Brevet FR2748813A1 — publié le 19971121

Dispositif de test, notamment d'un composant électronique à multicontacts L'invention concerne le domaine des tests de composants électroniques, comme par exemple une puce de micro-ordinateur, par prise de contacts mécaniques en des endroits choisis de ceux-ci, où se trouvent leurs entrées, sorties et alimentations. Dans ce qui suit, on appellera "contacts" les entrées, sorties et alimentations du ou des composants à tester. En raison des dimensions de plus en plus petites des composants électroniques, leurs contacts présentent des dimensions qui peuvent être inférieures à 80 microns, et l1entrtaxe entre deux contacts premiers voisins peut être de l'ordre d'environ 100 microns. Ces contacts sont disposés selon un schéma prédéterminé, qui peut être parfaitement géométrique ou de forme quelconque, et leur nombre sur un même composant électronique peut atteindre plusieurs centaines. Par conséquent, les dispositifs de test de tels composants électroniques nécessitent une multiplicité de moyens de contact afin de pouvoir tester sensiblement simultanément tous leurs contacts, voire même les contacts de plusieurs composants électroniques mis en parallèle. On connaît déjà des dispositifs de test dont les moyens de contact sont des aiguilles horizontales, courbées au droit de certains contacts du composant électronique à tester, lequel est solidaire d'une plaquette (appelée "tranche") dont le déplacement est contrôlé par un manipulateur de tranche, et soudées par l'une de leurs extrémités sur un circuit imprimé servant d'interface avec un testeur électronique programmé. De tels dispositifs de tests ne permettent pas, ou très difficilement, les tests des composants électroniques dont les contacts sont disposés sous forme matricielle. De plus, ils ne permettent pas de tester facilement plusieurs composants électroniques identiques en parallèle. On connaît par ailleurs, d'après le Brevet US de la Société IBM No 4 027 935 des dispositifs de test du type comprenant: - des plaques supérieure et inférieure sensiblement parallèles, isolantes électriquement, définissant une cavité de hauteur choisie, et comportant respectivement une multiplicité de zones et une multiplicité de premiers trous traversants disposés selon ledit schéma prédéterminé; - des moyens d'immobilisation des plaques supérieure et inférieure; et - une multiplicité de moyens de contact longilignes, conducteurs électriquement, respectivement solidaires par de premières extrémités desdites zones de la multiplicité de zones, et de longueur calibrée supérieure à la hauteur choisie de sorte que leurs secondes extrémités émergent de ladite cavité après traversé de la multiplicité de premiers trous traversants. Les moyens de contact doivent tous présenter, avant leur installation dans la cavité, une courbure prédéfinie. Etant donné leurs dimensions, l'obtention de cette courbure leur impose des formes tout à fait particulières qui rend leur coût très élevé et les fragilise. De plus, l'obtention de plusieurs centaines de moyens de contact présentant une même courbure prédéfinie, entraîne des coûts supplémentaires importants. Par ailleurs, afin de tenir compte de la courbure des moyens de contact, les zones de la plaque supérieure doivent être légèrement décalées par rapport aux premiers trous traversants correspondant sur la plaque inférieure, ce qui complique le montage de ce type de dispositif. Enfin, en raison du mode de réalisation des moyens de contact, ce type de dispositif de test ne peut que très difficilement tester des composants électroniques dont l'entr'axe entre contacts premiers voisins est inférieur à 140 microns environ. En conséquence, un but de l'invention est de procurer un dispositif de test qui ne présente pas les inconvénients des dispositifs de la technique antérieure, notamment en termes de coût, de robustesse, et d'adaptation aux différents types de composants électroniques de très petites dimensions. L'invention propose à cet effet un dispositif de test du type décrit dans l'introduction, et dans lequel la cavité loge des moyens de déplacement contrôlé, dans au moins une direction, de la multiplicité de moyens de contact entre les plaques supérieure et inférieure, de sorte que cette multiplicité de moyens de contact présente un flambage unidirectionnel en vue du test de la multiplicité de contacts que comprend le composant électronique à tester. Ainsi, les moyens de contact ne sont mis sous contrainte (pré-flambage unidirectionnel) que lorsque le test d'un composant électronique commence. De plus la contrainte peut être contrôlée, et par conséquent adaptée au composant électronique à tester. Cela permet donc de faciliter l'établissement de l'ensemble des contacts mécaniques, de façon parfaitement non destructrice et sensiblement coplanaire. Selon une autre caractéristique de l'invention, les moyens de déplacement comprennent une plaque intermédiaire comportant une multiplicité de seconds trous traversants disposés selon le schéma prédéterminé et propres à être traversés par la multiplicité de moyens de contact, et des moyens d'ajustement comprenant, d'une part, au moins un rail solidaire des moyens d'immobilisation et propre à supporter à coulissement la plaque intermédiaire, et d'autre part un moyen propre à coopérer avec cette plaque intermédiaire pour permettre son coulissement contrôlé selon la direction de déplacement choisie. De la sorte, les moyens de déplacement assurent une parfaite unidirectionnalité du flambage des moyens de contact, ce qui renforce encore la qualité des contacts mécaniques. Préférentiellement, le rail est positionné sensiblement parallèlement aux plaques supérieure et inférieure, de sorte que le déplacement de la plaque intermédiaire puisse s'effectuer sensiblement perpendiculairement aux moyens de contact, lorsque ceux-ci ne sont pas encore soumis au flambage. Bien entendu, un tel rail n'est pas forcément rectiligne. Selon encore une autre caractéristique de l'invention, la plaque supérieure comprend en chacune des zones, lesquelles sont situées sur sa face externe opposée à la cavité, un troisième trou traversant propre à être traversé par la première extrémité d'un moyen de contact, et chaque première extrémité de moyen de contact est munie d'un moyen formant butée propre à immobiliser la première extrémité sur la zone correspondant au troisième trou qu'elle traverse, de sorte que la distance qui sépare les première et seconde extrémités d'un moyen de contact soit sensiblement égale à la longueur calibrée. Les troisièmes trous sont sensiblement positionnés au-dessus des premiers trous de sorte qu'avant déplacement les moyens de contact sont sensiblement rectilignes, et perpendiculaires aux plaques supérieure et inférieure. Selon encore une autre caractéristique de l'invention, le dispositif de test comprend des moyens d'alignement solidaires des moyens d'immobilisation et propres à permettre l'alignement de celui-ci relativement au composant électronique à tester. Ainsi, étant donné que le composant électronique à tester est placé dans une position qui le rend invisible lorsque l'on se trouve au-dessus de la plaque supérieure, on prévoit des moyens d'alignement, munis par exemple d'un marquage, afin de fournir une référence en position. De façon particulièrement avantageuse, le dispositif de test comprend en outre un conduit communiquant avec la cavité afin de l'alimenter en air de refroidissement. Cela permet de tester en température le composant électronique. Préférentiellement, la butée d'un moyen de contact est réalisée par écrasement de matière de sa première extrémité. Les premières extrémités des moyens de contact sont reliées par leurs butées respectives à des entrées d'une plaquette de circuits intégrés ou imprimés, laquelle est elle-même connectée au testeur électronique. Préférentiellement, cette liaison entre les moyens de contact et les entrées est réalisée au niveau de leurs premières extrémités par des fils de liaison conducteurs électriquement. Selon l'invention, le fil de liaison et le moyen de contact forment soit un unique élément, soit deux éléments distincts raccordés. Dans un premier mode de réalisation, les premières extrémités des moyens de contact, munies de leurs butées respectives, sont solidarisées de la plaque supérieure par collage à l'aide d'un matériau isolant. On peut, par ailleurs, prévoir des moyens de réception propres à recevoir la plaquette de circuits intégrés, tout en logeant une partie au moins des moyens d'immobilisation solidarisés des plaques supérieure, intermédiaire et inférieure. Dans un second mode de réalisation de l'invention, les moyens de réception comprennent une paroi supérieure sensiblement parallèle à la plaque supérieure, et comportant une ouverture propre à recevoir une plaque additionnelle munie d'une multiplicité de quatrièmes trous traversants disposés toujours selon le schéma prédéterminé et propres à être traversés par la multiplicité de fils de liaison raccordés aux premières extrémités des moyens de contact. De préférence, l'immobilisation des moyens de contact est obtenue par collage des fils de liaison sur la plaque additionnelle, au niveau des quatrièmes trous qu'ils traversent, à l'aide d'un matériau isolant. Selon encore une autre caractéristique de l'invention, les secondes extrémités des moyens de contact peuvent être soit effilées selon un angle compris entre environ 10 et environ 500 tout en présentant une excentration inférieure à environ 5 microns, soit réalisées sous forme d'une face d'extrémité sensiblement plane (ou perpendiculaire à la direction générale d'alignement des secondes extrémités des moyens de contact). Très avantageusement, les moyens de contact sont réalisés dans un matériau conducteur inoxydable, et les secondes extrémités de ces moyens de contact sont recouvertes d'un film protecteur conducteur électriquement. De la sorte, la qualité des contacts mécaniques établis par les moyens de contact peut rester constante pendant de longues périodes d'utilisation, et d'autre part, on prolonge la durée de vie de ces moyens de contact. préférentiellement les moyens de contact sont réalisés sous forme de fil conducteur flexible de diamètre supérieur à environ 30 microns. Dans la description qui suit, faite à titre d'exemple, on se réfère aux dessins annexés, sur lesquels - la figure 1 illustre schématiquement, dans une vue en coupe transversale, un dispositif selon l'invention, dans un mode de réalisation préférentiel; - la figure 2 illustre le dispositif de la figure 1 dans une vue de dessous; - les figures 3a et 3b illustrent respectivement deux variantes d'une première forme de réalisation d'un moyen de contact selon l'invention, et le type de contact que de tels moyens de contact peuvent tester sur un composant électronique; - les figures 4a et 4b illustrent deux variantes d'une seconde forme de réalisation d'un moyen de contact selon l'invention, ainsi que le type de contact que de tels moyens de contact sont destinés à tester; et - la figure 5 est un schéma de principe de l'invention, appliqué à un mode de réalisation simplifié du dispositif illustré sur la figure 1. Les dessins annexés comportent de nombreux éléments de caractère certain, qu'il est difficile de définir complètement par le texte. En conséquence, ils font à ce titre partie intégrante de la description, et pourront contribuer à la définition de l'invention. On se réfère tout d'abord aux figures 1 et 2 pour décrire un dispositif de test selon l'invention, dans un mode de réalisation préférentiel. La figure 2 est une vue du dessous du dispositif illustré sur la figure 1, et réciproquement, la figure 1 est une vue en coupe selon l'axe I-I du dispositif de la figure 2. Le dispositif de test comprend notamment un premier corps 1 conformé, et de préférence réalisé dans une matière métallique, muni d'une partie centrale évidée dans laquelle se trouvent implantées, dans une partie supérieure, une plaque supérieure 3, dans une partie inférieure, une plaque inférieure 4 et dans une partie intermédiaire entre les plaques supérieure 3 et inférieure 4, un support 5 de plaque intermédiaire 6. Dans l'exemple illustré, le support 5 comprend au moins un rail, et de préférence deux rails disposés dans un plan sensiblement parallèle au plan contenant les plaques supérieure 3 et inférieure 4. Les extrémités de ces deux rails 5 sont solidaires d'une paroi transversale 7 du premier corps 1. La plaque intermédiaire 6 est agencée de sorte qu'elle puisse coulisser sous contrôle sur les deux rails 5, selon au moins une direction parallèle aux plaques supérieure 3 et inférieure 4. Le coulissement (ou déplacement) de cette plaque intermédiaire 6 est contrôlé par une butée réglable 8, qui est réalisée par exemple sous la forme d'une vis dont une partie filetée externe coopère avec un logement 9 muni d'un filetage interne correspondant prévu de préférence dans le corps 1. Dans l'exemple illustré, la vis comporte une partie d'extrémité en forme de tête de vis munie du filetage externe et pouvant être manoeuvrée de l'extérieur du dispositif par un utilisateur, par exemple à l'aide d'un tournevis. De la sorte, la vis ne peut se translater selon la direction de déplacement de la plaque intermédiaire 6 qu'en cas de mise en rotation. En d'autres termes, selon que l'on visse ou que l'on dévisse la partie d'extrémité de la butée réglable 8, la plaque intermédiaire 6 est translatée vers l'avant ou vers l'arrière parallèlement aux plaques supérieure 3 et inférieure 4. Les plaques supérieure 3 et inférieure 4 présentent des dimensions sensiblement identiques, et sont sensiblement superposées l'une à l'autre, délimitant ainsi une cavité 10 dans laquelle peut se déplacer la plaque intermédiaire 6. La forme de cette cavité est, dans l'exemple illustré, sensiblement parallèlèpipédique. Mais, il est clair que cette cavité pourra prendre n'importe quelle forme adaptée au(x) composant(s) électronique(s) à tester. Le premier corps 1 peut également comprendre un conduit 11 dont une extrémité communique avec la cavité 10, et l'extrémité opposée avec une valve 12 munie d'un corps rigide positionné sensiblement perpendiculairement aux plaques 3, 4 et 6. Ainsi, en raccordant la valve 12 à un dispositif d'alimentation en air traité, il est possible de refroidir l'intérieur de la cavité 10, et par conséquent les éléments du dispositif, et en particulier les plaques (notamment inférieure et intermédiaire) et les moyens de contact, qui subissent un échauffement dû au rayonnement thermique du système de chauffage de la plaquette, qui les supporte, lorsque celle-ci est testée en température. Préférentiellement, on prévoit un cache 13 transversal aux plaques 3, 4 et 6, afin de limiter le volume de cette cavité 10 et donc d'améliorer son refroidissement. Le dispositif de test selon l'invention peut également comprendre un second corps 14, formant réceptacle, de forme adaptée à une partie au moins de la forme externe du premier corps 1, et comportant dans une partie supérieure une paroi supérieure 24 munie d'une ouverture 15 de dimensions au moins égales à celles de la plaque supérieure 3 et d'un passage 16 pour autoriser l'introduction du corps rigide de la valve 12. La valve 12 peut ainsi servir de moyen de détrompage lorsque l'on introduit le premier corps 1 dans le second corps 14 formant réceptacle. Dans le mode de réalisation illustré sur les figures 1 et 2, les premier 1 et second 14 corps ont des formes générales externes sensiblement circulaires, tandis que les différentes plaques 3, 4 et 6 sont sensiblement rectangulaires. Bien entendu, ce mode de réalisation n'est pas limitatif. Le second corps 14 comprend sur la périphérie de sa partie inférieure (destinée à coopérer avec la partie inférieure du premier corps 1) une extension radiale 17 sensiblement plane et suffisamment importante pour supporter une carte de circuits imprimés 18 (sur laquelle on reviendra plus loin) munie dans sa partie centrale d'un évidement de diamètre sensiblement égal, par valeur supérieure, au diamètre externe des parois transversales qui délimitent le second corps 14 sensiblement perpendiculairement aux différentes plaques. On prévoit également un anneau 19 de forme adaptée à la forme des parois externes du second corps 14 et destiné à être placé au-dessus de la carte de circuits imprimés 18. Afin de solidariser le premier corps 1, le second corps 14, la carte de circuits imprimés 18 et l'anneau 19, on prévoit des moyens de fixation amovibles 20. De tels moyens de fixation peuvent être réalisés, par exemple sous la forme de vis dont la partie filetée peut coopérer avec un logement fileté prévu soit dans le premier corps 1, soit dans l'anneau 19. Pour ce faire, il est donc nécessaire de prévoir des passages dans le second corps 14, ainsi que dans la carte de circuits imprimés 18. Les positionnements respectifs des différents constituants du dispositif de test peuvent être facilités, par la présence de deux goupilles 21, et par des moyens d'encliquetage rapide composés, par exemple, de deux fils ressort préformés solidaires du premier corps 5 et destinés à venir coopérer, en vue de leur immobilisation, dans une gorge (non représentée sur les figures) usinée sur les deux goupilles 21. Un tel dispositif est prévu pour venir tester les entrées, sorties et alimentations (que l'on appelle "contacts") d'un composant électronique qui se trouve installé en dessous de sa plaque inférieure 4 sur une plaquette ou "tranche" (non représentée) solidaire d'un manipulateur de tranche à déplacement tridimensionnel X-Y-Z. Il en résulte que le composant électronique à tester n'est pas visible lorsque le dispositif de test se trouve placé au-dessus de lui. Or, étant donné la taille réduite (environ 80 microns) des contacts du composant électronique, il est indispensable de pouvoir positionner ledit dispositif relativement au composant électronique avec une grande précision. Pour ce faire, l'invention prévoit des moyens d'alignement 22 formant visée réalisés dans un matériau transparent, et sur lesquels sont usinées ou sérigraphiées des marques 23. Cette visée 22 est placée sensiblement au même niveau que la plaque inférieure 4. Lorsque le dispositif comprend à la fois les premier 1 et second 14 corps, dans le but de permettre l'observation des marquages 23 qui se trouvent réalisés sur cette visée 22, on prévoit dans la paroi supérieure 24 du second corps 14 un évidement 25 formant fenêtre, au-dessus de l'endroit prévu pour la visée 22. La visée 22, la plaque inférieure 4 et la plaque supérieure 3 sont solidarisées du premier corps 1 par des moyens de fixation 26 de type vis. Le centrage de ces trois éléments (plaques supérieure 3 et inférieure 4 et visée 22) peut être assuré par deux goupilles 27. On se réfère maintenant plus particulièrement aux figures 3 et 4. Le but du dispositif selon l'invention est de permettre l'établissement de contacts mécaniques sur des contacts 28 d'un composant électronique 29 à tester. Pour ce faire, on prévoit des moyens de contact 30 longilignes dont une première extrémité 31 est destinée à être reliée par un moyen de liaison 32 à une entrée 33 de la carte de circuits imprimés 18, tandis que la seconde extrémité 34, opposée à la première extrémité, est destinée à établir un contact mécanique avec l'un des contacts 28 du composant électronique 29 à tester. Préférentiellement, ces moyens de contact longilignes 30 sont réalisés sous forme de fils flexibles de diamètre adapté aux dimensions des contacts 28 à tester, lesquels sont généralement réalisés en creux (voir figure 3B) ou en bosse (voir figure 4B). Bien entendu, le dispositif de test peut être prévu pour réaliser en même temps le test de contacts en creux 28a et de contacts en bosse 28b. Lorsque le contact à tester est réalisé en creux 28a, il est nécessaire que le moyen de contact 30 présente une seconde extrémité 34 effilée (en forme de pointe). Une telle pointe peut être réalisée, par exemple, par un meulage de haute précision. préférentiellement, la pointe forme un angle d'environ 30 avec l'axe général XX du moyen de contact longiligne 30. Mais cet angle peut être choisi plus petit (environ 10 ) ou plus grand (environ 50 ) si le composant le requiert. Préférentiellement, les pointes ne doivent pas présenter d'excentration supérieure à environ 5 microns, et de préférence inférieure à 3 microns. Lorsque le contact est en bosse 28b, la seconde extrémité 34 du moyen de contact 30 est terminée par une face d'extrémité 35 plane et sensiblement perpendiculaire à l'axe XX. Cette face plane peut être considérée comme une pointe dont l'angle est de 90". En conséquence, ce type de face d'extrémité plane 35 peut être également obtenu par meulage. La première extrémité 31 d'un moyen de contact 30 présente un épaulement 36 de diamètre supérieur au diamètre général dudit moyen de contact. Cet épaulement 36 est de préférence obtenu par écrasement du moyen de contact, mais il peut être également réalisé par adjonction d'un anneau. L'épaulement permet de calibrer les longueurs L entre les première 31 et seconde 34 extrémités des moyens de contact 30. Bien entendu, les moyens de contact présentent une même longueur calibrée L, mais ils pourraient également présenter des longueurs différentes en cas de besoin. Qu'il soit à pointe ou à face d'extrémité plane, le moyen de contact 30 peut être réalisé sous deux formes différentes. Dans une première forme (figures 3b et 4b), le fil de liaison 32, qui permet de raccorder le moyen de contact à l'entrée correspondante 33 sur la plaque de circuits imprimés 18, est en fait un prolongement du moyen de contact 30. En d'autres termes, le fil de liaison et le moyen de contact ne font qu'un, le première partie d'extrémité 31 n'étant alors qu'une partie intermédiaire comportant l'épaulement 36. Dans une seconde forme de réalisation (figures 3a et 4a), le fil de liaison 32 est indépendant du moyen de contact 30, et par conséquent il peut être solidarisé de celui-ci une fois les moyens de contact installés dans le dispositif de test. Dans ce cas, le fil de liaison 32 n'est pas nécessairement du même diamètre que le moyen de contact 30 auquel il doit être raccordé. On se réfère maintenant, plus particulièrement, à la figure 5 pour décrire le principe de fonctionnement du dispositif selon l'invention. Le dispositif de test selon l'invention est particulièrement approprié pour effectuer une analyse simultanée de l'ensem- ble des contacts 28 d'un composant électronique 29 au moins, lequel, en raison des avancées technologiques récentes, peut comprendre plusieurs centaines, voire un millier de contacts 28 disposés selon un schéma prédéterminé. Tout ces contacts doivent impérativement être testés ensemble. Par conséquent, le dispositif de test doit comporter autant de moyens de contact 30 qu'il y a de contacts 28 à tester sur le composant électronique 29, et cela quel que soit l'agencement (ou schéma prédéterminé) de la multiplicité de contacts 28. Le schéma prédéterminé pouvant prendre n'importe quel type de forme, que ce soit matriciel ou même quasi-aléatoire, les moyens de contact 30 ne peuvent donc être positionnés que sensiblement perpendiculairement au plan contenant les contacts 28 du composant électronique 29. Par conséquent, la multiplicité de moyens de contact 30 doit être positionnée sensiblement perpendiculairement aux plaques supérieure 3, intermédiaire 6 et inférieure 4. Pour ce faire, les trois plaques 3, 6 et 4 présentent chacune une multiplicité de trous traversants de diamètre très légèrement supérieur au diamètre des moyens de contact 30. On appelle "premiers trous traversants 37" les trous réalisés dans la plaque inférieure 4, "seconds trous traversants 38", les trous réalisés dans la plaque intermédiaire 6 et "troisièmes trous traversants" les trous réalisés dans la plaque supérieure 3. Il existe une loi connue qui relie la force de déflexion aux longueur défléchie et diamètre du moyen de contact. En conséquence, la longueur et le diamètre des moyens de contact sont choisis de sorte que ces derniers exercent une pression optimale sur les contacts 28. Lorsque le matériau formant les moyens de contact est un alliage métallique de type Paliney (Marque déposée), la longueur totale est typiquement d'environ 7,5 mm, et le diamètre des moyens de contact est compris entre environ 30 microns et 150 microns, et plus préférentiellement égal à environ 65 microns. La longueur de déflexion est, selon l'invention, ajustable, comme on le verra plus loin, ce qui permet de régler précisément la pression exercée par l'extrémité des moyens de contact sur les contacts 28. En position de repos, les multiplicités de premiers trous 37, seconds trous 38 et troisièmes trous 39 sont disposées selon un même schéma prédéterminé, identique à celui formé par les contacts 28 sur le composant électronique 29. Ces quatre schémas prédéterminés identiques sont sensiblement superposés l'un à l'autre. Le diamètre des trous traversants est égal au diamètre des moyens de contact 30 augmenté d'environ 10 microns. Après installation des plaques supérieure 3, intermédiaire 6 et inférieure 4 dans l'évidement 2 du premier corps 1, on introduit les moyens de contact 30 dans chacun des troisièmes trous 39 de la multiplicité de troisièmes trous de la plaque supérieure 3. Après traversée de cette multiplicité de troisièmes trous 39, les secondes extrémités 34 des moyens de contact 30 pénètrent dans la cavité 10, puis traversent la multiplicité de seconds trous traversants 38 de la plaque intermédiaire 6, et enfin traversent la multiplicité de premiers trous traversants 37 avant d'émerger en dehors de la cavité 10 en regard du logement prévu pour le composant électronique 29 à tester. Chacun des moyens de contact 30 continue à être déplacé sensiblement transversalement au plan contenant les trois plaques 3, 6 et 4 jusqu'à ce que leurs épaulements 36 respectifs viennent au contact de la face supérieure 40 de la plaque supérieure 3, opposée à la cavité 10, en formant des butées 36. La multiplicité de moyens de contact 30 est alors positionnée, et la distance qui sépare la face supérieure 40 de la plaque supérieure 3 se trouve sensiblement à la distance L des secondes extrémités 34 des moyens de contact 30 (lorsque tous les moyens de contact sont de même longueur). Il ne reste plus alors qu'à relier chacun des moyens de contact 30 à l'entrée 33 qui lui correspond sur la carte de circuits imprimés 18, laquelle est soit solidaire du second corps 14 (voir figures 1 et 2), soit placée à côté du dispositif de test. Comme on l'a décrit précédemment, cette liaison peut être réalisée de deux façons différentes selon que l'on utilise des fils de liaison 32 dépendants du moyen de contact 30 (première forme de réalisation), ou indépendants de celui-ci (seconde forme de réalisation). Lorsque le fil de liaison 32 est dépendant du moyen de contact 30, c'est à dire lorsqu'ils ne font qu'un, on utilise le mode de réalisation du dispositif de test décrit précédemment et comprenant les plaques inférieure 4, intermédiaire 6 et supérieure 3 logées dans le premier corps 1, lequel est éventuellement intégré dans le second corps 14. La plaque supérieure 3 étant à l'air libre, les parties des moyens de contact formant fils de liaison 32 traversent éventuellement l'ouverture 15 réalisée dans la paroi supérieure 24 du second corps 14 (lorsque celui-ci est utilisé). On procède alors à l'immobilisation définitive des premières extrémités 31 des moyens de contact 30 au niveau de la face supérieure 40 de la plaque supérieure 3. Pour ce faire, on colle, à l'aide d'une colle isolante, de type époxy, les épaulements-butée 36 au niveau de zones 41 entourant respectivement la multiplicité de troisièmes trous traversants 39 sur la face supérieure 40 de la plaque supérieure 3. Les premières extrémités 31 des moyens de contact 30 sont alors parfaitement immobilisées. Lorsque le fil de liaison 32 est indépendant du moyen de contact 30, c'est à dire lorsqu'ils sont réalisés séparément, on utilise le dispositif de test comprenant les plaques inférieure 4, intermédiaire 6 et supérieure 3 logées dans le premier corps 1, lequel est intégré dans le second corps 14. Pour permettre l'immobilisation des premières extrémités 31 des moyens de contact, on prévoit (voir figure 1), au dessus de la plaque supérieure 3, une quatrième plaque 44 dite "plaque additionnelle" que l'on loge dans l'ouverture 15 de la paroi supérieure 24 du second corps 14, de préférence entre l'évidement 25 formant fenêtre et le passage 16 du corps de valve 12. Cette quatrième plaque 44 est logée sensiblement parallèlement aux trois autres plaques et comporte une multiplicité de quatrièmes trous traversants 43 disposés, également, selon le schéma prédéterminé et sensiblement superposés aux multiplicités de premiers 37 et troisièmes 39 trous traversants. Ces quatrièmes trous traversants 43 étant destinés à recevoir les fils de liaison 32, qui peuvent être de diamètre supérieur à celui des moyens de contact 32 (en dehors de l'épaulement 36), ne sont pas forcément de même diamètre que ceux des premiers 37, seconds 38 et troisièmes 39 trous traversants. Dans ce second mode de réalisation, l'immobilisation des premières extrémités 31 des moyens de contact 30 n'est pas nécessairement effectuée au niveau de la face supérieure 40 de la plaque supérieure 3. Celle-ci est en effet, de préférence, effectuée au niveau de la face supérieure 45 de la plaque additionnelle 44, laquelle est opposée à la cavité 10. Mais, bien entendu, on pourrait également envisager l'immobilisation des moyens de contact 30 au niveau de la face supérieure 40 de la plaque supérieure 3, comme décrit précédemment. En raison de la présence de la plaque additionnelle 44, il est nécessaire d'installer tout d'abord les moyens de contact 30 dans le premier corps 1, et de loger ce dernier dans le second corps 14. Puis on solidarise les extrémités des fils de liaison 32 aux premières extrémités 31 au niveau des épaulements 36. On place alors la carte de circuits imprimés 18 sur la partie radiale 17 du second corps 14, puis on place l'anneau 19 sur la carte de circuits imprimés 18. L'ensemble est alors solidarisé à l'aide des goupilles 21 et des vis 20. On fait ensuite passer les extrémités opposées des fils de liaison 32 au travers de la multiplicité des quatrièmes trous traversants 43. I1 reste alors à solidariser la plaque additionnelle 44 au second corps 14, ce qui peut être obtenu par des moyens de verrouillage rapide, puis à souder les extrémités libres des fils de liaison 32 au niveau des entrées correspondantes 33 de la carte de circuits imprimés 18 qui est désormais solidaire du dispositif de test. Il est clair que la première forme de réalisation des moyens de contact est préférentiellement utilisée dans le premier mode de réalisation du dispositif de test, tandis que la seconde forme de réalisation des moyens de contact est préférentiellement utilisée pour le second mode de réalisation du dispositif de test selon l'invention. Mais il n'est pas interdit de procéder différemment. En raison, d'une première part, de la non-planéité de la face supérieure 40 de la plaque supérieure 3, d'une seconde part, de la dispersion des longueurs calibrées L des moyens de contact 30, et d'une troisième part, du fait que les différents contacts 28 ne sont pas tous sensiblement coplanaires, l'établissement de la totalité des contacts mécaniques entre les moyens de contact 30 et les contacts 28 du composant électronique 29 à tester serait rendu particulièrement difficile si lesdits moyens de contact 30 restaient continûment sensiblement perpendiculaires aux différentes plaques 3, 4 et 6. En effet, la pression à exercer pour faire plier une multiplicité d'éléments longilignes, bien que flexibles, est très importante, et risquerait d'endommager certains contacts 28 du composant électronique 29. C'est pourquoi, selon l'invention, on procède tout d'abord au positionnement du composant électronique à l'aide du manipulateur de tranche duquel il est solidaire, afin que certains moyens de contact 30 établissent des contacts mécaniques avec le composant à tester. Puis, en agissant sur la tête de vis de la butée réglable 8, on provoque le coulissement contrôlé de la plaque intermédiaire 6 dans une direction parallèle aux plaques supérieure 3 et inférieure 4, et sensiblement perpendiculaire à l'axe général XX des moyens de contact 30. Cela provoque un pré-flambage contrôlé de l'ensemble des moyens de contact 30 logés dans la cavité 10. Les moyens de contact 30 présentent alors une élasticité beaucoup plus importante que celle qu'ils présentent lorsqu'ils ne sont pas soumis à ce pré-flambage (flexion). En utilisant le manipulateur de tranche, on rapproche le composant électronique 29 à tester du dispositif de test, de sorte que les secondes extrémités 34 des moyens de contact 30 établissent toutes des contacts mécaniques avec les contacts 28. Cela revient à provoquer le flambage complet des moyens de contact 30. Cette opération, qui s'effectue sans difficulté en raison du pré-flambage préalable, permet d'assurer d'excellents contacts mécaniques malgré d'éventuelles dispersions des longueurs L des moyens de contact 30, de la non-planéité de la surface supérieure 40 de la plaque supérieure 3, et de la non-planéité des contacts 28. Les contacts mécaniques établis sont alors durables, efficaces, et permettent d'éviter d'endommager les contacts 28 (entrées, sorties, alimentations) des composants électroniques à tester. Etant donné que les moyens de contact sont destinés à effectuer des mesures électriques sur les contacts, il est clair que lesdits moyens de contact doivent être réalisés dans un matériau conducteur électriquement, ainsi que les fils de liaison 32. Par conséquent, il est clair que les matériaux utilisés d'une part pour les différentes plaques supérieure, intermédiaire, inférieure, et additionnelle, doivent être réalisés dans des matériaux isolants. En revanche, les autres parties constituant le dispositif de test peuvent être réalisées dans des matériaux non isolants, comme par exemple dans des alliages métalliques. Préférentiellement, on applique, au moins sur les secondes extrémités 34 des moyens de contact 28, un revêtement inoxydable, afin d'améliorer la qualité du contact mécanique et de prolonger la durée d'utilisation desdits moyens de contact. Cette durée d'utilisation peut être encore augmentée lorsque l'on effectue un traitement durcisseur sur la face plane d'extrémité ou sur la pointe effilée. L'invention ne se limite pas aux deux formes de réalisation décrites ci-avant, mais elle embrasse toutes les variantes que pourra développer l'homme de l'art dans le cadre des revendications ci-après. Ainsi, la forme du dispositif de test n'est pas nécessairement circulaire, mais elle pourra prendre tout type de forme afin de permettre le test d'une grande variété de composant électroniques. Par ailleurs, on peut prévoir des dispositifs de test dans lesquels les longueurs calibrées respectives des moyens de contact ne sont pas les mêmes, afin de tester différents types de contacts, comme des contacts en creux et des contacts en bosse, ou bien encore des contacts de même type mais disposés sur des niveaux différents. Ainsi, on peut envisager de mélanger des moyens de contact 30 à pointe avec des moyens de contact à face plane. De même, on pourrait utiliser une multiplicité de moyens de contact dans laquelle les effilements des pointes ne seraient pas identiques. Revendications 1. Dispositif de test, notamment d'un composant électronique muni (29) d'une multiplicité de contacts (28) disposés selon un schéma prédéterminé, du type comprenant - des plaques supérieure (3) et inférieure (4) sensiblement parallèles, isolantes électriquement, définissant une cavité (10) de hauteur choisie, et comportant respectivement une multiplicité de zones (41) et une multiplicité de premiers trous traversants (37) disposés selon ledit schéma prédéterminé; - des moyens d'immobilisation (1) des plaques supérieure (3) et inférieure (4); et - une multiplicité de moyens de contact longilignes (30), conducteurs électriquement, respectivement solidaires par de premières extrémités (31) desdites zones (41) de la multiplicité de zones, et de longueur calibrée (L) supérieure à la hauteur choisie de sorte que leurs secondes extrémités (34) émergent de ladite cavité (10) après traversé de la multiplicité de premiers trous traversants (37); caractérisé en ce que la cavité (10) loge des moyens de déplacement contrôlé (5,6,8), dans au moins une direction, de la multiplicité de moyens de contact (30) entre les plaques supérieure (3) et inférieure (4), de sorte que la multiplicité de moyens de contact (30) présente un flambage uni-directionnel en vue du test de la multiplicité de contacts (28) dudit composant électronique (29). 2. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce que les moyens de déplacement comprennent une plaque intermédiaire (6) comportant une multiplicité de seconds trous traversants (38) disposés selon ledit schéma prédéterminé et propres à être traversés par la multiplicité de moyens de contact (30), et des moyens d'ajustement comprenant au moins un rail (5) solidaire des moyens d'immobilisation (1) et propre à supporter à coulissement la plaque intermédiaire (6), ainsi qu'un moyen (8) propre à coopérer avec ladite plaque intermédiaire (6) pour permettre son coulissement contrôlé. 3. Dispositif de test selon la revendication 2, caractérisé en ce que ledit rail (5) est positionné sensiblement parallèlement auxdites plaques supérieure (3), inférieure (4) et intermédiaire (6), de sorte que le déplacement de la plaque intermédiaire (6) s'effectue sensiblement parallèlement à ces plaques inférieure et supérieure. 4. Dispositif de test selon l'une des revendication 1 à 3, caractérisé en ce que la plaque supérieure (3) comprend en chacune des zones (41) de la multiplicité de zones, lesquelles sont situées sur une face externe (40) de ladite plaque supérieure, opposée à la cavité (10), un troisième trou traversant (39) propre à être traversé par un moyen de contact (34), et en ce que chaque première extrémité (31) de moyen de contact (30) est munie d'un moyen (36) formant butée propre à immobiliser ladite première extrémité sur la zone (41) correspondant au troisième trou traversant (39) qu'elle traverse, de sorte que la distance qui sépare les première et seconde extrémités soit égale à la longueur calibrée (L). 5. Dispositif de test selon la revendication 4, caractérisé en ce que chaque troisième trou traversant (39) de la multiplicité de troisièmes trous traversants est respectivement positionné sensiblement au dessus d'un premier trou traversant (38) de la multiplicité de premiers trous traversants. 6. Dispositif de test selon l'une des revendications 1 à 5, caractérisé en ce qu'il comprend des moyens d'alignement (22,25) solidaires des moyens d'immobilisation (1) et propres à permettre son alignement relativement au composant électronique (29). 7. Dispositif de test selon l'une des revendications 1 à 6, caractérisé en ce qu'il comprend un conduit (11,16) communicant avec la cavité (10) pour alimenter celle-ci en air de refroidissement. 8. Dispositif de test selon l'une des revendications 4 à 7, caractérisé en ce que la butée (36) est réalisée par écrasement de matière de la première extrémité (31) d'un moyen de contact (30). 9. Dispositif de test selon l'une des revendications 1 à 8, caractérisé en ce que les premières extrémités (31) de la multiplicité de moyens de contact (30) sont respectivement reliées à des entrées (33) d'une plaquette de circuits intégrés (18). 10. Dispositif de test selon la revendication 9, caractérisé en ce que la liaison entre chaque moyen de contact et l'entrée correspondante est réalisée au niveau de sa première extrémité (31) par un fil de liaison (32) conducteur électriquement. 11. Dispositif de test selon la revendication 10, caractérisé en ce que le fil de liaison (32) et le moyen de contact (30) forment un unique élément. 12. Dispositif de test selon la revendication 10, caractérisé en ce que le fil de liaison et le moyen de contact (30) sont des éléments distincts l'un de l'autre. 13. Dispositif de test selon l'une des revendications 10 à 12, caractérisé en ce que la première extrémité (31) d'un moyen de contact (30), munie de sa butée (36), est solidarisée de la plaque supérieure (3) par collage à l'aide d'un matériau isolant (42). 14. Dispositif de test selon l'une des revendications 1 à 13, caractérisé en ce qu'il comprend en outre des moyens de réception (14) propres à recevoir une plaquette de circuits intégrés (18) et à loger une partie au moins des moyens d'immobilisation (1) solidarisés des plaques supérieure (3), intermédiaire (6) et inférieure (4). 15. Dispositif de test selon la revendication 14, caractérisé en ce que les moyens de réception (14) comprennent une paroi supérieure (24), sensiblement parallèle à la plaque supérieure (3), et comportant une ouverture (15) propre à recevoir une plaque additionnelle (44) munie d'une multiplicité de quatrième trous traversants (43) disposés selon ledit schéma prédéterminé et propres à être traversés par la multiplicité de fils de liaison (32) raccordés aux premières extrémités (31) des moyens de contact (30). 16. Dispositif de test selon la revendication 15, caractérisé en ce que chaque fil de liaison (32) est solidarisé de la plaque additionnelle (44), au niveau du quatrième trou traversant (43) qu'il traverse, par collage à l'aide d'un matériau isolant (42). 17. Dispositif de test selon l'une des revendications 1 à 16, caractérisé en ce que les secondes extrémités (34) des moyens de contact (30) sont effilées selon un angle compris entre environ 100 et environ 500 et présentent une excentration inférieure à 5 Hm. 18. Dispositif de test selon l'une des revendications 1 à 16, caractérisé en ce que les secondes extrémités (34) des moyens de contact (30) présentent une face d'extrémité (35) sensiblement plane. 19. Dispositif de test selon l'une des revendications 1 à 18, caractérisé en ce que les moyens de contact (30) sont réalisés dans un matériau conducteur inoxydable. 20. Dispositif de test selon l'une des revendications 1 à 19, caractérisé en ce que les secondes extrémités (34) des moyens de contact (30) sont recouvertes d'un film protecteur conducteur électriquement. 21. Dispositif de test selon l'une des revendications 1 à 20, caractérisé en ce que les moyens de contact (30) sont des fils conducteurs flexibles de diamètre supérieur à 30 Um.