Brevet FR3116604A1 — publié le 20220527

Un procédé de calibrage d'un capteur de température comprenant une source de courant et un oscillateur en anneau générant un signal en créneaux avec une fréquence de créneaux dépendant de la température, le procédé comprenant l'acquisition (S1, S2) d'une première mesure de fréquence de créneaux à une première température à partir du signal en créneaux, formant un premier point de mesure, et d'une seconde mesure de fréquence de créneaux à une seconde température à partir du signal en créneaux, formant un second point de mesure, et la détermination (S4) des données de relation représentatives d'une relation affine entre des mesures de fréquences de créneaux et des températures, ladite relation affine étant définie par un coefficient de proportionnalité utilisé modifié par rapport à un coefficient de proportionnalité mesuré d'une relation affine mesurée liant le premier point de mesure et le second point de mesure. Figure pour l'abrégé : figure 3 Procédé de calibrage d'un capteur de température à oscillateur en anneau La présente description se rapporte au domaine des circuits électroniques et plus particulièrement à la mesure de la température intégrée à un circuit électronique, au moyen d'un capteur de température comprenant un oscillateur en anneau. Arrière-plan technologique Pour un circuit électronique, et plus particulièrement pour les microcontrôleurs, la connaissance précise de la température du circuit est importante. En effet, les caractéristiques de nombreux composants électroniques sont influencées par la température à laquelle sont soumis lesdits composants. Par ailleurs, la surveillance de certaines températures peut être utilisée pour détecter des attaques visant à compromettre la sécurité du circuit électronique en le plaçant dans des conditions de température extrêmes. Pour de multiples raisons, la précision de la connaissance de la température revêt donc une importance certaine. Présentation de l'invention Il existe un besoin pour un procédé et/ou d’un dispositif de calibrage d'un capteur de température. À cet effet, il est ici proposé un procédé de calibrage d'un capteur de température, ledit capteur de température comprenant - une source de courant configurée pour émettre un signal d'excitation proportionnel à un courant dépendant de la température, - un oscillateur en anneau comprenant des inverseurs en série configurés pour être alimenté par le signal d'excitation et pour générer un signal en créneaux avec une fréquence de créneaux dépendant du signal d'excitation, la température étant déterminée par des données de relation établissant une relation entre des fréquences de créneaux et des températures, le procédé de calibrage comprenant au moins : - l'acquisition d'une première mesure de fréquence de créneaux dudit oscillateur en anneau à une première température à partir du signal en créneaux lorsque le capteur de température est placé à ladite première température, la première mesure de fréquence de créneaux et la première température formant un premier point de mesure dudit oscillateur en anneau, - l'acquisition d'une seconde mesure de fréquence de créneaux dudit oscillateur en anneau à une seconde température à partir du signal en créneaux lorsque le capteur de température est placé à ladite seconde température, ladite seconde température étant supérieure à la première température, la seconde mesure de fréquence de créneaux et la seconde température formant un second point de mesure dudit oscillateur en anneau, - à partir du premier point de mesure dudit oscillateur en anneau et du second point de mesure dudit oscillateur en anneau, la détermination des données de relation représentatives d'une relation affine entre des mesures de fréquences de créneaux et des températures, ladite relation affine étant définie par un coefficient de proportionnalité utilisé modifié par rapport à un coefficient de proportionnalité mesuré d'une relation affine mesurée liant le premier point de mesure dudit oscillateur en anneau et le second point de mesure dudit oscillateur en anneau. Le procédé est avantageusement complété par les différentes caractéristiques suivantes prises seules ou selon leurs différentes combinaisons possibles : - la fréquence de créneaux croît avec la température, le coefficient de proportionnalité mesuré est positif, et le coefficient de proportionnalité utilisé est inférieur au coefficient de proportionnalité mesuré ; - le coefficient de proportionnalité mesuré et le coefficient de proportionnalité utilisé sont de même signe ; - le coefficient de proportionnalité utilisé est déterminé en soustrayant au coefficient de proportionnalité mesuré une grandeur fonction dudit coefficient de proportionnalité mesuré ; - les données de relation établissant une relation entre des fréquences de créneaux et une température sont déterminées sans utiliser d'autres points de mesure que le premier point de mesure et le second point de mesure ; - la seconde température est supérieure à la première température d'au moins 50°C ; - les données de relation comprennent le coefficient de proportionnalité utilisé, ou les données de relation comprennent une table de couples mesure de fréquence de créneaux - température construite à partir du coefficient de proportionnalité utilisé. Le capteur de température peut comprendre une pluralité d'oscillateurs en anneau, chaque oscillateur en anneau comprenant des inverseurs en série configurés pour être alimentés par le signal d'excitation et pour générer un signal en créneaux avec une fréquence de créneaux dépendant du signal d'excitation : les oscillateurs en anneau diffèrent entre eux par des rapports largeur/longueur de canaux de transistors constituant les inverseurs de chaque oscillateur en anneau, une première mesure de fréquence de créneaux à la première température étant acquise pour chaque oscillateur en anneau, et une seconde mesure de fréquence de créneaux à la seconde température étant acquise pour chaque oscillateur en anneau, chaque oscillateur en anneau ayant un premier point de mesure et un second point de mesure. Le procédé peut alors comprendre en outre les étapes suivantes : - détermination pour chacun des d'oscillateurs en anneau, d'un coefficient de proportionnalité dudit oscillateur en anneau mesuré d'une relation affine mesurée liant le premier point de mesure dudit oscillateur en anneau et le second point de mesure dudit oscillateur en anneau, - sélection d'un coefficient de proportionnalité mesuré sur la base d'une proximité dudit coefficient de proportionnalité mesuré avec une coefficient de proportionnalité cible préalablement défini, avant la détermination des données de relation représentatives d'une relation affine entre des mesures de fréquences de créneaux et des températures. L'invention concerne également un capteur de température comprenant :- une source de courant configurée pour émettre un signal d'excitation proportionnel à un courant dépendant de la température,- un oscillateur en anneau comprenant des inverseurs en série configuré pour être alimenté par le signal d'excitation et pour générer un signal en créneaux avec une fréquence de créneaux dépendant du signal d'excitation,- une mémoire stockant des données de relation représentatives d'une relation affine entre des mesures de fréquences de créneaux et des températures, ledit capteur de température étant calibré par le procédé de calibrage selon l'invention, et les données de relation établissent une relation affine définie par un coefficient de proportionnalité utilisé qui est modifié par rapport à un coefficient de proportionnalité mesuré d'une relation affine mesurée liant le premier point de mesure et le second point de mesure du procédé de calibrage. Le capteur de température peut comprendre une pluralité d'oscillateurs en anneau, chaque oscillateur en anneau comprenant des inverseurs en série configurés pour être alimentés par le signal d'excitation et pour générer un signal en créneaux avec une fréquence de créneaux dépendant du signal d'excitation, les oscillateurs en anneau différant entre eux par des rapports largeur/longueur de canaux de transistors constituant les inverseurs de chaque oscillateur en anneau. Présentation des figures D'autres caractéristiques, buts et avantages du procédé ressortiront de la description qui suit, qui est purement illustrative et non limitative, et qui doit être lue en regard des dessins annexés sur lesquels : La est une vue schématique de composants du capteur de température, selon un mode de réalisation possible de l'invention avec un miroir de courant sans cascode, La est une vue schématique de composants du capteur de température, selon un mode de réalisation possible de l'invention avec un miroir de courant avec cascode, La montre des graphiques qui exposent l'erreur en température du capteur en fonction de la température pour différentes tensions d’alimentation sans cascode (graphique A) et avec cascode (graphique B), - La est un diagramme schématique illustrant des étapes du procédé de calibrage selon un mode de réalisation possible de l'invention, La est une vue schématique d’un capteur de température selon un mode de réalisation possible de l'invention, dans lequel plusieurs oscillateurs en anneau sont agencés, La est un diagramme schématique illustrant des étapes du procédé de calibrage selon un mode de réalisation possible de l'invention lorsqu’il y a plusieurs oscillateurs en anneau. La montre de façon graphique des relations entre les mesures de fréquence de créneaux et la température pour le cas d’un seul oscillateur (graphique A), et pour plusieurs oscillateurs (graphique B), La est un graphique montrant la dispersion des erreurs en température mesurée par le capteur de température, en fonction de la température avant (graphique A) et après (graphique B) compensation par la calibration. Description détaillée La demande de brevet américain publiée sous le numéro US20150355037 décrit un capteur de température comprenant un oscillateur adapté pour générer alternativement une fréquence de sortie dépendante de la température dans un mode de détection et une fréquence de sortie indépendante de la température dans un mode d'étalonnage. Un contrôleur est adapté pour alimenter l’oscillateur avec au moins un premier signal d'entrée (VREF) et changer le premier signal d'entrée (VREF) de manière à faire basculer l’oscillateur entre la génération d'une fréquence de sortie dépendante de la température et la génération d’une fréquence de sortie indépendante de la température. Ce capteur de température présente cependant plusieurs inconvénients, en particulier induit une consommation électrique non négligeable et comprend de nombreux composants susceptibles d'introduire des imprécisions, comme par exemple la présence du comparateur qui introduit des non-linéarités. Les Figures 1a et 1b sont des vues schématiques de composants d’un capteur de température 1, avec un miroir de courant sans cascode et avec cascode, respectivement. Le capteur de température 1 comprend une source de courant 2 configurée pour émettre un courant proportionnel à la température. Le courant dépendant de la température est représentatif, et de préférence proportionnellement, de la température absolue du circuit électronique dont la température est mesurée, et qui intègre le capteur de température 1. L’homme du métier saura réaliser ce courant, plusieurs solutions lui étant connues. Le capteur de courant comprend un premier transistor 4, typiquement à effet de champ, préférentiellement PMOS comme dans l'exemple, et un second transistor 6, typiquement à effet de champ, préférentiellement PMOS comme dans l'exemple. Bien entendu, si d'autres transistors que des PMOS sont utilisés, il est important de modifier en conséquence les branchements desdits transistors décrits plus bas, notamment dans le cas d’utilisation d’un circuit cascode afin de réduire fortement l’influence de l’alimentation VDD sur le courant de sortie IPTAT. Les sources du premier transistor 4 et du second transistor 6 sont reliées ensembles et connectées à la tension d'alimentation VDD. Le drain du premier transistor 4 est relié à la source de courant 2. La grille du transistor 4 est connectée à son drain, ou au drain d’un autre transistor 5 dans le cas d’un circuit cascode comme celui de la , lequel autre transistor 5 se trouvant alors interposé entre le premier transistor 4 et la source de courant 2. Les grilles du premier transistor 4 et du second transistor 6 sont reliées ensemble, de sorte que le courant IPTAT traversant le premier transistor 4 est répliqué dans le courant traversant le second transistor 6, désigné donc lui aussi comme IPTAT. Le drain du second transistor 6 est connecté à un nœud d'alimentation 8 où se trouve une tension d'excitation VDD_RO et par où transite le courant IPTAT formant signal d'excitation, ou est connecté à la source d'un autre transistor 7 dans le cas d’un circuit cascode comme celui de la , ledit autre transistor 7 étant disposé entre le second transistor 6 et le nœud d'alimentation 8. Les grilles de ces autres transistors 5, 7 sont connectées ensemble, et peuvent être connectée à un autre composant (non représenté). La montre deux graphiques pour démontrer l’impact du cascode dans le miroir de courant sur la linéarité en température du capteur suivant différentes valeurs de tension d'alimentation VDD. Plus spécifiquement, le graphique A en haut montre l’erreur, en pourcentage, du capteur de température sans cascode en fonction de la température (en °C) pour deux différentes tensions d’alimentation VDD : 1,1 V (courbe 20) et 1,3 V (courbe 21), tandis que le graphique B en bas montre l’erreur, en pourcentage, du capteur de température avec cascode en fonction de la température (°C) pour deux différentes tensions d’alimentation VDD : 1,1 V (courbe 22) et 1,3 V (courbe 23). Comme on peut voir, l’addition du cascode permet de rendre la cellule quasi-immunisée par rapport à la variation de la tension d’alimentation VDD. En effet, le capteur une fois calibré ne doit pas voir sa fonction de conversion varier avec sa tension d’alimentation. La présence d'un cascode est donc préférée. De retour aux Figures 1a et 1b , le capteur de température 1 comprend un oscillateur en anneau 10 configuré pour être alimenté par le signal d'excitation et pour générer un signal en créneaux Crx avec une fréquence de créneaux dépendant du signal d'excitation. L'oscillateur en anneau 10 comprend le nœud d'alimentation 8 sur lequel arrive le signal d'excitation (e.g. le courant IPTAT). Comme illustré sur la , l'oscillateur en anneau 10 comprend un nombre impair d'inverseurs 12 en série, ou en cascade, formant un anneau. Ces inverseurs 12 sont par exemple des portes NON (« NOT » en anglais), NON-OU (« NOR » en anglais) ou NON-ET (« NAND » en anglais). Les inverseurs 12 peuvent être de simples portes PMOS, NMOS ou CMOS par exemple en fonction des transistors avec lesquels ils sont réalisés, ou bien encore peuvent être des montages d'amplificateur différentiel inverseur. Les inverseurs 12 sont polarisés - ou alimentés - avec le courant IPTAT, et donc avec le signal d'excitation. Un inverseur 12 délivre en sortie la négation logique de son signal d'entrée. En cas de bascule du signal d'entrée, la sortie d'un inverseur 12 ne bascule toutefois pas immédiatement. Il existe un retard au basculement, et ce retard au basculement dépend, entre autres paramètres (notamment le rapport largeur/longueur W/L de l’inverseur), de l'intensité courant de polarisation de l'inverseur 12, et donc ici de l'intensité du courant IPTAT dépendant de la température en tant que signal d'excitation. Le signal de sortie d'une cascade d'inverseurs 12 en nombre impair est la négation logique du signal d'entrée. Toutefois, le branchement en anneau, c'est-à-dire une boucle fermée, induit une contre-réaction du signal de sortie qui produit le phénomène d'oscillation périodique qui se traduit par un signal en créneaux (en tension) circulant dans l'oscillateur en anneau 10, caractérisé par une fréquence de créneaux. On désigne d'ailleurs parfois un oscillateur en anneau 10 en tant que générateur de créneaux. La fréquence des créneaux dépend des courants de polarisation des inverseurs 12, et dépend donc ici de l'intensité du courant IPTAT dépendant de la température en tant que signal d'excitation. La fréquence des créneaux dépend donc de la température via le signal d'excitation. Généralement, à des tensions de polarisation élevées, cette dépendance est positive, c'est-à-dire que la fréquence de créneaux augmente lorsque la température augmente. La fréquence des créneaux dépend également du nombre d'inverseurs 12 dans l'oscillateur en anneau 10 : plus il y a d'inverseurs 12, plus ceux-ci introduisent un retard important, et baissent donc la fréquence des créneaux. Trois inverseurs 12 sont illustrés dans l'exemple de la pour des raisons de simplification, mais de préférence le nombre d'inverseurs 12 est supérieur à 3, et est par exemple compris entre 5 et 13. La tension d'alimentation de l'oscillateur VDD_RO peut également être modulée pour modifier la fréquence des créneaux, une tension plus élevée diminuant les retards et donc augmentant la fréquence. Comme illustré sur la , l'oscillateur en anneau 10 peut comprendre une porte logique 18 disposée dans l'anneau de l'oscillateur en anneau 10, remplaçant un inverseur 12 et donc en série avec les autre inverseurs 12 en cascade. La somme du nombre d'inverseurs 12 et de la porte logique 18 reste ainsi impair. La porte logique 18 est par exemple une porte OU (« OR » en anglais) ou ET ("AND" en anglais), commandée par un signal de commande (non-représenté), ou une porte NON-OU (« NOR » en anglais) ou NON-ET ("NAND" en anglais). La porte logique 18 peut servir d'interrupteur pour l'oscillateur en anneau 10, permettant, au moyen du signal de commande, de démarrer ou de lancer l'oscillation, et donc la génération du signal en créneaux. Typiquement, la porte logique 18 est utilisée pour démarrer l'oscillateur en anneau 10 après la mise en place du courant IPTAT, et pour arrêter l'oscillateur en anneau 10 avant l'interruption du courant IPTAT. Il est possible de s'assurer ainsi que la mesure de fréquence de créneaux est bien représentative de la température, via un courant IPTAT établi, sans perturbations par des effets transitoires. Cette configuration permet également de minimiser la consommation électrique, puisque la porte logique 18 permet de ne solliciter l'oscillateur en anneau 10 que lorsqu'il est souhaité de connaître la température, ce qui arrive le plus souvent de manière ponctuelle plutôt que continue. Il est à noter que le montage cascode n'est pas lié à la présence ou l'absence de la porte logique 18, et que les différences entre les Figures 1a et 1b ne sont là que pour illustrer les possibilités. La porte logique 18 pourrait remplacer un inverseur 12 de la , de même que l'oscillateur en anneau 10 de la pourrait avoir un nombre impair d'inverseurs 12 sans porte logique 18. Le signal en créneaux Crx peut être prélevé à une sortie 14 située à n'importe quel point de l'anneau de l'oscillateur en anneau 10. La sortie 14 peut être munie de composants permettant de ne pas perturber l'oscillation dans l'oscillateur en anneau 10, comme par exemple un amplificateur tampon tel qu'un suiveur de tension ou un modificateur de tension ("level-shifter" en anglais) (non représentés). Le signal en créneaux Crx est un signal alternatif périodique en tout ou rien, constitué d'une répétition d'un motif impliquant un niveau de tension haut suivi d'un niveau de tension bas. L'alternance des transitions entre les niveaux hauts et bas se fait selon une période de créneaux, dont l'inverse est une fréquence de créneaux. Par construction, cette fréquence de créneaux dépend de la température. Le signal en créneaux Crx de la sortie 14 est fourni à un compteur 16 qui comptabilise une valeur de comptage dérivée des transitions de niveaux dans le signal en créneaux. Le compteur 16 peut être un circuit de registre à base de bascule, ou peut être d'un autre type. Le compteur 16 peut par exemple compter chaque transition, uniquement les front montants ou descendants, ou bien encore ne compter qu'un multiple de ceux-ci. On désigne par la suite par évènement le changement dans le signal en créneaux Crx qui est pris en compte par le compteur 16. Le compteur 16 reçoit un signal d'horloge Clk, qui est indépendant de la température, et qui consiste en une suite de transitions entre un niveau haut et un niveau bas, définissant une fréquence d'horloge. Le signal d'horloge Clk est typiquement fourni par un générateur d'horloge, généralement un oscillateur à base de quartz piézoélectrique, qui peut être intégré au capteur de température 1, ou plus avantageusement appartient au circuit électronique incorporant le capteur de température 1, le signal d'horloge Clk étant utilisé par ailleurs par d'autres composants dudit circuit électronique. Le compteur 16 est configuré pour compter le nombre d'évènement dans le signal en créneaux Crx entre deux évènements du signal d'horloge Clk. Typiquement, le compteur 16 est incrémenté à chaque évènement du signal en créneaux Crx, et est réinitialisé à chaque évènement du signal d'horloge Clk. La valeur de comptage qui en résulte est donc directement représentative d'un rapport entre la fréquence de créneaux et la fréquence d'horloge. Puisque la fréquence d'horloge est connue et supposée constante, indépendante de la température, la valeur de comptage permet de connaître la fréquence de créneaux et constitue ainsi une mesure de fréquence de créneaux. La survenue d'un évènement du signal d'horloge Clk entraîne la lecture de la valeur de comptage, avant la réinitialisation du compteur 16, et permet donc d'obtenir une mesure de fréquence de créneaux. Typiquement, la fréquence de créneaux est plus élevée que la fréquence d'horloge, et plus précisément est suffisamment élevée dans sa plage de variation attendue pour que sur l'ensemble de cette plage de variation, suffisamment de période de créneaux prennent place dans une seule période d'horloge pour la variation du nombre de transitions pendant une période d'horloge permette d'en déduire des variations fines de la température. Plus la fréquence d'horloge est basse par rapport à la fréquence de créneaux, plus précise sera la détermination de la température. Par exemple, la fréquence de créneaux peut être supérieure d'un facteur au moins 1000, et de préférence d'au moins 10000, à la fréquence d'horloge. A l'inverse, il est possible que la fréquence de créneaux soit moins élevée que la fréquence d'horloge. Dans ce cas, le compteur 16 est configuré pour compter le nombre d'évènements du signal d'horloge Clk entre deux évènements dans le signal en créneaux Crx. La valeur de comptage qui en résulte est toujours directement représentative d'un rapport entre la fréquence de créneaux et la fréquence d'horloge, mais avec une inversion des rôles respectifs du signal d'horloge Clk et du signal en créneaux Crx par rapport à celles décrites ci-dessus. Comme expliqué plus haut, une relation lie la fréquence de créneaux et la température, de sorte qu'une mesure de fréquence de créneaux permet de déterminer une température. A cet effet, des données de relation établissent une telle relation. Les données de relation peuvent être stockées dans un registre ou une mémoire informatique (par exemple type flash) soit du capteur de température 1 lui-même, soit dans le circuit électronique accueillant ledit capteur de température 1, afin de permettre la traduction de la mesure de fréquence de créneaux (par exemple la valeur de comptage), en une valeur de température. Pour des raisons de simplicité, les données de relation sont, au premier ordre, représentatives d'une relation affine entre des mesures de fréquences de créneaux et des températures, et les données de relation peuvent comprendre un coefficient de proportionnalité A à appliquer à une mesure de fréquence de créneaux pour obtenir une température correspondante. Les données de relation comprennent généralement également au moins une constante, utilisée pour obtenir la température. Par exemple, la température peut directement résulter de la multiplication de la mesure de fréquence de créneaux et de l'addition de la constante. Plusieurs constantes peuvent être stockées, comme par exemple une mesure de fréquence de référence (e.g. une valeur de comptage de référence), et une température de référence correspondante. Pour obtenir la température, un écart entre la mesure de fréquence de créneaux et une mesure de fréquence de référence est multiplié par le coefficient de proportionnalité A pour obtenir un écart entre la température mesurée et la température de référence, qui permet de déduire la température mesurée. Généralement, le signal d'excitation évolue positivement avec la température, la fréquence de créneaux croît avec la température, et par conséquent le coefficient de proportionnalité A est positif. La relation établie par les données de relation dépend des caractéristiques propres de chaque capteur de température 1, et varient entre deux transistors en fonction de leurs tailles et en raison des inévitables variations de procédé de fabrication. Les données de relation doivent donc être établies individuellement pour chaque capteur de température 1, ou au moins pour chaque lot de fabrication (par exemple chaque tranche ou "wafer"). Il est donc souhaitable de mettre en œuvre un procédé de calibrage pour déterminer ces données de relation. Le fait que les données de relation établissent une relation affine est essentiellement dicté par le fait que les données disponibles pour établir relation entre chaque fréquence de créneaux et une température correspondante est très restreint. En général, seules deux points de mesure, c'est-à-dire une mesure de fréquence de créneaux à une température connue, sont disponibles pour le calibrage. Typiquement, les deux points de mesure du calibrage sont effectués à des températures auxquelles sont soumis les circuits électroniques lors d'un contrôle qualité visant à s'assurer de leur bon fonctionnement à des point représentatifs d'une plage de fonctionnement. Ces deux mesures permettent de déterminer le coefficient de proportionnalité A ainsi que la constante associée. La est un diagramme schématique illustrant des étapes du procédé de calibrage selon un mode de réalisation possible de l'invention, qui va maintenant être décrit. Le procédé de calibrage peut mettre en œuvre préalablement un calibrage de la source de courant 2 (étape S0), décrit plus en détail plus loin. Le capteur de température 1 est placé à une première température T1, et le procédé comprend l'acquisition (étape S1) d'une première mesure de fréquence de créneaux FT1 à la première température T1 à partir du signal en créneaux lorsque le capteur de température 1 est placé à ladite première température T1. La première mesure de fréquence de créneaux FT1 et la première température T1 forment un premier point de mesure. La première mesure de fréquence de créneaux FT1 et la première température T1 sont mémorisées. Le capteur de température 1 est placé à une seconde température T2, et le procédé de calibrage comprend l'acquisition (étape S2) d'une seconde mesure de fréquence de créneaux FT2 à la seconde température T2 à partir du signal en créneaux lorsque le capteur de température 1 est placé à ladite seconde température T2. La seconde mesure de fréquence de créneaux FT2 et la seconde température T2 forment un second point de mesure, et peuvent également être mémorisés, ou peuvent être directement exploités dans la détermination des données de relation décrite plus bas. La première température T1 et la seconde température T2 sont différentes, et de fait, une température est inférieure à l'autre température. La première température T1 est désignée ici, mais pas nécessairement, comme étant inférieure à la seconde température T2. Les désignations de premier et second permettent de distinguer les points de mesure, et ne préjugent pas de l'ordre dans lequel sont acquis les deux points de mesure. La première température T1 et la seconde température T2 sont de préférence suffisamment éloignées pour être représentatives de l'étendue de la plage de température de fonctionnement du circuit électronique. De préférence, la seconde température T2 est supérieure à la première température T1 d'au moins 50°C, et de préférence d'au moins 70°C. Par exemple, la première température T1 peut être comprise entre 10°C et 40°C, et la seconde température T2 comprise entre 100 et 150°C. Bien entendu, il ne s'agit là que de valeurs indicatives, les températures dépendant du type de circuit électronique, de ses applications, et surtout des températures auxquelles sont menées les tests. Comme indiqué, préalablement à l'acquisition de la première mesure de fréquence de créneaux FT1 et de la seconde mesure de fréquence de créneaux FT2, il est possible de mettre en œuvre un calibrage de la source de courant 2, et plus précisément un calibrage (étape S0) qui permet de déterminer la valeur de résistance R intervenant dans le rapport entre le courant IPTAT dépendant de la température et la tension dépendant de la température VPTAT (IPTAT=VPTAT/R). Ce calibrage de la valeur de résistance R s'effectue à une température donnée et connue, qui est soit la première température T1, soit la seconde température T2. La valeur de résistance R qui est déterminée est mémorisée, et peut faire partie des données de relation établissant une relation entre chaque fréquence de créneaux et une température. En revanche, il n'y a plus besoin de procéder au calibrage du comparateur, en l'absence de celui-ci. Les deux points de mesure de l'oscillateur en anneau 10 définissent le coefficient de proportionnalité mesuré A d'une relation affine mesurée liant ledit premier point de mesure et ledit second point de mesure : A=(T2-T1)/(FT2-FT1). La détermination des données de relation comprend la détermination d'un coefficient de proportionnalité utilisé A' (étape S3) modifié par rapport au coefficient de proportionnalité mesuré A. Ensuite, le coefficient de proportionnalité utilisé A' ainsi déterminé est mémorisé et utilisé pour les données de relation (étape S4). Cette détermination du coefficient de proportionnalité utilisé A' peut être indirecte en ce qu'elle implique d'abord une détermination du coefficient de proportionnalité mesuré A, ou directe, sans impliquer de détermination du coefficient de proportionnalité mesuré A. Ces étapes S3, S4 seront décrites plus en détail en relation avec les Figures 6 et 7 . La relation fréquence-température d'un capteur de température prend généralement une forme plus complexe qu'une simple relation affine, celle-ci n'étant qu'une approximation, et les températures des deux points de mesure ne sont généralement pas déterminées par leur capacité à rendre compte correctement de la relation fréquence-température lorsque les températures s'éloignent des températures utilisées pour les points de mesure. La valeur exacte du coefficient de proportionnalité mesuré A dépend de nombreuses caractéristiques du capteur de température 1, et peut présenter des variations non négligeables, ce qui justifie la nécessité du calibrage. En particulier, la structure des transistors constituant les inverseurs de chaque oscillateur en anneau influence notablement ce coefficient de proportionnalité mesuré A. Or, en plus de connaître précisément la valeur du coefficient de proportionnalité mesuré A, il peut être souhaitable d'être capable de garantir que cette valeur du coefficient de proportionnalité mesuré A soit proche d'une valeur cible. A cette fin, il est souhaitable de pouvoir choisir, dans une certaine mesure, cette valeur du coefficient de proportionnalité mesuré A malgré les variations possibles. La est une vue schématique d’un capteur de température 1' selon un mode de réalisation possible de l'invention, dans lequel plusieurs oscillateurs sont agencés en anneau. A titre d'exemple, la configuration illustrée reprend celle de la , mais celle de la pourrait être préférablement utilisée, ou une autre configuration. La différence avec les configurations précédentes tient au fait que le capteur de température 1' comprend une pluralité d'oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n configurés pour être alimentés par un même courant IPTAT formant signal d'excitation, et pour générer chacun un signal en créneaux Crxa, Crxb, Crxn avec une fréquence de créneaux respective. Les oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n diffèrent entre eux par leurs rapports largeur/longueur, ou W/L, des canaux des transistors constituant les inverseurs de chaque oscillateur en anneau. Par exemple, un premier oscillateur 10a peut présenter des inverseurs avec un rapport W/L de 15 µm sur 0,4 µm, un deuxième oscillateur 10b peut présenter des inverseurs avec un rapport W/L de 8 µm sur 0,4 µm, un autre oscillateur peut présenter des inverseurs avec un rapport W/L de 10 µm sur 0,25 µm, etc. Ainsi, chaque oscillateur en anneau 10a, 10b, 10n présente un rapport W/L qui lui est propre et qui diffère de celui des autres. Entre deux oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n, la largeur et/ou la longueur peut être différente. De préférence, le nombre n d'oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n dans un même capteur de température 1' est inférieur à 10, et de préférence inférieur à 5, afin de ne pas consommer trop de surface. Typiquement, entre 2 et 4 oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n sont présents. De préférence, tous les oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n sont utilisés lors du calibrage, mais il est possible de ne pas tous les utiliser. Les différents rapports W/L présentés par les inverseurs de ces oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n sont choisis pour couvrir une gamme de variation de valeur du coefficient de proportionnalité mesuré A qui soit susceptible de recouvrir une valeur correspondant à un coefficient de proportionnalité cible A cible , qui est une valeur cible préalablement définie lors de la conception (par simulation) ou par caractérisation d’un nombre déterminant de pièces. Comme précédemment, la génération du courant IPTAT se fait au moyen d'un miroir de courant impliquant une source de courant 2 connectée au drain d'un premier transistor 4. La grille de ce premier transistor 4 est connectée à son drain, et à chacune des grilles d'une pluralité de seconds transistors 6a, 6b, 6n, agencés chacun sur une branche dans laquelle circule le courant IPTAT. Chaque branche forme un nœud d'alimentation 8a, 8b, 8n auquel est connecté un drain d'un second transistor 6a, 6b, 6n, et où s'applique une tension d'excitation VDD_RO1, VDD_RO2, VDD_ROn propre à chaque oscillateur en anneau 10a, 10b, 10n. Les tensions d'excitation prennent des valeurs différentes en raison des variations de comportement des oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n induites par leurs différences de rapport W/L. La est un diagramme schématique illustrant des étapes du procédé de calibrage selon un mode de réalisation possible de l'invention lorsqu’il y a plusieurs oscillateurs en anneau, comme montré à la . Le procédé de calibrage comprend alors les mêmes étapes S1 et S2 que précédemment, sauf en ce que les fréquences de créneaux de chaque oscillateur en anneau 10a, 10b, 10n sont mesurées aux températures T1 et T2. A l'étape S1, il est donc acquis autant de premières mesures de fréquence de créneaux FaT1, FbT1, FnT1 à la première température T1 qu'il y a d'oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n, et bien entendu à l'étape S2 il est acquis autant de secondes mesures de fréquence de créneaux FaT2, FbT2, FnT2 à la seconde température T2 qu'il y a d'oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n. Il y a donc autant de premiers points de mesure que d'oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n, et autant de seconds points de mesure que d'oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n. Le procédé de calibrage comprend ensuite une étape S2a dans laquelle un coefficient de proportionnalité mesuré Aa, Ab, An est déterminé pour chacun des oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n à partir des points de mesure desdits oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n. Il y a donc autant de coefficients de proportionnalité mesurés Aa, Ab, An que d'oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n. Les deux points de mesure de chaque oscillateur en anneau 10a, 10b, 10n définissent un coefficient de proportionnalité mesuré Ai d'une relation affine mesurée liant le premier point de mesure dudit oscillateur en anneau 10a, 10b, 10n et le second point de mesure dudit oscillateur en anneau 10a, 10b, 10n : Ai=(T2-T1)/(FiT2-FiT1), avec i=a, b, …, n. La montre de façon graphique des relations entre les mesures de fréquence de créneaux (en Herz en abscisse) et la température (en °C en ordonnée) pour le cas d’un seul oscillateur en anneau (graphique supérieur (A)), et pour plusieurs oscillateurs en anneau (graphique inférieur (B)). Sur le graphique supérieur (A), la courbe 30 montre un exemple simplifié de relation réelle entre les températures, et les fréquences de créneaux d'un oscillateur en anneau 10. Figurent également le premier point de mesure (T1, FT1) et le second point de mesure (T2, FT2) de cet oscillateur en anneau, qui définissent la droite 31 en trait continu passant par ces deux points de mesure, et dont le coefficient directeur est le coefficient de proportionnalité mesuré A pour cet oscillateur en anneau 10. Sur le graphique inférieur (B), les courbes 30a, 30b, 30n montrent des exemples simplifiés de relations réelles entre les températures (en °C en ordonnée), et les fréquences de créneaux (en Hertz en abscisse) de plusieurs oscillateurs en anneau 10a, 10b, 10n d'un capteur de température 1'. A une même première température T1 correspondent plusieurs premières mesures de fréquence de créneaux FaT1, FbT1, FnT1, et à une seconde température T2 correspondent plusieurs secondes mesures de fréquence de créneaux FaT2, FbT2, FnT2, ce qui permet de représenter autant de droites 31a, 31b, 31n en trait continu passant par les couples de points de mesure, et dont le coefficient directeur est le coefficient de proportionnalité mesuré Ai pour chaque oscillateur en anneau 10a, 10b, 10n. Il est alors procédé, lors d'une étape de sélection S2b, à la sélection d'un coefficient de proportionnalité mesurés Ai parmi les coefficients de proportionnalité mesurés Ai ainsi déterminés. Le coefficient de proportionnalité mesuré Ai est sélectionné comme étant celui qui est le plus proche du coefficient de proportionnalité cible Acible préalablement défini. Dans l'exemple du graphique inférieur (B) de la , la droite 33 (en pointillés) a pour coefficient directeur le coefficient de proportionnalité cible Acible. La droite la plus proche de cette droite 33 est la droite 31b qui a pour coefficient directeur le coefficient de proportionnalité mesuré Ab du deuxième oscillateur à anneau 10b, et qui est définie par les points de mesure (T1, FbT1) et (T2, FbT2). C'est donc ce coefficient de proportionnalité mesuré Ab qui est sélectionné en tant que coefficient de proportionnalité mesuré A pour la suite. De façon plus méthodique, la montre sous forme de courbes les résultats de simulation d'une pluralité de relations réelles liant des mesures de fréquence de créneaux et les températures, à partir des variations attendues de caractéristiques impactant cette relation. Sur le graphique supérieur (A) de la , les courbes montrent l'erreur (en °C) de température (en ordonnée) résultant de l'approximation par la relation affine mesurée avec les coefficients de proportionnalité mesuré A, pour sept températures, allant de -40°C à 130°C. Les deux points de mesure correspondent aux températures de 30°C et de 110°C, et donc logiquement les erreurs sont nulles pour ces températures. On constate que si l'approximation présente des erreurs faibles pour les températures élevées (supérieures ou égales à 30°C), les erreurs augmentent sensiblement pour les températures basses (inférieures à 20°C), et en particulier pour les températures proches ou en dessous de zéro. Par conséquent, plutôt que d'utiliser le coefficient de proportionnalité mesuré A, le procédé de calibrage, à partir du premier point de mesure et du second point de mesure, détermine (étape S3) un coefficient de proportionnalité utilisé A', dérivé du coefficient de proportionnalité mesuré A mais différent de celui-ci. Comme le coefficient de proportionnalité mesuré A, le coefficient de proportionnalité utilisé A' définit une relation affine entre des mesures de fréquences de créneaux et des températures, mais le coefficient de proportionnalité utilisé A' est modifié par rapport au coefficient de proportionnalité mesuré A de la relation affine mesurée liant le premier point de mesure et le second point de mesure. Plus précisément, le coefficient de proportionnalité utilisé A' est déduit des deux points de mesure aux deux températures T1, T2 et d’un coefficient de proportionnalité théorique A max préalablement défini lors de la conception (par simulation) ou par caractérisation d’un nombre déterminant de pièces. Le coefficient de proportionnalité utilisé A’ définit une relation affine plus précise que le coefficient de proportionnalité mesuré A entre des mesures de fréquences de créneaux et des températures, c'est-à-dire avec une erreur moins importante sur une plage d'utilisation. Le procédé peut comprendre une étape d'ajustement du coefficient de proportionnalité mesuré A visant à réduire l'erreur en température pour les températures inférieures à la première température T1. Dans le cas où la fréquence de créneaux croît avec la température, le coefficient de proportionnalité utilisé A' est inférieur au coefficient de proportionnalité mesuré A, mais est de même signe. A cet effet, le coefficient de proportionnalité mesuré A est modifié en soustrayant audit coefficient de proportionnalité mesuré A une grandeur fonction dudit coefficient de proportionnalité mesuré A, inférieure audit coefficient de proportionnalité mesuré A. Par exemple, le coefficient de proportionnalité utilisé A' peut correspondre à : A'=A-K(A max -A), avec K un facteur constant positif et A max le coefficient de proportionnalité théorique préalablement défini. Le facteur constant positif K et le coefficient de proportionnalité théorique A max sont choisis pour que le coefficient de proportionnalité utilisé A' garde le même signe que le coefficient de proportionnalité mesuré A. De préférence, le facteur constant positif K est strictement compris entre 0 et 2, et de préférence encore, le facteur constant positif K est strictement compris entre 0 et 1. De façon directe, il est possible de déterminer directement le coefficient de proportionnalité utilisé A' à partir des points de mesure, sans détermination intermédiaire du coefficient de proportionnalité mesuré A, en remplaçant dans la formule du paragraphe précédent A par (T2-T1)/(FT2-FT1). Sur le graphique supérieure (A) de la , la droite 32 (en tirets) correspondant à la relation affine entre des mesures de fréquences de créneaux et des températures, définie par le coefficient de proportionnalité utilisé A' modifié par rapport au coefficient de proportionnalité mesuré A de la relation affine mesurée liant le premier point de mesure et le second point de mesure, représentée par la droite 31 (en trait continu). C'est le coefficient de proportionnalité utilisé A' ainsi déterminé qui est utilisé pour déterminer (étape S4) les données de relation. Ces données de relation, représentatives d'une relation affine entre des mesures de fréquences de créneaux et des températures, sont stockées dans une mémoire et utilisées lors des mesures de température ultérieures. Le coefficient de proportionnalité utilisé A' peut être utilisé en tant que données de relation, typiquement lorsque la température T est par la suite déduite d'une mesure de fréquence FM: T=A'.FM+B, avec B une constante faisant également partie des données de relation, et correspondant par exemple à B=(T1.FT2 - T2.FT1)/(FT2-FT1). Il est également possible que les données de relation ne contiennent ni le coefficient de proportionnalité utilisé A' ni la constante B, mais qu'à la place les données de relation contiennent une table de correspondance entre mesure de fréquence de créneaux et température, construite en utilisant le coefficient de proportionnalité utilisé A' et la constante B. La table de correspondance stocke une pluralité de couples mesure de fréquence de créneaux-température, qui sont déterminés grâce au coefficient de proportionnalité utilisé A' et aux deux points de mesure (par exemple via la constante B). Il est possible que suffisamment de couples soient disponibles pour que chaque mesure de fréquence puisse se voir attribué directement une température associée. Il est sinon possible de mettre en œuvre une interpolation entre les deux couples mesure de fréquence de créneaux- température encadrant une mesure de fréquence de créneaux particulière venant d'être mesurée. Après le calibrage, lors de l'utilisation opérationnelle du capteur de température 1, ce sont donc des données de relation représentatives d'une relation affine entre des mesures de fréquences de créneaux et des températures qui sont mémorisées et utilisées, ladite relation affine étant définie par le coefficient de proportionnalité utilisé A' et non pas par le coefficient de proportionnalité mesuré A de la relation affine mesurée liant le premier point de mesure et le second point de mesure. Ce calibrage permet de diminuer l'erreur affectant le capteur de température 1 pour les températures basses, c'est-à-dire inférieures à la première température du premier point de mesure. Le graphique inférieur (B) de la montre sous forme de courbes les résultats de simulation d'une pluralité de relations réelles liant des mesures de fréquence de créneaux et les températures, à partir des variations attendues de caractéristiques impactant cette relation. Les courbes du graphique inférieur (B) de la montrent l'erreur (en °C) de température (en ordonnée) résultant de l'approximation par le coefficient de proportionnalité utilisé A’, pour sept températures, allant de -40°C à 130°C. On constate que l’erreur maximale est inférieure à celle de la (A). Plus précisément, les erreurs sur le graphique supérieur (A) s'étendent dans une plage comprise entre +1,4°C et -0,7°C, alors que les erreurs sur le graphique inférieur (B) s'étendent dans une plage comprise entre +0,4°C et -0, 6°C, soit plus de deux fois inférieure à la plage obtenue sans correction du coefficient de proportionnalité mesuré A. Suite au calibrage, les données de relation sont stockées dans le capteur de température 1 ou dans le circuit électronique intégrant ledit capteur de température 1. Lorsqu'il est souhaité connaître la température, la source de courant 2 commence par établir le courant IPTAT, puis l'oscillateur en anneau 10 est mis en route au moyen de la porte logique 18. Le signal en créneaux à la sortie 14 est fourni au compteur 16, qui détermine une mesure de fréquence de créneaux sous la forme d'une valeur de comptage, puis cette mesure de fréquence de créneaux est traduite en température au moyen des données de relation, par exemple par un calculateur. La température ainsi mesurée peut être exploitée. L'oscillateur en anneau 10 est ensuite arrêté par la porte logique 18. L'invention n'est pas limitée au mode de réalisation décrit et représenté aux figures annexées. Des modifications restent possibles, notamment du point de vue de la constitution des diverses caractéristiques techniques ou par substitution d'équivalents techniques, sans sortir pour autant du domaine de protection de l'invention. Procédé de calibrage d'un capteur de température (1, 1'), ledit capteur de température comprenant - une source de courant (2) configurée pour émettre un signal d'excitation proportionnel à un courant dépendant de la température, - un oscillateur en anneau (10, 10a, 10b, 10n) comprenant des inverseurs (12) en série configurés pour être alimenté par le signal d'excitation et pour générer un signal en créneaux avec une fréquence de créneaux dépendant du signal d'excitation, la température étant déterminée par des données de relation établissant une relation entre des fréquences de créneaux et des températures, caractérisé en ce que le procédé de calibrage comprend au moins : - l'acquisition (S1) d'une première mesure de fréquence de créneaux dudit oscillateur en anneau à une première température à partir du signal en créneaux lorsque le capteur de température est placé à ladite première température, la première mesure de fréquence de créneaux et la première température formant un premier point de mesure dudit oscillateur en anneau, - l'acquisition (S2) d'une seconde mesure de fréquence de créneaux dudit oscillateur en anneau à une seconde température à partir du signal en créneaux lorsque le capteur de température est placé à ladite seconde température, ladite seconde température étant supérieure à la première température, la seconde mesure de fréquence de créneaux et la seconde température formant un second point de mesure dudit oscillateur en anneau, - à partir du premier point de mesure dudit oscillateur en anneau et du second point de mesure dudit oscillateur en anneau, la détermination (S4) des données de relation représentatives d'une relation affine entre des mesures de fréquences de créneaux et des températures, ladite relation affine étant définie par un coefficient de proportionnalité utilisé modifié par rapport à un coefficient de proportionnalité mesuré d'une relation affine mesurée liant le premier point de mesure dudit oscillateur en anneau et le second point de mesure dudit oscillateur en anneau. Procédé de calibrage selon la revendication 1, dans lequel la fréquence de créneaux croît avec la température, le coefficient de proportionnalité mesuré est positif, et le coefficient de proportionnalité utilisé est inférieur au coefficient de proportionnalité mesuré. Procédé de calibrage selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le coefficient de proportionnalité mesuré et le coefficient de proportionnalité utilisé sont de même signe. Procédé de calibrage selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le coefficient de proportionnalité utilisé est déterminé en soustrayant au coefficient de proportionnalité mesuré une grandeur fonction dudit coefficient de proportionnalité mesuré. Procédé de calibrage selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel les données de relation établissant une relation entre des fréquences de créneaux et une température sont déterminées sans utiliser d'autres points de mesure que le premier point de mesure et le second point de mesure. Procédé de calibrage selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la seconde température est supérieure à la première température d'au moins 50°C. Procédé de calibrage selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel les données de relation comprennent le coefficient de proportionnalité utilisé, ou les données de relation comprennent une table de couples mesure de fréquence de créneaux - température construite à partir du coefficient de proportionnalité utilisé. Procédé de calibrage selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le capteur de température (1') comprend une pluralité d'oscillateurs en anneau (10a, 10b, 10n), chaque oscillateur en anneau comprenant des inverseurs en série configurés pour être alimenté par le signal d'excitation et pour générer un signal en créneaux avec une fréquence de créneaux dépendant du signal d'excitation, les oscillateurs en anneau (10a, 10b, 10n) différant entre eux par des rapports largeur/longueur de canaux de transistors constituant les inverseurs de chaque oscillateur en anneau, une première mesure de fréquence de créneaux à la première température étant acquise pour chaque oscillateur en anneau, et une seconde mesure de fréquence de créneaux à la seconde température étant acquise pour chaque oscillateur en anneau, chaque oscillateur en anneau ayant un premier point de mesure et un second point de mesure, le procédé comprenant en outre les étapes suivantes : - détermination (S2a) pour chacun des d'oscillateurs en anneau (10a, 10b, 10n), d'un coefficient de proportionnalité dudit oscillateur en anneau mesuré d'une relation affine mesurée liant le premier point de mesure dudit oscillateur en anneau (10a, 10b, 10n) et le second point de mesure dudit oscillateur en anneau (10a, 10b, 10n), - sélection (S2b) d'un coefficient de proportionnalité mesuré sur la base d'une proximité dudit coefficient de proportionnalité mesuré avec un coefficient de proportionnalité cible préalablement défini, avant la détermination (S4) des données de relation représentatives d'une relation affine entre des mesures de fréquences de créneaux et des températures. Capteur de température (1, 1') comprenant : - une source de courant (2) configurée pour émettre un signal d'excitation proportionnel à un courant dépendant de la température, - un oscillateur en anneau (10, 10a, 10b, 10n) comprenant des inverseurs (12) en série configurés pour être alimenté par le signal d'excitation et pour générer un signal en créneaux avec une fréquence de créneaux dépendant du signal d'excitation, - une mémoire stockant des données de relation représentatives d'une relation affine entre des mesures de fréquences de créneaux et des températures, ledit capteur de température étant calibré par le procédé de calibrage selon l'une quelconque des revendications précédentes, et les données de relation établissent une relation affine définie par un coefficient de proportionnalité utilisé qui est modifié par rapport à un coefficient de proportionnalité mesuré d'une relation affine mesurée liant le premier point de mesure et le second point de mesure du procédé de calibrage. Capteur de température (1, 1') selon la revendication précédente, comprenant une pluralité d'oscillateurs en anneau (10a, 10b, 10n), chaque oscillateur en anneau comprenant des inverseurs en série configurés pour être alimenté par le signal d'excitation et pour générer un signal en créneaux avec une fréquence de créneaux dépendant du signal d'excitation, les oscillateurs en anneau (10a, 10b, 10n) différant entre eux par des rapports largeur/longueur de canaux de transistors constituant les inverseurs de chaque oscillateur en anneau, ledit capteur de température étant calibré par le procédé de calibrage selon la revendication 8.