Brevet FR2647203A1 — publié le 19901123

i La présente invention concerne un ensemble de détection pour système de veille infrarouge, panoramique ou sectorielle. Un tel ensemble de détection peut comprendre un dispo- sitif optique, dans le plan focal de celui-ci, une barrette de détecteurs - des photodiodes infrarouge - d'analyse de paysages, ou de fonds de scène, hybridée à une plaquette de prétraitement contenant des circuits à transfert de charges, à savoir, et essentiellement, des circuits d'entrée associés aux photodiodes, pour intégrer leurs courants de sortie, des circuits de pré- amplification, de filtrage et de multiplexage et un circuit de sortie formant interface entre la plaquette de prétraitement et une plaquette distincte de traitement subséquent. Lorsque la barrette d'analyse comporte des photodiodes disposées suivant une pluralité de. lignes de plusieurs photodiodes, le courant de sortie de chaque photodiode peut donc être traité dans un circuit d'intégration délivrant un signal de charges à une ligne à retard dans laquelle il subit un déphasage déterminé, les signaux de charges délivrés par toutes les lignes à retard associées aux photodiodes d'une même ligne étant addi- tionnés dans un sommateur. Le circuit en question est un circuit retard-sommation dit TDI (time delay inte- gration). La plaquette de prétraitement peut également comporter des circuits d'ébasage, d'évacuation et d'anti-éblouissement, cette dernière fonction visant à dériver tout le courant de diode quand il est trop important et à éviter qu'un coulrant saturant n'altère le fonctionnemenl= des circuits de la plaquette de traitement. Les ensembles de détection infrarouge sont aujourd'hui uti- lisés soit, donc, dans les systèmes de veille, soit dans les systèmes d'imagerie, soit dans les systèmes- combinés. Dans les systèmes d'imagerie, pour l'analyse de paysages en temps réel, les détecteurs élémentaires de la barrette d'analyse doivent être les plus petits possibles pour obtenir la meilleure résolution angulaire possible, par conséquent aussi la plus petite possible, et optimaliser ainsi les performances de portée de reconnaissance et d'identification. Les barrettes des systèmes d'imagerie peuvent être de plu- sieurs types, comme par exemple et au moins, les quatre qui suivent. 1) Barrette comprenant une série de détecteurs élémentaires alignés en colonne et légèrement décalés les uns par rapport aux autres. Une telle disposition implique un entrelacement des trames de balayage, c'est-àdire un décalage d'une trame à la suivante, par un dispositif optomécanique, ne conduisant toutefois qu'à un faible taux de recouvrement. 2) Barrette comprenant deux séries de détecteurs élémen- taires alignés respectivement en deux colonnes, avec, dans chaque colonne, un décalage entre deux détecteurs voisins de la dimension d'un détecteur, les décalages des deux colonnes étant alternés. Une telle disposition géométrique implique aussi un entrelacement des trames de balayage pour obtenir un taux de recouvrement voi- sin de 2. 3 Barrette comprenant plus de deux series, par exemple quatre, de détecteurs alignés respectivement en autant de colonnes, avec, dans chaque colonne, entre deux détecteurs voisins, le mime décalage qie dans la barrette du deuxième type, les décalages respectifs des colonnes étant eux-mêmes légèrement décalés les uns par rapport aux autres. Une telle géométrie pré- sente déjà un taux de recouvrement voisin de 2 et ne nécessite donc pas d'entrelacement de trames. ' 4) Barrette comprenant deux mosaïques de détecteurs dispo- sés en m lignes et n, par exemple quatre, colonnes, les lignes respectives des deux mosaïques étant alter- nées. Cette géométrie, similaire à celle du type 2, fournit une redondance, chaque élément d'image étant analysé successivement par n éléments détecteurs. Dans les systèmes de veille, les détecteurs élémentaires des barrettes utilisées jusqu'à maintenant étaient au contraire les plus grands possibles et, en tout état de cause, suffisamment grands pour s'adapter aux taches optiques produites par les points chauds des objets (avions et autres cibles) à détecter et dont la température est très supérieure à celle du fond de scène. Comme exemple de géométrie de barrette de veille, on a adopté deux colonnes de détecteurs espacées de la dimension d'une tache optique produite par une cible ponctuelle et les détecteurs des deux colonnes étant respectivement légèrement décalés pour obtenir un certain recouvrement d'une colonne à l'autre afin de rendre efficaces les algorithmes d'extraction de cibles. Les barrettes de veille utilisées jusqu'à maintenant, avec des détecteurs à grande surface sensible, présentent toutefois deux inconvénients majeurs. Réalisées en petites séries, elles coatent d'abord très cher. Ensuite, elles n'utilisent pas de redondance. Avec une redondance d'ordre- n effectuée par un détec- teur IR-CCD, on arrive vite, à cause de la taille'-des éléments, à une saturation des circuits de traitement. Pour éviter une saturation de ces circuits de traitement, il faudrait qu'ils aient une dynamique suffisante, d'une part, pour éviter le phénomène de faux contraste, ou bruit spatial fixe, et d'autre part, pour pouvoir traiter - les signaux de détection. Miais la technologie ne permet pas d'étendre cette dynamique à volonté. Elle est forcé- ment bornée, ce qui conduit inévitablement à un phénomène de saturation tout-à-fait préjudiciable en veille o l'on veut détecter des objets dont la température est très supérieure à celle du fond de scène. Dans la plage des températures saturantes, deux points chauds de températures respectivement différentes ne peuvent pourtant pas être différenciés. Or plus les surfaces sensibles des détecteurs sont grandes, plus le bruit spatial fixe est important, plus la dynamique devrait l'être aussi et, ne le pouvant pas, plus les circuits de traitement risquent d'être saturés. La présente invention vise donc à pallier ces. incon- vénients. A cet effet, la présente invention concerne un ensemble de détection pour système de veille infrarouge destiné à la détection d'objets chauds sur un fond de scène, comprenant une barrette de détecteurs infrarouge élémen- taires d'analyse du fond de scène, ensemble de détection À caractérisé par le fait que les détecteurs êlémenzai-es sont des détecteurs d'imagerie de surfaces sensibles beaucoup plus petites que les taches optiques produites par les objets chauds à détecter et il comporte des moyens agencés pour regrouper virtuellement les détec- teurs d'imagerie en détecteurs virtuels de veille de surfaces sensibles adaptées auxdites taches optiques. Les intérêts de l'invention sont multiples. On profite du bas prix de revient des détecteurs d'imagerie réalisés en grandes séries. On réduit les coûts de maintenance grâce à la standardisation ainsi permise du module de détection. Une grande partie des circuits électroniques de prétraitement et de traitement associés peut être utilisée aussi bien dans les systèmes d'imagerie que dans les systèmes de veille. Au plan de la saturation, les inconvénients liés aux détecteurs de grandes surfaces sensibles sont éliminés. Le regroupement des détecteurs élémentaires permet d'obtenir des détecteurs de veille virtuels de n'importe quelle surface sensible, donc adaptée à n'importe quelle tache optique. Dans la forme de réalisation préférée de l'ensemble de détection de l'invention, il est prévu des moyens de correction de géométrie pour, avant de les regrouper en détecteurs virtuels de veille, regrouper virtuellement les détecteurs élémentaires d'imagerie en m détecteurs virtuels intermédiaires contigus et alignés suivant une colonne, de même surface sensible que les détecteurs d'imagerie. De préférence toujours, les moyens de regroupement peu- vent être des moyens de re._zipemenz bidirectionnel. en gisement et en site. Ces moy-ens de reroupemenz peuvent comporter des moyens de sommation, dans la direction des sites, de p détecteurs intermédiaires contigus au pas de q, inférieur à p, détecteurs, avec, par conséquent, un recouvrement de (p-q) détecteurs intermédiaires d'un détecteur de veille au suivant. Du fait du balayage mécanique, par pivotement de miroir, par exemple dans la direction des gisements, et du balayage électronique de lecture de la barrette des m détecteurs virtuels intermédiaires s'étendant dans la direction des sites, les détecteurs intermédiaires glis- -15 sent les uns sur les autres, ou se recouvrent deux à deux, dans la direction des gisements. La dimension utile en gisement des détecteurs intermédiaires s'en trouve réduite à celle d'"échantillons" de détection intermédiaires. La raison de ce glissement est simple: entre l'instant de lecture du détecteur intermédiaire n 1 et l'instant E après de lecture du détecteur n m, la barrette s'est relativement légèrement déplacée dans la direction des gisements. Alors, les moyens de regroupement de l'ensemble de l'inven- tion peuvent avantageusement comporter des moyens de somma- tion en gisement analogues aux moyens de sommation en site, avec un recouvrement de (r-s) échantillons intermédiaires d'un détecteur, ou pixel, de veille au suivant. 3o Dans ce cas, le rapport entre le nombre de pixels de veille et le nombre de pixels d'imagerie est s. qCette sommation bidirectionnelle procure un gain notable Cette sommation bidirection.nelle procure un gain notable: T- - on évrite les atténuations de signal des cibles ponc- tuelles situées à la limite spatiale entre deuvr lignes balayées par deux détecteurs contious dans la direction perpendicu-laire à celle dbalayage; on augmente dbnc la probabilité de détection; si -nal1 - on améliore le rapport s par l'adaptation de la bruit a 'dpzto el géométrie a:ux dimensions des taches optiques; - on diminue la cadence de traitement des signaux, dans le cas évoqué par qs, et on peut ainsi, compte-tenu des technologies dont on dispose, mettre en oeuvre des algorithmes d'extraction de cibles efficaces. L'invention sera mieux comprise à l'aide de la description suivante de la génération des cellules de veille de l'invention, en référence aux dessins annexés, sur lesquels - la figure 1 représente, schématiquement, la barrette des détecteurs de l'ensemble de détection de l'inven- tion; - la figure 2 représente la barrette de la figure 1, après un premier regroupement des détecteurs; - la figure 3 représente la barrette de la figure 2, après alignement des détecteurs; - la figure 4 illustre le glissement temporel de la bar- rette de la figure 3 et la génération des échantillons; - la figure 5 représente la barrette équivalente de l'ensemble de détection,après génération des cellules virtuelles de veille, et - la figure 5 représense schemat-auemenz le circuit spécifique intégré de génération des cellules de veille. On ne décrira pas les différents composants de l'ensemble de l'invention déjà abordés dans le préambule de cette description et au demeurant connus de l'homme de métier. Celui-ci pourra d'ailleurs utilement se reporter à d'au- tres demandes de brevet francais au nom de la demanderesse, comme par exemple les demandes FR-A-2 591 349, 2 591 350, 2 591 409. Considérons une barrette de détecteurs d'imagerie du quatrième type décrit dans le préambule ci-dessus, avec, ici, deux mosaïques 1, 2, décalées en gisement, de détec- teurs di disposés, dans chaque mosaique, en 7 lignes parallèles à la direction des gisements, de rangs impairs dans l'une 1, de rangs pairs dans l'autre 2, et en quatre colonnes parallèles à la direction des sites (figure 1). La mosaïque 1 comporte ainsi une première ligne de quatre il 14 détecteurs d.. d. 4, une deuxième ligne de détecteurs d.31 34d. 34 d.31... d3.. et une dernière lignes de détecteurs i 3 d.m-ll1... dm-1' 4 et la mosaïque 2, une première ligne de 21 24 détecteurs d21... d2... et une dernière ligne de dé- i i ml l tecteurs di ml... dm4, les lignes des deux mosaiques étant alternées et sans recouvrement. Un premier regroupement est effectué par sommation par TDI pour regrouper les quatre détecteurs d'imagerie de chaque ligne de chaque mosaïque et obtenir deux colonnes 3, 4 de détecteurs virtuels intermédiaires di... dtm-1 et d2... dîm, respectivement alternés d'une colonne à l'autre et sans recouvrement, les deux colonnes étant décalées temporellement en gisement de: échantillons e au sens décrit tou.jours dans le préambule (figure Z!. Une deux:cime correction de géométrie est effectuée pour regrouper les détecteurs des deux colonnes 3, 4 en une seule colonne 5 de m détecteurs del... dtM alignés en site, contigus et de surface sensible sensiblement égale à celle des détecteurs d'imagerie d (figure 3'. i A partir des détecteurs intermédiaires d, de la colonne 5, ou mieux:, des échantillons eú, tels qu'hachurés sur la figure 4, on constitue les détecteurs virtuels de veilie dv. On notera qu'un échantillon ep a la même dimension en v site qu'un détecteur intermédiaire d, et une dimension utile en gisement plus petite dufait d'un recouvrement dû au glissement en gisement de la barrette 5 pendant sa lecture en site. Les détecteurs d sont constitués par vsommation en site de p échantillons e au pas de et par sommation en gisement de p échantillons et au pas de s.q et par sommation en gisement de r échantillons eau pas de s. La barrette virtuelle 5, s'étendant dans la direction des sites, est déplacée - il s'agit naturellement d'un déplace- ment relatif - perpendiculairement à elle-même dans la direction des gisements. Aussi, en parlant de détecteurs de veille, on fait en réalité référence, dans la direction des gisements, aux éléments d'image ou pixels. Sur la figure 5, on a représenté, en vue éclatée, les détecteurs de eille d i-l,j d iJ d i+l,j et d i-l,j+l de veille dv, v dv v, i represen- tant le rang du détecteur de veille dans la direction des sites, j le rang du détecteur de veille dans la direction des gisements, avec p = 4, q = r = 3 et s = 2. Les valeurs des paramètres p, q, r, s et k sont program- mables et les détecteurs ou pixels de veille sont obtenus à l'aide d'un automate de calcul réalisé ici par un cir- cuit spécifique ASIC intégré sur une carte standard. Les cellules veille d i ainsi obze:uus sont adaptées v en gisement a la tache opzique ez elles sens allontées en site, le recouvrement des cellules condigues aevanz per- metire de ne pas perdre en niveau de détect-ion s- une tache optique recouvre deux cellules. On concoit que l'automate doive, pa -programmaion, dispo- ser d'une grande souplesse pour être utilisable dans dif- férentes confi,gurations. C'est ainsi que, par exemple en site, chaque cellule de veille d i peut aussi recouvrir les deQx cellules d i-, v v et d i+ij auxquelles elle est contigue. v On a représenté sur la figure 6 une portion 1 du circuit spécifique intégré de génération des cellules ou pixels de veille à partir des pixels d'imagerie, qui comporte un bloc 2 de cellules paires et un bloc 3 d'ensemble des cellules. Les pixels d'imagerie d. de rangs pairs, ceux de droite ! sur la figure 1, qui entrent en 4 dans le bloc 2, y sont regroupés en gisement, par un multiplexeur 5 suivi d'un additionneur 6, dont la sortie est reliée à l'une des entrées du multiplexeur 5 par une mémoire tampon 7. Les pixels sortant du bloc 2 en 8, ceux de droite suir la figure 2, entrent dans une mémoire RA3I 9 de rattrapage temporel dont la sortie est reliée à l'entrée du bloc 3 et, plus précisément à une entrée d'un multiplexeur 10 dont une autre entrée reçoit les pixels d'imagerie d. de rangs impairs, ceux de gauche sur la figure 1. La sortie du multiplexeur 10 du bloc 3 est reliée à l'entrée d'un additionneur 11, dont la sortie est reliée à une troisième entrée du multiplexeur 10 par une mémoire RAI 12 de formation de cellules de veille. Les blocs 2 et 3 sont reliés à un séauenceir 13 contr8ie par une mémoire ROM 14 contenant les psramètres p, q, r, s, k. A la sortie de la mémoire 9, les pixels d'iimaarie de rangs pairs sont décalés en gisement de k échantillons, apres rattrapage temporel des quazri-mes p-ix;els d'image- rie de rangs impairs: c'est la deuzxibme co--rrect-ion de géométrie évoquée ci-dessus en réfé'rence a la fig-ue 3. Tous les échantillons d'imagerie sont addizornés en site et en gisement dans le bloc 3, la somme des échantillons transitant dans un bloc diviseur 15, comprenant en l'es- pèce une mémoire PROM, relié à la sortie du bloc 3 et contrôlé par le séquenceur 13, pour être divisée, en site et en gisement, et fournir les cellules de veille de la figure 5. En réalité, compte-tenu de l'entrelacement des calculs, le circuit spécifique intégré comporte ici trois autres portions identiques à la portion 1 décrite ci-dessus, reliées en parallèle au diviseur 15. Revendications 1. Ensemble de dérect-ion pour systeme de veille infra- rouge destiné à la détection d'objets chauds sur un fond de scène, comprenant une barrette de détecteurs infrarouge élémentaires d'analyse du fond de scène, ensemble de détection caractérisé par le fait que les détecteurs élé- mentaires sont des détecteurs d'imagerie (di; de surfaces sensibles beaucoup plus petites que les taches optiques produites par les objets chauds à détecter et il comporte des moyens (1, 13\ agencés pour regrouper virtuellement les détecteurs d'imagerie en détecteurs virtuels de veille (dv) de surfaces sensibles adaptées auxdites taches optiques. 2. Ensemble de détection selon la revendication l, dans lequel il est prévu des moyens (2, 9) de correction de géométrie pour, avant de les regrouper en détecteurs vir- tuels de veille, regrouper virtuellement les détecteurs élémentaires d'imagerie en m détecteurs virtuels intermé- diaires (d") contigus et alignés suivant une colonne, de même surface sensible que les détecteurs d'imagerie. 3. Ensemble de détection selon l'une des revendications 1 et 2, dans lequel les moyens de regroupement (1, 15) sont des moyens de regroupement bidirectionnel en site et en gisement. 4. Ensemble de détection selon la revendication 2, dans lequel les moyens de regroupement comportent des moyens (11-15) de sommation en site de p détecteurs d'imagerie intermédiaires contigus (d>) au pas de q détecteurs avec un recouvrement de (p-q) détecteurs intermédiaires d'un détecteur de veille au suivant. 1.3 5. Ensemble de détection selon l'une des revendications 2 et 4, dans lequel les moyens de rer-oupement compor- tent des moyens (ll-15) de sommation en gisement de r échantillons d'imagerie (ev) au pas de s échantillons avec un recouvrement de (r-s) échantillons d'un pixel de veille au suivant.