correcteur présentant les caractéristiques d'entrée et de sortie représentées sur la figure 9 peut être obtenu, laquelle figure 9 montre trois courbes (a), (b) et (c) relatives aux tensions de sortie Eo5, E06 et Eo4 de l'amplificateur Q5, du potentiomètre R6 et de l'ampli- ficateur Q4. Si 0 G) S Ei6 Ez, G5 4 (I) Si E E 41 42 ainsi que des résistances R43, R51 et R52 doivent être choi- sies de façon à répondre aux formules (I), (II) et (III) ci- - 11 - dessus. Par exemple, pour simplifier l'explication, si les valeurs choisies pour les résistances R51 et R52 sont de 10 kiloohms de façon que le gain G du circuit comportant l'amplifica- teur Q5 soit égal à 1, alors le gain G4 du circuit compor- tant l'amplificateur Q4 doit être inférieur au gain G5=1 dans le cas o 0 = Ei6 = Ez. Par conséquent, si les valeurs choisies pour le potentiomètre R41 et la résistance R43 sont respectivement de 20 et de 10 kiloohms, alors le gain R43 10 G = R - - est inférieur à 1 et les conditions de la for- R41 20 mule (I) sont donc remplies. D'autre part, le gain G4' du circuit comportant l'amplifi- cateur Q4 doit être supérieur au gain G5 dans le cas o 6R43(R 41+R42) 3 R42 est de 10 kiloohms, le gain G4 R R = 2 est 42 4 41'42 2 supérieur au gain G5 et les conditions de la formule (II) sont donc remplies. Ensuite, les tensions de sortie E 5 et Eo4 dans le cas o Ei6 = 2Ez sont calculées de la façon suivante: _ 2E Eo5 = G5 Ei6 Z2 Eo4 G4. Ez + G4'(E 6-Ez + (2Ez-Ez) = 2Ez = Eos Il résulte clairement de ce calcul que les conditions de la formule (III) sont remplies. Par conséquent, si la valeur choisie pour le potentiomètre R41 est de 20 kiloohms et les valeurs choisies pour le po- tentiomètre R42 et les résistances R43, R51 et R52 sont de 4 4,R1 5 kiloohms, on peut obtenir le circuit correcteur présen- tant les caractéristiques d'entrée et de sortie de la fi- gure 9. - -12 - Puis, lorsque la prise mobile du potentiomètre R6 est tour- née, la tension de sortie E c'est-à-dire la quantité de correction, varie comme représenté par la courbe (b) de la figure 9. Dans cette forme de réalisation, les valeurs des potentio- * mètres et des résistances R41, R42, R43, R51 et R52 peuvent évidemment être choisies à volonté pourvu que les conditions des formules (I), (II) et (III) soient remplies. Bien que la forme de réalisation préférée de l'invention ait été expliquée en se référant à la transparence du film tra- mé, l'invention est évidemment applicable également en ce qui concerne la réflexion de la lumière par un imprimé ou analogue. Suivant l'invention, lorsque les points de O %, 50 % et 100% ont été déterminés, le point de 50 % peut être ajusté indé- pendamment sans changer les valeurs des points de O et 100 %. La forme de réalisation préférée décrite ci-dessus n'a aucun caractère limitatif, divers changements et modifications pouvant y être apportés sans sortir du cadre de l'invention. 249535- - 13 - Revendications 1.- Circuit correcteur équipant un détecteur de surface proportionnelle de points de simili dans lequel la relation existant entre la surface proportionnelle de points de si- mili mesurée et la transparence ou la réflexion d'un objet obtenu par photographie tramée est exprimée approximative- ment par une courbe à changement de direction, qui présen- te au moins un point de changement de direction et comporte. des segments linéaires, grâce à l'utilisation d'un circuit correcteur de point de changement de direction comprenant un circuit amplificateur inverseur, caractérisé en ce qu'il est prévu en outre a) un circuit amplificateur inverseur additionnel monté en parallèle avec le circuit correcteur de point de changement de direction; et b) un potentiomètre (R6) qui relie entre elles les sorties (Eo4 et E05) des deux circuits et délivre un signal (Eo6) correspondant quantitativement à la correction à effectuer. 2.- Circuit correcteur suivant la revendication 1, caracté- risé en ce que le circuit amplificateur inverseur addition- nel comprend un amplificateur opérationnel (Q5) et des ré- sistances (R51 et R52) reliées à ce dernier.