Brevet FR3117611A1 — publié le 20220617

Filtre angulaire optique La présente description concerne un filtre angulaire (23) pour dispositif d'acquisition d'images (19) comportant un empilement comprenant : une première matrice (31) de premières ouvertures (333) délimitées par des premiers murs (35) opaques à un rayonnement visible et/ou infrarouge ; un réseau (27) de microlentilles (29) ; et une deuxième matrice (41) de deuxièmes ouvertures (43) délimitées par des deuxièmes murs (45) opaques au rayonnement visible et/ou infrarouge. Figure pour l'abrégé : Fig. 2 Filtre angulaire optique La présente description concerne un filtre optique angulaire. Plus particulièrement, la présente description concerne un filtre angulaire destiné à être utilisé au sein d'un système optique, par exemple, un système d'imagerie ou à être utilisé pour collimater les rayons d'une source lumineuse, notamment pour une application d'éclairage directionnel par diode électroluminescente organique (OLED) ou d'inspection optique. Un filtre angulaire est un dispositif permettant de filtrer un rayonnement incident en fonction de l'incidence de ce rayonnement et ainsi bloquer les rayons dont l'incidence est supérieure à une incidence maximale. Les filtres angulaires sont fréquemment utilisés en association avec des capteurs d'images. Il existe un besoin d'améliorer les filtres angulaires connus. Un mode de réalisation pallie tout ou partie des inconvénients des filtres angulaires connus. Un mode de réalisation prévoit un filtre angulaire pour dispositif d'acquisition d'images comportant un empilement comprenant : une première matrice de premières ouvertures délimitées par des premiers murs opaques à un rayonnement visible et/ou infrarouge ; un réseau de microlentilles ; et une deuxième matrice de deuxièmes ouvertures délimitées par des deuxièmes murs opaques au rayonnement visible et/ou infrarouge. Selon un mode de réalisation, le nombre de deuxièmes ouvertures est, au moins, deux fois plus élevé que le nombre de premières ouvertures. Selon un mode de réalisation, le nombre de premières ouvertures est, au moins, deux fois plus élevé que le nombre de deuxièmes ouvertures Selon un mode de réalisation, le réseau de microlentilles est situé entre la première matrice et la deuxième matrice. Selon un mode de réalisation, la deuxième matrice est située entre le réseau de microlentilles et la première matrice. Selon un mode de réalisation, la première matrice est située entre le réseau de microlentilles et la deuxième matrice. Selon un mode de réalisation : la structure comprenant le réseau de microlentilles et la première matrice est adaptée à bloquer des rayons incidents ayant une incidence, par rapport aux axes optiques des microlentilles, supérieure à une première incidence maximale ; et la deuxième matrice est adaptée à bloquer des rayons incidents ayant une incidence, par rapport aux axes optiques des microlentilles, supérieure à une deuxième incidence maximale, la deuxième incidence maximale étant supérieure à la première incidence maximale. Selon un mode de réalisation, la première incidence maximale qui correspond à la demi-largeur à la moitié de la transmittance maximale est inférieure à 10°, de préférence inférieure à 4°. Selon un mode de réalisation, la deuxième incidence maximale qui correspond à la demi-largeur à la moitié de la transmittance maximale est supérieure à 15° et inférieure à 60°. Selon un mode de réalisation, la deuxième incidence maximale est inférieure ou égale à 30°. Selon un mode de réalisation, les premières ouvertures sont remplies d'air, d'un vide partiel ou d'un matériau au moins partiellement transparent dans les domaines du visible et de l'infrarouge. Selon un mode de réalisation, les deuxièmes ouvertures sont remplies d'air, d'un vide partiel ou d'un matériau au moins partiellement transparent dans les domaines du visible et de l'infrarouge. Selon un mode de réalisation, une seule microlentille est à l'aplomb d'une première ouverture. Selon un mode de réalisation, chaque microlentille est à l'aplomb d'une seule première ouverture. Selon un mode de réalisation, l'axe optique de chaque microlentille est aligné avec le centre d'une première ouverture. Un mode de réalisation prévoit un dispositif d'acquisition d'images comprenant un filtre angulaire tel que décrit ci-avant et un capteur d'images. Ces caractéristiques et avantages, ainsi que d'autres, seront exposés en détail dans la description suivante de modes de réalisation particuliers faite à titre non limitatif en relation avec les figures jointes parmi lesquelles : la illustre, par une vue en coupe, partielle et schématique, un mode de réalisation d'un système d'acquisition d'images ; la illustre, par une vue en coupe, partielle et schématique, un mode de réalisation d'un dispositif d'acquisition d'images comprenant un filtre angulaire ; la illustre, par une vue en coupe, partielle et schématique, un autre mode de réalisation d'un dispositif d'acquisition d'images ; la illustre, par une vue en coupe, partielle et schématique, un autre mode de réalisation d'un dispositif d'acquisition d'images ; et la représente, par un graphique, la transmittance du filtre angulaire du dispositif illustré en en fonction de l'incidence des rayons atteignant le filtre angulaire. De mêmes éléments ont été désignés par de mêmes références dans les différentes figures. En particulier, les éléments structurels et/ou fonctionnels communs aux différents modes de réalisation peuvent présenter les mêmes références et peuvent disposer de propriétés structurelles, dimensionnelles et matérielles identiques. Par souci de clarté, seuls les étapes et éléments utiles à la compréhension des modes de réalisation décrits ont été représentés et sont détaillés. En particulier, la réalisation du capteur d'images et des éléments autres que le filtre angulaire n'a pas été détaillée, les modes de réalisation et les modes de mise en oeuvre décrits étant compatibles avec les réalisations usuelles du capteur et de ces autres éléments. Dans la description qui suit, lorsque l'on fait référence à des qualificatifs de position absolue, tels que les termes "avant", "arrière", "haut", "bas", "gauche", "droite", etc., ou relative, tels que les termes "dessus", "dessous", "supérieur", "inférieur", etc., ou à des qualificatifs d'orientation, tels que les termes "horizontal", "vertical", etc., il est fait référence sauf précision contraire à l'orientation des figures. Sauf précision contraire, les expressions "environ", "approximativement", "sensiblement", et "de l'ordre de" signifient à 10 % près, de préférence à 5 % près. Sauf précision contraire, les expressions "l'ensemble des éléments", "tous les éléments", "chaque élément", signifient entre 95 % et 100 % des éléments. Sauf précision contraire, l'expression "il comprend uniquement les éléments" signifie qu'il comprend, à au moins 90 % les éléments, de préférence qu'il comprend à au moins 95 % les éléments. Dans la suite de la description, sauf précision contraire, une couche ou un film est dit opaque à un rayonnement lorsque la transmittance du rayonnement au travers de la couche ou du film est inférieure à 10 %. Dans la suite de la description, une couche ou un film est dit transparent à un rayonnement lorsque la transmittance du rayonnement au travers de la couche ou du film est supérieure à 10 %. Selon un mode de réalisation, pour un même système optique, tous les éléments du système optique qui sont opaques à un rayonnement ont une transmittance qui est inférieure à la moitié, de préférence inférieure au cinquième, plus préférentiellement inférieure au dixième, de la transmittance la plus faible des éléments du système optique transparents audit rayonnement. Dans la suite de la description, on appelle "rayonnement utile" le rayonnement électromagnétique traversant le système optique en fonctionnement. Dans la suite de la description, on appelle "élément optique de taille micrométrique" un élément optique formé sur une face d'un support dont la dimension maximale, mesurée parallèlement à ladite face, est supérieure à 1 μm et inférieure à 1 mm. Des modes de réalisation de systèmes optiques vont maintenant être décrits pour des systèmes optiques comprenant une matrice d'éléments optiques à taille micrométrique dans le cas où chaque élément optique à taille micrométrique correspond à une lentille à taille micrométrique, ou microlentille, composée de deux dioptres. Toutefois, il est clair que ces modes de réalisation peuvent également être mis en oeuvre avec d'autres types d'éléments optiques de taille micrométrique, chaque élément optique de taille micrométrique pouvant correspondre, par exemple, à une lentille de Fresnel de taille micrométrique, à une lentille à gradient d'indice de taille micrométrique ou à un réseau de diffraction de taille micrométrique. Dans la suite de la description, on appelle lumière visible un rayonnement électromagnétique dont la longueur d'onde est comprise entre 400 nm et 700 nm, et, dans cette plage, lumière rouge un rayonnement électromagnétique dont la longueur d'onde est comprise entre 600 nm et 700 nm. On appelle rayonnement infrarouge un rayonnement électromagnétique dont la longueur d'onde est comprise entre 700 nm et 1 mm. Dans le rayonnement infrarouge, on distingue notamment le rayonnement infrarouge proche dont la longueur d'onde est comprise entre 700 nm et 1,7 μm. La illustre, par une vue en coupe, partielle et schématique, un mode de réalisation d'un système d'acquisition d'images 11. Le système d'acquisition d'images 11, illustré en , comprend : un dispositif d'acquisition d'images 13 (DEVICE) ; et une unité de traitement 15 (Processing Unit - PU). L'unité de traitement 15 comprend, de préférence, des moyens de traitement des signaux fournis par le dispositif 11, non représentés en . L'unité de traitement 15 comprend, par exemple, un microprocesseur. Le dispositif 13 et l'unité de traitement 15 sont, de préférence, reliés par une liaison 17. Le dispositif 13 et l'unité de traitement 15 sont, par exemple, intégrés dans un même circuit. La illustre, par une vue en coupe, partielle et schématique, un mode de réalisation d'un dispositif d'acquisition d'images 19 comprenant un filtre angulaire. Le dispositif d'acquisition d'images 19 représenté en comprend, de bas en haut dans l'orientation de la figure : un capteur d'images 21 ; et un filtre angulaire 23, recouvrant le capteur d'images 21. Dans la présente description, les modes de réalisation des dispositifs des figures 2 à 4 sont représentés dans l'espace selon un repère XYZ orthogonal direct, l'axe Y du repère XYZ étant orthogonal à la face supérieure du capteur d'images 21. Le capteur d'images 21 comprend une matrice de capteurs de photons 25, également appelés photodétecteurs. Les photodétecteurs 25 sont, de préférence, agencés sous forme matricielle. Les photodétecteurs 25 peuvent être recouverts d'un revêtement de protection et/ou d'un filtre de couleur (non représenté). Les photodétecteurs 25 ont, de préférence, tous la même structure et les mêmes propriétés/caractéristiques. En d'autres termes, tous les photodétecteurs 25 sont sensiblement identiques aux différences de fabrication près. Le capteur d'images 21 comprend, en outre, des pistes conductrices et des éléments de commutation, notamment des transistors, non représentés, permettant la sélection des photodétecteurs 25. Les photodétecteurs 25 sont, de préférence, réalisés en matériaux organiques. Les photodétecteurs 25 peuvent correspondre à des photodiodes organiques (OPD, Organic Photodiode), à des photorésistances organiques, à des photodiodes en silicium amorphe ou monocristallin intégrées sur un substrat à transistors en couches minces (TFT, Thin Film Transistor) ou un substrat à transistors à effet de champ à grille métal-oxyde, également appelés transistors MOS (Metal Oxide Semiconductor). Les photodiodes organiques 25 du capteur d'images 21 comprennent par exemple un mélange de poly(3,4-éthylènedioxythiophène) (PEDOT) et de poly(styrène sulfonate) de sodium (PSS). Le substrat est par exemple en silicium, de préférence en silicium monocristallin. Les régions de canal, de source et de drain des transistors TFT sont par exemple en silicium amorphe (a-Si ou amorphous Silicon), en indium, gallium, zinc et oxyde (IGZO Indium Gallium Zinc Oxide) ou en silicium polycristallin basse température (LTPS ou Low Temperature Polycrystalline Silicon). Selon un mode de réalisation, chaque photodétecteur 25 est adapté à détecter le rayonnement visible et/ou le rayonnement infrarouge. Le filtre angulaire 23 comprend : un réseau 27 de microlentilles 29 de taille micrométrique, par exemple plan-convexes ; une première matrice 31 ou couche de premiers trous ou ouvertures 33 délimitées par des premiers murs 35 opaques dans les domaines du visible et/ou de l'infrarouge ; et une deuxième matrice 41 de deuxièmes trous 43 ou ouvertures délimitées par des deuxièmes murs 45 , le réseau 27 de microlentilles 29 étant situé entre la première matrice 31 et la deuxième matrice 41. Selon un mode de réalisation, le réseau 27 de microlentilles 29 est formé sur et en contact avec un substrat ou support 28, le substrat 28 étant alors interposé entre les microlentilles 29 et la première matrice 31. Le substrat 28, lorsqu'il est présent, peut être en un polymère transparent qui n’absorbe pas, au moins, les longueurs d’onde considérées, ici dans le domaine du visible et de l’infrarouge. Ce polymère peut notamment être du poly(téréphtalate d’éthylène) PET, poly(métacrylate de méthyle) PMMA, polymère d’oléfinecyclique (COP), polyimide (PI), polycarbonate (PC). L’épaisseur du substrat 28 peut varier entre 1 µm et 100 μm, de préférence entre 10 µm et 100 μm. Le substrat 28 peut correspondre à un filtre coloré, à un polariseur, à une lame demi-onde ou à une lame quart d’onde. Les microlentilles 29 peuvent être réalisées en silice, en PMMA, en une résine photosensible positive, en PET, en poly(naphtalate d'éthylène) (PEN), en COP, en polydiméthylsiloxane (PDMS)/silicone, en résine époxy ou en résine acrylate. Les microlentilles 29 peuvent être formées par fluage de blocs d'une résine photosensible. Les microlentilles 29 peuvent, en outre, être formées par moulage sur une couche de PET, PEN, COP, PDMS/silicone, de résine époxy ou de résine acrylate. Les microlentilles 29 sont des microlentilles convergentes ayant chacune une distance focale f comprise entre 1 μm et 100 μm, de préférence entre 1 μm et 70 μm. Selon un mode de réalisation, toutes les microlentilles 29 sont sensiblement identiques. Selon le présent mode de réalisation, les microlentilles 29 et le substrat 28, lorsqu'il est présent, sont, de préférence, réalisés dans des matériaux transparents ou partiellement transparents, c'est-à-dire transparents dans une partie du spectre considéré pour le domaine visé, par exemple, l'imagerie, sur la plage de longueurs d'onde correspondant aux longueurs d'onde utilisées lors de l'exposition d'un objet à imager. Les faces planes des microlentilles 29 font face aux premières ouvertures 33. On appelle "h1" l'épaisseur des premiers murs 35. Les murs 35 sont, par exemple, opaques au rayonnement détecté par les photodétecteurs 25, par exemple absorbant et/ou réfléchissant par rapport au rayonnement détecté par les photodétecteurs 25. Les murs 35 absorbent ou réfléchissent dans le visible et/ou le proche infrarouge et/ou l'infrarouge. Les murs 35 sont, par exemple, opaques aux longueurs d'onde comprises entre 450 nm et 570 nm, utilisées pour l'imagerie (par exemple la biométrie et l'imagerie d'empreintes digitales) et/ou opaques aux longueurs d'ondes du rouge et de l'infrarouge. Dans la présente description, on appelle face supérieure de la couche 31 la face de la couche 31 située à l'interface entre la couche 31 et le substrat 28 (ou le cas échéant le réseau de microlentilles 29). On appelle, en outre, face inférieure de la couche 31 la face de la couche 31 située à l'opposée de la face supérieure. En , les ouvertures 33 sont représentées avec une section trapézoïdale dans le plan YZ. De façon générale, chaque ouverture 33 peut avoir une forme carrée, rectangulaire ou avoir la forme d'un entonnoir. Chaque ouverture 33, vue de dessus (c’est-à-dire dans le plan XZ), peut avoir une forme circulaire, ovale ou polygonale, par exemple triangulaire, carrée, rectangulaire ou trapézoïdale. Chaque ouverture 33, vue de dessus, à une forme de préférence circulaire. On définit par largeur d'une ouverture 33 la dimension caractéristique de l'ouverture 33 dans le plan XZ. Par exemple, pour une ouverture 33 ayant une section de forme carrée dans le plan XZ, la largeur correspond à la dimension d'un coté et pour une ouverture 33 ayant une section de forme circulaire dans le plan XZ, la largeur correspond au diamètre de l'ouverture 33. Dans l'exemple représenté, la largeur des ouvertures 33, au niveau de la face supérieure de la couche 31, est supérieure à la largeur des ouvertures 33, au niveau de la face inférieure de la couche 31. De plus, on appelle centre d'une ouverture 33 le point situé à l'intersection de l'axe de symétrie des ouvertures 33 et de la face inférieure de la couche 31. Par exemple, pour des ouvertures 33 circulaires, le centre de chaque ouverture 33 est situé sur l'axe de révolution de l'ouverture 33. Selon un mode de réalisation, les premières ouvertures 33 sont disposées en rangées et en colonnes. Les rangées, les colonnes, peuvent être arrangées en quinconce, c'est-à-dire que deux rangées successives, deux colonnes successives, sont désalignées. Les ouvertures 33 peuvent toutes avoir sensiblement les mêmes dimensions. On appelle "w1" le diamètre des ouvertures 33 (mesuré à la base des ouvertures, c'est-à-dire à l'interface avec le substrat 28 ou les microlentilles 29). On appelle "P1" le pas de répétition des ouvertures 33, c'est-à-dire la distance, selon l'axe X ou l'axe Z, entre des centres de deux ouvertures 33 successives d'une rangée ou d'une colonne. Chaque première ouverture 33 est, de préférence, associée à une seule microlentille 29 de la première matrice 31. Les axes optiques des microlentilles 29 sont, de préférence, alignés avec les centres des ouvertures 33 de la première matrice 31. Le diamètre des microlentilles 29 est, de préférence, supérieur à la section maximale (mesurée perpendiculairement aux axes optiques) des ouvertures 33. Le pas P1 peut être compris entre 4 μm et 50 μm, par exemple égal à environ 15 μm. La hauteur h1 peut être comprise entre 1 μm et 1 mm, de préférence, être comprise entre 1 μm et 20 μm. La largeur w1 peut, préférentiellement, être comprise entre 1 μm et 50 μm, par exemple être égale à environ 10 μm. Selon le mode de réalisation illustré en , chaque photodétecteur 25 est associé à quatre ouvertures 33 (il est par exemple associé à deux ouvertures 33 selon l'axe X et à deux ouvertures 33 selon l'axe Z). En pratique, la résolution du filtre angulaire 23 peut être plus de quatre fois supérieure à la résolution du capteur d'images 21. En d'autres termes, en pratique, il peut y avoir plus de quatre fois plus de premières ouvertures 33 que de photodétecteurs 25. La structure associant le réseau 27 de microlentilles 29 et la première matrice 31 est adaptée à filtrer le rayonnement incident en fonction de l'incidence du rayonnement par rapport aux axes optiques des microlentilles 29 du réseau 27. En d'autres termes, la structure est adaptée à filtrer les rayons incidents, arrivant sur les microlentilles, en fonction de leurs incidences. La structure associant le réseau 27 de microlentilles 29 et la première matrice 31 est adaptée à bloquer les rayons du rayonnement incident dont les incidences respectives par rapport aux axes optiques des microlentilles 29 du filtre 23 sont supérieures à une première incidence maximale. Cette structure est adaptée à ne laisser passer que des rayons dont l'incidence par rapport aux axes optiques des microlentilles 29 est inférieure à la première incidence maximale. Par exemple, la structure ne laisse passer que des rayons incidents ayant une incidence inférieure à 45°, de préférence inférieure à 30°, plus préférentiellement inférieure à 10°, encore plus préférentiellement inférieure à 4°, par exemple de l'ordre de 3,5°. Les premières ouvertures 33 sont, par exemple, remplies d'air, d'un vide partiel ou d'un matériau au moins partiellement transparent dans les domaines du visible et de l'infrarouge. Le matériau de remplissage des ouvertures 33 forme, optionnellement, une couche 37 en face inférieure de la première matrice 31 de façon à recouvrir les premiers murs 35 et planariser ladite face inférieure de la première matrice 31. Les microlentilles 29 sont, de préférence, recouvertes par une couche 39 de planarisation. La couche 39 est en un matériau au moins partiellement transparent dans les domaines du visible et de l'infrarouge, elle peut alors jouer le rôle d'un filtre de couleur. Selon le mode de réalisation illustré en , la deuxième matrice est située au dessus du réseau 27 de microlentilles 29. Plus précisément, la deuxième matrice est située sur la face supérieure de la couche 39. On appelle "h2" l'épaisseur des deuxièmes murs 45. Les deuxièmes murs 45 sont, par exemple, de même nature et de même opacité que les premiers murs 35. En , les ouvertures 43 sont représentées avec une section dans le plan YZ rectangulaire. De façon générale, chaque ouverture 33 peut avoir une forme carrée, triangulaire, trapézoïdale ou avoir la forme d'un entonnoir. Chaque ouverture 43, vue de dessus (plan XZ), peut avoir une forme circulaire, ovale ou polygonale, par exemple triangulaire, carrée, rectangulaire ou trapézoïdale. Chaque ouverture 43, vue de dessus, à une forme de préférence circulaire. Selon un mode de réalisation, les deuxièmes ouvertures 43 sont disposées en rangées et en colonnes. Les ouvertures, peuvent être arrangées en quinconce. Les ouvertures 43 peuvent toutes avoir sensiblement les mêmes dimensions (aux dispersions de fabrication près). On appelle "w2" la largeur ou le diamètre des ouvertures 43 (mesuré à la base des ouvertures, c'est-à-dire à l'interface avec la couche 39). Selon un mode de réalisation, les ouvertures 43 sont disposées régulièrement selon les rangées et selon les colonnes. On appelle "P2" le pas de répétition des ouvertures 43, c'est-à-dire la distance en vue de dessus entre des centres de deux ouvertures 43 successives d'une rangée ou d'une colonne. Selon le mode de réalisation illustré en , il y a au moins deux fois plus, de préférence au moins quatre fois plus de deuxièmes ouvertures 43 que de premières ouvertures 33. Ainsi le pas P2 est inférieur au pas P1 et la largeur w2 est inférieure à la largeur w1. Selon un mode de réalisation, il y a au moins deux fois plus, de préférence au moins quatre fois plus, de premières ouvertures 33 que de deuxièmes ouvertures 43. Ainsi le pas P1 est inférieur au pas P2 et la largeur w1 est inférieure à la largeur w2. Le pas P2 peut être compris entre 4 μm et 50 μm, par exemple égal à environ 6 μm. La hauteur h2 peut être comprise entre 1 μm et 100 mm, de préférence, être comprise entre 1 μm et 50 μm. La largeur w2 peut, préférentiellement, être comprise entre 1 μm et 45 μm, par exemple être égale à environ 4 μm. Les deuxièmes ouvertures 43 sont, par exemple, remplies d'air, d'un vide partiel ou d'un matériau au moins partiellement transparent dans les domaines du visible et de l'infrarouge, par exemple un matériau utilisé comme filtre de couleur. La deuxième matrice 41 est adaptée à filtrer le rayonnement incident en fonction de l'incidence du rayonnement par rapport à l'axe Y. La deuxième matrice 41 est adaptée à ne laisser passer que des rayons ayant une incidence inférieure à une deuxième incidence maximale, supérieure strictement à la première incidence maximale. En d'autres termes, la deuxième matrice 41 est adaptée à ne laisser passer que des rayons, arrivant sur la matrice 41, ayant une incidence inférieure à la deuxième incidence maximale. La deuxième incidence maximale est, de préférence, supérieure à 15°. La deuxième incidence maximale est, de préférence, inférieure à 60°, de préférence inférieure ou égale à 30°. En d'autres termes, la deuxième matrice 41 est adaptée à bloquer les rayons incidents dont les incidences respectives, par rapport à l'axe Y, sont supérieures à la deuxième incidence maximale. La structure comprenant le réseau 27 de microlentilles 29 et la première matrice 31 d'ouvertures 33 permet théoriquement de bloquer tous les rayons dont l'incidence est supérieure à la première incidence maximale. Toutefois, en pratique, on observe que certains rayons d'incidences supérieures à la première incidence maximale parviennent néanmoins à traverser la première matrice 31. Il s'agit de rayons d'incidences supérieures à la première incidence maximale qui atteignent une microlentille 29 et passent par l'ouverture 33 sous-jacente d'une microlentille 29 voisine. Ce phénomène est appelé diaphonie optique (optical crosstalk) ou couplage parasite et peut entraîner une baisse de résolution des photodétecteurs 25. La deuxième matrice 41 a pour but de bloquer les rayons d'incidences supérieures à la deuxième incidence maximale et qui pourraient entraîner de la diaphonie optique. En , chaque rayon arrive avec la même incidence sur la face supérieure de la matrice 41 et sur les microlentilles 29. En , lorsque l'on parle de rayons incidents, on parle alors de rayons incidents au dispositif d'acquisition d'images 19. Le rayonnement incident au dispositif 19 comprend : des rayons 47 d'incidence nulle (perpendiculaires aux faces planes des microlentilles 29) ; des rayons 49 d'incidence α supérieure strictement à 0° et inférieure ou égale à la première incidence maximale, par exemple, environ 4° ; des rayons 51 d'incidence β supérieure strictement à la première incidence maximale et inférieure ou égale à la deuxième incidence maximale, par exemple, environ 20° ; et des rayons 53 d'incidence γ supérieure strictement à la deuxième incidence maximale. Une partie des rayons incidents au dispositif 19 sont néanmoins bloqués par les murs alors qu'ils ont une incidence inférieure à la deuxième incidence maximale. Ce sont les rayons qui arrivent sur les faces supérieures des murs 45 ou sur les parois latérales des murs 45. La proportion de rayons d'incidences inférieures à la deuxième incidence maximale et néanmoins bloqués dépend de l'incidence respective des rayons. Ces rayons d'incidences inférieures à la deuxième incidence maximale et néanmoins bloqués ne sont pas représentés en . Les rayons incidents 47, 49 et 51 illustrés en sont les rayons incidents dont l'incidence est inférieure à la deuxième incidence maximale et qui ne sont ni bloqués par les faces supérieures ni par les parois latérales des murs 45. Chaque rayon 47 traverse la deuxième matrice 41 et le réseau 27 de microlentilles 29 en émergeant de la microlentille 29 qu'il traverse de façon à passer par le foyer image de ladite microlentille 29. Le foyer image de chaque microlentille 29 est situé sur ou au voisinage de la face inférieure de la première matrice 31 de premières ouvertures 33, au centre de l'ouverture 33 à laquelle la microlentille 29 est associée. La structure associant le réseau 27 de microlentilles 29 et la première matrice 31 ne bloque pas les rayons 47. Chaque rayon 47 est donc capté par le capteur d'images 21 et plus précisément par le photodétecteur 25 sous-jacent de la microlentille 29 traversée par le rayon 47. Les rayons 49 sont similaires aux rayons 47, dans leurs parcours dans l'ensemble du filtre angulaire 23. Ni la deuxième matrice 41 ni la structure associant le réseau 27 de microlentilles 29 et la première matrice 31 ne bloquent les rayons 49. Chaque rayon 49 donc est capté par le capteur d'images 21 et plus précisément par le photodétecteur 25 sous-jacent de la microlentille 29 traversée par ledit rayon. Chaque rayon 51 traverse la deuxième matrice 41 de sorte à atteindre les microlentilles 29. Les rayons 51 sont toutefois bloqués par la structure associant la réseau 27 de microlentilles 29 et la première matrice 31, contrairement aux rayons 49 ou 47. Les rayons 51 n'atteignent donc pas les photodétecteurs 25. Les rayons 53, ayant des incidences supérieures à la deuxième incidence maximale sont bloqués intégralement par la deuxième matrice 41. Les rayons 53 n'atteignent donc pas les microlentilles 29 et les photodétecteurs 25. En sortie du filtre angulaire 23, le capteur d'images 21 ne capte alors que les rayons 47 et 49, ayant des incidences inférieures à la première incidence maximale. La illustre, par une vue en coupe, partielle et schématique, un autre mode de réalisation d'un dispositif d'acquisition d'images 55. Plus particulièrement, la illustre un dispositif d'acquisition d'images 55 similaire au dispositif 19 illustré en à la différence près que la deuxième matrice 41 est située entre le réseau 27 de microlentilles 29 et la première matrice 31. En , la deuxième matrice 41 est située entre le réseau 27 de microlentilles 29 et le substrat 28 toutefois en pratique, la deuxième matrice 41 peut être située entre le substrat 28 et la première matrice 31. Selon le mode de réalisation illustré en , et à la différence du dispositif 19 illustré en , les rayons incidents atteignent d'abord les microlentilles 29 et sont déviés par celles-ci. Les rayons déviés sont ensuite filtrés, par la deuxième matrice 41 puis par la première matrice 31. A titre d'exemple, chaque rayon 47, 49, 51 et 53 réfracté par une microlentille 29 est dévié d'un angle de sorte à former un angle δ, α', β', γ' avec l'axe optique de la microlentille 29. Ceux des rayons 47, 49, 51 et 53 arrivant sur la face supérieure de la deuxième matrice 41 avec une incidence supérieure à la deuxième incidence maximale sont bloqués par la deuxième matrice 41. En outre, ceux des rayons 47, 49, 51, 53 arrivant sur le réseau de microlentilles 29 avec incidence supérieure à la première incidence maximale sont bloqués par la première matrice 31. La illustre, par une vue en coupe, partielle et schématique, un autre mode de réalisation d'un dispositif d'acquisition d'images 57. Plus particulièrement, la illustre un dispositif d'acquisition d'images 57 similaire au dispositif 55 illustré en à la différence près que la deuxième matrice 41 est située entre la première matrice 31 et le capteur d'images 21. Selon le mode de réalisation illustré en , et à la différence du dispositif 19 illustré en , les rayons incidents atteignent d'abord les microlentilles 29 et sont déviés par celles-ci. Les rayons déviés sont ensuite filtrés, par la première matrice 31 puis par la deuxième matrice 41. De façon similaire au dispositif 55, chaque rayon 47, 49, 51 et 53 réfracté par une microlentille 29 est dévié d'un angle de sorte à former un angle δ, α', β', γ' avec l'axe optique de la microlentille 29. Ceux des rayons 47, 49, 51 et 53 arrivant sur le réseau 27 de microlentilles 29 avec une incidence supérieure à la première incidence maximale sont bloqués par la première matrice 31. Ceux des rayons 47, 49, 51, 53 arrivant que la face supérieure de la deuxième matrice avec une incidence supérieure à la deuxième incidence maximale sont bloqués par la deuxième matrice 41. La représente, par un graphique, la transmittance du filtre angulaire du dispositif illustré en en fonction de l'incidence des rayons atteignant le filtre angulaire. Plus particulièrement, la illustre trois courbes 59, 61 et 63 représentant, chacune la transmittance normalisée (Transmission) des rayons dans différentes parties du filtre angulaire 23 illustré en , en fonction de l'incidence desdits rayons (Angles (°)). Le graphique illustré en comprend : une courbe 59 correspondant à la transmittance des rayons traversant la structure associant le réseau 27 de microlentilles 29 et la première matrice 31 ; une courbe 61 correspondant à la transmittance des rayons traversant la deuxième matrice 41 ; et une courbe 63 correspondant à la transmittance des rayons traversant l'ensemble du filtre angulaire 23 tel qu'illustré en . Chacune des courbes 59, 61 et 63 a été obtenue par une simulation dans laquelle : la distance focale des microlentilles 29 est comprise entre 10 µm et 70 µm ; les microlentilles 29 sont positionnées sur et en contact avec un substrat 28 d'une épaisseur comprise entre 10 µm et 60 µm ; les premières ouvertures 33 sont de forme trapézoïdale ; les ouvertures 33 ont une largeur w1 au niveau de la face supérieure de la matrice 31 comprise entre 1 µm et 45 µm, une largeur au niveau de la face inférieure de la matrice 31 comprise entre 1 µm et 40 µm, une hauteur h1 comprise entre 1 %m et 50 µm, et un pas P1 de l'ordre de 5 µm ; les ouvertures 43 sont de forme rectangulaire ; et les ouvertures 43 ont une largeur w2 comprise entre 1 µm et 45 µm, une hauteur h2 comprise entre 1 µm et 50 µm et un pas P2 compris entre 4 µm et 59 µm. En pratique, l'association du réseau de microlentilles et de la première matrice, respectivement la deuxième matrice, ne permet pas de bloquer de façon nette les rayons dont l'incidence est supérieure à la première incidence maximale, respectivement la deuxième incidence maximale. On parle alors de valeur de blocage, c'est-à-dire la première incidence maximale, respectivement la deuxième incidence maximale, comme étant la demi-largeur à la moitié de la transmittance maximale du réseau 27 et de la matrice 31, respectivement la matrice 41 ou demi-largeur à mi-hauteur de la courbe 59, respectivement la courbe 61. C'est-à-dire que les rayons dont l'incidence est égale à cette valeur sont bloqués à 50%, les rayons dont l'incidence est supérieure à cette valeur sont majoritairement non bloqués et les rayons dont l'incidence est inférieure à cette valeur sont majoritairement bloqués par l'association du réseau de microlentilles et de la première matrice 31, respectivement par la deuxième matrice 41. Avec les dimensions indiquées précédemment, la demi-largeur à mi-hauteur de la courbe 59 ou demi-largeur à la moitié de la transmittance maximale de la première matrice (HWHM : Half Width High Maximum) est égale à environ 3,5° et la demi-largeur à mi-hauteur de la courbe 61 ou demi-largeur à la moitié de la transmittance maximale de la deuxième matrice est égale à environ 20°. La première courbe 59 comprend, deux deuxièmes pics, dits pics secondaires, pour des incidences d'environ 25° et -25°. La transmittance, de rayons ayant une incidence égale à environ 25°, est environ égale à 0,05. Ces pics secondaires correspondent au passage, par le réseau de microlentilles 29 ou la première matrice 31, de rayons ayant des incidences comprises entre environ 20° et environ 40°, captés par un photodétecteur 25 voisin du photodétecteur 25 sous-jacent à la microlentille 29 ou l'ouverture 33 que le rayon traverse. La deuxième courbe 61 est caractéristique d'un filtre passe bande laissant passer les rayons dont les incidences sont entre 20° et -20°. Mathématiquement, les valeurs de la courbe 63 correspondent à une multiplication de la valeur de la courbe 59 et de la valeur de la courbe 61 pour une même incidence donnée. La troisième courbe 63 n'a, en comparaison à la courbe 59, pas de pics secondaires. La transmittance des rayons au-delà de 20° est tend alors vers 0. Un avantage qui apparaît est que la combinaison de deux matrices d'ouvertures permet de bloquer complétement les rayons incidents ayant une incidence supérieure à la deuxième incidence maximale. Le blocage complet des rayons incidents ayant une incidence supérieure à la deuxième incidence maximale permet de réduire, voire de supprimer, la diaphonie optique correspondant aux pics secondaires 63. Divers modes de réalisation et variantes ont été décrits. La personne du métier comprendra que certaines caractéristiques de ces divers modes de réalisation et variantes pourraient être combinées, et d’autres variantes apparaîtront à la personne du métier. Les modes de réalisations décrits ne se limitent pas aux exemples de dimensions et de matériaux mentionnés ci-dessus. Enfin, la mise en oeuvre pratique des modes de réalisation et variantes décrits est à la portée de la personne du métier à partir des indications fonctionnelles données ci-dessus. Filtre angulaire (23) pour dispositif d'acquisition d'images (19 ; 55 ; 57) comportant un empilement comprenant : une première matrice (31) de premières ouvertures (33) délimitées par des premiers murs (35) opaques à un rayonnement visible et/ou infrarouge ; un réseau (27) de microlentilles (29) ; et une deuxième matrice (41) de deuxièmes ouvertures (43) délimitées par des deuxièmes murs (45) opaques au rayonnement visible et/ou infrarouge. Filtre angulaire selon la revendication 1, dans lequel le nombre de deuxièmes ouvertures est, au moins, deux fois plus élevé que le nombre de premières ouvertures. Filtre angulaire selon la revendication 1, dans lequel le nombre de premières ouvertures est, au moins, deux fois plus élevé que le nombre de deuxièmes ouvertures Filtre angulaire selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel le réseau (27) de microlentilles (29) est situé entre la première matrice (31) et la deuxième matrice (41). Filtre angulaire selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel la deuxième matrice (41) est située entre le réseau (27) de microlentilles (29) et la première matrice (31). Filtre angulaire selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel la première matrice (31) est située entre le réseau de microlentilles (29) et la deuxième matrice (41). Filtre angulaire selon l'une quelconque des revendications 1 à 6, dans lequel : la structure comprenant le réseau (27) de microlentilles (29) et la première matrice (31) est adaptée à bloquer des rayons incidents ayant une incidence, par rapport aux axes optiques des microlentilles (29), supérieure à une première incidence maximale ; et la deuxième matrice (41) est adaptée à bloquer des rayons incidents ayant une incidence, par rapport aux axes optiques des microlentilles (29), supérieure à une deuxième incidence maximale, la deuxième incidence maximale étant supérieure à la première incidence maximale. Filtre angulaire selon la revendication 7, dans lequel la première incidence maximale qui correspond à la demi-largeur à la moitié de la transmittance maximale est inférieure à 10°, de préférence inférieure à 4°. Filtre angulaire la revendication 7 ou 8, dans lequel la deuxième incidence maximale qui correspond à la demi-largeur à la moitié de la transmittance maximale est supérieure à 15° et inférieure à 60°. Filtre angulaire selon l'une quelconque des revendications 7 à 9, dans lequel la deuxième incidence maximale est inférieure ou égale à 30°. Filtre angulaire selon l'une quelconque des revendications 1 à 10, dans lequel les premières ouvertures (33) sont remplies d'air, d'un vide partiel ou d'un matériau au moins partiellement transparent dans les domaines du visible et de l'infrarouge. Filtre angulaire selon l'une quelconque des revendications 1 à 11, dans lequel les deuxièmes ouvertures (43) sont remplies d'air, d'un vide partiel ou d'un matériau au moins partiellement transparent dans les domaines du visible et de l'infrarouge. Filtre angulaire selon l'une quelconque des revendications 1 à 12, dans lequel une seule microlentille (29) est à l'aplomb d'une première ouverture (33). Filtre angulaire selon l'une quelconque des revendications 1 à 12, dans lequel chaque microlentille (29) est à l'aplomb d'une seule première ouverture (33). Filtre angulaire selon l'une quelconque des revendications 1 à 14, dans lequel l'axe optique de chaque microlentille (29) est aligné avec le centre d'une première ouverture (33). Dispositif d'acquisition d'images (19 ; 55 ; 57) comportant un filtre angulaire (23) selon l'une quelconque des revendications 1 à 15 et un capteur d'images (21).