Brevet FR3128022A1 — publié le 20230414

Dispositif et procédé opto-informatique d’analyse en lumière traversante d’un récipient en verre à l’aide d’une caméra numérique polarimétrique L’invention concerne un dispositif et procédé opto-informatique d’analyse d’un récipient (12) en verre à l’aide d’une caméra polarimétrique (18), comprenant - l’acquisition, avec le capteur photoélectrique (22) de la caméra polarimétrique, d’au moins une image numérique maîtresse (IM) du récipient, - le calcul informatique d’une image d’intensité (It) dans laquelle la valeur de chaque pixel d’intensité (Pt(n)) est une valeur moyennée de la valeur d’au moins deux pixels de l’image numérique maitresse correspondant à deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre ou deux polarisation analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux ou deux analyses elliptiques orthogonales ; - le calcul informatique d’au moins une image de déphasage (ID) en calculant, pour une série de pixels composites, un pixel de déphasage (Pd(n)) à partir de la valeur d’un ensemble d’un ou plusieurs pixel(s) partiel(s) (Ppk(n)) appartenant à une combinaison d’une ou plusieurs images partielles (Ipk). Figure pour l’abrégé : Fig. 8. Dispositif et procédé opto-informatique d’analyse en lumière traversante d’un récipient en verre à l’aide d’une caméra numérique polarimétrique L’invention concerne un procédé opto-informatique d’analyse en lumière traversante d’un récipient en verre à l’aide d’une caméra numérique polarimétrique, notamment en vue de détecter informatiquement la présence, dans le verre constitutif du récipient, d’éventuels défauts, en vue de pouvoir identifier un caractère rédhibitoire ou pas de tels défauts. Il existe une grande quantité de procédés opto-informatiques d’analyse d’un récipient en verre pour y détecter des défauts, faisant appel à une ou plusieurs caméras numériques, dans lesquels la détection et l’éventuelle identification ou classification des défauts est réalisée par analyse informatique d’une ou plusieurs images numériques acquises par ces caméras. Certains procédés acquièrent une image numérique en lumière réfléchie sur le récipient. D’autres procédés, comme ceux envisagés dans l’invention, travaillent en lumière traversante, la source lumineuse étant dans ce cas dans le champ de vision de la caméra numérique utilisée. Dans les procédés les plus classiques, les éventuels défauts sont détectés informatiquement dans une ou plusieurs images numériques d’intensité acquises par une caméra, dans lesquelles les anomalies dans l’image résultent de l’absorption ou de la réfraction totale ou partielle, par le défaut, de la lumière incidente projetée par la source lumineuse. L’image numérique utilisée pour une telle analyse est donc une image numérique d’intensité dont chacun des pixels présente une valeur proportionnelle à l’intensité lumineuse émise par un point du récipient correspondant optiquement à ce pixel dans le système optique de la caméra. Une telle détection dans une image numérique d’intensité permet généralement d’identifier la localisation des défauts sur le récipient et éventuellement d’en identifier la taille et la forme, à la condition cependant que le défaut induise une anomalie d’absorption ou de réfraction de la lumière par rapport au matériau du récipient qui entoure ce défaut. Parmi les procédés opto-informatiques qui travaillent en lumière traversante, on connaît aussi les procédés qui déterminent la présence de contraintes mécaniques résiduelles dans le matériau (parfois appelées contraintes mécaniques internes ou, notamment en langue anglaise, « stress »), en déterminant la modification de l’état de polarisation de la lumière après que celle-ci a traversé le matériau du récipient et a traversé d’éventuels défauts de stress de celui-ci. Pour mettre en œuvre de tels procédés, on dispose aujourd’hui de caméras polarimétriques. On connaît notamment des caméras polarimétriques dans lesquelles la caméra polarimétrique comporte un capteur photoélectrique bidimensionnel comprenant des éléments photoélectriques comprenant chacun une cellule photoélectrique devant laquelle est agencé un système d’analyse de polarisation qui sera ci-après dénommé analyseur de polarisation ou tout simplement analyseur. Le système d’analyse de polarisation comprend un filtre polarisant linéaire, ci-après dénommé analyseur linéaire individuel de polarisation ou tout simplement analyseur individuel linéaire, associé à chaque cellule photoélectrique de cet élément photoélectrique. Le capteur photoélectrique comporte un nombre N de groupes distincts d’éléments photoélectriques contigus, chaque groupe distinct d’éléments photoélectriques contigus comprenant quatre éléments photoélectriques contigus appartenant respectivement à quatre familles distinctes d’éléments photoélectriques. Chaque famille d’éléments photoélectriques est définie par l’orientation de l’axe de polarisation de son analyseur individuel linéaire, cette orientation de l’axe de polarisation de l’analyseur individuel linéaire étant commune à chacun des éléments photoélectriques de la famille considérée. Dans les caméras polarimétriques connues, les quatre analyses linéaires correspondent donc à quatre orientations de leur axe de polarisation respectif, et correspondent à deux paires d’axes de polarisation orthogonaux, les deux paires étant décalées l’une de l’autre de 45 degrés d’angle, dans un sens ou dans l’autre. Par exemple, les caméras polarimétriques de la série XCG-CP commercialisées par les sociétés du groupe SONY fonctionnent selon ce principe. Les mêmes sociétés du groupe SONY commercialisent des capteurs photoélectriques bidimensionnels qui intègrent un système de filtres polarisant linéaires individuels associés chacun à une cellule photoélectrique selon le principe ci-dessus. Ces capteurs, connus sous les références IMX250MZR / MYR, IMX253MAR / MYR, ou encore IMX264MZR / MYR, de technologie CMOS, comportent des filtre polarisants linéaires individuels formés directement sur le composant. L’invention sera décrite ci-après de manière plus précise dans un mode de réalisation mettant en œuvre une telle caméra. D’autres constructeurs de caméras pouvant être mises en œuvre dans le cas de l’invention incluent la société Lucid Vision Labs, Inc, 130-13200 Delf Place, Richmond B.C., Canada, V6V 2A2. Des capteurs polarimétriques sont aussi décrits dans le document EP-2.275.790. Un dispositif et un procédé opto-informatique d’analyse en lumière traversante d’un récipient en verre à l’aide d’une caméra numérique polarimétrique sont aussi décrits dans le document WO-2020/212014. Sur la base des images numériques de polarisation acquises avec de telles caméras polarimétriques, il est possible de repérer, dans un récipient analysé, des régions dites « régions stressées » dans lesquelles le matériau de verre constitutif du récipient présente des contraintes mécaniques résiduelles qui se traduisent par un déphasage des deux composantes orthogonales d’une lumière polarisée traversant ces régions stressées, c’est-à-dire d’un déphasage entre deux composantes orthogonales du champ électrique de la lumière. Ces contraintes mécaniques résiduelles, généralement d’origine thermique, peuvent résulter de la présence d’une inclusion dans le matériau (céramique, métal, verre dévitrifié, …) ou résulter du processus de formation du récipient, telles que les gradients thermiques créés durant le formage et mal résorbés dans l’arche de recuisson lors du processus de refroidissement du verre. Dans tous les cas, il est connu que de telles zones stressées peuvent être des zones de fragilité inacceptables, rendant le récipient impropre à son utilisation dans le commerce. Dans une « région stressée », le matériau présentant des contraintes mécaniques résiduelles devient biréfringent, l’indice de réfraction du matériau étant alors diffèrent selon deux axes orthogonaux dits rapide et lent, orientés en fonction de la direction des contraintes mécaniques résiduelles. Lorsqu’une onde électromagnétique traverse une « région stressée », une première composante du champ électrique de l’onde se propage plus rapidement que l’autre composante de ce champ électrique, orthogonale à la première, du fait de la biréfringence du matériau présentant des contraintes mécaniques résiduelles, créant ainsi un déphasage φ entre ces deux composantes, le déphasage φ étant induit par les contraintes mécaniques résiduelles. Il faut noter que le déphasage φ induit par les contraintes mécaniques résiduelles se superpose ou se retranche à un éventuel déphasage incident de la lumière incidente. Dans les techniques habituellement mises en œuvre, on peut distinguer celles qui mettent en œuvre une lumière incidente polarisée linéairement, selon une direction de polarisation linéaire incidente, de celles qui mettent en œuvre une lumière polarisée circulairement avec un sens de rotation incident. En conséquence, dans une méthode de détection de contraintes mécaniques résiduelles consistant à illuminer le récipient avec une lumière incidente polarisée linéairement, la polarisation de la lumière incidente est modifiée, pendant la traversée de matériaux de verre présentant des contraintes mécaniques résiduelles, en une polarisation résultante de la lumière émergente qui émane du matériau, ci-après polarisation émergente, cette modification de la polarisation étant dépendante de la valeur des contraintes mécaniques résiduelles et de l’angle entre la direction des contraintes mécaniques résiduelles et la direction de polarisation linaire incidente comme suit : - si la direction de polarisation linaire incidente est parallèle ou orthogonale à la direction des contraintes mécaniques résiduelles, la polarisation émergente est une polarisation linéaire de même direction de polarisation que la direction de polarisation linaire incidente, autrement dit il n’y pas de changement de l’état de polarisation ; - sinon la polarisation émergente est une polarisation elliptique ou circulaire dont la direction du grand axe et l’ellipticité dépendent de cet angle et de l’intensité des contraintes. Dans les méthodes qui mettent en œuvre une lumière incidente polarisée linéairement, on analyse la polarisation résultante à l’aide d’un analyseur linéaire, c’est-à-dire en pratique généralement à l’aide d’un filtre polarisant linéaire. Généralement on dispose les éléments de telle sorte que la direction de polarisation de l’analyseur linéaire est orthogonale à la direction de polarisation linéaire incidente, afin que l’image soit noire en l’absence de déphasage φ induit par des contraintes mécaniques résiduelles. Cette solution préférée permet de s’affranchir au mieux des effets d’absorption et de réfraction qui diminuent l’intensité. Dans cette configuration, lorsque la polarisation de la lumière émergente qui émane du matériau analysé présente une modification de polarisation par rapport à la polarisation linéaire incidente, on voit les contraintes mécaniques résiduelles sous la forme d’une intensité lumineuse supérieure, dont la valeur dépend du déphasage φ induit par les contraintes mécaniques résiduelles, mais également de la direction des contraintes. Ainsi on ne distingue une intensité lumineuse supérieure que pour les contraintes mécaniques résiduelles dont la direction n’est ni parallèle ni orthogonale à la direction de polarisation linéaire incidente. La détection n’est pas isotrope et ne permet pas de visualiser l’intégralité d’une région stressée mais seulement certaines parties de cette région. Par exemple si le stress est dû à une inclusion sphérique, on peut considérer que les contraintes générées sont en compression radiales autour de l’inclusion. Dans ce cas on n’observe que 4 taches blanches autour du défaut. Dans les méthodes qui mettent en œuvre une lumière incidente polarisée circulairement traversant une région présentant des contraintes mécaniques résiduelles, la polarisation circulaire de la lumière incidente est obtenue en interposant devant la source lumineuse successivement et dans cet ordre dans le sens de propagation de la lumière, un polariseur linéaire, qualifié de polariseur linéaire source, ayant une direction de polarisation source, et une lame à retard quart d’onde, qualifiée de lame à retard quart d’onde source. Les contraintes mécaniques résiduelles vont créer, lors du passage de la lumière au travers de l’objet examiné, un déphasage φ induit additionnel entre les deux composantes orthogonales du champ électrique de la lumière. La lumière émergente, qui émane du matériau présentant des contraintes mécaniques résiduelles, présente donc une polarisation émergente qui est ensuite analysée au moyen d’un système d’analyse de polarisation qui est généralement ce qui sera appelé ci-après analyseur circulaire et qui comporte, successivement et dans cet ordre dans le sens de propagation de la lumière, une lame à retard quart d’onde d’analyse puis un analyseur de polarisation linéaire. La lame à retard quart d’onde d’analyse transforme la polarisation circulaire de la lumière émergente, qui émane du matériau, en une polarisation intermédiaire dont l’état de polarisation dépend du déphasage φ induit par les contraintes mécaniques résiduelles, déphasage φ induit qui est lui-même dépendant de l’intensité de la contrainte mécanique résiduelle. Si aucune contrainte mécanique résiduelle n’est présente sur le trajet, alors la polarisation intermédiaire est une polarisation linéaire selon une direction dite « direction de polarisation linéaire sans contrainte » qui est orientée à 45° de la direction de l’axe rapide de la lame à retard quart d’onde d’analyse. Sinon, en présence de contraintes mécaniques résiduelles dans le matériau, la polarisation intermédiaire est une polarisation elliptique, c’est-à-dire avec un déphasage différent de λ/4 en fonction du déphasage φ induit par les contraintes mécaniques résiduelles. Cette polarisation intermédiaire est ensuite encore analysée au moyen de l’analyseur de polarisation linéaire (aussi appelé analyseur linéaire) de l’analyseur circulaire. Cet analyseur linéaire, qui fait partie de l’analyseur circulaire, peut notamment prendre la forme d’un filtre polariseur linéaire. Dans un analyseur circulaire, l’analyseur linéaire qui fait partie de l’analyseur circulaire présente une direction de polarisation qui est orientée à 45 degrés de l’axe rapide de la lame à retard quart d’onde d’analyse. Dans les cas où le dispositif d’illumination délivre une lumière incidente qui est polarisée circulairement dans un sens, qui sera appelé arbitrairement sens d’incidence, on appellera analyseur circulaire inverse un analyseur circulaire dont l’orientation de l’analyseur linéaire est telle que, en l’absence de contraintes mécaniques résiduelles dans le récipient qui analysé (donc aussi en l’absence de récipient entre la source lumineuse et l’analyseur), on obtient une extinction de l’intensité reçue par le capteur photoélectrique 22. On dira qu’un tel analyseur circulaire inverse présente une caractéristique d’analyse de polarisation qui est une analyse circulaire inverse. Dans un tel analyseur circulaire inverse, l’analyseur linéaire est agencé de sorte que sa direction de polarisation soit orthogonale à la « direction de polarisation linéaire sans contrainte » fixée par la direction de l’axe rapide de la lame à retard quart d’onde d’analyse, de manière à obtenir une extinction si la polarisation n’est pas modifiée par un défaut de stress sur son parcours à travers le récipient. Dans un tel cas, l’intensité de la lumière captée, qui ne dépend que du retard créé par les contraintes mécaniques résiduelles, est donc indépendante de la direction de ces contraintes mécaniques résiduelles, elle ne dépend que de leur intensité. Inversement, on appellera analyseur circulaire direct un analyseur circulaire dont l’orientation de l’axe de polarisation de l’analyseur linéaire est parallèle à la « direction de polarisation linéaire sans contrainte » fixée par la direction de l’axe rapide de la lame à retard quart d’onde d’analyse, de telle sorte que, en l’absence de récipient entre la source lumineuse et l’analyseur, on obtient, sur le capteur photoélectrique, l’intégralité de la lumière incidente polarisée circulairement dans le sens d’incidence. On dira qu’un tel analyseur circulaire direct présente une caractéristique d’analyse de polarisation qui est une analyse circulaire directe. La valeur d’un pixel d’une image numérique de polarisation mesure une intensité lumineuse comprise entre 0 et un niveau de gris maximum, correspondant, si l’on prend la précaution d’éviter la saturation des pixels en réglant convenablement le gain et le temps d’intégration, à l’intensité de la lumière incidente diminuée de l’absorption par l’épaisseur de matériau traversée, soit Io, modifiée ou non par les modifications de l’état de polarisation dues aux contraintes mécaniques résiduelles et à l’analyseur de chaque pixel. Classiquement une échelle arbitraire de numérisation attribue à chaque niveau de gris de l’intensité lumineuse mesurée une valeur allant donc par exemple 0 à 100% ou de 0 à 255 (permettant un codage binaire sur 8 bit). Si un calcul de déphasage est réalisé, l’échelle de déphasage peut être prévue pour que chaque pixel de l’image de déphasage par exemple entre 0 à 255 pourra représenter selon le cas des déphasages de 0° à 90° ou de 0° à 180°. Bien entendu, des valeurs de pixels codées sur 10 ou 16 bits par exemple sont envisageables selon la dynamique des éléments photo-électriques du capteur. On comprend donc que, aussi bien les images numériques de polarisation que les images numériques d’intensité fournissent des informations utiles sur la présence éventuelle de défauts dans le matériau constitutif du récipient en verre. Aussi, dans un processus industriel de contrôle de la qualité de récipients en verre, on peut vouloir mettre en œuvre des procédés opto-informatiques d’analyse exploitant d’une part des images numériques d’intensité et d’autre part des images numériques de polarisation. Une solution serait donc de disposer de deux dispositifs d’acquisition d’images, l’un pour acquérir des images numériques de polarisation, et l’autre pour acquérir des images numériques d’intensité. Cependant, dans un contexte industriel, la multiplication des postes de contrôle peut être handicapante, à la fois en termes de coûts et en termes d’encombrement. Ce dernier point est particulièrement important si l’on veut pouvoir mettre en œuvre un procédé opto-informatique d’analyse des récipients en ligne dans une ligne industrielle de production de récipients en verre et/ou dans une ligne industrielle de transport automatisé des récipients en verre, et/ou dans une ligne industrielle automatisée de remplissage des récipients en verre. Selon un autre aspect, l’acquisition d’images numériques de polarisation est très utile pour les informations que l’on peut en tirer, notamment par exemple en termes de contraintes mécaniques résiduelles du matériau, mais cette information de polarisation doit généralement être interprétée pour déterminer si la valeur de contraintes mécaniques résiduelles que l’on peut tirer de ces images est constitutive d’un défaut ou pas. Par exemple, dans un process de production de récipient en verre comportant des gravures, il est à peu près inévitable que les régions comportant des gravures provoquent certains déphasages de polarisation qui ne doivent pas conduire au rejet des récipients, parce que le matériau constitutif du récipient présente, au niveau des gravures, des contraintes résiduelles qui, tout en étant largement supérieures aux contraintes résiduelles dans le matériau en dehors des gravures, restent néanmoins tout à fait acceptables et ne compromettent pas la qualité du récipient, et/ou parce que l’état de polarisation de la lumière soit modifié par la réfraction de la lumière sur les bords pentus des gravures, cette modification pouvant être interprétée comme un effet de contraintes résiduelles alors que le récipient reste néanmoins tout à fait acceptable. De la sorte, il apparaît nécessaire de pouvoir corréler des zones dans lesquelles on détecte un déphasage de polarisation avec des régions du récipient dans lesquelles de tels déphasages de polarisation peuvent être attendus, ceci afin éventuellement de ne pas rejeter un récipient de manière indue. De manière générale, on sait qu’il est généralement intéressant de pouvoir subdiviser l’image d’un objet inspecté, en l’occurrence l’image d’un récipient en verre, en différentes zones pour lesquelles l’analyse de l’image sera faite éventuellement avec des algorithmes différents et/ou avec des niveaux de seuils différents. Cela suppose donc d’être capable de corréler une zone de l’image avec une zone du récipient correspondant. Dans les images d’intensité, cela est généralement bien maîtrisé, car on connaît des procédés de reconnaissance de forme dans les images d’intensité en lumière traversante qui permettent par exemple de détecter les bords du récipient et de reconnaître d’éventuels marqueurs géométriques. En revanche, de manière classique, les images de polarisation sont des images dans lesquelles on ne voit que les zones présentant un déphasage de polarisation, qu’il est généralement impossible d’associer à une position relative sur le récipient. L’invention vise donc à proposer un procédé et un dispositif opto-informatique d’analyse de récipients en verre mettant en œuvre une caméra polarimétrique et qui soit à la fois compact et économique tout en étant apte à fournir des informations permettant de limiter le risque de rejeter inutilement des récipients. Dans le but ci-dessus, l’invention propose un dispositif et un procédé opto-informatique d’analyse en lumière traversante d’un récipient en verre à l’aide d’une caméra polarimétrique, la caméra polarimétrique comportant un capteur photoélectrique bidimensionnel comprenant des éléments photoélectriques comprenant chacun une cellule photoélectrique devant laquelle est agencé un système d’analyse de polarisation comprenant au moins un analyseur de polarisation individuel associé à la cellule photoélectrique de cet élément photoélectrique, le capteur photoélectrique comportant un nombre N de groupes distincts d’éléments photoélectriques contigus, chaque groupe distinct d’éléments photoélectriques contigus comprenant un nombre K supérieur ou égal à deux d’éléments photoélectriques appartenant respectivement à l’une parmi un nombre F supérieur ou égal à deux de familles distinctes d’éléments photoélectriques, chaque famille d’éléments photoélectriques étant définie par une caractéristique d’analyse de polarisation du système de d’analyse de polarisation commune à chacun de ses éléments photoélectriques, les caractéristiques d’analyse de polarisation des au moins deux familles comprenant au moins deux analyses linéaires selon deux axes de polarisation orthogonaux ou au moins deux analyses circulaires de sens inverse l’un de l’autre, chaque groupe distinct d’éléments photoélectriques comprenant au moins deux éléments photoélectriques appartenant à au moins deux familles distinctes, et chaque groupe distinct d’éléments photoélectriques contigus correspondant à un pixel composite dans une image maîtresse délivrée par le capteur. Le procédé comporte : - l’illumination du récipient en verre, par l’arrière, par un dispositif d’illumination délivrant, sur le récipient, une lumière incidente polarisée, soit circulairement avec un premier sens de rotation, soit linéairement selon un axe de polarisation d’incidence ; - l’observation du récipient, par l’avant, par la caméra polarimétrique, de manière à recueillir, sur le capteur photoélectrique de la caméra polarimétrique, une lumière émergente émanant du récipient ; - l’acquisition, avec le capteur photoélectrique de la caméra polarimétrique, d’au moins une image numérique maîtresse du récipient, ayant un nombre K*N de pixels maîtres correspondants à N groupes distincts d’éléments photoélectriques contigus, l’image maîtresse comprenant N pixels composites, chaque pixel composite correspondant à un des groupes d’éléments photoélectriques contigus, et l’image maîtresse comprenant le nombre K d’images partielles distinctes ayant chacune N pixels partiels, les pixels partiels de chaque image partielle correspondant, pour une image partielle donnée, à une seule famille d’éléments photoélectriques du capteur photoélectrique pris dans les N pixels composites ; - le calcul informatique d’une image d’intensité dans laquelle la valeur de chaque pixel d’intensité est une valeur moyennée de la valeur d’au moins deux pixels partiels correspondant à deux éléments photoélectriques d’un même groupe mais appartenant à deux familles distinctes d’éléments photoélectriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre ou deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux ou deux analyses elliptiques orthogonales ; - le calcul informatique d’au moins une image de déphasage en calculant, pour une série de pixels composites, un pixel de déphasage qui correspond à un pixel composite et dont la valeur est représentative d’un déphasage de polarisation induit, par une contrainte mécanique résiduelle dans la zone élémentaire du récipient correspondant au pixel composite, dans la lumière émergente émanant de la zone élémentaire du récipient correspondant au pixel composite, à partir de la valeur d’un ensemble d’un ou plusieurs pixel(s) partiel(s) tous extraits du pixel composite et appartenant à une combinaison d’une ou plusieurs images partielles, le calcul informatique de chaque pixel de déphasage d’une image de déphasage donnée étant effectué à partir de la même combinaison d’une ou plusieurs images partielles. Un tel procédé selon l’invention peut de plus comprendre une ou plusieurs des caractéristiques optionnelles suivantes, prises seules ou en combinaison. Dans une série de variantes, le procédé opto-informatique d’analyse peut être tel que : - le capteur photoélectrique comprend au moins deux familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses linéaires respectivement selon un premier axe de polarisation et second axe de polarisation orthogonal au premier axe de polarisation ; - la lumière incidente est polarisée linéairement selon le deuxième axe de polarisation ; - le calcul informatique de chaque pixel de déphasage pour une image de déphasage donnée est effectué à partir de la valeur d’au moins le pixel partiel (Ppk(n)) correspondant au premier axe de polarisation ; - la valeur de chaque pixel d’intensité de l’image d’intensité est une valeur moyennée de la valeur de deux pixels partiels extraits du même pixel composite et associés chacun à l’une des deux familles dont les axes de polarisation sont orthogonaux et/ou de deux pixels partiels associés chacun à une de deux familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre. Dans une série de variantes, le procédé opto-informatique d’analyse peut être tel que : - le capteur photoélectrique comprend au moins quatre familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation comprennent au moins quatre analyses linéaires selon des axes de polarisations comprenant deux paires d’axes de polarisation orthogonaux, les deux paires d’axes de polarisation étant décalées l’une de l’autre de 45 degrés d’angle ; - la lumière incidente est polarisée circulairement dans un sens d’incidence ; - le calcul informatique de chaque pixel de déphasage pour une image de déphasage donnée est effectué à partir des valeurs des quatre pixels partiels extraits du même pixel composite et associés chacun à une de quatre familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont lesdites analyses linéaires ; - la valeur de chaque pixel d’intensité de l’image d’intensité est une valeur moyennée d’au moins deux pixels partiels extraits du même pixel composite et associés chacun à deux familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux. Dans une série de variantes, le procédé opto-informatique d’analyse peut être tel que : - la lumière incidente est polarisée circulairement dans un sens d’incidence ; - le capteur photoélectrique comprend au moins une famille d’éléments photo-électriques dont la caractéristique d’analyse de polarisation est une analyse circulaire de sens inverse du sens d’incidence ; - le calcul informatique de chaque pixel de déphasage pour une image de déphasage donnée est effectué à partir d’au moins la valeur du pixel partiel associé à la famille dont l’analyse circulaire est de sens inverse du sens d’incidence ; - la valeur de chaque pixel d’intensité de l’image d’intensité est une valeur moyennée de deux pixels partiels extraits du même pixel composite et associés chacun à une de deux familles dont les analyses circulaires sont de sens inverses l’un de l’autre et/ou de deux pixels partiels associés chacun à une de deux familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux ou deux analyses elliptiques orthogonales. Dans une série de variantes, le procédé opto-informatique d’analyse peut être tel que : - le capteur photoélectrique comprend au moins deux familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre ; - la lumière incidente est polarisée circulairement, - le calcul informatique de chaque pixel de déphasage pour une image de déphasage donnée est effectué à partir de la valeur des deux pixels partiels extraits du même pixel composite et correspondants chacun à l’une des deux analyses circulaires de sens inverses, - la valeur de chaque pixel d’intensité de l’image d’intensité est une valeur moyennée de deux pixels partiels extraits du même pixel composite et associés chacun à l’une des deux familles dont les analyses circulaires sont inverses l’un de l’autre et/ou de deux pixels partiels extraits du même pixel composite et associés chacun à une de deux familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux ou deux analyses elliptiques orthogonales. Dans certaines variantes, le procédé opto-informatique d’analyse peut être tel qu’il comprend le calcul informatique d’une image d’intensité dans laquelle chaque pixel d’intensité est une valeur moyennée de la valeur de plusieurs couples distincts de pixels partiels appartenant à un même pixel composite, chaque couple distinct de pixels partiels correspondant à un couple distinct de caractéristiques d’analyse de polarisation, chaque couple distinct de caractéristiques d’analyse de polarisation étant choisi parmi un ou plusieurs couples de deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre, un ou plusieurs couples de deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux, et/ou un ou plusieurs couples de deux analyses elliptiques orthogonales entre elles. Dans certaines variantes, le procédé opto-informatique d’analyse peut être tel qu’il comprend : - la reconnaissance informatique, dans l’image d’intensité, d’un marqueur géométrique connu du récipient et la détermination de sa localisation dans l’image d’intensité ; et, en utilisant le lien de localisation, dans leurs images respectives, entre les pixels partiels (Ppk(n)), le pixel d’intensité (Pt(n)) le pixel de déphasage (Pd(n)) et le pixel composite (Pc(n)) associés : • d’une part la détermination informatique d’au moins une région d’intérêt dans l’image de déphasage en fonction de la localisation du marqueur géométrique, • et d’autre part l’identification informatique de la présence d’une région stressée dans la région d’intérêt de l’image de déphasage. Dans certaines variantes, le procédé opto-informatique d’analyse peut être tel que l’identification informatique de la présence d’une région stressée prend en compte la valeur des pixels de déphasage et leur localisation relative par rapport au marqueur géométrique. Dans certaines variantes, le procédé opto-informatique d’analyse peut être tel qu’il comprend la détermination informatique de la localisation relative de la région stressée sur le récipient par rapport au marqueur géométrique. Dans certaines variantes, le procédé opto-informatique d’analyse peut être tel qu’il comprend une étape informatique de classification de la région stressée qui prend en compte la localisation relative de la région stressée sur le récipient par rapport au marqueur géométrique, déterminée informatiquement, et une grandeur représentative d’un déphasage de polarisation, induit par une contrainte mécanique résiduelle dans la région stressée, dans la lumière émergente émanant de la région stressée, la grandeur représentative d’un déphasage de polarisation étant calculée informatiquement à partir des valeurs des pixels partiels correspondants à la région stressée. Dans certaines variantes, le procédé opto-informatique d’analyse peut être tel que la lumière incidente présente un spectre d’énergie compris entre 250 nm et 1000 nm et de largeur inférieure à 150nm, de préférence de largeur inférieure à 100 nm. Dans certaines variantes, le procédé opto-informatique d’analyse peut être tel que chaque groupe distinct d’éléments photoélectriques contigus comprend quatre éléments photoélectriques appartenant respectivement à l’une parmi quatre familles distinctes d’éléments photoélectriques, les caractéristiques d’analyse de polarisation des quatre familles comprenant quatre d’analyse linéaires selon des axes de polarisation comprenant deux paires d’axe de polarisation orthogonaux, les deux paires étant décalées l’une de l’autre de 45 degrés d’angle, dans un sens ou dans l’autre, et tel que chaque groupe distinct d’éléments photoélectriques comprend un élément photoélectrique appartenant à chaque famille distincte. Dans certaines variantes, le procédé opto-informatique d’analyse peut être tel que le dispositif d’illumination comprend une source lumineuse étendue dont les dimensions, perpendiculairement à un axe d’incidence allant de la source lumineuse vers le récipient, sont supérieures aux dimensions correspondantes de la partie à analyser du récipient. Dans certaines variantes, le procédé opto-informatique d’analyse peut être tel que l’on détermine informatiquement, dans l’image d’intensité, des particularités optiques d’absorption ou réfraction pour détecter des défauts du récipient. Dans certaines variantes, le procédé opto-informatique d’analyse peut être tel que l’on détecte informatiquement dans l’image maîtresse ou l’image d’intensité ou l’image de déphasage, des pixels candidats ou des régions candidates dont les valeurs sont hors d’un intervalle donné, ou différentes de celles des pixels ou des régions voisines, on calcule informatiquement pour chacun des pixels candidats ou des régions candidates les valeurs des pixels d’intensité et les valeurs des pixels de déphasage de polarisation correspondants, et on classifie informatiquement chacun des pixels candidats ou des régions candidates en tant que défaut ou en tant que non défaut et/ou on les classifie informatiquement en défauts de différents types parmi au moins un bouillon, ou une inclusion, à partir des valeurs des pixels d’intensité, des valeurs de déphasage de polarisation et de la localisation relative par rapport au marqueur géométrique. L’invention concerne aussi un dispositif d’analyse en lumière traversante de défauts dans un récipient en verre : - comprenant un dispositif d’illumination délivrant, sur un récipient placé en un emplacement d’analyse du dispositif, une lumière incidente polarisée circulairement avec un sens de rotation d’incidence, - comprenant une caméra polarimétrique, la caméra polarimétrique comportant un capteur photoélectrique bidimensionnel comprenant des éléments photoélectriques comprenant chacun une cellule photoélectrique devant laquelle est agencé un système d’analyse de polarisation comprenant au moins un analyseur de polarisation individuel associé à la cellule photoélectrique de cet élément photoélectrique, le capteur photoélectrique comportant un nombre N de groupes distincts d’éléments photoélectriques contigus, chaque groupe distinct d’éléments photoélectriques contigus comprenant quatre éléments photoélectriques appartenant respectivement à quatre familles distinctes d’éléments photoélectriques, chaque famille d’éléments photoélectriques étant définie par une caractéristique d’analyse de polarisation de l’analyseur de polarisation individuel qui est commune à chacun de ses éléments photoélectriques, - pour chacune des au moins 4 familles, les analyseurs de polarisation individuels associés à chacune des quatre familles sont des filtres polarisants linéaires, les filtres polarisants individuels correspondant à une famille ayant le même axe de polarisation, les axes de polarisation étant distincts pour les 4 familles et les axes de polarisation des filtres polarisants individuels correspondant aux 4 familles comprenant deux paires d’axes de polarisation orthogonaux, les deux paires étant décalées l’une de l’autre de 45 degrés d’angle, dans un sens ou dans l’autre, et - chaque groupe distinct d’éléments photo-électriques comprenant un élément photo-électrique appartenant à chaque famille distincte. Le dispositif est caractérisé, en ce que le système d’analyse de polarisation comporte une lame à retard quart d’onde de la lumière incidente, qui est interposée entre l’emplacement d’analyse et les filtres polarisants individuels, et dont l’axe rapide est agencé à 45 degrés d’angle de l’axe de polarisation des filtres polarisants individuels d’une des quatre familles, de sorte que les caractéristiques les filtres polarisants individuels de polarisation des quatre familles comprennent deux analyses linéaires selon des directions orthogonales et deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre. Le dispositif peut de plus comporter un système informatique programmé pour : - acquérir, avec le capteur photoélectrique de la caméra polarimétrique, au moins une image numérique maîtresse du récipient, ayant un nombre K*N de pixels maîtres correspondants à N groupes distincts d’éléments photoélectriques contigus, l’image maîtresse comprenant N pixels composites, chaque pixel composite correspondant à un des groupes d’éléments photoélectriques contigus, et l’image maîtresse comprenant le nombre K d’images partielles distinctes ayant chacune N pixels partiels, les pixels partiels de chaque image partielle correspondant, pour une image partielle donnée, à une seule famille d’éléments photoélectriques du capteur pris dans les N pixels composites ; - calculer informatiquement une image d’intensité (It) dans laquelle la valeur de chaque pixel d’intensité (Pt(n)) est une valeur moyennée de la valeur d’au moins deux pixels partiels (Ppk(n)) extraits du même pixel composite (Pc(n)) et correspondant à deux éléments photoélectriques d’un même groupe (26(n)) mais appartenant à deux familles distinctes d’éléments photoélectriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre ou deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux ou deux analyses elliptiques orthogonales ; - calculer informatiquement au moins une image de déphasage en calculant, pour une série de pixels composites, un pixel de déphasage qui correspond à un pixel composite et dont la valeur est représentative d’un déphasage de polarisation, induit par une contrainte mécanique résiduelle dans la zone élémentaire du récipient correspondant au pixel composite, dans la lumière émergente émanant de la zone élémentaire du récipient correspondant au pixel composite, à partir de la valeur d’un ensemble d’un ou plusieurs pixel(s) partiel(s) tous extraits du pixel composite et appartenant à une combinaison d’une ou plusieurs images partielles, le calcul informatique de chaque pixel de déphasage d’une image de déphasage donnée étant effectué à partir de la même combinaison d’une ou plusieurs images partielles. La est une vue schématique d’un dispositif selon l’invention. La est une vue schématique en perspective éclatée de quelques composants d’un capteur photoélectrique d’une caméra polarimétrique. La est une vue schématique à plat de quelques composants d’un capteur photoélectrique d’une caméra polarimétrique. La est un digramme illustrant schématiquement une configuration des caractéristiques d’analyse de polarisation pour un groupe d’éléments photoélectrique d’une caméra polarimétrique. La est un digramme illustrant schématiquement une autre configuration des caractéristiques d’analyse de polarisation pour un groupe d’éléments photoélectrique d’une caméra polarimétrique. La est un digramme illustrant schématiquement encore une autre configuration des caractéristiques d’analyse de polarisation pour un groupe d’éléments photoélectrique d’une caméra polarimétrique. La est un digramme illustrant schématiquement une configuration des caractéristiques d’analyse de polarisation pour un capteur photoélectrique d’une caméra polarimétrique. La est une vue schématique d’un autre dispositif selon l’invention et illustrant un processus d’obtention d’une image d’intensité et d’une image de déphasage à partir d’une image maîtresse acquise à l’aide d’un tel dispositif. La illustre le lien entre les images partielles et l’image maitresse, et la possibilité d’obtenir des images d’intensité à partir d’un ou plusieurs couples d’images partielles. La illustre un processus d’obtention d’une image d’intensité et d’une image de déphasage à partir d’une image maîtresse. La illustre la relation entre la valeur d’un pixel de déphasage et la valeur réelle de déphasage, pour une série de variantes de procédés selon l’invention. La illustre la relation entre la valeur d’un pixel de déphasage et la valeur réelle de déphasage, pour une autre série de variantes de procédés selon l’invention. Procédé opto-informatique d’analyse en lumière traversante d’un récipient (12) en verre à l’aide d’une caméra polarimétrique (18), la caméra polarimétrique comportant un capteur photoélectrique (22) bidimensionnel comprenant des éléments photoélectriques (26(f,n,k)) comprenant chacun une cellule photoélectrique (28(f,n,k)) devant laquelle est agencé un système d’analyse de polarisation comprenant au moins un analyseur de polarisation individuel (30(f,n,k)) associé à la cellule photoélectrique de cet élément photoélectrique, le capteur photoélectrique comportant un nombre N de groupes (26(n)) distincts d’éléments photoélectriques contigus, chaque groupe distinct d’éléments photoélectriques contigus comprenant un nombre K supérieur ou égal à deux d’éléments photoélectriques (26(f,n,k)) appartenant respectivement à l’une parmi un nombre F supérieur ou égal à deux de familles distinctes d’éléments photoélectriques, chaque famille d’éléments photoélectriques étant définie par une caractéristique d’analyse de polarisation du système de d’analyse de polarisation commune à chacun de ses éléments photoélectriques, les caractéristiques d’analyse de polarisation des au moins deux familles comprenant au moins deux analyses linéaires selon deux axes de polarisation orthogonaux ou au moins deux analyses circulaires de sens inverse l’un de l’autre, chaque groupe (26(n)) distinct d’éléments photoélectriques comprenant au moins deux éléments photoélectriques (26(f,n,k)) appartenant à au moins deux familles distinctes, et chaque groupe distinct d’éléments photoélectriques contigus correspondant à un pixel composite (Pc(n)) dans une image maîtresse (IM) délivrée par le capteur, le procédé comportant : - l’illumination du récipient en verre, par l’arrière, par un dispositif d’illumination (16) délivrant, sur le récipient, une lumière incidente polarisée, soit circulairement avec un premier sens de rotation, soit linéairement selon un axe de polarisation d’incidence ; - l’observation du récipient (12), par l’avant, par la caméra polarimétrique (18), de manière à recueillir, sur le capteur photoélectrique (22) de la caméra polarimétrique, une lumière émergente émanant du récipient ; - l’acquisition, avec le capteur photoélectrique (22) de la caméra polarimétrique, d’au moins une image numérique maîtresse (IM) du récipient, ayant un nombre K*N de pixels maîtres (Pm(f,n,k)) correspondants à N groupes distincts d’éléments photoélectriques contigus, l’image maîtresse comprenant N pixels composites (Pc(n)), chaque pixel composite correspondant à un des groupes (26(n)) d’éléments photoélectriques contigus, et l’image maîtresse (IM) comprenant le nombre K d’images partielles distinctes (IPk) ayant chacune N pixels partiels (Ppk(n)), les pixels partiels (Ppk(n)) de chaque image partielle correspondant, pour une image partielle (IPk) donnée, à une seule famille d’éléments photoélectriques du capteur photoélectrique (22) pris dans les N pixels composites (Pc(n)) ; - le calcul informatique d’une image d’intensité (It) dans laquelle la valeur de chaque pixel d’intensité (Pt(n)) est une valeur moyennée de la valeur d’au moins deux pixels partiels (Ppk(n)) correspondant à deux éléments photoélectriques d’un même groupe (26(n)) mais appartenant à deux familles distinctes d’éléments photoélectriques (26(f,n,k)) dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre ou deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux ou deux analyses elliptiques orthogonales ; - le calcul informatique d’au moins une image de déphasage (ID) en calculant, pour une série de pixels composites, un pixel de déphasage (Pd(n)) qui correspond à un pixel composite (Pc(n)) et dont la valeur est représentative d’un déphasage de polarisation (φ(n)) induit, par une contrainte mécanique résiduelle dans la zone élémentaire du récipient (12) correspondant au pixel composite (Pc(n)), dans la lumière émergente émanant de la zone élémentaire du récipient correspondant au pixel composite (Pc(n)), à partir de la valeur d’un ensemble d’un ou plusieurs pixel(s) partiel(s) (Ppk(n)) tous extraits du pixel composite (Pc(n)) et appartenant à une combinaison d’une ou plusieurs images partielles (Ipk), le calcul informatique de chaque pixel de déphasage (Pd(n)) d’une image de déphasage (ID) donnée étant effectué à partir de la même combinaison d’une ou plusieurs images partielles (Ipk). Procédé opto-informatique d’analyse selon la revendication 1, caractérisé en ce que : - le capteur photoélectrique (22) comprend au moins deux familles distinctes d’éléments photo-électriques (26(f,n,k)) dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses linéaires respectivement selon un premier axe de polarisation et second axe de polarisation orthogonal au premier axe de polarisation ; - la lumière incidente est polarisée linéairement selon le deuxième axe de polarisation ; - le calcul informatique de chaque pixel de déphasage (Pd(n)) pour une image de déphasage donnée est effectué à partir de la valeur d’au moins le pixel partiel (Ppk(n)) correspondant au premier axe de polarisation ; - la valeur de chaque pixel d’intensité de l’image d’intensité est une valeur moyennée de la valeur de deux pixels partiels extraits du même pixel composite et associés chacun à l’une des deux familles dont les axes de polarisation sont orthogonaux et/ou de deux pixels partiels associés chacun à une de deux familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre. Procédé opto-informatique d’analyse selon la revendication 1, caractérisé en ce que : - le capteur photoélectrique (22) comprend au moins quatre familles distinctes d’éléments photo-électriques (26(f,n,k)) dont les caractéristiques d’analyse de polarisation comprennent au moins quatre analyses linéaires selon des axes de polarisations comprenant deux paires ((A1, A3) , (A2, A4)) d’axes de polarisation orthogonaux, les deux paires d’axes de polarisation étant décalées l’une de l’autre de 45 degrés d’angle ; - la lumière incidente est polarisée circulairement dans un sens d’incidence ; - le calcul informatique de chaque pixel de déphasage (Pd(n)) pour une image de déphasage donnée est effectué à partir des valeurs des quatre pixels partiels (Ppk(n)) extraits du même pixel composite (Pc(n)) et associés chacun à une de quatre familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont lesdites analyses linéaires ; - la valeur de chaque pixel d’intensité (Pt(n)) de l’image d’intensité (It) est une valeur moyennée d’au moins deux pixels partiels (Ppk(n)) extraits du même pixel composite (Pc(n)) et associés chacun à deux familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux. Procédé opto-informatique d’analyse selon la revendication 1, caractérisé en ce que : - la lumière incidente est polarisée circulairement dans un sens d’incidence ; - le capteur photoélectrique (22) comprend au moins une famille d’éléments photo-électriques (26(f,n,k)) dont la caractéristique d’analyse de polarisation est une analyse circulaire de sens inverse du sens d’incidence ; - le calcul informatique de chaque pixel de déphasage (Pd(n)) pour une image de déphasage (ID) donnée est effectué à partir d’au moins la valeur du pixel partiel (Ppk(n)) associé à la famille dont l’analyse circulaire est de sens inverse du sens d’incidence ; - la valeur de chaque pixel d’intensité (Pt(n)) de l’image d’intensité (It) est une valeur moyennée de deux pixels partiels (Ppk(n)) extraits du même pixel composite (Pc(n)) et associés chacun à une de deux familles dont les analyses circulaires sont de sens inverses l’un de l’autre et/ou de deux pixels partiels (Ppk(n)) associés chacun à une de deux familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux ou deux analyses elliptiques orthogonales. Procédé opto-informatique d’analyse selon la revendication 1, caractérisé en ce que : - le capteur photoélectrique (22) comprend au moins deux familles distinctes d’éléments photo-électriques (26(f,n,k)) dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre ; - la lumière incidente est polarisée circulairement ; - le calcul informatique de chaque pixel de déphasage (Pd(n)) pour une image de déphasage (ID) donnée est effectué à partir de la valeur des deux pixels partiels (Ppk(n)) extraits du même pixel composite (Pc(n)) et correspondants chacun à l’une des deux analyses circulaires de sens inverses ; - la valeur de chaque pixel d’intensité (Pt(n)) de l’image d’intensité (It) est une valeur moyennée de deux pixels partiels (Ppk(n)) extraits du même pixel composite (Pc(n)) et associés chacun à l’une des deux familles dont les analyses circulaires sont inverses l’un de l’autre et/ou de deux pixels partiels (Ppk(n)) extraits du même pixel composite (Pc(n)) et associés chacun à une de deux familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux ou deux analyses elliptiques orthogonales. Procédé d’analyse selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu’il comprend le calcul informatique d’une image d’intensité dans laquelle chaque pixel d’intensité Pt(n) est une valeur moyennée de la valeur de plusieurs couples distincts de pixels partiels appartenant à un même pixel composite, chaque couple distinct de pixels partiels correspondant à un couple distinct de caractéristiques d’analyse de polarisation, chaque couple distinct de caractéristiques d’analyse de polarisation étant choisi parmi un ou plusieurs couples de deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre, un ou plusieurs couples de deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux, et/ou un ou plusieurs couples de deux analyses elliptiques orthogonales entre elles. Procédé d’analyse selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu’il comprend : - la reconnaissance informatique, dans l’image d’intensité (It), d’un marqueur géométrique connu du récipient (12) et la détermination de sa localisation dans l’image d’intensité ; et, en utilisant le lien de localisation, dans leurs images respectives, entre les pixels partiels (Ppk(n)), le pixel d’intensité (Pt(n)) le pixel de déphasage (Pd(n)) et le pixel composite (Pc(n)) associés : - d’une part la détermination informatique d’au moins une région d’intérêt dans l’image de déphasage en fonction de la localisation du marqueur géométrique, - et d’autre part l’identification informatique de la présence d’une région stressée dans la région d’intérêt de l’image de déphasage. Procédé d’analyse selon la revendication 7, caractérisé en ce que l’identification informatique de la présence d’une région stressée prend en compte la valeur des pixels de déphasage (PD(n)) et leur localisation relative par rapport au marqueur géométrique. Procédé opto-informatique d’analyse selon l’une des revendications 7 ou 8, caractérisé en ce qu’il comprend la détermination informatique de la localisation relative de la région stressée sur le récipient par rapport au marqueur géométrique. Procédé opto-informatique d’analyse selon l’une des revendications 7 à 9, caractérisé en ce qu’il comprend une étape informatique de classification de la région stressée qui prend en compte la localisation relative de la région stressée sur le récipient par rapport au marqueur géométrique, déterminée informatiquement, et une grandeur représentative d’un déphasage de polarisation (φ(n)), induit par une contrainte mécanique résiduelle dans la région stressée, dans la lumière émergente émanant de la région stressée, la grandeur représentative d’un déphasage de polarisation (φ(n)) étant calculée informatiquement à partir des valeurs des pixels partiels (Ppk(n)) correspondants à la région stressée. Procédé opto-informatique d’analyse selon l’une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la lumière incidente présente un spectre d’énergie compris entre 250 nm et 1000 nm et de largeur inférieure à 150nm, de préférence de largeur inférieure à 100 nm. Procédé opto-informatique d’analyse selon l’une des revendications précédentes, caractérisé en ce que chaque groupe (26(n)) distinct d’éléments photoélectriques contigus (26(f,n,k)) comprend quatre éléments photoélectriques appartenant respectivement à l’une parmi quatre familles distinctes d’éléments photoélectriques, les caractéristiques d’analyse de polarisation des quatre familles comprenant quatre d’analyse linéaires selon des axes de polarisation comprenant deux paires d’axe de polarisation orthogonaux, les deux paires étant décalées l’une de l’autre de 45 degrés d’angle, dans un sens ou dans l’autre, et en ce que chaque groupe distinct d’éléments photoélectriques comprend un élément photoélectrique appartenant à chaque famille distincte. Procédé opto-informatique d’analyse selon l’une des revendications précédentes, caractérisé en ce que le dispositif d’illumination (16) comprend une source lumineuse (16a) étendue dont les dimensions, perpendiculairement à un axe d’incidence allant de la source lumineuse vers le récipient (12), sont supérieures aux dimensions correspondantes de la partie à analyser du récipient. Procédé opto-informatique d’analyse selon l’une des revendications précédentes, caractérisé en ce que l’on détermine informatiquement, dans l’image d’intensité (It), des particularités optiques d’absorption ou réfraction pour détecter des défauts du récipient (12). Procédé opto-informatique d’analyse selon l’une des revendications précédentes, caractérisé en ce que l’on détecte informatiquement dans l’image maîtresse (IM) ou l’image d’intensité (It) ou l’image de déphasage (ID), des pixels candidats ou des régions candidates dont les valeurs sont hors d’un intervalle donné, ou différentes de celles des pixels ou des régions voisines, on calcule informatiquement pour chacun des pixels candidats ou des régions candidates les valeurs des pixels d’intensité (Pt(n)) et les valeurs des pixels de déphasage de polarisation (Pd(n), φ(n)) correspondants, et on classifie informatiquement chacun des pixels candidats ou des régions candidates en tant que défaut ou en tant que non défaut et/ou on les classifie informatiquement en défauts de différents types parmi au moins un bouillon, ou une inclusion, à partir des valeurs des pixels d’intensité, des valeurs de déphasage de polarisation (φ(n)) et de la localisation relative par rapport au marqueur géométrique. Dispositif d’analyse en lumière traversante de défauts dans un récipient en verre : - comprenant un dispositif d’illumination (16) délivrant, sur un récipient (12) placé en un emplacement d’analyse (13) du dispositif (10), une lumière incidente polarisée circulairement avec un sens de rotation d’incidence ; - comprenant une caméra polarimétrique (18), la caméra polarimétrique comportant un capteur photoélectrique (22) bidimensionnel comprenant des éléments photoélectriques (26(f,n,k)) comprenant chacun une cellule photoélectrique (28(f,n,k)) devant laquelle est agencé un système d’analyse de polarisation comprenant au moins un analyseur de polarisation individuel (30(f,n,k)) associé à la cellule photoélectrique (28(f,n,k)) de cet élément photoélectrique (26(f,n,k)), le capteur photoélectrique (22) comportant un nombre N de groupes (26(n)) distincts d’éléments photoélectriques contigus (26(f,n,k)), chaque groupe distinct d’éléments photoélectriques contigus comprenant quatre éléments photoélectriques appartenant respectivement à quatre familles distinctes d’éléments photoélectriques, chaque famille d’éléments photoélectriques étant définie par une caractéristique d’analyse de polarisation de l’analyseur de polarisation individuel (30(f,n,k)) qui est commune à chacun de ses éléments photoélectriques (26(f,n,k)) ; - pour chacune des au moins 4 familles, les analyseurs de polarisation individuels (30(f,n,k)) associés à chacune des quatre familles sont des filtres polarisants linéaires, les filtres polarisants individuels (30(f,n,k)) correspondant à une famille ayant le même axe de polarisation (A1, A2, A3, A4), les axes de polarisation (A1, A2, A3, A4) étant distincts pour les 4 familles et les axes de polarisation (A1, A2, A3, A4) des filtres polarisants individuels (30(f,n,k)) correspondant aux 4 familles comprenant deux paires d’axes de polarisation orthogonaux, les deux paires étant décalées l’une de l’autre de 45 degrés d’angle, dans un sens ou dans l’autre ; et - chaque groupe distinct d’éléments photo-électriques comprenant un élément photo-électrique (26(f,n,k)) appartenant à chaque famille distincte, caractérisé, en ce que le système d’analyse de polarisation comporte une lame (34) à retard quart d’onde de la lumière incidente, qui est interposée entre l’emplacement d’analyse (13) et les filtres polarisants individuels (30(f,n,k)), et dont l’axe rapide est agencé à 45 degrés d’angle de l’axe de polarisation des filtres polarisants individuels d’une des quatre familles, de sorte que les caractéristiques les filtres polarisants individuels (30(f,n,k)) de polarisation des quatre familles comprennent deux analyses linéaires selon des directions orthogonales et deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre. Dispositif optique d’analyse selon la revendication 16, caractérisé en ce qu’il comporte un système informatique (100) programmé pour : - acquérir, avec le capteur photoélectrique (22) de la caméra polarimétrique (18), au moins une image numérique maîtresse (IM) du récipient (12), ayant un nombre K*N de pixels maîtres (Pm(n)) correspondants à N groupes (26(n)) distincts d’éléments photoélectriques contigus (26(f,n,k)), l’image maîtresse (IM) comprenant N pixels composites (Pc(n)), chaque pixel composite (Pc(n)) correspondant à un des groupes (26(n)) d’éléments photoélectriques contigus, et l’image maîtresse (IM) comprenant le nombre K d’images partielles (IPk) distinctes ayant chacune N pixels partiels (Ppk(n)), les pixels partiels (Ppk(n)) de chaque image partielle correspondant, pour une image partielle (Ipk) donnée, à une seule famille d’éléments photoélectriques (26(f,n,k) du capteur pris dans les N pixels composites (Pc(n)) ; - calculer informatiquement une image d’intensité (It) dans laquelle la valeur de chaque pixel d’intensité (Pt(n)) est une valeur moyennée de la valeur d’au moins deux pixels partiels (Ppk(n)) extraits du même pixel composite (Pc(n)) et correspondant à deux éléments photoélectriques d’un même groupe (26(n)) mais appartenant à deux familles distinctes d’éléments photoélectriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre ou deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux ou deux analyses elliptiques orthogonales ; - calculer informatiquement au moins une image de déphasage (ID) en calculant, pour une série de pixels composites (Pc(n)), un pixel de déphasage (Pd(n)) qui correspond à un pixel composite (Pc(n)) et dont la valeur est représentative d’un déphasage de polarisation (φ(n)), induit par une contrainte mécanique résiduelle dans la zone élémentaire du récipient correspondant au pixel composite Pc(n), dans la lumière émergente émanant de la zone élémentaire du récipient (Pc(n)) correspondant au pixel composite (Pc(n)), à partir de la valeur d’un ensemble d’un ou plusieurs pixel(s) partiel(s) (Ppk(n)) tous extraits du pixel composite (Pc(n)) et appartenant à une combinaison d’une ou plusieurs images partielles (Ppk(n)), le calcul informatique de chaque pixel de déphasage (Pd(n)) d’une image de déphasage (ID) donnée étant effectué à partir de la même combinaison d’une ou plusieurs images partielles (Ppk(n)).