Brevet FR3059702A1 — publié le 20180608

SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE DÉTERMINATION DES PROPRIÉTÉS DE FORMATION DE FORMATIONS À RÉSISTIVITÉ ÉLEVÉE CONTEXTE DE L'INVENTION [0001] La présente divulgation concerne, d'une manière générale, des systèmes de diagraphie de fond de puits, et des procédés de détermination des propriétés de fond de puits d'une formation de subsurface. [0002] Les compagnies pétrolières et gazières utilisent souvent différentes techniques de diagraphie pour déterminer une résistivité d'une formation (« résistivité de formation ») qui peut être interprétée afin d'estimer une abondance de ressources d'hydrocarbure dans la formation, une abondance d'autres types de fluides dans la formation, les propriétés des matériaux et la composition d'une ou de plusieurs couches de la formation, le volume de la formation, ainsi que d'autres propriétés de la formation (« propriétés de formation »). Des outils de diagraphie par induction à multiples composants (MCI) sont souvent utilisés pour évaluer la résistivité de formation de divers types de formations anisotropes, qui présentent des propriétés de résistivité dépendant de la direction. Plus particulièrement, des outils de diagraphie MCI peuvent être utilisés pour obtenir des mesures indiquant une résistivité de formation de formations anisotropes à la fois verticalement et horizontalement, la résistivité horizontale faisant référence à la résistivité le long d'une direction parallèle un plan de la formation, et la résistivité verticale faisant référence à la résistivité le long d'une direction perpendiculaire au plan de la formation. Un procédé d'inversion est mis en oeuvre sur les mesures afin d'obtenir la résistivité horizontale et la résistivité verticale. Les résistivités horizontale et verticale de la formation sont utilisées comme paramètres d'entrée de modèle d'une ou de plusieurs modélisations géologiques de la formation qui indiquent les propriétés de formation de la formation. [0003] Les outils de diagraphie MCI actuellement disponibles surestiment parfois une résistivité verticale d'une formation dans une formation à résistivité élevée. Ces erreurs se propagent et donnent des modélisations géologiques erronées de la formation, qui fournissent à leur tour des indications erronées en ce qui concerne les propriétés de formation de la formation. BRÈVE DESCRIPTION DES FIGURES [0004] Les figures suivantes sont incluses pour illustrer certains aspects de la présente divulgation, et ne doivent pas être considérées comme des modes de réalisation exclusifs. L'objet divulgué admet des modifications considérables, des transformations, des 3059702 2 combinaisons, et des équivalents de forme et de fonction, sans s'écarter de la portée de la présente divulgation. [0005] La figure 1 est une vue schématique d'un environnement de diagraphie en cours de forage (« LWD ») dans lequel un système de diagraphie est déployé sur 5 un train d'outils dans un espace annulaire d'un tubage de production ; [0006] la figure 2 est une vue schématique d'une orientation d'un outil de diagraphie MCI du système de diagraphie de fond de puits de la figure 1 par rapport à la formation, l'outil de diagraphie MCI et la formation n'étant pas alignés ; [0007] la figure 3 est un schéma fonctionnel des composants du système 10 de diagraphie de fond de puits de la figure 1 ; et [0008] la figure 4 est un schéma de procédé d'un procédé permettant de déterminer des propriétés de formation de la formation de fond de puits. [0009] Les figures illustrées ne sont données qu'à titre d'exemple et ne sont pas destinées à affirmer ou à impliquer une quelconque limitation relative à 15 l'environnement, à l'architecture, à la conception ou au procédé dans lesquels les différents modes de réalisation peuvent être mis en oeuvre. DESCRIPTION DÉTAILLÉE DES MODES DE RÉALISATION ILLUSTRATIFS [0010] Dans la description détaillée suivante des modes de réalisation illustratifs, il est fait référence aux dessins annexés qui font partie intégrante de celle-ci. Ces 20 modes de réalisation sont décrits de manière suffisamment détaillée pour permettre à l'homme du métier de pratiquer l'invention, et il est entendu que d'autres modes de réalisation peuvent être utilisés et que des changements structuraux, mécaniques, électriques et chimiques logiques peuvent être faits sans s'éloigner de l'esprit et de la portée de l'invention. Pour éviter les détails superflus et permettre à l'homme du métier de pratiquer les modes de réalisation décrits ici, la 25 description peut omettre certaines informations connues de l'homme du métier. La description détaillée suivante n'est, par conséquent, pas à considérer dans un sens limitatif, et la portée des modes de réalisation illustratifs est définie uniquement par les revendications annexées. [0011] La présente divulgation concerne des systèmes de diagraphie de fond de puits, et des procédés de détermination des propriétés de fond de puits d'une formation 30 de fond de puits. Le système de diagraphie de fond de puits est déployé dans un puits de forage d'un puits et comprend un outil de diagraphie MCI ayant un ensemble de bobines émettrices permettant d'envoyer des signaux électromagnétiques dans une formation à proximité de l'outil de diagraphie MCI. L'outil de diagraphie MCI comprend également un ensemble de bobines réceptrices permettant de mesurer des signaux de réponse (« un premier ensemble de mesures ») 3059702 3 provenant de la formation. Le système de diagraphie de fond de puits comprend également un processeur permettant de mettre en oeuvre un procédé d'inversion du premier ensemble de mesures afin de déterminer un ou plusieurs paramètres d'entrée de modèle pour une ou plusieurs modélisations géologiques de la formation qui indiquent les propriétés de formation de la 5 formation. Tels que définis dans le présent document, les paramètres de modèles comprennent la résistivité horizontale de la formation, la résistivité verticale de la formation, un angle de pendage relatif entre un axe longitudinal de l'outil de diagraphie MCI et le plan normal de la formation (« angle de pendage »), un angle d'azimut relatif entre l'axe longitudinal de l'outil de diagraphie MCI et un axe x d'un plan de la formation, ainsi que d'autres paramètres décrits dans 10 le présent document. [0012] Le processeur utilise ensuite les paramètres de modèle comme entrées dans une ou plusieurs modélisations géologiques de la formation afin de déterminer un ensemble de valeurs (« premier ensemble de valeurs ») pour une ou plusieurs propriétés de formation de la formation. Par exemple, la résistivité horizontale et la résistivité verticale 15 peuvent être entrées dans un modèle bimodal de physique des roches afin de déterminer des valeurs pour la résistivité d'une couche de schiste d'une formation stratifiée comportant une couche de schiste et une couche de roche de réservoir (« couche de sable »), la résistivité de la couche de sable de la formation stratifiée, le volume de la formation stratifiée, la fraction volumétrique du schiste stratifié dans la formation stratifiée, la saturation en eau de la formation 20 (désignés individuellement et collectivement par « propriétés de formation »), ainsi que d'autres propriétés de formation décrites dans le présent document. [0013] Le système de diagraphie de fond de puits comprend également un outil de diagraphie supplémentaire tel que, mais sans s'y limiter, un outil de diagraphie par résonance magnétique nucléaire (« RMN »), un outil de diagraphie acoustique, et un outil de 25 diagraphie classique. Le processeur permet d'obtenir des mesures faites par l'outil de diagraphie supplémentaire, et permet en outre de déterminer un ensemble de valeurs (« deuxième ensemble de valeurs ») pour les une ou plusieurs propriétés de formation de la formation. En poursuivant avec l'exemple précédent, le processeur permet de déterminer des valeurs pour le volume de la formation stratifiée et la fraction volumétrique du schiste stratifié dans la formation stratifiée sur 30 la base des mesures de l'outil de diagraphie par RMN. Le processeur permet en outre de comparer le premier ensemble de valeurs des propriétés de formation, qui sont basées sur les mesures de l'outil de diagraphie MCI, au deuxième ensemble de valeurs de propriétés de formation correspondantes, qui sont basées sur les mesures de l'outil de diagraphie supplémentaire, afin de déterminer la qualité des données des une ou plusieurs valeurs des propriétés de formation déterminées sur la base des mesures de l'outil de diagraphie MCI. Dans 3059702 4 certains modes de réalisation, la qualité des données du premier ensemble de valeurs peut être acceptée si la qualité des données est supérieure à une valeur seuil de qualité. Dans un exemple, la qualité des données du premier ensemble de valeurs est supérieure à la valeur seuil de qualité si le premier ensemble de valeurs pour les propriétés de formation et le deuxième ensemble de 5 valeurs pour des propriétés de formation correspondantes ne dévient pas de plus d'une valeur seuil de divergence. [0014] En poursuivant avec l'exemple précédent, si le premier ensemble de valeurs indique que la fraction volumétrique du schiste stratifié dans la formation stratifiée est de 30 % et que la saturation en eau de la formation est de 10 %, si le deuxième ensemble de 10 valeurs indique que la fraction volumétrique du schiste stratifié dans la formation stratifiée est de 29 % et que la saturation en eau de la formation est de 10,2 %, et si la valeur seuil de divergence est de 5 %, alors le processeur considérera que le premier ensemble de valeurs, qui sont obtenues sur la base des mesures de l'outil de diagraphie MCI, est acceptable. En variante, si le premier ensemble de valeurs indique que la fraction volumétrique du schiste stratifié dans la formation 15 stratifiée est de 50 % et que la saturation en eau de la formation est de 10 %, si le deuxième ensemble de valeurs indique que la fraction volumétrique du schiste stratifié dans la formation stratifiée est de 29 % et que la saturation en eau de la formation est de 10,2 %, et si la valeur seuil de divergence est de 5 %, alors le processeur recalculera une ou plusieurs valeurs des paramètres de modèle, comme la résistivité horizontale de la formation, la résistivité verticale de 20 la formation, l'angle de pendage, et/ou l'angle d'azimut. Dans certains modes de réalisation, le processeur détermine, sur la base d'une ou de plusieurs diagraphies de résistivité de la formation, une limite inférieure de la résistivité verticale et une limite supérieure de la résistivité verticale de la formation. Dans de tels modes de réalisation, la qualité des données des une ou plusieurs valeurs pour les propriétés de formation est supérieure à la valeur seuil de qualité si la résistivité 25 verticale de la formation est située entre une limite inférieure et une limite supérieure de la résistivité verticale de la formation. Dans un de ces modes de réalisation, le processeur définit également une plage entre la limite inférieure et la limite supérieure en tant que minimisation contrainte des paramètres de modélisation. Le processeur redéterminera ensuite le premier ensemble de valeurs pour les propriétés de formation, qui sont basées sur les paramètres de 30 modèles recalculés, et comparera le premier ensemble de valeurs redéterminé au deuxième ensemble de valeurs pour des propriétés de formation correspondantes afin de déterminer si le premier ensemble de valeurs redéterminé est acceptable. 100151 Le procédé précédent se répète jusqu'à ce que le premier ensemble de valeurs des propriétés de formation devienne acceptable. Dans certains modes de réalisation, 35 le processeur permet de générer un message d'erreur si le processeur est incapable d'obtenir des 3059702 5 valeurs acceptables après un nombre seuil d'itération (par exemple, 3 essais, 5 essais, 10 essais, ou un nombre différent d'essais) du procédé précédent. Dans certains modes de réalisation, le système de diagraphie de fond de puits comprend deux ou plus de deux outils de diagraphie supplémentaires. Dans de tels modes de réalisation, le processeur permet de déterminer un 5 ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation (« le deuxième ensemble de valeurs, le troisième ensemble de valeurs, etc. ») sur la base des mesures de chacun des outils de diagraphie supplémentaires. Le processeur permet en outre de comparer une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs pour les propriétés de formation à des valeurs correspondantes du deuxième ensemble, du troisième ensemble et d'ensembles supplémentaires 10 de valeurs, qui sont obtenus sur la base des mesures des outils de diagraphie supplémentaires afin de déterminer si le premier ensemble de valeurs est acceptable. Des détails supplémentaires concernant le système de diagraphie de fond de puits précédent et les procédés de détermination des propriétés de formation de la formation de fond de puits sont fournis dans les paragraphes ci-dessous et sont illustrés sur au moins les figures 1 à 4. 15 [0016] En s'intéressant maintenant aux figures, la figure 1 est une vue schématique d'un environnement LWD 100 dans lequel un système de diagraphie 110 est déployé sur un train d'outils 120 dans un espace annulaire d'un tubage de production 116. La figure 1 peut également représenter un environnement MWD, un environnement de diagraphie à ligne câblée, ou un autre environnement de production ou de préparation où le système de 20 diagraphie de fond de puits 110 est déployé. Dans le mode de réalisation de la figure 1, le tubage de production 116 se prolonge à partir d'une surface 108 d'un puits 102 vers le bas d'un puits de forage 106 afin d'isoler le système de diagraphie de fond de puits 110, la foreuse 124, ainsi que les autres outils de fond de puits déployés dans le tubage de production 116, de la formation souterraine environnante 112 pour prévenir les effondrements, et/ou pour prévenir la 25 contamination de la formation souterraine environnante 112. Dans le mode de réalisation de la figure 1, la formation souterraine 112 est une formation terrestre stratifiée comportant une couche de schiste 161 et une couche de sable 162. Une gaine de ciment (non représentée) est déposée le long d'un espace annulaire entre le puits de forage 106 et le tubage de production 106 pour fixer le tubage de production 116 et pour former une barrière qui rend étanche le tubage de 30 production 116. [0017] Un crochet 138, un câble 142, un moufle mobile (non représenté) et un appareil de levage (non représenté) sont fournis pour faire descendre le train d'outils 120 dans le puits de forage 106 ou pour retirer le train d'outils 120 du puits de forage 106. Le train d'outil 120 peut être un train d'outils à ligne câblée, un train d'outils à câble lisse, un train de 35 forage, ou un autre type de train d'outils permettant de déployer le système de diagraphie 110. 3059702 6 Au niveau de la tête de puits 136, un conduit d'entrée 152 est accouplé à une source de fluides (non représentée) pour fournir des fluides, tels que des fluides de forage, en fond de puits. Le train d'outils 120 comporte une cavité interne qui fournit un trajet d'écoulement de fluide à partir de la surface 108, descendant jusqu'au train d'outils 120, et sortant du train d'outils 120 au 5 niveau du trépan de forage 124. Les fluides retournent vers la surface 108 par un espace annulaire de puits de forage 148 et sortent de l'espace annulaire de puits de forage 148 via un conduit de sortie 164 où les fluides sont capturés dans un réservoir 140. [0018] Le système de fond de puits 110 comprend un outil de diagraphie MCI 122 et un deuxième outil de diagraphie 123. Comme décrit dans le présent document, le 10 deuxième outil de diagraphie 123 peut être un outil de diagraphie acoustique, un outil de diagraphie par RMN, un outil de diagraphie classique, ou un autre type d'outil de diagraphie qui peut être déployée en fond de puits afin de déterminer une ou plusieurs propriétés de formation de la formation 112. Le système de fond de puits 110 comprend également un processeur (non représenté) qui peut être un composant de l'outil de diagraphie MCI 122, un composant du 15 deuxième outil de diagraphie 123, un composant autonome qui est déployé en fond de puits, ou un composant d'un dispositif électronique basé en surface, tel qu'un dispositif de commande 184. À cet égard, le dispositif de commande 184 représente n'importe quel dispositif électronique permettant d'obtenir les mesures obtenues par l'outil de diagraphie MCI 122 et le deuxième outil de diagraphie 123, de mettre en oeuvre les opérations décrites dans le présent 20 document afin de déterminer les valeurs des une ou plusieurs propriétés de formation déterminées sur la base des mesures faites par l'outil de diagraphie MCI 122 et le deuxième outil de diagraphie 123, et de comparer les valeurs précédentes des une ou plusieurs propriétés de formation afin de déterminer si les valeurs des propriétés de formation basées sur les mesures de l'outil de diagraphie 122 sont acceptables. Dans certains modes de réalisation, le dispositif de 25 commande 184, l'outil de diagraphie MCI 122 et le deuxième outil de diagraphie 123 sont des composants d'un système de diagraphie de fond de puits 110. Des descriptions supplémentaires du système de diagraphie de fond de puits 110 sont fournies dans les paragraphes ci-dessous et sont illustrées au moins sur les figures 2 à 4. [0019] La figure 2 est une vue schématique d'une orientation d'un outil de 30 diagraphie MCI 122 du système de diagraphie de fond de puits 110 de la figure 1 par rapport à la formation 112 de la figure 1, où l'outil de diagraphie MCI 122 et la formation 112 ne sont pas alignés. Tel que défini dans le présent document, un outil de diagraphie est aligné avec une formation si un axe longitudinal de l'outil de diagraphie de fond de puits est sensiblement parallèle à un axe qui est normal au plan de la formation 112. Comme le montre la figure 2, 35 l'axe Xf 202 et l'axe Yf 204 représentent l'axe x et l'axe y de la formation 112, qui se croisent 3059702 7 l'un l'autre pour former un plan parallèle au plan de la formation 112. En outre, l'axe Zf 206 représente l'axe z de la formation 112, qui est orienté le long des directions normales au plan de la formation 112. L'axe Xt 212 et l'axe Yt 214 représente l'axe x et l'axe y de l'outil de diagraphie MCI 122, qui se croisent l'un l'autre pour former un plan normal à l'axe longitudinal 5 de l'outil de diagraphie MCI 112. En outre, l'axe 4 216 représente l'axe longitudinal de l'outil de diagraphie MCI 122. [0020] Le processeur du système de diagraphie 110 permet de mettre en oeuvre un procédé d'inversion des mesures obtenues par l'outil de diagraphie MCI 122 afin de calculer des paramètres de modèle, tels que la résistivité horizontale de la formation, la résistivité 10 verticale de la formation, l'angle de pendage, et l'angle d'azimut. Comme le montre la figure 2, l'angle de pendage est représenté par un angle de pendage relatif 226 entre l'axe Zf 206 et l'axe 4 216 et l'angle d'azimut est représenté par un angle d'azimut relatif 228 entre l'axe 4 216 et un axe Xf 202. En outre, la résistivité horizontale de la formation 112 est représentée par les flèches 222, tandis que la résistivité verticale de la formation est représentée par la flèche 224. 15 [0021] La figure 3 est un schéma fonctionnel des composants du système de diagraphie de fond de puits 110 de la figure 1. Le système de diagraphie de fond de puits 110 comprend le composant outil de diagraphie MCI 122 comportant une pluralité de bobines émettrices et réceptrices qui permettent d'émettre des signaux électromagnétiques dans la formation 112- et d'obtenir un premier ensemble de mesures de la formation 112. En outre, le 20 système de diagraphie de fond de puits 110 comprend également le composant deuxième outil de diagraphie 123 qui permet de surveiller la formation 112 et qui permet en outre d'obtenir un second ensemble de mesures de la formation 112. Dans un de ces modes de réalisation, le deuxième outil de diagraphie 123 est un outil de diagraphie par RMN. Dans un autre de ces modes de réalisation, le deuxième outil de diagraphie 123 est un outil de diagraphie acoustique. 25 Dans un autre de ces modes de réalisation, le deuxième outil de diagraphie 123 est un outil de diagraphie classique. [0022] L'outil de diagraphie 110 comprend également un support de stockage 306. Le support de stockage 306 peut être formé à partir de composants de stockage de données tels que, mais sans s'y limiter, une mémoire morte (ROM), une mémoire vive (RAM), 30 une mémoire flash, des disques durs magnétiques, des disques durs à l'état solide, ainsi que d'autres types de composants et de dispositifs de stockage de données. Dans certains modes de réalisation, le support de stockage 306 comprend de multiples dispositifs de stockage de données. Les mesures obtenues par l'outil de diagraphie MCI 122 et le deuxième outil de diagraphie 123 peuvent être stockées sur le support de stockage 306. Le support de stockage 306 3059702 8 comprend également des instructions qui, quand elles sont exécutées par le processeur 310, amènent le processeur 310 à mettre en oeuvre les opérations décrites dans le présent document. [0023] L'outil de diagraphie de fond de puits 110 comprend également le processeur 310, qui permet d'exécuter les instructions stockées sur le support de stockage 306 5 afin de mettre en oeuvre une ou plusieurs opérations décrites dans le présent document pour calculer les paramètres d'opération sur la base des mesures obtenues par l'outil de diagraphie 122, déterminer un premier ensemble de valeurs d'une ou de plusieurs propriétés de formation sur la base des paramètres d'opération et un second ensemble de valeurs des propriétés de formation sur la base d'une mesure du deuxième outil de diagraphie 123, comparer le premier 10 ensemble de valeurs à des valeurs correspondantes du deuxième ensemble de valeurs afin de déterminer la qualité des données du premier ensemble de valeurs, confirmer le premier ensemble de valeurs si la qualité des données du premier ensemble de valeurs est supérieure à une valeur seuil de qualité, et recalculer l'au moins un paramètre de modèle si la qualité des données du premier ensemble de valeurs n'est pas supérieure à la valeur seuil de qualité. 15 [0024] Dans certains modes de réalisation, le système de diagraphie de fond de puits 110 comprend un troisième outil de diagraphie (non représenté) permettant d'obtenir un troisième ensemble de mesures de la formation 112. Dans de telles modes de réalisation, le processeur 310 permet en outre de déterminer un troisième ensemble de valeurs indiquant les propriétés de formation sur la base des mesures du troisième outil de diagraphie et 20 de comparer le premier ensemble de valeurs pour les propriétés de formation à un ou plusieurs deuxièmes ou troisièmes ensembles correspondants de valeurs afin de déterminer la qualité des données des premiers ensembles de valeurs. Les opérations supplémentaires du processeur 310 sont décrites dans le présent document et sont illustrées au moins sur la figure 4. [0025] La figure 4 est un schéma de procédé d'un procédé 400 permettant 25 de déterminer des propriétés de formation de la formation de fond de puits 112. Bien que les opérations du procédé 400 soient représentées selon une séquence particulière, certaines opérations peuvent être réalisées selon des séquences différentes ou en même temps le cas échéant. En outre, bien qu'il soit décrit que les opérations du procédé 400 sont réalisées par le processeur 310 du système de diagraphie de fond de puits 110, les opérations peuvent également 30 être réalisées par un autre processeur déployé en fond de puits ou par un processeur basé en surface. [0026] Dans certains modes de réalisation, la formation 112 est une formation terrestre stratifiée comportant une couche de schiste 161 et une couche de sable 162. Le procédé 400 commence quand l'outil de diagraphie MCI 122 et le deuxième outil 123 35 obtiennent chacun des mesures de la formation 112. À l'étape 402, le processeur 310 obtient un 3059702 9 premier ensemble de mesures de la formation 112 provenant de l'outil de diagraphie MCI 122. À l'étape 404, le processeur 310 met en oeuvre un procédé d'inversion du premier ensemble de mesures afin de calculer un ensemble de paramètres de modèle. Comme indiqué dans le présent document, les paramètres de modèle comprennent la résistivité horizontale de la formation 112, 5 la résistivité verticale de la formation 112, l'angle de pendage relatif, et l'angle d'azimut relatif. [0027] À l'étape 406, le processeur 310 détermine, sur la base d'un ou de plusieurs parmi l'ensemble de paramètres de modèle, un premier ensemble de valeurs pour une ou plusieurs propriétés de formation de la formation 112, comme la résistivité de la couche de schiste 161, la résistivité de la couche de sable 162, un volume de la formation 112, une fraction 10 volumétrique de la couche de schiste 161 par rapport au volume de la formation terrestre stratifiée, une saturation en eau de la formation 112, ainsi que d'autres propriétés de formation divulguées dans le présent document. Plus particulièrement, le processeur 310 utilise un ou plusieurs des paramètres de modèle, comme la résistivité horizontale de la formation 112 et la résistivité verticale de la formation 112, comme valeurs d'entrée dans un ou plusieurs modèles 15 géologiques afin de déterminer une ou plusieurs valeurs des propriétés de formation. Dans certains modes de réalisation, le processeur 310 utilise la résistivité horizontale de la formation 112 et la résistivité verticale de la formation 112 comme paramètres d'entrée de modèle dans le modèle bimodal de physique des roches afin de déterminer la résistivité de la couche de sable 162, la résistivité de la couche de schiste 161, le volume de la formation 112, la fraction 20 volumétrique de la couche de schiste stratifiée 161 par rapport au volume de la formation 112, et la saturation en eau de la formation 112. [0028] À l'étape 408, le processeur 310 obtient un deuxième ensemble de mesures de la formation 112 provenant du deuxième outil de diagraphie 123. Le deuxième outil de diagraphie 123 peut être un outil de diagraphie par RMN, un outil de diagraphie acoustique, 25 ou un autre type d'outil de diagraphie qui permet d'obtenir un ensemble de mesures de la formation 112. À l'étape 410, le processeur 310 détermine un deuxième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation sur la base des mesures du deuxième outil de diagraphie 123. Par exemple, si le deuxième outil de diagraphie 123 est un outil de diagraphie par RMN, alors le processeur 310 permet de déterminer le volume de la formation 112, la 30 fraction volumétrique de la couche de schiste par rapport au volume de la formation terrestre stratifiée 112, et la saturation en eau de la formation 112 à partir des mesures de l'outil de diagraphie par RMN. À l'étape 412, le processeur 310 compare une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs à une ou plusieurs valeurs correspondantes du deuxième ensemble de valeurs afin de déterminer la qualité des données d'une ou de plusieurs valeurs du premier 35 ensemble de valeurs, qui sont obtenues sur la base des mesures de l'outil de diagraphie MCI 122. 3059702 10 [0029] À l'étape 414, Si la qualité des données des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs est supérieure à une première valeur seuil de qualité, alors le procédé 400 passe à l'étape 416 et les une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs seront acceptées par le processeur 310. Dans certains modes de réalisation, la qualité des 5 données du premier ensemble de valeurs est supérieure à la valeur seuil de qualité si le premier ensemble de valeurs pour les propriétés de formation et le deuxième ensemble de valeurs pour des propriétés de formation correspondantes ne dévient pas de plus d'une valeur seuil de divergence. Par exemple, si le premier ensemble de valeurs indique que la fraction volumétrique du schiste stratifié dans la formation 112 est de 10 % et que la saturation en eau de la formation 10 112 est de 5 %, si le deuxième ensemble de valeurs indique que la fraction volumétrique du schiste stratifié dans la formation 112 est de 11 % et que la saturation en eau de la formation 112 est de 9 %, et si la valeur seuil de divergence est de 5 %, alors le processeur 310 considérera que le premier ensemble de valeurs est acceptable. Dans certains modes de réalisation, la valeur seuil de divergence est une valeur absolue ou un pourcentage absolu. Dans certains modes de 15 réalisation, la valeur seuil de divergence est une valeur relative ou un pourcentage relatif Dans des modes de réalisation supplémentaires, les valeurs seuils de divergence de différentes propriétés de formation sont différentes. [0030] En variante, à l'étape 414, si la qualité des données des une ou plusieurs valeurs n'est pas supérieure à la valeur seuil de qualité, alors le procédé 400 passe à 20 l'étape 418. Par exemple, si le premier ensemble de valeurs indique que la fraction volumétrique du schiste stratifié dans la formation 112 est de 70 % et que la saturation en eau de la formation 112 est de 5 %, si le deuxième ensemble de valeurs indique que la fraction volumétrique du schiste stratifié dans la formation 112 est de 40 % et que la saturation en eau de la formation 112 est de 30 %, et si la valeur seuil de divergence est de 10 %, alors la qualité des données du 25 premier ensemble de valeurs ne sera pas supérieure à la valeur seuil de qualité. À l'étape 418, le processeur 310 recalcule au moins un parmi l'ensemble de paramètres de modèle. Dans certains modes de réalisation, le processeur 310 met en oeuvre un autre procédé d'inversion décrit dans le présent document pour obtenir un nouvel ensemble de valeurs pour le premier ensemble de paramètres de modèle. Le procédé 400 retourne ensuite à l'étape 406 et le processeur 310 30 détermine le premier ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation sur la base des valeurs recalculées des paramètres de modèles. [0031] Les modes de réalisation divulgués ci-dessus ont été présentés à des fins d'illustration et pour permettre à un spécialiste ordinaire du domaine de pratiquer la divulgation, mais la divulgation n'est pas destinée à être exhaustive ou limitée aux formes 35 divulguées. De nombreuses modifications et variations peu importantes seront évidentes pour le 3059702 11 spécialiste ordinaire du domaine sans s'écarter de la portée et de l'esprit de l'invention. Par exemple, bien que les organigrammes présentent un procédé en série, certain(e)s des étapes/procédés peuvent être réalisé(e)s en parallèle ou de manière séquentielle, ou combiné(e)s en un(e) seul(e) étape/procédé. La portée des revendications est destinée à couvrir largement les 5 modes de réalisation divulgués et toute modification de ce type. En outre, les clauses suivantes représentent les modes de réalisation additionnels de fa divulgation et doivent être considérées comme étant dans la portée de la divulgation : [0032] Clause 1, un procédé de détermination des propriétés de formation d'une formation de fond de puits, le procédé comprenant l'obtention d'un premier ensemble de 10 mesures d'une formation provenant d'un outil de diagraphie par induction à multiples composants ; la mise en oeuvre d'un procédé d'inversion du premier ensemble de mesures afin de déterminer un premier ensemble de valeurs pour une ou plusieurs propriétés de formation de la formation ; l'obtention d'un deuxième ensemble de mesures de la formation provenant d'un deuxième outil de diagraphie ; la détermination d'un deuxième ensemble de valeurs pour les une 15 ou plusieurs propriétés de formation sur la base des mesures du deuxième outil de diagraphie ; la comparaison d'une ou de plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs à une ou plusieurs valeurs correspondantes du deuxième ensemble de valeurs afin de déterminer une qualité des données des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs ; et l'acceptation des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs si la qualité des données des une ou 20 plusieurs valeurs est supérieure à une valeur seuil de qualité. [0033] Clause 2, le procédé de la clause 1, dans lequel la mise en oeuvre d'un procédé d'inversion du premier ensemble de mesures comprend le calcul d'un ensemble de paramètres de modèle de la formation de fond de puits sur la base du premier ensemble de mesures ; et la détermination du premier ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs 25 propriétés de formation sur la base de l'ensemble de paramètres de modèle, dans lequel l'ensemble de paramètres de modèle comprend une résistivité horizontale de la formation, une résistivité verticale de la formation, et un angle de pendage relatif entre un axe d'outil de l'outil de diagraphie par induction à multiples composants et un premier plan normal à la formation sur la base du premier ensemble de mesures de la formation. 30 [0034] Clause 3, le procédé de la clause 1 ou 2, comprenant en outre le fait de recalculer au moins un parmi l'ensemble de paramètres de modèle si la qualité des données des une ou plusieurs valeurs n'est pas supérieure à la valeur seuil de qualité. [0035] Clause 4, le procédé d'au moins une des clauses 1 à 3, dans lequel la formation est une formation terrestre stratifiée comprenant une couche de schiste et une 35 couche de roche de réservoir, dans lequel la roche de réservoir est une couche de sable. 3059702 12 [0036] Clause 5, le procédé d'au moins une des clauses 1 à 4, comprenant en outre la détermination d'au moins un parmi une résistivité de la couche de schiste, une résistivité de la couche de sable, un volume de la formation terrestre stratifiée, une fraction volumétrique de la couche de schiste par rapport au volume de la formation terrestre stratifiée, et 5 une saturation en eau de la formation sur la base d'au moins un parmi l'ensemble de paramètres de modèle, dans lequel les une ou plusieurs propriétés de formation de la formation comprennent la résistivité de la couche de schiste, la résistivité de la couche de sable, le volume de la formation terrestre stratifiée, et la saturation en eau de la formation. [0037] Clause 6, le procédé d'au moins une des clauses 1 à 5, comprenant 10 en outre l'utilisation d'une équation pour un modèle bimodal de physique des roches afin de déterminer la résistivité de la couche de sable, le volume de la formation terrestre stratifiée, et la fraction volumétrique de la couche de schiste par rapport au volume de la formation terrestre stratifiée, sur la base de la résistivité horizontale de la formation et de la résistivité verticale de la formation. 15 [0038] Clause 7, le procédé d'au moins une des clauses 1 à 6, dans lequel le deuxième outil de diagraphie est un outil de diagraphie par résonance magnétique nucléaire, dans lequel la détermination du deuxième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation comprend la détermination d'au moins un parmi la résistivité de la couche de schiste, la résistivité de la couche de sable, et le volume de la formation terrestre 20 stratifiée sur la base des mesures de l'outil de diagraphie par résonance magnétique nucléaire. [0039] Clause 8, le procédé d'au moins une des clauses 1 à 7, dans lequel le fait de déterminer si la qualité des données des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs est supérieure à la valeur seuil de qualité comprend la comparaison d'au moins un parmi le premier ensemble de valeurs indiquant la résistivité de la couche de schiste, la résistivité 25 de la couche de sable et un volume de la formation terrestre stratifiée obtenues par l'outil de diagraphie par induction à multiples composants aux valeurs correspondantes du deuxième ensemble de valeurs obtenues par l'outil de diagraphie par résonance magnétique nucléaire. [0040] Clause 9, le procédé d'au moins une des clauses 1 à 8, dans lequel la qualité des données des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs est 30 supérieure à la valeur seuil de qualité si un maximum de différences entre l'au moins un parmi le premier ensemble de valeurs indiquant la résistivité de la couche de schiste, la résistivité de la couche de sable, le volume de la formation terrestre stratifiée, et la fraction volumétrique de la couche de schiste par rapport au volume de la formation terrestre stratifiée, obtenues par l'outil de diagraphie par induction à multiples composants et l'au moins un deuxième ensemble 3059702 13 correspondant de valeurs obtenues par l'outil de diagraphie par résonance magnétique nucléaire est inférieur à une valeur seuil de divergence. [0041] Clause 10, le procédé d'au moins une des clauses 1 à 9, comprenant en outre la détermination d'une limite inférieure de la résistivité verticale de la 5 formation ; et la détermination d'une limite supérieure de la résistivité verticale de la formation, dans lequel la qualité des données des une ou plusieurs valeurs est supérieure à la valeur seuil de qualité si la résistivité verticale de la formation déterminée par la diagraphie par induction à multiples composants est située entre la limite inférieure et la limite supérieure de la résistivité verticale de la formation. 10 [0042] Clause 11, le procédé d'au moins une des clauses 1 à 10, comprenant en outre l'obtention d'un troisième ensemble de mesures de la formation provenant d'un troisième outil de diagraphie ; et la détermination d'un troisième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation sur la base des mesures du troisième outil de diagraphie, dans lequel la détermination de la qualité des données des une ou plusieurs valeurs 15 du premier ensemble de valeurs est basée sur une ou plusieurs valeurs correspondantes du troisième ensemble de valeurs. [0043] Clause 12, le procédé d'au moins une des clauses 1 à 11, dans lequel le troisième outil de diagraphie est un outil de diagraphie acoustique, et dans lequel la détermination du troisième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de 20 formation comprend la détermination d'au moins un parmi une résistivité d'une couche de schiste, une résistivité d'une couche de sable, un volume d'une formation terrestre stratifiée, et une fraction volumétrique de la couche de schiste par rapport au volume de la formation terrestre stratifiée sur la base des mesures de l'outil de diagraphie acoustique. [0044] Clause 13, un système de diagraphie de fond de puits comprenant 25 un outil de diagraphie par induction à multiples composants permettant d'obtenir un premier ensemble de mesures d'une formation, la formation étant une formation terrestre stratifiée ayant une couche de schiste et une couche de sable ; un deuxième outil de diagraphie permettant d'obtenir un deuxième ensemble de mesures de la formation ; et un processeur permettant de mettre en oeuvre un procédé d'inversion du premier ensemble de mesures afin de calculer un 30 ensemble de paramètres de modèle, l'ensemble de paramètres de modèle comprenant une résistivité horizontale de la formation, une résistivité verticale de la formation, et un angle de pendage relatif ; déterminer un premier ensemble de valeurs pour une ou plusieurs propriétés de formation de la formation sur la base d'au moins un parmi l'ensemble de paramètres de modèle, les une ou plusieurs propriétés de formation de la formation comprenant au moins un parmi une 35 résistivité de la couche de schiste, une résistivité de la couche de sable, un volume de la 3059702 14 formation terrestre stratifiée, une fraction volumétrique de la couche de schiste par rapport au volume de la formation terrestre stratifiée, et une saturation en eau de la formation ; déterminer un deuxième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation sur la base des mesures du deuxième outil de diagraphie ; comparer une ou plusieurs valeurs du premier 5 ensemble de valeurs à une ou plusieurs valeurs correspondantes du deuxième ensemble de valeurs afin de déterminer une qualité des données des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs ; et accepter les une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs si la qualité des données des une ou plusieurs valeurs est supérieure à une valeur seuil de qualité. [0045] Clause 14, le système de diagraphie de fond de puits de la clause 10 13, dans lequel le processeur permet en outre de recalculer au moins un parmi l'ensemble de paramètres de modèle si la qualité des données des une ou plusieurs valeurs n'est pas supérieure à la valeur seuil de qualité. [0046] Clause 15, le système de diagraphie de fond de puits de la clause 13 ou 14, dans lequel le deuxième outil de diagraphie est un outil de diagraphie par résonance 15 magnétique nucléaire, et dans lequel le processeur permet en outre de déterminer au moins un parmi la résistivité de la couche de schiste, la résistivité de la couche de sable, et le volume de la formation terrestre stratifiée sur la base des mesures de l'outil de diagraphie par résonance magnétique nucléaire. [0047] Clause 16, le système de diagraphie de fond de puits d'au moins 20 des clauses 13 à 15, comprenant en outre un troisième outil de diagraphie permettant d'obtenir un troisième ensemble de mesures de la formation, dans lequel le processeur est permet en outre de déterminer un troisième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation sur la base des mesures du troisième outil de diagraphie ; et comparer les une ou de plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs à une ou plusieurs valeurs correspondantes du 25 troisième ensemble de valeurs afin de déterminer la qualité des données des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs. [0048] Clause 17, le système de diagraphie de fond de puits d'au moins des clauses 13 à 16, dans lequel le troisième outil de diagraphie est un outil de diagraphie acoustique, et dans lequel la détermination du troisième ensemble de valeurs pour les une ou 30 plusieurs propriétés de formation comprend la détermination d'au moins un parmi la résistivité de la couche de schiste, la résistivité de la couche de sable, le volume de la formation terrestre stratifiée, et la fraction volumétrique de la couche de schiste par rapport au volume de la formation terrestre stratifiée, sur la base des mesures de l'outil de diagraphie acoustique. [0049] Clause 18, un support non transitoire lisible par une machine 35 comprenant des instructions stockées dessus qui, quand elles sont exécutées par un ou plusieurs 3059702 15 processeurs, amènent les un ou plusieurs processeurs à effectuer des opérations comprenant l'obtention d'un premier ensemble de mesures d'une formation provenant d'un outil de diagraphie par induction à multiples composants, la formation étant une formation terrestre stratifiée ayant une couche de schiste et une couche de sable ; la mise en oeuvre d'un procédé 5 d'inversion du premier ensemble de mesures afin de calculer un ensemble de paramètres de modèle comprenant une résistivité horizontale de la formation, une résistivité verticale de la formation, et un angle de pendage relatif ; la détermination d'un premier ensemble de valeurs pour une ou plusieurs propriétés de formation de la formation sur la base d'au moins un parmi l'ensemble de paramètres de modèle, les une ou plusieurs propriétés de formation de la 10 formation comprenant au moins un parmi une résistivité de la couche de schiste, une résistivité de la couche de sable, un volume de la formation terrestre stratifiée, une fraction volumétrique de la couche de schiste par rapport au volume de la formation terrestre stratifiée, et une saturation en eau de la formation ; l'obtention d'un deuxième ensemble de mesures de la formation provenant d'un deuxième outil de diagraphie ; la détermination d'un deuxième ensemble de 15 valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation sur la base des mesures du deuxième outil de diagraphie ; la comparaison d'une ou de plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs à une ou plusieurs valeurs correspondantes du deuxième ensemble de valeurs afin de déterminer une qualité des données des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs ; l'acceptation des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs si la qualité 20 des données des une ou plusieurs valeurs est supérieure à une valeur seuil de qualité ; et le fait de recalculer au moins un parmi l'ensemble de paramètres de modèle si la qualité des données des une ou plusieurs valeurs n'est pas supérieure à la valeur seuil de qualité. [0050] Clause 19, le support non transitoire lisible par une machine de la clause 18, comprenant en outre des instructions stockées dessus qui, quand elles sont exécutées 25 par un ou plusieurs processeurs, amènent les un ou plusieurs processeurs à effectuer des opérations comprenant l'obtention d'un troisième ensemble de mesures de la formation provenant d'un troisième outil de diagraphie ; et la détermination d'un troisième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation sur la base des mesures du troisième outil de diagraphie, dans lequel la détermination de la qualité des données des une ou plusieurs 30 valeurs du premier ensemble de valeurs est basée sur une ou plusieurs valeurs correspondantes du troisième ensemble de valeurs. [0051] Clause 20, le support non transitoire lisible par une machine de la clause 18 ou 19, dans lequel le troisième outil de diagraphie est un outil de diagraphie acoustique, et dans lequel la détermination du troisième ensemble de valeurs pour les une ou 35 plusieurs propriétés de formation comprend la détermination d'au moins un parmi la résistivité 3059702 16 de la couche de schiste, la résistivité de la couche de sable, et le volume de la formation terrestre stratifiée sur la base des mesures de l'outil de diagraphie acoustique. [0052] Sauf indication contraire, toute utilisation de toute forme des termes « connecter », « venir en contact », « accoupler », « attacher » ou de tout autre terme 5 décrivant une interaction entre les éléments de la divulgation précédente n'est pas destinée à limiter l'interaction à une interaction directe entre les éléments et peut également comprendre une interaction indirecte entre les éléments décrits. Telles qu'utilisées ici, les formes singulières « un », « une », « le » et « la » sont également destinées à inclure les formes plurielles sauf si le contexte indique clairement le contraire. Sauf indication contraire, tel qu'utilisé dans l'ensemble 10 du présent document, « ou » ne nécessite par une exclusivité mutuelle. Il sera entendu que les termes « comprendre » et/ou « comprenant », lorsqu'ils sont utilisés dans le présent mémoire et/ou les revendications, spécifient la présence de caractéristiques, étapes, opérations, éléments et/ou composantes indiqués, mais n'empêchent pas la présence ou l'addition d'un ou plusieurs autres caractéristiques, étapes, opérations, éléments, composantes, et/ou groupes de ceux-ci. De 15 plus, les étapes et les composantes décrites dans les modes de réalisation et sur les figures ci- dessus sont simplement illustratives et ne signifient pas qu'une quelconque étape ou composante particulière est une exigence d'un mode de réalisation revendiqué. [0053] Il devrait être évident d'après ce qui précède que les modes de réalisation d'une invention ayant des avantages importants ont été fournis. Bien que les modes 20 de réalisation soient représentés seulement sous quelques formes, les modes de réalisation ne sont pas limités mais sont susceptibles de subir divers changements et modifications sans s'éloigner de l'esprit de ceux-ci. REVENDICATIONS1. Procédé de détermination des propriétés de formation d'une formation de fond de puits, le procédé comprenant : l'obtention d'un premier ensemble de mesures d'une formation provenant d'un outil de diagraphie par induction à multiples composants ; la mise en oeuvre d'un procédé d'inversion du premier ensemble de mesures afin de déterminer un premier ensemble de valeurs pour une ou plusieurs propriétés de formation de la formation ; l'obtention d'un deuxième ensemble de mesures de la formation provenant d'un deuxième outil de diagraphie ; la détermination d'un deuxième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation sur la base des mesures du deuxième outil de diagraphie ; la comparaison d'une ou de plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs 15 à une ou plusieurs valeurs correspondantes du deuxième ensemble de valeurs afin de déterminer une qualité des données des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs ; et l'acceptation des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs si la qualité des données des une ou plusieurs valeurs est supérieure à une valeur seuil de qualité. 20 2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel la mise en oeuvre d'un procédé d'inversion du premier ensemble de mesures comprend : le calcul d'un ensemble de paramètres de modèle de la formation de fond de puits sur la base du premier ensemble de mesures ; et la détermination du premier ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs 25 propriétés de formation sur la base de l'ensemble de paramètres de modèle, dans lequel l'ensemble de paramètres de modèle comprend une résistivité horizontale de la formation, une résistivité verticale de la formation, et un angle de pendage relatif entre un axe d'outil de l'outil de diagraphie par induction à multiples composants et un premier plan normal à la formation sur la base du premier ensemble de mesures de la formation. 30 3. Procédé selon la revendication 2, comprenant en outre le fait de recalculer au moins un parmi l'ensemble de paramètres de modèle si la qualité des données des une ou plusieurs valeurs n'est pas supérieure à la valeur seuil de qualité. 3059702 18 4. Procédé selon la revendication 3, dans lequel la formation est une formation terrestre stratifiée comprenant une couche de schiste et une couche de roche de réservoir, dans lequel la roche de réservoir est une couche de sable. 5 5. Procédé selon la revendication 4, comprenant en outre : la détermination d'au moins un parmi une résistivité de la couche de schiste, une résistivité de la couche de sable, un volume de la formation terrestre stratifiée, une fraction volumétrique de la couche de schiste par rapport au volume de la formation terrestre stratifiée, et une saturation en eau de la formation sur la base d'au moins un parmi l'ensemble de paramètres 10 de modèle, dans lequel les une ou plusieurs propriétés de formation de la formation comprennent la résistivité de la couche de schiste, la résistivité de la couche de sable, le volume de la formation terrestre stratifiée, et la saturation en eau de la formation. 6. Procédé selon la revendication 5, comprenant en outre l'utilisation d'une équation pour un modèle bimodal de physique des roches afin de déterminer la résistivité de la couche de sable, le volume de la formation terrestre stratifiée, et la fraction volumétrique de la couche de schiste par rapport au volume de la formation terrestre stratifiée, sur la base de la résistivité horizontale de la formation et de la résistivité verticale de la formation. 7. Procédé selon la revendication 6, dans lequel le deuxième outil de diagraphie est un outil de diagraphie par résonance magnétique nucléaire, et dans lequel la détermination du deuxième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation comprend la détermination d'au moins un parmi la résistivité de la couche de schiste, la résistivité de la couche de sable, et le volume de la formation terrestre stratifiée sur la base des mesures de l'outil de diagraphie par résonance magnétique nucléaire. 8. Procédé selon la revendication 7, dans lequel le fait de déterminer si la qualité des données des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs est supérieure à la valeur seuil de qualité comprend la comparaison d'au moins un parmi le premier ensemble de valeurs indiquant la résistivité de la couche de schiste, la résistivité de la couche de sable et un volume de la formation terrestre stratifiée obtenues par l'outil de diagraphie par induction à multiples composants aux valeurs correspondantes du deuxième ensemble de valeurs obtenues par l'outil de diagraphie par résonance magnétique nucléaire. 3059702 19 9. Procédé selon la revendication 8, dans lequel la qualité des données des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs est supérieure à la valeur seuil de qualité si un maximum de différences entre l'au moins un parmi le premier ensemble de valeurs indiquant la résistivité de la couche de schiste, la résistivité de la couche de sable, le volume de 5 la formation terrestre stratifiée, et la fraction volumétrique de la couche de schiste par rapport au volume de la formation terrestre stratifiée, obtenues par l'outil de diagraphie par induction à multiples composants et l'au moins un deuxième ensemble correspondant de valeurs obtenues par l'outil de diagraphie par résonance magnétique nucléaire est inférieur à une valeur seuil de divergence. 10 10. Procédé selon la revendication 7, comprenant en outre : la détermination d'une limite inférieure de la résistivité verticale de la formation ; et la détermination d'une limite supérieure de la résistivité verticale de la 15 formation, dans lequel la qualité des données des une ou plusieurs valeurs est supérieure à la valeur seuil de qualité si la résistivité verticale de la formation déterminée par la diagraphie par induction à multiples composants est située entre la limite inférieure et la limite supérieure de la résistivité verticale de la formation. 20 11. Procédé selon la revendication 1, comprenant en outre : l'obtention d'un troisième ensemble de mesures de la formation provenant d'un troisième outil de diagraphie ; et la détermination d'un troisième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs 25 propriétés de formation sur la base des mesures du troisième outil de diagraphie, dans lequel la détermination de la qualité des données des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs est basée sur une ou plusieurs valeurs correspondantes du troisième ensemble de valeurs. 30 12. Procédé selon la revendication 11, dans lequel le troisième outil de diagraphie est un outil de diagraphie acoustique, et dans lequel la détermination du troisième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation comprend la détermination d'au moins un parmi une résistivité d'une couche de schiste, une résistivité d'une couche de sable, un volume d'une formation terrestre stratifiée, et une fraction volumétrique de 3059702 20 la couche de schiste par rapport au volume de la formation terrestre stratifiée sur la base des mesures de l'outil de diagraphie acoustique. 13. Système de diagraphie de fond de puits comprenant : 5 un outil de diagraphie par induction à multiples composants permettant d'obtenir un premier ensemble de mesures d'une formation, la formation étant une formation terrestre stratifiée ayant une couche de schiste et une couche de sable ; un deuxième outil de diagraphie permettant d'obtenir un deuxième ensemble de mesures de la formation ; et 10 un processeur permettant de : mettre en oeuvre un procédé d'inversion du premier ensemble de mesures afin de calculer un ensemble de paramètres de modèle, l'ensemble de paramètres de modèle comprenant une résistivité horizontale de la formation, une résistivité verticale de la formation, et un angle de pendage relatif ; 15 déterminer un premier ensemble de valeurs pour une ou plusieurs propriétés de formation de la formation sur la base d'au moins un parmi l'ensemble de paramètres de modèle, les une ou plusieurs propriétés de formation de la formation comprenant au moins un parmi une résistivité de la couche de schiste, une résistivité de la couche de sable, un volume de la formation terrestre stratifiée, une fraction volumétrique de la couche de schiste par rapport au 20 volume de la formation terrestre stratifiée, et une saturation en eau de la formation ; déterminer un deuxième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation sur la base des mesures du deuxième outil de diagraphie ; comparer une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs à une ou plusieurs valeurs correspondantes du deuxième ensemble de valeurs afin de déterminer une 25 qualité des données des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs ; et accepter les une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs si la qualité des données des une ou plusieurs valeurs est supérieure à une valeur seuil de qualité. 14. Système de diagraphie de fond de puits selon la revendication 13, dans 30 lequel le processeur permet en outre de recalculer au moins un parmi l'ensemble de paramètres de modèle si la qualité des données des une ou plusieurs valeurs n'est pas supérieure à la valeur seuil de qualité. 15. Système de diagraphie de fond de puits selon la revendication 14, dans 35 lequel le deuxième outil de diagraphie est un outil de diagraphie par résonance magnétique 3059702 21 nucléaire, et dans lequel le processeur permet en outre de déterminer au moins un parmi la résistivité de la couche de schiste, la résistivité de la couche de sable, et le volume de la formation terrestre stratifiée sur la base des mesures de l'outil de diagraphie par résonance magnétique nucléaire. 5 16. Système de diagraphie de fond de puits selon la revendication 14, comprenant en outre : un troisième outil de diagraphie permettant d'obtenir un troisième ensemble de mesures de la formation, 10 dans lequel le processeur est permet en outre de : déterminer un troisième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation sur la base des mesures du troisième outil de diagraphie ; et comparer les une ou de plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs à une ou plusieurs valeurs correspondantes du troisième ensemble de valeurs afin de déterminer la 15 qualité des données des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs. 17. Système de diagraphie de fond de puits selon la revendication 16, dans lequel le troisième outil de diagraphie est un outil de diagraphie acoustique, et dans lequel la détermination du troisième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de 20 formation comprend la détermination d'au moins un parmi la résistivité de la couche de schiste, la résistivité de la couche de sable, le volume de la formation terrestre stratifiée, et la fraction volumétrique de la couche de schiste par rapport au volume de la formation terrestre stratifiée, sur la base des mesures de l'outil de diagraphie acoustique. 25 18. Support non transitoire lisible par une machine comprenant des instructions stockées dessus qui, quand elles sont exécutées par un ou plusieurs processeurs, amènent les un ou plusieurs processeurs à effectuer des opérations comprenant : l'obtention d'un premier ensemble de mesures d'une formation provenant d'un outil de diagraphie par induction à multiples composants, la formation étant une formation 30 terrestre stratifiée ayant une couche de schiste et une couche de sable ; la mise en oeuvre d'un procédé d'inversion du premier ensemble de mesures afin de calculer un ensemble de paramètres de modèle comprenant une résistivité horizontale de la formation, une résistivité verticale de la formation, et un angle de pendage relatif ; la détermination d'un premier ensemble de valeurs pour une ou plusieurs 35 propriétés de formation de la formation sur la base d'au moins un parmi l'ensemble de 3059702 22 paramètres de modèle, les une ou plusieurs propriétés de formation de la formation comprenant au moins un parmi une résistivité de la couche de schiste, une résistivité de la couche de sable, un volume de la formation terrestre stratifiée, une fraction volumétrique de la couche de schiste par rapport au volume de la formation terrestre stratifiée, et une saturation en eau de la 5 formation ; l'obtention d'un deuxième ensemble de mesures de la formation provenant d'un deuxième outil de diagraphie ; la détermination d'un deuxième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation sur la base des mesures du deuxième outil de diagraphie ; 10 la comparaison d'une ou de plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs à une ou plusieurs valeurs correspondantes du deuxième ensemble de valeurs afin de déterminer une qualité des données des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs ; l'acceptation des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs si la qualité des données des une ou plusieurs valeurs est supérieure à une valeur seuil de qualité ; 15 et le fait de recalculer au moins un parmi l'ensemble de paramètres de modèle si la qualité des données des une ou plusieurs valeurs n'est pas supérieure à la valeur seuil de qualité. 20 19. Support non transitoire lisible par une machine selon la revendication 18, comprenant en outre des instructions stockées dessus qui, quand elles sont exécutées par un ou plusieurs processeurs, amènent les un ou plusieurs processeurs à effectuer des opérations comprenant : l'obtention d'un troisième ensemble de mesures de la formation provenant 25 d'un troisième outil de diagraphie ; et la détermination d'un troisième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de formation sur la base des mesures du troisième outil de diagraphie, dans lequel la détermination de la qualité des données des une ou plusieurs valeurs du premier ensemble de valeurs est basée sur une ou plusieurs valeurs correspondantes 30 du troisième ensemble de valeurs. 20. Support non transitoire lisible par une machine selon la revendication 19, dans lequel le troisième outil de diagraphie est un outil de diagraphie acoustique, et dans lequel la détermination du troisième ensemble de valeurs pour les une ou plusieurs propriétés de 35 formation comprend la détermination d'au moins un parmi la résistivité de la couche de schiste, 3059702 23 la résistivité de la couche de sable, et le volume de la formation terrestre stratifiée sur la base des mesures de l'outil de diagraphie acoustique.