Brevet FR2887488A1 — publié le 20061229

L'invention concerne de manière générale un procédé d'obtention d'un article transparent, exempt de défauts optiques visibles après des opérations de surfaçage, et son application à la fabrication d'articles d'optique telles que des lentilles, en particulier des lentilles ophtalmiques et préférentiellement des verres de lunettes. Classiquement, les faces principales d'un substrat en matériau transparent pour l'obtention d'un article d'optique sont soumises à un surfaçage. Le surfaçage du substrat comprend l'ensemble des opérations conduisant à la réalisation d'un article d'optique tel qu'un verre de lunette dont les surfaces sont parfaitement polies et présentent les courbures (puissances) désirées. Typiquement, le surfaçage comprend trois étapes successives, à savoir l'ébauchage, le doucissage et le polissage. L'ébauchage est une étape de traitement mécanique qui, à l'aide d'un outil diamanté à gros grains ou une fraise à plaquettes, a pour objet la mise à la courbure d'une face du substrat. Le doucissage est également une étape de traitement mécanique qui se pratique après l'ébauchage, à l'aide d'un outil abrasif à grain fin (diamant, émeri, carborundum...). La surface du substrat après un tel doucissage présente un aspect satiné. La dernière opération du surfaçage qui conduit à une surface parfaitement polie et transparente est dénommée polissage et consiste encore en une étape de traitement mécanique à l'aide de disques de feutre en contact avec une suspension d'un abrasif très fin (alumine, diamant..). L'ébauchage qui, comme indiqué ci-dessus, a pour but principal de conférer à au moins une face principale du substrat, une courbure désirée, est une étape de courte durée qui a pour résultat un substrat opaque ou opalescent dont la face ébauchée présente des ondulations, défauts de grande amplitude et de basse fréquence, généralement sous la forme d'un motif en spirale, auxquelles se superpose une rugosité constituée par des défauts de faible amplitude et de fréquence élevée. Le doucissage modifie encore la géométrie de la face traitée du substrat mais a essentiellement pour objet de faire disparaître autant que possible les ondulations et de réduire la rugosité. Cette étape de traitement mécanique conduit à un article translucide 5 (mais non encore transparent) et dont la face doucie comporte encore une rugosité importante. Enfin, le polissage, étape de traitement mécanique relativement longue, qui ne modifie pas la géométrie de la face traitée du substrat, élimine autant que possible la rugosité restante pour finalement obtenir un article optique transparent. Ces techniques de surfaçage ont connu des évolutions récentes. En particulier, les machines de type CNC (Computer Numeric Control) , par exemple de la société Schneider, permettent d'éliminer en grande partie les défauts du type ondulation lors de l'étape d'ébauchage et d'obtenir une qualité de surface telle que l'on peut supprimer l'étape de doucissage et procéder directement à l'étape de polissage. Cependant, ces techniques ne permettent pas d'obtenir des substrats totalement exempts de défauts optiques, en particulier subsistent de fines rayures liées à cette opération de polissage à la surface du substrat. D'une manière générale, il a déjà été décrit dans l'état de l'art des techniques visant à couvrir par un revêtement la surface rugueuse d'un substrat ou verre optique préalablement ébauché et éventuellement douci, afin d'améliorer sa surface optique et supprimer ainsi l'une et/ou l'autre des étapes de doucissage ou de polissage. Ainsi, le brevet US-4,417,790 propose un procédé de finition dans lequel le verre simplement ébauché est verni de façon à obtenir une surface de qualité optique et réduire le temps de finition du verre. Selon ce brevet, on dépose à la surface du verre un revêtement d'épaisseur d'environ 10Ra où Ra est la rugosité moyenne arithmétique de la 30 surface usinée. Ce procédé ne donne pas entière satisfaction du point vue cosmétique et ne permet pas d'éliminer tous les défauts de la surface, certains restant visibles à la lampe à arc. Le brevet WO-0167139 propose un procédé de finissage d'une 35 surface d'une lentille ophtalmique à une prescription donnée, selon lequel on applique sur la surface une couche de vernis d'épaisseur comprise entre environ 30 Ra et 800 Ra, où Ra est la rugosité moyenne arithmétique de ladite surface, pour lui conférer un état de surface poli. La couche de vernis présente avantageusement un indice de réfraction sensiblement égal à celui de la lentille avec une tolérance de 0,01. Le brevet indique que la couche de vernis déposée sur la surface de la lentille et la lentille forment un seul dioptre, cette lentille répondant alors aux exigences du point de vue cosmétique puisqu'elle ne présente pas d'une part d'irisation visible à l'interface substrat-vernis et d'autre part de défauts observables en transmission, à la lampe à arc. La couche de vernis est déposée directement sur la surface usinée, les étapes de doucissage et de polissage étant alors supprimées, ou bien après l'étape de doucissage. Cependant, il s'avère que cette technique ne donne pas encore totale 15 satisfaction au regard de la suppression des défauts optiques engendrés par des rayures de surfaçage. Par ailleurs, elle présente au moins deux inconvénients. Tout d'abord, les épaisseurs préconisées pour les revêtements sont élevées, et il est toujours difficile de maîtriser de tels dépôts. Ensuite, comme indiqué précédemment, la technique décrite dans le brevet WO-01167139 nécessite d'utiliser un vernis qui présente un indice de réfraction pratiquement identique à celui du substrat. Un premier but de la présente invention est donc de fournir un nouveau procédé rapide permettant d'obtenir un article transparent, notamment une lentille, de très bonne qualité optique, en particulier exempt de rayures de surfaçage visibles. Un second but de la présente invention est de fournir un procédé utilisant un revêtement de masquage des rayures de surfaçage, et dont l'indice de réfraction peut être significativement différent de celui du substrat, de sorte qu'il n'est pas nécessaire d'adapter l'indice de réfraction du revêtement de masquage au substrat de la lentille. Un troisième but de la présente invention est de fournir un nouveau procédé utilisant un revêtement de masquage permettant l'obtention d'un article transparent, notamment d'une lentille ophtalmique, exempt de rayures de surfaçage visibles et de franges d'interférence visibles, tout en possédant l'ensemble des propriétés requises pour des articles d'optique et notamment pour une lentille, à savoir un faible indice de jaune, une bonne résistance aux chocs, à l'abrasion, une bonne adhésion des revêtements fonctionnels déposés, et une bonne tenue des propriétés dans le temps. Les buts ci-dessus sont atteints selon l'invention par un procédé d'obtention d'un article transparent exempt de raies de surfaçage visibles comprenant: - l'obtention d'un substrat en un matériau transparent d'indice de réfraction ns, dont au moins une face principale a été ébauchée et polie à une valeur de Ra variant de 0,001 à 0,01 m mais qui présente des défauts de surface visibles sous la forme de fines rayures individualisées de section transversale, de préférence en forme de coin; le dépôt directement sur la face principale ébauchée et polie du substrat d'une composition liquide, polymérisable, de revêtement de masquage présentant un angle de contact avec la surface principale du substrat d'au plus 30 , et formant par polymérisation un revêtement de masquage ayant un indice de réfraction ne tel que 0,01 La méthode de mesure des défauts de surface visibles (raies, rayures superficielles) observables en transmission sera décrite par la suite de façon détaillée. Dans la présente description et les revendications, sauf indication contraire, les indices de réfraction sont déterminés à la température de 25 C à la longueur d'onde de 550 nanomètres. Dans des cas spécifiés, on mesure ne (mercure 546.1 nm) et nD (sodium 589. 3 nm) (à 25 C). La présente invention concerne également un article, notamment un article d'optique, plus particulièrement une lentille ophtalmique et mieux un verre de lunette, comprenant un substrat en matériau transparent d'indice de réfraction ns, dont au moins une face principale a une valeur de Ra variant de 0,001 à 0,01 m et présente des défauts de surface sous la forme de fines rayures individualisées, de préférence de section transversale en forme de coin, et un revêtement de masquage transparent d'indice de réfraction nc, d'épaisseur inférieure à 10 m recouvrant directement ladite surface principale du substrat, les indices de réfraction ns et ne satisfaisant la relation 0,01 La présente invention concerne encore un article transparent exempt de raies de surfaçage visibles susceptibles d'être obtenues par le procédé ci-dessus. La suite de la description se réfère aux figures annexées qui représentent, respectivement: Figure 1: une microphotographie au microscope électronique à balayage montrant la morphologie d'une fine rayure individualisée sur une face d'un substrat; et Figure 2: une représentation schématique de la section transversale d'une fine rayure individualisée. Figure 3: une coupe transversale du dispositif de mesure visuelle des défauts de surface d'une lentille ophtalmique, ainsi que le schéma de principe de la mesure. Figure 4: la zone d'inspection d'une lentille ophtalmique, lorsque la lentille ophtalmique est correctement disposée dans le dispositif de mesure visuelle pour assurer son observation par le porteur. Les substrats en matériau transparent mis en oeuvre dans le procédé de l'invention sont des substrats dont au moins une face principale a été soumise à un surfaçage, et plus particulièrement des substrats dont au moins une face principale a subi uniquement un ébauchage et un polissage, comme c'est en particulier le cas lorsqu'on utilise les machines de type CNC. Après le surfaçage, la face principale obtenue après polissage présente une rugosité moyenne arithmétique Ra allant de 0,001 à 0,01 m, mais présente des défauts de surface visibles, notamment à la lampe à arc, se présentant sous la forme de fines rayures individualisées, généralement de section transversale en forme de coin comme cela apparaît sur la figure 1. La rugosité moyenne arithmétique Ra de la surface polie est mesurée sur une aire rectangulaire de 0,6mm x 0,8mm à l'aide d'un microscope interférométrique. Par fines rayures individualisées, on entend des raies apparaissant sur la face principale du substrat, de longueur variable, mais clairement distinctes les unes des autres. Ces raies peuvent comporter une section transversale dont la forme générale est représentée schématiquement à la figure 2. La fine rayure représentée dans la figure 2, a la forme d'un coin matérialisé par une section transversale de forme générale triangulaire, est ouverte au niveau de la face principale du substrat et possède deux parois latérales convergentes se prolongeant à l'intérieur du substrat jusqu'à une arête matérialisée par le sommet S sur la figure 2. La largeur L de l'ouverture de cette fine rayure au niveau de la face principale de substrat varie par exemple de 0,5 à 41.tm et ces fines rayures ont une profondeur H, de la face principale du substrat jusqu'au sommet S, variant par exemple de 0,5 à 211m. Comme on le voit sur la figure 1 et comme schématisé sur la figure 2, une fine rayure possible pour le substrat a des parois latérales comprenant, à partir de la face principale du substrat, une première portion de surface courbe qui se prolonge par une seconde portion sensiblement plane jusqu'à l'arête (matérialisée par le sommet S) de la rayure. La longueur de ces fines rayures varie en général de 2 nm à 3 cm, le plus souvent de 3 nm à 2cm. En général, l'occurrence des fines rayures individualisées sur la face principale du substrat ne présente pas de caractère périodique, le plus souvent elles sont réparties de manière concentrique à la face principale du substrat. En général, l'indice de réfraction ns du matériau du substrat est 1,60, de préférence >_ 1,65, mieux est ? 1,70. Le matériau du substrat peut-être tout matériau solide transparent minéral ou organique, notamment tout matériau classiquement utilisé pour la réalisation d'articles d'optique, telles que des lentilles ophtalmiques, et notamment des verres de lunette. De préférence, le matériau du substrat est un verre organique, c'est-àdire un matériau dont les constituants principaux sont des homo et copolymères ou des mélanges de ces homo et copolymères. Parmi les substrats en verre organique convenant pour la présente invention, on peut citer les substrats en polycarbonate (PC), les substrats obtenus par polymérisation et copolymérisation des (méth) acrylates d'alkyle, en particulier des (méth)acrylates d'alkyle en CI C4, et (méth) acrylates aromatiques polyéthoxylés tels que les bisphénolates diméthacrylates polyéthoxylés, les dérivés tels que les allylcarbonates de polyols aliphatiques ou aromatiques, linéaires ou ramifiés, les thio(méth)acrylates (c'est-à-dire des composés comprenant au moins 1, de préférence 2 groupements -S C(0) CH(R)= CH2 ou R = H ou CH3) et en particulier les thio(méth)acrylates d'alkyle, notamment en CI à C4, les polymères et copolymères de polythiouréthanes, les polymères et copolyméres de polyépisulfures, et les alliages de ces polymères et copolymères. Parmi les substrats obtenus par polymérisation des allylcarbonates de polyols, on peut citer ceux obtenus par polymérisation de l'éthylèneglycol bis-(allylcarbonate), le diethylèneglycol bis-(2- méthylcarbonate), le diéthylèneglycol bis-(allylcarbonate), le méthylèneglycol bis-(2-chloroallylcarbonate), le triéthylèneglycol bis- (allylcarbonate), le 1,3-propanediol bis-(allylcarbonate), le propylèneglycol bis-(2-ethylallylcarbonate), le 1,3-butylèneldiol bis- (allylcarbonate), le 1,4 butynediol bis-(2-bromoallylcarbonate), le dipropylèneglycol bis-(allylcarbonate), le triméthylèneglycol bis-(2- éthylallylcarbonate), le pentaéthylèneglycol bis-(allylcarbonate), I'isopropylène bisphénol-A bis (allylcarbonate). Un copolymère d'allylcarbonate de polyol préféré est le copolymère du diéthylèneglycol bis-(allylcarbonate) vendu sous la dénomination commerciale CR39 par la société PPG INDUSTRIE. Les matériaux préférés pour les substrats de l'invention sont les homo et copolymères de polythiouréthanes, des homo et copolymères de polysulfures, des homo et copolymères de polycarbonates, les homo et copolymères de polythio(méth)acrylates et leurs mélanges. Parmi les matériaux à base de polythio(méth)acrylate on peut citer ceux obtenus par polymérisation des monomères thio(méth)acryliques tels que ceux décrits dans le brevet français FR-A-2 734 827. Des homo et copolymères de polythiouréthanes convenant comme matériaux pour les substrats de la présente invention, sont décrits, entre autres, dans les brevets US-4,689,387, US-4,775,733, US-5,191,055, US-5,087,758 et la demande internationale WO 03/040205. Les matériaux polythiouréthanes préférés selon l'invention sont ceux obtenus par réaction de polyaddition d'un polyisocyanate ou d'un polyisothiocyanate ayant 2 ou plus fonctions isocyanates ou isothiocyanates par molécule, de préférence 2 ou 3 fonctions isocyanates ou isothiocyanates et mieux 2 fonctions isocyanates ou isothiocyanates par molécule avec un composé polythiol ou polyol ayant 2 ou plus, de préférence 3 à 4, fonctions thiol ou hydroxyles par molécule. Ces composés poly(thio)isocyanates et polyols ou polythiols peuvent être des monomères ou des prépolymères,comme cela est décrit en particulier dans la demande internationale WO 03/04 0205 Parmi les monomères polyisocyanates ou isothiocyanates préférés, on peut citer ceux de formules: z>b R1 Z c (CH2} Z R1 R1 et RI C z z et R1 dans lesquelles les groupes RI représentent, indépendamment les uns des autres, H ou un groupe alkyle en C1-05, de préférence CH3 ou C2H5; R2 représente H, un halogène, de préférence Cl ou Br, ou un groupe alkyle en Cl-05 de préférence CH3 ou C2H5; Z représente: -N=C=X où X représente O ou S de préférence O; a est un entier de 1 à 4, b est un entier de 2 à 4 et a + b5 6; et x est un entier de 1 à 10, de préférence de 1 à 6. Z 2887488 Parmi les monomères polyiso(thio)cyanates préférés on peut citer le tolylènediiso(thio)cyanate, le phénylènediiso(thio)cyanate, le méthylphénylènediiso(thio)cyanate, l'isopropylphénylène diiso(thio) cyanate, le diéthylphénylènediiso(thio)cyanate, le diisopropylphenylènediiso(thio)cyanate, le triméthylbenzyltriiso(thio) cyanate, le xylylènediiso(thio)cyanate, le benzyltriiso(thio)cyanate, le 4,4'-diphénylméthanediiso(thio)cyanate, le naphtalènediiso(thio)cyanate, l'isophoronediiso(thio)cyanate, le bis(iso(thio)cyanatométhyl)cyclohexane, l'hexaméthylène diiso(thio)cyanate et le dicyclohexylméthanediiso(thio) cyanate. Le monomère polythiol peut être tout polythiol convenable ayant 2 ou plus, de préférence 3 ou 4 fonctions thiol. Ces monomères polythiols peuvent être représentés par la formule: R'(SH) ' dans laquelle n' est un entier de 2 à 6 et de préférence de 3 à 4, et R' est un groupe organique de valence égale à n'. De tels monomères polythiols sont décrits, entre autres, dans la demande de brevet EP-1-394495 et les brevets US-4,775,733, US- 5,087,758 et US-5, 191,055. Parmi les monomères polythiols on peut citer les polythiols aliphaltiques tels que le pentaérythritol tétrakis mercaptopropionate, Le 1-(1'mercaptoéthylthio)-2,3-d imercaptopropane, le 1-(2'-mercaptopropylthio)-2, 3-dimercaptopropane, le 1-(3'-mercatopropylthio)-2,3-d imercaptopropane, le 1-(4'-mercaptobutylthio)-2,3- d imercaptopropane, le 1-(5'mercaptopentylthio)-2,3-dimercaptopropane, le 1-(6'-mercaptohexylthio)-2, 3-dimercaptopropane, le 1,2-bis-(4'-mercaptobutylth io)-3-mercaptopropane, le 1,2-bis-(5'- mercaptopentylth io)-3-mercaptopropane, le 1,2-bis-(6'mercaptohexyl)-3- mercatopropane, le 1,2,3-tris-(mercaptomethylthio) propane, le 1,2,3-tris- (3'-mercaptopropylthio)propane, le 1,2,3-tris-(2'mercaptoéthylthio)propane, le 1,2,3-tris-(4'-mercaptobutylthio)propane, le 1,2,3-tris-(6'-mercaptohexylthio)propane, le méthanedithiol, le 1,2éthanedithiol, le 1, 1-propanedithiol, le 1,2-propanedithiol, le 1,3propanedithiol, le 2,2-propanedithiol, le 1,6-hexanethiol-1,2,3propanetrithiol, et le 1,2-bis-(2'-mercaptoéthylthio)-3-mercaptopropane. Parmi les polythiols, on peut encore citer les polythiols de 5 formules: HSCH2CH CH2 O OH O CH2 CHCH2SH OH HSC2H40002H4 -N N-C2H40002H4SH C2H40002H4SH et C2H5C(CH2OOOCH2CH2CH2SH)3 Les polythiols monomères préférés sont ceux répondant aux formules C(CH2OCCH2CH2SH)4 Il 12 CH2SH CH S CH2CH2SH (polythiol A) CH2 S CH2CH2SH CHZSH CH2 CHSCH2CH2SH S CH2 CHSCH2CH3SH CH2SH et tout particulièrement le polythiol A. Les polyuréthanes préférés dans la présente invention sont ceux obtenus à partir de monomères diisocyanates et de polythiols, et tout particulièrement à partir de xylylènediisocyanate C6H4 (CH2NCO)2 (XDI) et de polythiol A. Un matériau pour substrat à base de polyuréthane convenant particulièrement pour la présente invention est le matériau commercialisé sous la dénomination MR7 par la société MITSUI. Une autre classe préférée de matériau pour le substrat de l'article d'optique transparent selon l'invention est constituée par les homo et copolymères de polyépisulfures, notamment de diépisulfures. De tels homo et copolymères à base d'épisulfures sont décrits, entre autres, dans les brevets EP-761 665, EP-785 194, EP-874 016 et le brevet US-6 204 311. Les composés épisulfures préférés pour les substrats sont les composés épisulfures comportant deux ou plus restes de formule: R4 R5 -S-R3-C- C R6 \ / X dans laquelle R3 est un radical hydrocarboné divalent ayant 1 à 10 atomes de carbone, R4, R5 et R6 représentent, indépendamment les uns des autres, H ou un radical hydrocarboné monovalent ayant 1 à 10 atomes de carbone, et X représente S ou O, le taux de S étant de 50% ou plus en moyenne par rapport au total d'atomes de S et O constitutifs des cycles à trois chaînons. Les restes épisulfures préférés sont ceux de formule SCH2 CH CH2 \s/ Les composés épisulfures particulièrement préférés répondent à la formule: R5 R4 R4 R5 R6 C CH2 S I(CH2)mS]nCH2 C\ /C--R6 X X dans laquelle, R4, R5, R6 et X sont tels que définis ci-dessus, m est un entier de 1 à 6 et n est un entier de 0 à 4, le taux de S étant de 50% ou plus en moyenne par rapport au total d'atomes de S et O constitutifs des cycles à trois chaînons. Les matériaux à base de polyépisulfures préférés sont ceux qui résultent de la polymérisation ou copolymérisation de composés diépisulfures ayant au moins une liaison disulfure intramoléculaire. Parmi les composés polyépisulfures on peut citer les composés 25 suivants: bis-(2,3-épithiopropyl)disulfure, bis-(2,3-épithiopropyldithio) méthane, bis-(2,3-épithiopropyldithio)éthane, bis-(6,7-épithio-3,4dithiahéptane)sulfure, 1,4-dithiane-2,5-bis-(2,3épithiopropyldithiométhyl), 1,3-bis-(2,3- épithiopropyldithiométhyl) benzène, 1,6-bis-(2,3-épithiopropyldithio)-2-(2,3épithiopropyldithioéthylthio)-4-thiahexane, 1,2,3-tris-(2,3épithiopropyldithio)propane, bis-(3-épithiopropylthio)méthane, 1,2-bis((3épithiopropylthio)éthane, 1,3-bis-(R-épithiopropylthio)propane, 1,2-bis(p- épith iopropylthio)propane, 1-(13-épithiopropylthio)-2-03épithiopropylthiométhyl)propane, 1,4-bis-((3-épithiopropylthio)butane, 1, 3-bis- (13-épithiopropylthio)butane, 1-([3-épithiopropylthio)-3-((3épithiopropylthiométhyl)butane, 1,5-bis-03-épithiopropylthio)pentane, 1((3- épithiopropylthio)-4-(j3-épithiopropylthiométhyl)pentane, 1,6-bis((3-épithio propylthio)hexane, 1-((3-épithiopropylthio)-5-((3épithiopropylthiométhyl)hexane, 1-((3-épithiopropylthio)-2-[((3épithiopropylthioéthyl)thio]éthane et 1-([i-épithiopropylthio)-2-[[2-(2[3-épithiopropylthioéthyl)thioéthyl]thio]éthane; des composés organiques ramifiés tels que tétrakis-((3-épithiopropylthiométhyl)méthane, 1,1,1tris-(f3- épithioprop[3[3ylthiométhyl)propane, 1,5-bis-(13épithiopropylthio)-2-((3- épithiopropylthiométhyl)-3-thiapentane, 1,5-bis((3-épithiopropylthio)-2,4-bis((3-épithiopropylthiométhyl)-3-thiapentane, 1-((3-épithiopropylthio)-2,2-bis-((3-épithiopropylthiométhyl)-4thiahexane, 1,5,6-tris-((3-épithiopropylthio)-4-([3épithiopropylthiométhyl)-3-thiahexane, 1,8-bis-(3-épithiopropylthio)-4-Q3épithiopropylthiométhyl)-3,6-dithiaoctane, 1,8-bis-(13-épithiopropylthio) -4,5- bis-(3-épithiopropylthiométhyl)-3,6-dithiaoctane, 1,8-bis-((3épithiopropylthio)- 4,4-bis-((3-épithiopropylthiométhyl)-3,6-dithiaoctane, 1,8-bis-((3- épithiopropylthio)-2,4,5-tris-(3-épithiopropylthiométhyl)-3, 6-dithiaoctane, 1,8-bis-((3-épithiopropylthio)-2,5-bis-([3épithiopropylthiométhyl)-3,6-dithiaoctane, 1,9-bis-(R-épithiopropylthio)5-([3-épithiopropylthiométhyl)-5-[(2-[3- épithiopropylthioéthyl) thiométhyl]-3,7-dithianonane, 1,10-bis-((3- épithiopropylthio)-5,6-bis-[2, (3-épithiopropylthioéthyl)thio]-3,6,9-trithiadécane, 1,11-bis-((3épithiopropylthio)-4,8-bis-((3-épithiopropylthiométhyl)-3,6,9trithiaundécane, 1,11-bis-((3-épithiopropylthio)-5,7-bis-Q épithiopropylthiométhyl)-3,6,9-trithiaundécane, 1,11-bis-([3épithiopropylthio)- 5,7-[(2-(3-épithiopropylthio)thiométhyl]-3,6,9trithiadécane et 1,11-bis-((3-épithiopropylthio)-4,7-bis-((3épithiopropylthiométhyl)-3,6,9-trithiaundecane; et les composés obtenus en substituant au moins un atome d'hydrogène du groupe épisulfure dans les composés ci-dessus par un groupe méthyle, des composés cycloaliphatiques tels que 1,3- et 1,4-bis-(r3- épithiopropylthio) cyclohexanes, 1,3- et 1,4-bis-([3- 2887488 épithiopropylthiométhyl) cyclohexanes, bis-[4-((3épithiopropylthio)cyclohexyl]méthane, 2,2-bis- [4- 3-épithiopropylthio) cyclohexyl]propane, bis-[4-(13-épithiopropylthio) cyclohexyl]sulfure 2,5-bis-(3- épithiopropylthioéthylthiométhyl)-1,4- dithiane et 2,5-bis-([3- épithiopropylthioéthylthiométhyl)- 1,4-dithiane et les composés obtenus en substituant au moins un atome d'hydrogène du groupe épisulfure dans les composés ci-dessus par un groupe méthyle, et les composés organiques aromatiques tels que 1,3- and 1,4-bis-(3épithiopropylthio)benzènes, 1,3- et 1,4-bis-(13-épithiopropylthiométhyl) benzènes, bis-4-([3-épithiopropylthio) phényl]méthane, 2,2-bis-[4-([3épithiopropylthio)phényl]propane, bis[4- 3-épithiopropylthio)phényl] sulfure, bis-[4-(3-épithiopropylthio)phényl]sulfone et 4,4'-bis-([3épithiopropylthio)biphényle. Le monomère diépisulfure préféré est le monomère de formule: CH2 CH CH2 S S CH2 CH CH2 Un autre monomère diépisulfure particulièrement préféré est le monomère de formule Par dépôt direct de la composition de revêtement de masquage, on entend le dépôt de la composition de revêtement de masquage sur une face principale ébauchée et polie n'ayant subi aucun traitement ou ayant subi un traitement, physique ou chimique, qui n'affecte pas sensiblement les fines rayures de surfaçage, c'est-à-dire qui n'affecte pas sensiblement la morphologie des rayures. Parmi les traitements physiques que l'on peut utiliser, notamment pour accroître l'adhésion du revêtement de masquage au substrat, on peut citer les traitements classiques tels que les traitements par décharge couronne, les traitements par plasma ou les traitements par ultra-violet. Parmi les traitements chimiques on peut citer des traitements classiques par des acides ou des bases, notamment les traitements par une solution d'hydroxyde de sodium. On peut également appliquer sur la face principale ébauchée et polie une mince couche d'un agent de couplage, d'épaisseur 5 nanomètres. De préférence, néanmoins, l'article transparent exempt de raies de surfaçage visibles selon l'invention ne comporte pas de couche mince d'agent de couplage. Les agents de couplage préférés sont des solutions précondensées d'un époxyalcoxysilane et d'un alcoxysilane insaturé, de préférence comprenant une double liaison éthylénique terminale. Ces agents de couplage sont plus spécifiquement décrits ci-après en liaison avec leur utilisation dans des compositions pour revêtement anti-abrasion. Les compositions pour revêtement de masquage selon l'invention peuvent être toutes compositions liquides, polymérisables, notamment photopolymérisables et polymérisable thermiquement qui présentent un angle de contact avec la face principale du substrat d'au plus 30 , de préférence d'au plus 25 et mieux d'au plus 20 , formant par polymérisation un revêtement de masquage ayant un indice de réfraction ne tel que 0,01 De préférence, l'angle de contact de la composition de revêtement de masquage avec la face principale du substrat varie de 2 à 17 , mieux de 5 à 15 . De préférence également le revêtement de masquage a une épaisseur de 1,5 à 81.tm, de préférence de 2 à 5 m. De préférence, la composition de revêtement de masquage est exempte de tout composé (méth)acrylate. Les compositions de revêtement de masquage préférées sont des compositions à base de composés époxy, en particulier de composés diépoxy et en particulier des diglycidyléther d'alcanediols, tels que par exemple le diglycidyléther de butanediol, les diglycidyléthers de bisphénols, éventuellement halogénés et notamment bromés, notamment le diglycidyléthers de bisphénol-A et de bisphénol-F et le diglycidyléther de tétratromobisphénol-A et leurs mélanges. Parmi les composés époxy préférés, on peut citer les composés 5 époxy de formules suivantes et leurs mélanges: Nom Structure chimique DGEBA H2C H CH2 O 1H3 O CHI CH CHz Diglycidyléther O CH3 de bisphénol-A C21H2404 M=340 DGEBF H2C H CH O 1 - C O CH CH CHZ Diglycidyléther H O de bisphénolF C 19H2004 M=312 O Diglycidyléther HZC-CH-CI12 O CH2-CH2-CH2--CH2 -O-CH2-CH-CH2 de butanediol O Diglycidyléther Br de tétrabromo Br bisphénol-A j H3 O C O O-CH2-CH-CH2 o/ HZC\0/ CH-CHZ-O CH3 Br Br C21H2004Br4 M=656 Les compositions pour revêtement de masquage de l'invention comportent en général un solvant de dilution ou un mélange de solvants de dilution pour régler la viscosité de la composition et la mouillabilité de la composition vis-à-vis de la face principale du substrat. Les solvants convenant pour la formulation des compositions de masquage selon l'invention peuvent être choisis parmi tout solvant organique classique tels que les alcools, les esters, les cétones, le tétrahydropyrane et leurs mélanges. On peut citer: - méthanol (CH3OH, Carlo Erba), - 1-propanol (CH3CH2CH2OH, VWR International), - 1-méthoxy-2propanol (CH3CH(OH)CH2OCH3, Sigma Aldrich), - 2-méthyl-2-butanol ((CH3) 2C(OH)CH2CH3, Sigma Aldrich), - butoxyéthanol (CH3(CH2)3OCH2CH2OH, Sigma Aldrich), - ou tous mélange de ces solvants. On choisira de préférence le 4-hydroxy-4-méthyl-2-pentanone (CH3) 2C(OH) CH2OOCH3, VWR International) et l'éther glycol DOWANOL PM (Dow Chemical). Les compositions pour revêtement de masquage, à l'état dilué, comprennent en général de 10% à 90% en masse par rapport à la masse totale de la composition diluée d'un ou plusieurs composés époxy, et de préférence de 30 à 60% en masse. De préférence, les compositions pour revêtement de masquage selon l'invention comprennent également un ou plusieurs amorceurs, en particulier induisant une polymérisation cationique, notamment une photopolymérisation cationique, des compositions. Des exemples d'initiateurs cationiques sont les aromatiques et les complexes de sels arène de fer. Des photoinitiateurs appropriés sont décrits entre autres, dans les brevets US n 3 981 897, 4 058401, 4 101 513, 4 138 255, 4 161 471 et dans la demande internationale WO 94/10230. Parmi les sels onium aromatiques photosensibles convenant pour les compositions de masquage selon l'invention, on peut citer les hexafluorophosphates et hexa antimonates d'arylsulfonium, le triphénylselenonium, et de bis(4-dodecilphényl)-iodionium. Des initiateurs cationiques sont commercialisés par la société CIBA GEIGY sous les noms commerciaux IRGACURE 261 et UVI 6974. Les initiateurs cationiques préférés sont les composés et mélanges de composés ayant les structures décrites ci-dessous: En général, la quantité d'initiateur de polymérisation cationique présent dans les compostions pour revêtement de masquage selon l'invention varie de 0,1 à 5% en masse par rapport à la masse totale de la 15 composition pour revêtement. D'autres compositions de masquage préférées sont des compositions de type sol/gel, telles que des compositions à base d'hydrolysats d'époxysilane(s) . Les époxyalkoxysilanes préférés comportent un groupement époxy et 20 trois groupements alkoxy, ces derniers étant directement liés à l'atome de silicium. Structure chimique X-=PF6-ouSbF6 Un époxyalkoxysilane préféré peut être un alkoxysilane porteur d'un groupement 13-(3,4- époxycyclohexyle), tel que le r3-(3,4-epoxycyclohexyl)éthyltriméthoxysilane. Les époxyalkoxysilanes particulièrement préférés répondent à la formule (I) R2 (R1O)3Si(CH2)a (OCH2CH2)b OCH2i CH \ / 2 O dans laquelle: RI est un groupement alkyle de 1 à 6 atomes de carbone, préférentiellement un groupement méthyle ou éthyle, R2 est un groupement méthyle ou un atome d'hydrogène, a est un nombre entier de 1 à 6, b représente 0, 1 ou 2. Des exemples de tels époxysilanes sont le yglycidoxypropyltriéthoxysilane ou le y-glycidoxypropyltriméthoxysilane. Les compositions pour revêtement de masquage selon l'invention peuvent également contenir des colloïdes, en particulier des colloïdes d'indice de réfraction élevé c'est-à-dire un indice n25 >_1,54 et plus D particulièrement des colloïdes d'oxyde métallique tels que des colloïdes de SiO2, TiO2, ZrO2, Sn02, Sb203, Y203, Ta205 et leurs mélanges. Les colloïdes préférés sont SiO2, TiO2, ZrO2 et leurs mélanges. Les particules préférées sont des particules composites à base des oxides suivants SiO2/TiO2, SiO2/ZrO2 et Si02/TiO2/ZrO2. De préférence, TiO2 est sous forme rutile. (I) Un colloïde tout particulièrement préféré est un colloïde minéral choisi parmi les colloïdes de composites de TiO2/SiO2/ZrO2ISnO2 dans lesquelles TiO2 a une structure cristallographique rutile. De tels colloïdes sont disponibles auprès de la société Catalysts and Chemical. Des particules composites particulièrement recommandées sont décrits dans les brevets EP730168, JP11310755, JP200204301, JP2002363442. De préférence, les compositions pour revêtement de masquage ne comportent pas de TiO2 sous forme anatase et ne constituent pas de vernis à base de y-glycidoxypropyle triméthoxysilane contenant un colloïde minéral choisi parmi le TiO2 ayant une structure cristallographique anatase et les colloïdes composites TiO2/ZrO2/SiO2 dans lesquelles TiO2 a une structure cristallographique anatase. En général, les particules de colloïdes ont une taille variant de 10 à 80 nm, de préférence de 10 à 30 nm. En particulier, l'oxyde minéral peut être constitué d'un mélange de particules de petite taille, c'est-à-dire 10 à 15 nm et de particules de grande taille, c'est-à-dire 30 à 80nm. Dans le cas d'un mélange d'oxydes minéraux colloïdaux, de préférence, le mélange comprend au moins un oxyde de bas indice ( Typiquement, les compositions pour revêtement de masquage selon l'invention peuvent comporter de 5% à 50% en masse de colloïdes. La composition de revêtement de masquage est déposée par centrifugation (spin coating) ou par trempé (dip coating). De préférence, le procédé de l'invention comporte également des étapes de formation sur le revêtement de masquage d'un ou plusieurs revêtement fonctionnels, c'est-à-dire des revêtements conférant à l'article diverses propriétés avantageuses tant optiques que mécaniques, telles que résistance au choc, résistance à l'abrasion, élimination des reflets, etc. .. Ainsi, généralement on peut revêtir le revêtement de masquage soit directement avec une couche résistant à l'abrasion, soit avec une couche de primaire, améliorant la résistance au choc de l'article, sur laquelle on peut déposer une couche résistante à l'abrasion, la couche de primaire améliorant également l'ancrage de cette couche résistant à l'abrasion. On peut encore déposer sur la couche résistant à l'abrasion un revêtement anti- reflets et enfin on peut également revêtir ce revêtement antireflet d'un revêtement anti-salissures hydrophobe et oléophobe. La couche de revêtement de masquage, de primaire ou de revêtement antiabrasion peut contenir différents types d'additifs tels que des absorbeurs UV, des pigments, des pigments photochromiques. Dans le cas où l'on veut conférer des propriétés photochromiques à la lentille ophtalmique finale, le mode de réalisation préférentielle de l'invention est de déposer le revêtement de masquage sur le substrat, puis un primaire polyuréthane renfermant un pigment photochromique sur le revêtement de masquage. La couche de primaire, lorsqu'elle est présente, peut être toute couche de primaire classiquement utilisé dans le domaine optique et en particulier ophtalmique. Typiquement, ces primaires, en particulier les primaires anti-choc, sont des revêtements à base de polymères (méth)acryliques, de polyuréthanes, de polyesters, ou encore à base de copolymères époxy/(méth) acrylate. Les revêtements anti-chocs à base de polymère (méth) acrylique sont, entre autres, décrits dans les brevets US 5,015,523 et US 5,619,288, cependant que des revêtements à base de résines de polyuréthane thermoplastiques et réticulées sont décrits, entre autres, dans les brevets japonais 63-141001 et 63-87223, le brevet européen EP-040411 et le brevet US-5,316,791. En particulier, le revêtement de primaire résistant au choc de l'invention peut être réalisé à partir d'un latex poly(méth)acrylique, y compris de type coque-noyau (core-shell) tel que décrit, par exemple, dans la demande de brevet français FR 2.790.317, d'un latex de polyuréthane ou d'un latex de polyester. Parmi les compositions de revêtement de primaire anti-choc particulièrement préférées, on peut citer le latex acrylique commercialisé sous la dénomination A-639 par Zeneca et les latex de polyuréthane commercialisés sous les dénominations W-240 et W-234 par la Société Baxenden. On choisira de préférence des latex ayant une taille de particule nm et mieux Les latex particulièrement préférés sont les latex de polyuréthane. Généralement, après durcissement, la couche de primaire résistant au choc a une épaisseur de 0,05 à 20 pm, de préférence de 0,5 à 10 pm et mieux encore de 0,6 à 6 pm. L'épaisseur optimale est généralement de 0,5 à 2 pm. Généralement, la couche de primaire a un indice de réfraction variant de 1,47 à 1,55 et préférentiellement de 1,51 à 1,53. La formation du revêtement primaire antichocs (latex) comprend le 15 dépôt d'un latex sur le revêtement de masquage et le durcissement au moins partiel, du latex. Le revêtement anti-abrasion peut être tout revêtement anti-abrasion classiquement utilisé dans le domaine de l'optique et en particulier de l'optique ophtalmique. Par définition, un revêtement anti-abrasion est un revêtement qui améliore la résistance à l'abrasion de l'article d'optique fini comparé au même article ne comportant pas le revêtement anti-abrasion. Les revêtements anti-abrasion préférés sont ceux obtenus par durcissement d'une composition incluant un ou plusieurs époxyalcoxysilanes ou un hydrolysat de ceux-ci, de la silice et un catalyseur de durcissement. Des exemples de telles compositions sont décrits dans la demande internationale WO 94/10230 et les brevets US 4, 211,823, 5,015,523, ainsi que le brevet européen EP 614957. Les compositions de revêtement anti-abrasion particulièrement préférées sont celles comprenant comme constituants principaux un époxyalcoxysilane tel que, par exemple, le y glycidoxypropyltriméthoxysilane (GLYMO), un dialkyldialcoxysilane tel que, par exemple, le diméthyldiéthoxysilane (DMDES), de la silice colloïdale et une quantité catalytique d'un catalyseur de durcissement tel que l'acétylacétonate d'aluminium ou un hydrolysat de ces constituants, le reste de la composition étant essentiellement constitué de solvants classiquement utilisés pour formuler ces compositions et éventuellement d'un ou plusieurs agents tensionactifs. Pour améliorer l'adhérence du revêtement anti-abrasion, la composition de revêtement anti-abrasion peut éventuellement comporter une quantité effective d'un agent de couplage. Cet agent de couplage est typiquement une solution pré-condensée 5 d'un époxyalcoxysilane et d'un alcoxysilane insaturé, de préférence comprenant une double liaison éthylènique terminale. Des exemples d'époxyalcoxysilanes sont: le y glycidoxypropyltriméthoxysilane, le y glycidoxypropylpentaméthyldisiloxane, le y glycidoxypropylméthyldiisopropènoxysilane, le y glycidoxypropyl) méthyldiéthoxysilane, le y glycidoxypropyldiméthoxyéthoxysilane, le y glycidoxypropyldiisopropyléthoxysilane et le y glycidoxypropyl) bis(triméthylsiloxy)méthylsilane. L'époxyalcoxysilane préféré est le (y glycidoxypropyl) triméthoxysilane. L'alcoxysilane insaturé peut être un vinylsilane, un allylsilane, un silane acrylique ou méthacrylique. Des exemples de vinylsilanes sont le vinyltris(2-méthoxyéthoxy) silane, le vinyltris isobutoxysilane, le vinyltri-t-butoxysilane, le vinyltriphénoxysilane, le vinyltriméthoxysilane, le vinyltriisopropoxysilane, le vinyltriéthoxysilane, le vinyltriacétoxysilane, le vinylméthyldiéthoxysilane, le vinylméthyldiacétoxysilane, le vinyl bis(triméthylsiloxy)silane et le vinyldiméthoxysilane. Des exemples d'allylsilanes sont l'allyltriméthoxysilane, l'allyltriéthoxysilane et l'allyltris(triméthylsiloxy)silane. Des exemples de silanes acryliques sont: le 3acryloxypropyltris(triméthylsiloxy)silane, le 3acryloxypropyltriméthoxysilane, l'acryloxypropylméthyl-d iméthoxysilane, le 3-acryloxypropylméthylbis(triméthylsiloxy)silane, le 3acryloxypropyldiméthylméthoxysilane, le n-(3-acryloxy-2-hydroxypropyl)-3aminopropyltriéthoxysilane. Des exemples de silanes méthacryliques sont: le 3méthacryloxypropyltris(vinyldiméthoxylsiloxy)silane, le 3méthacryloxypropyltris(triméthylsiloxy)silane, le 3méthacryloxypropyltis(méthoxyéthoxy)silane, le 3méthacryloxypropyltriméthoxysilane, le 3-méthacryloxypropylpentaméthyl disiloxane, le 3-méthacryloxypropylméthyldiméthoxysilane, le 3méthacryloxypropylméthyldiéthoxysilane, le 3-méthacryloxypropyldiméthyl méthoxysilane, le 3-méthacryloxypropyldiméthyléthoxysilane, le 3méthacryloxypropènyltriméthoxysilane, et le 3méthacryloxypropylbis(triméthylsiloxy)méthylsilane Le silane préféré est l'acryloxypropyltriméthoxysilane. Typiquement, la quantité d'agent de couplage introduite dans la composition de revêtement anti-abrasion représente 0,1 à 15 % en poids du poids total de la composition, de préférence 1 à 10 % en poids. L'épaisseur du revêtement anti-abrasion, après durcissement, est habituellement de 1 à 15 pm, de préférence de 2 à 6 pm. Les compositions de primaire anti-choc et de revêtement anti-abrasion peuvent être durcies thermiquement et/ou par irradiation, de préférence 25 thermiquement. Les couches de primaire anti-choc et de revêtement anti-abrasion peuvent être formées par tout procédé classique tel que par dépôt au trempé ou par centrifugation, de préférence par centrifugation. De ce fait, les compositions pour la formation de ces couches sont de préférence des compositions sol-gel. Le procédé de l'invention peut comporter éventuellement le dépôt d'un revêtement anti-reflets sur la couche de revêtement anti-abrasion. Le revêtement anti-reflets peut être tout revêtement anti-reflets classiquement utilisé dans le domaine de l'optique, en particulier de l'optique ophtalmique. A titre d'exemple, le revêtement anti-reflets peut être constitué d'un film mono- ou multicouche, de matériaux diélectriques tels que SiO, SiO2, Si3N4, TiO2, ZrO2, AI203, MgF2 ou Ta205, ou leurs mélanges. Il devient ainsi possible d'empêcher l'apparition d'une réflexion à l'interface lentille-air. Ce revêtement anti-reflets est appliqué généralement par dépôt sous vide selon l'une des techniques suivantes: Par évaporation, éventuellement assistée par faisceau ionique. Par pulvérisation par faisceau d'ion. Par pulvérisation cathodique. Par dépôt chimique en phase vapeur assistée par plasma. Outre le dépôt sous vide, on peut aussi envisager un dépôt d'une couche minérale par voie sol-gel (par exemple à partir d'hydrolysat de tétraéthoxysilane). Dans le cas où la pellicule comprend une seule couche, son épaisseur optique doit être égale à A/4 (À est une longueur d'onde comprise entre 450 et 650 nm). Dans le cas d'un film multicouche comportant trois couches, on peut utiliser une combinaison correspondant à des épaisseurs optiques respectives A/4, À/2, À/4 ou À/4, À/4, À/4. Dans une réalisation recommandée de l'invention, le procédé comprend la formation entre le revêtement de masquage et le revêtement primaire antichoc, d'une ou plusieurs couches de revêtement anti-frange d'interférence, de préférence constituant chacune une lame quart d'onde dans le domaine allant de 400 à 700 nanomètres, de préférence 450 à 650 nanomètres. Les caractéristiques optiques et géométriques d'une telle lame quart d'onde sont données par les relations suivantes: n=(ncxnp)'/Z,et n. e=?J4 ou n est l'indice de réfraction à 25 C pour la longueur d'onde = 550 nanomètres de la lame quart d'onde (longueur d'onde correspondant à la sensibilité maximum de l'oeil), nanomètres du revêtement primaire antichoc directement en contact avec la lame quart d'onde. En d'autres termes, l'indice n de la lame quart d'onde est la moyenne 10 géométrique des indices des matériaux l'entourant. La ou les couches de revêtement anti-franges formant lame d'onde comprennent de préférence au moins un oxyde minéral colloïdal généralement choisi parmi SiO2, TiO2, ZrO2, SnO2, Sb2O3, Y2O3, Ta2O5 et leurs mélanges. Les oxydes minéraux colloïdaux préférés sont SiO2, TiO2, ZrO2 et les mélanges SiO2/TiO2 et SiO2/ZrO2. Les silices colloïdales préférées sont les silices préparées par le procédé Stôber. Le procédé Stôber est un procédé simple et bien connu qui consiste en une hydrolyse et condensation du tétra silicate d'éthyle (Si (OC2H5)4 ou TEOS) dans l'éthanol catalysées par de l'ammoniac. Le procédé permet d'obtenir une silice directement dans l'éthanol, une population de particules quasi monodispersée, une taille de particules réglable et une surface de particule (SiO-NH4+) Dans le cas d'un mélange d'oxydes minéraux colloïdaux, de préférence, le mélange comprend au moins un oxyde haut indice, c'est à dire ayant un indice de réfraction nD ? 1, 54 et au moins un oxyde bas indice, c'est à dire ayant un indice de réfraction nD La taille des particules de l'oxyde minéral varie généralement de 10 à 80 nm, de préférence 30 à 80 nm et mieux de 30 à 60 nm. ne est l'indice de réfraction à 25 C pour la longueur d'onde = 550 nanomètres du revêtement de masquage, et np est l'indice de réfraction à 25 C pour la longueur d'onde 2 = 550 En particulier, l'oxyde minéral peut être constitué d'un mélange de particules de petite taille, c'est à dire de 10 à 15 nm et de particules de grande taille, c'est à dire de 30 à 80 nm. Typiquement, la couche ou chacune des couches d'oxyde minéral colloïdal a une épaisseur de 60 à 100 nm, de préférence de 70 à 90 nm, et mieux de 80 à 90 nm, étant entendu que cette épaisseur doit être aussi proche que possible de l'épaisseur théorique d'une lame quart d'onde, compte tenu des matériaux utilisés pour l'article d'optique, pour un résultat optimal d'atténuation des franges d'interférence. Les couches d'oxyde minéral colloïdal contiennent de préférence généralement un matériau polymère qui ne nuit pas aux propriétés optiques de la lame quart d'onde finale et qui accroît la cohésion et l'adhérence des particules d'oxydes minéraux à la surface du revêtement de masquage. Les liants sont généralement des matériaux analogues aux compositions de primaire anti-choc décrits ci-dessus. Les liants préférés sont les latex de polyuréthane et les latex (méth) acryliques, tout particulièrement les latex de polyuréthane. Le ou les liants peuvent être ajoutés en totalité ou en partie à la composition d'oxyde minéral colloïdal pour la formation du revêtement anti- franges ou ils peuvent provenir du comblement de la porosité d'une ou plusieurs couches d'oxydes minéraux par le matériau de la couche de primaire anti-choc déposée immédiatement après. Ainsi on peut former sur le revêtement de masquage une ou plusieurs couches d'oxyde minéral colloïdal ayant une porosité d'au moins 40 % en volume et de préférence de l'ordre de 50 % en volume par rapport au volume total de la couche, en l'absence de liant, et avant comblement par le matériau polymérique de la couche de primaire ou une ou plusieurs couches d'oxyde minéral colloïdal contenant au moins un liant (par exemple 1 à 30%, de préférence 10 à 25% et mieux 10 à 20% en poids par rapport au poids sec d'oxydes minéraux de la couche) ayant de préférence une porosité d'au moins 25%, mieux d'au moins 30% en volume avant comblement pour le matériau polymère de la composition de revêtement primaire anti-choc. Le dépôt de la couche d'oxyde minéral colloïdal sur le revêtement de masquage peut se faire par trempage dans un sol d'oxyde minéral colloïdal ou centrifugation du sol, de préférence par trempage. Dans le cas du dépôt par trempage, l'épaisseur déposée est fonction de la teneur en matière sèche du sol, de la taille des particules et de la vitesse de démouillage (Loi de Landau-Levich). Ainsi, connaissant la composition du sol, la taille des particules, les indices de réfraction du revêtement de masquage et du revêtement primaire, on peut déterminer l'épaisseur voulue pour la couche d'oxyde minéral colloïdal et la vitesse de démouillage convenant pour l'obtention de l'épaisseur voulue. Après séchage de la couche déposée, on obtient une couche d'oxyde minéral colloïdal poreuse d'épaisseur voulue. La porosité de la couche est un critère essentiel et doit être d'au moins 40 % en volume, de préférence d'au moins 50 % en volume en l'absence de liant et d'au moins 25 %, de préférence d'au moins 30 % en volume, en présence de liant. La porosité des couches peut être calculée à partir des indices de réfraction des couches mesurées par ellipsométrie. Dans le cas d'une couche ne contenant pas de liant La porosité de la couche d'oxyde minéral colloïdal poreuse est Vp p _ Vox + Vp où Vp est le volume des pores contenus dans la couche, et Vox est le volume occupé par l'oxyde minéral dans la couche. La porosité p de la couche est ici égale à la porosité en l'absence de liant. On accède à la valeur de la porosité p à partir des indices de réfraction: n,m (mesuré par ellipsométrie) qui est l'indice de réfraction de la couche minérale poreuse, n X qui est l'indice de réfraction moyen des particules d'oxyde minéral 30 (éventuellement mixtes si plusieurs oxydes sont utilisés). et de la relation: ni=p+ n2,, (1-p) où p est la fraction volumique en pore, en supposant les pores remplis d'air 35 et 1- p la fraction volumique d'oxyde minéral. Les indices de réfraction sont déterminés à 25 C à la longueur d'onde de 632 nm. Dans le cas d'une couche contenant un liant La porosité p de la couche est calculée à partir des relations suivantes: ( 1) nm = p + xox no2x + xi n2i où n X est l'indice de réfraction de la couche d'oxyde minéral poreux, Vp p, porosité de la couche = V total ' x x représente la fraction volumique d'oxyde minéral dans la couche Vox x0X V total x, représente la fraction volumique de liant dans la couche x, _ VI V total Vp, Vox, Vtotal représentent respectivement les volumes occupés par les pores (air), l'oxyde minéral, le liant et par la totalité de la couche, n X est l'indice de réfraction moyen des particules d'oxyde minéral, n, est l'indice de réfraction du liant, (2)p+xl +xox=1 (3) x' = m' x X0X Inox d X = densité de l'oxyde minéral, di = densité du liant, m, = masse sèche du liant dans la couche, m X= masse sèche d'oxyde minéral dans la couche. La porosité en l'absence de liant est par définition p' = p + xi, c'est à dire la porosité que présenterait la couche si le volume de liant était occupé par de l'air. On obtient les valeurs de p et de p' par mesure de n, par ellipsométrie, m les indices nox et n, étant connus par ailleurs et le ratio ' étant fixé m ox expérimentalement. Les différents indices de réfraction sont déterminés à 25 C à la 5 longueur d'onde de 632 nm. Les exemples suivants illustrent la présente invention. Dans les exemples, sauf indication contraire, tous les pourcentages sont exprimés en masse, et les indices de réfraction ont été mesurés à 25 C et avec une longueur d'onde 2, = 550 nanomètres. Des lentilles ophtalmiques semi-finies sphériques, de base 6,75 (base=530/R en mm ou R est le rayon de courbure de la lentille) en matériau MR7 (à base de polythiouréthane) commercialisé par la société MITSUI d'indice de réfraction nD de 1,660, de puissance -6,00 dioptries, sont soumises à un traitement de surfaçage comme indiqué ci-après. Le surfaçage qu'il soit en face concave ou bien convexe est effectué de la façon suivante: É Usinage sur Machine SCHNEIDER HSC100. La finition est faite avec un outil Diamant mono-cristallin de rayon 2 mm, une rotation inférieure ou égale à 600 tr/min, une avance inférieure ou égale à 0.04 mm/tr, une profondeur de passe égale à 0.1 mm. É Polissage sur machine SCHNEIDER CCP101. Le pad de polissage est en tissu floqué. L'abrasif est de l'alumine type POLILENS+. Pour la finition, l'outil tourne à 900 tr/min avec une pression d'air à l'intérieur du piston affichée à 1 bar. La puissance finale des lentilles ophtalmiques après surfaçage est +6,00 dioptries, addition 3,50 dioptries. On dépose ensuite différents revêtements sur les lentilles ébauchées et polies, comme indiquées dans le tableau 1 ci-dessous. Dépôt de la composition de revêtement de masquaqe La composition de revêtement de masquage est déposée par centrifugation (spin coating) sur la face convexe, lorsque la face convexe a été surfacée ou sur la face concave lorsque la face concave a été surfacée. La vitesse de centrifugation est de 2300 tours/minute pour le dépôt de la composition de masquage Ml, l'épaisseur obtenue est de 2,3 microns. La vitesse de centrifugation est de 2500 tours /minute pour la composition de masquage M2, l'épaisseur obtenue étant de 2 microns. Les revêtements de masquage sont durcis par une lampe fusion LH6-(bulbe D, V ou H) La composition de masquage Ml est une composition constituée de 58% molaire de DGEBF(diglycidyléther de bisphenol-F) et 42% molaire de DEGBA(diglycidyl éther de bisphénol-A), diluée à 50% dans le 4-hydroxy-4methyl-2-pentanone (CH3)2C(OH)CH2OOCH3, VWR International. La composition de masquage M2 est une composition constituée de DEGBA(diglycidyléther de bisphénol A) dilué à 50% en poids dans le 4hydroxy-4-methyl-2-pentanone (CH3)2C(OH)CH2OOCH3 (HMP), VWR InternationalConstitution et caractéristiques des Compositions MI et M2 Réactifs propriétés M1 Solvant DGEBF DGEBA Initiateur ne nd Tg HMP %molaire %molaire cationique** 1,614 1,610 80 et 50% en 58 42 oui poids de 115 C M2 DGEBF+ >95 oui 1,588 1,584 105 C DGEBA 50% en poids de DGEBA DGEBF = Diglycidyléther de bisphénol F DGEBA = Diglycidyléther de bisphénol A ** initiateur cationique: mélange de: et Dépôt de la couche anti-frange On prépare une couche anti-frange d'indice final 1,580 et d'épaisseur 87 nm. Une telle couche peut être préparée en suivant le mode opératoire des exemples 8 à 13 de la demande de brevet EP1362246. Dépôt de la composition de primaire antichocs P1 Une fois le revêtement de masquage déposé et éventuellement la couche anti-frange, on immerge l'article pendant 4 minutes dans une composition de primaire P comprenant un latex de polyuréthane W234 de la Société BAXENDEN à 5 C. Après retrait, la couche de primaire est séchée à 80 C pendant 20 minutes et on laisse refroidir pendant 15 minutes. Dépôt de la composition anti-abrasion HC1 La lentille revêtue du primaire issu de la composition P est immergée 20 pendant 4 minutes dans une composition pour revêtement anti-abrasion HC1 à5 C Ensuite, on cuit la composition HC1. On obtient ainsi un article ayant une couche de primaire et une couche de revêtement dur anti-abrasion sur ses deux faces. La composition pour revêtement anti-abrasion HC1 a été préparée de la façon suivante: On fait tomber goutte à goutte 80,5 parties de HCI 0,1 N dans une solution contenant 224 parties de GLYMO (y-glycidoxy propyl triméthoxy silane) et 120 parties de DMDES (diméthyl diéthoxysilane). La solution est agitée 24 heures à température ambiante, puis on ajoute 718 parties de silice colloïdale à 30% dans le méthanol, 15 parties d'acétylacétonate d'aluminium et 44 parties d'éthylcellosolve. On ajoute enfin une petite quantité d'agent tensio-actif. L'extrait sec théorique de la composition HC1 renferme environ 13% de matière solide provenant du DMDES hydrolysé. L'indice de réfraction du revêtement durci de la composition HC1 est de 1, 49. Dépôt du revêtement antiabrasion HC2 Le revêtement antiabrasion HC2 est un revêtement à indice de réfraction élevé (1,60) obtenu par durcissement d'une composition de revêtement à base d'hydrolysat de y-glycidoxypropyl triméthoxysilane et de colloïde mixte de TiO2/ZrO2/SiO2. La présence de défauts optiques sur les lentilles ophtalmiques obtenues est ensuite évaluée selon le protocole décrit par la suite. TABLEAU 1 Exemple Procédé Revêtement Indice du Epaisseur du Couche Primaire Revêtement Nombre % de verres de de masquage revêtement de revêtement de quart antichocs et antiabrasion de verres présentant surfaçage masquage masquage ( m) d'onde épaisseur testés des défauts optiques Comparatif Surfaçage Aucun Non P HC1 30 100% 1 face 1 micron 3 microns convexe* Comparatif Surfaçage Aucun Non Non HC2 110 60-90% 2 face 2,2 microns Convexe* 1 Surfaçage M1 1,61 2,3 Non P HC1 80 _ 4 Surfaçage M1 1,61 2,3 Oui P HC1 24 0% face 1 micron 3 microns concave* Verres progressifs+6,00 addition 3,50 Pad floqué fourni par la société Delamare Liquide de polissage du type polispeed de la marque Ferro L'angle de contact du primaire P avec le substrat MR 7 est de 42,7 Exemples 5 et 6: dépôt de compositions de revêtement présentant des angles de contact variables. On prépare deux compositions de revêtement de masquage avec deux teneurs en solvant HMP 4-hydroxy-4-methyl-2-pentanone (CH3)2C(OH)CH2OOCH3 différentes à partir de la composition M2: une solution M3 (dilution de M2 à 70% en poids dans HMP) et une solution M4 (dilution à 30% en poids dans HMP) . Ceci permet de faire varier l'angle de contact de la formulation sur un substrat d'indice 1,67. Dans un premier temps, les angles de contact des vernis M3 et M4 sur des lentilles ophtalmiques biplans 1,67 moulées ont été mesurés. Le protocole est le suivant: L'appareil utilisé est un DIGIDROP de la société GBX Instrumentation Scientifique. Il s'agit d'un appareil de mesure automatique de l'angle de contact et de caractérisation du phénomène de mouillabilité. Le DIGIDROP est composé d'une caméra, d'un système d'analyse et de traitement d'images ainsi que d'un logiciel de mesures. Un micro-régulateur de gouttes permet de déposer un volume précis de liquide de manière simple à l'aide du moniteur de contrôle vidéo. Le substrat est amené en contact avec le liquide manuellement ou de manière automatique; l'influence des forces externes autres que les forces dues à la tension de surface sont éliminées. Le phénomène de mouillabilité peut donc être clairement identifié. L'optique du DIGIDROP constituée d'une caméra et d'un objectif macro restitue une image grossie et précise de la goutte, sans aberration. Le logiciel peut alors analyser l'image numérisée de la goutte et déterminer ses caractéristiques géométriques. L'angle de contact 0, correspondant à l'angle entre la surface du solide et la tangente à la surface du liquide peut ainsi être déterminé. Dans un deuxième temps, les revêtements de masquage M3 et M4 sont déposés par centrifugation (spin coating) sur la face surfacée convexe de lentilles ophtalmiques progressives en substrat MR7 d'indice de réfraction nD de 1,660, de géometrie +6,00 addition 3,50 obtenu par le procédé de surfaçage décrit précédemment pour les exemples 1 à 4. Afin que la viscosité des revêtements de masquage M3 et M4 n'influence pas les résultats de pouvoir recouvrant, un délai entre l'étape de dépôt par spin coating et de polymérisation UV est appliqué. L'épaisseur des revêtements après polymérisation des compositions est de 4 microns. Après dépôt du primaire P et vernis anti-abrasif HC1, les défauts de surface des lentilles (raies, rayures superficielles) sont ensuite observées en transmission suivant le protocole décrit par la suite. TABLEAU II Exemple Revêtement Angle de Epaisseur Primaire Revêtement Nombre Pouvoir recouvrant De masquage contact de la du (épaisseur) antiabrasion de formulation revêtement (épaisseur) verres sur une de lentille masquage ophtalmique biplan 1,67 nombre de % de verres verres présentant présentant des défauts des défauts optiques optiques M3: 20 4 m P HC1 39 14 36% M2 (1 micron) (3 microns) (70%)+ HMP (30%) 6 M4: 9 4 m P HC1 34 5 15% M2 (1 micron) (3 microns) (30%) + HMP(70%) 38 Protocole de mesure des défauts optiques. Le dispositif de mesure, qui est un dispositif de mesure en transmission, ainsi que le schéma de principe de la mesure, sont représentés en figure 3. 5 Le dispositif de mesure est constitué d'un réceptacle (3) aux parois opaques (4), comprenant une source lumineuse (5) , de forme allongée, et une ouverture (6), en forme de fente, aménagée dans une direction parallèle à la source lumineuse (5). La source lumineuse (5) est positionnée, de façon décalée par rapport à l'ouverture (6), de telle sorte que la presque totalité de la source lumineuse (5) est occultée pour un observateur (7) disposant son regard face à l'ouverture (6). La lentille (8) dont on inspecte les défauts de surface est positionnée dans une zone d'observation (9), en face de l'ouverture (6), à une distance d'environ 200 mm par rapport à la source lumineuse (5), et de telle sorte que l'axe optique (non représenté) de cette lentille (8) soit parallèle à la direction (10) du regard de l'observateur (7). L'observateur effectuant la mesure possède une vision de 10/10 à chaque oeil et les yeux de l'observateur sont positionnés de telle sorte que ceux-ci se situent à une distance d'environ 500 mm du verre à observer. L'observateur (7) et la lentille (8) sont correctement disposés lorsque l'observateur (7) perçoit dans son champ de vision la disposition représentée 25 en figure 4. La lentille (8) est placée devant l'ouverture (6) et orientée comme indiqué précédemment. La zone d'inspection (10) est la zone délimitée, dans sa partie supérieure, par le bord (11) de la source lumineuse (5) vu au travers de la lentille (8), dans sa partie inférieure, par le bord inférieur (12) de l'ouverture (6), vu au travers de la lentille (8) et le bord (13) de la lentille (8). La zone d'inspection (10) telle que représentée en figure 4 représente environ le tiers de la surface de la lentille (8). La lentille (8) est ensuite translatée pour pouvoir visualiser l'ensemble de la 35 surface optique dans la zone d'inspection. La lumière ambiante de la salle dans laquelle s'effectue la mesure doit varier entre 60 et 130 lux. La lumière au niveau de la zone d'observation (9) doit être comprise entre 5 600 et 1200 lux. Une lentille (ou plus généralement l'article en matériau transparent de l'invention) est dit(e) exempt(e) de défaut de surface optique visible ou exempt(e) de raie de surfaçage visible si aucun défaut n'est visualisé par un observateur tel que défini précédemment et dans les conditions de mesures précitées dans le protocole, lors d'une inspection de la lentille effectuée pendant une durée comprise entre 4 et 8 secondes. REVENDICATIONS 1. Procédé d'obtention d'un article transparent exempt de raies de surfaçage visibles, comprenant: l'obtention d'un substrat en un matériau transparent d'indice de réfraction ns, dont au moins une face principale a été ébauchée et polie à une valeur de Ra variant de 0,001 à 0,01 lam mais qui présente des défauts de surface visibles sous la forme de fines rayures individualisées; le dépôt directement sur la face principale ébauchée et polie du substrat d'une composition liquide, polymérisable, de revêtement de masquage présentant un angle de contact avec la face principale du substrat d'au plus 30 , et formant par polymérisation un revêtement de masquage ayant un indice de réfraction ne tel que 0,01 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que les fines rayures individualisées présentent une section transversale en forme de coin. 3 Procédé selon la revendication 1 ou 2 dans lequel la face principale ébauchée et polie du substrat n'a pas subi d'étape de doucissage avant l'étape de polissage. 4 Procédé selon l'une quelconque des revendication 1 à 3, caractérisé en ce que l'occurrence des fines rayures individualisées ne présente pas de caractère périodique. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que les fines rayures individualisées sont réparties de manière concentrique sur la face principale du substrat. 6. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'angle de contact de la composition de revêtement de masquage avec la face principale du substrat est d'au plus 25 , de préférence d'au plus 20 . 7. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'angle de contact de la composition de revêtement de masquage avec la face principale du substrat varie de 2 à 17 , de préférence de 5 à 15 . 8. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce le revêtement de masquage a une épaisseur de 1,5 à 8 micromètres, de préférence de 2 à 5 micromètres. 9. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la composition de revêtement de masquage comprend des composés époxy. 10. Procédé selon la revendication 9, caractérisé en ce que les composés époxy comportent au moins deux groupes époxy par molécule. 11. Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce que les composés époxy sont choisis parmi les diglycidyl éthers de bisphénols, les diglycidyl éthers d'alcanols et leurs mélanges 12. Procédé selon la revendication 11, caractérisé en ce que les composés époxy sont choisis parmi les diglycidyléthers de bisphénol-A et F, les diglycidyléthers bromés de bisphénol A et F, le diglycidyléther de butanediol et leurs mélanges. 13. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la composition de revêtement de masquage est exempte de tout composé (méth)acrylate. 14. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la composition de revêtement de masquage est une composition photopolymérisable. 15. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, 5 caractérisé en ce qu'elle comprend au moins un amorceur cationique. 16. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la composition de revêtement de masquage est déposée par centrifugation (spin coating) ou par trempé (dip coating). 17. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, 10 caractérisé en ce qu'il comprend en outre une étape de formation d'un revêtement primaire anti-chocs sur le revêtement de masquage. 18. Procédé selon la revendication 17, caractérisé en ce que l'étape de formation du revêtement primaire antichocs comprend le dépôt d'un latex sur le revêtement de masquage et le durcissement au moins partiel, du latex. 19. Procédé selon la revendication 18, caractérisé en ce que le latex est choisi parmi les latex (méth)acryliques et les latex de polyuréthane, de préférence les latex de polyuréthane. 20. Procédé selon l'une quelconque des revendications 17 à 19, caractérisé en ce qu'il comprend une étape de formation d'un revêtement anti-frange d'interférence entre le revêtement de masquage et le revêtement primaire anti-chocs. 21. Procédé selon la revendication 20, caractérisé en ce que le revêtement anti-frange d'interférence constitue une lame quart 25 d'onde. 22. Procédé selon l'une quelconque des revendications 17 à 21, caractérisé en ce qu'il comprend en outre une étape de formation d'un revêtement anti-abrasion sur le revêtement primaire anti-chocs. 23. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'indice de réfraction ns du matériau du substrat est égal ou supérieur à 1,60, de préférence égal ou supérieur à 1,65, mieux égal ou supérieur à 1,70. 24. Procédé selon la revendication 23, caractérisé en ce que le matériau du substrat est choisi parmi les homo et copolymères de polythiouréhane, les homo et coplymères de polyépisulfures, les homo et copolymères de polycarbonate, les homo et copolymères de polythio(méth) acrylates et leurs combinaisons, de préférence les homo et copolymères de polythiouréthane. 25. Procédé selon la revendication 24, caractérisé en ce que le matériau du substrat est un matériau à base de polythiouréthanes résultant de la polyaddition d'au moins un diisocyanate et d'au moins un polythiol. 26. Procédé selon la revendication 25, caractérisé en ce que le diisiocyanate est le xylylène diisocyanate (C6H4(CH2NCO)2. 27. Procédé selon la revendication 25 ou 26, caractérisé en ce que le(s) polythiol(s) est (sont) choisi(s) parmi les tri et tétrathiols. 28. Procédé selon la revendication 27, caractérisé en ce que les polythiols sont choisis parmi les composés de formules C[CH2OCCH2CH2SH]4, CH2 SH CH S CH2CH2--SH CH2 zS--CH2CH2 SH, et CH2SH CH2--CH S CH2CH2SH CH2 HSCH2CH2SH CH2SH 29. Procédé selon la revendication 25, caractérisé en ce que le matériau du substrat résulte de la polyaddition de xylylène diisocyanate et du polythiol de formule CH2 SH CH S 'CH2CH2 SH CH2 S CH2CH2 SH 30. Procédé selon la revendication 24, caractérisé en ce que le matériau du substrat est un homo ou copolymère de polyépisulfure résultant de la polymérisation ou copolymérisation d'un diépisulfure de formule: CH2 S S CH2 ou de formule 31. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il constitue un verre optique, de préférence une lentille ophtalmique. 32. Article comprenant un substrat en matériau transparent d'indice de réfraction ns, dont au moins une face principale a une valeur de Ra variant de 0,001 à 0,01 m et présente des défauts de surface sous la forme de fines rayures individualisées, et un revêtement de masquage transparent, d'indice de réfraction nc, d'épaisseur inférieure à 10 m recouvrant directement ladite face principale du substrat, les indices de réfraction ns et ne satisfisfaisant la relation 0,01 33. Article selon la revendication 32, caractérisé en ce que les fines rayures individualisées présentent une section transversale en forme de coin 34. Article selon la revendication 32 ou 33, caractérisé en ce que le revêtement de masquage ne comprend pas de vernis à base de yglycidoxy propyltriméthoxysilane contenant un colloïde minéral choisi parmi le TiO2 ayant une structure cristallographique anatase et les mélanges TiO2/ZrO2/SiO2 dans lesquels TiO2 a une structure cristallographique anatase. 35. Article selon l'une quelconque des revendications 32 à 34, caractérisé en ce que l'occurrence des fines rayures individualisées ne présente pas de caractère périodique. 36. Article selon l'une quelconque des revendications 32 à 35, caractérisé en ce que les fines rayures individualisées sont réparties de manière concentrique à la surface principale du substrat. 37. Article selon l'une quelconque des revendications 32 à 36, caractérisé en ce que le revêtement de masquage a une épaisseur de 1,5 à 8 micromètres, de préférence de 2 à 5 micromètres. 38. Article selon l'une quelconque des revendications 32 à 37, caractérisé en ce que la composition de revêtement de masquage comprend des composés époxy. 39. Article selon la revendication 38, caractérisé en ce que les composés époxy comportent au moins deux groupes époxy par molécule. 40. Article selon la revendication 39, caractérisé en ce que les composés époxy sont choisis parmi les diglycidyl éthers de bisphénols, les diglycidyl éthers d'alcanols et leurs mélanges. 41. Article selon la revendication 40, caractérisé en ce que les composés époxy sont choisis parmi les diglycidyléthers de bisphénol- A et F, les diglycidyléthers bromés de bisphénol-A et F, le diglycidyléther de butanediol et leurs mélanges. 42. Article selon l'une quelconque des revendications 32 à 41, caractérisé en ce que la composition de revêtement de masquage est exempt de tout composé (méth)acrylate. 43. Article selon l'une quelconque des revendications 32 à 42, caractérisé en ce qu'il comprend un revêtement primaire anti-chocs sur le revêtement de masquage. 44. Article selon la revendication 43, caractérisé en ce que le revêtement anti-chocs est constitué d'un latex durci choisi parmi les latex (méth)acryliques et de polyuréthanes, de préférence les latex de polyuréthane. 45. Article selon l'une quelconque des revendications 43 à 44, caractérisé en ce qu'il comprend un revêtement anti-franges d'interférence entre le revêtement de masquage et le revêtement primaire anti-chocs. 46. Article selon la revendication 45, caractérisé en ce que le revêtement anti-franges d'interférence constitue une lame quart d'onde. 47. Article selon l'une quelconque des revendications 43 à 46, caractérisé en ce qu'il comprend un revêtement anti-abrasion sur le revêtement primaire anti-chocs. 48. Article selon l'une quelconque des revendications 32 à 47, caractérisé en ce que l'indice de réfraction ns du matériau du substrat est égal ou supérieur à 1,60, de préférence égal ou supérieur à 1,65, mieux égal ou supérieur à 1,70. 49. Article selon l'une quelconque des revendications 32 à 48, caractérisé en ce que le matériau du substrat est choisi parmi les homo et copolymères de polythiouréthane, les homo et copolymères de polyépisulfures, les homo et copolymères de polycarbonate, les homo et copolymères de polythio(méth)acrylates et leurs combinaisons, de préférence les homo et copolymères de polythiouréthane. 50. Article selon l'une quelconque des revendications 32 à 49, caractérisé en ce qu'il constitue un verre optique, de préférence une lentille ophtalmique. 51. Article susceptible d'être obtenu par le procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 31.