Brevet FR2885416A1 — publié le 20061110

L'invention concerne un procédé de mesure de capacités, où une capacité à mesurer est chargée et déchargée par une résistance et avec mesure du temps de charge ou de décharge jusqu'à une valeur de tension prédéterminée. Elle concerne un circuit de mesure d'une capacité inconnue, à mesurer à l'aide d'une source de tension, d'une résistance pour charger ou décharger au moins la capacité de mesure, et au moins un interrupteur pour le branchement et la déconnexion de la capacité de mesure à la source de tension. Elle se rapporte aussi à un dispositif de mesure de temps. Des capteurs capacitifs présentent, selon l'état du paramètre à mesurer, différentes capacités inconnues, différentes, qui doivent être déterminées pour obtenir les paramètres souhaités. De tels capteurs capacitifs sont, par exemple, des capteurs de pression, des capteurs d'humidité, des capteurs d'inclinaison ou analogues, largement répandus dans la technique de mesure. Concernant la technique d'utilisation, avec des capteurs capacitifs, les capacités des capteurs sont en règle générale très petites et de l'ordre de grandeur des capacités parasites ou perturbatrices du réseau de mesure, tel que des capacités de lignes, des capacités de raccordement et de sortie des circuits intégrés, ainsi que d'autres capacités de parties électroniques dans le réseau de mesure, au moins de telles capacités parasites ne sont pas négligeables, eu égard aux faibles capacités des capteurs capacitifs, du fait qu'elles sont aussi situées dans la plage des pico-Farads et de plus présentent une sensibilité à la température non négligeable, ce qui mène à des erreurs de mesure dépendant de la température, et mène en particulier à une erreur de portée ou de dispersion. En plus, dans le cas de dispositifs de mesure ayant des capteurs capacitifs, dans la plage des hautes températures, de plusieurs centaines de degrés Celsius, pour lesquels la capacité de mesure et de référence peut être encore tout à fait stable en température pour éviter une surchauffe de l'électronique, ceux-ci fonctionnent en étant raccordés par un câble de dissipation. Ce câble, en règle générale un câble coaxial, présente une capacité propre importante (par exemple de 60 pF/m), qui fréquemment est supérieure à la capacité de mesure et de référence ellemême. On voit apparaître des phénomènes importants de grain et d'erreur d'offset, qui peuvent rapidement aboutir à une plage qui ne soit plus tolérable. Il est connu dans la pratique de supprimer de telles capacités parasites par le fait que le signal du capteur du conducteur intérieur du câble coaxial respectif est découplé, à l'aide d'un amplificateur présentant une amplification +1, et d'appliquer ce signal sur la gaine de blindage du câble coaxial. Ainsi, la gaine de blindage du câble coaxial est portée au même potentiel que celui du conducteur intérieur. Du fait qu'il n'y a aucune différence de potentiel, dans un cas idéal, aucun courant ne passe non plus dans le condensateur parasite et l'on ne subit aucune perturbation de la valeur de mesure. Dans ce procédé, il est désavantageux que plusieurs amplificateurs analogiques soient nécessaires et que ces amplificateurs analogiques doivent de plus être d'assez bonne qualité, car en raison de déphasages dans l'amplificateur analogique et du fait de son bruit, on risque des erreurs supplémentaires, qui pourraient influencer de façon sensible l'effet de compensation de ce procédé. L'invention a pour but, en évitant les inconvénients précités, de créer un procédé et un dispositif pour la mesure des capacités de capteurs capacitifs, selon lequel, en excluant les capacités parasites, pour un faible coût, on arrive à atteindre de hauts débits de mesure, pour des mesures faisant appel à de petits courants de fonctionnement. Selon l'invention, le problème cité est résolu par un procédé du type indiqué au début, qui est caractérisé par le fait que, en plus, des temps de charge ou de décharge d'une capacité de référence connue et de capacités parasites (capacités perturbatrices) sont mesurés par l'intermédiaire d'une résistance. Pour résoudre le problème qui est à la base de l'invention, l'invention prévoit en plus un dispositif du type décrit au préambule, caractérisé par le fait que sont prévus des interrupteurs pour assurer la connexion et la déconnexion de la capacité de mesure et d'au moins une capacité de référence, du circuit. L'interrupteur cité au début, devant assurer la séparation par rapport à la source de tension, isole en particulier la capacité de mesure, de préférence cependant l'ensemble des autres composants des circuits, donc le circuit restant ou circuit résiduel, par rapport à la source de tension. Au moyen des interrupteurs pour la capacité de référence et de mesure, ceux-ci sont séparés des autres composants, en particulier du système de lignes, de sorte que ceux-ci créent la condition préliminaire à la mesure de la capacité parasite (du système de ligne). Grâce au procédé selon l'invention et au dispositif selon l'invention, il est possible de déterminer avec une haute précision la capacité respective mesurée du capteur capacitif, du fait que, grâce à la manière de procéder selon l'invention, des capacités parasites, ainsi que d'autres grandeurs inconnues du réseau de mesure, peuvent être éliminées. Par suite, l'invention selon un mode de réalisation préféré prévoit que les résultats de mesure ou des valeurs pouvant être obtenues à partir de ceux-ci, en particulier des temps de charge et/ou de décharge, peuvent être mis en relation de manière à éliminer les capacités parasites, ou mesurées, grâce à un dispositif de mise en relation des résultats de mesure, ou de valeurs mesurées à partir de ceux-ci, en particulier de temps de charge et/ou de décharge, de manière à éliminer les capacités parasites. Un mode de réalisation préféré est par suite prévu à cette fin pour qu'une capacité parasite et, le cas échéant, un temps de retard du comparateur soient éliminés par soustraction du temps de charge ou de décharge de la mesure isolée, de la cavité parasite, par le temps de charge ou de décharge mesuré de la mesure de temps de retard par l'intermédiaire d'une capacité parasite et d'une capacité de mesure, ou d'une capacité de référence, ou que les temps de charge ou de décharge de l'ensemble des capacités existant dans le réseau de mesure, la capacité de mesure, la capacité de référence et la capacité globale de toutes les capacités existantes soient mesurés. Grâce à la compensation des capacités capacitives, la précision de la mesure de la capacité de mesure, qui est en fait à déterminer et qui nous intéresse, est notablement augmentée, par rapport à des procédés connus du point de vue des erreurs d'amplification, ceci d'un facteur supérieur à 5, du point de vue de la dérive du point zéro, d'un facteur supérieur à 10. Grâce à l'invention, en particulier, on évite également des amplificateurs analogiques avec leurs inconvénients dans les mesures à haute température. Selon un mode de réalisation préféré, il est prévu que la détermination nécessaire pour mesurer les temps de charge ou de décharge, du franchissement, en dépassement ou en diminution, d'une valeur de tension déterminée se fasse au moyen d'un comparateur qui, de préférence, est un déclencheur de Schmitt. Tandis que, en particulier pour la mesure des temps de décharge, le charge peut s'effectuer avec une résistance reliée à la masse, un mode de réalisation préféré prévoit que la charge des capacités se fasse avec une résistance séparée de la masse. Grâce à ce mode de réalisation, on obtient que, pendant la charge des condensateurs, aucun courant (non nécessaire) ne passe par la résistance. L'économie de courant conditionnée de ce fait est intéressante, en particulier parce que, en cas d'absence d'interrupteur, un courant parasite, passant à travers la résistance pendant la charge, ferait de celle-ci le plus gros consommateur, dans le cas de petits débits de mesure. Grâce au mode de réalisation préféré cité ci-dessus, pour de très petits débits de mesure, tels qu'inférieurs à 20Hz, on peut obtenir des courants de fonctionnement très petits, dans la plage inférieure des A, tels qu'inférieurs à 10 A. De ce fait, il est possible d'alimenter le dispositif selon l'invention avec des piles solaires et de mettre en oeuvre le procédé selon l'invention avec une alimentation par des piles solaires. Egalement, si, dans le cas cité, la charge se fait avec une résistance reliée à la masse, ceci n'a aucun effet sur la qualité de la mesure. Selon un mode de réalisation préféré, les interrupteurs sont branchés au moyen d'une unité de commande, tel qu'un multiplexeur analogique, tandis que la mesure des temps se fait au moyen d'un convertisseur numérique de temps (TDC). L'utilisation d'un tel organe de mesure du temps permet d'avoir une résolution temporelle plus élevée, d'un facteur 100 à 1000, par rapport aux mesures de temps connues, de sorte que la fréquence de mesure est aussi par exemple supérieure à 0,5 kHz, de préférence supérieure à 10 kHz, sachant que des fréquences de mesure, jusque dans une plage d'environ 50 kHz et plus, peuvent être réalisées et, ainsi, que l'on peu obtenir des mesures rapides, ce qui est extrêmement intéressant pour quelques applications, telles que, par exemple, pour des capteurs de pression. De plus, il faudrait, pour d'autres organes de mesure de temps que le TDC, du fait qu'ici, le temps de mesure proprement dit devrait être supérieur d'un facteur de 100 à 1000, que la résistance soit aussi augmentée de ce facteur, tandis que la résistance pour le cas du procédé selon l'invention peut être située dans un ordre de grandeur de 50 kOhm, de préférence inférieure à 50 kOhm. Par contre, dans le cas d'une autre résolution de compteur, elle devrait être de 5 à 50 MOhm. Ainsi, un tel autre dispositif de mesure serait très fortement ohmique et il en résulterait une problématique sensiblement plus grande au sujet des résistances parasites, telles que celles de souillures. De plus, la problématique de la compatibilité électromagnétique EMV serait également différemment plus aigue que dans le cas de la solution selon l'invention, faisant appel à un TDC en tant qu'organe de mesure du temps. Selon une variante de réalisation préférée du procédé, il peut être prévu que le temps de charge ou de décharge des capacités parasites soit mesuré en état d'isolement, ou que, cependant, les temps de charge ou de décharge de l'ensemble des capacités, capacités de mesure, capacité de référence et capacités parasites existant dans le réseau de mesure soient mesurées. Le dispositif selon l'invention prévoit par suite, selon un mode de réalisation préféré, un interrupteur pour assurer la déconnexion de et la connexion au côté des capacités opposé à la source de tension, de la résistance. Du fait du circuit selon l'invention, ayant été explicité, celui-ci peut être de préférence intégré dans ce que l'on appelle un circuit intégré (IC). Selon les possibilités, prédéterminées du fait du procédé, et par un perfectionnement du circuit selon l'invention, il est prévu que la résistance ait une valeur d'au moins 1 kOhm, de préférence supérieure à 10 kOhm. Les capteurs capacitifs pouvant être utilisés avec le circuit selon l'invention présentent de petites capacités, telles que dans la gamme de 5 à 50 pF. Dans cette mesure, pour éviter des perturbations supplémentaires et pour augmenter la résistance en termes de compatibilités électromagnétiques, il est avantageux que les capacités et la résistance soient branchées à la masse. D'autres avantages et caractéristiques de l'invention résultent des revendications et de la description ci-après, dans laquelle un exemple de réalisation préféré de l'invention est explicité en détail en se référant au dessin, dans lequel: la figure 1 est un diagramme schématique de commutation d'un premier mode de réalisation préféré du dispositif selon l'invention; et la figure 2 est un diagramme schématique de commutation d'un autre mode de réalisation préféré du dispositif selon l'invention. Le dispositif 1 selon l'invention présente un circuit la sous la forme d'un FC, comportant une source de tension V,c, reliée, par l'intermédiaire d'un premier interrupteur Tl (électronique) (interrupteur à transistor), à une capacité de mesure Cmess d'un capteur capacitif, tel qu'un capteur de pression, un capteur d'humidité, des capteurs d'inclinaison ou analogues, une capacité de référence Cref et une résistance R, qui sont disposés globalement en parallèle, et qui, par leur côté opposé à la source de tension V,,, sont chacun raccordés à la masse. A la capacité de mesure Cmess et à la capacité de référence Cref est respectivement associé un interrupteur analogique AS1, AS2. La résistance R peut être branchée par l'intermédiaire d'un interrupteur T2. L'interrupteur T2 n'est pas nécessaire pour la fonction de mesure proprement dite. Il pourrait également être supprimé. Son rôle est uniquement, pendant la charge des capacités, de faire passer de petits courants (non nécessaires) à travers la résistance. De ce fait, on obtient une économie de courant, ce qui est extrêmement avantageux, du fait que le courant parasite passant, par la résistance pendant la charge, serait maximal pour de faibles valeurs de mesure des plus gros consommateurs. Il est de ce fait également possible dans le cas de faibles valeurs de mesure telles que Pour commuter les interrupteurs Ti, T2, AS1, AS2 cités est prévue une unité de commande 2. Des seuils de charge ou de décharge sont détectés à l'aide d'un comparateur 3 (par exemple le dépassement d'une valeur de référence) et le début et la fin du processus de charge ou de préférence du processus de décharge et, ainsi, le temps de charge ou, de préférence, le temps de décharge sont déterminés par un TDC 4 (convertisseur de temps de décharge). Des capacités perturbatrices ou des capacités parasites du réseau de mesure telles que celles dues aux capacités des lignes d'alimentation, des capacités à l'entrée du comparateur 3 et des interrupteurs analogiques, ainsi que celles du câble de liaison vers la capacité de capteur Cmess sont détectées grâce à une capacité parasite Cpar qui est illustrée en pointillées. L'agencement, formé de l'unité de commande 2, du TDC 4, du comparateur 3, des interrupteurs Ti, T2, AS1, AS2 et de la source de tension pour le réseau de mesure, peut être réalisé en un circuit de commutation IC intégré, d'où sortent les liaisions aux capacités Cmess, Cref ainsi que la liaison à la résistance de décharge R. 2885416 9 Alors que, en principe, la charge des résistances et des durées de charge pour déterminer la capacité Cmess à mesurer du capteur sont mesurables, de préférence les durées de décharge sont mesurées. Ainsi, une forme de réalisation préférée du procédé selon l'invention prévoit les processus de mesure suivants: Mesure individuelle 1 D'abord l'interrupteur Ti de la source de tension V La capacité de référence Cref est déchargée par l'intermédiaire de la résistance R et des commutateurs analogiques AS1 jusqu'à ce que la tension aux bornes du condensateur de référence Cref, soit descendue au- dessous du seuil de déclenchement du comparateur 3. Ainsi, la mesure de temps du TDC3 est stoppée. Le temps t1 mesuré est t1 ( Cref+Cpar) * R + tkomp, (1) tkomp étant le temps de retard du comparateur. Mesure individuelle 2 D'abord, l'interrupteur T1 de la source de tension V,, et des interrupteurs analogiques AS2 est fermé, sachant que l'interrupteur T2 de la résistance R, tout comme l'interrupteur S1, sont ouverts. De ce fait, la capacité de référence est chargée à la tension de fonctionnement de la source de tension Voe. 2885416 10 Ensuite l'interrupteur T2 est fermé et l'interrupteur Ti est commuté dans un état fortement ohmique (donc est ouvert), de sorte qu'une décharge de la capacité de référence Cmess s'établit par l'intermédiaire de la résistance R. La mesure de temps du TDC est lancée par ce processus de mesure. La capacité de référence Cmess est déchargée par l'intermédiaire de la résistance R et des interrupteurs analogiques AS2 jusqu'à ce que la tension aux bornes du condensateur de référence Cmess, descende audessous du seuil de déclenchement du comparateur 3. De ce fait, la mesure de temps du TDC est stoppée. Le temps t2 mesuré est: t2 ( Cref + Cpar) * R + tkomp, (2) Mesure individuelle 3a Ici également, d'abord on ferme l'interrupteur Ti tandis que l'interrupteur T2 est ouvert. Dans la première variante, les deux interrupteurs AS1 et AS2 sont ouverts, de sorte que les capacités Cmess et Cref sont séparées de la source de tension. Ainsi, on charge uniquement la capacité parasite Cpar du réseau de mesure lui-même. Après la charge, l'interrupteur T2 est ensuite commuté dans un état fortement ohmique, donc la source de tension V,c est séparée du réseau de mesure et l'interrupteur T2 est fermé et, ainsi, la résistance est reliée à la masse sur son côté opposé à la source de tension V,,. De ce fait, le réseau de mesure, et la capacité parasite Cpar formée par celui-ci, est déchargée. Lors de la commutation de l'interrupteur précité, la mesure de temps du TDC commence. En-dessous du seuil prédéterminé du comparateur 3, on arrête la mesure de temps, faisant que le temps t12 mesuré est obtenu par: t12 par * R + tcomp (3) 2885416 11 En raison des mesures effectuées, la capacité Cpar parasite peut être éliminée et la capacité Cmess à mesurer du capteur est déterminée en prenant en considération les temps de mesure ainsi que la capacité de référence Cref connue, par: Cmess/Cref (t2 t12) / ( t1 t12) (4) Lors de la conversion, la dépendance de la résistance de décharge R, ainsi que le temps de retard tkomp du comparateur, diminuent, de sorte que, comme il résulte de la formule, le rapport pur entre les deux capacités reste dépendant des durées mesurées. Ce résultat compensé est nettement plus stable en fonction des variations de température et de tension que le résultat non compensé. Mesure individuelle 3b Au lieu de la mesure du temps de retard lors de la décharge de la capacité parasite seule, on pourrait également utiliser en variante le temps de mesure de la décharge de l'ensemble des capacités Cpar, Cref et Cmess Dans ce cas, les deux interrupteurs analogiques AS1 et AS2 sont ou restent fermés après la charge des capacités, donc après fermeture de l'interrupteur Ti, tandis que, si l'interrupteur T2 existe, il est ouvert. Pour le décharge, l'interrupteur T2 est à nouveau commuté dans l'état fortement ohmique, c'est-à-dire que la source de tension V,, est isolée du réseau de mesure et que l'interrupteur T2 est fermé. Les interrupteurs analogiques AS1 et AS2 restent fermés. Il y a ainsi une décharge de l'ensemble des capacités Cpar, Cmess/ Cref par la résistance de la résistance R, sachant que le temps est déterminé par la somme des 25 30 2885416 12 capacités. Lors de la décharge, la mesure de temps du TDC est lancée. La décharge se fait de nouveau jusqu'à en-dessous du seuil du comparateur 3 et le temps mesuré est obtenu par: t'12 ( Cpar + Cref + Cmess) * R + tcomp. (5) Grâce à une transformation des équations de mesure, on obtient à nouveau le rapport de la capacité 10 à mesurer sur la capacité de référence, avec: Cmess / Cref (tl t'12) / (t2 t ' 12) . (6) Du point de vue du raccourcissement de la durée RC de la capacité de dispersion Cpar et, ainsi, de la capacité de dispersion en tant que telle, ainsi que de la résistance de décharge R, et du temps de retard tcomp, ce qui a été dit ci-dessus est valable. La Fig. 2 représente un autre mode de réalisation préféré de l'invention, qui, en particulier, est appliqué là où les capacités parasites, entre les capacités (Cref et Cmess) à mesurer et les interrupteurs AS1, AS2 (Fig. 1), ne peuvent être négligées. Ceci est le cas, par exemple, pour des applications à haute température, là où l'électronique doit fonctionner du fait des températures élevées correspondantes sur les capteurs, par exemple un câble coaxial, en prévoyant une diminution. Dans le cas de très petites capacités de mesure de référence, également dans la plage inférieure des pico-Farads, l'erreur résultante peut être si grande qu'elle ne peut plus être négligée. Donc, il y a de nouveau des capacités de référence et de mesure Cref/ Cmess qui, par suite, en particulier, peuvent être agencées dans une plage de haute température. En plus, le dispositif selon l'invention présente une électronique de circuit lb qui, dans le cas du mode de réalisation de la figure 2, présente une source de tension V,,, une unité de commande 2 et un TDC 4, ainsi qu'un comparateur 3 reliant celle-ci au réseau de mesure 6 proprement dit. Le branchement est susceptible d'être relié, par un interrupteur de charge à transistor Tload, à la source de tension Voo ou bien d'être séparé de celle-ci. A L'électronique lb peut être associée une résistance de charge R, pouvant être reliée à la masse au moyen d'un interrupteur TR et, ainsi, pouvant être branchée pour être intégrée dans le circuit de mesure, ou bien pouvant être isolée de la masse et, ainsi, également être extraite du circuit de mesure ou être rendue inactive. Les capacités de référence et de mesure Cref et Cmess sont dans ce cas reliées par un câble coaxial 11, 12, 13, 14 au circuit de mesure 6 proprement dit. Le circuit de mesure est formé essentiellement d'interrupteurs analogiques S1, S2, S3, S4 électroniques et d'interrupteurs à transistor Ti, T2, T3, T4. Au moyen des interrupteurs à transistors T1 à T4, la capacité de référence et de mesure Cref/ Cmess et, par l'intermédiaire des interrupteurs à transistors individuels, les différentes capacités Cap, Cb2, C1,3, Cm des câbles coaxiaux 11 à 14, peuvent être reliées à la masse et, ainsi, également à la source de tension, tandis que les interrupteurs analogiques S1, S2, S3, S4 sont susceptibles d'être reliés à la capacité de référence et de mesure Cref, Cmess tout comme également les différentes capacités Cal à C04 des câbles coaxiaux 11 à 14 peuvent être reliés par le comparateur 3 au TDC. La commande des interrupteurs S1 à S4, Tl à T4 se fait par l'intermédiaire de l'unité de commande 2 présentant un microprocesseur (non représenté en détail). Les liaisons de commande entre l'unité de commande 2 et les raccordements de commutation des interrupteurs S1, S4, Ti, T2 ne sont pas représentés individuellement, par souci de clarté. Ainsi, le dessin est à comprendre comme si, du raccordement de commutation i de l'interrupteur S1, une ligne de commande allait au raccordement i sur l'unité de commande 2 et du raccordement de commutation ii (base) de l'interrupteur à transistor Ti une ligne de commande allait au raccordement ii correspondant de l'unité de commande 2. Il en va de façon correspondante pour les raccordements de commande des autres interrupteurs S2 et S4, T2 à T4, sans que ceci soit représenté en détail. La capacité parasite du circuit de mesure 6 proprement dit est représentée sous forme de capacité Csg. Celle-ci, dans l'ensemble des mesures, est mesurée conjointement - nécessairement - et, de ce fait, est impliquée dans les différentes déterminations du temps. Pour l'évaluation et, en particulier, pour la détermination de la capacité de mesure Cmess (dans le cas où la capacité de référence Cref est connue), on effectue selon l'invention, au moyen du TDC 4, les mesures de temps représentées sur le tableau 1 suivant. Mesure S1 S2 Ti T2 S3 S4 T3 T4 1 T11=(Cref+Csl+Csg)*R+tcomp 1 0 0 1 0 0 1 1 2 T12=(Cref+Cs2+Csg)*R+tcomp 0 1 1 0 0 0 1 1 3 T13m (Cs1+Cs2+ Csg)*R+ tcomp 1 1 0 0 0 0 1 1 4 T21m=(Cmess+Cs3+CSg)*R+tcomp 0 0 1 1 1 0 0 1 T22m (Cmess+Cs4+Cog)*R+tcomp 0 0 1 1 0 1 1 0 6 T23=(Cs3+Cs4+CSg)*R+ tcomp 0 0 1 1 1 1 0 0 7 TsgmCog*R+tcomp 0 0 1 1 0 0 1 1 Les mesures 1 à 7 effectuées sont numérotées de façon continue. On désigne par S1 à S4, Ti à T4, les interrupteurs, explicités ci-dessus et visibles sur la figure 2. On désigne par T11, T12, T13, T21, T22, T23 et Tsg les temps de mesure obtenus au moyen du TDC 4, temps de mesure résultant du branchement des capacités dans la branche de mesure, qui, dans l'équation 2885416 15 correspondante, sont représentées à droite du signe d'égalité et entre parenthèses. Ces capacités, y étant indiquées, sont branchées dans le circuit de mesure dans le cas des positions d'interrupteurs indiquées sous les interrupteurs S1 à S3, Ti à T4 respectifs, dans la ligne correspondante de l'équation, sachant que "1" signifie que l'interrupteur correspondant est fermé, tandis que "0" signifie que l'interrupteur correspondant est ouvert. Ainsi, pour effectuer la mesure du temps de mesure T11, la résistance de référence Cref/ la capacité parasite Cs1 et le conducteur coaxial 11 sont inclus, par l'interrupteur S1, dans le circuit de mesure, sachant que la capacité de circuit parasite Csg des interrupteurs de mesure est toujours déterminée conjointement, tandis que, au moyen de l'interrupteur T2 fermé, le conducteur intérieur du câble coaxial 12, tout comme le conducteur extérieur, toujours raccordé à la terre, de celui-ci, et l'interrupteur S2 ouvert, sont extraits du circuit de mesure. Il en va de manière correspondante pour les capacités parasites Cs3, Cs4, de manière correspondante aux positions d'interrupteur (S3, S4 ouvert, T3, T4 fermé, ainsi le conducteur intérieur étant à la terre) indiqué à droite sur le tableau sous la mesure 1. Il en va de manière correspondante également de manière évidente pour les autres mesures 2 à 6, ainsi que la mesure 7, pour laquelle, par une isolation de l'ensemble des capacités parasites et de la capacité de référence, ainsi que de la capacité de mesure, Cref/ cmess du fait des positions d'interrupteurs lui étant indiqués, seuls le temps de mesure Tsg résultant de la mesure de la capacité parasite ou de la capacité parasite du circuit de mesure 6 lui-même est obtenu (également avec une influence du temps de retard tcomp du comparateur 3). D'après les sept équations obtenues de cette manière par les sept mesures, on obtient ainsi qu'on 2885416 16 peut aisément se le représenter, les capacités parasites Cfi1 à C64 de manière correspondante aux équations suivantes, sachant que, aussi bien la capacité parasite Csg du circuit de mesure 6, qu'également le temps de retard tcomp du comparateur 3, du fait des additions et des soustractions prévues dans les équations ci-après, sortent des équations et, ainsi, n'entrent pas dans la détermination descapacités parasites CS1, Cs4: Csl=0,5*(T11-T12+ T13-Tsg)/R Cs2=0,5*(T12T11+T13-Tsg)/R Cs3=0,5*(T21-T22+T23-Tsg)/R Cs4=0, 5*(T22-T21+T23-Tsg)/R Ainsi du fait des mesures effectuées, le rapport entre la capacité de mesure Cmess et la capacité de référence Cref peut être déterminé, sachant que seuls les temps de mesure des mesures effectuées entrent en ligne de compte: Cmess/Cref = (T21+T22 T23 Tsg) / (T11+T12-T13 Tsg) (8) Les capacités parasites Cs1 à CS4 sont relativement constantes, ou leur modification en fonction de la température est relativement lente. Les équations calculant ces capacités sont de ce fait de préférence fortement moyennées, en prenant plus de 100 à 1000 mesures de temps. Grâce à cette opération visant à former les moyennes, le bruit des valeurs de mesure de ces capacités parasites est très fortement réduit, de sorte que, pratiquement, il ne joue plus aucun rôle. La détermination et la soustraction de ces valeurs n'introduit de ce fait aucune proportion de bruit supplémentaire dans la mesure. Ceci est un très grand avantage, qui ne peut être sous-estimé. Les valeurs de résistance, concernant les (7a) (7b) (7c) (7d) interrupteurs, les transistors S1 à S4, Ti à T4, devraient être nettement plus petites que la valeur de résistance R, pour minimiser leur influence sur le résultat des mesures. Du fait que, dans le cas de condensateurs de capteurs usuels, ayant des capacités de 10 à 100 pF, on choisit un R de 50 à 200 kOhm, avec les technologies d'aujourd'hui, on peut, sans problème, choisir des résistances d'interrupteur 1000 fois inférieures à R. Si l'ensemble du circuit est intégré dans un IC unique, on obtient un très bon comportement en synchronisation des interrupteurs analogiques et des transistors entre eux. De ce fait, l'influence, en termes d'erreur, de ces parties est si petite, qu'elle n'a plus aucune sorte d'influence notable. Un autre avantage du mode de réalisation de la figure 2 est qu'à présent, grâce au type de commande, le niveau de tension continu moyen, sur les capacités de mesure et de référence Cmess et Cref, est nul. Ceci est une condition que demandent beaucoup de capteurs pour assurer un fonctionnement correct (par exemple, beaucoup de capteurs d'humidité). Liste des numéros de référence 1 Dispositif la Circuit lb Electronique de circuit 2 Unité de commande 3 Comparateur 4 TDC 6 Circuit de mesure 7 Mesure 11-14 Câble coaxial AS1, AS2 Interrupteur analogique Cpar Capacité parasite Cmess Capacité de mesure Cref Capacité de référence Csl Cs4 Capacités parasites Csg Capacité IC Circuit intégré i, ii raccordement de commutation R Résistance RCpar Constante de temps Si à S4 Interrupteur analogique t2, t2 Temps t' u Temps tcomp Temps de retard du comparateur tload Circuit de charge Tl-T4 Interrupteur à transistor T11-T13, T21-T23 Tsg Temps de mesure TR Interrupteur V,c source de tension REVENDICATIONS 1. Procédé de mesure de capacités, où une capacité (Cmess) à mesurer est chargée et déchargée par l'intermédiaire d'une résistance, et la durée de charge ou de décharge jusqu'à une valeur de tension prédéterminée est mesurée, caractérisé en ce qu'en plus sont mesurées par l'intermédiaire d'une résistance les durées de charge ou de décharge d'une capacité de référence connue et les capacités parasites (capacités perturbatrices). 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que les résultats de mesure ou les valeurs pouvant être obtenues à partir de ceux-ci, en particulier les durées de charge et/ou de décharge, sont mis de telle manière en relation que les capacités parasites sont éliminées. 3. Procédé selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que la durée de charge ou de décharge de la capacité parasite est mesurée, de façon isolée ou séparée. 4. Procédé selon la revendication 3, caractérisé en ce que des capacités parasites et, le cas échéant, le temps de retard du comparateur sont éliminés par soustraction de la durée de charge ou de décharge mesurée de la mesure isolée des capacités parasites, par rapport à la durée de charge ou de décharge mesurée de la mesure du temps de retard, par l'intermédiaire d'une capacité parasite et d'une capacité de mesure ou d'une capacité de référence. 5. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que les durées de charge et/ou de décharge de l'ensemble des capacités existant dans le réseau de mesure, la capacité de mesure (Cmess) , la capacité de référence (C1ef) et les capacités parasites (CPar) sont mesurés. 6. Procédé selon la revendication 5, caractérisé en ce que les durées de charge et/ou de décharge de l'ensemble des capacités existant dans le réseau de mesure, la capacité de mesure (Cmegg), la capacité de référence (Cref) et la capacité globale de l'ensemble des capacités sont mesurées. 7. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 6, caractérisé en ce que la détermination, nécessaire pour la mesure des durées de charge ou de décharge, du franchissement, en dépassement ou en diminution, d'une valeur de tension déterminée, est effectuée au moyen d'un comparateur. 8. Procédé selon la revendication 7, caractérisé en ce que la détermination, nécessaire pour la mesure des temps de charge ou de décharge, du franchissement, en dépassement ou en diminution, d'une valeur de tension déterminée, est effectuée au moyen d'un déclencheur de Schmitt utilisé comme comparateur. 9. Procédé selon la revendication 7, caractérisé en ce que le branchement de raccordement ou le débranchement d'une source de tension est effectué au moyen d'un interrupteur à transistor. 10. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le charge des capacités s'effectue pour une résistance isolée de:La masse. 11. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 10, caractérisé en ce que les interrupteurs sont commutés au moyen d'une unité de commande, tel qu'un multiplexeur analogique. 30]L2. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que les mesures de temps sont effectuées au moyen d'un TDC. 13. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 12, caractérisé en ce que la mesure est effectuée répétitivement selon des fréquences de mesure supérieures à 0,5 kHz, de préférence supérieures à 10 kHz. 14. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que les mesures sont effectuées selon une fréquence de mesure inférieure à 50 Hz, de préférence inférieure à 20 Hz. 15. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que les mesures sont effectuées avec des intensités de fonctionnement inférieures à 50 pA, de préférence inférieures à 10 pA. 16. Dispositif (1) pour la mesure d'une capacité (Cmess) inconnue utilisant une source de tension (V,,), une résistance (R) pour charger ou décharger au moins la capacité de mesure (Cmess), au moins un interrupteur (Ti) pour le branchement de raccordement et la séparation de la capacité de mesure (Cmess) par rapport à la source de tension (V,,) ainsi qu'un dispositif de mesure de temps (4), caractérisé en ce que des interrupteurs (AS1, AS2) sont prévus pour le branchement de raccordement et la séparation de la capacité de mesure (Cmess) et est au moins prévue une capacité de référence (Cref) pour le circuit (1). 17. Dispositif selon la revendication 16, caractérisé par un dispositif pour la mise en proportionnalités des résultats de mesure ou des valeurs obtenues à partir de ceux-ci, en particulier des durées de charge et/ou de décharge, de manière que les capacités parasites soient éliminées. :L8. Dispositif selon la revendication 16 ou 17, caractérisé en ce que le temps de charge ou de décharge des capacités parasites est mesurable de façon isolée ou séparée. :L9. Dispositif selon la revendication 17 ou 18, caractérisé par un dispositif d'élimination de capacités parasites et, le cas échéant, du temps de retard du comparateur, par une soustraction de la durée de charge ou de décharge mesurée de la mesure isolée 10 des capacités parasites par rapport à la durée de charge ou de décharge mesurée de la mesure du temps de retard, par l'intermédiaire d'une capacité parasite et d'une capacité de mesure ou d'une capacité de référence. 20. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 16 à 19, caractérisé par une mesure des durées de charge et/ou de décharge de l'ensemble des capacités existant dans le réseau de mesure, la capacité de mesure (Cmess), la capacité de référence (Cref) et les capacités parasites (Cpar) 21. Dispositif selon la revendication 20, caractérisé par une mesure des durées de charge ou de décharge de l'ensemble des capacités existant dans le réseau de mesure, la capacité de mesure (Cmess) , la capacité de référence (Cref) et la capacité globale de toutes les capacités existantes. 22. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 1 à 21, caractérisé par un interrupteur (T2) pour déconnecter du et connecter au côté opposé à la source de tension (Vrac), des capacités (Cmess, Cref), la résistance (R). 23. Circuit selon l'une quelconque des revendications 16 à 22, caractérisé par un comparateur (3), de préférence sous la forme d'un déclencheur de Schmitt, pour déterminer le franchissement, en dépassement ou en diminution, d'un seuil de tension déterminé. 24. Circuit selon l'une quelconque des revendications 16 à 23, caractérisé par une unité de commande (2) pour la commande des interrupteurs (Ti, T2, AS1, AS2) existants. 25. Dispositif selon la revendication 24, caractérisé en ce que l'appareil de commande est un multiplexeur analogique. :26. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 16 à 25, caractérisé par un dispositif de mesure de temps, de préférence sous la forme d'un TDC (4). 27. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 16 à 26, caractérisé en ce que le dispositif est intégré dans un circuit de commutation (IC) intégré. 28. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 16 à 27, caractérisé en ce que la valeur de la résistance (R) est d'au moins 1 kOhm, de préférence supérieure à 10 kOhm. 29. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 16 à 28, caractérisé en ce que les capacités (Cmess, Cref) et la résistance (R) sont branchées à la masse.