Brevet FR2664397A1 — publié le 19920110

PROCEDE D'ESTIMATION ET D'ETALONNAGE DE LA LUMINATION RECUE PAR UN FILM RADIOGRAPHIQUE L'invention concerne les systèmes de radiologie utilisant un film radiographique et, plus particulièrement dans de tels systèmes, un procédé qui permet de déterminer et d'étalonner la lumination reçue par le film radiographique en vue d'obtenir un noircissement donné dudit film. Un système de radiologie comprend essentiellement un tube à rayons X et un détecteur d'un tel rayonnement entre lesquels est interposé l'objet à examiner tel qu'une partie du corps d'un patient Le récepteur image qui est, par exemple, un couple film-écran, fournit après une durée de pose appropriée et développement du film, une image de l'objet Pour que l'image de l'objet puisse être exploitée dans les meilleures conditions, il faut que les différents points qui constituent cette image présentent entre eux un contraste suffisant, c'est-à-dire que le noircissement du film radiographique soit correct, et cela d'une radiographie à la suivante, malgré les différences d'opacité que peut présenter l'objet radiographié. Le noircissement du film est lié à la quantité d'énergie du rayonnement incident sur le couple film-écran, c'est-à-dire le produit de l'intensité du rayonnement auquel est soumis le film radiographique, ou débit de dose "film", par le temps durant lequel le film est exposé à ce rayonnement En conséquence, pour obtenir un noircissement constant du film d'une radiographie à la suivante, il est connu de mesurer, au cours de l'examen, l'énergie incidente sur le film au moyen d'une cellule de détection, placée en général avant le récepteur, qui est sensible au rayonnement X et qui fournit un courant proportionnel au débit de dose "film" Ce courant est intégré, à compter du début de la pose, dans un circuit intégrateur qui fournit une valeur croissante au cours de la pose Cette valeur croissante est comparée durant le temps de pose à une valeur de consigne fixe, préalablement établie en fonction des caractéristiques du film La fin du temps de pose est déterminée par l'instant auquel la comparaison indique que la valeur représentative de l'énergie incidente sur le film est égale à la valeur de consigne. Dans le cas o le film radiographique est directement soumis au rayonnement X et que la variation des temps de pose d'un examen à l'autre est suffisamment faible, un noircissement constant du film est obtenu d'une pose à la suivante, indépendamment de la durée du temps de pose S, à condition que le produit du temps de pose S par le débit de la dose F soit constant, c'est-à-dire que la valeur résultant de l'intégration doit rester constante Ceci n'est vrai que si les caractéristiques du film obéissent à la loi de réciprocité qui indique que la densité optique du film est proportionnelle au produit F x S et si la réponse du film est indépendante de la qualité du faisceau de rayons X incident. Cette loi de réciprocité n'est plus vérifiée dans le cas o la variation des temps de pose est forte. Par ailleurs, dans le cas o le film radiographique est associé à un écran renforçateur, le noircissement du film dépend de la qualité du spectre En effet, la réponse de l'écran dépend de la répartition énergétique du spectre du rayonnement reçu, ce qui signifie qu'il est sensible au durcissement de spectre et au changement de tension du tube à rayons X. L'écart à la loi de réciprocité, qui varie selon le type de film, représente la variation relative de la lumination nécessaire pour obtenir une densité optique constante lorsque le temps de pose T varie alors que le spectre du rayonnement X est constant Ceci se traduit par le fait que pour obtenir une même densité optique du film, la lumination devra être par exemple de 1 pour un temps de pose S = 0,1 seconde, de 1,3 pour S = 1 seconde et de 2 pour S = 4 secondes. Cet écart à la loi de réciprocité est dû au phénomène connu sous le nom d'effet Schwarzschild Cet effet est décrit notamment dans le livre intitulé "CHIMIE ET PHYSIQUE PHOTOGRAPHIQUES" de Pierre GLAFKIDES 4 ème édition, pages 234 à 238 et édité par PUBLICATIONS PHOTO CINEMA Paul MONTEL. Pour tenir compte de cet écart à la loi de réciprocité, il a été proposé différentes solutions et l'une d'entre elles a été décrite dans le brevet français 2 584 504. Dans ce brevet, il est prévu de comparer la valeur intégrée du signal fourni par la cellule de détection à une valeur de consigne qui varie au cours de la pose selon une loi déterminée Plus précisément, à partir du début de chaque temps de pose, on ajoute à la différence des valeurs du signal intégré et de la consigne une valeur additionnelle qui est croissante en fonction du temps selon une loi préalablement déterminée, par exemple exponentielle. Cette loi préalablement déterminée, qu'elle soit exponentielle ou autre, ne rend compte de l'écart à la loi de réciprocité que de manière imparfaite, notamment en ne tenant pas compte des variations de l'intensité lumineuse effectivement reçue par le film En outre, cette correction ne tient pas compte des effets d'autres phénomènes tels que le durcissement du rayonnement X dû à l'épaisseur d'objet traversé, à la modification du spectre due à la tension du tube à rayons X De plus dans ce procédé, la cellule de détection est placée avant le récepteur image. Le but de la présente invention est donc de mettre en oeuvre un procédé qui permet d'estimer et d'étalonner la lumination reçue par un film radiographique à l'aide des mesures effectuées par le détecteur placé derrière le film radiographique. L'invention concerne un procédé d'estimation et d'étalonnage de la lumination reçue par un film radiographique en vue d'obtenir une densité optique donnée dans un système de radiologie prévu pour examiner un objet qui comprend un tube à rayons X dont la tension d'alimentation peut prendre diverses valeurs Vm, à variation continue ou discrète, et qui émet un faisceau de rayons X sous forme d'impulsions de durée variable S en direction de l'objet à examiner, un récepteur image du rayonnement X ayant traversé l'objet pour réaliser une image dudit objet, une cellule de détection des rayons X qui permet de convertir une grandeur physique caractérisant le faisceau de rayons X en un signal de mesure L, un circuit intégrateur qui intègre le signal de mesure L pendant la durée S et fournit un signal M et un dispositif de calcul du rendement D donné par le rapport de M par le produit I x S, caractérisé en ce qu'il comprend les opérations suivantes: (a) un étalonnage permettant de déterminer le rendement photonique Df sur le récepteur image, (b) la réalisation d'un sensitogramme du type de film utilisé; (c) la mise en place d'un objet d'épaisseur connue Eo; (d) la réalisation d'un cliché de l'objet dans des conditions radiologiques déterminées (D Orefo, Eo, VO, Io et to), ce qui permet de déterminer la lumination sur le film Lfilm. (e) la mesure sur le sensitogramme des échelons d'éclairement de référence Echrefo et de mesure Echm correspondant respectivement à la densité optique de référence D O refo et à la densité optique D Om mesurée sur le cliché; et (f) le calcul de la lumination de référence Lref par la formule: Lref = Lfilm x exp log 1 o Echm ( 25) K avec K = 2/log 1 o ( 2) ( 26) Dans le cas o le récepteur image est composé d'au moins un écran renforçateur et d'un film sensible à la lumière émise et o la cellule de détection est placée derrière le récepteur image, l'opération (a) comprend les opérations suivantes: (al) un premier étalonnage du système de radiologie à l'aide d'objets d'épaisseur Ep en utilisant le récepteur sans le ou les écrans renforçateurs de manière à déterminer la fonction: Dse = f' (Vm, Ep) ( 4) et la fonction inverse: Ep = g' (Vm, Dse) ( 5) (a 2) un deuxième étalonnage du système de radiologie à l'aide des objets d'épaisseur Ep en utilisant le récepteur avec le ou les écrans renforçateurs de manière à déterminer la fonction: Dc = f" (Vm, Ep) ( 6) et la fonction inverse Ep = g" (Vm, Dc) ( 7) ainsi que la fonction: Df = f'(Vm, Ep) f"(Vm,Ep) ( 8) Dans le cas o le récepteur image est un film sensible au rayonnement X et o la cellule de détection est placée devant ou derrière le récepteur image, l'opération (a) est remplacée par l'opération suivante: (a') un étalonnage du système de radiologie de manière à déterminer le rendement photonique D'f tel que: D'f = f"'(Vm, Ep) ( 30) La lumination sur le film Lfilm est déterminée par: Lfilm = Dfo x Io x to ( 23 ') dans le cas o il n'y a pas d'effet de non réciprocité et par: _ Dfo x Io x to Lfilm = CNRT (to) ( 23 ') dans le cas o il est tenu compte d'un effet de non réciprocité défini par CNRT (to). Le coefficient CNRT (to) peut être déterminé de différentes manières. D'autres buts, caractéristiques et avantages de la présente invention apparaîtront à la lecture de la description suivante du procédé selon l'invention et d'un exemple de réalisation d'un système de radiologie pour le mettre en oeuvre, ladite description étant faite en relation avec les dessins joints dans lesquels: la figure 1 est un schéma fonctionnel d'un système de radiologie qui permet de mettre en oeuvre le procédé selon l'invention; la figure 2 est un diagramme montrant des courbes obtenues en mettant en oeuvre un procédé d'étalonnage utilisé dans le procédé selon l'invention, la figure 3 est un diagramme montrant une courbe de variation des coefficients de non réciprocité CNRT en fonction du temps de pose t, la figure 4 est un diagramme montrant des courbes de variation des coefficients de non réciprocité CNRD en fonction de l'inverse du débit d, et la figure 5 est un diagramme montrant des courbes de variation de la densité optique d'un film radiographi- que en fonction de la lumination. Un système de radiologie auquel s'applique le procédé de détermination automatique du temps de pose d'un objet à radiographier 13 selon l'invention comprend une source 11 de rayonnement X tel qu'un tube à rayons X qui fournit un faisceau 14 de rayons X illuminant cet objet 13 et un récepteur image 17, tel qu'un couple film- écran, qui est placé de manière à recevoir les rayons X ayant traversé ledit objet et qui fournit, après une durée de pose S appropriée et développement du film, une image de l'objet 13. Pour mettre en oeuvre le procédé de l'invention, le système comprend, en outre, une cellule de détection 12 qui est placée derrière le récepteur image 17 dans le cas d'un film radiographique avec écran renforçateur. Cette cellule peut être placée devant le récepteur dans le cas d'un film sans écran renforçateur La cellule de détection 12 permet de convertir une grandeur physique caractéristique du rayonnement X ayant traversé l'objet et le récepteur image, tel que le KERMA ou la fluence énergétique, en un signal de mesure L, par exemple de type électrique Le signal L, fourni par la cellule détection 12, est appliqué à un circuit 16 qui réalise une intégration du signal électrique pendant la durée S de la pose Le signal M, qui résulte de l'intégration, est une mesure du rayonnement ayant traversé l'objet 13 pendant la durée S de la pose. La source 11 de rayonnement X est associé à un dispositif d'alimentation 15 qui fournit une haute tension d'alimentation variable Vm du tube à rayons X et qui comprend un appareil de mesure du courant anodique I dudit tube Afin de modifier la durée du temps de pose S, le dispositif d'alimentation 15 et le tube à rayons X comprennent des moyens pour démarrer l'émission de rayons X à un instant précis et l'arrêter après une durée S variable qui est déterminée en fonction du signal M fourni par le circuit 16 et des valeurs de I, S et Vm et, plus précisément, du rapport M/I x S qui est appelé rendement D et qui est calculé par le dispositif 18 Les valeurs du rendement D sont traitées par un calculateur ou microprocesseur 19. Le procédé selon l'invention sera maintenant décrit dans le cadre d'un procédé plus général qui est celui de la détermination automatique de la durée d'exposition d'un film radiographique, procédé qui fait l'objet d'une demande de brevet déposée le même jour que la présente demande et intitulée: "PROCEDE DE DETERMINATION AUTOMATIQUE DE LA DUREE D'EXPOSITION D'UN FILM RADIOGRAPHIQUE ET SYSTEME DE MISE EN OEUVRE". Dans ce procédé de détermination automatique de la durée d'exposition, la première opération consiste à effectuer un étalonnage du système de radiologie de la figure 1 qui aboutit à une fonction d'estimation de la lumination vue par le film radiographique. Le procédé d'estimation de la lumination reçue par un film radiographique est basé sur des étalonnages aboutissant à la définition d'une fonction proportionnelle au débit photonique sur le film, appelée débit-film, et sur un étalonnage permettant de faire le lien entre la fonction débit-film et la lumination reçue par le film dans des conditions de référence fixées et aboutissant à un noircissement donné du film Ce dernier étalonnage sera plus amplement détaillé dans la suite de la description. Les étalonnages qui permettent de définir la fonction débit-film sont dérivés d'un procédé d'étalonnage décrit dans la demande de brevet no 89 07686 déposée le 9 juin 1989 et intitulée " PROCEDE D'ETALONNAGE D'UN SYSTEME RADIOLOGIQUE ET DE MESURE DE L'EPAISSEUR EQUIVALENTE D'UN OBJET " Ce procédé consiste à mesurer le rendement D de la cellule pour chaque étalon aux tensions d'alimentation Vm choisies Plus précisément, avec un premier étalon d'épaisseur El, on effectue une mesure de rendement Dlm pour chaque valeur Vm constituant un ensemble déterminé Ces valeurs Dlm en fonction de la tension Vm peuvent être reportées sur un diagramme pour obtenir les points 21 ' de la figure 2. Les mesures de rendement D sont effectuées pour un autre étalon d'épaisseur E 2 et on obtient les valeurs D 2 m correspondant aux points 22 ' de la figure 2 et ainsi de suite pour obtenir les autres séries de points 23 ', 24 ' et 25 ' correspondant respectivement aux rendements D 3 m D 4 m et D 5 m et aux épaisseurs E 3, E 4 et E 5. Il est à noter que, sur la figure 2, les rendements Dpm ont été reportés en ordonnées logarithmiques tandis que les tensions d'alimentation ont été reportées en abscisses de 20 kilovolts à 42 kilovolts. Ces séries de points 21 ' à 25 ' servent à définir les paramètres d'un modèle analytique qui décrit le comportement du rendement D en fonction des paramètres Vm et Ep pour une configuration donnée du système radiologique Ce modèle analytique sera noté: D = f (Vm, Ep) ( 1) Les paramètres du modèle analytique peuvent être ajustés à l'aide d'outils classiques d'estimation tels que la méthode de minimisation de l'erreur quadratique. Les courbes 21 à 25 représentent la valeur du rendement D donnée par ie modèle analytique représenté par l'expression: D = f (Vm, Ep)= exp lfl (Vm) + Ep x f 2 (Vm)l ( 2) dans laquelle fl (Vm) et f 2 (Vm) sont des polynômes du deuxième degré dont l'expression est donnée par: fl (Vm) = Ao + Al Vm + A 2 V 2 m f 2 (Vm) = Bo + Bl Vm + B 2 V 2 La fonction inverse de celle exprimée par la formule ( 2) permet de calculer Ep si l'on connaît D et Vm en utilisant la formule ( 3) suivante: Ln (D) fl (Vm) Ep = g (Vm,D) = ( 3) f 2 (Vm) sachant que f 2 (Vm) ne peut pas s'annuler pour les valeurs courantes de Vm car le rendement D dépend toujours de l'épaisseur Ep aux tensions Vm considérées. En d'autres termes, à un couple de valeurs (Ep, Vm) correspond une mesure de rendement D, ce qui permet de déterminer Ep en fonction de Vm et D Au cours d'un examen radiologique, une mesure de rendement D qui est effectuée avec une tension d'alimentation Vm donnée permet de déterminer une épaisseur équivalente exprimée dans les unités utilisées pour Ep. Cet étalonnage est effectué par deux fois avec des configurations différentes du système de radiologie en ce qui concerne le récepteur 17 Le premier de ces étalonnages est réalisé avec le récepteur 17 sans écran renforçateur Suivant l'équation ( 1), on détermine une fonction f' qui donne lieu à des valeurs de rendement de il la cellule 12 notées Dse telles que: Dse = f' (Vm, Ep) ( 4) et la fonction inverse: Ep = g' (Vm, Dse) ( 5) La deuxième opération du procédé consiste à effectuer un deuxième étalonnage avec un récepteur 17 muni d'un écran renforçateur et on obtient alors une série de valeurs de rendement Dc et on détermine, comme précédemment, la fonction f" telle que: Dc = f" (Vm, Ep) ( 6) et la fonction inverse Ep = g" (Vm, Dc) ( 7) Des deux étalonnages précédents, on déduit une fonction Df qui représente le rendement sur le film tel que: Df = Dse Dc soit Df = f'(Vm, Ep) f"(Vm Ep) ( 8) Cette fonction Df ne tient pas compte de la modification du spectre du rayonnement X due à la filtration additionnelle entre l'écran renforçateur et la cellule de détection 12 qui provient, par exemple, de la face de sortie de la cassette contenant le couple film-écran. Pour en tenir compte, on remplace Ep dans l'équation ( 8) par (Ep sup filtre) o sup filtre est l'épaisseur équivalente à l'objet radiographié correspondant à cette filtration. On obtient cette épaisseur équivalente en plaçant, par exemple, dans le faisceau 14 un objet équivalent à cette filtration et en utilisant la fonction étalonnée déterminant l'épaisseur équivalente g' ou g" suivant. Comme le produit Df x I x t est proportionnel à l'énergie absorbée dans l'écran renforçateur pendant un temps t et pour un courant anodique I, la quantité Dfx I, notée débit-film, est proportionnelle au débit photonique incident sur le film et est exprimée dans les unités de mesure du signal de la cellule détectrice 12. Cette relation de proportionnalité est d'autant mieux vérifiée que le nombre de photons lumineux émis par l'écran renforçateur est lui- même proportionnel à l'énergie absorbée Si le nombre de photons lumineux émis par l'écran répond à une autre loi en fonction de l'énergie absorbée, il faut appliquer cette autre loi sur Dfx I pour obtenir le "débit-film". Un dernier étalonnage consiste à relier les fonctions électriques précédemment décrites à une valeur du noircissement du film, c'est- à-dire une densité optique, que l'on souhaite obtenir à la fin de la pose Le choix de cette valeur est effectué par le praticien en fonction du couple film-écran, du type de diagnostic, de la partie du corps du patient à examiner et de ses habitudes d'examen des radiographies Ce choix permet de déterminer la lumination de référence, notée Lref, c'est-à-dire la lumination que doit recevoir le film, dans des conditions de référence fixées, pour arriver à un tel noircissement. Ces opérations d'étalonnage ne sont pas effectuées à chaque examen radiologique d'un objet ou d'un patient mais seulement une fois de temps à autre pour tenir compte des variations des caractéristiques du système de radiologie au cours du temps, notamment le vieillissement du tube à rayons X Les résultats de ces opérations sont enregistrés dans la mémoire du microprocesseur 19 sous la forme des fonctions représentées par les équations 4 à 8, ce qui signifie que le microprocesseur 19 sait calculer Ep s'il connaît Dc et peut alors calculer Df. Au cours de l'examen radiologique de l'objet ou du patient, le procédé de détermination automatique de la durée d'exposition consiste à effectuer les opérations principales suivantes: (el) mise en place de l'objet ou du patient à radiographier, (e 2) déclenchement du début de la pose par le praticien, (e 3) mesure du rendement Dc un certain temps t' après le début de la pose, (e 4) calcul de l'épaisseur équivalente à partir de la mesure de rendement Dc, (e 5) calcul du rendement Df au niveau du film, (e 6) estimation de la lumination reçue par le film depuis le début de la pose, (e 7) calcul de la lumination restant à acquérir pour obtenir le noircissement choisi, (e 8) calcul prévisionnel des m A S restant à débiter dans le tube à rayons X pour obtenir le noircissement choisi, (e 9) mesure des m A s, notée m Asmes, débités suivant le cas depuis le début de la pose ou de la mesure précédente, (el O) arrêt du rayonnement X lorsque les m Asmes sont supérieurs ou égaux aux m A S calculés ou retour à l'opération (e 3) dans le cas contraire. Il est à noter que l'on appelle lumination le produit de la quantité de lumière reçue, par exemple l'éclairement EC de la surface sensible, par la durée de l'exposition ou pose. L'opération (e 3) consiste à mesurer la valeur intégrée D fournie par le dispositif 18 un certain temps t' après le début de la pose sachant que l'intégrateur 16 a été remis à zéro soit, suivant le cas, au début de la pose, soit après la dernière mesure Le temps t' d'intégration correspond, suivant le cas, au temps écoulé depuis le début de la pose ou au temps écoulé depuis la dernière mesure. L'opération (e 4) est effectuée par le microprocesseur 19 à partir du premier étalonnage du système de radiologie tel que décrit ci-dessus: elle est régie par l'équation ( 7); on obtient alors une valeur E 1 de l'épaisseur équivalente. Il est à remarquer que pour la deuxième itération du procédé et les suivantes, il n'est pas nécessaire d'effectuer l'opération (e 4) dans la mesure o l'estimation de l'épaisseur équivalente a été suffisamment précise lors de la première itération. L'opération (e 5) consiste à calculer le rendement du film Dfl correspondant à l'épaisseur E 1 en utilisant la fonction définie par l'équation ( 8), ce qui permet de tenir compte, notamment, de l'influence de l'écran du récepteur Cette opération a été décrite succinctement ci-dessus. L'opération (e 6) consiste à estimer la lumination Lf reçue par le film depuis le début de la pose en appliquant l'équation suivante: Lf = Lam + Dfl x Sm A S ( 9) équation dans laquelle Lam est la lumination reçue par le film avant l'opération (e 3) et Sm A S est le nombre de m A.s débités dans le tube pendant le temps t' et est défini par le produit du courant I de tube par le temps d'intégration S. L'opération (e 7) consiste à calculer la lumination restant à acquérir Lra pour obtenir le noircissement choisi; elle est déterminée par l'équation Lra = Lref Lf ( 10) L'opération (e 8) consiste à calculer les m A S restant à débiter pour obtenir le noircissement choisi et qui est donné par l'équation: m Asr = Lra/Dfl ( 11) Il est alors possible de déduire le nombre de m A s débités pendant les calculs, noté m Asc Alors, les m A s restant réellement à acquérir, notés m Asra, sont définis par: M Asra = M Asr m Asc ( 12) o m Asc = I x tc ( 13) avec tc le temps des calculs. L'opération (elo) consiste à effectuer un choix: soit arrêter la pose, soit la continuer selon la valeur des m As restant à débiter ou encore du temps de pose restant à courir, soit recalculer l'estimation de la valeur prévisionnelle du temps de fin de pose. Le critère de fin de pose pourra être le suivant: Si la valeur Dif (m A s) = m Asra m Asmes ( 15) est nulle ou inférieure à une valeur Valo fixée, le microprocesseur 19 arrête le rayonnement X par action sur le dispositif d'alimentation 15 Dans le cas contraire, on revient à l'opération (e 3). Il est possible d'envisager un test supplémentaire sur la valeur du temps de pose restant à courir trc définie par la relation: trc = I Asra ( 14) I Ce test supplémentaire consiste à ne pas modifier la valeur de l'estimation m Asra dans le cas o trc est inférieur à une valeur to Alors la fin de la pose se termine en boucle ouverte en ne poursuivant que les opérations de fin de pose, c'est-à-dire la décrémentation du nombre de m A S débités et arrêt de la pose lorsque ce nombre devient inférieur ou égal à zéro. Une valeur possible de to est une valeur sensiblement égale à l'intervalle de temps séparant deux mesures correspondant à l'opération (e 3) Ainsi, dans ce cas, l'opération (el O) comporte deux tests: un premier test sur m Asra décidant si on arrête ou non la pose, puis un test sur trc pour décider si on entreprend une nouvelle estimation des m As restant à débiter ou si la valeur m Asra reste figée jusqu'à la fin de la pose. Dans ce dernier cas, le test de fin de pose se fera périodiquement avec la valeur m Asra. Par ailleurs, les opérations d'estimation du temps restant à courir et celle de coupure de la pose peuvent être découplées afin d'affiner encore la précision de l'exposeur Ainsi, le procédé se décompose de la manière suivante: une tâche T E destinée à estimer les m A s restant à débiter avant la fin de la pose et une tâche T.C de coupure de la pose Ce sont deux tâches indépendantes qui se déroulent en parallèle. La tâche d'estimation T E des m A S restant à débiter est constituée des opérations (e 3) à (e 8) auxquelles s'ajoute une opération (e'9) de conversion des m A S en un signal dans les unités de la cellule 12 tel que: C Ecible = m Asra x Dc ( 16) Cette tâche d'estimation T E est renouvelée périodiquement pendant la pose, par exemple aux instants tl, t 2, tn qui sont des instants de mesure séparés par une durée qui est au moins égale au temps de calcul tc. A la fin de la tâche d'estimation T E, la valeur cible C Ecible de la tâche de coupure T C est actualisée. Cette actualisation doit tenir compte du signal reçu par la cellule détectrice 12 entre l'instant de mesure au début de l'opération (e 3) et l'instant de l'actualisation de la valeur C Ecible à la fin de l'opération T C. La tâche de coupure de la pose T C est une tâche consistant à décrémenter une valeur donnée ou cible pour la cellule 12 en fonction du signal réellement reçu par cette cellule Cette tâche coupe la pose dès que la valeur C Ecible devient inférieure ou égale à Valo, égale à zéro par exemple. Ainsi, le fonctionnement de la tâche T C se résume aux opérations suivantes: (fi) mesure du signal intégré Mm par la cellule 12 après un certain temps t TC; (f 2) décrémentation de cette valeur à la valeur cible: (C Ecible Mm) (f 3) arrêt de la pose lorsque (C Ecible Mm) est inférieure à Valo, sinon retour en (fi). Le procédé qui vient d'être décrit fonctionne correctement dans la mesure o il n'y a pas d'écart à la loi de réciprocité pour le récepteur 17 et la cellule de détection 12 S'il n'en est pas ainsi, il faut compléter les opérations (e 6) et (e S) pour en tenir compte et déterminer un coefficient de correction par des mesures et calculs particuliers Ce coefficient de correction est introduit dans les équations ( 9) et ( 11) o intervient la lumination et le rendement du film. C'est ainsi que les formules ( 9) et ( 11) deviennent Lf = Lam + Dfl x Sm A s/CNRD (débit-film) ( 9 ') msra =Lra CNRD (débit- film) ( 11 ') Dfî avec débit-film = Dfl x I ( 17) CNRD est la fonction représentant l'effet de non réciprocité exprimé en fonction du débit photonique sur le film. La fonction CNRD est obtenue par un procédé d'étalonnage qui est décrit dans la demande de brevet déposée ce jour et intitulée I" PROCEDE DE DETERMINATION DE LA FONCTION REPRESENTANT L'EFFET DE NON RECIPROCITE D'UN FILM RADIOGRAPHIQUE". Pour la compréhension de la suite de la description, on rappellera que ce procédé d'étalonnage consiste d'abord à déterminer les coefficients de non réciprocité du film en fonction de la durée de pose ti et notés CNRT (ti). Cette fonction CNRT est déterminée expérimentalement et peut être représentée par une fonction analytique. De manière plus précise, le procédé consiste à déterminer pour diverses valeurs I Ri de l'intensité du rayonnement, la valeur ti du temps d'exposition nécessaire pour obtenir une densité optique D Orefo du film fixée, par exemple D Orefo = 1, et à relever les valeurs fournies par le circuit intégrateur 16 pour les différents temps de pose ti, valeurs que l'on appellera M (ti). Ces valeurs sont comparées à une valeur de référence M (tref), qui est par exemple celle correspondant à un temps de pose d'une seconde, en calculant le rapport M (ti) ( 29) M (tref) C'est ce rapport qui détermine le coefficient de non réciprocité en temps CNRT (ti) pour le temps de pose ti. Une autre manière pour déterminer ces coefficients CNRT (ti) sera décrite ultérieurement. Ces coefficients CNRT (ti) sont reliés entre eux en fonction du temps de pose par la courbe de la figure 3 dans le cas, par exemple, d'une densité optique DO = 1 et un temps de pose de référence tref = 1 seconde Cette courbe montre que la lumination nécessaire pour atteindre la densité optique désirée croît avec le temps de pose C'est ainsi que, dans cet exemple, le rapport entre les énergies pour les deux temps de pose de 50 ms et 6,5 S est de l'ordre de 1,6. La courbe de la figure 3 peut être modélisée à l'aide d'une fonction de la forme: CNRT (ti) = Ao + A 1 log t + A 2 llog tl 2 ( 18) dont les paramètres Ao, A 1 et A 2 sont estimés à partir des points de mesure par une procédure d'estimation aux moindres carrés. Dans le principe, l'effet Schwarzschild que l'on prend en compte dans les équations ( 9 ') et ( 11 ') pourrait être modélisé par la fonction CNRT L'intérêt d'utiliser la fonction CNRD indexée en débit est que l'on peut prendre en compte des variations du courant anodique Donc, un exposeur automatique qui utilise la fonction CNRD suivant les équations ( 9 ') et ( 11 ') a, par exemple, pour avantage que le tube peut fonctionner en charge décroissante. Pour passer des coefficients CNRT (t) indexés en temps aux coefficients CNRD (d) indexés en débit, il faut tenir compte du fait que les coefficients CNRT (t) ont été déterminés par des mesures à temps de pose variable sans connaître nécessairement les valeurs du débit photonique sur le film Si l'on mesure pour chaque temps de pose ti le débit-film di, la valeur du coefficient CNRD (di) pour di sera égale à celle du coefficient CNRT (ti) pour le temps de pose ti correspondant selon la relation: CNRD (di) = CNRT (ti) ( 19) Ces différentes valeurs de CNRD (di) sont reliées entre elles par une courbe (figure 4) en fonction de l'inverse l/d du débit Cette courbe peut être modélisée à l'aide d'une fonction de la forme: CNRD (d) = A'o + A'1-log l/d + A'2 llog 1/dl ( 20) Les valeurs di peuvent ne pas être données par l'étalonnage, surtout parce qu'elles sont exprimées dans l'unité de mesure de la cellule 12 qui n'est pas nécessairement celle utilisée dans l'étalonnage Ainsi, en général, il faut relier les valeurs di aux valeurs connues ti par la relation: Lref x CNRT (ti) = di x ti ( 21) ou encore: di= Lref x CNRT (ti) ( 22) ti On rappelle ici que Lref est la lumination que reçoit le film dans des conditions radiologiques fixées et connues lorsque le film atteint un noircissement donné et que l'effet de non réciprocité est corrigé. Pour finaliser la définition de la fonction CNRD, il reste à exposer la méthode d'évaluation de la lumination de référence. La lumination de référence dépend de la densité optique que l'on souhaite obtenir sur le film Pour déterminer cette lumination, la première étape est de réaliser un sensitogramme du type de film utilisé, ensuite il faut réaliser un cliché dans des conditions radiologiques déterminées avec un étalon d'épaisseur connue. Ces conditions radiologiques déterminées sont, par exemple, une densité optique de référence D Orefo choisie en fonction des habitudes du praticien, par exemple D Orefo = 1, un étalon d'épaisseur Eo, une tension d'alimentation VO, une valeur de temps de pose to, une valeur du produit Io x to, Pour ce cliché, on mesure la densité optique D Om ainsi que les valeurs Mo, Io, to, ce qui permet de calculer l'épaisseur équivalente Ep à l'aide de la formule ( 7). On calcule ensuite le rendement Df sur le film à l'aide de la formule ( 6), ce qui permet de calculer la lumination reçue par le film par la formule: Lfilm = Df x Io x to ( 23) La densité optique de référence D Orefo permet de calculer l'échelon d'éclairement correspondant à D Orefo sur la courbe sensitométrique du film utilisé (figure 5), cette courbe ayant été tracée à l'aide d'un sensitographe et d'un densitomètre Ceci permet de tenir compte des caractéristiques de la machine à développer qui est utilisée La courbe est enregistrée, par exemple, sous la forme d'une fonction dans le microprocesseur 19 (fig 1). La densité optique mesurée D Om permet de calculer l'échelon de mesure Echm qui est la valeur de l'échelon d'éclairement correspondant à Dom sur la courbe sensitométrique (fig 5). Avec les valeurs Lfilm de la lumination sur le film, de l'échelon de référence Echref et de l'échelon de mesure Echm, il est possible de calculer la lumination de référence Lref pour obtenir la densité optique D Orefo en utilisant l'équation qui définit le changement d'échelle entre la lumination et l'échelon d'éclairement de l'axe des abscisses de la courbe sensitométrique (figure 5), soit: Avec les valeurs Lfilm de la lumination sur le film, de l'échelon de référence Echref et de l'échelon de mesure Echm, il est possible de calculer la lumination de référence Lref pour obtenir la densité optique D Orefo en utilisant l'équation qui définit le changement d'échelle entre la lumination et l'échelon d'éclairement de l'axe des abscisses de la courbe sensitométrique (figure 5), soit: l Lfilml Echm = Echref + K l g 1 O Lref Lref J ( 24) De cette équation ( 24), on tire: Lref = Lfilm x exp loglo lchref Echml ( 25) K avec K = 2/log 1 o ( 2) ( 26) La constante sensitométrique K correspond à l'échelle retenue pour les échelons d'éclairement. La valeur Lref dépend de to à travers Lfilm par les équations ( 23) et ( 25) Ainsi, la valeur Lref est sensible aux effets de non réciprocité du film Pour corriger l'influence de la non réciprocité sur la valeur de Lref, il suffit d'utiliser dans l'équation ( 23), la valeur Lfilm définie par: Lfilm =Df x Io O ( 23 ') CNRT (to) Cette lumination de référence Lref est celle qui doit être utilisée dans l'équation ( 10) pour obtenir la densité optique de référence D Orefo par exemple D Orefo = 1 et la formule ( 25) montre qu'elle dépend, notamment, de la différence entre l'échelon de référence et l'échelon de mesure. La connaissance de la lumination reçue par le film permet de connaître di par application de la formule ( 22) et à en déduire CNRD (di) par la formule ( 20). Pour une densité optique du film radiographique autre que DO = 1, il est nécessaire d'effectuer de nouveau les opérations décrites ci-dessus de manière à déterminer les nouvelles valeurs de CNRT (ti) et de Lref. Afin de simplifier ces opérations, les coefficients CNRT (ti) peuvent être obtenus en effectuant les opérations suivantes: (gl) réalisation à l'aide d'un sensitographe à temps variable, d'un premier sensitogramme Srefo (figure 5) lorsque le temps de pose est réglé pour un temps de référence trefo; (g 2) réalisation à l'aide du même sensitographe à temps variable, de q sensitogrammes 51 à Sq (figure 5) pour q temps de pose différents ti; (g 3) choix d'une densité optique de référence D Orefo, par exemple D Orefo = 1; (g 4) mesure sur chaque sensitogramme, de l'échelon d'éclairement Echrefo, Echl Echi Echq correspondant à la densité optique D Orefo (DO = 1); (g 5) calcul du coefficient CNRT (ti) par l'équation: r Ir Echreo-Echil CNRT (ti) = exp log 10 -E ( 28) K Si le praticien décide de travailler à une densité optique différente, il est proposé, afin d'éviter l'étalonnage décrit ci-dessus, d'utiliser la densité optique corrigée volontairement pour le noircissement D O cvn Alors la lumination de référence Lref, utilisée dans l'équation ( 10) doit être remplacée par la lumination corrigée Lcvn qui s'exprime par: Lcvn = Lref x exp lCVN/r x P x Log( 10)l ( 27) o CVN est la correction volontaire de noircissement exprimée par un nombre entier de 10 à + 10 par exemple, P est le pas en densité optique, par exemple 0,1, r est la pente de la partie linéaire de la courbe sensitométrique (figure 5). Le procédé qui vient d'être décrit montre que la mise en oeuvre nécessite un certain nombre d'étalonnages qui sont, en résumé, les suivants: (a) l'étalonnage du système radiologique de manière à déterminer les modèles analytiques Dse = f' (Vm, Ep) ( 4) avec cassette sans écran et Dc = f" (Vm, Ep) ( 6) Ep = g' (Vm, Dc) ( 7) avec cassette et écran; La différence Df = (Dse Dc) (équation ( 8)) permettra de déduire le rendement absorbé par l'écran; (b) l'étalonnage du film de manière à déterminer la loi de non réciprocité CNRT (t) exprimée en fonction du temps; cette loi sera utilisée pour déterminer la loi de non réciprocité CNRD (d) exprimée en fonction du débit; (c) l'étalonnage de la lumination de référence Lref. Ces différents étalonnages ayant été effectués, les différentes opérations proprement dites du procédé sont les suivantes: (d) choix, par le praticien, de la valeur de noircissement ou de la valeur de la correction volontaire de noircissement de manière à déterminer la lumination cible Lcvn que doit recevoir le film dans des conditions de référence fixées pour arriver au noircissement (ou densité optique) choisi La lumination Lcvn est calculée à partir de l'équation ( 27) o la lumination Lref est déterminée par l'étalonnage (c) et les équations ( 25) et ( 26). (el) mise en place de l'objet à radiographier; (e 2) déclenchement du début de la pose par le praticien; (e 3) mesure après un temps t' du rendement Dcl au niveau de la cellule ( 12); (e 4) mesure de l'épaisseur équivalente E 1 par l'équation ( 7); (e 5) calcul du rendement Dfl au niveau du film pour l'épaisseur E 1 par l'équation ( 8); (e 6) calcul de la lumination Lf reçue par le film par l'équation: Lf = Lam + Dfl x Sm A s/CNRD (débit-film) ( 9 ') (e 7) calcul de la lumination Lra restant à acquérir pour obtenir le noircissement (ou densité optique) choisi par l'équation Lra = Lcvn Lf ( 10 ') (e 8) calcul prévisionnel des m A S restant à débiter m Asra pour obtenir le noircissement (ou densité optique) par l'équation: m Asra = Lra/Dfl x CNRD (débit-film) ( 11) (e 9) mesure des m A S débités depuis le début de l'opération (e 3). (elo) arrêt de la pose lorsque les m A S mesurés en (e 9) sont égaux ou supérieurs à m Asra. ou retour à l'opération (e 3) lorsque les m A s mesurés en (e 9) sont inférieures à m Asra. La description du procédé qui vient d'être faite correspond à une certaine configuration du système de radiologie Dans le cas o ce système peut prendre plusieurs configurations tels que, par exemple, le choix du matériau d'anode, des dimensions du foyer, du filtre de modification du spectre, de la collimation, de la présence ou absence d'une grille anti-diffusante du type de récepteur image, du type de cellule de détection, il est nécessaire d'effectuer pour chacune de ces configurations des étalonnages (a), (b) et (c) Le nombre de ces étalonnages peut être réduit en tenant compte des similitudes de comportement d'une configuration à l'autre comme cela a été décrit pour l'étalonnage (A) dans la demande de brevet no 89 07686 déposée le 9 juin 1989. Lors de la mise en oeuvre du procédé par le praticien, ce dernier définit la configuration dont les caractéristiques sont transmises au microprocesseur ( 19) de manière que ce dernier utilise les modèles correspondants. Le procédé selon l'invention a été décrit dans son application à un récepteur 17 du type couple film-écran. Il peut aussi être mis en oeuvre dans le cas d'un récepteur 17 ne comportant qu'un film sensible au rayonnement X Avec un tel film, Les étalonnages des opérations (a) et (b) deviennent: (a') étalonnage du système de radiologie de manière à déterminer le modèle analytique: D'f = f "' (Vm, Ep) avec le film comme récepteur image. Dans le déroulement du procédé, les modifications sont les suivantes: (e 3) devient (e'3): mesure après un temps t' du rendement D'fl au niveau de la cellule 12; (e 4) et (e 5) sont supprimées et les opérations (e 6) à (e 8) sont modifiées de la manière suivante: (e'6) calcul de la lumination L'f reçue par le film par l'équation: L'f = Lam + D'fl x 6 m A s/CNRD (débit-film) ( 9 ") (e'7) calcul de la lumination L'ra restant à acquérir pour obtenir le noircissement (ou densité optique) choisi par l'équation: L'ra = Lref L'f ( 10 ") (e'8) calcul prévisionnel des m A S restant à débiter m As'ra pour obtenir le noircissement (ou densité optique) par l'équation: m As'ra = L'ra/D'fl x CNRD (débit-film) ( 11 ") les autres opérations suivantes (e 9) et (el O) étant sans changement. Par ailleurs, il faut noter que le sensitographe peut, dans ce cas, être du type à émission X. En outre, avec un tel récepteur ne comportant pas d'écran renforçateur, la cellule de détection 12 peut être placée, soit derrière le récepteur 17 comme dans le cas du récepteur du type film-écran, soit devant le récepteur 17 si l'énergie du rayonnement le permet. REVENDICATIONS 1 Procédé d'estimation et d'étalonnage de la lumination reçue par un film radiographique en vue d'obtenir une densité optique DO donnée, dans un système de radiologie prévu pour examiner un objet ( 13) qui comprend un tube à rayons X dont la tension d'alimentation peut prendre diverses valeurs Vm, à variation continue ou discrète, et qui émet un faisceau ( 14) de rayons X sous forme d'impulsions de durée variable S en direction de l'objet ( 13) à examiner, un récepteur ( 17) de rayonnement X ayant traversé l'objet pour réaliser une image dudit objet, une cellule ( 12) de détection des rayons X qui permet de convertir une grandeur physique caractérisant le faisceau de rayons X en un signal de mesure L, un circuit intégrateur ( 16) qui intègre le signal de mesure L pendant la durée S et fournit un signal M et un dispositif de calcul ( 18) du rendement D donné par le rapport de M par le produit I x S (ou m A.s), caractérisé en ce qu'il comprend les opérations suivantes: (a) un étalonnage permettant de déterminer le rendement photonique Df sur le récepteur image ( 17). (b) la réalisation d'un sensitogramme du type de film utilisé; (c) la mise en place d'un objet d'épaisseur connue Eo; (d) la réalisation d'un cliché de l'objet ( 13) dans des conditions radiologiques déterminées (D Orefo, Eo, VO, Io et to), ce qui permet de déterminer la lumination sur le film Lfilm. (e) la mesure sur le sensitogramme des échelons d'éclairement de référence Echref et de mesure Echm correspondant respectivement à la densité optique de référence D O refo et à la densité optique D Om mesurée sur le cliché; et (f) le calcul de la lumination de référence Lref par la formule: Lref = Lfilm x exp llolg 10 Echref Echmll ( 25) K avec K = 2/loglo ( 2) ( 26) 2 Procédé selon la revendication 1 dans le cas o le récepteur image ( 17) est composé d'au moins un écran renforçateur et d'un film sensible à la lumière et o la cellule de détection ( 12) est placée derrière le récepteur image ( 17), caractérisé en ce que l'opération (a) comprend les opérations suivantes: (al) un premier étalonnage du système de radiologie à l'aide d'objets d'épaisseur Ep en utilisant le récepteur sans le ou les écrans renforçateurs de manière à déterminer la fonction: Dse = f' (Vm, Ep) ( 4) et la fonction inverse: Ep = g' (Vm, Dse) ( 5) (a 2) un deuxième étalonnage du système de radiologie à l'aide des objets d'épaisseur Ep en utilisant le récepteur avec le ou les écrans renforçateurs de manière à déterminer la fonction: Dc = f" (Vm, Ep) ( 6) et la fonction inverse Ep = g" (Vm, Dc) ( 7) ainsi que la fonction: Df = f'(Vm, Ep) f"(Vm,Ep) ( 8) 3 Procédé selon la revendication 2, caractérisé en ce que pour le calcul du rendement Df sur le film par l'équation ( 8), l'épaisseur équivalente Ep est remplacée par (Ep sup filtre), (sup filtre) étant l'épaisseur équivalente due à la filtration additionnelle résultant de l'atténuation entre l'écran renforçateur et la cellule de détection ( 12). 4 Procédé selon la revendication 1, dans le cas o le récepteur image ( 17) est un film sensible au rayonnement X et o la cellule de détection ( 12) est placée devant ou derrière le récepteur image ( 17), caractérisé en ce que l'opération (a) est remplacée par l'opération suivante: (a') un étalonnage du système de radiologie de manière à déterminer le rendement photonique D'f sur le film: D'f = f"'(Vm, Ep) ( 30) Procédé selon la revendication 4, caractérisé en ce que pour le calcul du rendement D'f sur le film par l'équation ( 30), l'épaisseur Ep est remplacée par (Ep sup filtre), (sup filtre) étant l'épaisseur équivalente due à la filtration additionnelle résultant de l'atténuation entre le film du récepteur ( 17) et la cellule détectrice ( 12). 6 Procédé selon l'une des revendications 1 à 5, caractérisé en ce que la lumination sur le film Lfilm est déterminée par: Lfilm = Dfo x Io x to ( 23) 7 Procédé selon l'une des revendications 1 à 5, caractérisé en ce que la lumination sur le film Lfilm est déterminée par: Lfilm = Dfo x Io x to CNRT (to) 8 Procédé selon la revendication 7, caractérisé en ce que les coefficients CNRT (ti) en fonction du temps de pose ti sont obtenus en effectuant les opérations suivantes: (bl) la modification du courant de chauffage du tube ( 11) de manière à obtenir différentes valeurs dudit courant, (b 2) le relevé des valeurs M (ti) fournies par le circuit intégrateur ( 16) pour différents temps de pose (ti) de manière à obtenir une densité optique DO 1 du film (b 3) le calcul du rapport M (ti) ( 29) M (tref) qui donne le coefficient CNRT (ti) avec M (tref) la valeur M (ti) pour ti = tref 9 Procédé selon la revendication 7, caractérisé en ce que les coefficients CNRT (ti) sont obtenus en effectuant les opérations suivantes: (gl) réalisation à l'aide d'un sensitographe à temps variable, d'un premier sensitogramme Srefo lorsque le temps de pose est réglé pour un temps de référence tref; (g 2) réalisation à l'aide du même sensitographe à temps variable, de q sensitogrammes 51 à Sq pour q temps de pose différents ti; (g 3) choix d'une densité optique de référence D Orefo, (g 4) mesure sur chaque sensitogramme, de l'échelon d'éclairement Echrefo, Echl Echi Echq correspondant à la densité optique D Orefo (g 5) calcul du coefficient CNRT (ti) par l'équation: Echrefo Ech= CNRT (ti) = exp O o 10 I E ( 28) Procédé selon la revendication 8 ou 9, caractérisé en ce qu'il comprend, en outre, une opération de modélisation des coefficients CNRT (ti) sous la forme d'un modèle analytique: CNRT (t) =A O + A 1 log t + A 2 llog tl ( 18)