Brevet FR3136108A1 — publié le 20231201

Procédé de fabrication d’une structure multicouche (100) par collage direct entre un premier substrat (1) et un second substrat (2), le procédé comprenant les étapes de : fourniture d’un premier substrat (1) et d’un second substrat (2) comprenant respectivement une première surface de collage (3) et une seconde surface de collage (4), mise en contact de la première surface de collage (3) et de la seconde surface de collage (4) de sorte à créer une interface de collage direct (6) entre le premier substrat (1) et le second substrat (2), disposition d’au moins l’interface de collage direct (6) dans une solution aqueuse cationique (8) comprenant de l’eau déionisée et des espèces cationiques issues d’au moins un élément de la première et/ou de la deuxième colonne du tableau périodique des éléments, et application d’un traitement thermique à une température comprise entre 20°C et 350°C de sorte à obtenir la structure multicouche (100). Figure pour l’abrégé : [Fig. 2] Procédé de collage direct assisté par des élements cationiques La présente invention se rapporte au domaine du collage direct. Elle concerne en particulier un procédé de fabrication d’une structure multicouche par collage direct. Le collage direct est une technique maintenant bien connue et utilisée pour des applications industrielles comme la fabrication de SOI par la société SOITEC ou la société STMicroelectronics pour la production d’imageurs par exemple. Comme on l’entend dans le présent document, le collage direct est un collage spontané entre deux surfaces sans apport de matière à l’interface entre les surfaces collées, et notamment sans couche épaisse de liquide. Il est néanmoins possible d‘avoir quelques monocouches d’eau adsorbées sur les surfaces, ce qui représente entre 0.25 nm et 1.25 nm d’épaisseur, de sorte que ces surfaces sont macroscopiquement sèches. Le collage direct est classiquement réalisé à température ambiante et pression ambiante, mais ce n'est pas une obligation. Une caractéristique importante du collage direct est son énergie d’adhésion, c’est-à-dire l’energie disponible pour réaliser le collage spontané. Il s’agit de l’énergie qui permet de déformer les deux surfaces pour les mettre en contact à l’echelle atomique afin que le forces de Van der Waals puissent être mises en œuvre. Par exemple, pour deux surfaces de silicium ou d'oxyde de silicium hydrophile, l'énergie d'adhésion va typiquement de 30 à 100 mJ/m 2 . Cette énergie d’adhésion dirige en partie la durée de la propagation de l’onde de collage, par exemple l’onde de collage se propage de façon classique en 9 secondes pour le collage direct de deux substrats de silicium de 200 mm. Une autre caractéristique importante du collage direct est son énergie d’adhérence ou autrement appelée son énergie de collage. C’est l’énergie qu’il faut utiliser pour séparer les deux surfaces collées. Par exemple, pour deux surfaces de silicium ou d'oxyde de silicium hydrophile, l'énergie d’adhérence va typiquement de 0.14 J/m² à 6 J/m 2 . Pour obtenir un collage spontané, on nettoie généralement les surfaces des contaminations organiques et particulaires qui sont très préjudiciables au collage direct. En général le nettoyage est réalisé préalablement sur les surfaces à coller avec une solution à base d'acide Caro obtenue avec un mélange d'acide sulfurique 96% et d'eau oxygénée 30% (3 :1) à 180°C et de SCI (mélange d'ammoniaque 30%, d'eau oxygénée 30% et d'eau déionisée (1 :1 :5)) à 70°C. Alternativement, il est possible d'utiliser d'autres solutions de nettoyage très oxydantes comme, par exemple, des solutions aqueuses contenant de l'ozone ou encore avec un traitement utilisant une exposition à une lumière UV en présence d'ozone gazeux. L'énergie d'adhérence d'un collage SiO 2 -SiO 2 (deux substrats de silicium recouvert d’environs 145 nm d’oxyde thermique par exemple), dans une ambiance de salle blanche, avec un nettoyage chimique à base de Caro et de SCI à 70°C, vaut environ 140mJ/m 2 juste après le collage, sans traitement thermique. L’énergie de collage évolue également en fonction du traitement thermique que l’on applique après le collage réalisé à température ambiante. L'énergie d'adhérence augmente en fonction de la température des traitements thermiques. Par exemple, l'énergie de collage SiO 2 -SiO 2 monte lentement pour atteindre, suivant les traitement de surface, presque 3J/m 2 à 500°C et stagne ensuite jusqu'à 800°C. Pour encore augmenter l'énergie de collage, une autre solution consiste à réaliser un traitement plasma préalablement à la mise en contact. Avec un plasma d'azote (N 2 ), pour un collage oxyde-oxyde, l'énergie de collage monte rapidement à environs 5 J/m 2 pour une température de traitement de 300°C. Cependant, l'utilisation d'un plasma peut être incompatible avec certains substrats et/ou son utilisation rallonge les temps et/ou coûts des procédés, ce qui les rend plus difficilement industrialisables. Le traitement plasma modifie aussi la surface sur une épaisseur de quelques nanomètre (entre 1 et 10 nm). Cette modification peut perturber les futurs dispositifs. Par exemple, avec une plaque de silicium, le plasma crée une couche d'oxyde qui est difficilement maîtrisable en terme d'épaisseur et de qualité. Avec une surface d'oxyde de silicium, certains plasmas comme le plasma N2 crée des problèmes de charges interfaciales pouvant perturber le fonctionnement électrique des futurs dispositifs. L’un des buts de la présente invention est de remédier aux inconvénients de l’art antérieur. A cet effet, la présente invention propose un procédé de fabrication d’une structure multicouche par collage direct entre un premier substrat et un second substrat, le procédé comprenant les étapes de : fourniture d’un premier substrat et d’un second substrat comprenant respectivement une première surface de collage et une seconde surface de collage, mise en contact de la première surface de collage et de la seconde surface de collage de sorte à créer une interface de collage direct entre le premier substrat et le second substrat, disposition d’au moins l’interface de collage direct dans une solution aqueuse cationique comprenant de l’eau déionisée et des espèces cationiques issues d’au moins un élément de la première et/ou de la deuxième colonne du tableau périodique des éléments, et application d’un traitement thermique à une température comprise entre 20°C et 350°C de sorte à obtenir la structure multicouche. Ce procédé de collage direct ainsi réalisé permet d’obtenir une structure multicouche présentant une énergie de collage supérieure à celle d’une structure multicouche obtenue par un procédé de collage direct dépourvu de l’étape c) de traitement dans une solution aqueuse cationique. Une forte énergie de collage est alors obtenue à basse température, c’est-à-dire à des températures inférieures à 400°C, de préférence inférieure ou égale à 350°C et encore de préférence une température de 200°C. Ces températures de collage sont compatibles avec de nombreuses applications et/ou avec de nombreux substrats, dont la nature et/ou la présence de composants électroniques et/ou opto-électroniques nécessitent de faibles budgets thermiques. De plus, le procédé est applicable à de nombreux matériaux et est peu coûteux. Le procédé conduit à des structures multicouches possédant une bonne tenue mécanique après collage, compatibles avec des procédés ultérieurs comme le Smart Cut TM et/ou tout procédé générant des contraintes mécaniques sur l'assemblage, comme par exemple un amincissement mécanique. De plus, ce procédé n’affecte pas l’énergie d’adhésion puisque l’utilisation d’une solution aqueuse cationique n’est réalisée qu’après la mise en contact direct des surfaces. Par exemple, l’onde de collage se propage toujours en 9 secondes pour des substrats de silicium d’environ 200 mm. Le traitement thermique post collage est également connu par l’homme de l’art sous la dénomination de ‘recuit de collage’. Selon une possibilité, le traitement thermique selon l’étape d) est réalisée par une montée en température, depuis la température ambiante jusqu’à une température finale, la montée en température étant réalisée sur une durée de quelques heures, par exemple 2 heures pour une température finale de 300°C. Selon une disposition, la température du traitement thermique appliqué à l’étape d) est comprise entre 100°C et 300°C, en particulier entre 150°C et 250°C. Selon une disposition, l’étape c) de disposition de l’interface de collage direct dans la solution aqueuse cationique est réalisée pendant une durée d’environ 5 min à 40 jours. La durée de cette étape augmente avec le diamètre du premier et du deuxième substrat. Il est en effet nécessaire que les espèces cationiques aient le temps de se déplacer sur la totalité de l’interface de collage direct pour obtenir une énergie de collage homogène et uniforme Aussi, plus le diamètre de la structure multicouche est grand, plus la durée de l’étape c) est importante. Aussi, l’étape c) consiste à immerger au moins l’interface de collage direct dans ladite solution aqueuse cationique. Autrement dit, l’assemblage multicouche obtenu à l’étape b) est totalement ou partiellement immergé dans la solution aqueuse cationique dans la mesure où l’interface de collage direct est immergée dans ladite solution aqueuse cationique. Selon une possibilité, la première surface de collage et/ou la seconde surface de collage est formée au moins en partie par un film hydrophile en un matériau choisi parmi un oxyde natif, un oxyde de silicium thermique ou déposé, un nitrure de silicium, un oxyde de cuivre et une combinaison de ces matériaux. Typiquement le film hydrophile en oxyde de cuivre est un film hybride composé de plots de cuivre séparés par du SiO2. Les plots de cuivre se recouvrent quasi instantanément à l’air d’un oxyde de cuivre natif. Lorsque le film hydrophile est en oxyde, il est par exemple formé par un oxyde déposé, un film mince d'oxyde obtenu par un traitement thermique (également appelé oxyde thermique) et/ou un mince film d'oxyde obtenu par un traitement chimique (également appelé oxyde natif ou oxyde chimique). Selon une variante, le premier et/ou du second substrat sont en matériau(x) oxydé(s), tel que l’alumine, de sorte que la première surface de collage et/ou la seconde surface de collage sont formées par le matériau respectivement du premier et/ou du second substrat car il s’agit d’un matériau intrinsèquement hydrophile. Ceci n’interdit pas la présence d’un film hydrophile en complément. Selon un mode de réalisation particulier, la première surface de collage est hydrophobe (par exemple en silicium hydrophobe obtenu par passivation de la surface du silicium et greffage d’hydrogène sur le silicium) et la seconde surface de collage est hydrophile. La seconde surface de collage est formée au moins en partie par un film hydrophile choisi parmi un oxyde natif (de silicium, Ge, … selon le matériau du second substrat), un oxyde thermique (de silicium), un oxyde déposé, un nitrure de silicium, un oxyde de cuivre et une combinaison de ces composés, ou bien la seconde surface de collage est constituée par le matériau du second substrat qui est un oxyde et donc hydrophile. La mise en contact de la seconde surface hydrophile avec la surface hydrophobe change le caractère initial hydrophobe de cette dernière en un caractère hydrophile ce qui permet le collage direct. Selon une disposition, la première surface de collage et la seconde surface de collage sont totalement planes. Autrement dit, la première et la seconde surface de collage sont dépourvues d’évidement ou de motifs formant des plateaux à l’échelle microscopique. Selon un mode particulier de mise en œuvre, la première surface de collage et/ou de la seconde surface de collage sont nettoyées par un traitement à l’eau ozonée et/ou un traitement SC1 et/ou un traitement SC2 avant l’étape b). Selon une possibilité, le premier substrat et le second substrat présentent un diamètre strictement supérieur à 2,5 cm. De façon avantageuse, l’étape a) comprend en outre le séchage de la première surface de collage et de la seconde surface de collage avant de réaliser l’étape b) de mise en contact. A l’issu du séchage, la première surface de collage et la seconde surface de collage présentent chacune une face sur laquelle réside au plus une à cinq couches monoatomiques d’H 2 O, de sorte que la première surface de collage et la seconde surface de collage sont sèches à l’échelle macroscopique. Selon une disposition, la solution aqueuse cationique comprend des espèces cationiques choisies parmi le Na + , Mg 2+ , Ca 2+ , K + , Ba 2+ et un mélange de ces espèces cationiques. De manière concrète, la solution aqueuse cationique est formée, par dissolution dans l’eau déionisée, d’un sel choisi parmi le NaCl, MgCl 2 , CaCl 2 , KCl, BaCl 2 , NaF, KCl, KF et un mélange de ces composés. Selon une possibilité, la solution aqueuse cationique présente une concentration massique des espèces cationiques comprise entre 10 -8 g/ml et 0.5 g/ml, notamment entre 10 -8 g/ml et 10 -2 g/ml et en particulier entre 10 -8 g/ml et 10 -4 g/ml. Une faible concentration de cations suffit pour assurer un collage fort ce qui permet une étape de peu coûteuse. Une concentration plus élevée conduit à de moins bons résultats. Selon une disposition, le premier substrat et le second substrat sont chacun formés par un matériau choisi parmi des matériaux semi-conducteurs, tel que le silicium, les oxydes de silicium, les nitrures de silicium, le SiOC, de l'alumine, du diamant, ) et une combinaison de ces matériaux, voire le LNO (acronyme pour oxyde de nickel lanthane LaNiO3), le LTO (acronyme de titanate de lithium Li2TiO3) le germanium, l’oxyde de germanium, SiC, InP, AsGa, GaN et une combinaison de ces matériaux. Le premier substrat et le deuxième peuvent être de nature identique ou de nature différente. Selon un exemple de réalisation, le premier substrat et le second substrat fournis à l’étape a) comprennent chacun un substrat de silicium présentant un diamètre compris entre 100 mm et 300 mm, en particulier 200 mm, et la première surface de collage et la seconde surface de collage sont chacune formées par un film d’oxyde de silicium de 145 nm par exemple, l’étape c) comprend la disposition de l’interface de collage direct, obtenue à l’étape b), dans la solution aqueuse cationique sur une durée comprise entre 15 et 20 jours pour des premier et second substrats de 200 mm, la solution aqueuse cationique étant une solution formée par dissolution de NaCl dans l’eau déionisée de sorte à atteindre une concentration massique comprise entre 10 -8 g/ml et 0.001 g/ml et par exemple environ 10 -4 g/ml, et l’étape d) comprend l’application d’un traitement thermique à environ 300°C, de sorte à obtenir un collage direct entre le premier substrat et le second substrat présentant une énergie de collage supérieure à 5J/m 2 . L’énergie de collage est mesurée par exemple avec la méthode du double levier à déplacement imposée dans une atmosphère anhydre comme décrit dans l’article de F. Fournel, L. Continni, C. Morales, J. Da Fonseca, H. Moriceau, F. Rieutord, A. Barthelemy, and I. Radu, Journal of Applied Physics 111, 104907 (2012). Selon une variante de réalisation, le premier substrat fourni l’étape a) comprend une ou plusieurs premières vignettes provenant du vignetage du premier substrat de sorte à obtenir un collage direct de l’une ou plusieurs premières vignettes au second substrat. La première surface de collage est délimitée par la face exposée de l’une ou plusieurs premières vignettes. Selon une autre variante, le second substrat fourni l’étape a) comprend une ou plusieurs secondes vignettes provenant du vignetage du second substrat de sorte à obtenir un collage direct entre l’une ou plusieurs premières vignettes et l’une ou plusieurs secondes vignettes. La seconde surface de collage est délimitée par la face exposée de l’une ou plusieurs secondes vignettes. Selon d’autres caractéristiques, le procédé de fabrication de la structure multicouche de l’invention comporte une ou plusieurs des caractéristiques optionnelles suivantes considérées seules ou en combinaison : Le premier substrat et/ou le second substrat présentent une épaisseur supérieure à 50 micromètres, de préférence supérieure à 100 micromètres, et par exemple une épaisseur d’environ 725 micromètres. Le premier substrat et/ou le second substrat peuvent être des couches suffisamment épaisses pour être autoportées. Le premier substrat et le second substrat sont des empilements d’au moins deux couches de matériau de nature différente. La première surface de collage et la seconde surface de collage respectivement du premier et du second substrat sont chacune formées au moins en partie par un film hydrophile en un oxyde natif, un oxyde de silicium, un nitrure de silicium, un oxyde de cuivre . La première surface de collage et la seconde surface de collage respectivement du premier et du second substrat sont chacune totalement formées d’un film hydrophile continu en un oxyde natif, un oxyde de silicium, un nitrure de silicium ou un oxyde de cuivre et une combinaison de ces matériaux. Seule la première surface de collage ou la seconde surface de collage est hydrophile, au moment de la mise en contact. Le premier substrat et/ou le second substrat comprennent des évidements débouchant respectivement à la première et/ou la seconde surface de collage. La première surface de collage et la seconde surface de collage sont dépourvues de toute matière ajoutée avant la mise en contact à l’étape b). Le procédé comprend avant l'étape b) de mise en contact des surfaces de collage, une étape consistant à appliquer un traitement plasma sur les surfaces de collage des premier et second substrats. Il est ainsi possible de sensiblement diminuer la température du budget thermique tout en conservant une forte énergie de collage. Le séchage de la première surface de collage et de la seconde surface de collage comprend une centrifugation des premier et second substrats, en particulier à 2000 tours/min pendant 45 s. Le séchage de la première surface de collage et de la seconde surface de collage comprend un séchage utilisant l’effet Marangoni. L’étape c) de disposition d’au moins l’interface de collage direct est réalisée dans une solution aqueuse cationique présentant une température comprise entre la température ambiante et 100 °C. La solution aqueuse cationique comprend des espèces cationiques choisies parmi le Li, Rb, Sr, le Cs et un mélange de ces espèces. La solution aqueuse cationique est formée, par dissolution dans l’eau déionisée, d’un sel choisi parmi le LiCl, RbCl, SrCl2, CsCl et un mélange de ces sels. Le premier substrat et le second substrat fournis à l’étape a) comprennent chacun un substrat de silicium présentant un diamètre compris entre 50 mm et de 300 mm, par exemple entre 100 mm et 250 mm, en particulier 200 mm, et la première surface de collage et la seconde surface de collage sont chacune formées par un film d’oxyde de silicium, l’étape c) comprend la disposition de l’interface de collage direct, obtenue à l’étape b), dans la solution aqueuse cationique sur une durée comprise entre 1 et 40 jours, en particulier la solution aqueuse cationique comprend des cations Na+ et présente une concentration massique comprise entre 10 -8 g/ml et 0.01 g/ml notamment entre 10 -8 g/ml et 0.001 g/ml et par exemple de 10 -4 g/ml, et l’étape d) comprend l’application d’un traitement thermique à 300°C, de sorte à obtenir un collage direct entre le premier substrat et le second substrat, le collage direct présentant une énergie de collage supérieure à 5J/m 2 . Le premier et le second substrat présentent un diamètre de 50 mm et la durée de l’étape c) est comprise entre environ 1 à 2 jours. Le premier et le second substrat présentent un diamètre de 100 mm et la durée de l’étape c) est comprise entre environ 4 à 6 jours. Le premier et le second substrat présentent un diamètre de 200 mm et la durée de l’étape c) est comprise entre environ 15 à 20 jours. Le premier et le second substrat présentent un diamètre de 300 mm et la durée de l’étape c) est comprise entre environ 35 à 40 jours. D'autres aspects, buts et avantages de la présente invention apparaîtront mieux à la lecture de la description suivante de plusieurs modes de réalisation de celle-ci, donnée à titre d'exemple non limitatif et faite en référence aux dessins annexés. Dans la suite de la description, par souci de simplification, des éléments identiques, similaires ou équivalents des différentes formes de réalisation portent les mêmes références numériques. Les figures ne respectent pas nécessairement l'échelle de tous les éléments représentés de sorte à améliorer leur lisibilité et dans lesquelles : représente une vue schématique des étapes a) et b) du procédé selon un mode de réalisation de l’invention. représente une vue schématique de l’étape c) du procédé selon le mode de réalisation de l’invention. représente une vue schématique de l’étape d) du procédé selon le mode de réalisation de l’invention. Comme illustré sur les figures 1 à 3, le procédé de la présente l’invention propose un procédé de collage direct entre un premier et un second substrat 1,2 comprenant une étape d’immersion c) dans une solution aqueuse cationique suivi d’une étape de recuit de collage d) à faible température qui permet d’atteindre une forte énergie de collage. Un premier substrat 1 et un second substrat 2, tous les deux en silicium et présentant chacun une surface de collage 3,4 totalement plane sur un diamètre de 200 mm, sont fournis selon l’étape a) du procédé. Comme visible sur la , la première surface de collage 3 et la seconde surface de collage 4 sont formées par un film hydrophile 5 d’oxyde de silicium (thermique ou déposé) d’environ 145 nm d’épaisseur. Avant l’étape b) de mise en contact, le procédé comprend un nettoyage à l’eau ozonée des deux surfaces de collage 3,4 et/ou un traitement SC1 (mélange d’ammoniaque 30%, d’eau oxygénée 30% et d’eau déionisée dans les proportions volumiques respectives 1 : 1 : 5) et/ou un traitement SC2 (mélange d’acide chlorhydrique à 30%, d’eau oxygénée à 30% et d’eau dans les proportions volumiques respectives 1 : 1 : 5) de sorte à retirer les contaminants organiques et particulaires qui sont très préjudiciables au collage direct. Les deux surfaces 3 et 4 sont ensuite mises en contact de sorte à créer une interface de collage direct 6 entre les deux substrats 1,2. Selon une possibilité non visible, une seule des deux surfaces de collage 3,4 est formée par un film 5 d’oxyde de silicium. Selon encore une autre possibilité non illustrée, une étape de préparation des première et seconde surfaces de collage 3,4 avant la mise en contact de l’étape b) comprend un traitement au plasma. Dans tous les cas de figures, les première et seconde surfaces de collage 3,4 sont séchées avant l’étape b) de mise en contact, de sorte à retirer l’eau présente à l’échelle macroscopique, par exemple par centrifugation à 2000 tours/min pour obtenir un collage direct spontané. Une solution aqueuse cationique 8 est alors préparée par dissolution de NaCl dans de l’eau déionisée jusqu’à atteindre une concentration de 10 -4 g/ml en espèce cationique. Comme illustré à la , l’interface de collage direct 6 (ici la totalité de l’assemblage 7 obtenu à l’étape b) est ensuite immergée dans cette solution 8 selon l’étape c) du procédé. L’immersion est réalisée sur une durée d’environ 20 jours de sorte que les espèces cationiques ont le temps de migrer sur la totalité de l’interface de collage direct 6. Cette durée est moins longue lorsque les substrats 1,2 présentent un diamètre inférieur. Selon une variante de réalisation non illustrée, le premier substrat et/ou le second substrat 1,2 comprennent des évidements débouchant respectivement à la première et/ou la seconde surface de 3,4, créant des cavités à l’interface de collage direct 6. La migration des espèces cationiques à l’interface de collage 6 est alors plus rapide dans ce cas et la durée de l’immersion dans la solution aqueuse cationique 8 peut être réduite. Un recuit de collage est opéré sur l’assemblage 7 jusqu’à atteindre une température de 300°C selon l’étape d) du procédé ( ). A l’issu de ce traitement thermique, la mesure de l’énergie de collage (méthode du double levier) effectuée sur la structure multicouche 100 ainsi obtenue conduit à la casse des substrats 1,2 de silicium et non au décollement des substrats 1,2 à l’interface de collage direct 6. Ceci indique que l’énergie de collage atteinte est supérieure à l’énergie de rupture du silicium, soit une énergie de collage supérieure à 5J/m2. Le même procédé réalisé sans l’étape c) d’immersion dans une solution aqueuse cationique 8 conduit à une énergie de collage de 3J/m2 mesurée selon la même méthode du double levier, après un recuit de collage à 500°C. Selon une alternative non illustrée, l’un des deux substrats 1,2 fourni à l’étape a) présente un plan de fragilisation. Le traitement thermique de recuit de collage participe au budget thermique permettant une fracture au niveau du plan de fragilisation. La structure multicouche 100 obtenue comprend alors l’un des deux substrats 1,2 collé à une couche mince transférée provenant de la fracture et un négatif de l’autre des substrats 1,2. Selon encore une autre variante non illustrée le premier substrat 1 fourni à l’étape a) est vigneté en plusieurs premières vignettes dont les faces exposées sont de premières surfaces de collage 3. Les premières vignettes sont collées selon le procédé précédemment décrit sur le seconde substrat 2 (pleine plaque) selon un collage puce-plaque également connu dans la terminologie anglo-saxonne par l’expression ‘chip to wafer’. Selon encore une autre variante non illustrée, le second substrat 2 est également vigneté en plusieurs secondes vignettes et le procédé de l’invention permet le collage direct des premières vignettes et des secondes vignettes. Selon une alternative non illustrée, la première surface de collage 3 et la seconde surface de collage 4 sont préparées de sorte à avoir des surfaces hybrides cuivre-oxyde collables en collage direct. Ces première et seconde surfaces de collage hydrophiles 3,4 sont typiquement composées de plots de cuivre de 2.5 micromètres de côté séparés par 2.5 micromètres de SiO2. On parle alors d’une surface hybride au « pitch » de 5 micromètres. Puis les étape b) à d) du procédé sont reproduites telles que précédemment décrites. Ainsi, la présente invention propose un procédé de fabrication d'une structure multicouche 100 comportant un collage direct entre deux substrats 1,2 présentant une forte énergie de collage, et permettant de limiter la température du recuit thermique post collage. La solution aqueuse cationique est peu coûteuse et l’étape d’immersion c) est applicable à de nombreux matériaux. Il est notamment possible de coller des substrats (ou couches épaisses) de matériaux ayant une différence significative de coefficient de dilatation thermique. De plus, lorsque les matériaux des premier et second substrats 1,2 comportent des dispositifs, ceux-ci ne sont pas endommagés par les températures utilisées. Il va de soi que l'invention n'est pas limitée aux variantes de réalisation décrites ci-dessus à titre d'exemple mais qu'elle comprend tous les équivalents techniques et les variantes des moyens décrits ainsi que leurs combinaisons. Procédé de fabrication d’une structure multicouche (100) par collage direct entre un premier substrat (1) et un second substrat (2), le procédé comprenant les étapes de : fourniture d’un premier substrat (1) et d’un second substrat (2) comprenant respectivement une première surface de collage (3) et une seconde surface de collage (4), mise en contact de la première surface de collage (3) et de la seconde surface de collage (4) de sorte à créer une interface de collage direct (6) entre le premier substrat (1) et le second substrat (2), disposition d’au moins l’interface de collage direct (6) dans une solution aqueuse cationique (8) comprenant de l’eau déionisée et des espèces cationiques issues d’au moins un élément de la première et/ou de la deuxième colonne du tableau périodique des éléments, et application d’un traitement thermique à une température comprise entre 20°C et 350°C de sorte à obtenir la structure multicouche (100). Procédé de fabrication selon la revendication 1, dans lequel l’étape c) de disposition de l’interface de collage direct (6) dans la solution aqueuse cationique (8) est réalisée pendant une durée d’environ 5 min à 45 jours. Procédé de fabrication selon la revendication 1 ou 2, dans lequel la première surface de collage (3) et/ou la seconde surface de collage (4) est formée au moins en partie par un film hydrophile (5) en un matériau choisi parmi un oxyde natif, un oxyde de silicium thermique ou déposé, un nitrure de silicium, un oxyde de cuivre et une combinaison de ces matériaux. Procédé de fabrication selon l’une des revendications 1 à 3, dans lequel la première surface de collage (3) et la seconde surface de collage (4) sont totalement planes. Procédé de fabrication selon l’une des revendications 1 à 4, dans lequel la première surface de collage (3) et/ou de la seconde surface de collage (4) sont nettoyées par un traitement à l’eau ozonée et/ou un traitement SC1 et/ou un traitement SC2 avant l’étape b). Procédé de fabrication selon l’une des revendications 1 à 5, dans lequel la solution aqueuse cationique (8) comprend des espèces cationiques choisies parmi le Na + , Mg 2+ , Ca 2+ , K + , Ba 2+ et un mélange de ces espèces cationiques. Procédé de fabrication selon l’une des revendications 1 à 6, dans lequel la solution aqueuse cationique (8) est formée, par dissolution dans l’eau déionisée, d’un sel choisi parmi le NaCl, MgCl 2 , CaCl 2 , KCl, BaCl 2 , NaF, KCl, KF et un mélange de ces composés. Procédé de fabrication selon la revendication 1 à 7, dans lequel la solution aqueuse cationique (8) présente une concentration massique des espèces cationiques comprise entre 10 -8 g/ml et 0.5 g/ml, notamment entre 10 -8 g/ml et 10 -2 g/ml et en particulier entre 10 -8 g/ml et 10 -4 g/ml. Procédé de fabrication selon l’une des revendications 1 à 8, dans lequel le premier substrat (1) et le second substrat (2) sont chacun formés par un matériau choisi parmi des matériaux semi-conducteurs, tel que le Si, les oxydes de silicium, les nitrures de silicium, le SiOC ; l'alumine, le diamant et une combinaison de ces matériaux. Procédé de fabrication selon l’une des revendications 1 à 9, dans lequel : le premier substrat (1) et le second substrat (2) fournis à l’étape a) comprennent chacun un substrat de silicium présentant un diamètre compris entre 100 mm et 250 mm, en particulier 200 mm, et la première surface de collage (3) et la seconde surface de collage (4) sont chacune formées par un film (5) d’oxyde de silicium, l’étape c) comprend la disposition de l’interface de collage direct (6), obtenue à l’étape b), dans la solution aqueuse cationique (8) sur une durée comprise entre 15 et 20 jours pour des premier et second substrats de 200 mm, la solution aqueuse cationique (8) étant une solution formée par dissolution de NaCl dans l’eau déionisée de sorte à atteindre une concentration massique comprise entre 10 -8 g/ml et 0.001 g/ml et par exemple une concentration massique d’environ 10 -4 g/ml, et l’étape d) comprend l’application d’un traitement thermique à environ 300°C, de sorte à obtenir un collage direct entre le premier substrat (1) et le second substrat (2) présentant une énergie de collage supérieure à 5J/m 2 .