FR 2004081 A1 19691121 FR 6907552 A 19690317 69 0755;> 1 La présente invention concerne un circuit d'essai pour les dispositifs d' exploration comportant une matrice d'exploration, une matrice à mémoire et une unité de comparaison pour les informations binaires qui, dans le cas normal, transmet un signal à 1'équipement de oommânde centralisée quand la condition 5 d'un point exploré se modifie, oe circuit étant utilisé par exemple dans les centraux de télécommunication et plus particulièrement les den,traux téléphoniques. Les dispositifs d'exploration de oe type fonctionnent suivant le principe de la dernière observation avec exploration cyclique- et réduisent considérablement l'afflux de données à l'équipement de commande centralisée. 10 Dans ces dispositifs d'exploration, on peut craindre que les signaux soi ent irrévocablement perdus et ne parviennent pas à l'équipement de commande centralisée par suite d'un fonctionnement défeotueux ou de défaillances dans la transmission, du fait qu'aucun autre signal n'èst transmis à l'équipement de commande centralisée en oe qui concerne le point exploré, jusqu'à ce qu'une 15 autre modification de la oondition de oe point se produise. Cependant , une nouvelle modification de la oondition peut ne pas se produire ou peut même être empêohée du fait même que le signal précédent n'est pas parvenu à 1'équipement de commande centralisée ou n'a pas été enregistré. Un procédé permettant de déterminer néanmoins la condition réelle d'un point exploré oonsiste à doter le 20 point correspondant dans la matrice à mémoire d'une condition définie de manière que l'omission ou 1."apparition d'un signal caractérise la condition réelle du point correspondant de la matrice d'es^ploration. Ce procédé a cependant pour inconvénient d'impliquer une perturbation du cycle d'exploration normal, de nécessiter des dispositifs d'inscription spéciaux et la perte d'un signal ulté-25 rieur si le point exploré vient à changer de condition entre ces deux explorations entre lesquelles la condition définie est affectée au point correspondant de la matrice à mémoire. La présente invention a pour objet de prévoir un oircuit d'essai permettant dé vérifier la oondition d'un point quelconque de la matrice d'exploration 30 sans entrainer les inconvénients mentionnés ci-dessus. Le circuit d'essai de la présente invention est caractérisé en êe qu'une ligne d'essai 6st reliée à la sortie de la matrioe-d'exploration, un circuit à ooincidenoe étant connecté à tin registre d'adresse pour les adresses des points explorés à vérifier et à celles des lignes de la matrice d'exploration qui caractérisent le point qui 35 vient d'être exploré ; en outre la ligne d'essai comprend un circuit ET qui fait partie du circuit d'essai à coincidence, lequel circuit ET transmet le résultat de l'exploration d'un point de la matrice d'exploration uniquement lorsque l'adresse du point qui vient d'être exploré coinoide avec l'adresse enre-. gistrée dans le registre d'adresse. Ce circuit d'essai, a .pour avantage que le 40 cycle d'exploration des dispositifs décentralisés n'est perturbé en aucune ma- 69 07552 2 2004081 nière et que son prix de revient est faible. Une forme spéciale du circuit d'essai selon l'invention est oaraotérisée en ce que oe circuit est toujours associé solidairement à un dispositif d'exploration décentralisé auquel il est intimement connecté ; les lignes de com-5 mande pour les colonnes et les rangées individuelles de la matrioe sont utilisées directement comme lignes caractérisant-le point qui vient d'être exploré, de plus, l'adresse enregistrée dans le registre d'adresse est convertie en un signal de marquage correspondant qui apparaît à une sortie individuelle d'un décodeur de colonne et d'un décodeur de rangée. De oette manière, il est inuti-10 le de prévoir des mémoires intermédiaires et/ou des décodeurs pour l'adresse du point qui vient d'être exploré, ét les fautes et interférences dans le décodeur de colonne et/ou le décodeur de rangée de la matrice d'exploration sont directement discernables. Dans une autre forme du circuit d'essai selon la présente invention, ce-15 lui-oi fait partie de l'équipement de commande centralisée, les lignes qui caractérisent le point qui vient d'être exploré "sont des lignes placées entre le compteur de rangée et le déoodeur de rangée, et entre le compteur de colonne et le décodeur de colonne, qui caractérisent ledit point dans le oode binaire ; enfin l'adresse dans le registre d'adresse est également enregistrée en code 20 binaire pour permettre une comparaison directe. De cette manière, -le nombre des lignes nécessaires entre le dispositif d' exploration décentralisé et le circuit d'essai est réduit. Dans le cas de matrices d'exploration de plus grandes dimensions, il en résulte une éoonomie importante dans le circuit d'essai de coinoidence du circuit d'essai. 25 Suivant une autre caractéristique de l'invention, pour synchroniser le cir cuit d'essai aveo le dispositif d'exploration à fonctionnement libre, chaque adresse explorée est transmise au circuit d'essai par l'intermédiaire d'un faisceau Bpécial de lignes. Dans xine autre forme du circuit d'essai, en vue de synchroniser le circuit 30 d'essai aveo le dispositif d'exploration à fonctionnement libre, on utilise une adresse quelconque qui est transmise à l'équipement de commande centralisée par l'intermédiaire du faisoeau de lignes de signalisation dans le oas d'une modification de oondition j après que la synchronisation a été effeotuée par une adresse signalée, le circuit d'essai amène son propre compteur do adonne d'es-35 sai et son propre compteur de rangée d'essai à compter en avant, à la même ca-' denoe que celle suivant laquelle les compteurs du dispositif d'exploration progressent. Ceci permet d'éviter toutes" lignes supplémentaires pour la synchronisation, cette forme convient donc mieux pour un circuit d'essai centralisé. Cette forme de circuit d'èssai a cependant pour inconvénient qu'il peut être né-40 céssaire d'attendre un changement de condition. Si une faute provoque la sup- 69'"0755;! 3 2004081 pression de "tous les signaux, cette forme de circuit d'essai n'est plus capable d'effectuer une vérification définie par l'intermédiaire de l'équipement de commande centralisée. " Los o"bjets et caractéristiques de la présente invention apparaîtront plus 5 clairement à la lecture de la description suivante- d'exemples do réalisations, ladite description étant faite c-n relation avec les dessins ci-annexés dans . ' * lesquels t La figure 1 représente un exemple de réalisation du circuit d'essai prévu selon l'invention. 10 " La figure 2 représente un autre exemple de réalisation du circuit d'essai, présentant des modifications en plusieurs points. La partie supérieure de la-figure 1 représente un dispositif d'explora-' tion déoentralisé DA utilisé antérieurement. Un certain nombre de dispositifs d'exploration décentralisés DA coopèrent avec un équipement de commande aentra-15 iisêe Z. Les élément» principaux d'un dispositif d'exploration sont î une matrice d'exploration Ali, une matrice à mémoire SU et un dispositif comparateur Vgï. Au moyen d'un compteur de oolonne SZ commandé par l'entrée d'impulsion KL, toutes les colonnes de la matrice d'exploration AH sont explorées cycli-quement par lriatermédiaire d'un dêoodeur de oolonne SB. Le oompteur de colon-20 "ne actionne 1s compteur de rangée ZZ à la manière d'une ligne supplémentaire et le compteur de rangée explore cyoliquement toutes les rangées par l'intermédiaire du décodeur de rangée ZD. Ainsi tous les points de la matrioe d'explo-"ration AM sont explorés cyoliquement, le point d'intersection de la colonne marquée aveo la rangée marquée,, étant exploré dans chaque position, du compteur 25 do colonne SZ et du compteur de rangée ZZ. Les points correspondants de la matrice à mémoire SM sont explorés en même temps, et la matrioe à mémoire carao-térise la oondition du second point exploré à l'instant de l'exploration précédente dans le cycle précédent. Les conditions de chacun des points correspondants de la matrioe d1exploration AM et de la matrice à mémoire SM explorés 30 sont."signalées au dispositif comparateur TTgl. De plus, la matrioe à mémoire SM est enclenchée par le truchement d'une mémoire intermédiaire Z?p, en fonction du nouveau résultat de l'exploration dans la matrioe d'exploration AE. Si le dispositif comparateur Vgl indique un changement de condition, l'adresse du point qui vient d'être exploré est transmise, en même temps qu'un "bit d'instruc-35 tion RB, sous forme d'un signal indiquant la modification de condition à l'équipement de commande centralisée Z, par l'intermédiaire d'un faisceau de lignes de signal ïILBi Si aucune modification de condition n'est constatée, aucun signal n'est transmis. Du fait que les points de la matrice d'exploration AIT • doivent Stre explorés â intervalles brefs, afin de ne manquer aucune paire de 40 changements de condition d'un point et du fait" que, d'autre part, une modifica- 69 07552 4 2004081 tion de condition est comparativement rare, il est possible , de cette manière de réduire considérablement 1'afflux de données transmises à l'équipement de commande centralisée. Ainsi qu'il a été mentionné dans le préambule» des défaillantes dans le 5 dispositif d'exploration déoentralisé DA ou des défaillances dans le circuit de transmission peuvent provoquer la perte irrévocable d'un signal destiné à 1 équipement de commande centralisée. Ainsi, selon la présente invention, il est prévu ma circuit d'essai P qui permet de déterminer la condition d'un point quelconque de la matrice d'exploration. Une ligne d'essai PL va de la sortie 10 de la matrice d'exploration AM au circuit d'essai P,cotteligne indiquant de façon continue les conditions des points explorés. Cependant, ceci ne permet pas de savoir quelles conditions doivent être attribuées à tel point. L'adresse d'un certain point devant être exploré est transmise à un registre d'adresse AKg par l'équipement décommandé centralisée et elle y est enregistrée. Si 15 conséquence, l'un» dos sorties 1 à 8 du décodeur de colonne SD, aussi bien que du décodeur de rangée ZD dans le circuit d'essai P est marquée. Ces sorties conduisent à une entrée des circuits ET,E, tandis que l'autre entrée de chacun des circuits ET,E est connectée à la ligne de colonne ou de rangée correspond dante, respectivement, de la matrice d'exploration AM. A la figure 1, il est 20 supposé que le circuit d'essai P est rigidement associé à l'un des dispositifs d'exploration décentralisés DA, et qu'il occupe une position adjacente à oelui ci, de sorte qu'il est inutile de prévoir des amplificateurs ou des étages d1 excitation spéciaux pour les circuits ET,S j de même la connexion entre les li gnes de oolonne et de rangée de la matrioe d'exploration AM et les circuits 25 ET,E peut être établie à peu de frais. Les sorties des circuits M,E sont combinées, par l'intermédiaire de deux circuits OU, •. aux entrées d'un circuit HP,A. Si l'adresse qui doit être interrogée est en conflit aveo la colonne et la rangée qui vient d'être explorée., ces deux entrées sont marquées. Ainsi, la sortie du circuit ET,A pourrait être elle-même utilisée pour commander la 30 transmission ultérieure de la condition qui vient d'être explorée. Dépendant, la figure montre d'autres éléments logiques qui assurent que la transmission ultérieure d'un signal indiquant la condition d'un poixufc. n'est pas influencée par des opérations de commutation, c'est-à-dire sue des conditions de commutation définies prévalent à l'instant de la transmission ultérieure. Dans ce but 35 deux entrées d'impulsion T2 et T3 sont dérivées, suivant un procédé classique, de l'entrée d'impulsion T1, la fréquence d'impulsion étant la même dans les trois cas, les impulsions étant cependant séparées les unes des autres dans le temps par des intervalles minimum distincts. Ainsi, quand une impulsion de 1! entrée d'impulsion T1 prend fin, une impulsion de l'entrée d'impulsion T2 est 40 appliquée au circuit ET,A. Quand les sorties des circuits OU,F sont marquées 69 07552 2004081 5 de façon coïncidente, l'impulsion provenant de l'entrée d'impulsion T2 provoque l'enclenchement du circuit basculeur PF1. Ensuite, une impulsion provenant de l'entrée d'impulsion T3 provoque l'enregistrement dans le circuit basculeur FF2 de la condition du point exploré par l'intermédiaire du circuit 2T,C. L' 5 impulsion suivante provenant de l'entrée d'impulsion T1 provoque ensuite 1' enclenchement du circuit basculeur ]?F3» par l'intermédiaire du circuit IîT,D, la sortie marquée de ce dernier circuit basculeur indiquant à l'équipement de commande centralisée Z que le circuit basculeur FF2 indique maintenant la condition du point de la matrice d'exploration qui doit être interrogé. Le regis-10 tre d'adresse ARg est annulé par l'intermédiaire de la sortie du circuit basculeur PF3j et une impulsion provenant de l'entrée d'impulsion T2 provoque le réenclenchement du circuit basculeur EF1 par l'intermédiaire du circuit ET,B. A la réception du signal concernant la condition du point expldré, l'équipement de commande centralisée Z provoque le réenclenchement du circuit bascu-15 leur FF3 et amène le circuit basouleur M?2 dans une position définie. De plus il est aisé d'indiquer à l'équipement de commande oontralisée Z que le signal indique la condition explorée d'un point dans ce dispositif d'exploration décentralisé DA. Il est de même possible de fournir à la demande des informations concer-20 nant la condition d'une série de points explorés, sans influenoer défavorablement le cycle d'exploration. A la figure 2, on suppose que l'équipement de oommande centralisée comporte un circuit d'essai central ZP commun à un certain nombre de dispositifs d' exploration, le circuit d'essai centralisé étant relié à un dispositif d'ez^lo-25 ration décentralisé DA, à un instant donné, au moyen de commutateurs, suivant un processus non représenté. Dans un tel cas, il est commode d'éviter des fils entre le dispositif d'exploration'décentralisé DA et le circuit d'essai centralisé ZP. Pour cela, l'adresse du point qui vient d'être exploré peut être prélevée sous forme binaire à la sortie du compteur de colonne et de rangée, de 30 même qu'elle est transmise' à l'équipement de commande centralisée sous forme d'un signal dans la figure 1. La figure 2 fait également apparaître une réduction identique dans un faisceau de lignes. Après avoir été mis en communication avec le dispositif d'exploration décentralisé, le compteur de colonne d' essai PSZ et le compteur de rangée d'essai PZZ sont synchronisés par tout si-35 gnal apparaissant dans le faisceau de lignes de signal IîLB avec le compteur de colonne SZ et le compteur de rangée ZZ du dispositif d'exploration décentralisé DA, et le synchronisme est maintenu par l'entrée d'impulsion T1. L'adresse qui doit Stre interrogée est également enregistrée dans le registre d'adresse ARg sous formé binaire. Ceci êntraine également une réduction du circuit d'es-40 sai de coïncidence, Dans chaque position binaires les sorties antivalentes des 69 07552 6 2004081 compteurs PSZ, PZZ, et du registre d'adresse AHg, sont reliées à une entrée d'un circuit HT,G, Les sorties des circuits ET,G sont connectées par l'intermédiaire d'un circuit OU,H à une entrée de négation du circuit ET,A. Quand l'a«— dresse qui doit être interrogée et l'adresse qui vient d'Stre explorée coinci-5 dent, aucun signal de sertie n'apparaît à aucun-des oircuits ET,G, et par conséquent», aucun signal n'apparaît à la sortie du circuit OU,H. Ainsi, durant une impulsion de l'entrée d'impulsion T2, il apparaît à la-sortie du oircuit ET,A un signal qui enclenche le circuit basculeur FF1 de sorte 'que, durant 1* impulsion suivante de l'entrée d'impulsion T3, la transmission ultérieure de la 10 condition explorée au circuit basculeur HP2, par l'intermédiaire du circuit ST,C, est rendue possible. Le oircuit d'essai de la figure 2 est en tous autres points semblable à oelui de la figure 1. Bien que les principes de la présente invention aient été décrits ci-des-sus en relation aveo des exemples particuliers de réalisation, on comprendra 15 clairement que ladite description est faite seulement à titre d'exemple ot ne limite pas la portée dé l'invention. 69 07552 2004081 7 lœvstroiCATioirs 1°) Un circuit d'essai pour les dispositifs d'exploration comportcmt une matrioe d'exploration, une matrice à mémoire et une unité de comparaison pour les informations "binaires, qui, dans le cas normal, transmet un signal à l'équipement de commande centralisée quand la oondition d'un point exploré varie, utilisé par exemple dans les centraux de télécommunication et, plus particulièrement, les centraux téléphoniques, ce oircuit d'essai étant caractérisé en ce qu'une ligne d'essai est oonnectée à la sortie de la matrioe d'exploration, un circuit à coincidence est connecté à un registre d'adresse pour les adresses des points explorés qui doivent être vérifiés, et ç.ux lignes de la matrice d'exploration qui caractérisent le point qui viont d'être exploré, et en oe que, de plus, la ligne d'essai comprend un circuit ET qui fait partie du circuit d'essai à coincidence, lequel oircuit ET transmet le résultat de l'exploration pour un point de la matrioe d'exploration, seulement q,uand l'adresse du point qui vient d'être exploré coincide avec l'adresse enregistrée dans le registre d'adresse. 2°) Un circuit d'essai comme il est dit on 1°), caractérisé en ce qu'il est toujours rigidement associé et oonnecté avec un dispositif d'exploration décentralisé dont il est très rapproché, les lignes de commande pour les colonnes et les rangées individuelles de la matrice étant directement utilisées comme les lignes caractérisant le point qui vient d'être exploré, et les adresses enregistrées dans le registre d'adresse étant converties en un signal de marquage correspondant qui apparaît à une sortie individuelle d'un décodeur de colonne et d'un décodeur de rangée. 3°) Un circuit d'eosai oouuo il ost dit en "* e\» oaifactûriG'j on co • il fait partie de l'équipement de commande centralisée, les lignes qui caractérisent le point qui vient d'être exploré étant celles qui sont placées entre le compteur dé rangé® et le décodeur de rangée et entre le oompteur de colonne et ls iéoodeur de oolonne, et qui caractérisent ledit point en ccde "binaire, et l'adresse dans le registre d'adresse étant également enregistrée on code "binaire pour permettre une comparaison directe. 4°) Un oircuit d'essai comme il est dit on 2°) ou 3°) , caractérisé en ce que, pour synchroniser le circuit d'essai avec le dispositif d'exploration à fonctionnement libre, chaque adresse explorée est transmise au circuit d'essai par un faisceau de lignes spéciales. 5°) Un circuit d'essai comme il est dit en. 2°) ou 3°), caractérisé en ce que, pour synchDonisc-r le circuit d'essai avec le'dispositif d'exploration à fonctionnement libre, on utilise une adresse quelconque qui est transmise à l'équipement de commande centralisée par l'intermédiaire du faisceau de lignes de signal quand un changement de condition se produit, le circuit d'essai, après que la synchronisation a été réalisée par une adresse signalée, amenant son propre oompteur de oolonne d'essai et son propre compteur de rangée d'essai à compter dans le sens positif, à la irêrne fréquence que oelle suivant laquelle progressent les compteurs du dispositif d'exploration.