FR 2459980 A1 19810116 FR 8013688 A 19800620 Procédés et appareils de localisation de défauts dans des circuits électroniques. La présente invention est relative à des procédés et appareils pour la localisation de défauts dans des circuits électroniques. Dans un procédé pour l'essai automatique de circuits numériques com- plexes, on applique une séquence de signaux d'essai au circuit à tes- ter, de façon à faire passer rapidement le circuit par un grand nom- bre d'états possibles de son fonctionnement. La réponse du circuit aux signaux d'essai est surveillée en permanence pendant leur application afin de vérifier les défauts. Une fois l'existence d'un défaut établie, il est alors habituellement souhaitable de localiser sa position pré- cise dans le circuit de façon que le circuit puisse être réparé. Un procédé connu de localisation de défaut consiste à mettre le circuit dans un état de fonctionnement particulier dans lequel le défaut appa- rait et à utiliser alors une sonde pour mesurer les divers paramètres du circuit. Cependant, ce procédé a l'inconvénient que pour certains circuits et dans certains cas, l'état de fonctionnement particulier dans lequel le défaut apparait est un état transitoire, de sorte qu' 4 il n'est pas possible de mettre le circuit dans cet état. La présente invention a pour objet, suivant deux de ses aspects, des procédés et appareils d'essai automatique dans lesquels l'inconvénient précédent est en majeure partie surmonté. Certains genres de circuits électroniques, en particulier des circuits logiques nécessitant des impulsions d'horloge à haute fréquence et/ou certains genres de mémoire à accès aléatoire (RAM) ayant des tensions d'alimentation engendrées intérieurement produisent des courants de bruit dont les effets tendent à masquer les variations de champ magné- tique induites par l'application d'une impulsion de courant, même lors- que le circuit est maintenu dans son état en défaut. Un autre objet de l'invention suivant deux aspects supplémentaires, est de remédier à ce problème par utilisation de la technique amélior(ede sondage précitée. Suivant un aspect de l'invention, il est prévu un procédé d'essai d' un circuit alimenté consistant à: - appliquer une séquence de signaux d'essai audit circuit, - mémoriser, en réponse à la détection d'un défaut dans ledit circuit pendant l'application de ladite séquence de signaux d'essai, le numé- ro de l'opération dans ladite séquence pour laquelle apparait le dé- faut, - répéter l'application de ladite séquence de signaux d'essai au cir- cuit en reliant des moyens d'application d'une impulsion de courant à un conducteur du circuit associé au défaut, - déclencher automatiquement lesdits moyens d'application d'une impul- sion de courant pour appliquer une impulsion de courant de signe pré- déterminé audit conducteur quand ladite séquence atteint l'opération dont le numéro a été mémorisé, et - déterminer la direction d'écoulement de ladite impulsion de courant le long du conducteur de manière à permettre la détermination de la direction du défaut par rapport au point sur le conducteur o est appliquée l'impulsion. De préférence, l'impulsion de courant a une forme d'onde approximati- vement triangulaire avec un flanc avant relativement abrupt et un flanc arrière relativement moins abrupt, et l'opération de détermination de la direction de l'écoulement de ladite impulsion de courant le long du conducteur comporte la détection des variations de champ magnétique induites au voisinage dudit conducteur par le flanc avant de ladite im- pulsion,et la production, en réponse à la détection des variations de champ, d'un signal indicatif de ladite direction d'écoulement. Suivant un second aspect de l'invention, il est prévu un procédé pour localiser un défaut dans un circuit électronique alimenté consistant à: appliquer à un conducteur dudit circuit une impulsion de courant de signe prédéterminé et ayant une forme d'onde approximativement tri- angulaire avec un flanc avant relativement abrupt et un flanc arrière relativement moins abrupt, - détecter des variations de champ magnétique induites au voisinage dudit conducteur par ledit flanc avant de ladite impulsion, et - produire, en réponse à la détection desdites variations de champ ma- gnétique, un signal indicatif de la direction de l'écoulement de la- dite impulsion de courant le long dudit conducteur, de manière à per- mettre la détermination de la direction dudit défaut par rapport au point sur ledit conducteur o est appliquée ladite impulsion. Selon un troisième aspect de l'invention, il est prévu un procédé pour localiser un défaut dans un circuit électronique alimenté consistant à: a) mettre ledit circuit dans un état o le défaut est apparent, b) localiser le noeud du circuit o le défaut prend naissance, c) appliquer de façon répétitive à un conducteur dudit circuit audit noeud des impulsions de courant d'un même signe prédéterminé, cha- que impulsion ayant une forme d'onde approximativement triangulaire avec un flanc avant relativement abrupt et un flanc arrière relati- vement moins abrupt, d) détecter des variations de champ magnétique induites au voisinage dudit conducteur par le flanc avant de chaque impulsion de façon à produire des premiers signaux respectifs représentatifs desdites variations induites par les impulsions, e) intégrer un nombre prédéterminé desdits premiers signaux pour pro- duire un signal représentatif de leur valeur moyenne, f) détecter des variations de champ magnétique induites au voisinage dudit conducteur, en l'absence d'application desdites impulsions, par des courants de bruit dans ledit circuit, de manière à produire d'autres signaux représentatifs desdites variations induites par le bruit, g) intégrer un nombre prédéterminé desdits autres signaux pour produi- re un signal représentatif de leur valeur moyenne, et h) produire, en réponse à l'amplitude et à la polarité de la différen- ce entre les valeurs moyennes respectives des premier et second si- gnaux, un signal indicatif de la direction d'écoulement desdites impulsions de courant le long dudit conducteur, de manière à per- mettre la détermination de la direction dudit défaut par rapport au point sur ledit conducteur o sont appliquées lesdites impul- sions. Avantageusement, les opérations f) et g) sont effectuées avant les opé- rations c), d) et e). Dans tous ces trois premiers aspects de l'invention, les procédés com- portent en outre, de préférence, une exécution automatique de la dé- termination de la direction du défaut en réponse au signe prédéterminé de ladite impulsion de courant et de la direction d'écoulement de cel- le-ci le long du conducteur. Suivant un quatrième aspect de l'invention, il est prévu un appareil pour tester un circuit électronique alimenté comportant - des moyens pour appliquer une séquence de signaux d'essai audit cir- cuit, - des moyens pour mémoriser, en réponse à la détection d'un défaut dans ledit circuit pendant l'application de ladite séquence de si- gnaux d'essai, le numéro de l'opération dans ladite séquence pour la- quelle apparait le défaut, - des moyens pour appliquer une impulsion de courant de signe prédé- terminé à un conducteur du circuit associé au défaut, - des moyens pour déclencher les moyens d'application de l'impulsion de courant pour appliquer une telle impulsion quand ladite séquence, pendant une nouvelle application de celle-ci au circuit, atteint 1' opération dont le numéro a été mémorisé, et - des moyens pour déterminer la direction d'écoulement de ladite im- pulsion de courant le long du conducteur de manière à permettre la détermination de la direction du défaut par rapport au point sur le conducteur o est appliquée l'impulsion. L'impulsion de courant a de nouveau préférablement une forme d'onde approximativement triangulaire avec un flanc avant relativement abrupt et un flanc arrière relativement moins abrupt, et les moyens pour dé- terminer la direction d'écoulement du courant comportent de préféren- ce des moyens agencés pour détecter des variations de champ magnéti- que induites au voisinage dudit conducteur par le flanc avant de la- dite impulsion et des moyens répondant au signe desdites variations de champ magnétique pour produire un signal indicatif de ladite direc- tion d'écoulement du courant. Suivant un cinquième aspect de l'invention, il est prévu un appareil pour la localisation d'un défaut dans un circuit électronique alimen- té comportant: - des moyens agencés pour appliquer à un conducteur dudit circuit une impulsion de courant de signe prédéterminé et ayant une forme d'onde approximativement triangulaire avec un flanc avant relativement a- brupt et un flanc arrière relativement moins abrupt, - des moyens agencés pour détecter des variations de champ magnétique induites au voisinage dudit conducteur par ledit flanc avant de la- dite impulsion, et - des moyens répondant au sens desdites variations de champ magnéti- que pour produire un signal indicatif de la direction d'écoulement de ladite impulsion de courant le long dudit conducteur de manière à permettre la détermination de la direction dudit défaut par rap- port au point sur ledit conducteur o est appliquée ladite impulsion. Suivant un sixième aspect de l'invention, il est prévu un appareil pour localiser un défaut dans un circuit électronique alimenté compor- tant: - des moyens agencés pour appliquer de façon répétitive à un conduc- teur dudit circuit des impulsions de courant de signe prédéterminé et ayant chacune une forme d'onde approximativement triangulaire a- vec un flanc avant relativement abrupt et un flanc arrière relati- vement moins abrupt, - des moyens agencés pour détecter des variations de champ magnétique induites au voisinage dudit conducteur par le flanc avant de chacu- ne desdites impulsions et par des courants de bruit dans ledit cir- cuit de manière à produire des signaux représentatifs desdites va- riations induites par les impulsions et par le bruit, - des moyens d'intégration agencés pour recevoir et intégrer des pre- mier et second ensembles desdites signaux représentatifs des varia- tions pour produire des signaux respectifs représentatifs des va- leurs moyennes respectives desdits premier et second ensembles des- dits signaux représentatifs des variations, l'un desdits premier et second ensembles de signaux étant produit en réponse à la fois aux- dites impulsions et audit bruit, et l'autre étant produit en répon- se seulement audit bruit, et - des moyens répondant à l'amplitude et à la polarité de la différen- ce entre les deux signaux représentatifs des moyennes pour produire un signal indicatif de la direction d'écoulement desdites impulsions de courant le long dudit conducteur, de manière à permettre la déter- mination de la direction dudit défaut par rapport au point sur le- dit conducteur o sont appliquées lesdites impulsions. L'appareil de chacun de ces trois derniers aspects de l'invention com- porte, en outre, de préférence des moyens répondant au signe prédé- terminé de la ou des impulsions de courant et à la direction d'écoule- ment de celles-ci le long du conducteur pour déterminer et, de préfé- rence, indiquer la direction du défaut. Les moyens d'application d'impulsion de courant comportent, de préfé- rence, un circuit différenciateur prévu pour produire ladite forme d' onde triangulaire à sa sortie en réponse à un signal à front raide à son entrée. Avantageusement, les moyens de détection comportent une bobine enrou- lée sur un noyau en forme de U et les moyens d'application des impul- sions de courant comportent un élément conducteur disposé entre les branches dudit noyau. Dans tous les modes de réalisation de l'invention, l'amplitude de la- dite impulsion de courant est choisie de préférence insuffisante pour modifier l'état logique dudit circuit. L'invention sera mieux comprise en se référant à la description sui- vante, en relation avec les dessins annexés, donnés à titre d'exemples non limitatifs. Sur ces dessins - la fig. 1 est un schéma synoptique d'un circuit d'un appareil de lo- calisation de défaut conforme à l'invention; - la fig. 2 montre des représentations quelque peu idéalisées de for- mes d'onde apparaissant dans le circuit de la fig. 1; - la fig. 3 est une vue en coupe d'un mode de réalisation d'une son- de faisant partie de l'appareil de la fig. 1; - la fig. 4 est un diagramme synoptique d'un équipement automatique de test conforme à l'invention et-adapté pour incorporer les appareils des fig. 1 et 3; - la fig. 5 est un circuit simplifié du circuit de la fig. 1. L'appareil qui va être décrit est destiné à la localisation de défauts sur des plaquettes de circuits imprimés montées. Dans les essais ha- bituels d'une telle plaquette portant, par exemple, un circuit logi- que numérique complexe, l'alimentation est fournie au circuit par un connecteur latéral sur la plaquette, et les signaux d'essai sont alors appliqués suivant une séquence prédéterminée au circuit de façon qu'il prenne divers états logiques différents. Pour chacun de ces états, les tensions électriques en des points variés du circuit sont mesurées et leurs valeurs logiques (ou des combinaisons de celles-ci) sont compa- rées avec des valeurs prédéterminées (ou des combinaisons de celles- ci) qui sont attendues lors d'un fonctionnement normal exempt de dé- fauts du circuit. Tout écart par rapport à ces valeurs attendues in- dique un défaut dans le circuit. En général, le défaut peut être un court-circuit (ou la défaillance d'un composant dont l'effet est analogue à un court-circuit) entre le point, tel qu'une piste conductrice du circuit imprimé o la tension incorrecte est observée et soit le conducteur d'alimentation, soit le conducteur de retour du circuit. Si le point est un noeud du circuit, auquel plusieurs composants différents sont reliés, une simple mesure de la tension du noeud ne permet pas d'identifier le composant défec- tueux. Toutefois, l'injection d'une impulsion de courant de test dans le noeud peut résoudre cette difficulté. En conséquence, et comme représenté à la fig. 1, l'appareil comprend un circuit d'alimentation en courant 10 qui a une sonde d'injection de courant 12 reliée à une source de courant 14 et à un puits de cou- rant 16. Pour tester un circuit dans lequel le conducteur d'alimenta- - tion est, comme d'habitude, positif par rapport au conducteur de re- tour, la source de courant 14 est prévue pour fournir des impulsions de courant positives et le puits de courant 16 est prévu pour fournir des impulsions de courant négatives. Le choix de la source de courant 14 ou du puits de courant 16 est commandé par une mémoire de verrouil- lage bistable de polarité 18 en réponse soit aux signaux de deux com- parateurs 20 et 22, soit à un commutateur à commande manuelle 24. Les comparateurs 20 et 22 sont reliés, de manière inverse l'un par rapport à l'autre, à deux bornes d'entrée/sortie 26 et 28. Ces deux bornes 26 et 28 constituent aussi les bornes d'alimentation de l'appareil, l'a- limentation en courant continu étant séparée des signaux d'entrée et de sortie par deux bobines d'arrêt 30 et 32 pour alimenter les diffé- rents composants de l'appareil le long de conducteurs appropriés (non représentés par souci de clarté). Le fonctionnement de la source de courant 14 ou du puits de courant 16 est déclenché par un circuit de temporisation 34 et peut être inhi- bé par un signal sur une borne d'entrée 36. Le circuit de temporisation 34 agit en relation avec un signal de com- mande sur une borne d'entrée 38 pour déclencher l'une ou l'autre de la source 14 ou du puits 16 choisi par la mémoire de polarité 18, de ma- nière permanente à une fréquence approximative de 1 kHz (fonctionne- ment interne), ou encore sélectivement en réponse à un signal d'une porte OU 40 qui a deux entrées reliées à l'un des comparateurs 20 et 22 (fonctionnement externe). La borne d'entrée 38 est aussi reliée à la mémoire de polarité 18 pour lui commander de répondre soit aux com- parateurs 20 et 22 (en fonctionnement externe), soit au commutateur 24 (en fonctionnement interne). Une fois que le circuit de temporisation 34 a déclenché l'un des éléments: source 14 ou puits 16, il inhibe temporairement un fonctionnement ultérieur des comparateurs 20 et 22 par l'intermédiaire d'une ligne de commande 41. L'appareil a aussi un circuit sensible au courant 42, dans lequel une bobine 44 est enroulée sur la partie centrale d'un noyau de ferrite en forme de U indiqué schématiquement en 46. Les extrémités de la bobine 44 sont reliées à un amplificateur de détection 48 qui excite des en- trées de signes opposés de deux comparateurs 50 et 52. Ces compara- teurs reçoivent aussi des tensions de référence de polarités opposées e respectivement V+ et V- et leurs sorties sont reliées à un circuit lo- gique d'affichage 54 qui reçoit aussi les signaux de sortie de la mé- moire de polarité 18 dans le circuit d'alimentation en courant 10. La sortie de l'amplificateur 48 est aussi reliée à une entrée 70 d' un circuit de réduction de bruit 72. Ce circuit 72 a une autre entrée 74 reliée à la sortie du circuit de temporisation 34, et deux entrées de commande 76,78. Le circuit 72 a aussi une sortie 80 reliée aux en- trées d'inhibition respectives des comparateurs 50 et 52 et deux au- tres sorties 82,84 qui sont reliées aux sorties respectives des com- parateurs 50 et 52. La structure et le fonctionnement du circuit de réduction de bruit 72 seront décrits ultérieurement plus en détails en relation avec la fig. 5. La logique d'affichage 54 répond aux signaux sur ses entrées pour ex- citer l'un des deux indicateurs de direction à diode électrolumines- cente 56 et 58, par l'intermédiaire de mémoires respectives de ver- rouillage 60 et 62 qui sont validées par le circuit de temporisation 34. Les sorties des comparateurs 50 et 52 sont aussi reliées à un ampli- ficateur différentiel de sortie 64 qui fournit des signaux correspon- dants de signes opposés sur les bornes d'entrée/sortie 26 et 28: ces signaux sont empêchés d'affecter la mémoire de polarité 18 par le fait que le fonctionnement des comparateurs 20,22 est temporairement inter- dit comme mentionné précécemment. La structure de chacun des circuits ci-dessus mentionnés deviendra é- vidente à l'homme de métier à la lumière de la description suivante et ne nécessite pas d'être discutée ici en détails. le défaut, et une impulsion de courant est injectée dans le conducteur. En supposant que le signal de commande sur la borne 38 ait choisi le fonctionnement externe, l'injection de l'impulsion de courant sera dé- clenchée par le circuit de temporisation 34 en réponse à une impulsion sur l'une des bornes 26 ou 28 agissant par l'intermédiaire des compa- rateurs appropriés 20 ou 22 et de la porte OU 40. En même temps, la mémoire de polarité 18 répond au comparateur approprié pour exciter la source de courant 14 ou le puits de courant 16 en relation avec la polarité de l'impulsion de déclenchement. L'amplitude de l'impulsion de courant est limitée à 1 mA, ce qui est insuffisant pour provoquer une modification dans l'état des circuits logiques du circuit à tester. Par exemple, pour des circuits en logi- que transistor-transistor (TTL), une impulsion de la source de courant 14 provoque une impulsion de tension positive d'environ 100 mV d'am- plitude maximale, vis-à-vis du seuil maximal de 800 mV permis à un si- gnal pour représenter un signal logique d'entrée 0 (en supposant la logique positive). De même, une impulsion du puits de courant 16 provoque une impulsion de tension négative d'environ 100 mV d'amplitude maximale à partir d' un signal logique de sortie 1 de 2,8 V, dans le pire des cas, vis-à- vis du minimum de 2,4 V. qui est accepté comme un signal logique d' entrée 1. Les extrémités du noyau de ferrite en forme de U 46 sont simultanément placées sur, ou juste au dessus du conducteur de circuit imprimé de manière que le champ magnétique associé à l'impulsion de courant qui le parcourt puisse induire une impulsion de tension correspondante aux bornes de la bobine 44. ' Cette impulsion agit par l'amplificateur 48 pour déclencher l'un ou l'autre des comparateurs 50 ou 52 suivant la polarité de l'impulsion, qui à son tour dépend de la direction du champ magnétique induisant cette impulsion. Cependant, la direction du défaut (à distinguer de la direction d'écoulement du courant vers ou en provenance du défaut) est en liaison non seulement avec la polarité de l'impulsion de ten- sion, mais aussi avec la polarité de l'impulsion de courant de test. En conséquence, la logique d'affichage 54 reçoit un signal à la fois du comparateur déclenché 50 ou 52 et de la mémoire de polarité 18, et par comparaison de ces signaux, fournit un signal à l'indicateur ap- - 10 proprié 56 ou 58 pour indiquer la direction vers le défaut. L'indica- tion est maintenue au moyen des mémoires 60 et 62 qui sont excitées à un instant approprié après l'injection de l'impulsion de courant par le circuit de temporisation 34. En fonctionnement en mode interne, les impulsions de courant de test sont déclenchées automatiquement par le circuit de temporisation 34 à un rythme de 1 kHz et avec une polarité qui dépend du réglage du commutateur 24. Si l'appareil doit être utilisé, en fonctionnement en mode externe, en liaison avec un équipement de test automatique qui fournit la séquence de signaux de test mentionnée précédemment, tel que l'équipement de test automatique de la Demanderesse du type MB 2400 ou MB 7700, l'équipement de test est prévu pour piloter la sé- quence des opérations de test de manière à identifier et mémoriser la numéro de l'opération pour lequel le circuit à tester présente l'état défectueux. L'équipement de test est alors amené à répéter la séquen- ce, déclenchant l'appareil représenté à la fig. 1, via les bornes 26 et 28, quand l'opération identifiée se reproduit, appliquant ainsi 1' impulsion de courant de test alors que le circuit à tester est dans l'état défectueux: la circuiterie assurant ce déclenchement sera dé- crite par la suite en relation avec la fig. 4. Le signal résultant fourni à l'équipement de test automatique par l'amplificateur 64 et les bornes 26 et 28 excite l'équipement pour diagnostiquer le défaut * ou choisir des opérations de test supplémentaires, si nécessaire. Les impulsions de courant fournies par les circuits 14 et 16 ont une forme d'onde approximativement triangulaire, comme représenté sous une forme quelque peu idéalisée à la fig. 2a (et 2d), dans laquelle le flanc avant est très abrupt (par exemple un temps de montée de 10 nanosecondes) et un flanc arrière beaucoup moins abrupt (par exemple un temps de descente de 200 nanosecondes). Quoique les flancs arrière des impulsions soient représentés à la fig. 2 comme étant sensiblement linéaires, ils sont en pratique approximativement exponentiels, puis- que les impulsions sont généralement mises en forme chacune au moyen d'un circuit différenciateur respectif simple du type à capacité en série, résistance en dérivation, branché dans les circuits respectifs 14 ou 16 et prévus pour recevoir un signal d'entrée à front raide dé- clenché par le circuit de temporisation 34. Comme aussi représenté fig. 2, l'impulsion de tension résultante induite dans la bobine 44 a une excursion de forte amplitude dans un sens suivie d'une excursion plus longue, mais de moindre amplitude dans l'autre sens. Ainsi, un choix approprié des amplitudes V+ et V- permet de facilement distin- guer le sens de la première excursion (et ainsi celui de la direction d'écoulement de l'impulsion de courant de test). Les impulsions de tension induites dans la bobine 44 sont représentées sous forme quel- que peu idéalisée à la fig. 2: en pratique, elles sont mises en for- me par l'inductance et la capacité parasite de la bobine 44 de sorte qu'elles apparaissent comme des impulsions sinusoïdales amorties, a- vec la première demi-onde beaucoup plus grande en amplitude que la se- conde. La fig. 2 montre aussi les relations entre la direction de l'écoule- ment du courant, la polarité du courant de test et la direction du dé- faut. Ainsi en se référant aux fig. 2b et 2c, pour une impulsion de courant de test positive, l'écoulement du courant vers la droite ou vers la gauche indique (pour une.orientation appropriée du noyau de ferrite 46) un défaut vers la droite ou vers la gauche respectivement. Inversement, pour un courant de test négatif (fig. 2e et 2f), l'écou- lement de courant vers la droite ou vers la gauche indique un défaut vers la gauche ou vers la droite respectivement. La logique d'afficha- ge 54 comporte un simple agencement de portes et de mémoires de ver- rouillage conçu pour mettre en oeuvre ces relations. Il est à noter que si le noyau de ferrite 46 est tourné axialement de 1800, la polarité de l'impulsion de tension-dans la bobine 44 est aussi inversée, interchangeant ainsi les états des indicateurs 56 et 58. Cependant, si ces indicateurs sont montés sur le même support que le noyau 46 de cotés opposés de son axe 66, leurs positions sont aus- si interchangées, maintenant ainsi l'indication correcte. Un mode de réalisation de l'appareil construit de cette manière est montré à la fig. 3 dans laquelle les éléments correspondant à ceux de la fig. 1 portent des numéros de référence correspondants précédés d' un 1. Sur la fig. 3, les divers éléments du circuit sont montés sur une pla- quette de circuit imprimé allongée 100 à l'intérieur d'un bottier tubu- laire 102, à travers la paroi duquel font saillie les indicateurs 156 et 158 et le commutateur 124. Le noyau de ferrite en U 146 est monté à une extrémité du bottier 102, avec la sonde d'injection de courant 112 sous forme d'une plaque métallique se terminant par une pointe 104 dirigée versle bas entre les branches du noyau 146: pour plus de clarté, le noyau de ferrite 146 est représenté tourné de 900 à la fig. 3 afin de rendre visible la sonde d'injection de courant 112, mais en pratique les branches du noyau 146 et la sonde 42 se trouve dans un même plan perpendiculaire au plan de la fig. 3. Ainsi, l'appareil peut être placé d'une main sur un conducteur 106 d'une plaquette de circuit à tester 108, tandis que la sonde d'injection de courant 112 et le no- yau de ferrite 146 sont simultanément correctement positionnés pour 1' impulsion de courant d'essai. L'équipement de test automatique ETA de la fig. 4 est indiqué de fa- çon générale par 200 et peut par exemple être constitué par un équi- pement de type MB 7700 fabriqué et vendu par la Demanderesse. L'ETA 200 est représenté branché, par l'intermédiaire d'un conducteur omni- bus 202 à un circuit numérique complexe à tester 204 et qui peut par exemple comporter un grand nombre de circuits à haute intégration (LSI) montés sur une plaquette de circuit imprimé (non représentés). La plaquette de circuit 204 est montée normalement dans son connec- teur latéral habituel (non représenté), et le bus 202 est relié à ce connecteur latéral. Comme il est bien connu, I'ETA 200 est programmé pour fournir au circuit 204, via le bus 202, son alimentation néces- saire et une séquence de signaux de test, et pour surveiller la répon- se du circuit 204 à ces signaux de test afin de détecter tout défaut qui pourrait se présenter dans le circuit. L'ETA 200 est muni de circuits d'interface, désignés de façon généra- le par 206, pour servir d'interface entre VETA et l'appareil des fig. 1 et 3. Les circuits 206 comportent un transmetteur-récepteur de don- nées 208 pour recevoir des données et transmettre des données à 'ETA (plus précisément les recevoir et les transmettre à un processeur central interne), le circuit 208 étant branché pour appliquer les don- nées qu'il reçoit de lETA 200 à une unité d'écriture de données 210. Celle-ci a trois sorties 212, 214, 217 qui sont respectivement connec- tées aux bornes d'entrée/sortie 26,28 et à la borne d'entrée 38 de 1' appareil des fig. 1 et 3, et une quatrième sortie 215 reliée à la bor- ne 36 de cet appareil. Les bornes 26 et 28 sont aussi reliées aux deux entrées 216,218 d'une unité de lecture de données 220, dont les sor- ties sont communes aux entrées de l'unité d'écriture 210 et connectées au transmetteur-récepteur 208. L'ETA 200 a une sortie 222 sur laquelle il fournit des impulsions de test synchronisées chacune avec une opération respective de la séquen- ce de signaux de test appliqués au circuit 204, cette sortie étant re- liée à l'entrée de comptage d'un compteur de numéros de test 224. Les sorties de comptage du compteur 224 sont reliées à une première série d'entrées d'un comparateur 226 et aux entrées d'une mémoire de bistables 228 dont les sorties sont reliées à l'autre série d'entrées du compa- rateur 226. L'ETA 200 a encore une sortie 230 sur laquelle il produit une impul- sion synchronisée avec une impulsion de test quand il détecte un dé- faut dans le circuit 204. La sortie 230 est reliée à une entrée de va- lidation de la mémoire 228. La sortie du comparateur 226 est reliée à une entrée d'une porte ET 232 à deux entrées, dont l'autre entrée est reliée à la sortie 222 de l'ETA 200 et dont la sortie est reliée à une autre entrée de l'unité d'écriture 210. En fonctionnement, 'ETA 200 est mis en route pour un premier cycle de séquence de signaux de test, et ce faisant, le total dans le comp- teur 224 est incrémenté de 1 pour chaque opération successive de la séquence: le contenu du compteur 224 est ainsi indicatif du numéro dans la séquence du signal de test réellement appliqué au circuit 204 à tout instant. Pendant ce premier cycle de séquence, le fonctionne- ment de l'appareil des fig. 1 et 3 est interdit, si nécessaire par un signal appliqué par l'ETA 200 sur sa borne d'entrée 36 via le trans- metteur-récepteur 208 et l'unité d'écriture 210. On suppose qu'à l'opération n0 27 de la séquence, VETA 200 détecte un défaut dans le circuit 204. En plus de mémoriser les détails du dé- faut à des fins de diagnostic, l'ETA 200 produit une impulsion "dé- faut détecté" sur sa sortie 230, cette impulsion servant à repérer le contenu du compteur 224, à savoir 27, dans la mémoire 228: la séquen- ce se poursuit alors jusqu'à sa fin. Si on suppose, en outre, qu'un diagnostic initial basé sur les caractéristiques de fonctionnement connues du circuit 204 et peut-être impliquadt le sondage des tensions en divers points du circuit, indique que le défaut est associé avec un conducteur ou un noeud particulier du circuit auquel plusieurs cir- cuits intégrés (LSI) sont reliés, I'ETA 200 indique à l'opérateur de placer la sonde 12/112 de l'appareil des fig. 1 et 3 sur le noeud en question et, d'après l'information préprogrammée relative à la nature des circuits reliés au noeud, excite une sortie appropriée 212 ou 214 de l'unité d'écriture 210 (correspondant à l'un des éléments source 14 ou puits 16 dans l'appareil des fig. 1 et 3) par l'intermédiaire du transmetteur-récepteur 208. L'ETA est alors remis en route pour une nouvelle séquence de signaux d'essai. Quand il atteint l'opération no 27 de la séquence, c'est-à-dire l'opération pour laquelle apparait le défaut, le comparateur 226 fournit un signal de sortie qui valide la porte ET 232. L'impulsion de test présente sur l'autre entrée de la porte ET déclenche ainsi l'appareil des fig. 1 et 3, à travers la sor- tie 212 ou 214 de l'unité d'écriture de données 210 qui est validée et l'entrée correspondante 26 ou 28, pour appliquer une impulsion de cou- rant au noeud en question, avec les résultats décrits précédemment en liaison avec les fig. 1 à 3. En particulier, le signal de sortie ré- sultant apparaissant aux bornes 26,28 est retransmis à VETA 200 par l'intermédiaire de l'unité de lecture 220 et de l'émetteur-récepteur de données 208. L'opérateur peut répéter ce processus (qui est extré- mement rapide) plusieurs fois au cours de l'exploration des différen- tes parties du noeud, jusqu'à ce qu'il ait déterminé l'emplacement pré- cis du défaut. On peut apprécier que cette technique est particulièrement intéressan- te pour localiser des défauts transitoires, puisqu'elle assure que 1' impulsion de courant localisatrice de défaut est appliquée à un ins- tant o l'on sait le défaut présent. La technique d'injection d'une impulsion de courant a l'avantage supplémentaire que les effets d'une impulsion de courant relativement faible peuvent être détectés même en présence d'un courant continu plus élevé. Comme indiqué précédemment, certains circuits logiques numériques, par- ticulièrement ceux mettant en jeu des impulsions d'horloge à haute fré- quence et/ou certains genres de mémoire à accès aléatoire (RAM) ayant des tensions d'alimentation produites intérieurement, produisent des courants de bruit dont les effets sont analogues, et ainsi tendent à masquer, aux variations de champ magnétique que la sonde 12/112 est destinée à détecter. Une fois qu'un noeud défectueux a été identifié par un diagnostic initial du genre mentionné ci-dessus, l'opérateur peut aisément vérifier si le circuit 204 est sujet à de tels courants de bruits en plaçant le circuit dans son état défectueux, mettant la sonde 12/112 sur le noeud défectueux, et déclenchant plusieurs mesu- res coup par coup à travers l'entrée appropriée 26 ou 28 de la.fig. 1 tandis que le fonctionnement de la source de courant 14 ou du puits de courant 16 est interdit via l'entrée 36. Si l'un des comparateurs 50 ou 52 est déclenché pendant ces mesures, comme indiqué par exemple par l'allumage d'un des indicateurs 56,58, une mémoire bistable (non repré- sentée) prévue dans VETA 200 est basculée pour indiquer que le niveau de bruit au noeud défectueux est inacceptablement élevé. Dans ce cas, l'ETA 200 choisit un mode de fonctionnement différent dans lequel le circuit de réduction de bruit 72 remplace effectivement les compara- teurs 50 et 52. Le circuit de réduction de bruit 72 est montré plus en détail à la fig. et comporte un circuit de commutation à pont de diodes 310 branché pour être rendu conducteur par le signal fourni par l'enroulement se- condaire 312 d'un transformateur d'impulsions 314 branché aux bornes d'une diagonale du pont. L'enroulement primaire 316 du transformateur 314 est relié pour être excité par une impulsion appliquée à l'entrée 74 du circuit 72 et venant du circuit de temporisation 34 de la fig. 1. Cette impulsion est appliquée à l'enroulement 316 à travers une porte ET 318 à deux entrées; l'une de ces entrées est constituée par l'en- trée 74 et l'autre par l'entrée-76. L'entrée 76 est branchée pour re- cevoir un signal de validation de la mémoire, vue plus haut, de "niveau de bruit élevé" dans I'ETA 200 de la fig. 4: une version inversée de ce signal de validation, fournie par un inverseur 320, est appliquée à la sortie 80 du circuit 72 pour inhiber le fonctionnement des com- parateurs 50 et 52 de la fig. 1. Les signaux de sortie produits par l'amplificateur 48 de la fig. 1 sont appliqués, à travers l'entrée 70 du circuit 72, à l'entrée de l'autre diagonale du circuit en pont 310 dont la sortie est reliée, à travers un condensateur de filtrage 322, à un intégrateur 324. Celui-ci com- porte un amplificateur à grand gain 326 ayant une résistance d'entrée 328 et le montage parallèle d'un condensateur 330 et d'une résistance 332 branché en contreréaction négative entre sa sortie et son entrée. La sortie de l'intégrateur 324 est reliée à l'entrée d'un convertisseur analogique-numérique 334 qui a une entrée de validation reliée à l'en- trée 74 du circuit 72 à travers un diviseur de fréquence 336. La sortie numérique du convertisseur 334 est dirigée, à travers un cir- cuit de commutation 338 (représenté à la fig. 5 sous forme d'un simple inverseur par souci de clarté), à l'un des deux totalisateurs 340,342. L'état du circuit de commutation 338 est commandé par l'ETA 200 de la fig. 4 comme il est expliqué ci-dessous. Les sorties respectives des totalisateurs 340,342 sont reliées à un circuit de soustraction numérique 344 dont la sortie est comparée à des seuils positif et négatif dans des comparateurs numériques 346 et 348 respectivement. Les sorties respectives des comparateurs 346 et 348 constituent les sorties 82,84 du circuit 72. En pratique, le circuit de commutation 338, les totalisateurs 340,342, le circuit de soustraction 344 et les comparateurs 346,348 font réel- lement partie de lETA 200, mais ont été représentés séparément pour pls de clarté. Dans le mode de fonctionnement choisi par le basculement de la mémoi- re "niveau de bruit élevé" dans V'ETA 200, l'ETA met le circuit de la fig. 1 dans son mode de fonctionnement interne au moyen de l'entrée 38, interdit le fonctionnement de la source de courant 14 et du puits de courant 16 au moyen de l'entrée 36 et met le circuit de commutation 338 dans l'état illustré fig. 5. Le circuit de temporisation 34 produit un train d'impulsions de déclenchement à 1 kHz et, à peu près simulta- nément avec chaque impulsion de déclenchement, rend conducteur le cir- cuit commutateur en pont 310, au moyen de l'entrée 74 du circuit 72, pendant l'intervalle o l'excursion initiale brève de tension de forte amplitude de chaque impulsion de tension qui aurait été induite dans la bobine 44 par les impulsions de test correspondantes (si ces impul- sions de test n'avaient pas été inhibées) se serait présentée. Indépen- damment de leur polarité, les impulsions de bruit détectées par la bo- 24599&0 bine 44 de la sonde 12/112 sont transmises par le circuit de commuta- teur 310 au condensateur de filtrage 322 et le niveau de tension va- riable sur ce condensateur est intégré par l'intégrateur 324. Après un nombre prédéterminé d'impulsions de déclenchement, le convertisseur analogique-numérique 334 est déclenché par le diviseur de fréquence 336 pour produire un signal numérique représentatif de la tension à la sortie de l'intégrateur dont la constante de temps est choisie de ma- nière que cette tension représente le niveau moyen de la tension sur le condensateur de filtrage 322. Le signal numérique produit par le convertisseur 334 est appliqué sur le totalisateur 340. Ce processus complet est alors réitéré environ une centaine de fois, de sorte que le totalisateur 340 contient un signal numérique représentant la va- leur moyenne des impulsions de bruit détectées par la bobine 44 de la donde 12/112. L'ETA 200 supprime alors le signal d'inhibition sur l'entrée 36, per- mettant ainsi le fonctionnement de la source de courant 14 ou du puits de courant 16 qui a été choisi par la voie des entrées 26,28 du circuit de la fig. 1, et met le circuit de commutation 338 de la fig. 5 dans son autre état (c'est-à-dire celui non représenté)-. Le processus com- plet décrit au paragraphe précédent est alors répété, seulement cette fois les impulsions détectées par la bobine 44 de la sonde 12/112 sont dues à la fois au bruit et aux impulsions de courant appliquées au mo- yen de la sonde. A la fin de cette répétition, le totalisateur 342 con- tient un signal numérique représentant la valeur moyenne des impulsions induites par les impulsions de test et par le bruit et détectées par la bobine 44 de la sonde 12/112. Le signal numérique dans le totalisateur 340 est alors soustrait de celui dans le totalisateur 342 et le résultat comparé avec les seuils positif et négatif appliqués aux comparateurs 346 et 348. Si.le ré- sultat est plus positif que le seuil positif, le comparateur 346 pro- duit un signal de sortie, alors que si le résultat est plus négatif que le seuil négatif, le comparateur 348 produit un signal de sortie. Les signaux-de sortie des comparateurs 346,348 sont utilisés dans le circuit de la fig. 1 exactement de la même manière que les signaux de sortie des comparateurs 50,52. il est à noter que la valeur moyenne des impulsions de bruit est pro- bablement passablement faible, tandis que la valeur moyenne des impul- sions induites par les impulsions de test est probablement fortement positive ou négative, selon la polarité des impulsions de test et la direction du défaut par rapport au point d'application des impulsions de test. Par suite, dans le mode de fonctionnement qui vient d'être décrit, le signe des impulsions induites par les impulsions de test détectées par le détecteur 12/112 peut être déterminé sûrement même en présence d' impulsions de bruit de même ordre de grandeur que les impulsions in- duites par les impulsions de test. Si on le désire, un autre comparateur (non représenté) peut être re- lié à la sortie du totalisateur 340 (c'est-à-dire le totalisateur de la valeur moyenne des impulsions de bruit), et agencé pour produire une indication d'avertissement si la valeur moyenne globale des impul- sions de bruit dépasse un niveau prédéterminé. En outre, le convertis- seur 334 peut être déclenché de façon asynchrone par l'ETA 200 plutôt que de manière synchrone à travers le diviseur de fréquence 336, tan- dis que la fréquence des impulsions de déclenchement produites par le circuit de temporisation 34 dans son mode de fonctionnement interne peut être augmenté depuis la fréquence de 1 kHz mentionnée plus haut jusqu'à plusieurs dizaines de kHz. De nombreuses modifications peuvent être apportées aux modes de réali- sation de l'invention décrits à titre d'exemples. Ainsi, la sonde de courant 112 peut, si on le désire, être séparée du reste de l'appareil de la fig. 3, c'est-à-dire que le courant peut être injecté en un point dans le conducteur ou noeud et ses effets détectés en un autre point dans le même conducteur ou noeud. Aussi, les deux indicateurs 156,158 qui typiquement comportent des diodes électroluminescentes, peuvent être du même coté du bottier 102 et associés à des flèches (ou analo- gues): une flèche est dirigée vers le bas pour indiquer que le dé- faut se trouve dans la partie du conducteur ou noeud du coté du boî- tier 102 portant les indicateurs, alors que l'autre flèche est diri- gée vers le haut pour indiquer que le défaut se trouve dans la partie du conducteur ou noeud de-l'autre coté du bottier 102. De plus, l'appareil des fig. 1 et 3 peut être adapté à une utilisation comme sonde de tension aussi bien que sonde de courant, auquel cas il peut être prévu de cesser l'application d'une impulsion de courant et/ ou de prévoir un avertissement si l'état logique au point d'applica- tion de l'impulsion de courant commence à changer en réponse à l'im- pulsion de courant; en variante, la source de courant 14 et le puits de courant 16 peuvent être limités en tension de manière à assurer en outre qu'ils ne peuvent changer l'état logique du circuit à tester. Encore, la mémoire 228 de la figure 4 peut être, si on le dé- sire, basculable par l'opérateur en réponse à -l'information affichée à VETA 200, plutôt que (ou aussi bien que) basculable automatiquement par 'ETA. REVENDICATIONS 1 - Procédé pour l'essai d'un circuit électronique alimenté, caracté- risé en ce qu'il consiste à: - appliquer une séquence de signaux d'essai audit circuit, - mémoriser, en réponse à la détection d'un défaut dans ledit cir- cuit pendant l'application de ladite séquence de signaux d'essai, le numéro de l'opération dans ladite séquence pour laquelle ap- parait le défaut, - répéter l'application de ladite séquence de signaux d'essai au circuit en reliant des moyens d'application d'une impulsion de courant à un conducteur du circuit associé au défaut, - déclencher automatiquement lesdits moyens d'application d'une impulsion de courant pour appliquer une impulsion de courant de signe prédéterminé audit conducteur quand ladite séquence atteint l'opération dont le numéro a été mémorisé, et - déterminer la direction d'écoulement de ladite impulsion de cou- rant le long du conducteur de manière à permettre la détermina- tion de la direction du défaut par rapport au point sur le con- ducteur o est appliquée l'impulsion. 2 - Procédé suivant la revendication 1, caractérisé en ce que l'impul- sion de courant a une forme d'onde approximativement triangulaire avec un flanc avant relativement abrupt et un flanc arrière rela- tivement moins abrupt, et l'opération de détermination de la di- rection de l'écoulement de ladite impulsion de courant le long du conducteur comporte la détection des variations de champ magnéti- que induites au voisinage dudit conducteur par le flanc avant de ladite impulsion, et la production, en réponse à la détection des variations de champ, d'un signal indicatif de ladite direction d'é- coulement (fig. 2). 3 - Procédé pour localiser un défaut dans un circuit électronique ali- menté, caractérisé en ce qu'il consiste à: - - appliquer à un conducteur dudit circuit une impulsion de courant de signe prédéterminé et ayant une forme d'onde approximative- ment triangulaire avec un flanc avant relativement abrupt et un flanc arrière relativement moins abrupt, - détecter des variations de champ magnétique induites au voisina- ge dudit conducteur par ledit flanc avant de ladite impulsion, et, produire, en réponse à la détection desdites variations de champ magnétique, un signal indicatif de la direction de l'écoulement de ladite impulsion de courant le long dudit conducteur, de ma- nière à permettre la détermination de la direction dudit défaut par rapport au point sur ledit conducteur o est appliquée la- dite impulsion. 4 - Procédé pour localiser un défaut dans un circuit électronique ali- menté, caractérisé en ce qu'il consiste à a) mettre ledit circuit dans un état o le défaut est apparent, b) localiser le noeud du circuit o le défaut prend naissance, c) appliquer de façon répétitive à un conducteur dudit circuit au- dit noeud des impulsions de courant d'un même signe prédétermi- né, chaque impulsion ayant une forme d'onde approximativement triangulaire avec un flanc avant relativement abrupt et -un flanc arrière relativement moins abrupt, d) détecter des variations de champ magnétique induites au voisi- nage dudit conducteur par le flanc avant de chaque impulsion de façon à produire des premiers signaux respectifs représenta- tifs desdites variations induites par les impulsions, e) intégrer un nombre prédéterminé desdits premiers signaux pour produire un signal représentatif de leur valeur moyenne, f) détecter des variations de champ magnétique induites au voisi- nage dudit conducteur, en l'absence d'application desdites im- pulsions, par des courants de bruit dans ledit circuit, de ma- nière à produire d'autres signaux représentatifs desdites va- riations induites par le bruit, g) intégrer un nombre prédéterminé desdits autres signaux pour produire un signal représentatif de leur valeur moyenne, et h) produire, en réponse à l'amplitude et à la polarité de la diffé- rence entre les valeurs moyennes respectives des premier et se- cond signaux, un signal indicatif de la direction d'écoulement desdites impulsions de courant le long dudit conducteur, de ma- nière à permettre la détermination de la direction dudit défaut par rapport au point sur ledit conducteur o sont appliquées lesdites impulsions. - Procédé suivant la revendication 4, caractérisé en ce que les opé- rations f) et g) sont exécutées avant les opérations c), d) et e). 6 - Procédé suivant l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il consiste, en outre, à effectuer automatiquement ladite détermination de la direction du défaut en réponse au signe prédé- terminé de la ou desdites impulsions de courant et à la direction d'écoulement de celles-ci le long du conducteur. 7 - Procédé suivant l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'amplitude de la ou desdites impulsions de courant est choisie insuffisante pour modifier l'état logique du circuit. 8 - Appareil pour l'essai d'un circuit électronique alimenté, caracté- risé en ce qu'il comporte: - des moyens (200) pour appliquer une séquence de signaux d'essai circuit, - des moyens (224,228) pour mémoriser, en réponse à la détection d'un défaut dans ledit circuit pendant l'application de ladite séquence de signaux d'essai, le numéro de l'opération dans ladite séquence pour laquelle apparait le défaut, - des moyens (12,14,16) pour appliquer une impulsion de courant de signe prédéterminé à un conducteur du circuit associé au défaut, - des moyens (226,232,210) pour déclencher les moyens d'applica- tion de l'impulsion de courant pour appliquer une telle impul- sion quand ladite séquence, pendant une nouvelle application de celle-ci au circuit, atteint l'opération dont le numéro a été mémorisé, et - des moyens (44 à 52) pour déterminer la direction d'écoulement de ladite impulsion de courant le long du conducteur de manière à permettre (en 54) la détermination de la direction du défaut par rapport au point sur le conducteur o est appliquée l'impul- sion. 9 - Appareil suivant la revendication 8, caractérisé en ce que les mo- yens (12,14,16) d'application d'une impulsion de courant sont pré- vus pour produire une impulsion de courant ayant une forme d'onde approximativement triangulaire avec un flanc avant relativement a- brupt et un flanc arrière relativement moins abrupt (fig. 2), et les moyens (44 à 52) pour déterminer la direction d'écoulement du courant comportent de préférence des moyens (44,46) agencés pour détecter des variations de champ magnétique induites au voisinage dudit conducteur par le flanc avant de ladite impulsion et des mo- yens (50,52) répondant au signe desdites variations de champ magné- tique pour produire un signal indicatif de ladite direction d'écou- lement du courant. - Appareil pour localiser un défaut dans un circuit électronique alimenté, caractérisé en ce qu'il comporte - des moyens agencés (12,14,16) pour appliquer à un conducteur du- dit circuit une impulsion de courant de signe prédéterminé et ayant une forme d'onde approximativement triangulaire avec un flanc avant relativement abrupt et un flanc arrière relative- ment moins abrupt, - des moyens (44,46) agencés pour détecter des variations de champ magnétique induites au voisinage dudit conducteur par ledit flanc avant de ladite impulsion, et - des moyens (50,52) répondant au sens desdites variations de champ magnétique pour produire un signal indicatif de la direc- tion d'écoulement de ladite impulsion de courant le long dudit conducteur de manière à permettre (en 54) la détermination de la direction dudit défaut par rapport au point sur ledit conducteur o est appliquée ladite impulsion. 11 - Appareil pour localiser un défaut dans un circuit électronique a- limenté, caractérisé en ce qu'il comporte: - des moyens (34) agencés pour appliquer de façon répétitive à un conducteur dudit circuit des impulsions de courant de signe pré- -déterminé et ayant chacune une forme d'onde approximativement triangulaire avec un flanc avant relativement abrupt et un flanc arrière relativement moins abrupt, - des moyens (44,46) agencés pour détecter des variations de champ magnétique induites au voisinage dudit conducteur par le flanc avant de chacune desdites impulsions et par des courants de bruit dans ledit circuit de manière à produire des signaux représenta- tifs desdites variations induites par les impulsions et par le bruit, des moyens d'intégration (324) agencés pour recevoir et intégrer des premier et second ensembles desdits signaux représentatifs des variations pour produire des signaux respectifs représenta- tifs des valeurs moyennes respectives desdits premier et second ensembles desdits signaux représentatifs des variations, l'un desdits premier et second ensembles de signaux étant produit en réponse à la fois auxdites impulsions et audit bruit, et l'autre étant produit en réponse seulement audit bruit, et - des moyens (344,346,348) répondant à l'amplitude et à la polari- té de la différence entre les deux signaux représentatifs des moyennes pour produire un signal indicatif de la direction d'é- coulement desdites impulsions de courant le long dudit conduc- teur, de manière à permettre la détermination de la direction dudit défaut par rapport au point sur ledit conducteur o sont appliquées lesdites impulsions. 12 - Appareil suivant l'une des revendications 9 à 11, caractérisé en ce que les moyens (14,16) d'application d'une impulsion de courant comportent un circuit différenciateur prévu pour produire ladite forme d'onde triangulaire à sa sortie en réponse à un signal à front raide à son entrée. 13 - Appareil suivant l'une des revendications 9 à 12, caractérisé en ce que les moyens de détection comportent une bobine (144) enrou- lée autour d'un noyau en forme de U (146) et que les moyens d'ap- plication d'une impulsion de courant comportent un élément conduc- teur (112) disposé entre les branches dudit noyau (146). 14 - Appareil suivant l'une des revendications 8 à 13, caractérisé en ce qu'il comporte, en outre, des moyens (54,56,58) répondant au signe prédéterminé de la ou des impulsions de courant et à la di- rection d'écoulement de celles-ci le long du conducteur pour déter- miner et indiquer la direction du défaut. - Appareil suivant l'une des revendications 8 à 14, caractérisé en ce que l'amplitude de chaque impulsion de courant est choisie in- suffisante pour modifier l'état logique dudit circuit.