Brevet FR2603403A1 — publié le 19880304

SYSTEME ELECTRONIQUE DE SAISIE ET DE TRAITEMENT DE DONNEES SUR UNE INSTALLATION DE SYNTHESE DE POLYMERES. La présente invention a pour objet un système électronique de saisie et de traitement de données sur une installation de synthèse de polymères pour la maitrise simultanée de plusieurs processus physico-chimiques rapides. Dans les installations de synthèse de polymères, et plus particulièrement dans les installations pilotes constituant des centres d'essai pour la fabrication de différentes matières plastiques, il est important de disposer d'un nombre important de renseignements, afin de pouvoir assurer un bon suivi des processus chimiques divers qui interviennent au cours de la polymérisation. Or, en pratique, la surveillance d'une installation de synthèse de polymères n'est pas aisée car certains processus, tels que les phénomènes d'autodécomposition ~ thermique, sont très rapides, de sorte que l'exploitation des données fournies par les appareils de mesure indicateurs ou enregistreurs ne peut être réalisée å partir de simples relevés, manuels ou automatiques, présentant une périodicité fixe et prédéterminée pour l'ensemble des paramètres utiles. Par ailleurs, une analyse permanente très fine de l'ensemble des paramètres utiles nécessiterait des moyens de contrôle très importants, et donc coûteux, fournissant un très grand nombre d'informations, dont seule une petite partie serait réellement utile pour l'exploitation des résultats. La présente invention vise précisément à remédier aux inconvénients précités et à réaliser un système électronique de saisie et de traitement de données qui permette la surveillance globale d'une installation avec la prise en compte simultanée d'un grand nombre de paramètres, tout en impliquant un coût et une compLexité relativement limités eu égard au nombre de paramètres concernés. Ces buts sont atteints grâce à un système électronique de saisie et de traitement de données sur une installation de synthèse de polymères pour la maîtrise simultanée de plusieurs processus physico-chimiques rapides, caractérisé en ce qu'il comprend un ensemble de N voies de mesure avec N capteurs de grandeurs physiques répartis dans l'installation de synthèse de polymères pour surveiller de façon systématique des paramètres essentiels du fonctionnement de l'installation et fournir un ensemble de N signaux électriques analogiques représentatifs des grandeurs physiques mesurées, en ce que L'ensemble de N capteurs de surveillance desdits paramètres essentiels comprend un premier sous-ensemble de n1 capteurs de surveillance de paramétres prioritaires du fonctionnement de l'installation et un second sous-ensemble de n2 capteurs de surveillance rapide de paramètres essentiels du fonctionnement de l'installation, en ce que le système comprend pour chaque voie de mesure un circuit d'isolation galvanique et d'amplification pour recevoir les signaux analogiques issus du capteur et délivrer des signaux analogiques isolés et normalisés et un circuit de conversion analogique numérique pour délivrer des signaux d'entrée correspondant à la voie considérée å partir des signaux analogiques normalisés, en ce que Le dispositif comprend en outre des moyens de traitement pour acquérir, gérer, stocker et afficher des données à partir des signaux d'entrée des N voies de mesure et en ce que les moyens de traitement comprennent des moyens de scrutation systématique périodique des N voies de mesure, des moyens de comparaison des signaux d'entrée scrutés avec des valeurs de seuils haut et bas, des moyens de détection de défaut en cas de dépassement vers le haut d'un seuil haut ou vers le bas d'un seuil bas par un signal d'entrée, et des moyens pour provoquer une scrutation rapide des voies de mesure correspondant au second sous-ensemble de n2 capteurs de surveillance rapide en cas de dépassement d'un seuil par les signaux d'entrée délivrés sur une voie de mesure de l'un quelconque des n1 capteurs de surveillance de paramètres prioritaires, et pour assurer L'établissement d'un tableau de valeurs de défaut comportant pour chacune des voies de mesure correspondant au second sous-ensemble de n2 capteurs, un nombre prédéterminé Z de résultats de mesure successifs établis à partir des signaux d'entrée fournis sur la voie considérée. Le système selon l'invention, garantit ainsi la surveillance globale en temps réel d'une installation avec la prise en compte simultanée d'un grand nombre de paramètres, tout en fournissant des relevés d'informations spécifiques permettant une analyse très détaillée des processus chimiques dans des conditions de fonctionnement particulières. De façon plus particulière, les capteurs de grandeurs physiques sont constitués par des capteurs de température, des capteurs de pression et des capteurs de débit. Le nombre n1 de capteurs de surveillance de paramètres prioritaires peut-être égal au nombre n2 de capteurs de surveillance rapide. Les premier et second sous-ensembles de capteurs peuvent comprendre au moins un certain nombre n3 de capteurs communs. A titre d'exemple, le nombre total N de voies de mesure est supérieur ou égal à 100 et les nombres n1 de capteurs de surveillance de paramètres prioritaires et n2 de capteurs de surveillance rapide sont chacun supérieurs ou égaux à 10. Dans le cas d'un système électronique de saisie et de traitement de données appliqué à une installation de polymérisation radicalaire de L'éthylène à haute pression et haute température, les capteurs de surveillance de paramètres prioritaires comprennent au moins des capteurs de surveillance de la température d'entrée du gaz éthylène dans chaque réacteur, de la température de sortie du polymère hors de chaque réacteur, du débit d'amorceur et du débit de gaz éthylène dans chaque zone réactionnelle et de la pression dans chaque réacteur. De préférence, les capteurs de surveillance de paramètres prioritaires comprennent en outre des capteurs des températures haut et bas du séparateur moyenne pression et un capteur de la pression dans ce séparateur. Avantageusement, les circuits de conversion analogique numérique des voies de mesure associées aux capteurs de surveillance de paramètres prioritaires ou aux capteurs de surveillance rapide présentent une résolution et une vitesse de conversion supérieures à celles des circuits de conversion analogique-numérique associés aux autres capteurs. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention ressortiront de la description suivante d'un mode particulier de réalisation de l'invention, donné à titre d'exemple, en référence aux dessins annexés sur lesquels : - la figure 1 est un schéma-bloc de l'ensemble du système électronique de saisie et de traitement de données selon L'invention, - les figures 2 et 3 sont des vues schématiques des différents modules d'une chaîne de saisie et de traitement des informations relatives à L'un des paramètres à surveiller, - la figure 4 représente le schéma d'un module particulier d'amplification et d'isolation galvanique pouvant être incorporé dans le système des figures 1 à 3, - la figure 5 est une vue schématique d'une installation pilote de polymérisation de L'éthylène à haute pression et haute température, à laquelle est applicable L'invention, - les figures 6 et 7 représentent des organigrammes montrant un exemple de fonctionnement du système de saisie et de traitement de données selon L'invention, et - la figure 8 représente le détail d'un exemple d'octet de défaut adapté aux organigrammes des figures 6 et 7. La figure 1 montre de façon schématique L'ensemble des différents modules du système électronique de saisie et de traitement de données pour la surveillance de divers paramètres de fonctionnement d'une installation pilote 100 de synthèse de polymères qui comprend un ensemble de capteurs fournissant des signaux analogiques dont la valeur varie en fonction de l'évolution de la grandeur physique mesurée par le capteur considéré. Les signaux analogiques fournis par les différents capteurs sont transmis par un bus analogique 1 à un premier circuit d'interface 2 assurant l'adaptation des signaux analogiques de niveau quelconque fournis par les capteurs en signaux analogiques de niveau uniformisé, par exemple, en signaux analogiques compris entre O et 5V ou 1 et 5V. Un bus analogique 3 relie le premier circuit d'interface 2 à un second circuit d'interface 4 comprenant un ensemble de circuits de conversion analogique-numérique pour convertir les signaux analogiques fournis par le bus analogique 3 en signaux numériques. Les signaux numériques délivrés par les circuits de conversion analogique-numérique 4 peuvent alors être transmis par des bus 5 de données et d'adresses à un ordinateur 6 comprenant une unité centrale, un clavier et un écran et étant lui-même relié, par un bus 7 constituant une interface normalisée, à des périphériques pouvant comprendre une imprimante 8 et une unité de disquettes 9. Cette dernière est avantageusement équipée de microprocesseurs de sorte que le système d'exploitation des disquettes est lui-meme résident dans l'unité 9 et n'occupe pas de place en mémoire centrale de l'ordinateur 6. A titre d'exemple, l'ordinateur 6 peut être constitué par un micro-ordinateur de la marque Commodore du type CBM 8032. Les circuits d'interface 2 et 4 seront décrits de façon plus détaillée en référence aux figures 2 et 4. La figure 2 montre le schéma général d'une channe de saisie de donnée relative à un paramètre particulier à surveiller. Un capteur 11 adapté à la grandeur physique à surveiller, délivre un signal électrique analogique sur les Lignes 12 reliées à un circuit 21 d'amplification et d'isolation, lui-même connecté à un circuit d'alimentation 22. Les signaux analogiques fournis par le capteur 11 sont isolés de la masse et amplifiés dans le circuit 21 de manière à présenter en sortie des valeurs uniformisées comprises par exemple entre O et 5 V. Les signaux uniformisés délivrés par le circuit 21 sont appliqués par des lignes 31 à un circuit 41 de conversion analogique-numérique, qui peut faire partie d'un ensemble de plusieurs circuits de conversion, par exemple huit ou seize signaux provenant de huit ou seize circuits 21 différents. Les signaux numériques délivrés par les circuits de conversion 41 sont alors appliqués par des lignes 51 du bus de données et d'adresses 5 à l'ordinateur 6. La figure 3 montre la mise en oeuvre d'un appareil indicateur 24, d'un appareil enregistreur 23, et d'un appareil régulateur 25 relié par des lignes 26 à un convertisseur 27. Comme on peut le voir sur la figure 3, sur laquelle on n'a pas représenté à nouveau les éléments 21, 31, 41, 51 de la chaîne de mesure de la figure 2, les appareils classiques 24, 23 et 25 sont montés en parallèle sur les lignes 12 sur laquelle sont fournis par le capteur 11 les signaux analogiques électriques qui servent à alimenter le circuit 21 d'isolation et d'amplification de la figure 2. La combinaison des schémas des figures 2 et 3 conduit à un mode de réaLisation du type parallèle dans lequel les cartes de conversion analogique-numérique regroupant plusieurs circuits de conversion 41 (par exemple seize circuits 41) faisant partie de voies de mesure différentes sont unipolaires et présentent un point commun à toutes Les voies, ce qui permet La conversion simultanée des voies de mesure à scruter par l'ordinateur 6, par multiplexage. On notera que les signaux des capteurs 11 ne sont pas perturbés par les circuits de conversion 41 du fait que sur une même voie les lignes de masse entrée#sortie sont différentes et n'ont aucun point commun même par les circuits d'alimentation 22. Il est ainsi essentiel que les circuits 21 assurent une fonction non seulement d'amplification, mais également d'isolation galvanique, afin d'éviter tout point commun par la masse entre les boucles de courant des différentes voies de mesure. A titre d'exemple, on a pris en considération sur la figure 4 un exemple de double circuit 21 d'isolation et d'amplification qui comprend pour chaque circuit 21 une barrière d'isolation du type optique avec un couplage par diode électroluminescente et photodiodes (non représentées sur le dessin). Le double circuit 21 d'isolation et d'amplification est constitué par un circuit intégré 211, 212 relié à un circuit d'alimentation 28 et auquel sont adjoints de façon classique des éléments extérieurs d'ajustement ou d'isolation : condensateurs 216, 217 d'isolation entre le point commun d'entrée et les tensions d'alimentation positive et négative, résistance 215 d'ajustement du gain, résistance 217 et condensateur 218 de contre-réaction, réseaux RC 213, 214 et 221, 222 d'entrée et de sortie de protection contre les parasites. Comme indiqué plus haut, la barrière d'isolation comprend avantageusement une diode électroluminescente montée en série à la sortie du premier circuit amplificateur 211 et disposée de manière à émettre son rayonnement d'une part vers une première photodiode branchée en parallèle sur l'entrée du premier circuit amplificateur 211 et servant d'organe de contre-réaction assurant une bonne stabilité d'entrée et d'autre part vers une seconde photodiode branchée en parallèle sur L'entrée du second circuit amplificateur 212 et constituant un organe récepteur réalisant l'isolement entre entrée et sortie. Grâce au circuit 21 d'isolation et d'amplification, les signaux de chaque capteur 11 sont amplifiés séparément avec un point de référence commun mais différent en entrée et en sortie. Ceci évite que la saisie de données perturbe le fonctionnement de l'installation et que des bouclages de masses entrainent des variations au niveau des lignes 12 de liaison des capteurs 11 aux appareils de mesure ou de saisie de données. Les circuits 41 de conversion analogique-numérique peuvent comprendre d'une part des convertisseurs AN ayant une résolution de par exemple 8 bits et des convertisseurs AN ayant une résolution plus grande, de par exemple 12 bits, pour la surveillance des paramètres les plus importants. Il est en outre préférable que certains convertisseurs 41, tels que les convertisseurs AN ayant la plus grande résolution, présentent une vitesse de conversion plus grande que celle des autres convertisseurs AN. On décrira maintenant, en référence aux figures 6 et 7, le fonctionement du système électronique de saisie et de traitement de données selon l'invention. A titre d'exemple, pour faciliter les explications, on considérera un ensemble de 144 voies de mesures comprenant chacune un capteur 11, un circuit d'isolation et d'amplification 21, et un circuit de conversion analogique-numérique 41 présentant une résolution de 8 ou 12 bits. De façon plus particulière, on considèrera le cas de 144 voies de mesure présentant des circuits de conversion analogique-numérique 41 regroupés en huit cartes de seize circuits de conversion A.N 41 ayant une résolution de 8 bits et une carte de seize circuits de conversion A.N 41 ayant une résolution de 12 bits. Les seize voies de mesure comprenant des circuits de conversion A.N 41 ayant une résolution de 12 bits sont affectées à la surveillance de paramètres prioritaires devant déclencher une procédure de surveillance d'urgence en scrutation rapide en cas de détection d'un défaut sur L'une de ces voies. En cas d'alarme déclenchée par la détection d'un défaut sur l'une des voies de mesure correspondant à des paramètres prioritaires, une procédure de scrutation rapide d'un nombre prédéterminé (par exemple seize) de voies mesurées définies à L'avance et comprenant des circuits de conversion A.N 41 ayant une résolution soit de 12 bits, soit de 8 bits, est effectuée pour permettre une analyse précise et fine de phénomènes rapides tels que des processus de décomposition par exemple. La procédure de scrutation rapide conduit à L'établissement d'un tableau de par exemple 128 mesures pour chaque voie pour laquelle est exécutée la scrutation rapide. Lorsque la procédure de scrutation rapide a conduit au remplissage complet d'un tableau de mesures, le tableau est verrouillé, pour permettre une sauvegarde des mesures et la scrutation périodique sur l'ensemble des voies de mesure est reprise. Lors de la scrutation cyclique de L'ensemble des 144 voies de mesure, pour chaque voie de mesure, le signal détecté et mis sous forme numérique est comparé à un seuil bas et à un seuil haut et le dépassement de ces seuils déclenche une alarme. Chaque fois qu'une alarme est détectée sur une voie de mesure d'un paramètre prioritaire, une procédure de scrutation rapide est déclenchée. L'organigramme des figures 6 et 7 illustre ce fonctionnement pour l'exemple considéré avec 128 voies de mesure de paramètres importants de L'installation à surveiller associées à des circuits de conversion A.N à 8 bits et 16 voies de mesure de paramètres prioritaires numérotées de 129 à 144, associées à des circuits de conversion A.N à 12 bits et déclenchant une procédure de scrutation rapide sur 16 voies de mesure qui peuvent être ou non confondues avec les 16 voies de mesure de paramètres prioritaires. Sur l'organigramme, n représente l'indice d'une voie de mesure, A représente la valeur M mesurée sur une voie augmentée d'un gradient & n) attribué à cette voie n, B représente la valeur M mesurée sur une voie n, diminuée d'un gradient ffi(n) attribué à cette voie n, C (n) représente la consigne d'alarme haute d'une voie n, C (n) représente la consigne d'alarme basse d'une voie n, def (n) représente L'indication d'un défaut sur la voie n, def 12 (n) représente l'indication d'un défaut sur une voie n de mesure d'un paramètre prioritaire, RTI représente le retour à une interruption, n' représente le pointeur du tableau des défauts en scrutation rapide et PT représente le nombre de valeurs en défaut dans le tableau établi lors d'une scrutation rapide. Par ailleurs, on a représenté sur la figure 8 le détail d'un octet de défaut qui, pour chaque voie de mesure, contient un certain nombre d'informations, à savoir, à titre d'exemple, pour les 4 bits 401 à 404 de poids le moins élevé, un numéro de page de visualisation, pour le bit 405 suivant une indication relative à une gamme de mesure du capteur de la voie concernée, pour le bit 406 suivant une indication de prise en compte ou non de la voie de mesure concernée lors d'une scrutation rapide, pour le bit suivant 407 une indication particulière, par exemple une indication relative à la réalisation ou non d'une compensation de soudure froide pour la voie de mesure concernée et pour le bit 408 de poids Le plus élevé l'indication de la présence ou non d'un défaut relevé sur la voie de mesure concernée. La figure 6 montre le processus d'analyse des voies de mesure lors d'une scrutation périodique de L'ensemble des 144 voies de mesure. Après L'étape 301 de début, l'étape 302 correspond à la lecture des voies avec initialisation des défauts (remise à zéro) et des indices de voie n. L'étape 303 constitue ensuite un test sur L'indice de voie n. Si celui-ci est supérieur à 144, c'est-à-dire au nombre total N de voies de mesure, L'étape suivante 304 est constituée par le lancement d'une nouvelle scrutation et L'étape 305 correspond alors à un retour à une interruption. Si L'indice de voie n est inférieur à 144, l'étape suivante est constituée par L'étape 306 de lecture du gradient e (n) attribué à la voie n, puis L'étape 307 détermine la valeur A = M + # (n) L'étape 308 constitue un test pour déterminer si la valeur A calculée pour la voie d'indice n est supérieure ou non a la valeur An 1 calculée pour la voie d'indice n-1. Si A > An-1, la mesure est rejetée à L'étape 311. Si en revanche A ne dépasse pas la valeur An~1, il y a passage à l'étape 309 de détermination d'une valeur B = M L'étape 310 constitue un test pour déterminer si la valeur B calculée pour la voie d'indice n est inférieure ou non à La valeur Bn-1 calculée pour la voie d'indice n-1. Si Ba:Bn~1-, La mesure est rejetée à L'étape 311. Si en revanche B reste égale ou supérieure à Bn~1, il y a validation de la mesure à L'étape 312, puis passage à un test à l'étape 313 en vue de déterminer si la valeur M validée est supérieure à la consigne d'alarme haute de la voie n. Si c'est le cas, il y a passage à L'étape 315 de la figure 7, sinon un test est effectué à L'étape 314 pour déterminer si La valeur M validée est inférieure à la consigne d'alarme basse de la voie n. Si c'est Le cas, il y a passage à l'étape 315, sinon, un retour est effectué au test de l'étape 303. L'étape 315 correspond au positionnement du drapeau de défaut de la voie n en mémoire et l'indication d'un défaut sur la voie n est reportée sur le bit 408 de poids le plus élevé de L'octet de défaut (fig 8) repéré par 80H en hexadécimal. Un test est ensuite effectué à L'étape 316 pour déterminer si n est supérieur à 128 ou non. Si ce n'est pas le cas, c'est-à-dire si la voie de mesure explorée ne correspond pas à une voie de mesure associée à un paramètre prioritaire, il y a passage à l'étape 317 de retour à une interruption. Si au contraire n > 128, l'étape 318 précise qu'il y a un défaut sur une voie n de mesure d'un paramètre prioritaire et L'étape suivante 319 correspond au lancement d'une scrutation du tableau de défaut de 144 voies de mesure pour détection d'une voie rapide, le pointeur n' du tableau des défauts en scrutation rapide étant mis à zéro. L'étape 320 correspond à La sélection de l'octet de défaut d'indice n' et l'étape suivante 321 constitue un test pour déterminer si n' est supérieur à 144. Si c'est le cas, la valeur PT est incrémtntée d'une unité, et n' = O, puis il y a retour à l'étape 320. Si n' n'est pas supérieur à 144, l'étape suivante 323 constitue un test pour déterminer si l'octet de défaut d'indice n' comporte au bit 406 (32 en décimal) L'indication selon laquelle il s'agit d'une voie de mesure associée à un paramètre à prendre en compte lors de la scrutation rapide. Si ce n'est pas le cas, l'étape suivante 324 incrémente n' d'une unité et il y a retour à l'étape 320. En revanche, si la voie de mesure est bien à prendre en compte, il y a passage à l'étape 325 de stockage de la valeur mesurée M dans le tableau des valeurs en défaut. L'étape suivante 326 constitue un test pour déterminer si la valeur PT est inférieure à 128 c'est-à-dire au nombre de valeurs prédéterminé Z à inscrire dans Le tableau des valeurs en défaut établi Lors de la scrutation rapide. Si PTa: 128, après incrémentation d'une unité de n' a L'étape 330, il y a retour à l'étape 320. En revanche, si PT est égal ou supérieur à 128, L'étape suivante 327 constitue le blocage et la fin de la scrutation rapide avec passage à l'étape 328 de sauvegarde du tableau puis à l'étape 329 de retour à une interruption. Si l'on se reporte à la figure 8, on remarque que le bit 407 disponible pour contenir une information particulière indépendante de la présence d'un défaut ou du repérage d'une voie de scrutation rapide peut être avantageusement utilisé pour contenir une information relative à la nécessité de réaliser ou non une compensation de soudure froide. Dans le cas où une voie-de mesure est destinée à la mesure d'une température, le capteur peut être constitué par un thermo-couple, par exemple en fer-constantan. Dans ce cas, il est bien connu qu'au point de liaison des métaux du thermocouple avec des fils de cuivre 12 reliant Le thermocouple 11 au circuit de mesure 21 (fig 2), il apparaît une différence de potentiel équivalente à la température ambiante en ce point de Liaison, et il est nécessaire de compenser cette différence de potentiel. Lors de La surveillance d'une installation mettant en oeuvre un grand nombre de voies de mesure dont une partie non négligeable correspond à des mesures de température, la mise en oeuvre d'un dispositif de compensation de soudure froide pour chaque voie de mesure de température s'avère coûteuse. IL est cependant possible de remédier à cet inconvénient en affectant à chaque voie de mesure, dans l'octet de défaut, un bit destiné à identifier s'ils'agit ou non d'une voie de mesure de température. Ceci permet ensuite deréaiiser une compensation de soudure froide, non pas individuellement au niveau de chaque capteur de température, mais à l'aide d'une mesure unique de température ambiante commune à toutes les voies de mesure, une compensation étant effectuée lors de La prise en compte des mesures de température par addition de La valeur de la température ambiante à une température mesurée, chaque fois qu'un test sur le bit 407 de L'octet de défaut de la voie de mesure analysée indique qu'il s'agit d'une voie de mesure de température nécessitant une compensation de soudure froide.La compensation est ainsi réalisée par le logiciel du système informatique et non par des circuits électroniques. En pratique, les capteurs de grandeurs physiques présents dans les différentes voies de mesure sont essentiellement constitués par des capteurs de température T, des capteurs de pression P et des capteurs de débit F. Toutefois, d'autres grandeurs physiques pourraient être prises en compte si nécessaire. En effet, dans ce cas, seule la nature du capteur est modifiée. La structure de la voie de mesure avec un circuit d'isolation et d'amplification 21 et un circuit de conversion analogique-numérique 41, de même que le procédé de scrutation restent indépendants de la structure des capteurs. Seule la nature du paramètre concerné (paramètre faisant l'objet d'une scrutation périodique, paramètre prioritaire, paramètre à prendre en compte lors d'une scrutation rapide) joue un rôle lors des opérations de scrutation et de saisie de données, mais t'opérateur peut lui-même déterminer librement au départ, pour chaque paramètre, la nature de celui-ci Afin de mieux illustrer le système de saisie, objet de la présente invention, on considérera à titre d'exemPle, en référence à la figure 5, une installation de polymérisation radicalaire de l'éthylène à haute pression et haute température, à laquelle est applicable le système électronique de saisie et de traitement de données décrit plus haut. L'éthylène liquide contenu dans une citerne 101 est envoyé par une canalisation 102 dans un réservoir tampon 103. De l'hydrogène et du butène sont introduits par des canalisations 105, 106 respectivement dans le réservoir tampon 103, tandis qu'une prise de chromatographie est effectuée par la ligne 104 dans le résertoir tampon 103. Une conduite 107 relie Le réservoir tampon 103 à un compresseur 114 de compression séparée, associé à un échangeur de chaleur 115, ou à des compresseurs primaires 117, 118 de compression couplée, également associés à des échangeurs de chaleur 119, 120. Une conduite 108 permet en outre de relier le réservoir tampon 103, par l'intermédiaire d'un autre réservoir tampon 109 et d'une conduite 110, à un autre compresseur primaire 111 de compression séparée associé à un échangeur 112. Les lignes 113,-116 de sortie des compresseurs primaires 111, 114 de compression séparée et les lignes 113a, 116a, de sortie des compresseurs primaires 117, 118 de compression couplée sont reliées à une conduite 121 de liaison avec un étage de compression secondaire comprenant en parallèle un compresseur secondaire 122 suivi d'un échangeur 123, un compresseur secondaire 124 suivi d'un échangeur 125 et un compresseur secondaire 126 suivi d'un échangeur 127. Le fluide issu de l'étage de compression secondaire est introduit ensuite dans un échangeur de chaleur 128, dans lequel circule un réfrigérant, puis envoyé vers le réacteur 130 par des conduites 129. Le réacteur 130 peut en fait être constitué par deux réacteurs 131, 132 reliés en série par une conduite 133 et présentant chacun plusieurs niveaux réactionnels. Une conduite 134 relie La sortie du réacteur 132 à un séparateur vertical 135 qui décharge à sa partie inférieure le polymère dans des trémies 142, 143 d'introduction dans une extrudeuse 146. Le produit extrudé, après passage dans un bain de refroidissement 147 est ensuite mis sous la forme de granulés dans l'étage de sortie 148. Des conduites relient d'une part le réservoir tampon 103, et, d'autre part, par l'intermédiaire d'un échangeur 144, la trémie 142 à une trémie des graisses 145. La partie supérieure du séparateur 135 est en outre reliée par un premier échangeur 136, une premiere capacite 137, un second échangeur 138, une seconde capacité 139 puis un troisième échangeur 140 à un cyclône 141 disposé au dessus de L'organe 150 d'injection de catalyseur en provenance d'un réservoir 149. On a représenté sur la schéma de l'installation de la figure 5 différents capteurs de température (repérés par la lettre T), de pression (repérés par la lettre P) et de débit (repérés par la lettre F) servant à surveiller des paramètres importants pour le suivi du fonctionnement de L'installation et devant ainsi être associés chacun à une voie de mesure du système électronique de saisie de données susmentionné, pour faire l'objet d'une surveillance systématique. Parmi ces différents paramètres, certains doivent être choisis comme paramètres prioritaires déclenchant une procédure d'urgence. Le choix de ces paramètres prioritaires dépend des processus chimiques rapides devant être étudiés. Aussi, on rappelera ci-dessous brièvement le fonctionnement d'une installation de synthèse de polymères afin de mieux mettre en relief l'importance du choix de paramètres prioritaires et de la procédure de scrutation rapide en cas de détection de défaut sur une voie de mesure associée à un paramètre prioritaire. Le polyéthylène basse densité est produit par polymérisation radicalaire ou polymérisation de type Ziegler de L'éthylène, sous des pressions de 500 à 3500 bars et des températures de 150 à 3000C (dans ces conditions, la masse volumique de l'éthylène est de 400 à 600 kg/mss et sa concentration de 13 à 21 mol/1). Le taux de conversion en masse atteint 16 à 30 x suivant les réacteurs utilisés et la qualité désirée. Le polymère obtenu est séparé par détentes successives et finalement repris à l'état fondu (entre 200 et 3000C) par une extrudeuse, puis transformé en granulés. Dans le cas d'un processus de polymérisation de l'éthylène par catalyse Ziegler, (polymérisation ionique) - La durée d'insertion d'une molécule d'éthylène dans la chaîne macromoléculaire est 2 x 10 6s. - 1 atome de catalyseur fait 1 700 macromolécules pendant sa durée de vie (10 à 15 s). - 1 macromolécule est formée en 10-2s. Par ailleurs, on a les données techniques suivantes Pression réacteur : 600 à 2 000 b. . Température réacteur : 200 à 3000C. . Temps de passage dans le réacteur : 10 à 12 s. Dans le cas d'un processus de polymérisation radicalaire Haute pression, Haute température, 1 macromolécule est formée en 10-4s - Le système électronique d'acquisition de données selon L'invention permet la maîtrise simultanée de processus -chimiques rapides et s'applique donc en particulier à une installation pilote de polymérisation haute pression/haute température, en prenant en compte un grand nombre de mesures physiques scrutées en temps réel, avec acquisition puis traitement différé. Le système de saisie électronique tel que décrit plus haut haut peut acquérir une mesure par exemple toutes les 3,8 x secondes, et permet ainsi d'analyser les phénomènes d'autodécomposition thermique (par exemple la cinétique d'homolyse de L'amorceur radicalaire qui est, en général, ralentie par la pression). Ce système permet L'acquisition de 144 paramètres toutes les (5,5 x 10 3s) soit par exemple 63 températures, 29 pressions, 12 débits. Parmi ces 144 paramètres on peut définir 16 paramètres prioritaires parmi les pressions, températures et débits. Le critère de choix de ces paramètres est relatif au type de polymérisation de l'éthylène en cours. Dans Le cas de la polymérisation radicalaire de l'éthylène, L'éthylène frais est fourni à une pression de 4 à 70 bars. Il est successivement comprimé entre 200 et 300 b puis entre 1 000 et 2 500 b, puis introduit en plusieurs points du réacteur autoclave 130 muni d'un agitateur entraîne par des électrodes étanches. Il est muni des protections adéquates contre les surpressions (disques de rupture). La température (15 à 3000C) est contrôlée en divers points du réacteur avec le débit des amorceurs injectés par des pompes volumétriques à haute pression. Le taux de conversion (éthylène polymérisé/éthylène introduit), de l'ordre de 15 à 20 %, est limité par la température maximale (environ 3000C). Il faut noter que la réaction exothermique (-3 370 J/g) est à peu près adiabatique, les échanges de chaleur avec l'extérieur étant très restreints par suite de la conception des appareils. Les températures d'entrée du gaz dans le réacteur et de sortie du polymère hors du réacteur sont des paramètres prioritaires. Lorsqu'on travaille avec deux réacteurs 131, 132 en série avec trois zones réactionnelles, il faut contrôler au moins 3 températures, 3 débits d'amorceurs et 3 débits de gaz éthylène qui constituent donc au total 9 paramètres prioritaires. La pression étant aussi un paramètre déterminant en cas d'auto-décomposition thermique, il est primordial de contrôler chacune des pressions des réacteurs 131, 132, soit 2 pressions au total. Trois autres paramètres prioritaires peuvent être les températures haut et bas du séparateur moyenne pression 135 qui permet de recycler le gaz non converti en poLymère et la pression dans un séparateur 135 qui peut contenir des radicaux n'ayant pas réagi dans Le réacteur. Deux autres paramètres prioritaires peuvent être choisis selon d'autres critères imposés par la fabrication de différents polyéthylènes : débit #de comonomère et température à l'aspiration du compresseur secondaire, par exemple. On notera que le système électronique d'amplification et d'isolation 2, suivi d'un ensemble de conversion 4, présente l'avantage de s'adapter sur les appareils de contrôle existant sans phénomène d'interférence en raison de L'isolation électronique totale. Il permet d'avoir de vrais paramètres régulés par les appareils de régulation et le contrôle du bon fonctionnement du régulateur. L'installation peut être visualisée sous forme de synoptiques sur un écran monochrome, et des mesures avec signalement des alarmes hautes et basses peuvent être affichées en temps réel. REVENDICATIONS 1. Système électronique de saisie et de traitement de données sur une installation de synthèse de polymères pour la maîtrise simultanée de plusieurs processus physico-chimiques rapides, caractérisé en ce qu'il comprend un ensemble de N voies de mesure avec N capteurs(11; P,T,F)#de grandeurs physiques répartis dans l'installation de synthèse de polymères pour surveiller de façon systématique des paramètres essentiels du fonctionnement de l'installation et fournir un ensemble de N signaux électriques analogiques représentatifs des grandeurs physiques mesurées, en ce que l'ensemble de N capteurs de surveillance desdits paramètres essentiels comprend un premier sous-ensemble de n1 capteurs de surveillance de paramètres prioritaires du fonctionnement de L'installation et un second sous-ensemble de n2 capteurs de surveillance rapide de paramètres essentiels du fonctionnement de L'installation, en ce que le système comprend pour chaque voie de mesure un circuit (21) d'isolation galvanique et d'amplification pour recevoir les signaux analogiques issus du capteur et délivrer des signaux analogiques isolés et normalisés et un circuit(41) de conversion analogique numérique pour délivrer des signaux d'entrée correspondant à La voie considérée à partir des signaux analogiques normalisés, en ce que le dispositif comprend en outre des moyens de traitement pour acquérir (6), gérer, stocker et afficher des données à partir des signaux d'entrée des N voies de mesure et en ce que les moyens de traitement comprennent des moyens de scrutation systématique périodique des N voies de mesure, des moyens de comparaison des signaux d'entrée scrutés avec des valeurs de seuils haut et bas, des moyens de détection de défaut en cas de dépassement vers le haut d'un seuil haut ou vers le bas d'un seuil bas par un signal d'entrée, et des moyens pour provoquer une scrutation rapide des voies de mesure correspondant au second sous-ensemble de n2 capteurs de surveillance rapide en cas de dépassement d'un seuil par les signaux d'entrée délivrés sur une voie de mesure de L'un quelconque des n1 capteurs de surveillance de paramètres prioritaires, et pour assurer l'établissement d'un tableau de valeurs de défaut comportant pour chacune des voies de mesure correspondant au second sous-ensemble de n2 capteurs, un nombre prédéterminé Z de résultats de mesure successifs établis à partir des signaux d'entrée fournis sur la voie considérée. 2. Système électronique selon la revendication 1, caractérisé en ce que les capteurs de grandeurs physiques(11) sont constitués par des capteurs de température (T) des capteurs de pression (P) et des capteurs de débit (F). 3. Système électronique selon la revendication 1 ou la revendication 2, caractérisé en ce que le nombre n1 de capteurs de surveillance de paramètres prioritaires est égal au nombre n2 de capteurs de surveillance rapide. 4. Système électronique selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que les premier et second sous-ensembles de capteurs comprennent au moins un certain nombre n3 de capteurs communs. 5. Système électronique selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que le nombre total N de voies de mesure est supérieur ou égal à 100 et les nombres n1 de capteurs de surveillance de paramètres prioritaires et n2 de capteurs de surveillance rapide sont chacun supérieurs ou égaux à 10. 6. Système électronique selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, appliqué à une installation de polymérisation de L'éthylène à haute pression et haute température, caractérisé en ce que les capteurs de surveillance de paramètres prioritaires comprennent au moins des capteurs de surveillance de la température d'entree du gaz éthylène dans chaque réacteur (131, 132), de la température de sortie du polymère hors de chaque réacteur (131, 132), du débit d'amorceur et du débit de gaz éthylène dans chaque zone réactionnelle et de la pression dans chaque réacteur (131, 132). 7. Système électronique selon la revendication 6, caractérisé en ce que les capteurs de surveillance de paramètres prioritaires comprennent en outre des capteurs des températures haut et bas du séparateur moyenne pression (135) et un capteur de la pression dans ce séparateur (135). 8. Système électronique selon L'une quelconque des revendications 1 à 7, caractérisé en ce que les circuits (41) de conversion analogique numérique des voies de mesure associées aux capteurs de surveillance de paramètres prioritaires ou aux capteurs de surveillance rapide présentent une résolution et une vitesse de conversion supérieures à celles des circuitsde conversion analogique numérique associés aux autres capteurs. 9. Système électronique selon l'une quelconque des revendications 1 à 8, caractérisé en ce que les circuits d'isolation galvanique et d'amplification (21) comprennent des moyens d'isolation galvanique du type optique. 10. Système électronique selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'il comprend des capteurs de température (T) constitués par des thermocouples et en ce que les moyens de traitement comprennent des moyens de compensation de la soudure froide des thermocouples.