Brevet FR2567264A1 — publié le 19860110

Appareil d'extensométrie, en particulier d'extensométrie multi-axiale, et procédé correspondant. L'invention est du domaine de l'étude des propriétés-mécaniques des matériaux. Elle concerne un dispositif d'extensométrie permettant notamment de mesurer simultanément deux composantes de la déformation subie par un échantillon de matériau, ou éprouvette, sollicité en traction-torsion ou en compression-torsion, et soumis à des essais de fatigue, à température ambiante ou à chaud. L'invention trouve des applications dans les installations d'étude du comportement des matériaux,en vue de la prévision de leur durée de vie dans les conditions réelles de sollicitation. Lorsqu'un échantillon, se présentant la plupart du temps sous la forme d'une éprouvette tubulaire, est soumis à des sollicitations bi-axiales de traction-torsion ou de compressiontorsion, le dispositif extensométrique doit être capable de fournir simultanément la déformation longitudinale et l'angle de torsion avec une grande précision. En outre,l'implantation sur l'éprouvette des moyens nécessaires à la mesure de ces déformations ne doit pas modifier les caractéristiques propres du matériau, et, dans le cas d'essais de matériaux portés à haute température, ces moyens de mesure doivent présenter une excellente tenue mécanique. Enfin, lorsque l'éprouvette est soumise à des sollicitations cycliques, l'appareil doit fonctionner dans une large bande de fréquence. Certains appareils connus permettent de mesurer directement les déformations, par mise en oeuvre de jauges de contrainte, collées ou soudées sur l'éprouvette. Cette solution ne répond pas au problème posé, notamment parce que la tenue en température des jauges, limitée à une centaine de degrés, est insuffisante. On connaît aussi des extensomètres mécaniques qui visent à déterminer simultanément deux composantes de la déformation subie par une éprouvette sous sollicitation bi-axiale (traction-torsion). Ces dispositifs mettent en oeuvre des systèmes mécaniques de découplage des mesures (lames élastiques munies de jauges) soudées à l'éprouvette, ou encore ancrés au moyen de couteaux ou de mors à arêtes effilées serrés très fortement pour éviter tout mouvement de glissement. Ces dispositifs ne donnent pas non plus satisfaction, car les systèmes de découplage sont le siège d'interactions qui faussent les mesures et limitent la fréquence des sollicitations que l'on peut appliquer.De plus, les dispositifs d'ancrage laissent sur lé matériau des empreintes qui modifient ses caractéristiques mécaniques, et peuvent même amorcer des fissures entrainant la rupture anticipée de l'éprouvette. Enfin, il a encore été proposé de mesurer les déformations subies par une éprouvette, au moyen d'extensomètres équipés de détecteurs de déplacement sans contact, tels que des détecteurs optiques. Ces détecteurs ne comportent pas de liaison mécanique avec 'éprouvette, mais nécessitent le collage de mires, ou l'usinage de repères, pour pouvoir détecter les déplacements de deux points délimitant la base de mesure. Là encore, le problème posé n'est pas résolu de manière entièrement satisfaisante, car le positionnement des mires est difficile à effectuer avec-précision, et leur tenue mécanique en température est insuffisante.En outre, la précision des mesures obtenues au moyen d'appareils équipés de détecteurs de déplacement optiques est limitée par les variations d'indices de réfraction-de l'air au voisinage de la partie chaude de l'éprouvette. La présente invention vient au contraire apporter des solutions beaucoup plus satisfaisantes remédiant à ces inconvénients. Elle propose tout d'abord à cet effet un appareil d'exten sométrie, destiné à mesurer les déformations subies par un échantillon allongé, tel qu'une éprouvette tubulaire soumis à des sollicitations mécaniques, ledit appareil comportant des moyens pour déterminer la torsion subie autour de son axe longitudinal. L'appareil selon l'invention comprend - deux pinces rigides montées sur l'éprouvette dans des plans de mesure respectifs qui sont espacés l'un de l'autre, et perpendiculaires à l'axe longitudinal de l'éprouvette; - chaque pince possédant deux mâchoires conformées pour pouvoir enserrer parfaitement l'éprou-vette et sollicitées l'une vers l'autre selon un effort faible,--propre à interdire tout glissement des mâchoires sur l'éprouvette; et - deux premiers moyens détecteurs coopérant avec au moins l'un des bras de chacune des pinces, afin de déterminer sans contact le déplacement relatif des deux pinces en rotation autour de l'axe longitudinal de i'-éprouvette. Un tel appareil permet la mesure convenable de la torsion, aussi bien à température ambiante qu'd moyenne et à haute température, et ceci même si les sollicitations appliquées à l'éprouvette sont d'une fréquence élevée,de l'ordre de 10 à 15 Hz. L'utilisation des deux pinces selon l'invention permet de définir une base de mesure précise et stable. Enfin, l'installation et la mise en place de l'extensomètre, avec les pinces sur l'éprouvette, sont remarquablement aisées. Dans la grande majorité des applications, l'extensomètre est agencé pour mesurer les déformations multi-axiales. L'appareil comporte alors deux seconds moyens détecteurs-, pour déterminer sans contact le déplacement relatif des deux plans de mesure, ou deux plans voisins de ceux-ci, selon l'axe longitudinal de l'éprouvette. Très avantageusement, les seconds moyens détecteurs coopèrent aussi avec lès deux pinces. Pour les essais à haute température, les pinces sont réalisées en un matériau thermiquement isolant tel qu'une céramique du genre Vitrocéram, et l'on peut alors adjoindre à l'appareil des moyens de chauffage électrique de l'éprouvette, en particulier des moyens de chauffage électrique par induction, permettant de porter le matériau jusqu'à environ 1000"C. Dans un mode de réalisation préférentiel de l'invention, les pinces prennentappui-sur deux collerettes usinées dans l'éprouvette, et qui définissent les deux plans de mesure. Selon un autre aspect de l'invention, l'un au moins despre- mier et second moyens détecteurs est de type capacitif. Selon un autre aspect encore de l'invention, préférentiel, l'un au moins des premier et second moyens détecteurs est de type optique. Dans ce dernier cadre, les premiers moyens détecteurs comprennent avantageusement - deux dispositifs réflecteurs montés sur les deux pinces1 du côté de leurs extrémités libres respectives; et - des moyens optique s coopérant avec ces deux dispositifs réflecteurs pour déterminer les déplacements relatifs des extrémités libres des deux pinces. En pratique, les moyens optiques comprennent une source lumineuse produisant au moins un faisceau étroit et fin, tel qu'un faisceau laser. Dans un mode de réalisation de base de l'invention, les deux réflecteurs sont deux miroirs plans, recevant deux faisceaux lumineux distincts, qù'ils renvoient sur des barrettes photo-détectrices respectives situées sensiblement dans lesdits plans choisis. On mesure alors indépendamment les déplacements angulaires des deux pinces dans leurs plans de mesure respectifs, et le déplacement relatif peut être obtenu par soustraction algébrique des déplacements angulaires individuels des deux pinces. Selon un mode de réalisation plus avancé, les deux dispositifs réflecteurs s'étendent en regard l'un de l'autre, le premier étant un dièdre réflecteur d'arête parallèle audit plan de mesure, et le second étant un miroir présentant un axe de symétrie optique à la fois parallèle audit plan de mesure et sensiblement perpendiculaire à l'arête du dièdre, au repos. Le faisceau émis tombe sur le second réflecteur puis sur le dièdre et est renvoyé vers le second réflecteur avec un décalage axial qui est fonction de la position angulaire relative des deux pinces, le faisceau de retour étant parallèle au faisceau d'émission. Il peut en être séparé par un diviseur de faisceau pour arriver sur une barrette de photodiodes parallèle audit plan de mesure. Cette barrette fournit alors directement une indication sur le déplacement angulaire relatif des deux pinces. Avantageusement, la source lumineuse produit un peigne de faisceaux parallèles qui s'étendent perpendiculairement au plan de mesure. De son côté, le second réflecteur peut alors être un miroir plan. Dans une variante avantageuse, le second réflecteur est un miroir concave, en particulier un miroir cylindrique. On prévoit alors que la source lumineuse produit, en outre, un autre faisceau étroit, qui s'étend parallèlement au plan de mesure, tandis que le diviseur de faisceau renvoie le faisceau de retour associé à cet autre faisceau d'émission vers une barrette de photodétecteurs séparée,perpendiculaire audit plan de mesure. Dans ce dernier cas, les mêmes moyens de base permettent aussi bien la mesure du décalage angulaire relatif des deux pinces que de leur déplacement axial, selon l'axe longitudinal de l'éprouvette. Les seconds moyens'détecteurs se confondent alors en grande partie avec les premiers. Bien entendu, on peut réaliser les seconds moyens détecteurs de façon séparée, sous forme d'un détecteur capacitif monté entre les deux pinces, ou mieux de deux détecteurs capacitifs montés sur les pinces de façon sensiblement symétrique par rapport à l'éprouvette, lorsqu'une flexion de celle-ci est à craindre. -Une autre variante encore prévoit une réalisation optique des seconds moyens détecteurs. Ces derniers comprennent alors des moyens optiques pour produire un pinceau parallèle au plan de mesure, et balayant l'espace compris entre les deux pinces, des moyens récepteurs pour détecter ce pinceau de l'autre côté des deux pinces, ainsi que pour en déduire l'écartement de celles-ci. Le pinceau étant modulé par impulsions, les moyens récepteurs peuvent opérer par comptage d'impulsions. Ils peuvent aussi mesurer le temps mis par le pinceau lumineux pour aller de l'une à l'autre des pinces. La présente invention fournit également un procédé d'extensométrie, en particulier sur un =échantillon allongé, tel qu'une éprouvette tubulaire.- Ce procédé comprend les opérations de base suivantes a) mise en -place sur l'éprouvette de deux pinces rigides, dans des plans de mesure respectifs perpendiculaires à l'axe longitudinal de l'éprouvette; et b) détection de la rotation relative des deux pinces autour de ce même axe longitudinal. De préférence, pour l'extensométrie multi-axiale, ce procédé comporte en outre l'étape suivante c) détection du déplacement relatif des deux pinces selon l'axe longitudinal de l'éprouvette. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparattront à l'examen de là description détaillée qui va suivre, ainsi que des dessins annexés, sur lesquels - la figure 1 est une vue en élévation montrant-- deux pinces selon l'invention montées sur une éprouvette, - la figure 2 est une vué de dessous correspondant A-la figure 1, et montrant la structure de l'une des pinces selon l'invention; - la figure 3 est un dessin théorique montrant les principaux éléments d'un extensomètre multi-axial sur une éprouvette cylindrique; - la figure 4 est un schéma illustrant un premier mode de réalisation de l'invention; - la figure 5 est un schéma illustrant un second mode de réalisation de l'invention; - la figure 6 est un schéma illustrant un troisième mode de réalisation de l'invention;; - la figure 7 est un schéma illustrant un quatrième mode de réalisation de l'invention, dans lequel les mêmes moyens réalisent la mesure de déplacement angulaire et de décalage en translation; et - les figures 8, 9, 9A et 9B illustrent une variante intéressante de la mesure du déplacement axial relatif des deux pinces. ha présente invention fait à divers titres intervenir la géométrie et l'optique. En conséquence, les dessins annexés sont à considérer comme incorporés à la présente description, pour la compléter à tous égards, et servir le cas échéant à la définition de l'invention. La figure 1 fait apparaître une éprouvette tubulaire, référencée 1 dans son ensemble. L'éprouvette comporte ses extrémités deux têtes d'accrochage 11 et 12, qui se raccordent par des transitions progressives avec une partie centrale 13. La partie centrale 13 est délimitée par deux collerettes 14 et 15, usinéesdans l'éprouvette. La figure 3 montre la partie centrale de l'éprouvette, coupée aux limites qui s'y trouvent définies par les deux collerettes. On obtient ainsi deux plans de mesure P1 et P2 écartés d'une distance h le long de l'axe longitudinal 10 de l'éprouvette. La forme tubulaire de celle-ci est définie par un rayon intérieur R1 et par un rayon extérieur R2. On a référencé par 6 le déplacement angulaire relatif des sections droites de l'éprouvette, entre le plan P1 et le plan P2, lorsque l'éprouvette est soumise à des contraintes comportant une torsion. Il pourra s'y ajouter une traction ou une compression. En principe,-l'extensomètre, défini dans la descrip tion détaillée, est de type bi-axial, c'est-à-dire qu'il ne mesure pas les déplacements parasites dûs à une flexion de l'éprouvette. Sur la figure 2, il apparaît qu'une pince selon l'invention PL1 est définie par deux bras PL11 et PL12, articulés l'un sur l'autre autour d'un axe PL10, qui est ici en leur partie centrale. Les extrémités PL13 et PL14 des deux bras PL11 et PL12 sont conformées intérieurement en PL1 et PL16 dans leurs parties en regard, afin de pouvoir enserrer parfaitement l'éprouvette, au niveau de ses collerettes 14 et 15. Bien entendu, en l'absence de collerettes, les mâchoires PL15 et PL16 sont usinées au diamètre externe de la partie centrale de l'éprouvette 13. Les autres extrémités PL21 et PL22 des deux bras sont sollicitées à l'écartement par un ressort PL20, qui peut être complété par d'autres moyens de rappel élastique. Un des aspects importants de l'invention est fondé sur l'observa- tion suivante :- il suffit d'un effort très faible appliqué par le ressort PL20, pour que les mâchoires PL15 et PL16 enserrent parfaitement l'éprouvette, sans qu'aucun mouvement de glissement par rapport à celle-ci ne soit plus possible. L'intérêt de cette disposition est que cet effort très faible appliqué entre les deux bras PL11 et PL12 se traduit par une pression très faible des mâchoires PL15 et PL16 sur l'éprouvette, d'où le fait qu'il h'y a pratiquement aucune perturbation du réseau de contrainte engendré dans l'éprouvette par les pinces. L'un des bras de la pince PL1, ici le bras PL22, se prolonge un peu vers la droite pour pouvoir soutenir tout d'abord l'un des éléments CC1 d'un détecteur capacitif, tenu par une vis CC10, ainsi qu'un équipage PL31, fixé par une vis PL30, et supportant un miroir M1. Il est maintenant fait référence à nouveau à la figure 1. Les deux pinces PL1 et PL2, telles qu'illustrées sur la figure 2, enserrent les collerettes 14 et 15. Les éléments détecteurs CC1 et CC2 respectivement fixés sur les deux pinces sont en regard, et constituent les deux armatures d'un condensateur. Ils vont permettre la détection capacitive du déplacement de translation relatif entre les deux plans P1 et P2, selon l'axe 10 de l'éprouvette par mesure des variations de capacité résultant des variations d'écartement des pinces.Les deux miroirs M1 et M2 vont permettre la détection optique du décalage angulaire relatif des deux pinces, dans les plans respectifs de mesure P1 et P2,comme on le décrira maintenant. La figure 4 illustre schématiquement un premier moyen de mesurer le déplacement angulaire relatif. Au repos, les miroirs M1 et M2 sont supposés parallèles. Un laser L, tel qu'un laser hélium-néon envoie un faisceau lumineux sur un réflecteur partiel RP1, qui le réfléchit vers le miroir M2. La partie du rayonnement incident qui traverse le réflecteur partiel RP1 tombe sur un second réflecteur R2, puis après réflexion sur le miroir M1 tombe sur une première barrette de photodiodes PD1. Une seconde barrette de photodiodes PD2 reçoit de même le rayonnement réfléchi par le miroir M2. Les organes R2, M1 et PDf peuvent se situer dans le plan P1, tandis que les organes RPi, M2 et PD2 peuvent se situer dans le plan P2. Un agencement un peu diffé- rent est toutefois concevable, dans la mesure où les miroirs M1 et M2 possèdent une surface suffisante. Suivant la géométrie de l'appareillage, on obtient une position déterminée du point d'impact du rayonnement lumineux sur les barrettes de photodiodes PDi et PD2 lorsque l'éprouvette est au repos. Lorsqu'elle est soumise à une trosion, la position des points d'impact sur les barrettes de photodiodes varie. Il est aisé d'en déduire le déplacement en rotation dans chacun des plans P1 et P2, puis, par diffé rence, le déplacement relatif en rotation du plan P1 par rapport au plan P2. La figure 4 fait également apparaître le détecteur capacitif, constitué d'un premier organe CC1, et d'un organe en regard CC2, de surface suffisante pour tenir compte des déplacements en torsion que l'éprouvette pourra subir. La mesure du déplacement relatif des plans P1 et P2 selon l'axe 10 s'en déduit facilement, par mesure des variations de-capaci- té du condensateur constitué par les deux~éléments CC1 et CC2. Ce dispositif permet un excellent découplage de la mesure de déformation longitudinale relativement à la mesure angulaire, tout en permettant des amplitudes de mesure du même ordre que dans les essais unidimensionnels classiques. Les courses maximales des capteurs sont équivalentes à des déformations de l'ordre de 5% sur-la partie cylindrique de l'éprouvette. Les pinces sont avantageusement constituées en un matériau résistant à une haute température, -d'au moins 10000C. De plus, la forme des pinces, qui est d'un montage simple, a également l'avantage de s'adapter aux variations de dilatation des collerettes. A titre d'exemple, le dispositif selon-l'invention permet de mesurer le déplacement axial entre les plans P1 et P2 sur une gamme de - 1,5 mi à - 10 -+ 4 près. Quant à la rotation, elle peut être mesurée sur une plage de - 8o à f 1 minute près, pour une fréquence maximale de sollicitation de l'éprouvette de l'ordre de 15 Hzx La figure 5 illustre une première variante de l'invention, qui permet l'acquisition directe du déplacement angulaire relatif entre les deux plans. On retrouve les capteurs CC1 et CC2 de type capacitif, qui sont maintenant schématisés. La première pince PL1 présente comme miroir non plus un miroir plan, mais bien un dièdre réflecteur désigné dans son ensemble PM10. Ce- dièdre est défini par deux faces réflé chissantes PMii et PM12, qui se coupent selon une arête PM13. Cette arête PM13 est parallèle aux deux plans de mesure Pi et P2. Elle est de plus orientée à 450 par rapport à l'axe PlO qui est contenu dans le plan de mesure et constitue l'axe de symétrie des mâchoires de la pince PLI. La pince PL2 présente un miroir plan M20, placé en regard du dièdre PM10, lequel peut être un prisme. On note que ce miroir plan M20 présente un axe de symétrie optique M21 qui est, lui aussi, parallèle aux plans P1 et P2, et orienté à 450, mais dans l'autre sens, sur l'axe P20 de symétrie de la pince PL2. Il en résulte finalement que l'axe M21 du miroir M20 est perpendiculàire a' l'arête PM13 du dièdre Psi0, dans la position de repos des deux pinces. A partir d'une source, telle qu'une source laser, notée schématiquement S10, on cre, de manière connue, un peigne de faisceaux lumineux verticaux qui est appliqué à un séparateur RP10 dont le rôle sera explicité plus loin. Le peigne de faisceaux lumineux verticaux traverse ce séparateur pour arriver sur un objectif 010 qui en réalise la focalisation sur le miroir M21. On suppose que le faisceau ainsi produit F11 est plus proche de la pince PL1 que de la pince PL2. Après avoir frappé le miroir M20, il arrive sur le réflecteur PM11 du prisme PM10, se trouve renvoyé vers le bas, c'est-à-dire vers l'autre réflecteur PM12, et à nouveau renvoyé horizontalement vers le miroir M20, puis vers ltobjectif 010, suivant la trajectoire F19. Ce faisceau F19 est dévié par le séparateur RP10, pour arriver sur une barrette de photodiodes PD10. Cette barrette de photodiodes PD10 est avantageusement du type équipé d'un registre à transfert de charge incorporé.L'acquisition d' informations peut alors se faire directement sous forme numérique dans la barrette PD10, et le traitement est mis en oeuvre par tout moyen numérique approprié. On observe ainsi que le peigne produit par la source lumineuse S10 va se trouver réfléchi par tout le système pour retourner sur la barrette PD10. Mais il aura subi un décalage angulaire fonction du décalage angulaire entre les pinces.PL1 et PL2. En effet, lors de ce déplacement angulaire, l'arête PM13 du dièdre ne sera plus exactement perpendiculaire à l'axe de symétrie M21 du miroir M20. On obtient donc bien au niveau de la barrette de photodiodes PD10, qui est horizontale, une information représentant fidèlement le déplacement angulaire relatif des deux pinces PL1 et PL2, et par conséquent des deux plans de mesure. La figure 6 illustre une variante de réalisation de llinven- tion, dans laquelle -la mesure de la torsion subie par l'éprouvette entre les plans P1 et P2 est la même que sur la figure 5. En revanche, il est admis. dans cette réalisation que l'éprouvette peut aussi subir une flexion, par rapport à son axe longitudinal 10. Le dispositif détecteur capacitif est alors doublé. Les pinces PL1A et PL2A sont maintenant agencées de façon sensiblement symétrique par rapport à l'axe 10 de l'éprouvette. On retrouve les éléments CC1 et CC2 d'un premier détecteur capacitif du déplacement angulaire entre les plans de mesure P1 et P2. A l'opposé, et de préférence sur l'autre bras de chacune des pinces, on prévoit les deux organes CC1A et CC2A d'un autre capteur capacitif semblable au premier, ces deux éléments étant montés sur le bras PLl9A et PL29A. Il est encore à remarquer que les détecteurs capacitifs CC1, CC2 d'une part, CC1A, CC2A d'autre part se présentent de façon symétrique par rapport à l'axe 10 de l'éprouvette. Il est maintenant fait référence à la figure 7, dans laquelle les mesures de torsion et de déplacement sont effectuées en grande partie par les mêmes moyens optiques. Comme précédemment, une source S10 engendre un peigne de faisceaux lumineux verticaux qui traversent l'organe RP10 et l'objectif 010 pour frapper un miroir MC20, et se trouver réfléchis par le dièdre PM10 pour revenir en cheminement inverse jusqu'au réflecteur partiel RP10 et frapper enfin la barrette de photodiodes PD10. A la différence des figures 5 et 6, le miroir 20n'est plus maintenant un miroir plan, mais un miroir concave, de préférence cylindrique, noté MC20. Ce miroir conserve un axe de symétrie optique MC21 qui est disposé comme précédemment à l'égard de l'arête PM13 du dièdre PM10. il est alors possible d'adjoindre à la source lumineuse S10 une autre source S11 fournissant une fente lumineuse horizontale qui traverse les organes RP10 et 010 pour frapper le miroir cylindrique MC20 sur son axe de symétrie MC21. Ce faisceau frappe séparément le dièdre MP10, pour revenir en sens inverse et frapper le miroir cylindrique MC20, qui le renvoie dans sa direction initiale vers l'objectif 010 et le séparateur RP10. Compte tenu de l'effet de réflexion spécial du miroir cylindrique MC20, le faisceau arrivant ainsi sur le séparateur RP10 pourra être renvoyé séparément sur une seconde barrette de photodiodes PD20, disposée verticalement, et de même nature que la première PD10. L'homme de l'art comprendra que cette barrette PD20 permet de mesurer le déplacement -en translation relative des deux pinces PL1 et PL2, et par conséquent des plans de mesure P1 et P2. Il est maintenant fait référence aux figures 8, 9, 9A, 9B, dans lesquelles les seconds moyens détecteurs (déplacement axial) sont encore réalisés sous forme optique, mais différents des premiers moyens détecteurs. Sur la figure 8, l'encombrement des deux pinces montées sur l'éprouvette 1 est schématisé en PL1 et PL2. Un ensemble d'éclairage S30 et DB30 fournit par l'intermédiaire d'une lentille-L40 un faisceau de rayons parallèles, en balayage, qui sont repris de l'autre côté des deux pinces PL1-et PL2 par une autre lentille L41 pour converger en PD45 sur un détecteur. La figure 9 illustre ce montage de manière plus précise. La source S30, qui est par exemple un laser, illumine un générateur de balayage DB30. Ce générateur est constitué -d'un miroir DB31 tournant de référence à grande vitesse, constante, sur un disque DB32. Pendant une partie de sa rotation,le miroir DB31 illumine un secteur angulaire délimité par deux photodétecteurs PD34 et PD35.Ce secteur angulaire correspond sensiblement à l'ouverture de la lentille L40, dont le foyer coincide avec le centrede- rotation du miroir DB31* La lentille L40 fournit ainsi un pinceau lumineux qui va se déplacer parallèlement à lui-meme (et aux plans de mesure Pi et P2) ,-- pour balayer un peu plus que l'espace compris entre 3es pinces PL1.et PL2 (cet espace étant pris pour l'extension maximale de l'éprouvette). Les faces internes en regard des pinces PL1 et PL2 sont bien entendu usinées en conséquence, .aàns la- partie qui va diaphragmer l'espace balayé par le pince-au lumineux.De autre côté des pinces PL1 et PL2, la lentille L41 reprend le pinceau parallèle, pour le faire converger, quelle que soit sa position, vers le photodétecteur PD45, auquel est associée une électronique de mesure notée DM. Les photodétecteurs PD34 et PD35 sont également reliés à l'électronique DM par des liaisons respectives PD36 et PD37. Un intervalle de temps #t1 est défini entre l'instant ot le détecteur- PD34 perçoit le faisceau lumineux et celui où le détecteur PD35 le percevra. Cet intervalle de temps peut servir de base pour une ddtermination précise de la vitesse de balayage du faisceau lumineux. De son côté, le circuit électronique DM utilise le rayonnement perçu par le photo- détecteur PD45 pour en déterminer précisément le début et la fin, séparé d'un autre intervalle de temps At2O La différence #t1 - #t2 représente alors la variation de position relative des deux pinces PL1 et PL2, selon l'axe longitudinal 10 de l'éprouvette 1. Ce qui précède suppose que la source S30 est un laser à émission continue. Une variante intéressante consiste à utiliser en S30 une source laser impulsionnelle. Les circuits électroniques DM n'ont alors plus qu'à réaliser un comptage d'impulsions, correspondant à un nombre de "lignes" balayées par le pinceau lumineux entre les deux pinces PL1 et PL2, pour obtenir l'intervalle de temps At2. Dans cette variante, les photodiodes PD34 et PD35 ne servent qu'd contrôler la vitesse de rotation instantanée du miroir DB31. Revendications. 1. Appareil d'extensométrie, destiné à mesurer les déformations d'un échantillon allongé,tel qu'une éprouvette tubulaire (1), et comportant des moyens pour déterminerlatorsion subie par l'éprouvette autour de l'axe longitudinal, en présence de sollicitations mécaniques appliquées à celle-ci, caractérisé en ce que ces moyens comprennent :: - deux pinces rigides (PL1, PL2) montées sur l'éprouvette dans des plans de mesure respectifs (P1, P2) qui sont espacés l'un de l'autre, et perpendiculaires à ltaxe longitudinal (10) de l'éprouvette; - chaque pince possédant deux mâchoires.(PL1S, PL16) conformées pour pouvoir enserrer parfaitement l'éprouvette, et sollicitées l'une vers l'autre (PL20) selon un effort faible, propre à interdire tout glissement des mâchoires sur lléprou- vette; et - des premiers moyens détecteurs (M1, M2, PD1, PD2) coopérant avec l'un au moins des bras de chacune des pinces, afin de déterminer sans contact les déplacements relatifs des deux pinces, en rotation autour de l'axe longitudinal de 1-éprou- vette. 2. Appareil selon la revendication 1, destiné à mesurer les déformations multi-axiales,caractérisé en ce-qu'il comporte en outre de seconds moyens détecteurs (CC1, CC2) pour déterminer sans contact le déplacement relatif des deux plans de mesure, ou de plans voisins de ceux-ci, selon l'axe longitudinal de l'éprouvette. 3. Appareil selon la revendication 2, caractérisé en ce que les seconds moyens détecteurs (CC1, CC2) coopèrent aussi avec les deux pinces (PL1, PL2). 4. Appareil selon l'une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que les pinces (PL1, PL2) sont réalisées en un matériau thermiquement isolant tel qu'une céramique du genre Vitrocéram, et en ce qu'il comporte des moyens de chauffage électrique de l'éprouvette, en particulier des moyens de chauffage électrique par induction portant l'échantillon jusqu'à une température d'environ 10000C. 5. Appareil selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que les pinces (PL1, PL2) prennent appui sur deux collerettes (14, 15) usinées dans l'éprouvette. 6. Appareil selon la revendication 2, caractérisé en ce que l'un au moins des premiers et seconds moyens détecteurs est de type capacitif. 7. Appareil selon la revendication 2, caractérisé en ce que l'un au moins des premiers et seconds moyens détecteurs est de type optique. 8. Appareil selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que les premiers moyens détecteurs comprennent - deux dispositifs réflecteurs (M1, M2) montés sur les deux pinces, du côté de leu-rs extrémités libres respectives; et - des moyens optiques (L, RP1, RP2, PD1, PD2) coopérant avec ces deux dispositifs réflecteurs pour déterminer les déplacements relatifs des extrémités libres des deux pinces. 9. Appareil selon la revendication 8,caractérisé en ce que les moyens optiques comprennent une source lumineuse (L) produisant au moins un faisceau étroit et fin, tel qu'un faisceau laser. 10. Appareil selon la revendication 9, caractérisé en ce que les deux réflecteurs sont deux miroirs plans (M1, M2), recevant deux faisceaux lumineux distincts, qu'ils renvoient sur des barrettes photodétectrices respectives (PD1, PD2) situées sensiblement dans lesdits plans choisis. 11. Appareil selon la revendication 9, caractérisé en ce que les deux dispositifs réflecteurs (PM10, M20) s'étendent en regard l'un de l'autre, le premier réflecteur étant un dièdre réflecteur (PM10) d'arête (pu13) parallèle auxdits plans, et le second réflecteur étant un miroir (M20, MC20) présentant un axe de symétrie optique (M21) à la fois parallèle auxdits plans et sensiblement perpendiculaire à l'arête (PM13) du dièdre, le faisceau émis (F11) frappant d'abord le second réflecteur puis le dièdre, lequel le renvoie vers le second réflecteur avec un décalage angulaire quia est fonction de la position angulaire relative des deux pinces, tandis que le faisceau de retour (F19) est parallèle au faisceau d'émission (F11), dont il est séparé, par un diviseur de faisceau (RP10), pour arriver sur une barrettede photodiodes parallèle auxdits plans de mesure. 12.Appareil selon la revendication 11, caractérisé en ce que la source lumineuse (S10) produit un peigne de faisceaux parallèles qui s'étendent perpendiculairement auxdits plans de mesure. 13. Appareil selon l'une des revendications 11 et 12, caractérisé en ce que le miroir est un-miroir plan (M20). 14. Appareil selon l'une des revendications il et 12, caractérisé en ce que le miroir est un miroirconcave (MC20), en particulier un miroir cylindrique, et en ce que la source lumineuse (sil) produit en outre un autre faisceau étroit qui s'étend parallèlement aux plans de mesure tandis que le diviseur de faisceau (RP10) renvoi le faisceau de retour associé à cet autre faisceau vers une barrette de photodétecteurs (PD20) perpendiculaire auxdits plans. 15. Appareil selon la revendication 6, caractérisé en ce que le second moyen détecteur comprend deux détecteurs capacitifs (CC1, CC2; CC1A, CC2A) montés sur les pinces de façon sensiblement symétrique par rapport à l'éprouvette. 16. Appareil selon la revendication 7, caractérisé en ce que le second moyen détecteur comprend des moyens optiques (S30, DB30) pour produire un pinceau parallèle auxdits plans (P1, P2) et balayant l'espace compris entre les deux pinces (PLI, PL2), et des moyens récepteurs (PD45, DM) pour détecter. ce pinceau de l'autre côté des deux pinces et en déduire l'écartement de celles-ci. 17. Appareil selon la revendication 16, caractérisé en ce que le pinceau est modulé par impulsions et en ce que les moyens récepteurs (DM) opèrent par comptage d'impulsions. 18. Appareil selon l'une des revendications 15 et 16, caractérisé en ce que les moyens récepteurs (DM) mesurent le temps mis par le pinceau lumineux pour aller d'une pince à l'autre. 19. Procédé d'extensomdtrie, en particulier sur un échantillon allongé, tel qu'une éprouvette tubulaire, caractérisé par les opérations suivantes a) mise en place sur l'éprouvette de deux pinces rigides, dans des plans de mesure respectifs perpendiculaires à l'axe longitudinal de l'éprouvette; et b) détection de la rotation relative des deux pinces autour de ce même axe longitudinal. 20. Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce qu'il comporte en outre l'étape suivante c) détection du déplacement relatif des deux pinces selon l'axe longitudinal de l'éprouvette.