Brevet FR2538593A1 — publié le 19840629

Support d'enregistrement magnétique La présente invention concerne des supports d'enregistrement magnéti- ques, et plus particulièrement de tels supports ayant une couche magnétique sous forme d'une mince pellicule continue formée par ce que l'on appelle un procédé d'évaporation à incidence oblique. Parmi les supports d'enregistrement magnétiques pour utilisation en vi- déo, audio et d'autres applications, des travaux actifs de recherche et de développement ont été effectués concernant les supports d'enregistrement ma- gnétiques, habituellement des bandes magnétiques ayant une couche magnéti- que sous forme d'une mince pellicule continue en raison du caractère compact d'un rouleau de bande. Les couches magnétiques préférées pour de tels supports du type à pel- licule continue sont des pellicules déposées de Co, Co-Ni, Co-0, Co-Ni-0 et des combinaisons similaires formées par le procédé d'évaporation à inciden- ce oblique dans lequel on évapore le cobalt et les éléments facultatifs et on les dirige suivant un angle donné par rapport à la normale au substrat, car de telles pellicules évaporées font preuve de caractéristiques supérieu- res Cependant, les couches magnétiques évaporées présentent de nombreux in- convénients, notamment un frottement dynamique important, une faible résis- tance de la pellicule, un contact rugueux avec les têtes et une mauvaise ap- titude à l'avancement (c'est-à-dire la durabilité de la bande qui progresse en contact de frottement avec des organes rigides dans un appareil vidéo) d'o un débit réduit après des courses répétées Dans le cas d'une applica- tion vidéo, les couches magnétiques évaporées ne possèdent qu'une courte du- rée de fonctionnement lorsqu'on les fait fonctionner sur le mode ralenti (qu'on appellera ci-après simplement "durée au ralenti") En outre, on obser- ve de nombreuses chutes de son dans de telles couches - Dans ces circonstances, on a déjà proposé des couches de dessus très variées pour recouvrir les couches magnétiques évaporées obliquement, Par exemple, dans les demandes de brevets japonais 53-88704 et 55-93533 au nom de Kokai, on a décrit des couches de dessus en acides gras saturés à chaînes linéaires et leurs esters fabriquées par des techniques d'évaporation et d'enduction Ces couches de dessus de la technique antérieure sont cependant, encore insuffisantes pour certaines des exigences indiquées, par exemple l'ap- titude à l'avancement, la durée au ralenti et les chutes de son, En conséquence, l'invention a pour but de fournir un support d'enregistrement magnétique ayant une mince couche magnétique continue recouverte d'une nou- velle couche de dessus Dossédant des caractéristiques améliorées, notamment un faible-frottement dynamique, une résistance élevée, un bon caractère lubri- fiant, un contact sans heurts avec les têtes, une meilleure aptitude à l'avan- cement, une durée prolongée au ralenti et un minimum de chute de son. Selon la présente invention, un support d'enregistrement magnétique comprenant un substrat, une mince couche magnétique continue sur le substrat, et une couche de dessus formée sur la couche magnétique est caractérisé en ce que la couche de dessus consiste en un composé de formule RO OY \p / D \OY' dans laquelle R représente un radical alkyle de 10 à 22 atomes de carbones, Y et Y' sont, indépendamment l'un de l'autre, des atomes d'hydrogène, des ra- dicaux alkyle ou des cations monovalents et Y et Y' peuvent reprée Enter con- jointemént un cation divalent. Le support d'enregistrement magnétique selon l'invention porte une cou- che magnétique sur un substrat Cette couche magnétique est du type d'une pel- licule mince continue ayant la même étendue que le substrat et composée en général uniquement de cobalt ou de nikel ou basée sur l'un des métaux Dans le mode de mise en oeuvre préféré de l'invention, la couche magnétique peut contenir du cobalt (Co) à titre d'élément essentiel Elle consiste de préfé- rence essentiellement en cobalt, cobalt et nikel cobalt et oxygène ou cobalt, nikel et oxygène On veut dire par là que la couche magnétique peut être constituée essentiellement en cobalt seulement ou en un mélange de cobalt avec le nikel et/ou l'oxygène. Quand la couche consiste essentiellement en cobalt et nikel, le rap- port pondéral Co/Ni peut être avantageusement d'au moins 1,5. La couche magnétique peut également contenir de l'oxygène en plus du cobalt ou du cobalt et nikel La présence d'oxygène contribue à d'autres amé- liorations des caractéristiques électromagnétiques et d'aptitude à l'avance- ment Dans ce cas, le rapport atomique O/Co (en l'absence de nikel) ou 0/(Co+Ni) est avantageusement inférieur à 0,45 et, mieux encore, compris en- tre 0,15 et 0,4. On obtient des résultats améliorés quand la couche magnétique contient du chrome en plus du cobalt; cobalt et nikel; cobalt et oxygène; ou cobalt, nikel et oxygène La présence du chrome contribue à d'autres améliorations des caractéristiques électromagnétiques, du niveau de sortie du rapport signal/bruit (S/B) et de la résistance de la pellicule Dans ce cas, le rap- port pondéral Cr/Co ( en l'absence de nikel) ou Cr/(Co+Ni) est de préférence de 0,001 à 0,1 et, mieux encore, de 0,005 à 0,05. La couche magnétique peut également contenir des traces d'autres élé- ments, en particulier d'éléments de métaux de transition par exemple Fe, Mn, V, Zr, Nb, Ta, Mo, W, Ti, Cu, Zn, etc. De préférence, la couche magnétique consiste en une coalescence de particules de structure colomnaire orientée obliquement à la normale vers le substrat en raison des caractéristiques électromagnétiques supérieures. Plus précisément, les particules de structure colomnaire sont de préférence orientées suivant un angle de 20 à 60 à la normale vers la surface princi- pale du substrat Chaque particule colomnaire traverse en général toute l'é- O paisseur de la couche magnétique et a un diamètre de l'ordre de 50 à 500 A. Le cobalt et les métaux facultatifs tels que le nikel et le chrome forment les particules de structure colomnaire elles-mêmes alors que l'oxygène, quand on l'ajoute, est en général présent à la surface de chaque particule colomnaire essentiellement sous forme d'oxydes L'épaisseur de la couche ma- gnétique est en général de 0,05 à 0,5 microns. La couche magnétique peut être formée sur le substrat directement ou par l'entremise d'une sous-couche -D'autre part, la couche magnétique est en général une couche unique mais, dans certains cas, elle peut être formée d'une série de sous-couches stratifiées avec ou sans interposition d'une cou- che intermédiaire entre elles. En général, la couche magnétique est formée par ce qu'on appelle un procédé d'évaporation à incidence oblique Ce procédé peut être l'une des techniques bien connues qui utilisent de préférence un pistolet à faisceaux électroniques alors que l'angle incident minimum à la normale vers le subs- trat est avantageusement de 30 Les conditions d'évaporation et les post- traitements sont bien connus des spécialistes et on peut choisir tous ceux que l'on désire parmi les expédients connus Un post-traitement efficace est un traitement qui consiste à incorporer de l'oxygène dans la couche ma- gnétique, ce qui est également bien connu des spécialistes Pour d'autres in- formations concernant ce procédé d'évaporation, on peut se référer D E. Speliotis et ai "Hard Magnetic Films of iron, cobalt and nikel", J Appl phys, 36, 3, 972 ( 1965) et Y Maezawa et ai, "Metal thin film video tape by vacuum deposition", IERE Conference Proceedings 54 ( The Fourth International Confe- rence On Video and Data Recording, The University of Southampton, Hampshire, G.B, 20-23 avril 198 ?) pp 1-9. Sur la couche magnétique est formée une couche de dessus consistant en un phosphate de formule -RO OY p 0/ O OY' dans laquelle R est un radical alkyle de 10 à 22 atomes de carbone; Y et Y' représentent chacun indépendamment un atome d'hydrogène, un radical alkyle ou un cation monovalent, ou bien Y et Y' peuvent représenter conjointement un cation divalent. Les radicaux alkyle R sont de préférence des radicaux alkyle non substitués à chaîne droite de 10 à 22 atomes de carbone Si les radicaux R contiennent moins de 10 atomes de carbone, la couche de dessus résultante et, par voie de conséquence, le support d'enregistrement magnétique font preuve d'un frottement dynamique plus important et d'une aptitude à l'avancement réduite et d'une plus courte durée au ralenti et aussi des chutes de son plus importantes, le tout en dehors des niveaux critiques D'autre part, si le radical alkyle R contient plus de 22 atomes de carbone les chutes de son se produisent au delà du niveau critique On préfère que R soit un radical alkyle non substitué à chaîne droite contenant 12 à 22 atomes de carbone car on peut alors s'attendre à de nouvelles améliorations du frottement dynami que, de l'aptitude à l'avancement et de chute de son. Y et Y', qui peuvent être identiques ou différents, représentent cha- 3 BG cun indépendamment un atome d'hydrogène, un radical alkyle ou un cation mono- valent; en variante, ils peuvent représenter conjointement un cation divalent. Quand Y est un radical alkyle ou que Y et Y' sont tous deux des radi- caux alkyle, le nombre total d'atomes de carbone dans R et Y (c'est-àdire les dialkyl-phosphates) ou dans R, Y et Y' (c'est-à-dire les trialkyl-phos phates) est de préférence de 44 ou moins car, dans le cas contraire, les chutes de son seraient plus nombreuses Mieux encore, dans le cas des dialkyl- phosphates, le nombre total d'atomes de carbone dans R et Y est inférieur ou égal à 40, surtout compris entre 20 et 40 Dans le cas des trialkylphospha- tes, le nombre total d'atomes de carbone dans R, Y et Y' est de 44 ou moins, surtout entre 20 et 44. Les radicaux alkyle représentés par R, Y et Y' sont de préférence non substitués et à chaîne droite bien qu'ils puissent tre substitués par des ra- dicaux halogène, hydroxyle, cyano, alkyle, aryle, alcoxy, aryloxy, alcoxycar- bonyle, aryloxycarbonyle, acyle, acylamino, carbamoyle, alkylsulfonylamino, sulfamoyle, sulfonyle ou similaires, ou bien ils peuvent être ramifiés. Y et/ou Y' peuvent également représenter un cation monovalent ou re- présenter ensemble un cation divalent. Les cations monovalents sont notamment ( 1) les ions de métaux alcalins tels que Li, Na et K et ( 2) les ions onium parmi lesquels l'ion ammonium (NH 4 +) Comme exemples d'ions onium, on citera les ions ammonium primaire à quaternaire, les ions phosphonium primaire à quaternaire et les ions sulfo- nium primaire à tertiaire qui peuvent tous avoir un radical alkyle tel que méthyle, éthyle, n-butyle, isoamyle, n-dodécyle, n-octadécyle etc ou un radical aryle tel que phényle, totyle, naphtyle etc, les radicaux alkyle et aryle étant éventuellement substitués par des radicaux cyano, alkyle, aryle, alcoxy, aryloxy, alcoxycarbonyle, aryloxycarbonyle, acyle, acylamino, carba- moyle, alkylsulfonylamino, sulfamoyle, sulfonyle etc On englobe également les ions ammonium cycliques, secondaires, tertiaires et quaternaires et les ions N-hydrogène-, N-alkyl et N,N-dialkyl ammonium qui peuvent avoir un noyau à 5 ou à 6 éléments tel que pyridine, imidazole, pyrrole, 2pyrroline, pyrrolidine, pipéridine, pyrazole, pyrazoline, imidazoline, etc. Dans un mode de mise en oeuvre préféré, Y ou Y', ou bien à la fois Y et Y', est ou sont choisis parmi les ions ammonium portant un radical alkyle de 10 à 22 atomes de carbone De préférence, ces ions ammonium peuvent être des ions ammonium primaire ou secondaire Si Y ou Y' représentent l'ammonium primaire, le radical alkyle contient avantageusement 12 à 22 ou, mieux encore, 12 à 18 atomes de carbone Si Y et/ou Y' sont des ions ammonium secondaire, l'un des radicaux alkyle fixées à l'atome d'azote de l'ammonium secondaire contient de préférence 12 à 22 atomes de carbone et surtout 12 à 18 atomes de carbone, le total des atomes de carbone dans les deux radicaux alkyle étant de 13 à 40, Ces radicaux alkyle des ions ammonium sont avantageusement à chane droite et non substitués bien qu'on puisse utiliser également des radicaux alkyle substitués comme on le verra dans les exemples et aussi des radicaux alkyle ramifiés. Parmi les cations divalents, on peut citer Mg, Ca, Sn, Ba etc et les ions bisammonium bisphosphonium On englobe également les cations d'ammonium divalents, trivalents ou polyvalents de formule générale: B-lN+(R')3 lm dans laquelle B représente un reste d'hydrocarbure, de préféren- ce un radical alkylène tel que méthylène ou éthylène, R' représente un atome d'hydrogène ou un radical alkyle ou aryle substitué ou non substitué et m est un nombre entier de 2, 3 ou plus. Dans certains cas, Y et/ou Y' peuvent représenter individuellement un cation divalent ou polyvalent qui est lié avec 2 ou plusieurs restes de phos- phate, mais en général Y et/ou Y' sont des cations monovalents. Les phosphates de la formule ci-dessus peuvent être synthétisés par un procédé connu quelconque ou peuvent être disponibles dans le commerce. L'utilisation d'un mélange de deux ou plusieurs tels composés est parfaite- ment dans le cadre de l'invention. On indique ci-après des exemples de phosphates répondant à la formule générale ci-dessus mais uniquement à titre illustratif et sans limiter la portée générale de l'invention. Exemples de phosphates No R 1 C 1 H 2 2 C 1 H 2 3 C 14 H 29 4 C 16 H 33 C 18 37 6 2 H 41 7 C H 22 45 8 C 633 9 C 16 H 33- C 1 H 3 il C 16 H 33 il C H' 16 33- mil il i il t'1 g'1 g't à a I 1 g' y y' H H H H H H H H H H *H H H H Na+ H NH + H K+ H Li+ H NH +H N N+ CH 3 N&H N N H 2 (C 4 H HCH H NF N 4 A N N+(C H)N+ (C H)4 y yt Li+ Li Mg ++ N NCH)CH N 4 (CHHCH 365113 35 31 N+ N( 8 H 17)(C 3 > 3 N( 81117)C 3 > 3 N+H H N+HC H 31633 31633 N+H CH 31225 31225 34 HH 22 N 2 N 2 ( 14 H 29)2 N H 2 N 2 ( 16 H 33)2 N 2 ( 16 H 33)2 NH 3 16 H 33 H Li+ Na+ CHH 1428 * CHH 1633 H C 18 H 37 H C H N +H 16 33 4 mi Na+ C 4292 4 C H N(CH 1837 31 4 16 H 33 H C H 817 1429 CH 1 R 16 H 33 et et C 14 H 29 C 1 6 H 33 C 1 8 H 37 C 1 6 H 33 -fi il et No. - c 1 4 H 28 C 1 6 H 33 18 37 16 33 et i, I fi C 1 2 H 25 c 14 H 29 La couche de dessus qui consiste en un tel phosphate ou sel ou un mélan- ge de ceux-ci a une épaisseur allant d'une couche monomoléculaire à 0,3 micron, de préférence de 0,005 à 0,1 micron. De préférence, on peut former la couche de dessus par un procédé d'évapo- ration ou de pulvérisation L'évaporation, habituellement par chauffage par rési E tance et la-pulvérisation HF ou à courant continu peuvexit se faire dans des con- ditions bien connues, par exemple à une température de fusion de 80 à 1000 C et sous une pression de fonctionnement de lxl O 3 à 1 x 10 Pa On peut éga- lement utiliser des techniques de préparation de pellicules autres que l'é- vaporation et la pulvérisation, mais d'autres procédés de ce genre tels que l'enduction par gravure et l'enduction par calendrage sont très difficiles à réaliser pour obtenir une pellicule uniforme aussi mince que stipulée ci- dessus. Le substrat qu'on peut utiliser dans le support de l'invention n'est pas spécialement limité bien qu'on préfère des substrats flexibles, notamment en polyesters, polyamides, polypropylène et d'autres résines, habituellement sous forme d'un tronçon de bande ou de ruban L'épaisseur du substrat varie entre de larges limites et normalement entre 5 et 20 microns La surface d'envers du substrat qui est à l'opposé de la surface portant la couche ma- gnétique peut normalement avoir une rugosité de surface ou une irrégularité en hauteur de plus de 0,05 micron (inclus) exprimée en R M S (valeur effi 7 cace). Le support d'enregistrement magnétique selon l'invention est utile dans des applications vidéo, audio et autres. Le support d'enregistrement magnétique, selon l'invention, qui est revêtu par une couche de phosphate répondant à la formule ci-dessus présente divers avantages, par exemple un frottement dynamique très fortement réduit. Par ailleurs, la résistance de la pellicule, son caractère lubrifiant et le contact avec-les têtes sont très améliorés, De ce fait, l'aptitude à l'avan- cement et la durée au ralenti du support d'enregistrement magnétique sont notablement augmentées avec une réduction au minimum des chutes de son. Les exemples suivants servent à illustrer l'invention sans aucunement en limiter la portée Exemple 1 - En utilisant un alliage Co-Ni ayant un rapport pondéral Co/Ni de 4/1 et un alliage Co-Ni-Cr ayant un rapport pondérai Co/Ni/Cr de 75/20/5, on forme une couche magnétique de 0,2 micron d'épaisseur sur une pellicule de téréphtalate de polyéthylène (PET) ayant 10 microns d'épaisseur par le pro- cédé d'évaporation à incidence oblique Lespellicules portant les alliages sont désignés par Echantillons AO et BO. Dans l'évaporation à incidence oblique, l'angle incident est de 45 par rapport à la normale à la pellicule ou substrat et l'atmosphère contient de l'argon et de l'oxygène sous des pressions partielles de P = 2 x 10-2 Pa -2 Ar -2 et P 02 = lxl O Pa. Les couches magnétiques résultantes ont les mêmes compositions que les alliages correspondants sauf pour l'introduction d'oxygène et les deux ont un rapport atomique de 0/(Co+Ni)= 0,2 Les couches sont constituées par des par- ticules coalescées de structure colomnaire qui ont été dévelopées suivant un angle d'environ 40 à la normale vers la surface principale du substrat s'é- tendant à travers l'épaisseur de la couche et ayant un diemètre de 0,01 micron. Une analyse par spectroscopie aux électrons Auger de la couche avec revêtement d'ions montre que le cobalt (Co) est moins important à proximité de la surface et que l'oxygène ( 0) est chimiquement déplacé et présente un profil riche à proximité de la surface, ce qui prouve que l'oxygène est lié avec les métaux à la surface dei-particules colomnaires Ensuite, des couches de dessus ayant 0,01 micron d'épaisseur indiquées dans le Tableau 1 sont formées sur les couches magnétiques des Echantillons AO et BO en utilisant divers composés organiques à titre de source d'évapora- tion dans une atmosphère ayant une pression partielle d'argon de 4 x 10-3 Pa. Les pellicules ainsi revêtues sont appelées Echantillons A 1 à A 14 et Bl à B 10. On soumet les échantillons à des tests pour déterminer diverses pro- priétés On charge chaque échantillon dans un équipement VTR disponible dans le commerce sous forme d'une bande vidéo. 1 Frottement dynamique On entraîne une bande échantillon sur 50 pas- ses dans l'équipement VTR On mesure le coefficient de frottement dynamique P de l'échantillon à une température de 40 C et à une humidité relative de %, aussi bien à l'état initial qu'après 50 passes. 2.-Aptitude à l'avancement, On entratne une bande échantillon sur 50 passes dans l'équipement VTR On mesure la valeur du signal sortant de l'é- chantillon à 4 M Hz aussi bien à l'état initial qu'après 50 passes La réduc- as ti Qn du débit après 50 passes est exprimée en d B, 3, Durée du ralenti On fait fonctionner sur le mode ralenti l'équipe- ment VTR chargé d'une bande échantillon La durée de fonctionnement au ralen- ti (exprimée en minutes) de la bande échantillon est mesurée jusqu'à la dis- parition de l'image immobile. 4 Chutes de son On passe une bande magnétique échantillon en repro- duction On compte les chutes de son par minute comme étant les réductions de * débit de 16 d B ou plus par minute. Les résultats sont donnés dans le Tableau 1. Exemple 2: On procède comme dans l'exemple 1 sauf qu'on utilise pour former les couches de dessus des sels onium d'alkyl-phosphates non substitués à chaîne droite Les pellicules résultantes sont appelées Echantillons C 1 à C 21 et D 1 à D 10. Les résultats des tests apparaissent dans le Tableau 2. Exemple 3: On procède comme dans l'exemple 1 sauf qu'on utilise pour former les couches de dessus des sels de monoesters d'alkyl-phosphates non substitués à chaîne droite Les pellicules résultantes sont appelées Echantillons E 1 à E 19 et F 1 à F 12. Les résultats sont donnés dans le Tableau 3. Exemple 4: On procède comme dans l'exemple 1 sauf qu'on utilise pour former les couches de dessus des sels d'ammonium de monoesters d'alkyl-phosphates non substitués à chaîne droite Les pellicules résultantes sont appelées Echan- tillons G 1 à G 22 et H 1 à H 10. Les résultats des tests sont indiqués dans le Tableau 4. Exemple 5 On procède comme dans l'exemple 1 sauf qu'on utilise pour former les couches de dessus des diesterset des triesters de phosphate. Les pellicules résultantes sont appelées Echantillons J 1 à J 21 et K 1 à K 12. Les résultats des tests sont donnés dans le Tableau 5, Les données des Tableaux 1 à 5 révèlent que les couches de dessus en alkyl-phosphates selon l'invention font preuve de meilleures performances que les couches de dessus de la technique antérieure et aussi que le nombre d'atomes de carbone dans les radicaux alikyle n'est pas critique. Tableau 1 Coefficient de frot- tement dynamique M Réduction du débit (d B) i O 2, O 1, 5 1, O 1 i 2 1 t 5 Durée-de maintien en ralenti (mn) 6 O > 6 O > 6 O > 6 O > 6 O Chutes de son (/mn) 1 O O O 6 O O 21 2 12 O 13 O 12 O 13 O Après Initial,' 50 passes 0 t 4 5 O 6 O 0 e 3 O > 1 1 O 0 1 2 5 O 1 6 O j 2 O O 1 2 3 0, 1 8 O f 2 O 0, 1 6 O, 1 7 0, 1 5 O 1 1 5 0, 1 5 O # 1 5 Couche Echantillon magnétique A O C O K i O A 1 A 2 /? A 3 A 4 A 5 If A 6 /I A 7 'If Coche de àessus Observations Comparaison Comparaison C 8 H 130 poj Cs H 17-OP 03 Cl OH 21 OP 03 C 12 H 25 OP 03 C 14 H 29 OP 03 CIGH 33 OP 03 C 18 H 37 OP 03 H 2 H 2 H 2 H 2 H 2 H 2 H 2 w Comparaison îNa LM LQ cc tm %O L 4 Tableau i (suite) Coefficient de frot- tement dynamique, AL Echantillon A 8 A 9 AIO Ail A 12 A 13 A 1 Couche Couche ignétiqẻ de dessus f C 20 H 410 P 03 H 2 f C 22 H 450 PO 3 H 2 ff C 24 H 490 PO 3 H 2 ' C Is Haa OP 03 H Na If C 18 H 3 OP 03 NH 4 H ff' C 16 H 33 C 00 H fi C 8 H 33 c 00 c 10 H 21 Initial O t *i 3 Qv 15 0,t 165 0,0136 0,213 o 253 Après passes o 11 3 o 164 Réduction du débit (d B) 1 15 1,5 1 1 Durée de maintien au ralenti (mn) > 60 > 60 > 60 > 60 > 60 Chutes de son (/min) Observations 4 O Q Comparaison È O O Comparaison 8 O O Comparaison re VI Couche Echantillon magnétique Couche de dessus B O Co Ni Cr O C H 130 PO H 2 C 8 H 170 P 03 H 2 C 10 H 210 OP 03 H 2 fi C 12 H 250 P 03 H 2 C 18 H 330 P 03 H 2 fi C 20 H 41 00 P H 2 C 22 450 F 3 H 2 C 24 H 480 P 03 H 2 C 18 H 33 OP 3 H L /f C 1 H 3 COOH Tableau 1 (suite) C 6 efficient de frot- temient dynramique, p idcto Initial Après du débit passes (d B) O 60 -10 > 1 r 8 2-6 O 7 -6 024 2 22 18 0,21 5 14 O 4 -15 0 14 5 12 0 113 -i 6 16 20 0 40 -8 c c c c c c c c c c c Durée de Cue maintien au ralenti de son (mn) (Imn 3 580 21 410 > 60 230 > 60 130 > 60 120 > 60 130 > 60 120 > 60 400 > 60 110 22 580 Observations Comparaison Comparaison Comparaison Comparaison Comparaison B 1 B 33 B 7 B 8 n% %A (A c L Tableau 2 Coefficient de frot- tement dynamique,,m Echantillon Couche de dessus Initial AO O C o N i O Cg H 130 P 03 H 0 130 Après passes 014 5 O i 60 > 1 0 Réduction du débit (d B 1) Durée de maintien au ralerfi ( mn) * N' (CH 3)4 C 2 C 8 H 170 P 03 H N' (CH 3) 4 0 125 0 r 6 4 O O Comparaison C 10 H 21 P 3 H 0 120 0123 * N' (CH 3)4 /1 C 12 H 250 P 03 H 01 8 0 120 * N' (CH 3)4 C 5 Ar C 14 H 280 P 03 H * N'I (CH 3) 4 0,1 6 O 1 7 Couche magnétique C 1 C 3 C 4 > 60 a 1 ' 1 r 5 > 60 1 y O > 60 ffl oe w C 2 C 5 Tableau 2 (suite) Couche Echantillon magnétique C 6 I Coefficient de frot- tement dynamique,,}* Couche de dessus CI 8 H 330 P 03 H Initial 50 passes 0 115 0115 Réduction du débit (d B) 1 73 Durée de ma inti en au irale-nti (ni N j Chutes de son (/mil) Observat ions > 60 120 * N+ (CH 3)4 C 18 H 370 P 03 H 0 115 0,t 15 -1,5 > 6 ' 120 N' (CH 3)4 C 20 H 410 P 03 H 0 1 3 O 11 3 1,5 > 60 120 * N' (CH 3)4 C 22 H 430 P 03 H 0 112 O T 13 -1,5 > 60 100 1 N'(C H 3)4 C 10C 24 H 490 P 03 H * N' (CH 3)4 O r I 55 1 6 -1,2 > 60 400 Comparaison C 18 H 330 P 03 H 0 16 0 16 -2 r > 60 100 * N+ (C 2 H 5)4 ri W, oe w C 7 C 8 C 9 Cil -J c 1 O Tableau 2 (suite) Coefficient de frot- tement dynamique,,U Durée de maintien au ralenti (Mn) Réduction du débit (fl) Chutes de son (/mn) Couche Echantillon magnétique Initial Après passes Couche de dessus Observations C 12 c 1 OH 38 OP 03 H 0 t 1 3 O ( 1 3 2 i 1 > 6 O 1 2 O NI (C 4 Hg) 4 0 j 1 6 c 1 3 CIGH 33 OP 03 H 0 1 1 6 1 i O > 6 O 1 O O NI (C 4 H 9)2 (C H 3)2 c 1 4 CIGH 330 PO 3 H 0 ( 1 3 O 1 1 3 1 1 O > 6 O 1 3 O a NI (C 8 H 17) (C 2 H 5)3 C 15 CISH 33 OP 03 H 0 1 1 2 O 1 1 3 1 1 O > 6 O 1 O O NI (C 6 H 5)(CH 3) 3 c is CIGH 330 POS H 9 CH 3 No 0 1 3 O 1 1 6 1 t 1 > 6 O 1 3 O M Ln w M Wb %O ta Tableau 2 (suite) Coefficient de frot- tement dynamique,}L Couche Echanti llon magnétique C 17 1/ Couche de dessus C.1 GH 330 P 03 H Après Initial 50 passes 0 113 0 113 Réduction du ddbit (d B) Durde de maintien au ralenti (mn) -1 10 > 60 Chutes de son (/mn) Observations e NI (C 8 H 17) H 3 C 18 H 330 P 03 H 0 113 0,g 14 r I > 60 120 * N H 2 (C 4 Hg)2 C 18 H 33 C 00 H C 18 H 33 C O OC O H 21 0 123 0 i 40 O _ 25 0 150 2 O 5 O O Comparaison I O 8 O O Comparaison C 18 H 330 P 03 H 2 0,15 -1,t 2 > 60 120 Comparais on C 18 C 18 C 20 C 21 1, Lfl Un Tableau 2 Coefficient de frot- tement dynamique, *À. Après Initial 50 passes Réduction du débit (db) Durée de maintien au ralenti (Mn) Chutes de son (/mt) Observations BO O C o N C r O D 1 0 45 Ce H 13 00 PO H 0 y 60 10 0 130 ( > 1 10 * N' (C 2 H 5)4 C 8 H 170 P 03 H 0 126 0 17 4 i 0 Comparaison *.N' (C 2 H 5) 4 C 10 H 210 P 03 H 0,20 0 124 2,3 > 60 230 o N' (C 2 H) 4 C 12 H 250 P 03 H * N' (C 2 H 5) 4 C 16 330 P 3 H D 5 0 j 16 0,f 16 -1 13 > 60 * N' (C 2 H 5)4 M LMI w D 2 D 3 1, D 4 I 0 % 19 0,21 i 5 > 60 Echanti lion Couche magnétique Couche de dessus Tableau 2 (suite) Coefficient de frot- tement dynamnique,,lu Réduction Après du débit Initial 50 passes (d B) Durée de maintien Chutes au ralenti de son (mn) (Imn) Observations C 20 H 410 P 03 H O 1 14 0 r 14 -115 > 60 N' (C 2 H 5)4 C 22 H 450 P 03 H 0413 O 14 -1,15 > 60 ê*N' (C 2 H 5)4 C 24 H 490 P 03 H * N' (C 2 H 5)4 C 18 H 330 F 03 H * N (C 8 H,7)(CH 3)3 C 18 H 33 C OOH O 1 3 0 113 O 11 7 0 140 D 6 D 7 D 8 D 9 DIO i 1/ /'ê > 60 > 60 IM j Tableau 3 Couche Echantillon magnétique Couche de dessus Coefficient de frot- tement dynamique,}"'- Après Initial Du pas ses Réduction du débit (Ld B) Durée de maintien Chutes au ralenti de son (mn) (/mn) Observations* C 6 H 130 PO 3 (Nt H 4) 2 C 8 H 17 OFO 3 (Nl H 4)2 C 10 H 210 P 03 (Nr H 4)2 C 12 H 25 OF 3 (N 4 2 C 141 H 290 FP 03 (Nr H 4 Q 2 c SH 33 OPO 3 (N"H 42 C 18 H 870 P 03 (NH H 4 C O H 40 P 03 (N+H) C 2 H 4 O' P O (NH) 0 45 O 18 O 17 o 15 Q 113 0 112 > 11 O 0 23 0 20 0 1 15 O 1 13 0 12 -1,5 -1,2 1,5 60 > 60 > 60 > 60 > 60 > 60 > 60 Comparaison Comparaison Comparai son tn * Q A O E 11 E 2 E 3 E 4 E 5 E 6 E 7 E 8 E 9 Coefficient de frot- tement dynamiques Après Initial 50 passes Tableau 3 (suite) Durée de maintien Chutes au ralenti de'son (mn) Umn) Réduction du débit (d B) Couche Echantillon magnétique Couche de dessus Observations E 10 E 1 1 E 12 E 13 E i 4 E 15 E 1 8 E 17 E 18 E 18 C 24 H 480 P 03 (N"H 4)2 fi C 16 HOPO (N*(CH 33 3 3 Y 2 if c 16 H 33 OP 03 CN"(C 4 HS)4)Z /f C H (L i +)2 Is MOP 03 fi C 1 H 33 OP 03 Mg 4 + ft 1111 GH 33 OP 03 ( N"'5 '11)2 ll,16 H 33 OP 03 (N*(r,SH 5)(CH 3)3)2 C 16 H 33 COOH C 16 H 33 COOC 1 OH 21 if CIGH 30 P 03 'H 2 0 1 1 5 0 1 1 6 0 1 13 0 1 16 *0 1 15 0 1 16 0 1 17 0 t 23 0 1 Z 5 O'1 15 0 1 1 6 - 0 1 1 6 0 1 1 3 0 1 1 7 0 1 1 5 0 1 1 6 0 1 1 7 0 1 4 O 0 1 5 O 0 1 1 5 19 1 21 O 21 1 11 5 1 3 11 5 11 5 1 1 2 > 6 O > 6 O > 6 O > 6 O > 6 O > 6 O > 6 O 2 O 1 O > 6 O Comparaison Comparaison Comparaison Comparaison 4 O O O 12 O 12 O 11 O O 8 O O' O 12 O %A w 1 c" 1 #.A O tw Tableau 3 (suite) Couche Echantillon magnétique Couche de dessus Co Ni Cr O - "f C 6 H 13 OF 03 (N"H 4)2 "I 8 H 17 OP 03 (N"H 4)2 1 C 10 H 21 P 03 (N+HQ 2 lf C 12 H 250 P O (Nt H 42 /f C 16 H 330 P 03 (N+H 42 f C 20 H 4 P 3 (N 4 H 42 if 22 H 45 O P 03 (NH H 4)2 Coefficient de frot-. tement dynamique, /A Après Initial 50 passes O 19 0, 14 0,14 0, 20 o 14 o 14 Réduction du débit (d B) 2 12 l 15 1 14 1 % 5 1 i 6 Durée de maintien Chutes au ralenti de son (mn) (/mn) Observations 60 > 60 > 60 > 60 > 60 là O I I I I Qo O Comparaison Comparaison Comparaison r:-J Ln LY BO O F 11 F 2 F 3 F 4 F 5 F 6 F 7 Tableau 3 (suite) Coefficient de frot- tement dynamique, pt Couche Echantillon magnétique Couche de dessus Initial Après passes Réduction du débit (d B) Durée de maintien Chutes au ralenti de son (mn) (Imn) Observations f C 24 H 490 P (N+H 4) o 1 0 î 14 1,6 > 6 O 4 0 O Comparaison /f C 1 H 330 P 03 Ba' fi C 1 3 PO O,9 16 0,17 0 1 16 0 7116 -2 f O -145 > 60 120 > 60 130 CNW (C 2 H 5) 4 2 I C 16 H 330 P 03 0, 1 6 O 17 l 6 > 60 140 (N+ (C 8 H 17)(C H 3)3 J 2 I C 18 H 33 C 00 H 0 h 20 0 e 40 > 2 2 5 8 O Comparaison F'8 F 9 F 10 Fil F 12 le ta Tableau 4 Coefficient de frot- tement dynamique,> - Après Initial 50 passes Durge de maintien Chutes au ralenti de son (Mn) (/Mn) Rgduction du débit (d B) Couche Echantillon magnétique Couche dedessus Observations C o N i O If 6 O 1 8 1 5 1 2 1 O 1 O 1 O A O G 1 G 2 G 3 G 4 G 5 G 6 G 7 G 8 0 1 4 5 O 1 0 % 2 5 > 1 1 0 1 O O 1 0 f 1 5 O 1 0,1 4 O 1 0,1 1 O r 0,1 O O 1 0,1 O O r 0 t 1 O O i 1 O 6 O > 6 O > 6 O > 6 O > 6 O > 6 O 1 O O O O O 3 5 O 1 4 O O 6 O O 6 O O Comparaison Comparaison Comparaison C 6 H 13 opo 3 (+H 301 GH 33)2 C 8 HI 70 PO 3 (N+H 3 CICH 33)2 Cl OH 21 OP 03 (N+H 3 C 16 H 33)2 C 12 H 25 OP 03 (N+H 3 c 18 H 33)2 c 14 H 29 OP 03 (N+H 3 CIG H 33)2 CIGH 330 PO 3 (N+H 3 C 16 '33)2 C 18 Hà 7 OPO 3 (N+H 3 C 16 H 33)2 c 20 H 41 OP 03 (N+H 3 c 18 H 33)2 t'Io ON q 1 n W & w 1 %A e w ( 7 f 9 t 2 Coefficient de frot- tement dynamique,,e Tableau 4 (suite) Durée de maintien Chutes au ralenti de son (mn) (/Mn) Observ'ations Rgduction Couche magnétique Couche de dessus A-rès du débit Initial 50 passes ( 0) Echantillon c H OPO (Ne H C H 22 45 3 le 33)2 c 24 H 48 OP 03 (N+H 3 c 18 H 33)2 G H OPO (N+H C H le 33 1 3 3 12 25)2 Ci GH 33 OP 03 (N+H 3 c 18 H 3 ?)2 If If Ci GH 33 OP 03 (N+ 112 (C 14 H 29) )2 PIF CIGH 33 OP 03 WH 2 (Cl GH 33)2 ' 2 CIGH 33 OP 03 H NH 3 Ci SH 33 Ci GH 33 OP 03 N+H C H 3 le 33 ', L i 0 r 0 1 0, 0 1 0 1 0 1 0 1 0 t 1 O 1 4 1 6 1 3 1 1 1 1 1 2 1 O 0 i 0 t 0 r 1 O 1 5 1 6 1 3 1 3 1 3 1 2 1 1 1 1 2 1 t 1 1 i 1 1 1 O 0 1 9 1 4 2 0 1 9 1 f O > 6 0, > 6 O > 6 O > 6 O > 6 O > 6 O > 6 O > 6 O O 3 5 O Comparaison O 6 O 6 O O 6 O 7 O G 9 GIO Gli G 12 G 13 G 14 G 15 G 18 t'a -J %A W f C" 1 VI 1 O w Tableau 4 (suite) Coefficient de frot- tement denam-iqllp,,Ài Après Initial 50 passes Durée de maintien au ralenti (mn) Chutes de son Umn) Observations ii - Réduction du débit (d 8) Couche magnétique Echantillon Couche de dessus G 17 G 18 G 19 G 20 G 21 G 22 /f Cl 8 H 33 OP 03 N'H 3 C 1 GH 33 9 Na II Ci CH 33 OP 03 N'H 3 C 16 H 33 ', K /I CIGH 33 'COOH Il CICH 33 COOCIOH 21 0, C l GH 33 OP 03 H 2 I/ CISH 33 OP 03 H-N'H 4 0 T 1 1 O 1 1 2 0 % 1 O O 1 1 1 1 1 O > 6 O 7 O 7 O 1 1 2 1 1 2 2 1 1 > 6 O 2 O 1 O > 6 O > 6 O >J Comparaison Comparaison Comparaison Comparaison 0 1 2 3 0 r 2 5 0 r 1 5 0 t 1 3 0 t (r 4 O O 1 5 1 3 O O 8 O O 1 3 O 1 2 O M LA LW 1 oe 1 t A' %O Uà Tableau 4 (suite) Coefficient de frot- tement dynamique lu _ 1 Après Initial 50 passes Durée de maintien Chutes au ralenti de son (mn) (/Mn) Réduction du débit ( 0) Couche Echantillon magnétique Couche de dessus Observations Comparaison Comparaison Comparaison 0, 4 5 0 ' 2 5 0 r 2 1 0 r 1 5 0 f 1 3 0 r 1 1 0 i 1 O 01 1 O 01 1 1 bt 1 6 0 t 2 O 0 1 > 1 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 6 O 17 - 1 O 8 1 O 6 2 O 1 r 9 > 60 112 > 60 019 > 60 112 > 60 112 > 60 113 > 60 112 > 60 1 O O O O O 3 5 O 1 6 O 6 O O 6 O O 3 5 O O B O H 1 H 2 H 3 H 4 H 5 H 6 H 7 H 8 H 9 Co Nicro fi CGH 13 OP 03 (N+H 2 (Ci SH 33)2 32 Af c 8 HI 70 PO 3 (N+H 2 (ci GH 33)2)2 rf C H OPO (N*H (C H) 21 3 2 le 33 2)2 C 12 H 25 OP 03 (N"H 2 (CIG H 33)2)2 CIGH 33 OP 03 (N+H 2 (ci GH 33)2)2 C 20 H 41 OP 03 (N'H 2 (CICH 33)2)2 c H OPO (N+H (C H) ) 22 45 3 2 le 33 2 2 -C H OPO (N+H (G H) 24 48 3 2 18 33 2 2 CIH,,OP 03 ( Nl H 2 c 12 H 25)2 r-J .0 Comparaison M Un L Ut oe 1 A O w 8 O Comparaison H 1 O Af C 1 SH 33 COOH 0 4 O 8 > 2 2 t Tableau 5 Coefficient de frot- tement dynamique,Àt Initial A rés M passes 0 4 5 O 6 O 0 3 O > 1 O 0 2 5 O 6 0 2 1 O 2 3 0 1 9 O 2 O 0 1 6 O 17 0 1 5 O' 15 0 1 5 O 15 0 1 4 O 14 Durée de maintien Chutes, au ralenti de sgn (Mn) (/mn) 6 o o 2 O 4 O O > 6 O 2 2 O > 6 O 1 3 O > 6 O 1 3 O > 6 01 1 2 O > 6 O 1 3 O > 6 O 1 3 O Réduction duffi Mit 1 O 2 1 O 1 1 5 1 1 O 1 1 2 1 f 5 1 1 5 Couche Echantillon magnétique A O C o N i O i 1 /f i 2 If i 3 // J 4 j 5 /f j 6 J 7 /f j 8 AO Couche de dessus (C 8 HISOV 02 H (C 8 H 170)2 po 2 H (CIOH 210)2 po 2 H (C 12 H 250)2 po 2 H (C 14 H 290)2 po 2 H (C IGH 330)2 po 2 H (c 18 H 270)2 po 2 H (C 2 OH 4,0)2 po 2 H Observations Comparaisbn Comparaison Comparaison w Mâ ul w Co ta ui Tableau 5 (suite) Echantiilon J 9 J 10 J il J 12 J 13 J 14 J 15 ' J le Couche magndtique Couche de dessus (C 22 H 450)2 P 02 H (C 24 H 480)2 P 02 H n (C 18 H 33)PO NH 4 (C 18 H 330)2 P 02 Na (C 18 H 330)(C 12 H 250)P 2 H I (C 18 H 330) (C 14 H 280)P 02 *N (C 2 H 5) 4 (CI CH 330) ( 018 H 370)P 02 * N (CH 3) 4 (C 12 H 250) (C 12 H 250)PO 2 Coefficient de frot- tement dynamiques Initial pasrse 0 13 0,13 0 15 O 16 0 16 0 16 0 13 0 113 0 1 16 0 17 O 15 0 15 0 114 0 14 O' 5 0 I 5 Réduction du débit (d B) 1,6 2,0 2 1 1 3 1 15 -: l i Durée de maintien au ralenti (mn) > 60 > 60 > 60 > 60 > 60 > 60 Chutes de son (f mn) Observations Comparaison > 60 100 > 6 O 1 I O Comparaison Ln Co tn %O LN Tableau 5 (suite) Couche Echantillon magnét ique 317 f J 18 J 20 J 21 Ili Couche de dessus ( 01211250) (C 18 H 370) (C 5 HIIO)PO ( 01811330) (C 18 H% 30) (C 3 117 O) PO C 18 H 33 C OOH C 18 H 33 COQ C 10 H 21 C 18 H 330 P 3 H 2 Coefficient de frot- tement dynamique J Initial 50,pass 0 1 6 0116 Réduction du débit I(d 8) 1 T 2 0 14 -O O 14 15 Durée de maintien Chutes au ralenti de son (Mn) (/mn) Observations > 60 120 > 6 0 1 o o Comparaison w t', O 15 i' 0 115 -112 o O > 60 Comparaison Comparaison Comparaison t A Co t A %O Tableau 5 (suite) Couche Echantillon magnétique BO O Co Ni Cr O Ki 1 K 2 /I K 3 'I K 4 K 5 K 6 K 7 K 8 Couche de dessus (Ce H 130)2 P 02 H (C 8 H 170)2 p 02 H (C 10 H 20)2 F 02 H (C 12 H 2 É 0)2 P 02 H (C 18 H 330)2 P 02 H (C 20 H 410)2 p 02 H (C 22 H 450)2 P 02 H ( 24 H 480)2 P 02 H Coefficient de frot- tement dynamique M Après Initial 50 passes O 45 0 60 O 30 > 1 O 0 26 0 7 0 2 O ? 24 0 19 0,21 0 116 0 16 0 14 0 rî 4 Ou 13 0 14 0 13 14 Réduction elu débit __(d) 6 ' 2 (t 4 1 t 5 i 12 lis 1,5 1 r 6 Durée de maintien Chutes au ralenti de son (Mn) (/mn), Observations > 60 240 > 60 130 > 60 130 > 60 130 > 60 130 > 6 O 4 O O Comparaison w w Co ul No Tableau 5 (suite) Coefficient de frot- tement dynamique, A U Echantillon K 9 Couche magnétique Couche de dessus if (C 18 H 330)2 ro 2 N a Initial 50 passes 0 1116 0 116 Durée de Réduction maintien Chutes du débit au ralenti de son (d B) -20 (Mn) (/1 qnn) -Observations > 60 110 il 18 H 33 C OOH t ( 614 H 280) (C 16 H 330)PO 2 H 1/ (C 14 H 280) ('14 H 290) 0 i 20 O 140 O t 14 0 115 0 115 0,915 il 2 2 5 8 O Comparaison > 60 130 > 60 120 (C 8 H 170)FJ Ln tn %O- K 1 O Kil K 12 REVENDICATIONS 1 Support d'enregistrement magnétique comprenant un substrat, une min- ce couche magnétique continue sur le substrat et une couche de dessus formée sur la couche magnétique, caractérisé en ce que la couche de dessus est for- mée d'un composé de formule: RO O OY O OY' dans laquelle R représente un radical alkyle de 10 à 22 atomes de carbone, et Y et Y' représentent chacun, indépendamment l'un de l'autre, un atome d'hydrogène, un radical alkyle ou un cation monovalent, ou bien Y et Y' repré- sentent conjointement un cation divalent. 2 Support selon la revendication 1, caractérisé en ce que R est un radical alkyle à chaîne droite. 3 Support selon la revendication 1, caractérisé en ce que R est un radical alkyle non substitué. 4 Support selon la revendication 1, 2 ou 3, caractérisé en ce que R est un radical alkyle non substitué à chaîne droite contenant de 12 à 20 atomes de carbone. Support selon la revendication 1, caractérisé en ce que Y et/ou Y' sont des cations monovalents ou bien Y et Y' représentent conjointement un cation divalent. 6 Support selon la revendication 5, caractérisé en ce que le cation est choisi parmi les ions métalliques et les ions onium. 7 Support selon la revendication 5, caractérisé en ce que Y et/ou Y' sont des ions onium. 8 Support selon la revendication 7, caractérisé en ce que l'ion onium est un ion alkyl-ammonium en C 0-C 22. 22 ' 9 Support selon la revendication 8, caractérisé en ce que le radical alkyle de l'alkyl-ammonium est à chaîne droite. 10 Support selon la revendication 1, caractérisé en ce que R et Y sont choisis indépendamment parmi les radicaux alkyle, à la condition que le nom- bre total d'atomes de carbone dans les radicaux R et Y ne dépasse pas 44. 11 Support selon la revendication 1, caractérisé en ce que R, Y et Y' sont choisis indépendamment parmi les radicaux alkyle, à la condition que le nombre total d'atomes de carbone dans les radicaux R, Y et Y' ne dépasse pas 44. 12 Support selon la revendication 10 ou 11, caractérisé en ce que les radicaux alkyle sont à chaîne droite. 13 Support selon la revendication 1, caractérisé en ce que la couche de dessus est déposée par évaporation ou pulvérisation. -14 Support selon la revendication 1 ou 13, caractérisé en ce que l'- paisseur de la couche de dessus ne dépasse pas 0,3 micron. Support selon la revendication 1, caractérisé en ce que la couche magnétique est constituée de cobalt et facultativement d'au moins un 6 lment choisi parmi le nickel, le chrome, et l'oxygène 16 Support selon la revendication 15, caractérisé en ce que la couche magnétique contient du nickel et en ce que le rapport pondéral du cobalt au nickel est d'au moins 1,5. -15 17 Support selon la revendication 15, caractérisé en ce que la couche magnétique contient du chrome et en ce que le rapport pondéral du chrome au cobalt est compris entre 0,001 et 0,1. 18 Support selon la revendication 16, caractérisé en ce que la couche magnétique contient encore du chrome et en ce que le rapport pondéral du chrome à la somme de cobalt et nickel est compris entre 0,001 et 0,1. 19 Support selon la revendication 15, caractérisé en ce que la couche magnétique contient de l'oxygène et en ce que le rapport atomique de l'oxy- gène au cobalt ne dépasse pas 0,45. Support selon la revendication 16, caractérisé en ce que la couche magnétique contient encore de l'oxygène et en ce que le rapport atomique de l'oxygène à la somme de cobalt et nickel ne dépasse pas 0,45. 21 Support selon la revendication 1 ou 15, caractérisé en ce que la couche magnétique est formée d'une coalescence de particules de structure colomnaire orientée obliquement par rapport à la normale au substrat. 22 Support selon la revendication 21, caractérisé en ce que l'épais- seur de la couche magnétique est de 0,05 à 0,5 micron.