Brevet FR3155225A1 — publié le 20250516

Procédé de détermination d’au moins une zone de la surface d’un plateau de verre L’invention concerne un procédé de détermination d’au moins une zone de la surface d’un plateau de verre. Ledit procédé comporte des étapes de : - obtention (E10) d’une pluralité de plans de découpe du plateau de verre, chaque plan de découpe étant optimisé pour éliminer un maximum de défauts parmi un ensemble de défauts, - pour chaque défaut, détermination (E20) d’un indicateur représentatif du nombre de plans de découpe aptes à éliminer ledit défaut, - discrétisation (E30) de la surface du plateau de verre en une pluralité de dalles, - pour chaque dalle et en fonction des indicateurs déterminés, détermination (E40) d’un score représentatif d’une capacité à éliminer un défaut localisé dans ladite dalle, - détermination (E50) d’au moins une zone de la surface du plateau de verre en fonction des scores respectivement associés aux dalles formant ladite zone. Figure pour l’abrégé : Fig. 3 Procédé de détermination d’au moins une zone de la surface d’un plateau de verre La présente invention appartient au domaine général de la découpe de morceaux de verre dans des plateaux de verre. L’invention concerne plus particulièrement un procédé de détermination d’au moins une zone de la surface d’un plateau de verre, un premier procédé de découpe d’au moins un plateau de verre dans un ruban continu de verre à partir d’au moins une zone ainsi déterminée ainsi qu’un deuxième procédé de découpe d’un ensemble donné de morceaux de verre dans au moins un plateau de verre obtenu grâce au premier procédé de découpe. L’invention concerne également des systèmes configurés pour mettre en œuvre ces procédés. Le verre est traditionnellement fabriqué sous la forme d'un ruban continu de verre dit « flotté » (ou bien encore « float » en anglais). Ce ruban est ensuite découpé en plateaux de verre dits « motherglass » (littéralement « verre mère » en français même si ce terme n'est pas utilisé dans la pratique), cette opération de découpe étant encore connue sous la dénomination « équarri ». Il s’agit par exemple de plateaux de verre de grandes dimensions dits « PLF » (acronyme de l’expression « Plateaux de verre Large Format »), typiquement de dimensions 3,21 m par environ 6m, ou bien encore de plateaux de verre de dimensions moindres dits « DLF » de dimensions environ 2,55 m par 3,21 m. Une étape d'analyse de défauts peut être réalisée avant cette découpe pour vérifier si le ruban de verre est conforme à des spécifications en termes de présence de défauts sur le verre. S'il existe des défauts hors spécification, les plateaux de verre peuvent alors être découpés en excluant une certaine longueur du ruban correspondant à la partie du ruban hors spécification. Cette manière de procéder est néanmoins loin de donner satisfaction dans la mesure où elle tend à diminuer de manière non négligeable le rendement de production de verre recherché par les fabricants de plateaux de verre. Dès lors, pour de maintenir un bon rendement pour les fabricants de plateaux verre tout en minimisant la présence de défauts dans les morceaux (substrats) de verre, encore appelés « primitifs », destinés à être découpés dans chacun des plateaux de verre, des solutions alternatives ont été proposées. Ces dernières consistent tout d’abord à limiter l’élimination de défauts lors de la découpe de plateaux de verre, et s’appuient en outre sur la détermination de plans de découpe permettant d’obtenir les primitifs en question et qui sont optimisés pour éliminer un maximum de défauts lors de la découpe desdits primitifs. Il est entendu que par « élimination d’un défaut » dans le cas de la découpe de primitifs, on fait ici classiquement référence au fait qu’un plan de découpe permet que le défaut soit placé dans une chute de verre plutôt que dans l’un des primitifs. A titre d’exemple, le document WO 2014/128424 décrit un procédé de découpe de morceaux de verre dans au moins un plateau de verre dans lequel de tels plans de découpe optimisés sont générés et utilisés. L’optimisation d’un plan de découpe selon ce procédé peut prendre en compte différents paramètres, dont notamment des paramètres propres aux défauts présents sur les plateaux de verre, comme typiquement la position, la taille ou le type de défauts. Des plans de découpe ainsi générés peuvent par exemple être combinés avec une pluralité de plateaux de verre de façon à atteindre un nombre acceptable de primitifs découpés tout en réduisant la présence de défauts dans ces derniers. Ces solutions alternatives, bien qu’acceptables pour les fabricants de plateaux verre, font néanmoins peser de manière substantielle la charge d’élimination de défauts sur les opérateurs (encore appelés « transformateurs ») réalisant la découpe des primitifs. Qui plus est, ces solutions restent relativement complexes à mettre en œuvre (et sont donc plus coûteuses) puisqu’elles nécessitent des ressources de calculs non négligeables afin de pouvoir générer les plans de découpe optimisés, en particulier lorsque les plateaux de verre comportent un nombre relativement important de défauts non acceptables vis-à-vis des spécifications de production des primitifs, mais aussi car il faut être en mesure de respecter certaines cadences de production. En pratique, une solution intermédiaire est généralement adoptée. Celle-ci consiste à autoriser, dans une certaine mesure, la présence de défauts dans les plateaux de verre, ce qui diminue donc le rendement des fabricants de plateaux de verre mais permet néanmoins de limiter l’impact au niveau des transformateurs. Cette solution alternative est néanmoins loin d’être optimale car rien ne garantit que les défauts acceptés lors de la phase de production des plateaux de verre soient localisés de sorte à pouvoir être éliminés lors de la découpe des primitifs dans des proportions suffisantes pour satisfaire aux spécifications de production. La présente invention a pour objectif de remédier à tout ou partie des inconvénients de l’art antérieur, notamment ceux exposés ci-avant, en proposant une solution qui permette de produire des plateaux de verre ainsi que des morceaux de verre découpés dans ces plateaux de verre de manière beaucoup plus efficace que les solutions de l’état de la technique. A cet effet, et selon un premier aspect, l’invention concerne un procédé de détermination d’au moins une zone de la surface d’un plateau de verre, ledit procédé comportant des étapes de : - obtention d’une pluralité de plans de découpe du plateau de verre, chaque plan de découpe étant configuré pour la découpe d’un ensemble donné de morceaux de verre dans le plateau de verre, chaque plan de découpe étant en outre optimisé pour éliminer à la découpe un maximum de défauts parmi un ensemble de défauts associé audit plan de découpe, - pour chaque défaut, détermination d’un indicateur représentatif du nombre de plans de découpe aptes à éliminer ledit défaut, - discrétisation de la surface du plateau de verre en une pluralité de dalles, - pour chaque dalle et en fonction des indicateurs déterminés, détermination d’un score représentatif d’une capacité à éliminer à la découpe un défaut localisé dans ladite dalle, - détermination d’au moins une zone de la surface du plateau de verre, ladite au moins zone comportant au moins une dalle et satisfaisant au moins un critère consistant en ce que le score de ladite au moins une zone est supérieur à un seuil donné, le score d’une zone étant représentatif des scores respectivement associés aux dalles formant ladite zone. Le procédé de détermination selon l’invention permet donc d’identifier une ou plusieurs zones de la surface d’un plateau de verre, cette ou ces zones ayant comme particularité d’être configurées de manière appropriée pour éliminer des défauts au moment de la découpe des morceaux de verre (primitifs). Cette manière de procéder représente donc un avantage considérable car, une fois la ou les zones déterminées, il est possible de les communiquer aux fabricants de plateaux de verre. Ces derniers peuvent alors configurer le processus de découpe du ruban de verre de sorte qu’un maximum de défauts soit situé dans la ou les zones ainsi identifiées. De cette manière, le rendement des fabricants de plateaux de verre est très faiblement impactée, car l’élimination des défauts est prise en charge par les transformateurs, étant entendu qu’un nombre très important de défauts vont pouvoir être éliminés par les transformateurs (du fait de leurs localisations dans les zones identifiées) sans que cela ne nécessite des ressources importantes (en termes notamment de détermination de plan de découpe). En d’autres termes, le procédé de détermination selon l’invention vise non pas à chercher à optimiser les opérations des fabricants de plateaux de verre et des transformateurs indépendamment les unes des autres, comme cela est le cas dans l’état de la technique, mais permet au contraire que l’optimisation des opérations de l’un soit bénéfique à l’autre, de sorte que toute la chaine de production (découpe des plateaux de verre, découpes des primitifs) soit optimisée. Dans des modes particuliers de mise en œuvre, le procédé de détermination peut comporter en outre l’une ou plusieurs des caractéristiques suivantes, prises isolément ou selon toutes les combinaisons techniquement possibles. Dans des modes particuliers de mise en œuvre, la réunion des ensembles de défauts respectivement associés aux plans de découpe forme une distribution de défauts répartis de manière homogène à la surface du plateau de verre. Dans des modes particuliers de mise en œuvre, les morceaux de verre à découper sont caractérisés par un ensemble de paramètres comprenant : - des dimensions respectives des morceaux de verre, - un nombre de morceaux de verre à découper dans le plateau de verre. Dans des modes particuliers de mise en œuvre, l’ensemble de paramètres comporte des indicateurs de qualité respectifs des morceaux de verre. Dans des modes particuliers de mise en œuvre : - au moins un paramètre de l’ensemble de paramètres provient d’un historique de paramètres utilisés au cours d’au moins une campagne de production de verre passée, et/ou - au moins un paramètre de l’ensemble de paramètres est un paramètre simulé. Dans des modes particuliers de mise en œuvre, le nombre de dalles est compris entre 1 et 100. Dans des modes particuliers de mise en œuvre, l’indicateur associé à un défaut est égal au nombre de plans de découpe aptes à éliminer ledit défaut, le score d’une dalle correspondant à la somme des indicateurs respectivement associés aux défauts localisés dans ladite dalle. Dans des modes particuliers de mise en œuvre, l’étape de détermination de ladite au moins une zone est mise en œuvre de sorte à satisfaire encore un autre critère consistant en ce que la taille de ladite au moins une zone est comprise dans un intervalle donné. Dans des modes particuliers de mise en œuvre, l’étape de détermination de ladite au moins une zone est mise en œuvre de sorte à satisfaire encore un autre critère consistant en ce que le nombre de zones déterminées est inférieur à un seuil donné. Dans des modes particuliers de mise en œuvre, l’étape de détermination de ladite au moins une zone comporte une optimisation d’une fonction de coût paramétrée par ledit au moins un critère. Selon un deuxième aspect, l’invention concerne un procédé de découpe d’au moins un plateau de verre dans un ruban continu de verre, ledit procédé de découpe étant mis en œuvre à partir d’au moins une zone déterminée conformément à un procédé de détermination selon l’invention, et dans lequel la découpe dudit au moins un plateau de verre est réalisée de sorte que le nombre de défauts situés dans ladite au moins une zone est supérieur à un seuil donné. Selon un troisième aspect, l’invention concerne un procédé de découpe d’un ensemble donné de morceaux de verre dans au moins un plateau de verre obtenu grâce à un procédé de découpe d’au moins un plateau de verre selon l’invention. Selon un quatrième aspect, l’invention concerne un programme d’ordinateur comportant des instructions pour la mise en œuvre d’étapes de : - un procédé de détermination selon l’invention, ou - un procédé de découpe d’au moins un plateau de verre selon l’invention, ou - un procédé de découpe d’un ensemble donné de morceaux de verre selon l’invention, lorsque ledit programme d’ordinateur est exécuté par un ordinateur. Ce programme peut utiliser n’importe quel langage de programmation, et être sous la forme de code source, code objet, ou de code intermédiaire entre code source et code objet, tel que dans une forme partiellement compilée, ou dans n’importe quelle autre forme souhaitable. Selon un cinquième aspect, l’invention concerne un support d’informations ou d’enregistrement lisible par un ordinateur sur lequel est enregistré un programme d’ordinateur selon l’invention. Le support d'informations ou d’enregistrement peut être n'importe quelle entité ou dispositif capable de stocker le programme. Par exemple, le support peut comporter un moyen de stockage, tel qu'une ROM, par exemple un CD ROM ou une ROM de circuit microélectronique, ou encore un moyen d'enregistrement magnétique, par exemple un disque dur. D'autre part, le support d'informations ou d’enregistrement peut être un support transmissible tel qu'un signal électrique ou optique, qui peut être acheminé via un câble électrique ou optique, par radio ou par d'autres moyens. Le programme selon l'invention peut être en particulier téléchargé sur un réseau de type Internet. Alternativement, le support d'informations ou d’enregistrement peut être un circuit intégré dans lequel le programme est incorporé, le circuit étant adapté pour exécuter ou pour être utilisé dans l'exécution du procédé en question. Selon un sixième aspect, l’invention concerne un système comportant des moyens configurés pour mettre en œuvre : - un procédé de détermination selon l’invention, ou - un procédé de découpe d’au moins un plateau de verre selon l’invention, ou - un procédé de découpe d’un ensemble donné de morceaux de verre selon l’invention. D’autres caractéristiques et avantages de la présente invention ressortiront de la description faite ci-dessous, en référence aux dessins annexés qui en illustrent un exemple de réalisation dépourvu de tout caractère limitatif. Sur les figures : FIG. 1 la FIG. 1 représente schématiquement un système configuré pour déterminer une ou plusieurs zones de la surface d’un plateau de verre selon un mode particulier de réalisation de l’invention ; FIG. 2 la FIG. 2 représente schématiquement un exemple d’architecture matérielle d’un dispositif de traitement appartenant au système de la FIG. 1 ; FIG. 3 la FIG. 3 représente, sous forme d’ordinogramme, un mode particulier de mise en œuvre d’un procédé de détermination d’au moins une zone selon l’invention, tel qu’exécuté par le dispositif de traitement de la FIG. 2 ; FIG. 4 la FIG. 4 représente schématiquement un exemple de discrétisation d’un plateau de verre au moyen de dalles rectangulaires, tel qu’envisagé dans le procédé de détermination de la FIG. 3 ; FIG. 5 la FIG. 5 représente schématiquement deux zones du plateau de verre de la FIG. 4 , telle que déterminées au moyen d’un exemple spécifique de mise en œuvre du procédé de détermination de la FIG. 3 ; FIG. 6 la FIG. 6 représente schématiquement un mode particulier de réalisation d’un système de découpe d’au moins un plateau de verre selon l’invention ; FIG. 7 la FIG. 7 représente schématiquement un exemple d’architecture matérielle d’un dispositif de traitement appartenant au système de la FIG. 6 ; FIG. 8 la FIG. 8 représente, sous forme d’ordinogramme, un mode particulier de mise en œuvre d’un procédé de découpe selon l’invention, tel qu’exécuté par le système de la FIG. 6 . Description de modes de réalisation La FIG. 1 représente schématiquement un mode particulier de réalisation d’un système SYS_1 selon l’invention, ledit système SYS_1 étant configuré pour déterminer une ou plusieurs zones de la surface d’un plateau de verre. Il est à noter que la détermination de la ou des zones s’effectue ici de manière automatisée et grâce à des moyens configurés de manière logicielle et matérielle, comme cela est décrit plus en détails ultérieurement. Dès lors, il faut comprendre que le « plateau de verre » auquel il est fait référence pour la détermination de la ou des zones est en fait un modèle numérique d’un plateau de verre (i.e. un plateau de verre modélisé). Il n’en reste pas moins que ce modèle numérique prend en compte toutes les caractéristiques classiques d’un plateau de verre physique, de sorte que, dans ce qui suit et pour ce qui concerne la détermination de la ou les zones, il est uniquement fait mention d’un « plateau de verre » (et non pas d’un « plateau de verre modélisé ») sans que cela n’entraine de confusion. Pour la suite de la description, on considère de manière nullement limitative que le plateau de verre est de type « PLF ». Ces dispositions ne sont toutefois pas limitatives de l’invention, et rien n’exclut par exemple d’envisager un plateau de verre de type « DLF ». En tout état de cause, quel que soit le type du plateau de verre, celui-ci correspond aux plateaux produits classiquement par découpe (au moyen d’une guillotine) dans un ruban continu de verre (i.e. verre flotté ou encore verre « float » en anglais). Dans le présent mode de réalisation, le plateau de verre est lui-même destiné à être découpé suivant une pluralité de plans de découpe PL_DEC_{i,j}, i (respectivement j) étant un indice entier compris entre 1 et M (respectivement entre 1 et N). Aucune limitation n’est attachée aux valeurs des nombres M et N. A titre d’exemple nullement limitatif, les nombres M et N peuvent tous deux être fixés à 100. Chaque plan de découpe PL_DEC_{i,j} est configuré pour la découpe d’un ensemble donné de morceaux de verre ENS_PRIM_{i,j} (primitifs) dans le plateau de verre. Dans le cas présent (i.e. pour ce qui concerne la détermination de la ou les zones), et eu égard aux éléments discutés ci-dessus, la découpe des morceaux de verre est une découpe virtuelle réalisée grâce à auxdits plans de découpe PL_DEC_{i,j}. De surcroit, chaque plan de découpe PL_DEC_{i,j} (i.e. pour des indices i et j fixés) est optimisé pour éliminer à la découpe un maximum de défauts, ces aspects étant décrits plus en détails ultérieurement. Il importe de noter que lesdits plans de découpe PL_DEC_{i,j} sont distincts les uns des autres. Pour ce qui concerne les ensembles de morceaux de verre ENS_PRIM_{i,j} respectivement associés aux plans de découpe PL_DEC_{i,j}, ceux-ci peuvent également être distincts les uns des autres en tout ou partie. Aucune limitation n’est attachée à l’application industrielle à laquelle sont destinés les morceaux de verre. A titre d’exemple, tout ou partie des morceaux de verre peut être utilisé dans la fabrication d'un vitrage automobile, d’un vitrage pour application solaire, par exemple photovoltaïque, d’un vitrage pour écran de projection, par exemple un écran OLED, d’un vitrage pour miroir ou bien encore d’un vitrage de bâtiment. De manière connue en soi, les morceaux de verre de l’ensemble ENS_PRIM_{i,j} sont caractérisés par un ensemble de paramètres ENS_PAR_{i,j} à partir desquels il est possible de dériver des caractéristiques (géométriques, qualitatives, etc.) pour les plateaux de verre (et donc a fortiori pour le plateau de verre modélisé considéré dans le cadre de la détermination de la ou les zones) destinés à la production desdits morceaux de verre. Dans le mode de réalisation décrit ici, ledit ensemble ENS_PAR_{i,j} de paramètres comprend : - des dimensions respectives des morceaux de verre de l’ensemble ENS_PRIM_{i,j}, - un nombre de morceaux de verre à découper dans le plateau de verre. Les dimensions permettent notamment de définir les formes respectives des morceaux de verre. Concernant ces aspects, il convient de noter que l’invention n’est pas limitée par les formes des morceaux de verre à découper dans le panneau de verre. Ainsi, un morceau de verre peut avoir la forme d’un rectangle, d’un polygone, d’un cercle, d’une ellipse, ou toute autre forme plus complexe. Selon la forme considérée pour un morceau de verre, les dimensions associées peuvent faire référence à des longueurs/largeurs/épaisseurs, etc. L’invention n’est pas plus limitée par le nombre de morceaux de verre pouvant être envisagé à la découpe dans le plateau de verre, étant entendu que ce nombre est néanmoins borné supérieurement en fonction des dimensions respectives du plateau de verre et des morceaux de verre à découper. Par ailleurs, rien n’exclut d’envisager encore d’autres paramètres en plus des dimensions des morceaux de verre ainsi que de leur nombre. Par exemple, l’ensemble de paramètres ENS_PAR_{i,j} caractérisant les morceaux de verre à découper peut également comporter des indicateurs de qualité respectifs des morceaux de verre. De tels indicateurs de qualité peuvent par exemple être représentatifs de critères d’acceptation de défauts dans chacun des morceaux de verre, ces critères d’acceptation pouvant différer d’un morceau de verre à l’autre. A titre illustratif, un défaut qui n'est par exemple pas acceptable au centre d’un morceau à découper peut par exemple l'être à sa périphérie, et inversement pour un autre morceau de verre. Il est à noter que le terme « défaut » fait ici classiquement référence à une imperfection du verre. Une imperfection peut par exemple être un défaut de type "pinhole" (un défaut sur le revêtement), un défaut de bulle, un défaut de rayure sur le verre, un défaut de surface, un défaut d’épaisseur, un défaut de couche, etc. En outre, une imperfection peut être dans certains cas acceptable et dans d'autres cas ne pas l'être, par exemple en fonction de l'application envisagée pour les morceaux de verre (i.e. en fonction de spécifications exigées vis-à-vis des vitrages que l’on souhaite produire). Les plateaux de verre destinés au domaine des semi-conducteurs seront par exemple plus sensibles à des défauts de surface, tandis que dans le domaine des vitrages automobiles ou de bâtiment, les défauts en transmission ou en réflexion seront plus importants. Dans le présent mode de réalisation, l’ensemble de paramètres ENS_PAR_{i,j} définissant les paramètres de l’ensemble de morceaux de verre ENS_PRIM_{i,j} provient plus particulièrement d’un historique de paramètres utilisés au cours d’au moins une campagne de production de verre passée. Le fait de considérer des paramètres précédemment utilisés est avantageux dans la mesure où la détermination de la ou les zones dans le plateau de verre au moyen du système SYS_1 s’inscrit dans un contexte réel d’exploitation et de production. Il convient de noter qu’un paramètre de l’ensemble ENS_PAR_{i,j} peut par exemple être directement égal à un paramètre de l’historique de paramètres, soit être le résultat d’un calcul statistique appliqué à des paramètres de l’historique. Il faut également noter que l’historique de paramètres, et donc a fortiori l’ensemble de paramètres ENS_PAR_{i,j}, peut être stocké par tout moyen de mémorisation connu. A titre d’exemple nullement limitatif, et tel qu’illustré par la FIG. 1 , il peut s’agir d’une base de données BDD appartenant au système SYS_1. Bien qu’il soit considéré ici que les paramètres de l’ensemble ENS_PAR_{i,j} sont tous issus (directement ou indirectement) de l’historique de paramètres, d’autres variantes peuvent encore être envisagées. Par exemple, les paramètres de l’ensemble ENS_PAR_{i,j} peuvent être des paramètres simulés. Une telle alternative est avantageuse en ce qu’elle permet d’envisager une détermination d’une ou plusieurs zones dans le plateau de verre suivant une démarche exploratoire, c’est-à-dire sans lien avec les conditions passées d’exploitation et de production. Enfin, on comprend également que rien n’exclut d’avoir une configuration dans laquelle une partie seulement des paramètres de l’ensemble ENS_PAR_{i,j} provient de l’historique, la partie restant provenant quant à elle de paramètres simulés. En particulier, aucune limitation n’est attachée au cardinal de ces deux parties. Dans le présent mode de réalisation, et outre la base données BDD, le système SYS_1 comporte également un dispositif de traitement DISP_1. Ledit dispositif de traitement DISP_1 est configuré pour effectuer des traitements visant à déterminer une ou plusieurs zones du plateau de verre, en mettant en œuvre des étapes d’un procédé de détermination de ladite ou desdites zones. La FIG. 2 représente schématiquement un exemple d’architecture matérielle du dispositif de traitement DISP_1 selon l’invention. Tel qu’illustré par la FIG. 2 , le dispositif de traitement DISP_1 dispose de l’architecture matérielle d’un ordinateur. Ainsi, un tel dispositif de traitement DISP_1 comporte, notamment, un processeur 1_1, une mémoire vive 2_1, une mémoire morte 3_1 et une mémoire non volatile 4_1. Il dispose en outre de moyens de communication 5_1. La mémoire morte 3_1 du dispositif de traitement DISP_1 constitue un support d’enregistrement conforme à l’invention, lisible par le processeur 1_1 et sur lequel est enregistré un programme d’ordinateur PROG_1 conforme à l’invention, comportant des instructions pour l’exécution d’étapes du procédé de détermination selon l’invention. Le programme PROG _1 définit des modules fonctionnels du dispositif de traitement DISP_1, qui s’appuient ou commandent les éléments matériels 1_1 à 5_1 du dispositif de traitement DISP_1 cités précédemment. Ces modules fonctionnels sont illustrés sur la FIG. 1 à titre nullement limitatif, et sont décrits plus en détails ci-après en référence à des modes particuliers de mise en œuvre du procédé de détermination. Les moyens de communication 5_1 permettent au dispositif de traitement DISP_1 de recevoir des données, notamment l’ensemble de paramètres ENS_PAR_{i,j} définissant les paramètres de l’ensemble de morceaux de verre ENS_PRIM_{i,j}, en provenance de la base de données BDD. Ces moyens de communication 5_1 s'appuient, de manière connue en soi, sur une interface de communication apte à l'échange de données entre le dispositif de traitement DISP_1 et la base de données BDD. Aucune limitation n'est attachée à la nature de cette interface de communication, qui peut être filaire ou non filaire, de sorte à permettre l'échange de données selon tout protocole connu de la personne de l'art (Ethernet, Wifi, Bluetooth, 3G, 4G, 5G, Modbus, TCP-IP, analogique, etc.). Dans son principe général, le procédé de détermination selon l’invention vise à identifier sur la surface du plateau de verre au moins une zone dans laquelle, pour chacun des ensembles de morceaux de verre donnés ENS_PRIM_{i,j} destinés à être découpés dans ledit plateau de verre, se situent un nombre suffisamment important de défauts qui vont pouvoir être éliminés à la découpe (via un ou plusieurs plans de découpe appropriés). Savoir identifier de telles zones représente un avantage considérable car, une fois cette information obtenue, il est possible de la communiquer aux fabricants de plateaux de verre. Ces derniers peuvent alors configurer le processus de découpe du ruban de verre de sorte qu’un maximum de défauts soit situé dans les zones ainsi identifiées. De cette manière, le rendement des fabricants de plateaux de verre est très faiblement impactée, car l’élimination des défauts est prise en charge par les transformateurs, étant entendu qu’un nombre très important de défauts vont pouvoir être éliminés par les transformateurs (du fait de leurs localisations dans les zones identifiées) sans que cela ne nécessite des ressources importantes (en termes notamment de détermination de plan de découpe). La FIG. 3 représente, sous forme d’ordinogramme, un mode particulier de mise en œuvre du procédé de détermination selon l’invention, tel qu’exécuté par le dispositif DISP_1 de la FIG. 2 . Comme mentionné ci-avant, l’exécution du procédé de détermination est réalisée pour les ensemble ENS_PRIM_{i,j} de morceaux de verre, dont les paramètres associés ENS_PAR_{i,j} sont stockés dans la base de données BDD. Pour la description du mode de la FIG. 3 , et afin de simplifier celle-ci, on considère de manière nullement limitative que le plateau de verre à partir duquel les morceaux de verre ENS_PRIM_{i,j} peuvent être découpés a déjà été modélisé. Les données utiles à la modélisation du plateau de verre ont notamment été déterminées à partir des paramètres ENS_PAR_{i,j}. La modélisation du plateau de verre a par exemple été exécutée par le dispositif de traitement DIPS_1. Autrement dit, dans cet exemple, le dispositif de traitement DISP_1 a obtenu, au cours d’un échange de données avec la base de données BDD, les paramètres ENS_PAR_{i,j} puis a réalisé la modélisation en question. Cet échange de données est réalisé grâce aux moyens de communication 5_1, en étant par exemple initié par le dispositif de traitement DISP_1 au moyen d’une requête appropriée. De manière alternative, une entité tiers s’est chargée de la modélisation, puis a transmis le plateau modélisé au dispositif de traitement DISP_1 (typiquement sous forme d’un fichier informatique). En tout état de cause, lorsque le procédé de la FIG. 3 débute, le dispositif de traitement DISP_1 stocke en mémoire le plateau modélisé, par exemple dans sa mémoire non volatile 4_1. Bien que l’obtention du plateau modélisé par le dispositif de traitement DISP_1 ne soit pas décrite ici comme étant partie intégrante du procédé de détermination de la FIG. 3 , il convient toutefois de noter que tout ou partie des étapes menant à cette obtention (transmission des paramètres ENS_PAR_{i,j}, modélisation du plateau de verre, transmission du plateau modélisé) peuvent être intégrées audit procédé selon d’autres modes de mise en œuvre non détaillés ici. Tel qu’illustré par la FIG. 3 , le procédé de détermination comporte dans un premier temps une étape E10 d’obtention de la pluralité de plans de découpe PL_DEC_{i,j} du plateau de verre. Comme mentionné ci-avant, chaque plan de découpe PL_DEC_{i,j} (i.e. pour des indices i et j fixés) est optimisé pour éliminer à la découpe un maximum de défauts parmi un ensemble de défauts ENS_DEF_{i,j} associé audit plan de découpe. Pour la suite de la description, on adopte la notation DEF_{i,j,k} (k étant un indice entier) pour désigner un défaut donné au sein de l’ensemble ENS_DEF_{i,j}. La position du défaut DEF_{i,j,k} sur le plateau de verre est quant à elle notée POS_DEF_{i,j,k}. Le nombre de défauts considérés au sein de l’ensemble ENS_DEF_{i,j} ne constitue pas plus une limitation de l’invention. De plus, deux ensembles de défauts ENS_DEF_{i_1,j_1} et ENS_ DEF_{i_2,j_2} peuvent avoir même cardinal ou non, et être d’intersection vide ou non. Plus particulièrement, dans le mode de mise en œuvre de la FIG. 3 , l’obtention des plans de découpe PL_DEC_{i,j} correspond à une détermination de ces derniers par le dispositif de traitement DISP_1, au moyen de traitements numériques (algorithmiques) appropriés. A cet effet, ladite étape E10 est mise en œuvre par un premier module de détermination MOD_DET_1 équipant le dispositif de traitement DISP_1. Les traitements numériques sont par exemple ceux décrits dans le document WO 2014/128424 déjà mentionné auparavant. Pour rappel, et de manière synthétique, la procédure enseignée par le document WO 2014/128424 décrit des modes de mises en œuvre dans lesquels des plans de découpe génériques PL_DEC_GEN_{1},…, PL_DEC_GEN_{M} sont tout d’abord déterminés. Ces plans de découpe génériques PL_DEC_GEN_{1},…, PL_DEC_GEN_{M} sont des plans optimisés du plateau de verre lorsque ce dernier est considéré comme étant sans défaut. Par ailleurs, afin de simuler la présence de défauts, on considère des cartes de défauts aléatoires MAP_RAND_{1},…, MAP_RAND_{N} qui sont combinées avec le plateau de verre, chaque carte de défaut MAP_RAND_{j} permettant de simuler une répartition de défauts sur la surface du plateau de verre. Chaque plan de découpe PL_DEC_{i,j} (i.e. pour des indices i et j fixés entre 1 et M ainsi que 1 et N respectivement) résulte alors d’une procédure d’optimisation du plan de découpe générique PL_DEC_GEN_{i} pour lequel on a pris en compte la carte de défauts MAP_RAND_{j} (l’ensemble de défauts ENS_DEF_{i,j} correspondant dès lors à l’association des défauts de la carte MAP_RAND_{j} audit plan de découpe générique PL_DEC_GEN_{i}). De surcroit, l’aléas associé à la répartition des défauts dans les cartes de défauts MAP_RAND_{j} peut être maitrisé, de sorte que la réunion desdits ensembles de défauts ENS_DEF_{i,j} soit conforme à une distribution d’un type particulier. Ainsi, selon un exemple préféré de mise en œuvre, la réunion des ensembles de défauts ENS_DEF_{i,j} forme une distribution de défauts répartis de manière homogène à la surface du plateau de verre. Enfin, si l’obtention des plans de découpe est décrite ici comme étant la mise en œuvre de traitements tels que ceux détaillés dans le document WO 2014/128424, rien n’exclut d’envisager encore d’autres alternatives. Par exemple, le terme « obtention » peut faire référence à une transmission des plans de découpe PL_DEC_{i,j}, étant entendu que ceux-ci auraient été déterminés préalablement à l’exécution du procédé de détermination par une autre entité. Dans ce cas, l’étape d’obtention serait mise en œuvre à l’aide des moyens de communication 5_1. D’une manière générale, aucune limitation n’est attachée à la manière dont le dispositif de traitement DISP_1 obtient lesdits plans de découpe PL_DEC_{i,j}, ces aspects étant connus de la personne du métier. Dès lors, une fois les plans de découpe PL_DEC_{i,j} obtenus, et comme illustré par la FIG. 3 , le procédé de détermination comporte une étape E20 de détermination, pour chaque défaut DEF_{i,j,k}, d’un indicateur IND_DEF_{i,j,k} représentatif du nombre de plans de découpe aptes à éliminer ledit défaut DEF_{i,j,k}. Ladite étape E20 est mise en œuvre par un deuxième module de détermination MOD_DET_2 équipant le dispositif de traitement DISP_1. Ledit indicateur IND_DEF_{i,j,k} correspond donc à une métrique permettant de quantifier une capacité d’élimination du défaut DEF_{i,j,k} (localisé selon la position POS_ DEF_{i,j,k} sur le plateau de verre) lors de la découpe du plateau de verre pour obtenir les morceaux de verre de l’ensemble ENS_PRIM_{i,j}. Plus particulièrement, dans le mode de mise en œuvre décrit ici, l’indicateur IND_DEF_{i,j,k} associé à un défaut DEF_{i,j,k} est égal au nombre de plans de découpe aptes à éliminer ledit défaut DEF_{i,j,k}. Le fait de considérer une telle valeur de l’indicateur IND_DEF_{i,j,k} ne constitue toutefois qu’une variante d’implémentation de l’invention, d’autres variantes étant envisageables. Par exemple, l’indicateur IND_DEF_{i,j,k} peut être exprimé sous la forme d’un ratio entre le nombre de plans de découpe aptes à éliminer ledit défaut DEF_{i,j,k} et le nombre total de plans de découpe PL_DEC_{i,j} (i.e. ce nombre total étant ici égal à M x N). Suivant encore une autre variante, ce ratio peut être exprimé sous la forme d’un pourcentage. Une fois les indicateurs IND_DEF_{i,j,k} déterminés pour chacun des défauts DEF_{i,j,k}, le procédé de détermination comporte une étape E30 de discrétisation du plateau de verre en une pluralité de dalles TIL_{p} (p étant un indice entier supérieur à 1). Ladite étape E30 est mise en œuvre par un module de discrétisation MOD_DISC équipant le dispositif de traitement DISP_1. Ladite discrétisation revient à faire une partition (un maillage) de la surface du plateau de verre par lesdites dalles TIL_{p}. Dans le présent mode de mise en œuvre, les dalles TIL_{p} utilisées pour la discrétisation de la surface du plateau de verre sont des dalles rectangulaires. Plus spécifiquement, on considère ici à titre nullement limitatif que la largeur et la longueur du plateau de verre sont toutes les deux divisées par 10, de sorte à obtenir une discrétisation de la surface du plateau de verre par 100 dalles. Le fait de considérer des dalles rectangulaires ne constitue toutefois qu’une variante d’implémentation de l’invention. D’une manière générale, aucune limitation n’est attachée aux formes respectives desdites dalles, ni même à leurs tailles respectives, dès lors qu’elles permettent de réaliser une partition (maillage) de la surface du plateau de verre. En outre, rien n’exclut d’avoir un panachage de formes différentes. Il convient par ailleurs de noter que les dalles peuvent être de tailles respectives distinctes ou identiques, en tout ou partie. Enfin, le nombre de dalles ne constitue pas plus une limitation de l’invention. Ainsi, le nombre de dalles peut par exemple être compris entre 1 et 100. On comprend bien entendu que le nombre de dalles peut être choisi en fonction de différents critères. Ainsi, un tel critère peut par exemple concerner un temps de calcul pour vérifier l’appartenance ou non d’un défaut à une dalle (étant entendu que le temps de calcul en question doit idéalement être court dans l’optique de pouvoir prendre rapidement une décision quant à la découpe ou non à l’équarri étant donné que le ruban arrive de manière continue). En complément ou en alternative, un critère pouvant être pris en compte pour décider du nombre de dalles peut concerner la taille de ces dernières (par ex. 10x10cm ou de 5x5cm) afin d’assurer des chutes minimales pour le transformateur. Tel qu’illustré par la FIG. 3 , le procédé de détermination comporte alors une étape E40 de détermination, pour chaque dalle TIL_{p} et en fonction des indicateurs IND_DEF_{i,j,k} déterminé lors de l’étape E20, d’un score SCO_TIL_{p} représentatif d’une capacité à éliminer à la découpe un défaut localisé dans ladite dalle. Ladite étape E40 est mise en œuvre par un troisième module de détermination MOD_DET_3 équipant le dispositif de traitement DISP_1. Le score SCO_TIL_{p} permet donc ici de quantifier une capacité d’élimination de défauts localisés dans la dalle TIL_{p}. On comprend bien entendu que la détermination du score SCO_TIL_{p} associé à une dalle TIL_{p} dépend de la manière dont sont exprimés les indicateurs IND_DEF_{i,j,k}. Dans le mode de mise en œuvre décrit ici, l’indicateur IND_DEF_{i,j,k} associé à un défaut DEF_{i,j,k} étant égal au nombre de plans de découpe aptes à éliminer ledit défaut DEF_{i,j,k}, le score SCO_TIL_{p} d’une dalle TIL_{p} correspond (est égal) à la somme des indicateurs respectivement associés aux défauts localisés dans ladite dalle TIL_{p}. De manière plus détaillée, la détermination du score SCO_TIL_{p} peut par exemple comporter, dans un premier temps, une identification des défauts localisés dans la dalle TIL_{p}. Cette localisation est réalisée à partir des positions POS_ DEF_{i,j,k} respectivement associées aux défauts DEF_{i,j,k}. Lorsque les défauts localisés dans la dalle TIL_{p} ont été identifiés, leurs indicateurs respectifs sont alors sommés pour obtenir le score SCO_TIL_{p}. Il importe toutefois de noter que le fait de considérer une somme des indicateurs respectivement associés aux défauts localisés dans une dalle ne constitue pas une limitation de l’invention. En effet, rien n’exclut de considérer d’autres modes de mise en œuvre dans lesquels, par exemple, le score SCO_TIL_{p} est une statistique particulière (par ex. une moyenne) obtenue à partir des indicateurs respectivement associés aux défauts localisés dans la dalle TIL_{p}. Bien entendu, si les indicateurs IND_DEF_{i,j,k} s’expriment différemment, par exemple sous la forme d’un ratio comme évoqué ci-avant, la personne du métier sait adapter la mise en œuvre de l’étape E40 afin que le score SCO_TIL_{p} permette de quantifier une capacité d’élimination de défauts localisés dans la dalle TIL_{p}. La FIG. 4 représente schématiquement un exemple de discrétisation du plateau de verre au moyen de dalles rectangulaires, tel qu’envisagé dans le procédé de détermination de la FIG. 3 . Dans la FIG. 4 , l’indexation des dalles TIL_{p} s’effectue par lignes, en commençant par la ligne située la plus en haut, et, sur chaque ligne, en parcourant les dalles de gauche à droite. Les dalles TIL_{1}, TIL_{2}, TIL_{10}, TIL_{11} et TIL_{100} sont spécifiquement indiquées. Par ailleurs, tel qu’illustré par la FIG. 4 , chaque dalle TIL_{p} contient un nombre qui correspond au score SCO_TIL_{p} déterminé lors de l’étape E40. Comme cela peut être constaté sur la FIG. 4 , il peut exister des écarts importants entre les scores SCO_TIL_{p} des dalles TIL_{p}, même lorsque deux dalles sont contiguës. Cette distribution spécifique des scores SCO_TIL_{p} sur la surface du plateau de verre est dès lors utilisée pour identifier une ou plusieurs zones (chaque zone regroupant une ou plusieurs dalles) pour lesquelles une capacité d’élimination suffisamment importante peut être déterminée. A cet effet, le procédé de détermination comporte une étape E50 de détermination d’au moins une zone Z_{q} de la surface du plateau de verre, ladite au moins zone Z_{q} comportant au moins une dalle TIL_{p} et satisfaisant au moins un critère CRIT_1 consistant en ce que le score SCO_Z_{q} de ladite au moins une zone Z_{q} est supérieur à un seuil donné S_1, le score d’une zone étant représentatif des scores respectivement associés aux dalles formant ladite zone. Il est à noter que par « zone », on fait référence ici à une portion de la surface du plateau de verre qui, si elle comporte une pluralité de dalles, est telle que chacune desdites dalles est contiguë à au moins une autre desdites dalles (en d’autres termes, une zone est une espace géométrique d’un seul tenant, c’est-à-dire connexe). A la manière de ce qui a été décrit ci-avant pour ce qui concerne l’étape E40, le score d’une zone Z_{q} peut correspondre à une somme des scores respectivement associés aux dalles formant ladite zone Z_{q}, ou bien à une statistique particulière obtenue à partir des scores respectivement associés aux dalles formant ladite zone Z_{q} (par ex. une moyenne, plus particulièrement une moyenne calculée comme un ration entre les scores des dalles considérées suivant une première direction dans laquelle s’étend le plateau et les scores des dalles considérées suivant une deuxième direction dans laquelle s’étend le plateau, la première direction étant perpendiculaire à la seconde direction). Suivant encore un autre exemple, il peut s’agir du score minimal parmi les scores respectivement associés aux dalles formant ladite zone Z_{q}. Aucune limitation n’est attachée à la valeur du seuil S_1. En particulier, il peut être tenu compte du fait que la découpe à l’équarri peut être optimisée (comme détaillé ci-après) en modifiant le lieu de découpe du ruban de verre suivant la direction perpendiculaire à la direction d’écoulement du verre. En conséquence, il peut être avantageux de déterminer des zones Z_{q} s’étendant davantage selon ladite direction perpendiculaire plutôt que dans ladite direction d’écoulement du verre. Ainsi, et en référence aux scores des dalles TIL_{p} de la FIG. 4 , le seuil S_1 peut par exemple être fixé égal à 2800, de sorte à favoriser la création de zones qui comporte une bande entière de dalles suivant la direction perpendiculaire à l’écoulement du verre. Le fait de considérer le seul critère CRIT_1 pour déterminer ladite au moins une zone Z_{q} ne constitue pas une limitation de l’invention, et rien n’exclut de prendre en compte encore d’autres critères. Par exemple, il est possible de prendre en compte (en plus du critère CRIT_1) un autre critère consistant en ce que la taille de ladite au moins une zone Z_{q} est comprise dans un intervalle donné. A titre illustratif, la taille de ladite au moins une zone Z_{q} peut être déterminée en fonction du nombre de dalles qui la compose, ce nombre pouvant par exemple être compris entre 1 et 10. On comprend bien entendu que ce nombre de dalles peut également dépendre lui-même de la taille des dalles concernées. Alternativement ou bien en complément, il est possible de prendre en compte (en plus du critère CRIT_1) un autre critère consistant en ce que le nombre de zones déterminées est inférieur à un seuil donné. A titre d’exemple, le nombre de zones déterminées peut être inférieur ou égal à 4. Toute méthode connue de la personne du métier pour déterminer une ou plusieurs zones Z_{q} satisfaisant au moins le critère CRIT_1 peut être utilisée. A titre d’exemple nullement limitatif, l’étape E50 de détermination de ladite au moins une zone Z_{q} peut comporter une optimisation d’une fonction de coût paramétrée par le ou les critères pris en compte (et donc a minima par le critère CRIT_1). La FIG. 5 représente schématiquement deux zones Z_{1} et Z_{2} du plateau de verre de la FIG. 4 , telle que déterminées au moyen d’un exemple spécifique de mise en œuvre du procédé de détermination de la FIG. 3 . L’invention a été décrite jusqu’à présent en considérant la seule détermination de ladite au moins une zone Z_{q}. Cela étant, et selon un autre aspect, l’invention concerne également un système SYS_2 de découpe d’au moins un plateau de verre dans un ruban continu de verre. La FIG. 6 représente schématiquement un mode particulier de réalisation dudit système SYS_2. De manière connue en soi, le système SYS_2 comporte des moyens de découpe MOY_SLICE configurés matériellement pour réaliser une découpe d’au moins un plateau de verre dans un ruban continu de verre refroidi. Lesdits moyens comportent classiquement une guillotine. Outre lesdits moyens de découpe MOY_SLICE, le système SYS_2 comporte également un dispositif de contrôle DISP_2 configuré pour effectuer des traitements permettant de générer des commandes de contrôle destinées aux moyens de découpe MOY_SLICE, en mettant en œuvre des étapes d’un premier procédé de découpe d’au moins un plateau de verre. Lesdites commandes sont plus particulièrement générées de sorte à découper au moins un plateau de verre en fonction de ladite au moins une zone Z_{q} déterminée grâce au procédé de détermination décrit ci-avant. La FIG. 7 représente schématiquement un exemple d’architecture matérielle du dispositif de traitement DISP_2 selon l’invention. Tel qu’illustré par la FIG. 7 , le dispositif DISP_2 dispose de l’architecture matérielle d’un ordinateur. Ainsi, le dispositif DISP_2 comporte, notamment, un processeur 1_2, une mémoire vive 2_2, une mémoire morte 3_2 et une mémoire non volatile 4_2. Il dispose en outre de moyens de communication 5_2. La mémoire morte 3_2 du dispositif DISP_2 constitue un support d’enregistrement conforme à l’invention, lisible par le processeur 1_2 et sur lequel est enregistré un programme d’ordinateur PROG_2 conforme à l’invention, comportant des instructions pour l’exécution d’étapes du premier procédé de découpe selon l’invention. Le programme PROG _2 définit des modules fonctionnels du dispositif DISP_2, qui s’appuient ou commandent les éléments matériels 1_2 à 5_2 du dispositif DISP_2 cités précédemment. Ces modules fonctionnels sont illustrés sur la FIG. 2 à titre nullement limitatif, et sont décrits plus en détails ci-après en référence à des modes particuliers de mise en œuvre du premier procédé de découpe. Les moyens de communication 5_2 permettent au dispositif DISP_2 de recevoir des données, notamment ladite au moins une zone Z_{q}, en provenance du dispositif de traitement DISP_1. Ces moyens de communication 5_2 s'appuient, de manière connue en soi, sur une interface de communication apte à l'échange de données entre le dispositif DISP_2 et le dispositif de traitement DISP_1. Aucune limitation n'est attachée à la nature de cette interface de communication, qui peut être filaire ou non filaire, de sorte à permettre l'échange de données selon tout protocole connu de la personne de l'art (Ethernet, Wifi, Bluetooth, 3G, 4G, 5G, Modbus, TCP-IP, analogique, etc.). La FIG. 8 représente, sous forme d’ordinogramme, un mode particulier de mise en œuvre du premier procédé de découpe selon l’invention, tel qu’exécuté par le système SYS_2 de la FIG. 6 . Tel qu’illustré par la FIG. 8 , le premier procédé de découpe comporte dans un premier temps une étape F10 d’obtention de ladite au moins une zone Z_{q} déterminée suite à l’exécution du procédé de détermination. Le terme « obtention » fait ici référence à une réception d’un ou plusieurs fichiers de données décrivant ladite au moins une zone Z_{q}. En conséquence, ladite étape F10 est mise en œuvre par un module de réception MOD_RX équipant le dispositif DISP_2 et intégré aux moyens de communication 5_2. La réception du ou des fichiers de données décrivant ladite au moins une zone Z_{q} est par exemple consécutive à une requête appropriée transmise par le dispositif DISP_2 au système SYS_1, plus particulièrement au dispositif de traitement DISP_1. Il convient de noter que cette mise en œuvre de l’étape F10 n’est pas limitative de l’invention, et rien n’exclut d’envisager que le dispositif DISP_2 soit déjà en possession du ou des fichiers de données décrivant ladite au moins une zone Z_{q} lorsque le premier procédé de découpe débute, ce ou ces fichiers pouvant par exemple être stockés dans sa mémoire non volatile 4_2. Dès lors, et tel qu’illustré par la FIG. 8 , le premier procédé de découpe comporte une étape F20 de génération d’au moins une commande de découpe COM_SLICE d’au moins un plateau de verre dans le ruban continu de verre en fonction de ladite au moins une zone Z_{q}. Plus particulièrement, ladite au moins une commande COM_SLICE est générée de sorte que le nombre de défauts situés dans ladite au moins une zone est supérieur à un seuil donné. Ladite étape F20 est mise en œuvre par un module de génération MOD_GEN équipant le dispositif DISP_2. Le fait de prendre en compte ladite au moins une zone Z_{q} pour générer ladite au moins une commande COM_SLICE est particulièrement avantageux dans la mesure où ladite au moins une zone Z_{q} a précisément été identifiée comme étant une zone dans laquelle la capacité d’élimination de défauts est importante. En d’autres termes, et pour ce qui concerne le premier procédé de découpe, il s’agit donc de tirer parti de cette connaissance de ladite au moins une zone Z_{q} pour générer au moins au moins une commande COM_SLICE appropriée, de sorte que la découpe du ruban continu de verre autorise le placement d’un nombre suffisant de défauts dans ladite au moins une zone Z_{q}. De manière conventionnelle, la génération d’une commande de découpe au niveau de l’équarri constitue la finalité d’une série d’étapes. Ainsi, une longueur déterminée du ruban de verre est en permanence analysée pour y détecter les défauts présents (position et taille des défauts). Cette longueur est par exemple égale à 10 mètres. Par la suite, en fonction d’une priorité de morceaux de verre à produire, une décision est prise quant au fait de découper le ruban de verre ou non. Plus particulièrement, on considère dans un premier temps la priorité la plus grande pour la production, et on détermine si un plateau de verre idoine peut être découpé en étant placé au bout du ruban (i.e. on vérifie que la découpe de ce plateau de verre respecte les seuils de défauts imposés). Si la découpe est possible, elle a lieu et on laisse à nouveau défiler le ruban de verre suivant ladite longueur déterminée pour recommencer les opérations. Si la découpe n’est pas possible pour cette priorité la plus grande, on évalue (comme détaillé précédemment) si elle peut l’être pour la priorité dont l’ordre suit celui de ladite priorité la plus importante. Le principe est ainsi itéré, étant entendu que s’il est déterminé qu’aucune découpe de plateau de verre n’est possible pour produire des morceaux de verre attendus, on génère une commande de découpe afin de produire un morceau de calcin. Eu égard à cette méthode conventionnelle de découpe du ruban de verre, l’invention permet avantageusement de prendre en compte la ou les zones Z_{q} lors de l’évaluation de la possibilité de découpe (pour une priorité de production donnée) d’un plateau de verre. De cette manière, il est possible de réduire considérablement la production de calcin. Une fois ladite au moins une commande COM_SLICE générée, celle-ci est transmise aux moyens de découpe MOY_SLICE au cours d’une étape F30. Ladite étape F30 est mise en œuvre par un module de transmission MOD_TX équipant le dispositif DISP_2 et intégré aux moyens de communication 5_2. Sur réception de ladite au moins une commande COM_SLICE par les moyens de découpe MOY_SLICE (étape F40), ces derniers réalisent une étape F50 de découpe dudit au moins un plateau de verre dans le ruban continu de verre (l’étape F50 est référencée « DEC » dans la FIG. 8 ). Enfin, et selon encore un autre aspect, l’invention concerne également un système SYS_3 (non représenté sur les figures) de découpe de l’ensemble ENS_PRIM_{i,j} de morceaux de verre dans au moins un plateau de verre obtenu grâce au premier procédé de découpe. A cet effet, ledit système SYS_3 est configuré de manière connue pour mettre en œuvre un deuxième procédé de découpe (non représenté sur les figures) des morceaux de verre dudit ensemble ENS_PRIM_{i,j} dans ledit au moins un plateau de verre. Procédé mis en œuvre par ordinateur pour déterminer au moins une zone de la surface d’un plateau de verre, ledit procédé comportant des étapes de : - obtention (E10) d’une pluralité de plans de découpe du plateau de verre, chaque plan de découpe étant configuré pour la découpe d’un ensemble donné de morceaux de verre dans le plateau de verre, chaque plan de découpe étant en outre optimisé pour éliminer à la découpe un maximum de défauts parmi un ensemble de défauts associé audit plan de découpe, - pour chaque défaut, détermination (E20) d’un indicateur représentatif du nombre de plans de découpe aptes à éliminer ledit défaut, - discrétisation (E30) de la surface du plateau de verre en une pluralité de dalles, - pour chaque dalle et en fonction des indicateurs déterminés, détermination (E40) d’un score représentatif d’une capacité à éliminer à la découpe un défaut localisé dans ladite dalle, - détermination (E50) d’au moins une zone de la surface du plateau de verre, ladite au moins zone comportant au moins une dalle et satisfaisant au moins un critère consistant en ce que le score de ladite au moins une zone est supérieur à un seuil donné, le score d’une zone étant représentatif des scores respectivement associés aux dalles formant ladite zone. Procédé selon la revendication 1, dans lequel la réunion des ensembles de défauts respectivement associés aux plans de découpe forme une distribution de défauts répartis de manière homogène à la surface du plateau de verre. Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 2, dans lequel les morceaux de verre à découper sont caractérisés par un ensemble de paramètres comprenant : - des dimensions respectives des morceaux de verre, - un nombre de morceaux de verre à découper dans le plateau de verre. Procédé selon la revendication 3, dans lequel l’ensemble de paramètres comporte des indicateurs de qualité respectifs des morceaux de verre. Procédé selon l’une quelconque des revendications 3 à 4, dans lequel : - au moins un paramètre de l’ensemble de paramètres provient d’un historique de paramètres utilisés au cours d’au moins une campagne de production de verre passée, et/ou - au moins un paramètre de l’ensemble de paramètres est un paramètre simulé. Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 5, dans lequel le nombre de dalles est compris entre 1 et 100. Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 6, dans lequel l’indicateur associé à un défaut est égal au nombre de plans de découpe aptes à éliminer ledit défaut, le score d’une dalle correspondant à la somme des indicateurs respectivement associés aux défauts localisés dans ladite dalle. Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 7, dans lequel l’étape (E50) de détermination de ladite au moins une zone est mise en œuvre de sorte à satisfaire encore un autre critère consistant en ce que la taille de ladite au moins une zone est comprise dans un intervalle donné. Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 8, dans lequel l’étape (E50) de détermination de ladite au moins une zone est mise en œuvre de sorte à satisfaire encore un autre critère consistant en ce que le nombre de zones déterminées est inférieur à un seuil donné. Procédé selon l’une quelconque des 1 à 9, dans lequel l’étape (E50) de détermination de ladite au moins une zone comporte une optimisation d’une fonction de coût paramétrée par ledit au moins un critère. Procédé de découpe d’au moins un plateau de verre dans un ruban continu de verre, ledit procédé de découpe étant mis en œuvre à partir d’au moins une zone déterminée conformément à un procédé de détermination selon l’une quelconque des revendications 1 à 10, et dans lequel la découpe dudit au moins un plateau de verre est réalisée de sorte que le nombre de défauts situés dans ladite au moins une zone est supérieur à un seuil donné. Procédé de découpe d’un ensemble donné de morceaux de verre dans au moins un plateau de verre obtenu grâce à un procédé selon la revendication 11. Programme d’ordinateur comportant des instructions pour la mise en œuvre d’étapes de : - un procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 10, ou - un procédé de découpe selon la revendication 11, ou - un procédé de découpe selon la revendication 12, lorsque ledit programme d’ordinateur est exécuté par un ordinateur. Support d’enregistrement lisible par un ordinateur sur lequel est enregistré un programme d’ordinateur selon la revendication 13. Système comportant des moyens configurés pour mettre en œuvre : - un procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 10, ou - un procédé de découpe selon la revendication 11, ou - un procédé de découpe selon la revendication 12.