Brevet FR2712399A1 — publié le 19950519

La présente invention concerne un appareil photographique muni d'un appareil arithmétique de calcul d'exposition, et elle concerne plus précisément un appareil photographique muni d'un appareil arithmétique de calcul de l'exposition avec application d'un motif au champ qui doit être photographié. On connaît déjà des appareils photographiques munis d'un appareil arithmétique de calcul d'exposition, et la demande de brevet japonaissoumise à l'inspection publique nO 1-225 927 représente un exemple d'un tel appareil destiné à calculer l'exposition avec application d'un motif au champ. L'appareil arithmétique d'exposition décrit dans le document précité est réalisé de manière que plusieurs signaux de sortie représentant des données de quantité de lumière qui sont mesurées soient numérisés, les données numérisées soient comparées à un motif P d'une image, conservé au préalable comme représenté sur la figure 13, et les données en concordance soient reconnues comme étant un objet principal pour le traitement ultérieur. L'appareil arithmétique de calcul d'exposition monté sur les appareils photographiques classiques pose cependant un problème car la numérisation des signaux de sortie de données mesurées de quantité de lumière est très difficile. Plus précisément, aucun problème ne se pose dans le cas des champs ayant une composition simple, par exemple telle qu'indiquée sur la figure 14, mais la numérisation du champ devient très difficile dans le cas de champs ayant une composition relativement complexe, par exemple comme représenté sur la figure 15, si bien que l'application d'un motif au champ présente des difficultés. Un autre problème qui se pose est le suivant. Comme l'application du motif au champ dépend des motifs préalablement mémorisés pour des images, l'application d'un motif n'est possible qu'à partir des motifs mémorisés, et elle donc impossible dans le cas de motifs qui n'ont pas été mémorisés, et un sujet peut ne pas être reconnu. Lorsqu'on veut appliquer des motifs à un grand nombre de types d' images, le nombre de types de motifs d'image mémorisées augmente inévitablement de manière proportionnelle, et peut surcharger la mémoire ou augmenter le temps de fonctionnement. L'invention a été mise en oeuvre pour la solution de ces problèmes, et elle a pour objet la réalisation d'un appareil arithmétique de calcul d'exposition qui permet la formation facile d'un motif d'un champ d'une scène photographique quelconque, et peut donner une amplitude précise d'exposition convenable en fonction de l'application du motif. A cet effet, l'invention concerne un appareil de prise de vues comprenant un appareil arithmétique de calcul d'exposition, dans lequel l'appareil arithmétique de calcul d'exposition comprend un dispositif de mesure de quantité de lumière destiné à mesurer une quantité de lumière pour chacune de plusieurs zones segmentées dans un champ, un dispositif générateur de motifs destiné à créer plusieurs motifs pour le classement du champ en motifs dans l'espace, un dispositif arithmétique de corrélation destiné à calculer des valeurs de corrélation qui représentent chacune un degré de corrélation de chaque motif avec le champ, d'après les signaux de sortie des dispositifs de mesure de quantité de lumière et du dispositif générateur de motifs, un dispositif de calcul de luminance de motifs destiné à exécuter une opération arithmétique d'après le signal de sortie du dispositif générateur de motifs sur le signal de sortie du dispositif de mesure de quantité de lumière, et un dispositif arithmétique de calcul d'exposition destiné à exécuter une opération arithmétique donnant l'exposition convenable d'après les signaux de sortie du dispositif arithmétique de corrélation et du dispositif de calcul de luminance de motifs. De préférence, le dispositif arithmétique de calcul d'exposition obtient des valeurs d'exposition de motifs qui sont des valeurs convenables d'exposition dans les motifs respectifs, à l'aide des valeurs de luminance des motifs respectifs obtenues par le dispositif de calcul de luminance de motifs, et obtient une valeur d'exposition convenable par multiplication des valeurs respectives d'exposition de motifs par les valeurs de corrélation obtenues par le dispositif arithmétique de corrélation. Le dispositif de mesure de quantité de lumière exécute de préférence la mesure de la quantité de lumière à l'aide d'un élément de mesure de quantité de lumière du type à accumulation. De préférence, le dispositif générateur de motifs crée des motifs d'après la transformée de Walsh à deux dimensions. En outre, la présente invention concerne un appareil de prise de vues ayant un appareil arithmétique de calcul d'exposition, dans lequel l'appareil arithmétique de calcul d'exposition comprend un dispositif de mesure de quantité de lumière destiné à mesurer une quantité de lumière pour chacune de plusieurs zones segmentées dans un champ, un dispositif d'analyse de spectre destiné à effectuer une analyse de spectre du champ à l'aide d'un signal de sortie du dispositif de mesure de quantité de lumière, et un dispositif arithmétique de calcul d'exposition effectuant une opération arithmétique d'exposition convenable d'après les signaux de sortie du dispositif de mesure de quantité de lumière et du dispositif d'analyse de spectre, et dans lequel le dispositif d'analyse de spectre exécute une analyse de spectre du champ à l'aide d'un nombre spécifique de valeurs de spectre sélectionnées au préalable parmi plusieurs valeurs de spectre déterminées suivant le nombre de zones segmentées dans les dispositifs de mesure de quantité de lumière. Le dispositif de mesure de quantité de lumière effectue de préférence la mesure de la quantité de lumière à l'aide d'un élément de mesure de quantité de lumière du type à accumulation. En outre, le dispositif de mesure de quantité de lumière effectue de préférence la mesure de la quantité de lumière par division du champ en une matrice de zones segmentées. De plus, le dispositif de mesure de quantité de lumière utilise de préférence un nombre de segments horizontaux et un nombre de segments verticaux du champ divisé dans la matrice qui sont tels que l'un au moins est une puissance de 2. De préférence, le dispositif d'analyse de spectre effectue l'analyse du spectre sur la base de la transformée de Walsh à deux dimensions. Les valeurs du nombre spécifique de valeurs de spectre sélectionnées au préalable par le dispositif d'analyse de spectre sont de préférence des valeurs de spectre formées essentiellement dans la région des basses fréquences. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention ressortiront mieux de la description qui va suivre d'exemples de réalisation, faite en référence aux dessins annexés sur lesquels: la figure 1 est un schéma explicatif représentant un système optique d'un appareil photographique selon la présente invention; la figure 2 est un diagramme synoptique représentant la structure d'un premier mode de réalisation de l'appareil arithmétique de calcul d'exposition monté dans l'appareil photographique représenté sur la figure 1; la figure 3 est un schéma représentant l'état de division d'un élément de mesure de quantité de lumière incorporé à l'appareil arithmétique de calcul d'exposition de la figure 2; les figures 4A à 4H sont des dessins illustratifs représentant un exemple de fonctions de Walsh à une seule dimension; La figure 5 est un schéma représentant un exemple de constitution de fonctions de Walsh à deux dimensions; la figure 6 est un schéma représentant les fonctions de Walsh à deux dimensions placées dans l'ordre des nombres d'onde; les figures 7A à 7E sont des schémas de fonctions arithmétiques de corrélation de l'appareil arithmétique de calcul d'exposition de la figure 2; la figure 8 est un schéma des fonctions arithmétiques de corrélation placées dans l'ordre des nombres d'onde, destinées à l'appareil arithmétique de calcul d'exposition de la figure 2; la figure 9 est un ordinogramme de l'algorithme principal mis en oeuvre d'un l'appareil arithmétique de calcul d'exposition de la figure 2; la figure 10 est composée des figures 10A et lOB qui sont des ordinogrammes illustrant l'algorithme d'un sous- programme du pas S104 de la figure 9; la figure 11 est un diagramme synoptique représentant la structure d'un second mode de réalisation d'appareil arithmétique de calcul d'exposition monté dans l'appareil photographique représenté sur la figure 1; la figure 12 est un ordinogramme représentant l'algorithme principal de l'appareil arithmétique de calcul d'exposition de la figure 11; La figure 13 est un schéma d'un motif d'image utilisé avec la technologie classique; la figure 14 est un schéma représentant un champ de composition simple et la figure 15 est un schéma représentant un champ de composition complexe. La figure 1 représente un système optique d'un appareil photographique de type réflex à un seul objectif selon l'invention, et la figure 2 est un diagramme synoptique d'un premier mode de réalisationd'un appareil arithmétique de calcul d'exposition monté dans l'appareil photographique représenté sur la figure 1. Dans le système optique représenté sur la figure 1, la lumière qui a traversé un objectif 1 de prise de vues passe par l'intermédiaire d'un miroir 2 de retour rapide, d'une grille diffusante 3, d'un condenseur 4, d'un prisme pentagonal 5 et d'un oculaire 6 vers l'oeil du photographe. D'autre part, une partie de la lumière diffusée par la grille 3 circule dans le condenseur 4, le prisme pentagonal , un prisme de mesure 7 et un objectif 8 de mesure pour atteindre un élément 9 de mesure de quantité de lumière du type à accumulation. L'appareil arithmétique de calcul d'exposition de ce mode de réalisation est composé, comme l'indique la figure 2, d'une partie 10 de mesure de quantité de lumière dans un champ et d'une unité 11 de microtraitement (MPU) incorporée à l'appareil photographique. La partie 10 de mesure de quantité de lumière possède le système optique représenté sur la figure 1 qui effectue la mesure de quantité de lumière pour chacune de soixante- quatre zones du champ qui est divisé en une matrice de huit segments verticaux et huit segments horizontaux pour la transmission de signaux de sortie des données mesurées respectives à une partie 12 de calcul de luminance. La figure 3 est un schéma représentant les zones séparées de mesure de la partie 10 de mesure de quantité de lumière par comparaison avec le champ, le champ étant divisé en soixante-quatre zones suivant une matrice à huit segments verticaux et huit segments horizontaux. L'unité de microtraitement 11 effectue toute les commandes de l'appareil photographique à l'aide du programme incorporé. Dans le mode de réalisation considéré, la partie 12 de calcul de luminance, la partie 13 génératrice de motifs, la partie arithmétique 14 de corrélation, la partie de calcul de luminance de motifs et la partie arithmétique 16 de calcul d'exposition sont toutes réalisées par programme par l'unité de microtraitement 11. La partie 12 de calcul de luminance prélève des données de quantité de lumière des zones obtenues par la partie 10 de mesure et transforme les soixante-quatre données de quantité de lumière en valeurs respectives de luminance afin qu'elles donnent une valeur bv(h,v)(h étant compris entre 0 et 7 et v entre 0 et 7). La valeur bv(0,0) représente ici une valeur de luminance de la zone de l'extrémité supérieure gauche de la figure 3 et la valeur bv(7,7) représente une valeur de luminance de la zone d'extrémité inférieure droite. La partie 13 crée des motifs d'après la transformée de Walsh à deux dimensions. On décrit maintenant la transformée de Walsh à deux dimensions. De manière générale, la transformée de Walsh à deux dimensions est une extension de la transformée de Walsh à une dimension, appliquée aux données bidimensionnelles telles que les données d'image, et utilisée pour la reconnaissance de formes, l'analyse d'image, etc. En particulier, elle est appelée transformée discrète de Walsh à deux dimensions dans le cas du traitement de données discrètes bidimensionnelles telles que les données de quantité de lumière, mais, dans la présente description, on utilise par raison de brièveté, l'expression "transformée de Walsh à deux dimensions". La transformée de Walsh à deux dimensions est définie à partir des fonctions de Walsh à une seule dimension WAL(m,n). Dans ce cas, les fonctions de Walsh à une seule dimension WAL(m,n) forment un système de N fonctions à une seule dimension de période N, le nombre de données N étant une puissance de 2, et les valeurs de m et n sont déterminées par la formule suivante (1) et la formule (2) respectivement: m = 0,1,2,...N- 1 (1) n = 0,1,2,...N- 1 (2) Par exemple, lorsque N = 8, il existe huit fonctions de Walsh à une seule dimension WAL(m,n) comme indiqué sur les figures 4A à AH. Les fonctions de Walsh à une seule dimension WAL(m,n) sont définies de façon générale par les formules suivantes (3) à (6): WAL(0,n) = 1 (n = 0,1,2,3...N- 1) (3) WAL(l,n) = 1 (n = 0,1,2,3... (N/2) 1) (4) WAL(l,n) = -1 (n = N/2, (N/2) + 1,...N - 1) (5) WAL(m,n) = WAL(int(m/2),2n).WAL(m- 2.int(m/2),n) (6) Dans ce cas, int(x) est une fonction donnant la valeur entière de x. En outre, les fonctions de Walsh à deux dimensions Wmq(n,k) sont définies par la formule suivante (7) à l'aide de deux types de fonctions de Walsh à une seule dimension WAL(m,n) et WAL(q,k): Wmq(n,k) = WAL(m, n).WAL(q,k) (7) Wmq(n,k) donne une valeur en un point X = n et Y = k pour un nombre d'onde m en direction X et un nombre d'onde q en direction Y comme indiqué sur la figure 5. Par exemple, lorsque les valeurs maximales N et K de n et k respectivement sont chacune égales à 8, un groupe de soixante-quatre fonctions de WOO à W77, tel que représenté sur la figure 6, est obtenu sous forme des fonctions de Walsh bidimensionnelles Wmq(n,k). Sur la figure 6, les parties blanches indiquent +1 et les parties noires -1 pour les fonctions de la figure 5. Ensuite, à l'aide des fonctions de Walsh à deux dimensions représentées sur la figure 6 et obtenues par la formule (7), la transformée de Walsh à deux dimensions est réalisée par calcul des valeurs de corrélation entre les données à deux dimensions d(n,k) et les fonctions de Walsh à deux dimensions Wmq(n,k). Ainsi, les données à deux dimensions d(n,k) représentent n.k éléments de données. Dans ce mode de réalisation, elles correspondent aux valeurs de luminance indiquées précédemment bv(h,v) de 8 x 8 = 64 éléments sur la figure 3. Dans ce cas, si l'on suppose de manière générale que le spectre de transformée de Walsh pour les données à deux dimensions d(n,k) est G(m,q), ce spectre est donné par la formule (8): N-1 K-1 G(m,q) = z Z d(n,k).Wmq(n,k) (8) n=O k=O Le spectre de la transformée de Walsh à deux dimensions G (m,q) ainsi obtenu indique les caractéristiques spatiales des données bidimensionnelles d(n,k) qui sont très utilisées pour l'analyse des motifs. La partie génératrice de motifs 13 crée cinq fonctions de Walsh à une seule dimension s(O,y) à s(4,y), avec y = 0 à 7, comme indiqué sur les figures 7A à 7E, parmi les huit fonctions de Walsh à une seule dimension WAL(O,n) à WAL(7,n) pour un nombre de données N = 8 comme indiqué sur les figures 4A à 4H. Dans ce cas, les fonctions S(O,y), s(l,y), s(2,y), s(3,y) et s(4,y) correspondent aux fonctions de Walsh à une seule dimension WAL(O,n), WAL(1,1), WAL(2,n), WAL(3,n) et WAL(7,n) respectivement comme indiqué sur les figures 4A, 4B, 4C, 4D et 4H respectivement. Ainsi, les fonctions de Walsh à une seule dimension WAL(4,n), WAL(5,n) et WAL(6,n) représentées sur les figures 4E, 4F et 4G respectivement sont exclues. Ceci repose sur le fait que l'extraction des propriétés du champ est facile avec des spectres à basse fréquence car la composition est relativement simple dans la plupart des scènes photographiques. En outre, la fonction à haute fréquence s(4,y) est conservée pour l'extraction des motifs fins relativement spéciaux tels que les rayons du soleil qui brillent dans les branches des arbres. Les fonctions de Walsh à deux dimensions ss(i,j,h,v) sont obtenues à partir des fonctions s(i,h) et s(j,v) à l'aide de la formule (7). Dans ce cas, les fonctions s(i,h) et s(j,v) correspondent aux fonctions de Walsh à une dimension WAL(m,n) et WAL(q,k) respectivement dans la description précédente de la transformée de Walsh à deux dimensions, et les fonctions de Walsh à deux dimensions ss(i,j,h,v) correspondent aux fonctions de Walsh à deux dimensions Wmq(n,k). La figure 8 représente les motifs de luminance des fonctions de Walsh à deux dimensions ss(i,j, h,v) et, par raison de brièveté, les fonctions sont simplement appelées ssij (i variant de 0 à 4 et j de 0 à 4). Les motifs de luminance des fonctions de Walsh à deux dimensions ss(i,j, h,v) représentées sur la figure 8 correspondent aux motifs de luminance de 5 x 5 = 25 sortes entourés par les traits mixtes à deux points de la figure 6. La partie arithmétique 14 de corrélation obtient les spectres de transformée de Walsh à deux dimensions p(i,j) (i variant de 0 à 4 et j de 0 à 4) à partir des valeurs de luminance bv(h,v) obtenues dans la partie 12 de calcul de luminance et des fonctions de Walsh à deux dimensions ss(i,j,h,v) obtenues dans la partie génératrice de motifs 13 à l'aide de la formule (8). Les spectres de transformée de Walsh à deux dimensions p(i,j) correspondent aux spectres de transformée de Walsh à deux dimensions G(m,q) dans la description qui précède de la transformée de Walsh à deux dimensions. Dans ce cas, une valeur absolue du spectre de transformée de Walsh à deux dimensions p(i,j) désigne un degré avec lequel une scène du champ, au moment de la mesure de la quantité de lumière, contient l'une des composantes du motif de luminance lorsque chaque motif de spectre de la figure 8 est considéré comme un champ. En outre, le signe du spectre de transformée de Walsh à deux dimension p(i,j) représente une orientation de luminosité de chaque motif de luminance, qui est positive lorsque l'orientation de luminosité coïncide mais négative lorsqu'elle ne coïncide pas. On décrit maintenant ce fait plus en détail en référence à la figure 15 déjà décrite; la scène représentée sur la figure 15 indique une séparation nette de luminosité entre la partie supérieure et la partie inférieure du champ, analogue au motif de luminance sso01 de la fonction ss(0,1,h,v) de la figure 8. Ainsi, une valeur du spectre p(0,1) avec ss(0,1,h,v) devient supérieure aux autres valeurs du spectre. Comme la scène de la figure 15 a un côté supérieur clair et un côté inférieur sombre, l'orientation de luminosité coincide avec celle de ss(0,1,h,v). Le signe de p(0,1) est donc positif. La partie 15 de calcul de luminance du motif calcule les valeurs moyennes de luminance bvw(i,j) et bvb(i,j) des motifs respectifs de luminance à l'aide des valeurs de luminance bv(h,v) de la partie 12 de calcul de luminance et des fonctions de Walsh à deux dimensions ss(i,j,h, v) de la partie 13 génératrice de motifs. Dans ce cas, bvw(i,j) représente une valeur moyenne des valeurs de luminance pour les parties blanches lorsque les motifs de luminance de ss(i,j,h,v) de la figure 8 sont comparés aux champs et, de même, bvb(i, j) est une valeur moyenne des valeurs de luminance pour les parties sombres. Par exemple, bvw(0,1) est une valeur moyenne de luminance de la moitié supérieure du champ et bvb(0,1) une valeur moyenne de luminance de la moitié inférieure du champ comme indiqué pour ss01 sur la figure 8. On décrit maintenant des détails de la partie 15 de calcul de luminance du motif à l'aide des figures 10A et B. La partie arithmétique de calcul d'exposition 16 calcule une valeur convenable d'exposition BVans à l'aide des spectres de transformée de Walsh à deux dimensions p(i,j) des signaux de sortie provenant de la partie arithmétique de corrélation 14 et des signaux de sortie bvw(i,j) et bvb(i,j) de la partie 15 de calcul de luminance de motif, avec la séquence suivante. D'abord, avec la formule suivante (9), une valeur d'exposition BVpt de chaque motif de luminance est obtenue: BVpt = wl.bvw + w2.bvb + w3. bvx + w4.bvn + w5 (9) Dans ce cas, BVpt(i,j) est simplement appelé BVpt par raison de brièveté. Ainsi, la correspondance est la suivante: wl correspond à wl(i,j), w2 à w2(i,j), w3 à w3(i,j), w4 à w4(i,j), w5 à w5(i,j), bvw à bvw(i,j), bvb à bvb(i,j), bvx à bvx(i,j) et bvn à bvn(i,j). En outre, bvx(i,j) et bvn(i,j) représentent les valeurs maximale et minimale de bvw(i,j) et bvb(i,j) respectivement comme indiqué par les formules suivantes (10) et (11): bvx(i,j) = Max(bvw(i,j), bvb(i,j)) (10) bvn(i,j) = Min(bvw(i,j), bvb(i, j)) (11) En outre, wl(i,j) à w4(i,j) de la formule (9) représentent des constantes indiquant chacune un degré avec lequel une valeur moyenne de luminance de chaque motif de luminance tel que bvb(i,j) contribue à une valeur d'exposition BVpt(i,j) de chaque motif de luminance, et w5(i,j) est un terme constant. Ces valeurs constantes sont déterminées au préalable avec des valeurs convenables, par exemple par neuro- apprentissage bien connu ou analogue, et elles sont écrites dans le programme. Ensuite, à l'aide des valeurs d'exposition BVpt(i,j) des motifs respectifs de luminance, la valeur convenable d'exposition BVans est calculée comme indiqué par la formule (12): 4 4 4 4 BVans=E z (Abs{p(i,j)}.Bvpt(i,j))/E Z Abs{p(i,j)} (12) i=o j=0 i=o j=0 Abs(x) désignant la valeur absolue de x. On décrit maintenant en détail le programme de l'unité de microtraitement 11 à l'aide des ordinogrammes des figures 9, 10A et 10B. Initialement, lorsqu'un bouton non représenté de déclenchement placé sur l'appareil photographique est à moitié enfoncé, un interrupteur d'alimentation d'appareil de prise de vues est fermé pour le lancement d'une minuterie de demi-pression afin que l'algorithme principal représenté sur la figure 9 soit exécuté. D'abord, la partie 10 de mesure de quantité de lumière effectue la mesure d'une quantité de lumière du champ afin que des données de quantité de lumière de soixante-quatre zones soient obtenues (pas S101). Ensuite, la partie 12 de calcul de luminance calcule les valeurs de luminance bv(h,v) à partir des données respectives de quantité de lumière de soixante-quatre zones (pas S102). La partie arithmétique 14 de corrélation exécute alors le calcul de corrélation par mise en oeuvre du procédé précité pour le calcul de vingt-cinq valeurs de corrélation, c'est-à-dire vingt-cinq spectres de transformée de Walsh de dimension p(i,j) (i variant de 0 à 4 et j de 0 à 4) (pas S103). Ensuite, la partie de calcul de luminance de motif calcule bvw(i,j), bvb(i,j), bvx(i,j) et bvn(i,j) (i variant de 0 à 4 et j de 0 à 4) (pas S104). Ensuite, avec les valeurs obtenues aux pas S103 et S104, la valeur d'exposition convenable BVans est calculée d'après les formules (9) à (12) (pas S105). Il est alors déterminé si le bouton de libération non représenté est totalement enfoncé (pas S106). Lorsque le bouton est totalement enfoncé, l'exposition est réglée d'après la valeur convenable d'exposition BVans (pas S107). Lorsque le bouton de libération n'est pas totalement enfoncé, le moment o la minuterie de demi-pression a terminé de compter est déterminé (pas S108). A moins que le temps ne soit écoulé, le traitement revient au pas S101 et continue. Si le temps est écoulé, le programme se termine. On décrit maintenant en détail le fonctionnement de la partie 15 de calcul de luminance à l'aide de l'ordinogramme des figures 10A et 10B. Lorsque le pas S104 de l'algorithme principal représenté sur la figure 9 est exécuté, l'algorithme du sous-programme des figures 10A et 10B commence le traitement. D'abord, on met i et j à 0 (pas S201), puis h et v à0 (pas S202). On met ensuite à 0 wsum, bsum, wn et bn (pas S203). On détermine alors si la fonction de Walsh à deux dimensions ss(i,j,h, v) est égale à 1 (pas S204). Si elle est effectivement égale à 1, le traitement de la formule suivante (13) est exécuté (pas S205) et la valeur 1 est ajoutée à wn (pas S206): wsum = wsum + bv(h,v) (13) A moins que la fonction de Walsh à deux dimensions ss(i,j,h,v) ne soit égale à 1, c'est-à-dire si elle est égale à -1, l'opération de la formule suivante (14) est exécutée (pas S207) et 1 est ajouté à bn (pas S208): bsum = bsum + bv(h,v) (14) Ensuite, 1 est ajouté à h (pas S209) puis il est déterminé si h est supérieur à 7 (pas S210). Si la réponse est négative, le traitement revient au pas S204 et, si la réponse est positive, h est mis à 0 (pas S211). Ensuite, 1 est ajouté à v (pas S212) puis il est déterminé si v est supérieur à 7 (pas S213). Si la réponse est négative, le traitement revient au pas S204 et, si elle est positive, v est mis à 0 (pas S214). Les valeurs moyennes de luminance bvw(i,j) et bvb(i,j) sont calculées pour chaque motif de luminance par les formules suivantes (15) et (16) (pas S215): bvw(i,j) = wsum/wn (15) bvb(i,j) = bsum/bn (16) Pour le motif de luminance ss00 de la figure 8, wn est égal à 64 et bn à 0, si bien que bvb(i,j) est égal à 0. Ensuite, bvx(i,j) et bvn(i,j) sont calculés par les formules décrites précédemment (10) et (11) (pas S216). Ensuite, 1 est ajouté à i (pas S217) puis il est déterminé si i supérieur à 4 (pas S218). Si la réponse est négative, le traitement revient au pas S203 et, si elle est positive, i est mis à 0 (pas S219). Ensuite, 1 est ajouté à j (pas S220) et il est déterminé si j dépasse 4 (pas S221). Si la réponse est négative, le traitement revient au pas 213 et, si elle est positive, le traitement se termine. Comme décrit précédemment, l'appareil arithmétique de calcul d'exposition est tel que la partie arithmétique 14 calcule les valeurs de corrélation des motifs respectifs du champ, la partie 15 calcule les valeurs de luminance des motifs respectifs, et la partie arithmétique 16 calcule l'exposition convenable d'après les signaux de sortie de parties 14 et 15, si bien que le champ peut être facilement adapté par son motif à une scène quelconque du champ et l'amplitude convenable d'exposition peut être obtenue de cette manière. En outre, comme la valeur convenable d'exposition peut être obtenue par multiplication des valeurs de corrélation données par la partie 14 et à l'aide des amplitudes d'exposition des motifs respectifs, l'opération arithmétique peut être exécutée facilement et rapidement. En outre, comme la mesure de quantité de lumière est exécutée par l'élément 9 de mesure de quantité de lumière du type à accumulation, le nombre de segments de mesure de quantité de lumière peut être réglé à une valeur élevée. En outre, comme la partie 13 génératrice de motifs est destinée à créerles motifs d'après la transformée de Walsh à deux dimensions, l'application de motifs au champ peut être réalisée de manière très convenable. Bien que le mode de réalisation décrit en détail concerne un exemple dans lequel le calcul de corrélation est réalisé d'après la technique de la transformée de Walsh à deux dimensions, l'invention n'est nullement limitée à ce mode de réalisation car le calcul de corrélation peut être exécuté avec n'importe quel autre procédé, par exemple par utilisation de la transformée de Fourier à deux dimensions, de la transformée cosinusoldale discrète, de la transformée sinusoïdale discrète, etc. On décrit maintenant un second mode de réalisation d'appareil arithmétique de calcul d'exposition monté dans l'appareil de prise de vues selon l'invention. La figure 11 est un ordinogramme d'un autre mode de réalisation d'appareil arithmétique de calcul d'exposition monté dans l'appareil de la figure 1. L'appareil arithmétique de calcul d'exposition de ce mode de réalisation comprend aussi une partie 10 de mesure de quantité de lumière d'un champ et une unité 21 de microtraitement (MPU) placée dans l'appareil photographique, comme dans le premier mode de réalisation décrit précédemment et représenté sur la figure 2. La partie 10 de mesure de quantité de lumière est la même que dans le premier mode de réalisation et on ne la décrit donc pas plus en détail. L'unité 21 de microtraitement exécute toutes les commandes de l'appareil de prise de vues à l'aide du programme incorporé. Une partie 22 de calcul de luminance, une partie 23 d'analyse de spectre, une partie 24 de calcul de luminance de motif, une partie arithmétique 25 de calcul d'exposition sont toutes réalisées par le programme de l'unité de microtraitement 21. La partie 22 de calcul de luminance reçoit les données de quantité de lumière des zones respectives obtenues dans la partie 10 de mesure, comme dans le cas de la partie 12 du premier mode de réalisation, afin que les soixante-quatre données de quantité de lumière soient transformées en valeurs de luminance et soient mises sous forme bv(h, v) (h variant de O à 7 et v de O à 7). Dans ce cas, comme dans le premier mode de réalisation, bv(0,0) représente une valeur de luminance de la zone d'extrémité supérieure gauche de la figure 3 et bv(7,7) une valeur de luminance de la zone d'extrémité inférieure droite. La partie 23 d'analyse de spectre exécute l'analyse du spectre du champ à l'aide de la technique précitée de la transformée de Walsh à deux dimensions d'après les signaux de sortie de la partie 22 de calcul de luminance. Dans la partie d'analyse de spectre 23, cinq types de fonctions de Walsh à une dimension s(0,y) à s(4,y) (y variant de 0 à 7) convenant à l'extraction des caractéristiques du champ indiquées sur les figures 7A à 7E sont utilisés parmi les huit types de fonctions de Walsh à une dimension WAL(O,n) à WAL(7,n) pour le nombre de données n = 8 comme indiqué sur les figures 4A à 4H. Les fonctions s(O,y), s(l,y), s(2,y), s(3,y) et s(4,y) correspondent aux fonctions de Walsh à une dimension WAL(O,n), WAL(1,n), WAL(2,n), WAL(3,n) et WAL(7,n) respectivement comme indiqué sur les figures 4A, 4B, 4C, 4D et 4H respectivement. Les fonctions de Walsh à une dimension WAL(4,n), WAL(5, n) et WAl(6,n) représentées sur les figures 4E, 4F et 4G respectivement sont exclues. Comme décrit précédemment, cette disposition repose sur le fait que l'extraction des propriétés du champ est facile dans les spectres à basse fréquence car la composition est relativement simple dans la plupart des scènes photographiques. En outre, la fonction à haute fréquence s(4,y) est conservée pour l'extraction de motifs fins relativement spéciaux tels que les rayons du soleil brillant à travers les branches des arbres. Ensuite, les fonctions de Walsh à deux dimension ss(i,j,h,v) sont obtenues à partir de ces fonctions s(i,h) et s(j,v) avec la formule (7). Les fonctions s(i,h) et s(j,v) correspondent alors aux fonctions de Walsh à une dimension WAL(m,n) et WAL(q,k) respectivement dans la description précédente de la transformée de Walsh à deux dimensions, et les fonctions de Walsh à deux dimensions ss (i,j,h,v) correspondent aux fonctions de Walsh à deux dimensions Wmq(n,k). La figure 8 représente les motifs de luminance des fonctions de Walsh à deux dimensions ss(i,j,h,v), ces fonctions étant appelées simplement ssij par raison de brièveté (i variant de 0 à 4 et j de 0 à 4). Les motifs de luminance des fonctions de Walsh à deux dimensions ss(i, j,h,v) représentés sur la figure 8 correspondent aux motifs de luminance de 5 x 5 = 25 types entourés par les traits mixtes à deux points de la figure 6. En outre, la partie 23 d'analyse de spectre tire le spectre de transformée de Walsh à deux dimensions p(i,j) (i variant de 0 à 4 et j de 0 à 4) à partir des valeurs de luminance bv(h,v) obtenues à partir de la partie 22 de calcul de luminance et des fonctions de Walsh à deux dimensions ss(i,j,h,v) obtenues précédemment à l'aide de la formule (8). Comme décrit précédemment, les spectres de transformée de Walsh à deux dimensions p(i,j) correspondent aux spectres de transformée de Walsh à deux dimensions G(m,q) de la description précédente de la transformée de Walsh à deux dimensions. La partie 24 de calcul de luminance de motifs calcule les valeurs moyennes de luminance bvw(i,j) et bvb(i,j) des motifs respectifs de luminance, à l'aide des valeurs de luminance bv(h,v) de la partie 22 de calcul de luminance et des fonctions de Walsh à deux dimensions ss(i, j,h,v) de la partie 23 d'analyse de spectre. Dans ce cas, bvw(i,j), comme décrit précédemment, est une valeur moyenne des valeurs de luminance pour les parties claires lorsque les motifs de luminance de ss(i,j,h,v) de la figure 8 sont comparés au champ et de même, bvb(i,j) est une valeur moyenne des valeurs de luminance pour les parties sombres. Comme cette partie 24 de calcul de luminance de motifs est la même que la partie 15 du premier mode de réalisation, sa description détaillée est omise. La partie 25 calcule la valeur convenable d'exposition BVans à l'aide des spectres de transformée de Walsh à deux dimensions p(i,j) provenant de la partie 23 d'analyse de spectre et des signaux de sortie bvw(i,j) et bvb(i,j) de la partie 24 de calcul de luminance de motifs. Comme le procédé de calcul est le même que celui qui est exécuté par la partie arithmétique d'exposition 16 dans le premier mode de réalisation décrit précédemment, sa description est omise. On décrit maintenant en détail le programme exécuté dans l'unité de microtraitement 21 en référence à l'ordinogramme de la figure 12. Initialement, lorsque le bouton non représenté de déclenchement de l'appareil photographique est à moitié enfoncé, l'interrupteur de l'appareil photographique est fermé afin que la minuterie de demipression soit lancée pour l'exécution de l'algorithme principal représenté sur la figure 12. D'abord, la partie 10 exécute la mesure de quantité de lumière du champ pour obtenir les données de quantité de lumière de soixante-quatre zones (pas S301). Ensuite, la partie 22 calcule les valeurs de luminance bv(h,v) à partir des données respectives des soixante-quatre zones (pas S302). Ensuite, la partie 23 exécute l'analyse du spectre par le procédé précité pour le calcul de vingt-cinq valeurs de spectres, c'est-à-dire de vingt-cinq spectres de transformée de Walsh à deux dimensions p(i,j) (i variant de 0 à 4 et j de 0 à 4) (pas S303). Ensuite, la partie 24 de calcul de luminance calcule bvw(i,j), bvb(i,j), bvx(i,j) et bvn(i,j) (i variant de 0 à 4 et j de 0 à 4) par l'algorithme du sous-programme représenté sur les figures 10A et 10B (pas S304). Ensuite, à l'aide des valeurs obtenues aux pas S303 et S304, la valeur d'exposition convenable BVans est calculée par les formules (9) à (12) (pas S305). Ensuite, le fait que le bouton de déclenchement, non représenté, est totalement enfoncé est déterminé (pas S306). S'il est complètement enfoncé, l'exposition est réglée d'après la valeur d'exposition convenable BVans (pas S307). D'autre part, à moins que le bouton soit totalement enfoncé, le fait que le temps de la minuterie de demi- pression est écoulé ou non est déterminé (pas S308). Si le temps n'est pas encore écoulé, le traitement revient au pas S301 et se poursuit alors que, si le temps est écoulé, le programme se termine. Comme décrit précédemment, l'appareil arithmétique d'exposition précédent est réalisé afin que la partie 23 d'analyse de spectre calcule un nombre particulier, choisi au préalable, de valeurs de spectre, et la partie 25 calcule l'exposition convenable d'après les valeurs du spectre, si bien qu'un motif peut être facilement appliqué à une scène quelconque du champ et une valeur convenable d'exposition peut être rapidement obtenue en conséquence. En outre, comme la mesure de la quantité de lumière est exécutée par l'élément 9 de mesure à accumulation, le nombre de segments de mesure de quantité de lumière peut être réglé à une valeur élevée. De plus, comme la mesure de la quantité de lumière est réalisée par division du champ sous forme d'une matrice, l'analyse du spectre devient facile. En outre, comme les nombres de segments horizontaux et verticaux du champ divisés en une matrice sont déterminés comme étant égaux à une puissance de 2, l'analyse du spectre est facile. De plus, puisque l'analyse du spectre est réalisée d'après la transformée de Walsh à deux dimensions, l'analyse du spectre peut être réalisée à grande vitesse. * De plus, comme l'appareil arithmétique de calcul d'exposition décrit précédemment sélectionne les valeurs du spectre essentiellement dans la région des basses fréquences, sous forme du nombre particulier de valeurs de spectre, les caractéristiques du champ peuvent être extraites avec un bon rendement. Bien que le mode de réalisation précité décrive un exemple dans lequel l'opération arithmétique sur le spectre a été réalisée par la technique de la transformée de Walsh à deux dimensions, la présente invention n'est pas limitée à ce mode de réalisation, car l'opération arithmétique sur le spectre peut être réalisée par toute autre technique, par exemple par la transformée de Fourier à deux dimensions, la transformée consinusoïdale discrète, la transformée sinusoïdale discrète, etc. évidemment. Par exemple, lorsque la transformée discrète de Fourier à deux dimension est utilisée, la formule suivante (17) peut être utilisée à la place de la formule (8): N-1 K-1 G(m,q)=E E d(n,k).EXP(-j27nm/N).EXP(-j27kq/K) (17) n=O k=O Comme une solution de la formule (17) est un nombre complexe, une valeur du spectre peut être une valeur d'un spectre de puissance qui est la somme des carrés de la partie réelle et de la partie imaginaire ou une valeur de spectre en amplitude qui est sa racine carrée. On peut utiliser, comme équation correspondant à ss(i,j,h,v), la formule suivante (18) obtenue par développement de la formule (17): ss(i,j,h,v)=cos(2n0).cos(28O) + sin(2nO).sin(2n0) (18) Dans ce cas, l'angle O de cette équation est donné par la formule suivante (19): O = (h.i/H) + (v.j/V) (19) H et V étant les nombres de segments horizontaux et verticaux respectivement dans l'élément 9 de mesure de la quantité de lumière. Il est bien entendu que l'invention n'a été décrite et représentée qu'à titre d'exemple préférentiel et qu'on pourra apporter toute équivalence technique dans ses éléments constitutifs sans pour autant sortir de son cadre. REVENDICATIONS 1. Appareil de prise de vues comprenant un appareil arithmétique de calcul d'exposition, caractérisé en ce que l'appareil arithmétique de calcul d'exposition comprend: un dispositif (10) de mesure de quantité de lumière destiné à mesurer une quantité de lumière pour chacune de plusieurs zones segmentées dans un champ, un dispositif (13) générateur de motifs destiné à créer plusieurs motifs pour le classement du champ en motifs dans l'espace, un dispositif arithmétique (14) de corrélation destiné à calculer des valeurs de corrélation qui représentent chacune un degré de corrélation de chaque motif avec le champ, d'après les signaux de sortie du dispositif (10) de mesure de quantité de lumière et du dispositif (13) générateur de motifs, un dispositif (15) de calcul de luminance de motifs destiné à exécuter une opération arithmétique d'après le signal de sortie du dispositif (13) générateur de motifs sur le signal de sortie du dispositif (10) de mesure de quantité de lumière, et un dispositif arithmétique (16) de calcul d'exposition destiné à exécuter une opération arithmétique donnant l'exposition convenable d'après les signaux de sortie du dispositif arithmétique (14) de corrélation et du dispositif (15) de calcul de luminance de motifs. 2. Appareil selon la revendication 1, caractérisé en ce que le dispositif arithmétique (16) de calcul d'exposition obtient des valeurs d'exposition de motifs qui sont des valeurs convenables d'exposition dans les motifs respectifs, à l'aide des valeurs de luminance des motifs respectifs obtenues par le dispositif (15) de calcul de luminance de motifs, et obtient une valeur d'exposition convenable par multiplication des valeurs respectives d'exposition de motifs par les valeurs de corrélation obtenues par le dispositif arithmétique (14) de corrélation. 3. Appareil selon la revendication 2, caractérisé en ce que le dispositif (10) de mesure de quantité de lumière exécute la mesure de la quantité de lumière à l'aide d'un élément (10) de mesure de quantité de lumière du type à accumulation. 4. Appareil selon la revendication 3, caractérisé en ce que le dispositif (13) générateur de motifs crée des motifs d'après la transformée de Walsh à deux dimensions. 5. Appareil de prise de vues ayant un appareil arithmétique de calcul d'exposition, caractérisé en ce que l'appareil arithmétique de calcul d'exposition comprend: un dispositif (10) de mesure de quantité de lumière destiné à mesurer une quantité de lumière pour chacune de plusieurs zones segmentées dans un champ, un dispositif d'analyse (23) de spectre destiné à effectuer une analyse de spectre du champ à l'aide d'un signal de sortie du dispositif (10) de mesure de quantité de lumière, et un dispositif arithmétique (16) de calcul d'exposition effectuant une opération arithmétique d'exposition convenable d'après les signaux de sortie du dispositif (10) de mesure de quantité de lumière et du dispositif d'analyse (23) de spectre, et dans lequel le dispositif d'analyse (23) de spectre exécute une analyse de spectre du champ à l'aide d'un nombre spécifique de valeurs de spectre sélectionnées au préalable parmi plusieurs valeurs de spectre déterminées suivant le nombre de zones segmentées dans les dispositifs (10) de mesure de quantité de lumière. 6. Appareil selon la revendication 5, caractérisé en ce que le dispositif (10) de mesure de quantité de lumière effectue la mesure de la quantité de lumière à l'aide d'un élément (10) de mesure de quantité de lumière du type à accumulation. 7. Appareil selon la revendication 6, caractérisé en ce que le dispositif (10) de mesure de quantité de lumière effectue la mesure de la quantité de lumière par division du champ en une matrice de zones segmentées. 8. Appareil selon la revendication 7, caractérisé en ce que le dispositif (10) de mesure de quantité de lumière utilise un nombre de segments horizontaux et un nombre de segments verticaux du champ divisé dans la matrice qui sont tels que l'un desdits nombres au moins est une puissance de 2. 9. Appareil selon la revendication 8, caractérisé en ce que le dispositif d'analyse (23) de spectre effectue l'analyse du spectre sur la base de la transformée de Walsh à deux dimensions. 10. Appareil selon la revendication 9, caractérisé en ce que les valeurs du nombre spécifique de valeurs de spectre sélectionnées au préalable par le dispositif d'analyse (23) de spectre sont des valeurs de spectre formées essentiellement dans la région des basses fréquences.