Brevet FR2740876A1 — publié le 19970509

DISPOSITIF DE MESURE DE CHAMP ELECTRIQUE La présente invention concerne un dispositif de mesure de champ électrique et peut notamment s'appliquer au test d'antennes radar. De façon générale, elle s'applique aux mesures de champ électriques émis par toute surface, réalisées sans amener de perturbations au niveau desdits champs émis, ces mesures étant réalisées pendant la période de test ou pendant la période opérationnelle. Dans le domaine des antennes radar à balayage électronique, plusieurs systèmes électriques sont utilisés actuellement. Il peut notamment s'agir de petits cornets hyper destinés à recueillir le champ électrique émis au niveau des antennes, le signal électrique ainsi recueilli étant véhiculé par des câbles électriques jusqu'à l'appareil de mesure. Le problème posé par ce type de dispositif réside dans la difficulté de concevoir des éléments de mesure les plus petits possibles et d'éviter les perturbations de mesure dues à la présence de câbles électriques. Pour résoudre notamment le problème de perturbation de dispositifs de mesure de champ électrique, mis au voisinage d'une antenne, l'invention a pour objet un dispositif électrooptique de mesure de champ électrique utilisant une onde optique et un matériau électrooptique dont l'indice optique peut varier sous l'influence d'un champ électrique. Plus précisément, l'invention a pour objet un dispositif de mesure de champ électrique au voisinage d'une surface S caractérisé en ce qu'il comprend: - un premier élément E1 apposé sur la surface S et comprenant l'association d'une couche C1 de matériau électrooptique et d'une couche catadioptrique C2; - un deuxième élément E2 indépendant de la surface S et comprenant des moyens d'émission d'une onde optique et des moyens de détection de l'onde optique rétroréfléchie par l'élément E1. La couche de matériau électrooptique peut avantageusement être un film polarisé de polymère électrooptique. Un des avantages du dispositif de l'invention réside dans sa simplicité, assurée notamment par l'élément E2 qui combine les moyens d'émission de l'onde optique et les moyens de détection de l'onde optique réfléchie, permettant de balayer facilement l'ensemble de la surface S dont on veut connaître le champ électrique émis, et ce grâce à la présence d'une couche catadioptrique dans l'élément E1, qui a la propriété de renvoyer un faisceau optique incident, selon une direction parallèle à la direction incidente. L'invention a aussi pour objet un dispositif de mesure de champ électrique d'une surface S, utilisant une couche de matériau électrooptique à polarisation oblique, l'axe de polarisation faisant un angle non nul avec la normale au plan de ladite couche. Ce type de configuration permet la détection d'un champ électrique parallèle au plan des couches, ce qui constitue un atout majeur dans le cadre de champs électriques émis par des antennes dont la direction de propagation est fréquemment normale au plan des antennes. La couche catadioptrique C2 peut avantageusement posséder une surface de contact avec la couche C1, possédant un relief de microcoins de cube pour assurer la rétroréflexion de l'onde incidence Io, dans la même direction que ladite onde incidente. La couche catadioptrique C2 peut aussi avantageusement être constituée d'un liant polymère dans lequel sont dispersées des petites billes de verre. Avantageusement, la surface catadioptrique peut comprendre un revêtement adhésif du côté destiné à être apposé au niveau de la surface S. L'invention sera mieux comprise et d'autres avantages apparaîtront à la lecture de la description qui va suivre donnée à titre non limitatif et grâce aux figures annexées parmi lesquelles: - la figure 1 schématise les deux éléments E1 et E2 constitutifs du dispositif selon l'invention; - la figure 2 illustre un exemple de couche C2 utilisant un film de polymère électrooptique; - la figure 3 illustre l'évolution de l'intensité lumineuse reçue par le photodétecteur en fonction du déphasage crée au niveau de la couche C2; - la figure 4 illustre un procédé de polarisation d'un film de polymère à polarisation oblique, permettant de détecter des champs électriques parallèles à une surface S. Selon une variante de l'invention, le dispositif de mesure de champ électrique comprend comme l'illustre la figure 1, un élément E1 déposé au niveau de la surface S dont on cherche à connaître le champ électrique émis. Cet élément E1 comprend une couche C1 de matériau électrooptique et une couche C2 catadioptrique c'est-à-dire présentant une très bonne réflectivité dans la direction de l'éclairement incident. Le dispositif de mesure de champ électrique comprend également un second élément E2 équipé d'une source de lumière L pouvant avantageusement être de type laser, d'un polariseur P, permettant d'envoyer sur l'ensemble de l'élément E1, une onde optique polarisée 10. Cette onde optique est rétroréfléchie par la surface catadioptrique, en une onde optique IR de direction parallèle à l'onde incidente I vers l'élément E2. Ledit élément E2 est également muni d'un photodétecteur D et d'un analyseur A permettant de recueillir l'onde rétroréfléchie, analysée entre polariseurs croisés, puisque les directions de polarisation des deux polariseurs sont orthogonales. Selon une autre variante de l'invention, I'élément E1 peut comprendre un unique polariseur, au travers duquel passent l'onde incidente et l'onde réfléchie, la mesure étant effectuée entre polariseurs parallèles. Une lame semi-réfléchissante SR est utilisée pour diriger l'onde optique réfléchie vers le photodétecteur D. Lorsque l'ensemble E1 est soumis à un champ électrique, l'indice optique de la couche de matériau électrooptique, varie, entraînant une rotation de la polarisation de l'onde incidente et par la même une variation d'amplitude du signal recueilli en sortie du photodétecteur D, après passage au travers de l'analyseur A dont la position est fixée par rapport à celle du polariseur P La couche de matériau électrooptique peut avantageusement être un film polarisé de polymère électrooptique. En effet, les polymères électrooptiques sont des polymères qui renferment des groupements actifs en optique non linéaire et qui préalablement polarisés peuvent présenter des propriétés macroscopiques pour constituer des effets électrooptiques. Plus précisément, pour conférer au film polymère une activité électrooptique, il faut le polariser, c'est-à-dire orienter les groupements actifs. Typiquement, un champ électrique continu est appliqué sur le film à une température supérieure à sa température de transition vitreuse. Les groupements actifs qui portent un dipole s'alignent alors suivant l'axe du champ électrique. Le matériau est ensuite refroidi sous champ électrique et l'orientation est ainsi figée au sein dudit matériau. Le champ électrique peut être coupé: le matériau est électrooptique. Ce type de matériau présente le grand intérêt d'être facilement déposable sur toute surface. De plus de tels composés organiques possèdent une faible constante diélectrique voisine de 3, inférieure à celle des composés inorganiques, ce qui permet de constituer un élément de test, perturbant peu la mesure du champ électrique, émis au voisinage de la surface S. Le film de polymère présente alors une biréfringence, se traduisant par un indice ordinaire no parallèle au plan du film et un indice extraordinaire ne normal au plan du film, comme l'illustre la figure 2. Lorsqu'une lumière polarisée dont la polarisation possède une composante Ps dans le plan normal au plan d'incidence et une composante pp dans le plan d'incidence, pénètre dans la couche de matériau électrooptique, elle subit un déphasage se traduisant par une variation des composantes P's et p'p conduisant à une rotation de ladite polarisation comme illustrée en figure 2 et ce avant même d'avoir appliqué un champ électrique sur le matériau électrooptique. Il est à noter que la direction de propagation de l'onde incidente est inclinée par rapport à l'axe de polarisation du matériau électrooptique de manière à pouvoir détecter la variation de polarisation recherchée. Dans le dispositif selon l'invention, en présence du champ émis par la surface S, un déphasage supplémentaire créé par l'effet électrooptique modifie les composantes P's et p'p en composantes P"s et p"p, la résultante de ces composantes, analysée au niveau de l'élément E2 au travers d'un analyseur permet de déterminer le déphasage supplémentaire dû à l'effet électrooptique et ainsi de calculer le champ électrique émis. Dans le cadre d'un champ électrique hyperfréquence émis par une antenne, les composantes p"s et p"p sont modulées à la fréquence hyper du champ électrique. Il est à noter que le déphasage introduit par effet électrooptique reste généralement faible, il peut donc être avantageux d'introduire dans le dispositif un déphaseur type compensateur de Babinet permettant de se placer dans des conditions particulièrement sensibles à toute variation de déphasage. Plus précisément, comme l'illustre la figure 3 qui traduit l'évolution de l'intensité lumineuse reçue au niveau du photodétecteur en fonction du déphasage crée, il apparaît qu'il peut être particulièrement judicieux de se trouver dans une région de la courbe ou la pente est très abrupte définie par les points (A, B, C) sur ladite courbe. Le déphaseur utilisé pour jouer cette fonction d'ajustement sur la courbe de la figure 3, est placé dans l'élément E2, au niveau de la réception de l'onde optique rétroréfléchie. Dans le cadre d'applications concernant la détection de champs hyperfréquences, le photodétecteur inclus dans l'élément E2 peut être une photodiode rapide dont la bande passante est compatible avec les champs à mesurer, donc capable de fonctionner à des cadences supérieures typiquement à 10 GHz. Le signal électrique issu de la photodiode est alors directement proportionnel à la valeur instantanée du champ électrique hyperfréquence à mesurer. Selon une variante de l'invention, le dispositif de mesure de champ électrique est particulièrement adapté à la détection de champs électriques parallèles à la surface S. Pour cela, le dispositif comprend une couche de matériau présentant une polarisation oblique. Le matériau peut avantageusement être un film de polymère électrooptique polarisé selon le processus illustré dans le cadre d'un polymère électrooptique de type copolymère de méthacrylate de méthyl et de 4(M- méthacryloylox ethyl N éthyl amin)4' nitroazobenzène (décrit dans la publication: Liquid Crystals (1993 vol 14, 197-213 J.C. Dubois, P. Le Barny, P. Robin, V. Lemoine and H. Rajbenbach). Le substrat choisi est la couche C2 catadioptrique, munie d'un revêtement adhésif en face inférieure. Le polymère électrooptique est déposé sur la face supérieure du substrat, à la tournette en utilisant du 1.1.2 trichloroéthane en concentration de 100 g/I. Typiquement une rotation de 3000 trs/min permet d'obtenir des épaisseurs de l'ordre du micron. Des solutions plus concentrées et des vitesses de rotation plus faible conduisent à des épaisseurs plus élevées. Après une étape de séchage, éventuellement sous vide, le film de polymère peut être polarisé. Des électrodes F1 et F2 sont disposées sur deux supports isolants (par exemple aluminium sur verre). Comme illustré en figure 4, ces supports, séparés d'une distance e, sont arrangés de manière à créer un champ électrique de polarisation, oblique. L'un des supports est mis à la masse et l'ensemble film de polymère sur surface catadioptrique est placé dans l'enceinte ainsi constituée. Le film est chauffé jusqu'à une température supérieure à la température de transition vitreuse du polymère (typiquement C pour les copolymères de PMMA). Le champ électrique est appliqué en portant l'électrode qui n'est pas à la masse, à un potentiel +Vo (Vole étant de l'ordre de 100 V/micron). Après quelques minutes, la température est ramenée à l'ambiante et l'orientation du matériau est gelée. Le champ électrique peut être supprimé, et le film de polymère retiré de l'enceinte constituée par les deux supports munis d'électrodes. L'ensemble film de polymère à polarisation oblique, surface catadioptrique, revêtement adhésif, peut alors être apposé sur la surface S considérée. REVENDICATIONS 1. Dispositif de mesure de champ électrique au voisinage d'une surface (S) caractérisé en ce qu'il comprend: - un premier élément (E1l) comprenant l'association d'une couche (C1) de matériau électrooptique et d'une couche catadioptrique (C2), déposé sur la surface (S); - un deuxième élément (E2) indépendant de la surface (S) et comprenant des moyens d'émission d'une onde optique et des moyens de détection de l'onde optique rétroréfléchie par l'élément (E1). 2. Dispositif de mesure de champ électrique selon la revendication 1, caractérisé en ce que le matériau électrooptique présente un axe de polarisation, incliné par rapport à la normale à la surface (S) de manière à permettre la détection de champ électrique parallèle à la surface (S). 3. Dispositif de mesure de champ électrique selon l'une des revendications 1 ou 2, caractérisé en ce que la couche de matériau électrooptique est un film polarisé de polymère électrooptique. 4. Dispositif de mesure de champ électrique selon l'une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que la direction de propagation de l'onde optique est inclinée par rapport à la normale à la surface (S). 5. Dispositif de mesure de champ électrique selon l'une des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que la couche (C2) possède une surface de contact avec la couche (C1) présentant un relief de microcoins de cube. 6. Dispositif de mesure de champ électrique selon l'une des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que la couche (C2) est constituée d'un liant polymère dans lequel sont dispersées des petites billes de verre. 7. Dispositif de mesure de champ électrique selon l'une des revendications 1 à 6, caractérisé en ce que l'élément (E2) comprend un polariseur et un analyseur de manière à mesurer le champ électrique émis par la surface (S), par mesure de rotation de polarisation entre l'onde optique émise (Io) et l'onde optique réfléchie (IR). 8. Dispositif de mesure de champ électrique selon la revendication 7, caractérisé en ce que l'élément (E2) comprend un compensateur de Babinet. 9. Dispositif de mesure de champ électrique selon l'une des revendications I à 8, caractérisé en ce que la couche (C2) comprend un revêtement adhésif sur la surface opposée à la surface de contact avec la couche (C1).