Brevet FR2883412A1 — publié le 20060922

Procédé et dispositif pour le contrôle de la contamination des plaquettes de substrat La présente invention concerne le contrôle de la contamination de pièces telles que des plaquettes de substrat dans les procédés de fabrication de semi-conducteurs ou de microsystèmes électromécaniques (MEMS). La taille de plus en plus faible des éléments actifs des semi-conducteurs ou des microsystèmes électromécaniques les rend de plus en plus sensibles à la présence de corps étrangers à leur surface ou dans leur masse. Ces corps étrangers sont véhiculés généralement par l'atmosphère qui entoure les plaquettes de substrat pendant les procédés. Il est par conséquent nécessaire de réduire le plus possible la présence de corps étrangers, que l'on désigne de façon générale par contamination, pendant les procédés de fabrication de semi-conducteurs ou de microsystèmes électromécaniques. Pour cette raison, les procédés de fabrication sont réalisés dans des salles blanches, dans lesquelles l'atmosphère intérieure est maintenue avec un taux de contamination très bas. Simultanément, on contrôle en permanence le taux de contamination dans l'atmosphère intérieure de la salle blanche. Par exemple, le document US 2004/0023419 décrit une méthode de mesure de la contamination adsorbée sur les surfaces optiques destinées aux procédés de photolithographie. La méthode utilise un polymère qui a une capacité élevée pour adsorber les composés susceptibles de constituer une contamination gazeuse. Le polymère est ensuite analysé en utilisant la désorption thermique, la chromatographie en phase gazeuse et la spectrométrie de masse. De préférence, le polymère doit rester présent dans l'atmosphère à contrôler pendant une durée suffisante de l'ordre de quelques heures à quelques jours ou quelques semaines, pour permettre la collection d'une masse suffisante de contaminants lorsqu'ils sont présents en concentration relativement basse dans l'atmosphère. L'inconvénient est que Ica mesure se fait en temps différé, et ne permet pas de réagir de façon fine et rapide lors de la présence de contaminations gazeuses à faible concentration. Le document DE 101 33 520 décrit un autre système qui détermine les propriétés de l'atmosphère intérieure d'une salle blanche utilisée pour la fabrication des semi-conducteurs. Le système est incorporé dans une enceinte de transport normalisée à ouverture frontale (FOUP), pour présenter l'encombrement habituel des enceintes de transport contenant les plaquettes de substrat en cours de fabrication. L'enceinte de transport contenant le système de contrôle aspire l'air ambiant de la salle blanche, l'analyse, et le rejette dans la salle blanche, permettant un contrôle de l'atmosphère de la salle blanche le long du chemin parcouru par les enceintes de transport normalisées (FOUP) contenant les plaquettes de substrat. Les paramètres mesurés peuvent être la température de l'air de la salle blanche, la teneur en vapeur d'eau, la pollution par des particules, la pollution par certains gaz indésirables. Le système de mesure doit être adapté pour avoir un encombrement inférieur à l'espace intérieur disponible dans une enceinte de lo transport normalisée à ouverture frontale (FOUP). A cause de cette faible taille, les dispositifs de mesure ne permettent pas la mesure des très faibles niveaux de contamination gazeuse à l'état de trace de l'ordre du ppb. D'autre part, les dispositifs précités ne diagnostiquent pas l'atmosphère contenue dans les enceintes elles-mêmes de transport de plaquettes de substrat, les mesures s'effectuant globalement sur l'atmosphère de la salle blanche contenant les enceintes de transport de plaquettes de substrat. Or les enceintes de transport de substrat sont des environnements poreux qui concentrent les contaminants et en particulier des contaminants organiques, aminés ou acides. Les plaquettes de substrat sont continuellement en attente dans ces atmosphères. En sortie des procédés de traitement pour la fabrication de semi-conducteurs, les plaquettes de substrat sont chargées de gaz de procédé, et ces gaz s'échappent des plaquettes de substrat et viennent charger les parois des enceintes de transport, qui se trouvent ainsi contaminées. Ces contaminations sont très néfastes pour les substrats de semi-conducteur tels que les plaquettes ou les masques. On constate que les méthodes de contrôle de contamination connues ne permettent pas un contrôle suffisant, notamment en cas de faible niveau de contamination gazeuse des plaquettes de substrat ou autres pièces. Ces contaminations gazeuses à faible niveau, de type contamination moléculaire par substitution, addition ou dopage de la surface des plaquettes de substrat, peuvent créer des défauts qui peuvent ne pas être visibles en sortie de fabrication par les techniques actuelles de mesure, mais qui vont engendrer une durée de vie réduite des semi-conducteurs ou microsystèmes électromécaniques ainsi fabriqués. La contamination moléculaire de faible niveau, par substitution, addition ou dopage des substrats, est un réel problème. Le semi-conducteur ainsi réalisé peut être déclaré satisfaisant en sortie de production, mais on constate que sa durée de vie peut être réduite. II y a donc un grand intérêt à réduire ces contaminations moléculaires de faible niveau. Le problème proposé par la présente invention est de réduire encore les risques de défaut apparaissant dans les semi-conducteurs et microsystèmes électromécaniques fabriqués dans des procédés de fabrication ayant des étapes de transport et/ou de stockage des plaquettes de substrat dans des enceintes de transport. L'invention vise simultanément à éviter tout risque de contamination supplémentaire des substrats par adjonction de matériaux tels que les polymères d'adsorption gazeuse. L'invention vise également à réduire les risques de transmission des 15 contaminations par les plaquettes de substrat ou autres pièces contenues dans les enceintes de transport. L'idée qui est à la base de l'invention est d'effectuer un contrôle de l'atmosphère intérieure des enceintes de transport elles-mêmes, par des moyens d'analyse externes performants mis en communication avec l'atmosphère interne de l'enceinte de transport. De la sorte, les moyens d'analyse peuvent avoir un encombrement qui soit indépendant, notamment supérieur au volume intérieur des enceintes de transport normalisées, et de façon à conserver, pendant l'analyse, l'isolement des plaquettes de substrat éventuellement contenues dans l'enceinte de transport normalisée. Il est ainsi possible d'utiliser des moyens d'analyse permettant de réaliser une analyse en temps réel, c'est-à-dire en un temps très court, et capables de déceler et de mesurer des concentrations très faibles de contaminations gazeuses, soit des concentrations de l'ordre du ppb. Pour atteindre ces buts ainsi que d'autres, l'invention propose un dispositif pour le contrôle de la contamination des plaquettes de substrat ou autres pièces dans les procédés de fabrication de semi- conducteurs ou de microsystèmes électromécaniques ayant des étapes de transport et/ou de stockage des plaquettes de substrat ou autres pièces dans des enceintes de transport; le dispositif comprend: - un analyseur de gaz, ayant des moyens pour ioniser des gaz à pression atmosphérique et des moyens pour identifier les gaz ionisés par la mesure d'un paramètre des ions, - des moyens d'interface pour mettre en communication l'analyseur de gaz 5 avec au moins une enceinte de transport. Grâce à cette disposition, il est possible de faire une analyse en temps réel des traces de gaz contaminants contenues dans les enceintes de transport. L'analyse est également faite dans l'atmosphère au plus près des plaquettes de substrat ou autres pièces, et l'analyse n'est pas perturbée par to l'ambiance, c'est-à-dire par l'atmosphère qui environne les enceintes de transport. Le dispositif peut être utilisé pour contrôler la contamination de plaquettes de substrat, de masques, de pièces constitutives des chambres de procédés telles que des pièces à nettoyer périodiquement, ou même d'enceintes de transport. De préférence, les moyens d'interface comportent des moyens d'isolement garantissant que le flux de gaz à analyser parvenant à l'analyseur de gaz provient majoritairement de l'enceinte de transport, le flux résultant des fuites provenant de l'atmosphère extérieure à l'enceinte de transport étant minoritaire. On augmente ainsi la sensibilité de l'analyse. Pour réaliser une analyse suffisamment sensible pour détecter les traces de contamination gazeuse, une possibilité est d'utiliser un analyseur de gaz qui est d'un type permettant de mesurer la mobilité des ions. Dans la description et dans les revendications, le paramètre de mobilité des ions est défini comme le rapport entre d'une part la vitesse limite atteinte par un ion placé dans un champ électrique du fait des forces de freinage dues à la viscosité du milieu, et d'autre part le champ électrique auquel est soumis l'ion. En alternative, l'analyseur de gaz peut être d'un type permettant de mesurer le temps de vol des ions. Le paramètre de temps de vol est défini comme le temps qui est nécessaire à un ion soumis à un champ électrique pour parcourir une distance donnée. Pour ioniser les gaz à analyser, une possibilité est de recourir, de façon traditionnelle, à un craquage des molécules gazeuses par bombardement électronique, selon le principe de l'instrumentation IMS. Selon une autre possibilité, l'ionisation peut être réalisée selon la technologie IAMS (Ion Attachment Mass Spectrometer), dans laquelle on bombarde le gaz à analyser avec des ions alcalins, par exemple des ions Li+ ou Na', qui s'attachent aux molécules de gaz en réalisant ainsi un cation. On mesure alors la masse de l'ion obtenu, à l'aide d'un spectromètre de masse, et on détermine comme paramètre la masse de la molécule de gaz par soustraction de la masse connue de l'ion alcalin. En pratique, les moyens d'interface peuvent avantageusement comprendre: au moins un passage traversant la paroi de l'enceinte de transport, - un adaptateur conformé de façon que l'enceinte de transport puisse être accouplée sur l'adaptateur avec ledit passage mis sélectivement en communication avec une canalisation conduisant à l'analyseur de gaz. Selon une première possibilité, l'adaptateur comprend des moyens de positionnement pour placer l'enceinte de transport en une position telle que ledit passage est face à l'orifice de la canalisation conduisant à l'analyseur de gaz. Dans ce cas, les moyens de positionnement peuvent comprendre au moins un picot pour s'engager dans un trou correspondant. Selon une autre possibilité, on peut prévoir que: - l'enceinte de transport comprend au moins une porte, - l'adaptateur comprend des moyens pour ouvrir sélectivement ladite porte, et des moyens collecteurs pour prélever les gaz de l'enceinte de transport et les transmettre à l'analyseur de gaz tout en limitant le prélèvement de gaz de fuite issus de l'atmosphère environnante. En alternative, les moyens d'interface peuvent comprendre une aiguille capable de percer la paroi d'une enceinte de transport et raccordée à l'analyseur de gaz. Cette solution peut convenir pour une utilisation avec des enceintes de transport à paroi rigide telles que les enceintes de transport de type FOUP ou SMIF, en prévoyant une portion de paroi adaptée pour être percée. Elle peut convenir aussi pour une utilisation avec des enceintes de transport de type enveloppe à paroi souple. Le dispositif de contrôle selon l'invention peut avantageusement comprendre des moyens pour injecter sélectivement un gaz neutre de purge dans l'analyseur de gaz. Le gaz neutre peut par exemple être l'azote, fourni par une source d'azote. On peut également prévoir des moyens pour mettre sélectivement en communication directe l'entrée de l'analyseur de gaz avec l'atmosphère environnante autour de l'enceinte de transport. De la sorte, le dispositif peut également analyser l'atmosphère de la salle blanche autour des enceintes de transport. Les moyens d'interface comprennent alors les canalisations conduisant les gaz prélevés, ainsi que les vannes insérées dans ces 5 canalisations pour commander le passage des gaz prélevés. La fiabilité de l'analyse est encore améliorée en prévoyant des moyens d'automatisation du fonctionnement des divers organes constitutifs. On peut ainsi prévoir des moyens électroniques de commande pour commander le fonctionnement de l'adaptateur, de l'analyseur de gaz et des moyens d'interface. En pratique, les moyens électroniques de commande peuvent comprendre un processeur et un programme associé, le programme associé ayant une séquence de mesure dans laquelle le processeur commande la communication entre l'enceinte de transport et l'analyseur de gaz, et ayant l'une au moins des séquences: une séquence de purge dans laquelle le processeur commande l'injection d'un gaz neutre dans l'analyseur de gaz, une séquence d'étalonnage dans laquelle le processeur commande l'injection d'un gaz de référence dans l'analyseur de gaz, une séquence de contrôle externe dans laquelle le processeur commande la mise en communication de l'atmosphère environnante avec l'analyseur de gaz. Selon un autre aspect, l'invention propose un procédé de contrôle de la contamination des plaquettes de substrat ou autres pièces dans les procédés de fabrication de semi-conducteurs ou de microsystèmes électromécaniques ayant des étapes de transport et/ou de stockage dans des enceintes de transport, le procédé comprenant au moins une étape de mesure dans laquelle on prélève des gaz dans une enceinte de transport, on ionise les gaz prélevés, et on analyse les gaz par mesure d'un paramètre des ions obtenus par l'ionisation. Le procédé peut comprendre au moins une étape d'analyse externe au cours de laquelle on prélève des gaz dans l'atmosphère environnante autour de l'enceinte de transport, on ionise les gaz prélevés, et on analyse les gaz prélevés par mesure d'un paramètre des ions obtenus par l'ionisation. D'autres objets, caractéristiques et avantages de la présente invention ressortiront de la description suivante de modes de réalisation particuliers, faite en relation avec les figures jointes, parmi lesquelles: - la figure 1 est un schéma général de principe d'un dispositif de contrôle de contamination selon un mode de réalisation de la présente invention; - la figure 2 est une vue partielle illustrant un premier mode de réalisation des moyens de mise en communication de l'analyseur de gaz avec l'atmosphère intérieure d'une enceinte de transport à ouverture frontale; - la figure 3 est une vue partielle illustrant un second mode de réalisation des moyens de mise en communication de l'analyseur de gaz avec l'atmosphère intérieure de l'enceinte de transport à ouverture frontale; - la figure 4 illustre un mode de réalisation des moyens de mise en communication de l'analyseur de gaz avec l'atmosphère intérieure d'une enceinte de transport à ouverture inférieure; et - la figure 5 illustre un autre mode de réalisation des moyens pour la mise en communication de l'analyseur de gaz avec l'atmosphère intérieure d'une boîte de transport à ouverture inférieure. Dans le mode de réalisation illustré sur la figure 1, le dispositif est adapté pour le contrôle de la contamination de plaquettes de substrat ou autres pièces que l'on transporte dans des enceintes de transport 1 pour les transférer d'un poste à l'autre dans une salle blanche. On utilise par exemple des enceintes de transport standardisées à ouverture frontale de type FOUP, comme illustré sur la figure 1. De telles enceintes de transport 1 de type FOUP comprennent une porte frontale 4 dimensionnée pour l'introduction et l'extraction des plaquettes de substrat ou autres pièces, et comprennent généralement un ou plusieurs orifices inférieurs 20 munis d'un filtre s'opposant à la pénétration de particules contaminantes vers l'intérieur de l'enceinte de transport 1. L'enceinte de transport 1 est étanche, mais de façon relativement grossière, c'est-à-dire qu'elle laisse passer l'air ambiant à travers les fuites du joint de la porte 4 et à travers les orifices 20, en privilégiant toutefois la fuite par les filtres des orifices 20. Les orifices 20 comportant des filtres permettent l'entrée et la sortie de l'air ambiant, pour équilibrer les pressions notamment lors de la fermeture et de l'ouverture de la porte 4. Sur la figure 1, l'enceinte de transport 1 est figurée accouplée sur un adaptateur 5, placé dans la salle blanche, et constituant un poste de contrôle. L'adaptateur 5 assure la mise en connexion de l'enceinte de transport 1, par son orifice à filtre 20, avec une canalisation 3 qui conduit les gaz jusqu'à l'entrée d'un analyseur de gaz 2. Une vanne 6 insérée dans la canalisation 3 permet d'ouvrir ou fermer la canalisation 3, pour le passage sélectif des gaz provenant de l'enceinte de transport 1, ou pour leur interruption. La vanne 6 est pilotée par un processeur 16 de type microcontrôleur ou PLC. L'analyseur de gaz 2 utilise le principe de l'instrumentation IMS (Ion Mobility Spectrometer), capable de mesurer la mobilité des ions, pour assurer la détection des traces de gaz et pour en mesurer la concentration. Dans un tel analyseur de gaz, un échantillon gazeux est introduit dans la partie réactive d'un tube, où les molécules subissent une ionisation, par exemple par bombardement électronique. Les ions résultant du craquage des molécules sont injectés dans une région où se produit le mouvement des io ions pour l'analyse de leur mobilité. La mobilité est déterminée par la vitesse atteinte par les ions positifs puis négatifs dans un champ électrique. Les ions produits sont attirés vers une électrode qui génère un courant électrique. Ce courant électrique est alors traité pour obtenir la concentration des gaz (en ppbv). En alternative on peut ioniser et analyser l'échantillon gazeux par la technologie IAMS (Ion Attachment Mass Spectrometer). Un ordinateur 9 est connecté à l'analyseur de gaz 2. L'ordinateur 9 comporte une mémoire permettant le stockage des mesures produites par l'analyseur de gaz 2. Un logiciel enregistré dans l'ordinateur 9 permet d'afficher directement sur un écran les données produites par l'analyseur de gaz 2, et permet de les stocker en mémoire. Des commentaires peuvent être ajoutés lors des mesures, via un écran de saisie. Ainsi, l'ordinateur 9 constitue un moyen électronique de traitement pour traiter et mémoriser les résultats de mesure fournis par l'analyseur de gaz. Le logiciel de l'ordinateur 9 permet également la gestion des seuils de déclenchement, pour avertir l'utilisateur lorsque ces seuils sont dépassés. Le logiciel de l'ordinateur 9 permet également le paramétrage du processeur 16, auquel l'ordinateur 9 est également connecté. En fonctionnement de mesure de contamination interne, les gaz contenus à l'intérieur de l'enceinte de transport 1 sont aspirés par la canalisation 3 jusqu'à l'analyseur de gaz 2, qui le refoule ensuite dans la salle blanche par le refoulement 17. Au passage dans l'analyseur de gaz 2, les gaz sont analysés et les informations qui en résultent sont envoyées à l'ordinateur 9. La canalisation 3 et l'adaptateur 5 présentent une étanchéité suffisante pour éviter la pénétration de gaz parasites provenant de la salle blanche vers l'intérieur de la canalisation 3 et vers l'analyseur de gaz 2. On s'assure ainsi que l'analyseur de gaz 2 analyse essentiellement les gaz provenant de l'atmosphère intérieure de l'enceinte de transport 1. Ainsi, le flux de gaz à analyser par l'analyseur de gaz 2 provient majoritairement de l'enceinte de transport 1, le flux résultant des fuites provenant de l'atmosphère extérieure à l'enceinte de transport 1 étant minoritaire. Selon un mode préféré de l'invention, l'enceinte de transport 1 peut être positionnée sur l'adaptateur 5 au moyen de picots de positionnement normalisés. Etant donné que le positionnement des orifices 20 à filtre n'est pas io normalisé sur les enceintes de transport 1, même lorsque celles-ci sont normalisées de type FOUP, on prévoit que la position de l'adaptateur 5 est ajustable pour se connecter au filtre préexistant de l'enceinte de transport 1. Si l'enceinte de transport 1 ne comporte pas d'orifice d'entrée 20 dans sa paroi inférieure, l'adaptateur 5 comporte alors des moyens d'ouverture de la porte de l'enceinte de transport 1, et des moyens collecteurs assurant un isolement suffisant vis-à-vis de l'atmosphère de la salle blanche. On prévoit alors que la mesure est prise à l'entrouverture de la porte 4 de l'enceinte de transport 1, comme cela sera décrit plus loin. Dans le mode de réalisation illustré sur la figure 1, la canalisation 3 comporte, en aval de la vanne 6, trois dérivations respectivement 7, 13 et 21, munies chacune d'une vanne respective 10, 12 et 14. La dérivation 7 débouche dans l'atmosphère intérieure de la salle blanche, par un orifice 8, au voisinage de l'adaptateur 5. La dérivation 13 conduit à une source de gaz de référence. La dérivation 21 conduit à une source de gaz neutre 11. Les vannes 10, 12 et 14 sont également pilotées par le processeur 16. Une telle disposition permet respectivement: - une mesure de l'atmosphère extérieure au voisinage de l'enceinte de transport 1 accouplée à l'adaptateur 5, par l'orifice 8, la dérivation 7 et la vanne 10, pour quantifier le bruit de fond correspondant au niveau de pollution de la salle blanche; - une alimentation en gaz neutre tel que l'azote à partir de la source de gaz neutre 11, pour purger la cellule de mesure de l'analyseur de gaz 2; - une mesure d'un gaz de référence pour vérifier l'étalonnage de la cellule de mesure de l'analyseur de gaz 2. Le processeur 16 peut gérer le séquencement des commandes des vannes, pour réaliser ces différentes mesures. Pour cela, le processeur 16 comprend un programme associé, le programme ayant une séquence de mesure dans laquelle le processeur commande la communication entre l'enceinte de transport 1 et l'analyseur de gaz 2, et l'une au moins des séquences: une séquence de purge dans laquelle le processeur commande l'injection d'un gaz neutre dans l'analyseur de gaz 2 à partir de la source de gaz neutre 11, une séquence d'étalonnage dans laquelle le processeur commande l'injection d'un gaz de référence par la dérivation 13, une séquence de contrôle externe dans laquelle le processeur commande la mise en communication de l'atmosphère environnante avec l'analyseur de gaz 2 par la dérivation 7 et l'orifice 8. Dans la réalisation illustrée sur les figures, on prévoit une vanne distincte 6, 10, 12 ou 14 dans chaque canalisation 3 ou dérivation 7, 13 ou 21. En alternative, on pourra utiliser des vannes trois voies pour assurer 15 la même fonction. On considère maintenant les figures 2 à 5, qui illustrent quatre modes de réalisation de l'adaptateur 5, pour une adaptation à différents types d'enceinte de transport. La figure 2 reprend la structure illustrée sur la figure 1, avec un adaptateur 5 conformé pour constituer un plan support sur lequel vient reposer une enceinte de transport 1 normalisée à ouverture frontale de type FOUP. On distingue la porte frontale 4, l'orifice inférieur 20 à filtre qui se connecte à la canalisation 3 munie d'une vanne 6. Sur la figure 3, l'adaptateur 5 est conçu pour coopérer avec une enceinte de transport 1 à ouverture frontale mais dépourvue d'orifice inférieur 20 susceptible d'être connecté à la canalisation 3. Dans ce cas, l'adaptateur 5 comprend un collecteur 18, réalisant une enceinte de prélèvement enfermant la porte frontale 4 et autorisant l'ouverture au moins partielle de la porte frontale 4. L'enceinte de prélèvement définie par le collecteur 18 est raccordée à la canalisation 3 par un orifice inférieur 18a. Sur la figure 4, l'adaptateur 5 est conformé pour coopérer avec une enceinte de transport 1 à ouverture inférieure, par exemple une enceinte normalisée de type SMIF. Dans ce cas, la porte de l'enceinte de transport 1 est une porte inférieure 4, elle-même munie d'un orifice auquel on peut connecter la canalisation 3 à travers l'adaptateur 5. Sur la figure 5, on a illustré une structure d'adaptateur 5 conformée pour coopérer avec une enceinte de transport 1 de type SMIF, c'est-à-dire à 2883412 Il ouverture inférieure, mais dans laquelle la porte inférieure 4 est dépourvue d'orifice pouvant être connecté à la canalisation 3. Dans ce cas, l'adaptateur 5 comprend un collecteur 19 définissant une enceinte de prélèvement autour de l'ouverture de l'enceinte de transport 1 et autorisant une ouverture au moins partielle de la porte inférieure 4. Un orifice latéral 19a permet de connecter la canalisation 3 à l'intérieur de l'enceinte de prélèvement dans le collecteur 19. En fonctionnement, le dispositif assure une mesure de la contamination présente dans une enceinte de transport 1, mesure au cours de laquelle on prélève des gaz dans l'enceinte de transport 1, on ionise les gaz prélevés et on analyse les gaz par mesure d'un paramètre des ions obtenus par l'ionisation. Le procédé de mesure peut avantageusement comprendre au moins une étape d'analyse externe au cours de laquelle on prélève des gaz dans l'atmosphère environnante autour de l'enceinte de transport 1, par la dérivation 7 et l'orifice 8, on ionise les gaz prélevés, et on analyse les gaz par mesure d'un paramètre des ions obtenus par l'ionisation. Le procédé peut comprendre au moins une étape de purge au cours de laquelle on injecte un gaz neutre tel que l'azote dans l'analyseur de gaz 2. Le procédé peut comprendre une étape d'étalonnage au cours de laquelle on injecte un gaz de référence par la dérivation 13 dans l'analyseur de gaz 2. Le procédé défini ci-dessus est une première application de l'invention, conduisant à la mesure de la contamination présente dans l'atmosphère intérieure de l'enceinte de transport 1, qui est une approximation de la contamination présente sur les plaquettes de substrat ou autres pièces que l'enceinte de transport 1 peut contenir. Selon une seconde application, le procédé peut comprendre une séquence de mesure différentielle, comprenant une mesure de la contamination dans l'enceinte de transport 1 avant un procédé de traitement appliqué aux plaquettes de substrat contenues dans l'enceinte de transport 1, et une mesure de la contamination dans l'enceinte de transport 1 après ledit procédé de traitement et après réintroduction des plaquettes de substrat traitées dans l'enceinte de transport 1. Selon une autre application, le procédé peut comprendre une étape préalable de contrôle au cours de laquelle on mesure la contamination dans l'enceinte de transport 1 ouverte ou fermée, avant introduction des plaquettes de substrat ou autres pièces. Selon une autre application, on peut mesurer la contamination dans une enceinte de transport 1 après enlèvement des plaquettes de substrat ou autres pièces. L'enceinte ayant une faible conductance, la présence des gaz contaminants peut rester plusieurs heures à l'intérieur de l'enceinte. On a donc une traçabilité des événements sur les substrats ou autres pièces pendant plusieurs heures, selon un effet mémoire. Selon une autre application, une enceinte de transport ouverte ou io percée peut être placée dans différentes zones de la salle blanche. Aprèspositionnement dans une zone donnée de la salle blanche, l'enceinte peut être refermée, puis transportée jusqu'au système de contrôle pour mesurer la contamination. Ainsi, l'invention permet de connaître les contaminants dans toutes les zones de la salle blanche. L'intérêt de l'invention est de permettre d'effectuer une mesure en temps réel des faibles niveaux de contamination induite par les gaz en plusieurs zones avec un seul dispositif. Les mesures de contaminations sont effectuées sans risque de contamination supplémentaire des substrats ou autres pièces contenus dans les enceintes de transport, contamination qui pourrait être induite par l'adjonction de matériaux de test tels que les polymères adsorbants. La mesure de contamination peut se faire dans l'enceinte de transport 1 sans même à avoir à enlever les plaquettes de substrat ou autres pièces. La présente invention n'est pas limitée aux modes de réalisation qui ont été explicitement décrits, mais elle en inclut les diverses variantes et généralisations qui sont à la portée de l'homme du métier. REVENDICATIONS 1 Dispositif pour le contrôle de la contamination des plaquettes de substrat ou autres pièces dans les procédés de fabrication de semiconducteurs ou de microsystèmes électromécaniques ayant des étapes de transport et/ou de stockage des plaquettes de substrat ou autres pièces dans des enceintes de transport (1), comprenant: - un analyseur de gaz (2) , ayant des moyens pour ioniser des gaz à pression atmosphérique et des moyens pour identifier les gaz ionisés par la mesure d'un paramètre des ions, - des moyens d'interface (3, 5, 6) pour mettre en communication l'analyseur de gaz (2) avec au moins une enceinte de transport (1). 2 Dispositif selon la revendication 1, dans lequel les moyens d'interface (5) comportent des moyens d'isolement garantissant que le flux de gaz à analyser parvenant à l'analyseur de gaz (2) provient majoritairement de l'enceinte de transport (1), le flux résultant des fuites provenant de l'atmosphère extérieure à l'enceinte de transport (1) étant minoritaire. 3 Dispositif selon l'une des revendications 1 ou 2, dans lequel l'analyseur de gaz (2) est d'un type permettant de mesurer la mobilité des ions. 4 Dispositif selon l'une des revendications 1 ou 2, dans lequel l'analyseur de 20 gaz (2) est d'un type permettant de mesurer le temps de vol des ions. Dispositif selon l'une des revendications 1 ou 2, dans lequel l'analyseur de gaz (2) est d'un type permettant de mesurer la masse des ions. 6 Dispositif selon l'une des revendications 3 ou 4, dans lequel l'ionisation des gaz est réalisée par bombardement électronique. 7 Dispositif selon l'une des revendications 3 à 5, dans lequel l'ionisation des gaz est réalisée par bombardement d'ions alcalins qui s'attachent aux molécules de gaz. 8 Dispositif selon l'une des revendications 1 à 7, dans lequel les moyens d'interface (5) comprennent: - au moins un passage (20) traversant la paroi de l'enceinte de transport (1), - un adaptateur (5) conformé de façon que l'enceinte de transport (1) puisse être accouplée sur l'adaptateur (5) avec ledit passage (20) mis sélectivement en communication avec une canalisation (3) conduisant à l'analyseur de gaz (2). 9 Dispositif selon la revendication 8, dans lequel l'adaptateur (5) comprend des moyens de positionnement pour placer l'enceinte de transport (1) en une l0 position telle que ledit passage (20) est face à l'orifice de la canalisation (3) conduisant à l'analyseur de gaz (2). Dispositif selon la revendication 9, dans lequel les moyens de positionnement comprennent au moins un picot pour s'engager dans un trou correspondant. 11 Dispositif selon l'une des revendications 1 à 7, dans lequel: l'enceinte de transport (1) comprend au moins une porte (4), l'adaptateur (5) comprend des moyens pour ouvrir sélectivement ladite porte (4), et des moyens collecteurs (18, 19) pour prélever les gaz de l'enceinte de transport (1) et les transmettre à l'analyseur de gaz (2) tout en limitant le prélèvement de gaz de fuite issus de l'atmosphère environnante. 12 Dispositif selon l'une des revendications 1 à 7, dans lequel les moyens d'interface (5) comprennent une aiguille capable de percer la paroi d'une enceinte de transport (1) et raccordée à l'analyseur de gaz (2). 13 Dispositif selon l'une des revendications 1 à 12, comprenant des 25 moyens (11, 14) pour injecter sélectivement un gaz neutre de purge dans l'analyseur de gaz (2). 14 Dispositif selon la revendication 13, dans lequel les moyens pour injecter sélectivement un gaz neutre comprennent une source d'azote (11). Dispositif selon l'une des revendications 1 à 14, comprenant des moyens (7, 8, 10) pour mettre sélectivement en communication directe l'entrée de l'analyseur de gaz (2) avec l'atmosphère environnante autour de l'enceinte de transport (1). 16 Dispositif selon l'une des revendications 1 à 15, comprenant des moyens électroniques de commande (16) pour commander le fonctionnement de l'adaptateur (5), de l'analyseur de gaz (2) et des moyens d'interface (6, 10, 12, 14). 17 Dispositif selon l'une des revendications 1 à 16, comprenant des moyens électroniques de traitement (9) pour traiter et mémoriser les résultats de mesure fournis par l'analyseur de gaz (2). 18 Dispositif selon la revendication 16, dans lequel les moyens électroniques de commande comprennent un processeur (16) et un io programme associé, le programme associé ayant une séquence de mesure dans laquelle le processeur (16) commande la communication entre l'enceinte de transport (1) et l'analyseur de gaz (2) et ayant l'une au moins des séquences: une séquence de purge dans laquelle le processeur (16) commande l'injection d'un gaz neutre dans l'analyseur de gaz (2), une séquence d'étalonnage dans laquelle le processeur (16) commande l'injection d'un gaz de référence dans l'analyseur de gaz (2), une séquence de contrôle externe dans laquelle le processeur (16) commande la mise en communication de l'atmosphère environnante avec l'analyseur de gaz (2). 19 Procédé de contrôle de la contamination des plaquettes de substrat ou autres pièces dans les procédés de fabrication de semi-conducteurs ou de microsystèmes électromécaniques ayant des étapes de transport et/ou de stockage dans des enceintes de transport (1), comprenant au moins une étape de mesure dans laquelle on prélève des gaz dans une enceinte de transport (1), on ionise les gaz prélevés, et on analyse les gaz par mesure d'un paramètre des ions obtenus par l'ionisation. Procédé selon la revendication 19, comprenant au moins une étape d'analyse externe au cours de laquelle on prélève des gaz dans l'atmosphère environnante autour de l'enceinte de transport (1), on ionise les gaz prélevés, et on analyse les gaz prélevés par mesure d'un paramètre des ions obtenus par l'ionisation. 21 Procédé selon l'une des revendications 19 ou 20, comprenant au moins une étape de purge au cours de laquelle on injecte un gaz neutre tel que l'azote dans l'analyseur de gaz (2). 22 Procédé selon l'une des revendications 19 à 21, comprenant une étape d'étalonnage au cours de laquelle on injecte un gaz de référence dans l'analyseur de gaz (2). 23 Procédé selon l'une des revendications 19 à 22, comprenant une séquence de mesure différentielle, comprenant une mesure de la contamination dans l'enceinte de transport (1) avant un procédé de traitement appliqué aux plaquettes de substrat contenues dans l'enceinte de transport (1), et une mesure de la contamination dans l'enceinte de transport (1) après ledit procédé de traitement et réintroduction des plaquettes de substrat traitées dans l'enceinte de transport (1). 24 Procédé selon l'une des revendications 19 à 23, comprenant une étape préalable de contrôle, au cours de laquelle on mesure la contamination dans l'enceinte de transport (1) ouverte ou fermée avant introduction des plaquettes de substrat ou autres pièces.