Brevet FR2875010A1 — publié le 20060310

SYSTEME DE TEST DE COMPOSANT ELECTRONIQUE La présente invention concerne un système et un dispositif ainsi qu'une méthode de test pour des composants électroniques, tels que des composants électroniques embarqués, par exemple à bord d'un véhicule automobile. Les composants électroniques embarqués sont généralement alimentés en courant continu CC avec une tension nominale délivrée par une batterie, par exemple 12V, 36V ou autre. Dans le cas particulier des moteurs de lève-vitre, une électronique associée permet de gérer des fonctions telles que l'anti-pincement ou la vitesse et le sens de déplacement de la vitre. La précision du fonctionnement du lève-vitre est en effet importante, et particulièrement critique dans le cas de lève-vitres de portes sans cadre. Dans certains modèles de lève-vitres de portes sans cadre, la vitre s'abaisse légèrement lors de l'ouverture de la porte afin de se dégager du joint du toit. Le déplacement de la vitre doit donc être précisément effectué afin de ne pas entraver l'ouverture de la porte. Ce déplacement ne doit pas non plus être trop important afin de respecter les contraintes de la réglementation, en particulier sur l'anti-pincement.L'électronique associée au moteur de lève-vitre permet de gérer précisément des petits déplacements de la vitre ainsi que la fonction d'anti-pincement. Or, les circuits électroniques embarqués dans les véhicules doivent être soumis à différents tests pour être validés. Ces tests peuvent être imposés par des instances de normalisation ou par les constructeurs eux-mêmes. Par exemple, dans le cas d'un ouvrant à entraînement électrique, des normes imposent que la course de l'ouvrant s'interrompe en présence d'un obstacle. La norme FMVSS 118 impose ainsi que la force maximale de pincement sur des obstacles de 20 à 65 N/mm soit inférieure à 100 N. Par ailleurs, de nombreux tests visent au paramétrage des composants électroniques embarqués. En particulier, l'activation de la fonction anti-pincement nécessite des mesures de temps, d'intensité et de vitesse pour un bon paramétrage de l'électronique du lève-vitre. Ces tests peuvent être réalisés par le fabricant de lèvevitre et/ou par le constructeur automobile lors du montage du lève-vitre dans une portière d'un véhicule. Or, lorsqu'un problème électronique apparaît au moment du montage du lèvevitre chez le constructeur, par exemple un dysfonctionnement de la fonction antipincement, il est en général nécessaire de refaire le paramétrage de l'électronique du lève-vitre. Pour ce faire, un employé du fabricant doit généralement se rendre sur place avec un dispositif de test pour refaire le paramétrage. Une telle opération de paramétrage chez le constructeur est coûteuse en main d'oeuvre. Il existe donc un besoin pour réaliser un système de test de composant électronique embarqué qui permette de paramétrer à distance des composants électroniques de manière fiable et sécurisée. A cet effet, l'invention propose un système de test de composant électronique comprenant : un centre de traitement adapté à générer et à interpréter des tests électroniques ; une interface de communication adaptée à connecter un composant à tester au centre de traitement via un réseau de télécommunication. Selon les modes de réalisation, le système de test selon l'invention comporte une ou plusieurs des caractéristiques suivantes : - le centre de traitement est adapté à être connecté à une pluralité d'interfaces de communication via le réseau de télécommunication ; - le système comporte en outre une interface électrique adaptée à recevoir des signaux de commande de l'interface de communication et adaptée à transmettre des signaux électriques de test au composant ; - le centre de traitement et l'interface de communication présentent des moyens de codage pour un échange sécurisé sur le réseau de télécommunication ; le centre de traitement et le composant électronique à tester sont respectivement situés en des sites géographiques distincts. L'invention concerne aussi un dispositif de test de composant électronique comprenant : une interface électrique adaptée à connecter électriquement un composant électronique à tester ; une interface de communication adaptée à connecter ledit composant à un réseau de télécommunication le test dudit composant étant contrôlé par un centre de traitement distant via le réseau de télécommunication. Selon une caractéristique, le composant à tester est une électronique associée à un moteur à courant continu. L'invention se rapporte également à une méthode de test de composant électronique, comprenant les étapes de : branchement d'un dispositif de test selon l'invention à un composant électronique à tester ; connexion dudit dispositif de test à un réseau de télécommunication; émission de requêtes de test depuis un centre de traitement distant ; émission de données du composant électronique testé La méthode selon l'invention peut être utilisée pour piloter à distance un composant électronique associé à un moteur à courant continu et/ou pour paramétrer à distance une électronique de lève-vitre embarquée dans un véhicule automobile. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront à la lecture de la description détaillée qui suit des modes de réalisation de l'invention, donnés à titre d'exemple uniquement et en référence à la figure unique qui montre un schéma de principe d'un système selon l'invention. Le système de test de composant électronique selon l'invention comprend un centre de traitement adapté à générer et à interpréter des tests électroniques et une interface de communication adaptée à connecter un composant à tester au centre de traitement via un réseau de télécommunication. L'interface de communication est aussi adaptée à transmettre les signaux électriques de test au composant ainsi que les données en réponse du composant. Ainsi, le test d'un composant électronique peut être contrôlé par un centre de traitement distant via un réseau de télécommunication. Le paramétrage ou le pilotage de composants électroniques peuvent ainsi être effectués par un technicien qualifié contrôlant le centre de traitement sans nécessiter de déplacement. Le composant électronique à tester peut être un composant électronique embarqué à bord d'un véhicule automobile. La figure illustre schématiquement le système selon l'invention. Un centre de traitement 100 est prévu sur un site A donné, par exemple le site du fabricant de composant électronique ou de module intégrant des composants électroniques. Ce centre de traitement 100 peut comprendre un ordinateur dédié sur lequel est installé un logiciel spécifique de test de composants. Un tel logiciel est adapté à générer des commandes pour envoyer des signaux électriques à un composant électronique à tester, par exemple une électronique de moteur de lèvevitre. Le logiciel est également adapté à interpréter des données reçues en réponse à ces signaux de test. Le logiciel peut également avoir accès à des tables ou des abaques en mémoire pour un paramétrage ou une détection de défaillance du composant sous test. Selon l'invention, le composant à tester 10 est situé sur un site B distinct du site A sur lequel est situé le centre de traitement 100. Le composant à tester 10 peut ainsi être par exemple une électronique d'un module de lève-vitre monté dans une portière de véhicule automobile. Une interface de communication 50 est prévue pour connecter le composant 10 avec le centre de traitement 100. Cette interface de communication 50 peut comprendre un ordinateur 51 et une prise modem 52 de connexion à un réseau de télécommunication 60. L'ordinateur 51 de l'interface de communication 50 comporte un logiciel adapté à échanger avec le logiciel du centre de traitement 100 et adapté à émettre des signaux de commandes vers une interface électrique 11 pour transmettre des signaux électriques au composant à tester 10 et recevoir des données en réponse à ces tests. L'interface de communication 50 peut inclure ou être reliée à l'interface électrique 11 du composant à tester 10.Une telle interface électrique 11 peut être un faisceau de câble, connu en soi et généralement destiné à connecter électriquement le composant électronique avec l'appareil auquel il est destiné. Le centre de traitement 100 est donc adapté à piloter le fonctionnement du composant électronique à tester 10 via le réseau de télécommunication 60. Un tel pilotage distant du composant 10 peut permettre de détecter d'éventuelles défaillances et/ou de paramétrer le composant à distance. Selon les applications, le réseau de télécommunication 60 peut être un réseau Internet ou Intranet. La liaison peut être filaire, telle qu'une ligne téléphonique ou une liaison par fibre optique, ou sans fil, telle qu'une liaison radio. La distance entre le site du centre de traitement A et le site du composant à tester B peut être variable selon les applications. Il peut s'agir de bâtiments distincts, de villes distinctes ou de bureau distincts. En particulier, le centre de traitement 100 du système selon l'invention peut être connecté à une pluralité d'interfaces de communication 50 via le réseau de télécommunication 60. Cette connexion du centre de traitement 100 à plusieurs sites B, C de composants à tester peut être simultanée si le logiciel du centre de traitement le permet. Selon un mode de réalisation, le centre de traitement 100 et l'interface de communication 50 comportent dans leur logiciel des moyens de codage pour un échange sécurisé sur le réseau de télécommunication 60. Ainsi, en particulier dans le cas d'un réseau Internet et de sites A et B distants l'un de l'autre, le test et le paramétrage du composant 10 peuvent être effectués de manière fiable et sécurisée. Le système selon l'invention permet de tester un composant donné 10 sans avoir à être situé à proximité immédiate du composant. Ainsi, un technicien qualifié qui contrôle le centre de traitement peut procéder au paramétrage ou au pilotage de composants électroniques sans se déplacer. Il suffit qu'un simple intervenant non spécifiquement qualifié branche électriquement le composant à tester 10 avec l'interface électrique 11 et connecte l'interface de communication 50 à un réseau de télécommunication 60. L'invention concerne donc aussi un dispositif de test de composant électronique embarqué qui puisse être situé sur les sites B, C où se trouvent des composants électroniques 10 à tester. Un tel dispositif comporte une interface électrique 11 pour connecter électriquement le composant 10 et une interface de communication 50 pour connecter ledit composant au réseau de télécommunication 60. Un tel équipement peut comprendre un ordinateur 51 dédié, du câblage électrique et des équipements télécoms appropriés. Ainsi, la méthode de test de composant électronique selon l'invention fonctionne de la manière suivante. Un dispositif de test est branché à un composant électronique 10. Un tel dispositif comprend un faisceau de câbles électriques 11 approprié au composant à tester 10 relié à un ordinateur 51. L'ordinateur comprend un logiciel spécifique avec une connexion 52 à un réseau de télécommunication 60. Lorsque les branchements sont faits, de préférence par la simple mise en contact de prises pouvant être assurée par un intervenant non spécifiquement qualifié, le centre de traitement 100 émet des requêtes de test vers le dispositif distant connecté au composant 10. Ces requêtes sont interprétées par l'ordinateur 51 du dispositif et transmises sous forme de signaux électriques au composant 10 sous test. Le composant répond alors à ces requêtes par l'émission de données qui sont transmises au centre de traitement 100 via le dispositif de test.La non émission de données par le composant 10 peut être interprétée par le centre de traitement, par exemple comme une détection de défaillance de certaines fonctions. Un tel système trouve des applications particulièrement avantageuses pour piloter à distance un composant électronique associé à un moteur à courant continu tel qu'un moteur de lève-vitre par exemple, et pour paramétrer à distance une telle électronique de lève-vitre embarquée dans un véhicule automobile. Bien entendu, la présente invention n'est pas limitée aux modes de réalisation décrits à titre d'exemple; ainsi, l'invention a été présentée dans le cadre d'un composant électronique embarqué, mais l'invention peut s'appliquer à tout autre type de composant électronique pouvant être testé à distance. En outre, le choix du réseau de télécommunication et des logiciels utilisés dépend des applications envisagées. REVENDICATIONS 1. Système de test de composant électronique comprenant : - un centre de traitement (100) adapté à générer et à interpréter des tests électroniques ; - une interface de communication (50) adaptée à connecter un composant à tester (10) au centre de traitement (100) via un réseau de télécommunication (60). 2. Système de test selon la revendication 1, caractérisé en ce que le centre de traitement est adapté à être connecté à une pluralité d'interfaces de communication via le réseau de télécommunication. 3. Système selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce qu'il comporte en outre une interface électrique (11) adaptée à recevoir des signaux de commande de l'interface de communication (50) et adaptée à transmettre des signaux électriques de test au composant. 4. Système selon l'une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que le centre de traitement et l'interface de communication présentent des moyens de codage pour un échange sécurisé sur le réseau de télécommunication. 5. Système selon l'une des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que le centre de traitement et le composant électronique à tester sont respectivement situés en des sites géographiques distincts (A, B, C). 6. Dispositif de test de composant électronique comprenant : - une interface électrique (11) adaptée à connecter électriquement un composant électronique à tester (10) ; - une interface de communication (50) adaptée à connecter ledit composant à un réseau de télécommunication (60) ; le test dudit composant étant contrôlé par un centre de traitement distant (100) via le réseau de télécommunication. 7. Dispositif de test selon la revendication 6, caractérisé en ce que le composant à tester est une électronique associée à un moteur à courant continu. 8. Méthode de test de composant électronique, comprenant les étapes de : - branchement d'un dispositif de test selon la revendication 6 ou 7 à un composant électronique à tester ; - connexion dudit dispositif de test à un réseau de télécommunication ; - émission de requêtes de test depuis un centre de traitement distant ; - émission de données du composant électronique testé. 9. Utilisation de la méthode de la revendication 8 pour piloter à distance un composant électronique associé à un moteur à courant continu. 10. Utilisation de la méthode de la revendication 8 pour paramétrer à distance une électronique de lève-vitre embarquée dans un véhicule automobile.