Brevet FR2861174A3 — publié le 20050422

FR 2861174 A3 20050422 FR 0411106 A 20041019 La présente invention concerne un système de mesure optique pour l'exécution de mesures de caractéristiques optiques d'un panneau électroluminescent. Une pratique commerciale de ces dernières années est d'utiliser certains des panneaux électroluminescents utilisant un élément EL (électroluminescent) organique. Les panneaux électroluminescents auront la vedette en tant que technologie du futur. Le panneau électroluminescent est un panneau d'affichage plat, dont on s'attend à ce qu'il émerge en tant que panneau allant au-delà des dispositifs LCD. L'élément électroluminescent organique est un élément auto-émissif, contrairement à un élément à cristal liquide qui réfléchit/transmet une lumière. C'est pourquoi le panneau électroluminescent non seulement se caractérise par une luminance élevée et une haute qualité d'image, mais est également adapté pour une conception élancée et légère. En outre, le panneau électroluminescent fournit un affichage excellent d'images animées, avec une vitesse de réponse beaucoup plus élevée que le panneau à cristal liquide. Bien que la consommation d'énergie de panneaux électroluminescents de l'état de la technique soit en gros comparable à celle du panneau à cristal liquide, on estime que le panneau électroluminescent sera à même de fonction- ner avec même moins d'énergie dans l'avenir. Cependant, dans l'état actuel de la technique, le panneau électroluminescent présente un inconvénient qui se situe dans une brève durée de vie utile. Une solution à ce problème impose la nécessité d'acquérir des données spéci- fiques concernant des caractéristiques optiques du panneau électroluminescent fonctionnant dans différentes conditions de fonctionnement, conditions d'environnement et conditions de mesure. La figure 3, annexée à la présente demande, est 35 un schéma-bloc montrant un système de mesure classique 12 pour l'acquisition de données concernant les caractéristiques optiques du panneau électroluminescent. Le système de mesure 12 inclut un photodétecteur 6 pour effectuer des mesures de caractéristiques optiques (par exemple la luminance, la chromaticité, etc. et des éléments semblables) de panneaux électroluminescents 51, 52, 53 (désignés ci-après collectivement par "panneaux électroluminescents 50") disposés sur une table pour les panneaux électroluminescents (non représentée), une unité 60 formant actionneur du photodétecteur pour déplacer le photodétecteur 6, et une unité de commande 10 responsable de la commande de l'ensemble du système de mesure 12. Lje système de mesure 12 comprend en outre un système 7 d'alimentation à tension constante/courant cons- tant pour délivrer une tension constante ou un courant constant à chacun des panneaux électroluminescents 50; un circuit 8 de régulation de la température ambiante pour régler la température ambiante autour des panneaux électroluminescents 50, et un capteur de température 9 disposé au voisinage des panneaux électroluminescents 50 pour détecter la température ambiante autour des panneaux électroluminescent 50. Le circuit 7 d'alimentation à tension constante/ courant constant envoie une tension constante ou un courant constant à chacun des panneaux électroluminescents 50 sur la base d'un signal de commande appliqué par le circuit de commande 10. Le circuit 8 de régulation de la température ambiante est alimenté par un dispositif de chauffage (non représenté). Le circuit 8 de régulation de la température ambiante reçoit un signal de commande de la part de l'unité de commande 10 et un signal de température détecté de la part du capteur de température 9. Le circuit de régulation de la température ambiante forme ou ouvre le dispositif de chauffage sur la base du signal de commande et de l'infor- mation de température de manière à maintenir la température à un niveau constant pour des panneaux électroluminescents 50. Les données caractéristiques optiques fournies par le photodétecteur 6 sont envoyées à l'unité de commande 10. L'unité de commande 10 commande les opérations de l'ensemble du système de mesure 12 en appliquant les signaux de commande à des parties individuelles du système de mesure 12. De façon spécifique, le système de mesure 12 est adapté pour produire une condition d'environnement uni-forme (la valeur du courant/de la tension appliquée aux panneaux électroluminescents individuels 50) des panneaux électroluminescents 50 et pour effectuer des mesures des caractéristiques optiques (luminance, chromaticité et ana- logues) des panneaux électroluminescents 50 pendant des intervalles de temps prédéterminés dans une telle condition. Cjependant, dans le système de mesure 12, dans lequel un seul photodétecteur 6 est déplacé pendant que sont exécutées les mesures des caractéristiques optiques des trois panneaux électroluminescents 50, on rencontre le problème suivant. Dans le cas où les panneaux électroluminescents adjacents 50 sont soumis successivement à la mesure, la réduction du temps de mesure global est limitée à un certain degré étant donné qu'une durée de déplacement du photodétecteur 6 est intercalée entre la durée de mesure pour un panneau électroluminescent 50 et la durée de mesure pour un autre panneau électroluminescent 50. En outre, l'ensemble portant les panneaux élec- troluminescents est dans un état ouvert de manière à permettre qu'un seul photodétecteur 6 effectue des mesures des caractéristiques optiques des trois panneaux électroluminescents 50, lorsqu'il est déplacé d'un panneau électro- luminescent à un autre. Par conséquent, il est difficile d'effectuer des mesures des caractéristiques optiques avec la condition d'environnement (telle que la température) modifiée d'un panneau électroluminescent 50 à un autre. C'est-à-dire qu'une condition d'environnement réglée par rapport à l'un des panneaux électroluminescents 50 affecte les autres panneaux électroluminescents 50 disposés sur la même table portant les panneaux électroluminescents. C'est pourquoi, lors d'une mesure effectuée dans une condition d'environnement prédéterminée, les "autres panneaux électroluminescents 50" indiqués précédemment doivent être pla- cés dans la même condition d'environnement. Il est facile de régler la condition d'environnement en rapport avec chacun des panneaux électroluminescents 50 s=_ ces derniers sont disposés à des intervalles plus importants. Cependant, la durée de déplacement du photodétecteur 6 augmente d'autant plus que la durée de mesure est prolongée. En outre, l'unité 60 formant actionneur du photo-détecteur doit déplacer le photodétecteur 6 le long d'un trajet compliqué. Ceci conduit à un inconvénient d'un agencement compliqué de l'unité 60 formant actionneur du photodétecteur. 1l se pose un autre problème. Dans le cas d'une défaillance du photodétecteur unique 6, l'ensemble de l'opération de mesure effectuée sur trois panneaux électro- luminescents 50 est annulé. Dans le cas où une pluralité de panneaux électro- luminescents 50 sont soumis à un test de caractéristiques optiques (test de durée de vie) pendant un intervalle de temps prolongé, un instant de démarrage de la mesure et un instant de fin de la mesure sont modifiés d'un panneau électroluminescent à un autre. C'est pourquoi il est souhaitable de disposer d'un agencement permettant de placer un panneau électroluminescent additionnel sur la table et permettant le démarrage d'un test sur le panneau ajouté même lorsque les autres panneaux électroluminescents sont en cours de test. C'est pourquoi un but de l'invention est de fournir un système optique de mesure pour un panneau électroluminescent, dans lequel chacun de la pluralité de pan- neaux électroluminescents, soumis à un test de mesure de caractéristiques optiques de longue durée, est pourvu d'un photodétecteur, et qui soit adapté pour régler la condition de fonctionnement des panneaux, la condition d'environnement et la condition de mesure en rapport avec chacun des panneaux électroluminescents. Un autre but de l'invention est de fournir un système de mesure optique pour un panneau électroluminescent, qui soit adapté pour la gestion collective de données de mesure obtenues sur des blocs individuels de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents. Un autre but de l'invention est de fournir un système de mesure optique pour un panneau électroluminescent, dans lequel, même lors du processus de prise de mesures des caractéristiques optiques d'un certain panneau électroluminescent, aucun des autres panneaux électroluminescents ne peut être affecté par l'opération de mesure en cours. Un système de mesure optique pour un panneau électroluminescent selon l'invention comporte un agence-25 ment, caractérisé en ce qu'il comporte: un bloc de mesure de caractéristiques optiques du panneau électroluminescent apte à recevoir un panneau électroluminescent, à faire fonctionner ledit panneau électroluminescent et effectuer des mesures de caractéris- tiques optiques du panneau électroluminescent en fonctionnement, une unité formant boîtier apte à loger la pluralité de blocs de mesure de caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents, un dispositif de commande du système apte à être connecté à la pluralité d'unités formant boîtiers; et un processeur de données connecté au dispositif de commande du système de manière à réaliser la gestion collective des données de mesure fournies par les blocs individuels de mesure de caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents, et que l'unité formant boîtier possède différentes adresses affectées à des espaces respectifs de réception pour les blocs de mesure de caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents, que le processeur de données définit une condition discrète de fonctionnement des panneaux, une condition d'environnement et/ou une condition de mesure pour chacun des blocs de mesure de caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents, qui sont logés par l'unité formant boîtier, définit un instant de démarrage de mesure discret et un instant de fin de mesure discret en rapport avec la condition définie, et gère collectivement des éléments de données de mesure fournis par les blocs de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents individuels. Le système de mesure optique pour un panneau électroluminescent est adapté pour régler une condition de fonctionnement du panneau, une condition d'environnement et une condition de mesure en rapport avec un panneau électroluminescent dans chacun des blocs de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents, et pour faire fonctionner le panneau électroluminescent sur la base des conditions définies pour exécuter des mesures des caractéristiques optiques du panneau électroluminescent qui fonctionne ainsi. On notera que dans le "panneau électrolumines- cent" on peut utiliser n'importe lequel des éléments lumi- nescents tels que des panneaux électroluminescents, des panneaux à cristal liquide, des dispositifs d'affichage à plasma et des diodes LED. Les blocs de mesure des caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents, qui sont logés dans l'unité formant logement, font fonctionner leurs panneaux électroluminescents respectifs dans les conditions de fonctionnement des panneaux, des conditions d'environnement et des conditions de mesure, qui sont individuellement différentes, et par conséquent les panneaux électroluminescents individuels peuvent fonctionner simultanément dans la pluralité de types de conditions de fonctionnement des panneaux, de conditions d'environnement et de conditions de mesure. Les blocs de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents, qui sont logés dans l'unité formant boîtier peuvent exécuter d'une manière indépendante, des mesures des caractéristiques optiques de leur panneau électroluminescent. Cela permet au processeur de données d'acquérir, à un instant donné, des éléments de données de mesure des caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents, qui fonctionnent dans la pluralité de conditions de fonctionnement du panneau, de conditions d'environnement et de conditions de mesure, différentes, ce qui permet de réaliser la gestion collective des données. En supposant que l'unité formant boîtier logeant la pluralité de blocs de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents, qui exécutent des mesures des caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents respectifs de ces blocs, même si l'un quelconque des blocs de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents est en train d'exécuter des mesures des caractéristiques optiques de son panneau électroluminescjent, l'unité formant boîtier permet le montage et le démontage, de cette unité, des autres blocs de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électrolumines- cents. Par conséquent, dans n'importe quel autre bloc de mesure de caractéristiques optiques de panneau électroluminescent que celui qui exécute les opérations de mesure, le panneau électroluminescent peut être remplacé sans que ceci n'affecte de façon nuisible le bloc de mesure de caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents exécutant les opérations de mesure. Le bloc de mesure de caractéristiques optiques d'un panneau électroluminescent mesure des caractéristiques qui lui sont spécifiques et son identifiant, tandis que le processeur de données réalise la gestion en captant quel type de mesure est exécuté et dans laquelle des unités formant boîtiers sur la base de l'adresse affectée à l'unité formant boîtier et des caractéristiques de mesure et des identifiants mémorisés dans les blocs de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents. C'est pourquoi, même si un bloc de mesure de caractéristiques optiques d'un panneau électroluminescent est démonté de l'unité formant boîtier, puis est monté dans une autre unité formant logement, le bloc peut continuer à mesurer les caractéristiques optiques de son panneau électroluminescent sans perdre les données caractéristiques obtenues jusqu'alors. L'invention permet de loger le bloc de mesure de caractéristiques optiques d'un panneau électroluminescent dans n'importe quelle unité formant logement. C'est pourquoi, les blocs de mesure de caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents peuvent être concentrés dans une unité formant casier à lots d'échantillons limités chaque fois que cela est possible, ce qui permet d'ajuster le système de mesure optique sur des dimensions quelconques. D'autres caractéristiques et avantages de la présente invention ressortiront de la description donnée ci-après prise en référence aux dessins annexés, sur les- quels. - la figure 1 est un schéma-bloc destiné à illustrer un système de mesure optique pour un panneau électroluminescent selon l'invention; - la figure 2 est un schéma-bloc montrant un agencement d'un bloc 40 de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents; et - la figure 3, dont il a déjà été fait mention, est un schéma-bloc montrant un système de mesure classique pour effectuer les mesures de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents. On va décrire ci-après le meilleur mode de mise en oeuvre de l'invention de façon détaillée en référence aux dessins annexés. La figure 1 est un schéma-bloc destiné à illustrer un système de mesure optique pour un panneau électroluminescent selon l'invention. Le système de mesure optique pour le panneau électroluminescent comprend: un processeur de données 1 (désigné ci-après sous le terme "serveur du système"), un dispositif 2 de commande du système, des unités formant boîtiers (désignées ci-après comme étant des "unités à plateaux de lots échantillons") 31, 32, 33... 3N (N désignant un entier quelconque), et des blocs 41, 42, 43, ... 4M (M désignant un entier quelconque) de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents. Ci-après, on désignera collectivement les unités à plateaux de lots échantillons 31-3N sous l'expression "unités à plateaux de lots échantillons 30" tandis que les blocs 41- 4M de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents sont désignés collectivement sous l'expression "blocs 40 de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents". Le serveur 1 du système est connecté à chacune 35 des N unités 30 à plateaux de lots échantillons (N = 10 dans cette forme de réalisation) par l'intermédiaire du dispositif 2 de commande du système. Les unités 30 formant plateaux de lots échantillons sont adaptées chacune pour loger M blocs 40 de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents (M = 10 dans cette forme de réalisation). Chacun des blocs 40 de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents est réglé pour une condition de fonctionnement du panneau, une condition d'environnement et une condition de mesure pour faire fonctionner le panneau électroluminescent, puis exécute des mesures des caractéristiques optiques du panneau électroluminescent 5 (désigné ciaprès sous le terme "panneau électroluminescent") dans les conditions ainsi réglées. Le système 2 de commande du système collecte des données de mesure acquises au moyen des blocs individuels 40 de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents. Le serveur 1 du système réalise une gestion collective des éléments de données de mesure collectés par le dispositif 2 de commande du système et mémorise les fichiers de données de mesure. Différentes adresses sont affectées à des espaces respectifs dans chacune unité 30 formant plateau de lot échantillon, les espaces dans lesquels les blocs 40 de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents sont respectivement logés. C'est pourquoi, conformément à la forme de réalisation, le serveur 1 du système est responsable de la gestion co=_lective des données de mesure concernant les caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents 5, dont les mesures sont exécutées simultanément dans 100 blocs 40 de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents. La figure 2 est un schéma-bloc représentant un 35 agencement d'un bloc 40 de mesure de caractéristiques optiques d'un panneau électroluminescent. Le bloc 40 de mesure de caractéristiques optiques du panneau électroluminescent comprend: un circuit d'alimentation à tension constante/courant constant 7 pour délivrer une tension constante ou un courant constant à un panneau électroluminescent 5, un circuit de régulation de la température ambiante pour régler la température ambiante autour du panneau électroluminescent 5, et un photodétecteur 6 pour effectuer des mesures de la luminance ou de la chromaticité du panneau électroluminescent 5. Les signaux de sortie R (rouge), G (vert) et B (bleu) du photodétecteur 6 sont multipliés chacun par un coefficient de correction pour être amenés en équilibre afin de supprimer les variations des caractéristiques des détecteurs, qui peuvent varier d'un détectjeur à un autre. Le bloc de mesure des caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents comprend en outre: une unité 11 de régulation de l'intervalle de temps de mesure pour régler un intervalle de temps de mesure dans le photo- détecteur 6, un capteur de température 9 pour détecter la température ambiante autour du panneau électroluminescent 5, et une unité de commande 10 pour commander le bloc 40 de mesure de l'ensemble des caractéristiques optiques du panneau électroluminescent. Le système est adapté pour appliquer les conditions de fonctionnement des panneaux individuellement différents (les valeurs de la tension/du courant devant être envoyées aux panneaux électroluminescents 5), des conditions d'environnement individuellement différentes (les températures ambiantes autour des panneaux électroluminescents 5), et des conditions de mesure individuellement différentes (durées de mesure du photodétecteur 9 effectuant les mesures) aux blocs respectifs 40 de mesure des caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents. On peut faire fonctionner le panneau électroluminescent 5 en maintenant ces conditions constantes pendant un intervalle de temps donné, pendant lequel on peut effectuer des mesures sur les caractéristiques optiques du panneau électroluminescjent 5 (la luminance et la chromaticité de ce dernier et la température ambiante autour de ce panneau) dans ces conditions. Après l'écoulement de l'intervalle de temps donné, la condition de fonctionnement du panneau, la condition d'environnement et/ou la condition de mesure peuvent être modifiées de sorte qu'on peut effectuer les mesures des caractéristiques optiques du panneau électroluminescent 5 dans les conditions modifiées. En outre, le système permet de remplacer le ou les panneaux électroluminescents dans l'un quelconque ou dans tous les blocs 40 de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents, par un autre bloc ou par d'autres blocs au bout de l'écoulement de l'intervalle de temps donné. Ensuite, on peut également effectuer les mesures des caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents 5 incluant le ou les panneaux électroluminescents remplacés 5 dans les mêmes conditions de fonctionnement des panneaux, les mêmes conditions d'environnement et les mêmes conditions de mesure que celles de la période précédente ou dans des conditions différentes de fonctionnement des panneaux, des conditions d'environnement et des conditions de mesure, qui diffèrent de celles de la période précédente. De cette manière, les blocs respectifs 40 de mesure des caractéristiques optiques des panneaux électro- luminescents peuvent être réglés d'une manière indépendante pour la condition de fonctionnement du panneau, la condi- tion d'environnement et la condition de mesure, dans les- quelles on peut effectuer les mesures des caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents 5 des blocs. C'est pourquoi le serveur 1 du système peut gérer collectivement les données de mesure acquises dans une pluralité de conditions de fonctionnement du panneau, de conditions d'environnement et de conditions de mesure différentes (jusqu'à 100 structures au maximum dans cette forme de réalisation). Une différence entre le bloc 40 de mesure de caractéristiques optiques du panneau électroluminescent et le système 12 de mesure classique représenté sur la figure 3 réside dans le fait que le bloc 40 de mesure de caractéristiques optiques du panneau électroluminescent comporte un seul panneau électroluminescent. C'est pourquoi le photodétecteur 6 du bloc 40 de mesure de caractéristiques optiques du panneau électroluminescent exécute des mesures des caractéristiques optiques d'un seul panneau électroluminescent 5. Par conséquent dans le système de mesure optique pour un panneau électroluminescent selon l'invention, les blocs 40 de mesure de caractéristiques optiques du panneau électroluminescent exécutent chacun, de façon indépendante, des mesures des caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents de ces blocs et par conséquent un intervalle entre des acquisitions successives de données de mesure peut être réduit. Dans le cas d'une anomalie du photodétecteur 6 dans un bloc 40 de mesure de caractéristiques électriques du panneau électroluminescent, le mesure est annulée uniquement dans le bloc 40 de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents en question, alors que les autres blocs 40 de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescent ne sont pas affectés par une telle perturbation et peuvent continuer des opérations de prise de mesures des caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents 5 de ces blocs. En supposant que l'unité à plateau de lot échantillon 30 loge la pluralité (M) de blocs 40 de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électrolumines- cents, qui exécutent des mesures des caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents respectifs 5 de ces blocs, même si l'un quelconque des blocs 40 de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électrolumines- cents est un processus d'exécution de mesure des caractéristiques optiques du panneau électroluminescent 5 de ces blocs, l'unité à plateau de lot échantillon 30 permet le montage et le démontage des autres blocs 40 de mesure des caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents, à partir de ou sur cette unité. Par conséquent dans n'importe quel bloc de mesure de caractéristiques optiques d'un panneau électroluminescent autre que celui qui effectue des opérations de mesure, le panneau électroluminescent 5 peut être remplacé sans que ceci n'affecte de façon nuisible le bloc de mesure de caractéristiques optiques du panneau électroluminescent effectuant les opérations de mesure. Par ailleurs, des adresses sont affectées à des espaces de logement respectifs dans la même unité à plateau de lots échantillons 30. D'autre part, chacun des blocs 40 de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électro- luminescents comporte des caractéristiques de mesure qui sont spécifiques et un identifiant qui lui est affecté. Le serveur 1 du système peut réaliser la gestion en détectant quel type de mesure est exécuté dans lequel des espaces de logement et: dans laquelle des unités à plateaux de lots échantillons 30 sur la base des adresses affectées aux espaces de logement dans les unités 30 à plateaux de lots échantillons individuelles et sur la base des caractéristi- ques de mesure et des identifications mémorisées dans les blocs individuels 40 de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents. Par conséquent, même si l'un quelconque des blocs 40 de mesure des caractéristiques des panneaux électroluminescents est démonté d'une unité 30 à plateau de lot échantillon, puis est logé dans n'importe quelle autre unité 30 à plateau de lot échantillon, le bloc 40 de mesure des caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents en question peut continuer à effectuer la mesure des caractéristiques optiques de son panneau électroluminescent 5, sans perdre les données caractéristiques mesurées obtenues jusqu'alors. Etant donné que le bloc 40 de mesure de caractéristiques optiques d'un panneau électroluminescent est adapté pour être logé dans n'importe quelle autre des unités à plateaux de lots échantillons 30, on peut utiliser la solution indiquée ci-après. C'est-à-dire que l'on peut concentrer les blocs 40 de mesure de caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents en une unité à plateau pour lot échantillon limités 30 chaque fois que cela est possible, de sorte que n'importe laquelle l'unité 30 à plateau de lot échantillon vidée peut être démontée du système. Cela permet d'ajuster sur une taille quelconque le système de mesure optique global pour un panneau électroluminescent selon l'invention. On notera que l'invention n'est pas limitée à la forme de réalisation indiquée précédemment et que de nombreux changements et modifications peuvent y être apportés. Par exemple le bloc de mesure de caractéristiques optiques d'un panneau électroluminescent est agencé de manière à exécuter des mesures des caractéristiques optiques du panneau électroluminescent, mais n'est pas limité à un tel agencement. Le bloc de mesure de caractéristiques optiquesdu panneau électroluminescent peut être agencé de manière à effectuer des mesures des caractéris- tiques optiques d'un panneau à cristal liquide, d'un panneau d'affichage à plasma ou analogue. En outre, les caractéristiques optiques de chaque panneau électroluminescent ne sont pas toujours limitées à la luminance et à la chromaticité, mais peuvent également inclure les valeurs de sa tension de sortie/de son courant de sortie. REVENDICATIONS 1. Système de mesure optique pour un panneau électroluminescent (5), caractérisé en ce qu'il comporte: un bloc (41...4M) de mesure de caractéristiques optiques du panneau électroluminescent (5) apte à recevoir un panneau électroluminescent, à faire fonctionner ledit panneau électroluminescent et effectuer des mesures de caractéristiques optiques du panneau électroluminescent en fonctionnement, une unité formant boîtier (31...3N) apte à loger la pluralité de blocs de mesure de caractéristiques optiques du panneau électroluminescent (5), un dispositif de commande du système apte à être connecté à la pluralité d'unités formant boîtiers 15 (31...3N); et un processeur de données (1) connecté au dispositif de commande du système de manière à réaliser la gestion collective des données de mesure fournies par les blocs individuels de mesure de caractéristiques optiques du panneau électroluminescent, et que l'unité formant boîtier (31...3N) possède différentes adresses affectées à des espaces respectifs de réception pour les blocs de mesure de caractéristiques optiques du panneau électroluminescent, que le processeur de données (1) définit une condition discrète de fonctionnement du panneau, une condition d'environnement et/ou une condition de mesure pour chacun des blocs de mesure de caractéristiques optiques du panneau électroluminescent (5), qui sont logés par l'unité formant boîtier (31...3N), définit un instant de démarrage de mesure discret et un instant de fin de mesure discret en rapport avec la condition définie, et gère collectivement des éléments de données de mesure fournis par les blocs de mesure de caractéristiques optiques du panneau électroluminescent individuel. 2. Système de mesure optique pour un panneau électroluminescent selon la revendication 1, caractérisé en ce que le processeur de données (1) fait fonctionner les panneaux électroluminescents respectifs des blocs (41... 4M) de mesure des caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents (5) logés dans l'unité formant boîtier (31...3N) dans des conditions de fonctionnement des panneaux, des conditions d'environnement et des conditions de mesure, qui diffèrent de façon discrète. 3. Système de mesure optique pour un panneau électroluminescent selon l'une ou l'autre des revendications 1 et 2, caractérisé en ce que les blocs individuels (41...4M) de mesure de caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents, qui sont logés dans les unités formant boîtier (31...3N), peuvent fonctionner d'une manière indépendante les uns des autres pour effectuer des mesures des caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents respectifs (5) de ces blocs (41...4M). 4. Système de mesure optique pour un panneau électroluminescent selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que dans l'hypothèse où l'unité formant boîtier (31... 3N) loge en elle la pluralité des blocs de mesure de caractéristiques optiques de panneaux luminescents, qui exécutent des mesures individuelles des caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents respectifs de ces blocs, même si l'un quelconque des blocs (41...4M) de mesure de caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents (5) est en train d'effectuer des mesures des caractéristiques optiques du panneau électroluminescent de ce bloc, l'unité formant boîtier (31...3N) permet le démontage ou le montage des autres blocs de mesure de caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents à partir du ou dans le système. 5. Système de mesure optique pour un panneau électroluminescent selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que le bloc de mesure des caractéristiques optiques de panneaux électroluminescents (5) mémorise des caractéristiques de mesure qui lui sont spécifiques et son identifiant; et que le processeur de données (1) réalise la gestion en détectant quel type de mesure est effectué et dans lequel des espaces de réception, et dans lequel des unités formant boîtiers, sur la base des adresses affectées à l'unité formant boîtier, et des caractéristiques de mesure et des identifiants mémorisés dans les blocs de mesure de caractéristiques optiques des panneaux électroluminescents (5).