Brevet FR3093683A1 — publié le 20200918

Description Titre de l'invention : Appareil de commande et procédé de gestion d'un appareil de commande DOMAINE DE L'INVENTION [0001] La présente invention se rapporte à procédé de gestion d'un appareil de commande notamment pour un véhicule automobile, cet appareil de commande ayant un branchement pour raccorder une ligne de signal par laquelle une unité externe est reliée au branchement de l'appareil de commande. [0002] L'invention a également pour objet un appareil de commande comportant un branchement pour brancher une ligne de signal reliant une unité externe au branchement de l'appareil de commande. [0003] EXPOSE ET AVANTAGES DE L'INVENTION [0004] L'invention a pour objet un procédé de gestion d'un appareil de commande en par- ticulier pour un véhicule, selon lequel [0005] l'appareil de commande comporte un branchement pour brancher une ligne de signal reliant une unité externe au branchement de l'appareil de commande, [0006] le procédé consistant à : [0007] émettre un signal de test par le branchement, [0008] recevoir un signal de test sur le branchement, ce signal de test réfléchi ayant notamment au moins une partie réfléchie du signal de test, et 100091 déterminer une première grandeur caractérisant la qualité de la ligne de signal en fonction du signal de test réfléchi. 100101 Le procédé permet de déterminer efficacement des informations concernant la qualité de la ligne de signal (encore appelée ligne de transmission de signal) informations à partir desquelles on peut déterminer d'éventuelles perturbations ou défauts de la ligne de signal par exemple un branchement de ligne, un court-circuit, un mode de roue-libre et selon d'autres formes de réalisations préférentielles on peut connaître en particulier l'emplacement de la perturbation ou du défaut. 100111 Selon des formes de réalisations préférentielles, le signal de test comprend au moins une impulsion avec un temps de montée de l'ordre de la picoseconde (par exemple compris entre une picoseconde et mille picosecondes) ou dans le domaine de nanoseconde (par exemple compris entre une nanoseconde et mille nanosecondes). 100121 Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, l'impulsion a une largeur de 200 ns ou moins de préférence 100 ns ou moins. Selon d'autres formes de réalisation préférentielles, la largeur d'impulsion a une demi-largeur d'impulsion (encore à la largeur à mi-hauteur LMH FWHM) qui correspond de préférence à la largeur à mi-hauteur LMH 2 FWHM de l'impulsion 200 ns ou moins de préférence 100 ns ou moins. [0013] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, si le signal de test réfléchi (par exemple une amplitude maximale du signal de test réfléchi ou de l'impulsion réfléchie) descend en-dessous d'un premier seuil prédéfini, on conclut qu'il n'y a pas de défaut notamment pas de court-circuit ni de roue libre dans le domaine de la ligne de signal. [0014] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, si le signal de test réfléchi dépasse un second seuil prédéfini, on en conclut qu'il y a un défaut notamment un court-circuit ou une marche à vide dans le domaine de la ligne de signal. [0015] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, la première grandeur caractérise le retard entre l'émission du signal de test et la réception de signal de test réfléchi. On peut prévoir pour cela de préférence par exemple une mesure de temps de parcours du signal de test (signal réfléchi) TS, TSR. [0016] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, en fonction de la première grandeur, on connaît l'emplacement du défaut le long de la ligne de signal et en particulier la résolution locale est de l'ordre du mètre ou moins. Il est avantageux d'utiliser une durée de dépôt au moment du signal, déterminée ou connue qui est par exemple, de façon caractéristique, égale à 30cm par ns (selon le type de conduite et diélectrique correspond au moins à par exemple 20cm par nanoseconde. [0017] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, avant l'émission du signal de test, on règle le niveau de la ligne de signal sur une valeur de consigne prédéfinie, en particulier on relève ou on abaisse cette valeur. [0018] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, l'appareil de commande comprend un circuit de commande notamment un circuit semi-conducteur et plus particulièrement un transistor pilote pour commander l'unité externe par la ligne de signal, et [0019] le circuit de commande désactive notamment le transistor pilote pour émettre le signal de test, et/ou [0020] on émet le signal de test dans la phase de fonctionnement de l'appareil de commande dans laquelle le circuit de commande, notamment le transistor pilote, ne sont pas commandés. [0021] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, en plus du circuit de commande, notamment du commutateur semi-conducteur ou du transistor pilote, on prévoit un second circuit de commande notamment un second transistor qui utilise l'émission du signal de test au branchement. [0022] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, il est prévu un circuit de commande commun qui combine le premier et le second circuit de commande évoqués ci-dessus et qui est réalisé pour commander au moins de temps en temps, l'unité externe ou l'actionneur et au moins partiellement notamment donner le principe selon 3 les formes de réalisations pour émettre le signal de test. [0023] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, le signal de test réfléchi contient des informations caractéristiques (par exemple au moins un niveau de tension du signal de test réfléchi) que l'on saisit à l'aide d'un comparateur. Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, on saisit une marque de temps qui est par exemple associée à un niveau de tension du signal de test réfléchi. De même on peut saisir un poinçon de temps qui caractérise un instant antérieur d'émission du signal de test. [0024] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, les étapes d'émission, de réception et de détermination sont répétées à un nombre prédéfini de fois par exemple cinq fois et notamment dix fois. [0025] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, on applique un procédé de vote en fonction des résultats des répétitions. Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, le procédé de vote peut être exécuté par exemple sous la forme «7 parmi 10 », selon lequel on conclut par exemple qu'il y a un défaut dans la ligne de signal si pour les dix répétitions données à titre d'exemple ci-dessus, au moins sept répétitions montrent qu'il y a un défaut ou un écart de qualité de la ligne de signal par rapport à une qualité de référence. Il en résulte une robustesse particulièrement importante vis-à-vis des perturbations. [0026] D'autres formes de réalisations préférentielles se rapportent à un appareil de commande, notamment pour un véhicule automobile, cet appareil de commande ayant un branchement pour brancher une ligne de signal par laquelle une unité externe peut être reliée au branchement de l'appareil de commande, cet appareil de commande étant conçu pour exécuter le procédé selon les formes de réalisations développées ci-dessus. [0027] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, l'appareil de commande comporte un circuit de commande notamment un commutateur semi-conducteur et en particulier un transistor pilote pour commander l'unité externe par la ligne de signal. [0028] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, l'appareil de commande est conçu pour désactiver le circuit de commande, notamment le transistor pilote, pour l'émission du signal de test. [0029] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, l'appareil de commande est conçu pour exécuter l'émission du signal de test dans une phase de fonctionnement de l'appareil de commande dans laquelle le circuit de commande, notamment le transistor pilote, n'est pas commandé. [0030] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, en plus du circuit de commande, notamment du commutateur semi-conducteur ou du transistor pilote, on a un second circuit de commande, notamment un second transistor utilisables pour émettre le signal de test par le branchement. [0031] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, l'unité externe est un actionneur ou un capteur notamment pour le véhicule automobile. [0032] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, l'appareil de commande est conçu pour commander dans un premier état de fonctionnement, l'unité externe, notamment l'actionneur ou le capteur, par exemple d'un circuit de commande émetteur, par exemple des commandes pour l'actionneur par le branchement, pour brancher la ligne de signal. [0033] Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, l'appareil de commande est conçu pour que dans un second état de fonctionnement différent du premier état de fonctionnement, il émet le signal de test par le branchement pour brancher la ligne de signal. Après l'émission du signal de test, selon d'autres formes de réalisations préférentielles, on peut exécuter les étapes de réception du signal de test réfléchi et de détermination de la première grandeur. [0034] Selon d'autres formes de réalisation préférentielles, l'appareil de commande reprend de façon répétée le second état de fonctionnement notamment de manière périodique et/ou après l'activation (initialisation) de l'appareil de commande et/ou la requête d'une autre unité (par exemple d'un autre appareil de commande). [0035] D'autres formes de réalisations préférentielles concernent l'utilisation du procédé selon des formes de réalisations et/ou l'appareil de commande selon les formes de réalisations pour déterminer l'emplacement du défaut le long de la ligne de signal, cette ligne reliant notamment un appareil de commande d'un véhicule automobile à un actionneur ou un organe d'actionnement (ou capteur ou autre composant du véhicule automobile). Brève description des dessins [0036[ La présente invention sera décrite ci-après à l'aide d'exemples de procédé de gestion d'un appareil de commande notamment d'un véhicule automobile et d'un dispositif mettant en oeuvre un tel procédé dans les dessins annexés dans lesquels : [0037] [fig.1 ] montre un schéma par bloc simplifié d'un appareil de commande selon les formes de réalisations préférentielles, [0038[ [fig.2] montre schématiquement un ordinogramme simplifié d'un procédé selon d'autres formes de réalisations préférentielles, [0039] [fig.3] schéma par blocs simplifié d'un appareil de commande selon d'autres formes de réalisations préférentielles, [0040] [fig.4] schéma d'un détail d'un circuit de commande selon d'autres formes de réa- lisations préférentielles, [0041] [fig.SA] schéma respectif d'un signal réfléchi selon d'autres formes de réalisations préférentielles, [0042] [fig.SB] schéma respectif d'un signal réfléchi selon d'autres formes de réalisations préférentielles, [0043] [fig.SC] schéma respectif d'un signal réfléchi selon d'autres formes de réalisations préférentielles, [0044] [fig.6] diagramme d'état schématique d'autres modes de réalisations préférentielles. [0045] DESCRIPTION D'UN MODE DE REALISATTON [0046] La figure 1 montre un schéma par blocs, simplifié d'un appareil de commande 100 selon des formes de réalisations préférentielles. L'appareil de commande 100 est par exemple destiné à un véhicule automobile pour commander le moteur thermique du véhicule. Des formes de réalisations préférentielles ne sont toutefois pas limitées à l'application de l'appareil de commande 100 au domaine des véhicules automobiles. [0047] L'appareil de commande 100 comporte un branchement 110 pour brancher une ligne de signal 200 par laquelle une unité externe 300 (par exemple un actionneur d'un système final tel qu'un moteur à combustion interne) peut être relié au branchement 110 de l'appareil de commande 100. Selon d'autres formes de réalisations préférentielles, l'appareil de commande 100 transmet par la ligne de signal 200 à la fois de l'énergie (comme par exemple un signal de commande de l'actionneur 300) et aussi des informations (voir par exemple des informations logiques ou autres) sous forme de signaux avec une énergie de signal relativement faible, et qui servent principalement à l'échange d'informations entre l'appareil de commande 100 et l'actionneur 300. [0048] Dans un système réel, il peut arriver que dans le domaine de la ligne de signal 200 il se produise un défaut F qui détériore, voire interdit, la transmission fiable d'informations et/ou d'énergie vers l'unité externe 300, par exemple une coupure de ligne, un court-circuit, une marche à vide ou autre. [0049] C'est pourquoi selon d'autres formes de réalisations préférentielles, il est prévu le procédé décrit ci-après à titre d'exemple, en référence à l'ordinogramme de la figure 2. Cet ordinogramme comprend les étapes suivantes consistant à : [0050] émettre 400 un signal test TS (figure 1) par le branchement 110, [0051] recevoir 410 (figure 2) un signal de test réfléchi TSr sur le branchement 110, le signal de test réfléchi TSr ayant notamment au moins une partie réfléchie du signal de test (notamment à l'emplacement du défaut F) déterminé 420 une première grandeur 01 (figure 1) qui caractérise la qualité de la ligne de signal 200 en fonction du signal de test réfléchi TSr. Cela permet de déterminer efficacement des informations concernant la qualité de la ligne de signal 200 et à partir de celles-ci, on peut déterminer les éventuelles perturbations ou défauts F de la ligne de signal 200 (par exemple une coupure de ligne, un court-circuit, une marche à vide ou autre), et selon d'autres formes de réalisations préférentielles, notamment également l'emplacement de la perturbation. [0052] A titre d'exemple la ligne de signal 200 selon la figure 1 présente selon ses co- 6 ordonnées de ligne x partant de l'emplacement x0 correspondant au branchement 110 jusqu'à l'emplacement xl (correspondant à l'emplacement de l'autre unité 300) un défaut F à l'emplacement x2> x0, x2