Brevet FR2644650A1 — publié le 19900921

} 2644650 "Dispositif de commutation électronique d'attaque de sortie à faibles fluctuations d'impédance pendant les transitions et procédé de mise en oeuvre de ce circuit" La présente invention concerne le domaine des circuits de commutation d'attaque de sortie ou circuits tampons de sortie, et notamment la minimisation des fluctuations de l'impédance de transition pendant les changements d'état d'un circuit d'attaque de sortie ayant deux portes de transmission dont les impédances actives sont nominalement adaptées à celle du circuit ou de la ligne de transmission attaqué(e). Lorsque l'on essaie des dispositifs ou modules à circuits intégrés, il est nécessaire d'appliquer des formes d'onde d'entrée à faible distorsion, aux bornes d'entrée du dispositif en essai. Les bornes d'entrée du dispositif en essai et la sortie de l'appareil d'essai sont reliées par une ligne de transmission qui sera appelée dans la suite "chenin d'entrée/sortie de l'appareil d'essai". Le circuit d'attaque de sortie de l'appareil d'essai produit des formes d'onde qui parcourent le chemin d'entrée/sortie de l'appareil d'essai et fournissent un stimulus à la borne d'entrée du dispositif en essai. Le brevet américain No. 4 707 620 décrit un réseau d'attaque à impédance réglable comprenant une pluralité de portes de transmission en technologie connue sous le nom de CMOS dont chacune est commandée séparément par des codes d'entrée numériques programmables pour faire varier l'impédance globale du réseau dans son état conducteur. Si le dispositif d'attaque (ou dispositif tampon) CMOS a les avantages d'une impédance de sortie réglable, de temps de montée courts qui permettent le fonctionnement jusqu'à 100 MHz ou plus, et d'un coût relativement faible, il a 2 2644650 l'inconvénient de ne pas produire une impédance stable pendant les transitions entre les états logiques. La figure 1 est un schéma simplifié d'un dispositif d'attaque de sortie de l'art antérieur réalisé sur un circuit intégré CMOS, d'un chemin d'entrée/sortie CHEM ES de l'appareil d'essai, extérieur au circuit intégré, et d'un dispositif en essai DES. Les circuits du dispositif en essai peuvent, à un instant quelconque, fournir ou ne pas fournir une résistance de bouclage à une tension de bouclage. Les circuits du dispositif d'attaque de sortie comportent deux réseaux à porte de transmission CMOS et un circuit logique de commande associé. Quand un signal INHIBIT est à l'état excité (c'est-à-dire à l'état haut), les deux réseaux à porte de transmission CMOS sont maintenus non passants c'est-àdire porte fermée, et le dispositif d'attaque est, dans un état à haute impédance, effectivement déconnecté du chemin d'entrée/sortie de l'appareil d'essai. Si le dispositif d'attaque n'est pas inhibé, un "1" logique présent à l'entrée des données DONNEES rend passant le (ouvre la porte du) réseau supérieur à porte de transmission CMOS et, par ce moyen, connecte le niveau de tension V du côté haut au chemin d'entrée/sortie de l'appareil d'essai par l'intermédiaire de l'impédance nominale de la porte de transmission CMOS. Lorsque le signal DONNEES est un "0" logique, le réseau inférieur à porte de transmission CMOS est ouvert (rendu passant) et le niveau de tension V du côté bas est relié au chemin d'entrée/sortie de l'appareil d'essai par l'intermédiaire de l'impédance nominale de cette porte de transmission CMOS. La figure 2 est un chronogramme représentant la manière dont l'impédance de sortie des dispositifs d'attaque peut varier pendant des transitions d'état logique dues à des temps de propagation différents dans 3 2644650 les circuits de la logique de commande de la figure 1. De légères différences entre les temps de transition du signal de validation du côté bas VAL BAS et du signal de validation du côté haut VAL HAUT peuvent conduire à des intervalles d'impédance très élevée (ou trop basse) à la sortie. Le circuit de commande représenté sur la figure 1 ferme régulièrement la porte de transmission qui était validée avant d'ouvrir l'autre porte, de sorte que la fluctuation de l'impédance est toujours dans le sens vers le haut. Normalement, l'impédance des dispositifs d'attaque de sortie est approximativement adaptée à l'impédance du chemin d'entrée/sortie de l'appareil d'essai. Mais, pendant ces intervalles de transition à très haute impédance, un grave défaut d'adaptation d'impédance se produit et cela peut créer -des difficultés dans certaines conditions. En particulier, si un front d'onde de tension réfléchie revient au dispositif d'attaque pendant l'une de ces périodes, le défaut d'adaptation d'impédance résultant provoque une forte réflexion vers le dispositif en essai et la qualité du signal est dégradée. Dans d'autres cas, même lorsque le chemin d'entrée/sortie de l'appareil d'essai est refermé, les périodes dans lesquelles une porte de transmission a été fermée avant que l'autre porte de transmission n'ait été ouverte peuvent provoquer des transitoires et d'autres phénomères aberrants selon la tension à laquelle le chemin d'entrée/sortie de l'appareil d'essai est connecté. Il est donc nécessaire de créer un procédé et un appareillage pour minimiser le défaut d'adaptation d'impédance pendant les transitions entre les états logiques d'un dispositif d'attaque de sortie ayant deux portes de transmission dont les impédances actives sont nominalement adaptées à celle du circuit ou de la ligne de transmission attaqué(e). Aussi, l'invention a pour objet un dispositif de commutation d'attaque (circuit tampon) de sortie du type ayant deux portes de transmission dont les impédances actives sont nominalement adaptées à celle du circuit ou de la ligne de transmission attaqué(e), et un procédé de mise en oeuvre de ce dispositif pour minimiser l'importance de la fluctuation d'impédance de sortie qui se produit pendant les transitions entre les états logiques. L'invention concerne donc un dispositif de commutation d'attaque de sortie du type ayant un circuit de commande pour produire un signal de validation du côté haut et un signal de validation du côté bas, une porte de transmission du côté haut reliée au circuit de commande par un chemin de signal de validation du côté haut, et une porte de transmission du côté bas reliée au circuit de commande par un chemin de signal de validation du côté bas, caractérisé en ce qu'il comprend: - un premier élargisseur d'impulsions variable disposé dans le chemin du signal de validation du côté haut; et - un deuxième élargisseur d'impulsions variable disposé dans le chemin du signal de validation du côté bas. L'amélioration du dispositif de commutation d'attaque de sortie consiste donc à insérer un circuit élargisseur d'impulsions variable et, de préférence, programmable numériquement, dans le chemin des signaux tant de validation du côté haut que de validation du côté bas qui ouvrent et ferment les portes de transmission du côté haut et du côté bas. Un circuit élargisseur d'impulsions, ou "élargisseur d'impulsions", est n'importe quel circuit qui retarde les flancs d'impulsions d'une polarité tout en ne retardant pas les flancs d'impulsions de. l'autre polarité. L'invention concerne aussi un procédé pour minimiser le défaut d'adaptation d'impédance entre une ligne de transmission et un dispositif de commutation d'attaque de sortie relié a la ligne de transmission, dans lequel le dispositif d'attaque de sortie est du type ayant une porte de transmission du côté haut disposée entre une tension de côté haut et une sortie, et une porte de transmission du côté bas disposée entre une tension de côté bas et la sortie, et un circuit de commande pour produire un signal de validation du côté haut et un signal de validation du côté bas, le signal de validation du côté haut étant appliqué à un premier élargisseur d'impulsions variables pour produire un signal de validation du côté haut réglé, et le signal de validation du côté bas étant appliqué à un deuxième élargisseur d'impulsions variable pour produire un signal de validation du côté bas réglé, le signal de validation du côté haut réglé étant appliqué pour ouvrir la porte de transmission du côté haut, et le signal de validation du côté bas réglé étant appliqué pour ouvrir la porte de transmission du côté bas, procédé caractérisé en ce qu'il comprend les étapes consistant à: - faire varier incrémentalement le retard appliqué au premier élargisseur d'impulsions variable; - pour chaque retard varié incrémentalement, envoyer une série d'impulsions positives ayant des durées variant incrémentalement par l'intermédiaire du circuit d'attaque de sortie pour attaquer la ligne de transmission; - pour chaque impulsion de la série d'impulsions positives, observer le degré de distorsion présent; 6 2644-650 - choisir comme valeur de retard désirée pour le premier élargisseur d'impulsions variable la valeur de retard qui a produit le degré minimum de distorsion pour la série d'impulsions positives; - faire varier incrémentalement le retard appliqué au deuxième élargisseur d'impulsions variable; - pour chaque retard varié incrémentalement, envoyer une série d'impulsions négatives ayant des O10 durées variant incrémentalement par l'intermédiaire du circuit d'attaque de sortie pour attaquer la ligne de transmission; - pour chaque impulsion de la - série d'impulsions négatives, observer le degré de distorsion présent; et - choisir comme valeur de retard désirée pour le deuxième élargisseur d'impulsions variable l-a valeur de retard qui a produit le degré minimum de distorsion pour la série d'impulsions négatives. L'invention concerne également un procédé pour minimiser le défaut d'adaptation d'impédance entre une ligne de transmission et un dispositif de commutation d'attaque de sortie connecté pour attaquer la ligne de transmission dans d'autres - circuits d'attaque de sortie analogues lorsqu'un premier tel dispositif d'attaque de sortie a été préalablement minimisé, dans lequel les circuits d'attaque de sortie sont du type ayant un circuit de commande pour produire un signal de validation du côté haut et un signal de validation du côté bas, une porte de transmission du côté haut étant reliée au circuit de commande par l'intermédiaire d'un chemin de signal de validation du côté haut et étant sensible au signal de validation du côté haut, et une porte de transmission du côté bas étant reliée au circuit de commande par l'intermédiaire d'un chemin de signal de validation du côté bas et étant sensible au signal de validation du côté bas, et ayant des circuits élargisseurs d'impulsions comportant chacun un élément à retard variable disposé dans les chemins de validation du côté haut et de validation du côté bas, procédé caractérisé en ce qu'il comprend les étapes consistant à: - déterminer la relation entre l'instant de coupure du signal de validation du côté bas et l'instant d'application du signal de validation du côté haut, d'une part, et entre l'instant de coupure du signal de validation du côté haut et l'instant d'application du signal de validation du côté bas, d'autre part, pour le circuit d'attaque de sortie préalablement minimisé; et - utiliser les relations déterminées pour choisir les valeurs de retard désirées d'autres circuits d'attaque de sortie analogues. Ainsi, l'élément à retard variable de l'élargisseur d'impulsions peut être réglé sur un retard optimal par une méthode empirique qui consiste à appliquer une série d'impulsions de durée variant incrémentalement, au dispositif d'attaque de sortie, tout en surveillant la qualité de la forme d'onde qu'elles produisent. Quelques-unes de ces formes d'onde sont affectées de distorsion du fait que le front d'onde initial issu du dispositif d'attaque a été réfléchi par l'extrémité du chemin d'entrée/sortie située du côté du dispositif en essai et est revenu au dispositif d'attaque pendant la durée du défaut d'adaptation d'impédance. L'élément à retard variable de l'élargisseur d'impulsions est ensuite réglé de manière répétée. Pour chaque valeur du retard variable, une autre série d'impulsions de durée variant incrémentalement est appliquée de nouveau à l'entrée du dispositif d'attaque tandis que la qualité des formes d'onde produites est observée. La valeur optimale du 8 2644650 réglage de l'élément à retard variable est la valeur qui minimise le plus la distorsion des formes d'onde observées. Après que la méthode empirique a été utilisée pour déterminer un ensemble de valeurs optimales de retard, une méthode dite déduite peut être utilisée pour mesurer les instants d'ouverture et de fermeture des portes qui ont donné les valeurs optimales de temporisation. Après cela, la méthode déduite peut être utilisée pour régler la temporisation sur d'autres dispositifs aux mêmes instants sans avoir à passer par la méthode empirique, qui est longue à mettre en oeuvre. D'autres particularités et avantages de l'invention apparaitront à la lecture de la description donnée ci-après en relation avec les dessins annexes, dans lesquels: - la figure 1 est un schéma d'un dispositif d'attaque de sortie CMOS de l'art antérieur; - la figure 2 est un chronogramme illustrant la manière dont les intervalles de défaut d'adaptation d'impédance se produisent; - la figure 3 est un schéma synoptique d'un dispositif d'attaque de sortie généralisé; - la figure 4 est un diagramme synoptique d'un dispositif d'attaque de sortie généralisé amélioré selon l'invention; - la figure 5 est un schéma d'un dispositif d'attaque de sortie CMOS selon l'invention; - la figure 6 est un chronogramme illustrant une partie de la méthode d'étalonnage- selon l'invention; - la figure 7A représente une série d'impulsions ayant chacune des durées différant incrémentalement, présentant une distorsion indiquant un défaut d'adaptation d'impédance; 9 2644650 - la figure 7B représente une série d'impulsions ayant chacune des durées différant incrémentalement, avec une distorsion minimale indiquant une minimisation du défaut d'adaptation d'impédance; - la figure 8A montre comment les points d'application des signaux de validation du côté haut et de validation du côté bas peuvent être mesurés en utilisant une impulsion du dispositif d'attaque de sortie non refermé; - la figure 8B montre comment les points de coupure du signal de validation du côté bas peuvent être mesurés en refermant le dispositif d'attaque de sortie avec une résistance et en invalidant la porte de transmission du côté haut; et - la figure 8C montre comment le point. de coupure du signal de validation du côté haut peut être mesuré en refermant la sortie du dispositif d'attaque avec une résistance et en invalidant la porte de transmission du côté bas. Sur les figures 3 & 8C, les mêmes références que sur les figures 1 et 2 ont été utilisées. La figure 3 est donc un schéma synoptique d'un dispositif d'attaque de sortie généralisé ayant des portes de transmission du côté haut 8 et du côté bas 9 dont les impédances actives sont nominalement adaptées à l'impédance du circuit ou de la ligne de transmission attaqué(e). Le terme "porte de transmission" est employé ici avec son sens le plus large et désigne tout dispositif du genre transistor à effet de champ ou du type MOS ou leurs équivalents fonctionnels, c'est-à-dire tout dispositif ayant une certaine impédance active nominale et un état à haute impédance qui peut être commandé pour relier entre eux ou séparer l'un de l'autre deux autres circuits par l'intermédiaire de l'impédance active. Dans un sens É 2644650 plus étroit, le terme "porte -de transmission" désigne une porte de transmission CMOS, qui est un type de porte de transmission avec des caractéristiques idéales. Dans une porte de transmission CMOS, des dispositifs à canal p et à canal n sont montés en parallèles, de façon que les changements de résistance nominale des deux canaux s'annulent mutuellement lorsque les tensions de source et de drain approchent les valeurs des tensions de commande, alors que dans un dispositif fondé sur l'emploi d'un seul type de canal, la résistance change de manière importante lorsque cela se produit. Lorsque c'est la définition au sens plus étroit qui s'applique dans ce qui suit, on emploie le terme "porte de transmission CMOS". Considérant la figure 3, on voit que lorsqu'un "1" logique apparaît dans la ligne de données DONNEES, en l'absence d'un "1" logique dans la ligne d'inhibition INHIBIT, le circuit de commande 2 produit un état de signal excité dans la ligne de signal de validation du côté haut VAL HAUT et un état non excité dans la ligne de signal de validation du côté bas VALT BAS. Un état de signal excité dans la ligne de signal de validation du côté haut amène la porte de transmission du côté haut 8 à changer son impédance d'une valeur très élevée approchant l'infini à sa valeur active nominale. L'état de signal non excité dans la ligne de signal de validation du côté bas amène la porte de transmission du côté bas 9 à changer son impédance de sa valeur active nominale à une valeur très élevée approchant l'infini. Sauf si la temporisation relative du signal de validation du côté haut VAL HAUT et du signal de validation du côté bas VAL BAS est absolument correcte, les changements de valeur d'impédance des portes de transmission 8 et 9 ne se produisent pas exactement au même instant, ce qui a pour résultat que l'impédance l 2644650 présentée à la sortie varie pendant la transition d'une valeur logique & l'autre. La figure 4 représente le dispositif d'attaque de sortie généralisé de la figure 3 avec un élargisseur d'impulsions 4, 6 inséré dans chaque chemin de signal de validation. Si l'on choisit correctement les valeurs de retard pour ces élargisseurs d'impulsions variables, il est possible de donner aux signaux de validation du côté haut VAL HAUT et de validation du côté bas VAL BAS réglés la relation temporelle exacte nécessaire pour minimiser la variation de l'impédance de sortie du dispositif d'attaque pendant les changements d'état logique. La figure 5 est un schéma d'un dispositif d'attaque de sortie utilisant des portes de transmission CMOS comme le circuit de la figure 1, mais amélioré selon l'invention comme cela est représenté sur la figure 4. On voit que l'élargisseur d'impulsions variable 4 comprend une porte NI (ou "NOR") 3 et un élément à retard variable 5, avec le signal de validation du côté haut issu du circuit de commande 2 appliqué directement à une entrée de la porte NI et indirectement à l'autre entrée, par l'intermédiaire de l'élément à retard variable. Idéalement, l'élément à retard variable est programmable numériquement pour pouvoir être commodément commandé par un microprocesseur. La figure 6 montre comment l'application de différentes valeurs à l'élément à retard variable programmable 5 (figure 5) peut être employée pour déplacer les flancs à pente négative des signaux de validation du côté bas et de validation du côté haut pour minimiser l'amplitude. et la durée du défaut d'adaptation d'impédance. Les valeurs d'impédance indiquées dans la moitié inférieure de la figure 6 ne sont pas mesurées directement et sont déduites de la 12 2644650 présence ou l'absence de distorsion dans la forme d'une série d'impulsions ayant chacune des durées différant incrémentalement telles qu'elles sont observées à l'extrémité refermée (dispositif en essai) du chemin d'entrée/sortie de l'appareil d'essai. Cette méthode a été appelée plus haut "méthode empirique" et le sera dans ce qui suit. La figure 7A représente une série d'impulsions ayant chacune des durées différant incrémentalement, avec de la distorsion clairement présente dans certaines d'entre elles, ce qui indique un défaut d'adaptation d'impédance. Si une telle série d'impulsions est examinée pour chaque valeur- d'un ensemble de valeurs de retard de l'élargisseur d'impulsions, l'une des valeurs de retard produit une série d'impulsions présentant un minimum de distorsion, comme cela est représenté sur la figure 7B. Considérant la figure 8A, avec le chemin d'entrée/sortie de l'appareil d'essai non refermé, le niveau du signal à la sortie du dispositif d'attaque ne réagit pas immédiatement quand le signal de validation du côté bas amène la porte de transmission CMOS du côté bas à passer à son état à haute impédance. Par contre, le niveau du signal réagit quand le signal de validation du côté haut amène la porte de transmission CMOS du côté haut à passer à son état à impédance nominale. De même, pendant la transition du passage à l'état bas, le niveau du signal à la sortie du dispositif d'attaque de sortie ne réagit pas immédiatement quand le signal de validation du côté haut amène la porte de transmission CMOS du côté haut à passer à son état à haute impédance. Par contre, le niveau du signal de sortie réagit quand le signal de validation du côté bas amène la porte de transmission CMOS du côté bas à passer à son état à impédance nominale. Par conséquent, à partir du fonctionnement du 13 2644650 dispositif d'attaque de sortie avec le chemin d'entrée/sortie de l'appareil d'essai non refermé, les instants d'application des signaux de validation du côté haut et de validation du côté bas peuvent être localisés dans le temps par rapport à un signal de référence commode tel que le signal d'entrée de données DONNEES appliqué aux circuits de commande 2. Considérant maintenant la figure 8B, avec le chemin d'entrée/sortie de l'appareil d'essai remplacé par une résistance et la porte de transmission CMOS du côté haut temporairement invalidée, la position dans le temps de la coupure du signal de validation du côté bas peut être déterminée. (Si la porte de transmission CMOS est du type amélioré décrit dans le brevet américain No.4 707 620, de sorte que la résistance active nominale peut être réglée, cette possibilité de réglage peut être utilisée pour régler l'impédance active nominale presque à l'infini, ce gui l'invalide). Et, de même, comme cela est représenté sur la figure 8C, avec le chemin d'entrée/sortie de l'appareil d'essai remplacé par une résistance et la porte de transmission CMOS du côté bas temporairement invalidée, la position dans le temps de la coupure du signal de validation du côté haut peut également être déterminée. En utilisant la méthode qui vient d'être décrite pour mesurer les instants d'ouverture et de fermeture des deux portes de transmission CMOS, qui sera appelée "méthode déduite", on peut mesurer les instants correspondants pour un dispositif d'attaque de sortie dont les fluctuations d'impédance pendant les transitions ont déjà été minimisées selon la méthode empirique décrite plus haut. Lorsque ces instants ont été déterminés, ils peuvent être utilisés en appliquant de nouveau la méthode déduite pour régler les éléments à retard variable d'autres dispositifs d'attaque de sortie analogues non étalonnés sans avoir besoin de 14 2644650 recourir de nouveau à la méthode empirique. Par "analogues", il faut entendre que la méthode déduite n'est applicable qu'aux dispositif d'attaque de sortie dans lesquels les circuits de porte de transmission ont été réalisés par le même procédé en utilisant les mêmes jeux de masques, de sorte que les caractéristiques locales de temporisation des portes de transmission sont les mêmes. Si une forme de réalisation préférée de l'invention a été représentée et décrite ici, il n'en est pas moins apparent à l'homme de métier que de nombreuses variations et modifications peuvent être apportées à l'invention sans sortir du cadre de celle- ci, définie par les revendications annexées. 2644650 REVENDICATIONS 1 - Dispositif de commutation d'attaque de sortie du type ayant un circuit de commande (2) pour produire un signal de validation du côté haut et un signal de validation du côté bas, une porte de transmission (8) du côté haut reliée au circuit de commande (2) par un chemin de signal de validation du côté haut, et une porte de transmission (9) du côté bas reliée au circuit de commande (2) par un chemin de signal de validation du côté bas, caractérisé en ce qu'il comprend: - un premier élargisseur d'impulsions variable (4) disposé dans le chemin du signal de validation du côté haut; et - un deuxième élargisseur d'impulsions variable (6) disposé dans le chemin du signal- de validation du côté bas. 2 - Dispositif d'attaque de sortie selon la revendication 1, caractérisé en ce que les premier et deuxième élargisseurs d'impulsions variables (4, 6) comprennent chacun une porte NI à deux entrées (3) et un élément à retard variable (5), le signal de validation respectif étant appliqué directement à une entrée de la porte NI (3) et indirectement à l'autre entrée de la porte NI (3) par l'intermédiaire de l'élément & retard variable (5). 3 - Dispositif d'attaque de sortie selon la revendication 2, caractérisé en ce que l'élément à retard variable est programmable numériquement. 4 - Dispositif d'attaque de sortie selon la revendication 1, caractérisé en ce que les portes de transmission du côté haut et du côté bas (8, 9) comprennent des portes de transmission CMOS. - Dispositif d'attaque de sortie selon la revendication 4, caractérisé en ce que chacune des 16 2644650 portes de transmission CMOS comprend une pluralité de portes de transmission CMOS dans un réseau. 6 - Procédé pour minimiser le défaut d'adaptation d'impédance entre une ligne de transmission et un dispositif de commutation d'attaque de sortie relié à la ligne de transmission, dans lequel le dispositif d'attaque de sortie est du type ayant une porte de transmission du côté haut (8) disposée entre une tension de côté haut et une sortie, et une porte de transmission du côté bas (9) disposée entre une tension de côté bas et la sortie, et un circuit de commande (2) pour produire un signal de validation du côté haut et un signal de validation du côté bas, le signal de validation du côté haut étant appliqué à un premier élargisseur d'impulsions variables (4) pour produire un signal de validation du côté haut réglé, et le signal. de validation du côté bas étant appliqué à un deuxième élargisseur d'impulsions variable (6) pour produire un signal de validation du côté bas réglé, le signal de validation du côté haut réglé étant appliqué pour ouvrir la porte de transmission du côté haut (8), et le signal de validation du côté bas réglé étant appliqué pour ouvrir la porte de transmission du côté bas (9), procédé caractérisé en ce qu'il comprend les étapes consistant à: - faire varier incrémentalement le retard appliqué au premier élargisseur d'impulsions variable (4); - pour chaque retard varié incrémentalement, envoyer une série d'impulsions positives ayant des durées variant incrémentalement par l'intermédiaire du circuit d'attaque de sortie pour attaquer la ligne de transmission; - pour chaque impulsion de la série d'impulsions positives, observer le degré de distorsion présent; 264405C - choisir comme valeur de retard désirée pour le premier élargisseur d'impulsions variable (4) la valeur de retard qui a produit le degré minimum de distorsion pour la série d'impulsions positives; - faire varier incrémentalement le retard appliqué au deuxième élargisseur d'impulsions variable (6); - pour chaque retard varié incrémentalement, envoyer une série d'impulsions négatives ayant des durées variant incrémentalement par l'intermédiaire du circuit d'attaque de sortie pour attaquer la ligne de transmission; - pour chaque impulsion de la série d'impulsions négatives, observer le degré de distorsion présent; et - choisir comme valeur de retard désirée pour le deuxième élargisseur d'impulsions variables (6) la valeur de retard qui a produit le degré minimum de distorsion pour la série d'impulsions négatives. 7 - Procédé selon la revendication 6, caractérisé en ce qu'il comprend en outre les étapes consistant à: - déterminer la relation entre l'instant de fermeture de porte par le signal de validation du côte bas et l'instant d'ouverture de porte par le signal de validation du côté haut, d'une part, et entre l'instant de fermeture de porte par le signal de validation du côté haut et l'instant d'ouverture de porte par le signal de validation du côté bas, d'autre part; et - utiliser les relations déterminées pour choisir les valeurs de retard désirées d'autres circuits d'attaque de sortie analogues. 8 - Procédé selon la revendication 7, caractérisé en ce que l'étape de détermination de ladite relation comprend les phases consistant à: enlever tout élement refermant la ligne de transmission; - localiser l'instant d'application du signal de validation du côté haut; - localiser l'instant d'application du signal de validation du côté bas; - refermer la ligne de transmission; - invalider la porte de transmission du côté haut; - localiser l'instant de coupure du signal de validation du côté bas; valider la porte de transmission du côté haut; - invalider la porte de transmission du côté bas; - localiser l'instant de coupure du signal de validation du côté haut; - valider la porte de transmission du côté bas; calculer la différence entre l'instant de coupure du signal de validation du côté bas et l'instant d'application du signal de validation du côté haut; et - calculer la différence entre l'instant de coupure du signal de validation du côté haut et l'instant d'application du signal de validation du côté bas. 9 - Procédé selon la revendication 7, caractérisé en ce que l'étape d'utilisation desdites relations déterminées comprend en outre les phases consistant à: - enlever tout élément refermant la ligne de transmission; - localiser l'instant d'application du signal de validation du côté haut; 19 2644650 - localiser l'instant d'application du signal de validation du côté bas; refermer la ligne de transmission; - invalider la porte de transmission du côté haut; - choisir l'instant de coupure du signal de validation du côté bas qui vérifie la relation trouvée; - valider la porte de transmission du côté haut; - invalider la porte de transmission du côté bas; - choisir l'instant de coupure du signal de validation du côté haut qui vérifie la relation trouvée; et - valider la porte de transmission du côté bas. Procédé pour minimiser le défaut d'adaptation d'impédance entre une ligne de transmission et un dispositif de commutation d'attaque de sortie connecté pour attaquer la ligne de transmission dans d'autres circuits d'attaque de sortie analogues lorsqu'un premier tel dispositif d'attaque de sortie a été préalablement minimisé, dans lequel les circuits d'attaque de sortie sont du type ayant un circuit de commande (2) pour produire un signal de validation du côté haut et un signal de validation du côté bas, une porte de transmission du côté haut (8) étant reliée au circuit de commande (2) par l'intermédiaire d'un chemin de signal de validation du côté haut et étant sensible au signal de validation du côté haut, et une porte de transmission du côté bas étant reliée au circuit de commande (2) par l'intermédiaire d'un chemin de signal de validation du côté bas et étant sensible au signal de validation du côté bas, et ayant des circuitsélargisseurs 2644650 d'impulsions (4, 6) comportant chacun un élément à retard variable disposé dans les chemins de validation du côté haut et de validation du côté bas, procédé caractérisé en ce qu'il comprend les étapes consistant à: - déterminer la relation entre l'instant de coupure du signal de validation du côté bas et l'instant d'application du signal de validation du côté haut, d'une part, et entre l'instant de coupure du signal de validation du côté haut et l'instant d'application du signal de validation du côté bas, d'autre part, pour le circuit d'attaque de sortie préalablement minimisé; et - utiliser les relations déterminées pour choisir les valeurs de retard désirées d'autres circuits d'attaque de sortie analogues. 11 - Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce que l'étape de détermination de ladite relation comprend les phases consistant à: enlever tout élément refermant la ligne de transmission; - localiser l'instant d'application du signal de validation du côté haut; - localiser l'instant d'application du signal de validation du côté bas; - refermer la ligne de transmission; - invalider la porte de transmission du côté haut; - localiser l'instant de coupure du signal de validation du côté- bas; valider la porte de transmission du côté haut; - invalider la porte de transmission du côté bas; - localiser l'instant de coupure du signal de validation du côté haut; 21 2644650 - valider la porte de transmission du côté bas; - calculer la différence entre l'instant de coupure du signal de validation du côté bas et l'instant d'application du signal de validation du côté haut; et calculer la différence entre l'instant de coupure du signal de validation du côté haut et l'instant d'application du signal de validation du côté bas. 12 - Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce que l'étape d'utilisation desdites relations déterminées comprend les phases consistant à: - enlever tout élément refermant la ligne de transmission; localiser l'instant d'application du signal de validation du côté haut; localiser l'instant d'application du signal de validation du côté bas; refermer la ligne de transmission; - invalider la porte de transmission du côté haut; - choisir l'instant de coupure du signal de validation du côté bas qui vérifie là relation trouvée; - valider la porte de transmission du côté haut; - invalider la porte de transmission du côté bas; - choisir l'instant de coupure du signal de validation du côté haut qui vérifie la relation trouvée; et - valider la porte de transmission du côté bas.