Brevet FR3101449A1 — publié le 20210402

Détection et correction d'erreurs La présente description concerne un procédé de détection et de correction d'erreurs comprenant la comparaison d'au moins trois dispositifs (100A, 100B, 100C) identiques comprenant chacun au moins une chaîne (103A, 103B, 103C) de données de test, comprenant les étapes suivantes : (a) les données de test en dernière position dans ladite chaîne (103A, 103B, 103C) desdits au moins trois dispositifs (100A, 100B, 100C) sont comparées ; (b) les autres données de test sont avancées d'une position dans leur chaîne (103A, 103B, 103C) ; et (c) le résultat de la comparaison de l'étape (a) est écrit en première position dans ladite chaîne (103A, 103B, 103C), les étapes (a), (b), et (c) sont répétées jusqu'à ce que toutes les données de test desdites chaînes (103A, 103B, 103C) sont comparées. Figure pour l'abrégé : Fig. 2 Détection et correction d'erreurs La présente description concerne de façon générale la détection et la correction d'erreurs dans un dispositif électronique, et plus particulièrement un procédé de détection et de correction d'erreurs par comparaison de dispositifs électroniques. La présente description concerne, de plus, un dispositif permettant de mettre en oeuvre un tel procédé de détection et de correction d'erreurs dans un dispositif électronique. L'utilisation, dans un système électronique, de dispositifs électroniques, comme des processeurs, des microprocesseurs, des systèmes intégrés, des mémoires, etc., est de plus en plus soumise à des contraintes de performances et de fiabilité. Pour satisfaire à certaines normes et/ou charte de qualité, ces dispositifs sont généralement couplés à des dispositifs de détection et/ou de correction d'erreurs. En effet, des erreurs de fonctionnement peuvent se présenter lors de l'exécution d'un de ces dispositifs et perturber leurs fonctionnements et/ou le fonctionnement global du système électronique les comprenant. Plusieurs types d'erreurs, ou fautes, peuvent se produire au sein d'un dispositif électronique. A titre d'exemple, certaines erreurs (SPF, Single Point Fault) produisent directement une violation d'un objectif de sécurité. Cet objectif de sécurité est généralement basé sur une norme, par exemple la norme ISO26262 concernant les systèmes de sécurité. Ces erreurs sont facilement reconnaissables par observation du fonctionnement du dispositif et/ou du système. D'autres erreurs (LFM, Latent Fault Metric), dites erreurs latentes, ne produisent pas instantanément de dysfonctionnement, mais peuvent en produire, par exemple, ultérieurement, ou lorsqu'elles sont combinées à d'autres erreurs. Ce sont des erreurs plus difficiles à détecter, et donc à corriger, car une simple observation du fonctionnement du dispositif ou du système n'est généralement pas suffisante. Il existe donc un besoin pour des procédés de détection et de correction d'erreurs dans les dispositifs électroniques, et des dispositifs adaptés à mettre en oeuvre ces procédés, ayant une meilleure protection des fautes, et une correction des erreurs plus rapide. Ces caractéristiques et avantages, ainsi que d'autres, seront exposés en détail dans la description suivante de modes de réalisation particuliers faite à titre non limitatif en relation avec les figures jointes parmi lesquelles : la figure 1 représente, de façon schématique et sous forme de blocs, un dispositif électronique ; la figure 2 représente, de façon schématique et sous forme de blocs, un mode de réalisation d'un dispositif de détection et de correction d'erreurs dans des dispositifs électroniques du type du dispositif de la figure 1 ; et la figure 3 est un organigramme illustrant le fonctionnement du mode de réalisation de la figure 2. Procédé de détection et de correction d'erreurs comprenant la comparaison d'au moins trois dispositifs (100A, 100B, 100C) identiques comprenant chacun au moins une chaîne (103A, 103B, 103C) de données de test, comprenant les étapes suivantes : (a) les données de test en dernière position dans ladite chaîne (103A, 103B, 103C) desdits au moins trois dispositifs (100A, 100B, 100C) sont comparées ; (b) les autres données de test sont avancées d'une position dans leur chaîne (103A, 103B, 103C) ; et (c) le résultat de la comparaison de l'étape (a) est écrit en première position dans ladite chaîne (103A, 103B, 103C), les étapes (a), (b), et (c) sont répétées jusqu'à ce que toutes les données de test desdites chaînes (103A, 103B, 103C) sont comparées. Procédé selon la revendication 1, dans lequel chaque donnée de test est stockée dans un point de test (101A, 101B, 101C). Procédé selon la revendication 2, dans lequel les points de test (101A, 101B, 101C) sont des registres ou des bascules. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel les données de test sont des mots binaires. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, dans lequel les données de test sont tous des mots binaires de même taille. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, dans lequel les données de test sont des mots binaires de taille différente. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, dans lequel les dispositifs (100A, 100B, 100C) comprennent au moins deux chaînes de données de test. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 8, de comparaison de plus de trois dispositifs électroniques identiques. Dispositif de comparaison adapté à mettre en oeuvre le procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 8. Dispositif selon la revendication 9 d'au moins trois dispositifs électroniques identiques (100A, 100B, 100C) comprenant chacun au moins une chaîne (103A, 103B, 103C) de données de test, comprenant : - un circuit comparateur (201) ; et - au moins trois boucles de rétroaction (203) reliant chacune une sortie (201OUT) du circuit comparateur (201) et une entrée (103INA, 103INB, 103INC) d'une desdites chaînes (103A, 103B, 103C). Dispositif selon la revendication 10, dans lequel chaque boucle de rétroaction (203) relie une sortie (201OUT) du circuit comparateur (201) et une entrée (103INA, 103INB, 103INC) d'une desdites chaînes (103A, 103B, 103C) par l'intermédiaire d'un multiplexeur (210A, 210B, 210C). Système électronique comprenant : - au moins trois dispositifs électroniques (100A, 100B, 100C) identiques comprenant chacun au moins une chaîne (103A, 103B, 103C) de données de test ; et - un dispositif de comparaison (201) selon l'une quelconque des revendications 9 à 11 .