Brevet FR2725277A1 — publié le 19960405

L'invention concerne un procédé de détection de défauts dans un réseau d'éclairage public ainsi qu'un dispositif pour la mise en oeuvre de ce procédé. ETAT DE LA TECllNlOUE De nos jours, les rues et espaces des agglomérations sont généralement éclairés par des lampadaires munis de lampes à vapeur de mercure ou de sodium. La distribution de l'énergie nécessaire au fonctionnement des lampes s'effectue au moyen de coffrets de répartition alimentés par le réseau de distribution publique et comportant essentiellement un disjoncteur, un contacteur général, des disjoncteurs secondaires, et un relais de télécommande apte à être actionné par un signal envoyé sur le réseau par le gestionnaire de ce réseau. Le contrôle du bon fonctionnement des lampes s'effectue habituellement dans les petites et moyennes villes par constatation visuelle et, dans les grandes villes, par examen visuel au cours de rotations périodiques, en pratique, au moins une fois par semaine. En général, l'examen visuel se rapporte à la présence d'éclairement, suivi, si nécessaire, d'un contrôle des constituants (fusible, ballast, amorceur). n n'y avait donc pratiquement pas jusqu'à présent de maintenance structurée ou globalisée des installations d'éclairage. EXPOSE SOMMAIRE DE L'INVENTION Le demandeur a maintenant mis au point un procédé de détection des défauts dans un réseau d'éclairage public constitué d'un réseau de distribution électrique, sur lequel est relié au moins un départ D comprenant au moins une section S alimentant au moins une source de rayonnement N(S).Ce procédé se caractérise en ce qu'il comprend au moins les étapes suivantes a) on mesure les valeurs de la tension U et de l'intensité I dans la section S b) on détermine à partir des valeurs de la tension U et de l'intensité I: - la puissance réactive Q, - et éventuellement la puissance active P et le rapport Q/P, c) on compare ladite puissance réactive Q ou ledit rapport Q/P avec des valeurs de référence VINF et VSUP, d) si ladite puissance réactive Q ou ledit rapport Q/P est, à la fois, inférieur(e) ou égal(e) à VSUP et supérieur(e) ou égal(e) à VINF, on retourne à l'étape a) e) dans le cas contraire, on envoye et/ou on enregistre un signal indiquant l'existence d'un défaut, puis on modifie lesdites valeurs de référence VSUP et VINF, de façon à ce que ledit défaut ne soit pas à nouveau détecté lors d'un examen ultérieur de la section S, et on retourne à l'étape a). La demandeur a également conçu un dispositif pouvant au moins mettre en oeuvre son procédé et comprenant au moins les éléments suivants: - des moyens de mesure de la tension U et de l'intensité I dans au moins une section S, - des moyens de détermination, pour déterminer, à partir des valeurs de U et de I, la puissance réactive Q et éventuellement la puissance active P et le rapport Q/P, - des moyens de traitement aptes au moins à comparer ladite puissance Q ou ledit rapport Q/P avec des valeurs de référence VINF et VSUP, et à modifier ces valeurs, - des moyens formant mémoire contenant au moins un programme régissant le fonctionnement desdits moyens de traitement, - et des moyens permettant de transmettre un signal. Ce dispositif présente l'avantage de pouvoir contrôler à lui seul un nombre très élevé de sources de rayonnement réparties par section et départs. I1 peut en outre tenir compte des variations de tension du réseau de distribution électrique. Un tel dispositif impose en outre très peu de modifications au réseau d'éclairage existant. I1 est de plus adaptable, peu coûteux et fiable car il est très peu sensible aux perturbations ou fluctuations de la tension du réseau. DESCRIPITON SOMMAIRE DES FIGURES La figure 1 est une représentation schématique d'une source de rayonnement et des composants qui lui sont généralement associés. La figure 2 est un représentation schématique d'une portion du réseau d'éclairage public, les pointillés délimitant un coffret C de répartition classique La figure 3 illustre les variations des puissances active et réactive, de l'intensité et de tangente a en fonction de la tension du réseau. La figure 4 illustre les variations des puissances active et réactive, de l'intensité et de tan a en fonction du temps. La figure 5 est une représentation schématique d'un coffret du réseau d'éclairage public dans lequel a été branché un dispositif selon l'invention. La figure 6 est un schéma synoptique montrant la constitution interne du dispositif selon l'invention. La figure 7 représente un exemple d'organigramme pouvant régir le fonctionnement du microprocesseur du dispositif selon l'invention. La figure 8 représente un organigramme régissant le fonctionnement du microprocesseur selon une version avantageuse du dispositif selon l'invention. La figure 9 représente un autre organigramme régissant le fonctionnement du microprocesseur selon une autre version avantageuse du dispositif selon l'invention. EXPOSE DETAILLE DE L'INVENTION La figure 1 illustre une source de rayonnement utilisée généralement dans les réseaux d'éclairage public. Par source de rayonnement, on entend dans la présente description l'ensemble composé d'une lampe à décharge R telle qu'une lampe à vapeur de mercure, d'une inductance L appelée ballast en série avec la lampe à décharge R, d'un condensateur C en parallèle avec l'ensemble lampe à décharge R/ballast L, et d'un dispositif F de protection contre les surintensités qui peut être un fusible ou un disjoncteur. La lampe à décharge peut également être une lampe à vapeur de sodium. Mais dans ce cas, la source de rayonnement doit être munie en outre d'un amorceur. Par défaut, on entend dans la présente description le non-fonctionnement d'un composant de la source de rayonnement, c'est-à-dire l'absence de circulation de courant à travers ce composant. En règle générale les défauts de ballast sont rares. Et comme le ballast est en série avec la lampe, un défaut de ballast sera, dans la présente description, assimilé à un défaut de lampe. n importe également de noter que tout court-circuit à l'intérieur du ballast, du condensateur ou de la lampe se traduit par une fusion du fusible et peut donc être assimilé à un défaut de fusible. Les valeurs moyennes des différentes grandeurs physiques lors du fonctionnement d'une source de rayonnement comprenant une lampe à vapeur de mercure de 125W sont données dans le tableau A suivant TABLEAU A P (Watt) Q (VAR) I (Ampère) Sans défaut 129 32 0,62 Défaut du condensateur 123 194 1,02 Défautdel'am ule 7 -167 0,71 Sur la figure 2 est représenté un réseau d'éclairage public constitué d'un réseau de distribution électrique sur lequel sont reliés une pluralité de départs Dl,D2,D3....Chacun de ces départs comprend 3 sections S1, S2 et S3, qui sont composées du neutre N et des phases L1, L2 et L3. Des sources de rayonnement Nil, N12, ...., Nln, N21, N22 ....N2n, N31, N32,...,N3n sont connectées sur les sections S1, S2, S3. PROCEDE SELON L'INVENTION Le demandeur a constaté qu'un défaut dans un réseau pouvait aisément être décelé si l'on surveillait au moins l'une des grandeurs physiques que sont la puissance réactive Q consommée dans la section S considérée ou le rapport Q/P de la puissance réactive Q sur la puissance active P, c'est-à-dire la tangente de l'angle a correspondant au déphasage de la tension par rapport au courant dans la section S considérée. En effet, comme l'illustre le tableau B suivant, en cas de défaillance de l'un des constituants de la source de rayonnement, il apparaît immédiatement une variation importante des valeurs des grandeurs Q et Q/P précitées par rapport à un fonctionnement normal. Ce tableau B a été réalisé avec 10 sources de rayonnement comprenant des lampes à vapeur de mercure de même puissance nominale. Les colonnes F, A, C désignent respectivement l'état du fusible, de l'ampoule et du condensateur. La valeur 0 correspond à un fonctionnement normal et la valeur 1 à un défaut, c'est-àdire à un non-fonctionnement. TABLEAU B F A C I P Q Ecart Q tana Ecart (Ampères) (Watts) (VARs) en % =Q/P tan a en % 0 0 0 7,0 1392 518 0 0,37 0 0 0 1 7,3 1380 652 +26 0,47 +27 0 1 0 6,0 1256 304 -41 ~ 0,24 -35 1 0 0 6,3 1247 440 -15 0,35 -5,4(1) 0 1 1(2) 6,3 1254 457 -12 0,36 -2 1 0 1 6,6 1258 611 +18 0,48 +30 1 1(2) 0 54 1140 258 -50 022 -41 i 1(2) 1(2) 5,6 1120 ~ 401 -23 036 -2 (1): la valeur devrait être 0 en théorie car Q/P est constant. L'écart est dû à des incertitudes de mesure. (2): les défauts sont localisés sur des sources de rayonnement différentes. I1 apparaît donc que dès la survenue d'un défaut, un écart important par rapport au fonctionnement sans défaut se manifeste au niveau de la puissance active Q ou de la tangente de l'angle de déphasage a. La surveillance des variations de Q ou de tan a permet donc de déceler tout défaut se produisant dans le réseau puis de transmettre et/ou d'enregistrer un signal informant de l'existence de ce défaut et de préférence indiquant également la section dans laquelle ce défaut se manifeste. I1 n'est pas nécessaire que le procédé permette de connaître de manière plus précise l'emplacement de ce défaut car chaque section comprend un nombre peu élevé de sources de rayonnement et ne s'étend que sur quelques centaines de mètres. L'équipe d'agents chargés de la surveillance du réseau d'éclairage, peut alors, en se rendant dans la section en cause, rapidement déterminer quelle est la source de rayonnement défectueuse. En effet, s'il s'agit d'un défaut de fusible, de lampe ou éventuellement de ballast, sa localisation se fait facilement car visuellement, la lampe de la source de rayonnement concernée s'étant éteinte. Si par contre toutes les lampes fonctionnent, cela signifie qu'un condensateur est défectueux car seul un défaut de condensateur ne se traduit pas par l'extinction d'une lampe. L'équipe de surveillance doit alors contrôler individuellement les condensateurs jusqu'à trouver celui qui est défectueux. L'apparition d'un autre défaut ultérieurement dans la même section peut également être détectée, si l'on modifie les valeurs de référence de façon à ce qu'elles tiennent compte du défaut précédent. Ainsi, le tableau C suivant montre, de manière générale, les écarts intervenant après apparition d'un défaut du condensateur consécutif à un défaut de l'ampoule ou l'inverse: TABLEAU C nème Défaut n+ lème Défaut Ecart I Ecart P Ecart Q Ecart tan a en % en % en % en % Condensateur Ampoule - 15 - 10 -30 -30 Ampoule Condensateur + 5 0 ~ +20 ~ +20 Les écarts les plus importants se manifestent au niveau de la puissance réactive Q et de tan a. Ainsi, après qu'un nème défaut a été décelé, un signal est enregistré et/ou transmis, puis on modifie les valeurs de référence de la section défaillante afin de tenir compte de défaut. Lors de l'examen suivant de la section, on procède alors comme si cette section ne présentait plus de défaut. L'examen d'une section est réalisé au travers de la comparaison de Q ou de tan a avec une valeur de référence supérieure VSUP et une valeur de référence inférieure VINF. La valeur VSUP peut être déterminée à partir d'une valeur de référence VNORM à laquelle on ajoute un écart ESUP VSUP = VNORM + ESUP La valeur VINF peut être déterminée à partir de ladite valeur de référence VNORM à laquelle on retranche un écart EINF VINF = VNORM - EINF VNORM est une valeur de référence déduite par exemple du tableau B. Avantageusement, VNORM est la valeur qui a été déterminée lors de l'examen précédent de la section. Après détection d'un défaut, les valeurs VSUP et VINF sont modifiées pour que lors de l'examen suivant, on tienne compte de l'existence de ce défaut. Les modifications peuvent être faites en donnant à VNORM la valeur actuelle de Q ou de tan a, puis en recalculant VSUP et VINF à partir cette nouvelle valeur de VNORM selon les équations indiquées ci-dessus. Ainsi, la détection d'un défaut provoque l'envoi et/ou l'enregistrement d'un signal, puis le dispositif se retrouve, grâce à la modification de VSUP et VINF, dans un état analogue à un fonctionnement normal. Bien que le défaut déjà détecté soit encore existant, il n'est plus détecté une seconde fois lors des examens ultérieurs de la section. Le procédé peut ensuite être appliqué successivement à plusieurs sections. Pour chaque section on a alors une valeur VNORM à partir de laquelle pourront être calculées les valeurs VINF et VSUP de cette section. I1 est avantageux d'appliquer le procédé selon l'invention de telle sorte que toutes les sections de tous les départs soient examinées successivement, puis que tous ces examens recommencent de manière cyclique. Les écarts ESUP et EINF peuvent être obtenus à partir du tableau C et avantageusement, après multiplication par un coefficient de sureté. De préférence, ESUP et EINF sont dépendants du nombre N(S) de sources de rayonnement présentes dans la section S examinée. Le nombre N(S) de sources de rayonnement présentes dans la section S examinée peut être déterminé à l'aide de la valeur de la puissance active P consommée dans ladite section S examinée ou par lecture dans une mémoire. Les écarts ESUP et EINF peuvent également être fonction des caractéristiques nominales des lampes dans la section considérée. I1 est également souhaitable de corréler les écarts ESUP et EINF à la tension du réseau de distribution électrique, car les grandeurs physiques peuvent beaucoup varier en fonction de cette tension comme illustré par le tableau D suivant qui montre l'évolution des valeurs des grandeurs I, P, Q, tan a en fonction de la tension U du réseau. La figure 3 représente la courbe correspondante. Pour l'établissement du tableau D, 10 lampes ont été testées. Lors des mesures, ils s'est avéré qu'une tension minimale d'environ 190 volts étaient nécessaire pour que toutes les lampes restent allumées. TABLEAU D U (Volt) | I (Ampère) P (Watt) Q (VAR) TAN a 190 5,02 916 - 41 -41 - 0,04 200 5,66 1092 148 0,13 210 6,36 C 1242 315 0,25 220 7,00 1392 515 0,37 230 7,60 1530 687 0,44 240 8,19 1670 861 0,51 250 8,76 1816 1070 0,58 L'évolution de 1, P, Q et tan a ces valeurs en fonction de U est à peu près linéaire, comme cela apparaît sur la figure 3. Les mesures de tension U ou d'intensité I doivent en outre n'être effectuées qu'un certain temps après l'allumage des sources de rayonnement car il est nécessaire d'attendre la stabilisation des différentes grandeurs physiques pour éviter de déceler de faux défauts et de transmettre ou d'enregistrer des signaux erronés. Les tableaux E et F suivants montrent l'évolution de ces grandeurs en fonction du temps s'écoulant à partir du moment où l'allumage est commandé. La figure 4 représente la courbe correspondante. TABLEAU E t 1,5 2 2,5 3 3,5 4 4,5 (mn) I 9,87 9,00 7,7 7,05 7,03 7,00 7,04 (Ampere) P 651 905 1260 1365 1379 1380 1391 (Watt) Q 2170 1789 1039 577 531 518 519 (VAR) Tana 333 1,98 ~ 0,82 0,42 0,38 0,37 0,37 TABLEAU F t 5 5,5 6 6,5 7 7,5 (mn) 7,01 7,05 7,05 I 7,02 7,07 6,99 (Ampere) P 1391 1392 1382 1382 1390 1396 (Watt) Q 519 534 534 512 513 528 Tan a 0,37 0,38 0,38 0,37 0,37 0,37 Il apparaît donc qu'au terme d'environ 3 minutes et demie, on peut estimer que la stabilité est atteinte. De même, lors de l'examen d'une section, il se révèle avantageux d'effectuer plusieurs fois de suite les mesures de U et de I jusqu'à ce que les valeurs mesurées soient au moins à peu près constantes, de façon à éviter l'enregistrement et/ou la transmission de messages erronés. Les expérimentations effectuées par le demandeur ont montré qu'il était préférable de baser la détection des défauts sur la surveillance de tan a, car c'est ette grandeurs qui présente les fluctuations les moins importantes. Selon une version avantageuse du procédé selon l'invention, le signal enregistré et/ou envoyé comporte en outre des indications quant à la nature du défaut détecté. Le procédé fait donc une distinction entre les défauts d'ampoule, de condensateur ou de fusible. Pour cela, le procédé peut se baser - sur la surveillance de la variation de la puissance réactive Q - ou sur celle de la variation de la tangente de a complétée par la surveillance soit de la puissance active P, soit de la puissance réactive Q. Si le procédé se base sur la surveillance des variations de la puissance réactive Q dans la section S considérée, il est nécessaire de définir deux écarts inférieurs EINF1 et EINF2 et, respectivement, deux valeurs de référence inférieures VINF1 et VINF2. En effet, comme cela apparaît au travers des troisième et quatrième lignes du tableau B, la diminution de Q peut être plus ou moins importante selon qu'il s'agit d'un défaut d'ampoule ou de fusible. La diminution la plus importante (environ supérieure à 40%) correspondant à un défaut d'ampoule et la diminution la plus faible (environ inférieure à 20%) à un défaut de fusible. En définissant: VINF1 = VNORM - EINF1, VINF2 = VNORM - EINF2, et VSUP = VNORM + ESUP, - si dans la section considérée, Q est inférieure à VINFI, mais supérieure à VINF2, on se trouvera en présence d'un défaut de fusible et - si Q est inférieure à VINF2, on sera en présence d'un défaut d'ampoule. En revanche, si Q augmente et devient supérieure à VSUP il ne pourra s'agir que d'un défaut de condensateur. Si le procédé se base sur la surveillance des variations de tan a complété par celle soit de P, soit de Q, en définissant VSUP = VNORM + ESUP VINF = VNORM - EINF, - si tan a devient supérieure à VSUP on est en présence d'un défaut de condensateur, - si tan a devient inférieure à VINF, on est en présence d'un défaut d'ampoule Par contre, si tan a varie peu et reste à la fois supérieure à VINF et inférieure à VSUP, il convient d'examiner P ou Q pour savoir si on n'est pas en présence d'un défaut de fusible. D'après la quatrième ligne du tableau B, s'il se produit un défaut au niveau du fusible, P chute d'environ 10% et Q d'environ 15%. Ainsi, en cas d'absence de variation ou de variation faible de tan a, un défaut de fusible est détecté si P diminue de plus de 8% environ et Q de plus de 10% environ. En définissant une valeur PINF, on comparera P (ou Q) à PINF pour savoir s'il y a un défaut de fusible. De préférence, on utilise en complément de la surveillance de tan a, la surveillance de la puissance active P. DISPOSITIF SELON L'INVENTION Afin de pouvoir mettre en oeuvre son procédé, le demandeur a également conçu un dispositif qui est destiné à être au moins partiellement disposé dans le coffret d'un réseau d'éclairage public. Ce dispositif comprend au moins: - des moyens de mesure de la tension U et de l'intensité I dans au moins une section S, - des moyens de détermination, pour déterminer, à partir des valeurs de U et de I, la puissance réactive Q et éventuellement la puissance active P et le rapport Q/P, - des moyens permettant de comparer ladite puissance Q ou ledit rapport Q/P avec des valeurs de référence VINF et VSUP, - des moyens de traitement aptes au moins à comparer ladite puissance Q ou ledit rapport Q/P avec des valeurs de référence VINF et VSUP, et à modifier ces valeurs, - des moyens formant mémoire contenant au moins un programme régissant le fonctionnement desdits moyens de traitement, - et des moyens permettant de transmettre un signal. Bien entendu, par comparaison de Q, Q/P (tan a) P ou Q avec des valeurs de référence, l'homme du métier entendra qu'il s'agit dans la pratique d'une comparaison des tensions images de ces grandeurs aves lesdites valeurs de référence. Le connexion du dispositif selon l'invention sur le réseau est visible sur la figure 5 qui représente un coffret de réseau d'éclairage public dans lequel a été branché une partie du dispositif selon l'invention. En parallèle sur le réseau est connecté un bloc 1 de captage des tensions. Ce bloc 1 est composé de trois résistances 2 et d'un capteur de courant de préférence du type à effet Hall. La sortie du bloc 1 fournit donc les courants images des tensions V1, V2 et V3 des phases L1, L2 et L3 respectivement. Ces courants V1, V2, et V3 sont appliquées au bloc 3 qui contient au moins un adapteur courant/tension. Le bloc 4 est connecté aux parafoudres 5, au relais du pulsadis KA1, au disjoncteur général QG, et au contacteur général KMG. Son rôle est de fournir une information logique au bloc 6 sur l'état de ces composants. Le bloc 6 comprend au moins une interface tension/tension. Le bloc 7 est destiné au captage des courants. Comme cela apparaît sur la figure 5, il comprend des capteurs de courant de préférence du type à effet Hall disposés en série avec chacune des sections des départs D1, D2, D3, ...Dn gérés par le dispositif selon l'invention. Les sorties desdits capteurs de courant sont reliées au bloc 3 afin de lui fournir les valeurs des intensités I11, I12, I13,...Ikl et les résultantes lAi, IA2 et IA3, ... IAn. I11 désigne l'intensité du courant parcourant la section 1 du départ 1, I12 celle du courant parcourant la section 2 du départ 1, I13 l'intensité pourcourant la section 3 du départ 1,...Ikl désigne l'image de l'intensité du courant parcourant la section 1 du départ k. sont IA2, 1A3, ... IAn sont les résultantes des courants parcourant respectivement les départs 1 ,2, 3....n. Le bloc 3 comprend au moins un adaptateur courant/tension. Les courants en provenance des blocs 1 et 7 sont transformés en tensions images par le bloc 3 puis dirigés vers le bloc 8 qui est un module de calcul comprenant de préférence au moins un multiplexeur. De préférence les tensions images relatives au bloc 1 sont appliquées à un premier multiplexeur et les tensions images relatives au bloc 7 à un second multiplexeur. Ainsi, ledit premier multiplexeur permet la distribution sélective d'une tension image de la tension de l'une ou l'autre des phases du réseau. Ledit second microprocesseur permet la distribution sélective d'une tension image du courant parcourant l'une ou l'autre des sections de l'un ou l'autre des départs gérés par le dispositif selon l'invention. Les sorties du bloc 8 sont reliées au bloc 9 qui est un module de traitement microprocessé coordonnant les commandes entre les différents blocs et gérant la circulation des données. L'ensemble du dispositif selon l'invention est représenté de manière plus détaillée par son schéma synoptique représenté par la figure 6. A l'intérieur du bloc 1, une platine de capture de tensions alimentée en 15 volts fournit les images des tensions V1, V2 et V3 à une entrée 11 du bloc 3, lequel comprend une carte de conversions courants-tensions également alimentée en 15 volts. Dans le bloc 7, les courants Ikl des sections 1 des départs k sont captées par une platine de capture des courants munie, comme déjà indiqué, de capteurs de courant du type à effet Hall et alimentée en 15 volts. La sortie "courants en ligne" 14 de cette platine est reliée à l'entrée 15 de ladite carte des conversions courantstensions du bloc 3. Les deux sorties 16 et 17 de ce bloc 3 sont connectées au bloc 8 alimenté à la fois en 15 volts et en 5 volts. La sortie "courants différentiels" 19 de la platine de capture des courants du bloc 7 est reliée à une entrée 20 du bloc 8. Le bloc 8 a pour fonction de déterminer ou calculer la valeur des puissances active P et réactive Q et le rapport Q/P, c'est-à-dire la tangente a du déphasage entre la tension et le courant dans la section en cours d'examen. Les valeurs analogiques déterminées sont appliquées via la sortie 21 du bloc 8, au bloc 9 qui comprend une carte de conversion analogique/numérique 22 alimentée à la fois en 5 volts et en 15 volts, et une carte microprocesseur 23 alimentée en 12 volts et en 5 volts. Les valeurs numériques fournies par la carte 22 sont transmises à la carte microprocesseur 23 par le biais de l'entrée 24. Ladite carte microprocesseur 23 comprend des moyens de traitement tels qu'au moins un microprocesseur et des moyens formant mémoire tels qu'une mémoire effaçable (par exemple une RAM, EPROM ou EEPROM) contenant au moins un logiciel gérant le fonctionnement du microprocesseur. De préférence, les tensions provenant de la sortie desdits premiers et deuxième multiplexeurs du bloc 8 sont traitées, adaptées de façon connue de l'homme du métier, puis appliquées à un troisième multiplexeur situé avantageusement également dans le bloc 8 et relié à la carte 22, et destiné à lui fournir, alternativement, les grandeurs U, P, Q et Q/P. Lesdits multiplexeurs sont de préférence commandés par adressage par le microprocesseur de la carte 23. Ainsi, pour chaque section examinée, le multiplexeur relatif au bloc 1 fournit une tension image de la tension du réseau, pendant que le multiplexeur relatif au bloc 7 fournit une tension image de l'intensité parcourant la section. Ces tensions images sont traitées, adaptées, transformées de façon connue, de manière à fournir à l'entrée du troisième multiplexeur du bloc 8 les grandeurs U, P, Q et Q/P. Les multiplexeurs relatifs aux blocs 1 et 7 restent donc fixés sur la même section pendant un temps suffisamment long pour que le troisième multiplexeur du bloc 8 puisse fournir au microprocesseur de la carte 23, alternativement les valeurs de U,P,Q et Q/P. Une seconde entrée 25 de ladite carte microprocesseur 23 est connectée à la sortie de l'interface tension/tension du bloc 6 de façon à permettre l'introduction d'informations logiques relatives à l'état du pulsadis KA1, du disjoncteur général QG, du contacteur général KMG dans la carte microprocesseur 23. Une carte d'alimentation en tension alternative 26 reliée à l'une des phases du réseau de distribution électrique transforme et redresse les 240 volts alternatifs en 18 volts continus pour alimenter les trois entrées 27, 28 et 29 d'une carte d'alimentation en tension continue 30. En alternative, lesdites entrées 28 et 29 peuvent également être alimentées en 12 volts à partir d'une carte batteries 31. Les sorties 5 volts, 12 volts et 15 volts de la carte d'alimentation en tension continue 30 alimentent les composants du dispositif et sont connectées aux entrées 32, 33 et 34 d'une carte de détection des seuils d'alimentation en tension continue 35 dont le rôle est de fournir, à la carte microprocesseur 23 par le biais de l'entrée 36, une information logique relative aux dépassement de seuils des différentes tensions. La carte microprocesseur présente de préférence un port d'entrées/sorties série 37 destiné à une éventuelle communication avec un ordinateur externe 38 en vue d'une modification du logiciel et/ou des données contenues dans la ou les mémoires. Une sortie 39 de la carte microprocesseur 23 est connectée à des moyens permettant de transmettre un signal tel qu'un modem 40 alimenté en 12 volts en vue d'une transmission d'informations diverses telles qu'un signal en cas de défaut, des valeurs des tensions ou intensités, etc..., à un poste de contrôle 41 par le biais d'un modem 42. Le poste de contrôle 41 comprend au moins un ordinateur 43. Une sortie 44 de la carte microprocesseur 23 est connectée à une carte de sorties 45 alimentée en 12 volts et comprenant des interfaces en vue d'une commande du contacteur général ou des disjoncteurs. ORGANIGRAMMES La figure 7 est un exemple d'organigramme d'un logiciel pouvant correspondre à un logiciel se trouvant dans une mémoire de la carte microprocesseur 23 et gérant le fonctionnement du microprocesseur. La détection d'un défaut peut se faire en examinant Q ou tan a. Bien entendu, le choix de l'une ou l'autre de ces grandeurs se fait pour l'ensemble de l'organigramme (et concerne toutes ses étapes). Le début 1 peut être déterminé par une heure prédéfinie, par le signal du pulsadis, c'est-à-dire du signal envoyé par EDF, par une capteur de luminosité extérieure, etc... A l'étape 2, le microprocesseur ordonne la mesure de la tension du réseau et de l'intensité parcourant la section examinée. A l'étape 3, il détermine la puissance réactive, et éventuellement P et Q/P (tan a), si la détection des défauts est basée sur la surveillance de Q/P. Ensuite à l'étape 4, il compare Q ou tan a à VSUP. Si Q ou tan a est inférieur ou égal à VSUP, il se rend à l'étape 5 et compare Q ou a à VINF. Si Q ou tan a est supérieure ou égale à VINF, cela veut dire qu'aucun défaut n'a été décelé. Le microprocesseur retourne alors à l'étape 2 et recommence son examen. Si la comparaison de l'étape 4 montre que Q ou tan a est supérieure à VSUP, cela signifie que la section en cours d'examen présente un défaut. Alors le microprocesseur se dirige vers l'étape 6 où il ordonne l'envoi et/ou l'enregistrement d'un signal, puis il modifie VSUP et VINF afin de tenir compte de l'existence d'un défaut dans la section. Cette modification peut se faire en recalculant de nouvelles valeurs pour VSUP et VINF suivant les équations déjà évoquées, et en prenant pour VNORM la valeur de Q ou tan a déterminée à l'étape 3 - VNORM = Q ou tan a - VSUP = VNORM + ESUP - et VINF = VNORM - EINF. Ensuite, le microprocesseur retourne à l'étape 2. Si la comparaison de l'étape 4 a montré que Q ou tan a est inférieur ou égal à VSUP et si l'étape 5 révèle que Q ou tan a est aussi inférieure à VINF, cela signifie également que la section en cours d'examen présente un défaut. Le microprocesseur se dirige alors, comme précédemment vers les étapes 6 et 7, puis vers l'étape 2, c'est-à-dire en début de cycle. Le microprocesseur effectue continuellement ces cycles, jusqu'à la mise hors tension du réseau, jusqu'à une heure prédéfinie, ou jusqu'à réception d'un ordre ou signal d'arrêt envoyé, par exemple, par un capteur de luminosité.. La figure 8 représente un exemple d'organigramme d'un logiciel pouvant régir le fonctionnement du microprocesseur selon une version améliorée du dispositif. Le microprocesseur est, selon cette version, apte à déterminer la nature du défaut détecté et à envoyer un message particulier pour chaque type de défaut. La détermination de la nature du défaut est basée selon cet organigramme sur la surveillance des variations de la puissance réactive Q. n n'est donc pas nécessaire de déterminer la puissance active P, ni le déphasage (ni tan a). Le début 1 correspond par exemple à la mise sous tension du réseau (donc des départs, donc des sections et des sources de rayonnement). Le microprocesseur attend alors, à l'étape 2, par exemple en effectuant de façon connue un certain nombre de fois une boucle, que l'une au moins des valeurs P, I, Q ou tan a se soit stabilisée, puis passe à l'étape 3. Cette étape 3 marque le début de boucles du type appelé boucle FOR/NEXT en langage de programmation FORTRAN. Ceci signifie que les étapes suivantes vont être répétées pour chacun des départs D sur lesquels le dispositif selon l'invention est branché, à l'intérieur du coffret, et qu'il gère. L'étape 4 est analogue à l'étape 3, mais cette fois, les boucles sont au nombre de 3, ou au nombre de sections S appartenant au départ D examiné. Les étapes suivantes sont donc effectuées en général pour chaque section S de chaque départ D (à moins que l'on ne prévoie que certaines section ou départs ne soient pas examinés). A l'étape 5, le microprocesseur examine les valeurs de U et de I dans la section considérée, puis à l'étape 6, il lit dans une mémoire la valeur de référence VNORM(S) de la section S. Cette valeur VNORM(S) est la valeur de la puissance réactive Q correspondant au fonctionnement précédent. Le microprocesseur lit de préférence également le nombre N(S) de sources de rayonnement présentes dans la section S considérée et une ou plusieurs caractéristiques nominales, telles que leur puissance nominale PNOM(S). Au lieu de lire dans une mémoire le nombre N(S), il est possible d'envisager que le microprocesseur calcule N(S) à partir d'une mesure de la puissance active P, par division par la puissance nominale PNOM(S) des sources de rayonnement. Puis le microprocesseur calcule l'écart supérieur ESUP(S) de la section S. De préférence, ESUP(S) est fonction de N(S), de U et de PNOM(S). n calcule également les écarts inférieurs EINF1(S) et EINF2(S) qui sont également de préférence fonction de N(S), de U et de PNOM(S). Ensuite, il calcule la valeur de référence supérieure VSUP(S) et les valeurs de référence inférieures VINF1(S) et VINF2(S) de la section S. A l'étape 7, le microprocesseur détermine Q. A l'étape 8, il compare Q à VSUP(S). Si Q est supérieure à VSUP(S) cela signifie que depuis l'examen précédent de la section S, un condensateur est devenu défectueux. Le microprocesseur ordonne alors, selon l'étape 9, l'enregistrement dans une mémoire d'un message et/ou la transmission de ce message à un poste central (PC) par l'intermédiaire, soit d'un modem connecté sur une ligne téléphonique ou une ligne spéciale, soit d'un émetteur/récepteur par exemple de type radio. De préférence le message comporte, outre le type de défaut, les numéros du départ D et de la section S concernés et/ou des informations permettant de localiser la section S. Puis à l'étape 10 le microprocesseur modifie la valeur VNORM(S) de référence de la section S, et enregistre sa nouvelle valeur, afin que le défaut du condensateur ne soit pas à nouveau détecté lors du prochain examen. Ensuite, il retourne à l'étape 4 pour procéder à l'examen de la section S suivante du même départ D ou passer à l'examen des sections S du départ suivant s'il a terminé l'examen de toutes les sections du départ D. Une fois toutes les sections de tous les départs examinées, le microprocesseur refait ses examens et ainsi de suite, jusqu'à l'envoi d'un signal pulsadis coupant l'alimentation du réseau ou la réception d'un ordre ou signal d'arrêt. Si la comparaison de l'étape 8 a montré que Q est inférieure ou égale à VSUP(S), le microprocesseur compare, suivant l'étape 11, Q à VINF1(S). Si Q n'est pas inférieure à VINF1(S), cela veut dire qu'aucun nouveau défaut n'est apparu dans la section S depuis l'examen précédent. Le microprocesseur retourne alors à l'étape 4 afin d'examiner la section suivante. Si la comparaison de l'étape 11 révèle que Q est supérieure ou égale à VINF1(S), le microprocesseur passe à l'étape 12 ou il compare Q à VINF2(S). Si Q est inférieur à VINF2(S), cela signifie depuis l'examen précédent de la section S, une ampoule s'est éteinte. Le microprocesseur ordonne alors, selon l'étape 13, l'envoi et/ou l'enregistrement du message correspondant, puis à l'étape 14 modifie la valeur VNORM(S) de référence de la section S, et enregistre sa nouvelle valeur, afin que le défaut de l'ampoule ne soit pas à nouveau détecté lors du prochain examen. I1 peut également décrémenter le nombre N(S) de sources de rayonnement en état de mache dans la section S et enregistrer la nouvelle valeur de N(S). Ensuite, il retourne à l'étape 4. Si la comparaison de l'étape 12 montre que Q est supérieure ou égale à VINF2(S), cela veut dire qu'un fusible a grillé. Le microprocesseur ordonne alors, selon l'étape 15, l'envoi et/ou l'enregistrement du message correspondant, puis passe par l'étape 14 et retourne à l'étape 4. La figure 9 représente un exemple d'organigramme d'un logiciel pouvant régir le fonctionnement du microprocesseur selon une autre version améliorée du dispositif. Le microprocesseur est, selon cette version, également apte à déterminer la nature du défaut détecté et à envoyer et/ou enregistrer un message particulier pour chaque type de défaut mais dans ce cas, la détermination de la nature du défaut est basée sur la surveillance des variations de tan a complétée par celle de P. Les étapes 1 à 5 sont analogues à celles de l'organigramme représenté sur la figure 8. A l'étape 6, le microprocesseur lit dans une mémoire la valeur de référence VNORM(S) de la section S et la valeur de référence P(S) de la puissance active dans la section S. VNORM(S) et P(S) sont les valeurs de référence, respectivement, de tan a et de la puissance active P correspondant au fonctionnement précédent. Le microprocesseur lit de préférence également le nombre N(S) de sources de rayonnement présentes dans la section S considérée et une ou plusieurs caractéristiques nominales, telles que leur puissance nominale PNOM(S). Puis le microprocesseur calcule l'écart supérieur ESUP(S) de la section S. De préférence, ESUP(S) est fonction de N(S), de U et de PNOM(S). ll calcule également l'écart inférieur EINF(S) et l'écart de puissance EP(S) qui sont également de préférence fonction de N(S), de U et de PNOM(S). Ensuite, il calcule la valeur de référence supérieure VSUP(S), la valeur de référence inférieure VINF(S) de la section S, et la valeur inférieure de la puissance PINF(S). A l'étape 7, le microprocesseur détermine tan a et P. A l'étape 8, il compare tan a à VSUP(S). Si tan a est supérieure à VSUP(S) cela signifie que depuis l'examen précédent de la section S, un condensateur est devenu défectueux. 11 ordonne alors, selon l'étape 9, l'enregistrement dans une mémoire d'un message et/ou la transmission de ce message. Puis à l'étape 10 le microprocesseur modifie la valeur VNORM(S) de référence de la section S, et enregistre sa nouvelle valeur, afin que le défaut du condensateur ne soit pas à nouveau détecté lors du prochain examen. Ensuite, il retourne à l'étape 4 pour procéder à l'examen de la section S suivante. Si la comparaison de l'étape 8 a montré que tan a est inférieur ou égal à VSUP(S), le microprocesseur compare, suivant l'étape 11, tan a à VINF(S). Si tan a n'est pas inférieur à VINF(S), le microprocesseur passe à l'étape 14 où il compare P à PINF(S). Si P n'est pas inférieur à PINF(S) cela veut dire qu'aucun nouveau défaut n'est apparu dans la section S depuis l'examen précédent. Le microprocesseur retoutne alors à l'étape 4 afin d'examiner la section suivante. Si la comparaison de l'étape 11 révèle que tan a est supérieure ou égale à VINF(S), cela signifie depuis l'examen précédent de la section S, une ampoule s'est éteinte. Le microprocesseur ordonne alors, selon l'étape 12, l'envoi et/ou l'enregistrement du message correspondant, puis à l'étape 13 modifie les valeurs de référence VNORM(S) et P(S) de la section S, et enregistre leurs nouvelles valeurs, afin que le défaut de l'ampoule ne soit pas à nouveau détecté lors du prochain examen. ll peut également décrémenter le nombre N(S) de sources de rayonnement en état de mache dans la section S et enregistrer la nouvelle valeur de N(S). Ensuite, il retourne à l'étape 4. Si la comparaison de l'étape 14 a montré que tan a est supérieure ou égale à PINF(S), cela veut dire qu'un fusible a grillé. Le microprocesseur ordonne alors, selon l'étape 15, l'envoi et/ou l'enregistrement du message correspondant, puis passe par l'étape 13 et retourne à l'étape 4. n importe de noter que la probabilité que deux défauts se manifestent simultanément dans la même section est négligeable et n'est donc pas prise en compte dans les organigrammes des figures 7,8 et 9. Les mesures d'intensité I et de tension U sont de préférence réalisées plusieurs fois de suite, par exemple trois fois de suite, de façon à éviter l'envoi et/ou l'enregistrement de messages erronés. L'ensemble du dispositif selon l'invention peut avantageusement être regroupé dans une enceinte formée ou un boîtier, de préférence portable, et d'où sortent préférentiellement uniquement les éléments (fils ...) nécessaires à son branchement et, le cas échéant, à son alimentation électrique. Lors de la mise en oeuvre du dispositif selon l'invention pour la première fois, les valeurs de référence peuvent être déterminées expérimentalement, ou à partir des tableaux B et C précédents. Lorsque les sources de rayonnement n'ont pas toutes les mêmes caractéristiques nominales, il est préférable de prévoir que les écarts EINF et/ou et/ou ESUP et/ou EINF1 et/ou EINF2 en tiennent compte. n est possible de prévoir que le microprocesseur effectue l'enregistrement provisoire des messages et envoie périodiquement, par exemple toutes les deux heures, de manière groupée, les résultats des examens qu'il a pratiqués sur toutes les sections de tous les départs qu'il gère. Selon une autre version avantageuse du dispositif selon l'invention, le logiciel est conçu pour détecter et signaler également l'existence dans la section considérée de défauts de type logique, c'est-à-dire de défauts non quantifiés mais dont seule l'absence ou l'existence est déterminante. L'existence d'un défaut logique se traduit alors, par exemple, par la valeur 1 et son absence par la valeur 0. Ces défauts de type logique peuvent être par exemple la fermeture (0) ou l'ouverture (1) de la porte du coffret, le fonctionnement (0) ou le non-fonctionnement (1) du disjoncteur, etc... On peut également envisager l'attribution à chaque défaut d'un degré de priorité et de prévoir que le microprocesseur n'enregistre que les défauts de faible priorité et n'envoye de signal qu'en cas de défaut de haute priorité. Le dispositif selon l'invention peut prévoir que des informations telles que la tension du réseau, les courants parcourant les sections, les puissances relatives à chacune des sections, etc... soient périodiquement ou constamment transmises au poste central ou enregistrées dans une mémoire en vue de l'établissement de statistiques. Le dispositif selon l'invention peut comprendre des moyens de visualisation tels qu'un écran ou afficheur, un clavier tel qu'un clavier alpha-numérique, des mémoires supplémentaires, des logiciels supplémentaires permettant à un agent de rechercher et de visualiser les informations relatives à tout ou partie des départs et sections gérés par le dispositif selon l'invention. Le dispositif selon l'invention peut également être pourvu de moyens permettant la connexion d'un ordinateur externe pour la recherche et la visualisation des informations contenues dans la mémoire. Le procédé et le dispositif selon l'invention peuvent aussi être mis en oeuvre pour gérer individuellement les défauts d'une seule source de rayonnement. Le dispositif est alors préférentiellement installé dans le coffret de la source de rayonnement concernée, les paramètres sont modifiés en conséquence (nombre de départs = 1, nombre de sections dans le départ = 1, nombre de sources de rayonnement dans la section N(S) = 1, etc...). Les logiciels dont les organigrammes sont représentés par les figure 7, 8 ou 9 peuvent ensuite être adaptés, par exemple, pour que l'envoi d'un signal se fasse par superposition (comme décrit notamment dans le brevet français n" 2 695 286) sur la porteuse que constitue la phase de la section examinée, avec en outre, des informations ou un code correspondant au numéro et/ou à la localisation de la source de rayonnement concernée. Bien évidemment, l'invention n'est en aucune façon limitée par les particularités qui ont été précisées dans ce qui précède ou par les détails des modes de réalisation ou des exemples choisis pour l'illustrer. Nombre de modifications peuvent être apportées à ce qui vient d'être décrit à titre d'illustration sans sortir pour autant du cadre de l'invention. Cette dernière englobe par conséquent tous les moyens constituant des équivalents techniques des moyens décrits ainsi que leur combinaison. REVENDICATIONS 1. Procédé de détection de défauts dans un réseau d'éclairage public constitué d'un réseau de distribution électrique, sur lequel est relié au moins un départ D comprenant au moins une section S alimentant au moins une source de rayonnement N, caractérisé en ce qu'il comprend au moins les étapes suivantes: a) on mesure les valeurs de la tension U et de l'intensité I dans la section S, b) on détermine à partir des valeurs de la tension U et de l'intensité I:: - la puissance réactive Q, - et éventuellement la puissance active P et le rapport Q/P, c) on compare ladite puissance réactive Q ou ledit rapport Q/P avec des valeurs de référence VINF et VSUP, d) si ladite puissance réactive Q ou ledit rapport Q/P est, à la fois, inférieur(e) ou égal(e) à VSUP et supérieur(e) ou égal(e) à VINF, on retourne à l'étape a) e) dans le cas contraire, on envoye et/ou on enregistre un signal indiquant l'existence d'un défaut, puis on modifie lesdites valeurs de référence VSUP et VINF, de façon à ce que ledit défaut ne soit pas à nouveau détecté lors d'un examen ultérieur de la section S, et on retourne à l'étape a). 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que VINF et/ou VSUP est/sont fonction du nombre de sources de rayonnement présentes dans la section examinée. 3. Procédé selon la revendication 1 ou la revendication 2, caractérisé en ce que VINF et/ou VSUP et/sont fonction de la tension du réseau. 4. Procédé selon la revendication 1 ou la revendication 2, caractérisé en ce que VINF et/ou VSUP et/sont fonction de la puissance nominale des lampes de la section examinée. 5. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce qu'il comprend au moins les étapes suivantes: a) on mesure les valeurs de la tension U et de l'intensité I dans la section S b) on détermine à partir des valeurs de la tension U et de l'intensité I, la puissance réactive Q, c) on compare ladite puissance réactive Q avec des valeurs de référence VINF et VSUP, d) si ladite puissance réactive Q est, à la fois, inférieure ou égale à VSUP et supérieure ou égal à VINF, on retourne à l'étape a) e) dans le cas contraire, on envoie et/ou enregistre un signal indiquant l'existence d'un défaut, puis on modifie lesdites valeurs de référence VSUP et VINF, de façon à ce que ledit défaut ne soit pas à nouveau détecté lors d'un examen ultérieur de la section S, et on retourne à l'étape a). 6. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce qu'il comprend au moins les étapes suivantes a) on mesure les valeurs de la tension U et de l'intensité I dans la section S, b) on détermine à partir des valeurs de la tension U et de l'intensité I: - la puissance réactive Q, la puissance active P et le rapport Q/P, c) on compare ledit rapport Q/P avec des valeurs de référence VINF et VSUP, d) si ledit rapport Q/P est, à la fois, inférieur ou égal à VSUP et supérieur ou égal à VINF, on retourne à l'étape a) e) dans le cas contraire, on envoye et/ou enregistre un signal indiquant l'existence d'un défaut, puis on modifie lesdites valeurs de référence VSUP et VINF, de façon à ce que ledit défaut ne soit pas à nouveau détecté lors d'un examen ultérieur de la section S, et on retourne à l'étape a). 7. Dispositif pour la détection de défauts dans un réseau d'éclairage public constitué d'un réseau de distribution électrique, sur lequel est relié au moins un départ D comprenant au moins une section S alimentant au moins une source de rayonnement N, caractérisé en ce qu'il comprend au moins les éléments suivants:: - des moyens de mesure de la tension U et de l'intensité I dans au moins ladite section S, - des moyens de détermination, pour déterminer, à partir des valeurs de U et de I, la puissance réactive Q et éventuellement la puissance active P et le rapport Q/P, - des moyens de traitement aptes au moins à comparer ladite puissance Q ou ledit rapport Q/P avec des valeurs de référence VINF et VSUP, et à modifier ces valeurs, - des moyens formant mémoire contenant au moins un programme régissant le fonctionnement desdits moyens de traitement, - et des moyens permettant de transmettre un signal. 8. Dispositif selon la revendication 7, caractérisé en ce que lesdits moyens de traitement sont aptes à donner à VINF et/ou à VSUP des valeurs qui sont fonction du nombre N(S) de sources de rayonnement présentes dans la section S examinée. 9. Dispositif selon la revendication 7 ou la revendication 8, caractérisé en ce que lesdits moyens de traitement sont aptes à donner à VINF et/ou à VSUP des valeurs qui sont fonction de la tension du réseau. 10. Dispositif selon l'une des revendications 7 à 9, caractérisé en ce lesdits moyens de traitement sont aptes à donner à VINF et/ou à VSUP des valeurs qui sont fonction de la puissance nominale des lampes de la section examinée. 11. Dispositif selon l'une des revendications 7 à 10, caractérisé en ce qu'il comprend au moins un multiplexeur. 12. Dispositif selon l'une des revendications 7 à 11, caractérisé en ce que lesdits moyens de détermination comprennent au moins trois multiplexeurs, les sorties du premier et du deuxième multiplexeurs étant reliées à l'entrée du troisième multiplexeur. 13. Dispositif selon l'une des revendications 7 à 12, caractérisé en ce qu'il est programmé de façon à pouvoir appliquer le procédé selon les revendications 1 à 6, successivement à plusieurs sections. 14. Mise en oeuvre du procédé selon les revendications 1 à 6, caractérisé en ce qu'on applique ledit procédé successivement à plusieurs sections.