Brevet FR3118183A1 — publié le 20220624

Capteur (2) de mesure de conductivité électrique et/ou de résistivité électrique d’une couche, en particulier d’une couche mince anisotrope, comprenant : - un support isolant, - une piste conductrice centrale (11) et une piste conductrice périphérique (13), dédiées chacune à l’application ou au prélèvement d’un courant, - des sondes (21, 23 1 ,…,23 1 2 ) de mesures de tensions entourées par ladite piste conductrice périphérique (13) avec : - une sonde centrale (21) entourée par la piste conductrice centrale (11, 11’), - une pluralité de sondes radiales (23 1 ,…,23 1 2 ), les sondes radiales étant agencées entre la piste conductrice centrale (11) et la piste conductrice périphérique (13) et réparties suivant différentes positions angulaires prédéterminées et à des distances respectives prédéterminées de la sonde centrale (21). Figure pour l’abrégé : figure 1. DISPOSITIF DE MESURE DE CONDUCTIVITÉ ELECTRIQUE ET/OU RÉSISTIVITÉ ELECTRIQUE POUR COUCHE ANISOTROPE La présente demande concerne le domaine de la métrologie, de la caractérisation et des mesures de paramètres physiques. Elle porte plus précisément sur la mesure de conductivité électrique et/ou de résistivité électrique d’une couche, en particulier d’une couche anisotrope, et plus particulièrement d’une couche mince anisotrope. L’invention a trait à un capteur de mesure amélioré, un dispositif de mesure de conductivité électrique et/ou résistivité amélioré et muni d’un ou plusieurs de tels capteurs, et d’un procédé de mesure utilisant un tel dispositif de mesure. ÉTAT DE LA TECHNIQUE ANTÉRIEURE Pour mesurer une conductivité électrique dans un matériau, la méthode de mesure de Van der Pauw est bien connue. Un inconvénient de cette méthode est qu’elle requiert une géométrie particulière des échantillons dont on souhaite mesurer la conductivité. Une autre méthode dite « de Price » inspirée de la méthode de Van der Pauw, permet d’effectuer une mesure sur des échantillons d’un matériau anisotrope de forme rectangulaire. Un inconvénient de cette méthode est qu’elle permet de déterminer des conductivités uniquement selon un axe x et un axe y dans le plan d’un échantillon. Elle nécessite par ailleurs de connaitre préalablement les axes correspondant aux conductivités minimales et maximales. Pour permettre de réaliser une mesure précise permettant d’évaluer la conductivité dans le plan d’un échantillon anisotrope suivant plus de deux axes de mesure, une méthode consiste à utiliser un dispositif permettant d’effectuer une rotation des sondes de mesure de tension par rapport à un échantillon à mesurer afin de réaliser les mesures suivant plusieurs angles. Une telle méthode est décrite par exemple dans les documents de Tokarska, “Characterization of electro-conductive textile materials by its biaxial anisotropy coefficient and resistivity,” J. Mater. Sci. Mater. Electron., vol. 30, no. 4, pp. 4093–4103, 2019 et “Study of anisotropic electrical resistance of knitted fabrics,” Text. Res. J., vol. 89, no. 6, pp. 1073–1083, 2019. Une telle mesure pose un problème de répétabilité en particulier lorsque les mesures de conductivité électrique dépendent d’une contrainte mécanique appliquée sur l’échantillon étudié. Cet échantillon peut être d’ailleurs modifié par la contrainte mécanique de manière irréversible. Le document JP3033118 B2 présente quant à lui un dispositif de mesure de conductivité de type 4 pointes avec des pistes conductrices de forme en portions de cercles pour l’application d’un courant et des sondes de mesure de tension, une sonde étant positionnée au centre du capteur et une autre sonde en périphérie, les sondes étant ainsi positionnées de part et d’autre des pistes de courant. Le dispositif de mesure présenté dans ce document a, du fait de l’agencement des sondes par rapport aux pistes, pour désavantage, qu’il ne permet pas de garantir que la tension mesurée par les sondes correspond bien à la tension entre les pistes de courant, ce qui rend la mesure imprécise. Le document JP6429669 B2 propose, quant à lui, un dispositif de mesure de conductivité à l’aide d’électrodes ponctuelles radiales disposées autour d’une électrode centrale. Les sondes de mesure de tensions sont cette fois des électrodes ponctuelles radiales agencées entre l’électrode centrale permettant l’injection de courant, et une autre électrode ponctuelle radiale permettant de prélever le courant. Une mesure de tension suivant plusieurs angles de mesure peut être réalisée à l’aide d’un tel dispositif. Un tel dispositif requiert un positionnement précis de chacune des électrodes et s’avère, quant à lui, plus difficile à mettre en œuvre et à utiliser. Il se pose le problème de trouver un nouveau dispositif adapté à la mesure de conductivité et/ou de résistivité sur une couche mince, en particulier anisotrope, et qui soit amélioré vis-à-vis d’inconvénients mentionnés ci-dessus. Selon un aspect, la présente invention concerne un capteur de mesure pour la mesure de conductivité électrique et/ou de résistivité électrique d’une couche, en particulier une couche anisotrope, comprenant : - un support en matériau isolant électrique, - une piste conductrice centrale et une piste conductrice périphérique, la piste conductrice centrale et la piste conductrice périphérique traversant le support isolant et étant dédiées chacune à l’application ou au prélèvement d’un courant, les pistes conductrices centrale et périphérique, débouchant au niveau d’une face du support isolant appelée « face de contact » et destinée à être mise en contact avec une face donnée de la couche, - un ensemble de sondes de mesures de tensions traversant le support isolant, les sondes débouchant au niveau de la face de contact du support, l’ensemble de sondes de mesures de tensions étant entouré par la piste conductrice périphérique et comprenant : - une sonde centrale entourée par la piste conductrice centrale, la sonde centrale, - une pluralité de sondes radiales, traversant le support, les sondes radiales étant agencées entre la piste conductrice centrale et la piste conductrice périphérique et étant réparties suivant différentes positions angulaires prédéterminées, au moins plusieurs des sondes radiales étant disposées à des distances respectives différentes de la sonde centrale. Un tel capteur permet de réaliser des mesures simultanées sur un échantillon, sans avoir à déplacer le système de mesure par rapport à cet échantillon et sans contrainte de forme de l’échantillon ou de positionnement du capteur par rapport à l’échantillon. De par l’agencement des sondes de mesure de tension par rapport aux pistes dédiées à l’application de courant dans l’échantillon et au prélèvement d’un courant ayant traversé l’échantillon, un tel capteur permet de réaliser des mesures avec une précision améliorée. La couche anisotrope peut être en particulier une couche de matériau poreux et/ou fibreux, par exemple une couche de diffusion de gaz telle que prévue dans les piles à combustibles. La couche peut être en particulier une couche « mince », c’est à dire ayant une épaisseur inférieure à 1 mm. Avantageusement, les sondes radiales sont disposées à des longueurs respectives égales d’un point central de la piste conductrice centrale, la sonde centrale s’étendant dans le support selon un axe donné décalé par rapport au point central. Selon un mode de réalisation avantageux, la piste conductrice périphérique forme un contour conducteur circulaire fermé autour des sondes radiales et de la piste conductrice centrale. Selon une possibilité de mise en œuvre du capteur, la piste conductrice centrale a une forme de cylindre de révolution conducteur. Selon un autre aspect, la présente invention concerne un dispositif de mesure pour mesurer la conductivité électrique et/ou la résistivité électrique d’une couche, en particulier d’une couche mince anisotrope comprenant : - au moins un premier capteur tel que défini précédemment, la face de contact du premier capteur étant mise en contact avec une première face de ladite couche, - au moins un deuxième capteur tel que défini précédemment, la face de contact du deuxième capteur étant mise en contact avec une deuxième face de la couche opposée à la première face. Avantageusement, le premier capteur est disposé par rapport au deuxième capteur, de sorte que la piste conductrice centrale et la piste conductrice périphérique du premier capteur sont agencées en regard respectivement de la piste conductrice centrale et de la piste conductrice périphérique du deuxième capteur, les sondes radiales du premier capteur étant agencées en regard respectivement des sondes radiales du deuxième capteur, la sonde centrale du premier capteur s’étendant selon un axe donné, la sonde centrale du deuxième capteur s’étendant selon un autre axe distinct de l’axe donné et décalé par rapport à cet axe donné. Selon un mode avantageux, le dispositif peut comprendre en outre une structure de mise en compression du premier capteur sur la première face de la couche et/ou du deuxième capteur sur la deuxième face de la couche. Avantageusement, le dispositif de mesure peut comprendre un circuit configuré pour appliquer un courant d’entrée à au moins un capteur donné parmi les premier capteur et deuxième capteur, et prélever un courant de sortie ayant traversé la couche. Le dispositif de mesure peut être également doté d’un module de mesure de tension, le module de mesure de tension étant configuré pour : lorsqu’un courant d’entrée I_in à la piste conductrice centrale et un courant de sortie I_out est prélevé sur la piste conductrice périphérique du capteur donné : - mesurer des tensions entre la sonde centrale et respectivement les sondes conductrices radiales du capteur donné et/ou, - mesurer une tension entre la sonde centrale et la piste conductrice centrale du capteur donné, et/ou lorsqu’un courant d’entrée I_in est appliqué à la piste conductrice centrale et un courant de sortie I_out est prélevé sur la piste conductrice périphérique de l’autre capteur parmi les premier capteur et deuxième capteur : - mesurer une tension entre la piste conductrice centrale du capteur donné et la piste conductrice centrale de l’autre capteur. Avantageusement, le dispositif de mesure peut être également pourvu d’une unité de traitement configurée pour traiter des données de mesure(s) de tension(s) issue(s) du module de mesure de tension et en particulier effectuer des calculs tels que des calculs de régression linéaire, d’estimation de rapport d’anisotropie, de conductivité moyenne dans le plan, d’estimation de conductivité dans l’épaisseur de la couche. Selon une possibilité de mise en œuvre, le dispositif de mesure peut être configuré pour : - appliquer simultanément un courant d’entrée I_in à la piste conductrice centrale du premier capteur et à la piste conductrice centrale du deuxième capteur, tandis qu’un courant de sortie I_out est prélevé sur la piste conductrice périphérique du premier capteur et sur la piste conductrice périphérique du deuxième capteur, - mesurer, lors de cette application de courant : simultanément un premier ensemble de tensions entre la sonde centrale du premier capteur et respectivement au moins plusieurs des sondes radiales du premier capteur, et un deuxième ensemble de tensions entre la sonde centrale du deuxième capteur et respectivement au moins plusieurs des sondes périphériques du deuxième capteur. Selon une possibilité de mise en œuvre, lorsque le dispositif est muni d’une unité de traitement, cette dernière peut être configurée pour : à partir du premier ensemble de tensions et/ou du deuxième ensemble de tensions, évaluer une conductivité dans le plan de la couche, cette évaluation étant effectuée à l’aide d’au moins une régression elliptique du premier ensemble de tensions et/ou au moins une régression elliptique du deuxième ensemble de tensions. Dans ce cas, avantageusement, l’unité de traitement peut être configurée pour, à partir de la régression elliptique : - obtenir des valeurs de tension maximale dVmax dans le plan et de tension minimale dVmin dans le plan, - en déduire au moins une valeur de tension moyenne dVmoy, - déduire de cette valeur de tension moyenne dVmoy une conductivité moyenne dans le plan de la couche. Selon un mode de réalisation particulier, l’unité de traitement peut être est configurée pour, à partir des valeurs de tension maximale dans le plan dVmax et de tension minimale dans le plan dVmin: déduire un rapport d’anisotropie. Selon une possibilité de mise en œuvre, le dispositif de mesure peut être également configuré pour : - appliquer concomitamment un courant entrant par la piste conductrice centrale du premier capteur et par la piste conductrice centrale du deuxième capteur, tandis qu’un courant de sortie est prélevé respectivement sur la piste conductrice périphérique du premier capteur et sur la piste conductrice périphérique du deuxième capteur, - mesurer, lors de cette application de courant : une première tension entre la piste conductrice centrale et la sonde centrale du premier capteur et une deuxième tension entre la piste conductrice centrale et la sonde centrale du deuxième capteur, - déterminer à partir de la première tension et de la deuxième tension une première valeur de résistance de contact Rc1 et une deuxième valeur de résistance de contact Rc2. Selon une possibilité de mise en œuvre, le dispositif de mesure peut être également configuré pour : - appliquer un courant entrant par la piste conductrice centrale du premier capteur tandis qu’un courant de sortie est prélevé sur la piste conductrice centrale du deuxième capteur, - mesurer lors de cette application de courant : une tension donnée dVep entre la piste conductrice centrale du premier capteur et la piste conductrice centrale du deuxième capteur. Dans ce cas, avantageusement, l’unité de traitement est configurée pour, à partir de la tension donnée dVep et de valeurs de résistance de contact du premier capteur sur la couche et de résistance de contact du deuxième capteur sur la couche, déterminer une composante de conductivité σ z dans l’épaisseur de la couche. La présente invention sera mieux comprise sur la base de la description qui va suivre et des dessins en annexe sur lesquels : sert à illustrer un exemple de réalisation d’un capteur de mesure, tel que mis en œuvre suivant un mode de réalisation de la présente invention, pour déterminer des propriétés physiques d’une couche, et en particulier sa résistivité électrique et/ou sa conductivité électrique ; sert à illustrer le capteur de mesure en position de mesure et disposé en contact d’une couche mince anisotrope ; sert à illustrer un dispositif de mesure cette fois avec deux capteurs de mesure de part et d’autre de la couche mince anisotrope ; servent à illustrer différents types de mesure susceptibles d’être effectuées à l’aide d’un dispositif de mesure suivant l’invention ; sert à illustrer un schéma électrique équivalent d’un capteur de mesure et de la couche anisotrope sur laquelle ce capteur est disposé pour effectuer une mesure de conductivité et/ou résistivité ; sert à illustrer une méthode de régression elliptique susceptible d’être utilisée pour traiter des données de mesures de tension obtenues à l’aide d’un dispositif de mesure tel que mis en œuvre suivant l’invention ; sert à illustrer une régression elliptique effectuée à partir de mesures de tension entre une sonde centrale et différentes sondes radiales d’un capteur de mesure tel que mis en œuvre suivant l’invention ; sert à illustrer un ensemble de mesures simultanées de tension obtenues à l’aide de sondes radiales d’un capteur tel que mis en œuvre suivant l’invention ; sert à illustrer une méthode d’évaluation d’un rapport d’anisotropie à l’aide de valeurs de mesures de tension moyenne produites à l’aide d’un capteur tel que mis en œuvre suivant l’invention ; sert à illustrer une méthode d’évaluation d’une conductivité moyenne dans le plan, obtenue à l’aide d’une régression elliptique mise en œuvre sur des valeurs de mesure issues d’un capteur ; servent à illustrer différentes configurations d’un dispositif de mesure tel que mis en œuvre suivant un mode de réalisation de l’invention, pour permettre notamment de déterminer une conductivité moyenne dans le plan, des résistances de contact, une conductivité selon l’épaisseur, d’une couche mince anisotrope ; sert à illustrer un dimensionnement et un agencement particulier de pistes conductrices d’un capteur de mesure tel que mis en œuvre suivant un mode de réalisation de la présente invention ; sert à illustrer un dimensionnement et un agencement particulier d’une piste conductrice centrale d’injection de courant et d’une sonde centrale de mesure de tension dans un capteur de mesure tel que mis en œuvre suivant un mode de réalisation de la présente invention ; servent à illustrer une méthode de détermination de positionnement optimal des sondes radiales d’un capteur suivant l’invention ; servent à illustrer une distribution caractéristique d’un capteur suivant l’invention liant son rapport d’anisotropie à un rapport de mesure de tension minimale sur mesure de tension maximale ; sert à illustrer un mode de réalisation particulier d’un dispositif intégrant des capteurs de mesure de résistivité et/ou conductivité suivant l’invention et des moyens pour mettre en pression les capteurs sur un échantillon à mesurer ; Des parties identiques, similaires ou équivalentes des différentes figures portent les mêmes références numériques de façon à faciliter le passage d’une figure à l’autre. Les différentes parties représentées sur les figures ne le sont pas nécessairement selon une échelle uniforme, pour rendre les figures plus lisibles. EXPOSÉ DÉTAILLÉ DE MODES DE RÉALISATION PARTICULIERS Un exemple de capteur 2 de mesure tel que mis en œuvre suivant un mode de réalisation de la présente intention est illustré sur la (donnant une vue de dessus du capteur). Ce capteur 2 est dédié à la mesure de propriétés physiques d’une couche mince anisotrope, et en particulier de sa résistivité et/ou sa conductivité, et ce, avantageusement, pour différents axes de mesure. Un tel capteur 2 peut être ainsi utilisé afin d’évaluer des composantes : , d’un tenseur de conductivité : du matériau d’une couche anisotrope, x, y, z correspondant à des axes d’un repère orthogonal [O ;x ;y ; z] donné sur la , la couche (non représentée) s’étendant dans le plan de la figure et parallèlement au plan [O ;x ;y]. La couche sur laquelle la mesure est effectuée peut être prévue avec une épaisseur comprise entre 1 µm et plusieurs millimètres. Le capteur s’adapte particulièrement à des mesures sur des couches « minces », ayant une épaisseur inférieure à 1mm. La couche considérée a ici une épaisseur typiquement inférieure à 500 µm, par exemple entre 10 µm et 250 µm, en particulier entre 100 µm et 250 µm. La couche sur laquelle la mesure est réalisée peut présenter une anisotropie de composition. Cette anisotropie peut se traduire par exemple sous forme d’une structure poreuse ou fibreuse. La couche mince étudiée peut être en particulier une couche poreuse déformable et formée de fibres comme par exemple une couche de diffusion de gaz (GDL pour « Gaz Diffusion Layer ») utilisée dans une pile à combustible. La méthode s’applique également à des couches anisotropes en un matériau dense. Pour effectuer une mesure avec un tel capteur 2, on fait passer un courant entre des pistes conductrices, ce courant étant destiné entre temps à traverser la couche anisotrope, et on mesure, à l’aide de sondes de mesure de tension concomitamment à cette injection de courant, une ou plusieurs différences de potentiels en des points précis de la couche, ces différences de potentiels étant induites par le passage du courant de mesure. Le capteur 2 de mesure est ici doté d’un support 4 en matériau isolant électrique, par exemple en polymère(s) époxyde communément appelé « époxy », ou à base d’un matériau isolant tel que ceux couramment utilisés pour former des circuits imprimés (ou PCB de l'anglais « printed circuit board »). Le capteur 2 se présente typiquement sous forme d’une plaque, ayant dans cet exemple de réalisation particulier, une allure de disque, doté(e) d’éléments conducteurs traversant son épaisseur définie entre une face supérieure 5A et une face inférieure (non visible sur la ) opposée à la face supérieure 5A, les faces supérieure et inférieure étant de préférences planes. Parmi les éléments conducteurs, figure une piste conductrice centrale 11, et une piste conductrice périphérique 13 entourant la piste centrale et en particulier réalisant un contour fermé autour de la piste conductrice centrale 11. Les pistes conductrices 11, 13 sont typiquement en un matériau métallique par exemple tel que du nickel, du cuivre, ou de l’or. Les pistes conductrices 11, 13 servent typiquement respectivement à l’application et au prélèvement d’un courant de mesure. Le courant de mesure est dans ce cas injecté par une extrémité 11A de la piste centrale 11 débouchant au niveau d’une des faces du support, tandis qu’une extrémité 13A de la piste conductrice périphérique 13 permet de prélever un courant de sortie au niveau de cette même face ayant traversé la couche. Dans cet exemple de réalisation où l’injection de courant et la mesure de tension sont réalisées du côté de la face supérieure 5A du capteur 2, la face inférieure (non représentée sur cette figure) de ce capteur correspond à la face dite « de contact » contre laquelle la couche est amenée à être placée. La piste conductrice centrale 11 a, dans cet exemple de réalisation, une forme de cylindre de résolution en matériau conducteur traversant le support isolant. La piste conductrice périphérique 13 a, quant à elle, dans cet exemple de réalisation particulier, une forme de tube ou d’anneau cylindrique en matériau conducteur, qui traverse le support isolant. La piste conductrice périphérique 13 réalise ainsi un contour fermé circulaire autour de la piste conductrice centrale 11. Parmi les éléments conducteurs traversant le support isolant 4, des sondes de mesures 21, 23 1 ,…, 23 1 2 de tension, par exemple sous forme de tiges traversant le support isolant 4, sont également prévues. Les sondes de mesures 21, 23 1 ,…, 23 1 2 peuvent être également en métal par exemple tel que du nickel, du cuivre, ou de l’or. Parmi ces sondes, une sonde centrale 21 qui s’étend entre la face inférieure du support et sa face supérieure 5A, est agencée de sorte à être entourée par ladite piste conductrice centrale 11. Dans l’épaisseur du support 4, la sonde centrale 21 est intégrée dans le volume de la piste conductrice centrale 11 et isolée de cette piste conductrice centrale 11 par le biais d’une gaine isolante. Une telle gaine isolante peut être formée d’une portion du matériau du support 4 isolant ou bien d’une couche isolante distincte. Des sondes radiales 23 1 ,…, 23 1 2 , sont également agencées autour de la sonde centrale 21 et de ladite piste conductrice centrale 11. Les sondes radiales 23 1 ,…, 23 1 2 sont réparties suivant différentes positions angulaires prédéterminées par rapport à une position angulaire de référence, ici marquée par un axe de référence AA’ allant d’un point central A de la piste conductrice centrale 11 à une première sonde radiale 23 1 et qui est parallèle au plan [O ; x ; y ], autrement dit aux faces inférieure et supérieure 5A du support isolant. Les sondes radiales 23 1 ,…, 23 1 2 peuvent être réparties à égales distances du point central A de la piste conductrice centrale 11 et à différents angles par rapport à l’axe de référence AA’. Dans cet exemple de réalisation particulier, les sondes radiales 23 1 ,…, 23 1 2 sont au nombre de 12, afin de pouvoir établir simultanément 12 mesures de potentiels V0°, V30°, V60°, V90°, V120°, V150°, V180°, V210°, V240°, V270°, V300°, V330° et donc 12 mesures de tension Vc-V0°, Vc-V30°, Vc-V60°, Vc-V90°, Vc-V120°, Vc-V150°, Vc-V180°, Vc-V210°, Vc-V240°, Vc-V270°, Vc-V300°, Vc-V330° simultanées sur 12 positions angulaires : 0°, 30°, 60°, 90°, 120°, 150°, 180°, 210°, 240°, 270°, 300°, 330° distinctes. Ainsi, un tel capteur permet de réaliser un nombre important de mesures simultanées sur un échantillon, ce sans avoir nécessairement à déplacer le capteur et en particulier le faire tourner sur lui-même. La disposition des sondes entre les pistes pour la circulation de courant permet d’obtenir une mesure précise. La sonde centrale 21 est ici décalée par rapport à un axe dit « central » ∆ 11 de la piste conductrice 11 centrale qui est parallèle à l’axe z, et passe par le point central A de la piste conductrice centrale 11. L’axe central ∆ 11 correspond ici à l’axe de révolution de la piste conductrice 11. Les sondes radiales 23 1 ,…, 23 1 2 sont ainsi prévues à différentes longueurs prédéterminées de la sonde centrale 21. Un tel capteur peut permettre de réaliser simultanément une pluralité de mesures de tension sans contrainte particulière de forme de la couche sur laquelle il est disposé. Un exemple d’application particulier prévoit l’utilisation d’un tel capteur pour la mesure de conductivité et /ou résistivité d’une couche de diffusion de gaz (« Gas Diffusion Layer » ou « GDL ») utilisée dans un empilement d’une pile à combustible ou une cellule de pile à combustible. Un telle couche GDL est typiquement poreuse et peut être par exemple à base de tissu de carbone, de feutre de carbone tissé ou encore de mousse de carbone. Sur la , le capteur 2 (montré selon une vue en coupe transversale) est en position de mesure sur une couche 100 qui peut être une couche mince anisotrope, en particulier une couche de type GDL fibreuse par exemple à base de fibres de carbone, en particulier fabriquées à partir de PAN (polyacrylonitrile) et d’épaisseur qui peut par exemple être de l’ordre de 0.2 mm. Un tel agencement permet de réaliser des mesures de conductivité et/ou de résistivité dites « dans le plan » de la couche 100, c’est-à-dire une mesure dans un plan parallèle ou sensiblement parallèle à un plan principal de la couche autrement dit un plan passant par la couche 100 et qui est sensiblement parallèle au plan [O ;x ;y] du repère [O ;x ;y ; z]. La mesure est réalisée de préférence sous contrainte mécanique. Afin de bien plaquer la face de contact 5B du capteur 2 sur la couche anisotrope 100, une pression P est typiquement appliquée sur le capteur 2. Pour appliquer une telle contrainte mécanique, on peut par exemple utiliser une presse 200. La pression exercée sur la couche anisotrope 100 peut être par exemple de plusieurs MPa, par exemple de l’ordre de 4 MPa ce qui, dans le cas d’une couche anisotrope 100 de type GDL, peut correspondre à des conditions de mise en contrainte d’une telle couche lorsqu’elle est intégrée à une pile à combustible en fonctionnement. Dans l’exemple de montage de la , le capteur 2 est positionné sur une face supérieure 100A de la couche anisotrope 100. Une mesure pour laquelle on dispose le capteur 2 en contact avec une face inférieure 100B de la couche anisotrope 100 peut être également réalisée. Dans un autre exemple de réalisation illustré sur la , on met en œuvre cette fois un dispositif de mesure muni d’un capteur 2’ supplémentaire semblable, de préférence identique au capteur 2 décrit précédemment, et que l’on dispose sur la face inférieure 100B de la couche anisotrope 100, en regard du premier capteur 2. Le capteur 2’ supplémentaire agencé sur la face inférieure 100B est également pourvu d’une piste conductrice centrale 11’, d’une piste conductrice périphérique 13’, d’une sonde centrale 21’, et de sondes radiales 23’1,…, 23’12, qui peut être égal au nombre de sondes radiales (ici égal à 12) du capteur 2 en regard duquel il se situe. L’agencement et la forme des éléments conducteurs 11’, 13’, 21’, 23’1,…, 23’12, traversant le support isolant du capteur 2’ est de préférence identique à celui du capteur 2. Par rapport à celui précédemment décrit en lien avec la figure 2, un tel agencement permet de réaliser un nombre de mesures dans le plan plus important. Il permet en outre de réaliser des mesures de conductivité dans l’épaisseur de la couche anisotrope, et notamment de déterminer la composante d’un tenseur de conductivité. Là encore, la mesure est de préférence réalisée sous contrainte mécanique par exemple à l’aide d’une presse (non représentée) permettant de plaquer les capteurs 2, 2’ contre respectivement la face supérieure 100A et la face inférieure 100B de la couche anisotrope 100. Le positionnement du capteur 2’ disposé sur la face inférieure 100B est prévu de préférence de telle sorte que sa piste conductrice centrale 11’, et sa piste conductrice périphérique 13’ sont agencées en regard respectivement de la piste conductrice centrale 11 et de la piste conductrice périphérique 13 du capteur 2 qui est disposé sur la face supérieure 100A de la couche anisotrope 100. Les capteurs 2, 2’ sont également agencés de telle sorte que les sondes radiales 23’ 1 ,…, 23’ 11 du capteur 2’ sont en regard respectivement de sondes radiales 23 7 ,…, 23 1 2 , 23 1,… 23 6 du capteur 2. Avantageusement, la disposition des sondes centrales 21, 21’ respectives de capteurs 2, 2’, est telle que ces sondes centrales 21, 21’ ne sont pas situées en regard l’une de l’autre et sont décalées par rapport à l’axe central ∆ 11 , qui est parallèle à l’axe z, et qui passe au centre des pistes conductrices centrales 11, 11’. La sonde centrale 21 du capteur 2 s’étend ainsi selon un axe donné ∆ 21 , tandis que la sonde centrale 21’ du capteur 2’ s’étend selon un autre axe ∆’ 21 distinct et décalé par rapport à cet axe ∆ 21 . Un tel décalage permet d’améliorer la précision de mesure Pour permettre un désalignement des sondes 21, 21’ centrales l’une par rapport à l’autre avec des capteurs 2, 2’ identiques, on peut prévoir un déphasage de 180° entre leurs axes AA’ de référence respectifs allant de la piste conductrice centrale 11 (respectivement 11’) vers la première sonde radiale 23 1 (respectivement 23’ 1 ) dédiée à la mesure du potentiel V0°. Différentes phases de mesures susceptibles d’être mises en œuvre à l’aide d’un tel dispositif vont à présent être décrites en liaison avec les figures 4A-4C. On effectue tout d’abord ( ) une mesure dans le plan de la couche mince 100, en appliquant un courant I_in par la piste conductrice centrale 11 et sortant par la piste conductrice périphérique 13 tout en mesurant simultanément des différences dV1,…, dV12 de potentiels entre la sonde centrale 21 et respectivement chacune des sondes radiales 231,…,2312. De telles mesures sont utilisées pour estimer la conductivité dans le plan de la couche mince pour différentes directions parallèles ou sensiblement parallèles au plan principal de la couche mince, et ayant des orientations différentes. Ces mesures sont de préférence réalisées sur les deux faces supérieure 100A et inférieure 100B de la couche mince 100. L’application du courant I_in se faisant dans ce cas sur les deux faces 100A, 100B de la couche mince simultanément. On applique ainsi, de préférence en même temps que pour le capteur 2, le courant I_in à la piste conductrice centrale 11’ du capteur 2’ et sortant par la piste conductrice périphérique 13’ tout en mesurant, lors de cette application de courant, des différences dV’1,…, dV’12 de potentiels entre la sonde centrale 21’ et respectivement chacune des sondes radiales 23’ 1 ,…23’ 12 de l’autre capteur 2’. Lorsque les capteurs 2, 2’ ont chacun 12 sondes radiales, on peut obtenir 2 séries de 12 mesures simultanées et donc 24 mesures de tension. Sur cette , comme sur les figures suivantes, des lignes de courant traversant la couche anisotrope et faisant suite à une injection de courant I_in dans le ou les capteurs 2, 2’ sont représentées de manière schématique par des traits discontinus. Le courant I_in injecté est typiquement un courant continu ou alternatif et en particulier sinusoïdal et peut être compris par exemple entre 0.02 A et 0.5 A, en particulier entre 0.2A et 0.5A. Cette valeur est notamment adaptée en fonction du matériau, de son épaisseur, de l’ordre de grandeur de sa conductivité intrinsèque. Un courant de 0.02 A est par exemple utilisé dans le cas d’une couche de type GDL d’épaisseur par exemple de l’ordre de 200 µm lorsqu’elle n’est pas comprimée, la mesure pouvant être effectuée sous contrainte variable (0 à 3MPa) de sorte à atteindre une couche GDL d’épaisseur par exemple de l’ordre de 150 µm sous 3 MPa. Les tensions mesurées entre la sonde centrale 21 et les sondes radiales 23 respectives des capteurs, peuvent être par exemple comprises entre 1 mV et 100 mV. De même, cette valeur est adaptée en fonction du matériau, de son épaisseur, de l’ordre de grandeur de sa conductivité intrinsèque. Une estimation des résistances de contact entre chaque capteur 2, 2’ et l’échantillon mesuré peut être également établie. Une telle estimation peut être réalisée au moyen d’une mesure telle qu’illustrée sur la , où l’on applique un courant I_in par la piste conductrice centrale 11 et l’on prélève un courant I_out sortant par la piste conductrice périphérique 13 tout en mesurant une tension dV_rc1 entre la sonde centrale 21 et la piste centrale 11 d’injection de courant. Les résistances de contact mesurées prennent en compte la résistance aux interfaces capteur 2/couche 100 anisotrope ainsi que des résistances de connexion des différents câbles de mesure et de courant. Là encore l’application du courant I_in se fait de préférence simultanément sur chacune des deux faces 100A, 100B de la couche mince 100, et on applique ainsi de préférence en même temps que pour le capteur 2, le courant I_in sur la piste conductrice centrale 11’ du capteur 2’. Pour déterminer la résistance de contact du capteur 2’ on effectue alors, dans ce cas, une mesure de tension dV_rc2 entre sonde centrale 21’ et piste centrale 11’ d’injection de courant concomitamment à celle correspondante dV_rc1 effectuée entre les éléments 21, 11 pour le capteur 2. L’estimation des résistances de contact peut être faite en prenant une hypothèse selon laquelle les résistances de contact sont les mêmes lors d’une mesure dans le plan que lors d’une mesure dans l’épaisseur de la couche 100. Pour réaliser cette estimation, on peut également prendre comme hypothèse que le potentiel présent dans la sonde centrale 21 correspond au potentiel présent à la surface de la couche 100 sous la piste 11 d’injection et qu’aucun courant ne passe par la sonde centrale 21, 21’. Un schéma électrique équivalent du capteur 2 et de la couche anisotrope 100, sur lequel les résistances de contact Rc1, Rc2 des pistes et la résistance R_couche_100 de la couche anisotrope sont représentées est donné sur la . Une autre phase de mesure, cette fois de type « 2 pointes » est également illustrée sur la et permet de déterminer une résistivité ou conductivité dans l’épaisseur de la couche mince 100. On applique pour cela un courant I_in sur l’une des pistes conductrices centrales 11, 11’, par exemple sur la piste conductrice centrale 11 du capteur 2 agencé sur la face supérieure 100A de la couche mince anisotrope 100, et on prélève un courant I_out sur l’autre des pistes conductrices centrales 11, 11’, par exemple sur la piste conductrice centrale 11’ du capteur 2’ agencé sur la face inférieure 100B de la couche mince anisotrope 100. Une telle mesure permet d’évaluer la conductivité dans l’épaisseur de la couche mince 100 en mesurant la différence de potentiel dVep entre les deux pistes centrales 11, 11’ et en connaissant les valeurs de résistances de contact, évaluées par exemple en effectuant une mesure telle que décrite précédemment en lien avec la . Il est bien entendu possible en variante ou en combinaison d’effectuer une mesure en épaisseur d’appliquer un courant I_in sur la piste conductrice centrale 11’ du capteur 2’ et de prélever un courant I_out sur la piste conductrice centrale 11 du capteur 2. La ou les étapes de mesure décrites précédemment peuvent être réalisées indépendamment les unes des autres et si, par exemple, on ne souhaite qu’une connaissance partielle du tenseur de conductivité ou que l’on a une connaissance préalable des résistances de contact on peut éventuellement ne vouloir effectuer qu’une ou plusieurs de l’ensemble d’étapes décrites précédemment. Une mesure dite « dans le plan » telle que décrite précédemment en lien avec la permet d’obtenir des valeurs de tension entre la sonde centrale et les sondes radiales d’au moins un des capteurs 2, 2’, voire des deux capteurs 2, 2’. Dans le cas où, comme dans les exemples décrits précédemment, le capteur 2 dispose de 12 sondes radiales on peut obtenir 12 mesures de tensions voire 24 si l’on effectue les mesures à l’aide des deux capteurs 2, 2’. De telles mesures dans le plan peuvent permettre de déterminer au moins une valeur de conductivité moyenne dans le plan de la couche 100 notée . Un rapport d’anisotropie dans le plan peut être également déterminé. Un tel rapport d’anisotropie peut être défini par le biais de l’expression suivante : [Math 1] avec une valeur de conductivité maximale dans le plan, une valeur de conductivité minimale dans le plan, tandis que la conductivité moyenne peut être évaluée par exemple à l’aide de l’expression suivante : [Math 2] Selon un mode de traitement particulier des mesures effectuées dans le plan de la couche 100, on utilise les valeurs de tension dV 1 , …, dV 12 et/ou dV’ 1 , …, dV’ 12 mesurées pour réaliser une approximation par régression elliptique et obtenir une distribution donnant l’évolution de la tension à un rayon constant par rapport au centre. Une telle régression elliptique peut permettre d’obtenir une équation polaire d’ellipse de la forme : [Math 3] avec le rayon d’une ellipse telle que celle Ce_theo représentée sur la pour un angle a étant le rayon du grand axe de l’ellipse, b étant le rayon du petit axe de l’ellipse, et est l’angle entre le grand axe de l’ellipse et l’axe x du repère orthogonal. Une équation d’ellipse représentative de l’évolution de la tension à rayon de mesure constant à la surface de l’échantillon peut alors s’écrire : [Math 4] avec le déphasage de l’ellipse par rapport au repère utilisé correspondant à l’angle entre la valeur maximale dVmax mesurée et un axe vertical, dans l’exemple illustré sur la , égal à 0. Sur cette , un exemple d’ellipse Ce_mes représentative d’une distribution obtenue par régression elliptique à partir de points p1,…,p12 de mesures de tensions obtenus entre la sonde centrale 21 et les différentes sondes périphériques 231,…,2312 du capteur 2 est donné. La figure 8 donne quant à elle un exemple de courbe de mesures de tension en fonction de l’angle de mesure obtenues à l’aide des mêmes points de mesures p 1 ,…,p 12 . Des tensions dVmax et dVmin correspondant respectivement au rayon du grand axe de l’ellipse, et au rayon du petit axe de l’ellipse, peuvent être déterminées et utilisées pour permettre d’évaluer ensuite une tension moyenne . Cette tension moyenne peut être évaluée en utilisant l’expression suivante : [Math 5] Une évaluation de la conductivité moyenne dans le plan de la couche mince 100 peut être alors réalisée en utilisant la relation suivante : [Math 6] I étant le courant injecté, h l’épaisseur de la couche 100 mesurée parallèlement à l’axe z, , et correspondant respectivement à la distance entre le centre de la piste conductrice centrale 11 et une sonde périphérique, et le rayon de la piste d’injection de courant. Le rapport d’anisotropie peut être également évalué à l’aide du rapport dVmin/dVmax, lui-même dépendant du rapport . On peut également se servir de données caractéristiques, en particulier d’une distribution caractéristique du capteur 2 telle que celle illustrée sur la figure 15 pour établir le rapport . La figure 9 donne quant à elle une courbe représentative C90 de la tension moyenne mesurée en fonction du rapport d’anisotropie obtenue par interpolation de différentes valeurs mesurées. Le rapport d’anisotropie peut lui-même permettre de déterminer des conductivités maximales et minimales dans le plan en utilisant les relations : [Math 7] Ainsi, comme pour la mesure de tension, la conductivité dans le plan en un point de la couche mince 100 peut être établie à l’aide de l’expression donnée ci-dessous. [Math 8] La conductivité dans le plan peut être également représentée sous forme d’un diagramme polaire tel que celui donné sur la . Un tel diagramme représente la conductivité dans le plan en fonction de l’angle de mesure obtenu dans des conditions de mesure semblables à celles du diagramme de tension illustré sur la . Le diagramme de conductivité est déphasé de 90° par rapport au diagramme de tension illustré sur la figure 7, dans la mesure où la tension maximale correspond à une valeur obtenue pour une conductivité minimale , tandis que la tension minimale correspond à une valeur obtenue pour une conductivité maximale . Une évaluation des résistances de contact entre chaque capteur 2, 2’ et la couche anisotrope 100 permet d’obtenir une valeur précise de conductivité dans l’épaisseur de la couche anisotrope. Cette évaluation peut être réalisée, comme cela a été décrit précédemment, à l’aide de mesures de différence de potentiel dV_rc1 et dV_rc2 respectivement entre la sonde 21 centrale et la piste conductrice centrale 11, ou entre la sonde 21’ centrale et la piste conductrice centrale 11’. En effet, les sondes centrales sont au potentiel de la surface de la couche mince 100. Ainsi, les résistances de contact Rc1, Rc2 peuvent être évaluées par le biais des relations respectives : [Math 9] Le courant étant appliqué sur les deux pistes conductrices centrales 11, 11’ comme sur la , une moitié du courant passe par la piste conductrice 11, l’autre moitié par la piste conductrice 11’. Seulement la moitié du courant passe par la résistance de contact Rc1 pour le capteur supérieur 2, l’autre moitié passe par la résistance de contact Rc2 pour le capteur inférieur 2’. Ainsi, on peut considérer que la moitié du courant total appliqué pour l’évaluation de chacune des résistances de contact . Lors de la mesure dans le plan, le courant passe entre les deux pistes centrales. La tension est alors mesurée entre ces deux pistes. La connaissance des résistances de contact par la mesure précédente peut permettre d’évaluer une conductivité dans l’épaisseur de la couche anisotrope 100 en utilisant la relation : [Math 10] Avec , le rayon du cylindre formé par la piste conductrice centrale 11 (ou 11’), h l’épaisseur de la couche 100 mesurée parallèlement à l’axe z, la conductivité dans l’épaisseur de la couche anisotrope. [Math 11] Pour permettre d’appliquer un courant d’entrée et prélever un courant de sortie lors d’une mesure, le ou les capteur 2, 2’ sont typiquement associés à un circuit 120 configuré pour appliquer un courant, en particulier un courant I_in qui peut être continu ou alternatif, à la piste conductrice centrale 11 (resp. 11’) d’au moins un capteur donné parmi les capteurs 2 (resp. 2’). Un tel circuit 120 est doté de préférence d’une conductance élevée. Sur les figures 11A, 11B, un tel circuit 120 est également connecté à la piste conductrice périphérique correspondante 13 (resp. 13’) du capteur donné pour prélever un courant I_out ayant traversé la couche anisotrope parallèlement au plan principal de cette dernière. Sur la ce circuit 120 est connecté à la piste conductrice centrale opposée 13’ (resp. 13) du capteur opposé 2’ (resp. 2) pour prélever un courant I_out ayant traversé la couche anisotrope 100 dans le sens de l’épaisseur de cette dernière. Le dispositif de mesure muni de capteurs 2, 2’ tels que décrits précédemment peut être également doté d’un module de mesure de tension 120 qui, comme sur la , est apte à mesurer des tensions entre la sonde centrale 21 (resp. 21’) et les sondes périphériques 23 (resp. 23’) et/ou comme sur la entre la sonde centrale 21 (resp. 21’) et la piste conductrice centrale 11 (resp. 11’) et/ou comme sur la entre les sondes centrales 21, 21’ des deux capteurs 2, 2’. Par ailleurs, des étapes de traitement de mesures telles que décrites précédemment, notamment de régression(s) elliptique(s) et/ou de calculs suivant l’une ou l’autre des expressions données ci-dessus, peuvent être réalisées au moyen d’une unité de traitement 130 intégrée au dispositif de mesure. Une telle unité de traitement 130 peut faire partie par exemple d’un circuit électronique de type ASIC (pour « A pplication-specific integrated circuit » , littéralement « circuit intégré propre à une application »), ou bien d’un processeur par exemple, un microprocesseur, ou bien d’un processeur d'unité centrale d’ordinateur, typiquement associé à au moins une mémoire. Des algorithmes de traitement peuvent être stockées dans cette mémoire, et permettent d’effectuer des traitements de données et des calculs tels que décrits plus haut sur des valeurs de mesures de tensions provenant d’un des capteurs 2, 2’ ou des deux capteurs 2 et 2’. Un programme, permettant la mise en œuvre d’un procédé de traitement des mesures est ainsi susceptible d'être lu par l’unité de traitement 130. Cette unité de traitement 130 peut éventuellement être reliée à d'autres dispositifs périphériques, tel que par exemple, un dispositif d’affichage de type écran. Il est ainsi possible d’afficher sur l'écran des courbes représentatives de traitement du type de ceux décrits précédemment, par exemples des courbes de mesure obtenues par régression elliptiques ou au moyen de calculs tels que décrits précédemment. Un capteur de mesure 2 tel que décrit précédemment peut être optimisé en réalisant un dimensionnement adéquat de ses pistes conductrices 11, 13 (représentées (de manière isolée sans les sondes sur la ) correspondant respectivement à une zone d’application de courant et à une zone d’application d’un potentiel de référence ou de la masse, et en prévoyant un positionnement adéquat de ces pistes conductrices 11, 13. Ainsi, on prévoit de dimensionner le rayon de la piste conductrice centrale 11 r_centre mesuré à partir d’un point central A, et la distance notée r_int entre ce point central A et une surface interne de la piste conductrice périphérique 13 de manière à obtenir une différence de potentiel suffisante, par exemple d’au moins 1 mV. Une distance notée r_ext entre ce point central A et une surface externe de la piste conductrice périphérique 13 peut être quant à elle choisie en fonction d’une taille maximale que l’on souhaite conférer capteur 2. L’épaisseur e 13 = r_ext – r_int de cette piste conductrice 13 est de préférence prévue suffisante pour permettre de garantir un contact homogène sur toute la surface de contact. On évite ainsi qu’une piste conductrice 13 trop mince ne soit en contact avec la couche mince 100 anisotrope en particulier lorsqu’elle se présente sous forme d’une couche fibreuse, ce qui pourrait créer des zones où le contact n’est pas homogène et donc induire des variations importantes dans les lignes de courant et dans les tensions mesurées. La piste conductrice 13 périphérique peut être par exemple disposée à une distance r_int =15mm du point central A et peut être prévue avec une largeur e 13 par exemple de l’ordre 1 mm. Un espacement 8 est avantageusement prévu entre un bord externe 14 de la piste de courant 13 et un bord extérieur 6 du capteur 2. Un tel espacement par exemple de l’ordre de 4mm permet de garantir une bonne tenue mécanique du capteur 2 et de permettre de réaliser la mesure dans une zone où une contrainte mécanique homogène est appliquée sur la couche anisotrope 100. Un dimensionnement et un positionnement adéquats des sondes de mesures de tension permettent également d’optimiser les performances du capteur 2. Sur la , la piste conductrice centrale 11 et une sonde centrale 21 dédiée aux mesures de tension sont représentées de manière isolée. La dimension de la piste conductrice centrale 11 est liée à la surface de la zone de mesure choisie, cette dernière étant de préférence la plus grande possible afin que la perturbation de la sonde 21 disposée dans cette zone soit la plus limitée possible. Par ailleurs, on prévoit de préférence une taille ou diamètre e 21 de sonde 21 faible en comparaison à cette surface de mesure. La piste centrale 11 est dimensionnée de sorte à permettre une arrivée du courant de manière la plus homogène possible sur la couche mince anisotrope. Comme indiqué précédemment, et comme le montre la , la sonde centrale 21 peut être prévue avec un décalage, à une distance d_sonde par rapport au point central A de la piste conductrice centrale 11. Par exemple, la sonde centrale 21 est prévue avec un diamètre e21 de 0.5mm. Le décalage d_sonde par rapport au point central A peut être par exemple prévu de l’ordre de 1 mm. Afin d’éviter une influence de la sonde centrale 21 sur les lignes de courant dans la zone de mesure, la piste conductrice centrale 11 peut être dans ce cas prévue par exemple avec un rayon r_centre supérieur à 1.25 mm. Des simulations ont permis de constater qu’une piste conductrice centrale 11 de dimension r_centre de l’ordre de 2.75mm permet d’obtenir un courant homogène sans perturber la sonde centrale 21. En ce qui concerne les sondes radiales représentées sur la , ces dernières peuvent être réalisées avec un dimensionnement identique ou sensiblement identique à celui de la sonde centrale. Par exemple, les sondes radiales 23 sont prévues avec un diamètre e23 de 0.5mm. Le positionnement des sondes radiales 23, en particulier leur distance r_sonde par rapport au point central A de la piste conductrice centrale 11 peut quant à lui être établi en effectuant une étude préalable par simulation numérique de l’évolution du potentiel mesuré par ces sondes en fonction de leur distance au point central suivant et suivant les orientations de conductivités minimale σmin et maximale σmax. Une telle étude peut être réalisée en utilisant un algorithme, développé par exemple en langage de type Python TM , permettant de calculer une distance optimale r_sonde_opt de positionnement des sondes en fonction du rayon r_centre de la piste conductrice 11 centrale, de la distance r_int entre la surface interne de la piste conductrice 13 périphérique par rapport au point central A. L’algorithme utilisé est configuré pour résoudre des équations de continuité de courant dans le domaine d’étude par méthode d’éléments finis en prenant en compte de conditions limites imposées. Un tel traitement peut permettre d’obtenir le potentiel présent en tout point du domaine. Une telle étude peut être réalisée pour plusieurs rapport d’anisotropie (σmin/ σmax). La distance optimale de mesure à laquelle on dispose les sondes radiales correspond à des valeurs maximales de fonctions V σmin(r)- V σmax(r). Dans l’exemple de la figure 15, une distance optimale r_sonde_opt de positionnement de la sonde radiale par rapport à un point central A est obtenue à partir de courbes représentatives C149, C148, C147, C146, C145, C144, C143, C142, C141 correspondant respectivement à des rapports d’anisotropie de 0.9, 0.8, 0.7, 0.6, 0.5, 0.4, 0.3, 0.2, 0.1. Par exemple, pour r_centre = 2.75 mm, r_int =15mm, le rayon r_sonde optimal de positionnement des sondes radiales afin d’obtenir la plus grande sensibilité des mesures peut être de l’ordre de r_sonde = r_sonde_opt = 6.38mm. Une telle étude peut permettre également d’établir une distribution caractéristique du capteur 2 reliant son rapport d’anisotropie en fonction d’un rapport dVmin/dVmax (différence de potentiels minimale mesurée entre sonde centrale et sondes radiales/différence de potentiels maximale mesurée entre sonde centrale et sondes radiales). Une courbe représentative C 150 d’une telle distribution est donnée sur la . Une telle distribution est dépendante de dimensions du capteur 2, en particulier de r_int, r_centre, r_sonde et est à réévaluer lorsqu’on modifie ces dimensions. Le nombre de sondes radiales dans le capteur peut être également optimisé. Afin de réaliser une mesure de conductivité dans le plan, le capteur 2 dispose de préférence d’au moins 6 points de mesure pour permettre ensuite le traitement de régression elliptique décrit précédemment. En effet la régression elliptique utilise la méthode des moindres carrés. L’équation cartésienne de l'ellipse peut être définie par : [Math 12] Où F est la formule quadratique [Math 13] On cherche à minimiser la somme des carrés des distances algébriques en cherchant les coefficients A, B, C, D, E, G de F(x,y) qui permet d’obtenir l’ellipse la plus proche de nos points de mesure. Un algorithme par exemple en langage Python TM utilisant une méthode des multiplicateurs de Lagrange telle que proposée par Fitzgibbon et al., dans « Direct least squares fitting of ellipses », IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, vol. 21, no 5, mai 1999, p. 476-480 peut être pour cela utilisé. Un tel algorithme est détaillé par exemple dans l’article « Numerically stable direct least squares fitting of ellipse », de Radim Halíř et al, Winter School of Computer Graphics, vol. 6, 1998. Ainsi, dans le cas présent, il y a 6 inconnues, et 6 équations sont par conséquent établies pour résoudre ce problème, ce qui correspond au minimum à 6 points de mesure et donc à un nombre de sondes radiales de préférence d’au moins 6 pour mettre en œuvre un tel type de régression elliptique. Une augmentation du nombre de points de mesure permet d’augmenter la précision de la régression elliptique. L’utilisation de 12 sondes de mesure radiales comme dans l’exemple de réalisation décrit précédemment permet de réduire de manière importante l’erreur sur la régression elliptique pour évaluer la conductivité dans le plan. Au-delà de 12 sondes de mesure radiales, le gain sur l’erreur est négligeable. Par ailleurs, les sondes étant intrusives, en augmentant davantage le nombre de sondes, on risque d’induire une erreur de mesure et donc d’augmenter l’erreur d’évaluation de conductivité. Les inventeurs ont donc constaté qu’un nombre optimal de sondes radiales est compris entre 6 et 12 lorsqu’on souhaite utiliser la régression elliptique pour déterminer une conductivité dans le plan d’une couche anisotrope. Sur la , un exemple de réalisation particulier dans lequel les capteurs 2 (seul un capteur supérieur étant représenté) sont intégrés à un dispositif de presse pour réaliser une mesure sous contrainte contre une couche est représenté. Le capteur a, dans cet exemple, une épaisseur de son support isolant de l’ordre de plusieurs mm, par exemple de l’ordre de 10 mm, ce qui permet de réaliser un dispositif avec un encombrement total en comptant deux capteurs superposés et l’espace d’accueil de la couche à mesurer entre ces capteurs. Un capteur de mesure tel que décrit précédemment, un dispositif de mesure doté d’au moins un tel capteur et un procédé de mesure de résistivité et/ou conductivité mis en œuvre à l’aide d’un tel dispositif peuvent s’appliquer à d’autres types de couches anisotropes que les couches de type GDL. Une application particulière prévoit par exemple d’effectuer des mesures de conductivité et/ou résistivité sur des couches textiles, et en particulier sur des textiles ayant une conductivité susceptible de varier en fonction de la contrainte physique qui leur appliquée. De telles mesures peuvent être dans ce cas utilisées pour déterminer des contraintes sur une couche textile, par exemple d’un textile pour siège chauffant, d’un vêtement technique chauffant, d’un textile intelligent. De telles mesures peuvent être également mises en œuvre afin de réaliser contrôle qualité et/ou une caractérisation, voire une qualification d’une chaine de production de couches textiles. Capteur (2, 2’) de mesure pour la mesure de conductivité et/ou de résistivité d’une couche (100), en particulier une couche mince anisotrope, comprenant : - un support isolant (4), - une piste conductrice centrale (11, 11’) et une piste conductrice périphérique (13, 13’), la piste conductrice centrale et la piste conductrice périphérique traversant le support isolant et étant dédiées chacune à l’application ou au prélèvement d’un courant, lesdites pistes conductrices centrale (11, 11’) et périphérique (13, 13’), débouchant au niveau d’une face (5B) du support isolant appelée « face de contact » et destinée à être mise en contact avec une face donnée (100A, 100B) de ladite couche (100), - un ensemble de sondes (21, 23 1 ,…,23 12 , 21’, 23’ 4 ,…,23 10 ) de mesures de tensions traversant le support isolant, lesdites sondes débouchant au niveau de ladite face de contact du support (4), ledit ensemble de sondes de mesures de tensions étant entouré par ladite piste conductrice périphérique (13, 13’) et comprenant : - une sonde centrale (21, 21’) entourée par la piste conductrice centrale (11, 11’), la sonde centrale, - une pluralité de sondes radiales (23 1 ,…,23 12 , 23’ 4 ,…,23 10 ), lesdites sondes radiales étant agencées entre la piste conductrice centrale (11, 11’) et ladite piste conductrice périphérique (13, 13’) traversant le support et réparties suivant différentes positions angulaires prédéterminées, au moins plusieurs desdites sondes radiales étant disposées à des distances respectives différentes de la sonde centrale (21, 21’). Capteur de mesure selon la revendication 1, dans lequel lesdites sondes radiales (23 1 ,…,23 12 , 23’ 4 ,…,23’ 10 ) sont disposées à des longueurs (r_sonde) respectives égales d’un point central (A) de ladite piste conductrice centrale (11, 11’), ladite sonde centrale (21, 21’) s’étendant dans le support selon un axe donné (∆ 21 , ∆’ 21 ) décalé par rapport audit point central (A). Capteur de mesure selon l’une des revendications 1 ou 2, dans lequel la piste conductrice périphérique (13, 13’) forme un contour conducteur circulaire fermé autour des sondes radiales (21, 23 1 ,…,23 12 , 21’, 23’ 4 ,…,23’ 12 ) et de la piste conductrice centrale (11, 11’), la piste conductrice centrale (11, 11’) formant un cylindre de révolution conducteur. Dispositif de mesure pour mesurer la conductivité et/ou la résistivité d’une couche (100), en particulier une couche mince anisotrope comprenant : - au moins un premier capteur (2) selon l’une des revendications précédentes, ladite face de contact (5B) du premier capteur étant mise en contact avec une première face (100A) de ladite couche (100), - au moins un deuxième capteur (2’) selon l’une des revendications précédentes, ladite face de contact (5B) du deuxième capteur étant mise en contact avec une deuxième face (100B) de ladite couche opposée à ladite première face (100A). Dispositif de mesure selon la revendication 4, dans lequel le premier capteur (2) est disposé par rapport au deuxième capteur (2’), de sorte que la piste conductrice centrale (11) et la piste conductrice périphérique (13) du premier capteur (2) sont agencées en regard respectivement de la piste conductrice centrale (11’) et de la piste conductrice périphérique (13’) du deuxième capteur (2’), les sondes radiales (23 1 ,…,23 1 2 ) du premier capteur (2) étant agencées en regard respectivement des sondes radiales du deuxième capteur (2’), ladite sonde centrale (21) du premier capteur (2) s’étendant selon un axe donné (∆ 21 ), la sonde centrale (21’) du deuxième capteur (2’) s’étendant selon un autre axe (∆’ 21 ) distinct dudit axe donné (∆ 21 ) et décalé par rapport audit axe donné (∆ 21 ). Dispositif de mesure selon l’une des revendications 4 ou 5, comprenant en outre une structure (200) de mise en compression du premier capteur (2) sur la première face (100A) de ladite couche (100) et du deuxième capteur (2’) sur la deuxième face (100B) de ladite couche (100). Dispositif de mesure selon l’une des revendications 4 à 6, comprenant : - un circuit (110) configuré pour appliquer un courant d’entrée (I_in) à au moins un capteur donné (2) parmi lesdits premier capteur (2) et deuxième capteur (2’), et prélever un courant de sortie (I_out) ayant traversé ladite couche (100), - un module (120) de mesure de tension, ledit module de mesure de tension étant configuré pour : lorsque ledit circuit (110) applique ledit courant d’entrée (I_in) à la piste conductrice centrale (11) et le courant de sortie (I_out) est prélevé sur la piste conductrice périphérique (13) dudit capteur donné (2) : - mesurer des tensions entre la sonde centrale (21) et respectivement les sondes conductrices radiales (23 1 ,…,23 1 2 ) dudit capteur donné (2) et/ou, - mesurer une tension entre la sonde centrale (21) et la piste conductrice centrale (11) dudit capteur donné (2), et/ou lorsque ledit circuit (110) applique ledit courant d’entrée (I_in) à la piste conductrice centrale (11) et prélève un courant de sortie (I_out) sur la piste conductrice périphérique (13) de l’autre capteur (2’) parmi lesdits premier capteur (2) et deuxième capteur (2’) : - mesurer une tension entre la piste conductrice centrale (11) du capteur donné (2) et la piste conductrice centrale (11’) dudit autre capteur (2’), - une unité de traitement (130) configurée pour traiter des données de mesure(s) de tension(s) issue(s) dudit module (120) de mesure de tension. Dispositif de mesure selon la revendication 7, configuré pour : - appliquer concomitamment un courant d’entrée (I_in) à la piste conductrice centrale (11) du premier capteur (2) et à la piste conductrice centrale (11’) du deuxième capteur (2’), tandis qu’un courant de sortie (I_out) est prélevé sur la piste conductrice périphérique (13) du premier capteur (2) et sur la piste conductrice périphérique (13’) du deuxième capteur (2’), - mesurer, lors de cette application de courant : simultanément un premier ensemble de tensions (V0°, V30°, V60° V90°, V120°, V150°, V180°, V210°, V240°, V270°, V300°, V330°) entre la sonde centrale (21) du premier capteur et respectivement au moins plusieurs desdites sondes radiales (23 1 ,…,23 1 2 ) du premier capteur (2), et un deuxième ensemble de tensions (V’0°, …, V’330°) entre la sonde centrale (21’) du deuxième capteur (2’) et respectivement au moins plusieurs desdites sondes périphériques du deuxième capteur. Dispositif de mesure selon la revendication 8, dans lequel ladite unité de traitement (130) est configurée pour : à partir du premier ensemble de tensions et/ou dudit deuxième ensemble de tensions, évaluer une conductivité dans le plan ) de la couche (100), ladite évaluation de ladite conductivité dans le plan étant effectuée à l’aide d’au moins une régression elliptique dudit premier ensemble de tensions et/ou au moins une régression elliptique dudit deuxième ensemble de tensions. Dispositif de mesure selon la revendication 9, dans lequel ladite unité de traitement (130) est configurée pour : à partir de la régression elliptique, obtenir des valeurs de tension maximale (dVmax) dans le plan et de tension minimale (dVmin) dans le plan, - en déduire au moins une valeur de tension moyenne (dVmoy), - déduire de cette valeur de tension moyenne (dVmoy) une conductivité moyenne dans le plan de la couche (100). Dispositif de mesure selon la revendication 10, dans lequel ladite unité de traitement (130) est configurée en outre pour, à partir desdites valeurs de tension maximale dans le plan (dVmax) et de tension minimale dans le plan (dVmin): déduire un rapport d’anisotropie ( . Dispositif de mesure selon l’une des revendications 7 à 11, configuré pour : - appliquer concomitamment un courant entrant (I_in) par la piste conductrice centrale (11) du premier capteur (2) et par la piste conductrice centrale (11’) du deuxième capteur (2’), tandis qu’un courant de sortie (I_out) est prélevé respectivement sur la piste conductrice périphérique (13) du premier capteur (2) et sur la piste conductrice périphérique (13’) du deuxième capteur, - mesurer, lors de cette application de courant : une première tension entre la piste conductrice centrale (11) et la sonde centrale (21) du premier capteur (2) et une deuxième tension entre la piste conductrice centrale (11’) et la sonde centrale (21’) du deuxième capteur (2’), - déterminer à partir de la première tension et de la deuxième tension une première valeur de résistance de contact et une deuxième valeur de résistance de contact. Dispositif de mesure selon l’une des revendications 7 à 12, configuré pour : - appliquer un courant entrant (I_in) par la piste conductrice centrale (11) du premier capteur (2) tandis qu’un courant de sortie (I_out) est prélevé sur la piste conductrice centrale (11’) du deuxième capteur (2’), - mesurer lors de cette application de courant : une tension donnée (dVep) entre la piste conductrice centrale (11) du premier capteur (2) et la piste conductrice centrale (11’) du deuxième capteur (2’). Dispositif de mesure de conductivité selon la revendication 13, l’unité de traitement (130) étant configurée pour à partir de ladite tension donnée (dVep), et de valeurs de résistance de contact du premier capteur sur ladite couche (100) et de résistance de contact du deuxième capteur sur ladite couche (100), déterminer une composante de conductivité (σ z ) dans l’épaisseur de ladite couche (100). Dispositif de mesure de conductivité selon l’une des revendications 7 à 14, ladite couche (100) étant une couche de matériau poreux et/ou fibreux, en particulier une couche de diffusion de gaz pour pile à combustible.