Brevet FR3036500A1 — publié le 20161125

SYSTEME ET PROCEDE DE DETECTION DE RAYONNEMENT GAMMA DE TYPE CAMERA COMPTON DOMAINE TECHNIQUE DE L'INVENTION [0001 ]L'invention se rapporte à l'imagerie de sources de rayons gamma. Plus particulièrement, l'invention concerne un système de détection de rayons gamma de type caméra Compton permettant de reconstruire une image des sources gamma, de mesurer précisément les coordonnées spatio-temporelles et leurs énergies lorsque lesdits photons subissent une déviation Compton. L'invention concerne en outre l'utilisation du système de détection dans les domaines notamment de l'astronomie et du médical. L'invention concerne également le traitement de l'effet Compton dans les caméras temporelles. ETAT DE LA TECHNIQUE ANTERIEURE [0002]A l'heure actuelle, l'imagerie de sources de rayons gamma (>30 KeV) s'effectue essentiellement à des fins de diagnostic médical autour de deux techniques : Le PET et le SPECT. Le SPECT est basée sur la scintigraphie et permet de réaliser des images et des reconstructions en trois dimensions des organes et de leur métabolisme au moyen d'un ensemble de gamma caméra tournant autour d'un patient. Le SPECT peut utiliser plusieurs énergies de rayons gamma, mais le collimateur en plomb qui permet de connaître leur direction d'arrivée en absorbe plus que 99%. Le PET utilise un anneau de détecteurs segmentés. Pour le PET on utilise des radio-pharmaceutiques émetteurs de positron. Ceux-ci donnent naissance à une paire de photons de 511 KeV et il est possible de localiser l'émission grâce à leur détection simultanée sur l'anneau de détecteurs. [0003]Une troisième technique, la caméra Compton, est actuellement en émergence. Cette technologie permet comme le SPECT de faire une image quelque soit l'énergie du gamma, mais contrairement au SPECT, tous les photons peuvent contribuer à l'image. Mais, les applications de la caméra Compton sont aujourd'hui limitées par son cout, le niveau élevé de bruit et la difficulté d'obtenir des reconstructions précises. 3036500 2 [0004]Lorsqu'on utilise des cristaux scintillants pour réaliser une image de sources de rayonnement gamma, on se heurte à la nature probabiliste de l'interaction photon gamma/matière. Nous remarquons essentiellement deux effets : premièrement le photon gamma peut être absorbé à une profondeur 5 quelconque sur son trajet de propagation (Effet Depth of Interaction). [0005]Le deuxième effet consiste en ce que tous les systèmes d'imagerie actuels (matrice de pixels ou caméra d'Anger) reposent sur le postulat que l'endroit où a lieu le maximum d'émission de lumière est le lieu où le photon gamma a été détecté. 10 [0006]Du fait de la déviation Compton, ce postulat est juste sur la moyenne d'un grand nombre d'événement. Par contre, dans le cas d'un scanner de type PET si on reconstitue la position d'un événement unique, l'erreur, sur la position, peut être de plusieurs millimètres. La solution adoptée est alors de rejeter les événements pour lesquels l'énergie déposée n'est pas correcte. Cela conduit à 15 rejeter un grand nombre d'événements. [0007]L'objectif est de présenter une méthode pour traiter la diffusion Compton dans un nouveau type de détecteur la « caméra temporelle » décrite dans les demandes de brevets françaises numéro: '1260596' et '1454417' du même déposant, et de décrire ainsi le fonctionnement d'une caméra Compton basée sur 20 ce type de détecteur « caméra temporelle ». [0008]Les techniques de traitement de la diffusion Compton ont eu jusqu'à aujourd'hui un succès limité car les caméras Compton pour fonctionner ont besoin d'une localisation précise d'au moins deux événements localisés sur au moins deux plaques (plaque 1 & plaque 2) et d'une mesure précise de l'énergie déposée 25 sur chaque plaque. Pour cette raison, à ce jour toutes les caméras Compton fonctionnelles ont été réalisées avec des semi-conducteurs. [0009] Les caméras Compton réalisées avec des semi-conducteurs présentent les problèmes suivants : Premièrement le pouvoir d'arrêt des cristaux semiconducteur est faible. Il faut donc des épaisseurs importantes supérieures à 30 3036500 3 mm pour 511 KeV. Ces cristaux doivent être segmentés, chaque pixel étant lu séparément ce qui accroît le coût du système. [0010] Le deuxième problème consiste en ce que le cout du système au cm3 est élevé (environ 2000$/cm3) ce qui limite les caméras de petits systèmes. 5 [0011 ]Un autre problème des caméras Compton ainsi réalisées est que la réponse temporelle des semi-conducteurs est lente, supérieure à 10 ns. Or, beaucoup d'événements parasites sont mesurés pendant la mesure d'un événement Compton ce qui signifie qu'il y a beaucoup de bruit. [0012]L'objet de l'invention est donc de proposer une solution technique 10 permettant une détermination précise des coordonnées (X, Y, Z, T, E) de chaque événement gamma dans le cas où le photon incident a subi une diffusion Compton en utilisant les principes de la caméra temporelle. [0013] L'invention propose ainsi un détecteur de type caméra Compton présentant les avantages suivants : 15 - C'est un détecteur de type spectromètre et imageur. Il permet donc de mesurer à la fois l'énergie des photons gamma et leur répartition spatiale. - Le détecteur fonctionne pour une énergie quelconque du photon gamma, contrairement à la technique PET. Même si ce concept fonctionne d'autant mieux que l'énergie est élevée du fait de la focalisation du dépôt 20 d'énergie dans la direction de propagation du rayon gamma. - Le détecteur peut utiliser tous les photons gamma incidents du fait de l'absence de collimateur, contrairement au SPECT. [0014] L'objet principal de l'invention est donc de proposer une nouvelle technique permettant : - de conserver une bonne localisation de chaque événement dans un 25 détecteur de type caméra temporelle dans le cas où le photon a subi un effet Compton ; - de mesurer l'énergie d'un événement dans un détecteur de type caméra temporelle dans le cas où le photon a subi un effet Compton ; et - de réaliser une caméra Compton améliorée en combinant un ou plusieurs détecteurs de type caméra temporelle. 30 3036500 4 EXPOSE DE L'INVENTION [0015] L'invention concerne un système de détection de rayonnement gamma, de type caméra Compton, comprenant une source de rayonnement gamma, au moins une plaque de scintillateur rapide P1 dont le temps de montée au pic de 5 lumière est inférieur à 1ns, présentant une épaisseur supérieure ou égale à 10 mm, équipée d'un réseau de photo-détecteurs segmentés et d'une micro-électronique de lecture rapide dédiée le système est caractérisé en ce qu'il est capable de mesurer les coordonnées spatio-temporelle (X, Y, Z, T) et l'énergie E en au moins deux positions successives d'un photon gamma lorsque ledit photon 10 subit une déviation Compton en un premier point A avant d'être absorbé en un second point B, tout en reconnaissant des cercles de photons non diffusés correspondant à chaque interaction de scintillation. [0016]Selon l'invention le système de détection de rayon gamma, de type caméra Compton est caractérisé en ce qu'il comprend une seule plaque de scintillateur P1 15 d'épaisseur supérieure ou égale au libre parcours moyen du rayon gamma dans le cristal considéré. [0017] Parailleurs, le système de détection de rayon gamma, de type caméra Compton comprend deux réseaux de photo-détecteurs disposés respectivement sur une face d'entrée et sur une face de sortie de ladite plaque scintillateur P1. 20 [0018]Avantageusement, la face d'entrée et la face de sortie de la plaque scintillateur sont couplées au réseau de photo-détecteurs, elles sont polies et le couplage entre lesdites faces et le réseau de photo-détecteurs est réalisée par un média d'indice n inférieur à 1.5, afin de ménager un angle de réflexion totale. [0019] Particulièrement, des faces latérales et la face d'entrée de la plaque 25 scintillateur P1 ne sont pas couplées à un réseau de photo-détecteurs, elles sont rugueuses, et lesdites faces sont traitées de telle sorte que l'absorption des photons incidents y soit maximum. [0020]De préférence, la face d'entrée de la plaque P1 non couplée à un réseau de photo-détecteur est peinte en noire afin de supprimer la réflexion sur ladite face. 3036500 5 [0021 ]Selon un mode de réalisation de l'invention, le système de détection est caractérisé en ce qu'il comprend en outre une seconde plaque de scintillateur P2, en ce que la plaque P1 est plus fine que la seconde plaque P2 et en ce que l'épaisseur de la plaque de scintillateur P1 est telle que le photon gamma subit 5 une déviation Compton en un point A de ladite plaque P1 ; la seconde plaque de scintillateur P2 est d'une épaisseur permettant d'absorber au moins 50% de l'énergie du rayonnement gamma, ladite seconde plaque étant séparée de la plaque P1 par une distance 'D' d'au moins 10 mm, de préférence supérieure à l'épaisseur de la plaque la plus épaisse. Le système comporte en outre un module 10 d'estimation d'un événement valide, ledit module étant apte à mesurer sur ladite seconde plaque P2 un trigger de coïncidence dans une fenêtre temporelle inférieure au temps de transfert maximum de la lumière entre les plaques P1 et P2 pour identifier les événements Compton valides. Ce temps de coïncidence sera dans tous les cas Oc , la distance entre les points A et B est grande et les cercles CA et CB sont distincts 15 dans ce cas: o déterminer un premier événement A correspondant à l'énergie la plus importante; o mesurer les coordonnées (Xa, Ya, Za, Ta) dudit événement en A et son énergie Ea 20 o déterminer un second événement B correspondant à l'énergie la plus faible; o mesurer les coordonnées de l'événement (Xb, Yb, Zb, Tb) et son énergie Eb, o calculer l'énergie initiale du photon gamma qui est équivalente à 25 la sommes des énergies Ea + Eb; o Déterminer l'angle de déviation Compton en reconstituant la position des deux interactions ; o Déduire la direction d'arrivée du photon gamma au point A, à partir de la position du point A (Xa, Ya, Za), de la position du 30 point B (Xb, Yb, Zb) et des énergies Ea et Eb ; soit 3036500 7 le photon ayant subi une déviation Compton sort du cône de lumière ac > Oc , la distance entre les points A et B est petite et les cercles CA et CB sont confondus dans ce cas : o ajuster la distribution de lumière par une ellipse de centre A, le 5 point B occupe un des foyers, le demi petit axe correspond au rayon RA du cercle CA et le demi grand axe correspond à la distance A-B +RB, où RB est le rayon du cercle CB ; o déterminer la position du point A (Xa, Ya) donnée par le centre de l'ellipse ; 10 o déterminer la profondeur d'interaction Za en A qui est donnée par le demi grand axe de l'ellipse (RA) ; o calculer le temps Ta en corrigeant les temps mesurés avec Za ; o déterminer la position du point B (Xb, Yb) qui est donnée par le foyer de l'ellipse ; 15 o déterminer la profondeur d'interaction Zb en B qui est donnée par RB que l'on calcule avec le demi grand axe de l'ellipse : par Distance (A - B) + RB ; o calculer le temps Tb en corrigeant les temps mesurés avec Zb ; o mesurer l'énergie totale Ea + Eb en intégrant les photons sur 20 l'ensemble de la dite ellipse ; o mesurer le barycentre de la distribution des photons dans l'ellipse ; o déterminer le point initial d'interaction A ou B, ledit point initial est celui qui est le plus proche du barycentre ; 25 o déterminer l'angle de déviation Compton ac en reconstituant la position des deux interactions en A et en B. [0024] D'une autre façon, l'invention concerne un procédé de détermination des coordonnées spatio temporel (X, Y, Z, T) et de l'énergie E dans le cas où les 30 cercles CA et CB sont confondus et ac > Oc caractérisé par des étapes suivantes : 3036500 8 o ajuster la distribution globale de lumière par une composition de deux cercles CA et C, ; o déterminer les positions (Xa, Ya) et (Xb, Yb) des interactions respectives en A et en B, lesdites positions sont données par le 5 centre de chaque cercle CA et CB ; o déterminer la profondeur des interactions Za et Zb, en déterminant le diamètre des cercles CA et CB; o mesurer l'énergie totale Ea+ Eb en intégrant les photons sur l'ensemble de ladite composition ; 10 o déterminer le barycentre de la distribution globale de lumière des photons dans la composition de deux cercles ; o déterminer le point initial d'interaction A ou B, ledit point initial est celui qui est le plus proche du barycentre de la distribution globale de lumière ;. 15 o déterminer l'angle de déviation Compton ac en reconstituant la position des deux interactions en A et en B. [0025]L'invention comprend encore l'utilisation du système de détection dans le domaine notamment de l'astronomie et du médical et de l'industrie pour détecter 20 des contaminations radioactives. BREVE DESCRIPTION DES FIGURES [0026] D'autres caractéristiques, détails et avantages de l'invention ressortiront à la lecture de la description qui suit, en référence aux figures annexées, qui illustrent: la figure 1, montre le système de détection selon l'invention dans le cas d'une plaque P1 et lorsque le photon ayant subi une diffusion Compton d'angle ac reste dans un même cône de lumière (ac inférieure à ec) ; la figure 2 montre le système de détection selon l'invention dans le cas d'une plaque P1 lorsque le photon ayant subi une diffusion Compton d'angle ac sort du cône de lumière (déviation ac supérieure à Oc ) existence de deux cercles distincts; 25 ^ 30 ^ 3036500 9 la figure 3 montre le système de détection selon l'invention dans le cas où (déviation ac supérieure à 6c) existence de deux cercles confondus, la distribution de lumière étant ajustée par une ellipse; la figure 4 montre le principe de la figure 3, existence de deux cercles confondus, la distribution de lumière étant ajustée par une composition de deux cercles ; la figure 5 montre le système de détection selon l'invention avec la plaque P1 muni de deux réseaux de photo-détecteurs respectivement sur une face d'entrée et une face de sortie ; la figure 6 montre un mode de réalisation du système avec deux plaques de scintillateurs P1 et P2. DESCRIPTION DETAILLEE [0027]La présente invention utilise une caméra temporelle capable de mesurer à 15 la fois la position dans l'espace, dans le temps ainsi que l'énergie de chaque photon gamma. Le principe d'une caméra temporelle est enseigné dans les demandes de brevets n° 1260596 FR et n° 1454417 FRclu même déposant. [0028]Dans ce type de caméra temporelle, pour chaque événement de scintillation (effet photo-électrique ou diffusion Compton) on identifie un cercle 20 correspondant aux photons non diffusés qui sont les premiers détectés. [0029]Les photons non diffusés sont répartis dans un cône dont le sommet est le lieu de l'interaction (X,Y,Z,T) et dont l'angle d'ouverture est l'angle de réflexion totale sur la face de sortie. [0030]Lorsque le photon gamma subit un effet photo-électrique, on n'a qu'un seul 25 cercle. Dans tout ce qui suit on cherche à caractériser la position et le diamètre d'un cercle et non le barycentre d'une distribution de lumière. [0031]Si le photon gamma subit une diffusion Compton puis un effet photoelectrique, on a deux cercles qui apparaissent de façon quasi coïncidente sur le plan des détecteurs. 30 [0032]Dans le cas où le photon gamma subit une déviation Compton au point A (Xa, Ya, Za, Ta, Ea) avant d'être absorbé au point B (Xb, Yb, Zb, Tb, Eb), on considérera les trois cas suivants: ^ ^ 5 ^ 10 3036500 10 [0033]la figure 1, montre le système de détection selon l'invention dans un premier cas où le photon subit une diffusion Compton d'angle ac restant dans un même cône de lumière que les photons non diffusés. Le système comprend une plaque P1, muni d'un réseau de photo-détecteurs 5 associé à des composants 5 micro-électroniques 6. La plaque P1 est d'une épaisseur supérieure ou égale à 10 mm. Sur cette plaque P1 on détecte le temps Ta d'arrivée des photons non diffusés émis par une diffusion Compton en un premier point A ; ensuite on détecte le temps Tb d'arrivée des photons ayant subi une absorption totale en un second point B ; et on détermine un cercle CA correspondant aux photons émis 10 lors d'une déviation Compton ainsi qu'un cercle CB correspondant aux photons émis lors de l'absorption complète du photon gamma. Dans ce premier cas, la déviation Compton d'angle ac est inférieure à l'angle Oc où Oc est l'angle critique de réflexion totale. Dans ce cas qui est le plus courant, les photons non diffusés émis par l'interaction restent tous dans le même cône de lumière, mais leur répartition 15 peut présenter une asymétrie i.e. le cercle CB (correspondant au point B) inclus dans le cercle CA correspondant au point A. Or, de la même manière que pour un événement photo-electrique le diamètre du cercle CA permet de mesurer Xa, Ya et Za. Ainsi, le diamètre du cercle CB permet de mesurer Xb, Yb et Zb. La reconstitution de l'interaction permet de mesurer Ta et Tb. Le comptage du 20 nombre de photons dans les cercles CA et CB permet d'estimer l'énergie relative déposée aux points A et B. [0034]Dans une version simplifiée du traitement on ne considère que le cercle le plus large (cercle CA). On remarque que l'effet Compton ne modifie pas la précision de la mesure des coordonnées spatio-temporelles du point A. 25 [0035]On considère aussi, comme illustré sur la figure 2, le cas où le photon ayant subi une diffusion Compton d'angle ac sort du cône de lumière. Dans ce cas la déviation ac est supérieure à Oc . On obtient des événements distincts, c'est-à-dire existence de deux cercles simultanés dans le temps, contrairement au cas du pileup. Là encore on a deux cas : soit les deux cercles sont confondus (Distance A-B 30 Ra + Rb). 3036500 11 [0036] La figure 2 représente le cas où les deux cercles CA et CB sont distincts. On reconnait qu'il s'agit d'une diffusion Compton si Tb - Ta est voisin de Distance ( AB) /c. Dans ce cas on traite chaque événement indépendamment. Le premier événement détecté et/ou celui correspondant à l'énergie déposée la plus 5 importante est l'événement initial. L'énergie du photon initial est égale à EA +EB. La position des deux points permet de mesurer ac . [0037] Dans le cas où les cercles CA et CB sont confondus, on reconnait qu'il s'agit d'une diffusion Compton si Tb-Ta est voisin de A-B/c. Dans ce cas comme représente sur la figure 3 on peut ajuster la distribution de lumière par une ellipse 10 dont le demi petit axe (b) correspond au rayon du premier cercle RA et de demi grand axe (a) correspond à Distance A-B + RB. Dans cette configuration, on conserve l'essentiel de la précision dans l'estimation des coordonnées Xa, Ya et Za malgré la diffusion Compton. La position du point A (Xa, Ya) est donnée par le centre de l'ellipse. La profondeur d'interaction en A est donnée par le demi petit 15 axe de l'ellipse, ce qui permet de calculer Za. On peut ensuite calculer Ta en corrigeant les temps mesurés avec Za. Ainsi la position du point B est donnée par le foyer de l'ellipse (Xb, Yb). La profondeur d'interaction en B est donnée par le demi grand axe de l'ellipse (A-B +RB). Connaissant A-B, on trouve RB, ce qui permet de calculer Zb. On peut ensuite calculer Tb en corrigeant les temps 20 mesurés avec Zb. L'énergie E est mesurée en intégrant les photons sur l'ensemble de la dite ellipse. On obtient EA+EB l'énergie totale. En calculant le barycentre de la distribution des photons dans l'ellipse on peut trouver le point initial d'interactions A ou B qui est le plus proche du barycentre. [0038]Une autre méthode dans le cas où les deux cercles CA et CB sont 25 confondus est d'ajuster la distribution de lumière par une composition de deux cercles telle que représenté sur la figure 4 en trait pointillé. Dans ce cas le centre de chaque cercle donne la position des interactions respectives Xa, Ya en A et Xb, Yb en B. Les diamètres des cercles CA et CA donnent la profondeur d'interaction Za et Zb. L'énergie est mesurée en intégrant les photons sur 30 l'ensemble de ladite composition. Le point initial d'interaction A ou B est celui qui est le plus proche du barycentre de la distribution globale de lumière. 3036500 12 [0039] Par ailleurs, la reconstitution de la position des deux interactions permet d'estimer l'angle de déviation Compton ac. Le ratio EB/EA doit alors vérifier les lois de la diffusion Compton. [0040]La figure 5 représente le même cas que la figure 1 sauf que la face d'entrée 5 1 et la face de sortie 3 de la plaque P1 sont recouvertes de photo-detecteurs segmentés avec une densité de remplissage maximum. Dans ce cas, les photons qui ont subi une déviation Compton d'angle de déviation ac sont absorbés par le photo-détecteur. On voit le cercle des photons non diffusés sur chaque côté de la plaque et on réalise exactement les mêmes traitements décrits précédemment. 10 Cependant la propagation du rayon gamma de la face d'entrée 1 vers la face de sortie 3 introduit une asymétrie entre les deux faces. D'une certaine manière l'image sur la face d'entrée 1 est l'inverse de l'image sur la face de sortie 3. [0041 ]L'avantage de recouvrir chaque côté de la plaque P1 de photo-détecteurs 5 est qu'on obtient deux estimations indépendantes des coordonnées de chaque 15 événement (X, Y, Z, T, E). De plus, la comparaison des distributions de lumière de chaque côté de la plaque permet de lever d'éventuelles ambiguïtés dans la reconstitution si le photon a subi au moins une diffusion Compton. Par ailleurs, on double le nombre de photons utilisés pour la reconstruction et ainsi on améliore la résolution en énergie pour chaque photon car la résolution en énergie dépend du 20 nombre de photons collectés. [0042] L'inconvénient de la configuration ci-dessus se trouve dans le coût des composants micro-électronique utilisés sur chaque plan de photo-détecteurs. En effet, dans ce cas on double le prix de l'électronique. Cette configuration est intéressante essentiellement sur une plaque épaisse et surtout dans le cas d'une 25 caméra Compton monoplaque où l'on cherche à reconstituer le trajet du photon gamma dans le cristal. [0043] Pour des photons d'énergie connue (PET) ou de direction d'arrivée connue (SPECT), on peut simplifier le dépouillement des événements. Dans ce cas en effet, on cherche uniquement à déterminer le point d'impact initial du photon (XA, 30 YA, ZA), son temps d'arrivée TA et l'énergie globale de l'interaction EA+EB. 3036500 13 [0044]Nous avons vu que dans tous les cas il est possible de mesurer correctement la position de l'interaction initiale malgré la diffusion Compton. En outre, il est possible d'avoir une estimation du vecteur AB entre les deux interactions successives et de l'énergie EA et EB déposée à chaque interaction. Il 5 est donc possible avec un tel système de réaliser une caméra Compton avec une seule plaque de scintillateur. [0045]Un système monoplaque ne sera pas optimum en termes de performance, mais il sera très avantageux en termes de coût et d'efficacité en termes de détection (fort pourcentage des rayons gamma totalement absorbés par le 10 détecteur). [0046]Dans un autre mode de réalisation du système afin de supprimer la réflexion des rayons gamma sur les faces non utilisées pour la détection (faces latérales et face d'entrée si on n'a qu'un seul réseau de détecteurs), celles-ci sont traitées de telle manière que l'absorption des photons incidents y soit maximum. 15 En effet, si les photons sont réfléchis sur ces faces, ils viennent bruiter la détection du cercle des non diffusés. Le fait de traiter toutes les faces non utilisées pour la détection, faces dites « stériles », permet d'augmenter de 50 à 100% le temps d'intégration des images temporelles (i.e de les faire passer de 750 ps à 1500 ps) pour un taux de photons non diffusés détectés donné (i.e 90% des photons 20 détectés sont non diffusés). [0047]Les faces non couplées à un réseau de détecteurs sont rugueuses et traitées de manière à absorber autant que faire se peut le rayonnement incident afin d'éviter les réflexions parasites vers les détecteurs. [0048]Ce traitement doit éviter les reflets sur les faces dites « stériles », 25 notamment par saut d'indice. Le traitement peut être composé d'un dépôt Anti- reflet de tout type connu, suivi du dépôt d'une couche de matériau absorbant. Il peut également être constitué d'un dépôt d'une résine à haut indice (n>1,5) chargée en matériau absorbant. [0049]Si les faces « stériles » sont simplement peintes en noir, de manière 30 classique du fait du contraste d'indice important entre le cristal (n= 1,9) et la 3036500 14 peinture (n theta) Compton adjacente : point B absorption totale à Z = 15 MM. 20 Cas n°3 (alpha = pi/2) Compton disjoint : point absorption totale à Z = 5 mm. [0051]Dans les photo-détecteurs actuels, la détection des photons est sujette à des effets de seuil. Si on veut sortir du bruit de fond des détecteurs (dark counts) il est nécessaire de détecter 1,5 à 2 photo-électrons. Le temps d'intégration Ti étant 25 bref, typiquement inférieur à 2 ns, le nombre de photons à détecter pendant Ti peut être inférieur au seuil pour les pixels périphériques. Le temps d'intégration est donné par le temps au bout duquel le nombre des photons détectés hors du cercle des photons non diffusés passe un certain seuil. Le nombre de photons émis par interaction dans le secteur angulaire des photons non diffusés est constant. La 30 densité de photons/pixels dépend du diamètre du cercle. Le diamètre maximum du cercle dépend de l'épaisseur du cristal. On peut donc jouer sur la densité de 3036500 15 photons/pixels en jouant sur l'épaisseur du scintillateur cristal. Ainsi, plus le détecteur sera finement segmenté, plus il pourra être avantageux d'utiliser des cristaux peu épais. [0052] Par ailleurs le temps d'intégration Ti (inférieur à 2 ns) étant bref vis-à-vis 5 des possibilités des meilleures électroniques actuelles, il est avantageux de chercher des moyens permettant de compter plus longtemps les photons. Le temps d'intégration donné par le temps au bout duquel le nombre des photons détectés hors du disque des photons non diffusés passe un certain seuil (par exemple 90%), le passage de ce seuil dépend essentiellement du nombre de 10 photons diffusés sur la face d'entrée 1 du cristal, ou sur les faces latérales pour les pixels situés à moins d'une épaisseur de cristal des bords. Etant donné que pour un imageur Compton, on peut n'utiliser pour mesurer X, Y, Z, T, E que les photons non diffusés, il peut être avantageux de supprimer tous les autres photons. 15 [0053]Une manière connue de réaliser ceci peut être de peindre les faces latérales et la face d'entrée 1 (les faces non utilisées pour la détection) en noir afin d'absorber tous les photons qui sortent du cristal. Cependant étant donné que l'indice de la peinture (typiquement 1,5) est inférieur à l'indice du cristal 1,8 à 1,9, une majorité des photons sont réfléchis par le saut d'indice et reviennent perturber 20 le signal. Une manière plus avantageuse de réaliser l'invention est donc soit de trouver un produit noir d'indice proche de celui du scintillateur, soit de réaliser un traitement anti-reflet par tout moyen connu sur les faces latérales et la face d'entrée 1 du cristal, puis d'appliquer un dépôt noir absorbant sur ce traitement anti-reflet. 25 [0054] Une autre manière de réaliser ce résultat peut être de déposer sur ces faces du cristal une résine d'indice 'n' élevé (n>1,5) de préférence n supérieur à 1,7 chargée en particules absorbantes. [0055] Ce traitement présente les avantages suivants : En diminuant fortement le nombre de photons détectés hors du cône de lumière des photons non diffusés, 30 on augmente le temps pendant lequel on peut compter les premiers photons pour définir la position du cercle 3036500 16 [0056]Ce système permet également de limiter fortement les effets de bord et donc d'exploiter l'intégralité du détecteur pour l'imagerie. [0057]Ce traitement anti-reflet peut être réalisé par couches d'interférences, cristaux photoniques ou adaptation progressive d'indice obtenue par 5 nanostructuration telle que divulgué dans la demande de brevet européen n° 4305365.0 déposée le 13 mars 2014 « Structuration pour l'optimisation de la collection de photons dans les cristaux scintillateurs et solutions technologiques associées ». [0058]La figure 6 représente un deuxième mode de réalisation du système selon 10 l'invention comprenant deux plaques de scintillateurs P1 et P2, des réseaux de photo-détecteur 5 et l'électronique associée non représentée, les réseaux étant collés à chaque plaque P1 et P2. La plaque P1 est plus fine que la plaque P2. . Sur cette plaque P1 on cherche à obtenir une diffusion Compton en un premier point A de coordonnées (Xa, Ya, Za, Ta, Ea). La seconde plaque P2 est plus 15 épaisse que la plaque P1. L'épaisseur de ladite seconde plaque P2 permet d'absorber au moins 50% de l'énergie du rayon gamma en un point B de coordonnées (Xb, Yb, Zb, Tb, Eb). La seconde plaque P2 est séparée de la plaque P1 par une distance 'D' d'au moins 10 mm, de préférence 30 mm. Le système comporte un module d'estimation d'un événement Compton valide. Ledit 20 module est apte à mesurer sur la seconde plaque P2 un trigger de coïncidence Tb dans une fenêtre temporelle inférieure à 1 ns pour identifier les événements Compton valides. [0059]Soit D' la distance entre les 2 plaques de la caméra Compton, EP1 l'épaisseur de la première plaque, EP2 l'épaisseur de la deuxième plaque. Le 25 temps de transfert maximum d'un photon perpendiculaire au détecteur est : [0060]Le temps Tmax = EP1* (n/c) + D'/c + EP2 * (n/c). Pour simplifier, dans le cas d'une propagation oblique, on considère T REVENDICATIONS1. Système de détection de rayonnement gamma, de type caméra Compton, comprenant une source de rayonnement gamma, au moins une plaque de scintillateur rapide P1 dont le temps de montée au pic de lumière est inférieur à 1ns, présentant une épaisseur supérieure ou égale à 10 mm, équipée d'un réseau de photo-détecteurs segmentés (5) et d'une micro-électronique de lecture rapide dédiée caractérisé en ce qu'il est capable de mesurer les coordonnées spatio-temporelle (X, Y, Z, T) et l'énergie E en au moins deux positions successives d'un photon gamma lorsque ledit photon subit une déviation Compton en un premier point A avant d'être absorbé en un second point B, tout en reconnaissant des cercles de photons non diffusés correspondant à chaque interaction de scintillation. 2. Système de détection de rayonnement gamma de type caméra Compton selon la revendication 1 caractérisé en ce qu'il comprend une seule plaque de scintillateur P1 d'épaisseur supérieure ou égale au libre parcours moyen du rayon gamma dans le cristal considéré. 3. Système de détection de rayonnement gamma, de type caméra Compton selon la revendication 2 caractérisé en ce qu'il comprend deux réseaux de photo-détecteurs disposés respectivement sur une face d'entrée (1)et une face de sortie (3) de ladite plaque scintillateur P1. 4. Système de détection de rayonnement gamma, de type caméra Compton selon la revendication 3 dans lequel la face d'entrée (1) et la face de sortie (3) de la plaque scintillateurs (P1) sont couplées au réseau de photo- détecteurs (5), sont polies de telle sorte que le couplage entre lesdites faces et le réseau de photo-détecteurs est réalisé par un média d'indice n inférieur 1.5, afin de ménager un angle de réflexion totale. 5. Système de détection selon la revendication 1 dans lequel des faces latérales et une face d'entrée (1) de laidite plaque (P1) ne sont pas couplées à un réseau de photo-détecteurs (5) et sont rugueuses, lesdites faces sont traitées de telle sorte que l'absorption des photons incidents y soit maximum. 3036500 19 6. Système de détection selon la revendication 5 dans lequel, la face d'entrée (1) de la plaque P1 non couplée à un réseau de photo-détecteur est peinte en noire afin de supprimer la réflexion sur ladite face. 7. Système de détection selon la revendication 1 caractérisé en ce qu'il 5 comprend en outre une seconde plaque de scintillateur P2, en ce que la plaque P1 est plus fine que la seconde plaque P2 et en ce que l'épaisseur de la plaque de scintillateur P1 est telle que le photon gamma subit une déviation Compton en un point A de ladite plaque P1, en ce que la seconde plaque de scintillateur P2 est d'une épaisseur permettant d'absorber au 10 moins 50% de l'énergie du rayonnement gamma, ladite seconde plaque P2 étant séparée de la plaque P1 par une distance 'D' d'au moins 10 mm, de préférence supérieure à l'épaisseur de la plaque la plus épaisse, et en ce qu'il comporte en outre un module d'estimation d'un événement valide, ledit module étant apte à mesurer sur ladite seconde plaque P2 un trigger de 15 coïncidence dans une fenêtre temporelle inférieure au temps de transfert maximum de la lumière entre les plaques P1 et P2 pour identifier les événements Compton valides. 8. Système de détection selon l'une des revendications 1 à 7 dans lequel le réseau de photo-détecteurs fragmenté (5) est de type SI-PM, et est associé 20 avec un ASIC analogique ou numérique. 9. Système de détection selon des revendications 7 ou 8 caractérisé en ce que les plaques de scintillateurs P1 et P2 sont de type silicate de lutétium et/ou halogénure de lanthane. 10. Procédé de détermination des coordonnées spatio temporelles (X, Y, Z, T) 25 et de l'énergie E en au moins deux positions successives d'un photon gamma ayant subi une diffusion Compton mis en oeuvre dans un système selon l'une des revendications 1 à 9 comprenant les étapes suivante : - détecter le temps Ta d'arrivée des photons non diffusés émis par la diffusion Compton en un premier point A; 30 - détecter le temps Tb d'arrivée des photons non diffusés émis en un second point B par l'absorption totale du photon gamma; 3036500 20 - Déterminer un cercle CA correspondant aux photons non diffusés émis par la déviation Compton du rayonnement gamma au point A, le diamètre du cercle CA permet de mesurer Xa, Ya et Za; - Déterminer un cercle CB correspondant aux photons non diffusés émis 5 par l'absorption totale du photon gamma au point B, le diamètre du cercle CB permet de mesurer Xb, Yb et Zb. le procédé comprend l'un des trois cas suivants : soit les photons émis lors de la diffusion Compton en A et de l'absorbation totale en B restent dans un même cône de lumière des photons non diffusés émis en A, 10 l'angle ac Oc , la distance entre les points A et B est grande et les cercles CA et CB sont distincts 20 dans ce cas: o déterminer un premier événement A correspondant à l'énergie la plus importante; o mesurer les coordonnées (Xa, Ya, Za, Ta) dudit événement en A et son énergie Ea 25 o déterminer un second événement B correspondant à l'énergie la plus faible; o mesurer les coordonnées de l'événement (Xb, Yb, Zb, Tb) et son énergie Eb o L'énergie initiale du photon gamma est équivalente à la somme 30 des énergies Ea + Eb; o Déterminer l'angle de déviation Compton en reconstituant la position des deux interactions 3036500 21 o Déduire la direction d'arrivée du photon gamma au point, à partir de la position du point A (Xa, Ya, Za), de la position du point B (Xb, Yb, Zb) et des énergies Ea et Eb ; soit le photon ayant subi une déviation Compton sort du cône de lumière ac > Oc, 5 la distance entre les points A et B est petite et les cercles CA et CB sont confondus o ajuster la distribution de lumière par une ellipse de centre A, le point B occupe un des foyers, le demi petit axe correspond au rayon RA du cercle CA et le demi grand axe correspond à la 10 distance A-B +RB, où RB est le rayon du cercle CB ; o déterminer la position du point A (Xa, Ya) donnée par le centre de l'ellipse ; o déterminer la profondeur d'interaction Za en A qui est donnée par le demi grand axe de l'ellipse RA; 15 o calculer le temps Ta en corrigeant les temps mesurés avec Za ; o déterminer la position du point B (Xb, Yb) qui est donnée par le foyer de l'ellipse ; o déterminer la profondeur d'interaction Zb en B qui est donnée par RB calculé à partir du demi grand axe de l'ellipse : par Distance 20 (A - B) + RB ; o calculer le temps Tb en corrigeant les temps mesurés avec Zb ; o mesurer l'énergie totale Ea + Eb en intégrant les photons sur l'ensemble de la dite ellipse ; o mesurer le barycentre de la distribution des photons dans 25 l'ellipse ; o déterminer le point initial d'interaction A ou B, ledit point initial est celui qui est le plus proche du barycentre ; o déterminer l'angle de déviation Compton ac en reconstituant la position des deux interactions en A et en B. 30 11. Procédé de détermination des coordonnées spatio temporel (X, Y, Z, T) et de l'énergie E selon la revendication 10 en outre dans le cas où les cercles CA et CB sont confondus et ac> Oc caractérisé par des étapes suivantes : 3036500 22 o ajuster la distribution globale de lumière par une composition de deux cercles CA et C, ; o déterminer les positions (Xa, Ya) et (Xb, Yb) des interactions respectives en A et en B, lesdites positions sont données par le 5 centre de chaque cercle CA et CB ; o déterminer la profondeur des interactions Za et Zb, en déterminant le diamètre des cercles CA et CB; o mesurer l'énergie totale Ea+ Eb en intégrant les photons sur l'ensemble de ladite composition ; 10 o déterminer le barycentre de la distribution globale de lumière des photons dans la composition de deux cercles ; o déterminer le point initial d'interaction A ou B, ledit point initial est celui qui est le plus proche du barycentre de la distribution globale de lumière ; 15 o déterminer l'angle de déviation Compton ac en reconstituant la position des deux interactions en A et en B.