Brevet FR2787570A1 — publié le 20000623

La présente invention concerne un spectromètre d'émission atomique et plus particulièrement, un dispositif à réseau de diffraction, à miroir et à détecteur unique. Les spectromètres utilisent généralement un réseau de diffraction qui est concave et un ou plusieurs miroirs dans lesquels des émissions spectrales incidentes sont dirigées vers le réseau de diffraction qui sépare les spectres d'émission incidents en différentes bandes spectrales qui sont ensuite réfléchies par un miroir vers un détecteur. Le détecteur est un groupement relativement oblong de photodétecteurs couvrant le plan image qui n'est généralement pas plan et par conséquent, qui conduit à une certaine courbure de champ réduisant la qualité de l'image et de ce fait, la couverture spectrale disponible. De plus, ces groupements de détecteurs oblongs sont assez coûteux. Si des groupements multiples sont utilisés pour accéder à des régions de longueurs d'onde adjacentes, ils doivent être placés physiquement de façon juxtaposée, ce qui conduit à une interférence physique entre ces détecteurs. Par conséquent, bien que des réseaux de diffraction convexes aient conduit à des améliorations des spectromètres, des problèmes importants restent à résoudre en ce qui concerne la possibilité de séparer les émissions spectrales incidentes en des bandes de fréquences physiquement distinctes et pouvant être détectées. La présente invention remédie au problème posé par les spectromètres de l'art antérieur en proposant un réseau de diffraction convexe sphérique ayant un rayon de courbure qui est égal à la moitié du rayon de courbure d'un ou plusieurs miroirs sphériques concaves utilisés avec le réseau de diffraction. Le réseau de diffraction et les miroirs sont disposés à l'intérieur d'une chambre de telle façon que leurs centres de courbure coïncident dans le plan focal qui est un plan focal de champ plan par rapport auquel une pluralité de détecteurs linéaires relativement petits espacés sont disposés sur des côtés opposés de la fente d'entrée d'émission. Cet agencement conduit à deux plans de dispersion ayant des ordres de diffraction positif et négatif permettant une détection de segments alternés d'une bande de longueurs d'onde considérée, ces segments étant physiquement espacés de part et d'autre de la fente d'entrée. Ce dispositif élimine la nécessité d'avoir à utiliser des détecteurs uniques oblongs coûteux et permet d'utiliser une pluralité de détecteurs linéaires plans relativement peu coûteux pour détecter efficacement la gamme spectrale souhaitée sans interférence due à des détecteurs adjacents. Ce dispositif assure une couverture spectrale complète d'une bande souhaitée de longueurs d'onde, évite l'interférence physique entre des détecteurs multiples et assure une meilleure conformité avec le plan de dispersion du fait de l'utilisation de détecteurs relativement petits qui se conforment mieux au plan focal, ce qui conduit à de meilleures performances globales pour une couverture plus étendue en longueur d'onde que ne le permettaient les dispositifs antérieurs. Ces caractéristiques, objectifs et avantages de la présente invention, ainsi que d'autres, ressortiront de la description qui en est fournie ci-après en référence aux dessins annexés sur lesquels: La figure 1 est un schéma fonctionnel d'un spectromètre mettant en oeuvre le système de détection à sphère centrée de la présente invention; la figure 2 est un diagramme optique du système de détection représentant également la source d'émission; et la figure 3 est une vue en perspective fragmentaire, partiellement segmentée et éclatée du système de détection représenté dans la figure 2. Si l'on se réfère tout d'abord à la figure 1, celle- ci représente un spectromètre d'émission atomique 10 mettant en oeuvre la présente invention. Le spectromètre I IEIfi l - sera normalement logé dans un logement comportant une source 12 d'émission, telle qu'une source d'émission à décharge luminescente, bien que d'autres sources d'émission telles que des sources à étincelle d'arc, à plasma couplé par induction ou à ablation par laser, puissent également être utilisées. Un échantillon est habituellement placé dans une chambre à échantillon associée à la source d'émission 12 qui émet une émission spectrale 14 dont l'énergie optique contient des longueurs d'onde d'une lumière émise par des éléments contenus dans l'échantillon. L'émission spectrale 14 est focalisée sur une fente d'entrée 40 (figures 2 et 3) du système de détection 16 à sphère centrée de la présente invention. Comme décrit de façon plus détaillée ci-après, le système de détection comporte une chambre ayant un réseau de diffraction convexe et une paire de miroirs sphériques ainsi qu'une pluralité de détecteurs linéaires mutuellement espacés. Les détecteurs sont reliés par des conducteurs électriques 18 à un analyseur 20 commandé par microprocesseur qui traite les signaux d'informations et fournit à l'opérateur un affichage et/ou un tirage sur papier des caractéristiques des éléments détectés qui sont contenus dans l'échantillon, y compris le type des éléments et leur concentration. La source d'émission et l'analyseur peuvent en général être du type qui est fourni commercialement par la Société Leco Corporation de St Joseph, Michigan, USA, modèles N s GDS400A ou GDS750A. L'amélioration apportée par la présente invention comprend le système de détection 16 qui sera décrit ci-après de façon plus détaillée en rapport aux figures 2 et 3. En premier lieu, on notera que le diagramme optique de la figure 2 est à une échelle correspondant aux dimensions réelles illustrées dans le dessin. Cependant, dans la figure 2, la source d'émission 12 et son espacement par rapport au système de détection 16, sont représentés de façon schématique. Le système de détection il iii- li 16, tel qu'on le voit dans la vue en perspective fragmentaire de la figure 3, comporte une chambre définie par un boîtier 30 ayant un fond 32, une paroi avant 34, des parois latérales 36 et 38, une paroi arrière 40, et un dessus amovible 31 offrant un accès à la chambre 35 à l'intérieur de laquelle sont montés les éléments optiques. Le boîtier sera généralement placé à l'intérieur de l'instrument 10 dans un environnement à température stable et pourra être mis en fonctionnement soit sous vide, soit dans d'autres conditions atmosphériques régulées. Dans un mode de réalisation préféré, le boîtier avait des dimensions approximatives de 45,7 cm (largeur) x 45,7 cm (longueur) x 17,8 cm (hauteur) (18"w x 18"1 x 7"h), les parois étant formées de façon solidaire d'un métal coulé approprié et le fond 32 et le dessus étant fixés de façon étanche aux parois, au moyen d'un joint d'étanchéité torique disposé à l'intérieur de rainures 33 (figure 3) formées dans les extrémités des parois, et d'éléments de fixation filetés s'étendant à l'intérieur d'ouvertures filetées 37. Le système de détection 16 comporte une fente d'entrée 40 montée sur la paroi avant 34 par un ensemble de montage 42 classique. Dans le mode de réalisation préféré de l'invention, la fente d'entrée était globalement rectangulaire et avait une dimension de 1 mm sur 14 microns et recevait l'émission spectrale 14 (figures 1 et 2) en provenance de la source d'émission 12, généralement par l'intermédiaire d'une lentille de focalisation destinée à focaliser l'énergie lumineuse sur la fente d'entrée. Un réseau de diffraction 50 convexe sphérique dont les stries 51 sont agencées perpendiculairement au plan de symétrie du plan focal 54 (figure 2) du spectromètre est disposé de façon centrale à l'intérieur de la chambre 35 du boîtier 30 (c'est-à-dire d'une façon globalement verticale selon la figure 3 et en entrant et sortant du plan de la figure 2). Le réseau 50 iiilAMII est placé dans une monture réglable 52 ayant une structure généralement bien connue permettant son alignement précis. Le rayon de courbure du réseau de diffraction 50 sphérique convexe est égal à la moitié de celui de chacun d'une paire de deux miroirs sphériques concaves 60 et 70 respectivement montés sur la paroi arrière 40 du boîtier , au moyen d'ensembles formant supports réglables 65 et 75. Dans le mode de réalisation préféré de l'invention, le réseau de diffraction est placé à une distance de 225 mm du plan focal 54 (en étant espacé en face de la paroi avant 34) et est situé de façon centrale, comme le montre mieux la figure 2. Le centre de courbure du réseau de diffraction se situe sur le plan focal 54 en un centre de courbure 55 commun (figure 2) pour le rayon de courbure du réseau ainsi que pour le rayon de courbure de chacun des miroirs 60 et 70, qui ont un rayon de courbure de 450 mm exactement égal au double du rayon de courbure du réseau. Les miroirs 60 et 70 sont des miroirs polis de manière sphérique placés de façon qu'un premier miroir 60 ait son centre à 65,21 mm en dessous de l'axe central 57 du réseau optique. Le miroir 70 est placé de façon que son centre soit situé à 106,96 mm au-dessus de la ligne centrale 57, telle qu'elle est vue dans la figure 2. Les miroirs sont ajustés de façon que leurs centres de courbure soient alignés avec le centre de courbure 55, qui est décalé (dans la figure 2) au-dessus de la fente d'entrée 40 d'une distance de 25 mm. Le réseau de diffraction 50 comporte, de façon classique, une surface avant réfléchissante alors que les miroirs 60 et 70 sont des miroirs globalement circulaires polis avec précision ayant une surface avant réfléchissante et un diamètre d'environ 14 cm (5,5"). Un premier détecteur linéaire 80 est monté sur le fond 32 en face de la surface intérieure de la paroi avant 34 du boîtier 30, au moyen d'un ensemble formant support 82 permettant son alignement angulaire et spatial précis. Un second groupement détecteur linéaire 84 est également monté par des supports 83 sur le fond 32. Les détecteurs 80 et 84 sont montés d'un côté de la fente d'entrée 40, alors que du côté opposé, un troisième détecteur 86 est monté au moyen d'un support de montage 87 et qu'un quatrième détecteur 88 est monté au moyen d'un ensemble formant support de montage 89. Tous ces détecteurs sont des détecteurs linéaires à semiconducteur relativement petits et peuvent être d'un type disponible dans le commerce auprès de la Société Sony Semiconductors, modèles N ILX526A comprenant un capteur d'image linéaire à CCD, ces dispositifs étant relativement petits et peu coûteux, et fournissant environ 3000 pixels de détection, la taille du pixel étant d'environ 7 micromètres sur 200 micromètres. Les dimensions physiques des boîtiers des détecteurs à 22 broches relativement petits de type DIP sont d'environ 10 mm de largeur et de 32 mm de hauteur. Les ensembles formant supports 82, 83, 87 et 89 sont réglables angulairement et linéairement de manière classique afin de positionner les détecteurs pour permettre leur alignement optique précis, comme illustré par le diagramme de la figure 2, par rapport aux miroirs et 70 et au réseau 50, de façon que des segments d'une bande spectrale soumise à l'analyse, soient focalisés en alternance, respectivement sur les premier, troisième, second et quatrième détecteurs, comme cela sera décrit de façon plus détaillée ci- après, du fait du rayon de courbure et du positionnement des miroirs et du réseau. Se référant à présent à la figure 2 qui représente le diagramme optique du positionnement des éléments optiques et de détection du système de détection 16 représenté en figure 3, on peut noter que le spectre d'émission optique 14 provenant de la source 12 est focalisé sur la fente d'entrée 40 et est représenté par un faisceau A dans la figure 2. Le faisceau A est incident sur la surface du miroir 60 et est réfléchi sous la forme d'un faisceau B vers le réseau 50. Le réseau divise Fi illl MI l'énergie optique incidente en des longueurs d'onde diffractées d'ordre +1 et d'ordre -1, l'ordre +1 (ordre positif) C+ étant dirigé vers le miroir sphérique 70, et la longueur d'onde d'ordre - 1, ou ordre C-, étant dirigée vers le miroir 60. Le miroir 70 dirige, cela étant indiqué sous la forme de l'énergie réfléchie D+, l'énergie optique incidente sur le plan focal 54 qui sépare l'énergie spectrale en des segments discrets de la bande de longueurs d'onde. Simultanément, l'énergie C- est réfléchie par le miroir 60, comme indiqué en D-, sur le plan focal 54, dans des bandes discrètes segmentées spectralement et séparées physiquement. Dans le mode de réalisation préféré représenté en figure 2, les dimensions des éléments optiques sont sélectionnées de façon à assurer une couverture continue dans une bande de longueurs d'onde d'environ 150 nanomètres (nm) à 450 nm. Le premier détecteur 80 est positionné de façon à détecter la gamme spectrale d'ordre +1 allant de 150 nm à 225 nm. Dans la bande d'énergie réfléchie d'ordre -1, le segment adjacent suivant de la bande spectrale détectée est réfléchi par le miroir 60 sur le détecteur 86 et comporte des longueurs d'onde d'environ 225 nm à environ 300 nm. Par conséquent, les segments adjacents de la bande spectrale sont focalisés par les miroirs 60 et 70 sur des capteurs linéaires 80 et 86 fortement espacés l'un de l'autre sur des côtés opposés de la fente d'entrée 40. De même, la bande spectrale d'ordre +1 (D+) de 300 à 375 nm est réfléchie par le miroir 70 sur le détecteur 84, alors que le segment immédiatement adjacent de la bande spectrale (D-), qui comprend les longueurs d'onde allant de 375 nm à 450 nm, est projeté sur le détecteur 88. Par conséquent, les segments adjacents de la bande spectrale sont réfléchis sur de petits capteurs d'images linéaires , 84, 86 et 88, disposés de façon alternée en quinconce et de manière espacée les uns des autres, qui sont montés sur le boîtier 30, comme on le voit dans la figure 3. [FI 1 ilI ' Comme le montre le diagramme optique de la figure 2, l'espacement et le positionnement des éléments optiques, en millimètres, est représenté pour la bande spectrale de nm à 450 nm dans le mode de réalisation préféré. On notera que pour des bandes spectrales différentes, les dimensions varient selon les nécessités afin de réfléchir les longueurs d'onde d'émission d'ordre +1 et d'ordre -1 vers des détecteurs mutuellement espacés. La géométrie sélectionnée pour le positionnement des miroirs sphériques concaves ayant un rayon de courbure deux fois supérieur à ou égal à approximativement deux fois celui du réseau de diffraction convexe sphérique et pour leur positionnement avec un centre de courbure commun, produit un éclairement de réseau proche de celui de Littrow et conduit à un espacement alterné de segments adjacents des sections d'ordres +1 et -1 dans les bandes spectrales se situant sur deux plans de dispersion, ce qui permet l'utilisation de capteurs d'images linéaires relativement petits, peu coûteux et mutuellement espacés, pour détecter des spectres continus d'énergie lumineuse avec un minimum d'interférence entre les détecteurs adjacents. Cela permet d'espacer physiquement les détecteurs plans relativement petits, ce qui peut notablement améliorer leur alignement avec le plan focal qui n'est pas entièrement plan, mais légèrement incurvé, et permet de détecter avec précision les longueurs d'onde de la lumière dans la totalité du spectre auquel on s'intéresse. Dans certains modes de réalisation, un miroir concave sphérique unique peut être utilisé pour diviser la bande spectrale, mais avec une couverture moins continue. Les signaux provenant des détecteurs 80, 84, 86 et 88 sont appliqués à l'analyseur 20 (figure 1) et sont traités de manière classique pour fournir à l'opérateur des informations sur un échantillon donné placé à l'intérieur de la source d'émission 12. Il apparaîtra aux spécialistes de la technique qu'ils peuvent apporter diverses modifications au mode de dI Iii I I n -- réalisation préféré de l'invention, telle qu'elle est décrite ici, sans qu'ils s'écartent du cadre de l'invention défini par les revendications annexées. REVENDICATIONS 1. Système de détection à sphère centrée (16) destiné à un spectromètre d'émission atomique (10), caractérisé en ce qu'il comprend: une chambre (35) ayant une fente d'entrée (40); un réseau de diffraction convexe sphérique (50) positionné à l'intérieur de ladite chambre (35) et aligné le long d'un axe central (57) décalé par rapport à ladite fente d'entrée (40) et ayant un premier rayon de courbure; un premier miroir sphérique concave (60) ayant un rayon de courbure égal à approximativement deux fois celui dudit réseau de diffraction (50), positionné selon une relation décalée par rapport audit axe central (57) dudit réseau (50) dans une première direction, le centre de courbure (55) dudit miroir (60) coïncidant avec le centre de courbure (55) dudit réseau de diffraction (50); un second miroir sphérique concave (70) ayant un rayon de courbure égal à approximativement deux fois celui dudit réseau de diffraction (50) et positionné sur un côté dudit axe central (57) à l'opposé dudit premier miroir (60) et aligné de façon que son centre de courbure (55) coïncide avec celui dudit premier miroir (60) et dudit réseau de diffraction (50) pour produire des ordres de diffraction positif et négatif mutuellement espacés; et une pluralité de capteurs d'images mutuellement espacés (80, 84, 86, 88), disposés le long du plan focal (54) desdits miroirs (60, 70), mutuellement espacés les uns des autres pour recevoir de l'énergie optique (14) réfléchie par lesdits premier et second miroirs (60, 70). 2. Système de détection (16) selon la revendication 1, caractérisé en ce que ladite pluralité de capteurs d'images linéaires (80, 84, 86, 88) comporte au moins un capteur (80, 84) positionné dans ladite chambre (35) d'un côté de ladite fente d'entrée (40) et au moins un capteur (86, 88) positionné dans ladite chambre (35) du côté opposé de ladite fente d'entrée (40). 3. Système de détection (16) selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'une paire de capteurs mutuellement espacés (80, 84, 86, 88) est montée dans ladite chambre (35) de chaque côté de ladite fente d'entrée (40). 4. Système de détection (16) selon la revendication 2, caractérisé en ce que ladite chambre (35) est définie par un boîtier (30) ayant des parois latérales (36, 38, 40), un fond (32) et un capot amovible (31) et en ce que ledit réseau de diffraction (50) est monté sur un emplacement de commande dudit fond (32). 5. Système de détection (16) selon la revendication 4, caractérisé en ce que ledit rayon de courbure dudit réseau de diffraction (50) est d'environ 225 mm. 6. Système de détection (16) selon la revendication 5, caractérisé en ce que lesdits miroirs (60, 70) ont chacun un rayon de courbure d'environ 450 mm. 7. Système de détection (16) selon la revendication 6, caractérisé en ce que ladite fente d'entrée (40) est formée dans une paroi (40) dudit boîtier (30) de façon décalée d'environ 25 mm par rapport au centre de courbure (55) desdits miroirs (60, 70). 8. Système de détection (16) selon la revendication 7, caractérisé en ce qu'il comporte un support de montage réglable (52) pour ledit réseau de diffraction (50). 9. Système de détection (16) selon la revendication 8, caractérisé en ce qu'il comporte un support de montage réglable (52) destiné au montage de chacun desdits capteurs (80, 84, 86, 88) sur ledit fond (32) dudit boîtier (30). 10. Système de détection (16) selon la revendication 9, caractérisé en ce qu'il comporte un support de montage réglable (65, 75) destiné au montage de k l ill. E.! chacun desdits miroirs (60, 70) sur une paroi (40) dudit boîtier (30). 11. Système de détection à sphère centrée (16) destiné à un spectromètre d'émission atomique (10), caractérisé en ce qu'il comprend: un boîtier (30) définissant une chambre (35), ledit boîtier (30) ayant une fente d'entrée (40) destinée à recevoir des émissions lumineuses (14) d'un échantillon à analyser; un réseau de diffraction convexe (50) positionné à l'intérieur dudit boîtier (30) et aligné le long d'un axe central (57) décalé par rapport à ladite fente d'entrée (40) et ayant un premier rayon de courbure; un miroir sphérique concave (60) ayant un rayon de courbure d'approximativement deux fois celui dudit réseau de diffraction (50) positionné de façon décalée par rapport au centre dudit réseau (50) dans une première direction, le centre de courbure (55) dudit miroir (60) coïncidant avec le centre de courbure (55) dudit réseau de diffraction (50); et une pluralité de capteurs d'images mutuellement espacés (80, 84, 86, 88) montés dans ledit boîtier (30) de façon à être disposés le long du plan focal (54) dudit miroir (60) mutuellement espacés pour recevoir de l'énergie optique (14) réfléchie par ledit miroir (60). 12. Système de détection (17) selon la revendication 11, caractérisé en ce que ledit rayon de courbure dudit réseau de diffraction (50) est d'environ 225 mm. 13. Système de détection (16) selon la revendication 12, caractérisé en ce que ledit miroir (60) a un rayon de courbure d'environ 450 mm. 14. Système de détection (16) selon la revendication 13, caractérisé en ce que ladite fente d'entrée (40) est formée dans une paroi (40) dudit boîtier (30) de façon décalée d'environ 25 mm par rapport au centre de courbure (55) dudit miroir (60). 15. Système de détection (16) selon la revendication 14, caractérisé en ce qu'il comprend en outre un second miroir (70) ayant un rayon de courbure d'environ 450 mm, ledit miroir (70) étant monté dans ledit boîtier (30) d'un côté dudit axe central (57) qui est opposé audit premier miroir (60). 16. Système de détection (16) selon la revendication 15, caractérisé en ce que ladite pluralité de capteurs d'images linéaires (80, 84, 86, 88) comporte au moins un capteur (80, 84) positionné dans ladite chambre (30) d'un côté de ladite fente d'entrée (40) et au moins un capteur (86, 88) positionné dans ladite chambre (30) d'un côté opposé de ladite fente d'entrée (40). 17. Système de détection (16) selon la revendication 16, caractérisé en ce qu'une paire de capteurs mutuellement espacés (80, 84, 86, 88) est montée dans ladite chambre (30) de chaque côté de ladite fente d'entrée (40). 18. Spectromètre à sphère centrée (10), caractérisé en ce qu'il comprend: une source d'émission (12) d'énergie optique devant être analysée; un boîtier (30) ayant une fente d'entrée (40); un réseau de diffraction sphérique convexe (50) positionné à l'intérieur dudit boîtier (30) et aligné le long d'un axe central (57) décalé par rapport à ladite fente d'entrée (40) et ayant un premier rayon de courbure; un premier miroir sphérique concave (60) ayant un rayon de courbure d'approximativement deux fois celui dudit réseau de diffraction (50) et positionné à l'intérieur dudit boîtier (30) de façon décalée par rapport audit axe central (57) dans une première direction, ledit premier miroir (60) étant tel que son centre de courbure (55) coïncide avec le centre de courbure (55) dudit réseau de diffraction (50); un second miroir sphérique concave (70) ayant un rayon de courbure d'approximativement deux fois celui dudit réseau de diffraction (50) et positionné dans ledit boîtier (30) d'un côté dudit axe central (57) qui est opposé audit premier miroir (60) et aligné de façon que son centre de courbure (55) coïncide avec celui dudit premier miroir (60) et dudit réseau de diffraction (50); une pluralité de détecteurs d'images linéaires mutuellement espacés (80, 84, 86, 88), disposés le long du plan focal (54) desdits premier et second miroirs (60, 70) mutuellement espacés pour recevoir de l'énergie optique (14) réfléchie par lesdits premier et second miroirs (60, 70); et un analyseur (20) relié auxdits détecteurs (80, 84, 86, et 88) pour analyser les informations spectrales (14) détectées par lesdits détecteurs (80, 84, 86, 88). 19. Spectromètre à sphère centrée (10) selon la revendication 18, caractérisé en ce que ladite pluralité de détecteurs d'images linéaires (80, 84, 86, 88) comporte au moins un détecteur (80, 84) positionné dans ledit boîtier (30) d'un côté de ladite fente d'entrée (40) et au moins un détecteur (86, 88) positionné dans ledit boîtier (30) du côté opposé de ladite fente d'entrée (40). 20. Spectromètre à sphère centrée (10) selon la revendication 19, caractérisé en ce qu'une paire de détecteurs mutuellement espacés (80, 84, 86, 88) est montée dans ledit boîtier (30) de chaque côté de ladite fente d'entrée (40). 21. Spectromètre à sphère centrée (10) selon la revendication 20, caractérisé en ce que ledit boîtier est défini par un boîtier (30) ayant des parois latérales (36, 38), un fond (32) et un capot amovible (31), et en ce que ledit réseau de diffraction (50) est monté en une position de commande sur ledit fond (32). l il 71I '-- 22. Spectromètre à sphère centrée (10) selon la revendication 21, caractérisé en ce que le rayon de courbure dudit réseau de diffraction (50) est d'environ 225 mm. 23. Spectromètre à sphère centrée (10) selon la revendication 22, caractérisé en ce que lesdits miroirs (60, 70) ont chacun un rayon de courbure d'environ 450 mm. 24. Spectromètre à sphère centrée (10) selon la revendication 23, caractérisé en ce que ladite fente d'entrée (40) est formée dans une paroi (40) dudit boîtier (30) de façon décalée d'environ 25 mm par rapport au centre de courbure (55) desdits miroirs (60, 70). 25. Spectromètre à sphère centrée (10) selon la revendication 24, caractérisé en ce qu'il comporte un support de montage réglable (52) pour ledit réseau de diffraction (50). 26. Spectromètre à sphère centrée (10) selon la revendication 25, caractérisé en ce qu'il comporte un support de montage réglable (52) destiné au montage de chacun desdits détecteurs (80, 84, 86, 88) sur ledit fond (32) dudit boîtier (30). 27. Spectromètre à sphère centrée (10) selon la revendication 26, caractérisé en ce qu'il comporte un support de montage réglable (65, 75) destiné au montage de chacun desdits miroirs (60, 70) sur une paroi (40) dudit boîtier (30).