Brevet FR2923603A1 — publié le 20090515

SYSTEME ET PROCEDE DE CORRECTION DE TEMPERATURE DE CIBLE INFRAROUGE La présente invention concerne des systèmes et des procédés de calibrage de systèmes de calibrage de thermomètres infrarouges, utilisés lors du calibrage de thermomètres infrarouges. Les thermomètres infrarouges (IR) mesurent le rayonnement IR des corps et génèrent une température correspondant à l'intensité du rayonnement mesuré dans la plage de fréquences du thermomètre IR. Les thermomètres IR sont calibrés en mesurant le rayonnement d'une cible thermique chauffée à une température connue avec précision. On peut ensuite faire correspondre la luminance mesurée par le thermomètre IR à la température de consigne de la cible. La précision des cibles thermiques est limitée par les changements d'émissivité de la cible en fonction de la température. L'émissivité de la cible varie également avec la longueur d'onde du rayonnement incident sur et reflété par la cible. Cependant, le thermomètre IR soumis au calibrage peut avoir un réglage d'émissivité inférieur à un, de telle sorte que le thermomètre IR peut être utilisé pour mesurer les températures de corps ayant de faibles émissivités. Cependant, le réglage d'émissivité est généralement constant et n'est donc pas égal à l'émissivité de la cible sur une plage de températures. En conséquence, le thermomètre IR ne peut être calibré avec précision pour toutes les températures à l'intérieur d'une plage requise. En considération de ce qui précède, une avancée dans l'art consisterait à proposer un système et un procédé pratiques pour calibrer avec précision un thermomètre IR ayant un réglage d'émissivité constant, en utilisant une cible thermique dont l'émissivité dépend de la température. La présente invention met à disposition un procédé de calibrage de cible infrarouge comprenant les étapes consistant à : exécuter une pluralité de premières mesures de luminance d'une cible infrarouge, chacune de la pluralité de mesures de luminance étant exécutée avec la cible infrarouge chauffée à une température parmi une pluralité de températures de consigne cibles ; pour chaque première mesure de luminance, calculer la température apparente d'un corps gris ayant une luminance égale à la première mesure de luminance et ayant une émissivité sensiblement égale à un réglage d'émissivité d'un thermomètre infrarouge ; faire correspondre chacune des températures apparentes à une température parmi la pluralité de températures de consigne correspondant à celle-ci parmi la pluralité de mesures de luminance ; saisir une température de calibrage dans un 25 régulateur couplé à la cible infrarouge ; chauffer la cible à une température parmi la pluralité de températures de consigne affectée à une température parmi la pluralité de températures apparentes correspondant à la température de calibrage ; exécuter une mesure de luminance de la cible avec un thermomètre infrarouge ayant ce réglage d'émissivité ; et calibrer le thermomètre infrarouge pour faire 5 correspondre la mesure de luminance à la température de calibrage. Dans ledit procédé, le thermomètre infrarouge est un premier thermomètre infrarouge, et dans lequel l'exécution de la pluralité de premières mesures de 10 luminance de la cible infrarouge comprend l'exécution d'une pluralité de premières mesures de luminance de la cible infrarouge avec un premier thermomètre infrarouge calibré selon le corps noir simulé. De plus, les premier et second thermomètres 15 infrarouges ont des bandes de réponse de fréquence sensiblement identiques. Dans ledit procédé, la cible est dotée d'un revêtement à haute émissivité. Le réglage d'émissivité peut être inférieur à un, ou compris entre environ 0,9 20 et un, ou encore entre environ 0,9 et environ 0.95. Selon des caractéristiques particulières de l'invention ledit procédé peut comprendre en outre : la mesure de la luminance d'un sujet au moyen du thermomètre infrarouge et la génération d'une 25 température correspondant à l'étape de calibrage du thermomètre infrarouge ; le calcul d'une pluralité de températures de contact pour chacune de la pluralité de températures de consigne, cette pluralité de températures de contact 30 correspondant chacune à une sortie d'un capteur en contact thermique avec une cible quand la surface de la cible se trouve à la température de consigne, dans lequel l'étape consistant à chauffer la cible à une température parmi la pluralité de températures de consigne consiste à chauffer la cible de façon à ce que le capteur de température génère une sortie correspondant à la température de contact correspondant à une température parmi la pluralité de températures de consigne. La présente invention met également à disposition 10 un système de calibrage comprenant : un thermomètre infrarouge ayant un réglage d'émissivité ; une cible émettant un rayonnement infrarouge vers le thermomètre infrarouge ; 15 un élément chauffant en contact thermique avec la cible ; un capteur de température en contact thermique avec la cible ; et un régulateur couplé au capteur de température et 20 à l'élément chauffant, le régulateur étant configuré pour recevoir une température d'entrée, le régulateur étant programmé pour faire correspondre la température d'entrée à une température de consigne, et pour amener l'élément chauffant à chauffer la cible de façon à 25 approcher la température de consigne, la température de consigne correspondant à une température apparente de la cible égale à la température d'entrée, la température apparente étant sensiblement égale à une température de corps gris d'un corps gris ayant une 30 émissivité sensiblement égale au réglage d'émissivité du thermomètre infrarouge et ayant une luminance sensiblement égale à la cible lorsqu'elle est chauffée à la température de consigne. Dans ledit système, la cible est dotée d'un revêtement à haute émissivité. Le réglage d'émissivité peut être inférieur à 1, ou compris entre environ 0,9 et 1, ou encore entre environ 0,9 et environ 0.95. Selon un aspect de la présente invention, le procédé de calibrage de cible infrarouge comprend les étapes consistant à : exécuter une pluralité de premières mesures de luminance d'une cible infrarouge, chacune de la pluralité de mesures de luminance étant exécutée avec la cible infrarouge chauffée à une température parmi une pluralité de températures de consigne cibles ; pour chaque première mesure de luminance, calculer une valeur d'émissivité de la cible infrarouge ; saisir une température de calibrage dans un régulateur couplé à la cible infrarouge ; calculer une température de consigne dans le régulateur selon la température de calibrage et au moins une des valeurs d'émissivité, la cible émettant le rayonnement infrarouge à la température de consigne qui est égale à environ celle d'un corps gris ayant un réglage d'émissivité d'un thermomètre infrarouge d'une unité sous test (UUT), et chauffé à la température de calibrage ; chauffer la cible à la température de consigne ; exécuter une seconde mesure de luminance de la cible avec le thermomètre infrarouge de l'unité sous test ; et calibrer le thermomètre infrarouge de l'unité sous test pour faire correspondre la mesure de luminance à la température de calibrage. Selon des caractéristique particulières de 5 l'invention, dans ledit procédé : l'étape consistant à exécuter la pluralité de premières mesures de luminance de la cible infrarouge consiste à exécuter une pluralité de premières mesures de luminance de la cible infrarouge avec un thermomètre 10 infrarouge de référence calibré selon un quasi corps noir ; l'unité sous test et les thermomètres infrarouges de référence ont des bandes de réponse de fréquence sensiblement identiques. 15 la cible est dotée d'un revêtement à haute émissivité. Le réglage d'émissivité peut être inférieur à 1, ou compris entre environ 0,9 et 1, ou encore entre environ 0,9 et environ 0.95. Selon d'autres caractéristiques particulières de 20 la présente invention, ledit procédé peut comprendre en outre : la mesure d'une luminance d'un sujet au moyen du thermomètre infrarouge de l'unité sous test et la génération d'une température correspondant à l'étape de 25 calibrage du thermomètre infrarouge de l'unité sous test. le calcul d'une pluralité de températures de contact pour chacune de la pluralité de températures de consigne, la pluralité de températures de contact 30 correspondant chacune à une sortie d'un capteur en contact thermique avec une cible quand la surface de la cible se trouve à la température de consigne ; et dans lequel l'étape consistant à chauffer la cible à une température parmi la pluralité de températures de consigne consiste à chauffer la cible de façon à ce que le capteur de température produise une sortie correspondant à la température de contact correspondant à une température parmi la pluralité de températures de consigne. L'invention sera mieux comprise, et d'autres caractéristiques de celle-ci apparaîtront plus clairement à la lecture de la description explicative qui suit et qui est faite en références aux figures. La figure 1 est un schéma synoptique d'un système de calibrage de thermomètres IR selon un mode de réalisation de la présente invention. La figure 2 est un schéma synoptique d'un thermomètre IR calibré au moyen d'un quasi corps noir (32) selon un mode de réalisation de la présente invention. La figure 3 est un organigramme général d'un procédé de calibrage d'un système de calibrage de thermomètre IR selon un mode de réalisation de la présente invention. La figure 4 est un schéma synoptique d'une installation de calibrage d'un thermomètre IR au moyen d'un système de calibrage de thermomètres IR selon un mode de réalisation de la présente invention. La figure 5 est un organigramme général d'un procédé de calibrage d'un thermomètre IR selon un mode 30 de réalisation de la présente invention. En se reportant à la figure 1, un système de calibrage de thermomètres IR 10 pour thermomètres infrarouges (IR) peut comprendre une cible 12 en contact thermique avec un capteur de température 14. La cible 12 peut présenter une face de rayonnement 16. La face 16 peut être couverte d'un revêtement à haute émissivité telle une peinture à haute émissivité, qui peut avoir une émissivité dépendante de la température, bien que l'émissivité du revêtement puisse varier en fonction de la température à un moindre degré que la plupart des substances. Le capteur 14 peut être placé à l'opposé de la face de rayonnement 16. En conséquence, la lecture du capteur 14 peut ne pas indiquer la température exacte de la face 16 en raison de la perte de chaleur au rayonnement et à la conduction. Un élément chauffant 18 est également mis en contact thermique avec la cible 12. L'élément chauffant 18 peut être positionné à l'opposé de la face de rayonnement 16. L'élément chauffant 18 et le capteur 14 sont couplés à un régulateur 20 qui lit une sortie du capteur 14 et régule la puissance de l'élément chauffant selon cette lecture et une température de consigne spécifiée par un utilisateur ou un programme exécuté par le régulateur 20. Une interface 22 peut être couplée au régulateur 20 pour permettre à un utilisateur de saisir une température de consigne dans le régulateur 20. Une mémoire 24 couplée au régulateur 20 peut stocker les résultats de test et d'autres données opérationnelles et exécutables, telle une application de calibrage 26. Un thermomètre IR 28 peut être positionné à distance de la cible 12 pour recevoir le rayonnement IR 30 de celle-ci. Le thermomètre IR 28 peut être couplé au régulateur 20 pour transmettre une mesure de luminance au régulateur 20. En se reportant à la figure 2, tout en se reportant toujours à la figure 1, selon un mode de réalisation, le système de calibrage de thermomètres IR 10 est calibré au moyen d'un thermomètre IR 28 qui est lui-même calibré par un quasi corps noir 32, tel le rayonnement émis par une chambre chauffée 34. Le thermomètre IR 28 a de préférence une précision plus élevée que celle des thermomètres IR à calibrer au moyen du système de calibrage de thermomètres IR 10. Le thermomètre IR 28 peut mesurer le rayonnement issu du corps noir 32 à diverses valeurs de consigne de température, et faire correspondre sa sortie aux valeurs de luminance réelles issues du corps noir 32 dans la bande spectrale du thermomètre IR 28, par exemple entre 8 et 14 microns. Pour la mesure des valeurs de luminance issues du corps noir 32, on règle de préférence l'émissivité du thermomètre IR à un environ. En se reportant de nouveau à la figure 1, selon un mode de réalisation, un utilisateur, ou l'application de calibrage 26, enregistre une série de températures de consigne dans le régulateur 20 et le thermomètre IR 28 mesure la luminance de la cible 12 à chaque valeur de consigne de température. En se reportant à la figure 3, tout en se reportant toujours à la figure 1, un procédé 36 de calibrage d'un système de calibrage de thermomètres IR 10, peut comprendre le réglage à une température TSET et la commande de la température de la cible 12 de façon à se rapprocher de TSET au bloc 38. Au bloc 40, une température de contact TCONT est mesurée en lisant la sortie du capteur de température 14. Au bloc 42, une correction de perte est exécutée pour déterminer une température superficielle TSURF sur la face 16 de la cible 12. Dans certains modes de réalisation, une température ambiante TAMB est mesurée au bloc 44 et utilisée au bloc 42 pour déterminer TSURF. La détermination de TSURF peut comprendre la consultation d'une table de conversion faisant correspondre TSURF à une TCONT et, selon certains modes de réalisation, une TAME déterminée par un calibrage antérieur. En variante, TcoNT et éventuellement TAMB peuvent être entrées dans une équation ou dans un algorithme informatique pour déterminer TSURF• Au bloc 46, la luminance M de la cible 12 pour la température superficielle TSURF est mesurée avec le thermomètre IR 28. Le thermomètre IR 28 peut avantageusement être calibré tel que décrit ci-dessus en référence à la figure 2. Au bloc 48, la température apparente TApp de la cible 12 est calculée. TApp peut être calculée selon l'Equation 1, en utilisant la largeur de bande normale Al - À2, le réglage d'émissivité SIR, et/ou le réglage de température d'arrière-plan TBO d'un thermomètre IR à calibrer en utilisant le système de calibrage de thermomètres IR 10. Dans certains modes de réalisation, le thermomètre IR 28 utilisé pour mesurer la luminance M peut avoir la même largeur de bande 24 - À2, TBO et le réglage EIR que les unités à calibrer. Dans ces modes de réalisation, le thermomètre IR 28 peut générer une valeur de température qui est utilisée en tant que TAPP. Au bloc 50, est calculé un facteur de correction reliant TsURF à TAPP. Le procédé 36 peut être répété pour des températures multiples TSET et leurs températures correspondantes TsURF afin de calculer une TAPP et un facteur de correction correspondant pour un certain nombre de valeurs de consigne de température. La température apparente peut être calculée en utilisant l'Equation 1, où M est une mesure de luminance particulière, eIR est le réglage d'émissivité normal du thermomètre IR soumis au calibrage, TBG est le réglage de température d'arrière-plan normal exprimé en degrés Kelvin du thermomètre IR soumis au calibrage et TAPP est la température apparente pour la mesure de luminance particulière M. L'équation 1 peut être résolue pour déterminer TAPP selon n'importe quel procédé numérique approprié connu dans l'art. .12 cet m. ' Bert dit+, (1- Ee )q zt.15(e -1) À ,5(e* -1) Equation 1 Selon un mode de réalisation alternatif du procédé 36, le thermomètre IR 28 a un réglage d'émissivité de 25 un et est utilisé pour exécuter les mesures de luminance du système de calibrage de thermomètres IR 10 à un certain nombre de températures de consigne. Les lectures du thermomètre IR 28 sont utilisées pour calculer l'émissivité de la cible 12 à chaque valeur de20 consigne de température. Le calcul de l'émissivité de la cible 12 peut comprendre l'utilisation de l'Equation 1 pour résoudre EIR, où TSURF pour une valeur de consigne donnée se substituant à TApp, M étant la luminance mesurée au moyen du thermomètre IR 28 à cette valeur de consigne particulière et �IR étant l'émissivité de la cible 12 à cette valeur de consigne. Lors du calibrage d'une unité sous test selon le procédé alternatif, ces valeurs d'émissivité déterminées expérimentalement peuvent être utilisées pour résoudre l'Equation 2. La température saisie par un opérateur est TApp et la température réelle requise pour obtenir le rayonnement d'un corps gris parfait à TApp est calculée avec les valeurs d'émissivité déterminées expérimentalement de la cible 12 en utilisant l'Equation 2. Dans l'Equation 2, TGT est l'émissivité de la cible à ou à proximité d'une valeur de consigne de température, déterminée de la façon décrite ci-dessus. Selon certains modes de réalisation, la valeur de sTGT est déterminée par interpolation entre des valeurs d'émissivité déterminées expérimentalement de la façon décrite ci-dessus, ou en utilisant une équation d'ajustement de courbe basée sur les valeurs d'émissivité déterminées expérimentalement. EIR est le réglage d'émissivité de l'unité sous test (généralement d'environ 0,95), TBG est la température d'arrière-plan et TApp est la température apparente correspondant à une température de consigne particulière TTGT. L'équation 2 peut être résolue pour déterminer TApp selon tout procédé numérique approprié connu dans l'art. s et dâ + J (1-ss+cr )ci di. = sect di, + (1- cm )cl dit Â,5 -1) xiils(e -1) .ii,% (e PP -1) xidts(eue -1) Equation 2 En se reportant à la figure 4, le thermomètre IR 52 d'une unité sous test (UUT) ayant un réglage d'émissivité 54 et un réglage de température d'arrière-plan 56 peut être calibré en utilisant le système de calibrage de thermomètres IR 10 calibré selon le procédé de la figure 3. En se reportant à la figure 5, un procédé 58 de calibrage du thermomètre IR d'UUT 52 peut comprendre le calibrage d'un thermomètre IR de référence, en utilisant par exemple le quasi corps noir 32 pour calibrer le thermomètre IR 28, à l'étape 60. A l'étape 62, les facteurs de correction reliant les valeurs de consigne de température aux températures apparentes sont déterminés, par exemple selon le procédé 36. A l'étape 64, une température de calibrage est saisie dans le système de calibrage de thermomètres IR 10 en tant que valeur de consigne de température. A l'étape 66, un ou plusieurs des facteurs de correction sont appliqués à la température de calibrage par affectation directe, interpolation entre les facteurs de calcul de températures de consigne testées délimitant la température de calibrage, ou application d'une équation d'ajustement de courbe déterminée en fonction des facteurs de correction déterminés selon le procédé 36. Les facteurs de correction relient la température de calibrage à une température corrigée de la face 16. La température corrigée est la température à laquelle le rayonnement émis par la face 16 sera environ égal au rayonnement émis par un corps gris ayant une émissivité égale au réglage d'émissivité du thermomètre IR d'UUT 52 et chauffé à la température de calibrage. Le système de calibrage de thermomètres IR 10 chauffe ensuite la face cible 16 à la température corrigée à l'étape 68. L'étape 68 peut comprendre le calcul d'une valeur TCONT pour la lecture de capteur de température qui correspond à la face 16 à la température de calibrage, et le chauffage de la face 16 de façon à ce que TCONT soit égal à une valeur correspondant à une température de face TsURF environ égale à la température de calibrage. A l'étape 70, la luminance de la cible est mesurée avec le thermomètre IR d'UUT 52. A l'étape 72, le thermomètre IR d'UUT est calibré pour générer la température de calibrage quand il est soumis à la luminance mesurée à l'étape 70. Le thermomètre IR d'UUT 52 peut ensuite mesurer la luminance d'autres corps et générer une température correspondant au rayonnement des corps selon le calibrage de température à l'étape 72. Bien que la présente invention ait été décrite en référence aux modes de réalisation décrits, l'homme du métier identifiera que des changements peuvent être apportés dans la forme et le détail sans s'écarter de l'esprit et de la portée de l'invention. De telles modifications sont bien connues de l'homme du métier. En conséquence, l'invention n'est limitée que par les revendications associées. REVENDICATIONS 1. Procédé de calibrage de cible infrarouge (12) caractérisé en ce qu'il comprend les étapes consistant à . exécuter une pluralité de premières mesures de luminance d'une cible infrarouge (12), chacune de la pluralité de mesures de luminance étant exécutée avec la cible infrarouge (12) chauffée à une température parmi une pluralité de températures de consigne cibles ; pour chaque première mesure de luminance, calculer la température apparente d'un corps gris ayant une luminance égale à la première mesure de luminance et ayant une émissivité sensiblement égale à un réglage d'émissivité d'un thermomètre infrarouge ; faire correspondre chacune des températures apparentes à une température parmi la pluralité de températures de consigne correspondant à celle-ci parmi la pluralité de mesures de luminance ; saisir une température de calibrage dans un régulateur couplé à la cible infrarouge (12) ; chauffer la cible (12) à une température parmi la pluralité de températures de consigne affectée à une température parmi la pluralité de températures apparentes correspondant à la température de calibrage ; exécuter une mesure de luminance de la cible (12) avec un thermomètre infrarouge ayant ce réglage d'émissivité ; et calibrer le thermomètre infrarouge pour faire correspondre la mesure de luminance à la température de calibrage. 2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel le thermomètre infrarouge est un premier thermomètre infrarouge, et dans lequel l'exécution de la pluralité de premières mesures de luminance de la cible infrarouge (12) comprend l'exécution d'une pluralité de premières mesures de luminance de la cible infrarouge (12) avec un premier thermomètre infrarouge calibré selon le corps noir (32) simulé. 3. Procédé selon la revendication 1, dans lequel les premier et second thermomètres infrarouges ont des bandes de réponse de fréquence sensiblement identiques. 4. Procédé selon la revendication 1, dans lequel la cible (12) est dotée d'un revêtement à haute émissivité. 5. Procédé selon la revendication 1, dans lequel le réglage d'émissivité est inférieur à un. 6. Procédé selon la revendication 5, dans lequel le réglage d'émissivité est compris entre environ 0,9 et 1. 7. Procédé selon la revendication 6, dans lequel l'émissivité est entre environ 0,9 et environ 0,95. 8. Procédé selon la revendication 1, comprenant en outre la mesure de la luminance d'un sujet au moyen du thermomètre infrarouge et la génération d'une température correspondant à l'étape de calibrage du thermomètre infrarouge. 9. Procédé selon la revendication 1, comprenant en outre le calcul d'une pluralité de températures de contact pour chacune de la pluralité de températures de consigne, cette pluralité de températures de contact correspondant chacune à une sortie d'un capteur (14) en contact thermique avec une cible (12) quand la surface de la cible (12) se trouve à la température de consigne, dans lequel l'étape consistant à chauffer la cible (12) à une température parmi la pluralité de températures de consigne consiste à chauffer la cible (12) de façon à ce que le capteur de température (14) génère une sortie correspondant à la température de contact correspondant à une température parmi la pluralité de températures de consigne. 10. Système de calibrage (10) caractérisé en ce qu'il comprend : un thermomètre infrarouge ayant un réglage d'émissivité ; une cible (12) émettant un rayonnement infrarouge 15 vers le thermomètre infrarouge ; un élément chauffant en contact thermique avec la cible (12) ; un capteur de température (14) en contact thermique avec la cible (12); et 20 un régulateur (20) couplé au capteur de température (14) et à l'élément chauffant, le régulateur (20) étant configuré pour recevoir une température d'entrée, le régulateur (20) étant programmé pour faire correspondre la température 25 d'entrée à une température de consigne, et pour amener l'élément chauffant à chauffer la cible (12) de façon à approcher la température de consigne, la température de consigne correspondant à une température apparente de la cible (12) égale à la température d'entrée, la 30 température apparente étant sensiblement égale à une température de corps gris d'un corps gris ayant une émissivité sensiblement égale au réglage d'émissivité du thermomètre infrarouge et ayant une luminance sensiblement égale à la cible (12) lorsqu'elle est chauffée à la température de consigne. 11. Système de calibrage (10) selon la revendication 10, dans lequel la cible (12) est dotée d'un revêtement à haute émissivité. 12. Système de calibrage (10) selon la revendication 10, dans lequel le réglage d'émissivité 10 est inférieur à un. 13. Système de calibrage (10) selon la revendication 12, dans lequel l'émissivité est comprise entre environ 0,9 et un. 14. Système de calibrage (10) selon la 15 revendication 13, dans lequel l'émissivité est comprise entre environ 0,9 et 0,95. 15. Procédé de calibrage de cible infrarouge (12) caractérisé en ce qu'il comprend : exécuter une pluralité de premières mesures de 20 luminance d'une cible infrarouge (12), chacune de la pluralité de mesures de luminance étant exécutée avec la cible infrarouge (12) chauffée à une température parmi une pluralité de températures de consigne cibles ; pour chaque première mesure de luminance, calculer 25 une valeur d'émissivité de la cible infrarouge (12) ; saisir une température de calibrage dans un régulateur (20) couplé à la cible infrarouge (12); calculer une température de consigne dans le régulateur (20) selon la température de calibrage et au 30 moins une des valeurs d'émissivité, la cible (12) émettant le rayonnement infrarouge à la température deconsigne qui est égale à environ celle d'un corps gris ayant un réglage d'émissivité d'un thermomètre infrarouge d'une unité sous test (UUT), et chauffé à la température de calibrage ; chauffer la cible (12) à la température de consigne ; exécuter une seconde mesure de luminance de la cible (12) avec le thermomètre infrarouge de l'unité sous test ; et calibrer le thermomètre infrarouge de l'unité sous test pour faire correspondre la mesure de luminance à la température de calibrage. 16. Procédé selon la revendication 15, dans lequel l'étape consistant à exécuter la pluralité de premières mesures de luminance de la cible infrarouge (12) consiste à exécuter une pluralité de premières mesures de luminance de la cible infrarouge (12) avec un thermomètre infrarouge de référence calibré selon un quasi corps noir (32). 17. Procédé selon la revendication 16, dans lequel l'unité sous test et les thermomètres infrarouges de référence ont des bandes de réponse de fréquence sensiblement identiques. 18. Procédé selon la revendication 15, dans lequel 25 la cible (12) est dotée d'un revêtement à haute émissivité. 19. Procédé selon la revendication 18, dans lequel le réglage d'émissivité est inférieur à un. 20. Procédé selon la revendication 19, dans lequel 30 l'émissivité est inférieure ou égale à 0,95. 21. Procédé selon la revendication 15, comprenant en outre la mesure d'une luminance d'un sujet au moyen du thermomètre infrarouge de l'unité sous test et la génération d'une température correspondant à l'étape de calibrage du thermomètre infrarouge de l'unité sous test. 22. Procédé selon la revendication 15, comprenant en outre le calcul d'une pluralité de températures de contact pour chacune de la pluralité de températures de consigne, la pluralité de températures de contact correspondant chacune à une sortie d'un capteur (14) en contact thermique avec une cible (12) quand la surface de la cible (12) se trouve à la température de consigne ; et dans lequel l'étape consistant à chauffer la cible (12) à une température parmi la pluralité de températures de consigne consiste à chauffer la cible (12) de façon à ce que le capteur de température (14) produise une sortie correspondant à la température de contact correspondant à une température parmi la pluralité de températures de consigne.