Brevet FR2705479A1 — publié le 19941125

ARRIERE-PLAN DE L'INVENTION 1. Domaine de l'Invention La présente invention concerne la reconnaissance de formes qui est utilisée par exemple pour l'automatisation des inspections visuelles de produits. 2. Description de l'Art Correspondant La Figure 19 est un schéma-bloc représentant la construction d'un appareil classique d'inspection de défauts de surface de plaque décrit dans le bulletin de la société de télévision "Appareil d'inspection de défauts superficiels de plaque utilisant un circuit à très forte intégration", volume 36, n 1, pp. 38 à 44. Sur la Figure 19, la référence numérique 2 désigne une plaque devant être inspectée, la référence numérique 3 désigne un mécanisme mobile qui déplace la plaque 2, la référence numérique 4 désigne un microscope qui agrandit l'image de la configuration de la surface de la plaque 2, la référence numérique 5 désigne une caméra à dispositif à couplage de charge (CCD) qui reçoit l'image de la plaque 2 agrandie par le microscope 4, la référence numérique 6 désigne un dispositif d'affichage qui contrôle l'image reçue dans la caméra 5 CCD, la référence numérique 20 désigne un circuit d'identification de défaut qui identifie un défaut sur l'image reçue par la caméra 5 CCD, la référence numérique il désigne un dispositif d'affichage qui affiche le résultat de l'inspection. La Figure 20 est un ordinogramme représentant le fonctionnement de l'appareil décrit ci-dessus. Au début, les données d'image de la plaque 2 prises par la caméra 5 CCD sont introduites en entrée dans un circuit d'identification de défaut 20 (étape ST1). Ensuite, le circuit d'identification de défaut 20 différencie les données d'image lors d'un prétraitement, convertit les données différenciées en code binaire, et traite les données d'extraction limites (étape ST2). Ensuite, le circuit 20 établit des trames d'adaptation A et B sur le même écran que l'image binaire différenciée, de telle sorte que ces trames sont éloignées l'une de l'autre d'une distance égale à la distance de répétition de la forme (étape ST3). Ensuite, le circuit 20 compare les pixels de la trame A aux pixels de la trame B élément binaire par élément binaire par rapport aux trames (étape ST4). Si les valeurs des pixels dans les positions correspondantes sont différentes l'une de l'autre (étape ST5) on détermine si l'image A ou l'image B comporte un défaut (étape ST6). Si les valeurs sont les mêmes, on conclut que chaque image ne contient pas de défaut (étape ST7). Une plaque complète est inspectée en déplaçant ces trames en correspondance A et B (étape ST8). Cependant, l'appareil décrit ci-dessus n'est pas en mesure d'identifier laquelle des trames contient un défaut, car on n'établit qu'au jugé si deux configurations qui se suivent et qui correspondent à la même plaque sont différentes ou pas. De plus, l'image A et l'image B doivent être placées de telle sorte que la distance entre l'image A et l'image B soit la même que la distance de répétition de la configuration. Ceci nécessite un positionnement de haute précision des images A et B et il est difficile d'obtenir un tel degré de précision notamment pour des configurations fines telles que les configurations de semi- conducteurs. De plus, compte tenu de la différenciation de l'image et de sa conversion en code binaire, les parasites contenus dans l'image ou une modification de l'éclairement peut entraîner une inversion de la valeur de la brillance et une décision concernant un défaut peut donc être erronée. RESUME DE L'INVENTION Compte tenu de ce qui précède, le premier objet de la présente invention consiste en un procédé ou en un appareil de reconnaissance de forme qui n'est pas affecté par l'écart de position des configurations ou par des variations de l'éclairement et qui peut émettre en sortie un résultat de reconnaissance de formes d'une haute précision même pour des configurations fines. Le deuxième objet de la présente invention est un procédé ou un appareil de reconnaissance de forme qui peut modifier la sensibilité de la détection des défauts des configurations. Le troisième objet de la présente invention est un procédé ou un appareil de reconnaissance de formes qui peut élaborer une valeur de similitude des configurations même si les objets devant être inspectés sont exprimés par des valeurs qui ne peuvent être directement comparées telles que la comparaison entre deux groupes de données de la CAO (Conception Assistée par Ordinateur), chacune d'entre elles ayant une résolution de coordonnées minimale différente par rapport à l'autre. Un quatrième objet de la présente invention est un procédé ou un appareil de reconnaissance de formes qui peut élaborer une valeur de similitude des formes qui n'est pas affectée, dans le cas o les formes subissent une rotation ou un déplacement parallèle. Afin de réaliser les objets mentionnés ci-dessus, la reconnaissance de formes suivant l'invention est effectuée comme suit. Un ensemble est produit qui consiste en un premier vecteur de configuration fondamentale d'une première configuration fondamentale sur la base de l'emplacement de la première image et des deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale de deuxièmes configurations fondamentales déplacées par rapport à la première configuration fondamentale. Un sous-espace linéaire est donc produit qui est recouvert par le premier vecteur de configuration fondamentale et par les deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale contenus dans l'ensemble. Ensuite, un vecteur de configuration d'essai est produit sur la base de la deuxième image. On calcule alors un vecteur qui appartient à un sous-espace complémentaire du sous-espace linéaire lorsque le vecteur de configuration d'essai est projeté sur le sous-espace linéaire. On calcule ensuite une norme du vecteur qui appartient au sous-espace complémentaire et on mesure la similitude entre la première image et la deuxième image sur la base de la norme de vecteur. Ainsi, la mesure de la similitude ne subit presque pas l'influence d'un écart de position d'un vecteur de configuration d'essai, puisque les deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale des deuxièmes configurations fondamentales qui sont déplacées par rapport à la première configuration fondamentale sont utilisés en plus du premier vecteur de configuration fondamentale. L'emploi d'un filtre de normalisation qui normalise les images d'entrée évite la variation de la valeur de la brillance des images due à une fluctuation de l'éclairement. Lorsque l'on modifie la dimension des vecteurs de configuration, cela peut faire varier la sensibilité à la détection des défauts car le rapport entre le nombre d'éléments du vecteur qui indique les défauts par rapport au nombre d'éléments du vecteur qui indique la perfection varie. Une similitude peut être obtenue lorsque les données des objets sont converties en images et en un ensemble de vecteurs de configuration fondamentale même pour des objets exprimés par des valeurs numériques qui ne peuvent être comparées directement. BREVE DESCRIPTION DES DESSINS La Figure I est un schéma-bloc représentant la structure d'un appareil d'inspection de défaut de plaque suivant le mode de réalisation 1, utilisant la reconnaissance de formes; la Figure 2 est un organigramme représentant les procédures des opérations de l'appareil de la Figure 1; les Figures 3A à 31 sont des exemples de configurations fondamentales utilisées dans le mode de réalisation 1; la Figure 4 est un exemple de l'ordre des éléments dans le vecteur de configuration utilisé dans le mode de réalisation 1; la Figure 5A représente une configuration de plaque devant être inspectée qui comporte 32 multipliés par 16 pixels et la Figure 5B représente 8 unités de plaque devant être inspectées simultanément; la Figure 6A, la Figure 6B et la Figure 6C sont des courbes représentatives de la valeur de [Xel en fonction du nombre de pixels défectueux lorsque le pourcentage de défaut est égal respectivement à 75, 50 et 25 pour cent; la Figure 7 est une montagne de courbes représentatives, correspondant à différents positions de la plaque qui a été déplacée en fonction de la valeur de IXc|; la Figure 8 est une courbe représentative obtenue par une coupe suivant une section droite de la montagne de courbes représentées sur la Figure 7; la Figure 9 est un schéma-bloc représentant la structure du système de vérification suivant un mode de réalisation 3 de l'invention; la Figure 10 montre comment une figure est exprimée suivant différentes données de résolution de la CAO dans le mode de réalisation 3 de l'invention; la Figure 11 est un ordinogramme qui représente les procédures des opérations de la reconnaissance de formes du mode de réalisation 3; la Figure 12 est une image obtenue à partir des données 12 prétraitées de la CAO d'une valeur de résolution égale à 1; la Figure 13 représente une image obtenue à partir des données 13 prétraitées de la CAO d'une valeur de résolution égale à 0,5; la Figure 14 est un schéma-bloc représentant la structure de l'appareil d'inspection du quatrième mode de réalisation de l'invention; la Figure 15 est un ordinogramme représentant les procédures des opérations de l'appareil de la Figure 14; la Figure 16 est un schéma-bloc représentant la structure de l'appareil d'inspection d'apparence extérieure suivant le cinquième mode de réalisation de l'invention; la Figure 17 est un ordinogramme représentant les procédures des opérations de l'appareil de la Figure 16; les Figures 18A à 18D sont des exemples d'un ensemble de vecteurs de configuration fondamentale utilisés dans le cinquième mode de réalisation de l'invention; la Figure 19 est un schéma-bloc représentant la structure d'un appareil classique d'inspection de défaut de surface de plaque; et la Figure 20 est un ordinogramme représentant les procédures des opérations de l'appareil de la Figure 19. DESCRIPTION DETAILLEE DE MODES PREFERES DE REALISATION Les modes préférés de réalisation de la présente invention seront expliqués en détail en se référant aux dessins. MODE DE REALISATION 1. La Figure 1 est un schéma-bloc représentant une structure d'un appareil d'inspection de défaut de plaque suivant le mode de réalisation 1 de l'invention qui utilise la reconnaissance de formes. Sur cette Figure, la référence numérique 1 désigne une plaque sans défaut destinée à la préparation des vecteurs de configuration fondamentale, la référence numérique 2 désigne une plaque devant être inspectée au moyen de laquelle les vecteurs de configuration d'essai sont préparés, la référence numérique 3 désigne un mécanisme mobile qui déplace les plaques 1 et 2, la référence numérique 4 désigne un microscope qui agrandit l'image de la configuration de la surface des plaques 1 et 2, la référence numérique 5 désigne une caméra CCD qui reçoit les images de la surface des plaques 1 et 2 agrandies par le microscope 4, la référence numérique 6 désigne un visuel ou dispositif d'affichage qui inspecte l'image reçue dans la caméra CCD 5, la référence numérique 7 désigne un dispositif d'entrée de l'image qui effectue une conversion analogique/numérique (A/D) du signal image provenant de la caméra 5, la référence numérique 8 désigne une mémoire de trames qui stocke le signal d'image numérisé, la référence numérique 9 désigne une unité centrale de traitement (CPU) qui élabore une valeur de similitude entre la configuration d'une plaque 1 sans défaut et la configuration de la plaque 2 devant être inspectée en utilisant les procédures de reconnaissance de formes qui seront décrites plus en détail ci-après, la référence numérique 10 désigne une mémoire destinée à stocker un programme et les données intermédiaires des traitements, la référence numérique 11 désigne un visuel qui affiche les résultats de l'inspection. Ensuite, le fonctionnement de l'appareil sera expliqué dans son ensemble. La Figure 2 est un ordinogramme représentant les procédures des opérations effectuées par cet appareil. Tout d'abord, la plaque sans défaut 1 est placée sur le mécanisme mobile 3. La caméra CCD 5 balaie la plaque sans défaut 1 et les données d'image sont stockées dans la mémoire d'images 8 (étape ST9). Sur la base de ces données, un ensemble de vecteurs de configuration fondamentale est produit (étape ST10) et en même temps un sous-espace L est produit (étape ST11) suivant un mode qui sera décrit ultérieurement. Ensuite, la plaque 2 devant être inspectée est placée sur le mécanisme mobile 3. Pendant que la caméra CCD 5 balaie l'ensemble de la surface de la plaque 2 devant être inspectée (étape ST12), CPU 9 calcule une valeur de similitude entre les configurations de la plaque sans défaut 1 et les configurations de la plaque 2 devant être inspectée en utilisant la reconnaissance de formes suivant un mode qui sera décrit ultérieurement (étape ST13) et compare la valeur de similitude à une valeur de seuil (étape ST14). En fonction de cette comparaison, lorsque la valeur de similitude est inférieure ou égale à la valeur de seuil, on conclut qu'un défaut existe sur la surface de la plaque 2 (étape ST15) et lorsque la valeur de similitude est supérieure à la valeur de seuil, on conclut qu'il n'existe pas de défaut sur la surface de la plaque 2 (étape ST16). Ces conclusions sont affichées sur le dispositif d'affichage 11. Les étapes ci-dessus ST12 à ST16 sont répétées jusqu'à ce que l'inspection de l'ensemble de la plaque 2 soit terminée (étape ST17). Ensuite, les procédures de reconnaissance de formes seront expliquées telles qu'elles sont effectuées par le programme stocké dans la mémoire 10. Tout d'abord, la procédure qui consiste à élaborer des vecteurs de configuration fondamentale depuis des données d'image à l'étape ST10 de la Figure 2 sera expliquée en détail en prenant pour exemple les configurations de la Figure 3 qui représente une configuration fondamentale d'un emplacement de base et des configurations fondamentales qui sont déplacées parallèlement à la configuration fondamentale de l'emplacement de base. Dans ce mode de réalisation, huit configurations fondamentales représentées sur les Figures 3A à 3D et sur les Figures 3F à 3I sont utilisées en plus de la configuration fondamentale située à l'emplacement de base, tel que. représenté sur la Figure 3E, afin de permettre le déplacement de la valeur d'un pixel. A savoir, ces neuf configurations sont constituées par la configuration fondamentale représentée sur la Figure 3E et huit configurations qui sont déplacées d'un pixel vers le haut, vers le bas, vers la droite ou vers la gauche. Chaque configuration est constituée par 6 multiplies par 6 pixels et un vecteur de dimension 36 qui comporte ces 36 éléments de valeur de brillance suivant un ordre approprié est défini comme vecteur de configuration. Ensuite, un ensemble de vecteurs de configuration des neuf configurations ci-dessus est défini comme ensemble de vecteurs de configuration fondamentale. La Figure 4 est un exemple de l'ordre des éléments constituant le vecteur de configuration. Comme représenté sur cette Figure, les valeurs de la brillance peuvent être disposées suivant des éléments du vecteur de configuration dans l'ordre indiqué par la ligne 100 en zigzag. Si une valeur de la brillance de la portion blanche dans la configuration de la Figure 3E est désignée par '"0"' et qu'une valeur de la brillance de la portion noire de la même configuration est désignée par "1", le vecteur de configuration fondamentale X5 est donné par l'expression suivante: Xs=[0, 0, 0, 0, O, 0, O, 0, 1, 0, 0, 0, 0, 1, 1, 0, 1, 0, 0, 1, 1, 1, 1, 0, 0, 0, 1, 0, 0, 0, 0, O, 0, O, 0, O]T (1) expression dans laquelle T indique une transposition. Ainsi, l'ensemble de vecteurs de configuration fondamentale est un ensemble constitué par neuf vecteurs de configuration fondamentale Xi (i=l, 2,..., 9) exprimée de la même façon que l'expression (1) correspondant aux neuf configurations des Figures 3A à 3I. La reconnaissance de formes aux étapes ST11 à ST13 dans lesquelles les vecteurs de configuration définis ci-dessus sont utilisés sera expliquée généralement. Un vecteur de configuration fondamentale à n dimensions de l'emplacement de base est élaboré à partir de la plaque sans défaut 1. Ensuite, ce vecteur de configuration fondamentale et les m-1 vecteurs de configuration fondamentale qui peuvent être obtenus par le déplacement parallèle du vecteur de configuration fondamentale de l'emplacement de base sont examinés. Supposons qu'un sous-espace linéaire recouvert par ces m vecteurs de configuration fondamentale soit désigné par L, ce sous-espace L est donné par l'expression suivante. Par exemple, sur les Figures 3A à 3I, m=9 et n=36. L=tXi e Rn | i=l,..., m}... (2) Par ailleurs, une configuration de la plaque 2 devant être inspectée est exprimée par un vecteur à n dimensions et ce vecteur est désigné par vecteur de configuration d'essai X. Le vecteur X est projeté sur le sous-espace Q5 linéaire L et on élabore le vecteur Xc qui appartient au sous-espace Lc complémentaire du sous-espace L. Si le vecteur X est similaire aux vecteurs de configuration fondamentale, le vecteur X est à peu près égal à l'un des vecteurs Xi (i=l, 2,..., 9) et le vecteur X est, en très grande partie, inclus dans le sous-espace L. Par ailleurs, si le vecteur X comporte un élément différant de celui des vecteurs de configuration fondamentale, le vecteur X n'est pas inclus dans le sous-espace L et il existe un vecteur Xc qui est inclus dans le sous-espace Lc. Par conséquent, lorsque le vecteur X est projeté sur le sous-espace L, la valeur -IXcl indique une valeur de similitude entre les vecteurs de configuration fondamentale et un vecteur de configuration d'essai, dans lequel [Xci représente la norme du vecteur Xe et "-" représente un signe négatif. A savoir, plus la valeur de -IXcl est basse, plus la similitude entre les vecteurs de configuration fondamentale et le vecteur de configuration d'essai est faible et plus le vecteur de configuration d'essai comporte d'éléments qui sont différents des éléments des vecteurs de la configuration fondamentale. Par conséquent, on peut conclure qu'il existe ou pas un défaut sur la base de la valeur -IXc qui est calculée à partir de la configuration de la plaque 2 devant être inspectée. On peut utiliser toutes formes de normes pour autant que celles-ci soient conformes à la définition mathématique de la norme. Par exemple, la norme euclidienne exprimée par {(Xc)TXc} O5, en est donnée à titre d'exemple. Si l'on utilise comme projection une projection orthogonale, le vecteur Xc qui appartient à l'espace complémentaire orthogonal Lc du vecteur X est élaboré comme suit. 1) La séquence de vecteur orthogonal Hi (i=l,... , m) 1l qui recouvre le sous-espace linéaire L est élaborée sur la base de l'ensemble des m vecteurs de configuration fondamentale Xi (i=l,..., m) comme représenté par l'expression suivante (3). Hi =Y1 i- (Xi,Hk) Hi = Vi - EL-k... (3) Lk= 1 I|Hk 12 (i=2,...,m) Dans l'expression ci-dessus (3), (Xi, Hk) désigne un produit scalaire du vecteur Xi par le vecteur Hk. Dans le cas o IHi1=0 au cours du calcul de l'expression (3), le vecteur Xi est négligé et le calcul se poursuit pour le vecteur Xi+l puisque Xi peut être exprimé par une combinaison linéaire de vecteurs Xi à Xi-1. 2) Un vecteur de configuration d'essai X est projeté suivant un mode orthogonal sur le sous-espace L et le vecteur complémentaire Xc est élaboré en utilisant l'expression suivante (4). (X, Hk) Xe=X- t Hk... (4) k=I | tk 12 Dans l'expression ci-dessus (4), m' désigne le nombre de vecteurs de la séquence de vecteurs orthogonale Hi. Comme mentionné dans la procédure ci-dessus (1) dans le cas o 1Hi1=0 au cours du calcul de l'expression (3), m' est inférieur à m ou autrement m'=m. 3) On peut donc conclure si un défaut existe ou pas en estimant la valeur de -IXcl à l'étape ST14 et en fixant une valeur de seuil E appropriée comme suit. Dans le cas o -IXcI5E, un défaut existe (étape ST15). Dans le cas o -IXcI>E, il n'existe pas de défaut (étape ST16)... (5) Afin de démontrer l'efficacité des procédures de reconnaissance de formes mentionnées ci-dessus, les résultats d'une simulation et d'une expérience seront expliqués ci-après. On démontrera tout d'abord comment l'étendue des défauts affecte la valeur de IXcl. La Figure 5A représente une configuration d'une plaque devant être inspectée qui comporte 32 multipliés par 16 pixels. La brillance de chaque pixel de la configuration de plaque de la Figure 5A est exprimée par trois niveaux. Les portions désignées par les hachures de pente A, B et C indiquent des valeurs de brillance de 0,25, 0,5 et 1,0. La valeur de brillance de l'arrière-plan et de la partie extérieure à la configuration de plaque est égale à zéro. La configuration de plaque est divisée en 8 zones telles qu'une unité de traitement soit constituée par 4 multipliés par 16 pixels comme représenté sur la Figure 5B et le vecteur de configuration est de dimension 64. Les 8 vecteurs de configuration d'essai sont inspectés séparément. Au cours de cette simulation, pour permettre le déplacement de la position d'un pixel pour chaque unité de traitement, les 9 vecteurs de configuration dont 8 sont déplacés de la valeur d'un pixel à partir de la configuration fondamentale de l'emplacement de base vers le haut, vers le bas, vers la gauche et vers la droite, sont inclus dans l'ensemble de vecteurs de configuration fondamentale. Les conditions de simulation sont établies comme suit. (1) on fait varier graduellement le nombre de pixels défectueux de 1 jusqu'à 10. (2) on fait varier l'étendue du défaut en diminuant la valeur de la brillance de 25, 50 et 75 pour cent. Si la valeur de la brillance est égale à zéro, on augmente alors celle-ci de 25, 50 et 75 pour cent. (3) un vecteur de configuration d'essai est élaboré en utilisant les procédures suivantes. a) on sélectionne au hasard un vecteur de configuration à partir de l'ensemble de vecteurs de configuration fondamentale. b) on désigne des pixels du vecteur de configuration sélectionnés au hasard. c) on produit un nombre prédéterminé de défauts sur les pixels désignés. La Figure 6A, la Figure 6B et la Figure 6C sont des courbes représentatives de la valeur de [XcI en fonction du nombre de pixels défectueux, lorsque le pourcentage de défaut est de 75, 50 et 25 pour cent respectivement. Les 8 courbes sur chaque figure correspondent à 8 vecteurs de configuration d'essai. Comme il apparaît des Figures, plus l'étendue des défauts est élevée, plus la valeur de [Xcl est élevée. Cette caractéristique est indépendante des vecteurs de configuration d'essai. Ce résultat démontre que l'existence de défauts peut être détectée en estimant la valeur de [Xcó. Ensuite, on expliquera comment la reconnaissance de configuration cidessus n'est pas affectée par l'écart de la position de la configuration. Ce qui va suivre représente une expérience qui utilise des images réelles de la plaque afin de rechercher dans quelle mesure un écart de position a une influence sur la valeur de [Xcl. Dans cette expérience, 8 multipliés par 128 pixels (soit au total 1024 pixels) sont fixés comme représentant une unité de traitement. En d'autres termes, le vecteur de configuration a une dimension égale à 1024. L'ensemble de vecteurs de configuration fondamentale consiste en 25 vecteurs de configuration fondamentale, 24 d'entre eux étant déplacés depuis le vecteur de configuration fondamentale de l'emplacement de base, d'une valeur égale à deux pixels. Les 25 vecteurs de configuration sont élaborés sur la base d'une image pondérée de 100 données d'image. A mesure que le même type de plaque sans défaut est déplacée vers le haut, vers le bas, vers la gauche et vers la droite de 4 pm, la valeur de [Xci est calculée tous les 0,2 Pm. Dans cette expérience, la largeur d'un pixel est d'environ 1 pm. La Figure 7 illustre la relation entre les positions de la plaque que l'on déplace dans l'expérience ci-dessus et la valeur de [Xci qui correspond à ces positions. Sur cette Figure, plus la valeur de [Xcf augmente plus sa courbe représentative occupe une position inférieure pour faciliter l'affichage des courbes représentatives. Comme il apparaît clairement de cette Figure, la valeur de IXc I est maintenue basse lorsque la plaque est dans un intervalle o05 qui peut être recouvert par les vecteurs de configuration fondamentale ( 2 pixels de déplacement) et la valeur de IXcó augmente à mesure que la plaque est déplacée à l'extérieur de l'intervalle. Ainsi, lorsque la plaque est placée à l'intérieur de la portion carrée plate de la Figure 7, même si l'on déplace la plaque entre deux quelconques des configurations fondamentales, l'inspection n'est pas affectée par l'écart concernant la position de la plaque. La Figure 8 est une courbe représentative obtenue par section droite de la montagne de courbes du graphique de la Figure 7. Sur cette Figure, l'axe des X représente l'écart de la position de la plaque et l'axe des Y représente la valeur de IXcl. Comme expliqué ci-dessus, cette courbe représente le cas dans lequel un écart de deux pixels est pris en compte. Lorsque l'écart de position est pris en compte, la valeur de IXci est maintenue basse à l'intérieur de l'intervalle qui peut être recouvert par les vecteurs de configuration de l'ensemble de vecteurs de configuration fondamentale. Ainsi, la détection des défauts peut être effectuée sans être affectée par l'écart de position. Comme expliqué ci-dessus, dans ce mode de réalisation, une pluralité de vecteurs de configuration qui sont déplacés depuis le vecteur de configuration fondamentale de l'emplacement de base sont inclus dans l'ensemble de vecteurs de configuration fondamentale. Ainsi, l'influence de l'écart de position de la plaque n'apparaît pas compte tenu des caractéristiques de dépendance linéaire des vecteurs. Par conséquent, une reconnaissance de configuration précise peut être effectuée dans l'intervalle admissible d'écart de position. Il existe généralement au plus n vecteurs de base dans un espace vectoriel à n dimensions. Etant donné que m vecteurs sont utilisés pour recouvrir le sous-espace L, les n-m vecteurs restants peuvent être utilisés comme vecteurs exprimant les éléments de défaut. Si n et m sont déterminés de telle sorte que n-m soit grand, la probabilité suivant laquelle, une configuration d'essai comportant un défaut est incluse dans le sous-espace L qui peut être exprimé par une combinaison linéaire de séquence Hi de vecteurs orthogonaux, est faible. Ainsi, un nombre de défauts non reconnaissables décroît. Par conséquent lorsque le nombre m de vecteurs de configuration de l'ensemble de vecteurs de configuration fondamentale est suffisamment plus petit que la dimension n du vecteur de configuration, la probabilité d'une reconnaissance erronée décroît et la reconnaissance peut être effectuée avec plus de précision. De plus, comme représenté sur les Figures 6A à 6C, la valeur de IXcl augmente de façon monotone à mesure que les pixels défectueux augmentent ou que les éléments vectoriels qui indiquent des défauts augmentent. Compte tenu de ce fait, si la dimension des vecteurs de configuration estélevée, la sensibilité de détection de défaut diminue car un rapport d'éléments de défaut à l'ensemble des vecteurs est petit. Par ailleurs, si la dimension des vecteurs de configuration est petite, la sensibilité de détection de défaut est élevée. A savoir, la sensibilité de la détection de similitude peut varier en faisant varier les nombres de la dimension des vecteurs de configuration. De plus, dans l'expression (1), les valeurs de -la brillance sont exprimées par deux valeurs "0" ou "1", cependant la valeur de la brillance peut aussi être exprimée par une valeur analogique. MODE DE REALISATION 2. En plus de la reconnaissance de formes selon le mode de réalisation 1, un filtre de normalisation ayant un rapport d'entrée-sortie linéaire ou non linéaire, peut être utilisé dans le dispositif 7 d'entrée de l'image de la Figure 1. La valeur de la brillance de chaque pixel passe à travers le filtre de normalisation et le signal de sortie provenant de celui-ci est utilisé comme un élément du vecteur de configuration. Par exemple, un filtre de normalisation qui fonctionne de telle sorte que la valeur de la brillance maximum corresponde à "1" et la valeur de la brillance minimum corresponde à "0" représente un exemple typique de filtre. Dans les étapes ST9, ST12 de la Figure 2, après que les images de plaque sans défaut 1 et de plaque 2 devant être inspectée sont reçues, les signaux d'image passent à travers le filtre de normalisation et les signaux d'image de sortie sont stockés dans la mémoire d'images 8. Si la reconnaissance de formes est effectuée de la même façon que celle employée dans le mode de réalisation 1, en utilisant des vecteurs de configuration ayant des éléments qui passent à travers le filtre de normalisation, on peut éviter l'influence d'une variation de contraste dans l'image due à la fluctuation de l'éclairement. MODE DE REALISATION 3. Un autre mode de réalisation du système de reconnaissance de formes suivant la présente invention sera expliqué dans son application à un système de vérification de données de conception assistée par ordinateur (CAO). La Figure 9 est un schéma-bloc représentant la structure du système de vérification. Sur cette Figure, la référence numérique 12 désigne les données de base de la CAO dont la résolution de coordonnées a pour valeur 1, la référence numérique 13 désigne les données de la CAO devant être vérifiées dont la valeur de résolution de coordonnées est égale à 0,5, la référence numérique 14 désigne un dispositif de transformation d'image qui transforme les données 12 et 14 de la CAO en images, la référence numérique 8 désigne une mémoire de trames destinée à stocker l'image transformée, la référence numérique 9 désigne une unité de traitement (CPU), qui calcule la valeur de similitude entre une image transformée depuis les données 12 de la CAO et une image transformée depuis les données 13 de la CAO en utilisant les images stockées dans la mémoire de trames 8, la référence numérique 10 désigne une mémoire destinée à stocker un programme de calcul et des données intermédiaires du traitement du calcul, la référence numérique 11 désigne un dispositif d'affichage ou un visuel qui affiche un résultat de la vérification. Une figure est exprimée par des données numériques qui indiquent les coordonnées des sommets, des longueurs de lignes, des courbures de courbes et ainsi de suite suivant les données de la CAO. Le mode suivant lequel une figure est exprimée en différentes données de résolution de la CAO sera expliqué en utilisant la Figure 10. Comme représenté sur cette Figure, un rectangle ayant quatre sommets (1,4; 0,6), (2,4; 0,6), (2,4; 2,6), (1,4; 2,6) est donné à titre d'exemple. Afin d'exprimer cette figure en données de la CAO, il est nécessaire d'arrondir les valeurs des quatre coordonnées suivant la valeur de résolution de coordonnées de chaque donnée de la CAO. Dans ce mode de réalisation, les valeurs des coordonnées sont ramenées à la valeur la plus proche de chaque résolution. Dans les données 12 de la CAO dont la résolution de coordonnées est "1", les quatre sommets ci-dessus sont exprimés par (1, 1), (2, 1), (2, 3), (1, 3) et ce rectangle est représenté sur la Figure 10 qui est hachurée par des lignes horizontales. Par ailleurs, dans les données 13 de la CAO dont la résolution de coordonnées est "0,5", les quatre sommets ci-dessus sont exprimés par (1,5; 0,5), (2,5; 0,5), (2,5; 2,5), (1,5; 2,5) qui est hachurée par des lignes verticales. Apparemment, les coordonnées 12 de la CAO sont différentes des coordonnées 13 de la CAO. Ainsi, l'identité ou la similitude ne peut être exprimée seulement par la seule comparaison des coordonnées des sommets. Aussi, la vérification est effectuée selon les procédures suivantes. Dans ce cas, les données 12 de la CAO sont considérées comme des données de base et les données 13 de la CAO sont considérées comme des données devant être inspectées. La Figure 11 est un ordinogramme qui représente les procédures des opérations de la reconnaissance de formes suivant ce mode de réalisation. Au début, les données 12 de la CAO sont introduites en entrées dans le dispositif 14 de transformation d'image et les données 12 sont converties en image (étape STS18). L'image est prétraitée suivant des applications des données de la CAO. Au cours du prétraitement, deux sommets sont raccordés par une ligne et la portion qui entoure les lignes est par exemple moirée. Grâce à ce traitement, on obtient l'image représentée sur la Figure 12. On prépare alors le vecteur de configuration fondamentale de la configuration fondamentale de l'emplacement de base et un ensemble de vecteurs de configuration fondamentale est obtenu qui comporte des vecteurs de configuration fondamentale des vecteurs de configuration déplacés depuis la configuration fondamentale de l'emplacement de base en plus du vecteur de configuration fondamentale de l'emplacement de base de la même façon que pour le mode de réalisation 1 (étape ST19). En utilisant l'ensemble de vecteurs de configuration fondamentale, on produit un sous-espace linéaire L (étape ST20). Ensuite, le même prétraitement est effectué sur les données 13 de la CAO devant être vérifiées et on obtient l'image représentée sur la Figure 13. A partir de cette image, on prépare le vecteur de configuration d'essai (étape ST21). Avec ce résultat, une valeur de similitude est calculée par l'unité de traitement CPU 9 dans les procédures de reconnaissance de formes décrites dans le mode de réalisation 1 en utilisant l'expression (4). La valeur de similitude est comparée à une valeur de seuil (étape ST23). Si la valeur de similitude est inférieure ou égale à la valeur de seuil, on conclut que les deux données de la CAO sont différentes l'une de l'autre (étape ST24). Si la valeur de similitude est supérieure à la valeur de seuil, on conclut que les deux données de la CAO sont les mêmes (étape ST25). Les étapes 21 à 26 sont répétées jusqu'à ce que l'on ait terminé la vérification de toutes les données de la CAO (étape ST26). Comme expliqué ci-dessus, dans ce mode de réalisation, une pluralité de configurations qui sont déplacées depuis la configuration fondamentale de l'emplacement de base, sont incluses dans l'ensemble de vecteurs de la configuration fondamentale. Ainsi, l'influence de l'écart de position n'apparaît pas du fait des caractéristiques de dépendance linéaire des vecteurs. Par conséquent, une reconnaissance précise peut être effectuée dans l'intervalle admissible d'écart de position. On obtient par conséquent une similitude entre les sujets qui sont exprimés par les valeurs numériques qui ne peuvent être comparées l'une à l'autre directement. MODE DE REALISATION 4. La reconnaissance de formes suivant l'invention sera expliquée dans son application à un appareil d'inspection qui vérifie la présence d'une soudure sur une électrode d'une plaque à semi-conducteurs. Dans ce mode de réalisation, les vecteurs de configuration fondamentale sont produits à partir de l'image comportant un défaut et la similitude est calculée entre les vecteurs de configuration fondamentale et les vecteurs de configuration d'essai. La Figure 14 est un diagramme-bloc représentant la structure de l'appareil d'inspection. Sur cette Figure, la référence numérique 15 désigne une plaque défectueuse ne comportant pas de soudure, la référence numérique 16 désigne une plaque en cours d'inspection en vue de déterminer la présence d'une soudure, la référence numérique 3 désigne un mécanisme mobile qui déplace les plaques 15 et 16, la référence numérique 4 désigne un microscope qui agrandit l'image de la configuration de la surface des plaques 15 et 16, la référence numérique 5 désigne une caméra CCD qui reçoit l'image de la plaque agrandie par le microscope 4, la référence numérique 6 désigne un dispositif d'affichage qui inspecte l'image reçue par la caméra 5 CCD, la référence numérique 7 désigne un dispositif d'entrée d'image qui effectue une conversion A/D du signal d'image provenant de la caméra 5, la référence numérique 8 désigne une mémoire de trames destinée à stocker un signal d'image numérisé, la référence numérique 9 désigne une unité de traitement CPU qui élabore une valeur de similitude entre la configuration d'une plaque défectueuse 15 et la configuration de la plaque 16 devant être inspectée en utilisant les procédures de reconnaissance de formes qui seront expliquées ci-après plus en détail, la référence numérique 10 désigne une mémoire de stockage d'un programme et des données intermédiaires des traitements, la référence numérique 11 désigne un dispositif de visualisation qui affiche les résultats de l'inspection. La Figure 15 est un ordinogramme représentant les procédures des opérations effectuées par cet appareil. Tout d'abord, la plaque défectueuse 15 est placée sur le mécanisme mobile 3. La caméra CCD 5 balaie la plaque défectueuse 15 et stocke les données d'image dans la mémoire de trames 8 (étape ST27). Sur la base de ces données, on produit un ensemble de vecteurs de configuration fondamentale comme décrit dans le mode de réalisation 1 (étape ST28). Un sous-espace linéaire L est produit en utilisant l'expression (3) (étape ST29). Ensuite, la plaque 16 devant être inspectée est placée sur le mécanisme mobile 3. Pendant que la caméra CCD 5 balaie l'ensemble de la surface de la plaque 16 devant être inspectée (étape ST30), l'unité de traitement CPU 9 calcule une valeur de similitude entre les configurations de la plaque défectueuse 15 et les configurations de la plaque 16 devant être inspectée suivant un mode qui sera décrit ci- après (étape ST31) et compare la valeur de similitude à une valeur de seuil (étape ST32). Il résulte de cette comparaison que lorsque la valeur de similitude est supérieure à la valeur de seuil, on conclut que la plaque 16 ne comporte pas de soudure et que la plaque est défectueuse (étape ST33) et lorsque la valeur de similitude est inférieure ou égale à la valeur de seuil, on conclut que la plaque 16 comporte une soudure et que la plaque est sans défaut (étape ST34). Ces conclusions sont affichées sur le dispositif d'affichage 11. Les étapes ci-dessus ST30 à ST34 sont répétées jusqu'à ce que l'inspection de l'ensemble de la plaque 16 ait été complétée (étape ST35). Ensuite, les procédures de reconnaissance de formes seront expliquées plus en détail telles qu'elles sont effectuées par le programme stocké dans la mémoire 10. Tout d'abord, à l'étape ST28, la configuration fondamentale correspondant à l'emplacement de base de la plaque défectueuse 15 est exprimée par un vecteur à n dimensions. Ensuite, à l'étape ST28, un ensemble de vecteurs de - configuration fondamentale est élaboré qui comporte le vecteur de configuration fondamentale de l'emplacement de base et m-1 vecteurs de configuration fondamentale des vecteurs de configuration qui sont déplacés à partir de la configuration fondamentale de l'emplacement de base. On désigne par L un sous-espace linéaire qui est recouvert par les m vecteurs de configuration fondamentale (étape ST29). Ce sous-espace linéaire L est donné par l'expression (2). Par ailleurs, une configuration de la plaque 16 devant être inspectée est exprimée par un vecteur à n dimensions et ce vecteur est appelé vecteur X de configuration d'essai. Le vecteur X est projeté sur le sous- espace linéaire et l'on élabore un vecteur Xh qui appartient au sous- espace L. Si le vecteur X est similaire aux vecteurs de configuration fondamentale, le vecteur X est à peu près égal à l'un des vecteurs Xi et le vecteur X est en grande partie inclus dans le sous-espace L. Par conséquent, lorsque le vecteur X est projeté sur le sous-espace L, la valeur IXhl indique une valeur de similitude entre 'es vecteurs de configuration fondamentale et un vecteur de configuration d'essai. A savoir, plus la valeur de IXhi est élevée, plus est élevée la similitude entre les vecteurs de configuration fondamentale et un vecteur X de configuration d'essai. Par conséquent, la présence de la soudure peut être estimée en calculant IXh I pour la plaque 16 devant être inspectée. L'on peut utiliser toutes sortes de normes pour autant qu'elles soient conformes à la définition des normes mathématiques. Par exemple, la norme euclidienne {(Xh)TXh}0,5 en est un exemple typique. Lorsqu'on utilise comme projection une projection orthogonale, le vecteur Xh qui appartient au sous-espace L du vecteur X est élaboré comme suit. 1) On élabore une séquence de vecteur Hi (i=l,.... m) orthogonale qui recouvre le sous-espace linéaire L sur la base de l'ensemble des m vecteurs Xi (i=1,..., m) de configuration fondamentale comme représenté par l'expression (3). 2) Un vecteur X de configuration d'essai est projeté suivant une base orthogonale sur le sous-espace L et le vecteur Xh est calculé à partir de l'expression (6) suivante. (X, H.x) Vh = =5 -Hk... (6) k=1 Ik 1| 2 Dans l'expression (6) ci-dessus, m' désigne un nombre de vecteurs de la séquence orthogonale de vecteurs [Hi[. Dans le cas o IHiI=0 au cours du calcul de l'expression (3), m' est inférieur à m ou autrement m'=m. 3) On détermine si un défaut existe éventuellement par une estimation de la valeur de [Xh[ à l'étape ST32 et en fixant une valeur de seuil e appropriée comme suit. Dans le cas o IXht soudure et la plaque est sans défaut (étape ST34). Dans le cas o [Xh >E, il n'existe pas de soudure sur la plaque 16 et la plaque 16 est défectueuse (étape ST33). Gomme expliqué ci-dessus, dans ce mode de réalisation, une pluralité de configurations qui sont déplacées à partir du vecteur de configuration fondamentale de l'emplacement de base sont incluses dans l'ensemble de vecteurs de configuration fondamentale. Ainsi, l'influence de l'écart de position de la plaque n'apparaît pas du fait des caractéristiques de dépendance linéaire des vecteurs. Par conséquent, une reconnaissance précise peut être effectuée dans l'intervalle admissible d'écart de position. MODE DE REALISATION 5. Un autre mode de réalisation de l'invention sera expliqué dans son application à un appareil d'inspection d'aspect extérieur qui inspecte l'aspect extérieur de boulons. Lorsque les aspects extérieurs des boulons sont inspectés, tous les boulons ne sont pas placés suivant la même direction. Ce mode de réalisation concerne une reconnaissance de formes dans laquelle les directions suivant lesquelles sont placés les objets devant être inspectés ne sont pas les mêmes. La Figure 16 est un diagramme-bloc représentant la structure de l'appareil d'inspection d'aspect extérieur suivant ce mode de réalisation. Sur cette Figure, la référence numérique 17 désigne un boulon sans défaut destiné à préparer des vecteurs de configuration fondamentale, la référence numérique 18 désigne un boulon devant être inspecté, la référence numérique 5 désigne une caméra CCD qui reçoit les images des boulons 17 et 18, la référence numérique 6 désigne un dispositif de visualisation qui inspecte l'image reçue par la caméra CCD , la référence numérique 7 désigne un dispositif d'entrée d'image qui effectue une conversion A/D du signal d'image provenant de la caméra 5, la référence numérique 19 désigne un dispositif de décalage d'image qui recherche chaque image de boulon à partir de l'image digitalisée par le dispositif 7 d'entrée d'image et qui fait subir au boulon une translation parallèle de telle sorte que le barycentre de l'image soit placé sur un point déterminé, la référence numérique 8 désigne une mémoire de trames qui stocke l'image décalée, la référence numérique 9 désigne une unité de traitement CPU qui élabore une valeur de similitude entre la configuration du boulon 17 sans défaut et une configuration du boulon 18 devant être inspecté en utilisant les procédures de reconnaissance de formes qui seront expliquées ci-après en détail, la référence numérique 10 désigne une mémoire de stockage d'un programme et des données intermédiaires des traitements, la référence numérique 11 désigne un dispositif de visualisation qui affiche les résultats de l'inspection. La Figure 17 est un ordinogramme représentant les procédures des opérations effectuées par l'appareil ci-dessus. Au début, les données d'image du boulon 17 sans défaut sont décalées de telle sorte que le barycentre du boulon soit placé au point déterminé (étape ST36). Sur la base des données d'image décalées, on produit un ensemble de vecteurs de configuration fondamentale de la même façon que dans le mode de réalisation 1 (étape ST37). Puis un sous-espace linéaire est élaboré sur la base de cet ensemble de vecteurs de configuration fondamentale (étape ST38). Ensuite, l'image du boulon 18 devant être inspecté est introduite dans le dispositif d'entrée d'image et l'image est décalée par le dispositif de décalage d'image 19 de telle sorte que le barycentre de l'image soit placé au point déterminé. Une valeur de similitude entre une configuration de boulon 17 sans défaut et une configuration de boulon 18 devant être inspecté est calculée comme expliqué dans le mode de réalisation 4 en utilisant l'expression (6) (étape ST40). La valeur de similitude est comparée à une valeur de seuil (étape ST41). Si la valeur de similitude est inférieure ou égale à la valeur de seuil, on conclut que le boulon 18 est défectueux (étape ST42). Si la valeur de similitude est supérieure à la valeur de seuil on conclut que le boulon 18 est sans défaut (étape ST43). Les résultats de ces conclusions sont affichés sur le dispositif d'affichage 11. Les étapes 39 à 43 sont répétées jusqu'à ce que les inspections de tous les boulons aient été complétées (étape ST44). Ensuite, les procédures de reconnaissance de formes seront expliquées plus en détail telles qu'elles sont effectuées par le programme stocké dans la mémoire 10 en prenant pour exemple des vecteurs de configuration fondamentale représentés sur les Figures 18A à 18D. Afin de permettre la rotation, ce mode de réalisation utilise une configuration fondamentale de l'emplacement de base représentée sur la Figure 18A et trois configurations fondamentales correspondant à trois rotations successives de 90 degrés chacune représentées sur les Figures 18B à 18D. Chaque configuration est constituée par 6 multipliés par 6 pixels et un vecteur à 36 dimensions comportant 36 éléments de valeur de brillance de ces 6 multipliés par 6 pixels suivant un ordre approprié est défini comme vecteur de configuration. Ensuite, on introduit dans l'opération un ensemble de vecteurs de configuration constitué par 4 vecteurs de configuration fondamentale des configurations fondamentales représentées sur les Figures 18A à 18D. Sur la base de ces 4 vecteurs de configuration fondamentale, on élabore une valeur de [Xhi comme expliqué dans le mode de réalisation 4. Dans ce mode de réalisation, une inspection de défaut peut être effectuée pour des boulons qui sont placés dans des directions quelconques puisque la reconnaissance de formes correspondant à ce mode de réalisation n'est pas affectée par la rotation des configurations. REVENDICATIONS 1. Procédé de reconnaissance de formes dans lequel on compare une première image de référence à une deuxième image devant être inspectée, comportant les étapes qui consistent: à produire un ensemble constitué par un premier vecteur de configuration fondamentale d'une première configuration fondamentale d'un emplacement de base de la première image et des deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale de deuxièmes configurations fondamentales déplacées par rapport à la première configuration fondamentale; à produire un sous-espace linéaire couvert par le premier vecteur de configuration fondamentale et par les deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale inclus dans l'ensemble; à produire un vecteur de configuration d'essai sur la base de la deuxième image; à calculer un vecteur qui appartient à un sous- espace complémentaire du sous-espace linéaire lorsque le vecteur de configuration d'essai est projeté sur le sous-espace linéaire; à calculer une norme de vecteur qui appartient au sous-espace complémentaire; et à mesurer la similitude entre la première image et la deuxième image sur la base de la norme du vecteur. 2. Procédé de reconnaissance de formes selon la revendication 1, dans lequel un nombre d'un premier vecteur de configuration fondamentale et de deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale est inférieur à un nombre correspondant à une dimension des vecteurs de configuration. 3. Procédé de reconnaissance de formes selon la revendication 1, comportant en outre l'étape qui consiste à régler la sensibilité de la mesure de similitude en modifiant un nombre de la dimension des vecteurs de configuration. 4. Procédé de reconnaissance de formes selon la revendication 1, comportant en outre l'étape qui consiste à transformer des données de figure dans lesquelles les coordonnées sont exprimées par des valeurs numériques en des première et deuxième images dans un prétraitement. 5. Procédé de reconnaissance de formes selon la revendication 1, comportant en outre l'étape qui consiste à normaliser des première et deuxième images et dans lequel l'ensemble de vecteurs et le vecteur de configuration d'essai sont produits sur la base des première et deuxième images normalisées. 6. Procédé de reconnaissance de formes selon la revendication 1, dans lequel l'ensemble produit est constitué par un premier vecteur de configuration fondamentale d'une première configuration fondamentale de l'emplacement de base de la première image et des deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale des deuxièmes configurations fondamentales ayant subi une translation parallèle par rapport à la première configuration fondamentale. 7. Procédé de reconnaissance de formes selon la revendication 1, dans lequel l'ensemble produit est constitué par un premier vecteur de configuration fondamentale d'une première configuration fondamentale de l'emplacement de base de la première image et des deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale des deuxièmes configurations fondamentales ayant subi une rotation par rapport à la première configuration fondamentale. 8. Procédé de reconnaissance de formes, dans lequel une première image de référence et une de'uxième image devant être inspectée sont comparées et qui comporte les étapes qui consistent: à produire un ensemble constitué par un premier vecteur de configuration fondamentale d'une première configuration fondamentale d'un emplacement de base de la première image et des deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale des deuxièmes configurations fondamentales déplacées par rapport à la première configuration fondamentale; à produire un sous-espace linéaire couvert par le premier vecteur de configuration fondamentale et les deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale inclus dans l'ensemble; à produire un vecteur de configuration d'essai sur la base de la deuxième image; à calculer un vecteur qui appartient au sous-espace linéaire lorsque le vecteur de configuration d'essai est projeté sur le sous-espace linéaire; à calculer une norme de vecteur qui appartient au sous-espace; et à mesurer la similitude entre la première image et la deuxième image sur la base de la norme du vecteur. 9. Procédé de reconnaissance de formes selon la revendication 8, dans lequel l'ensemble produit est constitué par un premier vecteur de configuration fondamentale d'une première configuration fondamentale de l'emplacement de base de la première image et des deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale des deuxièmes configurations fondamentales ayant subi une translation parallèle par rapport à la première configuration fondamentale. 10. Procédé de reconnaissance de formes selon la revendication 8, dans lequel l'ensemble produit est constitué par un premier vecteur de configuration fondamentale d'une première configuration fondamentale de l'emplacement de base de la première image et des deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale de deuxièmes configurations fondamentales ayant subi une rotation par rapport à la première configuration fondamentale. 11. Appareil de reconnaissance de formes utilisé pour l'inspection de l'aspect extérieur d'un objet, comportant: un moyen d'entrée d'une première image de référence et d'une deuxième image de l'objet; un moyen pour produire un ensemble constitué par un premier vecteur de configuration fondamentale d'une première configuration fondamentale de l'emplacement de base de la première image et des deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale des deuxièmes configurations fondamentales déplacées par rapport à la première configuration fondamentale; un moyen pour produire un sous- espace linéaire couvert par le premier vecteur de configuration fondamentale et des deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale inclus dans l'ensemble; un moyen pour produire un vecteur de configuration d'essai sur la base de la deuxième image; un moyen pour calculer un vecteur qui appartient au sous-espace complémentaire du sousespace linéaire lorsque le vecteur de configuration d'essai est projeté sur le sous-espace linéaire; un moyen pour calculer une norme de vecteur qui appartient au sous-espace complémentaire; un moyen pour mesurer la similitude entre la première image et la deuxième image sur la base de la norme du vecteur; et un moyen pour afficher la similitude. 12. Appareil de reconnaissance de formes selon la revendication 11, comportant en outre un filtre de normalisation qui normalise les première et deuxième images et dans lequel l'ensemble de vecteurs et le vecteur de configuration d'essai sont produits sur la base de la première et de la deuxième images normalisées. 13. Appareil de reconnaissance de formes utilisé pour l'inspection de l'aspect extérieur d'un objet comportant: un moyen d'entrée d'une première image de référence et d'une deuxième image de l'objet; un moyen pour produire un ensemble constitué par un premier vecteur de configuration fondamentale d'une première configuration fondamentale de l'emplacement de base de la première image et des deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale des deuxièmes configurations fondamentales déplacées par rapport à la première configuration fondamentale; un moyen pour produire un sous-espace linéaire couvert par le premier vecteur de configuration fondamentale et par les deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale inclus dans l'ensemble; un moyen pour produire un vecteur de configuration d'essai sur la base de la deuxième image; un moyen pour calculer un vecteur qui appartient au sous-espace linéaire lorsque le vecteur de configuration d'essai est projeté sur le sous-espace linéaire; un moyen pour calculer une norme de vecteur qui appartient au sous-espace linéaire; un moyen pour mesurer la similitude entre la première image et la deuxième image sur la base de la norme du vecteur; et un moyen pour afficher la similitude. 14. Appareil de reconnaissance de formes selon la revendication 13, dans lequel l'ensemble produit est constitué par un premier vecteur de configuration fondamentale d'une première configuration fondamentale de l'emplacement de base de la première image et des deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale des deuxièmes configurations fondamentales ayant subi une translation parallèle par rapport à la première configuration fondamentale. 15. Appareil de reconnaissance de formes selon la revendication 13, dans lequel l'ensemble produit est constitué par un premier vecteur de configuration fondamentale d'une première configuration fondamentale de l'emplacement de base de la première image et des deuxièmes vecteurs de configuration fondamentale des deuxièmes configurations fondamentales ayant subi une rotation par rapport à la première configuration fondamentale. 16. Appareil de reconnaissance de formes selon la revendication 15, comportant en outre un dispositif de décalage d'image qui décale les barycentres des première et deuxième images jusqu'à un point déterminé.