Brevet FR3134194A1 — publié le 20231006

Procédés d’imagerie microscopique de fluorescence et d ispositifs de correction de front d’onde pour la mise en œuvre de tels procédés La présente description a notamment pour objet un procédé d’imagerie microscopique de fluorescence d’un objet au moyen d’un système (200) d’imagerie microscopique de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière. Le procédé comprend la génération d’une ligne de lumière et le balayage de la ligne de lumière pour générer une feuille de lumière (100) et comprend également une analyse de front d’onde d’un champ d’analyse de l’objet, comprenant le filtrage spatial de la lumière de fluorescence, ledit filtrage spatial comprenant un balayage d’un élément de filtrage par rapport à une image de fluorescence de ladite ligne de lumière formée dans un plan de filtrage (PO 5 ) de l’élément de filtrage, le balayage de l’élément de filtrage étant synchronisé avec ledit balayage de la ligne de lumière de telle sorte à obtenir une superposition, à chaque instant, dudit élément de filtrage et de ladite image de fluorescence de la ligne de lumière. FIG. 2 Procédés d’imagerie microscopique de fluorescence et dispositifs de correction de front d’onde pour la mise en œuvre de tels procédés La présente description concerne des procédés d’imagerie microscopique de fluorescence, des dispositifs de correction de front d’onde adaptés à la mise en œuvre de tels procédés, des systèmes d’imagerie microscopique comprenant de tels dispositifs d’analyse et des méthodes d’imagerie microscopique de fluorescence utilisant de tels dispositifs de correction. La présente description concerne plus particulièrement des systèmes et méthodes d’imagerie microscopique de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière. Etat de la technique En imagerie microscopique, notamment à haute résolution, la qualité de l’image en termes de résolution et de contraste est directement liée au front d’onde incident sur le détecteur d’imagerie, par exemple une caméra. Le front d’onde, c’est-à-dire la surface d’égale phase d’une onde est, dans un système d’imagerie microscopique, perturbé à la fois par les défauts optiques introduits par des éléments optiques du système d’imagerie, comme par exemple des défauts de réalisation des éléments optiques, des défauts d’alignement, des variations d’indice de réfraction entre le milieu d’immersion de l’objectif de microscope et l’objet, et par l’objet lui-même. Ceci est particulièrement vrai dans le cas d’objets biologiques transparents ou partiellement transparents, lors de la réalisation d’une image correspondant à un plan en profondeur dans l’objet ; en effet, dans les objets biologiques, la répartition spatiale de l’indice de réfraction est inhomogène à l’échelle microscopique du fait de la complexité des structures biologiques. Les rayons issus de différents points d’un plan en profondeur dans l’objet sont donc perturbés par les couches successives traversées dans l’objet. Le front d’onde issu de chacun de ces points est ainsi différent d’un front d’onde de référence, par exemple un front d’onde plan ou sphérique et l’image microscopique correspondante est dégradée en conséquence. L'optique adaptative (OA) est une technique permettant de modifier dynamiquement un front d’onde, et, en particulier lorsque la technique est utilisée dans un système d’imagerie, de corriger les éventuels défauts du front d’onde en chaque point de manière à restaurer la qualité des images produites par ledit système. Lorsqu’elle est employée en imagerie microscopique, l’OA permet d'améliorer de façon significative les performances d’imagerie en corrigeant au moins une partie des défauts optiques introduits par le système optique et l’objet d’intérêt, selon diverses mises en œuvre particulières, telles que décrites par exemple dans « Adaptive optics for fluorescence microscopy », de M. J. Booth et al. [Réf 1]. Les méthodes de mise en œuvre de l’OA en imagerie microscopique développées jusqu’à ce jour reposent toutes sur l’usage d’un dispositif de correction du front d’onde permettant de modifier localement la phase d’une onde optique. Parmi les dispositifs de correction, on connaît par exemple les miroirs déformables, les modulateurs à cristaux liquides (ou SLM pour « Spatial Light Modulator »), ou encore des lentilles déformables. Un miroir déformable par exemple comprend une membrane réfléchissante et un ensemble d’actionneurs permettant de déformer localement la membrane de manière contrôlée. Les méthodes de mise en œuvre de l’OA en imagerie microscopique diffèrent cependant quant aux méthodes de mesure des défauts optiques, en vue de la correction. On peut distinguer deux grandes catégories pour la mesure des défauts optiques : les méthodes de mesure indirecte basées sur l’analyse de l’image produite par le microscope au moyen de critères de qualité représentatifs de la qualité du front d’onde ayant conduit à la formation de ladite image, et les méthodes de mesure directe des défauts optiques au moyen d’analyseurs de front d’onde, par exemple des analyseurs de type Shack-Hartmann. La première approche (mesure indirecte) permet une mise en œuvre instrumentale simplifiée – et donc moins coûteuse – du fait de l’absence d’analyseur de front d’onde. Cependant, elle est basée sur une optimisation globale nécessitant l’usage d’algorithmes itératifs, dont la robustesse de convergence, la vitesse d’exécution et la calibration sont limitants, en particulier dans le cas de l’imagerie dynamique d’objets vivants. Ainsi, notamment pour l’imagerie microscopique d’objets biologiques, les méthodes basées sur la mesure directe des défauts optiques couplée à une correction de front d’onde, ont démontré leur capacité à obtenir une très bonne correction des défauts optiques introduits par le système d’imagerie et l’objet, et une amélioration substantielle du contraste et de la résolution des images. De telles méthodes sont décrites par exemple dans l’article de revue de N. Ji « Adaptive optical fluorescence microscopy » [Réf. 2]. Cependant l’approche de mesure directe des défauts optiques reste complexe dans sa mise en œuvre ; en effet, il est généralement nécessaire de disposer pour cette mesure d’un « point source » émettant un front d’onde unique. Aujourd’hui, les approches les plus efficaces consistent à induire ou à isoler optiquement un volume émetteur de lumière (également appelé « étoile artificielle ou « guide star ») au sein de l’image. Selon un premier exemple, l’étoile artificielle est créée par l’emploi de billes fluorescentes, de taille sensiblement égale à la limite de diffraction de l’objectif de microscope utilisé, placées dans l’objet d’intérêt, comme décrit dans le brevet US855730 B2 [Réf. 3], ce qui nécessite une modification substantielle de l’objet. Selon un second exemple décrit dans la demande de brevet publiée US 2015/0362713 [Réf. 4], l’étoile artificielle est créée à l’aide d’un laser ultrabref générant localement dans l’objet d’intérêt un volume d’émission de fluorescence à 2 photons. Ces approches imposent ainsi une mise en œuvre complexe en imagerie microscopique, que ce soit d’un point de vue de la préparation de l’objet d’intérêt ou du design instrumental. De plus, l’utilisation d’un point source comme source de front d’onde rend la mesure des défauts optiques induites par l’objet – et donc la correction par OA correspondante - valide uniquement sur un champ limité par le domaine d’isoplanétisme de l’objet, c’est-à-dire le champ au niveau du plan d’imagerie de l’objet pour lequel les défauts optiques varient de manière suffisamment faible pour que l’image correspondante ne montre aucune dégradation significative. Or la majorité des objets biologiques d’intérêt en microscopie de haute résolution sont constitués de multiples structures microscopiques correspondant à des fluctuations de phase significatives : le domaine d’isoplanétisme est en général limité à une centaine de microns carré, ce qui représente une limitation importante pour l’étude à forte résolution spatio-temporelle de structures larges, comme par exemple l’étude de réseaux neuronaux dans le domaine de la neuroimagerie. Très récemment, il a été proposé dans un système d’imagerie microscopique avec éclairage par « feuille de lumière » (ou « light sheet microscopy » selon l’expression anglo-saxonne), une méthode d’OA qui s’affranchit de l’utilisation d’un point source pour la mesure des défauts optiques. Une telle méthode est décrite dans l’article de K. Lawrence et al. « Scene-based Shack-Hartmann wavefront sensor for light-sheet microscopy » [Réf. 5]. Pour cela, il est proposé un analyseur de front d’onde de type Shack-Hartmann dans lequel chaque microlentille de l’analyseur forme une image d’un objet étendu, d’où l’appellation de dispositif d’analyse de front d’onde à source étendue. L’analyse du front d’onde est faite au moyen d’opérations de corrélations croisées ou « intercorrélations » entre les images formées par les différentes microlentilles, permettant d’obtenir une carte bidimensionnelle des gradients locaux (ou pentes locales) du front d’onde. Encore plus récemment, il a été proposé un système d’imagerie microscopique de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière comprenant un dispositif d’analyse de front d’onde à source étendue amélioré. Voir la demande de brevet publiée WO2020/157265 [Réf. 6]. Le dispositif d’analyse de front d’onde décrit dans [Réf. 6] comprend notamment un détecteur bidimensionnel avec un plan de détection et un arrangement bidimensionnel de microlentilles agencé dans un plan d’analyse, chaque microlentille étant configurée pour former sur le plan de détection, lorsque le dispositif d’analyse est connecté au système d’imagerie microscopique, une image d’un objet situé dans un plan focal de l’objectif de microscope, avec un champ d’analyse donné. Le dispositif d’analyse de front d’onde comprend en outre un diaphragme de champ conjugué optiquement avec le plan de détection du détecteur bidimensionnel, le diaphragme de champ permettant de limiter le champ d’analyse de chaque microlentille. Le dispositif d’analyse de front d’onde décrit dans [Réf. 6] permet par rapport aux dispositifs connus de l’état de l’art une très forte amélioration de la précision de l’analyse, tout en s’affranchissant de la génération d’une étoile artificielle. En effet, le diaphragme de champ ainsi agencé dans le dispositif d’analyse de front d’onde permet de contrôler la taille de l’image formée par chaque microlentille au niveau du plan de détection et de limiter le recouvrement entre deux images formées par deux microlentilles adjacentes, sans limiter pour autant la taille du champ imagé par le système d’imagerie microscopique auquel ledit dispositif d’analyse du front d’onde est connecté. Les déposants ont cependant mis en évidence une limitation supplémentaire lors de l’utilisation d’un dispositif d’analyse de front d’onde à source étendue tel que décrit dans [réf. 6], cette limitation supplémentaire étant expliquée au moyen de la . La illustre de façon très schématique un dispositif d’analyse de front d’onde comprenant une matrice 120 de microlentilles, quelques-unes des microlentilles (121 - 125) étant représentées, le dispositif d’analyse de front d’one étant agencé en sortie d’un objectif de microscope 110 comprenant une pupille de sortie 111 dans un plan pupillaire PP. Les microlentilles sont agencées dans un plan pupillaire conjugué optiquement avec le plan pupillaire PP et sont configurées pour générer dans un plan de détection 130 d’un détecteur bidimensionnel du dispositif d’analyse de front d’onde des images 131 – 135 d’un objet 100 qui intercepte un plan objet PO de l’objectif de microscope. Sur la , le plan des microlentilles est représenté confondu avec le plan pupillaire PP par souci de simplification. Comme illustré sur la , la grande majorité des systèmes d’imagerie microscopique de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière génèrent une feuille de lumière 101 dont l’épaisseur sur un champ de vue large est grande, notamment supérieure à la profondeur de champ de l’objectif de microscope sur le champ de vue complet de l’objectif de microscope, ladite profondeur de champ étant repérée par la bande 115 sur la . Il est en effet connu, pour obtenir une feuille de lumière d’épaisseur sensiblement constante sur un champ de vue large, de créer cette feuille de lumière par l’intermédiaire d’un système optique d’ouverture numérique faible, sensiblement plus faible que l’ouverture numérique de l’objectif d’imagerie, comme décrit par exemple dans [Réf. 7], pp. 122-125. De plus, dans le cas d’échantillons diffusants, ce qui est le cas des objets biologiques dans des proportions diverses, l’épaisseur effective de la feuille de lumière est augmentée du fait de la diffusion. Or chaque microlentille présente une ouverture numérique sensiblement inférieure à l’ouverture numérique de l’objectif de microscope du système d’imagerie microscopique. Par exemple, pour un dispositif de mesure du front d’onde comprenant un arrangement bidimensionnel de 100 microlentilles interceptant la pupille de l’objectif de microscope du système d’imagerie microscopique, l’ouverture numérique de chaque microlentille sera 100 fois inférieure à celle de l’objectif de microscope si la focale de chaque microlentille est similaire à la focale de l’objectif de microscope. Par conséquent, la profondeur de champ de chaque microlentille (représentée par la bande 125 sur la ) est sensiblement supérieure à la profondeur de champ de l’objectif de microscope, l’ouverture numérique et la profondeur de champ étant reliées selon la formule suivante : où λ représente la longueur d’onde d’imagerie, NA représente l’ouverture numérique et DOF représente la profondeur de champ. Ainsi, lorsque le dispositif de mesure de front d’onde à source étendue est connecté à un système d’imagerie microscopique de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière, comme cela est illustré sur la , chaque microlentille effectue une image correspondant typiquement à toute l’épaisseur de la feuille de lumière, c’est-à-dire effectue une projection dans un plan de tous les photons fluorescents issus de la feuille de lumière. Il en résulte que le calcul d’intercorrélations entre les images formées par les microlentilles du dispositif de mesure de front d’onde s’effectue sur une section de l’objet sensiblement supérieure à la profondeur de champ de l’objectif d’imagerie pour la majorité des systèmes d’imagerie microscopique de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière. Ce phénomène, mis en évidence par les déposants, est responsable de deux problématiques principales. D’une part la mesure des aberrations correspond dans ce cas à une mesure moyenne des aberrations présentes dans l’épaisseur effective de la feuille de lumière. Cette caractéristique peut être particulièrement problématique dans le cas d’objets très inhomogènes, pour lesquels le domaine d’isoplanétisme axial, c’est-à-dire l’extension selon l’axe optique d’imagerie pour laquelle les aberrations sont identiques, est très faible. Les aberrations mesurées n’étant pas uniquement représentatives des aberrations correspondant au plan d’imagerie dans un tel cas de figure, leur usage dans un système d’optique adaptative ne permet alors pas d’obtenir la meilleure correction possible. D’autre part, lorsque l’objet est constitué d’éléments fluorescents répartis en 3 dimensions dans l’épaisseur de la feuille de lumière, les images produites par les microlentilles de l’analyseur de front d’onde en source étendue correspondent à un système d’imagerie plénoptique, ou « light- fi el d imaging system » selon l’expression anglo-saxonne. Dans un tel système, chaque image correspond à une image de l’objet vue selon un angle de vue différent. Dans le cas d’un objet en 3 dimensions comme cela est illustré sur la , la différence d’angle de vue résulte en des images 131 – 135 non semblables du fait de la projection des photons issus de l’objet sur toute l’épaisseur de la feuille de lumière selon des angles différents. Ces différences relatives entre les images sont susceptibles d’avoir un impact sur le résultat de calcul d’intercorrélation entre les images lors de la mesure d’aberrations, et par conséquent peuvent générer des erreurs de mesure significatives. La présente description a pour objet notamment de proposer un procédé d’imagerie microscopique de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière et un système d’imagerie microscopique de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière équipé d’un dispositif d’analyse de front d’onde permettant de s’affranchir de toutes ou partie des limitations précitées. Dans la présente description, le terme « comprendre » signifie la même chose que « inclure » ou « contenir », et est inclusif ou ouvert et n’exclut pas d’autres éléments non décrits ou représentés. En outre, dans la présente description, le terme « environ » ou « sensiblement » est synonyme de (signifie la même chose que) présenter une marge inférieure et/ou supérieure de 10%, par exemple 5%, de la valeur respective. Selon un premier aspect, la présente description concerne un procédé d’imagerie microscopique de fluorescence d’un objet volumique et fluorescent au moyen d’un système d’imagerie microscopique de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière, ledit système comprenant un objectif de microscope d’imagerie avec une pupille dans un plan pupillaire et un axe optique, le procédé comprenant : - l’éclairage par feuille de lumière de l’objet au moyen d’une voie d’éclairage comprenant un dispositif d’éclairage, l’éclairage comprenant la génération d’une ligne de lumière et le balayage de la ligne de lumière dans un plan d’éclairage sensiblement perpendiculaire à l’axe optique de l’objectif de microscope d’imagerie pour générer une feuille de lumière, un plan focal dudit objectif de microscope d’imagerie étant compris dans ladite feuille de lumière, ladite feuille de lumière générant une émission de lumière de fluorescence par l’objet; - la génération, au moyen d’une voie d’imagerie comprenant ledit objectif de microscope d’imagerie et un détecteur d’imagerie comprenant un plan de détection d’imagerie, d’au moins une première image de fluorescence d’une section optique de l’objet superposée au plan focal dudit objectif de microscope d’imagerie, ladite au moins une première image de fluorescence étant générée dans une bande spectrale d’imagerie; - l’analyse d’un front d’onde de la lumière de fluorescence émise par l’objet au moyen d’une voie d’analyse comprenant ledit objectif de microscope d’imagerie et un dispositif d’analyse d’un front d’onde, le dispositif d’analyse d’un front d’onde comprenant un détecteur bidimensionnel avec un plan de détection d’analyse conjugué avec ledit plan focal de l’objectif de microscope d’imagerie et un arrangement bidimensionnel de microlentilles, agencé dans un plan d’analyse conjugué avec ledit plan pupillaire, ladite analyse d’un front d’onde comprenant : - la génération par chaque microlentille, sur le plan de détection d’analyse, d’une image de fluorescence d’un champ d’analyse donné de l’objet, situé dans un plan focal de l’objectif de microscope d’imagerie, ladite image de fluorescence étant générée dans une bande spectrale d’analyse; - le filtrage spatial de la lumière de fluorescence émise par ledit champ d’analyse au moyen d’un dispositif de filtrage spatial comprenant un élément de filtrage agencé dans un plan de filtrage conjugué optiquement avec le plan de détection d’analyse, le filtrage spatial comprenant un balayage dudit élément de filtrage par rapport à une image de fluorescence de ladite ligne de lumière formée dans ledit plan de filtrage, synchronisé avec ledit balayage de la ligne de lumière, de telle sorte à obtenir une superposition, à chaque instant, dudit élément de filtrage et de ladite image de fluorescence de la ligne de lumière; - le traitement des images de fluorescence générées par les microlentilles au moyen d’une unité de traitement pour déterminer une carte bidimensionnelle d’un paramètre caractéristique du front d’onde dans ledit plan d’analyse - la correction à partir de la carte bidimensionnelle d’un paramètre caractéristique du front d’onde, d’au moins une partie des défauts optiques entre ladite section optique de l’objet et ledit plan de détection d’imagerie, au moyen d’un dispositif de modulation de front d’onde comprenant un plan de correction conjugué avec le plan pupillaire. Dans la présente description, la fluorescence s’entend comme l’émission de lumière d’un objet résultant d’une excitation lumineuse par absorption de photons dans une bande spectrale d’absorption donnée. L’émission de lumière de fluorescence peut résulter d’un mécanisme linéaire à un photon ou d’un mécanisme non linéaire à deux photons ou plus, ce mécanisme pouvant résulter de l’interaction de la lumière absorbée avec un élément fluorescent constituant de l’objet ou avec un élément fluorescent ajouté à l’objet, comme par exemple, dans le cas d’un objet biologique, une protéine fluorescente. Un objet volumique et fluorescent comprend ainsi tout objet comprenant des structures microscopiques, doté de propriétés de fluorescence intrinsèque ou rendu fluorescent par ajout d’un « marqueur ». Un objet volumique et fluorescent comprend par exemple un objet biologique comme une cellule, une culture de cellules, un tissu biologique, un animal, ces objets biologiques étant dotés de propriétés de fluorescence, qu’elles soient intrinsèquement constituantes de l’objet ou induites par ajout d’éléments fluorescents. Parmi les objets volumiques et fluorescents d’intérêt, on citera en particulier les structures neuronales fluorescentes d’un cerveau animal dans le cadre d’études en neuroimagerie. Une « image de fluorescence » de l’objet ou d’une partie de l’objet dans un plan d’imagerie donné, est donc une image de l’objet ou de la partie de l’objet, formée dans la bande spectrale de fluorescence, par l’ensemble des éléments optiques agencés entre l’objet et le plan d’imagerie. Un front d’onde au sens de la présente description est la surface d’égale phase d’une onde lumineuse. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, un paramètre caractéristique du front d’onde comprend un gradient local (ou pente locale) selon deux dimensions du front d’onde intercepté dans le plan d’analyse. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, un paramètre caractéristique du front d’onde comprend un écart local du front d’onde intercepté dans le plan d’analyse par rapport à un front d’onde de référence correspondant à une onde lumineuse qui n’aurait pas subi de défauts optiques, par exemple un front d’onde plan. La carte bidimensionnelle desdits écarts locaux du front d’onde par rapport à un front d’onde de référence peut être obtenue à partir de la carte bidimensionnelle des pentes locales du front d’onde. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, la détermination de ladite carte bidimensionnelle comprend la détermination des variations des positions des images de fluorescence générées par les microlentilles, la variation de position d’une image de fluorescence générée par une microlentille étant mesurée par rapport à une position de référence d’une image de fluorescence de référence, la variation de position étant déterminée par une opération entre ladite image et ladite image de référence, ladite opération étant choisie parmi : une intercorrélation, une corrélation de phase, une somme des différences au carré. Les déposants ont démontré que le procédé ainsi décrit permet par rapport aux procédés connus de l’état de l’art une très forte amélioration de la précision de l’analyse de front d’onde, et ainsi une meilleure qualité d’imagerie, tout en s’affranchissant de la génération d’une étoile artificielle. En effet, le procédé d’imagerie selon le premier aspect comprend une analyse de front d’onde en source étendue, c’est-à-dire comprenant un traitement sur des images de fluorescence générées par les microlentilles qui ont des dimensions plus grandes que les tâches de diffraction des microlentilles. Par ailleurs, le filtrage spatial mis en œuvre dans l’analyse de front d’onde permet un filtrage confocal de la lumière de fluorescence, c’est-à-dire que seule la lumière de fluorescence provenant d’une section optique de l’objet plus fine que la feuille de lumière est analysée par le dispositif d’analyse de front d’onde, permettant d’éviter des erreurs dans le traitement des images de fluorescence. On appelle « microlentille » au sens de la présente description tout élément optique de focalisation de dimensions latérales (c’est-à-dire mesurées dans le plan d’analyse) inférieures ou égales à 5 mm, présentant une distance focale inférieure ou égale à 20 mm et une taille de pupille inférieure ou égale à 5 mm. Une microlentille peut comprendre par exemple un matériau transparent avec deux dioptres dont l’un au moins n’est pas plan, le dioptre non plan étant par exemple un dioptre convexe, par exemple un dioptre sphérique. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, lesdites microlentilles de la matrice de microlentille sont identiques, par exemple agencées selon une matrice bidimensionnelle. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, lesdites microlentilles de la matrice de microlentilles sont jointives et de pupille carrée. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, l’élément de filtrage comprend une fente mobile et le filtrage spatial de la lumière de fluorescence émise par ledit champ d’analyse comprend un déplacement transversal de ladite fente, synchronisé avec le balayage de la ligne de lumière. Un déplacement transversal est un déplacement dans un plan sensiblement perpendiculaire à l’axe optique du dispositif d’analyse de front d’onde, considéré au niveau de ladite fente. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, l’élément de filtrage comprend une fente fixe et le dispositif de filtrage spatial comprend en outre un ensemble d’éléments optiques dont au moins un premier miroir mobile en rotation, l’ensemble d’éléments optiques étant configuré pour générer une image de fluorescence de la ligne de lumière sur la fente. Le filtrage spatial de la lumière de fluorescence émise par ledit champ d’analyse comprend alors une rotation dudit au moins un premier miroir mobile, synchronisé avec le balayage de la ligne de lumière, pour superposer, à chaque instant, ladite fente et ladite image de fluorescence de ladite ligne de lumière. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, le dispositif d’éclairage de la voie d’éclairage comprend un dispositif d’émission laser pour l’émission d’un faisceau lumineux et un système optique d’éclairage avec un axe optique d’éclairage, le système optique d’éclairage étant configuré pour générer une ligne de lumière à partir dudit faisceau lumineux parallèle à l’axe optique d’éclairage, la feuille de lumière étant générée par balayage de la ligne de lumière dans une direction perpendiculaire à l’axe optique d’éclairage. Par exemple, le dispositif d’éclairage comprend un dispositif de type DSLM selon l’expression anglo-saxonne « digitally scanned laser light sheet fluorescence microscopy » tel que décrit dans [Réf. 7], pp 143 – 144. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, le dispositif d’éclairage de la voie d’éclairage comprend un dispositif d’émission laser pour l’émission d’un faisceau lumineux et un système optique d’éclairage avec un axe optique d’éclairage configuré pour générer une ligne de lumière à partir dudit faisceau lumineux collimaté perpendiculaire à l’axe optique d’éclairage, la feuille de lumière étant générée par balayage de la ligne de lumière. Par exemple, le dispositif d’éclairage comprend un dispositif de type ASLM selon l’expression anglo-saxonne « Axially Swept Light Sheet Microscopy » tel que décrit dans [Réf. 8]. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, la feuille de lumière étant générée par balayage de la ligne de lumière dans une direction parallèle à l’axe optique d’éclairage. Dans d’autres exemples de réalisation, la feuille de lumière est générée par balayage de la ligne de lumière dans une direction inclinée par rapport à l’axe optique d’éclairage. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, la bande spectrale d’imagerie est identique à la bande spectrale d’analyse. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, la bande spectrale d’imagerie est différente de la bande spectrale d’analyse. Ceci peut présenter un avantage si l’on souhaite profiter d’un maximum de puissance lumineuse sur la voie d’imagerie, sans qu’une partie de la puissance lumineuse utile pour l’imagerie soit envoyée sur la voie d’analyse. Selon un deuxième aspect, la présente description concerne un dispositif de correction de front d’onde, configuré pour être connecté à un système d’imagerie microscopique de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière, ledit système d’imagerie microscopique de fluorescence comprenant une voie d’imagerie comprenant un objectif de microscope d’imagerie avec une pupille dans un plan pupillaire et un axe optique et une voie d’éclairage comprenant un dispositif d’éclairage configuré pour le balayage d’une ligne de lumière dans un plan d’éclairage sensiblement perpendiculaire à l’axe optique pour générer une feuille de lumière. Le dispositif de correction de front d’onde selon le deuxième aspect comprend : - un dispositif d’analyse de front d’onde comprenant : - un détecteur bidimensionnel comprenant un plan de détection d’analyse; - un arrangement bidimensionnel de microlentilles, agencé dans un plan d’analyse, chaque microlentille étant configurée pour générer sur le plan de détection d’analyse, lorsque le dispositif d’analyse est connecté au système d’imagerie microscopique, une image de fluorescence d’un champ d’analyse donné de l’objet, situé dans un plan focal de l’objectif de microscope d’imagerie, ladite image de fluorescence étant générée dans une bande spectrale d’analyse; - un dispositif de filtrage spatial configuré pour le filtrage spatial de la lumière de fluorescence émise par ledit champ d’analyse lorsque le dispositif de correction de front d’onde est connecté au système d’imagerie microscopique, le dispositif de filtrage spatial comprenant un élément de filtrage agencé dans un plan de filtrage conjugué optiquement avec le plan de détection d’analyse et des moyens de balayage configurés pour le balayage dudit élément de filtrage par rapport à une image de fluorescence de ladite ligne de lumière formée dans ledit plan de filtrage, synchronisé avec ledit balayage de la ligne de lumière, de telle sorte à obtenir une superposition, à chaque instant, dudit élément de filtrage et de ladite image de fluorescence de la ligne de lumière; - une unité de traitement configurée pour déterminer à partir de l’ensemble des images formées par les microlentilles une carte bidimensionnelle d’un paramètre caractéristique du front d’onde dans ledit plan d’analyse ; le dispositif de correction de front d’onde comprenant en outre : - un dispositif de modulation de front d’onde comprenant un plan de correction, configuré pour la correction, à partir de la carte bidimensionnelle d’un paramètre caractéristique du front d’onde, d’au moins une partie des défauts optiques entre ladite section optique de l’objet et ledit plan de détection d’imagerie (PP 1 ), lorsque le dispositif de correction de front d’onde est connecté au système d’imagerie microscopique; - un premier système optique relai configuré pour conjuguer optiquement le plan pupillaire, le plan de correction et le plan d’analyse, lorsque le dispositif de correction de front d’onde est connecté au système d’imagerie microscopique ; - un deuxième système optique relai configuré pour conjuguer optiquement le plan focal de l’objectif de microscope d’imagerie, le plan de détection d’analyse, le plan de détection d’imagerie et le plan de filtrage, lorsque le dispositif de correction de front d’onde est connecté au système d’imagerie microscopique. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, l’élément de filtrage du dispositif de filtrage spatial comprend une fente mobile, et les moyens de balayage sont configurés pour générer un déplacement transversal de ladite fente, synchronisé avec le balayage de la ligne de lumière. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, ladite fente mobile est formée par un élément optomécanique mobile configuré pour la transmission ou la réflexion de la lumière de fluorescence. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, ladite fente mobile est formée par un l’adressage d’un groupe d’une ou plusieurs ligne(s) (ou colonne(s)) d’un dispositif de modulation spatiale d’intensité. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, l’élément de filtrage comprend une fente fixe et le dispositif de filtrage spatial comprend en outre un ensemble d’éléments optiques dont au moins un premier miroir mobile en rotation, et dans lequel : - l’ensemble d’éléments optiques est configuré pour générer une image de fluorescence de la ligne de lumière sur la fente ; et - les moyens de balayage sont configurés pour générer une rotation dudit au moins un premier miroir mobile, synchronisé avec le balayage de la ligne de lumière, pour superposer, à chaque instant, ladite fente et ladite image de fluorescence de ladite ligne de lumière. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, les moyens de balayage sont configurés pour générer une rotation d’un second miroir mobile de l’ensemble d’éléments optiques, synchronisé avec le balayage de la ligne de lumière et le balayage du premier miroir mobile, permettant de reconstituer l’image de fluorescence produite par la succession temporelle des images de fluorescence de la ligne de lumière produites par le balayage de la ligne de lumière, dans un plan focal intermédiaire conjugué avec le plan de détection d’analyse. Dans d’autres exemples de réalisation, l’ensemble d’éléments optiques comprend au moins un ou plusieurs miroir(s) de repli configuré(s) pour que ledit premier miroir mobile permette de reconstituer l’image de fluorescence produite par la succession temporelle des images de fluorescence de la ligne de lumière produites par le balayage de la ligne de lumière, dans un plan focal intermédiaire conjugué avec le plan de détection d’analyse. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, une largeur de la fente est comprise entre une valeur minimale égale à la limite de diffraction, avantageusement deux fois la limite de diffraction, de l’objectif de microscope d’imagerie multipliée par le grandissement optique entre le plan focal de l’objectif de microscope d’imagerie et le plan de filtrage dans lequel est agencée la fente, et une valeur maximale égale à la largeur de la zone de Rayleigh correspondant à un faisceau gaussien générant la ligne de lumière de fluorescence et multipliée par le grandissement optique entre le plan focal de l’objectif de microscope d’imagerie et le plan de filtrage dans lequel est agencée la fente. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, le dispositif de modulation de front d’onde comprend un miroir déformable généralement constitué d’une membrane et d’actionneurs permettant de modifier localement la position axiale de ladite membrane. Le dispositif de modulation de front d’onde peut comprendre également un modulateur spatial de lumière ou SLM (abréviation de l’expression anglo-saxonne « Spatial Light Modulator »), généralement constitué d’un arrangement bidimensionnel de cellules à cristaux liquides couplées à des électrodes permettant de modifier localement l’indice de réfraction desdites cellules. Le dispositif de modulation de front d’onde peut comprendre également une lentille déformable généralement constituée d’éléments actifs permettant de modifier localement la forme et/ou l’épaisseur de ladite lentille. Par correction des défauts optiques, ou correction du front d’onde, on entend la modification locale de la phase de l’onde dans le plan de correction visant à obtenir un front d’onde de référence. Selon la destination de la méthode de correction de front d’onde, le front d’onde de référence peut être un front d’onde plan, comme par exemple pour optimiser les performances d’un système d’imagerie, ou un front d’onde spécifique. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, le dispositif selon le deuxième aspect comprend en outre un élément séparateur de faisceau, agencé entre le dispositif de modulation de front d’onde et le dispositif d’analyse de front d’onde et configuré pour séparer le dispositif d’analyse de front d’onde et la voie d’imagerie, lorsque le dispositif de correction de front d’onde est connecté au système d’imagerie microscopique. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, l’élément séparateur de faisceau est dichroïque, c’est-à-dire qu’il permet de séparer la lumière incidente selon une première bande spectrale en réflexion et selon une seconde bande spectrale différente de la première bande spectrale en transmission. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, l’élément séparateur de faisceau de type dichroïque permet de séparer les deux bandes spectrales respectivement d’imagerie et d’analyse vers la voie d’imagerie et vers la voie d’analyse. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, le détecteur bidimensionnel comprend un agencement bidimensionnel de détecteurs élémentaires et une tache de diffraction d’une microlentille comprend selon une direction entre 0,2 et 2 détecteurs élémentaires. On définit la dimension d’une tache de diffraction d’une microlentille selon une direction par la distance séparant les 2 premiers minima d’intensité situés de part et d’autre du maximum d’intensité. Les déposants ont montré que cette configuration particulière représentait un bon compromis entre la précision de mesure de front d’onde et la taille du champ d’analyse. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, la détermination de ladite carte bidimensionnelle comprend la détermination de variations des positions des images formées par les microlentilles, la variation de position d’une image formée par une microlentille étant mesurée par rapport à une position de référence d’une image de référence, la variation de position étant déterminée par une opération d’intercorrélation entre ladite image et ladite image de référence. Selon un troisième aspect, la présente description concerne un système d’imagerie microscopique de fluorescence d’un objet volumique et fluorescent avec éclairage par feuille de lumière comprenant : - une voie d’imagerie configurée pour la génération d’au moins une première image d’une section optique de l’objet dans une bande spectrale d’imagerie, ladite voie d’imagerie comprenant un objectif de microscope d’imagerie avec une pupille dans un plan pupillaire et un détecteur d’imagerie comprenant un plan de détection d’imagerie, ladite section optique étant superposée à un plan focal dudit objectif de microscope d’imagerie; - une voie d’éclairage de l’objet comprenant un dispositif d’éclairage configuré pour le balayage d’une ligne de lumière dans un plan d’éclairage sensiblement perpendiculaire à l’axe optique de l’objectif de microscope d’imagerie ; - une voie d’analyse et de correction comprenant ledit objectif de microscope d’imagerie et un dispositif de correction front d’onde selon le deuxième aspect, configuré pour la correction à partir de la carte bidimensionnelle d’un paramètre caractéristique du front d’onde, d’au moins une partie des défauts optiques entre ladite section optique de l’objet et ledit plan de détection d’imagerie. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, le dispositif d’éclairage de la voie d’éclairage comprend un dispositif d’émission laser pour l’émission d’un faisceau lumineux et un système optique d’éclairage avec un axe optique d’éclairage, le système optique étant configuré pour générer une ligne de lumière à partir dudit faisceau lumineux parallèle à l’axe optique d’éclairage, la feuille de lumière étant générée par balayage de la ligne de lumière dans une direction perpendiculaire à l’axe optique d’éclairage. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, le dispositif d’éclairage de la voie d’éclairage comprend un dispositif d’émission laser pour l’émission d’un faisceau lumineux et un système optique d’éclairage avec un axe optique d’éclairage configuré pour générer une ligne de lumière à partir dudit faisceau lumineux collimaté perpendiculaire à l’axe optique d’éclairage, la feuille de lumière étant générée par balayage de la ligne de lumière. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, le détecteur d’imagerie comprend un détecteur bidimensionnel avec un arrangement bidimensionnel de détecteurs élémentaires ou « pixels », le détecteur étant configuré pour une lecture par ligne ou par colonne des pixels synchrone avec le balayage de la ligne de lumière. Par lecture par ligne ou par colonne, on comprend la lecture séquentielle d’un groupe d’une ou plusieurs lignes ou d’un groupe d’une ou plusieurs colonnes. Par exemple, le détecteur d’imagerie est une caméra à obturateur défilant également connue comme une caméra de type « rolling shutter » selon l’expression anglosaxonne. Selon un ou plusieurs exemples de réalisation, la voie d’imagerie comprend en outre une unité de traitement des signaux issus du détecteur d’imagerie. Bien entendu, en pratique, les unités de traitement de la voie d’analyse et de la voie d’imagerie peuvent être rassemblées au sein d’une même unité. Brève description des figures D’autres avantages et caractéristiques de l’invention apparaîtront à la lecture de la description, illustrée par les figures suivantes : , déjà décrite, représente schématiquement la formation d’images fluorescentes par des microlentilles d’un dispositif d’analyse de front d’onde selon l’état de l’art, connecté à un système d’imagerie de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière ; , illustre un schéma d’un exemple d’un système d’imagerie de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière, selon la présente description. Description détaillée de l’invention ; , illustre un schéma d’une voie d’éclairage d’un système d’imagerie de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière selon la présente description, selon un premier exemple de réalisation ; , illustre un schéma d’une voie d’éclairage d’un système d’imagerie de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière selon la présente description, selon un deuxième exemple de réalisation ; , illustre un schéma d’une voie d’éclairage d’un système d’imagerie de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière selon la présente description, selon un troisième exemple de réalisation ; , illustre un premier exemple d’un dispositif de filtrage spatial d’un dispositif d’analyse de front d’onde selon la présente description, l’élément de filtrage du dispositif de filtrage spatial comprenant une fente mobile formée par un élément optomécanique mobile configuré pour la transmission ou la réflexion de la lumière de fluorescence. , illustre un deuxième exemple d’un dispositif de filtrage spatial d’un dispositif d’analyse de front d’onde selon la présente description, l’élément de filtrage du dispositif de filtrage spatial comprenant une fente mobile formée par l’adressage d’un groupe d’une ou plusieurs ligne(s) (ou colonne(s)) d’un dispositif de modulation spatiale d’intensité ; , illustre un premier exemple d’un dispositif de filtrage spatial avec une fente fixe et des moyens de balayage d’une image de fluorescence de la ligne de lumière sur la fente, dans un dispositif d’analyse de front d’onde selon la présente description ; , illustre un deuxième exemple d’un dispositif de filtrage spatial avec une fente fixe et des moyens de balayage d’une image de fluorescence de la ligne de lumière sur la fente, dans un dispositif d’analyse de front d’onde selon la présente description ; , montre un schéma illustrant la synchronisation entre les différentes voies, selon un exemple de réalisation du procédé selon la présente description. Procédé d’imagerie microscopique de fluorescence d’un objet volumique et fluorescent (10) au moyen d’un système (200) d’imagerie microscopique de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière, ledit système comprenant un objectif de microscope d’imagerie (210) avec une pupille (211) dans un plan pupillaire (PP 1 ) et un axe optique (D), le procédé comprenant : - l’éclairage par feuille de lumière de l’objet au moyen d’une voie d’éclairage (201) comprenant un dispositif d’éclairage (205), l’éclairage comprenant la génération d’une ligne de lumière et le balayage de la ligne de lumière dans un plan d’éclairage sensiblement perpendiculaire à l’axe optique de l’objectif de microscope d’imagerie pour générer une feuille de lumière (100), un plan focal (PO 1 ) dudit objectif de microscope d’imagerie étant compris dans ladite feuille de lumière, ladite feuille de lumière générant une émission de lumière de fluorescence par l’objet; - la génération, au moyen d’une voie d’imagerie (202) comprenant ledit objectif de microscope d’imagerie (210) et un détecteur d’imagerie (220) comprenant un plan de détection d’imagerie (PO 3 ), d’au moins une première image de fluorescence d’une section optique de l’objet superposée au plan focal (PO 1 ) dudit objectif de microscope d’imagerie, ladite au moins une première image de fluorescence étant générée dans une bande spectrale d’imagerie; - l’analyse d’un front d’onde de la lumière de fluorescence émise par l’objet au moyen d’une voie d’analyse (203) comprenant ledit objectif de microscope d’imagerie et un dispositif d’analyse d’un front d’onde (240), le dispositif d’analyse d’un front d’onde comprenant un détecteur bidimensionnel (248) avec un plan de détection d’analyse (PO 4 ) conjugué avec ledit plan focal de l’objectif de microscope d’imagerie et un arrangement bidimensionnel (243) de microlentilles (244), agencé dans un plan d’analyse (PP 3 ) conjugué avec ledit plan pupillaire (PP 1 ), ladite analyse d’un front d’onde comprenant : - la génération par chaque microlentille, sur le plan de détection d’analyse, d’une image de fluorescence d’un champ d’analyse donné de l’objet, situé dans un plan focal (PO 1 ) de l’objectif de microscope d’imagerie, ladite image de fluorescence étant générée dans une bande spectrale d’analyse; - le filtrage spatial de la lumière de fluorescence émise par ledit champ d’analyse au moyen d’un dispositif de filtrage spatial (245) comprenant un élément de filtrage agencé dans un plan de filtrage conjugué optiquement avec le plan de détection d’analyse (PO 4 ), le filtrage spatial comprenant un balayage dudit élément de filtrage par rapport à une image de fluorescence de ladite ligne de lumière formée dans ledit plan de filtrage, synchronisé avec ledit balayage de la ligne de lumière, de telle sorte à obtenir une superposition, à chaque instant, dudit élément de filtrage et de ladite image de fluorescence de la ligne de lumière; - le traitement des images de fluorescence générées par les microlentilles au moyen d’une unité de traitement (250) pour déterminer une carte bidimensionnelle d’un paramètre caractéristique du front d’onde dans ledit plan d’analyse - la correction à partir de la carte bidimensionnelle d’un paramètre caractéristique du front d’onde, d’au moins une partie des défauts optiques entre ladite section optique de l’objet et ledit plan de détection d’imagerie (PP 1 ), au moyen d’un dispositif (232) de modulation de front d’onde comprenant un plan de correction conjugué avec le plan pupillaire (PP 1 ). Procédé d’imagerie microscopique de fluorescence selon la revendication 1, dans lequel l’élément de filtrage comprend une fente mobile (40, 425) et le filtrage spatial de la lumière de fluorescence émise par ledit champ d’analyse comprend un déplacement transversal de ladite fente, synchronisé avec le balayage de la ligne de lumière. Procédé d’imagerie microscopique de fluorescence selon la revendication 1, dans lequel - l’élément de filtrage comprend une fente fixe (510) et le dispositif de filtrage spatial comprend en outre un ensemble d’éléments optiques dont au moins un premier miroir (512, 522) mobile en rotation, l’ensemble d’éléments optiques étant configuré pour générer une image de fluorescence de la ligne de lumière sur la fente, le filtrage spatial de la lumière de fluorescence émise par ledit champ d’analyse comprenant : - une rotation dudit au moins un premier miroir mobile, synchronisé avec le balayage de la ligne de lumière, pour superposer, à chaque instant, ladite fente et ladite image de fluorescence de ladite ligne de lumière. Procédé d’imagerie microscopique de fluorescence selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le dispositif d’éclairage de la voie d’éclairage comprend un dispositif d’émission laser (310) pour l’émission d’un faisceau lumineux et un système optique d’éclairage avec un axe optique d’éclairage (D 1 ), le système optique d’éclairage étant configuré pour générer une ligne de lumière (341) à partir dudit faisceau lumineux parallèle à l’axe optique d’éclairage, la feuille de lumière (340) étant générée par balayage de la ligne de lumière dans une direction perpendiculaire à l’axe optique. Procédé d’imagerie microscopique de fluorescence selon l’une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel le dispositif d’éclairage de la voie d’éclairage comprend un dispositif d’émission laser (310) pour l’émission d’un faisceau lumineux et un système optique d’éclairage avec un axe optique d’éclairage (D 2 ) configuré pour générer une ligne de lumière (341) à partir dudit faisceau lumineux perpendiculaire à l’axe optique d’éclairage, la feuille de lumière étant générée par balayage de la ligne de lumière. Procédé d’imagerie microscopique de fluorescence selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel : - la détermination de ladite carte bidimensionnelle comprend la détermination de variations des positions des images de fluorescence formées par les microlentilles, la variation de position d’une image de fluorescence formée par une microlentille étant mesurée par rapport à une position de référence d’une image de référence, la variation de position étant déterminée par une opération entre ladite image et ladite image de référence, ladite opération étant choisie parmi : une intercorrélation, une corrélation de phase, une somme des différences au carré. Dispositif (230) de correction de front d’onde, configuré pour être connecté à un système d’imagerie microscopique de fluorescence avec éclairage par feuille de lumière pour la mise en œuvre d’un procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 6, ledit système d’imagerie microscopique de fluorescence comprenant une voie d’imagerie comprenant un objectif de microscope d’imagerie (210) avec une pupille (211) dans un plan pupillaire (PP 1 ) et un axe optique (D), et comprenant un détecteur d’imagerie avec un plan de détection d’imagerie (PO 3 ), et une voie d’éclairage comprenant un dispositif d’éclairage (205) configuré pour le balayage d’une ligne de lumière dans un plan d’éclairage sensiblement perpendiculaire à l’axe optique pour générer une feuille de lumière (100), le dispositif de correction de front d’onde comprenant : - un dispositif (240) d’analyse de front d’onde comprenant : - un détecteur bidimensionnel (248) comprenant un plan de détection d’analyse (PO 4 ); - un arrangement bidimensionnel (243) de microlentilles (244), agencé dans un plan d’analyse (PP 3 ), chaque microlentille étant configurée pour générer sur le plan de détection d’analyse, lorsque le dispositif de correction de front d’onde est connecté au système d’imagerie microscopique, une image de fluorescence d’un champ d’analyse donné de l’objet, situé dans un plan focal (PO 1 ) de l’objectif de microscope d’imagerie, ladite image de fluorescence étant générée dans une bande spectrale d’analyse; - un dispositif de filtrage spatial (245) configuré pour le filtrage spatial de la lumière de fluorescence émise par ledit champ d’analyse lorsque le dispositif de correction de front d’onde est connecté au système d’imagerie microscopique, le dispositif de filtrage spatial comprenant un élément de filtrage agencé dans un plan de filtrage (PO 5 , PO 6 ) conjugué optiquement avec le plan de détection d’analyse (PO 4 ) et des moyens de balayage configurés pour le balayage dudit élément de filtrage par rapport à une image de fluorescence de ladite ligne de lumière formée dans ledit plan de filtrage, synchronisé avec ledit balayage de la ligne de lumière, de telle sorte à obtenir une superposition, à chaque instant, dudit élément de filtrage et de ladite image de fluorescence de la ligne de lumière; - une unité de traitement (250) configurée pour déterminer à partir de l’ensemble des images formées par les microlentilles une carte bidimensionnelle d’un paramètre caractéristique du front d’onde dans ledit plan d’analyse ; le dispositif de correction de front d’onde comprenant en outre : - un dispositif (232) de modulation de front d’onde comprenant un plan de correction (PP 2 ), configuré pour la correction à partir de la carte bidimensionnelle d’un paramètre caractéristique du front d’onde, au moins une partie des défauts optiques entre ladite section optique de l’objet et ledit plan de détection d’imagerie (PO 3 ), lorsque le dispositif de correction de front d’onde est connecté au système d’imagerie microscopique; - un premier système optique relai (231, 241, 242) configuré pour conjuguer optiquement le plan pupillaire (PP 1 ), le plan de correction (PP 2 ) et le plan d’analyse (PP 3 ), lorsque le dispositif de correction de front d’onde est connecté au système d’imagerie microscopique ; - un deuxième système optique relai (231, 236, 241, 242) configuré pour conjuguer optiquement le plan focal (PO 1 ) de l’objectif de microscope d’imagerie, le plan de détection d’analyse (PO 4 ), le plan de détection d’imagerie (PO 3 ) et le plan de filtrage (PO 5 , PO 6 ), lorsque le dispositif de correction de front d’onde est connecté au système d’imagerie microscopique. Dispositif (230) de correction de front d’onde selon la revendication 7, dans lequel l’élément de filtrage du dispositif de filtrage confocal comprend une fente mobile (40, 425), et les moyens de balayage sont configurés pour générer un déplacement transversal de ladite fente, synchronisé avec le balayage de la ligne de lumière. Dispositif (230) de correction de front d’onde selon la revendication 8, dans lequel ladite fente mobile est formée par un élément optomécanique mobile (40) configuré pour la transmission ou la réflexion de la lumière de fluorescence. Dispositif (230) de correction de front d’onde selon la revendication 8, dans lequel ladite fente mobile est formé par l’adressage d’un groupe d’une ou plusieurs ligne(s) (ou colonne(s)) d’un dispositif de modulation spatiale d’intensité (420). Dispositif de correction de front d’onde selon la revendication 7, dans lequel l’élément de filtrage comprend une fente fixe (510) et le dispositif de filtrage spatial comprend en outre un ensemble d’éléments optiques dont au moins un premier miroir (512, 522) mobile en rotation, et dans lequel : - l’ensemble d’éléments optiques est configuré pour générer une image de fluorescence de la ligne de lumière sur la fente ; et - les moyens de balayage sont configurés pour générer une rotation dudit au moins un premier miroir mobile, synchronisé avec le balayage de la ligne de lumière, pour superposer, à chaque instant, ladite fente et ladite image de fluorescence de la ligne de lumière. Dispositif de correction de front d’onde selon l’une quelconque des revendications 8 à 11, dans lequel la largeur de la fente (40, 425, 510) est comprise entre une valeur minimale égale à la limite de diffraction de l’objectif de microscope d’imagerie multipliée par le grandissement optique entre le plan focal de l’objectif de microscope d’imagerie et le plan de filtrage dans lequel est agencée la fente, et une valeur maximale égale à la largeur de la zone de Rayleigh correspondant à un faisceau gaussien générant la ligne de lumière de fluorescence et multipliée par le grandissement optique entre le plan focal de l’objectif de microscope d’imagerie et le plan de filtrage dans lequel est agencée la fente. Système d’imagerie microscopique (200) de fluorescence d’un objet volumique et fluorescent (10) avec éclairage par feuille de lumière comprenant : - une voie d’imagerie (202) configurée pour la génération d’au moins une première image d’une section optique de l’objet dans une bande spectrale d’imagerie, ladite voie d’imagerie comprenant un objectif de microscope d’imagerie (210) avec une pupille dans un plan pupillaire (PP 1 ) et un détecteur d’imagerie (220) comprenant un plan de détection d’imagerie (PO 3 ), ladite section optique étant superposée à un plan focal (PO 1 ) dudit objectif de microscope d’imagerie; - une voie d’éclairage de l’objet comprenant un dispositif d’éclairage (205) configuré pour le balayage d’une ligne de lumière dans un plan d’éclairage sensiblement perpendiculaire à l’axe optique de l’objectif de microscope d’imagerie pour générer une feuille de lumière (100), un plan focal (PO 1 ) dudit objectif de microscope d’imagerie étant compris dans ladite feuille de lumière, ladite feuille de lumière étant configurée pour générer une émission de lumière de fluorescence; - une voie d’analyse et de correction (203) comprenant ledit objectif de microscope d’imagerie et un dispositif de correction de front d’onde (230) selon l’une quelconque des revendications 7 à 12, configuré pour la correction à partir de la carte bidimensionnelle d’un paramètre caractéristique du front d’onde, d’au moins une partie des défauts optiques entre ladite section optique de l’objet et ledit plan de détection d’imagerie (PP 1 ). Système d’imagerie microscopique (200) de fluorescence selon la revendication 13, dans lequel le dispositif d’éclairage de la voie d’éclairage comprend un dispositif d’émission laser (310) pour l’émission d’un faisceau lumineux et un système optique d’éclairage avec un axe optique d’éclairage (D 1 ), le système optique d’éclairage étant configuré pour générer une ligne de lumière (341) à partir dudit faisceau lumineux parallèle à l’axe optique d’éclairage, la feuille de lumière (340) étant générée par balayage de la ligne de lumière dans une direction perpendiculaire à l’axe optique d’éclairage. Système d’imagerie microscopique (200) de fluorescence selon la revendication 13, dans lequel le dispositif d’éclairage de la voie d’éclairage comprend un dispositif d’émission laser (310) pour l’émission d’un faisceau lumineux et un système optique d’éclairage avec un axe optique d’éclairage configuré pour générer une ligne de lumière (341) à partir dudit faisceau lumineux collimaté perpendiculaire à l’axe optique d’éclairage, la feuille de lumière étant générée par balayage de la ligne de lumière.