Brevet FR2571177A1 — publié le 19860404

PROCEDE DE REALISATION DE GRILLES EN SILICIURE OU EN SILICIUM POUR CIRCUIT INTEGRE COMPORTANT DES ELEMENTS DU TYPE GRILLE-ISOLANT-SEMICONDUCTEUR La présente invention concerne un procédé de réalisation de grilles en siliciure ou en silicium pour circuit intégré comportant des éléments du type grille-isolant-semiconducteur. Elle concerne, en particulier, un nouveau procédé permettant d'obtenir un espacement entre grilles très faible, ce qui donne des circuits intégrés, notam- ment des dispositifs à transfert de charge ou des circuits utilisant des éléments de type MOS (métal-oxyde-semiconducteur), très com- pacts. Dans les circuits ci-dessus, les grilles sont réalisées en un matériau conducteur qui peut être, par exemple, un métal tel que l'aluminium, un métalloïde tel que du silicium polycristallin for- tement dopé ou formé d'une double couche de silicium polycristallin fortement dopé recouvert d'un siliciure. Pour réaliser notamment les grilles en silicium polycristallin ou les grilles à double couche silicium polycristallin-siliciure, on utilise la technique habituelle de photolithogravure. Ainsi, selon un des procédés habituels, pour réaliser des grilles à double couche silicium polycristallin-siliclure, après avoir délimité les éléments du circuit en ouvrant des fenêtres dans une couche d'isolant épais recouvrant le substrat semicon- ducteur et déposé une couche mince d'isolant, on dépose sur l'ensemble du circuit une couche de silicium polycristallin que l'on recouvre d'une couche d'un métal donnant un siliciure. Puis par masquage, insolation, developpement et gravure, on délimite les grilles. On soumet ensuite l'ensemble à un recuit dans une atmos- phère neutre pour transformer la couche métallique au contact du silicium polycristallin en siliciure. Ce procédé est très simple. Toutefois, il ne permet pas l'obtention d'un espacement entre grilles inférieur à 2,5 pm. 257;1177 La présente invention a pour but de remédier à cet incof. vénient en fournissant un nouveau procédé de réalisation de grilles en siliciure pour circuit intégré comportant des éléments du type grilleisolant-semiconducteur permettant d'avoir un espacement entre grilles inférieur à 1 Prm. Ainsi, la présente invention a pour objet un procédé. de réalisation de grilles en siliciure pour circuit intégré comportant des éléments du type grille-isolant-semiconducteur, caractérisé par les étapes suivantes: due- dépôt successif, sur l'isolant recouvrant le semiconducteur, d'une couche de silicium polycristallin convenablement dopé, d'une couche de métal donnant un siliciure, d'une couche d'oxyde et d'une couche de masquage, - réalisation, de manière connue, d'ouvertures dans la couche de masquage, - réalisation, au niveau des ouvertures, d'un surplomb sous la couche de masquage par élimination de la couche d'oxyde sur une certaine longueur, - élimination de la couche métallique délimitée par le sur- plomb, - dépôt, dans les ouvertures, d'une nouvelle couche de métal donnant un siliciure, - recuit de l'ensemble du circuit dans une atmosphère neutre pour transformer les parties o la couche de métal est en contact avec la couche de silicium polycristallin, en siliciure, élimination des couches recouvrant les parties en siliciure, puis, élimination du silicium polycristallin entre les parties en siliciure pour délimiter les grilles. Avec ce procédé, on peut contrôler très efficacement la longueur du surplomb qui détermine en fait l'espacement entre grilles comme expliqué de manière plus détaillée ci-après. En effet, le surplomb est obtenu par désoxydation de la couche d'oxyde et la longueur sur laquelle se produit cette désoxydation est fonction de 71177 l'épaisseur de la couche d'oxyde et du temps de désoxydation. Ainsi, en contrôlant ces deux paramètres, on contrôle la longueur du surplomb et, en conséquence, l'espacement entre grilles. D'autres caractéristiques et avantages de la présente invention apparaîtront à la lecture de la description d'un mode de réalisation préférentiel faite avec référence au dessin ci-annexé dans lequel: - les figures la à le représentent schématiquement les dif- férentes étapes du procédé de réalisation de grilles en siliciure conforme à la présente invention, et - les figures 2a et 2b représentent schématiquement un circuit à deux niveaux de grilles obtenu respectivement selon un procédé de l'art antérieur et selon le procédé de la présente invention. Sur les figures, les mêmes références désignent les mêmes éléments, mais pour des raisons de clarté, les cotes et proportions des divers éléments ne sont pas respectées. Conformément au procédé de la présente invention, après avoir réalisé sur un substrat semiconducteur 1, en silicium de type p par exemple, une couche mince et continue 2 d'un matériau isolant tel que de l'oxyde de silicium (Si 02), on recouvre cette couche d'oxyde de silicium d'une couche 3 de silicium polycristallin con- venablement dopé. De manière typique, le silicium polycristallin est dopé au phosphore. Sur cette couche 3 de silicium polycristallin, on dépose une couche métallique 4. La couche métallique 4 est réalisée en un métal susceptible de réagir avec le silicium polycristallin pour 2 donner un siliciure. A titre d'exemple, la couche. métallique peut être réalisée en tungstène, en molybdène, en titane, en tantale, en chrome, en nickel. Toutefois, elle sera de préférence réalisée en tantale, car le tantale allié au silicium est quasiment inerte aux agents chimiques utilisés lors des autres phases du procédé, en particulier à l'acide fluorhydrique. Sur la couche métallique, on dépose en phase vapeur une couche 5 d'oxyde. Ce dépôt peut être réalisé à pression atmos- phérique ou à basse pression, selon les procédés classiques connus 257 1177 sous les dénominations anglaises "chemical vapor deposition" (CVD) et "low temperature oxydation" (LTO). Ce dép8t est réalisé de préférence à une température inférieure à la température de formation de l'alliage. D'autre part, l'épaisseur de la couche est choisie de manière précise. En effet, comme expliqué ci-après, l'Pépaisseur de la couche d'oxyde est un des paramètres déterminant l'espacement entre grilles. Sur cette couche d'oxyde pyrolytique, on dépose une couche 6 de masquage qui est réalisée de préférence en nitrure de silicium (Si3 N4). On obtient donc la structure représentée à la figure la. Ensuite, en utilisant la technique connue de photolithogravure, on ouvre dans la couche de masquage 6 des fenêtres dont les dimensions d correspondent à celles des grilles que l'on veut réaliser. Pour cela, de manière connue, on dépose sur la couche 6 de nitrure de silicium une résine 7 photosensible de type positif par exemple. On cuit la résine pour la durcir. Ensuite, on applique sur la résine un masque, chrome sur verre par exemple, ayant pour objet de déli- miter les fenêtres à ouvrir. On insole la résine aux rayons ultraviolets à travers le masque pour la polymériser aux endroits non protégés par le masque puis on développe dans un produit approprié qui dissout la résine polymé- risée en laissant subsister la résine non polymérisée. On grave alors la couche 6 de nitrure de silicium pour obtenir les fenêtres d. On élimine alors la couche 5 d'oxyde pyrolytique de manière à créer un surplomb de longueur e déterminée sous la couche de masquage. Pour cela, on réalise une désoxydation de ladite couche dans une solution d'acide fluorhydrique par exemple qui dissout l'oxyde en laissant intact la couche métallique, notamment lorsque cette couche est en tantale. La désoxydation se produit sur une longueur e qui correspond au moins à l'épaisseur de la couche 6 et qui peut être modulée en fonction du temps de désoxydation. On élimine alors par gravure la couche de métal se trouvant dans l'ouverture ainsi réalisée comme représenté sur la figure lb. Ensuite, on redépose sur l'ensemble du circuit une nouvelle couche 8 du métal donnant un siliciure. Cette couche se dépose sur le silicium polycristallin dans l'ouverture sur une distance d comme représenté sur la figure lc. On soumet alors l'ensemble du circuit à un recuit dans une atmosphère neutre, par exemple en argon, pour transformer en siliciure les parties o la couche métallique 4 et 8 est en contact avec la couche 3 de silicium polycristallin. Le recuit est réalisé de préférence à une température comprise entre 900 C et 1100 C en environ 30 minutes. On élimine ensuite par attaque chimique les différentes cou- ches 5, 6, 8 recouvrant les parties en siliciure 9, ce qui donne la structure représentée à la figure ld. Puis, on enlève le silicium polycristallin se trouvant entre les parties en siliciure de manière à isoler les grilles g. Cette élimi- nation du silicium polycristallin peut être réalisée par gravure sèche ou par oxydation sèche. Eventuellement, on peut réaliser les grilles uniquement en silicium polycristallin en éliminant la couche 9 de silicure. Cette élimination est réalisée par gravure. Ce type de grilles est particu- lièrement intéressant dans le cas des senseurs à photo-mos o les grilles doivent être transparentes. On recouvre alors éventuellement les grilles d'une couche de passivation 10 comme représenté à la figure le. Ainsi, avec le procédé ci-dessus, il est possible de réaliser des grilles à double couche silicium polycristallin-siliciure ou des grilles en silicium présentant entre elles un espacement e bien défini. Cet espacement n'est plus fonction des techniques de masquage utilisées mais de l'épaisseur de la couche d'oxyde qui peut être contr6ôlée à des valeurs très faibles et de la précision du temps de désoxydation. Ce procédé est particulièrement intéressant pour la réalisation de dispositifs à transfert de charge du type CCD (pour Charge Coupled Device en anglais) qui sont constitués de plusieurs ensem- 7 1' 77 bles de capacités MIS (Metal Isolant Semiconducteur) juxtaposées formant des capacités de stockage et de transfert. Avec le procédé de la présente invention, il est possible de réaliser des CCD à un seul niveau de grilles en siliciure plus compacts que les CCD actuellement disponibles. Ainsi on peut réaliser un CCD fonctionnant en trois phases présentant un pas de 9 Pm ou un CCD fonctionnant en quatre phases présentant un pas de 12 Pm. Cela permet d'obtenir un gain sur la densité des étages CCD et d'avoir un couplage en phases plus faible. Le procédé de la présente invention est aussi intéressant dans le cas des CCD à deux niveaux de grilles. En effets comme représenté sur la figure 2a, l'espacement el entre les grilles g2 est d'au moins 2 à 3 pm, car les techniques de photolithogravure habituellement utilisées, pour réaliser le second niveau de grilles ne permettent pas d'avoir un espacement plus faible. D'autre part, le recouvrement de la grille g2 sur la grille gl est réalisé sur une distance d'au moins 1 pm, ce qui donne pour la grille gl une largeur d'au moins 4 à 5 pm. Or, comme représenté sur la figure 2b, en utilisant le procédé de la présente invention, il est possible d'obtenir un espacement e2 entre les grilles g2 inférieur à lpm. Il est donc possible de réaliser une grille gl présentant une largeur inférieure à 3 Pm. D'autre part, dans le cas de deux niveaux de grilles, on peut envisager de réaliser le premier niveau de grilles en silicium polycristallin et le deuxième niveau de grilles en siliciure. Ceci est intéressant pour la réalisation de dispositifs photosensibles. Dans ce cas, le premier niveau de grilles est réalisé de préférence en utilisant la technologie connue puisque l'espacement entre grilles doit être suffisant pour recevoir le deuxième niveau de grilles. Toutefois, après avoir déposé sur le premier niveau de grilles une couche d'isolant, on réalise le second niveau de grilles en siliciure en utilisant le procédé de la présente invention. 2 5 7 1 1 7 7 REVENDICATIONS 1. Procédé de réalisation de grilles en siliciure pour circuit intégré comportant des éléments du type grille-isolant-semicon- ducteur, caractérisé par les étapes suivantes: - dépôt successif, sur l'isolant (2) recouvrant le semicon- ducteur (1), d'une couche (3) de silicium polycristallin convena- blement dopé, d'une couche (4) de métal donnant un siliciure, d'une couche (5) d'oxyde et d'une couche de masquage, - réalisation, de manière connue, d'ouvertures (d) dans la couche de masquage, - réalisation, au niveau des ouvertures, d'un surplomb sous la couche de masquage par élimination de la couche d'oxyde sur une certaine longueur (e), - élimination de la couche métallique délimitée par le sur- plomb, - dépôt dans les ouvertures d'une nouvelle couche (8) de métal donnant un siliciure, - recuit de l'ensemble du circuit dans une atmosphère neutre pour transformer les parties o la couche de métal est en contact avec la couche en silicium polycristallin, en siliciure, - élimination des couches recouvrant les parties (9) en sili- ciure, puis - élimination du silicium polycristallin entre les parties en siliciure pour délimiter les grilles-(g). 2. Procédé de réalisation de grilles en siliciure selon la revendication 1, caractérisé en ce que la couche (4, 8) de métal est une couche d'un métal choisi parmi le tantale, le titane, le tungstène, ou le molybdène. 3. Procédé de réalisation de grilles en siliciure selon la revendication 1, caractérisé en ce que la couche (5) de masquage est une couche de nitrure de silicium. 4. Procédé de réalisation de grilles en siliciure selon la revendication 1, caractérisé en ce que le dépôt de la couche (6) d'oxyde est réalisé à une température inférieure à la température de formation de lPalliage. 5. Procédé de réalisation de grilles en siliciure selon la revendication 1, caractérisé en ce que les ouvertures dans la couche de masquage sont réalisées par photolithographie et gravure. 6. Procédé de réalisation de grilles en siliciure selon la revendication 1, caractérisé en ce que l'élimination de la couche d'oxyde est réalisée par désoxydation. 7. Procédé de réalisation de grilles en siliciure selon 'l'une quelconque des revendications 1 et 6, caractérisé en ce que la longueur (e) du surplomb est déterminée par l'épaisseur de la couche d'oxyde et le temps de désoxydation. 8. Procédé de réalisation de grilles en siliciure selon la revendication 1, caractérisé en ce que le recuit est réalisé à une température comprise entre 900 C et 1100 C. 9. Procédé de réalisation de grilles en siliciure selon la revendication 1, caractérisé en ce que le recuit est réalisé sous atmosphère neutre d'argon. 10. Procédé de réalisation de grilles en siliciure caractérisé en ce que, après avoir réalisé un premier niveau de grilles par une technologie connue, on redépose sur le premier niveau de grilles, une couche d'isolant et on réalise un second niveau de grilles en siliciure en utilisant le procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 9. 11. Procédé de réalisation de grilles en siliciure selon la revendication 10, caractérisé en ce que les grilles du premier niveau de grilles sont des grilles en silicium polycristallin convenablement dopé ou des grilles formées d'une double couche silicium poly- cristallin-siliciure. 12. Procédé de réalisation de grilles en silicium, caractérisé en ce que l'on réalise tout d'abord des grilles en siliciure en utilisant le procédé selon l'une quelconque des revendications I à 9 puis on élimine la couche de siliciure.