Brevet FR2749396A1 — publié le 19971205

Outil d'aide pour appareil de test de composants électroniques L'invention concerne les tests de composants électroniques. En sortie de fabrication, les composants électroniques semi-conducteurs sont testés par un appareil de test, demeurés réunis sur plaquette ou gaufrette ("water"), et/ou en l'état de composants unitaires, avec ou sans bottier. L'appareil de test comprend des électrodes agencées respectivement pour venir au contact de zones (ou plages) conductrices du composant. Des signaux sont appliqués à ces électrodes, et captés par elles, grâce à une interface configurée par des moyens de test de l'appareil. Le testeur comprend un ensemble de modules électroniques (Firmware) et logiciels, dont la fonction générale est de comparer chaque valeur mesurée à un intervalle de référence (ou domaine de validité), en vue de décider globalement si le composant est bon ou mauvais. Des décisions plus fines peuvent être prises, par exemple dans le cas où l'on fabrique ensemble des composants semblables, mais garantis avec des fourchettes de tolérance différentes. Plus précisément, les modules logiciels peuvent être décomposés en une bibliothèque d'outils, une définition de constantes, variables et tableaux de données (multiplets), notamment pour les intervalles de référence, une séquence de tests élémentaires pour l'acquisition des mesures et leurs comparaisons aux intervalles de référence, et un mécanisme de décision finale. Les tests élémentaires de la séquence sont stockés dans une mémoire des moyens de test et subdivisés en étapes gérées par un séquenceur. Ainsi, chaque test comprend généralement les étapes suivantes a) configurer l'interface en vue de l'exécution d'un test élémentaire choisi, (cette étape consiste à désigner sélectivement des électrodes sur lesquelles doivent être appliqués des signaux électriques choisis), b) après application du signal (ou des signaux) électrique(s) choisi(s) pour le test élémentaire, attendre pendant un premier délai de stabilisation fixé (ou au moins le plus long des premiers délais de stabilisation) correspondant au test, c) capter sélectivement sur des électrodes désignées, la (ou les) grandeur(s) électrique(s) désignée(s) par le test élémentaire et représentant les réponses du composant aux signaux électriques choisis, d) attendre pendant un second délai de mesure fixé (ou au moins le plus long des seconds délais de mesure) correspondant au test élémentaire, afin que la mesure de la grandeur électrique désignée soit stabilisée, e) lire la (ou les) mesure(s) de(s) grandeur(s) électrique(s) désignée(s) par le test élémentaire, et f) comparer la grandeur électrique mesurée au domaine de validité correspondant au test élémentaire. Comme le nombre d'opérations de test à effectuer est généralement très élevé, l'attente globale qui résulte du cumul des premières et secondes phases d'attente (ou délais) est importante (chaque phase d'attente dure au moins quelques millisecondes). Ceci constitue un problème majeur, dans une industrie constamment à la recherche d'une meilleure productivité. L'attente est d'ailleurs aggravée par le fait que la durée de chaque phase élémentaire d'attente d'une opération de test est plutôt fixée par excès, car la qualité prime encore sur la productivité. En conséquence, un but de l'invention est de permettre la réduction des durées des phases d'attente des appareils de test de composants électroniques du type décrit en introduction. L'invention propose à cet effet un outil d'aide comprenant - des moyens de traitement capables * d'une part, de prendre le contrôle des moyens de test pour effectuer de façon répétitive les étapes b) à e), avec à chaque fois un premier délai de stabilisation et/ou un second délai de mesure de valeur inférieure à sa valeur précédente, jusqu'à satisfaction d'un critère de fin tenant compte de la distribution des grandeurs électriques mesurées pour chaque valeur de premier délai de stabilisation diminué et/ou second délai de mesure diminué, et * d'autre part, d'établir une nouvelle valeur de premier délai de stabilisation et/ou de second délai de mesure, au plus égale à sa valeur initiale, pour laquelle la distribution des grandeurs électriques mesurées vérifie une condition choisie de dispersion, - ainsi qu'un générateur de fonction, capable d'établir une fonction applicable à l'un au moins des termes de la comparaison de l'étape f), afin que cette fonction opère sur une mesure faite après le nouveau premier délai de stabilisation et/ou le nouveau second délai de mesure. En d'autres termes, un premier composant est testé avec des phases d'attente prédéfinies. Puis, on effectue le même test sur un second composant d'une même série, ou bien sur le même composant, en réduisant soit le premier délai (phase de stabilisation avant capture), soit le second délai (phase de stabilisation avant lecture-mesure), soit encore les premier et second délais. En fonction du résultat, soit on poursuit le test sur un troisième composant, ou bien sur le même premier composant, en réduisant de nouveau l'une au moins des phases d'attente, soit on considère que le ou les délais modifiés sont suffisamment petits pour que désormais ils servent de nouveaux délais pour les tests des composants suivants. Dans ce dernier cas, le générateur de fonction permet de déterminer une fonction à appliquer à la valeur de chaque grandeur électrique mesurée avec les nouveaux délais, afin que chacune d'entre elles soit ramenée à la valeur qu'elle aurait avec les délais initialement prévus. Cette réduction, qui s'effectue automatiquement, de préférence de façon dichotomique ou pas à pas, permet de gagner du temps et par conséquent de réduire les coûts de production des composants électroniques. Selon une autre caractéristique de l'invention, l'outil peut comprendre des moyens capables d'altérer la phase f) du séquenceur pour que l'on opère en permanence avec la fonction, déterminée par le générateur de fonction. L'outil est alors mis "hors service", dans la mesure où il ne modifie plus les phases d'attente, et laisse, par conséquent, le séquenceur gérer les étapes a) à f). Dans un mode de réalisation simplifié de l'outil, les moyens de traitement opèrent par réduction progressive du (ou des) second(s) délai(s) de mesure, et seulement de celui-ci (ou ceux-ci), jusqu'à satisfaction du critère de fin. Dans un autre mode de réalisation de l'outil, les moyens de traitement opèrent de façon répétitive par réduction du (ou des) second(s) délai(s) de mesure, puis réduction progressive du premier délai de stabilisation, jusqu'à satisfaction du critère de fin. Selon encore une autre caractéristique de l'invention, les moyens de traitement comprennent des moyens de filtrage propres à éliminer des mesures de grandeurs électriques aberrantes relativement à leurs domaines de validité respectifs, ce qui permet d'améliorer les résultats. Préférentiellement, les moyens de traitement comprennent des moyens d'adaptation propres à imposer un second délai de mesure définitif compris entre le nouveau second délai de mesure calculé et le second délai de mesure initial en fonction d'une comparaison entre un seuil prédéterminé et une moyenne effectuée sur les résultats des comparaisons effectuées à l'étape f) sur une série de composants électroniques. Ces moyens d'adaptation peuvent également être propres à fixer un premier délai de stabilisation définitif compris entre le nouveau premier délai de stabilisation calculé et le premier délai de stabilisation initial en fonction de la comparaison entre ledit seuil prédéterminé et la moyenne effectuée sur les résultats des comparaisons effectuées à l'étape f) sur la série de composants électroniques. Ainsi, afin de conserver le rendement de la production (rapport entre le nombre de composants jugés bons et le nombre de composants testés) au dessus d'un seuil modifiable, ou de le modifier en raison de fourchettes de tolérances différentes selon les séries de composants, on peut décider de choisir des délais d'attente plus grands, ou plus petits, que ceux déterminés lors des réductions successives. Dans la description qui suit, faite à titre d'exemple, on se réfère aux dessins annexés, sur lesquels - la figure 1 est un diagramme-bloc fonctionnel d'un outil d'aide selon l'invention et de l'appareil de test associé; - la figure 2 est un algorithme illustrant un mode de fonctionnement général de l'outil et de l'appareil de test de la figure 1; - la figure 3 est un diagramme illustrant l'évolution d'une grandeur électrique mesurée (GEM) en fonction du délai d'attente pour effectuer la mesure; - la figure 4 est un algorithme illustrant un mode d'apprentissage de l'outil et de l'appareil de test de la figure 1; et - la figure 5 est un algorithme illustrant un mode de fonctionnement de l'appareil de test et de l'outil après apprentissage. Les dessins annexés comportent de nombreux éléments de caractère certain, qu'il est difficile de définir complètement par le texte. En conséquence, ils font à ce titre partie intégrante de la description, et pourront contribuer à la définition de l'invention. On se réfère tout d'abord à la figure 1 pour décrire un mode de réalisation préféré de l'outil d'aide 1 selon l'invention, lequel est destiné à fonctionner en coopération avec un appareil de test 2 (en pointillé). Cet appareil de test 2 est destiné à tester le fonctionnement de composants électroniques 3. Pour ce faire, l'appareil de test 2 comprend une multiplicité d'électrodes 4 destinées à établir respectivement des contacts mécaniques sur des zones conductrices 5 du composant électronique à tester. Ces zones conductrices sont, lorsqu'il s'agit par exemple d'une puce électronique, les broches de connexion formant broches d'alimentation et broches d'entrée ou de sortie de signaux électriques. Un appareil de test de ce type a donc pour fonction de tester toutes les fonctions offertes par un composant électronique. Chaque zone conductrice doit, par conséquent, être testée soit séparément, soit en combinaison avec une ou plusieurs autres zones conductrices. Afin de pouvoir tester les zones conductrices 5 du composant 3, l'appareil de test 2 comprend des moyens de test 6 qui comportent une mémoire 7 dans laquelle se trouve stockée une pluralité de multiplets de paramètres de configuration formant respectivement des tests élémentaires. Un test complet de composant comprend généralement une succession de tests élémentaires différents. Chaque multiplet comprend au moins une désignation d'électrode sur laquelle un signal électrique SE doit être appliqué, la valeur dudit signal électrique SE à appliquer, la désignation d'au moins une électrode sur laquelle une grandeur électrique, formant réponse du composant électronique 3 au signal électrique SE, doit être captée, le type de grandeur électrique à capter sur la ou les électrodes désignées, au moins un premier délai de stabilisation fixé D1 pour laisser se stabiliser la grandeur électrique à capter après application du signal électrique SE, au moins un second délai de mesure fixé D2 pour permettre la stabilisation de la mesure de la grandeur électrique captée GEC, et au moins un domaine de validité pour la grandeur électrique mesurée GEM. L'ensemble des multiplets peut être stocké sous forme d'un fichier de données agencé, par exemple, en base de données. Ces moyens de test 6 sont connectés à une interface 8, ellemême connectée à des moyens de gestion 9 des électrodes 4. L'interface 8 est pilotée par un séquenceur 10 logé, par exemple, dans les moyens de test 6. Ce séquenceur 10 est destiné à configurer l'interface 8 avec les paramètres contenus dans l'un des multiplets de la mémoire 7. Une fois configurée, l'interface 8 est prête à effectuer un test choisi, correspondant au multiplet de configuration, sur les électrodes désignées par ledit multiplet. L'appareil de test 2 est géré par un programme informatique PRG stocké dans une mémoire principale 11, laquelle contient en outre des librairies propres au langage informatique utilisé pour l'écriture du programme PRG, par exemple le langage C. Bien entendu, ce programme peut être écrit en tout autre langage informatique. On se réfère maintenant plus particulièrement à la figure 2 pour décrire le mode de fonctionnement général de l'appareil de test 2 de la figure 1. Le déroulement d'un test, effectué par un appareil de test classique, comprend une succession d'étapes gérées par le séquenceur 10. Au début du test, l'utilisateur appelle le programme PRG, ce qui déclenche l'importation 20 de librairies stockées dans la mémoire principale 11 et nécessaires au bon fonctionnement du programme PRG. Puis, l'utilisateur choisit, dans une liste proposée par le programme PRG, le composant électronique qu'il souhaite tester, et éventuellement le type de test si ce choix est offert par le programme PRG. Cette sélection peut également indiquer à l'appareil de test le nombre de composants électroniques du même type que l'utilisateur souhaite tester successivement. Cela constitue l'étape 30 au cours de laquelle le programme, en fonction du composant électronique choisi, définit un certain nombre de paramètres, comme par exemple des constantes, des variables désignant des mots-clés, et des tableaux de données. En fait, dans cette étape 30 (ou a) ), on configure le programme PRG avec les paramètres contenus dans le multiplet qui correspond au test choisi, lequel est stocké dans la mémoire 7 des moyens de test 6. L'exécution, proprement dite, du test (étape 40 de la figure 2, ou étapes b) à d) ) peut alors commencer. On reviendra plus loin sur le détail d'une telle exécution. Si, par exemple, le test élémentaire choisi ne comprend que la mesure d'une grandeur électrique GE, alors, à la fin de son exécution, on obtient une grandeur électrique mesurée GEM. Cela constitue l'étape 50 (ou étape e) ). Le résultat GEM est mémorisé, par exemple, dans une mémoire auxiliaire 12 des moyens de test 6, puis on procède à l'analyse de ce résultat, ce qui constitue l'étape 60 (ou étape f) ). Cette analyse consiste à comparer le résultat GEM au domaine de validité qui lui correspond dans le multiplet de configuration du test effectué. Dans un appareil de test classique, si le résultat GEM appartient au domaine de validité, alors le composant électronique 3 est considéré comme BON. Il est considéré comme MAUVAIS dans le cas contraire. On passe alors à l'étape suivante 70 afin de procéder au test du composant électronique 3 suivant, ou bien de terminer le test dans l'hypothèse où un seul composant électronique devait être testé ou si le test terminé concernait le dernier composant d'une série, ou bien encore d'effectuer un autre test sur le même composant. En général, l'analyse d'un composant électronique comprend une succession de tests différents formant séquence de test, destinés à tester l'ensemble de ces zones conductrices 5. Or, l'exécution de chaque test comprend une multiplicité d'opérations, qui nécessitent pour certaines le respect de phases d'attente (ou délais) destinées à permettre la stabilisation, d'un signal électrique SE appliqué, d'une grandeur électrique GE à capter, soit encore de la mesure de la grandeur électrique captée. Ces phases d'attente font partie de l'étape 40 de la figure 2. Elles consistent notamment, en les étapes b) et d). Dans l'étape b) on applique le signal électrique SE (ou les signaux électriques) choisi pour le test, puis on attend pendant un premier délai (ou phase d'attente) de stabilisation fixé D1 correspondant audit test. Bien entendu, lorsque le test consiste à appliquer sensiblement en même temps plusieurs signaux éventuellement différents sur des électrodes différentes, il est possible de prévoir plusieurs premiers délais de stabilisation D1 de durées différentes, ou bien un unique premier délai de stabilisation correspondant au premier délai le plus long. Cette étape b) permet au signal électrique SE de s'établir dans le circuit concerné du composant électronique 3. Dans l'étape d), qui vient après l'étape c) au cours de laquelle on procède à la capture de la (ou les) grandeur(s) électrique(s) GE désignée(s) par le test choisi (cette étape consiste, par exemple, à fermer le circuit concerné dans le composant électronique, ou en d'autres termes à connecter les bornes de sortie en vue de la mesure de la grandeur électrique GE désignée par le test), on prévoit une nouvelle phase d'attente appelée second délai de mesure D2 correspondant au test choisi, afin que les moyens de mesure disposent d'un temps suffisant pour effectuer la mesure de la grandeur électrique ainsi désignée. Bien entendu, comme pour le premier délai de stabilisation D1, lorsque plusieurs grandeurs électriques doivent être mesurées, sensiblement en même temps, on peut prévoir, soit une pluralité de seconds délais de mesure D2 respectivement pour chaque grandeur électrique à mesurer, soit le plus long des seconds délais de mesure D2. Chacune des phases d'attente peut durer quelques millisecondes, voire quelques dizaines de millisecondes. Ces phases d'attente ont des durées qui sont largement surestimées afin d'assurer la qualité du résultat du test. Or, le Demandeur s'est aperçu qu'il était possible, contrairement à l'avis généralement répandu, de réduire par une voie "d'apprentissage" certaines au moins des durées (ou délais) des phases d'attente de chaque test. Pour ce faire, l'invention prévoit un outil d'aide 1 destiné à être connecté à l'appareil de test 2, afin de prendre le contrôle de certaines au moins de ces étapes de fonctionnement. Dans l'algorithme de la figure 2, cette prise de contrôle est effectuée lors de l'étape 70, comprise entre les étapes 60 et 80, c'est à dire après que le séquenceur 10 a terminé une boucle complète (étapes a) à f) ). L'outil d'aide 1 comprend notamment (voir figure 1) des moyens de traitement 13 destinés à prendre le contrôle des moyens de test 6 de l'appareil de test 2, afin d'effectuer de façon répétitive les étapes b) à e) du séquenceur 10 avec à chaque fois un premier délai de stabilisation D1 et/ou un second délai de mesure D2 de valeur inférieure à la valeur précédente, jusqu'à satisfaction d'un critère de fin prédéterminé tenant compte de la distribution des grandeurs électriques mesurées GEM et mémorisées lors de l'étape 60 (voir figure 2) pour chaque valeur de délai (premier et/ou second) diminuée. Par ailleurs, les moyens de traitement 13 sont capables, après satisfaction du critère de fin, d'établir de nouvelles valeurs de premier délai de stabilisation ND1 et/ou de second délai de mesure ND2, au plus égales à leurs valeurs initiales D1 et D2, et pour lesquelles la distribution des grandeurs électriques mesurées GEM, et mémorisées, vérifie une condition choisie de dispersion. Ainsi, l'outil d'aide peut fixer automatiquement, et sans aucune assistance extérieure, un ou plusieurs nouveaux délais de durées inférieures ou égales à leurs valeurs respectives initiales, ce qui permet, dans certains cas, de réduire très notablement la durée des tests, et plus particulièrement lorsque ces tests sont effectués sur de très grandes séries de composants électroniques. On reviendra plus loin sur le mode de prise de contrôle des moyens de test 6 par l'outil d'aide 1. Etant donné que la réduction progressive des phases d'attente entraîne des variations des valeurs des grandeurs électriques mesurées GEM, il est indispensable, afin de pouvoir vérifier l'appartenance de la grandeur électrique mesurée GEM au domaine de validité qui lui correspond, de disposer d'une fonction permettant de ramener GEM à la valeur qu'elle devrait avoir si les phases d'attente présentaient des durées identiques aux durées initialement prévues. On a représenté sur la figure 3 l'évolution de la valeur d'une grandeur électrique mesurée GEM en fonction du délai d'attente pour effectuer sa mesure. On considère que la durée d'attente concernée est le second délai de mesure D2. A un second délai de mesure initialement prévu D20, correspond la valeur Mo pour la grandeur électrique mesurée GEM. Cette grandeur électrique peut être par exemple une tension. Lorsque l'on diminue la durée (ou délai) de mesure, la valeur de la grandeur électrique mesurée GEM décroît jusqu'à la valeur 0 pour une durée de délai Dmin supérieure à 0. On définit une valeur seuil Ms en-deçà de laquelle la valeur de la grandeur électrique mesurée GEM n'est plus du tout significative. A cette valeur Ms correspond un second délai de mesure D2s. Ainsi, toutes les mesures Mj comprises entre les valeurs Ms et Mg pourront être exploitées par l'outil d'aide 1. Le franchissement de cette valeur seuil Ms par valeur inférieure constitue le critère de fin. Le générateur de fonctions 14 a pour but d'élaborer une fonction capable de ramener la valeur Mj d'une grandeur électrique mesurée GEM (pour un second délai de mesure D2j) à la valeur Mg que cette grandeur électrique mesurée devrait présenter si elle avait été mesurée sur un second délai d'une durée égale à D20. On se réfère maintenant plus particulièrement aux figures 4 et 5 pour décrire en détail un mode de fonctionnement de l'outil d'aide 1. L'outil fonctionne selon deux modes différents: un premier mode dit "d'apprentissage" au cours duquel il cherche une (ou plusieurs) valeur(s) minimale(s) de durée de phase d'attente pour réduire la durée du test choisi par l'utilisateur de l'appareil de test; et un second mode, qui vient après le mode d'apprentissage, au cours duquel il "rend la main" au séquenceur 10 afin qu'il effectue les étapes a) à f) avec une nouvelle configuration de délais déterminée lors de l'apprentissage. Le but de la phase d'apprentissage (voir figure 4) est d'obtenir une courbe de réponse (voir figure 3) de chaque grandeur électrique à mesurer en fonction des durées des phases d'attente. Pour ce faire, les moyens de traitement 13 comprennent un module d'interception 16 destiné à prendre le contrôle du séquenceur 10 par interception au moins des phases b) à f). Il s'agit en fait d'une interruption dans le déroulement normal du test choisi par l'utilisateur. Préférentiellement, dans le but de gagner du temps, on effectue la phase d'apprentissage sur un même composant électronique. Mais, bien entendu, chaque phase d'apprentissage, et en particulier chaque étape de réduction de délai, peut être effectuée sur des composants électroniques successifs. De préférence, lorsque l'apprentissage s'effectue sur un même composant, l'outil d'aide 1 laisse l'appareil de test 2 effectuer une première fois les étapes a) à f) avec les délais initiaux correspondant au test choisi. Dans la suite de la description, on considère que les étapes a) à f) (ou étapes 20 à 60 de la figure 2) constituent une boucle du programme PRG de l'appareil de test 2. Le séquenceur 10 de l'appareil de test 2 commence alors la seconde boucle en effectuant l'étape a) (configuration de l'interface 8). C'est alors qu'entre en action l'outil d'aide 1, lequel inhibe l'un au moins des premier délai de stabilisation D1 et second délai de mesure D2. Cette opération peut s'effectuer par recherche de mots-clés désignant les délais dans le programme PRG, chargé avec les paramètres du multiplet correspondant au test choisi. Ainsi, après, ou avant, chacun des mots-clés correspondant au délai à modifier, le module d'interception 16 place un ordre d'interruption (dans le langage informatique du programme de l'appareil de test 2), puis prend le délai détecté (délai initial, par exemple D20) et le remplace par un délai de durée réduite, par exemple D2j (voir figure 3) supérieur à D2s. La réduction peut être, par exemple, de type pas à pas, ou de type dichotomique. Bien entendu, ces deux modes de réduction ne sont en aucune façon limitatifs. Chaque substitution de délai est éventuellement suivie d'une recompilation du programme PRG. La seconde boucle du programme PRG peut alors se poursuivre par les étapes b) à e), ce qui constitue l'étape 110 de la figure 4. Puis entre l'étape e) et l'étape f), on effectue une étape 120 au cours de laquelle on mémorise dans une mémoire de travail 17 des moyens de traitement 13 de l'outil d'aide 1 la valeur de la grandeur électrique mesurée lors des étapes précédentes de la boucle en cours. Bien entendu, on pourrait stocker les GEM dans la mémoire auxiliaire 12 de l'appareil de test 2. On compare alors GEM précédemment mémorisé à la valeur seuil M5 prédéfinie, et à laquelle est associé le délai D2s, par exemple, qui se trouve mémorisé dans un module de comparaison 18 des moyens de traitement 13. Cela constitue l'étape 130. Deux cas se présentent alors. Soit la valeur de la grandeur électrique mesurée GEM est inférieure à la valeur du seuil Ms, et l'on passe alors directement à une étape 160 décrite plus loin. Soit la valeur de GEM est supérieure à Ms, et dans ce cas, on peut procéder à une nouvelle réduction de la durée du délai. Cette opération est effectuée lors de l'étape 140, au cours de laquelle le module d'interception 16 recherche les ordres d'interruption qu'il a placé précédemment dans le programme PRG afin d'effectuer une nouvelle substitution du délai à modifier, ce qui fournit une nouvelle configuration. A ce stade, lorsque la phase d'apprentissage s'effectue sur des composants électroniques successifs, on prévoit une étape optionnelle 150 où on remplace le composant qui vient d'être testé par le composant suivant. On recommence alors les étapes 110 à 140 (et éventuellement 150) avec la nouvelle valeur de délai réduite par rapport à sa valeur précédente, jusqu'à ce que la valeur de la grandeur électrique mesurée GEM soit inférieure à la valeur du seuil Ms. Lorsque tel est le cas, on passe à l'étape 160 au cours de laquelle les moyens de traitement 13 choisissent un délai définitif compris entre le délai initial, ici D20, et le délai D2s correspondant à la valeur seuil Ms. On nomme ce nouveau délai ND2 et on lui associe la valeur de GEM correspondante sur la courbe élaborée point par point par les moyens de traitement 13 à partir des mesures expérimentales effectuées lors des différentes boucles de la phase d'apprentissage. On entend par dispersion des valeurs des différents GEM, la courbe de réponse précitée. Ce nouveau délai ND2 est alors mémorisé dans la mémoire de travail 17 des moyens de traitement 13 qui vont l'insérer aux endroits déterminés lors de la phase initiale de recherche des mots-clés. Puis, dans une étape 170, le générateur de fonctions 14 de l'outil d'aide 1 élabore la fonction f(GEM) qui devra être appliquée aux grandeurs électriques mesurées GEM sur les composants électroniques à tester ultérieurement afin que leurs valeurs mesurées pour le délai ND2 soient ramenées à la valeur que la grandeur électrique mesurée devrait présenter si elle était effectuée avec un délai D20 tel qu'initialement choisi pour le test. On peut prévoir, en variante, des moyens de traitement 13, capables, par l'intermédiaire, par exemple, du module d'interception 16, d'appliquer une fonction inverse à celle choisie f(), afin d'aller modifier le domaine de validité correspondant à la grandeur électrique à mesurer, de sorte que lors des tests suivants, on procède à la comparaison de la valeur de la grandeur électrique mesurée, au nouveau domaine de validité corrigé par la fonction inverse, au lieu d'appliquer la fonction f() élaborée lors de l'étape 170 à cette valeur de la grandeur électrique mesurée pour en effectuer une comparaison au domaine de validité initial. Tous les couples expérimentaux contenant les mesures GEM calculées lors des boucles successives de la phase d'apprentissage, et le (ou les) délai(s) correspondants, lesquels couples forment la courbe de réponse du composant, sont désormais stockés sous forme d'une table de correspondance dans la mémoire de travail 17 des moyens de traitement 13. Mais ils pourraient également être stockés dans une mémoire prévue à cet effet dans le générateur de fonction 14, ou dans une mémoire de l'appareil de test 2. Bien entendu, cette table de correspondance peut être formée de triplets, ou plus généralement de multiplets, si la valeur Mj de la grandeur électrique mesurée GEM concernée dépend non seulement du second délai D2j, mais également du premier délai de stabilisation Dlj. La phase d'apprentissage est alors terminée. L'outil d'aide 2 peut alors autoriser l'appareil de test 2 à poursuivre les tests avec le nouveau délai ND2 déterminé lors de la phase d'apprentissage. L'outil d'aide 1 passe alors dans son second mode "théorique(s)" de chacune des grandeurs électriques mesurées GEM des composants électroniques de la série à tester. Deux sous-modes peuvent être envisagés. Dans un premier sousmode, l'outil 1 comprend un module 23 capable d'altérer la partie du programme PRG correspondant à la phase f) du séquenceur 10 pour que cette phase opère en permanence avec la fonction f(), c'est à dire en appliquant systématiquement f() à chaque valeur GEM avant d'en effectuer la comparaison, ou bien en appliquant la fonction inverse de f() au domaine de validité à comparer au GEM correspondant. L'outil peut alors se mettre "hors service" et laisser le séquenceur 10 travailler sans intervention externe. Dans un second sous-mode, l'outil 1 autorise le séquenceur 10 à commencer une nouvelle boucle avec la nouvelle configuration CC qui vient d'être calculée, laquelle contient les nouveaux délais, puis on procède au remplacement du composant préalablement testé par le composant suivant, ce qui constitue l'étape 200. On effectue alors dans une étape 210 le test avec la configuration calculée CC, ce qui correspond aux étapes b) à e) du séquenceur 10. Une fois la valeur de la grandeur électrique mesurée GEM obtenue, on lui applique, lors de l'étape 220, la fonction f(), ce qui fournit une valeur f(GEM). Cette valeur f(GEM) est alors analysée dans une étape 230. Cette analyse correspond en fait à l'étape f) du séquenceur 10 puisqu'il s'agit d'une comparaison entre f(GEM) et le domaine de validité qui correspond à ia grandeur électrique du test en cours. Les moyens de traitement 13 de l'outil d'aide 1 peuvent être munis d'un module de filtrage 19 destiné à éliminer des grandeurs électriques mesurées lorsqu'elles sont par trop éloignées du domaine de validité auquel elles doivent être comparées respectivement. Cette phase de filtrage peut être effectuée après l'étape d'analyse 230. Dans cette hypothèse, si la valeur est considérée comme aberrante, on recommence le test en retournant directement à l'étape 210. Dans le cas contraire, on passe à l'étape 240 au cours de laquelle on procède à la mémorisation, par exemple dans une zone 21 de la mémoire de travail 17 des moyens de traitement 13, de f(GEM) préalablement calculée à partir de la valeur GEM mesurée avec le nouveau délai ND2. Lors de l'étape 230, l'analyse de f(GEM) fournit un résultat indiquant si le composant en cours de test est BON ou MAUVAIS. Dans une étape 250, les moyens de traitement 13 de l'outil d'aide 1 effectuent une moyenne sur l'ensemble des résultats obtenus sur les composants électroniques testés jusqu'alors, en se servant des résultats mémorisés dans la zone 21 de la mémoire de travail 17. Cette moyenne est alors comparée, par exemple, par le module de comparaison 18 des moyens de traitement 13 à un seuil prédéterminé de productivité. Ainsi, il est possible de déterminer si la série de composants électroniques en cours de test est en dessous ou au-dessus du seuil de productivité fixé par l'utilisateur. Les moyens de traitement 13 de l'outil d'aide 1 comprennent un module d'adaptation 22 agencé pour, d'une part, effectuer une comparaison entre la moyenne réalisée lors de l'étape 250 par les moyens de traitement 13 et le seuil prédéterminé de productivité, et d'autre part, en fonction de cette comparaison, décider si le nouveau délai modifié ND2 doit être adapté au seuil de productivité choisi par l'utilisateur. Si tel est le cas, le module d'adaptation 22 établit un nouveau délai modifié NDM2 supérieur au précédent délai ND2 déterminé lors de la phase d'apprentissage. Ce délai modifié NDM2 est alors mis dans le programme PRG, lors de l'étape 260, à la place du précédent délai ND2. On retourne alors à l'étape 200, afin de tester le composant électronique suivant. On reproduit alors les étapes 200 à 260 jusqu'à ce qu'il ne reste plus de composant électronique à tester. Bien entendu, l'étape de modification 260 peut porter sur plusieurs délais, par exemple le premier délai D1 et le premier délai D2, ou bien seulement sur le premier délai D1. On peut envisager une variante de ce second sous-mode dans laquelle on compare le couple expérimental mesuré, qui comprend la valeur Mj et la durée D2j au couple correspondant mémorisé dans la table de correspondance 17 et présentant le même second délai D2 que celui du couple expérimental. Si la valeur de Mj expérimentale est sensiblement identique à la valeur théorique de la grandeur électrique mémorisée dans la table de correspondance 17, alors la fonction du composant électronique testé est considérée comme valide, et par conséquent si seule une grandeur électrique doit être testée sur ce composant électronique, celui-ci est considéré comme BON. Il est clair que la modification du délai après la phase d'apprentissage peut être adaptée au premier sous-mode décrit ci-avant. Pour ce faire, il suffit qu'après chaque phase f) effectuée par le séquenceur 10, l'outil 1 reprenne la "main" afin d'effectuer une moyenne sur les résultats des composants, moyenne du type de celle décrite en référence au second sous-mode. Par ailleurs, l'outil d'aide 1 peut être agencé de sorte qu'il réalise, lors de sa phase d'apprentissage, une réduction alternée, progressive, du second délai de mesure, lequel est généralement plus long que le premier délai de stabilisation, puis de ce premier délai de stabilisation. Dans ce mode de fonctionnement, on procéderait alors comme suit : tout d'abord, dans une première boucle on réduit, par exemple, le second délai D2, puis par une ou plusieurs boucles on modifie le premier délai D1 en conservant le délai D2 modifié jusqu'à ce que le critère de fin soit satisfait (dépassement de la valeur seuil Ms), puis on effectue de nouveau une boucle en réduisant le second délai D2 préalablement modifié, suivie de nouveau par une pluralité de boucles de réduction du premier délai D1. De nombreux autres modes de fonctionnement en combinaison des réductions des délais D1 et D2 peuvent être envisagés. L'invention ne se limite pas à la forme de réalisation décrite ci-avant, mais elle embrasse toutes les variantes que pourra développer l'homme de l'art dans le cadre des revendications ci-après. Ainsi, l'agencement des différents modules décrits ci-avant pourra être sensiblement différent de celui décrit, notamment les moyens de traitement et le générateur de fonctions pourraient être réalisés en un unique module (ou composant) électronique multi-fonctionnel. De même, les différentes mémoires pourraient être réalisées sous forme d'une unique mémoire subdivisée en zones ou registres. Cet outil d'aide pourrait même être intégralement réalisé à l'aide de modules logiciels pouvant être implantés directement dans l'appareil de test. Dans ce cas, il est clair que les modules de mémoires utilisés par cet outil seraient ceux de l'appareil de test. Revendications 1. Outil d'aide pour appareil de test d'un composant électronique au moins, ledit appareil (2) comprenant - des électrodes (4) propres à contacter des zones conductrices (5) du composant (3), - une interface (8) propre à être configurée pour appliquer sélectivement des signaux électriques choisis à des électrodes désignées et capter sélectivement, sur des électrodes désignées, des grandeurs électriques représentant les réponses du composant auxdits signaux électriques choisis, - des moyens de test (6) comportant * une mémoire (7) propre à stocker des multiplets de paramètres de configuration de l'interface (8), formant respectivement des tests élémentaires définissant au moins un signal électrique à appliquer sur des électrodes désignées, au moins une grandeur électrique à capter sur des électrodes désignées, au moins un premier délai de stabilisation fixé pour laisser se stabiliser la grandeur électrique à capter, au moins un second délai de mesure fixé pour permettre la stabilisation de la mesure de la grandeur électrique captée, et au moins un domaine de validité pour la grandeur électrique mesurée, * ainsi qu'un séquenceur (10) pour a) configurer l'interface (8) en vue de l'exécution d'un test élémentaire choisi, b) après application du signal (ou des signaux) électrique(s) choisi(s) pour ledit test, attendre pendant le premier délai de stabilisation fixé (D1) (ou au moins le plus long desdits premiers délais de stabilisation) correspondant audit test, c) capter la (ou les) grandeur(s) électrique(s) désignée(s) par ledit test, d) attendre pendant le second délai de mesure fixé (D2) (ou au moins le plus long desdits seconds délais de mesure) correspondant audit test, e) lire la (ou les) mesure(s) de la (ou des) grandeur(s) électrique(s) mesurée(s) (GEM) désignée(s) par ledit test, et f) comparer la grandeur électrique mesurée au domaine de validité correspondant audit test, caractérisé en ce que ledit outil (1) comprend - des moyens de traitement (13) capables * de prendre le contrôle des moyens de test (6) pour effectuer de façon répétitive les étapes b) à e), avec à chaque fois un premier délai de stabilisation (D1) et/ou un second délai de mesure (D2) de valeur inférieure à sa valeur précédente, jusqu'à satisfaction d'un critère de fin tenant compte de la distribution des grandeurs électriques mesurées (GEM) pour chaque valeur de premier délai de stabilisation diminué et/ou second délai de mesure diminué, et * d'établir une nouvelle valeur de premier délai de stabilisation et/ou de second délai de mesure, au plus égale à sa valeur initiale, pour laquelle la distribution des grandeurs électriques mesurées vérifie une condition choisie de dispersion, - ainsi qu'un générateur de fonction (14), capable d'établir une fonction (f()) applicable à l'un au moins des termes de la comparaison de l'étape f), afin que ladite fonction opère sur une mesure (GEM) faite après le nouveau premier délai de stabilisation et/ou le nouveau second délai de mesure. 2. Outil selon la revendication 1, caractérisé en ce que les moyens de traitement (13) opèrent par réduction progressive du second délai de mesure (D2), jusqu'à satisfaction du critère de fin. 3. Outil selon la revendication 1, caractérisé en ce que les moyens de traitement (13) opèrent de façon répétitive par réduction du second délai de mesure (D2) puis réduction progressive du premier délai de stabilisation (D1), jusqu'à satisfaction du critère de fin. 4. Outil selon l'une des revendications 2 et 3, caractérisé en ce que la réduction est de type pas à pas. 5. Outil selon l'une des revendications 2 et 3, caractérisé en ce que la réduction est de type dichotomique. 6. Outil selon l'une des revendications 1 à 5, caractérisé en ce que le générateur de fonction (14) établit une fonction (f()) applicable à la mesure. 7. Outil selon l'une des revendications 1 à 5, caractérisé en ce que le générateur de fonction (14) établit une fonction applicable au domaine de validité. 8. Outil selon l'une des revendication 6 et 7, caractérisé en ce qu'il comprend en outre des moyens (23) capables d'altérer la phase f) du séquenceur pour qu'elle opère en permanence avec ladite fonction, moyennant quoi l'outil peut être ensuite mis hors service. 9. Outil selon l'une des revendications 1 à 8, dans lequel le séquenceur (8) est programmé, caractérisé en ce que les moyens de traitement (13) comprennent un module (16) propre à permettre une interception des phases b) à f) du séquenceur, ladite prise de contrôle s'effectuant par interruptions dans le déroulement normal des tests. 10. Outil selon l'une des revendications 1 à 9, caractérisé en ce que les moyens de traitement (13) comprennent des moyens de filtrage (19) propres à éliminer des mesures de grandeurs électriques (GEM) aberrantes en fonction de leurs domaines de validité respectifs. 11. Outil selon l'une des revendications 1 à 10, caractérisé en ce que les moyens de traitement (13) comprennent des moyens d'adaptation (22) propres à imposer un second délai de mesure définitif compris entre le nouveau second délai de mesure établi et le second délai de mesure initial en fonction d'une comparaison entre un seuil prédéterminé et une moyenne effectuée sur les résultats des comparaisons effectuées à l'étape f) sur une série de composants électroniques. 12. Outil selon la revendication 11, caractérisé en ce que les moyens d'adaptation (22) sont également propres à fixer un premier délai de stabilisation définitif compris entre le nouveau premier délai de stabilisation établi et le premier délai de stabilisation initial en fonction de la comparaison entre ledit seuil prédéterminé et la moyenne effectuée sur les résultats des comparaisons effectuées à l'étape f) sur la série de composants électroniques.