Brevet FR3073629A1 — publié le 20190517

L'invention concerne un procédé de compensation d'un localisateur magnétique en présence d'au moins un matériau perturbateur. Un localisateur magnétique comporte généralement un dispositif d'émission, dit émetteur, ayant une ou plusieurs bobines émettrices rigidement liées les unes aux autres, et un dispositif de réception, dit récepteur, ayant une ou plusieurs bobines réceptrices rigidement liées les unes aux autres. L'analyse conjointe des champs magnétiques émis par les bobines émettrices et des champs magnétiques mesurés par les bobines réceptrices permet de déterminer par une unité de traitement la position et/ou l'orientation du dispositif de réception par rapport au dispositif d'émission. Cette unité de traitement comporte un modèle de champ permettant de calculer la position et/ou l'orientation du récepteur par calcul d'une prédiction des mesures en fonction d'un critère de minimisation d'une erreur calculée par rapport aux mesures. Le problème de l'invention est qu'il peut exister un matériau perturbateur du champ magnétique entre l'émetteur et le récepteur. En particulier, certains matériaux conducteurs de l'électricité peuvent donner naissance à des courants de Foucault, lorsque ces matériaux sont placés dans un champ magnétique. Les courants de Foucault qui circulent alors dans ce matériau conducteur engendrent à leur tour un champ magnétique perturbateur. Ainsi, la présence d'un matériau perturbateur fausse le calcul de la prédiction par l'unité de traitement. L'invention vise à résoudre ce problème en proposant un procédé et un dispositif de compensation d'un localisateur magnétique en présence d'au moins un matériau perturbateur, qui permettent de calculer la bonne position et/ou orientation du récepteur correspondant le plus possible à sa position réelle et/ou à son orientation réelle, malgré le champ magnétique perturbateur induit par le matériau. A cet effet, un premier objet de l'invention est un procédé de compensation d'un localisateur magnétique en présence d'au moins un matériau perturbateur de 30 champ magnétique, ledit localisateur magnétique comprenant : - au moins un émetteur comprenant au moins une bobine émettrice et au moins un générateur d'au moins un signal d'émission, relié à la au moins une bobine 2 émettrice, pour que la au moins une bobine émettrice émette au moins un champ magnétique d'émission à au moins une fréquence déterminée co, en réponse au signal d'émission qui lui est envoyé par le générateur, - au moins un récepteur comprenant au moins une bobine réceptrice et un 5 dispositif de mesure, qui est relié à la au moins une bobine réceptrice et qui fournit au moins une mesure Ipi d'un champ magnétique de réception induit respectivement par le champ magnétique d'émission dans chaque bobine réceptrice, de manière à fournir plusieurs mesures Ipi pour i allant de 1 à N, - une unité de traitement comportant un modèle de champ permettant de 10 calculer une position et/ou une orientation du récepteur par calcul d'une prédiction Hi des mesures en fonction d'un critère calculé en fonction d'une erreur E, elle-même calculée par rapport aux mesures IN caractérisé en ce que l'erreur Ei est calculée par itérations successives depuis des valeurs initiales 15 prescrites de la prédiction Hi comme étant la différence entre les mesures Ipi et un modèle perturbé Hpi des mesures, selon l'équation = Ipi - FIN le modèle perturbé Hpi des mesures vérifiant les équations suivantes Hpi= Hi+Pi, 20 Pi = P 1H = -arctan(f3. ), où P, est la perturbation apportée aux mesures Ipi par le matériau perturbateur de champ magnétique, pi est l'intensité de la perturbation, ai est un angle de déphasage provoqué par le matériau perturbateur de champ magnétique, p 25 étant un paramètre du matériau perturbateur de champ magnétique, le paramètre p étant identique pour toutes les mesures IN le calcul étant effectué de manière à minimiser le critère. Suivant un mode de réalisation de l'invention, le modèle de champ permettant de calculer une position et/ou une orientation du récepteur par calcul de 3 la prédiction EL des mesures en fonction du critère utilise un algorithme de minimisation de Levenberg-Marquardt. On décrit ci-dessous des premiers modes de réalisation. 5 Suivant un premier mode de réalisation de l'invention, à chaque itération - on initialise la prédiction Hi aux valeurs initiales prescrites, - puis on calcule Ai, le paramètre p comme minimisant le vecteur A.f3 - B sur ses coordonnées, et le modèle perturbé Hpi en fonction de Hi et Ipi selon les équations 1 0 Ai = PR(Hi).31(Ipi) - 31(Hi)3R(Ipi)]/[01(Hi)2 + Hpi = Hi.(1+Ai.(j+ P.wi)) , où A est un vecteur, dont des premières et deuxièmes coordonnées sont formées de respectivement : A2i =Ai.341-1i).wi et A2i+1=34.1(1-1i).wi B est un vecteur, dont des premières et deuxièmes coordonnées sont formées 15 de respectivement: B2i = - t.(Hi) + Ai.3_1(Hi) et B2i+1 = 3_1(Ipi) - 3_1(Hi) - Ai3a(Hi), pour i allant de 1 à N, où 3R(Hi) est la partie réelle de la prédiction Hi, 31(Hi) est la partie imaginaire de la prédiction Hi, 2 0 3R(Ipi) est la partie réelle de la mesure Ipi, 31(Ipi) est la partie imaginaire de la mesure Ipi, - puis on calcule l'erreur - puis on calcule le critère C suivant l'équation 2 25 - puis on calcule par le modèle de champ la prédiction Hi qui correspond au critère C, cette prédiction Hi calculée étant utilisée pour l'itération suivante jusqu'à ce que le critère C calculé devienne inférieur à une borne positive non nulle ri, prescrite. 4 Suivant un autre premier mode de réalisation de l'invention, à chaque itération - on initialise la prédiction Hi aux valeurs initiales prescrites, - puis on calcule Ai, le paramètre p et le modèle perturbé Hpi en fonction de 5 Hi et Ipi selon les équations Ai= PR(Hi).1(Ipi) - l(Hi).3R(Ipi)]/[(1(Hi)2 + AT.B fl - 2 Hpi = Hi.(1+Ai.(j+ , où A est un vecteur, dont des premières et deuxièmes coordonnées sont 10 formées de respectivement : A2i =Ai341-1i).wi et A2i+1=34.1(1-1i).wi B est un vecteur, dont des premières et deuxièmes coordonnées sont formées de respectivement: B2i = - t,(Hi) + Ai.1(Hi) et B2i+1 = 1(Ipi) - - Ai3R(Hi), pour i allant de 1 à N, où 15 3R(Hi) est la partie réelle de la prédiction Hi, 31(Hi) est la partie imaginaire de la prédiction Hi, 3R(Ipi) est la partie réelle de la mesure Ipi, 1(Ipi) est la partie imaginaire de la mesure Ipi. - puis on calcule l'erreur 20 - puis on calcule le critère C suivant l'équation 2 - puis on calcule par le modèle de champ la prédiction Hi qui correspond au critère C, cette prédiction Hi calculée étant utilisée pour l'itération suivante jusqu'à ce 25 que le critère C calculé devienne inférieur à une borne positive non nulle n, prescrite. On décrit ci-dessous des deuxièmes modes de réalisation. 5 Suivant un deuxième mode de réalisation de l'invention, à chaque itération - on initialise la prédiction Hi aux valeurs initiales prescrites, - puis on calcule le paramètre p comme minimisant le vecteur A'13+B' sur ses coordonnées, puis les Ai et le modèle perturbé Hpi en fonction de Hi et Ipi selon 5 les équations : 3(11) A= ffl.(Hi)+3(Hi)flco1 Hpi = Eli.(1+41.(j+ P.wi)) où A' est un vecteur, dont les coordonnées sont formées de respectivement : w1.P4H1).3_1(Ipi) - 3.(Ipi).1(Hi)] , 1 0 B' est un vecteur, dont les coordonnées sont formées de respectivement: t,(111)2 31(H) is.2 OR(H1)3R(Ipi)+1(n).(Ipi)), pour i allant de 1 à N, où 3R(Hi) est la partie réelle de la prédiction Hi, l(Hi) est la partie imaginaire de la prédiction Hi, 15 3R(Ipi) est la partie réelle de la mesure Ipi, 1(Ipi) est la partie imaginaire de la mesure Ipi, - puis on calcule l'erreur - puis on calcule le critère C suivant l'équation 2 2 0 - puis on calcule par le modèle de champ la prédiction Hi qui correspond au critère C, cette prédiction Hi calculée étant utilisée pour l'itération suivante jusqu'à ce que le critère C calculé devienne inférieur à une borne positive non nulle q, prescrite. Suivant un autre deuxième mode de réalisation de l'invention, à chaque 25 itération - on initialise la prédiction Hi aux valeurs initiales prescrites, - puis on calcule le paramètre p puis les Ai et le modèle perturbé Hpi en fonction de Hi et Ipi selon les équations : 6 3(Ipi)-3(H) ffl.(Hi)+3(Hi)flco1 Hpi = Hi.(1+3,.(j+ P.wi)) où A' est un vecteur, dont les coordonnées sont formées de respectivement : 5 wi.Pa(Hi).31(Ipi) - B' est un vecteur, dont les coordonnées sont formées de respectivement: 3R(Hi)2 + (t.(EL).3.(Ipi)+31(Hi).(Ipi)), pour i allant de 1 à N, où 3R(EL) est la partie réelle de la prédiction Hi, 1 0 l(Hi) est la partie imaginaire de la prédiction Hi, 3R(Ipi) est la partie réelle de la mesure IN 1(Ipi) est la partie imaginaire de la mesure Ipi, - puis on calcule l'erreur - puis on calcule le critère C suivant l'équation 2 15 - puis on calcule par le modèle de champ la prédiction Hi qui correspond au critère C, cette prédiction Hi calculée étant utilisée pour l'itération suivante jusqu'à ce que le critère C calculé devienne inférieur à une borne positive non nulle 11, prescrite. 20 On décrit ci-dessous des troisièmes modes de réalisation. Suivant un troisième mode de réalisation de l'invention, à chaque itération - on initialise la prédiction Hi aux valeurs initiales prescrites, - le paramètre f3 est alors ajouté comme variable d'état de l'algorithme de 25 minimisation de Levenberg-Marquardt, - puis on calcule les Ai en fonction de Hi et Ipi et f3 selon les équations : 7 Hpi = Hi.(1+Ai.(j+ P.wi)), les Ai étant une solution au système d'équations suivant : 3R(Hi) - 3R(Ipi) + Ai.OR(Hi).(3. coi - = 0 et 5 l(Hi) - 1(Ipi) + Ai.OR(Hi) + l(H).(3. coi) = 0 pour i allant de 1 à N, où 3R(Hi) est la partie réelle de la prédiction Hi, 31(Hi) est la partie imaginaire de la prédiction Hi, 3R(Ipi) est la partie réelle de la mesure Ipi, 1 0 1(Ipi) est la partie imaginaire de la mesure Ipi, - puis on calcule l'erreur - puis on calcule le critère C suivant l'équation - puis on calcule par le modèle de champ la prédiction Hi qui correspond au 15 critère C, cette prédiction Hi calculée étant utilisée pour l'itération suivante jusqu'à ce que le critère C calculé devienne inférieur à une borne positive non nulle 11, prescrite. Suivant un autre troisième mode de réalisation de l'invention, à chaque itération 2 0 - on initialise la prédiction Hi aux valeurs initiales prescrites, - le paramètre f3 est alors ajouté comme variable d'état de l'algorithme de minimisation de Levenberg-Marquardt, - puis on calcule les Ai comme minimisant un vecteur C.A-D sur ses coordonnées en fonction de Hi et Ipi et f3 selon les équations : 25 Hpi = Hi.(1+Ai.(j+ P.wi)), où A est un vecteur A ayant Ai comme coordonnées, D est un vecteur, dont des premières et deuxièmes coordonnées sont formées de respectivement: -(3R(Hi) - t.(Ipi)) et -(1(Hi) - 2 8 C est une matrice, ayant comme coefficients correspondants aux A, respectivement 3R(1-1,)13. co, - 31(n) et 3R(H,) + 31(n).(3. co, et les coefficients 0 ailleurs, pour i allant de 1 à N, où 5 3R(H,) est la partie réelle de la prédiction 31(n) est la partie imaginaire de la prédiction 3R(Ipi) est la partie réelle de la mesure IN 31(Ip,) est la partie imaginaire de la mesure IN - puis on calcule l'erreur 10 - puis on calcule le critère C suivant l'équation 2 - puis on calcule par le modèle de champ la prédiction H, qui correspond au critère C, cette prédiction H, calculée étant utilisée pour l'itération suivante jusqu'à ce que le 15 critère C calculé devienne inférieur à une borne positive non nulle ii, prescrite. Suivant un mode de réalisation de l'invention, les fréquences déterminées co, sont distinctes l'une de l'autre. Suivant un mode de réalisation de l'invention, l'émetteur comporte une pluralité de bobines émettrices émettant respectivement une pluralité de champs 20 magnétiques d' émi s si on, le dispositif de mesure mesurant pour chaque bobine réceptrice une pluralité de champs magnétiques de réception induits respectivement par la pluralité de champs magnétiques d'émission dans la bobine réceptrice et formant les mesures Ip, pour i allant de 1 à N. 25 Suivant un autre mode de réalisation de l'invention, le localisateur comporte une bobine émettrice émettant à K fréquences différentes cojk et J bobines réceptrices, le dispositif de mesure fournissant les mesures Ip k pour l'indice j allant de 1 à J et l'indice k allant de 1 à K, l'unité de traitement calcule 9 li 2 2 jk HJk +1Ip - 2 - vjk k=1 J K Uj (.k - -1H,k12) 1=1 k=1 J K Uk 1=1 k=1 avec VIk= 9î(Hik ) - ffl(Ip ik) + 3(H ik) - 3(Ip ik) 5 UJk ik) - 3(Ip ik) - 3(H ) - fflfIp )). Ipik = Hik. (1 ±Ai (;± 13.0);0) CO ik A jk P j ± (6 - jk OÙ 1-4 est la prédiction, pl est l'intensité de la perturbation, Hpik est le modèle perturbé et Hpik - =0. 1 0 Suivant un autre mode de réalisation de l'invention, le localisateur comporte L bobines émettrices ou L émetteurs, qui émettent à K fréquences différentes wiki, et J bobines réceptrices, le dispositif de mesure fournissant les mesures Ipad pour l'indice j allant de 1 à J, l'indice k allant de 1 à K et l'indice 1 allant de 1 à L, l'unité de traitement calcule K 12 1 12 -2 - V iki " jkl - H jkll ± 11-1 9 jkll k=1 15 Pi/ = K 11,21k1 k=1 et J K jkl -(V jkl -111 jkl j=1 k=1 J K j2k1 1=1 k=1 Pi et fi 2) 10 avec 91fHild 'fflf/Pild )± 3(Hild ) - 3(iPild "fia = (91(Hild ) - 3(//911,/ )- 3(Hild ) - 9Î(//911,/ ))* COjkl Ipjki - Hjkl. (1 +Ajkl. + 13.04d)) CO A P 1 ± (6 - CO 5 Où Eljki est la prédiction, 14 est l'intensité de la perturbation, Hpiki est le modèle perturbé et Hpiki - Ipjki =0. Un deuxième objet de l'invention est un localisateur magnétique comprenant: - au moins un émetteur comprenant au moins une bobine émettrice et au moins un générateur apte à générer au moins un signal d'émission, relié à la au moins 10 une bobine émettrice, pour que la au moins une bobine émettrice soit apte à émettre au moins un champ magnétique d'émission à au moins une fréquence déterminée co, en réponse au signal d'émission qui lui est envoyé par le générateur, - au moins un récepteur comprenant au moins une bobine réceptrice et un dispositif de mesure, qui est apte à être relié à la au moins une bobine réceptrice et 15 qui est apte à fournir au moins une mesure Ipi d'un champ magnétique de réception induit respectivement par le champ magnétique d'émission dans chaque bobine réceptrice, pour fournir plusieurs mesures Ipi pour i allant de 1 à N, - une unité de traitement comportant un modèle de champ permettant de calculer une position et/ou une orientation du récepteur par calcul d'une prédiction 20 Hi des mesures en fonction d'un critère calculé en fonction d'une erreur E, elle-même calculée par rapport aux mesures IN caractérisé en ce que l'unité de traitement est configurée pour que l'erreur Ei soit calculée par itérations successives depuis des valeurs initiales prescrites de la prédiction Hi 25 comme étant la différence entre les mesures Ipi et un modèle perturbé Hpi des mesures, selon l'équation = Ip - le modèle perturbé Hpi des mesures vérifiant les équations suivantes 11 = -arctan(f3. c), ), où P, est une perturbation apportée aux mesures Ip, par un matériau perturbateur de champ magnétique, pi est l'intensité de la perturbation, a, est un 5 angle de déphasage provoqué par le matériau perturbateur de champ magnétique, f3 étant un paramètre du matériau perturbateur de champ magnétique, le paramètre f3 étant identique pour toutes les mesures IN l'unité de traitement étant configurée pour effectuer le calcul de manière à minimiser le critère. 10 Un troisième objet de l'invention est un programme d'ordinateur, comportant des instructions de code pour la mise en oeuvre du procédé de compensation d'un localisateur magnétique en présence d'au moins un matériau perturbateur de champ magnétique, tel que décrit ci-dessus, lorsque le programme d'ordinateur est exécuté sur un calculateur. 15 L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui va suivre, donnée uniquement à titre d'exemple non limitatif en référence aux dessins annexés, sur lesquels : - la figure 1 représente schématiquement un synoptique modulaire d'un 20 localisateur magnétique suivant un mode de réalisation de l'invention, - la figure 2 représente schématiquement un matériau perturbateur de champ magnétique, - les figures 3, 4 et 5 représentent schématiquement trois diagrammes de phases de champ magnétique pour trois matériaux différents, 25 - les figures 6 et 7 sont des diagrammes de Fresnel représentant la mesure perturbée et un modèle perturbé Hpi, utilisés suivant un mode de réalisation de l'invention, - la figure 8 est un synoptique modulaire d'une unité de traitement du localisateur suivant un mode de réalisation de l'invention, 12 - la figure 9 est un synoptique modulaire d'une unité de traitement du localisateur suivant la figure 8, utilisant un premier algorithme, - la figure 10 est un synoptique modulaire d'une unité de traitement du localisateur suivant la figure 8, utilisant un deuxième algorithme, 5 - la figure 11 est un synoptique modulaire d'une unité de traitement du localisateur suivant la figure 8, utilisant un troisième algorithme. On décrit ci-dessous en référence aux figures un procédé de compensation d'un localisateur magnétique et un dispositif de compensation d'un localisateur magnétique. 10 A la figure 1, un localisateur magnétique 1 ou dispositif 1 de localisation magnétique comprend un ou plusieurs émetteurs 10 et un ou plusieurs récepteurs 20. L'émetteur 10 comprend une bobine émettrice ou une pluralité (nombre Ne) de bobines émettrices, par exemple El, E2, E3, et un générateur ou une pluralité de 15 générateurs, par exemple 101, 102, 103, d'au moins un signal d'émission, relié aux bobines émettrices El, E2, E3, pour asservir les bobines émettrices avec leur signal d'émission respectif Les bobines émettrices sont rigidement fixées à un même support mécanique de l'émetteur 10, afin d'occuper une position connue et d'avoir une orientation connue et peuvent être par exemple orientées selon des axes 20 distincts. L'émetteur 10 a par exemple une position connue et une orientation connue. On considère ici, à titre d'exemple non limitatif, le cas d'un système dans lequel l'émetteur 10 comporte 3 bobines d'émission El, E2, E3 orientées selon trois axes distincts, par exemple selon les trois axes d'un repère orthonormal. Ces trois axes des moments magnétiques respectifs des bobines El, E2, E3 peuvent être 25 confondus avec l'axe de l'enroulement des bobines dans le cas d'un bobinage orthogonal à l'axe d'enroulement. Ils peuvent cependant en être différents si le bobinage n'est pas à 90°, par exemple à 45°. Lorsqu'une tension est imposée aux bornes d'une bobine émettrice El, E2, E3, un courant circule dans la bobine émettrice El, E2, E3 qui génère alors un champ magnétique Bel, Be2, Be3 proportionnel au courant qui la parcoure et dont la forme dépend des caractéristiques de la bobine (orientation, moment magnétique, forme....). Une 13 source de tension peut, par exemple, être utilisée comme générateur 101, 102, 103 pour imposer une tension aux bornes de la bobine émettrice El, E2, E3 entraînant la création d'un courant. Lorsque chaque générateur 101, 102, 103 est mis en marche et relié à 5 respectivement la bobine émettrice El, E2, E3, chaque bobine émettrice El, E2, E3 émet un champ magnétique, respectivement Bel, Be2, Be3, d'émission en réponse au signal d'émission qui lui est envoyé par le générateur 101, 102, 103. Le signal d'émission et le champ magnétique, respectivement Bel, Be2, Be3, d'émission sont par exemple sinusoïdaux et ont par exemple une fréquence déterminée, 10 respectivement fl, f2, f3. Les fréquences déterminées peuvent être identiques les unes aux autres ou différentes les unes des autres. Les fréquences déterminées peuvent être par exemple de 100 Hz à 50 kHz. Le récepteur 20 comprend une bobine réceptrice ou plusieurs (nombre Nr) de bobines réceptrices, par exemple R1, R2, R3, et un dispositif 21 de mesure, qui 15 est relié aux bobines réceptrices R1, R2, R3. Le nombre Nr de bobines réceptrices peut être différent de ou égal au nombre Ne de bobines émettrices. Les bobines réceptrices sont rigidement fixées à un même support mécanique du récepteur 120 et peuvent être par exemple orientées selon des axes distincts. Le récepteur 20 a par exemple une position connue et une orientation connue. On considère ici, à titre 20 d'exemple, le cas d'un système dans lequel le récepteur 20 comporte 3 bobines de réception R1, R2, R3 orientées selon trois axes distincts, par exemple selon les trois axes d'un repère orthonormal. Ces trois axes des moments magnétiques respectifs des bobines R1, R2, R3 peuvent être confondus avec l'axe de l'enroulement des bobines dans le cas d'un bobinage orthogonal à l'axe d'enroulement. Ils peuvent 25 cependant en être différents si le bobinage n'est pas à 90°, par exemple à 45°. En présence d'un champ magnétique variable, une tension (mesure) proportionnelle à la variation du flux du champ magnétique apparaît dans la bobine réceptrice. En mesurant la tension aux bornes de la bobine réceptrice, par exemple grâce à un voltmètre ou autre moyen similaire, ou en mesurant le courant (mesure) parcourant 30 la bobine réceptrice par exemple par un ampèremètre ou autre moyen similaire, il est possible de déterminer le champ magnétique auquel est soumis la bobine réceptrice, 14 à condition de connaître les caractéristiques de la bobine réceptrice, qui comprennent notamment le moment magnétique de la bobine réceptrice. Le dispositif 24 de mesure mesure pour chaque bobine réceptrice R1, R2, R3 une pluralité de champs magnétiques de réception induits respectivement par la 5 pluralité de champs magnétiques Bel, Be2, Be3 d'émission et appelés mesures Ipi pour i allant de 1 à N et comporte par exemple à cet effet des modules de mesure 21, 22, 23 reliés respectivement aux bobines réceptrices R1, R2, R3. On a N= Nr.Ne couples possibles de bobines émettrice et de bobines réceptrices, ce qui permet de constituer N mesures Ipi par le dispositif 24 de mesure. Suivant un mode de 1 0 réalisation, N est plus grand que 1. Les mesures Ipi sont par exemple complexes, en ayant chacune un gain et une phase. Les mesures Ipi sont par exemple fournies sur une sortie de démodulation du dispositif 24 de mesure. Dans le cas où le signal d'émission est sinusoïdal avec une fréquence déterminée, la mesure correspondante Ipi est également sinusoïdal avec la même fréquence déterminée. Ainsi, dans 15 l'exemple de la figure 1, le dispositif 21 de mesure mesure par le module de mesure 21 relié à la bobine réceptrice R1 : - le champ magnétique Brl 1 de réception (noté El->R1), qui est induit dans la bobine réceptrice R1 par le champ magnétique Bel d'émission de la bobine émettrice El, 20 - le champ magnétique Br21 de réception (noté E2->R1), qui est induit dans la bobine réceptrice R1 par le champ magnétique Be2 d'émission de la bobine émettrice E2, - le champ magnétique Br31 de réception (noté E3->R1), qui est induit dans la bobine réceptrice R1 par le champ magnétique Be3 d'émission de la bobine 25 émettrice El. Le dispositif 21 de mesure mesure par le module de mesure 23 relié à la bobine réceptrice R2 : - le champ magnétique Br12 de réception (noté El->R2), qui est induit dans la bobine réceptrice R2 par le champ magnétique Bel d'émission de la bobine 30 émettrice El, 15 - le champ magnétique Br22 de réception (noté E2->R2), qui est induit dans la bobine réceptrice R2 par le champ magnétique Be2 d'émission de la bobine émettrice E2, - le champ magnétique Br32 de réception (noté E3->R2), qui est induit dans 5 la bobine réceptrice R2 par le champ magnétique Be3 d'émission de la bobine émettrice El. Le dispositif 21 de mesure mesure par le module de mesure 22 relié à la bobine réceptrice R3 : - le champ magnétique Br13 de réception (noté E1->R3), qui est induit dans 1 0 la bobine réceptrice R3 par le champ magnétique Bel d'émission de la bobine émettrice El, - le champ magnétique Br23 de réception (noté E2->R3), qui est induit dans la bobine réceptrice R3 par le champ magnétique Be2 d'émission de la bobine émettrice E2, 15 - le champ magnétique Br33 de réception (noté E3->R3), qui est induit dans la bobine réceptrice R3 par le champ magnétique Be3 d'émission de la bobine émettrice El. L'émetteur 10 et le récepteur 20 sont reliés à une unité 25 de traitement, (pouvant comprendre par exemple un microprocesseur) reliée d'une part au 20 générateur 101, 102, 103 du dispositif 10 d'émission et d'autre part au dispositif 24 de mesure du dispositif 20 de réception. L'unité 25 de traitement est configurée pour traiter les signaux d'émission émis et les mesures Ipi reçues, et permet ainsi de retrouver à partir de ces signaux d'émission émis et de ces mesures Ipi la position P et l'orientation Q du récepteur 20 relativement à l'émetteur 10. L'unité 25 de 25 traitement reçoit des informations concernant les caractéristiques des signaux d'émission appliqués aux bobines émettrices ainsi que des informations concernant les caractéristiques des signaux parcourant les bobines réceptrices (représentatifs du champ magnétique de réception par la bobine réceptrice et donc des mesures Ipi). A partir de l'intensité et de la phase des champs magnétiques de réception captés par 30 les bobines réceptrices, l'unité 25 de de traitement détermine les coordonnées spatiales de position P et d'orientation Q de l'ensemble de bobines réceptrices par 16 rapport à l'ensemble des bobines émettrices, par exemple à l'aide d'un algorithme de minimisation, par exemple de type Levenberg-Marquardt, permettant de minimiser l'erreur entre les champs mesurés (champs magnétiques de réception ou mesures Ipi) et les champs magnétiques théoriques modélisés à partir de connaissances a priori de 5 l'émetteur et du récepteur. Un matériau perturbateur 3 de champ magnétique peut être présent à proximité du localisateur 1, par exemple entre l'émetteur 10 et le récepteur 20 ou à proximité de ceux-ci, ainsi que représenté à la figure 2, où seulement une bobine émettrice de l'émetteur 10 et une bobine réceptrice du récepteur 20 ont été 10 représentées à titre d'exemple. Le matériau perturbateur 3 peut être par exemple un matériau conducteur de l'électricité, par exemple métallique. Tout matériau conducteur 3 de l'électricité placé dans un champ magnétique variable donne naissance à des courants de Foucault dans le matériau conducteur 3, symbolisés par les boucles de courant CF à la figure 2. Les courants de Foucault CF qui circulent 15 alors dans ce conducteur 3 donne naissance à leur tour à un champ magnétique perturbateur dont la phase dépend de l'impédance du conducteur 3. Mais cette phase est constante pour une fréquence donnée. Le matériau perturbateur 3 peut être par exemple une prothèse métallique, comme par exemple une tête fémorale de prothèse de hanche, une tige fémorale de prothèse de hanche, une plaque métallique, par 20 exemple de cuivre, une autre bobine métallique (autres que les bobines émettrices et les bobines réceptrices) ou autres. Si le champ magnétique induit par le perturbateur n'est pas en phase avec le signal de l'émetteur alors il est possible de détecter la perturbation et de la compenser en partie. La méthode présentée permet de compenser un seul 25 perturbateur, elle ne compense pas les perturbations en phase avec le signal. On peut résumer les situations par les trois diagrammes de phases des figures 3, 4 et 5 (partie réelle Re des champs magnétiques en abscisses, partie imaginaire Im des champs magnétiques en ordonnées), avec Bp le champ magnétique initial sans perturbation (par exemple le champ magnétique d'émission Bel ou Be2 ou Be3), Bs 30 le champ magnétique émis par les courants de Foucault CF du matériau perturbateur 17 3 de champ magnétique et Bc le champ magnétique résultant, égal à la somme de Bp et de Bs. A la figure 3, dans le cas d'un matériau ferromagnétique (comme par exemple les ferrites), le matériau génère une perturbation ferro-magnétique, où il 5 n'existe pas de courants de Foucault et il n'y a pas de déphasage entre le champ initial Bp et le champ résultant Bc. A la figure 4, dans le cas d'un matériau perturbateur 3 de champ magnétique, qui est conducteur de l'électricité (comme par exemple une plaque de cuivre et/ou d'argent et/ou d'aluminium), les courants de Foucault CF induits par le matériau 3 10 créent un champ secondaire Bs qui a pour effet de diminuer le champ initial Bp et d'introduire un déphasage. Le champ résultant Bc est déphasé et plus faible en amplitude par rapport au champ initial Bp. A la figure 5, dans le cas d'un matériau perturbateur 3 de champ magnétique, qui est mixte (à la fois ferromagnétique et conducteur de l'électricité), pour des 15 fréquences relativement faibles, le caractère ferro-magnétique fait que l'amplitude du champ résultant Bc est plus forte que celle du champ initial Bp. Les courants de Foucault CF induits par le matériau 3 introduisent en même temps un déphasage. A mesure que la fréquence augmente, l'effet du ferromagnétisme diminue, celui des courants de Foucault CF induits par le matériau 3 CF augmente, l'amplitude du 20 champ résultant Bc diminue de plus en plus, le déphasage augmente puis décroît selon une loi propre au matériau 3. L'invention permet de compenser la perturbation Bs due aux courants de Foucault CF induits par le matériau 3. On prendra comme hypothèse que les perturbations ferromagnétiques sont nulles. 25 Le matériau perturbateur 3 de champ magnétique peut être un objet métallique conducteur en une certaine position de l'espace relative à une bobine émettrice. Cela implique que si l'objet métallique se déplace, il constitue un nouveau perturbateur dont les caractéristiques sont différentes. Le localisateur magnétique 1 met en oeuvre le procédé de compensation de la 30 présence du matériau perturbateur 3 de champ magnétique, décrit ci-dessous. 18 A la figure 8, le localisateur 1 comporte l'unité 25 de traitement comportant un module 26 de modélisation de champ permettant de calculer une position P et/ou une orientation Q du récepteur 20 par calcul d'une prédiction Hi des mesures en fonction d'un critère C de minimisation d'une erreur Ei calculée par rapport aux 5 mesures Ipi. Ce module 26 peut comporter par exemple un filtre de Kalman pour calculer la prédiction H. Le module 26 dispose d'une modélisation physique du localisateur 1, qui prédit en l'absence de perturbation et en fonction de la position P et/ou de l'orientation Q du récepteur 20 les N mesures, pour fournir les prédictions H. Le module 26 cherche la position P et/ou de l'orientation Q (ou état du capteur 1 0 P, Q) et calcule la prédiction Hi qui vérifient le critère C. Le critère C est considéré par le module 26 comme représentant l'écart (pouvant être par exemple une norme de l'erreur prise au sens de L2, pouvant être la somme des carrés des erreurs Ei sur i allant de 1 à N) entre la prédiction Hi et les mesures Ipi. Le critère C peut être calculé comme étant par exemple une norme de l'erreur Ei prise au sens de L2. 15 Suivant un mode de réalisation, le critère C peut être calculé comme étant la somme des carrés des erreurs Ei sur i allant de 1 à N. Suivant un mode de réalisation, le critère C peut être calculé selon l'équation suivante C = È1H1 (P,Q)- i=c) Suivant un mode de réalisation, l'erreur Ei est calculée par un module 27 de 20 calcul d'erreur comme étant la différence entre les mesures Ipi et un modèle perturbé Hpi des mesures, selon l'équation = Ip - Hpi. A un instant donné, on dispose de N mesures complexes Ipi et de N prédictions complexes Hi issues du modèle 26, pour i allant de 1 à N. Chacune de 25 ces mesures Ipi est effectuée à une certaine fréquence ou pulsation (égale à la fréquence multipliée par 270, qui est notée ci-dessous (01. Les mesures Ipi sont par exemple rangées dans un vecteur Ip ayant comme coordonnées ces mesures Ipi, c'est-à-dire 2 19 ( Bru l ( El -> R1 Br21 El - > R2 Ip = BrN rl E1+RNr Br21 E2 - > R1 \BrNeNr \E Ne R Ne ) Les prédictions Hi sont par exemple rangées dans un vecteur H(P,Q) ayant comme coordonnées ces prédictions Hi, c'est-à-dire ( H (Br11) ( H (El -> R1) H (Br21) H (El -> R2) H (P ,Q) = H (BrN rl) H (El -> RN ) H (Br21) H(E2 -> ) (BrN eN r) (E Ne -> RN,) 5 En l'absence de matériau perturbateur 3 de champ magnétique par courant de Foucault P1=0, on suppose que le modèle 26 est convenablement calibré et qu'il suit correctement la mesure (alors appelée L en l'absence de matériau perturbateur 3 de champ magnétique) en fonction du temps t, selon l'équation Hi(t) = Ii(t) + £1 avec £1 négligeable (ci = 0 par la suite). 10 Lorsqu'un matériau perturbateur 3 de champ magnétique est présent, une perturbation P1, non négligeable, s'ajoute à la mesure L et on a alors Ipi= L+Pi et le modèle perturbé Hpi est égal à Hpi= FL+Pi. La figure 6 est un diagramme de Fresnel représentant la mesure perturbée Ipi par rapport à une mesure non perturbée L. La 20 figure 7 est un diagramme de Fresnel représentant la prédiction non perturbée Hi par rapport au modèle perturbé Hp,. On ne corrige pas la mesure Ip, qui elle est exacte mais on modélise la perturbation P, en calculant un modèle perturbé Hp, de telle sorte que le critère C 5 soit minimal. Suivant un mode de réalisation, l'unité 25 de traitement comporte un module 29 de calcul du critère C de minimisation d'une erreur E, calculée par rapport aux mesures Ip,. Suivant un mode de réalisation, 2 C = HP, -iPJ =o Suivant un mode de réalisation, on calcule comme modèle perturbé Hp, une 1 0 projection de la prédiction Hi sur les mesures Ip, en fonction d'un paramètre p caractéristique du matériau perturbateur 3 de champ magnétique, et par exemple uniquement en fonction du paramètre (3. Cette projection permet de réduire l'effet du matériau perturbateur 3 de champ magnétique par courants de Foucault. Suivant un mode de réalisation, on minimise le critère C = ET.E 15 avec E = Ip-Hp(H,Ip,f3). Le vecteur Hp(H,Ip,f3) est une fonction de projection de H sur Ip et est calculé en fonction du vecteur H(P, Q) et du vecteur Ip. Le vecteur Hp(H,Ip,f3) a comme coordonnées ce modèle perturbé Hpi, pour i allant de 1 à N, c'est-à-dire ( Hp(Br11) ( Hp(E1 -> R1) Hp(Br21) Hp(E1 -> R2) 20 Hp(H , Ip , fl) = Hp(BrN ,1) Hp(E1 -> Rivr) Hp(Br21) Hp(E2 -> R1) Hp(BrN eN r) _Hp(E ive _+ RN)) 21 Le modèle perturbé Hpi des mesures est calculé par un module 28 de calcul de modèle perturbé à partir des mesures Ipi et de la prédiction Hi par les équations suivantes : - ILI 5 II = = Ipi - où Pl est la perturbation apportée aux mesures Ipi par le matériau perturbateur 3 de champ magnétique, Pi est l'intensité de la perturbation Pl, al est un angle de déphasage provoqué par le matériau perturbateur 3 de champ magnétique dans la perturbation Pl. 1 0 Les angles de déphasage al sont liés par la relation caractéristique du matériau perturbateur 3 de champ magnétique selon l'équation a, = -arctan(f3. to, ). où p est un paramètre caractéristique du matériau perturbateur 3 de champ magnétique. 15 Le paramètre p est calculé comme étant identique pour toutes les mesures 'pl et représente un rapport d'une inductance Lp modélisant le matériau perturbateur 3 sur une résistance Rp modélisant le matériau perturbateur 3 dans une certaine position relative à l'émetteur 10, l'impédance du matériau perturbateur 3 étant Zp = Rp 2 0 La perturbation Pl et/ou l'intensité Pi de la perturbation Pl et/ou l'angle de déphasage al et/ou le paramètre p et/ou le modèle perturbe Hpi est calculé de manière à minimiser l'erreur E. On modélise la fonction de projection vecteur Hp(H,Ip,f3) pour identifier le paramètre (3. 25 Pour i allant de 1 à N, N équations sont à résoudre. En supposant II = Hi et III = Hpl, on obtient + P1 -Ipi = 0 puis on obtient le vecteur Hp de modèle projeté dont les coordonnées sont Hpi donnée par l'équation suivante : 30 Hpi = 1-11.(1+41.(j+ P.wi)) 22 Ai = pi -'1,62 2 +1 A, est appelé distance de projection. La perturbation P, et/ou l'intensité p, de la perturbation P, et/ou l'angle de déphasage a, et/ou le paramètre f3 et/ou le modèle perturbe Hp, et/ou la distance A, 5 de projection peuvent être calculés par l'unité 25 de traitement par un procédé de calcul à itérations successives selon l'une des figures 8 à 11. Par exemple, suivant un mode de réalisation, à chaque itération - on initialise les prédictions 1-1, du module 26 à des valeurs données, - puis on calcule par le module 28 par l'un des procédés de calcul ou 1 0 algorithmes décrits le modèle perturbé Hpi, en fonction de 1-1, et IN par exemple selon les équations Ai= pR(Hi).1(Ipi) - l(H,).3R(Ip,)]/[(1(H,)2 + R = , Hp, = 1-1,.(1+Ai.(j+ P.wi)) , 15 - puis on calcule par le module 27 l'erreur E, selon l'équation E, = Ip, - Hpi, - puis on calcule par le module 29 le critère C suivant l'équation N 2 C = 1 II/Pi - IPil N 2 1=0 , ou suivant l'équation C = 11E11 1=0 - puis on calcule par le modèle du module 26 la prédiction 1-1, qui correspond au critère C à l'aide de l'algorithme de minimisation, par exemple de type 20 Levenberg-Marquardt, du modèle. Cet algorithme de minimisation cherche par le module 26 la position P et/ou l'orientation Q du récepteur 20 qui minimise l'écart entre la prédiction 1-1, selon le critère C et les mesures Ip,. La prédiction 1-1, ainsi calculée par le modèle 26 est utilisée pour l'itération suivante. On poursuit les itérations jusqu'à ce que, par exemple le critère C calculé devienne inférieur à une 25 borne positive non nulle ii, prescrite. avec 23 Dans le cas où le matériau perturbateur 3 se déplace par rapport à l'émetteur 10 et/ou au récepteur 20, le paramètre f3 varie dans le temps en fonction du déplacement du matériau perturbateur 3. Chaque module 26, 27, 28, 29 de l'unité 25 de traitement et/ou chaque étape 5 du procédé peut être mis en oeuvre par des moyens informatiques, par exemple par un ou plusieurs calculateur(s), un ou plusieurs ordinateur(s), un ou plusieurs microprocesseur(s) et un ou plusieurs programme(s) d'ordinateur. Le ou les programme(s) d'ordinateur comporte des instructions de code pour la mise en oeuvre du procédé de compensation. 10 Suivant un mode de réalisation, le localisateur magnétique 1 comprenant : - au moins un émetteur 10 comprenant une pluralité (Ne) de bobines émettrices et un générateur apte à générer au moins un signal d'émission, relié aux bobines émettrices, pour que chaque bobine émettrice soit apte à émettre au moins 15 un champ magnétique d'émission à au moins une fréquence déterminée co, en réponse au signal d'émission qui lui est envoyé par le générateur, - au moins un récepteur comprenant une ou plusieurs (Nr) bobines réceptrices et un dispositif de mesure, qui est apte à être relié à la ou aux bobines réceptrices et qui est apte à mesurer pour chaque bobine réceptrice une pluralité de 20 champs magnétiques de réception induits respectivement par la pluralité de champs d'émission et appelés mesures Ipi pour i allant de 1 à N, - une unité 25 de traitement comportant un modèle de champ permettant de calculer une position P et/ou une orientation Q du récepteur par calcul de la prédiction Hi des mesures en fonction du C calculé en fonction de l'erreur E, elle-25 même calculée par rapport aux mesures IN caractérisé en ce que l'unité 25 de traitement est configurée pour que l'erreur Ei soit calculée par itérations successives depuis des valeurs initiales prescrites de la prédiction Hi comme étant la différence entre les mesures Ipi et un modèle perturbé Hpi des 30 mesures, selon l'équation = Ip - FIN 24 le modèle perturbé Hp, des mesures vérifiant les équations suivantes Hpi= = 111 = -arctan(f3. (Di ), 5 où P, est une perturbation apportée aux mesures Ip, par le matériau perturbateur 3 de champ magnétique, 1), est l'intensité de la perturbation, a, est un angle de déphasage provoqué par le matériau perturbateur 3 de champ magnétique, f3 étant un paramètre du matériau perturbateur 3 de champ magnétique, le paramètre f3 étant identique pour toutes les mesures IN 1 0 l'unité 25 de traitement étant configurée pour effectuer le calcul de manière à minimiser le critère C. L'unité 25 de traitement est ainsi configurée pour compenser la présence du matériau perturbateur 3 de champ magnétique. Le localisateur magnétique 1 comprend ainsi dans son unité 25 de traitement 15 des moyens de compensation de la présence du matériau perturbateur 3 de champ magnétique. On décrit ci-dessous un premier algorithme pour effectuer le calcul, en référence à la figure 9. 20 Suivant un mode de réalisation, en partant de l'équation -Ip, +3'.H,.(j+f3.(0,)) = 0 , on obtient sur les parties réelles et les parties imaginaires de celle-ci un système de deux équations, qui présente une solution unique pour A, et (3, à savoir la solution A, = PR(Hi).1(Ipi) - l(H,).3R(Ip,)]/[(1(H,)2 + 25 et R = Suivant un mode de réalisation, le premier algorithme A de calcul prévoit que f3 est calculé comme étant une solution au système d'équations suivant, provenant des équations précédentes donnant Hpi, à savoir 30 Ai3R(Hi).(3. coi= 3R(Ipi) - 3R(H,) + 25 et Ai.1(n). f3. wj= 1(Ipi) - 1(EL) - Ai.3R(EL) pour i allant de 1 à N, où t.(Hi) est la partie réelle de la prédiction Hi et est également noté 5 31(n) est la partie imaginaire de la prédiction Hi et est également noté 3(H1), t,(Ipi) est la partie réelle de la mesure Ipi et est également noté 31(Ipi) est la partie imaginaire de la mesure Ipi et est également noté 3(1P1). Suivant un mode de réalisation, ce premier algorithme A de calcul peut prévoir que le paramètre p est calculé comme minimisant un vecteur A.f3 - B sur ses 10 coordonnées, où A est un vecteur, dont des premières et deuxièmes coordonnées sont formées de respectivement : Ai.3.(Hi).(0, et B est un vecteur, dont des premières et deuxièmes coordonnées sont formées de respectivement: 3R(Ipi) - t.(Hi) + Ai.1(EL) et 1(Ipi) - 1(EL) - Ai.3R(EL). 15 Dans un mode de réalisation, le paramètre p peut être calculé comme minimisant la somme des carrés des coordonnées du vecteur A.f3 - B pour i allant de 1 à N. Dans un autre mode de réalisation, le paramètre p peut être calculé comme étant une solution minimale à l'équation vectorielle A.f3 = B, par AT.B 20 1A1 L'opérateur T désigne la transposition. Dans un autre mode de réalisation, on utilise une matrice de poids notée W telle que : (W.A). f3 = (W.B) 25 avec W=P.I et P=(pi, p2, p3, pN). Le paramètre f3 peut alors être calculé comme étant 26 (W - A)T - B fi = l(W - A)12 Par exemple, les pi peuvent être égaux à une puissance de la norme des Hi , c'est-à-dire P = k ,11111 Ainsi, plus k est grand et plus on prend en compte les grandes mesures, par 5 rapport aux petites. k=2 semble être un bon compromis. On évite ainsi que les petites valeurs des coordonnées des vecteurs A et B conduisent à des phases erronées et dans l'estimation du p on peut les rejeter d'avantage. Dans un mode de réalisation, ce premier algorithme A de calcul, peut être mis en oeuvre par les étapes suivantes : 10 - calcul de A, selon l'équation 41= Pa(1-1,).31(Ipi) - + AT - B (W - A) - calcul de selon l'équation - calcul de Hp, selon l'équation Hp, = H,.(1+4,.(j+ f3.(0,)), ainsi que représenté à la figure 9. 15 On décrit ci-dessous un deuxième algorithme de calcul, en référence à la figure 10. Suivant un mode de réalisation, en partant de l'équation -Ip, +4,.H,.(j+f3.(0,)) = 0, on obtient sur les parties réelles et les parties imaginaires de celle-ci un 2 0 système de deux équations, qui présente une solution unique pour A, et (3, à savoir la solution = [31(Ipi) - 31(H,)]/PR(H,)+ 1(1-).(3. (bd Suivant un mode de réalisation, le deuxième algorithme B de calcul prévoit que f3 est calculé comme étant une solution à l'équation suivante, provenant de 25 l'équation précédente donnant Ai, à savoir I T - B fi 1Al2 ou fi = , lue - A)12 27 (3. wi.Pa(Hi).31(Ipi) - + t.(Eli)2 + 31(1-1,)2- Ipi))=0 pour i allant de 1 à N. Suivant un mode de réalisation, ce deuxième algorithme B de calcul peut 5 prévoir que le paramètre f3 est calculé comme minimisant un vecteur A'13 + B' sur ses coordonnées, où A' est un vecteur, dont les coordonnées sont formées de respectivement : Pa(n).31(Ipi) - 3.(Ipi).31(Eli)] , B' est un vecteur, dont les coordonnées sont formées de respectivement: 10 3R(Hi)2 + 31(1-1,)2- (3R(Hi).3R(Ipi)+31(Hi).( Ipi)). Dans un mode de réalisation, le paramètre (3 peut être calculé comme minimisant la somme des carrés des coordonnées du vecteur A'13 + B' pour i allant de 1 à N. Dans un autre mode de réalisation, le paramètre (3 peut être calculé comme 15 étant une solution minimale à l'équation vectorielle A'.(3 = -B', par A'T.B1 fl - 2 Dans un mode de réalisation, ce deuxième algorithme B de calcul peut être mis en oeuvre par les étapes suivantes : - calcul des vecteurs A' et B' selon les coordonnées indiquées ci-dessus, A'T.B1 fl - 2 (W - A' )T - B' si on utilise la matrice de poids précitée W, fl = , A')12 2 0 - calcul de f3 selon l'équation ou selon l'équation - calcul de Ai selon l'équation Ai = - 3I(Hi)]/PR(H)+ 3I(Hi).(3.(oi] et calcul de Hpi selon l'équation Hpi = Hi.(1 +Ai. (j+ f3.(oi)), ainsi que représenté à la figure 10. 28 On décrit ci-dessous un troisième algorithme C de calcul, en référence à la figure 11. Suivant un mode de réalisation, en partant de l'équation -Ip, +4,.H,.(j+f3.(0,)) = O, 5 on obtient sur les parties réelles et les parties imaginaires de celle-ci un système de deux équations, à savoir - 3R(Ipi) + co, - = 0 et - 31(Ip,) + A.(3(H) + 1(1-).(3. (01) = 0 1 0 Suivant un mode de réalisation, le troisième algorithme C de calcul prévoit que p est calculé comme étant une solution à ce système d'équations. Par exemple, l'algorithme de Levenberg-Marquardt qui fait la résolution inverse calcule en plus le paramètre f3 comme étant une variable d'état. Suivant un mode de réalisation, ce troisième algorithme C de calcul peut 15 prévoir qu'un vecteur A ayant A, comme coordonnées est calculé comme minimisant un vecteur C.A - D sur ses coordonnées, où D est un vecteur, dont des premières et deuxièmes coordonnées sont formées de respectivement: - OR(H,) - t.(Ipi)) et -(31(EL) - C est une matrice, ayant comme coefficients correspondants aux A, 2 0 respectivement 3R(1-1,)13. co, - ll(EL) et 3R(H,) + 31(1-1,)13. co, , c'est-à-dire que le vecteur C.A - D est égal à: (91(11°)- P - (Do - "3(11 0)) 0 0 (91(110) + Z(11,) - 13 - a ),) 0 0 r A 0 (91(1 i) - p - col- 7:5(111)) 0 0 Ai 0 (91(111) + (111) - P - coi) 000 0 (91(H N). p.coN z(HN)) (91(1 IN) ± Z5(1 IN) - P - co N), ^ 73(11,) 91(1-Pi) - 91(111) ^ (1P1)- -`3(111) 91(IpN)- 91(11N) z((ipN -=5(HN), Dans un autre mode de réalisation, le paramètre f3 peut être calculé comme étant une solution à l'équation vectorielle C.A =D. Par exemple, on calcule une 25 matrice C+ qui est la pseudo-inverse de C, pour calculer le vecteur A come étant A = C.D. 29 Dans un mode de réalisation, ce troisième algorithme C de calcul peut être mis en oeuvre par les étapes suivantes : - estimation du paramètre p par l'algorithme de Levenberg-Marquardt, - calcul de la matrice C et du vecteur D, calcul du vecteur A vérifiant l'équation 5 C.A =D, par exemple par A =C+.D - calcul de Hpi selon l'équation Hpi = Hi.(1+Ai.(j+ f3.(bi)), ainsi que représenté à la figure 11. On décrit ci-dessous une variante du procédé et du dispositif de 10 compensation suivant l'invention. Suivant cette variante, chaque bobine émettrice émet plusieurs fréquences. On émet ainsi plusieurs fréquences par axe de bobine émettrice. On peut ainsi considérer que le matériau perturbateur 3 de champ magnétique constitue plusieurs matériaux perturbateurs 3 de champ magnétique et que les distances de projection sont liées pour les différentes fréquences. On peut 15 considérer par exemple un localisateur 1 ayant une bobine émettrice émettant à K fréquences différentes et J bobines réceptrices, avec K supérieur ou égal à 2 et J supérieur ou égal à 2. On a donc N=K.J mesures Ipi. On a donc N équations de la forme : Ipi = Hi.(1+Ai.(j+ 20 On peut décomposer l'indice i appartenant à [1, N] en deux indices j appartenant à [1, J] et k appartenant à [1, K]. L'équation précédente devient alors : Ipik - Hik. (1 +Aik. (j+ 13.(),0). Dans toutes les équations, la lettre j n'apparaissant pas en indice est le nombre complexe dont le carré est égal à -1, ainsi que cela est connu de l'homme du 25 métier. On pose le changement de variable : Wik Ajk Pj 1±(6.0jk p; ne dépend que de j. Les équations à minimiser deviennent : 30 Rik = ik) -(Ipik) + p Wik ((1-1,k). fl co>k - 3(11, ))= 0 ± co>k cojk (3(11>k ) - /I - co>k +(HJk))= z(H jk) z(Ip ,k) P 1±(11. COik On a donc un système de 2JK équations à J+1 inconnues à minimiser. Suivant un mode de réalisation, 2.J.K > J+1. Si on résout deux par deux, on obtient : vik = R(HJk) - ffl. (Ip ik) + 3(H ik) - 3(Ip ik) " ik = SI I ik) - 3(IP ik) 3(1 ik) - 9î(IP ik) 5 u ik =1H ik12 ±vp jkl2 2 - vik "ik - fi = vik - La solution aux moindres carrés s'exprime par : li 2 2 jk HJk +1Ip - 2 - vjk k=1 u2k k=1 J K jk -(V jk -11 jkl2) j=1 k=1 J K 71,2k 1=1 k=1 10 Si on a L émetteurs 10 avec L supérieur ou égal à 2, on aura un troisième indice 1 appartenant à [1, L] et on cherche un paramètre 13i par émetteur 101, selon les équations suivantes : li 12 12 "jk/ - H-jk/ I ± 11-Pik/ I -2 - viki pli = Pi et fi = et 31 J K jkl -(V jkl jk112) 1=1 k=1 J K u j=1 k=1 On a dans ce cas 2JKL mesures pour L(J+1) inconnues. Suivant un mode de réalisation, 2.J.K.L > L.(J+1). On remarque que l'augmentation du nombre de fréquences par axes 5 n'augmente pas le nombre d'inconnues et donc accroît la redondance. Bien entendu, les possibilités, modes de réalisation, caractéristiques, variantes et exemples ci-dessus peuvent être combinés l'un avec l'autre ou être sélectionnés indépendamment l'un de l'autre. REVENDICATIONS1. Procédé de compensation d'un localisateur magnétique en présence d'au moins un matériau perturbateur de champ magnétique, ledit localisateur magnétique 5 comprenant : - au moins un émetteur comprenant au moins une (Ne) bobine émettrice (El, E2, E3,...) et au moins un générateur d'au moins un signal d'émission, relié à la au moins une bobine émettrice (El, E2, E3,...), pour que la au moins une bobine émettrice (El, E2, E3,...) émette au moins un champ magnétique (Bel, Be2, 1 0 Be3,...) d'émission à au moins une fréquence déterminée co, en réponse au signal d'émission qui lui est envoyé par le générateur, - au moins un récepteur comprenant au moins une (Nr) bobine réceptrice (R1, R2, R3,...) et un dispositif de mesure, qui est relié à la au moins une bobine réceptrice (R1, R2, R3,...) et qui fournit au moins une mesure Ipi d'un champ 15 magnétique de réception (Brl 1, Br21, Br31 ; Br12, Br22, Br32 ; Br13, Br23, Br33,...) induit respectivement par le champ magnétique (Bel, Be2, Be3,...) d'émission dans chaque bobine réceptrice (R1, R2, R3,...), de manière à fournir plusieurs mesures Ipi pour i allant de 1 à N, - une unité (25) de traitement comportant un modèle de champ permettant de 2 0 calculer une position (P) et/ou une orientation (Q) du récepteur par calcul d'une prédiction Hi des mesures en fonction d'un critère (C ) calculé en fonction d'une erreur E, elle-même calculée par rapport aux mesures IN caractérisé en ce que l'erreur Ei est calculée par itérations successives depuis des valeurs initiales 25 prescrites de la prédiction Hi comme étant la différence entre les mesures Ipi et un modèle perturbé Hpi des mesures, selon l'équation Ei = Ip - FIN le modèle perturbé Hpi des mesures vérifiant les équations suivantes Hpi= 33 a, = -arctan(f3. c), ), où P, est la perturbation apportée aux mesures Ip, par le matériau perturbateur (3) de champ magnétique, p, est l'intensité de la perturbation, a, est un angle de déphasage provoqué par le matériau perturbateur (3) de champ magnétique, 13 étant un paramètre du matériau perturbateur (3) de champ magnétique, le paramètre 13 étant identique pour toutes les mesures IN le calcul étant effectué de manière à minimiser le critère (C ). 2. Procédé de compensation suivant la revendication 1, caractérisé en ce que le modèle de champ permettant de calculer une position (P) et/ou une orientation (Q) 1 0 du récepteur par calcul de la prédiction Hi des mesures en fonction du critère (C ) utilise un algorithme de minimisation de Levenberg-Marquardt. 3. Procédé de compensation suivant l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'à chaque itération 15 - on initialise la prédiction Hi aux valeurs initiales prescrites, - puis on calcule A1, le paramètre 13 comme minimisant le vecteur A.f3 - B sur ses coordonnées, et le modèle perturbé Hpi en fonction de Hi et Ip, selon les équations = PR(Eli).1(Ipi) - l(H,).3R(Ip,)]/[(1(H,)2 + 20 Hp, = EL.(1+3,,.(j+ , où A est un vecteur, dont des premières et deuxièmes coordonnées sont formées de respectivement : A21 =A134E11).0)1 et A21+1=3,1.1(1-11).(Di B est un vecteur, dont des premières et deuxièmes coordonnées sont formées de respectivement: 25 B21 = - + 3,1.31(EL) et B21+1 = 31(Ipl) - 1(EL) - pour i allant de 1 à N, où 3R(H,) est la partie réelle de la prédiction Hi, l(H) est la partie imaginaire de la prédiction Hi, 3R(Ipl) est la partie réelle de la mesure IN 30 1(Ipl) est la partie imaginaire de la mesure IN - puis on calcule l'erreur El, 34 - puis on calcule le critère C suivant l'équation 2 ' - puis on calcule par le modèle de champ la prédiction Hi qui correspond au critère C, 5 cette prédiction Hi calculée étant utilisée pour l'itération suivante jusqu'à ce que le critère C calculé devienne inférieur à une borne positive non nulle q, prescrite. 4. Procédé de compensation suivant l'une quelconque des revendications 1 et 2, caractérisé en ce qu'à chaque itération - on initialise la prédiction Hi aux valeurs initiales prescrites, - puis on calcule Ai, le paramètre f3 et le modèle perturbé Hpi en fonction de Hi et Ipi selon les équations Ai= PR(Hi).31(Ipi) - 31(Hi).3R(Ipi)]/[(31(Hi)2 + AT.B fl - 2 Hpi = Hi.(1+Ai.(j+ P.wi)) , où A est un vecteur, dont des premières et deuxièmes coordonnées sont formées de respectivement : A2i =Ai.341-1i).Wi et A2i+1=34.1(1-1i).wi B est un vecteur, dont des premières et deuxièmes coordonnées sont formées de respectivement: B2i = - t.(Hi) + Ai.31(Hi) et B2i+1 = 31(Ipi) - 31(Hi) - Ai3R(Hi), pour i allant de 1 à N, où 3R(Hi) est la partie réelle de la prédiction Hi, 31(Hi) est la partie imaginaire de la prédiction Hi, 3R(Ipi) est la partie réelle de la mesure Ipi, 31(Ipi) est la partie imaginaire de la mesure Ipi. - puis on calcule l'erreur - puis on calcule le critère C suivant l'équation 35 2 - puis on calcule par le modèle de champ la prédiction Hi qui correspond au critère C, cette prédiction Hi calculée étant utilisée pour l'itération suivante jusqu'à ce 5 que le critère C calculé devienne inférieur à une borne positive non nulle q, prescrite. 5. Procédé de compensation suivant la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce qu'à chaque itération - on initialise la prédiction Hi aux valeurs initiales prescrites, 10 - puis on calcule le paramètre p comme minimisant le vecteur A'13+B' sur ses coordonnées, puis les 41 et le modèle perturbé Hpi en fonction de Hi et Ipi selon les équations : 3(11) A= ffl.(Hi)+3(Hi)flco1 Hpi = Eli.(1+41.(j+ P.wi)) 15 où A' est un vecteur, dont les coordonnées sont formées de respectivement : oi1.P41-11).31(Ipi) - , B' est un vecteur, dont les coordonnées sont formées de respectivement: t,(111)2 31(n)2 OR(E11)3R(Ipi)+31(1-11).(Ipi)), pour i allant de 1 à N, où 2 0 3R(1-11) est la partie réelle de la prédiction Hi, l(H) est la partie imaginaire de la prédiction Hi, 3R(Ipi) est la partie réelle de la mesure Ipi, 31(Ipi) est la partie imaginaire de la mesure Ipi, - puis on calcule l'erreur 25 - puis on calcule le critère C suivant l'équation 2 36 - puis on calcule par le modèle de champ la prédiction Hi qui correspond au critère C, cette prédiction Hi calculée étant utilisée pour l'itération suivante jusqu'à ce que le critère C calculé devienne inférieur à une borne positive non nulle 11, prescrite. 5 6. Procédé de compensation suivant la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce qu'à chaque itération - on initialise la prédiction Hi aux valeurs initiales prescrites, - puis on calcule le paramètre p puis les Ai et le modèle perturbé Hpi en fonction de Hi et Ipi selon les équations : A'T.B1 10 fl - 2 3(Ipi)-3(Hi) ffl.(Hi)+3(Hi)flco, Hpi = Eli.(1+41.(j+ P.wi)) où A' est un vecteur, dont les coordonnées sont formées de respectivement : - 3.(Ipi).1(Hi)] , 15 B' est un vecteur, dont les coordonnées sont formées de respectivement: t,(111)2 .31(n)2 OR(E11).3R(Ipi)+1(1-11).(Ipi)), pour i allant de 1 à N, où 3R(Eli) est la partie réelle de la prédiction Hi, l(H) est la partie imaginaire de la prédiction Hi, 2 0 3R(Ipi) est la partie réelle de la mesure Ipi, 1(Ipi) est la partie imaginaire de la mesure Ipi, - puis on calcule l'erreur - puis on calcule le critère C suivant l'équation 2 25 - puis on calcule par le modèle de champ la prédiction Hi qui correspond au critère C, 37 cette prédiction Hi calculée étant utilisée pour l'itération suivante jusqu'à ce que le critère C calculé devienne inférieur à une borne positive non nulle 11, prescrite. 7. Procédé de compensation suivant la revendication 2, caractérisé en ce qu'à 5 chaque itération - on initialise la prédiction Hi aux valeurs initiales prescrites, - le paramètre p est alors ajouté comme variable d'état de l'algorithme de minimisation de Levenberg-Marquardt, - puis on calcule les Ai en fonction de Hi et Ipi et p selon les équations : 10 Hpi = Hi.(1+Ai.(j+ P.wi)), les Ai étant une solution au système d'équations suivant : 3R(Hi) - 3R(Ipi) + Ai.OR(Hi).(3. coi - = 0 et l(Hi) - 1(Ipi) + Ai.OR(Hi) + l(H).(3. coi) = 0 15 pour i allant de 1 à N, où 3R(Hi) est la partie réelle de la prédiction Hi, 31(Hi) est la partie imaginaire de la prédiction Hi, 3R(Ipi) est la partie réelle de la mesure Ipi, 1(Ipi) est la partie imaginaire de la mesure Ipi, 20 - puis on calcule l'erreur - puis on calcule le critère C suivant l'équation 2 - puis on calcule par le modèle de champ la prédiction Hi qui correspond au critère C, 25 cette prédiction Hi calculée étant utilisée pour l'itération suivante jusqu'à ce que le critère C calculé devienne inférieur à une borne positive non nulle 11, prescrite. 8. Procédé de compensation suivant la revendication 2, caractérisé en ce qu'à chaque itération - on initialise la prédiction Hi aux valeurs initiales prescrites, 38 - le paramètre f3 est alors ajouté comme variable d'état de l'algorithme de minimisation de Levenberg-Marquardt, - puis on calcule les A, comme minimisant un vecteur C.A-D sur ses coordonnées en fonction de H, et Ip, et f3 selon les équations : 5 Hp, = Hi.(1+Ai.(j+ où A est un vecteur A ayant A, comme coordonnées, D est un vecteur, dont des premières et deuxièmes coordonnées sont formées de respectivement: -(3R(H,) - t.(Ipi)) et -(31(EL) - C est une matrice, ayant comme coefficients correspondants aux A, 10 respectivement 3R(H,)13. co, - 31(EL) et 3R(Hi) + 31(n).(3. co, et les coefficients 0 ailleurs, pour i allant de 1 à N, où 3R(H,) est la partie réelle de la prédiction Hi, 31(Hi) est la partie imaginaire de la prédiction Hi, 15 3R(Ipi) est la partie réelle de la mesure IN 31(Ip,) est la partie imaginaire de la mesure IN - puis on calcule l'erreur - puis on calcule le critère C suivant l'équation 2 2 0 - puis on calcule par le modèle de champ la prédiction Hi qui correspond au critère C, cette prédiction Hi calculée étant utilisée pour l'itération suivante jusqu'à ce que le critère C calculé devienne inférieur à une borne positive non nulle n, prescrite. 9. Procédé de compensation suivant l'une quelconque des revendications 25 précédentes, caractérisé en ce que les fréquences déterminées co, sont distinctes l'une de l'autre. 10. Procédé de compensation suivant l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'émetteur (10) comporte une pluralité (Ne) de 39 bobines émettrices (El, E2, E3) émettant respectivement une pluralité de champs magnétiques (Bel, Be2, Be3) d'émission, le dispositif de mesure mesurant pour chaque bobine réceptrice (R1, R2, R3) une pluralité de champs magnétiques de réception (Brll, Br21, Br31 ; Br12, Br22, 5 Br32 ; Br13, Br23, Br33) induits respectivement par la pluralité de champs magnétiques (Bel, Be2, Be3) d'émission dans la bobine réceptrice (R1, R2, R3) et formant les mesures Ip pour i allant de 1 à N. 11. Procédé de compensation suivant l'une quelconque des revendications 10 précédentes, caractérisé en ce que le localisateur (1) comporte une bobine émettrice émettant à K fréquences différentes wik et J bobines réceptrices, le dispositif de mesure fournissant les mesures Ipik pour l'indice j allant de 1 à J et l'indice k allant de 1 à K, l'unité (25) de traitement calcule 12 12 Ujk - /-ijk ± jk - 2 - vik k=1 15 P1- j2k k=1 et J K jk -(V jk -11 jkl2) fi 1=1 k=1 J K Uk 1=1 k=1 avec vik =9î(Hik) - ffl(Ip jk) + 3(I-- jk) - 3(Ip jk) UJk SI I jk) - 3(IP jk) - 3(11 jk)*9î(IP jk) 20 = Hik.(1+Aik.(j+ P. wik)) Wik jk Pi 40 Où Hjk est la prédiction, pl est l'intensité de la perturbation, Hpik est le modèle perturbé et Hpik - =0. 12. Procédé de compensation suivant l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le localisateur (1) comporte L bobines émettrices 5 ou L émetteurs (10), qui émettent à K fréquences différentes (Pim, et J bobines réceptrices, le dispositif de mesure fournissant les mesures Ipad pour l'indice j allant de 1 à J, l'indice k allant de 1 à K et l'indice 1 allant de 1 à L, l'unité (25) de traitement calcule jkl - H jkl2 1 l I+IP jkl2 1 l 2-V = k =1 P 11,21k1 k=1 10 et J K jkl -(V jkl j j=1 k=1 J K j2k1 1=1 k=1 avec 91fHild fflf/Pild 3(Hild ) - 3(iPild "fia = (91(Hild ) - 3(//91) -3(1-1 ki) - 9î(IP ki))* cojkl 'Nd - Hjkl. (1 +Ajkl. (i+ 13. Wjkl)) Wjkl 15 Où Hjki est la prédiction, pe est l'intensité de la perturbation, Hpiki est le modèle perturbé et Hpjki -IPjkl =0. 13. Localisateur magnétique (1) comprenant : 20 - au moins un émetteur comprenant au moins une (Ne) bobine émettrice (El, E2, E3) et au moins un générateur apte à générer au moins un signal d'émission, relié à la au moins une bobine émettrice (El, E2, E3), pour que la au moins une 2) 41 bobine émettrice (El, E2, E3) soit apte à émettre au moins un champ magnétique (Bel, Be2, Be3) d'émission à au moins une fréquence déterminée (01 en réponse au signal d'émission qui lui est envoyé par le générateur, - au moins un récepteur comprenant au moins une (Nr) bobine réceptrice 5 (R1, R2, R3) et un dispositif de mesure, qui est apte à être relié à la au moins une bobine réceptrice (R1, R2, R3) et qui est apte à fournir au moins une mesure Ipi d'un champ magnétique de réception (Brl 1, Br21, Br31 ; Br12, Br22, Br32 ; Br13, Br23, Br33) induit respectivement par le champ magnétique (Bel, Be2, Be3) d'émission dans chaque bobine réceptrice (R1, R2, R3), pour fournir plusieurs mesures Ipi pour 10 i allant de 1 à N, - une unité (25) de traitement comportant un modèle de champ permettant de calculer une position (P) et/ou une orientation (Q) du récepteur par calcul d'une prédiction Hi des mesures en fonction d'un critère (C ) calculé en fonction d'une erreur E, elle-même calculée par rapport aux mesures Ipi, 15 caractérisé en ce que l'unité (25) de traitement est configurée pour que l'erreur Ei soit calculée par itérations successives depuis des valeurs initiales prescrites de la prédiction Hi comme étant la différence entre les mesures Ipi et un modèle perturbé Hpi des mesures, selon l'équation 20 = Ipi - Hpi, le modèle perturbé Hpi des mesures vérifiant les équations suivantes Hpi= Pi 1H, 1 = -arctan(f3. co), 25 où P1 est une perturbation apportée aux mesures Ipi par un matériau perturbateur (3) de champ magnétique, pi est l'intensité de la perturbation, ai est un angle de déphasage provoqué par le matériau perturbateur (3) de champ magnétique, I étant un paramètre du matériau perturbateur (3) de champ magnétique, le paramètre p étant identique pour toutes les mesures Ipi, 42 l'unité (25) de traitement étant configurée pour effectuer le calcul de manière à minimiser le critère (C ). 14. Programme d'ordinateur, comportant des instructions de code pour la 5 mise en oeuvre du procédé de compensation d'un localisateur magnétique en présence d'au moins un matériau perturbateur de champ magnétiques suivant l'une quelconque des revendications 1 à 12, lorsque le programme d'ordinateur est exécuté sur un calculateur.