Brevet FR2752943A1 — publié le 19980306

APPAREIL DE TEST DE CIRCUITS IMPRIMES La présente invention concerne un appareil de test de circuits imprimés et, plus particulièrement, un système de report de contacts d'une plaque de programmation pourvue de pointes conductrices destinées à contacter des plots de test d'un circuit imprimé vers un module d'analyse. La figure 1 représente, de façon arbitraire et schématique, une répartition de plots de test d'un circuit imprimé 1. On y distingue diverses plages conductrices servant de plots de test 11 et, plus particulièrement, deux régions 12 et 13 de plots de test répartis selon un motif de broches de circuits intégrés. Bien entendu, des connexions non représentées partent des diverses plages conductrices vers d'autres plages conductrices du circuit imprimé, ou vers des traversées débouchant sur l'autre face ou sur une couche intermédiaire du circuit imprimé. Les régions 12 et 13 se distinguent par le fait qu'elles comportent, autour d'une zone sensiblement rectangulaire, des plots très proches les uns des autres. La répartition des plots dans une direction correspond, au moins dans les régions 12 et 13, à un pas d'écartement normalisé. Les plots 11 peuvent correspondre à des plages de contact destinées à recevoir des broches d'un circuit intégré monté en surface et servent alors à tester le circuit imprimé nu. Ils peuvent également correspondre à des plages de contact reportées dans la face du circuit 1 opposée au circuit intégré pour le test du circuit câblé. La figure 2 représente un exemple de disposition classique pour tester un circuit imprimé 1, pourvu de régions 12, 13, de plots de test 11 à pas serré et régulier (par exemple 1,27 mm), au moyen d'un module d'analyse (non représenté). Le module d'analyse est associé à un plateau de test 2 pourvu de pastilles 21 réparties selon un pas d'écartement standard supérieur (par exemple, 2,54 mm). Le circuit imprimé 1 est posé, face à tester en bas, sur un lit 3 à tiges conductrices 31 déformables. Le lit 3 comprend une plaque de programmation 32 du côté du circuit imprimé 1 et une plaque de base 33 parallèle et solidaire de la plaque 32. Les plaques 32 et 33 servent de guidage des tiges 31 venant contacter les plots 11 du circuit imprimé 1. Des perçages de la plaque de programmation 32 sont répartis selon le même motif que celui des plots de test 11. Les extrémités inférieures des tiges 31 sont ramenées à un pas standard (correspondant au pas d'écartement entre les pastilles 21) supérieur à celui des plots 11 des régions 12 et 13, grâce à la plaque de base 33. Des plaques de guidage intermédiaires désignées globalement par la référence 34 sont généralement intercalées entre les plaques 32 et 33. Les extrémités inférieures des tiges 31 appuient sur des pointes à ressort ou double effet 22 incorporées dans une plaque 23, associée au plateau 2, au même pas que les trous de la plaque 33. Les pointes 22 appuient sur les pastilles 21 qui sont généralement gravées selon une grille à pas standard sur le plateau 2 en matériau isolant. Les pastilles 21 sont reliées au module d'analyse par des moyens connus de la technique. Les pointes 22 sont en même nombre et au même pas que les pastilles 21 pour assurer le contact entre chaque plot 11 à tester du circuit imprimé 1 et la pastille de test 21 correspondante. Les plots 11 sont en très grand nombre (jusqu'à plusieurs milliers). Les tiges 31 sont généralement très longues (jusqu'à plusieurs dizaines de centimètres) par rapport aux pointes 22 (de l'ordre de quelques centimètres). Si un tel appareil de test permet de tester des plots 11 plus rapprochés que les pastilles sur le plateau 2 (à un pas standard). Toutefois, il présente l'inconvénient de nécessiter un usinage complexe des plaques de guidage, en particulier, des plaques de guidage intermédiaires. On connaît également d'autres appareils de test qui n'effectuent pas de changement de pas entre le motif de plots de test du circuit imprimé et le plateau de test. La figure 3 représente une vue en coupe d'un exemple d'appareil de test de ce type. Pour des raisons de clarté, on a désigné par les mêmes références aux figures 2 et 3, des éléments similaires. L'appareil est constitué d'un boîtier 4 relativement plat et sensiblement horizontal défini par un fond 41 et des parois latérales 42. Un plateau de test 2' est fixé dans le boîtier 4 parallèlement au fond 41. Le plateau 2' comprend plusieurs clous conducteurs 24 télescopiques et relativement longs (de l'ordre de quelques dizaines de millimètres) dont la structure ressort mieux de la figure 4. Un circuit imprimé 1 à tester est porté par une plaque de programmation 32' en étant légèrement écarté de cette dernière. Plusieurs pointes de contact 31' relativement courtes (de l'ordre d'une dizaine de millimètres), mobiles axialement dans et par rapport à la plaque 32', sont disposées selon le motif des plots de test 11 de la face inférieure du circuit imprimé 1. Dans l'exemple représenté à la figure 3, les plots 11 correspondent à des plages conductrices reportées sur la face opposée du circuit 1 par rapport à un circuit intégré 14. Seules quelques pointes et clous ont été représentés pour des raisons de clarté. Les pointes 31' sont destinées à assurer la conduction électrique entre les clous 24 et les plots 11. La plaque 32' définit, avec le plateau 2' et un moyen de joint 43, un espace 44 destiné à être mis sous vide au moyen d'une pompe 45. La plaque 32' est guidée au moyen de tiges verticales 46 portées par le plateau de test 2'. Le positionnement du circuit imprimé 1 est assuré par des tiges verticales 47 portées par la plaque 32' et coopérant avec des ori- fioles de positionnement ménagés dans le circuit 1. L' écart entre le circuit imprimé 1 et la plaque 32' est, par exemple, obtenu par un cadre 48 de réception du circuit 1. Le cadre 48 est pourvu d'une ouverture centrale 49 dans une région du circuit 1 pourvue des plots de test 11 pour permettre le passage des pointes 31'. Le cadre 48 sert également de moyen d'étanchéité en périphérie du circuit 1 lors de la mise sous vide. La figure 4 représente partiellement et en coupe, le plateau 2' et la plaque 32' d'un appareil tel que représenté à la figure 3. A la figure 4, seuls deux clous et pointes ont été détaillés, d'autres clous et pointes sont illustrés par leurs axes respectifs en pointillés 25 et 35. Une première extrémité 26 des clous 24 est saillante en direction du circuit imprimé 1 à tester. L'autre extrémité 27 de chaque clou 24 est sollicitée par un ressort 28 dans cette direction et est connectée à un plot conducteur 29 fixe de la face inférieure du plateau 2'. Chaque plot 29 est destiné à être raccordé, par exemple par un fil 50 (figure 3) et un connecteur 51, au module d'analyse 52. Lorsque le vide est fait dans l'espace 44, la plaque 32' et le circuit 1 sont attirés vers le plateau 2'. Les clous 24 entrent en contact avec les pointes 31' et poussent ces dernières en direction des plots 11. Lorsque les pointes 31' contactent les plots 11, les ressorts 28 sont comprimés par la poursuite du rétrécissement de l'espace 44, ce qui garantit un bon contact de chaque ensemble clou 24, pointe 31', plot 11. Le test du circuit 1 peut alors commencer, par exemple de façon automatique, au moyen du module d'analyse 52. L'épaisseur du plateau 2' est généralement d'une dizaine de mm tandis que l'épaisseur de la plaque 32' est de l'ordre de 5 mm. La hauteur de l'espace 44 fixant la course des clous de test 24 est généralement comprise entre 10 et 30 mm. Un tel appareil est decrit, par exemple, dans la demande de brevet français 2 518 358. Le rôle des pointes de contact intermédiaires est ici de permettre une programmation de l'appareil de test en fonction du circuit imprimé à tester à partir d'un même plateau de test. Les clous de test télescopiques sont régulièrement répartis sur tout le plateau de test à un pas d'écartement standard de 2,54 mm. La plaque de programmation est réalisée avec un motif de pointes de contact correspondant au motif de plots de test du circuit imprimé. On notera que les plots de test sont eux-mêmes à un pas de 2,54 mm ou un multiple de ce pas et que chaque pointe de contact est coaxiale à un clou du plateau de test. Chaque pointe 31' comporte deux godrons 36 périphériques saillants, d'un diamètre supérieur au diamètre des trous 37 de la plaque 32'. L'écart axial entre les godrons 36 définit le jeu axial des pointes 31'. La demande de brevet français 2 688 975 décrit un autre exemple classique d'appareil de test du type susmentionné dans lequel, non seulement les clous de test, mais également les pointes de contact sont sollicités par ressort. Les pointes et les clous sont coaxiaux et répartis selon le motif des plots du circuit imprimé à tester. Le rôle donné ici aux pointes de contact intermédiaires est d'améliorer la précision de l'alignement axial entre les contacts et les plots du circuit imprimé, par rapport à un appareil dans lequel le contact avec les plots du circuit imprimé est directement assuré par les clous de test. En effet, plus le pas d'écartement des plots de test dans les régions de test est faible, plus le diamètre des clous coaxiaux doit être faible. Comme les clous ont une longueur relativement grande, en raison de leur course (quelques dizaines de millimètres) liée à la hauteur de l'espace destiné à être mis sous vide, cela induit un jeu radial qui ne permet alors plus de garantir un positionnement précis des clous par rapport aux plots du circuit. Dans les deux documents susmentionnés, on cherche à garantir un alignement axial des clous avec les pointes réparties selon le motif des plots de test. Ces documents prévoient notam ment que les extrémités respectives des pointes et des clous en regard les unes des autres soient à forme contraire pour garantir cet alignement axial. Par exemple et comme 1' illustre la figure 4, l'extrémité 26 des clous 24 est en pointe et l'extrémité inférieure des pointes 31' comporte un perçage 37, axial et conique, de réception de l'extrémité 26 d'un clou 24. Un inconvénient des appareils existants est que la diminution du pas entre les plots du circuit imprimé conduit à une augmentation considérable du coût du plateau de test. En effet, plus le pas diminue, plus les constituants des clous (et, le cas échéant, des pointes) télescopiques doivent être fins et sont donc onéreux. Par exemple, pour un pas de 2,54 mm, les clous télescopiques comprenant notamment un fourreau (non représenté), un ressort et un clou, présentent un diamètre global de l'ordre de 1,5 mm. Pour un pas de 1,27 mm, ce diamètre global doit descendre à environ 0,95 mm. En outre, on voit désormais apparaître des circuits imprimés dans lesquels les broches des circuits intégrés sont à un pas encore inférieur. Cet inconvénient est particulièrement sensible dans le cas de tests de circuits imprimés câblés, c'est-à-dire sur lesquels des composants, par exemple des circuits intégrés 14 (figure 3), ont été montés, et en particulier si le circuit imprimé reçoit des circuits intégrés sur ses deux faces. En effet, le tracé d'un circuit imprimé prévu pour des circuits intégrés au pas de 1,27 mm peut autoriser un report de plots de test au pas de 2,54 mm en utilisant les zones centrales entourant les plages de contact des broches des circuits intégrés. Si cette solution présente l'inconvénient de rendre plus complexe le tracé du circuit imprimé, elle permet le test du circuit nu. Par contre, ces zones ne sont plus accessibles une fois que le circuit est câblé. Pour tester un circuit imprimé câblé comprenant des circuits intégrés dont les broches de connexion sont au pas de 1,27 mm, voire inférieur, on est donc conduit à utiliser des clous et pointes adaptés à ce pas. La présente invention vise à pallier les inconvénients des appareils existants. Selon un premier aspect, la présente invention vise à proposer un appareil de test qui permette, au moins dans des régions de plots de test à pas serré d'un circuit imprimé, de reporter des contacts vers des clous de test axialement rigides répartis selon un motif à un pas supérieur. Selon un deuxième aspect, la présente invention vise à proposer une nouvelle plaque de programmation associée à de nouvelles pointes de contact pour faciliter la mise en place des pointes et leur blocage avec jeu axial dans la plaque. Pour atteindre ces objets, la présente invention prévoit, selon un premier aspect, un appareil de test de circuits imprimés du type comportant une plaque de programmation pourvue de pointes de contact mobiles axialement dans et par rapport à cette plaque et disposées selon un motif de plots de test d'un circuit imprimé à tester, et un plateau de test pourvu de clous conducteurs sollicités axialement par ressort en direction de la plaque de programmation, au moins certains clous étant décalés radialement par rapport aux pointes qu'ils doivent contacter. Selon un mode de réalisation de la présente invention, les axes des clous de test sont rectilignes et parallèles aux axes des pointes de contact. Selon un mode de réalisation de la présente invention, le diamètre desdits clous décalés est supérieur au diamètre des pointes qu'ils doivent contacter. Selon un mode de réalisation de la présente invention, lesdits clous décalés sont disposés en quinconce par rapport à un alignement des pointes qu'ils doivent contacter. Selon un mode de réalisation de la présente invention, chaque clou décalé est disposé de sorte que l'axe de la pointe qu'il doit contacter soit inclus dans le diamètre du clou. Selon un deuxième aspect, la présente invention prévoit une plaque de programmation d'un appareil de test de circuits imprimés, du type comportant des pointes conductrices mobiles axialement dans des trous traversant la plaque de programmation, et constituée d'une plaque centrale prise en sandwich entre des plaques externes, chaque pointe comportant un tronçon médian de diamètre inférieur au diamètre de deux tronçons d'extrémités et ladite plaque centrale étant coulissante entre les plaques d'extrémités, entre une position de programmation où les trous des différentes plaques sont coaxiaux et une position programmée où les trous de la plaque centrale sont décalés radialement par rapport aux trous des plaques externes. Selon un mode de réalisation de la présente invention, l'épaisseur de la plaque centrale définit, avec la longueur des tronçons médians des pointes, le jeu axial des pointes dans la plaque de programmation. Selon un mode de réalisation de la présente invention, la plaque de programmation comporte au moins un moyen de verrouillage en position de la plaque centrale. Selon un mode de réalisation de la présente invention, le moyen de verrouillage est oonstitué d'au moins une tige de diamètre régulier destinée à être engagée dans trois orifices traversant respectivement les plaques externes et centrale, lesdits orifices étant coaxiaux quand la plaque centrale est en position programmée. Selon un mode de réalisation de la présente invention, les trous et les sections des pointes sont de forme générale circulaire, les trous de la plaque centrale ayant, de préférence, une forme de trou de serrure. Ces objets, caractéristiques et avantages, ainsi que d'autres de la présente invention seront exposés en détail dans la description suivante de modes de réalisation particuliers faite à titre non-limitatif en relation avec les figures jointes parmi lesquelles les figures 1 à 4 décrites précédemment sont destinées à exposer 'étant de la technique et le problème posé la figure 5 illustre schématiquement les répartitions respectives de clous télescopiques d'un plateau de test et de pointes de contact d'une plaque de programmation selon un premier aspect de la présente invention la figure 6 représente partiellement et en coupe un mode de réalisation d'un plateau de test et d'une plaque de programmation selon le premier aspect de la présente invention les figures 7A et 7B représentent, en coupe, un détail d'un mode de réalisation d'une plaque de programmation selon un deuxième aspect de la présente invention ; et la figure 8 représente un mode de réalisation particulier de trous d'une plaque centrale d'une plaque de programmation telle que représentée aux figures 7A et 7B. Pour des raisons de clarté, les représentations des figures ne sont pas à l'échelle et seuls les éléments nécessaires à la compréhension de l'invention ont été représentés aux figures. Une caractéristique de la présente invention est d'associer à une plaque de programmation pourvue de pointes de contact, réparties selon un motif de plots de test d'un circuit imprimé et mobiles axialement dans et par rapport à oette plaque, un plateau de test dans lequel au moins certains clous télesco- piques rigides axialement ne sont pas coaxiaux aux pointes respectives qu'ils doivent contacter. Les figures 5 et 6 illustrent cette caractéristique de l'invention. La figure 5 illustre schématiquement et vus de dessus, les répartitions et les rapports entre les diamètres respectifs de plots de test 11, de pointes de contact 71 et de clous de test télescopiques 64, pour un circuit imprimé pourvu de régions de plots au pas de 1,27 mm selon un mode de réalisation de l'invention. A la figure 5, les plots de test 11 ont été représentés de façon circulaire pour mieux faire ressortir les caractéristiques de l'invention. On notera cependant que les plots 11 peuvent avoir une forme rectangulaire, carrée, ou autre. La figure 6 représente partiellement et en coupe, selon la ligne brisée VI-VI de la figure 5, un plateau de test 6 et une plaque de programmation 7 selon l'invention. A la figure 6, seuls trois clous 64 ont été représentés pour des raisons de clarté. D'autres clous et pointes sont illustrés par leurs axes respectifs en pointillés 65 et 75. Comme précédemment, une plaque de programmation 7 selon l'invention est pourvue de pointes de contact 71 rigides, mobiles axialement dans et par rapport à la plaque 7. Les pointes 71 sont réparties selon le motif des plots de test 11 du circuit imprimé 1 (figure 6) à tester. Le mode de réalisation des pointes 71 représenté à la figure 6 est similaire au mode de réalisation représenté à la figure 4. Les pointes de contact sont relativement courtes (de l'ordre d'une dizaine de millimètres), l'épaisseur de la plaque 7 étant de l'ordre de quelques millimètres (par exemple, entre 4 mm et 8 'mon). Le diamètre des pointes 71 est fonction du pas d'écartement des plots 11. Comme l'illustre la figure 5, les clous de test 64 sont répartis sur le plateau 6 pour contacter les pointes 71 de la plaque 7 sans toutefois être coaxiaux avec celles-ci. On tire ici profit du fait que, dans les régions du circuit imprimé où les plots de test sont au pas de 1,27 mm, voire inférieur, le pas serré n'est généralement présent que dans une direction pour des plots de test voisins. Selon l'invention, au moins certains clous 64 du plateau de test 6 présentent un diamètre global supérieur au diamètre habituellement prévu pour qu' ils soient coaxiaux aux pointes 71 en respectant le pas des plots 11. Ces clous 64 sont, selon l'invention, disposés de façon décalée par rapport à la direction des pointes de contact 71 à pas serré, elles-mêmes coaxiales aux plots 11. De préférence, et comme l'illustre mieux la figure 5, les clous 64 sont en quinconce par rapport à l'alignés ment des pointes 71 à pas serré dans une direction. Bien que cela ne soit pas indispensable, les positions des clous 64 sont, de préférence, telles que les axes respectifs 75 des pointes 71 auxquelles ils sont associes s'inscrivent dans le diamètre des clous 64, les axes respectifs 65 et 75 des clous 64 et des pointes 71 étant parallèles et rectilignes. Selon le mode de réalisation représenté à la figure 6, les extrémités supérieures des clous 64 ne sont pas en pointe mais sont striées de sorte qu'ils ne risquent pas de se désaxer quand ils entrent en contact avec une pointe 71, même si les axes 65 et 75 ne sont pas alignés. Ainsi, dans une région du circuit où le pas des pointes 71 est, dans une direction, par exemple de 1,27 mm, on peut quand même utiliser des clous de test prévus pour un pas de 2,54 mm, par exemple d'un diamètre de 1,5 mm. Si la densité en plots de test 11 au pas de 1,27 mm est trop importante, par exemple si quelques plots voisins au pas de 1,27 mm sont présents dans les deux directions, on peut alors selon l'invention utiliser quelques clous de test plus fins (par exemple, des clous de 0,95 mm de diamètre), judicieusement répartis entre des clous de test prévus pour un pas de 2,54 mm. Un avantage de la présente invention est qu'elle évite le recours à des plaques de guidage de constitution complexe. Un autre avantage de la présente invention est qu'en permettant l'utilisation de clous de test prévus pour un pas supérieur et en minimisant (voire en supprimant selon la densité des plots de test) le nombre de clous de test de diamètre adapté au pas minimal des plots du circuit imprimé, on diminue considérablement le coût du plateau de test. De plus, on réduit le risque de jeu radial des clous de test par rapport à un appareil classique. Les pointes 71 étants courtes, elles ne risquent pratiquement pas de présenter un jeu radial. De plus, le fait qu'elles soient dépourvues de mécanisme à ressort autorise, pour un pas donné, un diamètre plus important que celui qui serait nécessaire pour des pointes télescopiques. En outre, le fait que les pointes 71 soient guidées par les deux faces de la plaque 7 permet, le cas échéant, de creuser la face supérieure de la plaque 7 pour autoriser le logement partiel d'un circuit intégré présent en face inférieure du circuit imprimé et, ainsi, une prise de oontact très proche du boîtier du circuit intégré. On notera que l'invention ne se limite pas à 1 'exemple décrit des pas de 1,27 et 2,54 mm. En effet, de façon plus générale, l'invention permet d'utiliser des clous de test prévus pour un écartement d'un pas supérieur pour contacter des pointes de contact réparties avec un pas inférieur. Quel que soit les valeurs des pas supérieurs et inférieurs, on réalise une économie par rapport à un plateau de test classique comportant des clous de test adaptés au pas de pointes de contact. On notera aussi que l'invention est également avantageuse pour des circuits nus dans la mesure où elle évite que le tracé du circuit imprimé prévoie des plots de test reportés, tout en utilisant des clous de test prévus pour un pas supérieur. Les figures 7A, 7B et 8 illustrent un autre aspect de la présente invention relatif à une nouvelle plaque de programmation. Une plaque 8 de programmation, selon cet aspect de l'invention, est constituée d'un empilement de trois plaques, respectivement 81, 82 et 83, percées de trous, respectivement 84, 85 et 86, de passage de pointes de contact 9. Les trous 84, 85, et 86 sont répartis selon le motif des plots de test 11 (non représentés aux figures 7 et 8) du circuit imprimé à tester. Une plaque centrale 82 relativement fine est prise en sandwich entre deux plaques externes 81 et 83, relativement épaisses. A titre d'exemple particulier, la plaque 82 a une épaisseur comprise entre 0,3 mm et 1 mm et les plaques 81 et 83 ont des épaisseurs comprises entre 2 mm et 5 mm. Selon l'invention, la plaque centrale 82 est mobile à coulissement entre les plaques 81 et 83, entre une position de programmation (figure 7A) où les trous 84, 85 et 86 des trois plaques sont alignés et une position programmée (figure 7B) où les trous 85 de la plaque 82 sont désaxés par rapport aux trous coaxiaux 84 et 86 des plaques 81 et 83. Selon l'invention, les pointes 9 sont constituées de trois tronçons coaxiaux, respectivement 91, 92 et 93. Deux tron çons d'extrémités 91 et 93 sont d'un même diamètre, légèrement inférieur au diamètre des trous 84, 85 et 86 des plaques 81, 82 et 83. Un tronçon médian 92 est d'un diamètre inférieur au diamètre des tronçons 91 et 93. La longueur du tronçon 92 définit le jeu axial des pointes dans la plaque 9. Les pointes 9 sont engagées dans les trous 84, 85 et 86 selon le motif des plots de test 11 du circuit à tester quand la plaque 82 est dans la position de programmation (figure 6A). Une fois que toutes les pointes ont été mises en place, on fait coulisser la plaque 82 de sorte qu'elle bloque les pointes 9, avec jeu axial, dans les trous (figure 7B). La position de la plaque 82 par rapport aux plaques 81 et 83 est verrouillée, par exemple, au moyen d'une tige (non représentée) de diamètre régulier engagée dans des orifices (non représentés) de même diamètre ménagés dans les trois plaques. A l'inverse des trous 84, 85 et 86, ces orifices sont coaxiaux quand la plaque centrale 82 est en position programmée. On empêche ainsi un coulissement accidentel de la plaque 82. De meme, on peut prévoir une autre tige (non représentée) destinée à coopérer avec d'autres orifices (non représentés) coaxiaux quand la plaque 82 est en position de programmation, pour la verrouiller dans cette position pendant la mise en place des pointes de contact 9. Le jeu radial entre les pointes 9 et les plaques, défini par la différence de diamètre entre les trous 84 et 86 et les tronçons 91 et 93, est faible pour que le mouvement des pointes soit le plus axial possible. Ce jeu est, par exemple de 2/100 de rmn. Un avantage d'une plaque de programmation 8 selon 1' in- vention est que la mise en place des pointes de contact 9 est particulièrement aisée. Il n'est pas nécessaire d'engager les pointes à force, comme cela est le cas des pointes classiques pour faire passer un des godrons 76 (figure 6). L'invention permet, selon ce mode de réalisation, de prévoir un jeu radial moindre pour les pointes 9 car il n'est pas nécessaire de prévoir le passage avec écrasement d'un des godrons, et/ou car le trou n' est pas agrandi par le passage d'un des godrons. La précision du guidage des pointes 9 est ainsi améliorée. Un autre avantage de la plaque de programmation selon l'invention est que le remplacement des pointes usees au cours d'une série de tests de circuits imprimés est particulièrement aisé. Un autre avantage de la plaque de programmation représentée aux figures 7 et 8 est qu'elle permet d'utiliser, pour un pas d'écartement donné entre les plots de test du circuit imprimé, des pointes d'un diamètre supérieur au diamètre des pointes selon le mode de réalisation illustré par la figure 6. En effet, les pointes 9 sont désormais dépourvues de saillies radiales (76, figure 6). La figure 8 est une vue en coupe horizontale de la plaque de programmation 8 au niveau de la plaque centrale 82, illustrant un mode de réalisation particulier des trous 85. Selon ce mode de réalisation, les trous 85 ont une forme générale en trou de serrure dont la région 87 de plus grand diamètre est d'un diamètre légèrement supérieur au diamètre des tronçons 91 et 93. La région 88 de plus petit diamètre des trous 85 est d'un diamètre légèrement supérieur au diamètre du tronçon 92. Bien entendu, la présente invention est susceptible de diverses variantes et modifications qui apparaîtront à l'homme de l'art. En particulier, le choix des diamètres respectifs des pointes de contact et des clous de test est à la portée de l'homme de l'art à partir des indications fonctionnelles données ci-dessus, et en fonction du pas des plots de test du circuit imprimé. En outre, l'invention s'applique également à un appareil de test dans lequel la plaque portant les pointes de contact est rapprochée de la plaque portant les clous de test par d'autres moyens qu'une mise sous vide, par exemple, des moyens pneumatiques. REVENDICATIONS 1. Plaque (8) de programmation d'un appareil de test de circuits imprimés (1), du type comportant des pointes conductrices (9) mobiles axialement dans des trous traversant la plaque de programmation (8), caractérisée en ce qu'elle est constituée d'une plaque centrale (82) prise en sandwich entre des plaques externes (81, 83), et en ce que chaque pointe (9) comporte un tronçon médian (92) de diamètre inférieur au diamètre de deux tronçons d'extrémités (91, 93), ladite plaque centrale (82) étant coulissante entre les plaques d'extrémités (81, 83) entre une position de programmation où les trous (84, 85, 86) des différentes plaques (81, 82, 83) sont coaxiaux et une position programmée où les trous (85) de la plaque centrale (82) sont décalés radialement par rapport aux trous (84, 86) des plaques externes (81, 83). 2. Plaque de programmation selon la revendication 1, caractérisée en ce que l'épaisseur de la plaque centrale (82) définit, avec la longueur des tronçons médians (92) des pointes (9), le jeu axial des pointes (9) dans la plaque de programmation (8). 3. Plaque de programmation selon la revendication 1 ou 2, caractérisée en ce qu'elle comporte au moins un moyen de verrouillage en position de la plaque centrale (82). 4. Plaque de programmation selon la revendication 3, caractérisée en ce que le moyen de verrouillage est constitué d'au moins une tige de diamètre régulier destinée à être engagée dans trois orifices traversant respectivement les plaques externes (81, 83) et centrale (82), lesdits orifices étant coaxiaux quand la plaque centrale (82) est en position programmée. 5. Plaque de programmation selon 1 'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisée en ce que les trous (84, 85, 86) et les sections des pointes (9) sont de forme générale circulaire, les trous (85) de la plaque centrale (82) ayant, de préférence, une forme de trou de serrure. 6. Appareil de test de circuits imprimés, caractérisé en ce qu'il comporte une plaque de programmation (8) selon 1 'une quelconque des revendications 1 à 5, les pointes de contact (9) étant disposées selon un motif de plots de test (11) d'un circuit imprimé (1) à tester ; et un plateau de test (6) pourvu de clous conducteurs (64) sollicités axialement par ressort (68) en direction de la plaque de programmation (8), au moins certains clous (64) étant décalés radialement par rapport aux pointes (9) qu'ils doivent contacter. 7. Appareil de test selon la revendication 6, caractérisé en ce que les axes (65) des clous de test (64) sont rectilignes et parallèles aux axes (75) des pointes de contact (9). 8. Appareil de test selon la revendication 6 ou 8, caractérisé en ce que le diamètre desdits clous décalés (64) est supérieur au diamètre des pointes (9) qu'ils doivent contacter. 9. Appareil de test selon 1' une quelconque des revendications 6 à 7, caractérisé en ce que lesdits clous décalés (64) sont disposés en quinconce par rapport à un alignement des pointes (9) qu'ils doivent contacter. 10. Appareil de test selon l'une quelconque des revendications 6 à 9, caractérisé en ce que chaque clou décalé (64) est disposé de sorte que l'axe (75) de la pointe (9) qu'il doit contacter soit inclut dans le diamètre du clou (64).