Brevet FR3049717A1 — publié le 20171006

SYSTÈME DE PRÉDICTION DE DÉFAUT DANS UNE FORMATION SOUTERRAINE Domaine technique [0001] La présente invention porte de manière générale sur des prédictions de défaut dans une formation souterraine attenante à des puits de forage et, plus particulièrement, mais pas nécessairement à titre exclusif, sur la manipulation d'images sismiques d'une formation souterraine pour déterminer des emplacements de défauts. Arrière-plan [0002] Dans l'exploration des hydrocarbures, de l'énergie sismique peut être générée et transmise dans une formation souterraine située dans une zone d'intérêt de la formation souterraine. Des ondes d'énergie sismique reflétées ou réfractées par la formation peuvent être enregistrées par des récepteurs acoustiques. Les ondes sismiques reflétées par la formation peuvent être mesurées sous forme de données sismiques et utilisées pour estimer les propriétés de la formation dans la zone d'intérêt. Des informations comprenant le temps de trajet des ondes sismiques depuis la formation jusqu'aux récepteurs et la vitesse des ondes sismiques peuvent par exemple être extraites des données sismiques et utilisées pour générer des images sismiques indiquant les assemblages de la formation. Brève description des dessins [0003] La FIG. 1 illustre un exemple d'une coupe bidimensionnelle d'une image sismique correspondant à une formation souterraine selon un aspect de la présente invention. [0004] La FIG. 2 illustre un chemin d'énergie minimum représentant un défaut dans la formation souterraine de la FIG. 1 30 selon un aspect de la présente invention. [0005] La FIG. 3 est un diagramme d'un processus permettant de déterminer automatiquement le chemin d'énergie minimum de la FIG. 2 selon un aspect de la présente invention. 3049717 2 [0006] La FIG. 4 est un diagramme d'un exemple de processus permettant de tracer le chemin d'énergie minimum de la FIG. 2 selon un aspect de la présente invention. [0007] La FIG. 5 illustre une partie de l'image sismique 5 de la FIG. 1 comprenant des indicateurs de défaut négatifs convertis dans la formation souterraine selon un aspect de la présente invention. [0008] La FIG. 6 illustre l'image sismique de la FIG. 5 comprenant une visualisation de l'énergie intégrée de la formation 10 souterraine selon des aspects de la présente invention. [0009] La FIG. 7 est un schéma fonctionnel illustrant un exemple d'un système pouvant être utilisé pour générer le chemin d'énergie minimum de la FIG. 2 selon un aspect de la présente invention. 15 Description détaillée [0010] Certains aspects et exemples de la présente invention concernent la prédiction d'un emplacement d'un ou de plusieurs défauts dans une zone d'intérêt d'une formation souterraine en déterminant un chemin d'énergie minimum entre deux points de 20 défaut de la formation souterraine. Selon certains aspects, un système peut calculer un chemin d'énergie depuis un des deux points de défaut jusqu'à de nombreux points de défaut dans la zone d'intérêt. Chaque chemin d'énergie calculé peut servir de segment potentiel pour relier les deux points de défaut afin de générer le chemin d'énergie 25 minimum. Selon certains aspects, l'énergie associée à la traversée des chemins d'énergie calculés peut être identifiée. Le chemin d'énergie minimum peut être déterminé en traçant un chemin depuis un des deux points de défaut jusqu'aux autres points de défaut à l'aide des segments des indicateurs de défaut ayant la plus petite quantité d'énergie dans la zone d'intérêt. [0011] Selon certains aspects, la zone d'intérêt de la formation souterraine peut être représentée de manière visuelle sous forme d'image sismique à l'aide de données sismiques associées à la 3049717 3 formation souterraine. L'image sismique correspondant aux données sismiques peut comprendre un certain nombre d'indicateurs de défaut représentant des défauts potentiels dans la formation souterraine. Selon certains aspects, la luminosité ou la clarté des points de 5 défaut potentiels qui composent les indicateurs de défaut peuvent correspondre à une probabilité de la ligne correspondante représentant un défaut réel dans la zone d'intérêt. La luminosité des points de défaut potentiels peut en outre correspondre à un potentiel électrique associé à la traversée du chemin entre les 10 points de défaut potentiels. Selon certains aspects, le niveau de luminosité peut être inversement associé au potentiel électrique pour permettre aux indicateurs de défaut plus lumineux de représenter les chemins d'énergie plus faible. Un système selon certains aspects de la présente invention peut déterminer le chemin d'énergie minimum en 15 fonction de la luminosité des points de défaut potentiels entre deux points de défaut sélectionnés sur l'image sismique. [0012] Un système selon certains aspects peut permettre que des défauts dans une zone d'intérêt d'une formation souterraine soient déterminés automatiquement en fonction d'une entrée minimale 20 de la part d'un utilisateur. Un utilisateur peut par exemple entrer seulement deux points de défaut et le système peut rapidement générer une représentation précise d'un défaut entre les deux points de défaut sans aucune entrée supplémentaire de la part de l'utilisateur. Selon certains aspects, le système peut également permettre des 25 modifications de la représentation du défaut en réponse à une entrée d'un ou de plusieurs points de défaut supplémentaires sur l'image sismique. Le système selon certains aspects peut être utilisé pour faire la distinction entre défauts réels dans la formation souterraine et points de défaut ou indicateurs de défaut potentiels 30 sur une image sismique correspondant à des relevés erronés d'un défaut qui peuvent être causés par des incertitudes dans les propriétés de la formation souterraine. Il peut être utile de connaître l'emplacement de défauts réels dans une formation 3049717 4 souterraine à bien des égards, et notamment pour la planification et la détermination d'emplacements pour un puits de forage et pour la modélisation géographique de la formation souterraine afin de déterminer le flux de liquide dans les défauts. 5 [0013] Ces exemples sont donnés à des fins d'illustration pour présenter au lecteur l'objet général abordé dans le présent document et n'ont pas vocation à limiter le champ d'application des concepts décrits. Les sections suivantes décrivent divers aspects et exemples supplémentaires par renvoi aux dessins 10 dans lesquels des chiffres semblables indiquent des éléments semblables, et des descriptions directionnelles sont utilisées pour décrire les exemples donnés à titre d'illustration mais, tout comme les exemples donnés à titre d'illustration, elles ne doivent pas être utilisées pour limiter la présente invention. Les diverses figures 15 décrites ci-dessous représentent des exemples de mises en oeuvre de la présente invention, mais ne doivent pas être utilisées pour limiter la présente invention. [0014] La FIG. 1 illustre un exemple d'une coupe bidimensionnelle d'une image sismique 100 correspondant à une 20 formation souterraine selon un aspect de la présente invention. Selon certains aspects, l'image sismique 100 peut correspondre à une partie d'une image sismique tridimensionnelle et représenter visuellement une zone d'intérêt de la formation souterraine. L'image sismique peut être générée à partir d'une inversion sismique qui convertit les 25 données de réflectivité correspondant à une mesure d'ondes sismiques reflétées ou réfractées par la formation souterraine dans une image représentative des propriétés fluidiques et de la roche de la formation souterraine. L'image sismique 100 peut comprendre des données d'attribut de défaut correspondant à la zone d'intérêt de la 30 formation souterraine. Les données d'attribut de défaut peuvent être dérivées de divers flux de travail quantitatifs, et notamment l'entropie, la ressemblance et le suivi de traces sismiques composant l'image sismique 100 pour déterminer les indicateurs dans les données 3049717 5 sismiques pouvant correspondre à des défauts potentiels dans l'image sismique 100. Les défauts potentiels dans les données sismiques sont représentés par les indicateurs de défaut 102, 104 dans l'image sismique 100. Selon certains aspects, les indicateurs de défaut 102, 5 104 peuvent correspondre à des attributs sismiques, notamment la cohérence, la ressemblance, la discontinuité, la corrélation croisée, l'inclinaison ou l'estimation de l'inclinaison résiduelle. Selon d'autres aspects complémentaires, les indicateurs de défaut 102, 104 sont un résultat de la courbure de la formation souterraine 10 correspondant à des changements (par exemple ruptures, flexions) dans la formation en différents points de la zone d'intérêt. Les indicateurs de défaut 102 sont illustrés sous forme de lignes curvilignes claires dans l'image sismique 100 et peuvent représenter des indicateurs de défaut positifs correspondant à un volume de suivi 15 positif. Les indicateurs de défaut 104 sont illustrés sous forme de lignes curvilignes sombres dans l'image sismique 100 et peuvent représenter des indicateurs de défaut négatifs correspondant à un volume de suivi négatif. Selon certains aspects, l'image sismique 100 peut être un attribut de probabilité de défaut et comprendre des 20 données d'attribut de défaut correspondant à l'orientation de défauts dans la formation souterraine. L'orientation du défaut dans la formation souterraine peut fournir des informations supplémentaires sur l'emplacement pour augmenter la précision des prédictions des défauts dans la zone d'intérêt. 25 [0015] La FIG. 2 illustre un chemin d'énergie minimum 200 correspondant à un défaut dans la zone d'intérêt de la formation souterraine représentée par l'image sismique 100 selon un aspect de la présente invention. Le chemin d'énergie minimum 200 peut être généré à l'aide des indicateurs de défaut 102, 104 dans l'image 30 sismique 100. Selon certains aspects, le chemin d'énergie minimum 200 peut être superposé à l'image sismique 100 et comprendre des parties des indicateurs de défaut 102, 104 qui correspondent probablement à un défaut réel dans la formation souterraine. Le 3049717 6 chemin d'énergie minimum 200 peut être délimité par des points terminaux de défaut 202. Selon certains aspects, les points terminaux de défaut 202 peuvent représenter des points dans l'image sismique sélectionnés pour être représentatifs d'emplacements réels d'une 5 partie d'un défaut dans la formation souterraine. Selon certains aspects, le chemin d'énergie minimum 200 peut caractériser une voie entre les points terminaux de défaut 202 nécessitant la plus petite quantité d'énergie pour traverser la formation souterraine entre les points terminaux de défaut 202. Dans un exemple, l'énergie est 10 comparable à une « navigation » depuis un point terminal de défaut 202 jusqu'à l'autre point terminal de défaut 202 à travers de nombreux points de défaut définissant les indicateurs de défaut 102, 104. La structure non uniforme de la formation souterraine dans la zone d'intérêt entre les points terminaux de défaut 202 peut provoquer 15 une résistance à la navigation entre les points terminaux 202. Par exemple, un niveau d'énergie plus élevé peut être requis pour surmonter la résistance provoquée par la formation souterraine le long de certains chemins et un niveau d'énergie moins élevé peut être requis pour traverser des voies présentant une résistance inférieure. 20 La résistance le long des divers chemins peut varier en fonction des modifications de la structure de la formation souterraine. Un défaut dans la formation souterraine peut correspondre à une rupture ou une flexion de la formation souterraine qui réduit ou élimine la résistance à la navigation. Dans la mesure où divers chemins sont 25 envisagés entre les points terminaux de défaut 202, la voie correspondant au défaut peut exiger de la plus petite quantité d'énergie qu'elle navigue entre les points terminaux de défaut 202. À ce titre, le chemin d'énergie minimum 200 peut correspondre à un défaut réel dans la formation souterraine fournissant une énergie 30 minimale pour naviguer entre les points terminaux de défaut 202. La résistance minimale dans le chemin d'énergie minimum 200 peut permettre que le chemin correspondant au défaut réel soit traversé avec une résistance minime à nulle. 3049717 7 [0016] Les FIG. 3 et 4 sont des diagrammes des processus permettant de générer le chemin d'énergie minimum 200 de la FIG. 2 selon des aspects de la présente invention. Les processus peuvent être décrits par rapport à l'image sismique 100 des FIG. 1 et 2, sauf 5 indication contraire, même si d'autres mises en oeuvre sont possibles sans s'écarter du champ d'application de la présente invention. [0017] Dans le bloc 300 de la FIG. 3, les points terminaux de défaut 202 sont reçus. Selon certains aspects, les points terminaux de défaut 202 peuvent être sélectionnés par un 10 observateur de l'image sismique 100. Selon d'autres aspects complémentaires, les points terminaux de défaut 202 peuvent représenter des points de l'image sismique 100 dont l'observateur indique qu'ils correspondent à une position d'une partie d'un défaut dans la zone d'intérêt de la formation souterraine représentée par 15 l'image sismique 100. Les points terminaux de défaut 202 peuvent être sélectionnés sur un ou plusieurs des indicateurs de défaut 102, 104, sur l'image sismique 100. [0018] Dans le bloc 302, le chemin d'énergie minimum 200 reliant les points terminaux de défaut 202 peut être déterminé 20 par un dispositif de calcul. Le chemin d'énergie minimum 200 peut comprendre un chemin curviligne correspondant à un défaut dans la formation souterraine représentée par l'image sismique 100. Selon certains aspects, le chemin d'énergie minimum 200 peut être déterminé en traçant le chemin d'énergie minimum 200 et en superposant le 25 chemin d'énergie minimum 200 à l'image sismique 100. Selon d'autres aspects, le chemin d'énergie minimum 200 peut être superposé à un ou plusieurs des indicateurs de défaut 102, 104, sur l'image sismique 100. [0019] La FIG. 4 est un diagramme d'un exemple d'un 30 processus permettant de tracer le chemin d'énergie minimum 200 selon un aspect de la présente invention. Dans le bloc 400, l'image sismique 100 est modifiée en convertissant des indicateurs de défaut 104 en indicateurs de défaut positifs. Selon certains aspects, les valeurs 3049717 8 absolues de l'image sismique 100 peuvent être déterminées de sorte que les indicateurs de défaut 102 restent des indicateurs de défaut positifs et que les indicateurs de défaut 104 soient convertis en indicateurs de défaut positifs. Les indicateurs de défaut 104 peuvent 5 être remplacés dans l'image sismique 100 par des indicateurs de défaut positifs de la même grandeur. Selon certains aspects, la valeur absolue des indicateurs de défaut 104 ou de l'image sismique 100 peut être obtenue en règle générale à l'aide des valeurs numériques associées aux données sismiques correspondant aux 10 indicateurs de défaut 104 ou à l'image sismique 100. Selon d'autres aspects, les valeurs numériques associées aux indicateurs de défaut 102, 104 peuvent être mises au carré pour convertir les indicateurs de défaut négatifs 104 en indicateurs de défaut positifs. La conversion des indicateurs de défaut 104 en indicateurs de défaut 15 positifs peut permettre de déterminer la grandeur relative des indicateurs de défaut 102, 104 afin d'identifier un niveau de résistance de l'énergie due aux propriétés de la formation souterraine à proximité des indicateurs de défaut 102, 104. [0020] La FIG. 5 illustre une image sismique 500 20 comprenant des indicateurs de défaut négatifs convertis dans la formation souterraine selon un aspect de la présente invention. L'image sismique 500 peut être une partie de l'image sismique 100 des FIG. 1 à 2 et peut comprendre uniquement des indicateurs de défaut positifs. Les indicateurs de défaut positifs peuvent être 25 illustrés sous forme de lignes curvilignes claires dans l'image sismique 500 et peuvent correspondre aux indicateurs de défaut 102, 104 de l'image sismique 100 des FIG. 1 et 2. [0021] Pour en revenir à la FIG. 4, dans le bloc 402, des chemins d'énergie le long des indicateurs de défaut positifs 30 peuvent être utilisés pour déterminer un chemin d'énergie minimum. Selon certains aspects, un potentiel électrique peut être affecté à des indicateurs de défaut. Un indicateur de défaut plus fort ou plus lumineux peut correspondre à un potentiel électrique plus faible 3049717 9 affecté à l'indicateur de défaut. Un indicateur de défaut plus faible, ou plus terne, peut correspondre à un potentiel électrique plus élevé. Par exemple, le niveau de luminosité des points de défaut composant les indicateurs de défaut sur l'image sismique 100 peut 5 être inversement proportionnel au niveau d'énergie afin que les indicateurs de défaut plus lumineux représentent des chemins d'énergie inférieurs. Une énergie nulle peut être affectée au premier point terminal de défaut 202 sélectionné par l'utilisateur. Un point à énergie haute peut être affecté au deuxième point terminal de 10 défaut 202 sélectionné par l'utilisateur. Le chemin d'énergie minimum peut être tracé depuis le deuxième point terminal de défaut 202 jusqu'au premier point terminal de défaut 202 le long des chemins d'énergie le long des indicateurs de défaut ayant la plus petite quantité d'énergie (par exemple, les points de défaut potentiels les 15 plus lumineux composant l'indicateur de défaut). Les chemins d'énergie peuvent être générés à l'aide de procédés d'analyse numérique connus. Des exemples non limitatifs de procédés de détermination des chemins d'énergie peuvent comprendre des procédés de marche rapide permettant de résoudre l'équation eikonale, 20 l'algorithme de Dijkstra, des procédés de balayage rapide ou des procédés de correction d'étiquette. [0022] À l'aide de la comparaison d'énergie jusqu'à la « navigation » décrite à la FIG. 2, les chemins d'énergie peuvent correspondre à divers chemins permettant de naviguer le long des 25 indicateurs de défaut 102, 104 de l'image sismique 100 selon d'autres aspects. Les indicateurs de défaut peuvent correspondre à la vitesse, lorsque le chemin d'énergie minimum, l'indicateur de défaut nécessitant la plus petite quantité d'énergie pour naviguer entre les points terminaux de défaut 202, représente la vitesse la plus 30 élevée. [0023] Dans le bloc 404, le chemin d'énergie minimum 200 peut être tracé entre les points terminaux de défaut 202. Selon certains aspects, le chemin d'énergie minimum 200 peut être tracé 3049717 10 depuis le deuxième point terminal de défaut 202 sélectionné jusqu'au premier point terminal de défaut 202 sélectionné le long du chemin d'énergie minimum identifié. [0024] La FIG. 6 illustre l'image sismique 500 de la 5 FIG. 5 comprenant des régions de contour 600A-D affichant des ensembles de chemins d'énergie entre les points terminaux de défaut 202. Selon certains aspects, le chemin d'énergie minimum peut comprendre des segments d'énergie minimum 602A-D entre les points terminaux de défaut 202 correspondant aux régions de contour 600A- 10 D. Selon certains aspects, les segments d'énergie minimum 602A-D peuvent correspondre collectivement au chemin d'énergie minimum 200 de la FIG. 2. Le point terminal de défaut 604A est inclus dans la région 600A et peut représenter le deuxième point terminal de défaut sélectionné par l'utilisateur. Les régions de contour 600A-D sont 15 centrées sur le point terminal de défaut 604B positionné dans la région 600D et représentant le premier point terminal de défaut sélectionné par l'utilisateur. Selon certains aspects, le chemin d'énergie minimum peut être tracé depuis le point terminal de défaut 604A jusqu'au point terminal de défaut 604B le long des segments 20 d'énergie minimum 602A-D. Selon certains aspects, le segment d'énergie minimum 602A peut correspondre à un chemin de moindre énergie entre le point terminal de défaut 604A et la limite interne de la région 600A nécessitant la plus petite quantité d'énergie pour naviguer ou le traverser. Le segment d'énergie minimum 602B peut de 25 même correspondre à un chemin de moindre énergie entre le point terminal de défaut du segment d'énergie minimum 602A positionné sur la limite interne de la région 600A et la limite interne de la région 600B. Le segment d'énergie minimum 602C peut correspondre à un chemin de moindre énergie entre le point terminal de défaut du segment 30 d'énergie minimum 602B positionné sur la limite interne de la région 600B et la limite interne de la région 600C. Le segment d'énergie minimum 602D peut correspondre à un chemin de moindre énergie entre le point terminal de défaut du segment d'énergie minimum 602C 3049717 11 positionné sur la limite interne de la région 600C et le point terminal de défaut 604B. Le chemin d'énergie minimum entre les points terminaux de défaut 604A-B peut correspondre à un défaut dans la zone d'intérêt de la formation souterraine représentée par l'image 5 sismique 500. Même si les régions de contour 600A-D sont représentées à la FIG. 6 sur l'image sismique 500, les régions de contour 600A-D sont représentatives de données intermédiaires pour le calcul du chemin d'énergie minimum et ne peuvent pas être affichables pour l'utilisateur. 10 [0025] Pour en revenir à la FIG. 3, dans le bloc 304, une décision est prise quant au fait de modifier le chemin d'énergie minimum. Si une décision est prise pour modifier le chemin d'énergie minimum, le processus passe au bloc 306 où un point de défaut supplémentaire est reçu. Dans une certaine mesure, le point de défaut 15 supplémentaire peut correspondre à un emplacement de l'image sismique 500 à proximité du chemin d'énergie minimum. Le point de défaut supplémentaire peut par exemple correspondre à un point intermédiaire entre les deux points de défaut. Dans le bloc 308, un chemin d'énergie minimum modifié peut être déterminé en reliant le point 20 supplémentaire à chacun des deux points. Selon certains aspects, le chemin d'énergie minimum modifié peut être déterminé à l'aide d'un processus identique au processus décrit dans les blocs 402, 404. Mais le chemin d'énergie minimum peut être tracé depuis le point supplémentaire jusqu'à chacun des deux points de défaut pour créer 25 un chemin curviligne reliant les deux points de défaut et le point supplémentaire. Après la détermination du chemin d'énergie minimum modifié tel que décrit dans le bloc 308, des points de défaut supplémentaires peuvent être ajoutés pour modifier à nouveau le chemin d'énergie minimum à relier à chacun des points de défaut 30 reçus. [0026] La FIG. 7 est un schéma fonctionnel illustrant un exemple d'un système 700 pouvant être utilisé pour générer le chemin d'énergie minimum 200 de la FIG. 2 selon un aspect de la 3049717 12 présente invention. Le système 700 comprend un dispositif de calcul 702. Selon certains aspects, le dispositif de calcul 702 peut être positionné au niveau d'une surface de la terre au-dessus de la formation souterraine représentée par l'image sismique 100. Selon 5 d'autres aspects, le dispositif de calcul 702 peut être positionné dans un emplacement distant par rapport à la formation souterraine. Le dispositif de calcul 702 peut comprendre un dispositif de traitement 704, un bus 706, et un périphérique mémoire 708. Le dispositif de traitement 704 peut exécuter une ou plusieurs 10 opérations pour générer le chemin d'énergie minimum 200 de la FIG. 2. Le dispositif de traitement 704 peut exécuter des instructions 710 stockées dans le périphérique mémoire 708 pour réaliser les opérations. Le dispositif de traitement 704 peut comprendre un dispositif de traitement ou de nombreux dispositifs de traitement. 15 Des exemples non limitatifs du dispositif de traitement 704 peuvent comprendre une matrice prédiffusée programmable par l'utilisateur (« FPGA »), un circuit intégré spécifique à l'application (« ASIC »), un microprocesseur, etc. Selon certains aspects, le dispositif de traitement 704 peut également comprendre un matériel spécialisé pour 20 manipuler et afficher des images, tel qu'une unité de traitement graphique (« GPU »). L'unité de traitement graphique peut être incluse sur une carte vidéo ou un circuit imprimé du dispositif de calcul 702 et peut offrir une puissance de traitement suffisante pour manipuler des images sismiques afin de générer le chemin d'énergie 25 minimum 200. Le périphérique mémoire 708 peut comprendre n'importe quel type de dispositif de stockage qui conserve les informations stockées lors d'une mise hors tension. Des exemples non limitatifs du périphérique mémoire 708 peuvent comprendre une mémoire en lecture seule électriquement effaçable et programmable (« EEPROM »), une 30 mémoire flash, ou n'importe quel autre type de mémoire non volatile. [0027] Dans certains exemples, au moins une partie du périphérique mémoire 708 peut comprendre un support lisible par ordinateur à partir duquel le dispositif de traitement 704 peut lire 3049717 13 les instructions 710. Un support lisible par ordinateur peut comprendre des dispositifs de stockage électronique, optique, magnétique ou autres, capables de fournir au dispositif de traitement 704 des instructions lisibles par ordinateur ou autre code de 5 programme. Des exemples non limitatifs d'un support lisible par ordinateur comprennent, entre autres, des disques magnétiques, des puces mémoire, une mémoire morte, une mémoire vive (« RAM »), un ASIC, un processeur configuré, un stockage optique, ou tout autre support à partir duquel un processeur de calcul peut lire les 10 instructions 710. Les instructions 710 peuvent comprendre des instructions spécifiques au processeur générées par un compilateur ou un interpréteur à partir d'un code écrit dans n'importe quel langage de programmation informatique, par exemple, C, C+++, Cl+, etc. Dans certains exemples, les instructions 710 peuvent comprendre une 15 ou plusieurs équations utilisables pour générer le chemin d'énergie minimum 200 de la FIG. 1. Par exemple, des instructions 710 peuvent comprendre des algorithmes tels qu'un algorithme de marche rapide pour résoudre l'équation eikonale, l'algorithme de Dijkstra, des algorithmes de balayage rapide, des algorithmes de correction 20 d'étiquette, et des hybrides de ceux-ci. Selon certains aspects, les algorithmes peuvent être utilisés pour manipuler ou interpréter des données d'image sismique 712 stockées dans une partie du périphérique mémoire 708. Les données d'image sismique 712 peuvent comprendre des données d'image générées à partir de données sismiques correspondant 25 à une formation souterraine. Selon certains aspects, les données d'image sismique 712 peuvent comprendre des données correspondant à des images sismiques bidimensionnelles, tridimensionnelles ou quadridimensionnelles de la formation souterraine. [0028] Les instructions 710 peuvent également 30 comprendre un code permettant de générer des interfaces utilisateur qui, lorsqu'elles sont exécutées par le dispositif de traitement 704, peuvent faire en sorte que le dispositif de calcul 702 affiche les interfaces utilisateur sur un dispositif d'affichage 714. Le 3049717 14 dispositif d'affichage 714 peut être couplé avec le dispositif de calcul 702 via un dispositif d'entrée/sortie (E/S) 716 qui peut permettre à un utilisateur du dispositif de calcul 702 d'entrer des informations ou des sélections à l'aide des interfaces utilisateur. 5 Selon certains aspects, le dispositif d'affichage 714 peut comprendre tout CRT, LCD, OLED, ou autre dispositif permettant d'afficher des interfaces générées par le dispositif de traitement 704. [0029] Selon certains aspects, des systèmes et procédés peuvent être prévus selon un ou plusieurs des exemples suivants : 10 [0030] Exemple n° 1 : Un procédé peut comprendre la réception de points de défaut d'une représentation visuelle associée à un défaut dans une formation souterraine. Le procédé peut également comprendre la détermination, par un dispositif de calcul, d'un chemin d'énergie minimum sur la représentation visuelle entre les points de 15 défaut pour relier les points de défaut et qui correspond au défaut. [0031] Exemple n° 2 : Le procédé de l'exemple n° 1 peut proposer la représentation visuelle comprenant des indicateurs de défaut correspondant à des défauts potentiels dans la formation souterraine. Le procédé peut également proposer le chemin d'énergie 20 minimum étant superposé à au moins un des indicateurs de défaut entre les points de défaut. [0032] Exemple n° 3 : Le procédé des exemples n° 1 à 2 peut proposer les points de défaut comprenant un premier point terminal et un deuxième point terminal. Le procédé peut également 25 proposer la détermination du chemin d'énergie minimum pour inclure la conversion d'indicateurs de défaut dans la représentation visuelle correspondant à un ensemble de points de défaut potentiels dans la formation souterraine en indicateurs de défaut positifs. Le procédé peut également proposer la détermination du chemin d'énergie minimum 30 pour inclure le calcul du chemin d'énergie minimum entre les points de défaut. Le procédé peut également proposer la détermination du chemin d'énergie minimum pour inclure le traçage, sur la 3049717 15 représentation visuelle, du chemin d'énergie minimum depuis le deuxième point terminal jusqu'au premier point terminal. [0033] Exemple n° 4 : Le procédé des exemples n° 1 à 3 peut proposer la conversion des indicateurs de défaut dans la 5 représentation visuelle en indicateurs de défaut positifs pour comprendre la détermination d'une valeur absolue de valeurs d'indicateurs de défaut correspondant aux indicateurs de défaut. [0034] Exemple n° 5 : Le procédé des exemples n° 1 à 3 peut proposer la conversion des indicateurs de défaut dans la 10 représentation visuelle en indicateurs de défaut positifs pour comprendre la détermination d'un carré de valeurs d'indicateurs de défaut correspondant aux indicateurs de défaut. [0035] Exemple n° 6 : Le procédé des exemples n° 1 à 5 peut proposer le premier point terminal correspondant à une première 15 sélection par l'utilisateur d'un premier point de défaut sur la représentation visuelle. Le procédé peut également proposer le deuxième point terminal correspondant à une deuxième sélection par l'utilisateur d'un deuxième point de défaut sur la représentation visuelle survenant après la première sélection par l'utilisateur. 20 [0036] Exemple n° 7 : Le procédé des exemples n° 1 à 6 peut proposer la représentation visuelle comprenant un attribut de probabilité de défaut ayant des données d'attribut de défaut correspondant à une orientation du défaut. [0037] Exemple n° 8 : Le procédé des exemples n° 1 à 7 25 peut proposer la réception d'un point de défaut supplémentaire de la représentation visuelle. Le procédé peut également proposer la détermination du chemin d'énergie minimum entre les points de défaut pour inclure le traçage du chemin d'énergie minimum depuis le point de défaut supplémentaire jusqu'à chacun des points de défaut. 30 [0038] Exemple n° 9 : Le procédé des exemples n° 1 à 8 peut proposer un niveau d'énergie associé au chemin d'énergie minimum étant inversement associé à un niveau de luminosité d'un ou de 3049717 16 plusieurs indicateurs de défaut sur la représentation visuelle définissant le chemin d'énergie minimum. [0039] Exemple n° 10 : Un dispositif de calcul peut comprendre un dispositif de traitement. Le dispositif de calcul peut 5 également comprendre un périphérique mémoire dans lequel des instructions exécutables par le dispositif de traitement sont stockées pour faire en sorte que le dispositif de traitement reçoive des points de défaut d'une représentation visuelle associée à un défaut dans une formation souterraine. Le périphérique mémoire peut 10 comprendre des instructions exécutables par le dispositif de traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement détermine un chemin d'énergie minimum entre les points de défaut pour relier les points de défaut et qui correspond au défaut. [0040] Exemple n° 11 : Le dispositif de calcul de 15 l'exemple n° 10 peut proposer la représentation visuelle comprenant des indicateurs de défaut correspondant à des défauts potentiels dans la formation souterraine. Le périphérique mémoire peut également comprendre des instructions exécutables par le dispositif de traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement 20 superpose le chemin d'énergie minimum à au moins un des indicateurs de défaut entre les points de défaut. [0041] Exemple n° 12 : Le dispositif de calcul des exemples n° 10 à 11 peut proposer les points de défaut comprenant un premier point terminal et un deuxième point terminal. Le périphérique 25 mémoire peut également comprendre des instructions exécutables par le dispositif de traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement détermine le chemin d'énergie minimum en convertissant des indicateurs de défaut dans la représentation visuelle correspondant à un ensemble de points de défaut potentiels dans la 30 formation souterraine en indicateurs de défaut positifs. Le périphérique mémoire peut également comprendre des instructions exécutables par le dispositif de traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement détermine le chemin d'énergie minimum en 3049717 17 calculant le chemin d'énergie minimum entre les points de défaut. Le périphérique mémoire peut également comprendre des instructions exécutables par le dispositif de traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement détermine le chemin d'énergie minimum en 5 traçant, sur la représentation visuelle, le chemin d'énergie minimum depuis le deuxième point terminal jusqu'au premier. [0042] Exemple n° 13 : Le dispositif de calcul des exemples n° 10 à 12 peut proposer le périphérique mémoire comprenant également des instructions exécutables par le dispositif de 10 traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement convertisse les indicateurs de défaut dans la représentation visuelle en indicateurs de défaut positifs en déterminant une valeur absolue de valeurs d'indicateurs de défaut correspondant aux indicateurs de défaut. 15 [0043] Exemple n° 14 : Le dispositif de calcul des exemples n° 10 à 12 peut proposer le périphérique mémoire comprenant également des instructions exécutables par le dispositif de traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement convertisse les indicateurs de défaut dans la représentation visuelle 20 en indicateurs de défaut positifs en déterminant un carré de valeurs d'indicateurs de défaut correspondant aux indicateurs de défaut. [0044] Exemple n° 15 : Le dispositif de calcul des exemples n° 10 à 14 peut également proposer le premier point terminal correspondant à une première sélection par l'utilisateur d'un premier 25 point de défaut sur la représentation visuelle. Le dispositif de calcul peut également proposer le deuxième point terminal correspondant à une deuxième sélection par l'utilisateur d'un deuxième point de défaut sur la représentation visuelle survenant après la première sélection par l'utilisateur. 30 [0045] Exemple n° 16 : Le dispositif de calcul des exemples n° 10 à 15 peut proposer la représentation visuelle comprenant un attribut de probabilité de défaut ayant des données d'attribut de défaut correspondant à une orientation du défaut. 3049717 18 [0046] Exemple n° 17 : Le dispositif de calcul des exemples n° 10 à 16 peut également proposer le périphérique mémoire comprenant également des instructions exécutables par le dispositif de traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement 5 reçoive un point de défaut supplémentaire de la représentation visuelle. Le périphérique mémoire peut également comprendre des instructions exécutables par le dispositif de traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement détermine le chemin d'énergie minimum entre les points de défaut en traçant le chemin 10 d'énergie minimum depuis le point de défaut supplémentaire jusqu'à chacun des points de défaut. [0047] Exemple n° 18 : Un système peut inclure un dispositif de calcul comprenant un dispositif de traitement. Le dispositif de calcul peut également comprendre un périphérique 15 mémoire dans lequel des instructions exécutables par le dispositif de traitement sont stockées pour faire en sorte que le dispositif de traitement reçoive des points de défaut d'une représentation visuelle associée à un défaut dans une formation souterraine. Les points de défaut peuvent inclure un premier point terminal et un deuxième point 20 terminal. La représentation visuelle peut inclure un ou plusieurs indicateurs de défaut correspondant à des défauts potentiels dans la formation souterraine. Le périphérique mémoire peut également comprendre des instructions exécutables par le dispositif de traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement 25 convertisse l'un ou plusieurs indicateurs de défaut en un ou plusieurs indicateurs de défaut positifs. Le périphérique mémoire peut également comprendre des instructions exécutables par le dispositif de traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement calcule un chemin d'énergie minimum entre les points de 30 défaut et correspondant au défaut. Le périphérique mémoire peut également comprendre des instructions exécutables par le dispositif de traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement trace, sur la représentation visuelle, le chemin d'énergie minimum 3049717 19 depuis le deuxième point terminal jusqu'au premier. Le périphérique mémoire peut également comprendre des instructions exécutables par le dispositif de traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement affiche un dispositif couplé avec le dispositif de calcul 5 pour afficher la représentation visuelle et le chemin d'énergie minimum superposé à la représentation visuelle. [0048] Exemple n° 19 : Le système de l'exemple n° 18 peut proposer le premier point terminal correspondant à une première sélection par l'utilisateur d'un premier point de défaut sur la 10 représentation visuelle. Le système peut également proposer le deuxième point terminal correspondant à une deuxième sélection par l'utilisateur d'un deuxième point de défaut sur la représentation visuelle survenant après la première sélection par l'utilisateur. [0049] Exemple n° 20 : Le système des exemples n° 18 à 15 19 peut proposer le périphérique mémoire comprenant en outre des instructions exécutables par le dispositif de traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement reçoive un point de défaut supplémentaire de la représentation visuelle. Le périphérique mémoire peut également comprendre des instructions exécutables par le 20 dispositif de traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement détermine le chemin d'énergie minimum entre les points de défaut en traçant le chemin d'énergie minimum depuis le point de défaut supplémentaire jusqu'à chacun des points de défaut. [0050] La description ci-dessus des exemples, 25 comprenant des exemples illustrés, a été présentée uniquement aux fins d'illustration et de description et n'a pas vocation à être exhaustive ou à limiter l'objet aux formes précises décrites. De nombreuses modifications, adaptations, utilisations et installations de celle-ci peuvent être évidentes pour l'homme de l'art, sans 30 s'écarter du champ d'application de la présente invention. Les exemples à des fins d'illustration décrits ci-dessus sont donnés pour présenter au lecteur l'objet général abordé dans le présent document 3049717 20 et n'ont pas vocation à limiter le champ d'application des concepts décrits. REVENDICATIONS1. Procédé comprenant les étapes suivantes : réception de points de défaut d'une représentation visuelle associée à un défaut dans une formation souterraine ; et détermination, par un dispositif de calcul, d'un chemin d'énergie minimum sur la représentation visuelle entre les points de défaut pour relier les points de défaut et qui correspond 10 au défaut. 2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel la représentation visuelle comprend des indicateurs de défaut correspondant à des défauts potentiels dans la formation souterraine, 15 dans lequel le chemin d'énergie minimum est superposé à au moins un des indicateurs de défaut entre les points de défaut. 3. Procédé selon la revendication 1, dans lequel les points de défaut comprennent un premier point terminal et un deuxième 20 point terminal, dans lequel la détermination du chemin d'énergie minimum comprend les étapes suivantes : conversion d'indicateurs de défaut dans la représentation visuelle correspondant à un ensemble de points de 25 défaut potentiels dans la formation souterraine en indicateurs de défaut positifs ; calcul du chemin d'énergie minimum entre les points de défaut ; et traçage, sur la représentation visuelle, du 30 chemin d'énergie minimum depuis le deuxième point terminal jusqu'au premier point terminal. 3049717 22 4. Procédé selon la revendication 3, dans lequel la conversion des indicateurs de défaut dans la représentation visuelle en indicateurs de défaut positifs comprend la détermination d'une valeur absolue de valeurs d'indicateurs de défaut correspondant aux 5 indicateurs de défaut. 5. Procédé selon la revendication 3, dans lequel la conversion des indicateurs de défaut dans la représentation visuelle en indicateurs de défaut positifs comprend la détermination d'un carré de valeurs d'indicateurs de défaut correspondant aux indicateurs de défaut. 6. Procédé selon la revendication 3, dans lequel le premier point terminal correspond à une première sélection par l'utilisateur d'un premier point de défaut sur la représentation visuelle et le deuxième point terminal correspond à une deuxième sélection par l'utilisateur d'un deuxième point de défaut sur la représentation visuelle survenant après la première sélection par l'utilisateur. 7. Procédé selon la revendication 1, dans lequel la représentation visuelle comprend un attribut de probabilité de défaut ayant des données d'attribut de défaut correspondant à une orientation du défaut. 8. Procédé selon la revendication 1, comprenant en outre la réception d'un point de défaut supplémentaire de la représentation visuelle, dans lequel la détermination du chemin d'énergie 30 minimum entre les points de défaut comprend le traçage du chemin d'énergie minimum depuis le point de défaut supplémentaire jusqu'à chacun des points de défaut. 3049717 23 9. Procédé selon la revendication 1, dans lequel un niveau d'énergie associé au chemin d'énergie minimum est inversement associé à un niveau de luminosité d'un ou de plusieurs indicateurs de défaut sur la représentation visuelle définissant le chemin 5 d'énergie minimum. 10. Dispositif de calcul comprenant : un dispositif de traitement ; et un périphérique mémoire dans lequel des instructions 10 exécutables par le dispositif de traitement sont stockées pour faire en sorte que le dispositif de traitement effectue le procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 9. 11. Procédé comprenant : 15 un dispositif de calcul comprenant : un dispositif de traitement ; un périphérique mémoire dans lequel des instructions exécutables par le dispositif de traitement sont stockées pour faire en sorte que le dispositif de traitement : 20 reçoive des points de défaut d'une représentation visuelle associée à un défaut dans une formation souterraine, les points de défaut comprenant un premier point terminal et un deuxième point terminal, la représentation visuelle comprenant un ou plusieurs 25 indicateurs de défaut correspondant à des défauts potentiels dans la formation souterraine ; convertisse l'un ou plusieurs indicateurs de défaut en un ou plusieurs indicateurs de défaut positifs ; calcule un chemin d'énergie minimum entre les points de défaut et correspondant au défaut ; et trace, sur la représentation visuelle, le chemin d'énergie minimum depuis le deuxième point terminal jusqu'au premier ; et 3049717 24 dispositif d'affichage couplé avec le dispositif de calcul pour afficher la représentation visuelle et le chemin d'énergie minimum superposé à la représentation visuelle. 5 12. Système selon la revendication 11, dans lequel le premier point terminal correspond à une première sélection par l'utilisateur d'un premier point de défaut sur la représentation visuelle et le deuxième point terminal correspond à une deuxième sélection par l'utilisateur d'un deuxième point de défaut sur la 10 représentation visuelle survenant après la première sélection par l'utilisateur. 13. Système selon la revendication 11, dans lequel le périphérique mémoire comprend en outre des instructions 15 exécutables par le dispositif de traitement pour faire en sorte que le dispositif de traitement : reçoive un point de défaut supplémentaire de la représentation visuelle ; et détermine le chemin d'énergie minimum entre les points 20 de défaut en traçant le chemin d'énergie minimum depuis le point de défaut supplémentaire jusqu'à chacun des points de défaut.