Brevet FR3076347A1 — publié le 20190705

Instrument d'observation comportant un dispositif interferometrique statique a sauts de differences de marche Le domaine de ('invention est celui de l'analyse spectroscopique embarquee a bord de satellites. Certains satellites comportant des systernes optiques d'observation terrestre sont dotes de moyens permettant de faire de l'analyse spectroscopique des images observees de fawn a detecter certaines caracteristiques spectrales complexes comme, par exemple, des peignes d'absorption/ernission de raies spectrales associees a des gaz presents dans ('atmosphere. Les outils classiques d'analyse spectrale a base de reseaux de diffraction ou les spectrometres a transformee de Fourier mettant en oeuvre un interferometre sont complexes, couteux et volumineux et repondent de fawn imparfaite aux specificites des materiels embarques sur satellite. En particulier, les interferometres a miroir mobile sont tres mal adaptes a ce type d'applications. Une solution possible pour resoudre ces problemes est decrite dans le brevet FR 1 602 535 intitule « Appareil pour la spectrometrie interferentielle ». Le spectrometre decrit dans ce brevet comporte essentiellement un interferometre de Michelson realise d'un seul bloc sans miroir mobile. Dans la suite de la description, on utilisera indifferemment les termes « interferometre de Michelson » ou « Michelson » pour designer un interferometre a deux miroirs separes par une lame semi-reflechissante. Comme on le voit sur la vue en perspective de la figure 1 referencee dans un plan (X, Y, Z), l'interferometre decrit dans ce brevet est compose de deux blocs prismatiques P1 et P2 en forme de prisme droit relies par leurs faces inclinees planes S dont l'une est traitee de fawn a etre semi-reflechissante. Deux faces planes M1 et M2 sensiblement perpendiculaires l'une a l'autre du bloc optique sont reflechissantes. Elles sont en pointilles sur la figure 1. L'une des deux faces est legerement inclinee d'un angle a comme on le voit sur la figure 1. Les deux autres faces 2 transparentes T1 et T2 du bloc optique constituent les faces d'entree et de sortie du Michelson. Le fonctionnement du Michelson est illustre sur les figures 2 et 3. La figure 2 represente une vue en coupe du Michelson dans un plan (Y, Z) a 5 une abscisse x. Un faisceau lumineux issu de Ia face d'entree T1 est divise en deux par la lame semi-reflechissante S, une partie traverse la lame semireflechissante S, se reflechit sur le second miroir M2 puis par Ia lame semireflechissante et sort par Ia face de sortie T2, l'autre partie est reflechie par Ia lame semi-reflechissante S, se reflechit sur le premier miroir M1 puis est 10 transmis par la lame semi-reflechissante. Les deux moities recomposees du faisceau lumineux interferent alors entre elles. La difference de marche 8 entre les deux faisceaux est fonction de l'abscisse x et cette difference de marche vaut xo + a.x, xo etant une constante dependant de la configuration geometrique de l'interferometre. En fonction de cette difference de marche et 15 de la repartition spectrale du faisceau lumineux, l'intensite transmise est plus ou moins importante. Elle est recueillie par un capteur photosensible. Sur toute la Iongueur L de l'interferometre, l'intensite lumineuse IL varie donc en fonction de l'abscisse x. Au final, on obtient l'interferogramme I de la figure 3. Cet interferogramme est lie a la repartition spectrale par une 20 relation de transformee de Fourier. Cet interferometre de Michelson permet donc de faire de ('analyse spectrale dans un encombrement reduit sans deplacement de pieces mobiles. Des variantes techniques a cette solution ont ete proposees. On citera notamment le brevet US 5 131 747 intitule « lnterferometry device for 25 Fourier transform multiplex spectro-imaging apparatus and spectro-imaging apparatus containting the same » et le brevet US 5 223 910 intitule « Interferometer devices, especially for scanning type multiplex Fourier transform spectrometry ». On citera egalement le brevet FR 81 10545 intitule « Dispositif de spectroscopie et son application a ('observation de la terre 30 depuis un satellite a defilement » qui decrit un interferometre a polarisation pour des applications du meme type. Les interferometres de ('art anterieur ont generalement comme inconvenients que l'interferogramme est necessairement limite par les dimensions du Michelson et Ia resolution du capteur photosensible. Or, 35 certaines repartitions spectrales comportant, par exemple, des raies 3 spectrales de grande finesse spectrale, peuvent necessiter ('acquisition d'interferogrammes de grandes differences de marche. En effet, plus les raies a analyser sont fines, plus leur interferogramme est etendu. L'instrument d'observation selon l'invention ne presente pas les 5 inconvenients precedents. En effet, l'interferometre de mesure de cet instrument est specifiquement adapte pour analyser les parties interessantes de l'interferogramme. Ainsi, it devient possible d'acquerir des images de grande finesse spatiale fournissant des donnees de grande finesse spectrale dans un encombrement reduit. Par ailleurs, dans une variante, cet instrument 10 peut egalement etre utilise en tant que simple imageur. Plus precisement, l'invention concerne un instrument d'observation destine a etre embarque sur satellite ou sur aeronef, ledit instrument d'observation comportant au moins une premiere optique, une seconde optique, un interferometre statique, un capteur matriciel photosensible et des moyens d'enregistrement et d'analyse 15 d'image, l'image se deplacant dans une direction dite de defilement, ledit interferometre comportant une surface plane de separation semi-reflechissante, une premiere face reflechissante et une seconde face reflechissante disposee de part et d'autre de Ia surface plane semireflechissante, 20 la premiere optique formant d'un objet lumineux ayant un spectre optique caracteristique, une premiere image dans le plan ou au voisinage immediat de la premiere face reflechissante et une seconde image dans le plan ou au voisinage immediat de la seconde face reflechissante, Ia seconde optique formant, de Ia premiere image, une troisierne 25 image dans le plan du capteur matriciel photosensible et la seconde optique formant de Ia seconde image une quatrieme image dans le plan du capteur matriciel photosensible, la superposition des amplitudes de la troisieme image et la quatrieme image formant au moins un interferogramme partiel, caracterise en ce que la premiere face reflechissante comporte au 30 moins deux facettes reflechissantes inclinees par rapport a un plan de reference correspondant a une difference de marche constante dudit interferometre, ('angle d'inclinaison etant de quelques milliradians, l'epaisseur optique de la premiere facette par rapport audit plan de reference etant differente de l'epaisseur optique de la seconde facette par rapport audit plan 35 de reference, la difference d'epaisseur optique etant de quelques millimetres 4 de facon que l'interferogramme partiel comporte au moins deux parties distinctes de la totalite de l'interferogramme du spectre optique de l'objet lumineux, lesdites parties distinctes etant caracteristiques du spectre optique de l'objet lumineux. 5 Avantageusement, les moyens d'enregistrement enregistrent une pluralite d'interferogrammes successifs issus du capteur matriciel photosensible durant un temps correspondant au moins au defilement de l'objet lumineux. Avantageusement, Ia variation d'epaisseur optique de chaque 10 facette due a son inclinaison se fait dans une direction parallele a la direction de defilement. Avantageusement, ('instrument d'observation comporte des moyens optiques permettant d'assurer le filtrage spectral dans au moins une bande spectrale d'une partie de la premiere image et/ou d'une partie de la 15 seconde image et/ou d'une partie de la troisieme image et/ou d'une partie de Ia quatrieme image. Avantageusement, la premiere facette comporte un traitement reflechissant dans une premiere bande spectrale, la seconde facette comporte un traitement reflechissant dans une seconde bande spectrale 20 differente de la premiere bande spectrale. Avantageusement, l'instrument d'observation comporte des moyens optiques permettant d'assurer un filtrage polarisant dans au moins une partie de la premiere image et/ou une partie de la seconde image et/ou d'une partie de la troisieme image et/ou d'une partie de la quatrieme image. 25 Avantageusement, la premiere facette comporte un premier traitement reflechissant et polarisant, la seconde facette comporte un second traitement reflechissant et polarisant, le type de polarisation ou la direction de polarisation du second traitement etant differents de ceux du premier traitement de polarisation. 30 Avantageusement, I'interferometre comporte au moins une lame optique de compensation de fawn que la distribution des amplitudes dans la troisieme image et la quatrieme image soient confondues. Avantageusement, la premiere face reflechissante ou la seconde face reflechissante comporte une zone plane transparente ou absorbante de 35 fawn que, dans cette zone, l'interferometre se comporte comme un simple 5 miroir, ('image de ('objet lumineux sur le capteur matriciel photosensible correspondant a cette zone etant depourvue d'interferogramme. Avantageusement, l'interferometre est un interferometre de Michelson comportant un comportant discret comprenant la surface plane de 5 separation semi-reflechissante, la premiere face reflechissante et Ia seconde face reflechissante disposee de part et d'autre de la surface plane semireflechissante. Avantageusement, l'interferometre comporte au moins deux elements optiques prismatiques assembles de fawn a former un bloc plein, 10 led it bloc plein comportant une face d'entree transparente, une face de sortie transparente, la surface plane de separation semi-reflechissante etant disposee a l'interieur du bloc, la premiere face reflechissante et la seconde face reflechissante etant disposees en regard de la face d'entree transparente et de la face de sortie transparente. 15 L'invention concerne egalement un procede de realisation d'un instrument d'observation tel que decrit ci-dessus et comportant deux elements prismatiques et une lame optique de compensation, Ia lame optique de compensation etant obtenue par usinage d'un des deux elements prismatiques ou par collage d'une lame de verre sur l'un des deux elements 20 prismatiques ou par adherence moleculaire sur l'un des deux elements prismatiques. L'invention sera mieux comprise et d'autres avantages apparallront a la lecture de la description qui va suivre donnee a titre non 25 limitatif et grace aux figures annexees parmi lesquelles La figure 1 represente une vue en perspective d'un interferometre de Michelson selon ('art anterieur ; La figure 2 represente le fonctionnement d'un interferometre de Michelson selon ('art anterieur ; 30 La figure 3 represente un interferogramme issu d'un interferometre selon ('art anterieur ; La figure 4 represente une vue en coupe simplifiee d'un premier mode de realisation d'un instrument d'observation selon ('invention ; La figure 5 represente une vue en perspective de l'interferometre 35 de ('instrument d'observation de la figure 4 ; 6 La figure 6 represente une vue partielle agrandie de l'interferometre de la figure 5 ; La figure 7 represente une vue en coupe simplifiee d'un second mode de realisation d'un instrument d'observation selon ('invention ; 5 La figure 8 represente une vue en perspective de l'interferometre de ['instrument d'observation de la figure 7 ; La figure 9 represente une vue partielle agrandie de l'interferometre de la figure 8 ; La figure 10 represente une vue partielle agrandie des facettes 10 reflechissantes d'un interferometre selon ('invention. De fawn generale, ('instrument d'observation selon ('invention est destine a etre embarque sur un satellite ou sur un aeronef. L'instrument ne peut fonctionner que si ('image se deplace dans une direction dite de 15 defilement, le defilement etant indispensable a la reconstitution du spectre de ('objet a analyser. Ce defilement de ('image peut etre assure naturellement par le deplacement du satellite ou de l'aeronef. II peut egalement etre assure par des dispositifs mecaniques deplacant un des elements optiques de ('instrument d'observation soit en rotation, soit en translation. L'instrument 20 peut comporter, a cet effet, un systeme a balayage optique comportant des prismes ou des miroirs. Cet instrument d'observation comporte une premiere optique, une seconde optique, un interferometre statique, un capteur matriciel photosensible et des moyens d'enregistrement et d'analyse d'image. 25 L'interferometre statique comporte une surface plane de separation semi-reflechissante, une premiere face reflechissante et une seconde face reflechissante disposee de part et d'autre de la surface plane semi-reflechissante. Comme on le verra, l'interferometre est preferentiellement du type Michelson dans la mesure ou cet interferometre 30 est simple a realiser mais d'autres configurations optiques d'interferometres sont possibles. La premiere optique forme d'un objet lumineux ayant un spectre optique caracteristique, une premiere image dans le plan ou au voisinage immediat de la premiere face reflechissante et une seconde image dans le 35 plan ou au voisinage immediat de la seconde face reflechissante. A titre 7 d'exemple, cette premiere optique peut etre un telescope a miroirs. Cet objet lumineux est generalement une partie du terrain ou de ('atmosphere situe audessus de ce terrain survole par l'aeronef ou le satellite. La seconde optique forme, de la premiere image, une troisieme 5 image dans le plan du capteur matriciel photosensible. Cette seconde optique forme egalement de la seconde image une quatrieme image dans le plan du capteur matriciel photosensible, la sommation des amplitudes de Ia troisieme image et la quatrieme image formant au moins un interferogramme partiel du spectre d'emission de l'objet en chacun des points de ('image 10 resultant de la sommation des amplitudes de la troisieme image et de la quatrieme image. La premiere face reflechissante de l'interferometre comporte au moins deux facettes reflechissantes inclinees par rapport a un plan de reference correspondant a une difference de marche constante dudit 15 interferometre, ('angle d'inclinaison etant de quelques milliradians, l'epaisseur optique de la premiere facette par rapport audit plan de reference etant differente de l'epaisseur optique de la seconde facette par rapport audit plan de reference, Ia difference d'epaisseur optique etant de quelques millimetres de facon que l'interferogramme pate! comporte au moins deux parties 20 distinctes de la totalite de I'interferogramme du spectre optique de l'objet lumineux, lesdites parties distinctes etant caracteristiques du spectre optique de l'objet lumineux. L'instrument d'observation peut comporter des moyens optiques permettant d'assurer le filtrage spectral dans au moins une bande spectrale 25 d'une partie de la premiere image et/ou d'une partie de Ia seconde image et/ou d'une partie de la troisieme image et/ou d'une partie de Ia quatrieme image. A titre de premier exemple, ces moyens peuvent etre disposes au niveau des faces reflechissantes de l'interferometre. Par exemple, Ia premiere facette peut comporter un traitement reflechissant dans une 30 premiere bande spectrale, la seconde facette peut comporter un traitement reflechissant dans une seconde bande spectrale differente de la premiere bande spectrale, chaque bande spectrale etant fonction de l'epaisseur optique de la facette correspondante. A titre de second exemple, ces traitements peuvent etre disposes au voisinage du capteur matriciel dans le 35 plan des troisieme et quatrieme images. 8 De la merne fawn, ('instrument d'observation peut comporter des moyens optiques permettant d'assurer un filtrage polarisant lineaire ou circulaire dans au moins une partie de la premiere image et/ou une partie de la seconde image et/ou d'une partie de la troisieme image et/ou d'une partie 5 de la quatrieme image. A titre de premier exemple, ces moyens peuvent etre disposes au niveau des faces reflechissantes de l'interferometre. La premiere facette peut comporter un premier traitement reflechissant et polarisant, Ia seconde facette peut comporter un second traitement reflechissant et polarisant, le type de polarisation ou la direction de 10 polarisation du second traitement etant differents de ceux du premier traitement de polarisation. A titre de second exemple, ces traitements peuvent titre disposes au voisinage du capteur matriciel dans le plan des troisieme et quatrieme images. L'interferometre peut comporter au moins une lame optique de 15 compensation de fawn que la troisieme image et la quatrieme image soient confondues. Enfin, la premiere face reflechissante ou la seconde face reflechissante peuvent comporter une zone plane transparente ou absorbante de fawn que, dans cette zone, l'interferometre se comporte 20 comme un simple miroir, ('image de ('objet lumineux sur le capteur matriciel photosensible correspondant a cette zone etant depourvue d'interferogramme. De fawn generale, lorsque le deplacement du satellite correspond a la totalite du champ d'observation du dispositif interferometrique dans le 25 sens du deplacement, le capteur a enregistre ('ensemble des interferogrammes correspondant a la totalite du champ d'observation du dispositif interferometrique. Les interferogrammes ainsi obtenus sont ensuite exploites de fawn classique pour determiner la repartition spectrale de chaque point du champ d'observation. 30 L'interferometre selon ('invention est preferentiellement un interferometre de Michelson. II comporte alors uniquement la surface plane de separation semi-reflechissante, Ia premiere face reflechissante et Ia seconde face reflechissante disposee de part et d'autre de la surface plane 35 semi-reflechissante. Un tel interferometre peut etre realise a partir de 9 composants optiques discrets, en particulier si ses dimensions sont importantes. On peut egalement le realiser en un seul bloc a partir de deux elements optiques prismatiques assembles. Le bloc optique comporte alors une face d'entree transparente, une face de sortie transparente, la surface 5 plane de separation semi-reflechissante etant disposee a l'interieur du bloc, la premiere face reflechissante et la seconde face reflechissante etant disposees en regard de Ia face d'entree transparente et de Ia face de sortie transparente. Les exemples de realisation d'un instrument d'observation decrits ci-dessous comportent un interferometre de ce dernier type. 10 A titre de premier exemple de realisation, la figure 4 represente une vue en coupe simplifiee d'un premier mode de realisation d'un instrument d'observation selon ('invention. Celle figure et les suivantes sont referencees dans un repere orthogonal (X, Y, Z). Dans le cas de Ia figure 4, le plan de coupe est dans un plan (X, Z). Dans cet exemple de realisation, le 15 dispositif interferometrique comporte un interferometre de Michelson en forme de bloc plein. L'instrument comporte un systeme optique d'entree telecentrique. Ce systerne optique comporte un objectif L1 et une pupille d'entree P disposee au foyer de cet objectif. L'interferometre de Michelson IM1 est 20 dispose dans le plan focal de ('objectif L1 de facon a realiser un interferogramme dudit plan focal. Le dispositif interferometrique comporte une optique de sortie L2 et un capteur matriciel photosensible D. L'optique de sortie L2 est agencee de fawn a former ('image de ('interferogramme sur le capteur matriciel 25 photosensible D. Dans ce qui suit, on considere que le capteur est compose de lignes orientees selon l'axe X et de colonnes orientees selon l'axe Y. La figure 5 represente une vue tridimensionnelle dans le repere (X, Y, Z) de l'interferometre de Michelson IM1 de Ia figure 4, la figure 6 representant une vue partielle agrandie de Ia zone circulaire Z de Ia figure 5. 30 L'interferometre IM1 comporte deux elements optiques prismatiques 100 et 200 en forme de prisme droit. Le premier prisme 100 comporte une face d'entree plane transparente 110, une premiere face reflechissante 130 perpendiculaire a la face d'entree et une premiere face 120 inclinee a 45 degres par rapport aux deux autres faces. 10 Le second prisme 200 comporte une face de sortie 210 plane transparente, une seconde face plane reflechissante 230 et une seconde face plane 220 inclinee a 45 degres par rapport a la seconde face plane reflechissante, la premiere face plane inclinee a 45 degres ou la seconde 5 face plane inclinee a 45 degres comportant un traitement de fawn qu'une fois ('ensemble optique assemble par ces dites faces plane inclinees, la face inclinee commune soit semi-reflechissante. II est a noter que d'autres valeurs d'inclinaison de la face inclinee sont possibles. Celle valeur depend essentiellement des contraintes de realisation et d'encombrement du 10 dispositif interferometrique. La premiere face reflechissante 130 comporte plusieurs facettes planes reflechissantes 131 inclinees par rapport a un plan de reference (X, Y) perpendiculaire a la seconde face plane reflechissante 230, ledit plan de reference correspondant a la difference de marche nulle dudit interferometre. 15 L'angle d'inclinaison a est de quelques milliradians. L'epaisseur optique de chaque facette par rapport au plan de reference est differente de l'epaisseur optique des autres facettes par rapport audit plan de reference, la difference d'epaisseur optique etant de quelques millimetres. Sur les figures 5 et 6, la variation d'epaisseur optique de chaque 20 facette 131 due a son inclinaison se fait dans la direction Y, parallele a l'arete separant la premiere face reflechissante 130 de la seconde face plane reflechissante 230. Comme it a ete dit, ('instrument d'observation est destine a etre embarque dans un satellite d'observation. Son fonctionnement est lie aux 25 deplacements du satellite. La configuration de la figure 4 correspond a un deplacement du satellite dans une direction SD orientee selon l'axe Y, perpendiculaire au plan de la feuille. Le capteur etant reference dans un plan (X, Y), dans le cas de la figure 4, compte-tenu du profil de la face reflechissante du Michelson IM1, la difference de marche introduite par le 30 Michelson varie selon les profils optiques des facettes selon l'axe Y. Par consequent, lorsque le satellite se deplace selon l'axe Y, une meme colonne du capteur enregistre successivement ('ensemble des interferogrammes correspondant a un champ d'observation donne dans une direction donnee. 11 A titre de second exemple de realisation, la figure 7 represente une vue en coupe simplifiee d'un second mode de realisation d'un instrument d'observation selon ('invention. Dans le cas de la figure 7, le plan de coupe est egalement dans un plan (X, Z). Dans ce second exemple de realisation, 5 le dispositif interferometrique comporte un interferometre de Michelson IM2 en forme de bloc plein. La configuration de Ia figure 7 correspond a un deplacement du satellite dans une direction SD orientee selon l'axe Z situee dans le plan de la feuille. 10 La figure 8 represente une vue tridimensionnelle dans le repere (X, Y, Z) de l'interferometre de Michelson IM2 de la figure 7, la figure 9 representant une vue partielle agrandie de la zone circulaire Z de la figure 8. L'interferometre IM2 comporte, comme l'interferometre precedent IM1, deux elements optiques prismatiques 100 et 200 en forme de prisme droit, 15 l'ensemble formant, une fois assemble un element optique comportant une face d'entre 110, une face de sortie 210, une lame semi-reflechissante 120/220, une face plane reflechissante 230 et face a facettes planes reflechissantes 130. La difference entre ce Michelson IM2 et le precedent est que Ia 20 variation d'epaisseur optique de chaque facette due a son inclinaison se fait dans une direction X perpendiculaire a l'arete separant la premiere face reflechissante 130 de la seconde face plane reflechissante 230 comme on le voit sur la figure 9. Les facettes 131 du Michelson IM2 sont donc perpendiculaires aux facettes du Michelson IM1. 25 Dans le cas de Ia figure 7, compte-tenu du profil de la face reflechissante du Michelson IM2, la difference de marche introduite par le Michelson selon l'axe Y est constante et varie selon les profits optiques des facettes selon l'axe X comme on le voit sur la figure 7. Par consequent, lorsque le satellite se deplace selon l'axe Z, une merne ligne du capteur 30 enregistre successivement l'ensemble des interferogrammes correspondant A. un champ d'observation donne dans une direction donnee. Dans ces deux configurations, chaque interferometre IM1 et IM2 a donc sensiblement la forme d'un « cube» dont le cote vaut quelques centimetres. Les faces d'entree et de sortie peuvent etre traitees antireflet 35 pour eviter les reflexions parasites a l'interieur du cube. 12 De fawn generale, le miroir a facettes comporte au moins deux facettes et generalement moins d'une dizaine de facettes. Chaque facette a une epaisseur optique comprise entre un et quelques millimetres, permettant 5 ainsi de creer une difference de marche entre les differentes facettes egale au double de l'epaisseur optique qui les separe. L'angle d'inclinaison des facettes est tel qu'il introduit une variation de difference de marche de quelques microns a quelques dizaines de microns sur toute Ia largeur de la facette. Cet angle a vaut de I'ordre de 10 quelques milliradians. Un exemple de realisation des facettes est represents sur Ia figure 10 dans une configuration d'interferometre qui correspond a la figure 8. Cette figure 10 montre une vue partielle agrandie de deux facettes adjacentes. La premiere facette est obtenue au moyen d'une premiere lame de verre 133 15 collee sur la face plane 132 du prisme 100 et d'un espace d'air ou de vide 134 dispose entre cette premiere lame 133 et une seconde lame 135 reflechissante. La seconde facette est obtenue au moyen d'une seconde lame de verre 133bis coil& sur la face plane 132 du prisme 100 et d'un espace d'air ou de vide 134bis dispose entre cette premiere lame 133bis et 20 une seconde lame 135bis reflechissante. Les espaces d'air sont cress ('aide de cales appelees egalement « shimplates » non representees sur la figure 8. La difference de marche optique entre les deux facettes est due aux differences d'epaisseur des lames de verre 133 et 113bis et des espaces d'air 134 et 134bis. Creer Ia difference de marche avec un ensemble lame de 25 verre/espace d'air permet d'obtenir un dispositif a champ compense. Comme on le voit sur Ia figure 8, it existe une zone « morte » entre les deux facettes qui peut 8tre utilisee pour realiser une image simple depourvue d'interferogramme de ('objet a observer. Pour chaque facette, les variations fines de la difference de 30 marche sont obtenues avec une legere inclinaison des lames reflechissantes 135 et 135bis, inclinaison non visible sur Ia figure 10. Dans la plupart des applications, it est interessant d'ajouter des lames de verre sur la seconde face reflechissante 230 en utilisant les memes principes. Optiquement, ces facettes de la seconde face reflechissante 35 correspondent aux facettes de la premiere face reflechissante. 13 Les lames reflechissantes 135 et 135bis peuvent reflechir de fawn uniforme ('ensemble du spectre du rayonnement incident. On peut cependant remplacer les miroirs large bande par des 5 miroirs coupe-bande appeles encore filtres « notch » qui vont reflechir une bande spectrale particuliere et transmettre le reste du spectre. Dans ce cas, les deux faces reflechissantes du cube doivent comporter un traitement coupe-bande identique dans les zones qui se correspondent optiquement, c'est-à-dire que, si une premiere zone de la premiere face reflechissante 10 comporte un traitement reflechissant particulier, a ('image de cette premiere zone par Ia lame semi-reflechissante, correspond une seconde zone de la seconde face reflechissante, cette seconde zone devant comporter le merne traitement reflechissant. L'utilisation de miroirs coupe-bande a plusieurs avantages. Ils ne 15 reflechissent que la bande spectrale utile a la mesure. Par ailleurs, ils permettent de reduire la lumiere parasite dans la mesure ou le flux hors de Ia bande spectrale interessante peut etre soit absorb& soit devie, soit transmis hors de l'interferometre. Ainsi, cette lumiere peut etre traitee par d'autres detecteurs que ceux du dispositif interferometrique. 20 De la merne fawn, it est possible d'ajouter des filtres polarisants de differente nature au niveau de ces lames. La realisation de ces lames peut etre effectuee par differentes techniques optiques telles que l'usinage, le collage ou ['adherence REVENDICATIONS1. Instrument d'observation destine a etre embarque sur satellite ou sur aeronef, ledit instrument d'observation comportant au moins une premiere optique (L1), une seconde optique (L2), un interferometre statique (IM1, IM2), un capteur matriciel photosensible (D) et des moyens d'enregistrement et d'analyse d'image, l'image se deplacant dans une direction dite de defilement, ledit interferometre comportant une surface plane de separation semi-reflechissante (120, 220), une premiere face reflechissante (130) et une seconde face reflechissante (230) disposee de part et d'autre de la surface plane semi-reflechissante, la- premiere optique formant d'un objet lumineux ayant un spectre 15 optique caracteristique, une premiere image dans le plan ou au voisinage immediat de la premiere face reflechissante et une seconde image dans le plan ou au voisinage immediat de la seconde face reflechissante, la seconde optique formant, de la premiere image, une troisieme image dans le plan du capteur matriciel photosensible et la seconde optique 20 formant de la seconde image une quatrieme image dans le plan du capteur matriciel photosensible, Ia sommation des amplitudes de Ia troisieme image et de la quatrieme image formant au moins un interferogramme partiel du spectre d'emission de l'objet lumineux, caracterise en ce que la premiere face reflechissante comporte au 25 moins deux facettes reflechissantes (131) inclinees par rapport a un plan de reference correspondant a une difference de marche constante dudit interferometre, ('angle d'inclinaison etant de quelques milliradians, l'epaisseur optique de Ia premiere facette par rapport audit plan de reference etant differente de l'epaisseur optique de la seconde facette par rapport audit plan 30 de reference, la difference d'epaisseur optique etant de quelques millimetres de fawn que ('interferogramme partiel comporte au moins deux parties distinctes de la totalite de ('interferogramme du spectre optique de l'objet lumineux, lesdites parties distinctes etant caracteristiques du spectre optique de l'objet lumineux. 35 2. Instrument d'observation selon Ia revendication 1, caracterise en ce que les moyens d'enregistrement enregistrent une pluralite d'interferogrammes successifs issus du capteur matriciel photosensible durant un temps correspondant au moins au defilement de ('objet lumineux. 5 3. Instrument d'observation selon l'une des revendications precedentes, caracterise en ce que Ia variation d'epaisseur optique de chaque facette due a son inclinaison se fait dans une direction parallele a Ia direction de defilement. 10 4. Instrument d'observation selon l'une des revendications precedentes, caracterise en ce que ['instrument d'observation comporte des moyens optiques permettant d'assurer le filtrage spectral dans au moins une bande spectrale d'une partie de Ia premiere image et/ou d'une partie de Ia 15 seconde image et/ou d'une partie de la troisieme image et/ou d'une partie de Ia quatrieme image. 5. Instrument d'observation selon Ia revendication 4, caracterise en ce que Ia premiere facette comporte un traitement reflechissant dans une premiere bande spectrale, Ia seconde facette comporte un traitement reflechissant dans une seconde bande spectrale differente de Ia premiere bande spectrale, chaque bande spectrale etant fonction de l'epaisseur optique de Ia facette correspondante. 6. Instrument d'observation selon l'une des revendications precedentes, caracterise en ce que ('instrument d'observation comporte des moyens optiques permettant d'assurer un filtrage polarisant dans au moins une partie de la premiere image et/ou une partie de la seconde image et/ou d'une partie de Ia troisieme image et/ou d'une partie de Ia quatrierne image. 7. Instrument d'observation selon l'une des revendications precedentes, caracterise en ce que la premiere facette comporte un premier traitement reflechissant et polarisant, Ia seconde facette comporte un second traitement reflechissant et polarisant, le type de polarisation ou la direction de polarisation du second traitement etant differents de ceux du premier traitement de polarisation. 16 8. Instrument d'observation selon ('une des revendications precedentes, caracterise en ce que l'interferometre comporte au moins une lame optique (135, 135bis) de compensation de fawn que la distribution des 5 amplitudes de la troisierne image et Ia quatrieme image soient confondues. 9. Instrument d'observation selon ('une des revendications precedentes, caracterise en ce que Ia premiere face reflechissante ou la seconde face reflechissante comporte une zone plane transparente ou 10 absorbante de fawn que, dans cette zone, l'interferometre se comporte comme un simple miroir, ('image de ('objet lumineux sur le capteur matriciel photosensible correspondant a cette zone etant depourvue d'interferogramme. 15 10. Instrument d'observation selon ('une des revendications precedentes, caracterise en ce que l'interferometre est un interferometre de Michelson comportant un comportant discret comprenant Ia surface plane de separation semi-reflechissante, la premiere face reflechissante et la seconde face reflechissante disposee de part et d'autre de la surface plane semi- 20 reflechissante. 11. Instrument d'observation selon la revendication 10, caracterise en ce que l'interferometre comporte au moins deux elements optiques prismatiques assembles de fawn a former un bloc plein, ledit bloc plein 25 comportant une face d'entree transparente, une face de sortie transparente, la surface plane de separation semi-reflechissante etant disposee a l'interieur du bloc, la premiere face reflechissante et la seconde face reflechissante etant disposees en regard de la face d'entree transparente et de la face de sortie transparente. 30 12. Procede de realisation d'un instrument d'observation selon les revendications 8 et 11, caracterise en ce que Ia lame optique de compensation est obtenue par usinage d'un des deux elements optiques prismatiques ou par collage d'une lame de verre sur l'un des deux elements 35 optiques prismatiques ou par adherence moleculaire sur l'un des deux elements optiques prismatiques.