Brevet FR3151091A1 — publié le 20250117

Ce procédé de réglage d’un système de détection (2) formant une succession d’images d’une scène (4), le système de détection (2) comprenant un capteur (6) muni d’une matrice de détecteurs actifs (8), d’une pluralité de détecteurs aveugles (10), ainsi que d’un circuit de lecture (12) fournissant un signal de réponse pour chaque détecteur sensible (8), comprend le calcul d’une valeur représentative d’au moins une partie des signaux de réponse, la détermination d’un écart entre ladite valeur représentative et une valeur cible, la comparaison de l’écart à un seuil de tolérance, et selon le résultat de la comparaison, la modification d’une tension d’ébasage afin de réduire l’écart. Figure pour l’abrégé : Fig 2 Procédé de réglage, notamment opérationnel, d’un système de détection notamment par imagerie infrarouge non-refroidie, et dispositif de réglage associé. L’invention a pour domaine technique les systèmes de détection de rayonnements électromagnétiques, notamment les systèmes de détection bolométriques pour de l’imagerie infrarouge non-refroidie. En particulier, la présente invention a pour objet un procédé de réglage, notamment opérationnel, d’un système de détection et un dispositif de réglage associé. Techniques antérieures La température d’un objet est caractéristique de son émission spectrale. L’analyse du rayonnement électromagnétique provenant d’une scène contenant l’objet peut permettre de détecter l’objet et de caractériser sa nature. Il existe des applications de détection et/ou de veille et/ou de surveillance optique de la scène nécessitant de distinguer des objets de températures proches et/ou nécessitant de détecter la température d’objets sur une large gamme de température avec un même système de détection. Le système de détection comprend généralement une matrice de détecteurs bolométriques sensibles au rayonnement électromagnétique provenant de la scène, ainsi qu’une pluralité de bolomètres aveugles insensibles audit rayonnement électromagnétique. La résistance des détecteurs bolométriques de la matrice dépend de la température de la scène et de la température des composants du système de détection. La résistance des bolomètres aveugles ne dépend pas de la température de la scène et dépend de la température des composants du système de détection. Le système de détection comprend également un convertisseur analogique-numérique et un calculateur muni d’une mémoire dans laquelle sont enregistrées une valeur de réglage de la tension de polarisation de la matrice de détecteurs bolométriques, une valeur de réglage de la tension de polarisation des bolomètres aveugles et une valeur de réglage d’un gain d’amplification capacitif trans-impédance, dit « gain CTIA ». Le système de détection fournit une succession d’images de la scène à partir de mesures de la matrice de détecteurs bolométriques, de mesures des bolomètres aveugles et du gain CTIA. Les valeurs de réglage du système de détection sont parfois inadaptées aux conditions de mise en œuvre du système de détection, nuisant à la qualité des images de la scène formée, et donc à la qualité des informations acquises sur l’objet à détecter. Le bruit de mesure du système de détection peut être trop important vis-à-vis de l’objet à détecter. L’objet à détecter peut faire saturer les images de la scène, notamment en étant trop chaud ou trop froid par rapport à la scène. De plus, les valeurs de réglage du système de détection sont généralement définies en usine au début de vie du système de détection et ne tiennent donc pas compte du vieillissement du système de détection et de son électronique. La présente invention a donc pour objectif de pallier tout ou partie des inconvénients précités, de diminuer un bruit de mesure d’un système de détection observant une scène, d’augmenter la précision de discrimination d’objets de température proche dans la scène, de permettre la détection de la température d’objets sur une gamme de température étendue, d’augmenter une dynamique de mesure du système de détection vis-à-vis de la scène observée, d’améliorer la robustesse du système de détection au vieillissement, à l’échauffement des composants du système de détection et aux variations de la scène observée. La présente invention a pour objet un procédé de réglage d’un système de détection formant une succession d’images d’une scène, le système de détection comprenant un capteur muni d’une matrice de détecteurs sensibles à un rayonnement électromagnétique provenant de la scène, dits « actifs », d’une pluralité de détecteurs insensibles audit rayonnement, dits « aveugles », ainsi que d’un circuit de lecture fournissant un signal de réponse pour chaque détecteur sensible, le procédé comprenant : - le calcul d’une valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse ; - la détermination d’un écart entre ladite valeur représentative et une valeur cible ; - la comparaison de l’écart à un seuil de tolérance ; et - selon le résultat de la comparaison, la modification d’une tension de polarisation appliquée aux détecteurs insensibles dite « tension d’ébasage », afin de réduire l’écart. L’ensemble des signaux de réponse des détecteurs sensibles forme un flux vidéo comprenant la succession d’images de la scène. Le calcul de la valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse peut comprendre l’un parmi : le calcul d’une valeur moyenne instantanée ou temporelle d’au moins une partie des signaux de réponse, le calcul d’une valeur médiane instantanée ou temporelle d’au moins une partie des signaux de réponse ou le calcul d’une autre fonction statistique appliquée à au moins une partie des signaux de réponse. La détermination dudit écart, la comparaison dudit écart au seuil de tolérance et la modification de la tension d’ébasage afin de réduire ledit écart permettent d’asservir ladite valeur représentative à la valeur cible en adaptant la tension d’ébasage. La modification de la tension d’ébasage en fonction de l’écart entre la valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse et la valeur cible permet de diminuer le risque de saturation d’objets présents dans la scène dans l’image de la scène, notamment d’objets dont la température est éloignée de la température moyenne de la scène observée. L’adaptation de la tension d’ébasage à la mesure effectuée par le capteur du système de détection permet d’adapter la dynamique du capteur vis-à-vis de la scène observée lors de la mise en œuvre du système, de rendre le système moins sensible au vieillissement des composants du système, notamment moins sensible au vieillissement du capteur, et de rendre robuste le système à des variations de température de mise en œuvre du système. Le calcul d’une valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse peut comprendre le calcul d’une tension représentative de valeurs de tension fournies par le système de détection pour chaque détecteur actif ou le calcul d’une intensité représentative de valeurs d’intensité des pixels d’une image de la scène formée par le système de détection. La valeur cible peut correspondre à une valeur comprise entre une valeur minimale de tension de conversion analogique-numérique du système de détection et une valeur maximale de tension de conversion analogique-numérique du système de détection. La valeur cible peut correspondre à une valeur proche du milieu de la plage de conversion analogique-numérique du système de détection. Par exemple, la valeur cible peut être comprise entre 0,9 et 1,1 fois une valeur correspondant au milieu de la plage de conversion analogique-numérique du système de détection. Le choix de la correspondance à une valeur proche du milieu de la plage de conversion permet d’avoir une marge similaire entre la valeur minimale de tension de conversion analogique-numérique du système et la valeur cible et entre la valeur maximale de tension de conversion analogique-numérique du système et la valeur cible. Ainsi, le risque de saturation d’objets dits « chauds » est similaire au risque de saturation d’objets dits « froids », le choix de la valeur cible prenant en compte la variation de luminance du rayonnement électromagnétique d’un corps noir en fonction de la température du corps noir. Avantageusement, la valeur cible est différente de la valeur correspondant au milieu de la plage de conversion de manière à augmenter la dynamique du capteur vers les hautes températures. Ladite valeur cible peut être corrigée en fonction d’un besoin de mesure opérationnel estimé notamment afin de correspondre à une valeur non centrale de la plage de conversion analogique-numérique du système de détection. Le besoin de mesure opérationnel estimé correspond à un besoin de mesurer la température d’objets dont la température est éloignée de la température moyenne de la scène. Par exemple, lorsque le besoin de mesure opérationnel estimé correspond à un besoin de mesurer la température d’objets dont la température est plus élevée que la température moyenne de la scène, ladite valeur cible peut être augmentée ou diminuée afin de diminuer le risque de saturation desdits objets dans l’image de la scène. La valeur de la modification de la tension d’ébasage peut être sélectionnée, au moins en fonction dudit écart, dans une table préalablement déterminée de correspondance entre une variation de la tension d’ébasage et une variation de la valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse. Ainsi, la modification de la tension d’ébasage s’appuie sur une valeur préalablement déterminée de correspondance entre la variation de la tension d’ébasage et la variation de la valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse. Ladite table de correspondance permet une convergence accélérée de l’écart vers une valeur inférieure au seuil de tolérance. Ladite table de correspondance est représentative d’une loi de variation de la valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse en fonction de la valeur de la tension d’ébasage. La modification de la tension d’ébasage peut également être sélectionnée dans ladite table de correspondance en fonction d’une tension de polarisation courante de la matrice de détecteurs actifs du capteur et/ou en fonction d’une valeur courante de gain d’amplification capacitif trans-impédance du capteur et/ou en fonction de la température du système de détection. Lesdites valeurs courantes correspondent aux valeurs appliquées au capteur du système de détection avant la modification de la tension d’ébasage. Ladite table de correspondance peut être établie en usine. Ladite table de correspondance peut également être établie pour plusieurs valeurs de tension de polarisation de la matrice de détecteurs actifs du capteur et/ou pour plusieurs valeurs de gain d’amplification capacitif trans-impédance du capteur et/ou pour plusieurs températures du système de détection. Ainsi, ladite table de correspondance est établie pour plusieurs paramètres de mise en œuvre du système de détection, et permet une convergence accélérée de l’écart vers une valeur inférieure au seuil de tolérance. La modification de la tension d’ébasage peut être effectuée entre deux acquisitions d’images successives du système de détection. Ainsi, on évite l’apparition d’un gradient d’intensité sur l’image de la scène observée, le gradient d’intensité correspondant à une application séquentielle, par exemple dans le cas d’une mise en œuvre de type « rolling shutter » en termes anglo-saxons du système de détection, de la tension d’ébasage à une pluralité de détecteurs aveugles agencés par lignes ou par colonnes de la matrice de détecteurs actifs. Le procédé peut comprendre une initialisation du système de détection au cours de laquelle une valeur de tension de polarisation des détecteurs actifs et/ou une valeur de tension de polarisation des détecteurs aveugles et/ou une valeur de gain d’amplification capacitif trans-impédance du capteur est sélectionnée au moins en fonction d’une mesure de la température du système. L’initialisation du système correspond, par exemple, à une mise sous tension du système. La valeur de tension de polarisation des détecteurs actifs et/ou la valeur de tension de polarisation des détecteurs aveugles et/ou la valeur de gain d’amplification capacitif trans-impédance du capteur peut être sélectionnée dans une table préalablement déterminée de valeurs ou être sélectionnée selon une fonction préalablement déterminée. Au cours de l’initialisation du système, une table courante de correction des non-uniformités en gains du capteur peut également être sélectionnée au moins en fonction de la mesure de la température du système. Au cours de l’initialisation du système, une table courante de correction des non-uniformités en additif du capteur, également nommée table de correction des non-uniformités en « offset » en termes anglo-saxons, peut également être sélectionnée au moins en fonction de la mesure de la température du système. La valeur de tension de polarisation des détecteurs actifs est sélectionnée en fonction de la température mesurée du système pour améliorer un rapport signal sur bruit du système de détection en réduisant un bruit du capteur, notamment un bruit temporel du capteur correspondant aux variations des signaux de réponse des détecteurs sensibles lorsque le système de détection observe une scène fixe de température constante. L’amélioration du rapport signal sur bruit du système de détection est effectuée avec la contrainte d’englober, ou au moins de faire correspondre, le besoin de mesure opérationnel estimé à la dynamique du capteur. Ainsi, la valeur de tension de polarisation des détecteurs actifs sélectionnée en fonction de la température mesurée du système permet la mise en œuvre du système pour une gamme étendue de températures du système de détection. La valeur de tension de polarisation des détecteurs aveugles sélectionnée en fonction de la température mesurée du système permet une convergence accélérée de l’écart vers une valeur inférieure au seuil de tolérance, la tension de polarisation courante des détecteurs aveugles étant alors adaptée à la température du système. En effet, lorsque la valeur de tension de polarisation des détecteurs aveugles n’est pas sélectionnée en fonction de la température, l’image de la scène pourrait être complétement saturée lors du calcul de la valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse, ralentissant alors l’asservissement de ladite valeur représentative à la valeur cible en adaptant la tension d’ébasage. La valeur de gain d’amplification capacitif trans-impédance du capteur sélectionnée en fonction de la température mesurée du système permet l’utilisation d’une valeur de gain d’amplification capacitif trans-impédance du capteur plus élevée à basse température qu’à haute température pour réduire l’impact d’un bruit de conversion analogique-numérique du système. La valeur de tension de polarisation des détecteurs actifs et/ou la valeur de tension de polarisation des détecteurs aveugles et/ou la valeur de gain d’amplification capacitif trans-impédance du capteur peut également être sélectionnée en fonction du besoin de mesure opérationnel estimé. Les valeurs contenues dans ladite table préalablement déterminée de valeurs peuvent être établies pour plusieurs températures du système de détection et par l’utilisation de plusieurs scènes de référence afin d’englober, ou au moins de faire correspondre, le besoin de mesure opérationnel estimé à la dynamique du capteur. Ladite table préalablement déterminée de valeurs peut être établies par l’utilisation d’une scène de référence par température du système de détection, par exemple une scène de température constante notamment égale à la température du système de détection, ou peut être établie par l’utilisation de plusieurs scènes de référence par température du système de détection, par exemple pour plusieurs scènes de référence à différentes températures. Le procédé peut comprendre, à la suite de la modification de la tension d’ébasage, en particulier lorsque ledit écart est inférieur au seuil de tolérance, l’application d’une table de correction des non-uniformités en additif du capteur adaptée à la modification de la tension d’ébasage. La table de correction des non-uniformités en additif du capteur adaptée à la modification de la tension d’ébasage peut est égale à une table courante de correction des non-uniformités en additif du capteur à laquelle on ajoute un terme égal à la variation du niveau d’intensité des pixels des images de la scène à la suite de la modification de la tension d’ébasage multiplié par une table de correction des non-uniformités en gains. La table de correction des non-uniformités en additif du capteur peut est mise à jour grâce à un algorithme de décolonnage et/ou de délignage. La table de correction des non-uniformités en additif du capteur est ainsi adaptée à la tension d’ébasage modifiée. De préférence, la table de correction des non-uniformités en additif du capteur est également adaptée à la tension de polarisation courante des détecteurs actifs et à la valeur courante de gain d’amplification capacitif trans-impédance du capteur. En effet, la table courante de correction des non-uniformités en additif du capteur, appliquée aux images de la scène avant la modification de la tension d’ébasage, n’est plus adaptée à la nouvelle tension d’ébasage. La présente invention a également pour objet un dispositif de réglage pour un système de détection formant une succession d’images d’une scène, le système de détection comprenant un capteur muni d’une matrice de détecteurs sensibles à un rayonnement électromagnétique provenant de la scène, dits « actifs », d’une pluralité de détecteurs insensibles audit rayonnement, dits « aveugles », ainsi que d’un circuit de lecture fournissant un signal de réponse pour chaque détecteur sensible, le dispositif comprenant : un moyen de calcul d’une valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse ; un moyen de détermination d’un écart entre ladite valeur représentative et une valeur cible ; et un moyen de comparaison de l’écart à un seuil de tolérance ; un moyen de modification d’une tension de polarisation appliquée aux détecteurs insensibles, dite « tension d’ébasage ». Le dispositif peut comprendre un capteur de température configuré pour mesurer la température du système de détection et/ou du capteur du système de détection. Le dispositif peut comprendre un moyen d’initialisation d’une valeur de tension de polarisation des détecteurs actifs en fonction de la température mesurée par le capteur de température. Le dispositif peut comprendre un moyen d’initialisation d’une valeur de tension de polarisation des détecteurs aveugles en fonction de la température mesurée par le capteur de température. Le dispositif peut comprendre un moyen d’initialisation d’une valeur de gain d’amplification capacitif trans-impédance du capteur en fonction de la température mesurée par le capteur de température. Le dispositif peut comprendre un moyen de sélection d’un besoin de mesure opérationnel estimé. Le dispositif peut comprendre un moyen d’application d’une table de correction des non-uniformités du capteur, notamment en gain et en additif. Ledit moyen d’application peut être configuré pour estimer une table de correction des non-uniformités en additif du capteur. D’autres buts, caractéristiques et avantages de l’invention apparaîtront à la lecture de la description suivante, donnée uniquement à titre d’exemple non limitatif et faite en référence aux dessins annexés sur lesquels : illustre schématiquement un système de détection comprenant un dispositif de réglage selon l’invention ; illustre schématiquement un procédé de réglage selon l’invention ; et illustre schématiquement la détermination préalable de tables de valeurs selon le procédé de réglage. Description détaillée La représente schématiquement un système 2 de détection observant une scène 4, par exemple un système infrarouge non-refroidi de détection, également appelé détecteur IRNR. Le système 2 de détection peut être un système de surveillance et/ou de veille. Le système 2 de détection comprend un capteur 6 optique muni d’une matrice de détecteurs 8 sensibles à un rayonnement électromagnétique provenant de la scène 4, dit détecteurs « actifs » 8, par exemple une matrice de détecteurs bolométriques. Le capteur 6 comprend également une pluralité de détecteurs 10 insensibles au rayonnement électromagnétique provenant de la scène 4, dit détecteurs « aveugles » 10, et un circuit de lecture 12 fournissant un signal de réponse pour chaque détecteur sensible du capteur 6. Le système 2 de détection fournit, à partir des signaux de réponse des détecteurs actifs 8, une succession d’images de la scène 4 formant un flux vidéo de la scène 4. Le rayonnement électromagnétique comprend notamment un rayonnement infrarouge, voire visible, térahertz ou ultra-violet. Le système 2 de détection comprend un agencement 14 de composants optiques permettant de projeter l’image de la scène 4 sur la matrice de détecteurs actifs 8 située dans le plan focal de l’agencement 14 de composants optiques. Un tel système 2 de détection est connu sous le nom de « focal-plane array » (FPA) en termes anglo-saxons. Chaque détecteur actif 8 comprend une résistance thermique sensible au rayonnement électromagnétique de la scène 4. Un courant traversant la résistance thermique de chaque détecteur actif 8 est représentatif de l’échauffement dudit détecteur actif 8 lié au rayonnement électromagnétique de la scène 4. Chaque détecteur aveugle 10 est un détecteur insensible, ou quasi-insensible, au rayonnement de la scène 4, générant un courant, dit de compensation, représentatif du courant non-utile notamment lié à l’échauffement des éléments du système 2 de détection. Les détecteurs aveugles 10 sont agencés de sorte que plusieurs détecteurs aveugles 10 sont associés à une ligne ou une colonne de la matrice de détecteurs actifs 8. La différence entre le courant traversant la résistance thermique de chaque détecteur actif 8 et le courant de compensation produit par les détecteurs aveugles 10 est calculée afin d’extraire un signal analogique utile de la scène 4. Cette différence de courant est ensuite intégrée, notamment par remplissage d’une capacité, sur une durée appelée « temps d’intégration », générant ainsi une tension constituant un signal analogique utile intégré associé à chaque détecteur actif 8. Le circuit de lecture 12 du capteur 6 permet de multiplexer et de fournir séquentiellement les signaux analogiques utiles intégrés associés à chaque détecteur actif 8 de la matrice. Le circuit de lecture 12 comprend un amplificateur capacitif trans-impédance permettant d’appliquer un gain d’amplification capacitif trans-impédance du capteur 6, dit « gain CTIA », aux signaux analogiques utiles intégrés. Le système 2 de détection comprend une électronique de mise en œuvre (non représentée), dite « électronique de proximité », munie d’au moins un convertisseur analogique-numérique configuré pour convertir numériquement les signaux analogiques utiles intégrés auxquels est appliqué le gain CTIA afin de former les images de la scène 4, les images étant donc formées à partir des signaux des détecteurs actifs 8. Le gain CTIA permet notamment de réduire la contribution du bruit de conversion numérique. L’électronique de proximité est apte à polariser les détecteurs actifs 8 en fournissant une tension de polarisation des détecteurs actifs 8. L’électronique de proximité est apte à polariser les détecteurs aveugles 10 en fournissant une tension de polarisation des détecteurs aveugles 10, dite « tension d’ébasage ». Le système 2 de détection comprend un dispositif 16 de réglage comprenant un capteur 18 de température apte à mesurer la température du système 2 de détection ou du capteur 6 du système 2 de détection. Par exemple, le capteur 18 de température est intégré au capteur 6 du système 2 de détection. Le dispositif 16 de réglage comprend un calculateur 20 muni d’une mémoire. Le dispositif 16 de réglage comprend également un moyen de calcul 22 d’une valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse, un moyen 24 de détermination d’un écart entre la valeur représentative du niveau de l’au moins une partie des signaux de réponse et une valeur cible, un moyen de comparaison 26 de l’écart à un seuil de tolérance, un moyen de modification 28 de la tension d’ébasage, un moyen d’initialisation 30 de la valeur de tension de polarisation des détecteurs actifs 8 en fonction de la température mesurée par le capteur 18 de température, un moyen d’initialisation 32 de la valeur de tension d’ébasage en fonction de la température mesurée par le capteur 18 de température, un moyen d’initialisation 34 de la valeur de gain CTIA en fonction de la température mesurée par le capteur 18 de température, un moyen de sélection 36 d’un besoin de mesure opérationnel estimé et un moyen d’application 38 d’une table de correction des non-uniformités en gains et d’une table de correction des non-uniformités en additif du capteur 6. Par exemple, le calculateur 20 du dispositif 16 de réglage comprend des modules sous la forme de codes de calculs, notamment un module de calcul d’une valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse, un module de détermination d’un écart entre la valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse et une valeur cible, un module de comparaison de l’écart à un seuil de tolérance, un module de modification de la tension d’ébasage, un module d’initialisation de la valeur de tension de polarisation des détecteurs actifs 8 en fonction de la température mesurée par le capteur 18 de température, un module d’initialisation de la valeur de tension d’ébasage en fonction de la température mesurée par le capteur 18 de température, un module d’initialisation de la valeur de gain CTIA en fonction de la température mesurée par le capteur 18 de température, un module de sélection du besoin de mesure opérationnel estimé et un module d’application des tables de correction des non-uniformités en gains et en additif du capteur 6. La mémoire comprend une table de correspondance préalablement déterminée entre une variation de la tension d’ébasage et une variation de la valeur représentative d’au moins une partie des signaux de réponse, une table préalablement déterminée de valeurs de tension de polarisation des détecteurs actifs 8, une table préalablement déterminée de valeurs de tension d’ébasage, une table préalablement déterminée de valeurs de gain CTIA et des tables préalablement déterminées de correction des non-uniformités en gains et en additif du capteur 6. En variante, lesdites tables peuvent être établies sous la forme de fonctions. Lesdites tables préalablement déterminées de la mémoire sont déterminées avant la mise en œuvre opérationnelle du système 2 de détection, notamment en usine. Le calculateur 20 comprend des instructions de code de programme de mise en œuvre d’un procédé de réglage du système 2 de détection. La représente schématiquement le procédé de réglage du système 2 de détection, le procédé correspondant notamment à l’initialisation et la mise en œuvre opérationnelle du système 2 de détection. Optionnellement, le procédé de réglage du système 2 de détection débute par une étape 40 d’initialisation du système 2 de détection. L’étape 40 d’initialisation est effectuée à la mise sous tension du système 2 de détection ou de manière régulière de sorte que le système 2 de détection s’adapte à l’échauffement des composants du système 2 de détection et aux variations de la scène 4 observée. Par exemple, on mesure la température du système 2 de détection ou du capteur 6 du système 2 de détection avec le capteur 18 de température, puis on sélectionne des paramètres de mise en œuvre du système 2 de détection en fonction de la température mesurée, puis on applique les paramètres de mise en œuvre. Par exemple, on estime que la température moyenne de la scène 4 observée est proche de la température du système 2 de détection lors de son initialisation. Avantageusement, on sélectionne également les paramètres de mise en œuvre du système 2 de détection en fonction du besoin de mesure opérationnel estimé. Le besoin de mesure opérationnel estimé correspond à un besoin estimé de mesurer des objets dont la température est éloignée de la température du système 2 de détection lors de son initialisation. Le besoin peut être estimé manuellement par un opérateur utilisant le moyen de sélection 36 d’un besoin de mesure opérationnel ou fixé par conception du système 2 de détection. Pour cela, on sélectionne une valeur courante de gain CTIA. Par exemple, le moyen d’initialisation 34 de la valeur de gain CTIA effectue une sélection dans la table préalablement déterminée de valeur de gain CTIA d’une valeur de gain CTIA adaptée à la température mesurée et au besoin de mesure opérationnel pour réduire le bruit de conversion numérique. Puis, on sélectionne une valeur courante de tension de polarisation des détecteurs actifs 8. Par exemple, le moyen d’initialisation 30 de la valeur de tension de polarisation des détecteurs actifs 8 effectue une sélection dans la table préalablement déterminée de valeurs de tension de polarisation des détecteurs actifs 8 d’une valeur de tension de polarisation des détecteurs actifs 8 adaptée à la température mesurée et au besoin de mesure opérationnel pour réduire le bruit de mesure du système 2 de détection, notamment le bruit temporel du capteur 6 correspondant aux variations des signaux de réponse des détecteurs actifs 8 lorsque le système 2 de détection observe une scène fixe. Ce bruit de mesure correspond à la NETD, pour « noise equivalent temperature difference », en termes anglo-saxons. Puis, on sélectionne une table courante de correction des non-uniformités en gains du capteur 6, également dénommée « gain non-uniformity correction » en termes anglo-saxon. Par exemple, le moyen d’application 38 d’une table de correction des non-uniformités du capteur 6 effectue une sélection dans les tables préalablement déterminées de correction des non-uniformités du capteur 6 d’une table de correction des non-uniformités en gains du capteur 6 adaptée à la température mesurée, et avantageusement adaptée à la valeur courante de tension de polarisation des détecteurs actifs 8 et à la valeur courante de gain CTIA. Puis, on sélectionne une valeur courante de tension d’ébasage. Par exemple, le moyen d’initialisation 32 de la valeur de tension d’ébasage effectue une sélection dans la table préalablement déterminée de valeurs de tension d’ébasage d’une valeur de tension d’ébasage adaptée à la température mesurée et au besoin de mesure opérationnel. En variante, l’ordre de sélection de la valeur courante de gain CTIA, de la valeur courante de tension de polarisation des détecteurs actifs 8, de la table courante de correction des non-uniformités en gains du capteur 6 et de la valeur courante de tension d’ébasage peut être différent. On effectue ensuite, une étape 42 d’acquisition d’images de la scène 4 au cours de laquelle le système 2 de détection fournit, à partir des signaux de réponse des détecteurs actifs 8, une succession d’images de la scène 4. Puis, on effectue une étape 44 d’asservissement de la tension d’ébasage afin d’adapter la mesure du système 2 de détection à la scène 4 observée contenant, par exemple, des objets chauds et/ou froids en mouvement. On commence par calculer une valeur représentative de tout ou partie des signaux de réponse des détecteurs actifs 8. Par exemple, la valeur représentative est calculée par le moyen de calcul 22 du système 2 de détection. On détermine un écart entre la valeur représentative de toute ou partie des signaux de réponse des détecteurs actifs 8 et une valeur cible. Par exemple, l’écart est calculé par le moyen de détermination 24 du système 2 de détection. On compare l’écart à un seuil de tolérance. Par exemple, la comparaison est effectuée par le moyen de comparaison 26 du système 2 de détection. Si l’écart est supérieur au seuil de tolérance, on modifie la tension d’ébasage pour réduire l’écart. Par exemple, la tension d’ébasage est modifiée par le moyen de modification 28 du système 2 de détection. La valeur cible correspond, par exemple, à une valeur de tension comprise entre une valeur minimale de tension de conversion analogique-numérique du système 2 de détection et une valeur maximale de tension de conversion analogique-numérique du système 2 de détection. Plus précisément, la valeur cible correspond, par exemple, à une valeur proche du milieu de la plage de conversion analogique-numérique du système 2 de détection, avantageusement excentrée davantage vers les basses températures de scène que vers les hautes températures, dans le but de répondre aux exigences de dynamique du capteur 6 vis-vis de la scène vers les hautes et basses températures. Par exemple, on estime, en usine et pour une température du système 2 de détection de +20°C, une température minimale à détecter de 0°C et une température maximale à détecter de +40°C, un objet à la température minimale ou à la température maximale à détecter ne devant pas saturer l’image de la scène 4 fournie par le système 2 de détection. La valeur courante de tension de polarisation des détecteurs actifs 8 et la valeur courante de gain CTIA permettent d’englober, ou au moins de faire correspondre, la dynamique totale de température de la scène 4, à savoir une variation de température entre la valeur minimale à détecter et la valeur maximale à détecter, ici une dynamique totale de température de la scène 4 de 40°C, dans la dynamique du capteur 6, à savoir l’intervalle de tension pris entre la valeur minimale de tension de conversion analogique-numérique du système 2 et la valeur maximale de tension de conversion analogique-numérique du système 2. De plus, une valeur cible proche du milieu de la plage de conversion analogique-numérique du système 2 de détection permet d’éviter des phénomènes non-linéaires de conversion pour des valeurs proches des valeurs minimale et maximale de tension de conversion analogique-numérique de système 2 de détection. Par exemple, la valeur minimale de tension de conversion analogique-numérique du système 2 est 0V, la valeur maximale de tension de conversion analogique-numérique du système 2 est 2V et la température moyenne de la scène 4 observée est de +20°C. Si la valeur représentative calculée pour une image de la scène 4 est de 2V, les objets à plus de +20°C dans la scène 4 sont saturés sur les images de la scène 4. Si le seuil de tolérance est de 0,1V et le niveau cible de 1V, alors l’écart dépasse le seuil. On modifie donc la tension d’ébasage de sorte que la valeur représentative calculée pour les prochaines images de la scène 4 se rapproche de 1,0V. En variante, l’asservissement ici décrit comme étant effectué sur une valeur de tension, peut être effectué sur une valeur en niveau numérique (« digital level » en termes anglo-saxons) ou en toute autre quantité représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse, par exemple en bit de poids faible, ou « LSB » en termes anglo-saxons. Avantageusement, la valeur cible est corrigée en fonction du besoin de mesure opérationnel estimé. Par exemple, on estime qu’on peut avoir besoin de mesurer des objets plus chauds, par exemple à +60°C. On modifie alors la valeur cible de sorte que la valeur cible est significativement différente de la moyenne de la valeur minimale de tension de conversion analogique-numérique du système 2 et de la valeur maximale de tension de conversion analogique-numérique du système 2 pour diminuer le risque de saturation des objets plus chauds. Le calcul de la valeur représentative d’au moins une partie des signaux de réponse peut directement être réalisé en calculant le niveau moyen d’intensité de tout ou partie d’une image de la scène 4 fournie par le système 2 de détection, chaque pixel de l’image de la scène 4 correspondant à un signal de réponse d’un détecteur actif 8. L’étape 44 d’asservissement de la tension d’ébasage permet d’asservir le niveau représentatif d’intensité des images de la scène 4 de manière à réduire le risque de saturation des objets chauds et froids dans les images de la scène 4. Avantageusement, le moyen de modification 28 du système 2 de détection effectue une sélection d’une valeur de modification de la tension d’ébasage dans la table préalablement déterminée de correspondance entre une variation de la tension d’ébasage et une variation de la valeur représentative d’au moins une partie des signaux de réponse. De préférence, la modification de la tension d’ébasage est effectuée entre deux acquisitions d’images successives du système 2 de détection, c’est-à-dire dans un intertrame image ou « temps mort » entre l’acquisition de deux images successives. Effectuer la modification de la tension d’ébasage dans l’intertrame image permet d’éviter l’apparition d’un gradient de niveau d’intensité sur l’image de la scène 4 observée, notamment dans le cas d’une mise en œuvre du système 2 de détection de type « rolling shutter » en termes anglo-saxons, la tension d’ébasage étant appliquée séquentiellement par ligne ou par colonne selon l’agencement des détecteurs aveugles 10. Lorsque l’écart entre la valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponses et la valeur cible est inférieur au seuil de tolérance, on effectue une étape 46 d’estimation d’une table de correction des non-uniformités en additif du capteur 6, de préférence face à la scène 4. Par exemple, lors de l’étape 46 d’estimation, le système 2 de détection effectue la mise en œuvre d’un procédé de calibrage sur un fond de scène le plus uniforme possible, notamment par fermeture d’un « shutter » ou par défocalisation d’une optique de l’agencement 14, ou d’un procédé de calibrage sur scène basé sur le flot optique ou basé sur des critères statistiques de filtrage des éléments texturées de la scène. L’étape 46 d’estimation de la table de correction des non-uniformités en additif du capteur 6 effectuée face à la scène 4 améliore la qualité de restauration des images de la scène 4. La table de correction des non-uniformités en gains associée à la table de correction des non-uniformités en additif du capteur 6 permet au calculateur 20 d’effectuer la correction des images issues des détecteurs actifs 8 produites par le capteur 6, numérisées par l’électronique de proximité. Cette correction en gains et en additif du capteur 6 est dite « 2 points ». De préférence, une fois la table de correction des non-uniformités en additif du capteur 6 estimée, on effectue de nouveau les étapes 42 d’acquisition d’images de la scène 4 et 44 d’asservissement de la tension d’ébasage, le système 2 de détection étant alors opérationnel. Avantageusement, on effectue régulièrement la mise à jour de la table de correction des non-uniformités en additif du capteur 6. En variante, la table de correction des non-uniformités en additif adaptée à la modification de la tension d’ébasage est estimée à partir de la table courante de correction des non-uniformités en additif du capteur 6. Par exemple, la table de correction des non-uniformités en additif adaptée à la modification de la tension d’ébasage est égale à la table courante de correction des non-uniformités en additif du capteur 6 à laquelle on ajoute un terme égal à la variation du niveau d’intensité des pixels des images de la scène 4 à la suite de la modification de la tension d’ébasage multiplié par la table de correction des non-uniformités en gains. Par exemple, la table de correction des non-uniformités en additif du capteur 6 est mise à jour grâce à un algorithme de décolonnage et/ou de délignage, notamment selon l’architecture en ligne ou en colonne des détecteurs aveugles 10. La représente schématiquement des étapes de réglage préalable du système 2 de détection, notamment en usine, afin de déterminer et d’enregistrer dans la mémoire du calculateur 20 les tables préalablement déterminées au moins en fonction de la température du système 2 de détection. Pour différents segments prédéterminés de températures du système de détection 2, on effectue une étape 48 d’enregistrement d’une valeur dans la table de valeurs de tensions de polarisation des détecteurs actifs 8. Pour plusieurs températures du système 2 de détection ou du capteur 6, et pour plusieurs scènes de références on établit et on enregistre des valeurs de tension de polarisation des détecteurs actifs 8 sélectionnées pour réduire le bruit de mesure du système 2 de détection, autrement dit pour réduire la NETD, cela tout en garantissant une tenue minimale de la dynamique totale de température de la scène 4. On effectue ensuite une étape 50 d’enregistrement d’une valeur dans la table préalablement déterminée de valeurs de gain CTIA. Pour plusieurs températures du système 2 de détection ou du capteur 6, on enregistre des valeurs de gain CTIA sélectionnées pour réduire le bruit de conversion numérique du système 2 de détection. De préférence, les plus fortes valeurs de gain CTIA permettant la tenue de la dynamique totale de température de la scène 4 seront sélectionnées et enregistrées simultanément aux tensions de polarisation des détecteurs actifs 8 de manière à réduire conjointement les valeurs de bruit de mesure et de conversion numérique du système 2 de détection. Avantageusement, lesdites tables de valeurs de tensions de polarisation des détecteurs actifs 8, ou pixels actifs, et des gains CTIA sont établies pour la valeur de température la plus élevée de chaque segment prédéterminé de températures du système 2 de détection, la valeur de température la plus élevée étant la valeur de plus forte contrainte en termes de dynamique totale de température de la scène 4 à tenir du segment prédéterminé de températures du système 2 de détection. Par exemple, pour chaque température haute de chaque segment de températures du système 2 de détection, on sélectionne tout d’abord le gain CTIA disponible par conception du système 2 de détection le plus faible et on fait varier la valeur de la tension de polarisation des détecteurs actifs 8. Pour chaque valeur de tension de polarisation des détecteurs actifs 8, on image au moins deux scènes de températures uniformes constantes distinctes connues permettant d’une part d’évaluer le bruit du système de détection 2 et d’autre part de convertir dans l’espace capteur les valeurs souhaitées ou estimées des dynamiques totales de température de la scène 4 à tenir. On enregistre la valeur de la tension de polarisation des détecteurs actifs 8 minimisant le bruit du système 2 de détection, la valeur de tension de polarisation des détecteurs actifs 8 sélectionnée permettant également d’englober ou au moins de faire correspondre, la dynamique totale de température souhaitée ou estimée de la scène 4 à la dynamique du capteur 6. On teste ensuite si un gain CTIA plus grand permet de respecter la dynamique totale de température de la scène 4 souhaitée ou estimée de manière à réduire davantage le bruit de conversion numérique. Le gain CTIA le plus élevé possible tout en tenant la dynamique totale de température de la scène 4 est enregistré dans la table des gains CTIA. Par exemple, pour une température du capteur 6 de +20°C en haut d’un segment [0°C, 20°C], on estime avoir un besoin de dynamique totale de température de la scène 4 de 0°C à +40°C, c’est-à-dire une absence de saturation pour des éléments de scène compris entre 0°C et 40°C. Deux acquisitions devant deux scènes de référence distinctes présentées au système de détection 2 permettent d’en déduire la plage qu’occupe l’excursion allant de 0°C à 40°C au niveau de la sortie du capteur 6, l’excursion étant, par exemple, exprimée en volt ou niveau numérique. Si cette excursion ne tient pas dans la dynamique du capteur 6, correspondant à la différence entre la valeur maximale de tension de conversion analogique-numérique du système 2 de détection et la valeur minimale de tension de conversion analogique-numérique du système 2 de détection, alors la polarisation testée des bolomètres actifs ne convient pas. Si cette excursion est compatible de la dynamique du capteur 6, alors on calcule le bruit sur les scènes de références présentées au système de détection 2. Une fois toutes les valeurs de polarisation des pixels actifs testées, on retient la valeur assurant le bruit le plus faible, on l’enregistre dans la table des polarisations des pixels actifs et on l’associe au segment [0°C, 20°C]. Enfin, pour la polarisation des pixels actifs retenue, on évalue parmi les gains CTIA disponibles lesquels permettent de tenir la dynamique totale de température de la scène 4 et on sélectionne la valeur la plus grande que l’on enregistre dans la table préalablement déterminée de valeurs de gain CTIA. Cette logique de recherche des polarisations des pixels actifs et du gain CTIA par segment prédéterminé de température du système 2 de détection peut être répétée en usine pour chaque système 2 de détection à produire ou bien plus simplement, être considérée comme stable et préétablie à partir de quelques systèmes 2 de détection pour ne plus être réestimée à chaque système 2 de détection, la procédure étant longue. Pour chaque segment prédéterminé de température du système 2 de détection, on effectue également une étape 52 d’enregistrement de la polarisation des détecteurs aveugles 10, ou pixels d’ébasage, dans une table préalablement déterminée de valeurs de tensions d’ébasage. Pour plusieurs températures du système 2 de détection ou du capteur 6 et pour plusieurs scènes de référence on sélectionne et on enregistre des valeurs de tensions d’ébasage pour adapter la valeur représentative d’au moins une partie des signaux de réponse à une valeur cible, la valeur cible étant déterminée pour permettre la tenue d’une dynamique de scène haute et la tenue d’une dynamique de scène basse, c’est-à-dire pour ne pas saturer une scène de température haute estimée et pour ne pas saturer une scène de température basse estimée. Par exemple, pour chaque température du système 2 de détection, à tension de polarisation des détecteurs actifs 8 fixée et à valeur de gain CTIA fixée, on image une scène de température constante connue, on fait varier la valeur de la tension d’ébasage et on enregistre la valeur de la tension d’ébasage telle que la valeur représentative d’au moins une partie des signaux de réponse corresponde à la valeur cible. Lors de l’initialisation du système 2 de détection, l’application d’une valeur de tension d’ébasage adaptée à la température du système 2 de détection ou du capteur 6 permet d’accélérer la convergence de l’écart vers une valeur inférieure au seuil de tolérance. Avantageusement on peut enregistrer non pas une unique valeur de tension d’ébasage applicable au segment prédéterminé de températures du système de détection 2 mais une fonction applicable audit segment prédéterminé de températures, par exemple polynomiale, en particulier dépendant de la température du système de détection 2. Pour chaque segment de température du système de détection 2, on effectue une étape 54 d’enregistrement d’une valeur de correspondance entre une variation de la tension d’ébasage et la variation associée de la valeur représentative d’au moins une partie des signaux de réponse. Pour plusieurs températures du système 2 de détection ou du capteur 6, pour chaque couple tension de polarisation des détecteurs actifs 8 et gain CTIA, on enregistre la valeur de variation de la valeur représentative d’au moins une partie des signaux de réponse en fonction de la variation de la tension d’ébasage. Exploitée par un algorithme embarqué d’asservissement dans le calculateur 20 du système de détection 2, ladite valeur de correspondance permet d’accélérer la convergence de l’écart vers une valeur inférieure au seuil de tolérance. Avantageusement on peut enregistrer non pas une unique valeur de correspondance applicable au segment de températures du système de détection 2 mais une fonction applicable au segment prédéterminé de températures, par exemple polynomiale, en particulier dépendant de la température du système de détection 2. On effectue enfin une étape 56 d’enregistrement des tables de correction des non-uniformités en gains et en additif du capteur 6. De préférence pour plusieurs valeurs de tension de polarisation des détecteurs actifs 8, de préférence pour plusieurs valeurs de tension d’ébasage pour la table additive, de préférence pour plusieurs valeurs de gain CTIA et de préférence pour plusieurs valeurs de température du système 2 de détection ou du capteur 6, on établit et on enregistre une table de correction des non-uniformités en additif du capteur 6 et une table de correction des non-uniformités en gains du capteur 6, cela afin de compenser les non-uniformités spatiales des images de la scène 4 formées par le système 2 de détection par le calculateur 20. Les tables de correction des non-uniformités en additif et en gains du capteur 6 sont, par exemple, établies en effectuant deux acquisitions sur scènes uniformes avec deux températures distinctes. En variante, l’ordre des étapes 54 d’enregistrement d’une valeur de correspondance entre une variation de la tension d’ébasage et la variation de la valeur représentative d’au moins une partie des signaux de réponse et 56 d’enregistrement des tables de correction des non-uniformités en gains et en additif du capteur 6 pourrait être inversé. Avantageusement on peut rechercher l’optimum des polarisations des pixels actifs à plusieurs températures du système de détection 2 ou du capteur 6 au sein d’un segment prédéterminé de températures du système de détection 2. Puis enregistrer non pas une unique valeur de tension de polarisation des pixels actifs applicable au segment prédéterminé de températures du système de détection 2 mais une fonction applicable au segment prédéterminé de températures, par exemple polynomiale, en particulier dépendant de la température du système de détection 2. Avantageusement, les tables établies pour un découpage en segments prédéterminés de températures du système de détection 2, par exemple pour des températures comprises entre -40°C et -10°C, entre ­10°C et +40°C et entre +40°C et +70°C, peuvent être établies sous la forme de fonctions notamment afin de réduire la quantité de données enregistrées dans la mémoire du calculateur 20. Procédé de réglage d’un système de détection (2) formant une succession d’images d’une scène (4), le système de détection (2) comprenant un capteur (6) muni d’une matrice de détecteurs sensibles (8) à un rayonnement électromagnétique provenant de la scène (4), dits « actifs », d’une pluralité de détecteurs insensibles (10) audit rayonnement, dits « aveugles », ainsi que d’un circuit de lecture (12) fournissant un signal de réponse pour chaque détecteur sensible (8), caractérisé en ce qu’il comprend : le calcul d’une valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse ; la détermination d’un écart entre ladite valeur représentative et une valeur cible ; la comparaison de l’écart à un seuil de tolérance ; et selon le résultat de la comparaison, la modification d’une tension de polarisation appliquée aux détecteurs insensibles (10) dite « tension d’ébasage », afin de réduire l’écart. Procédé de réglage selon la revendication 1, dans lequel la valeur cible correspond à une valeur comprise entre une valeur minimale de tension de conversion analogique-numérique du système de détection (2) et une valeur maximale de tension de conversion analogique-numérique du système de détection (2). Procédé de réglage selon la revendication 2, dans lequel la valeur cible correspond à une valeur proche du milieu de la plage de conversion analogique-numérique du système de détection (2). Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel la valeur de la modification de la tension d’ébasage est sélectionnée, au moins en fonction dudit écart, dans une table préalablement déterminée de correspondance entre une variation de la tension d’ébasage et une variation de la valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse. Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 4, dans lequel la modification de la tension d’ébasage est effectuée entre deux acquisitions d’images successives du système de détection (2). Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 5, comprenant une initialisation du système de détection (2) au cours de laquelle une valeur de tension de polarisation des détecteurs actifs (8) et/ou une valeur de tension de polarisation des détecteurs aveugles (10) et/ou une valeur de gain d’amplification capacitif trans-impédance du capteur (6) est sélectionnée au moins en fonction d’une mesure de la température du système de détection (2). Procédé selon la revendication 6, dans lequel la valeur de tension de polarisation des détecteurs actifs (6) et/ou la valeur de tension de polarisation des détecteurs aveugles (10) et/ou la valeur de gain d’amplification capacitif trans-impédance du capteur (6) est également sélectionnée en fonction d’un besoin de mesure opérationnel estimé. Procédé selon l’une des revendications 6 et 7, dans lequel la valeur de tension de polarisation des détecteurs actifs (6) et/ou la valeur de tension de polarisation des détecteurs aveugles (10) et/ou la valeur de gain d’amplification capacitif trans-impédance du capteur (6) est sélectionnée dans une table préalablement déterminée de valeurs, les valeurs contenues dans ladite table préalablement déterminée de valeurs étant établies pour plusieurs températures du système de détection (2) et par l’utilisation de plusieurs scènes de référence. Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 8, comprenant, à la suite de la modification de la tension d’ébasage, en particulier lorsque ledit écart est inférieur au seuil de tolérance, l’application d’une table de correction des non-uniformités en additif du capteur (6) adaptée à la modification de la tension d’ébasage. Procédé selon la revendication 9, dans lequel la table de correction des non-uniformités en additif du capteur (6) adaptée à la modification de la tension d’ébasage est égale à une table courante de correction des non-uniformités en additif du capteur (6) à laquelle on ajoute un terme égal à la variation du niveau d’intensité des pixels des images de la scène (4) à la suite de la modification de la tension d’ébasage multiplié par une table de correction des non-uniformités en gains. Procédé selon la revendication 10, dans lequel la table de correction des non-uniformités en additif du capteur (6) est mise à jour grâce à un algorithme de décolonnage et/ou de délignage. Dispositif (16) de réglage pour un système de détection (2) formant une image d’une scène (4), le système de détection (2) comprenant un capteur (6) muni d’une matrice de détecteurs sensibles (8) à un rayonnement électromagnétique provenant de la scène (4), dits « actifs », d’une pluralité de détecteurs insensibles (10) audit rayonnement, dits « aveugles », ainsi que d’un circuit de lecture (12) fournissant un signal de réponse pour chaque détecteur sensible (8), caractérisé en ce qu’il comprend : un moyen de calcul (22) d’une valeur représentative du niveau d’au moins une partie des signaux de réponse ; un moyen de détermination (24) d’un écart entre ladite valeur représentative et une valeur cible ; et un moyen de comparaison (26) de l’écart à un seuil de tolérance ; un moyen de modification (28) d’une tension de polarisation appliquée aux détecteurs insensibles (10), dite « tension d’ébasage ».