Brevet FR3158892A1 — publié le 20250808

La présente invention a pour objet un procédé d’irradiation sélective contrôlée d’une surface, pour permettre l’irradiation de cette surface en vue d’obtenir un effet cible, ce procédé étant mis en œuvre par un système comprenant un dispositif émetteur et un dispositif contrôleur, le dispositif émetteur comprenant une première source émettrice et au moins une deuxième source émettrice, configurées pour irradier la surface par des rayonnements énergétiques respectivement associés à des première et deuxième gammes de fréquence d’irradiation, le procédé comprenant une étape d’irradiation de la surface par les première et deuxième sources émettrices en vue d’obtenir l’effet cible, cette irradiation étant contrôlée par le dispositif contrôleur en vue d’une émission par la première source émettrice d’un rayonnement énergétique dans la gamme de fréquence d’irradiation associée à cette première source émettrice, pendant une durée prédéterminée, et en vue d’une émission par la deuxième source émettrice, de façon indépendante de la première source émettrice, d’un rayonnement énergétique dans la gamme de fréquence d’irradiation associée à cette deuxième source émettrice, pendant une durée prédéterminée. Figure pour l'abrégé : 1 [Fig.1] Procédé d’irradiation multi-fréquences contrôlée d’une surface, et système correspondant Domaine technique de l’invention La présente invention concerne le domaine général de l’irradiation de surfaces par rayonnements énergétiques. L’invention concerne plus particulièrement un procédé d’irradiation multi-fréquences contrôlée d’une surface, ainsi qu’un système configuré pour mettre en œuvre ce procédé. Arrière-plan technique Le principe général du procédé d’irradiation de surfaces par rayonnements énergétiques est basé sur l’émission de rayonnements énergétiques de tous types, tels que des rayonnements Gamma, Alpha, ultra-violet (UV) ou infra-rouges (IR), en direction d’une surface, dans le but d’obtenir un résultat prédéterminé au niveau de cette surface. La surface en question peut être par exemple une couche de matériau, et le résultat prédéterminé peut être la polymérisation de cette couche de matériau, notamment en vue de la solidifier. Une autre application pour un tel procédé d’irradiation peut être la désinfection et/ou la stérilisation d’une surface par irradiation, en éradiquant les germes ou les bactéries présents sur cette surface. D’autres applications peuvent également concerner les domaines de la cosmétologie, de l’esthétique, du médical et du paramédical. Il est connu en particulier des systèmes et procédés d’irradiation d’une surface, notamment adaptés au domaine de la fabrication additive, et configurés pour émettre au moins deux types d’énergie distincts, afin par exemple d’obtenir la polymérisation complète d’une couche de matériau irradiée. Ces systèmes et procédés multi-énergies peuvent également être utilisés dans le domaine de la désinfection de surfaces. Cependant, les systèmes d’irradiation multi-énergies actuellement mis en œuvre sont désavantageusement complexes et volumineux/encombrants. En effet, ils comprennent classiquement plusieurs dispositifs émetteurs d’énergie, chacun d’entre eux émettant une énergie à une fréquence particulière, chacune de ces fréquences étant nécessaire afin de garantir la mise en œuvre complète du procédé d’irradiation. Également, selon une configuration spécifique connue, ces systèmes configurés pour émettre au moins une énergie dans plusieurs fréquences implémente une telle irradiation d’énergie multi-fréquences par le biais d’émetteurs à large spectre utilisant une technologie de lampes arc Mercure. Or, ces lampes arc Mercure présentent de nombreux inconvénients. Leur fabrication est dangereuse, car elle implique l’utilisation du Mercure, qui est un composé toxique, présentant ainsi un impact négatif sur la santé des utilisateurs et sur l’environnement. De plus, l’indice de réparation de ces lampes est médiocre puisque leur réparation est impossible, et leur recyclabilité est très complexe et dangereuse. Un autre inconvénient de ces systèmes d’irradiation multi-énergies est que la durée de vie des lampes arc Mercure est courte et, leur efficacité lumineuse est faible. Ceci implique la mise en œuvre de nombreux dispositifs émetteurs/de nombreuses lampes dans un système d’irradiation, à l’image des systèmes d’irradiation multi-énergies encombrants présentés ci-avant, entraînant une consommation très élevée d’énergie, engendrant inévitablement des pertes énergétiques néfastes et couteuses. Un inconvénient additionnel des sources d’émission à large spectre est la corrélation quantitative imposée de chaque fréquence sans autre possibilité de variation que l’utilisation de filtres. Il existe donc un besoin de fournir un procédé d’irradiation multi-énergies permettant d’implémenter de façon contrôlée l’ensemble des étapes du procédé d’irradiation, impliquant plusieurs fréquences d’irradiation, de façon simplifiée, tout en garantissant une efficacité d’irradiation, c’est-à-dire permettant d’obtenir le résultat attendu au niveau de la surface irradiée, au moins équivalente à celle obtenue par la mise en œuvre de procédés d’irradiation multi-énergies connus. Il existe également un besoin de fournir un procédé présentant un impact positif sur l’environnement, de par l’utilisation d’une source émettrice en énergie plus verte, tout en réduisant ses coûts de mise en œuvre. Il existe également un besoin de dissocier le contrôle de fréquence de chaque fréquence émise. Dans ce but, l’invention propose un procédé d’irradiation multi-fréquences contrôlée d’une surface pour permettre l’irradiation de cette surface en vue d’obtenir un effet cible, ce procédé étant mis en œuvre par un système d’irradiation multi-fréquences contrôlée comprenant un dispositif émetteur et un dispositif contrôleur, le dispositif émetteur comprenant une première source émettrice comprenant au moins un élément émetteur, et au moins une deuxième source émettrice comprenant au moins un élément émetteur, les première et deuxième sources émettrices étant configurées pour irradier la surface par des rayonnements énergétiques respectivement associés à des première et deuxième gammes de fréquence d’irradiation, ce procédé comprenant les étapes suivantes : - entrée dans le dispositif contrôleur de premier et deuxième paramètres énergétiques prédéterminés respectivement associés à au moins deux fréquences d’irradiation permettant d’obtenir l’effet cible, ainsi que de paramètres temporels respectivement associés aux paramètres énergétiques prédéterminés et correspondant à des durées ; - irradiation de la surface par les première et deuxième sources émettrices en vue d’obtenir l’effet cible, cette irradiation étant contrôlée par le dispositif contrôleur en vue d’une émission par la première source émettrice d’un rayonnement énergétique à la fréquence d’irradiation associée au premier paramètre énergétique prédéterminé, dans la gamme de fréquence d’irradiation associée à la première source émettrice, pendant la durée associée au premier paramètre énergétique prédéterminé, et en vue d’une émission par la deuxième source émettrice, de façon indépendante de la première source émettrice, d’un rayonnement énergétique à la fréquence d’irradiation associée au deuxième paramètre énergétique prédéterminé, dans la gamme de fréquence d’irradiation associée à la deuxième source émettrice, pendant la durée associée au deuxième paramètre énergétique prédéterminé. Ainsi, le procédé selon l’invention permet d’irradier une surface par plusieurs fréquences d’irradiation distinctes, avec un contrôle de dose par gamme de fréquence, via l’utilisation d’un système comprenant un unique dispositif émetteur. Un tel système selon l’invention, et notamment un tel dispositif émetteur, est simple à mettre en œuvre, et son impact sur l’environnement et la santé des utilisateurs est beaucoup moins néfaste que les systèmes d’irradiation de l’art antérieur. En effet, en particulier lorsque ces systèmes antérieurs implémentent un spectre figé utilisant un émetteur incluant une lampe Mercure, nécessaire pour obtenir l’effet attendu (par exemple, pour polymériser de façon complète une surface), ils sont particulièrement polluants. En plus d’être énergivores, ces systèmes antérieurs à large spectre ne sont pas en adéquation avec les directives relatives à l’utilisation de Mercure : il est donc nécessaire d’obtenir une dérogation d’usage pour leur utilisation, car il n’existe actuellement aucune solution technologique disponible pour les remplacer. Une telle démarche est très peu pratique pour les utilisateurs. De plus, le contrôle indépendant des différentes sources émettrices du dispositif émetteur de l’invention, qui peuvent irradier de façon concomitante, permet avantageusement un gain d’énergie. En effet, le système d’irradiation dans son ensemble peut être activé sur une période moins longue si les différentes fréquences d’irradiation sont émises en même temps sur la surface. Par exemple, les technologies émettrices type LEDs ou Laser peuvent être utilisées pour le dispositif émetteur de l’invention, ces dernières un rendement énergie consommée versus rayonnement largement supérieure à la technologie lampe Mercure. Le système selon l’invention permet donc avantageusement de supprimer l’utilisation de telles lampes à Mercure, et de les remplacer par un unique dispositif émetteur équipé de plusieurs sources émettrices, chaque source étant associée à une gamme précise de fréquence d’irradiation. Il permet également, de façon plus générale, de supprimer la mise en œuvre, dans les systèmes d’irradiation multi-fréquences antérieurs, d’une multitude de dispositifs émetteurs, chacun étant associé à une fréquence précise. Par ailleurs, le système d’irradiation mis en œuvre dans l’invention permet une homogénéité de l’irradiation au niveau de la surface irradiée, car il est possible de répartir les éléments émetteurs de chaque source émettrice de façon homogène dans le dispositif émetteur, pour que chaque source émettrice couvre la totalité de la surface à irradier. Selon un mode de réalisation, le système d’irradiation multi-fréquences contrôlée comprend en outre un dispositif d’analyse, et le procédé d’irradiation multi-fréquences contrôlée comprend en outre les étapes suivantes : - entrée dans le dispositif contrôleur de l’effet cible à obtenir ; - analyse et enregistrement en temps réel par le dispositif d’analyse de l’effet réel au niveau de la surface irradiée ; - transmission au dispositif contrôleur, par le dispositif d’analyse, de l’effet réel analysé ; - contrôle en temps réel, par le dispositif contrôleur, des première et deuxième sources émettrices au cours du procédé d’irradiation, indépendamment l’une de l’autre, en prenant en compte l’effet réel reçu, l’effet réel reçu étant comparé à l’effet cible, de manière à ce que : A1- si l’effet cible est atteint par l’effet réel, l’émission de rayonnements énergétiques sur la surface est stoppée ; et A2- si l’effet cible n’est pas atteint par l’effet réel, la fréquence d’irradiation et/ou la durée des rayonnements énergétiques émis au niveau de la surface sont modulés en vue d’obtenir l’effet cible. Le procédé selon l’invention permet ainsi de contrôler l’irradiation en temps réel de la surface irradiée, en prenant en compte de façon théorique l’effet cible, qui doit théoriquement être obtenu par plusieurs fréquences d’irradiation prédéterminées, mais en prenant en compte également l’effet réel effectivement obtenu au niveau de cette surface. Ce procédé permet donc une irradiation optimisée, qui est contrôlée à la demande en fonction de ce qui est effectivement obtenu au niveau de la surface étudiée. Ainsi, et contrairement aux procédés d’irradiation de l’art antérieur, selon le procédé de l’invention, les paramètres énergétiques prédéterminés, qui servent de guide pour conduire le processus d’irradiation, ne sont pas nécessairement atteints lorsque cela n’est pas utile : en effet, ce procédé selon l’invention est capable de déterminer que l’irradiation peut être stoppée car l’effet cible est déjà obtenu, bien que les paramètres énergétiques de base rentrés dans le dispositif contrôleur ne soient pas atteints. A l’inverse, il peut être déterminé que l’irradiation effective de la surface doit continuer, bien que les paramètres prédéterminés soient déjà atteints, car l’effet attendu n’a pas permis d’être atteint sur la base de ces paramètres prédéterminés. La modulation des sources émettrices en temps réel, et en particulier l’arrêt de l’émission des rayonnements énergétiques dès qu’il est déterminé que l’effet cible est obtenu, permet avantageusement de réduire les pertes énergétiques et financières habituellement liées aux procédés d’irradiation classiques, puisque l’irradiation continue et inutile de la surface pour laquelle l’effet cible est déjà atteint est limitée, voir supprimée. Selon un mode de réalisation, les premier et deuxième paramètres énergétiques prédéterminés comprennent respectivement des seuils, et le procédé comprend les étapes additionnelles suivantes : - mesure et enregistrement en temps réel, par le dispositif d’analyse, de l’énergie réelle générée sur la surface par les rayonnements énergétiques ; - transmission de la mesure de l’énergie réelle au dispositif contrôleur ; - contrôle en temps réel des première et deuxième sources émettrices par le dispositif contrôleur au cours du procédé d’irradiation, en prenant en compte la mesure de l’énergie réelle, la mesure de l’énergie réelle étant comparée aux seuils, de manière à ce que : B1- si les seuils d’énergie ne sont pas atteints et l’effet cible n’est pas obtenu, l’émission de rayonnements énergétiques sur la surface continue, et la fréquence d’irradiation et/ou la durée des rayonnements énergétiques émis au niveau de la surface sont modulés en vue d’obtenir l’effet cible ; B2- si les seuils d’énergie sont atteints mais l’effet cible n’est pas obtenu, l’émission de rayonnements énergétiques sur la surface continue, et la fréquence d’irradiation et/ou la durée des rayonnements énergétiques émis au niveau de la surface sont modulés en vue d’obtenir l’effet cible ; B3- si les seuils d’énergie sont atteints et l’effet cible est obtenu, l’émission de rayonnements énergétiques sur la surface est stoppée ; B4- si les seuils d’énergie ne sont pas atteints mais l’effet cible est obtenu, l’émission de rayonnements énergétiques sur la surface est stoppée. Le procédé selon l’invention, en plus de prendre en compte l’effet réel obtenu au niveau de la surface irradiée, est capable de prendre en compte l’énergie réelle générée au niveau cette surface. Ce paramètre d’énergie réelle est un guide supplémentaire pour optimiser davantage le contrôle des différentes sources émettrices à la demande, pour obtenir l’effet cible attendu de la façon la plus efficace, rapide et précise possible. Selon un mode de réalisation, les première et deuxième sources émettrices comprennent chacune une pluralité d’éléments émetteurs, le dispositif contrôleur contrôlant chaque élément de la pluralité d’éléments émetteurs indépendamment les uns des autres. Selon un mode de réalisation le dispositif émetteur est une matrice, et les éléments émetteurs de la matrice sont des LED. L’utilisation de LEDs comme éléments émetteurs de différentes fréquences d’irradiation permet une très grande robustesse du système, lui assurant notamment plusieurs années de fonctionnement. Également, l’irradiance est optimisée de façon immédiate, car il n’est pas nécessaire de prévoir de temps de stabilisation pour ces LEDs. Par ailleurs, les LEDs sont des dispositifs faciles à intégrer au système de l’invention, simples à mettre en œuvre et à manipuler, et peu couteux. Selon un mode de réalisation, le dispositif contrôleur est une interface Homme-Machine. Une telle interface est facile à intégrer au système de l’invention, et simple à mettre en œuvre et à manipuler. Selon un mode de réalisation, les rayonnements énergétiques sont choisis parmi les radiations de lumière visible, infra-rouges, gamma, ultra-violettes, laser, les micro-ondes, les rayons X, les ondes sonores et le déploiement thermique convectif ou conductif. Le procédé selon l’invention peut ainsi avantageusement s’adapter à tout type d’irradiation, et peut, selon au moins un mode de réalisation, les combiner. Selon un mode de réalisation, lorsque le système comprend un dispositif d’analyse, celui-ci est choisi parmi un capteur d’image, par exemple une caméra, ou un capteur d’imagerie thermique et/ou radiatif associé à un module d’analyse d’image. Ainsi, le dispositif d’analyse mis en œuvre dans le procédé d’irradiation selon l’invention est capable tout à la fois de mesurer l’énergie réelle au niveau de la surface irradiée, voire l’énergie réelle au niveau des zones adjacentes à une zone cible spécifiquement irradiée au niveau de la surface, et d’analyser l’avancement/l’état de l’effet réel au niveau de surface/de la zone cible, tout en évitant de l’endommager. Il peut donc transmettre ces deux types de données au dispositif contrôleur, qui est alors apte à déterminer comment contrôler le dispositif émetteur pour atteindre les paramètres/seuils énergétiques prédéterminés et tout à la fois l’effet cible attendu. Selon un deuxième objet, l’invention propose un système d’irradiation multi-fréquences contrôlée d’une surface d’un produit, ce système mettant en œuvre le procédé d’irradiation multi-fréquences contrôlée tel que défini ci-avant, ce système comprenant : - un dispositif émetteur, comprenant : -- une première source émettrice, comprenant au moins un élément émetteur, la première source émettrice étant configurée pour irradier la surface par des rayonnements énergétiques associés à une première gamme de fréquence, et -- au moins une deuxième source émettrice, comprenant au moins un élément émetteur, la deuxième source émettrice étant configurée pour irradier la surface par des rayonnements énergétiques associés à une deuxième gamme de fréquence ; et - un dispositif contrôleur, configuré pour recevoir des premiers et deuxième paramètres énergétiques prédéterminés associés à au moins deux fréquences permettant d’obtenir un effet cible, ainsi que des paramètres temporels respectivement associés aux paramètres énergétiques prédéterminés et correspondant à des durées, le dispositif contrôleur étant configuré pour contrôler la première source émettrice en vue d’une émission d’un rayonnement énergétique à la fréquence associée au premier paramètre énergétique prédéterminé, pendant la durée associée au premier paramètre énergétique prédéterminé, et pour contrôler la deuxième source émettrice, indépendamment de la première source émettrice, en vue d’une émission d’un rayonnement énergétique à la fréquence associée au deuxième paramètre énergétique prédéterminé, pendant la durée associée au deuxième paramètre énergétique prédéterminé. Ce système présente au moins les mêmes avantages que ceux présentés en relation avec le procédé correspondant. Il correspond à une boucle fermée, qui est avantageusement entièrement traçable. Selon un mode de réalisation, ce système d’irradiation multi-fréquences contrôlée comprend en outre un dispositif d’analyse comprenant un moyen d’analyse et d’enregistrement configuré pour analyser le résultat réel obtenu au niveau de la surface et pour transmettre ce résultat réel au dispositif contrôleur. Selon un mode de réalisation, le dispositif d’analyse comprend en outre un moyen de mesure et d’enregistrement configuré pour mesurer l’énergie réelle générée sur la surface par les rayonnements énergétiques et pour transmettre l’énergie réelle au dispositif contrôleur. Brève description des figures D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaitront au cours de la lecture de la description détaillée qui va suivre, pour la compréhension de laquelle on se reportera au dessin annexé dans lequel : FIG. 1 – la FIG. 1 schématise le système d’irradiation multi-fréquences contrôlée selon l’invention ; FIG. 2 – la FIG. 2 schématise le système d’irradiation multi-fréquences contrôlée selon la FIG. 1 , comprenant en outre un dispositif d’analyse apte à analyser l’effet réel obtenu au niveau de la surface irradiée ; FIG. 3 – la FIG. 3 schématise le système d’irradiation multi-fréquences contrôlée selon la FIG. 3 , dans lequel le dispositif d’analyse est en outre apte à mesurer l’énergie réelle au niveau de la surface irradiée ; FIG. 4 – la FIG. 4 schématise une surface d’irradiation découpée en plusieurs zones, avec au moins une zone cible irradiée ; FIG. 5 – la FIG. 5 schématise le système d’irradiation multi-fréquences contrôlée selon la FIG. 3 , comprenant une surface d’irradiation selon la FIG. 4 , où seules les radiations de la première source émettrice sont représentées, dans lequel le dispositif d’analyse est en outre apte à mesurer l’énergie réelle collatérale d’au moins une zone adjacente à la zone cible irradiée. Description détaillée de l'invention Le procédé d’irradiation sélective contrôlée selon l’invention est mis en œuvre par un système d’irradiation tel qu’illustré à la FIG. 1 . Un tel système comprend un dispositif émetteur 11, pour irradier une surface S, qui communique avec un dispositif contrôleur 12. De façon générale, le dispositif contrôleur 12 contrôle le dispositif émetteur 11 en modulant les paramètres énergétiques des rayonnements énergétiques émis par celui-ci, qui sont d’au moins deux fréquences différentes, en prenant en compte les paramètres prédéterminés chargés dans ce dispositif contrôleur 12 (notamment, fréquences d’émission et durées d’émission nécessaires pour obtenir le résultat attendu au niveau de la surface irradiée). Dans le mode de réalisation de la FIG. 1 , le dispositif émetteur 11 comprend une pluralité de sources émettrices, qui sont regroupées par groupe, chaque groupe de sources émettrices étant aptes à émettre des rayonnements énergétiques dans une gamme de fréquence bien spécifique. Dans ce mode de réalisation, le dispositif émetteur 11 comprend deux groupes de sources émettrices S111 et S112. Le premier groupe S111 comprend une pluralité d’éléments émetteurs 111a, 111b, 111n, qui sont identiques et tous aptes à émettre dans la gamme de fréquence d’irradiation f111, et le deuxième groupe S112 comprend une pluralité d’éléments émetteurs 112a, 112b, 112n, qui sont identiques et tous aptes à émettre dans la gamme de fréquence d’irradiation f112, distincte de la gamme de fréquence f111. Il est entendu qu’il pourrait être prévu plus que deux sources émettrices au sein du dispositif émetteur 11. Selon un exemple, il peut être imaginé prévoir un premier groupe de sources émettrices aptes à émettre dans la gamme de fréquence 250-270 nm (correspondant aux ultraviolets A (UV-A)), un deuxième groupe de sources émettrices aptes à émettre dans la gamme de fréquence 340-370 nm (correspondant aux ultraviolets C (UV-C)), un troisième groupe de sources émettrices aptes à émettre dans la gamme de fréquence 380-410 nm (correspondant aux ultraviolets C 2 (UV-C2)), et enfin un quatrième groupe de sources émettrices aptes à émettre dans la gamme de fréquence 550-900 nm (correspondant aux infra-rouges (IR)). Selon le mode de réalisation illustré à la FIG. 1 , le dispositif émetteur 11 correspond à une matrice qui comprend une pluralité d’éléments émetteurs 111a, 111b, 111n, 112a, 112b, 112n, ces éléments émetteurs étant regroupés en deux sources émettrices 111 et 112. Chaque élément d’une source émettrice est identique aux autres éléments de cette source. Mais les éléments d’une source sont différents des éléments d’une autre source. Chaque source émettrice 111 et 112 peut être activée et contrôlée de façon indépendante de l’autre source. De plus, selon un mode de réalisation, chaque élément émetteur d’une source peut également être activé et contrôlé de façon indépendante des autres éléments de cette même source émettrice. Selon un exemple, ces éléments émetteurs 111a, 111b, 111n, 112a, 112b, 112n sont des LEDs. Dans ce mode de réalisation, le dispositif contrôleur 12 est chargé avec des paramètres énergétiques prédéterminés associées aux deux gammes de fréquences d’irradiation f111 et f112, ces paramètres énergétiques prédéterminés étant ceux permettant d’obtenir le résultat attendu au niveau de la surface S à irradier. Dans le cas de la FIG. 1 , le dispositif contrôleur 12 comprend donc le paramètre énergétique prédéterminé E-111x correspondant à la fréquence f111x que doit émettre la première source émettrice S111, et le paramètre énergétique prédéterminé E-112x correspondant à la fréquence f112x que doit émettre la deuxième source émettrice S112. Chacun de ces paramètres énergétiques prédéterminés est associé dans le dispositif contrôleur 12 à une durée, nécessaire pour à l’obtention du résultat final attendu sur la surface S. Le paramètre E-111x est donc associé à la durée T111x et le paramètre E-112x est donc associé à la durée T112x. Ainsi, pendant le procédé d’irradiation multi-fréquences contrôlée au niveau de la surface S, le dispositif contrôleur 12 contrôle la première source S111 pour qu’elle émette des rayonnements énergétiques R-111x, selon le paramètre énergétique prédéterminé E-111x, et pendant la durée T111x, et il contrôle la deuxième source S112 pour qu’elle émette des rayonnements énergétiques R-112x, selon le paramètre énergétique prédéterminé E-112x, et pendant la durée T112x. Le système 1 fonctionne donc comme une boucle fermée. Les deux sources émettrices S111 et S112 peuvent émettre des rayonnements de façon simultanée ou séquentielle. Également, chacun des éléments émetteurs constituant les deux sources émettrices S111 et S112 peuvent émettre de façon simultanée ou séquentielle. Dans un autre mode de réalisation, illustré à la FIG. 2 , le système 1, et plus particulièrement le dispositif contrôleur 12, peut prendre en compte l’effet réel obtenu en temps réel au niveau de la surface S irradiée, pour contrôler de façon plus précise le dispositif émetteur 11. Pour cela, le système 1 comprend en outre un dispositif d’analyse 13, qui comprend un module A configuré pour analyser et enregistrer l’effet réel OR au niveau de la surface S irradiée, soit au niveau des zones de cette surface S sur lesquelles sont émis les rayonnements R-111x associés à la première gamme de fréquence f111, soit au niveau des zones sur lesquelles sont émis les rayonnements R-112x associés à la deuxième gamme de fréquence f112, soit au niveau de l’ensemble de ces zones de la surface S. Selon un exemple particulier, le dispositif d’analyse 13 correspond à un capteur d’image, par exemple une caméra. Après avoir enregistré cet effet réel OR, le dispositif d’analyse 13 transmet cette donnée au dispositif contrôleur 12. Ce dernier a été chargé en amont avec les mêmes paramètres prédéterminés d’énergie E-111x, E-112x et de temps T111x, T112x que dans le premier mode de réalisation décrit ci-avant en relation avec la FIG. 1 , et a en plus été chargé avec l’effet cible O attendu pour la zone S irradiée. Il est alors apte à prendre en compte cette information pour contrôler de façon encore plus précise et optimale les différentes sources émettrices S111, S112 du système 1. Pour cela, il comprend des moyens de comparaison de l’effet cible O et de l’effet réel OR au niveau de la surface S, et en fonction des résultats de cette comparaison, il adapte son contrôle du dispositif émetteur 11. Ainsi, si le résultat de la comparaison effet cible O/effet réel OR correspond au fait que l’effet cible O est atteint par l’effet réel OR, le dispositif contrôleur 12 contrôle le dispositif émetteur 11 pour qu’il arrête l’émission des rayonnements énergétiques sur la surface S. Au contraire, si le résultat de cette comparaison effet cible O/effet réel OR correspond au fait que l’effet cible O n’est pas atteint par l’effet réel OR, le dispositif contrôleur 12 module la fréquence d’irradiation f111x, f112x et/ou la durée T111x, T112x des rayonnements énergétiques R-111x, R-112x émis par l’une et/ou l’autre des sources émettrices S111, S112, au niveau de la surface S, afin que l’effet cible O soit obtenu. Dans un autre mode de réalisation, illustré à la FIG. 3 , le système 1, et plus particulièrement le dispositif contrôleur 12, peut prendre également en compte l’énergie réelle générée au niveau de la surface S irradiée, pour optimiser davantage le contrôle du dispositif émetteur 11. Pour cela, le dispositif d’analyse 13 du système 1 comprend en outre un module M configuré pour mesurer et enregistrer l’énergie réelle G-111x, G-112x générée au niveau de la surface S irradiée, soit au niveau des zones de cette surface S sur lesquelles sont émis les rayonnements R-111x associés à la première gamme de fréquence f111, soit au niveau des zones sur lesquelles sont émis les rayonnements R-112x associés à la deuxième gamme de fréquence f112, soit au niveau de l’ensemble de ces zones de la surface S. Cette énergie réelle peut être par exemple la température. Selon un exemple particulier, le dispositif d’analyse 13 correspond à un capteur d’imagerie thermique, pour mesurer la température au niveau de la surface S irradiée, laquelle température correspond à l’énergie réelle au niveau de cette surface, et/ou un capteur radiatif, pour mesurer tout type de rayonnements énergétiques émis par le dispositif émetteur 11. Ces dispositifs peuvent également être associés à un module d’analyse d’image, telle qu’une caméra. Après avoir enregistré cette énergie réelle, le dispositif d’analyse 13 transmet cette donnée au dispositif contrôleur 12. Ce dernier, à l’image du mode de réalisation de la FIG. 2 , a été chargé en amont avec les paramètres prédéterminés d’énergie E-111x, E-112x et de temps T111x, T112x respectivement associés aux gammes de fréquence nécessaires pour obtenir le résultat attendu au niveau de la surface à irradier : dans ce cas, les paramètres d’énergie E-111x, E-112x comprennent, en outre les fréquences d’irradiation nécessaires, des seuils d’énergie S-111x, S-112x. Le dispositif contrôleur 12 a également été chargé avec l’effet cible O attendu pour la zone S irradiée. Il est donc apte à prendre en compte aussi bien l’effet réel OR que l’énergie réelle G-111x, G-112x de la surface irradiée pour contrôler avec une précision optimale les différentes sources émettrices S111, S112 du système 1. Pour cela, en plus des moyens de comparaison de l’effet cible O et de l’effet réel OR au niveau de la surface S, il comprend des moyens de comparaison des différents seuils énergétiques S-111x, S-112x avec l’énergie réelle G-111x, G-112x au niveau de la surface S, et en fonction des résultats de cette comparaison, il adapte son contrôle du dispositif émetteur 11. Ainsi, si le résultat de la comparaison effet cible O/effet réel OR et seuils énergétiques -111x, S-112x /énergie réelle G-111x, G-112x correspond au fait que les seuils d’énergie S-111x, S-112x ne sont pas atteints et l’effet cible O n’est pas obtenu, le dispositif contrôleur 12 module la fréquence d’irradiation f111x, f112x et/ou la durée T111x, T112x des rayonnements énergétiques R-111x, R-112x émis par l’une et/ou l’autre des sources émettrices S111, S112, au niveau de la surface S, afin que l’effet cible O soit obtenu. Si le résultat de cette comparaison correspond au fait que les seuils d’énergie S-111x, S-112x sont atteints mais l’effet cible O n’est pas obtenu, le dispositif contrôleur 12 module également la fréquence d’irradiation f111x, f112x et/ou la durée T111x, T112x des rayonnements énergétiques R-111x, R-112x émis par l’une et/ou l’autre des sources émettrices S111, S112, au niveau de la surface S, afin que l’effet cible O soit obtenu. Il peut notamment augmenter ces fréquences d’irradiation, et leur durée. Si le résultat de cette comparaison correspond au fait que les seuils d’énergie S-111x, S-112x sont atteints et l’effet cible O est obtenu, le dispositif contrôleur 12 contrôle le dispositif émetteur 11 pour qu’il arrête l’émission des rayonnements énergétiques sur la surface S. Et enfin, si le résultat de cette comparaison correspond au fait que les seuils d’énergie S-111x, S-112x ne sont pas atteints mais l’effet cible O est obtenu, le dispositif contrôleur 12 contrôle également le dispositif émetteur 11 pour qu’il arrête l’émission des rayonnements énergétiques sur la surface S, puisque les rayonnements R-111x, R-112x effectivement émis ont permis d’atteindre l’effet cible O (peu importe que les seuils d’énergie prédéterminés ne soient pas atteints). Le dispositif contrôleur 12 permet ainsi un gain énergétique avantageux, puisqu’il est capable d’arrêter l’irradiation de la surface S irradiée par le dispositif émetteur 11 lorsqu’il est déterminé que l’effet attendu est obtenu, indépendamment des seuils énergétiques de base rentrés dans le dispositif contrôleur 12. L’émission de rayonnements inutiles est donc avantageusement limitée, dès que l’effet cible O est obtenu, ce qui est très intéressant d’un point de vue financier et environnemental. Le dispositif contrôleur 12 est également capable de contrôler de façon indépendante la pluralité d’éléments émetteurs 111a, 111b, 111n, 112a, 111b, 112n de chaque source émettrice S111 et S112 du dispositif émetteur 11, en fonction de l’effet réel OR analysé au niveau de surface S irradiée tout au long du processus d’irradiation, pour adapter le processus d’irradiation à ce qui est réellement obtenu au niveau de cette surface S. Par exemple, si le dispositif contrôleur 12 détermine que l’effet réel OR au niveau de la surface S correspond à l’effet cible O sur une partie seulement de cette surface S, mais que cet effet cible O n’est pas encore obtenu sur la totalité de cette surface S, il peut agir sur le dispositif émetteur 11 pour désactiver les éléments émetteurs localisés au-dessus de la zone ou des zones de la surface S pour lesquelles l’effet cible O est obtenu, et moduler la fréquence d’irradiation des éléments émetteurs localisés au-dessus de la zone ou des zones de la surface S pour laquelle l’effet cible O n’est pas encore obtenu. Cette modulation de fréquence d’irradiation peut consister à modifier la fréquence spécifique d’irradiation des éléments émetteurs concernés : par exemple, si les éléments émetteurs en question sont aptes à émettre des rayonnements dans la gamme de fréquence 250-270nm, et qu’ils émettaient initialement à 250 nm, le dispositif contrôleur 12 peut les contrôler pour qu’ils émettent spécifiquement à 260 nm, pendant une certaine durée. Ainsi, la surface S n’est avantageusement pas toujours irradiée dans son ensemble. Selon un mode de réalisation, le dispositif contrôleur 12 est une interface Humain-Machine, qui peut par exemple être un ordinateur, une tablette ou un smartphone, ou encore un automate. De façon générale, le dispositif d’analyse 13 peut comprendre des moyens d’analyse qui sont de type spectromètre, capteur de température, imagerie infrarouge, ou encore microphone. La surface S peut être découpée en une pluralité de zones S1, S2…Si…Sn, tel qu’illustré à la FIG. 4 . L’irradiation par les sources émettrices S111, S112 peut concerner une zone cible, qui peut correspondre à une seule zone de la pluralité de zones S1, S2…Si…Sn, à la combinaison de plusieurs zones de la pluralité de zones S1, S2…Si…Sn, ou encore à l’entièreté de la surface S, c’est-à-dire inclure l’ensemble de la pluralité de zones qui composent cette surface S. Selon un autre mode de réalisation, illustré à la FIG. 5 , lorsque la surface S est découpée en une pluralité de zones S1, S2…Si…Sn, et qu’au moins une zone cible Si de cette surface S est irradiée, par exemple par au moins un élément émetteur 111a de la première source d’irradiation S111, le dispositif d’analyse 13 est également apte à mesurer l’énergie réelle collatérale d’une ou plusieurs zones, par exemple l’énergie réelle collatérale I-111x d’une zone Sn, qui est adjacente/collatérale à la zone cible Si irradiée. Cette mesure est enregistrée par le dispositif d’analyse 13, qui la transmet au dispositif contrôleur 12. Dans celui-ci, il a préalablement été rentré des seuils énergétiques secondaires associés à chacune des zones constituant la surface S, notamment le seuil énergétique secondaire H-111x associé à la zone Sn : le dispositif contrôleur 12 est alors en mesure de comparer l’énergie collatérale I-111x mesurée au niveau de la zone Sn adjacente à la zone cible Si irradiée au seuil énergétique secondaire prédéterminé H-111x de cette zone. En fonction du résultat de cette comparaison, il peut moduler les éléments émetteurs de la première source émettrice S111 qui sont en mesure d’irradier la zone cible Si pour impacter dans un sens ou dans l’autre l’énergie réelle collatérale I-111x de la zone Sn adjacente à la zone cible Si. Il peut notamment réduire la fréquence d’irradiation de ces éléments émetteurs, pour réduire cette énergie collatérale I-111x, s’il est déterminé qu’elle a atteint le seuil énergétique secondaire prédéterminé H-111x de cette zone, ou au contraire il peut augmenter la fréquence d’irradiation de ces éléments émetteurs, pour augmenter cette énergie collatérale I-111x, s’il est déterminé qu’elle n’a pas encore atteint le seuil énergétique secondaire prédéterminé H-111x de cette zone. Ainsi, l’interprétation des mesures issues de capteurs secondaires liés aux énergies générées collatéralement à la zone cible irradiée permet de préserver l’intégrité de la cible. On comprend donc que, selon l’invention, chacune des zones constituant la surface S à irradier est associée à deux types de seuils énergétiques prédéterminés, entrés dans le dispositif contrôleur 12 : des premiers seuils énergétiques prédéterminés S-111x, S-112x, dits seuils énergétiques principaux, et des deuxièmes seuils énergétiques prédéterminés H-111x, H-112x, dits seuils énergétiques secondaires. Bien que la FIG. 5 représente seulement l’irradiation de la surface par la première source émettrice S111, la deuxième source émettrice S112 fonctionne de la même façon dans le système 1, et il pourrait par ailleurs être prévu plus que deux sources émettrices au sein du dispositif émetteur 11. Les rayonnements énergétiques R-111x, R-112x émis par le dispositif émetteur 11 peuvent être des radiations de lumière visible, infra-rouges, gamma, ultra-violettes, laser, des micro-ondes, des rayons X, des ondes sonores ou encore du déploiement thermique convectif ou conductif. Selon un mode de réalisation, le dispositif émetteur 11 et la surface S à irradier peuvent être intégrés dans une chambre sous atmosphère contrôlée, isolée par exemple avec de l’azote ou de l’argon, ou présentant un fort taux d’humidité, afin d’optimiser le résultat attendu en niveau de la surface, notamment lorsque le système d’irradiation sert à polymériser celle-ci. Ci-après sont présentés plusieurs exemples de mise en œuvre du procédé et du système d’irradiation selon l’invention pour différentes applications. Il est entendu que ces exemples ne sont pas limitatifs, et que l’invention peut être mise en œuvre pour tout type d’application impliquant l’irradiation énergétique d’une surface pour obtenir un effet donné. Premier exemple de réalisation Le procédé et le système selon l’invention peuvent être mis en œuvre dans le cas de la polymérisation de résines par irradiation. Il est connu de polymériser des résines par irradiation en utilisant des lampes à Mercure. Cependant, comme présenté plus avant, il a été admis que ces lampes à Mercure sont dangereuses pour la santé des utilisateurs et pour l’environnement, car elles sont très polluantes. De telles lampes présentent également une faible durabilité d’intégrité, et ne permettent pas de dissocier les variantes d’énergies : il s’agit d’une technologie à large spectre. Au début des années 2000, l’Europe au niveau gouvernemental a d’ailleurs interdit la vente de lampes à vapeur à Mercure haute pression, ces lampes ayant été jugées comme faisant partie des lampes les plus polluantes. Cependant, ces lampes à mercure sont encore de nos jours utilisées dans l’industrie, grâce à une dérogation européenne. L’invention a donc pour but, entre autres, de remplacer les lampes à Mercure, pour polymériser des résines par irradiation, par un système émetteur plus écologique et plus économique. Ainsi, comme développé plus avant, le principe de l’invention consiste à intégrer sur une même matrice émettrice l’ensemble des fréquences d’irradiation requises permettant de réaliser un processus complet de polymérisation par irradiation. Chaque fréquence est implémentée au travers d’une source émettrice spécifique. Un contrôleur et son logiciel associé permettent de combiner les fréquences d’irradiation en offrant une régulation de puissance et de temps pour chaque fréquence. Une application concrète est la polymérisation de vernis de tropicalisation sur des cartes électroniques. Selon cet exemple, le dispositif émetteur 11 est une matrice, par exemple présentant la forme d’un panneau, dans lequel sont agencé une pluralité d’éléments émetteurs, par exemple des diodes émettrices, pour couvrir un large spectre de rayonnements, allant typiquement de 250 nm à 800 nm, c’est-à-dire des rayonnements ultra-violets UVA (UV-A) aux rayonnements infra-rouges (IR). Ce type de vernis polymérise grâce à des photo-initiateurs ciblés autour de 265 nm et de 395 nm. Un panneau 11, par exemple de 400 mm de largeur et de 500 mm de longueur, est donc utilisé, embarquant une première source émettrice S111 comprenant une pluralité de LEDs de 265 nm, par exemple 1200 LEDs, et une deuxième source émettrice S112 comprenant une pluralité de LEDs de 395 nm, par exemple 600 LEDs. Les deux sources émettrices S111 et S112 sont combinées afin de permettre une couverture parfaitement homogène des deux fréquences 265 nm et 395 nm. Dans cet exemple, chaque LED peut être contrôlée indépendamment d’une autre LED, dans les deux sources émettrices S111 et S112. Ce panneau rayonnant 11 est positionné par-dessus un convoyeur sur lequel transite des cartes électroniques. Lorsqu’une carte est positionnée sous le panneau rayonnant 11, le dispositif contrôleur 12 du système, qui peut être un ordinateur et qui communique avec le panneau 11, commande pour une durée prédéterminée, respectivement T112x et T111x, d’abord l’irradiation des LEDS 112 en 395 nm, puis l’irradiation des LEDs 111 en 265 nm. Chaque fréquence étant contrôlée d’une manière dissociée, il est ainsi possible d’associer chaque mode de polymérisation d’une manière indépendante. Par exemple, il est possible d’appliquer d’abord des rayonnements IR pour une première montée en température, puis des rayonnements UV-A pour une polymérisation à cœur. Il est également possible d’appliquer des rayonnements ultra-violets-C (UV-C) pour une polymérisation de surface, en même temps que les rayonnements UV-A, ou postérieurement. Un dispositif d’analyse 13 peut également être intégré dans le système. Il peut être configuré pour mesurer l’effet réel obtenu au niveau de la couche de vernis polymérisée, et transmettre cette donnée au dispositif contrôleur 12 afin qu’il adapte le contrôle du panneau rayonnant 11 en conséquence. Pour cela, ce dispositif d’analyse 13 comprend une caméra, ou tout autre module d’analyse visuelle. Il peut ainsi être déterminé que les paramètres énergétiques prédéterminés entrés dans le dispositif contrôleur 12 n’ont pas permis la polymérisation complète de la couche de vernis, et que le dispositif contrôleur 12 doit moduler ces paramètres, en termes de fréquence d’irradiation et de durée, pour obtenir la polymérisation complète. Également, au contraire, il peut être déterminé que la polymérisation complète de la couche de vernis est obtenue, bien que la durée prédéterminée d’irradiation d’une ou des sources émettrices S111, S112 du panneau rayonnant 11 ne soit pas atteinte. Dans ce cas, le dispositif contrôleur 12 peut stopper complètement l’irradiation par le panneau rayonnant 11. Ce dispositif d’analyse 13 peut également être configuré pour mesurer l’énergie réelle ressentie au niveau de la couche de vernis irradiée, en complément de l’analyse de l’effet réel, et transmettre cette donnée au dispositif contrôleur 12 afin qu’il adapte le contrôle du panneau rayonnant 11 en conséquence. De même que pour l’effet réel ci-dessus, le dispositif contrôleur 12 est capable de moduler la fréquence et la durée d’irradiation des différentes sources émettrices S111, S112 du panneau 11 pour que l’énergie réelle au niveau de la couche de vernis polymérisée se rapproche des seuils énergétiques prédéterminés entrés dans le dispositif contrôleur 12, dans le but d’obtenir l’effet attendu. Dans ce cas, le dispositif d’analyse 13 comprend en outre une caméra thermique, ou tout autre module capable de mesurer la dose de rayonnements et/ou la température. Le dispositif d’analyse 13 peut également, si besoin, mesurer l’énergie collatérale autour de la zone cible de la surface S irradiée, par rapport à des seuils énergétiques secondaires associées aux zones adjacentes à cette zone cible. Ainsi, le remplacement des lampes à mercure par un tel panneau rayonnant 11 unique, qui permet notamment le contrôle sélectif des rayonnements, permet d’irradier une surface avec plusieurs fréquences d’irradiation de façon simple et pratique. Cela permet également de ne plus mettre en œuvre de mercure, ce qui présente un impact positif sur l’environnement et la santé des utilisateurs. De plus, ce contrôle sélectif des rayonnements permet de minimiser la montée en température globale de la surface irradiée, ce qui présente un impact direct sur l’intégrité des cartes électroniques. Deuxième exemple de réalisation Le procédé et le système selon l’invention peuvent également être mis en œuvre dans le cas de la polymérisation de couches de vernis sur les ongles, dans le but d’obtenir un effet cible qui correspond à la solidification/au séchage total de la couche de vernis. Dans ce cas, le dispositif émetteur 11 est une lampe qui émet des rayonnements UV, constituée d’une multitude de LEDs UV regroupées en au moins deux groupes distincts de sources émettrices S111, S112 associées respectivement à deux gammes de fréquence d’irradiation f111, f112. Le dispositif contrôleur 12 est un ordinateur, dans lequel il a été rentré l’état visuel cible de la polymérisation finale des couches de vernis, et éventuellement la température prédéterminée qui permet a priori d’obtenir la polymérisation totale de ces couches de vernis. Lorsqu’il est présent, le dispositif d’analyse 13 comprend un module d’analyse visuelle de l’état de la polymérisation des couches de vernis, et éventuellement une sonde radiation UV doublée d’une caméra thermique, qui comprend un module de mesure de la dose UV et de la température réelle au niveau de la surface des ongles irradiés recouverts de vernis. Dans ce cas, l’ordinateur 12 comprend également des moyens de comparaison des données de température réelles par rapport aux données de température prédéterminées pour la surface S à irradier, ainsi que des moyens de comparaison de l’état réel de la polymérisation des couches de vernis par rapport à l’état attendu de polymérisation pour cette surface S. Dans cet exemple d’application de l’invention, le procédé d’irradiation comprend les mêmes étapes que le procédé d’irradiation de l’exemple précédent. Ainsi, le procédé et le système d’irradiation selon l’invention permettent avantageusement un gain énergétique et financier substantiel dans le domaine de la cosmétique, en particulier de l’onglerie, car le contrôle des différentes sources émettrice du dispositif émetteur 11 utilisé pour polymériser les couches de vernis sur les ongles peut être adapté à la demande en boucle fermée, en fonction de l’évolution de la situation réelle, et de façon simple. Ils permettent également de minimiser les risques de cancer de la peau liés à l’exposition UV et les risque de brulure liés à la radiation UV ou IR adjacente, et ils ne sont pas néfastes pour l’environnement. Procédé d’irradiation multi-fréquences contrôlée d’une surface (S), pour permettre l’irradiation de ladite surface (S) en vue d’obtenir un effet cible (O), ledit procédé étant mis en œuvre par un système (1) d’irradiation multi-fréquences contrôlée comprenant un dispositif émetteur (11) et un dispositif contrôleur (12), ledit dispositif émetteur (11) comprenant une première source émettrice (S111) comprenant au moins un élément émetteur (111a, 111b, 111n), et au moins une deuxième source émettrice (S112) comprenant au moins un élément émetteur (112a, 112b, 112n), lesdites première et deuxième sources émettrices (S111, S112) étant configurées pour irradier ladite surface (S) par des rayonnements énergétiques respectivement associés à des première et deuxième gammes de fréquence d’irradiation (f111, f112), ledit procédé comprenant les étapes suivantes : - entrée dans ledit dispositif contrôleur (12) de premier et deuxième paramètres énergétiques prédéterminés (E-111x, E-112x) respectivement associés à au moins deux fréquences d’irradiation permettant d’obtenir ledit effet cible (O), ainsi que de paramètres temporels (T111x, T112x) respectivement associés auxdits paramètres énergétiques prédéterminés et correspondant à des durées ; - irradiation de ladite surface (S) par lesdites première et deuxième sources émettrices (S111, S112) en vue d’obtenir ledit effet cible (O), ladite irradiation étant contrôlée par ledit dispositif contrôleur (12) en vue d’une émission par ladite première source émettrice (S111) d’un rayonnement énergétique (R-111x) à la fréquence d’irradiation associée audit premier paramètre énergétique prédéterminé (E-111x), dans la gamme de fréquence d’irradiation (f 111) associée à ladite première source émettrice (S111), pendant la durée (T111x) associée audit premier paramètre énergétique prédéterminé (E-111x), et en vue d’une émission par ladite deuxième source émettrice (S112), de façon indépendante de ladite première source émettrice (S111), d’un rayonnement énergétique (R-112x) à la fréquence d’irradiation associée audit deuxième paramètre énergétique prédéterminé (E-112x), dans la gamme de fréquence d’irradiation (f 112) associée à ladite deuxième source émettrice (S112), pendant la durée (T112x) associée audit deuxième paramètre énergétique prédéterminé (E-112x). Procédé d’irradiation multi-fréquences contrôlée selon la revendication 1, dans lequel ledit système (1) d’irradiation multi-fréquences contrôlée comprend en outre un dispositif d’analyse (13), ledit procédé comprenant en outre les étapes suivantes : - entrée dans ledit dispositif contrôleur (12) dudit effet cible (O) à obtenir ; - analyse et enregistrement en temps réel par ledit dispositif d’analyse (13) de l’effet réel (OR) au niveau de ladite surface (S) irradiée ; - transmission audit dispositif contrôleur (12), par ledit dispositif d’analyse (13), dudit effet réel (OR) analysé ; - contrôle en temps réel, par ledit dispositif contrôleur (12), desdites première et deuxième sources émettrices (S111, S112) au cours du procédé d’irradiation, indépendamment l’une de l’autre, en prenant en compte ledit effet réel (OR) reçu, ledit effet réel (OR) reçu étant comparé audit effet cible (O), de manière à ce que : A1- si ledit effet cible (O) est atteint par ledit effet réel (OR), l’émission de rayonnements énergétiques sur ladite surface (S) est stoppée ; et A2- si ledit effet cible (O) n’est pas atteint par ledit effet réel (OR), la fréquence d’irradiation et/ou la durée des rayonnements énergétiques (R-111x, R-112x) émis au niveau de ladite surface (S) sont modulés en vue d’obtenir ledit effet cible (O). Procédé d’irradiation multi-fréquences contrôlée selon la revendication 2, dans lequel lesdits premier et deuxième paramètres énergétiques prédéterminés (E-111x, E-112x) comprennent respectivement des seuils énergétiques (S-111x, S-112x), ledit procédé comprenant les étapes additionnelles suivantes : - mesure et enregistrement en temps réel, par ledit dispositif d’analyse (13), de l’énergie réelle (G-111x, G-112x) générée sur ladite surface (S) par les rayonnements énergétiques (R-111x, R-112x) ; - transmission de la mesure de ladite énergie réelle (G-111x, G-112x) audit dispositif contrôleur (13) ; - contrôle en temps réel desdites première et deuxième sources émettrices (S111, S112) par ledit dispositif contrôleur (13) au cours du procédé d’irradiation, en prenant en compte ladite mesure de l’énergie réelle (G-111x, G-112x), ladite mesure de l’énergie réelle (G-111x, G-112x) étant comparée auxdits seuils d’énergie (S-111x, S-112x), de manière à ce que : B1- si lesdits seuils d’énergie (S-111x, S-112x) ne sont pas atteints et ledit effet cible (O) n’est pas obtenu, l’émission de rayonnements énergétiques sur ladite surface (S) continue, et la fréquence d’irradiation et/ou la durée des rayonnements énergétiques (R-111x, R-112x) émis au niveau de ladite surface (S) sont modulés en vue d’obtenir ledit effet cible (O) ; B2- si lesdits seuils d’énergie (S-111x, S-112x) sont atteints mais ledit effet cible (O) n’est pas obtenu, l’émission de rayonnements énergétiques sur ladite surface (S) continue, et la fréquence d’irradiation et/ou la durée des rayonnements énergétiques (R-111x, R-112x) émis au niveau de ladite surface (S) sont modulés en vue d’obtenir ledit effet cible (O) ; B3- si lesdits seuils d’énergie (S-111x, S-112x) sont atteints et ledit effet cible (O) est obtenu, l’émission de rayonnements énergétiques sur ladite surface (S) est stoppée ; B4- si lesdits seuils d’énergie (S-111x, S-112x) ne sont pas atteints mais ledit effet cible (O) est obtenu, l’émission de rayonnements énergétiques sur ladite surface (S) est stoppée. Procédé d’irradiation multi-fréquences contrôlée selon l’une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel lesdites première et deuxième sources émettrices (S111, S112) comprennent chacune une pluralité d’éléments émetteurs (111a, 111b…111n, 112a, 112b…112n), ledit dispositif contrôleur (12) contrôlant chaque élément de ladite pluralité d’éléments émetteurs indépendamment les uns des autres. Procédé d’irradiation multi-fréquences contrôlée selon l’une quelconque des revendications 1 à 4, dans lequel ledit dispositif émetteur (11) est une matrice, et lesdits éléments émetteurs (111a, 111b…111n, 112a, 112b…112n) de ladite matrice sont des LED. Procédé d’irradiation multi-fréquences contrôlée selon l’une quelconque des revendications 1 à 5, dans lequel ledit dispositif contrôleur (12) est une interface Homme-Machine. Procédé d’irradiation multi-fréquences contrôlée selon l’une quelconque des revendications 1 à 6, dans lequel lesdits rayonnements énergétiques (R-111x, R-112x) sont choisis parmi les radiations de lumière visible, infra-rouges, gamma, ultra-violettes, laser, les micro-ondes, les rayons X, les ondes sonores et le déploiement thermique convectif ou conductif. Procédé d’irradiation multi-fréquences contrôlée selon l’une quelconque des revendications 2 à 7, dans lequel, lorsque ledit système (1) comprend un dispositif d’analyse (13), celui-ci est choisi parmi un capteur d’image, par exemple une caméra, ou un capteur d’imagerie thermique et/ou radiatif associé à un module d’analyse d’image. Système (1) d’irradiation multi-fréquences contrôlée d’une surface (S) d’un produit, ledit système (1) mettant en œuvre le procédé d’irradiation multi-fréquences contrôlée selon l’une quelconque des revendications 1 à 8, ledit système (1) comprenant : - un dispositif émetteur (11), comprenant : -- une première source émettrice (S111), comprenant au moins un élément émetteur (111), ladite première source émettrice (S111) étant configurée pour irradier ladite surface (S) par des rayonnements énergétiques associés à une première gamme de fréquence (f111), et -- au moins une deuxième source émettrice (S112), comprenant au moins un élément émetteur (112), ladite deuxième source émettrice (S112) étant configurée pour irradier ladite surface (S) par des rayonnements énergétiques associés à une deuxième gamme de fréquence (f112) ; et - un dispositif contrôleur (12), configuré pour recevoir des premiers et deuxième paramètres énergétiques prédéterminés (E-111x, E-112x) associés à au moins deux fréquences permettant d’obtenir un effet cible (O), ainsi que des paramètres temporels (T111x, T112x) respectivement associés auxdits paramètres énergétiques prédéterminés et correspondant à des durées, ledit dispositif contrôleur (12) étant configuré pour contrôler ladite première source émettrice (S111) en vue d’une émission d’un rayonnement énergétique (R-111x) à la fréquence associée audit premier paramètre énergétique prédéterminé (E-111x), pendant la durée (T111x) associée audit premier paramètre énergétique prédéterminé (E-111x), et pour contrôler ladite deuxième source émettrice (S112), indépendamment de ladite première source émettrice (S111), en vue d’une émission d’un rayonnement énergétique (R-112x) à la fréquence associée audit deuxième paramètre énergétique prédéterminé (E-112x), pendant la durée (T112x) associée audit deuxième paramètre énergétique prédéterminé (E-112x). Système d’irradiation multi-fréquences contrôlée selon la revendication 9, comprenant en outre un dispositif d’analyse (13) comprenant un moyen d’analyse et d’enregistrement (A) configuré pour analyser le résultat réel (OR) obtenu au niveau de ladite surface (S) et pour transmettre ce résultat réel (OR) audit dispositif contrôleur (12). Système d’irradiation multi-fréquences contrôlée selon la revendication 10, dans lequel ledit dispositif d’analyse (13) comprend en outre un moyen de mesure et d’enregistrement (M) configuré pour mesurer ladite énergie réelle (G-111x, G-112x) générée sur ladite surface (S) par les rayonnements énergétiques (R-111x, R-112x) et pour transmettre ladite énergie réelle (G-111x, G-112x) audit dispositif contrôleur (12).