Brevet FR2903542A1 — publié le 20080111

E-Q/FR08 - 1 - Procédé et appareillage pour communiquer à distance en utilisant l'interprétation de signaux de thermoluminescence ou de photoluminescence. DESCRIPTION Domaine technique : Certains cristaux deviennent excitées lorsqu'ils sont illuminés par un rayonnement de particules, de gamma, de rayons X, de lumière blanche ou ultraviolette. Ces cristaux peuvent être naturels ou synthétiques. Leur désexcitation peut se produire immédiatement dans le cas de la photoluminescence ou être retardée dans le cas de la thermoluminescence. En photoluminescence [1] l'énergie des photons de lumière blanche ou ultraviolette est transférée aux électrons de valence des molécules qui sont capturés par les impuretés ou dislocations du réseau cristallin. La désexcitation due au retour des électrons sur leur orbite de valence se produit à la température ambiante avec émission de rayonnement visible. La durée de vie de l'état excité varie avec le type de molécule, le type d'impuretés, ou de dislocation, le type d'élément dopant, et la tempéra- ture. Les cristaux les plus courants contiennent, par exemple, des molécules de sulfure de zinc ou d'aluminate de strontium. Ils sont, par exemple, dopés avec des traces de métaux tels que le calcium, le bismuth, le cuivre, le manganèse, l'europium ou le dysprosium pour obtenir différentes couleurs de luminescence. La concentration en atomes dopants varie, par exemple de 10 à 1000 parties par million. Ces cris- taux sont utilisés et commercialisés en particulier dans les signaux lumineux luminescents. La photoluminescence ainsi obtenue se différencie de la phosphorescence obtenue, par exemple en dopant des cristaux de sulfure de zinc avec des traces d'un produit radioactif tel que l'uranium. Dans ce cas, la luminescence se produit sans excitation préalable par un rayonnement ultraviolet ou visible. La thermoluminescence [2, 3, 4, 5, 6] est un phénomène physique qui se traduit par la propriété qu'ont certains cristaux d'émettre de la lumière quand on les chauffe. Cette luminescence ne se produit que si le chauffage a été précédé d'une irradiation due à des rayonnements ionisants, par exemple à l'exposition à la radioactivité naturelle pendant des milliers d'années ou à l'exposition à un rayonnement artificiel gamma, X, alpha, béta, neutron, ultraviolet ou visible, pendant quelques minutes ou 2903542 E-QIF R08 - 2 - quelques heures. La thermoluminescence est utilisée pour la datation en géologie, en archéologie et également pour déterminer les doses de rayonnement ionisant subies en un lieu donné. Ces doses peuvent être mesurées dans un laboratoire ou sur un individu 5 pour assurer la sécurité dans l'emploi des rayonnements ionisants. La technique est nommée dosimétrie par thermoluminescence . Certains cristaux comme le fluorure de lithium (LiF), le fluorure de calcium (CaF2), le borate de lithium (Li2B4O7), le sulfate de calcium (CaSO4), et l'oxyde d'aluminium (AI2O3), activées par des traces de métaux de transition, de terres rares ou de carbone, ont la propriété d'être excités 10 sous l'influence de rayonnements ionisants. Ils deviennent luminescents par chauffage et la dose de rayonnement ionisant peut être calculée. La montée en température par chauffage peut être remplacée par une exposition aux rayons d'un laser, par exemple infrarouge. La luminescence à température ambiante n'est pas strictement nulle et l'excitation 15 disparaît lentement sous forme d'un fading , qui est la décroissance du signal obtenu dans le temps. De même un fading inverse se produit pour les échantillons stockés pendant longtemps car ils sont légèrement irradiés par les rayons cosmiques et le rayonnement nucléaire ambiant. On a donc dans ce cas une augmentation de l'excitation. La chute d'intensité due au fading est par exemple de l'ordre de 3% en 3 20 mois pour un cristal d'oxyde d'aluminium dopé au carbone et à la température ambiante. La demi-vie d'un tel échantillon initialement irradié est donc d'environ 5 ans, c'est-à-dire que l'intensité de sa luminescence décroît de moitié en 5 ans. Les phénomènes de thermoluminescence s'expliquent par la structure imparfaite des cristaux qui contiennent toujours en nombre élevé des défauts tels que des défauts 25 de construction, ou des lacunes, ou des dislocations, ou de la présence d'atomes étrangers à la composition chimique de base (impuretés), et des atomes de dopage. II est généralement admis que les électrons de valence du cristal au cours de l'irradiation sont éjectés dans la bande de conduction et sont ensuite capturés dans les pièges causés par les lacunes, les dislocations, les atomes étrangers à la composi- 30 tion chimique de base (impuretés) et les atomes de dopage. Plusieurs pics de luminescence sont généralement obtenus avec les matériaux utilisés en dosimétrie. Ils proviennent du type de piéges. Dans les minéraux les piéges sont généralement profonds et dans les matériaux de dosimétrie les piéges sont généralement moins profonds. Plus d'énergie calorifique ou optique est donc néces- 2903542 E-QIFR08 - 3 - saire pour énergétiser les électrons des piéges profonds, car la profondeur d'un piège indique son niveau énergétique. En photoluminescence, les piéges sont très peu profonds et se vident à la température ambiante sous l'action des vibrations de réseau. Ceci explique les variations de luminescence avec la température. 5 Technique antérieure : La demande internationale N WO 2005/117306 [7] décrit un procédé pour communiquer à distance en utilisant un produit consistant en des échantillons contenant au moins une sorte de matériaux photoluminescents ou thermoluminescents caractérisé 10 en ce que des groupes de deux ou plusieurs électrons intriqués présents dans des groupes de deux ou plusieurs pièges desdits matériaux photoluminescents ou thermoluminescents, sont intriqués entre eux et sont répartis dans tout ou partie desdits échantillons, appelés par la suite par convention échantillons intriqués . Ces échantillons intriqués forment un produit. Ils peuvent être séparés dans l'espace 15 et présentent des liaisons quantiques entre certains des électrons piégés dans les pièges des matériaux photoluminescents ou thermoluminescents. Le produit est alors utilisé pour communiquer ou commander par une variation de luminescence à distance en utilisant l'intrication de particules et la photoluminescence ou la thermoluminescence. 20 On sépare tout d'abord dans l'espace tout ou partie des échantillons intriqués du produit contenant des électrons intriqués dans des pièges des matériaux photoluminescents ou thermoluminescents, certains des électrons piégés étant répartis sur certain de ces échantillons, et présentant des liaisons quantiques. On exploite alors des liaisons quantiques entre lesdits électrons piégés de ces 25 échantillons intriqués , indépendamment des distances, des milieux les séparant et des milieux dans lesquels ils sont placés. On provoque au moins une désexcitation, appelée dans la suite stimulation , modulée en amplitude et / ou en fréquence sur au moins un desdits échantillons intriqués , qualifié d'échantillon maître , par exemple soit par chauffage dans sa totalité, soit par chauffage en au 30 moins un point de sa surface, soit par stimulation optique utilisant au moins un flash de lumière infrarouge, visible, ou ultraviolette sur sa totalité, soit par stimulation optique utilisant au moins un flash de lumière infrarouge, visible ou ultraviolette en au moins un point de sa surface, soit par une combinaison de ces procédés, ladite stimulation modulée caractérisant une information ou une commande à transmettre. 2903542 E-Q/FR08 - 4 - On détermine, soit au moins une détection d'information, soit au moins une détection de commande, au moyen d'au moins une mesure faite avec un détecteur de luminescence, par exemple un photomultiplicateur ou une photodiode, d'au moins une variation de luminescence sur au moins une sorte de matériaux photoluminescents 5 ou thermoluminescents contenu dans au moins un des autres échantillons intriqués , qualifié d'échantillon esclave , lorsque ladite variation de luminescence mesurée est partiellement corrélée avec la stimulation modulée appliquée au susdit échantillon maître . La demande internationale N WO 2005/117306 [7] décrit également des procédés 10 de fabrication du produit composé d'échantillons intriqués . D'autres techniques pour l'obtention de produits constitués d'échantillons intriqués améliorés sont également décrites dans la demande de brevet français FR 06/00967 [8]. Ces pro-duits sont utilisables pour mettre en oeuvre des transmissions quantiques selon le procédé objet de la présente invention tel qu'il est décrit ci-dessous. 15 Exposé de l'Invention : La présente invention concerne un procédé et sa mise en oeuvre pour communiquer ou commander à distance en utilisant la photoluminescence ou la thermoluminescence. Ce procédé constitue, selon les modes de l'invention, un complément des 20 techniques antérieures de la demande internationale N WO 2005/117306 [7] ou de la demande de brevet français FR 06/00967 [8]. Dans la théorie de la Mécanique Quantique, les particules intriquées bien qu'étant 25 dans des espaces physiques séparés, sont dans le même espace quantique (espace de Hilbert) et ces particules intriquées ont la même fonction d'onde [9, 10, 11, 12, 13, 14]. Une représentation théorique de la propriété peut être faite. Si le vecteur d'état de l'électron intriqué dans son piège dans l'échantillon A est 11>A et le vecteur d'état de l'électron intriqué correspondant dans son piège dans 30 l'échantillon B est 10>B, l'intrication de ces deux états est représentée par le vecteur de la fonction d'onde commune qui est de la forme : I P>AB = 1/-V2 (11 >A (x) 10>B ù 10>A (x) 11 >B ) (x) signifiant un produit vectoriel. Cette équation indique que les états dans les deux échantillons ne sont pas définis et 2903542 E-QIFR08 - 5 -présentent une liaison quantique. La définition de l'un des états dans l'échantillon A, par exemple par chauffage ou par une exposition à un rayonnement ad hoc, provo-que immédiatement l'effondrement de la fonction d'onde et la définition de l'état dans l'échantillon B. Les électrons piégés des échantillons A et B soit retomberaient en- 5 sembles dans leur bande de valence, soit reprendraient une probabilité de fading normale d'émission en émettant chacun un photon lumineux. Ceci expliquerait le vidage des pièges de l'échantillon esclave distant lors du chauffage ou de l'application d'un rayonnement ad hoc sur tout ou partie de l'échantillon maître dont les pièges contiennent des électrons intriqués. 10 Dans cette invention, la nature de la liaison quantique n'est pas expliquée : il est également possible que des modèles de forces ou de variables cachées, puissent expliquer cette liaison entre électrons dans des pièges des échantillons intriqués : Dans cette explication, la probabilité de vidage des pièges serait réduite tant que persiste la liaison. La rupture de la liaison quantique entre deux ou plusieurs élec-15 trons piégés qui se produirait peut-être par résonance lors du chauffage ou lors de l'application d'un rayonnement ad hoc sur tout ou partie de l'échantillon maître , se manifesterait par un rétablissement de la probabilité de fading des électrons piégés dans le ou les échantillons esclaves . Le ou les échantillons intriqués esclave présenteraient alors une augmentation transitoire de leur fading, certains 20 des pièges vidés pouvant être peu profonds et générer des photons avec une grande probabilité immédiatement après la rupture de la liaison, appelée par convention liaison quantique . Dans cette invention, il est fait usage de mesures de luminescence de matériaux photoluminescents ou thermoluminescents ou encore d'une combinaison des deux, 25 lorsque la variation de luminescence est causée, directement ou indirectement, par une stimulation à distance au moyen de la désexcitation d'électrons piégés et intriqués, en particulier lorsque les pièges désexcités dépendent de un ou plusieurs paramètres de la stimulation. Dans le cas des matériaux thermoluminescents, il est connu que le vidage complet 30 de tous les pièges de tels matériaux doit être fait en utilisant une technique particulière pour chaque sorte de matériaux, consistant à maintenir ce ou ces matériaux à différentes températures pendant des périodes de quelques minutes à plusieurs heures [Référence 5, page 215]. La présente invention exploite l'application aux relations entre pièges intriqués, de cette propriété de réponse à une stimulation. Cette inven- 2903542 E-Q/FR08 - 6 - tion consiste donc à améliorer le procédé et l'appareillage décrit dans la demande internationale n WO 2005/117306 [7] pour tenir compte de phénomènes complémentaires concernant le vidage des pièges intriqués. Dans un mode simple du procédé, objet de la présente invention, lors de la montée 5 en température, des pics de luminescence, bien connus de l'homme de l'art, sont obtenus sur l'échantillon maître comme le montre la figure 1. Sur cette figure, un échantillon de fluorure de lithium dopé et excité produit un pic de luminescence à 155 C et un autre pic, plus important, à 230 C. La figure 2 illustre schématiquement la thermoluminescence d'un échantillon de fluorure de lithium dopé, en fonction de la 10 température appliquée et des longueurs d'ondes mesurées qui sont comprises entre 300 et 700 nanomètres. Quelques pièges peu profonds apparaissent à 100 C ainsi que les pièges rencontrés à 155 C et à 230 C sur la figure 1 qui ont un maximum d'intensité vers 400 nm. Dans le mode simple du procédé, lors de la montée en température de l'échantillon 15 maître , des pics de luminescence sont mesurés sur le ou les échantillons esclave intriqués avec l'échantillon maître comme le montre la figure 3. L'amplitude de ces pics dépend du mode d'irradiation des échantillons intriqués et de la vitesse de montée en température. Des pics de luminescence sont égale-ment mesurés sur l'échantillon esclave , lors de la descente en température de 20 l'échantillon maître , comme illustré sur la figure 3, les deux échantillons ayant été préalablement irradiés à 2 Gray. Sur cette figure, la courbe (1) est enregistrée à la montée en température et la courbe (2) est enregistrée à la descente en température. Pour plus de clarté, la courbe (2) a été décalée de 20 coups par seconde vers le haut. Une corrélation est obtenue pour les mêmes températures. On notera que 25 sur cette figure, l'amplitude de 1500 coups par seconde correspond au fading de l'échantillon esclave . Une explication possible de cette corrélation est que les piéges contenant des électrons intriqués se vident plus lentement et peut-être uniquement à la température des pics. Si les excursions de température à la montée et à la descente sont suffisamment rapides, les mêmes échantillons peuvent être utilisés plusieurs fois car les pièges contenant des électrons intriqués ne sont vidés que partiellement à chaque excursion de température. Pour un tel comportement, un phénomène de résonance semble se produire puisque le vidage des pièges semble cesser lorsque la température des pics de luminescence est dépassée. Dans ce mode particulier du procédé, 2903542 E-Q/FR08 - 7 - on calcule un coefficient de corrélation entre les mesures des pics lors de la montée en température et les mesures des pics lors de la descente en température. Chaque pic de luminescence des échantillons esclaves peut être exploité séparément en limitant la montée en température comme le montre les figures 4 et 5. Sur 5 la figure 4, la montée en température est arrêtée à 175 C pour exploiter le premier pic de luminescence. La courbe (3) représente l'intensité de la luminescence durant la montée en température et la courbe (4) représente l'intensité de la luminescence durant la descente en température. Lorsque celui-ci est vide, une montée en température comme indiquée sur la figure 5 permet d'exploiter le second pic de lumines- 10 cence. De même, la courbe (5) représente l'intensité de la luminescence durant la montée en température et la courbe (6) représente l'intensité de la luminescence durant la descente en température. .Dans un mode particulier de l'invention non exclusif du précédant, une partie du vidage des piéges de l'échantillon esclave se manifeste par des creux de lumines- 15 cence au lieu de pics de luminescence. Plusieurs explications sont possibles : cette diminution peut résulter d'une conversion interne de l'énergie de la luminescence qui réduit le fading. II est également possible que lors du vidage des pièges de l'échantillon maître , un échantillon intriqué esclave composé d'au moins un matériau thermoluminescent présentant une photoluminescence résiduelle, présente 20 une diminution transitoire de son fading apparent de part l'action des photons libérés des pièges esclave précédemment intriqués. Ces photons de fréquence ad hoc annuleraient tout ou partie de la photoluminescence résiduelle de l'échantillon esclave selon le procédé qui avait été mis en évidence dans demande internationale N WO 2005/117306 [7]. La figure 6 montre un exemple typique dans lequel on 25 exploite le phénomène précédent : la courbe (7) de montée en température comporte des creux de diminution de la luminescence, alors que la courbe (8) de descente en température comporte des pics de luminescence aux même températures. Dans ce mode particulier du procédé, on calcule un coefficient d'anti-corrélation entre les me-sures de creux lors de la montée en température et les mesures de pics lors de la 30 descente en température. La figure 7 représente le principe d'une mise en oeuvre typique pour mesurer la réponse de l'échantillon esclave lors de la montée puis de la descente en température de l'échantillon maître telle que illustrée sur la figure 3. A gauche de la figure 7, l'échantillon maître (9) est placé dans le four (10). La température du 2903542 E-QIFR08 - 8 - four est mesurée par le thermomètre numérique (13). La température maximale de coupure est contrôlée par le thermostat (Il), lequel ne se ré-enclenche pas à la descente en température. Le four est alimenté en énergie en (12). Derrière une paroi métallique (14) et à une distance quelconque, la chambre obscure (15) contient 5 l'échantillon esclave (16) qui est placé en face du photomultiplicateur (17). Le photomultiplicateur est connecté par un circuit de comptage à l'ordinateur (18) pour l'enregistrement des données. L'homme de l'art peut aisément mettre en oeuvre des profils de variations de température plus complexes, appelée par la suite profils caractéristiques , sans sortir du cadre de cette invention. Un exemple de tels profils 10 caractéristiques est constitué par des excursions ad hoc de température pour le vidage de pièges pic par pic dont la mesure de luminescence est représentée sur les figure 4 et 5. La figure 8 montre un enregistrement typique de la luminescence de l'échantillon esclave en fonction du temps, lors d'une montée de température suivie d'une 15 descente de température qui correspond au premier mode simple du procédé décrit ci-dessus. Cette enregistrement a subi un traitement dépendant de l'optimisation du procédé de mesure, pour éliminer les variations statistiques dues à l'appareil de me-sure, telles que le bruit. Un exemple d'un tel traitement est constitué par l'utilisation d'une moyenne glissante. Cet enregistrement temporel a été corrigé à l'aide du profil 20 caractéristique de variation de la température et les résultats en température sont exposés sur la figure 3 qui montre visuellement le phénomène de corrélation. La recherche analytique de la corrélation peut s'effectuer par une méthode ad hoc. Un premier exemple de méthode est présenté ci-dessous. La figure 9 montre la portion de l'enregistrement de la figure 8 qui est utilisée pour le 25 calcul d'un coefficient de corrélation instantané variant dans le temps. Cette portion de l'enregistrement est dénommée par la suite les mesures modifiées . La longueur temporelle de cette portion, appelée fenêtre de calcul , a été choisie car elle correspond à l'intervalle de temps en relation avec le profil caractéristique de la figure 10, qui décrit une stimulation de l'échantillon maître incluant les températu-30 res des pics de luminescence du fluorure de lithium dopé qui a été utilisé, et dont la corrélation est recherchée. La figure 10 montre l'évolution de la température appliquée à l'échantillon maître en fonction du temps, qui constitue le profil caractéristique de stimulation où le paramètre variant en fonction du temps est dans ce mode particulier la température. 2903542 E-QIF R08 - 9 - La prise en compte de ce profil caractéristique permet de transformer les mesures de luminescence en fonction du temps, en mesures de luminescence en fonction de la température telles qu'illustrées sur la figure 3. Elle permet en outre de calculer une seconde courbe de mesures temporelles de luminescence, dites mesures in- 5 versées temporellement , pour mettre en relation les mesures de même température obtenues en température montante et en température descendante, en fonction d'une échelle de temps modifiée pour cette seconde courbe, par exemple par des homothéties ad hoc. Cette méthode est appliquée par l'équipement récepteur quantique au fur et à mesure de la disponibilité des mesures de luminescence, afin 10 de calculer la corrélation instantanée entre les mesures modifiées et les mesures modifiées inversées temporellement . La corrélation instantanée calculée par cette méthode varie au cours du temps : elle est calculée, par exemple à chaque nouvelle mesure, sur la nouvelle fenêtre de calcul incluant les mesures les plus récentes. Les deux ensembles de mesures 15 sont représentés sur la figure 11 à l'instant où les deux courbes se superposent presque parfaitement, dénotant la fin d'une réception quantique par le récepteur quantique , suite à l'application d'un profil caractéristique par l' émetteur quantique . La corrélation instantanée est représentée sur la figure 12 en fonction d'un temps relatif (le temps 0 seconde correspond au temps absolue 545 secondes 20 de la figure 11). La corrélation instantanée passe par un maximum maximorum de corrélation. En pratique, un critère tel qu'un seuil de corrélation, par exemple de 0,70 (maximum 1,00), est utilisée pour déterminer une réception quantique. Le seuil de corrélation peut être franchi durant plusieurs mesures selon l'optimisation du pro-cédé, en particulier selon l'étendue de la ou des moyennes glissantes appliquées à 25 l'une ou à plusieurs des étapes du procédé. Dans le cas de la figure 12, le maximum maximorum atteint 0,81 et dépasse seuil de 0,70 pendant 10 secondes dans l'enregistrement typique présenté. Un second exemple de méthode de recherche analytique de la corrélation est présenté ci-dessous. On utilise un gabarit, illustré sur la figure 13, qui représente 30 l'évolution typique de la courbe de luminescence d'un échantillon esclave en fonction du temps, pour une stimulation d'un échantillon maître selon un profil caractéristique de variation de la température. Les mesures modifiées définies dans la méthode précédente sont corrélées avec le gabarit au fur et à mesure de leur disponibilité. La corrélation instantanée calculée par cette méthode varie au 2903542 E-QIFR08 - 10 - cours du temps : elle est calculée, par exemple à chaque nouvelle mesure, sur la nouvelle fenêtre de calcul incluant les mesures les plus récentes. Les mesures modifiées et le gabarit sont représentés sur la figure 14 à l'instant où les deux courbes se superposent presque parfaitement, dénotant la fin d'une réception quan-5 tique par le récepteur quantique , suite à l'application d'un profil caractéristique par l' émetteur quantique . La corrélation instantanée est représentée sur la figure 15 en fonction d'un temps relatif (le temps 0 seconde correspond au temps absolue 545 secondes de la figure 14). La corrélation instantanée passe par un maximum maximorum de corrélation. En pratique, un critère tel qu'un seuil de 10 corrélation, par exemple de 0,70 (maximum 1,00), est utilisée pour déterminer une réception quantique. Comme indiqué précédemment, le seuil de corrélation peut être franchi durant plusieurs mesures selon l'optimisation du procédé. Dans le cas de la figure 15, le maximum maximorum atteint 0,92 et dépasse le seuil de 0,70 pendant 15 secondes dans l'enregistrement typique présenté. 15 Le calcul de corrélation instantanée peut être réalisé par une des méthodes ma-thématiques bien connues de l'homme de l'art, par exemple par un calcul de coeffi- cient de corrélation px,y entre deux séries de valeurs mesurées X et Y : px,y = Cov (X,Y) / (6x . 6y) dans lequel Cov est la covariance : 20 Cov (X,Y) = (1 /n)E(x;- x)(y,- y), pour i = 1 à n 6x = Ecart type des valeurs de la série (X) 6y = Ecart type des valeurs de la série (Y) x = Moyenne des valeurs de la série (X) p .y = Moyenne des valeurs de la série (Y) 25 n = nombre de valeurs mesurées des séries. Par définition : -1 instantanée étant calculée 30 entre : 1 - la série de mesures du récepteur quantique ou une fonction des mesures, lorsque plusieurs échantillons esclaves sont mesurées, par exemple à l'aide d'une moyenne pondérée, le résultat étant dénommé la série de mesures brutes. Cette série de mesures brutes peut subir une transformation appliquée à un sous- 2903542 E-Q/FR08 - 17 - ensemble des mesures brutes, par exemple une moyenne glissante sur une fraction de la durée du ou des profils caractéristiques , ou encore une transformation corrigeant l'effet du ou des profils caractéristiques , ces mesures résultantes étant dénommées la série de mesures modifiées . 5 2 - et la série de mesures brutes définie ci-dessus, décalée temporellement de la ou des valeurs de temps prédéterminées, cette série de mesures brutes pouvant subir une transformation appliquée à un sous-ensemble des mesures brutes, par exemple une moyenne glissante sur une fraction de la durée du ou des profils caractéristiques , ou encore une transformation corrigeant l'effet du ou des profils caractéris- 10 tiques , lesdites mesures résultantes étant dénommées la série de mesures modifiées décalées . Ces transformations permettent d'établir une correspondance entre les mêmes valeurs de paramètres de stimulation, correspondance qui se manifeste entre les mesures lors d'une réception quantique . Dans un autre mode particulier du mode d'interprétation par corrélation tempo15 relie , plus particulièrement applicable au sous-mode utilisant la méthode (M3), la corrélation instantanée est calculée entre : 1 - la série de mesures du récepteur quantique ou une fonction des mesures, lorsque plusieurs échantillons esclaves sont mesurés, par exemple à l'aide d'une moyenne pondérée, le résultat étant dénommé la série de mesures brutes. Cette sé- 20 rie de mesures brutes peut subir une transformation appliquée à un sous-ensemble des mesures, par exemple une moyenne glissante sur une fraction de la durée du ou des profils caractéristiques , ou encore une transformation corrigeant l'effet du ou des profils caractéristiques , ces mesures résultantes étant dénommées la série de mesures modifiées . 25 2 - et la série de mesures brutes, éventuellement modifiées selon l'optimisation du procédé, cette série de mesures étant inversée temporellement. Cette nouvelle série de mesures brutes peut subir une transformation appliquée à un sous-ensemble des mesures, par exemple une moyenne glissante sur une fraction de la durée du ou des profils caractéristiques , ou encore une transformation corrigeant l'effet du ou des 30 profils caractéristiques , ces mesures résultantes étant dénommées la série de mesures inversées . Ces transformations sont appliquées afin d'établir une correspondance entre les mêmes valeurs de paramètres de stimulation, correspondance qui se manifeste entre les mesures lors d'une réception quantique . Dans un autre mode particulier du mode d'interprétation par corrélation tempo-2903542 E-Q/FR08 - 18 - relie , plus particulièrement applicable au sous-mode utilisant la méthode (M4), la corrélation instantanée est calculée entre : 1 - la série de mesures sur le premier échantillon esclave du récepteur quanti-que ou une fonction des mesures d'un premier groupe d'échantillons esclave , 5 lorsque plusieurs échantillons esclaves sont mesurées, par exemple à l'aide d'une moyenne pondérée, le résultat étant dénommé la première série de mesures brutes. Cette première série de mesures brutes peut subir une transformation appliquée à un sous-ensemble des mesures, par exemple une moyenne glissante sur une fraction de la durée du ou des profils caractéristiques , ces mesures résultantes 10 étant dénommées la première série de mesures modifiées . 2 û et la série de mesures sur le deuxième échantillon esclave du récepteur quantique ou une fonction des mesures d'un second groupe d'échantillons esclave disjoint du précédent, lorsque plusieurs échantillons esclaves sont mesurées, par exemple à l'aide d'une moyenne pondérée, le résultat étant dénommé 15 la seconde série de mesures brutes. Cette seconde série de mesures brutes peut subir une transformation appliquée à un sous-ensemble des mesures, par exemple une moyenne glissante sur une fraction de la durée du ou des profils caractéristiques , les mesures résultantes étant dénommées la seconde série de mesures modifiées . 20 Dans un autre mode particulier du mode d'interprétation par corrélation temporelle , plus particulièrement applicable au sous-mode utilisant la méthode (M5), la corrélation instantanée est calculée entre : 1 - la série de mesures dans la première raie optique ou bande de longueurs d'ondes optiques, du récepteur quantique ou une fonction des mesures, lorsque plusieurs 25 échantillons esclaves sont mesurées, par exemple à l'aide d'une moyenne pondérée, le résultat étant dénommé la série de mesures brutes. Cette série de mesures brutes peut subir une transformation appliquée à un sous-ensemble des mesures, par exemple une moyenne glissante sur une fraction de la durée du ou des profils caractéristiques , ou encore une transformation heuristique normalisant ces mesu- 30 res pour le ou les profils caractéristiques en relation avec les différentes longueurs d'ondes mesurées, les mesures résultantes étant dénommées la première série de mesures modifiées . 2 û et la série de mesures dans la seconde raie optique ou bande de longueurs d'ondes optiques, du récepteur quantique ou une fonction des mesures, lorsque 2903542 E-Q/FR08 - 19 - plusieurs échantillons esclaves sont mesurées, par exemple à l'aide d'une moyenne pondérée, le résultat étant dénommé la série de mesures brutes. Cette série de mesures brutes peutt subir une transformation appliquée à un sous-ensemble des mesures, par exemple une moyenne glissante sur une fraction de la durée du ou 5 des profils caractéristiques , ou encore une transformation heuristique normalisant les mesures pour le ou les profils caractéristiques en relation avec les différentes longueurs d'ondes mesurées, les mesures résultantes étant dénommées la seconde série de mesures modifiées . Dans un autre mode particulier du mode d'interprétation par corrélation tempo-relie , le récepteur quantique effectue dans le temps des mesures de la luminescence sur au moins deux raies optiques ou au moins deux bandes de longueurs d'ondes optiques ou au moins une raie optique et une bande de longueurs d'ondes optiques. Ces mesures permettent de déterminer la transmission d'information lors de la rencontre sur un même intervalle de temps, soit d'au moins deux maxima 15 maximorum de corrélation, soit d'au moins deux minima minimorum de corrélation, soit d'au moins un maxima maximorum de corrélation et d'au moins un minima minimorum de corrélation. Dans un autre mode particulier du mode d'interprétation par corrélation temporelle , au moins un échantillon intriqué esclave , lorsqu'il est composé d'au moins 20 une sorte de matériaux ayant des propriétés de thermoluminescence, et présentant des propriétés additionnelles de photoluminescence, est préalablement à la réception quantique , exposé à un rayonnement infrarouge pour supprimer la photoluminescence éventuellement résiduelle. Cette suppression permet d'améliorer la réception quantique par la recherche d'un maxima maximorum de corrélation, lors de 25 l'application d'au moins un profil caractéristique . Dans un autre mode particulier du mode d'interprétation par corrélation temporelle , plus particulièrement applicable lorsque les périodes de transmission quantique et de réception quantique sont synchronisées, au moins un échantillon intriqué esclave , lorsqu'il est composé d'au moins une sorte de matériaux ayant 30 des propriétés de thermoluminescence, et présentant des propriétés additionnelles de photoluminescence, est, préalablement à chaque réception quantique , exposé à une source de très faible intensité de lumière visible, ultraviolette ou X, pour induire une photoluminescence résiduelle. Cette photoluminescence résiduelle permet de déterminer la transmission d'information par la recherche d'un minima minimorum, 2903542 E-Q/F R08 - 20 - lors de l'application d'un profil caractéristique . Dans un autre mode particulier du procédé principal, les profils caractéristiques sont appliqués par le ou les émetteurs quantiques à des instants ou sur des fenêtres temporelles, pré-déterminés, éventuellement variables selon une loi pseudo- 5 aléatoire commune, qui sont aussi connus du ou des récepteurs quantiques qui appliquent le procédé de détermination d'une transmission d'information codée au moins aux instants ou pendant les fenêtres temporelles, pré-déterminés. Dans un autre mode particulier du procédé principal, l' émetteur quantique effectue une rétroaction en utilisant au moins un autre échantillon esclave et un pro- 10 cessus de mesure de la luminescence dans au moins une raie optique ou au moins une bande de longueurs d'ondes optiques sur cet autre échantillon esclave . Ce processus de mesure permet de contrôler par une méthode heuristique la réponse de désexcitation des pièges intriqués à au moins une valeur d'au moins un paramètre du profil caractéristique de la stimulation dans le temps, par rétroaction en 15 modulant en complément la stimulation du profil caractéristique appliquée à l'échantillon maître . La rétroaction peut par exemple comprendre, soit une variation éventuellement complémentaire du paramètre de température, soit une variation éventuellement complémentaire du paramètre d'intensité lumineuse, soit une variation éventuellement complémentaire du paramètre de longueur d'onde incidente, soit 20 une variation éventuellement complémentaire du paramètre de surface stimulée, soit une variation éventuellement complémentaire du paramètre de volume stimulé, soit une combinaison de ces variations complémentaires de paramètres du profil caractéristique appliqué à l'échantillon maître . Cette rétroaction permet d'optimiser statistiquement la réponse d'au moins un échantillon esclave d'au moins un 25 récepteur quantique distant. Dans un autre mode particulier du procédé principal, l' émetteur quantique effectue une rétroaction en utilisant un processus de mesure de la luminescence dans au moins une raie optique ou au moins une bande de longueurs d'ondes optiques sur l'échantillon maître . Ce processus de mesure permet de contrôler par une mé- 30 thode heuristique la réponse de désexcitation des pièges à au moins une valeur d'au moins un paramètre du profil caractéristique de la stimulation dans le temps, par rétroaction en modulant en complément la stimulation du profil caractéristique appliquée à l'échantillon maître . La rétroaction peut par exemple comprendre, soit une variation éventuellement complémentaire du paramètre de température, soit 2903542 E-QIFR08 - 21 -une variation éventuellement complémentaire du paramètre d'intensité lumineuse, soit une variation éventuellement complémentaire du paramètre de longueur d'onde incidente, soit une variation éventuellement complémentaire du paramètre de surface stimulée, soit une variation éventuellement complémentaire du paramètre de volume 5 stimulé, soit une combinaison de ces variations complémentaires de paramètres du profil caractéristique appliqué à l'échantillon maître . Cette rétroaction permet d'optimiser statistiquement la réponse d'au moins un échantillon esclave d'au moins un récepteur quantique distant. Un autre mode particulier du procédé principal, appelé procédé multi-maîtres , est 10 défini dans le cas où au moins un même échantillon, appelé par convention esclave , a été intriqué successivement avec plusieurs échantillons ou groupes d'échantillons, appelés par convention maître . Dans ce mode, on répète plu-sieurs fois le procédé principal, en utilisant l'un après l'autre au moins un des échantillons maître dans l' émetteur quantique , et au moins un desdits échantillons 15 esclave dans le récepteur quantique , cette répétition du procédé permettant d'effectuer plusieurs déterminations de transmission d'information en remplaçant l'échantillon maître lorsque le vidage des électrons piégés intriqués de l'échantillon maître est soit partiel au-de-là d'un seuil de qualité, soit total. Dans un autre mode particulier du procédé principal, on utilise au moins une sorte de 20 matériaux photoluminescents présentant à très basses températures, comprises entre -273 C et 0 C, des propriétés de thermoluminescence. Dans un autre mode particulier du procédé principal, on calcule au moins une moyenne glissante, éventuellement pondérée, sur une fraction du ou des profils caractéristiques . Ce calcul permet d'intégrer ou de minimiser, soit les perturbations 25 dues au bruit de mesure (dark count), soit les perturbations dues aux rayons cosmiques, soit les perturbations électromagnétiques, soit une combinaisons de ces perturbations, afin d'optimiser le signal de la réponse d'au moins un échantillon esclave mesuré, lors de la variation d'au moins un paramètre de stimulation d'au moins un échantillon maître . 30 2903542 E-QIFR08 - 22 - Description sommaire des dessins : La figure 1 représente la réponse de luminescencelors du chauffage d'un échantillons de fluorure de lithium dopé qui a été irradié à 2 Gray par les rayons gamma d'un accélérateur linéaire. 5 La figure 2 représente schématiquement la réponse de luminescence en terme de longueur d'onde lors du chauffage d'un échantillons de fluorure de lithium dopé La figure 3 représente la réponse typique d'un test de montée et descente en température limitée à 245 C La figure 4 représente la réponse typique d'un test de montée et descente en tempé-10 rature limitée à 175 C La figure 5 représente la réponse typique d'un test de montée et descente en température limitée à 245 C après vidage des pièges du pic à 170 C. La figure 6 représente la réponse typique d'un test de montée et descente en température limitée à 245 C dans lequel des creux se produisent en température montante 15 et des pics en température descendante. La figure 7 représente une mise en oeuvre de l'invention pour mesurer la réponse de l'échantillon esclave lors de la montée en température de l'échantillon maître . La figure 8 représente un enregistrement typique en fonction du temps d'un test de 20 montée et descente en température limitée à 245 C à 375 secondes. La figure 9 représente la partie de la courbe de la figure 9 sélectionnée pour calculer le coefficient de corrélation entre montée et descente en température. La figure 10 représente la montée et la descente en température du four en fonction du temps. 25 La figure 11 représente la courbe de la figure 10 et la même courbe inversée dans le temps en tenant compte de la courbe de la figure 11. La figure 12 représente la variation du coefficient de corrélation lors du glissement de plus à moins 40 secondes des courbes de la figure 12 l'une par rapport à l'autre. La figure 13 représente un gabarit heuristique qui peut être utilisé pour effectuer la 30 corrélation. La figure 14 représente la courbe de la figure 10 sur laquelle le gabarit a été super-posé. 2903542 E-QIFR08 - 23 - La figure 15 représente la variation du coefficient de corrélation lors du glissement de plus à moins 40 secondes des courbes de la figure 15 l'une par rapport à l'autre. La figure 16 représente une mise en oeuvre de l'invention pour mesurer la réponse de l'échantillon esclave lors de la montée en température de l'échantillon 5 maître . Un second échantillon esclave est utiliser pour optimiser la montée en température. La figure 17 représente une mise en oeuvre de l'invention pour mesurer la réponse de deux échantillons esclave lors de la montée en température de l'échantillon maître , afin d'avoir un meilleur rapport signal sur bruit.. Un second échantillon 10 esclave auxiliaire est utiliser pour optimiser la montée en température. La figure 18 représente une mise en oeuvre de l'invention pour mesurer la réponse de l'échantillon esclave lors de la montée en température de l'échantillon maître , l'échantillon esclave étant maintenu à une température optimale. La figure 19 représente une mise en oeuvre de l'invention pour mesurer la réponse 15 de l'échantillon esclave lors de la montée en température de l'échantillon maître . Un second échantillon esclave est utilisé pour optimiser la montée en température. Un gabarit permet d'obtenir le coefficient de corrélation durant la me-sure. La figure 20 représente une mise en oeuvre de l'invention pour mesurer la réponse 20 de deux échantillons esclave lors de la montée en température de l'échantillon maître , afin d'avoir un meilleur rapport signal sur bruit.. Un second échantillon esclave est utiliser pour optimiser la montée en température par irradiation contrôlée. La figure 21 représente une mise en oeuvre de l'invention pour mesurer la réponse 25 de l'échantillon esclave et de l'échantillon maître lors de la montée en température, l'échantillon esclave étant maintenu à la température optimale. La figure 22 représente une mise en oeuvre de l'irradiation d'une pluralité d'échantillons sur un plateau tournant afin d'intriquer ces échantillons. La figure 23 représente une mise en oeuvre de l'irradiation d'une pluralité 30 d'échantillons sur deux plateaux tournants afin d'intriquer ces échantillons. La figure 24 représente une mise en oeuvre de l'irradiation d'une pluralité d'échantillons sur deux plateaux tournants, les échantillons étant excités par deux faisceaux intriqués et séparés, afin d'intriquer ces échantillons. La figure 25 représente une mise en oeuvre de l'irradiation simultanée d'une pluralité 2903542 E-QIFR08 - 24 - d'échantillons sur un plateau tournant dont un est irradié simultanément avec un échantillon unique par deux générateurs fournissant des faisceaux intriqués afin d'intriquer ces échantillons. La figure 26 représente une mise en oeuvre d'un mode de réalisation de l'invention 5 pour mesurer la réponse d'un échantillon esclave sur un plateau, un échantillon maître étant désexcité par stimulation sur l'autre plateau. La figure 27 représente une mise en oeuvre d'un mode de réalisation de l'invention pour mesurer la réponse d'un échantillon esclave unique , pour recevoir les signaux des échantillons maître , positionnés sur un plateau, qui sont désexcités 1 o successivement par stimulation. Manières de réaliser l'invention : Des manières de réaliser l'invention sont décrites ci-dessous. Cependant il est précisé que la présente invention peut être réalisée de différentes façons. Ainsi, les dé- 15 tails spécifiques mentionnés ci-dessous ne doivent pas être compris comme limitant la réalisation, mais plutôt comme une base descriptive pour supporter les revendications et pour apprendre à l'homme de l'art l'usage de la présente invention, dans pratiquement la totalité des systèmes, structures ou manières, détaillés et appropriés. Les échantillons peuvent être composés de matériaux thermoluminescents ou photo- 20 luminescents dont les raies d'émission lumineuse correspondent à plusieurs types de piéges se vidant à des températures différentes. De plus ces pièges peuvent être vidés partiellement à chaque montée en température. En conséquence, un seul groupe d'échantillons irradiés ensembles par des rayons intriqués peut servir pour transmettre un message ou un ordre comportant plusieurs digits (chiffres binaires). 25 La mise en ouvre la plus simple de l'invention peut se faire comme illustrée sur la figure 8 décrite précédemment. Afin d'améliorer la qualité des enregistrements et en particulier le rapport signal sur bruit, divers ajouts sont présentés. Sur la figure 16, deux échantillons irradiés ensembles sont utilisés afin d'optimiser l'évolution de la température. Le four (22) qui contient l'échantillon maître (21) 30 est alimenté en énergie. Un thermostat (19) régule la température du four. Le thermomètre numérique (23) reçoit les données de température élaborées par le circuit (24) et provenant, par exemple, du photomultiplicateur (25) illuminé par l'échantillon esclave auxiliaire (26) placé dans la chambre obscure (27). Le circuit du thermomètre (23) contrôle le thermostat (19) pour réaliser le profile de tempéra- 2903542 E-Q/FR08 - 25 - ture optimal. Le système récepteur est placé à une distance quelconque dans un mi-lieu quelconque schématisé par la paroi (28). L'échantillon esclave utile (30) est placé dans la chambre obscure (29). Le photomultiplicateur (31), par exemple, me-sure la luminescence de l'échantillon (30). Celle ci est transmise au circuit (32) pour 5 être enregistrée par l'ordinateur (33). Dans la mise en oeuvre de la figure 17, trois échantillons irradiés ensembles sont utilisés afin d'optimiser l'évolution de la température et de diminuer le rapport signal sur bruit. Le four (36) qui contient l'échantillon maître (37) est alimenté en énergie en (34). Un thermostat (35) régule la température du four. Le thermomètre numérique 10 (38) reçoit les données de température élaborées par le circuit (39) et provenant, par exemple, du photomultiplicateur (40) illuminé par l'échantillon esclave auxiliaire (41) placé dans la chambre obscure (42). Le circuit du thermomètre (39) contrôle le thermostat (35) pour réaliser le profile de température optimal. Le système récepteur est placé à une distance quelconque dans un milieu quelconque schématisé par la 15 paroi (43). L'échantillon esclave principal (46) est placé dans la chambre obscure (48). Le photomultiplicateur (44), par exemple, mesure la luminescence de l'échantillon esclave principal (46). Celle ci est transmise au circuit (50) pour être enregistrée par l'ordinateur (51). Un échantillon esclave secondaire (47) est placé dans le chambre obscure (49) à proximité de la chambre obscure (48). Le photomul- 20 tiplicateur (45), par exemple, mesure la luminescence de l'échantillon esclave secondaire (47). Le signal de luminescence est envoyé au circuit (50) pour être traité avec le signal en provenance de l'échantillon esclave principal (46) afin de diminuer le rapport signal sur bruit La figure 18 représente une option qui peut être appliquée à l'échantillon esclave 25 principal (61) afin d'améliorer le signal de luminescence. Sur la partie gauche de la figure, l'échantillon maître (55) est placé dans le four (56). La température du four est mesurée par le thermomètre numérique (53). La température maximale de cou-pure est contrôlée par le thermostat (54), lequel ne se ré-enclenche pas à la descente en température. Le four est alimenté en énergie en (52). Le système récepteur 30 est placé à une distance quelconque dans un milieu quelconque schématisé par la paroi (57) et à une distance quelconque. La chambre obscure (58) contient l'échantillon esclave (61) qui est placé en face du photomultiplicateur (63). La température de l'échantillon esclave (61) est régulée grâce à, par exemple, une résistance (59) et une alimentation (60). Un écran transparent (62) protége le photo- 2903542 E-Q/FR08 - 26 - multiplicateur (63). Le circuit (63) assure le comptage et l'enregistrement des impulsions dues à la luminescence de l'échantillon esclave (61). Sur la partie gauche de la figure 19, l'émetteur quantique comporte dans me four (65) un générateur de rayonnement (66), par exemple un laser ou une lampe infra- 5 rouge. Le rayonnement est filtré par le filtre optique (67) pour obtenir une longueur d'onde unique, en particulier dans le cas où le vidage des pièges se fait par photo-stimulation, pour désexciter l'échantillon maître (68). Un circuit électronique (69) contrôle le générateur (66) et le filtre (67) à l'aide des informations en provenance d'un détecteur de luminescence (70), par exemple un photomultiplicateur, qui est il- 10 luminé par un échantillon esclave auxiliaire (72) placé dans la chambre obscure (71), afin d'optimiser la transmission. Le récepteur quantique, sur la partie droite de la figure, est placé à une distance quelconque dans un milieu quelconque, schématisé par la paroi (73). L'échantillon esclave (76) est placé dans la chambre obscure (75). Un détecteur de luminescence (77) envoie son signal vers le circuit électronique 15 (78). Le signal est alors comparé avec le signal gabarit stocké dans la mémoire (74). Le coefficient de corrélation est enregistré dans l'ordinateur (79) qui valide ou rejette le signal. Sur la partie gauche de la figure 20, l'émetteur quantique comporte dans me four (80) un générateur de rayonnement (81), par exemple un laser ou une lampe infra- 20 rouge. Le rayonnement est filtré par le filtre optique (82) pour obtenir une longueur d'onde unique, en particulier dans le cas où le vidage des pièges se fait par photo-stimulation, pour désexciter l'échantillon maître (83). Un circuit électronique (84) contrôle le générateur (81) et le filtre (82) à l'aide des informations en provenance d'un détecteur de luminescence (85), par exemple un photomultiplicateur, qui est illuminé par un échantillon esclave auxiliaire (87) placé dans la chambre obscure (86), afin d'optimiser la transmission. Le récepteur quantique, sur la partie droite de la figure, est placé à une distance quelconque dans un milieu quelconque, schématisé par la paroi (88). L'échantillon esclave primaire (93) est placé dans la chambre obscure (92). Un détecteur de luminescence (94) envoie son signal vers le circuit 30 électronique (95). Le signal est alors comparé avec le signal d'un échantillon esclave secondaire (89) placé dans la chambre obscure (90). L'illumination est mesurée par le détecteur de luminescence (91). Le signal d'illumination est envoyé vers le circuit électronique (95) reçoit qui effectue une corrélation Le coefficient de corrélation est enregistré dans l'ordinateur (96) qui valide ou rejette le signal. Le cir2903542 E-Q/FR08 - 27 - cuit électronique (95) peut également effectuer une moyenne des signaux et la comparer à un gabarit comme dans le figure 20. Dans la partie gauche de la figure 21, la luminescence de l'échantillon maître (103), placé dans le four (104), est mesurée par le détecteur (101). Celui-ci est pro- 5 tégé de la chaleur par l'écran transparent (102). Le four est alimenté en énergie en (97). La température du four est mesurée par le thermomètre électronique (98). La montée en température est optimisée par l'ordinateur (100) qui contrôle le thermostat (99) à l'aide des signaux de luminescence et de température. Le récepteur quanti-que, sur la partie droite de la figure, est placé à une distance quelconque dans un mi- 10 lieu quelconque, schématisé par la paroi (105). Sur cette figure il est similaire à celui de la figure 19. La chambre obscure (106) contient l'échantillon esclave (109) qui est placé en face du photomultiplicateur (111). La température de l'échantillon esclave (109) est régulée grâce à, par exemple, une résistance (107) et une alimentation (108). Un écran transparent (110) protége le photomultiplicateur (111). Le 15 circuit (112) assure le comptage et l'enregistrement des impulsions dues à la luminescence de l'échantillon esclave (109). Tout système de mesure sur l'échantillon esclave peut être associé à tout système de stimulation de l'échantillon maître sans sortir du cadre de l'invention. Selon un mode de réalisation de l'invention, un appareillage d'irradiation est schéma- 20 tisé sur la figure 22. Les groupes d'échantillons (216) sont placés sur un plateau tournant (215). Ce plateau est supporté par un axe (218) et est connecté à un moteur pas à pas (210), lui-même commandé par une minuterie (219). Les groupes d'échantillons sont présentés l'un après l'autre devant le faisceau de rayons gamma d'un accélérateur linéaire compact (213) par exemple. Un absorbeur (217) arrête les 25 rayons gamma non absorbés. En général les accélérateurs ne peuvent pas fonctionner en permanence. Un certain nombre d'unités de temps d'irradiation, par exemple de 1 minute, est appliqué à chaque échantillon pour obtenir l'excitation optimale à l'aide d'une minuterie (214). Dans le cas d'échantillons de fluorure de lithium dopé, une excitation de 2 minutes avec un accélérateur linéaire compact suffit pour obtenir 30 une dose de 2 Gray. Ces échantillons sont alors maintenus dans l'obscurité de façon à ne pas augmenter le fading . La figure 23 illustre un mode d'irradiation des échantillons placés sur deux plateaux. Les échantillons (114) et (118) sont irradiés simultanément à la même distance de l'accélérateur (193). Il est contrôlé par une minuterie (192) synchronisée avec la po- 2903542 E-Q/FR08 - 28 - sition des échantillons. Un absorbeur (119) arrête les rayons gamma non absorbés par les échantillons. Les échantillons sont placés sur deux plateaux (191) et (115) supportés par des axes (116) et (120). Deux moteurs pas à pas (117) et (121) assurent la rotation synchrone des plateaux. Une minuterie (122) synchronisée avec la 5 minuterie (192) de l'accélérateur contrôle le fonctionnement des moteurs pas à pas. Lesdits échantillons peuvent être également incorporés dans les disques de façon discrète ou continue. Le même résultat peut-être obtenu avec l'utilisation de rubans ou de bandes pour porter les échantillons ou les incorporer de façon discrète ou continue. 10 La figure 24 illustre l'utilisation de faisceaux de rayons X ou gamma intriqués pour intriquer des échantillons thermoluminescents. Un générateur (123) de photons lumineux intriqués composé, par exemple d'un laser et d'un cristal non linéaire, qui émet deux faisceaux de photons intriqués vers les miroirs (124) et (125). Ces faisceaux de photons intriqués sont envoyés vers deux ensembles (126 et 127) présentés dans la 15 demande de brevet français N 06/00967 [8] qui décrit la transformation de faisceaux de photons lumineux intriqués en faisceaux de photons X ou gamma intriqués. Ces faisceaux intriqués irradient les échantillons (132) et (133). Des absorbeurs (134) et (135) arrêtent les photons qui n'ont pas interagi avec les échantillons. Les échantillons sont portés par les plateaux (130) et (131). Des moteurs pas à pas (136) et 137) 20 commandent la rotation de ces plateaux. Une minuterie (138) alimentée en énergie en (139) commande les moteurs pas à pas et le circuit électronique (129), lui même alimenté en énergie en (128). Ce circuit commande le fonctionnement des deux en-sembles (126) et (127). La figure 25 illustre la préparation des échantillons utilisés dans le mode mufti- 25 maître de l'invention. Un générateur de photons lumineux intriqués (140) est composé, par exemple d'un laser et d'un cristal non linéaire, qui émet deux faisceaux de photons intriqués vers les miroirs (141) et (142). Ces faisceaux de photons intriqués sont envoyés vers deux ensembles (143) et (144) présentés dans la demande de brevet français N 06/00967 [8] qui décrit la transformation de faisceaux de photons 30 lumineux intriqués en faisceaux de photons X ou gamma intriqués. Ces faisceaux intriqués irradient les échantillons (148) et (149). Des absorbeurs (151) et (152) arrêtent les photons qui n'ont pas interagi avec les échantillons. Les échantillons sont portés par le plateau (147) pour les futurs échantillons maître et par le support (153) pour le futur échantillon esclave . Un moteur pas à pas (150) commande la 2903542 E-Q/FR08 - 29 - rotation du plateau (147). Une minuterie (154) alimentée en énergie en (155) commande le moteur pas à pas et le circuit électronique (146), lui même alimenté en énergie en (145). Ce circuit commande le fonctionnement des deux ensembles (143) et (144). 5 La figure 26 montre l'exploitation d'échantillons des plateaux irradiés dans la figure 24. Sur la partie gauche de la figure, le plateau maître (159) est placé dans la chambre (157). L'échantillon (160), par exemple, est stimulé par chauffage (thermo désexcitation) ou par photo désexcitation à l'aide du générateur (158). Ce générateur est commandé par le circuit électronique (156). Le plateau est supporté par 10 l'axe (161) relié au moteur pas à pas (162). Une minuterie dans le circuit électronique (156) commande le générateur (158) et le moteur pas à pas (162) pour la synchronisation du procédé. Le récepteur quantique, sur la partie droite de la figure, est placé à une distance quelconque dans un milieu quelconque, schématisé par la paroi (163). Le plateau esclave (167) est placé dans la chambre obscure (166) ; il est 15 supporté par l'axe (169) relié au moteur pas à pas (170). Un détecteur de luminescence (165) effectue une série de mesure de la luminescence sur l'échantillon (168). Les mesures sont enregistrées dans l'ordinateur (164) qui applique l'un des modes du procédé de l'invention plus particulièrement applicable à une série de mesures sur un échantillon esclave afin de déterminer une réception quantique 20 d'information. Une minuterie dans l'ordinateur (164) commande le moteur pas à pas (170) pour la synchronisation du procédé. La figure 27 est une illustration du mode multi-maître de l'invention. Elle illustre une utilisation particulière du disque produit comme indiqué à la figure 25 avec un échantillon esclave unique spécialement préparé en lieu et place d'un autre 25 plateau. Afin d'optimiser éventuellement ses propriétés de réponse aux stimulations appliquées aux échantillons du plateau maître , l'échantillon esclave unique peut, par exemple, être de surface plus importante. Sur la figure 27 l'émetteur quantique fonctionne comme l'émetteur quantique de la figure 26. Le récepteur quantique, sur la partie droite de la figure 27, est placé à une distance quel- 30 conque dans un milieu quelconque, schématisé par la paroi (178). L'échantillon esclave unique (180) est placé dans la chambre obscure (179) ; il est posé sur un support (181). Un détecteur de luminescence (182) effectue un série de me-sures la luminescence sur l'échantillon esclave unique (180). Les mesures sont enregistrées dans l'ordinateur (183) qui applique une recherche de corrélation 2903542 E-Q/FR08 - 30 - selon l'un des modes du procédé de l'invention plus particulièrement applicable à une série de mesures sur un seul échantillon esclave , afin de déterminer une réception quantique d'information. Le récepteur quantique peut opérer en continu sur l'échantillon esclave unique , alors que l'émetteur quantique, schématisé sur 5 la partie gauche de la figure 27, stimule par thermo désexcitation ou par photo désexcitation au moyen du générateur d'énergie calorifique ou optique (172), une ou plusieurs fois, un des échantillons maîtres du plateau (174), successivement se-Ion l'optimisation du procédé. Le plateau est placé dans l'enceinte (173), il est supporté par l'axe (176) connecté au moteur pas à pas (177). Une minuterie (171) 10 commande le générateur (172) et le moteur pas à pas (177) pour la synchronisation du procédé. Possibilités d'applications industrielles : Différentes applications industrielles sont immédiatement envisageables, signaux de 15 secours dans les mines, les fonds marins, sur des distances interplanétaires, etc. Le procédé, objet de l'invention, permet aussi d'effectuer des transmissions quantiques dans des conditions d'environnement dans lesquelles les transmissions électromagnétiques sont difficiles, voire impossibles. De plus ces transmissions quantiques ne peuvent être ni détectées, ni perturbées par des tiers. Elles sont rigoureusement se- 20 crêtes. Toutefois un ou des échantillons esclave supplémentaires peuvent être remis à des tiers de confiance pour effectuer des enregistrements selon les législations applicables. Des dispositifs selon l'invention, y compris des kits commerciaux de démonstration du procédé, peuvent être réalisés. 25 Le procédé selon l'un quelconque des modes de l'invention peut être utilisé, soit pour transmettre des informations ou des commandes, soit pour recevoir des informations ou des commandes, soit pour transmettre et recevoir des informations ou des commandes. D'une manière générale, les dispositifs de mise en oeuvre du procédé selon l'un 30 quelconque des modes de l'invention sont caractérisés en ce qu'ils comprennent au moins un des appareillages suivants, dans la mesure où il est destiné à appliquer la partie du procédé, objet du procédé principal ou d'un des modes du procédé principal, située sur le lieu de couverture de ce brevet, y compris les aéronefs, les vais-seaux marins, sous-marins et spatiaux, et les sondes terrestres, marines et 2903542 E-Q/F R08 - 31 - spatiales : - un ou des équipements émetteurs quantiques - un ou des équipements récepteurs quantiques 5 Références [1] Weber M. J. and Tompson B. J. Selected Papers on Photoluminescence of Inorganic Solids , SPIE Milestone Series, V. Ms 150, Aug 1998. [2] Justus B. L. et al., Dosimetry measurements , CRC Press LLC,(2000). [3] Shani G., Radiation Dosimetry: Instrumentation and Methods , CRC Press 10 (January 2001). 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[11] Aspect A., Trois tests expérimentaux des inégalités de Bell par mesure de corrélation de polarisation de photons , Doctoral Dissertation, Université Paris-Orsay, 1 er Février 1983. 30 [12] Townsend P. D., Rarity J. G., Tapster P. R., Single-Photon Interference in 10 km Long Optical-Fiber , Electronics Letters, V 29, p. 634, 1993. [13] Duncan A. J., and Kleinpoppen H., Quantum Mechanics versus Local Realism , (F. Selleri, ed.), Plenum, New York, 1988. [14] Greenberger D., et al,. Bell's Theorem Without Inequalities , Amer. J. of 2903542 E-Q/FR08 - 32 -Phys., 58, (12), Dec. 1990. [15] Whitley V. H. et McKeever S. W. S., Linearly modulated photoconductivity and linearly modulated optically stimulated luminescence measurements on AI2O3:C, J. of Appl. Phys. 90, 6073-6083, 2001 5 REVENDICATIONS 1) Procédé pour communiquer à distance en utilisant l'interprétation de signaux de thermoluminescence ou de photoluminescence dans lequel on utilise entre autres : au moins un groupe d'échantillons comportant au moins une sorte de matériaux ayant des propriétés de thermoluminescence et / ou de photoluminescence, qui présentent des liaisons, appelées par convention liaisons quantiques , entre des électrons piégés desdits matériaux, ledit groupe d'échantillons étant appelé par convention le groupe d'échantillons intriqués , au moins la stimulation par thermo désexcitation ou photo désexcitation, caractérisé en ce que : au moins un équipement émetteur quantique (par exemple fig. 7 û gauche, fig. 16 û gauche, fig.17 û gauche, fig.18 û gauche, fig. 19 û gauche, fig. 20 û gauche, fig. 21 û gauche, fig. 26 û gauche, fig. 27 û gauche), comportant au moins un échantillon intriqué (par exemple 9, 21, 37, 55, 68, 83, 103, 160, 175) dudit groupe, effectue une transmission d'information, appelée transmission quantique , au moyen d'une stimulation, soit par thermo désexcitation (par exemple fig. 1), soit par photo désexcitation (par exemple fig. 2), soit par une combinaison des deux, sur tout ou partie dudit échantillon intriqué , appelé échantillon intriqué maître , durant un intervalle de temps, en appliquant, selon le mode, un ou successivement plusieurs profils heuristiques de variation d'au moins un paramètre de la stimulation appliquée dans le temps, appelés par convention profils caractéristiques (par exemple fig. 10), de façon à modifier transitoirement la probabilité de désexcitation de certains des électrons piégés intriqués, au moyen de la stimulation appliquée par le ou lesdits profils caractéristiques , et optionnellement par rétroaction (par exemple fig. 16 - gauche, fig. 17 - gauche), 2903542 E-Q/FR-08 - 34 -au moins un équipement récepteur quantique (par exemple fig. 7 ù droite, fig. 16 ù droite, fig.17 ù droite, fig.18 ù droite, fig. 19 ù droite, fig. 20 ù droite, fig. 21 ù droite, fig. 26 ù droite, fig. 27 ù droite), comportant au moins un échantillon intriqué (par exemple 16, 30, 46, 61, 76, 89, 93, 109, 168, 5 180) dudit groupe, effectue dans le temps au moins une série de mesures de la luminescence (fig. 8, fig. 9) dans au moins une raie optique ou au moins une bande de longueurs d'ondes optiques, sur ledit ou lesdits échantillons intriqués , appelés échantillons intriqués esclaves , une ou plusieurs desdites séries de mesures étant interprétées par au moins 10 une méthode de calcul de corrélation (par exemple fig. 3, fig. 11, fig. 14), en relation avec au moins une propriété du ou des profils caractéristiques utilisés par l' émetteur quantique , pour déterminer la réception d'au moins une information (par exemple fig. 12, fig. 15), codée par ledit ou lesdits profils caractéristiques , ladite réception étant dénommée réception 15 quantique . 2) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce qu'au moins un profil caractéristique (par exemple fig. 10) utilise une variation d'un paramètre de stimulation afin d'exploiter au moins un pic de luminescence (par exemple fig. 1, fig. 2) caractéristique d'au moins une sorte de matériaux ayant des propriétés 20 de thermoluminescence. 3) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce qu'au moins un profil caractéristique utilise, soit au moins une variation du paramètre de température (par exemple fig. 10), soit au moins une variation du paramètre d'intensité lumineuse, soit au moins une variation du paramètre de longueur 25 d'onde incidente, soit au moins une variation du paramètre de surface stimulée, soit au moins une variation du paramètre de volume stimulé, de façon à modifier transitoirement la probabilité de désexcitation de certains des électrons piégés intriqués en fonction dudit ou desdits paramètres. 4) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce que le profil caractéristique (par exemple fig. 10) utilise au moins une variation de la température dans le temps comportant une ou plusieurs étapes, soit de montée en température, soit de descente en température, soit de maintien de la température, soit une combinaison de tout ou partie de ces étapes, de façon à modifier 2903542 E-QIFR-08 - 35 - transitoirement la probabilité de désexcitation de certains des électrons piégés intriqués pour les températures appliquées (par exemple fig. 3, fig. 4, fig. 5, fig. 6, fig. 8, fig. 11, fig. 14), selon ledit profil caractéristique , lors de la stimulation. 5 5) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce qu'au moins un profil caractéristique utilise au moins une variation de l'intensité lumineuse dans le temps comportant une ou plusieurs étapes, soit d'augmentation de ladite intensité lumineuse, soit de diminution de ladite intensité lumineuse, soit de maintien ladite intensité lumineuse, soit une combinaison de tout ou partie de 10 ces étapes, de façon à modifier transitoirement la probabilité de désexcitation de certains des électrons piégés intriqués pour les intensités lumineuses appliquées, selon ledit profil caractéristique , lors de la stimulation. 6) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce qu'au moins un profil caractéristique utilise au moins une variation de la longueur d'onde incidente 15 dans le temps, par exemple comprise entre 300 nm et 800 nm, comportant une ou plusieurs étapes, soit d'augmentation de ladite longueur d'onde, soit de diminution de ladite longueur d'onde, soit de maintien de ladite longueur d'onde, soit une combinaison de tout ou partie de ces étapes, de façon à modifier transitoirement la probabilité de désexcitation de certains des électrons piégés 20 intriqués pour les longueurs d'ondes incidentes appliquées (par exemple fig. 2), selon ledit profil caractéristique , lors de la stimulation. 7) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce qu'au moins un profil caractéristique utilise au moins une variation de la surface stimulée dans le temps comportant une ou plusieurs étapes, soit d'augmentation de ladite 25 surface stimulée, soit de diminution de ladite surface stimulée, soit de maintien de ladite surface stimulée, soit une combinaison de tout ou partie de ces étapes, de façon à modifier transitoirement la probabilité de désexcitation de certains des électrons piégés intriqués sur la surface stimulée, selon ledit profil caractéristique , lors de la stimulation. 30 8) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce qu'au moins un profil caractéristique utilise au moins une variation du volume stimulée dans le temps comportant une ou plusieurs étapes, soit d'augmentation dudit volume stimulé, soit de diminution dudit volume stimulé, soit de maintien dudit volume 2903542 E-QIFR-08 - 36 - stimulé, soit une combinaison de tout ou partie de ces étapes, de façon à modifier transitoirement la probabilité de désexcitation de certains des électrons piégés intriqués sur le volume stimulé, selon ledit profil caractéristique , lors de la stimulation. 5 9) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce que les mesures de la luminescence, dans au moins une raie optique ou au moins une bande de longueurs d'ondes optiques, effectuées sur au moins un échantillon intriqué esclave sont corrigées temporellement selon un modèle prenant en compte des probabilités de désexcitation des électrons piégés intriqués dans ledit 10 échantillon intriqué esclave , lors de l'effondrement des liaisons quantiques résultant de l'application du profil caractéristique de stimulation à au moins un échantillon intriqué maître . 10) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce que la température d'au moins un échantillon intriqué esclave mesurée dans le récepteur 15 quantique est optimisée, de façon à optimiser la réponse de désexcitation des pièges intriqués dudit ou desdits échantillons intriqués esclaves lors de la réception quantique . 11) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce que ledit ou lesdits profils caractéristiques appliqués sont de courtes durées, par exemple comprises 20 entre 1 microseconde et 100 millisecondes, afin de réduire le taux de pièges intriqués désexcités durant l'application dudit ou desdits profils caractéristiques , ledit ou lesdits profils caractéristiques étant plus particulièrement applicables à la stimulation par photo désexcitation, soit en variation de la longueur d'onde, soit en variation de l'intensité, soit en variation 25 de la surface, ou soit par une combinaisons de ces stimulations. 12) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce que : au moins un profil caractéristique (par exemple fig. 10) utilisé par I' émetteur quantique comporte au moins une première étape de variation d'au moins un paramètre de stimulation et au moins une seconde étape de 30 variation du même paramètre comportant au moins des valeurs communes ou une plage de valeurs communes, - et en ce que la méthode de calcul de corrélation utilise : 2903542 E-QIFR-08 - 37 - o au moins une transformation de ladite série de mesures, en relation avec ledit profil caractéristique , pour calculer, par exemple par interpolation, au moins une nouvelle première série de mesures (par exemple 1, 4, 5) dont l'abscisse est exprimée dans l'unité du paramètre 5 de stimulation, en relation avec au moins la première étape de variation, o et au moins une autre transformation de ladite série de mesures, en relation avec ledit profil caractéristique , pour calculer, par exemple par interpolation, au moins une nouvelle seconde série de mesures (par exemple 2, 3, 6) dont l'abscisse est exprimée dans l'unité du paramètre 10 de stimulation, en relation avec au moins la seconde étape de variation, o et en ce qu'au moins une valeur de corrélation est calculée entre la nouvelle première série de mesures et la nouvelle seconde série de mesures, afin de déterminer la réception d'au moins une information, codée par ledit ou lesdits profils caractéristiques . 15 13) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce que ladite ou lesdites séries de mesures sont interprétées pour déterminer la transmission d'au moins une information codée par le ou lesdits profils caractéristiques (par exemple fig. 10), par la recherche, soit d'au moins un maxima maximorum de corrélation caractérisant au moins une corrélation (par exemple fig. 12, fig. 15), soit d'au 20 moins un minima minimorum de corrélation caractérisant au moins une anticorrélation, soit d'au moins un maxima maximorum de corrélation et d'au moins un minima minimorum de corrélation, caractérisant au moins une corrélation et une anti-corrélation, sur la durée dudit ou desdits profils caractéristiques , la corrélation instantanée étant calculée, soit à des instants pré-déterminés, 25 soit continûment, soit sur des intervalles de temps, ces instants ou ces intervalles étant éventuellement connus de l' émetteur quantique et du récepteur quantique dans un mode partiellement ou totalement synchronisé, soit selon une combinaison de ces modalités, sur au moins une fenêtre temporelle (par exemple fig. 9), éventuellement glissante, dimensionnée en 30 relation avec au moins une propriété dudit ou desdits profils caractéristiques , ladite corrélation instantanée étant comprise, lorsqu'elle est normalisée, entre la valeur -1 et +1 , ladite corrélation instantanée étant par exemple évaluée selon le mode par l'une des 2903542 E-QIFR-08 - 38 -méthodes suivantes : soit par une méthode de corrélation (Ml) entre ladite série de mesures, éventuellement après application d'une transformation, et un gabarit (par exemple fig. 13), 5 soit par une méthode de corrélation (M2), lorsque l'information est codée par l' émetteur quantique par au moins deux profils caractéristiques décalés d'au moins une valeur de temps connue de l' émetteur quantique et du récepteur quantique , entre ladite série de mesures et ladite série de mesures décalée temporellement, éventuellement après application 10 d'une transformation, soit par une méthode de corrélation (M3), lorsque l'information est codée par l' émetteur quantique par au moins un profil caractéristique permettant de mettre en correspondance au moins un ensemble de valeurs d'au moins un paramètre de la stimulation qui sont appliquées à des temps 15 différents, entre ladite série de mesures, et ladite série inversée temporellement, éventuellement après application d'une transformation (par exemple fig. 11), soit par une méthode de corrélation (M4) entre lesdites séries de mesures sur au moins deux échantillons intriqués esclave mesurés (par 20 exemple fig. 17), soit par une méthode de corrélation (M5) (par exemple fig. 2) entre au moins deux desdites séries de mesures sur au moins un échantillon intriqué esclave mesuré, par exemple dans au moins deux raies optiques ou au moins deux bandes de longueurs d'ondes optiques ou au moins une raie 25 optique et au moins une bande de longueurs d'ondes optiques, éventuellement après application de transformations, ledit ou lesdits maxima maximorum de corrélation lorsqu'ils sont supérieurs à un seuil de confiance dépendant de l'optimisation du procédé, par exemple + 0,7 , et ledit ou lesdits minima minimorum de corrélation lorsqu'ils sont inférieurs à un 30 seuil de confiance dépendant de l'optimisation du procédé, par exemple - 0,7 , caractérisant au moins une réception quantique d'une information codée selon ledit ou lesdits profils caractéristiques . 2903542 E-Q/FR-08 -39 - 14) Procédé selon la revendication 13, plus particulièrement applicable au mode utilisant la méthode (Ml), caractérisé en ce que la corrélation instantanée est calculée entre : ladite série de mesures du récepteur quantique (par exemple fig. 8) ou 5 une fonction desdites mesures, lorsque plusieurs échantillons intriqués esclaves sont employés, par exemple à l'aide d'une moyenne pondérée, le résultat étant dénommé la série de mesures brutes, ladite série de mesures brutes pouvant subir une transformation appliquée à un sous-ensemble desdites mesures brutes, par exemple une moyenne glissante sur 10 une fraction de la durée dudit ou desdits profils caractéristiques , ou encore une transformation corrigeant l'effet du profil caractéristique , lesdites mesures résultantes étant dénommées la série de mesures modifiées , et un gabarit de réponse de désexcitation des pièges intriqués (par exemple 15 fig. 13), qui a été calibré préalablement pour ledit ou lesdits profils caractéristiques utilisés, et, soit au moins pour l'échantillon intriqué esclave utilisé, soit au moins pour un échantillon intriqué esclave typique, ou encore au moins calibré au moyen d'un calcul heuristique utilisant au moins une courbe de réponse de thermoluminescence ou de 20 photoluminescence de ladite sorte de matériaux et ledit ou lesdits profils caractéristiques . 15) Procédé selon la revendication 13, plus particulièrement applicable au mode utilisant la méthode (M2), caractérisé en ce que les valeurs de temps prédéterminées de décalages sont soit fixes, soit pseudo aléatoires selon la 25 même graine, la corrélation instantanée étant calculée entre : ladite série de mesures du récepteur quantique (par exemple fig. 8) ou une fonction desdites mesures, lorsque plusieurs échantillons intriqués esclaves sont employés, par exemple à l'aide d'une moyenne pondérée, le résultat étant dénommé la série de mesures brutes, ladite série de 30 mesures brutes pouvant subir une transformation appliquée à un sous-ensemble desdites mesures brutes, par exemple une moyenne glissante sur une fraction de la durée dudit ou desdits profils caractéristiques , ou encore une transformation corrigeant l'effet dudit ou desdits profils 2903542 E-QIFR-08 - 40 - caractéristiques , lesdites mesures résultantes étant dénommées la série de mesures modifiées , et ladite série de mesures brutes, décalée temporellement de la ou des valeurs de temps prédéterminées, ladite série de mesures brutes pouvant 5 subir une transformation appliquée à un sous-ensemble desdites mesures brutes, par exemple une moyenne glissante sur une fraction de la durée dudit ou desdits profils caractéristiques , ou encore une transformation corrigeant l'effet dudit ou desdits profils caractéristiques , lesdites mesures résultantes étant dénommées la série de mesures modifiées 10 décalées , afin d'établir une correspondance entre les mêmes valeurs de paramètres de stimulation, correspondance qui se manifeste entre les mesures lors d'une réception quantique . 16) Procédé selon la revendication 13, plus particulièrement applicable au mode utilisant la méthode (M3), caractérisé en ce que la corrélation instantanée 15 est calculée entre : ladite série de mesures du récepteur quantique (par exemple fig. 8) ou une fonction desdites mesures, lorsque plusieurs échantillons intriqués esclaves sont employés, par exemple à l'aide d'une moyenne pondérée, le résultat étant dénommé la série de mesures brutes, ladite série de 20 mesures brutes pouvant subir une transformation appliquée à un sous-ensemble desdites mesures, par exemple une moyenne glissante sur une fraction de la durée dudit ou desdits profils caractéristiques , ou encore une transformation corrigeant l'effet dudit ou desdits profils caractéristiques , lesdites mesures résultantes étant dénommées la série 25 de mesures modifiées , et ladite série de mesures brutes, éventuellement modifiées selon l'optimisation du procédé, ladite série de mesures étant inversée temporellement, ladite série de mesures brutes pouvant subir une transformation appliquée à un sous-ensemble desdites mesures, par 30 exemple une moyenne glissante sur une fraction de la durée dudit ou desdits profils caractéristiques , ou encore une transformation corrigeant l'effet dudit ou desdits profils caractéristiques , lesdites mesures résultantes étant dénommées la série de mesures inversées , afin 2903542 E-Q/FR-08 - 41 - d'établir une correspondance entre les mêmes valeurs de paramètres de stimulation (par exemple fig. 11), correspondance qui se manifeste entre les mesures lors d'une réception quantique (par exemple fig. 12). 17) Procédé selon la revendication 13, plus particulièrement applicable au mode 5 utilisant la méthode (M4), caractérisé en ce que la corrélation instantanée est calculée entre : ladite série de mesures sur le premier échantillon intriqué esclave du récepteur quantique ou une fonction des mesures d'un premier ensemble d'échantillons intriqués esclave , lorsque plusieurs 1 o échantillons intriqués esclaves sont employés, par exemple à l'aide d'une moyenne pondérée, le résultat étant dénommé la première série de mesures brutes, ladite série de mesures brutes pouvant subir une transformation appliquée à un sous-ensemble desdites mesures, par exemple une moyenne glissante sur une fraction de la durée dudit ou 15 desdits profils caractéristiques , lesdites mesures résultantes étant dénommées la première série de mesures modifiées , et ladite série de mesures sur le deuxième échantillon intriqué esclave du récepteur quantique ou une fonction des mesures d'un second ensemble d'échantillons intriqués esclave disjoint du 20 précédent, lorsque plusieurs échantillons intriqués esclaves sont employés, par exemple à l'aide d'une moyenne pondérée, le résultat étant dénommé la seconde série de mesures brutes, ladite série de mesures brutes pouvant subir une transformation appliquée à un sous-ensemble desdites mesures, par exemple une moyenne glissante sur une fraction de 25 la durée dudit ou desdits profils caractéristiques , lesdites mesures résultantes étant dénommées la seconde série de mesures modifiées . 18) Procédé selon la revendication 13, plus particulièrement applicable au mode utilisant la méthode (M5), caractérisé en ce que la corrélation instantanée est calculée entre : 30 ladite série de mesures dans la première raie optique ou bande de longueurs d'ondes optiques, du récepteur quantique ou une fonction desdites mesures, lorsque plusieurs échantillons intriqués esclaves sont employés, par exemple à l'aide d'une moyenne pondérée, le résultat 2903542 E-QIFR- 08 - 42 - étant dénommé la série de mesures brutes, ladite série de mesures brutes pouvant subir une transformation appliquée à un sous-ensemble desdites mesures, par exemple une moyenne glissante sur une fraction de la durée dudit ou desdits profils caractéristiques , ou encore une transformation 5 heuristique normalisant lesdites mesures pour ledit ou lesdits profils caractéristiques en relation avec les différentes longueurs d'ondes mesurées, lesdites mesures résultantes étant dénommées la première série de mesures modifiées , - et ladite série de mesures dans la seconde raie optique ou bande de 10 longueurs d'ondes optiques, du récepteur quantique ou une fonction desdites mesures, lorsque plusieurs échantillons intriqués esclaves sont employés, par exemple à l'aide d'une moyenne pondérée, le résultat étant dénommé la série de mesures brutes, ladite série de mesures brutes pouvant subir une transformation appliquée à un sous-ensemble desdites 15 mesures, par exemple une moyenne glissante sur une fraction de la durée dudit ou desdits profils caractéristiques , ou encore une transformation heuristique normalisant lesdites mesures pour ledit ou lesdits profils caractéristiques en relation avec les différentes longueurs d'ondes mesurées, lesdites mesures résultantes étant dénommées la seconde 20 série de mesures modifiées . 19) Procédé selon la revendication 13 caractérisé en ce que le récepteur quantique effectue dans le temps des mesures de la luminescence sur au moins deux raies optiques ou au moins deux bandes de longueurs d'ondes optiques ou au moins une raie optique et une bande de longueurs d'ondes 25 optiques, afin de déterminer la transmission d'information lors de la rencontre sur un même intervalle de temps, soit d'au moins deux maxima maximorum de corrélation, soit d'au moins deux minima minimorum de corrélation, soit d'au moins un maxima maximorum de corrélation et d'au moins un minima minimorum de corrélation. 30 20) Procédé selon la revendication 13 caractérisé en ce qu'au moins un échantillon intriqué esclave , lorsqu'il est composé d'au moins une sorte de matériaux ayant des propriétés de thermoluminescence, et présentant des propriétés additionnelles de photoluminescence, est préalablement à la 2903542 E-Q/FR-08 - 43 - réception quantique , exposé à un rayonnement infrarouge pour supprimer la photoluminescence éventuellement résiduelle, afin d'améliorer la réception quantique par la recherche d'un maxima maximorum de corrélation, lors de l'application d'au moins un profil caractéristique . 5 21) Procédé selon la revendication 13, plus particulièrement applicable lorsque les périodes de transmission quantique et de réception quantique sont synchronisées, caractérisé en ce qu'au moins un échantillon intriqué esclave , lorsqu'il est composé d'au moins une sorte de matériaux ayant des propriétés de thermoluminescence, et présentant des propriétés additionnelles 10 de photoluminescence, est, préalablement à chaque réception quantique , exposé à une source de très faible intensité de lumière visible, ultraviolette ou X, pour induire une photoluminescence résiduelle, afin de déterminer la transmission d'information par la recherche d'un minima minimorum (par exemple fig. 6), lors de l'application d'un profil caractéristique . 15 22) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce que les profils caractéristiques sont appliqués par ledit ou lesdits émetteurs quantiques à des instants ou sur des fenêtres temporelles, pré-déterminés, éventuellement variables selon une loi pseudo-aléatoire commune, qui sont aussi connus dudit ou desdits récepteurs quantiques qui appliquent le procédé de 20 détermination d'une transmission d'information codée au moins auxdits instants ou pendant lesdites fenêtres temporelles, pré-déterminés. 23) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce que l` émetteur quantique (par exemple fig. 16 - gauche, fig. 17 - gauche) effectue une rétroaction en utilisant au moins un autre échantillon intriqué (par exemple 26, 41) dudit 25 groupe, appelé échantillon intriqué esclave secondaire , et un processus de mesure de la luminescence (par exemple 25, 40) dans au moins une raie optique ou au moins une bande de longueurs d'ondes optiques sur ledit échantillon intriqué esclave secondaire , afin de contrôler par une méthode heuristique la réponse de désexcitation des pièges intriqués à au 30 moins une valeur d'au moins un paramètre du profil caractéristique de la stimulation dans le temps, par rétroaction (par exemple 24, 39), en modulant en complément la stimulation du profil caractéristique appliquée à l'échantillon intriqué maître (par exemple 21, 37), par exemple, soit au moyen d'au 2903542 E-Q/FR-08 - 44 - moins une variation éventuellement complémentaire du paramètre de température, soit au moyen d'au moins une variation éventuellement complémentaire du paramètre d'intensité lumineuse, soit au moyen d'au moins une variation éventuellement complémentaire du paramètre de longueur d'onde 5 incidente, soit au moyen d'au moins une variation éventuellement complémentaire du paramètre de surface stimulée, soit au moyen d'au moins une variation éventuellement complémentaire du paramètre de volume stimulé, de façon optimiser statistiquement la réponse d'au moins un échantillon intriqué esclave (par exemple 30, 40, 47) d'au moins un récepteur 1 o quantique distant (par exemple fig. 16 û droite, fig.17 û droite). 24) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce que l` émetteur quantique effectue une rétroaction en utilisant un processus de mesure de la luminescence dans au moins une raie optique ou au moins une bande de longueurs d'ondes optiques sur l'échantillon intriqué maître , afin de 15 contrôler par une méthode heuristique la réponse de désexcitation des pièges à au moins une valeur d'au moins un paramètre du profil caractéristique de la stimulation dans le temps, par rétroaction en modulant en complément la stimulation du profil caractéristique appliquée à l'échantillon intriqué maître , par exemple, soit au moyen d'au moins une variation éventuellement 20 complémentaire du paramètre de température, soit au moyen d'au moins une variation éventuellement complémentaire du paramètre d'intensité lumineuse, soit au moyen d'au moins une variation éventuellement complémentaire du paramètre de longueur d'onde incidente, soit au moyen d'au moins une variation éventuellement complémentaire du paramètre de surface stimulée, soit 25 au moyen d'au moins une variation éventuellement complémentaire du paramètre de volume stimulé, de façon optimiser statistiquement la réponse d'au moins un échantillon intriqué esclave d'au moins un récepteur quantique distant. 25) Procédé pour appliquer plusieurs fois la revendication 1 dans lequelau moins un 30 même échantillon, appelé par convention échantillon intriqué multiesclave , a été intriqué successivement avec plusieurs échantillons ou ensembles d'échantillons, appelés par convention échantillons intriqués mono-maître , ledit ou lesdits échantillons intriqués multi-esclave et chacun desdits échantillons intriqués mono-maître ou chacun desdits 2903542 E-QIFR-08 - 45 - ensembles d'échantillons intriqués mono-maître formant un groupe d'échantillons intriqués selon la revendication référencée, caractérisé en ce que l'on répète plusieurs fois le procédé de la revendication référencée, en utilisant l'un après l'autre au moins un desdits échantillons intriqués mono- 5 maître (par exemple 175) en tant qu'échantillon intriqué maître dans I' émetteur quantique (par exemple fig. 27 û gauche), et au moins un desdits échantillons intriqués multi-esclave (par exemple 180) en tant qu'échantillon intriqué esclave dans le récepteur quantique (par exemple fig. 27 û droite), ladite répétition dudit procédé permettant d'effectuer 10 plusieurs déterminations de transmission d'information (par exemple fig. 4, fig. 5) en remplaçant l'échantillon intriqué mono-maître lorsque le vidage des électrons piégés intriqués dudit échantillon intriqué mono-maître est soit partiel au-de-là d'un seuil de qualité, soit total, en conservant l'échantillon intriqué multi-esclave . 15 26) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce qu'on utilise au moins une sorte de matériaux photoluminescents présentant à très basses températures, comprises entre -273 C et 0 C, des propriétés de thermoluminescence. 27) Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce qu'on calcule au moins une moyenne glissante (par exemple fig. 8), éventuellement pondérée, sur une 20 fraction dudit ou desdits profils caractéristiques , afin d'intégrer ou de minimiser, soit les perturbations dues au bruit de mesure (dark count), soit les perturbations dues aux rayons cosmiques, soit les perturbations électromagnétiques, soit une combinaisons de ces perturbations, pour optimiser le signal de la réponse d'au moins un échantillon intriqué esclave 25 mesuré, lors de la variation d'au moins un paramètre de stimulation appliqué à au moins un échantillon intriqué maître . 28) Dispositif de mise en oeuvre du procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 27 caractérisé en ce qu'il comprend au moins un des appareillages suivants, dans la mesure où il est destiné à appliquer la partie du 30 procédé, objet de ladite revendication de procédé, située sur le lieu de couverture de ce brevet, y compris les aéronefs, les vaisseaux marins, sous-marins et spatiaux, et les sondes terrestres, marines et spatiales : - un ou des équipements émetteurs quantiques (par exemple fig. 7 û 2903542 E-QIFR-08 - 46 - gauche, fig. 16 ù gauche, fig.17 ù gauche, fig.18 ù gauche, fig. 19 ù gauche, fig. 20 ù gauche, fig. 21 ù gauche, fig. 26 ù gauche, fig. 27 ù gauche) un ou des équipements récepteurs quantiques (par exemple fig. 7 ù droite, fig. 16 ù droite, fig.17 ù droite, fig.18 ù droite, fig. 19 ù droite, fig. 20 ù 5 droite, fig. 21 ù droite, fig. 26 ù droite, fig. 27 ù droite) 29) Utilisation du procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 27, soit pour transmettre des informations ou des commandes, soit pour recevoir des informations ou des commandes, soit pour transmettre et recevoir des informations ou des commandes.