Brevet FR3065085A1 — publié le 20181012

Procédé de traitement d'un spectre d'un rayonnement mesuré par un détecteur Description DOMAINE TECHNIQUE Le domaine technique de l'invention est le traitement de spectres d'un rayonnement transmis par un objet, ce dernier étant irradié par une source de rayonnement ionisant, en particulier un rayonnement X. L'objectif de l'invention est d'obtenir une pluralité de spectres à l'aide d'un détecteur pixellisé, et d'effectuer une correction de tout ou partie des spectres, de façon à limiter l'influence d'une composante représentative d'un rayonnement diffusé. Les applications se trouvent dans l'imagerie médicale, dans le contrôle non destructif ou dans de domaine de la sécurité des personnes. ART ANTERIEUR Le contrôle d'objets par rayonnement X, dans le domaine médical ou industriel, est très répandu. Les procédés existants consistent à disposer un objet entre une source de rayonnement et un détecteur, puis à irradier l'objet à l'aide de la source. Le détecteur forme alors une image, généralement en deux dimensions, du rayonnement transmis par l'objet. Cette image est représentative de l'atténuation, par l'objet, du rayonnement émis par la source. Le rayonnement transmis par l'objet comporte généralement une composante résultant de la diffusion, par l'objet, du rayonnement émis par la source. Elle est d'autant plus significative que l'énergie du rayonnement est faible et/ou que l'objet est constitué de matériaux dont le numéro atomique est élevé. Cette composante, appelée communément rayonnement de diffusion, perturbe l'interprétation des images, car elle n'est qu'indirectement liée à l'atténuation par l'objet. De plus, alors que le rayonnement non diffusé, dit rayonnement primaire, se propage entre la source et le détecteur selon une trajectoire rectiligne, le rayonnement diffusé a pour origine un point quelconque de l'objet, et sa trajectoire, depuis ce point origine, est distribuée selon différents angles. On recherche donc à estimer cette composante de diffusion, de façon à l'extraire du signal mesuré par le détecteur, préalablement au traitement des images en vue de leur interprétation. Des outils de simulation numérique permettent de déterminer le rayonnement primaire et le rayonnement de diffusion ayant traversé un objet analysé. Un exemple en est donné dans la publication Sossin A. "Fast scattering simulation tool for multi-energy x-ray imaging" Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, A 802 (2015) 60-66. De tels outils facilitent le développement de systèmes de radiographie ou de tomographie. 3065085 2 Dans le domaine de l'imagerie médicale, de nombreuses méthodes ont été développées pour tenter d'estimer et de réduire la part du rayonnement diffusé, de façon à obtenir une image essentiellement représentative du rayonnement non diffusé, dit rayonnement primaire, se propageant entre la source et l'objet selon une direction rectiligne. 5 Par exemple, la publication Zhu L, « Scatter Correction Method for X-ray CT Using Primary Modulation : Theory and Preliminary Results », IEEE Transactions on Medical Imaging, Vol. 25, N° 12, dec 2006, décrit un procédé consistant à interposer un masque amovible, prenant la forme d'une grille, entre une source de rayons X et un objet. Cette publication est basée sur le fait qu'un tel masque engendre une modulation spatiale significative du rayonnement primaire, 10 dans des fréquences spatiales élevées, tandis que son influence sur le rayonnement diffusé, dans les fréquences spatiales faibles, est moins importante. Ainsi, dans un espace fréquentiel, il est possible d'établir une discrimination entre le rayonnement primaire et le rayonnement diffusé. Par ailleurs, la publication Ning R,«X-ray Scatter Correction Algorithm for Cone Beam CTImaging », Med.Phys. 31 (5), May 2004, décrit également un procédé consistant à interposer un 15 masque amovible entre une source de rayons X et un objet. Le masque produit une atténuation telle que lorsqu'il est disposé entre la source et l'objet, le rayonnement mesuré par le détecteur est considéré comme représentatif du seul rayonnement diffusé. Autrement dit, le masque produit une atténuation, considérée comme totale, du rayonnement primaire. Le principe d'un masque amovible est également décrit dans la publication Yang K, "A breast- 20 specific, negligible-dose scatter correction technique for dedicated cone-beam breast CT : a physics-based approach to improve Hounsfield Unit accuracy", Phys.Med.Biol. 59 (2014) 64876505. Les détecteurs actuels permettent l'obtention d'images en deux dimensions dont la qualité ne cesse de s'améliorer. Une évolution récente est l'apparition de détecteurs permettant 25 l'acquisition d'images spectrales, c'est-à-dire d'images selon différentes bandes d'énergie. Ces détecteurs, fréquemment basés sur des détecteurs semi-conducteurs ayant une fonction spectrométrique, ajoutent une dimension spectrale aux données acquises, ces dernières étant généralement obtenues selon deux dimensions. Il est alors possible d'obtenir une image du rayonnement transmis par l'objet selon différentes bandes d'énergie. 30 Or, les méthodes précitées ne concernent pas l'imagerie spectrale. Les inventeurs proposent une solution alternative, basée sur l'imagerie spectrale, permettant une correction efficace du rayonnement détecté par le détecteur, de façon à en extraire le rayonnement primaire, et cela 3065085 3 simultanément dans plusieurs bandes d'énergie. Les essais présentés à la fin de la description témoignent de l'efficacité de la méthode. EXPOSE DE L'INVENTION Un premier objet de l'invention est un procédé de correction d'un spectre d'un rayonnement 5 électromagnétique ionisant transmis par un objet, l'objet étant disposé entre une source d'irradiation et un détecteur, la source d'irradiation étant apte à émettre un rayonnement électromagnétique ionisant, dit rayonnement incident, vers ledit objet ; le détecteur comportant des pixels, chaque pixel étant configuré pour détecter un 10 rayonnement transmis par l'objet vers le détecteur, et à en acquérir un spectre, le rayonnement transmis comportant un rayonnement diffusé, causé par la diffusion du rayonnement incident dans l'objet, et un rayonnement primaire ; un masque étant interposé entre la source et l'objet, le masque comportant des éléments absorbants, aptes à atténuer une partie dudit rayonnement incident selon une 15 atténuation, la projection de chaque élément absorbant sur le détecteur formant une zone d'ombre, de telle sorte que le détecteur comporte une pluralité de zones d'ombre espacées les unes des autres, chaque zone d'ombre comportant au moins un pixel ; le procédé comportant les étapes suivantes : a) irradiation de l'objet et acquisition, par les pixels du détecteur, d'un spectre du 20 rayonnement transmis par l'objet ; b) sélection d'une région d'analyse, la région d'analyse comportant au moins un pixel appartenant à une zone d'ombre, dite zone d'ombre d'analyse, et un pixel situé à l'extérieur de ladite zone d'ombre d'analyse ; c) prise en compte d'un spectre, dit spectre de diffusion, représentant le rayonnement 25 diffusé par l'objet atteignant la région d'analyse; d) pour au moins un pixel de la région d'analyse, situé dans la zone d'ombre d'analyse, à partir de l'atténuation du masque et du spectre de diffusion pris en compte lors de l'étape c), estimation d'un spectre du rayonnement primaire transmis par l'objet, en l'absence de masque ; 30 e) pour au moins un pixel de la région d'analyse, situé en dehors de la zone d'ombre d'analyse, à partir du spectre de diffusion pris en compte de l'étape c), détermination d'un spectre du rayonnement primaire transmis par l'objet ; 3065085 4 f) détermination d'un écart entre les spectres du rayonnement primaire déterminés lors des étapes d) et e) ; g) répétition des étapes c) à f) en prenant en compte, lors de l'étape c), différents spectres de diffusion ; 5 h) détermination du spectre de diffusion minimisant l'écart déterminé lors de chaque étape f), le spectre de diffusion ainsi déterminé étant associé à la région d'analyse sélectionnée; i) répétition des étapes b) à h) en sélectionnant différentes régions d'analyse, de façon à déterminer autant de spectres de diffusion que de régions d'analyse; 10 j) correction des spectres acquis lors de l'étape a) à partir des spectres de diffusion résultant de l'étape i). L'étape j) peut notamment comporter, à partir des spectres de diffusion résultant de l'étape i), l'association d'un spectre de diffusion à chaque pixel et la correction de spectres acquis lors de l'étape a), par au moins un pixel, en fonction du spectre de diffusion associé audit pixel. 15 Pour chaque pixel du détecteur, le spectre corrigé constitue alors une estimation du spectre d'un rayonnement primaire transmis par l'objet. Il représente plus fidèlement les propriétés d'atténuation du rayonnement ionisant par l'objet. Par zone d'ombre d'analyse, on entend une zone d'ombre située partiellement ou totalement dans la région d'analyse. 20 Les étapes d) et e) peuvent être effectuées en considérant tout ou partie des pixels respectivement situés à l'intérieur et à l'extérieur de chaque zone d'ombre d'analyse. Selon une variante, le procédé comporte les étapes suivantes a) à c) et f) à j) telles que précédemment décrites, les étapes d) et e) étant : d) pour chaque pixel de la région d'analyse situé en dehors de la zone d'ombre d'analyse, 25 à partir de l'atténuation du masque du spectre de diffusion pris en compte de l'étape c), estimation d'un spectre du rayonnement primaire transmis par l'objet en présence d'un élément absorbant du masque entre la source d'irradiation et ledit pixel; e) pour chaque pixel de la région d'analyse et situé dans la zone d'ombre d'analyse, à partir du spectre de diffusion pris en compte lors de l'étape c), estimation d'un spectre du 30 rayonnement primaire transmis par l'objet. Le principe de cette méthode repose sur une estimation du spectre de diffusion minimisant un écart entre les spectres du rayonnement primaire déterminés respectivement à l'extérieur et à l'intérieur de chaque zone d'ombre d'analyse. Deux alternatives se présentent : selon une 3065085 5 première alternative, qui correspond au mode de réalisation préféré, on compare un ou plusieurs spectres primaires mesurés à l'extérieur d'une zone d'ombre d'analyse avec une estimation d'au moins un spectre primaire qui serait mesuré, à l'intérieur de la zone d'ombre d'analyse, en l'absence de masque. Selon une deuxième alternative, on compare un ou plusieurs 5 spectres primaires mesurés à l'intérieur d'une zone d'ombre d'analyse avec une estimation d'au moins un spectre primaire qui serait mesuré, à l'extérieur de la zone d'ombre d'analyse, en présence de masque. L'étape j) peut comporter l'association, à tout ou partie des pixels du détecteur, d'un spectre de diffusion obtenu à partir des différents spectres de diffusion résultant de l'étape i). 10 Selon un mode de réalisation, l'étape d) comporte les sous-étapes suivantes : di) soustraction du spectre de diffusion pris en compte lors de l'étape c) au spectre mesuré, pour le pixel, lors de l'étape a) ; dii) application d'une matrice de passage au spectre résultant de la sous-étape di), la matrice de passage prenant en compte l'atténuation d'un élément absorbant du masque. 15 Lors de l'étape f), l'indicateur d'écart peut être calculé en comparant, par exemple sous la forme d'une soustraction ou d'un ratio, des spectres résultant respectivement de l'étape d) et de l'étape e), pour une même région d'analyse, ou de leurs valeurs moyennes respectives, ou de leurs valeurs médianes respectives. La matrice de passage peut notamment être obtenue par simulation numérique ou au cours 20 d'une phase de calibration, au cours de laquelle l'objet est remplacé par un objet de calibration comportant les étapes suivantes : cal-i) formation d'une matrice diagonale, chaque terme de la diagonale représentant une atténuation par le masque dans une plage d'énergie ; irradiation de l'objet de calibration et acquisition, par un pixel du détecteur de 25 calibration du détecteur, dit pixel de calibration, d'un spectre du rayonnement transmis par l'objet de calibration lorsque le masque est interposé entre la source et le détecteur; cal-ii) d'un spectre du rayonnement transmis par l'objet de calibration en l'absence de masque interposé entre la source et le détecteur; 30 cal-iii) définition d'une matrice de passage en appliquant une fonction de déformation à la matrice diagonale, la fonction de déformation dépendant de paramètres ; cal-iv) application de la matrice de passage au spectre du rayonnement transmis par l'objet de calibration en présence du masque ; 3065085 6 cal-v) réitération des étapes cal-ii) à cal-iv) pour différents objets de calibration ; cal-vi) obtention des paramètres de la fonction minimisant un écart entre les spectres résultant de l'étape cal-iv) à chaque spectre du rayonnement transmis par l'objet de calibration en l'absence du masque interposé entre la source et le détecteur. 5 Selon une variante, l'étape cal iv) comporte l'application de la matrice de passage au spectre du rayonnement transmis par l'objet de calibration en l'absence du masque et l'étape cal-vi) comporte l'obtention des paramètres de la fonction minimisant un écart entre les spectres résultant de l'étape cal-iv) à chaque spectre du rayonnement transmis par l'objet de calibration en présence du masque interposé entre la source et le détecteur. 10 L'étape j) peut comporter pour chaque pixel situé à l'intérieur d'une zone d'ombre, les sous- étapes suivantes : ji) détermination d'un spectre primaire, dit spectre primaire atténué, à partir du spectre acquis, par le pixel, lors de l'étape a) en fonction du spectre de diffusion associé audit pixel lors de l'étape j); 15 j i) correction du spectre résultant de la sous-étape ji) en prenant en compte l'atténuation du masque, pour estimer un spectre primaire en l'absence de masque. L'étape j) peut comporter, pour chaque pixel situé à l'extérieur d'une zone d'ombre, une soustraction du spectre de diffusion associé audit pixel lors de l'étape j) au spectre acquis par le pixel, lors de l'étape a). 20 Le procédé peut comporter, suite à l'étape i), un lissage entre les spectres de diffusion respectivement associés à des pixels adjacents. Selon un mode de réalisation, à chaque région d'analyse est associé un pixel, le procédé étant mis en oeuvre sur les régions d'analyse associées à tout ou partie des pixels du détecteur. Chaque élément absorbant peut être apte à atténuer entre 5 % et 80 % du rayonnement auquel 25 il est exposé. Le masque peut s'étendre selon une surface, plane ou curviligne, chaque élément absorbant est distant d'un autre élément absorbant d'une distance inférieure à 1 cm. Le masque est de préférence interposé entre la source d'irradiation et l'objet. Les étapes a) à j) peuvent être complétées par les étapes suivantes : k) sélection d'au moins une énergie ou une plage d'énergie; 30 I) réalisation d'une image, dont chaque pixel comprend une donnée obtenue à partir d'un spectre corrigé, associé à un pixel du détecteur, à ladite énergie ou dans ladite plage d'énergie. Lors de cette étape, chaque pixel de l'image peut comporter une 3065085 7 information relative à une intégrale ou à une moyenne dudit spectre corrigé dans ladite plage d'énergie. Un deuxième objet de l'invention est un support d'enregistrement d'informations, comportant des instructions pour l'exécution des étapes b) à j) du procédé selon le premier objet de 5 l'invention, à partir des spectres acquis lors de l'étape a) dudit procédé, ces instructions étant aptes à être exécutées par un microprocesseur. Un troisième objet de l'invention est un dispositif pour l'acquisition de spectres d'un rayonnement transmis par un objet comportant : une source d'irradiation, apte à émettre un rayonnement électromagnétique ionisant, 10 dit rayonnement incident, vers l'objet; un détecteur comportant des pixels, chaque pixel étant configuré pour détecter un rayonnement transmis par l'objet vers le détecteur, et à en acquérir un spectre ; un masque, apte à être interposé entre la source et l'objet, ledit masque comportant des éléments absorbants, aptes à absorber une partie dudit rayonnement incident, et 15 dont une projection sur le détecteur définit des zones d'ombre distantes les unes des autres ; un processeur, configuré pour recevoir des spectres acquis par chaque pixel, et à mettre en oeuvre les étapes b) à j) du procédé décrit dans cette demande. L'invention sera mieux comprise par les exemples de réalisation décrits ci-après, lesquels se 20 basent sur les figures décrites ci-après. FIGURES La figure 1A représente un dispositif permettant la mise en oeuvre de l'invention. La figure 1B représente un masque équipant le dispositif, également dessiné sur la figure 1A. La figure 1C représente une région d'analyse et une zone d'ombre d'analyse, formées sur un détecteur. 25 La figure 2A représente une matrice de réponse du détecteur. Les figures 2B et 2C représentent respectivement une ligne et une colonne de cette matrice de réponse. La figure 3A représente les principales étapes d'un mode de réalisation de l'invention. La figure 3B représente les principales étapes d'un autre mode de réalisation de l'invention. La figure 4A représente les étapes permettant d'obtenir une matrice de passage mise en oeuvre 30 dans l'invention. La figure 4B un exemple de matrice de passage. La figure 4C représente une ligne de la matrice de passage. Les figures 5A et 5B représentent un fantôme pris en compte lors de simulations. Les figures 5C, 5D et 5E représentent des résultats de modélisations simulant une image du fantôme, chaque 3065085 8 image étant basée sur des spectres mesurés par les pixels d'un détecteur, ces spectres représentant respectivement le rayonnement total, le rayonnement primaire et l'estimation du rayonnement primaire selon l'invention. La figure 5F représente un profil horizontal obtenu à partir des 5C, 5D et 5E. 5 Les figures 6A, 6B et 6C représentent des résultats de modélisations simulant une reconstruction tomographie d'une partie centrale du fantôme représenté sur les figures 5A et 5B. Les figures 6A, 6B et 6C sont des images en coupe obtenues respectivement à partir des spectres du rayonnement total, du rayonnement primaire et de l'estimation du rayonnement primaire selon l'invention. La figure 6D représente un profil horizontal obtenu à partir des figures 6A, 6B et 6C. 10 EXPOSE DE MODES DE REALISATION PARTICULIERS La figure 1A représente un mode de réalisation d'un dispositif 1 mettant en oeuvre un procédé selon l'invention. Une source d'irradiation 11 émet un rayonnement électromagnétique ionisant /0, dit rayonnement incident, vers un objet 10. L'objet 10 est disposé entre la source d'irradiation 11 et un détecteur de rayonnement 20. Le détecteur de rayonnement est un 15 détecteur comprenant des pixels 201,E agencés selon un plan, dit plan de détection P. Les indices i,j désignent les coordonnées, dites coordonnées radiales, de chaque pixel dans le plan de détection. Les pixels peuvent s'étendre selon une ligne, mais en général, ils s'étendent selon une matrice régulière bidimensionnelle. L'objet 10 peut être un tissu biologique vivant, par exemple une partie du corps d'un animal ou 20 d'un être humain. Le dispositif est alors un dispositif d'imagerie médicale. L'objet peut également être une pièce industrielle ou un bagage, le dispositif étant alors utilisé à des fins de contrôle non destructif ou pour des contrôles liées à la sécurité. Dans cet exemple, l'objet est une partie d'un fantôme représentant un corps humain, comportant une matrice 10o, deux poumons 101, 102, une vertèbre 103, des cotes 105 ainsi que des tumeurs, 107, 108 et 109. La 25 matrice 100 est délimitée par un contour 104. Le terme rayonnement électromagnétique ionisant désigne un rayonnement électromagnétique constitué de photons d'énergie supérieure à 1 keV, et de préférence inférieure à 5 MeV. La plage d'énergie du rayonnement ionisant peut être comprise entre 1 keV et 2 MeV, mais elle s'étend le plus souvent entre 1 keV et 150 keV ou 300 keV. Le rayonnement 30 ionisant peut être un rayonnement X ou y. De préférence, la source de rayonnement ionisant est poly-énergétique, le rayonnement incident étant émis selon une plage d'énergie s'étendant généralement selon plusieurs dizaines voire centaines de keV. Il s'agit notamment d'un tube émetteur de rayons X. 3065085 9 Une partie des photons, constituant le rayonnement incident /0, traversent l'objet et atteignent le détecteur 20, sans interagir avec l'objet. Ces photons forment une composante primaire, ou rayonnement primaire I. D'autres photons constituant le rayonnement incident /0 sont absorbés dans l'objet, par exemple par effet photoélectrique. Enfin, certains photons subissent 5 une interaction de diffusion dans l'échantillon, de type diffusion inélastique Compton ou diffusion élastique Rayleigh. La diffusion, qu'elle soit inélastique ou élastique, engendre un changement de la direction du photon. Ainsi, l'objet 10 irradié par la source 11 transmet au détecteur 20 un rayonnement I , dit rayonnement transmis, comportant : 10 une composante directe, ou rayonnement primaire, /P, n'ayant pas interagi avec l'objet, et dont la trajectoire depuis la source est rectiligne ; une composante de diffusion /dif, f , ou rayonnement de diffusion, due à une diffusion du rayonnement incident dans l'objet. Le rayonnement transmis I par l'objet atteint les pixels du détecteur 20, chaque pixel 15 détectant une partie de ce rayonnement. Le rayonnement transmis par l'objet et détecté par un pixel 201i est noté IL j. Comme évoqué en relation avec l'art antérieur, le rayonnement de diffusion /dif f perturbe l'interprétation des mesures. En effet, contrairement au rayonnement primaire /P, le rayonnement de diffusion se propage depuis l'objet vers le détecteur, selon une direction 20 variable. Ainsi, une partie du rayonnement collecté par chaque pixel 201i du détecteur ne provient non pas directement de la source de rayonnement 11, mais résulte du phénomène de diffusion. Or, l'interprétation des images est basée sur l'atténuation du rayonnement incident par le détecteur, cette dernière étant obtenue par un ratio, sur une plage d'énergie donnée, entre l'intensité du rayonnement primaire /P sur l'intensité du rayonnement incident /13. Une 25 bonne interprétation des images suppose la connaissance de l'intensité du rayonnement primaire /P, alors que le rayonnement I transmis par l'objet, et mesuré par le détecteur, comporte une somme dudit rayonnement primaire /P et du rayonnement diffusé Idiff Chaque pixel 201,E constitue un détecteur de rayonnement, comportant : un matériau détecteur, apte à interagir avec les photons du rayonnement I transmis 30 par l'objet, ce matériau étant de type scintillateur ou, de préférence, un matériau semi- conducteur compatible avec une utilisation à la température ambiante, de type CdTe, CdZnTe ; 3065085 10 un circuit électronique, apte à générer un signal dont l'amplitude dépend, et est de préférence proportionnelle, à l'énergie déposée par chaque photon interagissant dans le matériau détecteur ; un circuit de spectrométrie, apte à établir un spectre, noté Sii en énergie des signaux 5 détectés pendant une période temporelle, dite période d'acquisition. Ainsi, lorsque les pixels sont disposés régulièrement selon un agencement matriciel, chaque pixel est apte à produire un spectre SKI du rayonnement transmis par l'objet. Le détecteur est alors apte à former plusieurs images, chaque image représentant un contenu de chaque spectre dans une plage d'énergie LE déterminée. Typiquement, chaque image comporte l'intégrale ou 10 la valeur moyenne de chaque spectre Sii dans ladite bande d'énergie. On parle alors d'imagerie spectrale, puisque le détecteur est à la fois résolu spatialement et spectralement. Aussi, sous l'effet de l'irradiation par le rayonnement incident /0, l'objet 10 transmet un rayonnement I , dit rayonnement transmis, vers un détecteur spectrométrique pixellisé 20, dont chaque pixel 2013 est apte détecter ledit rayonnement transmis I et à former un spectre 15 en énergie SKI du rayonnement ILS ainsi détecté. Le terme spectre en énergie correspond à un histogramme de l'amplitude des signaux détectés au cours d'une période d'acquisition du spectre. Une relation entre l'amplitude A et l'énergie E peut être obtenue par une fonction d'étalonnage en énergie g telle que E = g(A), selon des principes connus de l'homme du métier. Un spectre d'énergie Sij est donc un vecteur, dont 20 chaque terme SQ(n) représente une quantité de rayonnement détecté par le pixel 201,E dans une plage d'énergie En + -aE, avec dE étant la largeur spectrale de chaque canal, n désignant un 2 numéro de canal. A chaque canal n correspond une énergie En, ou plus exactement une plage d'énergie En ± -aE. 2 Chaque spectre en énergie SKI peut être considéré comme une somme d'un spectre du 25P diff rayonnement primaire, note Si et d'un spectre du rayonnement de diffusion S. , à un terme de bruit près. Aussi, Sii S. + S. (1). Le signe signifie une égalité à un terme de bruit près, ce bruit pouvant notamment résulter de la source d'irradiation, du détecteur ou d'effets dits d'empilement, se produisant lorsque deux photons incidents sont détectés simultanément. Un objectif de l'invention est de corriger le spectre mesuré par chaque pixel, de façon à réduire 30 la composante de diffusion S. et d'établir un spectre corrigé Sij tel que SKI 3065085 11 2-P Autrement dit, le spectre corrigé e correspond à une estimation ai,J«du spectre du rayonnement primaire atteignant le pixel 201i : SKI = Le dispositif comporte également un masque 15, disposé entre la source 11 et le détecteur 20 et dans cet exemple, entre la source 11 et l'objet 10, ce qui constitue la configuration préférée. 5 Ce masque comporte des éléments absorbants 15, répartis spatialement selon une surface 15s selon laquelle s'étend le masque. Chaque élement absorbant est apte à atténuer partiellement une partie du rayonnement incident /0 produit par la source d'irradiation. Les éléments absorbants sont répartis discrètement, de telle sorte que l'espace entre deux éléments absorbants adjacents est moins absorbant que lesdits éléments absorbants. Autrement dit, les 10 éléments absorbants définissent une répartition spatiale discrète d'atténuations att15, att15 de telle sorte qu'entre deux éléments absorbants adjacents 15,, 15,' l'atténuation att15 est inférieure à l'atténuation att15, att15 associée à chaque élément absorbant. Le terme atténuation est connu de l'homme du métier. Elle peut être exprimée selon l'expression att15(E) = -In Hi; ((EE))1, où I°(E) désigne une intensité, à une énergie E, d'un 15 rayonnement incident /0 à un l'élément absorbant 15, et I' (E) désigne une intensité, à ladite énergie E d'un rayonnement Ix transmis par l'élément absorbant 15, L'atténuation peut être exprimée en fonction d'un coefficient d'atténuation linéaire ,u(E), dépendant de l'énergie E et du matériau formant le masque, selon l'expression : att15(E) = -µ(E)-Px, ,ex désignant l'épaisseur de l'élément atténuant 15, traversé. 20 D'une façon générale, l'interposition du masque 15 entre la source 11 et le détecteur 20 ne doit pas modifier significativement le rayonnement de diffusion parvenant au détecteur, par rapport à une configuration sans masque. Aussi, de préférence, chaque élément absorbant présente une atténuation, tel que précédemment défini, comprise entre 0.05 et 1.5, à une des énergies de la plage d'énergie selon laquelle est émis le rayonnement incident /0, ou à l'énergie moyenne de 25 cette plage d'énergie. Ainsi, en négligeant la diffusion, chaque élément absorbant atténue, de préférence, entre 5 % et 80% du rayonnement incident /0 produit par la source et/ou traversant le masque dans l'espace s'étendant entre les éléments absorbants du masque. De préférence, l'atténuation est inférieure à 1 voire inférieur à 0.5 et de préférence inférieur à 0.3. Ainsi, chaque élément absorbant absorbe respectivement moins de 60 %, ou moins de 40%, et de préférence 30 moins de 30% du rayonnement produit par la source, ou du rayonnement passant entre les éléments absorbants du masque. En dessous d'une atténuation égale à 0.05, correspondant à 3065085 12 une atténuation de 5% du rayonnement produit par la source, les inventeurs considèrent que l'atténuation n'est pas suffisante. Autrement dit, le masque 15 permet donc établir un contraste d'atténuation, entre les éléments absorbants 15, et l'espace s'étendant entre lesdits éléments absorbant, ces derniers absorbant entre 5% et 30%, voire 40%, voire davantage du rayonnement 5 traversant ledit espace. En complément ou alternativement, on peut définir une atténuation globale du masque 15 sous la forme d'un produit d'un facteur de remplissage par le pourcentage du rayonnement incident absorbé par le masque, ce dernier étant déterminé à une énergie de la plage d'énergie du rayonnement incident P3 émis par la source d'irradiation 11, ou à une énergie moyenne de cette 10 plage. Le facteur de remplissage correspond à un ratio entre la surface du masque occupée par l'ensemble des éléments absorbants 15, et la surface totale du masque. L'atténuation globale du masque, ainsi définie, est de préférence supérieure à 0.5% et inférieure à 20%. Ainsi, un masque satisfaisant à cette condition peut avoir un facteur de remplissage égal à 0.2, chaque élément 15, du masque absorbant 10% du rayonnement incident, ce qui donne une atténuation 15 globale du masque, telle que précédemment définie, égale à 0.02 (2%). Chaque élément absorbant peut avoir une forme quelconque, mais au moins une dimension, dans une direction de la surface 15s selon lequel il s'étend, est inférieure à 5 mm, et de préférence inférieure à 2 mm voire à 1 mm. Dans l'ensemble des modes de réalisation précédemment décrits, le masque s'étend de préférence selon un plan XY parallèle à un plan 20 selon lequel s'étendent les pixels du détecteur. L'espacement entre deux éléments absorbants adjacents, au niveau du masque, peut être inférieur à 5 mm, et est de préférence compris entre 1 mm et 5 mm. D'une façon générale, l'espacement entre deux éléments absorbants adjacents, après projection sur le détecteur 20, est avantageusement compris entre 1 et 10 cm, et de préférence inférieur à 5 cm ou à 3 cm. 25 Comme décrit par la suite, la projection de chaque élément absorbant 15, sur le détecteur définit une zone d'ombre élémentaire. Chaque zone d'ombre élémentaire s'étend autour d'un point central. Avantageusement, l'espacement entre les points centraux de deux zones d'ombre élémentaires adjacentes est compris entre 1 et 10 cm, et de préférence compris entre 1cm et 5 cm. Par projection, on entend une projection selon la direction de propagation du rayonnement 30 émis par la source. Un exemple de masque est représenté sur la figure 1B. Dans cet exemple, le masque présente un arrangement régulier des éléments absorbants, ces derniers formant un damier. Chaque 3065085 13 élément absorbant 15, est un plot parallélépipédique, dont l'aire, selon la surface 15s selon laquelle s'étend le masque, est de 1 mm * 1 mm, l'espacement entre le centre de chaque élément 15, étant respectivement de 2 mm selon une première direction Y et selon une deuxième direction X perpendiculaire à la première direction. Dans cet exemple, le matériau 5 constituant le masque est de l'Aluminium, et son épaisseur est de 2 mm, ce qui correspond à une valeur d'atténuation, telle que précédemment définie, égale à 0.9 à 100 keV, ce qui conduit à atténuer 10% du rayonnement incident à cette énergie. L'épaisseur s'entend selon une direction perpendiculaire à la surface selon laquelle s'étend le masque. D'une façon générale, le masque est réalisé selon un matériau suffisamment absorbant pour atténuer une portion 10 suffisante du rayonnement primaire. On évite toutefois les matériaux trop denses, de type métaux lourds, par exemple le plomb, susceptibles de produire une diffusion significative du rayonnement incident avant que ce dernier n'atteigne l'objet. Parmi les matériaux préférés composant le masque, on peut citer l'aluminium, le cuivre, le graphite, le bore. D'autres géométries sont envisageables, en considérant par exemple un espacement non 15 régulier entre les différents éléments absorbants, ou une géométrie non régulière de chaque élément absorbant. Un masque en forme de grille, définissant des mailles, est également possible, les éléments absorbants étant disposés entre chaque maille. La surface 15s selon laquelle s'étend le masque, entre chaque élément absorbant, est de préférence constituée d'un matériau considéré comme transparent à l'égard des photons, dans 20 la plage d'énergie considérée. Il peut s'agir d'une fine épaisseur d'un plastique, d'un papier ou d'un métal léger, de type aluminium, fer, cuivre, ou un espace laissé libre et occupé par de l'air. Ainsi, entre chaque élément absorbant 15,, le coefficient d'atténuation, tel que précédemment défini, est de préférence inférieur à 0.5, voire à 0.2 ou encore 0.1. De préférence, entre chaque élément absorbant, le coefficient d'atténuation est négligeable. 25 Le nombre d'éléments absorbants est dimensionné de façon à couvrir le champ d'observation du détecteur. Dans l'exemple décrit, les éléments absorbants sont répartis selon une matrice de 34 par 7 éléments, soit un total de 238 éléments. Le masque est interposé entre la source et le détecteur, sa projection, sur le détecteur, selon la direction de propagation du rayonnement incident /0, définit des zones d'ombre 20,, chaque 30 zone d'ombre rassemblant les pixels du détecteur 20Q e 20x alignés par rapport à chaque élément absorbant 15,, selon la direction de propagation du rayonnement atteignant le détecteur. Plus précisément, comme précédemment évoqué, la projection de chaque élément 3065085 14 absorbant 15,, selon la direction de propagation du rayonnement incident, forme une zone d'ombre 20, sur le détecteur. L'indice x désigne la zone d'ombre considérée. La figure 1C représente une zone d'ombre 20, et une zone d'ombre adjacente 20,+1. Les pixels 20i3 e 20x n'appartenant pas une zone d'ombre 20, reçoivent un rayonnement I non atténué par les 5 éléments absorbants 15,, tandis que chaque pixel 20Q e 20x appartenant à une zone d'ombre reçoit un rayonnement Ix atténué par un élément absorbant 15x, ce dernier étant situé sur une ligne s'étendant entre ledit pixel et la source d'irradiation 11. L'exposant x désigne le fait que le rayonnement Ix atteignant le détecteur au niveau d'une zone d'ombre 20, a été atténué par un élément absorbant 15x 10 Le dispositif comprend également une unité de calcul, ou processeur 21, par exemple un microprocesseur, est apte à traiter chaque spectre SQ mesuré par les pixels du détecteur. En particulier, le processeur est un microprocesseur relié à une mémoire programmable 22 dans laquelle est stockée une séquence d'instructions pour effectuer les opérations de traitement de spectres et de calculs décrites dans cette description. Ces instructions peuvent être 15 sauvegardées sur un support d'enregistrement, lisible par le processeur, de type disque dur, CDROM ou autre type de mémoire. Le processeur peut être relié à une unité d'affichage 24, par exemple un écran. Le détecteur peut être caractérisé par une matrice de réponse D du détecteur, représentant les imperfections de la détection. Cette matrice, de taille N x M, est représentée sur la figure 2A. 20 N est le nombre de canaux n de chaque spectre formé par le détecteur et M est le nombre de canaux selon lesquels le spectre incident au détecteur est discrétisé. N et M sont deux entiers positifs. Dans cet exemple, N = M = 150, mais de façon générale, le nombre de canaux du spectre est supérieur à 2, voire supérieur à 10, et peut atteindre plusieurs centaines. Chaque terme D (u, v) de cette matrice représente une probabilité qu'un photon incident au détecteur, 25 d'énergie v, soit considéré par le détecteur comme ayant une énergie u. Autrement dit, chaque ligne D(u,.) de la matrice, telle que celle représentée sur la figure 2B, représente une distribution de probabilité de l'énergie v d'un photon atteignant le détecteur lorsqu'un photon d'énergie u est détecté. La figure 2B représente la ligne 70 de la matrice D. De façon analogue, chaque colonne D(.,v) de la matrice, telle que celle représentée sur la figure 30 2C, correspond à une distribution de probabilité de l'énergie détectée u par le détecteur lorsque le photon atteignant le détecteur a une énergie v. La figure 2C représente la colonne 70 de la 3065085 15 matrice D. Plus résolution en énergie du détecteur est fine, plus cette matrice tend vers une matrice diagonale. Dans le cas d'un détecteur parfait, la matrice D est la matrice identité. On va à présent décrire les principales étapes d'un procédé selon un premier mode de réalisation de l'invention, en lien avec la figure 3A. 5 Étape 100: acquisition des spectres transmis par l'objet. Chaque pixel 20i3 E 20x d'une zone d'ombre 20, acquiert un spectre Si,j E 20x, transmis par l'objet 10, en subissant une atténuation par un élément absorbant 15,. Chaque pixel 20Q e 20x en dehors d'une zone d'ombre 20, acquiert un spectre Si,/ e 20x, transmis par l'objet 10, sans l'influence d'un élément absorbant 15,du masque 15. 10 Étape 110: sélection d'une région d'analyse D.. Cette étape consiste à sélectionner un pixel, dit pixel sélectionné, et une région d'analyse D. s'étendant autour du pixel sélectionné. La région d'analyse est telle qu'elle comporte au moins un pixel, dit pixel intérieur, situé dans une zone d'ombre 20Q E 20x et au moins un pixel, dit pixel extérieur 20Q e 20x, situé à l'extérieur d'une zone d'ombre. Par ailleurs, la taille de la région 15 d'analyse est suffisamment petite pour qu'on puisse considérer que le rayonnement diffusé par l'objet 10 et atteignant les pixels 20Q E 12 de la région d'analyse D. puisse être considéré comme étant le même pour tous les pixels de la région d'analyse. Le nombre de pixels 20Q E 12 de la région d'analyse D. dépend de la taille de ces derniers. La région d'analyse D. peut par exemple être carrée, chaque côté étant formé de a pixels, a étant par exemple compris entre 2 et 50. La 20 région d'analyse peut être circulaire, à la forme des pixels près, et s'étendre selon un diamètre de n pixels, n étant par exemple compris entre 2 et 50. La région d'analyse peut être polygonale, par exemple rectangulaire, selon a x b pixels, où b > a et a > 1. Un exemple de région d'analyse D. est représentée sur la figure 1C. La région d'analyse D. comporte : 25 des pixels, dits pixels intérieurs 20ii E 20x,1, situés dans une zone d'ombre 20,,12, dite zone d'ombre d'analyse, située totalement ou partiellement dans la région d'analyse ; et des pixels, dits pixels extérieurs 20ii 20xn , situés à l'extérieur de la zone d'ombre d'analyse. Une zone d'analyse D. comporte de préférence une seule zone d'ombre 20,,12, mais elle peut en 30 comporter plusieurs, en particulier si les zones d'ombres sont faiblement étendues. diff Étape 120: Prise en compte d'un spectre du rayonnement diffusé Sn dans la région d'analyse 3065085 16 Cette étape comprend une prise en compte d'un spectre de diffusion S ndiff affectant les pixels 20Q e 12 de la région d'analyse SI. Le spectre de diffusion Sdniff pris en compte peut être aléatoire ou se baser sur un a priori, par exemple une condition sur la forme du spectre, ou sur une simulation basée sur un modèle de l'objet examiné, ou sur un spectre de diffusion résultant 5 d'une mise en oeuvre précédente du procédé sur un objet similaire à l'objet 10 examiné, ou celui d'une région d'analyse voisine de la région d'analyse considérée. Pour les pixels de la région d'analyse D, situés à l'intérieur d'une zone d'ombre d'analyse 20,,12, le spectre Si,/ E 20,c,n du rayonnement détecté est formé par l'addition d'un spectre du rayonnement diffusé Sndiff affectant la région d'analyse SI, et d'un spectre du rayonnement x E 20xn' 10 primaire SPi,j dit spectre primaire atténué, transmis par l'objet 10, après absorption (ou atténuation) par l'élément absorbant 15x dont la projection sur le détecteur 20 forme la zone d'ombre 20x. L'exposant p désigne le fait que le spectre Sp,x E 20x est le spectre d'un rayonnement primaire ; l'exposant x désigne l'atténuation par un élément absorbant 15x. Ainsi, pour chaque pixel 20Q E 20x appartenant à la zone d'ombre d'analyse 20x42 : 15 Si,1E 20xn = 20xsi Sdn" (2). La région d'analyse D, comporte des pixels 20 id e 20xsi extérieurs à la zone d'ombre d'analyse 20x42 Pour ces pixels, dits extérieurs, le spectre S id e 20xsi du rayonnement détecté est formé par l'addition du spectre du rayonnement diffuséSdnill affectant la région d'analyse SI, et d'un spectre du rayonnement primaire Spi . o transmis par l'objet. Ainsi, pour chaque pixel de la 20 zone d'ombre d'analyse 20x42 : P cdiff Si,je20x,n= si,je20',n "712 13' Étape 130 : Calcul du spectre Spt,x . e 20xn du rayonnement primaire atténué détecté par des pixels de la zone d'ombre d'analyse 20x42. L'étape 130 est effectuée pour au moins un pixel 20Q E 20xn de la zone d'ombre d'analyse 20x,net de préférence pour plusieurs pixels de ladite zone d'ombre 25 d'analyse. En utilisant l'équation (2), ayant mesuré le spectre SQ E 20,c,n du rayonnement détecté pour chaque pixel de la zone d'ombre d'analyse lors de l'étape 100, et prenant en compte le spectre 3065085 17 du rayonnement diffusé Sdiff il résultant de l'étape 120, le spectre primaire atténué SP,x de chaque pixel de la zone d'ombre d'analyse 20x42 est obtenu selon l'équation : S" diff S= d e - 12 (4) E St Cependant, ce spectre est affecté par l'atténuation par le masque, et plus précisément par 5 l'élément absorbant 15x, formant la zone d'ombre d'analyse 20x42. Étape 140: prise en compte de l'atténuation du masque. A partir de chaque spectre primaire atténué SP,x e 20xn obtenu lors de l'étape 130, prise en compte de l'atténuation du masque 15 pour estimer le spectre du rayonnement primaire par le pixel de la zone d'ombre d'analyse 20x42 en l'absence de masque, ce spectre estimé étant noté Spi E 20xn . Plus précisément, on prend 10 en compte l'atténuation due à l'élément absorbant 15x, formant la zone d'ombre d'analyse 20x42 pour estimer le spectre primaire que mesurerait le pixel en l'absence du masque. Une telle estimation peut être établie à partir d'un simple calcul de l'atténuation, en fonction de l'énergie, sachant que l'épaisseur et le matériau de l'élément absorbant 15x sont connus. Cependant, de préférence, il est préférable de prendre en compte la réponse du détecteur, 15 précédemment évoquée en lien avec la matrice de réponse D. Pour cela, au cours d'une phase de calibrage, on établit une matrice de passage M prenant en compte l'atténuation par le masque ainsi que la réponse du détecteur 20. L'établissement de cette matrice de passage est décrit par la suite, en lien avec la figure 4A. L'application de la matrice de passage M permet de prendre en compte l'atténuation par l'élément absorbant 15x dont la projection sur le détecteur 20 forme la zone d'ombre d'analyse 20x,12 En utilisant la matrice de passage M, le spectre primaire Spi _ e 20xn' en l'absence d'atténuation, correspondant au pixel de la zone d'ombre d'analyse 20x42, est estimé selon l'expression. Sp i E20X fl= M X et]E 20x si (5), x désignant un produit matriciel. Étape 150 : calcul du spectre du rayonnement primaire détecté par les pixels 20Q e 20xn situés 25 en dehors de la zone d'ombre d'analyse 20x42. Pour tout ou partie des pixels 20Q e 20xn, le spectre du rayonnement primaire est obtenu, en utilisant l'expression (2), de la façon suivante : p ediff 1,2' 20X,11, = e 20x,11 - 12 lu) Étape 160: Au cours de l'étape 160, on évalue un écart entre les spectres du rayonnement primaire SPi,jen déterminés pour différents pixels de la région d'analyse SI, les pixels étant 3065085 18 respectivement situés à l'intérieur et à l'extérieur de la zone d'ombre d'analyse 20,42. Pour les pixels à l'intérieur de la zone d'ombre d'analyse 20,42, il s'agit des spectres du rayonnement primaire Spi E 20,csi résultant de l'étape 140. Pour les pixels de la région d'analyse à l'extérieur d'une zone d'ombre, il s'agit des spectres du rayonnement primaire SpiE de 5 l'étape 150. Cette évaluation consiste à définir un indicateur d'écart EIS12dif f représentant une variation spatiale entre les différents spectres du rayonnement primaire déterminés dans les pixels de la région d'analyse. L'écart EISdni" dépend du spectre de diffusion Sdnill pris en compte lors de l'étape 120, car les spectres du rayonnement primaire utilisés pour l'établir sont calculés f f en prenant en compte le spectre de diffusion Sndi . L'indicateur de variation peut notamment 10 être déterminé en fonction d'un gradient spatial VSPii du spectre primaire calculé en chaque pixel de la région d'analyse. L'indicateur d'écart peut par exemple être une grandeur scalaire formée par une somme de la valeur absolue de chaque gradient : ENS ff = (7) où VSPii représente un gradient spatial de chaque spectre primaire Spi résultant de l'étape 140 15 (SPii 2oxsi) ou 150 (Si', spatiale des spectres primaires est faible dans la région d'analyse. Autrement dit, l'indicateur d'écart EIS diff12 quantifie une variation spatiale des spectres primaires, résultant des étapes 140 et 150, respectivement associés à des pixels à l'intérieur ou à l'extérieur de la zone d'analyse d'intérêt. 20 Par exemple, la région d'analyse D. est un carré centré sur une zone d'ombre d'analyse. L'étape 150 peut être effectuée sur quatre pixels 20Q e 20,csi formant respectivement les quatre coins de la région d'analyse. Les étapes 130 et 140 peut être effectuée sur un pixel 20i3 E 20x,1 situé au centre de la zone d'ombre d'analyse 20,4 L'indicateur d'écart peut alors être défini selon l'expression : dif f SZ nuij E 2oxsill (7.1) SPi,j E 20x,f2. L'y 25 EIS = .1) avec : V4(-1 -i,jE20x,n e 20',' (7.2) Selon cet exemple, on détermine une moyenne des quatre spectres de diffusion primaires déterminés sur chaque pixel 20i3 e 2oXn,, cette moyenne étant soustraite, terme à terme, du spectre SPi j _ E 20xsi du rayonnement primaire estimé, lors de l'étape 140, pour le pixel 20Q e 20x,1 e 20x,r/L di f f Dans ce cas, plus l'écart EIS12 est faible, plus la variation 3065085 19 Il forme de façon à former un vecteur de gradient VSP dont la norme II VSP 201,j E 20xr2. 21,j E 20xr1 l'indicateur d'écart EISdnif. f . Selon un autre exemple, on détermine une valeur moyenne 20',,, Spi te de différents spectres SpP. obtenus, lors de l'étape 150, au niveau de pixels 20i3 situés à l'extérieur de la i E 20,csi 20', 5 zone d'ombre d'intérêt 20,,8 Pour chaque spectre Spi . E 20xsi déterminé lors de l'étape 140 au niveau d'un pixel de la zone d'ombre d'intérêt 20,42, le vecteur de gradient est tel que VS'P = SP - SP (7.3). E20x,n i,] E 20xsi L,J 20x,n L'indicateur d'écart correspondant à la région d'analyse D. considérée est alors tel que E Isdniff = Ei,j E 20x,' I0B2OdJ20',' I (7.4) 10 D'une façon générale, au delà de ces exemples non limitatifs, on comprend que le vecteur de gradient spatial VSP,i associé à un pixel 20ii résulte d'une comparaison, notamment sous la forme d'une soustraction ou de ratio, entre de spectres de diffusion primaire, ou de leur valeurs moyennes, respectivement déterminés, au cours des étapes 140 et 150, au niveau de pixels 20ii E20x,n, 20u 20'' situés à l'intérieur ou à l'extérieur de la zone d'ombre d'analyse 20,42. -ff 15 Etape 170 : Estimation du spectre du rayonnement de diffusion Sn di relatif à la région d'analyse D. considérée minimisant l'indicateur d'écart EISdniff. ^f f Cette étape consiste à définir le spectre du rayonnement de diffusion Sndi , pris en compte lors de l'étape 120, minimisant l'écart entre les différents spectres du rayonnement primaire déterminés pour la région d'analyse D.. Autrement dit, 20 ^diff dif f , S = argmiqEIS12 ) (8) sdiff Lorsque l'indicateur de gradient est celui décrit en lien avec l'équation (7), dnif f = arsgmin (EiienlVei 1) (9) diff Les étapes 120 à 170 forment un processus de minimisation visant à déterminer le spectre de diffusion minimisant l'indicateur d'écart calculé lors de l'étape 160. 25 Etape 180 : réitération en modifiant la région d'analyse D.: les étapes 110 à 170 sont de préférence réalisées pour différentes régions d'analyse D.. Les différentes zones d'analyse n 3065085 20 peuvent être adjacentes les unes des autres, ou se chevaucher partiellement. Lorsque les différentes zones d'analyse sont adjacentes les unes des autres, sans se chevaucher, à chaque pixel de la zone d'analyse correspond le spectre de diffusion estimé pour ladite zone d'analyse : 5 Sdill -12(10). ijE12 - Selon une variante, les étapes 110 à 170 sont effectuées pixels par pixel, à chaque pixel 20i3 correspondant une région d'analyse D.Q. Chaque région d'analyse ,O.i3 peut notamment former un noyau, dont le centre correspond au pixel, le noyau étant déplacé d'un pixel à un autre entre deux itérations successives. Dans ce cas, lorsque les pixels sont situés en bordure du détecteur, 10 le noyau est tronqué selon les limites du détecteur 20. On obtient alors autant de spectres de diffusion estimés que de pixels. A chaque pixel 20i3 du détecteur correspond alors un spectre de diffusionSdni,Jiff : JI (11). Une telle variante peut être mise en oeuvre sur certains pixels seulement du détecteur de façon à optimiser le temps de calcul. Le détecteur peut faire l'objet d'un maillage, par exemple un 15 maillage régulier, de façon à sélectionner les pixels 201,j- pour lesquelles une région d'analyse ,O.i3- est définie, la région d'analyse faisant l'objet des étapes 110 à 170. A chaque pixel 20Q= sélectionné par le maillage correspond un spectre de diffusion Siff. Dans ce cas, à chaque pixel -, ^di sélectionné 20ii ff - est attribué un voisinage, et le spectre de diffusion S o correspondant au àii* dif f ^ pixel du maillage S est attribué aux pixels formant le voisinage. 20 Selon une possibilité, les étapes décrites ci-avant sont mises en oeuvre pour certaines régions d'analyse D., et à chaque région d'analyse D. est attribué un spectre de diffusion -S-ctiliff. Une interpolation spatiale peut être effectuée, de façon à attribuer, à chaque pixel 20ii du détecteur f 20, un spectre de diffusion S ^dif . A l'issue de l'étape 180, à chaque pixel 20ii du détecteur 20 est associé un spectre de diffusion 25i f Étape 190 : Lissage f Afin d'éviter des discontinuités trop importantes entre les spectres de diffusion à i, associés à des pixels 20i,j, en particulier des pixels adjacents, résultant de l'étape 180, un lissage entre ces différents spectres de diffusion peut être prévu. 3065085 21 Étape 200: Correction Cette étape permet une correction du spectre du rayonnement SQ acquis par chaque pixel 20i,j du détecteur 20 en fonction du spectre de diffusion Sdiji" associé à chacun d'entre eux, de façon à obtenir un spectre corrigé S*ii, ce dernier étant une estimation du spectre primaire 2,9 5 Pour les pixels 20Q e 20x situés en dehors d'une zone d'ombre, le spectre corrigé S*Q 20x correspond à l'estimation du spectre de rayonnement primaire selon l'expression : :e) (12) e 20x = 20x = - e 20x e 20x « Pour les pixels 20Q E 20x situés dans une zone d'ombre, le spectre corrigé S*Q E 20x correspond à l'estimation du spectre de rayonnement primaire selon l'expression : 10 E 20x = M (S i,1 E 20x 20x) (13) soit el E 20x = M X (SPi:;.E 20x) (13') avec et,'jE 20x = SljE 20x ^diff E 20X(13") S i e 20x et S E 20x désignent respectivement des spectres respectivement mesurés par des pixels situés en dehors et dans une zone d'ombre 20x. 15 On dispose ainsi d'une estimation du spectre primaire pour chaque pixel du détecteur. Entre les étapes 100 et 110, chaque spectre mesuré peut faire l'objet d'un regroupement spectral en plages d'énergies : certains canaux sont regroupés, de façon à réduire le nombre de canaux. Les spectres primaires obtenus par le procédé peuvent être utilisés pour former des images 20 spectrales, une image spectrale correspondant au contenu des spectres primaires dans une plage d'énergie déterminée. Dans le cas d'une reconstruction tomographique, le procédé est mis en oeuvre dans différentes configurations C, à chaque configuration correspondant une position relative du détecteur 20 et/ou de la source 11 par rapport à l'objet 10. La reconstruction tomographique est réalisée sur 25 la base des spectres primaires obtenus par le procédé ou des images spectrales formées à partir des spectres primaires. Établissement de la matrice de passage. 3065085 22 Comme préalablement décrit en lien avec l'étape 140, la prise en compte de l'atténuation par un élément absorbant 15, du masque 15 peut être effectuée par une matrice de passage M. Selon une première approximation, basée sur une hypothèse d'un détecteur parfait, selon lequel la matrice de réponse D correspond à la matrice identité, la matrice de passage peut être 5 déterminée à partir d'une matrice dite matrice d'atténuation C, de préférence diagonale, dont chaque terme correspond à une atténuation dans une plage d'énergie donnée. Plus précisément, chaque terme C(p, p) = e-µx-ex (14) y, est le coefficient d'atténuation linéaire, dans la bande d'énergie AEp associée à la ligne p de la matrice d'atténuation C; 10 ,e, est l'épaisseur de l'élément absorbant 15, dont la projection sur le masque 15 forme la zone d'ombre 20, considérée. Ainsi, sans prise en compte de la réponse du détecteur, ou en considérant un détecteur parfait, M = C-1-. Cependant, une approche plus rigoureuse consiste à prendre en compte la réponse du 15 détecteur, par le biais de la matrice de réponse D. Selon une telle approche, la matrice de passage M peut être exprimée comme suit : M = D x C-1 x D-1 (15) Cela dit, la matrice de réponse D n'est pas généralement pas inversible. Les inventeurs ont mis en place une détermination expérimentale de la matrice M selon les 20 étapes décrites ci-dessous. On a considéré que la matrice M est triangulaire et que chaque ligne p de la matrice M est telle que : M (p,.) = C(p, p)-if (16) où f est une fonction dite de déformation, telle que : f (p,q,a(p), fl(p))= (1- /3)S(q) - fle-aq (17) lorsque p q et 25 f (p, q, a(p), /3(p)) = 0 lorsque p REVENDICATIONS1. Procédé de correction d'un spectre d'un rayonnement électromagnétique ionisant (/) transmis par un objet (10), l'objet étant disposé entre une source d'irradiation (11) et un détecteur (20), la source d'irradiation étant apte à émettre un rayonnement électromagnétique ionisant, dit rayonnement incident (Io), vers ledit objet ; le détecteur (20) comportant des pixels (20ii), chaque pixel étant configuré pour détecter un rayonnement transmis par l'objet (10) vers le détecteur, et à en acquérir un spectre (Sii), le rayonnement transmis (/) comportant un rayonnement diffusé (Idiff ), causé par la diffusion du rayonnement incident (I°) dans l'objet (10), et un rayonnement primaire (/P) ; un masque (15) étant interposé entre la source (11) et l'objet (10), le masque comportant des éléments absorbants (15,), aptes à atténuer une partie dudit rayonnement incident (I°) selon une atténuation, la projection de chaque élément absorbant sur le détecteur formant une zone d'ombre (20,), de telle sorte que le détecteur (20) comporte une pluralité de zones d'ombre espacées les unes des autres, chaque zone d'ombre (20,) comportant au moins un pixel (20ii E 20,c) ; le procédé comportant les étapes suivantes : a) irradiation de l'objet et acquisition, par les pixels du détecteur (20ii), d'un spectre (Sil) du rayonnement (/) transmis par l'objet ; b) sélection d'une région d'analyse (D), la région d'analyse comportant au moins un pixel (20ii E 20,c,n) appartenant à une zone d'ombre, dite zone d'ombre d'analyse (20,42) et un pixel (20ii Ezo,si) situé à l'extérieur de ladite zone d'ombre d'analyse (20,,12) ; c) prise en compte d'un spectre (Sdni"), dit spectre de diffusion, représentant le rayonnement diffusé par l'objet atteignant la région d'analyse (fl); d) pour au moins un pixel (20i3 E 20x,n) de la région d'analyse (D), situé dans la zone d'ombre d'analyse (20,,12), à partir de l'atténuation du masque (15) et du spectre de diffusion (Sdniff) pris en compte lors de l'étape c), estimation d'un spectre du rayonnement primaire (SPie ) transmis par l'objet, en l'absence de masque ; e) pour au moins un pixel (20Q E 2o,4,) de la région d'analyse (D), situé en dehors de la zone d'ombre d'analyse (20,,12), à partir du spectre de diffusion pris en compte de 3065085 31 l'étape c), détermination d'un spectre du rayonnement primaire (SP. 20xn) transmis par l'objet ; di f) détermination d'un écart (EISf f12 ) entre les spectres du rayonnement primaire résultant des étapes d) et e) ; 5 g) répétition des étapes c) à f) en prenant en compte, lors de l'étape c), différents spectres de diffusion (Sdni"); di f h) détermination du spectre de diffusion (Sn ) minimisant l'écart déterminé lors de chaque étape f), le spectre de diffusion ainsi déterminé étant associé à la région d'analyse sélectionnée (SI) lors de l'étape b); 10 i) réitération des étapes b) à h) en sélectionnant, à chaque itération, différentes régions di f d'analyse (Dl de façon à déterminer autant de spectres de diffusion (Sn ) que de régions d'analyse (fl); diff , à partir des spectres de diffusion (Sn ) resultant de l'étape i), association d'un spectre i de diffusion (Sd ff ) à chaque pixel (20ii) et correction d'un spectre (S1,1) acquis lors de 15 l'étape a) par au moins un pixel, en fonction du spectre de diffusion associé audit pixel, pour obtenir un spectre corrigé (S*i). 2. Procédé de correction d'un spectre d'un rayonnement électromagnétique ionisant transmis par un objet (10), l'objet étant disposé entre une source d'irradiation (11) et un détecteur (20), la source 20 d'irradiation étant apte à émettre un rayonnement électromagnétique ionisant, dit rayonnement incident (I°), vers ledit objet ; le détecteur (20) comportant des pixels (20ii), chaque pixel étant configuré pour détecter un rayonnement transmis par l'objet (10) vers le détecteur, et à en acquérir un spectre (Sii), le rayonnement transmis comportant un rayonnement diffusé (Idiff ), 25 causé par la diffusion du rayonnement incident dans l'objet (10), et un rayonnement primaire (/P) ; un masque (15) étant interposé entre la source (11) et l'objet (10), le masque comportant des éléments absorbants (15,), aptes à atténuer une partie dudit rayonnement incident (I°) selon une atténuation, la projection de chaque élément 30 absorbant sur le détecteur formant une zone d'ombre (20,), de telle sorte que le j) 3065085 32 détecteur (20) comporte une pluralité de zones d'ombre espacées les unes des autres, chaque zone d'ombre (20,) comportant au moins un pixel (20Q E 20x) le procédé comportant les étapes suivantes : a) irradiation de l'objet et acquisition, par les pixels du détecteur (20Q), d'un spectre (Sil) 5 du rayonnement transmis par l'objet ; b) sélection d'une région d'analyse (D), la région d'analyse comportant au moins un pixel (20Q E 20x,n) appartenant à une zone d'ombre, dite zone d'ombre d'analyse (20,42) et un pixel (20i3 situé à l'extérieur de ladite zone d'ombre d'analyse (20,42) ; c) prise en compte d'un spectre (Sdni"), dit spectre de diffusion, représentant le 10 rayonnement diffusé par l'objet atteignant la région d'analyse (D); d) pour au moins un pixel (20Q e 2oxn) de la région d'analyse (SI) situé en dehors de la zone d'ombre d'analyse (20,42), à partir de l'atténuation du masque (15) du spectre de diffusion pris en compte de l'étape c), estimation d'un spectre du rayonnement primaire j 20xsi (S ) transmis par l'objet en présence d'un élément absorbant du masque entre i e 15 la source d'irradiation et ledit pixel; e) pour au moins un pixel (20i3 E 20x,n) de la région d'analyse (D), situé dans la zone d'ombre d'analyse(20,42), à partir du spectre de diffusion pris en compte lors de l'étape c), estimation d'un spectre du rayonnement primaire (SPi E 20,cn) transmis par l'objet ; di détermination d'un écart (EISf f12 ) entre les spectres du rayonnement primaire résultant des étapes d) et e) ; répétition des étapes c) à f) en prenant en compte, lors de l'étape c), différents spectres de diffusion ; di f f détermination du spectre de diffusion (Sn ) minimisant l'écart déterminé lors de chaque étape f), le spectre de diffusion déterminé correspondant à la région d'analyse 25 sélectionnée (D); i) réitération des étapes b) à h) en sélectionnant, à chaque itération, différentes régions di f d'analyse (Dl de façon à déterminer autant de spectres de diffusion (Sn ) que de régions d'analyse ; j) à partir des spectres de diffusion (Sn ) resultant de l'étape i), association d'un spectre di f f , i f f 30 de diffusion (Sd ) à chaque pixel (20ii) et correction d'un spectre (S1,1) acquis lors de 20 f) g) h) 3065085 33 l'étape a) par au moins un pixel, en fonction du spectre de diffusion associé audit pixel, pour obtenir un spectre corrigé (S*w). 3. Procédé selon la revendication 1 ou la revendication 2, dans lequel l'étape d) comporte les sous-étapes suivantes : 5 di) soustraction du spectre de diffusion (Sdniff) pris en compte lors de l'étape c) au spectre mesuré, pour le pixel, lors de l'étape a) ; dii) application d'une matrice de passage (M,M') au spectre résultant de la sous-étape di), la matrice de passage prenant en compte l'atténuation d'un élément absorbant du masque. 10 4. Procédé selon la revendication 3, dans lequel la matrice de passage (M, M') est obtenue au cours d'une phase de calibration, au cours de laquelle l'objet (10) est remplacé par un objet de calibration (10k), la phase de calibration comportant les étapes suivantes : cal-i) formation d'une matrice diagonale (C), dite matrice d'atténuation, chaque terme de la diagonale représentant une atténuation par le masque dans une plage 15 d'énergie ; cal-ii) irradiation de l'objet de calibration et acquisition, par un pixel du détecteur de calibration du détecteur (20 ocalib dit pixel de calibration, d'un spectre (S calib) du rayonnement transmis par l'objet de calibration (10k) lorsque le masque est interposé entre la source et le détecteur; 20 d'un spectre (Si icalib) du rayonnement transmis par l'objet de calibration (10k) en l'absence de masque interposé entre la source et le détecteur; cal-iii) définition d'une matrice de passage (M) en appliquant une fonction de déformation (f) à une matrice (C-1) obtenue à partir de la matrice d'atténuation (C), la fonction de déformation dépendant de paramètres (a(p), fl(p)); 25 cal-iv) application de la matrice de passage (M) au spectre du rayonnement transmis par l'objet de calibration (S kjcalib) en présence du masque ; i, réitération des étapes cal-ii) à cal-iv) pour différents objets de calibration ; obtention des paramètres de la fonction minimisant un écart entre les spectres résultant de l'étape cal-iv) à chaque spectre (S iki icalib) du rayonnement transmis par 30 l'objet de calibration en l'absence du masque interposé entre la source et le détecteur. cal-v) cal-vi) 3065085 34 5. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel l'étape j) comporte pour chaque pixel (20ii eux) situé à l'intérieur d'une zone d'ombre (20x), les sous-étapes suivantes : ji) détermination d'un spectre primaire, dit spectre primaire atténué (S1 i E 20xj à partir 5 du spectre acquis, par le pixel, lors de l'étape a) en fonction du spectre de diffusion (Sr ) associé audit pixel lors de l'étape j); correction du spectre résultant de la sous-étape ji) en prenant en compte l'atténuation du masque, pour estimer un spectre primaire (SPid E 20,cn ) en l'absence de masque. 6. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel l'étape j) 10 comporte, pour chaque pixel (20Q Eux) situé à l'extérieur d'une zone d'ombre (20x), une i soustraction du spectre de diffusion (Sd ff ) associé audit pixel lors de l'étape i) au spectre acquis, par ledit pixel, lors de l'étape a). 7. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, comportant, suite à l'étape i), un lissage entre les spectres de diffusion (Sdiiif f ) associés respectivement à des pixels 15 différents. 8. Procédé selon l'une quelconque des revendications différentes, dans lequel à chaque région d'analyse (f),Q) est associé un pixel (20Q), le procédé étant mis en oeuvre sur les régions d'analyse associées à tout ou partie des pixels du détecteur. 9. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel chaque élément 20 absorbant (15x) est apte à absorber entre 5 % et 80 % du rayonnement auquel il est exposé, dans une bande d'énergie prédéterminée. 10. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel, le masque (15) s'étendant selon une surface, chaque élément absorbant est distant d'un autre élément absorbant d'une distance inférieure à 1 cm. 25 11. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel les étapes a) à j) sont mises en oeuvre selon une pluralité de configurations (C), à chaque configuration étant associée une position du détecteur et de la source par rapport à l'objet, de façon à obtenir, dans chaque configuration, pour une pluralité de pixels, un spectre corrigé (S*w), les spectres 3065085 corrigés de chaque configuration étant utilisés pour réaliser une reconstruction tomographique de l'objet (10). 12. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel les étapes a) à j) sont complétées par les étapes suivantes : 5 k) sélection d'au moins une énergie (E) ou une plage d'énergie (LE); I) réalisation d'une image, dont chaque pixel comprend une donnée obtenue à partir d'un spectre corrigé, associé à un pixel (2013) du détecteur, à ladite énergie (E) ou dans ladite plage d'énergie (iE). 13. Procédé selon la revendication 12, dans lequel lors de l'étape I) chaque pixel de l'image 10 comporte une information relative à une intégrale ou à une moyenne dudit spectre corrigé (S*11) dans ladite plage d'énergie (iE). 14. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le masque (15) est interposé entre la source d'irradiation (11) et l'objet (10). 15. Support d'enregistrement d'informations, comportant des instructions pour l'exécution des 15 étapes b) à j) du procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 14, à partir des spectres acquis lors de l'étape a), ces instructions étant aptes à être exécutées par un microprocesseur. 16. Dispositif pour l'acquisition de spectres d'un rayonnement transmis par un objet (10) comportant : une source d'irradiation (11), apte à émettre un rayonnement électromagnétique 20 ionisant, dit rayonnement incident (I°), vers ledit objet (10); un détecteur (20) comportant des pixels (20Q), chaque pixel étant configuré pour détecter un rayonnement (10) transmis par l'objet vers le détecteur, et à en acquérir un spectre (Sii) ; un masque (15), apte à être interposé entre la source (11) et l'objet (10), ledit masque 25 comportant des éléments absorbants (15x), aptes à absorber une partie dudit rayonnement incident (P), et dont une projection sur le détecteur définit des zones d'ombres (20x) distantes les unes des autres ; un processeur (21), configuré pour recevoir des spectres acquis par chaque pixel, et à mettre en oeuvre les étapes b) à j) du procédé objet de l'une quelconque des 30 revendications 1 à 14.