FR 2030438 A1 19701113 FR 7005025 A 19700212 70 05025 1 2030438 La présente invention a trait à un dispositif de diagnostic permettant de détecter et d'identifier les défauts d'un appareil éleetronique de traiteassat de données, et en particulier à un dispositif permettant d'établir des listes de corrélation entre les symptômes et les défauts. 5 Suivant une technologie moderne, les appareils de traitement de dorossas sont constitués en assemblant sur des panneaux de circuits imprimés une certaine quantité d'unités de circuits intégrés, c'est-à-dire d'unités comprenant une série de circuits semi-conducteurs fabriqués sur le même support et contenus dans le me boîtier. Le nombre de types de telles unités de circuits intégrés est relative-10 ment faible. Les circuits en question sont interconnectés de façon variée entre eus et avec les circuits des autres unités du même panneau. ïïn certain nombre de types de panneaux, d'habitude supérieure au nombre d'unités, est alors obtenu. Les panneaux sont connectés, à l'aide de connecteurs à broches multiples au câblage de l'appareil électronique. L'utilisation d'unités de circuits intégrés, même si elle 15 réduit le coût et le volume de l'unité centrale, crée de grandes difficultés pour détecter et identifier les défauts qui peuvent l'affecter. Le brevet italien n° 845 224 du 10 octobre 1968 appartenant à la demanderesse décrit un dispositif permettant d'identifier les défauts d'unités de circuits intégrés situés sur le même parmeau. Cependant, il reste un problème qui consiste à identifies? d'un seul coup 20 ie panneau ou le groupe de panneaux qui porte l'élément défectueux. Il est connu dans la technique d'utiliser un processus de diagnostic consistant à appliquer aux bornes d'entrée de l'appareil une suite de signaux d'entrée, et à vérifier si chaque groupe de signaux de sortie sur les bornes de sortie est celui qui est attendu dans le cas d'un fonctionnement correct, et, dans le cas contraire, de s'efforcer 25 d'identifier la nature et l'emplacement du défaut en fonction des différences observées entre le groupe réel de signaux de sortie et le groupe attendu. Il est d'habitude nécessaire de soumettre à un examen de diagnostic l'unité centrale d'un appareil de traitement de données. Cette unité de traitement eentral ou uni té centrale comprend généralement'une mémoire centrale, une imité de ccEsionden uné unité arith- 30 métique et un certain nombre de registres qui prennent en mémoire temporairement une seule série de signaux. Ces registres sont généralement constitués par des multivibrateurs bistables ou basculeurs et, dans certains registres, l'état de chaque basculeur commande 70 0S025 2 2030438 l'allumage ou l'extinction d'une lampe appartenant à une sex-ie de lampes. Ces séries ■lz lampes situfes sur nss console de aaintensnce, permettent à l3opï2at3ur d'être infomé ce x}4tat de chaque baseuleur ds ess registres, la GoaMsaxsQii des étais d'allumage ou â'exctinction des lampes de ess registres peut être considéré comme une 5 combinaison de signaux de sortie provenant de la totalité des circuits formant l'unité centrale, et chaque différence entre le groupe réel de tels signaux de sortie observée pour une série de signaux d'entrée donnée et le groupe attendu peut être considérée comme faisant partie d'un symptôme de défauts. Pour être capable de trouver le défaut à partir du symptôme, il est 10 nécessaire d'avoir une liste de corrélation entre les symptômes et les défauts.Cette liste peut être établie par des moyens empiriques, si les circuits à vérifier sont très simples et comportent peu d'éléments discrets. Il est possible, «fora ce cas, d'obtenir physiquement un certain nombre de défauts, un à la fois, et de prendre note des symptômes qui sont à observer quand un progranne de vérification, c'est-à-dire 15 une suite de signaux d'entrée convenables pour détecter un défaut possible quelconque, est appliquée aux bornes d'entrée» Cette méthode ne peut pas être utilisée de façon satisfaisante dans le cas de circuits plus complexes, et elle est absolument inadéquate dans le cas d'une unité centrale d'un appareil de traitement de donnéesi Ions de tels ces, le procédé utilisé dans la technique actuelle consiste à simuler 20 le circuit total de l'unité centrale dans la mémoire d'un calculateur et ensuite à l'aide d'un jœogssïsas approprié de simuler les divers défauts possibles, et, à l'aide d'm prsgraEizçîis diagnostic, d'obtenir les symptômes correspondants.. Ce processus, très coispSiquét, demande une activité" de programmation d'autant plus lourde que la stastare de l'unité centrale dont an veut établir la liste de corrélation entre les 25 symptiaeB les défauts est pias ©snplsate® Cette liste se^a appelée -ci-après dio-tiesaaire Ses défauts., Résumé &e i«iB3sarëiggc La présente invention élimine te® partie importante du travail de programmation coE'isrErarc 3a simulation des eireuite et des défauts correspondants parce que, 30 m lîtilissat xm Sispositif éleeiisMque engendrant des défauts, des aodifications 70 05025 3 2030438 correspondant aux défauts possibles sont physiquement produites l'unité centrale à vérifier par des signaux de commande envoyée à ce dispositif par exemple par un calculateur électronique pilote convenablement connecté à.l'unité centrale à essayer. Ceci est obtenu à l'aide d'un dispositif, qui, étant connecté à une douille dans 5 laquelle une unité de circuit intégré d'un type donné peut être enfichée,provoque;, sous la commande de signaux provenant du calculateur pilote, des modifications,c'est-à-dire des interruptions ou des courts-circuits, fena les circuits extérieurs à l'unité de circuit intégré, ce qui crée les mêmes anomalies dans le comportement des unités de circuit que celles qui seraient causées par des défauts internes desdites unités. 10 A l'aide d'un programme convenable, le calculateur pilote peut, en succession : a) ordonner à l'opérateur d'enficher une unité de circuit intégré sélectionné flans la douille du dispositif, b) provoquer une succession prédéterminée de modifications ou d'altérations du fonctionnement de cette unité intégrée, et, pour chacune de ces modifications .appliquer 15 à l'entrée de l'unité centrale un programme de diagnostic, c) enregistrer les symptômes correspondants à une altération quelconque pour chaque modification appartenant à une succession programmée se référant à une unité intégrée donnée, d) ensuite, ordonner à l'opérateur d'enficher une unité de circuit intégré différente 20 la douille du dispositif et répéter la succession des opérations! A la fin, la mémoire du calculateur pilote contient tme liste de corrélation entre les symptômes et les défauts qui, convenablement, réarrangées et traitées peuvent établir le dictionnaire des défauts, c'est-à-dire créer un état imprimé qui indique en correspondance avec chaque symptôme le ou les défauts qui provoquent ce 25 symptôme, l'identification de l'imité fautive et son emplacement Dans le cas de circuits moins compliqués, des dispositifs plus simples de commande de la détermination des défauts et de l'enregistrement des symptômes peuvent être utilisés au lieu du calculateur pilote. ®e tels moyens peuvent comprendre un lecteur de cartes et un perforateur de cartes convenablement connectés au 70 05025 4 2030438 dispositif à essayer. Le procédé dans lequel on utilise un dispositif de génération de défauts pourrait aussi être utilisé pour obtenir le dictionnaire de défauts à l'aide d'opérations purement manuelles. Ces avantages et caractéristiques de 1*invention, ainsi que d'autres, 5 seront mieux compris en se référant à la description d'un mode de réalisation préférée qui va suivie et aux dessins annexés sur lesquels : La figure 1 est un schéma sous forme de blocs d'un dispositif de détection de défaut d'une unité centrale d'un appareil de traiteront de données^ La figure 2 est un schéma de câblage d'un circuit intégré élémentaire du 10 type BABDi La figure 2 a représente un symbole utilisé dans ce circuit. La figure 3 est un schéma de câblage d'un circuit intégré élémentaire du typé N&.0& La figure 5a représente un symbole utilisé dans ce circuit; 15 Les figures 4 à 8 représentent des schémas logiques de cinq, différents types d'unités de circuits intégrési Les figures 9 à 10 représentent des s&énas de commutateurs permettant de simuler les défauts apparaissant sur des conducteurs d'entrée des unités de circuits intégrée» 20 Les figures 11 et 12 représentent deux cas de coimaxioiis redondante® i Les figures 13 et 14 représentent des schémas de cosœutateurs permettant da simuler les défauts en cas de connexions redondantes. La figure 15 représente un schéma d'une partie d'un panneau de circuit imprimé disposé à l'avance pour être substitué aux unités de circuits intégrés! 25 La figure 16 représente un schéma d'un dispositif de génératica de défauts; La figure 17 représente un schéma de câblage simplifié du circuit de génération de défauts. La figure 18 représente un schéma des connexions d'un dispositif de génération de défauts, 30 X& figi 5 3 a représente sa schéma d'un système permettant de constituer 70 05025 5 2030438 manuellement un dictionnaire de défauts'! La figure 20 représente un schéma sous forme de 1*1003 d'un systsiss oKit» plet de détermination automatique du dictionnaire de défauts! Pour mieux faire comprendre la présente irnrentions il est utile de *éoz±~ 5 re le procédé de vérification d'un appareil électronique et plus particulièreaBnt de l'unité centrale d'un appareil de traitement de données selon l'intention en supposant que l'opérateur qui vérifie l'appareil est déjà muni d'un programme de diagnostâo convenable et d'un dictionnaire de défauts! Ensuite, l'appareil utilisé pcrar produire les modifications de circuits 10 qui simulent les défauts sera décrit puis finalement les organisations de système utilisées pour obtenir le dictionnaire de défauts sermt décrite^ 0a suppose que, d'une façon générale, les circuits de l'unité centrale à éssayer sont formées par des panneaux de circuits imprimés sur lesquels les unités de circuits intégrés sont placées! Chaque panneau est identifié pas? un symbole alpha. 15 bétique ou numérique qui indique sa position dans l'appareil et chaque unité de circuits intégrés est caractérisés par un autre symbole qui indique son emplacement sur le panneau qui le porte! Processus d'essai! La figure 1 représente un schéma sous forme de bloes de l'appareil uti-20 Usé pour effectuer ces essais» L'unité centrale 1 qui est l'unité à essayer est connectée à un lecteur de cartes 4 et elle est ironie d'un clavier ds commande 2 et d'un panneau de représentation 3! Ce panneau comporte un certain nombre de représentations correspondant chacune à un registre et il contient autant de lampes 5 qu'il y a d'éléments de mémoire c'est-à-dire qu'il y a en général de basculeurs dans le 25 registre. La lampe connectée à chaque basculeur s'allume si 3s registre enregistre la valeur "t", et elle s'éteint s'il enregistre uns valeur logique "0". Le programme de diagnostic, selon l'invention, est par exemple enregistré sot des cartes perforées formant une pile, chaque carte portant en général un programme partiel permettant de stimuler un réseau partiel faisant partie de l'unité centrale et en outre les valeurs 30 correctes attendues qui doivent être enregistrées dans les registres utilisés comme 70 05025 6 2030438 élésssafe de sortis du réseau partis!, à 3a fia du prograaos partiel; Quand chaque oarfee est lu® par le lecteur, ce prograrane partiel est enregistré âaas la mémoire?»" ~~.jouxte me séqaeaes appropriée de sigaaiïs est lue âsas 3a mémoire et enregistrée dans des registres d'eatrée convenables, de façon à stimuler le réseau partiel. A la fin de la 5 séquence de signaux, le contenu des registres de sortie du réseau partiel est comparé aux valeurs attendues enregistrées dans la mémoire; Toute différence entre le réseau (c'est-à-dire le groupe) de signaux effectivement contenus dans les registres de sortie du réseau partiel et le réseau de signaux attendus empêche la lecture de la carte suivant, ce qui arrête le débit des cartes. la totalité des cartes formant 1m 10 pile contient un programme de diagnostic complet capable de couvrir le réseau total formant l'unité centrale ou au moins une partie substantielle de cette unitéiQuand le débit de cartes s'arrête, il est possible de connaître le réseau résultant de valeurs enregistrées dans les registres de sortie en observant le réseau des lampes allumées et éteintes* 15 ïïn symptfeae -unique n'est généralement pas suffisant pour identifier le défaut et son emplacement. Cependant, il est possible, après l'arrêt du programma de diagnostic, d'obliger le lecteur de cartes à lire la carte suivante, à l'aide d'une action appropriée sur la console de commande, ce qui laisse au lecteur de cartes la possibilité d'effectuer 3a lecture de la pile; Généralement, cette JEanoeurre permet 20 de lire un nombre donné de sartes, avant un nouvel arrêt de l'opération de lecture* wsci» ea eoKasaâos &ves 1© soisreau réseau, de lampes allumées, sur le panneau de représentation, iaôiqms im nouveau symptôme. Il est donc possible de lire toute la pile de cartes., m. Bassaablant un noabre de symptômes généralement suffisant pour identifier le défaut. 25 On remarquera que 1'arrêt de l'opération de lecture ne signifie pas aécessaixsse&i l«ara?tfc de l'opération de l'unité centrale à essayer; Il peut arriver que eestaiss défauts^ i-omt es. créant un arrêt de la lecture de la pile dû à une différence ©nis^e les valeurs attendues et réelles enregistrées dans les registres de sortie3 as arrêta jas l'opération;, qui se répète elle-^nême plusieurs fois* Cet 70 05025 7 état peut être détecté du fait que certaines lampes sont allumées et éteintes de façon intermittente, ou, mieux, du fait qu'une lampe signalant la fin du fonctionnement de l'unité centrale ne s'éclaire pas. Cette lampe est appelée lampe d'arrêt; Le fonctionnement du détecteur de défaut de l'unité à essayer procéda 5 comme suit : a) l'opérateur charge le lecteur de cartes avec la pile de cartes contenant le programme du diagnostic, et effectue les opérations demandées pour faire démarrer la lecture de cette pile. Si toute la pile est lue sans aucun arrêt,ceci signifie que l'unité ne présente pas de défaut ou qu'il y a un défaut qui ne peut pas être détecté par le programme de diagnostic^ h) Généralement, s'il y a un défaut, la lecture de la pile de cartes s'arrête sur une carte donnée, par exemple sur celle ayant le numéro ni L'opérateur alors prend note de ce numéro, de l'état de la lampe d'arrêt, et du réseau des lampes éclairées sur les différentes représentations. Si la lampe d'arrêt est éteinte, ce qui signifie que l'unité fonctionne cycliquement, certaines lampes sont allumées et éteintes de façon intermittente, et ceci peut ^ servir d'indication; Cependant, il est généralement commode pour l'opérateur d'observer à l'aide d'un oscillographe si les signaux de sortie d'un registre déterminé sont présente sous forme de signaux continus ou alternatifs, c) l'opérateur, en appuyant sur un "bouton convenable, effectue la lecture de la carte suivante; D'une façon générale, la lecture de la pile s'effectue jusqu'à ce qu'une carte ayant un numéro 20 de série m (qui est fréquemment égal à n + l)i crée un nouvel arrêt. L'opérateur prend alors note du nouveau réseau de lampes allumées et éteinte et en particulier de l'état de la lampe d'arrêt; d) en principe, ces opérations sont répétées autant de fois que nécessaire de façon à lire toute la pile de cartel i A la fin de. 1« opération, un certain nombre de symptômes sont rassemblés; 25 Chaque symptéme correspondant à un arrêt de l'opération de lecture comprend le numéro de la dernière carte lue avant un arrêt, l'état de la lampe d'arrêt, et le réseau des lampes allumées, éteintes, ou allumées par intermittence. L'opérateur recherche alors dans le dictionnaire de défauts les pages correspondantes aux numéros nt m, etc... des cartes ayant provoqué un arrêt dans la lecturei Dans cette page, 70 05025 8 2030438 il trouve pour chacun des différents réseaux de lampes allumées et éteintes ou intermittentes, le ou les défauts en corrélation; Suivant le degré de réduction propre au programme de diagnostic, un groupe de panneaux ou un unique panneau ou un certain nombre d'unités de circuits intégrés situés sur un ou plusieurs panneaux ou une seule 5 unité intégrée sont indiqués comme étant le siège du défaut. Dans le dernier cas, il est possible de remplacer immédiatement l'unité de circuit fautive. Dans les autres cas, il est possible d'identifier l'unité intégrée défectueuse sur le ou les panneaux indiqués en utilisant le dispositif de localisation des unités défectueuses sur le panneau de circuit imprimé décrit dans le brevet italien cité ci-dessus. On 10 remarquera que, dans la plupart des cas, il n'est pas nécessaire de suivre tout ce processus comme il vient d'être décrit. Par exemple, l'opérateur, quand la lecture s'arrête sur la carte ayant le numéro n, peut Immédiatement trouver ^tih le dictionnaire de défauts si cette donnée est suffisante pour identifier l'unité défectueuse ou s'il est nécessaire de rassembler d'autres données; Suivant une variante, après 15 une première lecture de la pile de cartes, pendant laquelle il enreistre seulement . - les numéros des cartes qui ont provoqué l'arrêt, sans tenir compte de l'état des lampes, l'opérateur peut regarder dans le dictionnaire de dnfauts si ces symptômes partiels sont suffisants pour identifier les défauts. Eh cas contraire, il peut procéder à une deuxième lecture de la pile pour connaître l'état des lampes qui 20 peuvent identifier les défautsi Dispositif générateur de défauts» Le dispositif générateur de défauts est un dispositif capable d'effectuer le remplacement de chaque unité de circuit intégré de l'unité centrale à essayer par uns unité ode génération de défauts, et capable de provoquer, dans le circuit coneti— 25 tué par cette unité de génération de défauts, les modifications qui ont les mêmes effets logiques que le défaut qui £eut affecter l'unité de circuit intégré. A titre d'exemple, on supposera que le circuit de l'unité centrale à essayer utilise des unités de circuit intégré du type communément appelé logique-transistor-transistor et què l*oa écrit en général en abrégé sous la forme TTLi On 70 05025 9 2030438 supposera que les circuits élémentaires utilisés sont les circuits représentés far le schéma de câblage des figures 2et 3. le premier de ces circuits fournit la £©ïie~ tion logique NOH-ET ou ÎIA2JD, en utilisant un transistor 10 à plusieurs éEsttov2r£i et un circuit de sortie comprenant les transistors h un seul émetteur 11,12 et 13 ? ■; uns 5 diode 14, comme indiqué sur la figure 2. Ce circuit comprend an outre les quatre résistances 15, 16,17 et 18 de valeurs convenables connectées comme indiqués On supposera que le niveau logique "1" est représenté par une polarité positive, par exemple + 3 volts, et que le niveau logique "Gn correspond à 0 volt» On peut voir que, si au moins un des émetteurs A, B, g du transistor 10 est à 0 volt» 10 alors sa "base est également à 0 volt. Cette tension, grâce au collecteur connecté à la "base du transistor 11, rend ce transistor non conducteur, c'est-à-dire le "bloque. Donc, son collecteur au point 19 se trouves à 3 volts, tandis que son émetteur au point 20 se trouve à 0 volt; Le transistor 13 est conducteur ©t le ^transistor 12 est "bloqué. La sortie ïï se trouve à une tension positive d'environ + 3 volts, e'est-15 à-dire au niveau logique "1".; Dans le cas contraire, si toutes les entrées Â, B, C, sont au niveau "I*, c1 est-à-dire à environ + 3 volts, un courant circule depuis la source + Y dans la résistance '16 s la "base du transistor 10 et la "base du traasi8= •ici? 1 15 qui osas est xo?,.â-aoïeuz% Lq point 20 est à un potentiel positif suffisant pour rendre le transis-20 tor 12 conducteur tandis que le point 19, bien qu'il soit à un. potentiel légèrement plus positif, ne peut pas rendre le transistor 13 Qonâueteur du fait de la chut© d© tension dans la diode 1^® Ainsi, le transistor f3 est bloqué.? et sa sortie se trouve à Q^olt, c'est— t à-dire au niveau logique "0". Ce circuit fournit doas la fonction logique MÏÏDj, indi— 25 quée par l'équation de Boole u =aibic., où u est la valeur de la variable de Boole sur la sortie ïï et a,b,c, sont les valeurs des variables sur les entrées A, B, Ci Le circuit de la figure 3 fournit la fonction ET-ÛO-ïîOïî, ou encore la fonction HA.0B; Il comprend deux transistors à plusieurs émetteurs 20 et 21, deux transistors à un émetteur unique 22 et 23, et les résistances 24(25? 26 et 27 qui 70 05025 10 2030438 - ayee forment le eimdt d'entrée., ©t les traîïsisters 28 et 29 foîÈaa'é/îa résistance 30 et la diode 31 2® oisayit ûs sortie® Poœ? gno 1© transistor 22 (©» 2;l) soit eonduo» tsT5r*5 il est aéeessaire, cesse iadiciis ci-âsssas, que les deisr eatréss âu transistor 20 (ou 21} soient au niveau "1". Si l'un ou l'autre des transistors 22 ou 23» ou 5 les deux, sont au niveau "t", le point 33 est à une tension positive relativement élevée, de façon à laisser conducteur le transistor 29»iandis que, du fait de la chute de tension de la diode 21, la tension au point 32 n'est pas suffisamment positive et le transistor 28 est bloqué. Son signal de sortie U est au niveau "0". Si au moins une des entrées du transistor 20 et au moins une des entrées du transistor 21 sont 10 à "0". volt (niveau logique *0"), les deux transistors 22 et 23 sont bloqués, le point 33 est à "0" volt, le transistor 29 est bloqué, le point 32 est à une tension positive relativement élevée» le transistor 28 est conducteur et par suite le signal de sortie TT est environ égal à + 3 volts c'est-à-dire qu'il représente le niveau "I". le circuit fournit donc la fonction indiquée par l'équation de Boole u = a.b. + cd. 15 Les figures 2a et 3a représentent respectivement les symboles qui sont utilisés par les cireuits des figures 2 et 3. On remarquera que la valeur logique"1" •jus?tas© queleoague i©s entrées peut ôtxe obtenue simplement sa isolant M boxas d'en-l-^so Sa ciselât peéeôâeafci Cas sirsaiis psweat ftre groupés âif£ (figura 4) ©E «a caît3?9 csasgrseaat deux oireaits HAHD ayant quatre conducteurs d'entrée (figure 5}t. sa feoisîëas ayaid; trois circuits MHD ayant trois conducteurs d'entrée (figure S) st8 finslsmeats, us ays&t quatre eireuits MHD à deux entrées (figure 7)i L'usité intégras S®. type lêfiS paat comprenais âeux circuits M0E à quatre entrées; 25 Sans ce ess,, il y a "933. asafeg© total de types d'unités de circuit intégré égal à cinq; Ses différentes essM-^isoES et i&taretmnsadans de ces unités de circuits donnent naissec®® a. as ee^teâs. T8*Èise fie typss de panneaux de circuits imprimés. Sur les figures A s 8 es. outre; les conducteurs de sortie, d'alimentation et de masse sont indiquéso 70 05025 u 2030438 On voit que le nombre mfndimmi de "bornes est égal à 14, comme demandé par l'unité de circuits intégrés représentés sur la figure 6. Ceci est également le nombre de broches de connexion des unités de circuits intégrés de chaque typeà Chaque défaut qui peut affecter les circuits intégrés à l'intérieur „s 5 l'unité se révèle à l'extérieur par des niveaux logiques déterminés et fixes présents sur de3 bornes d'entrée de sortie données, indépendamment des niveaux logiques présents sur les autres bornes.il est donc possible de simuler des conditions de défauts internes en appliquant des niveaux logiques fixes sur des conducteurs convenables. De ce fait, il ést possible de rendre minimum le nombre de modifications à produire sur 10 le circuit extérieur pour simuler les différentes/conditions de défautai' Il est suf-sisant, en fait, de produire seulement les modifications qui appliquent aux bornes des valeurs fixes convenables, quelles que soient la nature physique et la cause des défauts ou erreurs internes. En se référant au circuit NAMD de la figure 2, on voit qu'un défaut provoquant une valeur fixe "0* sur chacune des entrées crée aussi une 15 valeur fixe égale à "I" sur la sortie. La coupure de la source d'alimentation crée un isolement de toutes les entrées et de toutes les sorties. L'absence de connexion avec la masse amène toutes les entrées et la sortie à une tension voisine de la tension d'alimentation. Dans les deux cas, le niveau logique des entrées et des sorties est le niveau fixe "1". ïïn niveau fixe "0" sur la sortie peut être considéré comme 20 un niveau "0" sur l'entrée du circuit suivant et par suite il correspond à un/niveau fixe égal à "1" sur sa sortie. Enfin, on a trouvé expérimentalement que la plus grande partie des défauts qui peuvent affecter de façon accidentelle l'intérieur d'un circuit intégré, du fait de défauts de fabrication, crée une valeur égale à "I0 à la sortie. H s'ensuit que, pour les unités de circuits intégrés représentés sur les ^25 figures 4 à 7, comprenant seulement des circuits MÏÏD, chaque défaut provoqué par des coupures, ou des connexions effectuées à la masse, des broches de connexions et des conducteurs, peut être réduit à une valeur fixe égale à "I" sur une des bornes d'entrée ou de sortie ou bien à une valeur fixe égale à "1" sur toutes les bornes d'entrée et de sortie» Donc, toutes les altérations ou modifications du réseau de 70 05025 12 2030438 connexions qui doivent être effectuées pour simuler tous les défauts possibles sont limitées soit à une interruption unique d'une des connexions d'entrée ou de sortie, soit à l'interruption multiple de toutes les connexions d'entrée ou de sortie^ Eu ce qui concerne le circuit MOÇ&e la figure 3, ce qui a été dit ci-5 dessus est valable pour des défauts uniques provoqués par une valeur fixe égale h "I" sur les conducteurs d'entrée ou de sortie et pour un défaut multiple dflL à l'absence de tension d'alimentation ou de masse. Au contraire, une valeur fixe égale à "0" sur xme des entrées d'un circuit du type KP (c'est-à-dire sur un des émetteurs des transistors multi-émetteurs) ne crée pas nécessairement une valeur fixe égale à 10 *1" sur la sortie. Ce type de défaut peut être simulé à l'aide d'une altération ou modification de la connexion d'entrée qui met à la masse une telle connexion sur le côté du circuit intégré et qui l'isole du circuit précédent. Il est évident qu'il est suffisant de créer un tel défaut sur seulement une des entrées de chaque circuit ET, parce que, si une des entrées est égale à "O", la valeur de l'autre est indiffé-15 rente. En conclusion, les modifications à effectuer sur les circuits connectés aux bornes des unités de circuits intégrés sont les suivantes s a) pour des unités de circuit de tout type : interrompre la connexion avec chacune des bornes une à la fois, interrompre la connexion avec toutes les bornes en aÊae temps, b) pour les unités de circuit de la figure 8, en outre, interrompre et mettre à la masse la connexion de 20 chaque paire de bornes d'entrée. Les figures 9 et 10 représentent schématiquement à l'aide de caoaratateïtre le dispositif capable de produire de telles modifications. Le scMaa de la figure 9 est valable pour une unité de circuit des types des figures 4 à 7, le schéma de la figure 10 est valable pour une unité de circuit du type de la figure 8.11 peut arri-25 ver fréquemment que, par exemple, dans un circuit à quatre entrées du type HMDfdsns lequel seules deux entrées sont nécessaires, les circuits restant sont connectas sn parallèle à l'une des entrées utilisées (figure 1l)i II y a dans ce cas une redondance des connexions entre le circuit intérieur et le circuit extérieur. La coupure accidentelle d'une telle connexion redondante n'apparaît pas comme un défaut et par 70 05025 13 2030438 suite ne peut être détectée. Pour simuler l'interruption de seulement une d@ ces ■bornes, il n'est pas nécessaire de recourir au dictionnaire de défauts «, Il est nécessaire dans ce cas d'ouvrir toutes les connexions en parallèle, de facsa à prx>vc=» quer effectivement le défaut (figure 12)„ Ainsis si deux ou plusieurs circuits v:u>-5 tenus dans la même unité sont connectés en parallèles, comme représenté sur la, fl-jore 13, chaque défaut doit être simulé non sur un seul d'entre eux mais sur toutes les tomes correspondantes de toutes les unités connectées en parallèle (figure 14)à Chaque unité de circuits intégrés est enfermée dans un boîtier convenable, munig dans l'exemple indiqué, de quatorze broches et située sur des panneaux de circuits 10 imprimés, où les broches sont soudées à des conducteurs respectifss Pour permettre l'insertion du dispositif de génération' de défauts, il est nécessaire de prévoir des panneaux spéciaux sur lesquels les unités de circuit intégré sont enfichées dans des douilles convenables à partir desquelles ils peuvent être enlevés manuellement. 15 Sur la figure 1-5, une partie d'un tel panneau spécial 49 est repré senté. Chacun des emplacements qui sur des panneaux normaux est occupé par des unités de circuit intégré, est ici occupé par une douille 50 sunie de 14 jacks ou trous 51 correspondant aux 14 broches 52 de l'unité de circuit intégré 53 i De tels jadis ou trous sont prolongés sur la face opposée de la plaque par des broches 54 qni sont 20 soudées au câblage imprimé de la plaque 49 d'une façon telle ques quand l'unité de circuit intégré 53 est enfichée dans la douille 50, le fonctionnement du panneau ne diffère pas de celui d'un panneau normal. Ces broches 54 permettent l'enfichage d'un dispositif de génération de défauts 55 représenté schésatiqueaent sur la figure I6i Il comprend une plaque supérieure 56 sur laquelle une douille 57 capable d'êirs 25 connectée aux broches 54, est. fixée. Une plaque intermédiaire 58, telle que représentée sur la figure, porte une unité de circuit intégré 59 du même type que l'unité de circuit intégré 53. Les broches de cette unité 59 sont connectées aux trous de la douille 57 par l'intermédiaire d'un circuit discret comprenant des résistances et des transistors, dont certains sont renfermés à l'intérieur du contour indiqué 70 0fi02S 14 2030438 '3 issiiva mse M 16 (61 »62). Se tels transistors et résistances tvonstiosiisîrï csr.5 tes eBBEafesfesess ti I égal/d&-types d'unités de circuit intégré» c'est-à-dire à cinq dans l'exemple choisi» Un certain nombre de panneaux d'essais spéciaux 49 égal au nombre de types de pan-10 neaur de circuits imprimé usuels peut être prévu. Ce nombre peut être compris entre 7 et 104 le panneau, dont les défauts doivent être simulés, est détaché de son connecteur et le panneau d'essai 19 ayant toutes les unités intégrées enfichées dans leurs douilles est enfiché à sa place avec l'interposition d'un panneau d'extension permettant au panneau spécial de se séparer des panneaux voisins, de façon à permet-15 tre 1 'accessibilité aux unités intégrées placées sur luii L'unité intégrée dont les défauts doivent être simulés est enlevée de sa douille et la douille du dispositif de génération ds défauts âu type convenable est raccordée ans tiges ou broches dépassantes i Si aucun signal de coioaiande n'est envoyé au dispositif, l'unité centrale fonctionne correctement. Un signal de consende quelconque crée les, modifications du 20 circuit ml sisalent l la f.krii:« 17 ssp-Jseat® partiellement le schéma d'us dispositif de généra-tvl.oa cte déte.%3 âacs le cas ©?i l'unité de circuit intégré sur laquelle un défaut doit îtec ~:kr;i.s- est de Î&53 de la flgare 8 et-seaprend deux circuits du type MOB» L'unité est isâig'i'le siir la figors 17 pas? la référence 99» Comme indiqué ci-dessus» f . . r 25 sSekIçs? to-23- les défauts Tssssiblss de* cette unité-, il est nécessaire, en plus. d8:l^'i3rrc::p£~ las GCsxsïgLma as? 70 05025 15 2030438 connexions entre de"tels jacks et les broches de l'unité de circuit 99 sont indiquées seulement pour les jacks d'alimentation 100, le jack de masse 111, les quatre jacks d'entrée 101, 102, 103 et 104 et le jack de sortie 105, c'est-à-dire pour les jaeks qui se/éfèrent à un unique circuit MOR contenu dans l'unité intégrée. Le jack 100 5 fournit l'alimentation du circuit de génération de défauts de l'unité de circuit intégré 99 et en outre une tension sur un fil de signalisation 129 connecté au circuit de commande^ En considérant maintenant par exemple la broche A1 de l'unité 99» on voit qu'elle est connectée au jack 101 par l'intermédiaire du transistor 116 alimenté par 10 la résistance 112 et commandé par l'intermédiaire de la résistance 122 par le fil de commande 132. Dans l'état de repos, une tension positive est présente sur le fil 132 et elle est appliquée à la base du transistor 116 qui est donc conducteur. La même broche AI est en outre connectée au collecteur du transistor 120 dont l'émetteur est à la masse et dont la base est commandée, par l'intermédiaire de la résistance 126, 15 par le fil de commande 13É?i Dans l'état de repos, une tension nulle est présente sur ce fil 136 en sorte que le transistor 120 est bloqué. Donc, la broche A1 est isolée de la massei Dans ce cas, chaque changement de tension et par suite chaque changement de niveau logique appliqué au jack 101 est transmis par l'intermédiaire du transistor 116 à la 20 broche A1i Quand un défaut d'interruption doit être engendré équivalent à la valeur sur la broche A1, le fil 132 est amené à 0 volt. Alors le transistor 116 derient bloqué, tension constante positive, c'est-à-dire le niveau "I", est appliquëê^la broche Ali Si, àïï iîsu de cela, une valeur fixe "O" doit être appliquée à A1 qui doî^®^ 011^1® iso1® de la mas'gë ,,-CT-e teiiBion positive est appli-25 quée aussi au fil 136, œ^ui^âsèse^le transistor 120 à être conducteÏÏJTet -S e qui connecte A1 à la masse. Les défaut'3 d'interruption-peurent être engendrés sur toutes les broches d'entrée et de sortie au moye^63 traJlsi3tors 116' 117' 118' 1T9» 130 connectés aux broches Al, B1, CI, D1, et ÏÏ1, et transistors homologues non représentés connectés aux broches A2, B2, C2, D2 et II2i 70 05025 16 2030438 Si tous les transistors sont bloqués, un défaut d'interruption multiple est engendré, Finalement, les défauts de masse peuvent être engendrés sur les broches A1 et C1 à l'aide des transistors 120 et 121 et sur les broches A2 et C2 à l'aide des deux transistors homologuegéion représentés. Le nombre de fils de commande est 5 donc égal à 14 pour l'unité de circuit considérée dans l'exemple choisi correspondant au type représenté sur la figure 8, c'est-à-dire qu'il est égal au nombre de commutateurs représentés sur la figure 10. Pour les autres types de circuits qui demandent seulement des défauts d'interruption, ce nombre est égal au nombre de fils ou câbles d'entrée et de sortie, qui portent un transistor fonctionnant oomae cono-^ tateur, c'est-à-dire égal à 9 pour le type de la figure 4, 10 pour le type de la figure 5 et 12 pour les -types des figures 6 et 74 En outre, tin fil de signalisation 129 est prévu. Sur ce fil, quand le dispositif de génération de défauts est enfiché à sa place dans l'imité de circuits, une tension positive est présentai L'unité de génération de défauts schématiquement représentée sur la 15 figure 18 comprend autant de dispositifs de génération de défauts 80,81,82,85, 84 qu'il y a de -types d'unités de circuits intégrés utilisés dans l'unité centrale essayée, c'est-à-dire dans le cas présent 5, et une boîte de connexion et d'adaptation 90 à laquelle les 5 câbles de connexion 85,86,87,88,89 sont reliés, ces câbles 20 étant respectivement connectés chacun à un des dispositifs de génération de défauts. Cette boite 90 comporte une bande 91 sur laquelle les fils de commande des câbles 85 à 89 sont connectés et une bande 92 sur laquelle les fils de signalisation 129 associés aux cinq dispositifs de génération de défauts sont connectés» Sur ces fils, comme expliqué ci-dessus, une tension de signalisation est présente quand le disposi-25 tif associé est enfiché dans les broches qui dépassent d'un panneau spécial, à la place d'une unité de circuit intégré. Comme seul un des cinq dispositifs de génération de défauts à un instant donné peut être dans un tel état, les fils de ces dispositifs, qui dans différents dispositifs de génération de défauts effectuent la même opération sur des broches situées de la même façon, peuvent être connectés en parallèle. La boîte de connexion 90 est connectée, à l'aide d'un connecteur à broches 70 05025 17 2030438 multiples, au système de commande de génération de défauts qui reçoit les signaux provenant des fils de signalisation et envoie des commandes sur les fils de consolide 0 Entre les bornes des bandes 91 et 92 et les broches du connecteur 93, on. a prévu un. circuit d'amplification et d'adaptation d'impédance convenable dont seulement dc-'S 5 sont représentés symboliquement sous forme des contours en traits interrompus 94o Procédé manuel d'établissement du vocabulaire de défauts i, L'unité de génération de défauts, telle que décrite ci-dessus, peut être utilisée pour obtenir un dictionnaire de défauts par tm procédé manuel; Le schéma sous forme de blocs du système est représenté sur 3a figure 19. Il comprend les mêmes 10 éléments que sur la figure 1, et un système de commande manuelle de l'unité de génération de défauts a été ajoutéi Ce système"151 est muni d'un clavier de commande 152 et il est connecté à l'unité de génération de défauts, déjà décrite, qui comprend la boîte de connexion 90 et les cinq dispositifs 85 à 89» L'opérateur a à sa disposition une liste de tous les panneaux de circuits imprimés contenus dans l'appareil à essayer, 15 le code d'identification de toutes les unités de circuits intégrés comprises dans chaque panneau, et la liste des défauts à simuler pour chaque unité de circuits intégrés^ Suivant un programme préparé à l'avance, l'opérateur sort de l'apparéLl/à essayer le -premier panneau et le remplace par un panneau spécial d'un type convenable, ea interposant un panneau d'extension. Ensuite, il enlève la première unité 20 de circuit intégré de ce panneau et à sa place il enfiche le dispositif de génération de défauts convenables. Dans ce cas, il est bon de laisser tout le programme de diagnostique se dérouler. Si aucun défaut n'est détectés oeci indique que tout lsappareil fonctionne 15 i correctement. Alors, en manoeuvrant une clé du clavies^ l'opérateur oblige le preaies 25 défaut programmé de l'unité de circuit intégré à être engendré"! Dans ce cas, lsopér&= teur agissant sur le panneau de commande 2, permet aux cartes du programme de diagnostique d'être lues par le lecteur de cartes 4 suivant le porcessus d'essai décrit ci-dessus. Le défaut engendré artificiellement permet de lire la pile de cartes et de l'arrêter une ou plusieurs fois, et l'opérateur note les symptômes correspondant au 70 05025 2030438 T/?sales défaat de la pareaâère -saité intégrée du premier paB&ssffiU 2n agissant sur le el.=.m©r 152» il scgsncîxe ensaite ta. ësteilas défaut de la 2eSie3 unité-j s's> il laisse 1q programme 1© diagnostiqua effectua tass lecture une autre fois» et il note les symptômes se rapportant à ce défaut, Qaand tous les défauts qui doivent être engen-5 drés dans la première unité intégrée du premier panneau ont été simulés, l'opérateur replace dans sa propre douille la première unité de circuit intégré, il extrait le dispositif de générateur de défauts, et il procède comme déjà indiqué en ce qui concerne la deuxième unité de circuit intégré du premier panneau; Quand ce travail est effectué pour toutes les unités de circuits du premier panneau, le panneau 10 spécial est enlevé et le panneau d'origine est mis à sa place. Il répète alors la suite de ces opérations en ce qui concerne le deuxième panneau, et ainsi de suitef. A la fin, il obtient comme résultat une liste sur laquelle, e^borrespondanœ avec chaque défaut de chaque unité de circuits de chaque panneau, les symptômes correspondant sont indiqués. Pour obtenir un dictionnaire de défauts utile et pratique, 15 cette liste doit être réarrangée, en dénombrant tous les symptômes selon une séquence prédéterminée, et en indiquant pour chaque symptôme l'unité ou les unités intégrés et le ou les panneaux sur lesquels les défauts qui ont provoqué les symptômes ont été engendrési Cette opération a besoin seulement d'être faite une fois pour chaque type ©u modèle d'appareil. Cependant, il apparaît que cette opération prend beau-20 cotsp de temps pour iîh agpojsil même d'une eomplexite modérés! Procédé Buj(szs.hïcim ûa ssuisurdon du dictionnaire de défauts; Four ces saisons9 les opérations indiquées ci-dessus sont, selon l'inven-p?3squs eoEplètsEant automatisées par l'utilisation d'un calculateur pilote capable â'exéea&eg testes hss spésatioss qui. ne demandent pas de modifications 25 EécaniipS3e e>®st-&-âirs toutes les opérations sauf les opérations manuelles permettait de siîsstituar- crcs psamsam de circuits imprimés usuels les panneaux spéciaux et de mettre à Isar plaas le dispositif de génération de défauts^ La série d'appareils demandés pour automatiser ce prcséâé selon l'invention comprends, eoiase le montre la figure 20„ l'tH&ts esafeale à essayer 1» soa. clavier de commande 2, son panneau de 70 05025 19 2030438 représentation. 3» Il est prévu aussi tin calculateur pilote indiqué en 160 et qui comprend une unité centrale 161 connectée aux unités périphériques suivantes : une imprimante 162, un lecteur d« cartes 163, deux unités de ruban magnétique 164 et 165i Le calculateur est en outre connecté à une unité de connexions multiples I66i Son but 5 consiste à mettre en oeuvre un dispositif de connexions de quatre dispositifs fone=> -tionnels capable» de remplacer autant de dispositifs utilisés les opérations manuelles décrites ci—dessus, et de fournir automatiquement les mènes fonctions à l'unité centrale du calculateur pilote! Ces dispositifs fonctionnels sont a) l'unité de commande -167 de l'unité de génération de défauts 151, b) le dispositif 168 qui 10 automatise le clavier de commande 2 auquel il est associé, c) le dispositif d'enregistrement de symptôme 169 associé au panneau de représentation 3, d) le dispositif 170 simulant le lecteur de cartesi Le lecteur de cartes 163 connecté à l'unité centrale 161 du calculateur 160 est chargé par une pile de cartes dont chacune se rapporte à une unité intégrée 15 différente de l'unité centrale à essayer 1, et porte les indications permettant d'identifier et de repérer les emplacements de l'unité intégrée, et la liste dès défauts à engendrer dans cette môme unité. L'unité de ruban magnétique 164 comporte un ruban magnétique sur lequel le programme de diagnostique de l'unité centrale 1 est enregistré! Ce programme de diagnostique.est subdivisé en blocs dont chacun contient le 20 programme partiel contenu, dans une carte perforée de la pile de cartes de programme de diagnostique. Ainsi, cette unité 164 remplace le lecteur de cartes 4 de la figure 1 et de la figure 19» La séquence des blocs est lue sous la commande de l'unité centrale à essayer. L'unité 165 est utilisée pour enregistrer la séquence des symptômes en corrélation avec les défauts engendrés. L'imprimerie 162 est utilisée pour 25 communiquer à l'opérateur les ordres des opérations manuelles à exécuter, c'est-à-dire le remplacement d'un panneau normal par un panneau spécial convenable et le remplacement d'une unité de circuits enfichés par un dispositif de génération de défauts convenable! Les fonctions des dispositifs fonctionnels connectés à l'unité centrale 70 05025 20 2030438 du calculateur pilote par l'intermédiaire de l'unité de connexion. Multiple 166 vont maintenant être décrites. L'unité de commande 167 de l'unité de génération de défauts 151 engendre en succession, suivant les commandes envoyées par le calculateur pilote tous les défauts programmés sur les différentes unités de circuits intégrés, au 5 moyen de signaux agissants, par l'intermédiaire de circuits d'adaptation et d'amplification, sur les fils de commande des dispositifs de génération de défauts. Son fonctionnement est rendu effectif et commandé par les signaux de tension, présents sur le fil de signalisation du dispositif en fonctionnement i Le dispositif 168 qui automatise le clavier de commande est connecté en 10 parallèle à ce clavier 2, et il est capable d'envoyer à l'unité centrale 1 à essayer les mêmes signaux qui devraient être envoyés par une frappe manuelle au clavier! En particulier, après chaque arrêt du programme de diagnostique, il envoie des signaux qui font démarer à nouveau la lecture du programme^ Le dispositif d'enregistrement de symptômes 169 est connecté en. parallèle aux panneaux de représentation, et, après 15 chaque arrêt du programme de diagnostique dû à un défaut, il évalue les données fournies par l'état de la lampe d'arrêt, et 1b réseau des lampes alluaées, éteintes, ou allumées de façon intennittente. Le calculateur pilote enregistre ces données sur le ruban magnétique de l'unité 165, en concurrence avec le numéro du bloe qui a provoqué l'arrêt de la lecture du programme, avec l'indication du défaut engendré, 20 avec l'identification et l'emplacement de l'unité de circuits intégrés sujette à ce défaut, -^e dispositif de simulation du lecteur de cartes 170 fournit une fonction d© transfert v®rs le calculateur pilote, des commandes engendrées l'unité centrale 1 à essayer de f&çon à line en succession, chaque bloc du programme de diagnosticrae et à les enregistrer dans la mémoire centrale de ce calculateur si aucun défaut 25 a'est détecté à la fin de la lecture du bloc précédant?! La succession des opérations est la suivante s comme opération préparatoire, le calculateur pilote permet à tout le programme de diagnostique d'être 111 puis enregistré en bloc, par l'intermédiaire du simulateur 164 du lecteur de cartes, dans la mémoire de l'unité centrale. Si l'unité centrale ne présente pas de défauts, 70 05025 21 2030438 aucun arrêt ne s'effectue; Ensuite, le calculateur pilote 161 ordonne au lecteur de cartes 163 de lire la première carte contenant les codes d8identification et d'e-npls,™ cernent de la première unité intégrée et la liste des défauts qui doivent être âïi correctement accompli, puis, ensuite, il commande la génération du premier défaut par l'intermédiaire de l'unité de commande et de l'unité de génération de défauts; Ensuite, l'unité centrale à essayer, par l'intermédiaire du simulateur 170 du lecteur de cartes, demande la lecture en succession des blocs du programme de diagnosti-15 que enregistrés sur le ruban magnétique porté par l'unité 164. D'habitude, le défaut engendré sur la première unité de circuit intégré par le dispositif de génération de défauts provoque un ou plusieurs arrêts de la lecture du programme de diagnostiquai Chaque arrêt, l'unité centrale à essayer, comme déjà dit, oblige le dispositif d'enregistrement de symptêa® 169 à évaluer et enregistrer les systèmes correspondants» 20 Ensuite, en faisant fonctionner le dispositif de simulation du clavier 168, la lecture du programme de diagnostique s'effectue complètement® Le numéro du dernier bloc lu avant chaque arrêt, le réseau des lampes allumées;, éteintes? ou allumées par intermittence, l'état de la lampe d'arrêt, sont enregistrés ste> la bande de l'unité 165 concurremment avec l'indication du défaut engendré et avec les codea d'identifié 25 cation et d'emplacement de l'imité intégrée affectée par ce défauto A la fin de la première lecture de la totalité du programme de diagnostique, tous les symptômes associés'au premier défaut engendré sur la première unité intégrée sont enregistrés sur le ruban magnétique de l'unité 165. Ensuit®, le calculateur pilote, par l'intermédiaire de l'unité de commande 167 de l'unité 151 permet la génération du deuxième 7 A 0502'5 2030438 iéfsefc ai® la sise unité intégrée, et l'unité centrale à essayes* âeŒaEàs la lecture >in psegsaszsî êa âiagnestique, se gui enregistre tous les i^Epttes assesiés à oe êsasitei âsf:atB QjisBd tons Iss défauts assois dans la liste se sa,pps3?tant à la prenâèEs usité ds circuit à essayer ont été engddies, le calculateur pilote fait 5 imprimer à l'unité d'impression l'ordre ajd-vant pour l'opérateur de replacer dans sa douille la première unité de circuit intégré, d'enlever le dispositif de génération de défauts, de débrancher la deuxième unité intigrée, puis de placer dans les fiches de sa douille le dispositif de génération de défauts convenable. A ce moment, tous les symptômes se rapportant au défaut engendré sur la deuxLèae unité du premier 10 panneau sont enregistrés. Il en e3t de même ensuite pour la troisième» la quatrième, etc .. unité intégrée. Quand toutes les unités intégrées situées sur le premier panneau ont été soumises au programme de défaut, le calculateur pilote ordonne à l'opérateur, à l'aide ds l'imprimante» de remettre à sa place le premier panneau normal en enlevant 15 le paEBUsaa spécial et de remplacer le deuxième panneau normal par le type coirespon-ôaat âe paaaeau spécial, et le cycle d'opérations indiquées ci-dessus recamence* QhsM tous les panneaux ont été soumis à un tel processus, le ruban magnétique de l'unité 165 contient une liste d'enregistrements ordonnas suivant la séquence des speratioES eozrespoMsnfc à testas les unités intégrées et déterminées 29 i«8i? la aoseessiea des «asrêes ûa lecteur de eartes 163» Dans cette liste d'enregistré— ssat, to*© les svn^tênss «îcr-ssspomisnt sus différents défauta eagandrés sur chaque usité sssai eEî'egisteéa» Pour obtenir m dictionnaire de défauts, le calcun- lûJ.wT-r pii&SS;; ©a -sa este?© calealatem-j, doit ggarranger lqiiste des enregistrenients Û0 façaa à s'feteïrb? iass Usts oséomâs sid^msb m ordre convenable de qyapfcfltaes pré-25 £a*m tsHa spo oln-gr.2 isyiaptâsie ou groupe de sgnspfc&ae, il y ait •ose eusrêlatins mm l'iâsntâlisaiisn et l'emplacement d'une ou plusi eurs uniiés défectueuses âe eiroiîits intégrés® L5ordre âss symptfltaes de la -liste peut par exesple &'sx-7s5 lor mfers «iss pteis® blcss qui provoquent l*esz2êi fie 3a lecture, ©ta £Q ois&'fc» eafel -lis oc&em M/sas ipip^oquent les arrêts suivantaiLadite liste. 70 05025 23 2030438 une fois obtenue, est imprimée et forme le dictionnaire de défauts actuels à la disposition de l'opérateur pour effectuer le processus d'essai gui vient d'être décrit. Différents changements ou modifications des procédés décrits sont pos..d-5 bles. Par exemple, pour améliorer la sécurité du procédé, deux enregistrements différents sur une bande du programme de diagnostique peuvent être prévus qui sont comparés de façon à détecter les erreurs possibles d'enregistrement® Se programme de diagnostique dans sa totalité peut être lu après chaque remplacement de chaque unité intébrée, avant d'engendrer les défauts; En outre, un certain nombre de mesures 10 peuvent être prises dans le but de rendre plus facile et plus rapide la référence au dictionnaire de défauts, par exemple en imprimant seulement les symptômes qui permettent d'identifier l'unité de circuit fautive, et en éliminant les informations redondantesi Ces modifications du procédé décrit et les dispositifs correspondants sont évidents et peuvent facilement être mis en oeuvre par toute personne au courant 15 de ces techniques, sans sortir du cadre de l'invention; 70 05025 24 2030438 fllTEBDICATIOIS 1;- Procédé de génération d'un processus de diagnostic d'un appareil électronique muni de circuits d'entrée permettant d'appliquer à des dispositifs d'enregistrement d'entrée interne prédéterminées des séquences prédéternrinées de 5 signaux de diagnostic, et de dispositifs de sortie permettant de révéler les états de mémoires de sortie interne prédéterminées, ce procédé comprenant les opérations suivantes : la production effective de modifications de circuits simulant des défauts compris dans une série importante de tous les défauts possibles de tels appareils électroniques, l'application d'une séquence convenable de signaux de diagnostic à 10 ces circuits d'entrée en concurrence avec la simulation de chaque défaut de ladite série, 1'enregistrement de groupes convenables d'états de ces circuits de sortie en conséquence de l'application de ladite séquence de signaux de diagnostic, de façon à établir une liste donnant une corrélation entre les séries de symptômes de défauts et les défauts possiblesi 15 2i- Procédé selon revendication 1 dans laquelle lesdites modifications de circuits sont obtenues par une commutation convenable de connexions électriques pré-déterminées à l'aide de circuits searL conducteurs répondant à des signaux de commande* 3.— Procédé selon revendication 1, dans lequel ladite séquence de signaux de diagnostic est subdivisée en blocs appliqués ensuite aux circuits d'entrée, la 20 séquence d'application desdits blocs étant arrêtée à chaque fois que le groupe des états de la mémoire de sortie à la fin d'un bloc diffère du groupe attendu d'états de ces circuits de sortie® 4i— Dispositif de production de modifications de circuits simulant des défauts tons un appareil de traitement de données électronique utilisant des unités 25 de circuits intégrés portées de façon fixe par des pièces-supports amovibles et comprenant au moins une pièce support de substitution portant des unités de circuits intégrés amovibles et un dispositif permettant de lui connecter de façon amovible un dispositif de génération de défauts, au moins un dispositif générateur de défauts muni d'un système de connexion permettant une connexion amovible avec ladite pièce- 70 05025 25 2030438 support de substitution concurremment avec l'enlèvement d'une desâites unités de circuits intégrés amovibles, ce dispositif générateur de défauts comprenant un circuit intégré interne sensiblement identique à ladite unité de circuit intégré asersible enlevée et un dispositif de commutation à semi eonducteur-3 répondant à des sign^x. de 5 commande dans le but de produire effectivement des changements des conditions de conduction des vois électriques connectant les bornes de ladite unité de circuits intégrés interne audit système de connexiorii 5o- Système de génération d'un processus de diagnostic de défauts d'un à & appareil de traitement de données électronique utilisant des unitées/circuit intégré 10 portées de façon fixe par des pièces-supports amovibles et comprenant les dispositifs et appareils suivants î un calculateur pilote comprenant un dispositif d'enregistrement et de lecture de séquences de données et un dispositif de communication avec un opérateur, ledit appareil de traitement de données électronique, au moins un dispositif de génération de défauts produisant des variations simulant des défauts flâna les 15 voies de connexion d'une unité de circuit intégré interne, ce dispositif de génération de défauts étant connecté de façon amovible à une pièce-support de substitution à la place d'une unité intégrée amovible portée par ladite pièce-support, de substitution cette pièce-support étant substituée à une pièce-support amovible, un dispositif de lecture et de communication à l'opérateur d'une séquence d'ordres 20 comprenant un dispositif d'identification des unités de circuit intégré et des pièces-support amovibles, sous la commande du calculateur pilote, et en outre un dispositif de vérification de l'accomplissement correct d'au moins une partie de ces ordres, un dispositif appliquant au circuit d'entrée de cet appareil de traitement i de données une séquence de blocs de signaux, de diagnostic en sorte que 3a lecture 25 de chacun de ces blocs s'arrête à chaque fois que le groupe d'états de la mémoire interne à la fin d'un bloc diffère du groupe attendu d'états de ladite mémoire de . sortie, lesdits dispositifs coopérant pour effectuer sous la commande d'un programme enregistré dans ledit calculateur pilote une séquence convenable des opérations suivantes dans uijérdre convenable î la communication par le calculateur pilote à -y n fx- c es *"» c / u V.? C« U £ 3 26 2030438 l'opéraieîiï' ordre de sntetitatica d'T?as pièce-support as siifestitution à une iiéee^sappoEt cessible esmotaEÈ identifiée, la communiGatiea pasr le calculateur pilaie h iso; ;:-ïateur c!us ordre de substitution d'un dispositif de génération de défauts eonveaaKLe à une unité de circuits intégrés amovible correctement identifiée, 5 la vérification de l'accomplissement correct de cet ordre, la lecture en succession des blocs desdits signaux de diagnostique, en cas de suppression de la lecture de la succession blocs, l'enregistrement d'une série correcte de symptômes de défauts en corrélation avec lesdits ordres et avec ledit dispositif d'identification, fens le bat d'obtenir une liste de corrélation des séries de symptômes et des défauts 10 possibles de l'appareil de traitement de données^