Brevet FR2804760A1 — publié le 20010810

La présente invention se rapporte à un dispositif de test pour des cartes électroniques et/ou pour des boîtiers incluant de telles cartes. Au cours de la vie d'un produit, celui-ci est soumis à différentes sortes de tests que ce soit lors de son développement, de sa production de sa maintenance. Pour les tests effectués lors du développement d'une carte à circuit imprimé ou (en anglais "Printed Circuit Board"), on utilise généralement un support qui réalisé uniquement pour cette étape et qui tient compte de l'environnement de la carte (points à tester, encombrement, etc.). Pour les tests effectués lors de la production, on utilise généralement un testeur du type à "lit à clous", qui permet de tester le PCB uniquement par contact entre pointes métalliques et les points à tester de la carte. testeurs sont genéralement de grosses machines qui doivent être programmees pour chaque carte à tester. Les points à tester se présentent sous forme matricielle les uns par rapport aux autres, c'est-à-dire qu'ils sont séparés par des distances constantes. effet, les testeurs sont souvent construits suivant ce principe, afin d'essayer normaliser le système, pour pouvoir utiliser un même testeur lorsqu'on change de carte. Pour les tests en production, il peut aussi être nécessaire de tester un appareil une fois totalement assemblé. Dans ce cas, on ne peut plus utiliser un testeur à lit à clous et il faut développer un nouveau testeur. Pour les tests effectués lors de la maintenance, un technicien dispose généralement d'un ordinateur personnel ou PC (en anglais "Personal Computer"), qui peut être connecté à l'appareil à tester par l'intermédiaire d'un lien série, qui est souvent une prise. Pour des raisons de coût, dans certains cas, une telle prise n'existe pas. Des contacts sont alors mis en place le PCB et sont accessibles comme les autres points de test de la carte points peuvent servir de points de test ou pour charger un programme dans mémoire dans le cas d'une mise à jour, par exemple. connaît de nombreux documents décrivant des systèmes test pour cartes electroniques. Par exemple, le document US-A-4 724 377 decrit un testeur pour qui utilise un principe de matrice pour tester différents points de la carte. Dans le cas où le point à tester n'est pas en face d'une point de test, on utilise module intermédiaire qui déporte le point de contact du point à tester. Un testeur, qui peut être pratique en production une fois qu'il a été convenablement programmé, présente cependant l'inconvénient de ne pouvoir être utilisé, ni lors du développement, ni lors de la maintenance produit, en particulier si on considère le fait que la carte est à l'intérieur boîtier et tel testeur ne permet pas de tester le système complet compose de la carte du boîtier. On connaît également, par le document US-A-5 104 277, un systeme de test pour différentes cartes électroniques. Le système, utilisable production, vérifie la carte à tester et sélectionne un support approprié pour tester cette carte. Le système va ensuite chercher ce support dans un magasin et le ramène pour l'incorporer au PCB et l'envoyer vers le moyen de test. Ce système, qui utilise un magasin de supports, présente notamment l'inconvénient de nécessiter de la place pour garder ces différents supports. En outre de même que le système décrit dans le document précédemment cité, ce systeme permet de tester la carte seule mais ne permet pas de tester le systeme complet, composé de la carte et du boîtier. La présente invention a pour but de pallier les inconvénients précités. Dans ce but, la présente invention propose un dispositif de test pour une carte à circuit imprimé et/ou un boîtier incluant une carte à circuit imprimé, comprenant un châssis fixe, un système de positionnement et de maintien de la carte à circuit imprimé à tester, au moins une pointe de test, une carte à circuit imprimé recevant des signaux extérieurs et les transmettant à la pointe de test, remarquable en ce que le système de positionnement et maintien peut prendre deux positions différentes selon qu'on teste la carte circuit imprimé seule ou la carte dans le boîtier. Ainsi, la présente invention évite au technicien de test, que ce soit lors du développement, lors de la production ou lors de la maintenance, d'avoir à se soucier de savoir s'il a besoin d'un module spécial s'il veut tester le PCB seul ou le système en entier. En effet, l'invention propose un seul appareil de test développé pour toutes les étapes de la vie du produit et utilisable directement que ce soit pour le PCB ou pour le système entier, c'est-à-dire l'ensemble constitué du PCB et du boîtier comprenant celui-ci. Selon une caractéristique particulière, chaque élément du système de positionnement et de maintien de la carte à circuit imprimé monté sur un système à ressorts et est apte à s'escamoter sous l'action du boîtier. Cette caractéristique a notamment pour avantage de conférer à l'ensemble encombrement réduit. Selon une caractéristique particulière, chaque élément du système de positionnement et de maintien de la carte à circuit imprimé à tester est monté solidaire d'une base, cette base étant montée sur au moins un élément à ressort et étant escamotable sous l'action du boîtier. Cela permet de réduire la taille du dispositif. Selon une caractéristique particulière, le dispositif de test comporte des éléments de positionnement latéral et vertical de la carte à circuit imprimé dans le dispositif. éléments servent à la mise en place de la carte à circuit imprimé et au bon interfaçage entre les pointes de test et les points de la carte à circuit imprimé. Selon une caractéristique particulière, les éléments de positionnement ont une hauteur adaptée à la distance entre la face inférieure de la carte à circuit imprimé et la face inférieure du boîtier. éléments de positionnement sont définis façon que la carte à circuit imprime se retrouve dans une position identique, le dispositif de test ait à tester la carte seule ou la carte avec le boîtier. Selon une caractéristique particulière, le dispositif de test comporte au moins deux éléments de blocage vertical de la carte à circuit imprimé sur le dispositif. Ces éléments de blocage permettent d'éviter la carte à circuit imprimé soit soumise à la pression des pointes de test se relève après sa mise en place. Selon une caractéristique particulière, le dispositif comporte des éléments positionnement latéral et vertical de la carte à circuit imprimé dans le dispositif test et des éléments de blocage vertical la carte à circuit imprimé dispositif, les éléments de positionnement les éléments de blocage étant mêmes. Cela permet de simplifier le dispositif. Selon une caractéristique particulière, le dispositif comporte cinq éléments positionnement latéral et vertical de la carte à circuit imprimé dans le dispositif trois éléments de blocage vertical de la carte à circuit imprimé sur le dispositif. tel agencement permet un positionnement et un blocage satisfaisants la carte. Selon une caractéristique particulière, le dispositif comporte des parois latérales, des éléments de positionnement latéral et vertical de la carte à circuit imprimé dans le dispositif et des éléments de blocage vertical de la carte à circuit imprimé sur le dispositif, les parois latérales ayant une longueur supérieure à celle des éléments de positionnement et des éléments de blocage. Cela permet aux parois de guider le boîtier avant que les pointes de test puissent entrer en contact avec la face inférieure boîtier, faute de quoi une mauvaise mise en place du boîtier pourrait détériorer les pointes de test. Selon une caractéristique particulière, le dispositif comporte des éléments positionnement latéral et vertical de la carte ' circuit imprimé dans le dispositif test et la face inférieure du boîtier est adaptée à venir appuyer sur la face supérieure des éléments de positionnement lors de la mise en place du boîtier. Cela permet l'escamotage des éléments de positionnement dans le cas où le dispositif sert à tester un boîtier. Selon une caractéristique particuliere, le dispositif comporte des éléments de positionnement latéral et vertical la carte à circuit imprimé dans le dispositif et des éléments de blocage vertical la carte à circuit imprimé sur le dispositif, la face supérieure des éléments positionnement étant au- dessus de la face supérieure des éléments de blocage. Cela permet d'éviter le destruction des éléments de blocage, qui sont souvent plus fragiles que les éléments de positionnement ; grâce à la caractéristique ci-dessus, le boîtier appuie sur les éléments de positionnement et non sur les éléments de blocage. Selon une caractéristique particulière, le dispositif comporte au moins une paroi circulaire permettant la mise en place et le maintien du système à ressorts mentionné plus haut. Selon une caractéristique particuliere, le dispositif comporte au moins un système de blocage du boîtier dans châssis précité. Cela permet d'éviter que le boîtier se relève sous l'action des pointes de test, si la masse du boîtier n'est pas suffisante. Selon une caractéristique particulière, le dispositif comporte au moins un logement adapté à recevoir une bande auto-agrippante destinée à coopérer avec une autre bande auto-agrippante prévue sur le boîtier. Cette caractéristique est simple à réaliser et peu coûteuse. Selon une caractéristique particulière, le dispositif comporte au moins un crochet monté sur un ressort, adapté à coopérer avec des trous d'accrochage prévus sur le boîtier pour bloquer boîtier dans le dispositif. Selon une caractéristique particuliere, le dispositif comporte un bouton-poussoir accessible de l'extérieur du dispositif, permettant d'actionner le crochet en vue de débloquer le boîtier. Cette caractéristique permet de débloquer facilement le boîtier du dispositif de test. Selon une caractéristique particulière, le système blocage du boîtier dans le châssis est un capot venant s'accrocher sur dispositif au moyen d'un clip d'accrochage. Selon une caractéristique particulière, ce système blocage est adapte à coopérer avec des éléments de positionnement boîtier en fonctionnement. Selon une caractéristique particulière, le dispositif comporte un système pour maintenir la base lors de la mise en place de la carte à circuit imprimé dans le dispositif. Cela permet d'éviter que la base s'enfonce lors de la mise en place de la carte à circuit imprimé. Selon une caractéristique particulière, le système de maintien s'escamote lors de la mise en place du boîtier. Cela permet de mettre le boîtier en place, contrairement au cas où on teste une carte à circuit imprimé seule, auquel cas la base est retenue par le système de maintien. Selon une caractéristique particulière, le dispositif comporte des éléments de positionnement latéral et vertical de la carte à circuit imprimé dans le dispositif, le système de maintien est disposé de façon décalée rapport à la carte à circuit imprimé et présente une longueur supérieure a celle des éléments de positionnement. La caractéristique de décalage permet d'éviter que la carte à circuit imprimé agisse sur le système de maintien ; la caractéristique de longueur permet en outre d'éviter le contact entre l'extrémité de la base et une partie du système de maintien. Selon une caractéristique particulière, le dispositif utilise l'alimentation électrique du boîtier. Cela permet d'éviter d'avoir deux alimentations différentes, ce qui réduit coûts et permet en outre d'alimenter la carte à circuit imprimé du dispositif test. Selon une caractéristique particulière, le dispositif comporte un câble d'alimentation pouvant être connecté au boîtier. Cela permet d'alimenter l'appareil à tester à partir de l'alimentation commune. Selon une caractéristique particulière, le dispositif comporte un moyen de commutation pour configurer le dispositif dans deux modes fonctionnement différents. Cela permet de mettre la carte à circuit imprimé à tester, soit dans mode mise à jour des programmes qui y sont mémorisés, soit simplement dans mode de test. Selon une caractéristique particulière, le dispositif comporte au moins diode électroluminescente associée à chaque pointe de test. Cela permet de vérifier le bon contact entre les pointes de test et carte à circuit imprimé à tester. L'invention vise aussi un appareil de test électronique, comportant dispositif de test tel que ci-dessus. Cet appareil présentant les mêmes caractéristiques particulières et avantages que le dispositif de test, ils ne sont pas rappelés ici. D'autres aspects et avantages de l'invention apparaîtront à la lecture de la description détaillée qui suit de modes particuliers de réalisation, donnés à titre d'exemples non limitatifs. La description se réfère aux dessins qui l'accompagnent, dans lesquels - la figure 1 est une vue de dessus d'un appareil de test conforme à la présente invention, dans un mode particulier de réalisation ; - la figure 2 est une vue de dessus d'un appareil de test conforme à la présente invention, le capot supérieur de l'appareil ayant été ôté, ce qui permet de visualiser le PCB de l'appareil ; - la figure 3 est une vue de côté de l'appareil de test des figures 1 et 2, permettant de visualiser les connecteurs de l'appareil ; - la figure 4 est une vue de dessous d'un appareil à tester ; - la figure 5 est une vue en coupe de l'appareil de test selon la ligne A-A de la figure 1, en position de repos ; - la figure 6 est une vue en coupe de l'appareil de test selon la ligne A-A de la figure 1, en position de test pour tester un PCB ; - la figure 7 est une vue en coupe de l'appareil de test selon la ligne B-B de la figure 6, en position de test pour tester un PCB ; - les figures 8a et 8b sont des vues en coupe de mise en position d'un système complet à tester sur l'appareil de test, selon ligne A-A de la figure 1 ; - figures 9a, 9b et 9c illustrent une variante d'un appareil de test conforme à présente invention, comportant un système de blocage, en position de test pour un PCB et en position d'escamotage lors du test d'un système complet, en coupe selon la ligne A-A de la figure 1 ; - la figure 10 illustre la variante de la figure 9c vue en coupe selon la ligne C-C de figure 9c ; - figure 11 est une vue selon la flèche D de la figure 10 ; - la figure 12 illustre une variante d'un système de blocage du système complet à tester, vue en coupe selon la ligne E-E de la figure 1 ; - la figure 13 illustre une autre variante d'un système de blocage du système complet; et - figure 14 est un schéma électrique d'un appareil de test conforme à présente invention, dans un mode particulier de réalisation. figure 1 est une vue de dessus d'un mode particulier de réalisation appareil de test ou testeur 100 conforme à l'invention. L'emplacement d'un appareil à tester dans le testeur 100 est défini par quatre parois latérales 101a, 101b, 101c et 101d du testeur 100. Ces parois sont solidaires de la partie supérieure 106 du boîtier du testeur 100. trous 102a, 102b et 102c permettent le passage de supports 302a, 302b 302c (voir figure 3) ayant une fonction de blocage pour le PCB à tester. Des axes 103a et 103b servent de support et de moyens de positionnement latéral et vertical au PCB à tester. Ces axes sont disposés de façon à entrer dans des trous de positionnement prévus dans le PCB. axes métalliques ou pointes de test (en anglais "test pins") 104a, 104b, l et 104d permettent le contact entre le testeur et le PCB à tester ; à chaque pointe de test 104a, 104b, 104c, 104d correspond une diode électroluminescente ou DEL 105A, 105B, 105C, 105D, qui allume pour indiquer y a bien contact entre le testeur et le PCB. positions respectives des pointes de test 104 des parois latérales créent un système de détrompeur pour l'utilisateur, le système n'est pas symétrique et une seule solution existe pour la mise place d'un appareil à tester dans le testeur. De même, les axes de support 103 et les supports créent un système similaire dans le cas d'un test pour PCB. hauteur des parois latérales 101 est choisie de façon à être suffisante pour guider correctement le boîtier de l'appareil à tester avant que les pointes de test 104 pénètrent dans le boîtier (voir figure 8a). Les emplacements 107a et 107b seront décrits plus loin. La figure 2 représente le testeur 100 en vue de dessus sans la partie supérieure 106. testeur 100 est défini par la partie supérieure 106, quatre parois latérales a, 201 b, 201 c et 201 d et un fond 202. Les parois latérales 201 et le fond 202 forment un châssis fixe. Dans la paroi 201d, des ouvertures ont été réalisées pour laisser passer les différents connecteurs ou DELs nécessaires :les quatre DELs 105, un connecteur série 203, un interrupteur 204, un connecteur d'alimentation 205 du testeur et des câbles d'alimentation 206 pour l'appareil à tester. Ces différents élements sont fixés sur un PCB 207, qui est mis en position de façon classique moyen de deux pions de positionnement 208a et 208b et une vis 209. D'autres éléments électroniques ont été mis en place sur le PCB et seront décrits plus loin. Sur le fond 202, quatre parois circulaires 210a, 210b, 210c et 210d sont prévues pour permettre la mise en place et le maintien de ressorts (voir figure 5). Le câble d'alimentation 206 se termine par une prise 211 qui est compatible avec la prise de l'appareil à tester : la prise 211 est alors introduite dans le connecteur correspondant du PCB à tester pour l'alimenter (voir figure 10). Le système complet est lui-même alimenté par un câble (non représenté) qui est introduit dans le connecteur d'alimentation 205 du testeur. Pour raisons pratiques, on utilise l'alimentation de l'appareil ' tester comme alimentation générale du testeur et de l'appareil à tester. Le connecteur série 203 sert à connecter le testeur à un PC pour charger programme dans une mémoire du PCB à tester ou pour vérifier le bon fonctionnement de celui-ci en lui envoyant des commandes. La figure 3 représente le testeur vu du côté de la paroi 201d. On y retrouve les éléments décrits précédemment ainsi que les supports 302a (similaire au support 302b) et 302c. Ces supports permettent le blocage vertical du PCB sur le testeur. Ils permettent ainsi d'éviter que le PCB soit soumis à la pression des pointes de test et se relève apres sa mise en place. supports 302 sont définis en fonction du PCB à tester et reprennent de préférence les positions des supports qui sont dans le boîtier ' tester. Dans le mode particulier de réalisation décrit ici, on a prévu trois moyens de blocage 302 ; cependant, deux peuvent suffire. Les supports 302a et 302b sont constitués d'une paroi 303 et d'une gorge , où vient se loger le PCB à tester et qui permet son positionnement latéral vertical. La gorge 304 est définie en hauteur selon la position que le PCB a dans son boîtier. Les supports 302a et 302b servent à bloquer le PCB à tester dans la gorge 304 et le support 302c sert à bloquer le PCB grâce à un clip 305. Pour retirer le PCB, on agit sur le clip 305 et on désengage le PCB du support 302c puis des supports 302a et 302b. dans le mode particulier de réalisation décrit ici, on a prévu des moyens de positionnement 103 différents des moyens de blocage 302. Néanmoins, en variante, moyens de positionnement et les moyens de blocage peuvent être les mêmes, c'est-à-dire que les axes 103 peuvent être eux-mêmes munis de clips, bien que des clips tels que le clip 305 peuvent être mis en place sur les quatre faces du PCB. Les parois latérales 101 ont avantageusement une longueur supérieure à celle des moyens de positionnement 103 et des moyens de blocage En effet, ces parois doivent pouvoir guider le boîtier avant que les pointes test entrent en contact avec la face inférieure du boîtier, faute de quoi une mauvaise mise en place du boîtier pourrait détériorer les pointes de test. La figure 4 représente un appareil à tester 400 en vue de dessous. L'appareil à tester 400 est constitué d'une coque supérieure 401a et d'une partie inférieure 401b. La partie inférieure 401b présente à sa surface deux emplacements 402a et 402b, où on peut venir coller deux bandes auto-agrippantes "Velcro" (marque déposée) correspondant à deux autres bandes apposées un mur; cela permet d'attacher ou de détacher l'appareil lorsqu'il est dans position de travail. L'appareil à tester 400 peut aussi être fixé au moyen de ' , viennent se loger dans des trous d'accrochage 403a et 403b. Les trous et les bandes auto-agrippantes placées dans les emplacements 402 peuvent aussi être utilisées pour le blocage du boîtier sur le testeur. Quatre trous 404a, 404b, 404c et 404d permettent aux pointes de test 104a, 104b, 104c et 104d de pénétrer dans le boîtier de l'appareil à tester 400. La figure 5 représente une vue en coupe du testeur en position de repos, selon ligne A-A de la figure 1. éléments décrits précédemment apparaissent sur cette figure avec les memes chiffres de référence. pointes de test 104 sont montées sur des ressorts (non représentés) coulissent dans des fourreaux 501a, 501b, 501c et 501d de façon classique, ce qui permet aux pointes de test 104 de s'enfoncer dans les fourreaux 501. La pression des ressorts permet un meilleur contact entre les pointes de test et le PCB à tester. Une hauteur d'enfoncement h peut par exemple être fixée à 2 mm ; cette hauteur correspond à la distance entre le dessous du PCB à tester, qui est ici en contact avec les axes de support 103a et 103b au niveau d'épaulements 502a et 502b, et le haut des pointes de test 104. Les axes de support 103a et 103b ainsi que les supports 302a, 302b et 302c sont solidaires d'une base 503. Les axes de support 103 et les supports 302 sont montés coulissants dans la partie supérieure 106 du testeur. De façon avantageuse, la face supérieure axes de support formant moyens de positionnement 103 est au-dessus la face supérieure des supports 302 formant moyens de blocage. Ainsi, lors la mise en place du boîtier (voir par exemple figure 8a), celui-ci appuie sur les moyens de positionnement 103 et non sur les moyens de blocage 302, qui sont plus fragiles. évite ainsi la destruction des moyens de blocage. évidement 504 est prévu pour permettre le passage des fourreaux et des câbles qui y sont associés. Ces câbles sont connectés au PCB 207 testeur. base 503 est montée sur des ressorts 506a, 506b, 506c et 506d qui viennent se loger respectivement dans les parties 21 Ob, 210c et 210d du fond 202 du testeur et dans des éléments symétriques 507a, 507b, 507c et 507d de la base 503. Dans le mode de réalisation décrit ' ' a mis en place quatre ressorts ; cependant, ce nombre n'est aucunement limitatif et peut varier selon la masse du système et la force nécessaire pour maintenir le système en position haute quand on l'utilise pour tester un PCB. La position de ces ressorts peut également varier, de façon que leur répartition soit equilibrée au mieux autour du centre de gravité. variante, chaque élément rétractable (à savoir, les axes de support 1 et les supports 302) peut être monté individuellement sur un ressort ; cette solution, plus coûteuse en composants, est en contrepartie plus souple quant à certaines difficultés pouvant survenir, liées par exemple à l'encombrement, en raison de la forme complexe de la base 503. La figure 6 représente le testeur en position de test pour tester un PCB, en coupe selon la ligne A-A de la figure 1. éléments décrits précédemment y portent les mêmes chiffres de référence. PCB à tester 601 est mis en place sur le testeur et positionné grâce aux axes de support 103 et au système de maintien réalisé par les supports 302. PCB 601 comprend des éléments électroniques représentés sur la figure par chiffres de référence 602 et 603. Des points de contact ont été réalisés à l'endroit où pointes de test 104 viennent toucher le PCB. Lors de la mise en place du , les pointes de test 104 s'enfoncent dans les fourreaux 501. Les ressorts ne sont pas enfoncés. Il y a alors contact entre les pointes de test 104 et le 601, qui peut alors recevoir des signaux en provenance du connecteur série La figure 7 représente une vue en coupe suivant la ligne B de la figure 6, où on observe les différents éléments dans la position test pour PCB. Le PCB à tester 601 est mis en place dans les gorges et est maintenu par le clip 305. Les figures 8a et 8b illustrent la mise en place de l'appareil ' tester sur le testeur. L'appareil à tester est constitué des deux parties a et 401 b, le PCB 601 est maintenu dans le boîtier par des axes 801a 801 b, et des supports 802a et 802b qui le prennent en sandwich avec les axes hauteur H correspond à la hauteur du système fixation représenté les axes de support 103 et les supports 302. La hauteur H est adaptée à distance entre la face inférieure du PCB 601 et la face inférieure du boîtier l'appareil à tester. De cette façon, le PCB se retrouve dans une position identique par rapport au testeur, qu'il soit seul ou dans le boîtier de l'appareil ' tester. fond 401b de l'appareil à tester est percé de quatre trous 404a, 404b, 404c 404d qui laissent passer les pointes de test 104. fond 401b appuie sur les axes de support 103, ce qui a pour effet d'enfoncer base 503, d'où une compression des ressorts 506. De façon avantageuse, on prévoira des axes support 103 un peut plus longs que les supports 302 : ceux-ci étant plus fins, sont plus fragiles et risqueraient d'être détériorés sous l'action de la pression. Lors de la mise en place du boîtier (figure 8a), la face inférieure de celui-ci vient appuyer sur la face supérieure des axes de positionnement 103. boîtier est abaissé jusqu'à la position illustrée sur figure 8b, où le fond 401 de l'appareil à tester et la partie supérieure 1 du boîtier du testeur sont en contact. Le PCB à tester se retrouve alors dans une position similaire à celle illustrée sur la figure 6. Le système peut se maintenir en position par l'action de la masse boîtier si celle-ci est suffisante. En variante, on peut prévoir de mettre en place des bandes auto-agrippantes sur le testeur, dans les emplacements logements 107a et 107b prévus à cet effet, pour coopérer avec les bandes auto-agrippantes du boîtier et le maintenir en position basse. Les figures 9a, 9b et 9c représentent une variante du testeur comportant un système pour bloquer la base 503 lors d'un test de PCB. La variante décrite ci-dessous comporte un seul système de blocage. Cependant, on pourrait tout aussi bien en prévoir plusieurs si un seul ne donne pas entière satisfaction et s'avère donc insuffisant. principe consiste à maintenir la base 503 en position haute lors d'un test de et à la laisser descendre librement lors d'un test de boîtier. système de blocage comporte un axe 901 vertical, qui est situé a un emplacement où il n'y a pas de PCB mais où il y ale boîtier, typiquement à droite de l'axe 901. Ainsi, le décalage du système de blocage par rapport au PCB permet d'éviter que le PCB agisse sur ce système en provoquant son escamotage, comme décrit ci-après dans le cas d'un test sur un boîtier. base 503 repose sur une partie 902 du système de blocage. système blocage est monté libre en rotation dans un système de maintien de guidage en rotation 904 et est maintenu en position verticale par l'action ressort de torsion 903 qui prend appui sur la paroi 201d et sous la partie support 902. le testeur effectue un test sur un PCB seul, la mise en place du PCB 601 affecte pas l'axe 901, qui reste en position verticale et la force maintien la partie de support 902 sur la base 503 facilite la mise en place PCB pour l'utilisateur, étant donné que la base n'a pas tendance à s'enfoncer sous l'action de l'utilisateur. Si le testeur effectue un test sur un boîtier, l'axe 901, qui est plus long que axes de support 103, est sollicité par la partie inférieure 401b boîtier. pression exercée sur l'axe 901 le fait pivoter autour du système maintien et de guidage en rotation 904, ce qui libère la base (voir figure 9b), laquelle peut ainsi s'enfoncer sous l'action de la partie inferieure 401b du boîtier sur les axes 103. Le système se retrouve alors dans la situation illustrée par les figures 8a et 8b. Lors du retour en position de repos, le mécanisme inverse se déroule. De façon avantageuse, le système de blocage escamotable présente une longueur superieure à celle des axes de positionnement de sorte que lors du retour de base en position haute, la partie 902 n'entre en contact avec l'extrémité la base 503. Les figures 10 et 11 illustrent une variante de réalisation de la figure 9c. La figure 10 est une vue en coupe selon la ligne C-C la figure 9c. Le connecteur 211 est ici mis en place dans le boîtier 400. L'axe 901 est monté en rotation dans le système de maintien et de guidage en rotation 904 grâce à un axe 1001 solidaire de l'axe 901 par l'intermédiaire de la partie de support 902. Le ressort de torsion 903 est lui-même monté sur l'axe 1001 et est maintenu en position grâce à des ergots 1002 et 1003 réalisés sur la partie de support 902 et la paroi latérale 201d du testeur. La figure 11 est une vue selon la flèche D de la figure 10. On y voit le ressort de torsion 903 ainsi que les ergots 1002 et 1003. La figure 12 illustre une variante de réalisation du système de blocage du boîtier 400 en position de test, vue en coupe selon la ligne E-E de la figure 1. Le mode particulier de réalisation décrit ici comporte un seul système de blocage. Cependant, on pourrait prévoir plusieurs systèmes de blocage au cas où un seul système ne donnerait pas entière satisfaction. Le principe consiste à utiliser les trous d'accrochage 403 boîtier et à mettre un crochet 1206 dans la partie haute d'un trou d'accrochage 403. Lors de la mise en place du boîtier, le crochet 1206 entre contact avec la partie inférieure 401 b de l'appareil à tester au niveau du trou 403 et une pente 1207 aménagée sur le crochet 1206 permet au crochet s'écarter automatiquement dans la direction matérialisée par la flèche 1209. crochet 1 peut alors pénétrer dans le trou 403 et vient se bloquer contre la partie superieure de la partie 401b sous l'action d'un ressort 1 , qui tire le crochet 1 dans la direction matérialisée par la flèche 1210. boîtier est alors bloqué entre le crochet 1206 et la partie supérieure 106 du testeur 100. Le système de blocage comporte en outre système 1201 en forme de L, constitué d'une partie horizontale qui repose un support 1205 paroi 201c du testeur. Le ressort 1202 s'accroche entre deux trous 1203 1 mis en place respectivement dans la paroi 201c et le crochet 1206. Le déblocage du boîtier 400 se fait de façon tres simple : une simple pression de l'utilisateur sur une partie saillante 1208 système 1201 en L, formant bouton-poussoir, permet de relâcher le crochet 1 La figure 13 illustre une autre variante de réalisation du système de blocage du boîtier 400 en position de test. Le principe consiste à utiliser une sorte de couvercle ou capot pour bloquer le boîtier sur le châssis du dispositif de test. Une partie 1301 en U ou capot est montée libre en rotation dans une charnière 1302 aménagée dans la paroi 101b du testeur. Lorsque l'utilisateur met le boîtier en place, il fait pivoter la partie 1301 en U, vient s'accrocher, grâce à un clip d'accrochage 1303, dans une fente 1304 de paroi 101d. Pour libérer le boîtier, l'utilisateur décroche simplement le clip d'accrochage 1303 de la fente 1304. La figure 14 représente le schéma électrique du testeur selon l'invention, dans un mode particulier de réalisation. En particulier, les valeurs numériques des composants qui sont données ci-après sont purement indicatives et non limitatives. Le circuit illustré sur la figure 14 est câblé sur le PCB 207 de la figure 2. II réalise l'interface entre le port série du PC et le PCB à tester. Le circuit est alimenté via le connecteur 205 par le bloc d'alimentation de l'appareil sous test. Dans le mode de réalisation décrit ici, l'alimentation fournit une tension continue de 5 V. Un condensateur 10 de capacité 47 #LF réalise un découplage de l'alimentation. Un câble 206 (non représenté sur cette figure, mais visible sur la figure 2) permet d'alimenter en parallèle l'appareil sous test via la prise 21 . L'avantage de cette configuration est d'éviter l'utilisation d'un bloc d'alimentation supplémentaire pour le testeur. Le connecteur 203 est un connecteur série de type DB9 classique. II reçoit le câble série provenant du PC. La broche 5 de ce connecteur est reliée la masse du système. Les broches 2 et 3, respectivement Tx et Rx, sont connectées directement au circuit intégré 30. Tx représente les données transmises vers le PC et Rx les données reçues de ce dernier. Le circuit intégré 30 est un dispositif de pilotage l récepteur anglais "driver/ receivee') pour la ligne RS232. Sa mise en ceuvre est classique bien connue de l'homme du métier. Les composants 11, 13, 14, 15 et cablés autour de ce circuit sont des condensateurs de capacité 1pF. La broche 1 du circuit est connectée à la broche 2 du connecteur 104 et à l'anode de 105B. La cathode de cette DEL est connectée à la masse via une résistance série 21 de 2,2 kS1 La broche 2 du connecteur 104 correspond à la pointe de test 1 précédemment décrite. Cette pointe de test reçoit les données provenant processeur principal de l'appareil sous test. Lorsque des données sont transmises par l'appareil sous test, la DEL 105B clignote. La broche 12 du circuit 30 est connectée à l'anode de la DEL 1 la cathode de la DEL 105A est connectée à une résistance 20 de 5,1 kS2 et à broche 1 du connecteur 104. L'autre borne de la résistance 20 est reliée à la masse du système. La broche 1 du connecteur 104 correspond à la pointe de test 1 précédemment décrite. Cette pointe de test envoie les données provenant PC vers le processeur principal. Lorsque des données sont transmises vers processeur de l'appareil sous test, la DEL 105A clignote. Ici, la DEL 105A a seconde fonction. Le circuit 30 alimenté en 5 V fournit des signaux ayant amplitude de 0 à 5 V au processeur de l'appareil à tester. Or ici, ce processeur est alimenté en 3,3 V et les niveaux 0 - 5 V risqueraient de l'endommager. Donc utilise la chute de tension dans la DEL 105A pour adapter les niveaux de 0 5 à une amplitude de variation comprise entre 0 et 3,3 V. La broche 3 du connecteur 104 est connectée à la cathode de la DEL 105C. l'anode de la DEL 105C est connectée à l'alimentation 5 V via une resistance 23 de 5,1 kS2. La broche 3 du connecteur 104 correspond à la pointe de test 1 précédemment décrite. Cette pointe de teste est reliée à la masse de l'appareil sous test. Ainsi, lorsque le boîtier et/ou le PCB est en position sur le testeur l'anode de la DEL 105C est reliée à la masse et elle s'allume, indiquant le bon contact entre la pointe de test et le point de test. L'interrupteur 204 est un interrupteur à deux positions A et B, correspondant à deux modes de fonctionnement différents, dont l'un est mode de mise à jour de programmes dans un PCB et l'autre est un mode test de PCB. Une des broches de cet interrupteur n'est reliée à rien. Une autre broche est connectée à la masse du système. Le point milieu de l'interrupteur est relié à la broche 4 du connecteur 104 et à l'anode de la DEL 105D. Cette DEL est reliée à la masse via une résistance 22 de 2,2 kS2. La broche 4 du connecteur 104 correspond à la pointe de test 104d décrite précédemment. Cette pointe de test est reliée à une entrée du processeur principal. Lorsque l'interrupteur 204 est en position A, l'entrée correspondante du processeur principal reste à un niveau haut et la DEL 105D est allumée. Lorsque l'interrupteur bascule en position B, l'entrée correspondante du processeur est forcée à un niveau bas. Le composant 12 est un condensateur de capacité 100 nF. Il permet de minimiser les phénomènes de rebond dus à l'interrupteur. Suivant la position de l'interrupteur 204, on initialise l'appareil sous test, soit dans un mode de mise à jour de son programme principal, soit dans un mode de test. Les broches 1, 2, 3 et 4 du connecteur 104 sont connectées respectivement aux pointes de test 104a, 104b, 104c et 104d par un câble non représenté. REVENDICATIONS 1. Dispositif de test (100) pour une carte à circuit imprimé (601) et/ou un boîtier (400) incluant une carte à circuit imprimé, comprenant un châssis fixe (201, 202), un système de positionnement et de maintien de carte à circuit imprimé à tester, au moins une pointe de test (104a, 104b, 1 , 104d), une carte à circuit imprimé (207) recevant des signaux extérieurs et transmettant à ladite pointe de test, caractérisé en ce que ledit système de positionnement et de maintien peut prendre deux positions différentes selon qu' teste la carte à circuit imprimé (601) seule ou la carte dans le boîtier (400). 2. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que chaque élément du système de positionnement et de maintien de la carte à circuit imprimé (601) est monté sur un système à ressorts (506) et est apte à s'escamoter sous l'action du boîtier (400). 3. Dispositif selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que chaque élément du système de positionnement et de maintien de la carte à circuit imprimé (601) à tester est monté solidaire d'une base (503), ladite base (503) étant montée sur au moins un moyen à ressort (903) et étant escamotable sous l'action du boîtier (400). 4. Dispositif selon la revendication 1, 2 ou 3, caractérisé en ce qu'il comporte des moyens de positionnement latéral et vertical 03, 304) de la carte à circuit imprimé (601) dans ledit dispositif. 5. Dispositif selon la revendication 4, caractérisé ce que lesdits moyens positionnement (103, 304) ont une hauteur adaptée à la distance (H) entre face inférieure de la carte à circuit imprimé (601) et la face inférieure boîtier (400). Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il comporte au moins deux moyens de blocage vertical (302) de carte à circuit imprimé (601) sur ledit dispositif. Dispositif selon la revendication 1, 2 ou 3, caracterisé en ce qu'il comporte moyens de positionnement latéral et vertical 03, 304) de la carte à circuit imprimé (601) dans ledit dispositif et des moyens de blocage vertical (302) de la carte à circuit imprimé (601) sur ledit dispositif, lesdits moyens positionnement et lesdits moyens de blocage étant mêmes. Dispositif selon la revendication 1, 2 ou 3, caracterisé en ce qu'il comporte cinq moyens de positionnement latéral et vertical (1 , 103b, 302a, 302b, 302c) de la carte à circuit imprimé (601) dans ledit dispositif et trois moyens de blocage vertical (304, 305) de la carte à circuit imprimé (601) sur ledit dispositif. Dispositif selon la revendication 1, 2 ou 3, caractérisé en ce qu'il comporte parois latérales (101), des moyens de positionnement latéral et vertical de la carte à circuit imprimé (601) dans ledit dispositif et des moyens blocage vertical (302) de la carte à circuit imprimé (601) sur ledit dispositif, lesdites parois latérales (101) ayant une longueur supérieure à celle desdits moyens de positionnement (103) et desdits moyens de blocage (302). Dispositif selon la revendication 3, caractérise en ce qu'il comporte moyens de positionnement latéral et vertical 304) de la carte à circuit imprimé (601) dans ledit dispositif et en ce que face inférieure (401b) du bottier (400) est adaptée à venir appuyer sur la face supérieure desdits moyens de positionnement (103) lors de la mise en place du boîtier. 11. Dispositif selon la revendication 1, 2 ou 3, caracterisé en ce qu'il comporte des moyens de positionnement latéral et vertical 03, 304) de la carte à circuit imprimé (601) dans ledit dispositif et des moyens de blocage vertical (302) de la carte à circuit imprimé (601) sur ledit dispositif, la face supérieure desdits moyens de positionnement (103, 304) étant dessus de la face supérieure desdits moyens de blocage (302). 12. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 2 à 11, caractérise en ce qu'il comporte au moins une paroi circulaire (210a, 210b, 210c, 21 ; 507a, 507b, 507c, 507d) permettant la mise en place et le maintien dudit systeme à ressorts (506). 13. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il comporte au moins un moyen de blocage dudit boîtier dans ledit châssis (201, 202). 14. Dispositif selon la revendication caractérisé en ce que ledit moyen de blocage du boîtier dans ledit châssis adapté à coopérer avec des moyens de positionnement du boîtier en fonctionnement. 15. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il comporte moins un logement (107a, 107b) adapté à recevoir une bande auto-agrippante destinée à coopérer avec une autre bande auto-agrippante prévue sur le bottier (400). 16. Dispositif selon la revendication 14, caractérisé en ce qu'il comporte au moins un crochet (1206) monté un ressort (1202), adapté à coopérer avec des trous d'accrochage (403) prevus sur le boîtier (400) pour bloquer le boîtier dans ledit dispositif. 17. Dispositif selon la revendication caractérisé en ce qu'il comporte un bouton-poussoir (1208) accessible l'extérieur dudit dispositif, permettant d'actionner ledit crochet (1206) en débloquer le boîtier (400). 18. Dispositif selon la revendication caractérisé en ce que ledit moyen de blocage est un capot (1301) venant accrocher sur ledit dispositif au moyen d'un clip d'accrochage (1303). 19. Dispositif selon la revendication 3, caractérisé en ce qu'il comporte un moyen (901, 902, 903, 904) pour maintenir ladite base (503) lors de la mise en place de la carte à circuit imprimé (601) dans ledit dispositif. 20. Dispositif selon la revendication 19, caractérisé en ce que ledit moyen de maintien (901, 902, 903, 904) s'escamote lors de la mise en place du boîtier (400). 21. Dispositif selon la revendication ou 20, caractérisé en ce qu'il comporte des moyens de positionnement latéral et vertical (103) de la carte à circuit imprimé (601) dans ledit dispositif, en ledit moyen de maintien (901, 902, 903, 904) est disposé de façon décalée rapport à ladite carte à circuit imprimé (601) et en ce qu'il présente une longueur supérieure à celle desdits moyens de positionnement (103). 22. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il utilise l'alimentation électrique du boîtier (400). 23. Dispositif selon la revendication 22, caractérisé en ce qu'il comporte un câble d'alimentation (206) pouvant être connecte au boîtier (400). 24. Dispositif selon l'une quelconque revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il comporte un moyen commutation (204) pour configurer ledit dispositif dans deux modes de fonctionnement différents. 25. Dispositif selon l'une quelconque revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il comporte au moins une diode electroluminescente (105A, 105B, 105C, 105D) associée ' ladite pointe de test 04a, 104b, 104c, 104d). 26. Appareil de test électronique, caractérisé en ce qu'il comporte un dispositif de test selon l'une quelconque des revendications précédentes.