Brevet FR3076349A1 — publié le 20190705

CIRCUIT D'AUTOTEST ET PROCEDE DE VERIFICATION DE L'INTEGRITE D'UN SIGNAL LE LONG DUN CHEMIN DE SIGNAL DOMAINE TECHNOLOGIQUE [0001] Les exemples portent sur un circuit d'autotest et son procede et, en particulier, un circuit d'autotest et un procede de verification de l'integrite d'un signal le long d'un chemin de signal contenant un cristal piezoelectrique. ETAT ANTERIEUR [0002] Des cristaux vibratoires sont souvent utilises pour &teeter l'etat de roulements en service. Ces cristaux piezoelectriques peuvent etre fixes dun roulement, un carter de roulement, ou une machine associee. Ces roulements sont souvent montes dans des emplacements etroits, difficiles a atteindre, avec des pieces mobiles et un acces limite (voir impossible), particulierement pendant que la machine ou le dispositif fonctionne. Ces facteurs rendent difficile et maladroite l'execution d'inspection ou de reparation manuelle. Afin d'executer de telles inspections, il faudrait mettre hors service la machine (telle qu'un wagon) pour pouvoir y acceder. En cas de panne sur le terrain, celle-ci risque de n'etre detectee qu'a l'inspection suivante. [0003] Un autotest integre peut etre utilise pour tester le bon fonctionnement de composants de circuit. Relativement aux circuits qui contiennent des cristaux piezoelectriques, pour garantir que les cristaux sont correctement fixes en position, un signal externe peut etre appliqué a l'aide d'un capteur ou d'un cristal piezoelectrique secondaire separe avec un generateur de signaux. Un autre procede pour determiner que le cristal est correctement fixe en position consisterait a exciter le logement auquel il est fixe. Ces solutions exigent d'utiliser des composants supplementaires, un materiel de montage supplementaire, et davantage de travail. Certains autotests permettant de tester le cristal piezoelectrique sans utiliser de second cristal ont ete proposes mais ces procedes ne testent que l'installation correcte du cristal en tant que tel ; ils ne fournissent aucune information sur le bon fonctionnement d'autres &ages du circuit en dehors du cristal piezoelectrique. [0004] En consequence un circuit d'autotest et un procede pour tester l'integrite du systeme d'un signal sur un chemin de signal contenant un cristal piezoelectrique s'averent necessaires. 1 RESUME [0005] Les exemples portent sur un circuit d'autotest et son procede et, en particulier, un circuit d'autotest et un procede de verification de l'integrite d'un signal le long d'un chemin de signal 5 contenant un cristal piezoelectrique. Les exemples de la presente divulgation peuvent etre utilises pour des circuits de capteur de controle de conditions d'autotest, tels que des circuits de capteur de controle de roulements, par exemple. [0006] Les exemples se rapportent a un circuit d'autotest. Le circuit d'autotest comprend des circuits d'entree ; des circuits de test ; et un circuit a tester, couple entre les circuits d'entree et 10 les circuits de test et comprenant au moins un cristal piezoelectrique. Les circuits d'entree sont configures pour generer et transferer un signal electrique predefini comprenant au moins un signal sinusoidal a travers au moins le cristal piezoelectrique du circuit a tester pour generer un signal de sortie. Les circuits de test sont configures pour analyser le signal de sortie. [0007] Dans certains exemples, le circuit d'autotest peut comprendre en outre au moins l'un 15 d'un circuit de filtre passe-bas, passe-bande, et passe-haut. Les circuits d'entree peuvent etre configures pour transferer le signal electrique predefini a travers le cristal piezoelectrique et au moins l'un du circuit de filtre passe-bas, passe-bande et passe-haut du circuit a tester pour generer un signal de sortie. [0008] Dans certains exemples, le circuit d'autotest peut etre configure pour executer des 20 evaluations d'amplitude ou de frequence de signal sur le signal de sortie. [0009] Dans certains exemples, les circuits de test peuvent comprendre un processeur de signaux configure pour convertir le signal de sortie du domaine temps au domaine frequence et analyser le signal de sortie dans le domaine frequence. [00010] Dans certains exemples, les circuits d'entree peuvent etre configures pour 25 generer l'au moins un signal sinusoidal dune frequence superieure a 0 Hz et inferieure a la frequence de resonance du cristal piezoelectrique. [00011] Dans certains exemples, les circuits d'entree peuvent comprendre un processeur de signaux numeriques configure pour generer un signal numerique predefini et convertir le signal numerique en le domaine analogique afin de generer le signal electrique predefini. 30 [00012] Dans certains exemples, le circuit d'autotest peut comprendre un commutateur configure pour selectionner un fonctionnement normal ou un mode de test. Dans le mode de 2 test, le commutateur peut connecter les circuits d'entree au circuit a tester. Le commutateur peut rester dans le mode de test au moins jusqu'a ce que le signal de sortie soit genere. [00013] Les exemples se rapportent a un procede d'autotest d'un circuit. Le procede comprend la generation d'un signal electrique predefini ; le transfert du signal electrique 5 predefini comprenant au moins un signal sinusoidal a travers au moins un cristal piezoelectrique d'un circuit a tester pour generer un signal de sortie ; et l'analyse du signal de sortie. [00014] Dans certains exemples, le procede peut comprendre en outre le transfert du signal electrique predefini a travers le cristal piezoelectrique et au moins l'un d'un circuit de filtre passe-bas, passe-bande et passe-haut du circuit a tester pour generer un signal de sortie. 10 [00015] Dans certains exemples, l'analyse du signal de sortie peut comprendre la realisation devaluations d'amplitude et de frequence de signal sur le signal de sortie. BREVE DESCRIPTION DES DESSINS [00016] Certains exemples d'appareils et/ou de procedes sont &erns ci-apres a titre 15 d'exemple uniquement, et en reference aux figures annexees, dans lesquelles [00017] la figure 1 montre un schema de principe d'un circuit d'autotest ; la figure 2 montre un organigramme d'un procede d'autotest d'un circuit ; [00018] la figure 3 montre un mode de realisation d'un circuit d'autotest ; et [00019] la figure 4 montre des graphes de donnees obtenus a partir de cinq montages de test differents. [00020] DESCRIPTION DETAILLEE [00021] Divers exemples vont maintenant etre &erns de maniere plus detainee en reference aux dessins annexes dans lesquels certains exemples sont illustres. Dans les figures, 20 les epaisseurs de lignes, couches et/ou regions peuvent etre exagerees pour une plus grande dart& [00022] En consequence, bien que d'autres exemples puissent presenter diverses modifications et autres formes, certains exemples particuliers de l'invention sont montres dans les figures et &erns ci-apres de maniere detainee. Toutefois, cette description detainee ne 25 limite pas d'autres exemples aux formes particulieres decrites. D'autres exemples peuvent 3 couvrir toutes les modifications, tous les equivalents, et toutes les variantes entrant dans le cadre de la divulgation. Des numeros identiques se referent a des elements identiques ou similaires dans toute la description des figures, lesquels peuvent etre mis en oeuvre de maniere identique ou modifiee en comparaison les uns aux autres tout en assurant une fonctionnalite 5 identique ou similaire. [00023] On comprendra que, lorsqu'il est dit qu'un element est "connecte" ou "couple" a un autre element, les elements peuvent etre connectes directement ou par l'intermediaire dun ou de plusieurs elements intermediaires. Si deux elements A et B sont combines a l'aide d'un "ou", on comprendra que ceci divulgue toutes les combinaisons possibles, a savoir uniquement 10 A, uniquement B ainsi que A et B. Une autre expression pour les memes combinaisons est "au moins l'un de A et B". Il en est de meme pour des combinaisons de plus de 2 elements. [00024] La terminologie utilisee ici afin de decrire des exemples particuliers ne vise pas a limiter d'autres exemples. Chaque fois qu'une forme singuliere telle que "un", "une" et "le", "la", "les" est utilisee et n'utilisant qu'un seul element nest define ni explicitement, ni 15 implicitement comme etant obligatoire, d'autres exemples peuvent egalement utiliser plusieurs elements pour mettre en oeuvre la fonctionnalite. Pareillement, quand une fonctionnalite est decrite par la suite comme etant mise en oeuvre en utilisant de multiples elements, d'autres elements peuvent mettre en oeuvre la meme fonctionnalite en utilisant un seul element ou une seule entite de traitement. On comprendra en outre que les termes "comprend", "comprenant", 20 "comporte" et/ou "comportant", quand ils sont utilises, specifient la presence des caracteristiques, entiers, &apes, operations, processus, actions, elements et/ou composants indiques mais n'excluent pas la presence ou l'aj out d'un(e) ou de plusieurs autres caracteristiques, entiers, &apes, operations, processus, actions, elements, composants et/ou n'importe quel groupe de ceux-ci. 25 [00025] Sauf definition contraire, tous les termes (y compris les termes techniques et scientifiques) sont utilises ici dans leur sens ordinaire de la technique a laquelle se rapportent les exemples. [00026] La figure 1 montre un schema de principe d'un circuit d'autotest 100. Le circuit d'autotest 100 comprend des circuits d'entree 110, un circuit a tester 120, comprenant au moins 30 un cristal piezoelectrique 121, et des circuits de sortie 130. Le cristal piezoelectrique 121 peut etre monte sur un roulement, un logement, une machine associee en tant que moyen de detection 4 de vibrations, par exemple. [00027] Les circuits d'entree 110 sont configures pour generer un signal source electrique qui peut avoir une frequence et une amplitude predeterminees uniques. Le signal source electrique devrait contenir des caracteristiques C.A. Une onde sinusoidale dune frequence et dune 5 amplitude predeterminees est preferee, bien qu'un signal source electrique combine (superpose) contenant un nombre fini de frequences multiples puisse egalement etre utilise (en tant qu'onde complexe). Bien que dans certains modes de realisation le signal source electrique puisse avoir une frequence fixe unique, dans d'autres modes de realisation la frequence du signal source electrique peut egalement varier (p. ex. passer dune frequence inferieure a une frequence 10 superieure). Il en est de meme pour l'amplitude. Le signal source electrique peut comprendre une frequence superieure a 0 Hz mais inferieure a la frequence de resonance du cristal piezoelectrique. Le signal source electrique peut etre un signal de tension, par exemple, un signal de tension sinusoidal de 10 Hz dune amplitude fixe pourrait etre genere. [00028] On comprendra que les caracteristiques (a savoir frequence et/ou amplitude) du 15 signal electrique fourni peuvent etre ajustees comme it convient pour tester certains composants. Par exemple, une impulsion de forme carree serait insuffisante car elle ne peut montrer que la connexion ou non des composants, sans offrir les caracteristiques necessaires pour determiner qu'un composant donne fonctionne correctement ou non (tel qu'un filtre passe-bas). Pour tester un composant de filtre passe-bas, des frequences superieures a la gamme du 20 filtre devraient etre fournies, et le signal de sortie devrait etre teste pour determiner que ces frequences ont en fait ete filtrees ou non. De tels facteurs doivent egalement etre consideres pour le test d'autres composants de circuit. [00029] Les circuits d'entree 110 peuvent comprendre un processeur de signaux numeriques (DSP) 111 couple a un convertisseur numerique/analogique (DAC) 112. Le DSP 25 111 peut generer une onde sinusoidale numerique qui est ensuite convertie dans le domaine analogique par le DAC 112 avant d'etre passee par le circuit a tester 120. Dans l'exemple montre a la figure 1, un DSP et un DAC sont utilises mais n'importe quel circuit d'entree 110 configure pour generer une onde sinusoidale dune frequence et dune amplitude connues aux caracteristiques C.A. peut etre utilise. 30 [00030] Le circuit a tester 120 comprend au moins un cristal piezoelectrique 121 et un ou plusieurs autres &ages de circuits 122. Plutot que d'appliquer une force mecanique comme 5 il en est conventionnellement d'usage avec l'utilisation de cristaux piezoelectriques, un signal electrique C.A. sous forme d'onde sinusoidale est injecte a travers le cristal piezoelectrique 121 d'une capacite connue. En raison de sa caracteristique capacitive, le cristal piezoelectrique 121 laisse passer le signal electrique C.A. Apres son passage par le cristal piezoelectrique 121, 5 l'onde sinusoidale passe alors par d'autres &ages de circuits 122. [00031] Le circuit a tester 120 peut contenir d'autres &ages de circuits 122 comprenant en outre un circuit de filtre passe-bas, passe-bande ou passe-haut (montres collectivement en tant que 123 a la figure 1). D'autres &ages de circuits 122 peuvent egalement comprendre des composants de circuits passifs (par exemple des condensateurs, resistances) ou des composants 10 de circuits actifs (par exemple des amplificateurs, transistors). Le circuit a tester 120 est couple entre les circuits d'entree 110 et les circuits de sortie 130. [00032] Les circuits de sortie 130 sont configures pour recevoir l'onde sinusoidale apres son passage par le cristal piezoelectrique 121 et autres &ages de circuits 122. Comme les caracteristiques des composants du circuit a tester 120 et le signal electrique sont connus, il est 15 possible de determiner l'effet qu'ils auront sur le signal source electrique durant un fonctionnement normal. Ainsi, il est possible de comparer le signal electrique recu au niveau des circuits de sortie 130 a un signal de sortie attendue afin de determiner une variete de parametres. Par exemple : [00033] 1 - le fait que le cristal piezoelectrique 121 est fixe electriquement a la carte de 20 circuit imprime (PCB) et est en mesure de fonctionner ; [00034] 2 - le gain du circuit a tester 120 peut etre etabli ; [00035] 3 - la reponse des filtres 123 dans le domaine numerique ou dans le domaine analogique peut etre mappee ; [00036] 4 - la degradation de la performance du circuit durant la duree de vie du produit 25 peut etre etablie ; [00037] 5 - un auto-etalonnage des vibrations peut etre possible ; [00038] 6 - une verification de bout en bout du test par un dispositif de capteur distant rendant compte a une application de serveur est possible. [00039] Les circuits de sortie 130 peuvent comprendre un convertisseur 30 analogique/numerique (ADC) 131 couple a un processeur de signaux numeriques (DSP) 132. L'ADC 131 recoit l'onde sinusoidale depuis le circuit a tester 120 et la convertit dans le domaine 6 numerique avant de la passer au DSP 132. Les memes DSP 111, 132 peuvent etre utilises pour les circuits d'entree 110 et les circuits de sortie 130, ou bien le DSP 111 peut etre different du DSP 132. L'exemple montre a la figure 1 utilise un ADC et un DSP mais on comprendra que n'importe quel circuit de sortie 130 configure pour recevoir une onde aux caracteristiques C.A 5 peut etre utilise. [00040] Le DSP 132 peut etre configure pour executer des evaluations d'amplitude ou de frequence de signal sur le signal source recu au niveau des circuits de sortie 130 (a savoir le signal de sortie). Le DSP 132 peut analyser l'amplitude et/ou la frequence du signal de sortie par rapport au signal de sortie prevu en fonction de composants connus du circuit a tester 120. 10 Par exemple, le gain du circuit ou le bon fonctionnement des filtres passants peut etre verifie. [00041] De plus, ou en variante, le DSP 132 peut etre configure pour convertir le signal de sortie du domaine temps au domaine frequence, par exemple en executant une transformee de Fourier rapide (FFT). Le signal de sortie peut alors etre analyse dans le domaine frequence. Ceci est illustre davantage a la figure 3. 15 [00042] Le signal genere par le DSP 111 est passé par le DAC 112 des circuits d'entree 110, se propage a travers le circuit a tester 120 des multiples &ages 122 et est echantillonne par 1'ADC 131 commande par le processeur de signaux numeriques 132 des circuits de sortie 130. [00043] La figure 2 montre un organigramme d'un procede 200 d'autotest d'un circuit. Le procede 200 comporte la generation d'un signal electrique predefini 210 ; le transfert du 20 signal electrique predefini a travers au moins un cristal piezoelectrique d'un circuit a tester pour generer un signal de sortie 220 ; et l'analyse du signal de sortie 230. [00044] La generation du signal electrique predefini 210 peut comprendre la generation d'un signal sinusoidal. Comme cela est explique relativement a la figure 1, n'importe quelle onde aux caracteristiques C.A. peut etre utilisee. Une onde sinusoidale est preferee bien qu'un 25 signal source combine contenant de multiples caracteristiques puisse egalement etre utilise (sous forme d'onde complexe). Londe sinusoidale peut comprendre une frequence superieure a 0 Hz mais inferieure a la frequence de resonance du cristal piezoelectrique. Londe sinusoidale peut etre un signal de tension. Par exemple, le signal electrique predefini peut etre un signal de tension sinusoidal de 10 Hz dune amplitude fixe. 30 [00045] Le signal electrique predefini (p. ex. l'onde sinusoidale) est ensuite passé a travers le cristal piezoelectrique du circuit a tester. Le signal peut ensuite passer a travers le 7 cristal piezoelectrique vers tout autre etage du circuit a tester. Le transfert 221 du signal electrique predefini peut comprendre en outre le transfert du signal electrique predefini travers le cristal piezoelectrique et au moins l'un d'un circuit de filtre passe-bas, passe-bande et passe-haut du circuit a tester pour generer 220 un signal de sortie . Le signal sinusoidal peut 5 aussi passer a travers un ou plusieurs autres &ages de circuits. Ces autres &ages de circuit peuvent comprendre des composants de circuit passifs ou actifs. Une fois que le signal electrique predefini est passé par le circuit a tester, un signal de sortie resultant pouvant etre analyse est genere. [00046] L'analyse 230 du signal de sortie peut comprendre la realisation devaluations 10 d'amplitude ou de frequence sur le signal de sortie. Comme on l'a explique relativement a la figure 1, l'amplitude et/ou la frequence du signal de sortie peuvent etre comparees au signal de sortie predit en fonction des composants connus du circuit a tester. [00047] La figure 3 montre un mode de realisation 300 du circuit d'autotest 100 configure pour employer le procede 200. Un circuit d'entree de signal de test, montre en tant 15 que generateur de signaux DAC 310 (correspondant aux DSP 111 et DAC 112 des circuits d'entree 110) est configure pour generer un signal electrique predefini, p. ex. sous forme d'onde sinusoidale dune frequence predefine. Londe sinusoidal peut etre injectee dans le circuit a tester par le generateur de signaux DAC 310 par le biais dun commutateur 313 commande par une commande d'entree/sortie de commutateur 314. Le commutateur 313 peut etre utilise pour 20 commuter entre un mode d'autotest (NO) et un fonctionnement normal (NC) du circuit. Normalement, le commutateur reste en position de fonctionnement normal. Quand un autotest est souhaite, le commutateur selectionne le mode d'autotest afin de permettre aux circuits d'entree de generer et transferer le signal electrique predefini dans le cristal piezoelectrique. Le commutateur reste sur la position NO jusqu'a ce que le signal electrique fourni soit passé a 25 travers le circuit a tester et que le signal de sortie soit genere. Le role du commutateur 313 est soit de diriger le signal depuis le cristal piezoelectrique vers une entrée d'amplificateur de charge 323 (c.-à-d. fonctionnement normal), soit de diriger le signal depuis le DAC (en tant que partie du generateur de signaux 310) a travers le cristal (c.-à-d. mode d'autotest). On comprendra que l'utilisation du commutateur 313 empeche le couplage permanent du 30 generateur de signaux 310 au cristal piezoelectrique 321, reduisant ainsi le bruit electrique potentiel. En utilisant le commutateur 313, durant le fonctionnement normal, le generateur de 8 signaux 310 peut etre isole du cristal. [00048] Le signal electrique predefini est transfers a travers le commutateur 313 et a travers le cristal piezoelectrique 321 jusqu'aux autres stages de circuits 322. On comprendra que le signal electrique est transfers a travers le cristal piezoelectrique en tant que tel (d'une 5 maniere semblable a un condensateur) plutot qu'en frappant le cristal d'impulsions pour le faire "sonner" (ce qui se rapproche davantage dune application dune force mecanique au roulement auquel le cristal est attaché, comme dans les procedes traditionnels). Les autres stages de circuits 322 en aval du cristal piezoelectrique 321 peuvent comprendre des amplificateurs, filtres, condensateurs, resistances ou autres composants de circuits analogiques et/ou 10 numeriques. Dans l'exemple illustre, l'onde sinusoidale est transferee a travers un stage d'amplificateur 323. Le signal de sortie de l'etage d'amplificateur 323 peut etre passé a travers les autres stages de circuits 322, tels qu'un autre filtre passe-bande 324. Enfin, le signal de sortie atteint les circuits de test 330, on le signal analogique est converti par l'ADC 331 et passé a un processeur 332 de telle sorte que des evaluations d'amplitude ou de frequence puissent 15 etre realisees et le signal de sortie analyse. Le resultat de ces evaluations est montre a la figure. 4. [00049] La figure 4 montre des graphes 401, 402, 403, 404, 405 devaluations d'amplitude sur les donnees obtenues a partir de cinq montages de test differents selon la figure 3. Les graphes montrent le signal d'autotest numerise et converti du domaine temps au domaine 20 frequence. En particulier, une FFT (transformee de Fourier rapide) a ete executee sur chaque signal. Chaque trace montre un montage de test different pour un meme signal de test. Dans les montages de test montres a la figure 3, le signal resultant doit etre compris dans des limites predefines qui peuvent etre choisies en fonction de tolerances souhaitees. [00050] Si le signal resultant est compris dans ces limites, le circuit a tester fonctionne 25 correctement. Les valeurs limites peuvent etre choisies en fonction de composants de circuits connus, de resultats de sortie predits, et/ou de tolerances souhaitees. [00051] Les avantages comportent la possibilite de verifier le bon &at d'un dispositif de capteur distant. De plus, les tendances de cet &at peuvent etre suivies dans le temps. L'integrite de sections de la conception peut etre verifiee au moyen du signal capture au niveau du 30 convertisseur analogique/numerique. Un auto-etalonnage est egalement possible. [00052] La presente divulgation facilite la verification dune chaine de signaux de 9 multiples elements. Celle-ci garantit retablissement dune integrite des composants et des fonctions et aide a &teeter l'emplacement des defaillances le long d'un chemin de signal. Plus specifiquement, elle porte sur la verification de l'integrite d'un chemin de signal depuis un cristal piezoelectrique a travers de multiples &ages. 5 [00053] Les aspects et caracteristiques mentionnes decrits ici avec un ou plusieurs des exemples et figures &taffies anterieurement peuvent aussi etre combines avec un ou plusieurs des autres exemples afin de remplacer une caracteristique semblable de l'autre exemple ou afin d'aj outer la caracteristique a l'autre exemple. [00054] Les exemples peuvent en outre etre ou se rapporter a un programme 10 informatique dote d'un code de programme pour mettre en oeuvre un ou plusieurs des procedes ci-dessus, quand le programme informatique est execute sur un ordinateur ou un processeur. Les &apes, operations ou processus des divers procedes decrits ci-dessus peuvent etre mis en oeuvre par des ordinateurs ou processeurs programmes. Les exemples peuvent egalement couvrir des dispositifs de memorisation de programmes tels que des supports de memorisation 15 de donnees numeriques, lesquels sont lisibles par machines, processeurs ou ordinateurs et coder des programmes d'instructions executables par machine, executables par processeur ou executables par ordinateur. Les instructions mettent en oeuvre ou amenent la mise en oeuvre dune partie ou de la totalite des actions des procedes decrits ci-dessus. Les dispositifs de memorisation de programmes peuvent comprendre ou etre, par exemple, des memoires 20 numeriques, des supports de memorisation magnetiques tels que des disques magnetiques ou des bandes magnetiques, des disques durs, ou des supports de memorisation de donnees numeriques lisibles optiquement. D'autres exemples peuvent egalement couvrir des ordinateurs, processeurs ou unites de commande programmes pour executer les actions des procedes decrits ci-dessus ou des reseaux logiques programmables (par l'utilisateur) ((F)PLA) 25 ou des reseaux prediffuses programmables (par l'utilisateur) ((F)PGA), programmes pour mettre en oeuvre les actions des procedes decrits ci-dessus. [00055] La description et les dessins illustrent simplement les principes de la divulgation. En outre, tous les exemples cites ici visent principalement a ne servir expressement qu'a des fins pedagogiques pour aider le lecteur a comprendre les principes de la divulgation et 30 les concepts avances par le ou les inventeurs pour faire avancer la technique. Toutes les declarations citant ici des principes, aspects et exemples de la divulgation, ainsi que des 10 exemples specifiques de ceux-ci, vi sent a englober leurs equivalents. [00056] Un bloc fonctionnel designe par "un moyen pour ..." executer une certaine fonction peut se referer a un circuit configure pour executer une certaine fonction. Ainsi, un "moyen pour quelque chose" peut etre mis en oeuvre en tant que "moyen configure pour ou 5 convenant a quelque chose", tel qu'un dispositif ou un circuit configure pour, ou convenant la tache respective. [00057] Des fonctions de divers elements montres dans les figures, y compris tous blocs fonctionnels designes "moyen", "moyen pour fournir un signal", "moyen pour generer un signal", etc., peuvent etre mises en oeuvre sous forme de materiel dedie, tel qu' "un fournisseur 10 de signaux", "une unite de traitement de signaux", "un processeur", "une unite de commande", etc. ainsi qu'un materiel capable d'executer un logiciel en association avec un logiciel approprie. Lorsqu'elles sont assurees par un processeur, les fonctions peuvent etre assurees par un seul processeur dedie, par un seul processeur portage, par une pluralite de processeurs individuels, dont certains ou tous peuvent etre portages. Toutefois, le terme "processeur" ou 15 "unite de commande" ne se limite aucunement au materiel uniquement capable d'executer un logiciel, mais peut couvrir un materiel de processeur de signaux numeriques (DSP), un processeur de reseau, un circuit integre specifique a l'application (ASIC), un reseau prediffuse programmable par l'utilisateur (FPGA), une memoire morte (ROM) pour memoriser un logiciel, une memoire vive (RAM), et une memoire remanente. D'autres materiels, 20 conventionnels et/ou personnalises, peuvent aussi etre inclus. [00058] Un schema de principe peut par exemple illustrer un diagramme de circuit general mettant en oeuvre les principes de la divulgation. De la meme fawn, un organigramme, un diagramme de transition d'etats, un pseudo code et similaires peuvent representer differents processus, operations ou &apes, lesquels peuvent, par exemple, etre sensiblement representes 25 dans un support lisible par ordinateur et ainsi executes par un ordinateur ou processeur, que cet ordinateur ou ce processeur soit explicitement montre ou non. Les procedes divulgues dans la specification ou dans les revendications peuvent etre mis en oeuvre par un dispositif dote de moyens pour executer chacune des actions respectives de ces procedes. [00059] On comprendra que la divulgation de multiples actions, processus, operations, 30 etapes ou fonctions divulguees dans la specification ou les revendications peut ne pas etre entendue comme &ant dans l'ordre specifique, sauf indications contraires explicites ou 11 implicites, par exemple pour des motifs techniques. En consequent, la divulgation de multiples actions ou fonctions ne limite pas celles-ci a un ordre particulier a moins que ces actions ou fonctions ne soient pas interchangeables pour des motifs techniques. En outre, dans certains exemples un(e) seul action, fonction, processus, operation, ≊ peut inclure ou etre 5 decompose(e) en de multiples sous-actions, sous-fonctions, sous-processus, sous-operations ou sous-etapes, respectivement. De telles sous-actions peuvent etre incluses ou faire partie de la divulgation de cette action unique sauf exclusion explicite. [00060] En outre, les revendications suivantes sont incorporees ici dans la description detainee ou chaque revendication est independante et constitue un exemple separe. Bien que 10 chaque revendication soit independante et constitue un exemple separe, on notera que, bien qu'une revendication independante puisse se referer dans les revendications a une combinaison specifique dune ou de plusieurs autres revendications, d'autres exemples peuvent egalement inclure une combinaison de la revendication dependante avec le suj et de chaque autre revendication dependante ou independante. De telles combinaisons sont proposees 15 explicitement ici sauf indication dune combinaison specifique non envisagee. De surcroit, l'intention est d'inclure