Brevet FR2832015A1 — publié le 20030509

Procédé d'identification et de correction de pixel ayant une rémanence excessive dans un détecteur de rayons X à l'état solide Certains modes de réalisation de la présente invention relèvent des systèmes à rayons X utilisant un détecteur de rayons X multi éléments à état solide pour produire une image, et en particulier, des techniques et appareils pour identifier les pixels susceptibles d'artefacts causés par une rémanence de pixel excessive et pour corriger les artefacts. Les détecteurs de rayons X à l'état solide qui sont développés comprennent une matrice bidimensionnelle, typiquement de 1000 à 4000 éléments détecteurs dans chaque dimension (X, Y). Chaque élément détecteur comprend un photodétecteur qui détecte et stocke des charges représentatives d'une quantité de radiations incidentes sur 1'élément détecteur. Chaque élément détecteur comprend en outre un transistor à couches minces TFT ("thin film transistor", en langue anglaise) connecté à la photodiode et commandé à l'instar d'un interrupteur pour autoriser et interdire la lecture de la charge stockée dans la photodiode. Chaque élément détecteur produit enfin un signal électrique qui correspond à la brillance d'un élément d'image dans l'image des rayons X projetée sur le détecteur. Le signal provenant de chaque élément détecteur est lu individuellement et numérisé pour d'ultérieurs traitements, stockages et affichages d'i mages. Le détecteur à l'état solide peut être utilisé dans une variété d'applications d'imagerie médicale radiologique. Une de ces applications est l'imagerie bi-énergie. Dans l'imagerie bi-énergie, deux séquences d'images radiologiques sont acquises temporellement très proches l'une de l'autre. Une acquisition est typiquement une image basse énergie, c'est-àdire une image lue après une exposition à 60-90 kVc, tandis que l'autre acquisition est typiquement une image à haute énergie, c'est-à-dire une image lue après une exposition à 110-140 kVc. A partir des deux images d'entrée brutes, un algorithwe est exécuté qui crce une première image représentative des os et une deuxième image représentative des tissus mous. Cet algorithme est connu et peut prendre plusieurs formes telles qu'une soustraction logarithmique. La combinaison de deux images améliore la visualisation des nodules et de calcifications. Le détecteur à l'état solide peut aussi être utilisé pour acquérir un grand nombre d'images radiologiques séquentielles. Par exemple, un grand nombre d'images peuvent être acquises pour construire une boucle cinématographique d'un c_ur. Comme avec les imageries bi énergie décrites ci-dessus, les acquisitions sont effectuées avec un bref intervalle de temps entre elles. Le bref intervalle de temps aide à réduire les artefacts dus aux mouvement du patient et/ou à capturer le mouvement de l'anatomie du patient. Les détecteurs à l'état solide sont malheureusement soumis à une rémanence d'image. La rémanence d'image est la rétention d'information d'image provenant d'images antérieures dans le détecteur. Par exemple, la rémanence peut être provoquée par une charge résiduelle dans la photodiode ou le transistor à couches minces d'un élément détecteur. La charge provenant d'une subséquente ou deu xi ème exposition est aj outée à la charge rési duel l e, ou rémanence, accroissant le signal de sortie du pixel. Pour les détecteurs à l'état solide, les effets nocifs dus à la rémanence s'accroissent généralement avec la diminution de la durée entre deux acquisitions d'image, et/ou le nombre d'images consécutives. Un pixel individuel subissant une rémanence excessive peut apparaître comme ayant un signal significativement différent de certains ou de tous ses pixcls voisins et présenter un artefact. Par exemple, les pixels subissant plus de rémanence que les pixels voisins peuvent sembler plus brillants tandis que les pixels subissant moins de rémanence que les pixels voisins peuvent sembler plus foncés, quand bien même chacun des pixels aurait reçu le même niveau de radiation. Les artefacts peuvent être de toutes tailles ou formes, par exemple des points, des segments de ligne ou des régions rectangulaires. Les artefacts peuvent étre simplement gênants pour un praticien ou peuvent potentiellement avoir un effet sur un diagnostic. Dans le passé, la rémanence d'image a été caractéri sée par la rémanence moyenne du détecteur. Un détecteur avec une rémanence moyenne tombant dans une plage prédéfinie était considéré comme bon, ou acceptable pour un usage clinique. Un détecteur avec une rémanence moyenne tombant en dehors de la plage prédéfinie était identifié comme non acceptable pour usage clinique et mis au rebut. Malheureusement, les procédés antérieurs ne parvenaient pas à détecter et corriger les pixels individuels, les lignes, ou d'autres artefacts arbitraires dus à des problèmes d'uniformité de rémanence. Par conséquent, il est souhaitable d'identifier quels pixcls, en raison d'une rémanence excessive, présentent un risque inacceptable de présenter des artefacts. Selon au moins un aspect de l'invention, un procédé est proposé pour identifier, dans un détecteur numérique à rayons X, des pixels qui retiennent une quantité de charge suffisante pour provoquer un artefact d'image. Selon le procédé, un seuil d'artefact de rémanence est obtenu qui identifie la quantité de charge résiduelle qui causera des artefacts d'image. L'invention propose, dans un détecteur numérique de rayons X, un procédé d'identification de pixel ayant une quantité de charge résiduelle suffisante pour provoquer un artefact d'image dans des images provenant d'une sortie du détecteur numérique de rayons X, le procédé comprenant: I'obtention d'un seuil d'artefact de rémanence identifiant une quantité de charge résiduelle qui, lorsqu'elle est supportée par des pixcls dans un détecteur numérique de rayons X, causera des artefacts d'i mages; - la détermination d'une rémanence de pixel subie par des pixels dans le détecteur de rayons X; et - I'identification de pixels dans le détecteur numérique de rayons X ayant une rémanence de pixel excédant ledit seuil d'artefact de remanence. Dans un mode de réalisation, la rémanence de pixel représente une quantité de charge rési duelle subi e par un pixel correspond ant. Dans un mode de réalisation, I'étape de détermination inclut le calcul d'une rémanence médiane de pixel basoe sur une quantité de rémanence subie par un groupe de pixcls dans une zone sélectionnce entourant un pixel sélectionné. Dans un cas, le groupe de pixels peut définir une région de pixels d'un cm2 entourant ledit pixel. Dans un mode de réalisation, I'étape de détermination inclut le calcul d'une rémanence excessive de pixel pour un pixel sélectionné, ladite rémanence excessive de pixel représentant une quantité de rémanence excédant une rémanence médiane de pixel pour un groupe de pixels entourant un pixcl sélectionné. Dans un mode de réalisation, le procédé comprend, en outre, I'exposition du détecteur numérique de rayons X à un premier niveau de radiation; I'obtention d'un premier jeu de signaux provenant de pixels dans le détecteur numérique de rayons X représentatifs du premier niveau de radiation; I'exposition du détecteur numérique de rayons X à un second niveau de radiation; I'obtention d'un second jeu de signaux provenant de pixels dans le détecteur numérique de rayons X représentatifs du second niveau de radiation, ledit seuil d'artefact de rémanence étant obtenu sur la base desdits premier et second niveaux de radiation. Dans un mode de réalisation, le premier niveau de radiation est un niveau haut de radiation et le second niveau de radiation est un niveau bas de radiation. Dans un mode de réalisation, le procédé comprend, en outre, I'utilisation d'un ratio desdits premier et second niveaux de radiation et d'une moyenne de pixel entourant un pixel courant pour calculer une rémanence excessive de pixel pour ledit pixel courant, ladite rémanence excessive de pixel représentant une quantité de rémanence excédant ladite moyenne de pixcls. Dans un mode de réalisation, ledit seuil d'artefact de rémanence est représentatif d'un pourcentage de confiance que lesdits pixcls n'auront pas d'artefact d'image. Dans un mode de réalisation, le procédé comprend, en outre, la génération d'une cartographie d'artefacts de pixel de rémanence basée sur lesdits pixcls identifiés comme ayant une rémanence de pixel excédant ledit seuil d'artefact de rémanence. Dans un mode de réalisation, ladite étape d'obtention comprend, en outre, I'obtention d'une valeur de perception déterminée par des études de perception utilisées pour identifier des artefact d'images. Dans un mode de réalisation, ladite étape d'obtention comprend, en outre, I'obtention d'une valeur de perception déterminée par des études de perception utilisces pour identifier des artefacts d'image, ledit seuil d'artefact de rémanence représentant une différence entre ladite valeur de perception et un pourcentage de confiance. Dans un mode de réalisation, ladite étape de détermination comprend en outre l'identification d'une région de pixels entourant un pixel sélectionné, ladite région de pixels étant utilisée pour calculer la rémanence médiane de pixel. Dans un mode de réalisation, le procédé comprend, en outre, I'identification d'une valeur de bruit représentative du bruit subi par ledit détecteur, ladite valeur de bruit étant utilisée pour calculer une rémanence excessive de pixel pour lesdits pixcls. Dans un mode de réalisation, le procédé comprend, en outre, I'identification d'une région de pixels entourant un pixel sélectionné, et le calcul d'une rémanence médiane de pixcl utilisant des valeurs de pixels correspondant à ladite région de pixels, ladite rémanence médiane de pixcl étant utilisce pour calculer une rémanence excessive de pixcl. Dans un mode de réalisation, le procédé comprend, en outre, I'acquisition d'au moins deux jeux de signaux par des expositions répétées du détecteur numérique de rayons X aux radiations et la lecture d'un jeu de signaux; et le calcul d'une rémanence excessive de pixcl basée sur lesdits au moins deux jeux de pixels. L' i nventi on propose un proc édé de calcul d'une cartographi e d'artefact de pixcl de rémanence pour un détecteur de rayons X, comprenant: I'exposition d'un détecteur numérique de rayons X aux radiations; - consécutivement la lecture du détecteur de rayons X pour obtenir au moins deux jeux de valeurs de pixcls; - I'obtention d'un seuil d'artefact de rémanence identifiant une quantité de charge résiduelle qui, lorsqu'elle est subie par des pixcls dans le détecteur numérique de rayons X, causera des artefacts d'images; - le calcul d'une rémanence excessive de pixcl pour au moins un pixcl dans le détecteur numérique de rayons X, et - lorsque ladite rémanence excessive de pixel excède ledit seuil d'artefact de rémanence, I'ajout dudit au moins un pixel correspondant à ladite rémanence excessive de pixcl à une cartographie d'artefacts de pixels de rémanence. Dans un mode de réalisation, I'étape d'obtention comprend en outre l'identification d'une valeur de perception déterminée par des études de perception utilisées pour identifier des artefacts d'image. Dans un mode de réalisation, ledit seuil d'artefact de rémanence est représentatif d'un pourcentage de confiance que ledit au moins un pixel n'aura pas d'artefact d'image. Dans un mode de réalisation, I'étape de calcul comprend, en outre, I'identification d'un premier pixcl dans un premier jeu de valeurs de pixels, et l'identification d'un second pixel dans un second jeu de valeurs de pixels correspondant audits premiers pixels, lesdits premier et second pixels étant utilisés pour calculer ladite rémanence excessive de pixcl. Dans un mode de réalisation, I'étape d'identification d'un second pixcl comprend en outre l'identification d'un troisième pixel dans un troisième jeu de valeurs de pixcls correspondant auxdits premiers pixcls, lesdits premier et troisième pixels étant utilisés pour calculer ladite rémanence excessive de pixel. Dans un mode de réalisation, un second jeu de valeurs de pixels est acquis dans un délai de 200 millisecondes après 1'acquisition du premier jeu de valeurs de pixcls. Dans un mode de réalisation, le procédé comprend, en outre, I'identification d'une valeur de bruit déterminée par le bruit subi par ledit détecteur, et l'identification d'un niveau de radiation correspondant auxdites radiations, et l'utilisation de ladite valeur de bruit et dudit niveau de radiation pour calculer ladite rémanence excessive de pixcl. Dans un mode de réalisation, I'étape d'obtention comprend en outre l'utilisation d'au moins une valeur de perception déterminée par des études de perception pour calculer au moins un seuil d'artefact de rémanence. Dans un cas, le groupe de pixcls peut définir une région de pixels d'un cm2 entourant ledit pixcl. La rémanence excessive de pixel peut être calculée en utilisant un rapport de la charge retenue sur un pixel courant et de la charge moyenne retenue pour un jeu de pixels entourant le pixel courant. En identifi ant quel s pi xcl s dans le détecteur numéri que de rayons X peuvent provoquer des artefacts d'image dûs à une rémanence excessive, les artefacts d'image peuvent être corrigés. Ceci est avantageux car les artefacts d'image peuvent troubler le technicien ou le radiologue qui regarde l'image radiologique. En plus, la présence d'artefacts d'image peut conduire le radiologue à prescrire des examens par scanners ou des tests additionnels non nécessaires pour confirmer que les artefacts d'image ne sont pas représentatifs de l'anatomie du patient. Les scanners additionnels ajoutent au coût global et sont indésirables car le patient peut être exposé à des radiations supplémentaires. La présente invention sera mieux comprise à la lecture de la description détaillée de quelques modes de réalisation pris à titre d'exemples nullement limitatifs et illustrés par les dessins annexés, sur lesquel s: - la figure 1 est une vue schématique d'un système d'imagerie radiologique selon un mode de réalisation de l'invention; - la figure 2 est une vue schématique du circuit d'un arrangement photodétecteur selon un mode de réalisation de l'i nventi on; - la figure 3 est un diagramme montrant des courbes de distribution avec la rémanence moyenne de pixcls et une distribution avec une rémanence excessive de pixel selon un mode de réalisation de l'invention; - la figure 4 est un organigramme montrant les étapes d'un procédé pour identifier et corriger les pixcls ayant une rémanence excessive selon un mode de réalisation de l'invention; et - la figure 5 est un diagramme de distribution des valeurs de pixel utilisées pour calculer la rémanence moyenne de pixel selon un aspect de 1'invention. Il doit être bien compris que la présente invention n'est pas limitée aux di spositifs et machines ill ustrés sur les des sins. Comme on peut le voir sur la figure 1, un appareil à rayons X 14 comprend un tube à rayons X 15 qui, lorsqu'il est excité par une alimentation de puissance 16, émet un faisccau de rayons X 17. Le faisceau de rayons X 17 est dirigé vers un patient 18 reposant sur une table 20 transparente aux rayons X. La portion du faisccau 17 qui est transmise à travers la table 20 et le patient 18 arrive sur le détecteur de rayons X référencé 22. Le détecteur de rayons X 22 comprend un scintillateur 24 qui convertit les photons X en photons d'énergie plus faibles, c'est-à-dire des photons dans les fréquences lumineuses. Contigues au scintillateur 24 sont prévues des rangées de photodétecteurs 26 qui convertissent les photons lumineux en un signal électrique. Une commande de détecteur 27 contient les éléments électroniques pour faire fonctionner les rangées de détecteurs de façon à effectuer l'acquisition d'une image et à lire le signal provenant de chaque élément photodétecteur. Le signal de sortie des rangées de photodétecteurs 26 est couplé à un processeur d'images 28 qui comprend les circuits pour traiter et améliorer le signal d'image radiologique. L'image traitée est affichée sur un moniteur vidéo 32 et peut être archivée dans un dispositif de stockage d'images 30. Le processeur d'images 28 produit en outre un signal de commande de brillance qui est appliqué à un circuit de commande d'exposition 34 pour réguler 1'alimentation de puissance 16 et ainsi 1'exposition aux rayons X. Le fonctionnement général de l'appareil à rayons X 14 est gouverné par une commande de système 36 qui reçoit des instructions du technicien par 1'intermédiaire d'un panneau d'interface opérateur 38. La figure 2 montre les circuits des rangées de photodétecteurs 26 qui sont formés par une matrice d'éléments détecteurs 40. Les éléments détecteurs 40 sont disposés sur un substrat de silicium amorphe dans un arrangement conventionnel bidimensionnel de m colonnes et n rangées, avec m et n des entiers. Par exemple, un détecteur à rayons X haute résolution typique est une matrice carrée de 1000 à 4000 rangées et colonnes d'éléments. Chaque élément détecteur comprend une photodiode 42 et un transistor à couches minces 44. Les photodiodes 42 sont fabriquces à partir d'une large zone de substrat de façon que la photodiode 42 intercepte une portion assez grande de la lumière produite par le scintillateur 24. Chaque photodiode 42 a également une capacité relativement importante qui lui permet de stocker la charge électrique résultant de l'excitation photonique. La cathode des photodiodes 42 dans chaque colonne de I'arrangement 26 est connectée par la voie de conduction source-drain du transistor à couches minces associé 44 à une ligne de signaux de colonnes, référencées 48-' à 48-m, commune pour la colonne. Par exemple, les photodiodes 42 de la colonne 1 sont couplées à la première ligne de signal 48-'. Les anodes des diodes dans chaque rangée sont connectées en commun à une source d'une tension négative de polarisation -V. Les électrodes de grille des transistors à couches minces 44 dans chaque rangée sont connectées à une ligne commune de sélection de rangées référencée 46-' à 46-n, telle que la ligne 46-' pour la rangée 1. Les lignes de sélection de rangée et les lignes de signaux de colonnes sont reliés à la commande de détecteur 27 et les lignes de signaux de colonnes sont également connectées au processeur d'images 28. Pour effectuer l'acquisition d'une image radiologique en utilisant le détecteur 22 illustré sur la figure 1, I'appareil 14 peut effectuer la séquence suivante d'étapes. Initialement, la commande de détecteur 27 connecte toutes les lignes de signaux de colonnes 48- à 48-m à la masse et applique une tension positive Von à toutes les lignes de sélection de rangées 46- à 46-n. La tension positive appliquce aux lignes de sélection de rangées rend passant les transistors à couches minces 44 dans chaque élément détecteur 40 plaçant une charge positive sur les photodiodes 42 polarisées en inverse. Une fois que les photodi odes 42 ont été complètement chargées, la co mmande de détecteur 27 applique une tension négative -Voff, qui est plus négative que la tension d'alimentation négative -V, aux lignes de sélection de rangées 46-' à 46n. Cette polarisation négative des lignes de sélection de rangée bloque les transistors à couches minces 44 dans chaque élément détecteur 40. Alors, le détecteur 22 est exposé à une pulsation de photons X produits de façon conventionnelle par le tube d'excitation 1S du système pour générer un faisceau 17 de photons X. Les photons X sont convertis en photons d'énergie plus faible par le scintillateur 24. Lorsque ces photons d'énergie plus faible viennent frapper les photodiodes 42 dans le détecteur 26, les paires électron-trou sont libérées et stockées dans la capacité de la photodiode. La quantité de charge stockée dans une photodiode 42 donnée dépend de la quantité de photons d'énergie faible qui la frappe, laquelle à son tour dépend de l'intensité de l'énergie de rayons X qui frappent la région du scintillateur 24 adjacent à la photodiode. Ainsi, la quantité de charge stockée dans la photodiode 42 dans chaque élément détecteur 40 est une fonction de l 'i ntensité de rayons X frapp ant la région correspondante du détecteur de rayons X 22. Après la fin de l'exposition aux rayons X, la charge résiduelle de chaque photodiode 42 est mesurce. Pour ce faire, la ligne de signaux de colonne 48- à 48m pour chaque colonne de matrice de détecteurs est simultanément connoctée à des circuits de mesure séparés dans le processeur d'images 28. Tous types de circuits de mesure peuvent étre incorporés dans le processeur d'images 28. Par exemple, le circuit de mesure peut mesurer la tension aux bornes de la photodi ode, et ainsi la quantité de charge stockée dans la photodi ode. De façon alternative, le circuit de mesure peut connecter la ligne de signaux de colonne associés 48- à 48m à un potentiel plus faible que la cathode de la photodiode et mesurer la quantité de charge qui se déplace vers ou en provenance de la photodiode. Pour une résolution d'image maximale, les charges de la photodiode sont mesurées une rangée à la fois par la commande de détecteur 27 qui applique séquentiellement une tension positive Von à chacune des lignes de sélection de rangées 46-' à 46-n. Lorsqu'une ligne de sélection de rangées 46- à 46-n est polarisée positivement, les transistors à couches minces 44 de la matrice de détecteurs connoctés à ladite ligne de sélection de rangées 46-t à 46n sont mis en conduction couplant ainsi les photodiodes associées dans la rangée sélectionnce à leur ligne de signaux de colonnes 48-t à 48-m. Chaque élément détecteur 40 correspond à un pixel dans l'image résultante. Toutefois, le niveau de la charge de la photodiode détermine la valeur du pixel correspondant. Une valeur de pixcl P" après correction de décalage, est proportionnelle au niveau de l'exposition d'entrée E, comme le montre l'équation 1 suivante: P. = mE, - /3mE, Equation 1 dans lequel P est la valeur de pixel, E est l'exposition d'entrée (aussi notée kVc), m est le coefficient de réponse, et,t3 est la rémanence médiane de pixel des pixels de la région du détecteur 22 qui entoure le pixel. Le coefficient de réponse m est fixé pour un détecteur 22 donné et un spectre d'énergie de rayons X donné, et peut varier d'un détecteur 22 à 1'autre. Ainsi, si un pixel est exposé à une exposition d'entrée E1 accrue, la valeur de pixel P1 va augmenter. Un pixel exposé de multiples fois à une exposition d'entrée E1 ne peut pas produire une valeur de pixel identique P1 pour chaque exposition E1. Par exemple si un pixel "A" est exposé de multiples fois à une exposition d'entrée E1 substantiellement similaire, et si les expositions sont séparées dans le temps de façon qu'aucune charge résiduelle ne soit retenue dans le détecteur 22, les valeurs de pixel P1 pour le pixel "A" va produire une distribution normale, telle qu'une distribution gausslenne. Un pixcl est identifié comme un artefact si la valeur P de pixel satisfait à 1'inégalité suivante: |P-,ul > Kab Equation 2 dans lequel est la valeur moyenne pour des pixels voisins et ab est la valeur de déviation standard pour les pixels voisins et représente le bruit de fond. La zone du détecteur 22 qui définit les pixels voisins est décrite ci-dessous. Prendre la valeur absolue de la différence entre la valeur P de pixel et la valeur moyenne,u permet l'identification de valeurs P de pixel avec une rémanence excessive soit au dessus, soit en dessous de la moyenne. Le paramètre K dépend de l'application. Lorsque le paramètre K devient grand, un moins grand nombre de pixels sont identifiés comme artefacts. La valeur de K est typiquement déterminée par des études de perception dans lesquelles des pixels isolés, des lignes et d'autres artefacts sont générés à différents ratios de signal sur bruit. Une valeur typique de K est 1, mais K peut prendre une valeur entre 0,25 et 6 selon l'application et la taille de 1'artefact considéré. La valeur de K peut étre choisie pour un détecteur particulier 22 en raison de la taille et de la forme des artefacts spécifiques au détecteur 22. Une valeur plus petite de K telle que K=1 peut étre utilisée fournissant des restrictions plus strictes pour que les pixels soient considérés comme bons. En plus, I'appareil à rayons X 14 peut utiliser seulement une valeur de K indépendamment de l'acquisition en cours. Si une seconde image est acquise très rapidement après la première image, comme en imagerie bi-énergie, la valeur pour un pixel dans la seconde image après correction de décalage est: P: = mE + /3m(E, - E:) Equation 3 dans lequel P2 est la valeur de pixel dans la deuxième image, E1 est le niveau d'exposition de la première image, E2 est le niveau d'exposition de la deuxième image, et est la rémanence médiane de pixcl des pixels dans la région du détecteur 22 qui entoure le pixel. Comme précédemment, m est le coefficient de réponse et est fixé pour un détecteur donné et un spectre d'énergie de rayons X donné. La rémanence médiane de pixel 0, toutefois, peut varier à l'intérieur du détecteur et est en conséquence calculée sur une zone petite, telle que 1 ou 2 cm2. Par exemple, la valeur de la rémanence médiane de pixel peut être calculée sur 1 cm2 entourant le pixel. Comme illustré dans l'équation 3, la rémanence est proportionnelle à la différence entre les expositions E1 et E2 multipliée par la rémanence médiane de pixel p. Un pixel avec une valeur de rémanence au-delà d'un certain seuil de visibilité, peut apparaître comme un artefact d'image tel qu'un point ou une ligne d'artefact. Pour un pixel avec une rémanence excessive de pixel, la valeur de pixel peut être obtenue à partir de l'équation suivante: P:=mE:+ (3+)m(E,-E) Equation 4 dans laquelle y représente la rémanence excessive de pixel. La rémanence excessive de pixel y représente une déviation spécifique de pixel à partir de la rémanence médiane de pixcl 0, et est dépendante du pixel. En d'autres termes, chaque pixel peut avoir une quantité différente de rémanence excessive de pixel y. La rémanence excessive de pixel peut être représentée par un nombre positif si elle est plus grande que la rémanence médiane de pixel 0, ou par un nombre négatif si elle est plus petite que la rémanence médiane de pixel [3. Bien que chaque pixcl puisse subir un certain niveau de rémanence excessive de pixel, tous les pixels qui subissent une rémanence excessive de pixel ne présentent pas un artefact. La figure 3 illustre la distribution de la réponse d'un pixel ayant une rémanence médiane de pixel et la distribution de la réponse d'un pixcl ayant une rémanence excessive de pixel y. Un pixel ayant une rémanence médiane de pixel est représenté par la distribution 102. La distribution 102 a une valeur moyenne M1 106. Un pixel ayant une rémanence excessive de pixel y est représenté par la distribution 104. La distribution 104 a une valeur moyenne M2 108. La distribution 104 représente la valeur absolue d'un pixcl ayant une rémanence excessive de pixel y, la rémanence excessive de pixcl y pouvant être au dessus ou endessous de la rémanence médiane de pixel p. Les distributions 102 et 104 représentent la probabilité qu'une valeur de pixel P2 soit une valeur donnée, comme vu précédemment pour P1 à 1'équation 1 et une distribution normale. La distribution 102 représente la valeur P2 de pixcl pour un pixel qui subit une rémanence médiane de pixcl comparce à ses pixels voisins, voir équation 3. Souvent, un pixcl subissant une rémanence médiane de pixel sera à la moyenne ou valeur moyenne M1 106. La distribution 104 présente la valeur P2 de pixel qui subit une rémanence médiane de pixcl plus une rémanence excessive de pixel y comparce à ses pixels voisins, comme exprimé à l'équation 4. Souvent, un pixel subissant une rémanence excessive de pixel y sera à la moyenne ou à la valeur moyenne M2 108. Pour la distribution 104, un pourcentage de confiance que le pixel ne sera pas un artefact peut étre déterminé. La relation peur étre écrite comme suit: |mE+m(+y)(E-E2)+F()l valeur est fixce pour un détecteur 22. Comme vu plus haut, la valeur de K est typiquement déterminée par des études de perception. Dans la figure 3, la valeur de K est 5, bien que K puisse être un nombre différent, tel que 1, tant que K est supérieur à F(a). La valeur moyenne M1 106 + K détermine le seuil d'artefact de rémanence 110 illustré dans la figure 3. En d'autres termes, le seuil d'artefact de rémanence 110 peut être défini par le second terme disposé à droite de l'inégalité de l'équation 5. Les valeurs P2 de pixel qui dépassent le seuil d'artefact de rémanence 110 peuvent présenter un artefact. Le terme a est le pourcentage de confiance que le pixcl ne présentera pas d'artefact et la fonction F(a) satisfait l'équation sui vante: mE2+(+y) m(FI -E2)+F()o N(Pj) a=100 i- Equation 6 dans lequel T est le nombre total de pixels, et N(P;) est le nombre de pixels ayant la valeur i de pixcl. La table ci-dessous donne une li ste d'exempl es de val eurs pour la foncti on F( a) dans l 'hypoth èse d'une distribution gaussienne: a( %) F(a) 1,645 1,285 1,035 0,675 0,255 0 La fonction F(a) n'a pas besoin d'être fixée pour chacune des valeurs du tableau, mais est typiquement inférieure à la valeur de K. Les valeurs pour la fonction F(a) peuvent être tirées de toute distribution mathématique ou être générées à partir de distributions mesurées. En fixant le pourcentage de confiance a à 95 % dans 1'équation 6, un seuil de confiance 112 est identifié dans la figure 3. Pour la clarté, le seuil de confiance 112 est illustré comme un nombre de valeurs de pixel à gauche du seuil d'artefact de rémanence 110. Toutefois, le seuil de confiance 112 et le seuil d'artefact de rémanence peuvent être ensuite plus éloignés ou plus proches 1'un de 1'autre en valeur de pixcl. La zone hachurée de la distribution 104 limitée d'un côté par le seuil de confiance 112, représente 95 % du nombre total de valeurs P2 de pixel dans la distribution 104. Ainsi, il y a une confiance de 95 % que le pixel de valeur moyenne M2 108 ne présentera pas d'artefact. L'équation 5 peut étre réarrangée pour fournir 1'équation 7: Imy(Ei E9)| 106 plus 5a peut présenter un artefact. La figure 4 montre une méthode pour identifier et corriger des pixels ayant une rémanence excessive de pixel y. A l'étape 150, le processeur d'images 28 peut assurer d'autres procédures d'étalonnage du détecteur 22, tel que pour identifier des pixels qui ne satisfont pas précisément à la relation exprimée à l'équation 1 et pour déterminer la correction de gain, etc. Les procédures d'étalonnage de l'étape 150 peuvent étre accomplies avant ou après que les pixels présentant une rémanence sont identifiés. Les pixels identifiés comme mauvais peuvent étre 8tés de la procédure d'identification des pixels présentant une rémanence, comme expliqué cidessus. Alternativement, le processeur d'images peut identifier des pixels mauvais connus par un accès à des donnces de correction déjà stockées dans le processeur d'images 28. A l'étape 152, un opérateur utilise la commande de système 36 pour exposer le détecteur de rayons X 22 à un premier niveau de radiation E1. Ni collimateur, ni patient 18, ni table 20 n'est placé entre le tube à rayons X et le détecteur 22 de façon que le détecteur 22 reçoive un niveau uniforme de radiations. Par exemple, le détecteur 22 peut être exposé à un niveau haut de radiations, tel que 110-140 kVc. A l'étape 154, le processeur d'images 28 lit chacune des photodiodes 42 dans le détecteur 22 comme expliqué plus haut et les signaux sont stockés dans le processeur d'images 28. Le signal lu à partir de chaque photodiode 42 représente une valeur P1 de pixel, comme illustré dans l'équation 1. Ensuite, à l'étape 156, la commande de système 36 expose le détecteur 22 à un second niveau de radiation E2. La durée entre la première exposition à l'étape 152 et la deuxième exposition à 1'étape 156 est courte. A titre d'exemple seulement, pas plus de 200 milli secondes ne s'écoulent entre les première et seconde expositions du détecteur 22. Si plus de temps s'écoule entre les première et seconde expositions et entre les deux opérations de lecture du détecteur 22, le détecteur 22 ne peut pas retenir 1'information d'images, c'est-à-dire la charge résiduelle, de la première exposition. De cette façon, le détecteur 22 ne peut pas présenter la rémanence médiane de pixcl et la rémanence excessive de pixcl qui peut étre subie par le détecteur 22 en usage normal, si une durce trop longue s'écoule. Le niveau kVc de la deuxième exposition n'est pas important. Le second niveau de radiation E2 peut être plus élevé que le premier niveau de radiation E1, être le même, ou être inférieur. Le second niveau de radiation E2 peut être 0. Par exemple, il est possible d'omettre l'étape 156 et de ne pas exposer le détecteur 22 une seconde fois. En plus, comme expliqué ci-dessous, en n'exposant pas le détecteur 22 une deuxième fois, la rémanence excessive de pixel présentée par un pixel peut être plus facilement calculée. Ainsi, pour la suite de la description de la figure 4, le second niveau de radiation E2 est réglé à 0. A l'étape 158, le processeur d'images 28 lit le détecteur 22 une seconde fois, de la même façon qu'à 1'étape 154, et les signaux sont stockés dans le processeur d'images 28. Le niveau de signal pour chaque photodiode 42 représente une valeur de pixel P2. La valeur de pixel P2 est représentée par 1'équation 3 si le pixel individuel présente la rémanence médiane de pixel ou par l'équation 4 si le pixel individuel présente la rémanence excessive de pixel y. A l'étape 160, le processeur d'images 28 calcule un seuil d'artefact de rémanence pour un pourcentage de confiance a, tel que %, en utilisant 1'équation 7 ou 8. Comme la rémanence médiane de pixel n'est pas utilisée par les équations 7 et 8, un unique seuil d'artefact de rémanence 110 peut être calculé pour le détecteur entier 22. Le processeur d'images 28 peut également calculer la plus grande valeur possible pour la rémanence excessive de pixcl dans l'équation 7 ou 8 pour le seuil d'artefact de rémanence 110 calculé. A l'étape 162, le processeur d'images identifie un pixel premier ou suivant et une région correspondante du détecteur 22 à traiter. Comme la rémanence médiane de pixel peut varier en valeur sur le détecteur 22 comme expliqué au préalable, une région de pixel dans le détecteur 22 entourant le pixel à traiter est identifiée. Optionnellement, la région est de 1 cm2. La figure 5 illustre une distribution de valeur de pixel P2 utilisée pour calculer la rémanence médiane de pixel,B. La distribution , la rémanence médiane de pixel 202, le seuil d'artefact de rémanence 204 calculé à 1'étape 160 et les valeurs de rémanence excessives de pixel 206 et 208 sont illustrés. Comme vu ci-dessus, la rémanence excessive de pixel y peut étre inférieure à la rémanence médiane de pixel [3 202, mais une valeur positive de la rémanence excessive de pixcl est illustrée dans la figure 5 pour des raisons de clarté. A l'étape 164, la rémanence médiane de pixel est calculée en trouvant la valeur médiane des valeurs de pixel P2 dans la région identifiée à l'étape 162. La distribution 200 représente les valeurs de pixcl P2 dans la région. Les valeurs de pixel P2 ont une rémanence médiane de pixcl 202. Il est possible qu'une ou plusieurs valeurs de pixel P2 soient tellement plus élevées ou plus faibles que la majorité des valeurs de pixcl P2 dans la région que la rémanence médiane de pixel,B 202 calculée en utilisant toutes les valeurs de P2 dans la région n'est pas représentative. En option, une rémanence médiane de pixel 202 plus robuste peut être calculée en déterminant un seuil additionnel qui identifiera automatiquement les pixels qui ont des valeurs de pixel P2 trop éloignées de la médiane et otera les valeurs de pixel du calcul de la rémanence médiane de pixel p. Des mauvais pixels peuvent être causés par un dysfonctionnement dans le détecteur 22, par exemple, et peuvent avoir été identifiés par d'autres procédures d'étalonnage, comme expliqué en référence à 1'étape 150. A l'étape 166, le processeur d'images calcule la rémanence excessive de pixel pour le pixel identifié à l'étape 62. Comme expliqué ci-dessus, le détecteur 22 n'est pas exposé à un second niveau de radiations, c'est-àdire E2=0. Ainsi, en fixant E2 = 0 et en substituant 1'équation 1 dans 1'équation 4, le processeur d'images peut calculer la rémanence excessive de pixel en utilisant l'équation 9: Y = p Deux valeurs 206 et 208 de rémanence excessive de pixel sont illustrées sur la figure 5. Chacune illustre la rémanence excessive de pixcl pour un unique pixcl comme calculé par l'équation 9. La valeur 206 de rémanence excessive de pixel est située sous le seuil d'artefact de rémanence 204 et la valeur 208 de rémanence excessive de pixel est au-dessus du seuil d'artefact de décalage 204. Ensuite, à l'étape 168, le processeur d'images compare la rémanence excessive de pixel y calculée à l'étape 166 au seuil d'artefact de décalage 204 identifié à 1'étape 160. Si la rémanence excessive de pixel est inférieure au seuil d'artefact de décalage 204, c'est-à-dire à la ligne 206 de la figure 5, le pixcl ne présente pas d'artefact, et on passe à l'étape 172. Si la rémanence excessive de pixel y dépasse le seuil d'artefact de décalage 204, c'est-à-dire la ligne 208 de la figure S. le pixcl peut présenter un artefact et on passe à l'étape 170. A l'étape 170, le processeur d'images 28 ajoute le pixcl à la cartographie d'artefact de pixcl de rémanence. La cartographie d'artefact de pixel de rémanence identifiera les pixcls qui peuvent présenter un artefact provoqué par une rémanence excessive de pixel y. Par exemple, le pixel qui présente une rémanence excessive de pixel 208 est ajouté à la cartographie d'artefact de pixel de rémanence. A l'étape 172, le processeur 28 détermine si tous les pixels du détecteur 22 ont été traités. Si des pixels restent à traiter, on passe à I'étape 162, dans laquelle le pixel suivant et la région sont identifiés. Si tous les pixcls ont été traités, la commande passe à l'étape 174. A l'étape 174, le processeur 28 combine la cartographie d'artefact de pixel de rémanence avec d'autres cartographies de pixels défectueux (telles que des cartographies qui peuvent avoir été créces par des procédure d'étalonnage à 1'étape 150) pour crcer une cartographie composite de pixcls défectueux. Si un pixel est identifié comme défectueux par l'une quelconque des cartographies de pixels défectueux, ledit pixel est identifié comme défectueux sur la cartographie composite de pixels défectueux. Le processeur d'images 28 peut corriger les pixels identifiés dans la cartographie composite de pixels défectueux en remplaçant le pixel dans l'image par une moyenne des pixels voisins, par exemple: comme la réponse de l'élément détecteur 40 contient un bruit a, le fait de compléter le calcul pour rémanence excessive de pixel une fois, comme illustré dans la figure 4, peut introduire une quantité d'incertitudes. Le bruit peut être du au bruit électronique et/ou au bruit quantique. Pour parvenir à une rémanence excessive de pixel plus robuste, le procédé de la figure 4 peut être répété de multiples fois (par exemple 5 fois). En répétant le procédé, le bruit peut être réduit et le pourcentage de confiance F(a) peut s'améliorer. En addition, le procédé de la figure 4 peut être répété en utilisant une valeur différente du coefficient k dans le but d'identifier les pixels susceptibles d'artefact d'image de différentes tailles et formes. Alternativement, le procédé de la figure 4 peut être modifié. Le détecteur peut être exposé aux radiations, comme à l'étape 152, ensuite le détecteur est lu de une à N fois, en répétant l'étape 154. Dans un mode de réalisation de l'invention, N est égal à 5, mais N peut être n'importe quel nombre supérieur à 2. Chaque lecture du détecteur 2 de la deuxième à la énième est ensuite comparé à la première lecture du détecteur en répétant les étapes 160 à 172. La cartographie d'artefact de pixcl de rémanence peut ainsi être créée en moyennant la rémanence excessive de pixcl calculée pour chaque lecture du détecteur de la deuxième à la énième pour chaque pixcl. Alternativement, la cartographie d'artefact de pixel de décalage peut être créée en identifiant les pixels qui présentent une rémanence excessive de pixel y pour un ou plusieurs calculs. En option, le procédé de la figure 4 peut être modifié pour exposer le détecteur aux radiations de multiples fois. Par exemple, les étapes 152 à 158 peuvent être répétées plusieurs fois et plusieurs images peuvent être prises. Les étapes 160 à 172 peuvent ensuite être répétées en utilisant les première et seconde images, les seconde et troisième images, les troisième et quatrième images et ainsi de suite. Comme vu ci-dessus, la cartographie d'artefact de pixel de rémanence peut être créée en moyennant la rémanence excessive de pixel y calculée pour chaque jeu d'images, ou en identifiant tous les pixcls qui présentent une rémanence excessive de pixcl dans l'un quelconques des jeux d'images. Les artefacts provoqués par des pixcls ayant une rémanence excessive de pixels y peuvent être gênants pour le radiologiste, ou peuvent éventuellement conduire le patient à subir des examens radiologiques additionnels non nocessaires. Dans des cas extrêmes; les artefacts peuvent conduire à une erreur de diagnostic. En identifiant le pixel dans un détecteur numérique de rayons X qui subissent une quantité excessive de rémanence, les artefacts peuvent être corrigés avant que l'image soit vue par un technicien ou un radiologue. Par conséquent, une image libre d'artefacts causés par la rémanence excessive de pixel peut être évaluée par ces personnes. Bien que l'invention ait été décrite en référence à au moins un mode de réalisation, il doit être compris que différentes modifications peuvent être faites ou équivalents substitués sans sortir du cadre de l'invention. En outre, de nombreuses modifications peuvent être faites pour adapter une situation particulière ou un matériel particulier aux enseignements de l'invention sans sortir de son cadre. REVENDICATIONS 1. Dans un détecteur numérique de rayons X, procédé d'identification de pixcls ayant une quantité de charge résiduelle suffisante pour provoquer un artefact d'image dans des images provenant d'une sortie du détecteur numérique de rayons X, le procédé comprenant: - l'obtention d'un seuil d'artefact de rémanence identifiant une quantité de charge résiduelle qui, lorsqu'elle est supportée par des pixels dans un détecteur numérique de rayons X, causera des artefacts d'images; - la détermination d'une rémanence de pixel subie par des pixcls dans le détecteur de rayons X; et - l'identification de pixels dans le détecteur numérique de rayons X ayant une rémanence de pixel excédant ledit seuil d'artefact de rémanence. 2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel la rémanence de pixcl représente une quantité de charge résiduelle subie par un pixcl correspondant. 3. Procédé selon la revendication 1 ou 2, dans lequel l'étape de détermination inclue le calcul d'une rémanence médiane de pixel basée sur une quantité de rémanence subie par un groupe de pixels dans une zone sélectionnée entourant un pixel sélectionné. 4. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes dans lequel l'étape de détermination inclue le calcul d'une rémanence excessive de pixel pour un pixel sélectionné, ladite rémanence excessive de pixel représentant une quantité de rémanence excédant une rémanence médiane de pixel pour un groupe de pixels entourant un pixel sélectionné. 5. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, comprenant en outre: - l'exposition du détecteur numérique de rayons X à un premier niveau de radiation; - I'obtention d'un premier jeu de signaux provenant de pixels dans le détecteur numérique de rayons X représentatifs du premier niveau de radiation; - I'exposition du détecteur numérique de rayons X à un second niveau de radiation; - I'obtention d'un second jeu de signaux provenant de pixels dans le détecteur numérique de rayons X représentatifs du second niveau de radiation, ledit seuil d'artefact de rémanence étant obtenu sur la base desdits premier et second niveaux de radi ation. 6. Procédé selon la revendication S. dans lequel le premier niveau de radiation est un niveau haut de radiation et le second niveau de radiation est un niveau bas de radiation. 7. Procédé selon la revendication S ou 6, comprenant en outre I'utilisation d'un ratio desdits premier et second niveaux de radiation et d'une moyenne de pixels entourant un pixel courant pour calculer une rémanence excessive de pixcl pour ledit pixel courant, ladite rémanence excessive de pixel représentant une quantité de rémanence excédant ladite moyenne de pixels. 8. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel ledit seuil d'artefact de rémanence est représentatif d'un pourcentage de confiance que lesdits pixels n'auront pas d'artefact d'image. 9. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, comprenant en outre la génération d'une cartographie d'artefacts de pixel de rémanence basoe sur lesdits pixcls identifiés comme ayant une rémanence de pixel excédant ledit seuil d'artefact de rémanence. 10. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel ladite étape d'obtention comprend en outre l'obtention d'une valeur de perception détermince par des études de perception utilisces pour identifier des artefact d'images. 11. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel ladite étape d'obtention comprend en outre l'obtention d'une valeur de perception déterminée par des études de perception utilisces pour identifier des artefacts d'images, ledit seuil d'artefact de rémanence représentant une différence entre ladite valeur de perception et un pourcentage de confiance. 12. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel ladite étape de détermination comprend en outre I'identification d'une région de pixcls entourant un pixel sélectionné, ladite région de pixcls étant utilisée pour calculer la rémanence médiane de pixel. 13. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, comprenant en outre l'identification d'une valeur de bruit représentative du bruit subi par ledit détecteur, ladite valeur de bruit étant utilisée pour calculer une rémanence excessive de pixel pour lesdits pixcls. 14. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, comprenant en outre l'identifi cati on d'une régi on de pixel s entourant un pixel sélectionné, et le calcul d'une rémanence médiane de pixel utilisant des valeurs de pixels correspondant à ladite région de pixels, ladite rémanence médiane de pixel étant utilisée pour calculer une rémanence excessive de pixel. 15. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, comprenant en outre l'acquisition d'au moins deux jeux de signaux par des expositions répétées du détecteur numérique de rayons X aux radiations et la lecture d'un jeu de signaux; et le calcul d'une rémanence excessive de pixel basée sur lesdits au moins deux jeux de pixels. 16. Procédé de calcul d'une cartographie d'artefacts de pixels de rémanence pour un détecteur de rayons X, comprenant: - I'exposition d'un détecteur numérique de rayons X aux radiations; - consécutivement la lecture du détecteur de rayons X pour obtenir au moins deux jeux de valeurs de pixels; - I'obtention d'un seuil d'artefact de rémanence identifiant une quantité de charge résiduelle qui, lorsqu'elle est subie par des pixels dans le détecteur numérique de rayons X, causera des artefacts d'images; - le calcul d'une rémanence excessive de pixcl pour au moins un pixel dans le détecteur numérique de rayons X, et - lorsque ladite rémanence excessive de pixcl excède ledit seuil d'artefact de rémanence, I'ajout dudit au moins un pixel correspondant à ladite rémanence excessive de pixel à une cartographie d'artefacts de pixcls de rémanence. 17. Procédé selon la revendication 16, dans lequel 1'étape d'obtention comprend en outre l'identification d'une valeur de perception déterminée par des études de perception utilisées pour identifier des artefacts d'images. 18. Procédé selon la revendication 16 ou 17, dans lequel ledit seuil d'artefact de rémanence est représentatif d'un pourcentage de confiance que ledit au moins un pixel n'aura pas d'artefact d'images. 19. Procédé selon l'une quelconque des revendications 16 à 18, dans lequel l'étape de calcul comprend en outre: - I'identification d'un premier pixel dans un premier jeu de valeurs de pixels; et I'identification d'un second pixel dans un second jeu de valeurs de pixels correspondant audits premiers pixels, lesdits premier et second pixels étant utilisés pour calculer ladite rémanence excessive de pixcl. 20. Procédé selon la revendication 19, dans lequel 1'étape d'identification d'un second pixel comprend en outre l'identification d'un troisième pixel dans un troisième jeu de valeurs de pixels correspondant auxdits premiers pixels, lesdits premier et troisième pixels étant utilisés pour calculer ladite rémanence excessive de pixcl. 21. Procédé selon l'une quelconque des revendications 16 à 20, dans lequel un second jeu de valeurs de pixels est acquis dans un délai de milli secondes après 1'acquisition du premier jeu de valeurs de pixels. 22. Procédé selon l'une quelcouque des revendications 16 à 21, comprenant en outre: - I'identification d'une valeur de bruit déterminée par le bruit subi par ledit détecteur, et - Plientificalion d'un niveau de [sdiu1ion co[[espondan audiles radiations, at [utuisstion de ladite velour de b[ul1 at dudi1 nlvoau de radla110n pour calculer ladite [6manence excessive de pixel. 23. Precede Solon Dune quelcouque des [evendicu110ns 16 22, darts lequel 1'61ape d'obiention comp[end en out[e l'utulsation d'au mains une valeur de perception d61e[minde par des d1udes de