Brevet FR2541772A1 — publié le 19840831

la présente invention concerne un procédé et un dispo- sitif pour l'examen non destructif de jonctions rive- tées ou analogues au moyen d'une sonde à courants de Foucault Quoique l'invention puisse être mise en oeu- vre dans de nombreuses applications, elle sera plus particulièrement décrite ci-après en rapport avec l'examen non destructif des jonctions des panneaux constituant la peau du fuselage d'un aéronef. On sait que la peau du fuselage d'un aéronef est cons- tituée de panneaux individuels assemblés par des jonc- tions à rivets dans lesquelles lesdits rivets sont ali- gnés et équidistants De telles jonctions par rivets fatiguent beaucoup au cours de l'utilisation de l'aéro- nef, notamment du fait des cycles de compression et de décompression auxquels est soumis le fuselage de celui-ci Il peut en résulter la formation de criques se développant à partir des trous de passage des rivets dans les panneaux Par suite, les jonctions s'affai- blissent et il est donc indispensable de surveiller pé- riodiquement lesdites jonctions pour en connaître l'état. L'examen non destructif des jonctions rivetées de la peau d'un aéronef est généralement réalisé au moyen d'une sonde à ultra-sons Cependant, l'utilisation d'une telle sonde est longue et fastidieuse, notamment à cause de la réalisation obligatoire d'un couplage correct (par exemple à l'aide de vaseline) entre la sonde et le rivet examiné et à cause de la précision requise pour le positionnement de la sonde par rapport au rivet A-ces points de vue, il serait intéressant de pouvoir utiliser une sonde à courants de Foucault; ce- pendant, les signaux délivrés par une telle sonde ne sont pas aisément exploitables En effet, si l'on fait défiler une sonde à courants de Foucault, correctement équilibrée et orientée, le long d'une ligne de rivets sains, c'est-à-dire dont les trous de passages dans les panneaux ne sont pas criqués, on obtient un signal dont le cycle est aplati et allongé. En revanche, si ladite sonde rencontre un rivet associé à une crique, elle fournit un cycle en large boucle - croisée Dans les deux cas, il est impossible à un ob- servateur de faire correspondre les points du cycle avec les positions de la sonde le long de la ligne des rivets. La présente invention a pour objet de permettre l'uti- lisation d'une telle sonde à courants de Foucault dans un appareil d'examen non destructif de type automatique ou tout au moins semiautomatique pour la surveillance de jonctions rivetées ou-analogues. A cette fin, selon l'invention, le procédé pour l'exa- men non destructif de jonctions rivetées ou analogues au moyen d'une sonde à courants de Foucault, lesdites jonctions comportant une suite de rivets ou analogues alignés et équidistants, est remarquable en ce qu'on utilise une sonde a courants de Foucault susceptible de fournir, lorsqu'elle est amenée à défiler le long de ladite suite de rivets, un signal en cycle qui, rappor- té à un système d'axes X-X et Y-Y orthogonaux dont l'un X-X est parallèle au déplacement de ladite sonde, est aplati et allongé le long dudit axe X-X, lorsque le ri- vet en cours d'examen n'est pas associé à une crique, mais au contraire est constitué par une large boucle croisée s'étendant à la fois parallèlement à l'axe X-X et parallèlement-à l'axe Y-Y, lorsque le riveten cours d'examen est associé à une crique, et en ce qu'on ef- fectue la suite des opérations suivantes: on commence par examiner à l'aide de ladite sonde une grande quantité de jonctions témoins semblables à celle dont on veut effectuer l'examen non destructif, lesdi- tes jonctions témoins ne comportant pas, de façon sure, de criques, et on enregistre la pluralité des cycles aplatis et allongés correspondants à partir de l'enveloppe de cette pluralité de cycles aplatis et allongés, on détermine, le long de l'axe X-X, un premier seuil S Ro au-delà duquel on est sûr que le signal de la sonde indique la présence d'un rivet et, le long-de l'axe Y-Y, un second seuil Sco au-delà duquel on est sûr que le signal de la sonde indique la présence d'une crique; après quoi, on fait défiler ladite sonde le long de la suite de rivets à examiner et on mesure en continu les composantes du signal de la sonde le long des axes X-X et Y-Y puis on compare lesdites composantes du signal de la sonde respectivement aux seuils S Ro et S Sco, pour en déduire la présence ou l'absence de criques; et on enregistre et/ou on affiche les résultats de la comparaison. Ainsi, grâce à l'invention, on obtient des critères simples de détermination de la présence ou de l'absence de criques La phase préliminaire d'enregistrement a pour objet de prendre en compte les dispersions possi- bles des caractéristiques des jonctions dues aux tolé- rances de fabrication, aux variations de positionnement de la sonde, aux variations des matières constitutives des panneaux de peau et des rivets, etc et elle peut être réalisée sur les jonctions d'aéronefs neufs, d'un modèle identique à ceux dont on voudra vérifier les jonctions par la suite On remarquera que la comparai- son simultanée des composantes du signal de la sonde avec les deux seuils S Ro et Sco, établit de façon certaine la coincidence de la présence d'un rivet et d'une éventuelle crique. Pour la mise en oeuvre du procédé selon l'invention, un- dispositif destiné à l'examen non destructif de jonc- tions rivetées ou analogues comporte une sonde à cou- rants de Foucault susceptible de fournir, lorsqu'elle est amenée à défiler le long d'une suite de rivets ou analogues alignés et équidistants un signal en cycle qui, rapporté à un système d'axes X-X et Y-Y orthogo- naux dont l'un X-X est parallèle au déplacement de la- dite sonde, est aplati et allongé le long dudit axe X-X, lorsque le rivet en cours d'examen n'est pas asso- cié à une crique, mais au-contraire est constitué par une large boucle croisée s'étendant à la fois parallè- lement à l'axe X-X et parallèlement à l'axe Y-Y lorsque le rivet en cours d'examen est associé a une crique; des moyens à mémoire pour emmagasiner lesdits seuils S Ro et S; des moyens de commande et de lecture de ladite sonde pour mesurer en continu les composantes du signal de la sonde le long des axes X-X et Y-Y; des moyens de comparaison desdites composantes avec lesdits seuils S Ro et Sco; et des moyens d'entregistrement et/ou d'affichage des résul- tats de la comparaison. De préférence, ladite sonde à courants de Foucault com- porte un enroulement primaire d'injection central en- touré de quatre enroulements secondaires de détection périphériques, lesdits enroulements secondaires étant angulairement équirépartis sur un même cercle centré sur l'enroulement primaire et disposés deux à deux selon deux diamètres rectangulaires, l'un desdits dia mètres étant destiné à venir en coïncidence avec ladite suite alignée de rivets, deux enroulements secondaires diamétralement opposés étant de même sens, mais de sens opposé aux deux autres enroulements secondaires et les quatre enroulements secondaires étant reliés en série de façon que deux enroulements consécutifs soient de sens opposés. De préférence, la distance séparant l'enroulement pri- maire d'injection d'un enroulement secondaire de détec- tion est égale à la moitié de la distance séparant deux rivets consécutifs de ladite suite. Avantageusement, afin de compenser le déphasage que su- bit le signal de détection de la sonde dans lesdits moyens de commande et de lecture, ceux-ci comportent un dispositif de déphasage commandable De façon usuelle, les deux composantes du signal de la sonde le long des axes X-X et Y-Y sont obtenues par un double démodula- teur synchrone en quadrature. Dans un mode de réalisation avantageux, les moyens à mémoire pour emmagasiner les seuils S Ro et Sco, et les moyens de comparaison desdites compo- santes du signal de la sonde avec les seuils S Ro et S Co sont formés par un microprocesseur. Les figures du dessin annexé feront bien comprendre comment l'invention peut être réalisée. 6 2541772 La figure 1 est une vue schématique en perspective de la sonde à courants de Foucault conforme à la présente invention. Les figures 2 et 3 illustrent respectivement l'influen- -ce d'un rivet sain et d'un rivet associé à une crique sur les lignes de courant engendrées par la sonde de la figure 1. La figure 4 donne le schéma synoptique du dispositif de commande et de lecture de la sonde de la figure 1. Les figures 5 à 7 illustrent le fonctionnement de la sonde de la figure 1 et du dispositif de la figure 4, lorsque;ladite sonde est déplacée le long d'une ligne de rivets non associés à des criques. Les figures 8 à 10 illustrent le fonctionnement de la sonde de la figure 1 et du dispositif de la figure 42 lorsque ladite sonde rencontre un rivet associé à une crique. La figure 11 donne le schéma synoptique du dispositif d'examen non destructif à courants de Foucault, confor- me à l'invention. Sur ces figures, des références identiques désignent des éléments semblables. La sonde à courants de Foucault Cr, dont le schéma est représenté schématiquement en perspective sur la figure 1 au-dessus d'une surface 2 à examiner, comporte un en- roulement primaire d'injection P et quatre enroulements secondaires de détection 51 à 54, chacun des enrou- lements primaire et secondaires comportant un noyau de ferritp-ou analogue et ces cinq enroulements et leurs noyaux étant noyés dans un corps 3 de matière magnéti- 7 2541772 tiquement et électriquement isolante, non représenté sur les figures l à 3, mais visible sur les figures 5 et 8 Dans ce corps 3, les positions relatives des cinq enroulements sont figées, l'enroulement d'injection P étant disposé de façon centrale, alors que les enroule- ments de détection SI à 54 sont diamétralement op- posés deux à deux, les enroulements SI et 53 déter- minant un axe X-X orthogonal à un axe Y-Y déterminé par les enroulements 52-et 54 O L'axe de l'enroulement d'injection P passe par le point d'intersection des axes X-X et Y-Y et les enroulements 51 à 54 sont équidistants de ce point d'intersection. L'enroulement d'injection P est pourvu de deux bornes 4 et 5 entre lesquelles on injecte un signal électrique d'excitation, tandis que les enroulements SI à 54 sont montés en série de façon que les enroulements de détection Sj et 53 soient de même sens et que les enroulements 52 et 54 soient de sens inverse aux enroulements SI et 53 Le montage en série des enroulements de détection Sj à 54 comporte deux bornes 6 et 7 entre lesquelles on recueille le signal de détection, c'est-à-dire un signal de déséquilibre de la sonde. les enroulements Sa à 54 sont identiques et équili- brés pour que, lorsque l'enroulement d'injection P re- çoit le signal d'injection entre ses bornes 4 et 5, il engendre dans une surface homogène 2 des courants in- duits suivant des lignes de courants circulaires 8 et donnant naissance dans les enroulements de détection SI à 54 à des signaux égaux et deux à deux opposés, de sorte que le signal aux bornes 6 et 7 est nul Dans l'agencement de la figure 1, les enroulements SI et 53 sont considérés comme des enroulements de mesure, alors que les enroulements 52 et 54 sont considérés comme enroulements de compensation. Lorsque la surface au-dessus de laquelle se trouve la sonde CF n'est pas homogène, les lignes de courants in- duits par l'enroulement d'injection P ne sont plus cir- culaires et subissent des déformations au voisinage des hétérogénéités Sur la figure 2, on a illustré une sur- face hétérogène 9, par exemple la peau d'un fuselage d'aéronef constituée de panneaux individuels d'alumi- nium 10 assemblés par des lignes 11 de rivets 12 en ti- tane, et on a disposé la sonde CF de façon que son axe X-X soit superposé à une ligne axiale 11 de rivets 12. On peut voir sur cette figure 2 que les lignes de cou- rants induits 8 éloignées d'un rivet 12 restent circu- laires et que les lignes de courants induits 8 ' proches d'un rivet subissent des déformations entourant ledit rivet Sur la figure 3, semblable à la figure 2, on a supposé de plus qu'un panneau individuel 10 comportait une crique 13, ayant pour origine le trou de passage d'un rivet 12 On peut y voir que les déformations des lignes de courants induits sont encore accentuées. Ainsi, une sonde CF équilibrée pour donner un signal nul entre ses bornes de sortie 6 et 7 lorsque la surfa- ce 2 est homogène ou lorsqu'elle se trouve en regard d'une partie homogène d'une surface hétérogène 9, four- nira un signal de déséquilibre lorsque les lignes de courants induits subiront des déformations à cause d'hétérogénéités 12 ou 13. Comme le montre la figure 4, la sonde CF est montée dans un dispositif-de commande et de lecture 14, par l'intermédiaire d'une liaison 15 Le dispositif 14 com- porte un générateur électrique 16 d'un signal à fré- quence porteuse, de préférence sinusoïdale, et d'un signal de même fréquence, mais déphasé en arrière de ' On obtient ainsi un signal de référence de phase destiné à servir de signal d'injection et un signal de référence de phase 0 o Le signal d'injection (phase 90 ) est appliqué, d'une part, à un amplificateur 17 adapteur de courant et, d'autre part, à un double démo- dulateur synchrone 18 et à un déphaseur 19 Le signal de référence de phase O ' est appliqué au double démodu- lateur synchrone 18 et au déphaseur 19. A la sortie de l'amplificateur 17, le signal d'injec- tion est transmis à l'enroulement primaire P par l'in- termédiaire d'un détecteur d'adaptation 20. Par ailleurs, les enroulements secondaires 51 à 54 sont reliés à un système adaptateur d'impédance 21 sui- vi d'un amplificateur de détection 22, d'un dispositif 23 d'équilibrage de la sonde CF, d'un éventuel filtre 24 destiné à éliminer les fréquences parasites de la fréquence porteuse et d'un amplificateur 25 Ainsi, le signal d'injection appliqué par le générateur 16 à l'enroulement primaire P par l'intermédiaire de l'am- plificateur 17 et de l'adaptateur 20 est détecté par les enroulements 51 à 54, puis adapté en impédance dans l'adapteur 21, après quoi, après amplification (en 22), équilibrage (en 23), filtrage (en 24) et amplifi- cation (en 25), il est appliqué au double démodulateur 18 Celui-ci démodule la porteuse en extrayant les deux composantes x' et y' en quadrature de l'éventuel signal de déséquilibre qui est dû à une hétérogénéité 12 ou 13 Enfin, les deux composantes orthogonales x' et y' du signal de déséquilibre, qui ont subi un déphasage dans la portion de circuit-51 à 54, 21 à 25, sont adressées au déphaseur 19, qui délivre à sa sortie deux composantes x et y en phase avec les axes'X-X et Y-Y, respectivement. Sur la figure 5, on a supposé que la sonde CF se dépla- çait dans le sens de la flèche V, de façon que son axe X-X reste constamment confondu avec la ligne axiale 11 des rivets 12, que la distance séparant le centre de l'enroulement primaire d'injection P du centre de cha- cun des enroulements secondaires de détection 51 à 54 était égale à la moitié de la distance séparant les centres de deux rivets 12 consécutifs, et qu'aucune crique 1 3 n'existait - Si dans la position initiale, l'axe de l'enroulement primaire d'injection P passe par le centre A d'un rivet 12, chacune des sondes Si à 54 est suffisamment éloignée d'un rivet 12 pour que la portion de surface embrassée par la sonde CF paraisse homogène à celle-ci. Il n'apparait donc aucun signal de déséquilibre entre les bornes 6 et 7, si l'équilibrage de la sonde CF réa- lisé par le dispositif 23 est correct Dans un système d'axes rectangulaires X-X, Y-Y (voir'la figure 7) iden- tiques aux axes correspondant de la sonde CF, le signal de déséquilibre est alors représenté par l'origine O desdits axes On remarquera que, par suite du déphasage c mentionné ci-dessus et corrigé par le déphaseur 19, à la sortie du double démodulateur synchrone en quadra- ture 18, le système d'axes rectangulaires X-X, Y-Y a subi une rotation d'amplitude 1,les axes X-X et Y-Y occupant respectivement les positions X'-X' et Y'-Y'. 1 1 Lorsque la sonde CP est déplacée vers la droite de la figure 5 en direction du rivet 12 de centre A', le point caractéristique du signal de déséquilibre entre les bornes 6 et 7 décrit une portion de courbe Kj (voir les figures 6 et 7) qui, partant de l'origine O des axes, s'éloigne de l'axe X-X ou X'-X' pour rejoin- dre celui-ci en Q, lorsque l'axe de l'enroulement P atteint le point B de la ligne 11, situé au quart de la distance entre les deux rivets 12 voisins Si la sonde CF continue son mouvement d'avance, le point caracté- ristique dudit signal de déséquilibre décrit une por- tion de courbe K 2 (opposée à la portion K 1 par rap- port à l'axe X-X ou X'-X') se rapprochant de l'axe Y-Y ou Y'-Y' Cette portion de courbe K 2 s'arrête en R, lorsque l'axe de l'enroulement P atteint le point C, milieu de la distance séparant les deux rivets 12 voi- sins. Quand ledit axe de l'enroulement P passe du point C au point D (correspondant aux trois-quarts de la distance de deux rivets 12 voisins), ledit point caractéristique décrit, en sens inverse, la portion de courbe K 2, du point R au point Q Enfin, lorsque l'axe de l'enrouie- ment P passe du point D au point A', ledit point carac- téristique décrit la portion de courbe K 1 de Q vers 0. Ainsi, si la sonde CF est déplacée le long d'une ligne 11 comportant une pluralité de rivets 12 identiques et régulièrement espacés, le point caractéristique du si- gnal de déséquilibre entre les bornes 6 et 7 décrit cy- cliquement et successivementt la portion de courbe Ki de O vers Q, puis la portion de courbe K 2 du Q vers R, puis la portion de courbe K 2 de R vers Q, puis la portion de courbe K 1 de Q vers 0, puis la portion de courbe K 1 de O vers Q, etc Cependant, à cause des variations possibles de positionnement de la sonde, des matières constitutives des rivets 12 et des panneaux 10, des distances entre rivets, etc, il se produit une certaine dispersion et les portions de courbes K 1 et K 2 ne sont pas obligatoirement absolument identi- ques et superposées pour tous les cycles. Aussi, selon l'invention, on effectue l'examen d'un grand nombre de lignes 11 de rivets 12, fabriquées de façon identique, pour connaître l'enveloppe globale K des portions de courbes KI et K 2 De plus, on mesu- re une grandeur Xo égale à une fraction, par exemple le tiers, de la longueur Lo de l'enveloppe K, ainsi que la hauteur Yo de celle-ci par rapport à l'axe X-X. Cette grandeur Xo est destinée à déterminer un seuil S Ro, au-delà duquel on est sûr que le signal de déséquilibre apparaissant entre les bornes 6 et 7 cor- respond à la présence d'un rivet Par ailleurs, la hau- teur Yo permet de déterminer un seuil Sco au-delà duquel on est sûr qu'un point caractéristique ne peut appartenir à une courbe K 1, K 2 représenta- tive d'un rivet sain. Les figures 8 à 10 correspondent respectivement aux fi- gures 5 à 7 et illustrent le processus de détection lorsqu'une crique 15 s'est développée dans un panneau , à partir du trou de passage d'un rivet 12 On voit alors que la courbe L décrite par le point caractéris- tique est fort différente de la courbe K 1, K 2 asso- ciée à un rivet sain et franchit largement le seuil Sco parallèlement à l'axe Y-Y ou Y'-Y', ainsi que le seuil S Ro parallèlement à l'axe X-X ou X'-X'. Ainsi le franchissement du seuil S Ro est signifi- catif de la présence d'un rivet 12, que celui-ci soit sain ou crique, alors que le franchissement du seuil Sco est signigicatif d'une crique 130 Par ailleurs, l'analyse du sens de rotation de la boucle croisée mon- trée par la figure 10 permet de déterminer exactement la direction de la crique 13. Selon l'invention, on utilise les deux seuils S Ro et Sco pour l'examen non destructif d'une jonction rivetée A cet effet, on peut par exemple utiliser le dispositif dont le schéma synoptique est représenté sur la figure 11. La sonde CF est montée dans un porte-sonde 26 pouvant coulisser le long d'une tige de guidage 27, parallèle à la ligne 11 de rivets à examiner, de façon que ladite sonde CF ait son axe X-X confondu constamment avec la- dite ligne axiale 11 La tige de guidage 27 est asso- ciée à des moyens de mesure 28, par exemple potentiomé- triques ou du type décrit dans le brevet US-A-3 898 555, susceptibles de délivrer à chaque ins- tant l'abscisse de la sonde CF le long de la tige 27. La sonde CF est commandée et lue par le dispositif 14 auquel elle est reliée par la liaison 15 (voir égale- ment la figure 4) Le dispositif de la figure 11 com- porte de plus un microprocesseur 29 auquel sont trans- mises, par l'intermédiaire d'un convertisseur analogi- que-numérique 30, l'abscisse de la sonde CF délivrée par le dispositif 28 et les composantes x et y du si- gnal de déséquilibre de ladite sonde Le microproces- seur 29 est relié à un clavier 31 permettant de lui com- muniquer des informations 32, telles que l'identifica- tion de la ligne 11 à examiner, à une unité de stockage 33, par exemple du type disque dur, à une disquette de programmation 34, à une imprimante 35 et à un dispositif de visualisation 36. Dans une première étape du procédé selon l'invention, on fait -défiler la sonde CF devant une grande longueur et/ou un-grand nombre de lignes Il non pourvues de cri- ques (jonctions d'aéronefs neufs) afin que le micropro- cesseur 29-détermine les seuils S Ro et Sco qu'il garde en mémoire Ensuite, lorsque la sonde CF examine une ligne 11 de rivets 12 servant de jonctions de panneaux 10 à un aéronef à surveiller, le micropro- cesseur 29 compare à chaque instant les composantes x et y du signal de déséquilibre avec les seuils S Ro et Sco et il peut ainsi, non seulement détecter et compter les rivets 12, mais encore détecter les criques 13 Il fournit ces informations aux appareils périphé- riques 33, 35 et 36. REVENDICATIONS 1. Procédé pour l'examen non destructif de jonctions rivetées ou analogues ( 11) au moyen d'une sonde (CF) à courants de Foucault, lesdites jonctions ( 11) compor- tant une suite de rivets ou analogues ( 12) alignés et équidistants, caractérisé d'une part, en ce qu'on utilise une sonde à courants de Foucault susceptible de fournir, lorsqu'elle est amenée à défiler le long de ladite sui- te de rivets, un signal en cycle qui, rapporté à un système d'axes X-X et Y-Y orthogonaux dont l'un X-X est parallèle au déplacement de ladite sonde, est aplati et allongé le long dudit axe X-X, lorsque le rivet en cours d'examen n'est pas associé à une crique (cycle Kj+K 2), mais au contraire est constitué par une large boucle croisée s'étendant à la fois parallèlement à l'axe X-X et parallèlement à l'axe Y-Y, lorsque le rivet en cours d'examen est associé à une crique (cycle L) et, d'autre part, par la suite des opérations sui- vantes: on commence par examiner à l'aide de ladite sonde (CF) une grande quantité de jonctions témoins sembla- bles à celle dont on veut effectuer l'examen non des- tructif, lesdites jonctions témoins ne comportant pas, de façon sure, de criques ( 15), et on enregistre la pluralité des cycles aplatis et allongés (Kj+K 2) correspondants à partir de l'enveloppe (K) de cette pluralité de cycles aplatis et allongés, on détermine, le long de l'axe XX, un premier seuil S Ro au-delà duquel on est sûr que le signal de la sonde indique la présence d'un rivet et, le long de l'axe Y-Y, un second seuil -Sco au-delà duquel on est sûr que le signal de la sonde indique la présence d'une crique; après quoi, on fait défiler ladite sonde (CF) le long de la suite ( 11) de rivets ( 12) à examiner et on mesure en continu les composantes (x,y) du signal de la sonde (CP) le long des axes X-X et Y-Y puis on compare lesdites composantes (x,y) au signal de la sonde (CF) respectivement aux seuils S Ro et Sco, pour en déduire laprésence ou l'absence de criques; et on enregistre et/ou on affiche les résultats de la comparaison. 2. Dispositif pour la mise en oeuvre dui procédé de la revendication 1, destiné à l'examen non destructif de jonctions rivetées ou analogues ( 11), caractérisé en ce qu'il comporte une sonde (CF) à cou- rants de Foucault susceptible de fournir, lorsqu'elle est amenée à défiler le long d'une suite ( 11) de ri- vets ou analogues ( 12) alignés et équidistants, un si- gnal en cycle qui, rapporté à un système d'axes X-X et Y-Y orthogonaux dont l'un X-X est parallèle au déplace- ment de ladite sonde, est aplati et allongé le long du- dit axe X-X, lorsque le rivet en cours d'examen n'est pas associé à une crique (cycle Kl+K 2), mais au con- traire est constitué par une large boucle croisée s'é- tendant à la fois parallèlement à l'axe X-X et parallè- lement à l'axe Y-Y lorsque le rivet en cours d'examen est associé à-une crique (cycle L) v des moyens à mémoi- re ( 29) pour emmagasiner lesdits seuils S Ro et Sco; des moyens de commande et de lecture ( 14) de ladite sonde (CP) pour mesurer en con- tinu les composantes (x,y) du signal de la sonde le long des axes X-X et Y-Y; des moyens de comparaison ( 29) desdites composantes (x,y) avec lesdits seuils S Ro et Sco; et des moyens d'entregistrement et/ou d'affichage ( 33,35,36) des résultats de la compa- raison. 3. Dispositif selon la revendication 2, caractérisé en ce que ladite sonde (CF) à courants de Foucault comporte un enroulement primaire d'injection central (P) entouré de quatre enroulements secondaires de détection ( 51 à 54) périphériques, ledits enrou- lements secondaires étant angulairement équirépartis sur un même cercle centré sur l'enroulement primaire et disposés deux à deux selon deux diamètres (X-X et Y-Y) rectangulaires, l'un desdits diamètres (X-X) étant destiné à venir en coincidence avec ladite suite ali- gnée de rivets ( 12), deux enroulements secondaires dia- mètralement opposés étant de même sens, mais de sens opposé aux deux autres enroulements secondaires et les quatre enroulements secondaires étant reliés en série de façon que deux enroulements consécutifs soient de sens opposés. 4. Dispositif selon la revendication 3, caractérisé en ce que la distance séparant l'enroule- ment primaire d'injection (P) d'un enroulement secon- daire de détection 51 à 54 est égale à la moitié de la distance séparant deux rivets consécutifs ( 12) dans ladite suite ( 11). 5 Dispositif selon l'une des revendications 2 à 4, caractérisé en ce que les moyens decommande et de lec- ture ( 14) de la sonde (CF) comportent un dé phaseur com- mandable ( 19). 6. Dispositif selon l'une des revendications 2 à 5, caractérisé en ce que les moyens à mémoire pour emmaga- siner les seuils S Ro et Sco et les moyens de comparaison desdites composantes (x,y) du signal de la sonde (CF) avec les seuils S Ro et Sco sont formés par un microprocesseur ( 29).