Brevet FR2783355A1 — publié le 20000317

Capteur d'images CMOS comportant des transistors de sortie communs et son procédé de commande La présente invention concerne, d'une manière générale, un capteur d'images CMOS (à transistors métaloxyde-semi-conducteur complémentaires) et, plus particulièrement, une matrice de pixels de ce capteur d'images CMOS, et un procédé de commande de la matrice de pixels. D'une manière générale, un capteur d'images est un appareil destiné à capter des images à l'aide de matériaux semi-conducteurs capteurs de lumière. Etant donné que la brillance et la longueur d'onde de la lumière provenant d'un objet ont des valeurs variables en fonction de la surface de réflexion, les signaux électriques issus de pixels diffèrent entre eux. Ces signaux électriques sont convertis en signaux numériques qui peuvent être traités dans un circuit numérique, par un convertisseur analogique/numérique (A/D). Ainsi, le capteur d'images nécessite, entre autres, une matrice de pixels comportant des dizaines à des centaines de milliers de pixels, un convertisseur pour convertir des tensions analogiques en tensions numériques, et des centaines à des milliers de dispositifs de stockage. En référence à la figure 1, un capteur d'images CMOS conventionnel comprend une unité de commande et d'interface , une matrice de pixels 20 comportant de multiples éléments capteurs d'images CMOS, et un convertisseur A/D à rampe unique 30. Le convertisseur A/D à rampe unique 30 comprend également un générateur de tension de rampe 31 destiné à générer une tension de référence, un comparateur (amplificateur opérationnel) 32 destiné à comparer la tension de rampe avec un signal analogique provenant de la matrice de pixels 20 et un double tampon 40. L'unité de commande et d'interface 10 commande le capteur d'images CMOS en contrôlant un temps d'intégration, des adresses de balayage, des modes de fonctionnement, une fréquence d'images, une batterie de mémoires et une division de signaux d'horloge et sert d'interface avec un système extérieur. La matrice de pixels 20 formée de N x M pixels élémentaires dotés d'une excellente sensibilité à la lumière capte des images provenant d'un objet. Chaque pixel de la matrice de pixels 20 comprend un transistor de transfert, un transistor de remise à l'état initial et un transistor de sélection. Le convertisseur A/D à rampe unique 30 convertit des signaux analogiques issus de la matrice de pixels 20 en signaux numériques. Cette conversion A/D est réalisée par comparaison de la tension de rampe avec les signaux analogiques. Le comparateur 32 recherche un point au niveau duquel les signaux analogiques sont identiques à la tension de rampe descendante présentant une pente prédéterminée. Lorsque la tension de rampe est générée, puis commence à descendre, l'unité de commande et d'interface 10 génère des signaux de comptage pour compter le degré de la chute de tension. Par exemple, lorsque la tension de rampe commence à chuter, la valeur numérique convertie peut être "20" dans le cas o les signaux analogiques sont identiques à la tension de rampe descendante à 20 signaux d'horloge de l'unité de commande et d'interface 10. Cette valeur numérique convertie est mise en mémoire dans un double tampon 40 sous la forme de données numériques. Lorsque le capteur d'images CMOS assure un double échantillonnage à corrélation (appelé ci-après CDS) afin de produire des images de grande qualité, des pixels élémentaires 100 et 120 de la matrice de pixels comprennent respectivement une photodiode et quatre transistors, comme illustré sur la figure 2. En outre, les quatre transistors du pixel élémentaire 100, par exemple, comprennent un transistor de transfert M21, un transistor de remise à l'état initial Mli, un transistor de commande M31 et un transistor de sélection M41. Le transistor de transfert M21 transfère des charges photoélectriques générées dans une photodiode 101 à un noeud capteur A, le transistor de remise à l'état initial Mil remet le noeud capteur A à l'état initial pour lui permettre de capter un signal suivant, le transistor de commande M31 joue le rôle de source suiveuse et le transistor de sélection M41 délivre les données numériques à une borne de sortie en réponse à des signaux d'adresse. Conformément à la méthode d'échantillonnage CDS, le pixel élémentaire 100 obtient une tension correspondant à un niveau de remise à l'état initial en rendant le transistor de remise à l'état initial Mîl conducteur et le transistor de transfert M21 non conducteur. De même, le pixel élémentaire 100 obtient une tension de niveau de données en rendant le transistor de transfert M21 non conducteur, le transistor de remise à l'état initial Mil étant à l'état non conducteur, et en extrayant les charges photoélectriques générées dans la photodiode 101. Un décalage dû au pixel élémentaire 100 et au comparateur 32 peut être supprimé par soustraction du niveau de données du niveau de remise à l'état initial. Cette suppression du décalage est essentielle à l'échantillonnage CDS. En effet, la suppression d'une tension imprévue dans le pixel élémentaire permet d'obtenir une valeur de données d'image nette. La figure 3 est un chronogramme représentant des signaux de commande destinés à commander les transistors du pixel élémentaire de la figure 2. Le fonctionnement du pixel élémentaire 100 va être décrit en référence à cette figure. 1) Dans la partie "A" de la figure 3, le transistor de transfert M21 et le transistor de remise à l'état initial Mll sont conducteurs et le transistor de sélection M41 est non conducteur, de sorte que la photodiode 101 est en déplétion totale. 2) Dans la partie "B", le transistor de transfert M21 conducteur est rendu non conducteur, de sorte que la photodiode 101 reçoit une lumière provenant d'un objet, génère des charges photoélectriques et intègre les charges photoélectriques (la partie "B" se poursuit quels que soient les états du transistor de remise à l'état initial Mil et du transistor de sélection M41, jusqu'à ce que le transistor de transfert M21 redevienne conducteur). 3) Dans la partie "C", le transistor de remise à l'état initial Mll et le transistor de transfert M21 restent respectivement à l'état conducteur et à l'état non conducteur, et le transistor de sélection M41 est rendu conducteur, de sorte qu'un niveau de tension de remise à l'état initial est délivré en sortie par l'intermédiaire du transistor de sélection M41 et du transistor de commande M31 excité par le niveau de tension au niveau du noeud capteur A. 4) Dans la partie "D", le transistor de remise à l'état initial Mll est rendu non conducteur, puis le niveau de tension de remise à l'état initial généré dans la partie "C" est stabilisé. ) Dans la partie "E", le niveau de tension de remise à l'état initial de la partie "D" est échantillonné. 6) Dans la partie "F", le transistor de remise à l'état initial Mll et le transistor de sélection M41 restent respectivement à l'état non conducteur et à l'état conducteur, et le transistor de transfert M21 est rendu conducteur, de sorte qu'un niveau de tension de données correspondant aux charges photoélectriques intégrées dans la photodiode 101 pendant le temps de la partie "B" est transféré à la borne de sortie par l'intermédiaire du noeud capteur A, du transistor de commande M31 et du transistor de sélection M41. 7) Dans la partie "G", le transistor de transfert M21 est rendu non conducteur, puis le niveau de tension de données généré dans la partie "F" est stabilisé. 8) Dans la partie "H", le niveau de tension de données de la partie "G" est échantillonné. Le niveau de tension de remise à l'état initial et le niveau de tension de données respectivement échantillonnés dans les parties "E"' et "F" sont fournis en sortie au convertisseur A/D 30 (figure 1) et convertis en deux signaux numériques. La différence des deux signaux numériques devient une valeur d'image de sortie du capteur d'images CMOS par rapport à une image fournie en entrée à partir de la photodiode 101 (figure 1). Ce type de pixel élémentaire conventionnel utilise quatre transistors par pixel pour permettre l'échantillonnage CDS, ce qui augmente la taille de la puce du capteur d'images CMOS. La présente invention a précisément pour but de proposer un capteur d'images CMOS qui puisse avoir une surface de puce réduite grâce à une diminution du nombre de transistors nécessaires pour une matrice de pixels, ainsi qu'un procédé de commande de ce capteur. Pour atteindre ce but et selon un premier aspect de la présente invention, il est proposé un capteur d'images à transistors métaloxyde-semi-conducteur complémentaires (CMOS), caractérisé en ce qu'il comprend: un pixel élémentaire comportant: de multiples photodiodes qui reçoivent une lumière incidente à partir d'un objet pour générer des charges photoélectriques; de multiples moyens de transfert correspondant aux multiples photodiodes et destinés à transférer les charges photoélectriques provenant des multiples photodiodes à un noeud capteur unique en réponse à des signaux de commande fournis par un organe de commande extérieur, signaux de commande qui commandent les multiples moyens de transfert afin que les charges photoélectriques provenant des multiples photodiodes soient transférées sélectivement au noeud capteur unique; un moyen de remise à l'état initial commun destiné à remettre à l'état initial le noeud capteur unique, le moyen de remise à l'état initial déterminant des niveaux de remise à l'état initial du noeud capteur unique qui correspondent à chacune des multiples photodiodes; et un moyen de sortie commun destiné à fournir en sortie des signaux électriques correspondant aux niveaux de tension du noeud capteur unique, le capteur d'images CMOS échantillonnant les signaux électriques par un double échantillonnage à corrélation, puis délivrant en sortie une valeur d'image finale à un dispositif extérieur. Le capteur d'images de l'invention possède en outre les caractéristiques suivantes: - le pixel élémentaire comprend également un moyen de sélection relié au moyen de sortie commun pour délivrer en sortie des données d'image en réponse à des signaux d'adresse; - le moyen de sélection est un transistor métal-oxyde- semi-conducteur à canal de type N (NMOS) relié au moyen de sortie commun; - le moyen de sortie commun est un transistor NMOS commandé par un niveau de tension présent sur le noeud capteur unique, et monté entre une alimentation électrique et le moyen de sélection; - le moyen de remise à l'état initial est un transistor NMOS monté entre une alimentation électrique et le noeud capteur unique; - les moyens de transfert sont des transistors NMOS respectivement montés entre la diode correspondante et le noeud capteur unique; - les multiples photodiodes comprennent un première photodiode et une seconde photodiode, tandis que les multiples moyens de transfert comprennent un premier transistor de transfert et un second transistor de transfert, le pixel élémentaire commandant le noeud capteur unique à un niveau de remise à l'état initial et transférant un premier niveau de tension de données des charges photoélectriques générées par la première photodiode au noeud capteur unique par l'intermédiaire du premier transistor de transfert, et commandant le noeud capteur unique au niveau de remise à l'état initial et transférant un second niveau de tension de données des charges photoélectriques générées par la seconde photodiode au noeud capteur unique par l'intermédiaire du second transistor de transfert; et - chaque niveau de tension transféré au noeud capteur unique est délivré en sortie à un convertisseur analogique/numérique qui convertit des données d'image analogiques en données d'image numériques, par l'intermédiaire du moyen de sortie commun et du moyen de sélection. Selon un deuxième aspect de la présente invention, il est proposé un procédé de commande d'un capteur d'images CMOS pour obtenir un signal de sortie par double échantillonnage à corrélation à partir de charges photoélectriques générées dans de multiples photodiodes à l'aide d'un noeud capteur unique auquel les multiples photodiodes sont reliées électriquement, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes qui consistent à: (a) générer les charges photoélectriques dans chaque photodiode; (b) remettre à l'état initial le noeud capteur unique et obtenir de celui-ci un premier signal électrique; (c) transférer les charges photoélectriques de l'une des photodiodes au noeud capteur unique, puis obtenir de celui-ci un second signal électrique; (d) remettre à l'état initial le noeud capteur unique et obtenir de celui-ci un troisième signal électrique; et (e) transférer les charges photoélectriques d'une autre photodiode au noeud capteur unique, puis obtenir de celui-ci un quatrième signal électrique. Ce procédé selon l'invention est également caractérisé en ce que: - les étapes (b) et (d) comprennent l'étape (f) qui consiste à stabiliser le niveau de remise à l'état initial afin de supprimer une erreur de pointe de tension du noeud capteur unique, l'étape (f) étant réalisée par l'obtention des premier et troisième signaux électriques après un temps de retard; et - les étapes (c) et (e) comprennent l'étape (g) qui consiste à stabiliser le niveau de remise à l'état initial afin de supprimer une erreur de pointe de tension du noeud capteur unique, l'étape (g) étant réalisée par l'obtention des second et quatrième signaux électriques après un temps de retard. Selon un troisième aspect de la présente invention, il est proposé un pixel élémentaire d'un capteur d'images à transistors métal-oxyde-semiconducteur complémentaires (CMOS), caractérisé en ce qu'il comprend: une première photodiode destinée à recevoir une lumière à partir d'un objet ainsi qu'à générer et intégrer des charges photoélectriques; un premier transistor de transfert monté entre la première photodiode et un noeud capteur unique pour transférer les charges photoélectriques générées dans la première photodiode au noeud capteur unique en réponse à un premier signal de commande; une seconde photodiode destinée à recevoir une lumière à partir de l'objet ainsi qu'à générer et intégrer des charges photoélectriques; un second transistor de transfert monté entre la seconde photodiode et le noeud capteur unique pour transférer les charges photoélectriques générées dans la seconde photodiode au noeud capteur unique en réponse à un second signal de commande; un transistor de remise à l'état initial monté entre une alimentation électrique et le noeud capteur unique pour fournir en sortie les charges photoélectriques stockées dans le noeud capteur unique en réponse à un troisième signal de commande; un transistor de commande relié à l'alimentation électrique pour jouer le râ1e de source suiveuse en réponse à une sortie du noeud capteur unique; et un transistor de sélection relié au transistor de commande pour délivrer en sortie des données d'image en étant commandé par le transistor de commande, en réponse à des signaux d'adresse. Le pixel élémentaire de la présente invention a pour autres caractéristiques: - que le premier signal de commande diffère du second signal de commande chronologiquement; - qu'il fournit en sortie un niveau de tension de remise à l'état initial par l'intermédiaire du transistor de remise à l'état initial et un niveau de tension de données d'une image fournie en entrée à la première photodiode par l'intermédiaire du premier transistor de transfert, et un niveau de tension de remise à l'état initial par l'intermédiaire du transistor de remise à l'état initial et un niveau de tension de données d'une image fournie en entrée à la seconde photodiode par l'intermédiaire du second transistor de transfert; et qu'il est relié à un convertisseur analogique/numérique qui convertit des signaux analogiques en signaux numériques. Selon un quatrième aspect de la présente invention, il est proposé un procédé de commande d'un pixel élémentaire comprenant une première photodiode destinée à recevoir une lumière à partir d'un objet ainsi qu'à générer et intégrer des charges photoélectriques; un premier transistor de transfert monté entre la première photodiode et un noeud capteur unique pour transférer les charges photoélectriques générées dans la première photodiode au noeud capteur unique en réponse à un premier signal de commande; une seconde photodiode destinée à recevoir une lumière à partir de l'objet ainsi qu'à générer et intégrer des charges photoélectriques; un second transistor de transfert monté entre la seconde photodiode et le noeud capteur unique pour transférer les charges photoélectriques générées dans la seconde photodiode au noeud capteur unique en réponse à un second signal de commande; un transistor de remise à l'état initial monté entre une alimentation électrique et le noeud capteur unique pour fournir en sortie les charges photoélectriques stockées dans le noeud capteur unique en réponse à un troisième signal de commande; un transistor de commande relié à l'alimentation électrique pour jouer le rôle de source suiveuse en réponse à une sortie du noeud capteur unique; et un transistor de sélection relié au transistor de commande pour délivrer en sortie des données d'image en étant commandé par le transistor de commande, en réponse à des signaux d'adresse, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes qui consistent à: (a) créer une déplétion complète des première et seconde photodiodes; (b) recevoir une lumière dans les première et seconde photodiodes et générer des charges photoélectriques; (c) rendre le transistor de remise à l'état initial conducteur et les premier et second transistors de transfert non conducteurs, et délivrer en sortie un niveau de tension de remise à l'état initial par l'intermédiaire du noeud capteur unique, du transistor de commande et du transistor de sélection; (d) rendre le transistor de remise à l'état initial non conducteur et le premier transistor de transfert conducteur, et délivrer en sortie un niveau de tension de données des charges photoélectriques générées dans la première photodiode par l'intermédiaire du noeud capteur unique, du transistor de commande et du transistor de sélection; (e) rendre le transistor de remise à l'état initial conducteur et les premier et second transistors de transfert non conducteurs, et délivrer en sortie le niveau de tension de remise à l'état initial par l'intermédiaire du noeud capteur unique, du transistor de commande et du transistor de sélection; et (f) rendre le transistor de remise à l'état initial non conducteur et le second transistor de transfert conducteur, et délivrer en sortie un niveau de tension de données des charges photoélectriques générées dans la seconde photodiode par l'intermédiaire du noeud capteur unique, du transistor de commande et du transistor de sélection. Ce procédé de l'invention est en outre caractérisé en ce que: - l'étape (b) comprend l'étape qui consiste à générer et intégrer les charges photoélectriques de la première photodiode, quels que soient les états du transistor de remise à l'état initial, du second transistor de transfert et du transistor de sélection, tandis que le premier transistor de transfert est conducteur; l'étape (b) comprend l'étape qui consiste à générer et intégrer les charges photoélectriques de la seconde photodiode, quels que soient les états du transistor de remise à l'état initial, du premier transistor de transfert et du transistor de sélection, tandis que le second transistor de transfert est conducteur; - un temps de déplétion et un temps de génération et d'intégration de charges photoélectriques sont contrôlés par réglage d'un temps d'état de conduction et d'un temps d'état de non conduction des premier et second transistors de transfert; - l'étape (c) comprend également les étapes qui is consistent à rendre le transistor de remise à l'état initial non conducteur et stabiliser le niveau de tension de remise à l'état initial, et à échantillonner le niveau de tension de remise à l'état initial stabilisé, le niveau de tension de remise à l'état initial échantillonné pouvant être fourni en sortie à un convertisseur analogique/numérique afin d'être converti en un signal numérique; l'étape (d) comprend également les étapes qui consistent à rendre le premier transistor de transfert non conducteur et stabiliser le niveau de tension de données, et à échantillonner le niveau de tension de données stabilisé, le niveau de tension de données échantillonné pouvant être fourni en sortie à un convertisseur analogique/numérique afin d'être converti en un signal numérique; - l'étape (e) comprend également les étapes qui consistent à rendre le transistor de remise à l'état initial non conducteur et stabiliser le niveau de tension de remise à l'état initial, et à échantillonner le niveau de tension de remise à l'état initial stabilisé, le niveau de tension de remise à l'état initial échantillonné pouvant être fourni en sortie à un convertisseur analogique/numérique afin d'être converti en un signal numérique; et l'étape (f) comprend également les étapes qui consistent à rendre le premier transistor de transfert non conducteur et stabiliser le niveau de tension de données, et à échantillonner le niveau de tension de données stabilisé, le niveau de tension de données échantillonné pouvant être fourni en sortie à un convertisseur analogique/numérique afin d'être converti en un signal numérique. Ce qui précède, ainsi que d'autres buts, caractéristiques et avantages de la présente invention, ressortira plus clairement de la description détaillée suivante de modes de réalisation et de mise en oeuvre préférés donnée à titre d'exemple nullement limitatif en référence aux dessins annexés dans lesquels: la figure 1 est un schéma fonctionnel d'un capteur d'images CMOS conventionnel; la figure 2 est un schéma de circuits d'un pixel élémentaire de l'art antérieur; la figure 3 est un chronogramme montrant des signaux de commande destinés à commander des transistors du pixel élémentaire de la figure 2; la figure 4 est un schéma de circuits d'un pixel élémentaire selon la présente invention; et la figure 5 est un chronogramme montrant des signaux de commande destinés à commander les transistors du pixel élémentaire de la figure 4. La présente invention va maintenant être décrite en détail en référence aux dessins. En référence à la figure 4 en particulier, un pixel élémentaire 400 peut avoir le même effet que deux pixels élémentaires de l'art antérieur. Alors que les pixels élémentaires classiques 100 et 120 de la figure 2 comprennent deux photodiodes et huit transistors, le pixel élémentaire 400 de la présente invention comprend deux photodiodes et cinq transistors. Une photodiode 401 et une photodiode 402 sont respectivement reliées à un transistor de transfert M43 et à un transistor de transfert M44. Les photodiodes 401 et 402 partagent un transistor de remise à l'état initial Mi, un transistor de commande M3 et un transistor de sélection M4. Les transistors de transfert M43 et M44, le transistor de remise à l'état initial Ml, le transistor de commande M3 et le transistor de sélection M4 peuvent être des transistors métal-oxyde-semi-conducteur à canal de type N (NMOS). La photodiode 401 reçoit une lumière à partir d'un objet, génère des charges photoélectriques et intègre les charges photoélectriques. Le transistor de transfert M43 est monté entre la photodiode 401 et un noeud capteur unique A et transfère les charges photoélectriques générées dans la photodiode 401 au noeud capteur unique A en réponse à un signal de commande Txl. De la même manière, la photodiode 402 absorbe une lumière provenant de l'objet, génère des charges photoélectriques et intègre les charges photoélectriques. Le transistor de transfert M44 est monté entre la photodiode 402 et le noeud capteur unique A, et transfère les charges photoélectriques générées dans la photodiode 402 au noeud capteur unique A en réponse à un signal de commande Tx2. Le transistor de remise à l'état initial Ml est monté entre une alimentation électrique Vdd et le noeud capteur unique A et délivre les charges photoélectriques présentes sur le noeud capteur unique A en réponse à un signal de commande Rx. Le transistor de commande M3 est relié à l'alimentation électrique Vdd et joue le rôle d'une source suiveuse en réponse à une sortie du noeud capteur unique A. Le transistor de sélection M4 est relié au transistor de commande M3 et délivre des données d'image en réponse à une signal de commande Sx produit par des signaux d'adresse. Le chronogramme de la figure 5 représente des signaux destinés à commander les transistors du pixel élémentaire de la figure 4. Le fonctionnement du pixel élémentaire va être décrit en référence à cette figure. 1) Dans la partie "Ai", le transistor de transfert M3 et le transistor de remise à l'état initial M1 sont rendus conducteurs et le transistor de sélection M4 est rendu non conducteur, de sorte que la photodiode 401 est en déplétion complète (dans la partie "Ai", le transistor de transfert M43 reste à l'état conducteur quel que soit l'état du transistor de transfert M44). 2) Dans la partie "B1", le transistor de transfert M43 conducteur est rendu non conducteur, de sorte que la photodiode 401 génère des charges photoélectriques et intègre celles-ci (la partie "Bi" se poursuit quels que soient les états du transistor de remise à l'état initial Mi, du transistor de transfert M44 et du transistor de sélection M4, jusqu'à ce que le transistor de transfert M43 redevienne conducteur). 3) De même, dans la partie "A2", le transistor de transfert M44 et le transistor de remise à l'état initial M1 sont rendus conducteurs et le transistor de sélection M4 est rendu non conducteur, de sorte que la photodiode 402 est en déplétion complète (dans la partie "A2", le transistor de transfert M44 reste à l'état conducteur, quel que soit l'état du transistor de transfert M43). 4) Dans la partie "B2", le transistor de transfert M44 conducteur est rendu à nouveau non conducteur, de sorte que la photodiode 401 génère des charges photoélectriques et intègre les charges photoélectriques (la partie "B2" se poursuit quels que soient les états du transistor de remise à l'état initial Ml, du transistor de transfert M43 et du transistor de sélection M4 jusqu'à ce que le transistor de transfert M44 redevienne conducteur). ) Dans la partie "Ci", le transistor de remise à l'état initial Ml et les transistors de transfert M43 et M44 restent à l'état conducteur pour le premier et à l'état non conducteur pour les secondes, et le transistor de sélection M4 est rendu conducteur, de sorte qu'un niveau de tension de remise à l'état initial est délivré en sortie par l'intermédiaire du transistor de sélection M4 et que le transistor de commande M3 est commandé par le noeud capteur A. 6) Dans la partie "Dl", le transistor de remise à l'état initial M1 est rendu non conducteur, puis le niveau de tension de remise à l'état initial généré dans la partie "Ci" est stabilisé. 7) Dans la partie "El", le niveau de tension de remise à l'état initial dela partie "Dl" est échantillonné. 8) Dans la partie "F1", le transistor de remise à l'état initial M1 et le transistor de sélection M4 restent respectivement à l'état non conducteur et à l'état conducteur, et le transistor de transfert M43 est rendu conducteur, de sorte qu'un niveau de tension de données correspondant aux charges photoélectriques intégrées dans la photodiode 401 pendant le temps de la partie "B1" est transféré à la borne de sortie par l'intermédiaire du noeud capteur A, du transistor de commande M3 et du transistor de i5 sélection M4. 9) Dans la partie "G1", le transistor de transfert M43 est rendu non conducteur, puis le niveau de tension de données généré dans la partie "Fi" est stabilisé. ) Dans la partie "Hi", le niveau de tension de données de la partie "G1" est échantillonné. 11) Dans la partie "C2", le transistor de remise à l'état initial M1 et les transistors de transfert M44 et M43 restent à l'état conducteur pour le premier et à l'état non conducteur pour les seconds, et le transistor de sélection M4 est rendu conducteur, de sorte que le niveau de tension de remise à l'état initial est délivré en sortie par l'intermédiaire du transistor de sélection M4 et que le transistor de commande M3 est commandé par le noeud capteur A. 12) Dans la partie "D2", le transistor de remise à l'état initial M1 est rendu non conducteur, puis le niveau de tension de remise à l'état initial généré dans la partie "C2" est stabilisé. 13) Dans la partie "E2", le niveau de tension de remise à l'état initial de la partie "D2" est échantillonné. 14) Dans la partie "F2", le transistor de remise à l'état initial M1 et le transistor de sélection M4 restent respectivement à l'état non conducteur et à l'état conducteur, et le transistor de transfert M44 est rendu conducteur, de sorte qu'un niveau de tension de données correspondant aux charges photoélectriques intégrées dans la photodiode 402 pendant le temps de la partie "B2" est transféré à la borne de sortie par l'intermédiaire du noeud capteur A, du transistor de commande M3 et du transistor de sélection M4. ) Dans la partie "G2", le transistor de transfert M44 est rendu non conducteur, puis le niveau de tension de données généré dans la partie "F2" est stabilisé. 16) Dans la partie "H2", le niveau de tension de données de la partie "G2" est échantillonné. Dans les parties "Ai" à "Hi", une valeur d'image de sortie du capteur d'images CMOS est délivrée par rapport à une image fournie en entrée à la photodiode 401. De même, dans les parties "A2" à "H2", une valeur d'image de sortie du capteur d'images CMOS est délivrée par rapport à une image fournie en entrée à la photodiode 402. En particulier, les parties "AI" et "A2" au cours desquelles les photodiodes 401 et 402 sont en déplétion totale, peuvent se chevaucher, de même que les parties "BI" et "B2" au cours desquelles les charges photoélectriques sont générées et intégrées. Un temps de déplétion et le temps d'intégration des charges photoélectriques peuvent être réglés par un contrôle de l'état de conduction et de l'état de non conduction des transistors de transfert M43 et M44. Comme dans l'art antérieur, le niveau de tension de remise à l'état initial et le niveau de tension de données pour la photodiode 101 qui sont respectivement échantillonnés au cours des parties "El" et "Hi", sont délivrés en sortie au convertisseur A/D 30 (figure 1) et convertis en deux signaux numériques. La différence des deux signaux numériques devient une valeur d'image de sortie du capteur d'images CMOS par rapport à une image fournie en entrée à la photodiode 101 (figure 1). De même, le niveau de tension de remise à l'état initial et le niveau de tension de données pour la photodiode 102 qui sont respectivement échantillonnés au cours des parties "E2" et "H2" sont délivrés en sortie au convertisseur A/D 30 (figure 1) et convertis en deux signaux numériques. La différence des deux signaux numériques devient la valeur d'image de sortie du capteur d'images CMOS par rapport à une image fournie en entrée à la photodiode 102 (figure 1). Les parties "Dl", "G1", "D2" et "G2" sont destinées à supprimer une erreur de pointe de tension du noeud capteur A provoquée pendant le processus de mise à l'état conducteur ou non conducteur du transistor de remise à l'état initial Ml et des transistors de transfert M43 et M44, pour permettre au noeud capteur A d'échantillonner une valeur de niveau au cours des parties stabilisées (parties "El", "Hi", "E2" et "H2") après les parties "Dl", "G1", "D2" et "G2". Le pixel élémentaire selon la présente invention n'est pas limité à deux photodiodes comme celui décrit précédemment et peut comporter un nombre de photodiodes supérieur, si nécessaire. Etant donné que les photodiodes du pixel élémentaire selon la présente invention partagent le transistor de remise à l'état initial M1, le transistor de commande M3 et le transistor de sélection M4, le pixel élémentaire de la présente invention peut avoir une surface de puce réduite comparativement au pixel élémentaire de l'art antérieur. Dans le cas o plusieurs photodiodes sont reliées au noeud capteur unique, le transistor de remise à l'état initial commun qui est connecté à ce dernier, est rendu conducteur en fonction de la photodiode afin de fournir en sortie le niveau de tension de remise à l'état initial de la photodiode correspondante, et le transistor de transfert est rendu conducteur afin de délivrer en sortie le niveau de tension de données correspondant aux charges photoélectriques générées dans la photodiode. Précisément, dès la fourniture du niveau de tension de remise à l'état initial de la photodiode correspondante, le transistor de transfert est rendu conducteur afin de délivrer en sortie le niveau de tension de données. Bien que la description précédente ait porté sur des modes de réalisation et de mise en oeuvre préférés de la présente invention, celle-ci n'est bien entendu pas limitée aux exemples particuliers décrits et illustrés ici, et l'homme de l'art comprendra aisément qu'il est possible d'y apporter de nombreuses variantes et modifications sans pour io autant sortir du cadre de l'invention. REVENDICATIONS 1. Capteur d'images à transistors métal-oxyde-semi- conducteur complémentaires (CMOS), caractérisé en ce qu'il comprend: un pixel élémentaire (400) comportant: de multiples photodiodes (401, 402) qui reçoivent une lumière incidente à partir d'un objet pour générer des charges photoélectriques; de multiples moyens de transfert (M43, M44) correspondant aux multiples photodiodes (401, 402) et destinés à transférer les charges photoélectriques provenant des multiples photodiodes à un noeud capteur unique (A) en réponse à des signaux de commande (Txl, Tx2) fournis par un organe de commande extérieur, signaux de commande qui commandent les multiples moyens de transfert (M43, M44) afin que les charges photoélectriques provenant des multiples photodiodes (401, 402) soient transférées sélectivement au noeud capteur unique (A); un moyen de remise à l'état initial commun (M1) destiné à remettre à l'état initial le noeud capteur unique, le moyen de remise à l'état initial déterminant des niveaux de remise à l'état initial du noeud capteur unique (A) qui correspondent à chacune des multiples photodiodes (401, 402); et un moyen de sortie commun (M3) destiné à fournir en sortie des signaux électriques correspondant aux niveaux de tension du noeud capteur unique (A), le capteur d'images CMOS échantillonnant les signaux électriques par un double échantillonnage à corrélation, puis délivrant en sortie une valeur d'image finale à un dispositif extérieur. 2. Capteur d'images selon la revendication 1, caractérisé en ce que le pixel élémentaire comprend également un moyen de sélection (M4) relié au moyen de sortie commun (M3) pour délivrer en sortie des données d'image en réponse à des signaux d'adresse. 3. Capteur d'images selon la revendication 2, caractérisé en ce que le moyen de sélection (M4) est un transistor métal-oxyde-semi- conducteur à canal de type N (NMOS) relié au moyen de sortie commun (M3). 4. Capteur d'images selon la revendication 3, caractérisé en ce que le moyen de sortie commun (M3) est un transistor NMOS commandé par un niveau de tension présent sur le noeud capteur unique (A), et monté entre une alimentation électrique (Vdd) et le moyen de sélection (M4). 5. Capteur d'images selon la revendication 1, caractérisé en ce que le moyen de remise à l'état initial (M1) est un transistor NMOS monté entre une alimentation électrique (Vdd) et le noeud capteur unique (A). 6. Capteur d'images selon la revendication 1, caractérisé en ce que les moyens de transfert (M43, M44) sont des transistors NMOS respectivement montés entre la diode (401, 402) correspondante et le noeud capteur unique (A). 7. Capteur d'images selon la revendication 1, caractérisé en ce que les multiples photodiodes comprennent un première photodiode (401) et une seconde photodiode (402), tandis que les multiples moyens de transfert comprennent un premier transistor de transfert (M43) et un second transistor de transfert (M44), et en ce que le pixel élémentaire (400) commande le noeud capteur unique (A) à un niveau de remise à l'état initial et transfère un premier niveau de tension de données des charges photoélectriques générées par la première photodiode (401) au noeud capteur unique (A) par l'intermédiaire du premier transistor de transfert (M43), et commande le noeud capteur unique (A) au niveau de remise à l'état initial et transfère un second niveau de tension de données des charges photoélectriques générées par la seconde photodiode (402) au noeud capteur unique (A) par l'intermédiaire du second transistor de transfert (M44). 8. Capteur d'images selon la revendication 7, caractérisé en ce que chaque niveau de tension transféré au noeud capteur unique (A) est délivré en sortie à un convertisseur analogique/numérique qui convertit des données d'image analogiques en données d'image numériques, par l'intermédiaire du moyen de sortie commun (M3) et du moyen de sélection (M4). 9. Procédé de commande d'un capteur d'images CMOS pour obtenir un signal de sortie par double échantillonnage à corrélation à partir de charges photoélectriques générées dans de multiples photodiodes (401, 402) à l'aide d'un noeud capteur unique (A) auquel les multiples photodiodes sont reliées électriquement, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes qui consistent à: (a) générer les charges photoélectriques dans chaque photodiode; (b) remettre à l'état initial le noeud capteur unique et obtenir de celui-ci un premier signal électrique; (c) transférer les charges photoélectriques de l'une des photodiodes au noeud capteur unique, puis obtenir de celui-ci un second signal électrique; (d) remettre à l'état initial le noeud capteur unique et obtenir de celui-ci un troisième signal électrique; et (e) transférer les charges photoélectriques d'une autre photodiode au noeud capteur unique, puis obtenir de celui-ci un quatrième signal électrique. 10. Procédé selon la revendication 9, caractérisé en ce que les étapes (b) et (d) comprennent l'étape (f) qui consiste à stabiliser le niveau de remise à l'état initial afin de supprimer une erreur de pointe de tension du noeud capteur unique (A), l'étape (f) étant réalisée par l'obtention des premier et troisième signaux électriques après un temps de retard. 11. Procédé selon la revendication 9, caractérisé en ce que les étapes (c) et (e) comprennent l'étape (g) qui consiste à stabiliser le niveau de remise à l'état initial afin de supprimer une erreur de pointe de tension du noeud capteur unique (A), l'étape (g) étant réalisée par l'obtention des second et quatrième signaux électriques après un temps de retard. 12. Pixel élémentaire d'un capteur d'images à transistors métal-oxyde-semi-conducteur complémentaires (CMOS), caractérisé en ce qu'il comprend: une première photodiode (401) destinée à recevoir une lumière à partir d'un objet ainsi qu'à générer et intégrer des charges photoélectriques; un premier transistor de transfert (M43) monté entre la première photodiode (401) et un noeud capteur unique (A) pour transférer les charges photoélectriques générées dans la première photodiode au noeud capteur unique en réponse à un premier signal de commande (Txl); une seconde photodiode (402) destinée à recevoir une lumière à partir de l'objet ainsi qu'à générer et intégrer des charges photoélectriques; un second transistor de transfert (M44) monté entre la seconde photodiode (402) et le noeud capteur unique (A) pour transférer les charges photoélectriques générées dans la seconde photodiode au noeud capteur unique en réponse à un second signal de commande (Tx2); un transistor de remise à l'état initial (Mi) monté entre une alimentation électrique (Vdd) et le noeud capteur unique (A) pour fournir en sortie les charges photoélectriques stockées dans le noeud capteur unique en réponse à un troisième signal de commande (Rx); un transistor de commande (M3) relié à l'alimentation électrique (Vdd) pour jouer le rôle d'une source suiveuse en réponse à une sortie du noeud capteur unique (A); et un transistor de sélection (M4) relié au transistor de commande (M3) pour délivrer en sortie des données d'image en étant commandé par le transistor de commande (M3) en réponse à des signaux d'adresse. 13. Pixel élémentaire selon la revendication 12, caractérisé en ce que le premier signal de commande (Txl) diffère du second signal de commande (Tx2) chronologiquement. 14. Pixel élémentaire selon la revendication 12, caractérisé en ce qu'il fournit en sortie un niveau de tension de remise à l'état initial par l'intermédiaire du transistor de remise à l'état initial (Mi) et un niveau de tension de données d'une image fournie en entrée à la première photodiode (401) par l'intermédiaire du premier transistor de transfert (M43), et un niveau de tension de remise à l'état initial par l'intermédiaire du transistor de remise à l'état initial (M1) et un niveau de tension de données d'une image fournie en entrée à la seconde photodiode (402) par l'intermédiaire du second transistor de transfert (M44). 15. Pixel élémentaire selon la revendication 12, caractérisé en ce qu'il est relié à un convertisseur analogique/numérique qui convertit des signaux analogiques en signaux numériques. 16. Procédé de commande d'un pixel élémentaire comprenant une première photodiode (401) destinée à recevoir une lumière à partir d'un objet ainsi qu'à générer et intégrer des charges photoélectriques; un premier transistor de transfert (M43) monté entre la première photodiode et un noeud capteur unique (A) pour transférer les charges photoélectriques générées dans la première photodiode au noeud capteur unique en réponse à un premier signal de commande (Txl); une seconde photodiode (402) destinée à recevoir une lumière à partir de l'objet ainsi qu'à générer et intégrer des charges photoélectriques; un second transistor de transfert (M44) monté entre la seconde photodiode et le noeud capteur unique pour transférer les charges photoélectriques générées dans la seconde photodiode au noeud capteur unique en réponse à un second signal de commande; un transistor de remise à l'état initial monté entre une alimentation électrique et le noeud capteur unique pour fournir en sortie les charges photoélectriques stockées dans le noeud capteur unique en réponse à un troisième signal de commande (Tx2); un transistor de commande relié à l'alimentation électrique pour jouer le rôle d'une source suiveuse en réponse à une sortie du noeud capteur unique; et un transistor de sélection relié au transistor de commande pour délivrer en sortie des données d'image en étant commandé par le transistor de commande, en réponse à des signaux d'adresse, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes qui consistent à: (a) créer une déplétion complète des première et seconde photodiodes (401, 402); (b) recevoir une lumière dans les première et seconde photodiodes et générer des charges photoélectriques; (c) rendre le transistor de remise à l'état initial (M1) conducteur et les premier et second transistors de lo transfert (M43, M44) non conducteurs, et délivrer en sortie un niveau de tension de remise à l'état initial par l'intermédiaire du noeud capteur unique (A), du transistor de commande (M3) et du transistor de sélection (M4); (d) rendre le transistor de remise à l'état initial (M1) non conducteur et le premier transistor de transfert (M43) conducteur, et délivrer en sortie un niveau de tension de données des charges photoélectriques générées dans la première photodiode (401) par l'intermédiaire du noeud capteur unique (A), du transistor de commande (M3) et du transistor de sélection (M4); (e) rendre le transistor de remise à l'état initial (M1) conducteur et les premier et second transistors de transfert (M43, 44) non conducteurs, et délivrer en sortie le niveau de tension de remise à l'état initial par l'intermédiaire du noeud capteur unique (A), du transistor de commande (M3) et du transistor de sélection (M4); et (f) rendre le transistor de remise à l'état initial (M1) non conducteur et le second transistor de transfert (M44) conducteur, et délivrer en sortie un niveau de tension de données des charges photoélectriques générées dans la seconde photodiode (402) par l'intermédiaire du noeud capteur unique (A), du transistor de commande (M3) et du transistor de sélection (M4). 17. Procédé selon la revendication 16, caractérisé en ce que l'étape (b) comprend l'étape qui consiste à générer et intégrer les charges photoélectriques de la première photodiode, quels que soient les états du transistor de remise à l'état initial, du second transistor de transfert et du transistor de sélection, tandis que le premier transistor de transfert est conducteur. 18. Procédé selon la revendication 16, caractérisé en ce que l'étape (b) comprend l'étape qui consiste à générer et intégrer les charges photoélectriques de la seconde photodiode, quels que soient les états du transistor de remise à l'état initial, du premier transistor de transfert et du transistor de sélection, tandis que le second lo transistor de transfert est conducteur. 19. Procédé selon la revendication 17, caractérisé en ce qu'il comprend le contrôle d'un temps de déplétion et d'un temps de génération et d'intégration de charges photoélectriques par réglage d'un temps d'état de conduction et d'un temps d'état de non conduction des premier et second transistors de transfert. 20. Procédé selon la revendication 16, caractérisé en ce que l'étape (c) comprend également les étapes qui consistent à: rendre le transistor de remise à l'état initial non conducteur et stabiliser le niveau de tension de remise à l'état initial; et échantillonner le niveau de tension de remise à l'état initial stabilisé. 21. Procédé selon la revendication 20, caractérisé en ce que le niveau de tension de remise à l'état initial échantillonné est fourni en sortie à un convertisseur analogique/numérique afin d'être converti en un signal numérique. 22. Procédé selon la revendication 16, caractérisé en ce que l'étape (d) comprend également les étapes qui consistent à: rendre le premier transistor de transfert non conducteur et stabiliser le niveau de tension de données; et échantillonner le niveau de tension de données stabilisé. 23. Procédé selon la revendication 22, caractérisé en ce que le niveau de tension de données échantillonné est fourni en sortie à un convertisseur analogique/numérique afin d'être converti en un signal numérique. 24. Procédé selon la revendication 16, caractérisé en ce que l'étape (e) comprend également les étapes qui consistent à: rendre le transistor de remise à l'état initial non conducteur et stabiliser le niveau de tension de remise à l'état initial; et échantillonner le niveau de tension de remise à l'état initial stabilisé. 25. Procédé selon la revendication 24, caractérisé en ce que le niveau de tension de remise à l'état initial échantillonné est fourni en sortie à un convertisseur analogique/numérique afin d'être converti en un signal numérique. 26. Procédé selon la revendication 16, caractérisé en ce que l'étape (f) comprend également les étapes qui consistent à: rendre le premier transistor de transfert non conducteur et stabiliser le niveau de tension de données; et échantillonner le niveau de tension de données stabilisé. 27. Procédé selon la revendication 26, caractérisé en ce que le niveau de tension de données échantillonné est fourni en sortie à un convertisseur analogique/numérique afin d'être converti en un signal numérique.