Brevet FR3064058A1 — publié le 20180921

Domaine de l'invention L'invention se rapporte à un système optique comprenant un premier élément avec un premier dimensionnement et un second élément avec un second dimensionnement. L'invention se rapporte également à un spectromètre mi- niature équipé d'un tel système optique et à un procédé d'analyse d'un objet avec un tel système optique. Etat de la technique Le document US 9 316 539 B1 décrit un spectromètre statique à transformée de Fourier. Le spectromètre statique à transfor- mée de Fourier comprend un diffuseur, un dispositif avec des cristaux à double réfraction et des polarisateurs qui génèrent des différences de marche ainsi qu'une lentille collectrice focalisant les rayons avec la même différence de marche sur un point. L'interférogramme que l'on obtient sur le détecteur est transformé par une transformation de Fourier. Exposé et avantages de l'invention L'invention a pour objet un système optique comprenant au moins un premier élément avec un premier dimensionnement et, au moins un second élément avec un second dimensionnement, le système étant caractérisé en ce que le premier élément et le second élément sont voisins vis-à-vis d'un rayonnement électromagnétique incident, le premier élément décale d'une première valeur une première phase, d'une première partie du rayonnement électromagnétique incident suivant l'angle d'incidence, le second élément décale d'une seconde valeur, une seconde phase d'une seconde partie d'un rayonnement électromagnétique incident suivant un angle d'incidence, la seconde valeur étant différente de la première valeur. Les informations spectrales d'un objet peuvent être obte- nues à partir du rayonnement électromagnétique venant de l'objet, par exemple, à partir d'un rayonnement électromagnétique émis par l'objet réfléchi par celui-ci, transmis par l'objet et/ou diffracté par l'objet en ce que le rayonnement électromagnétique est, par exemple, reçu et exploité par un spectromètre. Un exemple de spectromètre est le spectromètre à transformée de Fourier. Les spectromètres à transformée de Fourier 3064058 2 peuvent à tout instant émettre, réfléchir, transmettre et/ou participer à un rayonnement électromagnétique diffracté dans le rayonnement électromagnétique donnant le signal de mesure du spectromètre par des spectromètres à transformée de Fourier. Cela permet, à l'aide du rap- 5 port signal/bruit, d'améliorer les spectromètres à transformée de Fou- rier par rapport aux autres spectromètres et de réduire la durée nécessaire à une mesure. De tels spectromètres sont fondés sur le principe de l'information spectrale provenant d'un interférogramme. Tout d'abord, entre deux rayons on génère un déphasage respectif associé à 10 une différence de marche. Ensuite, on regroupe les rayons pour qu'ils dépendent des fréquences contenues dans les rayons et on interfère avec la différence de marche. Cela permet, par exemple, de générer un interférogramme. La transformée de Fourier permet, à partir de là, de déterminer un spectre pour recueillir des informations spectrales con- 15 cernant l'objet. Un avantage de l'invention avec les caractéristiques définies ci-dessus est que le système optique a une grande robustesse mécanique et métrologique. Un autre avantage est que le système optique a une construction très compacte ce qui permet ainsi de miniaturiser le 20 système optique. En outre, le système optique peut être intégré de ma- nière simple et peu encombrante dans un spectromètre miniature. De plus, le système optique est d'une fabrication économique. Comme déjà indiqué et en d'autres termes, l'invention a pour objet un système optique comportant au moins un premier élé- 25 ment avec un premier dimensionnement et au moins un second élé- ment avec un second dimensionnement. Le système optique se caractérise en ce que le premier et le second éléments sont voisins par rapport à la direction d'incidence du rayonnement électromagnétique de sorte que le premier élément décale d'une première valeur, une première 30 phase d'une première partie du rayonnement électromagnétique arri- vant selon un angle d'incidence, et que le second élément décale d'une seconde valeur, une seconde phase d'une seconde partie du rayonnement incident arrivant selon l'angle d'incidence, la seconde valeur étant différente de la première. Le système optique permet ainsi avantageu- 35 sement d'avoir une première partie et une seconde partie qui, après 3064058 3 l'arrivée sur le système optique ont un déphasage l'une par rapport à l'autre. Si le rayonnement électromagnétique arrive avec des angles d'incidence différents sur le système optique, les rayons avec le même angle d'incidence et qui ont traversé des éléments différents, seront dé- 5 phasés l'un par rapport à l'autre après l'arrivée sur le système optique, ce qui permet de leur associer une différence de marche. Ce déphasage relatif dépend en conséquence de l'angle d'incidence. Cela permet de générer avec le système optique, avantageusement des différences de marche sans nécessiter de pièce mécanique mobile. Ainsi, le système 10 optique a une plus grande robustesse mécanique. De plus, on pourra générer avec une précision plus élevée, des différences de marche avantageuses et améliorer la fiabilité des mesures dépendant des différences de marche. Selon un développement, le premier élément a une pre- 15 mière épaisseur et le second élément une seconde épaisseur, la pre- mière épaisseur et la seconde épaisseur étant différentes. En variante ou en complément, le premier élément est dans une première matière ayant un premier indice de réfraction et le second élément en une seconde matière ayant un second indice de réfraction différent du pre- 20 mier. Cette solution a l'avantage d'utiliser des éléments statiques compacts et de réaliser ainsi un système optique mécaniquement et métrologiquement robuste. Selon un autre développement, sur une première surface du système optique, on réalise une ou plusieurs couches réfléchissantes 25 qui réfléchissent le rayonnement électromagnétique arrivant sur le sys- tème optique, ce qui a l'avantage de réduire les pertes par absorption ou plutôt par des transmissions non voulues ou des réflexions (selon l'utilisation du spectromètre FT) dans le système optique. A titre d'exemple, la première surface du système optique comporte une pile de 30 couches diélectriques adaptées angulairement. Un avantage d'un spectromètre miniature comportant au moins un système optique tel que défini ci-dessus est qu'il convient pour recevoir le rayonnement électromagnétique venant d'un objet et de comporter au moins une unité de détection pour fournir un interféro- 35 gramme de l'objet et au moins une unité de focalisation dans le chemin 3064058 4 du rayon entre le système optique et l'unité de détection de sorte que le spectromètre miniature est compact et économique à réaliser ; en outre il est mécaniquement et métrologiquement très robuste. Avantageusement, toutes les longueurs d'onde pourront être mesurées simultané- 5 ment ce qui réduit le temps de mesure. De plus, les résultats des mesures faites par le spectromètre miniature ont un bon rapport signal /bruit. Un spectromètre miniature est un spectromètre dont les dimensions se situent dans le domaine du centimètre, ce qui englobe également des dimensions inférieures au domaine centimétrique. 10 Selon un développement, l'unité de détection comporte une unité de calcul pour déterminer un spectre de l'objet à partir de l'interférogramme ce qui permet de déterminer une information spectrale telle que, par exemple, la composition chimique d'un produit ou des informations relatives à des mélanges de matière dans un objet et 15 cela avec une très grande fiabilité. Selon une forme de réalisation, l'unité de focalisation comprend un réseau de microlentilles, ce qui a l'avantage de pouvoir réaliser de manière économique et simple le réseau de microlentilles qui est peu encombrant dans un spectromètre miniature et permet ainsi de 20 miniaturiser le spectromètre. Un autre avantage est qu'en cas où plu- sieurs systèmes optiques différents quant à la direction d'incidence sont juxtaposés, le rayonnement électromagnétique qui arrive sur le système optique pourra alors être conduit avec une unité de focalisation simple sur l'unité de détection. Cela augmente la robustesse mécanique et la 25 fiabilité des résultats de mesure du spectromètre miniature. Selon un développement, dans le chemin du rayon entre l'objet et le système optique on a un diffuseur, ce qui a l'avantage de permettre une répartition régulière de l'angle d'incidence du rayonnement électromagnétique. De plus, on aura ainsi une répartition régu- 30 hère de la lumière dans les différentes plages et comme décrit ci-dessus, on aura une répartition régulière de l'angle d'incidence. En particulier, l'utilisation du diffuseur permet de découpler la répartition de l'angle d'incidence dans le spectromètre miniature par rapport à la répartition de l'angle d'incidence de la lumière incidente arrivant sur le spectro- 35 mètre miniature. 3064058 5 Selon une forme de réalisation, le spectromètre miniature a un premier système optique tel que décrit ci-dessus et un second système optique également comme ceux décrits ci-dessus, le premier système optique et le second système optique générant des déphasages 5 différents pour un même angle d'incidence. En particulier, le rayonne- ment électromagnétique, après son arrivée sur le premier système optique a une première différence de marche et le rayonnement électromagnétique arrivant sur le second système optique selon un angle aura une seconde différence de marche. Cela permet avantageu- 10 sement d'obtenir des interférogrammes présentant une grande diffé- rence de marche et à partir desquels à l'aide de la transformation de Fourier on pourra obtenir un spectre optique avec une bonne résolution des longueurs d'onde. L'invention a également pour objet un procédé d'analyse 15 d'un objet à l'aide d'un spectromètre miniature consistant à générer des déphasages différents d'un rayonnement électromagnétique arrivant sur le système optique, le déphasage dépendant de l'angle d'incidence du rayonnement électromagnétique arrivant sur le système optique ; réunir les composants du rayonnement électromagnétique correspondant 20 au même angle d'incidence après l'arrivée sur le système optique et donnant un interférogramme, déterminer un spectre ou une information spectrale à partir de l'interférogramme pour l'analyse de l'objet. Ainsi, le procédé permet avantageusement d'enregistrer l'interférogramme dans une plage étendue de différences de marche 25 pour obtenir un spectre optique avec une bonne résolution pour les longueurs d'onde. Un autre avantage est d'obtenir un bon rapport signal / bruit et d'augmenter ainsi la précision et la sensibilité de la mesure pour l'analyse des objets. Dessins 30 La présente invention sera décrite ci-après, de manière plus détaillée à l'aide d'exemples de réalisation de systèmes optiques selon l'invention représentés dans les dessins annexés dans lesquels : la figure 1 est une section d'un système optique comportant un premier élément ayant une première épaisseur et un second élément 35 ayant une seconde épaisseur, différente de la première épaisseur, 3064058 6 la figure 2 est une section d'un système optique ayant un premier élément ayant une première matière avec un premier indice de réfraction et un second élément qui a en partie une seconde matière avec un second indice de réfraction, différent du premier indice de 5 réfraction, la figure 3 montre une section d'un système optique ayant un premier élément et un second élément ayant des teneurs différentes en une première matière avec un premier indice de réfraction et une seconde matière avec un second indice de réfraction différent du 10 premier indice de réfraction, la figure 4 est une section d'un système optique ayant un premier élément en une première matière avec un premier indice de réfraction et un second élément en une seconde matière avec un second indice de réfraction différent du premier indice de réfraction, 15 la figure 5 est une section d'un système optique ayant un revête- ment réfléchissant sur un premier côté du système optique, la figure 6 est une section d'un spectromètre miniature avec un système optique, une unité de focalisation et une unité de détection, la figure 7 est une section d'un spectromètre miniature avec un dif- 20 fuseur entre l'objet et le système optique, la figure 8 est une section d'un spectromètre miniature dont le système optique est muni d'un revêtement réfléchissant, la figure 9 est une section d'un spectromètre miniature comportant plusieurs systèmes optiques juxtaposés selon la direction 25 d'incidence et qui diffèrent l'un de l'autre, et la figure 10 montre le déroulement d'un procédé d'analyse d'un objet. Description de modes de réalisation de l'invention La figure 1 montre une section d'un exemple de réalisa- 30 tion d'un système optique 100 composé d'un premier élément 1 et d'un second élément 2. Le premier élément 1 a un premier dimensionnement et le second élément 2 a un second dimensionnement. Un dimensionnement d'un élément 1, 2 comprend la matière et les dimensions de l'élément. Dans cet exemple de réalisation, les dimensionnements du 35 premier élément 1 et du second élément 2 diffèrent par la mesure paral- 3064058 7 lèle à la direction z de la figure 1. Cette mesure parallèle à la direction z sera appelée ci-après "épaisseur". L'épaisseur du premier élément 1 est appelée première épaisseur 1'; l'épaisseur du second élément 2 est appelée seconde épaisseur 2'. Dans l'exemple de réalisation de la figure 1, 5 la première épaisseur 1' est inférieure à la seconde épaisseur 2'. Le premier élément 1 et le second élément 2 sont réalisés dans la même matière. Dans un autre exemple de réalisation non présenté ici, le premier élément 1 et le second élément 2 sont au moins partiellement dans des matières différentes. 10 De tels exemples de réalisation sont, par exemple, donnés à la figure 2, à la figure 3 et à la figure 4 qui seront décrites ensuite. Le premier élément 1 et le second élément 2 sont l'un à côté de l'autre par rapport à la direction incidente du rayonnement électromagnétique 10', 10" c'est-à-*dire que ces éléments sont voisins l'un de l'autre. La direc- 15 tion incidente caractérise de façon générale la direction du rayonnement électromagnétique 10', 10" sur le système optique 100. Le fait que le premier élément 1 et le second élément 2 soient voisins l'un par rapport à l'autre vis-à-vis de la direction incidente signifie notamment que le système optique 100 est réalisé pour que le rayonnement électromagné- 20 tique 10', 10" qui rencontre le système optique 100 et qui est transmis par le système optique 100 comme le montre à titre d'exemple les figure 1- 4, a une première partie 10' du rayonnement électromagnétique qui ne traverse que le premier élément 1 et une seconde partie 10" du rayonnement électromagnétique qui ne traverse que le second élé- 25 ment 2. Au cas où le rayonnement électromagnétique 10', 10" arrivant sur le système optique 100 est réfléchi par le système optique 100, cela signifie que le premier élément 1 et le second élément 2 sont voisins l'un de l'autre par rapport à la direction incidente de façon qu'il existe une première partie 10' du rayonnement électromagnétique qui n'arrive que 30 sur le premier élément 1 et une seconde partie 10" du rayonnement électromagnétique qui n'arrive que sur le second élément 2 comme cela est, par exemple, montré à la figure 5. Le fait que le premier élément 1 et le second élément 2 soient voisins l'un de l'autre par rapport à la direction incidente signifie qu'il existe une première partie 10' du rayon- 35 nement électromagnétique arrivant sur le système optique 100 qui 3064058 8 n'arrive que sur le premier élément 1 et une seconde partie 10" du rayonnement électromagnétique qui arrive sur le système optique 100 et qui ne rencontre que le second élément 2. L'expression "être voisins par rapport à la direction incidente" signifie notamment que cela est dif- 5 férent de "disposés l'un derrière l'autre dans la direction incidente". L'expression "disposés l'un derrière l'autre dans la direc- tion incidente" signifie que le rayonnement électromagnétique rencontre d'abord un premier élément et ne rencontre le second élément que si le rayonnement électromagnétique est transmis par le premier élément. 10 A la figure 1, le système optique 100 est dans un plan pa- rallèle au plan x-y. Le système optique 100 de cet exemple de réalisation comprend cinq premiers éléments 1 et cinq seconds éléments 2 ; les éléments 1 et 2 sont l'un à côté de l'autre dans le plan parallèle au plan x, y. Entre chaque fois deux premiers éléments 1 on a un second élé- 15 ment 2, ce qui donne une succession périodique d'un premier et d'un second éléments 1 2. A la figure 1, le rayonnement électromagnétique 10', 10" arrive sur le système optique 100 suivant un angle d'incidence 3. L'angle d'incidence est pris par rapport au plan x, y et a, par exemple, une valeur comprise entre 00 et 180°, ce qui correspond à la 20 figure 1 à la direction incidente au-dessus du système optique 100 ou à une valeur comprise entre 0° et -180° ce qui, à la figure 1, correspond à une direction incidente venant de dessous du système optique 100 (ce cas n'est pas représenté). Le rayonnement électromagnétique 10', 10" arrivant sur 25 le système optique 100 est représenté à la figure 1 à titre d'exemple par deux flèches qui schématisent le tracé du rayonnement électromagnétique 10', 10" à travers le système optique. Une première partie 10' du rayonnement électromagnétique qui rencontre le système optique 100 suivant l'angle d'incidence 3 traverse le premier élément 1 ayant la 30 première épaisseur 1'. Le système optique 100 est réalisé en une autre matière que le milieu entourant le système optique 100. En particulier, la matière du système optique 100 a un indice de réfraction différent de celui du milieu qui l'entoure. La première partie 10' du rayonnement électro- 35 magnétique change sa direction d'expansion à l'entrée dans le premier 3064058 9 élément 1 (ce cas n'est pas représenté) suivant la loi de réfraction de Descartes car le premier élément 1 a un autre indice de réfraction que le milieu qui l'entoure. A la sortie du premier élément 1, la première partie 10' est de nouveau réfractée suivant la loi de réfraction de Des- 5 cartes et change de nouveau de direction de développement (ce cas n'est pas représenté). La première partie avant son arrivée sur le système op- tique 100, et la première partie 10' après son passage du premier élément 1 sont parallèles. C'est pourquoi la première partie a une première 10 phase qui, par rapport au rayonnement qui traverse le système optique 100, sans réfraction, est décalée d'une première valeur, c'est-à-dire d'une différence entre la première phase et la seconde phase du rayon non réfracté. La première valeur dépend entre autre de la première épaisseur 1', de l'indice de réfraction du premier élément 1 et de l'angle 15 d'incidence 3. De façon analogue, la seconde partie 10" du rayonnement électromagnétique 10" est transmise par le second élément 2. La seconde partie 10" du rayonnement électromagnétique qui arrive sur le système optique 100 suivant l'angle d'incidence 3, traverse le second élément 2 qui a une seconde épaisseur 2' différente de 20 la première épaisseur 1'. La seconde partie 10" du rayonnement élec- tromagnétique change sa direction de développement (non représentée) à l'entrée dans le second élément 2 en application de la loi de réfraction de Descartes car le second élément 2 a un autre indice de réfraction que le milieu qui l'entoure comme cela a été indiqué ci-dessus. A la sortie du 25 second élément 2, la seconde partie 10" sera réfractée suivant la loi de réfraction de Descartes et change de nouveau de direction de développement (cas non représenté). La seconde partie 10" avant son arrivée sur le système optique 100 et la seconde partie 10" après le passage du second élément sont des directions parallèles. C'est pourquoi la seconde 30 partie 10" après son arrivée sur le système optique 100 a une seconde phase qui, par rapport au rayon qui traverse le système optique 100 sans réfraction, sera décalée d'une seconde valeur, c'est-à-dire de la différence entre la seconde phase et la phase du rayon non diffracté. La seconde valeur dépend entre autre de la seconde épaisseur 2', de 35 l'indice de réfraction du second élément 2 et de l'angle d'incidence 3. Le 3064058 10 premier élément 1 est réalisé pour que la première phase de la première partie 10' du rayonnement arrivant suivant l'angle d'incidence 3 soit décalée par rapport au rayon non réfracté selon la première valeur ; le second élément est réalisé pour que la seconde phase de la seconde 5 partie 10" du rayon qui arrive suivant l'angle d'incidence, soit décalée de la seconde valeur par rapport au rayon non réfracté. La seconde valeur est différente de la première valeur si bien que la première partie 10' et la seconde partie 10" arrivant suivant le même angle d'incidence 3 et avec la même phase sur le système op- 10 tique 100, après passage du système optique 100 auront un déphasage l'une par rapport à l'autre. Ce déphasage relatif correspond à la différence de marche entre la première partie 10' et la seconde partie 10". Le déphasage relatif dépend de la différence entre la première épaisseur 1' et la seconde épaisseur 2', de l'indice de réfraction du système optique 15 et de l'angle d'incidence 3. En conséquence, le rayonnement électroma- gnétique qui arrive sous un angle différent de l'angle d'incidence 3 sur le même système optique 100, après avoir traversé le système optique 100 aura une différence de marche modifiée. A l'aide du système optique 100 on peut par conséquence générer des différences de marche 20 selon l'angle d'incidence 3. Certains exemples de matière pour les élé- ments 1, 2 sont notamment différents diélectriques tels que par exemple des vernis (poly-méthyle-méthacrylate (PMMA), SU-8, Fotolack), fluorure de magnésium, différents verres ou silicium, etc. Les dimensions des éléments 1, 2 dans la surface peuvent être de quelques 25 millimètres, par exemple, de l'ordre de 0,1 mm - 10 mm. La hauteur peut être choisie selon la différence de marche souhaitée. Les différences de marche peuvent aller de quelques dizaines de microns jusqu'à quelques centaines de microns selon la résolution. La figure 2 montre une section d'un système optique 100. 30 A la différence du système optique 100 de la figure 1, dans celui-ci, le premier élément 1 et le second élément ont la même épaisseur. Le premier élément comprend une première matière 1" ayant un premier indice de réfraction et une seconde matière 2" est réalisée par-dessus avec un second indice de réfraction ; le premier indice de réfraction et le 35 second indice de réfraction sont différents. Le second élément 2 de cet 3064058 11 exemple de réalisation est dans une seconde matière 2" ayant le second indice de réfraction. La première partie 10' du rayonnement électromagnétique qui arrive sur le premier élément 1 sous l'angle d'incidence 3, change de direction de développement (non représenté) dans le premier 5 élément 1 selon la loi de réfraction de Descartes car le premier élément 1 a un autre indice de réfraction que le milieu qui l'entoure. Au passage de la première matière 1" vers la seconde matière 2", comme les indices de réfraction des deux matières 1", 2" sont différentes, la direction de développement sera également changée. 10 Après le passage de la seconde matière 2", la première partie 10" sera de nouveau réfractée suivant la loi de réfraction de Descartes car le rayon sortant de la seconde matière 2" ayant le second indice de réfraction entre dans la première matière 1" avec le premier indice de réfraction et change ainsi de nouveau de direction de dévelop- 15 pement (non représenté). La première partie 10' avant son arrivée sur le premier élément 1 et cette première partie 10' après le passage du premier élément 1 sont dans des directions parallèles. C'est pourquoi, la première partie 10' a une première phase qui, par rapport au rayon qui traverse le système optique 100, sans réfraction est décalé d'une pre- 20 mière valeur, c'est-à-dire d'une différence entre la première phase et la phase du rayon non réfracté. La première valeur dépend entre autre de l'épaisseur de la couche de la première matière 1" et de l'épaisseur de la couche de la seconde matière 2" du premier élément 1 et de l'angle d'incidence 3. 25 De façon analogue, la seconde partie 10" du rayonnement électromagnétique sera transmise par le second élément 2 comme cela a été décrit ci-dessus pour la figure 1. La seconde partie 10" après le passage du second élé- ment 2 a une seconde phase qui est décalée par rapport à un rayon tra- 30 versant le système optique 100, sans réfraction, d'une seconde valeur, c'est-à-dire de la différence entre la seconde phase et la phase du rayon non réfracté. La seconde valeur dépend entre autre de l'épaisseur du second élément 2, de l'indice de réfraction du second élément 2 et de l'angle d'incidence 3. Le premier élément 1 décale la première phase de 35 la première partie 10' arrivant sous l'angle d'incidence 3 de la première 3064058 12 valeur et le second élément décale la seconde phase de la seconde partie 10" du rayonnement arrivant selon l'angle d'incidence, d'une seconde valeur. La seconde valeur est différente de la première valeur. Ainsi, la première partie 10' et la seconde partie 10" qui arrivent suivant le 5 même angle d'incidence 3 et avec la même phase sur le système optique 100, après avoir traversé le système optique 100 auront un décalage de phase l'un par rapport à l'autre. Ce déphasage relatif correspond à une différence de marche entre la première partie 10' et la seconde partie 10". 10 Le déphasage relatif dépend de l'épaisseur de la couche de la première matière 1" et de l'épaisseur de la couche de la seconde matière 2" dans le premier élément 1, de l'indice de réfraction des éléments 1, 2 et de l'angle d'incidence 3. En conséquence, le rayonnement électromagnétique qui arrive sur le système optique 100 de la figure 1 15 suivant un angle d'incidence 3 différent, après avoir traversé le système optique 100 présente une différence de marche modifiée. Le système optique 100 permet ainsi de générer des différences de marche en fonction de l'angle d'incidence 3. L'angle d'incidence 3 est pris par rapport au plan (x, y) de la figure 2 comme a été le cas à la figure 1. La figure 2 20 montre, à titre d'exemple, un rayonnement incident arrivant du dessus du système optique 100. En variante ou en complément on peut également générer une différence de marche avec un rayonnement incident arrivant par le dessous en fonction de l'angle d'incidence 3. La figure 3 montre une section d'un système optique 100. 25 A la différence du système optique de la figure 2, dans le cas présent, le premier élément 1 et le second élément 2 ont chacun une couche en une première matière 1" ayant un premier indice de réfraction et aussi une couche en une seconde matière 2" avec un second indice de réfraction. L'épaisseur de la couche dans la première matière 1" de cet 30 exemple de réalisation dans le premier élément 1 est supérieure à l'épaisseur de la couche de la première matière 1" dans le second élément 2. L'épaisseur de la couche de la seconde matière 2" dans le premier élément 1 est inférieure à l'épaisseur de la couche de la seconde matière 2" dans le second élément 2. A la figure 3 l'épaisseur du pre- 35 mier élément et celle du second élément sont choisies identiques. En 3064058 13 variante, le premier élément 1 et le second élément 2 peuvent avoir des épaisseurs différentes comme cela a été cas à la figure 1. Selon un exemple de réalisation non représenté ici, le se- cond élément est en une troisième matière ayant un troisième indice de 5 réfraction différent du premier indice de réfraction et du second indice de réfraction. La figure 4 montre une section d'un système optique 100. Le premier élément 1 est en une première matière 1" ayant un premier indice de réfraction ; le second élément est en une seconde matière 2" 10 ayant un second indice de réfraction. Le premier élément 1 et le second élément 2 ont la même épaisseur. En variante et de façon analogue à la figure 1, les épaisseurs peuvent être différentes. Le déphasage relatif de la première partie 10' et de la seconde partie 10" qui arrive suivant le même angle d'incidence sur le premier élément 1 et sur le second élé- 15 ment 2 dépend dans le système optique 100 présenté à la figure 4 de la différence entre le premier indice de réfraction et le second indice de réfraction ainsi que de l'angle d'incidence 3. En variante ou en complément, le système optique 100 peut également avoir à chaque fois plus de cinq premiers éléments 1 et 20 de cinq seconds éléments 2 ou encore avoir moins de cinq premiers éléments 1 et de cinq seconds éléments 2. Dans l'exemple de réalisation, le nombre de premiers éléments 1 peut être différent du nombre de seconds éléments 2. A titre d'exemple, on peut avoir chaque fois entre deux premiers éléments 1, plusieurs seconds éléments 2 ou encore une 25 suite non périodique composée de premiers et de seconds éléments 1, 2. Aux figures 1 à 5 les premiers et seconds éléments 1, 2 sont séparés en partie par des traits interrompus. Cela signifie que les éléments 1, 2 peuvent être réalisés séparément ou en une seule pièce. En variante ou en complément les premiers éléments 1 et les seconds éléments 2 peu- 30 vent être décalés l'un par rapport à l'autre partiellement dans la direc- tion z (cette situation n'est pas représentée). La figure 5 montre une section d'un système optique. La disposition des premiers éléments 1 et des seconds éléments 2 est analogue à celle de la figure 1. Le premier côté 5 du système optique 100 35 est muni d'une couche réfléchissante 4. La couche réfléchissante ou 3064058 14 couche de réflexion 4 comprend, par exemple, une ou plusieurs couches métalliques, par exemple, en aluminium ou en or. En variante ou en complément la couche réfléchissante 4 peut être une pile de couches diélectriques avec adaptation angulaire (réflecteur de Bragg distribué). 5 Le rayonnement électromagnétique arrive sous l'angle d'incidence 3 sur la couche réfléchissante 4 du système optique 100. La première partie 10' du rayonnement électromagnétique arrive sur la couche réfléchissante 4 du premier élément 1 ; la seconde partie 10" du rayonnement électromagnétique arrive sur la couche réfléchissante 4 sur le second 10 élément 2. Comme la première épaisseur 1' du premier élément 1 est inférieure à la seconde épaisseur 2' du second élément 2, la première partie 10' parcourt un chemin plus long avant d'arriver sur la couche réfléchissante 4 que la seconde partie du rayonnement 10". La première partie 10' et la seconde partie 10" sont réfléchies respectivement par la 15 couche réfléchissante 4 et après la réflexion, elles sont parallèles. Avant de rencontrer le système optique 100, la phase de la première partie 10' et celle de la seconde partie 10" sont identiques. Par réflexion, la première partie 10' et la seconde partie 10" subissent un changement de phase de 180°. De ce fait, comme 20 dans l'exemple de réalisation de la figure 5, la première partie parcourt un chemin plus long que la seconde partie 10", la première phase de la première partie 10' et la seconde phase de la seconde partie 10" diffèrent l'une de l'autre après la réflexion. Le premier élément 1 décale la première phase de la première partie 10' du rayonnement arrivant sui- 25 vant l'angle d'incidence 3 d'une première valeur ; le second élément dé- cale la seconde phase de la seconde partie 10" du rayonnement arrivant sous l'angle d'incidence d'une seconde valeur. La seconde valeur est ici égale à 180° du fait de la variation de phase produite par la réflexion. La seconde valeur est différente de la première valeur car la première partie 30 parcourt un chemin plus long à cause des épaisseurs différentes 1', 2' des éléments 1, 2. Ainsi, la première partie 10' et la seconde partie 10" qui arrivent suivant le même angle d'incidence 3 et avec la même phase sur le système optique 100, après avoir traversé le système optique 100 ont un déphasage relatif. Ce déphasage relatif correspond à une diffé- 35 rence de marche entre la première partie 10' et la seconde partie 10". 3064058 15 Le déphasage relatif dépend de la différence entre la première épaisseur 1' et la seconde épaisseur 2' ainsi que de l'angle d'incidence 3. En conséquence, le rayonnement électromagnétique qui arrive sur le système optique 100 de la figure 5 suivant un angle diffé- 5 rent de l'angle d'incidence 3, aura, après réflexion sur le système op- tique 100 une différence de marche modifiée. Le système 100 permet en conséquence de générer des différences de marche en fonction de l'angle d'incidence 3. La figure 6 montre une section d'un spectromètre minia- 10 ture 200. Le spectromètre miniature 200 comprend le système optique 100, une unité de détection 202 et une unité de focalisation 201 le tout installé dans le trajet du rayon entre le système optique 100 et l'unité de détection. L'unité de détection 202 de cet exemple de réalisation comprend un détecteur 202' et une unité de calcul 202". Le système 15 optique 100 reçoit le rayonnement venant d'un objet. Le rayonnement électromagnétique venant de l'objet est, par exemple, un rayonnement électromagnétique émis par l'objet, réfléchi par celui-ci, transmis par celui-ci et/ou diffracté par celui-ci. Dans l'exemple de réalisation de la figure 6, on utilise un système optique 100 ayant des éléments 20 d'épaisseurs différentes comme le montre, par exemple, la figure 1. En variante ou en complément, on peut, par exemple, utiliser un système optique comme celui des figures 2 à 5. Le micro-spectromètre miniature 200 peut être utilisé comme spectromètre de transformée de Fourier. Le rayonnement 10 issu de l'objet peut arriver sur le système optique 100 25 suivant des angles d'incidence 3, différents. Lorsque deux rayons lumi- neux passent avec un angle d'incidence perpendiculaire dans le système optique 100, d'une part sur un élément épais et d'autre part sur un élément mince 1, 2, ils auront une différence de marche fixe qui dépend de la différence des épaisseurs 1', 2' entre les deux éléments 1, 2 du 30 système optique 100 et de l'indice de réfraction des éléments 1, 2. Si les deux rayons n'arrivent plus dans la direction perpendiculaire sur le système optique 100, mais avec un angle d'incidence 3, on aura en plus une différence de marche dépendant de l'angle. La cause est que pour une incidence inclinée, la différence de marche et 35 ainsi la différence de chemin optique entre les deux rayons augmente. 3064058 16 La figure 6 montre, à titre d'exemple, un rayonnement optique arrivant suivant deux angles d'incidence 3, différents sur le système optique 100. Le rayonnement 10 arrivant de l'objet se compose ici d'un premier rayonnement 10', 10" qui arrive suivant un premier angle d'incidence 3 5 sur le système optique 100 et d'un second rayonnement 101', 101" qui arrive suivant un angle droit, c'est-à-dire avec une incidence perpendiculaire sur le système optique. Le premier rayonnement 10', 10" traverse le système optique 100 et la première partie 10' du premier rayonnement arrive sur le premier élément 1 et la seconde partie 10" du 10 premier rayonnement arrive sur le second élément 2. Après traversée du système optique 100, la première partie 10' et la seconde partie 10" du premier rayonnement ont une différence de marche comme cela a été décrit ci-dessus. L'unité de focalisation 201 est, par exemple, une lentille collectrice. De plus, les rayons parallèles traversent le plan focal de 15 la lentille collectrice en un point commun. Le détecteur 202' est installé dans le plan focal de la lentille. Dans cet exemple de réalisation, le détecteur 202' est sous la forme d'un réseau de détecteurs, c'est-à-dire que le détecteur se compose de plusieurs capteurs voisins qui permettent de détecter le rayonnement électromagnétique. Comme la première 20 partie 10' et la seconde partie 10" du premier rayonnement sont paral- lèles, ces parties traversent l'unité de focalisation 201 et arrivent en un point commun dans le plan focal de l'unité de focalisation 201. La première partie 10' et la seconde partie 10" du premier rayonnement interfèrent au point commun en fonction des fréquences des parties 10', 10" 25 et selon la différence de marche générée par le système optique 100. Le capteur qui se trouve à ce point commun dans le plan focal comme partie du réseau de détecteurs 202' détecte l'interférence des parties 10', 10" du premier rayonnement. Le second rayonnement comprend également une première partie 101' qui arrive sur le premier 30 élément 1 du système optique 100 et une seconde partie 101" qui arrive sur le second élément du système optique 100. Comme décrit ci-dessus, la première partie 101' et la seconde partie 101" du second rayonnement, après avoir traversé le système optique 100 avec une différence de marche, sont parallèles. L'unité de focalisation 201 focalise la pre- 35 mière partie 101 et la seconde partie 101" en un point commun dans le 3064058 17 plan focal. La première partie 101' et la seconde partie 101" du second rayonnement interfèrent en un point commun en fonction des fréquences des parties 101', 101" et de la différence de marche générée par le système optique 100. Le capteur qui se trouve au point commun du 5 plan focal comme partie du détecteur 202' détecte les interférences des parties 101', 101" du second rayonnement. Comme l'angle d'incidence du premier rayonnement 10', 10" et du second rayonnement 101', 101" diffèrent l'un de l'autre, ils arrivent sur des points différents du détecteur 202'. Pour chaque angle d'incidence ou chaque différence de 10 marche le capteur du détecteur 202' capte une intensité. Le détecteur est conçu pour enregistrer à l'aide du rayonnement électromagnétique sortant du système optique 100, un interférogramme 203 en particulier un interférogramme à résolution de position de l'objet. L'unité de calcul reçoit les données du détecteur 202'. L'unité de calcul 202" peut être 15 reliée au détecteur 202' solidairement ou par une liaison sans fil. En particulier, le détecteur 202' peut transmettre l'interférogramme mesuré 203 ou les données découlant de l'interféromètre 203 à l'unité de calcul 202". L'unité de calcul 202" calcule le spectre 204 de l'objet par 20 une transformée de Fourier à partir de l'interférogramme 203. En va- riante ou en complément, l'unité de calcul 202" détermine une information spectrale à partir de l'interférogramme 203. Les informations spectrales comprennent, par exemple, la composition chimique d'un produit ou des informations relatives à l'existence d'une certaine com- 25 binaison chimique dans l'objet. Le spectre 204 ou l'information spec- trale sont émis, par exemple, par une unité de sortie optique ou acoustique tel qu'un afficheur d'un terminal mobile, un haut-parleur ou autre dispositif de sortie ou/et être reliés par une transmission de données à d'autres appareils ou au réseau internet. 30 La figure 7 montre une section d'un spectromètre minia- ture 200. Le rayonnement électromagnétique venant de l'objet 7 arrive souvent avec une variation angulaire relativement régulière (avant tout pour les petits angles par rapport à la perpendiculaire au système optique 100) sur le spectromètre miniature 200. Si cela n'est pas suffisant 35 on peut installer dans le chemin du rayonnement entre l'objet 7 et le 3064058 18 système optique 100 un diffuseur 6 comme représenté à la figure 7 pour arriver à une répartition régulière de l'angle d'incidence. La figure 8 est une section d'un spectromètre miniature 200 avec une géométrie par réflexion. L'objet 7 d'où arrive le rayonne- 5 ment et l'unité de détection 202 sont situés du même côté par rapport au système optique 100. Le premier côté 5 du système optique 100 porte une couche réfléchissante 4. La couche réfléchissante 4 se compose, par exemple, d'une ou plusieurs couches métalliques en aluminium ou en or. En variante ou en complément, la couche réfléchissante 10 4 est une pile de couches diélectriques, adaptées angulairement (réflec- teur de Bragg, distribué). Le rayonnement qui arrive sur la couche réfléchissante 4 est réfléchi et tombe sur l'unité de focalisation 201 qui focalise le rayonnement électromagnétique sur le réseau de détecteurs 202'. La figure esquisse le tracé du rayonnement électromagnétique 15 pour deux angles d'incidence différents 3, 30 qui arrivent sur des points différents du détecteur 202' à cause de leur angle d'incidence différent 3, 30. La figure 9 montre un détail de la section du spectro- mètre miniature 200. Le spectromètre miniature 200 comprend plu- 20 sieurs systèmes optiques. La figure 9 montre, à titre d'exemple, un détail comportant un premier système optique 1001, un second système optique 1002 et un troisième système optique 1003 ; ces systèmes optiques sont juxtaposés par rapport à la direction du rayonnement incident dans le chemin du rayon. Pour les mêmes angles d'incidence 3 du 25 rayonnement électromagnétique, les systèmes optiques 1001, 1002, 1003 génèrent des déphasages différents. Dans l'exemple de réalisation de la figure 9, le déphasage dépend entre autre de la différence entre la première épaisseur 1' et la seconde épaisseur 2' des systèmes optiques 1001, 1002, 1003 ; les systèmes optiques 1001, 1002, 1003 sont instal- 30 lés dans ce cas comme cela est présenté à la figure 1. En variante ou en complément, on peut également réaliser un, plusieurs ou tous les systèmes optiques 1001, 1002, 1003 selon les autres exemples de réalisation décrits ci-dessus ou sous d'autres formes de réalisation. A la figure 9, chaque système optique 1001, 1002, 1003 a une différence entre la 35 première épaisseur 1' et la seconde épaisseur 2' qui diffère des deux 3064058 19 autres systèmes optiques. L'unité de focalisation 201 peut être réalisée comme réseau de microlentilles 201'. L'unité de détection 202 comprend, par exemple, plusieurs détecteurs 2021', 2022', 2023' et/ou un grand détecteur et/ou un ou plusieurs réseaux de détecteurs. 5 A la figure 9 on a chaque fois une microlentille dans le chemin du rayon entre un système optique 1001, 1002, 1003 et un détecteur 2021', 2022', 2023'. Comme décrit ci-dessus, on focalise les rayons avec le même angle d'incidence 3 par la microlentille 201' sur un point commun dans le plan focal dans lequel se trouvent les détecteurs 10 2021', 2022', 2023'. Le premier détecteur 2021' est placé dans le che- min du rayon derrière la microlentille et est associé au premier système optique 1001. Pour chaque angle d'incidence on a un point de mesure sur le premier détecteur 2021'; à chaque chemin de mesure est associée une différence de marche de sorte que le détecteur 2021' enregistre 15 un premier interférogramme 2032. On a représenté le chemin du rayon pour le premier rayonnement 10', 10" correspond, par exemple, à un angle d'incidence 3 et le second rayonnement 101', 101" qui est perpendiculaire aux systèmes optiques 1001, 1002, 1003. De façon analogue, le second détecteur 2022' mesure un second interférogramme 20 2032. La différence de marche du premier rayonnement 10', 10" arri- vant sur le second système optique 1002 et qui est focalisé à l'aide de la microlentille sur le second détecteur 2022' diffère à cause du dimensionnement différent du premier système optique 1001 et du second système optique 1002 par rapport à la différence de marche du premier 25 rayonnement 10', 10" qui traverse le premier système optique 1001. La même remarque s'applique aux seconds rayonnements 101', 101" qui arrivent dans la direction perpendiculaire. Le troisième détecteur 2023' enregistre un troisième in- terférogramme 2033 et du fait du dimensionnement différent du pre- 30 mier système optique 1001, du second système optique 1002 et du troisième système optique 1003, après l'arrivée du premier rayonnement 10', 10" sur le troisième système optique 1003, la différence de marche diffère par rapport à celle du premier et celle du second systèmes optiques 1001, 1002 par la différence de phase. Pour éviter la 35 diaphonie du rayonnement électromagnétique entre le rayon du premier 3064058 20 système optique 1001 et le rayon du second système optique 1002 ou entre les rayons du second et du troisième systèmes optiques 1002, 1003, on peut avoir des éléments séparateurs 8, par exemple sous la forme de couches absorbant le rayonnement. 5 A la figure 9 les éléments séparateurs 8 sont parallèles à la direction z. Le spectromètre miniature 200 peut réaliser plusieurs interférogrammes identiques ou différents 2031, 2032, 2033 à l'aide des détecteurs 2021', 2022', 2023' qui sont, par exemple, sous la forme de réseaux de détecteurs. 10 L'unité de détection 202 comprend à la figure 9, l'unité de calcul 202" à côté des détecteurs 2021', 2022', 2023'. Les interférogrammes 2031, 2032, 2033 ou les données qui correspondent à ces interférogrammes 2031, 2032, 2033 sont transmises par les détecteurs 2021', 2022', 2023' à l'unité de calcul 202". L'unité de calcul 202" reçoit 15 les données des détecteurs 2021', 2022', 2023'. L'unité de calcul 202" peut être reliée de manière solidaire ou par une liaison sans fil aux détecteurs 2021', 2022', 2023'. Les interférogrammes 2031, 2032, 2033 disposés l'un derrière l'autre dans la direction incidente" peuvent être complétés de manière intéressante par un algorithme. En combinant les 20 informations des interférogrammes 2031, 2032, 2033 du premier, du second et du troisième détecteurs 2021', 2022', 2023' on obtient un interférogramme continu à partir duquel par une transformée de Fourier on obtiendra le spectre 204 de l'objet 7. On peut ainsi enregistrer une zone plus importante de différence de marche et augmenter la résolu- 25 tion en longueurs d'onde du spectromètre miniature 200. En variante ou en complément, l'unité de calcul 202" détermine une information spectrale à partir des interférogrammes 2031, 2032, 2033. Les informations spectrales saisies, sont par exemple, la composition chimique d'un produit ou des informations relatives à l'existence d'une certaine com- 30 binaison chimique dans un objet. A titre d'exemple, on peut faire une exploitation chémométrique des spectres et émettre une information spectrale. Le spectre 204 ou l'information spectrale peuvent être émis par exemple par une unité d'émission optique ou acoustique tel un afficheur d'un terminal mobile, un hautparleur ou autre dispositif 35 d'émission. Il est à remarquer que la différence de marche pour les di- 3064058 21 verses différences de la première épaisseur 1' et de la seconde épaisseur 2' des systèmes optiques 1001, 1002, 1003 se répartissent différemment dans l'espace sur les détecteurs 2021', 2022', 2023'. Cela peut facilement se déduire par calcul dans l'unité de calcul 202". 5 Le spectromètre miniature peut comporter précisément un système optique 100 ou plusieurs systèmes optiques 1001, 1002, 1003. Le spectromètre miniature 200 peut être logé d'une ma- nière très compacte dans un boîtier (cette solution n'est pas représen- 10 tée). En variante ou en complément, à l'aide d'au moins une source lumineuse telle que, par exemple, un laser mais également une lentille à incandescence, un émetteur MEMS, des diodes, réseau de diodes ou diodes avec photophore ou encore une source de rayonnement plasma peuvent être intégrées dans le boîtier. Cela permet par exemple 15 d'éclairer l'objet 7 à examiner. Le système optique 100, 1001, 1002, 1003 peut être réalisé, par exemple, par un procédé de lithographie suivi d'un procédé de gravure. D'autres procédés de fabrication envisageables sont, par exemple, le procédé de nano-impression ou encore les micro- 20 impressions 3D. Comme matière, on utilise avantageusement et selon la plage de longueur d'onde, le silicium, le nitrure de silicium, le sélédure de zinc, des vernis spéciaux ou différents verres. En plus, le système optique 100, 1001, 1002, 1003 peut être muni d'un revêtement antireflet, en particulier s'il faut transmettre le rayonnement électromagné- 25 tique comme cela est le cas des exemples de réalisation présentés aux figures 1-4. Comme matière pour l'unité de focalisation 201 on utilise, par exemple, des verres et des matières plastiques. Selon la plage de longueur d'onde recherchée le réseau de détecteur 201, 2021', 2022', 2023' peut être réalisé en silicium germanium germanium sur silicium, 30 arséniure, indium / gallium (INGaAS) ou d'autres matières de détec- tions appropriées. Une couche optiquement opaque peut être interposée entre les différents éléments 1, 2 pour bloquer les rayons lumineux inclinés qui pourraient sinon traverser les éléments voisins 1, 2 et éviter 35 ainsi les "différences de phases chimiques" qui résulteraient de la tra- 3064058 22 versée de plusieurs éléments 1, 2. En variante ou en complément on utilise un algorithme d'exploitation pour extraire par le calcul le rayonnement qui aura traversé plus d'un élément 1, 2. Sur les couches / éléments optiquement imperméables entre les éléments 1, 2 on peut en 5 plus appliquer une couche de réflexion pour tenir les rayons lumineux dans l'élément respectif et ne pas augmenter la différence de lumière. La figure 10 montre un procédé 300 d'analyse d'un objet 7 qui comprend les étapes consistant à générer 301 des déphasages différents d'un rayonnement électromagnétique arrivant sur les objets du 10 système 100, 1001, 1002, 1003 ; les déphasages dépendent respective- ment de l'angle d'incidence 3, 30 du rayonnement électromagnétique arrivant sur le système optique 100, 1001, 1002, 1003. On réunit 302 les composants du rayonnement électromagnétique avec le même angle d'incidence 3, 30 selon l'arrivée sur le système optique 100, 1001, 1002, 15 1003 et il en résulte un interférogramme 203, 2031, 2032, 2033 et la détermination 303 d'un spectre 204 ou d'une information spectrale à partir de l'interférogramme 203, 2031, 2032, 2033 pour l'analyse de l'objet 7. L'interférogramme 203, 2031, 2032, 2033 peut ainsi correspondre à l'interface combinée comme dans l'exemple de réalisation de la 20 figure 9. 3064058 23 NOMENCLATURE DES ELEMENTS PRINCIPAUX 1 Premier élément l' Première épaisseur 5 1" Première matière 2 Second élément 2' Seconde épaisseur 2" Seconde matière 3, 30 Angles d'incidence 10 3 Couche réfléchissante 5 Premier côté du système optique 100 10' Première partie 10" Deuxième partie 10', 10" Rayonnements électromagnétiques/ premiers 15 rayonnements 100 Système optique 101', 101" Seconds rayonnements 101' Première partie 102' Seconde partie 20 200 Spectromètre miniature 201 Unité de focalisation 202 Unité d'exploitation 202' Détecteur / réseau de détecteurs 202" Unité de calcul 25 203 Interféromètre 1001 Premier système optique 1002 Second système optique 1003 Troisième système optique 2021', 2022', 2023' Détecteurs 30 REVENDICATIONS1°) Système optique (100, 1001, 1002, 1003) comprenant - au moins un premier élément (1) avec un premier dimensionnement, et - au moins un second élément (2) avec un second dimensionnement, système caractérisé en ce que le premier élément (1) et le second élément (2) sont voisins vis-à-vis d'un rayonnement électromagnétique incident (10, 10', 10"), le premier élément (1) décale d'une première valeur une première phase, d'une première partie (10') du rayonnement électromagnétique incident suivant l'angle d'incidence (3, 30), le second élément (2) décale d'une seconde valeur une seconde phase d'une seconde partie (10") d'un rayonnement électromagnétique incident suivant l'angle d'incidence (3, 30), la seconde valeur est différente de la première valeur. 2°) Système optique (100, 1001, 1002, 1003) selon la revendication 1, caractérisé en ce que le premier élément (1) a une première épaisseur (1') et le second élément a une seconde épaisseur (2'), la première épaisseur (1') et la deuxième épaisseur (2') étant différentes l'une de l'autre. 3°) Système optique (100, 1001, 1002, 1003) selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que le premier élément (1) comprend une première matière (1") avec un premier indice de réfraction et le second élément a une seconde matière (2") avec un second indice de réfraction, le premier indice de réfraction et le deuxième indice de réfraction étant différents l'un de l'autre. 4°)Système optique (100, 1001, 1002, 1003) selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que d'un côté (5) du système optique (100, 1001, 1002, 1003), on a une ou plusieurs couches de réflexion (4) qui réfléchissent sur le système op- 3064058 25 tique (100, 1001, 1002, 1003) le rayonnement électromagnétique incident. 5°) Système optique (100, 1001, 1002, 1003) selon la revendication 4, 5 caractérisé en ce qu' une pile de couches diélectriques adaptée angulairement est prévue sur le premier côté (5) du système optique (100, 1001, 1002, 1003) comme couche réfléchissante (4). 10 6°) Spectromètre miniature (200) comprenant - au moins un système optique (100, 1001, 1002, 1003) selon l'une des revendications précédentes pour recevoir le rayonnement électromagnétique (10) venant d'un objet (7), - au moins une unité de détection (202) pour enregistrer un interféro- 15 gramme (203, 2031, 2032, 2033) de l'objet (7), et - au moins une unité de focalisation (201) dans le chemin du rayon entre le système optique (100, 1001, 1002, 1003) et l'unité de détection (202). 20 7°) Spectromètre miniature (200) selon la revendication 6, caractérisé en ce que l'unité de détection (202) comporte une unité de calcul (202") pour déterminer un spectre (204) de l'objet (7) à partir de l'interférogramme (203, 2031, 2032, 2033). 25 8°) Spectromètre miniature (200) selon l'une des revendications 6 ou 7, caractérisé en ce que l'unité de focalisation (201) comprend un réseau de microlentilles (201'). 30 9°) Spectromètre miniature (200) selon l'une des revendications 6 à 8, caractérisé en ce qu' un diffuseur est placé dans le chemin de rayonnement entre l'objet (7) et le système optique (100, 1001, 1002, 1003). 35 3064058 26 10°) Spectromètre miniature (200) selon l'une des revendications 6 à 9, caractérisé en ce que le spectromètre miniature (200) comporte un premier système optique (1001) selon l'une des revendications 1 à 3 et un second système op- 5 tique (1002) selon l'une des revendications 1 à 3, le premier système optique (1001) et le second système optique (1002) générant des déphasages différents pour le même angle d'incidence (3, 30). 11°) Procédé (300) d'analyse d'un objet (7) à l'aide d'un spectromètre 10 miniature (200) selon l'une des revendications 6 à 10, procédé (300) comprenant les étapes suivantes consistant à: générer (301) des déphasages différents d'un rayonnement électromagnétique arrivant sur le système optique (100, 1001, 1002, 1003), le déphasage dépendant de l'angle d'incidence (3, 30) du 15 rayonnement électromagnétique arrivant sur le système optique (100, 1001, 1002, 1003), réunir (302) les composants du rayonnement électromagnétique correspondant au même angle d'incidence (3, 30) après l'arrivée sur le système optique (100, 1001, 1002, 1003) et donnant un interféro- 20 gramme (203, 2031, 2032, 2033), et déterminer (303) un spectre (204) ou une information spectrale à partir de l'interférogramme (203, 2031, 2032, 2033) pour l'analyse de l'objet (7). 25