Brevet FR2619959A1 — publié le 19890303

CaICUIT IE DE ON DE LU E. La présente invention à pour objet un circuit de détection de lumière utilisable pour détecter l'apparition d'un éclairement. Ce circuit peut préférablement être utilisé dans le domaine des circuits intégrés électroniques, ou, s'il est intégré sur un même substrat qu'un circuit intégré à protèger,il peut rendre compte d'un éclairement auquel serait sousmis oe circuit. Certains circuits intégrés électroniques présentent des caractères confidentiels, soit parce que les informations qu'ils mémorisent doivent rester secrètes, soit parce que leur fonctionnement doit rester caché. Ce dernier cas se présente en général lorsqu'on cherche à éviter les contrefaçons ou bien, en particulier dans le domaine des cartes à mémoire, pour éviter des reconstitutions d'algorithmes secrets. En effet, on s'est rendu compte qu'il était possible de connaître et de comprendre par déduction le fonctionnement d'un circuit intégré lorsque la couche de passivation qui recouvre oe circuit à l'issue de sa fabrication a été enlevée. Dans ce but on sélectionne, après dépassivation, des fonctions du circuit tout en observant avec un microsope électronique le passage du ourant dans des connexions de ce circuit. Le passage du courant provoque des contraintes mécaniques localisées dans des parties semi- onductrices. Il est possible d'en dàhuire des informations fonctionnelles concernant le circuit intégré. Dans le domaine des cartes à mémoire les circuits intégrés utilisés sont généralement du type non volatile et dont le point m5moire comporte un transistor à grille flottante. Certains sont programnables et effaçables par soumission de la pastille à un rayonnement ultra-violet. Ce rayonnement est spectralement situé à l'extérieur de la bande visible. A la fin de la fabrication de ces circuits 26 1 9959 -2- les pastilles sont recouvertes d'une couche de passivation transparente qui permet, après une opération préalable de test de bon fonctionnement sur le circuit integra, d'effacer des informations de tests enregistrées, et de rendre à nouveau la mémoire vierge pour une utilisation à l'initiative de l'acheteur. Dis que cette cpration de test est terminée, les circuits intégrés ainsi passives sont rnoys dans des supports opaques de maintien. Dans le domaine des cartes à mémoire, en particulier de type bancaire, ce support opaque peut être, constitué par le mtériau plastique de la carte elle-même. Le problème à résoudre consiste à éviter qu'un fraudeur ne puisse se livrer à un denartage de la pastille semionductrioe, aprês qu'elle a été programme par l'utilisateur, pour l'examiner avec un microscope électronique et tenter d'en déduire le fonctionnement ou au moins d'en neutraliser des codes d'accès. Certains circuits inteégrés, en particulier ceux omc-ortant des mémoires effaçable électriguement ou des mimoires destinées à n'être prorames qu'une seule fois, omportent des couches de passivation opaque. Pour ces circuits, à travers la mesure de l'éclairement c'est en définitive l'opération de dépassivation qu'on cherche à oontr8ler. L'invention a pour cbjet de détecter, et de neutraliser le cas échéant, l'exposition de tels circuits à la lumire. Dans oe but, on s'est rendu compte que des jonctions, des diodes ou de régions drains-canal de transistor, polarisées en inverse réagissaient différemment à la lumière. En effet la lumièere augmente le courant de fuite des jonctions polarisées en invere dans un facteur de l'ordre de 1000 environ. L'invention est alors hasée sur ce principe en l'accentuant au maximum. De cette manière on réalise un détecteur sensible à la luminre directe ou -3- ambiante. L'invention a donc pour objet un circuit de détection de lumière caractérisé en ce qu'il comrporte une jonction polarisée en inverse par un générateur de courant. L'invention sera mieux comprise à lecture de la description qui suit et à l'examen des figures qui l'acoomnpagnent. Celles-ci ne sont données qu'à titre indicatif et nullement limitatif de l'invention. Les figures montrent: - figure: un circuit de détection de lumière conforme à l'invention; - figure 2: un diagramme tension-courant montrant l'évolution de la caractéristique d'une jonction sounsmise à un éclairement; - figure 3: une représentation schématique d'un exemple simple d'un détecteur selon l'invention intégré sur un substrat d'un circuit intégré électronique à protéger. La figure 1 représente un circuit de détection de lumière onfeorme à l'invention. Ce circuit comporte essentiellement une jonction contenue dans une diode 1 polarisée en inverse par un générateur de courant 2. Dans un exemple préféré le générateur de courant est constitué par un transistor 2 maintenu à la limite de la oxnduction par une tension de commande appliquée sur sa grille 3 par un circuit de commande 17. De manière à assurer la polarisation correcte du transistor 2 celui-ci est monté en série entre une alimentation Vcc et un transistor 4 bloqué. Dans l'exemple représenté le transistor 2 est un transistor à canal P, le transistor 4 est un transistor à canal N. Le transistor 4 est bloqué par la connexion de sa grille 5 au même potentiel de masse que son drain 6. Le fonctionnement de ce détecteur est le suivant. Lorsque la jonction 1 n'est pas sousmise à un éclairement, sa courbe caractéristique tension courant V-I est la courbe 7 de la 2619 9 5 9 -4- figure 2. Le troisième cadran de la courbe caractéristique de cette jonction est utilisé puisque la jonction est polarisée en inverse. Le transistor 2, mené à la limite de onduction, n'est susceptible que de délivrer un courant In. Ce courant Im est oependant supérieur à un courant inverse de saturation Is dans la jonction 1.Dans ces conditions cette jonction est soumise à une différence de potentiel DV sensiblement égale à la tension d'alimentation Vcc moins la chute de tension drain-source dans le transistor 2. Lorsque la jonction 1 est sousmise à un éclairement, flèches L, la courbe caractéristique 7 se déplace en 8, flèches D. Ceci signifie que le courant inverse de saturation devient beaucoup plus grand. Dans la pratique il devient même de l'ordre de 1000 fois plus grand bien que le dessin ne le montre pas. Dans ces conditions le transistor 2 qui n'est capable, du fait qu'il est à la limite de la oonduction, de délivrer qu'un courant d'intensité limitée In, impose une nouvelle chute de tension CV aux bornes de la jonction 1. 'Dans la pratique, d'un état d'éclairement à l'autre le courant Im n'est pas tout à fait constant. Cependant eu égard à la très grande variation du courant de saturation de la jonction cette açrxition se justifie. Il en résulte que le potentiel en un point milieu 9 entre les transistors 2 et 4, et auquel est reliée la jonction 1, subit du fait de l'éclairement une chute égale à (D -CV). Cette chute de potentiel est utilisée, dans un circuit 10 de remise en forme et d'exploitation,. comme signal de détection d'éclairement. Dans un exemple, le circuit 17 de polarisation du générateur de courant constitué par le transistor 2 omporte deux transistors en série et en état de corduction. Le premier transistor 11 est par exemple un transistor à canal P dont la source est reliée à l'alimentation Vcc, et dont le drain est relié à la grille 3 du transistor 2. La grille 12 26 19959 - 5 - du transistor à canal P 11 est également relié à la grille 3. Le deuxième transistor 13 est un transistor à canal N dont le drain est relié à la grille 3 et dont la source est reliée à la masse. La grille 14 du transistor 13 est reliée à l'alimentation Voc. Ccmpte tenu des polarités de ces transistors, oe mode de connexion les rend tous les deux conducteurs. Ils constituent un pont diviseur par leurs résistances de conduction mises en série. Dans un exemple préféré de réalisation, un substrat semiconducteur utilisé pour réaliser un circuit intégré est un substrat saemiconducteur de type P. Le transistor à canal P 11 doit alors y être réalisé dans un caisson 15 dopé N -. Pour éliminer un effet dit de substrat on relie le caisson 15 du transistor 11 par une prise de caisson 16 à la source de ce transistor 11. La tension disponible sur la grille 3 du transistor 2 dépend des tailles respectives des transistors 11 et 13. Dans la pratique le transistor 11 est beaucoup plus gros que le transistor 13 de sorte que sa résistance de conduction est bien plus faible que la résistance de conduction du transistor 13. De cette manière la tension sur la grille 3 est sensiblement égale à Vcc - Vds. La valeur Vds représente la chute de tension dans le transistor 2 lorsqu'il est conducteur. Le transistor 2 est toujours onduteur. Il se airçorte cependant cmme un génrateur de courant sensiblement constant. Aussi, lorsque la jonction 1 est sousrise à un éclairement, il est incapable de fournir suffisamment de courant pour saturer en inverse cette jonction. Celle-ci ne provoque qu'une faible chute de potentiel CV. Lorsque la jonction 1 est sousmise à un éclairement le transistor 4 qui est un transistor à canal N présente une diode de type N+P- entre sa région de drain 18 et le substrat 19 du circuit intégré semiconducteur (figure -6- 3). Cette diode 18 - 19 est également polarisée en inverse. Elle présente domc un même type de modification de sa caractéristique tension-oourant inverse lorsqu'elle est soumise à l'éclairement. En pratique une seule de ces jonctions, la diode 1 ou la jonction 18-19 du transistor 4, est utilisée. En effet, la jonction dont la caractéristique tension coArant inverse se déplace le plus en fonction de 1' éclairement impose le déplacement correspondant de la tension disponible au point milieu du montage. Autrent dit une des deux jonctions est de ce point de vue inutile. Cette dualité de réalisation à né6anmoins permis de motntrer, et on peut le vérifier par le calcul, que permis les jonctions qui présentent une plus grande sensibilité à la lumière, celles dont les concentrations d'impuretés de part et d'autre de la jonction sont les plus faibles sont en m&ie temps les plus efficaces. Ainsi une jonction de type N+P- ou N-P+ sera moins efficace qu'une jonction de type N-P-. La figure 3 représente la coupe schématique du uontage du détecteur de 1' invention. Sur un substrat semiconducteur P-1 9 on a réalisé un caisson 20, avec une concentration N-d'impuretés, qui contient le transistor 2 du générateur de courant. La saurce 21 du transistor 2 est reliée à l'alimentation Vcc. La grille 3 du transistor 2 est relié au circuit de comenarde 17,et le drain 22 de oe transistor 2 est relié d'une part au drain 18 du transistor 4 et d'autre part à la cathode 23 de la diode 1. Cette diode 1 peut être réalisée en pratique de la mâme façon et en _mme te$ss que le caisson 20. Elle ocomorte une concentration d'inmpuretés Ndans sa région cathode, son anode étant constituée par le substrat dopé Plui-mne. Pour améliorer la connexion ne prise de caisson 24 dopée N+ peut 'a être réalisée si une phase ultérieure de poodé le permet. De la mme façon la camnexion à la masse du substrat et de la souroe 6 du transistor 4 peut être cbtenue en réalisant une - 7 - prise de substrat 25. Selon que la jonction 1 ou la jonction 18-19 aura une efficacité prépoxdérante,l'autre jonction pourra être omise. Le circuit de remise en forme 10, figure 1, comporte, dans un exemple préféré de réalisation, au moins deux inverseurs. De préférence il en possède même trois de manière à délivrer un signal d'une polarité d&nnée et un signal complémentaire lors de la détection d'un éclairement. Le premier inverseur, qui camporte un transistor à canal P 26 en série avec un transistor à canal N 27 entre l'alimentation et la masse, est de préférence désymétrisé pour délivrer facilement un niveau élevé à sa sortie 28 quand il reçoit un niveau faible à son entrée 29: c'est à dire quand il y a éclairement (CV). Cette disymétrie a pour objet de réduire la onsommation de courant dans l'inverseur en régime permanent. Cette disymétrie a également pour objet d'augmenter la sensibilité au basculement de l'inverseur lorsque l'éclairement est appliqué. En effet la tension CV disponible aux bornes de la jonction 1 n'est pas rigoreusement nulle. Aussi, pour éviter que cette tension non nulle ne provoque pas le beasculement de l'inverseur 26- 27, on désymétrise cet inverseur pour qu'il y soit plus sensible. Le second inverseur, construit sur un même principe, c classique: il sert en définitive d'amplificateur de signal. Cet inverseur délivre un signal S représentatif de l'écLairement.De préférence l'inverseur 30-31 est lui-mE&e mis en cascade avec un troisième inverseur 32-33 pour délivrer un signal S osplémentaire du signal S. Il est possible d'exploiter un de ces deux signaux pour neutraliser l'utilisation d'un circuit intégré semi-conducteur quand on veut le protêger contre des atteintes résultant d'un désencartage ou d'une dépassivation. -8- ROEVEMICATIONS 1- Circuit de détection de lumière caractérisé en ce qu'il comporte %ne Jonction (1) polarisée en inverse par un. gAnrateur (2) de corant. 2 - Circuit seli la revendication I caractérisé en oe que la Jonction est omtenue dans une diode (1). 3 - Circuit selon la reverdicaticn I caractérisé en ce que la jonction est contenue dans un transistor (4). 4 - Circuit selon l'une quelonrue des revendications 1 à 3 caractérisé en ce que le générateur du courant ooporte un transistor polarisé (3) à la limite de la onrductiçra (17) pour délivrer un ourant d' intensité limité (lm>). - Circuit selon l'une quelconrue des revendications 1 à 4 caractérisé en ce qu'il est intégré dans un substrat (19) semiconducteur d'un circuit intégré électronique A protAger de l'exposition A la lumière (L). 6 - Circuit selon l'une quelnue des reverdications 1 a 5 caractérisé en oe que la jonction est de type N-P-. 7 - Circuit selon revendication 6 caractérisé en ce que la jonction N-Pest constituée par un caisson (20) N- dans un, substrat semicorducteur P-. 8 - Circuit selon l'une quelconaue des revendications I à 7 caractérisé en ce qu'il comporte un circuit de remise en forme (10) crnportant au moins deux inverseurs bistables en série, un premier inverseur bistable (26-29) disymétrique pour détecter par kasculement une exposition du circuit a la lumière, et un deuxième inverseur (30-31) pour amplifier le signal de basculement délivré par le prmier.