Brevet FR3111284A1 — publié le 20211217

La présente invention concerne un plateau (10) de calibration amovible, comportant une plaque (20), comportant une face supérieure (21) destinée à être tournée vers le faisceau de rayonnement incident de puissance et portant un marquage (30) de référence et étant destinée à recevoir un marquage (40) de test, et une face inférieure (23). Suivant l’invention, le plateau (10) comporte une couche (22) de gravage par faisceau (F) de rayonnement incident de puissance, solidaire de la face supérieure (21) de la plaque (20) et opaque à de la lumière visible, apte à être détruite localement par le faisceau (F) de rayonnement incident de puissance pour former le au moins un marquage (40) de test, la plaque (20) étant transparente à la lumière visible, la face inférieure (23) de la plaque (20) étant dépolie. Figure pour l’abrégé : Figure 4 plateau, kit et procédé de calibration pour appareil de fabrication additive L'invention concerne un plateau de calibration, un kit de calibration et un procédé de calibration pour système de tir d’un appareil de fabrication additive ou d’impression sélective. Le document WO 2018/234312 décrit un plateau de calibration, qui porte des marquages de référence et qui est formé d’une plaque de verre, sur laquelle peut être positionnée un support formé par un feuillard en un matériau sensible au faisceau de rayonnement laser, ce support comportant des fenêtres centrées sur les marquages de référence. Un système de tir d’un faisceau laser d’un appareil de fabrication additive permet de tirer sur le support un motif de calibration formé de plusieurs points d’impact autour des marquages de référence. Un équipement de contrôle comportant une caméra, un système optique et un système d’éclairage à diodes est installé dans l’appareil de fabrication additive et est déplacé sur un support à rails selon deux directions horizontales au-dessus du plateau et du support pour d’acquérir une image du motif de calibration et du marquage de référence. Une commande du système de tir est corrigée en fonction de l’image obtenue. Un inconvénient du dispositif décrit par ce document WO 2018/234312 est que l’acquisition d’image doit se faire dans l’appareil de fabrication additive. Ainsi, l’utilisateur est entièrement tributaire du plateau de calibration présent dans l’appareil de fabrication additive. De plus, on cherche à améliorer la précision de détection des contours et des surfaces dans les images réalisées par l’équipement de contrôle. Un premier objectif de l’invention est d’obtenir un plateau de calibration, un kit de calibration et un procédé de calibration pour système de tir d’un appareil de fabrication additive ou d’impression sélective, qui pallient l’inconvénient mentionné ci-dessus. Un deuxième objectif de l’invention est d’obtenir un plateau de calibration, un kit de calibration et un procédé de calibration pour système de tir d’un appareil de fabrication additive ou d’impression sélective, qui permettent d’améliorer la précision de détection des contours et des surfaces dans les images réalisées par l’équipement de contrôle. A cet effet, un premier objet de l’invention est un plateau de calibration amovible, apte à être positionné dans un système de tir d’au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance d’un appareil de fabrication additive, le plateau de calibration amovible comportant une plaque, la plaque comportant une face supérieure destinée à être tournée vers le faisceau de rayonnement incident de puissance, la plaque portant au moins un marquage de référence et étant destinée à recevoir au moins un marquage de test, et une face inférieure, qui est éloignée par rapport à la face supérieure suivant le sens de l’épaisseur de la plaque, caractérisé en ce que le plateau de calibration amovible comporte au moins une couche de gravage par faisceau de rayonnement incident de puissance, la au moins une couche de gravage par faisceau de rayonnement incident de puissance étant solidaire de la face supérieure de la plaque et étant opaque à de la lumière visible, la au moins une couche de gravage par faisceau de rayonnement incident de puissance étant apte à être détruite localement par le faisceau de rayonnement incident de puissance pour former le au moins un marquage de test, la plaque étant transparente à la lumière visible, la face inférieure de la plaque étant dépolie. Grâce à l'invention, le plateau peut être déplacé hors de l’appareil de fabrication additive pour être rétroéclairé par un appareil de capture d’image, ce qui permet d’obtenir une meilleure image des marquages de test réalisés par le tir du faisceau de rayonnement incident de puissance que par l’équipement de contrôle selon le document WO 2018/234312, ayant un éclairage par le dessus. La précision de mesure des marquages en est améliorée. Suivant un mode de réalisation de l’invention, la face inférieure de la plaque permet à de la lumière visible de rétroéclairage de traverser depuis la face inférieure la plaque, le au moins un marquage de référence et le au moins un marquage de test. Suivant un mode de réalisation de l’invention, le au moins un marquage de référence est réalisé par destruction locale de la au moins une couche de gravage par le faisceau de rayonnement incident de puissance. Suivant un mode de réalisation de l’invention, dans la au moins une couche de gravage par faisceau de rayonnement incident de puissance se trouve au moins une mire de positionnement de dimensions supérieures aux dimensions du au moins un marquage de référence et/ou aux dimensions du au moins un marquage de test. Suivant un mode de réalisation de l’invention, des coordonnées absolues du au moins un marquage de référence, ayant été déterminées au préalable, sont associées au plateau de calibration. Suivant un mode de réalisation de l’invention, la au moins une couche de gravage par faisceau de rayonnement incident de puissance est au moins une couche de gravage par faisceau de rayonnement laser incident de puissance. Suivant un mode de réalisation de l’invention, la plaque comprend du verre ou est en verre. Suivant un mode de réalisation de l’invention, le plateau de calibration comporte le au moins un marquage de test réalisé par destruction locale de la au moins une couche de gravage par le faisceau de rayonnement incident de puissance. Suivant un mode de réalisation de l’invention, dans la au moins une couche de gravage par faisceau de rayonnement incident de puissance se trouvent le au moins un marquage de référence réalisé par destruction locale de la au moins une couche de gravage par le faisceau de rayonnement incident de puissance et le au moins un marquage de test réalisé par destruction locale de la au moins une couche de gravage par le faisceau de rayonnement incident de puissance. Suivant un mode de réalisation de l’invention, le au moins un marquage de test présent dans la couche de gravage par faisceau de rayonnement incident de puissance comporte un identifiant du marquage de test. Un deuxième objet de l’invention est un kit transportable de calibration, comportant au moins un plateau de calibration amovible, apte à être positionné dans le champ d’un système de tir d’au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance d’un appareil de fabrication additive, tel que décrit ci-dessus, caractérisé en ce que le kit transportable de calibration comporte en outre un appareil de capture d’au moins une image pour comparer le au moins un marquage de référence au au moins un marquage de test du plateau de calibration, l’appareil de capture d’image étant transportable et séparé du système de tir du au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance de l’appareil de fabrication additive, l’appareil de capture d’image comportant un boîtier comportant un cadre délimitant une ouverture de réception du plateau de calibration, des organes de maintien du plateau de calibration dans l’ouverture, au moins une source de lumière visible de rétroéclairage située sous l’ouverture, un capteur d’au moins une image en lumière visible de rétroéclairage, un dispositif de guidage et de support pour positionner le capteur au-dessus de l’ouverture par rapport au cadre, le kit transportable de calibration et/ou l’appareil de capture d’image comportant un calculateur configuré pour analyser la au moins une image acquise par le capteur, reconnaître le au moins un marquage de référence et le au moins un marquage de test dans la au moins une image acquise par le capteur, et calculer des corrections de commande de visée du système de tir du au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance de l’appareil de fabrication additive, en fonction au moins de coordonnées du au moins un marquage de test par rapport au au moins un marquage de référence. Suivant un mode de réalisation de l’invention, le kit transportable de calibration et/ou l’appareil de capture d’image et/ou le calculateur et/ou le capteur comporte une mémoire dans laquelle sont préenregistrées des coordonnées absolues du au moins un marquage de référence, ayant été déterminées au préalable, le calculateur étant configuré pour calculer les corrections de commande de visée du système de tir du au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance de l’appareil de fabrication additive en fonction de coordonnées du au moins un marquage de test calculées pour le au moins un marquage de référence et en fonction des coordonnées absolues du au moins un marquage de référence. Un troisième objet de l’invention est un procédé de calibration d’un système de tir d’au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance d’un appareil de fabrication additive à l’aide d’au moins un plateau de calibration amovible tel que décrit ci-dessus, caractérisé en ce que le procédé de calibration comporte les étapes suivantes : positionnement du plateau de calibration amovible dans l’appareil de fabrication additive, la au moins une couche de gravage par faisceau de rayonnement incident de puissance du plateau de calibration amovible étant orientée vers un côté d’émission du au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance du système de tir de l’appareil de fabrication additive, commande du système de tir du au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance de l’appareil de fabrication additive, selon une commande de visée du système de tir, déterminée par rapport au au moins un marquage de référence, pour émettre le au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance depuis le côté d’émission sur la au moins une couche de gravage du plateau de calibration amovible, pour y former le au moins un marquage de test par destruction locale de la couche de gravage, extraction du plateau de calibration amovible hors de l’appareil de fabrication additive, déplacement du plateau de calibration amovible jusqu’à un appareil de capture d’au moins une image, transportable et séparé du système de tir du au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance de l’appareil de fabrication additive, l’appareil de capture d’image comportant un boîtier comportant un cadre délimitant une ouverture de réception du plateau de calibration, des organes de maintien du plateau de calibration dans l’ouverture, au moins une source de lumière visible de rétroéclairage située sous l’ouverture, un capteur d’au moins une image en lumière visible de rétroéclairage, un dispositif de guidage et de support pour positionner le capteur au-dessus de l’ouverture par rapport au cadre, positionnement du plateau de calibration amovible dans l’ouverture de l’appareil de capture d’image, commande de la au moins une source de lumière visible de rétroéclairage de l’appareil de capture d’image pour que la lumière visible de rétroéclairage traverse dans l’ouverture, depuis la face inférieure, la plaque, le au moins un marquage de référence et le au moins un marquage de test, acquisition, par le capteur, d’au moins une image d’une zone dans laquelle se trouve le au moins un marquage de référence et le au moins un marquage de test en lumière visible de rétroéclairage, analyse, par un calculateur de l’appareil de capture d’image, de la au moins une image acquise par le capteur, et reconnaissance du au moins un marquage de référence et du au moins un marquage de test dans la au moins une image acquise, pour calculer des coordonnées du au moins un marquage de test par rapport au au moins un marquage de référence, calcul et enregistrement dans une mémoire de l’appareil de capture d’image, par le calculateur de l’appareil de capture d’image, de corrections de commande de visée du système de tir du au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance de l’appareil de fabrication additive en fonction au moins des coordonnées du au moins un marquage de test calculées pour le au moins un marquage de référence. Suivant un mode de réalisation de l’invention, dans la mémoire sont préenregistrées des coordonnées absolues du au moins un marquage de référence, ayant été déterminées au préalable, le calculateur étant configuré pour calculer les corrections de commande de visée du système de tir du au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance de l’appareil de fabrication additive en fonction des coordonnées du au moins un marquage de test calculées pour le au moins un marquage de référence et en fonction des coordonnées absolues du au moins un marquage de référence. Suivant un mode de réalisation de l’invention, les corrections de commande de visée sont enregistrées dans la mémoire en association avec un identifiant du plateau de calibration amovible et avec les coordonnées absolues du au moins un marquage de référence. Suivant un mode de réalisation de l’invention, les corrections de commande de visée sont enregistrées dans le système de tir du au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance de l’appareil de fabrication additive. Suivant un mode de réalisation de l’invention, dans la au moins une couche de gravage par faisceau de rayonnement incident de puissance se trouve au moins une mire de positionnement, ayant des dimensions supérieures aux dimensions du au moins un marquage de référence et/ou aux dimensions du au moins un marquage de test, les étapes suivantes sont effectuées entre le positionnement du plateau de calibration amovible dans l’appareil de fabrication additive et la commande du système de tir du au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance de l’appareil de fabrication additive : commande du au moins un système de tir de l’appareil de fabrication additive pour émettre au moins un autre faisceau de rayonnement en lumière visible, sans émettre de faisceau de rayonnement incident de puissance depuis le côté d’émission sur la au moins une couche de gravage du plateau de calibration amovible, pour projeter un premier impact du au moins un autre faisceau de rayonnement en lumière visible sur la au moins une mire de positionnement, mesure, à l’oeil nu sur la au moins une mire de positionnement, de l’écart de centrage du premier impact de l’autre faisceau de rayonnement en lumière visible par rapport à une position théorique prévue en un centre de la au moins une mire de positionnement, modification de la commande du au moins un système de tir de l’appareil de fabrication additive selon une correction de décalage de commande pour émettre le au moins un autre faisceau de rayonnement en lumière visible, sans émettre de faisceau de rayonnement incident de puissance depuis le côté d’émission sur la au moins une couche de gravage du plateau de calibration amovible, pour projeter un deuxième impact du au moins un autre faisceau de rayonnement en lumière visible sur le centre de la au moins une mire de positionnement, enregistrement de la correction de décalage de commande dans une mémoire du système de tir ou de l’appareil de fabrication additive et/ou dans une autre mémoire de l’appareil de capture d’image et/ou dans une mémoire du calculateur, ladite commande du au moins un système de tir du au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance de l’appareil de fabrication additive, selon la commande de visée du système de tir, déterminée par rapport au au moins un marquage de référence, pour émettre le au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance depuis le côté d’émission sur la au moins une couche de gravage du plateau de calibration amovible, pour y former le au moins un marquage de test par destruction locale de la couche de gravage, étant effectuée en étant corrigée par la correction de décalage de commande, ayant été enregistrée, le au moins un faisceau de rayonnement incident de puissance et le au moins un autre faisceau laser en lumière visible étant coaxiaux. L’invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui va suivre, donnée uniquement à titre d’exemple non limitatif en référence aux figures ci-dessous des dessins annexés. représente une vue schématique en perspective de la chaîne optique d’une tête trois axes d’un système de tir d’un faisceau laser d’un appareil de fabrication additive, pouvant utiliser le plateau de calibration, le kit de calibration et le procédé de calibration suivant un mode de réalisation de l’invention. représente une vue schématique de face du balayage pouvant être effectué par le faisceau laser du système de tir d’un appareil de fabrication additive, pouvant utiliser le plateau de calibration, le kit de calibration et le procédé de calibration suivant un mode de réalisation de l’invention, pour illustrer une déformation en l’absence de correction. représente une vue schématique de dessus du balayage pouvant être effectué par le faisceau laser du système de tir d’un appareil de fabrication additive, pouvant utiliser le plateau de calibration, le kit de calibration et le procédé de calibration suivant un mode de réalisation de l’invention, pour illustrer une déformation en l’absence de correction. représente une vue schématique en coupe transversale d’un plateau de calibration suivant un mode de réalisation de l’invention. représente une vue schématique en perspective d’un plateau de calibration suivant un mode de réalisation de l’invention, positionné dans un appareil de capture d’image suivant un mode de réalisation de l’invention. représente une vue schématique de dessus de marquages de référence et de marquages de test pouvant être présents sur un plateau de calibration suivant un mode de réalisation de l’invention. représente une vue schématique de dessus d’une mire de positionnement pouvant être présente sur un plateau de calibration suivant un mode de réalisation de l’invention. représente une vue schématique en perspective d’un appareil de capture d’image suivant un mode de réalisation de l’invention. représente un organigramme d’un procédé de calibration suivant un mode de réalisation de l’invention. représente une vue schématique de dessus d’une image obtenue par un appareil de capture d’image suivant un mode de réalisation de l’invention. On décrit ci-dessous plus en détail en référence aux figures 4 à 7 un exemple de réalisation d’un plateau 10 de calibration amovible suivant l’invention. Le plateau 10 de calibration amovible est apte à être positionné dans un système 300 de tir du au moins un faisceau F de rayonnement incident de puissance d’un appareil 302 de fabrication additive ou d’impression sélective, illustré aux figures 1 à 3. Le faisceau F de rayonnement incident de puissance peut être un faisceau F de rayonnement incident de puissance optique ou un faisceau F de rayonnement incident de puissance laser. Bien entendu, ce qui est décrit ci-dessous pour le faisceau laser F est également valable pour un faisceau F de rayonnement incident de puissance optique ou pour un faisceau F de rayonnement incident de puissance laser. Le faisceau F de rayonnement incident de puissance est focalisé. La fabrication additive sélective consiste à réaliser des objets tridimensionnels par consolidation de zones sélectionnées sur des strates successives de matériau pulvérulent (poudre métallique, poudre de céramique). Les zones consolidées correspondent à des sections successives de l'objet tridimensionnel. La consolidation se fait, couche par couche, par une fusion sélective totale ou partielle réalisée avec une source de rayonnement focalisé, telle qu’une source optique (laser de forte puissance par exemple) ou encore une source de faisceau de particules (par exemple un faisceau d'électrons - technologie dite EBM ou « Electron Beam Melting » selon la terminologie anglo-saxonne généralement utilisée dans le domaine). On se réfère dans la suite principalement aux sources optiques (telles qu’utilisées dans les technologies SLM ou « Selective Laser Melting » selon la terminologie anglo-saxonne), telles que par exemple les sources de faisceau laser de puissance. Elle trouve toutefois application avec tout autre type de rayonnement. Ainsi qu’illustré sur les figures 1 à 3, les appareils 302 de fabrication additive de type à source optique utilisent un système 300 de tir d’un ou plusieurs faisceaux incidents laser F de puissance qui utilisent des systèmes S de tête trois axes à trois galvanomètres pour permettre une précision accrue d’une part de la position du point d’impact sur la couche de matériau pulvérulent et d’autre part de la focalisation du faisceau F au niveau de ladite couche. Deux galvanomètres 1, 2 sont utilisés pour guider en rotation deux miroirs 3, 4 et permettre de contrôler la trajectoire du faisceau F en sortie de la tête S, afin de contrôler le positionnement du point d’impact du faisceau sur le lit de poudre (plan de travail P) (commande en X et en Y). Par ailleurs, un module DFM (« Dynamic Focusing Module » selon la terminologie anglo-saxonne) – comportant un galvanomètre, un module de translation et une lentille - permet, en jouant sur la translation de ladite lentille, de parfaitement ajuster la distance de focalisation du faisceau F au niveau du lit de poudre (commande en Z). Sur la , on a également représenté un module objectif 6 qui introduit une focalisation fixe, le module DFM 5 permettant la modification de la focalisation se trouvant en amont. On comprend en effet que plus le faisceau laser F est correctement focalisé au niveau du lit de poudre, plus l’énergie transmise au point de fusion est importante et maîtrisée. On notera néanmoins qu’un tel système S de tête trois axes implique deux principaux types de déformation au niveau du lit de poudre (plan P). Tout d’abord, la focalisation au niveau du plan de travail P où se situe le lit de poudre varie selon l’inclinaison du faisceau optique F. Comme l’illustre en effet la , l’inclinaison du faisceau F résulte des variations de longueur de chemin optique (schématisées par ΔZ sur la ), ces variations étant elles-mêmes à ajouter aux phénomènes dus aux jeux induits par les miroirs ou encore par la traversée des différentes vitres qui peuvent être prévues dans l’appareil 302 de fabrication additive. En l’absence de traitement de ce décalage géométrique, la focalisation sur l’ensemble du plan de travail P n’est donc pas constante. Par ailleurs, on observe classiquement sur le plan de travail P une déformation non linéaire en X et en Y des motifs des points d’impact (déformation dite « pillow-shaped » selon la terminologie anglo-saxonne généralement utilisée – forme PS de la ). Cette déformation est due à la géométrie du chemin optique, notamment à la position des miroirs et optiques et à leur distance par rapport au plateau P. Il est classiquement connu de corriger les commandes des têtes pour tenir compte des distorsions en X et en Y. On utilise à cet effet des tables de corrections dédiées préalablement déterminées. Ces tables fournissent des différentiels de commande dont on corrige les entrées de commande de la tête S à trois axes. Les tirs et balayages du plan de travail P par le faisceau optique F se font ainsi avec des positions en X et Y corrigées par rapport au lit de poudre. Pour déterminer ces tables de correction, on utilise des plateaux 10 de calibration qui portent des marquages 30 de référence. On met en œuvre sur des positions cibles prédéterminées du plateau 10 des séquences de tirs optiques F pour réaliser des marquages 40 de test. Un appareil 200 de capture d’image relève la position de ces marquages 40 de test par rapport aux marquages 30 de référence. Les différentiels entre les positions des marquages 40 de test ainsi réalisés sur le plateau 10 de calibration et les positions de tirs qui étaient théoriquement ciblées sont utilisés pour calculer les corrections COR à appliquer aux commandes en X et en Y du système S de tête de faisceau optique. Le plateau 10 de calibration amovible comporte une plaque 20 transparente, comportant une face supérieure 21 destinée à être tournée vers le faisceau incident F. La plaque 20 peut comprendre du verre ou être en verre. Ce qui est décrit ci-dessous pour la plaque 20 de verre est valable pour toute plaque 20 transparente à la lumière visible. La face supérieure 21 de la plaque 20 de verre est solidaire d’au moins une couche 22 de gravage par le faisceau incident F. La couche 22 de gravage est destinée à être tournée vers le faisceau incident F, lorsque le plateau 10 de calibration est disposé dans l’appareil 302 de fabrication additive. La couche 22 de gravage est opaque à la lumière visible. Sous la couche 22 de gravage, la plaque 20 de verre est transparente à la lumière visible. La couche 22 de gravage est apte à être détruite localement par le faisceau F de rayonnement incident de puissance du système 300 de tir de l’appareil 302 de fabrication additive, auquel cas la couche 22 de gravage est appelée couche 22 de gravage par faisceau F de rayonnement incident de puissance, ou par le faisceau F de rayonnement incident de puissance laser du système 300 de tir de l’appareil 302 de fabrication additive, auquel cas la couche 22 de gravage est appelée couche 22 de gravage laser, ou par le faisceau F de rayonnement incident de puissance optique du système 300 de tir de l’appareil 302 de fabrication additive, auquel cas la couche 22 de gravage est appelée couche 22 de gravage optique, pour former un ou plusieurs marquage 30 de référence et/ou un ou plusieurs marquages 40 de test dans cette couche 22 de gravage. Le ou les marquages 30 et/ou 40 sont donc visibles par transparence dans la couche 22 de gravage laser et sont entourés par des parties restées opaques (non détruites) de la couche 22. Ce qui est décrit ci-dessous pour la couche 22 de gravage laser est également valable pour la couche 22 de gravage par faisceau F de rayonnement incident de puissance et pour la couche 22 de gravage optique. La face inférieure 23 de la plaque 20 de verre est éloignée de la face supérieure 21 par une épaisseur non nulle E de la plaque 20 de verre. La face inférieure 23 de la plaque 20 de verre est dépolie. Ainsi, le plateau 10 de calibration peut être éclairé par la face inférieure 23, pour pouvoir capturer une image de la couche 22 supérieure ayant le ou les marquages 30 et/ou 40, qui apparaissent alors par transparence dans cette couche 22 supérieure, ainsi que représenté par exemple à la . La montre une source 204 de lumière visible de rétroéclairage sur laquelle peut être disposée la face inférieure 23 du plateau 10 de calibration, pour pouvoir capturer par rétroéclairage une image de la couche 22 supérieure de gravage laser et du ou des marquages 30 et/ou 40 par l’appareil 200 de capture d’image, qui comporte cette source 204 de lumière visible de rétroéclairage et qui est distinct et à distance de l’appareil 302 de fabrication additive. Cet appareil 200 de capture d’image sera décrit plus en détail ci-dessous. Ainsi, le plateau 10 de calibration suivant l’invention permet d’obtenir une image rétroéclairée des marquages 30 et/ou 40, qui est d’une meilleure qualité et plus précise pour pouvoir les détecter par traitement automatisé d’image par l’appareil 200 de capture d’image. Suivant un mode de réalisation de l’invention, la face inférieure 23 dépolie de la plaque 20 de verre permet à la lumière visible de rétroéclairage de traverser depuis la face inférieure 23 la plaque 20 de verre, puis le ou les marquages 30 de référence et/ou le ou les marquages 40 de test. Suivant un mode de réalisation de l’invention, la face inférieure 23 dépolie de la plaque 20 de verre permet de multiplier les directions de réflexions du faisceau laser incident F rencontrant par le dessus la face inférieure 23, après que ce faisceau laser incident F a traversé la couche 22 de gravage laser puis la plaque 20 de verre. Sachant que la puissance du faisceau laser incident F est fixe, ceci permet de répartir l’énergie réfléchie sur un maximum de faisceaux réfléchis sortants, caractérisés par des directions de réflexion différentes. Plus ces directions de réflexion différentes sont nombreuses, plus leur quantité d’énergie individuelle est faible car il s’agit simplement d’une répartition de la puissance incidente. Ainsi, au contact de la couche 22 de gravage laser, la quantité d’énergie de chaque faisceau réfléchi individuel est suffisamment faible pour ne pas marquer cette couche 22 de gravage laser. Suivant un mode de réalisation de l’invention, la couche 22 de gravage laser est configurée pour pouvoir être brûlée localement par le faisceau laser incident F pour y former le ou les marquages 30 et/ou 40. Suivant un mode de réalisation de l’invention, la couche 22 de gravage laser est constituée ou comprend une couche de laquage opaque, par exemple noire ou d’une couleur sombre, apte à être détruite localement par le faisceau laser incident F pour y former le ou les marquages 30 et/ou 40. Suivant un mode de réalisation de l’invention, lors d’une étape préalable E0, on positionne le plateau 10 de calibration dans l’appareil 302 de fabrication additive et on effectue par le système 300 de tir de cet appareil 302 de fabrication additive un ou plusieurs tirs d’un ou plusieurs faisceaux laser incidents F de puissance sur le dessus de la couche 22 de gravage laser pour y réaliser le ou les marquages 30 de référence, et ce par destruction de cette couche 22 au niveau du ou des points PI d’impact du ou des faisceaux laser incidents F de puissance sur cette couche 22 de gravage laser. Ainsi, le plateau 10 de calibration peut ne comporter que le ou les marquages 30 de référence sans marquages 40 de test dans la couche 22 de gravage laser, ainsi que représenté par exemple à la . Cette étape préalable E0 de réalisation du ou des marquages 30 de référence peut être effectuée par le fournisseur du ou des plateaux 10 de calibration. On peut ainsi fournir à l’utilisateur final d’un appareil 302 de fabrication additive un ou plusieurs plateaux de référence comportant le ou les marquages 30 de référence présents dessus. Ainsi, le ou les marquages 30 de référence peuvent être intégrés au plateau 10 de calibration avec un positionnement plus précis que dans l’état de la technique, où les marquages de références pouvaient être formés par des plaquettes de référence rapportées et fixées sur le plateau de calibration. Suivant un mode de réalisation, on crée (on tire à nouveau) des nouveaux marquages 30 de référence avec chaque nouveau plateau de calibration, et on ne conserve pas ces marquages 30 de référence d’une calibration à une autre. Le ou les marquages 30 de référence peuvent comporter un ou plusieurs motifs spécifiques, comme par exemple ceux illustrés à la . Ces motifs spécifiques du ou des marquages 30 de référence permettent de contrôler l’aspect dimensionnel des marquages 30 de référence et de s’assurer que les marquages 30 de référence soient bien identifiés par l’appareil 200 de capture d’image. Le travail avec le ou les marquages 30 de référence crée un lien de transitivité entre les calibrations de tous les systèmes optiques S d’un même appareil 302 de fabrication additive. L’invention permet de calibrer en position simultanément un ou plusieurs systèmes optiques S de déviation d’un faisceau F d’un même appareil 302 de fabrication additive par rapport à une référence commune. Suivant un mode de réalisation de l’invention, des coordonnées absolues X3, Y3 du ou des marquages 30 de référence, ayant été déterminées au préalable lors de l’étape préalable E0, sont associées à chaque plateau 10 de calibration. Ces coordonnées absolues X3, Y3 du ou des marquages 30 de référence sont donc spécifiques à chaque plateau 10 de calibration et à chaque marquage 30 de référence. Cela permet de fournir à l’utilisateur final de l’appareil 302 de fabrication additive un ou plusieurs plateaux de référence comportant le ou les marquages 30 de référence présents dessus, ainsi que les coordonnées absolues X3, Y3 du ou des marquages 30 de référence spécifiques à chaque plateau 10 de calibration. Les coordonnées absolues X3, Y3 peuvent être préenregistrées dans une mémoire informatique permanente 208 d’un ordinateur ou dans un support de mémoire permanent lisible par un ordinateur ou dans tout dispositif de codage, et ce par exemple en association avec un identifiant ID unique déterminé du plateau 10 de calibration. Dans le cas où plusieurs plateaux 10 de calibration sont prévus, les identifiants ID des plateaux 10 de calibration sont différents l’un de l’autre. Suivant un mode de réalisation de l’invention, dans la couche 22 de gravage laser se trouve le ou les marquages 40 de test obtenu par destruction locale de la au moins une couche 22 de gravage laser, en plus du ou des marquages 30 de référence. Suivant un mode de réalisation de l’invention, lors d’une autre étape E1, E2 postérieure à l’étape préalable E0, on positionne le plateau 10 de calibration ayant déjà le ou les marquages 30 de référence dans l’appareil 302 de fabrication additive et on effectue par le système 300 de tir de cet appareil 302 de fabrication additive un ou plusieurs tirs d’un ou plusieurs faisceaux laser incidents F de puissance sur le dessus de la couche 22 de gravage laser pour y réaliser le ou les marquages 40 de test, et ce par destruction de cette couche 22 au niveau du ou des points PI d’impact du ou des faisceaux laser incidents F de puissance sur cette couche 22 de gravage laser. L’appareil 302 de fabrication additive servant à réaliser l’étape E2 de réalisation du ou des marquages 40 de test peut être distinct de celui ayant servi à réaliser l’étape préalable E0 de réalisation du ou des marquages 30 de référence. Par exemple, l’appareil 302 de fabrication additive servant à réaliser l’étape E2 de réalisation du ou des marquages 40 de test peut être celui de l’utilisateur final du plateau 10 de calibration, tandis que l’appareil 302 de fabrication additive servant à réaliser l’étape préalable E0 de réalisation du ou des marquages 30 de référence peut être effectuée par le fournisseur du ou des plateaux 10 de calibration, ayant fourni ce ou ces plateaux 10 de calibration à cet utilisateur. Suivant un mode de réalisation de l’invention, dans la couche 22 de gravage laser se trouve au moins une mire 50 de positionnement de dimensions supérieures aux dimensions du au moins un marquage 30 de référence et/ou aux dimensions du au moins un marquage 40 de test. La mire 50 de positionnement peut être visible à l’œil nu. La mire 50 de positionnement peut comporter plusieurs motifs, par exemple rectangulaires, situés l’un dans l’autre, et par exemple espacés l’un de l’autre d’un même pas non nul. La mire 50 de positionnement permet de mesurer grossièrement l’écart de centrage de chaque capteur 205. La mire 50 de positionnement peut servir de repérage visuel direct à l’œil nu sur le plateau 10 de calibration. Suivant un mode de réalisation, la mire 50 de positionnement est utilisée pour prépositionner/précorriger manuellement la position du faisceau F. Suivant un mode de réalisation, on réalise une procédure de positionnement grossier du système 300 de tir de l’appareil 302 de fabrication additive sur la mire 50, par exemple de la manière suivante, illustrée à la . On vise au cours d’une étape E11 (postérieure à l’étape E1 et antérieure à l’étape E2) par le système 300 de tir de l’appareil 302 de fabrication additive la mire 50 avec un autre faisceau laser en lumière visible, qui est coaxial au faisceau laser F de puissance dans l’appareil 302 de fabrication additive et qui ne sert pas au marquage des marquages 30, 40 dans la couche 22 de gravage laser (cet autre faisceau laser est de puissance plus faible que le faisceau laser F de puissance), sans émettre le faisceau laser F de puissance et donc sans destruction locale de la couche 22 de gravage par cet autre faisceau laser). Puis, au cours d’une étape E12 (postérieure à l’étape E1 et antérieure à l’étape E2), on relève grossièrement et manuellement à l’œil nu avec une règle graduée (ou tout autre outillage de mesure visuelle de distance à l’œil nu ou avec le dispositif de relevé visuel de distance à l’œil nu décrit ci-dessous) sur le plateau 10 de calibration l’écart de centrage (au mm) d’un premier impact IMP1 de l’autre faisceau laser par rapport à sa position théorique prévue au centre C de la mire 50, ainsi qu’illustré à titre d’exemple à la . Le dispositif de relevé visuel de distance à l’œil nu peut être les motifs précités de la mire 50 de positionnement, à l’aide desquels on peut mesurer à l’œil nu la distance entre le premier impact IMP1 et le centre C situé au centre de ces motifs en comptant le nombre de motifs présents entre le centre C et le premier impact IMP1. Puis, au cours d’une étape E13 (postérieure à l’étape E1 et antérieure à l’étape E2), on modifie la commande du système 300 de tir de l’autre faisceau laser de l’appareil 302 de fabrication additive (on applique une correction COR2 de décalage à la commande du système 300 de tir suivant les coordonnées X et Y, cette correction COR2 étant égale à l’opposé de l’écart de centrage, pour corriger cet écart de centrage entre le premier impact IMP1 et le centre C), pour que le deuxième impact IMP2 de l’autre faisceau laser ainsi généré sur le plateau 10 de calibration soit présent au centre C de la mire 50. La commande ainsi modifiée ou la correction COR2 de décalage de la commande est enregistrée dans une mémoire du système 300 de tir ou de l’appareil 302 de fabrication additive et/ou dans une autre mémoire de l’appareil 200 de capture d’image et/ou dans une autre mémoire du calculateur 207, pour être appliquée aux commandes ultérieures du système 300 de tir avec le faisceau incident F de rayonnement de puissance (par exemple à l’étape E2). Cela permet de préparer le système pour que le reste de la méthode soit dans des limites correctes (pas de chevauchement des marquages 40 de test sur les marquages 30 de référence). Cela permet de s’assurer qu’une prise d’image contenant simultanément dans une seule et même image un marquage 30 de référence d’un plateau 10 de calibration et tous ses marquages 40 associés de test de ce plateau 10 de calibration est possible. En outre, suivant un mode de réalisation, une correction de décalage suivant la direction Z normale aux directions X et Y doit être effectuée sur la commande du système 300 de tir du faisceau incident F de rayonnement de puissance. Cette correction en Z peut utiliser une estimation visuelle de la focalisation suite à des tirs d’essai par le système 300 de tir du faisceau incident F de rayonnement de puissance. On décrit plus en détail ci-dessous l’appareil 200 de capture d’image suivant un mode de réalisation de l’invention en référence aux figures 5 et 8. Le plateau 10 de calibration peut être placé dans l’appareil 200 de capture d’image pour réaliser une image du ou des marquages 30 de référence du plateau 10 de calibration et du ou des marquages 40 de test de ce plateau 10 de calibration. L’appareil 200 de capture d’image est configuré pour comparer le ou les marquages 30 de référence du plateau 10 de calibration au(x) marquage(s) 40 de test de ce plateau 10 de calibration. L’appareil 200 de capture d’image est autonome, transportable et séparé du système 300 de tir du au moins un faisceau laser incident F de puissance de l’appareil 200 de fabrication additive. L’appareil 200 de capture d’image comporte un boîtier comportant un cadre 201 délimitant une ouverture 202 de réception, dans laquelle peut être inséré le plateau 10 de calibration. Le plateau 10 de calibration est placé dans l’ouverture 202 en orientant vers le haut la couche 22 de gravage laser comportant le ou les marquages 30 et/ou 40 et/ou la mire 50 et en orientant vers le bas la face inférieure 23. L’appareil 200 de capture d’image comporte des organes 203 de maintien du plateau 10 de calibration dans l’ouverture 202. Ces organes 203 de maintien comprennent par exemple un support 203 ou une table plane 203 rétroéclairée, sur lequel ou laquelle peut être positionnée la face inférieure 23 du plateau 10 de calibration, ainsi qu’illustré à la . L’appareil 200 de capture d’image comporte une ou plusieurs sources 204 de lumière visible de rétroéclairage. La ou les sources 204 de lumière visible de rétroéclairage sont situées sous l’ouverture 202, pour envoyer la lumière visible de rétroéclairage par le dessous vers le haut et vers la face inférieure 23 du plateau 10 de calibration, lorsque ce plateau 10 de calibration est positionné dans l’ouverture 202 avec sa face inférieure 23 tournée vers le bas et vers la ou les sources 204. La ou les sources 204 de lumière visible de rétroéclairage peut se trouver dans ou sous la table rétroéclairée 203. L’appareil 200 de capture d’image comporte le capteur 205 permettant d’acquérir une ou plusieurs images éclairées par la lumière visible de rétroéclairage envoyée par la ou les sources 204. Le capteur 205 peut être un capteur optique et comporter une caméra, un appareil photographique ou autres. L’appareil 200 de capture d’image comporte un dispositif 206 de guidage et de support pour positionner le capteur 205 au-dessus de l’ouverture 202 par rapport au cadre 201. Le dispositif 206 de guidage et de support permet de déplacer le capteur 205 au-dessus de l’ouverture 202 et donc au-dessus de la couche 22 supérieure de gravage laser du plateau 10 de calibration comportant le ou les marquages 30 et/ou 40 et/ou la mire 50, lorsque le plateau 10 de calibration y est placé. Le dispositif 206 de guidage et de support permet de déplacer le capteur 205 au-dessus de l’ouverture 202 par exemple suivant les deux directions horizontales X et Y perpendiculaires entre elles. Le dispositif 206 de guidage et de support peut être manuel ou automatisé. Suivant un mode de réalisation de l’invention, le dispositif 206 de guidage et de support peut comporter un ou plusieurs premier(s) rail(s) 2061 de coulissement suivant la direction horizontale X des abscisses, fixés sur le cadre 201, ainsi qu’un ou plusieurs deuxième(s) rail(s) 2062 montés coulissants suivant la direction horizontale X sur le ou les premier(s) rail(s) 2061. Le deuxième(s) rail(s) 2062 s’étend suivant la direction Y des ordonnées. Le capteur 205 est monté coulissant suivant la direction Y sur le ou les deuxième(s) rail(s) 2062. Ainsi, lorsque le plateau 10 de calibration est positionné dans l’ouverture 202, la source 204 de lumière visible de rétroéclairage envoie la lumière visible de rétroéclairage de bas en haut, vers l’ouverture 200 et vers le dessous de la face inférieure 23, puis au travers de la plaque 20 de verre, puis au travers du ou des marquages 30 de référence et/ou du ou des marquages 40 de test. La qualité de la détection du ou des marquages 30 de référence et/ou du ou des marquages 40 de test dans l’image acquise par le capteur 205 n’est donc plus tributaire de l’appareil 302 de fabrication additive et peut être améliorée en utilisant l’appareil 200 de capture d’image. L’appareil 200 de capture d’image peut faire partie d’un kit transportable 100 de calibration, lequel comporte en plus un ou plusieurs plateaux 10 de calibration comportant chacun leur(s) marquage 30 de référence. Ainsi, l’appareil 200 de capture d’image peut être fourni avec le ou plateaux 10 de calibration par le fournisseur à l’utilisateur final de l’appareil 302 de fabrication additive. Un avantage est ainsi que le kit peut être stocké ailleurs que dans la zone où se trouve le matériau pulvérulent servant à l’appareil 302 de fabrication additive. L’appareil 200 de capture d’image comporte un calculateur 207 configuré pour analyser la ou les une image acquise par le capteur 205, reconnaître le ou les marquages 30 de référence et le ou les marquages 40 de test dans la ou les image acquise par le capteur 205. Le calculateur 207 peut être ou comprendre un ordinateur, un processeur, un microprocesseur et des programmes informatiques de traitement automatique d’images et de reconnaissance de forme, enregistrés sur un support permanent lisible par le calculateur 207, tel que par exemple une mémoire permanente. Le calculateur 207 peut être connecté au capteur 205 par un dispositif 209 de transmission, pour que la ou les image acquise par le capteur 205 soit envoyée au calculateur 207 ou copiée dans le calculateur 207, le dispositif 209 de transmission pouvant être du type filaire ou sans fil. Le calculateur 207 est configuré pour calculer des corrections COR de commande de visée du système 300 de tir en fonction au moins des coordonnées X4, Y4 du ou des marquages 40 de test par rapport au(x) marquage(s) 30 de référence, ayant été reconnus par le calculateur 207 dans l’image. Ces corrections COR peuvent être un premier décalage à appliquer selon la direction X des abscisses et/ou un deuxième décalage à appliquer selon la direction Y des ordonnées. Suivant un mode de réalisation de l’invention, le kit transportable 100 de calibration et/ou l’appareil 200 de capture d’image et/ou le calculateur 207 et/ou le capteur 205 comporte une mémoire permanente 208 dans laquelle sont préenregistrées les coordonnées absolues X3, Y3 du ou des marquages 30 de référence de chaque plateau 10 de calibration, ces coordonnées ayant été déterminées au préalable. Suivant un mode de réalisation de l’invention, le calculateur 207 est configuré pour calculer les corrections COR de commande de visée du système 300 de tir du faisceau laser incident F de puissance de l’appareil 302 de fabrication additive en fonction des coordonnées X4, Y4 du ou des marquages 40 de test calculées pour le ou les marquages 30 de référence et en fonction des coordonnées absolues X3, Y3 du ou des marquages 30 de référence. On décrit ci-dessous en référence à la un procédé de calibration suivant un mode de réalisation de l’invention, pour calibrer le système 300 de tir d’au moins un faisceau laser incident F de puissance de l’appareil 302 de fabrication additive, en utilisant au moins un plateau 10 de calibration amovible suivant l’invention, comportant à l’avance le ou les marquages 30 de référence. Ce procédé de calibration comporte les étapes décrites ci-dessous et peut être effectué par l’utilisateur final ayant reçu le plateau 10 de calibration et/ou le kit 100 de calibration, pour calibrer son propre appareil 302 de fabrication additive. Au cours d’une première étape E1, l’utilisateur positionne le plateau 10 de calibration amovible dans l’appareil 302 de fabrication additive. Dans cette position, la (ou les) couche 22 supérieure de gravage laser du plateau 10 de calibration amovible comportant le ou les marquages 30 de référence est orientée vers le côté 304 d’émission du (ou des) faisceau laser incident F de puissance du système 300 de tir, tandis que la face inférieure 23 est plus éloignée du côté 304 d’émission du (ou des) faisceau laser incident F de puissance du système 300 de tir que ne l’est la (ou les) couche 22 supérieure de gravage laser. Cette première étape E1 est donc postérieure à l’étape préalable E0 décrite ci-dessus. Au cours d’une deuxième étape E2 postérieure à la première étape E1, l’utilisateur commande le système 300 de tir du (ou des) faisceau laser incident F de puissance de l’appareil 302 de fabrication additive, selon une commande de visée du système 300 de tir, déterminée par rapport au(x) marquage(s) 30 de référence, pour émettre le (ou les) faisceau laser incident F de puissance depuis le côté 304 d’émission sur la couche 22 de gravage laser du plateau 10 de calibration amovible, pour y former le ou les marquage 40 de test par destruction locale de la couche 22 de gravage laser. Il peut être réalisé un marquage 40 de test pour chaque marquage 30 de référence. Il peut être réalisé une pluralité de marquages 40 de test situés à distance les uns des autres pour une pluralité de marquages 30 de référence situés à distance les uns des autres. Chaque marquage 40 de test peut être un motif de points centré sur un point cible théorique prédéterminé 14 (représenté par une croix 14 à la et non présent sur le plateau 10). Le système 300 de tir peut être commandé pour réaliser, pour chaque marquage 30 de référence, un (ou plusieurs) tir sur la position cible théorique 14 donnée à proximité du marquage 30 de référence correspondant. Le marquage 40 de test peut être effectué sur le plateau 10 à proximité de la position cible théorique donnée 14, afin d’améliorer le repérage de la position du tir et donc la précision de la calibration. Comme illustré en , le marquage 40 de test peut être centré sur la position cible théorique donnée 14 et peut constituer en un carré encadrant la position cible théorique donnée du tir, le carré pouvant être entouré d’une croix formée de traits horizontaux et verticaux. Le tir du marquage 40 de test peut se faire selon une succession de plusieurs points de tirs répartis selon un motif de tir prédéfini (motif matriciel 40 de 7x7 points dans l’exemple de la ). Au cours d’une troisième étape E3 postérieure à la deuxième étape E2, l’utilisateur enlève de l’appareil 302 de fabrication additive le plateau 10 de calibration amovible. Au cours d’une quatrième étape E4 postérieure à la troisième étape E3, l’utilisateur déplace le plateau 10 de calibration amovible jusqu’à l’appareil 200 de capture d’image, lequel est transportable et séparé du système 300 de tir du au moins un faisceau laser incident F de puissance de l’appareil 302 de fabrication additive. Au cours d’une cinquième étape E5 postérieure à la quatrième étape E4, l’utilisateur positionne le plateau 10 de calibration amovible dans l’ouverture 202 de l’appareil 200 de capture d’image, distant de et non rapporté sur l’appareil 302 de fabrication additive. Au cours d’une sixième étape E6 postérieure à la cinquième étape E5, l’utilisateur commande la (ou les) source 204 de lumière visible de rétroéclairage de l’appareil 200 de capture d’image pour que la lumière visible de rétroéclairage traverse dans l’ouverture 202 depuis la face inférieure 23 la plaque 20 de verre, le (ou les) marquage 30 de référence et le (ou les) marquage 40 de test, ainsi que décrit ci-dessus. Au cours d’une septième étape E7 postérieure à la sixième étape E6, l’utilisateur commande l’appareil 200 de capture d’image pour que le capteur 205 acquière une (ou plusieurs) image d’une zone de la couche 22 supérieure de gravage laser, dans laquelle se trouve le (ou les) marquage 30 de référence et le (ou les) marquage 40 de test dans la lumière visible de rétroéclairage envoyée par la source 204. Entre la sixième étape E6 et la septième étape E7 peut être effectuée une sous-étape E60, au cours de laquelle le capteur 205 est déplacé par le dispositif 206 de guidage et de support par rapport au plateau 1 de calibration, par exemple pour viser une zone déterminée de la couche supérieure 22 comportant à la fois au moins un marquage 30 de référence et au moins un marquage 40 de test. Au cours d’une huitième étape E8 postérieure à la septième étape E7, le calculateur 207 de l’appareil 200 de capture d’image analyse la (ou les) image acquise par le capteur 205. Le calculateur 207 reconnaît par traitement automatique d’image le (ou les) marquage 30 de référence et le (ou les) marquage 40 de test dans la (ou les) image acquise, et calcule automatiquement des coordonnées X4, Y4 du (ou des) marquage 40 de test par rapport aux coordonnées calculées du (ou des) marquage 30 de référence reconnu dans la (ou les) image acquise et/ou par rapport aux coordonnées absolues X3, Y3 du (ou des) marquage 30 de référence reconnu dans la (ou les) image acquise. Au cours d’une neuvième étape E9 postérieure à la huitième étape E8, le calculateur 207 calcule les corrections COR de commande de visée du système 300 de tir du au moins un faisceau laser incident F de puissance de l’appareil 302 de fabrication additive en fonction au moins des coordonnées X4, Y4 du (ou des) marquage 40 de test calculées pour le (ou les) marquage 30 de référence. Le calculateur 207 enregistre dans la mémoire 208 de l’appareil 200 de capture d’image ces corrections COR de commande de visée du système 300 de tir du au moins un faisceau laser incident F de puissance de l’appareil 302 de fabrication additive. L’invention permet ainsi de calibrer une ou plusieurs sources laser de façon autonome et garantissant une précision absolue d’écart des marquages 40 de test par rapport au positionnement théorique, inférieure à 35 µm et ceci pour tout point de la plateforme de fabrication. L’invention sert également à calibrer une ou plusieurs sources de faisceau(x) F par rapport à une même référence, ce qui apporte la fonctionnalité multi-laser sur une même pièce. L’écart maximum relatif entre les sources de faisceaux F en positionnement et à tout point de la plateforme est assuré inférieur à 35 µm. Suivant un mode de réalisation de l’invention, pour chaque marquage 30 de référence, l’image acquise de la zone autour de celui-ci est traitée par le calculateur 207 pour en déduire la position C40 du centre (point milieu) du marquage 40 de test dans le repère orthonormé dudit marquage 30 de référence (mesures de position X m et Y m dans l’exemple de la ) et par conséquent le décalage de cette position C40 par rapport à la position cible théorique 14, pour calculer les corrections COR égales à ce décalage à retirer. Suivant un mode de réalisation de l’invention, les marquages 30 de référence ont simultanément les mêmes orientations dans les repères image et le référentiel des marquages 30 de référence de chaque plateau 10 de calibration. Suivant un mode de réalisation de l’invention, le calculateur 207 est configuré pour enregistrer les corrections COR de commande de visée dans la mémoire 208 en association avec l’identifiant ID du plateau 10 de calibration amovible et avec les coordonnées absolues X3, Y3 du (ou des) marquage 30 de référence. Ces corrections COR de commande de visée peuvent être sous la forme d’une table de correction. Suivant un mode de réalisation de l’invention, les corrections COR de commande de visée sont enregistrées dans une mémoire du système 300 de tir du au moins un faisceau F de rayonnement incident de puissance de l’appareil 302 de fabrication additive au cours de la neuvième étape E9. Suivant un mode de réalisation de l’invention, au cours d’une dixième étape E10 postérieure à la neuvième étape E9, l’utilisateur commande le système 300 de tir du (ou des) faisceau laser incident F de puissance de l’appareil 302 de fabrication additive, selon une commande de visée du système 300 de tir corrigée par les corrections COR de commande de visée, pour réaliser un (ou plusieurs) tir du (ou des) faisceau laser incident F de puissance de l’appareil 302 de fabrication additive depuis le côté 304 d’émission, sur le plateau 10 de calibration ou sur un autre plateau 10 de calibration pour y former un (ou plusieurs) autre marquage 40 de test par destruction locale de la couche 22 de gravage laser, ou sur le plan de travail P (couche de matériau pulvérulent) pour réaliser la fabrication additive d’un objet. Suivant un mode de réalisation de l’invention, un identifiant ID2 individuel d’un marquage 30 de référence peut être présent sur le plateau 10 dans ce marquage 30 de référence, ainsi qu’illustré par exemple à la montrant l’identifiant ID2 formé par le motif dessinant le nombre 12. Il peut être prévu plusieurs identifiants ID2 individuels, différents l’un de l’autre, pour plusieurs ou tous les marquages 30 de référence. Cet identifiant ID2 individuel est ainsi lisible dans l’image acquise par l’appareil 200 de capture d’image, pour servir à reconnaître quel marquage 30 de référence est présent dans l’image, lorsque le plateau 10 comporte plusieurs marquages 30 de référence. Suivant un mode de réalisation de l’invention, le marquage 40 de test gravé dans la couche 22 de gravage du plateau 10 de calibration peut comporter un autre identifiant ID40 du marquage 40 de test. Ainsi, lorsqu’une pluralité de marquages 40 de test situés à distance les uns des autres sont gravés à proximité d’une pluralité de marquages 30 de référence situés à distance les uns des autres sur le même plateau 10 de calibration, les autres identifiants ID40 du marquage 40 de test sont différents les uns des autres. Par exemple, à la , cet autre identifiant ID40 du marquage 40 de test peut être plusieurs points en nombres différents pour les différents marquages 40 de test. Par exemple, suivant un mode de réalisation, on identifie différents marquages 40 de test autour de chaque marquage 30 de référence du plateau 10 quand on calibre différentes sources de faisceaux lasers F incidents de puissance et donc différents faisceaux lasers F incidents de puissance du système 300 de tir, avec un même plateau 10 de calibration. Suivant un mode de réalisation, ces différents marquages 40 de test autour d’un même marquage 30 de référence sont donc issus de différentes sources lasers du système 300 de tir, qui doivent chacune être calibrées différemment. Ces différents identifiants ID40 permettent dans ces cas d’identifier les différentes sources de faisceaux lasers F incidents de puissance. Bien entendu, les modes de réalisation, caractéristiques, possibilités et exemples décrits ci-dessus peuvent être combinés l’un avec l’autre ou être sélectionnés indépendamment l’un de l’autre. Plateau (10) de calibration amovible, apte à être positionné dans un système (300) de tir d’au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance d’un appareil (302) de fabrication additive, le plateau (10) de calibration amovible comportant une plaque (20), la plaque (20) comportant une face supérieure (21) destinée à être tournée vers le faisceau (F) de rayonnement incident de puissance, la plaque (2) portant au moins un marquage (30) de référence et étant destinée à recevoir au moins un marquage (40) de test, et une face inférieure (23), qui est éloignée par rapport à la face supérieure (21) suivant le sens de l’épaisseur de la plaque (20), caractérisé en ce que le plateau (10) de calibration amovible comporte au moins une couche (22) de gravage par faisceau (F) de rayonnement incident de puissance, la au moins une couche (22) de gravage par faisceau (F) de rayonnement incident de puissance étant solidaire de la face supérieure (21) de la plaque (20) et étant opaque à de la lumière visible, la au moins une couche (22) de gravage par faisceau (F) de rayonnement incident de puissance étant apte à être détruite localement par le faisceau (F) de rayonnement incident de puissance pour former le au moins un marquage (40) de test, la plaque (20) étant transparente à la lumière visible, la face inférieure (23) de la plaque (20) étant dépolie. Plateau (10) de calibration amovible suivant la revendication 1, caractérisé en ce que la face inférieure (23) de la plaque (20) est transparente à de la lumière visible de rétroéclairage. Plateau (10) de calibration amovible suivant l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le au moins un marquage (30) de référence est réalisé par destruction locale de la au moins une couche (22) de gravage par le faisceau (F) de rayonnement incident de puissance. Plateau (10) de calibration amovible suivant l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que dans la au moins une couche (22) de gravage par faisceau (F) de rayonnement incident de puissance se trouve au moins une mire (50) de positionnement de dimensions supérieures aux dimensions du au moins un marquage (30) de référence et/ou aux dimensions du au moins un marquage (40) de test. Plateau (10) de calibration amovible suivant l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que des coordonnées absolues (X3, Y3) du au moins un marquage (30) de référence, ayant été déterminées au préalable, sont associées au plateau (10) de calibration. Plateau (10) de calibration amovible suivant l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la au moins une couche (22) de gravage par faisceau (F) de rayonnement incident de puissance est au moins une couche (22) de gravage par faisceau (F) de rayonnement laser incident de puissance. Plateau (10) de calibration amovible suivant l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la plaque (20) comprend du verre ou est en verre. Plateau (10) de calibration amovible suivant l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le plateau (1) de calibration comporte le au moins un marquage (40) de test réalisé par destruction locale de la au moins une couche (22) de gravage par le faisceau (F) de rayonnement incident de puissance. Plateau (10) de calibration amovible suivant l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que dans la au moins une couche (22) de gravage par faisceau (F) de rayonnement incident de puissance se trouvent le au moins un marquage (30) de référence réalisé par destruction locale de la au moins une couche (22) de gravage par le faisceau (F) de rayonnement incident de puissance et le au moins un marquage (40) de test réalisé par destruction locale de la au moins une couche (22) de gravage par le faisceau (F) de rayonnement incident de puissance. Plateau (10) de calibration amovible suivant la revendication 8 ou 9, caractérisé en ce que le au moins un marquage (40) de test présent dans la couche (22) de gravage par faisceau (F) de rayonnement incident de puissance comporte un identifiant (ID40) du marquage (40) de test. Kit tranportable (100) de calibration, comportant au moins un plateau (10) de calibration amovible, apte à être positionné dans le champ d’un système (300) de tir d’au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance d’un appareil (302) de fabrication additive, suivant l’une quelconque des revendications 1 à 7, caractérisé en ce que le kit transportable (100) de calibration comporte en outre un appareil (200) de capture d’au moins une image pour comparer le au moins un marquage (30) de référence au au moins un marquage (40) de test du plateau (10) de calibration, l’appareil (200) de capture d’image étant transportable et séparé du système (300) de tir du au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance de l’appareil (302) de fabrication additive, l’appareil (200) de capture d’image comportant un boîtier (201) comportant un cadre (201) délimitant une ouverture (202) de réception du plateau (10) de calibration, des organes (203) de maintien du plateau (10) de calibration dans l’ouverture (202), au moins une source (204) de lumière visible de rétroéclairage située sous l’ouverture (202), un capteur (205) d’au moins une image en lumière visible de rétroéclairage, un dispositif (206) de guidage et de support pour positionner le capteur (205) au-dessus de l’ouverture (202) par rapport au cadre (201), le kit transportable (100) de calibration et/ou l’appareil (200) de capture d’image comportant un calculateur (207) configuré pour analyser la au moins une image acquise par le capteur (205), reconnaître le au moins un marquage (30) de référence et le au moins un marquage (40) de test dans la au moins une image acquise par le capteur (205), et calculer des corrections (COR) de commande de visée du système (300) de tir du au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance de l’appareil (302) de fabrication additive, en fonction au moins de coordonnées (X4, Y4) du au moins un marquage (40) de test par rapport au au moins un marquage (30) de référence. Kit transportable (100) de calibration suivant la revendication 11, caractérisé en ce que le kit transportable (100) de calibration et/ou l’appareil (200) de capture d’image et/ou le calculateur (207) et/ou le capteur (205) comporte une mémoire (208) dans laquelle sont préenregistrées des coordonnées absolues (X3, Y3) du au moins un marquage (30) de référence, ayant été déterminées au préalable, le calculateur (207) étant configuré pour calculer les corrections (COR) de commande de visée du système (300) de tir du au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance de l’appareil (302) de fabrication additive en fonction de coordonnées (X4, Y4) du au moins un marquage (40) de test calculées pour le au moins un marquage (30) de référence et en fonction des coordonnées absolues (X3, Y3) du au moins un marquage (30) de référence. Procédé de calibration d’un système (300) de tir d’au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance d’un appareil (302) de fabrication additive à l’aide d’au moins un plateau (10) de calibration amovible suivant l’une quelconque des revendications 1 à 10, caractérisé en ce que le procédé de calibration comporte les étapes suivantes : positionnement (E1) du plateau (10) de calibration amovible dans l’appareil (302) de fabrication additive, la au moins une couche (22) de gravage par faisceau (F) de rayonnement incident de puissance du plateau (10) de calibration amovible étant orientée vers un côté (304) d’émission du au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance du système (300) de tir de l’appareil (302) de fabrication additive, commande (E2) du système (300) de tir du au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance de l’appareil (302) de fabrication additive, selon une commande de visée du système (300) de tir, déterminée par rapport au au moins un marquage (30) de référence, pour émettre le au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance depuis le côté (304) d’émission sur la au moins une couche (22) de gravage du plateau (10) de calibration amovible, pour y former le au moins un marquage (40) de test par destruction locale de la couche (22) de gravage, extraction (E3) du plateau (10) de calibration amovible hors de l’appareil (302) de fabrication additive, déplacement (E4) du plateau (10) de calibration amovible jusqu’à un appareil (200) de capture d’au moins une image, transportable et séparé du système (300) de tir du au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance de l’appareil (302) de fabrication additive, l’appareil (200) de capture d’image comportant un boîtier (201) comportant un cadre (201) délimitant une ouverture (202) de réception du plateau (10) de calibration, des organes (203) de maintien du plateau (10) de calibration dans l’ouverture (202), au moins une source (204) de lumière visible de rétroéclairage située sous l’ouverture (202), un capteur (205) d’au moins une image en lumière visible de rétroéclairage, un dispositif (206) de guidage et de support pour positionner le capteur (205) au-dessus de l’ouverture (202) par rapport au cadre (201), positionnement (E5) du plateau (10) de calibration amovible dans l’ouverture (202) de l’appareil (200) de capture d’image, commande (E6) de la au moins une source (204) de lumière visible de rétroéclairage de l’appareil (200) de capture d’image pour que la lumière visible de rétroéclairage traverse dans l’ouverture (202), depuis la face inférieure (23), la plaque (20), le au moins un marquage (30) de référence et le au moins un marquage (40) de test, acquisition (E7), par le capteur (205), d’au moins une image d’une zone dans laquelle se trouve le au moins un marquage (30) de référence et le au moins un marquage (40) de test en lumière visible de rétroéclairage, analyse (E8), par un calculateur (207) de l’appareil (200) de capture d’image, de la au moins une image acquise par le capteur (205), et reconnaissance du au moins un marquage (30) de référence et du au moins un marquage (40) de test dans la au moins une image acquise, pour calculer des coordonnées (X4, Y4) du au moins un marquage (40) de test par rapport au au moins un marquage (30) de référence, calcul et enregistrement (E9) dans une mémoire (208) de l’appareil (200) de capture d’image, par le calculateur (207) de l’appareil (200) de capture d’image, de corrections (COR) de commande de visée du système (300) de tir du au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance de l’appareil (302) de fabrication additive en fonction au moins des coordonnées (X4, Y4) du au moins un marquage (40) de test calculées pour le au moins un marquage (30) de référence. Procédé de calibration suivant la revendication 13, caractérisé en ce que dans la mémoire (208) sont préenregistrées des coordonnées absolues (X3, Y3) du au moins un marquage (30) de référence, ayant été déterminées au préalable, le calculateur (207) étant configuré pour calculer (E9) les corrections (COR) de commande de visée du système (300) de tir du au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance de l’appareil (302) de fabrication additive en fonction des coordonnées (X4, Y4) du au moins un marquage (40) de test calculées pour le au moins un marquage (30) de référence et en fonction des coordonnées absolues (X3, Y3) du au moins un marquage (30) de référence. Procédé de calibration suivant la revendication 13 ou 14, caractérisé en ce que les corrections (COR) de commande de visée sont enregistrées (E9) dans la mémoire (208) en association avec un identifiant (ID) du plateau de calibration amovible et avec les coordonnées absolues (X3, Y3) du au moins un marquage (30) de référence. Procédé de calibration suivant l’une quelconque des revendications 13 à 15, caractérisé en ce que les corrections (COR) de commande de visée sont enregistrées (E10) dans le système (300) de tir du au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance de l’appareil (302) de fabrication additive. Procédé de calibration suivant l’une quelconque des revendications 13 à 16, caractérisé en ce que dans la au moins une couche (22) de gravage par faisceau (F) de rayonnement incident de puissance se trouve au moins une mire (50) de positionnement, ayant des dimensions supérieures aux dimensions du au moins un marquage (30) de référence et/ou aux dimensions du au moins un marquage (40) de test, les étapes suivantes (E11, E12, E13) sont effectuées entre le positionnement (E1) du plateau (10) de calibration amovible dans l’appareil (302) de fabrication additive et la commande (E2) du système (300) de tir du au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance de l’appareil (302) de fabrication additive : commande (E11) du au moins un système (300) de tir de l’appareil (302) de fabrication additive pour émettre au moins un autre faisceau de rayonnement en lumière visible, sans émettre de faisceau (F) de rayonnement incident de puissance depuis le côté (304) d’émission sur la au moins une couche (22) de gravage du plateau (10) de calibration amovible, pour projeter un premier impact (IMP1) du au moins un autre faisceau de rayonnement en lumière visible sur la au moins une mire (50) de positionnement, mesure (E12), à l’oeil nu sur la au moins une mire (50) de positionnement, de l’écart de centrage du premier impact (IMP1) de l’autre faisceau de rayonnement en lumière visible par rapport à une position théorique prévue en un centre (C ) de la au moins une mire (50) de positionnement, modification (E13) de la commande du au moins un système (300) de tir de l’appareil (302) de fabrication additive selon une correction (COR2) de décalage de commande pour émettre le au moins un autre faisceau de rayonnement en lumière visible, sans émettre de faisceau (F) de rayonnement incident de puissance depuis le côté (304) d’émission sur la au moins une couche (22) de gravage du plateau (10) de calibration amovible, pour projeter un deuxième impact (IMP2) du au moins un autre faisceau de rayonnement en lumière visible sur le centre (C ) de la au moins une mire (50) de positionnement, enregistrement (E13) de la correction (COR2) de décalage de commande dans une mémoire du système (300) de tir ou de l’appareil (302) de fabrication additive et/ou dans une autre mémoire de l’appareil (200) de capture d’image et/ou dans une mémoire du calculateur (207), ladite commande (E2) du au moins un système (300) de tir du au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance de l’appareil (302) de fabrication additive, selon la commande de visée du système (300) de tir, déterminée par rapport au au moins un marquage (30) de référence, pour émettre le au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance depuis le côté (304) d’émission sur la au moins une couche (22) de gravage du plateau (10) de calibration amovible, pour y former le au moins un marquage (40) de test par destruction locale de la couche (22) de gravage, étant effectuée en étant corrigée par la correction (COR2) de décalage de commande, ayant été enregistrée, le au moins un faisceau (F) de rayonnement incident de puissance et le au moins un autre faisceau laser en lumière visible étant coaxiaux.