Brevet FR3161026A1 — publié le 20251010

SYSTEME OPTIQUE D’ANALYSE L’invention concerne système optique d’analyse (10) caractérisé en ce qu’il comporte : Au moins une première source lumineuse (20), Au moins une lame dichroïque (40), Au moins une lentille (50), Au moins une fibre optique (60), Au moins un spectromètre relié à la fibre optique (60), La première source lumineuse (20) étant configurée pour émettre un premier flux lumineux traversant au moins la lentille (50) pour exposer une zone cible d’une surface d’un matériau (80), La fibre optique (60) recueillant au moins un deuxième flux issu de la réflexion du premier flux sur la zone cible ou de la fluorescence de la zone cible suit à L’exposition par le premier flux et l’acheminant vers le spectromètre, le système (10) comportant en outre au moins une caméra (30) configurée pour prendre une image de la zone de test (80). Figure pour l’abrégé : Fig.1 SYSTEME OPTIQUE D’ANALYSE Domaine de l’invention L’invention concerne le domaine des systèmes d’analyse. Selon un aspect, l’invention concerne le domaine des systèmes de détection de contaminants sur une scène. Plus particulièrement, l’invention concerne le domaine des systèmes optiques d’analyses de composés et le domaine de la spectroscopie. État de la technique On connaît dans l’état de la technique des dispositifs permettant d’effectuer des analyses de composants présents sur une surface, un échantillon à partir d’une analyse de la lumière transmise ou réfléchie par l’échantillon. Par exemple, un spectromètre permet de mesurer les composantes d’une lumière pour donner le spectre de la lumière analysée. Le spectre est une représentation de l’intensité lumineuse de la lumière analysée en fonction de la fréquence ou de la longueur d’onde de ladite lumière. Dans le cadre d’analyse ou de la détection d’un contaminant, un pic d’intensité ou un creux d’intensité au niveau d’une longueur d’onde précise permet de mettre en évidence la présence dudit composé. Une méthode de mesure et de détection de composés est d’effectuer un pointé spectral en réflectance. Cette méthode consiste à envoyer un rayonnement lumineux incident sur une cible. Ce rayonnement lumineux incident va être réfléchi par la cible pour générer un rayonnement lumineux réfléchi. Ensuite, on utilise un système d’analyse optique qui va comprendre une ou plusieurs lentilles pour recueillir le rayonnement lumineux réfléchi et un spectromètre pour analyser le rayonnement lumineux réfléchi. Le spectromètre génère ainsi un spectre du rayonnement lumineux réfléchi. Ensuite, une analyse de ce spectre permettra de détecter des pics à certaines longueurs d’onde de rayonnement. Ces pics correspondent à la présence d’un composé précis sur la cible à l’endroit qui a été illuminé par le rayonnement incident. Une telle méthode de mesure présente l’avantage d’être une méthode d’analyse de composés qui est non destructive. Par exemple, il est possible de vérifier si une zone d’une pièce manufacturée a été contaminée par un composé particulier uniquement en l’illuminant avec le rayonnement lumineux incident. De cette manière, la pièce ne subit pas de détérioration du fait du contrôle. Cependant, une telle méthode de mesure présente plusieurs inconvénients. Par exemple, il est nécessaire d’effectuer la mesure dans un lieu avec une très faible pollution lumineuse extérieure pour conserver l’intégrité des mesures effectuées. De même, un calibrage minutieux de l’instrument optique de mesure est nécessaire pour d’une part bien aligner la ligne de vue de l’instrument avec la zone éclairée par le rayonnement incident et d’autre part placer le spectromètre à la bonne distance de la cible pour obtenir une bonne focalisation du rayonnement réfléchi au niveau de l’entrée du spectromètre. Enfin, une telle méthode de mesure ne permet pas de couvrir une grande surface de la cible. En effet, le pointé spectral ne permet que d’obtenir le spectre d’une zone ponctuelle sur une surface de la cible. De ce fait, lorsque l’on souhaite obtenir plusieurs mesures sur une surface, il est nécessaire de déplacer le dispositif de mesure et de le recalibrer pour obtenir un spectre pour chaque point pointé de la surface analysée. Il est également connu de l’état de la technique la réalisation des mesures par pointé spectral par fluorescence. Pour l’imagerie par fluorescence, on irradie le point de la mesure à l’aide d’un rayonnement incident. Ce rayonnement est généralement un rayonnement dans le domaine des ultraviolets. Ce rayonnement incident va exciter les électrons des molécules à la surface de l’échantillon analysé qui vont émettre en retour un rayonnement de fluorescence qui est généralement de la lumière visible. Ce rayonnement de fluorescence est par la suite analysé par spectroscopie de la même manière que pour le pointé spectral par réflectance. Un objectif de l’invention est de surmonter les inconvénients de l’art existant. À cet effet, l’invention a pour objet un système optique d’analyse qui comporte : Au moins une première source lumineuse, Au moins une lame dichroïque, Au moins une lentille, Au moins une fibre optique, et au moins un spectromètre relié à la fibre optique. La première source lumineuse est configurée pour émettre un premier flux lumineux traversant au moins la lentille pour exposer une zone cible d’une surface d’un matériau. La fibre optique est configurée pour recueillir au moins un deuxième flux lumineux et l’acheminer vers le spectromètre, ledit deuxième flux étant issu de la réflexion et/ou de la fluorescence d’un matériau de la zone de test suite à l’exposition de ladite zone de test, le deuxième flux lumineux traversant la lentille, la lame dichroïque étant configurée pour réfléchir au moins une partie spectrale du premier flux lumineux et/ou du deuxième flux lumineux. Le spectromètre est configuré pour enregistrer un spectre caractéristique du deuxième flux lumineux provenant d’une zone cible de la scène éclairée par le second flux. Le système comporte en outre au moins une caméra configurée pour capturer au moins une image de la zone de test et détecter une position de la zone cible de la scène éclairée par ledit faisceau définissant le premier flux. Le système selon l’invention permet donc avantageusement de réaliser des mesures de pointés spectraux en réflectance et en fluorescence avec le même équipement. De plus, la présence de la caméra permet avantageusement de prendre une image de la zone de test qui va permettre une contextualisation du spectre issu de la réflectance et/ou de la fluorescence de la zone de test. La caméra permet notamment une détection de la zone cible de la scène éclairée. Ainsi, l’utilisateur du système optique d’analyse obtient une image complète de la zone de test avec une indication de la zone sur laquelle le pointé spectral a été effectué. Une telle contextualisation du pointé spectral permet de connaître précisément sur la zone de test le lieu où a été effectué le pointé spectral. De ce fait, une cartographie de la zone de test peut être effectuée. Selon un mode de réalisation, le système optique d’analyse comprend un calculateur pour générer au moins un descripteur du spectre enregistré par le spectromètre issu du second flux lumineux. La génération du descripteur par le système selon l’invention permet de caractériser le spectre généré par le système. Un tel descripteur permet avantageusement de caractériser une substance à détecter sur la zone cible. Selon un mode de réalisation, le système optique d’analyse comporte au moins une source lumineuse de pointage configurée pour éclairer la zone cible pour former un pointeur lumineux sur ladite zone cible. Un tel pointeur permet avantageusement de fournir une information lumineuse de la zone sur laquelle la mesure de spectre est effectuée. Selon un mode de réalisation, la fibre optique comporte une bifurcation à partir de laquelle la fibre comporte deux chemins optiques, un premier chemin optique liant la fibre au spectromètre, le deuxième chemin optique liant la fibre à la source lumineuse de pointage, ladite source lumineuse de pointage étant agencée pour émettre de la lumière dans ladite fibre, l’ensemble de la fibre optique et de la source lumineuse de pointage formant le pointeur lumineux sur la zone cible. Cette disposition permet avantageusement de former un pointeur lumineux sur la zone cible. Cette disposition est particulièrement avantageuse car en faisant passer un faisceau de pointage directement par la fibre, on pointe directement la zone cible qui est dans le « champ de vue » de la fibre optique. De cette manière, le pointage est toujours précis. Selon un mode de réalisation, la source lumineuse de pointage est une source LED de couleur monochromatique. Le monochromatisme de la source de pointage permet de créer un pointeur qui est facilement visible à l’œil nu sur la zone cible. De même, un tel pointeur est efficacement détectable sur une image de la zone de test, que ce soit par visualisation de l’image ou par détection par un moyen informatique. Selon un mode de réalisation, le système optique d’analyse comporte une deuxième source lumineuse, ladite deuxième source lumineuse étant configurée pour émettre un troisième flux lumineux en direction de la zone cible, ladite lumière étant réfléchie par la zone de test et recueillie par la fibre optique pour effectuer une mesure de réflectance. Cette disposition permet avantageusement de combiner une mesure de spectre par réflectance grâce à la troisième source lumineuse et une mesure de spectre par fluorescence grâce à la première source lumineuse. De même, elle permet, dans le cas où la première source lumineuse est utilisée pour mesurer un spectre de réflectance, d’effectuer deux mesures en réflectances avec des sources différentes. Selon un mode de réalisation, lorsque le second flux lumineux est issu d’une fluorescence de la zone cible par le premier flux lumineux, le système comporte une deuxième source lumineuse, ladite deuxième source lumineuse étant configurée pour émettre un troisième flux lumineux en direction de la zone cible, ledit troisième flux lumineux étant choisi de sorte à générer un quatrième flux lumineux issu d’un phénomène de réflectance de ladite surface de matériau visé. Cette disposition permet de combiner la mesure du spectre de fluorescence et du spectre de réflectance de la zone cible. Cette disposition permet donc d’obtenir plus d’informations et une meilleure caractérisation du matériau de la zone cible ou des substances présentes sur la zone cible. Selon un mode de réalisation, lorsque le second flux lumineux est issu d’une réflexion du premier flux lumineux, le système comporte une troisième source lumineuse, ladite troisième source lumineuse étant configurée pour émettre un cinquième flux lumineux en direction de la zone cible, ledit cinquième flux lumineux étant choisi de sorte à générer un sixième flux lumineux issu d’un phénomène de fluorescence de ladite surface de matériau visé. Cette disposition permet de combiner une mesure du spectre de réflectance par la première source lumineuse et une mesure du spectre de fluorescence par la troisième source lumineuse. Cette disposition permet donc d’obtenir plus d’informations et une meilleure caractérisation du matériau de la zone cible ou des substances présentes sur la zone cible. Selon un mode de réalisation, le système optique d’analyse comprend un calculateur pour générer deux descripteurs de chacun des deux spectres enregistrés par le(s) spectromètre(s) issus d’une part du second flux lumineux et d’autre part du quatrième flux lumineux ou du sixième flux lumineux. Cette disposition permet avantageusement de générer des descripteurs permettant l’analyse des spectres obtenus par le système. De tels descripteurs permettent la caractérisation du matériau de la zone cible. Ces descripteurs permettent également la détection d’une ou plusieurs substances présentes sur la zone cible. Selon un exemple, la ou les substances détectées sont des contaminants. Selon un mode de réalisation, la deuxième source lumineuse et/ou la troisième source lumineuse sont déportées par rapport à un axe optique principal du système. Cette disposition permet avantageusement de faciliter le placement de tous les éléments du système dans un boitier du système. Selon un mode de réalisation, le système optique d’analyse est configuré pour calculer une distance entre un point dudit système et la zone de test par détection sur une image prise par ladite caméra de la zone éclairée par la première source lumineuse et par calcul de triangulation. Cette disposition est particulièrement avantageuse car elle permet de faciliter la calibration du système optique lors de son installation grâce à la connaissance de la distance entre le système et la zone cible. Cette disposition permet de régler les optiques comprenant les lentilles facilement et rapidement. Selon un mode de réalisation, le système optique comporte au moins un axe optique. La première source lumineuse, une entrée de la fibre optique et la lentille sont alignées le long de l’axe optique. Cette disposition permet avantageusement de contrôler la polarité du deuxième flux lumineux. Cette disposition permet également de réaliser des spectres dans des conditions ambiantes, en permettant l’exposition d’une zone de faible taille de l’échantillon à analyser et en ne « regardant » avec la fibre qu’une zone de faible surface de la zone éclairée. L’invention concerne également un système optique d’analyse qui comporte : Au moins une première source lumineuse, Au moins une lame dichroïque, Au moins une lentille, Au moins une fibre optique, Au moins un spectromètre relié à la fibre optique, La première source lumineuse étant configurée pour émettre un premier flux lumineux traversant au moins la lentille pour exposer une zone de test. La fibre optique est configurée pour recueillir au moins un deuxième flux lumineux issu de la réflexion et/ou de la fluorescence d’un matériau de la zone de test suite à l’exposition de ladite zone de test, le deuxième flux lumineux traversant la lentille, la lame dichroïque étant configurée pour réfléchir au moins une partie spectrale du premier flux lumineux et/ou du deuxième flux lumineux. Le dispositif comporte en outre un axe optique, la première source lumineuse, une entrée de la fibre optique et la lentille étant alignées le long de l’axe optique. Le système optique d’analyse selon l’invention permettre de réaliser des spectres dans des conditions ambiantes, en permettant l’exposition d’une zone de faible taille de l’échantillon à analyser et en ne « regardant » avec la fibre qu’une zone de faible surface de la zone éclairée. L’invention concerne également un procédé d’analyse optique qui comporte les étapes de : Emission par au moins une première source lumineuse d’un premier flux lumineux traversant ou étant réfléchi par une lame dichroïque traversant au moins une lentille pour exposer une zone de test ; Emission par fluorescence suite à l’exposition de la zone de test ou réflexion du premier flux lumineux par la zone de test pour produire un deuxième flux lumineux traversant la lentille et traversant ou étant réfléchi par la lame dichroïque, le deuxième flux lumineux étant ensuite recueilli par au moins une fibre optique ; Acheminement par la fibre optique du deuxième flux lumineux vers un spectromètre ; et Prise d’une image de la zone de test par une caméra. Le procédé selon l’invention permet avantageusement de réaliser des mesures de pointés spectraux en réflectance et en fluorescence dans le même procédé. De plus, la présence de la caméra permet avantageusement de prendre une image de la zone de test qui va permettre une contextualisation du spectre issu de la réflectance et/ou de la fluorescence de la zone de test. La caméra permet notamment une détection de la zone cible de la scène éclairée. Ainsi, un utilisateur obtient une image complète de la zone de test avec une indication de la zone sur laquelle le pointé spectral a été effectué. Une telle contextualisation du pointé spectral permet de connaître précisément sur la zone de test le lieu où a été effectué le pointé spectral. De ce fait, une cartographie de la zone de test peut être effectuée. Selon un mode de réalisation, l’image de la zone cible est associée à un spectre généré par le spectromètre, le procédé comportant une étape de détection d’une singularité de surface du matériau sur l’image de la zone de test ainsi que sa position au sein de la surface. Cette disposition permet de détecter sur l’image des points candidats qui peuvent présenter une singularité à étudier par pointé spectral. Le pointé spectral ne donnant un spectre que pour un point de la zone cible, il est donc très utile de générer plusieurs points d’intérêt sur lesquels on viendra effectuer un pointé spectral. Selon un mode de réalisation, la singularité de surface comprend une variation de texture, de couleur, de profondeur et/ou de géométrie de ladite surface. Selon un mode de réalisation, le procédé comprend une étape d’affichage sur un écran de l’image de la zone cible et d’une représentation graphique du spectre généré par le spectromètre. Cette disposition permet d’une part une contextualisation du spectre obtenu en fournissant à l’utilisateur une image contextuelle de la zone cible, permettant de contextualiser la mesure du spectre de réflectance et/ou de fluorescence. L’affichage du spectre sur l’écran permet quant à lui une analyse par l’utilisateur du spectre obtenu, notamment pour déterminer la présence d’une ou plusieurs substances et/ou matériaux sur la zone cible. Selon un mode de réalisation, le procédé comprend une étape de classification d’un descripteur de spectre calculé, ladite classification étant mise en œuvre au moyen d’un algorithme d’apprentissage machine entrainé à partir d’un ensemble de données définissant d’une part des descripteurs de spectre et d’autre part des états de surfaces caractéristiques d’un matériau ou d’un contaminant. Cette disposition permet avantageusement la détermination d’un descripteur sur le spectre qui permet une analyse de celui-ci. Selon un exemple, le descripteur comprend une longueur d’onde d’un pic d’intensité lumineuse sur le spectre, une largeur spectrale du pic d’intensité, une pente du pic d’intensité. La classification du descripteur par l’algorithme d’apprentissage permet avantageusement de caractériser automatiquement une substance présente dans la zone cible, un état de surface, ou toute singularité sur le matériau de la zone cible. Cette disposition permet de proposer à un utilisateur des premiers résultats d’analyse du spectre. Brève description des figures D’autres caractéristiques et avantages de l’invention ressortiront à la lecture de la description détaillée qui suit, en référence aux figures annexées, qui illustrent : FIG. 1 : un schéma d’un système optique d’analyse selon une variante de l’invention. FIG. 2 : un schéma d’un système optique d’analyse selon une deuxième variante de l’invention. FIG. 3 : un schéma d’un système optique d’analyse selon une troisième variante de l’invention. FIG. 4 : un schéma d’un système optique d’analyse selon une quatrième variante de l’invention. FIG. 5 : un schéma d’un système optique d’analyse selon une cinquième variante de l’invention. FIG. 6 : un schéma d’un système optique d’analyse selon une sixième variante de l’invention. FIG. 7 : un premier spectre généré par le système d’analyse optique selon l’invention. FIG. 8 : un deuxième spectre généré par le système d’analyse optique selon l’invention. FIG. 9 : un schéma d’un dispositif d’analyse selon une septième variante de l’invention. FIG. 10 : un schéma d’une fibre optique comportant une bifurcation selon un mode de réalisation de l’invention. Description de l’invention Les figures 1 à 6 représentent des modes de réalisation d’un système optique d’analyse 10 selon l’invention. Le système optique 10 selon l’invention comporte au moins une première source lumineuse 20. Par première source lumineuse 20 on entend tout dispositif qui est adapté pour produire un premier flux lumineux. Une telle première source lumineuse 20 peut par exemple être une diode électroluminescente (souvent désignée par les acronymes LED ou DEL). Selon un mode de réalisation, la première source lumineuse 20 est une lampe à incandescence. Selon un mode de réalisation, la première source lumineuse 20 est une lampe halogène. Selon un mode de réalisation, la première source lumineuse 20 est une lampe au néon. Selon un mode de réalisation, la première source lumineuse est un tube fluorescent. Selon un mode de réalisation, la première source lumineuse 20 est une lampe fluorescente ou lampe fluocompacte. La première source lumineuse est configurée pour émettre le premier flux lumineux dans le domaine des longueurs d’onde visibles. Selon un mode de réalisation, la première source lumineuse 20 est configurée pour émettre le premier flux lumineux dans le domaine des longueurs d’onde ultra-violet. Selon un mode de réalisation, la première source de lumière 20 est configurée pour émettre le premier flux lumineux dans le domaine des longueurs d’onde infrarouges. Selon un mode de réalisation, la première source de lumière 20 est configurée pour émettre un premier flux lumineux dans le domaine des longueurs d’onde infrarouges, visibles et ultraviolettes. Le système optique 10 comporte au moins une lame dichroïque 40. Par lame dichroïque 40, on entend un composant optique ayant des propriétés de réflexion et de transmission d’un flux lumineux qui dépendent fortement de la longueur d’onde du flux lumineux en question. En d’autres termes, la lame dichroïque 40 agit comme un filtre pour un flux lumineux incident, transmettant une partie de ce flux et réfléchissant une autre partie de celui-ci, en fonction des longueurs d’onde composant ledit flux. Le système optique 10 comprend au moins une lentille 50. Par lentille 50 on entend un dispositif conçu pour faire converger ou diverger les rayons lumineux le traversant. Selon un mode de réalisation, le système 10 comporte au moins deux lentilles 50 formant un doublet de lentilles 50. Le système optique 10 comprend au moins une fibre optique 60. Par fibre optique 60, on entend un filament conducteur de lumière. La fibre optique 60 est apte à transmettre un flux lumineux d’une entrée 64 à une sortie de celle-ci. Le système optique d’analyse 10 comprend au moins un spectromètre optique 70 qui est relié à la fibre optique 60. Par spectromètre optique on entend un appareil qui est apte à générer un spectre d’un rayonnement lumineux qu’il analyse. Dans le système optique d’analyse 10, la première source lumineuse 20 émet le premier flux lumineux. Le premier flux lumineux passe ensuite par la lentille 50, ou par les lentilles 50. Les lentilles 50 permettent avantageusement une focalisation du flux dans un plan focal dans lequel est situé une zone cible Z C d’une surface d’un matériau 80. Suite à son exposition au premier flux lumineux, un deuxième flux lumineux quitte la zone cible Z C selon une direction sensiblement opposée à la direction du premier flux lumineux. Le deuxième flux lumineux est issu de la réflexion du premier flux sur la zone cible Z C de la surface du matériau 80 et/ou de la fluorescence du matériau 80 suite à son exposition au premier flux lumineux. De cette manière, le deuxième flux lumineux comprend une composition spectrale qui est caractéristique du matériau de la zone cible Z C . Le deuxième flux traverse ensuite la lentille 50 ou les lentilles 50. Les lentilles permettent avantageusement la focalisation du deuxième flux lumineux au niveau d’une entrée 64 de la fibre optique 60. La fibre optique 60 transmet ainsi le deuxième flux lumineux au spectromètre pour l’analyse dudit deuxième flux lumineux. La lame dichroïque 40 est agencée pour sur le trajet du premier flux lumineux et/ou sur le trajet du deuxième flux lumineux. En d’autres termes, le premier flux lumineux passera ou sera réfléchi par la lame dichroïque 40 et/ou le deuxième flux lumineux passera et/ou sera réfléchi par la lame dichroïque 40. La lame dichroïque est choisie pour laisser passer au moins une première partie spectrale du premier et pour réfléchir une deuxième partie spectrale du deuxième flux. L’avantage de l’utilisation de la lame dichroïque 40 est de permettre de séparer le premier ou le deuxième flux afin de filtrer la partie de ces flux lumineux qui nous intéresse pour l’analyse par spectroscopie. Par exemple, dans le cas d’un pointé de fluorescence, il peut être utile de filtrer le deuxième flux lumineux entrant dans la fibre optique 60 pour ne garder que la partie du flux qui est comprise dans les longueurs d’onde visibles. De cette manière, la mesure par le spectromètre n’est pas polluée par le premier flux lumineux qui est dans les longueurs d’onde ultra-violettes ou par de la réflexion du premier flux sur la zone cible Z C . Le système optique d’analyse 10 comprend au moins une caméra 30. La caméra est placée afin de pouvoir capturer une image de la zone de test 80. L’image prise par la caméra comprend donc également la zone cible Z C qui est dans la zone de test 80. Cette image de la zone de test 80 permet avantageusement une contextualisation de la mesure effectuée par pointé sur le point de la zone cible Z C . La caméra 30 détecte une position de la zone cible Z C sur laquelle le premier flux lumineux est dirigé. Le système optique d’analyse 10 selon l’invention permet donc avantageusement de prendre réaliser une mesure, notamment dans le but de détecter des substances et matériaux au niveau de la zone cible Z C d’une zone de test 80 d’un matériau. Cette mesure est effectuée par pointé. De plus, l’invention permet une contextualisation de cette mesure de par l’image qui est prise de la zone de test 80. De cette manière, il est possible pour un utilisateur de connaître précisément le lieu sur la zone de test 80 où a été effectué le pointé, et donc à connaître la localisation d’une substance qui aurait été détectée par le pointé. Configurations du système Nous nous appuierons ici sur les figures 1 à 6 qui présentent plusieurs variantes de l’invention présentant toutes des configurations différentes du système optique d’analyse 10 selon l’invention. Selon un mode de réalisation, la première source lumineuse 20 émet le premier flux lumineux en direction de la lame dichroïque 40. La lame dichroïque réfléchit le premier flux lumineux en direction de la zone de test 80. Selon un mode de réalisation, le deuxième flux lumineux traverse la lame dichroïque 40. Selon ce mode de réalisation, la lame dichroïque filtre selon la fréquence le deuxième flux lumineux. Ainsi, une partie fréquentielle du deuxième flux lumineux est réfléchie par la lame dichroïque 40. L’autre partie fréquentielle du deuxième flux traverse la lame dichroïque pour atteindre une entrée 64 de la fibre optique 60. Cette disposition permet une filtration du deuxième flux lumineux afin de garder des longueurs d’onde d’intérêt pour l’analyse par le spectromètre 70. Selon un mode de réalisation, le dispositif optique d’analyse 10 comporte au moins deux lentilles 50. Les deux lentilles 50 forment un doublet de lentilles permettant avantageusement une focalisation du premier flux lumineux au niveau de la zone de test 80. Avantageusement, le premier flux lumineux est focalisé au niveau de la zone cible Z C de la zone de test 80. Ainsi, la zone qui est exposée au premier flux lumineux est une zone qui est de préférence de faible surface. Cette disposition permet d’obtenir le spectre correspondant à une zone de faible surface du matériau testé, et donc d’avoir une localisation précise des résultats obtenus. Selon un mode de réalisation, le deuxième flux lumineux est focalisé au niveau d’une entrée 64 de la fibre optique 60. Cette disposition permet avantageusement une concentration de tout le rayonnement lumineux issu de la zone cible Z C dans la fibre optique. Cette disposition permet d’obtenir une intensité lumineuse du deuxième flux lumineux suffisamment grande pour permettre une analyse du deuxième flux lumineux par le spectromètre 70. Selon un mode de réalisation, le système optique d’analyse 10 comporte un axe optique principal 100. L’entrée 64 de la fibre optique 60 est alignée avec l’axe optique principal 100. Selon un mode de réalisation, la première source lumineuse 20 est déportée par rapport à l’axe optique principal 100 du système 10. Selon ce mode de réalisation, la lame dichroïque 40 est inclinée par rapport à l’axe optique principal 100. Ainsi, le premier flux lumineux émis par la première source lumineuse 20 est réfléchi par la lame dichroïque 40 qui réoriente le premier flux lumineux de manière parallèle ou sensiblement parallèle à l’axe optique principal 100 du système optique d’analyse 10. Selon un mode de réalisation, le premier flux lumineux est émis par la première source lumineuse 20 de manière perpendiculaire ou sensiblement perpendiculaire à l’axe optique principal 100 du système 10. Selon un mode de réalisation, la lame dichroïque est orientée de manière oblique par rapport à l’axe optique principal 100 du système 10. Selon un mode de réalisation, un plan principal de la lame dichroïque 40 forme un angle d’environ 45 degrés avec l’axe optique principal 100 du système 10. Selon la variante de la FIG. 1 , la première source lumineuse 20 émet le premier flux lumineux. Ce premier flux lumineux est émis de manière sensiblement perpendiculaire à l’axe optique principal 100 du système optique d’analyse 10. Le premier flux lumineux est ensuite réfléchi par la lame dichroïque 40 en direction des lentilles 50 et de la zone de test 80. Le premier flux lumineux est dès lors orienté selon une direction sensiblement parallèle à l’axe optique principal 100 du dispositif optique 10. Cette disposition permet avantageusement de ne pas perturber la mesure du spectre par le spectromètre. En effet, l’entrée 64 de la fibre optique 60 est isolée de la première source lumineuse 20 par la lame dichroïque 40 qui empêche au moins une partie fréquentielle du premier flux lumineux de l’atteindre. Le premier flux lumineux passe ensuite par le doublet de lentilles 50. Ce doublet de lentilles 50 permet avantageusement de focaliser le premier flux lumineux en une zone cible Z C précise de la zone de test 80. Lorsque la mesure est une mesure de réflectance, cela permet d’augmenter l’intensité lumineuse au niveau de la zone cible Z C et donc d’augmenter l’intensité du deuxième flux lumineux qui est issu de la réflexion du premier flux lumineux sur la zone cible Z C . Lorsque la mesure est effectuée en fluorescence, cela permet d’augmenter l’intensité lumineuse au niveau de la zone cible Z C et donc d’augmenter l’intensité du deuxième flux lumineux qui est issu de la fluorescence du matériau de la zone cible Z C dû à l’excitation par le premier flux lumineux. Le deuxième flux lumineux passe ensuite par les lentilles 50. Il traverse ensuite la lame dichroïque 40 qui va filtrer le deuxième flux en fonction de la fréquence de celui-ci. De cette manière, les longueurs d’onde d’intérêt pour l’analyse par le spectromètre sont gardées, et les autres longueurs d’onde sont filtrées. Cette disposition permet notamment de réaliser des pointés dans des conditions ambiantes lumineuses, notamment lorsque la zone de test 80 est éclairée. La FIG. 2 présente une deuxième variante de l’invention. Selon un mode de réalisation, la première source lumineuse 20 est alignée le long de l’axe optique principal 100 du dispositif 10. Selon un mode de réalisation, la lame dichroïque 40 est perpendiculaire ou sensiblement perpendiculaire à l’axe optique principal 100 du système optique 10. Selon un mode de réalisation, l’entrée 64 de la fibre optique 60 est alignée ou sensiblement alignée avec l’axe optique principal 100 du dispositif optique 10. Selon un mode de réalisation, le premier flux lumineux est émis par la première source lumineuse le long de l’axe optique du principal du système optique 10. Le premier flux lumineux travers ensuite la lame dichroïque 40. La lame dichroïque 40 est sélectionnée pour laisser passer le premier flux lumineux. En d’autres termes, elle est transparente au moins en partie aux longueurs d’onde du premier flux lumineux. Le premier flux passe ensuite par la ou les lentilles 50. Le premier flux atteint ensuite la zone cible Z C de la zone de test 80. Le deuxième flux lumineux issu de la réflexion du premier flux par la zone cible Z C ou par la fluorescence de ladite zone cible Z C suite à l’excitation de celle-ci par le premier flux lumineux. Le deuxième flux lumineux traverse ensuite la ou les lentilles 50. Le deuxième flux est ensuite réfléchi par la lame dichroïque 40. Avantageusement, la lame dichroïque 40 est sélectionnée pour réfléchir des longueurs d’onde d’intérêt du deuxième flux lumineux. Par longueurs d’onde d’intérêt, on entend des longueurs d’onde qui permettent de mettre en évidence la présence de substances particulières au niveau de la zone cible par analyse de leur spectre. Le deuxième flux lumineux réfléchi atteint ensuite l’entrée 64 de la fibre optique 60. La fibre optique 60 canalise le deuxième flux lumineux vers le spectromètre 70. Selon un mode de réalisation, le système optique 95 comporte au moins un masque 95. Par masque 95, on entend une pièce opaque permettant d’occulter une partie du premier flux lumineux issue de la première source lumineuse 20. L’utilisation du masque 95 est particulièrement avantageuse, surtout lorsque la première source lumineuse émet le premier flux lumineux en direction de l’entrée 64 de la fibre optique 60. De cette manière, le masque 95 permet d’occulter l’entrée 64 de la fibre optique 60 pour empêcher le premier flux lumineux de pénétrer directement dans la fibre optique 60. De cette manière, le premier flux lumineux ne perturbe pas la mesure de spectre du deuxième flux lumineux par le spectromètre 70. Un exemple d’utilisation du masque 95 est visible en FIG. 2 qui présente la deuxième variante de l’invention. Un masque 95 est également utilisé dans les variantes de l’invention présentées en figures 3, 4, 5 et 6. Dans la variante de la FIG. 2 , le masque 95 est placé entre la première source lumineuse 20 et la lame dichroïque 40. De cette manière, le masque 95 est placé au plus près de la première source lumineuse 20. La FIG. 3 présente une troisième variante de l’invention. Selon un mode de réalisation, la première source lumineuse 20 est agencée sur l’axe optique principal 100 du système 10. La première source lumineuse 20 est agencée pour émettre le premier flux lumineux selon une direction parallèle ou sensiblement parallèle à l’axe optique principal 100. Selon un mode de réalisation, le premier flux lumineux est émis dans un sens opposé à la zone de test 80. Le premier flux lumineux est émis en direction de la lame dichroïque 40. Le premier flux lumineux est ensuite réfléchi en direction de la ou les lentilles 50 et de la zone de test 80. La ou les lentilles 50 permettent la focalisation du premier flux lumineux au niveau de la zone cible Z C de la zone de test 80. Le deuxième flux lumineux issu de la zone cible Z C passe ensuite par la ou les lentilles 50. Le deuxième flux traverse ensuite la lame dichroïque 40. La lame dichroïque 40 est configurée pour filtrer des longueurs d’onde d’intérêt du deuxième flux lumineux. Le deuxième flux lumineux parvient ensuite à l’entrée 64 de la fibre optique 60 pour être acheminé vers le spectromètre 70. La FIG. 4 présente une quatrième variante de l’invention. Selon un mode de réalisation, la première source lumineuse 20 est agencée entre la ou les lentilles 50 et la zone cible Z C de la zone de test 80. Selon ce mode de réalisation, le premier flux lumineux est émis en direction de la lame dichroïque 40. Le premier flux traverse la ou les lentilles 50 avant d’atteindre la lame dichroïque 40. La lame dichroïque 40 réfléchit le premier flux lumineux en direction de la zone de test 80. Le premier flux traverse à nouveau la ou les lentilles 50. Le premier flux atteint ensuite la zone cible Z C . Le deuxième flux issu de la zone cible Z C traverse ensuite la ou les lentilles 50 avant de traverser la lame dichroïque 40 et atteindre l’entrée 64 de la fibre optique 60. Selon un mode de réalisation, le masque 95 est fixé directement sur la lame dichroïque 40. Le masque 95 obstrue une partie du premier flux lumineux qui n’est pas réfléchi par la lame dichroïque 40. De cette manière, l’entrée 64 de la fibre optique 60 est protégée du premier flux lumineux. Cette disposition permet de limiter les perturbations dans la mesure du spectre du deuxième flux lumineux. Le FIG. 5 présente une cinquième variante de l’invention. Selon un mode de réalisation, l’entrée 64 de la fibre optique 60 est située entre la ou les lentilles 50 et la zone cible Z C le long de l’axe optique principal 100. L’entrée 64 de la fibre optique 60 est de préférence orientée en direction de la lentille 50 et de la lame dichroïque 40. Selon un mode de réalisation, la première source lumineuse 20 est située à une extrémité du système optique 10, à l’opposé de la zone cible Z C . Selon un mode de réalisation, le premier flux lumineux émis par la première source lumineuse traverse la lame dichroïque 40, les lentilles 50 avant d’atteindre la zone cible Z C . Le deuxième flux lumineux issu de la zone cible Z C travers les lentilles 50 avant d’être, au moins en partie, réfléchi par la lame dichroïque 40. Ensuite, le deuxième flux lumineux traverse à nouveau les lentilles 50 avant d’atteindre l’entrée 64 de la fibre optique 60. Selon un mode de réalisation, la lame dichroïque comprend le masque 95. Le masque 95 est avantageusement placé en regard de la première source lumineuse 20. Selon un mode de réalisation, le masque 95 est aligné avec la première source lumineuse et l’entrée 64 de la fibre optique 60. Cette disposition permet de masquer la fibre optique de la première source lumineuse 20. La FIG. 6 présente une sixième variante du système optique d’analyse 10 selon l’invention. Selon un mode de réalisation, le système optique d’analyse 10 comprend au moins deux sources lumineuses, la première source lumineuse 20 et une deuxième source lumineuse 22. Avantageusement, la première source lumineuse 20 est une source infrarouge et la deuxième source lumineuse 22 est une source ultraviolette. Cette disposition est particulièrement avantageuse car elle permet de réaliser successivement ou simultanément un pointé spectral de fluorescence de la zone cible Z C et un pointé spectral de réflectance sur la zone cible Z C . Alternativement, la première source lumineuse 20 est une source ultraviolette et la deuxième source lumineuse 22 est une source infrarouge. Selon un mode de réalisation, au moins la première source lumineuse 20 et/ou la deuxième source lumineuse 22 émettent de la lumière dans les longueurs d’onde visibles. Selon un mode de réalisation, la deuxième source lumineuse 22 émet un troisième flux lumineux. Le troisième flux lumineux atteint la zone cible Z C de la zone de test 80. Selon un mode de réalisation, le troisième flux lumineux est un flux lumineux comportant une composante dans les longueurs d’onde ultraviolettes. Selon ce mode de réalisation, le troisième flux lumineux atteint la zone cible Z C afin d’entrainer un phénomène de fluorescence de la zone cible Z C . De la sorte, un quatrième flux lumineux est généré par la zone cible Z C . Le quatrième flux suit avantageusement le même chemin optique que le deuxième flux lumineux. Ainsi, le quatrième flux lumineux atteint l’entrée 64 de la fibre optique 60 puis le spectromètre 70. Selon un mode de réalisation, le système optique d’analyse comporte au moins deux lames dichroïques 40. Cette disposition est particulièrement avantageuse dans le cas où le système comporte deux sources lumineuses 20, 22, plus particulièrement quand chacune émet un flux lumineux dans des gammes de longueurs d’onde différente. Selon un mode de réalisation, au moins une des lames dichroïques est inclinée par rapport à l’axe optique principal 100 du système optique 10. Selon un mode de réalisation, la deuxième source lumineuse 22 est déportée par rapport à l’axe optique principal 100 du système 10. Selon un mode de réalisation, la deuxième source lumineuse 22 émet un flux lumineux. Le flux lumineux est de préférence émis perpendiculairement ou sensiblement perpendiculairement à l’axe optique principal 100 du système optique 10. Selon un mode de réalisation, la deuxième lame dichroïque est orientée de sorte à former un angle d’environ 45 degrés avec l’axe optique principal 100 du système optique 10. De cette manière, la deuxième source lumineuse émet le flux lumineux en direction de la deuxième lame dichroïque 40. La deuxième lame dichroïque réfléchit le flux lumineux en direction de la ou les lentilles 50. Le flux lumineux traverse la ou les lentilles 50 et atteint la zone cible Z C de la zone de test 80. L’exposition de la zone cible Z C au flux lumineux génère un deuxième flux lumineux issu de la réflexion du flux lumineux sur la zone cible Z C ou de la fluorescence de la zone cible Z C induite par le flux lumineux. De cette manière, un deuxième pointé spectral peut être effectué conjointement ou additionnellement au premier pointé suite à l’exposition lumineuse due au flux lumineux de la première source lumineuse. Par exemple, une mesure par pointé spectral en fluorescence peut être réalisée par l’exposition par la première source lumineuse 20 et un pointé en réflectance peut être réalisée par l’exposition par la deuxième source lumineuse 22. Selon un mode de réalisation, les caractéristiques de transmittance et de réflectance des lames dichroïques 40 sont sélectionnées pour permettre le type de mesure souhaité en fonction des mesures à effectuer. Selon un exemple, la première source lumineuse 20 est une source émettant de la lumière dans le domaine des ultraviolets et la deuxième source lumineuse est une source émettant du rayonnement dans le domaine des infrarouges. Selon cet exemple, la lame dichroïque 40 qui est en regard de la première source lumineuse 20 est configurée pour transmettre la lumière ultraviolette et pour réfléchir les ondes visibles. Selon ce même exemple, la lame dichroïque 40 qui est en regard de la deuxième source de lumière (celle qui est orientée en biais par rapport à l’axe optique 100 du système 10 sur la FIG. 6 ) est configurée pour réfléchir les ondes infrarouges et pour transmettre la lumière visible. Cette configuration permet la transmission des flux lumineux vers la zone cible Z C et la transmission du deuxième flux lumineux (notamment sa composante dans le visible) par réflexion sur la lame dichroïque 40 qui est perpendiculaire à l’axe optique 100 vers l’entrée 64 de la fibre optique 60. Contextualisation Le système optique d’analyse 10 comprend au moins une caméra 30. La caméra 30 est orientée de manière à pouvoir capturer une image de la zone de test 80. La prise de l’image de la zone de test 80 est particulièrement avantageuse car elle permet pour un utilisateur du système optique 10 de contextualiser le spectre obtenu par le système optique 10. Selon un mode de réalisation, la caméra 30 est configurée pour permettre une détection de la zone cible Z C sur l’image prise de la zone de test 80. Selon un mode de réalisation, la détection de la zone cible Z C est effectuée en détectant l’éclairage de la zone cible Z C par le premier flux lumineux. La détection de la zone cible Z C sur l’image est particulièrement avantageuse car elle permet d’améliorer la contextualisation des mesures. En effet, la zone cible Z C est typiquement bien inférieure en surface à la zone de test 80. Ainsi une détection précise de la zone cible Z C permet avantageusement de savoir exactement le lieu sur la zone de test 80 où une substance particulière a été détectée sur le spectre. De cette manière, il est possible de cartographier la zone de test 80 en effectuant plusieurs pointés spectraux sur plusieurs zones cible Z C choisies par l’utilisateur. On obtient ainsi une cartographie précise de la zone de test associée à des spectres pour chaque zone cible qui a été sélectionnée. Selon un mode de réalisation, la caméra 30 est préférentiellement une caméra par imagerie de fluorescence, par imagerie multispectrale de réflectance ou une imagerie infrarouge. Selon un mode de réalisation, le système comprend une source lumineuse de pointage 26. La source lumineuse de pointage 26 permet avantageusement de fournir un éclairage sur la zone cible Z C . Cet éclairage permet une détection de la zone cible par la caméra 30 ou par un utilisateur. Selon un mode de réalisation, la source lumineuse de pointage 26 éclaire la zone cible Z C en formant un point lumineux sur celle-ci. Selon un exemple, la source lumineuse de pointage 26 est une source lumineuse rouge. Une couleur rouge de la source lumineuse de pointage permet une détection efficace de la zone cible Z C sur la zone de test 80. Selon un mode de réalisation, la fibre optique 60 comprend une bifurcation. Par bifurcation, on entend une séparation de la fibre optique 60 en deux brins. Selon un mode de réalisation, un premier brin de fibre optique 60 débouche sur le spectromètre 70. Selon un mode de réalisation, un deuxième brin de la fibre optique 60 débouche sur la source lumineuse de pointage 26. Ainsi, la source lumineuse de pointage 26 peut émettre un flux lumineux dans la fibre optique 60. Le flux lumineux émis par la source lumineuse de pointage 26 débouche par l’entrée 64 de la fibre optique 60. De cette manière, le flux lumineux émis par la source lumineuse de pointage 26 est projeté sur la zone cible Z C . Avantageusement, le flux lumineux issu de la source lumineuse de pointage 26 éclaire le « champ de vue » de la fibre optique 60. En d’autres termes, le flux lumineux issu de la source lumineuse de pointage 26 éclaire précisément la zone cible Z C pour permettre la détection de la localisation de la zone cible Z C . Un agencement de fibre optique 60 comportant une bifurcation est présenté en FIG. 10 . Selon un mode de réalisation, la source lumineuse de pointage 26 forme un pointeur sur la zone cible Z C . La formation d’un pointeur sur la zone cible Z C permet une détection aisée de la zone cible Z C sur la zone de test 80. Cette détection peut être effectuée à l’œil nu par un utilisateur du système 10. Cette détection peut aussi être effectuée sur l’image de la zone de test 80 prise par la caméra 30. Avantageusement, le pointeur sur la zone cible Z C est coloré. Selon un mode de réalisation, la source lumineuse de pointage 26 forme un pointeur de couleur rouge sur la zone cible. Selon un mode de réalisation, la source lumineuse de pointage est une source LED de couleur monochromatique. Cette disposition permet une détection plus aisée du pointeur sur la zone de test 80. Selon un mode de réalisation, la caméra 30 permet une détection du pointeur formé par la source lumineuse de pointage sur la zone cible Z C . Selon un mode de réalisation, une analyse de l’image de la zone de test 80 est effectuée pour détecter une position du pointeur sur l’image. Cette analyse de l’image permet avantageusement d’associer une position sur l’image avec une coordonnée spatiale du pointeur sur la zone de test 80. Calibration Selon un mode de réalisation, le système d’analyse optique 10 est apte à calculer la distance entre la zone de test 80, et plus particulièrement la zone cible Z C et le système 10. Cette disposition permet avantageusement un réglage des différentes lentilles, voire un déplacement d’une lentille 50 par rapport à l’autre pour modifier la distance focale de l’association des lentilles. Cela permet une focalisation des différents flux lumineux au niveau de la zone cible Z C et une focalisation du deuxième flux lumineux, du quatrième flux lumineux et/ou du cinquième flux lumineux à l’entrée 64 de la fibre optique 60. Selon un mode de réalisation, le système détecte au moins un point de la zone cible Z C sur l’image prise de la zone de test 80 par la caméra 30. Cette détection peut par exemple être effectuée de la manière décrite précédemment dans cette description. Avantageusement, la détection de la zone cible Z C est faite par détection de la zone illuminée par le premier flux lumineux issu de la première source lumineuse 20. Alternativement ou additionnellement, la détection de la zone cible Z C est effectuée en détectant la zone éclairée par la source lumineuse de pointage 26. Selon un mode de réalisation, la distance est calculée par triangulation. La caméra 30 et les différents éléments utilisés pour la projection du premier flux lumineux et/ou du troisième flux lumineux et/ou de projection du pointage sont fixes les uns par rapport aux autres. Ainsi, la position du pointeur et/ou du premier flux sur la zone cible Z C dans l’image capturée par la caméra 30 permet de déduire, géométriquement, la distance entre un point du système et la zone de test 80. En d’autres termes, pointeur formé par la source lumineuse de pointage ou la zone éclairée par le premier flux lumineux seront décalés sur l’image prise par la caméra 30 plus la distance entre le système 10 et la zone de test sera grande. La mesure de la distance entre le système et la zone de test est particulièrement avantageuse car elle permet de calibrer le système optique 10 en connaissant précisément sa distance avec la zone de test 80. Détection de singularités Selon un mode de réalisation, le système optique d’analyse 10 comprend au moins un calculateur. Par calculateur, on entend tout moyen apte à traiter des informations. Selon un mode de réalisation, l’image de la zone de test 80 capturée par la caméra 30 est numérisée. L’image numérisée de la zone de test 80 est transmise au calculateur. Selon un mode de réalisation, le calculateur analyse l’image numérisée et génère au moins une coordonnée correspondant à la position de la zone cible Z C sur la zone de test 80. Selon un mode de réalisation, la détection de la position de la zone cible Z C est effectuée par une recherche de contrastes sur l’image de la zone de test 80. En d’autres termes, cette recherche de contraste permet de détecter une zone plus éclairée que le reste de la zone de test 80 qui correspond à la zone cible Z C éclairée par le pointeur. Selon un mode de réalisation, le spectromètre 70 est configuré pour numériser un spectre du flux lumineux reçu par la fibre optique 60. Le spectre ainsi numérisé peut être enregistré sur une mémoire physique du système optique 10. Selon un mode de réalisation, le spectre numérisé est envoyé à un serveur distant. Selon un mode de réalisation, le calculateur est configuré pour générer au moins un descripteur du spectre du deuxième flux lumineux. Selon un exemple, le descripteur du spectre est au moins une valeur de longueur d’onde d’un pic du spectre. Un tel exemple est visible en FIG. 7 , qui représente un spectre généré par le spectromètre 70. La courbe 110 est le spectre. Le graphe comporte en abscisse des valeurs de longueur d’onde et en ordonnée des valeurs d’intensité lumineuse. La courbe du spectre comporte un pic 112. Le pic 112 du spectre est caractéristique de la présence d’une substance particulière au niveau de la zone cible Z C . Selon un mode de réalisation, le calculateur compare la valeur de longueur d’onde du pic d’intensité avec une table d’équivalences. La table d’équivalence comporte des noms de matériaux ou de substances associés à des longueurs d’onde spécifiques. De cette manière, le calculateur peut retourner au moins un nom de substance présente au niveau de la zone cible Z C grâce à la valeur de longueur d’onde du pic. Selon un mode de réalisation, une largeur 114 du pic de longueur d’onde est mesurée sur le spectre par le calculateur. Selon un mode de réalisation, le descripteur du spectre est la valeur de longueur d’onde associée à un creux d’intensité lumineuse du spectre. Selon un mode de réalisation, la largeur spectrale du creux dans le spectre est le descripteur. Selon un mode de réalisation, le calculateur classifie le descripteur du spectre. La classification du descripteur est avantageusement mise en œuvre au moyen d’un algorithme d’apprentissage machine. Selon un mode de réalisation, l’algorithme d’apprentissage machine est entrainé à partir d’au moins un ensemble de données définissant d’une part des descripteurs et d’autre part des états de surfaces de matériaux, et/ou des types matériaux donnés, et/ou des présences de contaminants. Selon un mode de réalisation, l’algorithme d’apprentissage machine définit un réseau de neurones. Selon un mode de réalisation, le calculateur est configuré pour générer au moins deux spectres enregistrés par le spectromètre. Selon un mode de réalisation, au moins l’un des spectres est un spectre de réflectance et au moins l’un des spectres est un spectre de fluorescence. Avantageusement, lorsque le système 10 comporte plusieurs sources lumineuses, le système optique 10 peut générer simultanément des spectres de fluorescence et de réflectance de la zone cible Z C . Détection de zones d’intérêt Selon un mode de réalisation, la caméra est une caméra prenant des images en rouge vert et bleu. Ainsi, une valeur d’intensité de chaque couleur est associée à chaque pixel de l’image prise par la caméra. Selon un mode de réalisation, un pointé spectral de réflectance ou de fluorescence est effectué sur la zone cible Z C de la zone de test 80. Au moins un descripteur du spectre obtenu à la suite du pointé est extrait dudit spectre. Selon un exemple, le descripteur obtenu est une distribution de longueurs d’onde dudit spectre. Selon un exemple, le descripteur est une valeur de longueur d’onde associée à une forte intensité dans le spectre. Selon un exemple, le descripteur est une valeur de longueurs d’onde de faible intensité dans le spectre. Selon un mode de réalisation, le calculateur effectue une transformation du descripteur pour extraire au moins une valeur d’intensité rouge, verte ou bleu. Cette disposition permet de donner une équivalence entre la détection d’une substance particulière au niveau de la zone cible Z C par le pointé et l’image prise par la caméra. En d’autres termes, une similarité est effectuée entre le spectre par fluorescence et/ou réflectance de la zone cible Z C et les valeurs d’intensité de rouge, vert et bleu obtenues sur un pixel correspondant à la zone cible Z C de l’image prise par la caméra. Selon un exemple, un ratio de pixel d’une couleur donnée sur le spectre est calculé à partir du spectre obtenu. Ce ratio détermine avantageusement un critère de détection d’un point similaire à celui sur lequel a été fait le pointé. Selon un mode de réalisation, le calculateur détermine un ratio d’intensité entre les valeurs d’intensité de rouge, de bleu et de vert correspondant au point de la zone cible Z C . Selon un mode de réalisation, le calculateur effectue une recherche sur l’image prise par la caméra pour trouver des points sur la zone de test 80 qui comportant une similarité avec la zone cible Z C sur laquelle a été effectué le pointé. Selon un exemple, une fois le ratio d’intensité déterminé, une recherche est effectuée sur l’image de la zone de test 80 prise par la caméra. Cette recherche est effectuée pour chaque pixel de la zone de test 80. Les pixels de l’image comprenant un ratio identique ou proche de celui du ratio déterminé précédemment pour la zone cible Z C sont détectés sur l’image de la zone de test 80. Cette disposition permet avantageusement de détecter des points de la zone de test 80 qui présentent des similarités avec la zone cible Z C . En d’autres termes, cette disposition permet de détecter des points qui ont une forte probabilité de présence de la substance qui a été détectée au niveau de la zone cible Z C . Cette disposition permet donc avantageusement d’obtenir une carte des localisations sur la zone de test 80 susceptibles de présenter une substance donnée qui a été détectée par un pointé au niveau de la zone cible Z C . Avantageusement, cette carte permet de guider l’utilisateur lorsqu’il souhaite trouver tous les points où se trouve la substance donnée. Avantageusement, il peut ensuite effectuer des pointés spectraux sur les localisations de la zone de test 80 qui ont été détectées afin de confirmer la présence de la substance donnée, les pointés spectraux donnant plus de sécurité sur la détection de la substance donnée. Exemples d’application Nous allons maintenant décrire un exemple particulier d’application du système optique d’analyse 10 selon l’invention. Selon un exemple, le système optique 10 est utilisé pour une analyse d’une œuvre d’art. Dans cet exemple précis, l’œuvre d’art une œuvre graphique, telle une peinture sur toile, une bien fresque. Cependant, le système peut être utilisé sur tout type d’œuvre d’art, telles des sculptures par exemple. Dans cet exemple, la zone de test 80 comprend au moins une surface peinte. En d’autres termes, la zone de test 80 comprend au moins une partie de l’œuvre d’art. Dans un premier temps, un utilisateur place le système optique d’analyse 10 en face du tableau. L’utilisateur réalise ensuite un pointé sur la zone de test 80. Le pointé comprend une mesure d’un spectre de réflectance et/ou de fluorescence par le système optique 10. Le pointé est effectué sur la zone cible Z C qui est une zone appartenant à la zone de test 80, de préférence sur un point d’intérêt. Par point d’intérêt, on entend une localisation de la zone de test 80 comportant une dégradation, des traits sous-jacents et/ou une trace de restauration. Selon un mode de réalisation, une première image de la caméra est prise de la zone de test 80. La première image de la caméra est préférentiellement une image par imagerie de fluorescence, une imagerie multispectrale de réflectance ou une imagerie infrarouge. Cette première image permet de détecter des zones d’intérêt sur lesquelles effectuer un premier pointé spectral. Les zones d’intérêt comprennent de zones comportant une dégradation, des traits sous-jacents et/ou une trace de restauration. Ensuite, la mesure de pointé spectral va être effectuée sur les zones d’intérêts déterminées par l’imagerie. Cette disposition permet de sélectionner facilement les zones sur lesquelles effectuer des pointés spectraux, imagerie beaucoup plus qualitative mais nécessitant plus de temps, ce qui rend difficile de faire un grand nombre de mesures de pointé sur la zone de test 80. Selon un mode de réalisation, le spectre mesuré par pointé sur la zone cible Z C est utilisé pour obtenir un vecteur de similarité permettant une recherche de zones d’intérêt sur lesquelles effectuer un pointé spectral par la suite. Selon un mode de réalisation, le vecteur de similarité comprend au moins une valeur d’intensité, de préférence associée à une valeur de longueur d’onde. Selon un mode de réalisation, le vecteur de similarité comprend au moins un ratio de selon des bandes de longueurs d’onde correspondant au rouge, au bleu et au vert. Cette disposition permet de convertir une mesure effectuée par pointé valeurs correspondant à la prise d’image par la caméra. Ainsi, selon cette disposition, il est possible de rechercher dans l’image prise avec la caméra des similarités avec la mesure du spectre prise par pointé. De ce fait, une recherche de points d’intérêt dans l’image de la caméra est effectuée. De ce fait, l’utilisateur peut révéler toutes les localisations sur l’image de la zone de test 80 qui présentent une forte similitude de réponse optique avec la zone cible Z C . Ainsi, l’utilisateur peut localiser rapidement sur la zone de test 80 toutes les zones qui ont par exemple subi une restauration, une dégradation ou sur lesquelles un trait sous-jacent est présent. Selon un autre exemple, le même mode opératoire peut être utilisé en salle de fabrication pour détecter des contaminations sur un satellite en cours de fabrication. De la même manière, le système optique d’analyse 10 peut être utilisé dans une salle de fabrication de semi-conducteurs ou en salle blanche pour détecter des impuretés. Selon un autre exemple, le même mode opératoire est utilisé pour une assistance à la chirurgie. Selon ce mode de réalisation, les points d’intérêts sont définis par le chirurgien. Par exemple, la localisation de tissus tumoraux peut être recherchée par le système optique d’analyse 10. Ainsi, le chirurgien peut localiser sur tout un organe la présence desdits tissus tumoraux. Un intérêt particulier du système optique d’analyse 10 selon l’invention est qu’il permet d’effectuer des mesures non destructives sur la zone de test 80. De ce fait, un grand nombre d’applications peut être déterminé pour le système optique 10 selon l’invention. La FIG. 9 présente une autre variante de l’invention. Selon un mode de réalisation, le système optique d’analyse 10 comporte un boitier 140. Le boitier 140 comporte avantageusement l’ensemble des éléments du système optique d’analyse 10. Selon un mode de réalisation, le système optique d’analyse 10 comporte la première source lumineuse 20. La première source lumineuse est de préférence une source émettant le premier flux lumineux dans les longueurs d’onde ultraviolettes. La première source lumineuse 20 est déportée par rapport à l’axe optique principal 100. Par déportée, on entend que la première source lumineuse émet le premier flux lumineux selon une direction qui n’est pas parallèle ou confondue avec l’axe optique principal 100. Selon un mode de réalisation, la première source lumineuse 20 émet le premier flux de manière perpendiculaire à l’axe optique principal. Selon un mode de réalisation, la lame dichroïque 40 est inclinée par rapport à l’axe optique principal 100. Cette disposition permet de réfléchir le premier flux lumineux, la réflexion dudit le rendant aligné avec l’axe optique principal 100. La lame dichroïque 40 est sélectionnée pour réfléchir les rayonnements lumineux dans les longueurs d’onde ultraviolettes. La lame dichroïque 40 est sélectionnée pour transmettre les rayonnements lumineux dans les longueurs d’onde visibles et dans les longueurs d’onde infrarouges. Selon un mode de réalisation, le système optique 10 comporte au moins une optique 52. Par optique 52, on entend une association de plusieurs lentilles 50 formant un système optique. L’optique 52 comprend la ou les lentilles 50. L’optique 52 est située le long de l’axe optique principal 100. De cette manière, le premier flux lumineux traverse l’optique 52. Selon un mode de réalisation, l’optique 52 est pilotée. Le pilotage de l’optique comprend le déplacement d’au moins une lentille 50 le long d’un axe optique de l’optique 52. Dans le cas présent, le pilotage de l’optique 52 comprend le déplacement d’une lentille 50 le long de l’axe optique principal 100. Le pilotage de l’optique 52 permet de déplacer le plan focal de l’optique 52. De cette manière, le système est calibré pour permettre la focalisation du premier flux lumineux et/ou du deuxième flux lumineux au niveau de la zone cible Z C . Selon un mode de réalisation, le pilotage est manuel, effectué par l’utilisateur par exemple à l’aide d’une molette. Selon un mode de réalisation, le pilotage de l’optique 52 est électronique. Dans ce cas, il est effectué à l’aide d’au moins un moteur électrique actionnant le déplacement d’au moins une lentille 50. Selon un mode de réalisation, le pilotage électronique de l’optique 52 est commandé par l’utilisateur via une interface. Selon un mode de réalisation, le pilotage de l’optique est effectué par le calculateur. Selon un exemple, le calculateur pilote l’optique 52 en fonction de la distance qui a été calculée par triangulation à l’aide de la caméra 30, comme vu précédemment. Le premier flux lumineux traverse donc l’optique 52 avant d’atteindre la zone cible Z C . Le premier flux lumineux excite la zone cible Z C pour générer un phénomène de fluorescence donnant naissance à un deuxième flux lumineux. Le deuxième flux lumineux émis par la zone cible Z C traverse l’optique 52 puis la lame dichroïque 40. La lame dichroïque 40 ne réfléchit pas le deuxième flux lumineux car celui-ci est principalement composé de longueurs d’onde dans le domaine visible. Enfin, le deuxième flux lumineux atteint l’entrée 64 de la fibre optique 60 pour ensuite atteindre le spectromètre 70. Selon un mode de réalisation, la deuxième source lumineuse 22 est une source infrarouge. Cette deuxième source lumineuse émet le troisième flux lumineux dans le domaine des longueurs d’onde infrarouges. Préférentiellement, la deuxième source lumineuse émet le troisième flux lumineux le long de l’axe optique principal 100. Le troisième flux lumineux traverse la lame dichroïque 40 puis l’optique 52, avant d’atteindre la zone cible Z C . La réflexion du troisième flux lumineux sur la zone cible donne naissance à un quatrième flux lumineux. Le quatrième flux lumineux traverse ensuite l’optique 52, puis la lame dichroïque 40. Enfin, il atteint l’entrée 64 de la fibre optique 60 puis le spectromètre 70. Le système optique 10 comprend la caméra 30. La caméra 30 est orientée en direction de la zone de test 80. La caméra 30 est orientée de manière oblique par rapport à l’axe optique principal 100. De cette manière, la caméra peut pointer la zone cible Z C sans être située sur l’axe optique principal 10. Selon un mode de réalisation, le système optique 10 comprend une troisième source lumineuse 24. La troisième source lumineuse est avantageusement déportée par rapport à l’axe optique principal 100. La troisième source lumineuse 24 est agencée en regard d’une deuxième optique 5. La deuxième optique 54 comporte un agencement d’au moins deux lentilles qui est similaire à l’agencement de la première optique 52. La troisième source lumineuse émet un cinquième flux lumineux. Selon un mode de réalisation, la troisième source lumineuse émet le cinquième flux lumineux dans le domaine des longueurs d’onde infrarouges. Selon un mode de réalisation, la troisième source lumineuse émet le cinquième flux lumineux dans le domaine des longueurs d’onde visibles. La troisième source lumineuse 24 émet le cinquième flux lumineux en direction de la zone cible Z C . Avantageusement, le cinquième flux lumineux est réfléchi par la zone cible Z C pour créer un sixième flux lumineux. Le sixième flux lumineux traverse ensuite l’optique 52, la lame dichroïque 40 avant d’atteindre l’entrée 64 de la fibre optique 60. La fibre optique 60 achemine le sixième flux lumineux vers le spectromètre 70. Un agencement tel que présenté dans la variante de la FIG. 9 permet d’effectuer une pluralité de mesures de spectres. Le spectre issu du deuxième flux lumineux est acquis. Le spectre du quatrième flux lumineux est acquis. Le spectre du sixième flux lumineux est acquis. Ainsi, un tel agencement permet d’effectuer d’un coup une pluralité de mesures différentes, et ce avec un seul réglage ou une seule calibration du système. Selon un mode de réalisation, la première source lumineuse 20, la deuxième source lumineuse 22 et/ou la troisième source lumineuse 24 est une source LED. Dans le paragraphe suivant, nous désignerons indifféremment la première source lumineuse 20, la deuxième source lumineuse 22 et la troisième source lumineuse 24 sous le terme source lumineuse. Les caractéristiques suivantes sont toutes applicables à chacune des trois sources lumineuses, de manière additionnelle ou alternative. La source lumineuse est avantageusement pilotée en longueur d’onde. Le pilotage de la source lumineuse en longueur d’onde est effectué de préférence pour adapter la source lumineuse aux conditions extérieures. Le pilotage en longueur d’onde de la source lumineuse est aussi avantageusement effectué pour détecter des substances ou matériaux particuliers. Ainsi, il est possible de favoriser l’émission de certaines longueurs d’onde, car elles permettent de mettre plus efficacement une substance donnée. Selon un mode de réalisation, la source lumineuse est pilotée en amplitude. Le pilotage en amplitude permet d’adapter l’amplitude du premier flux lumineux, par exemple pour effectuer une mesure dans des conditions de lumière ambiante importante. Selon un mode de réalisation, le système 10 comporte un capteur de luminosité ambiante. Selon un mode de réalisation, le pilotage en intensité de la source lumineuse est effectué en fonction d’une donnée ou grandeur physique issue du capteur de luminosité ambiante. Selon un mode de réalisation, le calculateur pilote l’intensité de la source lumineuse en fonction de la donnée du capteur de luminosité ambiante. Selon un mode de réalisation, la source lumineuse comprend un ensemble de LED. Avantageusement, chaque LED est adaptée pour émettre de la lumière dans une plage de longueur d’onde donnée. Selon un mode de réalisation, chaque LED de l’ensemble de LED est agencée pour émettre de la lumière dans une plage de longueur d’onde représentant une partie de la plage de longueurs d’onde de la source lumineuse. Cette disposition permet de faciliter le pilotage en longueur d’onde de la source lumineuse, car il suffit de solliciter plus ou moins chaque LED correspond aux longueurs d’onde que l’on veut avoir dans le premier flux lumineux. Selon un mode de réalisation, le système optique d’analyse 10 comporte un support de trépied 120. Avantageusement, le support de trépied 120 permet de placer le système optique 10 sur un trépied. De cette manière, le système optique 10 peut être placé en regard de la zone de test 80 pour effectuer les mesures des spectres. Selon un mode de réalisation, le système 10 comprend au moins un écran ou afficheur. L’écran est configuré pour afficher au moins un spectre obtenu par le système optique 10. L’affichage du spectre obtenu par le spectromètre 70 permet à un utilisateur d’effectuer une analyse dudit spectre. Selon un mode de réalisation, au moins une représentation graphique d’un descripteur est générée. Selon un mode de réalisation, l’affichage comprend des curseurs. Selon un mode de réalisation, le système comprend au moins un moyen de contrôle, par exemple un potentiomètre, un écran tactile ou un bouton. Le moyen de contrôle permet avantageusement de déplacer un curseur sur l’écran. Selon un mode de réalisation, le curseur permet à l’utilisateur d’ajuster un seuil de détection de zones d’intérêt sur l’image prise par la caméra 30. Selon un mode de réalisation, le système optique d’analyse 10 comporte au moins un moyen de connexion à un système externe. Par moyen de connexion, on entend une interface de communication permettant la transmission d’informations à un système externe. Avantageusement, le moyen de connexion relie le calculateur au système externe. Le moyen de communication peut comprendre moyen de connexion filaire tel un connecteur USB, un moyen sans fil de connexion telle une connexion par ondes radio, une connexion WIFI, une connexion Bluetooth. Nomenclature : 10 : système optique d’analyse 20 : première source lumineuse 22 : deuxième source lumineuse 24 : troisième source lumineuse 26 : source lumineuse de pointage 30 : caméra 40 : lame dichroïque 50 : lentille 52 : optique 54 : deuxième optique 60 : fibre optique 62 : bifurcation de la fibre optique 64 : entrée de la fibre optique 70 : spectromètre 80 : zone de test Z C : zone cible 90 : support 95 : masque 100 : axe optique principal du système 110 : courbe du spectre 112 : pic d’intensité lumineuse 114 : largeur du pic de longueur d’onde 120 : support de trépied 130 : ports usb 140 : boitier Système optique d’analyse (10) caractérisé en ce qu’il comporte : Au moins une première source lumineuse (20), Au moins une lame dichroïque (40), Au moins une lentille (50), Au moins une fibre optique (60), Au moins un spectromètre (70) relié à la fibre optique (60), La première source lumineuse (20) étant configurée pour émettre un premier flux lumineux traversant au moins la lentille (50) pour exposer une zone cible d’une surface d’un matériau (80), ledit matériau étant agencé au sein d’une zone de test (80); La fibre optique (60) étant configurée pour recueillir au moins un deuxième flux lumineux et l’acheminer vers le spectromètre (70), ledit deuxième flux étant issu de la réflexion et/ou de la fluorescence d’un matériau de la zone de test (80) suite à l’exposition de ladite zone de test (80), le deuxième flux lumineux traversant la lentille (50), la lame dichroïque (40) étant configurée pour réfléchir au moins une partie spectrale du premier flux lumineux et/ou du deuxième flux lumineux ; le spectromètre étant configuré pour enregistrer un spectre caractéristique du deuxième flux lumineux provenant de ladite zone cible d’une surface d’un matériau (80) d’une scène éclairée par le premier flux ; Le système (10) comportant en outre au moins une caméra (30) configurée pour capturer au moins une image de la zone de test (80) et détecter une position de la zone cible d’une surface d’un matériau (80) de la scène éclairée par ledit faisceau définissant le premier flux. Système d’analyse optique (10) selon l’une quelconque des revendications précédentes caractérisé en ce qu’il comprend un calculateur pour générer au moins un descripteur du spectre enregistré par le spectromètre issu du second flux lumineux. Système d’analyse optique (10) selon la revendication précédente qui comporte au moins une source lumineuse de pointage (26) configurée pour éclairer la zone cible (Zc) pour former un pointeur lumineux sur ladite zone cible (Zc). Système d’analyse optique (10) selon la revendication précédente dans lequel la fibre optique (60) comporte une bifurcation (62) à partir de laquelle la fibre (60) comporte deux chemins optiques, un premier chemin optique liant la fibre au spectromètre (70), le deuxième chemin optique liant la fibre (60) à la source lumineuse de pointage (26), ladite source lumineuse de pointage (26) étant agencée pour émettre de la lumière dans ladite fibre (60), l’ensemble de la fibre optique (60) et de la source lumineuse de pointage (26) formant le pointeur lumineux sur la zone cible (Z C ). Système d’analyse optique (10) selon l’une quelconque des revendications 3 à 4 dans lequel la source lumineuse de pointage (26) est une source LED de couleur monochromatique. Système d’analyse optique (10) selon l’une quelconque des revendications précédentes qui comporte une deuxième source lumineuse (22), ladite deuxième source lumineuse (22) étant configurée pour émettre un troisième flux lumineux en direction de la zone cible (Zc), ladite lumière étant réfléchie par la zone de test et recueillie par la fibre optique (60) pour effectuer une mesure de réflectance. Système d’analyse optique (10) selon l’une quelconque des revendications précédentes qui lorsque le second flux lumineux est issu d’une fluorescence de la zone cible (Zc) par le premier flux lumineux, le système comporte une deuxième source lumineuse (22), ladite deuxième source lumineuse (22) étant configurée pour émettre un troisième flux lumineux en direction de la zone cible (Zc), ledit troisième flux lumineux étant choisi de sorte à générer un quatrième flux lumineux issu d’un phénomène de réflectance de ladite surface de matériau visé. Système d’analyse optique (10) selon l’une quelconque des revendications précédentes qui lorsque le second flux lumineux est issu d’une réflexion du premier flux lumineux, le système comporte une troisième source lumineuse, ladite troisième source lumineuse étant configurée pour émettre un cinquième flux lumineux en direction de la zone cible (Zc), ledit cinquième flux lumineux étant choisi de sorte à générer un sixième flux lumineux issu d’un phénomène de fluorescence de ladite surface de matériau visé. Système d’analyse optique (10) selon l’une quelconque des revendications 7 à 8 caractérisé en ce qu’il comprend un calculateur pour générer deux descripteurs de chacun des deux spectres enregistrés par le(s) spectromètre(s) issu d’une part du second flux lumineux et d’autre part du quatrième flux lumineux ou du sixième flux lumineux. Système d’analyse optique (10) selon la revendication précédente dans lequel la deuxième source lumineuse (22) et/ou la troisième source lumineuse (24) est déportée par rapport à un axe optique principal (100) du système (10). Système d’analyse optique (10) selon l’une quelconque des revendications précédentes qui est configuré pour calculer une distance entre un point dudit système (10) et la zone de test (80) par détection sur un image prise par ladite caméra (30) de la zone éclairée par la première source lumineuse et/ou par la source lumineuse de pointage (26) et par calcul de triangulation. Système d’analyse optique (10) selon l’une quelconque des revendications précédentes qui comporte au moins un axe optique, et dans lequel la première source lumineuse (20), une entrée (64) de la fibre optique (60) et la lentille (50) sont alignées le long de l’axe optique (100). Procédé d’analyse optique caractérisé en ce qu’il comporte les étapes de : Emission par au moins une première source lumineuse (20) d’un premier flux lumineux traversant ou étant réfléchi par une lame dichroïque (40) traversant au moins une lentille (50) pour exposer une zone de test (80) ; Emission par fluorescence suite à l’exposition de la zone de test (80) ou réflexion du premier flux lumineux par la zone de test (80) pour produire un deuxième flux lumineux traversant la lentille (50) et traversant ou étant réfléchi par la lame dichroïque, le deuxième flux lumineux étant ensuite recueilli par au moins une fibre optique (60) ; Acheminement par la fibre optique (60) du deuxième flux lumineux vers un spectromètre (70) ; et Prise d’une image de la zone de test (80) par une caméra (30). Procédé selon la revendication précédente dans lequel l’image de la zone cible (Zc) est associée à un spectre généré par le spectromètre (70), le procédé comportant une étape de détection d’une singularité de surface du matériau sur l’image de la zone de test (80) ainsi que sa position au sein de la surface. Procédé selon l’une des revendications 13 et 14 qui comprend une étape d’affichage sur un écran de l’image de la zone cible (Zc) et d’une représentation graphique du spectre généré par le spectromètre (70). Procédé selon l’une quelconque des revendications 13 à 15, caractérisé en ce qu’il comprend une étape de classification d’un descripteur de spectre calculé, ladite classification étant mise en œuvre au moyen d’un algorithme d’apprentissage machine entrainé à partir d’un ensemble de données définissant d’une part des descripteurs de spectre et d’autre part des états de surfaces caractéristiques d’un matériau ou d’un contaminant.