Brevet FR2988846A1 — publié le 20131004

La présente invention concerne le domaine technique de l'inspection de récipients ou d'objets creux translucides ou transparents présentant une haute température. L'objet de l'invention vise plus précisément l'inspection à haute cadence d'objets tels que des bouteilles ou des flacons en verre sortant d'une machine de fabrication de formage. Dans le domaine préféré de la fabrication de récipients en verre, il est connu d'utiliser le rayonnement infrarouge émis par les récipients en sortie de la machine de formage afin de réaliser un contrôle ou une inspection en vue de déceler d'éventuels défauts sur la surface ou à l'intérieur des récipients. Le contrôle de la qualité de tels récipients permet d'éliminer ceux qui présentent des défauts susceptibles d'affecter leur caractère esthétique ou plus grave, de constituer un réel danger pour les utilisateurs ultérieurs. Ainsi, il apparaît nécessaire de contrôler la qualité de la répartition d'épaisseur de tels récipients de manière à éliminer les récipients présentant des épaisseurs trop faibles ou des différences d'épaisseurs dans certaines zones susceptibles d'affecter la résistance mécanique. De manière classique, la machine de formage est constituée de différentes cavités équipées chacune d'un moule dans lequel le récipient prend sa forme finale à haute température. En sortie de la machine de formage, les récipients sont acheminés de manière à constituer une file sur un convoyeur de transport amenant les récipients à défiler successivement dans divers postes de traitement tels que de pulvérisation et de recuit. Il apparaît intéressant d'identifier un défaut de formage le plus tôt possible à la sortie de la machine de formage avant les divers postes de traitement de manière à pouvoir le corriger le plus tôt possible au niveau de la machine de formage. Dans l'état de la technique, diverses solutions ont été proposées pour inspecter des récipients à haute température sortant d'une machine de formage en vue de mesurer la répartition du verre de tels récipients. Par exemple, le brevet US 3 535 522 décrit un procédé pour mesurer l'épaisseur de verre d'un récipient consistant à mesurer le rayonnement infrarouge émis par un tel récipient en sortie de la machine de formage. La mesure du rayonnement infrarouge est réalisée alors que le récipient est placé dans un four pour homogénéiser la température du récipient à une valeur déterminée. Cette technique ne permet pas de contrôler en continu les récipients et nécessite une manipulation des récipients conduisant à un procédé lent et susceptible d'entraîner des déformations des récipients. Le brevet EP 0 643 297 décrit un dispositif permettant d'effectuer une analyse et un diagnostic sur un procédé de fabrication de produits en verre comportant un capteur sensible au rayonnement infrarouge émis par les 10 objets sortant de la machine de formage. Ce système comporte également un dispositif de traitement numérique faisant appel à la mise en oeuvre d'un modèle de référence mathématique afin de déterminer les écarts existants dans la distribution du verre et les causes conduisant à la présence de contraintes thermiques dans le récipient. 15 Il apparaît en pratique difficile voire impossible, de mettre en oeuvre une telle technique dans la mesure où le modèle mathématique est extrêmement complexe à mettre en oeuvre puisque la mesure du rayonnement infrarouge dépend de nombreux paramètres tels que ceux énumérés à titre d'exemple non limitatif ci-après : 20 - l'intensité du rayonnement infrarouge émis par les récipients chauds dépend fortement de la température suivant la loi de Stefan BOLTZMAN : E = sTA4 où : E = Quantité totale de radiation émise par un objet en (watts m-2) s = est la constante de Stefan BOLTZMAN = 5.67 x10-8 Watts m-2K-4 25 T = est la température en degrés Kelvin (K). Ainsi, l'intensité du rayonnement infrarouge n'est pas une fonction linéaire simple de la température. De plus, elle dépend de la longueur d'onde. - Lors de l'opération de formage, la paroi du récipient est refroidie par 30 contact avec le moule sur sa surface externe et par l'air de soufflage sur sa surface interne. Le refroidissement rapide génère des inhomogénéités thermiques importantes dans le matériau, entre les surfaces interne et externe du récipient. L'émission du rayonnement infrarouge est donc l'intégration d'une distribution thermique dans l'épaisseur du récipient. L'émission infrarouge dans chaque point de la surface est donc complexe à appréhender. - L'intensité du rayonnement infrarouge émis par les récipients chauds dépend des caractéristiques de ces récipients chauds tels que par exemple la taille, la couleur, la forme et la composition du verre. Il doit être considéré que la distance entre le capteur infrarouge et la sortie des moules est différente d'un moule à l'autre de sorte que le temps de refroidissement pour chaque récipient chaud est différent, de sorte que les récipients chauds présentent des températures différentes lorsqu'ils passent devant le capteur infrarouge. En d'autres termes, l'intensité du rayonnement infrarouge mesurée par le capteur dépend de l'origine du moule de fabrication et plus précisément de la position de ce moule par rapport au capteur. En sortie de la machine de formage, les récipients sont placés par glissement sur un convoyeur. Il s'ensuit une différence de positionnement des récipients sur le convoyeur par rapport au capteur de mesure infrarouge, ce qui est à même de modifier les mesures prises. Il résulte de ce qui précède que de nombreux paramètres influencent le rayonnement infrarouge de sorte qu'il apparaît difficile de mesurer la répartition de l'épaisseur de verre pour des récipients à haute température. La présente invention vise à remédier aux inconvénients des techniques antérieures en proposant un procédé permettant de mesurer la répartition de l'épaisseur du verre dans des récipients en verre chaud sortant de cavités de formage, le procédé étant simple à mettre en oeuvre tout en permettant des mesures précises de la répartition de l'épaisseur du verre dans des récipients. Pour atteindre un tel objectif, le procédé de mesure de la répartition de l'épaisseur du verre dans des récipients en verre à haute température sortant de cavités de formage, vise à mettre en oeuvre au moins un capteur sensible au rayonnement infrarouge émis par les récipients adapté pour réaliser une image de la répartition du rayonnement infrarouge. Le procédé comporte les étapes suivantes - choisir au moins une zone d'inspection du récipient pour laquelle la répartition du verre est à mesurer, - mesurer, pour chaque zone d'inspection, l'épaisseur de verre du récipient en au moins un point de mesure appartenant à la zone d'inspection, à l'aide d'un système ponctuel de mesure d'épaisseur sans contact, - mesurer à l'aide d'un capteur sensible au rayonnement infrarouge, la répartition du rayonnement infrarouge émis par le récipient au moins dans chaque zone d'inspection, - déterminer, pour chaque zone d'inspection, une relation entre la mesure de l'épaisseur pris au point de mesure et le rayonnement infrarouge considéré audit point de mesure, - et à partir de ladite relation et de la répartition du rayonnement 15 infrarouge considéré sur chaque zone d'inspection, à déterminer la répartition de verre du récipient sur chaque zone d'inspection. Le procédé selon l'invention comporte également en combinaison l'une et/ou l'autre des caractéristiques additionnelles suivantes - mesurer l'épaisseur de verre du récipient selon une direction 20 perpendiculaire à la surface du récipient à l'aide du système ponctuel de mesure, - mesurer l'épaisseur de verre du récipient selon uniquement les différents points de mesure voisins situés selon une portion de la section du récipient et pour lesquels les mesures d'épaisseurs sont fiables, 25 - mesurer le rayonnement infrarouge émis par le récipient par sa zone d'inspection située sur la face avant du récipient, - utiliser en tant que relation entre la mesure d'épaisseur et le rayonnement infrarouge, un modèle mathématique déterminé à partir d'un ou de plusieurs points de mesure de l'épaisseur et du rayonnement 30 infrarouge pour chaque zone d'inspection, - choisir les zones d'inspection de manière que pour chaque zone d'inspection, les paramètres influençant le rayonnement infrarouge autres que l'épaisseur de verre, présentent chacun des valeurs sensiblement homogènes sur toute ladite zone d'inspection, - choisir les zones d'inspection du récipient de manière que pour chaque zone d'inspection, la forme et/ou l'état de surface du récipient soit sensiblement constante, - choisir les zones d'inspection du récipient de manière que pour chaque zone d'inspection, la pente du récipient soit sensiblement constante, - choisir plusieurs zones d'inspection du récipient de manière à obtenir par combinaison une représentation tridimensionnelle partielle ou totale du récipient, - filtrer les mesures d'épaisseur de verre réalisées par le système ponctuel de mesure sans contact et les mesures de rayonnement infrarouge pour éliminer les mesures aberrantes, Un autre objet de l'invention concerne également une installation de mesure de la répartition de l'épaisseur du verre dans des récipients en verre sortant de cavités de formage, comportant au moins un capteur sensible au rayonnement infrarouge émis par les récipients et permettant de déterminer une répartition de rayonnement infrarouge sur au moins une zone d'inspection et relié à une unité de contrôle et de traitement. Selon l'invention, l'installation comporte au moins un système ponctuel de mesure d'épaisseur sans contact, adapté pour mesurer l'épaisseur de verre du récipient selon une direction perpendiculaire à la surface du récipient, en au moins un point de mesure appartenant à la zone d'inspection, le système ponctuel de mesure étant relié à l'unité de traitement qui comporte des moyens pour déterminer une relation entre la mesure de l'épaisseur pris au point de mesure et le rayonnement infrarouge considéré audit point de mesure, et des moyens pour déterminer à partir de ladite relation et du rayonnement infrarouge considéré sur la zone d'inspection, la répartition de verre du récipient sur la zone d'inspection. L'installation selon l'invention comporte également en combinaison l'une et/ou l'autre des caractéristiques additionnelles suivantes : - en tant que système ponctuel de mesure l'épaisseur sans contact, un système de triangulation laser ou confocal à codage chromatique, - un capteur sensible au rayonnement à infrarouge, comportant un objectif dont la profondeur de champ est adapté de manière que le rayonnement infrarouge reçu de la face arrière du récipient opposée de la face avant sur laquelle la zone d'inspection est définie, soit homogène, - une série de systèmes ponctuels de mesure d'épaisseur situés dans un plan sensiblement perpendiculaire à la direction de défilement des récipients devant lesdits systèmes ponctuels de mesure d'épaisseur, les 10 systèmes ponctuels mesurant l'épaisseur du récipient en des points appartenant à des zones d'inspection présentant des inclinaisons différentes. Diverses autres caractéristiques ressortent de la description faite ci-dessous en référence aux dessins annexés qui montrent, à titre d'exemples non limitatifs, des formes de réalisation de l'objet de l'invention. 15 La Figure 1 est une vue schématique d'une installation de mesure associée à une machine de formage des récipients. La Figure 2 est une vue schématique en perspective d'une installation de mesure conforme à l'invention. La Figure 3 est une vue en perspective schématique de l'installation de 20 mesure conforme à l'invention illustrant une disposition des systèmes de mesure ponctuel d'épaisseur. La Figure 3A est une vue schématique explicitant le choix de la zone d'inspection pour laquelle la répartition du verre est à mesurer. La Figure 4 est une vue montrant l'évolution de la mesure d'épaisseur 25 sur la circonférence d'un récipient. La Figure 5 est un diagramme montrant un exemple d'évolution de la mesure d'épaisseur en fonction du temps, lors du passage successif de deux récipients dans le champ de mesure d'un système de mesure ponctuel d'épaisseur. 30 Tel que cela ressort plus précisément de la Fig. 1, l'objet de l'invention concerne une installation 1 permettant de mesurer la répartition de l'épaisseur de verre dans des récipients en verre 2 tels que des bouteilles ou des flacons par exemple. L'installation 1 est placée de manière à permettre d'effectuer des mesures alors que le récipient 2 sortant d'une machine de fabrication ou de formage 3 présente une haute température à savoir par exemple une température comprise entre 450 °C et 550°C. La machine de formage 3 comporte de manière classique une série de cavités 4 assurant chacune le formage d'un récipient 2. De manière connue, les récipients 2 qui viennent d'être formés par la machine 3 sont acheminés sur un convoyeur de sortie 5 de manière que les récipients 2 constituent une file sur le convoyeur 5 se déplaçant selon le sens D. Les récipients 2 sont ainsi acheminés successivement à différents postes de traitement et en particulier à l'installation de mesure 1 qui est placée au plus près de la machine de formage 3. L'installation 1 comporte au moins un et dans l'exemple illustré deux capteurs 6 sensibles au rayonnement infrarouge émis par les récipients 2 défilant devant chaque capteur 6. Les capteurs 6 sont placés ainsi en sortie de la machine de formage 3 de manière à être sensible aux radiations infrarouges émises par les récipients 2. Dans l'exemple illustré, les deux capteurs 6 sont disposés de part et d'autre du convoyeur 5 pour permettre d'inspecter les deux côtés des récipients 2. Par exemple, chaque capteur 6 est constitué par une caméra infrarouge munie d'un objectif 7. Selon une variante avantageuse de réalisation, la direction d'inspection de chaque capteur 6 fait un angle a avec la direction perpendiculaire N à la direction de translation D. De préférence, le capteur d'image infrarouge est sensible dans la gamme proche infrarouge. Les capteurs 6 sont reliés à une unité 10 de contrôle et de traitement des signaux de sortie délivrés par les capteurs 6. Chaque capteur 6 génère un signal de sortie par exemple vidéo en réponse au rayonnement infrarouge émis par un récipient 2. L'unité 10 est adaptée pour piloter le fonctionnement des capteurs 6 au passage d'un récipient 2 dans leur champ de vision de manière que chaque capteur 6 prenne au moins une image de chacun des récipients 2 défilant à haute cadence. L'unité 10 est adaptée pour réaliser à partir des signaux délivrés par les capteurs 6, des images de la répartition du rayonnement infrarouge émis par les récipients 2. Selon une variante avantageuse de réalisation, les images prises par les capteurs 6 sensibles au rayonnement infrarouge sont filtrées pour éliminer les valeurs localement aberrantes correspondant à des particularités des récipients tels que gravures ou défauts localisés (accidents de surface, corps étranger, bouillon). L'installation 1 selon l'invention comporte également au moins un et dans l'exemple illustré six systèmes 11 assurant une mesure sans contact de l'épaisseur du verre du récipient 2, selon une zone ponctuelle ou localisée schématisée sur les dessins par le point M. Les systèmes de mesure 11 considérés comme ponctuels dans la suite de la description sont reliés à l'unité de contrôle et de traitement 10. Avantageusement, chaque système ponctuel de mesure 11 est positionné par rapport au récipient 2 de manière que son axe de mesure soit perpendiculaire à la surface du récipient 2. Chaque système ponctuel de mesure 11 est de tout type connu en soi pour permettre la mesure de l'épaisseur du verre du récipient 2 présentant une haute température. Le système ponctuel de mesure 11 est par exemple un système par triangulation laser ou confocal à codage chromatique. Un tel 20 système 11 fonctionne généralement avec une source de lumière adaptée en fonction de la teinte des récipients 2. Avantageusement, pour éviter que les systèmes soient perturbés par le rayonnement infrarouge émis naturellement par les récipients chauds, un filtre passe bande centré sur la couleur de la source de lumière est ajouté pour le système fonctionnant par triangulation 25 laser tandis qu'un filtre passe bas est utilisé pour couper l'infrarouge pour le système de mesure chromatique. Selon une caractéristique avantageuse de réalisation, les mesures prises par les systèmes ponctuels de mesure d'épaisseur sont filtrées pour éliminer les mesures aberrantes correspondant soit à des particularités des 30 récipients tels que gravures ou défauts localisés, soit à des aléas de manutention, ou enfin toute perturbation du signal d'origine électrique ou électromagnétique. La mise en oeuvre de l'installation de mesure 1 découle directement du procédé de mesure conforme à l'invention qui est décrit ci-après. Le procédé de mesure consiste comme cela ressort plus précisément de la Fig. 3, à choisir au moins une zone d'inspection Z du récipient 2 pour laquelle la répartition d'épaisseur du verre est à mesurer. La zone d'inspection Z est choisie de manière que la relation d'épaisseur du verre en fonction de l'intensité du rayonnement infrarouge soit homogène sur toute cette zone d'inspection Z. Aussi, pour mesurer la répartition de l'épaisseur de verre sur la totalité du récipient, plusieurs zones d'inspection Z sont choisies. D'une manière générale, chaque élément de surface du récipient 2 assimilé à un point P à la Fig. 3A, de coordonnées x, y émet un rayonnement infrarouge Ir (x, y). Il doit être considéré que le rayonnement infrarouge Ir (x, y) émis en chaque point P (x, y) et pour chaque longueur d'onde 2^, dépend principalement de l'épaisseur de verre E(x, y), de la température T(x, y), intégrée sur toute l'épaisseur de la paroi du récipient 2 de l'absorption spectrale a(2,x,y) du matériau du récipient, de la réflexion spectrale r(4x,y) du matériau du récipient, et de la forme et de l'état de surface Fo(x, y), du récipient et en particulier de l'orientation de la surface d'émission par rapport à la direction de mesure. Pour simplifier le procédé, il peut être fait l'hypothèse que la composition du matériau est homogène dans au moins chaque zone d'inspection Z voire dans le récipient 2 ou tous les récipients 2, si bien que l'absorption spectrale a(?) et la réflexion spectrale r(7) ne varient pas selon la position x et y. L'épaisseur de verre E(x, y) d'un récipient est donc reliée au rayonnement infrarouge par la relation approchée (1) du type suivant : E(x, y) = F(Ir(x, y)), T(x, y), Fo(x, y), a(2), r(2^,)) Selon une caractéristique avantageuse de réalisation, chaque zone d'inspection Z est choisie de manière que les paramètres influençant le rayonnement infrarouge Ir autres que l'épaisseur de verre présentent chacune des valeurs sensiblement homogènes sur toute ladite zone d'inspection Z. Autrement dit, à partir de la relation (1), il peut être formalisé une relation simplifiée telle que E(x, y) = fz(Ir(x, y)) avec fz la fonction simplifiée, cette relation étant constante dans toute la zone d'inspection Z pour laquelle chaque paramètre T(x, y), Fo(x, y), aM, r(2) est homogène ou a priori déterminé. Le procédé selon l'invention repose sur l'hypothèse que la relation d'épaisseur du verre en fonction de l'intensité du rayonnement infrarouge n'est pas modifiée de façon significative dans chacune des zones d'inspection Z puisque les autres paramètres varient de façon faible. Les fonctions simplifiées spécifiques fz pour chacune des zones d'inspection reposent sur un modèle mathématique issu d'une modélisation mathématique prenant en compte les lois de la physique (thermodynamique, transferts de chaleur par conduction et rayonnement, thermographie des corps semi-transparents) ou par modélisation empirique à l'aide d'abaques ou de tables expérimentales. Cette fonction simplifiée fz peut être décrite par un modèle mathématique comme par exemple une équation aux dérivées partielles. Dans ce cas, ledit modèle mathématique peut être obtenu par simplification de la fonction F. Selon une variante avantageuse du procédé, la fonction simplifiée fz peut être selon un modèle mathématique unique pour chaque zone, seuls les paramètres ou coefficients varient selon les zones. Lesdits coefficients sont alors calculés pour chaque récipient et pour chaque zone, à partir des mesures d'épaisseur au point de mesure Selon une autre variante du procédé, la fonction fz peut avoir une expression différente pour chaque zone, par exemple en fonction de la forme a priori connue du récipient dans la zone (forme conique, cylindrique, section carré). Dans ce cas, la fonction fz est différente pour chaque zone, mais néanmoins, ses paramètres sont recalculés pour chaque récipient à partir des mesures d'épaisseur au point de mesure M. Selon une troisième variante, la fonction simplifiée fz est purement empirique et représentée par des abaques obtenus par l'expérience. Dans ce cas, les mesures ponctuelles d'épaisseur servent à sélectionner des points de fonctionnement sur lesdits abaques, et la relation entre épaisseur et rayonnement découle du parcours des abaques ainsi choisis. Selon une autre variante, le fonction fz est obtenue à partir des mesures dépaisseurs de plusieurs points M répartis selon une zone A parcourue par le capteur d'épaisseur durant le déplacement des articles, ce qui permet soit de fiabiliser la mesure d'épaisseur en moyennant les mesures E(M) soit encore d'identifier plusieurs paramètres de la fonction simplifiée fz lorsque celle-ci est d'ordre élevé. Ainsi, selon les variantes précédentes, la fonction simplifiée fz qui est considérée comme constante dans toute une zone d'inspection Z est susceptible d'être différente pour une autre zone d'inspection Z de sorte que la fonction simplifiée fz est spécifique pour chacune des zones d'inspection Z. Il ressort de la description qui précède que les zones d'inspection Z du récipient 2 sont choisies de manière que pour chaque zone d'inspection Z, la forme et/ou l'état de surface du récipient 2 soient sensiblement constants. Selon une variante avantageuse de réalisation, les zones d'inspection Z du récipient 2 sont choisies de manière que chaque zone d'inspection Z corresponde à une région de la paroi du récipient 2 dont la pente est sensiblement constante. Si la mesure de la répartition de l'épaisseur du verre doit être effectuée sur toute la hauteur du récipient 2, alors le nombre de zones d'inspection 2 est lié dans le cas particulier, au nombre de pentes que présente la paroi du récipient 2. Dans l'exemple illustré, le récipient 2 présente trois zones d'inspection Z correspondant au corps vertical du récipient, à l'épaule du récipient présentant une plus faible pente et au goulot du récipient 2 présentant à nouveau une forte pente. De façon avantageuse, plusieurs zones d'inspection Z sont choisies de manière à obtenir par combinaison, une représentation tridimensionnelle partielle ou totale du récipient 2. Dans l'exemple illustré, la décomposition du récipient en trois zones, inspectées de part et d'autre du convoyeur 5, permet d'obtenir par combinaison une représentation tridimensionnelle complète de chaque récipient 2. Pour chaque zone d'inspection Z, l'épaisseur de verre du récipient 2 est mesurée à l'aide d'un système ponctuel de mesure d'épaisseur 11 en un point de mesure M appartement à ladite zone de mesure Z. De préférence, le point de mesure M est choisi au centre de la zone de mesure. Selon une caractéristique avantageuse de l'invention, l'épaisseur du verre est mesurée à l'aide du système ponctuel de mesure d'épaisseur 11, selon une direction perpendiculaire à la surface du récipient 2. Ainsi, dans le cas où le récipient 2 présente un profil avec trois pentes différentes, l'installation comporte au moins trois systèmes ponctuels de mesure 11. Cependant dans l'exemple illustré, le récipient 2 défile en translation devant l'installation de mesure 1 de sorte que pour la mesure de la répartition de l'épaisseur sur l'ensemble du récipient, il est prévu de disposer les systèmes ponctuels de mesure d'épaisseur 11 de part et d'autre du plan de défilement des récipients. Dans l'exemple illustré, trois systèmes ponctuels de mesure d'épaisseur 11 sont disposés de chaque côté du convoyeur de défilement 5 pour mesurer l'épaisseur respectivement du goulot, de l'épaule et du corps du récipient 2. Comme expliqué ci-dessus, chaque récipient 2 défile devant le système ponctuel de mesure 11 de sorte que la mesure d'épaisseur E évolue en fonction de la position du récipient 2 par rapport au système ponctuel de mesure 11 (Fige 4 et 5). L'unité de contrôle et de traitement 10 est adaptée pour éliminer les mesures aberrantes de l'épaisseur E qui apparaissent au-delà d'un angle déterminé entre la direction de mesure du système ponctuel de mesure 11 et la normale à la surface du récipient 2. L'unité de contrôle et de traitement 10 permet de déterminer, à partir des mesures d'épaisseur E, la position du point M de la surface du récipient dont de préférence, la normale est confondue à la direction de mesure du système ponctuel de mesure 11. Bien entendu, l'unité de contrôle et de traitement 10 est à même de prendre en compte les mesures d'épaisseurs en différents points voisins du point M, situés selon une portion A de la section du récipient 2 et pour lesquels les mesures d'épaisseurs sont fiables en raison de l'orthogonalité de la surface à la direction de mesure et/ou de la présence de la paroi mesurée dans la zone de mesure du capteur, et/ou l'absence d'artefacts ou défaut ou gravures. Il doit être considéré que les mesures d'épaisseurs instantanées sont considérées comme étant ponctuelles dans le sens où la zone de mesure est petite par rapport à la zone d'inspection Z. Par exemple, la zone de mesure de l'épaisseur du verre correspond à la taille du pixel de l'image de la répartition du rayonnement infrarouge, à savoir par exemple inférieure à 1 mm2 pour un récipient 2 de 100 mm de diamètre. Le procédé selon l'invention consiste également à mesurer à l'aide du capteur sensible au rayonnement infrarouge 6, le rayonnement infrarouge émis par chaque récipient 2 dans chacune des zones d'inspection Z choisies. Le procédé consiste à déterminer pour chaque récipient 2 et pour chaque zone d'inspection Z, une relation entre la mesure de l'épaisseur E prise au point de mesure M, soit E(M), et le rayonnement infrarouge considéré audit point de mesure M, soit Ir(M). En d'autres termes, la mesure d'épaisseur délivrée par les capteurs ponctuels de mesure 11 sert à étalonner chaque zone d'inspection Z et pour chaque récipient 2. A partir de cette relation E=fz(Ir) et de la répartition du rayonnement infrarouge Ir(x,y) considéré sur l'étendue de chaque zone d'inspection Z, le procédé permet de déterminer la répartition de l'épaisseur (E(x,y)) du récipient sur ladite zone d'inspection Z. Une telle méthode permet ainsi de déterminer avec précision la répartition de l'épaisseur du verre pour chaque récipient 2. Cette méthode permet notamment de s'affranchir - de la teinte du verre puisque la transmission et les variations de teinte du verre sont prise en compte par l'étalonnage au travers de la mesure d'épaisseur, - de l'orientation des récipients puisque les mesures d'épaisseur et de rayonnement infrarouge sont synchronisés, - des variations de température dans le temps des récipients 2 dans la mesure où chaque zone d'inspection est sélectionnée pour être homogène en température et où la fonction E=fz(Ir) ou au moins ses paramètres sont recalculés pour chaque article. Ce découpage en zones d'inspection Z peut résulter d'une expérience et/ou d'une modélisation mathématique, d'une mesure par échantillonnage ou en continu, à l'aide de capteurs de température (pyromètre ou caméra thermographique). Selon une autre caractéristique avantageuse de réalisation, le procédé consiste à mesurer la répartition du rayonnement infrarouge émis par une zone d'inspection Z située sur la face avant du récipient 2. A cet effet, chaque capteur sensible au rayonnement infrarouge 6 comporte un objectif 7 dont la profondeur de champ est adaptée de manière que la répartition du rayonnement infrarouge de la face arrière du récipient opposée de la face avant sur laquelle la zone d'inspection est définie soit uniforme. En d'autres termes, l'erreur de mesure susceptible d'être générée par les variations de rayonnement issues de la face arrière du récipient 2 est éliminée. L'invention n'est pas limitée aux exemples décrits et représentés car diverses modifications peuvent y être apportées sans sortir de son cadre. REVENDICATIONS1 - Procédé de mesure de la répartition de l'épaisseur du verre dans des récipients(2) en verre à haute température sortant de cavités de formage (4), le procédé mettant en oeuvre au moins un capteur sensible au rayonnement infrarouge (6) émis par les récipients (2) adapté pour réaliser une image de la répartition du rayonnement infrarouge, caractérisé en ce qu'il comporte les étapes suivantes : - choisir au moins une zone d'inspection (Z) du récipient (2) pour laquelle la répartition du verre est à mesurer, - mesurer, pour chaque zone d'inspection (Z), l'épaisseur de verre du récipient en au moins un point de mesure appartenant à la zone d'inspection (Z), à l'aide d'un système ponctuel de mesure d'épaisseur sans contact (11), - mesurer à l'aide d'un capteur sensible au rayonnement infrarouge (6), la répartition du rayonnement infrarouge émis par le récipient (2) au moins dans chaque zone d'inspection (Z), - déterminer, pour chaque zone d'inspection (Z), une relation entre la mesure de l'épaisseur pris au point de mesure et le rayonnement infrarouge considéré audit point de mesure, - et à partir de ladite relation et de la répartition du rayonnement infrarouge considéré sur chaque zone d'inspection, à déterminer la répartition de verre du récipient sur chaque zone d'inspection (Z). 2 - Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il consiste à mesurer l'épaisseur de verre du récipient (2) selon une direction perpendiculaire à la surface du récipient à l'aide du système ponctuel de mesure. 3 - Procédé selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce qu'il consiste à mesurer l'épaisseur de verre du récipient (2) selon uniquement les différents points de mesure voisins situés selon une portion (A) de la section 30 du récipient (2) et pour lesquels les mesures d'épaisseurs sont fiables. 4 - Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il consiste à mesurer le rayonnement infrarouge émis par le récipient (2) par sa zoned'inspection (Z) située sur la face avant du récipient prise par rapport au capteur sensible au rayonnement infrarouge (6). - Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il consiste à utiliser en tant que relation entre la mesure d'épaisseur et le rayonnement 5 infrarouge, un modèle mathématique déterminé à partir d'un ou de plusieurs points de mesure de l'épaisseur et du rayonnement infrarouge pour chaque zone d'inspection (Z). 6 - Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il consiste à choisir les zones d'inspection (Z) de manière que pour chaque zone 10 d'inspection (Z), les paramètres influençant le rayonnement infrarouge autres que l'épaisseur de verre, présentent chacun des valeurs sensiblement homogènes sur toute ladite zone d'inspection (Z). 7 - Procédé selon l'une des revendications 1 à 6, caractérisé en ce qu'il consiste à choisir les zones d'inspection (Z) du récipient de manière que pour 15 chaque zone d'inspection (Z), la forme et/ou l'état de surface du récipient soit sensiblement constante. 8 - Procédé selon la revendication 7, caractérisé en ce qu'il consiste à choisir les zones d'inspection (Z) du récipient de manière que pour chaque zone d'inspection (Z), la pente du récipient soit sensiblement constante. 20 9 - Procédé selon l'une des revendications 1 à 8, caractérisé en ce qu'il consiste à choisir plusieurs zones d'inspection (Z) du récipient (2) de manière à obtenir par combinaison une représentation tridimensionnelle partielle ou totale du récipient. - Procédé selon l'une des revendications 1 à 9, caractérisé en ce qu'il 25 consiste à filtrer les mesures d'épaisseur de verre réalisées par le système ponctuel de mesure sans contact (11) et les mesures de rayonnement infrarouge pour éliminer les mesures aberrantes. 11 - Installation de mesure de la répartition de l'épaisseur du verre dans des récipients (2) en verre sortant de cavités de formage (4), comportant au 30 moins un capteur sensible au rayonnement infrarouge (6) émis par les récipients (2) et permettant de déterminer une répartition de rayonnement infrarouge sur au moins une zone d'inspection (Z) et relié à une unité decontrôle et de traitement (10), caractérisée en ce qu'elle comporte au moins un système ponctuel de mesure d'épaisseur sans contact (11), adapté pour mesurer l'épaisseur de verre du récipient selon une direction perpendiculaire à la surface du récipient, en au moins un point de mesure (P) appartenant à la zone d'inspection (Z), le système ponctuel de mesure (11) étant relié à l'unité de traitement (10) qui comporte des moyens pour déterminer une relation entre la mesure de l'épaisseur pris au point de mesure et le rayonnement infrarouge considéré audit point de mesure, et des moyens pour déterminer à partir de ladite relation et du rayonnement infrarouge considéré sur la zone d'inspection, la répartition de verre du récipient sur la zone d'inspection. 12 - Installation de mesure selon la revendication 11, caractérisée en ce qu'elle comporte en tant que système ponctuel de mesure l'épaisseur sans contact (11) un système de triangulation laser ou confocal à codage chromatique. 13 - Installation de mesure selon la revendication 11, caractérisée en ce que le capteur sensible au rayonnement infrarouge (6) comporte un objectif (7) dont la profondeur de champ est adapté de manière que le rayonnement infrarouge reçu de la face arrière du récipient (2) opposée de la face avant sur laquelle la zone d'inspection (Z) est définie, soit homogène. 14 - Installation de mesure selon l'une des revendications 11 à 13, caractérisée en ce qu'elle comporte au moins une série de systèmes ponctuels de mesure d'épaisseur (11) situés dans un plan sensiblement perpendiculaire à la direction de défilement des récipients devant lesdits systèmes ponctuels de mesure d'épaisseur, les systèmes ponctuels (11) mesurant l'épaisseur du récipient en des points appartenant à des zones d'inspection (Z) présentant des inclinaisons différentes.