Brevet FR2768860A1 — publié le 19990326

STRUCTURE ET PROCEDÉ DE REPARATICON DE CIRCUITS INTGRÉS La présente invention concerne le domaine des circuits intégrés. Les évolutions rapides de la technologie ont amené une augmentation de la complexité des circuits en même temps qu'une diminution du cycle de vie commercial des circuits. Par contre le temps requis par un cycle de fabrication (dessin des masques, traitement des plaquettes de silicium, test et encapsulation des circuits) reste toujours important. Inévitablement, après la conception d'un circuit in- tégré complexe, il arrive fréquemment que les premiers circuits fabriqués présentent des erreurs. On peut alors refaire passer le circuit par les étapes de conception pour tenter de corriger l'erreur puis relancer un lot de fabrication. Ceci exige un nou- veau cycle complet de fabrication ce qui est coûteux et long et peut remettre en cause l'intérêt commercial du circuit. On préfère donc souvent corriger l'élément matériel constitué par le circuit intégré lui-même. Ceci dans le but de valider la correction sur quelques prototypes seulement. La cor- rection sur des circuits produits en série ne pouvant se faire que par modification des masques. Un circuit intégré comprend de façon générale un substrat semiconducteur couramment en silicium dans lequel sont formés les divers composants élémentaires du circuit. Ce substrat est surmonté de plusieurs niveaux de couches conductrices (silicium polycristallin, métallisations, généra- lement englobées par le terme de "niveaux de métallisation"). Une fois qu'on a identifié un défaut du circuit intégré, tel qu'une fonction logique manquante, des machines de grande précision (MDL 1000 de Bertin/Spectra Physics pour la découpe laser, FIB (Focus Ion Beam) de Schlumberger pour la découpe et le perçage, le dépôt de métal et le dépôt d'oxyde) permettent de percer les niveaux de métallisation pour accéder aux bornes de composants élémentaires, pour déconnecter ces composants et pour reconnecter les entrées et les sorties de ces composants à une "cellule de secours" qui est destinée à rajouter la fonction logique manquante. Ces cellules de secours n'ont aucune fonction dans le circuit tant que ce dernier ne doit pas être corrigé, leurs en- trées sont classiquement connectées à la masse afin d'éviter une consommation de puissance inutile. On implante classiquement les cellules de secours par groupes. La figure lA représente de ma- nière schématique un groupe classique 11 de cellules de secours constitué d'une porte NON ET (1), d'une bascule D (2) et d'une porte trois états (3) afin de permettre une grande variété de corrections. La figure lB représente à titre d'exemple une vue de dessus extrêmement schématique d'un circuit intégré dont les composants de base n'ont pas été représentés. Dans ce circuit in- tégré 10, on implante un grand nombre de groupes de cellules de secours 11. Ce sont ces cellules qui, lors d'une réparation doi- vent être reliées à des points choisis du circuit. Ces cellules doivent être en grand nombre car une limitation du procédé de correction susmentionné est que les machines destinées à établir les connexions de remplacement (classiquement par implantation de métal à la surface du circuit) ne permettent pas, pour des rai- sons techniques, de réaliser des connexions de remplacement dépassant une certaine longueur (A). Pour qu'un circuit puisse être éventuellement réparé en chacun de ses points, chacun de ses points ne doit pas être distant de plus de la longueur A d'un groupe de cellules de secours. Ainsi les groupes de cellules de secours 11 sont classiquement disposés selon des rangées et des colonnes distantes de 2A/i2 les unes des autres sur tout le cir- cuit 10 que l'on veut rendre réparable. Egalement, les groupes de cellules peuvent être à une distance de A/-. des bords du cir- cuit que l'on désire rendre réparable. Les cellules de secours, implantées parmi les composants de base du circuit, occupent une surface qui est loin d'être négligeable et accroissent la surface du circuit, et par là son coût. Si l'on prend comme exemple un circuit tel que repré- senté en lB, de 10 mm x 10 mm, A étant égal à 400 gm, le nombre de groupes de cellules de secours implanté sera de (10 000 x 2/400) x (10 000 x V2/400) = 10 000/8=1250. Si l'on considère qu'un groupe de cellules de secours est constitué d'environ qua- rante transistors, l'ensemble des groupes de cellules de secours dans ce mode de réalisation selon l'art antérieur représente 1 250 x 40 = 50 000 transistors. Une puce de 10 mm x 10 mm fait classiquement un million de transistors, les cellules de secours représentent dans ce cas là 5 % de la surface de la puce, ce qui va accroître de 5 % au moins le prix de la puce. Afin de conserver des coûts raisonnables, on est en pratique tenté de réduire le nombre de groupes de cellules de se- cours, et de les placer seulement dans les zones du circuit les plus susceptibles de présenter des erreurs, mais on perd du même coup l'assurance de pouvoir effectuer une réparation en tout point du circuit, et on rencontre parfois des problèmes de répa- ration impossibles à réaliser. Une autre limitation de cette méthode tient à ce que la coupure ou l'établissement d'une connexion amène à creuser les couches supérieures du circuit jusqu'à la connexion à couper, et jusqu'aux bornes de la cellule de secours que l'on veut connec- ter. Plus les éléments à atteindre sont profondément situés, plus l'opération de creusage et l'opération de connexion qui s'en- suivront seront délicates, longues et coûteuses. Un objet de la présente invention est de pallier les inconvénients des méthodes de correction susmentionnées. Un objet plus particulier de la présente invention est de réduire la surface de silicium occupée par les cellules de se- cours. Un autre objet de la présente invention est de faci- liter les opérations de réparation en réduisant les opérations de traversée de couches de métallisation. Ces objets ainsi que d'autres sont atteints par un cir- cuit intégré comprenant au moins un groupe de cellules de secours reliées à des pistes métalliques disposées sur le circuit afin que tout point du circuit soit distant de ces pistes d'au plus la valeur maximale A permise à une réparation de secours. Ainsi connecté, un seul groupe de cellules de secours suffit à garantir que l'on pourra effectuer au moins une réparation en tout point du circuit. Selon un mode de réalisation de la présente invention, les pistes de secours sont réalisées dans un niveau métallique le plus proche possible de la surface du circuit, afin de faciliter une éventuelle réparation. Plus particulièrement la présente invention prévoit un circuit intégré dont une portion au moins comprend au moins un groupe de cellules de secours destinées à être éventuellement re- liées à ladite portion du circuit intégré après la fabrication de celui-ci par des connexions de remplacement dont la longueur ne peut dépasser une valeur prédéterminée, et dans lequel les en- trées et sorties des cellules de secours sont reliées à des pis- tes métalliques de secours dont la disposition sur le circuit est telle que tout point de ladite portion du circuit est distant au maximum de ladite valeur prédéterminée d'un point de ces pistes. Selon un mode de réalisation de la présente invention, le circuit comprend plusieurs niveaux de métallisation, et les pistes de secours sont pour leur plus grande partie réalisées dans le niveau de métal le plus élevé possible. Selon un mode de réalisation de la présente invention, les entrées d'un premier groupe de cellules de secours sont re- liées à une masse du circuit et d'autres groupes de cellules de secours sont connectés en série avec le premier groupe par des pistes de secours disposées côte à côte en groupes de pistes de secours, de sorte qu'aucune entrée d'une cellule de secours n'est flottante. Selon un mode de réalisation de la présente invention, les groupes de cellules de secours sont implantés sensiblement régulièrement le long des groupes de pistes de secours. Selon un mode de réalisation de la présente invention, les groupes de pistes de secours sont disposés en zigzag sur la portion de circuit en une succession de lignes de même direction, s'étendant sur toute la largeur de la portion de circuit, ces li- gnes étant connectées entre elles à chaque extrémité par une por- tion de colonne perpendiculaire de longueur sensiblement égale à deux fois ladite valeur prédéterminée d'une connexion de reirpla- cement. Selon un mode de réalisation de la présente invention, un groupe de cellules de secours est disposé sensiblement à l'une des extrémités de chaque ligne de groupe de pistes de secours. Selon un mode de réalisation de la présente invention, les entrées du premier groupe de cellules de secours sont reliées à la masse du circuit par de petits segments de pistes de se- cours. Selon un mode de réalisation de la présente invention, les sorties d'une cellule de secours non connectées à une cellule de secours suivante sont reliées à de petits segments de pistes de secours laissés flottants. Selon un mode de réalisation de la présente invention, un groupe de cellules de secours comporte des éléments standards tels qu'une porte NON ET, une bascule D, et une porte trois états. La présente invention concerne également un procédé consistant à implanter dans une portion d'un circuit intégré au moins un groupe de cellules de secours destinées à être éventuel- lement reliées à des points de ladite portion de circuit intégré après la fabrication de celui-ci par des connexions de rermpla- cement dont la longueur ne peut dépasser une valeur prédé- terminée, et à relier les entrées et sorties des cellules de se- cours à des pistes métalliques dites pistes de secours dont la disposition sur le circuit est telle que tout point de ladite portion du circuit est distant au maximum de ladite valeur prédé- terminée d'un point de ces pistes, lesdites pistes de secours étant réalisées dans le niveau de métal le plus élevé possible. Ces objets, caractéristiques et avantages, ainsi que d'autres de la présente invention seront exposés en détail dans la description suivante de modes de réalisation particuliers faite à titre non-limitatif en relation avec les figures jointes parmi lesquelles: la figure 1A représente un groupe de cellules de se- cours selon l'état de la technique; la figure lB représente un circuit rendu réparable en tout point selon l'état de la technique et expose le problème que vise à résoudre l'invention; la figure 2A représente un circuit rendu réparable en tout point selon un mode de réalisation de la présente in- vention; la figure 2B représente des groupes de cellules de se- cours utilisés dans un mode de réalisation de la présente in- vention; la figure 2C représente une portion de circuit intégré selon un mode de réalisation de la présente invention, comportant une erreur, avant correction; la figure 2D représente une portion de circuit intégré selon un mode de réalisation de la présente invention, comportant une erreur, après correction; la figure 2E illustre un autre mode de réalisation de l'invention; et la figure 2F illustre un autre mode de réalisation de 1' invention. La figure 2A représente une vue de dessus extrêmement schématique d'un circuit intégré 20 dont les composants de base n'ont pas été représentés, réparable éventuellement en tout point selon la présente invention. Ce circuit comporte des groupes de cellules de secours 211 à 21n reliés entre eux par des groupes de "pistes de secours" WB1 à WBn_1. Chaque groupe de pistes de se- cours WBi, i étant compris entre 1 et n-l, est composé d'un cer- tain nombre de pistes élémentaires, 3 dans cet exemple, désignées par Wli, W2i et W3i. Les groupes de pistes sont disposés en zig- zag sur la portion de circuit de telle manière que la distance entre un point quelconque de la portion de circuit et les pistes de secours les plus proches soit au maximum égale à la distance maximale (A) permise pour une réparation. Les "branches" du zig- zag sont distantes de 2A entre elles. Le mode de réalisation de la figure 2A comporte un groupe de cellules de secours par bran- che du zigzag ce qui permettra éventuellement d'effectuer une réparation à la hauteur de chaque branche de zigzag. Si l'on prend comme exemple un circuit tel que repré- senté en figure 2A, de 10 nmmn par 10 mm, A étant égal à 400 gm, le nombre de groupes de cellules de secours implantées sera de 000/800 = 12,5 soit 13 groupes de secours. Si l'on considère qu'un groupe de cellules de secours est constitué d'environ qua- rante transistors, l'ensemble des groupes de cellules de secours dans ce mode de réalisation selon la présente invention repré- sente 13 x 40 = 520 transistors. Une puce de 10 mm par 10 mm comporte classiquement un million de transistors, les cellules de secours représentent dans ce cas là environ 5 dix millièmes de la surface de la puce, ce qui est relativement négligeable. Pour effectuer une correction entre deux bornes élec- triques situées dans le circuit intégré, on pratique un trou dans les couches supérieures du circuit jusqu'à chacune des bornes électriques que l'on veut connecter. Les trous achevés sont rem- plis de métal jusqu'au niveau de la surface du circuit afin de permettre un contact avec une connexion de remplacement. Moins un trou est profond et moins il est difficile à percer. De surcroît, moins un trou est profond et plus l'opération de remplissage du trou par du métal est facilement effectuée. Les opérations concernant les trous destinés à accéder aux bornes des composants du circuit intégré ne sont pas simplifiées par la présente in- vention. Par contre, les opérations concernant les trous destinés à accéder aux pistes de secours peuvent être facilitées. Les pis- tes de secours sont de préférence implantées dans le niveau de métallisation le plus proche de la surface du circuit intégré afin de limiter la profondeur des trous que l'on pratiquera pour les atteindre. Si l'implantation des pistes de secours sur le ni- veau de métallisation supérieur entre par endroits en conflit avec les pistes fonctionnelles du circuit implantées sur le même niveau, on doit prévoir en ces endroits un détournement local, de préférence de la piste fonctionnelle, par un niveau de métal- lisation inférieur. Ce type de détournement local d'une piste de circuit intégré depuis un niveau de métallisation vers un autre niveau de métallisation est connu de l'homme de l'art et ne sera pas détaillé ici. La figure 2B représente des groupes de cellules de se- cours 211 à 21n utilisables en figure 2A. Dans un mode de réali- sation de l'invention, un groupe de cellules de secours 21i est composé d'une porte NON ET, Bli, d'une bascule D, B2i, et d'une porte trois états, B3i. Afin de limiter la puissance consommée par les cellules de secours si ces dernières ne sont pas utili- sées, on connecte toutes les entrées des cellules de secours à un potentiel fixe. Les diverses cellules d'un même groupe de cel- lules de secours sont de préférence implantées côte à côte sur le circuit intégré. Les distances qui séparent les diverses cellules d'un même groupe de cellules de secours sont dans tous les cas très inférieures à la distance A susmentionnée. Selon un mode de réalisation de la présente invention, les entrées des cellules du premier groupe de cellules de secours 211 sont reliées à la masse par de petits segments de pistes de secours, et les sorties des cellules du dernier groupe de cel- lules de secours 21n sont connectées à de petits segments de pis- tes de secours laissés flottants, afin de faciliter leur éven- tuelle connexion lors d'une réparation. Selon un mode de réalisation de la présente invention, les deux entrées de la porte NON ET, Bli d'un groupe de cellules 21i sont court- circuitées et reliées à la sortie de la porte NON ET Bli_1 du groupe de cellules précédent 21i_-l par la piste de secours Wli_1. Le court- circuit entre les deux entrées de la porte NON ET est de préférence réalisé par de petits segments de piste de secours afin de faciliter une éventuelle séparation des deux entrées lors d'une réparation. Les deux entrées de la bascule D B2i d'un groupe de cellules 21i sont court-circuitées et reliées à une sortie de la bascule D, B2i_1 du groupe de cellules précédent 21i-1 par la piste de secours W2i_1. Le court-circuit entre les deux entrées de la bascule D est de préférence réalisé par de petits segments de piste de secours afin de faciliter une éventuelle séparation des deux entrées lors d'une réparation; la sortie non connectée de la bascule D est de préférence reliée à un petit segment de piste de secours, afin de faciliter sa connexion lors d'une répa- ration. Les deux entrées de la porte trois états B3i d'un groupe de cellules 21i sont court-circuitées et reliées à la sor- tie de la porte trois états B3i_1 du groupe de cellules précédent 21i_1 par la piste de secours W3i_1. Le court-circuit entre les deux entrées de la porte trois états est de préférence réalisé par de petits segments de piste de secours afin de faciliter une éventuelle séparation des deux entrées lors d'une réparation. La figure 2C représente très schématiquement une por- tion d'un circuit intégré selon la présente invention. Elle re- présente un groupe de cellules de secours 21i (comprenant une porte NON ET Bli ayant deux entrées Ai et A2 court-circuitées en A4 et une sortie A3, une bascule D B2i ayant deux entrées Bl et B2 et deux sorties B3 et B4, et une porte trois états B3i ayant deux entrées Cl et C2 et une sortie C3), un groupe de pistes de secours WBi (comprenant Wli connectée à A3, W2i connectée à B3 et W3i connectée à C3) et des composants élémentaires du circuit. Les composants élémentaires comprennent une porte NON ET El ayant une sortie Z1, une bascule D E2 ayant une sortie Z2 et une porte NON OU E3 ayant deux entrées Dl et D2. La sortie Z1 est connectée à l'entrée Dl, la sortie Z2 est connectée à l'entrée D2. On dési- gnera ci-après par Z1 et Z2 les signaux sur les sorties Zl et Z2. On suppose que la portion de circuit intégré constituée des composants élémentaires El, E2 et E3 présente une erreur logique. On suppose que cette erreur peut être corrigée en remplaçant sur l'entrée D2 du composant E3 le signal Z2 par un signal cor- respondant à Z1 NON ET Z2. La figure 2D représente le circuit de la figure 2C après correction de l'erreur. On a tout d'abord connecté la sortie A3 de la porte NON ET Bli à l'entrée D2 du composant E3 en utilisant la piste de secours Wli. Une coupure de piste a été pratiquée en un point CT1 de la piste reliant la sortie Z2 à l'entrée D2. Un trou a été pratiqué en un point CN1 de la piste située entre le point CT1 et l'entrée D2. Un trou a été pratiqué en un point CN2 de W1i tel que la distance CN1-CN2 soit la plus courte possible. Une connexion de remplacement CR1 a été établie entre les points CN1 et CN2. Une coupure de piste a été pratiquée en un point CT2 de la piste Wli entre le point CN2 et la cellule de secours suivante Bli+l (non représentée pour des motifs de clarté). On a ensuite connecté la sortie Z2 du composant E2 à l'entrée A2 de la porte NON ET Bli en utilisant la piste de se- cours W3i. Un trou a été pratiqué en un point CN3 de la piste si- tuée entre la sortie Z2 et le point CT1. Un trou a été pratiqué en un point CN4 de W3i tel que la distance CN3-CN4 soit la plus courte possible. Une connexion de remplacement CR2 a été établie entre les points CN3 et CN4. Une coupure de la piste W3i a été pratiquée en un point CT3 entre le point CN4 et la cellule de se- cours suivante B3i+l (non représentée pour des motifs de clarté). il Un trou a été pratiqué en un point CN5 de W3i entre le point CN4 et la sortie C3 de la porte trois états B3i tel que le point CN5 soit proche de la porte NON ET Bli. Une coupure de piste a été pratiquée en un point CT4 de la piste W3i entre le point CN5 et la sortie C3. Un trou a été pratiqué en un point CN6 de la piste située entre le point A4 et l'entrée A2. Une coupure de piste a été pratiquée en un point CT5 de la piste située entre le point CN6 et le point A4. Une connexion de remplacement CR3 a été éta- blie entre les points CN5 et CN6. On a ensuite connecté la sortie Zl du composant E1 à l'entrée A1 de la porte NON ET Bli en utilisant la piste de se- cours W2i. Un trou a été pratiqué en un point CN7 de la piste si- tuée entre la sortie Z1 et l'entrée D1. Un trou a été pratiqué en un point CN8 de W2i tel que la distance CN7-CN8 soit la plus courte possible. Une connexion de remplacement CR4 a été établie entre les points CN7 et CN8. Une coupure de la piste W2i a été pratiquée en un point CT6 entre le point CNg et la cellule de se- cours suivante B2i+1 (non représentée pour des motifs de clarté). Un trou a été pratiqué en un point CN9 de W2i entre le point CN8 et la sortie B3 de la bascule D B2i tel que le point CN9 soit proche de la porte NON ET Bli. Une coupure de la piste W2i a été pratiquée en un point CT7 situé entre le point CN9 et la sortie B3. Un trou a été pratiqué en un point CN10 de la piste située entre le point A4 et l'entrée A1. Une coupure de piste a été pra- tiquée en un point CT8 de la piste entre le point CN10 et le point A4. Une connexion de remplacement CR5 a été établie entre les points CN9 et CN10. La borne d'entrée D2 du composant E3 reçoit à l'issue de cette correction un signal correspondant à Z1 NON ET Z2. Bien entendu, la présente invention est susceptible de diverses variantes qui apparaîtront à l'homme de l'art. La figure 2E représente à titre de variante une vue de dessus extrêmement schématique d'un circuit intégré 20 dont les composants de base n'ont pas été représentés, réparable éventuel- lement en tout point selon la présente invention comportant des groupes de cellules de secours 211 à 21n reliés entre eux par des groupes de pistes de secours WB1 à WBn_1. Chaque groupe de pistes de secours WBi, i étant compris entre 1 et n-l, est composé d'un certain nombre de pistes élémentaires, 3 dans cet exemple, dési- gnées par Wli, W2i et W3i. Les groupes de pistes sont disposés en zigzag sur la portion de circuit de telle manière que la distance entre un point quelconque de la portion de circuit et les pistes de secours les plus proches soit au maximum égale à la distance maximale (A) permise pour une réparation. Les branches du zigzag sont distantes de 2A entre elles. Un groupe de cellules de se- cours 21i est relié à un groupe de pistes de secours WBi corres- pondant à trois branches de zigzag. Cette variante permet d'ef- fectuer un moins grand nombre de réparations sur le circuit 20 qu'avec le mode de réalisation de la figure 2A. Cependant, le nombre de cellules de secours étant moindre, la surface ajoutée au circuit par les cellules de secours sera réduite par rapport à la variante de la figure 2A. La figure 2F représente à titre de variante une vue de dessus extrêmement schématique d'un circuit intégré 20 dont les composants de base n'ont pas été représentés, réparable éventuel- lement en tout point selon la présente invention, comportant des groupes de cellules de secours 211 à 21n reliés entre eux par des groupes de pistes de secours WB1 à WBn_1. Chaque groupe de pistes de secours WBi, i étant conmpris entre 1 et n-l, est composé d'un certain nombre de pistes élémentaires, 3 dans cet exemple, dési- gnées par Wli, W2i et W3i. Les groupes de pistes sont disposés en zigzag sur la portion de circuit de telle manière que la distance entre un point quelconque de la portion de circuit et les pistes de secours les plus proches soit au maximum égale à la distance maximale (A) permise pour une réparation. Les branches du zigzag sont distantes de 2A entre elles. Deux groupes de cellules de se- cours 21i, 21i+l sont reliés à chaque extrémité d'un groupe de pistes de secours WBi correspondant à une branche de zigzag. Le nombre de cellules de secours étant doublé par rapport à la va- riante de la figure 2A, la surface ajoutée au circuit par les cellules de secours sera doublée. Cependant, cette variante per- met d'effectuer un plus grand nombre de réparations sur le cir- cuit 20 qu'avec le mode de réalisation de la figure 2A. A titre de variante, un groupe de cellules de secours peut employer un plus grand nombre, ou d'autres cellules standard que la porte NON ET, la bascule D et la porte trois états dé- crites ci-dessus ou employer un plus grand nombre de pistes de secours. A titre de variante également, la répartition des pis- tes de secours sur la surface du circuit peut être différente de celle en zigzag et par exemple prendre une forme de spirale. On a décrit jusqu'à présent le cas de pistes de secours recouvrant l'ensemble d'un circuit intégré, mais certaines por- tions d'un circuit intégré, comne par exemple des matrices de dispositifs mémoires ou des coeurs de microprocesseurs, ne se prêtent pas à des corrections de ce type et sont très peu suscep- tibles de présenter des erreurs. L'hommne de l'art pourra adapter la description ci-dessus uniquement aux portions d'un circuit in- tégré susceptibles de présenter des erreurs et d'être réparées. REVENDICATIONS 1. Circuit intégré dont une portion (20) au moins comprend au moins un groupe (21) de cellules de secours destinées à être éventuellement reliées à ladite portion (20) du circuit intégré après la fabrication de celui-ci par des connexions de remplacement dont la longueur ne peut dépasser une valeur prédé- terminée (A), caractérisé en ce que les entrées et sorties des cellules de secours sont reliées à des pistes métalliques de se- cours dont la disposition sur le circuit est telle que tout point de ladite portion (20) du circuit est distant au maximum de la- dite valeur prédéterminée (A) d'un point de ces pistes. 2. Circuit intégré selon la revendication 1, comprenant plusieurs niveaux de métallisation, caractérisé en ce que les pistes de secours sont pour leur plus grande partie réalisées dans le niveau de métal le plus élevé possible. 3. Circuit intégré selon la revendication 1, caracté- risé en ce que les entrées d'un premier groupe de cellules de se- cours (211) sont reliées à une masse du circuit et en ce que d'autres groupes de cellules de secours (212 à 21n) sont connec- tés en série avec le premier groupe (211) par des pistes de se- cours (Wli, W2i, W3i) disposées côte à côte en groupes de pistes de secours (WBi), de sorte qu'aucune entrée d'une cellule de se- cours n'est flottante. 4. Circuit intégré selon la revendication 3, caracté- risé en ce que les groupes de cellules de secours (211 à 21n) sont implantés sensiblement régulièrement le long des groupes de pistes de secours (WBi). 5. Circuit intégré selon la revendication 1, caracté- risé en ce que les groupes de pistes de secours (WBi) sont dis- posés en zigzag sur la portion de circuit (20) en une succession de lignes de même direction, s'étendant sur toute la largeur de la portion de circuit (20), ces lignes étant connectées entre elles à chaque extrémité par une portion de colonne perpen- diculaire de longueur sensiblement égale à deux fois ladite va- leur prédéterminée (A) d'une connexion de remplacement. 6. Circuit intégré selon la revendication 5, caracté- risé en ce qu'un groupe de cellules de secours (21i) est disposé sensiblement à l'une des extrémités de chaque ligne de groupe de pistes de secours (WBi). 7. Circuit intégré selon la revendication 3, caracté- risé en ce que les entrées du premier groupe de cellules de se- cours (211) sont reliées à la masse du circuit par de petits seg- ments de pistes de secours. 8. Circuit intégré selon la revendication 3, caracté- risé en ce que les sorties d'une cellule de secours non connec- tées à une cellule de secours suivante sont reliées à de petits segments de pistes de secours laissés flottants. 9. Circuit intégré selon la revendication 1, caracté- risé en ce qu'un groupe de cellules de secours (21i) comporte des éléments standards tels qu'une porte NON ET, une bascule D, et une porte trois états. 10. Procédé consistant à implanter dans une portion (20) d'un circuit intégré au moins un groupe de cellules de se- cours destinées à être éventuellement reliées à des points de la- dite portion (20) de circuit intégré après la fabrication de ce- lui-ci par des connexions de remplacement dont la longueur ne peut dépasser une valeur prédéterminée (A), caractérisé en ce qu'il comprend en outre l'étape consistant à relier les entrées et sorties des cellules de secours à des pistes métalliques dites pistes de secours dont la disposition sur le circuit est telle que tout point de ladite portion (20) du circuit est distant au maximum de ladite valeur prédéterminée (A) d'un point de ces pis- tes, lesdites pistes de secours étant réalisées dans le niveau de métal le plus élevé possible.