Brevet FR3109627A1 — publié le 20211029

Système de génération (1) d’un signal d’une surface (22) ayant une vitesse V suivant une direction U comprenant : Une source de lumière (2) apte à émettre un premier faisceau gaussien de lumière cohérente et monochromatique suivant un premier parcours optique (11) ; Un capteur (3, 3’) apte à évaluer les effets des interférences électromagnétiques ; Un système optique comprenant une lentille de focalisation (5) un premier dispositif optique (4) redirigeant une partie du premier faisceau de lumière vers la surface (22) sous un angle d’incidence θ1; un second dispositif optique comprenant un moyen de génération (2’, 4, 6) d’un second faisceau gaussien de lumière cohérente monochromatique suivant un second parcours optique (12) ;et un moyen de cheminement (4, 7) définissant un second chemin optique (12’) pointant vers la surface (22) sous un angle d’incidence θ2. Figure pour l’abrégé : Fig 1 système de Generation de SignAL représentatif du PROFIL d’une surface en mouvement par rapport au système Domaine de l’invention La présente invention concerne un système de génération de signal représentatif du profil d’une surface en mouvement par rapport au système. Arrière-plan technologique La connaissance du profil d’une surface d’un objet est utile pour plusieurs types d’application. Premièrement lorsque l’objet est en mouvement par rapport à un second objet, la connaissance de ce profil est nécessaire pour assurer la mobilité relative entre les deux objets. En effet, on peut déduire du profil de la surface la rugosité de celle-ci permettant d’adapter par exemple la vitesse relative entre les deux surfaces pour assurer une condition d’adhérence. Secondement lors de contrôle qualité d’un objet, la profilomètrie de la surface est un paramètre mis sous surveillance puisque c’est un signe d’évolution du procédé de fabrication par exemple. En raison de défaut de fabrication mais aussi du vieillissement ou de l’usure en service de la surface d’un objet ou des conditions externes variantes, il est utile de pouvoir avoir accès régulièrement à l’information du profil. Par exemple, dans le domaine du transport terrestre, la connaissance du profil du sol à une échelle millimétrique est importante pour adapter les systèmes de sécurité active du véhicule aux conditions d’adhérence du sol qui est fonction de la rugosité de surface du sol. De même, dans le domaine de la fabrication d’objet, il est utile de mesurer le profil de la surface externe des objets fabriqués pour s’assurer du respect du cahier des charges et adapter le procédé de fabrication en fonction de ce paramètre. Ainsi, la connaissance en temps réel du profil d’une surface quelconque d’un objet est importante. Pour autant on souhaite des dispositifs de mesure du profil peu intrusifs physiquement par rapport à l’objet à évaluer ou par rapport au dispositif sur lequel il est susceptible d’être monté. De plus, il faut qu’il soit peu impactant sur le fonctionnement actuel des dispositifs afin de ne pas affecter l’efficacité de ces dispositifs. Enfin, il faut qu’il soit potentiellement économe aussi bien à l’achat qu’à l’usage et peu consommateur d’énergie. Parmi les dispositifs de mesure de la rugosité du sol, le rugolaser permet de mesurer des profils en dynamique. Le principe de mesure repose sur l’utilisation d’une source laser pulsée émise à la verticale en direction de la surface externe à mesurer. La source laser est couplée à une optique de focalisation et un potentiomètre optique de type CCD ou barrette de photorécepteurs. En fonction de la distance laser/cible, l’optique vient focaliser l’image du point d’impact du faisceau laser à une position donnée sur le capteur. En localisant cette position sur le potentiomètre, il est possible de remonter à la hauteur du profil de la cible. L’inconvénient d’un tel dispositif réside dans l’encombrement en embarqué sur dispositif mobile, son coût d’achat et sa faible flexibilité de mesure par rapport à l’usage du dispositif mobile puisque les réglages du système et l’analyse des mesures nécessitent du temps et le post traitement est généralement fait ultérieurement à la mesure. Il n’est donc pas possible d’obtenir l’information en temps réel. Parmi les dispositifs de mesure de rugosité de surface en termes de contrôle qualité d’un objet fabriqué, on peut citer les dispositifs d’imagerie et d’éclairage. Cependant, ce type d’équipement n’est pas adapté à un contrôle qualité en continu puisque le temps de traitement consomme du temps de flux et l’objet est généralement en statique ou quasi statique. Bien qu’il permette d’avoir accès à une observation tridimensionnelle de la surface externe de l’objet, ce traitement étant bien adapté à une logique qualité par tri aléatoire des objets, il ne l’est pas pour un contrôle qualité en continu de la totalité des objets La présente invention porte sur un dispositif de génération de signaux exploitables en temps réel représentatifs du profil d’une surface sur un plan bidimensionnel résolvant à la fois les problèmes rencontrés par les dispositifs de l’état de l’art en matière de temps de réponse, en embarqué sur dispositifs tout en étant peu intrusif et sans impact sur le fonctionnement de l’objet en soi. Enfin certaines variantes de l’invention sont aussi économes en énergie et bon marché. Description de l’invention L’invention porte sur un système de génération d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe d’un milieu présentant un plan médian et ayant une vitesse relative V par rapport au système suivant une direction U comprenant : Une première source de lumière apte à émettre un premier faisceau gaussien de lumière cohérente et monochromatique, dont la longueur d’onde λ 1 est adaptée aux caractéristiques d’absorption optique du milieu, suivant un premier parcours optique ; Au moins un premier capteur apte à évaluer les effets des interférences électromagnétiques entre une partie du premier faisceau de lumière émis et une partie du faisceau de lumière rétro diffusé sur la surface externe du milieu et délivrant un signal électrique ; Un système optique comprenant : au moins une première lentille de focalisation permettant de focaliser tout ou partie du premier faisceau de lumière à une distance de focalisation f1 et définissant un premier chemin optique; un premier dispositif optique situé en amont ou en aval de la au moins une première lentille de focalisation apte à rediriger tout ou partie du premier faisceau de lumière vers la surface externe sous un premier angle d’incidence θ1 suivant une ligne de lecture sur la surface externe selon la direction U ; au moins un second dispositif optique comprenant un moyen de génération de au moins un second faisceau gaussien de lumière cohérente et monochromatique de longueur d’onde λ2 adaptée aux caractéristiques d’absorption optique du milieu suivant un second parcours optique; le second faisceau de lumière étant focalisé à une distance de focalisation f2 suivant un second chemin optique vers la surface externe ; un moyen de cheminement du au moins un second faisceau de lumière agencé de sorte que le second chemin optique pointe en voie incidente vers la surface externe sous un second angle d’incidence θ2 et apte à suivre la ligne de lecture sur la surface externe, et optionnelllement, un dispositif électronique à la sortie du signal électrique du au moins un capteur comprenant un circuit amplificateur électronique ; caractérisé en ce que les longueurs d’onde des premier et second faisceaux de lumière ont la même sensibilité aux caractéristiques de réflectivité optique de la surface externe du milieu, en ce que la combinaison de la distance de focalisation et du chemin optique pour chaque faisceau de lumière définissent deux points géométriques d1 et d2 correspondant aux points de focalisation de chaque faisceau de lumière situés de part et d’autre du plan médian de ladite surface externe, en ce que la distance entre les points géométriques d1 et d2 est supérieure à la plus grande longueur de Rayleigh des premiers et second faisceaux gaussiens de lumière et en ce que les projections des angles d’incidence θ1 et θ2 dans un plan défini par la normale au plan médian et la direction U sont supérieures à 1 degré, préférentiellement supérieures à 5 degrés, par rapport à la normale au plan médian de la surface externe du milieu. Ce dispositif permet de générer un premier signal électrique en sortie du capteur qui traduit les effets des interférences électromagnétiques générées entre le premier faisceau de lumière incident de la première source et le faisceau de lumière rétro diffusé par la surface externe issus du premier faisceau incident. Ici, l’information portant sur une variation de la puissance émettrice de la première source de lumière est suffisante. On entend ici par le terme « faisceau rétro diffusé » que celui-ci correspond au faisceau incident qui est réfléchi et/ou diffusé par la surface externe et qui suit le même parcours optique que le faisceau incident en sens inverse. Ces effets sont aussi modulés par la distance entre le point géométrique d1 où une première partie du faisceau lumineux gaussien se focalise et la surface externe du milieu en raison de la propagation gaussienne du faisceau de lumière. Les deux faisceaux interfèrent en raison de la cohérence spatiale et temporelle entre le faisceau incident et le faisceau rétro diffusé. Les variations observées représentent une succession de phénomènes pilotés par les fréquences harmoniques liés à l’effet Doppler. La fréquence fondamentale de l’effet Doppler dépend à la fois de la vitesse V relative entre le système et la surface externe, de l’angle d’incidence θ du faisceau sur la surface externe par rapport à la normale à la surface externe suivant la direction U et de la longueur d’onde λ du faisceau de lumière. Ainsi, il est nécessaire que l’onde incidente génère un angle d’au moins 1 degrés par rapport à la normale à la surface externe suivant la direction U pour que l’effet Doppler puisse être observé dans le signal. En pratique un angle de 5 degrés permet de s’assurer de l’observation de l’effet Doppler au-delà des imperfections géométriques de tout système optique imparfait et d’obtenir un signal facilement exploitable. En prenant une onde lumineuse monochromatique, on évite les interférences entres les longueurs d’ondes différentes d’une lumière polychromatique rendant aisément visibles les harmoniques de la longueur d’onde monochromatique dans le signal du capteur . On effectue la même opération avec un second faisceau de lumière monochromatique dont la position géométrique d2 par rapport à la surface externe suivant la ligne de lecture décrite par le premier chemin optique est différente de la première position géométrique d1. Les deux positions géométriques d1 et d2 encadrent nécessairement le plan médian de la surface externe du milieu observé afin d’identifier la distance de la surface externe aisément. Ainsi, on récupère deux informations proportionnelles à la distance entre un point géométrique d1 ou d2 déterminé et la surface externe. Bien entendu, il est préférable que la distance entre ces deux points géométriques d1 et d2 soit supérieure à la plus grande longueur de Rayleigh du faisceau gaussien pour obtenir un signal de qualité avec une résolution spatiale adaptée à ce que l’on recherche en terme de discrétisation de la surface externe. En effet, à la longueur de Rayleigh la forme d’un faisceau de lumière est modifiée en augmentant le rayon du faisceau d’un facteur racine de 2. Cette modification du faisceau impactera directement les interférences électromagnétiques entre les faisceaux émis et rétrodiffusé et quantifiera donc la distance à la position focale de chacun des premier et second faisceaux de lumière. Si les deux distances focales sont éloignées d’une distance inférieure à la plus grande longueur de Rayleigh, les faisceaux de lumière ne divergent pas suffisamment pour que l’information de distance entre le point de focalisation et la surface externe soit perçue au niveau du signal de sortie du capteur. L’information de distance fournie par le second faisceau de lumière peut soit être codée dans le même premier signal électrique auquel cas les harmoniques dues à l’effet Doppler doivent être dissociables entre les deux faisceaux de lumière, soit codée sur un second signal électrique auquel cas les harmoniques peuvent être les mêmes. Point important, l’impact de la réflectivité de la surface externe doit être similaire entre les deux faisceaux de lumière, ce qui implique soit qu’ils aient la même longueur d’onde ou soit que leur longueur d’onde, bien que différente, est insensible aux caractéristiques de réflectivité optique de la surface externe du milieu observé. En ayant une information relative à deux distances de la surface externe par rapport à deux références d1 et d2 suivant la même ligne de lecture, il est possible de remonter par traitement des signaux à un profil bidimensionnel de la surface externe suivant la ligne de lecture quelle que soit la vitesse V relative du système par rapport au milieu. La discrétisation spatiale du profil étant proportionnelle à la fréquence d’échantillonnage du signal et à la vitesse relative V. En adaptant la fréquence d’échantillonnage en fonction de la vitesse V, on peut obtenir la précision spatiale de la discrétisation de la ligne de lecture souhaitée. Ainsi la mesure n’est pas impactée par les conditions d’usage entre le milieu observé et le dispositif accueillant le système et permet une mesure à forte vitesse relative V selon la direction U. Préférentiellement, le système comprend aussi un amplificateur de signal électrique de type électronique lorsque les amplitudes des signaux délivrés par les capteurs sont faibles notamment en raison de l’étendue de la bande fréquentiel du signal, il convient d’amplifier ces signaux sans perdre d’information. Enfin, le système ne necessite pas un réglage complexe puisqu’aucune contrainte d’orientation pécise des faisceaux de lumière par rapport à la surface externe n’est demandée, seule l’alignement selon la direction U des deux faisceaux incidents est nécessaire. La source de lumière peut être par exemple une source laser comme une diode laser par exemple. Ces sources de type laser génèrent une lumière cohérente, et la propagation de la lumière est aussi naturellement gaussienne. Le capteur doit mesurer les interférences électromagnétiques entre la lumière incidente et la lumière rétrodiffusée par la surface externe. Cela implique d’identifier une zone spatiale ou les deux faisceaux sont alignés, au moins une partie de ceux-ci. Le plus simple consiste à placer le capteur sur le chemin optique entre la source de lumière et la surface. Pour autant, il est tout à fait possible de dévier une partie de l’un de ces faisceaux ou les deux pour les faire coïncider en dehors du parcours optique. Le capteur peut être par exemple une photodiode, un phototransistor ou un capteur d’intensité ou de tension de l’alimentation de la source de lumière. Le premier dispositif optique et/ou le moyen de cheminement du second faisceau de lumière inclut par exemple des moyens d’orientation d’au moins une partie du système par rapport à la surface externe pour orienter au moins en partie les angles d’incidence du premier et/ou second faisceau de lumière par rapport à la surface externe. On entend par le terme « faisceau gaussien » que la propagation de la lumière dans la sens de propagation du faisceau est de type gaussien. On entend par le teme « parcours optique », la successions des positions spatiales contigues suivies par le faisceau de lumière entre une source de lumière ou un moyen de génération d’un faisceau de lumière et la surface externe du milieu observé. On entend par le terme « chemin optique » au moins une partie d’un parcours optique entre la dernière lentille de focalisation du faisceau de lumière avant la surface externe et le pont le plus éloigné entre la surface externe et le point de focalisation du faisceau de lumière. Selon un premier mode de réalisation du système, la au moins une première lentille de focalisation se situant en amont du premier dispositif optique, le premier dispositif optique et le moyen de génération de au moins un second faisceau sont mutualisés et comprend un élément optique séparateur situé sur le premier parcours optique du premier faisceau de lumière, le au moins un second faisceau de lumière est l’autre partie du premier faisceau de lumière, le moyen de cheminement de au moins un second fabisceau de lumière comprend au moins un miroir et les projections des angles d’incidences θ1 et θ2 sur ladite surface externe des premier et second chemins optiques sont différents. Ici, on traite du cas où la première source de lumière est unique. Alors, il convient de séparer l’énergie lumineuse du premier faisceau de lumière en deux faisceaux d’énergie semblables. Pour cela un simple élément optique séparateur suffit à cette fonction qui permet de générer un second faisceau gaussien de lumière cohérente et monochromatique à la même longueur d’onde λ1. La première lentille de focalisation étant située avant l’élément optique séparateur, les deux faisceaux de lumière ont la même distance focale f1. Afin d’obtenir deux informations de distance, il faut différentier la longueur des deux chemins optiques entre la lentille de focalisation et la surface externe d’une longueur d1-d2 de façon que les deux points géométriques se retrouvent de part et d’autre de la surface externe. Ceci est au moins assuré par l’intermédiaire d’un jeu de miroirs qui redirige le second faisceau de lumière vers la surface externe et génère une modification du cheminement optique de la lumière sur le second chemin optique par rapport au premier chemin optique. Enfin, comme les informations de distance sont codées sur le même signal électrique et que la longueur d’onde est unique, les angles d’incidences des deux chemins sont différents pour dissocier dans le spectre de réponse du signal électrique les harmoniques liées à l’effet Doppler correspondant au premier et second faisceaux de lumière. Selon un premier mode de réalisation préférentielle du système, la au moins une première lentille de focalisation se situant en aval du premier dispositif optique sur le premier parcours optique, le premier dispositif optique et le moyen de génération de au moins un second faisceau sont mutualisés et comprend un élément optique séparateur situé sur le premier parcours optique du premier faisceau de lumière, le au moins un second faisceau de lumière est l’autre partie du premier faisceau de lumière, le moyen de génération de au moins un second faisceau laser comprend au moins une deuxième lentille de focalisation à une distance de focalisation f2 située en aval du premier dispositif optique et les projections des angles d’incidences θ1 et θ2 sur ladite surface externe des premier et second chemins optiques sont différents. Ici, on traite encore du cas où la première source de lumière est unique. Alors, il convient de séparer l’énergie lumineuse du premier faisceau de lumière en deux faisceaux d’énergie semblable. Pour cela un simple élément optique séparateur suffit à cette fonction qui permet de générer un second faisceau de lumière à la même longueur d’onde λ1. Si la première lentille de focalisation se trouve en aval de l’élément séparateur, c’est-à-dire que le premier faisceau de lumière n’est pas focalisé avant l’élément optique séparateur, il convient alors, ayant séparé le premier faisceau de lumière en deux pour générer un second faisceau de lumière, de focaliser le second faisceau de lumière à l’aide d’une seconde lentille de focalisation. Eventuellement, la distance de focalisation f2 de cette seconde lentille de focalisation est différente de la première. Si elle est similaire, il faut différencier la longueur des premier et second chemins optiques en modifiant le chemin optique des deux faisceaux pour définir deux points géométriques d1 et d2 différents. Enfin, comme les informations de distance sont codées sur le même signal électrique et que la longueur d’onde est unique, les angles d’incidences des deux chemins sont différents pour dissocier dans le spectre de réponse du signal électrique les harmoniques correspondant au premier et second faisceaux de lumière. Préférentiellement, le rapport entre les projections dans le plan défini par la direction U et la normale au plan médian des angles d’incidences θ1 et θ2 sur ladite surface externe des premier et second chemins optiques est compris entre 1,2 et 1,8. Les angles d’incidence des premier et second chemins optiques sur la surface doivent être différents pour dissocier les informations portées par chaque chemin lorsque les informations sont codées sur un seul signal électrique. De plus, si on cherche à suivre plusieurs harmoniques de chaque faisceau de lumière, il convient que le rapport des fréquences générés par les angles, généralement petit, ne soit pas un multiple entier l’un de l’autre. Enfin, afin que l’analyse des signaux ne soit pas trop large bande, il faut que l’éloignement fréquentiel des harmoniques générées par les angles d’incidence soit suffisant pour dissocier les fréquences sans une discrétisation trop fine de l’unique signal. Toutes ces contraintes conduisent à la gamme revendiquée. Selon un premier mode de réalisation spécifique du système, la au moins une première lentille de focalisation se situant en aval du premier dispositif optique sur le premier parcours optique, le premier dispositif optique et le moyen de génération de au moins un second faisceau sont mutualisés et comprend un élément optique séparateur situé sur le premier parcours optique du premier faisceau de lumière, le au moins un second faisceau de lumière est l’autre partie du premier faisceau de lumière, le moyen de génération de au moins un second faisceau laser comprend au moins une deuxième lentille de focalisation à une distance focale f2 située en aval du premier dispositif optique et le second dispositif optique comprend en aval de l’élément optique séparateur et dans l’ordre suivant le second parcours optique incident un élément optique apte à absorber la lumière sur le chemin retour et un capteur apte à évaluer les interférences électromagnétiques entre une partie du second faisceau de lumière incident et une partie du faisceau rétro diffusé sur la surface externe du milieu par le second faisceau de lumière incident. C’est un cas particulier où un second capteur est placé après la génération du second faisceau de lumière non focalisé. De plus le moyen de cheminement comprend un élément optique absorbant la lumière dans le sens retour uniquement afin que les interférences générées par la rétrodiffusion du second faisceau de lumière ne génèrent pas de perturbation au niveau du signal de sortie du premier capteur. Ainsi, le signal représentatif de la surface externe est codé sur deux signaux électriques provenant chacun d’un capteur associé à chaque parcours optique. Ayant préalablement séparé le premier faisceau de lumière à l’aide du dispositif optique séparateur, les interférences observées par chaque capteur sont représentatives de l’interaction lumineuse de la surface externe avec un unique parcours optique. Par conséquent aucune condition spécifique n’est demandée sur la dépendance angulaire entre les angles d’incidences des premier et second chemin optique. Préférentiellement, les premier et second chemins optiques ne se croisent pas avant d’avoir atteint la surface externe du milieu. Dans le cas où une seule source de lumière est employée, les premier et second faisceaux de lumière sont cohérents entre eux. Par conséquent, ces premiers et seconds faisceaux de lumière sont susceptibles d’interférer électromagnétiquement entre eux que cela soit sur les parcours incidents ou rétro diffusés. Ces interférences peuvent altérer la qualité du signal mesuré par le capteur et donc induire une erreur sur la qualité des signaux du capteur. En assurant la condition ci-dessus, on minimise le risque de créer des interférences électromagnétiques parasites entre les premier et second faisceaux de lumière, ce qui améliore la qualité des signaux de sortie du capteur et par voie de conséquence la mesure du profil de la surface externe du milieu. Enfin, l’amélioration du signal de mesure, par cette condition, est assurée potentiellement sur les deux chemins optiques. Selon un second mode de réalisation du système, le moyen de génération de au moins un second faisceau de lumière comprend une seconde source de lumière apte à émettre un second faisceau de lumière suivant un second parcours optique ; un second capteur apte à évaluer les interférences électromagnétiques entre une partie du second faisceau de lumière incident et une partie du faisceau rétro diffusé sur la surface externe du milieu par le second faisceau de lumière incident et délivrant un signal électrique ; et le moyen de génération de au moins un second faisceau de lumière comprend une seconde lentille de focalisation à la distance de focalisation f2 et/ou le moyen de cheminement du au moins un second faisceau de lumière comprend au moins un miroir de sorte que la longueur du second chemin optique soit différente de la longueur du premier chemin optique. Ici, on traite du cas où le système comprend une première et une seconde sources de lumière monochromatique. Bien entendu ces deux sources monochromatiques peuvent être générées par une unique source de lumière cohérente polychromatique dont les longueurs d’onde sont dissociées. Dans ce cas particulier, il conviendra de séparer les longueurs d’onde différentes du faisceau de lumière à l’aide d’au moins un filtre chromatique adapté. Cependant dans le cas général, on emploie deux sources de lumière monochromatiques distinctes. Ici, l’information de distance des premiers et seconds faisceaux lumineux seront nécessairement codées sur deux signaux électriques distincts. Ces signaux sont les sorties des premiers et seconds capteurs du système qu’il conviendra d’amplifier à l’aide du dispositif électronique du système. Ensuite, il faut focaliser les premiers et seconds faisceaux lumineux à l’aide de au moins la première lentille de focalisation et au besoin de la seconde lentille de focalisation. Dans ce second cas, en choisissant des distances focales f1 et f2 différentes cela permet d’obtenir deux longueurs de chemins optiques différentes jusqu’à la surface externe au niveau de la ligne de lecture même si la position géométrique de chaque lentille par rapport à la surface externe est identique. Si on emploie une unique lentille de focalisation ou que la position par rapport à la surface externe et la distance de focalisation des deux lentilles sont identiques, il convient d’augmenter le second chemin optique au travers du moyen de cheminement comprenant au moins un miroir pour modifier le second chemin optique. Ainsi, on génère bien deux points géométriques d1 et d2 distincts situés de part et d’autre du plan médian de la surface externe. Selon un second mode de réalisation préférentiel du système, les longueurs d’onde des premier et second faisceaux de lumière étant différentes, le système comprend un élément optique fusionnant les premier et second faisceaux de lumière de sorte que les deux chemins optiques s’alignent en partie et pointent simultanément sur le même point géométrique de la surface externe. L’emploi de deux sources chromatiques dont la longueur d’onde est différente ou que les sources soient physiquement différentes permettent de respecter la condition. Alors, chaque source ayant son capteur associé, l’information est alors codée sur les deux signaux électriques. L’avantage de ce dispositif est que les deux faisceaux de lumière s’alignent après leur passage au travers de l’élément optique qui fusionne et pointent physiquement vers le même point de la ligne de lecture. Ainsi, aucun recalage temporel des signaux n’est à effectuer. L’information des signaux électriques est donc plus rapidement exploitable ce qui rend le système plus efficace en termes de temps de calcul et de précision en limitant les erreurs inhérentes au phasage des signaux. De plus, les deux angles d’incidence sont aussi similaires ce qui réduit ici les écarts de réflectivité de la surface externe. Préférentiellement, la longueur de cohérence du premier faisceau laser et ou du second faisceau laser est au moins supérieure à deux fois la plus grande longueur des premier et second parcours optiques incidents jusqu’à la surface externe du milieu. L’information utile est obtenue par l’observation des interférences électromagnétiques entre le faisceau de lumière incident et le faisceau rétro diffusé sur la surface externe du milieu du faisceau de lumière incident. Il faut nécessairement que le capteur soit localisé dans une zone géographique où les faisceaux incident et rétro diffusé sont cohérents entre eux pour interférer. Bien que le capteur puisse être déporté par rapport au chemin optique incident, il est souvent plus commode de positionner le capteur sur le parcours optique incident. Comme le faisceau rétrodiffusé doit parcourir au minimum une fois le parcours optique incident pour être généré, la condition de longueur mentionnée assure de pouvoir positionner le capteur en tout lieu du parcours optique de plus grande longueur. Préférentiellement, les angle d’incidence θ1 du premier faisceau et θ2 du second faisceau de lumière sont compris dans un cône dont l’axe de révolution est la normale au plan médian de la surface externe et l’angle d’ouverture du cône est inférieur ou égal à 45 degrés, préférentiellement inférieur ou égal à 30 degrés. Quel que soit le mode de réalisation, on souhaite observer le profil de la surface externe d’un milieu. Idéalement, l’angle d’incidence est suivant la normale au plan médian ce qui permet d’observer tout profil de surface convexe. Dans les faits, le système impose au moins une certaine inclinaison dans le plan de déplacement relatif du système par rapport à la surface externe pour observer les effets Doppler. Cette faible inclinaison gêne peu l’observation d’une surface convexe. Cependant, si l’inclinaison est plus forte et ce quelle que soit l’orientation du faisceau de lumière, certaine zone de la surface externe convexe ne pourront être observées, ce seront des zones masquées par les zones situées supérieurement à la zone masquée de la surface externe. En imposant une inclinaison maximale de 45°, on minimise ces zones masquées de la surface de lecture. Préférentiellement, l’angle d’ouverture du cône devrait être inférieur à 30 degrés ce qui permet de diminuer par deux la surface masquée tout en autorisant des angles d’inclinaison différenciés acceptables même dans le cas d’un unique premier capteur. Très préférentiellement, le premier et/ou le second capteur est compris dans le groupe comprenant phototransistor, photodiode, ampèremètre et voltmètre Plusieurs technologies de capteur peuvent être employées pour évaluer globalement les variations temporelles des interférences électromagnétiques entre les ondes cohérentes monochromatiques du faisceau incident et du faisceau rétrodiffusé, comme par exemple ceux évaluant la puissance lumineuse. Si, l’alimentation de la source de lumière n’est pas figée et que les interférences sont générées jusqu’à la source de lumière, des variations de consommation de la source, par exemple laser, peuvent apparaitre sur le signal de l’alimentation. Ainsi, un ampèremètre ou un voltmètre de forte résolution permet d’observer les faibles variations électriques au point d’alimentation électrique de la source de lumière. Cela fonctionnera bien pour des dispositifs électriques spécifiques et lorsque les sources monochromatiques sont distinctes. Plus classiquement, le système peut être équipé comme capteur d’une photodiode ou d’un phototransistor. Ces types de capteur de lumière seront capables d’observer les variations temporelles de lumière cohérente monochromatique générées par les interférences et ce indépendamment du circuit d’alimentation d’énergie de la source de lumière. De plus, ce sont des éléments standards du packaging des diodes lasers ce qui rend ces dispositifs peu coûteux et facile de mise en œuvre. Enfin, comme on souhaite qu’une onde rétro diffusée à la même longueur d’onde s‘aligne avec l’onde du faisceau incident, les diodes lasers classiques de part leur cavité optique dédiée pour amplifier la lumière assure cette fonction si l’interface optique permet la transmission de l’onde réfléchie. C’est le cas des diodes lasers standard qui ont aussi un faible coût de revient. En effet dans les diodes lasers sophistiquées on recherche plutôt à minimiser voire empêcher les ondes réfléchies de pénétrer dans la cavité optique de la diode nécessitant des traitements optiques de surfaces au niveau des interfaces optiques externes. Avantageusement, la longueur d’onde du premier et du second faisceaux de lumière est comprise entre 200 et 2000 nanomètres, préférentiellement entre 400 et 1600 nanomètres. Le dispositif selon l’invention consiste à focaliser les premier et second faisceaux de lumière vers la surface externe du milieu à observer. En raison de la nature même des systèmes optiques, on obtient en général une tache dite d’Airy d’une certaine dimension à la distance de focalisation en raison des phénomènes physiques de diffraction de la lumière. Or, la dimension de cette tache concentrique est directement proportionnelle à la longueur d’onde du faisceau de lumière. En employant des longueurs d’onde de la lumière visible en général, on obtient des dimensions de taches raisonnables qui permettent une résolution spatiale de la surface externe suivant la ligne de lecture qui convient aux applications recherchées. Bien entendu, plus la longueur d’onde est petite , le bleu ou le violet ou l’ultraviolet, plus la dimension de la tâche d’Airy est petite, augmentant ainsi la résolution de la ligne de lecture dont l’épaisseur, suivant la direction perpendiculaire à la ligne de lecture, est aussi proportionnelle à la longueur d’onde. En revanche, fonctionner dans le rouge ou les infrarouges génère une précision métrique moindre mais qui peut rester convenable suivant l’application et selon les critères de résolution recherchés.. Spécifiquement, le dispositif d’émission de lumière et/ou le second dispositif d’émission de lumière est une diode laser. Comme déjà évoqué, c’est par nature une source de lumière monochromatique, cohérente dont la propagation du faisceau de lumière est de type gaussien lorsque la diode laser fonctionne à son seuil. De plus, la diode comprend une cavité optique qui peut être le siège idéal de l’observation des interférences électromagnétiques entre le faisceau incident et le faisceau rétro diffusé si l’interface optique externe permet la transmission des ondes rétrodiffusées. A ce moment-là, la cavité optique servant de milieu amplificateur à la génération de la lumière, tout capteur de puissance lumineuse délivrera un signal facilement exploitable par le principe du self mixing, qui est le terme anglais pour la rétroinjection optique. Enfin, le packaging d’une diode laser est compact et bon marché. De ce fait, c’est une solution économique répondant parfaitement au besoin. L’invention porte aussi sur un dispositif statique ou mobile équipé d’un système de génération d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe d’un milieu. En effet, le système ne couvre que les aspects essentiels de la mesure. Le système peut donc être installé sur un dispositif permettant l’intégration du système dans l’environnement de fonctionnement souhaité. Ainsi, ce dispositif peut être mobile comme par exemple un véhicule terrestre se déplaçant par rapport au sol. Le sol est alors le milieu d’observation du système de mesure. Le dispositif peut aussi être statique comme un poste industriel pour faire du contrôle d’aspect linéique par rapport au défilement d’objets sur une bande transporteuse. Le système installé sur un dispositif mobile ou statique peut aussi observer les mouvements de rotation d’un milieu par rapport au dispositif afin d’analyser les défauts d’uniformité de la surface externe de ce milieu. L’invention porte aussi sur un procédé d’obtention du profil de la surface externe d’un milieu comprenant les étapes suivantes : Obtenir deux signaux temporels A et B issus du système de génération d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe d’un milieu, associés aux positions géométriques d1 et d2 pour, à chaque instant, la même cible géométrique sur la ligne de lecture de la surface externe ; Déterminer au moins une fréquence Doppler associée à chaque signal temporel A et B ; Echantillonner chaque signal temporel A et B à une fréquence supérieure à 2 fois, préférentiellement 10 fois, la au moins une fréquence Doppler pour obtenir un signal utile ; Déterminer une enveloppe du signal utile de chaque signal A et B ; Effectuer une combinaison relative entre les enveloppes de chaque signal A et B pour obtenir une fonction F monotone et bijective ; et Déterminer le profil de la surface externe à l’aide d’une calibration de la fonction F Ici, il faut tout d’abord avoir deux signaux temporels correspondant à chaque instant à la réponse du même point géométrique de la ligne de lecture sur la surface externe du milieu observé. L’information de distance est portée par le fondamental et les harmoniques de la fréquence Doppler. Par conséquent, il convient sur chaque signal de déterminer la fréquence Doppler. Celle-ci dépend à la fois de la vitesse relative V de déplacement dans la direction U entre le système et le milieu observé. Mais aussi, elle dépend de l’angle d’incidence θ par rapport à la normale au plan médian de la surface externe. Enfin, la fréquence Doppler est aussi fonction de la longueur d’onde λ du faisceau de lumière. En connaissant l’ensemble de ces paramètres, on peut théoriquement déterminer la fréquence Doppler, son fondamental. Une autre solution consiste à analyser en fréquence le signal temporel pour déterminer la fréquence et ses harmoniques qui doivent aussi émerger de l’analyse fréquentielle du signal. Ainsi, il est important que la fréquence d’échantillonnage des signaux temporels soit au moins supérieure à 2 fois la fréquence Doppler pour que le signal utile porte une information assurément fiable (traitement des signaux -Théorème de Shannon) sur le fondamental de la fréquence Doppler. Cependant selon les applications, l’information peut aussi être portée par les premières harmoniques de l’effet Doppler, il est alors préférable d’échantillonner suffisamment pour avoir une information fiable sur les harmoniques successives. Ensuite pour extraire l’information de distance sur le signal utile, il faut tout d’abord extraire l’enveloppe du signal utile qui représente les variations extrêmes temporelles des interférences électromagnétiques enregistrées. Cette enveloppe peut être construite sur la valeur minimale du signal utile ou sur la valeur maximale du signal utile. En variante, on peut aussi prendre la valeur maximale de la valeur absolue de l’enveloppe qui oscille généralement autour de la valeur nulle. Ici, c’est l’information générale qui porte l’information utile ce qui justifie de prendre l’enveloppe du signal. Enfin, la dernière étape est la détermination du profil suivant la ligne de lecture de la surface externe. Pour cela, on crée une fonction F bijective comme étant une combinaison mathématique en relatif des enveloppes des signaux issus des deux parcours optiques. L’avantage de la combinaison mathématique relative est qu’une étape de calibration peut être effectuée a priori à l’ide d’une cible représentative de la nature des milieux que l’on souhaite mesurer. La calibration ne necessite pas alors d’employer des conditions similaires à la mesure souhaitée mais seulement de s’assurer de la proportionalité des réponses entre les deux signaux. Le résultat de cette combinaison donne une grandeur qui au travers d’une fonction F monotone et bijective traduit une et une seule distance E relativement à un point de référence grâce à l’étape de calibration de la fonction F malgré que cette calibration n’ait pas été effectuée sur le milieu de mesure. Ainsi, on assure une mesure en temps réel du profil de la surface externe du milieu. Les variations de la distance E entre les points de la ligne de lecture permettent de générer automatiquement le profil de cette même ligne de lecture, ce qui permet un traitement en temps réel du profil puisque cela necessite peu de ressources de calcul. Selon un mode de réalisation particulier, l’étape d’obtention de deux signaux temporels A et B pour la même cible géométrique de la ligne de lecture comprend les étapes suivantes : Obtenir deux signaux temporels A et B pour, à chaque instant, deux cibles géométriques sur la ligne de lecture de la surface externe ; Etablir la distance X sur le plan médian suivant la direction U entre les deux cibles géométriques de la ligne de lecture ; Déterminer la vitesse relative V selon la direction U entre le système de génération et la surface externe ; Déterminer le décalage temporel dT entre les deux faisceaux de lumière associé à la distance X et la vitesse V ; et Appliquer au moins une partie du décalage temporel dT au signal temporel A et/ou au signal temporel B. Le système de génération des signaux représentatifs du profil de la surface externe ne phase pas forcément les premier et second chemins optiques. Dans ce cas, cette étape préparatoire des signaux est indispensable pour l’obtention de deux signaux temporels du même point de la ligne de lecture de la surface externe de manière robuste et fiable. Avantageusement, la calibration de la fonction F s’effectue à l’aide d’au moins une cible blanche et rugueuse, dont la rugosité de surface est supérieure à la longueur d’onde de la lumière des premier et second faisceau de lumière. L’utilisation de la fonction F, combinaison mathématique relative des enveloppes des signaux A et B nécessite une phase de calibration de cette fonction F. Cette calibration peut être effectuée à l’aide d’une cible spécifique que l’on déplace de manière métrologique par rapport au système de génération des signaux de sorte que la surface externe de la cible reste entre les points géométriques d1 et d2 du système de génération des signaux représentatifs. Cette cible doit avantageusement être blanche et rugueuse. On entend ici par le terme « blanche » que la surface externe de la cible doit rétro diffuser plus de lumière, à la longueur d’onde du système de génration, qu’elle en absorbe. Et la quantité rétrodiffusée doit être aussi avantageusement au moins égale ou au-dessus du niveau de lumière rétro diffusée par la surface externe du milieu que l’on souhaite mesurer, ce qui garantit la proportionnalité de la réponse quel que soit le milieu à observer. Il est aussi nécessaire que cette cible ait une surface externe rugueuse afin de rétro diffuser la lumière et non seulement la réfléchir comme le ferait un miroir optique. Enfin il convient que la rugosité de surface de la cible soit supérieure à la longueur d’onde de la lumière des premier et second faisceaux de lumière. En effet, si les rugosités de surfaces ne sont pas supérieures à la longueur d'onde, la surface va se comporter comme un miroir à la longueur d'onde en question, et donc minimiser la rétrodiffusion. De plus, le phénomène de speckle, c’est-à-dire le phénomène de tavelure électromagnétique et en particulier optique, ne sera pas présent si la condition de rugosité n’est pas respectée, et il le faut pour pouvoir caractériser optionnellement le bruit de speckle, ou bruit de tavelure, c’est-à-dire le bruit généré par le phénomène de tavelure électromagnétique, tout en étant comparable à celui des cibles qu'on compte mesurer. Préférentiellement, lequel l’étape de génération du signal utile comprend l’étape suivante : Filtrer par un fenêtrage fréquentiel chaque signal utile autour de la au moins une fréquence Doppler ; Très préférentiellement, l’étape de génération du signal utile emploie un fenêtrage fréquentiel entre 0,7 et 1,3 fois la fréquence Doppler Il est possible bien que non nécessaire de filtrer le signal temporel autour de la fréquence Doppler qui porte l’information utile pour isoler un signal temporel utile mettant en evidence les interférences électromagnétiques. L’incertitude sur la fréquence Doppler exacte conduit naturellement à réaliser un filtrage sélectif autour de la fréquence Doppler déterminée. L’incertitude potentielle sur la détermination de la fréquence Doppler conduit à filtrer le signal sur une largeur liée à la fréquence Doppler, le fenêtrage compris entre 0,7 et 1,3 fois la fréquence Doppler déterminée permet à la fois de couvrir l’incertitude sur la fréquence Doppler tout en se focalisant sur le seul fondamental qui généralement porte une information suffisante. Préférentiellement, l’étape de détermination de la fréquence Doppler s’effectue par : Une transformée de fourrier du signal utile ; ou L’application d’une formule théorique prenant en compte la vitesse relative V suivant la direction U entre le système de génération et la surface externe, l’angle d’incidence θ du faisceau émis sur le plan médian de la surface externe et la longueur d’onde λ du faisceau de lumière définie comme suit : ; ou Une analyse temporelle du signal temporel pour détecter la période entre deux créneaux ou la longueur du créneau. Ces trois méthodes permettent de déterminer une fréquence Doppler du signal temporel. La deuxième méthode consiste simplement à évaluer théoriquement la fréquence Doppler en connaissant les caractéristiques techniques du système de génération. La première méthode effectue une transformée de Fourrier du signal temporel pour extraire la fréquence fondamentale qui émerge du spectre fréquentiel. Si le nombre d’échantillon du signal temporel est un multiple de 2, une transformée de Fourier rapide peut être effectuée ce qui permet un traitement accéléré de la fonction. Dans la troisième méthode, il convient d’analyser un échantillon temporel du signal afin de détecter les franges et notamment l’espacement entre des franges consécutives pour en déduire la fréquence Doppler. Bien entendu, on peut utiliser conjointement plusieurs de ces méthodes pour converger rapidement vers la fréquence Doppler du signal. Toutes ces méthodes peuvent s’effectuer en embarqué sur le dispositif où est installé le système de génération en minimisant les ressources de calcul ou de mémoire. Préférentiellement, l’étape de détermination de l’enveloppe du signal utile s’effectue sur la valeur absolue du signal utile. Le demandeur a constaté que la détermination de l’enveloppe sur le signal utile lorsque celui-ci correspond à la valeur absolue du signal utile apporte un gain en robustesse au procédé de détermination du profil de la surface externe. En effet, le signal utile oscille autour de la valeur nulle, le fait de prendre la valeur absolue élimine les perturbations liées aux phasages des deux signaux utiles ce qui améliore la prédiction de la distance d de la surface externe du milieu. Très préférentiellement, l’étape de détermination de l’enveloppe de chaque signal utile comprend une étape de nettoyage du bruit de speckles, c’est-à-dire le bruit de tavelure, sur l’enveloppe déterminée. En effet , il est souvent préférable d’éliminer de l’enveloppe déterminée, les effets speckles, c’est-à-dire les effets produits par le bruit de tavelure, générés par l’effet Doppler et les signaux parasites de la rétro diffusion de lumière. A cet effet, des filtres spécifiques sont à employer comme les filtres Lee Sigma ou gamma Map qui sont très efficaces pour nettoyer la signature retenue. Ce nettoyage améliore la prédiction du profil de la surface externe du milieu en minimisant le bruit sur le signal utile. Le nettoyage sur l’enveloppe permet d’atténuer statiquement le bruit de mesure tout en déterminant les paramètres de ce nettoyage a priori, ce qui permet une exploitation en temps réel et embarquée du profil de la surface externe. Préférentiellement , l’étape de nettoyage du bruit de speckle, c’est-à-dire du bruit de tavelure, sur l’enveloppe du signal comprend les étapes suivantes : Déterminer une taille de fenêtre temporelle et un taux de recouvrement entre des fenêtres contigûes associés à une méthode de filtrage sur le système de génération des signaux temporels A et B ; Découper l’enveloppe déterminée par un nombre entier N de fenêtres Déterminer une grandeur carcaréristique à chaque fenêtre comme étant une moyenne des valeurs pondérées de l’enveloppe contenues dans ladite fenêtre ; et Définir l’enveloppe nettoyée de chaque signal comme étant la suscesion des grandeurs caractéristiques de chaque fenêtre. Afin de permettre une exploitation en temps réel du procédé d’obtention du profil de la surface externe, il convient d’effectuer des opérations simples sur les signaux temporels issus de la mesure. Après avoir défini la méthode de filtrage employée qui est fonction à la fois de la nature de la surface externe du milieu à mesurer et du système de mesure employé, on découpe l’enveloppe en une multitude de fenêtres dont la taille est adaptée au bruit de speckle avec ou sans un recouvrement des fenêtres entre elles selon la méthode de filtrage employée. Pour chaque fenêtre qui correspond à l’utilisation d’un espace mémoire limitée, on calcule une moyenne des valeurs de l’enveloppe de la fenêtre. Ces valeurs sont potentiellement pondérées en cas de recouvrement entre les fenêtres contigües. Le signal reconstitué par les grandeurs caractéristiques de chaque fenêtre forme l’enveloppe nettoyée du bruit de speckle. Très préférentiellement, la méthode de filtrage de l’étape de nettoyage du bruit de speckle, c’est-à-dire du bruit de tavelure, est comprise dans le groupe comprenant GammaMAP et Sigma. Ce sont des méthodes de filtrage dont l’efficacité pour caractériser des rugosités de surface externe millimétrique est suffisante en employant les systèmes de génération des signaux divulgués dans l’invention. Avantageusement, la détermination de la taille temporelle des fenêtres de filtrage et le taux de recouvrement entre des fenêtres contigües s’effectue lors d’une étape de la calibration du bruit de speckle, c’est-à-dire du bruit de tavelure, comprenant les étapes suivantes : Employer une cible blanche et rugueuse dont la rugosité de surface est supérieure à la longueur d’onde du premier et second faisceaux de lumière. Pour au moins une position connue de la cible par rapport au système de génération du signal représentatif ; Déterminer l’enveloppe d’au moins un des signaux A et B ; Transformer l’enveloppe dans le domaine fréquentiel pour obtenir une distribution ; Moyenner la au moins une distribution pour définir une distribution gaussienne de speckle, c’est-à-dire une distribution gausssienne de tavelure, liée au système de génération ; Définir au moins un bruit fréquentiel de speckles, c’est-à-dire un bruit fréquentiel de tavelure, comme le produit de la distribution gaussienne de speckle, c’est-à-dire la distribution gaussienne de tavelure, par un bruit aléatoire uniformément distribué entre 0 et 1 ; Appliquer le au moins un bruit de speckle, c’est-à-dire bruit de tavelure, à un profil théorique pour obtenir au moins un profil théorique bruité ; et Déterminer la taille de fenêtre temporelle et le taux de recouvrement en minimisant l’écart entre le profil théorique et le au moins un profil théorique bruité par analyse statistique. En effet, l’amplitude de l’enveloppe est à la fois la combinaison de la réflectivité de la surface externe du milieu au point d’impact des faisceaux de lumière, de la distance entre le point d’impact sur la surface externe et le point de focalisation du faisceau de lumière et d’un bruit de type speckle. Ce bruit de speckle, ou bruit de tavelure, est lié à la fois aux angles d’incidence des faisceaux de lumière et de la distance entre la surface externe et les deux points géométriques d1 et d2. De ce fait, le bruit de speckle ,ou bruit de tavelure, est directement lié à l’agencement du système de génération des signaux. Le modèle mathématique du bruit de speckle, ou bruit de tavelure, peut être le produit d’une distribution fréquentielle gaussienne par un bruit uniformément réparti entre 0 et 1. Ce bruit uniformément réparti est statiquement aléatoire, il convient donc juste d’identifier la bonne distribution gaussienne des fréquences du bruit de speckle, ou bruit de tavelure, par calibration du système de génération. Comme la distribution gaussienne est d’une certaine largeur fréquentielle, il convient de prendre une fenêtre temporelle suffisante pour ne pas amputer l’opération de nettoyage d’une erreur liée à la transformation temporelle/fréquentielle des signaux. Cela revient à moyenner le signal temporel de l’enveloppe déterminée sur une temps suffisamment long pour être représentatif statiquement du bruit de speckle, ou bruit de tavelure, lié au système de génération. La première phase est de quantifier le bruit de speckle, ou bruit de tavelure, sur les réponses des signaux du système de génération. Pour cela, l’analyse d’un seul parcours de lumière peut être faite sur une seule position de la cible. Cependant, il est préférable de multiplier les positions de la cible et d’analyser les divers signaux du système de génération. Après avoir obtenu une multitude d’enveloppes, on détermine une distribution gaussienne de ces enveloppes par une technique de moyennage des diverses distributions obtenues. La seconde étape consiste à créer une multitude de profils bruités à partir d’un profil théorique en générant une multitude de bruit de speckle, ou bruit de tavelure, associé au système de génération. Enfin, on détermine la taille de fenêtrage temporelle optimale et le taux de recouvrement entre les fenêtres contigües à l’aide d’une analyse statistiques sur l’ensemble des profils bruités en comparaison avec un profil théorique connu en choisissant les paramètres qui minimisent les écarts sur l’ensemble de la population des profils bruités. Avantageusement, l’étape de combinaison des enveloppes nettoyées comprend la différence des enveloppes nettoyées exprimées en échelle logarithmique. Le demandeur a constaté que cette mise en forme de la combinaison mathématique des enveloppes nettoyées permettait d’améliorer la sensibilité de la fonction F, ce qui améliore la précision sur l’évaluation de la distance d de la surface externe du milieu. Du fait de la propagation gaussienne des faisceaux de lumière et de ce fait de la puissance rétrodiffusée, l’échelle logarithmique permet de linéariser la puissance lumineuse rétrodiffusée en fonction de la distance par rapport au point de focalisation du faisceau de lumière. La fonction F est linéaire de façon plus indépendante de la position des points géométriques et de la focalisation des faisceaux de lumière au niveau des points géométriques. Description brève des dessins L’invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui va suivre dans le cas d’une application de type dispositif fixe et milieu observé en mouvement. Cette application est donnée uniquement à titre d’exemple et faite en se référant aux figures annexées dans lesquelles : La Fig 1 est un premier exemple d’un premier mode de réalisation d’un système de génération selon l’invention. La Fig 2 est un second exemple du premier mode de réalisation selon l’invention. La Fig 3 est un troisième exemple du premier mode de réalisation selon l’invention. La Fig 4 est un quatrième exemple préféré du premier mode de réalisation selon l’invention. La Fig 5 est un exemple d’un second mode de réalisation du système de génération selon l’invention. La Fig 6 est un synoptique de la méthode d’évaluation du profil de la surface externe d’un milieu à l’aide de signaux issus du système de génération de l’invention. Les Fig 7a à 7f illustrent les diverses étapes et la qualité de la méthode d’évaluation du profil d’une surface externe en dynamique et en temps réel. Description détaillée de modes de réalisation Pour la mise en œuvre de l’invention, il convient tout d’abord de définir un système optique permettant de générer deux faisceaux de lumière dont le point de focalisation est situé de part et d’autre de la surface externe que l’on souhaite observer. La Fig 1 présente un premier système de génération 1 de signal représentatif du profil de la surface externe 22 du milieu 21. La surface externe 22 définit un plan médian 23 pour lesquels, les points de la surface sont statiquement équitablement répartis de part et d’autre du plan médian 23. Ce plan médian 23 définit une direction normale qui se caractérise sur la figure par une ligne droite alternée de pointillés et de traits située verticalement selon la direction W. La figure montre une vue en coupe de la surface externe 22 dans un plan défini par la direction U de mouvement du milieu 21 par rapport au dispositif statique sur lequel est installé le système de génération 1. Les chemins optiques 11’ et 12’ dessinent sur la surface externe 22 une ligne de lecture suivant la direction U. Dans cette Fig 1, le système de génération 1 correspond à un sytème de génération de l’invention selon un premier mode de réalisation dans lequel une seule source de lumière est employée. Une source laser 2 émet un premier faisceau gaussien de lumière cohérente monochromatique à une longueur d’onde λ suivant un premier parcours optique 11 déterminé par le trait continu issu de la source 2. Ce premier faisceau de lumière traverse en sens aller un capteur de lumière 3 avant de rencontrer une première lentille de focalisation 5 dont la distance focale est f1. A la sortie de la première lentille de focalisation 5, la lumière est focalisée à une distance de focalisation f1 suivant n’importe quel chemin optique. Le premier chemin optique 11’ issus du premier faisceau de lumière ayant traversé la première lentille de focalisation 5 est ensuite divisé en 2 au travers d’un cube séparateur 4 par exemple 50/50. Ainsi, la puissance lumineuse est séparée en deux parties égales et chaque demie puissance est dirigée suivant deux directions différentes. Le cube séparateur 4 est le moyen de génération d’un second faisceau de lumière issu du premier faisceau de lumière suivant un second parcours optique 12 qui est identique au second chemin optique 12’. Par conséquent elle garde ses caractéristiques du premier faisceau de lumière. Ainsi le second faisceau de lumière est gaussien, cohérent et monochromatique à la même longueur d’onde que le premier faisceau de lumière. De plus, il est généré depuis un faisceau de lumière focalisé, ainsi le second chemin optique 12’ est créé. Le miroir 7 joue ici le rôle de moyen de cheminement suivant le second chemin optique 12’. Il a pour premier rôle de diriger le second faisceau de lumière vers la surface externe 22 suivant un angle d’incidence dont la projection angulaire par rapport à la normale au plan médian 23 dans le plan défini par la normale au plan médian 23 et la direction U vaut θ2 qui est préférentiellement inférieure à 45 degrés tout en étant obligatoirement non nulle. Le second rôle du miroir 7 est de définir la position du point géométrique d2 de sorte que ce point soit différent du point géométrique d1 où se focalise le premier chemin optique 11’. De ce fait, le point géométrique d2 correspondant à la distance de focalisation f2 du second faisceau de lumière se trouve au-dessus du plan médian 23 de la surface externe 22 du milieu 21. Ce second faisceau de lumière vient impacter la surface externe 22 au point d’impact 14 sous un angle d’incidence dont la projection, dans le plan, vaut θ2. L’autre demie puissance restante suit le premier chemin optique 11’ et vient impacter la surface externe 22 au point d’impact 13 sous un angle d’incidence dont la projection par rapport à la normale au plan médian 23 dans le plan défini auparavant vaut θ1 qui est supérieur à 1 degré. Pour cette partie du premier faisceau de lumière, la distance de focalisation f1 et le premier chemin optique 11’ définit un premier point géométrique d1 situé en dessous du plan médian 23 de la surface externe 22. Ici, les deux points d’impact 13 et 14 correspondants respectivement à la rencontre du premier chemin optique 11’ et respectivement du second chemin optique 12’, avec la surface externe 22 sont écartés d’une distance X suivant la direction U. Une partie des premiers et second faisceaux de lumière incidents sont rétrodiffusées par la surface externe 22 au niveau de chacun des points d’impact 13 et 14. Une partie de cette lumière rétrodiffusée suit le cheminement inverse du parcours optique incident. En particulier, les deux faisceaux de lumière se réunissent après le cube séparateur 4 pour poursuivre conjointement leur route vers la source de lumière 2 et passant obligatoirement par le capteur de lumière 3. La rencontre du premier faisceau incident et du faisceau rétrodiffusé engendre des interférences électromagnétiques tant que ces deux faisceaux sont cohérents entre eux. Ce système de génération 1 selon le premier mode de réalisation, employant une seule source de lumière 2, mais aussi équipé d’un seul capteur de lumière 3 ne délivre qu’un seul signal électrique en sortie du capteur de lumière 3 qu’il dirige vers le dispositif électronique comprenant l’amplificateur de signaux 9. Le capteur de lumière 3 doit être capable de traduire les interférences électromagnétiques qui ont lieu au niveau de ce capteur de lumière 3 en un signal électrique. Peu importe la localisation du capteur de lumière 3 sur le premier parcours optique mais il est préférable de le positionner où la somme des deux faisceaux de lumière génère une taille de faiceau le plus petit pour optimiser les interférences. Afin de dissocier sur l’unique signal électrique du capteur de lumière 3 les informations issues de l’interférence du premier et du second faisceaux de lumière, il est préférable que l’information soit facilement détectable. Or, l’information utile est ici portée en particulier par le fondamental de la fréquence Doppler et ses harmoniques. La fréquence Doppler est dictée en théorie par trois paramètres. Le premier correspond à la vitesse V relative selon la direction U entre le milieu 21 et le dispositif sur lequel le système de génération 1 est monté. Le second est l’angle d’incidence θ entre le faisceau de lumière et la normale à la surface externe 22 que l’on prendra comme étant celle du plan médian 23. Le troisième est la longueur d’onde λ de la lumière cohérente. Ici, seul l’angle d’incidence θ du faisceau de lumière peut générer un paramètre efficace pour dissocier les deux fréquences Doppler. En effet, les deux autres paramètres sont potentiellement identiques par construction de ce système de génération 1. De ce fait, les premier et second angles d’incidence par rapport à la normale au plan médian 23, ici on parle de leur projection dans le plan défini plus haut, sont différents, ce qui permet de dissocier les fréquences Doppler l’une de l’autre. Enfin, afin que les signaux issus de chaque faisceau de lumière puissent être exploités pour déterminer la distance d de la surface externe 22, et de ce fait permettre la reconstruction du profil de la surface externe 22 selon la ligne de lecture, il convient d’écarter les deux points géométriques d1 et d2 d’une longueur supérieure à la plus grande longueur de Rayleigh des deux faisceaux gaussiens de lumière. En effet, la propagation gaussienne de la lumière assure que la quantité de lumière rétrodiffusée est proportionnelle à la distance entre le point de focalisation du faisceau de lumière et la surface externe 22 où la rétrodiffusion a lieu. En fait, l’énergie sera maximale si, la surface externe 22 se situe au point de focalisation. Plus on s’en éloigne, plus l’énergie lumineuse rétrodiffusée diminue suivant une courbe gaussienne ce qui apporte une dynamique mesurable sur les interférences électromagnétiques. En assurant un éloignement suffisant entre les deux points de focalisation, on assure qu’une combinaison des interférences électromagnétiques mesurées sur chaque voie permet de déduire la distance d de la surface externe 22. On peut observer les interférences électromagnétiques au travers du phénomène de self mixing ou phénomène de rétroinjection optique, en employant une source laser comme source de lumière 2, équipée par exemple d’une photodiode comme capteur de lumière 3 L’enregistrement temporel du signal de sortie de la photodiode est alors une image des interférences de la lumière entre le faisceau incident et le faisceau rétrodiffusé par la surface externe. Les variations temporelles sont dues à la fois à la distance entre le point de focalisation d et la surface externe 22, la réflectivité de la surface externe 22. L’information est en partie portée par la fréquence Doppler liée à la vitesse relative V entre le milieu 21 et le système de génération 1. En assurant deux voies de mesure correspondant chacune à un faisceau de lumière pointant sur la même ligne de lecture de la surface externe 22 dont le point de focalisation est différent, les deux voies de mesures sont chacune le résultat de la réflectivité de la surface externe 22 et de la distance entre le point de focalisation et la surface externe 22. La combinaison des deux voies permet de rendre insensible le résultat des deux voies à la réflectivité de la surface externe 22 et de n’être dépendant que de la distance des deux points de focalisations ou géométriques par rapport à la surface externe 22. La Fig. 2 illustre un second exemple d’un système de génération 1 selon le premier mode de réalisation, c’est-à-dire comprenant une unique et seule source de lumière 2. Cette fois-ci, le premier faisceau de lumière issu de la première source de lumière 2 est focalisé à l’aide d’une lentille de focalisation 5 située en amont du premier dispositif optique 4. Une nouvelle fois, ce dispositif optique 4 joue aussi le rôle d’un moyen de génération d’un second faisceau de lumière gaussien, cohérent, monochromatique et qui plus est, focalisé. Ainsi, le second parcours optique 12 généré à la sortie du dispositif optique 4 correspond au second chemin optique 12’. Ce second faisceau de lumière est dû à la séparation de la puissance lumineuse du premier faisceau gaussien au travers du cube séparateur 4. Celui-ci délivre un premier chemin optique 11 qui dirige une première partie du premier faisceau de lumière vers la surface externe 22 du milieu 21 sous une incidence de sorte que la projection θ1 de l’angle d’incidence par rapport à la normale suivant le plan médian 23 de la surface externe 22 soit supérieur à un degré. Ainsi, sous cette incidence, le faisceau rétrodiffusé est soumis à l’effet Doppler provoqué par la vitesse de déplacement V entre le dispositif comprenant le système de génération 1 et le milieu 21 suivant la direction U. De même le second faisceau de lumière qui est l’autre partie du premier faisceau de lumière suit un second chemin optique 12’ vers la surface externe 22 du milieu 21. Ici, le moyen de cheminement de ce second faisceau de lumière comprend un miroir 7 qui redirige le second faisceau de lumière vers la surface externe 22. Sur le second chemin optique 12’ se trouve un second capteur de lumière 3’ capable de mesurer les interférences électromagnétiques entre le second faisceau de lumière émis et le faisceau rétrodiffusé par la surface externe issu de ce second faisceau de lumière. Dans cette figure, le second capteur 3’ est situé en aval du miroir 7 selon le second chemin optique 12’ dans la direction incidente. Dans notre cas particulier, la projection de l’angle d’incidence du second faisceau de lumière par rapport à la normale à la surface externe 22, noté θ2 est proche ou identique à θ1. Comme les premier et second faisceaux de lumière ont la même longueur d’onde λ1, des incidences par rapport à la normale au plan médian 23 de la surface externe 22 proche ou identique, le second capteur de lumière est indispensable pour dissocier les deux informations de distances en lien avec le premier 11’ et second 12’ chemin optique. Afin que le faisceau rétrodiffusé issu du second chemin optique 12’ ne vienne pas perturber les interférences électromagnétiques entre le premier faisceau de lumière et son faisceau rétrodiffusé au niveau du premier capteur de lumière 3, il est nécessaire d’apposer un milieu absorbant sur le chemin retour du second chemin optique 12’. Dans cet exemple, celui-ci est matérialisé sous la forme d’un trait discontinu sur la face du miroir 7. Ce composant absorbe la lumière rétrodiffusée par la surface externe 22. Dans une autre alternative, ce composant pourrait se situer en amont jusqu’à la face de séparation du cube séparateur 4. L’objectif est qu’il ne perturbe pas les premiers faisceaux de lumière incidents et rétrodiffusés suivant le premier parcours optique 11. Bien entendu, le plus long chemin optique, ici le second chemin optique 12’, comporte un point géométrique d2 situé au-dessus de la surface externe 22 où le second faisceau de lumière est le plus focalisé. Ce point correspond aussi au maximum de lumière rétrodiffusée selon le second chemin optique 12. Par analogie, le premier chemin optique 11’ est le plus court pour atteindre la surface externe 22. Par conséquent son point géométrique d1 est situé de l’autre côté du plan médian 23 et virtuellement à l’intérieur du milieu 21. Ici, les deux points d’impact 13 et 14 des premier 11’ et second 12’ chemins optiques sont espacés d’une distance X suivant la direction U. Une correction temporelle entre les deux signaux issus des premier 3 et second 3’ capteurs de lumière sera à effectuer pour en déduire la distance d de la surface externe 22 du milieu 21 et ainsi construire le profil de la surface externe 22. Cependant, les deux chemins optiques ayant une incidence similaire par rapport à la normale au plan médian 23 dans un plan défini par la direction U et la normale au plan médian 23, la matrice de correction à employer sur l’un ou l’autre des signaux électriques est plus facile à mettre en œuvre ce qui permet un traitement en temps réel plus rapide. Comme dans la figure 1, les capteurs sont ici tous les deux reliés au dispositif électronique comprenant un amplificateur de signaux 9 qui permet une synchronisation des deux voies de mesure issus chacune d’un capteur de lumière 3 et 3’. La Fig 3 présente un troisième exemple d’un système de génération 1 selon le premier mode de réalisation. Cette fois-ci, le premier faisceau de lumière issus de la première source de lumière 2 est focalisé à l’aide d’une lentille de focalisation 5 située en aval du premier dispositif optique 4. Une nouvelle fois, ce dispositif optique 4 joue aussi le rôle d’un moyen de génération d’un second faisceau de lumière gaussien, cohérent et monochromatique. Ce second faisceau de lumière est dû à la séparation de la puissance lumineuse du premier faisceau gaussien au travers du cube séparateur 4. Celui-ci dirige une première partie du premier faisceau de lumière vers la surface externe 22 du milieu 21 sous une incidence de sorte que la projection θ1 de l’angle d’incidence par rapport à la normale suivant le plan médian 23 de la surface externe 22 soit supérieure à un degré. Ainsi, sous cette incidence, le faisceau rétrodiffusé est soumis à l’effet Doppler provoquée par la vitesse de déplacement V entre le dispositif comprenant le système de génération 1 et le milieu 21 suivant la direction U. De même le second faisceau de lumière qui est l’autre partie du premier faisceau de lumière suit un second chemin optique 12 après avoir été focalisé à l’aide d’une seconde lentille de focalisation 6 vers la surface externe 22 du milieu 21. Ici, le moyen de cheminement de ce second faisceau de lumière comprend un miroir 7 qui redirige le second faisceau de lumière vers la surface externe 22. Sur le second parcours optique se trouve un second capteur de lumière 3’ capable de mesurer les interférences électromagnétiques entre le second faisceau de lumière émis et le faisceau rétrodiffusé par la surface externe 22 issu de ce second faisceau de lumière. Dans cette figure, le second capteur 3’ est située en amont du miroir 7 selon le second parcours optique 12 dans le sens incident. Dans notre cas particulier, la projection de l’angle d’incidence du second faisceau de lumière par rapport à la normale à la surface externe 22, noté θ2 est proche ou identique à θ1. Comme les premier et second faisceaux de lumière ont la même longueur d’onde λ1, des incidences par rapport à la normale au plan médian 23 de la surface externe 22 proche ou identique, le second capteur de lumière 3’ est indispensable pour dissocier les deux informations de distances en lien avec les premier 11 et second 12 chemins optiques. Afin que le faisceau rétrodiffusé issu du second chemin optique 12’ ne vienne pas perturber les interférences électromagnétiques entre le premier faisceau de lumière et son faisceau rétrodiffusé au niveau du premier capteur de lumière 3, il est nécessaire d’apposer un milieu absorbant la lumière sur le chemin retour du second parcours optique 12. Dans cet exemple, celui-ci est matérialisé sous la forme d’un trait discontinus sur un élément optique de transition 8. Ce composant absorbe la lumière rétrodiffusée par la surface externe 22. Dans une autre alternative, ce composant pourrait se situer en amont jusqu’à la face de séparation du cube séparateur 4. L’objectif est qu’il ne perturbe pas les premiers faisceaux de lumière incident et rétrodiffusé suivant le premier parcours optique 11. A noter ici que le premier faisceau de lumière trouve sur son parcours un cube séparateur qui redirige une partie infime du premier faisceau de lumière, aussi bien incident que rétrodiffusé vers le premier capteur de lumière 3 qui se trouve donc en dehors du premier parcours optique 11 vers la surface externe 22. En effet, il n’est pas nécessaire que l’observation des interférences électromagnétiques entre le faisceau incident et le faisceau rétrodiffusé se fasse sur le parcours optique. La seule condition est que la zone spatiale d’observation de ces interférences électromagnétiques soit une zone de cohérence spatiale des faisceaux entre eux. En effet, un faisceau de lumière initialement cohérent perd inéluctablement son caractère cohérent au bout d’un certain parcours spatial et temporel. Bien entendu, le plus long chemin optique, ici le premier chemin optique 11, comporte un point de focalisation d1 situé en dessous de la surface externe 22 ou le premier faisceau de lumière est le plus focalisé. Ce point correspond aussi au maximum de lumière rétrodiffusée selon le premier chemin optique 11 malgré que ce point d1 soit virtuel, c’est -à-dire à l’intérieur du milieu 21. Par analogie, le second chemin optique 12 est le plus court pour atteindre la surface externe 22. Par conséquent son point géométrique d2 est situé de l’autre côté du plan médian 23. La longueur du chemin optique est ici pilotée par la distance de focalisation f de la lentille de focalisation et le cheminement du chemin optique depuis la lentille de focalisation et la surface externe 22. Comme sur la figure 3, les lentilles de focalisation 5 et 6 sont à la même distance de la surface externe 22 suivant le cheminement de la lumière de chaque chemin, c’est la différentiation de la distance de focalisation de la lentille de focalisation qui génère les longueurs différentes selon les chemins optiques 11 et 12 Ici, les deux points d’impact 13 et 14 des premier 11 et second 12 chemins optiques sont espacés d’une distance X suivant la direction U. Une correction temporelle entre les deux signaux issus des premier 3 et second 3’capteurs de lumière sera à effectuer pour en déduire la distance d de la surface externe 22 du milieu 21. Cependant, les deux chemins optiques ayant une incidence similaire par rapport à la normale au plan médian 23 dans un plan défini par la direction U et la normale au plan médian 23, la matrice de correction à employer sur l’un ou l’autre des signaux électriques est plus facile à mettre en œuvre ce qui permet un traitement en temps réel plus rapide. Comme dans la figure 1, les capteurs sont ici tous les deux reliés au dispositif électronique comprenant un amplificateur de signaux 9 et qui permet une synchronisation des deux voies de mesure issues chacune d’un capteur de lumière 3 et 3’. La Fig. 4 est une illustration d’un quatrième exemple d’un système de génération 1 selon le premier mode de réalisation, c’est l’exemple préféré de ce mode de réalisation. Cette fois-ci, le premier faisceau de lumière issu de la première source de lumière 2 est focalisé à l’aide d’une lentille de localisation 5 située en aval du premier dispositif optique 4. Une nouvelle fois, ce dispositif optique 4 joue aussi le rôle d’un moyen de génération d’un second faisceau de lumière gaussien, cohérent et monochromatique. Ce second faisceau de lumière est dû à la séparation de la puissance lumineuse du premier faisceau gaussien au travers du cube séparateur 4. Celui délivre une première partie du premier faisceau de lumière vers la surface externe 22 du milieu 21 sous une incidence de sorte que la projection θ1 de l’angle d’incidence par rapport à la normale suivant le plan médian 23 de la surface externe 22 soit supérieure à un degré. Préalablement au point d’impact 13 sur la surface externe 22, le faisceau de lumière est focalisé par la lentille de focalisation 5 à une distance focale f1 de sorte que le point géométrique d1 qui est le point de focalisation f1 suivant le premier chemin optique 11 soit un point virtuel situé dans le milieu 21 Ainsi, sous cette incidence, une partie du faisceau de lumière subit l’effet Doppler, le faisceau rétrodiffusé porte alors une information de type Doppler qui sera exploitée pour déterminer la distance d de la surface externe. De même le second faisceau de lumière qui est l’autre partie du premier faisceau de lumière suit un second parcours optique vers la surface externe 22 du milieu 21. Ici, le moyen de cheminement de ce second faisceau de lumière comprend un miroir 7 qui redirige le second faisceau de lumière vers la surface externe 22. Sur le second parcours optique se trouve une seconde lentille de focalisation 6 dont la focale f2 focalise le second faisceau de lumière au point géométrique d2 situé au-dessus du plan médian 23. Le point d’impact 14 du second faisceau de lumière suivant le second chemin optique est identique au premier point d’impact 13 d’une partie du premier faisceau de lumière. Seule la projection θ2 de l’angle d’incidence du second faisceau de lumière sur le surface externe 22 par rapport à la normale au plan médian 23 diffère de la projection θ1. Dans cette figure 4, le système de génération 1 comprend un unique et seul capteur de lumière 3 situé sur le premier parcours optique du premier faisceau de lumière. Celui-ci est connecté à un amplificateur de signaux 9 pour rendre exploitable le signal électrique délivré par le capteur 3. Le capteur 3 enregistre les interférences électromagnétiques du premier et second faisceau de lumière. Ceux-ci portent l’information sur les fréquences Doppler de chaque faisceau de lumière. Ces fréquences dépendantes de la longueur d’onde de la lumière monochromatique, de la vitesse de déplacement V et de l’angle d’incidence suivant la direction U. En raison des écarts sur l’angle d’incidence, les informations portés par chacun des faisceaux de lumière sont facilement dissociables. En effet, le rapport des angles de projections est d’environ 1, 5. De plus les angles d’incidences sont tous les deux contenus dans un cône dont l’axe de révolution est porté par la normale au plan médian 23, dont l’angle d’ouverture est inférieur à 30 degrés et dont le sommet se situe sur le plan médian 23 de la surface externe 22. Afin que le faisceau rétrodiffusé issu du second chemin optique perturbe à minima les interférences électromagnétiques entre le premier faisceau de lumière et son faisceau rétrodiffusé au niveau du premier capteur de lumière 3, il est préférable que les deux faisceaux de lumière en aval de leur lentille de focalisation, c’est-à-dire au niveau de leur chemin optique ne se croisent pas avant la surface externe. C’est une précaution à prendre pour tout système de génération 1 du premier mode de réalisation qui ont une seule source de lumière 2. Ici, les deux points d’impact 13 et 14 des premier 11 et second 12 chemins optiques sont confondus. Ceci évite toute correction temporelle entre les deux signaux couplés au niveau du capteur de lumière 3. Ainsi, les deux signaux seront directement exploitables pour en déduire la distance d de la surface externe 22 du milieu 21, ce qui permet un traitement en temps réel plus rapide. De plus, l’utilisation d’un seul capteur ne nécessite pas une synchronisation des signaux limitant aussi les petites erreurs, ce qui réduit le bruit sur les signaux. C’est le montage préférentiel du premier mode de réalisation en raison de l’absence de ces corrections temporelles sur les signaux qui accélère le traitement des signaux et limitent le bruit sur les signaux. De plus, c’est un montage peu couteux puisque l’on utilise une seule source de lumière et un seul capteur. La Fig. 5 présente un premier exemple d’un système de génération 1 selon le second mode de réalisation, c’est-à-dire comprenant deux sources de lumière 2 et 2’. Cette fois-ci, le premier faisceau de lumière issu de la première source de lumière 2 est focalisé à l’aide d’une lentille de localisation 5 située en amont d’un premier dispositif optique 4’ suivant le cheminement incident de la lumière. Mais, le second faisceau de lumière est lui généré par une seconde source de lumière 2’ délivrant aussi un faisceau de lumière gaussien, cohérent et monochromatique. Ce second faisceau de lumière est focalisé à l’aide d’une seconde lentille de focalisation 6 située en amont du premier dispositif optique 4’. Cette fois-ci, ce dispositif optique 4’ redirige le premier faisceau de lumière focalisé vers la surface externe 22 du milieu 21 suivant un premier chemin optique 11. Ce dispositif optique 4’ joue d’autre part le rôle d’un moyen de cheminement du second faisceau de lumière focalisé en redirigeant celui-ci vers la surface externe 22 du milieu 21 sur un second chemin optique 12. Mais, ce dispositif optique 4’ permet essentiellement de fusionner les deux faisceaux de lumière en un seul, ce qui garantit que les deux chemins optiques 11 et 12 sont identiques après le passage des faisceaux incidents au travers du dispositif optique 4’, qui est un cube optique fusionnant des faisceaux initialement non parallèles. Ainsi les premier et second faisceaux de lumière convergent vers la surface externe 22 du milieu 21 sous une incidence de sorte que la projection θ de l’angle d’incidence par rapport à la normale suivant le plan médian 23 de la surface externe 22 soit supérieure à un degré. Ainsi, sous cette incidence, le faisceau rétrodiffusé est soumis à l’effet Doppler provoqué par la vitesse de déplacement V entre le dispositif comprenant le système de génération 1 et le milieu 21 suivant la direction U. Cependant, comme on désire que les points géométriques d1 et d2 pour chacun des faisceaux de lumière se situent de part et d’autre du plan médian, il suffit pour cela de déplacer relativement les deux lentilles de focalisation 5 et 6 sur leur chemin optique respectif 11 et 12 pour que la distance focale f1 et f2 de chacune des lentilles définissent des points géométriques d1 et d2 différents. Il est aussi possible d’employer des lentilles de focalisation 5 et 6 dont les distances de focalisation f1 et f2 diffèrent de sorte à définir les points géométriques différents. Ici, le système de génération 1 comprend deux capteurs de lumière 3 et 3’ associés respectivement au premier et second parcours optiques. Chaque capteur de lumière 3 et 3’ enregistre les interférences électromagnétiques entre le faisceau de lumière incident et son faisceau rétrodiffusé par la surface externe 22 du milieu 21. Les sources de lumière 2 et 2’ étant physiquement dissociées, les faisceaux de lumière issus de l’une ne peuvent être cohérents avec les faisceaux de lumière issus de l’autre ce qui limite les interférences entre les premiers et seconds faisceaux de lumière. Ainsi, les interférences électromagnétiques mesurées sont liées à une unique source de lumière quelle que soit la longueur d’onde de la source de lumière 2 et 2’. Les deux signaux électriques issus de chaque capteur de lumière 3 et 3’ sont synchronisés au niveau du dispositif électronique comprenant un amplificateur de signaux. Les signaux ne nécessitent aucune correction temporelle puisque qu’ils ont le même point d’impact 13 et 14 sur la surface externe 22. Ici, ce second mode de réalisation est économiquement intéressant si les sources de lumière sont des diodes lasers classiques ayant au niveau de leur cavité amplificatrice une photodiode intégrée qui sert de capteur de lumière 3 ou 3’. Le packaging est alors concentré et bon marché permettant une exploitation économique du système de génération 1. En effet, lorsqu’une seule source de lumière est employée comme dans le cas du premier mode de réalisation, l’emploi d’une source laser autre qu’une diode est envisageable. On peut aussi se servir de la cavité amplificatrice du laser comme zone spatiale privilégiée d’observation des interférences électromagnétiques. L’emploi d’un capteur de lumière sous la forme d’une photodiode ou phototransistor en lien avec la cavité amplificatrice peut être envisagé ou l’observation des paramètres d’alimentation de la source laser à l’aide d’un ampèremètre ou d’un voltmètre si la source laser n’est pas équipée d’une régulation électronique de son alimentation. Bien entendu, ces exemples des deux modes de réalisations sont des applications concrètes de l’invention qui ne saurait se limiter à ces exemples. En particulier toute combinaison des caractéristiques de ces exemples est envisageable et entre dans le cadre général de l’invention. La Fig 6 est un synoptique du procédé d’évaluation de la distance d de la surface externe par rapport à une référence mettant potentiellement en œuvre le système de génération d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe d’un milieu animé d’une vitesse relative V par rapport au système de génération suivant une direction U. Mais, ce procédé ne saurait pour autant se limiter à des signaux sortis de ce système de génération. La Fig 6 comprend trois phases principales. La première concerne la préparation des signaux électriques, par exemple en sortie du système de génération d’un signal représentatif du profil de la surface externe du milieu. La seconde phase concerne la mise en œuvre de ces signaux afin d’effectuer la troisième phase qui est l’évaluation à proprement dite de la distance d de la surface externe. Bien entendu cette première phase est optionnelle si un système de mesure génère directement deux signaux représentatifs du profil de la surface externe par rapport à des références connues pour le même point géométrique de ligne de lecture de la surface externe. Ce système est par exemple, le premier exemple du second mode de réalisation du système de mesure de la figure 5 ou l’exemple préféré du premier mode de réalisation de la figure 4. La première phase comprend une première étape 100 consistant à l’obtention de deux signaux temporels A et B représentatif du profil de la surface externe par rapport à une ligne de lecture. Ceux-ci peuvent par exemple être la sortie du dispositif électronique du système de génération suivant l’invention. Bien entendu, à cette étape il n’est pas certain que les deux signaux soient phasés temporellement et spatialement ce qui nécessite de passer par l’étape suivante 1001. Par exemple, ces deux points sont séparés suivant la ligne de lecture de la surface externe d’un espacement X comme dans les exemples des figures 1, 2 et 3. La seconde étape 1001 correspond la correction spatio-temporelle à appliquer à l’un et/ou l’autre des signaux temporelles A et B de l’étape 1000. Pour cela, il convient de connaitre le procédé d’obtention des deux signaux temporels, c’est-dire l’espacement spatio-temporel entre les deux points de mesure correspondant chacun à un signal temporel par rapport à une référence commune. La position spatiale peut être une position métrique obtenu visuellement par exemple. Le décalage temporel peut être la date de passage devant un point repère servant par exemple de référence commune au travers d’un signal d’horloge avec une métrique pour chaque signal. De plus, il est utile de connaitre la vitesse de défilement suivant la ligne de lecture de la surface externe associée à chaque signal temporel. L’ensemble de ces données permet de définir une matrice de corrections pour recaler spatio-temporellement les deux signaux sur un même point géométrique de la ligne de lecture. L’application de cette correction aux signaux temporels de l’étape 1000 donne le résultat de l’étape 1002 qui clôt la phase de préparation des signaux. La seconde phase correspond à une mise en forme des données de mesure, représentées par les signaux temporels obtenus à l’étape 1002 de la première phase. Le principe du procédé suivant l’invention est que l’information utile des signaux temporels est contenue par le fondamental et les harmoniques de la fréquence Doppler associée à la vitesse relative V du milieu 21 par rapport au système de mesure des signaux temporels. Ceci est indépendant du moyen physique de mesure des signaux, que cela soit la lumière, le son ou tout autre onde électromagnétique. La première étape 2001 consiste à définir la fréquence Doppler associée à la vitesse relative V. La détermination de la fréquence Doppler peut être faite au travers d’une formule mathématique comme , dans le cas de signaux de lumière la formule liant la vitesse relative V, l’angle d’incidence par rapport à la normale à la surface externe et la longueur d’onde de la lumière. Elle peut aussi résulter d’une analyse des signaux, que cette analyse soit temporelle ou fréquentielle. Connaissant cette fréquence Doppler, il est nécessaire que la fréquence d’échantillonnage des signaux temporels soit au moins deux fois supérieure à la fréquence Doppler, respect de la condition du Théorème de Shannon, afin de s’assurer que l’information des signaux temporels est vraisemblable et non induite d’incertitude liée aux conditions de mesure, ce qui correspond à l’étape 2002. Optionnellement, il peut s’avérer utile de filtrer les signaux temporels autour de la fréquence Doppler identifiée selon l’étape 2001 et ceci peut être fait par exemple sur une bande large comprise entre 0,7 et 1,3 fois la fréquence Doppler. Ainsi, selon le mode d’identification de la fréquence Doppler, théoriquement ou par analyse fréquentielle des signaux ou par analyse temporelle des signaux, ainsi que l’évolution lente potentielle de la vitesse relative V, la fréquence Doppler n’est pas forcément déterminée de manière absolue, une fenêtre large permet alors de couvrir toutes ces incertitudes en isolant l’information exploitable, ce qui correspond à l’étape 2003. Bien entendu, si les perturbations fréquentielles liées au système de mesure des signaux sont faibles, il est tout à fait envisageable de prendre le signal complet sans filtrage sélectif et passer directement à l’étape 2004. L’étape 2004 consiste à se focaliser sur le signal général portant l’information au travers de l’enveloppe du signal utile. On s’attend à que celui-ci soit une image des évènements liés à la fréquence Doppler associée à la vitesse relative V. On détermine à l’étape 2004, l’enveloppe du signal temporel utile pilotée potentiellement par une bande étroite de fréquence autour de la fréquence Doppler. Bien entendu l’enveloppe du signal utile peut être construite à partir des minimas, des maximas ou de la valeur absolue du signal utile. Le choix de la méthode dépend de la nature des signaux de mesure par rapport à la grandeur physique observée. Optionnellement, afin de statiquement éliminer les bruits parasites sur l’enveloppe du signal temporel de mesure, on effectue un nettoyage de type speckles, c’est-à-dire de type tavelure, pour en extraire l’information précise au cours de l’étape 2005. Ceux-ci permettent d’éliminer statistiquement les aléas de mesure dus au non-respect de conditions d’une mesure idéale. Cela se fait au travers d’une campagne d’apprentissage sur une cible connue représentative de la surface externe du milieu que l’on désire observer à l’aide du système de mesure envisagé. Cette phase d’apprentissage détermine une distribution gaussienne des aléas de mesure qu’il convient de coupler à un bruit équitablement réparti pour déterminer un bruit de speckle, ou bruit de tavelure. Cela permet de déterminer le fenêtrage temporel du signal utile qu’il faut prendre en compte pour nettoyer le bruit de speckles, ou bruit de tavelure, en application de la distribution gaussienne identifiée. L’étape 2005 consiste à retirer du signal d’enveloppes le bruit de speckle, ou bruit de tavelure, déterminé pour obtenir une enveloppe nettoyée sur chaque voie de mesure. Cette étape clôt la seconde phase de mise en forme des données. La dernière phase est l’évaluation de la varaition de la distance d de la surface externe par rapport à une référence permettant de déduire le profil de la surface externe. Celle-ci comprend une première étape 3001 qui consiste à combiner mathématiquement les enveloppes obtenues aux étapes 2004 ou 2005 de façon à définir une fonction F qui soit bijective. La bijectivité de la fonction F permet de garantir l’unicité de la distance d de la surface externe à l’aide des informations des deux enveloppes. Dans le cas de self mixing, ou rétroinjection optique, avec des faisceaux de lumière gaussiens et cohérents, une définition de la fonction F comme étant la différence des enveloppes exprimées en échelle logarithmique assure à la fois la monotonie et une bonne sensibilité de la fonction F sur la gamme de distance séparant les deux points géométriques d1 et d2 du système de génération présenté dans l’invention de dispositif. La précison est renforcée en prenant la valeur absolue du signal utile pour construire les enveloppes. Bien entendu, la précision s’améliore en prenant les enveloppes nettoyées . Enfin pour remonter à une distance d en relatif entre divers points de la ligne de lecture de la surface externe par rapport à une position géométrique de référence, il faut établir une calibration entre le résultat de la fonction F telle que définie à l’étape 3001 et une cible dont la position est connue par rapport aux points géométriques du système de mesure, ce qui coorespond à l’étape 3002. Cela permet de convertir la réponse de la fonction F en une grandeur métrique connue. A cet effet, une étape de calibration doit être entreprise à partir du dispositif de mesure délivrant directement ou indirectement les signaux temporels par rapport à deux points géométriques différents. Dans le cas du système de génération de l’invention de dispositif, les deux points géométriques sont les points d1 et d2 où sont foaclisés chacun des faisceaux de lumière et situés de part et d’autre du plan médian de la surface externe du milieu. Ici, la calibration s’effectue à l’aide d’une cible dont la réponse physique est au moins aussi forte de la surface externe du milieu que l’on souhaite observer. Dans le cas du système de génération de l’invention de dispositif, il faut employer une cible blanche , c’est-à-dire de très forte réflectivité par rapport au milieu d’observation. Aini, la majorité de la lumière incidente est rétrodiffusée par la surface qui en absorbe une très faible proportion. De plus, afin d’observer une diffusion de la lumière, il faut que la cible soit rugueuse. Cependant, afin de ne pas être pénalisé par une forte integration entre la lumière du système de génération et la cible, il convient que la rugosité de surface de la cible soit supérieure à celle du milieu observé. Ensuite , il sufit d’effectuer une calibration du système de génération en déplaçant la cible entre les points géométriques d1 et d2 de manière connue et d’identifier à l’aide des enveloppes la valeur de la fonction F correspondante. Cette calibration sera employée à l’étape 3002 pour obtenir la distance d de la surface externe du système. Ici, la fonction F est insensible à la puissance rétrodiffusée puisque la fonction F est une combinaison relative des enveloppes des signaux, comme le rapport en échelle linéaire ou la différence en échelle logarithmique. Dans le cas où la combinaison des enveloppes est en absolu, il conviendra de faire une calibration plus précise à l’aide d’une cible dont les propriétés physqiues sont semblables à celles du milieu que l’on souhaite observer à l’aide du dispositif de mesure selon la métrique employée : la lumière, le son ou les ondes électromagnétiques. La correction optionnelle du bruit de speckles, ou bruit de tavelure, s’effectue aussi en employant la même cible que l’étape de calibration des signaux. Cette fois-ci, on multiplie les mesures temporelles en déplaçant la cible connaissant le résultat à atteindre pour évaluer la distribution des mesures autour de la valeur de référence. Pour cela, on évalue dans le domaine fréquentiellle, la distribution des mesures selon des conditions de mesures diversifiées sur un large échantillon de temps. On modèlise cette distribution fréquentielle par une gaussienne centrée. La largeur de cette gaussienne conditionne la taille minimale de la fenêtre temporelle de mesure pour que statistiquement la distribution gaussienne soit représentative. On évalue alors le bruit de speckles, ou bruit de tavelure, par le produit de la distribution fréquentielle gaussienne par un bruit uniformément réparti entre 0 et 1. Ce bruit de speckles, ou bruit de tavelure, est à retrancher de l’enveloppe déterminée pour obtenir une mesure qui ne dépend à l’ordre un que de la réflectivité de la cible ou de la surface externe du milieu observé. On suppose une proportionnalité entre la réflectivité de la cible et celle de la surface externe du milieu à observer qui sera transparent par la combinaison relative des enveloppes. Les figures 7a à 7e illustrent la méthode de mesure du profil d’une surface externe d’une éprouvette dont la figure 8 représente la reconstruction tridimensionnelle obtenue par des moyens photographiques à l’aide d’un éclairage spécifique. Cette éprouvette circulaire présente un profil , selon la direction de son axe, évolutif en fonction de l’azimut de façon non monotone. Et, une évolution proportionnelle de ce profil est défini selon le rayon depuis la centre de l’éprouvette circulaire. Celle-ci est montée sur un arbre de rotation tournant à une vitesse angulaire de l’ordre de 1550 tr/mn. Enfin, l’arbre de rotation est animé d’un mouvement de translation suivant une direction X permettant de déplacer en translation le centre de l’éprouvette circulaire. La rugosité de surface de l’éprouvette est de l’ordre millimétrique en ce qui concerne les massifs recouvrant 75 pourcents de l’éprouvette. Sur le dernier quart de l’éprouvette, s’apparentant à une surface lisse dont la rugosité de surface de l’ordre de la dizaine de micromètres. Pour appliquer la méthode, un système de génération préféré selon le second mode de réalisation a été employé dont le principe est illustré en figure 5. Il s’agit d’un système de génération comprenant deux sources de lumière distinctes dont la puissance lumineuse est fusionnée en un unique chemin optique à destination de la surface externe de l’éprouvette. L’angle d’incidence des premier et second faisceaux de lumière sur la surface externe de l’éprouvette est identique tout en étant contenu dans un cône d’angle d’ouverture inférieur à 30 degrés de sorte que la projection de ces angles d’incidence par rapport à la normale au plan médian de la surface externe dans un plan défini par cette normale et la direction U de déplacement de l’éprouvette soit d’environ 5 degrés. De plus, on assure que les deux faisceaux de lumière aient le même point d’impact sur la surface externe ce qui limite les corrections à effectuer sur les signaux interférométriques des deux chemins optiques. En fait, la ligne de lecture sur la surface externe de l’éprouvtte est une succesion de cercles centrés sur le centre du disque circulaire de l’éprouvette, chaque cercle correspondant à une position de translation différente de l’arbre de rotation sur lequel est montée l’éprouvette. Le système de génération comprend, en tant que source de lumière, une diode laser équipée d’une photodiode à l’entrée de la cavité amplificatrice de la diode laser. La diode laser émet un faisceau de lumière cohérent, monchromatique à la longueur d’onde unique et dont la propagation suivant la direction du faisceau est de type gaussien. Ici la longueur d’onde de la première diode laser est centrée sur 1350 nanomètres. Tandis que la seconde est centrée sur 1500 nanomètres. La photodiode associée à chaque diode laser enregistre les interférences électromagnaétiques entre le faisceau de lumière incident et le faisceau de lumière rétrodiffusé par la surface externe de l’éprouvette. Les interférences électromagnétique du premier chemin optique sont majoritairement portées par les harmoniques de la première fréquence Doppler liée directement la première longueur d’onde, inversement proportionnelle à la longueur d’onde. De l’autre côté, les interférences électromagnétiques du second chemin optique sont portées par les harmoniques de la seconde fréquence Doppler dont la fréquence Doppler est inférieure à la première fréquence Doppler. La différenciation des points géométriques d1 et d2 où sont collimatés les premier et second chemins optiques , est déterminés par la longueur des chemins optiques. Ici, le premier chemin optique vers la surface externe est défini par la première lentille de focalisation au travers de sa poition sur le premier parcours optique et sa distance focale. Le second parcours optique comprend un miroir, intégré à l’élément optique fusionneur pour rediriger le second faisceau de lumière vers la surface externe de l’éprouvette. Le point géométrique d2 est directement piloté par le positionnement et la distance focale de la seconde lentille de focalisation du système de génération. Ainsi, on obtient en sortie du dispositif électronique deux signaux électriques associés chacun à une phtodiode contenant l’information utile portée par les harmoniques de chaque fréquences Doppler différentes. A noter que si on emploie des diodes laser identiques au niveau des première et seconde sources de lumière, on obtiendrait toujours les mêmes signaux de sortie du système de génération en raison de la cohérence du faisceau de lumière de chaque diode qui limitent les interférences entre les faisceaux de lumière. La mesure s’effectue en fixant le sytème de génération sur un dispositif statique situé au droit de l’épouvette de telle sorte que les points géométriques d1 et d2 soient situées de part et d’autre de la surface externe de l’éprouvette. Dans notre cas, ils sont à égale distance du plan médian de la surface externe de l’éprouvette à une distance d’environ 5 millimètres. Ainsi l’écartement des points géométriques est de l’ordre du centimètre, ce qui est inférieur aux variations du profil de la surface externe de l’éprouvette tout en étant supérieur à la longueur de rayleigh des premier et second faisceaux de lumière gaussiens. La figure 7a montre l’évolution temporelle en amplitude de deux signaux. Le premier signal 101a est issus de la photodiode associée à la première source de lumière et le second signal 102a est issus de la photodiode associée à la seconde source de lumière. Ici, les interférences observées traduissent des modulation d’amplitude du signal temporel autour d’une porteuse. La succession des fronts est directement liée aux interférences qui évoluent avec la position des points d’impact des faisceaux de lumière sur la surface externe de la surface. La figure 7b est le spectre fréquentiel des signaux temporels de la figure 7a pour chacun des signaux. Le premier spectre de réponse 101b se caractérise prinicpalement par un massif centré sur la première fréquence Doppler. La seconde courbe 102b se caractérise par une succesion d’harmoniques associées à la seconde fréquence Doppler. Les deux fréquences Doppler sont légérement décalées en fréquence. Quelle que soit la réponse spectrale des signaux, la fréquence fondamentale porte la majorité de l’énergie du signal. De plus, on note une émergence sur chaque signal à très bassse fréquence qui s’apparente à un mode structurel du dispositif ou du système de génération employé. En effet, cette émergence apparait sur les deux spectres. Par conséquent, la réponse temporelle est entachée de la signature du dispositif statique ou du système de génération qu’il convient d’éliminer. La figure 7c montre des signaux temporels 101c et 102c qui correspondent aux signaux 101a et 102a respectivement en filtrant ses signaux sur une bande de fréquence étroite autour de la fréquence fondamentale Doppler de chaque signal. Ces signaux temporels corrigés éliminent la contribution vibratoire du mode structurel du dispositif ou du système de génération. La bande de fréquence est comprise entre 0,7 et 1,3 fois la fréquence doppler, bien qu’une bande plus large aurait pu convenir , comme par exemple entre 0, 5 et 1, 5 fois la fréquence Doppler. La signature spectrale de chaque signal temporel avec des hamoniques de la fréquence Doppler peu sollicitées autorise une telle correction sans provoquer une perte d’information sur les interférences électromagnétiques observées par les photodiodes. Dans la cas où l’information est aussi portée par les harmoniques, il convient de prendre en compte les harmoniques par l’intermédiaire de l’étape de filtrage. La figure 7d montre la définition des enveloppes 101d et 102d à partir des signaux temporels filtrés 101c et 102c. Ici, les enveloppes 101d et 102d sont construites sur les maximas des signaux temporels 101c et 102c. Enfin, on reconstruit un profil de surface illsutré à la figure 7e en combinant les enveloppes 101d et 102d obtenues précédement. Les signaux temporels étant obtenus en phase lors de l’acquisition, aucune étape de correction spatiotemporelle n’est à effectuer sur les signaux temporels. Ici, la construction du profil se fait à chaque étantillon temporel, en faisant la différence des logarithmes des amplitudes des enveloppes 101d sur 102d. En raison de l’écartement des points géométriques et de la formation des waists du laser ; on entend par le terme anglais « waist » la largeur du faisceaux laser au point de focalisation, aux points géométriques, une bijectivité de la combinaison précitée permet d’associer une unique distance D à chaque combinaison. La distance D est mesurée par rapport à n’importe quel point référence réel ou fictif du dispositif de mesure. Ici , pour le profil, seule la position relative d’un échantillon par rapport à un autre est intéressante , quel que soit le point de référence. La distance D est obtenue à partir d’ une phase de calibration du dispositif de mesure employant une cible circulaire blanche dont la rugosité de surface est supérieure aux longueurs d’onde des premier et second faisceaux de lumière. La surface de type cylindrique présente une surface externe cylindrique dont le profil est évolutif avec le rayon du cylindre et invariant avec l’azimut du cylindre. La combinaison relative des enveloppes obtenues par le procédé correspondant à la fonction F bijective est alors comparée à l’altitude du profil de la cible. La figure 7f est la reconstruction tridimensionnelle de l’érpouvette après post traitements des images obtenues par plusieurs caméras en statique et fonction d’un éclaiarage spécifique. Cette reconstruction est à comparer à l’image de la figure 7 e . On note une vraisemblance des profils entre la mesure obtenue par le procédé et la reconstruction statique au niveau global et local . En effet les imperfections locales sont observables à l’ordre deux qui correspond à l’espacement entre deux cercles de mesure de l’éprouvette. Un simple lisage des points permet de s’affranchir de ce problème. Système de génération (1) d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe (22) d’un milieu (21) présentant un plan médian (23) et ayant à une vitesse relative V par rapport au système suivant une direction U comprenant : Une première source de lumière (2) apte à émettre un premier faisceau gaussien de lumière cohérente et monochromatique dont la longueur d’onde λ 1 est adaptée aux caractéristiques d’absorption optique du milieu (21) suivant un premier parcours optique (11) ; Au moins un premier capteur (3, 3’) apte à évaluer les effets des interférences électromagnétiques entre une partie du premier faisceau de lumière émis et une partie du faisceau rétro diffusé sur la surface externe (22) du milieu (21) du premier faisceau de lumière, et délivrant un signal électrique ; Un système optique comprenant Au moins une première lentille de focalisation (5) permettant de focaliser tout ou partie du premier faisceau de lumière à une distance de focalisation f1 et définissant un premier chemin optique (11’) ; un premier dispositif optique (4) situé en amont ou en aval de la au moins une première lentille de focalisation (5) redirigeant tout ou partie du premier faisceau de lumière vers la surface externe (22) sous un premier angle d’incidence θ1 apte à suivre une ligne de lecture (13, 14) sur la surface externe (22) selon la direction U ; au moins un second dispositif optique comprenant un moyen de génération (2’, 4, 6) de au moins un second faisceau gaussien de lumière cohérente et monochromatique de longueur d’onde λ2 adaptée aux caractéristiques d’absorption optique du milieu (21) suivant un second parcours optique (12); le second faisceau de lumière étant focalisé à une distance de focalisation f2 suivant un second chemin optique (12’) vers la surface externe (22); un moyen de cheminement (4, 7) du au moins un second faisceau de lumière) agencé de sorte que le second chemin optique (12’) pointe en voie incidente vers la surface externe (22) sous un second angle d’incidence θ2 et apte à suivre la ligne de lecture (13, 14) sur la surface externe (22), et caractérisé en ce que les longueurs d’onde des premier et second faisceaux de lumière ont la même sensibilité aux caractéristiques de réflectivité optique de la surface externe (22) du milieu (21) , en ce que la combinaison de la distance de focalisation (f1, f2) et du chemin optique (11, 12) pour chaque faisceau de lumière définissent deux points géométriques d1 et d2 correspondant aux points de focalisation de chaque faisceau de lumière situés de part et d’autre du plan médian (23) de ladite surface externe (22), en ce que la distance entre les points géométriques d1 et d2 est supérieure à la plus grande longueur de Rayleigh des premier et second faisceaux gaussiens de lumière et en ce que la projection des angles d’incidence θ1 et θ2 dans un plan défini par la normale au plan médian (23) et la direction U sont supérieures à 1 degrés , préférentiellement supérieures à 5 degrés, par rapport à la normale au plan médian (23) de la surface externe(22) du milieu (21). Système de génération (1) d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe (22) d’un milieu (21) selon la revendication 1 dans lequel, le système de génération (1) comprend un dispositif électronique (9) à la sortie du signal électrique du au moins un capteur (3, 3’) comprenant un circuit amplificateur électronique. Système de génération (1) d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe (22) d’un milieu (21) selon l’une des revendications 1 et 2 dans lequel, la au moins une première lentille de focalisation (5) se situant en amont du premier dispositif optique (4) , le premier dispositif optique (4) et le moyen de génération de au moins un second faisceau sont mutualisés et comprennent un élément optique séparateur situé sur le premier parcours optique du premier faisceau de lumière, le au moins un second faisceau de lumière est l’autre partie du premier faisceau de lumière, le moyen de cheminement (7) de au moins un second faisceau de lumière comprend au moins un miroir de sorte que la longueur du premier chemin optique (11) soit différent de la longueur du second chemin optique.(12) et les projections des angles d’incidences θ1 et θ2 sur ladite surface externe (22) des premier (11) et second (12) chemins optiques sont différents. Système de génération (1) d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe (22) d’un milieu (21) selon l’une des revendications 1 et 2 dans lequel, la au moins une première lentille de focalisation (5) se situant en aval du premier dispositif optique (4) sur le premier parcours optique (11), le premier dispositif optique (4) et le moyen de génération de au moins un second faisceau sont mutualisés et comprennent un élément optique séparateur situé sur le premier parcours optique du premier faisceau de lumière, le au moins un second faisceau de lumière est l’autre partie du premier faisceau de lumière, le moyen de génération de au moins un second faisceau de lumière comprend au moins une deuxième lentille de focalisation (6) à une distance de focalisation f2 située en aval du premier dispositif optique (4) et les projections des angles d’incidences θ1 et θ2 sur ladite surface externe des premier et second chemins optiques sont différents. Système de génération (1) d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe (22) d’un milieu (21) selon l’une des revendications 3 et 4 dans lequel, le rapport entre les projections des angles d’incidences θ1 et θ2 sur ladite surface externe (22) des premier (11) et second (12) chemins optiques est compris entre 1.2 et 1.8. Système de génération (1) d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe (22) d’un milieu (21) selon l’une des revendications 1 et 2 dans lequel, la au moins une première lentille de focalisation (5) se situant en aval du premier dispositif optique (4) sur le premier parcours optique , le premier dispositif optique et le moyen de génération de au moins un second faisceau sont mutualisés et comprennent un élément optique séparateur (4) situé sur le premier parcours optique du premier faisceau de lumière, le au moins un second faisceau de lumière est l’autre partie du premier faisceau de lumière, le moyen de génération de au moins un second faisceau laser comprend au moins une deuxième lentille de focalisation (6) à une distance de focalisation f2 située en aval du premier dispositif optique (4) et le second dispositif optique comprend en aval de l’élément optique séparateur (4) et dans l’ordre suivant le second parcours optique (12) incident un élément optique (8) apte à absorber la lumière sur le chemin retour et un capteur (3’) apte à évaluer les interférences électromagnétiques entre une partie du second faisceau de lumière incident et une partie du faisceau rétro diffusé sur la surface externe (22) du milieu (21) par le second faisceau de lumière incident. Système de génération (1) d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe (22) d’un milieu (21) selon l’une des revendications 3 à 6 dans lequel les premier (11) et second (12) chemins optiques ne se croisent pas avant d’avoir atteint ladite surface externe (22). Système de génération (1) d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe (22) d’un milieu (21) selon l’une des revendications 1 et 2 dans lequel le moyen de génération de au moins un second faisceau de lumière comprend Une seconde source de lumière (2’) apte à émettre un second faisceau de lumière suivant un second parcours optique ; un second capteur (3’) apte à évaluer les interférences électromagnétiques entre une partie du second faisceau de lumière émis et une partie du faisceau rétro diffusé sur la surface externe (22) du milieu (21) du second faisceau de lumière, et délivrant un signal électrique ; et le moyen de génération de au moins un second faisceau de lumière comprend une seconde lentille de focalisation (6) à la distance de focalisation f2 et/ou le moyen de cheminement (7) du au moins un second faisceau de lumière comprend au moins un miroir de sorte que la longueur du second chemin optique (12) soit différente de la longueur du premier chemin optique (11). Système de génération (1) d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe (22) d’un milieu (21) selon la revendication 8 dans lequel, les longueurs d’onde des premier et second faisceaux de lumière étant différentes, le système (1) comprend un élément optique (4’) apte à fusionner les premier et second faisceaux de lumière de sorte que les deux chemins optiques (11, 12) s’alignent au moins en partie et pointent simultanément sur le même point géométrique (13, 14) de la surface externe (22) . Système de génération (1) d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe (22) d’un milieu (21) selon l’une des revendications précédentes dans lequel, la longueur de cohérence du premier faisceau laser et ou du second faisceau laser est au moins supérieure à deux fois la plus grande longueur des premier et second parcours optiques incidents jusqu’à la surface externe (22) du milieu (21). Système de génération (1) d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe (22) d’un milieu (21) selon l’une des revendications précédentes dans lequel, les angle d’incidence θ1 du premier faisceau et θ2 du second faisceau de lumière sont compris dans un cône dont l’axe de révolution est la normale au plan médian (23) de la surface externe (22) et l’angle d’ouverture du cône est inférieur ou égal à 45 degrés, préférentiellement inférieur ou égal à 30 degrés. Système de génération (1) d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe (22) d’un milieu (21) selon l’une des revendications précédentes dans lequel le premier (3) et/ou le second (3’) capteur est compris dans le groupe comprenant un phototransistor, une photodiode, un ampèremètre et un voltmètre. Système de génération (1) d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe (22) d’un milieu (21) selon l’une des revendications précédentes dans lequel la longueur d’onde du premier et du second faisceau de lumière est comprise entre 200 et 2000 nanomètres, préférentiellement entre 400 et 1600 nanomètres. Système de génération (1) d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe (22) d’un milieu (21) selon l’une des revendications précédentes dans lequel le dispositif d’émission de lumière et/ou le second dispositif d’émission de lumière est une diode laser. Dispositif statique ou mobile équipé d’un système de génération (1) d’au moins un signal représentatif du profil d’une surface externe (22) d’un milieu (21) selon l’une des revendications 1 à 14