FR 2459475 A1 19810109 FR 8013399 A 19800617 La présente invention concerne de façon générale le test non destructif employant les courants de Foucault et elle porte plus particulièrement sur un dispositif permet- tant de réaliser des mesures absolues et différentielles de paramètres désirés, tels que l'emplacement et la profondeur d'un défaut et l'épaisseur de paroi, tout en éliminant les paramètres parasites comme les signaux qui résultent du support et ceux qui résultent de l'effet de soulèvement de la sonde. Les principes du test électromagnétique non des- tructif sont bien connus. Plus précisément, ces tests con- sistent à faire circuler des courants de Foucault dans un objet à tester, par induction à partir d'une bobine adja- cente qui est excitée par un courant alternatif. Les cou- rants de Foucault engendrent des champs magnétiques qui sont en couplage avec la bobine et induisent des tensions dans la bobine. Les champs magnétiques des courants de Fou- cault induisent dans la bobine une tension qui a la même fréquence que le courant d'excitation, mais peut avoir un angle de phase différent. L'angle de phase et l'amplitude de la tension induite dépendent des caractéristiques de l'objet sur lequel porte le test. On peut mesurer la tension induite à l'aide d'un matériel électronique approprié et on la détecte soit sous la forme de variations de tension, soit sous la forme de variations de l'impédance équivalente de la bobine. La tension induite varie en fonction du couplage magnétique entre la bobine de test et l'objet et en fonction des caractéristiques de l'objet qui est exploré. Ainsi, les variations de dimensions, les variations de conductivité électrique, les criques, l'écartement de la bobine et des grandeurs analogues modifient l'intensité des courants de Foucault pendant qu'on fait passer la bobine devant l'objet sur lequel porte le test. La variation d'impédance ou de tension qui est due au champ magnétique réfléchi qui résulte des courants de Foucault donne une indication de la dimen- sion, des variations d'espacement, de la conductivité, des criques, etc. Lorsqu'on utilise le test monofréquence, il devient pratiquement impossible de discriminer entre les divers.paramètres qui produisent la variation d'impédance ou de courant. Pour résoudre ce problème, on excite la bobine avec un certain nombre de fréquences et on combine les signaux de façon à annuler les paramètres de test parasites, tout en conservant ceux auxquels on s'intéresse. On accomplit généralement le test par courants de Foucault multifréquence en faisant fonctionner simultanément deux instruments monofréquence, ou davantage, avec un système commun de sonde ou de bobine. Deux paramètres A et B sont présentés en sortie pour chaque fréquence, et ces paramètres sont constitués par les composantes en phase et en quadratu- re de l'impédance ou de la tension de la bobine exploratrice. Ces paramètres de sortie sont les coefficients d'amplitude de Fourier du signal de la bobine et ils sont liés aux cou- rants de Foucault qui circulent dans les échantillons soumis au test par la relation suivante: A cosât + B sinXt = kH5 (1) dans laquelle: k est un facteur de proportionnalité Hs est le champ qui est engendré par les courants de Foucault, W est la fréquence et t est le temps. Pour faciliter la compréhension de ce qui précède, la figure 1 représente un schéma d'un système de test à courants de Foucault monofréquence, à une seule bobine. Le système qui est représenté fonctionne pratique- ment de la manière suivante: (1) on excite la bobine explo- ratrice avec un courant alternatif à la fréquence de test et on la positionne sur l'échantillon. (2) le champ primaire Hp de la bobine est en couplage avec l'échantillon conduc- teur et il produit une différence de potentiel dans ce der- nier. Les différences de potentiel qui existent dans l'échan- tillon font circuler des courants de Foucault dans celui-ci. (3) les courants de Foucault produisent un ch'amp électroma- gnetique secondaire H s. Ce champ est en couplage avec la bobine exploratrice et il induit des tensions secondaires dans la bobine. (4) les tensions secondaires sont détectées sous la forme d'une variation de l'impédance équivalente de la bobine. La bobine est généralement connectée à une branche d'un pont d'impédances. Les tensions secondaires induites dans la bobine produisent une variation de la caractéristi- que tension-courant de la bobine par rapport à l'instrument, et donc une variation de l'impédance équivalente de la bobi- ne. Cette variation est ensuite détectée par des circuits associés de type approprié. Selon une variante, on peut détecter directement les tensions secondaires à l'aide d'une seconde bobine qui est placée en couplage avec la bobine exploratrice et qu'on utilise pour fournir une indication de la phase et de l'amplitude des courants de Foucault. (5) les coefficients d'amplitude de Fourier en quadrature, A et B, des tensions secondaires sont ensuite détectés et présentés sous la forme de paramètres de sortie de l'instrument. Dans l'art antérieur, on utilise ces coefficients pour interpré- ter diverses propriétés de la matière, parmi lesquelles la conductivité, la perméabilité, l'épaisseur, les défauts, les vides ou les inclusions et le soulèvement ou variation de l'écartement entre la sonde et l'échantillon, toutes ces mesures étant des mesures absolues. La figure 2 représente schématiquement un système de test multifréquence de l'art antérieur. Ce système four- nit simultanément et en temps réel les coefficients d'ampli- tude A et B pour chaque fréquence. Ces coefficients sont ensuite combinés ou mélangés en temps réel par des circuits arithmétiques analogiques pour réaliser l'annulation désirée des paramètres parasites. On peut comparer le processus de combinaison à la résolution simultanée d'un système d'équa- tions, dans laquelle on élimine des variables en multipliant certaines équations par une constante appropriée et en additionnant le résultat aux autres équations. Les combinai- sons optimales de signal doivent être choisies avec précau- tion, en fonction des exigences du test. De façon générale, il peut exister un très grand nombre de façons de combiner les paramètres de sortie pour les diverses fréquences afin d'annuler des paramètres donnés. Toutes ces combinaisons ne fournissent pas une information significative ou présentant une Sensibilité élevée. On a utilisé avec succès dans de nombreux cas les techniques d'optimisation par ordinateur pour déterminer la combinaison optimale. On utilise des configurations à une seule bobine pour obtenir des mesures absolues des paramètres de l'objet, comme des mesures de conductivité et de dimensions. On peut utiliser deux bobines selon une configuration différentielle. Les bobines sont branchées dans un circuit en pont de façon qu'on obtienne un signal égal à zéro si les deux bobines sont en présence des mêmes conditions pour l'objet qui est soumis au test. On peut ainsi utiliser cette configuration pour assurer une discrimination vis à vis des conditions qui varient lente- ment le long d'un tube ou d'une barre de matière. L'invention consiste en un système de test par courants de Foucault multifréquence, à commande numérique, de type perfectionné. Le système à deux bobines qui correspond à l'in- vention peut être utilisé simultanément en mode de test absolu et en mode de test différentiel. On peut utiliser le test absolu pour obtenir un profil continu de l'épaisseur de paroi et des défauts moyens à grands dans un-tube, tandis qu'on peut utiliser le test différentiel pour détecter de petits défauts, comme des fissures, par corrosion sous ten- sion. Le circuit de sonde comporte des lignes de trans- mission adaptées pour exciter la sonde et pour obtenir des signaux, afin d'éviter les problèmes de circuit résonnant qui apparaissent en présence de grandes longueurs de câble. Le système numérique comprend des filtres passe- bande avec des fréquences centrales qui sont commandées de façon numérique, et des sorties en sinus et en cosinus. On utilise pour les signaux multifréquences un mélangeur qui donne une réduction maximale des paramètres parasites, avec une sensibilité accrue. Plus particulière- ment, l'effet de soulèvement de la sonde est compensé sans modifier la réponse fondamentale du déphasage en fonction de la profondeur des défauts qu'on obtient à partir d'une réponse monofréquence. La réponse qui résulte des plaques de 3upport de tube est également notablement' réduite. L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui va suivre de modes de réalisation et en se référant aux dessins annexés sur lesquels: La figure 1 représente schématiquement la mise en oeuvre d'un test par courants de Foucault monofréquence. La figure 2 représente un système de test par courants de Foucault multifréquence. La figure 3 est un schéma synoptique d'un système de test par courants de Foucault qui correspond à l'inven- tion. La figure 4 représente un filtre passe-bande à commande numérique qui est utilisé dans le système de la figure 3. La figure 5 représente le réseau de résistances binaires de la figure 4. La figure 6 représente la réponse en fréquence du filtre de la figure 4. La figure 7 représente le système de sonde diffé- rentiel/absolu de l'invention. La figure 8 représente un amplificateur à gain variable qui est destiné à être utilisé dans les réseaux mélangeurs de l'invention. La figure 9 représente un amplificateur de somma- tion qui est destiné à être utilisé dans les réseaux mélan- geurs de l'invention. La figure 10 est un diagramme vectoriel qui illustre l'annulation de l'effet de soulèvement conformé- ment à l'invention. La figure 11 représente deux fréquences qui est destiné à qui présentent des indications de La figure 12 représente tion de l'effet du support. La figure 13 représente trois fréquences qui correspond à La figure 14 représente trois fréquences qui correspond à tion de l'invention. un circuit mélangeur à éliminer les paramètres sortie complexes. une technique d'annula- un système mélangeur à l'invention. un système mélangeur à un autre mode de réalisa- Les figures 1 et 2 ont déjà été décrites. La figure est un schéma synoptique d'un système de test non destruc- tif par courants de Foucault qui correspond à l'invention. Le système comprend des éléments qui permettent d'exciter des bobines différentielles, de détecter les signaux qui sont induits dans les bobines par les courants de Foucault, d'obtenir les coefficients d'amplitude de Fourier A et B des signaux induits, et d'appliquer ces coefficients à un mélan- geur qui élimine les paramètres parasites. Le système comprend deux bobines 11 et 12 qui peu- vent être montées de façon appropriée et qui peuvent par exemple être introduites et déplacées le long des tubes d'un générateur de vapeur. Les bobines sont connectées à un cir- cuit d'excitation de sonde et de récupération de signal, 13, qui est représenté sur la figure 7 et décrit ci-après. Les signaux de sortie du circuit 13 sont appliqués à des préam- plificateurs 14 et 15, puis à des modules de traitement, à raison d'un module pour chaque fréquence. L'un de ces modules est représenté dans le cadre en pointillés 16. Le signal de sortie de chaque module est appliqué à un mélangeur 17 qui, comme on l'a indiqué précédemment, a pour fonction de traiter et de combiner les signaux pour éliminer les paramètres para- sites. Chaque module reçoit une fréquence d'entrée à partir d'un oscillateur de référence 18. L'oscillateur peut être un oscillateur à quartz qui applique une fréquence de sortie fixe à un synthétiseur de fréquence 19. Le synthétiseur de fréquence réagit aux signaux de commande numériques qui sont appliqués sur le bus de commande 20 et il engendre un signal carré à une fréquence qui est déterminée par l'ordre numéri- que. Le bus numérique 20 est également connecté à un filtre numérique 21 qu'on décrira de façon plus détaillée en rela- tion avec les figures 4 et 5. Le filtre numérique filtre le signal carré et il fournit des signaux de sortie sinusoïdaux qui présentent une relation en sinus et cosinus. Le signal de sortie en sinus est appliqué par la ligne 22 à un amplifi- cateur de sommation qui constitue l'élément d'attaque de sonde qui excite les bobines. Les signaux en sinus et en cosinus sont également appliqués à des commandes d'équilibra- ge 24 et 26 qui sont connectées à un amplificateur de somma- tion 27. Les signaux de sortie en sinus qui proviennent d'autres modules fonctionnant à d'autres fréquences sont également appliqués à l'amplificateur 23 et ils excitent les bobines à d'autres fréquences choisies. Le signal de sortie du circuit de sonde, préamplifié par l'amplificateur 14, contient toutes les fréquences d'entrée qui sont appli- quées à la sonde. Dans la description qui suit, on a choisi trois fréquences de signal, à savoir 400 kHz, 200 kHz et 1,6 MHz. On peut cependant appliquer à l'amplificateur de sommation un nombre supérieur ou inférieur de fréquences de signal. Le signal de sortie qui comprend toutes les fréquen- ces est appliqué à un amplificateur de sommation 27. Les signaux d'état de repos des tensions en phase et en quadra- ture du signal de test qui ne sont pas éliminés par le cir- cuit de sonde sont annulés par addition de valeurs égales mais opposées des signaux en sinus et en cosinus qui sont obtenus à partir des commandes d'équilibrage 24 et 26. Les commandes d'équilibrage établissent la valeur appropriée des signaux qui sont appliqués à l'entrée de l'amplifica- teur de sommation 27, pour effectuer l'opération d'annula- tion pour les signaux qui correspondent aux fréquences des modules. D'autres fréquences de test sont extraites du signal soumis à l'opération d'annulation, par le filtre à commande numérique 28 qui est commandé par le bus de comman- de numérique 20. Le signal de sortie du filtre numérique est amplifié par un amplificateur 29 et il est appliqué à deux détecteurs d'amplitude sensibles à la phase, 31 et 32, qui reçoivent du filtre 21 des signaux de référence en sinus et en cosinus. Les détecteurs d'amplitude sensibles à la phase extraient les coefficients d'amplitude de Fourier A et B à partir du signal d'entrée E sin(wt + O) A = E cosG, et B = E sinG. Les signaux de sortie qui proviennent des décodeurs 31 et 32 sont appliqués au mélangeur 33 en compagnie des signaux qui proviennent d'autres modules 16. Les autres fréquences de signal de sortie qui proviennent du circuit de sonde sont traitées de la manière identique pour appliquer à un mélan- geur les coefficients d'amplitude de Fourier A et B pour chaque fréquence. Les filtres à commande numérique 21 et 22 remplis- sent plusieurs fonctions importantes dans le système à cou- rants de Foucault. Chaque filtre peut fournir une réponse passe-bande à Q élevé, comme la réponse qui est représentée sur la figure 6. La figure 4 représente un filtre approprié. Le filtre fournit à la fois des signaux de sortie en sinus et en cosinus qui sont utilisés comme signaux d'équilibrage et d'annulation pour l'amplificateur de sommation 27, et comme signaux de référence pour les détecteurs d'amplitude sensibles à la phase 31 et 32. On peut commander la fréquen- ce centrale du filtre par des ordres numériques, ce qui permet de changer la fréquence de test sans effectuer un nouvel accord manuel. Ce même signal de commande numérique commande également le fréquence de test, par l'intermédiaire du synthétiseur de fréquence 19. Ainsi, les filtres comme la fréquence de test suivent une seule commande de fréquence. Le principe de filtrage de base utilise le dépha- sage et la réaction positive et il a été décrit dans la littérature technique. On trouve par exemple la description d'une configuration de ce type dans l'article de U3. Thoren intitulé "Banish Inductors from Resonant Circuits", Electro- nic Design NO 17, août 16, 1973, pages 72-74. la figure 4 représente un schéma du filtre. Le filtre utilise deux cir- cuits déphaseurs à amplitude constante, 36 et 37, de type classique, pour obtenir respectivement un retard de 900 et une avance de 90 . Ces déphaseurs sont branchés dans un système de réaction qui comprend la résistance 38 pour obte- nir un effet de multiplicateur de Q. La fonction de trans- fert du filtre est la suivante AV. out R. 1* + in (1-A) Rf dans laquelle A est le gain vectoriel en boucle ouverte. Ceci suppose que la résistance d'entrée 39 pour laquelle on a indiqué une valeur lOR sur la figure n'est pas chargée par l'entrée du premier déphaseur. En pratique, on peut placer un séparateur devant le premier déphaseur 36. Les déphaseurs 36 et 37 sont des disposotifs à gain unité, et à la fréquence centrale (pour laquelle la réactan- ce du condensateur C est égale à la résistance du réseau de résistances binaire), le gain en boucle ouverte a la valeur: 1 + jO. Le signal de sortie est égal au signal d'entrée. Lorsque la fréquence d'entrée s'écarte de la fréquence cen- trale, le gain en boucle ouverte prend un déphasage et la fonction de transfert diminue rapidement. La commande de fréquence est accomplie en commu- tant un ensemble de résistances pondérées en binaire, dans un réseau de résistances binaire BRN. La figure 5 montre que les résistances sont connectées à des contacts de relais KA, KB, KC et ED. Le réseau de résistances est branché entre les points X et Y sur la figure 4. Les relais sont commandés par des signaux numériques qui sont appliqués par l'intermédiaire du bus numérique 19 aux bobines de relais A, B, C et D pour fermer les contacts associés. La fréquence centrale du filtre est f = D o 161rRC en désignant par D la valeur du mot numérique (1 à 10) qui est appliqué au réseau et par R et C les valeurs des compo- sants qui sont représentés sur la figure 4. En pratique, on utilise le réseau de résistances pour couvrir une décade de fréquence et on réalise les changements de décade en commutant d'autres valeurs de capa- cité à l'aide de relais à semiconducteurs (non représentés). L'onde en cosinus qui est utilisée pour l'équilibrage d'annulation et comme référence pour les détecteurs peut être extraite du signal de sortie du premier déphaseur 36. Les filtres 27 et 28 du module 16 sont du type ci-dessus, ; comme les filtres des autres modules qui fonctionnent à différentes fréquences. Comme on l'a indiqué précédemment, on va mainte- nant décrire le circuit de sonde et son fonctionnement. La figure 7 représente un schéma détaillé du circuit de sonde 13 de la figure 3. Le circuit produit à la fois des signaux de sortie absolus et différentiels. Le circuit permet en outre d'utiliser des câbles longs entre les bobines 11 et 12 et les composants d'équilibrage qui se trouvent à l'emplace- ment de test. Dans l'art antérieur, une résonance parallèle apparalt pour une fréquence à laquelle la réactance de la bobine est égale à la réactance capacitive du câble. De plus, pour les fréquences de test élevées, les câbles de l'art antérieur qui font fonction de lignes de transmission ont des terminaisons désadaptées et ils produisent des résonances en quart d'onde et en demi-onde. De plus, il n'est pas possible, dans l'art antérieur, d'extraire un signal à partir d'une seule bobine pour effectuer un test absolu dans un système de bobines de type différentiel. Le nouveau système de sonde qui est représenté sur la figure 7 supprime les inconvénients qui sont indi- qués ci-dessus. On forme un pont d'impédances en plaçant en série avec les bobines exploratrices 11 et 12 des inductan- ces L1 et L2 dont les valeurs sont égales à la moitié de celles des bobines exploratrices. Le pont est attaqué par l'élément d'attaque de sonde 23 par l'intermédiaire d'un câble qui est terminé au niveau des bobines par des résis- tances de 50 ohms qui sont représentées par les résistances 43 et 44. Le câble s'étend depuis l'emplacement de test jusqu'aux bobines, qui peuvent être à une distance de 45 m ou davantage. Les signaux de sortie désirés du pont sont constitués par les tensions aux bornes de chacune des bobi- nes exploratrices. Comme le montre la figure, on obtient ces tensions en bobinant de petites inductances secondaires 46 et 47 sur les inductances L1 et L2. Si les inductances secondaires ont notablement moins de spires que les induc- tances L1 et L2, elles n'ont qu'un effet minimal sur le pont lorsqu'il est chargé par une ligne ou un câble de transmis- sion à 50 ohms. Par exemple, avec un rapport abaisseur de 4/1 entre les nombres de spires, une charge équivalente de 800 ohms est placée en shunt avec l'inductance L et une i1 autre est placée en shunt avec l'inductance L2. Dans ces conditions, la charge est minimale, sauf pour les fréquences très élevées auxquelles les réactances inductives des induc- tances L1 et L2 commencent à s'approcher de 800 ohms. Les signaux de sortie des inductances secondaires demeurent proportionnels aux tensions des bobines explora- trices sur une plage de fréquences étendue. Un autre procédé pour prélever un signal dans le pont consiste à enrouler une bobine secondaire sur chaque bobine exploratrice, les bobi- nes secondaires ayant encore un nombre de spires notablement plus faible que celui des bobines exploratrices. Ce procédé donne satisfaction sur une plage de fréquence très étendue du fait qu'il ne nécessite pas que la réactance des bobines exploratrices soit supérieure à l'impédance de source de 50 ohms. Les tensions secondaires peuvent être ramenées vers le réseau d'équilibrage d'instrument 51 par les câbles 46 et 47, qui sont fermés sur leur impédance carac- téristique. L'un des signaux peut être appliqué à un second réseau d'équilibrage 52 pour réaliser un test absolu (à une seule bobine). On peut effectuer les deux tests simultané- ment si on le désire. Des transformateurs élévateurs 53 et 54 qui sont branchés en sortie des réseaux d'équilibrage font regagner la sensibilité qui a été perdue par l'action abaisseuse des bobines 46 et 47. Le réseau d'équilibrage égalise l'amplitude et la phase des deux tensions secondaires, afin qu'aucun signal d'état de repos n'apparaisse aux bornes du transformateur de sortie. On peut utiliser un réseau similaire pour réali- ser simultanément le test absolu, à l'exception du -fait que l'un des signaux d'entrée est obtenu à partir de la tension d'attaque au lieu de l'être à partir des inductances de la sonde. Dans certaines applications, il est souhaitable d'obtenir cette tension en prélevant une fraction du signal d'attaque qui apparait sur la résistance de terminaison de ohms au niveau des bobines. Cette résistance de 50 ohmz peut être constituée par deux résistances qui forment un divi:eur de tension et qui fournissent une sortie à bas niveau pour le renvoi vers le réseau d'équilibrage par l'intermédiaire du câble 56. Cette technique à l'avantage qui consiste en ce que le signal de la bobine comme le signal de référence subissent le même retard de propagation dans les câbles coaxiaux, si bien qu'il est beaucoup plus facile d'obtenir un équilibrage produisant une annulation, à cause de la coïncidence de phase des signaux. Comme on l'a indiqué précédemment, les signaux de sortie des détecteurs 31 et 32 sont appliqués à un mélan- geur. Ces signaux peuvent comprendre une information con- cernant un certain nombre de paramètres parmi lesquels cer- tains sont intéressants et certains perturbent la mesure des paramètres intéressants. La réduction des paramètres parasites dans le test par courants de Foucault multifréquence s'effectue à l'aide de combinaisons linéaires des données qui provien- nent des fréquences individuelles. On appelle généralement "mélange" ce processus de combinaison. On utilise couram- ment trois circuits dans ce processus de mélange. Ces cir- cuits sont les suivants: (1) les rotateurs de phase, (2) les amplificateurs à gain variable, et (3) les amplifica- teurs de sommation. Un rotateur de phase est un dispositif qui com- porte deux accès d'entrée X et Y et deux accès de sortie X1 et Y1. Sa fonction de transfert est la suivante Xl = X cos O - Y sin G y1 = Y cos 9 + X sin O en désignant par G l'angle de rotation désiré. On traite généralement les deux signaux de sortie qui correspondent à chaque fréquence de test sous la forme d'un système de coordonnées cartésiennes à deux dimensions, et on les analyse en les représentant sur un oscilloscope attaqué en X-Y. Le rotateur de phase a pour fonction de faire tourner la configuration affichée par rapport aux axes, avec l'angle de rotation G. Les figures.8 et 9 représentent respectivement des amplificateurs à gain variable et des amplificateurs de sommation appropriés. La procédure fondamentale pour éliminer une réponse parasite consiste à faire tourner et à modifier le module des indications individuelles qui proviennent de chaque fréquen- ce, jusqu'à ce qu'elle aient des polarités opposées et des modules égaux. On combine alors dans des amplificateurs de sommation les signaux horizontaux et verticaux (X et Y) qui proviennent de chaque fréquence, pour produire deux nouveaux canaux de sortie qui sont relativement exempts de réponse parasite. Le choix des fréquences joue un rôle important pour faire en sorte que les signaux de sortie finals con- tiennent toujours des données utiles sur les paramètres de test. Dans le cas de l'inspection de tubes, l'effet de peau produit des réponses différentes du déphasage en fonction de la profondeur du défaut, ce qui fait qu'on dispose d'une certaine information linéairement indépendante pour le pro- cessus de mélange. Les nouveaux procédés de mélange qui sont décrits ici ont été élaborés spécialement pour l'inspection de * tubes non ferreux en utilisant une sonde interne. Les avan- tages qu'ils offrent par rapport aux techniques de mélange classiques sont les suivants: (1) l'effet de soulèvement de la sonde est compensé sans modifier la réponse fondamen- tale du déphasage en fonction de la profondeur du défaut qu'on obtient par un test à une seule fréquence; et (2) la réponse qui résulte d'une plaque de support de tube peut être réduite de 90 à 95%. Ces résultats sont trèsimportants dans l'inspection des tubes de générateur de vapeur des centrales nucléaires, du fait que les indications qui résul- tent de l'effet de soulèvement et du support peuvent masquer de nombreuses réponses qui correspondent à des défauts et faire en sorte qu'on ne puisse pas détecter les défauts ou déterminer leur taille. La figure 10 illustre la technique d'annulation de l'effet de soulèvement. Les réponses vectorielles (diagrammes X/Y) sont représentées pour le test classique à une seule fréquence égale à 400 kHz, avec les profondeurs de défaut d'étalonnage à partir du diamètre extérieur indiqués en pourcentage de l'épaisseur de la paroi. On a fait tourner la configura- tion pour placer l'effet de soulèvement (W) dans le canal horizontal, et les configurations de défaut en forme de 8 sont représentées par un seul vecteur d'amplitude et de phase correctes. Dans le cas de l'inspection en service qui est effectuée à l'heure actuelle avec un test monofréquence, l'interprétation des données s'effectue en déterminant la profondeur du défaut par mesure de l'angle de phase des indications de défaut qui sont affichées avec un format X-Y, avec une orientation identique à celle qui est indiquée sur la figure. Lorsqu'on change la fréquence de test, la relation entre le défaut à une profondeur de 100% et l'effet de sou- lèvement demeure pratiquement inchangé, tandis que l'étale- ment de phase pour les autres profondeurs de défaut augmente ou diminue en fonction de la fréquence, à cause de l'effet de peau. Malheureusement, ceci signifie que différentes fréquences ne produisent pas une information indépendante pour éliminer l'effet de soulèvement sans modifier considé- rablement la réponse pour un défaut à une profondeur de %, au cours du mélange. En pratique, lorsqu'on utilise une autre fréquence dans la gamme de 100 à 600 kHz pour annuler l'effet de soulèvement qui est présent dans la répon- se à 400 kHz, la combinaison produit un signal de sortie dans lequel l'indication du défaut à une profondeur de 100% se trouve entre les réponses à 80 et 60%. De plus, la répon- se du déphasage en fonction de la profondeur du défaut est réduite à 60%, ce qui diminue la précision. L'invention résout ce problème par le choix d'une seconde fréquence (1,6 MHz) qui est suffisamment élevée pour que l'effet de peau supprime tout sauf le défaut à une profondeur de 100%. On fait tourner la configuration jusqu'à ce que le défaut à une profondeur de 100% soit essentielle- ment placé sur l'un des axes, et on modifie le module jusqu'à ce que la composante d'effet de soulèvement projetée sur l'autre axe soit égale à la composante correspondante de la réponse à 400 kHz. Ceci est représenté dans la partie inférieure de la figure. On soustrait alors ce signal du canal horizontal à 400 kHz, dans l'amplificateur de somma- tion 57, pour obtenir un signal de sortie à 400 kHz dans lequel l'effet de soulèvement est éliminé, et qui présente une perturbation minimale.de la réponse qui correspond à une profondeur de 100%. Lorsqu'on observe sur un oscilloscope X-Y les deux signaux de sortie d'un test monofréquence classique d'un tube de générateur de vapeur, l'indication qui pro- vient d'un support de tube est suffisamment grande pour masquer les signaux qui résultent de défauts qui peuvent 9tre situés sous la plaque de support, ou au voisinage de cette dernière. Les plaques de support sont de façon carac- téristique des plaques en acier doux d'une épaisseur de 1,9 cm, qui comportent une configuration de trous par lesquels passent les tubes. Dans le cas d'un test absolu (à une seule bobine), l'indication du support en X-Y con- siste en un écart à partir du point zéro et qui présente une courbure notable. Pour un test différentiel, la réponse du support est une figure de Lissajous en forme de 8, lorsqu'on l'observe sur un oscilloscope. La figure 11 montre comment on effectue le mélange classique à deux fréquences pour réduire l'amplitude du signal du support dans le cas d'un test différentiel. On fait tourner les indications qui proviennent des deux fré- quences à l'aide des rotateurs de phase 58, et on modifie leur module en faisant varier le gain des amplificateurs 59 jusqu'à ce qu'ils soient approximativement égaux et en opposition de phase. On fait ensuite la somme des composan- tes horizontales et verticales dans les amplificateurs de sommation 61 pour produire les signaux de sortie mélangés. En pratique, cette technique de mélange peut produire une réduction de 70 à 80% du signal dû au support. On va maintenant décrire une technique de mélange 38 qui permet d'obtenir une réduction de 90% de l'amplitude due au support dans l'un des canaux de sortie et de 95% dan. l'autre. Ceci donne une capacité de détection plus éle- vée et permet de déterminer de façon plus précise la taille des défauts qui se trouvent dans la région du support. La figure 12 montre le fondement de la nouvelle technique. La technique tient compte du fait que les signaux de support qui proviennent de différentes fréquences ne sont pas exactement des images les uns des autres, du fait des phénomènes d'effet de peau dans la paroi du tube. La techni- que permet d'obtenir la meilleure réduction possible de l'effet du support, par une observation directe des signaux à sommer. On effectue l'observation d'une manière telle qu'on puisse régler rapidement et facilement les rotateurs de phase 62 et 63 sur leurs réglages optimaux. En outre, on utilise un rotateur de phase supplémentaire 64 de façon à pouvoir faire des réglages indépendants pour le degré élevé d'élimination de la réponse du support que le procédé per- met d'obtenir. On règle les deux rotateurs 62 et 63 qui sont représentés dans le canal Fl jusqu'à ce que les signaux de support soient orientés horizontalement, lorsqu'on observe les signaux de sortie de ces rotateurs sur un oscilloscope X-Y. On règle le rotateur 64 dans le canal F2 de façon à placer le signal de support horizontalement et en opposi- tion de phase avec ceux du canal Fi. On observe ensuite sur un oscilloscope X-Y les signaux de sortie horizontaux qui proviennent de chaque fréquence et on règle le rotateur 62 jusqu'à ce que la configuration se présente sous la forme d'une ligne droite lorsqu'on fait passer la sonde devant un support. Lorsque cette condition est remplie, les deux signaux de support horizontaux sont mutuellement liés par une relation linéaire en fonction de la position de la sonde et ces signaux s'annulent effectivement lorsqu'ils sont sommés ensemble avec les coefficients de pondération appro- priés. On effectue un processus d'observation similaire sur les canaux de support verticaux pendant qu'on règle le rota- teur 63 pour obtenir la linéarité optimale de la réponse qui est affichée. Les canaux horizontaux et verticaux opti- mizés sont ensuite respectivement sommés ensemble, après multiplication par les coefficients de pondération appro- priés, comme le montre la figure 13. Dans la configuration qui est représentée, on applique les coefficients de pondé- ration 66 et 67 aux canaux de fréquence F2, de façon que les indications de support de ces canaux soient égales à celles des canaux de fréquence F1, mais avec une polarité opposée. Les signaux de sortie sommés correspondent à des canaux exempts d'effet de support qui contiennent toujours une information relative aux défauts du tube et à l'effet de soulèvement de la sonde. La figure 13 montre comment la technique d'annulation de l'effet de soulèvement qui a été décrite précédemment est appliquée à ces canaux. Le rota- teur 68 et les deux amplificateurs de sommation 71 et 72 ainsi que les amplificateurs de pondération 73 et 74 qui sont représentés sont utilisés dans le processus d'élimina- tion de l'effet de soulèvement. Dans un autre procédé de mélange, on peut élimi- ner l'effet de soulèvement des données Fi et F2, avant l'annulation de l'effet du support. Ceci permet de mettre au point plus facilement la configuration d'annulation de l'effet du support, mais nécessite un plus grand nombre d'éléments. La figure 14 représente l'autre système avec les fréquences de fonctionnement avantageuses de 200 kHz, 400 kHz et 1,6 MHz. On fait tourner à l'aide du rotateur 76 le signal à 400 kHz, A1, B1, pour obtenir un signal de sortie affecté par l'effet de soulèvement et un signal de sortie exempt de l'effet de soulèvement. Le signal de sortie affec- té de l'effet de soulèvement est appliqué à l'amplificateur de sommation 77 qui reçoit un signal d'entrée qui provient de l'amplificateur à gain variable 78. L'amplificateur 78 est connecté au rotateur 79 qui reçoit le signal à 1,6 MHz, A, B3. Le signal de sortie exempt d'effet de soulèvement 2'3 qui est engendré est appliqué auxrotateurs 81 et 82 en com- pagnie du signal de sortie exempt d'effet de soulèvement qui provient du rotateur 76. Les signaux de sortie exempts de soulèvement des rotateurs 81 et 82 sont appliqués à une entrée des amplificateurs de sommation 83 et 84. Le rotateur 86 fait tourner les signaux à 200 kHz Av, B2, pour former des signaux affectés par l'effet de soulèvement et des signaux exempts d'effet de soulèvement. Le signal affecté par l'effet de soulèvement est combiné dans un amplificateur de sommation 87 avec un signal qui est obtenu par un amplificateur à gain variable 88 à partir du signal de sortie du rotateur 79, pour former un signal de sortie exempt d'effet de soulèvement. Les signaux de sortie exempts d'effet de soulèvement qui proviennent du rotateur 86 et de l'amplificateur de sommation 87 sont appliqués au rotateur 89. Les signaux de sortie exempts d'effet de soulèvement du rotateur 89 sont appliqués aux amplificateurs de sommation 83 et 84 par l'intermédiaire d'amplificateurs à gain variable 91 et 92. Les signaux de sortie des amplificateurs à gain variable 91 et 92 sont réglés de façon que lorsqu'ils sont sommés avec les autres signaux d'entrée qui sont appliqués aux amplificateurs de sommation 83 et 84, le signal de sortie des amplificateurs de sommation soit pratiquement exempt d'effet de support. Les signaux exempts d'effet de soulèvement et exempts d'effet de support sont ensuite appliqués au rotateur 93 dont le signal de sortie est appliqué à un oscilloscope d'affichage ou à tout autre dispositif pour donner une mesure de la profondeur du défaut. On peut utiliser les mêmes circuits mélangeurs pour produire des signaux pour les paramètres désirés, tout en éliminant les paramètres parasites, pour les signaux absolus comme pour les signaux différentiels. Il va de soi que de nombreuses modifications peu- vent être apportées au dispositif décrit et représenté, sans sortir du cadre de l'invention. REVENDICATIONS 1. Dispositif de test par courants de Foucault comprenant au moins une bobine qui est conçue de façon à être placée en couplage avec un objet qui doit être testé, pour induire dans cet objet des courants de Foucault qui induisent à leur tour des tensions dans la bobine ou dans une bobine détectrice, caractérisé en ce qu'il comprend: un élément qui fournit un signal numérique de commande de fréquence; un module (16) qui comprend un synthétiseur de fréquence (19) et qui fournit un signal de sortie de fré- quence f1 sous l'effet du signal numérique de commande de fréquence; un premier filtre passe-bande à commande numé- rique (21) qui est branché de façon à recevoir le signal de commande numérique et le signal de sortie et dont la fréquence centrale est commandée par le signal de commande numérique de façon que ce filtre soit accordé sur la fré- quence du signal de sortie et fournisse un signal de sortie en sinus et un signal de sortie en cosinus; un élément (23) qui reçoit l'un des signaux de sortie en sinus ou en cosinus et qui applique ce signal à la bobine pour induire les courants de Foucault dans l'objet; un élément (27) qui reçoit la tension que les courants de Foucault qui circulent dans l'objet induisent dans la bobine ou la bobi- ne détectrice, de façon à fournir un signal de sortie E1 sin(w t + G), et à annuler les composantes d'état de repos en phase et en quadrature qui proviennent des ten- sions induites, pour produire un signal soumis à annula- tion; un second filtre numérique (28) dont la fréquence centrale est commandée par le signal numérique et qui fil- tre le signal soumis à annulation en ne laissant passer que les signaux qui ont la fréquence f1; et des détecteurs sensibles à la phase (32) qui sont branchés de façon à rece- voir le signal soumis à annulation et filtré ainsi que les signaux en sinus et en cosinus qui proviennent du premier filtre numérique, et de façon à fournir des coefficients d'amplitude de Fourier A1 et B, avec A1 = E1 cosG et B1 =E1 inG. 2. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comprend au moins deux bobines de test (11, 12) qui sont conçues de façon à être placées en couplage avec l'objet, chacune d'elles étant branchée en série avec une bobine fixe (L1, L2) et la combinaison série étant excitée par le signal en sinus ou en cosinus qui est appliqué; un élément qui com- porte des enroulements secondaires (46, 47), chacun d'eux étant associé à chaque combinaison série de façon à fournir un signal de sortie qui indique la tension qui est induite dans chaque bobine de test; un premier pont d'annulation (51) qui est branché de façon à recevoir les signaux qui proviennent des enroulements secondaires et qui fournit un signal de sortie; et un amplificateur de sommation qui est branché de façon à recevoir le signal de sortie du pont et les signaux en sinus et en cosinus qui proviennent du premier filtre passe-bande à commande numérique et qui a pour fonction d'annuler les tensions d'état de repos et d'appliquer son signal de sortie au second filtre à comman- de numérique. 3. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 2, caractérisé en-ce qu'il comprend un second pont (52) qui est branché de façon à recevoir les signaux qui proviennent de l'un des enroulements secondai- res et un signal qui indique la tension d'excitation qui est appliquée aux bobines, ce second pont fournissant un signal de sortie qui constitue un signal de sortie absolu. 4. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 3, caractérisé en ce qu'il comprend un élément qui reçoit le signal absolu et qui traite ce signal de façon à fournir les coefficients d'amplitude de Fourier A et B. 5. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comprend plusieurs modules de traitement (16) qui fonctionnent à ries fréquences de test f1 et f2 de façon à appliquer à la bobine des signaux d'excitation aux fréquences f1 et f2 et à produire des coefficients de Fourier de sortie A1, B1 et A2, B2, et un élément (17) qui reçoit ces coefficients d'amplitude et qui les combine d'une manière prédéterminée pour éliminer et annuler les paramètres parasites. 6. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comprend plusieurs modules de traitement qui fonctionnent à des fré- quences de test fi, f9 et f3, la fréquence f3 étant nota- blement supérieure aux fréquences f et f2, de façon que l'effet de peau supprime toutes les indications sauf celles proches de la surface, pour la fréquence f3, ces modules fournissant des coefficients de sortie A1, B1, A2, B2, A3, B3; un élément (17) qui reçoit les coefficients de sortie A1, B1, A2, B2, A3, B3 et qui combine ces coefficients d'une manière prédéterminée pour fournir un signal de sortie qui indique les défauts et qui soit insensible aux varia- tions dues au support et à l'effet de soulèvement de la sonde. 7. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 5, caractérisé en ce qu'il comprend au moins deux bobines de test (11, 12) qui sont conçues de façon à être placées en couplage avec l'objet, chacune d'elles étant branchée en série avec une bobine fixe (Li, L2) et la combinaison série étant excitée par le signal en sinus ou en cosinus qui est appliqué; un élément qui com- prend des enroulements secondaires (46, 47), avec un enrou- lement secondaire en couplage avec chaque combinaison série, de façon à fournir un signal de sortie qui indique la ten- sion qui est induite dans chaque bobine de test; un premier pont d'annulation (51) qui est branché de façon à recevoir les signaux qui proviennent des enroulements secondaires et à fournir un signal de sortie; et un amplificateur de som- mation qui est branché de façon à recevoir le signal de sor- tie du pont ainsi que les signaux en sinus et en cosinus qui proviennent du premier filtre à commande numérique, et qui a pour fonction d'annuler les tensions d'état de repos et de fournir le signal de sortie qui est appliqué au second fil- tre à commande numérique. 8. Dispo::itif de test par courants de Foucault selon la revendication 7, caractérisé en ce qu'il comprend un second pont (52) qui est branché de façon à recevoir les signaux qui proviennent de l'un des enroulements secondai- res et un signal qui indique la tension d'excitation qui est appliquée aux bobines, ce second pont fournissant un signal de sortie qui constitue un signal de sortie absolu. 9. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 2, caractérisé en ce que le pont d'annulation est connecté aux enroulements secondaires par des câbles coaxiaux (48, 49) qui sont terminés sur leur impédance caractéristique. 10. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 3, caractérisé en ce que le signal qui indique la tension d'excitation est appliqué au second pont par unr câble coaxial (56) qui est terminé sur son impédance caractéristique. 11. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 8, caractérisé en ce que les ponts d'annulation sont connectés aux enroulements secondaires et à la source de signal d'excitation par des câbles coaxiaux (48, 49, 56) qui sont terminés sur leur impédance caractéristique. 12. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 5, caractérisé en ce que l'élément qui combine les coefficients d'amplitude de Fourier comprend un élément d'amplification et un élément de rotation de phase. 13. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 6, caractérisé en ce que l'élément qui combine les signaux de coefficient d'amplitude de Fou- rier comprend une première paire d'éléments d'amplification et d'éléments de rotation de phase qui sont branchés de façon à recevoir et à traiter deux de ces signaux, en four- nissantdes quatrièmes signaux de coefficient d'amplitude de Fourier, et un élément qui reçoit les autres signaux de coefficient d'amplitude ainsi que les quatrièmes signaux de coefficient d'amplitude et qui fournit des cinquièmes coefficients d'amplitude de Fourier. 14. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 2, caractérisé en ce que les enrou- lements seccndaires sont en couplage avec la bobine fixe. 15. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 2, caractérisé en ce que les enrou- lements secondaires sont en couplage avec l'objet sur lequel porte le test. 16. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 1, caractérisé en ce que le premier filtre passe-bande à commande numérique (21) comporte des premier et second circuits déphaseurs à amplitude constante (36, 37) qui sont branchés en série et qui produisent respectivement un retard de-phase de 900 et une avance de phase de 900; et un élément (38) qui établit une réaction entre ces circuits, chacun de ces circuits comprenant un condensateur et un réseau binaire de résistances pondérées pour commander la fréquence du circuit à partir du signal numérique de commande de fréquence. 17. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comprend plusieurs modules de traitement qui fonctionnent à des fré- quences de test f1 et f3, la fréquence f3 étant notablement supérieure à la fréquence f1, de façon à appliquer à la bobine des signaux d'excitation aux fréquences f1 et f3 et à engendrer des coefficients de Fourier de sortie A1, B1 et A3, B3; et un élément (17) qui reçoit les coefficients d'amplitude et les combine d'une manière prédéterminée pour réduire l'influence de l'effet de soulèvement de la sonde. 18. DiSpositif de test par courants de Foucault selon la revendication 6, caractérisé en ce qu'il comprend un élément qui fait tourner d'un certain angle dans le système de coordonnées X-Y les coefficients de sortie A3, B3 pour la fréquence f3., afin d'aligner les indications qui préviennent de défauts proches de la surface selon une direction aussi proche que possible d'un axe, pour obtenir sur l'autre axe un -ignal d'effet de soulèvement de la _nrie; et un élément de sommation qui reçoit le signal d'effet de.oulèvement de la sonde à la fréquence présente sur l'autre axe et les coefficients de sortie de l'une des autres fréquences et qui soustrait de ces coefficients les signaux d'effet de soulèvement de la sonde, pour fournir des données de défaut exemptes d'effet de soulèvement de la sonde qui n'ont pas été modifiées de façon appréciable par les signaux de défaut à la fréquence f3. 19. Dispositif de test par courants de Foucault selon la revendication 6, caractérisé en ce qu'il comprend trois rotateurs de phase (62, 63, 64), avec l'un de ces rotateurs branché de façon à recevoir les coefficients de sortie A1, B1 qui correspondent à la fréquence f et à engendrer une composante X1, avec un second rotateur bran- ché de façon à recevoir ce signal et à engendrer une compo- sante Y1, et avec un troisième rotateur de phase branché de façon à recevoir les composantes X1 et Y ainsi que les coefficients de sortie A 2B2 à la fréquence f2, et à engen- drer des composantes X2 et Y2 pour la fréquence f2; un oscilloscope X-Y qui permet de représenter X1 en fonction de X et Y en fonction de Y2; et un élément qui est des- 2 i tiné à régler les premier et second rotateurs de façon à obtenir sur l'affichage de l'oscilloscope des indications rectilignes pour les supports avant de combiner les signaux de sortie, afin d'éliminer les indications des supports, en particulier dans le cas o les indications des supports qui proviennent de fréquences différentes n'ont pas la même forme, à cause de la modulation par l'effet de peau. 20. Dispositif de test par courants de Foucault comprenant au moins une bobine conçue de façon à être pla- cée en couplage avec un objet à tester, pour induire dans cet objet des courants de Foucault qui induisent à leur tour des tensions dans la bobine ou dans une bobine détec- trice, caractérisé en ce qu'il comprend: un élément (23) qui applique à la bobine des signaux d'excitation aux fré- quences fi, f2 et f3, la fréquence f3 étant notablement supérieure aux fréquences f1 et f2, pour induire des cou- rants de Foucault dans l'objet; un élément (27, 28, 29) qui reçoit la tension que les courants de Foucault qui cir- culent dans l'objet induisent dans la bobine ou dans la 4W bobine détectrice, de façon à fournir des signaux de sortie sin(w t + 0), E2 sin(tu t + 9) et E3 sin (Cut + e); un éIlément (31, 32) qui est branché de façon à recevoir les signaux de sortie et à fournir des coefficients d'amplitude de Fourier A B A2B2, A3B3, avec A1 = E1 cose, B1 = E1 sinn A 2 = E2 ccs@, B2 = E2 sine, A3 = E3 cosG et B3 - E3 sine; un élément de rotation (68) qui reçoit les signaux A.3B3 pour les faire tourner d'un certain angle dans le système de coordonnées X-Y, afin d'aligner aussi près que possible d'un axe les indications qui proviennent de défauts voisins de la surface; et un élément de sommation qui reçoit le signal d'effet de soulèvement de la sonde sur l'autre axe, à ladite fréquence et les coefficients de sor- tie de l'une des autres fréquences, de façon à soustraire de ces coefficients le signal d'effet de soulèvement de la sonde, afin d'obtenir un signal de sortie exempt d'effet de soulèvement de la sonde qui n'a pratiquement pas été modifié par les données de défaut à la fréquence f3. 21. Dispositif selon la revendication 20, carac- térisé en ce qu'il comprend trois rotateurs de phase (62, 63, 64), avec l'un de ces rotateurs branché de façon à recevoir les coefficients de sortie A1, B1 qui correspon- dent à la fréquence f et à engendrer une composante X1, avec un second rotateur branché de façon à recevoir ce signal et à engendrer une composante Y1, et avec un troisiè- me rotateur de phase branché de façon à recevoir les compo- santes X1 et Y1 ainsi que les coefficients de sortie A 2B2 à la fréquence f2, et à engendrer des composantes X2 et Y2 pour la fréquence f2; un oscilloscope X-Y qui permet de représenter X1 en fonction de X2 et Y1 en fonction de Y2 et un élément qui est destiné à régler les premier et second rotateurs de façon à obtenir sur l'affichage de l'oscillos- cope des indications rectilignes pour les supports avant de combiner les signaux de sortie, afin d'éliminer les indi- cations des supports, en particulier dans le cas o les in- dications des supports qui proviennent de fréquences diffé- rentes n'ont pas la même forme, à cause de la modulation par l'effet de peau.