Brevet FR2649798A1 — publié le 19910118

Dispositif de test d'un circuit électronique L'invention concerne le test d'un circuit électronique. Bien qu'elle trouve une application particulièrement avantageuse dans l'aide au diagnostic de l'origine d'une panne d'un circuit électronique, le terme "test" n'est pas ici associé limitativement à la notion de dépannage mais englobe notamment toute opération de contrôle sur un circuit dont le fonctionnement est supposé correct. Diagnostiquer l'origine d'une panne, et donc localiser le ou les composants défectueux d'un circuit électronique présentant un fonctionnement incorrect, est une opération généralement difficile qui requiert habituellement un personnel qualifié. Face à la diversité des circuits électroniques, dont il ne connais pas toujours la finalité ni les fonctionnalités, le personnel chargé de la maintenance ne dispose souvent que des schémas électriques et parfois du manuel de maintenance, pour mener à bien sa tâche. Ce personnel peut alors exécuter 'là la main" des opérations de mesure et de calcul et gérer lui-même des hypothèses de bon ou de mauvais fonctionnement de certains composants aux fins d'établir un diagnostic. Cependant, toutes ces opérations sont généralement fastidieuses, délicates et nécessitent un temps conséquent avec un risque d'erreur qui peut s'avérer industriellement inacceptable. Une alternative consiste à utiliser des logiciels du type de ceux existant dans les "systèmes experts". Cependant, une telle méthode sous-entend que la panne recherchée a été prévue ou déjà constatée et répertoriée au préalable, ce qui n'est pas forcément le cas de toutes les pannes. De plus, de tels logiciels ne sont pas toujours disponibles pour tous les types de circuits et leur implantation ainsi que leur utilisation sont généralement onéreuses. D'une façon générale, quelle que soit la méthode utilisée, le personnel de maintenance est toujours confronté aux problèmes majeurs de l'interprétation, de l'analyse et de l'utilisation pertinente des mesures et observations qu'il peut effectuer. On ne connais pas à ce jour d'appareils de test, à la fois simples à mettre en oeuvre, à un coût industriellement raisonnable, et assurant une aide efficace au personnel de maintenance dans sa tâche, afin de localiser aussi rapidement et sûrement que possible une panne présumée. L'invention vient apporter une solution à ce problème. Elle vise à proposer un dispositif automatisant les calculs et la gestion dthypothèses afin d'aider le personnel de maintenance dans sa recherche de pannes. Un but de l'invention est de proposer un dispositif dont l'utilisation ne requiert pas nécessairement la description totale du circuit à tester. Un autre but de l'invention est de proposer un dispositif dont l'utilisation ne nécessite aucune connaissance particulière des fonctionnalités du circuit à dépanner ou des symptômes de panne. L'invention a encore pour but de permettre le diagnostic de défaillances analogiques d'un circuit électronique en fonctionnement statique ou dynamique. Un autre but de l'invention est d'offrir une grande sûreté de diagnostic, sans nécessiter de procédures spécifiques prédéterminées de localisation de panne. L'invention vise encore un dispositif utilisant dans une large mesure des éléments du commerce. Généralement, dans un circuit électronique, seules les mesures de différences de potentiel sont accessibles. Cette contrainte a, jusqu'à ce jour, accentué les difficultés d'analyse des phénomènes observés et de synthèse des hypothèses de raisonnement, qui permettent, soit de localiser la panne, soit de poursuivre la recherche à cette fin. Or, la base de l'invention réside dans l'observation surprenante que la seule mesure de différence de potentiel permet, avec des aménagements convenables, d'aFporter une solution- au problème posé. Selon une caractéristique générale de l'invention, le dispositif de test d'un circuit électronique comprend, en combinaison, - des moyens d'interface comprenant des moyens de sonde, aptes à capter la différence de potentiel entre deux bornes choisies du circuit, ainsi que des moyens pour identifier au moins un composant branché entre lesdites bornes, et pour définir un intervalle temporel choisi pour ladite capture, - une première mémoire propre à stocker plusieurs différences de potentiels correspondant au même intervalle de temps, prises entre une borne commune et différentes bornes voisines de celle-ci, - une deuxième mémoire de modèles fonctionnels prédéterminés de composants électroniques, et - des moyens. de traitement, reliés à ces mémoires et aux moyens d'interface, et aptes . à déterminer pour chaque différence de potentiel, une expression de courant tirée du modèle fonctionnel du composant concerné, sur ledit intervalle temporel, a àtester, sur l'ensemble des expressions de courant, en chaque instant dudit intervalle, une condition prenant en compte la nullité présumée du courant total en ladite borne commune; cette comparaison donne alors une première indication sur le fonctionnement des composants branchés à ladite borne commune. D'autres avantages et caractéristiques de l'invention apparaitront à l'examen de la description détaillée ci-aprés et des dessins annexés sur lesquels - la figure 1 est un synoptique schématique d'un dispositif selon l'invention, - la figure 2 représente schématiquement un mode de réalisation particulier d'un dispositif selon l'invention;; - la figure 3 est un organigramme générale de fonctionnement d'un dispositif selon l'invention, - la figure 4 est une partie plus détaillée de l'organigramme de la figure 3, - la figure 5 illustre un exemple d'un circuit électronique à dépanner, - la figure 6 est une courbe relative à l'activation du circuit de la figure 5, - les figures 7 à 10 illustrent des modèles fonctionnels de composants du circuit de la figure 5, - les figures lIA à llE illustrent une utilisation du dispositif dans le cas particulier du circuit de la figure 5, et - les figures 12 à 28 représentent des courbes relatives au test du circuit de la figure 5. Les dessins comportent pour l'essentiel des éléments de caractère certain. A ce titre, ils font partie intégrante de la description et pourront non seulement servir à mieux faire comprendre la description détaillée ci-après mais aussi contribuer, le cas échéant, à la définition de l'invention. Tel qu'illustré sur la figure 1, le dispositif D comprend des moyens de traitement MT reliés à une mémoire MM ainsi qu'à des moyens d'interface MIN avec le circuit CI à dépanner d'une part, et avec l'utilisateur d'autre part. Pour assurer l'interface avec le circuit CI, il est prévu des moyens de sonde aptes à capter la différence de potentiel entre deux bornes choisies du circuit. Ces moyens de sonde comportent généralement deux sondes A0 et Al distinctes, reliées, par l'intermédiaire d'un amplificateur analogique AM à des moyens de numérisation commandable des mesures effectuées MNC. On reviendra plus en détail sur la fonction de ces moyens MNC. L'interface avec l'utilisateur est réalisé au moyen d'un clavier CL et de moyens d'affichage tels qu'un écran MAF. Le çlavier CL permet notamment d'identifier au moins un composant branché entre les bornes choisies du circuit et de définir également un intervalle temporel choisi pour la capture de la différence de potentiel entre ces bornes. D'autres fonctions, assurées par ce clavier, seront détaillées ci-après. Quant à l'écran MAF, il permet notamment l'affichage du diagnostic établi par le dispositif. La mémoire MM peut être découpée fonctionnellement en plusieurs mémoires MMî, MM2, MM3. La première mémoire MM1 est propre à stocker plusieurs différences de potentiel correspondant au même intervalle temporel, prises, comme on le verra, entre une borne commune du circuit et différentes bornes voisines de celle-ci. La deuxième mémoire MM2 contient différents modèles fonctionnels prédéterminés de composants électroniques, représentatifs soit- d'un fonctionnement correct, soit d'un fonctionnement incorrect de ceux-ci. En d'autres termes, ces modèles sont relatifs au comportement présumé de ces composants. On reviendra plus en détail par la suite sur cette notion essentielle de l'invention. La troisième mémoire MM3 loge notamment l'algorithme de fonctionnement du dispositif ainsi que diverses autres données ou instructions relatives à son utilisation. I1 peut être envisagé de réaliser le dispositif tel qu'illustré sur la -figure 2 et donné à titre d'exemple dans le cas d'une application comportant environ 100 composants électroniques. Une unité centrale UC, telle qu'un des nombreux micro-ordinateurs disponibles sur le marché, gère le clavier CL et l'écran alphanumérique MAF comportant par exemple dix lignes et quarante colonnes. Cette unité centrale dispose d'une mémoire de masse, telle qu'une disquette DIS, d'une capacité de 1,44 méga-octet, contenant notamment l'algorithme de fonctionnement du dispositif ainsi que les modèles fonctionnels, ainsi que d'une mémoire centrale de travail d'environ 1 méga-octet. Il est également prévu un organe de capture distinct, tel qu'un oscilloscope numérique OSC, incorporant les moyens de sonde et les moyens de numérisation commpndables NMC. Cet oscilloscope OSC est relié par l'intermédiaire d'une liaison numérique LI telle qu'un bus et d'interfaces appropriées (non représentées ici) à l'unité centrale UC. Bien entendu, d'autres types d'organes de capture peuvent être envisagés, pourvu qu'ils soient aptes à capter une différence de potentiel. Dans cette configuration, le circuit CI à dépanner est relié à un banc de test BAN apte à lui fournir son alimentation en énergie ainsi qu'à activer ses entrées primaires de façon à le faire fonctionner dans une situation particulière dans laquelle la panne se manifeste. Cependant, il peut être envisagé que l'alimentation et l'activation de ce circuit soient fournies directement par le dispositif selon l'invention. On va maintenant décrire d'une façon générale le fonctionnement du dispositif, en se référant plus particulièrement aux figures 3 et 4. Un des principes fondamentaux du dispositif selon l'invention consiste à déterminer des expressions de courant à partir des -différences de potentiel captées entre les bornes de chaque composant d'un ensemble de composants reliés à une même borne commune ou noeud d'observation, et à partir de modèles fonctionnels décrivant leurs comportements respectifs, remarque étant faite que ces modèles peuvent être représentatifs d'un mauvais fonctionnement ou d'un bon fonctionnement, comme on le verra ci-après. Dans une étape 30, l'utilisateur choisit une borne commune BC d'un ensemble de composants. Le choix de cette borne est laissé à l'appréciation de l'utilisateur. Si celui-ci est familiarisé avec le circuit à dépanner ou s'il en connait les fonctionnalités, il peut choisir judicieusement une première borne commune à laquelle sont reliés des composants qu'il juge suspects. Cependant, s'il n'a aucune idée préconçue sur l'origine de la panne, ou s'il ne connait pas les fonctionnalités du circuit, il choisit une première borne commune au hasard et procédera alors de proche en proche pour établir son diagnostic, en étant éventuellement guidé par le dispositif. La première sonde AO est placée au niveau de la borne commune BC (étape 31) tandis que la deuxième sonde Al est placée en une borne voisine BCVi de cette borne commune (étape 32). Dans l'étape 33, l'utilisateur règle ses paramètres de capture en définissant par exemple la base de temps, l'amplitude de la mesure. I1 définit en d'autres termes un intervalle temporel IT pour la capture de la différence de potentiel entre la borne BC et la borne BCVi. Ces divers paramètres peuvent être réglés directement sur l'organe de capture tel que l'oscilloscope numérique ou bien peuvent être entrés dans le système à l'aide du clavier si les moyens de sonde et de numérisation commandables sont par exemple intégrés au dispositif. A ce stade de la description, il convient de détailler cette notion importante de l'invention qui consiste en la définition de l'intervalle temporel IT choisi pour la capture des différentes différences de potentiel. I1 est nécessaire que les captures des différences de potentiel se rapportant à une borne commune donnée, soient effectuées pendant un même intervalle de temps à l'intérieur duquel la défaillance du circuit se manifeste. La définition de cet intervalle temporel IT implique notamment la définition d'une date de début de capture ainsi que celle de la durée de cette capture. Pour les circuits ayant un fonctionnement statique, les différences de potentiel sont stables dans le temps. Par conséquent, les différentes captures peuvent être effectuées à tout instant et la notion de durée de capture est prépondérante devant celle de la date de début de capture. I1 en est de même pour les circuits ayant un fonctionnement dynamique et examinés dans le domaine fréquentiel. En effet, les amplitudes et phases des différents signaux sont alors stables dans le temps pour une fréquence donnée. Les différentes captures de différences de potentiel peuvent donc être également faites à tout instant. Par contre, en ce qui concerne les circuits ayant un fonctionnement dynamique et examinés dans le domaine temporel, il est nécessaire que les formes d'ondes des différences de potentiel aux bornes des composants soient reproductibles dans le temps. Ainsi, par exemple, si l'un des composants présente une période transitoire (en particulier lors d'une mise sous tension), il est nécessaire que les captures des différentes différences de potentiel des autres composants soient effectuées alors que ce composant présente sa période transitoire. Ainsi, dans ce cas particulier, le circuit à dépanner sera mis hors fonctionnement entre chaque capture. La date de début de l'intervalle temporel sera alors la date de la mise sous tension. L'homme de l'art remarque donc que, dans ce cas, la notion de date de début est prépondérante au même titre que la notion de durée. Il convient de remarquer également que la capture sur un intervalle temporel choisi, et non uniquement en un instant précis, permet de détecter des défaillances analogiques de circuits électroniques aussi bien en fonctionnement statique qu'en fonctionnement dynamique, ce que ne pourrait pas réaliser "à la main" un utilisateur en raison du nombre d'opérations et de la diversité de la forme des signaux sur tout l'intervalle temporel choisi. Dans l'étape suivante 34, l'utilisateur identifie le composant branché entre la borne BC et la borne BCVi à l'aide du clavier. I1 peut utiliser à cette fin des touches dédiées du clavier et marquées (par exemple R pour une résistance et Q pour un transistor). Il se sert également de touches numériques pour désigner le repère du composant sur le schéma électrique. L'utilisateur déclenche alors la capture proprement dite de la différence de potentiel, dans l'étape 35, ce qui marque le début d'une série d'opérations effectuées par les moyens de traitement. Les données analogiques correspondant aux différences de potentiel sont numérisées dans les moyens de numérisation commandables MNC et transmises aux moyens de traitement. Ceux-ci sont alors aptes à mémoriser ces informations dans la première mémoire MM1 et à les caractériser pour leur traitement ultérieur, en tenant compte de la représentation schématique du circuit. On peut à cet effet par exemple définir une fenêtre temporelle, un temps de montée, une fréquence et un repère permettant d'attribuer ces caractéristiques au composant correspondant du circuit tel qu'il est repéré dans le schéma électrique. I1 est également avantageux que les moyens de traitement soient aptes à s'assurer de la validité d'une telle capture. A cet effet, ils utilisent notamment lè modèle fonctionnel 37 du composant identifié. Ainsi, si le modèle du composant fait apparaître qu'il est nécessaire de prendre en compte la dérivée temporelle de la différence de potentiel pour l'établissement d'une expression de courant, et que dans le même temps, la période d'échantillonnage choisie pour la capture ne permet pas d'obtenir cette dérivée avec une précision suffisante, les moyens de traitement considéreront la capture effectuée comme non valide car ne permettant pas d'en déduire une expression de courant précise. Dans ce cas alors, des directives peuvent être affichées sur l'écran MAF du dispositif à l'attention de l'utilisateur afin que celui-ci modifie le pas d'échantillonnage. C'est donc notamment en ce sens que les moyens de numérisation MNC sont commandables. On suppose maintenant que la capture a été jugée valide Far les moyens de traitement. Ceux-ci déterminent alors, dans l'étape 36, une expression de courant pour la différence de potentiel captée, tirée du modèle fonctionnel du composant concerné, sur ledit intervalle temporel IT. D'une façon générale, ce modèle peut être représentatif d'un fonctionnement correct du composant ou bien d'un fonctionnement incorrect de celuici. L'utilisation de l'un ou l'autre des modèles est laissée à l'appréciation de l'utilisateur, dans la mesure des modèles disponibles en mémoire. En ce qui concerne les composants de type dipôle (par exemple résistance, condensateur), les modèles- de bon fonctionnement sont une retranscription des lois de la physique régissant ltévolution des paramètres courant-tension. Pour les autres types de composants, les modèles correspondent plutôt à des ensembles de contraintes à satisfaire. Des exemples détaillés de modèles fonctionnels seront décrits ci-après. On peut cependant d'ores et déjà indiquer qu'il est possible d'affecter à un composant électronique donné une pluralité de modèles fonctionnels de complexités différentes. Le dispositif pourra alors utiliser par exemple d'abord un modèle fonctionnel simple et, si le diagnostic aboutit à une conclusion manifestement inattendue, ou aboutit à aucune conclusion, on pourra alors utiliser des modèles de complexité supérieure. Une fois l'expression de courant déterminée par les moyens de traitement, celle-ci est stockée en mémoire en vue du diagnostic. Dans l'étape suivante 38, l'utilisateur place la sonde Al successivement sur les autres bornes voisines reliées à la borne commune BC et le dispositif réexécute successivement les étapes 34-et 36. I1 convient de remarquer ici que les moyens de traitement sont avantageusement aptes à mémoriser la borne commune au sein du circuit à contrôler, ainsi que l'identification des composants branchés à celle-ci. Ainsi, ceci permet, au fil de la procédure, de -construire, de façon incrémentale, une représentation du circuit. De plus, ceci permet à l'utilisateur d'éviter de rentrer les mêmes informations d'une session à l'autre concernant des composants ou des bornes déjà observés. Lorsque toutes les bornes voisines ont été traitées, le dispositif passe alors dans l'étape 39 de diagnostic dont le principe général consiste en un test, par les moyens de traitement, sur l'ensemble des expressions de courant, en chaque instant dudit intervalle temporel IT, d'une condition prenant en compte la nullité présumée du courant total en ladite borne commune, ce qui permet d'obtenir une première indication sur le fonctionnement des composants branchés à cette borne commune. D'une façon générale, ce test de ladite condition comprend la comparaison d'une valeur algébrique à une valeur de référence. Plus précisément, lorsque certaines au moins des expressions de courant sont des valeurs algébriques de courant proprement dites, le test de l'ensemble des expressions de courant comprend la somme algébrique de ces valeurs de courant qui est alors comparée à une valeur de référence. On pourra par exemple tester Si cette somme algébrique est positive ou négative. Dans le cas où toutes les expressions de courant sont des valeurs algébriques proprement dites, on teste si la somme algébrique de toutes les valeurs de courant est égale ou différente de 0, à un seuil de précision près. Plusieurs cas peuvent se produire. Si chaque expression de courant relative à chaque composant branché à la borne commune est tirée d'un modèle fonctionnel représentatif d'un fonctionnement correct du composant, et si la condition prenant en compte la nullité présumée du courant total en ladite borne commune est satisfaite (par exemple la somme algébrique de toutes les valeurs de courant est nulle), alors ladite première indication peut être représentative d'un fonctionnement individuel respectif incorrect d'une pluralité de composants branchés à la borne commune, l'ensemble de tous les composants branchés à cette borne commune ayant globalement un fonctionnement correct. Si au contraire le test ide la condition prenant en compte la nullité présumée du courant total est négatif (la somme algébrique de toutes les valeurs de courant est par exemple différente de 0), alors ladite première indication peut être représentative du fonctionnement incorrect d'au moins un composant branché à ladite borne commune, l'ensemble de ces composants ayant globalement également un fonctionnement incorrect. On a vu que l'on pouvait cependant utiliser des modèles fonctionnels représentatifs de fonctionnements incorrects de composants. Dans ce cas, lorsqu'une seule expression de courant est tirée d'un modèle fonctionnel représentatif d'un fonctionnement incorrect d'un composant, branché à ladite borne commune, tandis que les autres expressions de courant relatives aux autres composants sont tirées respectivement des modèles fonctionnels représentatifs du fonctionnement correct, et lorsque la condition de la nullité présumée du courant total en ladite borne commune est satisfaite, alors ladite première indication signifie qu'effectivement le composant pour lequel un modèle de fonctionnement incorrect a été utilisé est défaillant. Par contre, si le test de ladite condition est négatif (condition de nullité non satisfaite), le composant pour lequel un modèle de fonctionnement incorrect a été utilisé, est "innocenté" de ce mauvais fonctionnement (sous réserve que les autres composants reliés à cette borne commune soient supposés bons) et la recherche doit être poursuivie en appelant un par un successivement d'autres modèles de mauvais fonctionnement pour d'autres composants. I1 est intéressant ici d'introduire les notions de "conflit", "alibi" et "candidat". Pour la définition de ces notions, on se place maintenant dans l'hypothèse de l'utilisation de modèles de bon fonctionnement pour tous les composants branchés à la borne commune. Si le test de la condition prenant en compte la nullité présumée du courant total en ladite borne commune n'est pas satisfaite à la borne commune choisie, il y a alors conflit sur cette borne commune entre les captures d'une part et les hypothèses de bon fonctionnement d'autre part. En d'autres termes, au moins un des modèles utilisés n'est pas vérifié. Dans le cas où le test de cette condition est négatif, on a vu ci-avant que ceci impliquait que tous les composants étaient bons ou qu'au moins deux d'entre eux présentaient des mauvais fonctionnements se compensant. En d'autres termes, pour une borne commune choisie, un composant peut être "innocenté" si le groupe de tous les autres est supposé (ou vérifié)bon. De même, un composant ne peut être considéré comme défaillant que si, au moins un du groupe des autres composants reliés à la borne commune est luimême considéré comme défaillant. On conçoit alors aisément que ledit groupe de composants forme un "alibi" pour le composant considéré. En d'autres termes, un "conflit" est donc un ensemble de composants dont l'un au moins présente un fonctionnement incorrect. Un candidat est un ensemble qui est l'intersection de tous les conflits. Les alibis permettent éventuellement de restreindre les candidats possibles puisqu'un composant possédant un alibi ne peut appartenir à un ensemble candidat que si l'un au moins des éléments de son alibi y est inclus. Ainsi, une fois que le test de la condition de nullité présumée du courant total a été effectué (étape 391), les moyens de traitement gèrent les conflits et les alibis (étape 392)et déterminent les candidats (étape 393). Il convient de définir également la notion de borne commune observable. Une telle borne est présentée comme étant celle dont tous les composants qui y sont branchés sont accessibles à la capture de différences de potentiel. Dans le cas d'un circuit imprimé monocouche par exemple, toutes les bornes du circuit sont observables. Par contre, dans le cas de circuits multicouches, on conçoit aisément que des liaisons intercouches ne puissent pas être physiquement accessibles aux sondes. De telles bornes ne sont alors pas observables. Cette considération conduit alors à la remarque suivante. Au sens de la présente description, la notion de composant n'est pas limitée à celle habituellement attribuée à une résistance ou à un transistor par exemple mais peut désigner également un noeud ou une liaison du circuit inaccessible aux sondes. Dans le cas d'un circuit où toutes les bornes sont observables, un maximum de conflits pourront être détectés et le nombre de candidats possibles sera minimum. Dans le cas contraire, le nombre de candidats possibles peut augmenter, réduisant ainsi les Fossibilités de diagnostic à une partie seulement du circuit à dépanner. Lorsque le diagnostic a été effectué, l'utilisateur peut en demander ou non l'affichage (étape 40). I1 pourra par exemple ne pas le faire s'il estime que, ayant placé la sonde AO en une borne commune de masse, l'affichage du diagnostic ne lui - sera d'aucune utilité. Par contre, les informations mémorisées lors de cette première série de captures seront utiles au dispositif dans la suite de la recherche. L'utilisateur choisit alors une autre orne commune (étape 42) et la succession des opérations se poursuit comme indiqué précédemment. Si l'affichage du diagnostic est demandé, et que le résultat est jugé satisfaisant par l'utilisateur (étape 41), ce qui peut correspondre par exemple à l'affichage effectif d'un seul composant candidat, la recherche est terminée. Dans le cas où le diagnostic affiché révèle un ensemble de candidats, l'utilisateur peut alors choisir une autre borne commune (étape 42) et répéter la succession des opérations jusqu'à réduire le nombre des candidats. Cette autre borne commune est alors avantageusement choisie parmi les bornes voisines de la première borne commune. Ce deuxième ensemble de captures fournira alors une deuxième indication sur l'ensemble des composants branchés à la deuxième borne commune. La -combinaison des première et deuxième indications permettra alors l'affinage du diagnostic en fournissant par exemple une indication sur le fonctionnement d'un composant branché entre les première et deuxième bornes communes. Le résultat peut être également jugé insatisfaisant si, manifestement, le circuit est en panne, et que l'affichage du diagnostic ne révèle aucun candidat. Ceci peut alors signifier par exemple que les modèles utilisés ne sont pas assez précis. L'utilisateur peut alors commander une nouvelle recherche en forçant l'utilisation de modèles de complexité supérieure disponibles. Si le résultat n'est toujours pas satisfaisant, l'utilisateur peut être amené à douter de la conception du circuit ou encore à considérer des aspects autres que purement électriques (du type thermique, ou bien des couplages parasites par exemple)non modélisés et du ressort d'un expert. Le dispositif selon l'invention offre à cet égard une alternative supplémentaire à l'utilisateur. En effet, les moyens de dialogue du dispositif permettent à-l'utilisateur d'enrichir la bibliothèque de modèles en créant lui-même des modèles de bon ou de mauvais fonctionnement pour un composant. L'homme de l'art remarque donc que le dispositif selon l'in- vention offre une grande souplesse d'utilisation. I1 n'exige pas de description préalable du circuit à dépanner et l'utilisateur peut ne pas en connaître les détails de son fonctionnement, voire même ignorer les symptômes de sa défaillance. De plus, les conflits détectés sont indiscutables, c'està-dire qu'il est certain que l'un au moins des composants du conflit est mauvais. Un exemple précis d'utilisation du dispositif va maintenant être illustré sur un cas particulier, en se référant plus particulièrement aux figures 5 à 28. Le circuit électronique à dépanner CI, illustré sur la figure 5, comprend une pluralité de composants dont les caractéristiques sont définies dans l'annexe 1. En ce qui concerne les résistances et le condensateur, les valeurs numériques de ces composants sont fournies. En ce qui concerne les diodes et les transistors, sont fournis un nom de société ainsi qu'une référence sous laquelle le composant est commercialisé par ladite société. Le circuit comporte en outre sept bornes N1 à N7 qui sont toutes observables. Le banc de test BAN Fermettant d'activer ce circuit comprend un générateur d'impulsions EP associé à une résistance RI de 50 ohms et délivrant, sur un intervalle temporel de 20 us, une forme d'onde DPEI en forme de créneau, illustrée sur la figure 6. L'intervalle temporel choisi pour les différentes différences de potentiel captées dans le circuit CI sera donc compris entre 0 et 20 us. Les deux transistors Q1 et Q2 du circuit CI sont des transistors NPN présentant (figure 7), vu de la base, un courant Ib rentrant, vu du collecteur, un courant Ic rentrant, et vu de l'émetteur, un courant Ie sortant. Lorsque la tension Vbe = Vb - Ve, entre la base et l'émetteur, est supérieure ou égale à 0,6 volt, le courant de collecteur Ic est positif et égal à 8(6téta) fois le courant de base Ib, où ss désigne le gain en courant. Lorsque la tension Vbe est inférieure à 0,6 volt, alors le transistor est bloqué et le courant de base Ib est nul. On peut donc définir un premier modèle simple que l'on dénommera "modèle de rang 1" MODQ1, -et défini par les relations Ib > 0 ; Ic > 0. Un modèle de complexité supérieure MODQ2, dénommé "modèle de rang 2", pourra être éventuellement utilisé si le modèle de rang 1 ne donne pas satisfaction. Ce modèle de rang 2 définit les différentes valeurs de ss dans différents états du transistor. I1 convient de remarquer ici que, au sens de la présente description, le terme "expression de courant" peut également englober un gain en courant. Le modèle de rang 1 MODD1, des diodes D1 et D2 du circuit est également un modèle présentant des contraintes à satisfaire. En effet, si la différence de potentiel VAnK entre l'anode An et la cathode K de la diode est supérieure ou égale à 0,6 volt, alors le courant Id traversant cette diode est strictement positif. Dans le cas contraire, ce courant est nul. Les modèles de -rang 1 MODC1 et MODR1 pour respectivement le condensateur et les résistances du circuit (figures 9 et 10) retranscrivent simplement les lois de la physique régissant l'évolution des paramètres courant-tension. On se réfère maintenant plus particulièrement aux figures liA à llE pour décrire les différentes étapes de la recherche de pannes effectuée par l'utilisateur. Les différentes différences de potentiel DPij, entre la borne i et la borne j, sont illustrées sur les figures 12 à 28, de même que les différentes déterminations d'expressions de courant effectuées par les moyens de traitement. Dans l'étape 61, l'utilisateur choisit comme première borne commune la borne N1 et place la sonde AO en cette borne. La sonde Al est placée en la borne N2 ét identifie le transistor Q2 à l'aide du clavier. La capture'de la différence de potentiel DP12 est alors effectuée (étape 62, figure 12). Puisque le composant est un transistor, les moyens de traitement du dispositif devront nécessairement avoir connaissance à un instant ultérieur du traitement de la différence de potentiel entre le collecteur et l'émetteur de ce transistor. Une directive est alors affichée sur l'écran du dispositif (étape 63) afin que. l'utilisateur place la sonde Al en N3 (étape 64). Dans l'étape 65, la capture de la différence de potentiel entre le collecteur et l'émetteur de Q2, DP13, est effectuée (figure 13) et les moyens de traitement peuvent alors déterminer l'expression de courant relative à Q2 (étape 66) en tenant compte à toutes fins utiles du modèle MODQ2. On rappelle ici que cette expression de courant correspond en fait à une contrainte. L'utilisateur poursuit sa démarche en plaçant la sonde Al en une autre borne voisine de la borne commune N1, par exemple en N4 (étape 67) et identifie alors le transistor Q1. La capture de la différence de potentiel DP14 est effectuée dans l'étape 68 et est illustrée sur la figure 14. On retrouve alors, dans l'étape 69, une directive utilisateur analogue à la directive précédente puisqutil s'agit également d'un transistor.En réponse à cette directive, l'utilisateur place la sonde Al en la borne N5 (étape 70) et effectue la capture de la différence de potentiel DP15 (étape 71, figure 15), afin que les moyens de traitement puissent déterminer l'expression de courant relative à Q2 (étape 72) en tenant compte toujours du modèle MODQ2. L'ensemble des observations relatives à la borne commune N1 est maintenant effectué. Cependant, l'utilisateur ne demande pas l'affichage du diagnostic, étant donné qu'il s'agit d'une borne de masse. Cependant, les informations obtenues à l'aide de ces différentes captures sont mémorisées dans le dispositif. L'utilisateur choisit alors, dans l'étape 73, une deuxième borne commune N4 parmi l'ensemble des bornes voisines de la première borne commune N1. I1 place la deuxième sonde Al en la borne N6 et identifie la résistance R2. La capture de la différence de potentiel DP46 est effectuée dans l'étape 74 (figure 16) et le courant traversant la résistance R2 est déterminé dans l'étape 75, à l'aide du modèle MODR1, et est illustré sur la figure 17. La sonde Al est ensuite placée en la borne N3 (étape 76) et le condensateur C1 est identifié. La capture de la différence de potentiel DP43 est effectuée dans l'étape 77 et est illustrée sur la figure 18. Cependant, le modèle du condensateur fait apparaitre le calcul d'une dérivée. Or, la courbe DP43 de la figure 18 révèle une forte pente aux alentours de 10 ps. Les moyens de traitement estiment alors que le pas d'échantillonnage choisi dans cette capture est insuffisant pour obtenir la précision requise dans le traitement. Aussi, une directive est donnée à l'utilisateur dans l'étape 72 de dilater la capture autour de 10 ps. L'utilisateur laisse donc la sonde Al en la borne N3 (étape 79) et effectue à nouveau la capture de la différence de potentiel DP43 avec un pas d'échantillonnage réduit (étape 80, figure 19). Les moyens de traitement peuvent alors déterminer le courant traversant le condensateur C1 (étape 81, figures 20 et 21)à l'aide du modèle MODC1. L'ensemble des mesures relatives à la deuxième borne commune N4 étant effectué, l'utilisateur demande l'affichage du diagnostic dans l'étape 82. Celui-ci est effectué par les moyens de traitement (étape 83) et est illustré plus en détail sur l'annexe 2. Sur cette annexe on rappelle ((I) et (ici) les expressions de courant des transistors Q2 et Q1 qui seraient obtenues en utilisant le modèle de rang 2 et qui ont été mémorisées à toutes fins utiles dans le dispositif. Le diagnostic en la borne commune N4 (III) se traduit par la somme algébrique nulle (iIî.l) des courants -aboutissant ou sortant en cette borne. En fait, le modèle de bon fonctionnement utilisé pour le transistor est ici le modèle de rang 1, ce qui se traduit par l'expression (ici.2). On notera ici que, dans cette expression, le courant de base du transistor Q1 est négatif ou nul car le sens de ce courant est alors vu de la borne N4 et non du transistor Q1. L'expression (III.1) se réduit alors à l'inégalité (III.3). Les moyens de traitement déterminent alors une succession de valeurs pour le courant de base IbQl (111.4). I1 en ressort (III.5) que le courant de base du transistor Q1 est strictement positif entre 10 ps et 10,02 ps. I1 y a donc conflit entre les composants Q1, R2 et C1, ce qu'affiche le dispositif dans l'étape 84. Dans le cas de l'utilisation d'un modèle de rang 2 pour le transistor Q1, il serait nécessaire de déterminer le courant de collecteur IcQi de ce transistor par la formule IcQi = IR1 + IR4 puis le courant de base IbQl en utilisant le gain en courant à l'aide de la formule : IbQ1 = IcQl/ss L'utilisateur poursuit sa recherche de panne en choisissant comme troisième borne commune la borne N3 qui est l'une des bornes voisines de la deuxième borne commune N4. I1 explore dans les étapes 85 à 96 l'ensemble des bornes voisines de cette troisième borne commune. Les différentes différences de potentiel DP3j et les expressions de courant correspondantes sont illustrées sur les figures 22 à 28. L'expression de courant relative à la diode D2 est représentée sur l'annexe 2 par les relations (IV). L'utilisateur demande ensuite l'affichage du -diagnostic relatif à cette borne commune N3 dans l'étape 97. Dans ce diagnostic (étape 98 et relations tV), annexe 2), le test de la condition sur la nullité présumée du courant total en la borne N3 se traduit par la somme algébrique nulle des courants aboutissant et sortant en cette borne. Cependant, ceci se réduit à l'expression (V.3) puisque le courant de collecteur du transistor Q2 doit être négatif vu de la borne N3. De l'ensemble des relations (V.4) sur l'intervalle temporel 0; 20 ps, il ressort (V.5) que le courant de collecteur du transistor Q2 est strictement positif entre 14 ijs et 14,3 p8. I1 y a donc conflit entre les composants Q2, R3, C1 et D2, ce qui est affiché sur l'écran dans l'étape 99. Les moyens de traitement en déduisent donc, en intersectant les deux conflits 84 et 99, que le candidat défaillant est le condensateur C1, ce qui est affiché dans l'étape 100. I1 s'avère effectivement que ce condensateur était coupé. Le dispositif selon l'invention a permis ici de localiser d'une façon souple et rapide la panne et ce, sans que l'utilisateur ait connaissance des fonctionnalités du .circuit. Dans ce cas particulier, un seul composant était en panne mais, bien entendu, le dispositif permet de traiter le cas de fautes multiples. L'invention n'est pas limitée aux modes de réalisation ci-dessus décrits mais en embrasse toutes les variantes définies dans le cadre des revendications ci-après. Bien entendu, certains des moyens décrits ci-dessus peuvent être omis dans les variantes où ils ne servent pas. annexe 1 Résistance R1 : 1 kiloohm Résistance R2 : 10 kiloohms Résistance R3 : 1 kiloohm Résistance R4 : 10 kiloohms Résistance R5 : 10 kiloohms Condensateur C1 : 2 nanofarads Diode D1 : Référence 1N4148 Société Texas Instruments Diode D2 : Référence lN4148 Société Texas Instruments Transistor Q1 : Référence 2N2222A Société Texas Instrumentc Transistor Q2 :Référence 2N2222A Société Texas Instruments Annexe 2 #s : microseconde A : microampère A : ampère (I) Expression de courant de Q2 Ib - O de O à 10 #s 30 Ib = O de 14 Vs à 20 #s (II) Expression de courant de Q1 0 (III.I) : IbQl + IR2 + IC1 = 0 (III.2) : IbQl # 0 (III.3) : -IR2 - IC1 # 0 (III.4) :IbQ1 = -(434,45 UA + 0) de O à 10 us IbQ1 = -(434,43 #A - 1,2A) de 10 #s à 10,02 #s IbQl = -(434,43 #A + 0) de 10,02 lis à (14-#)#s IbQl = -(434,30 #A + 15 000 #A) à (14 +#)#s IbQl = -(434,24 #A + 27 000 #A) à 14,03 vs IbQl = -(434,43 A + O) de 16 Us à 20 #s (III.5) :IbQ1 > 0 entre 10 #s et 10,02 #s Annexe 3 : :microseconde mA : milliampère (IV) Expression de courant de D2 ID2 = 0 de O à 10 us ID2 > 0 de 10 à 14 us ID2 = 0 de 14 à 20 #s (V) Diagnostic en N3 (V.1) : IcQ2 + IR3 + IC1 + ID2 = 0 (V.2) :IcQ2 (V.3) : - 1R3 - IC1 - ID1 # 0 (V.4) :IcQ2 = -(0+0+0) de 0 us à (10-#)#s (IcQ2 =-(4,5 mA + 0+ID2) et ID2 > 0 à 10 us (IcQ2 = -(4,5 mA + 1,2 + ID2) à 10,02 #s et ID2 > 0 IcQ2 = -(4,5 mA + 0 + ID2) de10,03 s à 14 s et ID2 > 0 IcQ2 = -(0 - 27 mA + 0) à 14,3 #s IcQ2 = -(0+0+0) de 14,5 #s à 20 us (V.5) : IcQ2 > 0 entre 14 #s et 14,3 us Revendications 1.- Dispositif de test d'un circuit électronique, caractérisé en ce outil comprend, en combinaison - des moyens d'interface (MIN) comprenant des moyens de sonde (A0,A1), aptes à capter la différence de potentiel entre deux bornes choisies du circuit, ainsi que des moyens (CL) pour identifier au moins un composant branché entre lesdites bornes, et pour définir un intervalle temporel (IT) choisi pour ladite capture, - une première mémoire (mil) propre à stocker plusieurs différences de potentiel correspondant au même intervalle de temps, prises entre une première borne commune et différentes bornes voisines de celle-ci, - une deuxième mémoire (MM2) de modèles fonctionnels prédéterminés de composants électroniques, et - des moyens de traitement (MT) reliés à ces mémoires et aux moyens d'interface, et aptes . à déterminer pour chaque différence de potentiel une expression de courant tirée du modèle fonctionnel du composant concerné, sur ledit intervalle temporel, à à tester, sur l'ensemble des expressions de courant, en chaque instant dudit intervalle temporel, une condition prenant en compte la nullité présumée du courant total en ladite première borne commune, cette comparaison donnant une première indication sur le fonctionnement des composants branchés à ladite première borne commune. 2.- Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que certaines au moins des expressions de courant sont des valeurs de courant, et en ce que le test de l'ensemble des expressions de courant comprend la somme algébrique de ces valeurs de courant. 3.- Dispositif selon l'une des revendications 1 et 2, caractérisé en ce que ladite première indication est représentative du fonctionnement incorrect d'au moins un composant branché à ladite première borne commune, l'ensemble de ces composants ayant globalement un fonctionnement incorrect. 4.- Dispositif selon l'une des revendications 1 et 2, caractérisé en ce que ladite première indication est représentative d'un fonctionnement individ respectif incorrect d'une pluralité de composants branc à ladite première borne commune l'ensemble des compos ,s branchés à cette borne commune ayant globalement un fonctionnement correct. 5.- Dispositif selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la deuxième mémoire (MM2) contient des modèles fonctionnels représentatifs d'un fonctionnement correct pour certains au moins des composants branchés à ladite première borne commune. 6.- Dispositif selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la deuxième mémoire contient des modèles fonctionnels représentatifs d'un fonctionnement incorrect pour certains au moins des composants branchés à ladite première borne commune. 7.- Dispositif selon les revendications 4 et 5 prises en combinaison, caractérisé en ce que chaque expression de courant, relative à chaque composant branché à la première borne commune, est tirée d'un modèle fonctionnel représentatif d'un fonctionnement correct, et en ce que la condition prenant en compte la nullité présumée du courant total en ladite première borne commune est satisfaite. 8.- Dispositif selon les revendications 3, 5 et 6 prises en combinaison, caractérisé'en ce qu'une seule expression de courant est tirée d'un modèle fonctionnel représentatif d'un fonctionnement incorrect du composant correspondant branché à ladite borne commune, tandis que les autres expressions de courant relatives aux autres composants sont tirées respectivement de modèles fonctionnels représentatifs de fonctionnements corrects, et en ce que la nullité présumée du courant total en ladite première borne commune est satisfaite. 9.- Dispositif selon les revendications 3 et 5 prises en combinaison, caractérisé en ce que chaque expression de courant relative à chaque composant branché à ladite première borne commune est tirée d'un modèle fonctionnel représentatif de fonctionnements corrects, et en ce que le test de la condition prenant en compte la nullité présumée du courant total est négatif. 10.- Dispositif selon la revendication 9, caractérisé en ce que les moyens de traitement (MT) sont aptes à tester une deuxième condition prenant en compte la nullité présumée du courant total en une deuxième borne commune choisie parmi les bornes voisines de la première -borne commune, cette comparaison donnant une deuxième indication sur le fonctionnement des composants branchés à ladite deuxième borne commune, et en ce que la combinaison des première et deuxième indications est susceptible de donner une troisième indication sur le fonctionnement d'un composant branché entre les première et deuxième bornes communes. 11.- Dispositif selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la deuxième mémoire (MM2) contient des modèles fonctionnels de complexités différentes (MODQ1, MODQ2). 12.- Dispositif selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que le test de ladite condition prenant en compte la nullité présumée du courant total en ladite borne commune comprend la comparaison d'une valeur algébrique à une valeur de référence. 13.- Dispositif selon l'une des revendications précédentes, caractérise' en ce que les moyens de sonde comprennent deux sondes distinctes (AO,Al) aptes à être placées respectivement aux deux bornes du circuit. 14.- Dispositif selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que les moyens d'interface comprennent des moyens de dialogue (CL,MAF) avec un utilisateur potentiel. 15.- Dispositif selon la revendication 14, caractérisé en ce que les moyens de traitement sont aptes à élaborer des directives d'utilisation et à les communiquer aux moyens de dialogue. 16.- Dispositif selon l'une des revendications 14 et 15, caractérisé en ce que la seconde mémoire (MM2) est apte à recevoir des modèles fonctionnels particuliers susceptibles d'être communiqués aux moyens de traitement par les moyens de dialogue. 17.- Dispositif selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que les moyens d'interface comprennent des moyens (MNC) propres à numériser les informations captées par les moyens de sonde selon un pas d'échantillonnage commandable. 18.- Dispositif selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que les moyens de traitement sont aptes à mémoriser les caractéristiques de la borne commune utilisée pour ladite capture ainsi que les caractéristiques des composants branchés en celle-ci, ce qui permet de construire de façon incrémentale une représentation du circuit. 19.- Dispositif selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il comprend un organe de capture distinct (OSC) incorporant les moyens de sonde, et susceptible d'être relié aux moyens de traitement par une liaison numérique (LI).