Brevet FR2849939A1 — publié le 20040716

L'invention concerne un procédé permettant de surveiller une sortie de circuit d'excitation, lors duquel une influence active de la sortie de circuit d'excitation est prévue afin de réaliser une analyse d'erreurs. De tels procédés de surveillance de sorties de circuit d'excitation sont connus, 5 lors desquels l'analyse d'erreurs peut comprendre non seulement le diagnostic d'une erreur survenant dans le et/ou au niveau du circuit d'excitation mais aussi le diagnostic d'une erreur survenant dans et/ou au niveau d'un composant excité par le circuit d'excitation. Afin d'obtenir des résultats de diagnostic clairs avec les procédés connus, il est nécessaire, du moins lors de certains états de commutation, d'influencer 10 activement la sortie de circuit d'excitation de telle sorte qu'un composant commandé par ledit circuit d'excitation est lui aussi influencé. Par conséquent, dans les procédés connus, une influence du composant a lieu même lorsqu'il n'y a pas d'erreur électrique ou qu'il s'agit seulement d'une erreur électrique sporadique. Le problème qui est à la base de l'invention est d'améliorer les procédés du 15 type générique de telle sorte que, comparé aux procédés connus, un composant connecté au circuit d'excitation soit soumis moins fréquemment à une influence non absolument nécessaire. Ce problème est résolu selon l'invention par un procédé permettant de surveiller une sortie de circuit d'excitation, lors duquel une influence active de la sortie 20 de circuit d'excitation est prévue afin de réaliser une analyse d'erreurs, caractérisé en ce que l'influence active de la sortie de circuit d'excitation n'est effectuée que si un état d'erreur apparaissant à la sortie de circuit d'excitation a subsisté pendant une période de temps prédéfinie. Le procédé selon l'invention peut en outre comporter une ou plusieurs des 25 caractéristiques suivantes: - la sortie de circuit d'excitation est contrôlée de manière cyclique afin de détecter l'apparition de l'état d'erreur; - la période de temps prédéfinie est considérée comme terminée lorsque l'état d'erreur a subsisté à la sortie de circuit d'excitation pendant un nombre prédéterminé 30 de cycles successifs; - le nombre prédéterminé de cycles successifs est configurable; - l'état d'erreur à la sortie de circuit d'excitation est représenté par une valeur binaire; - la valeur binaire représentant l'état d'erreur à la sortie de circuit d'excitation 35 est mise en mémoire; - l'influence active de la sortie de circuit d'excitation comprend l'application d'une suite d'impulsions de test à l'entrée et/ou à la sortie de circuit d'excitation. L'invention a donc pour objet un procédé permettant de surveiller une sortie de circuit d'excitation, lors duquel une influence active de la sortie de circuit d'excitation 5 est prévue afin de réaliser une analyse d'erreurs. Afin d'éviter qu'un composant commandé par le circuit d'excitation soit influencé à la suite de l'influence active de la sortie de circuit d'excitation alors qu'il n'y a aucune erreur ou qu'il s'agit seulement d'une erreur sporadique, il est prévu selon l'invention que l'influence active de la sortie de circuit d'excitation n'ait lieu que si un état d'erreur apparaissant à la sortie de circuit 10 d'excitation devait subsister pendant une période de temps donnée. Cette solution permet par exemple de ne faire réagir un composant connecté à la sortie de circuit d'excitation en vue de l'analyse d'erreurs que s'il y a une erreur électrique durable. Dans le cas d'une erreur électrique durable, l'erreur détermine, dans de nombreux cas, le comportement du composant. Si par exemple une ligne 15 électrique est interrompue au niveau du composant, il n'est alors plus possible de mettre en circuit ou hors circuit ledit composant. Si, dans ce cas de figure, la sortie de circuit d'excitation est influencée de manière active afin de réaliser une analyse d'erreurs plus précise, ceci n'a pas d'influence sur le composant. Indépendamment de la nature spécifique d'une erreur donnée, le fait d'attendre l'écoulement de la période 20 de temps prédéfinie permet d'éviter d'influencer de manière active la sortie de circuit d'excitation lorsqu'il n'y a pas d'erreur ou qu'il s'agit seulement d'une erreur sporadique. Dans des formes de réalisation préférées du procédé selon l'invention, il est prévu que la sortie de circuit d'excitation soit soumise à un contrôle cyclique 25 permettant de détecter l'apparition de l'état d'erreur. On entend ici par " contrôle cyclique " notamment l'exécution, avec un taux de répétition fixe, d'un algorithme permettant de détecter l'état d'erreur. Dans ce contexte, il est en outre avantageux de prévoir dans le cadre du procédé selon l'invention que la période de temps prédéfinie soit considérée comme 30 terminée si pendant un nombre prédéterminé de cycles successifs l'état d'erreur a subsisté à la sortie de circuit d'excitation. Ainsi, il est par exemple possible de prévoir que le nombre prédéterminé de cycles successifs soit configurable. La surveillance de trois cycles successifs s'est par exemple avérée être, dans la pratique, un bon compromis entre une influence active 35 suffisamment rapide de la sortie de circuit d'excitation en cas d'erreur électrique durable et une période de temps suffisamment longue pour permettre la désactivation d'erreurs sporadiques. Le procédé selon l'invention est amélioré de manière avantageuse en ce que l'état d'erreur observé à la sortie de circuit d'excitation est représenté par une valeur 5 binaire. La valeur binaire peut être par exemple la valeur logique "1" s'il y a une erreur électrique et la valeur logique "0" s'il n'y a pas d'erreur électrique. Dans ce contexte, il est en outre prévu de préférence que la valeur binaire représentant l'état d'erreur à la sortie de circuit d'excitation soit mise en mémoire. S'il est par exemple prévu que la période de temps est considérée comme terminée 10 lorsque pendant un nombre prédéterminé de cycles successifs l'état d'erreur a subsisté au niveau du circuit d'excitation, les valeurs binaires sont de préférence mises en mémoire pour le nombre prédéterminé de cycles successifs. La mise en mémoire peut être réalisée d'une quelconque manière appropriée, par exemple au moyen d'un champ ou d'un tableau défini par logiciel. Dans toutes les formes de réalisation du procédé selon l'invention, il peut être en outre prévu que l'influence active de la sortie de circuit d'excitation comprenne l'application d'une suite d'impulsions de test à l'entrée etlou à la sortie de circuit d'excitation. Il est alors possible de tenir compte de l'évaluation de l'état d'erreur lors de la génération d'impulsions de test. L'invention est à présent expliquée, à titre d'exemple, à l'aide d'une forme de réalisation préférée et en se rapportant au dessin ci-joint, dans lequel la figure 1 représente un organigramme illustrant une forme de réalisation du procédé selon l'invention. Dans le procédé représenté à la figure 1, il s'agit d'un algorithme permettant 25 de reconnaître une erreur électrique durable, c'est-à-dire ayant subsistée au moins pour la période de temps prédéfinie. Le procédé représenté commence à l'étape Si. Lors de l'étape S2, l'information actuelle d'erreur électrique et les informations relatives aux erreurs survenues entre les instants n et n-m sont mises en mémoire. Autrement dit, dans la forme de réalisation représentée, la période de temps 30 prédéfinie est considérée comme terminée lorsqu'une erreur électrique subsiste à la sortie de circuit d'excitation pendant m+1 cycles successifs. Lors de l'étape S3, il est vérifié si une erreur électrique a été détectée de manière continue entre les instants n et n-m. Si c'est le cas, le procédé se poursuit à l'étape S4. En cas contraire, on passe à l'étape S5. Lors de l'étape S4 a lieu l'influence active de la sortie de circuit d'excitation, par exemple en appliquant une suite d'impulsions de test à l'entrée et/ou à la sortie de circuit d'excitation. De cette manière, il est possible de réaliser une analyse précise des symptômes et/ou erreurs. Suite à l'étape S4 vient l'étape S6 o prend fin l'algorithme représenté. Si, lors de l'étape S3, il a été constaté qu'une erreur électrique détectée n'a pas subsistée de manière continue entre les instants n et nm, il est supposé, lors de l'étape S5, qu'il s'était agi d'une erreur sporadique. La sortie de l'étage final et/ou la sortie de circuit d'excitation ne sont donc pas influencées de manière active, de sorte 10 qu'il n'y a pas non plus influence du composant commandé par le circuit d'excitation. L'étape S5 ne donnant lieu à aucune manipulation active, sa représentation sert avant tout à des fins d'illustration. Le cas échéant, il est donc possible d'omettre l'étape S5. REVENDICATIONS 1. Procédé permettant de surveiller une sortie de circuit d'excitation, lors duquel une influence active de la sortie de circuit d'excitation est prévue afin de 5 réaliser une analyse d'erreurs, caractérisé en ce que l'influence active de la sortie de circuit d'excitation n'est effectuée que si un état d'erreur apparaissant à la sortie de circuit d'excitation a subsisté pendant une période de temps prédéfinie. 2. Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce que la sortie de circuit d'excitation est contrôlée de manière cyclique afin de détecter l'apparition de l'état 10 d'erreur. 3. Procédé selon la revendication 2 caractérisé en ce que la période de temps prédéfinie est considérée comme terminée lorsque l'état d'erreur a subsisté à la sortie de circuit d'excitation pendant un nombre prédéterminé de cycles successifs. 4. Procédé selon la revendication 3 caractérisé en ce que le nombre 15 prédéterminé de cycles successifs est configurable. 5. Procédé selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'état d'erreur à la sortie de circuit d'excitation est représenté par une valeur binaire. 6. Procédé selon la revendication 5 caractérisé en ce que la valeur binaire représentant l'état d'erreur à la sortie de circuit d'excitation est mise en mémoire. 7. Procédé selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'influence active de la sortie de circuit d'excitation comprend l'application d'une suite d'impulsions de test à l'entrée et/ou à la sortie de circuit d'excitation.