Brevet FR2830613A1 — publié le 20030411

Domaine technique La présente invention concerne de manière générale le domaine technique du centrage de petits échantillons en utilisant des géométries standardisées ; en particulier, la présente invention concerne un procédé pour l'ajustage relatif automatique des coordonnées de position d'au moins un échantillon - qui se trouve sur un support ou une table d'échantillons d'un gonio- mètre, - qui doit être examiné à l'aide d'un goniomètre, - qui peut être déplacé dans au moins un sens de translation dans sa position et - qui est rotatif autour d'au moins un axe de basculement dans son orientation ou son basculement par rapport aux coordonnées de centre du goniomètre qui sont définies par le point d'intersection des axes de basculement. La présente invention concerne de plus un dispositif associé pour l'ajustage relatif automatique des coordonnées de position. Technique antérieure Un goniomètre est une partie intégrante d'un dispositif de diffraction des rayons X, par exemple d'un appareil de mesure de diffraction ou d'un diffractomètre tel qu'il est utilisé pour l'analyse de la diffraction des rayons X. Pour l'analyse de la diffraction des rayons X à l'aide d'un diffractomètre, une structure cristalline d'une substance est par exemple analysée par exposition de la substance à un rayon X et par mesure d'un angle de diffraction du rayon X réfléchi par la substance ou qui a traversé celle-ci. Un goniomètre est utilisé en relation avec le diffractomètre pour mesurer un angle de diffraction du rayon X et sert au positionnement exact de l'échantillon à l'intérieur du diffractomètre. Par principe, il faut admettre six degrés de liberté dans l'espace pour le positionnement de l'échantillon dans le goniomètre. Ceci étant, il s'agit des trois coordonnées de translation x, y et z (correspondant aux trois directions dans l'espace) et des trois coordonnées de rotation Omega (so), Chi (X) et Phi Les degrés de liberté de translation sont utilisés pour déplacer l'échantillon à une certaine position. Ici, l'échantillon doit se trouver, pour des diffractomètres de rayons X, à tout moment de la mesure exactement dans le rayon X pour garantir des résultats de mesure stables et efficaces. La section du rayon X correspond en général à la section de l'échantillon à examiner. Les degrés de liberté de translation permettent d'ajuster l'échantillon à un endroit prédéfini dans le rayon X. Les degrés de liberté de rotation, par contre, sont utilisés pour les diffractomètres de rayons X pour varier l'orientation ou le basculement de l'échantillon par rapport au rayon X. Une variation éventuellement également dynamique de l'orientation ou du basculement dans le cadre de la mesure est actuellement encore une condition nécessaire pour des résultats de mesure pouvant être interprétés. On désigne de goniomètres les dispositifs mécaniques avec ces degrés de liberté de translation aussi bien que de rotation. L'exigence d'une grande stabilité pour ce qui est de la position dans l'espace (- > composante de translation) pour une variation simultanée de l'orientation ou du basculement (-- > composante de rotation) fait que ces systèmes sont très sophistiqués sur le plan de la mécanique et sont également onéreux. Les systèmes disponibles de nos jours sont conçus de telle manière que l'orientation ou le basculement de l'échantillon est réalisé par des cercles de révolution imbriqués l'un dans l'autre, la désignation Omega (co) étant habituellement associée au cercle de révolution extérieur, la désignation Chi (X) au cercle de révolution central et la désignation Phi (p) au cercle de révolution intérieur. Selon la tehnique antérieure, il existe une multitude de variantes qui se satisfont de moins de trois degrés de liberté pour ce qui est de l'orientation ou du basculement de rotation. En font partie en particulier ce qu'il est convenu d'appeler les arrangements Kappa (K) qui disposent de quelques limitations pour ce qui est de l'angle de rotation et aussi de trois degrés de liberté de rotation. En outre, on connaît également ce qu'il est convenu d'appeler des dispositifs à deux cercles qui ne disposent que de deux axes, à savoir Omega (co) et Phi ( Si la position de l'échantillon dans le système de goniomètre doit aussi rester maintenue pendant une variation de l'orientation ou du basculement, il est absolument obligatoire que les centres des cercles de révolution se rencontrent en un point d'intersection commun. L'écart de ce point d'intersection commun, c'est-à-dire le décalage des axes au point de l'échantillon, est également désigné de"sphere of confusion". De faibles écarts sont plus compliqués à réaliser sur le plan de la construction lorsque le nombre d'axes est plus grand et entraînent que les coûts d'un tel système de goniomètre augmentent de manière surproportionnelle avec le nombre des axes. Représentation de l'invention : but, solution, avantages En partant des inconvénients et des insuffisances présentées ci-dessus, le but de la présente invention est de développer un procédé ainsi qu'un dispositif pour le processus complexe du centrage automatique qui simplifie considérablement la construction de systèmes goniométriques et qui, de plus, réduit considérablement les coûts pour des systèmes à plusieurs cercles. Ce but est atteint par un procédé avec les caractérise en ce que ainsi que par un dispositif caractérisé en ce que IRI/2. Des configurations avantageuses et des perfectionnements appropriés de la présente invention sont caractérisés dans les sous-revendications respectives. Selon les enseignements de la présente invention, le centrage n'est donc plus effectué de manière statique mais au contraire de manière dynamique. Tandis que les techniques de type conventionnel décrites en introduction présentent toujours les trois composantes essentielles - ajustage en translation du centre du goniomètre dans le point de me- sure, - centrage en translation de l'échantillon au centre du goniomètre et - orientation en rotation ou basculement de l'échantillon pendant la me- sure, selon un perfectionnement inventif de la technique de la présente invention, il peut être renoncé complètement au centrage statique de l'échantillon au centre du goniomètre car, conformément à l'invention, le centrage est réalisé de manière dynamique par ajustage en transla- tion. Dans ce contexte, l'homme du métier dans le domaine des procédés de mesure goniométriques saura en particulier apprécier que, selon les enseignements de la présente invention, l'exigence d'une coïncidence la plus précise possible des axes au centre du goniomètre est superflue. La position de l'échantillon peut, conformément à l'invention, être maintenue de manière dynamique pendant la mesure et de manière dynamique dans la position de mesure pendant toute variation de l'orientation ou du basculement. Les autres avantages qui peuvent être obtenus avec le procédé ainsi qu'avec le dispositif conformément à la présente invention résident en particulier en ce que les goniomètres de n'importe quelle configuration peuvent être fabriqués beaucoup plus petits et moins chers (l'exigence d'un point d'intersection précis de tous les axes d'orientation ou de basculement et la raison essentielle pour la grande construction des goniomètres existants). Selon les enseignements de la présente invention, les exigences mécaniques se réduisent donc à l'ajustage en translation de l'échantillon dans le point de mesure, les mouvements de cet ajustage en translation compensant dynamiquement les écarts de la position de l'échantillon par rapport à la position de mesure, cependant qu'il n'importe pas de savoir si l'ajustage en translation dynamique déplace tout le goniomètre, une partie de celui-ci ou seulement l'échantillon et à l'orientation en rotation ou au basculement de l'échantillon pendant la mesure. Si maintenant la position de l'échantillon ne se trouve pas au centre de l'un des axes de rotation du goniomètre, ceci entraîne, lors d'une rotation autour de cet axe, un mouvement de précession ou de chancellement de l'échantillon, c'est-àdire que l'échantillon décrit une orbite autour de l'axe de rotation. S'il s'agit de plusieurs axes de rotation qui peuvent éventuellement également se déplacer simultanément, il peut en résulter une trajectoire complexe. L'orientation ou le basculement de l'échantillon est toutefois à tout moment indépendant de l'ajustage en translation, c'est-à-dire qu'un endroit dans le système de coordonnées de l'ajustage du goniomètre peut être associé à n'importe quel point de cette trajectoire. Conformément à une forme de réalisation avantageuse de la présente invention, il est prévu un système de caméra électronique pour fixer cette trajectoire complexe avant la mesure proprement dite ; chaque mesure a ainsi un profil spécifié de manière détaillé à l'avance des variations d'orientation ou de basculement qui peut être parcouru avant la mesure à une vitesse éventuellement importante, la trajectoire. de l'échantillon pouvant être enregistrée. Le système de caméra peut, selon un perfectionnement avantageux, être complété par au moins un microscope ou par au moins un stéréomicroscope. L'utilisation d'un système composé de deux microscopes peut simplifier l'exploitation de trajectoires complexes. Les images du système de microscope sont analysées au moyen d'un logiciel appro- prié et les jeux de coordonnées de correction correspondants de la trajectoire sont calculés. A l'aide de ces coordonnées de correction, la position de l'échantillon peut être arrêtée par l'ajustage du goniomètre en translation pendant la mesure. Le mouvement de précession ou de chancellement de l'échantillon non centré est complètement compensé pendant la mesure. L'ajustage du goniomètre en translation entraîne donc exactement la trajectoire inverse en translation et l'échantillon reste dans la position de mesure. Selon une autre configuration technique avantageuse de la présente invention, le mécanisme de translation est excité par une électronique appropriée qui permet d'exécuter des commandes précises de trajectoire. Pour une compensation dynamique rapide et précise du mouvement de précession ou de chancellement de l'échantillon, conformément à l'invention un mécanisme de commande entre l'orientation ou le basculement des axes du goniomètre et les trois commandes de compensation en translation (dans le sens des coordonnées x, y et z) est nécessaire. Dans la coopération de la commande de l'orientation ou du basculement et de la commande de la translation, l'échantillon est maintenu à tout moment de la mesure dans la position de mesure souhaitée, et ce indépendamment de son orientation ou de son basculement dans le goniomètre. Conformément à l'invention, la technique décrite ci-dessus est indépendante de la géométrie proprement dite du goniomètre. D'autres géométries telles que, par exemple, des arrangements Kappa (K) qui disposent aussi de trois degrés de liberté de rotation avec quelques limitations pour ce qui est de l'angle de rotation et, ou aussi ce qu'il est convenu d'appeler des dispositifs à deux cercles qui ne disposent que de deux axes, à savoir Omega (co) et Phi (p), ou même des systèmes uniaxes peuvent suivre exactement ce principe. L'avantage de ces systèmes est que la trajectoire est, en général, incomparablement plus simple. Pour ce faire, dans une autre configuration avantageuse de la présente invention, un simple microscope électronique peut être adéquat car la trajectoire est éventuellement réduite à une orbite elliptique (pour des systèmes goniométriques biaxes) ou à une orbite (pour des systèmes goniométriques uniaxes). Finalement, la présente invention concerne un goniomètre à centrage dynamique qui fonctionne selon un procédé selon le type exposé ci-dessus et/ou qui présente au moins un dispositif pour l'ajustage relatif automatique des coordonnées de position selon le type exposé ci-dessus. Avant d'expliquer plus en détails ci-dessous d'autres configurations, caractéristiques et avantages de la présente invention à l'aide d'un exemple de réalisation, il convient de remarquer, par rapport à la technique antérieure pertinente ici, que différentes ébauches doivent être enregistrées pour ce qui est de l'automatisation de tels systèmes car l'ajustage automatique d'un goniomètre à un endroit est une technique usitée depuis de nombreuses années. Le centrage de l'échantillon est automatisé ces dernières années à plusieurs reprises par le fait que les possibilités de réglage de la tête du goniomètre sont motorisées et qu'un microscope électronique avec un logiciel approprié donne les grandeurs de commande nécessaires pour ces moteurs (cf. Karet, G. : Tushing the limits of Lab Automation"Drug Discovery, Mars 2001,62-66 et Muchmore, S. :"Automated Crystal Mounting and Data Collection for Protein Crystallography"dans Structure 8, R243-246). Ici, c'est une méthode manuelle qui est automatisée, c'est-àdire que des opérations manuelles et visuelles sont simulées à l'aide d'ordinateurs, de caméras et de moteurs. Le début de tous ces efforts est toujours de réaliser un centrage statique, c'està-dire que l'échantillon est ajusté dans sa position avant toute mesure de telle manière que pendant la mesure il reste toujours au centre du goniomètre lors d'une variation dynamique de l'orientation ou du basculement. Pour ce procédé, un centrage doit toujours obligatoirement être terminé avant la mesure proprement dite. Ceci est le cas lorsque l'échantillon ne change pas de lieu pendant un changement de son orientation ou de son basculement. Brève description des dessins D'autres configurations, caractéristiques et avantages de la présente invention seront expliqués plus en détails ci-dessous à l'aide de l'exemple de réalisation illustré par la figure 1. La figure 1 montre une représentation en perspective d'un exemple de réalisation d'un goniomètre avec un dispositif pour l'ajustage relatif automatique des coordonnées de position selon la présente invention. Meilleur moyen de réalisation de l'invention Dans l'exemple de réalisation de la présente invention illustré à l'aide de la figure 1, il est représenté un goniomètre 200 qui pré- sente un dispositif 100 pour l'ajustage relatif automatique des coordonnées de position (Xp, Yp, Zp) d'un échantillon, qui se trouve sur un support d'échantillons du goniomètre 200, qui doit être examiné par analyse spectroscopique aux rayons X au moyen du goniomètre 200. Ceci étant, l'ajustage relatif automatique des coordonnées de position (Xp, Yp, Zp) a lieu par rapport aux coordonnées de centre (Xm, Ym, Zm) du goniomètre 200 qui sont définies par le point d'intersection des trois axes de basculement (co, X, (p). Le positionnement en rotation du goniomètre 200 est effectué par un mécanisme de rotation 20 destiné au basculement de l'échantillon autour des axes de basculement (co, X, (p) et en particulier par un mécanisme de rotation 20co pour la première coordonnée angulaire ro, par un mécanisme de rotation 20X pour la seconde coordonnée angulaire X et par un mécanisme de rotation 20o pour la troisième coordonnée angulaire (p. Le positionnement en translation du goniomètre 200 est réalisé par un mécanisme de translation 10 placé substantiellement à l'extérieur du mécanisme de rotation 20, destiné à déplacer la position (Xp, Yp, Zp) de l'échantillon dans au moins un sens de translation (x, y, z), et ceci en particulier par une table de déplacement 10x dans le premier sens de translation x, par une table de déplacement 10y dans le second sens de translation y et par une table de déplacement 10z dans le troisième sens de déplacement z. Ces tables de déplacement 10x, lOy, 1 Oz permettent de déplacer le système goniométrique dans une position (Xp, Yp, Zp) dans l'espace tridimensionnel (x, y, z). Par conséquent, le centre (Xm, Ym, Zm) des cercles de révolution est ajusté par rapport au point de mesure au moyen de ces trois tables de déplacement 10x, lOy, 10z, ces trois degrés de liberté de translation (x, y, z) étant placés mécaniquement à l'extérieur des cercles de révolution (eu, X, (p). L'échantillon à examiner est monté sur l'axe intérieur Phi (p). A cet effet, cet axe Phi (p) est pourvu à son extrémité, à proximité de la position de destination de l'échantillon, d'un dispositif de montage (qui, pour des raisons de clarté de la représentation sur la figure 1, n'est pas représenté de manière explicite). L'échantillon est, en règle générale, prémonté sur un support d'échantillons. Si le support d'échantillons est monté sur l'axe Phi quence que l'échantillon quitte l'endroit de destination pendant une variation de l'orientation ou du basculement (co, X, (p) de l'échantillon. Ceci est justifié par des inexactitudes lors du montage de l'échantillon sur le support d'échantillons. Ces écarts requièrent conformément à l'invention un dispositif 100 pour l'ajustage relatif automatique des coordonnées de position (Xp, Yp, Zp) de l'échantillon en forme d'un moyen d'ajustage supplémentaire 30 qui est associé au mécanisme de translation 10 et au mécanisme de rotation 20. La trajectoire de précession de l'échantillon autour des coordonnées du centre (x, y, z, ) qui intervient pendant une modification de l'orientation ou du basculement de l'échantillon peut être compensée dynamiquement au moyen de ce moyen d'ajustage 30 et l'échantillon peut être ainsi maintenu dynamiquement sur le lieu de mesure. A cet effet, le moyen d'ajustage 30 présente un moyen d'enregistrement 32 pour enregistrer la trajectoire de l'échantillon autour des coordonnées du centre (x, y, z, ), le moyen d'enregistrement 32 étant confi- guré comme un système de caméra électronique. En outre, il est prévu des moyens d'exploitation 34 pour exploiter la trajectoire enregistrée par traitement numérique de l'image ainsi que des moyens de calcul 36 pour calculer des coordonnées de correction (xm-xp, YM-yp, zm-zp) à partir de la trajectoire exploitée pour compenser dynamiquement cette trajectoire. Ceci étant, les moyens d'exploitation 34 et les moyens de calcul 36 sont réunis, conformément à la représentation de la figure 1, en un moyen de commande électronique commuté entre le mécanisme de translation 10 et le mécanisme de rotation 20. Conformément à ces coordonnées de correction calculées (Xm-Xp, Ym-Yp, Zm-Zp), l'échantillon peut être déplacé au moyen du mécanisme de translation 10 dans au moins l'un des sens de translation (x, y, z) de telle manière que ce déplacement en translation est couplé dynamiquement au déplacement des axes de basculement (00, X,'l') du goniomètre 200 qui est déterminé par la variation de l'orientation ou du basculement de l'échantillon. Pour anticiper de manière appropriée les processus d'ajustage relatifs automatiques qui doivent être effectués par le dispositif 100, il peut être une partie essentielle du procédé de l'invention conformément à l'exemple de réalisation présent d'enregistrer les trajectoires avant l'examen proprement dit de l'échantillon. Dans ce contexte, ces trajectoires peuvent être parcourues à une vitesse accrue puisque les mesures proprement dites ne sont pas encore effectuées en ce faisant. Le support d'échantillons lui-même, qui est mentionné cidessus, est équipé d'une autre possibilité de réglage en translation qui permet un réglage dans trois sens. Ici aussi, il s'agit d'un réglage (x, y, z), cet axe z étant configuré la plupart du temps parallèlement à l'axe Phi (p). Toutefois, ce composant est réalisé de construction assez petite si bien qu'il peut être logé à proximité immédiate de l'échantillon. En général, ce dispositif d'ajustage est désigné de tête de goniomètre. Les possibilités de réglage de cette tête de goniomètre servent au positionnement de l'échantillon au centre des cercles de révolution. L'orientation ou le basculement de l'échantillon ne sont naturellement pas influencés par ces réglages. Ce qu'il est convenu d'appeler le centrage de l'échantillon dans le goniomètre à l'aide de la tête de goniomètre réglable est assistée, par exemple, par un microscope. Le microscope est pour cela par exemple équipé d'un réticule à croisée qui est ajusté sur le centre du goniomètre. Le réglage de (x, y, w) dans la tête du goniomètre est varié par rapport au centrage jusqu'à ce que l'échantillon se trouve au centre des cercles de révolution (Xm, Ym, Zm.). L'échantillon restera ici aussi lors d'une variation de l'orientation ou du basculement (m, X, (p). LISTE DES REFERENCES 100 Dispositif 10 Mécanisme de translation 10x Mécanisme de translation, en particulier table de déplacement, dans le premier sens de translation x lOy Mécanisme de translation, en particulier table de déplacement, dans le second sens de translation y 10z Mécanisme de translation, en particulier table de déplacement, dans le troisième sens de translation z 20 Mécanisme de rotation 20w Mécanisme de rotation pour la première coordonnée angulaire w 20X Mécanisme de rotation pour la seconde coordonnée angulaire X 20 (p Mécanisme de rotation pour la troisième coordonnée angulaire (P 30 Moyen d'ajustage 32 Moyen d'enregistrement 34 Moyen d'exploitation 36 Moyen de calcul 200 Goniomètre x Premier sens de translation Xm Première coordonnée de centre du goniomètre 200 xp Première coordonnée de position de l'échantillon y Second sens de translation Ym Seconde coordonnée de position du goniomètre 200 yp Seconde coordonnée de position de l'échantillon z Troisième sens de translation zm Troisième coordonnée de centre du goniomètre 200 zp Troisième coordonnée de position de l'échantillon (0 Coordonnée angulaire du premier axe de basculement X Coordonnée angulaire du second axe de basculement (P Coordonnée angulaire du troisième axe de basculement REVENDICATIONS 1 ) Procédé pour l'ajustage relatif automatique des coordonnées de position (Xp, Yp, Zp) d'au moins un échantillon - qui se trouve sur un support ou une table d'échantillons d'un gonio- mètre (200), - qui doit être examiné à l'aide du goniomètre (200), - qui peut être déplacé dans au moins un sens de translation (x, y, z) dans sa position (Xp, Yp, Zp) et - qui est rotatif autour d'au moins un axe de basculement (co, X, (p) dans son orientation ou son basculement par rapport aux coordonnées du centre (x, y, z, ) du goniomètre (200) qui sont définies par le point d'intersection des axes de basculement (0), X, Ym, Zm) étant enregistrée et étant exploitée par traitement numérique de l'image, b) des coordonnées de correction (X,-Xp, Ym-Yp, Zm-Zp) étant calculées à partir de la trajectoire enregistrée et exploitée pour compenser dynami- quement la trajectoire et c) l'échantillon étant déplacé selon les coordonnées de correction calcu- lées (Xm-Xp, Ym-Yp, Zm-Zp) dans au moins l'un des sens de transla- tion (x, y, z), que ce déplacement en translation est couplé dynamiquement au déplacement des axes de basculement (eo, X, (p) du goniomètre (200) qui est déterminé par la variation de l'orientation ou du basculement de l'échantillon. 2 ) Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que la trajectoire est enregistrée avant l'analyse proprement dite de l'échantillon. 3 ) Procédé selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que la trajectoire est parcourue à une vitesse importante. 4 ) Dispositif (100) pour l'ajustage relatif automatique des coordonnées de position (xp, yp, zp) d'au moins un échantillon - qui se trouve sur un support ou une table d'échantillons d'un gonio- mètre (200), - qui doit être examiné à l'aide du goniomètre (200) par rapport aux coordonnées du centre (Xm, Ym, Zm) du goniomètre (200) qui sont dé- finies par le point d'intersection des axes de basculement (w, X, (p), qui présente - au moins un mécanisme de translation (10) pour déplacer la position (Xp, Yp, Zp) de l'échantillon dans au moins un sens de translation (x, y, z) et - au moins un mécanisme de rotation (20) pour faire basculer l'échan- tillon autour d'au moins un axe de basculement (w, X, (p) caractérisé en ce qu' au moins un moyen d'ajustage (30) est associé au mécanisme de translation (10) et au mécanisme de rotation (20), mécanisme d'ajustage grâce auquel, pendant une variation de l'orientation ou du basculement de l'échantillon, - la trajectoire de l'échantillon qui intervient ici, en particulier la trajec- toire de précession, peut être composée dynamiquement autour des coordonnées du centre (Xm, Yr, Znl) et - l'échantillon peut être maintenu dynamiquement à l'endroit de mesure, le moyen d'ajustage (30) - présentant au moins un moyen d'enregistrement (32) pour enregistrer la trajectoire de l'échantillon autour des coordonnées du centre (xm, ym, zm), - au moins un moyen d'exploitation (34) pour exploiter la trajectoire en- registrée par traitement numérique de l'image et - au moins un moyen de calcul (36) pour calculer des coordonnées de correction (xm-xp, ym-yp, ZM-zP) à partir de la trajectoire exploitée pour compenser dynamiquement cette trajectoire, - coordonnées de correction calculées (xm-xp, YM-yp, zm-zP) selon les- quelles l'échantillon peut être déplacé au moyen du mécanisme de translation (10) dans au moins l'un des sens de translation (x, y, z), que ce déplacement en translation est couplé dynamiquement au dé- placement des axes de basculement (w, X, (p) du goniomètre déterminé par la variation de l'orientation ou du basculement de l'échantillon. 5 ) Dispositif selon la revendication 4, caractérisé en ce que le moyen d'enregistrement (32) est configuré comme au moins un système de caméra électronique. 6 ) Dispositif selon la revendication 4 ou 5, caractérisé en ce que le système de caméra est complété par au moins un microscope, de préférence électronique, ou par au moins un stéréomicroscope, de préférence électronique. 7 ) Dispositif selon au moins l'une des revendications 4 à 6, caractérisé en ce que le moyen d'exploitation (34) et le moyen de calcul (36) sont réunis en au moins un moyen de commande, de préférence électronique, commuté entre le mécanisme de translation (10) et le mécanisme de rotation (20). 8 ) Goniomètre (200), - fonctionnant selon un procédé selon au moins l'une des revendications 1 à 3 et/ou - présentant au moins un dispositif (100) selon au moins l'une des re- vendications 4 à 7. 9 ) Goniomètre selon la revendication 8, caractérisé en ce que le mécanisme de translation (10) est placé substantiellement à l'extérieur du mécanisme de rotation (20). 10 ) Goniomètre selon la revendication 9, caractérisé en ce que le mécanisme de translation (10) est placé substantiellement à l'intérieur du mécanisme de rotation (20).