FR 2478320 A1 19810918 FR 8005928 A 19800317 DISPOSITIF D'ACQUISITION ET DE MOYENNAGE DES ECHANTILLONS D'UN SIGNAL PERIODIQUE BRUITE La présente invention concerne un dispositif d'acqui- sition et de moyennage des échantillons d'un signal périodique bruité, dont la période est composéed'une première partie avec signal et d'une seconde partie sans signal. Bien que l'invention ne soit pas limitée au domaine de la transmission d'un signal de télévision, le signal pé- riodique bruité peut être en particulier l'un des signaux d'essai dans des lignes spécifiques de l'intervalle de suppression de trame d'un signal de télévision. Les caracté- ristiques de ces signaux d'essai d'insertion et les paramètres à mesurer à partir de ceux-ci pour déterminer la qualité d'un système de transmission de signal de télévision sont spécifiés dans les avis A 473-2 (1970) et A 569 (1978) publiés par le Comité Consultatif International des Radiocommunications (CCIR). Dans l'art antérieur sont déjà connus des appareils qui mesurent automatiquement les distorsions subies par les signaux d'essai d'insertion et qui évaluent la qualité du signal en différents points de la chaine de transmission du signal de télévision. Ces appareils de mesure peuvent être classés en deux catégories. Les appareils de mesure de la première catégorie, de loin les plus nombreux, commercialisés par les Sociétés Rohde & Schwarz, A GEC-Marconi ElectronicsCompany et S.A. Philips, utilisent des dispositifs classiques d'acquisition et de moyennage du signal qui comprennent principalement les circuits suivants. Al'entrée du signal bruité, est insérée une pluralité de circuits d'échantillonnage et de maintien analogiquesclassiques qui sont un nombre égal au nom- - 2 - bre d'échantillons à acquérir. Chacun de ces circuits d'échan- tillonnage etde maintien est organisé autour d'un commutateur qui est fermé pendant la durée d'échantillonnage sur un conden- sateur destiné à mémoriser, sous la forme d'une tension conti- nue, la tension échantillonnée. Puis, éventuellement, des circuits analogiques filtrant les tensions échantillonnées permettent de moyenner leurs fluctuations en présence de bruit de fond. Après ce filtrage, des unités de calcul analogique, constituées par exemple d'amplificateurs opérationnels, cal- culent les différents paramètres à mesurer à partir des ten- sions échantillonnées et délivrent les signaux représentant les paramètres sous la forme de tensions continues. A la sortie de l'unité de calcul est relié un convertisseur analogique-numé- rique lent qui convertitséquentiellement, sous forme numérique, les tensions continues délivrées par l'unité de calcul. Selon cette première catégorie, il apparaît que les paramètres sont d'abord acquis sous forme analogique, ce qui présente l'incon- vénient de mettre en oeuvre une unité de calcul analogique de coût relativement élevé. Il en résulte que le nombre d'échan- tillons est réduit. Les appareils de la seconde catégorie, plus récents, commercialisés par la Société Tektronix, Inc. font plus large- ment appel aux techniques numériques. Le signal bruité à ana- lyser est échantillonné à une fréquence très élevée et supé- rieure à la fréquence de Nyquist. Chaque échantillons est ins- tantanément converti sous forme numérique à l'aide d'un conver- tisseur analogique-numérique rapide. Les valeurs numériques relatives à chaque échantillon, pour plusieurs périodes suc- cessives du signal bruité, sont rangées dans une mémoire. A la fin de ces périodes successives un microprocesseur lit les valeurs numériques mémorisées pour chaque échantillon et cal- cule, pour ces périodes successives,la valeur moyenne de l'é- chantillon, au sens mathématique du terme. La valeur de l'échantillon est alors très imprécise si le signal est fortement bruité pendant lesdites périodes successives. Par ailleurs, il est connu que les convertisseurs analogiques-numériques rapides actuels ont une résolution relativement faible, au maximum 8 bits par échantillonce qui limite la précision de l'échantillonnage et par suite du moyennage dans les appareils demesure selon la seconde catégorie. La présente invention a pour but de fournir un dispo- sitif d'acquisition et de moyennage d'un signal périodique bruité s'affranchissant des inconvénients ci-dessus évoqués par le fait qu'il met en oeuvre un convertisseur numérique- analogique à haute résolution et de coût plus réduit qu'un convertisseur analogique-numérique qui par construction est à faible résolution, et une unité de calcul des valeurs numériques des échantillons à acquérir qui comprend essentiel- lement des composants numériques, ce qui permet de traiter directement sous forme numérique les échantillons en vue du calcul des paramètres. En outre, le dispositif selon l'invention assure une acquisition des valeurs numériques des échantillons à la fois rapide et insensible au bruit de fond. A cettef# le dispositif d'acquisition et de moyennage est caractérisé en ce qu'il comprend des moyens pour soustrai- re la première partie du signal bruité à des échantillons analogiques qui sont précalculés pendant la seconde partie de signal précédent, afin de produire un signal d'erreur analogique, des moyens pour comparer le signal d'erreur à zéro, à un seuil de tension prédéterminé et à son opposé afin de produire pour chaque échantillon des premier et second bits indiquant la grandeur du module du signal d'erreur relativement audit seuil de tension et le signe du signal d'erreur, des premiers moyens pour mémoriser au moins les valeurs numériques -4 - précalculées des échantillons et les premierSet secondsbits des moyens pour lire et écrire en synchronisme chaque va- leur numérique d'échantillon et les premier et second bits résultant des comparaisons à un instant récurrent prédéterminé de ladite première partie avec signal, des moyens pour conver- tir lesdites valeurs numériques des échantillons en lesdits échantillons analogiques et des moyens numériques lisant la valeur numérique mémorisée de chaque échantillon et les pre- mier et second bit résultants pour calculer et écrire dans les premiers moyens de mémorisation pendant au plus ladite seconde partie du signal bruité une nouvelle valeur numérique d'échantillon qui est statistiquement plus voisine de l'am- plitude correspondante du signal bruité. Le principe de base du dispositif selon l'invention est le suivant. Au moyen de valeurs numériques contenues dans une mémoire et d'un convertisseur numérique-analogique, un signal analogique est produit pendant la première partie de chaque période du signal bruité. Le signal analogique et le signal bruité sont comparés à des instants d'échantillonnage prédéterminés dont le nombre et les positions temporelles dans la première partie de période sont sélectionnés en fonction de la forme du signal bruité, de son spectre et de la nature des mesures à effectuer. Puis les résultats des comparaisons, tels que le signe du signal d'erreur et la grandeur-du module du signal d'erreur relativement au seuil de tension prédéterminé, sont écrits dans la mémoire. Pendant la seconde partie de chaque période correspondant à l'absence du signal bruité, telle que la durée de trame utile pour l'acquisition d'un signal d'essai d'insertion en télévision, une unité de traitement, comme un microprocesseur,effectue le calcul des nouvelles valeurs numériques des échantillons en fonction des résultats de com- paraison et des valeurs numériques des échantillons précédents, selon un algorithme particulier. Puis les nouvelles valeurs numériques des échantillons sont à nouveau converties sous forme d'un signal analogique lors de la première partie de période suivante. En régime établi le signal synthétisé coincide avec la valeur moyenne du signal entrant bruité à analyser, aux instants d'échantillonnage prédéterminés. Les moyens de calcul mettant en oeuvre l'algorithme particulier comprennent principalement des premiers moyens de comptage et de comparaison recevant le premier bit relatif à chaque échantillon pour sélectionner un premier ou un second incrément selon qu'un premier nombre de fois o le module du signal d'erreur relatif audit échantillon est supérieur audit seuil de tension pendant des périodes précé- dentes consécutives, est- supérieur ou strictement inférieur à un premier nombre prédéterminé, des seconds moyens de comptage et de comparaison recevant le second bit relatif à chaque échantillon et commandés par lesdits premiers moyens de sélection pour sélectionner le second bit ou un troisième bit selon que le premier ou le second incrément est sélection- né,-l'état dudit troisième bit indiquant un second nombre de fois o le signal d'erreur relatif audit échantillon est strictement supérieur ou inférieur à la moitié d'un second nombre prédéterminé, des moyens arithmétiques pour additionner ou soustraire la valeur numérique de l'échantillon audit pre- mier incrément selon que le signal d'erreur relatif audit échantillon est positif ou négatif, ou pour additionner ou soustraire la valeur numérique de l'échantillon audit second incrément selon que le second nombre de fois est strictement supérieur ou inférieur àla moitié dudit second nombre prédé- terminé, afin de produire ladite nouvelle valeur numérique de l'échantillon. L'algorithme utilisé dans le dispositif selon l'inven- tion, pour le calcul du signal synthétisé permet d'obtenir un excellent compromis entre la vitesse d'acquisition et la - 6 - réduction du bruit. Les valeurs numériques du signal synthé- tisé sont disponibles en mémoire, après acquisition en régime établi, et peuvent être utilisées pour le calcul des paramètres à mesurer. D'autres avantages de la présente invention apparaitront plus clairement à la lecture de la description qui suit d'exemples de réalisation et des dessins annexés correspon- dants, dans lesquels: - la Fig. 1 est un bloc-diagramme schématique du capteur du dispositif d'acquisition et de moyennage destiné à acquérir les résultats de comparaison; - la Fig. 2 est un diagramme d'ondes montrant les différents signaux obtenus à la suite des comparaisons dans le capteur - la Fig. 3 est un bloc-diagramme détaillé d'un exemple préféré de l'horloge à pas variable du capteur; - la Fig. 4 est un diagramme d'ondes montrant l'échantillon- nage à pas variable; - la Fig. 5 est un bloc-diagramme schématique de l'unité de traitementdu dispositif, selon une réalisation à microprocesseur, destinée à moyenner les échantillons; et - la Fig. 6 est un bloc-diagramme détaillé d'une partie de l'unité de traitement selon une réalisation en logique cablée, pour calculer la valeur numérique d'un échantillon à partir des résultats de comparaison. Le dispositif d'acquisition et de moyennage selon l'invention est constitué essentiellement par une unité de traitement 1 et par un capteur 2. L'unité de traitement 1 est destinée au calcul des valeurs numériques des échantillons du signal synthétisé et sera détaillée plus loin. Le capteur 2 est montré à la Fig. 1 et est destiné à capter les caractéris- tiques du signal d'erreur pour chaque échantillon. Le signal d'erreur représente la différence entre le signal synthétisé calculé par l'unité de traitement 1 et le signal de test à analyser. -7- Tel que montré à la Fig. 1, le capteur 2 est organisé autour d'une mémoire à accès aléatoire 20 qui est entièrement sous le contrôle de l'unité de traitement 1 lorsque le capteur 2 ne reçoit pas le signal de test. La mémoire 20 est partagée en trois séries de cellules Y, R et t qui sont composées chacune d'un nombre de cellules élémentaires égal ou supérieur au nombre N d'échantillons à acquérir. La première série y1 à YN contient des mots à 12 bits, par exemple, qui repré- sentent les valeurs numériques des échantillons. La seconde série de cellules R à RN contient des mots à 2 bits Q1, Q2 qui indiquent le résultat des comparaisons du signal synthétisé et du signrl de test. L'état du premier bit Q1 indique si le module,i:du signal cc est inférieur ou supérieur à un seuil prédéterminé S. L'état du second bit Q2 d'un mot R indique le signe du signal d'erreur ç. La troisième série de cellules t1 à tN de la mémoire 20 contient des mots à 4 bits, par exemple, représentant les valeurs numériques des pas élémen- taires d'un cycle d'échantillonnage. Dans le capteur 2, les résultats des comparaisons pour chaque échantillon sont principalement obtenus au moyen des composants 21 à 24. L'échantillon Yn, n variant de 1 à N, est lu dans la mémoire 20 après une durée égale t et transmis à travers le bus 200 à 12 fils à un convertisseur numérique-analogique 21, L'échantillon analogique Sbest trans- mis par le convertisseur 21 vers l'entrée inverse (-) d'un soustracteur 22. L'entrée directe (+) du soustracteur 22 reçoit le signal de test périodique T. Ce signal de test peut être, comme déjà dit, un signal standard tel que les signaux d'essai insérés dans les lignes n0 17 à 22 d'un signal vidéo. Ce signal de test T a une période par exemple égale à 20 ms et une durée de l'ordre de 0,38 ms égale àa tn. Le début du signal de test selon cet exemple est l'instant correspon- dant à la demi-amplitude du front montant de la barre de luminance du signal d'essai inséré dans la ligne 17 du signal -8- vidéo, comme montré au-dessus du fil D dans la Fig. 1. La sortie 220 du soustracteur 22 fournit l'échantillon analogique ú du signal d'erreur î= T - S. Un exemple de si- gnal d'erreur ú est montré à la Fig. 2B pour des signaux synthétisé S et de test T montrés à la Fig.,2A. Le signal d'erreur est appliqué à l'entréedirecte (+) d'un circuit de comparaison à zéro 23 et à des entrées directe (+) et inverse (-) d'un circuit de comparaison à double seuil 24. Les circuits de comparaison 23, resp. 24, comprennent clas- siquement des amplificateurs opérationnels montés en compa- rateur. Le circuit 23 comporte un comparateur à zéro 230 dont le signal de sortie est montré à la Fig. 2C et est transmis à une bascule bistable 231 Le circuit comporte deux compara- teurs 240 et 241 qui comparent le signal., respectivement à la valeur du seuil prédéterminé S0 et à sa valeur opposée - S0. Lessignaux de sortie des comparateurs 240 et 241 sont représentés aux Figs 2D et 2E. Le circuit 24 comprend égale- ment une bascule bistable 242 dont l'entrée est reliée aux sorties des comparateurs 240 et 241,à travers une porte OU 243. Le signal logique à la sortie de la porte OU 243 est montré à la Fig. 2F. Il est à l'état haut si J|7J>So, ce qui correspond à l'écriture d'un bit Q1 = 1 dans la cellule cor- respondante Rn de la mémoire 20. Le signal logique de signe de E transmis par la sortie du comparateur 23 (Fig. 2C) est à l'état haut si E>o, ce qui correspond à l'écriture d'un bit Q2 = 1 dans la cellule correspondante R. Ces deux écritu- res sont effectuées à la fin du pas élémentaire correspondant tn sous la commande d'un signal d'horloge 255 délivré aux bascules 231 et 242. L'échantillonnage à pas variable t à tN est réalisé au moyen d'une horloge à pas variable 25 et d'un compteur d'adresse 26. Les valeurs numériques t1 à tN sont choisies préalablement en fonction des caractéristiques de la partie du signal de test à analyser. 9 _ L'horloge 25 comprend, selon l'exemple illustré à la Fig. 3, une boucle de bascule monostables 250 à 253 qui est déverrouillée entre la durée séparant deux signaux de début et de fin de la partie du signal de test à acquérir, respec- tivement appliqués aux entrées D et F. La boucle de bascules comprend trois bascules monostables 251 à 253 en série qui sont excitées par un front descendant sur leurs entrées afin de produire chacune une impulsion, par exemple de 1,s. Trois bascules monostables sont utilisées au lieu d'une pour des fins de stabilisation en température. L'entrée de la première bascule monostable 251 est reliée à la sortie de la bascule 250 qui une bascule à verrouillage. La sortie de la dernière bascule 253 constitue la sortie 255 de l'horloge 25 qui est reliée à l'entrée de la bascule 250 et également à l'en- trée du compteur d'adresse 26 et aux entrées d'horloge des bascules 231 et 242 (Fig. 1). L'horloge 25 comprend également une bascule JK 256 à entrées J et K respectivement à "" et "1" et une porte OU 257 dont les entrées sont reliées à la sortie Q de la bascule 256 et à l'entrée D et dont la sortie est reliée à l'entrée de commande de verrouillage de la bascule 250. L'entrée RA 1 de remise à "1" et l'entrée d'horloge H de la bascule 256 sont reliées aux entrées D et F. L'entrée de commande de verrouil- lage de la bascule 250 est au niveau haut et, par suite, la bascule 250 est verrouillée, après une impulsion de début sur l'entrée D jusqu'à l'impulsion suivante de fin sur l'entrée F. Puis la bascule 250 est verrouillée jusqu'à la prochaine impulsion de début, c'est-à-dire l'horloge est arrêtée afin que la mémoire 20 soit gérée par l'unité de traitement 1. Dans l'horloge 25, un décodeur 258 reçoit en parallèle, via le bus 202, les bits des mots t1 a tN représentant les valeurs numériques des pas élémentaires d'horloge, transmis par la mémoire 20 sur ordre du compteur d'adresse 26. Le - 10 - décodeur 258 modifie la constante RC déterminant la largeur de l'impulsion dé la bascule à verrouillage 250. Il comprend, selon l'exemple illustré, quatre commutateurs qui sélection- nent ou court-circuitent chacun une résistance en fonction de l'état du bit du rang associé dans le mot reçu. Il apparatt ainsi que la durée entre deux échantillonnage est constituée par une durée constante qui est égale à la somme des durées de 1.s des impulsions successives fournies par les bascules monostables 251 à 253 et par la durée variable de l'impulsion fournie par la bascule 250. Comme montré aux Figs 1 et 4, le signal de début sur le fil D remet à zéro le compteur d'adresse 26, lequel transmet, à travers un circuit d'accès 3, les adresses des premières cellules Y1, Ri, tl. Puis le décodeur de pas 258 de l'horloge 25 reçoit à travers le bus 202 le mot tl. Après un premier pas de durée t1 correspondant à la mémorisation des caractéristiques Q1' Q2 du signal d'erreur relatif au premier échantillon, l'impulsion de sortie 255 de l'horloge 25 commande les bascules bistables 221 et 232 et incrémente d'une unité le compteur d'adresse 26, lequel à son tour transmet sur son bus de sortie 260 les adresses des cellules Y2, R2 et t2 relative au second échantillon. Ces séquences de durées variables t1 à tN se poursuivent jusqu'à ce que le compteur d'adresse 26 ait son compte égal à N et émette le signal de fin de cycle sur le fil F. ce qui indique l'arrêt de l'échantillonnage dans le capteur 2. Cet échantil- lonnage sera repris lors de l'apparition d'un nouveau signal de début D correspondant à la période suivante du signal de test T. On notera que, pour chaque cycle, le compteur d'adres- se 26 adresse en lecture les cellules Y et t et en écriture les cellules R. En fait, comme montré schématiquement à la Fig. 5, le compteur d'adresse 26 est inclu dans un circuit logique interne 27 ayant accès directement à la mémoire 20. Ce circuit logique 27 est relié par un bus 260 à la mémoire - il - à travers le circuit d'accès 3 et transmet, outre les adresses sous contrâle du compteur 26, certaines données et commandes telles que des instructions, en dépendance de l'état du compteur 26, pour permettre les lectures et écritures convenables des mots contenus dans la mémoire 20. Les mots t représentant les valeurs numériques des pas de l'horloge 25 sont préprogrammés dans la mémoire morte de séquences d'instructions de l'unité de traitement 1, comme on le verra dans la suite, et sont écrits dans les cellules correspondantes de la mémoire 20 du capteur 2 pendant la seconde partie de chaque période du signal bruité T. En se reportant maintenant à la Fig. 5 puis à la Fig. 6, on décrit l'unité de traitement 1 qui permet, pendant chaque période du signal de test T, après le signal de fin F, de calculer les nouvelles valeurs numériques Y des échantil lons afin d'acquérir par moyennage le signal de test dénué de bruit. Telle que montrée schématiquement à la Fig. 5, l'unité de traitement 1 est de préférence organisée autour d'un microprocesseur 10, par exemple du type INTEL 8080 ou MOTOROLA 6800. Comme il est connu, ce microprocesseur 10 est associé à une mémoire morte 11, c'est-à-dire à adressage uni- quement en lecture, à une mémoire vive 12 servant de tampon, et à une interface d'entrée-sortie 13. Les circuits 11, 12, 13 sont reliés au microprocesseur ainsi qu'à la mémoire d'échan- tillons 20 du capteur 2 par l'intermédiaire du circuit d'accès 3, à travers un bus d'adresses unidirectionnel 14, au bus de données bidirectionnel 15 et un bus de commande unidirection- nel 16. La mémoire 11 contient, outre les différentes valeurs numériques t des pas d'horloge, les séquences d'instructions du logiciel du microprocesseur 10 qui est propre au calcul de l'acquisition et du moyennage des échantillons. La mémoire tampon 12 enregistre certaines valeurs itératives A, B, C pour chaque cycle du programme correspondant à une période du signal - 12 - de test T. L'interface d'entrée-sortie 13 permet de transmettre sur le bus 17 à des moyens d'affichage tels qu'une imprimante ou une console de visualisation (non représentée) les résul- tats des mesures effectués par calcul numérique sur le signal synthétisé après la fin de la procédure d'acquisition. Par ailleurs, le microprocesseur 10 et le circuit d'ac- cès 3 reçoivent sur le fil 18 un signal d'enveloppe du signal de test T afin que, pendant la durée du signal (entre D et F), le circuit d'accès 3 relie la mémoire 20 à l'unité.logique interne d'accès direct 27 du capteur 2, via le bus 260, pour procéder aux calculs des caractéristiques du signal d'erreurE pour chaque échantillon et afin que, pendant une durée infé- rieure ou égale au laps de temps suivant o le signal de test T est absent, les bus 14, 15 et 16 soient reliés à la-mémoire 20 et que le microprocesseur lit les résultats des comparai- sons R à R et écrit les nouvelles valeurs calculées des 1 N échantillons Y1 à y Afin de montrer les opérations qu'effectue le micro- processeur 10, on a représenté à la Fig. 6 uniquement l'unité de calcul incluse dans l'unité de traitement selon une réali- sation en logique câblée. Cette partie correspond aux opéra- tions du logiciel du microprocesseur 10, Elle effectue le trai- tement des résultats de comparaison R = Q1 Q2 et calcule la nouvelle valeur de chaque échantillon au cours d'une période du signal de test T. L'unité de calcul de la Fig. 6 comprend pour l'essentiel trois circuits de comparaison 4, 5 et 6, un circuit de sélec- tion de l'écart d'échantillon 7, une unité arithmétique et logique 8 et un circuit logique 9 pour réinitialiser les autres circuits et transmettre la nouvelle valeur de l'échantillon Y'. Chacun des circuits de comparaison 4, 5, 6 comprend un compteur 40, 50, 60, un registre 41, 51, 61 et un comparateur 42, 52, 62 qui compare pour chaque échantillon respectivement le compte du compteur et le contenu du registre. Selon l'exem- - 13 - ple illustré, les comparateurs comparent des mots à 8 bits. Le circuit de comparaison 4 comprend également une bas- cule bistable 43 dont la sortie Q1 est reliée à travers une porte ET 44 à l'entrée de comptage du compteur 40 et dont la sortie complémentaire Q1 est reliée, à travers une porte ET 45, à l'entrée de remise à zéro (RAZ) du compteur 40. Une bascule bistable 53 est également incluse dans le circuit de comparai- son 5 et a sa sortie Q2 reliée à l'entrée de comptage du comp- teur 50 à travers une porte ET 54. Les autres entrées des portes ET 44, 45, 54 ainsi que l'entrée de comptage du compteur sont commandées par une implusion dite de comptage IC qui est transmise sur un fil 46 pour initialiser le début du calcul de chaque échantillon. Le circuit de comparaison 4 comprend également une porte ET 47 dont la sortie est reliée à l'entrée de décomptage du compteur 40. L'une des entrées de la porte ET 47 est reliée à la sortie du comparateur 42, qui est elle-même reliée à l'une des entrées d'une porte OU 90 du circuit logique 9 et à l'entrée de commande de sélecteurs 70 et 71 'du circuit de sélection 7. L'autre entrée de laporte ET 47 est reliée à un fil 48 qui trans- met des impulsions dites de calcul ICA vers une entrée d'une porte ET 91 du circuit.logique 9 dont l'autre entrée est re- liée à la sortie de la porte OU 90. Dans le circuit de sélection7,le sélecteur 70 a deux bus d'entrée reliés à deux registres 72 et 73 respectivement 26 pour procédures rapide et lente, c'est-à-dire à taux d'incré- mentation ou de décrémentation élevé AY ou petit Ay de l'échan- tillon. Le sélecteur 70 sélectionne le contenu de l'un des re- gistres 72 et 73 selon l'état de sortie du comparateur 42 pour le transmettre à un premier registre d'entrée tampon 80 de l'unité arithmétique et logique 8. Le sélecteur 71 sélectionne la sortie Q2 de la bascule 53 ou une première sortie 520 du comparateur 52 sous la commande de l'état logique a de la sor- tie du comparateur 42. Si a = 1 correspondant à une procédure rapide, le sélecteur 71 transmet l'état Q2 de la sortie de la bascule 53 afin que l'unité arithmétique - 14 - 8 additionne ou soustrait de la valeur numérique précédente Y de l'échantillon le contenu AY du registre 72 selon que n Q2 ou Q2 = . Si a = O, correspondant à une procédure lente, le sélecteur 71 transmet l'état b de la première sortie 520 du comparateur 52 afin que l'unité arithmétique 8 additionne ou soustrait à la valeur Y le contenu Ay du regis- tre 73 selon que b = 1 ou b = O. L'unité 8 comprend un second registre tampon d'entrée 81 contenant la valeur numérique précédente Yn de l'échantillon et un registre tampon de sortie 82 recevant le résultat Y' de l'addition ou de la soustrac- n tion. Le circuit logique 9 comprend, outre la porte OU 90, dont l'autre entrée est reliée à la sortie du comparateur 62, et la porte ET 91, également un inverseur 92 et une porte ET 93 qui commande le chargement d'un registre 94 par la nouvelle valeur de l'échantillon contenu dans le registre de sortie 82. La sortie de la porte 91 commande la remise à zéro (RAZ) des compteurs 50 et 60 et est reliée à une entrée de la porte ET 93. L'autre entrée de la porte ET 93 est reliée à travers l'inverseur 92 à une seconde sortie 521 du compara- teur 52. On décrit maintenant l'algorithme pour l'acquisition et le moyennage d'un échantillon, c'est-à-dire correspondant au logiciel du microprocesseur 10 mémorisé dans la mémoire de séquences d'instructions Il (Fig. 5). Cet algorithme est valable pour n'importe quel échantillon Y. Par ailleurs, pour ne pas surcharger la Fig. 6, ne sont pas représentés tous les composants électroniques relatifs à l'entrée des paramètres relatifs aux contenus An, B et C des compteurs 40, 50 et 60 à partir de la mémoire 12 et Yn du registre d'entrée 81 à par- tir de la mémoire 20 du capteur et relatifs à la sortie du con- tenu Y' du registre 94 vers la mémoire 20. Egalement, pour un n échantillon donné, on a pas représenté les moyens pour trans- férer le mot R Q1 Q2 de la mémoire 10 vers les entrées des - 15 - bascules 43 et 53. Les impulsions IC et ICA ainsi que d'autres nécessaires à la commande de certains composants de la Fig. 6 sont supposées être transmises par une unité de commande et une horloge en relation avec la mémoire d'instructions 11. Pour décrire l'algorithme relatif à un échantillon ayant la valeur numérique Yn, on suppose que, après la fin de la durée du signal du test T pour une période suivie du traitement des échantillons Y à Yn1, les états des compteurs , 50 et 60 sont mis respectivement à An, Bn, C qui corres- pondent aux paramètres de l'échantillon Y comparé au signal de n test de ladite période. Cette comparaison a donné un résultat Q1 Q2 mémorisé dans la cellule R de la mémoire 20 et transmis aux entrées des bascules 43 et 53. Au début du cycle, le re- gistre 81 contient la valeur Yn. Au début du calcul, une impulsion de comptage IC est transmise sur le fil 46 qui déclenche l'incrémentation d'une unité de compteur 60 et sélectivement en fonction de l'état de Q1 et Q2 l'invrémentation d'une unité des compteurs 40 et 50. Le compte C' = C + 1 du compteur 60 est donc égal au n n nombre de périodes du signal de test T pour esquelles l'échan- tillon du signal synthétisé a été comparé au signal de test. D'après ce qui a été dit en référence aux Figs 1 et 2, Q1 signifie quejF_> S, ce qui met l'état du compteur 40 à A' = 0 n A + 1 et Q1 = signifie quelq, contient donc le nombre de pér iodes o l'échantillon corres- pond du signal d'erreur est positif. - 16 - Le comparateur 42 compare le compte A' du compteur 40 n avec un premier nombre prédéterminé AO contenu dans le registre 41. Si l'état a de la sortie du comparateur est "1" signifiant que A' > Ao, c'est-à-dire que l'échantillon du n O signal synthétisé S est très statistiquement différent de celui du signal de test T(ISI statistiquement plus grand que SO),il est nécessaire de diminuer cette différence élevée par une incrémentation à pas élevé AY. Par suite, si a = 1, le sélecteur 70 est en phase de procédure rapide et transfère l'incrément AY du registre 72 vers le registre d'entrée 80 de l'unité arithmétique 8o Egalement, si a = 1, le sélecteur 71 transmet la valeur Q2 à l'unité 8. Si Q2 = 1 ( E > 0) l'échantillon Y est beaucoup trop petit et doit être augmenté n ce qui est réalisé par l'addition Y' = Y + /LY. Dans le cas n n contraire Q2 = O (E Y' = Y - AY. n n Dans le cas o a = 0, ce qui signifie que A bruit près, il est nécessaire d'affiner la valeur de l'échan- tillon Y par une procédure lente à faible incrément Ay. Le n sélecteur 70 transfère le contenuAy du registre 73 dans le registre d'entrée 80 de l'unité 8 et le sélecteur 71 transfère l'état b de la première sortie 520 du comparateur 52 dans l'unité 8. Dans le circuit de comparaison 5, le registre 51 con- tient un nombre CO/2 égal à la moitié d'un second nombre prédéterminé pair C0 contenu dans le registre 61. L'état b = 1 de la première sortie 520 du comparateur 52 signifie B' > CO/2 n O et l'état b = O signifie B' nO de sortie 521 du comparateur 52 signifie B' = CO/2. Par suite, nO pour un nombre de périodes C' égal à CO, si b = 1 ( t statis- nO tiquement positif sur C périodes) l'addition Y' = Y + y es raién n est réalisée dans l'unité 8 et si b = 0 ( statistiquement - 17 - négatif sur C périodes) la soustraction Y' = Y - Ay est O n n réalisée. Si b' = 1 (8 statistiquement nul sur CO périodes) la porte 93 reste fermée et la valeur de l'échantillon n'est pas modifiée Y' = Y n n Dans le circuit de comparaison 6, le comparateur 62 à sa sortie à c = 1 si le résultat de la comparaison du compte C' du compteur 60 avec le contenu C du registre 61 est tel n O que C C, et à c = 1 si C Ac8 pour justifier la modification de Yn par la procédure rapide; si c = 1 le nombre de périodes du signal de test T pour lesquelles l'échantillon Y a été comparé à celui du signal de test T est suffisamment élevé pour justifier une évaluation statistique du signe de ú et une modification de Y en conséquence, par la procédure lente. On voit déjà les liaisons des portes 90 et 91 que l'impulsion de calcul ICA décrémente d'une unité le compteur 40, à travers la porte ET 47, si a = 1, et commande également la remise à zéro (RAZ) des compteurs 50 et 60 si a = 1 ou *c = 1. Dans les autres cas, c'est-à-dire si a = O ou c = 0, aucune opération n'est effectuée sur Y et la nouvelle valeur Y' est égale à Y n n La nouvelle valeur Y' est transmise à la mémoire 20 du - n capteur 2 pour la comparaison pendant la période suivante du signal de test T. Cette comparaison est suivie d'un nouveau - 18 - calcul de la valeur de l'échantillon à partir des valeurs des résultats R' et des paramètres Y', A', B' et C' et nn n n n ainsi de suite pour chaque échantillon selon l'algorithme pré- décrit. A titre d'indication, la demanderesse a obtenu une réduction du bruit d'au moins 20 dB avec une durée d'acquisi- tion inférieure à 10 s pour un signal synthétisé obtenu à partir d'un signal d'essai inséré dans un signal vidéo présen- tant un rapport signal/bruit de 30 dB, et pour les valeurs suivantes des paramètres précités: A0 = 16; CO = 4; AY = 16; Ay = 1 et S. = 20 x p x G o p est égal au pas de quantification dans le convertisseur numériques analogique 21 et G le produit des gains internes du convertisseur 21 et du soustracteur 22. Bien que l'invention ait été décrite selon un exemple préféré de réalisation, d'autres variantes facilement imagi- nables par l'homme de métier peuvent être conçues dans le cadre des revendications annexées. Ceci est particulièrement le cas pour la circuiterie des Figs,5 et 6 et également pour l'horloge 25 qui peut être organisée autour d'un diviseur de fréquence programmable classique. On notera également que l'unité de traitement 1 à microprocesseur 10 de la Fig. 5 peut être conçue pour gérer plusieurs capteurs 2 qui fonction- nent sur différents signaux de test. Ces signaux de test peu- vent être, relativement au domaine de la télévision, le signal d'essai non filtré, la forme d'onde de luminance, la forme d'onde de chrominance détectée en amplitude, la forme d'onde de chrominance détectée en phase et la forme d'onde du signal multisalve détectée en amplitude. 19 - Revendications 1 - Dispositif d'acquisition et de moyennage des échantillons d'un signal périodique bruité dont la période est composée d'une première partie avec signal et d'une seconde partie sans signal, caractérisé en ce qu'il comprend des moyens (22) pour soustraire la première partie du signal bruité (T) à des échantillons analogiques (S) qui sont précalculés pendant la seconde partie de signal précédent, afin de pro- duire un signal d'erreur analogique (e), des moyens (23,24) pour comparer le signal d'erreur (ú) à zéro, à un seuil de tension prédéterminé (S 0) et à son opposé (-S 0) afin de produire pour chaque échantillon des premier et second bits (Qî1 Q2) indiquant la grandeur du module (iWS) du signal d'er- reur relativement audit seuil de tension (S 0) et le signe du signal d'erreur, des premiers moyens (20) pour mémoriser au moins les valeurs numériques précalculées (Y) des échantil- lons et les premierset secondsbits (Q1' Q2), des moyens (20, t, 25-27) pour lire et écrire en synchronisme chaque valeur numérique d'échantillon (Y) et les premier et second bits (Q1, Q2) résultant des comparaisons à un instant récurrent prédéterminé (t) de ladite première partie avec signal, des moyens (21) pour convertir lesdites valeurs numériques des échantillons (Y) en lesdits échantillons analogiques (S), et des moyens numériques (1) lisant la valeur numérique mémorisée de chaque échantillon (Y) et les premier et second bits résul- tants pour calculer et écrire dans les premiers moyens de mémo- risation (20) pendant au plus ladite seconde partie du signal bruité une nouvelle valeur numérique d'échantillon. (Y') qui est statistiquement plus voisine de l'amplitude correspondante du signal périodique bruité (T). 2 - Dispositif conforme à la revendication 1, caracté- risé en ce que les moyens de calcul (1) comprennent des pre- miers moyens de comptage et de comparaison (4,70) recevant le premier bit (Q1) relatif à chaque échantillon pour sélectionner un premier - 20 - (AY) ou un second (4y) incrément selon qu'un premier nombre (A) de fois o le module du signal d'erreur relatif audit échantillon est supérieur audit seuil de tension (S 0) pendant des périodes précédentes consécutives, est supérieur ou stric- tement inférieur à un premier nombre prédéterminé (A), des o seconds moyens de comptage et de comparaison (5,71) recevant le second bit (Q2) relatif à chaque échantillon et commandés par lesdits premiers moyens de sélection (4) pour sélectionner le second bit (Q2) ou un troisième bit (b) selon que le premier (^AY) ou le second ( moitié (C0/2) dudit second nombre prédéterminé, afin de produi- re ladite nouvelle valeur numérique de l'échantillon (Y'). 3 - Dispositif conforme à la revendication 2, caracté- risé en ce que, dans les moyens de calcul (1), ledit second nombre de fois (B)est remis à zéro chaque fois que les pre- n miers moyens de sélection (4) sélectionnent le premier incrément (8Y) ou chaque fois que des moyens de comptage et de comparaison (6) comptent ledit second nombre prédéterminé (C0) de périodes consécutives du signal bruité (T). 4 - Dispositif conforme à la revendication 2 ou 3, ca- ractérisé en ce que, dans les moyens de calcul (1), ledit premier nombre de fois (A) est remis à zéro chaque fois que n le module du signal d'erreur (t.) relatif audit échantillon (Y) est inférieur audit seuil prédéterminé (S 0). - 21 - - Dispositif conforme à l'une des revendications 2 à 4, caractérisé en ce que les moyens de calcul (1) comprennent des moyens (10,12) pour mémoriser au moins lesdits premier et second nombres de fois (A,Bn) pendant chaque première partie de période du signal bruité (T). 6 - Dispositif conforme à l'une des revendications 2 à , caractérisé en ce que les moyens de calcul (1) sont organisés autour d'un microprocesseur tlo). 7 - Dispositif conforme à l'une des revendications 1 à 6, caractérisé en ce qu'il comprend des moyens (25,27) pour sélectionner les instants d'échantillonnage du signal bruité (T). 8 - Dispositif conforme à la revendication 7, caracté- risé en ce que les moyens sélectionnant les instants d'échan- tillonnage comprennent des seconds moyens (20,T) pour mémori- ser les valeurs numériques des intervalles temporels (t) entre chaque instant d'échantillonnage, des moyens de temporisation (25) initialisés au début- chaqe premia partie de période du signal de testpour produire un signal d'horloge auxdits instants d'échantillonnage, et des moyens (26) commandés par ledit signal d'horloge-pour adresser en lecture et en écriture lesdits premiers moyens de mémorisation (20,Y,R) et en lecture lesdits seconds moyens de mémorisation (20,t) afin de trans- mettre, en outre, les valeurs numériques des intervalles temporels (t) aux seconds moyens de mémorisation (20,t) lesdits moyens d'adressage (26) stoppant lesdits moyens de temporisation (25) après un nombre prédéterminé (N) d'instants d'échantillonnage. 9 - Dispositif conforme à la revendication 8, caractérisé en ce que les moyens de temporisation (25) comprennent une bascule monostable (250) ou une boucle d'im pluralité de bascules monostables (25E à 253), des moyens (256,257) pour débloquer l'une desdites bascules (250) pendant ledit nombre prédéterminé d'instants d'échantillonnage et des moyens de décodage (258) des valeurs numériques desdits intervalles - 22 - temporels (t) lus dans les seconds moyens de mémorisation (20,t) pour m9difier au moins une caractéristique de la constante de temps (RC) d'une ou de plusieurs bascules monostables (250 à 253) en fonction de ladit valeur numérique (t).