Brevet FR3160310A1 — publié le 20250926

L’invention concerne un dispositif (100) d’imagerie à rayons X, ledit dispositif (100) comprenant : - une source (10) de rayons X agencée pour émettre un flux (11) de rayons X en direction d’un échantillon (1); - un détecteur d’image (30) de rayons X espacé de ladite source (10) de rayons X d’une distance supérieure ou égale à 80 cm et inférieure ou égale à 1,6 m et agencé pour capter le flux (11) de rayons X ayant traversé ledit échantillon (1); - une unité de traitement (40) configurée pour déterminer une image du déphasage, et reconstruire, à partir de cette image du déphasage, une image par contraste de phase dudit échantillon, ledit dispositif (100) présentant un grandissement optique supérieur ou égal à 8 et inférieur à 20. Figure pour l’abrégé : Fig. 1 dispositif et méthode d’imagerie à rayons X utilisant au moins l’imagerie par contraste de phase Domaine technique de l'invention La présente invention concerne de manière générale un dispositif et une méthode d’imagerie à rayons X utilisant au moins l’imagerie par contraste de phase. Elle concerne plus particulièrement un dispositif et une méthode d’imagerie à rayons X utilisant au moins l’imagerie par contraste de phase pour imager des prélèvements de tissus biologiques, par exemple des tissus d’origine humaine ou animale, notamment des échantillons de macrobiopsie mammaire susceptibles de contenir des microcalcifications. Etat de la technique Le cancer du sein est aujourd’hui au premier rang des cancers incidents chez les femmes et également la 1ère cause de décès par cancer chez les femmes (685 000 décès en 2020 dans le monde), devant les cancers du poumon et du colon rectum. Il représente un cancer sur quatre incidents chez les femmes. En 2020, 2,3 millions de nouveaux cas ont été constatés dans le monde. Les microcalcifications mammaires sont des dépôts de calcium dans le tissu mammaire et apparaissent sous forme de petits points brillants sur les images classiques de mammographies. Les microcalcifications jouent un rôle crucial dans le dépistage du cancer du sein, en particulier pour les cancers du sein non palpables et sont présentes dans environ un tiers de toutes les lésions malignes détectées lors de la mammographie de dépistage. Les microcalcifications sont plus fréquentes dans les carcinomes canalaires in situ que dans les cancers du sein invasifs. L’analyse des microcalcifications pour distinguer leurs types est très utile pour discerner les caractéristiques des lésions mammaires et améliorer ainsi le diagnostic précoce du cancer du sein. L’analyse des microcalcifications se fait principalement aujourd’hui dans les services d’anatomopathologie sur des prélèvements de tissus réalisés lors de macrobiopsies du sein de la patiente. Les anatomopathologistes réalisent ainsi des études pathologiques par microscopie optique sur ces échantillons. Ces analyses par microscopie optique nécessitent une préparation des échantillons qui prend du temps, est coûteuse et retarde l’obtention des résultats. Suite au prélèvement d’une macrobiopsie, le praticien utilise un appareil de radiographie de spécimens pour radiographier cet échantillon. Toutefois, à ce jour, les systèmes de radiographie de spécimen disponibles dans le commerce sont basés sur la technique d’imagerie de rayons X dite par absorption et fournissent des images de faible résolution spatiale. L’imagerie de rayons X par absorption consiste à mesurer les différences d’opacité d’un objet aux rayons X, induites par son inhomogénéité en termes de matériaux ou de densité. Ces appareils sont fonctionnels car ils permettent d’obtenir des images d’absorption de l’échantillon. La technique d’imagerie de rayons X par absorption est appropriée quand les objets étudiés sont constitués de matériaux présentant des différences d’absorption suffisantes. Néanmoins, les appareils de radiographie de spécimens existants permettent uniquement de valider le fait que les prélèvements contiennent bien les microcalcifications détectées avant envoi des échantillons au service d’anatomopathologie. Ces appareils ne permettent pas à ce jour d’analyser les microcalcifications détectées ni de les trier en catégorie bénigne ou maligne. En outre, l’utilisation de telles images peut conduire à des erreurs du fait de la faible résolution spatiale de ces images. D’une part, il est souhaitable de proposer un appareil d’imagerie permettant d’obtenir des images d’échantillons, notamment de macrobiopsie mammaire, de meilleure résolution spatiale. D’autre part, il est souhaitable de permettre une analyse des images ainsi obtenues d’échantillons, par exemple de microcalcifications détectées dans les images de macrobiopsies mammaires, indépendamment d’une analyse d’anatomopathologie par microscopie optique. Présentation de l'invention Afin de remédier aux inconvénients précités de l’état de la technique, la présente invention propose un dispositif d’imagerie à rayons X utilisant au moins l’imagerie par contraste de phase, ledit dispositif comprenant : - une source de rayons X agencée pour émettre un flux de rayons X depuis un spot d’émission présentant un diamètre compris entre 1 µm et 20 µm, le flux de rayons X étant émis en direction d’un échantillon disposé sur un porte-échantillon, ledit flux de rayons X se propageant en champ libre vers ledit échantillon; - un détecteur d’image de rayons X, ledit échantillon étant positionné entre la source de rayons X et le détecteur d’image de rayons X, le détecteur d’image de rayons X étant un détecteur d’image bidimensionnel, le détecteur d’image de rayons X étant espacé de ladite source de rayons X d’une distance supérieure ou égale à 80 cm et inférieure ou égale à 1,6 m (de préférence comprise entre 80 cm et 1,5 m) et agencé pour capter le flux de rayons X ayant traversé ledit échantillon et pour former une image en intensité du flux de rayons X, ; - une unité de traitement configurée pour déterminer, à partir de l’image en intensité du flux de rayons X détectée, une image par contraste de phase de l’échantillon, ledit dispositif présentant un grandissement optique supérieur ou égal à 8 et inférieur à 20. Notamment ici, l’agencement de la source, du porte échantillon et du détecteur permet d’obtenir un grandissement optique élevé, ce qui permet de capter un déphasage particulier sur le détecteur imageur et d’analyser ce déphasage pour pouvoir utiliser l’imagerie par contraste de phase. L’utilisation de l’imagerie par contraste de phase permet de reconstruire une image de l’échantillon ayant un fort contraste et une haute résolution spatiale en 2D. D’autres caractéristiques avantageuses et non limitatives du dispositif conforme à l’invention, prises individuellement ou selon toutes les combinaisons techniquement possibles, sont les suivantes. Dans un mode de réalisation, le grandissement est compris entre 8 et 15, et de préférence allant de 10 à 14, ce qui permet d’obtenir de meilleurs résultats en termes de contraste et de résolution. Dans un mode de réalisation, le flux de rayons X se propageant entre le porte-échantillon et le détecteur de rayons X est en propagation libre. Dans un mode de réalisation, la source de rayons X présente un axe de propagation du flux de rayons X, l’axe de propagation étant orienté verticalement par rapport au sol. Dans un mode de réalisation, le flux de rayons X émis présente une puissance supérieure ou égale à 5 W en sortie de ladite source de rayons X. Dans un mode de réalisation, le flux de rayons X est émis à une énergie comprise entre 10 keV (0,12nm) et 80 keV (0,015 nm). Dans un mode de réalisation, la source de rayons X est configurée pour irradier l’échantillon pendant une période temporelle comprise entre 5 secondes et 35 secondes. Dans un mode de réalisation, la source de rayons X est configurée pour irradier ledit échantillon à une dose de rayons X comprise 400 µSv et 650 µSV. Dans un mode de réalisation, le détecteur d’image de rayons X comprend une matrice de pixels présentant une première dimension spatiale et une deuxième dimension spatiale, la première dimension spatiale étant supérieure à 10 cm et la deuxième dimension spatiale étant supérieure à 10 cm. De façon avantageuse, la première dimension spatiale et la deuxième dimension spatiale du détecteur d’image de rayons X sont chacune comprise entre 19 cm et 30 cm. Avantageusement, la matrice de pixels du détecteur d’image de rayons X comprend des pixels carrés de longueur de côté inférieure ou égale à 100 µm, et de préférence supérieure ou égale à 5 µm. La combinaison de la taille du détecteur et de la taille des pixels permet d’obtenir une image par contraste de phase reconstruite à haute résolution. De préférence, les pixels carrés ont une longueur de côté allant de 30 µm à 60 µm. Dans un mode de réalisation, l’unité de traitement est configurée pour déterminer, par utilisation d’un algorithme de détection de contour sur ladite image par contraste de phase, la présence d’objet dans ledit échantillon, et une morphologie de chaque objet détecté. Dans un mode de réalisation l’unité de traitement est également agencée pour reconstruire à partir du l’image du déphasage, une image d’absorption dudit échantillon. Dans un mode de réalisation, l’unité de traitement est également configurée pour trier chaque objet détecté en différentes classes. Dans un mode de réalisation, le dispositif comprend un circuit de commande agencé pour activer et désactiver la source de rayons X et le détecteur d’image de rayons X, ladite activation de la source de rayons X et du détecteur d’image de rayons X étant réalisée de manière synchrone. Dans un mode de réalisation, le dispositif comprend un dispositif d’ajustement en orientation et/ou en position dudit porte-échantillon pour régler une orientation dudit porte-échantillon par rapport à la source de rayons X selon au moins un angle de rotation et/ou pour régler une position dudit porte-échantillon par rapport à la source de rayons X suivant au moins une direction spatiale, ladite au moins une direction spatiale correspondant à une translation dudit porte-échantillon par rapport à la source de rayons X. Dans ce mode de réalisation, le dispositif est configuré pour reconstruire une image par contraste de phase en trois dimensions dudit échantillon à partir d’au moins trois images par contraste de phase dudit échantillon en utilisant une méthode de reconstruction par tomosynthèse. Dans un mode de réalisation particulier et avantageux, le dispositif comprend une pluralité de porte-échantillons disposés entre la source et le détecteur d’image, chaque porte-échantillon de la pluralité de porte-échantillons étant situé à une distance distincte de la source de rayons X. Dans un mode de réalisation, le dispositif comprend au moins un des éléments suivants : - un support sur lequel sont montés au moins la source de rayons X, le porte-échantillon et le détecteur d’image de rayons X, et optionnellement l’unité de traitement - un boîtier portatif associé au support et accueillant au moins la source de rayons X, l’échantillon, le détecteur d’image de rayons X, - - un dispositif de maintien du support au sol. Dans un mode de réalisation, le dispositif de maintien du support au sol comprend des roulettes ou des pieds. L’invention concerne également une utilisation dispositif décrit ci-dessus, pour déterminer la présence de microcalcifications dans l’échantillon, ledit échantillon étant un prélèvement de type macrobiopsie mammaire pour réaliser des images radiographiques 2D ou 3D. Dans un mode de réalisation, l’utilisation du dispositif est pour déterminer la morphologie de microcalcifications dans l’échantillon. L’invention concerne également une utilisation du dispositif décrit ci-dessus pour déterminer la présence de microcalcifications dans l’échantillon, ledit échantillon étant un prélèvement de type macrobiopsie pour réaliser des images radiographiques 2D. L’invention propose également une méthode d’imagerie à rayons X utilisant au moins l’imagerie par contraste de phase, ladite méthode comprenant les étapes suivantes : - émission d’un flux de rayons X par une source de rayons X depuis un spot d’émission présentant un diamètre compris entre 1 µm et 20 µm, le flux de rayons X étant émis en direction d’un échantillon disposé sur un porte-échantillon, ledit flux de rayons X se propageant en champ libre vers ledit échantillon ; - détection, au moyen d’un détecteur d’image de rayons X espacé de ladite source de rayons X d’une distance supérieure ou égale à 80 cm et inférieure ou égale à 1,6 m, du flux de rayons X ayant traversé ledit échantillon pour former une image en intensité du flux de rayons X, ledit échantillon étant positionné entre la source de rayons X et le détecteur d’image de rayons X de façon à ce que l’image en intensité du flux de rayons X acquise présente un grandissement optique supérieur ou égal à 8 et inférieur à 30 ; - traitement de l’image en intensité du flux de rayons X acquise par le détecteur d’image pour déterminer, à partir de cette image de rayons X, une image par contraste de phase dudit échantillon. Une telle méthode permet d’obtenir une image par contraste de phase en deux dimensions hautement résolue et présentant un très bon contraste. De préférence, le grandissement optique est compris entre 8 et 15, ce qui permet d’obtenir de meilleurs résultats en termes de contraste et de résolution. Bien entendu, les différentes caractéristiques, variantes et formes de réalisation de l'invention peuvent être associées les unes avec les autres selon diverses combinaisons dans la mesure où elles ne sont pas incompatibles ou exclusives les unes des autres. Description détaillée de l'invention La description qui va suivre en regard des dessins annexés, donnés à titre d’exemples non limitatifs, fera bien comprendre en quoi consiste l’invention et comment elle peut être réalisée. Sur les dessins annexés : FIG. 1 est une représentation schématique d’un premier mode de réalisation d’un dispositif selon la présente invention ; FIG. 2 est une représentation schématique en vue de coupe d’une image d’un déphasage déterminée par une unité de traitement du dispositif selon le premier mode de réalisation ; FIG. 3 illustre un exemple d’image par contraste de phase reconstruite et d’image d’absorption par le dispositif selon le premier mode de réalisation ; FIG. 4 illustre une série d’images (4A, 4B, 4C) d’absorption de différentes taches visibles sur les images d’absorption obtenues avec l’appareil selon le premier mode de réalisation dans la première configuration d’imagerie et une série d’images (4D, 4E, 4F) par contraste de phase des mêmes taches reconstruites à partir de la deuxième configuration d’imagerie ; FIG. 5 illustre un autre exemple d’image par contraste de phase en trois dimensions reconstruite par le dispositif selon le premier mode de réalisation ; FIG. 6 est une représentation schématique d’un deuxième mode de réalisation d’un dispositif selon la présente invention ; FIG. 7 est une représentation schématique d’une méthode d’imagerie à rayons X selon la présente divulgation. Dispositif Il va maintenant être décrit à l’aide de la FIG. 1 , de la FIG. 2 , de la FIG. 3 et de la FIG. 4 un premier mode de réalisation d’un dispositif 100 d’imagerie à rayons X utilisant au moins l’imagerie par contraste de phase. Le dispositif 100 comprend une source 10 de rayons X. La source 10 de rayons X est agencée pour émettre un flux 11 de rayons X à partir d’un spot d’émission (ou tache lumineuse) ayant un diamètre D compris entre 1 µm et 20 µm en sortie de la source 10 de rayons X. Le diamètre D du spot d’émission (focal spot en anglais) est le diamètre minimum du flux 11 de rayons X. Une telle source de rayons X est aussi appelée source microfocus. Notamment, l’utilisation d’un flux de rayons X ayant un tel diamètre D en sortie de source permet d’obtenir un flux de rayons X qui atteint une certaine cohérence spatiale, qui permet, comme cela sera décrit ci-dessous, de déterminer l’image par contraste de phase. Typiquement ici, la source 10 de rayons X présente un cône d’émission, propre à la source, par lequel se propage le flux 11 de rayons X. Ici, par cône d’émission, on entend un cône de révolution autour d’un axe de propagation A, ayant pour génératrice le diamètre de sortie et ayant un angle au sommet ou angle d’ouverture en sortie de la source 10 de rayons X. Le cône d’émission représente le volume dans lequel le flux de rayons X se propage à partir de la source 10 de rayons X vers un échantillon 1. En d’autres termes, le flux 11 de rayons X en sortie de la source 10 de rayons X est divergent, et se propage suivant le cône d’émission de la source 10 de rayons X. De préférence, l’angle total d’ouverture du cône d’émission de la source 10 de rayons X est supérieur à 5 degrés, par exemple de 45 degrés et permet d’illuminer la surface totale d’un détecteur d’image de rayons X du dispositif 100 qui sera décrit ci-dessous. Comme cela est illustré en FIG. 1 , le flux 11 de rayons X émis par ladite source 10 de rayons X présente un axe de propagation A orienté verticalement par rapport au sol. Autrement dit, l’axe de propagation A est parallèle à l’axe z du repère orthonormé représenté sur la FIG. 1 et défini par les axes x, y, et z. Dans cet exemple, la source 10 de rayons X est une source microfocus basée sur un tube à rayons X comprenant une anode et une cathode. La source de rayons X est configurée pour émettre, en sa sortie, le flux 11 de rayons X à une puissance allant de quelques watts à une dizaine de watts, par exemple de 5 W. Ce flux de rayons X est ici émis à des énergies comprises entre 10keV (correspondant à une longueur d’onde de de 0,12nm) et 80kV (correspondant à une longueur d’onde de 0,015 nm), de préférence entre 20 keV et 80keV pour un courant de cathode supérieur à 100µA. En général, l’anode de la source de rayons X comprend au moins un matériau lourd, par exemple au moins un des matériaux suivants : cuivre, molybdène, tungstène, gallium. Dans notre exemple, le matériau de l’anode est du molybdène. Dans ce cas, la source 10 de rayons X génère un spectre d’émission de rayons X continu avec un pic d’émission autour de 17 keV correspondant ici aux raies d’émission du molybdène, par application d‘une haute tension entre cathode et anode comprise entre 40 kV et 80 kV, avec une intensité de courant de cathode supérieure à 100µA pour une puissance supérieure à 5W. Le flux 11 de rayons X se propage en champ libre en sortie de la source 10 de rayons X vers un porte échantillon 20 compris dans le dispositif 100. Ici, par champ libre, on entend une propagation en espace libre. En d’autres termes, le flux 11 de rayons X ne rencontre aucun autre élément du dispositif 100 avant d’atteindre l’échantillon 1 sur le porte échantillon 20. On note que le flux de rayons X présente un front d’onde initial représentant sa propagation en sortie de source. Le porte échantillon 20 sert à maintenir un échantillon 1. Ici, notamment, le porte échantillon 20 est adapté pour recueillir un échantillon de type macrobiopsie mammaire pour réaliser des images radiographiques 2D. L’échantillon est par exemple obtenu par prélèvement d’un tissu biologique humain, par exemple un prélèvement de chair d’une partie du sein d’un(e) patient(e). A cet effet, le dispositif 100 peut être utilisé pour détecter des microcalcifications présentes dans l’échantillon 1. Comme cela est illustré en FIG. 1 , l’échantillon 1 est positionné dans le cône d’émission de la source 10 de rayons X. En d’autres termes, l’échantillon 1 est entièrement irradié par le flux 11 de rayons X. On comprend ainsi que la taille de l’échantillon est adapté au cône d’émission de la source 10 de rayons X. Ici, dans cet exemple, la source de rayons X est configurée pour irradier l’échantillon 1 pendant une période temporelle comprise entre 15 secondes et 35 secondes afin de générer assez de signal pour reconstruire l’image par contraste de phase qui sera décrite ci-dessous. La source 10 de rayons X est configurée pour irradier l’échantillon 1 à une dose comprise 400 µSv et 650 µSV. Une telle gamme permet d’éviter d’endommager l’échantillon 1 tout en générant assez de signal pour faire une acquisition rapide de l’image de rayons X. Selon la présente divulgation, le porte échantillon 20 est espacé de la source 10 de rayons X d’une distance d1 comprise en 0 cm et 20 cm, de préférence entre 10 cm et 20 cm afin d’ajuster une valeur de grandissement du dispositif 100 qui sera explicitée ci-dessous. Cette distance d1 est déterminée entre un plan d’émission P1 de la source 10 de rayons X, ici orienté perpendiculairement à l’axe A de propagation de la source de rayons X (ou perpendiculaire à l’axe z) et un plan P2 de l’échantillon 1 orienté parallèlement au plan d’émission P1 de la source 10 de rayons X et perpendiculairement à l’axe de propagation A de la source 10 de rayons X. Ainsi, le flux 11 de rayons X se propage en champ libre de la source 10 de rayons X vers l’échantillon 1 puis traverse l’échantillon 1. Le dispositif 100 comprend également le détecteur d’image 30 de rayons X positionné face à la source 10 de rayons X. On comprend ainsi que l’échantillon 1 est positionné entre la source 10 de rayons X et le détecteur d’image 30 de rayons X. Ainsi, le flux de rayons X traversant l’échantillon 1 atteint le détecteur d’image 30 de rayons X.Dans le dispositif 100, le détecteur d’image 30 de rayons X est positionné à une distance d2 de la source 10 de rayons X. La distance d2 est comprise entre 80 cm et 1,70 m, de préférence entre 80 cm et 1,50 m. La distance d1 sépare la source 10 de rayons X du porte échantillon 20. La distance d2 sépare la source 10 de rayons X du détecteur d’image 30 de rayons X. La distance d1 et la distance d2 permettent de définir un grandissement optique du dispositif 100 comme étant le ratio entre la distance d1 et la distance d2. Ici notamment, le grandissement optique du dispositif 100 est supérieur ou égal 8 et inférieur ou égal 20. De préférence, le grandissement optique du dispositif 100 est compris entre 8 et 15, ou même entre 8 et 14, afin d’obtenir une meilleure résolution sur l’image par contraste de phase reconstruite par le dispositif 100. Typiquement, dans le dispositif 100, le détecteur d’image 30 de rayons X présente une taille adaptée à la source 10 de rayons X utilisée, ici notamment au cône d’émission de la source 10 de rayons X utilisée. En d’autres termes, le détecteur d’image 30 de rayons X est agencé pour capter le flux 11 de rayons X total traversant l’échantillon. Le détecteur d’image 30 de rayons X fonctionne par exemple par détection indirecte, en utilisant une matrice de cristaux d'iodure de césium (CsI) couplée à une matrice de détecteurs CMOS. Le détecteur d’image 30 de rayons X comporte ainsi une matrice de pixels, chaque pixel ayant une longueur de côté inférieure ou égale à 100 µm. Avantageusement, le détecteur d’image 30 de rayons X est un détecteur à écran plat (flat panel, en anglais) avec une surface de détection d’au moins 10cmx10cm. Le détecteur d’image 30 de rayons X présente une face active 31, orientée en regard de la source 10 de rayons X et comprenant une matrice de pixels 32 dans laquelle chaque pixel est configuré pour capter une partie du flux 11 de rayons X traversant l’échantillon 1. Le détecteur d’image 30 enregistre ainsi une image en intensité du flux de rayons X ayant traversé l’échantillon 1. Cette matrice de pixels 32 présente une première dimension spatiale orientée parallèlement à un axe spatial, par exemple l’axe x, et une deuxième dimension spatiale perpendiculaire à la première dimension spatiale et orientée parallèlement à l’axe spatial y. Avantageusement, les pixels de la matrice de pixels 32 sont disposés en lignes et en colonnes. De manière non limitative, la première dimension spatiale et la deuxième dimension spatiale sont chacune supérieures à 10 cm, ici notamment la première dimension spatiale est de 22.8 cm et la deuxième dimension spatiale fait 29.2 cm. Avantageusement, la première dimension spatiale et la deuxième dimension spatiale sont chacune inférieure à 40 cm, afin de limiter l’encombrement du dispositif 100. Ainsi, dans cet exemple, la matrice de pixels 32 du détecteur d’image 30 de rayons X est de forme rectangulaire. Bien entendu, le détecteur d’image 30 peut, dans une variante, présenter d’autres formes, par exemple une forme carrée lorsque la première dimension spatiale et la deuxième dimension spatiale sont de même taille. Les pixels de la matrice de pixels 32 sont tous identiques et présentent chacun une première dimension, orientée parallèlement à la première dimension spatiale de la matrice de pixels 32 et une deuxième dimension, perpendiculaire à la première dimension et orientée parallèlement à la deuxième dimension spatiale de la matrice de pixels. La première dimension et deuxième dimension sont chacune inférieures ou égales à 100 µm et de préférence comprise entre 40 µm et 60 µm. Ici, typiquement, la matrice de pixels 32 est faite de pixels de forme carrée de 49.5 µm de côté. La matrice de pixels 32 du détecteur d’image 30 de rayons X comporte un nombre de pixels allant de 4000 à 6000 pixels dans chaque direction, par exemple de 4600 pixels dans une direction et 5800 pixels dans l’autre direction. Les présentes dimensions du détecteur d’image 30 (gamme de taille et gamme de taille de pixel) et le nombre élevé de pixels permettent d’obtenir une image à contraste de phase à haute résolution. Le détecteur d’image 30 de rayons X est agencé pour capter le flux 11 de rayons X traversant l’échantillon 1. On comprend que le flux 11 de rayons X capté par le détecteur d’image 30 de rayons X présente un front d’onde. Ce flux 11 de rayons X capté par le détecteur d’image 30 de rayons X se présente sous la forme d’un signal d’intensité en deux dimensions représentant une image en intensité du front d’onde du flux de rayons X ayant traversé l’échantillon 1. De ce fait, le détecteur d’image 30 de rayons X est configuré pour détecter, à partir du flux de rayons X capté, une image de rayons X, appelé dans la suite image en intensité. Comme cela est illustré en FIG. 1 , aucun élément optique n’est positionné sur le chemin optique du flux 11 de rayons X traversant l’échantillon 1. Ainsi, le flux 11 de rayons X traversant l’échantillon se propageant entre l’échantillon et le détecteur d’image 30 de rayons X est en propagation libre (i.e. il se propage en espace libre). En outre, la méthode d’imagerie par contraste de phase en propagation libre permet ainsi de mesurer un contraste de phase en observant la déviation du flux 11 de rayons X depuis le signal d’intensité mesuré avec le détecteur d’image 30 de rayons X à haute résolution, positionné ici à la distance d2. En effet, lorsqu’un front d’onde déformé se propage suffisamment loin, les petits changements dans la direction de propagation provoquent des variations d’intensité entraînant une amélioration des contours internes et externes ou bords de l’échantillon 1, où les gradients latéraux de la phase des rayons X sont les plus importants. Par exemple, la FIG. 2 illustre un exemple en vue de coupe une image en intensité d’un échantillon détecté à partir du flux 11 de rayons X capté par le détecteur d’image 30 de rayons X. Plus précisément, la FIG. 2 représente un profil en intensité des rayons X captés sur le détecteur d’image 30 par des pixels s’étendant par exemple suivant l’axe x ou l’axe y. L’objet ou échantillon 1 analysé est dans cet exemple un objet peu absorbant aux rayons X dans la gamme d'énergie définie précédemment, par exemple il correspond à un échantillon de macrobiopsie mammaire. Ici par exemple, l’image en intensité de la FIG. 2 présente une partie principale 5 bombée, représentant l’intensité du faisceau X traversant l’échantillon encadrée par deux bords 6 dans lesquels le signal d’intensité présente ici une forme creuse suivi d’un pic qui correspondent aux bords internes et externes de l’échantillon. Ces bords 6 sont, dans la suite appelés effet de bords réhaussés. Comme illustré en FIG. 2 , des effets de bords réhaussés sont visibles sur l’image en intensité. La réfraction du faisceau de rayons X sur les bords de l’échantillon, où les gradients latéraux de la phase des rayons X sont les plus importants, provoque des variations d’intensité qui sont mises à profit pour obtenir une amélioration des contours internes et externes (ou bords) de l’échantillon. Le rehaussement de bords observé peut être interprété plus rigoureusement en utilisant la nature ondulatoire des rayons X et la théorie de la diffraction de Fresnel. De ce point de vue, la distribution de l’intensité sur le détecteur d’image 30 est le résultat de l’interférence d’ondes obtenant un déphasage variable par le passage à travers l’échantillon étudié. À la distance d2, la distribution d’intensité après l’échantillon est décrite par une formule qui, pour un objet faiblement absorbant comme des échantillons biologiques, peut s’écrire comme suit : où I est l'intensité du rayonnement détecté, λ la longueur d'onde des rayons X et Φ (x,y) la phase de l'onde étudiée sur laquelle l'opérateur de Laplace Δ bidimensionnel agit dans le plan x-y. L’intensité mesurée n’est ici pas une mesure directe de la phase, mais plutôt le laplacien de la phase du front d’onde, noté dans la suite front d’onde transmis, qui représente une distribution spatiale du flux 11 de rayons X traversant l’échantillon 1. En pratique, dans le dispositif 100, les deux bords dépendent du grandissement optique du dispositif 100 décrit plus précédemment. Ainsi, on comprend que le grandissement optique du dispositif 100 est adapté dans le dispositif 100 pour visualiser les bords de l’image en intensité. En effet, les deux bords 6 sont visibles uniquement quand la distance de propagation est suffisante et que la diffraction opère en régime de Fresnel. Le dispositif 100 comprend également une unité de traitement 40. Par unité de traitement, on entend toute unité de calcul ou processeur ou ordinateur ou tout autre élément électronique permettant d’implémenter une succession de commandes et/ou de calculs. Cette unité de traitement 40 comporte typiquement un processeur, une mémoire et différentes interfaces d'entrée et de sortie. Grâce à ses interfaces d'entrée et de sortie, l’unité de traitement 40 est programmée pour recevoir toute image acquise par le détecteur d’image 30 de rayons X. Grâce à sa mémoire, l’unité de traitement 40 mémorise une application informatique, constituée de programmes d’ordinateur comprenant des instructions dont l’exécution par le processeur permet de reconstituer une image par contraste de phase à partir de l’image en intensité acquise par le détecteur d’image 30. L’unité de traitement 40 illustrée en FIG. 1 est au moins connectée au détecteur d’image 30 de rayons X décrit ci-dessus. Par connecté, on entend que l’unité de traitement 40 est agencée pour communiquer avec un autre élément, par exemple, en étant configurée pour émettre et/ou recevoir des données de cet élément (ici par exemple en filaire).Ici, en l’espèce, l’unité de traitement 40 est configurée pour déterminer une image du déphasage à partir de l’image en intensité captée par le détecteur 30 de rayons X, cette image en intensité étant représentative du front d’onde du flux 11 de rayons X transmis. L’unité de traitement 40 est configurée pour reconstruire, à partir de cette image en intensité à bords réhaussés, une image par contraste de phase de l’échantillon 1. En pratique, l’unité de traitement 40 est configurée pour extraire le laplacien de la phase du signal suivant des techniques d’extraction de phase connues de l’homme du métier, par exemple comme décrit dans le document Burvall, A., Lundström, U., Takman, P. A., Larsson, D. H., & Hertz, H. M. (2011), « Phase retrieval in X-ray phase-contrast imaging suitable for tomography ». L’unité de traitement est également configurée pour reconstruire une image par contraste de phase à partir du laplacien de la phase du signal. Ici cette image par contraste de phase est une image par contraste de phase en propagation libre. Bien entendu, il est à noter que la partie bombée 5 du signal enregistré peut être analysée et traitée par l’unité de traitement 40 pour reconstruire une image d’absorption de l’échantillon. On comprend ainsi que l’agencement particulier du dispositif 100, ici notamment son grandissement, permet de visualiser avec précision les bords réhaussés de l’objet dans l’image en intensité. Au contraire, pour un grandissement plus faible, notamment inférieur à 8, ces bords sont peu ou faiblement visibles dans l’image de rayons X en intensité. De ce fait, l’image de rayons X en intensité obtenue avec un grandissement supérieur ou égal à 8 et inférieur à 30, et de préférence compris entre 8 et 15, est beaucoup plus précise et permet d’en extraire une image par contraste de phase à fort contraste et hautement résolue spatialement. La mise en œuvre de la technique d’imagerie par contraste de phase en propagation libre permet de diminuer les coûts du dispositif 100 car moins de composants sont nécessaires dans le dispositif 100. La FIG. 3 illustre, à droite, une image par contraste de phase 7 d’un échantillon reconstruit par l’unité de traitement 40 et, à gauche, une image d’absorption 8, ou image en intensité, du même échantillon. Dans cet exemple, ces images ont été obtenues avec un grandissement optique de 15 (distance d1 de 200 mm et distance d2 de 3000 mm), pour un diamètre de spot d’émission de flux 11 de rayons X de 10 µm pour l’image de gauche et respectivement de 30 µm pour l’image de droite. Ici, en augmentant la taille du spot d’émission, la condition de cohérence spatiale est dégradée, de ce fait, l’image en intensité associée à l’image de gauche présente seulement une partie bombée et ne présente pas de rehaussement de bord contrairement à la FIG. 2 . Par conséquent, pour cette image de gauche, le régime de phase n’est pas obtenu à la distance d2 de 300 cm (source-détecteur). Comme on peut le constater, l’image par contraste de phase à gauche de la FIG. 3 présente un meilleur contraste et une meilleure résolution comparée à l’image d’absorption obtenue à droite de la FIG. 3 . L’unité de traitement 40 est optionnellement configurée pour déterminer, par utilisation d’un algorithme de détection de contour sur ladite image par contraste de phase, la présence d’objet 9 dans ledit échantillon, et une morphologie de chaque objet détecté. Bien entendu, si l’unité de traitement 40 reconstruit également une image d’absorption de l’échantillon, elle peut également déterminer la présence d’objet dans cette dernière image de manière similaire à la méthode utilisée à l’image par contraste de phase de l’échantillon. Typiquement, l’algorithme de détection de contour peut être basé sur au moins des algorithmes suivants : - une segmentation en utilisant un histogramme ; - un algorithme de Laplace ; - un algorithme du gradient, etc. La FIG. 4 montre, en haut, trois images (4A, 4B, 4C) de rayons X d’une microcalcification dans une portion de sein de différentes patientes obtenues par absorption (notée Abs.), et, en bas, trois images (4D, 4E, 4F) de rayons X des mêmes microcalcifications des mêmes portions de sein obtenues par contraste de phase (noté C. Ph.). Chaque colonne d’images sur la FIG. 4 correspond à la même microcalcification de la même portion de sein de la même patiente. Les trois colonnes d’images de la FIG. 4 correspondent ici à des patientes différentes. Les trois images d’absorption 4A, 4B, 4C sont obtenues avec le dispositif 100 dans la première configuration, par exemple avec un grandissement de 15. Les images par contraste de phase 4D, 4E, 4F sont obtenues avec le même dispositif 100 dans la deuxième configuration avec le même détecteur 30, par exemple avec un grandissement de 15. Dans cet exemple on utilise le même grandissement dans les deux configurations d’imagerie mais pas la même taille de spot de source : dans la première configuration, pour les images d’absorption, le spot de la source 11a de rayons X est de 100µ et dans la deuxième configuration pour les images par contraste de phase, le diamètre de la source 11b est de 10µ. Chaque image permet de visualiser un ou plusieurs éléments 91, 92, 92, 94, 95 opaques aux rayons X, par exemple des microcalcifications mammaires. Comme cela est illustré en FIG. 4 , différents objets sont extraits de l’image par contraste de phase et de l’image d’absorption. Toutefois, la comparaison des images d’absorption et de contraste de phase de la FIG. 4 montre pour chaque cas que l’image par contraste de phase présente un meilleur contraste et une meilleure résolution comparée à l’image d’absorption obtenue. Par exemple, dans la paire d’images (4A, 4D), on détecte dans l’image par absorption 4A un objet 91 opaque aux rayons X et on observe sur l’image 4D par contraste de phase que les contours de cet objet 91 sont irréguliers. Dans l’exemple de la paire d’images (4B, 4E), on détecte dans l’image par absorption deux objets 92, 93 opaques aux rayons X et on observe sur l’image par contraste de phase que les contours de ces deux objets 92, 93 sont réguliers en forme de losange ou diamant. Dans l’exemple de la paire d’images (4C, 4F), on détecte dans l’image par absorption deux taches 94, 95 partiellement opaques aux rayons X et on observe sur l’image par contraste de phase que ces deux taches 94, 95 sont diffuses et ont des contours irréguliers, par exemple de forme filamentaire pour la tache 95. Dans tous les cas, l’image par contraste de phase est beaucoup plus nette que l’image par absorption. Typiquement ces microcalcifications peuvent ensuite être classés en différente classes, par exemple en fonction de la morphologie des objets détectés dans les images décrites ci-dessus. En particulier, on classe les objets détectés en fonction de leur forme qui peut être régulière par exemple ronde ou en diamant, ou irrégulière présentant éventuellement des aspérités ou des creux. Le praticien radiologie ou médecin peut ensuite associer telle forme d’objet à un faible risque de pathologie ou à un risque de pathologie spécifique. On comprend que la résolution et le contraste de l’image par contraste de phase étant meilleurs que ceux de l’image d’absorption, la détection et/ou le tri à partir de l’image par contraste de phase est plus précis et permet donc d’obtenir de meilleurs résultats. De manière optionnelle, le dispositif 100 comprend un circuit de commande 50 agencé pour activer et désactiver la source 10 de rayons X et le détecteur d’image 30 de rayons X. En pratique, le circuit de commande 50 comprend une unité de commande 51 agencée pour commander les différents éléments du dispositif 100, ici au moins la source 10 de rayons X, le détecteur d’image 30 de rayons X et l’unité de traitement 40. Ici, notamment, le circuit de commande 50 est configuré pour commander une activation de la source 10 de rayons X et du détecteur d’image 30 de rayons X de manière indépendante, synchrone ou asynchrone. Par unité de commande 51, on entend toute unité de calcul ou processeur ou ordinateur ou tout autre élément électronique permettant d’implémenter une succession de commandes et/ou de calculs. Cette unité de commande 51 comporte typiquement un processeur, une mémoire et différentes interfaces d'entrée et de sortie. Typiquement, l’unité de commande 51 peut comprendre un microcontrôleur. Grâce à ses interfaces d'entrée et de sortie, l’unité de commande 51 est programmée pour recevoir toute image acquise par le détecteur d’image 30 du dispositif 100 et/ou toute image extraite par l’unité de traitement 40. De manière non limitative, le dispositif 100 comprend un écran 53 connecté à l’unité de commande 51. L’unité de commande 51 est aussi programmée pour commander l’écran 53 et plus généralement toute interface Homme-Machine permettant de communiquer des informations à un utilisateur utilisant le dispositif 100. Cet écran 53 peut être tactile ou non. En pratique l’unité de traitement 40 et l’unité de commande 51 peuvent être deux modules de calcul séparés ou un seul et même module de calcul, soit être un même élément réalisant les fonctions de l’unité de traitement 40 et de l’unité de commande 51. Optionnellement, le dispositif 100 comprend un dispositif d’ajustement en orientation et/ou en position dudit porte-échantillon 20 pour régler une orientation dudit porte-échantillon 20 par rapport à la source 10 de rayons X selon au moins un angle de rotation et/ou pour régler une position dudit porte-échantillon 20 par rapport à la source 10 de rayons X suivant au moins une direction spatiale. Ici, l’au moins une direction spatiale correspond à une translation dudit porte-échantillon 20 par rapport à la source 10 de rayons X, c’est-à-dire une translation selon l’axe z. En option, le dispositif d’ajustement en orientation et/ou en position du porte-échantillon 20 permet de déplacer l’échantillon dans le plan xy, suivant l’axe x et/ou l’axe y. Typiquement, le dispositif d’ajustement en position et/ou en orientation comprend un support mobile 60 agencé pour déplacer l’échantillon 1 le long de l’axe de translation (axe z) par l’intermédiaire du porte échantillon 10 et modifier sa position par translation suivant les axes transverses à l’axes z, ici les axes x, y et/ou son orientation par rotation autour des axes x, y et/ou z. Bien entendu ce support mobile 60 peut être déplacé/orienté de manière manuelle ou de manière automatique par utilisation d’au moins un moteur configuré pour déplacer le support mobile et/ou modifier l’orientation du support mobile. Typiquement, ce support mobile 60 est commandé par le circuit de commande 50 afin d’obtenir la position et l’orientation désirées. On comprend que pour obtenir le grandissement souhaité, il suffit de positionner le porte échantillon 20 par rapport à la source 10 de rayons X et au détecteur d’image 30 de rayons X. Pour cela, il suffit de régler de manière manuelle ou automatique une des distances d1, d2. De préférence, l’une de ces distances peut être réglée en utilisant l’interface homme machine. Dans ce cas, l’utilisateur rentre, par exemple la distance d1 (correspondant ici à une donnée d’entrée) dans l’interface homme machine et le circuit de commande déplace automatiquement le porte échantillon 20 par l’intermédiaire du support mobile 60. Dans le cas où le support mobile 60 peut également appliquer une rotation à l’échantillon, l’unité de traitement 40 peut être configurée pour synthétiser ou reconstruire une image par contraste de phase en trois dimensions dudit échantillon. Par exemple, la FIG. 5 illustre un exemple d’une image par contraste de phase en trois dimensions reconstruite par le dispositif selon le premier mode de réalisation. Typiquement pour cela, cette image par contraste de phase peut être déterminée en reconstruisant au moins trois images par contraste de phase dudit échantillon obtenus sous trois orientations angulaires différentes et en utilisant une méthode de tomographie ou tomosynthèse. En pratique, il suffit d’irradier un profil initial de l’échantillon (par exemple la face orientée dans la plan P2) et de reconstruire une première image par contraste de phase à partir du flux transmis par l’échantillon dans cette configuration. Ensuite, pour la deuxième image, il suffit de tourner le porte échantillon par l’intermédiaire du support mobile 60 d’au moins un angle supérieur à zéro degré, de préférence inférieure à 1 degrés, par exemple égal à 0,9 degrés et de recommencer l’irradiation et la reconstruction de la deuxième image par contraste de phase. L’angle sélectionné peut être rentré par un opérateur comme donnée d’entrée dans l’interface homme-machine décrite ci-dessus. De manière similaire, pour la troisième image, l’échantillon est à nouveau tourné, par exemple de 0.9 degrés par rapport à la position de l’échantillon utilisée pour la deuxième image et de réitérer l’irradiation et la reconstruction de la troisième image par contraste de phase. En général on réalise entre 300 et 400 images en tourant autour de l’objet. L’algorithme de tomographie compile ensuite ces images et les traite pour reconstruire une image par contraste de phase en trois dimensions. De manière optionnelle, le dispositif 100 peut comprendre également un dispositif d’ajustement en position et/ou en orientation 61, respectivement 62 de la source de rayons X et/ou du détecteur d’image fonctionnant de manière similaire au dispositif d’ajustement en orientation et/ou en position du porte échantillon 20. Ainsi dans ce cas, on comprend que la source 10 de rayons X et/ou le détecteur d’image 30 sont montés sur un support mobile 61, respectivement 62 comme décrit plus haut. Néanmoins, de préférence, la source 10 de rayons X est fixe (i.e. non mobile). Ainsi, pour obtenir le grandissement désiré, seul le porte échantillon 20 et optionnellement le détecteur d’image 30 de rayons X peuvent être mobiles suivant l’axe z par l’intermédiaire d’un support mobile 60, 61 comme décrit plus haut. Optionnellement, le dispositif 100 comprend un support 70 sur lequel sont montés au moins la source 10 de rayons X, le porte-échantillon 20 et le détecteur d’image 30 de rayons X. Typiquement ici, ce support 70 comprend un rail 71 orienté parallèlement à l’axe de propagation A de la source de rayons X, c’est-à-dire verticalement par rapport au sol. Sur ce rail 71 sont montés la source 10, le support mobile 60 du porte échantillon 20 (si présent) ou directement le porte échantillon 20, et le détecteur d’image 30 ou le support mobile 61 du détecteur d’image 30 (si présent). Comme cela est illustré en FIG. 1 , le support 70 comprend également un élément de maintien 72 (par exemple une plaque de maintien) orienté perpendiculairement au rail 71 et permettant de stabiliser le dispositif 100. Optionnellement, le dispositif 100 comprend également un dispositif de maintien 80 du support au sol. En pratique, ce dispositif de maintien 80 est fixé au support 70 (ici au moyen de maintien 72 du support 70). Dans un mode de réalisation préféré, le dispositif de maintien 80 comprend des roulettes 81 au contact du sol, ici réparties le long de la surface de l’élément de maintien 72, afin de pouvoir déplacer facilement le dispositif 100. Dans une variante, le dispositif de maintien 80 peut comprendre des pieds au contact du sol. La FIG. 6 illustre un deuxième mode de réalisation d’un dispositif 200 selon la présente invention. Le dispositif 200 comprend tous les éléments du dispositif 100 décrits ci-dessus. A la différence du dispositif 100, le dispositif 200 comprend un boitier portatif 90 associé au support 70 et accueillant au moins la source 10 de rayons X, le système de porte échantillon 20, le détecteur d’image 30 de rayons X. Comme cela est illustré, le support 70 est fixé à aux côtés inférieurs du boîtier 90, par exemple par l’intermédiaire de vis. On comprend que dans ce cas, le moyen de maintien 72 du support 70 peut correspondre à une face intérieure du boitier 90 ou être fixé à cette même face intérieure du boitier 90. Ici, le dispositif de maintien 80 est fixé directement au support 70. Le boitier 90 peut comprendre des éléments d’ouverture refermables afin d’accéder aux différents éléments compris dans le boîtier 90. Typiquement, les éléments d’ouverture refermables peuvent être des plaques fixées par l’intermédiaire de vis au boîtier 90 ou des portes refermables et/ou maintenues par l’intermédiaire de vis ou encore des tiroirs. De telles ouverture permettent également de placer l’échantillon 1 dans le système de porte échantillon 20. Dans ce mode de réalisation, le système de porte échantillon 20 comporte plusieurs porte-échantillons, par exemple ici cinq porte-échantillons 21, 22, 23, 24, 25 disposés l’un au-dessus de l’autre suivant l’axe z. Dans cet exemple, la source 10 et le détecteur d’image 30 de rayons X sont fixes, par exemple situés à une distance d2 de 150 cm l’un de l’autre. Chaque porte-échantillon 21, 22, 23, 24, 25 comporte par exemple une plaque support transparente aux rayons X, par exemple en PEEK, PMMA. Chaque porte-échantillon 21, 22, 23, 24, 25 est situé à une distance d1 différente de la source 10 de rayons X. Par exemple, le porte-échantillon 21 est situé à une distance d1 de 7.5 cm correspondant à un grandissement de l’image de rayons X de 20, le porte-échantillon 22 est situé à une distance d1 de 10 cm correspondant à un grandissement de l’image de rayons X de 15, le porte-échantillon 23 est situé à une distance d1 de 15 cm correspondant à un grandissement de l’image de rayons X de 10, le porte-échantillon 24 est situé à une distance d1 de 20 cm correspondant à un grandissement de l’image de rayons X de 7.5 et le porte-échantillon 25 est situé à une distance d1 de 25 cm correspondant à un grandissement de l’image de rayons X de 6. De cette manière, chaque porte-échantillon 21, 22, 23, 24, 25 permet d’obtenir une image de rayons X grandissement différent, sans nécessiter de système de déplacement de la source 10, du détecteur 30 ni du porte-échantillon 20. Dans ce mode de réalisation, on peut voir que l’écran 53 et le clavier du circuit de commande 50 sont des éléments externes au boîtier 90. De manière similaire, on comprend que l’unité de commande 50 peut être un ordinateur positionné à l’extérieur du boîtier 90 et présentant un écran 53 servant d’interface homme-machine. Le dispositif 200 comprend des parois blindées 91 ou des plaques blindées fixées aux parois du dispositif 200. Typiquement ces parois blindées ou plaques blindées sont en métal, par exemple en plomb ou en tungstène. Un tel agencement permet de limiter la propagation des rayons X en dehors du boîtier 90, garantissant ainsi une meilleure sécurité pour un opérateur utilisant le dispositif 200. Procédé Il va être écrit un premier exemple d’une méthode 300 d’imagerie à rayons X utilisant au moins l’imagerie par contraste de phase à l’aide de la FIG. 7 . La méthode illustrée en FIG. 7 est mis en œuvre le dispositif 100 ou le dispositif 200 décrit ci-dessus. La méthode 300 comprend une étape d’émission E1 du flux 11 de rayons X depuis un spot d’émission de la source 10 de rayons X. Comme précisé ci-dessus, le spot d’émission de rayons X présente un diamètre D compris entre 1 µm et 20 µm et est émis en direction de l’échantillon 1 disposé sur le porte-échantillon 20. Ici, le flux 11 de rayons X se propage en champ libre vers l’échantillon 1 et présentant un front d’onde initial. La méthode 300 comprend également une étape de détection E2 de l’image de rayons X via le détecteur d’image de rayons X. Ce dernier est espacé de la source 10 de rayons X d’une distance d2 supérieure ou égale à 80 cm et inférieure ou égale à 1,6 m (de préférence comprise entre 80 cm et 1,5 m). Le détecteur d’image de rayons X est dans cette étape agencé pour capter le flux 11 de rayons X ayant traversé ledit échantillon 1. Ce flux présente un front d’onde transmis par l’échantillon 1. Comme décrit ci-dessus, dans cette étape, l’échantillon est positionné entre la source 10 de rayons X et le détecteur d’image 30 de rayons X de façon à ce que l’image acquise présente un grandissement optique supérieur ou égal à 8 et inférieur à 30, de préférence compris entre 8 et 15 pour obtenir de meilleures performances en termes de contraste et de résolution spatiale. Le méthode 300 comprend également une étape de traitement E3 de l’image acquise par le détecteur d’image pour déterminer une image du déphasage et reconstruire, à partir de cette image du déphasage, une image par contraste de phase dudit échantillon. La présente invention n’est nullement limitée aux modes de réalisation décrits et représentés, mais l’homme du métier saura y apporter toute variante conforme à l’invention. Dispositif (100, 200) d’imagerie à rayons X utilisant au moins l’imagerie par contraste de phase, ledit dispositif (100, 200) comprenant : une source (10) de rayons X agencée pour émettre un flux (11) de rayons X depuis un spot d’émission présentant un diamètre compris entre 1 µm et 20 µm, le flux (11) de rayons X étant émis en direction d’un échantillon (1) disposé sur un porte-échantillon (20, 21, 22, 23, 24, 25), ledit flux (11) de rayons X se propageant en champ libre vers ledit échantillon (1); un détecteur d’image (30) de rayons X, ledit échantillon (1) étant positionné entre la source (10) de rayons X et le détecteur d’image (30) de rayons X, le détecteur d’image (30) de rayons X étant un détecteur d’image bidimensionnel, le détecteur d’image (30) de rayons X étant espacé de ladite source (10) de rayons X d’une distance supérieure ou égale à 80 cm et inférieure ou égale à 1,6 m et agencé pour capter le flux (11) de rayons X ayant traversé ledit échantillon (1) et pour former une image en intensité dudit flux de rayons X ; une unité de traitement (40) configurée pour déterminer, à partir de l’image en intensité détectée, une image par contraste de phase de l’échantillon (1), ledit dispositif (100, 200) présentant un grandissement optique supérieur ou égal à 8 et inférieur à 20. Dispositif selon la revendication 1, dans lequel le grandissement optique est compris entre 8 et 15. Dispositif selon l’une quelconque des revendications 1 à 2, dans lequel le flux de rayons X se propageant entre le porte-échantillon (20, 21, 22, 23, 24, 25) et le détecteur de rayons X est en propagation libre. Dispositif selon l’une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel ladite source de rayons X présente un axe de propagation du flux de rayons X, l’axe de propagation étant orienté verticalement par rapport au sol. Dispositif selon l’une quelconque des revendications 1 à 4, dans lequel l’unité de traitement (40) est configurée pour déterminer, par utilisation d’un algorithme de détection de contour sur ladite image par contraste de phase, la présence d’objet dans ledit échantillon, et une morphologie de chaque objet détecté. Dispositif selon l’une quelconque des revendications 1 à 5 comprenant un dispositif d’ajustement en orientation et/ou en position du porte-échantillon (20) pour régler une orientation du porte-échantillon (20) par rapport à la source de rayons X selon au moins un angle de rotation et/ou pour régler une position du porte-échantillon (20) par rapport à la source de rayons X suivant au moins une direction spatiale, ladite au moins une direction spatiale correspondant à une translation dudit porte-échantillon par rapport à la source de rayons X. Dispositif selon la revendication 6, dans lequel ledit dispositif est configuré pour reconstruire une image par contraste de phase en trois dimensions dudit échantillon à partir d’au moins trois images par contraste de phase dudit échantillon en utilisant une méthode de reconstruction par tomosynthèse. Dispositif selon l’une quelconque des revendications 1 à 5 comprenant une pluralité de porte-échantillons (21, 22, 23, 24, 25) disposés entre la source (10) et le détecteur d’image (30), chaque porte-échantillon de la pluralité de porte-échantillons (21, 22, 23, 24, 25) étant situé à une distance distincte de la source (10) de rayons X. Dispositif selon l’une quelconque des revendications 1 à 8 comprenant au moins un des éléments suivants : un support sur lequel sont montés au moins la source de rayons X, le porte-échantillon et le détecteur d’image de rayons X, un boîtier portatif associé au support et accueillant au moins la source de rayons X, l’échantillon, le détecteur d’image de rayons X, un dispositif de maintien du support au sol. Méthode d’imagerie à rayons X utilisant au moins l’imagerie par contraste de phase, ladite méthode comprenant les étapes suivantes : émission (E1) d’un flux (11) de rayons X par une source (10) de rayons X depuis un spot d’émission présentant un diamètre compris entre 1 µm et 20 µm, le flux (11) de rayons X étant émis en direction d’un échantillon (1) disposé sur un porte-échantillon (20, 21, 22, 23, 24, 25), ledit flux (11) de rayons X se propageant en champ libre vers ledit échantillon (1) ; détection (E2) au moyen d’un détecteur d’image (30) de rayons X espacé de ladite source (10) de rayons X d’une distance supérieure ou égale à 80 cm et inférieure ou égale à 1,6 m, du flux (11) de rayons X ayant traversé ledit échantillon (1) pour former une image en intensité du flux de rayons X, ledit échantillon (1) étant positionné entre la source (10) de rayons X et le détecteur d’image (30) de rayons X de façon à ce que l’image en intensité du flux de rayons X acquise présente un grandissement optique supérieur ou égal à 8 et inférieur à 20 ; traitement (E3) de l’image en intensité du flux de rayons X acquise par le détecteur d’image pour déterminer, à partir de cette image de rayons X, une image par contraste de phase de l’échantillon.