Brevet FR2819136A1 — publié le 20020705

! PROCEDE ET DISPOSITIF DE CORRECTION AUTOMATIQUE DE DECALAGE DANS DES SYSTEMES DE PRISE D'IMAGES EN RAYONS X FLUOROSCOPIQUES NUMERIQUES RENVOI A DES APPLICATIONS ASSOCIEES (s'il y a lieu) Ne s'applique pas. DECLARATION CONCERNANT LA RECHERCHE ET LE DEVELOPPEMENT SOUTENUS PAR LES AUTORITES FEDERALES (s'il y a lieu) Ne s'applique pas. HISTORIQUE DE L'INVENTION Les formes de réalisation préférées de la présente invention concernent, de manière générale, des systèmes de prise d'images en rayons X fluoroscopiques numériques, et concernent en particulier un procédé et un dispositif de correction automatique de décalage dans des systèmes de prise d'images en rayons X fluoroscopiques numériques. La prise d'images en rayons X est depuis longtemps un outil de diagnostic médical accepté. Les systèmes de prise d'images en rayons X sont utilisés couramment pour saisir, par exemple, des images du thorax, du cou, de la colonne vertébrale, du crâne et de l'abdomen qui contiennent souvent des informations nécessaires à un médecin pour effectuer un diagnostic précis. Les systèmes à rayons X comprennent généralement une source de rayons X et un détecteur de rayons X. Lorsqu'on prend une image en rayons X du thorax, par exemple, le patient est debout, sa poitrine appliquée contre le détecteur de rayons X lorsqu'un technicien de rayons X met en place le détecteur de rayons X et la source de rayons X à une hauteur appropriée. Les rayons X produits par la source traversent la poitrine du patient et le détecteur de rayons X détecte alors l'énergie de rayons X générée par la source et atténuée à divers degrés par différentes parties du corps. Un système de commande associé détermine l'énergie de rayons X détectée d'après le détecteur de rayons X et prépare une image de diagnostic correspondante sur un dispositif d'affichage. Des images en rayons X peuvent être utilisées dans de nombreux buts. On peut, par exemple, détecter des défauts internes dans un objet cible. On peut, de plus, déterminer des variations de structure interne ou d'alignement. En outre, I'image peut indiquer la présence ou l'absence d'objets dans la cible. Les informations obtenues par la prise d'images en rayons X a des applications dans de nombreux domaines, comme la médecine et l'industrie. Les systèmes à rayons X peuvent être des systèmes à rayons X fluoroscopiques. La fluoroscopie est un procédé de prise d'images de diagnostic qui permet de former une image en temps réel d'un mouvement interne d'un patient. La fluoroscopie est employée avec un agent de contraste pour observer un mouvement à l'intérieur d'un patient. Un agent de contraste, tel que le baryum, peut être avalé ou injecté dans un vaisseau sanguin ou un organe (par exemple, I'intestin). L'agent de contraste augmente l'absorption de rayons X et fournit une augmentation de contraste dans l'image en rayons X. La fluoroscopie peut également être utilisée pour guider des instruments à l'intérieur du corps d'un patient pendant une procédure médicale. Des images fluoroscopiques peuvent aider à manoeuvrer des instruments à l'intérieur du patient. Dans la radiographie en rayons X, un patient est exposé à des émissions de rayons X courtes, à doses plus élevées pour produire des images discrètes. Pour observer le mouvement du patient, on prend de nombreuses images en fluoroscopie en rayons X. Les images peuvent être obtenues rapidement et peuvent également être acquises sur une longue durée. Certains systèmes de fluoroscopie en rayons X actuels acquièrent de nombreuses images en rayons X par seconde pendant un intervalle de îo plusieurs minutes. En raison du nombre accru d'expositions, le dosage de rayons X en fluoroscopie est réduit. Une réduction du dosage de rayons X peut réduire la qualité de l'image résultante. Un faible dosage de rayons X peut entraîner un faible nombre de rayons X produits par la source de rayons X. Les détecteurs de rayons X fluoroscopiques sont sensibles au faible dosage de rayons X. Les systèmes de rayons X fluoroscopiques peuvent employer des tubes intensificateurs d'images pour la détection des rayons X (voir figure 1). Les rayons X partent de la source et traversent le patient puis atteignent un écran lumineux. L'écran lumineux émet de la lumière en réponse au contact des rayons X. La lumière se propage jusqu'à une couche photoélectrique. La couche photoélectrique émet des électrons en réponse à la lumière absorbée. Les électrons émis sont accélérés dans le tube intensificateur d'image par des potentiels élevés et focalisés par des électrodes. Les électrons à grande vitesse, focalisés, viennent en contact avec un écran lumineux de sortie. L'écran lumineux de sortie émet de la lumière en réponse aux électrons absorbés. Une caméra vidéo enregistre la lumière émise par l'écran lumineux de sortie. L'enregistrement de la caméra vidéo peut être affiché sur un moniteur. Alternativement, des caméras vidéo ont été remplacées par des dispositifs à couplage de charge (CCD). Les systèmes en rayons X fluoroscopiques numériques peuvent également employer des détecteurs à panneau plat en silicium amorphe. Le silicium amorphe est un type de silicium de structure non cristalline. Des pixels d'images sont formés à partir de photodiodes en silicium amorphe connectées à des commutateurs sur le panneau plat. Un scintillateur est placé devant le détecteur à panneau plat. Le scintillateur reçoit des rayons X d'une source de rayons X et émet de la lumière en réponse aux rayons X absorbés. La lumière active les photodiodes dans le détecteur à panneau plat en silicium amorphe. Une électronique de lecture obtient des données de pixels à partir des photodiodes selon des lignes de données (colonnes) s et des lignes de balayage (rangées). Des images peuvent être formées à partir des données de pixels. Les images peuvent être affichées en temps réel. Des détecteurs à panneau plat peuvent donner des images plus détaillées que les intensificateurs d'images. Des détecteurs à panneau plat peuvent permettre une acquisition d'images plus rapide que les intensificateurs d'images. Dans un système de prise d'images, en rayons X ou autre, la qualité des images est importante. A cet égard, les systèmes de prise d'images en rayons X qui utilisent des détecteurs d'images numériques ou statiques ("systèmes à rayons X numériques") sont soumis à certains phénomènes électriques qui provoquent des difficultés de formation d'images. Les difficultés dans une image en rayons X numériques pourraient comprendre des artéfacts d'images, "des images fantômes", ou des distorsions dans l'image en rayons X numériques. Les difficultés de formation d'images peuvent être causées par des effets tels qu'une fuite de courant électronique des circuits du système de prise d'images, du détecteur de rayons X, etc. Pendant l'étalonnage des systèmes à rayons X fluoroscopiques numériques, une image "noire" peut être acquise pour régler le décalage d'intensité de l'image. Une image "noire" est une lecture faite sur l'intensificateur d'images, le CCD, I'affichage à panneau plat, etc., sans exposition aux rayons X. Par exemple, une image "noire" collecte simplement des données sans activer le tube intensificateur d'images fluoroscopiques. A titre d'exemple, un phénomène électrique est que, avec le temps, les circuits électroniques subissent une dérive dans leur réponse de ligne de base et des variations de leur réponse en gain. Les variations de réponse de la ligne de base et de gain causent un "décalage" ou variation de la réponse électrique du détecteur pour le signal produit en fonction d'un comptage de rayons X donné. Par exemple, un détecteur neuf peut générer un signal de 5 volts quand un comptage de rayons X de 5000 RAD est détecté. Cependant, à mesure que le temps passe, la réponse de la ligne de base peut augmenter de 5 volts et ainsi le détecteur peut produire un signal de 10 volts lorsque le même comptage de 5000 RAD est détecté. Une image "noire" peut déterminer le décalage produit par le détecteur et le système de rayons X, car elle saisit la dérive de la ligne de base. En soustrayant les valeurs de pixels de l'image "noire" des valeurs de pixels de l'image en rayons X "exposée" réelle d'un objet souhaité, les effets du décalage peuvent théoriquement être éliminés. Les systèmes classiques saisissent généralement les lectures de décalage entre des expositions de prise d'images en rayons X fluoroscopiques. Jusqu'à maintenant, il n'est pas possible d'obtenir des données io d'image noire pendant une exposition aux rayons X fluoroscopiques. Egalement, les systèmes classiques ne peuvent pas, dans les systèmes à rayons X fluoroscopiques numériques, corriger la variation de données de décalage (c'est-à-dire la variation de la réponse de la ligne de base à partir de phénomènes tels que des effets de fuite électronique et une variation de gain) pendant le fonctionnement d'un système à rayons X fluoroscopique numérique. Le décalage du système peut varier considérablement pendant la durée de l'exposition si le radiologue continue à utiliser le mode fluoro pendant une longue période. Le détecteur et l'électronique sont très sensibles aux températures et, à un certain degré, au temps. Ainsi, de faibles variations de température qui se produisent avec le temps peuvent causer des changements dans l'image affichée, spécialement les parties sombres de l'image. De plus, certaines conditions de stabilisation électronique à long terme, telles que des conditions de stabilisation électronique causées par des charges d'interface qui sont piégées dans des structures de silicium amorphe d'un panneau de détecteur, peuvent provoquer des changements dans l'image affichée. Les systèmes classiques ne corrigent pas ces changements de manière satisfaisante. On a donc besoin d'un procédé et d'un dispositif qui soient capables de réaliser une correction automatique de décalage d'un système de prise d'images en rayons X fluoroscopique numérique pendant l'opération d'une exposition aux rayons X. Une forme de réalisation préférée de la présente invention procure un procédé et un dispositif de correction automatique de décalage d'un système de prise d'images en rayons X fluoroscopique numérique pendant une opération d'exposition aux rayons X. Le dispositif comprend une source d'énergie et un détecteur. Le détecteur comprend une partie de détecteur exposée. Le détecteur comrprend au moins une zone de référence. La zone de référence au nombre d'au moins une n'est pas affectée par la source d'énergie. Le procédé comprend l'exposition d'un détecteur à une source d'énergie pour obtenir des données d'exposition d'image d'une partie de détecteur exposée dans le détecteur. Le procédé comprend en outre l'obtention de données de référence d'au moins une zone de référence non o affectée par la source d'énergie. Dans une forme de réalisation préférée, les données de référence comprennent des caractéristiques d'image noire, telles que fuite de diode, décharge de charges de pièges d'interface, etc. Le procédé comprend en outre la génération d'une image de diagnostic médical en fonction d'une relation entre les données d'exposition d'image et les données de référence. Dans une forme de réalisation préférée, la relation comprend l'étalonnage des données d'exposition d'image avec les données de référence. La relation peut comporter la soustraction des données de référence des données d'exposition d'image. Dans une forme de réalisation préférée, le procédé et le dispositif fonctionnent en temps réel pendant une exposition aux rayons X. Plus précisément, le procédé selon l'invention comprend les étapes consistant à: obtenir une image d'exposition d'une cible en exposant au moins une partie d'un détecteur à une source d'énergie, ladite image d'exposition comprenant une zone de détecteur exposée représentative de ladite cible et au moins une zone de référence non affectée par ladite source d'énergie; obtenir des données de référence de ladite au moins une zone de référence dans ladite image d'exposition et lesdites données d'exposition de cible d'au moins ladite zone de détecteur exposée de ladite image d'exposition; et générer une image de diagnostic en fonction desdites données d'exposition d'image et desdites données de référence. Ladite source d'énergie peut comprendre une source d'énergie de rayons X. Au moins une zone de référence comprend au moins une.zone de référence qui peut être située dans au moins un coin de ladite zone de détecteur exposée. Au moins une zone de référence (480) comprend au moins une zone de référence qui peut s'étendre le long d'au moins un côté de ladite zone de détecteur exposée. Ladite au moins une zone de référence peut être composée d'une zone du détecteur qui est blindée par du plomb. Ladite étape de génération peut comprendre en outre la soustraction desdites données de référence desdites données d'exposition de cible. Ladite étape de génération peut comprendre en outre l'étalonnage desdites données d'exposition de cible en fonction desdites données de io référence pour produire ladite image de diagnostic. Lesdites données de référence peuvent être représentatives de caractéristiques d'image noire. Lesdites données de référence peuvent être représentatives d'un courant de fuite électronique. Lesdites données de référence peuvent être représentatives de décharge de charges de pièges d'interface. Le procédé peut comprendre en outre le masquage d'une partie dudit détecteur par rapport à ladite source d'énergie pour former au moins une zone de référence dans ladite image d'exposition. Le système de prise d'images fluoroscopique selon l'invention comprend: une source d'énergie; un détecteur ayant une partie de détecteur exposée exposée à ladite source d'énergie et au moins une zone de référence non affectée par ladite source d'énergie, ledit détecteur obtenant des images d'exposition d'une cible; une unité d'acquisition d'images qui obtient des données de référence à partir de ladite image d'exposition correspondant à ladite au moins une zone de référence et des données d'exposition de cible à partir de ladite image d'exposition correspondant à ladite partie de détecteur exposée; et un dispositif d'affichage affichant des images de diagnostic en fonction desdites données d'exposition de cible et desdites données de référence. Ladite source d'énergie peut comprendre une source d'énergie de rayons X. Ladite au moins une zone de référence peut comprendre au moins une zone de référence située dans au moins un coin de ladite partie de détecteur exposée. Ladite au moins une zone de référence peut comprendre au moins une zone de référence s'étendant le long d'au moins un côté de ladite partie de détecteur exposée. Ladite au moins une zone de référence peut être composée d'une zone du détecteur qui est blindée par du plomb. Ladite unité d'acquisition d'images peut mesurer des caractéristiques d'image noire en fonction desdites données de référence. Ladite unité d'acquisition d'images peut mesurer un courant de fuite électronique en fonction desdites données de référence. io Ladite unité d'acquisition d'images peut mesurer une décharge de charges de pièges d'interface en fonction desdites données de référence. Le système peut comprendre en outre un masque situé sur ledit détecteur sur ladite au moins une zone de référence pour bloquer ladite source d'énergie. Le procédé comprend les étapes consistant à: obtenir une image d'exposition d'une cible en exposant au moins une partie de détecteur à une source d'énergie, ladite image d'exposition comprenant une zone de détecteur exposée représentative de ladite cible et au moins une zone de référence non affectée par la source d'énergie; obtenir des données de référence de ladite au moins une zone de référence dans ladite image d'exposition et des données d'exposition de cible d'au moins ladite zone de détecteur exposée de ladite image d'exposition; générer une image de diagnostic en fonction desdites données d'exposition de cible et desdites données de référence; et afficher ladite image de diagnostic. Dans le procédé, ladite étape d'affichage peut comprend en outre l'affichage sur un écran de visualisation. Dans le procédé, ladite étape d'affichage peut comprendre en outre l'affichage sur un panneau plat. Dans le procédé, ladite au moins une zone de référence peut comprendre au moins une zone de référence située dans au moins un coin de ladite zone de détecteur exposée. Dans le procédé, ladite au moins une zone de référence peut comprendre au moins une zone de référence s'étendant le long d'au moins un côté de ladite zone de détecteur exposée. Dans le procédé, lesdites données de référence peuvent être représentatives de caractéristiques d'image noire. BREVE DESCRIPTION DES DESSINS La figure 1 illustre un intensificateur d'image utilisé avec un système de prise d'images fluoroscopique. La figure 2 illustre une forme de réalisation préférée d'un système de prise d'image fluoroscopique numérique. La figure 3 illustre une forme de réalisation préférée d'un détecteur à panneau plat. La figure 4 décrit une forme de réalisation préférée d'un détecteur à panneau plat avec des zones de référence. La figure 5 illustre un dispositif de correction automatique de décalage dans des systèmes de prise d'images fluoroscopiques numériques. DESCRIPTION DETAILLEE DE L'INVENTION La figure 2 illustre une forme de réalisation préférée d'un système de prise d'images fluoroscopique numérique 200. Le système de prise d'images de diagnostic fluoroscopique numérique 200 comprend une source d'énergie 210, une cible 220, un scintillateur 230, un détecteur 240, et une unité d'acquisition d'images 250. Dans une forme de réalisation préférée, la source d'énergie 210 comprend une source d'énergie de rayons X 210, alors que la cible 220 comprend un patient 220. Dans une forme de réalisation préférée, le scintillateur 230 comprend un écran 230 devant le détecteur 240. Dans une forme de réalisation préférée, le détecteur 240 comprend un détecteur 240 à panneau plat en silicium amorphe, alors que le détecteur 240 à panneau plat comprend un détecteur 240 à panneau plat en silicium amorphe Apollo. Le détecteur à panneau plat 240 peut comprend des photodiodes de silicium amorphe en couche mince connectées à des commutateurs sur le panneau plat. Le patient 220 est placé entre la source de rayons X 210 et le scintillateur 230. La source d'énergie de rayons X 210 génère des rayons X. Les rayons X traversent le patient 220. De préférence, un agent de contraste (par exemple du baryum ou analogue) est injecté dans le patient 220 pour absorber les rayons X dans les vaisseaux sanguins et augmenter le contraste dans l'image en rayons X résultante. Les rayons X restants frappent le scintillateur 230. Le scintillateur 230 émet de la lumière en réponse aux rayons X absorbés. La lumière émise par le scintillateur 230 active les photodiodes dans le détecteur à panneau plat 240. Les circuits de lecture transmettent les données du détecteur à panneau plat 240 à l'unité d'acquisition d'image 250. L'unité d'acquisition d'images 250 peut 0o afficher l'image. Dans une forme de réalisation préférée, l'unité d'acquisition d'image 250 peut afficher des images en rayons X sur un écran de visualisation. Alternativement, l'unité d'acquisition d'images 250 peut afficher des images en rayons X sur un moniteur. Alternativement, I'unité d'acquisition d'images 250 peut mettre en mémoire des images en rayons X. Les images en rayons X peut être examinées sur un ordinateur. La figure 3 illustre une forme de réalisation préférée du détecteur 240. Le détecteur 240 comprend des cellules 310 connectées par des lignes de données 340 à une électronique de lecture 345 et à une unité d'acquisition d'images 350. Les cellules 310 comprennent des photodiodes 320 connectées à des commutateurs à FET (transistor à effet de champ) 330. Lorsque la lumière frappe les photodiodes 320, les photodiodes 320 se déchargent proportionnellement à l'exposition à la lumière. Lorsque les transistors à FET 320 sont fermés, les photodiodes 320 se rechargent et une mesure de l'exposition à la lumière (et donc aux rayons X) peut être obtenue via les lignes de données 340 et l'électronique de lecture 345. Des effets de décalage dus à l'électronique du système de prise d'images fluoroscopique numérique peuvent déformer ou introduire des artéfacts dans l'image résultante. En essayant de contrecarrer les effets du décalage, on peut obtenir une image "noire" du système de prise d'images. Dans une image "noire", des données sont prises lorsque la source de rayons X 210 n'émet pas de rayons X. Les données d'image noire comprennent le décalage provenant du système de prise d'images fluoroscopique numérique. Une image noire peut être obtenue avant ou après une exposition d'image fluoroscopique. Cependant, on ne peut pas l1 obtenir de données de décalage d'image noire pendant la formation d'une image fluoroscopique. Dans une forme de réalisation préférée, le système de prise d'images fluoroscopique numérique peut être utilisé pendant de longues durées d'examen continu. Par exemple, des images en rayons X fluoroscopiques peuvent être utilisées pour guider un médecin pendant une opération chirurgicale. Les effets de décalage induits dans le système peuvent varier pendant la durée d'exposition. Des changements de décalage peuvent se produire en raison de variations de température, de courant de fuite électronique, de charges de pièges d'interface, etc. Dans une forme de réalisation préférée, des lectures de décalage peuvent être obtenues pendant une exposition fluoroscopique. Les lectures de décalage sont obtenues en même temps que les données d'images et n'ont pas besoin d'être acquises comme données d'image noire supplémentaires. Des zones de référence sur un détecteur 240 peuvent être utilisées pour obtenir des données de décalage pendant une exposition fluoroscopique (mode fluoro). La figure 4 décrit une forme de réalisation préférée d'un détecteur à panneau plat 240. Le détecteur à panneau plat 240 comprend une partie 470 de détecteur exposée et au moins une zone de référence 480. Les zones de référence 480 servent de signal de référence zéro pendant l'acquisition de l'image fluoroscopique. Les zones de référence 480 sont masquées de manière à ne pas répondre à un rayonnement X. Un matériau de blocage de rayons X est placé sur les zones de référence 480 pour assurer que des rayons X (ou une lumière de scintillation représentative de rayons X) ne tombe pas sur les zones de référence 480). Dans une forme de réalisation préférée, les zones de référence 480 sont bloquées avec du plomb. Les données obtenues des zones de référence 480 représentent des données de décalage identifiant des variations de la réponse électronique du détecteur en raison de variations de température, de courant de fuite électrique, de décharges de charges de pièges d'interface, etc. Les données de décalage obtenues en même temps que les données d'exposition aux rayons X sont comparées à des données de référence du système, (par exemple, des données obtenues à partir de l'image noire) et la relation (par exemple, la différence) entre elles est utilisée pour compenser des décalages des données d'exposition. Dans une forme de réalisation préférée, les zones de référence 480 sont situées aux coins du détecteur à panneau plat 240. Alternativement, les zones de référence 480 peuvent s'étendre le long des côtés du détecteur à panneau plat 240. L'unité d'acquisition d'images 250 peut obtenir les données d'exposition d'images à partir de la section 470 de détecteur exposée du détecteur à panneau plat 240 et des données de référence de décalage à partir des zones de référence 480. L'unité d'acquisition d'image 250 peut régler les données d'exposition d'image en fonction des données de référence mises à jour pour produire une image de diagnostic. Par exemple, les données d'exposition d'image contiennent des effets de décalage dus à un courant de fuite électronique, des variations de température, une décharge de charges de pièges d'interface, etc., et les données de référence mises à jour reflètent ces effets de décalage. Les valeurs de données de référence peuvent être soustraites des valeurs de données d'exposition d'image pour éliminer les effets de décalage reflétés dans les données de référence. Comme autre exemple, des données d'exposition d'image peuvent être réglées par un rapport des données de référence mises à jour aux données de référence d'images. La figure 5 illustre un procédé de correction automatique de décalage dans des systèmes de prise d'images fluoroscopiques numériques. A l'étape 510, le système de prise d'images fluoroscopique numérique 200 acquiert une image noire. L'image noire est obtenue en lI'absence d'exposition aux rayons X. Les données de décalage d'image noire peuvent être obtenues à partir de l'image noire. Les données d'image noire peuvent fournir une ligne de base pour régler les données d'images obtenues à partir d'expositions fluoroscopiques. A l'étape 520, la cible 220 est exposée à une source d'énergie 210. Dans une forme de réalisation préférée, la cible 220 est exposée à une source d'énergie de rayons X 210. Les rayons X traversent la cible 220 et frappent le scintillateur 230. Le scintillateur 230 émet de la lumière en réponse aux rayons X absorbés par le scintillateur 230. La lumière émise par le scintillateur 230 frappe le détecteur 240. A l'étape 530, des données d'exposition d'images sont obtenues de la partie 470 de détecteur exposée du détecteur à panneau plat 240 non couverte par les zones de référence 480. Les données d'exposition d'image sont utilisées pour construire l'image de diagnostic résultante. Dans une forme de réalisation préférée, l'électronique de lecture 345 obtient des données d'exposition d'images à partir des cellules 310 du détecteur 240 via des lignes de données 340. L'électronique de lecture 345 transmet les données d'exposition d'images à l'unité d'acquisition d'image 250. A l'étape 540, des données de référence sont obtenues d'au moins une zone de référence 480 sur le détecteur 240. Les données de référence îo peuvent fournir des informations sur des effets de décalage, tels que fuite électronique, décharge de charges de pièges d'interface, etc. Des données de référence peuvent être utilisées pour mettre à jour les données de décalage initial obtenues à partir des données de décalage. De préférence, les zones de référence 480 sont composées de zones spécifiques du détecteur qui sont blindées contre les rayons X par du plomb. Dans une forme de réalisation préférée, les zones de référence 480 sont situées dans les coins du détecteur 240. Dans une autre forme de réalisation, les zones de référence 480 sont situées le long des côtés du détecteur 240. A l'étape 550, une image de diagnostic est générée. L'image de diagnostic est générée en fonction des données d'exposition d'image obtenues du détecteur 240. Les données d'exposition d'image sont corrigées en utilisant des données de décalage d'image noire obtenue à partir de l'image noire et de données de référence obtenues à partir de zones de référence du détecteur 240. Les données d'image noire et de décalage de référence corrigent les artéfacts d'image et les perturbations causées par l'électronique du système de prise d'images. Ainsi, la présente invention fournit une solution très simple à ce qui est devenu un sérieux problème de qualité d'image pour les systèmes en rayons X fluoroscopiques numériques. Le procédé et le dispositif de correction automatique de décalage dans des systèmes en rayons X fluoroscopiques numériques peuvent améliorer la conception de nouveaux systèmes de prise d'images de diagnostic fluoroscopique et peut améliorer la qualité d'image de systèmes de prise d'images de diagnostic fluoroscopiques existants grâce à une correction de décalage. La présente invention peut être facilement réalisée et n'exige pas nécessairement un changement du matériel existant au-delà de l'insertion de zones de référence dans le détecteur. En option, d'autres formes de réalisation préférées de la présente invention peuvent être réalisées en utilisant une caméra à balayage ou un CDD dans le détecteur à la place du détecteur à panneau plat 240. Bien que l'invention ait été décrite en se reportant à une forme de réalisation préférée, il est entendu pour les personnes qui sont versées dans l'art que divers changements peuvent être effectués et que des équivalents peuvent utilisés en remplacement sans s'écarter du domaine de l'invention. De plus, de nombreuses modifications peuvent être faites pour adapter une situation ou un matériel particulier aux enseignements de l'invention sans s'écarter de son objet. C'est pourquoi, il est entendu que l'invention n'est pas limitée à la forme de réalisation particulière décrite, mais que l'invention comprend toutes les formes de réalisation tombant dans le domaine des revendications figurant en annexe. REVENDICATIONS 1. Procédé de génération d'une image de diagnostic acquise par un détecteur (240) dans un système de prise d'images de diagnostic fluoroscopique (200), ledit procédé étant caractérisé par le fait qu'il comprend les étapes consistant à: obtenir une image d'exposition d'une cible (220) en exposant au moins une partie d'un détecteur (240) à une source d'énergie (210), ladite image d'exposition comprenant une zone (470) de détecteur exposée représentative de ladite cible (220) et au moins une zone de référence (480) non affectée par ladite source d'énergie (210); obtenir des données de référence de ladite au moins une zone de référence (480) dans ladite image d'exposition et lesdites données d'exposition de cible d'au moins ladite zone de détecteur exposée (470) de ladite image d'exposition; et générer une image de diagnostic en fonction desdites données d'exposition d'image et desdites données de référence. 2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel ladite source d'énergie (210) comprend une source d'énergie de rayons X. 3. Procédé selon la revendication 1, dans lequel au moins une zone de référence (480) comprend au moins une zone de référence (480) située dans au moins un coin de ladite zone (470) de détecteur exposée. 4. Procédé selon la revendication 1, dans lequel au moins une zone de référence (480) comprend au moins une zone de référence (480) s'étendant le long d'au moins un côté de ladite zone (470) de détecteur exposée. 5. Procédé selon la revendication 1, dans lequel ladite au moins une zone de référence (480) est composée d'une zone du détecteur (240) qui est blindée par du plomb. 6. Procédé selon la revendication 1, dans lequel ladite étape de génération comprend en outre la soustraction desdites données de référence desdites données d'exposition de cible. 7. Procédé selon la revendication 1, dans lequel ladite étape de génération comprend en outre l'étalonnage desdites données d'exposition de cible en fonction desdites données de référence pour produire ladite image de diagnostic. 8. Procédé selon la revendication 1, dans lequel lesdites données de référence sont représentatives de caractéristiques d'image noire. 9. Procédé selon la revendication 1, dans lequel lesdites données de référence sont représentatives d'un courant de fuite électronique. 10. Procédé selon la revendication 1, dans lequel lesdites données de référence sont représentatives de décharge de charges de pièges d'interface. 11. Procédé selon la revendication 1, comprenant en outre le masquage d'une partie dudit détecteur (240) par rapport à ladite source d'énergie (210) pour former au moins une zone de référence (480) dans ladite image d'exposition. 12. Système de prise d'images fluoroscopique (200), ledit système étant caractérisé par le fait qu'il comprend une source d'énergie (210); un détecteur (240) ayant une partie (470) de détecteur exposée exposée à ladite source d'énergie (210) et au moins une zone de référence (480) non affectée par ladite source d'énergie (210), ledit détecteur (240) obtenant des images d'exposition d'une cible (220); une unité d'acquisition d'images (250) qui obtient des données de référence à partir de ladite image d'exposition correspondant à ladite au moins une zone de référence (480) et des données d'exposition de cible à partir de ladite image d'exposition correspondant à ladite partie (470) de détecteur exposée; et un dispositif d'affichage affichant des images de diagnostic en fonction desdites données d'exposition de cible et desdites données de référence. 13. Système selon la revendication 12, dans lequel ladite source d'énergie (210) comprend une source d'énergie de rayons X. 14. Système selon la revendication 12, dans lequel ladite au moins une zone de référence (480) comprend au moins une zone de référence (480) située dans au moins un coin de ladite partie (470) de détecteur exposée. 15. Système selon la revendication 12, dans lequel ladite au moins une zone de référence (480) comprend au moins une zone de référence (480) s'étendant le long d'au moins un côté de ladite partie (470) de détecteur exposée. 16. Système selon la revendication 12, dans lequel ladite au moins une zone de référence (480) est composée d'une zone du détecteur (240) qui est blindée par du plomb. 17. Système selon la revendication 12, dans lequel ladite unité d'acquisition d'images (250) mesure des caractéristiques d'image noire en fonction desdites données de référence. 18. Système selon la revendication 12, dans lequel ladite unité d'acquisition d'images (250) mesure un courant de fuite électronique en fonction desdites données de référence. 19. Système selon la revendication 12, dans lequel ladite unité d'acquisition d'images (250) mesure une décharge de charges de pièges d'interface en fonction desdites données de référence. 20. Système selon la revendication 12, comprenant en outre un masque situé sur ledit détecteur (240) sur ladite au moins une zone de référence (480) pour bloquer ladite source d'énergie (210). 21. Procédé de prise d'images de diagnostic fluoroscopique, ledit procédé étant caractérisé par le fait qu'il comprend les étapes consistant à: obtenir une image d'exposition d'une cible (220) en exposant au moins une partie de détecteur (240) à une source d'énergie (210), ladite image d'exposition comprenant une zone (480) de détecteur exposée représentative de ladite cible (220) et au moins une zone de référence (480) non affectée par la source d'énergie (210); obtenir des données de référence de ladite au moins une zone de référence (480) dans ladite image d'exposition et des données d'exposition de cible d'au moins ladite zone (480) de détecteur exposée de ladite image d'exposition; générer une image de diagnostic en fonction desdites données d'exposition de cible et desdites données de référence; et afficher ladite image de diagnostic. 22. Procédé selon la revendication 21, dans lequel ladite étape d'affichage comprend en outre l'affichage sur un écran de visualisation. 23. Procédé selon la revendication 21, dans lequel ladite étape d'affichage comprend en outre l'affichage sur un panneau plat. s 24. Procédé selon la revendication 21, dans lequel ladite au moins une zone de référence (480) comprend au moins une zone de référence (480) située dans au moins un coin de ladite zone (470) de détecteur exposée. 25. Procédé selon la revendication 21, dans lequel ladite au moins une zone de référence (480) comprend au moins une zone de référence (480) s'étendant le long d'au moins un côté de ladite zone (470) de détecteur exposée. 26. Procédé selon la revendication 21, dans lequel lesdites données de référence sont représentatives de caractéristiques d'image noire.