Brevet FR3132352A1 — publié le 20230804

Procédé s et système s opto-informatiques d’inspection en lumière traversante d’un récipient en verre L’invention concerne un procédé et un système opto-informatique d’inspection en lumière traversante d’un récipient (12), dans lequel : - on illumine le récipient par des zones émettrices élémentaires émettant chacune une lumière émise polarisée ayant une propriété de polarisation d’intérêt émise qui varie suivant une loi de variation périodique qui, sur une période primaire (T1), suit une variation triangulaire en fonction de la position de la zone émettrice élémentaire selon la direction primaire (D1); - on acquière, avec au moins une caméra, des images numériques avec interposition, d’un analyseur linéaire (30(n,k) ; 30.1, 30.2) présentant un axe de polarisation (Ak) donné pour une image numérique partielle (Ipk.m) ; - on calcule au moins une image primaire brute de réfraction (IR1), dont chaque pixel est représentatif de la réfraction subie par la lumière. Le système comporte avantageusement une matrice bidimensionnelle (16c) de cellules à cristaux liquides. Figure pour l’abrégé : Fig. 1. Procédés et systèmes opto-informatiques d’inspection en lumière traversante d’un récipient en verre L’invention concerne des procédés et systèmes opto-informatiques d’inspection en lumière traversante d’un récipient en verre à l’aide d’une caméra numérique, notamment en vue de détecter informatiquement la présence, dans le verre constitutif du récipient, d’éventuels défauts, en vue de pouvoir identifier un caractère rédhibitoire ou pas de tels défauts. Il existe une grande quantité de procédés opto-informatiques d’inspection d’un récipient en verre pour y détecter des défauts, faisant appel à une ou plusieurs caméras numériques, dans lesquels la détection et l’éventuelle identification ou classification des défauts est réalisée par analyse informatique d’une ou plusieurs images numériques acquises par ces caméras. Certains procédés acquièrent une image numérique en lumière réfléchie sur le récipient. D’autres procédés, comme ceux envisagés dans l’invention, travaillent en lumière traversante, la source lumineuse étant dans ce cas dans le champ de vision de la caméra numérique utilisée. On peut classer les défauts d’un récipient en verre en fonction de leur interaction spécifique ou privilégiée avec la lumière d’inspection. Certains défauts peuvent avoir plusieurs interactions selon les caractéristiques de la lumière utilisée, sa direction, les formes et dimensions de la source, les conditions d’observation etc… Autrement dit, certains défauts peuvent être détectés avec des procédés d’inspection de natures différentes. Mieux, certains défauts peuvent être mieux détectés et mieux catégorisés en les détectant avec des procédés d’inspection différents, mettant en exergue telle ou telle interaction du défaut avec la lumière d’inspection. Certains défauts ont un caractère absorbant, totalement ou partiellement absorbants. Ces défauts apparaissent ainsi opaques ou sombres lorsqu’ils sont vus en transmission. C’est-à-dire que la lumière traversant une paroi de verre sans défaut subit une absorption dite normale correspondant à la teinte et à l’épaisseur supposées homogènes de la paroi de verre. Mais les défauts absorbants présentent une anomalie locale avec une absorption parfois inférieure (bulle ou mince) mais généralement supérieure à l’absorption normale. Dans la suite on désignera par absorption uniquement l’absorption anormale des défauts absorbants. De tels défauts incluent notamment des inclusions dans le verre, notamment de céramique ou de métaux, et/ou des salissures (graisse, …) sur le verre. Mais de tels défauts incluent aussi certaines glaçures (fissures) qui seraient orientées dans le verre de manière à bloquer la lumière d’inspection, principalement par le fait que la lumière d’inspection est alors réfléchie dans une direction qui n’est pas vue par la caméra. Certains défauts ont un caractère réfléchissant. C’est le cas des glaçures habituelles, mais aussi de certains défauts de la surface de bague, des écaillés, ou des inclusions métalliques vues sous certains angles. Certains défauts ont un caractère réfractant. Ce caractère est lié principalement à l’interaction avec la lumière traversant une ou deux parois du récipient. Une paroi présente 2 surfaces opposées de chaque d’une épaisseur du matériau de verre. Chaque surface est une interface air/verre ou verre/air donc un dioptre qui réfracte la lumière le traversant. En l’absence de défaut, les surfaces des parois sont sensiblement parallèles et la réfraction ne provoque pas de déviation visible des rayons lumineux traversant le récipient. Un défaut dit réfractant est un défaut qui provoque localement une réfraction anormale, principalement lorsque que le défaut se manifeste par des écarts de pente entre des surfaces ou dioptres de la ou des parois. Dans la suite on parlera donc de défaut de réfraction uniquement pour designer des déviations de la lumière par la réfraction particulière au niveau des défauts dits réfractants. Les défauts réfractants sont les défauts qui sont principalement détectables par les anomalies de réfraction qu’ils engendrent, notamment dans une inspection en lumière traversante. Typiquement, on classe généralement parmi les défauts réfractants les défauts de surface (plis, rivières,) ou de répartition de verre (bouillons, minces, anneau de compression), les trapèzes et les ailettes Certains défauts ont un caractère diffusant, notamment les défauts de type salissures, rayures, etc…. On note que le caractère diffusant est souvent combiné avec un caractère absorbant ou réfractant. Certains défauts ont un caractère biréfringent. Ainsi, certains défauts se traduisent par la présence de contraintes mécaniques résiduelles dans le matériau (parfois appelées contraintes mécaniques internes ou, notamment en langue anglaise, « stress »). Il est connu que de tels défauts peuvent être détectés, en déterminant la modification de l’état de polarisation de la lumière après que celle-ci a traversé le matériau du récipient et a traversé d’éventuels défauts de stress de celui-ci. Pour mettre en œuvre de tels procédés, on dispose aujourd’hui de caméras polarimétriques. Ainsi, en fonction de la nature des défauts que l’on veut être en mesure de détecter dans un récipient donné, on peut être amené à mettre en œuvre des procédés d’inspection différents. Même en considérant des procédés d’inspection qui opèrent en lumière traversante, on peut être amené à devoir mettre en œuvre des dispositifs d’illuminations différents, qui fournissent une lumière d’inspection ayant des propriétés de lumière différentes. De même, pour analyser cette lumière, on peut devoir mettre en œuvre des caméras numériques différentes, éventuellement avec interposition d’analyseur de polarisation ayant des propriétés d’analyse de polarisation adaptées au procédé considéré. Pour être capable de détecter des défauts différents, ayant des caractères différents, on peut donc être amené à mettre en œuvre des systèmes complexes. On connait notamment des procédés et systèmes dans lesquels les éventuels défauts réfractants sont détectés informatiquement à partir d’une série de plusieurs images numériques d’intensité acquises par une caméra, dans lesquelles on analyse les anomalies dans l’image résultant de la réfraction totale ou partielle, par le défaut, de la lumière incidente projetée par la source lumineuse. Les images numériques utilisées pour une telle analyse sont donc des images numériques d’intensité dont chacun des pixels présente une valeur proportionnelle à l’intensité lumineuse émergeant d’un point du récipient correspondant optiquement à ce pixel dans le système optique de la caméra. Le document US4606634 décrit un type de détection de défauts réfractants qui consiste à modifier le « spectre angulaire » d’une source étendue. US4610542 décrit un procédé mettant en œuvre une source diffuse présentant un gradient d’intensité de manière que l’intensité observée est proportionnelle à la pente des défauts réfractants. D’autres procédés d’inspection adaptés pour la détection de défauts réfractants mettent en œuvre des dispositifs d’illumination qui fournissent une lumière qui est parfois dite « structurée », c’est-à-dire disposant d’un surface émettrice, généralement bidimensionnelle, qui présente des variations d’intensité. Ainsi, le document US4487322 décrit un procédé dans lequel une source de lumière présente une variation (donc un gradient) de niveau de gris (donc d’intensité) en forme de rampe. La traversée de la paroi du récipient dévie la lumière et, en présence d’un défaut réfractant, donc il y a une déformation de la rampe au niveau du défaut. D’autres documents décrivent des méthodes mettant en œuvre des sources de lumière elles aussi dites « structurées », mais dans lesquelles la variation d’intensité de la lumière varie de manière périodique, avec plusieurs périodes de variation lorsqu’on parcourt la zone utile d’inspection qui est vue par la caméra numérique en arrière-plan de la zone inspectée du récipient. EP0344617 et EP1006350 décrivent des procédés qui consistent à observer en transmission les déformations d’un motif de rayures ou de formes dans un motif binaire, c’est-à-dire des rayures ou formes soit « blanches », d’intensité lumineuse ayant une valeur maximale, soit « noires », d’intensité lumineuse ayant une valeur minimale. Le document EP2082216 décrit un système permettant, avec une même camera, d’acquérir une première image avec une surface émettrice uniforme, qui permet une analyse d’aspect, et une deuxième image avec une surface émettrice à motif de mire contrastée. Ces méthodes mettant en œuvre des mires périodiques binaires posent comme problème que, en fonction de la position d’un défaut du récipient par rapport au motif de la mire qui est en arrière-plan (vu de la caméra d’acquisition), le défaut est plus ou moins bien détecté. En particulier, les défauts réfractants situés à proximité d’une transition entre deux formes ou rayures contractées sont mal détectés. Ce défaut est en partie résolu par le procédé du document EP2558847 dans lequel deux images sont faites avec 2 mires de couleurs différentes, en opposition de phase, et à rapport cyclique différent de 1, de telle sorte que tout défaut réfractant se trouve contrasté et éloigné de toute transition de mire dans au moins une des deux images. Les documents FR2794241 et FR2794242 décrivent un procédé mettant en œuvre une source lumineuse qui présente une intensité à variation continue cyclique dans l'espace entre les extrêmes du sombre et du clair. Dans ce cas la variation augmente le contraste des défauts réfractants, mais néanmoins la mire elle-même ne se détecte pas. Cette méthode ne détecte que les défauts réfractants forts. Les documents EP3552001 et EP3679356 proposent d’utiliser une source de lumière composée de zones émettant des couleurs différentes, et de capturer des images couleurs. Les défauts réfractants se présentent dans l’image comme des « artefacts » n’ayant pas la même couleur que leur voisinage. La réfraction des défauts réfractants est révélée par la couleur tandis que l’absorption des défauts absorbants reste révélée par les baisses d’intensité. L’inconvénient de cette méthode est qu’elle ne s’applique pas lorsque le verre est teinté et bloque la transmission de certaines couleurs. De plus, comme dans les documents précédents, la position des défauts par rapport aux transitions de couleur de l’arrière-plan modifie la sensibilité de détection. Les documents EP1980843 et FR2958040 décrivent chacun un procédé d’inspection en réflexion, appelé déflectométrie et mettant en œuvre un éclairage qui présente, en arrière-plan de l’objet à inspecter, un motif lumineux ayant une variation d’intensité qui varie selon une loi de variation sinusoïdale. Le procédé prévoit de recueillir N images de l’objet en décalant le motif de π/N à chaque fois, et à partir des N images ainsi recueillies, de calculer en chaque point éclairé sa phase qui représente la position (modulo π) dans la sinusoïde du point source qui l’éclaire. En attribuant une valeur de phase à chaque point de l’objet éclairé, si la valeur de phase calculée est décalée par rapport à celle qui serait attendu en l’absence de défaut c’est qu’un défaut dévie la lumière. Un principe similaire de déflectométrie, cette fois-ci en réflexion, applicable pour des objets opaques, est décrit dans le document « Une autre manière de “voir” les défauts de surface », Marie-Line Zani, MESURES 733 - MARS 2001. La méthode du document EP1980843 consiste à réaliser une image de phase des lentilles et de la comparer à des images de phase de référence. Le document EP2875339 présente une méthode de déflectométrie en transmission pour des bouteilles en défilement. On note que le défilement des objets à inspecter pose, lorsque plusieurs images doivent être acquises, le problème de la nécessité de pouvoir superposer les images pixel à pixel. En effet, outre le simple déplacement du au défilement, lequel peut généralement être connu, on ne peut pas exclure des phénomènes de vibration, qui eux ne peuvent pas être connus directement. En l’absence d’un caractère parfaitement superposable des images, on introduit des imprécisions de détection. Le document WO2020/212014 décrit un dispositif d'inspection par transmission pour l'inspection des parois latérales de récipients transportés par un convoyeur. Le dispositif comprend un dispositif d'éclairage avec une source de lumière et un polariseur en aval, et comprend une caméra polarimétrique ou un système de 4 caméras ayant chacune un analyseur de polarisation avec un axe de polarisation orientés selon 4 directions, pour détecter simultanément au moins quatre directions de polarisation linéaire différentes. Le document WO2020/244815 décrit un procédé pour l'inspection optique de récipients, dans lequel les récipients sont transportés vers une unité d'inspection avec une unité d'éclairage et avec une caméra, dans lequel l'unité d'éclairage émet de la lumière à partir d'une surface d'émission de lumière qui est codée localement sur la base d'une propriété de polarisation, d'une propriété d'intensité et/ou d'une propriété de phase. Par propriété de polarisation, il est entendu dans WO2020/244815 que la lumière qui est émise à partir des différents points d'émission de la surface d'émission est émise avec des directions de polarisation différentes dans chaque cas. Par propriété de polarisation, il est aussi entendu dans WO2020/244815 une propriété de polarisation linéaire, elliptique et/ou circulaire. Par exemple, un filtre de polarisation avec une courbe de polarisation changeant continuellement ou plusieurs filtres de polarisation avec des orientations différentes peuvent être disposés dans la zone de la surface d'émission de la lumière. Le document indique que la caméra peut comprendre un capteur de type Sony IMX250MZR. Un objet de l’invention est de proposer des procédés et systèmes qui permettent de détecter des défauts réfractants en tous les points d’une zone inspectée avec une sensibilité homogène sur toute la zone inspectée, et avec une sensibilité élevée. L’invention propose donc un procédé opto-informatique d’inspection en lumière traversante d’un récipient en verre en déplacement selon une trajectoire de déplacement, dans lequel : - le procédé comporte l’illumination du récipient par un dispositif d’illumination comprenant au moins une surface émettrice, bidimensionnelle, qui est agencée sur un côté de la trajectoire de déplacement et qui est constituée de zones émettrices élémentaires émettant chacune une lumière émise polarisée ayant une propriété de polarisation d’intérêt émise qui varie suivant une loi de variation périodique en fonction de la position de la zone émettrice élémentaire dans la surface émettrice ; - le procédé comporte l’observation du récipient, par au moins une caméra numérique ayant un capteur photoélectrique bidimensionnel comprenant des éléments photoélectriques qui comprennent chacun une cellule photoélectrique correspondant à un pixel dans une image acquise par la caméra numérique, l’au moins une caméra numérique étant située, par rapport à la trajectoire de déplacement, du côté opposé à celui du dispositif d’illumination, de manière à recueillir, par l’au moins une caméra numérique, une lumière émergente émanant du récipient et ayant traversé au moins une épaisseur de paroi du récipient ; - le procédé comporte l’acquisition, avec l’au moins une caméra, d’images numériques partielles, contenant chacune une image d’une même zone inspectée du récipient, chaque image numérique partielle ayant N pixels partiels dont chacun est l’image d’une zone élémentaire correspondante du récipient, et chaque image numérique partielle étant acquise avec interposition, entre le récipient et les cellules photoélectriques de l’au moins une caméra, d’un analyseur linéaire présentant un axe de polarisation donné pour une image numérique partielle ; - l’acquisition comporte l’acquisition d’au moins une série comprenant au moins une première image numérique partielle et une deuxième image numérique partielle, pour lesquelles les axes de polarisation des analyseurs linéaires sont distincts entre eux, les images numériques partielles d’une même série étant superposables de telle sorte que chaque zone élémentaire de la zone inspectée du récipient est imagée par un pixel partiel correspondant dans chacune des images numériques partielles de la série; - pour une série primaire, les images numériques partielles de la série primaire contiennent chacune, en arrière-plan, l’image d’une même portion d’inspection primaire de la surface émettrice, la portion d’inspection primaire étant observée à travers le récipient par la caméra numérique, et, sur la portion d’inspection primaire de la surface émettrice, la loi de variation périodique de la propriété de polarisation d’intérêt émise présentant, selon une direction primaire, une variation périodique primaire, et présentant plusieurs périodes primaires sur l’étendue de la portion d’inspection primaire selon la direction primaire. Le procédé est caractérisé en ce que, sur une période primaire, la propriété de polarisation d’intérêt émise des lumières émises par les zones émettrices élémentaires de la portion d’inspection primaire de la surface émettrice suit une variation triangulaire en fonction de la position de la zone émettrice élémentaire selon la direction primaire), et en ce que le procédé comporte le calcul informatique d’au moins une image primaire brute de réfraction, à partir des images numériques partielles de la série primaire, en calculant, pour chacune des zones élémentaires d’une zone inspectée du récipient, un pixel primaire brut de réfraction dont la valeur est représentative de la réfraction subie par la lumière ayant traversé au moins une épaisseur de paroi du récipient et émergeant de la zone élémentaire, à partir de la valeur des pixels partiels correspondants qui sont l’image de la zone élémentaire dans les images numériques partielles de la série primaire. D’autres caractéristiques optionnelles d’un tel procédé, prises seules ou en combinaison, sont décrites ci-après. Dans certains cas, pour la même zone inspectée du même récipient, le procédé comporte l’acquisition, pour la série primaire, d’une troisième image numérique partielle et d’une quatrième image numérique partielle pour lesquelles les axes de polarisation des analyseurs linéaires sont distincts entre eux et distincts des axes de polarisation des analyseurs linéaires pour la première image numérique partielle et la deuxième image numérique partielle de la série primaire, de préférence orthogonaux entre eux et décalés de 45 degrés d’angle des axes de polarisation des analyseurs linéaires pour la première image numérique partielle et la deuxième image numérique partielle de la série primaire. Dans certains cas : - pour la même zone inspectée du même récipient, l’acquisition comporte l’acquisition d’au moins une série secondaire d’images numériques partielles ; - pour la série secondaire, les images numériques partielles contiennent chacune, en arrière-plan, l’image d’une même portion d’inspection secondaire de la surface émettrice, la portion d’inspection secondaire étant observée à travers le récipient par la caméra numérique, et, sur la portion d’inspection secondaire de la surface émettrice, la loi de variation périodique de la propriété de polarisation d’intérêt émise présentant, selon une direction secondaire de la surface émettrice, différente de la direction primaire, une variation périodique secondaire, et présentant plusieurs périodes secondaires sur l’étendue de la portion d’inspection secondaire selon la direction secondaire ; - sur une période secondaire, la propriété de polarisation d’intérêt émise des lumières émises par les zones émettrices élémentaires de la portion d’inspection secondaire de la surface émettrice suit une variation triangulaire en fonction de la position de la zone émettrice élémentaire selon la direction secondaire ; et, - le procédé comporte le calcul informatique d’au moins une image secondaire brute de réfraction, à partir des images numériques partielles de la série secondaire, en calculant, pour chacune des zones élémentaires d’une zone inspectée du récipient, un pixel secondaire brut de réfraction dont la valeur est représentative de la réfraction subie par la lumière ayant traversé au moins une épaisseur de paroi du récipient et émergeant de la zone élémentaire, à partir de la valeur des pixels partiels correspondants qui sont l’image de la zone élémentaire dans les images numériques partielles de la série secondaire. Dans certains cas, les images numériques partielles d’une même série sont acquises au même instant. Dans certains cas : - l’au moins une caméra numérique est une caméra numérique polarimétrique, ayant un capteur photoélectrique bidimensionnel comprenant des éléments photoélectriques qui comprennent chacun une cellule photoélectrique devant laquelle est agencé un analyseur linéaire individuel associé à la cellule photoélectrique de cet élément photoélectrique, le capteur photoélectrique comportant un nombre N de groupes distincts de 4 éléments photoélectriques contigus dont les analyseurs linéaires individuels ont chacun un axe de polarisation, les quatre axes de polarisation d’un groupe donné de 4 éléments photoélectriques formant deux paires d’axes de polarisation orthogonaux, les deux paires étant décalées l’une de l’autre de 45 degrés d’angle ; et - l’acquisition des 4 images numériques partielles d’une même série est effectuée, avec le capteur photoélectrique de la caméra polarimétrique, par l’acquisition d’une image numérique maîtresse contenant une image du récipient, l’image numérique maîtresse ayant un nombre 4*N de pixels maîtres regroupés en N pixels composites correspondant chacun à un groupe d’éléments photoélectriques contigus, chaque pixel composite ayant 4 pixels maitres correspondant chacun à un des éléments du groupe d’éléments photoélectriques contigus correspondant à ce pixel composite, et chaque image numérique maîtresse comprenant les 4 images numériques partielles distinctes ayant chacune N pixels partiels, les pixels partiels de chacune des images numériques partielles correspondant, pour une image numérique partielle donnée, aux éléments photoélectriques du capteur photoélectrique dont les analyseurs linéaires individuels présentent un axe de polarisation commun pour cette image numérique partielle. Dans certains cas, pour une même zone inspectée d’un même récipient, la série primaire d’images numériques partielles et la série secondaire d’images numériques partielles sont acquises à des instants différents. Dans certains cas, pour une même zone inspectée d’un même récipient, la série primaire d’images numériques partielles et la série secondaire d’images numériques partielles sont acquises avec la même au moins une caméra numérique. Dans certains cas, la portion d’inspection primaire et la portion d’inspection secondaire correspondent à deux états de polarisation différents, à des instants différents, d’une même portion d’inspection de la surface émettrice. Dans certains cas : - la variation triangulaire est telle que chaque période primaire est divisée en uniquement deux parties, une partie croissante et une partie décroissante, - dans la partie croissante, la propriété de polarisation d’intérêt émise est une fonction linéaire croissante de la position de la zone émettrice élémentaire selon la direction primaire, la propriété de polarisation d’intérêt émise croissant d’une valeur inférieure primaire à une valeur supérieure primaire, - et, dans la partie décroissante, la propriété de polarisation d’intérêt émise est une fonction linéaire décroissante de la position de la zone émettrice élémentaire selon la direction primaire, la propriété de polarisation d’intérêt émise décroissant de la valeur supérieure primaire à la valeur inférieure primaire. Dans certains cas, la partie croissante et la partie décroissante de chaque période primaire sont d’égale étendue selon la direction primaire. Dans certains cas, la portion d’inspection de la surface émettrice est constituée de zones émettrices élémentaires émettant chacune une lumière émise polarisée elliptiquement ayant un rapport d’ellipticité inférieur ou égal à 0,7, et la propriété de polarisation d’intérêt émise de la lumière émise par une zone émettrice élémentaire est l’orientation de l’axe principal de polarisation de la lumière émise par ladite zone émettrice élémentaire. Dans certains cas, la valeur inférieure, respectivement supérieure, de la propriété de polarisation d’intérêt émise est une valeur angulaire inférieure sur une période, respectivement supérieure sur une période, de l’orientation de l’axe principal de polarisation de la lumière émise par les zones émettrices élémentaires, l’écart angulaire entre la valeur angulaire supérieure et la valeur angulaire inférieure étant d’au moins 45 degrés d’angle, de préférence d’au moins 70 degrés d’angle. Dans certains cas, la portion d’inspection primaire de la surface émettrice est constituée de zone émettrices élémentaires émettant chacune une lumière émise polarisée selon une polarisation elliptique ayant un déphasage entre les deux composantes orthogonales du vecteur de champ électrique de la lumière émise polarisée, et la propriété de polarisation d’intérêt émise correspond au déphasage entre les deux composantes orthogonales du vecteur de champ électrique de la lumière émise polarisée. Dans certains cas, la période primaire est vue par le capteur photoélectrique bidimensionnel avec une résolution, selon la direction primaire, d’au moins 15 pixels partiels d’une même image numérique partielle par période primaire. Dans certains cas, la zone inspectée du récipient est vue par le capteur photoélectrique bidimensionnel avec une résolution, selon la direction primaire, d’au moins 5 pixels partiels d’une même image numérique partielle par millimètre sur le récipient. Dans certains cas, la valeur d’un pixel brut de réfraction est calculée, pour une zone élémentaire du récipient, à partir de l’arc-tangente d’un ratio entre les valeurs de deux pixels partiels correspondants dans la première image partielle et la deuxième image partielle. Dans certains cas, la valeur d’un pixel brut de réfraction est calculée, pour une zone élémentaire du récipient, à partir de l’arc-tangente d’un ratio entre, d’une part, la différence de valeur de deux pixels partiels correspondants dans la première image partielle et la deuxième image partielle, et, d’autre part, la différence de valeur des deux pixels partiels correspondants dans la troisième image partielle et la quatrième image partielle. Dans certains cas, le dispositif d’illumination comporte, dans le sens de propagation de la lumière, une source bidimensionnelle primaire de lumière diffuse, un polariseur linéaire amont ayant un axe de polarisation, et une matrice bidimensionnelle de cellules à cristaux liquides. Dans certains cas, le procédé comporte la commande de la matrice bidimensionnelle de cellules à cristaux liquides de telle sorte que la lumière polarisée issue de chacune des cellules à cristaux liquides présente une polarisation elliptique ayant, pour chaque cellule à cristaux liquides, l’orientation de l’axe principal de polarisation et/ou un déphasage entre les deux composantes orthogonales du vecteur de champ électrique de la lumière issue de la cellule à cristaux liquides, et, pour l’acquisition de la série primaire d’images numériques partielles, l’un au moins parmi l’orientation de l’axe principal de polarisation et/ou le déphasage suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides selon la direction primaire. Dans certains cas, le procédé comporte la commande de la matrice bidimensionnelle de cellules à cristaux liquides de telle sorte que, pour l’acquisition de la série secondaire d’images numériques partielles, l’un au moins parmi l’orientation de l’axe principal de polarisation et/ou le déphasage suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides selon la direction secondaire. Dans certains cas, le procédé comporte la commande de la matrice bidimensionnelle de cellules à cristaux liquides de telle sorte que, successivement, pour l’acquisition de la série primaire d’images numériques partielles d’un récipient donné, l’un au moins parmi l’orientation de l’axe principal de polarisation et/ou le déphasage suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides selon la direction primaire, puis de telle sorte que, pour l’acquisition la série secondaire d’images numériques partielles, l’un au moins parmi l’orientation de l’axe principal de polarisation et/ou le déphasage suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides selon la direction secondaire. Dans certains cas, le procédé comporte une étape préalable d’étalonnage de la commande de la matrice bidimensionnelle de cellules à cristaux liquides. Dans certains cas, le procédé comporte une étape d’analyse d’anomalies de réfraction comprenant une étape de calcul informatique sur la base de l’image brute de réfraction. Dans certains cas, l’étape d’analyse d’anomalies de réfraction comporte une étape de détection de gradient dans l’image primaire brute de réfraction selon la direction primaire. L’invention propose aussi un système opto-informatique d’inspection en lumière traversante, à l’aide d’au moins une caméra numérique, d’un récipient en verre en déplacement selon une trajectoire de déplacement, dans lequel : - le système comporte un dispositif d’illumination comprenant au moins une surface émettrice, bidimensionnelle, agencée sur un côté de la trajectoire de déplacement et qui est constituée de zones émettrices élémentaires émettant chacune une lumière émise polarisée ayant une propriété de polarisation; - le système comporte au moins une caméra numérique ayant un capteur photoélectrique bidimensionnel comprenant des éléments photoélectriques qui comprennent chacun une cellule photoélectrique, l’au moins une caméra numérique, étant située, par rapport à la trajectoire de déplacement, du côté opposé à celui du dispositif d’illumination, de manière à recueillir, par l’au moins une caméra numérique, une lumière émergente émanant du récipient et ayant traversé au moins une épaisseur de paroi du récipient ; - le système est configuré pour acquérir, avec l’au moins une caméra numérique, au moins une série comportant deux images numériques partielles, contenant chacune une image d’une même zone inspectée du récipient, chaque image numérique partielle ayant N pixels partiels dont chacun est l’image d’une zone élémentaire correspondante du récipient, et chaque image numérique partielle étant acquise avec interposition, entre le récipient et les cellules photoélectriques de l’au moins une caméra numérique, d’un analyseur linéaire présentant un axe de polarisation donné pour une image numérique partielle, les axes de polarisation des analyseurs linéaires pour les aux moins deux images numériques partielles étant distincts entre eux, les images numériques partielles d’une même série étant superposables de telle sorte que chaque zone élémentaire de la zone inspectée du récipient est imagée par un pixel partiel correspondant dans chacune des images numériques partielles de la série. Le système est caractérisé en ce que, le dispositif d’illumination comporte, dans le sens de propagation de la lumière, une source bidimensionnelle primaire de lumière diffuse, un polariseur linéaire amont ayant un axe de polarisation, et une matrice bidimensionnelle de cellules à cristaux liquides. D’autres caractéristiques optionnelles d’un tel système, prises seules ou en combinaison, sont décrites ci-après. Dans certains cas, le système comporte des moyens de commande de la matrice bidimensionnelle de cellules à cristaux liquides de telle sorte que la lumière polarisée issue de chacune des cellules à cristaux liquides présente une polarisation elliptique ayant, pour chaque cellule à cristaux liquides, une orientation de l’axe principal de polarisation et/ou un déphasage entre les deux composantes orthogonales du vecteur de champ électrique de la lumière issue de la cellule à cristaux liquides, et le dispositif d’illumination est commandé de telle sorte que l’un au moins parmi l’orientation de l’axe principal de polarisation et/ou le déphasage suit une variation en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides selon une direction primaire de la surface émettrice. Dans certains cas, le dispositif d’illumination est commandé de telle sorte que l’un au moins parmi l’orientation de l’axe principal de polarisation et/ou le déphasage suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides selon une direction primaire de la surface émettrice. Dans certains cas, le système comporte, dans le trajet de la lumière entre la matrice bidimensionnelle de cellules à cristaux liquides et les analyseurs linéaires pour les aux moins deux images numériques partielles, une lame à retard quart d’onde qui présente un axe rapide orienté parallèlement ou perpendiculairement à l’axe de polarisation du polariseur linéaire amont. Dans certains cas, la lame à retard quart d’onde est agencée dans le trajet de la lumière entre la matrice bidimensionnelle de cellules à cristaux liquides et le récipient. Dans certains cas, la lame à retard quart d’onde est agencée dans le trajet de la lumière entre le récipient et les analyseurs linéaires pour les aux moins deux images numériques partielles. Dans certains cas, le système comporte une unité informatique de calcul programmée pour effectuer le calcul informatique d’au moins une image primaire brute de réfraction, à partir des images numériques partielles, en calculant, pour chacune des zones élémentaires d’une zone inspectée du récipient, un pixel de réfraction dont la valeur est représentative de la réfraction subie par la lumière ayant traversé au moins une épaisseur de paroi du récipient et émergeant de la zone élémentaire, à partir de la valeur des pixels partiels correspondants qui sont l’image de la zone élémentaire dans les images numériques partielles. Dans certains cas, la caméra numérique est une caméra numérique polarimétrique. Dans certains cas, la commande de la matrice bidimensionnelle de cellules à cristaux liquides est synchronisée avec l’acquisition, avec l’au moins une caméra, des au moins deux images numériques partielles de manière à : - acquérir une série primaire d’au moins deux images numériques partielles lorsque la matrice bidimensionnelle de cellules à cristaux liquides est commandée de telle sorte que l’un au moins parmi l’orientation de l’axe principal de polarisation et le déphasage suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides selon la direction primaire ; - acquérir une série secondaire d’au moins deux images numériques partielles lorsque la matrice bidimensionnelle de cellules à cristaux liquides est commandée de telle sorte que l’un au moins parmi l’orientation de l’axe principal de polarisation et le déphasage suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides selon une direction secondaire différente de la direction primaire. Dans certains cas, les axes de polarisation des analyseurs linéaires pour les aux moins deux images numériques partielles sont orthogonaux entre eux. La est une vue schématique en perspective illustrant un premier type de système opto-informatique d’inspection en lumière traversante d’un récipient en verre. La est une vue schématique en perspective illustrant un deuxième type de système opto-informatique d’inspection en lumière traversante d’un récipient en verre. La est une vue schématique en perspective illustrant un troisième type de système opto-informatique d’inspection en lumière traversante d’un récipient en verre. La est une vue schématique de dessus illustrant un autre mode de réalisation d’un système opto-informatique d’inspection en lumière traversante d’un récipient en verre, comprenant deux caméras numériques. La est une vue schématique de côté illustrant encore un autre mode de réalisation d’un système opto-informatique d’inspection en lumière traversante d’un récipient en verre, optimisé plus particulièrement pour inspecter une paroi de fond du récipient. La est un diagramme illustrant un exemple d’une fonction périodique triangulaire. La est une vue schématique en perspective illustrant un principe d’un capteur pour une caméra numérique polarimétrique. La est un diagramme illustrant un agencement d’analyseurs linéaires de polarisation pour un capteur pour une caméra numérique polarimétrique. La illustre une image maîtresse acquise par une caméra numérique polarimétrique, comprenant plusieurs images partielles. La illustre un organigramme pour un procédé opto-informatique d’inspection en lumière traversante d’un récipient en verre. La est un schéma illustrant le principe de dimensionnement de certains paramètres d’un système pour un procédé opto-informatique d’inspection en lumière traversante d’un récipient en verre, selon une direction primaire. La est un schéma illustrant le principe de dimensionnement de certains paramètres d’un système pour un procédé opto-informatique d’inspection en lumière traversante d’un récipient en verre selon une direction secondaire. Procédé opto-informatique d’inspection en lumière traversante d’un récipient (12) en verre en déplacement selon une trajectoire de déplacement (T), dans lequel : - le procédé comporte l’illumination du récipient (12) par un dispositif d’illumination (16) comprenant au moins une surface émettrice (16s), bidimensionnelle, qui est agencée sur un côté de la trajectoire de déplacement et qui est constituée de zones émettrices élémentaires émettant chacune une lumière émise polarisée ayant une propriété de polarisation d’intérêt émise qui varie suivant une loi de variation périodique en fonction de la position de la zone émettrice élémentaire dans la surface émettrice ; - le procédé comporte l’observation du récipient (12), par au moins une caméra numérique (18, 18.1, 18.2) ayant un capteur photoélectrique (22) bidimensionnel comprenant des éléments photoélectriques qui comprennent chacun une cellule photoélectrique correspondant à un pixel dans une image acquise par la caméra numérique, l’au moins une caméra numérique (18, 18.1, 18.2) étant située, par rapport à la trajectoire de déplacement (T), du côté opposé à celui du dispositif d’illumination (16), de manière à recueillir, par l’au moins une caméra numérique, une lumière émergente émanant du récipient (12) et ayant traversé au moins une épaisseur de paroi du récipient ; - le procédé comporte l’acquisition, avec l’au moins une caméra (18, 18.1, 18.2), d’images numériques partielles (Ipk.m), contenant chacune une image d’une même zone inspectée du récipient (12), chaque image numérique partielle (Ipk.m) ayant N pixels partiels (Ppk.m(n)) dont chacun est l’image d’une zone élémentaire correspondante du récipient (12), et chaque image numérique partielle étant acquise avec interposition, entre le récipient et les cellules photoélectriques de l’au moins une caméra, d’un analyseur linéaire (30(n,k) ; 30.1, 30.2) présentant un axe de polarisation (Ak) donné pour une image numérique partielle (Ipk.m) ; - l’acquisition comporte l’acquisition d’au moins une série (S1, S2, Sm) comprenant au moins une première image numérique partielle (Ip1.1, Ip1.2, Ip1.m) et une deuxième image numérique partielle (Ip2.1, Ip2.2, Ip2.m), pour lesquelles les axes de polarisation (Ak) des analyseurs linéaires sont distincts entre eux, les images numériques partielles (Ipk.m) d’une même série (Sm) étant superposables de telle sorte que chaque zone élémentaire de la zone inspectée du récipient (12) est imagée par un pixel partiel (Ppk.m(n)) correspondant dans chacune des images numériques partielles (IPk.m) de la série (Sm) ; - pour une série primaire (S1), les images numériques partielles (Ipk.1) de la série primaire (S1) contiennent chacune, en arrière-plan, l’image d’une même portion d’inspection primaire de la surface émettrice (16s), la portion d’inspection primaire étant observée à travers le récipient par la caméra numérique (18, 18.1, 18.2), et, sur la portion d’inspection primaire de la surface émettrice (16s), la loi de variation périodique de la propriété de polarisation d’intérêt émise présentant, selon une direction primaire (D1), une variation périodique primaire, et présentant plusieurs périodes primaires (T1) sur l’étendue de la portion d’inspection primaire selon la direction primaire (D1) ; caractérisé en ce que , sur une période primaire (T1), la propriété de polarisation d’intérêt émise des lumières émises par les zones émettrices élémentaires de la portion d’inspection primaire de la surface émettrice (16s) suit une variation triangulaire en fonction de la position de la zone émettrice élémentaire selon la direction primaire (D1), et en ce que le procédé comporte le calcul informatique d’au moins une image primaire brute de réfraction (IR1), à partir des images numériques partielles de la série primaire, en calculant, pour chacune des zones élémentaires d’une zone inspectée du récipient (12), un pixel primaire brut de réfraction (Pr1(n)) dont la valeur est représentative de la réfraction subie par la lumière ayant traversé au moins une épaisseur de paroi du récipient (12) et émergeant de la zone élémentaire, à partir de la valeur des pixels partiels (Ppk.1(n)) correspondants qui sont l’image de la zone élémentaire dans les images numériques partielles (IPk.1) de la série primaire. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que, pour la même zone inspectée du même récipient (12), le procédé comporte l’acquisition, pour la série primaire (S1), d’une troisième image numérique partielle (IP3.1) et d’une quatrième image numérique partielle (IP4.1) pour lesquelles les axes de polarisation (A3, A4) des analyseurs linéaires (30(n,k) sont distincts entre eux et distincts des axes de polarisation (A1, A2) des analyseurs linéaires (30(n,k)) pour la première image numérique partielle (IP1.1) et la deuxième image numérique partielle (IP2.1) de la série primaire (S1), de préférence orthogonaux entre eux et décalés de 45 degrés d’angle des axes de polarisation (A1, A2) des analyseurs linéaires pour la première image numérique partielle (IP1.1) et la deuxième image numérique partielle (IP2.2) de la série primaire (S1). Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 ou 2, caractérisé en ce que, pour la même zone inspectée du même récipient (12), l’acquisition comporte l’acquisition d’au moins une série secondaire (S2) d’images numériques partielles (Ipk.2) ; - en ce que, pour la série secondaire (S2), les images numériques partielles (Ipk.2) contiennent chacune, en arrière-plan, l’image d’une même portion d’inspection secondaire de la surface émettrice (16s), la portion d’inspection secondaire étant observée à travers le récipient (12) par la caméra numérique (18, 18.1, 18.2), et, sur la portion d’inspection secondaire de la surface émettrice, la loi de variation périodique de la propriété de polarisation d’intérêt émise présentant, selon une direction secondaire (D2) de la surface émettrice, différente de la direction primaire (D1), une variation périodique secondaire, et présentant plusieurs périodes secondaires (T2) sur l’étendue de la portion d’inspection secondaire selon la direction secondaire ; - en ce que, sur une période secondaire (T2), la propriété de polarisation d’intérêt émise des lumières émises par les zones émettrices élémentaires de la portion d’inspection secondaire de la surface émettrice suit une variation triangulaire en fonction de la position de la zone émettrice élémentaire selon la direction secondaire (D2), et en ce que le procédé comporte le calcul informatique d’au moins une image secondaire brute de réfraction (IR2), à partir des images numériques partielles de la série secondaire (S2), en calculant, pour chacune des zones élémentaires d’une zone inspectée du récipient (12), un pixel secondaire brut de réfraction (Pr2(n)) dont la valeur est représentative de la réfraction subie par la lumière ayant traversé au moins une épaisseur de paroi du récipient (12) et émergeant de la zone élémentaire, à partir de la valeur des pixels partiels (Ppk.2(n)) correspondants qui sont l’image de la zone élémentaire dans les images numériques partielles (IPk.2) de la série secondaire (S2). Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que les images numériques partielles (Ipk.m) d’une même série (Sm) sont acquises au même instant. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que l’au moins une caméra numérique est une caméra numérique polarimétrique (18), ayant un capteur photoélectrique (22) bidimensionnel comprenant des éléments photoélectriques (26(n,1)) qui comprennent chacun une cellule photoélectrique (28(n,k)) devant laquelle est agencé un analyseur linéaire individuel (30(n,k)) associé à la cellule photoélectrique (28(n,k)) de cet élément photoélectrique (26(n,k), le capteur photoélectrique (22) comportant un nombre N de groupes distincts (26(n)) de 4 éléments photoélectriques (26(n,k )) contigus dont les analyseurs linéaires individuels (30(n,k )) ont chacun un axe de polarisation (Ak), les quatre axes de polarisation (Ak) d’un groupe (26(n)) donné de 4 éléments photoélectriques (26(n,k)) formant deux paires ((A1, A2), (A3, A4)) d’axes de polarisation orthogonaux, les deux paires étant décalées l’une de l’autre de 45 degrés d’angle ; - et en ce que l’acquisition des 4 images numériques partielles (Ipk.m) d’une même série (Sm) est effectuée, avec le capteur photoélectrique (22) de la caméra polarimétrique (18), par l’acquisition d’une image numérique maîtresse (IM.m) contenant une image du récipient (12), l’image numérique maîtresse (IM.m) ayant un nombre 4*N de pixels maîtres regroupés en N pixels composites correspondant chacun à un groupe d’éléments photoélectriques contigus, chaque pixel composite ayant 4 pixels maitres correspondant chacun à un des éléments (26(n,k)) du groupe (26(n)) d’éléments photoélectriques contigus correspondant à ce pixel composite, et chaque image numérique maîtresse (IM.m) comprenant les 4 images numériques partielles (IPk.m) distinctes ayant chacune N pixels partiels (Ppk.m(n)), les pixels partiels (Ppk.m(n)) de chacune des images numériques partielles (IPk.m) correspondant, pour une image numérique partielle (IPk.m) donnée, aux éléments photoélectriques (26(n,k)) du capteur photoélectrique (22) dont les analyseurs linéaires individuels (30(n,k)) présentent un axe de polarisation (Ak) commun pour cette image numérique partielle (IPk.m). Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes prise en combinaison avec la revendication 3, caractérisé en ce que, pour une même zone inspectée d’un même récipient, la série primaire d’images numériques partielles et la série secondaire d’images numériques partielles sont acquises à des instants différents. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes prise en combinaison avec la revendication 3, caractérisé en ce que, pour une même zone inspectée d’un même récipient (12), la série primaire (S1) d’images numériques partielles (IPk.1) et la série secondaire (S2) d’images numériques partielles (IPk.2) sont acquises avec la même au moins une caméra numérique (18, 18.1, 18.2). Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes prise en combinaison avec la revendication 3, caractérisé en ce que la portion d’inspection primaire et la portion d’inspection secondaire correspondent à deux états de polarisation différents, à des instants différents, d’une même portion d’inspection de la surface émettrice (16s). Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la variation triangulaire est telle que chaque période primaire (T1) est divisée en uniquement deux parties (T1c, T1d), une partie croissante (T1c) et une partie décroissante, en ce que, dans la partie croissante, la propriété de polarisation d’intérêt émise est une fonction linéaire croissante de la position de la zone émettrice élémentaire selon la direction primaire (D1), la propriété de polarisation d’intérêt émise croissant d’une valeur inférieure primaire (P1min) à une valeur supérieure primaire (P1max), et en ce que, dans la partie décroissante (T1d), la propriété de polarisation d’intérêt émise est une fonction linéaire décroissante de la position de la zone émettrice élémentaire selon la direction primaire (D1), la propriété de polarisation d’intérêt émise décroissant de la valeur supérieure primaire (P1max) à la valeur inférieure primaire (P1min). Procédé selon la revendication 9, caractérisé en ce que la partie croissante (T1c) et la partie décroissante (T1d) de chaque période primaire (T1) sont d’égale étendue selon la direction primaire (D1). Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la portion d’inspection de la surface émettrice (16s) est constituée de zones émettrices élémentaires émettant chacune une lumière émise polarisée elliptiquement ayant un rapport d’ellipticité inférieur ou égal à 0,7, et en ce que la propriété de polarisation d’intérêt émise de la lumière émise par une zone émettrice élémentaire est l’orientation ( ) de l’axe principal de polarisation de la lumière émise par ladite zone émettrice élémentaire . Procédé selon la revendication 11, caractérisé en ce que la valeur inférieure, respectivement supérieure, de la propriété de polarisation d’intérêt émise est une valeur angulaire inférieure sur une période, respectivement supérieure sur une période, de l’orientation de l’axe principal de polarisation de la lumière émise par les zones émettrices élémentaires, l’écart angulaire entre la valeur angulaire supérieure et la valeur angulaire inférieure étant d’au moins 45 degrés d’angle, de préférence d’au moins 70 degrés d’angle. Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 10, caractérisé en ce que la portion d’inspection primaire de la surface émettrice (16s) est constituée de zone émettrices élémentaires émettant chacune une lumière émise polarisée selon une polarisation elliptique ayant un déphasage ( ) entre les deux composantes orthogonales du vecteur de champ électrique de la lumière émise polarisée, et en ce que la propriété de polarisation d’intérêt émise correspond au déphasage ( ) entre les deux composantes orthogonales du vecteur de champ électrique de la lumière émise polarisée . Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la période primaire est vue par le capteur photoélectrique (22) bidimensionnel avec une résolution, selon la direction primaire (D1), d’au moins 15 pixels partiels d’une même image numérique partielle par période primaire. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la zone inspectée du récipient est vue par le capteur photoélectrique (22) bidimensionnel avec une résolution, selon la direction primaire, d’au moins 5 pixels partiels d’une même image numérique partielle par millimètre sur le récipient. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la valeur d’un pixel brut de réfraction (Prm(n)) est calculée, pour une zone élémentaire du récipient (12), à partir de l’arc-tangente d’un ratio entre les valeurs de deux pixels partiels (Ppk.m(n)) correspondants dans la première image partielle (IP1.m) et la deuxième image partielle (IP2.m). Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 15, prise en combinaison avec la revendication 2, caractérisé en ce que la valeur d’un pixel brut de réfraction (Prm(n)) est calculée, pour une zone élémentaire du récipient (12), à partir de l’arc-tangente d’un ratio entre, d’une part, la différence de valeur de deux pixels partiels (Ppk.m(n)) correspondants dans la première image partielle (IP1.m) et la deuxième image partielle (IP2.m), et, d’autre part, la différence de valeur des deux pixels partiels (Ppk.m(n)) correspondants dans la troisième image partielle (IP3.m) et la quatrième image partielle (IP4.m). Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le dispositif d’illumination (16) comporte, dans le sens de propagation de la lumière, une source bidimensionnelle primaire (16a) de lumière diffuse, un polariseur linéaire amont (16b) ayant un axe de polarisation (A0), et une matrice bidimensionnelle (16c) de cellules à cristaux liquides (16c(i,j)). Procédé selon la revendication 18, caractérisé en ce qu’il comporte la commande de la matrice bidimensionnelle (16c) de cellules à cristaux liquides de telle sorte que la lumière polarisée issue de chacune des cellules à cristaux liquides (16c(i,j)) présente une polarisation elliptique ayant, pour chaque cellule à cristaux liquides (16c(i,j)), l’orientation ( ) de l’axe principal de polarisation et/ou un déphasage ( ) entre les deux composantes orthogonales du vecteur de champ électrique de la lumière issue de la cellule à cristaux liquides (16c(i,j)), et en ce que, pour l’acquisition de la série primaire (S1) d’images numériques partielles (IPk.1), l’un au moins parmi l’orientation ( ) de l’axe principal de polarisation et/ou le déphasage ( ) suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides (16c(i,j)) selon la direction primaire (D1). Procédé selon la revendication 19 prise en combinaison avec la revendication 3, caractérisé en ce qu’il comporte la commande de la matrice bidimensionnelle (16c) de cellules à cristaux liquides de telle sorte que, pour l’acquisition de la série secondaire (S2) d’images numériques partielles (IPk.2), l’un au moins parmi l’orientation ( ) de l’axe principal de polarisation et/ou le déphasage ( ) suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides (16c(i,j)) selon la direction secondaire (D2). Procédé selon la revendication 20, caractérisé en ce qu’il comporte la commande de la matrice bidimensionnelle (16c) de cellules à cristaux liquides de telle sorte que, successivement, pour l’acquisition de la série primaire (S1) d’images numériques partielles (IPk.1) d’un récipient (12) donné, l’un au moins parmi l’orientation ( ) de l’axe principal de polarisation et/ou le déphasage ( ) suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides (16c(i,j)) selon la direction primaire (D1), puis de telle sorte que, pour l’acquisition la série secondaire (S2) d’images numériques partielles (IPk.2), l’un au moins parmi l’orientation ( ) de l’axe principal de polarisation et/ou le déphasage ( ) suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides (16c(i,j)) selon la direction secondaire (D2). Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu’il comporte une étape préalable d’étalonnage de la commande de la matrice bidimensionnelle (16c) de cellules à cristaux liquides. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu’il comporte une étape d’analyse d’anomalies de réfraction comprenant une étape de calcul informatique sur la base de l’image brute de réfraction. Procédé selon la revendication 23, caractérisé en ce que l’étape d’analyse d’anomalies de réfraction comporte une étape de détection de gradient dans l’image primaire brute de réfraction (IR1.m) selon la direction primaire (D1). Système (10) opto-informatique d’inspection en lumière traversante, à l’aide d’au moins une caméra numérique (18), d’un récipient (12) en verre en déplacement selon une trajectoire de déplacement (T), dans lequel : - le système comporte un dispositif d’illumination (16) comprenant au moins une surface émettrice (16s), bidimensionnelle, agencée sur un côté de la trajectoire de déplacement et qui est constituée de zones émettrices élémentaires émettant chacune une lumière émise polarisée ayant une propriété de polarisation; - le système comporte au moins une caméra numérique ayant un capteur photoélectrique (22) bidimensionnel comprenant des éléments photoélectriques qui comprennent chacun une cellule photoélectrique, l’au moins une caméra numérique (18, 18.1, 18.2), étant située, par rapport à la trajectoire de déplacement (T), du côté opposé à celui du dispositif d’illumination (16), de manière à recueillir, par l’au moins une caméra numérique, une lumière émergente émanant du récipient (12) et ayant traversé au moins une épaisseur de paroi du récipient ; - le système (10) est configuré pour acquérir, avec l’au moins une caméra numérique (18, 18.1, 18.2), au moins une série (Sm) comportant deux images numériques partielles (IP1.m, IP2.m, IPk.m), contenant chacune une image d’une même zone inspectée du récipient (12), chaque image numérique partielle (IPk.m) ayant N pixels partiels (Ppk.m(n)) dont chacun est l’image d’une zone élémentaire correspondante du récipient (12), et chaque image numérique partielle (IPk.m) étant acquise avec interposition, entre le récipient (12) et les cellules photoélectriques (28(n,k)) de l’au moins une caméra numérique (18, 18.1, 18.2), d’un analyseur linéaire (30(n,k), 30.1, 30.2) présentant un axe de polarisation (Ak) donné pour une image numérique partielle (Ipk.m), les axes de polarisation (Ak) des analyseurs linéaires (30(n,k), 30.1, 30.2) pour les aux moins deux images numériques partielles (IP1.m, IP2.m, IPk.m) étant distincts entre eux, les images numériques partielles (IP1.m, IP2.m, IPk.m) d’une même série (Sm) étant superposables de telle sorte que chaque zone élémentaire de la zone inspectée du récipient (12) est imagée par un pixel partiel (Ppk.m(n)) correspondant dans chacune des images numériques partielles (IP1.m, IP2.m, IPk.m) de la série (Sm) ; caractérisé en ce que , le dispositif d’illumination (16) comporte, dans le sens de propagation de la lumière, une source bidimensionnelle primaire (16a) de lumière diffuse, un polariseur linéaire amont (16b) ayant un axe de polarisation (A0), et une matrice bidimensionnelle (16c) de cellules à cristaux liquides. Système selon la revendication 25, caractérisé en ce que le système (10) comporte des moyens de commande (100) de la matrice bidimensionnelle (16c) de cellules à cristaux liquides de telle sorte que la lumière polarisée issue de chacune des cellules à cristaux liquides (16c(i,j)) présente une polarisation elliptique ayant, pour chaque cellule à cristaux liquides (16c(i,j)), une orientation ( ) de l’axe principal de polarisation et/ou un déphasage ( ) entre les deux composantes orthogonales du vecteur de champ électrique de la lumière issue de la cellule à cristaux liquides (16c(i,j)), et en ce que le dispositif d’illumination (16) est commandé de telle sorte que l’un au moins parmi l’orientation ( ) de l’axe principal de polarisation et/ou le déphasage ( ) suit une variation en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides (16c(i,j)) selon une direction primaire de la surface émettrice (16s). Système selon la revendication 26, caractérisé en ce que le dispositif d’illumination (16) est commandé de telle sorte que l’un au moins parmi l’orientation ( ) de l’axe principal de polarisation et/ou le déphasage ( ) suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides (16c(i,j)) selon une direction primaire de la surface émettrice (16s) Système selon l’une quelconque des revendications 25 à 27, caractérisé en ce qu’il comporte, dans le trajet de la lumière entre la matrice bidimensionnelle (16c) de cellules à cristaux liquides et les analyseurs linéaires (30(n,k), 30.1, 30.2) pour les aux moins deux images numériques partielles (IP1.m, IP2.m, IPk.m), une lame à retard quart d’onde (16d, 34) qui présente un axe rapide orienté parallèlement ou perpendiculairement à l’axe de polarisation (A0) du polariseur linéaire amont (16b). Système selon la revendication 28, caractérisé en ce que la lame à retard quart d’onde (16d) est agencée dans le trajet de la lumière entre la matrice bidimensionnelle (16c) de cellules à cristaux liquides et le récipient (12). Système selon la revendication 28, caractérisé en ce que la lame à retard quart d’onde (34) est agencée dans le trajet de la lumière entre le récipient (12) et les analyseurs linéaires (30(n,k), 30.1, 30.2) pour les aux moins deux images numériques partielles (IP1.m, IP2.m, IPk.m). Système selon l’une quelconque des revendications 25 à 30, caractérisé en ce qu’il comporte une unité informatique de calcul (110) programmée pour effectuer le calcul informatique d’au moins une image primaire brute de réfraction (IRm), à partir des images numériques partielles (Ipk.m), en calculant, pour chacune des zones élémentaires d’une zone inspectée du récipient (12), un pixel de réfraction (Prm(n)) dont la valeur est représentative de la réfraction subie par la lumière ayant traversé au moins une épaisseur de paroi du récipient (12) et émergeant de la zone élémentaire, à partir de la valeur des pixels partiels (Ppk.m(n)) correspondants qui sont l’image de la zone élémentaire dans les images numériques partielles (Ipk.m). Système selon l’une quelconque des revendications 25 à 31, caractérisé en ce que la caméra numérique est une caméra numérique polarimétrique (18), ayant un capteur photoélectrique (22) bidimensionnel comprenant des éléments photoélectriques (26(n,k)) qui comprennent chacun une cellule photoélectrique (28(n,k) devant laquelle est agencé un analyseur linéaire individuel (30(n,k)) associé à la cellule photoélectrique (28(n,k) de cet élément photoélectrique, le capteur photoélectrique (22) comportant un nombre N de groupes distincts de 4 éléments photoélectriques (26(n,k)) contigus dont les analyseurs linéaires individuels (30(n,k)) ont chacun un axe de polarisation (Ak), les quatre axes de polarisation (Ak) d’un groupe donné de 4 éléments photoélectriques formant deux paires ((A1, A2), (A3, A4)) d’axes de polarisation orthogonaux, les deux paires étant décalées l’une de l’autre de 45 degrés d’angle. Système selon l’une quelconque des revendications 25 à 32, prise en combinaison avec la revendication 25, caractérisé en ce que la commande de la matrice bidimensionnelle (16c) de cellules à cristaux liquides est synchronisée avec l’acquisition, avec l’au moins une caméra (18, 18.1, 18.2), des au moins deux images numériques partielles (IP1.m, IP2.m, IPk.m) de manière à : - acquérir une série primaire (S1) d’au moins deux images numériques partielles (IP1.1, IP2.1, IPk.1) lorsque la matrice bidimensionnelle (16c) de cellules à cristaux liquides est commandée de telle sorte que l’un au moins parmi l’orientation ( ) de l’axe principal de polarisation et le déphasage ( ) suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides (16c(i,j)) selon la direction primaire (D1) ; - acquérir une série secondaire (S2) d’au moins deux images numériques partielles (IP1.2, IP2.2, IPk.2) lorsque la matrice bidimensionnelle (16c) de cellules à cristaux liquides est commandée de telle sorte que l’un au moins parmi l’orientation ( ) de l’axe principal de polarisation et le déphasage ( ) suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides (16c(i,j)) selon une direction secondaire différente de la direction primaire. Système selon l’une quelconque des revendications 25 à 33, caractérisé en ce que les axes de polarisation (A1, A2) des analyseurs linéaires (30(n,k), 30.1, 30.2) pour les aux moins deux images numériques partielles (IP1.m, IP2.m) sont orthogonaux entre eux.