Brevet FR2616917A1 — publié le 19881223

La présente invention concerne les disjoncteurs. Lorsque des disjoncteurs sont connectés dans des systèmes de distribution d'énergie électrique pour protéger le circuit principal et les circuits de dérivation, il est nécessaire de déterminer périodiquement si les disjoncteurs fonctionnent correctement. Avec des disjoncteurs de type électronique employant un dispositif de traitement de signal à circuit analogique, comme décrit dans le brevet des E.U.A. no 4 266 259, on connecte temporairement au circuit du module de déclenchement électronique un dispositif de test sur les lieux d'installation, pour tester la réponse de surintensité des disjoncteurs individuels qui sont connectés dans le sys- tème. Le brevet des E.U.A. n 4 105 965 décrit un dispositif de test de ce type qui est employé avec des disjoncteurs électroniques qui contiennent un dispositif de traitement de signal analogique dans leur circuit de module de déclenche- ment. Le brevet des E.U.A. n 4 128 804 décrit un dispositif de test sur les lieux d'installation qui est utilisé avec des disjoncteurs électroniques employant un dispositif de traite- ment de signal analogique dans le circuit du module de dé- clenchement, ainsi qu'un circuit de détection de défaut à la terre, qui désactive une fonction de déclenchement sur défaut à la terre lorsque le circuit du dispositif de test effectue un test de courant monophasé. Avec des disjoncteurs électroniques qui utilisent des dispositifs de traitement de signal de type numérique dans le circuit du module de déclenchement, comme ceux qui sont décrits dans le brevet des E.U.A. n 4 351 013 et dans la demande de brevet des E.U.A. n 626 341, déposée le 29 juin 1984, il est commode d'inclure un programme d'auto-test dans le microprocesseur qui est incorporé dans le circuit du module de déclenchement. Avec des disjoncteurs électroniques comme ceux dé- crits dans les brevets des E.U.A. n 4 589 052 et 4 649 455, qui utilisent un dispositif de traitement numérique dans le circuit du module de déclenchement, mais n'utilisent pas un microprocesseur proprement dit, on emploie un dispositif de test externe pour déterminer les paramètres de fonctionnement et les caractéristiques de réponse des circuits du module de déclenchement. Un but de l'invention est de décrire un dispo- sitif de test et un circuit de test permettant de tester des disjoncteurs électroniques qui utilisent un dispositif de -traitement numérique ou un dispositif de traitement analogi- que dans le circuit du module de déclenchement. Un dispositif de test prévu pour tester des dis- joncteurs électroniques installés dans un système de distri- bution d'énergie, détermine si le disjoncteur fonctionne nor- malement, sans nécessiter la mise hors tension du système de distribution d'énergie électrique. Le circuit du dispositif de test simule une condition de surintensité et il vérifie la caractéristique temps-surintensité du dispositif de trai- tement numérique qui est incorporé dans le circuit d'un modu-- le de déclenchement numérique d'un disjoncteur. En outre, si on le désire, le dispositif de test peut appliquer un signal de déclenchement au circuit du disjoncteur, sur un circuit de communication numérique, pour déclencher le disjoncteur. Le dispositif de test procure également des moyens pour suppri- mer de façon numérique l'option de défaut à la terre dans le module de déclenchement du disjoncteur. Les informations con- cernant-les conditions d'enclenchement, les conditions de dé- clenchement et les courants de défaut du disjoncteur, sont indiquées sur l'afficheur à cristaux liquides du dispositif de test, sans perturber la fonction de protection permanente du disjoncteur. La suite de la description se réfère aux dessins annexes qui représentent respectivement: Figure 1: une vue en perspective de dessus d'un disjoncteur intégré comportant un bloc de sélection de cali- bre et un jack de test, accessibles par la surface supérieure du capot du disjoncteur intégré; Figure 2: une vue en perspective de face d'un dis- positif de test, conforme à l'invention, connecté au disjonc- teur intégré qui est représenté sur la figure 1; Figure 3: une représentation schématique du cir- cuit électronique qui est incorporé dans le dispositif de test de la figure 2; Figure 4: une représentation schématique du cir- cuit de communication numérique et du circuit demicro-ordi- nateur qui font partie du circuit de la figure 3; Figures 5A et 5B: des représentations schématiques du circuit d'alimentation, du circuit de déclenchement analo- gique et des circuits indicateurs qui font partie du circuit de la figure 3; - Figure 6: une représentation schématique des cir- cuits d'affichage et d'indicateurs qui sont représentés dans le circuit de la figure 3; et Figure 7: une représentation sous forme d'organi- gramme du fonctionnement du micro-ordinateur qui fait partie du circuit de la figure 3. Un disjoncteur intégré 10 qui procure une fonction de protection contre les surintensités ainsi qu'au moins une fonction auxiliaire est représenté sur la figure 1, et il comprend un bottier 11 et un capot 12 en une matière plasti- que moulée. Un levier de manoeuvre 15 permettant de commuter le disjoncteur entre ses états "FERME" et "OUVERT" traverse une ouverture 14 qui est formée dans un "écusson" 13 qui est 2616 9 1 7 formé en une seule pièce avec le capot 12 et s'élève légère- ment au-dessus de ce dernier. Une fenêtre d'accès pour ac- cessoire 16 est établie dans l'écusson pour permettre l'ins- tallation, sur les lieux d'utilisation, d'un module d'acces- soire sélectionné. On trouve la description d'une fenêtre d'accessoire moulée dans un capot de disjoncteur dans la de- mande de brevet des E.U.A. n , qui est incorporée ici à titre de référence. Le capot du disjoncteur comporte également un bloc de sélection de calibre 17 qui comprend une diode électroluminescente 18 et une ouverture d'accès à un jack de test, 19. On trouve une bonne description du bloc de sélection de calibre dans la demande de brevet des E.U.A. n 045 645, qui est incorporée ici à titre de référence. L'ouverture d'accès au jack de test 19 permet d'établir une connexion électrique temporaire avec un dispo- sitif de test 20, représenté sur la figure 2, par l'insertion d'une fiche de connecteur 26, branchée à une extrémité d'un câble flexible 27, dans une ouverture d'accès à un jack de test 25, qui est formée dans le bottier 21 du dispositif de test, et l'insertion d'une fiche de connecteur 28, branchée à l'autre extrémité du câble flexible, dans l'ouverture d'accès à un jack de test 19 qui est formée dans le bloc de sélection de calibre 17, déjà représenté sur la figure 1. Le dispositif de test comprend un ensemble de boutons 23A, 23B disposés à l'extérieur du boîtier, et un ensemble de diodes électroluminescentes 24 pour indiquer la fonction de test particulière qui est sélectionnée au moyen d'un bouton de test. Un afficheur à cristaux liquides 22 procure un affi- chage alphanumérique des réglages de déclenchement qui sont incorporés dans le disjoncteur intégré 10. Le dispositif de test fonctionne indépendamment du fait que le levier 15 du disjoncteur soit sur sa position "FERME" ou "OUVERT", et in- dépendamment du fait que le disjoncteur soit connecté élec- triquement ou non dans un circuit électrique. On va maintenant considérer conjointement la fi- gure 2 et la figure 3 pour examiner le fonctionnement des com- posants de circuit que contient le dispositif de-test 20. Les boutons 23B sur le dispositif de test commandent le circuit de clavier 33 dans le circuit de test 30. Le circuit de cla- vier est connecté à un micro-ordinateur 29 par un bus 34, et le microordinateur communique à son tour avec un circuit d'indicateurs 37, par un bus de données 36B, pour faire fonc- tionner les diodes électroluminescentes 24 sur le dispositif de test. Le micro-ordinateur communique avec un circuit d'af- fichage 35 par l'intermédiaire d'un bus de données 36A, pour faire fonctionner l'afficheur 22 sur le dispositif de test. L'énergie d'alimentation nécessaire au circuit de test est fournie par une alimentation 31. Des données d'état d'alimen- tation sont appliquées au micro-ordinateur par le conducteur 32, tandis qu'un signal de déclenchement est appliqué à un circuit de déclenchement analogique 44 par le conducteur 45. Un dispositif de traitement de signal analogique (non repre- senté), qui est contenu dans un module de déclenchement de disjoncteur électronique, accumule une information de circuit de manière continue dans le temps. Un exemple de ceci est donné par la charge d'un condensateur dans le but de détermi- ner la caractéristique temps-surintensité avant la mise en oeuvre d'rune fonction de déclenchement, comme décrit précé- demment. Le micro-ordinateur applique un signal de validation de déclenchement au circuit de déclenchement analogique 44, par le conducteur 36. Le signal de sortie de déclenchement est appliqué par le conducteur 47 au dispositif de traitement de signal analogique dans le circuit du module de déclenche- ment du disjoncteur électronique. Une connexion de masse avec le circuit du module de déclenchement du disjoncteur est éta- blie par le conducteur 49. Le conducteur de sortie de déclen- chement 47 et le conducteur de masse 49, qui sont incorporés dans le câble de conducteurs de test 27A représenté sur la figure 3, sont connectés au jack de test 19 du bloc de sélec- tion de calibre, lorsque le module de déclenchement dans le disjoncteur intégré 10 comprend un dispositif de traitement de signal analogique. Lorsque le circuit du module de déclen- chement qui est contenu dans le disjoncteur intégré comprend un dispositif de traitement de signal numérique (non repré- senté), tel qu'un microprocesseur destiné à traiter une in- formation de circuit dans des intervalles discrets au lieu d'intervalles continus, un circuit de communication 39 est connecté au micro-ordinateur 29 du circuit de test par l'in- termédiaire du bus de données 40, et est connecté au disjonc- teur intégré par le conducteur 43. Le conducteur d'énergie de commande 41, le conducteur de masse 42 et le bus de données 43 sont contenus dans un cable de conducteurs de test 27B, et ils sont connectés au jack de test 19 du disjoncteur intégré 10. Le micro-ordinateur 29 qui fait partie du circuit de test 30 permet au circuit de test de remplir une grande variété de fonctions de test. A titre d'exemple, une fonction importante consiste à vérifier si le dispositif de traitement numérique dans le disjoncteur intégré fonctionne correctement, par la réception de messages d'état qui proviennent du dispositif de traitement numérique par le bus de données de communication 43, et l'affichage des résultats sur l'afficheur à cristaux liquide 22 du dispositif de test, pour informer l'opérateur des résultats des tests. Par la manoeuvre de boutons externes 23B sur le dispositif de test, le dispositif de traitement numérique qui fait partie du dispositif de test reçoit l'or- dre de vérifier les réglages de déclenchement et les réglages d'options qui sont enregistrés dans le disjoncteur intégré, et d'afficher les réglages sur l'afficheur à cristaux liqui- des 22. Les diodes électroluminescentes 24 indiquent les fonctions qui sont mises en oeuvre, parmi les fonctions de test sélectionnées, sous l'effet des manoeuvre des boutons 23A, 23B sur le dispositif de test, tandis que l'afficheur à cristaux liquides 22 affiche les résultats des tests. Par exemple, le micro-ordinateur du dispositif de test pourrait simuler une condition de surintensité et pourrait demander facultativement que le disjoncteur intégré interrompe le cir- cuit. On va maintenant considérer les figures 4 et 6 pour examiner l'interconnexion entre le circuit de micro-ordinateur 29 et les circuits de communication numérique, de clavier, d'indicateurs et d'affichage, 39, 33, 37 et 35. Le circuit de micro-ordinateur 29 comprend un microprocesseur 66 tel qu'un microprocesseur du type 6303, commercialisé par Hitachi Corpo- ration. Un signal d'horloge est appliqué aux bornes XTAL et EXTAL au moyen d'un quartz 65 et d'un circuit d'horloge qui comprend des condensateurs C2 et C13. Le circuit de communica- tion 39 est connecté à des bornes d'entrée/sortie P8, P9 du microprocesseur par l'intermédiaire des conducteurs d'entrée et de sortie 62, 63. Le conducteur d'entrée 60 est connecté entre une source de tension et la masse au moyen de diodes de suppression de transitoires D1, D2, et il est connecté au conducteur de programmateur numérique 43 par l'intermédiaire de résistances de limitation de courant R6, R7. Le conducteur de sortie 63 est connecté à la base d'un interrupteur à tran- sistor Q1, par l'intermédiaire d'un inverseur 61 et d'une ré- sistance de polarisation R9. Une résistance de rappel au po- tentiel d'alimentation haut, R8, assure la remise à zéro du canal de communication pendant la mise sous tension du micro- processeur, en forçant l'entrée d'un inverseur 61 dans un état haut, ce qui force la sortie de l'inverseur dans un état bas et bloque l'interrupteur à transistor Q1. Un diviseur d'horloge séparé 68, qui pourrait comprendre par exemple trois bascules branchées en cascade (non représentées), est connecté à la borne d'horloge du microprocesseur par l'inter- médiaire d'un conducteur d'horloge 64. La borne d'horloge du diviseur d'horloge est connectée à la borne E du microproces- seur au moyen d'un conducteur d'horloge 69. La résistance de rappel au potentiel d'alimentation haut R12 est connectée à la borne de remise à zéro RAZ du diviseur d'horloge, pour re- mettre à zéro l'horloge de communication au moment de la mise sous tension du microprocesseur 66. Le microprocesseur est restauré manuellement au moyen de l'interrupteur 23A, qui constitue un interrupteur de restauration SW1 qui est connec- té à la borne RESTAURATION, par l'intermédiaire d'une résis- tance de limitation de courant R10, d'une résistance de tem- porisation Rll et du conducteur de restauration 67. Un con- densateur de temporisation C3 est connecté aux bornes de l'interrupteur de restauration, en série avec la résistance de temporisation. La borne d'alimentation de veille est con- nectée à une source d'alimentation de veille et à la masse par le conducteur 71. Le micro-ordinateur est connecté à un décodeur 70, par exemple du type 74HC138 de Texas Instruments Co.,par un bus d'adresse 78. Le décodeur est alimenté en étant connecté entre une source de tension et la masse au moyen d'un condensateur C5. Les bornes de sortie DEL et AFF du décodeur sont connectées aux circuits d'indicateurs et d'affichage 37, 35 par l'intermédiaire des conducteurs de sortie 82, 83. L'information qui est appliquée au décodeur est transmise par le bus d'adresse 78 qui est connecté à la borne d'entrée du décodeur et à la borne d'adresse sur le microprocesseur, ainsi qu'à la borne d'adresse sur une mémoi- re morte programmable de façon électrique (EPROM), 80, à 28 broches. Le circuit de clavier 33 est connecté aux bornes d'entrée/sortie (E/S) P10-P13 du microprocesseur, par l'in- termédiaire des conducteurs 72-75 et des résistances de rap- pel au potentiel d'alimentation haut R13-R16. Des interrup- teurs de fonctions PlF1-F4 qui sont connectés entre les résis- tances de rappel au potentiel d'alimentation haut et la mas- se, sont les interrupteurs 23B représentés précédemment sur la figure 2. Les bornes d'E/S restantes, P14, P15, sont con- nectées au circuit de déclenchement analogique 44 et au cir- cuit d'alimentation 31, par l'intermédiaire respectivement du conducteur de validation de déclenchement 46 et du conduc- teur d'état d'alimentation 32. La broche d'E/S P15 sur le microprocesseur et le conducteur de validation de déclenche- 2 6 1 6 9 1 7 ment analogique 46, sont connectés à la masse par l'intermé- diaire d'une résistance de limitation de couPant R32. La mé- moire EPROM 80 est connectée au décodeur 70 par le conducteur 133. La mémoire EPROM est connectée au microprocesseur 66 au moyen du bus de données 79, qui est connecté aux bornes de données P0-P7 sur le microprocesseur. Le bus de données 79 connecte les bornes de données P0P7 du microprocesseur à la mémoire EPROM par le conducteur 81, et aux circuits d'indica- teurs et d'affichage 37, 35. Le microprocesseur est également connecté au circuit d'affichage 35 par la borne R/W et le conducteur 36A. Le circuit d'entrée 31A du circuit d'alimentation 31 est représenté sur la figure 5A, et le circuit de sortie 31B est représenté sur la figure 5B. L'énergie d'entrée est appliquée par les bornes 84, 85 qui sont connectées au pri- maire d'un transformateur abaisseur 89, par l'intermédiaire d'un fusible 86 et d'un varistor à oxyde métallique. La sor- tie du transformateur est connectée par une paire de diodes de redressement D3, D4 et des conducteurs 87, 88 à un conden- sateur de filtre C8 et à une résistance de polarisation R17, pour exciter une bobine de relais 92. Les contacts 91 du re- lais 90 associé assurent une tension non interruptible sur les conducteurs de-distribution d'alimentation 96, 106 et 97, 98, en connectant électriquement les conducteurs 87, 88 en parallèle sur une batterie (B), au moyen des conducteurs 94, 95. La diode de suppression de surtensions D5 protège la bobine de relais 92 contre des surtensions apparaissant pen- dant le fonctionnement du relais 90. Un interrupteur marche/ arrêt 52 applique au conducteur de distribution d'alimenta- tion 97 l'énergie d'entrée qui provient du relais. L'énergie d'alimentation est appliquée aux conducteurs de distribution d'alimentation 96, 106 qui sont mutuellement isolés au point de vue électrique au moyen de condensateurs de filtre C9, C10. Le conducteur de distribution d'alimentation 96 est connecté à une borne de sortie 99 par l'intermédiaire d'un régulateur de tension linéaire 93, tandis que le conducteur de distribution d'alimentation 106 est connecté à une borne de sortie 100 et à la masse. Le conducteur de distribution de masse 98 est connecté en parallèle avec le conducteur de distribution de masse 106. Le conducteur de distribution d'alimentation 97 est connecté par le conducteur 101 et les résistances de polarisation R18 et R19 à l'entrée d'un compa- rateur 103, pour produire une tension de sortie sur le con- ducteur d'état d'alimentation 32 lorsque la tension sur l'en- trée dépasse une tension de référence provenant d'une source de tension 104 qui est connectée par le conducteur 105 à l'autre entrée du comparateur. Des conducteurs de distribu- tion d'alimentation 41, 42 sont connectés à un régulateur à découpage 110 par l'intermédiaire de résistances de division de tension R20, R21 et d'une résistance de rappel au poten- tiel d'alimentation haut R22. Un condensateur de temporisa- tion Cll est connecté entre le régulateur à découpage et la masse. Une entrée du régulateur à découpage 110 est connectée au jack de test numérique 118 par l'intermédiaire d'une ré- sistance de réaction R24 et d'un conducteur 112. Une sortie du régulateur à découpage 110 est connectée à la grille d'un transistor à effet de champ de commutation 113, par l'inter- médiaire du conducteur 111, et la borne de source du transis- tor à effet de champ est connectée au jack de test numérique 118. Le conducteur 41 est connecté à la borne de drain du transistor à effet de champ et au jack de test numérique par l'intermédiaire d'une inductance 108, d'une thermistance 109 et d'une diode de commutation D7. Le fait d'introduire la fiche de connecteur de test 27 de la figure 2 dans l'ouvertu- re de jack de test numérique 134, connecte le jack de test numérique 118 au circuit de communication 39 de la figure 4, par l'intermédiaire du conducteur 136 et du bus de données 43. La thermistance 109 est une caractéristique importante de l'invention qui empêche que des surintensités transitoires n'endommagent le circuit du dispositif de test pendant un ii test, en réagissant rapidement à une telle surintensité tran- sitoire, en limitant le courant sur le conducteur 41 à une valeur faible prédéterminée. Le conducteur 45 connecte le conducteur d'alimentation 41 à la borne de drain du transis- tor à effet de champ 116, par l'intermédiaire de la résistan- ce R22 et du condensateur C14, comme indiqué. Le condensateur de filtre C12, branché entre les conducteurs 41, 42, empêche que des composantes de fréquence apparaissant sur les conduc- teurs n'entrent dans le circuit de module de déclenchement du disjoncteur intégré, lorsqu'il est connecté au dispositif de test au moyen du jack de test numérique 118. Le circuit dé- tecteur de tension basse de la batterie, 115, est connecté au régulateur à découpage 110 par l'intermédiaire du conducteur , des première et seconde résistances de polarisation R23, R25 et de la base d'un transistor de commutation Q2. Le col- lecteur du transistor de commutation est connecté à une diode électroluminescente D6 par l'intermédiaire d'une résistance de limitation de courant 24, pour indiquer une condition de tension basse de la batterie. Le circuit de déclenchement analogique 44 est connecté au microprocesseur 66 de la figure 4 au moyen du conducteur 46, et il est connecté au jack de test analogique 119 par l'intermédiaire du transistor à effet de champ 116 et du conducteur 48. Le condensateur de stockage C14, connecté entre les conducteurs 47, 48, emmagasine une charge et il produit une tension qui est appliquée au jack de test analogique 119. Les circuits d'affichage et d'indicateurs 35, 37 sont représentés sur la figure 6 et ils sont interconnectés de la manière suivante entre eux et avec le circuit de micro- ordinateur 29 de la figure 3. La borne R/W de l'afficheur à cristaux liquides 22, dans le circuit d'affichage 35, est connectée à la borne R/W sur le microprocesseur 66, par le conducteur 36A. La borne de validation de l'afficheur à cris- taux liquides est connectée à la borne AFF sur le décodeur 70, par l'intermédiaire du conducteur 83. La borne ADRESSE de l'afficheur à cristaux liquides est connectée à la borne d'adresse sur le microprocesseur, par l'intermédiaire du bus d'adresse 51 et du décodeur 70. La borne DONNEES de l'affi- cheur à cristaux liquides est connectée aux bornes de données P0-P7 du microprocesseur, par l'intermédiaire du bus de don- nées de microprocesseur 79 et du conducteur 52. La borne de données de l'afficheur à cristaux liquides est connectée au réseau de bascules 53 dans le circuit d'indicateurs 37, par l'intermédiaire du bus de données 52. L'afficheur à cristaux liquides est alimenté par une source de tension et une résis- tance de polarisation R30 qui est connectée aux bornes T1 et T2. Le réseau de bascules 53, connecté au circuit d'indica- teurs 37, est connecté électriquement au bus 52 par l'inter- médiaire de la borne de données. La borne de données de l'af- ficheur à cristaux liquides 22 et le bus de données 79 sont connectés à la borne de données du microprocesseur 66, comme décrit précédemment. La borne de validation du réseau de bas- cules est connectée à la borne DEL du décodeur 70 dans le circuit de micro-ordinateur 29 de la figure 4, par l'intermé- diaire du conducteur 82. Le réseau de bascules est alimenté par la connexion à une source de tension et à un condensateur de découplage C15, qui est connecté aux bornes VCC et GND. Les diodes électroluminescentes L1-L5 sont connectées à une source de tension par l'intermédiaire de résistances de pola- risation correspondantes R1-R5, et sont connectées aux bornes Q3-Q7 correspondantes du réseau de bascules par l'intermé- diaire de conducteurs respectifs 54-58. L'organigramme 130 de la figure 7 représente le fonctionnement du dispositif de test 20 (figure 2) pour l'ob- tention d'une information d'état et de déclenchement à partir d'un disjoncteur intégré 10, par l'action du circuit de test qui est représenté de façon générale sur la figure 3. Dans un but d'illustration, le disjoncteur intégré 10 de la figure 2 est connecté au dispositif de test au moyen de l'ouverture d'accès au jack de test analogique, 25, lorsque le module de déclenchement contient un dispositif de traitement de signal analogique, et une connexion électrique interne est établie avec le circuit de déclenchement analogique 44, représenté sur la figure 5B, au moyen du circuit de jack de test analo- gique 119. Lorsque le module de déclenchement du disjoncteur intégré 10 contient un dispositif de traitement de signal numérique, le dispositif de test est connecté au disjoncteur intégré par l'introduction de la fiche de connecteur de test 26 dans l'ouverture d'accès séparée au jack de test numérique, 134. Une connexion interne est alors établie avec le circuit de jack de test numérique118 qui fait partie du circuit de sortie d'alimentation 31B représenté sur la figure 5B. On dé- clenche les fonctions de test en appuyant sur l'un quelconque des boutons appropriés 23B sur le boîtier du dispositif de test, comme le montre l'organigramme de la figure 7. A la mi- se sous tension, le micro-ordinateur 29 dans le circuit de dispositif de test 30 de la figure 3 accomplit diverses fonc- tions d'auto-test (121), similaires à celles qui sont décri- tes dans le demande de brevet des E.U.A. n 626 341 précitée. On pourra mieuxcomprendre le fonctionnement du dispositif de test en se référant conjointement à la figure 3 et à la fi- gure 7. Si l'auto-test (122) indique un fonctionnement dé- fectueux du dispositif de test, le mode de défaut est affi- ché (123) sur l'afficheur à cristaux liquides, pour alerter l'opérateur. Si l'auto-test (122) indique que le dispositif de test fonctionne correctement, l'état du dispositif de test (124) est affiché sur l'afficheur à cristaux liquides 22. A ce moment, l'opérateur peut passer à une fonction quelconque parmi un ensemble de fonctions, en appuyant sur le bouton de fonction 23B correspondant. Une fonction consiste à afficher les réglages et les options de commutation (125) qui sont contenus dans le module de déclenchement du disjoncteur in- tégré. Si l'opérateur active un auto-test du module de dé- clenchement (126), en appuyant sur le bouton 23B désigné, le module de déclenchement accomplit immédiatement un auto- test et affiche les résultats (131) sur l'afficheur à cris- taux liquides. L'appui sur un autre bouton 23B désigné com- mande au dispositif de test 20 de simuler une condition de surintensité (127) dans le disjoncteur intégré, en provoquant facultativement le déclenchement du disjoncteur intégré (132). Un autre bouton 23B désigné ordonne au module de dé- * clenchement du disjoncteur intégré d'afficher sur l'afficheur à cristaux liquides des valeurs d'enclenchement et de déclen- chement sélectionnées (128). Un autre bouton 23B désigné per- met à l'opérateur de déclencher directement le disjoncteur intégré (129). La fonction de désactivation de la protection con- tre un défaut à la terre (135) ordonne au module de déclen- chement du disjoncteur intégré d'ignorer la protection contre un défaut à la terre pendant un test d'injection de courant monophasé. Ceci permet à l'opérateur d'effectuer un test de surintensité sans déclencher le disjoncteur intégré à cause d'une condition de défaut à la terre. On a décrit dans ce qui précède un dispositif de test de disjoncteur intégré qu'on peut utiliser sur les lieux d'installation. Le dispositif de test fonctionne avec des disjoncteurs intégrés dont les modules de déclenchement contiennent indifféremment des dispositifs de traitement de signal analogiques ou numériques. On a en outre décrit un ordre de désactivation de la protection contre un défaut à la terre grâce auquel on peut tester sur place, sans déclen- chement, des disjoncteurs intégrés comportant des bobines de détection de défaut à la terre. REVENDICATIONS 1. Dispositif de test de disjoncteur, caractérisé en ce qu'il comprend, en combinaison: un circuit de module de déclenchement connecté aux trois phases d'un-circuit électrique triphasé, et à un mécanisme de manoeuvre destiné à interrompre le circuit électrique lorsque le courant dans le circuit dépasse des valeurs présélectionnées; un circuit d'alimentation (31) qui est connecté au circuit de module de déclenchement et qui fournit de l'énergie au circuit de mo- dule de déclenchement lorsque le module de déclenchement est dans une condition de test; un micro-ordinateur qui est con- necté au circuit d'alimentation (31), au circuit de module de déclenchement et à un dispositif d'entrée à clavier (33) prévu pour l'entrée de paramètres de test dans le circuit de module de déclenchement; un circuit de communication numéri- que (39) qui est connecté au micro-ordinateur (29) et au circuit de module de déclenchement; et un circuit d'affichage (35) qui est connecté au micro-ordinateur (29) et qui affiche une information de données de test reçue à partir du circuit de module de déclenchement, sous l'effet des paramètres de test. 2. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comprend un élément de protection contre les surintensités (109), connecté en série avec le circuit de module de déclenchement et le circuit d'alimenta- tion (31), pour protéger le circuit d'alimentation (31) con- tre des surintensités transitoires. 3. Dispositif de test selon la revendication 2, caractérisé en ce que l'élément de protection contre les surintensités consiste en un élément à coefficient de tempé- rature positif (109). 4. Dispositif de test selon la revendication 3, caractérisé en ce que l'élément à coefficient de température positif consiste en une thermistance (109). 5. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce que le micro-ordinateur (29) comprend un programme de désactivation de la protection contre les dé- fauts à la terre, grâce auquel le circuit de module de dé- clenchement n'interrompt pas le circuit électrique sous l'effet d'un signal de courant sur l'un des conducteurs de phase. 6. Circuit de test selon la revendication 1, ca- ractérisé en ce qu'il comprend un conducteur de distribu- tion d'alimentation (41) et un conducteur de masse (42) dans le circuit d'alimentation (31), et en ce qu'il com- prend en outre un premier jack de test (119) qui est con- necté électriquement entre le conducteur de distribution d'alimentation et le conducteur de masse, pour permettre un accès électrique externe au circuit d'alimentation (31), et ce premier jack (118) est connecté au circuit de communica- tion numérique (39) par l'intermédiaire d'un conducteur de communication séparé. 7. Dispositif de test selon la revendication 6, caractérisé en ce qu'il comprend en outre un second jack de test (119), connecté électriquement à une paire de conduc- teurs séparés provenant d'un circuit de test, pour appliquer un signal de déclenchement au circuit de module de déclen- chement. 8. Dispositif de test selon la revendication 7, caractérisé en ce que le circuit de test comprend une résis- tance et un condensateur qui sont connectés à la paire de conducteurs séparés pour fournir le signal de déclenchement. 9. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce que le circuit de module de déclenchement comprend un dispositif de traitement de signal numérique. 10. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce que le circuit de module de déclenchement comprend un dispositif de traitement de signal analogique. 11. Procédé de test d'un module de déclenchement d'un disjoncteur, caractérisé en ce qu'il comprend les opé- rations suivantes: on connecte un circuit de dispositif de test (30) à un circuit de module de déclenchement qui est contenu dans un disjoncteur (10); on connecte un circuit d'alimentation (31), faisant partie du circuit de dispositif de test (30), au circuit de module de déclenchement, pour fournir de l'énergie d'alimentation au circuit de module de déclenchement; et on affiche sur un afficheur (35) dans le dispositif de test, des points de réglage de déclenchement qui sont enregistrés dans le circuit de module de déclenche- ment. 12. Procédé selon la revendication 9, caractérisé en ce qu'il comprend les opérations suivantes: on simule une condition de surintensité dans le circuit de module de déclenchement; et on détermine si ce circuit de module de déclenchement réagit à la condition de surintensité. 13. Procédé selon la revendication 11, caractérisé en ce qu'il comprend les opérations suivantes: on applique un signal de courant de test à une phase d'un circuit tri- phasé connecté au circuit de module de déclenchement; et on affiche sur l'afficheur (35) du dispositif de test la répon- se du circuit de module de déclenchement à ce signal de cou- rant de test. 14. Procédé selon la revendication 13, caractérisé en ce qu'on désactive la réponse de déclenchement sur défaut à la terre, en accomplissant l'opération qui consiste à ap- pliquer à un dispositif de traitement de-signal numérique dans le circuit de module de déclenchement, un ordre de dé- sactivation de la protection contre les défauts à la terre. 15. Procédé selon la revendication 11, caractérisé en ce qu'il comprend l'opération qui consiste à afficher sur l'afficheur (35) du dispositif de test des options de pro- tection qui sont enregistrées dans le circuit de module de déclenchement. - 16. Procédé selon la revendication 11, caractérisé en ce qu'il comprend l'opération qui consiste à afficher sur l'afficheur (35) du dispositif de test, des résultats d'auto- test provenant du circuit de module de déclenchement. 17. Procédé selon la revendication 11, caractérisé en ce qu'il comprend en outre l'opération qui consiste à désactiver la réponse de déclenchement sur défaut à la terre du circuit de module de déclenchement. 18. Procédé selon la revendication 11, caractérisé en ce qu'il comprend l'opération consistant à faire en sorte que le mécanisme de manoeuvre interrompe le circuit électri- que, sur ordre.