Brevet FR2621699A1 — publié le 19890414

PERFECTIONNEMENTS AUX TESTEURS DE CIRCUITS La présente invention concerne les tests de circuits, et plus particulièrement les tests de circuits assemblés, tels que les cartes de circuits imprimés. On connait des dispositifs, conçus pour effectuer ces tests de façon automatique, qui réalisent un contact sur des noeuds du circuit, appliquent des signaux d'excitation sur ces noeuds, et observent les signaux produits en réponse par le circuit testé. De tels dispositifs sont souvent dénommés, dans le domaine technique concerné, "équipements de tests automatiques" (connus sous la dénomination anglaise abrégée ATE). Les ATE peuvent être classés en deux groupes, à savoir celui des testeurs fonctionnels et celui des testeurs in situ. Dans un testeur fonctionnel, les signaux d'excitation sont appliqués, et les signaux de sortie récupérés, exclusivement sur les bornes normales d'entrée et de sortie du circuit, tels par exemple que les connecteurs latéraux d'une carte de circuit imprimé. Ces signaux d'entrée et de sortie sont respectivement appliqués et observés en vue de s'assurer de la fonctionnalité correcte du circuit, considéré comme un ensemble. Les testeurs fonctionnels présentent le problème que, en particulier lorsque des composants complexes sont impliqués, un grand nombre de combinaisons entrée/sortie (connues sous le nom de "configurations d'états" dans la technique concernée) sont nécessaires pour essayer complètement le circuit, et un test exhaustif peut être très long. Un autre problème est qu'il peut Btre impossible de tester certains composants du circuit, notamment les mémoires et compteurs numériques, car certains états de ces éléments sont susceptibles de ne pas pouvoir être commandés exclusivement à partir de noeuds externes. Par exemple, il peut n'y avoir aucune connexion externe permettant la remise à zéro d'un compteur.Par ailleurs, certaines conditions de sortie de certains dispositifs sont susceptibles de ne pas pouvoir être distinguées les unes des autres de l'extérieur. Pour ces raisons, certains circuits assemblés ne peuvent être contrôlés que de façon partielle par un testeur fonctionnel. En revanche, les testeurs in situ ont l'avantage d'être capables de tester individuellement chaque composant d'un circuit assemblé, car ils sont conçus pour permettre l'accès à des noeuds internes du circuit, c'est-à-dire à des noeuds électriques autres que les bornes externes d'entrée et de sortie. Cet avantage est cependant obtenu au prix d'un élément matériel supplémentaire, connu de l'homme de l'art sous le nom de "planche de clous", et qui comprend un ensemble de sondes montées sur ressort, dont chacune a une position qui lui permet d'atteindre un noeud interne du circuit. Grâce à cette planche de clous, les entrées et les sorties peuvent être commandées et mesurées, de manière à vérifier individuellement la fonction de chaque composant. Les inconvénients des testeurs in situ sont, d'abord, la nécessité de prévoir un dispositif matériel supplémentaire, à savoir la planche de clous, qui doit être adapté à chaque circuit à tester, par exemple à chaque carte à tester, et la nécessité de prévoir des moyens pour tenir en place, et en contact l'un avec l'autre, le circuit à tester et la planche de clous. Un autre inconvénient, tout aussi gênant bien que moins apparent, est le risque d'endommagement des circuits testés lorsqu'une sortie d'un composant est commandée, par l'intermédiaire d'un clou, à un état autre que celui qui devrait logiquement résulter de ses signaux d'entrée, dans le but de tester un autre composant ayant une entrée reliée à cette sortie. Une telle polarisation inverse peut endommager le circuit qui le subit, notamment si ce dernier est le siège d'un échauffement excessif.De surcroît, la miniaturisation des circuits conduit à des difficultés d'accès grandissantes des noeuds internes des circuits testés. Enfin, les testeurs in situ sont intrinsèquement mal adaptés à l'observation des fonctions globales d'un circuit, notamment celles qui font intervenir les calages temporels respectifs des signaux produits par les différents composants (timing).Pour ces raisons, un certain nombre de limitations subsistent encore dans l'emploi de testeurs in situ. I1 est pourtant très souhaitable qu'un ATE puisse fournir à la fois une information analytique permettant de valider le fonctionnement des composants pris individuellement, et une information plus synthétique permettant de valider le fonctionnement global du circuit, lequel dépend non seulement du fonctionnement de chaque composant, mais aussi des interactions entre ces composants. Alors que les testeurs in situ privilégient le premier aspect au détriment du second, les testeurs fonctionnels font essentiellement l'inverse; aussi la phase dite de diagnostic, au cours de'laquelle ces derniers sont mis en oeuvre pour localiser la cause probable d'un défaut, constitue-t-elle une opération. délicate. En effet, il est généralement impossible de localiser un défaut en excitant des entrées externes et en observant seulement l'état des sorties externes, chaque configuration d'états ne correspon dant pas à un unique défaut possible. Ce problème est, dans une certaine mesure, surmonté, dans certains testeurs fonctionnels, en prévoyant une sonde manuelle qui peut être utilisée au cours de la phase de diagnostic sur les cartes qui se sont révélées défectueuses au test fonctionnel. Au cours de cette phase, un opérateur place la sonde sur divers noeuds du circuit de manière qu'un noeud interne puisse être observé d'une façon assez semblable à celle dont il est observé dans un testeur in situ. Une telle procédure est cependant lente et requiert l'attention d'un opérateur expérimenté. Dans ce contexte, un objet de la présente invention est de proposer un dispositif qui non seulement permette le test fonctionnel d'un circuit comprenant une pluralité de composants disposés sur un support isolant et reliés les uns aux autres par un réseau de conducteurs s'étendant sur une surface au moins du support, tel qu'une carte de circuit imprimé, mais qui ouvre également la possibilité d'obtenir un diagnostic sur la cause d'un défaut fonctionnel constaté, sans poser les mêmes problèmes mécaniques de connexion ni les problèmes de risques d'endommagement qui se posent dans un testeur in situ. Selon un premier aspect, le dispositif de la présente invention comprend une couche d'un milieu électro-optique de dimensions sensiblement égales aux dimensions du circuit assemblé, et placé électriquement à proximité de la surface porteuse de conducteurs. On connait dans l'art antérieur, par exemple par le brevet US 4 618 819, l'utilisation de matériaux électro-optiques pour l'observation de signaux électriques à distance, c'està-dire sans contact mécanique avec le conducteur sur lequel transitent ces signaux. Le système décrit dans ce brevet utilise un cristal électro-optique physiquement placé à proximité de la surface d'un circuit intégré non encore encapsulé. Un faisceau de lumière polarisée est dirigé vers une région du cristal au voisinage d'un conducteur dans lequel circule un signal électrique a mesurer, et reflé- chie. Selon des lois bien connues, une caractéristique de la lumière réfléchie est affectée par le champ électrique existant autour du conducteur, de sorte que, par une détection appropriée, ce champ électrique, et le signal qui le produit, peuvent être détectés.Ainsi, une image du signal électrique dans le conducteur peut être obtenue. Bien que l'invention reprenne certaines caractéristiques de ce dispositif antérieur, elle s'en distingue sur de nombreux points, notamment en raison de ce que le dispositif connu est exclusivement conçu pour la mesure de signaux circulant dans un ciruit intégré, et non pour l'examen de signaux circulant entre des composants d'un circuit assemblé, tels que ceux d'une carte de circuit imprimé. Ainsi, non seulement ce dispositif ne fait pas apparaitre la possibilité technique de mettre en oeuvre un procédé électro-optique sur un circuit qui, à la fois présente des dimensions très grandes par rapport à celles d'un circuit intégré et des défauts de planéité très importants que ne présente pas du tout un circuit intégré, mais surtout ce dispositif connu, qui ne conduit qu'à l'obtention d'une information analytique, non représentative d'un fonctionnement global, n'est en rien concerné par les problèmes que posent les tests de circuits assemblés, et ne divulgue ni n'évoque l'aptitude d'un procédé électro- optique à concilier les exigences des tests fonctionnels et des tests in situ. Dans une forme de réalisation possible de l'invention, le matériau électro-optique peut être constitué par un film polymère, doté de propriétés électro-optiques et appliqué directement sur la surface porteuse de conducteurs avant le montage et l'assemblage des composants. Un dispositif conforme à l'invention et destiné à constituer un ATE comprend, outre la couche de matériau électrooptique: - des moyens pour diriger de la lumière sur une région quel conque du milieu électro-optique, et pour recevoir de la lumière en retour, de façon telle que les effets électro optiques apparaissant dans le milieu puissent être détec tés, - des moyens pour appliquer une configuration de signaux de test électriques sur un ou plusieurs noeuds externes de manière qu'un signal de réponse soit produit sur au moins un noeud du circuit, la lumière étant susceptible d'être dirigée sur une région du milieu électro-optique qui est électriquement à proximité d'un conducteur constituant ce noeud, de manière à en produire une image, - et des moyens pour comparer cette image avec la réponse idéale d'un circuit fonctionnant correctement et pour pro duire un signal de sortie représentatif de cette comparai son. De préférence, le milieu électro-optique est choisi avec une structure telle qu'il soit sensible à la composante de champ électrique qui est perpendiculaire-à son plan. Un ATE selon la présente invention fonctionne de préférence comme un testeur fonctionnel, entrant dans une phase de test dans laquelle seules les entrées et les sorties externes sont excitées et observées, et susceptible d'entrer, en cas d'échec de la phase de test, dans une phase de diagnos tic, dans laquelle davantage de noeuds, et notamment des noeuds internes, sont examinés. Les noeuds sont avantageusement examinés tour à tour, et une multiplicité de configurations de test sont appliquées pendant chaque examen. De préférence, toutes les configurations possibles de test qui affectent le noeud en cours d'examen sont appliquées consécutivement. Selon une forme de réalisation préférée de l'invention, dans le cas où le milieu électro-optique n'est pas constitué par un film polymère directement déposé sur la surface porteuse de conducteurs, ce milieu est électriquement placé à proximité de cette surface par l'intermédiaire d'un organe d'interface, propre à reporter sur le milieu électrooptique, en conservant leur disposition spatiale relative, les potentiels électriques apparaissant sur ladite surface porteuse de conducteurs Cet organe d'interface peut comprendre une pluralité de colonnes conductrices essentiellement parallèles les unes aux autres et isolées les unes des autres, l'ensemble adoptant la forme d'un patin flexible de dimensions sensiblement égales à celles du milieu. Ce patin peut en outre présenter une surface profilée de manière à épouser la forme du circuit assemblé, si celui-ci n'est pas plan. Selon un autre aspect de la présente invention, la lumière peut être dirigée de façon globale sur le milieu électrooptique, ou sur une partie de ce dernier. Le milieu électrooptique comporte une pluralité de sites, individuellement susceptibles de subir une polarisation électrique, sur le trajet de la lumière. A l'utilisation, un seul site peut être mis en fonctionnement par polarisation, de sorte que la lumière détectée à la sortie est représentative d'une seule région du milieu. Pour permettre une meilleure appréciation des caractéristiques et avantages de la présente invention, des modes de réalisation particuliers de cette dernière seront décrits, à titre indicatif et nullement limitatif, en référence aux dessins schématiques annexés, dans lesquels - la figure 1 représente un mode de réalisation d'un ATE selon l'invention, - la figure 2 représente des parties de l'équipement de la figure 1, - la figure 3 représente un montage optique, - la figure 4 représente un organe d'interface, - la figure 5 représente un autre organe d'interface, - la figure 6 représente une variante d'un ATE conforme à l'invention, - la figure 7 représente'une dépendance de l'effet électro optique vis-à-vis d'une tension électrique appliquée, - la figure 8 est une vue en perspective représentant des éléments de 1'ATE de la figure 6. Selon l'invention, un équipement de test automatique comprend (figure 1) une couche d'un milieu électro-optique 10 de dimensions sensiblement égales à celles d'un circuit assemblé, tel qu'une carte de circuit imprimé 11 à tester, l'ensemble étant combiné de façon telle que le milieu électro-optique soit électriquement à proximité de la surface 12 de la carte 11 qui porte le circuit électrique, ce dernier comprenant des composants tels que 15. La surface 12 porte des conducteurs tels que 16 et 17 qui connec tent les composants les uns aux autres, et constituent de la sorte des noeuds électriques du circuit.Le milieu 10 peut être électriquement placé à proximité de la surface 12 par le biais d'un organe d'interface 18 qui a pour fonction de transférer vers sa surface supérieure 100 (dans la disposition de la figure 1) les potentiels électriques qui se manifestent sur sa surface inférieure 19. En fonctionnement, la surface inférieure 19 est en contact avec la carte de circuit imprimé, tandis que la surface supérieure 100 est en contact avec le milieu 10. La lumière d'une source 101 peut être dirigée vers, et reçue en retour de, toute région de la surface 12 de la carte, au moyen d'un organe de contrôle de position 102 la lumière reçue étant acheminée vers un détecteur 103 par un séparateur de faisceau lumineux 104, tel qu'une lame semi-transparente. Le détecteur 103 est sensible aux variations des caractéristiques optiques du milieu 10 qui sont induites par les variations de champ électrique au voisinage de la région d'incidence de la lumière sur le milieu 10, de manière à produire une image de ce champ, adoptant la forme d'un signal électrique sur la sortie 105 de ce détecteur, ce signal étant donc aussi représentatif du signal électrique, quel qu'il soit, qui est présent sur le conducteur dont le potentiel a été transmis vers le milieu électro-optique, dans la région d'incidence de la lumière, par l'organe d'interface 18. La carte 11 possède des connecteurs latéraux tels que 106 et 107 qui sont imprimés sur cette carte et qui constituent les noeuds externes du circuit, sur lesquels il est possible d'établir une connexion physique grâce à des connecteurs femelles standard de type approprié, dont l'utilisa tion est bien connue dans les testeurs fonctionnels de l'art antérieur. Une configuration de signaux de test peut être appliquée à ces noeuds externes en vue d'exciter le circuit et de manière à faire apparaitre une réponse du circuit au noeud qui est soumis à l'observation électrooptique, ce qui se traduit par l'apparition d'une image de cette réponse sur la sortie 105. Grâce à une analyse théorique préalable du circuit à tester, le signal de sortie théorique idéal, pour le circuit à tester et la configuration de signaux de test appliquée, peut être déterminé à l'avance comme cela est fait couramment avec les ATE de l'art antérieur, et le signal idéal attendu 108 peut être comparé, par un comparateur 109, au signal de sortie 105 réellement obtenu. Si cette comparaison révèle une différence,le comparateur 109 produit sur sa sortie 110 l'indication d'un défaut révélé par le test. I1 convient de noter que la figure 1 correspond à une vue en coupe d'une carte de circuit imprimé. Pour une meilleure compréhension de la description, une vue en plan de la même carte, avec ses conducteurs (encore appelés "pistes") et un composant électronique est représentée sur la figure 2, la figure 1 correspondant à une vue en coupe suivant la direction II et II' de cette figure 2. Typiquement, une carte de circuit imprimé adopte une forme rectangulaire de 200 mm par 300 mm, le milieu électro-optique 10 et l'organe d'interface 18 ayant sensiblement les mêmes dimensions.Les composants électroniques, tels que 15, qui sont implantés sur la carte sont le plus souvent des composants numériques en boîtier à deux rangées de broches , une partie du réseau de pistes interconnectant ces composants est représentée sur la figure 2 , dans la mesure où les composants sont insérés sur la face inférieure de la carte 11 (dans la disposition de la figure A), le composant 15, non directement visible, est représenté en pointillés sur la figure 2, à l'exception de ses broches qui, traversant la carte pour être soudées sur les pistes portées par la surface 12, sont visibles sur la figure 2. En fonctionnement, l'organe d'interface 18 est placé en contact avec la surface 12 portant les conducteurs, comme représenté partiellement sur la figure 2. Cet organe d'interface 18 comprend une pluralité de colonnes conductrices, telles que la colonnes 111, arrangées en matrice de façon telle que le potentiel de chaque conducteur peut être reporté sur le milieu électro-optique 10 (également représenté en partie), grâce à au moins une de ces colonnes conductrices. La nature et le fonctionnement de l'organe d'interface 18 seront détaillés dans la suite de la description. I1 est à noter que chacune des colonnes correspond à une région séparément observable du circuit et que la lumière est susceptible d'être dirigée sur chacune d'elles, et reçue en retour de chacune d'elles. La lumière est constituée par un faisceau de lumière polarisée provenant d'un laser, et l'analyse de la lumière reçue en retour consiste en une détection de la rotation du plan de polarisation, par exemple mise en oeuvre par un montage polarimétrique comprenant un prisme de Wollaston séparant la lumière reçue en deux faisceaux pour sa détection. Le détecteur est en fait constitué de deux détecteurs, de manière à permettre une mesure de la différence des intensités des deux faisceaux lumineux, et une compensation des variations d'intensité lumineuse de la source. En variante, le matériau électro-optique peut être constitué par un film d'un polymère doté de propriétés électrooptiques, déposé directement sur la surface porteuse de conducteurs avant mise en place des composants, et dont la face en contact avec les conducteurs possède, naturellement ou grâce à un dépôt sérigraphique de micro-pastilles métalliques, un certain pouvoir de réflexion de la lumière; par exemple, ce film peut être intégré à la carte de circuit imprimé au moment de sa fabrication. Une telle structure, qui permet de se dispenser de l'organe d'interface, conduit à l'obtention de cartes électroniques aptes, dès leur fabrication, à subir un test bénéficiant de tous les avantages de l'invention. Le mécanisme par lequel les signaux peuvent être détectés par effet électro-optique sera maintenant décrit de façon plus détaillée (figure 3), plus particulièrement en référence au mode de réalisation qui fait intervenir l'organe d'interface, les phénomènes décrits étant cependant les mêmes dans le cas de l'utilisation d'un film polymère. La lumière d'émission d'un laser 30 (par exemple un laser HeNe de 633 nm de longueur d'onde) est polarisée linéairement par un polariseur 31 et acheminée, via une lentille 32, vers un déflecteur acousto-optique 33 de manière à être dirigée, via une lentille 34, vers un point d'inspection 35 d'une surface réfléchissante 36 d'un cristal électrooptique 37. Le déflecteur acousto-optique 33, connu en soi, est commandé par un signal de tension continue émis par un organe de commande de 1'ATE (non représenté), de manière à défléchir la lumière qu'il reçoit sur tout point du milieu électro-optique dont l'examen est désiré. Dans un mode de réalisation préféré, deux déflecteurs acousto-optiques peuvent être placés en série. Un premier signal de tension contrôle alors la déflexion du faisceau selon une première direction, correspondant par exemple à l'une des deux dimensions de la carte à tester, et l'autre signal de tension commande la déflexion suivant une seconde direction, de préférence perpendiculaire à la première et correspondant par exemple à l'autre dimension de la carte. Une telle utilisation de deux déflecteurs permet de réduire le temps requis pour passer d'un point d'observation 35 à un autre à des temps de l'ordre de quelques microsecondes au maximum. La surface réfléchissante 36 est essentiellement isolante, au moins en ce sens qu'un potentiel électrique appliqué en un point de cette surface n'est pas propagé à d'autres points de celle-ci. Ainsi, si les qualités de réflexion de cette surface sont obtenues par un dépôt métallique, nécessairement conducteur, ce dernier ne consiste pas en une couche uniforme, mais en une matrice de pastilles réfléchissantes disposées en damier et non reliées les unes aux autres, dont chacune cependant est électriquement reliée au voisinage d'un point à tester, tel qu'un point de test 38 de la carte 39, grâce à l'organe d'interface 300 (directement dans le cas d'un film polymère). Selon une variante possible, la surface réfléchissante 36 peut être constituée d'un matériau intrinsèquement isolant. Une électrode transparente 301 est disposée en couche sur la première face, rencontrée par la lumière incidente, du cristal électro-optique 37, et cette électrode est maintenue au potentiel de la masse qui constitue la référence des potentiels ; ainsi, si le potentiel électrique du point de test examiné diffère de cette référence, la polarisation de la lumière réfléchie est, en raison du champ électrique appliqué suivant l'épaisseur du cristal électro-optique 37, différente de celle de la lumière incidente, et cette différence est détectée. Dans le cas d'un film polymère, cette électrode est interrompue au voisinage des emplacements des broches de composants, pour éviter les court-circuits. Pour un cristal de structure cubique, tel que le germanate de bismuth Bi4Ge3O12, dont l'axe cristallographique (100) est optiquement orienté de façon normale à une lame quart d'onde 302, le retard de phase de la lumière dû à l'effet électro-optique subi est proportionnel à la différence de potentiel entre les faces du cristal 37 au point d'observation et indépendant de la distribution du champ électrique dans le cristal. La lumière réfléchie est renvoyée vers la lame quart d'onde 302 par un séparateur 303 ; en aval de la lame 302, la lumière est acheminée, par une lentille 304, vers un analyseur de Wollaston 305, duquel émergent deux faisceaux atteignant des détecteurs photo-électriques respectifs 308 et 309, qui, sur leurs sorties 306 et 307, produisent des signaux électriques respectifs Il et I2. Ce type de détection polarimétrique conduit aux relations suivantes I1 = I. (1 + m) et 12 = I. (1 dans lesquelles I est une grandeur proportionnelle à l'intensité lumineuse du laser 30 et dans lesquelles m est le retard de phase détecté, exprimé en radians et supposé petit. Un amplificateur différentiel 310 recevant les signaux des sorties 306 et 307 produit sur sa sortie 311 un signal I1 - I2, donc égal à 2.I.m. Dans la mesure où, au cours d'un test, les éventuelles variations d'intensité lumineuse du laser 30 correspondent à des fréquences beaucoup plus basses que les fréquences de variation de m, la grandeur m peut être directement obtenue par un filtrage adéquat du signal électrique disponible sur la sortie 311 de l'amplifi cateur 310. En variante, un signal I1 + I2 peut être utilisé pour asservir l'intensité lumineuse de la source. Pour un cristal de structure non cubique, tel que le niobate de lithium LiNbO3, l'effet électro-optique est également proportionnel à la différence de potentiel entre les faces du cristal électro-optique. L'emploi d'un tel cristal requiert cependant quelque précaution, dans la mesure où le coefficient de proportionnalité entre la différence de potentiel et l'effet obtenu dépend de l'orientation de coupe du cristal. Les propriétés souhaitables du cristal electro-optique sont une faible absorption, une faible diffusion, et une faible biréfringence circulaire et linéaire. Si un matériau très biréfringent est utilisé, tel que le niobate de lithium par exemple, une faible variation de l'angle d'incidence de la lumière conduit à une variation sensible du retard de phase statique. Les fluctuations thermiques produisant des variations d'épaisseur du cristal ont des effets similaires, et l'un et l'autre doivent être évités. Pour améliorer les performances d'un tel matériau biréfringent, une commande de l'état de polarisation de la lumière incidente peut, conformément à la présente invention, être prévu, par exemple en réponse à l'angle d'incidence ou à la température. En outre, ou en variante, le dispositif de l'invention peut comprendre, en tant que milieu électrooptique, une structure de cristaux présentant des orientations perpendiculaires, mais des épaisseurs sensiblement identiques, de manière à atténuer ou supprimer la biréfringence. Le milieu électro-optique présente avantageusement une résistivité au moins de l'ordre de 1010 Ohm.cm, en particulier pour tester des circuits basse fréquence, et une constante diélectrique au plus de l'ordre de 100, de manière à n'introduire qu'une faible capacité (1 pF ou moins). A l'intérieur de l'organe d'interface 18 (figure 4), une colonne conductrice 111 est noyée dans un substrat isolant flexible 112. Chaque colonne, telle que 111, est par exemple cylindrique. Le substrat 112 renferme un ensemble d'autres colonnes parallèles les unes aux autres et espacées les unes des autres suivant la longueur et suivant la largeur de l'organe d'interface 18. En fonctionnement, cet organe est placé en contact avec la surface porteuse de conducteurs 12 d'une carte 11 de circuit imprimé de manière que la surface inférieure 113 de la colonne 111 soit à proximité d'un conducteur 114 de la surface 12 ; de façon analogue, les surfaces des autres colonnes sont à proximité d'autres conducteurs. Le potentiel électrique dans le conducteur 114 impose un potentiel équivalent dans le conducteur qui constitue la colonne 111, et ce dernier potentiel peut être observé à la surface supérieure 115 de cette colonne. Un film conducteur 116 est appliqué à la surface supérieure 117 de l'organe 18, sauf au voisinage immédiat des zones dans lesquelles les colonnes conductrices affleurent par leur surface supérieure ; le film conducteur 116 peut être relié à la masse, -de manière à produire un saut de potentiel abrupt au voisinage des surfaces supérieures des colonnes, permettant l'observation de l'effet électro-optique comme décrit ci-dessus. I1 est à noter que dans la mesure où aucun passage de courant électrique dans la colonne 111 n'est nécessaire, une résistance élevée peut être tolérée au voisinage du conducteur 114. Ainsi, le dispositif peut être utilisé pour exami ner un circuit monté sur la carte, par exemple sur la carte 11, sur laquelle une couche 118 d'un vernis protecteur isolant a été appliquée. Cette propriété constitue un avantage fondamental des équipements automatiques de test conformes à l'invention. Elle permet en effet de tester les cartes à la fin de la série des étapes de production, y compris après l'application du vernis.Avec les testeurs in situ classiques, le vernis ne peut être appliqué avant le test, puisque les clous doivent faire directement contact avec les conducteurs ; même en phase de test fonctionnel, le vernis doit être ôté pour que la sonde manuelle puisse être utilisée. Grâce à la présente invention, les cartes peuvent être testées à l'état fini. Un autre avantage de l'invention est que l'activité des noeuds internes peut être observée avec une perturbation tout-à-fait négligeable par rapport à celle qui est nécessairement introduite dans les testeurs classiques. En effet, tout contact avec une sonde, c'est-à-dire avec un élément dans lequel s'établit une circulation de courant, perturbe le fonctionnement normal du circuit testé, de sorte que celui-ci peut, avec les testeurs de l'art antérieur, ne pas se comporter de la même façon lorsqu'il est examiné et lorsqu'il ne l'est pas. Dans les testeurs conventionnels, la vitesse maximale à laquelle un circuit testé peut fonctionner peut, le cas échéant, être limitée pour les besoins du test. Ainsi, les tests ne sont pas conduits dans le même environnement opérationnel que celui dans lequel le circuit doit normalement fonctionner. Ceci constitue un problème majeur dans les testeurs fonctionnels dont la sonde manuelle a une capacité élevée (de l'ordre de 100 pF). En revanche, l'organe d'interface 18 peut n'avoir qu'une capacité de 1 pF, autorisant ainsi un fonctionnement du circuit à pleine vitesse pendant son test. Lorsque la surface porteuse de conducteurs du circuit assemblé à tester présente des reliefs, comme c'est le cas pour la carte 50 représentée sur la figure 5, la surface correspondante de l'organe d'interface 51 est creusée ou moulée avec un profil adéquat. La carte 50 porte par exemple un circuit utilisant des composants montés en surface, tels que 52, dont les broches de connexion sont directement rendues solidaires des pistes conductrices 53, sans traverser la carte 50. Dans une telle structure, une surface conductrice plane peut ne pas exister, et c'est la raison pour laquelle l'organe d'interface 51 est adapté à recevoir les composants montés en surface, tout en continuant à présenter une surface plane au voisinage du milieu électro-optique 54. Dans un autre mode de réalisation de l'invention (figure 6), la lumière est dirigée de façon globale et latéralement sur un milieu électro-optique 60 disposé électriquement à proximité de conducteurs, tels que le conducteur 61, imprimés sur une carte 62 d'un circuit électrique à tester. La lumière est recueillie au delà de la face latérale opposée du milieu 60 par un détecteur 63 qui produit un signal de sortie obéissant aux relations présentées antérieurement. Ce signal de sortie disponible en 64 peut être utilisé par 1'ATE comme précédemment décrit. Des électrodes, telles que l'électrode 65, sont disposées sur la surface supérieure du milieu électro-optique 60 le long du trajet de la lumière. Des connexions électriques (non représentées) permettent de porter chaque électrode à un potentiel de polarisation choisi, par exemple à zéro volt ou à 20 volts par rapport au potentiel de référence. Dans ces conditions, l'état de la lumière transmise et reçue par le détecteur 63 dépend des potentiels électriques apparaissant de part et d'autre du milieu électro-optique. Dans la mesure où le circuit disposé au dessous de ce milieu est excité, les potentiels électriques qui s'y développent sont retransmis vers la face inférieure du milieu 60 par l'intermédiaire de l'organe d'interface 66. Pour prendre l'exemple d'un circuit numérique, ayant un O logique à 0 volt et un 1 logique à 5 volts, et en supposant que toutes les électrodes de polarisation 65 sont portées au potentiel de 0 volt, la différence de potentiel appliquée de part et d'autre du milieu électro-optique 60 est soit de 0 volt, soit de 5 volts. La caractéristique (figure 7) du milieu électro-optique choisi pour ce mode de réalisation de l'invention est une courbe 70, reliant l'effet électro-optique à la différence de potentiel. Ainsi, pour un potentiel appliqué de 0 à 5 volts, l'effet électro-optique sera détecté entre les points a et b en ordonnées. Supposons maintenant qu'une électrode, par exemple 65, soit polarisée à un potentiel de 20 V. La différence de potentiel apparaissant de part et d'autre du milieu 60 dans la région du conducteur 61 est donc soit 20 volts (0 logique), soit 15 volts (1 logique). Ces différences de potentiel peuvent produire un effet dont l'intensité est représentée en ordonnées entre les points c et d. On comprend ainsi que les signaux dynamiques apparaissant dans la région d'une électrode polarisée à un potentiel non nul peuvent être discriminés des effets cumulatifs produits dans la région de l'électrode non polarisée, c'est-à-dire reliée à un potentiel nul, la variation de c à d étant beaucoup plus--importante que celle de a à b. Ainsi, par une polarisation sélective des électrodes, l'activité électrique dans toute région le long du trajet de la lumière peut être examinée. Pour examiner une région d'activité, une série de détecteurs 80 (figure 8) s'étendant le long du bord du milieu électro-optique qui est opposé à celui auprès duquel est disposé la source est nécessaire. Les éléments identiques apparaissant aux figures 6 et 8 sont affectés de la même référence. Les électrodes de polarisation, telles que l'électrode 65, adoptent la forme de bandes qui s'étendent d'un bord à l'autre du milieu électro-optique 60, dans une direction sensiblement perpendiculaire à la direction moyenne de propagation de la lumière dans ce milieu, de sorte que l'activité électrique de toute région peut être examinée en polarisant l'électrode qui passe par cette région et en sélectionnant le signal de sortie du détecteur, tel que 81, qui reçoit la lumière qui a traversé cette région. La façon dont le fonctionnement d'un ATE conforme à la présente invention peut être conçu sera maintenant décrit. Dans un circuit assemblé tel qu'une carte de circuit imprimé, l'état de chacune des bornes de sortie dépend évidemment des états antérieurs des bornes d'entrée ; par exemple, l'état Sk de la kième borne de sortie, pour un circuit dont le fonctionnement est correct, est une fonction Fk de l'ensemble E des états des bornes d'entrée, ce qui peut s'écrire : Sk = Fk([E)). Le rôle assigné aux testeurs fonctionnels de l'art antérieur est de vérifier que pour un ensemble (E) d'états assignés aux bornes d'entrée du circuit, l'état de chaque borne de sortie, tel que l'état Sk de la kième, est bien déduit de l'ensemble [E) des états des bornes d'entrée par l'application d'une fonction, telle que Fk, qui caractérise le fonctionnement d'un circuit correct. Si tel n'est pas le cas, c'est-i-dire si l'état d'au moins une borne, telle que la kième, n'est pas correct, et par exemple S'k au lieu de Sk, le circuit testé est indubitablement défectueux. Cette information n'est cependant d'aucune aide pour la remise en état du circuit, et l'on peut, pour mieux le comprendre remarquer que la dépendance de Sk et de [E] est très complexe. Si, en effet, on veut l'expliciter davantage, on est conduit à considérer que l'état de chacune des bornes de sortie dépend de l'état des bornes d'entrée par l'intermédiaire des états qu'adoptent les noeuds internes du circuit. Pour un circuit correct, on peut donc écrire que l'état Sk de la kième borne de sortie dépend, par une fonction qu'on notera Gk, de l'ensemble [E) des états des bornes d'entrée non pas directement, mais par l'intermédiaire de l'état I1 du premier noeud interne, de l'état I2 du second noeud interne, etc..., ce qui peut s'écrire, dans le cas d'un circuit à n noeuds internes Sk = Gk (I1, 12,..., In). Si, au lieu d'adopter l'état Sk, la kième borne de sortie adopte l'état S'k, c'est peut-être parce qu'au lieu d'adopter l'état I1, le premier noeud adopte un état I'1, et/ou parce qu'au lieu d'adopter l'état I3, le troisième noeud adopte un état I'3, etc..., ce qui conduit à un ensemble de possibilités telles que S'k = Gk (I'1, I2,..., In) ou S'k = Gk (Il, I2, I'3,..., In) ou S'k = Gk (I'l, 12, I'3,..., In), etc... En général, l'apparition d'un état anormal S'k peut être à priori dû à un grand nombre de causes possibles, parmi lesquelles un testeur fonctionnel classique ne peut discerner la cause réelle sans le recours à des procédures complémentaires longues et délicates. En revanche, un ATE conforme à l'invention peut, pour le diagnostic, c'est-à-dire après la mise en évidence d'une défaillance fonctionnelle du circuit testé, se manifestant par au moins un résultat anormal à l'examen des noeuds de sortie de ce circuit, être utilisé de la façon suivante. Tout d'abord un noeud interne est choisi et examiné, et toutes les combinaisons possibles ou souhaitables d'états sont appliquées aux bornes d'entrée du circuit tandis que les états correspondants du noeud examiné sont enregistrés. Sur la base des résultats obtenus, le plus grand nombre d'hypothèses possibles de disfonctionnement sont éliminées. Puis un autre noeud est choisi et la même procédure est répétée. Les noeuds internes sont ainsi tour à tour examinés jusqu'à la mise en évidence de l'origine du défaut. L'homme de l'art comprendra néanmoins que la présente invention ne se limite pas au seul mode d'exploitation précédemment décrit et autorise, notamment, le recours aux techniques classiques de dépistage amont (connues sous le terme anglais de "backtracking"), y compris l'utilisation de systèmes experts. L'homme de l'art comprendra également que bien que les modes de réalisation décrits ne fassent état que d'un seul faisceau lumineux, l'utilisation de plusieurs faisceaux appartient au domaine de la présente invention. REVENDICATIONS 1. Dispositif destiné à permettre le test d'un circuit (11, 15, 16, 17) comprenant une pluralité de composants (15) disposés sur un support isolant (11) et reliés les uns aux autres par un réseau de conducteurs (16, 17) s'étendant sur une surface (12) au moins du support, tel qu'une carte de circuit imprimé, ce dispositif comprenant une couche (10) d'un milieu électro-optique de dimensions sensiblement égales à celles du circuit et placée électriquement à proximité de la surface porteuse de conducteurs, 2.Dispositif suivant la revendication 1, comprenant en outre des moyens (30 à 33) pour diriger de la lumière sur une région quelconque du milieu électro-optique, et pour recevoir de la lumière en retour, de façon telle que les effets électro-optiques apparaissant dans le milieu puissent être détectés, et des moyens pour appliquer une configuration de signaux de test électriques sur un ou plusieurs noeuds externes (106) de manière qu'un signal de réponse soit produit sur au moins un noeud du circuit, la lumière étant susceptible d'être dirigée sur une région du milieu électro-optique qui est électriquement à proximité d'un conducteur cons tituant ce noeud, de manière à en produire une image. 3. Dispositif suivant la revendication 1 ou 2, dans lequel de la lumière peut être globalement dirigée sur un mi lieu électro-optique, ou sur une partie de ce dernier, ce- milieu électro-optique comportant une pluralité de sites (65) individuellement susceptibles de subir une polarisation électrique, sur le trajet de la lumière, ces sites étant individuellement susceptibles d'être mis en fonctionnement par polarisation, de façon telle que la lumière détectée à la sortie soit représentative d'une région individuelle du milieu. 4. Dispositif suivant la revendication 3 dans lequel la lumière est détectée par une série de détecteurs (80) dont chacun possède une sortie propre. 5. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 2 à 4, comprenant des moyens (310) pour comparer ladite image avec la réponse que doit avoir le circuit correct et pour produire un signal de sortie représentant le résultat de la comparaison. 6. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la couche électro-optique a une structure telle qu'elle est sensible à la composan te du champ électrique qui est perpendiculaire à son plan. 7. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 2 à 6, conçu pour opérer en tant que testeur fonctionnel, susceptible d'entrer dans une phase de test dans laquel le seules les entrées et sorties externes du circuit sont excitées et observées, et susceptible d'entrer, en cas de défaillance révélée par la phase de test, dans une phase de diagnostic dans laquelle un plus grand nombre de noeuds, y compris des noeuds internes, sont examinés. 8. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 2 à 7, dans lequel les noeuds sont examinés tour à tour, un ensemble de configurations de signaux de test étant appliqué à chaque examen. 9. Dispositif selon la revendication 8, dans lequel toutes les configurations possibles de signaux de test suscep tibles d'affecter un noeud en cours d'examen, sont appliquées de façon consécutive. 10. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le milieu électro-optique est électriquement placé à proximité de la surface (12) porteuse de conducteurs par l'intermédiaire d'un organe d'interface (18) propre à reporter sur le milieu élec tro-optique les potentiels électriques se manifestant sur ladite surface. 11. Dispositif suivant la revendication 10, dans lequel ledit organe d'interface comprend une pluralité de colonnes conductrices (111) essentiellement parallèles les unes aux autres et isolées les unes des autres. 12. Dispositif suivant l'une quelconque des revendications 10 et 11, dans lequel l'organe d'interface a une surface profilée pour épouser le contour du circuit assemblé. 13. Dispositif selon la revendication 1, ou l'une quelcon que des revendications 5 à 9, dans lequel le milieu électro-optique est formé par un film polymère doté de propriétés électro-optiques et directement appliqué sur les conducteurs avant implantation des composants 14. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 2 à 13, dans lequel les moyens pour diriger la lumière sur toute région du milieu électro-optique comprend deux déflecteurs électro-acoustiques montés en série. 15. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 1, 2, et 5 à 14, dans lequel le milieu électro-optique a une surface réfléchissante formée par un ensemble de miroirs métalliques électriquement séparés les uns des autres. 16. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 2 à 15, comprenant des moyens pour imposer l'état de polarisation de la lumière incidente. 17. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le milieu électro-optique comprend des cristaux d'épaisseurs sensiblement identi ques et présentant des orientations perpendiculaires l'une à l'autre. 18. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 7 à 17, susceptible, dans une phase de diagnostic, d'ef fectuer un dépistage amont. 19. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 2 à 18, dans lequel la lumière comprend un ensemble de faisceaux individuellement orientables.