Brevet FR2978246A1 — publié le 20130125

PORTE-ÉCHANTILLON À THERMOCOUPLE INTÉGRÉ DESCRIPTION DOMAINE TECHNIQUE La présente invention est relative à un porte-échantillon notamment pour appareil de caractérisation de matériaux par interaction rayonnement/matériaux tels que des microscopes électroniques, des diffractomètres de rayons X, des spectromètres infrarouges ou ultraviolets. Les avancées de la miniaturisation ont permis d'équiper ces appareils de dispositifs de chauffage permettant de suivre in situ l'évolution d'une ou plusieurs propriétés du matériau à caractériser en fonction de la température. ÉTAT DE LA TECHNIQUE ANTÉRIEURE Dans les diffractomètres de rayons X, l'échantillon est posé sur une platine chauffante, ce qui permet par exemple de suivre, lors du traitement thermique, les changements de phases cristallines du matériau de l'échantillon. Dans les microscopes électroniques à balayage, la régulation thermique du dispositif de chauffage de type enceinte dans lequel est placé le porte-échantillon, est réalisée par un thermocouple, ce thermocouple étant également utilisé pour évaluer la température de l'échantillon. On peut se référer à la figure 1 qui montre très schématiquement en vue de dessus un échantillon 1 supporté par un porte-échantillon de type creuset 2. La plus grande dimension 2 de l'échantillon en contact avec le porte-échantillon peut être de l'ordre de la dizaine de micromètres à environ un ou quelques millimètres. Le porte-échantillon 2 est placé dans une enceinte chauffante 3 branchée à une alimentation électrique 4. Un thermocouple 5 a sa soudure chaude 6 en contact avec une surface extérieure de l'enceinte chauffante 3. Le thermocouple sert à la fois de dispositif de mesure de la température et de régulation de la température de l'enceinte chauffante. Les utilisateurs se sont aperçus que couramment des écarts de température très importants, parfois supérieurs à la centaine de degrés Celsius, pouvaient exister entre la température réelle et la température donnée par le thermocouple. Le point de mesure de la température se situe au niveau de la soudure chaude du thermocouple. Ce point de mesure est trop éloigné de l'échantillon. Des différences de température de plus de 150°C ont été relevées entre la température de l'échantillon et la température délivrée par le thermocouple. De plus, la position de l'échantillon n'est pas forcément toujours la même dans l'enceinte chauffante, ce qui fait que les mesures de température ne sont pas reproductibles. Pour améliorer la précision de la mesure de température, il est connu d'utiliser une référence externe pour calibrer le thermocouple. Cette référence externe peut être la température de fusion d'un métal, par exemple l'or (1064°C) ou l'argent (962°C). 3 On procède de la manière suivante. On place l'échantillon sur le porte-échantillon dans le four. On dispose aussi sur le porte-échantillon à proximité de l'échantillon un morceau du métal choisi pour le calibrage. On chauffe le four jusqu'à ce que le morceau de métal fonde. L'évolution de la température du morceau de métal peut être suivie grâce au microscope électronique à balayage. On considère alors que la température de l'échantillon est la température de fusion du métal. On mesure alors le décalage en température entre cette température de fusion et la température donnée par le thermocouple. Ce décalage en température va être systématiquement ajouté ou soustrait à la température donnée par le thermocouple de régulation du four lors de mesures de la température d'échantillons réalisées ultérieurement. Un inconvénient de cette méthode est qu'elle ne convient que si l'échantillon est chauffé dans une gamme de températures proche de celle pour laquelle la calibration a été réalisée car l'écart entre la température réelle de l'échantillon et la température donnée par le thermocouple n'est pas constant sur une large gamme de températures. Dans les autres appareils de caractérisation de matériaux cités plus haut le même problème se pose. EXPOSÉ DE L'INVENTION La présente invention a pour but de proposer un porte-échantillon permettant de connaitre avec précision la température d'un échantillon reposant sur ce porte-échantillon. Le porte-échantillon est 4 notamment destiné à être utilisé avec un appareil de caractérisation de matériaux dans lequel l'échantillon est chauffé et l'évolution d'une ou plusieurs propriétés du matériau est suivie en fonction d'une variation de la température. Plus précisément la présente invention est un porte-échantillon permettant de connaître avec précision la température d'un échantillon qu'il porte et cela sans référence externe. La précision obtenue est de plus ou moins 5°C. Un autre but de l'invention est de réaliser un porte-échantillon permettant de connaître avec précision la température d'un échantillon qu'il porte, la température pouvant varier sur une gamme de températures très large, par exemple comprise typiquement entre environ 20°C et 1500°C. La présente invention concerne un porte-échantillon pour appareil de caractérisation de matériaux comportant un corps porte-échantillon ayant une surface d'accueil de l'échantillon sur laquelle se trouve la jonction de mesure d'un thermocouple. Plus précisément la présente invention concerne porte-échantillon comportant : un corps porte-échantillon en matériau 25 diélectrique réfractaire, un thermocouple pour mesurer la température de l'échantillon, notamment lors d'un chauffage, formé de deux conducteurs de natures différentes, reliés en une jonction de mesure, le corps porte-échantillon 30 comportant une surface d'accueil sur laquelle est collée la jonction de mesure, cette surface d'accueil étant la surface d'accueil de l'échantillon, une gaine de protection du corps porte-échantillon qui entoure le corps porte-échantillon en 5 formant un rebord autour de la surface d'accueil de manière à délimiter une cuvette dont le fond est la surface d'accueil de l'échantillon. Le porte-échantillon peut comporter en outre, pour éviter tout contact électrique direct entre les conducteurs, des moyens de guidage, dits premiers moyens de guidage, des conducteurs pour les isoler électriquement l'un de l'autre à partir de la jonction de mesure, les conducteurs sortant des premiers moyens de guidage à l'opposé de la surface d'accueil par rapport au corps porte-échantillon. Dans un mode de réalisation, le corps porte-échantillon peut être un tube bifilaire avec deux trous traversants longitudinaux, la surface d'accueil étant une surface d'extrémité sensiblement transversale du tube bifilaire, les premiers moyens de guidage comprenant les deux trous traversants. Dans une variante, le corps porte-échantillon peut être un barreau plein, la surface d'accueil étant une surface d'extrémité sensiblement transversale du barreau, les premiers moyens de guidage comprenant deux rainures sensiblement longitudinales portées par le barreau. Pour que les conducteurs soient accessibles du côté de la surface d'accueil, le corps porte- échantillon et/ou la gaine de protection peuvent en outre comporter des seconds moyens de guidage pour 6 guider les conducteurs depuis leur sortie des premiers moyens de guidage vers la surface d'accueil. Les seconds moyens de guidage peuvent être des rainures latérales portées par le corps porte- échantillon et/ou par la gaine de protection. Dans un souci de protection des conducteurs, on peut agencer la gaine de protection de manière à ce qu'elle dépasse du corps porte-échantillon à l'opposé de la surface d'accueil par rapport au corps porte-échantillon et délimite un espace dans lequel les conducteurs à la sortie des premiers moyens de guidage sont scellés. La gaine de protection peut être un tube monofilaire enfilé autour du tube bifilaire ou du barreau. Toujours dans un souci de conserver les conducteurs isolés électriquement l'un de l'autre, la gaine de protection peut être pourvue d'encoches d'écartement sensiblement radiales pour écarter les conducteurs à leur sortie des premiers moyens de guidage. La jonction de mesure étant fixée à la surface d'accueil par du ciment réfractaire, on s'arrange pour que la surface d'accueil soit sensiblement plane notamment au niveau de la jonction de mesure et du ciment de manière à obtenir un bon couplage thermique par contact entre un échantillon posé sur la surface d'accueil et la jonction de mesure. Le porte-échantillon peut comporter en outre une nacelle d'accueil de l'échantillon placée dans la cuvette, cette nacelle étant amovible. Il est 7 ainsi possible d'utiliser des échantillons liquides et/ou qui risquent de se liquéfier lors de l'utilisation. La présente invention concerne également un ensemble comportant un porte-échantillon ainsi caractérisé et un dispositif de chauffage du porte-échantillon, le dispositif de chauffage comportant un thermocouple pour asservir sa température, le thermocouple du porte-échantillon servant à asservir la température du dispositif de chauffage. La présente invention concerne également un appareil de caractérisation de matériaux par interaction rayonnement/matériaux comportant un ensemble ainsi caractérisé. Enfin la présente invention concerne également un procédé de réalisation d'un porte-échantillon comportant les étapes suivantes : fourniture d'un corps porte-échantillon en matériau diélectrique réfractaire possédant une surface d'accueil de l'échantillon et d'un thermocouple possédant deux conducteurs en matériaux de nature différente reliés entre eux en une jonction de mesure, fixation de la jonction de mesure sur la surface d'accueil avec un ciment réfractaire, dans lequel le corps porte-échantillon possède des moyens de guidage dits premiers moyens de guidage des conducteurs pour les isoler électriquement l'un de l'autre à partir de la jonction de mesure, mise en place des conducteurs dans les premiers moyens de guidage de manière à ce qu'ils sortent des premiers moyens de guidage à l'opposé de la 8 surface d'accueil par rapport au corps porte-échantillon, polissage de la jonction de mesure et du ciment réfractaire pour parfaire l'état de surface et la planéité de la surface d'accueil, recuit du porte-échantillon pour faire dégazer le ciment réfractaire, positionnement du corps porte-échantillon dans une gaine de protection en laissant dépasser la 10 gaine de protection au-delà de la surface d'accueil de manière à former une cuvette ayant comme fond la surface d'accueil et solidarisation du corps porte-échantillon avec la gaine de protection. On peut réitérer le couple d'étapes de polissage et de recuit autant de fois qu'il est nécessaire en remettant du ciment avant chaque étape de polissage de manière à obtenir une planéité et un état de surface voulus de la surface d'accueil. Lorsque le corps porte-échantillon ou la gaine de protection comporte en outre des seconds moyens de guidage pour guider les conducteurs depuis leur sortie des premiers moyens de guidage vers la surface d'accueil, le procédé comprend alors une étape 25 de mise en place des conducteurs dans les seconds moyens de guidage, cette étape de mise en place ayant lieu avant l'étape positionnement du corps porte-échantillon dans la gaine de protection, si les seconds moyens de guidage sont portés par le corps porte- 30 échantillon ou après l'étape de solidarisation si les 15 20 9 seconds moyens de guidage sont portés par la gaine de protection. BRÈVE DESCRIPTION DES DESSINS La présente invention sera mieux comprise à la lecture de la description d'exemples de réalisation donnés, à titre purement indicatif et nullement limitatif, en faisant référence aux dessins annexés sur lesquels : la figure 1 (déjà décrite), représente en vue de dessus un porte-échantillon de l'art antérieur placé dans un dispositif de chauffage d'un appareil de caractérisation de matériaux par interaction rayonnement/matériaux ; les figures 2A à 2F montrent différentes 15 vues des constituants du porte-échantillon objet de l'invention ; les figures 3A, 3B montrent deux exemples du porte-échantillon objet de l'invention prêt à coopérer avec un dispositif de chauffage d'un appareil 20 de caractérisation de matériaux par interaction rayonnement/matériaux et la figure 3C est une coupe longitudinale d'un autre exemple de porte-échantillon objet de l'invention ; les figures 4A, 4B illustrent des étapes 25 d'un procédé de fabrication d'un porte-échantillon objet de l'invention ; la figure 5 est une courbe d'étalonnage du porte-échantillon de la figure 3A, lors d'un essai de montée en température dont les résultats sont consignés 30 dans le tableau 2 ; 10 la figure 6 est une courbe d'étalonnage du porte-échantillon de la figure 3A, lors d'un essai de montée en température dont les résultats sont consignés dans le tableau 3 ; la figure 7 montre les variations de la température en fonction du temps d'un échantillon placé dans le porte-échantillon de la figure 3A, ce porte-échantillon étant soumis à un essai de montée en température suivi d'un refroidissement dont les résultats sont consignés dans le tableau 4. Des parties identiques, similaires ou équivalentes des différentes figures décrites ci-après portent les mêmes références numériques de façon à faciliter le passage d'une figure à l'autre. Les différentes parties représentées sur les figures ne le sont pas nécessairement selon une échelle uniforme, pour rendre les figures plus lisibles. EXPOSÉ DÉTAILLÉ DE MODES DE RÉALISATION PARTICULIERS On va maintenant décrire un premier exemple de porte-échantillon conforme à l'invention. On se réfère aux figures 2A, 2B, 2C, 2D, 2E, 2F qui montrent respectivement les constituants d'un porte-échantillon pour appareil de caractérisation de matériaux par interaction rayonnement/matériau équipé d'un dispositif de chauffage. L'appareil de caractérisation peut être par exemple un microscope électronique à balayage, un diffractomètre de rayons X un spectromètre infrarouge ou ultraviolet. 11 Le porte-échantillon comporte un corps porte-échantillon 10 en matériau diélectrique réfractaire et un thermocouple 13 ainsi qu'une gaine de protection 17. Le corps porte-échantillon 10 est vu sur les figures 2A, 2B, 2D, 2F et la gaine de protection 17 est montrée sur les figures 2C, 2E. On rappelle qu'un thermocouple (ou couple thermoélectrique) comporte deux conducteurs 13.1, 13.2 en matériaux différents, ces matériaux étant des métaux ou des semi-conducteurs 13.1, 13.2. Ces deux conducteurs 13.1, 13.2 ont chacun une première extrémité, ces premières extrémités sont reliées directement entre elles et forment une jonction de mesure 13.0 ou encore soudure chaude. Cette jonction de mesure 13.0 est généralement en forme de boule. Chaque conducteur 13.1, 13.2 comporte une seconde extrémité 13.e1, 13.e2 qui est libre. Les deux secondes extrémités 13.e1, 13.e2 sont destinées à être reliées à une même jonction de référence aux bornes de laquelle on va mesurer une différence de potentiel. La jonction de référence n'est pas représentée. Cette différence de potentiel dépend à la fois de la température de la jonction de mesure 13.0, du profil de température appliqué et de la température de la jonction de référence. Le choix de la nature des conducteurs 13.1, 13.2 du thermocouple 13 est conditionné par la température maximale que doit prendre l'échantillon. Il peut s'agir de platine Pt pour l'un des conducteurs 13.1, 13.2 et d'un alliage platine rhodium à 10% pour 12 l'autre conducteur. Un tel thermocouple de type S permet de faire des mesures de température précises entre environ 0°C et 1500°C sous toute atmosphère qu'elle soit neutre, réductrice ou oxydante et même sous vide. Le corps porte-échantillon 10 comporte une surface d'accueil 11 sur laquelle est fixée la jonction de mesure 13.0. Cette surface d'accueil 11 est également une surface d'accueil de l'échantillon. La fixation peut se faire avec un ciment réfractaire 15. Le ciment réfractaire 15 est choisi de manière à ce qu'il reste stable chimiquement sur la plage d'utilisation en température de l'échantillon. Dans les applications visées où la température maximum à atteindre est de l'ordre de 1500°C, le ciment réfractaire 15 sera de préférence à base de zircone ou oxyde de zirconium. Sur les figures 2A, 2F le corps porte-échantillon 10 est représenté en coupe transversale et sur la figure 2B il est représenté en coupe longitudinale. Sur la figure 2D, il est représenté en vue de dessus, et la surface d'accueil 11 équipée de la jonction de mesure 13.0 est visible. Dans ce premier exemple, le corps porte-échantillon 10 prend la forme d'un tube bifilaire construit autour d'un axe longitudinal XX'. Par tube bifilaire, on entend un barreau muni de deux trous traversants 12.1, 12.2 orientés sensiblement parallèlement à cet axe longitudinal XX'. La surface d'accueil 11 est, dans cet exemple, une surface transversale d'extrémité du tube bifilaire. 13 Le choix du matériau diélectrique réfractaire du corps porte-échantillon 10 est conditionné par la température maximale que doit prendre l'échantillon. Il peut s'agir de céramique telle que de l'alumine qui supporte des températures jusqu'à au moins 1500°C. La gaine de protection 17 entoure le corps porte-échantillon 10 et forme un rebord autour de la surface d'accueil 11 de manière à délimiter une cuvette 18 d'accueil de l'échantillon, cette cuvette 18 ayant pour fond la surface d'accueil 11 de l'échantillon. On peut se référer aux figures 3A, 3B, 3C qui montrent la gaine de protection 17 et la cuvette 18. La gaine de protection 17 est aussi réalisée dans un matériau diélectrique réfractaire, par exemple de la céramique telle que de l'alumine. La gaine 17 peut être un tube en céramique monofilaire comme sur les figures 2C et 2E. Sur la figure 2E, la gaine de protection 17 est représentée en trois dimensions. Dans une application de microscope électronique à balayage, le corps porte-échantillon 10 peut voir un diamètre extérieur de 5 mm, une longueur de 8 mm et deux trous traversants 12.1, 12.2 de 1 mm de diamètre, diamétralement opposés espacés l'un de l'autre d'environ 1 mm. Dans l'exemple considéré, la gaine de protection aura un diamètre extérieur de 7 mm, son diamètre intérieur sera de 6 mm de manière à pouvoir s'enfiler autour du corps porte-échantillon 10 dont le diamètre extérieur est de 5 mm. De manière à dépasser 14 au moins du côté de la jonction de mesure 13.0 pour délimiter la cuvette 18, la gaine 17 a une longueur supérieure à celle du corps porte-échantillon 10. Dans l'exemple traité la longueur de la gaine 17 sera de 10mm. On se réfère maintenant à la figure 3A et/ou à la figure 3B. Ces figures montrent deux exemples du porte-échantillon objet de l'invention prêts à être placés dans un dispositif de chauffage 21, qui ici est tubulaire. Ce dispositif de chauffage est celui d'un appareil de caractérisation de matériaux par interaction rayonnement/matériaux. On a schématisé l'appareil de caractérisation de matériaux par le rectangle en pointillés portant la référence 30. Il est préférable que le corps porte-échantillon 10 en matériau diélectrique réfractaire soit muni de moyens de guidage 14 dits premiers moyens de guidage des conducteurs 13.1, 13.2 pour les isoler électriquement l'un de l'autre à partir de la jonction de mesure 13.0. Ces premiers moyens de guidage 14 vont maintenir les conducteurs 13.1, 13.2 du thermocouple 13 isolés électriquement l'un de l'autre et sans autre contact électrique direct que la jonction de mesure 13.0. Dans l'exemple décrit des figures 2A, 2B, 3A, 3B, les premiers moyens de guidage 14 sont matérialisés par les trous traversants 12.1, 12.2 du corps porte-échantillon 10. Les conducteurs 13.1, 13.2 du thermocouple 13 sont insérés chacun dans un des trous traversants 12.1, 12.2 et émergent à une extrémité du corps porte-échantillon 10 opposée à celle 15 où se trouve la surface d'accueil 11 portant la jonction de mesure 13.0. Dans l'exemple du corps porte-échantillon 10 bifilaire de la figure 2A chacun des conducteurs 13.1, 13.2 est inséré dans un des trous traversants 12.1, 12.2. En variante illustrée sur la figure 2D, le corps porte-échantillon 10 pourrait prendre la forme d'un barreau plein muni de deux rainures 14.1, 14.2 orientées longitudinalement, de préférence diamétralement opposées. Les premiers moyens de guidage 14 sont alors matérialisés par ces rainures 14.1, 14.2. Les rainures sont destinées à loger les conducteurs 13.1, 13.2, la jonction de mesure 13.0 se trouvant toujours fixée sur une surface transversale d'extrémité du barreau, cette surface transversale d'extrémité formant la surface d'accueil 11. Pour garantir un bon maintien des conducteurs 13.1, 13.2 dans les rainures 14.1, 14.2, on peut les sceller avec du ciment réfractaire 15. Les extrémités libres 13.e1, 13.e2 des conducteurs 13.1, 13.2 sont alors accessibles à une extrémité du corps porte-échantillon 10 opposée à celle formant la surface d'accueil 11. On peut être amené à ce que les extrémités libres des conducteurs 13.1, 13.2 du thermocouple au lieu d'être accessibles du côté de l'extrémité du corps porte-échantillon 10 opposée à celle où se trouve la jonction de mesure 13.0 soient accessibles du côté de l'extrémité portant la surface d'accueil 11. 16 Dans ce cas, le corps porte-échantillon 10 peut comprendre en outre des seconds moyens de guidage 16 pour ramener les conducteurs 13.1, 13.2 du thermocouple 13 vers la surface d'accueil 11 du corps porte-échantillon 10. Cette variante est illustrée sur la figure 2F. Le corps porte-échantillon 10 comporte latéralement deux rainures 16.1, 16.2 orientées longitudinalement, de préférence diamétralement opposées et les seconds moyens de guidage 16 sont matérialisés par ces rainures 16.1, 16.2. Elles sont destinées à loger les conducteurs 13.1, 13.2 pour les guider et les maintenir dès leur sortie du trou traversant 14.1, 14.2 et les orienter vers l'extrémité portant la jonction de mesure 13.0. Les rainures 16.1, 16.2 de cette paire sont diamétralement opposées et de préférence placées dans un plan décalé par rapport à un plan passant par trous traversants 12.1, 12.2. Pour garantir un bon maintien des conducteurs 13.1, 13.2 dans les rainures 16.1, 16.2, on peut les sceller avec du ciment réfractaire 15. Dans le cas où le corps porte-échantillon 10 ne possède pas ces trous traversants, les seconds moyens de guidage 16 peuvent aussi être matérialisés par des rainures 16.1, 16.2 qui coexistent avec celles des premiers moyens de guidage 14. Cette variante n'est pas représentée pour ne pas multiplier inutilement le nombre de figures. Il est préférable que la gaine de protection 17 dépasse du corps porte-échantillon 10 17 également à l'extrémité opposée à celle portant la jonction de mesure 13.0, pour protéger les conducteurs 13.1, 13.2 à leur sortie des premiers moyens de guidage 14 et éviter les contacts parasites. Cette configuration convient qu'ils soient ramenés ou non vers la jonction de mesure 13.0. On peut se référer à la figure 3C. La gaine de protection 17 délimite un espace 20 qui englobe l'extrémité du corps porte-échantillon 10 opposée à celle portant la jonction de mesure 13.0. Les conducteurs 13.1, 13.2 débouchent du corps porte-échantillon 10 au niveau de cet espace 20. Cet espace 20 est de préférence empli de ciment réfractaire 15 pour maintenir en position les conducteurs 13.1, 13.2 et les protéger. La gaine de protection 17 peut être dotée de deux encoches d'écartement 19.1, 19.2 de préférence sensiblement radiales pour guider les conducteurs 13.1, 13.2 lorsqu'ils émergent des premiers moyens de guidage 14 à l'extrémité du corps porte-échantillon 10 opposée à celle portant la surface d'accueil 11. Ces deux encoches d'écartement 19.1, 19.2 sont de préférence agencées dans le prolongement l'une de l'autre pour éviter tout contact parasite entre les deux conducteurs 13.1, 13.2. Il est possible que les seconds moyens de guidage 16 ne soient pas portés par le corps porte-échantillon 10 mais par la gaine de protection 17 comme sur la figure 3C. Dans cette configuration, la gaine de protection 17 comporte, extérieurement, deux rainures 18 longitudinales 16.1, 16.2 destinées à loger les conducteurs 13.1, 13.2 pour les remonter vers l'extrémité du corps porte-échantillon 10 dotée de la surface d'accueil 11. On va maintenant décrire un exemple de procédé de fabrication d'un porte-échantillon objet de l'invention. On fournit un corps porte-échantillon 10 et un thermocouple 13. Le thermocouple 13 comporte deux conducteurs 13.1, 13.2 reliés entre eux en une jonction de mesure 13.0. Le corps porte-échantillon 10 est doté d'une surface d'accueil 11 pour un échantillon à analyser. On prévoit également que le corps porte-échantillon 10 comporte des premiers moyens de guidage 14 des conducteurs 13.1, 13.2 pour les isoler électriquement l'un de l'autre à partir de la jonction de mesure 13.0. On usine la surface d'accueil 11 de manière que son état de surface soit aussi lisse que possible. On fixe la jonction de mesure 13.0 sur la surface d'accueil 11 et on place les conducteurs 13.1, 13.2 dans les premiers moyens de guidage 14 en s'assurant qu'ils n'entrent pas en contact électrique direct. Le maintien de la jonction de mesure 13.0 sur la surface d'accueil est réalisé par du ciment réfractaire 15. On effectue un recuit de l'ensemble porte-échantillon 10-thermocouple 13 à une température maximale prévue lors de l'utilisation de l'échantillon à placer sur la surface d'accueil 11. Ainsi le ciment réfractaire 15 va durcir et dégazer si des éléments 19 volatils sont à éliminer. Si des éléments volatils subsistaient dans le ciment réfractaire 15 lors de l'utilisation du porte-échantillon, ils pourraient interagir chimiquement avec une paroi du dispositif de chauffage dans lequel le porte-échantillon sera placé lors de son utilisation. On polit la surface d'accueil 11 du corps porte-échantillon 10 sur laquelle est fixée la jonction de mesure 13.0 de manière à parfaire son état de surface et sa planéité. Ce polissage, de préférence mécanique attaque la jonction de mesure et le ciment en les aplanissant. On peut être amené à réitérer une ou plusieurs fois les étapes de polissage et de dépôt de ciment réfractaire au niveau de la surface d'accueil 11 jusqu'à ce que l'on ait atteint un état de surface et une planéité souhaités au niveau de la surface d'accueil 11. On peut se référer à la figure 4A. Si le corps porte-échantillon 10 est équipé des seconds moyens de guidage, on loge des conducteurs dans les seconds moyens de guidage pour les ramener du côté de la surface d'accueil 11 et, de préférence, on les scelle en position avec du ciment réfractaire 15. On suppose que le corps porte-échantillon ne comporte pas les seconds moyens de guidage dans l'exemple illustré aux figures 4. On insère le corps porte-échantillon 10 dans la gaine de protection 17 et après les avoir positionnés l'un par rapport à l'autre, on les solidarise l'un avec l'autre avec du ciment réfractaire 15, en laissant la gaine de protection 17 dépasser du 20 corps porte-échantillon 10 au niveau de la surface d'accueil 11. Si la gaine de protection 17 dépasse le corps porte-échantillon 10 à son extrémité opposée à celle portant la surface d'accueil 11 et délimite l'espace 20 dans lequel les conducteurs 13.1, 13.2 émergent du corps porte-échantillon, on scelle les conducteurs 13.1, 13.2 dans cet espace 20 avec du ciment réfractaire 15. Si la gaine de protection 17 comporte des encoches d'écartement 19.1, 19.2 des conducteurs 13.1, 13.2, on loge chaque conducteur 13.1, 13.2 dans une encoche 19.1, 19.2 et on les scelle avec du ciment réfractaire 15 (figure 4B). Sur la figure 4B, le porte- échantillon peut être considéré comme achevé si les seconds moyens de guidage ne sont pas prévus. Si la gaine de protection 17 comporte les seconds moyens de guidage 16, on loge les conducteurs 13.1, 13.2 dans ces seconds moyens de guidage 16 pour les ramener du côté de la surface d'accueil 11 et on les scelle avec du ciment réfractaire 15 (voir figure 3C). Le porte-échantillon objet n'a plus qu'à être placé dans un dispositif de chauffage 21, ce dernier pouvant l'entourer comme illustré sur les figures 3A et 3B. Sur ces figures, le dispositif de chauffage 21 est tubulaire et son diamètre intérieur est légèrement supérieur au diamètre extérieur de la gaine de protection 17 afin qu'elle puisse juste coulisser dedans. 21 Sur la figure 3A, le porte-échantillon est descendu dans le dispositif de chauffage 21 et y pénètre par une ouverture supérieure dudit dispositif de chauffage, les conducteurs 13.1, 13.2 sont accessibles du côté de la surface d'accueil 11. Sur la figure 3B, le porte-échantillon est remonté dans le dispositif de chauffage 21 à partir d'une ouverture inférieure dudit dispositif de chauffage. Les conducteurs sont accessibles à l'opposé de la surface d'accueil par rapport au corps porte-échantillon. Les conducteurs 13.1, 13.2 qui émergent du porte-échantillon peuvent être protégés par des perles de matériau diélectrique réfractaire 22 enfilées sur la partie des conducteurs émergeant du porte-échantillon. Les conducteurs 13.1, 13.2 ainsi protégés restent souples. Les perles 22 peuvent être des tronçons tubulaires ayant un diamètre intérieur de 0,6 mm et un diamètre extérieur de 1 mm. Leur longueur peut être de quelques centimètres, pour protéger les conducteurs du thermocouple au bord du porte-échantillon. Il est bien sûr possible de protéger la totalité des conducteurs qui sortent du porte-échantillon. L'extrémité libre des conducteurs est destinée à être reliée à un câble de compensation correspondant au type de thermocouple utilisé puis à un dispositif d'affichage de température (non représentés). Un échantillon pourra être posé directement sur la surface d'accueil 11 en contact thermique direct avec la jonction de mesure 13.0. Le thermocouple assurera alors une mesure de température plus précise 22 que dans l'art antérieur, la température de la jonction de mesure est celle de l'échantillon. Les incertitudes sur la mesure de la température de l'échantillon sont minimisées. Cette configuration est très facile d'utilisation, l'échantillon s'il est de petite taille, par exemple inférieur au millimètre peut reposer en totalité sur la jonction de mesure. Cela permet de réaliser une mesure de température extrêmement précise. En variante, notamment si l'échantillon est liquide ou risque de se liquéfier lors du chauffage ou risque de réagir avec la surface d'accueil 11, on place l'échantillon dans une nacelle 23 qui elle reposera sur la surface d'accueil 11. Cela concerne par exemple des échantillons en liquides silicatés ou en métaux fondus. Ainsi on évite toute interaction de l'échantillon avec la surface d'accueil. La nacelle 23 peut être réalisée en platine ou en alumine par exemple. Le choix du matériau de la nacelle dépend bien sûr du matériau de l'échantillon qu'elle doit contenir. Le porte-échantillon objet de l'invention peut être utilisé avec n'importe quel mode de chauffage sauf les dispositifs de chauffage à induction puisque le thermocouple est directement intégré dans le porte- échantillon. Le porte-échantillon objet de l'invention est robuste et réutilisable d'une expérience à une autre, dans la mesure où l'échantillon n'a pas interagi avec le porte-échantillon. En cas de doute, l'emploi de la nacelle est préconisé. 23 La température de l'échantillon est mesurée en temps réel par le thermocouple. Il est possible que le thermocouple serve également pour un asservissement de la température du dispositif de chauffage. La géométrie massive du porte-échantillon à partir de pièces tubulaires délimitant une cuvette dont le fond porte la jonction de mesure permet de minimiser les fuites thermiques par conduction et radiations. La configuration illustrée aux figures 3A et 3C avec des conducteurs qui sont accessibles du côté de la surface d'accueil permet une mise en place et un retrait du porte-échantillon simple et rapide. La configuration illustrée à la figure 3B avec des conducteurs qui restent à l'extrémité du porte-échantillon opposée à celle portant la surface d'accueil permet de libérer de l'espace du côté de la surface d'accueil puisque les conducteurs ne sont pas présents au voisinage de la surface d'accueil. Par contre, cette configuration est préconisée dans un emploi sédentaire dans le dispositif de chauffage. Le porte-échantillon est plus difficile à mettre en place et à ôter. Ce porte-échantillon convient parfaitement lorsque l'on a plusieurs séries d'expérience à réaliser dans des conditions identiques. Le thermocouple ne modifie pas l'environnement de l'échantillon et par là même ne perturbe pas les signaux collectés lors des expériences. Les applications possibles du porte- échantillon objet de l'invention sont celles pour 24 lesquelles on doit réaliser des mesures de température d'un échantillon exactes et fidèles. Ce porte-échantillon peut être utilisé dans tous les appareils de caractérisation de matériaux miniaturisés dans lesquels l'échantillon est chauffé. On va maintenant donner des résultats expérimentaux obtenus avec un porte-échantillon tel que celui illustré à la figure 3A dans lequel les conducteurs sont accessibles du côté de la surface d'accueil de l'échantillon. L'échantillon est de l'or. Le porte-échantillon placé dans un four a été chauffé et des mesures de température ont été faites à partir d'une température de consigne imposée au four de 700°C. Cette température de consigne a été mesurée par un second thermocouple dont la jonction de mesure a été disposée contre la paroi extérieure du dispositif de chauffage comme l'illustre la figure 1 avec la référence numérique 6. La température a été augmentée jusqu'à ce que l'échantillon en or fonde. L'échantillon a été maintenu pendant environ 10 minutes à un palier de température avant de relever la température donnée par le thermocouple du porte-échantillon. Les températures de consigne et données par le thermocouple sont regroupées dans le tableau 1 suivant : Température Température Consigne °C Thermocouple °C 704 610 814 711 853 749 903 795 1002 891 1054 942 1104 991 1154 1039 1174 1058 1179 1061 Tableau 1 La température de consigne pour laquelle la fusion de l'échantillon a été observée est de 1179°C. On rappelle que la température de fusion de l'or est de 1064°C. La température donnée par le thermocouple intégré au porte-échantillon et compensée par la température de la jonction de compensation est de 1062°C. L'écart entre la température de consigne et la température de fusion de l'or est de 115°c alors que l'écart entre la température mesurée par le thermocouple intégré au porte-échantillon et la température de fusion de l'or n'est que de 3°C. La précision de la mesure est bien meilleure que dans la configuration de l'art antérieur. Le tableau 2 illustre les températures de consigne et les températures mesurées par le thermocouple intégré au porte-échantillon conforme à celui de la figure 3A. Dans ce tableau 2, on a porté pour le thermocouple intégré la température dynamique, mesurée à la volée et la température mesurée après un palier de stabilisation à une température donnée de 10 26 minutes. Le programme de chauffe a été réalisé entre 150°C et 800°C. Les paliers de stabilisation ont été réalisés tous les 50°C. La rampe de montée en température est de 20°C par minute. Température Thermocouple Thermocouple Consigne T dynamique T après stabilisation °C °C °C 150 126 143 198 168 186 249 212 230 298 255 271 349 296 314 400 344 360 448 385 399 501 427 447 551 473 490 601 518 535 625 545 Non relevée 650 564 581 675 591 Non relevée 696 610 623 725 636 Non relevée 748 657 669 775 682 Non relevée 797 702 714 Tableau 2 Le graphique de la figure 5 a été obtenu à partir de ces mesures, il représente une courbe 10 d'étalonnage et on s'aperçoit que l'écart entre la5 27 température dynamique et la température après stabilisation varie entre 10°C et 20°C sur toute la gamme de température. Le tableau 3 illustre un programme de chauffe réalisé entre environ la température ambiante et une température de consigne de 1100°C sans palier de stabilisation avec une rampe de montée en température de 10°C par minute. Les températures de consigne et les températures données par le thermocouple intégré au porte-échantillon conforme à celui illustré sur la figure 3A ont été relevées. Consigne Thermocouple 0c 0c 90 52 120 100 140 124 150 135 160 145 165 150 170 155 175 159 180 161 185 165 190 169 195 172 200 177 205 182 210 185 215 191 220 195 225 199 230 203 235 208 240 212 245 217 250 221 255 225 260 230 265 235 270 238 275 243 280 247 285 252 290 256 300 265 305 270 310 274 315 279 320 282 325 286 330 290 335 294 340 297 345 301 350 307 355 319 360 320 365 322 370 326 375 329 380 333 385 336 390 341 395 345 400 349 405 353 410 358 420 366 425 370 430 375 435 379 440 383 445 388 450 393 455 398 460 402 465 405 470 409 475 412 480 417 485 421 490 425 495 429 500 433 505 437 510 442 515 447 520 452 525 456 30 460 535 464 550 478 555 482 560 487 565 492 570 495 5675 501 580 505 585 510 590 514 600 523 605 527 610 531 615 536 635 554 640 560 650 567 660 577 670 587 680 596 690 607 700 616 710 623 730 643 740 652 750 660 760 670 770 677 780 685 790 694 800 704 820 721 830 730 830 730 840 741 850 750 860 760 870 770 880 780 895 796 901 805 911 810 920 820 930 831 945 842 950 850 965 865 970 869 980 880 990 890 998 902 1010 911 1020 919 1052 960 1066 966 1078 977 1093 992 1098 1002 Tableau 3 32 Le graphique de la figure 6 illustre la courbe d'étalonnage obtenue lors de ce programme de chauffe. L'écart entre la température mesurée par le thermocouple intégré et la température de consigne est au maximum de 100°C. Le tableau 4 ci-dessous illustre le comportement du thermocouple intégré dans le porte-échantillon illustré à la figure 3A lors d'un cycle de chauffage jusqu'à une température de consigne de 1100°C puis de refroidissement. Des paliers de stabilisation de minimum 5 minutes ont été respectés. La rampe de température est de 20°C par minute au début puis de 40°C par minute lors de la fin du refroidissement. Le temps total correspond à la durée de l'essai au moment de l'acquisition. L'essai a duré plus de quatre heures soit plus de 14400 secondes. Température Pente Temps Temps à atteindre Total : °C (°C/min) (min) 200 10 10 5 15 300 10 25 20 5 30 400 10 40 20 5 45 500 10 55 20 5 60 600 10 70 20 5 75 700 10 85 20 5 90 800 10 100 20 5 105 900 10 115 20 5 120 1000 10 130 20 5 135 1100 10 145 20 5 150 900 10 160 20 5 165 800 10 175 40 10 185 400 10 195 40 10 205 800 10 215 40 10 225 400 10 235 40 5 240 200 10 250 Tableau 4 Le graphique de la figure 7 illustre le suivi de la température de l'échantillon, c'est-à-dire de la température délivrée par le thermocouple intégré pendant le traitement thermique appliqué. Les deux pics correspondent températures de 1100°C et de 800°C délivrées par le second thermocouple dont la jonction de mesure a été disposée contre la paroi extérieure du 34 dispositif de chauffage comme l'illustre la figure 1 avec la référence numérique 6. Le graphique obtenu permet de vérifier que le temps de stabilisation du thermocouple est inférieur à 3 minutes sur toute la gamme de températures traversée, de vérifier qu'une fois la température de palier atteinte, il n'y a pas de dérive dans le temps de la valeur de la température mesurée. Par ailleurs, le dernier palier en température effectué en fin de programme a permis de montrer que la valeur de température lue après une montée en température directe à la température de consigne de 800°C est la même que celle obtenue lors du programme de température précédent pour la même température de consigne. Il n'y a pas d'influence du programme de température appliqué sur la réponse du thermocouple. Bien que plusieurs modes de réalisation du porte-échantillon objet de l'invention aient été représentés et décrits de façon détaillée, on comprendra que différents changements et modifications pourront être apportés notamment aux premiers et seconds moyens de guidage sans sortir du cadre de l'invention. Le porte-échantillon objet de l'invention peut bien sûr être utilisé dans toute application nécessitant un contrôle de température et pas seulement dans les appareils de caractérisation de matériaux par interaction rayonnement/matériaux.30 REVENDICATIONS1. Porte-échantillon caractérisé en ce qu'il comporte : un corps porte-échantillon (10) en matériau diélectrique réfractaire, un thermocouple (13) pour mesurer la température de l'échantillon, notamment lors d'un chauffage, formé de deux conducteurs (13.1, 13.2) de natures différentes, reliés en une jonction de mesure (13.0), le corps porte-échantillon comportant une surface d'accueil (11) sur laquelle est collée la jonction de mesure (13.0), cette surface d'accueil étant une surface d'accueil de l'échantillon, une gaine de protection (17) du corps porte-échantillon qui entoure le corps porte-échantillon en formant un rebord autour de la surface d'accueil (11) de manière à délimiter une cuvette (18) d'accueil de l'échantillon dont le fond est la surface d'accueil de l'échantillon (11). 2. Porte-échantillon selon la revendication 1, comportant en outre des moyens de guidage (14) dits premiers moyens de guidage, des conducteurs pour les isoler électriquement l'un de l'autre à partir de la jonction de mesure, les conducteurs (13.1, 13.2) sortant des premiers moyens de guidage (14) à l'opposé de la surface d'accueil (11) par rapport au corps porte-échantillon (10).30 36 3. Porte-échantillon selon la revendication 1, dans lequel le corps porte-échantillon est un tube bifilaire avec deux trous traversants (12.1, 12.2) longitudinaux, la surface d'accueil étant une surface d'extrémité sensiblement transversale du tube bifilaire, les premiers moyens de guidage (14) comprenant les deux trous traversants (12.1, 12.2). 4. Porte-échantillon selon la revendication 2, dans lequel le corps porte-échantillon est un barreau plein, la surface d'accueil (11) étant une surface d'extrémité sensiblement transversale du barreau, les premiers moyens de guidage (14) comprenant deux rainures (14.1, 14.2) sensiblement longitudinales portées par le barreau. 5. Porte-échantillon selon l'une des revendications 2 à 4, dans lequel le corps porte-échantillon et/ou la gaine de protection comportent en outre des seconds moyens de guidage (16) pour guider les conducteurs (13.1, 13.2) depuis leur sortie des premiers moyens de guidage (14) vers la surface d'accueil (11). 6. Porte-échantillon selon la revendication 5, dans lequel les seconds moyens de guidage (16) sont des rainures (16.1, 16.2) latérales portées par le corps porte-échantillon (10) et/ou par la gaine de protection (17).30 37 7. Porte-échantillon selon l'une des revendications 2 à 6, dans lequel la gaine de protection (17) dépasse du corps porte-échantillon (10) à l'opposé de la surface d'accueil (11) par rapport au corps porte-échantillon (10) et délimite un espace (20) dans lequel les conducteurs (13.1, 13.2) sont scellés en sortie des premiers moyens de guidage (14). 8. Porte-échantillon selon l'une des revendications 2 à 7, dans lequel la gaine de protection (17) est un tube monofilaire enfilé autour du tube bifilaire ou du barreau. 9. Porte-échantillon selon la revendication 2 à 8, dans lequel la gaine de protection (17) est pourvue d'encoches d'écartement (19.1, 19.2) sensiblement radiales pour écarter les conducteurs (13.1, 13.2) à leur sortie des premiers moyens de guidage (14). 10. Porte-échantillon selon l'une des revendications précédentes dans lequel la jonction de mesure (13.0) est fixée à la surface d'accueil (11) par du ciment réfractaire (15), la surface d'accueil (11) étant sensiblement plane notamment au niveau de la jonction de mesure (13.0) et du ciment (15). 11. Porte-échantillon selon l'une des revendications précédentes, comportant en outre une nacelle (23) d'accueil de l'échantillon placée dans la cuvette (18), cette nacelle (23) étant amovible. 38 12. Ensemble comportant un porte-échantillon selon l'une des revendications précédentes et un dispositif de chauffage (21) du porte- échantillon, le dispositif de chauffage (21) comportant un thermocouple pour asservir sa température, caractérisé en ce que le thermocouple (13) du porte- échantillon sert à asservir la température du dispositif de chauffage (21). 13. Appareil de caractérisation de matériaux par interaction rayonnement/matériaux comportant un ensemble selon la revendication 12. 14. Procédé de réalisation d'un porte- échantillon comportant les étapes suivantes : fourniture d'un corps porte-échantillon (10) en matériau diélectrique réfractaire possédant une surface d'accueil (11) de l'échantillon et d'un thermocouple (13) possédant deux conducteurs (13.1, 13.2) en matériaux de nature différente reliés entre eux en une jonction de mesure (13.0), fixation de la jonction de mesure (13.0) sur la surface d'accueil (11) avec un ciment réfractaire (15), dans lequel le corps porte-échantillon possède des moyens de guidage (14) dits premiers moyens de guidage des conducteurs (13.1, 13.2) pour les isoler électriquement l'un de l'autre à partir de la jonction de mesure (13.0), 39 mise en place des conducteurs (13.1, 13.2) dans les premiers moyens de guidage (14) de manière à ce qu'ils sortent des premiers moyens de guidage (14) à l'opposé de la surface d'accueil (11) par rapport au corps porte-échantillon (1), polissage de la jonction de mesure (13.0) et du ciment réfractaire (15) pour parfaire l'état de surface et la planéité de la surface d'accueil, recuit du porte-échantillon (10) pour faire dégazer le ciment réfractaire, positionnement du corps porte-échantillon (10) dans une gaine de protection (17) en laissant dépasser la gaine de protection au-delà de la surface d'accueil de manière à former une cuvette (18) ayant comme fond la surface d'accueil (11) et solidarisation du corps porte-échantillon (10) avec la gaine de protection (17). 15. Procédé selon la revendication 14, dans lequel on réitère le couple d'étapes de polissage et de recuit autant de fois qu'il est nécessaire en remettant du ciment réfractaire (15) avant chaque étape de polissage. 16. Procédé selon l'une des revendications 14 ou 15, dans lequel le corps porte-échantillon (10) ou la gaine de protection (17) comporte en outre des seconds moyens de guidage (16) pour guider les conducteurs (13.1, 13.2) depuis leur sortie des premiers moyens de guidage (14) vers la surface d'accueil (11), le procédé comprenant une étape de mise 40 en place des conducteurs (13.1, 13.2) dans les seconds moyens de guidage (16), cette étape de mise en place ayant lieu avant l'étape positionnement du corps porte-échantillon dans la gaine de protection, si les seconds moyens de guidage (16) sont portés par le corps porte-échantillon (10) ou après l'étape de solidarisation si les seconds moyens de guidage (16) sont portés par la gaine de protection (17).10