Brevet FR2896910A1 — publié le 20070803

E-Q/FR-05 -1 Procédé pour générer des faisceaux intriqués d'électrons, de rayons infrarouges, visibles, ultraviolets, X, et gamma. DESCRIPTION Domaine technique : La présente invention concerne le domaine des procédés de production de faisceaux d'électrons intriqués, de rayons gamma et X intriqués, de rayons ultraviolets, visibles, infrarouges intriqués. Le phénomène d'intrication fut démontré mathématiquement dès 1925 par les théoriciens de l'époque : L. V. de Broglie, E. Schrôdinger, C. Heisenberg, P. A. M. Dirac, J. A. Wheeler, J. Neumann, et bien d'autres. La théorie quantique montre que deux particules émises simultanément (ou presque) par le même objet ont la même fonction d'onde, et les modifications de l'état quantique de l'une se répercute sur l'état quantique de l'autre immédiatement et où qu'elle soit dans l'univers. Par exemple, il existe des cristaux qui peuvent transformer un photon de lumière en deux photons, ces photons sont intriqués. Pour les photons, l'intrication se manifeste par le fait que leur polarisation n'est pas définie. Lorsque l'on détermine la polarisation de l'un, la polarisation de l'autre se trouve immédiatement déterminée. Ce qui a été prouvé à Genève vers 1995 lorsque les photons avaient été transportés sur de fibres optiques à 10 km de distance. Certains théoriciens n'étaient pas d'accord avec la théorie de la Mécanique Quantique dans les années 1930 à 1940. En particulier, A. Einstein en 1935, publia un court article [1] dans lequel il indiquait que la théorie de la Mécanique Quantique était incomplète. En 1965 [2], J. S. Bell, au CERN, prouva que la Mécanique Quantique était non-local , c'est à dire que les interactions instantanées sont possibles. Vers 1980 [3], A. Aspect, au Centre Optique de l'Université de Paris, confirmait par l'expérimentation que la théorie de J. S. Bell était correcte. Depuis 1990, les expériences se succèdent, celles de Genève, d'autres en Autriche et aux Etats-Unis d'Amérique, pour confirmer l'intrication de particules. Ce sont essentiellement des expériences avec des photons de lumière, mais également avec des électrons [4]. Les applications possibles sont essentiellement, pour l'instant, en cryptographie dans les transmissions codées et dans les ordinateurs. Les toutes récentes recherches dans le domaine montrent que cette intrication peut se E-Q/FR-05 -2 détériorer par un phénomène de décohérence [5], mais qu'elle peut également se transmettre de particules quantiques à particules quantiques [6, 7]. Références: [1] Einstein A., Podolski B., Rosen N ., Can Quantum Mechanical Description of Physical Reality Be Considered Complete , Physical Review, 47, (1935),pp. 777-780 [2] Bell J. S., Speakable and Unspeakable in Quantum Mechanics , New York, Cambridge University Press, 1993. [3] Aspect A., Trois tests expérimentaux des inégalités de Bell par mesure de corrélation de polarisation de photons , Thèse de Doctorat d'Etat, Université de Paris Orsay, 1 er Février 1983. [4] C.H. Bennett, G. Brassard, S. Popescu, B. Schumacher, J. Smolin, and W. Wootters, "Purification of Noisy Entanglement and Faithful Teleportation via Noisy Channels," Phys. Rev. Lett. 76, 722-726 (1996) [5] R. F. O'Connell, "Decoherence in Nanostructures and Quantum Systems," Physica E, 19, 77(2003). [6] Altewischer E., van Exter M. P., and Woerdman J. P., Plasmon-assisted transmission of entangled photons , Nature, 418, 304-306, (18 July 2002). [7] Chanelière, T. et al., Storage and retrieval of single photons transmitted between remote quantum memories , Nature, 438, 833-836, (8 December 2005). [8] Desbrandes Robert et Van Gent Daniel Lee, Demande internationale OMPI N WO 2005/109985, Procédé et appareillage pour modifier la probabilité de désexcitation des nucléides isomères, date de priorité 13 avril 2004, publiée le 24 novembre 2005. [9] Desbrandes Robert et Van Gent Daniel Lee, Demande internationale OMPI N WO 2005/112041, Procédé et appareillage pour communiquer à distance en utilisant des nucléides isomères, date de priorité 13 avril 2004, publiée le 24 novembre 2005. [10] Desbrandes Robert et Van Gent Daniel Lee, Demande internationale OMPI N WO 2005/117306, Procédé et appareillage pour communiquer à distance en utilisant la photoluminescence ou la thermoluminescence, dates de priorité 26 mai 2004 et 12 avril 2004, publiée le 8 décembre 2005. [11] Kurtsiefer C., Oberparleiter M., and Weinfurter H., Generation of correlated pho- E-QIFR-05 -3 ton pairs in type Il parametric down conversion û revisited , Feb. 7 2001, submitted J. Mod. Opt. [12] Smith A., V., How to select non linear crystal and model their performance using SNLO software , SLNO software from Sandia National Laboratory. http://www.sandia.gov/imrl/XWEB1128/snloftp.htm [13] Ralph W., Engstrom, Photomultipliers Handbook, RCA, 1980, et Flyckt, S.O. and Marmonier, C., Photomultiplier Tubes: Principles and Applications, Photonis, Brive, France, (2003). [14] Wangler Thomas P., RF Linear Accelerators (Wiley Series in Beam Physics and Accelerator Technology), Wiley, May 1998. [15] Sameer S. A. Natto, Belal Moftah, and Noor M. H. Ghassa, Heterogeneity Cor-rections For High Energy Photon Beams (Measurements and Calculations) , Journal of Australian Physical & Engineering Sciences in Medecine, 26, 3, pp 78-82, 2003. [16] Oliver W. D., et al, Hanbury Brown and Twiss-Type Experiment with Electrons , Science, 9 April 1999, Vol. 284, no. 5412, pp. 299 û 301. [17] Hasegawa S. et al, Electron holography apparatus , United States Patent 4935625, issued June 19, 1990. Technique antérieure: Il existe des appareillages qui produisent un faisceau de rayons gamma ou X partielle-ment intriqué [8, 9, 10]. Il existe des appareillages basés sur des cristaux non-linéaires qui émettent des faisceaux séparés de photons intriqués [11,12]. Le brevet [8] décrit une méthode et un appareillage pour modifier la durée de vie de noyaux métastables. Le brevet [9] décrit une méthode et un appareillage pour utiliser l'intrication de noyaux métastables pour les télécommunications. Le brevet [10] décrit une méthode et un appareillage pour utiliser l'intrication des pièges de matériaux photo-luminescents ou thermoluminescents pour les télécommunications. Ces appareillages utilisent un faisceau d'électrons accélérés : chaque électron produit par effet Bremsstrahlung un spectre de photons comportant par exemple des photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou infrarouges, ou une combinaison de certains de ces types de photons. Une limitation intrinsèque du procédé est que la somme des énergies E; des k photons intriqués entre eux, en tout ou partie, produits par effet Bremsstrahlung lors de l'incidence d'un électron, est inférieure ou égal à l'énergie E dudit électron. E-Q/FR-05 -4 En particulier les procédés [8, 9, 10] font usages de photons d'énergies d'excitation Eex qui doivent être nettement supérieures à la valeur d'énergie de la transition isomérique Em pour obtenir un transfert d'intrication, par exemple en excitant des noyaux de nucléides isomères à un état métastable donné. En conséquence lesdits procédés ne permettent pas de générer plus de E/Eex photons gamma intriqués entre eux. Comme Eex n'est pas toujours connu, une borne supérieure du nombre de photons intriqués entre eux est donnée par E/Em. Cette borne n'est pas atteinte en pratique par lesdits procédés compte tenu de l'écart entre Em et Eex. Par exemple pour exciter l'indium 115 : Em = 336 keV, Eex = 1088 keV. Un accélérateur linéaire de type CLINAC produit par exemple des électrons accélérés d'énergie E = 6 MeV. Le nombre de photons gamma intriqués entre eux ne dépassera jamais E/Eex = 5, ni le majorant E/Em = 17. Dans la pratique, la figure 4 montre que l'énergie du nombre maximum de gamma émis est de 1,5 MeV, ce qui conduit à un maximum de 4 photons gamma intriqués entre eux. Exposé de l'invention: L'invention concerne un procédé pour obtenir le produit constitué, soit un faisceau d'électrons accélérés, ou de photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges, intriqués en tout ou partie, ou, soit plusieurs faisceaux intriqués, en tout ou partie, d'électrons accélérés, ou de photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges, eux-mêmes intriqués entre eux, en tout ou partie. L'invention consiste en l'application du transfert de l'intrication de particules à d'autres particules, ou de la génération de plusieurs particules intriquées à partir d'une particules, ou d'une combinaison de ces deux techniques pour transférer l'intrication de plusieurs particules intriqués, chacune à un groupe de particules elles-mêmes intriquées, ces groupes étant intriqués entre eux. Par exemple l'intrication de photons ultraviolets, visibles ou infrarouges est transférée à des électrons intriqués au moyen de photocathodes, l'intrication d'électrons est transférée à d'autres électrons au moyen de dynodes, l'intrication d'électrons est transférée à des photons par effet Bremsstrahlung, ou des groupes d'électrons intriqués sont générés à partir d'électrons au moyen de dynodes. Une description des différents composants connus individuellement et associés dans cette invention pour réaliser des faisceaux intriqués d'électrons intriqués ou de photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges intriqués est présentée ci-dessous. Les modules de l'appareillage décrit dans l'invention ci-dessous existent comme unités E-QIFR-05 -5 séparées, pour des applications, telles que la production de faisceaux intriqués de lumière utilisés en cryptographie, la détection de très faible luminosités, la production de rayon X ou gamma pour des applications médicales, et l'accélération de particules dans les appareils de collision de particules : 1 - Générateur de faisceaux intriqués de photons de lumière ultraviolette, visible ou infrarouge : Des faisceaux de photons lumineux intriqués sont produits avec des cristaux non-linéaires, par exemple des cristaux d'oxyde de borate de baryum (BBO) ou de triborate de lithium (LBO). Ceci est obtenu par illumination de ces cristaux par un faisceau laser polarisé [11,12]. La Figure 1 montre le schéma d'un système typique pour obtenir deux faisceaux de photons lumineux intriqués. Un faisceau laser (1) est dirigé sur le cristal non-linéaire (3) à travers le polariseur (2). L'axe principal (4) du cristal est orienté selon l'angle (5). Deux faisceaux intriqués (6) et (7) sont émis dans la plan de polarisation et dans deux directions différentes. Ces faisceaux peuvent avoir la même ou différentes longueurs d'ondes. Ils sont généralement très faibles, de l'ordre de un photon intriqué avec un photon de l'autre faisceau pour 10+20 photons émis par le laser. Le faisceau (8) en sortie du cristal n'est pas utilisé. 2 -Générateur d'électrons par photo-émission [131: Des électrons sont émis par des photocathodes lorsque celles-ci sont irradiées ou illuminées par des photons infrarouges, visibles, ou ultraviolets. Ces photocathodes sont par exemple constituées par des couches de matériaux bi-alcali composés d'alliages d'antimoine et d'autres métaux tels que rubidium, potassium, et césium. D'autres métaux peuvent être ajoutés pour étendre la réponse spectrale. Le rendement de ces photocathodes varie de 1% à 40% selon le type de photocathode et selon la longueur d'onde des photons incidents. Certaines photocathodes fonctionnent avec un rendement moyen de 10 à 30% pour des longueurs d'ondes allant de 175 à 800 nm. Le matériau utilisé pour supporter les couches sensibles est, par exemple, du verre borosilicate, du quartz pour les photons ultraviolets (jusqu'à 160 nm), du fluorure de magnésium pour les photons ultraviolets (jusqu'à 110 nm), ou du saphir (AI2O3) pour les photons ultraviolets et les environnements difficiles. La figure 2 représente schématiquement la photocathode (9) qui, sous l'action des photons (10), émet des photo-électrons (11). E-QIFR-05 -6 3 û Amplificateur du nombre d'électrons [131 : Sur la figure 2, les photo-électrons (11) émis par la photocathode, comme dans les photomultiplicateurs, sont dirigés vers une dynode (12) dont le potentiel est supérieur, par exemple de 100 V. Une électrode ou une lentille magnétique, (13) permet la focalisation du faisceau d'électrons sur la première dynode. L'impact de chaque photo-électron provoque l'émission de plusieurs électrons (14). Ce processus est répété jusqu'à 18 fois pour une amplification pouvant atteindre 10 millions. Dans les photomultiplicateurs, le faisceau d'électrons résultant (15) est généralement dirigé sur une anode (16) dont le courant est mesuré. 4 û Accélérateur d'électrons [141 : Les appareils qui amplifient l'énergie cinétique des électrons, c'est à dire leur vitesse, sont des accélérateurs. II en existe plusieurs sortes : accélérateurs linéaires, cyclotrons, rodotrons, etc. Tous reçoivent des électrons généralement de faible énergie cinétique, provenant par exemple d'un générateur thermo-émission ou photo-émission (17). Les accélérateurs linéaires sont les plus courants. Ils sont constitués par une série d'électrodes comme le montre schématiquement la figure 3. Le principe de l'accélération résonante est utilisé. Les électrons sont admis en (18), en provenance par exemple d'une photocathode (19), et après une focalisation magnétique (20). Les électrodes (21), qui sont alternativement positives et négatives grâce au générateur (22), accélérèrent progressivement les électrons qui passent donc d'une énergie cinétique de, par exemple 100 eV, à des énergie de MeV ou même de GeV dans les grands accélérateurs. Ils sortent en (23). û Cible [151 : Pour obtenir par effet Bremsstrahlung un spectre de rayons de grande énergie, par exemple comprenant une grande quantité de gamma, ou d'énergie moindre, par exemple X, ultraviolets, visibles ou infrarouges, le faisceau d'électrons est projeté, après focalisation, par exemple au moyen d'une lentille magnétique, sur une cible de tungstène par exemple. La cible est représentée en (24) sur la figure 3. Par exemple les gamma (25) issus de la cible ont un spectre énergétique qui est représenté sur la figure 4. Dans cette figure, l'accélérateur est un appareil CLINAC (Accélérateur Linéaire Compact : Compact Linear Accelerator ). Les électrons du faisceau ont une énergie de 6 MeV. Le spectre des gamma émis s'étend de 0 à 6 MeV comme le montre la figure 4. Il passe par un maximum vers 1,5 MeV [15]. Selon certains travaux [8,9], les rayons X et gamma émis par la cible du CLINAC sont intriqués par deux, trois, ou quatre, du fait qu'un E-Q/FR-05 -7 seul électron émet par Bremsstrahlung, et pratiquement simultanément, les rayons X ou gamma. Les générateurs de rayons X comportent des cibles de métaux plus légers tels que le Cuivre. Les rayons X proviennent du Bremsstrahlung mais surtout du saut d'un électron L dans l'orbite K pour remplacer l'électron K qui a été éjecté. Dans ce cas, les rayons X sont un mélange de rayons X provenant de l'interaction K et du Bremsstrahlung. Seuls les rayons du Bremsstrahlung sont intriqués. Dans les tubes cathodiques, la cible est un écran fluorescent. Celui-ci est bombardé par des électrons avec une énergie de l'ordre de 25 keV. Les piéges du produit fluorescent sont excités et ré-émettent pratiquement instantanément des rayons lumineux de différentes longueurs d'onde suivant le type de matériau fluorescent. L'excitation des piéges ne nécessitant que quelques eV, un électron excite plusieurs piéges, il en résulte une intrication entre les photons émis par le même électron. 6 û Diviseur de faisceau d'électrons : La technique de division des faisceaux d'électrons est utilisée en microscopie électronique [16]. Les diviseurs de faisceaux d'électrons sont utilisés également pour des applications d'holographie électronique [17]. Manières d'associer les modules précédents pour réaliser l'invention : Dans la meilleure manière de réaliser l'invention on utilise principalement des éléments décrits précédemment dans un agencement représenté sur la figure 5 dans son principe. D'autres mode de réalisation seront représentés dans la suite. Sur cette figure, un laser (26) émet des rayons polarisés infrarouges, visibles ou ultra-violets à travers un polariseur (27). Ces rayons rencontrent un cristal non-linéaire (28). Ce cristal non-linéaire a la propriété d'émettre dans le plan de polarisation, en plus du faisceau qui traverse le cristal, deux faisceaux intriqués de photons (29) et (30) suivant un angle (31) par rapport au faisceau principal. Ces faisceaux, beaucoup plus faibles que le faisceau principal, sont éventuellement réfléchis par les miroirs (33) et (34), selon l'agencement de l'appareillage. Lesdits faisceaux sont généralement appelés signal et idler . Le faisceau principal est absorbé par un absorber ( phantom ) (32). Ce type de production de faisceaux intriqués de photons lumineux est bien connu de l'homme de l'art. Certains cristaux, dans certaines conditions produisent deux faisceaux dont la longueur d'onde des photons est le double de la longueur d'onde du faisceau laser incident. On peut également obtenir des faisceaux dont la longueur d'onde des photons est différente. Dans ce cas toutefois, la somme de l'énergie des photons intriqués E-Q/FR-05 -8 est égale à celle du photons incident du laser. Les faisceaux sont envoyés sur deux canaux séparés qui commencent par les photocathodes (35) et (36). Ces photocathodes émettent des électrons intriqués de faible énergie. En effet, l'intrication est un phénomène robuste et la transmission de l'intrication d'une particule quantique à une autre est possible [6, 7, 8, 9]. La théorie de la photo-émission est bien connue. La loi de Einstein indique que l'énergie Ee, en Joule, de l'électron émis par un photon de fréquence nu , en Hertz, incident sur une surface dont le travail d'extraction de l'électron est phi , en Joule, est de la forme : Ee = h . nu ù phi h étant la constante de Planck (h = 6,63 10-34 J.$). En unités plus pratiques : Ee = 1240 / lambda ù phi Dans cette équation, Ee est en eV, lambda, la longueur d'onde, en nm, et phi est en eV Par exemple, si lambda = 400 nm (lumière violette), si phi = 2,14 eV (Césium), Ee=0,96 eV= 1.53 10-19J. Les métaux généralement utilisés, tels que Tellure, Gallium, Antimoine, Arsenic, etc , ont un travail d'extraction allant de 2 à 7 eV. L'énergie de l'électron est une énergie cinétique. Sa vitesse, dans le cas du Césium, est donc : V = (2 Ee / m) 0'5 = 5.8 10+5 m/s avec m, masse de l'électron = 9,109 10"31 kg. Selon la loi de Einstein, un photon cause l'éjection d'un électron. En conséquence, l'intrication du photon avec un autre photon de l'autre branche du système est transférée à l'électron. Le rendement des meilleures photocathodes est présentement d'environ 25%. Sur l'un des faisceaux, un photon intriqué sur quatre transmet son intrication à un électron. II en sera de même sur l'autre faisceau. II en résulte que, dans ce cas, un photon sur 16 de chaque faisceau transmet son intrication à un électron qui est intriqué avec un autre électron dans l'autre branche du système. Une augmentation du rendement des photo-cathodes augmente donc rapidement le rendement en terme d'électrons intriqués. II est important que les temps de trajets des photons à partir du cristal non linéaire soient égaux dans les deux branches du système pour obtenir une transmission optimale de l'intrication. E-QIFR-05 -9 Dans la présente invention, les électrons sont multipliés par une méthode similaire à celle utilisée dans les photomultiplicateurs. Les électrons de vitesse V sont focalisés et dirigés, dans chaque branche du dispositif, vers les multiplicateurs d'électrons (37) et (38). Ceux-ci comportent une première dynode qui crée un champ électrique EE. Ce champ est dû à une tension électrique appliquée sur la dynode, par exemple d'environ 100 V, sur une distance, d, par exemple de 1 cm (0,01 m). Le champ est donc de 10000 V/m. Les électrons éjectés, par exemple d'une photocathode de Césium, par des photons de 400 nm, sont accélérés et acquièrent une énergie supplémentaire selon l'équation : ES=EExd=100 eV L'énergie totale quand les électrons rencontrent la dynode, Ed, est donc de : Ed = Ee + Es = 100,96 eV = 1,62 10-17 J. La vitesse correspondante, Vd, est de : Vd = (2 Ed / m ) 0,5 = 5,9 10+' m/s Avec m masse de l'électron soit 9,11 10-31 kg. La vitesse moyenne de l'électron pendant le trajet est donc de: Vm=(V+Vd)/2=2,9510+'m/s Le temps nécessaire pour parcourir la distance de la photocathode vers la première dynode est donc de : d/Vm=3.3810"10s= 338ps Ce temps est très inférieur au temps requis pour une décohérence appréciable de l'état d'intrication des électrons. On peut donc considérer les électrons émis par la photocathode comme toujours intriqués lorsqu'ils rencontrent la première dynode. Les électrons rencontrent généralement la surface de la dynode avec un angle d'incidence de l'ordre de 45 . En conséquence, l'énergie des électrons est essentiellement dissipée par l'émission de plusieurs électrons et non pas par Bremsstrahlung. Les dynodes ont généralement une surface composée de beryllium-cuivre ou d'antimoine-césium. Le travail d'extraction pour ces métaux va de 2 à 5 eV. Dans le cas des électrons incidents, plusieurs électrons secondaires sont éjectés. En supposant que leur énergie est similaire à celle des électrons émis par la photocathode, soit 1 eV, 3 à 5 eV sont nécessaires pour éjecter un électron. Comme 100 eV sont disponibles, théoriquement 20 à 30 électrons secondaires pourraient être éjectés par l'action d'un seul électron. Le rendement des dynodes est tel que généralement 5 à 10 électrons par électron incident sont éjectés. Les électrons éjectés provenant d'un E-Q/FR-05 -10 électron intriqué sont alors des électrons intriqués entre eux et avec les électrons correspondants de l'autre branche du système. Le même phénomène se reproduit d'une dynode à l'autre car généralement le même champ électrique est appliqué entre dynodes et finalement vers l'anode finale qui dans notre cas a une configuration particulière. Dans le cas où, par exemple, 5 dynodes sont utilisées. Avec un gain de 5 électrons par dynode, on obtient un gain total de 3125 et avec un gain de 10 électrons par dynodes, on obtient un gain total de 100000. On a donc à la sortie de la dernière dynode 3125 ou 100000 électrons intriqués entre eux et intriqués avec les 3125 ou 100000 électrons correspondants de l'autre branche du système qui sont eux mêmes intriqués entre eux. Dans la présente invention, l'anode non collectrice qui termine la partie augmentation du nombre d'électrons, comporte par exemple une ouverture en son centre, et permet aux électrons de continuer leur course vers le module suivant qui est l'accélérateur, augmentant l'énergie, donc de la vitesse, des électrons. Il est important que les temps de trajets des électrons entre les différents constituants dans le multiplicateur d'électrons aient la même valeur dans les deux branches du dispositif pour obtenir un transfert optimal de l'intrication. Un accélérateur est placé sur chaque branche du dispositif. Ils sont représentés sur la figure 5 par les repères (39) et (40). Le plus simple module est constitué par une seule électrode anode avec un potentiel de millions de volts pour accélérer les électrons. Par exemple, pour atteindre une énergie de 6 MeV, l'électrode est à 6 millions de volts. Dans ce cas le courant d'électrons est continu. Des modules accélérateur d'électrons utilisant de plus faibles potentiels et donnant le même résultat sont bien connus des hommes de l'art. En particulier, l'accélérateur linéaire compact ( Compact Linear Accelerator CLINAC) [15] est utilisé couramment pour des applications médicales ou nucléaires. Un diagramme simplifié de l'accélérateur linéaire du type Widerôe est donné sur la figure 3. Un faisceau de particules négatives telles que des électrons est accéléré dans les intervalles avec des flèches vers la droite. Quand le cycle du générateur change, les polarités changent et l'accélération se produit dans les autres intervalles. Pendant le changement de polarité les électrons progressent à l'intérieur des électrodes. La différence de potentiel entre les différentes électrodes est la même. Comme la vitesse des électrons augmente, la longueur des électrodes augmente à mesure que les électrons progressent dans l'appareil. Si la différence de potentiel est par exemple de 100000 V, et l'intervalle entre électrode de 10 cm (0,10 m), le champ électrique sera E-QIFR-05 -11 de 1000000 V/m et l'énergie acquise par les électrons de 100 keV par intervalle. Bien que les accélérateurs soient relativement longs, de l'ordre du mètre, la très grande vitesse des électrons, dû au fait qu'elle est relativiste et voisine de la vitesse de la lumière conduit à des temps de parcours dans l'accélérateur est de l'ordre de 330 ns (0,33 10"6 s). Ce temps est également inférieur au temps requis pour une décohérence appréciable de l'état d'intrication des électrons. En conséquence, les faisceaux d'électrons intriqués entre eux et avec les électrons du faisceau correspondant sur l'autre branche du système rencontrent les cibles (41) et (42) sur la figure 5. Dans ce système, les électrons se propagent par groupes très rapprochés car la fréquence de changement de polarité est très élevée, de l'ordre de 200 Mégahertz. Dans le cas des rayons X, l'énergie requise pour les électrons est de l'ordre de 100 à 200 keV ; En conséquence, seulement quelques étages de l'accélérateur sont nécessaire, par exemple, deux étages. Dans le cas des rayons lumineux, généralement un étage est suffisant pour élever l'énergie des électrons, par exemple, à 25 keV. Il est important que les temps de trajets des électrons dans l'accélérateur d'électrons aient la même durée dans les deux branches du dispositif pour obtenir une conservation optimale de l'intrication et un transfert optimal de l'intrication lors des bombardements de cibles ou d'échantillons par des électrons. Les cibles représentées par les repères (41) et (42) sont optionnelles. Les faisceaux partiellement intriqués d'électrons partiellement intriqués entre eux peuvent être utilisés comme tels ou bien être dirigés vers des cibles, par exemple constituées de tungstène, représentées dans chaque branche du dispositif par les repères (41) et (42). Les électrons des faisceaux interagissent alors par effet Bremsstrahlung avec lesdites cibles. Si, par exemple, un électron des faisceaux a une énergie de 6 MeV, il génère plusieurs gamma dont l'énergie se répartit statistiquement sur le spectre de la courbe de la figure 4. Lesdits gamma sont émis essentiellement vers l'avant à cette énergie et sont représentés par les repères (42) et (43). En outre, puisque le même électron émet plu-sieurs rayons gamma et rayons X, ces gamma et X sont également intriqués ce qui augmente encore le nombre de gamma partiellement intriqués dans les faisceaux pro-duits dans le cadre de l'invention. On obtient donc deux faisceaux composés d'un spectre de rayons gamma et de rayons X et constitués par des groupes de rayons X et gamma partiellement intriqués entre eux et intriqués avec le groupe correspondant sur l'autre branche de l'appareil. Pour certaines applications, des collimateurs (45) et (46) E-QIFR-05 -12 sont nécessaires pour irradier des surfaces de dimensions données. Certains électrons, en particulier pour les cibles de métaux plus légers tels que le cuivre, interagissent avec les électrons de l'orbite K. Dans ce cas, l'électron qui remplace celui qui a été éjecté en produisant un rayon X, n'est pas intriqué et le rayon X émis n'est pas intriqué. Onchoisit donc des cibles pour lesquelles l'interaction avec les électrons de l'orbite K est minimale. Ce problème est surtout important pour les électrons intriqués incidents d'une énergie inférieure à 200 keV. Pour obtenir des rayons intriqués dans le domaine de l'ultraviolet, visible, ou infrarouge, la cible est constituée de molécules fluorescentes. L'impact des électrons intriqués de plus faible énergie, par exemple de 25 keV, provoque l'émission de photons auxquels l'intrication a été transférée. On obtient donc à nouveau deux faisceaux composés d'un spectre de rayons ultraviolets, visibles, ou infrarouges et constitués par des groupes de rayons ultraviolets, visibles, ou infrarouges partiellement intriqués entre eux et intriqués avec le groupe correspondant sur l'autre branche de l'appareil. Dans le cas où l'on n'utilise pas de cibles on obtient des groupes d'électrons intriqués entre eux et intriqués avec le groupe correspondant sur l'autre branche de l'appareil. Une version de l'appareillage comporte un ou plusieurs diviseurs de faisceaux d'électrons entre les multiplicateurs d'électrons (37) et (38) et les accélérateurs d'électrons (39) et (40). On obtient alors plus de deux faisceaux d'électrons. Par exemple, dans le cas d'une division de chaque branche, on obtient soit quatre faisceaux d'électrons partiellement intriqués de haute énergie si l'on n'utilise pas de cible, soit des groupes de rayons gamma, X, ultraviolets, visibles, ou infrarouges partiellement intriqués entre eux si l'on utilise une cible. Il est également possible de n'utiliser qu'une seule branche, avec ou sans division, de l'appareillage décrit ci-dessus avec des photons non intriqués incident sur la photocathode. Dans ce cas on obtient un ou plusieurs faisceaux contenant soit des groupes d'électrons partiellement intriqués entre eux si l'on n'utilise pas de cibles, soit des groupes de rayons gamma, X, ultraviolets, visibles, ou infrarouges partiellement intriqués entre eux si l'on utilise une ou plusieurs cibles. La photocathode peut également être remplacée par une cathode chaude, par exemple une cathode à oxyde, qui émet des électrons par agitation thermique. II est clair que par divisions successives le nombre de faisceaux intriqués n'est pas limité. Les différentes étapes utilisées pour la mise en oeuvre du procédé, objet de cette inven- E-QIFR-05 -13 tion, et la caractérisation des produits correspondants sont énumérées et numérotées ci-dessous. 1 - Dans le procédé pour générer, soit un faisceau d'électrons accélérés intriqués, en tout ou partie, ou, soit plusieurs faisceaux intriqués, en tout ou partie, d'électrons accélérés eux-mêmes intriqués entre eux, en tout ou partie, appelé dans la suite procédé de référence , on utilise entre autre : la génération d'électrons, la multiplication du nombre d'électrons, -l'accélération des électrons, Ce procédé est caractérisé en ce que l'on effectue les étapes principales suivantes, appelées par convention étapes primaires : - une étape primaire de production d'un faisceau d'électrons intriqués, dans la-quelle on produit un faisceau de d'électrons libres intriqués, appelée faisceau de multiplication , par les sous-étapes suivantes, dénommées par convention étapes secondaires : o dans une étape secondaire de génération d'électrons dans laquelle on génère des électrons libres, par exemple, soit au moyen d'une cathode chauffée, ou, soit au moyen d'une photocathode irradiée, illuminée par un faisceau composé respectivement de photons ultraviolets, visibles ou Infrarouges, ou une combinaison de ces types de photons, cette photocathode transmettant l'intrication éventuelle des photons aux électrons générés dans ce cas, la cathode ou la photocathode sera appelée par convention électrode de l'étape, o dans une autre étape secondaire de multiplication de l'intrication, on produit des électrons intriqués, comportant les sous-étapes suivantes, appelée par convention étapes tertiaires : ^ une étape tertiaire d'introduction des électrons dans le premier étage du multiplicateur d'électrons intriqués, dans laquelle on dirige, par exemple au moyen d'une lentille magnétique ou d'une électrode de focalisation, des électrons libres de l'étape précédente vers une dynode dont le potentiel est supérieur à la l' électrode de l'étape précédente, par exemple de 100V. L'impact d'au moins un électron sur cette dynode provoque l'émission de plu-sieurs électrons émis simultanément, ou en cascade rapprochée, donc intriqués en tout ou partie entre eux. Dans les cas où les électrons incidents sont E-Q/FR-05 -14 eux-mêmes intriqués avec d'autres électrons, un transfert partiel ou total de l'intrication des électrons incidents aux électrons se produit lors de l'impact par la dynode . ^ Dans une étape tertiaire optionnelle de multiplication de l'intrication dans le second étage du multiplicateur d'électrons intriqués, on dirige des électrons produits à l'étape précédente vers une nouvelle dynode dont le potentiel est supérieur à la dynode précédente, par exemple de 100V. L'impact d'au moins un électron provoque l'émission de plusieurs électrons émis simultanément, ou en cascade rapprochée, donc intriqués en tout ou partie entre eux, et dans les cas où les électrons incidents sont eux-mêmes intriqués avec d'autres électrons, avec un transfert partiel ou total de l'intrication des l'électrons incidents aux électrons produits par cette nouvelle dynode lors de l'impact. ^ Dans une étape tertiaire optionnelle de multiplication additionnelle de l'intrication dans un ou plusieurs étages intermédiaires du multiplicateur des électrons intriqués, on répète l'étape précédente de 1 à 99 fois pour obtenir un grand nombre d'électrons intriqués, ^ Dans une étape tertiaire de sortie des électrons dans le dernier étage du multiplicateur d'électrons intriqués, on dirige des électrons intriqués produits à l'étape précédente vers une anode non collectrice, dont le potentiel est supérieur à la dernière dynode rencontrée, par exemple de 100 V. Ladite anode comporte, par exemple, soit une ouverture en son centre, soit encore une grille ad hoc, cette anode ne collecte pas les électrons, et autorise le passage de tout ou partie des électrons libres intriqués, pour former le faisceau de multiplication . ^ Dans une étape tertiaire optionnelle de focalisation, on focalise, par exemple au moyen d'une lentille magnétique ou d'une électrode de focalisation, le faisceau de multiplication . o Dans une étape primaire optionnelle de division du faisceau de multiplication , on produit deux ou plusieurs faisceaux composés d'électrons libres intriqués, éventuellement multipliés à nouveau, appelée faisceaux intriqués divisés , par les sous-étapes suivantes, dénommées par convention étapes secondaires : o Dans une étape secondaire de division du faisceau de multiplication , on divise le faisceau de multiplication précédent en deux ou plusieurs faisceaux E-QIFR-05 -15 composés d'électrons intriqués, par exemple au moyen d'une ou plusieurs lentilles magnétiques ou électrodes de focalisation, lesdits faisceaux étant dénommés faisceaux divisés . o Dans une étape secondaire optionnelle (de cette étape primaire ) de multiplication des électrons intriqués, on applique séparément à tout ou partie des faisceaux divisés précédents, l'étape secondaire dite de multiplication de l'intrication définie à l'étape primaire de production d'un faisceau d'électrons intriqués. Dans une étape primaire optionnelle de sur-division d'un ou plusieurs faisceaux divisés , on répète l'étape primaire précédente de 1 à 20 fois pour au moins un faisceau divisé précédent, de façon à obtenir un grand nombre faisceaux sur-divisés comportant un grand nombre d'électrons intriqués. Finalement, dans une étape primaire d'accélération des électrons intriqués, dans on accélère les électrons intriqués, soit du faisceau de multiplication lorsque aucune division n'est pratiquée auparavant, soit d'un ou plusieurs faisceaux intriqués divisés lorsqu'au moins une étape primaire de division du faisceau de multiplication a été appliquée. On communique alors aux électrons intriqués des faisceaux une énergie cinétique selon l'optimisation du procédé d'application. Le ou les faisceaux d'électrons intriqués accélérés forment alors le résultat du procédé. Ces étapes primaires , secondaires ou tertiaires peuvent également comporter des sous-étapes additionnelles optionnelles telles que des focalisations de faisceau d'électrons, des collimations de faisceau d'électrons, ou des accélérations de faisceau d'électrons selon l'optimisation du procédé. 2 - Le procédé de référence ci-dessus, pour générer, soit un faisceau collimaté composé d'un spectre de photons intriqués, en tout ou partie, et dont les photons de chaque faisceau sont eux-mêmes intriqués entre eux, en tout ou partie, peut comporter entre autre en complément les fonctions suivantes: l'effet Bremstrahlung, la collimation, II est caractérisé par les étapes suivantes : on dirige les électrons intriqués accélérés, selon le cas, o soit du faisceau d'électrons intriqués accélérés, formant le résultat du procédé référencé , vers une cible, par exemple de tungstène. Par effet Bremstrahlung E-Q/FR-05 -16 un faisceau contenant un spectre de photons intriqués, en tout ou partie, composé de gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges, selon l'énergie des électrons incidents est produit. o soit de tout ou partie des s faisceaux d'électrons intriqués accélérés, formant le résultat du procédé référencé , vers une ou plusieurs cible selon l'application du procédé, par exemple de tungstène. Par effet Bremstrahlung des faisceaux contenant un spectre de photons intriqués, en tout ou partie, composé de gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges, selon l'énergie des électrons incidents sont produits. On positionne alors un ou plusieurs collimateurs dans le prolongement des cibles pour obtenir à travers chaque collimateur, un faisceau collimaté du ou des spectres de photons intriqués, selon l'irradiation requise pour l'utilisation du dispositif, ces faisceaux collimatés de photons intriqués forment le produit du procédé. Ces dernières étapes peuvent comporter des sous-étapes additionnelles optionnelles telles que des focalisations de faisceau de photons lorsque leur longueur d'onde le permet, ou des collimations complémentaires de faisceau de photons, ou des combinaisons de ces moyens, selon l'optimisation du procédé. 3 - Le procédé de référence numéroté 1, est caractérisé par l'énergie cinétique communiquée par l'accélération aux électrons intriqués à l'étape primaire d'accélération des électrons intriqués, elle est comprise en 1 keV et 10 GeV. 4 - Le procédé de référence numéroté 1, lorsqu'il comporte des faisceaux divisés traversant au moins un élément de même nature selon le même enchaîne-ment, est caractérisé par le fait qu'au moins deux faisceaux d'électrons divisé à par-tir du faisceau de multiplication comportent des temps trajets entre éléments homologues, par exemple entre des cathodes ou photocathodes et la première dynode, ou encore entre des dynodes de même rang d'une étape de multiplication additionnelle, de mêmes durées afin d'optimiser le transfert de l'intrication entre l'électron intriqué incident et les électrons intriqués produits. - Le procédé dépendant numéroté 2, est également caractérisé par le fait qu'au moins deux faisceaux d'électrons intriqués accélérés comportent des ternps de trajets, entre la dernière dynode ayant produit les électrons intriqués desdits faisceaux et les cibles d'incidence desdits faisceaux exploités par effet Bremstrahlung, qui sont de mêmes du-rées afin d'optimiser le transfert de l'intrication entre les électrons intriqués incidents et E-Q/FR-05 -17 les photons gamma, ultraviolets, visibles ou Infrarouges intriqués, en tout ou partie, qui sont produits. 6 - Le procédé de référence numéroté 1, pour générer deux ou plusieurs faisceaux intriqués, en tout ou partie, d'électrons accélérés, eux-mêmes intriqués, en tout ou partie, entre eux dans chaque faisceau, utilise entre autre en complément la génération de faisceaux intriqués de photons de lumière ultraviolette, visible ou infraraouge. Il est caractérisé en ce que l'on effectue les étapes suivantes : - on génère deux faisceaux intriqués de photons ultraviolets, visibles ou infrarouge au moyen d'un cristal non linéaire, par exemple de BBO ou LBO, par illumination au moyen d'un laser polarisé, lesdits faisceaux intriqués étant dénommés signal et idler , et appelés par convention les faisceaux incidents lorsqu'ils ne font pas l'objet d'une division. optionnellement on subdivise un ou deux des faisceaux intriqués de photons signal ou idler , en un ou plusieurs faisceaux intriqués, en tout ou partie, de photons, eux-mêmes intriqués, en tout ou partie entre eux, dans chaque faisceau, lesdits faisceaux, étant soit des faisceaux intermédiaires, soit les faisceaux ultimes, résultants de la ou des divisions, ces derniers étant appelés par convention faisceaux incidents . on applique le procédé de référence ci-dessus, au moins deux fois séparément et simultanément en utilisant au moins deux des faisceaux incidents définis ci-dessus. Au moins un des faisceaux est, soit le faisceau signal , soit issu d'une di-vision du faisceau signal , et dont au moins un autre est, soit le faisceau idler , soit issu d'une division du faisceau idler . Chacun desdits faisceaux incidents est appliqué comme faisceau de photons ultraviolets, visibles ou Infrarouges incidents sur la photocathode de l'étape secondaire de génération d'électrons de l'étape primaire de production d'un faisceau d'électrons intriqués du procédé. Il génère alors, soit un faisceau d'électrons accélérés intriqués, en tout ou partie, ou soit plusieurs faisceaux intriqués, en tout ou partie, d'électrons accélérés eux-mêmes intriqués entre eux, en tout ou partie. Ces étapes peuvent comporter des sous-étapes additionnelles optionnelles telles que des focalisations ou des réflexions de faisceau de photons lorsque leur longueur d'onde le permet, ou des collimations de faisceau de photons, ou des combinaisons de ces moyens, selon l'optimisation du procédé. E-Q/FR-05 -18 7 - Le procédé ci-dessus numéroté 6 décrit pour générer au moins deux faisceaux de photons collimatés gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges intriqués, en tout ou partie, et dont les photons de chaque faisceau sont eux-mêmes intriqués entre eux, en tout ou partie, dans lequel on utilise entre autre en complément : l'effet Bremstrahlung, la collimation, Il est caractérisé en ce que l'on effectue les étapes supplémentaires suivantes : on dirige les électrons intriqués accélérés, selon le cas, o soit du susdit faisceau d'électrons intriqués accélérés, formant le résultat du pro-cédé référencé , vers une cible, par exemple de tungstène, qui produit par effet Bremstrahlung un spectre de photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges intriqués, en tout ou partie, o soit de tout ou partie des susdits faisceaux d'électrons intriqués accélérés, formant le résultat du procédé référencé , vers une ou plusieurs cibles selon l'application du procédé, par exemple de tungstène, qui produisent par effet Bremstrahlung un spectre de photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infra-rouges intriqués, en tout ou partie, on place un ou plusieurs collimateurs sur tout ou partie des trajets des rayons pro-venant des cibles pour obtenir à travers chaque collimateur un faisceau collimaté de photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges intriqués selon l'irradiation requise pour l'utilisation du dispositif. Ce ou ces faisceaux collimatés de photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges intriqués forment le produit du procédé. Ces étapes peuvent comporter des sous-étapes additionnelles optionnelles telles que des focalisations de faisceau de photons lorsque leur longueur d'onde le permet, ou des collimations complémentaires de faisceau de photons, ou des combinaisons de ces moyens, selon l'optimisation du procédé. 8 - Le procédé ci-dessus numéroté 7 est, par surcroît, caractérisé en ce qu'au moins deux faisceaux d'électrons intriqués accélérés comportent des ternps de trajets, entre la dernière dynode ayant produit lesdits électrons intriqués desdits faisceaux et la cible d'incidence exploitée par effet Bremstrahlung pour chacun desdits faisceaux, qui sont de mêmes durées afin d'optimiser le transfert de l'intrication entre les électrons intriqués incidents et les photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges intriqués, en tout E-Q/FR-05 -19ûou partie, produits. 9 - Le procédé ci-dessus numéroté 6 est également caractérisé par le fait que les temps de trajet des photons intriqués entre leur génération dans le cristal non linéaire, et leurs incidences sur au moins deux photocathodes, sont de mêmes durées afin d'optimiser le transfert de l'intrication entre les photons intriqués incidents, et les électrons intriqués, en tout ou partie, produits par lesdites photocathodes. 10 - L'application de l'ensemble de 1 à 9 de la description du procédé est caractérisée par le fait que tout ou partie du procédé est exécuté sous vide afin d'optimiser le transfert de l'intrication dans une ou plusieurs étapes ou utilisation du procédé. 11 -L'application de l'ensemble des options de 1 à 9 de la description du procédé résulte en un produit intermédiaire ou final selon les options utilisées. Ce produit est constitué, soit par le faisceau de particules intriquées entre elles, soit par les faisceaux intriqués entre eux de particules elles-mêmes intriqués entre elles, produits par le pro-cédé, les faisceaux de particules comprenant soit des électrons, soit des photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges, soit encore un spectre de tout ou partie de ces types de photons, à l'exception des faisceaux comportant des photons ultraviolets, visibles ou Infrarouges produits par des cristaux non linéaires. 13 û Pour l'application de l'ensemble des options de 1 à 9 de la description du procédé dans toutes ses options, on élabore également un produit amélioré qui consiste en un ou plusieurs échantillons intriqués améliorés de nucléides métastables. Ce pro-duit peut être utilisé, par exemple, soit pour irradier l'environnement, soit pour construire un laser gamma, soit pour conduire des réactions physico-chimiques, soit pour communiquer à distance, ou soit encore, pour un usage médical. 14 - Finalement, pour l'application de l'ensemble des options de 1 à 9 de la description du procédé, un produit intermédiaire ou final constitué, soit par le faisceau de particules intriquées entre elles, soit par les faisceaux intriqués entre eux de particules elles-mêmes intriqués entre elles, peut être produit par le procédé en utilisant des nucléides métastables. Ces faisceaux de particules comprennent, soit des électrons, soit des photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou infrarouges, soit encore un spectre de tout ou partie de ces types de photons. Ce produit peut être utilisé pour un usage médical. Description sommaire des dessins : La Figure 1 représente le schéma de l'utilisation d'un cristal non-linéaire pour obtenir E-QIFR-05 -20 deux faisceaux intriqués de photons de lumière.(D'après Kurtsiefer C., Oberparleiter M., and Weinfurter H., Generation of correlated photon pairs in type Il parametric down conversion û revisited Feb. 7, 2001, submitted J. Mod. Opt.) La figure 2 représente schématiquement le processus de multiplication des électrons dans un photomultiplicateur,(D'après Ralph W. Engstrom, "Photomultipliers Handbook"). La figure 3 représente schématiquement un accélérateur linéaire muni d'une cible de tungstène pour émettre un spectre de photons gamma et X. La figure 4 montre le spectre typique de photons gamma et X émis par un accélérateur linéaire de type CLINAC. (D'après Sameer S. A. Natto, Belal Moftah, and Noor M. H. Ghassal, Journal of Australian Physical & Engineering Sciences in Medecine, 26, 3, pp 78-82, 2003.). La figure 5 représente le schéma d'ensemble d'une version de l'appareillage objet de l'invention. Cet appareillage génère deux faisceaux intriqués de rayons gamma, X, ultraviolets, visibles, ou infrarouges, eux-mêmes partiellement intriqués. La figure 6 représente le schéma d'un générateur typique d'électrons intriqués. La figure 7 représente le schéma d'un générateur de photo-électrons par transparence. La figure 8 représente le schéma d'un générateur de photo-électrons par réflexion. La figure 9 représente le schéma d'un amplificateur du nombre d'électrons constitué de dynodes. La figure 10 représente le schéma d'un accélérateur d'électrons du type linéaire. La figure 11 représente le schéma d'un générateur typique de rayons infrarouges, visibles, ultraviolets, X, ou gamma, intriqués grâce à une cible dans laquelle l'effet de Bremsstrahlung produit lesdits rayons. Ces rayons sont collimatés. La figure 12 représente le schéma du processus de Bremsstrahlung dans une cible dans lequel les électrons incidents génèrent des rayons infrarouges, visibles, ultraviolets, X, ou gamma, intriqués. La figure 13 illustre le cas où le faisceau d'électrons sortant du multiplicateur d'électrons est divisé en deux. Chaque faisceau est alors envoyé vers l'accélérateur pour émettre des électrons de forte énergie qui sont utilisés comme tels. La figure 14 illustre le cas où le faisceau d'électrons sortant du multiplicateur d'électrons est divisé en deux. Chaque faisceau est alors envoyé vers l'accélérateur pour émettre des électrons de haute énergie. Lesdits électrons rencontrent alors une cible pour générer des rayons infrarouges, visibles, ultraviolets, X, ou gamma, intriqués. E-QIFR-05 - 21 û La figure 15 illustre une variante de la figure 13 dans laquelle les faisceaux divisés sont dirigés vers un multiplicateur d'électrons avant d'entrer dans l'accélérateur pour émettre des électrons de forte énergie qui sont utilisés comme tels. La figure 16 illustre une variante de la figure 15 dans laquelle les faisceaux divisés sont dirigés vers des multiplicateurs d'électrons avant d'entrer dans les accélérateurs pour émettre des électrons de forte énergie. . Lesdits électrons rencontrent alors des cibles pour générer des rayons infrarouges, visibles, ultraviolets, X, ou gamma, intriqués. La figure 17 illustre une variante de la figure 5 dans laquelle les faisceaux d'électrons intriqués à la sortie des multiplicateurs d'électrons sont utilisés comme tels pour irradier, par exemple, des échantillons thermoluminescents. La figure 18 illustre une variante de la figure 17 dans laquelle les faisceaux d'électrons intriqués à la sortie des multiplicateurs d'électrons sont focalisés pour irradier de très petites surfaces Manières de réaliser l'Invention : Des manières de réaliser l'invention sont décrites ci-dessous. Cependant, il est précisé que la présente invention peut-être réalisée de différentes façons. Ainsi les détails spécifiques mentionnés ci-dessous ne doivent pas être compris comme limitant la réalisation, mais plutôt comme une base descriptive pour supporter les revendications et pour apprendre à l'homme de l'art l'usage de l'invention présente, dans pratiquement la totalité des systèmes, structures, ou manières détaillées appropriés. La Figure 6 représente un module de transformation des photons en un faisceau d'électrons intriqués. L'élément (47) représente un générateur d'électrons de faible énergie, par exemple de 1 à 10 eV. Ledit générateur peut être une photocathode ou in filament chaud. Un premier type de photocathode est illustré sur la figure 7. Une fenêtre transparente (81) est traversée par des photons (52) qui rencontrent la couche sensible (53). Ladite couche sensible émet des électrons (54) selon l'explication qui a été fournie précédemment. Les électrons peuvent également être émis par une cathode par ré-flexion comme indiqué sur la figure 8. Dans ce cas, les photons (55) traverse une fenêtre (56) pour rencontrer la couche sensible (57) portée par exemple sur la paroi (58) et émettre les électrons (59). Les électrons sont alors attirés par la dynode (60) du module multiplicateur d'électrons représenté sur la figure 9. Ledit module est référencé (48) sur la figure 6. Ladite dynode (60) a un potentiel supérieur à celui de la cathode, par exemple de 100 V, pour créer un E-Q/FR-05 -22 champ électrique et accélérer les électrons comme expliqué précédemment. Une électrode ou bobine de focalisation (62) peut être utilisée pour focaliser les électrons. Plu-sieurs électrons intriqués (63) sont émis par l'impact de chaque électron comme le montre la figure 9. Le même phénomène se reproduit sur les dynodes suivantes, comme le montre la dynode (64) qui émet les électrons intriqués (65). Finalement, le faisceau de la dernière dynode est focalisé par une électrode ou bobine (67) pour for-mer le faisceau (66) qui sera admis dans le module suivant. Le module suivant, référencé (49) sur la figure 6, est le module d'accélération des électrons. La figure 10 est un schéma de ce module. Les électrons du faisceau (68), provenant du module multiplicateur, sont admis a travers un anneau de focalisation vers une électrode (70) de potentiel très élevé, par exemple de 100000 V. Ils sont donc fortement accélérés et continuent leur course à travers l'électrode (70) pour être re-focalisés par l'anneau (71) alors qu'un nouveau potentiel très élevé appliqué dans le sens ad hoc par le générateur (76) entre les électrodes (70) et (72) continue d'augmenter la vitesse des électrons. Le processus est répété avec le focalisateur (73), (75) et suivants ainsi qu'avec les électrodes (74) et suivantes jusqu'à la sortie du faisceau d'électrons intriqués de grande énergie (77). Ce faisceau peut être utilisé comme tel pour différents applications. II peut également être envoyé sur une cible comme le monte la figure 11. La figure 11 est identique à la figure 6 avec l'ajout d'une cible (80) et d'un collimateur (82) pour collimater les rayons (81) émis par Bremsstrahlung. Sur la figure 12, est représenté le faisceau accéléré d'électrons intriqués (79) qui rencontrent la cible (80), par exemple de tungstène, de laquelle sont émis les rayons intriqués, par exemple gamma (81). Lesdits rayons intriqués sont alors collimatés par le collimateur (82) pour fournir un faisceau (83) avec les dimensions requises pour les applications. Sur la figure 13, on retrouve le générateur d'électrons (47), le multiplicateur d'électrons (48) qui génère des électrons intriqués (85) et le diviseur de faisceau (84) qui divise statistiquement les électrons intriqués en deux faisceaux (86) et (87). Ces faisceaux sont alors admis dans deux accélérateurs d'électrons (88) et (89) semblables à celui décrit précédemment. Il en sort deux faisceaux d'électrons de haute énergie contenant des groupes d'électrons intriqués entre eux et intriqués de faisceau à faisceau. Lesdits faisceaux peuvent alors être utilisés comme tels pour diverses applications. Les faisceaux intriqués d'électrons peuvent également être utilisés comme le montre la figure 14. Deux cibles (90) et (91) sont positionnées sur le trajet des électrons de haute E-QIFR-05 -23 énergie sortant de l'accélérateur. Par effet Bremsstrahlung,deux faisceaux de gamma intriqués (92) et (93), par exemple, sont émis. Lesdits gamma sont collimatés par les collimateurs (94) et (95). Les faisceaux collimatés (96) et (97) peuvent alors être utilisés pour diverses applications. Une variante de la mise en oeuvre précédente est représentée sur la figure 15. Dans la-dite variante, les faisceaux (86) et (87) provenant du diviseur de faisceau sont envoyés sur deux autres multiplicateurs d'électrons (98) et (99) qui augmentent le nombre d'électrons intriqués dans chaque branche. Lesdits électrons sont alors accélérés dans les accélérateurs (100) et (101). Les faisceaux d'électrons intriqués (102) et (103) sont alors utilisés comme tels pour diverses applications. Une utilisation desdits faisceaux intriqués est représentée sur la figure 16. Ladite figure contient les éléments de la figure 15 et deux cibles (104) et (105) positionnées sur le trajet des électrons de haute énergie sortant de l'accélérateur. Par effet Bremsstrahlung, deux faisceaux de gamma intriqués (106) et (107), par exemple, sont émis. Les-dits gamma sont collimatés par les collimateurs (108) et (109). Les faisceaux collimatés (110) et (111) peuvent alors être utilisés pour diverses applications. La figure 17 est une version simplifiée de la figure 5 dans laquelle les cibles et les collimateurs ont été supprimés pour utiliser les faisceaux d'électrons intriqués (112) et (113) comme tels pour diverses applications. La figure 18 représente une version particulière de la figure 17. Dans la figure 18, une focalisation des électrons intriqués de haute énergie est faite, par exemple, grâce à des lentilles magnétiques (114) et (115) afin d'obtenir des faisceaux intriqués couvrant des surfaces ad hoc, par exemple de un micromètre carré à un millimètre carré sur les cibles-échantillons (116) et (117). Les faisceaux non focalisés peuvent couvrir des surfa-ces plus grandes, par exemple de un millimètre carré à un décimètre carré. Le même dispositif de focalisation est également applicable aux faisceaux produits sur les figures 13 et 15. Meilleure manière de réaliser l'Invention : La figure 5 représente la meilleure manière de réaliser l'invention. Un laser (26) émet un faisceau de rayons de lumière avec une longueur d'onde de 110 à 800 nm selon la longueur d'onde choisie pour les photons intriqués (29) et (30). Pour les faibles longueurs d'ondes un laser excimer est utilisé. Un polariser (27) est utilisé pour obtenir la polarisation dans un plan afin que les faisceaux intriqués (29) et (30) E-QIFR-05 -24 soient émis dans un plan. Le faisceau polarisé est envoyé sur un cristal non-linéaire, du type BBO ou LBO ou tout autre matériau non linéaire. Les cristaux utilisés présente-ment ont un très faible rendement de l'ordre de 1/10+20. Des cristaux plus efficaces sont en cours d'évaluation. Dans l'orientation optimale, trois faisceaux sont émis par le cristal : un faisceau direct, non perturbé, qui sort dans la direction du faisceau incident ; et deux faisceaux intriqués (29) et (30) appelés signal et idler selon la convention habituelle. Lesdits faisceaux font un angle (31) avec le faisceau principal, non perturbé, qui est absorbé par le phantom (32). Lesdits faisceaux sont réfléchis par les miroirs (33) et (34) pour aller dans la direction des modules suivants ou utilisent des fibres optiques. Les convertisseurs de photons en électrons (35) et (36), sont, par exemple, constitués d'une couche photo-émissive, la photocathode, qui absorbe les photons et transmet leur énergie aux électrons qui sont émis par ladite couche avec l'énergie mentionnée précédemment. La photocathode est placée dans une chambre vide. L'émission d'électrons peut se faire dans la direction des photons incidents (53) comme le montre la figure 7 ou à la manière d'une réflexion comme le montre la figure 8. Dans la figure 7, les photons incidents (52) traversent la fenêtre transparent (51) avant de rencontrer la photocathode semi-transparente (53), par exemple de 20 nm d'épaisseur, et par exemple constituée de matériaux tels que Tellure, Gallium, Antimoine, Arsenic, etc. Les électrons (54) sont émis approximativement dans le direction des photons incidents. Dans ce cas, l'efficacité de la cathode ne dépasse pas 50%. Dans la figure 8, l'épaisseur de la photocathode (57) est plus importante que celle de la figure 7, de l'ordre d'un micromètre et les photons (55) sont admis dans la chambre évacuée par une fenêtre (56). Ils rencontrent la photocathode qui est maintenue par le support (58). Les électrons émis (59) sont réfléchis comme le montre la figure 8. L'efficacité de ladite photocathode est légèrement supérieure à celle de la figure 7. Les multiplicateurs du nombre d'électrons (37) et (38), par exemple constitués de dynodes, sont représentés sur la figure 9. Les électrons (61) en provenance de la photocathode sont focalisés, par exemple par une lentille magnétique (62), pour qu'ils atteignent première dynode (60). Ils provoquent l'émission d'un plus grand nombre d'électrons secondaires (63) qui rencontrent la seconde dynode (64). De plus nombreux électrons (65) sont produits pour rencontrer la dynode suivante et ainsi de suite jusqu'à la dernière dynode dont les électrons sont focalisés, par exemple au moyen d'une lentille magnétique (67), pour former un faisceau d'électrons axial (66) qui est injecté dans E-Q/FR-05 -25 le module suivant. Les modules accélérateurs d'électrons (39) et (40), par exemple des accélérateurs linéaires, sont schématiquement représentés sur la figure 10. Le faisceau d'électrons incidents (68) sont introduits dans les premières électrodes d'accélération (70) après passage éventuel dans une lentille magnétique (69), par exemple, pour focaliser les électrons. Des lentilles, par exemple magnétiques (71), (73), (75), sont utilisées pour éventuellement re-focaliser le faisceau d'électrons, entre les électrodes, et à la sortie du faisceau. Les électrodes (70), (72), (74) et autres, car trois seulement sont représentées, sont alternativement portées à des potentiels positif et négatif de façon à accélérer les électrons dans les intervalles. Lesdites électrodes sont alimentées par un générateur de courant alternatif (76) à très haute fréquence. Finalement le faisceau d'électrons (77) sort de l'accélérateur après, par exemple, une dernière focalisation par la lentille magnétique (75). Les électrons intriqués sont alors projetés contre des cibles (41) et (42) qui, par effet Bremsstrahlung, produisent des rayons intriqués infrarouges, visibles, ultraviolets, X, ou gamma (43) et (42), selon le type de cible et l'énergie des électrons. La figure 12 montre schématiquement la génération des rayons infrarouges, visibles, ultraviolets, X, ou gamma, par effet Bremsstrahlung. Le faisceau d'électrons de grande énergie (79) rencontre une cible (80) de métal lourd, par exemple, de tungstène pour les rayons gamma. Un spectre de rayons intriqués gamma et X (81) est produit essentiellement dans la direction des électrons, cependant un collimateur (82) est utilisé pour obtenir un faisceau (83) uniquement dans la région désirée, généralement désignée isocentre. Les rayons infrarouges, visibles, ultraviolets, X, ou gamma obtenus sont partiellement intriqués entre eux et avec les rayons infrarouges, visibles, ultraviolets, X, ou gamma correspondants de l'autre branche du système. Pour obtenir des rayons X intriqués, l'accélérateur d'électrons opère avec une tension électrique, par exemple de 100 kV, pour générer un spectre de rayons X intriqués centré sur environ 30 keV. Comme précédemment, les rayons X obtenus sont partiellement intriqués entre eux et avec les rayons X correspondants de l'autre branche du système. Pour obtenir des rayons infrarouges, visibles, ultraviolets intriqués, l'accélérateur d'électrons opère avec une tension électrique, par exemple de 25 kV, pour générer un spectre de rayons infrarouges, visibles, ultraviolets intriqués centré généralement sur une longueur d'onde dépendant du matériau fluorescent choisi. Comme précédemment, les rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets obtenus sont partiellement intriqués entre E-Q/FR-05 -26 eux et avec les rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets correspondants de l'autre branche du système. L'amplification de l'intensité du faisceau obtenu de photons partiellement intriqués entre eux et intriqués avec les photons correspondants de l'autre branche, par rapport aux faisceaux issus du cristal non-linéaire, est de l'ordre de 3000 à 100000. Possibilités d'applications industrielles : Les multiples utilisations du procédé référencé et de tous ses compléments et options sont listées et numérotées ci-dessous : 1 - Utilisation du procédé selon l'un quelconque des modes de mise en oeuvre du pro-cédé caractérisée en ce que le procédé est utilisé pour bombarder ou irradier des corps composés de substances sous forme solide, liquide, ou gazeuse, ou encore composés d'une combinaison de ces substances. 2 - Utilisation selon le paragraphe 1 caractérisée en ce que le procédé est mis en oeuvre, soit avec des faisceaux d'électrons focalisés ou collimatés, soit avec des faisceaux de photons collimatés ou focalisés lorsque leur longueur d'onde le permet, afin de bombarder, irradier ou illuminer une ou plusieurs surfaces desdits corps, d'aires comprises entre 1000 nanomètres carrés et un décimètre carré. 3 - Utilisation selon le paragraphe 1, caractérisée du fait que l'on transfère l'intrication des particules contenues dans le faisceau ou les faisceaux, produits par le procédé, à des corps composés de substances sous forme solide, liquide, ou gazeuse, ou encore composés d'une combinaison de ces substances, appelés par convention les échantillons , afin d'introduire la propriété typique d'intrication entre des photons piégés, des électrons piégés, des atomes excités, des noyaux excités, des molécules excitées, des micelles excitées, contenus dans un ou plusieurs échantillons bombardés ou irradiés au moyen d'un ou plusieurs des faisceaux de particules, ou encore afin d'introduire la propriété typique d'intrication entre des photons piégés, des électrons piégés, des atomes excités, des noyaux excités, des molécules excitées, des micelles excitées, contenus dans des échantillons séparés bombardés ou irradiés au moyen de deux ou plusieurs des faisceaux intriqués, en tout ou partie, de particules elles-mêmes intriquées en tout ou partie, les faisceaux de particules comprenant soit des électrons, soit des photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou infrarouges, soit encore un spectre de tout ou partie de ces types de photons, les échantillons , résultat de E-QIFR-05 -27 l'utilisation du procédé étant appelés par convention échantillons intriqués améliorés . 4 - Utilisation selon le paragraphe 3, caractérisé par le fait que, lorsque les faisceaux de bombardement ou d'irradiation sont composés d'électrons, au moins deux faisceaux d'électrons intriqués accélérés comportent des temps de trajets, entre la dernière électrode ayant produit les électrons intriqués des faisceaux et des échantillons à bombarder par chacun des faisceaux, qui sont de mêmes durées afin d'optimiser le transfert de l'intrication entre les électrons intriqués incidents et des constituants ad hoc des échantillons , ou lorsque les faisceaux de bombardement ou d'irradiation sont composés de photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges, soit encore un spectre de tout ou partie de ces types de photons, au moins deux faisceaux de photons intriqués comportent des temps de trajets, entre la cible ayant produit les photons intriqués par effet Bremstrahlung et des échantillons à irradier par chacun des faisceaux, qui sont de mêmes durées afin d'optimiser le transfert de l'intrication entre les photons intriqués incidents et des constituants ad hoc des échantillons , les échantillons formant les échantillons intriqués améliorés . 6 -Utilisation selon le paragraphe 1, caractérisée en ce que le procédé est utilisé pour produire, soit un faisceau de particules intriquées entre elles que l'on fait interférer entre elles, soit des faisceaux intriqués entre eux de particules elles-mêmes intriqués entre el-les que l'on fait interférer entre eux, par exemple pour des applications de microscopie électronique ou de gravure en nanotechnologie, les faisceaux de particules comprenant soit des électrons, soit des photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou infrarouges, soit encore un spectre de tout ou partie de ces types de photons. 7 - Utilisation selon le paragraphe 3, caractérisée en ce que le procédé est utilisé pour bombarder ou irradier un ou plusieurs échantillons comportant au moins un nucléide isomère, par exemple Niobium (93Nb41 m), Cadmium (111 Cd48m), Cad- mium (113Cd48m), Césium (135Ce55m), Indium (1151n49m), Etain (117Sn50m), Etain (119Sn50m), Tellure (125Te52m), Xénon (129Xe54m), Xénon (131Xe54m), Hafnium (178Hf72m), Hafnium (179Hf72m), Iridium (193Ir77m), Platine (195Pt78m), afin d'induire la propriété d'intrication dans au moins un groupe de plus de 100 noyaux intriqués entre eux du nucléide, soit dans un seul échantillon , l'échantillon intriqué amélioré , soit répartis dans plusieurs échantillons, les échantillons intriqués améliorés . E-QIFR-05 -28 8 - Utilisation améliorée selon le paragraphe 7 caractérisée par le fait que l'on exploite ultérieurement au moins un échantillon intriqué amélioré , selon l'une quelconque des utilisations de l' échantillon intriqué du brevet WO 2005/109985 [8], en substituant l'échantillon intriqué du brevet par un échantillon intriqué amélioré , comprenant les utilisations telles que publiées initialement et telles que modifiées en vertu de l'article 19 du PCT et de l'examen préliminaire international. 9 - Utilisation améliorée selon le paragraphe 7 caractérisée en ce que l'on exploite ultérieurement au moins un échantillon intriqué amélioré , par désexcitation naturelle, caractérisée en ce que l'échantillon est utilisé en tant que source de rayonnement gamma pour irradier son environnement, l'échantillon comportant au moins un nucléide de demi-vie de désexcitation naturelle variable, initialement inférieure à 50% de la demi-vie théorique dudit nucléide. 10 - Utilisation améliorée selon le paragraphe 7 caractérisée en ce que l'on exploite ultérieurement au moins un échantillon intriqué amélioré , par stimulation au moyen de rayons X, caractérisée en ce que l'échantillon intriqué amélioré qui contient au moins 5% des noyaux excités et intriqués dans l'échantillon intriqué amélioré , du nucléide contenu dans le échantillon intriqué amélioré , est utilisé en tant que source de rayonnement gamma pratiquement instantanée ( prompt ) pour irradier son environnement ou pour être utilisé dans un laser gamma, en se désexcitant en moins d'une seconde et en produisant le rayonnement gamma du nucléide excité. 11 - Utilisation améliorée selon le paragraphe 7 caractérisée en ce que l'on exploite ultérieurement au moins deux échantillons intriqués améliorés , selon l'une quel-conque des utilisations des échantillons intriqués du brevet WO 2005/112041 [9] en substituant les échantillons intriqués du brevet par des échantillons intriqués améliorés , comprenant les utilisations telles que publiées initialement et telles que modifiées en vertu de l'article 19 du PCT et de l'examen préliminaire international. 12 - Utilisation améliorée selon le paragraphe 7 caractérisée en ce que l'on exploite ultérieurement au moins deux échantillons intriqués améliorés caractérisée en ce que l'on effectue les étapes suivantes : - on sépare dans l'espace tout ou partie des échantillons intriqués améliorés contenant des noyaux excités du nucléide présentant des liaisons quantiques, certains des noyaux excités du nucléide étant répartis sur certains de ces échantillons intriqués améliorés , et présentant des groupes de plus de 100 liaisons quanti- E-Q/FR-05 -29 ques, on exploite des liaisons quantiques entre des noyaux excités de certains échantillons intriqués améliorés , indépendamment des distances, des milieux les séparant et des milieux dans lesquels ces échantillons intriqués améliorés sont placés : o en provoquant au moins une stimulation modulée de la désexcitation par irradiation X ou gamma, par exemple obtenue au moyen d'une source de fer 55, d'au moins un des échantillons intriqués améliorés , qualifié d'échantillon intriqué amélioré maître , la stimulation modulée, induisant, au moyen des liaisons quantiques, une désexcitation à distance des autres échantillons intriqués améliorés , qualifiés d'échantillons intriqués améliorés esclaves , la sus-dite stimulation modulée appliquée à l'échantillon maître caractérisant au moins une information ou au moins une commande à transmettre, o et, ou bien en déterminant, soit au moins une détection d'information, soit au moins une détection de commande, au moyen d'au moins une mesure faite avec un détecteur de rayonnement gamma, d'au moins une désexcitation modulée supplémentaire sur au moins une raie caractéristique d'au moins un nucléide isomère contenu dans au moins un des autres échantillons intriqués améliorés esclave , ou bien en utilisant le rayonnement gamma issu de la désexcitation modulée supplémentaire d'au moins un nucléide isomère contenu dans au moins un des autres échantillons intriqués améliorés esclave , en tant que télécommande, ou bien en utilisant au moins un des autres échantillons intriqués améliorés esclave , comme produit dont l'irradiation est télé-commandée à distance pour irradier l'environnement dudit échantillon intriqué amélioré esclave , ou bien pour construire un laser gamma télécommandé à distance, ou bien encore pour une combinaison de ces exploitations. 13 - Utilisation améliorée selon le paragraphe 3 caractérisée en ce que les échantillons comportent au moins un matériau thermoluminescent ou photoluminescent, et en ce qu'on exploite ultérieurement au moins deux échantillons intriqués améliorés , selon l'une quelconque des utilisations des échantillons intriqués du brevet WO 2005/117306 [10] en substituant les échantillons intriqués du brevet par des échantillons intriqués améliorés , comprenant les utilisations telles que publiées initialement et telles que modifiées en vertu de l'article 19 du PCT et de l'examen préliminaire international. E-QIFR-05 -30 14 - Utilisation améliorée selon le paragraphe 3 caractérisée en ce que les échantillons comportent au moins un matériau thermoluminescent ou photoluminescent, et en ce qu'on exploite ultérieurement au moins deux échantillons intriqués améliorés , en effectuant les étapes suivantes : on sépare dans l'espace tout ou partie de ces échantillons intriqués améliorés contenant des électrons intriqués dans des pièges des matériaux thermoluminescents ou photoluminescents, certains des électrons piégés étant répartis sur certain de ces échantillons, et présentant des liaisons quantiques, on exploite des liaisons quantiques entre les électrons piégés de ces échantillons intriqués améliorés , indépendamment des distances, des milieux les séparant et des milieux dans lesquels ils sont placés : en provoquant au moins une stimulation modulée en amplitude et / ou en fréquence sur au moins un desdits échantillons intriqués améliorés , qualifié de maître , par exemple soit par chauffage dans sa totalité, soit par chauffage en au moins un point de sa surface, soit par stimulation optique utilisant au moins un flash de lumière infrarouge, visible, ou ultraviolette sur sa totalité, soit par stimulation optique utilisant au moins un flash de lumière infrarouge, visible ou ultraviolette en au moins un point de sa surface, soit par une combinaison de ces procédés, la stimulation modulée caractérisant une information ou une commande à transmettre, et en déterminant, soit au moins une détection d'information, soit au moins une détection de commande, au moyen d'au moins une mesure faite avec une détecteur de luminescence, par exemple un photomultiplicateur ou une photodiode, d'au moins une variation de luminescence sur au moins une sorte de matériaux thermoluminescents ou photoluminescents contenus dans au moins un des autres échantillons intriqués améliorés , qualifié d' esclave , lorsque la variation de luminescence mesurée est partiellement corrélée avec la stimulation modulée appliquée à l'échantillon maître . REVENDICATIONS 1. Procédé pour générer, soit un faisceau d'électrons accélérés intriqués, en tout ou partie, ou, soit plusieurs faisceaux intriqués, en tout ou partie, d'électrons accélérés eux-mêmes intriqués entre eux, en tout ou partie, dans lequel on utilise entre autre : la génération d'électrons, la multiplication du nombre d'électrons, l'accélération des électrons, caractérisé en ce que l'on effectue les étapes principales suivantes, appelées par convention étapes primaires : - Etape primaire de production d'un faisceau d'électrons intriqués, dans laquelle on produit un faisceau de d'électrons libres intriqués, appelée faisceau de multiplication , par les sous-étapes suivantes, dénommées par convention étapes secondaires : o Etape secondaire de génération d'électrons dans laquelle on génère des électrons libres, par exemple, soit au moyen d'une cathode chauffée, ou, soit au moyen d'une photocathode irradiée, illuminée ou chauffée par un faisceau composé respectivement de photons ultraviolets, visibles ou Infrarouges, ou une combinaison de ces types de photons, ladite photocathode transmettant l'intrication éventuelle desdits photons audits électrons générés dans ce cas, ladite cathode ou photocathode étant appelée par convention électrode de l'étape, o Etape secondaire de multiplication de l'intrication, dans laquelle on produit des électrons intriqués, comportant les sous-étapes suivantes, appelée par convention étapes tertiaires : ^ Etape tertiaire d'introduction des électrons dans le premier étage du multiplicateur d'électrons intriqués, dans laquelle on dirige, par exemple au moyen d'une lentille magnétique ou d'une électrode de focalisation, des électrons libres de l'étape précédente vers une dynode dont le potentiel est supérieur à la l' électrode de l'étape précédente, par exemple de 100V,E-Q/FR-05 - 32 - l'impact d'au moins un électron sur ladite dynode provoquant l'émission de plusieurs électrons émis simultanément, ou en cascade rapprochée, donc intriqués en tout ou partie entre eux, et dans les cas où l'électron incident est lui-même intriqué avec un autre électron, avec un transfert partiel ou total de l'intrication de l'électron incident aux électrons produits lors de l'impact par ladite dynode, ^ Etape tertiaire optionnelle de multiplication de l'intrication dans le second étage du multiplicateur d'électrons intriqués, dans laquelle on dirige des électrons produits à l'étape précédente vers une nouvelle dynode dont le potentiel est supérieur à la dynode précédente, par exemple de 100V, l'impact d'au moins un électron provoquant l'émission de plusieurs électrons émis simultanément, ou en cascade rapprochée, donc intriqués en tout ou partie entre eux, et dans les cas où l'électron incident est lui-même intriqué avec un autre électron, avec un transfert partiel ou total de l'intrication de l'électron incident aux électrons produits par cette nouvelle dynode lors de l'impact, ^ Etape tertiaire optionnelle de multiplication additionnelle de l'intrication dans un ou plusieurs étages intermédiaires du multiplicateur d'électrons intriqués, dans laquelle on répète l'étape précédente de 1 à 99 fois pour obtenir un grand nombre d'électrons intriqués, ^ Etape tertiaire de sortie des électrons dans le dernier étage du multiplicateur d'électrons intriqués, dans laquelle on dirige des électrons intriqués produits à l'étape précédente vers une anode non collectrice, dont le potentiel est supérieur à la dernière dynode rencontrée, par exemple de 100 V, ladite anode comportant par exemple, soit une ouverture en son centre, soit encore une grille ad hoc, ladite anode ne collectant pas lesdits électrons, et autorisant le passage de tout ou partie desdits électrons libres intriqués, pour former le faisceau de multiplication . ^ Etape tertiaire optionnelle de focalisation, dans laquelle on focalise, par exemple au moyen d'une lentille magnétique ou d'une électrode de focalisation, le susdit faisceau de multiplication , - Etape primaire optionnelle de division du faisceau de multiplication , dansE-Q/FR-05 - 33 - laquelle on produit deux ou plusieurs faisceaux composés d'électrons libres intriqués, éventuellement multipliés à nouveau, appelée faisceaux intriqués divisés , par les sous-étapes suivantes, dénommées par convention étapes secondaires : o Etape secondaire de division du faisceau de multiplication , dans laquelle on divise le faisceau de multiplication précédent en deux ou plusieurs faisceaux composés d'électrons intriqués, par exemple au moyen d'une ou plusieurs lentilles magnétiques ou électrodes de focalisation, lesdits faisceaux étant dénommés faisceaux divisés , o Etape secondaire optionnelle (de cette étape primaire ) de multiplication des électrons intriqués, dans laquelle on applique séparément à tout ou partie des faisceaux divisés précédents, l'étape secondaire de multiplication de l'intrication définie à l'étape primaire de production d'un faisceau d'électrons intriqués, - Etape primaire optionnelle de sur-division d'un ou plusieurs faisceaux divisés , dans laquelle on répète l'étape primaire précédente de 1 à 20 fois pour au moins un faisceau divisé précédent, de façon à obtenir un grand nombre faisceaux sur-divisés comportant un grand nombre d'électrons intriqués, Etape primaire d'accélération des électrons intriqués, dans laquelle on accélère les électrons intriqués, soit du faisceau de multiplication lorsqu'aucune division n'est pratiquée ci-dessus, soit d'un ou plusieurs faisceaux intriqués divisés lorsqu'au moins une étape primaire de division du faisceau de multiplication a été appliquée, dans laquelle on communique aux électrons intriqués desdits faisceaux une énergie cinétique selon l'optimisation du procédé d'application, ledit ou lesdits faisceaux d'électrons intriqués accélérés formant le résultat du procédé, lesdites étapes primaires , secondaires ou tertiaires pouvant comporter des sous-étapes additionnelles optionnelles telles que des focalisations de faisceau d'électrons, des collimations de faisceau d'électrons, ou des accélérations de faisceau d'électrons selon l'optimisation du procédé. 2. Procédé selon la revendication de procédé 1, appelée procédé référencé , pour générer, soit un faisceau collimaté composé d'un spectre de photons intriqués, enE-QIFR-05 - 34 - tout ou partie, et dont les photons de chaque faisceau sont eux-mêmes intriqués entre eux, en tout ou partie, dans lequel on utilise entre autre en complément : l'effet Bremstrahlung, la collimation, caractérisé en ce que l'on effectue les étapes suivantes : on dirige les électrons intriqués accélérés, selon le cas, o soit du susdit faisceau d'électrons intriqués accélérés, formant le résultat du procédé référencé , vers une cible, par exemple de tungstène, qui produit par effet Bremstrahlung un faisceau contenant un spectre de photons 1 o intriqués, en tout ou partie, composé de gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges, selon l'énergie des électrons incidents, o soit de tout ou partie des susdits faisceaux d'électrons intriqués accélérés, formant le résultat du procédé référencé , vers une ou plusieurs cible selon l'application du procédé, par exemple de tungstène, qui produisent par effet 15 Bremstrahlung un faisceau contenant un spectre de photons intriqués, en tout ou partie, composé de gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges, selon l'énergie des électrons incidents, on positionne un ou plusieurs collimateurs dans le prolongement des susdites cibles pour obtenir à travers chaque collimateur, un faisceau collimaté dudit ou 20 desdits spectres de photons intriqués, selon l'irradiation requise pour l'utilisation du dispositif, ledit ou lesdits faisceaux collimatés de photons intriqués formant le résultat du procédé. lesdites étapes pouvant comporter des sous-étapes additionnelles optionnelles telles que des focalisations de faisceau de photons lorsque leur longueur d'onde le permet, 25 ou des collimations complémentaires de faisceau de photons, ou des combinaisons de ces moyens, selon l'optimisation du procédé. 3. Procédé selon la revendication de procédé 1, caractérisé en ce que l'énergie cinétique communiquée par accélération aux électrons intriqués à l'étape primaire d'accélération des électrons intriqués est comprise en 1 keV et 10 GeV. 3o 4. Procédé selon la revendication de procédé 1, qui, lorsqu'il comporte des faisceaux divisés traversant au moins un élément de même nature selon le mêmeE-QIFR-05 - 35 - enchaînement, est caractérisé en ce qu'au moins deux faisceaux d'électrons divisé à partir du faisceau de multiplication comportent des temps trajets entre éléments homologues, par exemple entre des cathodes ou photocathodes et la première dynode, ou encore entre des dynodes de même rang d'une étape de multiplication additionnelle, de mêmes durées afin d'optimiser le transfert de l'intrication entre l'électron intriqué incident et les électrons intriqués produits. 5. Procédé selon la revendication de procédé 2, caractérisé en ce qu'au moins deux faisceaux d'électrons intriqués accélérés comportent des temps de trajets, entre la dernière dynode ayant produit lesdits électrons intriqués desdits faisceaux et la cible d'incidence exploitée par effet Bremstrahlung pour chacun desdits faisceaux, qui sont de mêmes durées afin d'optimiser le transfert de l'intrication entre les électrons intriqués incidents et les photons gamma, ultraviolets, visibles ou Infrarouges intriqués, en tout ou partie, produits. 6. Procédé selon la revendication de procédé 1, appelée procédé référencé , pour générer deux ou plusieurs faisceaux intriqués, en tout ou partie, d'électrons accélérés, eux-mêmes intriqués, en tout ou partie, entre eux dans chaque faisceau, dans lequel on utilise entre autre en complément : la génération de faisceaux intriqués de photons de lumière ultraviolette, visible ou Infrarouge, caractérisé en ce que l'on effectue les étapes suivantes : - on génère deux faisceaux intriqués de photons ultraviolets, visibles ou Infrarouges au moyen d'un cristal non linéaire, par exemple de BBO ou LBO, par illumination au moyen d'un laser polarisé, lesdits faisceaux intriqués étant dénommés signal et idler , et appelés par convention les faisceaux incidents lorsqu'ils ne font pas l'objet d'une division, optionnellement on subdivise un ou deux des faisceaux intriqués de photons signal ou idler , en un ou plusieurs faisceaux intriqués, en tout ou partie, de photons, eux-mêmes intriqués, en tout ou partie entre eux, dans chaque faisceau, lesdits faisceaux, étant soit des faisceaux intermédiaires, soit les faisceaux ultimes, résultants de la ou des divisions, ces derniers étant appelés par convention faisceaux incidents , on applique le procédé référencé au moins deux fois séparément etE-Q/FR-05 - 36 - simultanément en utilisant au moins deux des faisceaux incidents définis ci-dessus, dont au moins un est, soit le faisceau signal , soit issu d'une division du faisceau signal , et dont au moins un autre est, soit le faisceau idler , soit issu d'une division du faisceau idler , chacun desdits faisceaux incidents étant appliqué comme faisceau de photons ultraviolets, visibles ou Infrarouges incidents sur la photocathode de l'étape secondaire de génération d'électrons de l'étape primaire de production d'un faisceau d'électrons intriqués du procédé pour générer, soit un faisceau d'électrons accélérés intriqués, en tout ou partie, ou soit plusieurs faisceaux intriqués, en tout ou partie, d'électrons accélérés eux-mêmes intriqués entre eux, en tout ou partie, lesdites étapes pouvant comporter des sous-étapes additionnelles optionnelles telles que des focalisations ou des réflexions de faisceau de photons lorsque leur longueur d'onde le permet, ou des collimations de faisceau de photons, ou des combinaisons de ces moyens, selon l'optimisation du procédé. 7. Procédé selon la revendication de procédé 6, pour générer au moins deux faisceaux de photons collimatés gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges intriqués, en tout ou partie, et dont les photons de chaque faisceau sont eux-mêmes intriqués entre eux, en tout ou partie, dans lequel on utilise entre autre en complément : - l'effet Bremstrahlung, la collimation, caractérisé en ce que l'on effectue les étapes suivantes : on dirige les électrons intriqués accélérés, selon le cas, o soit du susdit faisceau d'électrons intriqués accélérés, formant le résultat du procédé référencé , vers une cible, par exemple de tungstène, qui produit par effet Bremstrahlung un spectre de photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges intriqués, en tout ou partie, o soit de tout ou partie des susdits faisceaux d'électrons intriqués accélérés, formant le résultat du procédé référencé , vers une ou plusieurs cibles selon l'application du procédé, par exemple de tungstène, qui produisent par effet Bremstrahlung un spectre de photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges intriqués, en tout ou partie,E-QIFR-05 - 37 - on applique un ou plusieurs collimateurs à tout ou partie des susdites cibles pour obtenir à travers chaque collimateur un faisceau collimaté de photons gamma, X ultraviolets, visibles ou Infrarouges intriqués selon l'irradiation requise pour l'utilisation du dispositif, ledit ou lesdits faisceaux collimatés de photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges intriqués formant le produit du procédé, lesdites étapes pouvant comporter des sous-étapes additionnelles optionnelles telles que des focalisations de faisceau de photons lorsque leur longueur d'onde le permet, ou des collimations complémentaires de faisceau de photons, ou des combinaisons de ces moyens, selon l'optimisation du procédé. 8. Procédé selon la revendication de procédé 7, caractérisé en ce qu'au moins deux faisceaux d'électrons intriqués accélérés comportent des temps de trajets, entre la dernière électrode ayant produit lesdits électrons intriqués desdits faisceaux et la cible d'incidence exploitée par effet Bremstrahlung pour chacun desdits faisceaux, qui sont de mêmes durées afin d'optimiser le transfert de l'intrication entre les électrons intriqués incidents et les photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges intriqués, en tout ou partie, produits. 9. Procédé selon la revendication de procédé 6, caractérisé en ce que les temps de trajet des photons intriqués entre leur génération dans le cristal non linéaire, et leurs incidences sur au moins deux photocathodes, sont de mêmes durées afin d'optimiser le transfert de l'intrication entre les photons intriqués incidents, et les électrons intriqués, en tout ou partie, produits par lesdites photocathodes. 10. Produit intermédiaire ou final selon l'une quelconque des revendications de procédé 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8 ou 9, caractérisé en ce que ledit produit est constitué, soit par le faisceau de particules intriquées entre elles, soit par les faisceaux intriqués entre eux de particules elles-mêmes intriqués entre elles, produits par ledit procédé, lesdits faisceaux de particules comprenant soit des électrons, soit des photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges, soit encore un spectre de tout ou partie de ces types de photons, à l'exception des faisceaux intriqués comportant des photons ultraviolets, visibles ou Infrarouges produits par des cristaux non linéaires. 11. Utilisation du procédé selon l'une quelconque des revendications de procédé 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8 ou 9 caractérisée en ce que ledit procédé est utilisé pour bombarder, irradier ou illuminer des corps composés de substances sous forme solide, liquide, ou gazeuse, ou encore composés d'une combinaison de cesE-Q/FR-05 - 38 - substances. 12. Utilisation selon la revendication 11, caractérisée en ce que l'on transfère l'intrication des particules contenues dans le faisceau ou les faisceaux, produits par le procédé, à des corps composés de substances sous forme solide, liquide, ou gazeuse, ou encore composés d'une combinaison de ces substances, appelés par convention les échantillons , afin d'introduire la propriété typique d'intrication entre des photons piégés, des électrons piégés, des atomes excités, des noyaux excités, des molécules excitées, des micelles excitées, contenus clans un ou plusieurs échantillons bombardés ou irradiés au moyen d'un ou plusieurs desdits faisceaux de particules, ou encore afin d'introduire la propriété typique d'intrication entre des photons piégés, des électrons piégés, des atomes excités, des noyaux excités, des molécules excitées, des micelles excitées, contenus dans des échantillons séparés bombardés ou irradiés au moyen de deux ou plusieurs desdits faisceaux intriqués, en tout ou partie, de particules elles-mêmes intriquées en tout ou partie, lesdits faisceaux de particules comprenant soit des électrons, soit des photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges, soit encore un spectre de tout ou partie de ces types de photons, lesdits échantillons , résultat de l'utilisation du procédé étant appelés par convention échantillons intriqués améliorés . 13. Utilisation selon la revendication 12, caractérisé en ce que, lorsque les faisceaux de bombardement ou d'irradiation sont composés d'électrons, au moins deux faisceaux d'électrons intriqués accélérés comportent des temps de trajets, entre la dernière électrode ayant produit lesdits électrons intriqués desdits faisceaux et des échantillons à bombarder par chacun desdits faisceaux, qui sont de mêmes durées afin d'optimiser le transfert de l'intrication entre les électrons intriqués incidents et des constituants ad hoc desdits échantillons , ou lorsque les faisceaux de bombardement ou d'irradiation sont composés de photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges, soit encore un spectre de tout ou partie de ces types de photons, au moins deux faisceaux de photons intriqués comportent des temps de trajets, entre la cible ayant produit lesdits photons intriqués par effet Bremstrahlung et des échantillons à irradier par chacun desdits faisceaux, qui sont de mêmes durées afin d'optimiser le transfert de l'intrication entre les photons intriqués incidents et des constituants ad hoc desdits échantillons , lesdits échantillons formant les échantillons intriqués améliorés .E-Q/FR-05 -39 - 14. Utilisation selon la revendication 11 caractérisée en ce que le procédé est mis en oeuvre, soit avec des faisceaux d'électrons focalisés ou collimatés, soit avec des faisceaux de photons collimatés ou focalisés lorsque leur longueur d'onde le permet, afin de bombarder, irradier ou illuminer une ou plusieurs surfaces desdits corps, d'aires comprises entre 1000 nanomètres carrés et un décimètre carré. 15. Utilisation selon la revendication 11, caractérisée en ce que ledit procédé est utilisé pour produire, soit un faisceau de particules intriquées entre elles que l'on fait interférer entre elles, soit des faisceaux intriqués entre eux de particules elles-mêmes intriqués entre elles que l'on fait interférer entre eux, par exemple pour des applications de microscopie électronique ou de gravure en nanotechnologie, lesdits faisceaux de particules comprenant soit des électrons, soit des photons gamma, X, ultraviolets, visibles ou Infrarouges, soit encore un spectre de tout ou partie de ces types de photons. 16. Utilisation selon la revendication 12, caractérisée en ce que le procédé est utilisé pour bombarder ou irradier un ou plusieurs échantillons comportant au moins un nucléide isomère, par exemple Niobium (93Nb41 m), Cadmium (lllCd48m), Cadmium (113Cd48m), Césium (135Ce55m), Indium (1151n49rn), Etain (117Sn50m), Etain (119Sn50m), Tellure (125Te52m), Xénon (129Xe54m), Xénon (131Xe54m), Hafnium (178Hf72m), Hafnium (179Hf72m), Iridium (1931r77m), Platine (195Pt78m), afin d'induire la propriété d'intrication dans au moins un groupe de plus de 100 noyaux intriqués entre eux dudit nucléide, soit dans un seul échantillon , l'échantillon intriqué amélioré , soit répartis dans plusieurs échantillons, les échantillons intriqués améliorés . 17. Utilisation améliorée selon la revendication 16 caractérisée en ce que l'on exploite ultérieurement au moins un échantillon intriqué amélioré , selon l'une quelconque des utilisations de l' échantillon intriqué du brevet WO 2005/109985, en substituant l'échantillon intriqué dudit brevet par un échantillon intriqué amélioré , comprenant lesdites utilisations telles que publiées initialement et telles que modifiées en vertu de l'article 19 du PCT et de l'examen préliminaire international. 18. Utilisation améliorée selon la revendication 16 caractérisée en ce que l'on exploite ultérieurement au moins un échantillon intriqué amélioré , par désexcitation naturelle, caractérisée en ce que ledit échantillon est utilisé en tant queE-Q/FR-05 - 40 - source de rayonnement gamma pour irradier son environnement, ledit échantillon comportant au moins un nucléide de demi-vie de désexcitation naturelle variable, initialement inférieure à 50% de la demi-vie théorique dudit nucléide. 19. Utilisation selon la revendication 16 caractérisée en ce que l'on exploite ultérieurement au moins un échantillon intriqué amélioré , par stimulation au moyen de rayons X, caractérisée en ce que ledit échantillon intriqué amélioré qui contient au moins 5% des noyaux excités et intriqués dans ledit échantillon intriqué amélioré , dudit nucléide contenu dans ledit échantillon intriqué amélioré , est utilisé en tant que source de rayonnement gamma pratiquement instantanée ( prompt ) pour irradier son environnement ou pour être utilisé dans un laser gamma, en se désexcitant en moins d'une seconde et en produisant ledit rayonnement gamma. 20. Utilisation améliorée selon la revendication 16 caractérisée en ce que l'on exploite ultérieurement au moins deux échantillons intriqués améliorés , selon l'une quelconque des utilisations des échantillons intriqués du brevet WO 2005/112041 en substituant les échantillons intriqués dudit brevet par des échantillons intriqués améliorés , comprenant lesdites utilisations telles que publiées initialement et telles que modifiées en vertu de l'article 19 du PCT et de l'examen préliminaire international. 21. Utilisation améliorée selon la revendication 16 caractérisée en ce que l'on exploite ultérieurement au moins deux échantillons intriqués améliorés caractérisée en ce que l'on effectue les étapes suivantes : on sépare dans l'espace tout ou partie des échantillons intriqués améliorés contenant des noyaux excités dudit nucléide présentant des liaisons quantiques, certains desdits noyaux excités dudit nucléide étant répartis sur certains de ces échantillons intriqués améliorés , et présentant des groupes de plus de 100 liaisons quantiques, - on exploite des liaisons quantiques entre des noyaux excités de certains échantillons intriqués améliorés , indépendamment des distances, des milieux 30 les séparant et des milieux dans lesquels ces échantillons intriqués améliorés sont placés : o en provoquant au moins une stimulation modulée de la désexcitation parE-Q/FR-05 - 41 - irradiation X ou gamma, par exemple obtenue au moyen d'une source de fer 55, d'au moins un desdits échantillons intriqués améliorés , qualifié d'échantillon intriqué amélioré maître , ladite stimulation modulée, induisant, au moyen des liaisons quantiques, une désexcitation à distance des autres échantillons intriqués améliorés , qualifiés d'échantillons intriqués améliorés esclaves , la susdite stimulation modulée appliquée à l'échantillon maître caractérisant au moins une information ou au moins une commande à transmettre, o et, ou bien en déterminant, soit au moins une détection d'information, soit au moins une détection de commande, au moyen d'au moins une mesure faite avec un détecteur de rayonnement gamma, d'au moins une désexcitation modulée supplémentaire sur au moins une raie caractéristique d'au moins un nucléide isomère contenu dans au moins un des autres échantillons intriqués améliorés esclave , ou bien en utilisant le rayonnement gamma issu de la désexcitation modulée supplémentaire d'au moins un nucléide isomère contenu dans au moins un des autres échantillons intriqués améliorés esclave , en tant que télécommande, ou bien en utilisant au moins un des autres échantillons intriqués améliorés esclave , comme produit dont l'irradiation est télécommandée à distance pour irradier l'environnement dudit échantillon intriqué amélioré esclave , ou bien pour construire un laser gamma télécommandé à distance, ou bien encore pour une combinaison de ces exploitations. 22. Utilisation améliorée selon la revendication 12 caractérisée en ce que lesdits échantillons comportent au moins un matériau thermoluminescent ou photoluminescent, et en ce qu'on exploite ultérieurement au moins deux échantillons intriqués améliorés , selon l'une quelconque des utilisations des échantillons intriqués du brevet WO 2005/117306 en substituant les échantillons intriqués dudit brevet par des échantillons intriqués améliorés , comprenant lesdites utilisations telles que publiées initialement et telles que modifiées en vertu de l'article 19 du PCT et de l'examen préliminaire international. 23. Utilisation améliorée selon la revendication 12 caractérisée en ce que lesdits échantillons comportent au moins un matériau thermoluminescent ou photoluminescent, et en ce qu'on exploite ultérieurement au moins deux échantillonsE-Q/FR-05 - 42 - intriqués améliorés , en effectuant les étapes suivantes : on sépare dans l'espace tout ou partie de ces échantillons intriqués améliorés contenant des électrons intriqués dans des pièges desdits matériaux thermoluminescents ou photoluminescents, certains desdits électrons piégés étant répartis sur certain de ces échantillons, et présentant des liaisons quantiques, on exploite des liaisons quantiques entre lesdits électrons piégés de ces échantillons intriqués améliorés , indépendamment des distances, des milieux les séparant et des milieux dans lesquels ils sont placés : o en provoquant au moins une stimulation modulée en amplitude et / ou en fréquence sur au moins un desdits échantillons intriqués améliorés , qualifié de maître , par exemple soit par chauffage dans sa totalité, soit par chauffage en au moins un point de sa surface, soit par stimulation optique utilisant au moins un flash de lumière infrarouge, visible, ou ultraviolette sur sa totalité, soit par stimulation optique utilisant au moins un flash de lumière infrarouge, visible ou ultraviolette en au moins un point de sa surface, soit par une combinaison de ces procédés, ladite stimulation modulée caractérisant une information ou une commande à transmettre, o et en déterminant, soit au moins une détection d'information, soit au moins une détection de commande, au moyen d'au moins une mesure faite avec une détecteur de luminescence, par exemple un photomultiplicateur ou une photodiode, d'au moins une variation de luminescence sur au moins une sorte de matériaux thermoluminescents ouphotoluminescents contenus dans au moins un des autres échantillons intriqués améliorés , qualifié d' esclave , lorsque ladite variation de luminescence mesurée est partiellement corrélée avec la stimulation modulée appliquée au susdit échantillon maître . 23. Produit selon la revendication de produit 10 caractérisé en ce que ledit produit peut être utilisé pour un usage médical. 24. Produit amélioré selon l'une quelconque des revendications 12, 16, 17 18, 19, 20 ou 21 consistant en un ou plusieurs échantillons intriqués améliorés , caractérisé en ce que ledit produit peut être utilisé, par exemple, soit pour irradierE-Q/FR-05 - 43 - l'environnement, soit pour construire un laser gamma, soit pour conduire des réactions physico-chimiques, soit pour communiquer à distance, soit encore pour un usage médical. 25. Produit amélioré selon l'une quelconque des revendications 22 ou 23 5 consistant en deux ou plusieurs échantillons intriqués améliorés , caractérisé en ce que ledit produit peut être utilisé, par exemple, pour communiquer à distance.