Brevet FR2970090A1 — publié le 20120706

DISPOSITIF DE FORMATION D'UN RESEAU D'INTERFERENCES SUR UN ECHANTILLON. L'invention concerne un dispositif de formation d'un réseau d'interférences sur un échantillon par exemple un élément photoconducteur, 5 éventuellement pourvu d'électrodes. La formation d'un réseau d'interférences sur un échantillon notamment photoconducteur permet de l'activer optiquement et le cas échéant d'en mesurer des propriétés. C'est ainsi que le Brevet US 4 892 582 décrit une technique de 10 mesure de la longueur de diffusion LD des porteurs minoritaires dans un élément photoconducteur. Cette technique s'applique en particulier à un semi-conducteur photoconducteur en couche mince destiné à être incorporé dans des modules photovoltaïques. 15 La mesure de ce paramètre permet de déterminer la qualité électronique du film mince afin de vérifier si ce dernier est apte à être intégré dans un module photovoltaïque, c'est-à-dire à même de conduire à un bon rendement de conversion. La mesure de la longueur de diffusion des porteurs minoritaires LD 20 dans un semi-conducteur photoconducteur en couche mince comme le silicium amorphe hydrogéné se fait par interférométrie laser. L'échantillon est constitué d'une couche mince déposée sur un substrat en général transparent et isolant sur laquelle on a déposé deux électrodes parallèles distantes par exemple de 1 mm. Une polarisation électrique est appliquée 25 entre ces deux électrodes. Un faisceau laser de lumière polarisée verticalement de longueur d'onde k est séparé en deux faisceaux qui sont ensuite renvoyés sur l'échantillon en formant un angle donné. Il se développe entre les électrodes un réseau d'interférence dont le pas dépend de l'angle entre les deux faisceaux. Il résulte de cette illumination un 30 certain photo-courant courant I. Grâce à une lame demi-onde X/2, on fait basculer la polarisation d'un des deux faisceaux, ce qui remplace le réseau d'interférences par une illumination uniforme. Il résulte de cette illumination un certain courant photo-courant Iwo. La direction des photo-courants mesurés est perpendiculaire aux 35 franges du réseau. On trace ensuite la variation du rapport 13 = IW/Iwo en fonction du pas du réseau que l'on calcule de manière connue à partir de l'angle entre les deux 2 faisceaux et un accord à partir d'une équation simple permet de déduire de cette courbe la longueur de diffusion des porteurs minoritaires. Le lien entre 13 et LD est le suivant. Si le pas du réseau est faible, la diffusion des porteurs minoritaires efface le réseau qui n'a quasi aucune influence sur le courant mesuré. Le paramètre (3 est alors voisin de 1. Si le pas du réseau est grand, la diffusion des porteurs minoritaires ne peut pas l'effacer. Il se met en place un réseau de charge d'espace et de champs locaux qui modifie le courant des porteurs majoritaires, le paramètre 13 pouvant atteindre la valeur -1. C'est le même phénomène de charge d'espace qui est à l'origine de la limitation du courant dans une cellule solaire. Dans une telle cellule, si les porteurs minoritaires ne peuvent diffuser, leur accumulation entraîne la création d'une charge d'espace qui s'oppose au transport des porteurs majoritaires et donc engendre un moindre rendement. La mesure de LD sur une couche mince permet donc facilement de savoir si celle-ci peut être intégrée dans une cellule avec de grandes chances d'obtenir un bon rendement sans avoir à réaliser le dispositif complet, d'où son intérêt pour tous les fabricants de cellules solaires à base de couches minces. Cette technique décrite dans le Brevet US 4 892 582 s'applique aux photoconducteurs et aux semi-conducteurs sensibles à la lumière. La mise en oeuvre décrite dans ce document implique une mesure manuelle, qui est relativement délicate et longue à mettre en oeuvre, puisque chaque étape de mesure qui correspond à un pas différent du réseau d'interférences implique un nouveau réglage. La présente invention a pour objet un dispositif qui soit compatible avec une automatisation du processus qui permet de faire varier le pas d'un réseau 25 d'interférences, notamment en vue de l'application citée ci-dessus. L'invention concerne ainsi un dispositif de formation d'un réseau d'interférences sur un échantillon constitué par exemple par un élément photoconducteur, le dispositif comportant un laser émettant un faisceau lumineux de longueur d'onde X, une lame séparatrice séparant le faisceau émis par le laser en un 30 premier et un deuxième faisceaux, un premier miroir de renvoi fixe pour renvoyer le premier faisceau sur un point P de l'échantillon selon un premier angle d'incidence fixe 01, ainsi qu'au moins un deuxième miroir de renvoi fixe pour renvoyer le deuxième faisceau selon une trajectoire finale qui atteint ledit point P de l'échantillon selon un deuxième angle d'incidence 02, pour former sur l'échantillon un réseau d'interférences 35 dont le pas dépend de la différence angulaire 0 entre le premier 01 le deuxième 02 angle d'incidence, le trajet du deuxième faisceau étant caractérisé en ce qu'il comporte un miroir de renvoi mobile pour diriger et renvoyer le deuxième faisceau depuis une pluralité de premiers points d'impact à partir desquels le deuxième faisceau est dirigé vers une pluralité de deuxièmes points d'impact correspondants d'un dit deuxième miroir en formant une pluralité de couples de points d'impact comportant un premier et un deuxième point d'impact, dont chacun correspond à une dite trajectoire finale du deuxième faisceau avec une valeur différente de l'angle 02, de manière à faire varier la valeur de l'angle d'incidence 02, et donc de la différence angulaire 0, et en ce que les premiers points d'impact sont disposés selon une trajectoire linéaire ou parabolique s'étendant depuis une extrémité amont éloignée de l'échantillon où elle est écartée de la direction du faisceau émis par le laser à l'opposé du tronçon du premier faisceau qui impacte ledit point de l'échantillon, ladite trajectoire linéaire ou parabolique étant rentrante en direction dudit tronçon du premier faisceau jusqu'à une extrémité aval plus proche de l'échantillon, de manière à minimiser les variations de la longueur optique du deuxième faisceau pour les paires de premier et deuxième points d'impact dont chacune correspond à une valeur de la différence angulaire O. Selon une première variante qui permet de compenser approximativement la variation de longueur optique, le dispositif est caractérisé en ce qu'il comporte sur le trajet d'un premier tronçon du deuxième faisceau une paire de miroirs de renvoi pour renvoyer le deuxième faisceau de mesure en aval de la paire de miroirs de renvoi selon un deuxième tronçon formant avec le premier tronçon un angle fixe, en ce que le deuxième miroir est situé en aval de la paire de miroirs de renvoi et est constitué par un miroir mobile en translation le long du deuxième tronçon, le deuxième tronçon du deuxième faisceau venant frapper le miroir mobile selon une pluralité de dits premiers points d'impact, pour former en aval du miroir mobile un troisième tronçon faisant un angle fixe avec le deuxième tronçon, et en ce qu'il comporte au moins deux dits deuxième miroirs de renvoi qui sont pré-positionnés pour renvoyer le troisième tronçon du deuxième faisceau qui frappe lesdits miroirs secondaires de renvoi selon lesdits deuxièmes points d'impact en formant ladite trajectoire finale qui impacte ledit point P de l'échantillon pour définir au moins deux angles 0 différents avec le premier faisceau. Selon une variante préférée, le procédé est caractérisé en ce qu'il comporte un miroir mobile en rotation, un premier miroir parabolique dont le foyer est placé sur le trajet du deuxième faisceau, et sur l'axe de rotation du miroir mobile en rotation, le miroir mobile en rotation renvoyant le deuxième faisceau à partir dudit foyer sur le premier miroir parabolique, selon une pluralité de premiers points d'impact, pour former un tronçon intermédiaire qui vient frapper un deuxième miroir parabolique selon une pluralité de dits deuxièmes points d'impact, ledit point P de l'échantillon ECH sur lequel convergent le premier et le deuxième faisceaux étant situé au foyer du deuxième miroir parabolique. Le premier tronçon du deuxième faisceau de mesure est de 5 préférence colinéaire au faisceau issu du laser. Le dispositif est avantageusement caractérisé en ce qu'il présente un module de commande pour commander le déplacement du miroir mobile selon au moins deux positions de mesure. Le dispositif peut comporter un élément pour faire varier la lo polarisation de la lumière, par exemple du premier faisceau, qui est avantageusement une lame demi-onde X/2, éventuellement couplée à un hacheur, qui peut être disposée sur un élément mobile en rotation, ou bien un polariseur rotatif éventuellement couplé à un modulateur électro-optique, de manière à former sur l'échantillon un réseau d'interférences ou à soumettre celui-ci à une illumination uniforme. 15 Il peut alors comporter un dispositif pour mesurer les valeurs des courants IW et IWo à chaque position, I, correspondant au cas où un réseau d'interférences est formé sur l'échantillon, et IWo au cas où l'échantillon est soumis à une dite illumination uniforme. Le dispositif présente de préférence un moteur pas à pas pour 20 commander le déplacement linéaire ou rotatif du miroir mobile en translation. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront mieux à la lecture de la description ci-après, en liaison avec les dessins dans lesquels : - les figures 1 a à 1c représentent une première variante de réalisation du dispositif selon l'invention, la figure 1d étant un schéma illustrant le calcul des 25 trajets optiques. - la figure 2 représente une deuxième variante préférée du dispositif selon l'invention. Le dispositif illustré par la figure 1 comporte un laser 1 émettant un faisceau lumineux qui est polarisé linéairement par exemple verticalement par un 30 polariseur 2. Le faisceau principal 10 est séparé en deux par un miroir séparateur 3, à savoir un premier faisceau 11 qui est réfléchi par le miroir 3 et un deuxième faisceau 14 qui est transmis directement par le miroir séparateur 3. Le premier faisceau est réfléchi sur un miroir 4 pour donner un faisceau 12 qui traverse éventuellement un 35 modulateur électro-optique EOM et un polariseur rotatif 5. La fonction du modulateur EOM éventuellement associé au polariseur est de manière connue en soi, de moduler l'intensité de la lumière pour permettre de faciliter les mesures en recueillant le signal aux bornes des électrodes de l'échantillon ECH et en traitant celui-ci à l'aide d'une détection synchrone. Ce couple modulateur EOM/polariseur peut avantageusement se remplacer par un hacheur et une lame demi-onde X/2. Le faisceau renvoyé 12 intercepte la surface de l'échantillon ECH en un point P, avec un premier angle d'incidence 01, par exemple un angle de 90°. Le deuxième faisceau 14 est dévié par deux miroirs de renvoi 61 (faisceau 14') et 62 pour former une deuxième portion 15 inclinée par rapport à la première portion de faisceau 14. Un miroir de renvoi 7 déplaçable linéairement le long de l'axe de la deuxième portion de faisceau 15 permet de former une troisième portion de faisceau 16 qui est dévié par l'un des miroirs de renvoi secondaires 8 dont la position et les angles d'inclinaison sont choisis pour que dans chaque position du miroir de renvoi 7, la quatrième portion de faisceau 17 qui en constitue la trajectoire finale atteigne la surface de l'échantillon ECH au point P avec un angle d'incidence 02 en formant un angle 0 avec la deuxième portion du premier faisceau 12 et dans le cas d'espèce avec la normale à l'échantillon ECH, cette angle 0 étant différent pour chacun des miroirs de renvoi 8, ce qui permet, en faisant varier l'angle 0 entre les portions de faisceau 12 et 17, de balayer une gamme de valeur du pas du réseau d'interférence. Chaque position du miroir de renvoi 7 définit un premier point de renvoi 71 auquel correspond de manière univoque un deuxième point de renvoi 82 par un miroir de renvoi secondaire 8, pour que le deuxième faisceau atteigne le point P. Si on souhaite mettre en oeuvre le procédé de mesure décrit dans le Brevet US 4 892 582, alors, à chaque position du miroir 7 mobile en translation, une mesure des courants I wo et Iwo est effectuée. A cet effet, on oriente une lame demi-onde 5 (ou bien un polariseur rotatif) de manière à permettre que les deux faisceaux 12 et 17 qui se croisent au point P aient, soit une polarisation parallèle, ce qui leur permet de créer des interférences sur la surface, ce qui permet de recueillir le courant Iw, soit que leurs polarisations soient perpendiculaires, ce qui fait que le réseau d'interférences est remplacé par une illumination uniforme, ce qui permet de recueillir le courant Iwo. Le dispositif décrit ci-dessus permet de changer l'angle 0 entre les faisceaux sans avoir à effectuer de réglage tout en maintenant une excellente superposition au point P afin que les interférences puissent se former, ce qui permet d'obtenir de manière automatique des réseaux d'interférences de pas différents, ce qui permet en particulier de réaliser des mesures automatiques. Le déplacement d'un unique miroir à l'aide d'une platine de translation motorisée permet d'assurer un pas de déplacement de l'ordre de 1 micron, ce qui en conjugaison avec la position précisément définie des miroirs de renvois secondaires fixes 8 permet d'assurer un renvoi précis selon divers angles préréglés. Le dispositif permet de réaliser des mesures dans une gamme de pas du réseau d'interférences typiquement entre l g et 15 µ, par exemple avec un laser de longueur d'onde = 633 nm. Le basculement de la polarisation se fait par exemple par interposition d'une lame demi-onde a/2 ou d'un polariseur rotatif 5 placé sur un élément dont on peut commander la rotation. L'automatisation de la mesure, à savoir la commande du déplacement du miroir par une platine de translation et de la lame demi-onde (ou du polariseur rotatif) par une platine de rotation, la mesure des courants et leurs amplification et les calculs subséquents relatifs à une mesure, par exemple de la longueur de diffusion LD des porteurs minoritaires, peut être pilotée par un ordinateur à l'aide d'un logiciel spécifique, développé dans un langage de programmation connu sous la marque déposée LABVIEW. La correction des différences de marche entre les deux faisceaux peut être effectuée de la manière suivante : Afin d'utiliser des lasers relativement "bon marché" qui ne présentent pas une très grande longueur de cohérence, il faut autant que possible que les chemins optiques des deux faisceaux aient des valeurs les plus proches possible quel que soit le miroir de renvoi 8 utilisé (figure lb). Le schéma de la figure 1c illustre a contrario un schéma de montage simple sans compensation, dans lequel le miroir mobile 7 se déplacerait le long du tronçon 14 non dévié issu de la lame séparatrice 3. La longueur des tronçons 14 et 16 entre la lame séparatrice 3 et le point A où se croisent les portions du faisceau 12 et 16, les distances sont les mêmes mais pas les chemins optiques. En effet, le passage du faisceau 12 dans le cristal du modulateur rallonge son chemin d'environ 5 cm (Longueur du cristalx(n-1) où n est l'indice du cristal). Du point A pour arriver jusqu'à l'échantillon ECH, le faisceau 16', 17 parcourt le petit côté et l'hypoténuse d'un triangle rectangle tandis que l'autre faisceau 12 en parcourt le grand côté. Donc, le faisceau 16', 17 a un trajet du point A à l'échantillon ECH qui est plus long que celui du faisceau 12. Toutefois cela ne compense pas systématiquement les 5 cm supplémentaires éventuellement parcourus par le faisceau 12 avant son arrivée au point A. Si on adopte la géométrie de la figure 1 c, les différences de marche totales entre le faisceau 14, 16, 17 et le faisceau 11, 12 depuis la lame séparatrice 3 jusqu'à l'échantillon ECH sont comprises entre -4,3 cm pour le miroir de renvoi 81 et +3,6 cm pour le miroir de renvoi n° 8t0. La différence de marche entre les deux faisceaux du premier au dernier miroir varie donc de ±4 cm ce qui peut être préjudiciable à un fonctionnement optimal de l'expérience lorsqu'elle est réalisée avec des lasers de faible longueur de cohérence. La figure lb représente un schéma plus détaillé de la disposition des mirois de renvoi pour permettre une compensation partielle. Ces derniers sont numérotés de 81 à 810. Le faisceau 12 est représenté en pointillés et différents faisceaux 16 sont représentés selon la position du miroir 7. Pour compenser ces écarts, le miroir M1 n'est pas déplacé parallèlement au faisceau 12, mais avec un angle rentrant (figures la et 1d) de façon à augmenter le trajet du faisceau 14, 15, 16 lorsqu'il frappe le miroir de renvoi 81 et à diminuer ce même trajet lorsqu'il frappe le miroir de renvoi 810. Cette correction ne peut être que partielle car les équations mises en jeu ne sont pas linéaires. La figure 1d représente donc le schéma adopté pour assurer cette compensation au moins en partie. Le calcul ci-dessous permet d'optimiser cette compensation partielle. Le calcul du chemin optique Ch I parcouru par le faisceau 14, 14', 15, 16, 17 depuis la lame séparatrice 3 jusqu'à l'échantillon ECH en passant par le miroir de renvoi 81 donne : 25+~x++y1z +[x-(x+41- 4 I` +1+D+ 0,7 Chl =L+x+ (1) D désigne la distance entre le point A où se croisent les faisceaux 12 et 16 et l'échantillon ECH et 0,7 l'excédent de parcours (en cm) en passant par le 30 miroir de renvoi. Le calcul du chemin optique ChII de l'autre faisceau (11, 12) qui traverse le modulateur EOM, depuis la lame séparatrice 3 jusqu'à l'échantillon ECH donne : 35 Chl1= L+l+5+D+5 (2) 5 8 Toutes les grandeurs sont exprimées en cm. Les 5 derniers cm de l'équation (2) proviennent du chemin optique supplémentaire dans le modulateur EOM. On obtient finalement : ChI-ChII=x+ 25+ (x+12 + x- x4y -10+0,7 (3) Le calcul du chemin optique Ch'I parcouru par le faisceau 14, 14', 15, 16, 17 depuis la lame séparatrice 3 jusqu'à l'échantillon en passant par le miroir de 10 renvoi 810 donne : Ch'I = L+x+1J400+(x+ y)2 -y+l+d+8,6 (4) d étant la distance entre le point B et l'échantillon ECH et 8,6 l'excédent de parcours en passant par le miroir de renvoi 810. Le calcul du chemin 15 optique ChII de la lame séparatrice 3 jusqu'à l'échantillon ECH reste le même : Chu =L+1+20+d+5 (5) Toutes les grandeurs sont aussi exprimées en cm. Les 5 derniers cm 20 de l'équation (5) proviennent comme précédemment du chemin optique supplémentaire dans le modulateur électro-optique EOM. On obtient finalement : Ch'I-Ch11=x+-1400+(x+y)2 -y-20+3,6 (6) On peut alors chercher x et y pour que les équations (3) et (6) soient nulles, ce qui donne une différence de marche nulle entre les deux faisceaux par exemple pour les miroirs extrêmes 81 et 810. Donc, à résoudre : (x+yf +[x_ 25+ x+y -10+0,7 4 4 ) 0=x+1400+(x+y)2 -y-20+3,6 Ce qui donne, après un calcul lourd mais simple, x = 3,46 cm et y = 12,9 cm. 25 30 Cette correction n'est que partielle car si les différences de chemin optique sont nulles pour les miroirs 81 et 810, un calcul similaire effectué pour les miroirs 84 et 87 montre respectivement [ChI-ChII] = -0,75 cm et [Ch'I-ChII] = -0,97 cm. Toutefois, on voit que la différence de chemin optique maximale n'est plus que de l'ordre du cm, ce qui permet d'utiliser des lasers avec des longueurs de cohérence relativement courtes (quelques cm) donc relativement bon marché, mais peut-être pas de diode laser sans traitement du signal lumineux au préalable. On remarque que l'on pourra calculer une optimisation en annulant la différence de marche entre les deux faisceaux pour un autre couple de miroirs de 10 renvoi, par exemple 82 et 89 ou 84 et 87 par exemple. On remarque également que le calcul ci-dessus s'applique également au cas où on ne met pas en oeuvre un modulateur électro-optique. La compensation de parcours entre les deux faisceaux peut s'effectuer par exemple à l'aide d'une paire de miroirs de renvoi. 15 Aux dessins, on a choisi un angle 01 = 90°. Il s'agit d'une mise en oeuvre préférée qui facilite le réglage du banc optique. D'ailleurs, on voit aisément qu'une rotation de l'échantillon autour du point P sur un axe perpendiculaire au plan des figures ne modifie pas la formation des interférences, puisque l'angle 0 reste le même. 20 Les tronçons 12 et 16 n'ont pas besoin non plus d'être perpendiculaires. Une compensation précise peut être obtenue en mettant en oeuvre deux miroirs paraboliques disposés tête-bêche, leurs axes focaux étant parallèles. Le point P de l'échantillon ECH est placé (Fig. 2) au foyer F2 d'un 25 miroir parabolique désaxé M2. Au foyer F1 de l'autre miroir parabolique désaxé M1, on place l'axe de rotation un miroir plan 7' dont la rotation change l'angle d'arrivée du faisceau 14 sur le miroir parabolique M1 tout en conservant les deux faisceaux dans le même plan. Le trajet d'un rayon du point F1 à l'échantillon reste constant. Donc la différence de marche entre les deux faisceaux est une constante que l'on peut 30 compenser en rallongeant par un système de miroirs 91 et 92 l'un ou l'autre des trajets, selon la géométrie. A titre d'exemple, dans la figure 2 la compensation est faite sur le faisceau 12 (miroirs de renvoi 91 et 92). Avantages : a/ La différence de marche entre les deux faisceaux peut être rendue complètement nulle et donc permet l'utilisation de diodes laser à condition qu'elles soient monomodes. b/ la variation de l'angle du faisceau 17 frappant l'échantillon est continue et non plus discrète comme dans le cas précédent et on peut fixer la valeur de cet angle à partir de l'angle imposé au miroir situé au foyer FI du miroir parabolique. c/ En cas de déréglage, le nombre de miroirs à tester et régler à nouveau est nettement plus faible que dans le cas précédent. 1 o Exemple : Deux miroirs paraboliques désaxés de même distance focale 7,5 cm, avec un diamètre de 7,5 cm ce qui donne au centre un angle de renvoi de l'ordre de 60° et un décalage entre l'axe du paraboloïde et l'axe du miroir de l'ordre de 10 cm. L'un et/ou l'autre des miroirs paraboliques peut être remplacé par une 15 série de miroirs plans (voir les références mi et m2 à la figure 2) tangents en un point 71, et/ou 82 au miroir parabolique ainsi remplacé, ce qui conduit à un nombre limité de couples de points d'impact 71, 82. REVENDICATIONS1) Dispositif de formation d'un réseau d'interférences sur un échantillon, le dispositif comportant un laser émettant un faisceau lumineux de longueur d'onde 1, une lame séparatrice séparant le faisceau émis par le laser en un premier et un deuxième faisceaux, un premier miroir de renvoi fixe pour renvoyer le premier faisceau sur un point (P) de l'échantillon selon un premier angle d'incidence fixe 01, ainsi qu'au moins un deuxième miroir de renvoi fixe pour renvoyer le deuxième faisceau selon une trajectoire finale (17) qui atteint ledit point (P) de l'échantillon selon un deuxième angle d'incidence 02, pour former sur l'échantillon un 1 o réseau d'interférences dont le pas dépend de la différence angulaire 0 entre le premier 01 le deuxième 02 angle d'incidence, le trajet du deuxième faisceau étant caractérisé en ce qu'il comporte un miroir de renvoi mobile (7, 7') pour diriger et renvoyer le deuxième faisceau depuis une pluralité de premiers points d'impact (71) à partir desquels le deuxième faisceau est dirigé vers une pluralité de deuxièmes points 15 d'impact (82) d'un dit deuxième miroir (8, M2) en formant une pluralité de couples comportant un premier (71) et un deuxième (82) point d'impact, dont chacun correspond à une dite trajectoire finale (17) du deuxième faisceau avec une valeur différente de l'angle 02, de manière à faire varier la valeur de l'angle d'incidence 02 et donc de la différence angulaire 0, et en ce que les premiers points d'impact (71) sont 20 disposés selon une trajectoire linéaire ou parabolique s'étendant depuis une extrémité amont éloignée de l'échantillon où elle est écartée de la direction du faisceau émis par le laser à l'opposé du tronçon du premier faisceau qui impacte ledit point (P) de l'échantillon (ECH), ladite trajectoire linéaire ou parabolique étant rentrante en direction dudit tronçon du premier faisceau jusqu'à une extrémité aval plus proche de 25 l'échantillon (ECH), de manière à compenser au moins partiellement les variations de la longueur optique du deuxième faisceau pour les paires de premier (71) et deuxième (82) points d'impact dont chacune correspond à une valeur de la différence angulaire O. 2. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il 30 comporte sur le trajet d'un premier tronçon (14) du deuxième faisceau une paire de miroirs de renvoi (61, 62) pour renvoyer le deuxième faisceau en aval de la paire de miroirs de renvoi (61, 62) selon un deuxième tronçon (15) formant avec le premier tronçon (14) un angle fixe, en ce que le deuxième miroir est situé en aval de la paire de miroirs de renvoi (61, 62) et est constitué par un miroir (7) mobile en translation le 35 long du deuxième tronçon (15), le deuxième tronçon (15) du deuxième faisceau venant frapper le miroir mobile selon une pluralité de dits premiers points d'impact (71) disposés selon une dite trajectoire linéaire, pour former en aval du miroir mobile un troisième tronçon (16) faisant un angle fixe avec le deuxième tronçon (15), et en ce qu'il comporte au moins deux dits deuxième miroirs de renvoi (81, 82 810) qui sont pré-positionnés pour renvoyer le troisième tronçon (16) du deuxième faisceau de mesure qui frappe lesdits miroirs secondaires de renvoi selon lesdits deuxièmes points d'impact (82), selon ladite trajectoire finale (17) qui impacte ledit point (P) de l'échantillon (ECH) en faisant au moins deux angles e différents avec le premier faisceau de mesure (11, 12). 3) Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comporte un miroir (7') mobile en rotation, un premier miroir parabolique (M1) dont le foyer (F1) est placé sur le trajet du deuxième faisceau, et sur l'axe du miroir (7') mobile en rotation, le miroir (7') mobile en rotation renvoyant le deuxième faisceau à partir dudit foyer (F1) sur le premier miroir parabolique (M1), selon une pluralité de dits premiers points d'impact (71), pour former un tronçon intermédiaire (16) du deuxième faisceau qui vient frapper un deuxième miroir parabolique (M2) selon une pluralité de dits deuxièmes points d'impact (82), ledit point (P) de l'échantillon (ECH) sur lequel convergent le premier et le deuxième faisceaux étant situé au foyer (F2) du deuxième miroir parabolique (M2). 4) Dispositif selon une des revendications 2 ou 3, caractérisé en ce 20 que le premier tronçon (14) du deuxième faisceau de mesure est colinéaire au faisceau (10) issu du laser. 5) Dispositif selon une des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il présente un module de commande pour commander le déplacement du miroir mobile (7, 7') selon au moins deux positions de mesure. 25 6) Dispositif selon une des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il comporte un élément pour faire varier la polarisation qui est une lame demi-onde a,/2 positionnée sur le trajet d'un faisceau, de manière à former un réseau d'interférences sur l'échantillon (ECH) ou à soumettre celui-ci à une illumination uniforme. 30 7) Dispositif selon la revendication 6, caractérisé en ce que la lame demi-onde est couplée à un hacheur. 8) Dispositif selon une des revendications 1 à 5, caractérisé en ce qu'il comporte un élément pour faire varier la polarisation qui est un polariseur tournant de manière à former un réseau d'interférences sur l'échantillon (ECH) ou 35 soumettre celui-ci à une illumination uniforme. 13 9) Dispositif selon la revendication 8, caractérisé en ce qu'il présente un modulateur électro-optique interposé sur le trajet du premier faisceau. 10) Dispositif selon une des revendications 6 à 9, caractérisé en ce qu'il comporte un dispositif pour mesurer les valeurs des courants I,, et I,0 à chaque position, Iµ, correspondant au cas où un réseau d'interférences est formé sur l'échantillon, et I,,0 au cas où l'échantillon est soumis à une dite illumination uniforme. 11) Dispositif selon une des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il comporte un moteur pas à pas de commande du déplacement du miroir mobile (7, 7'). 12) Dispositif selon une des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'échantillon (ECH) est un élément photoconducteur.