Brevet FR2915601A1 — publié le 20081031

Dispositif de comptage de cartes dans des petites séries L'invention concerne le domaine des appareils de comptage de produits peu épais empilés côte à côte pour les petites séries. Plus particulièrement, il s'agit de dénombrer, de façon automatisée et avec une bonne cadence, le nombre de produits peu épais contenus dans un lot de petites séries. Il existe des appareils de comptage tels que décrits dans le brevet FR 2 718 550 intitulé Dispositif de comptage de produits . Ce dispositif permet le comptage de grandes séries de produits peu épais empilés côte à côte. Typiquement, la luminosité est testée par la saturation du signal, fourni par un capteur et s'il y a saturation, le comptage n'est pas effectué et le système de comptage produit un signal pas de produit trouvé . S'il n'y a pas saturation, le dispositif de comptage effectue le comptage. Le dispositif de comptage fait appel à un système d'intercorrélation, dans une étape de pré-traitement des signaux mémorisés. Ensuite, le comptage des objets se fait par la détermination des sommets et des vallées (autrement dit des maxima et minima locaux pour des valeurs représentatives de luminosité associées aux pixels) et le nombre d'objets comptés est mémorisé. Le dispositif effectue une pluralité de comptages qui sont chacun mémorisés et ce n'est qu'en fin de cette pluralité de comptage que le dispositif construit un histogramme des résultats et recherche si une valeur correspond à un taux de réussite mémorisé. Toutefois, ces appareils ne sont pas adaptés au traitement automatique de petites séries car ils ne permettent pas de compter le nombre d'éléments dans des petites séries de façon automatisée, avec une bonne cadence. Le comptage de produits peu épais s'inscrit généralement dans une chaîne de traitement, avant, par exemple, des opérations de personnalisation physique ou logicielle ou des opérations de conditionnement. Souvent, le comptage de petites séries de produits peu épais, telle que des séries de cartes personnalisables d'une quinzaine d'éléments, est réalisé à la main, ce moyen de comptage donnant un bon rendement. Il existe donc un besoin pour un dispositif adapté, ayant une cadence permettant d'éviter un comptage de petites séries à la main. La présente invention a donc pour objet de pallier un ou plusieurs inconvénients de l'art antérieur en créant un dispositif permettant de compter, de façon automatisée, le nombre de produits peu épais produits en petites séries, avec une bonne cadence. Cet objectif est atteint grâce à un dispositif de comptage de séries de produits peu épais, empilés côte à côte, selon une direction déterminée dans un moyen de maintien, les produits peu épais empilés étant tous d'épaisseur identique et constituant un empilement, le dispositif comprenant au moins : - un moyen d'éclairage de l'empilement produisant un ou plusieurs faisceaux lumineux couvrant au moins toute la longueur de l'empilement, - un moyen de détection comportant au moins un circuit de détection, comprenant une pluralité d'éléments photosensibles, et au moins un dispositif optique, associé au circuit de détection, permettant de focaliser des rayons lumineux réfléchis par l'empilement, - des moyens de mémorisation, caractérisé en ce qu'il comprend des moyens de traitement recevant des signaux provenant du ou des circuits de détection, aptes à extraire de ces signaux des niveaux de luminosité en corrélation avec une dimension suivant l'axe d'empilement exprimée en pixels, les moyens de traitement générant un signal déterminé x(n) à partir des signaux reçus et incluant : - des moyens d'extraction pour extraire, à partir du signal déterminé x(n), un motif représentant un produit peu épais ; et - des moyens de calcul pour calculer le nombre de produits peu épais, par une intercorrélation utilisant le motif extrait, pour déterminer par histogramme le nombre de motifs présents correspondant au nombre de produits peu épais de l'empilement. Ainsi, il est avantageusement permis, après une estimation du motif représentant une carte ou autre produit peu épais, de trouver précisément le nombre de fois où le motif est présent dans le signal acquis : à chaque fois - 3 que ce motif est présent dans le signal, cela correspond à une carte. Un comptage fiable peut être assuré pour des cartes dans un empilement en tas, même en présence de certaines irrégularités d'empilement dans le tas (espacement entre deux cartes non-accolées par exemple, carte oblique dans l'empilement, etc...). Selon une autre particularité, les moyens de traitement comportent également : -des moyens de prétraitement pour réaliser une transformation de Fourier permettant de fournir à partir des signaux reçus un signal transformé révélant des harmoniques et pour déterminer ensuite les caractéristiques d'un moyen de filtrage pour filtrer le signal transformé avec conservation d'au moins 1 harmonique ; ledit signal déterminé x(n) étant un signal filtré résultant du prétraitement. Selon une autre particularité, les moyens de prétraitement comprennent des moyens de reconstitution réalisant une transformation de Fourier inverse sur un signal transformé filtré fourni par ledit moyen de filtrage, afin de délivrer un signal prétraité. Selon une autre particularité, les moyens d'extraction sont agencés pour extraire le motif représentatif d'un produit peu épais dans le signal prétraité. Selon une autre particularité, les moyens d'extraction d'un motif comprennent : - des premiers moyens de calcul pour réaliser des fonctions de corrélation ou convolution sur le signal prétraité dans un premier temps, puis un calcul de transformée de Fourier pour estimer dans un second temps, pour chacune des fréquences du domaine de Fourier, le module et l'argument de la transformée de Fourier du motif représentant la position de signal périodique correspondant à un produit peu épais ; et -des seconds moyens de calcul utilisant une transformation inverse de Fourier pour calculer ledit premier motif à partir de résultats obtenus par les premiers moyens de calcul. 2915601 -4 Selon une autre particularité, les premiers moyens de calcul élaborent une fonction d'autocorrélation c(T) du signal filtré x(n), définie (par exemple ici dans sa version non-normalisée) par la formule : N-r-1 c(r) = x(n).x(n + r) ,r = [0, Ep -1] n=0 5 où N est le nombre de pixels de l'image du signal filtré, x(n), n = [O.. N-1] est le signal débruité et Ep est l'épaisseur d'un produit peu épais exprimée en pixels. Selon une variante, les premiers moyens de calcul élaborent une fonction de convolution conv(T) du signal filtré sur lui-même, définie par la 10 formule : N-r-1 conv(r) = x(n).x(r û n) ,r = [0, Ep -1] n=0 Selon une autre particularité, les premiers moyens de calcul sont agencés pour calculer la transformée de Fourier de la fonction d'autocorrélation c(T) du signal filtré x(n), n = [O.. N-1] afin de déterminer le 15 module de la transformée de Fourier de la portion de signal périodique. Selon une autre particularité, les moyens de traitement comprennent des moyens de paramétrage en pixels de l'épaisseur des produits peu épais et les premiers moyens de calcul réalisent, pour une première moitié des fréquences de la pluralité de fréquences, afin de déterminer l'argument de la 20 transformée de Fourier de la portion de signal périodique, une estimation des valeurs des fonctions d'argument On, (f) pour f=[0,N-1 ] avec N = (Ep + 1)/2 si N est impair ou N = Ep/2 + 1 si N est pair, où 0, n( f ) est une fonction impaire et Ep-périodique, Ep étant l'épaisseur d'un produit peu épais exprimée en pixels ; 25 cette estimation étant réalisée par des moyens de n-corrélation d'ordre supérieur à 2 agencés pour : -utiliser un opérateur à 2 variables dont la définition est la suivante : b(r, , T2) _ l x(n)x(r, + n)x(r2 + n) pour r, _ [0, Ep -1] et r2 = [0, Ep -1] n où N est le nombre de pixels de l'image du signal filtré et x(n), n = [0.. N-1] est le signal filtré - calculer la transformée de Fourier de la fonction de n-corrélation b(T1, T2) dans le domaine de Fourier, via une transformation de Fourier à 2 dimensions, pour obtenir un ensemble matriciel de relations linéaires exprimant les arguments de la fonction de n-corrélation en fonction des arguments du motif dans le domaine fréquentiel de Fourier ; et - inverser le système (inversion de matrice, ou se ramener à un système triangulaire) pour remonter de l'argument de la n-corrélation à l'argument du motif dans le domaine de Fourier. On peut par exemple calculer une matrice inversible de passage de l'argument de la transformée de la fonction de n-corrélation à l'argument du motif dans le domaine de Fourier. La résolution du système peut aussi se faire en ramenant le système linéaire à un système triangulaire. La résolution se fait alors de manière itérative. Selon une autre particularité, les moyens de paramétrage en pixels de l'épaisseur comprennent des moyens d'estimation de l'épaisseur Ep à l'aide d'une première transformation de Fourier Rapide FFT, les moyens d'estimation réalisant : - un calcul de la FFT et de son module ; - une localisation du fondamental par une recherche de maximum sur le module de la FFT, tandis que dans le vecteur Module, de taille N, la 25 position du fondamental est notée Xfonda ; - un calcul de l'épaisseur Ep, prenant en compte que la position du fondamental correspond à une épaisseur Ep exprimée en pixels : Ep = N / Xfonda ; et -un arrondissement de la valeur trouvée pour Ep à la valeur entière 30 la plus proche. Selon une autre particularité, des moyens de filtrage sont prévus pour fournir aux moyens d'extraction un signal filtré et débruité, les seconds moyens de calcul permettant de déterminer un premier motif périodique représentatif d'un produit peu épais à un éventuel déphasage près. Selon une autre particularité, les moyens d'extraction exécutent au moins un algorithme de traitement du signal débruité pour déterminer le motif de signal servant pour l'intercorrélation, la forme du motif retenue pour une série de produits en cours de comptage étant estimée après une comparaison entre le premier motif périodique détecté dans le signal débruité et un motif de référence stocké dans les moyens de mémorisation. Selon une autre particularité, des moyens de paramétrage associés aux moyens de traitement sont prévus pour mémoriser le motif de référence lors d'un comptage effectué par le dispositif de comptage avec un lot étalon de produits peu épais. Le motif de référence peut également être choisi parmi une série de formes géométriques standards (créneau, créneau inversé, triangle, portion de parabole...). Selon une autre particularité, le moyen de filtrage est un filtre en peigne configuré pour éliminer par filtrage, dans les signaux reçus, du bruit et des fréquences ne correspondant pas à des harmoniques, afin d'obtenir un signal prétraité dans lequel des fréquences éloignées des harmoniques et pouvant correspondre à des intervalles ou espaces entre les produits peu épais sont éliminées. Selon une autre particularité, les moyens d'extraction du motif de signal comprennent des moyens de recalage circulaire permettant d'éviter d'obtenir un motif décalé par déphasage, les moyens de recalage circulaire reproduisant à partir du premier motif des motifs avec différents déphasages, le déphasage finalement appliqué étant déterminé par utilisation d'un motif de référence. Selon une autre particularité, les moyens de calcul du nombre de 30 produits peu épais comprennent : - des moyens de calcul d'intercorrélation entre le motif de signal extrait et le signal débruité, permettant de fournir un signal d'intercorrélation ; et des moyens de comptage des motifs dans le signal débruité, par détection des maxima locaux du signal d'intercorrélation. Selon une autre particularité, les moyens de recalage circulaire comportent : - des moyens de déterminer, à partir du premier motif, des motifs avec des déphasages différents ; - des moyens de calcul d'un produit scalaire servant à calculer pour les différents motifs des produits scalaires avec le motif de référence ; et - des moyens de comparaison permettant de déterminer un maximum parmi les produits scalaires calculés, le déphasage appliqué en définitive correspondant à celui permettant de maximiser le produit scalaire avec le motif de référence. Selon une autre particularité, les moyens de traitement génèrent un vecteur représentatif des signaux reçus et réalisent une transformation de Fourier rapide FFT sur ce vecteur, le moyen de filtrage recevant la transformée de Fourier rapide de ce vecteur et réalisant un filtrage de Fourier fréquentiel après une détermination des harmoniques. Selon une autre particularité, ledit vecteur est généré par un programme exécutant une méthode de remplissage de zéros zeropadding pour que ledit vecteur corresponde à une taille de signal accrue et regroupe un nombre NZp d'échantillons de signaux, NZp étant une puissance de 2, le programme étant doté d'une fonction de suppression des zéros ajoutés, cette fonction de suppression étant activée pour permettre d'obtenir ledit signal filtré après application de la transformée de Fourier rapide inverse IFFT. Selon une autre particularité, les moyens de calcul d'intercorrélation calculent l'intercorrélation I(n) entre le motif estimé mot(k), de taille Ep , et le signal débruité x(k) , de taille N , par utilisation de la formule suivante : l k=EP-1 Ep --..N ù EP J : I (n) = E k=O mot(k).x(n ù EP + k) où n est le nombre de pixels de l'image du signal débruité, x(k) le signal débruité et Ep est l'épaisseur d'un produit peu épais exprimée en pixels. Selon une autre particularité, un module CIS (doté d'un capteur CIS contact image sensor ), disposé longitudinalement et en vis-à-vis de l'empilement constitue les moyens d'éclairage et les moyens de détection, le module CIS étant de longueur au moins égale à celle de l'empilement, ou le module CIS effectuant des déplacements dans le sens longitudinal de l'empilement en vis-à-vis d'une zone couvrant au moins toute la longueur de l'empilement en plusieurs étapes. Selon une autre particularité, le dispositif comporte une pluralité de modules CIS, disposés longitudinalement et en vis-à-vis de l'empilement, chaque module CIS comprenant des moyens de détection et des moyens d'éclairage par un faisceau plan selon la direction déterminée, la somme des longueurs des modules CIS étant au moins égale à la longueur de l'empilement. Selon une autre particularité, les modules CIS éclairent l'empilement selon un trait d'éclairage, chaque module CIS étant incliné selon un angle déterminé de façon à ce que son faisceau plan d'éclairage rencontre ce trait. Un autre but est l'utilisation d'un système de comptage selon l'invention pour permettre des adaptations de certaines opérations de fabrication en fonction du lot et de suivre chaque lot en permanence. Ce but est atteint par l'utilisation du dispositif de comptage par lequel des informations $ont transmises, via des moyens de communication, par les moyens de traitement à un système de traitement, de type machine de personnalisation, en aval d'une chaîne de traitement, les informations transmises comprenant le nombre de produits peu épais calculé par le dispositif pour chaque série constituant l'empilement et/ou des informations permettant de déduire ce nombre et/ou un identifiant associé à chaque série. Selon une autre particularité, le système de traitement personnalise les produits des séries, des opérations de personnalisation physique ou Pour n = logicielle à appliquer à chaque élément d'une série étant associées aux informations transmises par les moyens de traitement. Un objet supplémentaire de l'invention est de permettre d'utiliser le dispositif à des fins de personnalisation de cartes à puce ou objets portables analogues. A cet effet, l'invention concerne aussi une utilisation du dispositif de comptage, caractérisée en ce qu'une station de personnalisation logique, traitant une série de produits peu épais comportant un circuit intégré, permet l'inscription, en mémoire du circuit intégré, d'informations de personnalisation pour l'utilisation à laquelle le produit est destiné. Un autre but est de fournir un procédé de traitement de signaux de détection performant et permettant par une analyse rapide du signal de compter le nombres de produits de même épaisseur dans un empilement plus ou moins compact. Ce but est atteint par un procédé de traitement d'au moins un signal provenant du ou des circuits de détection (de type optique) d'un dispositif de comptage de produits peu épais, caractérisé en ce qu'il comprend : - une étape de prétraitement dudit signal, incluant un filtrage du signal pour produire un signal filtré ; - une étape d'estimation dans le signal filtré d'un motif représentatif d'un produit peut épais ; - une étape de calcul d'informations d'intercorrélation entre le motif estimé et le signal filtré, pour détecter des motifs présents dans le signal filtré ; et - une étape de signalement, par une interface du dispositif, d'une information représentative du nombre de produits peu épais traités par le dispositif, par comptage des maxima détectés dans les informations d'intercorrélation. Ainsi, il est permis selon l'invention Selon une autre particularité, le filtrage lors de l'étape de prétraitement dudit signal est réalisé après une transformation de Fourier et par utilisation 2915601 - 10- d'un filtre en peigne. Le filtrage peut aussi être fait en implantant un filtre classique à réponse impulsionnelle finie ou infinie. Selon une autre particularité, le procédé comprend une étape de conversion du signal, avant le filtrage, en des données représentatives de 5 niveaux de luminosité en corrélation avec une dimension d'épaisseur d'empilement exprimée en pixels, l'étape d'estimation définissant un premier motif périodique représentatif d'un produit peu épais à un éventuel déphasage près, et utilisant ensuite un motif de référence pour réaliser un recalage circulaire permettant d'obtenir un deuxième motif estimé sans 10 déphasage. Selon une autre particularité, l'étape de signalement comprend un affichage d'un nombre de cartes à puce à traiter par une machine de personnalisation de cartes à puce et/ou une transmission de l'information représentative de ce nombre à la machine de personnalisation. 15 Un objectif supplémentaire de l'invention est de proposer un programme exécutable par un système informatique permettant de commander le traitement de façon adéquate pour obtenir un comptage rapide et fiable. A cet effet, l'invention concerne un programme d'ordinateur 20 directement chargeable dans la mémoire d'un ordinateur et incluant des codes informatiques pour commander les étapes du procédé lorsque ledit programme est exécuté sur un ordinateur, ledit programme permettant ainsi un comptage de séries de produits peu épais d'un empilement. L'invention, ses caractéristiques et ses avantages apparaîtront plus 25 clairement à la lecture de la description faite en référence aux figures référencées ci-dessous : La figure 1 représente un logigramme d'étapes qui résume le déroulement général d'un procédé de comptage selon l'invention. Les figures 2A et 2B représentent un exemple de graphique 30 d'amplitude d'une transformée de Fourier rapide associée aux signaux issus des éléments photosensibles, et illustrent respectivement la décomposition 2915601 -11-du signal en harmoniques et le préfiltrage de Fourier pour la recherche de motifs. Les figures 3A et 3B montrent respectivement un signal utile (débruité) et le signal correspondant incluant le bruit. 5 La figure 3C illustre une modélisation du motif à rechercher dans le signal débruité. Les figures 4A et 4B illustrent la présence possible d'un déphasage. Les figures 5A et 5B illustrent respectivement un motif de référence utilisé dans le recalage circulaire, et un exemple de déroulement d'un 10 recalage circulaire. La figure 6 représente un schéma général d'une recherche du motif optimal selon un mode de réalisation de l'invention. La figure 7A est une vue en perspective représentant un exemple de dispositif de comptage comportant un module CIS couvrant tout 15 l'empilement. La figure 78 montre une vue en perspective représentant un exemple de dispositif de comptage comportant un module CIS couvrant tout l'empilement par des déplacements longitudinaux. La figure 8 illustre l'intercorrélation entre le signal prétraité et le motif 20 estimé. La figure 9 représente un exemple de dispositif de comptage comportant un module CIS transversal effectuant un déplacement longitudinal. La figure 10 représente un exemple de dispositif de comptage 25 comportant une caméra matricielle CCD réalisant des analyses longitudinales selon plusieurs traits longitudinaux. La figure 11 représente un exemple de dispositif de comptage comportant une caméra matricielle CCD réalisant une ou plusieurs analyses longitudinales par un déplacement dans le sens longitudinal. 30 La figure 12 est une vue en perspective représentant un exemple de dispositif de comptage comportant une caméra CCD. 2915601 - 12 - La figure 13A illustre un signal obtenu avec un meilleur contraste que celui de la figure 2A. La figure 13B illustre un signal similaire obtenu avec un mauvais contraste par rapport à celui obtenu dans la figure 2A. L'invention va à présent être décrite en référence aux figures 1 à 17. 5 Les figures 7A et 7B représentent un dispositif de comptage comportant un module CIS (3). Un ou plusieurs modules (3, 3d) CIS peuvent être disposé(s) longitudinalement. Un module (3, 3d) CIS comporte des moyens d'éclairage, une cellule photosensible et un dispositif optique de focalisation intégrés. La figure 12 représente un dispositif de comptage comportant un moyen (7) 10 d'éclairage, des miroirs (9a, 9b) et une caméra (8) CCD. D'autres caméras, du même type, comportant un dispositif optique et un circuit photosensible et produisant un signal électrique en fonction de la lumière reçue sont utilisables. Le fait de focaliser les rayons lumineux réfléchis par l'empilement (5) 15 permet une récupération d'un ou plusieurs signaux via au moins un circuit de détection. Ces signaux sont extraits pour permettre un traitement, dans lequel on cherche à analyser les variations des niveaux de luminosité en corrélation avec une dimension d'épaisseur d'empilement exprimée en pixels. Le dispositif permet un comptage de séries de produits (2) peu épais, 20 empilés côte à côte, par une détermination de la répétition d'un motif représentatif d'un produit (2) dans un signal filtré et débruité résultant d'une transformation des signaux reçus. Avantageusement, une première transformation de Fourier est utilisée avant de réaliser un filtrage en peigne pour obtenir par la suite le signal débruité. Un système à base de 25 transformée de Fourier et de statistiques à un ordre supérieur à 2 est utilisé pour permettre de définir précisément un motif périodique représentatif d'un produit peu épais à un éventuel déphasage près, via un calcul de l'argument et du module du motif de signal transformé dans le domaine de Fourier. Pour une bonne présentation des produits (2) tels que des cartes à 30 puce, facilitant l'opération de comptage, le dispositif peut comprendre une barquette (4) rectangulaire contenant les produits (2) peu épais, seuls les produits (2) aux extrémités de la pile (5) étant représentés sur les figures 7 à 2915601 -13- 11. Les produits (2) peu épais peuvent être maintenus, de manière non limitative, par un film transparent rétractable ou par des cales en appui sur la barquette (4). La barquette (4) sert de manière non limitative de moyen de maintien des produits (2) peu épais. 5 Dans d'autre mode de réalisation, un magasin servant pour le traitement des produits (2) peu épais est directement utilisé. L'empilement (5) est éclairé sur toute sa longueur, par un faisceau plan de rayons lumineux (6, 6d) produits par les moyens d'éclairage d'un module (3, 3d) CIS ou par un moyen d'éclairage à diodes dont les rayons sont focalisés selon un plan par 10 un dispositif optique. Le faisceau (6, 6d) plan projeté contre l'empilement (5) produit un trait (T) lumineux. Le trait (T) est ensuite analysé par des moyens (3, 3d, 9a, 9b, 8) de détection de l'intensité lumineuse réfléchie, associés à des moyens (10) de traitement. Dans un mode de réalisation légèrement différent, les moyens d'éclairage comprennent un tube (7) fluorescent qui 15 éclaire, par des rayons (7a) multidirectionnels, toute la partie supérieure de l'empilement (5), y compris la zone du trait (T) lumineux précédemment cité, analysée par les moyens de détection associés aux moyens de traitements. Dans la présente description, l'analyse d'un trait (T) lumineux longitudinal par les moyens (3, 3d, 9a, 9b, 8) de détection associés aux moyens de 20 traitement est appelée analyse longitudinale de l'empilement (5). L'analyse selon plusieurs segments de l'empilement (5), sur toute sa longueur, par les moyens (10) de traitement associés aux moyens de détection est également comprise comme une analyse longitudinale. Les rayons (6) lumineux émis par la ou les source(s) lumineuse(s) 25 permettent une analyse longitudinale du lot de produits, c'est-à-dire parallèle au long côté de le barquette (4). Le déplacement relatif de la barquette par rapport au(x) module(s) CIS, est transversal, c'est-à-dire parallèle au petit côté de la barquette (4), et implique des analyses longitudinales sur différentes zones longitudinales. Le trait (T) lumineux longitudinal est en effet 30 déplacé à différents niveaux selon la largeur de l'empilement (5). Par exemple, 100 analyses longitudinales sont effectuées dans un mouvement (M4a, M3a) transversal de va et vient, aller et retour. Dans une variante de - 14 -réalisation, différentes analyses longitudinales sont réalisées par des déplacements transversaux non perpendiculairement à la direction longitudinale, du trait (T) sur l'empilement (5). Dans un autre mode de réalisation un tube (7) fluorescent plus puissant que des diodes, éclaire toute la partie supérieure de la pile (5). Dans ce cas, une cellule photosensible matricielle, par exemple d'une matrice CCD, peut réaliser simultanément des analyses longitudinales sur différentes zones longitudinales sans déplacement relatif de la barquette (4) par rapport aux moyens d'éclairage et de détection. Un module CIS (3, 3d) ou la caméra (8) CCD sont connectés à un circuit de traitement afin de transmettre les signaux électriques issus de la transformation de l'énergie lumineuse en énergie électrique par les cellules photosensibles. Les signaux électriques produits contiennent une information pour chaque pixel de la cellule photosensible CIS ou CCD. L'information électrique est généralement traduite en niveaux, numérisée et stockée par les moyens de mémorisation. Les phases de mémorisation et de stockage, déjà contenues dans le brevet FR 2 854 476 intitulé Dispositif de comptage de produits empilés , ne seront pas décrites ici. Chaque cellule photosensible CIS ou CCD comprend, à titre d'exemple 10. 000 éléments photosensibles, pour analyser toute la longueur de l'empilement (5) et permettre le comptage d'un lot de produits de, par exemple, au maximum 1000 produits. Chaque élément photosensible permet de détecter un signal lumineux et d'exprimer ce signal sous forme d'un signal électrique représentatif d'au moins 256 niveaux de luminosité. Ce signal pour 256 niveaux de luminosité est traduit en mots de 8 bits, chaque mot est enregistré dans la mémoire du dispositif. Ainsi pour l'exemple donné, la mémoire est constituée de 10.000 mots d'un octet. Dans une variante deréalisation, les éléments photosensibles des cellules photosensibles CIS ou CCD peuvent être sensibles à des rayons de différentes couleurs et à leur constitution par une combinaison du rouge, du vert et du bleu. Dans un autre exemple de réalisation, la cellule photosensible est une matrice comprenant par exemple 2000 éléments photosensibles, pour l'analyse de la longueur, 2915601 -15- par 2000 éléments photosensibles, pour l'analyse de la largeur. Des analyses longitudinales simultanées sont donc possibles selon plusieurs traits (T) longitudinaux de la pile (5), à des distances différentes d'un bord long de l'empilement (5). Dans ce cas l'analyse des rayons lumineux 5 réfléchis par l'empilement (5) est réalisée en deux dimensions contrairement aux autres modes de réalisation en une dimension. L'analyse réalisée en deux dimensions permet plusieurs analyses longitudinales différentes de l'empilement (5), le dispositif de comptage étant fixe, tandis que l'analyse réalisée en une dimension nécessite un déplacement, par exemple de 10 l'empilement (5), afin d'effectuer plusieurs analyses longitudinales différentes. Les informations représentatives, par exemple du niveau de luminosité, stockées en mémoire sous forme numérique sont traduites sous la forme d'un graphe, comme illustré par la courbe (Cl) de la figure 8, et 15 montrent des variations de la luminosité. Le graphe présente des pics représentant des maximums et des creux représentant des minimums du signal issu des circuits électroniques associés aux cellules photosensibles. Les moyens (10) de traitement permettent d'analyser ces variations en traitant, par exemple, l'ensemble des valeurs prises dans l'ordre selon leur 20 position. Par exemple le pixel le plus à droite est traité, puis le suivant en allant vers la gauche et ainsi de suite. Un algorithme de traitement s'appuie, par exemple, sur la comparaison d'au moins deux valeurs successives afin de déterminer le sens de variation de la courbe. Le traitement des données représentatives du niveau de luminosité, 25 stockées en mémoire, va à présent être décrit en liaison avec les figures 1 à 6et7A. Le ou les signaux s(n) collectés par une analyse longitudinale de l'empilement (5) de produits (2) peu épais sont récupérés par les moyens (10) de traitement qui déterminent alors la répétition d'un motif (M) 30 représentant un produit par utilisation d'un algorithme de traitement d'un signal débruité. Un filtrage de Fourier est réalisé au préalable pour éliminer les creux dans le signal récupéré, l'élimination du bruit pouvant être réalisée 2915601 -16- juste après pour le signal de comptage reconstitué par une transformation de Fourier inverse. Le déroulement du comptage est illustré à la figure 1. Le procédé de comptage comprend ainsi : - une étape (51) de prétraitement du signal récupéré, incluant un 5 filtrage du signal pour produire un signal filtré, le filtrage étant de préférence un filtrage réalisé sur la transformée de Fourier (rapide ou non) FFT du signal avec un filtre en peigne ; - une étape (52) d'estimation dans le signal filtré (Sf) et éventuellement débruité (Sd) d'un motif (M1, M2) représentatif d'un produit 10 (2) peut épais, l'estimation étant facilitée en utilisant le signal débruité (Sd) tel qu'illustré à la figure 3A ; une étape (53) de calcul d'informations d'intercorrélation entre le motif estimé et le signal filtré (Sf) et éventuellement débruité (Sd), pour détecter des motifs (M1, M2) présents dans le signal filtré (Sf), 15 respectivement débruité (Sd) ; et - une étape (54) de signalement, par une interface du dispositif, d'une information représentative du nombre (N) de produits (2) peu épais traités par le dispositif, par comptage des maxima détectés dans les informations d'intercorrélation. 20 Le procédé comporte au préalable une étape (50) de conversion du signal, avant le filtrage, en des données représentatives de niveaux de luminosité en corrélation avec une dimension d'épaisseur d'empilement exprimée en pixels. Dans un mode de réalisation de l'invention, l'étape (54) de signalement comprend un affichage d'un nombre de cartes à puce à 25 traiter par une machine de personnalisation de cartes à puce et/ou une transmission de l'information représentative de ce nombre à la machine de personnalisation. Les étapes (50, 51, 52, 53, 54, 55) susmentionnées peuvent être réalisées de façon automatisée sur un ordinateur relié aux moyens de 30 détection (8). Tous les traitements de signaux et les calculs peuvent être effectués par un programme chargé directement dans la mémoire de l'ordinateur et spécifiquement utilisé pour permettre le comptage du nombre 2915601 -17-(N) de produits (2) peu épais. Comme illustré aux figures 5A et 5B, la forme du motif retenue pour une série de produits (2) en cours de comptage peut être estimée après une comparaison entre le premier motif périodique (M1) détecté dans le signal débruité et un motif de référence (Mref) stocké dans 5 les moyens de mémorisation. L'étape (52) d'estimation peut permettre de définir le premier motif périodique (Ml) représentatif d'un produit (2) peu épais à un éventuel déphasage près, comme illustré aux figures 3C, 4A et 4B. De préférence, le motif de référence (Mref) est utilisé pour réaliser le recalage circulaire illustré 10 à la figure 5B, permettant d'obtenir un deuxième motif (M2) estimé sans déphasage. A titre d'exemple non limitatif, des moyens de paramétrage associés aux moyens de traitement peuvent être prévus dans le dispositif pour obtenir le motif de référence (Mref) lors d'un comptage effectué par le dispositif de comptage avec un lot étalon de produits (2) peu épais. D'autres 15 modes de configuration pour le motif de référence (Mref) peuvent naturellement être utilisés. Pour effectuer l'étape (53) de calcul des informations d'intercorrélation, les moyens (10) de traitement fournissent par exemple un signal d'intercorrélation (C2), comme illustré à la figure 8 et des moyens de 20 comptage des motifs (M2) dans le signal débruité, par détection des maxima locaux (S) du signal d'intercorrélation (C2). En référence aux figures 2A et 2B, l'étape (51) de prétraitement peut être réalisée comme suit. II faut d'abord considérer le signal de taille N acquis par la machine de 25 détection/acquisition (8): s(n) , n = 0..N-1 L'étape (51) de prétraitement peut consister à débruiter ce signal s(n) au maximum en filtrant les fréquences ne correspondant pas à des harmoniques (Filtre en peigne). Les étapes du filtrage sont par exemple les suivantes : 30 i) Méthode Zero padding (remplissage de zéros) II est procédé à un ajout de zéros à la fin du signal de comptage s(n) pour que le nombre d'échantillons NZp soit une puissance de 2 (Ceci est 2915601 -18-nécessaire pour calculer la transformée FFT). Le signal après le remplissage de zéros sZp s'écrit : SZp (n) , n = O.. NZp -1 Si n On comprend que les moyens (10) de traitement du dispositif sont dotés d'au moins un programme qui permet de mémoriser tous les résultats intermédiaires, obtenus successivement lors du traitement, par exemple à l'aide de tables de mémorisation. Les différents algorithmes de calcul sont respectivement utilisés par des modules de calcul agencés pour récupérer les informations adéquates (portions de signal en cours de traitement, résultats des opérations précédentes, etc.). Lors du filtrage fréquentiel, seulement une partie des harmoniques peut être conservée. En théorie, il est en effet tout à fait possible de compter le nombre de produits peu épais (2) dans le signal en ne conservant que le 2.5 fondamental (appelé aussi harmonique 0). Prenons le cas d'un signal avec un très bon contraste comme illustré à la figure 13A (l'harmonique 0 a un module d'une valeur d'environ 60000, très supérieure au module des autres harmoniques) Dans ce cas, 96 % de l'énergie utile est concentrée dans le premier harmonique. Un simple filtrage passe-bande, (ou même passe-bas) 30 autour du fondamental suffit à récolter l'essentiel de l'information utile. Le système de comptage de produits peu épais fonctionne très bien. - 20 - Prenons un deuxième exemple, celui d'un signal avec un mauvais contraste comme illustré à la figure 13B (l'harmonique 0 a un module d'une valeur d'environ 4000 et l'harmonique suivant un module d'environ 2000). Dans ce cas, l'énergie reste importante pour les trois premiers harmoniques. Un filtrage en peigne conservant au moins les trois premiers harmoniques est nécessaire et suffisant. Dans la plupart des cas, un filtrage en peigne qui conserve tous les harmoniques peut être effectué. Mais ces deux exemples montrent que selon les cas, il est possible d'en conserver moins. Dans tous les cas, il faut conserver au moins le fondamental pour que l'on puisse calculer le nombre de produits peu épais. Un système de comparaison entre harmoniques peut être utilisé pour limiter le filtrage à un nombre déterminé d'harmonique(s). L'étape (52) d'estimation du motif (Ml) à un éventuel déphasage près va à présent être plus particulièrement décrite en liaison avec les figures 3A, 3B et 3C. Le principe du traitement repose sur la modélisation suivante : le signal x(n) est la somme d'un bruit w(n) et d'un signal utile y(n) composé d'une répétition de motifs mot(n) représentant la tranche d'une carte. x(n) = y(n) + w(n) (R 1) Par exemple, si le motif (M1) représentant une carte est une dent de scie comme illustré à la figure 3C, les signaux y(n) et x(n) ont l'allure représentée par les tracés (Sd, Sf) respectifs des figures 3A et 3B. Le tracé de signal débruité (Sd) a un caractère géométrique aisément reconnaissable dans l'exemple de la figure 3A. Dans le cas d'un comptage de cartes à puce ou objets portables analogues, l'épaisseur de la carte exprimée en pixels peut être notée Ep. Sa valeur est fixée arbitrairement en début du traitement. L'estimation de l'épaisseur peut se faire en début de traitement à l'aide d'une première FFT : - Calcul de la FFT et de son module. 2915601 - 21 - - Localisation du fondamental par une recherche de maximum sur le module de la FFT. Dans le vecteur Module, de taille N, la position du fondamental est notée Xfonda. - La position du fondamental correspond à une épaisseur Ep 5 exprimée en pixels : Ep = N/Xfonda. On arrondit ensuite Ep à la valeur entière la plus proche. Dans l'exemple des figures 3A à 3C, le but de l'étape (52) d'estimation est d'estimer le motif périodique (Ml) qui se répète régulièrement dans le signal débruité. On comprend qu'une modélisation du signal de comptage 10 permet de faciliter la recherche d'un motif optimal dans sa représentativité d'une carte. Il faut ainsi estimer dans le signal y(n) le motif lié à l'épaisseur (e) d'une carte mot(n) pour n=[O,Ep-1]. Pour cela les moyens (10) de traitement réalisent une estimation de la transformée de Fourier (FT) du motif : 15 Mot(f) = FT[mot(n)], f = [0 , Ep-1]. (R2) Pour chaque fréquence f, le motif mot(f) dans le domaine de Fourier s'exprime par : Mot( J = Rn,(f)eie '('' La recherche de Mot(f) se déroule en deux phases : 20 - Estimation du module Rm(f) - Estimation de la phase Om (f ) Une fois que la transformée de Fourier de la portion de signal périodique Mot(f) sera estimée pour chaque fréquence f, le motif mot(n) sera aisément calculable par une transformation de Fourier inverse. 25 Les moyens (10) de traitement permettent ensuite d'estimer respectivement le module et l'argument de Mot(f). Pour l'estimation du module R,ä(f) do Mot(f), le traitement peut consister simplement à réaliser l'autocorrélation c(T) du signal observé. c(r) = l x(n)x(r + n) , r = [0, Ep -1] (R3) n 30 - 22 - La transformée de Fourier de la relation (R3) donne le module de Mot(f) : N n -21nk C(f) =1 c(r)e N n ('(f) = Mot(f ).Mot(ù f) = Rn, (f) (R4) Comme peut l'apprécier aisément l'homme du métier, le module peut aussi être trouvé avec une convolution du signal avec lui-même : conv(r) = x(n)x(r ù n) , z = [0, Ep -1] n Concernant l'estimation de l'argument (f) de Mot(f), il peut être astucieux de simplifier le problème par symétrie. En effet, le problème de l'estimation des Ep valeurs9,n(f)pour f = [O,Ep-1], peut être simplifié de moitié en utilisant les propriétés de symétrie de la transformée de Fourier FT d'une séquence réelle : 9,n( f) est une fonction impaire et Ep-périodique. Le problème simplifié est alors le suivant : Estimer 9,7( f ) pour f=[0, N-1] avec N = (Ep + 1)/2 si N est impair Ep/2 + 1 si N est pair Pour estimer les arguments 9,,,(f) du problème simplifié, nous utilisons un opérateur un peu plus complexe, appelé la bicorrélation, et bien connu en mathématiques, par exemple dans le domaine des statistiques d'ordre supérieur. Il s'agit d'un opérateur à 2 variables. Sa définition est la suivante : b(z, , z2) = E x(n)x(r, + n)x(z2 + n) pour z, = [0, Ep -1] et r2 = [0, Ep -1] (R5) Dans le domaine de Fourier (FT à 2 dimensions), la transformée de Fourier est du type 1' b(rl, z2)e ; et la relation ci-dessus devient : n=b - 23 - B(f, ,f2) = Mot( f,).Mot(f2 ).Mot(ùf, ùf2 ) (R6) Nous notons Oh(f,, f2) l'argument de B(f1,f2). 8h(f2) peut s'exprimer en fonction des 8n,(/~f) : eb(J,,f2)ùem(J,)+vm(f2)ùem(J, + f2) (R7) La relation ci-dessus correspond à une des propriétés fondamentales de la bicorrélation. Les documents suivants traitent plus particulièrement de ce genre de propriétés : -Higher-Order spectra analysis, A nonlinear signal processing framework; Chrysostomos L. Nikias / Athina P. Petropulu - Traitement du signal, "Statistiques d'ordre supérieur pour le traitement du signal ; J.L. Lacoume / P.O. Amblare / P.Comon (la relation R7 étant indiquée à page 115 de ce document). Ecrivons maintenant la relation pour fi variant de 0 à N-1 et pour f2 = 1. Il vient un système de N équations (système linéaire) : eb(0,1) = em(0) + em(1) em(l) eb(1,1) = em(1) + em(1) em(2) eb(2, 1) = em(2) + em(1) em(3) eb(N-1,1) = em(N-1) + em(1) em(N) (R8) Il faut ici noter que la dernière relation du système ci-dessus fait intervenir em(N). Pour des raisons d'imparité et de périodicité de la transformée de Fourier d'une séquence réelle, nous avons : em(N) = - em(N-1) si N est impair em(N) = - em(N-2) si N est pair Le système ci-dessus permet d'exprimer ThetaB = [eb(0,1) ... eb(N- 1,1) J en fonction de ThetaM = [êm(0) ... em(N-1) ]. Matriciellement, le système (R8) s'écrit de la manière suivante : 35 ThetaB = A. ThetaM (R9) 25 30 - 24 - La valeur de la matrice A ne dépend que de Ep. La dernière ligne de la matrice A du système varie en fonction de la parité de Ep. Voici les matrices du système pour Ep = 16 et Ep = 17 : 1 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 2 -1 0 0 0 0 0 0 0 2 -1 0 0 0 0 0 0 0 1 1 -1 0 0 0 0 0 0 1 1 -1 0 0 0 0 0 0 1 0 1 -1 0 0 0 0 0 1 0 1 -1 0 0 0 0 A(16)= 0 1 0 0 1 -1 0 0 0 A(17)= 0 1 0 0 1 -1 0 0 0 0 1 0 0 0 1 -1 0 0 0 1 0 0 0 1 -1 0 0 0 1 0 0 0 0 1 -1 0 0 1 0 0 0 0 1 -1 0 0 1 0 0 0 0 0 1 -1 0 1 0 0 0 0 0 1 -1 0 1 0 0 0 0 0 1 1 0 1 0 0 0 0 0 0 2 Ces matrices sont toujours inversibles, quelle que soit la valeur de Ep. Le système matriciel décrit ci-dessus permet bien de retrouver les valeurs de em(0) à em(N-1) par la relation suivante : ThetaM = A-1. ThetaB (RIO) La matrice A relie les arguments de la bicorrélation (corrélation à un ordre supérieur) aux arguments (em) du motif. Par une résolution du système (Calcul de A-1, ou en se ramenant à un système triangulaire équivalent), on obtient em dans l'espace de Fourier. Une fois que module et argument de Mot(f) sont calculés, le motif se déduit facilement par une transformée de Fourier inverse (IU=T). En référence aux figures 4A, 4B, 5A et 5B, les moyens (10) de traitement du dispositif de comptage permettent d'effectuer un recalage circulaire pour éliminer les éventuels déphasages. En effet, dans de nombreux cas, l'estimation du motif par les calculs décrits ci-dessus n'est pas encore satisfaisante. En considérant par exemple le signal illustré à la figure 4A, l'algorithme utilisé pour rechercher le motif va donner l'estimation du motif (M1) comme indiqué à la figure 4B. Un décalage de phase est apparent. L'estimation constitue une estimation correcte du motif (M2) à un déphasage pur près. Pour que le motif estimé soit correct, un motif de référence (mref) est utilisé. Le motif de référence (Mref) peut avoir par 2915601 - 25 - exemple l'allure indiquée à la figure 5A, en forme de U inversé (ici à trois segments). Un exemple de traitement supplémentaire appliqué au motif obtenu à la figure 4B est illustré à la figure 5B. Le recalage peut consister à faire 5 appliquer différents déphasages au motif périodique (Ml) reconstitué, jusqu'à trouver le motif (M2) ressemblant le plus au motif de référence (Mref). Parmi tous les motifs (ni) possibles, celui donnant le maximum du produit scalaire avec le motif de référence (Mref) correspond au motif d'une carte. C'est ce que montre la figure 5B, dans laquelle les produits scalaires trouvés (de haut 10 en bas) sont respectivement : Produit_ Scalaire(Motif,MotifRef) = 0,7 Produit_Scalaire(Motif,MotifRef) = 0,5 Produit Scalaire(Motif,MotifRef) = 0,3 Produit_ Scalaire(Motif,MotifRef) = 0,2 15 Produit Scalaire(Motif,MotifRef) = 0,3 Produit_ Scalaire(Motif,MotifRef) = 0,5 Produit_ Scalaire(Motif,MotifRef) = 0,7 Produit_Scalaire(Motif,MotifRef) = 0,9 Le motif (M2) obtenu après recalage correspond alors à une 20 estimation correcte du motif d'une carte ou objet portable analogue, peu épais. La figure 6 récapitule le procédé de traitement réalisé pour permettre d'estimer une trace dans le signal représentative d'un produit (2) peu épais. Le signal x(n) contient de façon répétée le motif mot(n) dont la transformée 25 de Fourier peut s'exprimer sous la forme r(n)eie( . Après calcul du module et de l'argument de Mot(f), repassage dans le domaine réel puis recalage circulaire (par détermination d'un maximum de produit scalaire avec le motif (Mref) de référence) on obtient le motif (M2) modélisé par mot(n). Une fois que le motif est estimé, le comptage se fait en calculant l'intercorrélation 1(n) entre le motif estimé mot(k) (de taille Ep) et le signal débruité x(k) (de taille N ). Cette étape, appelée aussi filtre adapté, est réalisée ainsi : 2915601 -26- k=Fp-1 Pour n = [2ù ..2V û 2p : 1(n) = E mot(k).x(n û p + k) k=0 Le comptage se fait en détectant les maxima locaux (S) ou sommets 5 du signal d'intercorrélation (C2), comme indiqué à la figure 8. Le fait d'avoir un signal prétraité x(k) permet d'établir un compte exact, sans risque d'erreur liée à un petit espacement intercalaire entre deux produits (2) consécutifs. Dans un exemple de réalisation, figure 7A, le dispositif est composé d'un module (3) CIS projetant un faisceau de rayons (6) lumineux. Les 10 rayons (6) lumineux sont projetés sur l'empilement (5) d'éléments (2) peu épais, contenus dans la barquette (4), selon une direction longitudinale, formant un trait (T) lumineux sur l'empilement (5). Dans un autre exemple de réalisation (non représenté), le dispositif peut comporter trois modules CIS combinés de façon à ce que les rayons lumineux et les modules 3a, 3b, 3c 15 couvrent toute la longueur de l'empilement (5). Les modules CIS sont par exemple placés de sorte qu'une partie des zones traitées se chevauchent. De plus les modules peuvent être inclinés de façon à ce que les zones éclairées soient alignées. Deux des modules peuvent être inclinés d'un angle aigu déterminé par rapport à la verticale et l'autre module peut être incliné 20 d'un angle aigu par rapport à la verticale. Dans ce cas, les modules sont inclinés de telle sorte que l'intersection des faisceaux lumineux plans avec l'empilement (5) ne forme qu'un trait (T) lumineux. Dans une variante de réalisation non représentée, les modules CIS ne sont pas inclinés, l'analyse longitudinale étant réalisée selon plusieurs 25 segments dont la somme des longueurs est au moins égale à celle de l'empilement (5), Une phase d'initialisation permet de déterminer les positions relatives des modules CIS. Dans un autre exemple de réalisation, figure 7B, le dispositif ne comporte qu'un seul module (3d) CIS qui se déplace relativement à 30 l'empilement (5) en plusieurs positions (PO1, PO2, PO3) selon une direction longitudinale. Ce module (3d) parcourt l'ensemble de la longueur de - 27 - l'empilement (5) après plusieurs déplacements et plusieurs arrêts à des positions (PO1, PO2, PO3) données afin de traiter, à chaque fois, une zone (ZO1, ZO2, ZO3) supplémentaire de l'empilement (5). Les différentes positions (PO1, PO2, PO3) sont choisies de sorte que chaque zone chevauche en partie la zone adjacente. Les moyens de traitement identifient les signaux correspondant au chevauchement et éliminent la partie de signal en double. Une étape d'étalonnage concernant les zones de chevauchement est également décrite dans le brevet FR 2 854 476 afin de traiter efficacement les données en double. Sur la figure 7A et dans les variantes à trois modules 3a, 3b, 3c, le déplacement relatif du ou des modules (3) CIS par rapport à la barquette (4) est réalisé, selon un mode de réalisation, par un déplacement transversal (M4a) de la barquette, par rapport à la direction longitudinale de l'éclairage, le ou les modules (3) étant fixes. Dans un autre mode de réalisation, ce même déplacement relatif est réalisé par un déplacement transversal (M3a) du ou des modules (3) CIS, la barquette (4) étant fixe. Dans l'exemple de réalisation de la figure 7B, les déplacements relatifs se font selon une direction transversale ou longitudinale. Un déplacement relatif longitudinal est effectué parallèlement à l'éclairage longitudinal afin de positionner le module (3d) CIS au-dessus des différentes zones de la barquette (4), ce déplacement (M4b, respectivement M3b) étant réalisé soit en bougeant la barquette (4), le module (3d) CIS étant fixe, soit en bougeant le module (3d) CIS, la barquette (4) étant fixe. Une fois en position (PO1, PO2, PO3), un éventuel déplacement (M3a, respectivement M4a) relatif transversal du module (3d) CIS par rapport à la barquette (4) est effectué, par exemple, perpendiculairement à l'éclairage longitudinal. Dans tous les cas, les déplacements transversaux (M3a, respectivement M4a) relatif du ou des module(s) par rapport à la barquette (4) implique plusieurs analyses longitudinales selon différentes zones longitudinales de la pile (5). Les figures 9, 10 et 12 illustrent l'utilisation d'une caméra (8), par exemple de type CCD matriciel ou linéaire. La caméra (8) CCD est associée, de manière non limitative à deux miroirs (9a, 9b) et un moyen (7) d'éclairage. - 28 - Ce type de dispositif est détaillé dans le brevet FR 2 718 550. Le capteur photo sensible est, par exemple, linéaire et permet l'analyse longitudinale selon un trait (T). Les moyens d'éclairage associés sont par exemple, un tube fluorescent ou des diodes dont les rayons d'éclairage sont focalisés ou non. Plusieurs analyses longitudinales sont, par exemple, réalisées, selon un même trait (T) avec différentes intensités d'éclairage. Dans une variante de réalisation, plusieurs analyses longitudinales sont, par exemple, réalisées, selon différents traits (T1, T2, T3), par un déplacement relatif de l'empilement (5) par rapport à la caméra (8) CCD et au dispositif d'éclairage. Le moyen (7) d'éclairage, par exemple, réalisé par des diodes dont les rayons sont, selon un exemple non limitatif, focalisés par un dispositif optique, et nécessite des déplacements relatifs transversaux, afin de réaliser plusieurs analyses longitudinales différentes. Dans le cas où le moyen d'éclairage est réalisé par un tube (7) fluorescent, toute la surface supérieure de l'empilement (5) est éclairée, mais avec des intensités différentes. La zone la plus proche du tube est éclairée selon une intensité lumineuse supérieure à celle des zones plus éloignées. Ce type d'éclairage d'intensités variables, est combiné ou non à des déplacements transversaux relatifs pour réaliser différentes analyses longitudinales selon différents traits (T1, T2, T3) longitudinaux, avec des intensités lumineuses différentes. Une variante comprend la variation de l'intensité lumineuse obtenue en commandant les moyens d'éclairage, selon une puissance variable. Dans le cas d'un déplacement relatif, soit les moyens (8, 9a, 9b) de détection sont fixas et la barquette (4) est mobile (M4a), soit la barquette (4) est fixe et les moyens (9a, 9b, 8) de détection sont mobiles au moins en partie, les miroirs (9a, 9b) et/ou la caméra (8) CCD étant mobiles. Dans un autre mode de réalisation, le capteur photosensible de la caméra (8) CCD est matriciel. Ce type de capteur photosensible permet une analyse en deux dimensions, suivant la longueur et la largeur de l'empilement (5). Dans le cas d'un capteur photosensible matriciel, les déplacements transversaux ne sont pas nécessaires pour réaliser plusieurs - 29 - analyses longitudinales. La caméra (8) CCD analyse, par exemple, toute la longueur de l'empilement (5), comme représenté à la figure 9, où l'empilement (5) est analysé sur toute sa longueur avec un déplacement (M8) longitudinal de la caméra (8) CCD. Plusieurs traits, recouvrant toute la longueur de l'empilement (5) sontanalysés, les traits étant très proche, voire collés, à une distance par exemple de 5/100 de centimètre ou plus éloignés à une distance, par exemple d'un ou de plusieurs millimètres. Les traits (T, T1, T2, T3) analysés sont aussi éclairés selon des intensités lumineuses différentes. Les éléments ou produits (2) peu épais sont empilés dans une barquette (4) et sont calés de façon à présenter la tranche de grande longueur vers le haut de la barquette (4). Les produits (2) à compter sont disposés côte à côte, de manière non limitative une face recto d'un produit contre une face verso d'un autre produit. Les figures 7 à 11 représentent une vue de produits (2) peu épais empilés côte à côte, la barquette (4) étant représentée sous l'empilement (5). Les produits (2) peu épais sont donc placés sur leur tranche, orientés transversalement dans la barquette (4), c'est-à-dire parallèlement au petits côtés de la barquette (4) rectangulaire. Dans l'exemple de carte de personnalisation, un empilement contient jusqu'à 500 cartes. Le dispositif de comptage détecte la tranche de chaque produit (2) et détermine ainsi le nombre (N) de produits. Un exemple de traitement des données est la détection de la variation de la luminosité. A la figure 8, les données traduites sous forme de graphe représentent la luminosité en fonction de la position. Dans cet exemple, un maximum sera la valeur d'un signal électrique correspondant à un signal lumineux reçu de forte intensité, par rapport aux signaux adjacents. De même un minimum sera la valeur d'un signal électrique correspondant à un signal lumineux reçu de faible intensité, par rapport aux signaux adjacents. De manière non limitative, un maximum peut être interprété, par le programme de traitement, comme le milieu d'un produit (2) à compter et un minimum est interprété comme la jonction de deux produits (2) à compter. La jonction entre deux produits (2) peu épais est en effet plus sombre et le milieu d'un élément peu épais est plus clair. - 30 - Après le traitement des données, le dispositif de comptage peut indiquer le nombre de produits (2) peu épais dans une série. Grâce à la mémorisation d'informations fournies par l'opérateur, concernant la nature des produits, le dispositif associe à chaque série la nature des produits. Ainsi dans la suite du traitement de l'empilement, un autre système de traitement en aval de la chaîne de traitement reçoit des données précisant la nature de chaque produit (2) et peut donc déterminer la personnalisation ou les vérifications à effectuer. Le système de traitement en aval communique avec les moyens de traitement du dispositif de comptage par des moyens de communication, de façon connue. Les moyens de communication comprennent, par exemple, une liaison filaire ou infrarouge ou par onde radio et des interfaces de communication adaptées au type de liaison. Selon une variante, les moyens de communication sont des mediums, tels que des disquettes ou des disques, associés à des lecteurs de ces médiums. Le type de personnalisation à opérer est aussi pris en compte. Ce traitement se fait donc de manière automatique, directement en insérant la barquette ou le magasin contenant l'empilement (5) dans le système de traitement, ou en transférant l'empilement (5) dans un autre support. Une vérification peut être effectuée en comparant le nombre (N) trouvé par le dispositif pour les produits de l'empilement (5) complet, avec un nombre de produits prévu par un dispositif de gestion de séries de produits (2). Le nombre de produits (2) de chaque série est donc déduit d'après ces résultats. L'opérateur connaît la nature de chaque petite série composant l'empilement et détermine ainsi la nature de chaque produit (2) à une position donnée. Dans le cas où les produits (2) peu épais de l'empilement ont tous le même format et sont traités par une machine de personnalisation, l'empilement entier peut être traité directement, une information supplémentaire sur la nature des séries pouvant avantageusement être fournie à la machine de personnalisation. La machine de personnalisation aura traité au total N éléments, le traitement effectué étant fonction de leur position dans l'empilement (5). 2915601 -31- Une variante de réalisation, comme représentée à la figure 11, comprend au moins un module (3t) CIS transversal réalisant un éclairage transversal, par exemple perpendiculaire à la direction longitudinale de l'empilement (5). Le module (3t) CIS transversal comprend des moyens de 5 détection et des moyens d'éclairage selon un faisceau plan transversal qui éclaire transversalement l'empilement (5). Le module (3t) CIS transversal placé en vis-à-vis de l'empilement (5) réalise l'analyse de la zone linéaire transversale éclairée. L'analyse de toute la longueur de l'empilement (5) est réalisée par un déplacement (M3t) du module transversal, selon la direction 10 longitudinale de l'empilement (5). Le déplacement (M3t) longitudinal du module (3t) CIS transversal est réalisé à une vitesse déterminée. Les cellules photosensibles du module transversal transforment l'énergie lumineuse des rayons réfléchis par l'empilement (5) et focalisés sur des cellules photosensibles des moyens de détection, en signaux électriques qui sont 15 l'image de l'intensité lumineuse. Les moyens de traitement du dispositif de comptage échantillonnent ces signaux et transforment les valeurs analogiques des signaux électriques en codes informatiques images de ces valeurs analogiques, placés dans les moyens de mémorisation. Lorsque le module CIS transversal a couvert une zone comprenant toute la longueur de 20 l'empilement (5) par ses moyens d'éclairage associés à ses moyens de détection, l'empilement (5) a été analysé sur toute sa longueur et sur une zone de largeur déterminée. L'analyse en deux dimensions permet ainsi de réaliser plusieurs analyses longitudinales sur l'empilement (5). Les analyses longitudinales sont réalisées selon des traits (Ti, T2) proches ou distants 25 (T1, T3) de plusieurs millimètres. Il doit être évident pour les personnes versées dans l'art que la présente invention permet des modes de réalisation sous de nombreuses autres formes spécifiques sans l'éloigner du domaine d'application de l'invention comme revendiqué. - 32 - ANNEXE Transformée de Fourier (FT) La transformée de Fourier du signal (réel ou complexe) s(n), n = O..N -1 est notée S(n), n = O..N -1. Elle est obtenue par la relation suivante : N-1 (n) = l s(k) exp(-27jnk / N) k=0 Cette transformation permet d'évaluer le contenu fréquentiel d'un signal. Transformée de Fourier Rapide (FFT) Un algorithme permettant de calculer plus rapidement la Transformée de Fourier d'un signal a été développé par Cooley et Tuckey en 1965. Ce traitement est plus rapide, mais ne fonctionne que si la taille du signal est une puissance de 2. Cet algorithme est appelé transformée de Fourier Rapide. Transformée de Fourier Inverse (IFT) Cette transformation permet de retrouver un signal s(n) à partir de sa transformée de Fourier S(n) . Sa formule est la suivante : N-1 s(n) _ S(k) exp(21p'nk / N) k=0 Transformée de Fourier Rapide Inverse (IFFT) De même que pour la transformée de Fourier simple, il existe un 30 algorithme rapide de calcul de la transformée de Fourier Inverse. Transformée de Fourier à deux dimensions (FT2D) Soit un signal à deux dimensions s(m, n), m = O..M -1 35 n=O..N-1, II existe une définition de la transformée de Fourier pour ce signal : M-1N-1 ) (m, n) = s(k, l) exp(ù 21j(mk + nl) k=O =o MN 40 Comme pour un signal 1-D, on peut définir des transformées Rapide et Inverse associées à cette transformation. REVENDICATIONS 1. Dispositif de comptage de séries de produits (2) peu épais, empilés côte à côte, selon une direction déterminée dans un moyen de maintien (4), les produits (2) peu épais empilés étant tous d'épaisseur (e) identique et constituant un empilement (5), le dispositif comprenant au moins : - un moyen (7) d'éclairage de l'empilement (5) produisant un ou plusieurs faisceaux lumineux (6, 7a) couvrant au moins toute la longueur de l'empilement (5), - un moyen (8, 9a, 9b) de détection comportant au moins un circuit de détection, comprenant une pluralité d'éléments photosensibles, et au moins un dispositif optique, associé au circuit de détection, permettant de focaliser des rayons lumineux réfléchis par l'empilement (5), - des moyens de mémorisation, caractérisé en ce qu'il comprend des moyens (10) de traitement recevant des signaux provenant du ou des circuits de détection, aptes à extraire de ces signaux des niveaux de luminosité en corrélation avec une dimension suivant l'axe d'empilement exprimée en pixels, les moyens (10) de traitement générant un signal déterminé x(n) à partir des signaux reçus et incluant : - des moyens d'extraction pour extraire, à partir du signal déterminé x(n), un motif (M2) représentant un produit (2) peu épais ; et - des moyens de calcul pour calculer le nombre de produits peu épais, par une infercorrélation utilisant le motif extrait, pour déterminer par histogramme le nombre de motifs présents correspondant au nombre (N) de produits (2) peu épais de l'empilement (5). 2. Dispositif selon la revendication 1, dans lequel les moyens (10) de traitement comportent également : - des moyens de prétraitement pour réaliser une transformation de Fourier permettant de fournir à partir des signaux reçus un signal transformé révélant des harmoniques et pour déterminer ensuite les caractéristiques- 34 - d'un moyen de filtrage pour filtrer le signal transformé avec conservation d'au moins 1 harmonique ; ledit signal déterminé x(n) étant un signal filtré résultant du prétraitement. 3. Dispositif selon la revendication 2, dans lequel les moyens de prétraitement comprennent des moyens de reconstitution réalisant une transformation de Fourier inverse sur un signal transformé filtré fourni par ledit moyen de filtrage, afin de délivrer un signal prétraité. 4. Dispositif selon la revendication 3, dans lequel les moyens d'extraction sont agencés pour extraire le motif représentatif d'un produit (2) peu épais dans le signal prétraité. 5. Dispositif selon la revendication 3 ou 4, dans lequel les moyens d'extraction d'un motif comprennent : - des premiers moyens de calcul pour réaliser des fonctions de corrélation ou convolution sur le signal prétraité dans un premier temps, puis un calcul de transformée de Fourier pour estimer dans un second temps, pour chacune des fréquences du domaine de Fourier, le module et l'argument de la transformée de Fourier du motif représentant la position de signal périodique correspondant à un produit (2) peu épais ; et - des seconds moyens de calcul utilisant une transformation inverse de Fourier pour calculer ledit premier motif (MI) à partir de résultats obtenus par les premiers moyens de calcul. 6. Dispositif selon la revendication 5, dans lequel, les premiers moyens de calcul élaborent une fonction d'autocorrélation c(T) du signal filtré x(n), définie par la formule : c(r) = E x(n)x(z + n) ,r = [0, Ep -1] n où N est le nombre de pixels de l'image du signal filtré, x(n), n = [0 ... N-1] est le signal filtré et Ep est l'épaisseur d'un produit (2) peu épais exprimée en pixels.25- 35 - 7. Dispositif selon la revendication 5, dans lequel les premiers moyens de calcul élaborent une fonction de convolution conv(r) du signal filtré x(n) sur lui-même, définie par la formule : conv(r) = E x(n)x(r ù n) ,r = [0, Ep -1] n où n est le nombre de pixels de l'image du signal filtré, x(n) est le signal filtré et Ep est l'épaisseur d'un produit (2) peu épais exprimée en pixels. 8. Dispositif selon une des revendications 5 à 7, dans lequel les premiers moyens de calcul sont agencés pour calculer la transformée de Fourier de la fonction d'autocorrélation c(r) du signal filtré x(n), afin de déterminer le module de la transformée de Fourier de la portion de signal périodique. 9. Dispositif selon une des revendications 5 à 7, dans lequel les moyens (10) de traitement comprennent des moyens de paramétrage en pixels de l'épaisseur Ep des produits (2) peu épais et les premiers moyens de calcul réalisent, pour une première moitié des fréquences de la pluralité de fréquences, afin de déterminer l'argument de la transformée de Fourier de la portion de signal périodique, une estimation des valeurs des fonctions d'argument 8,,,(f)pour f=[0,N-1] avec N = (Ep + 1)/2 si N est impair ou N = Ep/2 + 1 si N est pair, où (f) est une fonction impaire et Ep-périodique, Ep étant l'épaisseur d'un produit (2) peu épais exprimée en pixels ; cette estimation étant réalisée par des moyens de n-corrélation d'ordre supérieur à 2 agencés pour : utiliser un opérateur à 2 variables dont la définition est la suivante : 25 b(r,,r2)=Ex(n)x(r, +n)x(r, +n) pour r, =[0,Epù1]et r2 =[0,Epù1] n où n est le nombre de pixels de l'image du signal filtré et x(n) est le signal filtré ; 2915601 - 36 - - calculer la transformée de Fourier de la fonction de n-corrélation b(T1, T2) dans le domaine de Fourier, via une transformation de Fourier à 2 dimensions, pour obtenir un ensemble matriciel de relations linéaires exprimant les arguments de la fonction de n-corrélation en fonction des 5 arguments du motif dans le domaine fréquentiel de Fourier ; et - inverser le système pour remonter de l'argument de la n-corrélation à l'argument du motif dans le domaine de Fourier. 10. Dispositif selon la revendication 9, dans lequel les moyens de paramétrage en pixels de l'épaisseur comprennent des moyens d'estimation 10 de l'épaisseur Ep à l'aide d'une première transformation de Fourier Rapide FFT, les moyens d'estimation réalisant : - un calcul de la transformée FFT et de son module ; - une localisation du fondamental par une recherche de maximum sur le module de la transformée FFT, tandis que dans le vecteur Module, de 15 taille N, la position du fondamental est notée Xfonda ; - un calcul de l'épaisseur Ep, prenant en compte que la position du fondamental correspond à une épaisseur Ep exprimée en pixels : Ep = N / Xfonda ; et - un arrondissement de la valeur trouvée pour Ep à la valeur entière 20 la plus proche. 11. Dispositif selon une des revendications 5 à 10, dans lequel des moyens de filtrage sont prévus pour fournir aux moyens d'extraction un signal filtré et débruité, les seconds moyens de calcul permettant de déterminer un premier motif périodique (M1) représentatif d'un produit (2) peu épais à un éventuel déphasage près. 12. Dispositif selon la revendication 11, dans lequel les moyens d'extraction exécutent au moins un algorithme de traitement du signal débruité pour déterminer le motif de signal servant pour l'intercorrélation, la forme du motif retenue pour une série de produits (2) en cours de comptage étant estimée après une comparaison entre le premier motif périodique (M1) 2915601 -37- déterminé dans le signal débruité et un motif de référence (Mref) stocké dans les moyens de mémorisation. 13. Dispositif selon la revendication 12, dans lequel des moyens de paramétrage associés aux moyens (10) de traitement sont prévus pour 5 mémoriser le motif de référence (Mref) lors d'un comptage effectué par le dispositif de comptage avec un lot étalon de produits (2) peu épais. 14. Dispositif selon une des revendications 1 à 13, dans lequel le moyen de filtrage est un filtre en peigne configuré pour éliminer par filtrage, dans les signaux reçus, du bruit et des fréquences ne correspondant pas à 10 des harmoniques, afin d'obtenir un signal prétraité dans lequel des fréquences éloignées des harmoniques et pouvant correspondre à des intervalles ou espaces entre les produits (2) peu épais sont éliminées. 15. Dispositif selon une des revendications 5 à 14, dans lequel les moyens d'extraction du motif (M2) de signal comprennent des moyens de 15 recalage circulaire permettant d'éviter d'obtenir un motif décalé par déphasage, les moyens de recalage circulaire reproduisant à partir du premier motif (M1) des motifs avec différents déphasages, le déphasage finalement appliqué étant déterminé par utilisation d'un motif de référence (Mref). 20 16. Dispositif selon une des revendications 5 à 13 ou 15, dans lequel les moyens de calcul du nombre de produits (2) peu épais comprennent : - des moyens de calcul d'intercorrélation entre le motif (M2) de signal extrait et le signal débruité, permettant de fournir un signal d'intercorrélation (C2) ; et 25 - des moyens de comptage des motifs dans le signal débruité, par détection de maxima locaux du signal d'intercorrélation (C2). 17. Dispositif selon la revendication 15 ou 16, dans lequel les moyens de recalage circulaire comportent : - des moyens de déterminer, à partir du premier motif (M1), des 30 motifs (m) avec des déphasages différents ;- 38 - - des moyens de calcul d'un produit scalaire servant à calculer pour les différents motifs (m) des produits scalaires avec le motif de référence (Mref) ; et - des moyens de comparaison permettant de déterminer un maximum parmi les produits scalaires calculés, le déphasage appliqué en définitive correspondant à celui permettant de maximiser le produit scalaire avec le motif de référence (Mref). 18. Dispositif selon une des revendications 1 à 17, dans lequel les moyens (10) de traitement génèrent un vecteur représentatif des signaux reçus et réalisent une transformation de Fourier rapide FFT sur ce vecteur, le moyen de filtrage recevant la transformée de Fourier rapide de ce vecteur et réalisant un filtrage de Fourier fréquentiel après une détermination des harmoniques. 19. Dispositif selon la revendication 18, dans lequel ledit vecteur est généré par un programme exécutant une méthode de remplissage de zéros zero-padding pour que ledit vecteur corresponde à une taille de signal accrue et regroupe un nombre NZp d'échantillons de signaux, NZp étant une puissance de 2, le programme étant doté d'une fonction de suppression des zéros ajoutés, cette fonction de suppression étant activée pour permettre d'obtenir ledit signal filtré après application de la transformée de Fourier rapide inverse IFFT. 20. Dispositif selon la revendication 16, dans lequel les moyens de calcul d'intercorrélation calculent l'intercorrélation I(n) entre le motif estimé mot(k), de taille Ep , et le signal débruité x(k) , de taille N , par utilisation de 25 la formule suivante : E pl k=Ep-' E Pour n= p N J : I(n) _ mot(k).x(n ù P + k) k=0 2 où N est le nombre de pixels de l'image du signal débruité, x(k) est le signal débruité et Ep est l'épaisseur d'un produit (2) peu épais exprimée en pixels.- 39 -..CLMF: 21. Dispositif selon une des revendications 1 à 20, dans lequel un module (3, 3d) CIS, disposé longitudinalement et en vis-à-vis de l'empilement (5) constitue les moyens d'éclairage et les moyens de détection, le module (3, 3d) CIS étant de longueur au moins égale à celle de l'empilement (5), ou le module (3, 3d) CIS effectuant des déplacements dans le sens longitudinal de l'empilement (5) en vis-à-vis d'une zone couvrant au moins toute la longueur de l'empilement en plusieurs étapes (PO1, PO2, PO3). 22. Dispositif selon une des revendications 1 à 20, comportant une pluralité de modules CIS, disposés longitudinalement et en vis-à-vis de l'empilement (5), chaque module CIS comprenant des moyens de détection et des moyens d'éclairage par un faisceau plan selon la direction déterminée, la somme des longueurs des modules CIS étant au moins égale à la longueur de l'empilement (5). 23. Dispositif selon la revendication 22, dans lequel les modules CIS éclairent l'empilement (5) selon un trait (T) d'éclairage, chaque module CIS étant incliné selon un angle déterminé de façon à ce que son faisceau plan d'éclairage rencontre ce trait (T). 24. Utilisation du dispositif selon une des revendications 1 à 23, caractérisée en ce que des informations sont transmises, via des moyens de communication, par les moyens (10) de traitement à un système de traitement, de type machine de personnalisation, en aval d'une chaîne de traitement, les informations transmises comprenant le nombre (N) de produits (2) peu épais calculé par le dispositif pour chaque série constituant l'empilement (5) et/ou des informations permettant de déduire ce nombre (N) et/ou un identifiant associée à chaque série. 25. Utilisation selon la revendication 24, dans laquelle le système de traitement personnalise les produits (2) des séries, des opérations de personnalisation physique ou logicielle à appliquer à chaque élément d'une série étant associées aux informations transmises par les moyens de traitement.- 40 - 26. Utilisation du dispositif de comptage selon une des revendications 1 à 23, caractérisée en ce qu'une station de personnalisation logique, traitant une série de produits (2) peu épais comportant un circuit intégré, permet l'inscription, en mémoire du circuit intégré, d'informations de personnalisation pour l'utilisation à laquelle le produit est destiné. 27. Procédé de traitement d'au moins un signal provenant du ou des circuits de détection d'un dispositif selon le préambule de la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comprend : - une étape (51) de prétraitement dudit signal, incluant un filtrage du signal pour produire un signal filtré ; - une étape (52) d'estimation dans le signal filtré d'un motif représentatif d'un produit (2) peu épais ; - une étape (53) de calcul d'informations d'intercorrélation entre le motif estimé et le signal filtré, pour détecter des motifs présents dans le signal filtré ; et - une étape (54) de signalement, par une interface du dispositif, d'une information représentative du nombre (N) de produits (2) peu épais traités par le dispositif, par comptage de maxima détectés dans les informations d'intercorrélation. 28. Procédé selon la revendication 27, dans lequel le filtrage lors de l'étape (51) de prétraitement dudit signal est réalisé après une transformation de Fourier et par utilisation d'un filtre en peigne. 29. Procédé selon la revendication 27 ou 28, comprenant une étape (50) de conversion du signal, avant le filtrage, en des données représentatives de niveaux de luminosité en corrélation avec une dimension d'épaisseur d'empilement exprimée en pixels, l'étape (52) d'estimation définissant un premier motif périodique représentatif d'un produit (2) peu épais à un éventuel déphasage près, et utilisant ensuite un motif de référence (Mref) pour réaliser un recalage circulaire permettant d'obtenir un deuxième motif estimé sans déphasage. 2915601 - 41 - 30. Procédé selon une des revendications 26 à 29, dans lequel l'étape (54) de signalement comprend un affichage d'un nombre de cartes à puce à traiter par une machine de personnalisation de cartes à puce et/ou une transmission de l'information représentative de ce nombre à la machine de 5 personnalisation. 31. Programme d'ordinateur directement chargeable dans la mémoire d'un ordinateur et incluant des codes informatiques pour commander les étapes de la revendication 27, 28 ou 29 lorsque ledit programme est exécuté sur un ordinateur, ledit programme permettant ainsi un comptage de séries 10 de produits (2) peu épais d'un empilement (5).