Brevet FR3132769A1 — publié le 20230818

L’invention concerne un système de mesure (10) et un procédé pour contrôle d’un semi produit (100), le système de mesure (10) comprenant : Des moyens de mesure (12) agencés pour réaliser des mesures de transitions géométriques internes du semi produit (100), les moyens de mesure (12) comprenant des moyens de mesure numériques (13) ; Des moyens de coupe (14) du semi produit (100) ; Un support (16) pour les moyens de mesure numériques (13) et les moyens de coupe (14). Figure 1 Système de mesure et procédé pour contrôle de semi produits pour pneumatique L’invention concerne le domaine des systèmes de mesure pour contrôle de semi produits pour pneumatique. Plus particulièrement, l’invention concerne un système de mesure numérique pour contrôle de semi produits pour pneumatique. En outre, l’invention concerne un procédé pour contrôle de semi produits pour pneumatique, et plus particulièrement un procédé numérique de mesure pour contrôle de semi produits pour pneumatique. Par procédé pour contrôle de semi produits, on entend également méthode pour contrôle de semi produits. Habituellement, un semi produit pour pneumatique est obtenu par extrusion ou par calandrage, à partir d’un mélange de composants de matériaux différents. Le semi produit présente alors des différences d’aspects internes, nommées transitions géométriques internes ou plans de joints, entre les différents composants du mélange. Afin de contrôler la qualité du semi produit, on contrôle les transitions géométriques internes, qui doivent respecter certains critères. Par exemple, un semi produit doit présenter des transitions géométriques internes rectilignes. Le contrôle des transitions géométriques internes est généralement effectué à l’aide de systèmes de mesure, nommés également outils de mesure, tels que des mètres rubans ou des loupes graduées, après découpe du semi produit. Dans un processus de production, les systèmes de mesure doivent répondre à des méthodes standardisées d’analyse des systèmes de mesure (« Measurement Systems Analysis (MSA) » en anglais) visant à évaluer les variations de mesures effectuées par ces systèmes de mesure. Ces méthodes standardisées d’analyse des systèmes de mesure permettent de garantir l'intégrité des mesures utilisées pour contrôler la qualité des semi produits. A cet effet, différents opérateurs mesurent plusieurs fois un même échantillon à l’aide d’un même système de mesure. Le pourcentage de répétabilité des mesures détermine la capabilité statistique de du système de mesure. En industrie, un système de mesure est considéré comme capable statistiquement s’il présente un pourcentage de variations de mesures inférieur à 10%. Un inconvénient des systèmes de mesure connus est qu’ils ne sont pas capables statistiquement. En outre, les procédés pour contrôle de semi produits généralement utilisées comprennent une étape de coupe manuelle du semi produit à contrôler. Cette étape de coupe entraine également des variations de mesures. Ainsi, les procédés pour contrôle de semi produits connus ne sont pas capables statistiquement. Par ailleurs, cette étape de coupe manuelle présente des problèmes de sécurité pour les opérateurs. L’invention a pour but de remédier à tout ou partie des inconvénients précités en proposant, un système de mesure pour contrôle d’un semi produit, le système de mesure comprenant : Des moyens de mesure agencés pour réaliser des mesures de transitions géométriques internes du semi produit, les moyens de mesure comprenant des moyens de mesure numériques ; Des moyens de coupe du semi produit ; Un support pour les moyens de mesure numériques et les moyens de coupe. Ainsi le système de mesure de l’invention permet de minimiser les manipulations effectuées par un opérateur pour contrôler la qualité du semi produit, et de réduire les variabilités dans les mesures, c’est-à-dire dans les résultats mesurés. Le système de mesure de l’invention permet de standardiser une méthode de mesure. Le système de mesure de l’invention est capable statistiquement par rapport aux tolérances de fabrication des procédés de production. L’ergonomie des mesures est ainsi améliorée. Selon d’autres caractéristiques de l’invention, le système de mesure de l’invention comporte l’une ou plusieurs des caractéristiques optionnelles suivantes, considérées seules ou selon toutes les combinaisons possibles : les moyens de mesure numériques sont fixés au support ; les moyens de coupe sont fixés au support ; le système de mesure comprend des moyens de maintien du semi produit ; les moyens de maintien du semi produit comprennent des moyens de blocage, tels que des pistons à ressort, configurés pour comprimer le semi produit sur le support ; le système de mesure comprend un plateau de référence amovible, agencé pour recevoir le semi produit ; le plateau de référence est agencé pour être translatant sur le support ; les moyens de coupe comprennent un dispositif de découpe, tel qu’une lame ou des moyens de découpe laser ; les moyens de coupe comprennent des moyens de translation, tels qu’un chariot translatif ; le dispositif de découpe est monté sur les moyens de translation ; les moyens de mesure numériques comprennent un microscope numérique ; le système de mesure comprend des moyens d’enregistrement configurés pour enregistrer les mesures de transitions géométriques internes du semi produit. L’invention concerne en outre un procédé pour contrôle d’un semi produit à l’aide d’un système de mesure tel que décrit précédemment, le procédé comprenant les étapes suivantes : coupe du semi produit à l’aide des moyens de coupe ; contrôle du semi produit à l’aide des moyens de mesure. Selon d’autres caractéristiques de l’invention, le procédé de l’invention comporte l’une ou plusieurs des caractéristiques optionnelles suivantes, considérées seules ou selon toutes les combinaisons possibles : blocage du semi produit à l’aide des moyens de maintien ; manipulation du plateau de référence pour positionner au moins une portion d’une face découpée du semi produit dans un champs de vision des moyens de mesure numériques. D’autres caractéristiques et avantages de la présente invention apparaitrons à la lecture de la description qui va suivre et à l’examen des figures annexées dans lesquelles : est une vue schématique en perspective d’un système de mesure selon un premier mode de réalisation de l’invention, vu d’un premier côté ; est une vue schématique en perspective du système de mesure de de la , vu d’un deuxième côté opposé au premier côté ; est une vue schématique partielle en perspective d’un système de mesure selon un deuxième mode de réalisation de l’invention ; est une vue schématique d’un procédé de contrôle d’un semi produit. est une vue schématique en perspective d’un semi produit découpé à l’aide du procédé de la . Système de mesure (10) pour contrôle d’un semi produit (100), le système de mesure (10) comprenant : Des moyens de mesure (12) agencés pour réaliser des mesures de transitions géométriques internes du semi produit (100), les moyens de mesure (12) comprenant des moyens de mesure numériques (13) ; Des moyens de coupe (14) du semi produit (100) ; Un support (16) pour les moyens de mesure numériques (13) et les moyens de coupe (14). Système de mesure selon la revendication 1, dans lequel les moyens de mesure numériques (13) et/ou les moyens de coupe (14) sont fixés au support (16). Système de mesure selon l’une quelconque des revendications 1 à 2, comprenant des moyens de maintien (18) du semi produit (100). Système de mesure selon la revendication 3, dans lequel les moyens de maintien (18) du semi produit (100) comprennent des moyens de blocage (20), tels que des pistons à ressort, configurés pour comprimer le semi produit sur le support (100). Système de mesure selon l’une quelconque des revendications 1 à 4, comprenant un plateau de référence (26) amovible, agencé pour recevoir le semi produit (100). Système de mesure selon la revendication 5, dans lequel le plateau de référence (16) est agencé pour être translatant sur le support. Système de mesure selon l’une quelconque des revendications 1 à 6, dans lequel les moyens de coupe (14) comprennent un dispositif de découpe (32), tel qu’une lame ou des moyens de découpe laser. Système de mesure selon la revendication 7, dans lequel les moyens de coupe (14) comprennent des moyens de translation (34), tels qu’un chariot translatif, le dispositif de découpe (32) étant monté sur les moyens de translation (34). Système de mesure selon l’une quelconque des revendications 1 à 8, dans lequel les moyens de mesure numériques (13) comprennent un microscope numérique. Système de mesure selon l’une quelconque des revendications 1 à 9, comprenant des moyens d’enregistrement (44) configurés pour enregistrer les mesures de transitions géométriques internes du semi produit (100). Procédé pour contrôle d’un semi produit (100) à l’aide d’un système de mesure (10) selon l’une quelconque des revendications précédentes, le procédé comprenant les étapes suivantes : coupe (A) du semi produit (100) à l’aide des moyens de coupe (14) ; contrôle (B) du semi produit (100) à l’aide des moyens de mesure (12). Procédé selon la revendication 11, pour contrôle d’un semi produit (100) à l’aide d’un système de mesure (10) selon l’une quelconque des revendications 3 à 10, en combinaison avec la revendication 3, le procédé comprenant une étape de blocage (C) du semi produit (100) à l’aide des moyens de maintien (18). Procédé selon l’une quelconque des revendications 11 à 12, pour contrôle d’un semi produit (100) à l’aide d’un système de mesure (10) selon l’une quelconque des revendications 5 à 10, en combinaison avec la revendication 5, le procédé comprenant une étape de manipulation (D) du plateau de référence (26) pour positionner au moins une portion d’une face découpée (104) du semi produit (100) dans un champ de vision des moyens de mesure numériques (13).